JP2017211252A - Sensor substrate and sensor device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sensor substrate and a sensor device which can determine the presence or absence and a position of disconnection.SOLUTION: A sensor substrate includes: an insulating substrate; a pair of positive and negative detection electrodes provided on one surface of the insulating substrate; equal to or more than one through conductor which is embedded in the insulating substrate, and whose upper surface and at least one of lower surfaces of the positive and negative detection electrodes are connected together; and inner layer wires which are embedded in the insulating substrate, and which correspond to the through conductor.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、絶縁基板と、絶縁基板に設けられた電極とを含むセンサ基板およびセンサ装置に関する。   The present invention relates to a sensor substrate and a sensor device including an insulating substrate and electrodes provided on the insulating substrate.

自動車等の排気ガスに含まれる煤を主成分とする粒子状物質(Particulate Matter:PM)を補集するためにDPF(Diesel Particulate Filter)等が設置されており、このDPF等の異常を検出するためのPM検出センサとして、酸化アルミニウム質焼結体等のセラミック焼結体からなる絶縁基板と、絶縁基板の表面に厚膜印刷(スクリーン印刷)によって形成した検知電極等を備える粒子状物質検出装置が開示されている(例えば、特許文献1)。   A DPF (Diesel Particulate Filter) is installed to collect particulate matter (PM) mainly composed of soot contained in exhaust gas from automobiles, etc., and abnormalities such as DPF are detected. As a PM detection sensor, a particulate matter detection device comprising an insulating substrate made of a ceramic sintered body such as an aluminum oxide sintered body, and a detection electrode formed by thick film printing (screen printing) on the surface of the insulating substrate Is disclosed (for example, Patent Document 1).

ところで、上記の排気ガス用センサ等において、検知電極間における抵抗値や電極値が変化しないケースがある。それは、被検知物の堆積が少ないためリーク電流が流れず上記の変化がない場合、またはセンサ内の検知電極が断線したために上記の変化がない場合、の二ケースである。   By the way, in the exhaust gas sensor or the like, there are cases where the resistance value and the electrode value between the detection electrodes do not change. There are two cases: the case where there is no accumulation of the detection object and no leakage current flows and the above change does not occur, or the case where the above change does not occur because the detection electrode in the sensor is disconnected.

そこで、排気ガス中に含有される被検知物が一対の検知電極間に堆積することで生じる抵抗値や電流値の変化によって、排気ガス等における被検知物の含有量等の検知を行うとともに、断線判定を行っている技術が開示されている(例えば、特許文献2)。   Therefore, while detecting the content of the detected object in the exhaust gas or the like by the change of the resistance value and the current value caused by the detected object contained in the exhaust gas being deposited between the pair of detection electrodes, A technique for performing disconnection determination is disclosed (for example, Patent Document 2).

特開2012−47596号公報JP 2012-47596 A 特開2014−32063号公報JP 2014-32063 A

しかしながら、上記特許文献2の粒子状物質検出センサにおいては、センサ素子表面の検知電極(正極および負極の両電極)を閉ループになるように形成しているため、従来の櫛歯電極に比べて素子サイズが大きくなるという問題があった。   However, in the particulate matter detection sensor of Patent Document 2 described above, the detection electrodes (both positive and negative electrodes) on the surface of the sensor element are formed in a closed loop. There was a problem that the size increased.

本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、素子サイズを大きくしないで検知電極の断線検知が可能なセンサ基板、およびそれを用いたセンサ装置を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a sensor substrate capable of detecting disconnection of a detection electrode without increasing the element size, and a sensor device using the same. is there.

本発明の一つの態様のセンサ基板は、絶縁基板と、前記絶縁基板の一表面に配設された正負一対の検知電極と、前記絶縁基板に埋設された1以上の貫通導体であって、前記検知電極の正極および負極の少なくとも一方の下面と該貫通導体の上面とが接合されている1以上の貫通導体と、前記絶縁基板に埋設された、前記貫通導体に対応する内層配線と、を備える。   A sensor substrate according to one aspect of the present invention includes an insulating substrate, a pair of positive and negative detection electrodes disposed on one surface of the insulating substrate, and one or more through conductors embedded in the insulating substrate, One or more through conductors in which the lower surface of at least one of the positive electrode and the negative electrode of the detection electrode and the upper surface of the through conductor are joined, and an inner layer wiring corresponding to the through conductor embedded in the insulating substrate. .

また本発明の一つの態様のセンサ装置は、上記のセンサ基板と、前記正負一対の検知電極における正極または負極、該正極または負極と接合されている前記貫通導体、および該貫通導体に対応する内層配線を含んで構成される回路における断線箇所の有無を判別する故障検知部と、前記回路に電力を供給する電源と、を備える。   The sensor device according to one aspect of the present invention includes the sensor substrate, a positive electrode or a negative electrode in the pair of positive and negative detection electrodes, the through conductor joined to the positive electrode or the negative electrode, and an inner layer corresponding to the through conductor. A failure detection unit that determines the presence or absence of a broken portion in a circuit including wiring, and a power source that supplies power to the circuit.

本発明の一つの態様のセンサ基板によれば、絶縁基板内に貫通導体と内層配線とを設けて検知電極の正極または負極を含む回路の構成を可能にしたので、素子サイズを大きくすることなく検知電極における断線の検出が可能となる。   According to the sensor substrate of one aspect of the present invention, since the through conductor and the inner layer wiring are provided in the insulating substrate to enable the configuration of the circuit including the positive electrode or the negative electrode of the detection electrode, the element size is not increased. It is possible to detect disconnection in the detection electrode.

また、本発明の一つの態様のセンサ装置によれば、上記センサ基板を有していることから、検知電極における断線の検出が可能なセンサ装置を実現することができる。   In addition, according to the sensor device of one aspect of the present invention, since the sensor substrate is provided, a sensor device capable of detecting disconnection in the detection electrode can be realized.

図1(a)は、第1の実施形態に係るセンサ基板の上面図である。図1(b)は、第1の実施形態に係るセンサ基板の第2層における配線の構成を示す図面である。図1(c)は、第1の実施形態に係るセンサ基板の第3層における配線の構成を示す図面である。図1(d)は、第1の実施形態に係るセンサ基板の第4層における発熱電極の構成を示す図面である。図1(e)は、第1の実施形態に係るセンサ基板の裏面図である。FIG. 1A is a top view of the sensor substrate according to the first embodiment. FIG. 1B is a diagram illustrating a configuration of wiring in the second layer of the sensor substrate according to the first embodiment. FIG. 1C is a diagram illustrating a wiring configuration in the third layer of the sensor substrate according to the first embodiment. FIG. 1D is a drawing showing the configuration of the heating electrode in the fourth layer of the sensor substrate according to the first embodiment. FIG. 1E is a rear view of the sensor substrate according to the first embodiment. 図1の切断面線A−Aにおける断面図である。FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1. 第1の本実施形態に係るセンサ装置における断線検知の対象とする区間を定義した図である。It is the figure which defined the area used as the object of disconnection detection in the sensor apparatus concerning a 1st this embodiment. 第1の実施形態に係るセンサ基板を備えるセンサ装置の機能構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the function structure of a sensor apparatus provided with the sensor board | substrate which concerns on 1st Embodiment. 第1の実施形態に係るセンサ装置における断線判定のアルゴリズムを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the algorithm of the disconnection determination in the sensor apparatus which concerns on 1st Embodiment. 図6(a)は、第2の実施形態に係るセンサ基板の上面図である。図6(b)は、第2の実施形態に係るセンサ基板の第2層における配線の構成を示す図面である。図6(c)は、第2の実施形態に係るセンサ基板の第3層における配線の構成を示す図面である。図6(d)は、第2の実施形態に係るセンサ基板の第4層における発熱電極の構成を示す図面である。図6(e)は、第2の実施形態に係るセンサ基板の裏面図である。FIG. 6A is a top view of the sensor substrate according to the second embodiment. FIG. 6B is a diagram illustrating a configuration of wiring in the second layer of the sensor substrate according to the second embodiment. FIG. 6C is a drawing showing the configuration of the wiring in the third layer of the sensor substrate according to the second embodiment. FIG. 6D is a drawing showing the configuration of the heating electrode in the fourth layer of the sensor substrate according to the second embodiment. FIG. 6E is a rear view of the sensor substrate according to the second embodiment. 図6の切断面線B−Bにおける断面図である。FIG. 7 is a cross-sectional view taken along a cutting plane line BB in FIG. 6. 第2の実施形態に係るセンサ装置における断線判定のアルゴリズムを示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the algorithm of the disconnection determination in the sensor apparatus which concerns on 2nd Embodiment.

本発明の実施形態であるセンサ基板およびセンサ装置を添付の図面を参照して説明する。以下の説明において、上面等のように上下を区別して記載しているが、これは便宜的なものであり、実際にセンサ基板等が使用される際の上下を限定するものではない。   A sensor substrate and a sensor device according to embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. In the following description, the upper and lower sides are distinguished from each other like the upper surface, but this is for convenience and does not limit the upper and lower sides when the sensor substrate or the like is actually used.

(第1の実施形態)
図1(a)〜(e)は、本発明の第1の実施形態に係る多層構造のセンサ基板の構成の一例を示す図面である。図1(a)は、センサ基板1の上面図であり、図1(b)は、センサ基板1の第2層における配線の構成を示す図面であり、図1(c)は、センサ基板1の第3層における配線の構成を示す図面であり、図1(d)は、センサ基板1の第4層における発熱電極の構成を示す図面であり、図1(e)は、センサ基板1の裏面図である。また、図2は、図1(a)の切断面線A−Aにおける断面図である。
(First embodiment)
FIGS. 1A to 1E are drawings showing an example of the configuration of a sensor substrate having a multilayer structure according to the first embodiment of the present invention. FIG. 1A is a top view of the sensor substrate 1, FIG. 1B is a drawing showing the configuration of wiring in the second layer of the sensor substrate 1, and FIG. 1D is a diagram showing the configuration of the heating electrode in the fourth layer of the sensor substrate 1, and FIG. 1E is a diagram showing the configuration of the wiring in the third layer. It is a back view. FIG. 2 is a cross-sectional view taken along a cutting plane line AA in FIG.

センサ基板1は、例えばディーゼルエンジン車またはガソリンエンジン車の排気ガス中の粒子状物質(Particulate Matter:PM)を検知するセンサ装置に用いられる(例えば、自動車の排気ガスの排気通路に配設される)ものであり、絶縁基板2と、絶縁基板2の一表面に配設された正負一対の検知電極3,4と、一方の検知電極3に配設されたビア5a,5bと、他方の検知電極4に配設されたビア5c,5dと、絶縁基板2の内部に埋設にされた、ビア5a〜5dに対応する内層配線7a〜7dと、を備える。   The sensor substrate 1 is used in a sensor device that detects particulate matter (PM) in exhaust gas of, for example, a diesel engine vehicle or a gasoline engine vehicle (for example, disposed in an exhaust gas exhaust passage of an automobile). ), An insulating substrate 2, a pair of positive and negative detection electrodes 3, 4 disposed on one surface of the insulating substrate 2, vias 5a, 5b disposed on one detection electrode 3, and detection of the other Vias 5c and 5d disposed in the electrode 4 and inner layer wirings 7a to 7d corresponding to the vias 5a to 5d embedded in the insulating substrate 2 are provided.

センサ基板1の特徴としては、センサ装置に採用することによって、素子サイズを大きくしないで検知電極における断線検知を可能にしたことである。   A feature of the sensor substrate 1 is that it is possible to detect disconnection in the detection electrode without increasing the element size by adopting it in the sensor device.

上記図1(a)〜(e)および図2に示されるように、センサ基板1の第1層、第2層または第3層には、検知電極3,4に配設されたビア5a〜5dに対応する内層配線7a〜7d、接続端子6a〜6dおよび内部配線6e〜6hが、埋設または配設されている。また、センサ基板1の第4層には、発熱電極8が埋設されており、第4層または第5層には、発熱電極8の正極および負極に対応する内部配線8a,8bおよび接続パッド9a,9bが配設されている。   As shown in FIGS. 1 (a) to 1 (e) and FIG. 2, the first layer, the second layer, or the third layer of the sensor substrate 1 has vias 5a to 5 disposed on the detection electrodes 3 and 4, respectively. Inner layer wirings 7a to 7d, connection terminals 6a to 6d and internal wirings 6e to 6h corresponding to 5d are embedded or disposed. In addition, a heating electrode 8 is embedded in the fourth layer of the sensor substrate 1, and internal wirings 8a and 8b and connection pads 9a corresponding to the positive electrode and the negative electrode of the heating electrode 8 are embedded in the fourth layer or the fifth layer. 9b.

本実施形態において、検知電極3,4は、例えば絶縁基板2の表面(第1面2a)に配設された櫛型の電極であり、例えば検知電極3を正極とし、検知電極4を負極として、外部の電源(図示せず)から直流電圧(例えば、50[V])が印加される。   In the present embodiment, the detection electrodes 3 and 4 are, for example, comb-shaped electrodes disposed on the surface (first surface 2a) of the insulating substrate 2. For example, the detection electrode 3 is a positive electrode and the detection electrode 4 is a negative electrode. A DC voltage (for example, 50 [V]) is applied from an external power source (not shown).

ビア5a〜5dは、柱状の貫通導体であり、いずれの上面も検知電極3または4の下面と接合されている。ビア5aまたは5bは、第2層の内層配線7aまたは7bを介して外部に接続されている。ビア5cまたは5dは、第3層の内層配線7cまたは7dを介して外部に接続されている。   The vias 5 a to 5 d are columnar through conductors, and any upper surface is joined to the lower surface of the detection electrode 3 or 4. The via 5a or 5b is connected to the outside via the second-layer inner layer wiring 7a or 7b. The via 5c or 5d is connected to the outside via the third-layer inner layer wiring 7c or 7d.

上記のように、ビア5a〜5dは、絶縁基板2に埋設されており、検知電極3,4と接合されている。したがって、ビア5a〜5dは、検知電極3,4の断線検知に用いられる回路を構成するとともに、検知電極3,4を絶縁基板2に固定する機能をも有している。   As described above, the vias 5 a to 5 d are embedded in the insulating substrate 2 and joined to the detection electrodes 3 and 4. Therefore, the vias 5 a to 5 d constitute a circuit used for detecting disconnection of the detection electrodes 3 and 4 and also have a function of fixing the detection electrodes 3 and 4 to the insulating substrate 2.

発熱電極8は、接続パッド9a、9bを介して、外部の(図示していない)直流電源(例えば、20[V])に接続されている。この発熱電極8は、例えば700[℃]に加熱され、第1面2aに付着した粒子状物質(Particulate Matter:PM)を分解除去する。   The heating electrode 8 is connected to an external (not shown) DC power source (for example, 20 [V]) via the connection pads 9a and 9b. The heating electrode 8 is heated to, for example, 700 [° C.] to decompose and remove the particulate matter (Particulate Matter: PM) adhering to the first surface 2a.

絶縁基板2は、例えば四角板状等の平板状であり、一対の検知電極同士、および一対の検知電極と発熱電極とを電気的に絶縁して設けるための基体部分である。この絶縁基板2は、例えば酸化アルミニウム質焼結体や窒化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、ガラスセラミック焼結体、ジルコニア系セラミック(酸化ジルコニウム質焼結体)等のセラミック焼結体によって形成されている。絶縁基板2は、このようなセラミック焼結体からなる複数の絶縁層が積層されている。   The insulating substrate 2 is, for example, a flat plate shape such as a square plate shape, and is a base portion for providing a pair of detection electrodes and a pair of detection electrodes and a heating electrode in an electrically insulated manner. This insulating substrate 2 is a ceramic sintered body such as an aluminum oxide sintered body, an aluminum nitride sintered body, a mullite sintered body, a glass ceramic sintered body, a zirconia ceramic (zirconium oxide sintered body), or the like. Is formed by. The insulating substrate 2 is laminated with a plurality of insulating layers made of such a ceramic sintered body.

絶縁基板2は、例えば、酸化アルミニウム質焼結体からなる複数の絶縁層が積層されて形成されている場合であれば、以下の方法で製作することができる。   If the insulating substrate 2 is formed by laminating a plurality of insulating layers made of an aluminum oxide sintered body, for example, the insulating substrate 2 can be manufactured by the following method.

まず、無機粒子となる、酸化アルミニウム(Al)の粉末に焼結助材として酸化珪素(SiO)、酸化マグネシウム(MgO)および酸化マンガン(Mn)等の原料粉末を添加し、さらに適当なバインダ、溶剤および可塑剤を添加し、次にこれらの混合物を混錬してスラリー状となす。その後、従来周知のドクターブレード法やカレンダーロール法等によってシート状に成形してセラミックグリーンシートを得て、セラミックグリーンシートに適当な打ち抜き加工を施すとともにこれを必要に応じて複数枚積層し、高温(約1300〜1600℃)で焼成することによって製作される。 First, raw material powders such as silicon oxide (SiO 2 ), magnesium oxide (MgO), and manganese oxide (Mn 2 O 3 ) are added as sintering aids to aluminum oxide (Al 2 O 3 ) powder that becomes inorganic particles. Further, an appropriate binder, solvent and plasticizer are added, and then the mixture is kneaded to form a slurry. After that, a ceramic green sheet is obtained by forming into a sheet shape by a conventionally known doctor blade method or calendar roll method, etc., and a suitable punching process is performed on the ceramic green sheet, and a plurality of layers are laminated as necessary. It is manufactured by firing at (about 1300 to 1600 ° C.).

なお、絶縁基板2は、アルミナおよびマンガンを含む結晶相と、マンガンを含有するガラス相とを含んでいてもよい。結晶相には、アルミナ以外に、ムライト、ジルコニア、窒化アルミニウムまたはガラスセラミックスなどの各種セラミックスを含んでいてもよい。   Insulating substrate 2 may include a crystal phase containing alumina and manganese and a glass phase containing manganese. In addition to alumina, the crystal phase may contain various ceramics such as mullite, zirconia, aluminum nitride, or glass ceramics.

ガラス相は、少なくともMnを含む非晶質相であり、Si、Mg、Ca、Sr、B、Nb、CrおよびCoから選ばれる1種以上の酸化物をさらに含んでいてもよい。ガラス相は、好ましくはMn、SiOおよびMgOを含む非晶質相であればよい。 The glass phase is an amorphous phase containing at least Mn 2 O 3 and may further contain one or more oxides selected from Si, Mg, Ca, Sr, B, Nb, Cr and Co. The glass phase is preferably an amorphous phase containing Mn 2 O 3 , SiO 2 and MgO.

マンガンを含むガラス相は、アルミナ結晶相に対する濡れ性が良いため、焼成後の加熱処理で、ガラス相が結晶粒子表面を被覆しようとして、絶縁基板2の表層に浸み出し、ガラス相の多くが表層に存在するものと考えられる。   Since the glass phase containing manganese has good wettability with respect to the alumina crystal phase, in the heat treatment after firing, the glass phase oozes out to the surface layer of the insulating substrate 2 so as to cover the crystal particle surface, and most of the glass phase It is considered to exist on the surface layer.

このようにマンガンを含有するガラス相が、絶縁基板2の第1面2aに露出するように存在することで、クラックの起点となる欠陥が少ない割れの生じにくい絶縁基板2が得られる。アルミナを含む結晶相よりもガラス相のほうが、ヤング率が低いので、例えば排気ガスと接触したときに、絶縁基板2への水滴の付着による熱衝撃が緩和され、割れの発生を抑制できる。   Thus, the presence of the glass phase containing manganese so as to be exposed on the first surface 2a of the insulating substrate 2 makes it possible to obtain the insulating substrate 2 with few defects serving as crack starting points and less likely to cause cracking. Since the glass phase has a lower Young's modulus than the crystal phase containing alumina, for example, when it comes into contact with exhaust gas, the thermal shock due to the attachment of water droplets to the insulating substrate 2 is mitigated, and the occurrence of cracks can be suppressed.

正負一対の検知電極3,4は、センサ基板1がセンサ装置に設置される環境における煤等の粒子状物質を検出するための電極である。検知電極3−4間に煤等の粒子状物質が付着したときに、この一対の検知電極間の電気抵抗が変化し、電極間に流れるリーク電流が変化する。このリーク電流の変化を検知することによって、一対の検知電極間に存在する粒子状物質に関する情報を取得することが可能となる。   The pair of positive and negative detection electrodes 3 and 4 are electrodes for detecting particulate matter such as soot in an environment where the sensor substrate 1 is installed in the sensor device. When particulate matter such as soot adheres between the detection electrodes 3-4, the electrical resistance between the pair of detection electrodes changes, and the leakage current flowing between the electrodes changes. By detecting the change in the leakage current, it is possible to acquire information on the particulate matter existing between the pair of detection electrodes.

検知電極3,4に用いる金属材料は、高温環境下における耐酸化性に優れるものが好ましく、例えば白金や表面に酸化物を含む不動態膜が形成されるものを用いることができる。表面に酸化物を含む不動態膜が形成される金属材料としては、例えばFe−Ni−Cr−Ti−Al合金やMoSi金属などを用いることができる。 The metal material used for the detection electrodes 3 and 4 is preferably one having excellent oxidation resistance in a high temperature environment. For example, platinum or a material on which a passive film containing an oxide is formed can be used. As a metal material on which a passive film containing an oxide is formed on the surface, for example, an Fe—Ni—Cr—Ti—Al alloy or MoSi 2 metal can be used.

不動態膜の厚みは、例えば0.1〜5μm程度に設定される。この程度の厚みであれば、ビア5a〜5dの表面部が効果的に不動態膜で覆われ、その全体または大部分が酸化するような可能性が効果的に低減される。   The thickness of the passive film is set to, for example, about 0.1 to 5 μm. If it is this thickness, the surface part of via | veer 5a-5d is effectively covered with a passive film, and the possibility that the whole or most part will oxidize is reduced effectively.

検知電極3,4の表面部は、面積の割合で、その90%程度が不動態膜を含んでいることが好ましい。言い換えれば、検知電極3,4の露出表面のうち90%以上が不動態膜で覆われていることが好ましい。これにより、検知電極3,4全体に酸化が進行する可能性が効果的に低減される。   It is preferable that about 90% of the surface portions of the detection electrodes 3 and 4 include a passive film in terms of area ratio. In other words, it is preferable that 90% or more of the exposed surfaces of the detection electrodes 3 and 4 are covered with the passive film. Thereby, possibility that oxidation will advance to the whole detection electrodes 3 and 4 will be reduced effectively.

また、検知電極3,4の表面部は、その全体が不動態膜を含んでいることがより好ましい。言い換えれば、検知電極3,4の露出表面の全域が不動態膜で覆われていることがより好ましい。これにより、検知電極3,4全体に酸化が進行する可能性がより効果的に低減される。   Further, the surface portions of the detection electrodes 3 and 4 more preferably include a passive film as a whole. In other words, it is more preferable that the entire exposed surfaces of the detection electrodes 3 and 4 are covered with the passive film. Thereby, possibility that oxidation will advance to the whole detection electrodes 3 and 4 will be reduced more effectively.

さらに、検知電極3,4の露出する表面には、電気めっき法または無電解めっき法によって金属めっき層が被着されていてもよい。金属めっき層は、ニッケル,銅,金または銀等の耐食性や接続部材との接続性に優れる金属から成るものであり、例えば、厚さ0.5〜10μm程度のニッケルめっき層と0.1〜3μm程度の金めっき層とが、あるいは厚さ1〜10μm程度のニッケルめっき層と0.1〜1μm程度の銀めっき層とが、順次被着される。これによって、検知電極3,4が腐食することを効果的に抑制できる。また、上記以外の金属からなる金属めっき層、例えば、パラジウムめっき層等を介在させていても構わない。   Further, a metal plating layer may be applied to the exposed surfaces of the detection electrodes 3 and 4 by electroplating or electroless plating. The metal plating layer is made of a metal having excellent corrosion resistance such as nickel, copper, gold or silver and connectivity with the connection member. For example, a nickel plating layer having a thickness of about 0.5 to 10 μm and 0.1 to A gold plating layer of about 3 μm, or a nickel plating layer of about 1 to 10 μm in thickness and a silver plating layer of about 0.1 to 1 μm are sequentially deposited. Thereby, it can suppress effectively that the detection electrodes 3 and 4 corrode. Moreover, you may interpose the metal plating layer which consists of metals other than the above, for example, a palladium plating layer.

ビア5a〜5dは、例えば円柱状で、その直径は50μmである。ビア5a〜5dは、従来の回路基板におけるビアと同様の製法を用いて、検知電極3,4を含む絶縁基板2を製作することができる。   The vias 5a to 5d are, for example, columnar and have a diameter of 50 μm. For the vias 5a to 5d, the insulating substrate 2 including the detection electrodes 3 and 4 can be manufactured by using the same manufacturing method as the via in the conventional circuit board.

内層配線7a〜7dは、絶縁基板2の内部に形成されており、絶縁基板2の第1面2aに配設されている検知電極3,4とビア5a〜5dを介して電気的に接続されており、内部配線6e〜6hおよび接続端子6a〜6dを介して外部と接続される。なお、内層配線7a〜7dは、ビア5a〜5dに対応する配線スペースを確保するために、適宜異なる層において埋設されている。   The inner layer wirings 7a to 7d are formed inside the insulating substrate 2, and are electrically connected to the detection electrodes 3 and 4 disposed on the first surface 2a of the insulating substrate 2 via the vias 5a to 5d. It is connected to the outside through the internal wirings 6e to 6h and the connection terminals 6a to 6d. The inner layer wirings 7a to 7d are embedded in different layers as appropriate in order to secure a wiring space corresponding to the vias 5a to 5d.

発熱電極8は、例えば検知電極3,4と同様の金属材料からなるものであり、特に効率よく発熱させるために、電気抵抗率が高い鉄、チタン、クロムおよびケイ素等を含む材料が挙げられる。また、発熱電極8は、白金またはFe−Ni−Cr合金等の酸化しにくい金属を主成分として含むものであってもよい。   The heating electrode 8 is made of, for example, the same metal material as that of the detection electrodes 3 and 4, and in order to generate heat particularly efficiently, a material containing iron, titanium, chromium, silicon or the like having a high electrical resistivity can be used. Further, the heating electrode 8 may include a metal that is not easily oxidized, such as platinum or an Fe—Ni—Cr alloy, as a main component.

発熱電極8の金属材料は、例えば発熱電極8に約80質量%以上含有され、発熱電極8の主成分となっている。発熱電極8は、この金属材料以外に、ガラスまたはセラミック等の無機成分が含有されていてもよい。これらの無機成分は、例えば絶縁基板2との同時焼成で発熱電極8を形成するときの、焼成収縮の調整用等の成分である。   The metal material of the heating electrode 8 is, for example, contained in the heating electrode 8 by about 80% by mass or more, and is a main component of the heating electrode 8. The heating electrode 8 may contain an inorganic component such as glass or ceramic in addition to the metal material. These inorganic components are components for adjusting the firing shrinkage when the heating electrode 8 is formed by simultaneous firing with the insulating substrate 2, for example.

検知電極3,4、ビア5a〜5d、接続端子6a〜6d、内部配線6e〜6h、内層配線7a〜7dおよび発熱電極8は、例えば上記の金属材料の粉末を有機溶剤およびバインダとともに混練して金属ペーストを作製して、この金属ペーストを、絶縁基板2となるセラミックグリーンシートの表面および貫通孔に所定パターンで塗布または埋め込む。金属ペーストの塗布または埋め込みは、例えばスクリーン印刷法などの印刷法によって行なう。このように、検知電極3,4、ビア5a〜5d、接続端子6a〜6d、内部配線6e〜6h、内層配線7a〜7dおよび発熱電極8となる印刷パターンを覆うようにセラミックグリーンシートを複数積層し、これらの金属ペーストとセラミックグリーンシートとを同時焼成する。   The detection electrodes 3 and 4, the vias 5 a to 5 d, the connection terminals 6 a to 6 d, the internal wirings 6 e to 6 h, the inner layer wirings 7 a to 7 d, and the heating electrode 8 are prepared by, for example, kneading the above metal material powder with an organic solvent and a binder. A metal paste is produced, and this metal paste is applied or embedded in a predetermined pattern on the surface and through-hole of the ceramic green sheet to be the insulating substrate 2. The metal paste is applied or embedded by a printing method such as a screen printing method. In this way, a plurality of ceramic green sheets are laminated so as to cover the print patterns to be the detection electrodes 3 and 4, the vias 5 a to 5 d, the connection terminals 6 a to 6 d, the internal wirings 6 e to 6 h, the inner layer wirings 7 a to 7 d and the heating electrode 8. These metal paste and ceramic green sheet are fired simultaneously.

次に、上記のように構成されたセンサ基板1を用いた、本実施形態に係るセンサ装置10の動作について説明する。   Next, the operation of the sensor device 10 according to the present embodiment using the sensor substrate 1 configured as described above will be described.

図3は、本実施形態に係るセンサ装置における断線検知の対象とする区間を定義した図である。図3の例示では、検知電極3には2つのビア5a,5bが接続され、検知電極4にも2つのビア5c,5dが接続されている。そこで、本実施形態では、検知電極3を区間3a、区間3bおよび区間3cに分割する。一方、検知電極4についても、区間4a、区間4bおよび区間4cに分割する。なお、各検知電極に接続されるビアの個数や定義する区間の数は上記に限るものではなく、各検知電極により多くのビアを接続し、より多くの区間を定義することとしてもよい。   FIG. 3 is a diagram in which a section that is a target of disconnection detection in the sensor device according to the present embodiment is defined. In the illustration of FIG. 3, two vias 5 a and 5 b are connected to the detection electrode 3, and two vias 5 c and 5 d are connected to the detection electrode 4. Therefore, in the present embodiment, the detection electrode 3 is divided into a section 3a, a section 3b, and a section 3c. On the other hand, the detection electrode 4 is also divided into a section 4a, a section 4b, and a section 4c. Note that the number of vias connected to each detection electrode and the number of defined sections are not limited to the above, and more vias may be connected to each detection electrode to define more sections.

図4は、第1の実施形態に係るセンサ基板を備えるセンサ装置の機能構成を示すブロック図である。図4に示されるように、本実施形態のセンサ装置10は、センサ基板1、全体制御部20、煤検出部30、および第1故障検知部41〜第4故障検知部44を備え、ヒーター制御部50、温度検知部60および表示部70をさらに備えていてもよい。   FIG. 4 is a block diagram illustrating a functional configuration of a sensor device including the sensor substrate according to the first embodiment. As shown in FIG. 4, the sensor device 10 of the present embodiment includes the sensor substrate 1, the overall control unit 20, the wrinkle detection unit 30, and the first failure detection unit 41 to the fourth failure detection unit 44, and heater control The unit 50, the temperature detection unit 60, and the display unit 70 may be further provided.

全体制御部20は、例えばマイクロコンピュータであり、センサ装置10全体の制御を行う。具体的には、全体制御部20は、予め規定されたプログラムに基づいて、煤検出部30、第1故障検知部41〜第4故障検知部44およびヒーター制御部50の制御を行う。さらに、全体制御部20は、第1故障検知部41〜第4故障検知部44において検知された導通試験の結果に基づいて、検知電極3,4における断線の有無および断線している区間を特定する。   The overall control unit 20 is a microcomputer, for example, and controls the entire sensor device 10. Specifically, the overall control unit 20 controls the soot detection unit 30, the first failure detection unit 41 to the fourth failure detection unit 44, and the heater control unit 50 based on a program defined in advance. Furthermore, the overall control unit 20 specifies the presence or absence of disconnection in the detection electrodes 3 and 4 and the section where the disconnection occurs based on the results of the continuity test detected by the first failure detection unit 41 to the fourth failure detection unit 44. To do.

煤検出部30は、全体制御部20の指示によって、検知電極3−4間に、外部の直流電源(図示せず)から供給される予め規定した電圧(例えば、50[V])を印加して、当該電極間における粒子状物質の検出を行う。具体的には、検知電極3−4間に流れる電流値の測定を行う。   The hail detection unit 30 applies a predetermined voltage (for example, 50 [V]) supplied from an external DC power source (not shown) between the detection electrodes 3-4 according to an instruction from the overall control unit 20. Then, the particulate matter between the electrodes is detected. Specifically, the current value flowing between the detection electrodes 3-4 is measured.

第1故障検知部41は、全体制御部20の指示によって、検知電極3における区間3aおよび3b,ビア5a,内層配線7a,内部配線6eおよび接続端子6aを含む回路に外部の直流電源(図示せず)から供給される予め規定した電圧(例えば、50[V])を印加して、当該回路の導通試験を行う。具体的には、第1故障検知部41に備える抵抗に流れる電流に基づいて、導通の有無を判定する。   The first failure detection unit 41 is connected to an external DC power source (not shown) in a circuit including the sections 3a and 3b, the via 5a, the inner layer wiring 7a, the internal wiring 6e, and the connection terminal 6a in the detection electrode 3 according to an instruction from the overall control unit 20. A predetermined voltage (for example, 50 [V]) supplied from (1) is applied, and the continuity test of the circuit is performed. Specifically, the presence / absence of conduction is determined based on the current flowing through the resistor included in the first failure detection unit 41.

第2故障検知部42は、全体制御部20の指示によって、上記第1故障検知部41と同様に、検知電極3における区間3aおよび3c,ビア5b,内層配線7b,内部配線6fおよび接続端子6bを含む回路の導通試験を行い、導通の有無を判定する。   Similar to the first failure detection unit 41, the second failure detection unit 42, in response to an instruction from the overall control unit 20, sections 3a and 3c, vias 5b, inner layer wiring 7b, internal wiring 6f, and connection terminals 6b in the detection electrode 3. A continuity test is performed on a circuit including the continuity test to determine the presence or absence of continuity.

以下同様に、第3故障検知部43は、検知電極4における区間4aおよび4b,ビア5c,内層配線7c,内部配線6gおよび接続端子6cを含む回路について、第4故障検知部44は、検知電極4における区間4aおよび4c,ビア5d,内層配線7d,内部配線6hおよび接続端子6dを含む回路について、其々導通試験を行う。   Similarly, the third failure detection unit 43 is a circuit including the sections 4a and 4b, the via 5c, the inner layer wiring 7c, the internal wiring 6g, and the connection terminal 6c in the detection electrode 4, and the fourth failure detection unit 44 is the detection electrode. 4, a continuity test is performed on the circuits including sections 4a and 4c, via 5d, inner layer wiring 7d, internal wiring 6h, and connection terminal 6d.

ヒーター制御部50は、例えば20[V]の直流電源を備え、全体制御部20の指示により、発熱電極8に対して予め規定した温度に加熱するための制御を行う。   The heater control unit 50 includes, for example, a DC power supply of 20 [V], and performs control for heating the heating electrode 8 to a predetermined temperature in accordance with an instruction from the overall control unit 20.

温度検知部60は、温度センサを備え、ヒーター制御部40に指示によって、発熱電極8の温度を測定する。   The temperature detection unit 60 includes a temperature sensor and measures the temperature of the heating electrode 8 according to an instruction to the heater control unit 40.

表示部70は、例えば液晶表示装置であり、全体制御部20の指示によって、第1故障検知部41〜第4故障検知部44において実施された導通試験の結果に関する情報、および全体制御部20における断線判定の結果等の表示を行う。   The display unit 70 is, for example, a liquid crystal display device. Information on the results of the continuity tests performed in the first failure detection unit 41 to the fourth failure detection unit 44 according to an instruction from the overall control unit 20 and the overall control unit 20 The result of disconnection judgment is displayed.

図5は、第1の実施形態に係るセンサ装置において、検知電極3,4に対する断線の有無の判定および断線区間を特定するアルゴリズムを示すフローチャートである。   FIG. 5 is a flowchart illustrating an algorithm for determining whether or not there is a disconnection with respect to the detection electrodes 3 and 4 and for specifying a disconnection section in the sensor device according to the first embodiment.

最初に、全体制御部20の指示により、ビア5a〜5dを含む各回路に対して、第1故障検知部41〜第4故障検知部44において、定期的(例えば、10分毎)に導通試験を実行する(S100)。   First, according to an instruction from the overall control unit 20, the first failure detection unit 41 to the fourth failure detection unit 44 perform continuity tests periodically (for example, every 10 minutes) for each circuit including the vias 5a to 5d. Is executed (S100).

導通試験の結果、まず、上記のビア5aを含む回路が導通していないと判定され(S102でNo)、上記のビア5bを含む回路も導通していないと判定された場合は(S104でNo)、「区間3aで断線あり」と判定し(S106)、ビア5bを含む回路が導通していると判定された場合は(S104でYes)、「区間3bで断線あり」と判定する(S108)。一方、ビア5aを含む回路が導通していると判定され(S102でYes)、ビア5bを含む回路は導通していないと判定された場合は(S110でNo)、「区間3cで断線あり」と判定する(S126)。   As a result of the continuity test, first, when it is determined that the circuit including the via 5a is not conductive (No in S102) and it is determined that the circuit including the via 5b is also not conductive (No in S104). When it is determined that the circuit including the via 5b is conductive (Yes in S104), it is determined that there is a disconnection in the section 3b (S108). ). On the other hand, if it is determined that the circuit including the via 5a is conductive (Yes in S102) and it is determined that the circuit including the via 5b is not conductive (No in S110), “There is a disconnection in the section 3c”. (S126).

次に、ビア5aを含む回路およびビア5bを含む回路が導通していると判定され(S102およびS110でYes)、上記のビア5cを含む回路は導通していないと判定され(S112でNo)、上記のビア5dを含む回路も導通していないと判定された場合は(S120でNo)、「区間4aで断線あり」と判定し(S124)、ビア5dを含む回路は導通していると判定された場合は(S120でYes)、「区間4bで断線あり」と判定する(S122)。一方、ビア5cを含む回路は導通していると判定され(S112でYes)、ビア5dを含む回路が導通していないと判定された場合は(S114でNo)、「区間4cで断線あり」と判定し(S116)、各ビア5a〜5dを含む回路のすべてにおいて導通していると判定された場合は(S102、S110、S112およびS114でYes)、「断線箇所なし」と判定する(S118)。   Next, it is determined that the circuit including the via 5a and the circuit including the via 5b are conductive (Yes in S102 and S110), and it is determined that the circuit including the via 5c is not conductive (No in S112). If it is determined that the circuit including the via 5d is not conductive (No in S120), it is determined that “the circuit 4a is disconnected” (S124), and the circuit including the via 5d is conductive. If it is determined (Yes in S120), it is determined that “disconnection occurs in section 4b” (S122). On the other hand, if it is determined that the circuit including the via 5c is conductive (Yes in S112) and it is determined that the circuit including the via 5d is not conductive (No in S114), “there is a disconnection in the section 4c”. (S116), and when it is determined that all the circuits including the vias 5a to 5d are conducting (Yes in S102, S110, S112, and S114), it is determined that there is no disconnection (S118). ).

なお、上記第1故障検知部41〜第4故障検知部44の機能を第1故障検知部に集約し、この第1故障検知部が備えるスイッチによって各回路を順次切り替えることによって、それぞれの回路について導通試験を実施するように構成してもよい。さらに、センサ装置に、センサ基板に備えるビアの個数(即ち、導通試験の対象とする回路の個数)と、導通した回路の個数とに基づいて、センサ基板における故障率を算定する機能を備えることとしてもよい。
(第2の実施形態)
The functions of the first failure detection unit 41 to the fourth failure detection unit 44 are integrated into the first failure detection unit, and each circuit is sequentially switched by a switch provided in the first failure detection unit, so that each circuit is changed. You may comprise so that a continuity test may be implemented. Further, the sensor device has a function of calculating a failure rate in the sensor board based on the number of vias provided in the sensor board (that is, the number of circuits to be subjected to the continuity test) and the number of the conducted circuits. It is good.
(Second Embodiment)

図6(a)〜(e)は、本発明の第2の実施形態に係る多層構造のセンサ基板の構成の一例を示す図面である。図6(a)は、センサ基板11の上面図であり、図6(b)は、センサ基板11の第2層の配線の構成を示す図面であり、図6(c)は、センサ基板11の第3層の配線の構成を示す図面であり、図6(d)は、センサ基板11の第4層の発熱電極の構成を示す図面であり、図6(e)は、センサ基板11の裏面図である。また、図7は、図6(a)の切断面線B−Bにおける断面図である。   6A to 6E are drawings showing an example of the configuration of a sensor substrate having a multilayer structure according to the second embodiment of the present invention. 6A is a top view of the sensor substrate 11, FIG. 6B is a drawing showing the configuration of the second layer wiring of the sensor substrate 11, and FIG. 6C is the sensor substrate 11. FIG. 6D is a diagram showing the configuration of the heating electrode of the fourth layer of the sensor substrate 11, and FIG. 6E is the diagram of the sensor substrate 11. It is a back view. FIG. 7 is a cross-sectional view taken along a cutting plane line BB in FIG.

センサ基板11の特徴としては、センサ装置に採用することによって、シンプルな構成にして、検知電極13,14のそれぞれにおいて断線の有無の判定を可能にしたことである。   A feature of the sensor substrate 11 is that, by adopting it in the sensor device, it is possible to determine the presence or absence of disconnection in each of the detection electrodes 13 and 14 with a simple configuration.

図6(a)〜(e)および図7に示されるように、センサ基板11の第1層、第2層または第3層には、検知電極13,14に配設されたビア15a〜15dに対応する内層配線17a,17c、接続端子16a,16cおよび内部配線16e,16gが埋設または配設されている。また、センサ基板11の第4層には、発熱電極18が埋設されており、第4層または第5層には、発熱電極18の正極および負極に対応する内部配線18a,18bおよび接続パッド19a,19bが配設されている。   As shown in FIGS. 6A to 6E and FIG. 7, vias 15 a to 15 d disposed in the detection electrodes 13 and 14 are formed in the first layer, the second layer, or the third layer of the sensor substrate 11. Inner layer wirings 17a and 17c, connection terminals 16a and 16c, and internal wirings 16e and 16g corresponding to are embedded or disposed. Further, the heating layer 18 is embedded in the fourth layer of the sensor substrate 11, and the internal wirings 18a and 18b corresponding to the positive electrode and the negative electrode of the heating electrode 18 and the connection pad 19a are embedded in the fourth layer or the fifth layer. , 19b are disposed.

本実施形態において、検知電極13,14は、上記第1の実施形態と同様に櫛型の電極であり、検知電極13を正極とし、検知電極14を負極として、外部の電源(図示せず)から直流電圧(例えば、50[V])が印加される。   In the present embodiment, the detection electrodes 13 and 14 are comb-shaped electrodes as in the first embodiment. The detection electrode 13 is a positive electrode, the detection electrode 14 is a negative electrode, and an external power source (not shown). A DC voltage (for example, 50 [V]) is applied.

ビア15a〜15dは、例えば円柱状の貫通導体であり、いずれの上面も絶縁基板12の第1面12aに表出し、検知電極13または14の下面に接している。上記第1の実施形態と同様に、ビア15aおよび15bは、第2層の内層配線17a等を介して外部に接続されている。ビア15cおよび15dは、第3層の内層配線17c等を介して外部に接続されている。   The vias 15 a to 15 d are, for example, columnar through conductors, and any upper surface is exposed to the first surface 12 a of the insulating substrate 12 and is in contact with the lower surface of the detection electrode 13 or 14. Similar to the first embodiment, the vias 15a and 15b are connected to the outside via the second-layer inner layer wiring 17a and the like. The vias 15c and 15d are connected to the outside via a third layer inner layer wiring 17c and the like.

なお、本実施形態におけるセンサ基板11は、上記ビア15a,15bが共通で内層配線17aに接続され、ビア15c,15dが共通で内層配線17cに接続されている点を除き、上記第1の実施形態のセンサ基板1と同様の構成であるため、上記センサ装置10を流用する(具体的には、第1故障検知部41、第3故障検知部43のみを作動させる等)ことが可能である。   The sensor substrate 11 in the present embodiment is the same as the first embodiment except that the vias 15a and 15b are commonly connected to the inner layer wiring 17a and the vias 15c and 15d are commonly connected to the inner layer wiring 17c. The sensor device 10 can be diverted (specifically, only the first failure detection unit 41 and the third failure detection unit 43 are operated, etc.) because the configuration is the same as that of the sensor substrate 1 of the embodiment. .

図8は、第2の実施形態に係るセンサ装置において、検知電極13,14に対する断線の有無の判定するアルゴリズムを示すフローチャートである。   FIG. 8 is a flowchart illustrating an algorithm for determining the presence or absence of disconnection of the detection electrodes 13 and 14 in the sensor device according to the second embodiment.

最初に、全体制御部20の指示により、ビア15a,15b毎およびビア15c,15d毎に、定期的(例えば、10分毎)に導通試験を実行する(S200)。   First, a continuity test is performed periodically (for example, every 10 minutes) for each of the vias 15a and 15b and each of the vias 15c and 15d according to an instruction from the overall control unit 20 (S200).

導通試験の結果、まず、ビア15a,15bを含む回路が導通していないと判定された場合は(S202でNo)、「正極の検知電極で断線あり」と判定する(S206)。一方、ビア15c,15dを含む回路が導通していないと判定された場合は(S204でNo)、「負極の検知電極で断線あり」と判定する(S210)。また、各ビア15a,15bおよびビア15c,15dを含む回路のすべてにおいて導通していると判定された場合は(S202およびS204でYes)、「断線なし」と判定する(S208)。   As a result of the continuity test, first, when it is determined that the circuit including the vias 15a and 15b is not conductive (No in S202), it is determined that "the positive detection electrode is disconnected" (S206). On the other hand, when it is determined that the circuit including the vias 15c and 15d is not conductive (No in S204), it is determined that “the detection electrode of the negative electrode is disconnected” (S210). If it is determined that all the circuits including the vias 15a and 15b and the vias 15c and 15d are conducting (Yes in S202 and S204), it is determined that there is no disconnection (S208).

1,11 センサ基板
2,12 絶縁基板
2a,12a 第1面
3,4 検知電極
5a,5b,5c,5d ビア
6a,6b,6c,6d 接続端子
6e,6f,6g,6h 内部配線
7a,7b,7c,7d 内層配線
8、18 発熱電極
8a,8b 内部配線
9a,9b 接続パッド
10 センサ装置
13,14 検知電極
15a,15b,15c,15d ビア
16a,16b,16c,16d 接続端子
16e,16f,16g,16h 内部配線
17a,17b,17c,17d 内層配線
18a,18b 内部配線
19a,19b 接続パッド
20 全体制御部
30 煤検出部
41 第1故障検知部
42 第2故障検知部
43 第3故障検知部
44 第4故障検知部
50 ヒーター制御部
60 温度検知部
70 表示部
1, 11 Sensor substrate 2, 12 Insulating substrate 2a, 12a First surface 3, 4 Detection electrodes 5a, 5b, 5c, 5d Vias 6a, 6b, 6c, 6d Connection terminals 6e, 6f, 6g, 6h Internal wiring 7a, 7b 7c, 7d Inner layer wiring 8, 18 Heating electrodes 8a, 8b Internal wiring 9a, 9b Connection pad 10 Sensor device 13, 14 Detection electrodes 15a, 15b, 15c, 15d Vias 16a, 16b, 16c, 16d Connection terminals 16e, 16f, 16g, 16h Internal wirings 17a, 17b, 17c, 17d Inner layer wirings 18a, 18b Internal wirings 19a, 19b Connection pad 20 Overall control unit 30 煤 detection unit 41 First failure detection unit 42 Second failure detection unit 43 Third failure detection unit 44 4th failure detection part 50 heater control part 60 temperature detection part 70 display part

Claims (6)

絶縁基板と、
前記絶縁基板の一表面に配設された正負一対の検知電極と、
前記絶縁基板に埋設された1以上の貫通導体であって、前記検知電極の正極および負極の少なくとも一方の下面と該貫通導体の上面とが接合されている1以上の貫通導体と、
前記絶縁基板に埋設された、前記貫通導体に対応する内層配線と、を備えることを特徴とするセンサ基板。
An insulating substrate;
A pair of positive and negative detection electrodes disposed on one surface of the insulating substrate;
One or more through conductors embedded in the insulating substrate, wherein at least one lower conductor of the positive electrode and the negative electrode of the detection electrode and the upper surface of the through conductor are joined,
An inner layer wiring corresponding to the through conductor embedded in the insulating substrate.
前記正負一対の検知電極の正極および負極の下面に、それぞれ複数の貫通導体が接合されていることを特徴とする請求項1に記載のセンサ基板。   The sensor substrate according to claim 1, wherein a plurality of through conductors are bonded to the lower surfaces of the positive electrode and the negative electrode of the pair of positive and negative detection electrodes, respectively. 前記正負一対の検知電極は、櫛歯電極であり、
前記検知電極の正極および負極それぞれの電極歯の先端または根元に、前記貫通導体が接合されており、
前記内層配線は、前記貫通導体毎に1対1に対応づけて接続されていることを特徴とする請求項2に記載のセンサ基板。
The pair of positive and negative detection electrodes are comb electrodes,
The penetrating conductor is joined to the tip or base of each electrode tooth of the positive electrode and the negative electrode of the detection electrode,
The sensor substrate according to claim 2, wherein the inner layer wiring is connected in a one-to-one correspondence for each through conductor.
前記正負一対の検知電極は、櫛歯電極であり、
前記検知電極の正極および負極それぞれの電極歯の先端または根元に、前記貫通導体が接合されており、
前記内層配線は、前記正極に係る前記貫通導体に共通の内層配線と、前記負極に係る前記貫通導体に共通の内層配線とを含むことを特徴とする請求項2に記載のセンサ基板。
The pair of positive and negative detection electrodes are comb electrodes,
The penetrating conductor is joined to the tip or base of each electrode tooth of the positive electrode and the negative electrode of the detection electrode,
The sensor substrate according to claim 2, wherein the inner layer wiring includes an inner layer wiring common to the through conductors related to the positive electrode and an inner layer wiring common to the through conductors related to the negative electrode.
請求項1〜4のいずれか1項に記載のセンサ基板と、
前記正負一対の検知電極における正極または負極、該正極または負極と接合されている前記貫通導体、および該貫通導体に対応する内層配線を含んで構成される回路における断線箇所の有無を判別する故障検知部と、
前記回路に電力を供給する電源と、を備えることを特徴とするセンサ装置。
The sensor substrate according to any one of claims 1 to 4,
Fault detection for determining the presence or absence of a disconnection point in a circuit including a positive electrode or a negative electrode in the pair of positive and negative detection electrodes, the through conductor joined to the positive electrode or the negative electrode, and an inner layer wiring corresponding to the through conductor And
And a power supply for supplying power to the circuit.
前記正負一対の検知電極の正極および負極の下面に、それぞれ複数の貫通導体が接合されており、
前記故障検知部は、
前記正負一対の検知電極の正極または負極における、一の前記貫通導体に係る前記回路における断線箇所の有無の判別結果と、他の前記貫通導体に係る前記回路における断線箇所の有無の判別結果とに基づいて、該正極または負極において断線している区間を特定することを特徴とする請求項5に記載のセンサ装置。
A plurality of through conductors are respectively joined to the lower surfaces of the positive electrode and the negative electrode of the pair of positive and negative detection electrodes,
The failure detection unit is
In the positive or negative polarity of the pair of positive and negative detection electrodes, the determination result of the presence or absence of a disconnection location in the circuit related to one through conductor and the determination result of the presence or absence of a disconnection location in the circuit related to another through conductor 6. The sensor device according to claim 5, wherein a section in which the positive electrode or the negative electrode is disconnected is specified.
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