JP2017219515A - Information processing device, information processing method, program, and information processing system - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To predict the useful life of equipment more accurately.SOLUTION: An information processing device is equipped with a sensor that measures physical quantities in the environment of installation and outputs the result of measurement as sensor information, and an equipment life predictor that predicts, on the basis of the sensor information outputted from the sensor, the useful life of equipment varying with the environment of installation. The device is further equipped with a pattern holder that holds plural patterns, predefined for each physical quantity measured by the sensor in a curve representing the useful life of equipment with the lapse of time, and the equipment life predictor predicts the useful life of equipment by selecting, on the basis of the sensor information outputted from the sensor, a prescribed pattern out of the plural patterns held by the pattern holder. This technique is applicable to network monitoring camera systems for instance.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本開示は、情報処理装置、情報処理方法、プログラム、および情報処理システムに関し、特に、機器寿命をより正確に予測することができるようにした情報処理装置、情報処理方法、プログラム、および情報処理システムに関する。   The present disclosure relates to an information processing device, an information processing method, a program, and an information processing system, and in particular, an information processing device, an information processing method, a program, and an information processing system that can predict a device lifetime more accurately. About.

従来、電子機器が故障して使用することができなくなるまでの期間(以下、機器寿命、または、単に寿命と称する)について、例えば、機種ごとに、特定の想定環境における寿命予測が行われている。このように、それぞれの電子機器が実際に設置される設置環境が考慮されてないことより、例えば、同一の機種については、全ての電子機器において同一の寿命が予測されることより、交換期間は一律に設定されることになる。   Conventionally, for a period until an electronic device fails and cannot be used (hereinafter referred to as device life or simply life), for example, life prediction in a specific assumed environment has been performed for each model. . Thus, since the installation environment in which each electronic device is actually installed is not considered, for example, for the same model, the same lifetime is predicted in all electronic devices, so the replacement period is It will be set uniformly.

また、電子機器の運用中において故障に遭遇することが回避されるように、交換期間としては、安全側に倒した数字が設定される傾向にある。また、電子機器の設置環境が考慮されていないことより、寿命予測が行われる時の前提条件と違う設置環境においても同一の条件が適用されている。   Also, in order to avoid encountering a failure during the operation of the electronic device, the replacement period tends to be set to a number that falls to the safe side. In addition, since the installation environment of the electronic device is not taken into consideration, the same conditions are applied even in an installation environment different from the preconditions when the life prediction is performed.

ところで、複数の電子機器が設置されている場合、実際の設置環境によっては、それぞれの機器寿命が異なるものとなるため、ある電子機器が故障しても、他の電子機器は使用可能であることがある。   By the way, when multiple electronic devices are installed, depending on the actual installation environment, the life of each device will be different, so that even if one electronic device fails, other electronic devices can be used. There is.

例えば、特許文献1には、複数のカメラの一部が故障した場合であっても、死角なく、撮影対象とする領域をくまなく撮影することができるカメラ端末が開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses a camera terminal that can shoot all areas to be imaged without blind spots even when some of the plurality of cameras break down.

国際公開第06/068049号パンフレットInternational Publication No. 06/068049 Pamphlet

上述したように、電子機器の設置環境によって寿命が異なるものとなることより、交換期間に従って一律に交換した場合には、使用可能であるのに使用されない無駄な期間が発生することになる。このような無駄な期間の発生を回避するため、機器寿命を正確に予測することが求められている。   As described above, since the lifetime varies depending on the installation environment of the electronic device, when the replacement is performed uniformly according to the replacement period, a useless period that is usable but not used occurs. In order to avoid the occurrence of such a useless period, it is required to accurately predict the device life.

本開示は、このような状況に鑑みてなされたものであり、機器寿命をより正確に予測することができるようにするものである。   This indication is made in view of such a situation, and makes it possible to predict a device life more correctly.

本開示の一側面の情報処理装置は、設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを備える。   An information processing apparatus according to an aspect of the present disclosure measures a physical quantity in an installation environment and outputs the measurement result as sensor information, and changes according to the installation environment based on sensor information output from the sensor. A device life prediction unit for predicting the device life.

本開示の一側面の情報処理方法またはプログラムは、設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測するステップを含む。   An information processing method or program according to one aspect of the present disclosure acquires a measurement result output from a sensor that measures a physical quantity in an installation environment as sensor information, and depends on the installation environment based on the sensor information output from the sensor. Predicting a changing device lifetime.

本開示の一側面の情報処理システムは、設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを有する複数の第1の情報処理装置と、複数の前記第1の情報処理装置からネットワークを介して送信されてくる機器寿命を集約して蓄積し、それぞれの前記第1の情報処理装置の設置環境における一般的な機器寿命を求める機能を有する第2の情報処理装置とを備える。   An information processing system according to one aspect of the present disclosure measures a physical quantity in an installation environment and outputs the measurement result as sensor information, and changes according to the installation environment based on sensor information output from the sensor. A plurality of first information processing devices having a device life prediction unit for predicting a device life, and a device life transmitted from the plurality of first information processing devices via a network is accumulated and stored, respectively. And a second information processing apparatus having a function for obtaining a general device life in an installation environment of the first information processing apparatus.

本開示の一側面においては、設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果がセンサ情報として取得され、センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命が予測される。   In one aspect of the present disclosure, a measurement result output from a sensor that measures a physical quantity in an installation environment is acquired as sensor information, and based on the sensor information output from the sensor, a device life that varies depending on the installation environment is obtained. is expected.

本開示の一側面によれば、機器寿命をより正確に予測することができる。   According to one aspect of the present disclosure, it is possible to predict the device lifetime more accurately.

本技術を適用した寿命予測システムの第1の実施の形態の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of 1st Embodiment of the lifetime prediction system to which this technique is applied. 温度および湿度から選択されるパターンの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the pattern selected from temperature and humidity. 電子機器において実行される処理を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the process performed in an electronic device. 本技術を適用した寿命予測システムの第2の実施の形態の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of 2nd Embodiment of the lifetime prediction system to which this technique is applied. 予測部により求められる予測カーブの例を示す図である。It is a figure which shows the example of the prediction curve calculated | required by the estimation part. 電子機器において実行される処理を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the process performed in an electronic device. 本技術を適用した寿命予測システムの第3の実施の形態の構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of 3rd Embodiment of the lifetime prediction system to which this technique is applied. 電子機器において実行される処理を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining the process performed in an electronic device. 複数の電子機器が連携する機器連携システムの構成例を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structural example of the apparatus cooperation system with which a some electronic device cooperates. 本技術を適用したコンピュータの一実施の形態の構成例を示すブロック図である。And FIG. 18 is a block diagram illustrating a configuration example of an embodiment of a computer to which the present technology is applied.

以下、本技術を適用した具体的な実施の形態について、図面を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, specific embodiments to which the present technology is applied will be described in detail with reference to the drawings.

図1は、本技術を適用した寿命予測システムの第1の実施の形態の構成例を示すブロック図である。   FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration example of a first embodiment of a life prediction system to which the present technology is applied.

図1に示すように、寿命予測システム11は、電子機器12および提示部13を備えて構成される。   As shown in FIG. 1, the life prediction system 11 includes an electronic device 12 and a presentation unit 13.

電子機器12は、例えば、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラなどの撮像装置、テレビジョン受信機やラジオ受信機などの受信装置、いわゆるスマートフォンを含む携帯電話端末などのように、経年劣化により故障する可能性のあるハードウエアで構成される。   The electronic device 12 can fail due to deterioration over time, such as an imaging device such as a digital still camera or a digital video camera, a receiving device such as a television receiver or a radio receiver, or a mobile phone terminal including a so-called smartphone. Consists of compatible hardware.

提示部13は、例えば、液晶ディスプレイなどのような表示部により構成することができ、電子機器12から供給される寿命予測データを表示して、その寿命予測データをユーザに提示する。または、提示部13は、ネットワークを介して通信を行う通信部により構成してもよく、電子機器12から供給される寿命予測データをユーザの端末に送信することで、その寿命予測データをユーザに提示することができる。   The presentation unit 13 can be configured by a display unit such as a liquid crystal display, for example, displays life prediction data supplied from the electronic device 12, and presents the life prediction data to the user. Or the presentation part 13 may be comprised with the communication part which communicates via a network, and transmits the lifetime prediction data supplied from the electronic device 12 to a user's terminal, and makes the lifetime prediction data to a user. Can be presented.

電子機器12は、センサ21−1および21−2、パターン保持部22、パターン選択部23を有して構成される。また、電子機器12は、電子機器12の近隣に設置されている他の電子機器12(図示せず)が有するセンサ21−3から出力されるセンサ情報を取得することができる。   The electronic device 12 includes sensors 21-1 and 21-2, a pattern holding unit 22, and a pattern selection unit 23. Moreover, the electronic device 12 can acquire sensor information output from the sensor 21-3 included in another electronic device 12 (not shown) installed in the vicinity of the electronic device 12.

センサ21−1乃至21−3は、例えば、温度センサ、湿度センサ、振動センサ、時計、イメージセンサなどにより構成され、時刻や状況により変化する様々な物理量を測定し、その測定結果を、読み出し可能なセンサ情報としてパターン選択部23に供給する。なお、センサ21は、電子機器12に組み込まれているものの他、電子機器12の周辺やアクセス可能なネットワーク上に配置されていてもよく、電子機器12が外部からセンサ情報を読み込むような状態となっていればよい。また、センサ21としては、寿命を測定するためにパターンを選択するための専用のものを利用する他、例えば、画質向上などのように、本来の目的としてパターンを選択するため以外の役割を有するものを利用してもよい。   The sensors 21-1 to 21-3 are composed of, for example, a temperature sensor, a humidity sensor, a vibration sensor, a clock, an image sensor, etc., and can measure various physical quantities that change depending on the time and situation, and can read out the measurement results. Is supplied to the pattern selection unit 23 as correct sensor information. The sensor 21 may be arranged around the electronic device 12 or on an accessible network in addition to the sensor 21 incorporated in the electronic device 12, and the electronic device 12 reads sensor information from the outside. It only has to be. In addition to using a dedicated sensor 21 for selecting a pattern for measuring the lifetime, the sensor 21 has a role other than selecting a pattern as an original purpose, for example, improving image quality. You may use things.

パターン保持部22は、予め定義されている複数のパターンを保持している。   The pattern holding unit 22 holds a plurality of predefined patterns.

ここで、パターンは、センサ21から出力されるセンサ情報の取り得る範囲においていくつかの区分に分割し、それらの区分ごとに故障率や劣化具合などを定義したものである。具体的には、温度センサから出力されるセンサ情報では、-200度以上から0度未満の区分、0度以上から50度未満の区分、および、50度以上の区分の3パターンに分割し、それぞれ個別に故障が発生するまでの時間が定義される。   Here, the pattern is divided into several sections within the range that the sensor information output from the sensor 21 can take, and the failure rate and the degree of deterioration are defined for each section. Specifically, the sensor information output from the temperature sensor is divided into three patterns: -200 degrees to less than 0 degrees, 0 degrees to less than 50 degrees, and 50 degrees or more. The time until a failure occurs is defined individually.

また、パターンとしては、センサ21ごとに独立して定義してある場合や、複数のセンサ21をまとめてテーブル化して複数のセンサ情報から1つのパターンを選択することができる。また、パターン保持部22が、電子機器12の出荷時点において事前に定義されたパターンを保持していたり、ネットワークなどを介して最新のパターンを取得して保持していたりすることができる。   Moreover, as a pattern, when it defines independently for every sensor 21, the some sensor 21 can be put together into a table and one pattern can be selected from several sensor information. Further, the pattern holding unit 22 can hold a pattern defined in advance at the time of shipment of the electronic device 12, or can acquire and hold the latest pattern via a network or the like.

パターン選択部23は、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報に基づいて、パターン保持部22に保持されている複数のパターンの中から、最も適切なパターンを選択し、そのパターンを寿命予測データとして提示部13に供給する。   The pattern selection unit 23 selects the most appropriate pattern from a plurality of patterns held by the pattern holding unit 22 based on the sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3, and the pattern Is supplied to the presentation unit 13 as life prediction data.

例えば、図2に示すように、パターン保持部22が、温度および湿度に基づいたパターンテーブルを保持している場合、パターン選択部23は、センサ情報として供給される温度および湿度から一意に決定されるパターンを選択することができる。   For example, as shown in FIG. 2, when the pattern holding unit 22 holds a pattern table based on temperature and humidity, the pattern selection unit 23 is uniquely determined from the temperature and humidity supplied as sensor information. Pattern can be selected.

このように、パターン選択部23は、複数のパターンの中から、センサ情報と単純に一致するもののみを検索して、選択する機能を備えることができる。また、パターン選択部23は、例えば、複数のセンサ情報やパターンの選択条件などに基づいた演算を行って、一致するものを選択する機能を備えることができる。   As described above, the pattern selection unit 23 can have a function of searching and selecting only a pattern that matches the sensor information from a plurality of patterns. Moreover, the pattern selection part 23 can be provided with the function which performs the calculation based on several sensor information, the selection conditions of a pattern, etc., for example, and selects what matches.

そして、パターン選択部23は、選択されるパターンが一意に決定される場合には、そのパターンを寿命予測データとしてユーザに提示する。また、パターン選択部23は、複数のセンサ情報から得られた結果がそれぞれ矛盾したり範囲に幅があったりすることで、選択されるパターンが一意に決定されない場合には、複数のパターンを寿命予測データとしてユーザに提示し、ユーザに選択させることができる。   Then, when the pattern to be selected is uniquely determined, the pattern selection unit 23 presents the pattern to the user as life prediction data. In addition, the pattern selection unit 23 determines that a plurality of patterns are to be used when the selected pattern is not uniquely determined because the results obtained from the plurality of sensor information are inconsistent or the range is wide. It can be presented to the user as prediction data and can be selected by the user.

また、パターン選択部23は、センサ情報に基づいて状況が変化したことを認識したときに、パターンをユーザに提示するようにしてもよい。   The pattern selection unit 23 may present the pattern to the user when recognizing that the situation has changed based on the sensor information.

即ち、センサ21から出力されるセンサ情報は固定的なものではなく、状況により変化するものであることより、パターン選択部23は、状況の変化をトリガーとして利用することができる。例えば、パターン選択部23は、センサ情報が少しでも変化した場合に通知を行ったり、センサ情報に変化があってもパターンの選択結果には影響がない場合には通知を行わずに、パターンの選択結果に影響がある場合に通知を行ったりすることができる。このように、パターン選択部23は、そのような通知条件を選択することで通知頻度をコントロールすることができる。   That is, since the sensor information output from the sensor 21 is not fixed and changes according to the situation, the pattern selection unit 23 can use the change in the situation as a trigger. For example, the pattern selection unit 23 performs notification when the sensor information changes even a little, or does not perform notification when there is no effect on the pattern selection result even if the sensor information changes. Notification can be made when the selection result is affected. In this way, the pattern selection unit 23 can control the notification frequency by selecting such notification conditions.

さらに、パターン選択部23は、選択されたパターンに基づいて、寿命が短くなっていることを認識した場合に、通知を行う頻度を増加することができる。つまり、パターン選択部23は、選択されたパターンにより通知を行う挙動を変更するようにしてもよい。   Furthermore, the pattern selection unit 23 can increase the frequency of notification when recognizing that the lifetime is short based on the selected pattern. That is, the pattern selection unit 23 may change the behavior of performing notification according to the selected pattern.

また、パターン選択部23は、一度通知したパターンと同一のパターンを提示していることや、一度通知したパターンとは異なるパターンを提示していること、前回のパターンとは大きく変化したパターンを提示しているときには特別な提示を行うことなど、パターンを提示する形態を選択することができる。   In addition, the pattern selection unit 23 presents a pattern that is the same as the pattern that has been notified once, presents a pattern that is different from the pattern that has been notified once, or presents a pattern that has changed significantly from the previous pattern. When doing so, it is possible to select a form for presenting the pattern, such as performing a special presentation.

このように、寿命予測システム11は構成されており、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報に基づいて、パターン選択部23により選択された適切なパターンが、寿命予測データとしてユーザに提示される。   Thus, the life prediction system 11 is configured, and an appropriate pattern selected by the pattern selection unit 23 based on the sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3 is used as life prediction data by the user. Presented to.

次に、図3は、電子機器12において実行される処理を説明するフローチャートである。   Next, FIG. 3 is a flowchart for explaining processing executed in the electronic device 12.

例えば、電子機器12が起動すると処理が開始され、ステップS11において、パターン選択部23は、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報を取得する。   For example, when the electronic device 12 is activated, the process is started, and in step S11, the pattern selection unit 23 acquires sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3.

ステップS12において、パターン選択部23は、ステップS11で取得したセンサ情報に基づいて、予め定義されてパターン保持部22に保持されている複数のパターンから、最も適切なパターンを選択する。   In step S <b> 12, the pattern selection unit 23 selects the most appropriate pattern from a plurality of patterns that are defined in advance and held in the pattern holding unit 22 based on the sensor information acquired in step S <b> 11.

ステップS13において、パターン選択部23は、ステップS12で選択したパターンを寿命予測データとしてユーザに提示するか否かを判定する。例えば、上述したように、パターン選択部23は、センサ情報に変化があった場合に、ユーザに提示することを選択することができる。   In step S13, the pattern selection unit 23 determines whether or not to present the pattern selected in step S12 to the user as life prediction data. For example, as described above, the pattern selection unit 23 can select to present to the user when there is a change in the sensor information.

ステップS13において、パターン選択部23がパターンを寿命予測データとしてユーザに提示すると判定した場合、処理はステップS14に進み、パターン選択部23は、ステップS12で選択したパターンを提示部13に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示する。   In step S13, when the pattern selection unit 23 determines that the pattern is presented to the user as life prediction data, the process proceeds to step S14, and the pattern selection unit 23 supplies the pattern selected in step S12 to the presentation unit 13. It is presented to the user as life prediction data.

ステップS14の処理後、または、ステップS13においてパターン選択部23がパターンを寿命予測データとしてユーザに提示しないと判定した場合、処理はステップS11に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。   After the process of step S14 or when the pattern selection unit 23 determines in step S13 that the pattern is not presented to the user as life prediction data, the process returns to step S11, and the same process is repeated thereafter.

以上のように、電子機器12では、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報に基づいて、例えば、センサ情報に変化があった場合に、パターン選択部23により選択されたパターンを寿命予測データとしてユーザに提示することができる。このように、電子機器12は、センサ情報に基づいて寿命予測データを求めることができるので、従来のような特定の想定環境における寿命予測よりも、より正確に寿命を予測することができる。これにより、例えば、電子機器12の設置環境に応じた交換期間を設定することができるので、電子機器12が使用可能であるのに交換されるようなことを回避すること、即ち、電子機器12の商品寿命を延ばすことができる。   As described above, in the electronic device 12, based on the sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3, for example, when the sensor information has changed, the pattern selected by the pattern selection unit 23 is selected. It can be presented to the user as life prediction data. Thus, since the electronic device 12 can obtain | require lifetime prediction data based on sensor information, it can estimate a lifetime more correctly rather than the lifetime prediction in the specific assumption environment like the past. Thereby, for example, since a replacement period according to the installation environment of the electronic device 12 can be set, it is possible to avoid the electronic device 12 from being replaced when it can be used, that is, the electronic device 12. Can extend the product life.

次に、図4は、本技術を適用した寿命予測システムの第2の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図4に示す寿命予測システム11Aにおいて、図1の寿命予測システム11と共通する構成については、その詳細な説明は省略する。   Next, FIG. 4 is a block diagram illustrating a configuration example of the second embodiment of the lifetime prediction system to which the present technology is applied. In the life prediction system 11A shown in FIG. 4, the detailed description of the configuration common to the life prediction system 11 in FIG. 1 is omitted.

図4に示すように、寿命予測システム11Aは、電子機器12Aおよび提示部13を備えて構成されており、電子機器12Aは、センサ21−1および21−2、センサ情報蓄積部24、および予測部25を有して構成される。   As illustrated in FIG. 4, the life prediction system 11A includes an electronic device 12A and a presentation unit 13, and the electronic device 12A includes sensors 21-1 and 21-2, a sensor information storage unit 24, and a prediction. The unit 25 is configured.

センサ情報蓄積部24は、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報の変化を蓄積する。   The sensor information storage unit 24 stores changes in sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3.

例えば、センサ情報蓄積部24は、予測部25による予測を提示するか否かに関わらず、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報が変化した場合に、そのセンサ情報を記録して蓄積する。例えば、センサ情報蓄積部24は、時間経過により変化したか否かに関わらずセンサ情報を記録しておいたり、時間経過に関わらず変化した場合のみセンサ情報を記録しておいたりするなど、記録する状況を選択することができる。   For example, the sensor information storage unit 24 records the sensor information when the sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3 changes regardless of whether or not the prediction by the prediction unit 25 is presented. Accumulate. For example, the sensor information storage unit 24 records the sensor information regardless of whether or not it has changed over time, or records the sensor information only when it has changed over time. You can choose the situation to do.

また、センサ情報蓄積部24は、センサ情報の変化を取得可能な状態となっている。例えば、センサ情報蓄積部24は、使用目的を記録する媒体の記憶容量などにより全てのセンサ情報を記録したり、ある一定期間のみのセンサ情報を記録したり、センサ情報を間引いて記録するなど、センサ情報の記録の仕様を選択することができる。   In addition, the sensor information storage unit 24 is in a state where changes in sensor information can be acquired. For example, the sensor information storage unit 24 records all sensor information according to the storage capacity of the medium for recording the purpose of use, records sensor information only for a certain period, records the sensor information by thinning, etc. The specification of sensor information recording can be selected.

予測部25は、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って、将来の推移を予測することで予測値を算出する。   The prediction unit 25 calculates a predicted value by predicting a future transition according to a change based on the passage of time of the sensor information stored in the sensor information storage unit 24.

例えば、予測部25は、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報に相関関係があるか、どのような遷移をたどっているか、初期から同一の変化であるのか、直近で特徴のある変更点がみられるかなど、予測に使用するアルゴリズムに従って、所定の期間後の予測値を算出することで、予測を導く。また、予測部25は、1つのセンサ情報から1つの予測値を算出したり、1つのセンサ情報から複数の予測値を算出したり、複数のセンサ情報から複数の予測値を算出したり、複数のセンサ情報から1つの予測値を算出することができる。さらに、予測部25は、複数の予測値から別の予測値を算出すること、即ち、平均値や中央値、最大値、最小値などを算出することができる。   For example, the prediction unit 25 determines whether the sensor information stored in the sensor information storage unit 24 has a correlation, what kind of transition it is following, whether it is the same change from the beginning, or a characteristic change most recently. Prediction is derived by calculating a predicted value after a predetermined period in accordance with an algorithm used for prediction, such as whether a point is seen. The prediction unit 25 calculates one predicted value from one sensor information, calculates a plurality of predicted values from one sensor information, calculates a plurality of predicted values from a plurality of sensor information, One predicted value can be calculated from the sensor information. Furthermore, the prediction unit 25 can calculate another prediction value from a plurality of prediction values, that is, an average value, median value, maximum value, minimum value, and the like.

そして、予測部25は、最も確からしい1つの予測値を提示部13に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示することができる。または、予測部25は、複数の予測値を提示部13に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示し、それらの予測値の中からユーザにより選択させることができる。   Then, the prediction unit 25 can supply the most probable prediction value to the presentation unit 13 and present it to the user as life prediction data. Alternatively, the prediction unit 25 can supply a plurality of predicted values to the presenting unit 13 and present them to the user as life prediction data, and can be selected by the user from those predicted values.

このように、寿命予測システム11Aは構成されており、センサ21−1乃至21−3から出力され、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報に基づいて、予測部25により予測された予測値が、寿命予測データとしてユーザに提示される。   In this way, the life prediction system 11A is configured, and the prediction predicted by the prediction unit 25 based on the sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3 and stored in the sensor information storage unit 24. The value is presented to the user as life prediction data.

例えば、図5に示すように、予測部25は、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報(蓄積データ)に基づいて、時間経過に応じて故障が発生することが予想される確率が曲線により表される予想カーブを求めることができる。この予想カーブは、時間の経過とともに蓄積データに基づいた実績が反映され、それらの蓄積データから新たな予想として将来の推移が求められる。そして、予測部25は、予想カーブに従って、ある一定以上の確率で故障が発生するようになる時期を、予測値として算出することができる。   For example, as illustrated in FIG. 5, the prediction unit 25 has a probability that a failure is expected to occur over time based on sensor information (accumulated data) stored in the sensor information storage unit 24. An expected curve represented by a curve can be obtained. This forecast curve reflects the results based on the accumulated data with the passage of time, and the future transition is obtained as a new forecast from the accumulated data. Then, the prediction unit 25 can calculate, as a predicted value, the time when a failure will occur with a certain probability or more according to the predicted curve.

次に、図6は、電子機器12Aにおいて実行される処理を説明するフローチャートである。   Next, FIG. 6 is a flowchart illustrating processing executed in the electronic device 12A.

例えば、電子機器12Aが起動すると処理が開始され、ステップS21において、センサ情報蓄積部24は、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報を取得し、それらのセンサ情報を蓄積する。   For example, the processing starts when the electronic device 12A is activated. In step S21, the sensor information storage unit 24 acquires sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3, and stores the sensor information.

ステップS22において、予測部25は、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報に基づいて、将来の推移を予測する予測値を算出する。   In step S <b> 22, the prediction unit 25 calculates a predicted value for predicting a future transition based on the sensor information stored in the sensor information storage unit 24.

ステップS23において、予測部25は、ステップS22で算出した予測値を寿命予測データとしてユーザに提示するか否かを判定する。例えば、予測部25は、予測値に変化があった場合に、予測値を寿命予測データとしてユーザに提示することを選択することができる。   In step S23, the prediction unit 25 determines whether or not to present the predicted value calculated in step S22 to the user as life prediction data. For example, when there is a change in the predicted value, the prediction unit 25 can select to present the predicted value to the user as life prediction data.

ステップS23において、予測部25が予測値を寿命予測データとしてユーザに提示すると判定した場合、処理はステップS24に進み、予測部25は、ステップS22で算出した予測値を提示部13に供給して、寿命予測データとしてユーザに提示する。   In Step S23, when it is determined that the prediction unit 25 presents the predicted value to the user as life prediction data, the process proceeds to Step S24, and the prediction unit 25 supplies the predicted value calculated in Step S22 to the presenting unit 13. It is presented to the user as life prediction data.

ステップS24の処理後、または、ステップS23において予測部25が予測値を寿命予測データとしてユーザに提示しないと判定した場合、処理はステップS21に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。   After the process of step S24, or when the prediction unit 25 determines in step S23 that the predicted value is not presented to the user as life prediction data, the process returns to step S21, and the same process is repeated thereafter.

以上のように、電子機器12Aは、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報に基づいて、例えば、予測値に変化があった場合に、予測部25により算出された予測値を寿命予測データとしてユーザに提示することができる。このように、電子機器12Aは、センサ情報に基づいて寿命予測データを求めることができるので、従来のような特定の想定環境における寿命予測よりも、より正確に寿命を予測することができる。これにより、例えば、電子機器12Aの設置環境に応じた交換期間を設定することができるので、電子機器12Aが使用可能であるのに交換されるようなことを回避すること、即ち、電子機器12Aの商品寿命を延ばすことができる。   As described above, based on the sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3, for example, the electronic device 12 </ b> A uses the predicted value calculated by the prediction unit 25 when the predicted value has changed. It can be presented to the user as life prediction data. Thus, since the electronic device 12A can obtain the life prediction data based on the sensor information, the life can be predicted more accurately than the life prediction in a specific assumed environment as in the past. Thereby, for example, since an exchange period according to the installation environment of the electronic device 12A can be set, it is possible to avoid the electronic device 12A from being replaced when it can be used, that is, the electronic device 12A. Can extend the product life.

ところで、図4の寿命予測システム11Aのように予測を行う場合に、初期状態において、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報のデータ量が少なく、予測部25により十分な精度で寿命を予測することができないと想定される。ここで、初期状態とは、電子機器12Aの購入直後や、電子機器12Aのリセット直後、環境が異なる場所に電子機器12Aを移動させた直後などのことである。   By the way, when the prediction is performed as in the life prediction system 11A of FIG. 4, in the initial state, the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit 24 is small, and the life of the sensor information is sufficiently accurate by the prediction unit 25. It is assumed that it cannot be predicted. Here, the initial state is immediately after the purchase of the electronic device 12A, immediately after the reset of the electronic device 12A, or immediately after the electronic device 12A is moved to a different environment.

そこで、例えば、図1の寿命予測システム11におけるパターン選択と、図4の寿命予測システム11Aにおける予測とを組み合わせたシステムを構築することができる。   Therefore, for example, it is possible to construct a system that combines pattern selection in the life prediction system 11 in FIG. 1 and prediction in the life prediction system 11A in FIG.

即ち、図7は、本技術を適用した寿命予測システムの第3の実施の形態の構成例を示すブロック図である。なお、図7に示す寿命予測システム11Bにおいて、図1の寿命予測システム11および図4の寿命予測システム11Aと共通する構成については、その詳細な説明は省略する。   That is, FIG. 7 is a block diagram illustrating a configuration example of the third embodiment of the life prediction system to which the present technology is applied. In the life prediction system 11B shown in FIG. 7, the detailed description of the configuration common to the life prediction system 11 in FIG. 1 and the life prediction system 11A in FIG. 4 is omitted.

図7に示すように、寿命予測システム11Bは、電子機器12Bおよび提示部13を備えて構成される。そして、電子機器12Bは、センサ21−1および21−2、パターン保持部22、パターン選択部23、センサ情報蓄積部24、予測部25、および切り替え制御部26を有して構成される。   As shown in FIG. 7, the life prediction system 11B includes an electronic device 12B and a presentation unit 13. The electronic device 12B includes sensors 21-1 and 21-2, a pattern holding unit 22, a pattern selection unit 23, a sensor information storage unit 24, a prediction unit 25, and a switching control unit 26.

つまり、寿命予測システム11Bは、図1の寿命予測システム11および図4の寿命予測システム11Aが備える構成に加えて、切り替え制御部26を有して構成される。   In other words, the life prediction system 11B is configured to include the switching control unit 26 in addition to the configurations provided in the life prediction system 11 in FIG. 1 and the life prediction system 11A in FIG.

切り替え制御部26は、センサ情報蓄積部24に蓄積されているセンサ情報のデータ量が充分に増えたか否か(データ量が規定値未満または規定値以上)に基づいて、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替える制御を行う。   Based on whether the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit 24 has sufficiently increased (the data amount is less than the specified value or greater than the specified value), the switching control unit 26 performs the pattern selection by the pattern selection unit 23. Control to switch from selection to prediction by the prediction unit 25 is performed.

例えば、切り替え制御部26は、電子機器12Bが初期状態となってから所定時間が経過したときに、充分なデータ量のセンサ情報がセンサ情報蓄積部24に蓄積されたとして、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。具体的には、切り替え制御部26は、電子機器12Bが初期状態となってから30日以上のセンサ情報の蓄積があった場合に、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。または、切り替え制御部26は、ユーザにより設定される任意の時点が経過したときに、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。   For example, the switching control unit 26 determines that sensor information having a sufficient amount of data has been stored in the sensor information storage unit 24 when a predetermined time has elapsed since the electronic device 12B entered the initial state. Control can be performed so as to switch from pattern selection to prediction by the prediction unit 25. Specifically, the switching control unit 26 switches from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25 when sensor information has accumulated for 30 days or more after the electronic device 12B is in the initial state. Control can be performed. Alternatively, the switching control unit 26 can perform control to switch from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25 when an arbitrary time point set by the user has elapsed.

さらに、切り替え制御部26は、パターン選択部23によるパターン選択を行っている間に、予測部25による予備的な予測を複数回行わせることができる。そして、切り替え制御部26は、予備的な予測の予測結果のバラツキを計測して、それらのバラツキ量が所定値以下(例えば、5%以下)である場合に、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えるように制御を行うことができる。   Furthermore, the switching control unit 26 can cause preliminary prediction by the prediction unit 25 to be performed a plurality of times while pattern selection by the pattern selection unit 23 is being performed. Then, the switching control unit 26 measures the variation in the prediction result of the preliminary prediction, and when the variation amount is equal to or less than a predetermined value (for example, 5% or less), the pattern selection unit 23 starts the pattern selection. Control can be performed so as to switch to prediction by the prediction unit 25.

また、切り替え制御部26は、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えを1回だけ行ってもよいし、その切り替えを繰り返しておこなってもよい。また、切り替え制御部26は、複数のセンサ21ごとに個別に切り替えを行ったり、複数のセンサ21の全体でまとめて切り替えたりしてもよい。   In addition, the switching control unit 26 may perform switching from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25 only once or may be performed repeatedly. Further, the switching control unit 26 may perform switching individually for each of the plurality of sensors 21 or may collectively switch the plurality of sensors 21.

このように、寿命予測システム11Bは、パターン選択部23によるパターン選択と予測部25による予測とを切り替えることができるが、これら以外の予測、例えば、従来の組み込みの固定情報に基づいた予測を組み合わせて用いることができる。さらに、寿命予測システム11Bは、これらの予測方法を、複数のセンサ21ごとに個別に切り替えたり、複数のセンサ21の全体でまとめて切り替えたりしてもよい。   In this way, the life prediction system 11B can switch between pattern selection by the pattern selection unit 23 and prediction by the prediction unit 25, but combines predictions other than these, for example, predictions based on conventional built-in fixed information. Can be used. Further, the life prediction system 11B may switch these prediction methods individually for each of the plurality of sensors 21 or may collectively switch the plurality of sensors 21.

次に、図8は、電子機器12Bにおいて実行される処理を説明するフローチャートである。   Next, FIG. 8 is a flowchart illustrating processing executed in the electronic device 12B.

例えば、電子機器12Bが起動すると処理が開始され、ステップS31において、センサ情報蓄積部24は、センサ21−1乃至21−3から出力されるセンサ情報を取得し、それらのセンサ情報を蓄積する。   For example, when the electronic device 12B is activated, the process is started. In step S31, the sensor information storage unit 24 acquires sensor information output from the sensors 21-1 to 21-3, and stores the sensor information.

その後、ステップS32乃至S35において、図3のステップS11乃至S14と同様の処理が行われ、パターン選択部23によるパターンの選択および提示が行われる。   Thereafter, in steps S32 to S35, processing similar to that in steps S11 to S14 in FIG. 3 is performed, and the pattern selection unit 23 performs pattern selection and presentation.

ステップS36において、切り替え制御部26は、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えを行うか否かを判定する。例えば、上述したように、切り替え制御部26は、充分なデータ量のセンサ情報がセンサ情報蓄積部24に蓄積された場合に、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えを行うと判定する。   In step S <b> 36, the switching control unit 26 determines whether to switch from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25. For example, as described above, the switching control unit 26 switches from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25 when sensor information having a sufficient amount of data is stored in the sensor information storage unit 24. Is determined.

ステップS36において、切り替え制御部26が、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えを行わないと判定した場合、処理はステップS31に戻り、以下、同様の処理が繰り返される。一方、ステップS36において、切り替え制御部26が、パターン選択部23によるパターン選択から予測部25による予測へ切り替えを行うと判定した場合、処理はステップS37に進む。   In step S36, when the switching control unit 26 determines not to switch from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25, the process returns to step S31, and the same processing is repeated thereafter. On the other hand, if the switching control unit 26 determines in step S36 to switch from pattern selection by the pattern selection unit 23 to prediction by the prediction unit 25, the process proceeds to step S37.

その後、ステップS37乃至40において、図6のステップS21乃至S24と同様の処理が行われ、予測部25による予測および提示が行われる。   Thereafter, in steps S37 to S40, processing similar to that in steps S21 to S24 in FIG. 6 is performed, and prediction and presentation by the prediction unit 25 are performed.

以上のように、電子機器12Bでは、パターン選択部23によるパターン選択と予測部25による予測とを切り替えることができる。これにより、電子機器12Bは、初期状態において、寿命を予測する精度が低下することを回避して、より正確に寿命の予測を行うことができる。   As described above, in the electronic device 12B, the pattern selection by the pattern selection unit 23 and the prediction by the prediction unit 25 can be switched. Thereby, the electronic device 12B can avoid the decline in the accuracy of predicting the lifetime in the initial state, and more accurately predict the lifetime.

次に、図9を参照して、複数の電子機器12が連携する機器連携システムについて説明する。   Next, a device cooperation system in which a plurality of electronic devices 12 cooperate will be described with reference to FIG.

図9に示すように、機器連携システム31は、N台の電子機器12−1乃至12−Nがネットワーク32を介して情報処理サーバ33に接続されて構成される。   As illustrated in FIG. 9, the device cooperation system 31 is configured by connecting N electronic devices 12-1 to 12 -N to an information processing server 33 via a network 32.

電子機器12−1乃至12−Nは、それぞれ自身の寿命予測データを求めることができ、ネットワーク32を介して情報処理サーバ33に寿命予測データを送信することができる。   Each of the electronic devices 12-1 to 12 -N can obtain its own life prediction data, and can transmit the life prediction data to the information processing server 33 via the network 32.

例えば、電子機器12−1乃至12−Nが、同一環境に設置されていて、それぞれ異なる機種である場合、様々な機種の同一環境における寿命予測データが集計される。また、電子機器12−1乃至12−Nが、異なる環境に設置されていて、それぞれ同一の機種である場合、同一機種の異なる環境ごとの寿命予測データが集計される。なお、電子機器12−1乃至12−Nは、それぞれ同一の予測方法を採用してもよいし、それぞれ異なる予測方法を採用してもよく、それらの導入時期が同一および個別のどちらでもよい。即ち、電子機器12−1乃至12−Nにより、様々な寿命予測データを集計して使用することができる。   For example, when the electronic devices 12-1 to 12-N are installed in the same environment and are different models, life prediction data in the same environment of various models is aggregated. Further, when the electronic devices 12-1 to 12-N are installed in different environments and are the same model, life prediction data for different environments of the same model is aggregated. Note that the electronic devices 12-1 to 12-N may adopt the same prediction method, or may employ different prediction methods, and the introduction times thereof may be the same or individual. That is, various life prediction data can be aggregated and used by the electronic devices 12-1 to 12-N.

情報処理サーバ33は、電子機器12−1乃至12−Nから送信されてくる寿命予測データを集約して蓄積する。なお、情報処理サーバ33として、専用の装置を設置する他、電子機器12−1乃至12−Nのうちの、いずれか1台の電子機器12が、情報処理サーバ33としての機能を備えていてもよい。また、情報処理サーバ33が備える機能が、ネットワーク32を介して分散さていてもよい。   The information processing server 33 collects and accumulates life prediction data transmitted from the electronic devices 12-1 to 12-N. In addition to installing a dedicated device as the information processing server 33, any one of the electronic devices 12-1 to 12 -N has a function as the information processing server 33. Also good. Further, the functions provided in the information processing server 33 may be distributed via the network 32.

図示するように、情報処理サーバ33は、予測データ蓄積部41、予測部42、提示部43、開発データ提供部44を備えて構成される。   As illustrated, the information processing server 33 includes a prediction data storage unit 41, a prediction unit 42, a presentation unit 43, and a development data providing unit 44.

予測データ蓄積部41は、ネットワーク32を介して電子機器12−1乃至12−Nから送信されてくる寿命予測データを蓄積する。   The predicted data storage unit 41 stores life prediction data transmitted from the electronic devices 12-1 to 12-N via the network 32.

予測部42は、予測データ蓄積部41に蓄積されている寿命予測データを加工し、電子機器12−1乃至12−Nそれぞれが設置されている環境における一般的な予測値を求める。   The prediction unit 42 processes the life prediction data stored in the prediction data storage unit 41 to obtain a general prediction value in an environment in which each of the electronic devices 12-1 to 12-N is installed.

例えば、予測部42は、予測データ蓄積部41に蓄積されている寿命予測データの平均値や最大値、中央値、最悪値などを求めることができる。また、予測部42は、予測データ蓄積部41に蓄積されている寿命予測データの中から、同一環境の同一機種である電子機器12のみを抽出したり、複数の電子機器12の寿命予測データを全て利用したりするなど、寿命予測データのカテゴライズを行うことができる。また、予測部42は、寿命予測データの近い電子機器12を纏めたりするなど、寿命予測データから電子機器12をカテゴライズすることができる。   For example, the prediction unit 42 can obtain an average value, a maximum value, a median value, a worst value, and the like of the life prediction data stored in the prediction data storage unit 41. Further, the prediction unit 42 extracts only the electronic device 12 of the same model in the same environment from the life prediction data stored in the prediction data storage unit 41, or obtains life prediction data of a plurality of electronic devices 12. It is possible to categorize life prediction data such as using all of them. In addition, the prediction unit 42 can categorize the electronic devices 12 from the life prediction data, such as collecting the electronic devices 12 having similar life prediction data.

そして、予測部42は、加工した寿命予測データに基づいて、その環境における一般的な予測値、つまり、今回利用した複数の電子機器12の傾向や全体的な寿命を予測する予測値を算出して、提示部43に供給してユーザに提示する。   Then, the prediction unit 42 calculates a general prediction value in the environment based on the processed life prediction data, that is, a prediction value for predicting the tendency and overall life of the plurality of electronic devices 12 used this time. Then, the data is supplied to the presentation unit 43 and presented to the user.

また、予測部42は、この一般的な予測値に基づいて、新たな予測値を算出することができる。例えば、予測部42は、環境における一般的な寿命予測データを算出することで、同一環境に新規に電子機器12を導入する場合における寿命予測などを行うことができる。さらに、予測部42は、算出された予測値と大幅に異なる電子機器12を特定することで、その電子機器12に特有の問題点の検出を行うことができる。   Further, the prediction unit 42 can calculate a new prediction value based on the general prediction value. For example, the prediction unit 42 can perform life prediction when a new electronic device 12 is introduced into the same environment by calculating general life prediction data in the environment. Further, the prediction unit 42 can detect a problem peculiar to the electronic device 12 by specifying the electronic device 12 that is significantly different from the calculated predicted value.

そして、機器連携システム31では、予測部42による予測に基づいて、複数の電子機器12をローテーションさせることができる。即ち、複数の電子機器12を導入している場合、環境により個別に寿命予測データを取得し、それらの個体差に基づいて、電子機器12の設置位置を入れ替えることができる。例えば、日当たりの良さや使用時間の差異、電子機器12の個体差などにより寿命に差が生じることが想定され、電子機器12の固体別に寿命予測データを取得することで、寿命が短い電子機器12と寿命が長い電子機器12とを入れ替えることができる。また、耐久性の高い機器を、最も過酷な環境に設置したり、全体としての電子機器12の寿命が均一になるように使用時間を制限することができる。   In the device cooperation system 31, the plurality of electronic devices 12 can be rotated based on the prediction by the prediction unit 42. That is, when a plurality of electronic devices 12 are introduced, life prediction data can be acquired individually according to the environment, and the installation position of the electronic device 12 can be switched based on the individual differences. For example, it is assumed that there is a difference in life due to good sunlight, a difference in use time, individual differences of the electronic device 12, and the like. By obtaining life prediction data for each individual electronic device 12, the electronic device 12 having a short life is obtained. And the electronic device 12 having a long life can be replaced. In addition, it is possible to limit the use time so that a highly durable device can be installed in the harshest environment or the life of the electronic device 12 as a whole becomes uniform.

このように、複数の電子機器12をローテーションさせることで、複数の電子機器12からなる群の全体としての寿命を延長することが、故障時期をずらすことによってリスク回避を行うことができる。例えば、最も近い時期に故障が発生すると予測される電子機器12を、別の場所に設置されている電子機器12と入れ替えたり、電子機器12を別のものに置き換えたりすることで、全体としての寿命を延長することができる。また、故障時期が近い電子機器12がある場合、同一時期に入れ替えを行うとシステム全体としての稼働時間が削減されたり、多重化による冗長性が犠牲になることが懸念されるため、それらの懸念を解消するために、交換時期をずらすなどの施策を行うことで、リスク改善を図ることができる。   In this way, by rotating the plurality of electronic devices 12, extending the lifetime of the entire group of the plurality of electronic devices 12 can avoid the risk by shifting the failure time. For example, by replacing the electronic device 12 that is predicted to have a failure at the nearest time with an electronic device 12 installed at another location, or replacing the electronic device 12 with another one, Life can be extended. In addition, when there is an electronic device 12 with a near failure time, there is a concern that if the replacement is performed at the same time, the operation time of the entire system may be reduced, or redundancy due to multiplexing may be sacrificed. In order to solve this problem, it is possible to improve the risk by taking measures such as shifting the replacement time.

開発データ提供部44は、予測データ蓄積部41に蓄積されている寿命予測データと、予測部42に予測された予測値とを、電子機器12の開発元に提供することで、次世代の電子機器12の開発に利用可能とする。   The development data providing unit 44 provides the life prediction data stored in the prediction data storage unit 41 and the predicted value predicted by the prediction unit 42 to the developer of the electronic device 12, so that the next generation electronic It can be used for the development of the device 12.

また、開発データ提供部44は、電子機器12−1乃至12−Nそれぞれに蓄積されているセンサ情報を取得したり、ある時点において蓄積された寿命予測データを電子機器12−1乃至12−Nから取得したりすることができる。   Further, the development data providing unit 44 acquires sensor information stored in each of the electronic devices 12-1 to 12-N, and uses the life prediction data stored at a certain point in time as the electronic devices 12-1 to 12-N. Or can be obtained from.

また、開発データ提供部44は、電子機器12−1乃至12−Nの設置場所や利用時間などの情報も取得して、寿命予測データと組み合わせて利用することができる。また、電子機器12−1乃至12−Nは、電子機器12−1乃至12−Nのセンサで検知できない情報、例えば、ある電子機器12には搭載されていないセンサの情報や、特殊な使い方などの情報を取得することができる。   Further, the development data providing unit 44 can also acquire information such as the installation location and usage time of the electronic devices 12-1 to 12-N and use it in combination with the lifetime prediction data. In addition, the electronic devices 12-1 to 12-N are information that cannot be detected by the sensors of the electronic devices 12-1 to 12-N, such as information on sensors that are not mounted on a certain electronic device 12, special usage, etc. Information can be acquired.

そして、開発データ提供部44により提供される情報は、電子機器12の固体別にどのような差があったか、予測と実際とがどの程度の乖離があったか、今回は取得できなかった情報が予測にどの程度有効であるか、といったことを求めるのに利用される。   And the information provided by the development data providing unit 44 is different in each electronic device 12, how much the difference between the prediction and the actual is, and the information that could not be acquired this time is It is used to ask whether it is effective to some extent.

このように構成される機器連携システム31は、例えば、電子機器12として監視カメラを用い、ネットワーク32を介して、監視カメラが接続されたネットワーク監視カメラシステムに適用することができる。そして、例えば、監視カメラが備えるイメージセンサをセンサ21として利用し、欠陥画素の補正数や補正率、起動に要した時間などをセンサ情報として用いることで、監視カメラの寿命の予測精度を向上させることができる。これにより、システム全体としての監視カメラの運用期間を最適に設定することができる。また、監視カメラに搭載されている各種のセンサを、画質の向上目的ではなく、寿命の予測に用いることができる。   The device cooperation system 31 configured as described above can be applied to, for example, a network monitoring camera system in which a monitoring camera is used as the electronic device 12 and the monitoring camera is connected via the network 32. For example, the image sensor provided in the monitoring camera is used as the sensor 21, and the number of corrections and the correction rate of the defective pixel, the time required for activation, and the like are used as sensor information, thereby improving the life prediction accuracy of the monitoring camera. be able to. Thereby, the operation period of the surveillance camera as the whole system can be set optimally. In addition, various sensors mounted on the monitoring camera can be used not for the purpose of improving the image quality but for predicting the lifetime.

また、機器連携システム31は、例えば、電子機器12として車載カメラを用い、ネットワーク32を介して、車載カメラが接続された車載カメラシステムに適用することができる。これにより、車両の走行環境に応じて、車両ごとに、車載カメラの寿命の予測精度を向上させることができる。   The device cooperation system 31 can be applied to, for example, an in-vehicle camera system in which an in-vehicle camera is used as the electronic device 12 and the in-vehicle camera is connected via the network 32. Thereby, according to the driving environment of a vehicle, the prediction precision of the lifetime of a vehicle-mounted camera can be improved for every vehicle.

なお、図9に示す機器連携システム31では、ネットワーク32には電子機器12および情報処理サーバ33のみが接続された構成例となっているが、例えば、ネットワーク32にセンサ21が接続されていてもよい。即ち、機器連携システム31は、ネットワーク32を介して、温度や湿度などの測定結果がセンサ21から情報処理サーバ33に送信されるように構成することができ、情報処理サーバ33は、その測定結果も参照して、より詳細な予測値を算出することができる。   9 has a configuration example in which only the electronic device 12 and the information processing server 33 are connected to the network 32. For example, even if the sensor 21 is connected to the network 32, the device cooperation system 31 illustrated in FIG. Good. That is, the device cooperation system 31 can be configured such that measurement results such as temperature and humidity are transmitted from the sensor 21 to the information processing server 33 via the network 32. Also, a more detailed predicted value can be calculated with reference to FIG.

上述した各実施の形態のように、電子機器12の寿命を正確に予測することができることにより、電子機器12を運用中に故障に遭遇する可能性を大幅に削減することができる。また、電子機器12の交換期間を適切に設定することで、使用可能であるのに交換されてしまことを回避することができ、交換にかかる費用を削減することができる。   Since the lifetime of the electronic device 12 can be accurately predicted as in the above-described embodiments, the possibility of encountering a failure during operation of the electronic device 12 can be greatly reduced. In addition, by appropriately setting the replacement period of the electronic device 12, it is possible to avoid being replaced even though it can be used, and it is possible to reduce the cost for replacement.

また、電子機器12ごとに個別に適切な交換期間を設定することができ、交換時期をずらすことになる結果、同時期に大量の電子機器12を交換することを回避したり、ある程度のグループ化をすることで、交換台数をコントロールしたりすることができる。   In addition, it is possible to set an appropriate replacement period for each electronic device 12, and as a result of shifting the replacement time, it is possible to avoid replacing a large number of electronic devices 12 at the same time, or to group to some extent. You can control the number of replacements.

そして、複数の電子機器12をローテーションして利用することで、全体としての交換時期を変更することができる。また、電子機器12の正確な交換時期を特定することができるため、在庫の調整やオペレータ待機の調整を容易に行うことができる。   And the exchange time as a whole can be changed by rotating and using the plurality of electronic devices 12. Moreover, since the exact replacement time of the electronic device 12 can be specified, it is possible to easily adjust the inventory and the operator standby.

さらに、電子機器12において実際に測定されるデータを用いて、次世代の電子機器12を開発することで、特定の環境に特化した調整などを行うことができ、次世代の電子機器12の寿命を延ばすことができる。   Furthermore, by developing the next-generation electronic device 12 using data actually measured in the electronic device 12, adjustments specific to a specific environment can be performed. Life can be extended.

また、従来は、シミュレーションなどで初期値を設定していたのに対し、電子機器12において実際に測定されたデータを利用することで、例えば、データの蓄積がない初期状態(出荷時の初期予想カーブ)を用いても、寿命を予測する精度の向上を図ることができる。   Conventionally, initial values are set by simulation or the like, but by using data actually measured in the electronic device 12, for example, an initial state in which no data is accumulated (initial prediction at the time of shipment) Even if a curve is used, the accuracy of predicting the life can be improved.

なお、上述のフローチャートを参照して説明した各処理は、必ずしもフローチャートとして記載された順序に沿って時系列に処理する必要はなく、並列的あるいは個別に実行される処理(例えば、並列処理あるいはオブジェクトによる処理)も含むものである。また、プログラムは、1のCPUにより処理されるものであっても良いし、複数のCPUによって分散処理されるものであっても良い。   Note that the processes described with reference to the flowcharts described above do not necessarily have to be processed in chronological order in the order described in the flowcharts, but are performed in parallel or individually (for example, parallel processes or objects). Processing). The program may be processed by one CPU, or may be distributedly processed by a plurality of CPUs.

また、本明細書において、システムとは、複数の装置により構成される装置全体を表すものである。   Further, in this specification, the system represents the entire apparatus constituted by a plurality of apparatuses.

また、上述した一連の処理(情報処理方法)は、ハードウエアにより実行することもできるし、ソフトウエアにより実行することもできる。一連の処理をソフトウエアにより実行する場合には、そのソフトウエアを構成するプログラムが、専用のハードウエアに組み込まれているコンピュータ、または、各種のプログラムをインストールすることで、各種の機能を実行することが可能な、例えば汎用のパーソナルコンピュータなどに、プログラムが記録されたプログラム記録媒体からインストールされる。   Further, the above-described series of processing (information processing method) can be executed by hardware or can be executed by software. When a series of processing is executed by software, a program constituting the software executes various functions by installing a computer incorporated in dedicated hardware or various programs. For example, the program is installed in a general-purpose personal computer from a program recording medium on which the program is recorded.

図10は、上述した一連の処理をプログラムにより実行するコンピュータのハードウエアの構成例を示すブロック図である。   FIG. 10 is a block diagram illustrating an example of a hardware configuration of a computer that executes the above-described series of processing by a program.

コンピュータにおいて、CPU(Central Processing Unit)101,ROM(Read Only Memory)102,RAM(Random Access Memory)103、およびEEPROM(Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory)104は、バス105により相互に接続されている。バス104には、さらに、入出力インタフェース105が接続されており、入出力インタフェース105が外部に接続される。   In a computer, a CPU (Central Processing Unit) 101, a ROM (Read Only Memory) 102, a RAM (Random Access Memory) 103, and an EEPROM (Electronically Erasable and Programmable Read Only Memory) 104 are connected to each other by a bus 105. . An input / output interface 105 is further connected to the bus 104, and the input / output interface 105 is connected to the outside.

以上のように構成されるコンピュータでは、CPU101が、例えば、ROM102およびEEPROM104に記憶されているプログラムを、バス105を介してRAM103にロードして実行することにより、上述した一連の処理が行われる。また、コンピュータ(CPU101)が実行するプログラムは、ROM102に予め書き込んでおく他、入出力インタフェース105を介して外部からEEPROM104にインストールしたり、更新したりすることができる。   In the computer configured as described above, for example, the CPU 101 loads the program stored in the ROM 102 and the EEPROM 104 to the RAM 103 via the bus 105 and executes the program, thereby performing the above-described series of processing. A program executed by the computer (CPU 101) can be written in the ROM 102 in advance, and can be installed or updated from the outside in the EEPROM 104 via the input / output interface 105.

なお、本技術は以下のような構成も取ることができる。
(1)
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部と
を備える情報処理装置。
(2)
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測する
上記(1)に記載の情報処理装置。
(3)
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測する
上記(1)に記載の情報処理装置。
(4)
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部と、
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部と、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量に応じて、前記機器寿命予測部による機器寿命の予測を切り替える制御を行う切り替え制御部と
をさらに備え、
前記切り替え制御部は、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値未満である場合、機器寿命予測部により、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測させ、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値以上である場合、機器寿命予測部により、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測させる
上記(1)に記載の情報処理装置。
(5)
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む情報処理方法。
(6)
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む処理をコンピュータに実行させるプログラム。
(7)
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを有する複数の第1の情報処理装置と、
複数の前記第1の情報処理装置からネットワークを介して送信されてくる機器寿命を集約して蓄積し、それぞれの前記第1の情報処理装置の設置環境における一般的な機器寿命を求める機能を有する第2の情報処理装置と
を備える情報処理システム。
In addition, this technique can also take the following structures.
(1)
A sensor that measures physical quantities in the installation environment and outputs the measurement results as sensor information;
An information processing apparatus comprising: a device life prediction unit that predicts a device life that changes in accordance with an installation environment based on sensor information output from the sensor.
(2)
For each physical quantity measured by the sensor, further comprising a pattern holding unit that holds a plurality of patterns defined in advance by a curve indicating the device lifetime over time,
The device life prediction unit predicts device life by selecting a predetermined pattern based on sensor information output from the sensor from among the plurality of patterns held in the pattern holding unit. The information processing apparatus according to 1).
(3)
A sensor information storage unit for storing sensor information output from the sensor;
The information processing apparatus according to (1), wherein the device life prediction unit predicts a device life according to a change based on a lapse of time of sensor information stored in the sensor information storage unit.
(4)
For each physical quantity measured by the sensor, a pattern holding unit that holds a plurality of patterns that are defined in advance by a curve indicating a device lifetime over time, and
A sensor information storage unit for storing sensor information output from the sensor;
A switching control unit that performs control to switch the prediction of the device life by the device life prediction unit according to the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit,
The switching control unit
When the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit is less than a specified value, the device life prediction unit outputs the pattern from the plurality of patterns held in the pattern holding unit. By predicting the device life by selecting a predetermined pattern based on the sensor information
When the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit is equal to or greater than a specified value, the device life prediction unit performs the device life according to the change based on the passage of time of the sensor information stored in the sensor information storage unit. The information processing apparatus according to (1).
(5)
Obtain measurement results output from sensors that measure physical quantities in the installation environment as sensor information,
An information processing method including a step of predicting a device lifetime that changes in accordance with an installation environment based on sensor information output from the sensor.
(6)
Obtain measurement results output from sensors that measure physical quantities in the installation environment as sensor information,
A program for causing a computer to execute a process including a step of predicting a device lifetime that changes in accordance with an installation environment based on sensor information output from the sensor.
(7)
A sensor that measures a physical quantity in the installation environment and outputs the measurement result as sensor information, and a device life prediction unit that predicts a device life that changes according to the installation environment based on the sensor information output from the sensor. A plurality of first information processing apparatuses,
A function of collecting and accumulating device lifetimes transmitted from a plurality of the first information processing apparatuses via a network and obtaining a general device lifetime in an installation environment of each of the first information processing apparatuses is provided. An information processing system comprising: a second information processing apparatus.

なお、本実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本開示の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。   Note that the present embodiment is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the present disclosure.

11 寿命予測システム, 12 電子機器, 13 提示部, 21 センサ, 22 パターン保持部, 23 パターン選択部, 24 センサ情報蓄積部, 25 予測部, 26 切り替え制御部, 31 機器連携システム, 32 ネットワーク, 33 情報処理サーバ, 41 予測データ蓄積部, 42 予測部, 43 提示部, 44 開発データ提供部   DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Life prediction system, 12 Electronic equipment, 13 Presentation part, 21 Sensor, 22 Pattern holding part, 23 Pattern selection part, 24 Sensor information storage part, 25 Prediction part, 26 Switching control part, 31 Device cooperation system, 32 Network, 33 Information processing server, 41 Prediction data storage unit, 42 Prediction unit, 43 Presentation unit, 44 Development data provision unit

Claims (7)

設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部と
を備える情報処理装置。
A sensor that measures physical quantities in the installation environment and outputs the measurement results as sensor information;
An information processing apparatus comprising: a device life prediction unit that predicts a device life that changes in accordance with an installation environment based on sensor information output from the sensor.
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測する
請求項1に記載の情報処理装置。
For each physical quantity measured by the sensor, further comprising a pattern holding unit that holds a plurality of patterns defined in advance by a curve indicating the device lifetime over time,
The device life prediction unit predicts device life by selecting a predetermined pattern based on sensor information output from the sensor from the plurality of patterns held in the pattern holding unit. The information processing apparatus according to 1.
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部をさらに備え、
前記機器寿命予測部は、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測する
請求項1に記載の情報処理装置。
A sensor information storage unit for storing sensor information output from the sensor;
The information processing apparatus according to claim 1, wherein the device life prediction unit predicts a device life according to a change based on a lapse of time of sensor information stored in the sensor information storage unit.
前記センサにより測定される物理量ごとに、時間の経過に伴う機器寿命を示す曲線によって予め定義されている複数のパターンを保持するパターン保持部と、
前記センサから出力されるセンサ情報を蓄積するセンサ情報蓄積部と、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量に応じて、前記機器寿命予測部による機器寿命の予測を切り替える制御を行う切り替え制御部と
をさらに備え、
前記切り替え制御部は、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値未満である場合、機器寿命予測部により、前記パターン保持部に保持されている複数の前記パターンの中から、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて所定のパターンを選択することにより機器寿命を予測させ、
前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報のデータ量が規定値以上である場合、機器寿命予測部により、前記センサ情報蓄積部に蓄積されているセンサ情報の時間経過に基づく変化に従って機器寿命を予測させる
請求項1に記載の情報処理装置。
For each physical quantity measured by the sensor, a pattern holding unit that holds a plurality of patterns that are defined in advance by a curve indicating a device lifetime over time, and
A sensor information storage unit for storing sensor information output from the sensor;
A switching control unit that performs control to switch the prediction of the device life by the device life prediction unit according to the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit,
The switching control unit
When the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit is less than a specified value, the device life prediction unit outputs the pattern from the plurality of patterns held in the pattern holding unit. By predicting the device life by selecting a predetermined pattern based on the sensor information
When the data amount of the sensor information stored in the sensor information storage unit is equal to or greater than a specified value, the device life prediction unit performs the device life according to the change based on the passage of time of the sensor information stored in the sensor information storage unit. The information processing apparatus according to claim 1.
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む情報処理方法。
Obtain measurement results output from sensors that measure physical quantities in the installation environment as sensor information,
An information processing method including a step of predicting a device lifetime that changes in accordance with an installation environment based on sensor information output from the sensor.
設置環境における物理量を測定するセンサから出力される測定結果をセンサ情報として取得し、
前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する
ステップを含む処理をコンピュータに実行させるプログラム。
Obtain measurement results output from sensors that measure physical quantities in the installation environment as sensor information,
A program for causing a computer to execute a process including a step of predicting a device lifetime that changes in accordance with an installation environment based on sensor information output from the sensor.
設置環境における物理量を測定し、その測定結果をセンサ情報として出力するセンサと、前記センサから出力されるセンサ情報に基づいて、設置環境に応じて変化する機器寿命を予測する機器寿命予測部とを有する複数の第1の情報処理装置と、
複数の前記第1の情報処理装置からネットワークを介して送信されてくる機器寿命を集約して蓄積し、それぞれの前記第1の情報処理装置の設置環境における一般的な機器寿命を求める機能を有する第2の情報処理装置と
を備える情報処理システム。
A sensor that measures a physical quantity in the installation environment and outputs the measurement result as sensor information, and a device life prediction unit that predicts a device life that changes according to the installation environment based on the sensor information output from the sensor. A plurality of first information processing apparatuses,
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