JP2017220721A - Phase error correction device and wireless transmitter - Google Patents

Phase error correction device and wireless transmitter Download PDF

Info

Publication number
JP2017220721A
JP2017220721A JP2016112019A JP2016112019A JP2017220721A JP 2017220721 A JP2017220721 A JP 2017220721A JP 2016112019 A JP2016112019 A JP 2016112019A JP 2016112019 A JP2016112019 A JP 2016112019A JP 2017220721 A JP2017220721 A JP 2017220721A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
phase error
reference signal
error correction
signal
phase
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2016112019A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
毛利 浩喜
Hiroki Mori
浩喜 毛利
中 順一
Junichi Naka
順一 中
俊明 尾関
Toshiaki Ozeki
俊明 尾関
拓司 三木
Takuji Miki
拓司 三木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2016112019A priority Critical patent/JP2017220721A/en
Publication of JP2017220721A publication Critical patent/JP2017220721A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To correct a phase error of the output waveform of multiple DA converters.SOLUTION: A phase error correction device for correcting the phase error between respective output signals from multiple DA converters includes a comparator circuit inputting a reference signal having a changing data value to each DA converter, comparing an analog signal from each DA converter with a predetermined threshold value and outputting a binary comparison result signal, and control means for adjusting the phase of the reference signal so that respective binary appearances of comparison result signals from the comparator circuit are substantially identical, or adjusting a phase of a clock for controlling the operation of the comparator circuit. A divider for dividing the clock by a predetermined division ratio may be included furthermore. The comparator circuit may compare the reference signal with the threshold, by using a threshold having hysteresis characteristics at the time of rising and falling of the reference signal.SELECTED DRAWING: Figure 1A

Description

本開示は、例えば送信信号における直交変調器の複数のDA変換器からの出力信号の位相誤差を補正する位相誤差補正装置と、補正された位相誤差を有する複数のDA変換器を用いた送信装置とに関する。   The present disclosure relates to, for example, a phase error correction apparatus that corrects phase errors of output signals from a plurality of DA converters of a quadrature modulator in a transmission signal, and a transmission apparatus that uses a plurality of DA converters having corrected phase errors. And about.

例えば無線通信レーダーシステム技術において、デジタル信号をアナログ信号に変換するデジタルアナログ変換器(以下、DA変換器という。)から出力された送信信号は、送信アンテナを通じて対象物に照射される。一般的には、互いに直交する同相信号(搬送波と同じ位相の軸における同相成分(In Phase)の信号をいい、以下、I信号という。)と直交信号(搬送波と直交する位相の軸における直交位相成分(Quadrature Phase)の信号をいい、以下、Q信号という。)とからなる「IQ直交信号」を用いて例えばQAM変調などで変調される。ここで、このIQ直交信号の位相がずれている(以下、直交位相誤差という。)と、無線受信装置での特性劣化を引き起こす原因となる。この位相ずれは、例えば基板上の配線遅延、アナログ部品のばらつきによる遅延等の様々な要因で引き起こされる。   For example, in a radio communication radar system technology, a transmission signal output from a digital-analog converter (hereinafter referred to as a DA converter) that converts a digital signal into an analog signal is applied to an object through a transmission antenna. In general, in-phase signals orthogonal to each other (referred to as in-phase components on the same phase axis as the carrier wave, hereinafter referred to as I signals) and quadrature signals (orthogonal on the phase axis orthogonal to the carrier wave). The signal is modulated by, for example, QAM modulation using an “IQ quadrature signal” including a phase component (Quadrature Phase signal, hereinafter referred to as a Q signal). Here, if the phase of the IQ quadrature signal is shifted (hereinafter referred to as a quadrature phase error), it causes a characteristic deterioration in the radio receiving apparatus. This phase shift is caused by various factors such as a wiring delay on the substrate and a delay due to variations in analog parts.

前記DA変換器の最終出力波形の位相を補正するにあたり、様々な手法が考えられる。例えば、デジタル的に補正するのであれば、最終段に直接にアナログデジタル変換器(以下、AD変換器という。)を接続してデジタルデータに変換した後、デジタル補正することも考えられる。しかし、AD変換器を搭載するにあたり、消費電力、回路規模増大等のデメリットは大きい。また、DA変換器の入力段のデジタルデータを補正したとしても、DA変換器そのものでばらつき等による遅延が発生するため、十分に補正しきれない。このような位相誤差が存在する場合には、直交変調器において、IQ直交信号のインバランスの不完全性を補償する、例えば特許文献1に記載された構成が知られている。   Various methods are conceivable for correcting the phase of the final output waveform of the DA converter. For example, if digital correction is to be performed, an analog-digital converter (hereinafter referred to as an AD converter) is directly connected to the final stage to convert it into digital data, and then digital correction may be considered. However, when the AD converter is mounted, there are great demerits such as power consumption and circuit scale increase. Even if the digital data at the input stage of the DA converter is corrected, a delay due to variations or the like occurs in the DA converter itself, so that it cannot be corrected sufficiently. When such a phase error exists, a configuration described in, for example, Patent Document 1 is known that compensates for imperfect imbalance of an IQ quadrature signal in a quadrature modulator.

特許第4172805号公報Japanese Patent No. 4172805 特開2010−187334号公報JP 2010-187334 A

特許文献1のように、DA変換器の前段の値を用いて直交誤差推定アルゴリズムにより位相を補正するのみでは、DA変換器そのもののばらつきや遅延が考慮されていないことになる。したがって、IQ直交信号の全ての位相が最適値になるとは限らない。I信号及びQ信号の位相が適切な値ではない場合には、直交誤差及び振幅誤差等が十分に補正されないので、送信信号の劣化が受信側に及ぼす影響を十分抑えることができない。   As in Patent Document 1, only by correcting the phase by the orthogonal error estimation algorithm using the previous stage value of the DA converter, variations and delays of the DA converter itself are not taken into consideration. Therefore, not all phases of the IQ orthogonal signal are necessarily optimal values. When the phases of the I signal and the Q signal are not appropriate values, the quadrature error, the amplitude error, and the like are not sufficiently corrected, so that the influence of the deterioration of the transmission signal on the reception side cannot be sufficiently suppressed.

本開示は以上の問題点を解決し、従来技術に比較して複数のDA変換器の各出力位相誤差の補正精度を向上させる位相誤差補正装置及び無線送信装置を提供する。   The present disclosure solves the above-described problems and provides a phase error correction device and a wireless transmission device that improve the correction accuracy of each output phase error of a plurality of DA converters as compared with the prior art.

本開示の一態様に係る位相誤差補正装置は、
複数のDA変換器からの各出力信号間の位相誤差の補正を行う位相誤差補正装置であって、
データ値が変化する参照信号を前記各DA変換器に入力し、前記各DA変換器からのアナログ信号を所定のしきい値と比較して二値の比較結果信号を出力する比較回路と、
前記比較回路からの比較結果信号の二値の各出現が互いに実質的に同一となるように前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記比較回路の動作を制御するクロックの位相を調整する制御手段とを備える。
A phase error correction apparatus according to an aspect of the present disclosure is provided.
A phase error correction device for correcting a phase error between output signals from a plurality of DA converters,
A comparison circuit that inputs a reference signal whose data value changes to each DA converter, compares an analog signal from each DA converter with a predetermined threshold value, and outputs a binary comparison result signal;
Control that adjusts the phase of the reference signal so that each occurrence of the binary value of the comparison result signal from the comparison circuit is substantially the same, or adjusts the phase of the clock that controls the operation of the comparison circuit Means.

本開示に係る位相誤差補正装置によれば、従来技術に比較して高精度で出力位相誤差を補正することができるので、送信信号に対する位相誤差の影響を十分に抑えることができる。   According to the phase error correction device according to the present disclosure, the output phase error can be corrected with higher accuracy than in the related art, and thus the influence of the phase error on the transmission signal can be sufficiently suppressed.

本開示の実施形態1にかかる直交位相誤差の補正装置100の構成例を示すブロック図である。FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration example of a quadrature error correction apparatus 100 according to the first embodiment of the present disclosure. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100により実行される直交位相誤差の補正処理を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the correction process of the quadrature phase error performed by the correction apparatus 100 of the quadrature phase error of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100により補正されたDA変換器102,104及び可変遅延線103,105を用いて構成された無線送信装置10の構成例を示すブロック図である。1B is a block diagram illustrating a configuration example of a wireless transmission device 10 configured using DA converters 102 and 104 and variable delay lines 103 and 105 corrected by the quadrature phase error correction device 100 of FIG. 1A. FIG. 本開示の実施形態2にかかる直交位相誤差の補正装置100Aの構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the correction | amendment apparatus 100A of the quadrature phase error concerning Embodiment 2 of this indication. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100により実行される直交位相誤差の補正処理の手順を示す信号電圧の波形図である。FIG. 1B is a signal voltage waveform diagram showing a procedure of a quadrature phase error correction process executed by the quadrature phase error correction apparatus of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100において用いる参照信号パターンの例を示す波形図である。It is a wave form diagram which shows the example of the reference signal pattern used in the correction apparatus 100 of the quadrature phase error of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100におけるしきい値に関する判定動作例を示す信号電圧の波形図である。FIG. 1B is a signal voltage waveform diagram illustrating an example of a determination operation related to a threshold in the quadrature phase error correction apparatus of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100におけるしきい値に関する判定動作例を示す信号電圧の波形図である。FIG. 1B is a signal voltage waveform diagram illustrating an example of a determination operation related to a threshold in the quadrature phase error correction apparatus of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100におけるしきい値に関する判定動作においてヒステリシス特性がある場合を示す信号電圧の波形図である。FIG. 1B is a signal voltage waveform diagram showing a case where there is a hysteresis characteristic in a determination operation relating to a threshold in the quadrature phase error correction apparatus of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100においてDA変換器102,104からのI信号とQ信号との間に位相誤差がある場合を示す波形図である。1B is a waveform diagram showing a case where there is a phase error between the I signal and the Q signal from the DA converters 102 and 104 in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. 図1Aの直交位相誤差の補正装置100においてDA変換器102,104からのI信号とQ信号との間に位相誤差がない場合を示す波形図である。1B is a waveform diagram showing a case where there is no phase error between the I signal and the Q signal from the DA converters 102 and 104 in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A.

以下、本開示に係る実施形態について図面を参照して説明する。なお、以下の各実施形態において、同様の構成要素については同一の符号を付している。   Embodiments according to the present disclosure will be described below with reference to the drawings. In addition, in each following embodiment, the same code | symbol is attached | subjected about the same component.

(実施形態1)
図1Aは本開示の実施形態1にかかる直交位相誤差の補正装置100の構成例を示すブロック図である。また、図1Bは図1Aの直交位相誤差の補正装置100により実行される直交位相誤差の補正処理を示すフローチャートである。さらに、図1Cは図1Aの直交位相誤差の補正装置100により補正されたDA変換器102,104及び可変遅延線103,105を用いて構成された無線送信装置10の構成例を示すブロック図である。
(Embodiment 1)
FIG. 1A is a block diagram illustrating a configuration example of the quadrature phase error correction apparatus 100 according to the first embodiment of the present disclosure. FIG. 1B is a flowchart showing a quadrature error correction process executed by the quadrature error correction apparatus 100 shown in FIG. 1A. Further, FIG. 1C is a block diagram illustrating a configuration example of the wireless transmission device 10 configured using the DA converters 102 and 104 and the variable delay lines 103 and 105 corrected by the quadrature phase error correction device 100 of FIG. 1A. is there.

図1Aにおいて、直交位相誤差の補正装置100は、参照信号生成器101と、DA変換器102,103と、可変遅延線103,105と、比較回路106と、分周器107と、判定及び制御器108とを備えて構成される。   1A, a quadrature phase error correction apparatus 100 includes a reference signal generator 101, DA converters 102 and 103, variable delay lines 103 and 105, a comparison circuit 106, a frequency divider 107, and determination and control. Device 108.

比較回路106は、しきい値レジスタ106Rと、スイッチ106Sと、コンパレータ106Cとを備えて構成される。比較回路106はDA変換器102,104の出力信号の位相誤差補正回路として動作する。特に図示しないが、図1AのクロックCLKは例えばPLL回路などの基準信号発生回路で生成されるものであり、分周器107を介して比較回路106に供給されるとともに、可変遅延線103,105を介してそれぞれDA変換器102,104に供給されることによりこれらの回路の動作を駆動する。なお、可変遅延線103,105の遅延量は判定及び制御器108によりファインモードのときに調整される。分周器107は入力されるクロックCLKを所定の分周比(1/N)で分周して、分周後の分周クロックを比較回路106に出力する。ここで、Nは一般には自然数であり、例えば20である。   The comparison circuit 106 includes a threshold value register 106R, a switch 106S, and a comparator 106C. The comparison circuit 106 operates as a phase error correction circuit for the output signals of the DA converters 102 and 104. Although not particularly illustrated, the clock CLK in FIG. 1A is generated by a reference signal generation circuit such as a PLL circuit, for example, and is supplied to the comparison circuit 106 via the frequency divider 107 and the variable delay lines 103 and 105. Are supplied to the D / A converters 102 and 104, respectively, to drive the operation of these circuits. Note that the delay amounts of the variable delay lines 103 and 105 are adjusted by the determination and controller 108 in the fine mode. The frequency divider 107 divides the input clock CLK by a predetermined frequency division ratio (1 / N), and outputs the frequency-divided clock to the comparison circuit 106. Here, N is generally a natural number, for example, 20.

スイッチ106Sは2つのDA変換器102,104のいずれのDA変換器から信号を受信するかを選択的に切り替えるものであり、判定及び制御器108からの制御信号に基づいて切り替えられる。しきい値レジスタ106Rはコンパレータ106Cのしきい値を格納するために設けられ、例えば外部回路からSPI(Serial Peripheral Interface)通信により転送されるしきい値設定値を格納し、当該しきい値設定値は判定及び制御器108からのしきい値切替信号により切り替え可能である。コンパレータ106CはDA変換器102又は104からスイッチ106Sを介して入力される信号電圧Vsを受信してしきい値レジスタ106Rで設定されたしきい値Vthと比較して、Vs≧Vthのときに「1」の比較結果信号を判定及び制御器108に出力する一方、Vs<Vthのときに「0」の比較結果信号を判定及び制御器108に出力する。   The switch 106S selectively switches which one of the two DA converters 102 and 104 receives the signal, and is switched based on the determination and the control signal from the controller 108. The threshold value register 106R is provided to store the threshold value of the comparator 106C. For example, the threshold value register 106R stores a threshold value set value transferred from an external circuit through SPI (Serial Peripheral Interface) communication. Can be switched by a threshold switching signal from the determination and controller 108. The comparator 106C receives the signal voltage Vs input from the DA converter 102 or 104 via the switch 106S and compares it with the threshold value Vth set by the threshold value register 106R. When Vs ≧ Vth, The comparison result signal “1” is output to the determination and controller 108, while the comparison result signal “0” is output to the determination and controller 108 when Vs <Vth.

参照信号生成器101から参照信号はDA変換器102,104に入力され、DA変換器102からの出力信号電圧(アナログ信号)は比較回路106のスイッチ106Sの接点a側を介してコンパレータ106Cの非反転入力端子に入力され、また、DA変換器104からの出力信号電圧(アナログ信号)は比較回路106のスイッチ106Sの接点b側を介してコンパレータ106Cの非反転入力端子に入力される。コンパレータ106Cの二値の比較結果信号は判定及び制御器108に入力され、判定及び制御器108は図1Bの直交位相誤差の補正処理を実行する、   The reference signal from the reference signal generator 101 is input to the DA converters 102 and 104, and the output signal voltage (analog signal) from the DA converter 102 is not connected to the comparator 106C via the contact a side of the switch 106S of the comparison circuit 106. The output signal voltage (analog signal) from the DA converter 104 is input to the non-inverting input terminal of the comparator 106C via the contact b side of the switch 106S of the comparison circuit 106. The binary comparison result signal of the comparator 106C is input to the determination and controller 108, and the determination and controller 108 executes the quadrature phase error correction process of FIG. 1B.

以上のように構成された直交位相誤差の補正装置100において、DA変換器102,104からのアナログの出力信号電圧に対して一つの比較回路106で構成する特長は、一つの比較回路106でタイミングを検出することで比較回路106そのものが持つばらつきや遅延をなくすという重要な意味がある。例えば複数のDA変換器102,104からの出力信号電圧を複数の比較回路でしきい値判定した場合、比較回路同志で固有のばらつきや遅延を持つため正確なタイミング検出を行うことが困難となる。そこで、本開示に係る実施形態では、複数のアナログ入力信号に対して時分割で処理することで比較回路106のそのもののばらつきの影響を除去することができるという特長がある。   In the quadrature phase error correction apparatus 100 configured as described above, one comparator circuit 106 is characterized by a single comparator circuit 106 for analog output signal voltages from the DA converters 102 and 104. By detecting this, it is important to eliminate variations and delays of the comparison circuit 106 itself. For example, when threshold values of output signal voltages from a plurality of DA converters 102 and 104 are determined by a plurality of comparison circuits, it is difficult to accurately detect timing because the comparison circuits have inherent variations and delays. . Therefore, the embodiment according to the present disclosure has a feature that the influence of the variation of the comparison circuit 106 itself can be removed by processing the plurality of analog input signals in a time division manner.

以下、図1A及び図1Bを参照して、直交位相誤差の補正処理について以下に説明する。   Hereinafter, with reference to FIG. 1A and FIG. 1B, the correction process of the quadrature phase error will be described below.

まず、ステップS1において、スイッチ106Sを接点a側に切り替えてDA変換器102の位相補正を行う。次いで、ステップS2において参照信号生成器101から所定の参照信号パターンを有する参照信号をDA変換器102に入力する。さらに、ステップS3において比較回路106の二値の比較結果信号が、前記参照信号パターンを例えば図4のように変化させて、各参照信号パターンに対して「0」及び「1」の出現確率が実質的に50%になるように「0」から「1」への遷移点又は「1」から「0」への遷移点を検出する。ここで、図4の参照信号パターンは、そのデータ幅の中間値がしきい値であるときに、「0」及び「1」の出現確率が実質的に50%になるような時間期間を有する信号パターンである。ステップS4において、検出された遷移点の参照信号パターンの1つ前の参照信号パターンを固定して入力する。以上がラフモードの調整であるが、以下のファインモードの調整では、ステップS5において、可変遅延線103の遅延量を変化させて固定された参照信号パターンに対して「0」及び「1」の出現確率が実質的に50%になるように遅延量を調整する。   First, in step S1, the switch 106S is switched to the contact a side to correct the phase of the DA converter 102. Next, in step S <b> 2, a reference signal having a predetermined reference signal pattern is input from the reference signal generator 101 to the DA converter 102. Further, in step S3, the binary comparison result signal of the comparison circuit 106 changes the reference signal pattern as shown in FIG. 4, for example, and the appearance probabilities of “0” and “1” are generated for each reference signal pattern. A transition point from “0” to “1” or a transition point from “1” to “0” is detected so as to be substantially 50%. Here, the reference signal pattern of FIG. 4 has a time period in which the appearance probability of “0” and “1” is substantially 50% when the intermediate value of the data width is a threshold value. It is a signal pattern. In step S4, the reference signal pattern immediately before the detected reference signal pattern at the transition point is fixedly input. The rough mode adjustment is as described above. In the fine mode adjustment described below, “0” and “1” appear for the reference signal pattern fixed by changing the delay amount of the variable delay line 103 in step S5. The delay amount is adjusted so that the probability is substantially 50%.

次いで、ステップS6において、スイッチ106Sを接点b側に切り替えてDA変換器104の位相補正を行う。ステップS7において、参照信号生成器101から所定の参照信号パターンを有する参照信号をDA変換器104に入力し、ステップS8において、比較回路106の比較結果信号が、前記参照信号パターンを例えば図4のように変化させて、各参照信号パターンに対して「0」及び「1」の出現確率が実質的に50%になるように「0」から「1」への遷移点又は「1」から「0」への遷移点を検出する。次いで、ステップS9において、検出された遷移点の参照信号パターンの1つ前の参照信号パターンを固定して入力し、ステップS10において、可変遅延線105の遅延量を変化させて固定された参照信号パターンに対して「0」及び「1」の出現確率が実質的に50%になるように遅延量を調整して当該補正処理を終了する。   Next, in step S6, the switch 106S is switched to the contact b side to correct the phase of the DA converter 104. In step S7, a reference signal having a predetermined reference signal pattern is input from the reference signal generator 101 to the DA converter 104. In step S8, the comparison result signal of the comparison circuit 106 indicates the reference signal pattern shown in FIG. The transition point from “0” to “1” or “1” to “1” so that the appearance probability of “0” and “1” is substantially 50% for each reference signal pattern. The transition point to “0” is detected. Next, in step S9, the reference signal pattern immediately before the detected reference signal pattern at the transition point is fixed and input, and in step S10, the reference signal pattern fixed by changing the delay amount of the variable delay line 105 is fixed. The delay amount is adjusted so that the appearance probabilities of “0” and “1” for the pattern are substantially 50%, and the correction process is terminated.

補正処理により補正された直交位相誤差を有するDA変換器102,104と可変遅延線103,105を図1Cのように無線送信装置10に用いることで、直交位相誤差が補正されたIQ直交信号を用いて無線送信信号を生成できる。   By using the DA converters 102 and 104 having the quadrature phase error corrected by the correction process and the variable delay lines 103 and 105 in the wireless transmission device 10 as shown in FIG. 1C, the IQ quadrature signal with the quadrature phase error corrected is obtained. Can be used to generate a radio transmission signal.

図1Cにおいて、無線送信装置10は、送信信号処理回路1と、補正処理により補正された直交位相誤差を有するDA変換器102,104と可変遅延線103,105と、無線送信回路2と、アンテナ3とを備えて構成される。図1Cにおいて、送信信号処理回路1は入力される送信データに対して例えばシリアルパラレル変換などの所定の送信信号処理を行ってI信号及びQ信号を生成してそれぞれ、DA変換器102,104を介して無線送信回路2に出力する。無線送信回路2は入力されるアナログのI信号及びQ信号に基づいて例えばQAM変調を行って所定の無線送信信号を生成してアンテナ3を介して送信する。   1C, a wireless transmission device 10 includes a transmission signal processing circuit 1, DA converters 102 and 104, variable delay lines 103 and 105 having quadrature phase errors corrected by correction processing, a wireless transmission circuit 2, an antenna, and the like. 3. In FIG. 1C, a transmission signal processing circuit 1 performs predetermined transmission signal processing such as serial / parallel conversion on input transmission data to generate an I signal and a Q signal, and outputs DA signals 102 and 104, respectively. Via the wireless transmission circuit 2. The radio transmission circuit 2 performs, for example, QAM modulation based on the input analog I signal and Q signal, generates a predetermined radio transmission signal, and transmits it through the antenna 3.

以上のように構成された図1Aの直交位相誤差の補正装置100での補正手順では、I信号の位相補正を行うために、同じ参照信号を各DA変換器102,104に入力する。DA変換器102からの出力信号を一つの比較回路106の比較結果信号で「0」,「1」の出現確率が50%であるかを判定する。入力される参照信号がしきい値よりも大きい場合は、比較回路106の比較結果信号は全て「1」となる。同様に、入力される参照信号がしきい値より小さい場合は比較回路106の比較結果信号は全て「0」となる。比較結果信号が全て同じだった場合、位相をずらした参照信号を再度各DA変換器102,104に入力し、参照信号パターンを変えて繰り返し比較回路106で判定を行っていくと、必ずしきい値をまたぐ時がくる。つまり、比較結果信号が全て「0」から「1」への遷移点、もしくは「1」から「0」への遷移点が存在する。この遷移点近くに必ずしきい値と一致する箇所があるので、遷移点が見つかったパターンの一つ前の参照信号パターンに固定し、今度はファイン調整モードにて可変遅延線103,105を用いて細かい位相の調整を行い、比較回路106の比較結果信号の「0」、「1」パターンの出現確率が50%になるまで各可変遅延線103,105の遅延量を調整する。このようにして、I信号とQ信号の位相が補正され出力信号が揃うことになる。   In the correction procedure in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A configured as described above, the same reference signal is input to each DA converter 102 and 104 in order to perform phase correction of the I signal. The output signal from the DA converter 102 is compared with a comparison result signal of one comparison circuit 106 to determine whether the appearance probability of “0” or “1” is 50%. When the input reference signal is larger than the threshold value, all the comparison result signals of the comparison circuit 106 are “1”. Similarly, when the input reference signal is smaller than the threshold value, all the comparison result signals of the comparison circuit 106 are “0”. When all the comparison result signals are the same, the reference signal shifted in phase is input to each DA converter 102 and 104 again, and the reference signal pattern is changed and the determination is repeatedly performed by the comparison circuit 106. It is time to cross the values. That is, all the comparison result signals have a transition point from “0” to “1” or a transition point from “1” to “0”. Since there is always a location that coincides with the threshold value near the transition point, it is fixed to the reference signal pattern immediately before the pattern where the transition point is found, and this time, the variable delay lines 103 and 105 are used in the fine adjustment mode. The phase of the variable delay lines 103 and 105 is adjusted until the appearance probability of the “0” and “1” patterns of the comparison result signal of the comparison circuit 106 is 50%. In this way, the phases of the I signal and the Q signal are corrected and the output signals are aligned.

図3は図1Aの直交位相誤差の補正装置100により実行される直交位相誤差の補正処理の手順を示す信号電圧の波形図である。ここで、図3(a)はラフモードの参照信号パターンであり、図3(b)はファインモードの参照信号パターンである。   FIG. 3 is a signal voltage waveform diagram showing the procedure of the quadrature phase error correction process executed by the quadrature phase error correction device 100 of FIG. 1A. 3A shows a rough mode reference signal pattern, and FIG. 3B shows a fine mode reference signal pattern.

図3(a)において、参照信号パターンS1を入力したときに、サンプリングポイントSP1〜SP3において全てしきい値より上にあるので、比較結果信号は全て「1」となる。次いで、参照信号パターンS2を入力したときも同様にしきい値より上になるので比較結果信号はすべて「1」となる。さらに、参照信号パターンS3を入力したとき、サンプリングポイントSP1〜SP3において、すべてしきい値より下になるので比較結果信号はすべて「0」となります。従って、ここでいう参照信号パターンS2が一つ前のパターンに該当する。この参照信号パターンS2を起点に今度はファインモードに移行し、図3(b)における参照信号パターンをS11からS14へとスイープさせるように可変遅延線103,105の遅延量を変化させる。図1Aでは、クロックCLKの遅延量を変化させているが、相対的には、参照信号パターンの遅延量を変化させているものと同じである。すなわち、図1Aの変形例としては、DA変換器102,104の入力端子の前段に可変遅延線103,105を挿入してもよい。図3(b)では、図3(a)のラフモードに比較して参照信号パターンの変化量が小さく、より高い精度で直交位相誤差を補正できる。   In FIG. 3A, when the reference signal pattern S1 is input, all the comparison result signals are “1” because the sampling points SP1 to SP3 are all above the threshold value. Next, when the reference signal pattern S2 is input, the comparison result signals are all “1” because they are similarly above the threshold value. Furthermore, when the reference signal pattern S3 is input, all the comparison result signals are “0” at the sampling points SP1 to SP3 because they are all below the threshold value. Therefore, the reference signal pattern S2 here corresponds to the previous pattern. With this reference signal pattern S2 as a starting point, this time the mode is shifted to the fine mode, and the delay amounts of the variable delay lines 103 and 105 are changed so as to sweep the reference signal pattern in FIG. 3B from S11 to S14. In FIG. 1A, the delay amount of the clock CLK is changed, but is relatively the same as that of changing the delay amount of the reference signal pattern. That is, as a modification of FIG. 1A, the variable delay lines 103 and 105 may be inserted before the input terminals of the DA converters 102 and 104. In FIG. 3B, the amount of change in the reference signal pattern is small compared to the rough mode in FIG. 3A, and the quadrature phase error can be corrected with higher accuracy.

図4は図1Aの直交位相誤差の補正装置100において用いる参照信号パターンの例を示す波形図である。図4の参照信号パターンでは、立ち上がり波形に特化した波形パターンの例を示している。なぜならば、参照信号パターンはDA変換器102,104に入力されるデジタルデータなので、様々な波形を生成することが可能である。図4の参照信号パターンP1は図3までの説明に用いていた波形であり、参照信号パターンP2,P3も同様に立ち上がり波形に特化したパターンで同じように入力パターンとして使用することができる。   FIG. 4 is a waveform diagram showing an example of a reference signal pattern used in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. The reference signal pattern of FIG. 4 shows an example of a waveform pattern specialized for the rising waveform. This is because the reference signal pattern is digital data input to the DA converters 102 and 104, so that various waveforms can be generated. The reference signal pattern P1 in FIG. 4 is the waveform used in the description up to FIG. 3, and the reference signal patterns P2 and P3 are also patterns specialized for rising waveforms and can be used as input patterns in the same way.

図5Aは図1Aの直交位相誤差の補正装置100におけるしきい値に関する判定動作例を示す信号電圧の波形図である。また、図5Bは図1Aの直交位相誤差の補正装置100におけるしきい値に関する判定動作例を示す信号電圧の波形図である。図5A及び図5Bは出現確率が約50%になることの補足説明を示す。図5Aから明らかなように、サンプリングポイントSPにおいて、参照信号がしきい値と一致していた場合は比較結果信号が「0」から「1」へ必ず遷移する。しかし、図5Bのごとく、ノイズ等の影響により波形が歪み、サンプリングポイントSPによっては比較結果信号が微妙にずれて「0」もしくは「1」のどちらになるかは毎回確定することはできない。絶対値として丁度50%になることはありえないので、約50%という「約」又は実質的にと表現している。   FIG. 5A is a signal voltage waveform diagram illustrating an example of a determination operation regarding a threshold in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. FIG. 5B is a signal voltage waveform diagram showing an example of a determination operation related to a threshold in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. 5A and 5B show supplementary explanation that the probability of appearance is about 50%. As is clear from FIG. 5A, at the sampling point SP, when the reference signal matches the threshold value, the comparison result signal always transitions from “0” to “1”. However, as shown in FIG. 5B, the waveform is distorted due to the influence of noise or the like, and depending on the sampling point SP, it cannot be determined every time whether the comparison result signal is slightly shifted and becomes “0” or “1”. Since the absolute value cannot be exactly 50%, it is expressed as “about” or substantially about 50%.

図6は図1Aの直交位相誤差の補正装置100におけるしきい値に関する判定動作においてヒステリシス特性がある場合を示す信号電圧の波形図である。図6の比較結果信号が「0」もしくは「1」のどちらになるか不確定の範囲が広いので、入力信号の立ち上がり時と立ち下がり時でヒステリシス特性を持たせることで、従来技術に比較して高い精度でしきい値の判定を行うことができる。図6の場合において、3つのしきい値VthH、Vth、VthLは比較回路106に対してヒステリシス特性を持たすために設定を行うもので、Vth±α(αは小数)で設定される。   FIG. 6 is a signal voltage waveform diagram showing a case where there is a hysteresis characteristic in the determination operation regarding the threshold in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. The comparison result signal in FIG. 6 has a wide range of uncertainty whether it is “0” or “1”, so by providing hysteresis characteristics at the rise and fall of the input signal, compared with the prior art The threshold value can be determined with high accuracy. In the case of FIG. 6, the three threshold values VthH, Vth, and VthL are set so as to have hysteresis characteristics for the comparison circuit 106, and are set to Vth ± α (α is a decimal number).

図7Aは図1Aの直交位相誤差の補正装置100においてDA変換器102,104からのI信号とQ信号との間に位相誤差がある場合を示す波形図である。また、図7Bは図1Aの直交位相誤差の補正装置100においてDA変換器102,104からのI信号とQ信号との間に位相誤差がない場合を示す波形図である。図7Aから明らかなように、直交位相誤差があるときにはI信号とQ信号との間で位相誤差が発生している。これに対して、図7Bの場合には、前記位相誤差が補正されている。   FIG. 7A is a waveform diagram showing a case where there is a phase error between the I signal and the Q signal from the DA converters 102 and 104 in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. FIG. 7B is a waveform diagram showing a case where there is no phase error between the I and Q signals from the DA converters 102 and 104 in the quadrature phase error correction apparatus 100 of FIG. 1A. As is clear from FIG. 7A, when there is a quadrature phase error, a phase error occurs between the I signal and the Q signal. In contrast, in the case of FIG. 7B, the phase error is corrected.

(実施形態2)
図2は本開示の実施形態2にかかる直交位相誤差の補正装置100Aの構成例を示すブロック図である。図2の実施形態2にかかる直交位相誤差の補正装置100Aは、図1Aの実施形態1にかかる直交位相誤差の補正装置100に比較して以下の点が異なる。
(1)クロックCLKを遅延させる可変遅延線103,105を設けない。
(2)参照信号生成器101に代えて、判定及び制御器108からの制御信号により参照信号を時間方向に移動させるように掃引できる参照信号生成器101Aを備えた。
(Embodiment 2)
FIG. 2 is a block diagram illustrating a configuration example of a quadrature phase error correction apparatus 100A according to the second embodiment of the present disclosure. The quadrature phase error correction apparatus 100A according to the second embodiment of FIG. 2 differs from the quadrature phase error correction apparatus 100 according to the first embodiment of FIG. 1A in the following points.
(1) The variable delay lines 103 and 105 for delaying the clock CLK are not provided.
(2) Instead of the reference signal generator 101, a reference signal generator 101A that can be swept so as to move the reference signal in the time direction by a control signal from the determination and controller 108 is provided.

以上のように構成することで、実施形態1で説明したように、実施形態1に係る直交位相誤差の補正装置100と同様に動作できる。   With the configuration as described above, as described in the first embodiment, the same operation as the quadrature phase error correction apparatus 100 according to the first embodiment can be performed.

(変形例)
本実施形態における各機能ブロックは、典型的にはハードウェアで実現され得る。例えば各機能ブロックは、IC(集積回路)の一部として半導体基板上に形成され得る。ここでICは、LSI(Large−Scale Integrated circuit)、ASIC(Application−Specific Integrated Circuit)、ゲートアレイ、FPGA(Field Programmable Gate Array)等を含む。代替としては各機能ブロックの一部又は全ては、ソフトウェアで実現され得る。例えばそのような機能ブロックは、プロセッサ上で実行されるプログラムによって実現され得る。換言すれば、本明細書で説明される各機能ブロックは、ハードウェアで実現されてもよいし、ソフトウェアで実現されてもよいし、ハードウェアとソフトウェアとの任意の組合せで実現され得る。
(Modification)
Each functional block in the present embodiment can be typically realized by hardware. For example, each functional block can be formed on a semiconductor substrate as part of an IC (integrated circuit). Here, the IC includes an LSI (Large-Scale Integrated Circuit), an ASIC (Application-Specific Integrated Circuit), a gate array, a FPGA (Field Programmable Gate Array), and the like. Alternatively, some or all of each functional block can be implemented in software. For example, such a functional block can be realized by a program executed on a processor. In other words, each functional block described in the present specification may be realized by hardware, may be realized by software, or may be realized by any combination of hardware and software.

本開示の多くの特徴及び優位性は、記載された説明から明らかであり、よって添付の特許請求の範囲によって、本開示のそのような特徴及び優位性の全てをカバーすることが意図される。更に、多くの変更及び改変が当業者には容易に可能であるので、本開示は、図示され記載されたものと全く同じ構成及び動作に限定されるべきではない。従って、全ての適切な改変物及び等価物は本開示の範囲に入るものとされる。   Many features and advantages of the present disclosure will be apparent from the written description, and thus, it is intended by the appended claims to cover all such features and advantages of the present disclosure. Further, since many changes and modifications can be readily made by those skilled in the art, the present disclosure should not be limited to the exact configuration and operation as illustrated and described. Accordingly, all suitable modifications and equivalents are intended to be within the scope of this disclosure.

図1Cの構成例では、無線送信装置10について説明しているが、本開示はこれに限らず、有線などの送信装置にも適用しうる。   In the configuration example of FIG. 1C, the wireless transmission device 10 has been described, but the present disclosure is not limited to this, and may be applied to a transmission device such as a wire.

以上の実施形態では、直交位相誤差の補正装置について説明しているが、本開示はこれに限らず、複数のDA変換器の出力信号の位相誤差を補正する位相誤差補正装置にも適用しうる。   In the above embodiments, the quadrature phase error correction device has been described. However, the present disclosure is not limited to this, and the present disclosure can also be applied to a phase error correction device that corrects phase errors of output signals of a plurality of DA converters. .

(実施形態のまとめ)
第1の態様にかかる位相誤差補正装置は、複数のDA変換器からの各出力信号間の位相誤差の補正を行う位相誤差補正装置であって、
データ値が変化する参照信号を前記各DA変換器に入力し、前記各DA変換器からのアナログ信号を所定のしきい値と比較して二値の比較結果信号を出力する比較回路と、
前記比較回路からの前記比較結果信号の二値の各出現が互いに実質的に同一となるように前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記比較回路の動作を制御するクロックの位相を調整する制御手段とを備える。
(Summary of embodiment)
A phase error correction apparatus according to a first aspect is a phase error correction apparatus that corrects a phase error between output signals from a plurality of DA converters.
A comparison circuit that inputs a reference signal whose data value changes to each DA converter, compares an analog signal from each DA converter with a predetermined threshold value, and outputs a binary comparison result signal;
The phase of the reference signal is adjusted so that the binary appearances of the comparison result signal from the comparison circuit are substantially the same as each other, or the phase of the clock that controls the operation of the comparison circuit is adjusted. Control means.

第2の態様にかかる位相誤差補正装置は、第1の態様にかかる位相誤差補正装置において、前記クロックを所定の分周比で分周する分周器をさらに備える。   The phase error correction apparatus according to the second aspect further includes a frequency divider that divides the clock at a predetermined frequency division ratio in the phase error correction apparatus according to the first aspect.

第3の態様に係る位相誤差補正装置は、第1又は第2の態様にかかる位相誤差補正装置において、前記比較回路は、前記参照信号の立ち上がり及び立ち下がり時においてヒステリシス特性を有するしきい値を用いて前記参照信号を前記しきい値と比較する。   A phase error correction device according to a third aspect is the phase error correction device according to the first or second aspect, wherein the comparison circuit has a threshold value having a hysteresis characteristic at the rise and fall of the reference signal. Used to compare the reference signal with the threshold value.

第4の態様に係る位相誤差補正装置は、第1〜第3の態様のうちのいずれか1つにかかる位相誤差補正装置において、前記制御手段は、前記参照信号を変化させたときに、前記比較結果信号の二値の第1の値から第2の値に変化する遷移点、もしくは、前記比較結果信号の二値の第2の値から第1の値に変化する遷移点を検出することで、前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記クロックの位相を調整する。   A phase error correction apparatus according to a fourth aspect is the phase error correction apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the control means changes the reference signal when the reference signal is changed. Detecting a transition point of the comparison result signal that changes from the first binary value to the second value, or a transition point of the comparison result signal that changes from the second binary value to the first value Then, the phase of the reference signal is adjusted, or the phase of the clock is adjusted.

第5の態様に係る位相誤差補正装置は、第4の態様にかかる位相誤差補正装置において、前記制御手段は、前記検出した遷移点の一つ前の参照信号を固定することで前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記クロックの位相を調整する。   The phase error correction apparatus according to a fifth aspect is the phase error correction apparatus according to the fourth aspect, wherein the control means fixes the reference signal immediately before the detected transition point to fix the reference signal. The phase is adjusted or the phase of the clock is adjusted.

第6の態様に係る位相誤差補正装置は、第1〜第5の態様のうちのいずれか1つに係る位相誤差補正装置により補正された位相誤差を有する複数のDA変換器を備える。   A phase error correction apparatus according to a sixth aspect includes a plurality of DA converters having phase errors corrected by the phase error correction apparatus according to any one of the first to fifth aspects.

本開示によれば、複数のDA変換器の出力信号の位相誤差の補正精度を向上させることができるので、位相誤差の補正装置等について有用である。   According to the present disclosure, it is possible to improve the accuracy of correcting the phase error of the output signals of a plurality of DA converters, which is useful for a phase error correction device and the like.

1 送信信号処理回路
2 無線送信回路
3 アンテナ
10 無線送信装置、
100 直交位相誤差の補正装置
101 参照信号生成器
102、104 DA変換器(DAC)
103、105 可変遅延線
106 比較回路
106R しきい値レジスタ
106S スイッチ
106C コンパレータ
107 分周器
108 判定及び制御器
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Transmission signal processing circuit 2 Wireless transmission circuit 3 Antenna 10 Wireless transmission device,
100 Quadrature Phase Error Correction Device 101 Reference Signal Generator 102, 104 DA Converter (DAC)
103, 105 Variable delay line 106 Comparison circuit 106R Threshold register 106S Switch 106C Comparator 107 Divider 108 Judgment and controller

Claims (6)

複数のDA変換器からの各出力信号間の位相誤差の補正を行う位相誤差補正装置であって、
データ値が変化する参照信号を前記各DA変換器に入力し、前記各DA変換器からのアナログ信号を所定のしきい値と比較して二値の比較結果信号を出力する比較回路と、
前記比較回路からの前記比較結果信号の二値の各出現が互いに実質的に同一となるように前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記比較回路の動作を制御するクロックの位相を調整する制御手段とを備える位相誤差補正装置。
A phase error correction device for correcting a phase error between output signals from a plurality of DA converters,
A comparison circuit that inputs a reference signal whose data value changes to each DA converter, compares an analog signal from each DA converter with a predetermined threshold value, and outputs a binary comparison result signal;
The phase of the reference signal is adjusted so that the binary appearances of the comparison result signal from the comparison circuit are substantially the same as each other, or the phase of the clock that controls the operation of the comparison circuit is adjusted. A phase error correction apparatus comprising a control means.
前記クロックを所定の分周比で分周する分周器をさらに備える請求項1記載の位相誤差補正装置。   The phase error correction device according to claim 1, further comprising a frequency divider that divides the clock by a predetermined frequency division ratio. 前記比較回路は、前記参照信号の立ち上がり及び立ち下がり時においてヒステリシス特性を有するしきい値を用いて前記参照信号を前記しきい値と比較する請求項1又は2記載の位相誤差補正装置。   3. The phase error correction apparatus according to claim 1, wherein the comparison circuit compares the reference signal with the threshold value using a threshold value having hysteresis characteristics at the time of rising and falling of the reference signal. 前記制御手段は、前記参照信号を変化させたときに、前記比較結果信号の二値の第1の値から第2の値に変化する遷移点、もしくは、前記比較結果信号の二値の第2の値から第1の値に変化する遷移点を検出することで、前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記クロックの位相を調整する請求項1〜3のうちのいずれか1つに記載の位相誤差補正装置。   When the reference signal is changed, the control unit changes the binary value of the comparison result signal from the first value to the second value or the second value of the binary value of the comparison result signal. 4. The phase of the reference signal is adjusted by detecting a transition point that changes from the value of the first value to the first value, or the phase of the clock is adjusted. 5. Phase error correction device. 前記制御手段は、前記検出した遷移点の一つ前の参照信号を固定することで前記参照信号の位相を調整し、もしくは、前記クロックの位相を調整する請求項4記載の位相誤差補正装置。   5. The phase error correction apparatus according to claim 4, wherein the control unit adjusts a phase of the reference signal by fixing a reference signal immediately before the detected transition point, or adjusts a phase of the clock. 請求項1〜5のうちのいずれか1つに記載の位相誤差補正装置により補正された位相誤差を有する複数のDA変換器を備える送信装置。   A transmission apparatus comprising a plurality of DA converters having a phase error corrected by the phase error correction apparatus according to claim 1.
JP2016112019A 2016-06-03 2016-06-03 Phase error correction device and wireless transmitter Pending JP2017220721A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016112019A JP2017220721A (en) 2016-06-03 2016-06-03 Phase error correction device and wireless transmitter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016112019A JP2017220721A (en) 2016-06-03 2016-06-03 Phase error correction device and wireless transmitter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2017220721A true JP2017220721A (en) 2017-12-14

Family

ID=60656533

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016112019A Pending JP2017220721A (en) 2016-06-03 2016-06-03 Phase error correction device and wireless transmitter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2017220721A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5363428B2 (en) Closed loop clock correction method and closed loop clock correction control system adapting apparatus
CN109964404B (en) High linearity phase interpolator
US10461764B1 (en) System and method for interleaved digital-to-analog converter (DAC) calibration
JP5365516B2 (en) Signal processing apparatus and signal processing method
US9698968B2 (en) Phase interpolator calibration
CN107086867B (en) Differential phase adjustment of clock signal input
US7286072B2 (en) Analog-to digital converter and analog-to digital conversion apparatus
US7443323B2 (en) Calibrating a digital-to-analog converter
CN113841334A (en) Measurement and correction of multiphase clock duty cycle and time offset
US7920664B2 (en) Clock synchronization circuit
CN105874715B (en) Phase interpolation and rotation apparatus and method
US10277210B1 (en) Clock skew suppression for time-interleaved clocks
JP3934585B2 (en) Wideband modulation PLL, wideband modulation PLL timing error correction system, modulation timing error correction method, and wireless communication apparatus adjustment method including wideband modulation PLL
US9831886B2 (en) Background calibration for digital-to-analog converters
US8472559B2 (en) Polar transmitter and related signal transmitting method
JP2017220721A (en) Phase error correction device and wireless transmitter
JP7377608B2 (en) System and method for generating high performance pulse width modulation (PWM) signals
WO2008038594A1 (en) Delay circuit, jigger-apllied circuit, and tester
WO2012132332A1 (en) A/d conversion device
JP4430473B2 (en) Offset compensation circuit
US11476861B2 (en) Error correction method and time-interleaved analog-to-digital converter
WO2018144178A1 (en) Data converters for mitigating time-interleaved artifacts
CN116979900A (en) Analog tracking circuit for improving dynamic and static image rejection of frequency converter
CN117353748A (en) Delay correction method and related equipment
Niaboli-Guilani et al. A low-power digital calibration of sampling time mismatches in time-interleaved A/D converters