JP2017199478A - Insulated wire and method for manufacturing insulated wire - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an insulated wire excellent in welding resistance and insulating properties.SOLUTION: An insulated wire according to one embodiment of the present invention includes a conductor and an insulating layer covering an outer peripheral surface of the conductor, where the insulating layer has a hole layer which contains a hole and is laminated directly on the conductor and a solid layer containing no hole. A porosity of the porous layer is preferably 5 vol.% or more and 80 vol.% or less. An average diameter of the holes is preferably 0.1 μm or more and 30 μm or less. A ratio of the average thickness of the solid layer to the average thickness of the hole layer is preferably 5% or more and 700% or less. A method for manufacturing an insulated wire according to another embodiment of the present invention is a method for manufacturing an insulated wire including a conductor and an insulating layer covering an outer peripheral surface of the conductor, where the insulating layer has a hole layer which contains a hole and is laminated directly on the conductor and a solid layer containing no hole, the method including a first application step of applying a first resin composition containing a resin and a hole forming agent onto the conductor.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、絶縁電線及び絶縁電線の製造方法に関する。   The present invention relates to an insulated wire and a method for producing an insulated wire.

一般家庭用電気機器、自動車等の構成要素、例えばモータ、オルタネータ、イグニッション等に、絶縁電線を巻回してなるコイルが用いられている。このようなコイルを形成する絶縁電線は、導電性を有する金属製の導体と、これを被覆する樹脂製の絶縁層とから構成されるものが一般的である。   A coil formed by winding an insulated wire is used for components such as general household electric appliances and automobiles such as a motor, an alternator, and an ignition. The insulated wire forming such a coil is generally composed of a conductive metal conductor and a resin insulating layer covering the conductive conductor.

例えば自動車用のモータ等に用いられるコイルに絶縁電線を使用する場合、短尺の絶縁電線同士を溶接により繋ぎ合わせ長尺のコイルを形成する方法が採られることがある。溶接はTIG溶接等の電気溶接で行われ、一定の電流を通電することで溶接部の温度を上げて導体同士を接続する。通常、溶接の作業効率を上げるため高電流が用いられるが、例えば絶縁層の耐溶接性が低い場合には、発泡が絶縁層中において生じ絶縁層が劣化するおそれがある。そのため、耐溶接性が高い絶縁電線が求められている。また、そのような耐溶接性に加え、高電流を流した場合でも絶縁破壊が生じない高い絶縁性が求められている。   For example, when an insulated wire is used for a coil used in an automobile motor or the like, a method of joining short insulated wires together by welding to form a long coil may be employed. Welding is performed by electric welding such as TIG welding, and the conductor is connected by raising the temperature of the welded portion by passing a constant current. Usually, a high current is used to increase the working efficiency of welding. However, for example, when the insulation resistance of the insulating layer is low, foaming may occur in the insulating layer and the insulating layer may be deteriorated. Therefore, an insulated wire with high weld resistance is required. In addition to such weld resistance, there is a demand for high insulation that does not cause dielectric breakdown even when a high current is passed.

これに対し、絶縁層に含まれるポリイミドを構成する各単量体を適宜選択することで、耐溶接性及び絶縁性を向上させた絶縁電線が開発されている(特開2014−007065号公報参照)。   On the other hand, the insulated wire which improved the welding resistance and insulation by selecting each monomer which comprises the polyimide contained in an insulating layer suitably is developed (refer Unexamined-Japanese-Patent No. 2014-007065). ).

特開2014−007065号公報JP 2014-007065 A

しかしながら、上記従来の絶縁電線の耐溶接性は十分ではなく、材料の選択による耐溶接性及び絶縁性の向上には限界がある。   However, the above-described conventional insulated wire has insufficient weld resistance, and there is a limit to improving the weld resistance and insulation by selecting materials.

本発明は以上のような事情に基づいてなされたものであり、耐溶接性及び絶縁性に優れる絶縁電線を提供することを目的とする。   This invention is made | formed based on the above situations, and it aims at providing the insulated wire excellent in weld resistance and insulation.

上記課題を解決するためになされた本発明の一態様に係る絶縁電線は、導体と、この導体の外周面を被覆する絶縁層とを備える絶縁電線であって、上記絶縁層が、空孔を含み、上記導体に直接積層される空孔層と、空孔を含まない中実層とを有する絶縁電線である。   An insulated wire according to one aspect of the present invention made to solve the above problems is an insulated wire comprising a conductor and an insulating layer covering the outer peripheral surface of the conductor, and the insulating layer has pores. An insulated wire including a hole layer that is directly stacked on the conductor and a solid layer that does not include a hole.

本発明の別の一態様に係る絶縁電線の製造方法は、導体と、この導体の外周面を被覆する絶縁層とを備え、上記絶縁層が、空孔を含み、上記導体に直接積層される空孔層と、空孔を含まない中実層とを有する絶縁電線の製造方法であって、樹脂及び空孔形成剤を含有する第1樹脂組成物を導体上に塗布する第1塗布工程と、上記第1塗布工程で塗布された第1層を加熱する第1加熱工程と、上記第1加熱工程で形成された空孔層上に、樹脂を含有する第2樹脂組成物を塗布する第2塗布工程と、上記第2塗布工程で形成された第2層を加熱する第2加熱工程とを備える絶縁電線の製造方法である。   The manufacturing method of the insulated wire which concerns on another one aspect | mode of this invention is equipped with a conductor and the insulating layer which coat | covers the outer peripheral surface of this conductor, and the said insulating layer contains a void | hole and is laminated | stacked directly on the said conductor. A method of manufacturing an insulated wire having a hole layer and a solid layer not including holes, a first application step of applying a first resin composition containing a resin and a hole forming agent on a conductor; A first heating step for heating the first layer applied in the first application step, and a second resin composition containing a resin on the pore layer formed in the first heating step. It is a manufacturing method of an insulated wire provided with the 2 application | coating process and the 2nd heating process which heats the 2nd layer formed at the said 2nd application | coating process.

当該絶縁電線は、絶縁層が導体に直接積層された空孔層及びその外側に設けられた中実層を備えるため、耐溶接性及び絶縁性に優れる。また、当該絶縁電線の製造方法によれば、このような絶縁電線を容易かつ確実に製造することができる。   Since the insulated wire includes a hole layer in which an insulating layer is directly laminated on a conductor and a solid layer provided on the outside thereof, the insulated wire is excellent in welding resistance and insulation. Moreover, according to the manufacturing method of the said insulated wire, such an insulated wire can be manufactured easily and reliably.

図1は、本発明の実施形態に係る絶縁電線の模式的断面図である。FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an insulated wire according to an embodiment of the present invention. 図2は、耐溶接性の試験方法を模式的に示した概略図である。FIG. 2 is a schematic diagram schematically showing a welding resistance test method.

[本発明の実施形態の説明]
本発明の一態様に係る絶縁電線は、導体と、この導体の外周面を被覆する絶縁層とを備える絶縁電線であって、上記絶縁層が、空孔を含み、上記導体に直接積層される空孔層と、空孔を含まない中実層とを有する絶縁電線である。
[Description of Embodiment of the Present Invention]
An insulated wire according to an aspect of the present invention is an insulated wire including a conductor and an insulating layer covering an outer peripheral surface of the conductor, and the insulating layer includes a hole and is directly laminated on the conductor. It is an insulated wire having a hole layer and a solid layer not including holes.

当該絶縁電線は、絶縁層が高い断熱性を有する空孔層を導体に接して有することで、絶縁層の熱による劣化を抑えることができる。そのため、当該絶縁電線は耐溶接性に優れる。また、当該絶縁電線は、絶縁層が空孔を含まない中実層を備えるため、絶縁層の絶縁性を向上でき、絶縁破壊を抑制することができる。さらに、当該絶縁電線は、絶縁層が空孔層を備えることで、絶縁層に可撓性を付与することができる。このように、当該絶縁電線は、絶縁層が導体に直接積層される空孔層と、中実層とを備えるため、耐溶接性、絶縁性及び可撓性に優れる。   The said insulated wire can suppress deterioration by the heat | fever of an insulating layer because the insulating layer has the hole layer which has high heat insulation in contact with a conductor. Therefore, the insulated wire is excellent in weld resistance. Moreover, since the said insulated wire is provided with the solid layer in which an insulating layer does not contain a void | hole, the insulation of an insulating layer can be improved and a dielectric breakdown can be suppressed. Furthermore, the said insulated wire can provide flexibility to an insulating layer because an insulating layer is provided with a void layer. Thus, since the said insulated wire is provided with the void | hole layer by which an insulating layer is directly laminated | stacked on a conductor, and a solid layer, it is excellent in welding resistance, insulation, and flexibility.

上記空孔層の空孔率としては、5体積%以上80体積%以下が好ましい。このように、空孔層の空孔率を上記範囲とすることで、絶縁層の熱による劣化を効果的に抑制することができる。ここで「空孔率」とは、空孔層の容積に対する空孔層に含まれる全ての空孔の合計体積の比率を意味し、百分率で表される。   The porosity of the pore layer is preferably 5% by volume or more and 80% by volume or less. Thus, the deterioration by the heat | fever of an insulating layer can be effectively suppressed by making the porosity of a void | hole layer into the said range. Here, “porosity” means the ratio of the total volume of all the pores contained in the pore layer to the volume of the pore layer, and is expressed as a percentage.

上記空孔の平均径としては、0.1μm以上30μm以下が好ましい。このように、空孔の平均径を上記範囲とすることで、絶縁層の熱による劣化を確実に抑制することができ、耐溶接性を向上させることができる。ここで、「空孔の平均径」とは、空孔層に含まれる全ての空孔について、空孔の容積に相当する真球の直径を平均した値を意味する。なお、絶縁層が複数の空孔層を有する場合、「空孔の平均径」とは、全ての空孔層に含まれる空孔について上記直径を平均した値を意味する。   The average diameter of the holes is preferably 0.1 μm or more and 30 μm or less. Thus, by making the average diameter of the pores within the above range, deterioration of the insulating layer due to heat can be reliably suppressed, and the weld resistance can be improved. Here, the “average diameter of the holes” means a value obtained by averaging the diameters of the true spheres corresponding to the volume of the holes for all the holes included in the hole layer. In the case where the insulating layer has a plurality of pore layers, the “average diameter of the pores” means a value obtained by averaging the diameters of the pores included in all the pore layers.

上記空孔層の平均厚さに対する上記中実層の平均厚さの比率としては、5%以上700%以下が好ましい。このように上記空孔層の平均厚さに対する上記中実層の平均厚さの比率を上記範囲とすることで、耐溶接性、絶縁性、及び可撓性を向上させることができる。   The ratio of the average thickness of the solid layer to the average thickness of the pore layer is preferably 5% or more and 700% or less. Thus, welding resistance, insulation, and flexibility can be improved by setting the ratio of the average thickness of the solid layer to the average thickness of the pore layer in the above range.

本発明の別の一態様に係る絶縁電線の製造方法は、導体と、この導体の外周面を被覆する絶縁層とを備え、上記絶縁層が、空孔を含み、上記導体に直接積層される空孔層と、空孔を含まない中実層とを有する絶縁電線の製造方法であって、樹脂及び空孔形成剤を含有する第1樹脂組成物を導体上に塗布する第1塗布工程と、上記第1塗布工程で塗布された第1層を加熱する第1加熱工程と、上記第1加熱工程で形成された空孔層上に、樹脂を含有する第2樹脂組成物を塗布する第2塗布工程と、上記第2塗布工程で形成された第2層を加熱する第2加熱工程とを備える絶縁電線の製造方法である。   The manufacturing method of the insulated wire which concerns on another one aspect | mode of this invention is equipped with a conductor and the insulating layer which coat | covers the outer peripheral surface of this conductor, and the said insulating layer contains a void | hole and is laminated | stacked directly on the said conductor. A method of manufacturing an insulated wire having a hole layer and a solid layer not including holes, a first application step of applying a first resin composition containing a resin and a hole forming agent on a conductor; A first heating step for heating the first layer applied in the first application step, and a second resin composition containing a resin on the pore layer formed in the first heating step. It is a manufacturing method of an insulated wire provided with the 2 application | coating process and the 2nd heating process which heats the 2nd layer formed at the said 2nd application | coating process.

当該絶縁電線の製造方法は、空孔を含む空孔層を導体に直接積層させる。空孔内には断熱効果の高い空気が閉じ込められているため、このような空孔を含む空孔層は耐熱性に優れ、それにより当該絶縁電線は耐溶接性に優れる。また、当該絶縁電線の製造方法は、空孔を含まない中実層を上述の空孔層上に形成する。中実層は空孔を有しないため得られる絶縁電線は絶縁性に優れる。そのため、当該絶縁電線の製造方法は、耐溶接性及び絶縁性に優れる絶縁電線を製造することができる。   In the method for manufacturing the insulated wire, a hole layer including holes is directly laminated on a conductor. Since air having a high heat insulating effect is confined in the holes, the hole layer including such holes has excellent heat resistance, and thus the insulated wire has excellent weld resistance. Moreover, the manufacturing method of the said insulated wire forms the solid layer which does not contain a hole on the above-mentioned hole layer. Since the solid layer does not have pores, the obtained insulated wire is excellent in insulation. Therefore, the manufacturing method of the said insulated wire can manufacture the insulated wire which is excellent in welding resistance and insulation.

[本発明の実施形態の詳細]
以下、図面を参照しつつ、本発明の実施形態に係る絶縁電線及び絶縁電線の製造方法を説明する。
[Details of the embodiment of the present invention]
Hereinafter, an insulated wire and a method for manufacturing an insulated wire according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

[絶縁電線]
図1の当該絶縁電線は、導体1と、この導体1の外周面を被覆する絶縁層2とを備える。絶縁層2は、空孔5を含み、導体1に直接積層される空孔層3と、この空孔層3の外周面に積層され、空孔を含まない中実層4とを主に有する。
[Insulated wire]
The insulated wire in FIG. 1 includes a conductor 1 and an insulating layer 2 that covers the outer peripheral surface of the conductor 1. The insulating layer 2 mainly includes a hole layer 3 that includes holes 5 and is directly stacked on the conductor 1, and a solid layer 4 that is stacked on the outer peripheral surface of the hole layer 3 and does not include holes. .

<導体>
上記導体1は、例えば断面が円形状の丸線とされるが、断面が方形状の角線や、複数の素線を撚り合わせた撚り線であってもよい。
<Conductor>
The conductor 1 is, for example, a round wire having a circular cross section, but may be a square wire having a square cross section or a stranded wire obtained by twisting a plurality of strands.

導体1の材質としては、導電率が高くかつ機械的強度が大きい金属が好ましい。このような金属としては、例えば銅、銅合金、アルミニウム、ニッケル、銀、鉄、鋼、ステンレス鋼等が挙げられる。導体1は、これらの金属を線状に形成した材料や、このような線状の材料にさらに別の金属を被覆した多層構造のもの、例えばニッケル被覆銅線、銀被覆銅線、銅被覆アルミ線、銅被覆鋼線等を用いることができる。   The material of the conductor 1 is preferably a metal having high electrical conductivity and high mechanical strength. Examples of such metals include copper, copper alloys, aluminum, nickel, silver, iron, steel, and stainless steel. The conductor 1 is a material in which these metals are formed in a linear shape, or a multilayer structure in which such a linear material is coated with another metal, such as a nickel-coated copper wire, a silver-coated copper wire, or a copper-coated aluminum. Wire, copper-coated steel wire, etc. can be used.

導体1の平均断面積の下限としては、0.01mmが好ましく、0.1mmがより好ましい。一方、導体1の平均断面積の上限としては、10mmが好ましく、5mmがより好ましい。導体1の平均断面積が上記下限に満たない場合、導体1に対する絶縁層2の体積が大きくなり、当該絶縁電線を用いて形成されるコイル等の体積効率が低くなるおそれがある。逆に、導体1の平均断面積が上記上限を超える場合、誘電率を十分に低下させるために絶縁層2を厚く形成しなければならず、当該絶縁電線が不必要に大径化するおそれがある。 The lower limit of the average cross-sectional area of the conductor 1, preferably from 0.01 mm 2, 0.1 mm 2 is more preferable. In contrast, the upper limit of the average cross-sectional area of the conductor 1, preferably from 10 mm 2, 5 mm 2 is more preferable. When the average cross-sectional area of the conductor 1 is less than the lower limit, the volume of the insulating layer 2 with respect to the conductor 1 increases, and the volume efficiency of a coil or the like formed using the insulated wire may be reduced. Conversely, when the average cross-sectional area of the conductor 1 exceeds the above upper limit, the insulating layer 2 must be formed thick in order to sufficiently reduce the dielectric constant, and the insulated wire may be unnecessarily increased in diameter. is there.

<絶縁層>
上記絶縁層2は、空孔5を含み、導体1に直接積層される空孔層3と、空孔層3の外周面に積層され、空孔を含まない中実層4とを有する。
<Insulating layer>
The insulating layer 2 includes a hole layer 3 that includes holes 5 and is directly stacked on the conductor 1, and a solid layer 4 that is stacked on the outer peripheral surface of the hole layer 3 and does not include holes.

絶縁層2の平均厚さの下限としては、30μmが好ましく、40μmがより好ましい。一方、絶縁層2の平均厚さの上限としては、200μmが好ましく、180μmがより好ましい。絶縁層2の平均厚さが上記下限に満たない場合、絶縁層2に破れが生じ、導体1の絶縁が不十分となるおそれがある。逆に、絶縁層2の平均厚さが上記上限を超える場合、当該絶縁電線を用いて形成されるコイル等の体積効率が低くなるおそれがある。   As a minimum of average thickness of insulating layer 2, 30 micrometers is preferred and 40 micrometers is more preferred. On the other hand, the upper limit of the average thickness of the insulating layer 2 is preferably 200 μm and more preferably 180 μm. If the average thickness of the insulating layer 2 is less than the lower limit, the insulating layer 2 may be broken and the conductor 1 may be insufficiently insulated. On the contrary, when the average thickness of the insulating layer 2 exceeds the upper limit, the volume efficiency of a coil or the like formed using the insulated wire may be lowered.

(空孔層)
上記空孔層3は、樹脂組成物と空孔5とから構成されている。
(Hole layer)
The hole layer 3 is composed of a resin composition and holes 5.

空孔層3を形成する樹脂組成物の主成分の樹脂としては、特に限定されないが、例えばポリエーテルサルフォン、ポリエーテルイミド、ポリカーボネート、ポリフェニルサルフォン、ポリサルフォン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエーテルエーテルケトン等の熱可塑性樹脂や、例えばポリビニールホルマール、熱硬化ポリウレタン、熱硬化アクリル、エポキシ、熱硬化ポリエステル、熱硬化ポリエステルイミド、熱硬化ポリエステルアミドイミド、芳香族ポリアミド、熱硬化ポリアミドイミド、熱硬化ポリイミド等の熱硬化性樹脂が使用できる。なお、絶縁層2の可撓性を維持し易い点で、空孔層3を形成する樹脂として熱硬化性樹脂よりも熱可塑性樹脂が好ましい。また、これらの熱可塑性樹脂の中でも、誘電率が低く絶縁層2の誘電率を低下させ易い点で、ポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。ここで「主成分」とは、最も含有量の多い成分であり、例えば50質量%以上含有される成分である。   The main component resin of the resin composition forming the pore layer 3 is not particularly limited, but examples thereof include polyether sulfone, polyether imide, polycarbonate, polyphenyl sulfone, polysulfone, polyethylene terephthalate, polyether ether ketone, and the like. Thermoplastic resins such as polyvinyl formal, thermosetting polyurethane, thermosetting acrylic, epoxy, thermosetting polyester, thermosetting polyester imide, thermosetting polyester amide imide, aromatic polyamide, thermosetting polyamide imide, thermosetting polyimide, etc. A thermosetting resin can be used. Note that a thermoplastic resin is more preferable than a thermosetting resin as the resin for forming the pore layer 3 in that the flexibility of the insulating layer 2 can be easily maintained. Among these thermoplastic resins, polyethylene terephthalate is particularly preferable because it has a low dielectric constant and can easily reduce the dielectric constant of the insulating layer 2. Here, the “main component” is a component having the largest content, for example, a component contained in an amount of 50% by mass or more.

また、空孔層3を形成する樹脂組成物に、上記樹脂と共に硬化剤を含有させてもよい。硬化剤としては、チタン系硬化剤、イソシアネート系化合物、ブロックイソシアネート、尿素やメラミン化合物、アミノ樹脂、メチルテトラヒドロ無水フタル酸などの脂環式酸無水物、脂肪族酸無水物、芳香族酸無水物などが例示される。これらの硬化剤は、使用する樹脂組成物が含有する樹脂の種類に応じて、適宜選択される。例えばポリアミドイミド系の場合、硬化剤として、イミダゾール、トリエチルアミン等が好ましく用いられる。   Moreover, you may make the resin composition which forms the void | hole layer 3 contain a hardening | curing agent with the said resin. Curing agents include titanium-based curing agents, isocyanate compounds, blocked isocyanates, urea and melamine compounds, amino resins, alicyclic acid anhydrides such as methyltetrahydrophthalic anhydride, aliphatic acid anhydrides, and aromatic acid anhydrides. Etc. are exemplified. These curing agents are appropriately selected according to the type of resin contained in the resin composition to be used. For example, in the case of polyamideimide, imidazole, triethylamine and the like are preferably used as the curing agent.

なお、上記チタン系硬化剤としては、テトラプロピルチタネート、テトライソプロピルチタネート、テトラメチルチタネート、テトラブチルチタネート、テトラヘキシルチタネートなどが例示される。上記イソシアネート系化合物としては、トリレンジイソシアネート(TDI)、ジフェニルメタンイソシアネート(MDI)、p−フェニレンジイソシアネート、ナフタレンジイソシアネートなどの芳香族ジイソシアネート、ヘキサメチレンジイソシアネート(HDI)、2,2,4−トリメチルヘキサンジイソシアネート、リジンジイソシアネートなどの炭素数3〜12の脂肪族ジイソシアネート、1,4−シクロヘキサンジイソシアネート(CDI)、イソホロンジイソシアネート(IPDI)、4,4’−ジシクロヘキシルメタンジイソシアネート(水添MDI)、メチルシクロヘキサンジイソシアネート、イソプロピリデンジシクロヘキシル−4,4’−ジイソシアネート、1,3−ジイソシアナトメチルシクロヘキサン(水添XDI)、水添TDI、2,5−ビス(イソシアナートメチル)−ビシクロ[2,2,1]ヘプタン、2,6−ビス(イソシアナートメチル)−ビシクロ[2,2,1]ヘプタンなどの炭素数5〜18の脂環式イソシアネート、キシリレインジイソシアネート(XDI)、テトラメチルキシリレンジイソシアネート(TMXDI)などの芳香環を有する脂肪族ジイソシアネート、これらの変性物などが例示される。上記ブロックイソシアネートとしては、ジフェニルメタン−4,4’−ジイソシアネート(MDI)、ジフェニルメタン−3,3’−ジイソシアネート、ジフェニルメタン−3,4’−ジイソシアネート、ジフェニルエーテル−4,4’−ジイソシアネート、ベンゾフェノン−4,4’−ジイソシアネート、ジフェニルスルホン−4,4’−ジイソシアネート、トリレン−2,4−ジイソシアネート、トリレン−2,6−ジイソシアネート、ナフチレン−1,5−ジイソシアネート、m−キシリレンジイソシアネート、p−キシリレンジイソシアネートなどが例示される。上記メラミン化合物としては、メチル化メラミン、ブチル化メラミン、メチロール化メラミン、ブチロール化メラミンなどが例示される。   Examples of the titanium-based curing agent include tetrapropyl titanate, tetraisopropyl titanate, tetramethyl titanate, tetrabutyl titanate, and tetrahexyl titanate. Examples of the isocyanate compound include aromatic diisocyanates such as tolylene diisocyanate (TDI), diphenylmethane isocyanate (MDI), p-phenylene diisocyanate, and naphthalene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate (HDI), 2,2,4-trimethylhexane diisocyanate, C3-C12 aliphatic diisocyanate such as lysine diisocyanate, 1,4-cyclohexane diisocyanate (CDI), isophorone diisocyanate (IPDI), 4,4′-dicyclohexylmethane diisocyanate (hydrogenated MDI), methylcyclohexane diisocyanate, isopropylidene Dicyclohexyl-4,4′-diisocyanate, 1,3-diisocyanatomethylcyclohexane (hydrogenated XD ), Hydrogenated TDI, carbon such as 2,5-bis (isocyanatomethyl) -bicyclo [2,2,1] heptane, 2,6-bis (isocyanatomethyl) -bicyclo [2,2,1] heptane Examples thereof include aliphatic diisocyanates having an aromatic ring such as alicyclic isocyanate, xylylene diisocyanate (XDI) and tetramethylxylylene diisocyanate (TMXDI), and modified products thereof. Examples of the blocked isocyanate include diphenylmethane-4,4′-diisocyanate (MDI), diphenylmethane-3,3′-diisocyanate, diphenylmethane-3,4′-diisocyanate, diphenylether-4,4′-diisocyanate, and benzophenone-4,4. '-Diisocyanate, diphenylsulfone-4,4'-diisocyanate, tolylene-2,4-diisocyanate, tolylene-2,6-diisocyanate, naphthylene-1,5-diisocyanate, m-xylylene diisocyanate, p-xylylene diisocyanate, etc. Is exemplified. Examples of the melamine compound include methylated melamine, butylated melamine, methylolated melamine, and butyrololized melamine.

また、空孔層3を形成する樹脂組成物中の樹脂は、架橋していることが好ましい。空孔層3を形成する樹脂組成物中の樹脂を架橋させることにより、空孔層3の機械的強度が向上し、空孔5を含むことによる機械的強度の抑制作用を低減できるので、絶縁層2の機械的強度が維持し易くなる。また、空孔層3を形成する樹脂組成物中の樹脂を架橋させることにより、耐薬品性及び耐溶接性も向上させることができる。   Further, the resin in the resin composition forming the pore layer 3 is preferably crosslinked. By cross-linking the resin in the resin composition forming the pore layer 3, the mechanical strength of the pore layer 3 is improved, and the action of suppressing the mechanical strength due to the inclusion of the pores 5 can be reduced. It becomes easy to maintain the mechanical strength of the layer 2. Moreover, chemical resistance and weld resistance can also be improved by crosslinking the resin in the resin composition forming the pore layer 3.

空孔層3の平均厚さの下限としては、5μmが好ましく、10μmがより好ましい。一方、空孔層3の平均厚さの上限としては、180μmが好ましく、160μmがより好ましい。空孔層3の平均厚さが上記下限未満の場合、耐溶接性が低下するおそれがある。逆に、空孔層3の平均厚さが上記上限を超える場合、当該絶縁電線が不必要に大径化するおそれがある。   The lower limit of the average thickness of the pore layer 3 is preferably 5 μm and more preferably 10 μm. On the other hand, the upper limit of the average thickness of the pore layer 3 is preferably 180 μm, and more preferably 160 μm. If the average thickness of the pore layer 3 is less than the above lower limit, the weld resistance may be reduced. On the contrary, when the average thickness of the hole layer 3 exceeds the upper limit, the insulated wire may be unnecessarily enlarged.

空孔層3の空孔率の下限としては、5体積%が好ましく、10体積%がより好ましく、20体積%がさらに好ましい。一方、空孔層3の空孔率の上限としては、80体積%が好ましく、70体積%がより好ましく、60体積%がさらに好ましい。空孔層3の空孔率が上記下限未満の場合、空孔層3の断熱効果が低下し、耐溶接性を十分向上できないおそれがある。逆に、空孔層3の空孔率が上記上限を超える場合、絶縁性を十分に向上できないおそれや、空孔層3の機械的強度が低下し過ぎ、絶縁層2の機械的強度を維持できないおそれがある。   The lower limit of the porosity of the pore layer 3 is preferably 5% by volume, more preferably 10% by volume, and still more preferably 20% by volume. On the other hand, the upper limit of the porosity of the pore layer 3 is preferably 80% by volume, more preferably 70% by volume, and still more preferably 60% by volume. When the porosity of the hole layer 3 is less than the above lower limit, the heat insulating effect of the hole layer 3 is lowered, and the weld resistance may not be sufficiently improved. Conversely, if the porosity of the pore layer 3 exceeds the above upper limit, the insulation may not be sufficiently improved, or the mechanical strength of the pore layer 3 is too low, and the mechanical strength of the insulating layer 2 is maintained. It may not be possible.

空孔5の平均径の下限としては、0.1μmが好ましく、1μmがより好ましく、5μmがさらに好ましい。一方、上記空孔5の平均径の上限としては、30μmが好ましく、20μmがより好ましく15μmがさらに好ましい。上記空孔5の平均径が上記下限未満の場合、空孔層3の断熱効果が低下し、耐溶接性を十分向上できないおそれがある。逆に、上記空孔5の平均径が上記上限を超える場合、絶縁性を十分に向上できないおそれや、空孔層3内における空孔5の分布を均一にし難くなり、誘電率の分布に偏りが生じ易くなるおそれがある。   The lower limit of the average diameter of the pores 5 is preferably 0.1 μm, more preferably 1 μm, and even more preferably 5 μm. On the other hand, the upper limit of the average diameter of the holes 5 is preferably 30 μm, more preferably 20 μm, and even more preferably 15 μm. When the average diameter of the holes 5 is less than the lower limit, the heat insulating effect of the hole layer 3 is lowered, and the weld resistance may not be sufficiently improved. On the contrary, if the average diameter of the holes 5 exceeds the upper limit, the insulation cannot be sufficiently improved, and the distribution of the holes 5 in the hole layer 3 is difficult to be uniform, and the distribution of the dielectric constant is biased. May occur easily.

(中実層)
上記中実層4は、空孔層3の外周面に積層される。中実層4は、樹脂組成物から構成され、中実層4中には空孔は含まれてない。
(Solid layer)
The solid layer 4 is laminated on the outer peripheral surface of the pore layer 3. The solid layer 4 is composed of a resin composition, and the solid layer 4 does not include pores.

中実層4を形成する樹脂組成物の主成分の樹脂としては、特に限定されないが、例えばポリエーテルサルフォン、ポリエーテルイミド、ポリカーボネート、ポリフェニルサルフォン、ポリサルフォン、ポリエチレンテレフタレート、ポリエーテルエーテルケトン等の熱可塑性樹脂や、例えばポリビニールホルマール、熱硬化ポリウレタン、熱硬化アクリル、エポキシ、熱硬化ポリエステル、熱硬化ポリエステルイミド、熱硬化ポリエステルアミドイミド、芳香族ポリアミド、熱硬化ポリアミドイミド、熱硬化ポリイミド等の熱硬化性樹脂が使用できる。これらの熱可塑性樹脂の中でも、誘電率が低く絶縁層2の誘電率を低下させ易い点で、ポリエチレンテレフタレートが特に好ましい。   The main component resin of the resin composition forming the solid layer 4 is not particularly limited, but examples thereof include polyethersulfone, polyetherimide, polycarbonate, polyphenylsulfone, polysulfone, polyethylene terephthalate, polyetheretherketone, and the like. Thermoplastic resins such as polyvinyl formal, thermosetting polyurethane, thermosetting acrylic, epoxy, thermosetting polyester, thermosetting polyester imide, thermosetting polyester amide imide, aromatic polyamide, thermosetting polyamide imide, thermosetting polyimide, etc. A thermosetting resin can be used. Among these thermoplastic resins, polyethylene terephthalate is particularly preferable because it has a low dielectric constant and can easily reduce the dielectric constant of the insulating layer 2.

また、中実層4を形成する樹脂組成物に、上記樹脂と共に硬化剤を含有させてもよい。硬化剤としては、上述した空孔層3を形成する樹脂組成物に含有する硬化剤と同種のものが挙げられる。   Moreover, you may make the resin composition which forms the solid layer 4 contain a hardening | curing agent with the said resin. As a hardening | curing agent, the same kind as the hardening | curing agent contained in the resin composition which forms the void | hole layer 3 mentioned above is mentioned.

また、中実層4を形成する樹脂組成物中の樹脂は架橋していることが好ましい。中実層4を形成する樹脂組成物中の樹脂を架橋させることにより、中実層4の機械的強度が向上し、絶縁層2の機械的強度が維持し易くなる。また、中実層4を形成する樹脂組成物中の樹脂を架橋させることにより、耐薬品性及び耐溶接性も向上させることができる。   The resin in the resin composition forming the solid layer 4 is preferably crosslinked. By cross-linking the resin in the resin composition forming the solid layer 4, the mechanical strength of the solid layer 4 is improved, and the mechanical strength of the insulating layer 2 is easily maintained. Moreover, chemical resistance and weld resistance can also be improved by crosslinking the resin in the resin composition forming the solid layer 4.

また、中実層4の平均厚さの下限としては、10μmが好ましく、20μmがより好ましい。一方、中実層4の平均厚さの上限としては、180μmが好ましく、160μmがより好ましい。中実層4の平均厚さが上記下限未満の場合、絶縁性を十分向上できないおそれがある。逆に、中実層4の平均厚さが上記上限を超える場合、当該絶縁電線が不必要に大径化するおそれがある。   Moreover, as a minimum of the average thickness of the solid layer 4, 10 micrometers is preferable and 20 micrometers is more preferable. On the other hand, the upper limit of the average thickness of the solid layer 4 is preferably 180 μm, and more preferably 160 μm. When the average thickness of the solid layer 4 is less than the above lower limit, the insulation may not be sufficiently improved. Conversely, when the average thickness of the solid layer 4 exceeds the upper limit, the insulated wire may unnecessarily increase in diameter.

また、空孔層3の平均厚さに対する中実層4の平均厚さの比率の下限としては、5%が好ましく、10%がより好ましく、20%がさらに好ましい。一方、上記比率の上限としては、700%が好ましく、650%がより好ましく、600%がさらに好ましい。上記比率が上記下限未満であると、絶縁層2の機械的強度が低下すると共に絶縁層2の絶縁性が低下するおそれがある。逆に、上記比率が上記上限を超えると、絶縁層2の熱劣化抑制効果が低下するおそれがある。   Further, the lower limit of the ratio of the average thickness of the solid layer 4 to the average thickness of the pore layer 3 is preferably 5%, more preferably 10%, and even more preferably 20%. On the other hand, the upper limit of the ratio is preferably 700%, more preferably 650%, and still more preferably 600%. If the ratio is less than the lower limit, the mechanical strength of the insulating layer 2 may be lowered and the insulating property of the insulating layer 2 may be lowered. Conversely, if the ratio exceeds the upper limit, the effect of suppressing the thermal degradation of the insulating layer 2 may be reduced.

[絶縁電線の第1の製造方法]
次に、図1に示す当該絶縁電線の第1の製造方法について説明する。当該絶縁電線の製造方法は、樹脂及び空孔形成剤を含有する第1樹脂組成物を導体1上に塗布する第1塗布工程と、上記第1塗布工程で塗布された第1層を加熱する第1加熱工程と、上記第1加熱工程で形成された空孔層3上に、樹脂を含有する第2樹脂組成物を塗布する第2塗布工程と、上記第2塗布工程で形成された第2層を加熱する第2加熱工程とを備える。
[First manufacturing method of insulated wire]
Next, the 1st manufacturing method of the said insulated wire shown in FIG. 1 is demonstrated. The method for manufacturing an insulated wire heats a first coating step in which a first resin composition containing a resin and a pore-forming agent is applied onto the conductor 1, and the first layer applied in the first coating step. A first heating step; a second coating step of applying a second resin composition containing a resin on the pore layer 3 formed in the first heating step; and a second coating step formed in the second coating step. A second heating step for heating the two layers.

<第1塗布工程>
第1塗布工程では、空孔層3を形成する樹脂を溶剤で希釈し、さらに空孔形成剤と混合して第1樹脂組成物(以下、「空孔層用ワニス」ともいう。)を調製する。その後、この空孔層用ワニスを導体1上に塗布することで、第1層を形成する。
<First application process>
In the first coating step, the resin for forming the pore layer 3 is diluted with a solvent and further mixed with a pore-forming agent to prepare a first resin composition (hereinafter also referred to as “a varnish for the pore layer”). To do. Thereafter, the void layer varnish is applied onto the conductor 1 to form the first layer.

上記空孔層用ワニスに混合する空孔形成剤としては、化学発泡剤が好ましく、例えば加熱により窒素ガス(Nガス)を発生するアゾビスイソブチロニトリル等の熱分解性を有する物質が好適に用いられる。 As the pore forming agent to be mixed with the varnish for the pore layer, a chemical foaming agent is preferable. For example, a thermally decomposable substance such as azobisisobutyronitrile that generates nitrogen gas (N 2 gas) by heating is used. Preferably used.

上記化学発泡剤の発泡温度の下限としては、180℃が好ましく、210℃がより好ましい。一方、上記発泡温度の上限としては、300℃が好ましく、260℃がより好ましい。上記発泡温度が上記下限未満の場合、焼付け前に発泡が生じ易く、空孔層3の厚さの調整が困難となるおそれがある。逆に、上記発泡温度が上記上限を超える場合、焼付け温度の上昇や焼付け時間の長大化を招き、当該絶縁電線の製造コストが増加するおそれがある。ここで「発泡温度」とは、発泡剤が発泡を開始する温度である。「焼付け時間」とは、焼付け工程においてワニスが塗布された導体1を焼付け温度で保持する時間である。   As a minimum of foaming temperature of the above-mentioned chemical foaming agent, 180 ° C is preferred and 210 ° C is more preferred. On the other hand, the upper limit of the foaming temperature is preferably 300 ° C, and more preferably 260 ° C. When the said foaming temperature is less than the said minimum, it is easy to produce foaming before baking and there exists a possibility that adjustment of the thickness of the void | hole layer 3 may become difficult. On the other hand, when the foaming temperature exceeds the upper limit, an increase in the baking temperature and an increase in the baking time may be caused, and the manufacturing cost of the insulated wire may increase. Here, the “foaming temperature” is a temperature at which the foaming agent starts foaming. The “baking time” is a time for holding the conductor 1 coated with the varnish at the baking temperature in the baking process.

希釈用溶剤としては、従来より絶縁ワニスに用いられている公知の有機溶剤を用いることができる。具体的には、例えばN−メチル−2−ピロリドン、N,N−ジメチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、テトラメチル尿素、ヘキサエチルリン酸トリアミド、γ−ブチロラクトンなどの極性有機溶媒をはじめ、アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、シクロヘキサノンなどのケトン類、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチル、シュウ酸ジエチルなどのエステル類、ジエチルエーテル、エチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル(ブチルセロソルブ)、ジエチレングリコールジメチルエーテル、テトラヒドロフランなどのエーテル類、ヘキサン、ヘプタン、ベンゼン、トルエン、キシレンなどの炭化水素類、ジクロロメタン、クロロベンゼンなどのハロゲン化炭化水素類、クレゾール、クロルフェノールなどのフェノール類、ピリジンなどの第三級アミン類などが挙げられ、これらの有機溶媒はそれぞれ単独であるいは2種以上を混合して用いられる。   As the solvent for dilution, a known organic solvent conventionally used for insulating varnish can be used. Specifically, polar organic solvents such as N-methyl-2-pyrrolidone, N, N-dimethylacetamide, N, N-dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, tetramethylurea, hexaethylphosphoric triamide, and γ-butyrolactone are used. First, ketones such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, cyclohexanone, esters such as methyl acetate, ethyl acetate, butyl acetate, diethyl oxalate, diethyl ether, ethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monobutyl ether (butyl cellosolve) ), Ethers such as diethylene glycol dimethyl ether and tetrahydrofuran, hydrocarbons such as hexane, heptane, benzene, toluene and xylene , Halogenated hydrocarbons such as dichloromethane and chlorobenzene, phenols such as cresol and chlorophenol, and tertiary amines such as pyridine. These organic solvents may be used alone or in combination of two or more. Used.

なお、これらの有機溶剤により希釈して調製した空孔層用ワニスの樹脂固形分濃度の下限としては、20質量%が好ましく、22質量%がより好ましい。一方、上記空孔層用ワニスの樹脂固形分濃度の上限としては、50質量%が好ましく、48質量%がより好ましい。上記空孔層用ワニスの樹脂固形分濃度が上記下限未満の場合、空孔層用ワニスを塗布する際の1回の塗布量が少なくなるため、所望の厚さの空孔層3を形成するためのワニス塗布工程の繰り返し回数が多くなり、ワニス塗布工程の時間が長くなるおそれがある。逆に、上記空孔層用ワニスの樹脂固形分濃度が上記上限を超える場合、空孔層3を形成する樹脂及び空孔形成剤を均一に混合し難くワニスの調製に要する時間が長くなるおそれがある。   In addition, as a minimum of the resin solid content density | concentration of the varnish for hole layers prepared by diluting with these organic solvents, 20 mass% is preferable and 22 mass% is more preferable. On the other hand, the upper limit of the resin solid content concentration of the void layer varnish is preferably 50% by mass, and more preferably 48% by mass. When the resin solid content concentration of the varnish for vacancies is less than the lower limit, the amount of coating at one time when the varnish for vacancies is applied is reduced, so that the pore layer 3 having a desired thickness is formed. Therefore, the number of repetitions of the varnish application process increases, and the time of the varnish application process may be increased. On the contrary, when the resin solid content concentration of the varnish for the pore layer exceeds the above upper limit, it is difficult to uniformly mix the resin for forming the pore layer 3 and the pore-forming agent, and it may take a long time to prepare the varnish. There is.

<第1加熱工程>
第1加熱工程では、第1塗布工程において塗布された第1層を加熱し焼付ける。これにより、導体1の外側に空孔層3を形成する。焼付けの際、第1層に含まれる空孔形成剤の発泡又は分解等により空孔5が形成される。
<First heating step>
In the first heating step, the first layer applied in the first application step is heated and baked. Thereby, the hole layer 3 is formed outside the conductor 1. During baking, the holes 5 are formed by foaming or decomposition of the hole forming agent contained in the first layer.

空孔層用ワニスの一度の塗布及び焼付けにより所望の厚さの空孔層3が形成できない場合、空孔層3が所定の厚さとなるまで、上記空孔層用ワニスの塗布及び焼付けを繰り返し行う。   When the pore layer 3 having a desired thickness cannot be formed by applying and baking the varnish for the pore layer once, the application and baking of the varnish for the pore layer are repeated until the pore layer 3 reaches a predetermined thickness. Do.

<第2塗布工程>
第2塗布工程では、中実層4を形成する樹脂を溶剤で希釈して第2樹脂組成物(以下、「中実層用ワニス」ともいう。)を調製する。その後、この中実層用ワニスを空孔層3の上に塗布することで、第2層を形成する。
<Second application process>
In the second application step, the resin forming the solid layer 4 is diluted with a solvent to prepare a second resin composition (hereinafter also referred to as “solid layer varnish”). Thereafter, the solid layer varnish is applied onto the pore layer 3 to form a second layer.

上記中実層用ワニスの希釈用溶剤としては、従来より絶縁ワニスに用いられている公知の有機溶剤を用いることができ、具体的には上述した空孔層用ワニスの調製に用いる希釈用溶剤と同種のものが挙げられる。   As the solvent for diluting the solid layer varnish, known organic solvents conventionally used for insulating varnishes can be used, and specifically, the diluting solvent used for preparing the above-described pore layer varnish. And the same kind.

なお、これらの有機溶剤により希釈して調製した中実層用ワニスの樹脂固形分濃度の下限としては、20質量%が好ましく、22質量%がより好ましい。一方、上記中実層用ワニスの樹脂固形分濃度の上限としては、50質量%が好ましく、48質量%がより好ましい。上記中実層用ワニスの樹脂固形分濃度が上記下限未満の場合、中実層用ワニスを塗布する際の1回の塗布量が少なくなるため、所望の厚さの中実層4を形成するためのワニス塗布工程の繰り返し回数が多くなり、ワニス塗布工程の時間が長くなるおそれがある。逆に、上記中実層用ワニスの樹脂固形分濃度が上記上限を超える場合、希釈に要する時間が長くなるおそれがある。   In addition, as a minimum of the resin solid content concentration of the varnish for solid layers prepared by diluting with these organic solvents, 20 mass% is preferable and 22 mass% is more preferable. On the other hand, the upper limit of the resin solid content concentration of the solid layer varnish is preferably 50% by mass, and more preferably 48% by mass. When the solid content concentration of the solid layer varnish is less than the above lower limit, the amount of application at one time when the solid layer varnish is applied is reduced, so that the solid layer 4 having a desired thickness is formed. Therefore, the number of repetitions of the varnish application process increases, and the time of the varnish application process may be increased. On the contrary, when the resin solid content concentration of the solid layer varnish exceeds the upper limit, the time required for dilution may be increased.

<第2加熱工程>
第2加熱工程では、第2塗布工程において空孔層3の外周面に塗布された第2層を加熱し焼付ける。これにより、導体1に形成された空孔層3の外周面に中実層4を形成する。なお、空孔層3と中実層4との間に絶縁層2を構成する空孔層3及び中実層4以外の層を形成してもよい。この層は1層であってもよいし複数の層であってもよい。
<Second heating step>
In the second heating step, the second layer applied to the outer peripheral surface of the pore layer 3 in the second application step is heated and baked. Thereby, the solid layer 4 is formed on the outer peripheral surface of the hole layer 3 formed in the conductor 1. A layer other than the hole layer 3 and the solid layer 4 constituting the insulating layer 2 may be formed between the hole layer 3 and the solid layer 4. This layer may be a single layer or a plurality of layers.

中実層用ワニスの一度の塗布及び焼付けにより所望の厚さの中実層4が形成できない場合、中実層4が所定の厚さとなるまで、上記中実層用ワニスの塗布及び焼付けを繰り返し行う。所定の厚さの中実層4を形成することにより、当該絶縁電線が得られる。   When the solid layer 4 having a desired thickness cannot be formed by applying and baking the solid layer varnish once, the solid layer varnish is repeatedly applied and baked until the solid layer 4 reaches a predetermined thickness. Do. By forming the solid layer 4 having a predetermined thickness, the insulated wire can be obtained.

[絶縁電線の第2の製造方法]
次に、図1に示す当該絶縁電線の第2の製造方法について説明する。当該絶縁電線の第2の製造方法は、共押出しにより、上記導体1の外周面を空孔層3及び中実層4で被覆する工程(押出し被覆工程)を備える。上記空孔層3は空孔5を含み、上記中実層4は空孔を含まない。
[Second manufacturing method of insulated wire]
Next, the 2nd manufacturing method of the said insulated wire shown in FIG. 1 is demonstrated. The second manufacturing method of the insulated wire includes a step of covering the outer peripheral surface of the conductor 1 with the hole layer 3 and the solid layer 4 (extrusion coating step) by coextrusion. The hole layer 3 includes holes 5, and the solid layer 4 does not include holes.

<押出し被覆工程>
押出し被覆工程では、空孔層3を形成する空孔層用樹脂組成物と、中実層4を形成する中実層用樹脂組成物とを溶融押出機に投入する。ここで、上記空孔層用樹脂組成物は、熱可塑性樹脂を主成分とし、空孔形成剤を含む。また、上記中実層用樹脂組成物は、熱可塑性樹脂を主成分とし、空孔形成剤を含まない。そして、これらの樹脂組成物を溶融押出機に投入した後、導体1側から空孔層3、中実層4の順で積層されるようにこれらの樹脂組成物を共押出しする。すなわち、導体1の外周面に空孔層用樹脂組成物、さらにその外周面を取り囲むように中実層用樹脂組成物が配設されるようにしてこれらの樹脂組成物を押出すことにより当該絶縁電線を得る。
<Extrusion coating process>
In the extrusion coating step, the hole layer resin composition for forming the hole layer 3 and the solid layer resin composition for forming the solid layer 4 are charged into a melt extruder. Here, the resin composition for a pore layer includes a thermoplastic resin as a main component and a pore-forming agent. The solid layer resin composition contains a thermoplastic resin as a main component and does not contain a pore forming agent. Then, after these resin compositions are put into a melt extruder, these resin compositions are coextruded so as to be laminated in the order of the hole layer 3 and the solid layer 4 from the conductor 1 side. That is, by extruding the resin composition for the pore layer on the outer peripheral surface of the conductor 1 and further extruding these resin compositions so that the resin composition for the solid layer is disposed so as to surround the outer peripheral surface. Get an insulated wire.

ここで、空孔層3内の空孔5は、上記樹脂組成物を軟化させるための共押出し時の加熱により空孔層用樹脂組成物に含まれる空孔形成剤の発泡又は分解等により生成される。これにより、空孔5を含む空孔層3と空孔を含まない中実層4とを有する絶縁層2を備える当該絶縁電線が得られる。   Here, the holes 5 in the hole layer 3 are generated by foaming or decomposition of the hole forming agent contained in the resin composition for the hole layer by heating at the time of co-extrusion for softening the resin composition. Is done. Thereby, the said insulated wire provided with the insulating layer 2 which has the void | hole layer 3 containing the void | hole 5, and the solid layer 4 which does not contain a void | hole is obtained.

なお、上記空孔層用樹脂組成物として熱硬化性樹脂を主成分とするものを用いてもよいが、上述のように熱可塑性樹脂を主成分とするものを用いた方が共押出し時の加熱制御が容易にできるので、当該絶縁電線を製造し易い。   In addition, the resin composition for the pore layer may be one having a thermosetting resin as a main component, but the one using a thermoplastic resin as a main component as described above is more suitable for coextrusion. Since heating control can be easily performed, it is easy to manufacture the insulated wire.

[利点]
当該絶縁電線は、絶縁層2が高い断熱性を有する空孔層3を導体1に接して有することで、絶縁層2の熱による劣化を抑えることができる。そのため、当該絶縁電線は耐溶接性に優れる。また、当該絶縁電線は、絶縁層2が空孔を含まない中実層4を備えるため、絶縁層2の絶縁性を向上でき、絶縁破壊を抑制することができる。さらに、当該絶縁電線は、絶縁層2が空孔層3を備えることで、絶縁層2に可撓性を付与することができる。このように、当該絶縁電線は、絶縁層2が導体1に直接積層される空孔層3と、中実層4とを備えるため、耐溶接性、絶縁性及び可撓性に優れる。
[advantage]
The said insulated wire can suppress deterioration by the heat | fever of the insulating layer 2 because the insulating layer 2 has the hole layer 3 which has high heat insulation in contact with the conductor 1. FIG. Therefore, the insulated wire is excellent in weld resistance. Moreover, since the said insulated wire is provided with the solid layer 4 in which the insulating layer 2 does not contain a void | hole, the insulation of the insulating layer 2 can be improved and a dielectric breakdown can be suppressed. Furthermore, the insulated wire can give flexibility to the insulating layer 2 because the insulating layer 2 includes the hole layer 3. Thus, since the said insulated wire is provided with the void | hole layer 3 with which the insulating layer 2 is directly laminated | stacked on the conductor 1, and the solid layer 4, it is excellent in weld resistance, insulation, and flexibility.

[その他の実施形態]
今回開示された実施の形態は全ての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記実施形態の構成に限定されるものではなく、特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内での全ての変更が含まれることが意図される。
[Other Embodiments]
The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is not limited to the configuration of the embodiment described above, but is defined by the scope of the claims, and is intended to include all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of the claims. The

上記実施形態においては、絶縁層が空孔層及び中実層を1つずつ有する当該絶縁電線について説明したが、少なくとも1つの空孔層が導体上に直接積層され、その空孔層の外側に少なくとも1つの中実層が存在していれば、絶縁層が複数の空孔層を有する絶縁電線としてもよいし、絶縁層が複数の中実層を有する絶縁電線としてもよい。また、空孔層及び中実層が交互に積層される絶縁層を有する絶縁電線としてもよい。絶縁層が複数の空孔層を有する場合、それぞれの空孔層が絶縁層の耐溶接性向上に寄与する。また、絶縁層が複数の中実層を有する場合、これらの複数の中実層が総合して絶縁層の機械的強度の向上に寄与すると共に、絶縁性向上に寄与する。   In the above embodiment, the insulated wire has been described in which the insulating layer has one hole layer and one solid layer, but at least one hole layer is directly laminated on the conductor, and the outside of the hole layer. If at least one solid layer exists, the insulating layer may be an insulated wire having a plurality of hole layers, or the insulating layer may be an insulated wire having a plurality of solid layers. Moreover, it is good also as an insulated wire which has an insulating layer by which a void | hole layer and a solid layer are laminated | stacked alternately. When the insulating layer has a plurality of pore layers, each of the pore layers contributes to improving the weld resistance of the insulating layer. Further, when the insulating layer has a plurality of solid layers, the plurality of solid layers collectively contribute to the improvement of the mechanical strength of the insulating layer and also to the improvement of the insulating properties.

絶縁層が複数の空孔層を有する場合、各空孔層の平均厚さの合計の下限としては、絶縁層の平均厚さに対して10%が好ましく、20%がより好ましい。一方、上記平均厚さの合計の上限としては、絶縁層の平均厚さに対して95%が好ましく、90%がより好ましい。上記平均厚さの合計が上記下限未満の場合、耐溶接性を十分向上できないおそれがある。逆に、上記平均厚さの合計が上記上限を超える場合、絶縁性を十分向上できないおそれや、機械的強度の低い空孔層の全厚さが相対的に大きくなり、絶縁層の機械的強度を維持できないおそれがある。   When the insulating layer has a plurality of hole layers, the lower limit of the total average thickness of the hole layers is preferably 10%, more preferably 20%, with respect to the average thickness of the insulating layer. On the other hand, the upper limit of the total average thickness is preferably 95% and more preferably 90% with respect to the average thickness of the insulating layer. When the total of the average thickness is less than the lower limit, the weld resistance may not be sufficiently improved. On the other hand, if the total of the average thickness exceeds the upper limit, the insulation may not be sufficiently improved, or the total thickness of the pore layer with low mechanical strength becomes relatively large, and the mechanical strength of the insulating layer May not be maintained.

また、絶縁層が複数の中実層を有する場合、各中実層の平均厚さの合計の下限としては、絶縁層の平均厚さに対して5%が好ましく、10%がより好ましい。一方、上記平均厚さの合計の上限としては、絶縁層の平均厚さに対して90%が好ましく、80%がより好ましい。上記平均厚さの合計が上記下限未満の場合、絶縁性を十分向上できないおそれや、絶縁層の機械的強度を維持できないおそれがある。逆に、上記平均厚さの合計が上記上限を超える場合、耐溶接性を十分向上できないおそれがある。   When the insulating layer has a plurality of solid layers, the lower limit of the total average thickness of each solid layer is preferably 5% and more preferably 10% with respect to the average thickness of the insulating layer. On the other hand, the upper limit of the total average thickness is preferably 90% and more preferably 80% with respect to the average thickness of the insulating layer. When the total of the average thickness is less than the lower limit, there is a possibility that the insulating property cannot be sufficiently improved or the mechanical strength of the insulating layer cannot be maintained. Conversely, if the total average thickness exceeds the upper limit, the weld resistance may not be sufficiently improved.

また、絶縁層が複数の中実層を有し最外に中実層が形成されている場合、最外層の中実層の平均厚さの下限としては、10μmが好ましく、20μmがより好ましい。一方、上記最外層の中実層の平均厚さの上限としては、180μmが好ましく、160μmがより好ましい。上記最外層の中実層の平均厚さが上記下限未満であると、絶縁性を十分向上できないおそれがある。逆に、上記最外層の中実層の平均厚さが上記上限を超える場合、当該絶縁電線が不必要に大径化するおそれがある。   When the insulating layer has a plurality of solid layers and the outermost solid layer is formed, the lower limit of the average thickness of the outermost solid layer is preferably 10 μm, more preferably 20 μm. On the other hand, the upper limit of the average thickness of the solid layer on the outermost layer is preferably 180 μm, and more preferably 160 μm. If the average thickness of the solid layer of the outermost layer is less than the lower limit, the insulation may not be sufficiently improved. On the other hand, when the average thickness of the outermost solid layer exceeds the upper limit, the insulated wire may unnecessarily increase in diameter.

なお、絶縁層が複数の空孔層を有する場合、「空孔層の平均厚さに対する中実層の平均厚さの比率」における「空孔層の平均厚さ」は、それらの空孔層のうち最内層の平均厚さを意味し、絶縁層が複数の中実層を有する場合、上記「中実層の平均厚さ」は、各中実層の平均厚さの合計を意味する。   When the insulating layer has a plurality of pore layers, the “average thickness of the pore layers” in “the ratio of the average thickness of the solid layer to the average thickness of the pore layers” is the average of the pore layers. Means the average thickness of the innermost layer, and when the insulating layer has a plurality of solid layers, the above-mentioned “average thickness of the solid layers” means the sum of the average thicknesses of the respective solid layers.

また、上記実施形態では、空孔形成剤として化学発泡剤を用いて空孔を生成させる製造方法について説明したが、空孔形成剤として熱膨張性マイクロカプセルを使用し、熱膨張性マイクロカプセルにより空孔を形成させる製造方法としてもよい。例えば上記第1の製造方法において、空孔層を形成する樹脂を溶剤で希釈したものを熱膨張性マイクロカプセルと混合して空孔層用ワニスを調製し、この空孔層用ワニスの導体の外周面側への塗布及び焼付けにより空孔層を形成してもよい。焼付けの際、空孔層用ワニスに含まれる熱膨張性マイクロカプセルが膨張又は発泡し、熱膨張性マイクロカプセルによって空孔層内に空孔が形成される。また、例えば上記第2の製造方法において、空孔層用樹脂組成物に熱膨張性マイクロカプセルを含ませてもよい。この場合、共押出し時の加熱により、空孔層用樹脂組成物に含まれる熱膨張性マイクロカプセルが膨張又は発泡し、熱膨張性マイクロカプセルによって形成された空孔を含む空孔層が形成される。   In the above embodiment, the production method for generating pores using a chemical foaming agent as a pore forming agent has been described. However, a thermally expandable microcapsule is used as the pore forming agent, and It is good also as a manufacturing method which forms a void | hole. For example, in the first manufacturing method, a resin for forming a pore layer diluted with a solvent is mixed with a thermally expandable microcapsule to prepare a varnish for the pore layer, and the conductor of the varnish for the pore layer is prepared. The pore layer may be formed by coating and baking on the outer peripheral surface side. During baking, the thermally expandable microcapsules contained in the varnish for the pore layer expand or foam, and pores are formed in the pore layer by the thermally expandable microcapsules. Further, for example, in the second production method, the resin composition for a pore layer may contain a thermally expandable microcapsule. In this case, the heat-expandable microcapsules contained in the resin composition for a pore layer expand or foam by heating during coextrusion, and a pore layer including pores formed by the thermally-expandable microcapsules is formed. The

上記熱膨張性マイクロカプセルは、熱膨張剤からなる芯材(内包物)と、この芯材を包む外殻とを有する。熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤は、加熱により膨張又は気体を発生するものであればよく、その原理は問わない。熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤としては、例えば低沸点液体、化学発泡剤又はこれらの混合物を使用することができる。   The thermally expandable microcapsule has a core material (inner package) made of a thermal expansion agent and an outer shell that wraps the core material. The thermal expansion agent of the heat-expandable microcapsules may be any one that expands or generates a gas by heating, and the principle thereof does not matter. As the thermal expansion agent of the thermally expandable microcapsule, for example, a low boiling point liquid, a chemical foaming agent, or a mixture thereof can be used.

上記低沸点液体としては、例えばブタン、i−ブタン、n−ペンタン、i−ペンタン、ネオペンタン等のアルカンや、トリクロロフルオロメタン等のフレオン類などが好適に用いられる。また、上記化学発泡剤としては、加熱によりNガスを発生するアゾビスイソブチロニトリル等の熱分解性を有する物質が好適に用いられる。 As the low boiling point liquid, for example, alkanes such as butane, i-butane, n-pentane, i-pentane and neopentane, and freons such as trichlorofluoromethane are preferably used. As the chemical foaming agent, a material having thermal decomposability such as azobisisobutyronitrile that generates N 2 gas by heating is preferably used.

上記熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤の膨張開始温度、つまり低沸点液体の沸点又は化学発泡剤の熱分解温度としては、後述する熱膨張性マイクロカプセルの外殻の軟化温度以上とされる。より詳しくは、熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤の膨張開始温度の下限としては、60℃が好ましく、70℃がより好ましい。一方、熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤の膨張開始温度の上限としては、200℃が好ましく、150℃がより好ましい。熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤の膨張開始温度が上記下限に満たない場合、当該絶縁電線の製造時、輸送時又は保管時に熱膨張性マイクロカプセルが意図せず膨張してしまうおそれがある。逆に、熱膨張性マイクロカプセルの熱膨張剤の膨張開始温度が上記上限を超える場合、熱膨張性マイクロカプセルを膨張させるために必要なエネルギーコストが過大となるおそれがある。ここで、「熱膨張剤の膨張開始温度」とは、熱膨張剤が低沸点液体である場合は、この低沸点液体の沸点を意味し、熱膨張剤が化学発泡剤である場合は、この化学発泡剤の熱分解温度を意味する。   The expansion start temperature of the thermal expansion agent of the thermal expansion microcapsule, that is, the boiling point of the low-boiling liquid or the thermal decomposition temperature of the chemical foaming agent is set to be equal to or higher than the softening temperature of the outer shell of the thermal expansion microcapsule described later. More specifically, the lower limit of the expansion start temperature of the thermal expansion agent of the thermally expandable microcapsule is preferably 60 ° C, more preferably 70 ° C. On the other hand, the upper limit of the expansion start temperature of the thermal expansion agent of the thermally expandable microcapsule is preferably 200 ° C, and more preferably 150 ° C. When the expansion start temperature of the thermal expansion agent of the thermally expandable microcapsule is less than the lower limit, the thermally expandable microcapsule may expand unintentionally during production, transportation or storage of the insulated wire. On the other hand, when the expansion start temperature of the thermal expansion agent of the thermally expandable microcapsule exceeds the above upper limit, the energy cost required for expanding the thermally expandable microcapsule may be excessive. Here, the “expansion start temperature of the thermal expansion agent” means the boiling point of the low-boiling liquid when the thermal expansion agent is a low-boiling liquid, and this is the case when the thermal expansion agent is a chemical foaming agent. It means the thermal decomposition temperature of the chemical blowing agent.

一方、上記熱膨張性マイクロカプセルの外殻は、上記熱膨張剤の膨張時に破断することなく膨張し、発生したガスを包含するマイクロバルーンを形成できる延伸性を有する材質から形成される。この熱膨張性マイクロカプセルの外殻を形成する材質としては、通常は、熱可塑性樹脂等の高分子を主成分とする樹脂組成物が用いられる。   On the other hand, the outer shell of the thermally expandable microcapsule is formed of a stretchable material that can expand without breaking when the thermally expandable agent expands to form a microballoon containing the generated gas. As a material for forming the outer shell of the thermally expandable microcapsule, a resin composition mainly composed of a polymer such as a thermoplastic resin is usually used.

上記熱膨張性マイクロカプセルの外殻の主成分とされる熱可塑性樹脂としては、例えば塩化ビニル、塩化ビニリデン、アクリロニトリル、アクリル酸、メタアクリル酸、アクリレート、メタアクリレート、スチレン等の単量体から形成された重合体、あるいは2種以上の単量体から形成された共重合体が好適に用いられる。好ましい熱可塑性樹脂の一例としては、塩化ビニリデン−アクリロニトリル共重合体が挙げられ、この場合の熱膨張剤の膨張開始温度は、80℃以上150℃以下とされる。   Examples of the thermoplastic resin used as the main component of the outer shell of the thermally expandable microcapsule are formed from monomers such as vinyl chloride, vinylidene chloride, acrylonitrile, acrylic acid, methacrylic acid, acrylate, methacrylate, and styrene. A polymer formed from two or more types of monomers is preferably used. An example of a preferred thermoplastic resin is a vinylidene chloride-acrylonitrile copolymer. In this case, the expansion start temperature of the thermal expansion agent is 80 ° C. or higher and 150 ° C. or lower.

さらに、空孔形成剤として熱分解性樹脂を用いてもよい。すなわち、上記第1の製造方法の第1樹脂組成物として、空孔層を形成する樹脂を溶剤で希釈し、さらに熱分解性樹脂を混合したものを用いてもよい。また、上記第2の製造方法の空孔層用樹脂組成物として、空孔層を形成する樹脂に熱分解性樹脂を混合したものを用いてもよい。   Further, a thermally decomposable resin may be used as the pore forming agent. That is, as the first resin composition of the first production method, a resin in which the pore layer is formed may be diluted with a solvent and further mixed with a thermally decomposable resin. Moreover, as a resin composition for a pore layer of the second production method, a resin in which a thermally decomposable resin is mixed with a resin that forms a pore layer may be used.

上記熱分解性樹脂としては、例えば空孔層を形成する樹脂の焼付け温度又は押出温度よりも低い温度で熱分解する樹脂粒子を用いる。例えば空孔層を形成する主ポリマーの焼付け温度は、樹脂の種類に応じて適宜設定されるが、通常200℃以上350℃以下程度である。従って、上記熱分解性樹脂の熱分解温度の下限としては200℃が好ましく、上限としては300℃が好ましい。ここで、熱分解温度とは、窒素雰囲気下で室温から10℃/分で昇温し、質量減少率が50%となるときの温度を意味する。熱分解温度は、例えば熱重量測定−示差熱分析装置(エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社の「TG/DTA」)を用いて熱重量を測定することにより測定できる。   As the thermally decomposable resin, for example, resin particles that are thermally decomposed at a temperature lower than the baking temperature or extrusion temperature of the resin forming the pore layer are used. For example, the baking temperature of the main polymer forming the pore layer is appropriately set according to the type of the resin, but is usually about 200 ° C. or higher and 350 ° C. or lower. Therefore, 200 degreeC is preferable as a minimum of the thermal decomposition temperature of the said thermally decomposable resin, and 300 degreeC is preferable as an upper limit. Here, the thermal decomposition temperature means a temperature at which the temperature is increased from room temperature to 10 ° C./min in a nitrogen atmosphere and the mass reduction rate becomes 50%. The thermal decomposition temperature can be measured, for example, by measuring the thermogravimetry using a thermogravimetry-differential thermal analyzer (“TG / DTA” manufactured by SII Nano Technology Co., Ltd.).

上記空孔層に用いる熱分解性樹脂としては、特に限定されないが、例えばポリエチレングリコール、ポリプロピレングリコールなどの片方、両方の末端又は一部をアルキル化、(メタ)アクリレート化又はエポキシ化した化合物、ポリ(メタ)アクリル酸メチル、ポリ(メタ)アクリル酸エチル、ポリ(メタ)アクリル酸プロピル、ポリ(メタ)アクリル酸ブチルなどの(メタ)アクリル酸の炭素数1以上6以下のアルキルエステル重合体、ウレタンオリゴマー、ウレタンポリマー、ウレタン(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート、ε―カプロラクトン(メタ)アクリレートなどの変性(メタ)アクリレートの重合物、ポリ(メタ)アクリル酸、これらの架橋物、ポリスチレン、架橋ポリスチレン等が挙げられる。これらのうち、(メタ)アクリル系重合体の架橋物が好ましく、架橋ポリ(メタ)アクリレートがより好ましい。また、熱分解性樹脂は、上記空孔層を形成する樹脂の海相に微小粒子の島相となって均等分布できることが好ましい。従って、上記空孔層に用いる熱分解性樹脂としては、上記空孔層を形成する樹脂との相溶性に優れると共に、球状にまとまる樹脂であることが好ましく、具体的には架橋樹脂が好ましい。   The thermally decomposable resin used for the pore layer is not particularly limited. For example, a compound obtained by alkylating, (meth) acrylated or epoxidizing one or both ends or part of polyethylene glycol, polypropylene glycol, or the like, poly (Meth) acrylic acid methyl ester, poly (meth) ethyl acrylate, poly (meth) acrylic acid propyl, poly (meth) acrylic acid and other alkyl ester polymers having 1 to 6 carbon atoms, Urethane oligomer, urethane polymer, urethane (meth) acrylate, epoxy (meth) acrylate, polymer of modified (meth) acrylate such as ε-caprolactone (meth) acrylate, poly (meth) acrylic acid, cross-linked products thereof, polystyrene, Examples include crosslinked polystyrene. Among these, a crosslinked product of a (meth) acrylic polymer is preferable, and a crosslinked poly (meth) acrylate is more preferable. Moreover, it is preferable that the thermally decomposable resin can be uniformly distributed as an island phase of fine particles in the sea phase of the resin forming the pore layer. Therefore, the thermally decomposable resin used for the pore layer is preferably a resin that is excellent in compatibility with the resin that forms the pore layer and is gathered into a spherical shape, and specifically, a crosslinked resin.

上記架橋ポリ(メタ)アクリル系重合体は、例えば(メタ)アクリル系モノマーと多官能性モノマーとを乳化重合、懸濁重合、溶液重合等により重合することで得られる。   The crosslinked poly (meth) acrylic polymer can be obtained, for example, by polymerizing a (meth) acrylic monomer and a polyfunctional monomer by emulsion polymerization, suspension polymerization, solution polymerization, or the like.

ここで、(メタ)アクリル系モノマーとしては、アクリル酸、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸n−ブチル、アクリル酸イソブチル、アクリル酸t−ブチル、アクリル酸ドデシル、アクリル酸ステアリル、アクリル酸2−エチルヘキシル、アクリル酸テトラヒドロフルフリル、アクリル酸ジエチルアミノエチル、メタクリル酸、メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸プロピル、メタクリル酸n−ブチル、メタクリル酸イソブチル、メタクリル酸t−ブチル、メタクリル酸n−オクチル、メタクリル酸ドデシル、メタクリル酸2−エチルヘキシル、メタクリル酸ステアリル、メタクリル酸ジエチルアミノエチルなどが挙げられる。   Here, as the (meth) acrylic monomer, acrylic acid, methyl acrylate, ethyl acrylate, n-butyl acrylate, isobutyl acrylate, t-butyl acrylate, dodecyl acrylate, stearyl acrylate, acrylic acid 2 -Ethylhexyl, tetrahydrofurfuryl acrylate, diethylaminoethyl acrylate, methacrylic acid, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, propyl methacrylate, n-butyl methacrylate, isobutyl methacrylate, t-butyl methacrylate, n-octyl methacrylate , Dodecyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, stearyl methacrylate, diethylaminoethyl methacrylate and the like.

また、多官能性モノマーとしては、ジビニルベンゼン、エチレングリコールジ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレートなどが挙げられる。   Examples of the polyfunctional monomer include divinylbenzene, ethylene glycol di (meth) acrylate, trimethylolpropane triacrylate, and the like.

なお、架橋ポリ(メタ)アクリル系重合体の構成モノマーとしては、(メタ)アクリル系モノマー及び多官能性モノマー以外に他のモノマーを使用してもよい。他のモノマーとしては、エチレングリコールモノ(メタ)アクリレート、ポリエチレングリコールモノ(メタ)アクリレートなどの(メタ)アクリル酸のグリコールエステル類、メチルビニルエーテル、エチルビニルエーテルなどのアルキルビニルエーテル類、酢酸ビニル、酪酸ビニルなどのビニルエステル類、N−メチルアクリルアミド、N−エチルアクリルアミド、N−メチルメタクリルアミド、N−エチルメタクリルアミドなどのN−アルキル置換(メタ)アクリルアミド類、アクリロニトリル、メタアクリロニトリルなどのニトリル類、スチレン、p−メチルスチレン、p−クロロスチレン、クロロメチルスチレン、α−メチルスチレンなどのスチレン系単量体等が挙げられる。   In addition to the (meth) acrylic monomer and multifunctional monomer, other monomers may be used as the constituent monomer of the crosslinked poly (meth) acrylic polymer. Other monomers include glycol esters of (meth) acrylic acid such as ethylene glycol mono (meth) acrylate and polyethylene glycol mono (meth) acrylate, alkyl vinyl ethers such as methyl vinyl ether and ethyl vinyl ether, vinyl acetate and vinyl butyrate Vinyl esters, N-alkyl substituted (meth) acrylamides such as N-methylacrylamide, N-ethylacrylamide, N-methylmethacrylamide and N-ethylmethacrylamide, nitriles such as acrylonitrile and methacrylonitrile, styrene, p -Styrene monomers such as methylstyrene, p-chlorostyrene, chloromethylstyrene, and α-methylstyrene.

上記熱分解する樹脂粒子を用いる場合、樹脂粒子は球状であることが好ましい。上記樹脂粒子の平均粒子径の下限としては、0.1μmが好ましく、0.5μmがより好ましく、1μmがさらに好ましい。一方、上記樹脂粒子の平均粒子径の上限としては、100μmが好ましく、50μmがより好ましく、30μmがさらに好ましく、10μmが特に好ましい。上記樹脂粒子は空孔層を形成する樹脂の焼付け時に熱分解して存在していた部分に空孔を形成する。そのため、上記樹脂粒子の平均粒子径が上記下限未満の場合、空孔層に空孔が形成され難くなるおそれがある。逆に、上記樹脂粒子の平均粒子径が上記上限を超える場合、空孔層内における空孔の分布が均一になり難くなり、誘電率の分布に偏りが生じ易くなるおそれがある。ここで、上記樹脂粒子の平均粒子径とは、レーザー回折式粒度分布測定装置で測定した粒度分布において、最も高い体積の含有割合を示す粒径を意味する。   When using the resin particles to be thermally decomposed, the resin particles are preferably spherical. The lower limit of the average particle diameter of the resin particles is preferably 0.1 μm, more preferably 0.5 μm, and even more preferably 1 μm. On the other hand, the upper limit of the average particle diameter of the resin particles is preferably 100 μm, more preferably 50 μm, further preferably 30 μm, and particularly preferably 10 μm. The resin particles are thermally decomposed when the resin forming the pore layer is baked to form pores in the existing portions. Therefore, when the average particle diameter of the resin particles is less than the lower limit, there is a risk that it is difficult to form holes in the hole layer. On the contrary, when the average particle diameter of the resin particles exceeds the upper limit, the distribution of vacancies in the vacancy layer is difficult to be uniform, and the distribution of dielectric constant may be easily biased. Here, the average particle diameter of the resin particles means a particle diameter showing the highest volume content in the particle size distribution measured with a laser diffraction particle size distribution measuring apparatus.

また、例えば上記空孔を中空フィラーで形成してもよい。上記空孔を中空フィラーで形成する場合、例えば空孔層を形成する樹脂組成物と中空フィラーとを混練し、共押出し成形によりこの混練物を導体に被覆することで当該絶縁電線を製造できる。   Further, for example, the holes may be formed with a hollow filler. In the case of forming the pores with a hollow filler, for example, the insulated wire can be produced by kneading a resin composition forming a pore layer and a hollow filler and coating the kneaded product on a conductor by coextrusion molding.

中空フィラーにより空孔を形成する場合、この中空フィラーの内部の空洞部分が空孔層に含まれる空孔となる。中空フィラーとしては、例えばシラスバルーン、ガラスバルーン、セラミックバルーン、有機樹脂バルーン等が挙げられる。これらの中で当該絶縁電線の可撓性を向上させることができる有機樹脂バルーンが好ましい。   When holes are formed by the hollow filler, the hollow portions inside the hollow filler become holes included in the hole layer. Examples of the hollow filler include shirasu balloons, glass balloons, ceramic balloons, and organic resin balloons. Among these, an organic resin balloon that can improve the flexibility of the insulated wire is preferable.

以下、実施例によって本発明をさらに詳細に説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited to a following example.

<実施例1>
銅を鋳造、延伸、伸線及び軟化し、断面が円形で直径が1.0mmの導体を得た。次に、ピロメリット酸二無水物とジアミノジフェニルエーテルとの重合により形成されるポリイミド前駆体をN−メチル−2−ピロリドンに溶解した絶縁ワニスを作成した。さらに、この絶縁ワニスに空孔形成剤(発泡剤)を空孔層の空孔率が10体積%となるように分散させて空孔層用ワニスを作成した。この空孔層用ワニスを導体の外周面に塗布し、線速3.0m/分、加熱炉入口温度350℃、加熱炉出口温度450℃の条件で焼き付ける工程を繰り返し行うことで導体の外周面に平均厚さ20μmの空孔層を形成した。次に、ピロメリット酸二無水物と4−(4−アミノフェノキシ)フェニルとの重合により形成されるポリイミド前駆体をN−メチル−2−ピロリドンに溶解した中実層用ワニスを作成した。この中実層用ワニスを上記空孔層の外周面に塗布し、線速3.0m/分、加熱炉入口温度350℃、加熱炉出口温度250℃の条件で焼き付けることによって空孔層の外周面に平均厚さ30μmの中実層を形成し、実施例1の絶縁電線を得た。
<Example 1>
Copper was cast, drawn, drawn and softened to obtain a conductor having a circular cross section and a diameter of 1.0 mm. Next, an insulating varnish was prepared by dissolving a polyimide precursor formed by polymerization of pyromellitic dianhydride and diaminodiphenyl ether in N-methyl-2-pyrrolidone. Further, a pore forming agent (foaming agent) was dispersed in this insulating varnish so that the porosity of the pore layer was 10% by volume, thereby preparing a pore layer varnish. By applying this void layer varnish to the outer peripheral surface of the conductor and repeatedly baking it under the conditions of a linear speed of 3.0 m / min, a heating furnace inlet temperature of 350 ° C., and a heating furnace outlet temperature of 450 ° C., the outer peripheral surface of the conductor A pore layer having an average thickness of 20 μm was formed on the substrate. Next, a solid layer varnish was prepared by dissolving a polyimide precursor formed by polymerization of pyromellitic dianhydride and 4- (4-aminophenoxy) phenyl in N-methyl-2-pyrrolidone. The solid layer varnish is applied to the outer peripheral surface of the pore layer and baked under the conditions of a linear speed of 3.0 m / min, a heating furnace inlet temperature of 350 ° C., and a heating furnace outlet temperature of 250 ° C. A solid layer having an average thickness of 30 μm was formed on the surface to obtain an insulated wire of Example 1.

<実施例2及び実施例3>
空孔層及び中実層の平均厚さ並びに空孔層の空孔率を表1の通りとした以外は実施例1と同様にして、実施例2及び実施例3の絶縁電線を得た。
<Example 2 and Example 3>
Insulated wires of Example 2 and Example 3 were obtained in the same manner as Example 1 except that the average thicknesses of the pore layer and the solid layer and the porosity of the pore layer were as shown in Table 1.

<比較例1>
下層に空孔を形成しなかった点以外は実施例1と同様にして比較例1の絶縁電線を作製した。
<Comparative Example 1>
An insulated wire of Comparative Example 1 was produced in the same manner as in Example 1 except that no holes were formed in the lower layer.

<耐溶接性>
実施例1〜3及び比較例1の絶縁電線について耐溶接性を評価した。図2に耐溶接性の評価方法の模式図を示す。導体と絶縁層とからなる実施例1〜3及び比較例1の絶縁電線を100mmの長さに切断して試験片とし、各試験片の一方の端末から5.0mmの位置まで絶縁層を剥離した。絶縁層を剥離した側の末端から2.5mmの部分を、断面寸法が1.5mm×2.0mmである2本のクロム銅製アース棒15で挟み込み、試験片の端末の端部から1.25mm離れた位置(図2の試験片の端末の端部から溶接トーチ14の先端までの距離tが2.5mmとなる位置)に溶接トーチ14の先端位置を合わせ、TIG溶接機により通電を行った。通電電流は60Aから10Aずつ上げ、最大100Aとした。各通電についての通電時間は0.3秒とした。通電後の各試験片における通電部近傍の表面を目視で確認し、皮膜の浮きや発泡の発生が起こらず良好に溶接可能な通電電流の最大値を求めた。以上の評価結果を表1に示す。表1において、材料の欄に記載された「A」はピロメリット酸二無水物とジアミノジフェニルエーテルとの重合により形成されるポリイミド前駆体を示し、「B」はピロメリット酸二無水物と4−(4−アミノフェノキシ)フェニルとの重合により形成されるポリイミド前駆体を示す。
<Welding resistance>
The weld resistance of the insulated wires of Examples 1 to 3 and Comparative Example 1 was evaluated. FIG. 2 shows a schematic diagram of a method for evaluating weld resistance. The insulated wires of Examples 1 to 3 and Comparative Example 1 made of a conductor and an insulating layer were cut to a length of 100 mm to form test pieces, and the insulating layer was peeled off from one end of each test piece to a position of 5.0 mm. did. A portion 2.5 mm from the end on the side where the insulating layer was peeled off is sandwiched between two chrome copper grounding rods 15 having a cross-sectional dimension of 1.5 mm × 2.0 mm, and 1.25 mm from the end of the end of the test piece. The tip position of the welding torch 14 was aligned with a distant position (position where the distance t from the end of the end of the test piece of FIG. 2 to the tip of the welding torch 14 was 2.5 mm), and energization was performed by a TIG welding machine. . The energization current was increased by 10A from 60A to a maximum of 100A. The energization time for each energization was 0.3 seconds. The surface in the vicinity of the energized portion of each test piece after energization was visually confirmed, and the maximum value of the energization current that could be satisfactorily welded without the occurrence of film floating or foaming was determined. The above evaluation results are shown in Table 1. In Table 1, “A” described in the column of materials indicates a polyimide precursor formed by polymerization of pyromellitic dianhydride and diaminodiphenyl ether, and “B” indicates pyromellitic dianhydride and 4- The polyimide precursor formed by superposition | polymerization with (4-aminophenoxy) phenyl is shown.

Figure 2017199478
Figure 2017199478

[評価結果]
表1に示すように、絶縁層が導体に直接積層された空孔層を有しその空孔率がそれぞれ10体積%、30体積%及び50体積%である実施例1、実施例2及び実施例3では、耐溶接性は90A以上であった。実施例1〜3の絶縁電線は、下層が空孔を有しない比較例1の絶縁電線より耐溶接性が高かった。また、実施例1と実施例2との比較から、空孔率を10体積%から30体積%に上昇させることで、耐溶接性を向上させることができることが分かった。
[Evaluation results]
As shown in Table 1, Example 1, Example 2 and Example in which the insulating layer has a hole layer directly laminated on the conductor and the porosity is 10% by volume, 30% by volume and 50% by volume, respectively. In Example 3, the weld resistance was 90 A or more. The insulated wires of Examples 1 to 3 had higher weld resistance than the insulated wire of Comparative Example 1 in which the lower layer did not have pores. Moreover, it was found from the comparison between Example 1 and Example 2 that the weld resistance can be improved by increasing the porosity from 10% by volume to 30% by volume.

本発明に係る絶縁電線は、耐溶接性及び絶縁性に優れるため、溶接により接合される電線として好適に利用することができる。   Since the insulated wire according to the present invention is excellent in weld resistance and insulation, it can be suitably used as a wire joined by welding.

1 導体
2 絶縁層
3 空孔層
4 中実層
5 空孔
14 溶接トーチ
15 アース棒
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Conductor 2 Insulation layer 3 Hole layer 4 Solid layer 5 Hole 14 Welding torch 15 Ground rod

Claims (5)

導体と、この導体の外周面を被覆する絶縁層とを備える絶縁電線であって、
上記絶縁層が、
空孔を含み、上記導体に直接積層される空孔層と、
空孔を含まない中実層とを有する絶縁電線。
An insulated wire comprising a conductor and an insulating layer covering the outer peripheral surface of the conductor,
The insulating layer is
A hole layer including holes and directly laminated on the conductor;
An insulated wire having a solid layer that does not include pores.
上記空孔層の空孔率が5体積%以上80体積%以下である請求項1に記載の絶縁電線。   The insulated wire according to claim 1, wherein the porosity of the pore layer is 5% by volume or more and 80% by volume or less. 上記空孔の平均径が0.1μm以上30μm以下である請求項1又は請求項2に記載の絶縁電線。   The insulated wire according to claim 1 or 2, wherein an average diameter of the holes is 0.1 µm or more and 30 µm or less. 上記空孔層の平均厚さに対する上記中実層の平均厚さの比率が5%以上700%以下である請求項1、請求項2又は請求項3に記載の絶縁電線。   The insulated wire according to claim 1, wherein the ratio of the average thickness of the solid layer to the average thickness of the pore layer is 5% or more and 700% or less. 導体と、この導体の外周面を被覆する絶縁層とを備え、上記絶縁層が、空孔を含み、上記導体に直接積層される空孔層と、空孔を含まない中実層とを有する絶縁電線の製造方法であって、
樹脂及び空孔形成剤を含有する第1樹脂組成物を導体上に塗布する第1塗布工程と、
上記第1塗布工程で塗布された第1層を加熱する第1加熱工程と、
上記第1加熱工程で形成された空孔層上に、樹脂を含有する第2樹脂組成物を塗布する第2塗布工程と、
上記第2塗布工程で形成された第2層を加熱する第2加熱工程と
を備える絶縁電線の製造方法。
A conductor and an insulating layer covering the outer peripheral surface of the conductor, the insulating layer including a hole and including a hole layer directly stacked on the conductor and a solid layer including no hole; A method of manufacturing an insulated wire,
A first coating step of coating a first resin composition containing a resin and a pore-forming agent on a conductor;
A first heating step of heating the first layer applied in the first application step;
A second application step of applying a second resin composition containing a resin on the pore layer formed in the first heating step;
A method for manufacturing an insulated wire, comprising: a second heating step for heating the second layer formed in the second coating step.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018217326A1 (en) 2017-10-13 2019-04-18 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Lithium Ion Secondary Battery Electrode and Lithium Ion Secondary Battery
CN111193335A (en) * 2018-11-15 2020-05-22 本田技研工业株式会社 Stator

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014123122A1 (en) * 2013-02-07 2014-08-14 古河電気工業株式会社 Insulated electric wire and motor
WO2014123123A1 (en) * 2013-02-07 2014-08-14 古河電気工業株式会社 Insulating laminated body of enamel resin, and insulated wire and electric appliance using the same
WO2015137342A1 (en) * 2014-03-14 2015-09-17 古河電気工業株式会社 Insulation wire, insulation wire manufacturing method, method of manufacturing stator for rotary electric machine and rotary electric machine

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014123122A1 (en) * 2013-02-07 2014-08-14 古河電気工業株式会社 Insulated electric wire and motor
WO2014123123A1 (en) * 2013-02-07 2014-08-14 古河電気工業株式会社 Insulating laminated body of enamel resin, and insulated wire and electric appliance using the same
WO2015137342A1 (en) * 2014-03-14 2015-09-17 古河電気工業株式会社 Insulation wire, insulation wire manufacturing method, method of manufacturing stator for rotary electric machine and rotary electric machine

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018217326A1 (en) 2017-10-13 2019-04-18 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Lithium Ion Secondary Battery Electrode and Lithium Ion Secondary Battery
CN111193335A (en) * 2018-11-15 2020-05-22 本田技研工业株式会社 Stator
JP2020088898A (en) * 2018-11-15 2020-06-04 本田技研工業株式会社 Stator

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