JP2018031759A - Ct装置 - Google Patents

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智哉 木村
Tomoya Kimura
智哉 木村
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Abstract

【課題】内部機器や被検体の損傷を避けるCT装置を提供する。【解決手段】X線源1とX線検出器2と、X線検出器2をx軸方向に移動させる検出器移動機構と、被検体3を載置して回転軸Cを中心として回転手段により回転する回転テーブル5と、回転の多数の方向で検出された透過像から被検体3の断層像を再構成するCT装置において、被検体3の外観形状を三次元的に取得する三次元スキャナ4を有することを特徴とするCT装置。【選択図】図1

Description

本発明は被検体の断層像を撮像するコンピュータ断層撮影装置(以下、CT(Computed Tomography)装置と呼ぶ)に関する。
図6は一般的なCT装置の平面図で、図7は同様に一般的なCT装置の正面図である。X線源1(放射線源)と二次元の撮像領域を持つX線検出器2(放射線検出手段)との間に被検体3を載置するテーブル5が配置されている。被検体3の断層像を生成するときは、X線源1から被検体3に向けて円錐状のX線ビームB(放射線)を照射すると共に、X線光軸Lと直交し、回転軸Cを中心とするテーブル5を回転手段6により回転させ、被検体3の複数の異なる角度方向から透過するX線ビームBをX線検出器2で検出し、複数の角度方向からの透過像を収集する操作を行う。これをスキャンと呼ぶ。情報処理部11は、たとえば、汎用のワークステーション等の計算機が用いられ、CPU、主メモリ、記録ディスク、機構制御用ボード、キーボード、マウス、モニタで構成されている。スキャンにより収集された透過像は再構成手段12により画像再構成と呼ばれる演算を行い、被検体3の三次元画像(多数の断層像)を生成することができる。通常、断層像の再構成演算には、フィルタ補正逆投影法(FBP(Filtered Back Projection)法)が用いられている。
テーブル5の回転軸Cはテーブル移動機構8と検出器移動機構9のそれぞれのx軸方向の移動により、X線焦点Fと回転軸Cの距離(以下、FCD(Focus to rotation Center Distance)と呼ぶ)及びX線焦点FとX線検出器2の距離(以下、FDD(Focus to Detector Distance)と呼ぶ)を、それぞれ連続的に変更することができる。これにより幾何倍率(=FDD/FCD)を変更することができるので、被検体3の大きさやスキャン目的に応じて適切な撮影範囲に変更することができる。
被検体3のスキャンする部位を上下方向へ移動するために、テーブル昇降機構7は、テーブル5をz軸方向に移動させることができる。
一般的なCT装置では、回転軸CがX線焦点Fに近づくほど、前記幾何倍率が大きくなり、一般にスキャンした断層像の分解能は向上する。
特開2002−310943号公報
より良い分解能の画像を撮影する場合に、被検体3を載せたテーブル5をX線源1に可能な限り近づけてスキャンする必要がある。
このとき、被検体3を載せたテーブル5の位置設定は操作者に任せられており、被検体3の形状によりX線源1の構造体と接触をおこさない限界領域の把握は困難であるという問題点があり、従来は目視により被検体3とX線源1が接触を起こさないかどうかを確認していた。
本発明は、このような問題点に鑑みて、テーブル5に載置した被検体3の外観形状を取得し、接触する可能性がある領域をスキャンの前に予め把握し、テーブル5の動作範囲を制限することで、内部機器(たとえば、X線源1やX線検出器2)や被検体3の損傷を避けるCT装置を提供することを目的とする。
前記目的を達成するため、実施形態のCT装置は、テーブル上に載置された被検体に向けて放射線を放射する放射線源と、前記被検体を透過した放射線を検出して透過像として出力する放射線検出手段と、前記放射線と交差する回転軸に対し前記テーブルと前記放射線とを相対的に回転させる回転手段6と、前記回転の多数の方向で検出された透過像から前記被検体の断層像を再構成する再構成手段12を有するCT装置において、前記被検体の外観形状を三次元的に取得する外観形状取得手段を有することを要旨とする。
本発明によれば、被検体や装置に損傷を与えることが無く、安全に幾何倍率の高い高分解能な画像を得ることができる。
本発明の実施形態に係るCT装置の幾何配置を平面で示した模式図。 本発明の実施形態に係るCT装置の幾何配置を正面で示した模式図。 被検体外観例を示した模式図。 被検体回転軌跡例を示した模式図。 X線源と被検体の回転軌跡が接触しない領域を示した模式図。 一般的なCT装置の幾何配置を平面で示した模式図。 一般的なCT装置の幾何配置を正面で示した模式図。
本発明の実施形態にかかるCT装置について図を用いて説明する。以下の説明において、前述と同一部分には同一符号を用いて説明を省略し、類似部分には類似記号を用いて説明する。
<本発明の実施形態>
本発明の実施形態をCT装置を例にして説明する。図1は本発明の実施形態に係るCT装置の幾何配置を平面で示した模式図を示す。また、図2は本発明の実施形態に係るCT装置の幾何配置を正面で示した模式図を示す。
図1と図2に示すように、実施形態に係るCT装置はX線源1と、X線検出器2と、X線検出器2をx軸方向に移動させる検出器移動機構9と、被検体3を載置して回転軸Cを中心として回転手段6により回転するテーブル5と、テーブル5を昇降動作させるテーブル昇降機構7と、テーブル5をx軸方向に移動させるテーブル移動機構8と、被検体3の外観形状を取得する三次元スキャナ4(外観形状取得手段)とを備えている。
図3(a)は実施形態に係る、被検体3を平面で示した模式図を示す。図3(b)は被検体3を正面で示した模式図を示す。図3(c)は被検体3を側面で示した模式図を示す。図3(d)は被検体3を鳥瞰で示した模式図を示す。
図4(a)は実施形態に係る、被検体3をテーブル5に載置し、テーブル5を360°回転させた際の被検体3の回転軌跡10を正面で示した模式図を示す。また、図4(b)は本発明の実施形態に係る、被検体3をテーブル5に載置し、テーブル5を360°回転させた際の被検体3の回転軌跡10を鳥瞰で示した模式図を示す。
図5(a)と図5(b)は実施形態に係る、被検体3をテーブル5に載置し、テーブル5を360°回転させたときの被検体3が描く包絡体積の回転軌跡10が、X線源1に接触しない範囲でX線源1に最も近づけた際の配置例を示す。
高い幾何倍率でスキャンをするためには、FCDを極力短くすることが必要である。スキャンの際には、被検体3を回転手段6で回転させるため、図4(b)で示す被検体3の回転軌跡10とX線源1が接触しないようにしなければならない。
図5(a)で示すように、被検体3の下部側は上部側に比べ回転軌跡が大きいため、接触しないようにFCDを大きくする必要がある。
図5(b)で示すように、被検体3の上部側は、下部側に比べ回転軌跡が小さいため、接触しないFCDを小さくすることができる。
このように被検体3の形状により、スキャンできる最大の幾何倍率は被検体3の部位ごとに変わるが、操作者がこの接触を起こさないための最小FCDを把握して、操作を行うことは非常に困難である。
テーブル5に載置した被検体3の外観形状を取得する機能を持つ三次元スキャナ4はテーブル5の側面もしくは側面上方かつ、前記内部機構のy軸方向の中間付近に固定配置されている。これによって外観形状を取得する際に被検体3と前記内部機構とが接触する可能性を排除することができ、安全に外観形状の取得を行うことができる。また、三次元スキャナ4は、テーブル昇降機構7もしくはテーブル移動機構8に固定されていても良い。
スキャンを行う前に、回転手段6により被検体3を回転させて、三次元スキャナ4により回転軸Cを中心とする被検体3の全周の外観形状を取得し、その被検体3の回転軸Cを中心とした回転軌跡10の情報を情報処理部11が有する接触領域把握手段13により取得する(たとえば図4(b)参照)。なお、三次元スキャナ4は同様の機能を持つ別の手段であっても良い。
この回転軌跡10と前記内部機器が接触する可能性がある領域では、テーブル昇降機構7またはテーブル移動機構8または検出器移動機構9またはテーブル5の動作範囲を情報処理部11が有するテーブル動作制限手段14により自動的に制限する。
これにより、操作者は、スキャンを行う前に予め被検体3の外観形状を取得することができ、被検体3と内部機器との接触する可能性がある領域を確認することができ、被検体3と内部機器の接触を防止し、被検体3と前記内部機器の損傷を防止することができる。したがって、操作者は被検体3や前記内部機器に損傷を与えることが無く、安全に幾何倍率の高い高分解能な画像を得ることができる。
F…X線焦点、B…X線ビーム、L…X線光軸、C…回転軸、1…X線源、2…X線検出器、3…被検体、4…三次元スキャナ、5…テーブル、6…回転手段、7…テーブル昇降機構、8…テーブル移動機構、9…検出器移動機構、10…被検体3が描く包絡体積の回転軌跡、11…情報処理部、12…再構成手段、13…接触領域把握手段、14…テーブル動作制限手段

Claims (3)

  1. テーブル上に載置された被検体に向けて放射線を放射する放射線源と、
    前記被検体を透過した放射線を検出して透過像として出力する放射線検出手段と、
    前記放射線と交差する回転軸に対し前記テーブルと前記放射線とを相対的に回転させる回転手段と、
    前記回転の多数の方向で検出された透過像から前記被検体の断層像を再構成する再構成手段を有するCT装置において、
    前記被検体の外観形状を三次元的に取得する外観形状取得手段を有することを特徴とするCT装置。
  2. 請求項1に記載のCT装置において、
    前記外観形状取得手段により取得した前記被検体の外観形状をもとに、前記CT装置の内部機器と前記被検体とが物理的接触を起こす領域を把握する接触領域把握手段を有するCT装置。
  3. 請求項1または請求項2に記載のCT装置において、
    前記被検体が前記内部機器と物理的接触を起こす領域での前記テーブルの動作範囲を制限するテーブル動作制限手段を有するCT装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2020041954A (ja) * 2018-09-12 2020-03-19 東芝Itコントロールシステム株式会社 X線検査装置
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