JP2017203684A - Defect inspection device and defect inspection method - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a defect inspection device with which it is possible to detect a defect of a component with high accuracy.SOLUTION: A defect inspection device 1 comprises: a storage tank 16 capable of storing an electrolyte 8 flowing on the inner wall surface 911 of a membrane 91; electrodes 21, 22 electrically connectable to the membrane 91; a power supply 31 capable of applying voltage that is sufficient to electrolyze the electrolyte 8 to the electrodes 21, 22; a current detection unit 32 capable of detecting the magnitude of a current flowing in the electrode 21; a resistance calculating unit 33 for calculating the electric resistance of the membrane 91; and a flow velocity control unit 17 capable of controlling the flow velocity of the electrolyte 8 flowing on the inner wall surface 911. The resistance calculation unit 33 calculates the electric resistance of the membrane 91 when the electrolyte 8 is flowing on the inner wall surface 911 on the basis of the magnitude of a voltage applied to the electrodes 21, 22 by the power supply 31 and the magnitude of a current detected by the current detection unit 32. The flow velocity control unit 17 pours the electrolyte 8 at a flow velocity at which air bubbles sticking to the inner wall surface 911 can be separated from the inner wall surface 911.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、部材の欠陥を検出する欠陥検査装置、および、欠陥検査方法に関する。   The present invention relates to a defect inspection apparatus and a defect inspection method for detecting a defect of a member.

部材の電気抵抗を算出することによって当該部材の欠陥を検出可能な欠陥検査装置が知られている。例えば、特許文献1には、被検査対象であるセラミック基板の両面に設けられる導電性液体、当該導電性液体に電圧を印加可能な電極、および、電極を介して導電性液体に電圧を印加したとき導電性液体に流れる電流を検出可能な電流検出部を備える欠陥検査装置が記載されている。   There is known a defect inspection apparatus capable of detecting a defect of a member by calculating an electric resistance of the member. For example, in Patent Document 1, a conductive liquid provided on both surfaces of a ceramic substrate to be inspected, an electrode capable of applying a voltage to the conductive liquid, and a voltage applied to the conductive liquid via the electrode A defect inspection apparatus including a current detection unit capable of detecting a current that sometimes flows in a conductive liquid is described.

特開平09−304324号公報JP 09-304324 A

特許文献1に記載の欠陥検査装置では、導電性液体に印加した電圧と検出した電流とに基づいてセラミック基板の電気抵抗を算出する。しかしながら、セラミック基板に比べ薄い絶縁膜では抵抗変化のS/N比が小さくなるため、小さな電気抵抗の変化として検出される微小な欠陥を検出することが困難である。
また、微小な欠陥を検出することを目的として電気抵抗の変化を大きくするには、印加する電圧を大きくする方法が考えられる。しかしながら、印可する電圧を大きくすると、導電性液体が電気分解するおそれがある。導電性液体が電気分解すると当該導電性液体中に気泡が発生する。気泡が発生すると電気抵抗が変化するため、欠陥の検出間違いが発生するおそれがあり、欠陥の検出精度が低下する。
In the defect inspection apparatus described in Patent Document 1, the electrical resistance of the ceramic substrate is calculated based on the voltage applied to the conductive liquid and the detected current. However, since the S / N ratio of the resistance change is small in the insulating film thinner than the ceramic substrate, it is difficult to detect a minute defect detected as a small change in electric resistance.
In order to increase the change in electrical resistance for the purpose of detecting minute defects, a method of increasing the applied voltage can be considered. However, when the applied voltage is increased, the conductive liquid may be electrolyzed. When the conductive liquid is electrolyzed, bubbles are generated in the conductive liquid. When bubbles are generated, the electric resistance changes, so that there is a possibility that a defect detection error may occur, and the defect detection accuracy decreases.

本発明は、部材の欠陥を高精度に検出可能な欠陥検査装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a defect inspection apparatus capable of detecting a defect of a member with high accuracy.

本発明は、絶縁材料から形成されている部材の欠陥を検出する欠陥検査装置であって、貯留タンク、第一の電極、第二の電極、電圧印加部、電流検出部、抵抗算出部、および、流速制御部を備える。
電圧印加部は、部材と電気的に接続可能な第一の電極および第一の電極とは異なる位置において部材と電気的に接続可能な第二の電極と電気的に接続し、部材の表面を流れる導電性液体を電気分解可能な電圧を第一の電極および第二の電極に印加可能である。
電流検出部は、第一の電極を流れる電流の大きさを検出可能である。
抵抗算出部は、電圧印加部が印加する電圧の大きさと電流検出部が検出する電流の大きさとに基づいて表面に導電性液体が流れているときの部材の電気抵抗を算出可能である。
流速制御部は、表面を流れる導電性液体の流速を表面に付着している気泡を表面から離すことが可能な流速に制御可能である。
The present invention is a defect inspection apparatus for detecting a defect of a member formed of an insulating material, and includes a storage tank, a first electrode, a second electrode, a voltage application unit, a current detection unit, a resistance calculation unit, and And a flow rate control unit.
The voltage application unit is electrically connected to the first electrode that can be electrically connected to the member and the second electrode that can be electrically connected to the member at a position different from the first electrode. A voltage capable of electrolyzing the flowing conductive liquid can be applied to the first electrode and the second electrode.
The current detection unit can detect the magnitude of the current flowing through the first electrode.
The resistance calculation unit can calculate the electrical resistance of the member when the conductive liquid is flowing on the surface based on the magnitude of the voltage applied by the voltage application unit and the magnitude of the current detected by the current detection unit.
The flow rate control unit can control the flow rate of the conductive liquid flowing on the surface to a flow rate capable of separating bubbles attached to the surface from the surface.

本発明の欠陥検査装置では、電圧印加部が第一の電極および第二の電極に電圧を印加したときの第一の電極を流れる電流の大きさを検出することによって、表面に導電性液体が流れている部材の電気抵抗を算出する。このとき、電圧印加部は導電性液体が電気分解可能な程度の比較的高い電圧を印加するため、欠陥近傍の表面には電気分解による気泡が発生し付着する場合がある。本発明の欠陥検査装置では、流速制御部は、表面を流れる導電性液体の流速が気泡を表面から離すことが可能な流速に制御可能である。これにより、表面の気泡が除去されるため、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができる。
このように、本発明の欠陥検査装置は、導電性液体を電気分解可能な程度の比較的高い電圧を印加することによって比較的微小な欠陥を検出可能としつつ、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができる。これにより、部材の欠陥を高精度に検出することができる。
In the defect inspection apparatus of the present invention, the conductive liquid is applied to the surface by detecting the magnitude of the current flowing through the first electrode when the voltage application unit applies a voltage to the first electrode and the second electrode. The electric resistance of the flowing member is calculated. At this time, since the voltage application unit applies a relatively high voltage such that the conductive liquid can be electrolyzed, bubbles may be generated and adhered to the surface near the defect. In the defect inspection apparatus of the present invention, the flow rate control unit can control the flow rate of the conductive liquid flowing on the surface to a flow rate at which bubbles can be separated from the surface. Thereby, since bubbles on the surface are removed, it is possible to prevent erroneous detection of defects due to the bubbles.
As described above, the defect inspection apparatus according to the present invention can detect a relatively small defect by applying a relatively high voltage capable of electrolyzing the conductive liquid, and can prevent a detection error due to a bubble. can do. Thereby, the defect of a member can be detected with high accuracy.

また、本発明は、絶縁材料から形成されている部材の欠陥を検出する欠陥検査方法であって、液体流し工程、電圧印加工程、電流検出工程、および、抵抗算出工程を含む。
液体流し工程は、部材の表面に導電性液体を流す。
電圧印加工程は、表面を流れる導電性液体の流速を表面に付着している気泡を表面から離すことが可能な流速となるよう制御しつつ、部材と電気的に接続する第一の電極および第一の電極とは異なる位置において部材と電気的に接続する第二の電極に導電性液体を電気分解可能な電圧を印加する。
電流検出工程は、第一の電極を流れる電流の大きさを検出する。
抵抗算出工程は、電圧印加工程において第一の電極および第二の電極に印加した電圧の大きさと電流検出工程において検出した電流の大きさとに基づいて表面に導電性液体が流れるときの部材の電気抵抗を算出する。
Further, the present invention is a defect inspection method for detecting a defect of a member formed of an insulating material, and includes a liquid flow process, a voltage application process, a current detection process, and a resistance calculation process.
In the liquid flowing step, a conductive liquid is flowed on the surface of the member.
In the voltage application step, the first electrode electrically connected to the member and the second electrode are controlled while controlling the flow rate of the conductive liquid flowing on the surface to be a flow rate capable of separating bubbles attached to the surface from the surface. A voltage capable of electrolyzing the conductive liquid is applied to the second electrode that is electrically connected to the member at a position different from the one electrode.
In the current detection step, the magnitude of the current flowing through the first electrode is detected.
In the resistance calculation step, the electric current of the member when the conductive liquid flows on the surface based on the magnitude of the voltage applied to the first electrode and the second electrode in the voltage application step and the magnitude of the current detected in the current detection step. Calculate the resistance.

本発明の欠陥検査方法では、電圧印加工程において、第一の電極および第二の電極に導電性液体を電気分解可能な電圧を印加する。このとき、導電性液体の電気分解によって欠陥近傍の表面に発生し付着する気泡は、当該気泡を表面から離すことが可能な流速に制御されている導電性液体によって除去される。これにより、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができる。したがって、本発明の欠陥検査方法は、導電性液体を電気分解可能な程度の比較的高い電圧を印加することによって比較的微小な欠陥を検出可能としつつ、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができるため、部材の欠陥を高精度に検出することができる。   In the defect inspection method of the present invention, in the voltage application step, a voltage capable of electrolyzing the conductive liquid is applied to the first electrode and the second electrode. At this time, bubbles generated and attached to the surface in the vicinity of the defect due to electrolysis of the conductive liquid are removed by the conductive liquid that is controlled to have a flow rate at which the bubbles can be separated from the surface. Thereby, the detection mistake of the defect by a bubble can be prevented. Therefore, the defect inspection method of the present invention prevents detection errors due to bubbles while enabling detection of relatively small defects by applying a relatively high voltage capable of electrolyzing the conductive liquid. Therefore, the defect of the member can be detected with high accuracy.

本発明の第一実施形態による欠陥検査装置の模式図である。It is a mimetic diagram of a defect inspection device by a first embodiment of the present invention. 図1のII部拡大図である。It is the II section enlarged view of FIG. 本発明の第一実施形態による欠陥検査方法のフローチャートである。It is a flowchart of the defect inspection method by 1st embodiment of this invention. 本発明の第二実施形態による欠陥検査装置の模式図である。It is a schematic diagram of the defect inspection apparatus by 2nd embodiment of this invention. 本発明の第二実施形態による欠陥検査方法のフローチャートである。It is a flowchart of the defect inspection method by 2nd embodiment of this invention. 本発明の第三実施形態による欠陥検査方法のフローチャートである。It is a flowchart of the defect inspection method by 3rd embodiment of this invention. 本発明の第四実施形態による欠陥検査装置の模式図である。It is a schematic diagram of the defect inspection apparatus by 4th embodiment of this invention. 本発明の第四実施形態による欠陥検査方法のフローチャートである。It is a flowchart of the defect inspection method by 4th embodiment of this invention.

以下、本発明の複数の実施形態について図面に基づいて説明する。   Hereinafter, a plurality of embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(第一実施形態)
本発明の第一実施形態による欠陥検査装置および欠陥検査方法を図1〜3を参照して説明する。第一実施形態による欠陥検査装置1は、車両などが搭載するエンジンシステムが備えるEGRクーラ90の内壁に形成されている「部材」としての膜91の欠陥を検出することが可能である。
(First embodiment)
A defect inspection apparatus and a defect inspection method according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The defect inspection apparatus 1 according to the first embodiment can detect defects in the film 91 as a “member” formed on the inner wall of an EGR cooler 90 provided in an engine system mounted on a vehicle or the like.

EGRクーラ90は、エンジンシステムが備える吸気系と排気系とを接続する排気還流管に設けられている。排気還流管は、排気系を流れる排気の一部を還流排気として吸気系に還流する機能を有している。還流排気は、エンジンでの燃焼によって排出された直後の排気であるため、比較的高温であるだけでなく、水蒸気の他に塩素イオンや硫酸イオン、硝酸イオンなどが含まれており、凝縮し濃縮されると強い酸性を示す。このため、EGRクーラ90の内壁に設けられる膜91は、このような還流排気が流れる環境条件下でステンレスから形成されているEGRクーラ90が腐食しないよう耐腐食性および耐熱性が比較的高いセラミック材料から形成されている。   The EGR cooler 90 is provided in an exhaust gas recirculation pipe that connects an intake system and an exhaust system included in the engine system. The exhaust gas recirculation pipe has a function of recirculating a part of the exhaust gas flowing through the exhaust system to the intake system as recirculated exhaust gas. Reflux exhaust is exhaust immediately after being exhausted by combustion in the engine, so it is not only relatively hot, but also contains chlorine ions, sulfate ions, nitrate ions, etc. in addition to water vapor, and is condensed and concentrated. It shows strong acidity. For this reason, the film 91 provided on the inner wall of the EGR cooler 90 is a ceramic having a relatively high corrosion resistance and heat resistance so that the EGR cooler 90 formed of stainless steel does not corrode under such environmental conditions where the reflux exhaust flows. Formed from material.

欠陥検査装置1は、支持部10、電解液供給部15、「第一の電極」としての電極21、「第二の電極」としての電極22、制御部30などを備える。欠陥検査装置1は、中空筒状の膜91の「表面」としての内壁面911に「導電性液体」としての電解液8を流しつつ膜91に電圧を印加する。欠陥検査装置1では、膜91に印加された電圧と内壁面911に電解液8が流れているときに電極21を流れる電流との関係に基づいて算出される電気抵抗の値から膜91の欠陥の有無を検査したり、欠陥の大きさを判定したりする。図1は、膜91の内壁面911によって形成されている流路910に電解液8が流れている状態の欠陥検査装置1を示している。   The defect inspection apparatus 1 includes a support unit 10, an electrolyte solution supply unit 15, an electrode 21 as a “first electrode”, an electrode 22 as a “second electrode”, a control unit 30, and the like. The defect inspection apparatus 1 applies a voltage to the membrane 91 while flowing the electrolytic solution 8 as the “conductive liquid” on the inner wall surface 911 as the “surface” of the hollow cylindrical membrane 91. In the defect inspection apparatus 1, the defect of the film 91 is determined from the value of the electrical resistance calculated based on the relationship between the voltage applied to the film 91 and the current flowing through the electrode 21 when the electrolytic solution 8 flows through the inner wall surface 911. The presence or absence of the defect is inspected and the size of the defect is determined. FIG. 1 shows the defect inspection apparatus 1 in a state where the electrolytic solution 8 is flowing in the flow path 910 formed by the inner wall surface 911 of the film 91.

支持部10は、EGRクーラ90を支持可能な支持台11を有する。支持部10は、EGRクーラ90が有する二つの開口部92、93に接続可能な接続部12、13を有する。接続部12が有する接続口120は、開口部92が有する開口920と連通可能に形成されている。接続部12は、配管121を介して電解液供給部15に接続している。接続部13が有する接続口130は、開口部93が有する開口930と連通可能に形成されている。接続部13は、配管131を介して流路910の電解液8を吸引可能な吸引ポンプ19に接続している。   The support unit 10 includes a support base 11 that can support the EGR cooler 90. The support part 10 has connection parts 12 and 13 that can be connected to two openings 92 and 93 of the EGR cooler 90. The connection port 120 included in the connection unit 12 is formed so as to communicate with the opening 920 included in the opening 92. The connection part 12 is connected to the electrolyte solution supply part 15 via the pipe 121. The connection port 130 included in the connection portion 13 is formed so as to be able to communicate with the opening 930 included in the opening portion 93. The connecting portion 13 is connected to a suction pump 19 capable of sucking the electrolytic solution 8 in the flow path 910 through a pipe 131.

電解液供給部15は、貯留タンク16、流速制御部17を有する。貯留タンク16は、流路910に供給される電解液8を貯留可能に形成されている。本実施形態での電解液8は、水、電解質、および、「界面活性剤」としてのエタノールを混合したものであって、電気抵抗は、膜91を形成するセラミック材料の電気抵抗に比べ小さい。   The electrolyte supply unit 15 includes a storage tank 16 and a flow rate control unit 17. The storage tank 16 is formed so as to be able to store the electrolyte 8 supplied to the flow path 910. The electrolytic solution 8 in the present embodiment is a mixture of water, an electrolyte, and ethanol as a “surfactant”, and its electric resistance is smaller than that of the ceramic material forming the film 91.

流速制御部17は、貯留タンク16と配管121との間に設けられている。流速制御部17は、内壁面911における電解液8の流速を制御しつつ、貯留タンク16内の電解液8を流路910に供給可能に形成されている。   The flow rate control unit 17 is provided between the storage tank 16 and the pipe 121. The flow rate control unit 17 is configured to be able to supply the electrolyte solution 8 in the storage tank 16 to the flow path 910 while controlling the flow rate of the electrolyte solution 8 on the inner wall surface 911.

電極21は、配管121の外壁に膜91と電気的に接続するよう設けられる。電極21は、制御部30と電気的に接続している。電極21の一部は、配管121が有する流路122に突出している(図2参照)。   The electrode 21 is provided on the outer wall of the pipe 121 so as to be electrically connected to the membrane 91. The electrode 21 is electrically connected to the control unit 30. A part of the electrode 21 protrudes into the flow path 122 included in the pipe 121 (see FIG. 2).

電極22は、EGRクーラ90の外壁に膜91と電気的に接続するよう設けられている。電極22は、制御部30と電気的に接続している。これにより、流路910に電解液8が供給されると、電極21と電極22とは流路910の電解液8を介して電気的に接続される。   The electrode 22 is provided on the outer wall of the EGR cooler 90 so as to be electrically connected to the film 91. The electrode 22 is electrically connected to the control unit 30. Thus, when the electrolytic solution 8 is supplied to the flow path 910, the electrode 21 and the electrode 22 are electrically connected via the electrolytic solution 8 in the flow path 910.

制御部30は、「電圧印加部」としての電源31、電流検出部32、および、抵抗算出部33を有する。
電源31は、電極21、22と電気的に接続している。電源31は、電解液8を電気分解可能な一定の大きさの直流電圧を電極21、22に印加可能に形成されている。
電流検出部32は、電源31、電極21、流路910の電解液8、および、電極22を通る電流経路に設けられている。電流検出部32は、電極21を流れる電流、すなわち、電源31、電極21、流路910の電解液8、および、電極22を通る電流経路を流れる電流の大きさを検出可能である。
抵抗算出部33は、電源31が印加する電圧の大きさ、および、電流検出部32が検出する電流の大きさに基づいて電気抵抗を算出可能である。
The control unit 30 includes a power supply 31 as a “voltage application unit”, a current detection unit 32, and a resistance calculation unit 33.
The power source 31 is electrically connected to the electrodes 21 and 22. The power source 31 is formed so as to be able to apply to the electrodes 21 and 22 a DC voltage of a certain magnitude that can electrolyze the electrolytic solution 8.
The current detection unit 32 is provided in a current path that passes through the power supply 31, the electrode 21, the electrolytic solution 8 in the flow path 910, and the electrode 22. The current detector 32 can detect the current flowing through the electrode 21, that is, the magnitude of the current flowing through the power source 31, the electrode 21, the electrolytic solution 8 in the flow path 910, and the current path passing through the electrode 22.
The resistance calculator 33 can calculate the electrical resistance based on the magnitude of the voltage applied by the power supply 31 and the magnitude of the current detected by the current detector 32.

制御部30は、電解液供給部15および吸引ポンプ19と電気的に接続している。制御部30は、欠陥検査装置1における検査プロセスにおいて、電解液供給部15および吸引ポンプ19の駆動を制御する。   The control unit 30 is electrically connected to the electrolytic solution supply unit 15 and the suction pump 19. The control unit 30 controls driving of the electrolytic solution supply unit 15 and the suction pump 19 in the inspection process in the defect inspection apparatus 1.

次に、第一実施形態による「欠陥検査方法」としての膜91の検査プロセスについて、図2、3に基づいて説明する。   Next, an inspection process of the film 91 as a “defect inspection method” according to the first embodiment will be described with reference to FIGS.

最初に、ステップ(以下、単に「S」という)101において、EGRクーラ90を欠陥検査装置1に取り付ける。S101では、内壁に膜91が形成されているEGRクーラ90を支持台11上にセットし、接続部12と開口部92、および、接続部13と開口部93とを接続する。   First, in step (hereinafter simply referred to as “S”) 101, the EGR cooler 90 is attached to the defect inspection apparatus 1. In S101, the EGR cooler 90 in which the film 91 is formed on the inner wall is set on the support base 11, and the connection portion 12 and the opening portion 92, and the connection portion 13 and the opening portion 93 are connected.

次に、「液体流し工程」としてのS102において、EGRクーラ90内に電解液8を供給する。S102では、流速制御部17によって貯留タンク16に貯留されている電解液8を流路910に供給する。これにより、内壁面911に沿って電解液8が流れる。S102では、電解液8を流路910に供給しつつ、吸引ポンプ19によって配管131を介して流路910に供給された電解液8を吸引する。これにより、電解液8が供給される前の乾燥した状態となっている膜91に電解液8を流したときに発生する気泡が流路910から除去される。   Next, in S <b> 102 as the “liquid flowing step”, the electrolytic solution 8 is supplied into the EGR cooler 90. In S <b> 102, the electrolyte solution 8 stored in the storage tank 16 is supplied to the flow path 910 by the flow rate control unit 17. Thereby, the electrolyte solution 8 flows along the inner wall surface 911. In S102, the electrolytic solution 8 supplied to the flow path 910 is sucked by the suction pump 19 via the pipe 131 while the electrolytic solution 8 is supplied to the flow path 910. As a result, bubbles generated when the electrolyte solution 8 is caused to flow through the membrane 91 in a dry state before the electrolyte solution 8 is supplied are removed from the flow path 910.

次に、「電圧印加工程」としてのS103において、電解液8を所定の流速で流しつつ電極21、22に電圧を印加する。S103では、電源31によって電極21、22に電圧を印加する。電極21、22に電圧が印加されると、電極21、内壁面911を流れる電解液8、および、電極22を通る電流経路が形成される。このとき、図2に示すように、膜91に成膜不良などによる欠陥Df1があると、電極21、内壁面911を流れる電解液8、欠陥Df1内の電解液8、および、電極22によって比較的電流が流れやすい電流経路Ri1が形成される。   Next, in S <b> 103 as the “voltage application step”, a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 while flowing the electrolyte solution 8 at a predetermined flow rate. In S <b> 103, a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 by the power supply 31. When a voltage is applied to the electrodes 21 and 22, a current path passing through the electrode 21, the electrolytic solution 8 flowing through the inner wall surface 911, and the electrode 22 is formed. At this time, as shown in FIG. 2, if the film 91 has a defect Df1 due to film formation failure or the like, the comparison is made by the electrode 21, the electrolytic solution 8 flowing through the inner wall surface 911, the electrolytic solution 8 in the defect Df1, and the electrode 22. A current path Ri1 in which the static current easily flows is formed.

また、S103では、電極21、22に電解液8が電気分解可能な程度の電圧を印加する。これにより、電解液8が電気分解し、図2に示すように、欠陥Df1近傍の内壁面911に気泡Bb1が発生する。S103では、内壁面911を流れる電解液8は所定の流速で流れている(図2の白抜き矢印F1)。ここで、「所定の流速」とは、主に気泡Bb1に衝突する電解液8の慣性力による気泡Bb1への作用力が気泡Bb1と膜91との付着力より大きくなるときの流速である。これにより、内壁面911に付着している気泡Bb1は内壁面911から離れ、電解液8の流れに乗ってEGRクーラ90の外部に排出される。   In step S103, a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 such that the electrolytic solution 8 can be electrolyzed. As a result, the electrolytic solution 8 is electrolyzed, and bubbles Bb1 are generated on the inner wall surface 911 in the vicinity of the defect Df1, as shown in FIG. In S103, the electrolyte 8 flowing through the inner wall surface 911 flows at a predetermined flow rate (open arrow F1 in FIG. 2). Here, the “predetermined flow rate” is a flow rate when the acting force on the bubble Bb1 mainly due to the inertial force of the electrolytic solution 8 colliding with the bubble Bb1 becomes larger than the adhesion force between the bubble Bb1 and the film 91. As a result, the bubbles Bb1 adhering to the inner wall surface 911 are separated from the inner wall surface 911, and are discharged to the outside of the EGR cooler 90 along the flow of the electrolytic solution 8.

次に、「電流検出工程」としてのS104において、電流の大きさを検出する。S104では、電流検出部32は、電極21、22に電解液8が電気分解可能な程度の電圧が印加されているときの電極21を流れる電流値を検出する。   Next, in S104 as the “current detection step”, the magnitude of the current is detected. In S <b> 104, the current detection unit 32 detects the value of the current flowing through the electrode 21 when a voltage to the extent that the electrolytic solution 8 can be electrolyzed is applied to the electrodes 21 and 22.

次に、「抵抗算出工程」としてのS105において、電気抵抗を算出する。S105では、抵抗算出部33は、S103において印加した電圧の大きさとS104において検出した電流の大きさとに基づいて、流路910に電解液8が流れているときのEGRクーラ90の電気抵抗を算出する。このとき、算出された電気抵抗が基準値に比べ大きいと、膜91には規定値以下の大きさの欠陥があると判定される。また、算出された電気抵抗が基準値に比べ小さいと膜91には、規定値より大きい欠陥があると判定される。
最後に、S106において、EGRクーラ90を欠陥検査装置1から取り外す。
第一実施形態による膜91の検査プロセスでは、このようにして、膜91の欠陥を検出する。
Next, in S105 as the “resistance calculation step”, the electric resistance is calculated. In S105, the resistance calculator 33 calculates the electrical resistance of the EGR cooler 90 when the electrolyte 8 is flowing in the flow path 910 based on the magnitude of the voltage applied in S103 and the magnitude of the current detected in S104. To do. At this time, if the calculated electrical resistance is larger than the reference value, it is determined that the film 91 has a defect having a size equal to or smaller than a specified value. If the calculated electrical resistance is smaller than the reference value, it is determined that the film 91 has a defect larger than the specified value.
Finally, in S106, the EGR cooler 90 is removed from the defect inspection apparatus 1.
In the inspection process of the film 91 according to the first embodiment, defects in the film 91 are detected in this way.

本実施形態による欠陥検査装置1では、電源31が電極21、22に電圧を印加したとき、電極21を流れる電流の大きさを検出することによって膜91が形成されているEGRクーラ90の電気抵抗を算出する。このとき、電源31は電解液8が電気分解可能な程度の比較的高い電圧を電極21、22に印加するため、電解液8の電気分解による気泡が欠陥Df1近傍の内壁面911に発生する。欠陥検査装置1では、内壁面911に付着している気泡を内壁面911から離すことが可能なよう電解液8の流速を制御する。これにより、内壁面911に付着している気泡が除去されるため、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができる。
このように、欠陥検査装置1は、電解液8を電気分解可能な程度の比較的高い電圧を印加することによって比較的微小な欠陥を検出可能としつつ、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができる。これにより、第一実施形態による欠陥検査装置1は、膜91の欠陥を高精度に検出することができる。
In the defect inspection apparatus 1 according to the present embodiment, when the power source 31 applies a voltage to the electrodes 21 and 22, the electrical resistance of the EGR cooler 90 in which the film 91 is formed by detecting the magnitude of the current flowing through the electrode 21. Is calculated. At this time, since the power supply 31 applies a relatively high voltage to the electrodes 21 and 22 so that the electrolytic solution 8 can be electrolyzed, bubbles due to the electrolysis of the electrolytic solution 8 are generated on the inner wall surface 911 near the defect Df1. In the defect inspection apparatus 1, the flow rate of the electrolytic solution 8 is controlled so that bubbles attached to the inner wall surface 911 can be separated from the inner wall surface 911. Thereby, since the bubbles adhering to the inner wall surface 911 are removed, it is possible to prevent the detection error of the defect due to the bubbles.
As described above, the defect inspection apparatus 1 can detect a relatively small defect by applying a relatively high voltage capable of electrolyzing the electrolytic solution 8 and can prevent a detection error of the defect due to the bubble. Can do. Thereby, the defect inspection apparatus 1 by 1st embodiment can detect the defect of the film | membrane 91 with high precision.

本実施形態では、電解液8中にエタノールが含まれている。水とエタノールとを混合することによって表面張力が低くなるため、微小な欠陥に電解液8が入り込みやすくなる。これにより、欠陥の検出漏れを確実に防止することができる。   In the present embodiment, the electrolytic solution 8 contains ethanol. Since the surface tension is lowered by mixing water and ethanol, the electrolytic solution 8 easily enters a minute defect. As a result, it is possible to reliably prevent detection of defects from being detected.

第一実施形態による膜91の検査プロセスでは、S103において、電極21、22に電解液8を電気分解可能な電圧を印加する。このとき、電解液8の電気分解によって欠陥Df1近傍の表面に発生し付着する気泡Bb1は、気泡Bb1を内壁面911から離すことが可能な流速に制御されている電解液8によって除去される。これにより、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができる。したがって、第一実施形態による膜91の検査プロセスは、電解液8を電気分解可能な程度の比較的高い電圧を印加することによって微小な欠陥を検出可能としつつ、気泡による欠陥の検出間違いを防止することができるため、部材の欠陥を高精度に検出することができる。   In the inspection process of the film 91 according to the first embodiment, a voltage capable of electrolyzing the electrolytic solution 8 is applied to the electrodes 21 and 22 in S103. At this time, the bubbles Bb1 that are generated and adhered to the surface in the vicinity of the defect Df1 due to the electrolysis of the electrolyte solution 8 are removed by the electrolyte solution 8 that is controlled to have a flow velocity at which the bubble Bb1 can be separated from the inner wall surface 911. Thereby, the detection mistake of the defect by a bubble can be prevented. Therefore, the inspection process of the film 91 according to the first embodiment can prevent detection of defects due to bubbles while enabling detection of minute defects by applying a relatively high voltage capable of electrolyzing the electrolyte solution 8. Therefore, the defect of the member can be detected with high accuracy.

(第二実施形態)
次に、本発明の第二実施形態による欠陥検査装置および欠陥検査方法を図4、5に基づいて説明する。第二実施形態は、電解液8の圧力を制御可能な圧力制御部を備える点が第一実施形態と異なる。なお、第一実施形態と実質的に同一の部位には同一の符号を付し、説明を省略する。
(Second embodiment)
Next, a defect inspection apparatus and a defect inspection method according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The second embodiment is different from the first embodiment in that a pressure control unit capable of controlling the pressure of the electrolytic solution 8 is provided. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the site | part substantially the same as 1st embodiment, and description is abbreviate | omitted.

第二実施形態による欠陥検査装置2は、支持部10、電解液供給部35、電極21、22、制御部30などを備える。   The defect inspection apparatus 2 according to the second embodiment includes a support unit 10, an electrolyte solution supply unit 35, electrodes 21 and 22, a control unit 30, and the like.

電解液供給部35は、貯留タンク16、流速制御部17、圧力制御部38を有する。
圧力制御部38は、貯留タンク16と流速制御部17との間に設けられている。圧力制御部38は、流路910に供給される電解液8の圧力を制御可能である。
The electrolyte supply unit 35 includes a storage tank 16, a flow rate control unit 17, and a pressure control unit 38.
The pressure control unit 38 is provided between the storage tank 16 and the flow rate control unit 17. The pressure control unit 38 can control the pressure of the electrolyte 8 supplied to the flow path 910.

次に、第二実施形態による「欠陥検査方法」としての膜91の検査プロセスについて、図4、5に基づいて説明する。   Next, an inspection process of the film 91 as a “defect inspection method” according to the second embodiment will be described with reference to FIGS.

最初に、S201において、第一実施形態のS101と同様に、EGRクーラ90を欠陥検査装置2に取り付けた後、「液体流し工程」としてのS202において、第一実施形態のS102と同様に、EGRクーラ90内に電解液8を供給する。   First, in S201, the EGR cooler 90 is attached to the defect inspection apparatus 2 in the same manner as in S101 in the first embodiment, and then in S202 as the “liquid flowing step”, in the same manner as in S102 in the first embodiment, EGR. The electrolyte solution 8 is supplied into the cooler 90.

次に、「電圧印加工程」としてのS203において、加圧された電解液8を所定の流速で流しつつ電極21、22に電圧を印加する。S203では、電源31によって電極21、22に電圧を印加するとき、圧力制御部38において電解液8を加圧しつつ流路910に供給する。これにより、膜91の欠陥Df1近傍の内壁面911に付着している気泡は内壁面911から離れ、電解液8の流れに乗ってEGRクーラ90の外部に排出される。   Next, in S <b> 203 as the “voltage application step”, a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 while flowing the pressurized electrolyte 8 at a predetermined flow rate. In step S <b> 203, when a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 by the power supply 31, the pressure control unit 38 supplies the electrolyte solution 8 to the flow path 910 while applying pressure. Thereby, the bubbles adhering to the inner wall surface 911 in the vicinity of the defect Df1 of the film 91 are separated from the inner wall surface 911 and are discharged to the outside of the EGR cooler 90 along the flow of the electrolyte solution 8.

次に、「電流検出工程」としてのS204において、第一実施形態のS104と同様に、電流の大きさを検出し、「抵抗算出工程」としてのS205において、第一実施形態のS105と同様に、電気抵抗を算出する。
最後に、S206において、第一実施形態のS106と同様に、EGRクーラ90を欠陥検査装置2から取り外す。
第二実施形態による膜91の検査プロセスでは、このようにして、膜91の欠陥を検出する。
Next, in S204 as the “current detection step”, the magnitude of the current is detected as in S104 of the first embodiment, and in S205 as the “resistance calculation step”, as in S105 of the first embodiment. Calculate the electrical resistance.
Finally, in S206, the EGR cooler 90 is removed from the defect inspection apparatus 2 as in S106 of the first embodiment.
In the inspection process for the film 91 according to the second embodiment, defects in the film 91 are detected in this way.

本実施形態による欠陥検査装置2は、加圧された電解液8を流路910に供給可能となっている。これにより、電解液8の電気分解によって発生する気泡の大きさが第一実施形態に比べ小さくなるため、算出される電気抵抗における気泡によるノイズが比較的小さくなる。したがって、第二実施形態は、第一実施形態と同じ効果を奏するとともに、さらに微小な欠陥を検出することができる。   The defect inspection apparatus 2 according to the present embodiment can supply the pressurized electrolyte 8 to the flow path 910. Thereby, since the size of the bubbles generated by the electrolysis of the electrolytic solution 8 becomes smaller than that in the first embodiment, the noise due to the bubbles in the calculated electric resistance becomes relatively small. Therefore, the second embodiment has the same effect as the first embodiment, and can detect even smaller defects.

(第三実施形態)
次に、本発明の第三実施形態による欠陥検査方法を図6に基づいて説明する。第三実施形態は、圧力制御部が電解液8の圧力を低くする点が第二実施形態と異なる。なお、第二実施形態と実質的に同一の部位には同一の符号を付し、説明を省略する。
(Third embodiment)
Next, a defect inspection method according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. The third embodiment is different from the second embodiment in that the pressure control unit lowers the pressure of the electrolytic solution 8. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the site | part substantially the same as 2nd embodiment, and description is abbreviate | omitted.

第三実施形態による欠陥検査装置は、支持部10、電解液供給部35、電極21、22、制御部30などを備える。すなわち、第三実施形態による欠陥検査装置は、第二実施形態による欠陥検査装置2と同じ構成である。   The defect inspection apparatus according to the third embodiment includes a support unit 10, an electrolyte supply unit 35, electrodes 21, 22 and a control unit 30. That is, the defect inspection apparatus according to the third embodiment has the same configuration as the defect inspection apparatus 2 according to the second embodiment.

第三実施形態による「欠陥検査方法」としての膜91の検査プロセスについて、図6に基づいて説明する。
最初に、S301において、第二実施形態のS201と同様に、EGRクーラ90を第三実施形態による欠陥検査装置に取り付けた後、「液体流し工程」としてのS302において、第二実施形態のS202と同様に、EGRクーラ90内に電解液8を供給する。
An inspection process of the film 91 as a “defect inspection method” according to the third embodiment will be described with reference to FIG.
First, in S301, similar to S201 in the second embodiment, after the EGR cooler 90 is attached to the defect inspection apparatus according to the third embodiment, in S302 as the “liquid flowing step”, S202 of the second embodiment and Similarly, the electrolytic solution 8 is supplied into the EGR cooler 90.

次に、「電圧印加工程」としてのS303において、減圧された電解液8を所定の流速で流しつつ電極21、22に電圧を印加する。S303では、電源31によって電極21、22に電圧を印加するとき、圧力制御部38において電解液8を電解液8の蒸気圧近くまで減圧しつつ流路910に供給する。これにより、膜91の欠陥Df1近傍の内壁面911に付着している気泡は内壁面911から離れ、電解液8の流れによってEGRクーラ90の外部に排出される。   Next, in S303 as the “voltage application step”, a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 while the decompressed electrolyte 8 is allowed to flow at a predetermined flow rate. In step S <b> 303, when a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 by the power supply 31, the pressure control unit 38 supplies the electrolytic solution 8 to the flow path 910 while reducing the pressure to near the vapor pressure of the electrolytic solution 8. Thereby, the bubbles adhering to the inner wall surface 911 in the vicinity of the defect Df1 of the film 91 are separated from the inner wall surface 911 and discharged to the outside of the EGR cooler 90 by the flow of the electrolytic solution 8.

次に、「電流検出工程」としてのS304において、第二実施形態のS204と同様に、電流の大きさを検出し、「抵抗算出工程」としてのS305において、第二実施形態のS205と同様に、電気抵抗を算出する。
最後に、S306において、第二実施形態のS206と同様に、EGRクーラ90を第三実施形態による欠陥検査装置から取り外す。
第三実施形態による膜91の検査プロセスでは、このようにして、膜91の欠陥を検出する。
Next, in S304 as the “current detection step”, the magnitude of the current is detected as in S204 of the second embodiment, and in S305 as the “resistance calculation step”, as in S205 of the second embodiment. Calculate the electrical resistance.
Finally, in S306, as in S206 of the second embodiment, the EGR cooler 90 is removed from the defect inspection apparatus according to the third embodiment.
In the inspection process of the film 91 according to the third embodiment, defects in the film 91 are detected in this way.

本実施形態による膜91の検査プロセスでは、蒸気圧近くまで減圧された電解液8を流路910に供給する。これにより、電解液8の電気分解によって発生する気泡の大きさが第一実施形態に比べ大きくなるため、電解液8の慣性力による気泡への作用力が第一実施形態に比べ大きくなる。これにより、内壁面911に付着している気泡は内壁面911から離れやすくなる。したがって、第三実施形態は、第一実施形態と同じ効果を奏するとともに、気泡による欠陥の検出間違いを確実に防止することができる。   In the inspection process of the film 91 according to the present embodiment, the electrolytic solution 8 whose pressure has been reduced to near the vapor pressure is supplied to the flow path 910. Thereby, since the size of bubbles generated by electrolysis of the electrolytic solution 8 is larger than that in the first embodiment, the acting force on the bubbles due to the inertial force of the electrolytic solution 8 is larger than that in the first embodiment. Thereby, bubbles adhering to the inner wall surface 911 are easily separated from the inner wall surface 911. Therefore, the third embodiment has the same effect as the first embodiment, and can reliably prevent erroneous detection of defects due to bubbles.

また、本実施形態による膜91の検査プロセスでは、電解液8を減圧するとき、電解液8に溶存している気体を脱気することができる。これにより、電解液8中で発生する気泡の体積が小さくなる。したがって、算出される電気抵抗における気泡によるノイズが比較的小さくなるため、さらに微小な欠陥を検出することができる。   Further, in the inspection process of the film 91 according to the present embodiment, when the electrolyte solution 8 is decompressed, the gas dissolved in the electrolyte solution 8 can be degassed. Thereby, the volume of bubbles generated in the electrolyte 8 is reduced. Therefore, noise due to bubbles in the calculated electrical resistance is relatively small, and thus even smaller defects can be detected.

(第四実施形態)
次に、本発明の第四実施形態による欠陥検査装置および欠陥検査方法を図7、8に基づいて説明する。第四実施形態は、脱気処理部を備える点が第二実施形態と異なる。なお、第二実施形態と実質的に同一の部位には同一の符号を付し、説明を省略する。
(Fourth embodiment)
Next, a defect inspection apparatus and defect inspection method according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. The fourth embodiment is different from the second embodiment in that it includes a deaeration processing unit. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the site | part substantially the same as 2nd embodiment, and description is abbreviate | omitted.

第四実施形態による欠陥検査装置4は、支持部10、電解液供給部45、電極21、22、制御部30などを備える。   The defect inspection apparatus 4 according to the fourth embodiment includes a support unit 10, an electrolyte supply unit 45, electrodes 21, 22 and a control unit 30.

電解液供給部45は、貯留タンク16、流速制御部17、脱気処理部49を有する。
脱気処理部49は、貯留タンク16に設けられている。脱気処理部49は、貯留タンク16に貯留されている電解液8を、例えば、加熱によって脱気することが可能である。
The electrolyte supply unit 45 includes a storage tank 16, a flow rate control unit 17, and a deaeration processing unit 49.
The deaeration processing unit 49 is provided in the storage tank 16. The deaeration processing unit 49 can deaerate the electrolyte 8 stored in the storage tank 16 by heating, for example.

次に、第四実施形態による「欠陥検査方法」としての膜91の検査プロセスについて、図7、8に基づいて説明する。
最初に、S401において、第一実施形態のS101と同様に、EGRクーラ90を欠陥検査装置4に取り付ける。
Next, an inspection process of the film 91 as a “defect inspection method” according to the fourth embodiment will be described with reference to FIGS.
First, in S401, the EGR cooler 90 is attached to the defect inspection apparatus 4 as in S101 of the first embodiment.

次に、「脱気処理工程」としてのS402において、貯留タンク16に貯留されている電解液8を脱気する。S402では、電解液8を加熱することによって電解液8に溶存している気体を電解液8から除去する。なお、S402は、S401より前に行ってもよいし、S401と並行して行ってもよい。   Next, in S <b> 402 as “a degassing process step”, the electrolytic solution 8 stored in the storage tank 16 is degassed. In S <b> 402, the gas dissolved in the electrolytic solution 8 is removed from the electrolytic solution 8 by heating the electrolytic solution 8. Note that S402 may be performed before S401 or may be performed in parallel with S401.

次に、「液体流し工程」としてのS403において、第一実施形態のS102と同様に、EGRクーラ90内に電解液8を供給する。
次に、「電圧印加工程」としてのS404において、第一実施形態のS103と同様に、電解液8を所定の流速で流しつつ電極21、22に電圧を印加し、「電流検出工程」としてのS405において、第一実施形態のS104と同様に、電流の大きさを検出する。
次に、「抵抗算出工程」としてのS406において、第一実施形態のS105と同様に、電気抵抗を算出し、S407において、第一実施形態のS106と同様に、EGRクーラ90を欠陥検査装置4から取り外す。
第四実施形態による膜91の検査プロセスでは、このようにして、膜91の欠陥を検出する。
Next, in S403 as the “liquid flowing step”, the electrolytic solution 8 is supplied into the EGR cooler 90 as in S102 of the first embodiment.
Next, in S404 as the “voltage application step”, similarly to S103 in the first embodiment, a voltage is applied to the electrodes 21 and 22 while flowing the electrolyte 8 at a predetermined flow rate, and the “current detection step” is performed. In S405, the magnitude of the current is detected as in S104 of the first embodiment.
Next, in S406 as the “resistance calculation step”, the electrical resistance is calculated as in S105 of the first embodiment, and in S407, the EGR cooler 90 is connected to the defect inspection apparatus 4 as in S106 of the first embodiment. Remove from.
In the inspection process of the film 91 according to the fourth embodiment, defects in the film 91 are detected in this way.

本実施形態による欠陥検査装置4は、貯留タンク16に貯留されている電解液8を脱気することが可能である。これにより、電解液8に溶存している気体が少なくなるため、当該溶存気体による気泡の発生量が少なくなる。したがって、第四実施形態は、第一実施形態と同じ効果を奏するとともに、気泡による欠陥の検出間違いを確実に防止することができる。   The defect inspection apparatus 4 according to the present embodiment can deaerate the electrolytic solution 8 stored in the storage tank 16. Thereby, since the gas dissolved in the electrolyte solution 8 decreases, the amount of bubbles generated by the dissolved gas decreases. Therefore, the fourth embodiment has the same effect as the first embodiment, and can reliably prevent a detection error due to bubbles.

(他の実施形態)
上述の実施形態では、欠陥検査装置は、EGRクーラの内壁に形成されている「部材」としての中空筒状の膜の欠陥を検出可能であるとした。しかしながら、欠陥検査装置が欠陥を検出可能な「部材」はこれに限定されない。表面を流れる導電性液体に比べ抵抗が大きい絶縁材料から形成されていればよい。したがって、上述の実施形態のように、中空筒状の部材でなくてもよい。
(Other embodiments)
In the above-described embodiment, the defect inspection apparatus can detect a defect of a hollow cylindrical film as a “member” formed on the inner wall of the EGR cooler. However, the “member” that the defect inspection apparatus can detect a defect is not limited to this. What is necessary is just to be formed from the insulating material with large resistance compared with the electroconductive liquid which flows on the surface. Therefore, it does not have to be a hollow cylindrical member as in the above-described embodiment.

上述の実施形態では、「導電性液体」としての電解液は、水、電解質、および、「界面活性剤」としてのエタノールを混合したものとした。しかしながら、導電性液体は、これに限定されない。部材に比べ電気を通しやすい液体であればよい。また、界面活性剤は含まれていなくてもよい。   In the above-described embodiment, the electrolytic solution as the “conductive liquid” is a mixture of water, an electrolyte, and ethanol as the “surfactant”. However, the conductive liquid is not limited to this. Any liquid may be used as long as it is easier to conduct electricity than the member. Further, the surfactant may not be contained.

上述の二つの電極のうち一つは、電解液供給部とEGRクーラとを接続する配管に設けられるとした。しかしながら、二つの電極は、それぞれ異なる位置において膜と電気的に接続可能に設けられればよい。   One of the two electrodes described above is provided in a pipe connecting the electrolyte supply unit and the EGR cooler. However, the two electrodes may be provided so as to be electrically connected to the membrane at different positions.

第三実施形態では、圧力制御部は、電解液を電解液の蒸気圧近くまで減圧しつつ流路に供給するとした。しかしながら、圧力制御部が制御する電解液の減圧の度合いはこれに限定されない。電解液の蒸気圧より高ければよい。   In the third embodiment, the pressure controller supplies the flow path while reducing the electrolyte solution to near the vapor pressure of the electrolyte solution. However, the degree of pressure reduction of the electrolyte controlled by the pressure control unit is not limited to this. It only needs to be higher than the vapor pressure of the electrolyte.

第四実施形態による欠陥検査装置が第二、三実施形態による欠陥検査装置が備える圧力制御部を備えてもよい。   The defect inspection apparatus according to the fourth embodiment may include a pressure control unit included in the defect inspection apparatus according to the second and third embodiments.

上述の実施形態では、電圧印加部は、一定の大きさの直流電圧を二つの電極に印加するとした。しかしながら、電圧印加部が二つの電極に印加する電圧の大きさ及び時間変化はこれに限定されない。例えば、徐々に電圧を大きくしていき、変化する電圧に対する電流の変化から欠陥の状態を判定してもよい。また、交流電圧を印加して欠陥の状態を判定してもよい。   In the above-described embodiment, the voltage application unit applies a constant DC voltage to the two electrodes. However, the magnitude and time change of the voltage applied to the two electrodes by the voltage application unit are not limited to this. For example, the voltage may be gradually increased, and the state of the defect may be determined from a change in current with respect to the changing voltage. Moreover, you may determine the state of a defect by applying an alternating voltage.

上述の実施形態では、電流検出部は、「第一の電極」としての電極21を流れる電流を検出するとした。しかしながら、電極22を「第一の電極」として電極22を流れる電流を検出してもよい。すなわち、電極21と電極22とは、膜91に対して設けられている位置が異なっているだけであって、電極21を「第一の電極」としてもよいし、「第二の電極」としてもよい。   In the above-described embodiment, the current detection unit detects the current flowing through the electrode 21 as the “first electrode”. However, the current flowing through the electrode 22 may be detected using the electrode 22 as the “first electrode”. That is, the electrode 21 and the electrode 22 differ only in the positions provided with respect to the film 91, and the electrode 21 may be a “first electrode” or a “second electrode”. Also good.

以上、本発明はこのような実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の形態で実施可能である。   As mentioned above, this invention is not limited to such embodiment, It can implement with a various form in the range which does not deviate from the summary.

1、2、4・・・欠陥検査装置
8・・・電解液(導電性液体)
17・・・流速制御部
21・・・電極(第一の電極)
22・・・電極(第二の電極)
31・・・電源(電圧印加部)
32・・・電流検出部
33・・・抵抗算出部
91・・・膜(部材)
911・・・内壁面(表面)
1, 2, 4 ... Defect inspection device 8 ... Electrolyte (conductive liquid)
17 ... Flow rate control unit 21 ... Electrode (first electrode)
22 ... Electrode (second electrode)
31 ... Power supply (voltage application unit)
32 ... Current detection part 33 ... Resistance calculation part 91 ... Membrane (member)
911 ... Inner wall surface (surface)

Claims (10)

絶縁材料から形成されている部材(91)の欠陥を検出する欠陥検査装置であって、
前記部材の表面(911)を流れる導電性液体(8)を貯留可能な貯留タンク(16)と、
前記部材と電気的に接続可能な第一の電極(21)と、
前記第一の電極とは異なる位置において前記部材と電気的に接続可能な第二の電極(22)と、
前記第一の電極および前記第二の電極と電気的に接続し、前記表面を流れる前記導電性液体を電気分解可能な電圧を前記第一の電極および前記第二の電極に印加可能な電圧印加部(31)と、
前記第一の電極を流れる電流の大きさを検出可能な電流検出部(32)と、
前記電圧印加部が印加する電圧の大きさと前記電流検出部が検出する電流の大きさとに基づいて前記表面に前記導電性液体が流れているときの前記部材の電気抵抗を算出可能な抵抗算出部(33)と、
前記表面を流れる前記導電性液体の流速を前記表面に付着している気泡(Bb1)を前記表面から離すことが可能な流速に制御可能な流速制御部(17)と、
を備える欠陥検査装置。
A defect inspection apparatus for detecting a defect of a member (91) formed of an insulating material,
A storage tank (16) capable of storing the conductive liquid (8) flowing on the surface (911) of the member;
A first electrode (21) electrically connectable to the member;
A second electrode (22) electrically connectable to the member at a position different from the first electrode;
A voltage application that is electrically connected to the first electrode and the second electrode and that can apply a voltage capable of electrolyzing the conductive liquid flowing on the surface to the first electrode and the second electrode. Part (31);
A current detector (32) capable of detecting the magnitude of the current flowing through the first electrode;
A resistance calculation unit capable of calculating the electrical resistance of the member when the conductive liquid is flowing on the surface based on the magnitude of the voltage applied by the voltage application unit and the magnitude of the current detected by the current detection unit (33)
A flow rate controller (17) capable of controlling the flow rate of the conductive liquid flowing on the surface to a flow rate capable of separating the bubbles (Bb1) attached to the surface from the surface;
A defect inspection apparatus comprising:
前記表面を流れる前記導電性液体の圧力を制御可能な圧力制御部(38)をさらに備える請求項1に記載の欠陥検査装置。   The defect inspection apparatus according to claim 1, further comprising a pressure control unit (38) capable of controlling a pressure of the conductive liquid flowing on the surface. 前記圧力制御部は、前記導電性液体の圧力を前記導電性液体の蒸気圧近くまで減圧可能な請求項2に記載の欠陥検査装置。   The defect inspection apparatus according to claim 2, wherein the pressure control unit can reduce the pressure of the conductive liquid to near the vapor pressure of the conductive liquid. 前記導電性液体は、界面活性剤を含む請求項1〜3のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。   The defect inspection apparatus according to claim 1, wherein the conductive liquid includes a surfactant. 前記表面を流れる前の前記導電性液体を脱気可能な脱気処理部(49)をさらに備える請求項1〜4のいずれか一項に記載の欠陥検査装置。   The defect inspection apparatus as described in any one of Claims 1-4 further equipped with the deaeration process part (49) which can deaerate the said conductive liquid before flowing through the said surface. 絶縁材料から形成されている部材(91)の欠陥を検出する欠陥検査方法であって、
前記部材の表面(911)に導電性液体(8)を流す液体流し工程と、
前記表面を流れる前記導電性液体の流速を前記表面に付着している気泡(Bb1)を前記表面から離すことが可能な流速に制御しつつ、前記部材と電気的に接続する第一の電極(21)および前記第一の電極とは異なる位置において前記部材と電気的に接続する第二の電極(22)に前記導電性液体を電気分解可能な電圧を印加する電圧印加工程と、
前記第一の電極を流れる電流の大きさを検出する電流検出工程と、
前記電圧印加工程において前記第一の電極および前記第二の電極に印加した電圧の大きさと前記電流検出工程において検出した前記第一の電極を流れる電流の大きさとに基づいて、前記表面に前記導電性液体が流れているときの前記部材の電気抵抗を算出する抵抗算出工程と、
を含む欠陥検査方法。
A defect inspection method for detecting a defect of a member (91) formed of an insulating material,
A liquid flow step of flowing a conductive liquid (8) over the surface (911) of the member;
A first electrode that is electrically connected to the member while controlling the flow rate of the conductive liquid flowing on the surface to a flow rate at which bubbles (Bb1) adhering to the surface can be separated from the surface ( 21) and a voltage applying step of applying a voltage capable of electrolyzing the conductive liquid to the second electrode (22) electrically connected to the member at a position different from the first electrode;
A current detection step of detecting the magnitude of the current flowing through the first electrode;
Based on the magnitude of the voltage applied to the first electrode and the second electrode in the voltage application step and the magnitude of the current flowing through the first electrode detected in the current detection step, the conductive material is applied to the surface. A resistance calculating step of calculating the electrical resistance of the member when the ionic liquid is flowing;
Including defect inspection method.
前記電圧印加工程において、減圧された前記導電性液体を前記表面に流しつつ前記第一の電極および前記第二の電極に電圧を印加する請求項6に記載の欠陥検査方法。   The defect inspection method according to claim 6, wherein, in the voltage application step, a voltage is applied to the first electrode and the second electrode while flowing the reduced conductive liquid on the surface. 前記電圧印加工程において、前記表面に流れる前記導電性液体の圧力を前記導電性液体の蒸気圧近くまで減圧する請求項7に記載の欠陥検査方法。   The defect inspection method according to claim 7, wherein in the voltage application step, the pressure of the conductive liquid flowing on the surface is reduced to near the vapor pressure of the conductive liquid. 前記電圧印加工程において、加圧された前記導電性液体を前記表面に流しつつ前記第一の電極および前記第二の電極に電圧を印加する請求項6に記載の欠陥検査方法。   The defect inspection method according to claim 6, wherein in the voltage application step, a voltage is applied to the first electrode and the second electrode while flowing the pressurized conductive liquid on the surface. 前記液体流し工程の前に、前記表面を流れる前の前記導電性液体を脱気する脱気処理工程をさらに含む請求項6〜9のいずれか一項に記載の欠陥検査方法。   The defect inspection method according to any one of claims 6 to 9, further comprising a deaeration process step of degassing the conductive liquid before flowing on the surface before the liquid flow step.
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