JP2018040656A - Distance measuring device - Google Patents

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齋藤 尚
Takashi Saito
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To enable a distance to be accurately measured even when characteristics of a light receiving element for monitoring vary due to a temperature change or the like.SOLUTION: A distance measuring device 100 comprises: a light projecting unit 1 for projecting a laser beam toward a target TG; a light receiving unit 2 for receiving reflection light that the laser beam has reflected on the target object TG; a monitor light detection unit 3 for detecting, as monitor light, a part of the laser beam projected by the light projecting unit 1; an A/D converter 21 for A/D converting an output signal from the light receiving unit 2; an A/D converter 22 for A/D converting an output signal from the monitor light detection unit 3; and a distance calculator 23 for calculating a distance to the target TG on the basis of outputs of respective A/D converters 21, 22. The monitor light detection unit 3 includes: a photo diode 10 for receiving the monitor light; an amplifier circuit 11 for amplifying an output signal from the photo diode 10 to a predetermined level; and a clamp circuit 12 for fixing a level of an output signal from the amplifier circuit 11 to a clamp level lower than the predetermined level.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、対象物に向けてレーザ光を投光し、対象物で反射した反射光を受光して対象物までの距離を算出する距離測定装置に関する。   The present invention relates to a distance measuring device that projects laser light toward an object, receives reflected light reflected by the object, and calculates a distance to the object.

レーザレーダを用いた距離測定装置は、対象物に向けてレーザ光を投光してから、対象物で反射したレーザ光を受光するまでの時間に基づいて、対象物までの距離を測定する装置である。このような距離測定装置においては、レーザ光の投光を指令する信号が出力されてから、実際にレーザ光が投光されるまでに時間的な遅れがある。このため、投光指令信号の出力時刻をレーザ光の投光時刻とみなして距離の演算を行うと、算出された距離に誤差が発生する。そこで、レーザから出射する光をモニタし、実際の投光時刻を検出することで、上述した時間遅れに起因する距離の誤差を補正することが従来から行われている。   A distance measuring device using a laser radar is a device that measures the distance to an object based on the time from projecting a laser beam toward the object until receiving the laser beam reflected by the object. It is. In such a distance measuring apparatus, there is a time delay from when a signal instructing laser beam projection is output until the laser beam is actually projected. For this reason, if the distance is calculated by regarding the output time of the projection command signal as the projection time of the laser beam, an error occurs in the calculated distance. Therefore, it has been conventionally performed to correct the error in distance due to the above-described time delay by monitoring the light emitted from the laser and detecting the actual light projection time.

たとえば、特許文献1に記載されている距離測定装置では、レーザダイオードから出射したレーザ光の一部を、光ファイバにより導光してフォトダイオードで受光し、レーザ光の発生から受光までの時間と、光ファイバの導光距離とに基づいて距離補正値を算出し、この距離補正値を用いて測定距離を補正している。   For example, in the distance measuring device described in Patent Document 1, a part of the laser light emitted from the laser diode is guided by an optical fiber and received by the photodiode, and the time from generation of the laser light to reception is determined. A distance correction value is calculated based on the light guide distance of the optical fiber, and the measurement distance is corrected using this distance correction value.

また、特許文献2に記載されている距離測定装置では、多角錐ミラーにレーザ光の通過孔を形成し、この通過孔を通過したレーザ光を受光素子に導光する校正用の光ファイバを設け、光ファイバを通過したレーザ光による測距データを基準として、対象物で反射したレーザ光による通常の測距データを補正している。   Further, in the distance measuring device described in Patent Document 2, a laser beam passage hole is formed in a polygonal pyramid mirror, and a calibration optical fiber for guiding the laser beam that has passed through the passage hole to a light receiving element is provided. The normal distance measurement data by the laser light reflected by the object is corrected based on the distance measurement data by the laser light that has passed through the optical fiber.

特開2010−204015号公報JP 2010-204015 A 特開2000−205858号公報JP 2000-205858 A

特許文献1、2では、レーザ光の一部をモニタ光として受光し、このモニタ光の投光時刻と受光時刻とに基づいて、測定距離を補正している。しかしながら、モニタ光を受光する受光素子の感度や帯域などの特性は、周囲温度や電源電圧などの環境、あるいは素子の個体差などに応じてばらつく。このため、モニタ光の受光出力(受光素子を流れる電流)の波形にばらつきが生じ、これが原因となって、レーザ光の投光時刻ひいては距離の演算結果に誤差が生じる。したがって、特許文献1、2の方法による測定距離の補正だけでは、上記の問題を解消することができず、満足な測定精度を得ることが困難である。   In Patent Documents 1 and 2, a part of the laser light is received as monitor light, and the measurement distance is corrected based on the projection time and the light reception time of the monitor light. However, characteristics such as sensitivity and bandwidth of the light receiving element that receives the monitor light vary depending on the environment such as the ambient temperature and the power supply voltage, or individual differences between elements. For this reason, the waveform of the light reception output (current flowing through the light receiving element) of the monitor light varies, and this causes an error in the light projection time of the laser light and thus the distance calculation result. Therefore, only the correction of the measurement distance by the methods of Patent Documents 1 and 2 cannot solve the above problem, and it is difficult to obtain satisfactory measurement accuracy.

本発明は、温度変化などによりモニタ用の受光素子の特性が変動しても、距離を高精度に測定することが可能な距離測定装置を提供することを課題としている。   An object of the present invention is to provide a distance measuring device capable of measuring a distance with high accuracy even when characteristics of a light receiving element for monitoring fluctuate due to a temperature change or the like.

本発明による距離測定装置は、対象物に向けてレーザ光を投光する投光部と、レーザ光が対象物で反射した反射光を受光する受光部と、投光部から投光されたレーザ光の一部をモニタ光として検出するモニタ光検出部と、受光部の出力信号をアナログ−デジタル変換する第1のA/D変換器と、モニタ光検出部の出力信号をアナログ−デジタル変換する第2のA/D変換器と、第1のA/D変換器および第2のA/D変換器の出力に基づいて、対象物までの距離を算出する距離算出部とを備えている。モニタ光検出部は、モニタ光を受光する受光素子と、この受光素子の出力信号を所定レベルまで増幅する増幅回路と、この増幅回路の出力信号のレベルを、前記所定レベルより低いクランプレベルに固定するクランプ回路とを有している。   A distance measuring device according to the present invention includes a light projecting unit that projects laser light toward an object, a light receiving unit that receives reflected light reflected from the object, and a laser projected from the light projecting unit. A monitor light detector for detecting a part of the light as monitor light, a first A / D converter for analog-digital conversion of the output signal of the light receiver, and an analog-digital conversion of the output signal of the monitor light detector A second A / D converter; and a distance calculation unit that calculates a distance to the object based on outputs of the first A / D converter and the second A / D converter. The monitor light detection unit fixes a light receiving element that receives the monitor light, an amplification circuit that amplifies the output signal of the light receiving element to a predetermined level, and a level of the output signal of the amplification circuit at a clamp level lower than the predetermined level. A clamping circuit.

このような構成によると、モニタ光検出部の増幅回路のゲインをきわめて大きな値に設定することで、モニタ光検出部の出力信号の立ち上がりが急峻になるので、モニタ用の受光素子の特性が温度や電圧などに応じて変動しても、モニタ光検出部の出力信号の波形の変動が小さくなる。その結果、この出力信号に基づいて算出される対象物までの距離のばらつきも小さくなって、測定精度が向上する。   According to such a configuration, by setting the gain of the amplifier circuit of the monitor light detection unit to a very large value, the rise of the output signal of the monitor light detection unit becomes steep, so that the characteristics of the monitor light receiving element are Even if it fluctuates according to the voltage or the like, the fluctuation of the waveform of the output signal of the monitor light detection unit is reduced. As a result, the variation in the distance to the object calculated based on the output signal is reduced, and the measurement accuracy is improved.

本発明において、モニタ光検出部の増幅回路は、受光素子の出力信号を、第2のA/D変換器の最大入力電圧値を超える飽和レベルまで増幅してもよい。   In the present invention, the amplifier circuit of the monitor light detection unit may amplify the output signal of the light receiving element to a saturation level exceeding the maximum input voltage value of the second A / D converter.

本発明において、モニタ光検出部の出力信号に対して、クランプレベルより低いレベルの閾値を設定してもよい。この場合、距離算出部は、モニタ光検出部の出力信号のレベルが閾値を超える時刻と、受光部が反射光を受光した時刻と、モニタ光検出部の受光素子の応答遅れに相当する時間とに基づいて、投光部から投光されたレーザ光の飛行時間を算出し、この飛行時間に基づいて対象物までの距離を算出する。   In the present invention, a threshold value lower than the clamp level may be set for the output signal of the monitor light detection unit. In this case, the distance calculation unit includes a time when the level of the output signal of the monitor light detection unit exceeds the threshold, a time when the light receiving unit receives the reflected light, and a time corresponding to a response delay of the light receiving element of the monitor light detection unit. Based on the above, the flight time of the laser light projected from the light projecting unit is calculated, and the distance to the object is calculated based on the flight time.

本発明において、クランプ回路のクランプレベルは、前記閾値より高く、かつ第2のA/D変換器の最大入力電圧値より低いレベルであってもよい。   In the present invention, the clamp level of the clamp circuit may be higher than the threshold and lower than the maximum input voltage value of the second A / D converter.

本発明において、投光部は、対象物に向けてレーザ光を投光する固体レーザを含んでいてもよい。あるいは、投光部は、対象物に向けてレーザ光を投光するレーザダイオードを含んでいてもよい。   In the present invention, the light projecting unit may include a solid-state laser that projects laser light toward an object. Alternatively, the light projecting unit may include a laser diode that projects laser light toward the object.

本発明によれば、温度変化などによりモニタ用の受光素子の特性が変動しても、距離を高精度に測定することが可能な距離測定装置を提供することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, even if the characteristic of the light receiving element for monitoring fluctuates by temperature changes etc., the distance measuring apparatus which can measure distance with high precision can be provided.

本発明の実施形態に係る距離測定装置を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the distance measuring device which concerns on embodiment of this invention. モニタ光の検出を説明するための概略断面図である。It is a schematic sectional drawing for demonstrating the detection of monitor light. モニタ光検出部の具体的な構成を示した回路図である。It is the circuit diagram which showed the specific structure of the monitor light detection part. モニタ光検出部の動作を説明するための波形図である。It is a wave form diagram for demonstrating operation | movement of a monitor light detection part. モニタ光検出部の動作を説明するための波形図である。It is a wave form diagram for demonstrating operation | movement of a monitor light detection part. モニタ光検出部の出力に対する閾値の設定を説明する図である。It is a figure explaining the setting of the threshold value with respect to the output of a monitor light detection part. 距離測定装置の動作を示したタイミングチャートである。It is a timing chart which showed operation of a distance measuring device. 比較例の動作を示したタイミングチャートである。It is a timing chart which showed operation of a comparative example. モニタ光検出部の出力のばらつきを示した波形図である。It is a wave form chart showing variation in output of a monitor light detection part. 他の実施形態に係る距離測定装置を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the distance measuring device which concerns on other embodiment.

以下、本発明の実施形態につき、図面を参照しながら説明する。各図において、同一の部分または対応する部分には、同一符号を付してある。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. In the drawings, the same or corresponding parts are denoted by the same reference numerals.

まず、距離測定装置の構成を、図1ないし図3を参照しながら説明する。   First, the configuration of the distance measuring device will be described with reference to FIGS.

図1において、距離測定装置100は車両に搭載されていて、車両の前方にある対象物TGまでの距離を計測する。対象物TGには、先行車30のほか、道路上の障害物なども含まれる。   In FIG. 1, a distance measuring device 100 is mounted on a vehicle and measures a distance to a target object TG in front of the vehicle. The target object TG includes obstacles on the road in addition to the preceding vehicle 30.

距離測定装置100は、対象物TGに向けてレーザ光を投光する投光部1と、投光されたレーザ光が対象物TGで反射した反射光を受光する受光部2と、投光部1から投光されたレーザ光(出射光)の一部をモニタ光として検出するモニタ光検出部3と、投光部1に対してレーザ光の投光を指令するとともに、受光部2の出力とモニタ光検出部3の出力とに基づいて、対象物TGまでの距離を算出する制御部4とを備えている。   The distance measuring apparatus 100 includes a light projecting unit 1 that projects laser light toward the object TG, a light receiving unit 2 that receives reflected light reflected by the object TG, and a light projecting unit. The monitor light detector 3 detects a part of the laser light (emitted light) projected from 1 as monitor light, and instructs the light projector 1 to project the laser light, and outputs the light from the light receiver 2. And a controller 4 that calculates a distance to the object TG based on the output of the monitor light detector 3.

投光部1は、固体レーザ5、レーザダイオード6、および投光回路7を有している。固体レーザ5は、公知のYAGレーザや、Nd:YAGレーザなどからなり、レーザダイオード6から投光された励起光の入射によって、レーザ媒質が励起されてレーザ光を出射する。投光回路7は、制御部4からの投光指令信号(後述)に基づいて、レーザダイオード6を駆動するための駆動信号を出力する。   The light projecting unit 1 includes a solid-state laser 5, a laser diode 6, and a light projecting circuit 7. The solid-state laser 5 is composed of a known YAG laser, Nd: YAG laser, or the like, and the laser medium is excited by the incidence of excitation light projected from the laser diode 6 to emit laser light. The light projecting circuit 7 outputs a driving signal for driving the laser diode 6 based on a light projecting command signal (described later) from the control unit 4.

受光部2は、フォトダイオード8、および受光回路9を有している。フォトダイオード8は、投光部1から投光されたレーザ光が対象物TGで反射した反射光を受光する。フォトダイオード8には、反射光の強度に応じた電流(光電流)が流れ、これがフォトダイオード8の出力信号となる。受光回路9は、フォトダイオード8の出力信号に対し電流−電圧変換を行って当該信号を増幅する増幅回路などから構成されている。受光回路9の出力は、制御部4へ与えられる。   The light receiving unit 2 includes a photodiode 8 and a light receiving circuit 9. The photodiode 8 receives the reflected light reflected by the object TG from the laser light projected from the light projecting unit 1. A current (photocurrent) corresponding to the intensity of the reflected light flows through the photodiode 8, and this becomes an output signal of the photodiode 8. The light receiving circuit 9 includes an amplifier circuit that performs current-voltage conversion on the output signal of the photodiode 8 to amplify the signal. The output of the light receiving circuit 9 is given to the control unit 4.

モニタ光検出部3は、フォトダイオード10、増幅回路11、およびクランプ回路12を有している。フォトダイオード10は、前述したモニタ光を受光するモニタ用の受光素子である。フォトダイオード10には、モニタ光の強度に応じた電流(光電流)が流れ、これがフォトダイオード10の出力信号となる。増幅回路11は、フォトダイオード10の出力信号に対し電流−電圧変換を行って、当該信号を所定レベルまで増幅する。クランプ回路12は、増幅回路11の出力信号のレベルを、上記の所定レベルより低い所定のクランプレベルに固定する。増幅回路11およびクランプ回路12の動作については、後で詳細に説明する。クランプ回路12の出力は、制御部4へ与えられる。   The monitor light detection unit 3 includes a photodiode 10, an amplifier circuit 11, and a clamp circuit 12. The photodiode 10 is a light receiving element for monitoring that receives the monitor light described above. A current (photocurrent) corresponding to the intensity of the monitor light flows through the photodiode 10 and becomes an output signal of the photodiode 10. The amplifier circuit 11 performs current-voltage conversion on the output signal of the photodiode 10 and amplifies the signal to a predetermined level. The clamp circuit 12 fixes the level of the output signal of the amplifier circuit 11 to a predetermined clamp level lower than the predetermined level. The operations of the amplifier circuit 11 and the clamp circuit 12 will be described in detail later. The output of the clamp circuit 12 is given to the control unit 4.

図2は、モニタ光の検出方法の一例を説明する図であって、距離測定装置100の概略断面図を示している。図2において、ケース101はポリカーボネイト樹脂のような透明樹脂からなり、このケース101の内部に、固体レーザ5、レーザダイオード6、フォトダイオード8,10、および回路基板102,103などが収納されている。その他の部品については、図示を省略してある。固体レーザ5から出射するレーザ光(出射光)は、ケース101を透過して対象物へ投光されるが、当該レーザ光の一部は、破線で示すように、ケース101の内面で反射してモニタ光となり、フォトダイオード10で受光される。モニタ光の光強度を増大させるために、ケース101の内面の一部に、金属蒸着などによって鏡面を形成してもよい。   FIG. 2 is a diagram for explaining an example of the monitor light detection method, and shows a schematic cross-sectional view of the distance measuring apparatus 100. In FIG. 2, a case 101 is made of a transparent resin such as polycarbonate resin, and the solid laser 5, laser diode 6, photodiodes 8 and 10, and circuit boards 102 and 103 are accommodated in the case 101. . Other parts are not shown. Laser light (emitted light) emitted from the solid-state laser 5 passes through the case 101 and is projected onto the object, but a part of the laser light is reflected by the inner surface of the case 101 as indicated by a broken line. Monitor light, which is received by the photodiode 10. In order to increase the light intensity of the monitor light, a mirror surface may be formed on a part of the inner surface of the case 101 by metal vapor deposition or the like.

図1に戻って、制御部4は、MCU(Micro Controller Unit)からなり、投光指令生成部20、A/D(アナログ−デジタル)変換器21,22、および距離算出部23を有している。投光指令生成部20は、定期的にまたは不定期に、投光部1に対して投光指令信号を出力する。A/D変換器21は、受光部2の出力信号に対してサンプリングを行い、当該出力信号をA/D変換する。A/D変換器22は、モニタ光検出部3の出力信号に対してサンプリングを行い、当該出力信号をA/D変換する。距離算出部23は、A/D変換器21でA/D変換された受光部2の出力信号と、A/D変換器22でA/D変換されたモニタ光検出部3の出力信号とに基づいて、対象物TGまでの距離を算出する。A/D変換器21は、本発明における「第1のA/D変換器」に相当し、A/D変換器22は、本発明における「第2のA/D変換器」に相当する。   Returning to FIG. 1, the control unit 4 includes an MCU (Micro Controller Unit), and includes a projection command generation unit 20, A / D (analog-digital) converters 21 and 22, and a distance calculation unit 23. Yes. The projection command generator 20 outputs a projection command signal to the projection unit 1 regularly or irregularly. The A / D converter 21 samples the output signal of the light receiving unit 2 and A / D converts the output signal. The A / D converter 22 samples the output signal of the monitor light detection unit 3 and A / D converts the output signal. The distance calculation unit 23 converts the output signal of the light receiving unit 2 A / D converted by the A / D converter 21 and the output signal of the monitor light detection unit 3 A / D converted by the A / D converter 22. Based on this, the distance to the object TG is calculated. The A / D converter 21 corresponds to a “first A / D converter” in the present invention, and the A / D converter 22 corresponds to a “second A / D converter” in the present invention.

図3は、モニタ光検出部3の具体的な回路構成を示している。フォトダイオード10のカソードは直流電源V1に接続されており、アノードは増幅回路11の入力端に接続されている。増幅回路11は、演算増幅器11aおよび抵抗11bから構成されている。演算増幅器11aの入力端はフォトダイオード10のアノードに接続されており、出力端はクランプ回路12の入力端に接続されている。抵抗11bは、演算増幅器11aの入力端と出力端にまたがって設けられている。クランプ回路12は、ダイオード12aおよびダイオード12bを備えている。ダイオード12aのカソードは直流電源V2に接続されており、アノードは増幅回路11の出力端に接続されている。ダイオード12bのカソードは増幅回路11の出力端に接続されており、アノードは接地されている。直流電源V1の電圧は、たとえば20ボルトである。直流電源V2の電圧は、たとえば5ボルトである。   FIG. 3 shows a specific circuit configuration of the monitor light detection unit 3. The cathode of the photodiode 10 is connected to the DC power supply V 1, and the anode is connected to the input terminal of the amplifier circuit 11. The amplifier circuit 11 includes an operational amplifier 11a and a resistor 11b. The input terminal of the operational amplifier 11 a is connected to the anode of the photodiode 10, and the output terminal is connected to the input terminal of the clamp circuit 12. The resistor 11b is provided across the input end and the output end of the operational amplifier 11a. The clamp circuit 12 includes a diode 12a and a diode 12b. The cathode of the diode 12 a is connected to the DC power supply V <b> 2 and the anode is connected to the output terminal of the amplifier circuit 11. The cathode of the diode 12b is connected to the output terminal of the amplifier circuit 11, and the anode is grounded. The voltage of the DC power supply V1 is 20 volts, for example. The voltage of DC power supply V2 is 5 volts, for example.

図4(a)は、増幅回路11で増幅される前の、フォトダイオード10に流れる電流(光電流)の波形を示している。図4(b)は、この電流を増幅回路11で電圧に変換して増幅した後の電圧の波形を示している。破線は、増幅回路11を通過した後の、飽和レベルまで増幅された電圧波形である。飽和レベルとは、後述するように、A/D変換器22の最大入力電圧値を超えるレベルをいう。実線は、クランプ回路12を通過した後の電圧波形、すなわち一定のレベルにクランプされた電圧波形である。たとえば、図3において、直流電源V2の電圧を5ボルト、ダイオード12aの順方向電圧降下を0.6ボルトとした場合、増幅回路11で電圧が飽和レベルまで増幅されておれば、ダイオード12aは順バイアスとなって、増幅回路11の出力電圧は、5.6ボルトにクランプされる。   FIG. 4A shows the waveform of the current (photocurrent) flowing through the photodiode 10 before being amplified by the amplifier circuit 11. FIG. 4B shows a voltage waveform after the current is converted into a voltage by the amplifier circuit 11 and amplified. A broken line is a voltage waveform amplified to the saturation level after passing through the amplifier circuit 11. The saturation level means a level exceeding the maximum input voltage value of the A / D converter 22 as will be described later. The solid line is a voltage waveform after passing through the clamp circuit 12, that is, a voltage waveform clamped to a certain level. For example, in FIG. 3, when the voltage of the DC power supply V2 is 5 volts and the forward voltage drop of the diode 12a is 0.6 volts, the diode 12a is forwarded if the voltage is amplified to the saturation level by the amplifier circuit 11. As a bias, the output voltage of the amplifier circuit 11 is clamped to 5.6 volts.

本実施形態では、増幅回路11の演算増幅器11aのゲインが、きわめて大きな値(たとえば、3000〜10000倍)に設定されている。このため、増幅回路11の入力信号は、確実に飽和レベルまで増幅され、増幅回路11を通過した信号は、図4(b)のような急峻な立ち上がりを持った信号となる。また、クランプ回路12を通過した信号も、クランプによってレベルは下がるものの、急峻な立ち上がりはそのまま維持される。   In the present embodiment, the gain of the operational amplifier 11a of the amplifier circuit 11 is set to a very large value (for example, 3000 to 10,000 times). Therefore, the input signal of the amplifier circuit 11 is reliably amplified to the saturation level, and the signal that has passed through the amplifier circuit 11 becomes a signal having a steep rise as shown in FIG. Further, the signal that has passed through the clamp circuit 12 also maintains its steep rise as it is, although the level is lowered by the clamp.

図5(a)に示すように、増幅回路11の入力信号、すなわちフォトダイオード10の電流の波形が、周囲温度や電源電圧などに応じてP、Qのように変動すると、信号レベルが閾値を超えるタイミングのばらつきδ1が大きくなる。しかるに、これらの信号を増幅回路11で飽和レベルまで増幅して、立ち上がりを急峻にすることにより、図5(b)に示すように、波形の変動が小さくなり、信号レベルが閾値を超えるタイミングのばらつきδ2が小さくなる。なお、この閾値は、後述するように、固体レーザ5から投光されたレーザ光の飛行時間を算出する際に必要となるものである。   As shown in FIG. 5A, when the input signal of the amplifier circuit 11, that is, the current waveform of the photodiode 10, fluctuates like P and Q according to the ambient temperature, the power supply voltage, etc., the signal level reaches the threshold value. The exceeding timing variation δ1 increases. However, by amplifying these signals to the saturation level by the amplifier circuit 11 and making the rise steep, the fluctuation of the waveform is reduced as shown in FIG. 5B, and the timing at which the signal level exceeds the threshold value. The variation δ2 is reduced. Note that this threshold value is necessary when calculating the flight time of the laser light projected from the solid-state laser 5, as will be described later.

図6は、モニタ光検出部3の出力信号(飽和増幅後にクランプされた電圧)に対して設定される閾値Vthと、各種の電圧レベルとの関係を示している。閾値Vthは、前記のようにレーザ光の飛行時間の算出に必要な閾値であり、制御部4に備わる内部メモリ(図示省略)に記憶されている。   FIG. 6 shows the relationship between the threshold value Vth set for the output signal of the monitor light detector 3 (voltage clamped after saturation amplification) and various voltage levels. The threshold value Vth is a threshold value necessary for calculating the flight time of the laser light as described above, and is stored in an internal memory (not shown) provided in the control unit 4.

飽和レベルLsは、増幅回路11により飽和増幅された電圧のレベルであり、具体的には、A/D変換器22の最大入力電圧値を超えるレベルである。MCUポート定格レベルLmは、制御部4の入力ポートのうち、A/D変換器22に対応する入力ポートにおける入力許容電圧のレベル、つまり上述したA/D変換器22の最大入力電圧値である。クランプレベルLcは、飽和増幅された電圧がクランプ回路12でクランプされたときのクランプ電圧のレベルである。ノイズレベルLzは、増幅回路11のゲインが大きいことに起因して現れるノイズ信号の電圧レベルである。   The saturation level Ls is a voltage level that is saturated and amplified by the amplifier circuit 11, and specifically, a level that exceeds the maximum input voltage value of the A / D converter 22. The MCU port rated level Lm is the level of the input allowable voltage at the input port corresponding to the A / D converter 22 among the input ports of the control unit 4, that is, the maximum input voltage value of the A / D converter 22 described above. . The clamp level Lc is the level of the clamp voltage when the saturated and amplified voltage is clamped by the clamp circuit 12. The noise level Lz is a voltage level of a noise signal that appears due to the gain of the amplifier circuit 11 being large.

図6からわかるように、閾値Vthは、クランプレベルLcより低いレベルで、かつノイズレベルLzより高いレベルに設定されている(Lz<Vth<Lc)。これにより、ノイズに起因するモニタ光の誤検出を回避することができる。また、クランプレベルLcは、閾値Vthより高いレベルで、かつMCUポート定格レベルLm(A/D変換器22の最大入力電圧値)より低いレベルに設定されている(Vth<Lc<Lm)。これにより、MCUの入力ポートに過電圧が印加されて素子が破壊されるのを回避することができる。   As can be seen from FIG. 6, the threshold value Vth is set to a level lower than the clamp level Lc and higher than the noise level Lz (Lz <Vth <Lc). Thereby, erroneous detection of monitor light due to noise can be avoided. The clamp level Lc is set to a level higher than the threshold Vth and lower than the MCU port rated level Lm (the maximum input voltage value of the A / D converter 22) (Vth <Lc <Lm). Thereby, it can be avoided that an overvoltage is applied to the input port of the MCU and the element is destroyed.

図7は、距離測定装置100の動作を示したタイミングチャートである。(a)はレーザダイオード6の出力(励起光)、(b)は固体レーザ5の出力(出射光)、(c)はモニタ光検出部3の出力、(d)は受光部2の出力を表している。以下、図7に基づいて、対象物TGまでの距離を測定する方法を説明する。   FIG. 7 is a timing chart showing the operation of the distance measuring apparatus 100. (A) is the output (excitation light) of the laser diode 6, (b) is the output (emitted light) of the solid-state laser 5, (c) is the output of the monitor light detector 3, and (d) is the output of the light receiver 2. Represents. Hereinafter, a method for measuring the distance to the object TG will be described with reference to FIG.

図7において、(a)に示すように、時刻x1でレーザダイオード6が固体レーザ5に対して励起光を投光する。なお、レーザダイオードは固体レーザと異なり、光の出射までに時間遅れがほとんどないので、時刻x1は投光指令生成部20から投光指令信号が出力された時刻とみなして差し支えない。この時点から一定時間が経過した時刻x2において、(b)に示すように、固体レーザ5がレーザ光を出射する。このレーザ光の一部はモニタ光として、モニタ光検出部3のフォトダイオード10で受光される(図2)。その結果、(c)に示すように、時刻x2から少し遅れて、モニタ光検出部3から検出信号が出力される。この検出信号のレベルは、時刻x3で閾値Vthを超える。このときの時刻x3は、時刻x2から時間t1が経過した時点であり、また時刻x1から時間t2が経過した時点である。固体レーザ5から投光されたレーザ光は、対象物TGで反射し、反射光となって受光部2のフォトダイオード8で受光される。その結果、(d)に示すように、時刻x1から時間t3が経過した時刻x4において、受光部2から受光信号が出力される。   In FIG. 7, as shown in FIG. 7A, the laser diode 6 projects excitation light onto the solid-state laser 5 at time x <b> 1. Note that, unlike a solid state laser, a laser diode has almost no time delay until light is emitted, and therefore the time x1 can be regarded as the time when a light projection command signal is output from the light projection command generator 20. At a time x2 when a predetermined time has elapsed from this point, the solid-state laser 5 emits a laser beam as shown in (b). A part of the laser light is received as monitor light by the photodiode 10 of the monitor light detector 3 (FIG. 2). As a result, as shown in (c), a detection signal is output from the monitor light detection unit 3 with a slight delay from the time x2. The level of this detection signal exceeds the threshold value Vth at time x3. The time x3 at this time is a time when the time t1 has elapsed from the time x2, and is a time when the time t2 has elapsed from the time x1. The laser light projected from the solid-state laser 5 is reflected by the object TG and is received by the photodiode 8 of the light receiving unit 2 as reflected light. As a result, as shown in (d), a light reception signal is output from the light receiving unit 2 at time x4 when time t3 has elapsed from time x1.

対象物TGまでの距離は、上記の時間t1、t2、t3を用いて、距離算出部23により次のようにして算出される。図7において、レーザ光の投光時刻x2から、反射光の受光時刻x4までの時間Tは、レーザ光が距離測定装置100と対象物TGとの間を往復する時間、すなわちレーザ光の飛行時間(TOF:Time of Flight)である。したがって、対象物TGまでの距離をD、光速をc(c=3×10m/s)としたとき、
D=(T/2)・c
の関係が成立する。そして、図7からわかるように、
T=t3−t2+t1
であるから、距離Dは次式により算出される。
D=[(t3−t2+t1)/2]・c ・・・ (1)
The distance to the object TG is calculated as follows by the distance calculation unit 23 using the times t1, t2, and t3. In FIG. 7, the time T from the laser beam projection time x2 to the reflected light reception time x4 is the time for the laser beam to reciprocate between the distance measuring device 100 and the object TG, that is, the flight time of the laser beam. (TOF: Time of Flight). Therefore, when the distance to the object TG is D and the speed of light is c (c = 3 × 10 8 m / s),
D = (T / 2) · c
The relationship is established. And as you can see from Figure 7,
T = t3-t2 + t1
Therefore, the distance D is calculated by the following equation.
D = [(t3−t2 + t1) / 2] · c (1)

ここで、励起光の投光時刻x1、モニタ光の検出信号が閾値Vthを超える時刻x3、および反射光の受光時刻x4は、制御部4が直接把握することのできる時刻である。したがって、時間t2および時間t3は、次式から求めることができる。
t2=x3−x1
t3=x4−x1
Here, the light projection time x1 of the excitation light, the time x3 when the detection signal of the monitor light exceeds the threshold value Vth, and the light reception time x4 of the reflected light are times that the control unit 4 can directly grasp. Therefore, the time t2 and the time t3 can be obtained from the following equations.
t2 = x3-x1
t3 = x4-x1

一方、レーザ光の投光時刻x2は、制御部4が直接把握することができないため、時間t1をt1=x3−x2の演算によって求めることはできない。しかしながら、この時間t1は、フォトダイオード10の応答遅れに相当する時間であり、素子固有の値であるから、ほぼ一定値とみてよい。したがって、時間t1の値を制御部4の内部メモリにパラメータ(定数)として記憶しておき、前記の式(1)の演算時にこのパラメータを参照することで、対象物TGまでの距離Dを算出することができる。なお、時間t1の温度依存性を考慮して、温度と時間値とを対応付けたテーブルを内部メモリに設けてもよい。   On the other hand, since the control unit 4 cannot directly grasp the laser beam projection time x2, the time t1 cannot be obtained by the calculation of t1 = x3-x2. However, this time t1 is a time corresponding to the response delay of the photodiode 10, and is a value unique to the element, and may be regarded as a substantially constant value. Therefore, the value of the time t1 is stored as a parameter (constant) in the internal memory of the control unit 4, and the distance D to the object TG is calculated by referring to this parameter when calculating the above equation (1). can do. In consideration of the temperature dependence of the time t1, a table in which the temperature and the time value are associated may be provided in the internal memory.

ところで、固体レーザには、高エネルギーのパルス光を出射させるために、共振器のQ値(性能指数)を切り替えるQスイッチが付設される。Qスイッチには、電気的または機械的にQ値を切り替える能動Qスイッチと、過飽和吸収体を用いて自動的にQ値を切り替える受動Qスイッチとがある。このうち、特に、受動Qスイッチを用いた固体レーザでは、励起光の入射からレーザ光の出射までの時間、つまりレーザ光の投光時刻(図7の時刻x2)が、周囲温度や電源電圧などに応じて大きくばらつく。したがって、これに伴って、モニタ光検出部3の出力信号が閾値Vthを超える時刻(図7の時刻x3)も大きくばらつくが、前述のように、時刻x2から時刻x3までの時間t1は、ほぼ一定であるため、固体レーザ5が受動Qスイッチ方式のものであっても、投光時刻のばらつきの影響は小さい。   By the way, the solid-state laser is provided with a Q switch for switching the Q value (performance index) of the resonator in order to emit high-energy pulsed light. The Q switch includes an active Q switch that switches the Q value electrically or mechanically and a passive Q switch that automatically switches the Q value using a saturable absorber. Among these, in particular, in a solid-state laser using a passive Q switch, the time from excitation light incidence to laser light emission, that is, the laser light projection time (time x2 in FIG. 7) is the ambient temperature, power supply voltage, etc. It varies widely according to. Accordingly, along with this, the time when the output signal of the monitor light detection unit 3 exceeds the threshold value Vth (time x3 in FIG. 7) varies greatly, but as described above, the time t1 from the time x2 to the time x3 is almost equal. Since it is constant, even if the solid-state laser 5 is of the passive Q switch type, the influence of the variation in the projection time is small.

また、本実施形態では、図5でも説明したように、フォトダイオード10の電流を増幅回路11で飽和レベルまで増幅することにより、モニタ光検出部3の出力信号の立ち上がりを急峻にしている。このため、フォトダイオード10の特性が温度や電圧などに応じて変動しても、出力信号が閾値Vthを超えるタイミング(図7の時刻x3)のばらつき(図5(b)のδ2)を小さく抑えることができる。その結果、図7の時間t1およびt2のばらつきが小さくなるので、前記の式(1)により算出される距離Dの値のばらつきも小さくなって、測定精度が向上する。   In the present embodiment, as described with reference to FIG. 5, the rising of the output signal of the monitor light detection unit 3 is made steep by amplifying the current of the photodiode 10 to the saturation level by the amplifier circuit 11. For this reason, even if the characteristics of the photodiode 10 fluctuate according to temperature, voltage, etc., the variation in timing (time x3 in FIG. 7) when the output signal exceeds the threshold Vth (δ2 in FIG. 5B) is kept small. be able to. As a result, variations in the times t1 and t2 in FIG. 7 are reduced, so that variations in the value of the distance D calculated by the above equation (1) are also reduced, and measurement accuracy is improved.

図8は、増幅回路11で飽和増幅を行わない場合の比較例を示している。この場合、モニタ光検出部3の出力信号は、(c)に示すような緩やかな立ち上がりを持った信号となる。このため、フォトダイオード10の特性が温度や電圧などに応じて変動すると、出力信号の波形は、たとえば図9に示すように変化し、出力信号が閾値Vth’を超えるタイミングがτ1〜τ3のように大きくばらつく。このため、図8の時間t1’およびt2’のばらつきが大きくなるので、前記の式(1)により算出される距離Dの値のばらつきも大きくなって、測定精度が低下する。   FIG. 8 shows a comparative example when saturation amplification is not performed in the amplifier circuit 11. In this case, the output signal of the monitor light detector 3 is a signal having a gradual rise as shown in (c). Therefore, when the characteristics of the photodiode 10 fluctuate according to temperature, voltage, etc., the waveform of the output signal changes as shown in FIG. 9, for example, and the timing when the output signal exceeds the threshold value Vth ′ is τ1 to τ3 Greatly varies. For this reason, the variations in the times t1 'and t2' in FIG. 8 are increased, so that the variation in the value of the distance D calculated by the above equation (1) is also increased, and the measurement accuracy is lowered.

図10は、本発明の他の実施形態を示している。図1の実施形態では、対象物TGに向けてレーザ光を投光する光源として固体レーザ5を用いたが、図10の実施形態では、対象物TGに向けてレーザ光を投光する光源として、半導体レーザであるレーザダイオード15を用いている。投光回路16は、制御部4からの投光指令信号に基づいて、レーザダイオード15を駆動するための駆動信号を出力する。その他の構成については、図1と同じであるので、重複部分の説明は省略する。図10の距離測定装置100においても、図1の場合と同様の原理に従って、対象物TGまでの距離を高精度に測定することができる。   FIG. 10 shows another embodiment of the present invention. In the embodiment of FIG. 1, the solid-state laser 5 is used as a light source that projects laser light toward the object TG. However, in the embodiment of FIG. 10, as a light source that projects laser light toward the object TG. A laser diode 15 which is a semiconductor laser is used. The light projecting circuit 16 outputs a drive signal for driving the laser diode 15 based on the light project command signal from the control unit 4. Since other configurations are the same as those in FIG. 1, description of overlapping portions is omitted. 10 can measure the distance to the object TG with high accuracy according to the same principle as in FIG.

本発明は、以上述べた実施形態以外にも、以下のような種々の実施形態を採用することができる。   In addition to the embodiments described above, the present invention can employ the following various embodiments.

前記の実施形態では、フォトダイオード10の出力信号(電流)を増幅回路11において飽和レベルまで増幅したが、必ずしも飽和レベルまで増幅しなくてもよい。たとえば、飽和レベル付近にあって飽和レベルよりも低いレベルまで増幅してもよい。   In the above embodiment, the output signal (current) of the photodiode 10 is amplified to the saturation level in the amplifier circuit 11, but it is not always necessary to amplify to the saturation level. For example, it may be amplified to a level near the saturation level and lower than the saturation level.

前記の実施形態では、受光素子としてフォトダイオード8、10を用いたが、フォトダイオードの替わりにフォトトランジスタなどを用いてもよい。   In the above embodiment, the photodiodes 8 and 10 are used as the light receiving elements, but a phototransistor or the like may be used instead of the photodiode.

前記の実施形態では、制御部4を構成するMCUの内部に、A/D変換器21,22が設けられている例を挙げたが、A/D変換器21,22はMCUの外部に設けられていてもよい。   In the above-described embodiment, the example in which the A / D converters 21 and 22 are provided inside the MCU configuring the control unit 4 has been described, but the A / D converters 21 and 22 are provided outside the MCU. It may be done.

前記の実施形態では、車両に搭載される距離測定装置100を例に挙げたが、本発明は、車両以外の分野で用いられる距離測定装置にも適用することができる。   In the above-described embodiment, the distance measuring device 100 mounted on the vehicle is taken as an example, but the present invention can also be applied to a distance measuring device used in fields other than the vehicle.

1 投光部
2 受光部
3 モニタ光検出部
5 固体レーザ
10 フォトダイオード(受光素子)
11 増幅回路
12 クランプ回路
15 レーザダイオード
21 A/D変換器(第1のA/D変換器)
22 A/D変換器(第2のA/D変換器)
23 距離算出部
100 距離測定装置
TG 対象物
Ls 飽和レベル
Lm MCUポート定格レベル(A/D変換器22の最大入力電圧値)
Lc クランプレベル
Vth 閾値
T 飛行時間
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light projection part 2 Light reception part 3 Monitor light detection part 5 Solid state laser 10 Photodiode (light receiving element)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Amplifier circuit 12 Clamp circuit 15 Laser diode 21 A / D converter (1st A / D converter)
22 A / D converter (second A / D converter)
23 Distance calculation unit 100 Distance measuring device TG Object Ls Saturation level Lm MCU port rated level (Maximum input voltage value of A / D converter 22)
Lc Clamp level Vth threshold T Flight time

Claims (6)

対象物に向けてレーザ光を投光する投光部と、
前記レーザ光が前記対象物で反射した反射光を受光する受光部と、
前記投光部から投光されたレーザ光の一部をモニタ光として検出するモニタ光検出部と、
前記受光部の出力信号をアナログ−デジタル変換する第1のA/D変換器と、
前記モニタ光検出部の出力信号をアナログ−デジタル変換する第2のA/D変換器と、
前記第1のA/D変換器および前記第2のA/D変換器の出力に基づいて、前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、を備え、
前記モニタ光検出部は、
前記モニタ光を受光する受光素子と、
前記受光素子の出力信号を所定レベルまで増幅する増幅回路と、
前記増幅回路の出力信号のレベルを、前記所定レベルより低いクランプレベルに固定するクランプ回路とを有する、ことを特徴とする距離測定装置。
A light projecting unit that projects laser light toward an object;
A light receiving unit that receives the reflected light reflected by the object by the laser beam;
A monitor light detector that detects a part of the laser light projected from the light projector as monitor light;
A first A / D converter for analog-digital conversion of an output signal of the light receiving unit;
A second A / D converter for analog-digital conversion of an output signal of the monitor light detection unit;
A distance calculation unit that calculates a distance to the object based on outputs of the first A / D converter and the second A / D converter;
The monitor light detector is
A light receiving element for receiving the monitor light;
An amplification circuit for amplifying the output signal of the light receiving element to a predetermined level;
A distance measuring device comprising: a clamp circuit that fixes a level of an output signal of the amplifier circuit to a clamp level lower than the predetermined level.
請求項1に記載の距離測定装置において、
前記増幅回路は、前記受光素子の出力信号を、前記第2のA/D変換器の最大入力電圧値を超える飽和レベルまで増幅する、ことを特徴とする距離測定装置。
The distance measuring device according to claim 1,
The distance measuring device, wherein the amplifier circuit amplifies the output signal of the light receiving element to a saturation level exceeding a maximum input voltage value of the second A / D converter.
請求項1または請求項2に記載の距離測定装置において、
前記モニタ光検出部の出力信号に対して、前記クランプレベルより低いレベルの閾値が設定されており、
前記距離算出部は、
前記モニタ光検出部の出力信号のレベルが前記閾値を超える時刻と、前記受光部が前記反射光を受光した時刻と、前記モニタ光検出部の前記受光素子の応答遅れに相当する時間とに基づいて、前記投光部から投光されたレーザ光の飛行時間を算出し、前記飛行時間に基づいて前記対象物までの距離を算出する、ことを特徴とする距離測定装置。
In the distance measuring device according to claim 1 or 2,
For the output signal of the monitor light detection unit, a threshold value that is lower than the clamp level is set,
The distance calculation unit
Based on the time when the level of the output signal of the monitor light detection unit exceeds the threshold, the time when the light receiving unit receives the reflected light, and the time corresponding to the response delay of the light receiving element of the monitor light detection unit A distance measuring device that calculates a flight time of the laser light projected from the light projecting unit and calculates a distance to the object based on the flight time.
請求項3に記載の距離測定装置において、
前記クランプレベルは、前記閾値より高く、かつ前記第2のA/D変換器の最大入力電圧値より低いレベルである、ことを特徴とする距離測定装置。
The distance measuring device according to claim 3,
The distance measuring device according to claim 1, wherein the clamp level is higher than the threshold and lower than a maximum input voltage value of the second A / D converter.
請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の距離測定装置において、
前記投光部は、前記対象物に向けてレーザ光を投光する固体レーザを含む、ことを特徴とする距離測定装置。
The distance measuring device according to any one of claims 1 to 4,
The distance measuring device, wherein the light projecting unit includes a solid-state laser that projects laser light toward the object.
請求項1ないし請求項4のいずれかに記載の距離測定装置において、
前記投光部は、前記対象物に向けてレーザ光を投光するレーザダイオードを含む、ことを特徴とする距離測定装置。
The distance measuring device according to any one of claims 1 to 4,
The distance measuring device, wherein the light projecting unit includes a laser diode that projects laser light toward the object.
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