JP2017215471A - Polarizer - Google Patents

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基行 富澤
Motoyuki Tomizawa
基行 富澤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a polarizer which shows excellent resolution and can be inexpensively manufactured.SOLUTION: The polarizer has a wiring board 10 including a plurality of linear metal wiring lines 12A to 12E arranged at a given interval and parallel to one another on a resin film 11. The resin film has wavelength dispersion characteristic with 10% or less fluctuations in a visible light region at a wavelength from 400 nm to 700 nm. The resin film comprises a cycloolefin-based resin.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、偏光子に関する。   The present invention relates to a polarizer.

波長が、数mm〜数十μmのテラヘルツ領域電磁波に使われる偏光子として、ワイヤーグリッド偏光子が従来から知られている。例えば、特許文献1には、太さ数μmの金属ワイヤーを10μm程度の間隔で多数並べたワイヤーグリッドの偏光子が開示されている。   As a polarizer used for terahertz electromagnetic waves having a wavelength of several mm to several tens of μm, a wire grid polarizer is conventionally known. For example, Patent Document 1 discloses a wire grid polarizer in which a large number of metal wires having a thickness of several μm are arranged at intervals of about 10 μm.

係るワイヤーグリッド偏光子においては、波長数mm〜数十μmのテラヘルツ領域電磁波に対応するため、大気中に数μm径の金属ワイヤーを10μm〜20μmピッチで等間隔に固定する必要が有る。しかしながら、係るワイヤーグリッド偏光子を製作するには手間が掛かる上、金属ワイヤー間を等間隔に精度良く維持することが難しい。そのためコストが高く、分解能も上がらないという問題があった。   In such a wire grid polarizer, it is necessary to fix metal wires having a diameter of several μm at regular intervals with a pitch of 10 μm to 20 μm in the atmosphere in order to deal with terahertz electromagnetic waves having a wavelength of several mm to several tens of μm. However, it takes time to manufacture such a wire grid polarizer, and it is difficult to accurately maintain the metal wires at regular intervals. Therefore, there is a problem that the cost is high and the resolution is not increased.

そこで、上述の金属ワイヤーを用いたワイヤーグリッド偏光子に替る技術として、例えば特許文献2には、細長い矩形状の金属薄板が一面のほぼ中央に形成されている矩形状のフィルムからなるフィルム基板を複数枚積層することにより構成されており、前記フィルム基板が複数枚積層された状態において、各フィルム基板に形成された前記金属薄板により平行平板が構成されて、ワイヤーグリッドが構成されていることを特徴とするワイヤーグリッド装置が開示されている。   Therefore, as a technique to replace the wire grid polarizer using the above-described metal wire, for example, Patent Document 2 discloses a film substrate made of a rectangular film in which a thin and long rectangular metal thin plate is formed at substantially the center of one surface. It is constituted by laminating a plurality of sheets, and in a state where a plurality of the film substrates are laminated, a parallel plate is constituted by the metal thin plate formed on each film substrate, and a wire grid is constituted. A featured wire grid device is disclosed.

特許文献2に開示されたワイヤーグリッド装置においては、ワイヤーグリッドを構成する金属薄板の間隔は、フィルム基板の厚さで一義的に決定される。このため、金属薄板の間隔を安定して一定の値に保つことができる。   In the wire grid device disclosed in Patent Document 2, the distance between the thin metal plates constituting the wire grid is uniquely determined by the thickness of the film substrate. For this reason, the space | interval of a thin metal plate can be stably maintained at a fixed value.

特開2003−14620号公報JP 2003-14620 A 特開2015―49277号公報JP 2015-49277 A

しかしながら、特許文献2に開示されたワイヤーグリッド装置は、細長い矩形状の金属薄板が一面に形成されている矩形状のフィルムからなるフィルム基板を複数枚積層することで構成されており、フィルムの使用量も多く、積層に手間が掛かるという問題があった。このため、特許文献2に開示されたワイヤーグリッド装置は高コストとなることから、分解能に優れ、かつ低コストで製造可能な偏光子が求められていた。   However, the wire grid device disclosed in Patent Document 2 is configured by laminating a plurality of film substrates made of a rectangular film in which a long and thin rectangular metal thin plate is formed on one surface, and the use of the film There was also a problem that the amount was large and it took time and effort to stack the layers. For this reason, since the wire grid device disclosed in Patent Document 2 is expensive, a polarizer that is excellent in resolution and can be manufactured at low cost has been demanded.

上記従来技術の問題に鑑み、本発明の一側面では、分解能に優れ、かつ低コストで製造可能な偏光子を提供することを目的とする。   In view of the above-described problems of the related art, an object of one aspect of the present invention is to provide a polarizer that is excellent in resolution and can be manufactured at low cost.

上記課題を解決するため本発明の一側面では、
樹脂フィルムと、
前記樹脂フィルム上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線とを備えた配線基板を有する偏光子を提供する。
In order to solve the above problems, in one aspect of the present invention,
A resin film;
Provided is a polarizer having a wiring board provided with a plurality of linear metal wirings arranged on the resin film at regular intervals and in parallel with each other.

本発明の一側面によれば、分解能に優れ、かつ低コストで製造可能な偏光子を提供することができる。   According to one aspect of the present invention, a polarizer that is excellent in resolution and can be manufactured at low cost can be provided.

本発明の実施形態に係る偏光子の構成例の説明図。Explanatory drawing of the structural example of the polarizer which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る偏光子の製造方法の第1の構成例の説明図。Explanatory drawing of the 1st structural example of the manufacturing method of the polarizer which concerns on embodiment of this invention. 本発明の実施形態に係る偏光子の製造方法の第2の構成例の説明図。Explanatory drawing of the 2nd structural example of the manufacturing method of the polarizer which concerns on embodiment of this invention.

以下、本発明の偏光子、及び偏光子の製造方法の一実施形態について説明する。
[偏光子]
本実施形態の偏光子は、樹脂フィルムと、樹脂フィルム上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線とを備えた配線基板を有することができる。
Hereinafter, an embodiment of a polarizer of the present invention and a method for producing the polarizer will be described.
[Polarizer]
The polarizer of this embodiment can have a wiring substrate provided with a resin film and a plurality of linear metal wirings arranged on the resin film at regular intervals and in parallel with each other.

ここで、図1(A)、図1(B)を用いて本実施形態の偏光子の構成例について説明する。   Here, a configuration example of the polarizer of the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 (A) and 1 (B).

図1(A)は、本実施形態の偏光子が有する配線基板の上面図であり、本実施形態の偏光子が有する配線基板を、樹脂フィルムの主表面と垂直上方から見た図を示している。また、図1(B)は、図1(A)のA−A´線における断面図を示している。   FIG. 1A is a top view of a wiring board included in the polarizer of the present embodiment, and shows a view of the wiring board included in the polarizer of the present embodiment as viewed from above and perpendicular to the main surface of the resin film. Yes. FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA ′ of FIG.

図1(A)に示したように、本実施形態の偏光子が有する配線基板10は、樹脂フィルム11と、樹脂フィルム11上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線12A〜12Eとを備えることができる。   As shown in FIG. 1A, the wiring board 10 included in the polarizer of this embodiment includes a resin film 11 and a plurality of linear shapes arranged on the resin film 11 at regular intervals and in parallel to each other. Metal wirings 12A to 12E.

樹脂フィルム11としては特に限定されるものではないが、大気と同等のフラットな波長分散特性を有することが好ましく、特に、波長400nm以上700nm以下の可視光域において、変動が10%以内の波長分散特性を有することが好ましい。これは、波長400nm以上700nm以下の可視光域において、変動が10%以内のフラットな波長分散特性を有する場合、波長に依らず、可視光域の光について安定した透過性を示すことができ、好ましいからである。   Although it does not specifically limit as the resin film 11, It is preferable to have the flat wavelength dispersion characteristic equivalent to air | atmosphere, and especially the wavelength dispersion whose fluctuation | variation is less than 10% in the visible light region of wavelength 400nm or more and 700nm or less It is preferable to have characteristics. In the visible light region having a wavelength of 400 nm or more and 700 nm or less, when it has a flat chromatic dispersion characteristic with a variation of 10% or less, it can exhibit stable transmittance for light in the visible light region regardless of the wavelength. It is because it is preferable.

本実施形態の偏光子は、例えばテラヘルツ領域の高周波用の偏光子として特に好適に用いることができるが、樹脂フィルム11が可視光域において、上述のようにフラットな波長分散特性を有する場合、テラヘルツ領域においても比較的フラットな波長分散特性を示すため、係る観点からも好適に用いることができる。   The polarizer of the present embodiment can be particularly suitably used as a high frequency polarizer in the terahertz region, for example. However, when the resin film 11 has a flat wavelength dispersion characteristic as described above in the visible light region, Since a relatively flat wavelength dispersion characteristic is exhibited even in the region, it can be suitably used from such a viewpoint.

樹脂フィルム11は、シクロオレフィン系樹脂からなることがより好ましい。これは、シクロオレフィン系樹脂は、波長400nm以上700nm以下の可視光域において、変動が10%以内の波長分散特性を有するためである。   The resin film 11 is more preferably made of a cycloolefin resin. This is because the cycloolefin-based resin has a wavelength dispersion characteristic with a variation of 10% or less in a visible light region having a wavelength of 400 nm to 700 nm.

樹脂フィルム11の厚さは特に限定されるものではなく、偏光子に要求される強度等に応じて選択することができる。ただし、樹脂フィルム11の厚さが厚くなりすぎると、光の透過性に影響を与える恐れがあるため、例えば10μm以上200μm以下であることが好ましい。   The thickness of the resin film 11 is not particularly limited, and can be selected according to the strength required for the polarizer. However, if the thickness of the resin film 11 becomes too thick, there is a possibility that the light transmittance may be affected.

そして、樹脂フィルム11上には、複数の金属配線12A〜12Eを有することができる。金属配線12A〜12Eは、図1(A)に示したように図中のY軸方向と平行な直線状の形状を有しており、図中のX軸に沿って並べて配置できる。また、金属配線12A〜12Eは互いに平行になっている。そして、金属配線12A〜12Eは樹脂フィルム11の同じ面上に配置することができる。金属配線12A〜12Eは上述のように直線状の形状を有しているが、図1(A)に示したように幅を有しているため、金属配線12A〜12Eの、樹脂フィルム11の金属配線12A〜12Eを形成した面と平行な面での断面形状は四角形形状ということもできる。   And on the resin film 11, it can have several metal wiring 12A-12E. The metal wirings 12A to 12E have a linear shape parallel to the Y-axis direction in the drawing as shown in FIG. 1A, and can be arranged side by side along the X-axis in the drawing. The metal wirings 12A to 12E are parallel to each other. And metal wiring 12A-12E can be arrange | positioned on the same surface of the resin film 11. FIG. Although the metal wirings 12A to 12E have a linear shape as described above, the metal wirings 12A to 12E have a width as shown in FIG. The cross-sectional shape in a plane parallel to the surface on which the metal wirings 12A to 12E are formed can also be called a square shape.

なお、樹脂フィルム11上に配置する金属配線の本数は特に限定されるものではなく、対象とする光の波長に応じて偏光子に要求される金属配線間の距離や、偏光子のサイズ等に応じて任意に選択することができる。   In addition, the number of metal wirings arranged on the resin film 11 is not particularly limited. The distance between the metal wirings required for the polarizer according to the wavelength of the target light, the size of the polarizer, etc. It can be arbitrarily selected depending on the case.

そして、金属配線12A〜12Eは一定間隔で、すなわち金属配線間が等間隔となるように配置できる。図1(A)、図1(B)に示した例の場合、金属配線12Aと金属配線12Bとの間の距離dAB、金属配線12Bと金属配線12Cとの間の距離dBC、金属配線12Cと金属配線12Dとの間の距離dCD、金属配線12Dと金属配線12Eとの間の距離dDEは、等しくなっている。すなわち、dAB=dBC=dCD=dDEを満たしている。 The metal wirings 12A to 12E can be arranged at regular intervals, that is, so that the metal wirings are equally spaced. In the example shown in FIGS. 1A and 1B, the distance d AB between the metal wiring 12A and the metal wiring 12B, the distance d BC between the metal wiring 12B and the metal wiring 12C, and the metal wiring The distance d CD between 12C and the metal wiring 12D and the distance d DE between the metal wiring 12D and the metal wiring 12E are equal. That is, d AB = d BC = d CD = d DE is satisfied.

金属配線12A〜12E間の距離dAB〜dDEについては特に限定されるものではなく、例えば偏光子に要求される偏光の動作波長に応じて任意に選択することができる。 The distances d AB to d DE between the metal wirings 12A to 12E are not particularly limited, and can be arbitrarily selected according to, for example, the operating wavelength of polarized light required for the polarizer.

金属配線12A〜12Eの幅W〜Wについては、特に限定されるものではなく、偏光子のサイズや、金属配線の本数、金属配線間の距離等に応じて任意に選択することができる。例えば5μm以上50μm以下とすることが好ましい。偏光子の配線基板10に含まれる金属配線12A〜12Eの幅W〜Wは等しいことが好ましい。すなわち、図1(B)に示した配線基板10の場合、W=W=W=W=Wを満たすことが好ましい。 The width W A to W-E of the metal wiring 12A~12E is not limited in particular, the size and the polarizer, the number of metal wires, can be arbitrarily selected according to the distance or the like between the metal wires . For example, the thickness is preferably 5 μm or more and 50 μm or less. The widths W A to W E of the metal wirings 12A to 12E included in the wiring board 10 of the polarizer are preferably equal. That is, when the wiring board 10 shown in FIG. 1 (B), it is preferable to satisfy W A = W B = W C = W D = W E.

金属配線12A〜12Eの高さhについても特に限定されるものではなく、偏光子に要求される偏光の動作波長等に応じて選択することができる。なお、配線基板10に含まれる金属配線12A〜12Eは高さhが均一であることが好ましい。すなわち金属配線12A〜12Eはいずれも高さがhであることが好ましい。金属配線の高さは例えば0.5μm以上、15μm以下が望ましい。   The height h of the metal wirings 12A to 12E is not particularly limited, and can be selected according to the operating wavelength of polarized light required for the polarizer. The metal wirings 12A to 12E included in the wiring board 10 preferably have a uniform height h. That is, it is preferable that the metal wirings 12A to 12E have a height h. The height of the metal wiring is preferably 0.5 μm or more and 15 μm or less, for example.

金属配線12A〜12Eの長さ方向と垂直な面での断面形状は、特に限定されるものではないが、図1(B)に示したように四角形形状を有することが好ましく、矩形形状を有することがより好ましい。なお、ここでいう金属配線12A〜12Eの長さ方向とは図1(A)中のY軸方向を意味しており、長さ方向と垂直な面とは、図中のY軸と垂直で、樹脂フィルム11の主表面と垂直な面、例えばA−A´線を通る面を意味する。   The cross-sectional shape in the plane perpendicular to the length direction of the metal wirings 12A to 12E is not particularly limited, but preferably has a quadrangular shape as shown in FIG. 1B, and has a rectangular shape. It is more preferable. Here, the length direction of the metal wirings 12A to 12E means the Y-axis direction in FIG. 1A, and the plane perpendicular to the length direction is perpendicular to the Y-axis in the drawing. The surface perpendicular to the main surface of the resin film 11, for example, the surface passing through the line AA ′ is meant.

なお、後述するように金属配線12A〜12Eは、樹脂フィルム11の主表面上に形成された金属層をパターニングして形成することができる。このため、例えば金属配線12A〜12Eの長さ方向と垂直な面での断面形状が四角形形状の場合に、例えば角部に丸み等を有する略四角形形状である場合も含んでいても良い。また、金属配線12A〜12Eは、金属層をパターニングして形成することができることから、金属層、すなわち金属膜により構成することができる。   As will be described later, the metal wirings 12 </ b> A to 12 </ b> E can be formed by patterning a metal layer formed on the main surface of the resin film 11. For this reason, for example, when the cross-sectional shape in the plane perpendicular to the length direction of the metal wirings 12A to 12E is a quadrangular shape, for example, a case of a substantially quadrangular shape having rounded corners or the like may be included. Further, since the metal wirings 12A to 12E can be formed by patterning a metal layer, the metal wirings 12A to 12E can be formed of a metal layer, that is, a metal film.

金属配線12A〜12Eの材料は特に限定されるものではなく、導電性を有する金属材料であれば各種材料を用いることができる。例えば金属配線12A〜12Eは単一の材料から構成することもできるが、異なる金属材料の膜を積層した構造を有していても良い。   The material of the metal wirings 12A to 12E is not particularly limited, and various materials can be used as long as they are conductive metal materials. For example, the metal wirings 12A to 12E can be made of a single material, but may have a structure in which films of different metal materials are stacked.

本実施形態の偏光子は、ここまで説明した配線基板10から構成することもできるが、配線基板10以外に、必要に応じて各種部材を有することもできる。例えば防護用カバーフィルムを有することができる。防護用カバーフィルムは、例えば樹脂フィルム11の金属配線12A〜12Eを設けた面と対向するように、すなわち覆うように配置することができる。このように防護用カバーフィルムを設けることで、金属配線間に異物や汚れの付着が生じることを防ぎ、金属配線間に異物等が付着して生じる分解能の低下を抑制することができるため、好ましい。   The polarizer of the present embodiment can be configured from the wiring board 10 described so far, but can also have various members in addition to the wiring board 10 as necessary. For example, it can have a protective cover film. The protective cover film can be arranged so as to face, for example, cover the surface of the resin film 11 on which the metal wirings 12A to 12E are provided. Providing the protective cover film in this way is preferable because it can prevent foreign matter and dirt from adhering between the metal wirings, and can suppress a decrease in resolution caused by foreign matters adhering between the metal wirings. .

防護用カバーフィルムの材料は特に限定されるものではないが、例えば大気と同等のフラットな波長分散特性を有することが好ましく、特に、波長400nm以上700nm以下の可視光域において、変動が10%以内の波長分散特性を有することが好ましい。例えば、防護用カバーフィルムは、シクロオレフィン系樹脂からなることがより好ましく用いることができる。   The material of the protective cover film is not particularly limited, but preferably has a flat wavelength dispersion characteristic equivalent to that of the atmosphere, for example, and the variation is within 10% particularly in the visible light region having a wavelength of 400 nm to 700 nm. It is preferable to have the following wavelength dispersion characteristics. For example, the protective cover film can be more preferably made of a cycloolefin resin.

本実施形態の偏光子によれば、金属配線間の距離を任意に選択することができるため、動作波長等は特に限定されるものではない。ただし、例えば後述するようにフォトリソグラフィ法等を用いて容易に製造することができ、金属配線間の距離等も精密に制御することができる。このため、金属配線間の距離を短くすることが求められるテラヘルツ領域の高周波用の偏光子として好適に用いることができる。   According to the polarizer of this embodiment, the distance between the metal wirings can be arbitrarily selected, and therefore the operating wavelength and the like are not particularly limited. However, for example, as described later, it can be easily manufactured using a photolithography method or the like, and the distance between the metal wirings can be precisely controlled. For this reason, it can be suitably used as a high-frequency polarizer in a terahertz region that is required to shorten the distance between metal wirings.

以上に説明した本実施形態の偏光子によれば、樹脂フィルムと、樹脂フィルム上に一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の金属配線とを備えた配線基板を有している。このため、特許文献2に開示されたワイヤーグリッド装置と比較して樹脂フィルムの使用量を抑制することができる。また、金属配線は例えば樹脂フィルム上に形成した金属層をパターニングすることで形成できるため、工程数が少なく、容易に、かつ金属配線の間隔や、高さ、配線幅等を精度よく形成することができる。   According to the polarizer of the present embodiment described above, the wiring board is provided with a resin film and a plurality of metal wirings arranged on the resin film at regular intervals and in parallel with each other. For this reason, the usage-amount of a resin film can be suppressed compared with the wire grid apparatus disclosed by patent document 2. FIG. In addition, since metal wiring can be formed by patterning a metal layer formed on a resin film, for example, the number of processes is small, and the interval, height, wiring width, etc. of the metal wiring can be formed easily and accurately. Can do.

従って、分解能に優れ、かつ低コストで製造可能な偏光子とすることができる。
[偏光子の製造方法]
次に、本実施形態の偏光子の製造方法の構成例について説明する。
Therefore, it is possible to obtain a polarizer that has excellent resolution and can be manufactured at low cost.
[Production method of polarizer]
Next, the structural example of the manufacturing method of the polarizer of this embodiment is demonstrated.

なお、本実施形態の偏光子の製造方法により、既述の本実施形態の偏光子を製造することができる。このため、既に説明した点については、一部説明を省略する。
(第1の構成例)
本実施形態の偏光子の製造方法の第1の構成例は、例えば以下の工程を有することができ、サブトラクティブ法を用いて配線基板を形成することができる。
In addition, the polarizer of this embodiment as described above can be manufactured by the method for manufacturing a polarizer of this embodiment. For this reason, a part of the already described points will be omitted.
(First configuration example)
The first configuration example of the method for manufacturing a polarizer according to this embodiment can include, for example, the following steps, and can form a wiring board using a subtractive method.

樹脂フィルムの一方の面上に金属層を形成する金属層形成工程。
金属層上に、形成する金属配線に対応した形状を有するレジストを形成するレジスト配置工程。
レジストを用いて金属層をパターニングし、金属配線を形成する金属配線形成工程。
A metal layer forming step of forming a metal layer on one surface of the resin film.
A resist placement step of forming a resist having a shape corresponding to the metal wiring to be formed on the metal layer.
A metal wiring forming step of patterning a metal layer using a resist to form a metal wiring.

レジストを除去するレジスト除去工程。   A resist removal process for removing the resist.

以下、各工程について、図2(A)〜図2(D)を用いて説明する。図2(A)〜図2(D)は、樹脂フィルム11の主表面11aと垂直であり、形成する金属配線の長さ方向と垂直な面における断面図を示している。
(金属層形成工程)
金属層形成工程では、図2(A)に示すように、樹脂フィルム11の一方の主表面11a上に金属層21を形成する。金属層21は、例えば樹脂フィルム11の一方の主表面11a全面に形成することができる。
Hereinafter, each process is demonstrated using FIG. 2 (A)-FIG.2 (D). 2A to 2D are cross-sectional views in a plane perpendicular to the main surface 11a of the resin film 11 and perpendicular to the length direction of the metal wiring to be formed.
(Metal layer forming process)
In the metal layer forming step, a metal layer 21 is formed on one main surface 11a of the resin film 11 as shown in FIG. The metal layer 21 can be formed on the entire surface of one main surface 11a of the resin film 11, for example.

金属層21の形成方法は特に限定されるものではないが、下地となる樹脂フィルム11等の他の部材との間に接着剤を設けず、樹脂フィルム11等の他の部材の上に直接金属層21を形成することが好ましい。このため、金属層21は例えば乾式法により成膜することが好ましい。   The formation method of the metal layer 21 is not particularly limited, but the metal is directly provided on the other member such as the resin film 11 without providing an adhesive with the other member such as the resin film 11 serving as a base. It is preferable to form the layer 21. For this reason, the metal layer 21 is preferably formed by, for example, a dry method.

乾式法としては特に限定されるものではないが、例えばスパッタリング法、イオンプレーティング法や蒸着法等を好ましく用いることができる。金属層21を乾式法により成膜する場合、膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。   Although it does not specifically limit as a dry method, For example, sputtering method, an ion plating method, a vapor deposition method etc. can be used preferably. When the metal layer 21 is formed by a dry method, it is more preferable to use a sputtering method because the film thickness can be easily controlled.

上述のように金属層21は乾式法で形成することができ、乾式法で形成した金属薄膜層を金属層とすることができる。ただし、金属層の厚さを十分に厚くする必要がある場合には、乾式法により金属薄膜層を形成した後、該金属薄膜層を給電層として、湿式法の一種である電気めっき法により金属めっき層をさらに形成することもできる。金属薄膜層、及び金属めっき層を形成した場合、金属層21は乾式法で形成した金属薄膜層と、湿式法で形成した金属めっき層とを含むことができる。
(レジスト配置工程)
レジスト配置工程では、図2(B)に示すように、金属層21上にレジスト22を形成することができる。
As described above, the metal layer 21 can be formed by a dry method, and a metal thin film layer formed by the dry method can be used as a metal layer. However, when it is necessary to increase the thickness of the metal layer sufficiently, after forming the metal thin film layer by a dry method, the metal thin film layer is used as a power feeding layer to form a metal by an electroplating method which is a kind of wet method. A plating layer can be further formed. When the metal thin film layer and the metal plating layer are formed, the metal layer 21 can include a metal thin film layer formed by a dry method and a metal plating layer formed by a wet method.
(Resist placement process)
In the resist placement step, a resist 22 can be formed on the metal layer 21 as shown in FIG.

レジスト22は、例えば以下の手順により形成できる。   The resist 22 can be formed by the following procedure, for example.

まず、金属層21の樹脂フィルム11と対向する面とは反対の面上に、感光性のレジストを塗布、あるいは貼付する。   First, a photosensitive resist is applied or pasted on the surface of the metal layer 21 opposite to the surface facing the resin film 11.

次いで、レジストが形成する金属配線に対応した形状となるようにフォトリソグラフィ法により加工する。そして、感光し、不要部を除去することで形成する金属配線に対応した形状を有するレジスト22を形成することができる。   Next, the resist is processed by photolithography so as to have a shape corresponding to the metal wiring formed by the resist. Then, a resist 22 having a shape corresponding to the metal wiring to be formed can be formed by exposing and removing unnecessary portions.

なお、形成する金属配線は、既述のように、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の形状を有することができる。このため、レジスト22についても、図2(B)に示したように、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の形状を有するように加工、形成することができる。
(金属配線形成工程)
レジスト配置工程の後、レジスト22上からエッチング液を供給することで、図2(C)に示したように、レジスト22を用いて金属層21をパターニングし、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線12を形成することができる。この際、用いるエッチング液としては特に限定されるものではなく、金属層21の材料等に応じて任意に選択することができる。
(レジスト除去工程)
その後、図2(D)に示すように、金属配線12上に残ったレジスト22を除去することで、樹脂フィルム11と、樹脂フィルム11上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線12とを備えた配線基板を得ることができる。
As described above, the metal wiring to be formed can have a plurality of linear shapes arranged at regular intervals and in parallel with each other. For this reason, the resist 22 can also be processed and formed to have a plurality of linear shapes arranged at regular intervals and in parallel to each other, as shown in FIG.
(Metal wiring formation process)
After the resist placement step, an etching solution is supplied from above the resist 22, thereby patterning the metal layer 21 using the resist 22, as shown in FIG. A plurality of straight metal wirings 12 can be formed. At this time, the etching solution to be used is not particularly limited, and can be arbitrarily selected according to the material of the metal layer 21 and the like.
(Resist removal process)
Thereafter, as shown in FIG. 2D, the resist 22 remaining on the metal wiring 12 is removed, so that a plurality of resin films 11 and a plurality of resin films 11 arranged in parallel with each other at regular intervals on the resin film 11 are removed. A wiring board provided with the straight metal wiring 12 can be obtained.

偏光子が配線基板のみから構成される場合には、ここまでの工程を実施することで偏光子を得ることができる。   In the case where the polarizer is composed only of the wiring substrate, the polarizer can be obtained by performing the steps so far.

また、偏光子が、例えば防護用カバーフィルム等の各種部材を有する場合には、防護用カバーフィルム等の部材をさらに取り付ける工程等を実施することで偏光子を得ることができる。
(第2の構成例)
次に、本実施形態の偏光子の製造方法の第2の構成例について説明する。
Moreover, when a polarizer has various members, such as a protective cover film, a polarizer can be obtained by implementing the process etc. which further attaches members, such as a protective cover film.
(Second configuration example)
Next, the 2nd structural example of the manufacturing method of the polarizer of this embodiment is demonstrated.

本実施形態の偏光子の製造方法の第2の構成例は、例えば以下の工程を有することができ、セミアディティブ法により配線基板を製造することができる。   The second configuration example of the method for manufacturing a polarizer according to the present embodiment can include, for example, the following steps, and a wiring board can be manufactured by a semi-additive method.

樹脂フィルムの一方の面上に下地金属層を形成する下地金属層形成工程。
下地金属層上に、形成する金属配線に対応した開口部を有するレジストを形成するレジスト配置工程。
レジストの開口部に金属めっき層を形成する金属めっき層形成工程。
A base metal layer forming step of forming a base metal layer on one surface of the resin film.
A resist placement step of forming a resist having an opening corresponding to the metal wiring to be formed on the base metal layer.
A metal plating layer forming step of forming a metal plating layer in the opening of the resist.

レジスト、及びレジストで覆われていた下地金属層を除去するレジスト、下地金属層除去工程。   A resist and a base metal layer removing step for removing the resist and the base metal layer covered with the resist.

以下、各工程について、図3(A)〜図3(D)を用いて説明する。図3(A)〜図3(D)は、樹脂フィルム11の主表面11aと垂直であり、形成する金属配線の長さ方向と垂直な面における断面図を示している。
(下地金属層形成工程)
下地金属層形成工程では、図3(A)に示すように、樹脂フィルム11の一方の主表面11a上に下地金属層31を形成する。下地金属層31は、例えば樹脂フィルム11の一方の主表面11a全面に形成することができる。
Hereinafter, each process is demonstrated using FIG. 3 (A)-FIG. 3 (D). 3A to 3D are cross-sectional views in a plane perpendicular to the main surface 11a of the resin film 11 and perpendicular to the length direction of the metal wiring to be formed.
(Base metal layer formation process)
In the base metal layer forming step, the base metal layer 31 is formed on one main surface 11a of the resin film 11 as shown in FIG. The base metal layer 31 can be formed on the entire surface of one main surface 11a of the resin film 11, for example.

下地金属層31の形成方法は特に限定されるものではないが、下地となる樹脂フィルム11等の他の部材との間に接着剤を設けず、樹脂フィルム11等の他の部材の上に直接下地金属層31を形成することが好ましい。このため、下地金属層31は例えば乾式法により成膜することが好ましい。   Although the formation method of the base metal layer 31 is not particularly limited, an adhesive is not provided between other members such as the resin film 11 serving as the base, and directly on the other members such as the resin film 11. It is preferable to form the base metal layer 31. For this reason, the base metal layer 31 is preferably formed by, for example, a dry method.

乾式法としては特に限定されるものではないが、例えばスパッタリング法、イオンプレーティング法や蒸着法等を好ましく用いることができる。下地金属層31を乾式法により成膜する場合、膜厚の制御が容易であることから、スパッタリング法を用いることがより好ましい。   Although it does not specifically limit as a dry method, For example, sputtering method, an ion plating method, a vapor deposition method etc. can be used preferably. When the base metal layer 31 is formed by a dry method, it is more preferable to use a sputtering method because the film thickness can be easily controlled.

上述のように下地金属層31は乾式法で形成することができ、乾式法で形成した下地金属薄膜層を金属層とすることができる。ただし、下地金属層31の厚さを十分に厚くする必要がある場合には、乾式法により下地金属薄膜層を形成した後、該下地金属薄膜層を給電層として、湿式法の一種である電気めっき法により下地金属めっき層をさらに形成することもできる。下地金属薄膜層、及び下地金属めっき層を形成した場合、下地金属層31は乾式法で形成した下地金属薄膜層と、湿式法で形成した下地金属めっき層とを含むことができる。
(レジスト配置工程)
レジスト配置工程では、図3(B)に示すように、下地金属層31上に開口部321を有するレジスト32を形成することができる。
As described above, the base metal layer 31 can be formed by a dry method, and the base metal thin film layer formed by the dry method can be used as a metal layer. However, when it is necessary to increase the thickness of the base metal layer 31 sufficiently, after forming the base metal thin film layer by a dry method, the base metal thin film layer is used as a power feeding layer and is a kind of wet method. A base metal plating layer can be further formed by a plating method. When the base metal thin film layer and the base metal plating layer are formed, the base metal layer 31 can include a base metal thin film layer formed by a dry method and a base metal plating layer formed by a wet method.
(Resist placement process)
In the resist placement step, a resist 32 having an opening 321 can be formed on the base metal layer 31 as shown in FIG.

レジスト32は、例えば以下の手順により形成できる。   The resist 32 can be formed by the following procedure, for example.

まず、下地金属層31の樹脂フィルム11と対向する面とは反対の面上に、感光性のレジストを塗布、あるいは貼付する。   First, a photosensitive resist is applied to or pasted on the surface of the base metal layer 31 opposite to the surface facing the resin film 11.

次いで、レジストに形成する開口部が、形成する金属配線に対応した形状となるようにフォトリソグラフィ法により加工する。そして、感光し、不要部を除去することで形成する金属配線に対応した形状の開口部321を有するレジスト32を形成することができる。   Next, the resist is processed by photolithography so that the opening formed in the resist has a shape corresponding to the metal wiring to be formed. Then, the resist 32 having the opening 321 having a shape corresponding to the metal wiring to be formed can be formed by exposing and removing unnecessary portions.

なお、形成する金属配線は、既述のように、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の形状を有することができる。そして、本実施形態の偏光子の製造方法の第2の構成例においては、セミアディティブ法により配線基板を形成することができる。このため、レジスト32はその開口部321の形状が、形成する金属配線の樹脂フィルム11の主表面11aと平行な面の形状と同様の形状となるようにレジスト32を形成することが好ましい。従って、樹脂フィルム11の主表面11aと垂直な方向の上部から見た場合に、レジスト32の開口部321は、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の形状を有するように加工、形成することができる。   As described above, the metal wiring to be formed can have a plurality of linear shapes arranged at regular intervals and in parallel with each other. And in the 2nd structural example of the manufacturing method of the polarizer of this embodiment, a wiring board can be formed by a semi-additive method. For this reason, it is preferable to form the resist 32 so that the shape of the opening part 321 becomes the shape similar to the shape of the surface parallel to the main surface 11a of the resin film 11 of the metal wiring to form. Therefore, when viewed from the top in the direction perpendicular to the main surface 11a of the resin film 11, the openings 321 of the resist 32 have a plurality of linear shapes arranged at regular intervals and parallel to each other. Can be processed and formed.

レジスト32の厚さは特に限定されないが、形成する金属配線に対応した厚さを有することが好ましい。具体的には、例えばレジスト32の厚さは、形成する金属配線の厚さ(高さ)よりも厚いことが好ましい。
(金属めっき層形成工程)
レジスト配置工程の後、金属めっき法により、レジスト32の開口部321内に金属めっき層33を形成することができる。この際、金属めっき法として電解めっき法を用いる場合、下地金属層31を給電層として用いることができる。
(レジスト、下地層除去工程)
その後、金属めっき層33間に配置されたレジスト32、及び金属めっき層33に覆われていない、露出した金属下地層を除去することができる。これにより、図3(D)に示すように、樹脂フィルム11と、樹脂フィルム11上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線12とを備えた配線基板を得ることができる。
The thickness of the resist 32 is not particularly limited, but preferably has a thickness corresponding to the metal wiring to be formed. Specifically, for example, the thickness of the resist 32 is preferably thicker than the thickness (height) of the metal wiring to be formed.
(Metal plating layer forming process)
After the resist placement step, the metal plating layer 33 can be formed in the opening 321 of the resist 32 by metal plating. At this time, when the electrolytic plating method is used as the metal plating method, the base metal layer 31 can be used as a power feeding layer.
(Resist and underlayer removal process)
Thereafter, the resist 32 disposed between the metal plating layers 33 and the exposed metal underlayer not covered with the metal plating layer 33 can be removed. As a result, as shown in FIG. 3D, a wiring board provided with a resin film 11 and a plurality of linear metal wirings 12 arranged on the resin film 11 at regular intervals and in parallel with each other. Can be obtained.

偏光子が配線基板のみから構成される場合には、ここまでの工程を実施することで偏光子を得ることができる。   In the case where the polarizer is composed only of the wiring substrate, the polarizer can be obtained by performing the steps so far.

また、偏光子が、例えば防護用カバーフィルム等の各種部材を有する場合には、防護用カバーフィルム等の部材をさらに取り付ける工程等を実施することで偏光子を得ることができる。   Moreover, when a polarizer has various members, such as a protective cover film, a polarizer can be obtained by implementing the process etc. which further attaches members, such as a protective cover film.

ここまで、本実施形態の偏光子の製造方法について、第1の構成例、第2の構成例を示して説明したが、係る形態に限定されるものではない。また、第1の構成例、第2の構成例、いずれの製造方法も取り得ることができるが、第2の構成例で示したセミアディティブ法で形成した金属配線12は、特に直線性に優れ、かつ形成する金属配線の長さ方向と垂直な面での断面形状の矩形性が高く、アスペクト比も容易に調整できる。このため、特に高性能の偏光子を製造することが求められる場合には、第2の構成例で示した偏光子の製造方法を用いることが好ましい。   Up to this point, the manufacturing method of the polarizer of the present embodiment has been described with reference to the first configuration example and the second configuration example, but the method is not limited to such a configuration. In addition, the first configuration example, the second configuration example, and any manufacturing method can be used, but the metal wiring 12 formed by the semi-additive method shown in the second configuration example is particularly excellent in linearity. In addition, the rectangular shape of the cross-sectional shape in a plane perpendicular to the length direction of the metal wiring to be formed is high, and the aspect ratio can be easily adjusted. For this reason, when it is calculated | required especially that manufacturing a high performance polarizer, it is preferable to use the manufacturing method of the polarizer shown in the 2nd structural example.

以上に説明した本実施形態の偏光子の製造方法によれば、樹脂フィルムと、樹脂フィルム上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線とを備えた配線基板を有する偏光子を製造できる。このため、例えば特許文献2に開示されたワイヤーグリッド装置と比較して樹脂フィルムの使用量を抑制することができる。また、工程数が少なく、容易に、かつ金属配線の間隔や、高さ、配線幅等を精度よく形成することができる。   According to the method for manufacturing a polarizer of the present embodiment described above, a wiring board including a resin film and a plurality of linear metal wirings arranged on the resin film at regular intervals and in parallel with each other. Can be produced. For this reason, the usage-amount of a resin film can be suppressed compared with the wire grid apparatus disclosed by patent document 2, for example. In addition, the number of processes is small, and the interval, height, wiring width, and the like of the metal wiring can be easily formed with high accuracy.

従って、分解能に優れ、かつ低コストで偏光子を製造することができる。   Therefore, a polarizer can be manufactured with excellent resolution and low cost.

以下に具体的な実施例、比較例を挙げて説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。   Specific examples and comparative examples will be described below, but the present invention is not limited to these examples.

本実施例では、図3(A)〜図3(D)に示した手順により偏光子を製造した。
(下地金属層形成工程)
縦10mm、横10mm、厚さが50μmのCOP(Cyclo−Olefin Polymer)製の樹脂フィルム11の一方の主表面11a上に、下地金属薄膜層として、スパッタリング法にて厚みが約1000Åの下地銅薄膜層を形成した。
In this example, a polarizer was manufactured by the procedure shown in FIGS. 3 (A) to 3 (D).
(Base metal layer formation process)
A base copper thin film having a thickness of about 1000 mm by sputtering as a base metal thin film layer on one main surface 11a of a COP (Cyclo-Olefin Polymer) resin film 11 having a length of 10 mm, a width of 10 mm, and a thickness of 50 μm A layer was formed.

なお、用いた樹脂フィルムは、上述のようにシクロオレフィン製であり、波長400nm以上700nm以下の可視光域において、変動が2%以内の波長分散特性を有している。   In addition, the resin film used is made of cycloolefin as described above, and has a wavelength dispersion characteristic with a fluctuation within 2% in a visible light region having a wavelength of 400 nm to 700 nm.

次いで、下地銅薄膜層を給電層として下地銅薄膜層と、下地銅めっき層との厚みの合計が0.5μmとなるように、下地金属めっき層として下地銅めっき層を電解めっき法により形成した。   Next, the base copper plating layer was formed by an electrolytic plating method as the base metal plating layer so that the total thickness of the base copper thin film layer and the base copper plating layer was 0.5 μm using the base copper thin film layer as a power feeding layer. .

以上により、下地金属層31として、下地銅薄膜層と、下地銅めっき層とを有し、膜厚が0.5μmの下地銅層を、樹脂フィルム11の一方の主表面11aの全面に形成した。
(レジスト配置工程)
次いで、下地金属層31上に所定の開口部を有するレジスト32を形成した。
As described above, the base copper layer having the base copper thin film layer and the base copper plating layer and having a film thickness of 0.5 μm was formed on the entire surface of one main surface 11 a of the resin film 11 as the base metal layer 31. .
(Resist placement process)
Next, a resist 32 having a predetermined opening was formed on the base metal layer 31.

下地金属層31である下地銅層上に、厚さが20μmのドライフィルムレジストを貼付した。   A dry film resist having a thickness of 20 μm was pasted on the base copper layer as the base metal layer 31.

そして、ドライフィルムレジストに、形成する金属配線の形状に対応した開口部321を設けるように露光を行った。具体的には、幅10μm、長さ10mmの直線状の開口部321が400本、互いに平行に、かつ隣接する開口部321間の距離が15μm間隔となるように、開口部321となる部分を露光させた。露光部分を現像にて除去することで開口部321を有するレジスト32を形成した。なお、各開口部321は、上述のように直線状であり、樹脂フィルム11の縦方向と平行になるように配置した。
(金属めっき層形成工程)
開口部321を有するレジスト32をレプリカとして、セミアディティブ法を用いて金属めっき層33として、開口部321に銅めっき層を積み上げた。なお、金属めっき層33は厚さが10μmとなるように形成した。
(レジスト、下地層除去工程)
その後、開口部321を有するレジスト32を除去し、塩化第二鉄水溶液で全体をエッチングして、開口部321を有するレジスト32の下に残った厚さ0.5μmの下地金属層31である下地銅層を除去することにより、偏光子を形成した。
(偏光特性の測定)
作製した偏光子の偏光特性を調べるために、テラヘルツ時間領域分光装置(TAS7500:アドバンテスト製)を用いて0.5THz以上1.5THz以下の周波数域におけるTE(Transverse-Electric Mode)波の偏光方向の透過率(TTE)およびTM(Transverse-Magnetic Mode)波の偏光方向の透過率(TTM)を測定し評価した。上記周波数の範囲において消光比は40dB以上と良好であった。
Then, exposure was performed so as to provide an opening 321 corresponding to the shape of the metal wiring to be formed in the dry film resist. Specifically, 400 linear opening portions 321 each having a width of 10 μm and a length of 10 mm are parallel to each other, and the portion that becomes the opening portion 321 is arranged so that the distance between adjacent opening portions 321 is 15 μm. Exposed. A resist 32 having an opening 321 was formed by removing the exposed portion by development. In addition, each opening part 321 was linear as mentioned above, and was arrange | positioned so that it might become parallel to the vertical direction of the resin film 11. FIG.
(Metal plating layer forming process)
The resist 32 having the opening 321 was used as a replica, and a copper plating layer was stacked on the opening 321 as a metal plating layer 33 using a semi-additive method. The metal plating layer 33 was formed so as to have a thickness of 10 μm.
(Resist and underlayer removal process)
Thereafter, the resist 32 having the opening 321 is removed, and the whole is etched with a ferric chloride aqueous solution, and the base metal layer 31 having a thickness of 0.5 μm remaining under the resist 32 having the opening 321 is formed. A polarizer was formed by removing the copper layer.
(Measurement of polarization characteristics)
In order to investigate the polarization characteristics of the manufactured polarizer, the polarization direction of the TE (Transverse-Electric Mode) wave in the frequency range of 0.5 THz to 1.5 THz using a terahertz time domain spectroscope (TAS7500: manufactured by Advantest) The transmittance (TTE) and the transmittance (TTM) in the polarization direction of TM (Transverse-Magnetic Mode) waves were measured and evaluated. In the above frequency range, the extinction ratio was as good as 40 dB or more.

なお、ここで消光比は10×log10(TTM/TTE)と定義した。 Here, the extinction ratio was defined as 10 × log 10 (TTM / TTE).

10 配線基板
11 樹脂フィルム
12A〜12E 金属配線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Wiring board 11 Resin film 12A-12E Metal wiring

Claims (3)

樹脂フィルムと、
前記樹脂フィルム上に、一定間隔で、かつ互いに平行に配置された複数の直線状の金属配線とを備えた配線基板を有する偏光子。
A resin film;
The polarizer which has a wiring board provided with the several linear metal wiring arrange | positioned on the said resin film at regular intervals and in parallel with each other.
前記樹脂フィルムは、波長400nm以上700nm以下の可視光域において、変動が10%以内の波長分散特性を有する請求項1に記載の偏光子。   2. The polarizer according to claim 1, wherein the resin film has a wavelength dispersion characteristic with a fluctuation within 10% in a visible light region having a wavelength of 400 nm or more and 700 nm or less. 前記樹脂フィルムは、シクロオレフィン系樹脂からなる請求項1または2に記載の偏光子。   The polarizer according to claim 1, wherein the resin film is made of a cycloolefin resin.
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