JP2017228109A - Electronic apparatus - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To correctly discriminate displacement states of a first housing and a second housing by a simple constitution.SOLUTION: An electronic apparatus 100 includes: a first housing 10 and a second housing 20 arranged so as to be displaced in a first state (left figure) where first main surfaces 10a, 20a are opposed to each other and a second state (right figure) where second main surfaces 10b, 20b are opposed to each other; a magnetic detection unit 40 arranged in the first housing 10; a magnet 50 arranged in the second housing 20; and a control unit (not shown) for discriminating the first state and the second state on the basis of an output from the magnetic detection unit 40. The magnet 50 is arranged so that a magnetization direction is orthogonal to the first main surface 20a and the second main surface 20b of the second housing 20. The magnetic detection unit 40 includes a first magnetic sensor A and a second magnetic sensor B arranged along normal directions of the first main surface 10a and the second main surface 10b of the first housing 10.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、スマートフォン、タブレット、及び、ノートPCなどの電子機器に関する。   The present invention relates to electronic devices such as smartphones, tablets, and notebook PCs.

図16は、電子機器の一従来例を示す模式図である。本従来例の電子機器200は、本体210の上面がカバー220で覆われている第1状態(本図左)と、本体210の下面がカバー220で覆われている第2状態(本図右)を判別するための手段として、本体210に内蔵された磁気センサIC230(例えば両極検出ホールIC)と、カバー220に内蔵された磁石240を有する。なお、磁石240は、その磁化方向(=着磁方向)がカバー220の主面に対して平行となるように配設されている。   FIG. 16 is a schematic diagram showing a conventional example of an electronic device. The electronic device 200 according to the conventional example includes a first state in which the upper surface of the main body 210 is covered with the cover 220 (left in the drawing) and a second state in which the lower surface of the main body 210 is covered with the cover 220 (right in the drawing). As a means for determining the magnetic sensor IC 230 (for example, a bipolar detection Hall IC) built in the main body 210 and a magnet 240 built in the cover 220. The magnet 240 is arranged so that its magnetization direction (= magnetization direction) is parallel to the main surface of the cover 220.

一方、磁気センサIC230は、そのパッケージ主面(上面及び下面)が本体210の主面に対して平行となるように配設されており、パッケージ主面に対して垂直に印加される磁界(=垂直磁界)を検出する。本図に即して述べると、第1状態(本図左)では、パッケージの上面から下面に向かう垂直磁界が磁気センサIC230で検出される。一方、第2状態(本図右)では、パッケージの下面から上面に向かう垂直磁界が磁気センサIC230で検出される。従って、磁気センサIC230の出力極性が正であるか負であるかに基づいて、第1状態(本図左)と第2状態(本図右)を判別することができる。   On the other hand, the magnetic sensor IC 230 is arranged such that its package main surface (upper surface and lower surface) is parallel to the main surface of the main body 210, and a magnetic field (= Detect vertical magnetic field. Referring to this figure, in the first state (left figure), a vertical magnetic field from the upper surface to the lower surface of the package is detected by the magnetic sensor IC 230. On the other hand, in the second state (right in the figure), a vertical magnetic field from the lower surface to the upper surface of the package is detected by the magnetic sensor IC 230. Therefore, based on whether the output polarity of the magnetic sensor IC 230 is positive or negative, the first state (left in the figure) and the second state (right in the figure) can be distinguished.

図17は、磁石240に対する磁気センサIC230の変位量(X,Y,Z)を定義するための模式図である。本図で示したように、紙面左右方向の変位量X、紙面前後方向の変位量Y、及び、紙面上下方向の変位量Zは、それぞれ、磁石240の下面中央を原点O(0,0,0)として定義されている。また、変位量(X,Y,Z)の正負極性については、紙面右方向、紙面奥方向、及び、紙面下方向をそれぞれ正方向とする。   FIG. 17 is a schematic diagram for defining the amount of displacement (X, Y, Z) of the magnetic sensor IC 230 with respect to the magnet 240. As shown in the figure, the displacement amount X in the left-right direction of the paper surface, the displacement amount Y in the front-rear direction of the paper surface, and the displacement amount Z in the vertical direction of the paper surface are respectively set at the origin O (0, 0, 0). As for the positive and negative polarities of the displacement amounts (X, Y, Z), the right direction on the paper surface, the back direction on the paper surface, and the downward direction on the paper surface are the positive directions.

図18は、磁気センサIC230の変位量X及びZ(変位量Y=0)と垂直磁界との相関図である。なお、本図では、横軸を変位量X(mm)とし、縦軸を変位量Z(mm)としている。また、本図の前提条件として、磁石240は、縦7.5mm(紙面左右方向)×横7.5mm(紙面前後方向)×高さ0.5mm(紙面上下方向)の薄板形状であり、その残留磁束密度が1400mTであるものとする。   FIG. 18 is a correlation diagram between the displacement amounts X and Z (displacement amount Y = 0) of the magnetic sensor IC 230 and the vertical magnetic field. In this figure, the horizontal axis is the displacement amount X (mm), and the vertical axis is the displacement amount Z (mm). Also, as a precondition of this figure, the magnet 240 has a thin plate shape of 7.5 mm in length (left and right direction on paper) × 7.5 mm in width (front and rear direction on paper) × 0.5 mm in height (up and down direction on paper). It is assumed that the residual magnetic flux density is 1400 mT.

また、本図中のグラデーション領域は、垂直磁界が5mT以上となる領域であり、グラデーション濃度が高いほど垂直磁界が大きいことを示している。磁気センサIC230で検出される垂直磁界の向きから、本体210とカバー220の変位状態を正しく判別するためには、先述の第1状態または第2状態において、磁気センサIC230が本図中のグラデーション領域内(=磁石240の磁極正面から斜め方向にずれた位置)に収まるように、磁気センサIC230及び磁石240それぞれの位置決めを行っておく必要がある。   Further, the gradation area in the figure is an area where the vertical magnetic field is 5 mT or more, and indicates that the vertical magnetic field is larger as the gradation density is higher. In order to correctly determine the displacement state of the main body 210 and the cover 220 from the direction of the vertical magnetic field detected by the magnetic sensor IC 230, in the first state or the second state described above, the magnetic sensor IC 230 has a gradation area in the figure. It is necessary to position the magnetic sensor IC 230 and the magnet 240 in advance so that the magnetic sensor IC 230 and the magnet 240 are positioned within the inside (= a position shifted obliquely from the front surface of the magnetic pole of the magnet 240).

なお、上記に関連する従来技術の一例としては、特許文献1を挙げることができる。   As an example of the related art related to the above, Patent Document 1 can be cited.

特開2015−119470号公報JP2015-119470A

ただし、上記従来例の電子機器200において、磁石240の磁極正面から斜め方向にずれた位置の磁界は、最大でも磁極正面における磁界の半分程度に過ぎない上、磁石240から少し離れただけでも大きく減衰してしまう。   However, in the above-described conventional electronic device 200, the magnetic field at a position shifted in the oblique direction from the front side of the magnetic pole of the magnet 240 is only about half of the magnetic field at the front side of the magnetic pole at the maximum. It will attenuate.

そのため、上記従来例の電子機器200では、磁気センサIC230の検出距離(=垂直磁界を正しく検出することのできる距離)が短くノイズにも弱いので、カバー220の位置ズレなどにより、意図しない誤動作(=状態判別ミス)を生じるおそれがあった。   For this reason, in the above-described conventional electronic device 200, the detection distance of the magnetic sensor IC 230 (= the distance at which a vertical magnetic field can be correctly detected) is short and vulnerable to noise. = State determination error).

また、上記従来例の電子機器200では、磁気センサIC230の変位量Xがプラスからマイナスに転じると、磁気センサIC230に印加される垂直磁界の方向が反転してしまうので、本体210とカバー220の変位状態を誤検知するおそれがあった。   In the electronic device 200 of the conventional example, when the displacement amount X of the magnetic sensor IC 230 changes from positive to negative, the direction of the vertical magnetic field applied to the magnetic sensor IC 230 is reversed. There was a risk of misdetecting the displacement state.

なお、特許文献1の従来技術では、カバーに設けられる磁石を本体表面に対して斜めに傾ける必要があるので、その実装が非常に困難である上、カバーの厚みが大きくなるという課題があった。   In addition, in the prior art of patent document 1, since it was necessary to incline the magnet provided in a cover diagonally with respect to the main body surface, the mounting was very difficult and there existed a subject that the thickness of a cover became large. .

本明細書中に開示されている発明は、本願の発明者により見出された上記課題に鑑み、簡易な構成で第1筐体と第2筐体の変位状態を正しく判別することのできる電子機器を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems found by the inventors of the present application, the invention disclosed in this specification is an electronic device that can correctly determine the displacement state of the first housing and the second housing with a simple configuration. The purpose is to provide equipment.

本明細書中に開示されている電子機器は、それぞれの第1主面同士が対向する第1状態とそれぞれの第2主面同士が対向する第2状態との間で変位可能に設けられた第1筐体及び第2筐体と、前記第1筐体に設けられた磁気検出部と、前記第2筐体に設けられた磁石と、前記磁気検出部の出力に基づいて前記第1状態と前記第2状態を判別する制御部と、を有し、前記磁石は、その磁化方向が前記第2筐体の第1主面及び第2主面と直交するように配置されており、前記磁気検出部は、前記第1筐体の第1主面及び第2主面の法線方向に沿って配設された第1磁気センサ及び第2磁気センサを含む構成(第1の構成)とされている。   The electronic device disclosed in the present specification is provided so as to be displaceable between a first state in which the first main surfaces face each other and a second state in which the respective second main surfaces face each other. The first state based on the first casing and the second casing, the magnetic detection unit provided in the first casing, the magnet provided in the second casing, and the output of the magnetic detection unit And a controller for discriminating the second state, and the magnet is disposed so that the magnetization direction thereof is orthogonal to the first main surface and the second main surface of the second casing, The magnetic detection unit includes a first magnetic sensor and a second magnetic sensor (first configuration) disposed along the normal direction of the first main surface and the second main surface of the first housing. Has been.

なお、上記第1の構成から成る電子機器において、前記制御部は、前記第1磁気センサ及び前記第2磁気センサそれぞれの出力を比較して前記第1状態と前記第2状態を判別する構成(第2の構成)にするとよい。   In the electronic apparatus having the first configuration, the control unit compares the outputs of the first magnetic sensor and the second magnetic sensor to determine the first state and the second state ( The second configuration may be used.

また、上記第1または第2の構成から成る電子機器において、前記第1磁気センサ及び前記第2磁気センサは、いずれも単一の磁気センサICに集積化されている構成(第3の構成)にするとよい。   In the electronic device having the first or second configuration, the first magnetic sensor and the second magnetic sensor are both integrated in a single magnetic sensor IC (third configuration). It is good to.

また、上記第1または第2の構成から成る電子機器において、前記第1磁気センサは、第1磁気センサICに集積化されており、前記第2磁気センサは、第2磁気センサICに集積化されており、前記第1磁気センサICは、プリント基板の第1実装面に実装されており、前記第2磁気センサICは、前記プリント基板の第2実装面に実装されている構成(第4の構成)にしてもよい。   In the electronic apparatus having the first or second configuration, the first magnetic sensor is integrated in a first magnetic sensor IC, and the second magnetic sensor is integrated in a second magnetic sensor IC. The first magnetic sensor IC is mounted on the first mounting surface of the printed board, and the second magnetic sensor IC is mounted on the second mounting surface of the printed board (fourth). It is also possible to use

また、上記第1の構成から成る電子機器において、前記磁気検出部は、前記第1筐体の第1主面及び第2主面の法線方向に沿って配設された第3磁気センサ及び第4磁気センサを更に含み、前記第3磁気センサは、前記第1磁気センサと同一面上に配置されており、前記第4磁気センサは、前記第2磁気センサと同一面上に配置されている構成(第5の構成)にするとよい。   Further, in the electronic apparatus having the first configuration, the magnetic detection unit includes a third magnetic sensor disposed along a normal direction of the first main surface and the second main surface of the first housing, and The third magnetic sensor further includes a fourth magnetic sensor, the third magnetic sensor is disposed on the same plane as the first magnetic sensor, and the fourth magnetic sensor is disposed on the same plane as the second magnetic sensor. (5th configuration).

なお、上記第5の構成から成る電子機器において、前記制御部は、前記第1磁気センサ及び前記第4磁気センサの差分出力と、前記第2磁気センサ及び前記第3磁気センサの差分出力のうち、絶対値が大きい方の正負を判定して前記第1状態と前記第2状態を判別する構成(第6の構成)にするとよい。   In the electronic apparatus having the fifth configuration, the control unit may include a differential output of the first magnetic sensor and the fourth magnetic sensor and a differential output of the second magnetic sensor and the third magnetic sensor. It is preferable to adopt a configuration (sixth configuration) in which the first state and the second state are determined by determining whether the absolute value is larger.

また、上記第5または第6の構成から成る電子機器において、前記第1磁気センサ、前記第2磁気センサ、前記第3磁気センサ、及び、前記第4磁気センサは、いずれも単一の磁気センサICに集積化されている構成(第7の構成)にするとよい。   In the electronic device having the fifth or sixth configuration, each of the first magnetic sensor, the second magnetic sensor, the third magnetic sensor, and the fourth magnetic sensor is a single magnetic sensor. A configuration integrated with the IC (seventh configuration) is preferable.

また、上記第5または第6の構成から成る電子機器において、前記第1磁気センサ及び前記第2磁気センサは、いずれも第1磁気センサICに集積化されており、前記第3磁気センサ及び前記第4磁気センサは、いずれも第2磁気センサICに集積化されており、前記第1磁気センサIC及び前記第2磁気センサICは、いずれもプリント基板の同一実装面に実装されている構成(第8の構成)にしてもよい。   In the electronic device having the fifth or sixth configuration, the first magnetic sensor and the second magnetic sensor are both integrated in a first magnetic sensor IC, and the third magnetic sensor and the second magnetic sensor are integrated with each other. The fourth magnetic sensor is integrated in the second magnetic sensor IC, and the first magnetic sensor IC and the second magnetic sensor IC are both mounted on the same mounting surface of the printed circuit board ( An eighth configuration may be used.

また、上記第1〜第8いずれかの構成から成る電子機器は、前記第1筐体の第1主面に設けられた表示部と、前記第2筐体の第1主面に設けられた操作部と、をさらに有し、前記制御部は、前記第1状態を判別したときに前記電子機器を休止状態とし、前記第2状態を判別したときに前記操作部を無効状態とする構成(第9の構成)にするとよい。   Further, the electronic device having any one of the first to eighth configurations is provided on the first main surface of the first casing and on the first main surface of the second casing. An operation unit, wherein the control unit sets the electronic device to a dormant state when the first state is determined, and sets the operation unit to an invalid state when the second state is determined ( The ninth configuration may be used.

また、上記第1〜第9いずれかの構成から成る電子機器において、前記第1筐体と前記第2筐体は、互いに着脱可能である構成(第10の構成)にするとよい。   In the electronic device having any one of the first to ninth configurations, the first housing and the second housing may be configured to be detachable from each other (tenth configuration).

本明細書中に開示されている発明によれば、簡易な構成で第1筐体と第2筐体の変位状態を正しく判別することのできる電子機器を提供することが可能となる。   According to the invention disclosed in the present specification, it is possible to provide an electronic device that can correctly determine the displacement state of the first housing and the second housing with a simple configuration.

電子機器の外観図External view of electronic equipment 電子機器の第1実施形態を示す模式図Schematic diagram showing the first embodiment of the electronic device 磁石に対する磁気センサICの変位量を定義するための模式図Schematic diagram for defining the amount of displacement of the magnetic sensor IC relative to the magnet 磁気センサICの変位量と垂直磁界との相関図Correlation diagram between displacement of magnetic sensor IC and vertical magnetic field 磁気センサICの一構成例を示すブロック図Block diagram showing a configuration example of a magnetic sensor IC 電子機器の第2実施形態を示す模式図Schematic diagram showing a second embodiment of the electronic device 電子機器の第3実施形態を示す模式図Schematic diagram showing a third embodiment of the electronic device 第1状態(X>0)での出力状態を示す模式図Schematic diagram showing the output state in the first state (X> 0) 第1状態(X<0)での出力状態を示す模式図Schematic diagram showing the output state in the first state (X <0) 第2状態(X>0)での出力状態を示す模式図Schematic diagram showing the output state in the second state (X> 0) 第2状態(X<0)での出力状態を示す模式図Schematic diagram showing the output state in the second state (X <0) 磁石に対する磁気センサICの変位量を定義するための模式図Schematic diagram for defining the amount of displacement of the magnetic sensor IC relative to the magnet XとA/B及びmax(A/D,C/B)との相関図Correlation diagram between X and A / B and max (A / D, C / B) XとA−B及びmax(A−D,C−B)との相関図Correlation diagram of X and AB and max (AD, CB) 電子機器の第4実施形態を示す模式図Schematic diagram showing a fourth embodiment of the electronic device 電子機器の一従来例を示す模式図Schematic diagram showing a conventional example of electronic equipment 磁石に対する磁気センサICの変位量を定義するための模式図Schematic diagram for defining the amount of displacement of the magnetic sensor IC relative to the magnet 磁気センサICの変位量と垂直磁界との相関図Correlation diagram between displacement of magnetic sensor IC and vertical magnetic field

<電子機器>
図1は、電子機器の外観図である。本構成例の電子機器100は、ノートPCとしてもタブレットとしても利用することのできるハイブリッド型の携帯端末(いわゆる2in1PC)であり、本体10と、カバー20と、連結部30と、を有する。
<Electronic equipment>
FIG. 1 is an external view of an electronic device. The electronic device 100 of this configuration example is a hybrid portable terminal (so-called 2 in 1 PC) that can be used as a notebook PC or a tablet, and includes a main body 10, a cover 20, and a connecting portion 30.

本体10は、電子機器100の第1筐体に相当し、第1主面10aと第2主面10bを備えている。なお、第1主面10aには、タッチパネル機能を備えた表示部(液晶ディスプレイまたは有機ELディスプレイなど)が設けられている。   The main body 10 corresponds to a first housing of the electronic device 100, and includes a first main surface 10a and a second main surface 10b. The first main surface 10a is provided with a display unit (liquid crystal display or organic EL display) having a touch panel function.

カバー20は、電子機器100の第2筐体に相当し、第1主面20aと第2主面20bを備えている。なお、第1主面20aには、ユーザ操作を受け付けるための操作部(キーボードなど)が設けられている。   The cover 20 corresponds to a second housing of the electronic device 100 and includes a first main surface 20a and a second main surface 20b. The first main surface 20a is provided with an operation unit (such as a keyboard) for receiving a user operation.

連結部30は、本図中の矢印a及びbで示したように、自身を回動軸(開閉軸)としてカバー20を本体10に対してほぼ360°回動可能(開閉可能)に支持する。なお、本図の例では、連結部30を本体10及びカバー20から独立したヒンジ部材として描写したが、連結部30の構成はこれに限定されるものではなく、連結部30をカバー20の一部分としてもよい。また、本体10とカバー20は、着脱可能としてもよい。   As shown by arrows a and b in the figure, the connecting portion 30 supports the cover 20 so as to be rotatable (openable and closable) by approximately 360 ° with respect to the main body 10 with itself as a rotation shaft (opening / closing shaft). . In the example of this figure, the connecting portion 30 is depicted as a hinge member independent of the main body 10 and the cover 20, but the configuration of the connecting portion 30 is not limited to this, and the connecting portion 30 is a part of the cover 20. It is good. The main body 10 and the cover 20 may be detachable.

<変位状態>
上記した本体10及びカバー20は、その変位状態として、電子機器100を不使用とするときの第1状態(本図上段)、電子機器100をタブレットとして使用するときの第2状態(本図下段)、及び、電子機器100をノートPCとして使用するときの第3状態(本図中段)のいずれかを取ることができる。
<Displacement state>
The main body 10 and the cover 20 are in a displacement state in a first state when the electronic device 100 is not used (upper part in the figure), and in a second state when the electronic device 100 is used as a tablet (lower part in the figure). ) And a third state (the middle stage in the figure) when the electronic device 100 is used as a notebook PC.

第1状態(本図上段)は、本体10の前面(=第1主面10a)を被覆するようにカバー20が閉じられた状態を指す。第1状態では、本体10及びカバー20が互いに平行となり、それぞれの第1主面10a及び20a同士が対向する。   The first state (the upper part of the figure) indicates a state in which the cover 20 is closed so as to cover the front surface (= first main surface 10a) of the main body 10. In the first state, the main body 10 and the cover 20 are parallel to each other, and the first main surfaces 10a and 20a face each other.

第2状態(本図下段)は、本体10の背面(=第2主面10b)側にカバー20が折り畳まれた状態を指す。第2状態では、本体10及びカバー20が互いに平行となり、それぞれの第2主面10b及び20b同士が対向する。   The second state (the lower part of the figure) indicates a state in which the cover 20 is folded on the back surface (= second main surface 10b) side of the main body 10. In the second state, the main body 10 and the cover 20 are parallel to each other, and the second main surfaces 10b and 20b face each other.

なお、本明細書中の「対向する」という文言は、互いに向かい合う主面間に介在物がない状態だけを指すのでなく、液晶保護フィルムやキーボードカバーなどが介在している状態も含むものとして理解することができる。   The term “opposing” in this specification is understood not only to indicate a state in which there are no inclusions between the main surfaces facing each other, but also to include a state in which a liquid crystal protective film, a keyboard cover, or the like is interposed. can do.

また、蛇足ながら、対向している主面間の距離は、対向していない主面間の距離よりも短くなる。具体的に述べると、第1主面同士10a及び20aが対向する第1状態では、第1主面間の距離が第2主面間の距離よりも短くなる。逆に、第2主面同士10b及び20bが対向する第2状態では、第2主面間の距離が第1主面間の距離よりも短くなる。   In addition, the distance between the main surfaces facing each other is shorter than the distance between the main surfaces not facing each other. Specifically, in the first state where the first main surfaces 10a and 20a face each other, the distance between the first main surfaces is shorter than the distance between the second main surfaces. Conversely, in the second state where the second main surfaces 10b and 20b are opposed to each other, the distance between the second main surfaces is shorter than the distance between the first main surfaces.

第3状態(本図中段)は、カバー20が任意の角度まで開いて固定された状態を指す。すなわち、第3状態は、上記した第1状態と第2状態の一方から他方に遷移する途中の状態であると理解することもできる。   The third state (the middle in the figure) indicates a state where the cover 20 is opened and fixed to an arbitrary angle. That is, it can be understood that the third state is a state in the middle of transition from one of the first state and the second state to the other.

なお、本構成例の電子機器100は、上記の変位状態を判別するための手段として、磁気センサと磁石を備えており、特に、それぞれの配置やセンサ出力の演算手法に特徴を有する。そこで、以下では、具体的な実施形態を例に挙げながら、本体10とカバー20の変位状態を正しく判別するための新規構成について提案する。   Note that the electronic device 100 of the present configuration example includes a magnetic sensor and a magnet as means for determining the above-described displacement state, and is particularly characterized by their arrangement and sensor output calculation method. Therefore, in the following, a new configuration for correctly determining the displacement state of the main body 10 and the cover 20 will be proposed by taking a specific embodiment as an example.

<第1実施形態>
図2は、電子機器100の第1実施形態を示す模式図である。本図の左側には、本体10及びカバー20それぞれの第1主面同士10a及び20aが対向する第1状態(図1の上段に相当)を示している。一方、本図の右側には、本体10及びカバー20それぞれの第2主面同士10b及び20bが対向する第2状態(図1の下段に相当)を示している。
<First Embodiment>
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating the first embodiment of the electronic device 100. The left side of the figure shows a first state (corresponding to the upper part of FIG. 1) in which the first main surfaces 10a and 20a of the main body 10 and the cover 20 face each other. On the other hand, the right side of the figure shows a second state (corresponding to the lower part of FIG. 1) where the second main surfaces 10b and 20b of the main body 10 and the cover 20 face each other.

本図で示したように、本実施形態の電子機器100は、本体10及びカバー20それぞれの内部に、磁気センサIC40(=磁気検出部に相当)及び磁石50を有する。   As shown in the figure, the electronic apparatus 100 of the present embodiment includes a magnetic sensor IC 40 (= corresponding to a magnetic detection unit) and a magnet 50 inside the main body 10 and the cover 20.

磁気センサIC40は、2つの磁気センサA及びBを集積化した半導体集積回路装置であり、そのパッケージ主面(上面及び下面)が本体10の第1主面10a及び第2主面10bに対して平行となるように、プリント基板PCBの実装面に実装されている。   The magnetic sensor IC 40 is a semiconductor integrated circuit device in which two magnetic sensors A and B are integrated, and its package main surface (upper surface and lower surface) is relative to the first main surface 10a and the second main surface 10b of the main body 10. It is mounted on the mounting surface of the printed circuit board PCB so as to be parallel.

磁気センサA及びBは、磁気センサIC40のパッケージ主面の法線方向、延いては、本体10の第1主面10a及び第2主面10bの法線方向に沿って、図示の順序(第1主面10a−磁気センサA−磁気センサB−第2主面10b)で配設されており、磁気センサIC40のパッケージ主面に対して垂直に印加される磁界(=垂直磁界)をそれぞれ検出する。なお、磁気センサA及びBとしては、ホール素子や磁気抵抗素子などを好適に用いることができる。   The magnetic sensors A and B are arranged in the illustrated order (first order) along the normal direction of the main surface of the package of the magnetic sensor IC 40, that is, along the normal directions of the first main surface 10a and the second main surface 10b of the main body 10. 1 main surface 10a-magnetic sensor A-magnetic sensor B-second main surface 10b), each detecting a magnetic field (= vertical magnetic field) applied perpendicular to the package main surface of the magnetic sensor IC 40. To do. As the magnetic sensors A and B, Hall elements, magnetoresistive elements, and the like can be suitably used.

磁石50は、その磁化方向がカバー20の第1主面20a及び第2主面20bと直交するように配置されている。本図に即して述べると、磁石50は、N極が第1主面20aと向かい合い、S極が第2主面20bと向かい合うように配置されている。従って、第1状態(本図左)及び第2状態(本図右)のいずれであっても、磁気センサIC40には、そのパッケージの上面から下面に向かう磁界が印加されることになる。   The magnet 50 is arranged so that the magnetization direction thereof is orthogonal to the first main surface 20 a and the second main surface 20 b of the cover 20. Referring to this figure, the magnet 50 is disposed such that the N pole faces the first main surface 20a and the S pole faces the second main surface 20b. Therefore, in either the first state (left in the figure) or the second state (right in the figure), a magnetic field from the upper surface to the lower surface of the package is applied to the magnetic sensor IC 40.

また、本図に明示されていないが、本体10のプリント基板PCBには、磁気センサIC40の出力に基づいて、第1状態(本図左)と第2状態(本図右)を判別するマイコン60(=制御部に相当、後出の図5を参照)が実装されている。   Although not explicitly shown in the figure, the printed circuit board PCB of the main body 10 includes a microcomputer for discriminating between the first state (left in the figure) and the second state (right in the figure) based on the output of the magnetic sensor IC 40. 60 (= corresponding to the control unit, see FIG. 5 described later) is mounted.

本図で示したように、第1状態(本図左)では、磁気センサAと磁石50との距離が磁気センサBと磁石50との距離よりも短くなるので、磁気センサAに印加される垂直磁界が磁気センサBに印加される垂直磁界よりも大きくなる。従って、磁気センサA及びBそれぞれの出力を比較するとA>B(またはA−B>0)となる。   As shown in the figure, in the first state (left of the figure), the distance between the magnetic sensor A and the magnet 50 is shorter than the distance between the magnetic sensor B and the magnet 50, so that the magnetic sensor A is applied. The vertical magnetic field is larger than the vertical magnetic field applied to the magnetic sensor B. Therefore, when the outputs of the magnetic sensors A and B are compared, A> B (or AB> 0).

一方、第2状態(本図右)では、磁気センサBと磁石50との距離が磁気センサAと磁石50との距離よりも短くなるので、磁気センサBに印加される垂直磁界が磁気センサAに印加される垂直磁界よりも大きくなる。従って、磁気センサA及びBそれぞれの出力を比較するとA<B(またはA−B<0)となる。   On the other hand, in the second state (right in the figure), since the distance between the magnetic sensor B and the magnet 50 is shorter than the distance between the magnetic sensor A and the magnet 50, the perpendicular magnetic field applied to the magnetic sensor B is the magnetic sensor A. It becomes larger than the vertical magnetic field applied to. Therefore, when the outputs of the magnetic sensors A and B are compared, A <B (or A−B <0).

上記の知見から、マイコン60は、磁気センサA及びBそれぞれの出力を比較して第1状態(本図左)と第2状態(本図右)を判別する。本図に即して述べると、マイコン60は、A>B(またはA−B>0)であるときに第1状態(本図左)と判別し、A<B(またはA−B<0)であるときに第2状態(本図右)と判別する。   From the above knowledge, the microcomputer 60 compares the outputs of the magnetic sensors A and B to determine the first state (left in the figure) and the second state (right in the figure). Referring to this figure, the microcomputer 60 determines that it is in the first state (left in the figure) when A> B (or AB> 0), and A <B (or AB <0). ) Is determined as the second state (right in the figure).

また、本図には明示していないが、先述の第3状態(図1中段)では、本体10とカバー20が離れるので、磁気センサIC40に磁界が印加されなくなる。従って、マイコン60では、磁気センサA及びBそれぞれの出力がいずれも閾値を下回っているとき、または、磁気センサA及びBの出力総和が閾値を下回っているときに、第3状態(図1中段)と判別することができる。   Although not explicitly shown in the figure, in the above-described third state (middle stage in FIG. 1), the main body 10 and the cover 20 are separated from each other, so that no magnetic field is applied to the magnetic sensor IC 40. Therefore, in the microcomputer 60, when the outputs of the magnetic sensors A and B are both lower than the threshold value, or when the total output of the magnetic sensors A and B is lower than the threshold value, the third state (the middle stage in FIG. 1). ).

なお、先にも述べたように、第1状態(本図左)は、電子機器100を不使用とするときの変位状態である(図1の上段も参照)。これを鑑みると、マイコン60は、第1状態(本図左)であることを判別したときに、電子機器100(少なくとも表示部)を休止状態とすることが望ましい。このような制御を行うことにより、電子機器100の消費電力を抑制することができるので、バッテリ駆動時間を延ばすことが可能となる。   As described above, the first state (left in the figure) is a displacement state when the electronic device 100 is not used (see also the upper part of FIG. 1). In view of this, it is desirable for the microcomputer 60 to place the electronic device 100 (at least the display unit) in a dormant state when determining that the microcomputer 60 is in the first state (left in the figure). By performing such control, the power consumption of the electronic device 100 can be suppressed, so that the battery driving time can be extended.

また、先にも述べたように、第2状態(本図右)は、電子機器100をタブレットとして使用するときの変位状態である(図1の下段も参照)。これを鑑みると、マイコン60は、第2状態(本図右)であることを判別したときに、カバー20の操作部を無効状態とすることが望ましい。このような制御を行うことにより、タブレットとしての使用中に誤って操作部に触れてしまったとしても、意図しない誤動作を生じることがなくなる。   Further, as described above, the second state (right in the figure) is a displacement state when the electronic device 100 is used as a tablet (see also the lower part of FIG. 1). In view of this, when the microcomputer 60 determines that it is in the second state (right in the figure), it is desirable that the operation unit of the cover 20 be in an invalid state. By performing such control, even if the operation unit is accidentally touched during use as a tablet, an unintended malfunction does not occur.

図3は、第1実施形態の電子機器100について、磁石50に対する磁気センサIC40(特に磁気センサA)の変位量(X,Y,Z)を定義するための模式図である。本図で示したように、紙面左右方向の変位量X、紙面前後方向の変位量Y、及び、紙面上下方向の変位量Zは、それぞれ、磁石50の下面中央を原点O(0,0,0)として定義されている。また、変位量(X,Y,Z)の正負極性については、紙面右方向、紙面奥方向、及び、紙面下方向をそれぞれ正方向とする。   FIG. 3 is a schematic diagram for defining the amount of displacement (X, Y, Z) of the magnetic sensor IC 40 (particularly the magnetic sensor A) with respect to the magnet 50 in the electronic device 100 of the first embodiment. As shown in this figure, the displacement amount X in the left-right direction of the paper surface, the displacement amount Y in the front-rear direction of the paper surface, and the displacement amount Z in the vertical direction of the paper surface are respectively set at the origin O (0, 0, 0). As for the positive and negative polarities of the displacement amounts (X, Y, Z), the right direction on the paper surface, the back direction on the paper surface, and the downward direction on the paper surface are the positive directions.

図4は、磁気センサIC40の変位量X及びZ(変位量Y=0)と垂直磁界との相関図である。本図では、横軸を変位量X(mm)とし、縦軸を変位量Z(mm)としている。なお、本図の前提条件として、磁石50は、縦7.5mm(紙面左右方向)×横7.5mm(紙面前後方向)×高さ0.5mm(紙面上下方向)の薄板形状であり、その残留磁束密度が1400mTであるものとする。すなわち、磁石50は、磁化方向が異なる以外、従来例の磁石240(図16)と同一である。   FIG. 4 is a correlation diagram between the displacement amounts X and Z (displacement amount Y = 0) of the magnetic sensor IC 40 and the vertical magnetic field. In this figure, the horizontal axis is the displacement amount X (mm), and the vertical axis is the displacement amount Z (mm). In addition, as a precondition of this figure, the magnet 50 has a thin plate shape of 7.5 mm in length (paper left-right direction) × 7.5 mm in width (front-back direction on paper) × 0.5 mm in height (up-down direction on paper) It is assumed that the residual magnetic flux density is 1400 mT. That is, the magnet 50 is the same as the conventional magnet 240 (FIG. 16) except that the magnetization direction is different.

また、本図中のグラデーション領域は、垂直磁界が5mT以上となる領域であり、グラデーション濃度が高いほど垂直磁界が大きいことを示している。一方、本図中の破線領域は、比較参照のために、従来例の相関図(図18)を重畳的に示したものである。   Further, the gradation area in the figure is an area where the vertical magnetic field is 5 mT or more, and indicates that the vertical magnetic field is larger as the gradation density is higher. On the other hand, the broken line area in the figure shows the correlation diagram (FIG. 18) of the conventional example in a superimposed manner for comparison and reference.

磁気センサA及びBそれぞれの出力を比較して本体10とカバー20の変位状態を正しく判別するためには、先述の第1状態または第2状態において、磁気センサIC40が本図中のグラデーション領域内(=磁石50の磁極正面)に収まるように、磁気センサIC40及び磁石50それぞれの位置決めを行っておくことが望ましい。   In order to correctly determine the displacement state of the main body 10 and the cover 20 by comparing the outputs of the magnetic sensors A and B, in the first state or the second state, the magnetic sensor IC 40 is in the gradation area in the figure. It is desirable to position each of the magnetic sensor IC 40 and the magnet 50 so as to be within (= the front surface of the magnetic pole of the magnet 50).

ここで、磁極正面の磁界は、他の位置における磁界よりも大きく、磁石50から多少離れても減衰しにくい。そのため、本実施形態の電子機器100であれば、従来例と比べて磁気センサIC40の検出範囲が広がりノイズにも強くなるので、カバー20の位置ズレなどに起因する誤動作(=状態判別ミス)を低減することが可能となる。   Here, the magnetic field in front of the magnetic pole is larger than the magnetic field at other positions, and is not easily attenuated even if it is slightly away from the magnet 50. Therefore, in the electronic device 100 of the present embodiment, the detection range of the magnetic sensor IC 40 is widened and strong against noise as compared with the conventional example, and therefore malfunction (= state determination error) due to the positional deviation of the cover 20 or the like. It becomes possible to reduce.

また、カバー20の位置ズレなどにより、磁気センサIC40の変位量Xがプラスからマイナスに転じても磁気センサIC40に印加される垂直磁界の方向は反転しないので、本体10とカバー20の変位状態を誤検知することはない。   In addition, even if the displacement amount X of the magnetic sensor IC 40 changes from plus to minus due to the displacement of the cover 20 or the like, the direction of the vertical magnetic field applied to the magnetic sensor IC 40 is not reversed. There is no false detection.

<磁気センサIC>
図5は、磁気センサIC40の一構成例を示すブロック図である。本構成例の磁気センサIC40は、磁気センサA及びBのほかに、ダイナミックオフセットキャンセラ41A及び41B(以下では、DOC[dynamic offset canceller]41A及び41Bと呼ぶ)と、アンプ42A及び42Bと、AD[analog-to-digital]コンバータ43A及び43Bと、ロジック部44と、インタフェイス部45と、レギュレータ46と、パワーオンリセット部47と、オシレータ48と、を集積化して成る。
<Magnetic sensor IC>
FIG. 5 is a block diagram illustrating a configuration example of the magnetic sensor IC 40. In addition to the magnetic sensors A and B, the magnetic sensor IC 40 of this configuration example includes dynamic offset cancellers 41A and 41B (hereinafter referred to as DOC [dynamic offset canceller] 41A and 41B), amplifiers 42A and 42B, and AD [ Analog-to-digital] converters 43A and 43B, a logic unit 44, an interface unit 45, a regulator 46, a power-on reset unit 47, and an oscillator 48 are integrated.

磁気センサA及びBは、それぞれ、磁気センサIC40のパッケージ主面に対して垂直に印加される磁界(=垂直磁界)を検出する。なお、ホール素子や磁気抵抗素子を用いた磁気センサA及びBは、それぞれ、等価的にホイートストンブリッジ回路(抵抗ブリッジ回路)で表すことができる。   Each of the magnetic sensors A and B detects a magnetic field (= vertical magnetic field) applied perpendicular to the package main surface of the magnetic sensor IC 40. The magnetic sensors A and B using Hall elements and magnetoresistive elements can be equivalently expressed as Wheatstone bridge circuits (resistance bridge circuits).

DOC41A及び41Bは、それぞれ、内部電源電圧VREGの供給を受けて動作し、磁気センサA及びBの駆動電流方向を切り替えることにより、磁気センサA及びBのオフセット電圧をキャンセルして所望の信号成分のみをサンプル/ホールド出力する。   Each of the DOCs 41A and 41B operates by receiving the supply of the internal power supply voltage VREG, and cancels the offset voltage of the magnetic sensors A and B by switching the driving current directions of the magnetic sensors A and B, so that only a desired signal component is obtained. Sample / hold output.

アンプ42A及び42Bは、それぞれ、内部電源電圧VREGの供給を受けて動作し、DOC41A及び41Bのサンプル/ホールド出力を所定のゲインで増幅する。   The amplifiers 42A and 42B operate by receiving the internal power supply voltage VREG, respectively, and amplify the sample / hold outputs of the DOCs 41A and 41B with a predetermined gain.

ADコンバータ43A及び43Bは、それぞれ、内部電源電圧VREGの供給を受けて動作し、アナログのアンプ出力をデジタル信号に変換する。   Each of the AD converters 43A and 43B operates by receiving the internal power supply voltage VREG, and converts an analog amplifier output into a digital signal.

ロジック部44は、内部電源電圧VREGの供給を受けて動作し、ADコンバータ43A及び43Bから入力されるデジタル信号をインタフェイス部45経由でマイコン60に出力する。マイコン60は、磁気センサA及びBそれぞれの出力を比較することにより、先述の第1状態と第2状態を判別する。   The logic unit 44 operates in response to the supply of the internal power supply voltage VREG, and outputs digital signals input from the AD converters 43A and 43B to the microcomputer 60 via the interface unit 45. The microcomputer 60 determines the first state and the second state described above by comparing the outputs of the magnetic sensors A and B.

インタフェイス部45は、ICバスまたはSPI[serial peripheral interface]バス(若しくはその両方)を備えており、ロジック部44とマイコン60との間で双方向通信を行う。 The interface unit 45 includes an I 2 C bus or an SPI (serial peripheral interface) bus (or both), and performs bidirectional communication between the logic unit 44 and the microcomputer 60.

レギュレータ46は、外部電源電圧VDDを所定の内部電源電圧VREGに変換する。なお、レギュレータ46としては、回路規模の小さいLDO[low drop-out]レギュレータなどを好適に用いることができる。   The regulator 46 converts the external power supply voltage VDD into a predetermined internal power supply voltage VREG. As the regulator 46, an LDO [low drop-out] regulator having a small circuit scale can be suitably used.

パワーオンリセット部47は、外部電源電圧VDDまたは内部電源電圧VREGを監視して、IC各部のパワーオンリセット処理を行う。   The power-on reset unit 47 monitors the external power supply voltage VDD or the internal power supply voltage VREG, and performs a power-on reset process for each part of the IC.

オシレータ48は、内部電源電圧VREGの供給を受けて動作し、IC各部の動作に必要な駆動クロック信号を生成する。   The oscillator 48 operates in response to the supply of the internal power supply voltage VREG, and generates a driving clock signal necessary for the operation of each part of the IC.

<第2実施形態>
図6は、電子機器100の第2実施形態を示す模式図である。本実施形態は、先出の第1実施形態(図2)をベースとしつつ、磁気センサA及びBを別々の磁気センサIC40A及び40Bに分散して集積化した点に特徴を有する。そこで、第1実施形態と同様の構成要素については、図2と同一の符号を付すことで重複した説明を割愛し、以下では、第2実施形態の特徴部分について重点的に説明する。
Second Embodiment
FIG. 6 is a schematic diagram illustrating the second embodiment of the electronic device 100. The present embodiment is characterized in that the magnetic sensors A and B are distributed and integrated in separate magnetic sensor ICs 40A and 40B while being based on the first embodiment (FIG. 2). Therefore, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those in FIG. 2, and redundant descriptions are omitted. In the following, the characteristic portions of the second embodiment will be mainly described.

本図で示したように、磁気センサAを集積化した磁気センサIC40Aは、プリント基板PCBの第1実装面に実装されている。一方、磁気センサBを集積化した磁気センサIC40Bは、プリント基板PCBの第2実装面に実装されている。   As shown in the figure, the magnetic sensor IC 40A in which the magnetic sensor A is integrated is mounted on the first mounting surface of the printed circuit board PCB. On the other hand, the magnetic sensor IC 40B in which the magnetic sensor B is integrated is mounted on the second mounting surface of the printed circuit board PCB.

なお、磁気センサIC40A及び40Bは、それぞれに集積化された磁気センサA及びBが本体10の第1主面10a及び第2主面10bの法線方向に沿って並ぶように、プリント基板PCBを挟んで表裏で重なる位置に実装されている。   In addition, the magnetic sensor ICs 40A and 40B are arranged on the printed circuit board PCB so that the magnetic sensors A and B integrated therein are aligned along the normal direction of the first main surface 10a and the second main surface 10b of the main body 10, respectively. It is mounted in a position that overlaps on both sides.

このような構成を採用することにより、先出の第1実施形態(図2)と比べて、センサ間距離(=磁気センサAと磁気センサBとの距離)を広げることができる。従って、磁気センサA及びBそれぞれの出力差が大きくなるので、カバー20の位置ズレなどが生じても、本体10とカバー20の変位状態を正しく判別することが可能となる。   By adopting such a configuration, the distance between sensors (= the distance between the magnetic sensor A and the magnetic sensor B) can be increased as compared with the first embodiment (FIG. 2). Therefore, since the output difference between the magnetic sensors A and B becomes large, it is possible to correctly determine the displacement state of the main body 10 and the cover 20 even if the cover 20 is displaced.

<第3実施形態>
図7は、電子機器100の第3実施形態を示す模式図である。本実施形態は、先出の第1実施形態(図2)をベースとしつつ、先出の磁気センサA及びBに加えて、さらに、磁気センサC及びDを単一の磁気センサIC40に集積化した点に特徴を有する。そこで、第1実施形態と同様の構成要素については、図2と同一の符号を付すことで重複した説明を割愛し、以下では、第3実施形態の特徴部分について重点的に説明する。
<Third Embodiment>
FIG. 7 is a schematic diagram illustrating a third embodiment of the electronic device 100. This embodiment is based on the first embodiment (FIG. 2), and in addition to the previous magnetic sensors A and B, the magnetic sensors C and D are further integrated in a single magnetic sensor IC 40. It is characterized by the point. Therefore, the same components as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those in FIG. 2, and redundant descriptions are omitted. In the following, characteristic portions of the third embodiment will be mainly described.

磁気センサC及びDは、先出の磁気センサA及びBと同様、磁気センサIC40のパッケージ主面の法線方向、延いては、本体10の第1主面10a及び第2主面10bの法線方向に沿って、図示の順序(第1主面10a−磁気センサC−磁気センサD−第2主面10b)で配設されており、磁気センサIC40のパッケージ主面に対して垂直に印加される磁界(=垂直磁界)をそれぞれ検出する。なお、磁気センサCは、磁気センサAと同一面上に配置されており、磁気センサDは、磁気センサBと同一面上に配置されている。   The magnetic sensors C and D are the normal directions of the package main surface of the magnetic sensor IC 40 as in the case of the magnetic sensors A and B described above, that is, the method of the first main surface 10 a and the second main surface 10 b of the main body 10. Along the line direction, they are arranged in the order shown (first main surface 10a-magnetic sensor C-magnetic sensor D-second main surface 10b) and applied perpendicularly to the package main surface of the magnetic sensor IC 40. The detected magnetic field (= vertical magnetic field) is detected. The magnetic sensor C is arranged on the same plane as the magnetic sensor A, and the magnetic sensor D is arranged on the same plane as the magnetic sensor B.

このように、4つの磁気センサA〜Dを集積化した磁気センサIC40を用いる場合、縦方向に並べられた磁気センサA及びB(ないしはC及びD)ではなく、対角位置に設けられた磁気センサA及びD(ないしはB及びC)について、それぞれの出力比較を行う方が、本体10とカバー20の変位状態をより正しく判別することができる。以下では、具体的な計算例を挙げながら、その理由を説明する。   As described above, when the magnetic sensor IC 40 in which the four magnetic sensors A to D are integrated is used, the magnetic sensors provided at the diagonal positions instead of the magnetic sensors A and B (or C and D) arranged in the vertical direction. By comparing the outputs of the sensors A and D (or B and C), the displacement states of the main body 10 and the cover 20 can be more correctly determined. The reason will be described below with specific calculation examples.

図8は、先述の第1状態(図7左側)において、磁石50に対する磁気センサIC40の変位量Xが正(X>0)であるときの出力状態を示す模式図である。なお、以下の説明では、磁気センサA〜Dそれぞれの出力について、A=19.86mT、B=18.40mT、C=18.86mT、D=17.48mTであるものとする。   FIG. 8 is a schematic diagram showing an output state when the displacement amount X of the magnetic sensor IC 40 with respect to the magnet 50 is positive (X> 0) in the above-described first state (left side in FIG. 7). In the following description, it is assumed that the outputs of the magnetic sensors A to D are A = 19.86 mT, B = 18.40 mT, C = 18.86 mT, and D = 17.48 mT.

この場合、A−D=+2.38mT(=19.86mT−17.48mT)となり、C−B=+0.46mT(=18.86mT−18.40mT)となるので、|A−D|>|C−B|となる。従って、マイコン60は、より絶対値が大きい方(ここではA−D)の正負を判定して第1状態と第2状態を判別する。本図の例では、A−D>0なので、磁石50が磁気センサIC40の上面側に位置している状態、すなわち、第1状態(図7左側)であると判定される。   In this case, A−D = + 2.38 mT (= 19.86 mT−17.48 mT) and CB = + 0.46 mT (= 18.86 mT−18.40 mT). Therefore, | A−D |> | CB |. Therefore, the microcomputer 60 determines the first state and the second state by determining whether the absolute value is larger (here, AD). In the example of this figure, since AD> 0, it is determined that the magnet 50 is positioned on the upper surface side of the magnetic sensor IC 40, that is, the first state (left side in FIG. 7).

なお、上記した磁気センサA及びDの差分出力(=A−D=+2.38mT)は、磁気センサA及びBの差分出力(=A−B=+1.46mT)よりも大きく、かつ、磁気センサC及びDの差分出力(=C−D=+1.38mT)よりも大きい。これを鑑みると、本体10とカバー20の変位状態を判別する際には、縦方向に並べられた磁気センサA及びB(ないしはC及びD)それぞれの出力を比較するよりも、対角位置に設けられた磁気センサA及びD(ないしはB及びC)それぞれの出力を比較する方が有利であると言える。   The differential output (= A−D = + 2.38 mT) of the magnetic sensors A and D is larger than the differential output (= A−B = + 1.46 mT) of the magnetic sensors A and B, and the magnetic sensor It is larger than the differential output of C and D (= C−D = + 1.38 mT). In view of this, when determining the displacement state of the main body 10 and the cover 20, rather than comparing the outputs of the magnetic sensors A and B (or C and D) arranged in the vertical direction, the diagonal positions are set. It can be said that it is advantageous to compare the outputs of the magnetic sensors A and D (or B and C) provided.

図9は、先述の第1状態(図7左側)において、X<0であるときの出力状態を示す模式図である。なお、以下の説明では、A=18.86mT、B=17.48mT、C=19.86mT、D=18.40mTであるものとする。   FIG. 9 is a schematic diagram showing an output state when X <0 in the first state (left side of FIG. 7). In the following description, it is assumed that A = 18.86 mT, B = 17.48 mT, C = 19.86 mT, and D = 18.40 mT.

この場合、A−D=+0.46mT(=18.86mT−18.40mT)となり、C−B=+2.38mT(=19.86mT−17.48mT)となるので、|A−D|<|C−B|となる。従って、マイコン60は、より絶対値が大きい方(ここではC−B)の正負を判定して第1状態と第2状態を判別する。本図の例では、C−B>0なので、第1状態(図7左側)であると判定される。   In this case, A−D = + 0.46 mT (= 18.86 mT−18.40 mT) and CB = + 2.38 mT (= 19.86 mT−17.48 mT). Therefore, | A−D | <| CB |. Therefore, the microcomputer 60 determines the first state and the second state by determining whether the absolute value is larger (here, CB). In the example of this figure, since CB> 0, it is determined that the state is the first state (left side in FIG. 7).

図10は、先述の第2状態(図7右側)において、X>0であるときの出力状態を示す模式図である。なお、以下の説明では、A=18.40mT、B=19.86mT、C=17.48mT、D=18.86mTであるものとする。   FIG. 10 is a schematic diagram showing an output state when X> 0 in the above-described second state (right side in FIG. 7). In the following description, it is assumed that A = 18.40 mT, B = 19.86 mT, C = 17.48 mT, and D = 18.86 mT.

この場合、A−D=−0.46mT(=18.40mT−18.86mT)となり、C−B=−2.38mT(=17.48mT−19.86mT)となるので、|A−D|<|C−B|となる。従って、マイコン60は、より絶対値が大きい方(ここではC−B)の正負を判定して第1状態と第2状態を判別する。本図の例では、C−B<0なので、磁石50が磁気センサIC40の下面側に位置している状態、すなわち、第2状態(図7右側)であると判定される。   In this case, A−D = −0.46 mT (= 18.40 mT-18.86 mT) and CB = −2.38 mT (= 17.48 mT-19.86 mT). Therefore, | A−D | <| C-B | Therefore, the microcomputer 60 determines the first state and the second state by determining whether the absolute value is larger (here, CB). In the example of this figure, since C−B <0, it is determined that the magnet 50 is located on the lower surface side of the magnetic sensor IC 40, that is, the second state (right side in FIG. 7).

図11は、先述の第2状態(図7右側)において、X<0であるときの出力状態を示す模式図である。なお、以下の説明では、A=17.48mT、B=18.86mT、C=18.40mT、D=19.86mTであるものとする。   FIG. 11 is a schematic diagram showing an output state when X <0 in the above-described second state (right side of FIG. 7). In the following description, it is assumed that A = 17.48 mT, B = 18.86 mT, C = 18.40 mT, and D = 19.86 mT.

この場合、A−D=−2.38mT(=17.48mT−19.86mT)となり、C−B=−0.46mT(=18.40mT−18.86mT)となるので、|A−D|>|C−B|となる。従って、マイコン60は、より絶対値が大きい方(ここではA−D)の正負を判定して第1状態と第2状態を判別する。本図の例では、A−D<0なので、第2状態(図7右側)であると判定される。   In this case, A−D = −2.38 mT (= 17.48 mT−19.86 mT) and CB = −0.46 mT (= 18.40 mT−18.86 mT). Therefore, | A−D | > | C-B |. Therefore, the microcomputer 60 determines the first state and the second state by determining whether the absolute value is larger (here, AD). In the example of this figure, since A−D <0, it is determined to be in the second state (right side in FIG. 7).

以上、図8〜図11で示したように、マイコン60は、磁気センサA及びDの差分出力(=A−D)と、磁気センサB及びCの差分出力(=C−B)のうち、絶対値が大きい方の正負を判定して第1状態と第2状態を判別する。このような構成とすることにより、第1実施形態(図2)と比べて、本体10とカバー20の変位状態をより正しく判別することが可能となる。   As described above, as shown in FIGS. 8 to 11, the microcomputer 60 includes the difference output (= A−D) between the magnetic sensors A and D and the difference output (= C−B) between the magnetic sensors B and C. The first state and the second state are determined by determining whether the absolute value is larger. By adopting such a configuration, it is possible to more correctly determine the displacement state of the main body 10 and the cover 20 than in the first embodiment (FIG. 2).

なお、図8〜図11には明示していないが、磁気センサA〜Dそれぞれの出力がいずれも閾値を下回っているとき、または、磁気センサA〜Dの出力総和が閾値を下回っているときには、先述の第3状態(図1中段)であると判別することができる。   Although not explicitly shown in FIGS. 8 to 11, when the outputs of the magnetic sensors A to D are all below the threshold value, or the total output of the magnetic sensors A to D is below the threshold value. It can be determined that the state is the above-described third state (the middle stage in FIG. 1).

図12は、第3実施形態の電子機器100について、磁石50に対する磁気センサIC40(特に磁気センサA)の変位量(X,Y,Z)を定義するための模式図である。本図で示したように、紙面左右方向の変位量X、紙面前後方向の変位量Y、及び、紙面上下方向の変位量Zは、それぞれ、磁石50の下面中央を原点O(0,0,0)として定義されている。また、変位量(X,Y,Z)の正負極性については、紙面右方向、紙面奥方向、及び、紙面下方向をそれぞれ正方向とする。   FIG. 12 is a schematic diagram for defining the amount of displacement (X, Y, Z) of the magnetic sensor IC 40 (particularly the magnetic sensor A) relative to the magnet 50 in the electronic device 100 of the third embodiment. As shown in this figure, the displacement amount X in the left-right direction of the paper surface, the displacement amount Y in the front-rear direction of the paper surface, and the displacement amount Z in the vertical direction of the paper surface are respectively set at the origin O (0, 0, 0). As for the positive and negative polarities of the displacement amounts (X, Y, Z), the right direction on the paper surface, the back direction on the paper surface, and the downward direction on the paper surface are the positive directions.

また、磁気センサA及びB(ないしはC及びD)は、紙面上下方向に所定のセンサ間距離dを隔てて形成されているものとし、磁気センサA及びC(ないしはB及びD)は、紙面左右方向に所定のセンサ間距離wを隔てて形成されているものとする。   In addition, the magnetic sensors A and B (or C and D) are formed with a predetermined distance d between the sensors in the vertical direction on the paper surface, and the magnetic sensors A and C (or B and D) are on the left and right surfaces of the paper surface. It is assumed that a predetermined distance w between sensors is formed in the direction.

図13並びに図14は、それぞれ、磁気センサIC40の変位量Xと磁界比A/B及びmax(A/D,C/B)との相関図、並びに、磁気センサIC40の変位量Xと磁界差A−B及びmax(A−D,C−B)との相関図である。   FIGS. 13 and 14 are correlation diagrams between the displacement amount X of the magnetic sensor IC 40 and the magnetic field ratios A / B and max (A / D, C / B), respectively, and the displacement amount X of the magnetic sensor IC 40 and the magnetic field difference. It is a correlation diagram with AB and max (AD, CB).

なお、磁界比max(A/D,C/B)は、磁界比A/D及びC/Bのうち、より大きい方となる。同様に、磁界差max(A−D,C−B)は、磁界差A−D及びC−Bのうち、より大きい方となる。   The magnetic field ratio max (A / D, C / B) is the larger of the magnetic field ratios A / D and C / B. Similarly, the magnetic field difference max (AD, CB) is the larger of the magnetic field differences AD and CB.

また、図13及び図14の前提条件として、Y=0mm、Z=5.0mm、d=0.222mm、及び、w=0.5mmであるものとし、かつ、磁石50は、縦7.5mm(紙面左右方向)×横7.5mm(紙面前後方向)×高さ0.5mm(紙面上下方向)の薄板形状であり、その残留磁束密度が1400mTであるものとする。   Further, as preconditions of FIGS. 13 and 14, it is assumed that Y = 0 mm, Z = 5.0 mm, d = 0.222 mm, and w = 0.5 mm, and the magnet 50 has a length of 7.5 mm. It is assumed that the sheet has a thin plate shape of (horizontal direction on the paper surface) × 7.5 mm laterally (front-back direction on the paper surface) × 0.5 mm height (vertical direction on the paper surface), and the residual magnetic flux density is 1400 mT.

図13の破線で示したように、磁界比A/Bは、X≒0で極大値(≒1.1)となり、|X|の増大とともに低下していく。一方、図13の実線で示したように、磁界比max(A/D,C/B)は、X≒0で極小値(≒1.1)となり、|X|の増大とともに上昇していく。従って、磁界比max(A/D,C/B)は、変位量Xに依ることなく、常に磁界比A/Bよりも大きくなる。   As indicated by the broken line in FIG. 13, the magnetic field ratio A / B becomes a maximum value (≈1.1) when X≈0, and decreases as | X | increases. On the other hand, as shown by the solid line in FIG. 13, the magnetic field ratio max (A / D, C / B) becomes a minimum value (≈1.1) when X≈0, and increases as | X | increases. . Therefore, the magnetic field ratio max (A / D, C / B) is always larger than the magnetic field ratio A / B regardless of the displacement amount X.

また、図14の破線で示したように、磁界差A−Bは、X≒0で極大値(≒1.5)となり、|X|の増大とともに低下していく。一方、図14の実線で示したように、磁界差max(A−D,C−B)は、X≒0で極小値(≒1.5)となり、|X|≒2.5で極大値(≒3.2)となる。なお、|X|>2.5になると、磁界差max(A−D,C−B)が単調に減少していくが、本図で示したように、少なくとも、|X|<5.0の範囲内において、磁界差max(A−D,C−B)が磁界差A−Bを下回ることはない。   Further, as shown by the broken line in FIG. 14, the magnetic field difference AB becomes a maximum value (≈1.5) when X≈0, and decreases as | X | increases. On the other hand, as indicated by the solid line in FIG. 14, the magnetic field difference max (A−D, C−B) becomes a minimum value (≈1.5) when X≈0, and a maximum value when | X | ≈2.5. (≈3.2). When | X |> 2.5, the magnetic field difference max (AD, CB) decreases monotonously, but as shown in this figure, at least | X | <5.0 In this range, the magnetic field difference max (AD, CB) does not fall below the magnetic field difference AB.

以上の知見から分かるように、本体10とカバー20の変位状態をより正しく判別する際には、磁気センサA及びBそれぞれの出力を比較するよりも、磁気センサA及びDの差分出力(=A−D)と、磁気センサB及びCの差分出力(=C−B)のうち、絶対値が大きい方の正負を判定する方が望ましいと言える。   As can be seen from the above knowledge, when the displacement states of the main body 10 and the cover 20 are more correctly determined, the differential outputs (= A) of the magnetic sensors A and D are compared with the comparison of the outputs of the magnetic sensors A and B. -D) and the difference output (= C-B) of the magnetic sensors B and C, it can be said that it is desirable to determine the positive or negative of the one with the larger absolute value.

<第4実施形態>
図15は、電子機器100の第4実施形態を示す模式図である。本実施形態は、先出の第3実施形態(図7)をベースとしつつ、磁気センサA及びBと磁気センサC及びDを別々の磁気センサIC40AB及び40CDに分散して集積化した点に特徴を有する。そこで、第3実施形態と同様の構成要素については、図7と同一の符号を付すことで重複した説明を割愛し、以下では、第4実施形態の特徴部分について重点的に説明する。
<Fourth embodiment>
FIG. 15 is a schematic diagram illustrating a fourth embodiment of the electronic device 100. The present embodiment is characterized in that the magnetic sensors A and B and the magnetic sensors C and D are distributed and integrated in separate magnetic sensors IC40AB and 40CD while being based on the third embodiment (FIG. 7). Have Therefore, the same components as those in the third embodiment are denoted by the same reference numerals as those in FIG. 7, and redundant descriptions are omitted. In the following, the characteristic portions of the fourth embodiment will be mainly described.

本図で示したように、磁気センサA及びBを集積化した磁気センサIC40ABは、プリント基板PCBの第1実装面において、紙面左側の端部近傍に実装されている。これに対して、磁気センサC及びDを集積化した磁気センサIC40CDは、プリント基板PCBの第1実装面において、紙面右側の端部近傍に実装されている。   As shown in the drawing, the magnetic sensor IC 40AB in which the magnetic sensors A and B are integrated is mounted in the vicinity of the left end of the paper surface on the first mounting surface of the printed circuit board PCB. On the other hand, the magnetic sensor IC 40CD in which the magnetic sensors C and D are integrated is mounted in the vicinity of the right end of the paper surface on the first mounting surface of the printed circuit board PCB.

すなわち、磁気センサIC40ABと磁気センサIC40CDは、プリント基板PCBの同一実装面において、できるだけ相互間の距離が開く位置に実装されている。   That is, the magnetic sensor IC 40AB and the magnetic sensor IC 40CD are mounted on the same mounting surface of the printed circuit board PCB at a position where the distance between them is as much as possible.

このような構成を採用することにより、先出の第3実施形態(図7)と比べて、センサ間距離(=磁気センサA及びBと磁気センサC及びDとの距離)を広げることができる。従って、磁気センサA及びDの出力差(=A−D)、並びに、磁気センサB及びCの出力差(=C−B)がそれぞれ大きくなるので、カバー20の位置ズレなどが生じても、本体10とカバー20の変位状態を正しく判別することが可能となる。   By adopting such a configuration, the distance between the sensors (= the distance between the magnetic sensors A and B and the magnetic sensors C and D) can be increased as compared with the third embodiment (FIG. 7). . Therefore, since the output difference (= A−D) between the magnetic sensors A and D and the output difference (= C−B) between the magnetic sensors B and C are increased, even if the cover 20 is misaligned, It becomes possible to correctly determine the displacement state of the main body 10 and the cover 20.

<その他の変形例>
なお、上記実施形態では、いわゆる2in1PCを適用例に挙げて説明を行ったが、本明細書中に開示されている発明の適用対象は、何らこれに限定されるものではなく、例えば、スマートフォンやタブレットに着脱可能な手帳型カバーの開閉状態を判別する手段としても適用することができるし、或いは、クラムシェル型の電子機器(ノートPCや携帯ゲーム機器など)の開閉状態を判別する手段としても好適である。
<Other variations>
In the above-described embodiment, the description has been given by taking so-called 2in1PC as an application example, but the application target of the invention disclosed in the present specification is not limited to this, and for example, a smartphone or It can also be applied as a means for determining the open / closed state of a notebook-type cover that can be attached to and detached from the tablet, or as a means for determining the open / closed state of a clamshell type electronic device (such as a notebook PC or portable game device) Is preferred.

また、本明細書中に開示されている種々の技術的特徴は、上記実施形態のほか、その技術的創作の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えることが可能である。すなわち、上記実施形態は、全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきであり、本発明の技術的範囲は、上記実施形態の説明ではなく、特許請求の範囲によって示されるものであり、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内に属する全ての変更が含まれると理解されるべきである。   Various technical features disclosed in the present specification can be variously modified within the scope of the technical creation in addition to the above-described embodiment. That is, the above-described embodiment is to be considered in all respects as illustrative and not restrictive, and the technical scope of the present invention is indicated not by the description of the above-described embodiment but by the scope of the claims. It should be understood that all modifications that fall within the meaning and range equivalent to the terms of the claims are included.

本明細書中に開示されている発明は、例えば、スマートフォン、タブレット、及び、ノートPCなどの電子機器に利用することが可能である。   The invention disclosed in the present specification can be used for electronic devices such as smartphones, tablets, and notebook PCs.

100 電子機器
10 本体(第1筐体)
10a 第1主面
10b 第2主面
20 カバー(第2筐体)
20a 第1主面
20b 第2主面
30 連結部
40、40A、40B、40AB、40CD 磁気センサIC(磁気検出部)
41A、41B ダイナミックオフセットキャンセラ
42A、42B アンプ
43A、43B ADコンバータ
44 ロジック部
45 インタフェイス部
46 レギュレータ
47 パワーオンリセット部
48 オシレータ
50 磁石
60 マイコン(制御部)
A、B、C、D 磁気センサ
PCB プリント基板
100 Electronic device 10 Main body (first housing)
10a 1st main surface 10b 2nd main surface 20 Cover (2nd housing | casing)
20a 1st main surface 20b 2nd main surface 30 Connection part 40, 40A, 40B, 40AB, 40CD Magnetic sensor IC (magnetic detection part)
41A, 41B Dynamic offset canceller 42A, 42B Amplifier 43A, 43B AD converter 44 Logic unit 45 Interface unit 46 Regulator 47 Power-on reset unit 48 Oscillator 50 Magnet 60 Microcomputer (control unit)
A, B, C, D Magnetic sensor PCB Printed circuit board

Claims (10)

それぞれの第1主面同士が対向する第1状態とそれぞれの第2主面同士が対向する第2状態との間で変位可能に設けられた第1筐体及び第2筐体と、
前記第1筐体に設けられた磁気検出部と、
前記第2筐体に設けられた磁石と、
前記磁気検出部の出力に基づいて前記第1状態と前記第2状態を判別する制御部と、
を有し、
前記磁石は、その磁化方向が前記第2筐体の第1主面及び第2主面と直交するように配置されており、
前記磁気検出部は、前記第1筐体の第1主面及び第2主面の法線方向に沿って配設された第1磁気センサ及び第2磁気センサを含む、
ことを特徴とする電子機器。
A first housing and a second housing that are displaceable between a first state in which the respective first main surfaces face each other and a second state in which the respective second main surfaces face each other;
A magnetic detector provided in the first housing;
A magnet provided in the second housing;
A control unit for determining the first state and the second state based on an output of the magnetic detection unit;
Have
The magnet is disposed such that the magnetization direction thereof is orthogonal to the first main surface and the second main surface of the second casing,
The magnetic detection unit includes a first magnetic sensor and a second magnetic sensor disposed along a normal direction of the first main surface and the second main surface of the first housing.
An electronic device characterized by that.
前記制御部は、前記第1磁気センサ及び前記第2磁気センサそれぞれの出力を比較して前記第1状態と前記第2状態を判別することを特徴とする請求項1に記載の電子機器。   The electronic device according to claim 1, wherein the control unit determines the first state and the second state by comparing outputs of the first magnetic sensor and the second magnetic sensor. 前記第1磁気センサ及び前記第2磁気センサは、いずれも単一の磁気センサICに集積化されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子機器。   3. The electronic apparatus according to claim 1, wherein the first magnetic sensor and the second magnetic sensor are both integrated in a single magnetic sensor IC. 前記第1磁気センサは、第1磁気センサICに集積化されており、
前記第2磁気センサは、第2磁気センサICに集積化されており、
前記第1磁気センサICは、プリント基板の第1実装面に実装されており、
前記第2磁気センサICは、前記プリント基板の第2実装面に実装されている、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電子機器。
The first magnetic sensor is integrated in a first magnetic sensor IC,
The second magnetic sensor is integrated in a second magnetic sensor IC,
The first magnetic sensor IC is mounted on a first mounting surface of a printed circuit board,
The second magnetic sensor IC is mounted on a second mounting surface of the printed circuit board;
The electronic device according to claim 1, wherein the electronic device is an electronic device.
前記磁気検出部は、前記第1筐体の第1主面及び第2主面の法線方向に沿って配設された第3磁気センサ及び第4磁気センサをさらに含み、
前記第3磁気センサは、前記第1磁気センサと同一面上に配置されており、
前記第4磁気センサは、前記第2磁気センサと同一面上に配置されている、
ことを特徴とする請求項1に記載の電子機器。
The magnetic detection unit further includes a third magnetic sensor and a fourth magnetic sensor disposed along a normal direction of the first main surface and the second main surface of the first casing,
The third magnetic sensor is disposed on the same plane as the first magnetic sensor,
The fourth magnetic sensor is disposed on the same plane as the second magnetic sensor.
The electronic device according to claim 1.
前記制御部は、前記第1磁気センサ及び前記第4磁気センサの差分出力と、前記第2磁気センサ及び前記第3磁気センサの差分出力のうち、絶対値が大きい方の正負を判定して前記第1状態と前記第2状態を判別することを特徴とする請求項5に記載の電子機器。   The control unit determines the positive or negative of the larger absolute value of the difference output of the first magnetic sensor and the fourth magnetic sensor and the difference output of the second magnetic sensor and the third magnetic sensor. The electronic apparatus according to claim 5, wherein the electronic apparatus determines a first state and the second state. 前記第1磁気センサ、前記第2磁気センサ、前記第3磁気センサ、及び、前記第4磁気センサは、いずれも単一の磁気センサICに集積化されていることを特徴とする請求項5または請求項6に記載の電子機器。   6. The first magnetic sensor, the second magnetic sensor, the third magnetic sensor, and the fourth magnetic sensor are all integrated in a single magnetic sensor IC. The electronic device according to claim 6. 前記第1磁気センサ及び前記第2磁気センサは、いずれも第1磁気センサICに集積化されており、
前記第3磁気センサ及び前記第4磁気センサは、いずれも第2磁気センサICに集積化されており、
前記第1磁気センサIC及び前記第2磁気センサICは、いずれもプリント基板の同一実装面に実装されている、
ことを特徴とする請求項5または請求項6に記載の電子機器。
The first magnetic sensor and the second magnetic sensor are both integrated in a first magnetic sensor IC,
The third magnetic sensor and the fourth magnetic sensor are both integrated in the second magnetic sensor IC,
The first magnetic sensor IC and the second magnetic sensor IC are both mounted on the same mounting surface of the printed circuit board.
The electronic device according to claim 5, wherein the electronic device is an electronic device.
前記第1筐体の第1主面に設けられた表示部と、
前記第2筐体の第1主面に設けられた操作部と、
をさらに有し、
前記制御部は、前記第1状態を判別したときに前記電子機器を休止状態とし、前記第2状態を判別したときに前記操作部を無効状態とすることを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか一項に記載の電子機器。
A display unit provided on the first main surface of the first housing;
An operation unit provided on the first main surface of the second housing;
Further comprising
The said control part makes the said electronic device a dormant state when discriminating the said 1st state, and makes the said operation part an invalid state when discriminating the said 2nd state. 9. The electronic device according to any one of 8.
前記第1筐体と前記第2筐体は、互いに着脱可能であることを特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか一項に記載の電子機器。   The electronic device according to claim 1, wherein the first housing and the second housing are detachable from each other.
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