JP2017190396A - Sealing resin sheet and method of manufacturing electronic component device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a sealing resin sheet excellent in workability which is capable of simultaneously and collectively sealing both surfaces of a wiring board having electronic components mounted thereon, and a method capable of efficiently manufacturing an electronic component device including a wiring board whose both surfaces are resin-sealed using the sealing resin sheet.SOLUTION: The sealing resin sheet to be used for sealing electronic components is obtained by molding a thermosetting resin composition into a sheet and has a specific gravity of 0.80 or less. The method of manufacturing an electronic component device includes the steps of: arranging the sealing resin sheets on both surfaces of a wiring board having electronic components mounted thereon; and simultaneously heat-curing the sealing resin sheets to seal both surfaces of the wiring board.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、封止用樹脂シート、及びそれを用いた電子部品装置の製造方法に関する。   The present invention relates to a sealing resin sheet and an electronic component device manufacturing method using the same.

配線基板や、配線基板上に実装されたIC、ダイオード等の電子部品は、例えば、モバイルや車載等の用途のように耐衝撃性が求められたり、アミューズメント用途やATM(現金自動預け払い機)等の用途のように機密性が求められたりすることがある。この場合、従来、ポッティング用の液状の熱可塑性樹脂組成物や、トランスファー成形用の熱硬化性樹脂ペレットを用いて、電子部品を封止することが一般に行われてきた。しかし、これらはいずれも、専用の設備が必要であり、工程も煩雑である。さらに、前者の液状の熱可塑性樹脂組成物は、耐熱性が低く、また分解が容易であるため、機密性を十分保持することが難しいという問題もある。   Electronic components such as wiring boards and ICs and diodes mounted on wiring boards are required to have impact resistance, for example, for mobile and in-vehicle use, and are used in amusement applications and ATMs (automated teller machines). For example, confidentiality may be required. In this case, conventionally, it has been generally performed to seal an electronic component using a liquid thermoplastic resin composition for potting or a thermosetting resin pellet for transfer molding. However, all of these require dedicated equipment and the process is complicated. Furthermore, since the former liquid thermoplastic resin composition has low heat resistance and is easily decomposed, there is also a problem that it is difficult to sufficiently maintain confidentiality.

近時、これらの問題に対し、所要部に配置し加熱するだけで封止が可能な熱硬化性樹脂シートが開発されている(例えば、特許文献1参照)。まず、樹脂シートを所要のサイズ、形状に外形加工し、所要部に配置した後、加熱溶融して配線基板上の配線や実装電子部品全体を樹脂中に埋め込むものである。従来のように専用の設備を必要とせず、作業も容易である。   Recently, for these problems, thermosetting resin sheets have been developed that can be sealed just by placing them in a required part and heating them (see, for example, Patent Document 1). First, a resin sheet is externally processed to a required size and shape, placed in a required portion, and then heated and melted to embed the wiring on the wiring board and the entire mounted electronic component in the resin. Unlike the prior art, no special equipment is required and the work is easy.

しかし、上記樹脂シートを用いて、電子部品が実装された配線基板全体を封止しようとした場合、従来のように一括して封止することができず、配線基板の両面をそれぞれ個別に封止する必要があった。すなわち、まず、配線基板を水平に保持し、その表面(上面)に実装された電子部品を封止し、次いで、裏面を上に向けて保持し、その裏面に実装された電子部品を封止しなければならなかった。これは、裏面を下に向けたまま表面と同時に封止しようとしても、加熱溶融した樹脂が垂れ落ちるか、垂れ落ちないまでも樹脂厚に偏りが生じるからである。特に、シートの厚さが0.5mmを超えると、両面一括封止が困難であった。   However, when trying to seal the entire wiring board on which electronic components are mounted using the resin sheet, it is not possible to seal the wiring board as in the conventional case, and both sides of the wiring board are individually sealed. It was necessary to stop. That is, first, hold the wiring board horizontally, seal the electronic components mounted on the front surface (upper surface), then hold the back surface facing up, and seal the electronic components mounted on the back surface Had to do. This is because even if an attempt is made to seal at the same time as the front surface with the back surface facing down, the resin melted evenly does not sag or does not sag. In particular, when the sheet thickness exceeded 0.5 mm, it was difficult to perform double-sided simultaneous sealing.

このような樹脂ダレあるいは樹脂厚の偏りの問題を解決するためには、例えば、樹脂のチクソ性を高くする、粘度を増大させる等の対策が考えられるが、この場合、電子部品の樹脂中の埋め込みが不十分になるおそれがある。また、配線基板を垂直に保持して両面を同時に封止する方法も考えられるが、樹脂ダレや樹脂厚の偏りが生ずることに変わりはない。   In order to solve the problem of such resin sag or uneven resin thickness, for example, measures such as increasing the thixotropy of the resin or increasing the viscosity can be considered. Embedding may be insufficient. Although a method of holding the wiring substrate vertically and simultaneously sealing both surfaces is also conceivable, there is no change in that the resin sagging and the resin thickness are uneven.

このため、表裏両面に電子部品が実装された配線基板に対し、その両面を同時に一括して封止することができる、作業性に優れた封止用樹脂シートが求められている。   For this reason, there is a need for a sealing resin sheet excellent in workability that can simultaneously seal both surfaces of a wiring board having electronic components mounted on both front and back surfaces.

特開2007−329162号公報JP 2007-329162 A

本発明は、上記従来技術の課題を解決するためになされたもので、例えば、電子部品が実装された配線基板に対し、その両面を同時に一括して封止することができる、作業性に優れた封止用樹脂シート、及びそのような封止用樹脂シートを用いて、両面が樹脂封止された配線基板を備えた電子部品装置を効率よく製造することができる方法を提供することを目的としている。   The present invention has been made to solve the above-described problems of the prior art. For example, it is possible to simultaneously seal both surfaces of a wiring board on which electronic components are mounted. An object of the present invention is to provide a method for efficiently producing an electronic component device provided with a wiring board having both surfaces sealed with resin by using the sealing resin sheet and the sealing resin sheet. It is said.

本発明者らは、上記目的を達成するために鋭意研究を重ねた結果、シート比重を特定の値以下とすることにより、配線基板の両面を同時に封止した場合でも、樹脂ダレや樹脂厚の偏りを防止乃至抑制できることを見出し、本発明を完成するに至った。   As a result of intensive research to achieve the above object, the present inventors have made the sheet sag and the resin thickness even when both sides of the wiring board are simultaneously sealed by setting the sheet specific gravity to a specific value or less. It has been found that the bias can be prevented or suppressed, and the present invention has been completed.

すなわち、本発明の一態様に係る成形用樹脂シートは、電子部品の封止に用いられる封止用樹脂シートであって、熱硬化性樹脂組成物をシート状に成形してなり、0.80以下の比重を有することを特徴としている。   That is, the molding resin sheet according to one aspect of the present invention is a sealing resin sheet used for sealing an electronic component, and is formed by molding a thermosetting resin composition into a sheet shape, 0.80 It has the following specific gravity.

また、本発明の他の態様に係る電子部品装置の製造方法は、電子部品が実装された配線基板の両面に上記封止用樹脂シートを配置する工程と、前記封止用樹脂シートを同時に加熱硬化させて、前記配線基板の両面を封止する工程と
を含むことを特徴としている。
Moreover, the manufacturing method of the electronic component device according to another aspect of the present invention includes the step of placing the sealing resin sheet on both surfaces of the wiring board on which the electronic component is mounted, and heating the sealing resin sheet simultaneously. And a step of curing and sealing both surfaces of the wiring board.

本発明によれば、電子部品が実装された配線基板に対し、その両面を同時に一括して封止することができる、作業性に優れた封止用樹脂シートが得られ、また、そのような封止用樹脂シートを用いて、両面が樹脂封止された配線基板を備えた電子部品装置を効率よく製造することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the resin sheet for sealing excellent in workability | operativity which can seal both surfaces simultaneously collectively with respect to the wiring board with which the electronic component was mounted is obtained. Using the sealing resin sheet, it is possible to efficiently manufacture an electronic component device including a wiring board on which both surfaces are resin-sealed.

本発明の封止用樹脂シートを用いた電子部品装置の製造方法を説明する図である。It is a figure explaining the manufacturing method of the electronic component apparatus using the resin sheet for sealing of this invention. 従来の方法で製造された電子部品装置の一例を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically an example of the electronic component apparatus manufactured by the conventional method. 従来の方法で製造された電子部品装置の他の例を模式的に示す図である。It is a figure which shows typically the other example of the electronic component apparatus manufactured by the conventional method.

以下、本発明の実施の形態を説明する。   Embodiments of the present invention will be described below.

[封止用樹脂シート]
本発明の封止用樹脂シートは、配線基板上の配線や、配線基板に実装されたIC、ダイオード等の電子部品を、外部雰囲気や機械的衝撃等から保護する目的で、あるいは機密性保持の目的で使用されるもので、常温では固形でシート形状を維持し、加熱すると溶融し、硬化することで封止が完了する。
[Resin sheet for sealing]
The sealing resin sheet of the present invention is used for the purpose of protecting the wiring on the wiring board and the electronic components such as ICs and diodes mounted on the wiring board from the external atmosphere, mechanical shock, etc. It is used for the purpose and maintains a solid sheet shape at room temperature. When heated, it melts and cures to complete sealing.

本発明の封止用樹脂シートは、熱硬化性樹脂組成物をシート状に成形したもので、0.80以下の比重を有する。比重が0.80を超えると、電子部品が実装された配線基板の両面を同時に封止しようとした場合に、樹脂の垂れ落ちまたは樹脂厚の偏りが生じ、電子部品や配線の封止が不完全になる。比重は0.75以下であることが好ましく、0.70以下であることがより好ましい。なお、この比重は、JIS K 6911に準拠して測定される値である。   The sealing resin sheet of the present invention is obtained by molding a thermosetting resin composition into a sheet shape and has a specific gravity of 0.80 or less. When the specific gravity exceeds 0.80, when both sides of the wiring board on which the electronic component is mounted are simultaneously sealed, the resin droops or the resin thickness becomes uneven, and the electronic component or wiring is not sealed. Become complete. The specific gravity is preferably 0.75 or less, and more preferably 0.70 or less. In addition, this specific gravity is a value measured based on JISK6911.

本発明の封止用樹脂シートは、また、レオメーター等を用いて、昇温速度2℃/min以上5℃/min以下の条件で溶融粘度を測定したときの最低溶融粘度が1Pa・s以上1000Pa・s以下であることが好ましく、さらに、示差走査熱量計(DSC)を用い、JIS K 7121に準拠して測定される融点(融解ピーク温度)が40℃以上90℃以下であることが好ましい。最低溶融粘度が1Pa・s未満では、封止の際、樹脂ダレまたは樹脂厚の偏りが生じやすくなり、1000Pa・s以下を超えると、ボイドが生じやすくなり、また電子部品の埋め込みが不十分になるおそれがある。また、融点が40℃未満では、常温でべたつきやすくなり取扱い性が低下し、融点が90℃を超えると、溶融が遅くなり、樹脂の硬化も始まるため、溶融粘度が下がらず電子部品の埋め込みが不十分になるおそれがある。最低溶融粘度は1Pa・s以上800Pa・s以下であることがより好ましく、5Pa・s以上500Pa・s以下であるとより一層好ましい。また融点は50℃以上85℃以下であることがより好ましい。   The sealing resin sheet of the present invention has a minimum melt viscosity of 1 Pa · s or more when a melt viscosity is measured using a rheometer or the like at a temperature increase rate of 2 ° C./min to 5 ° C./min. The melting point (melting peak temperature) measured in accordance with JIS K 7121 using a differential scanning calorimeter (DSC) is preferably 40 ° C. or higher and 90 ° C. or lower. . If the minimum melt viscosity is less than 1 Pa · s, resin sag or uneven resin thickness tends to occur during sealing, and if it exceeds 1000 Pa · s or less, voids are likely to occur and electronic components are not sufficiently embedded. There is a risk. Also, if the melting point is less than 40 ° C, it tends to be sticky at room temperature and the handleability is reduced, and if the melting point exceeds 90 ° C, the melting slows and the resin begins to cure, so the melt viscosity does not decrease and the electronic components can be embedded. May be insufficient. The minimum melt viscosity is more preferably 1 Pa · s to 800 Pa · s, and even more preferably 5 Pa · s to 500 Pa · s. The melting point is more preferably 50 ° C. or higher and 85 ° C. or lower.

また、本発明の封止用樹脂シートは、100℃以上180℃未満の温度で3分以上1時間以下(例えば、100℃で1時間、180℃で3分間、120℃で20分間)の加熱で一次硬化することが好ましい。加熱時間が長いと封止作業の作業性が低下し、加熱時間が短いと、ボイドが破泡したり、レべリングが十分にされないおそれがある。また、加熱温度が低いと1時間以下で硬化させることが難しく、加熱温度が高いと3分未満の間に硬化が進行する。   In addition, the sealing resin sheet of the present invention is heated at a temperature of 100 ° C. or higher and lower than 180 ° C. for 3 minutes to 1 hour (for example, 100 ° C. for 1 hour, 180 ° C. for 3 minutes, 120 ° C. for 20 minutes). It is preferable to perform primary curing. When the heating time is long, the workability of the sealing work is deteriorated, and when the heating time is short, the void may be broken or the leveling may not be sufficiently performed. Further, when the heating temperature is low, it is difficult to cure in 1 hour or less, and when the heating temperature is high, curing proceeds in less than 3 minutes.

本発明の封止用樹脂シートは、シート状であれば、その平面形状は特に限定されるものではない。一般的には、矩形状のシートを用いるが、電子部品を封止するのに適した形状であればこれに限定されるものではない。   If the sealing resin sheet of this invention is a sheet form, the planar shape will not be specifically limited. In general, a rectangular sheet is used, but the sheet is not limited to this as long as the shape is suitable for sealing an electronic component.

また、その厚さも、特に限定されるものではないが、通常、100μm以上3.0mm以下であり、好ましくは150μm以上2.0mm以下である。シートの厚さが100μm未満では、中空無機フィラーを配合する観点から、厚みにばらつきが生じることが懸念される。逆に、厚さが3.0mmを超えると、成形性が低下するうえ、常温での取り扱い性が低下する。なお、使用の際には、封止する電子部品の高さや形状、材質等にもよるが、一般的には、封止する電子部品の高さが封止用樹脂シートの厚さの1倍以上2倍以下、好ましくは1倍以上1.5倍以下となるシート厚のものを選択して使用することが好ましい。このとき、使用する封止用樹脂シートの厚さによって、複数枚を積層して用いてもよい。電子部品に対するシート厚さ(シートを複数枚積層した場合には、その合計)が厚すぎると、材料が無駄になるだけでなく、ボイドが残留しやすくなり、電子部品装置の薄型化も困難になる。逆に、薄すぎると封止が不十分になるおそれがある。   Also, the thickness is not particularly limited, but is usually 100 μm or more and 3.0 mm or less, preferably 150 μm or more and 2.0 mm or less. If the thickness of the sheet is less than 100 μm, there is a concern that the thickness may vary from the viewpoint of blending the hollow inorganic filler. On the other hand, when the thickness exceeds 3.0 mm, the moldability is deteriorated and the handleability at room temperature is also deteriorated. In use, although depending on the height, shape, material, etc. of the electronic component to be sealed, the height of the electronic component to be sealed is generally one time the thickness of the sealing resin sheet. It is preferable to select and use a sheet having a thickness of 2 times or less, preferably 1 time or more and 1.5 times or less. At this time, a plurality of sheets may be laminated and used depending on the thickness of the sealing resin sheet to be used. If the sheet thickness for electronic components (the total when multiple sheets are stacked) is too thick, not only will the material be wasted, but voids will likely remain, making it difficult to reduce the thickness of the electronic component device. Become. Conversely, if it is too thin, sealing may be insufficient.

本発明の封止用樹脂シートは、熱硬化性樹脂組成物をシート状に成形することにより得られる。熱硬化性樹脂組成物としては、例えば、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、ビスマレイミドトリアジン変性樹脂、熱硬化型ポリフェニレンエーテル樹脂等、一般に電子部品の封止用、接着用として使用されている熱硬化型樹脂をベースとした組成物が挙げられる。これらのなかでもエポキシ樹脂をベースとした組成物が好ましい。   The encapsulating resin sheet of the present invention is obtained by molding a thermosetting resin composition into a sheet shape. Thermosetting resin compositions include, for example, epoxy resins, polyimide resins, bismaleimide triazine modified resins, thermosetting polyphenylene ether resins, etc., and thermosetting resins generally used for sealing and bonding electronic components. The composition based on this is mentioned. Among these, an epoxy resin-based composition is preferable.

以下、本発明に好適するエポキシ樹脂をベースとした組成物について説明する。
このエポキシ樹脂をベースとした組成物は、(A)エポキシ樹脂と、(B)エポキシ樹脂用硬化剤と、(C)中空無機フィラーとを含有するものである。
Hereinafter, an epoxy resin-based composition suitable for the present invention will be described.
The composition based on this epoxy resin contains (A) an epoxy resin, (B) a curing agent for epoxy resin, and (C) a hollow inorganic filler.

(A)成分のエポキシ樹脂としては、(A1)固形エポキシ樹脂と(A2)液状エポキシ樹脂の併用が好ましい。(A1)成分の固形エポキシ樹脂は、常温で固形状のエポキシ樹脂であり、(A2)成分の液状エポキシ樹脂は、常温で液状のエポキシ樹脂である。   As the epoxy resin of component (A), the combined use of (A1) solid epoxy resin and (A2) liquid epoxy resin is preferable. The solid epoxy resin (A1) is an epoxy resin that is solid at room temperature, and the liquid epoxy resin (A2) is an epoxy resin that is liquid at room temperature.

(A1)成分の固形エポキシ樹脂としては、例えば、軟化点が50℃以上80℃以下の、ビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、軟化点が50℃以上80℃以下のビスフェノールA型エポキシ樹脂、軟化点が50℃以上100℃以下のフェノールノボラック型エポキシ樹脂等が挙げられる。
軟化点が50℃以上80℃以下のビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂は、下記一般式(1)で表されるビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂のうち、軟化点が50℃以上80℃以下のものである。また、軟化点が50℃以上80℃以下のビスフェノールA型エポキシ樹脂は、下記一般式(2)で表されるビスフェノールA型エポキシ樹脂のうち、軟化点が50℃以上80℃以下のものである。

Figure 2017190396
(式中、nは0以上の整数を表す)
Figure 2017190396
(式中、nは0以上の整数を表す) As the solid epoxy resin (A1), for example, a biphenyl aralkyl type epoxy resin having a softening point of 50 ° C. or more and 80 ° C. or less, a bisphenol A type epoxy resin having a softening point of 50 ° C. or more and 80 ° C. or less, and a softening point of 50 Examples thereof include phenol novolac type epoxy resins having a temperature of from 100 ° C. to 100 ° C.
The biphenyl aralkyl type epoxy resin having a softening point of 50 ° C. or higher and 80 ° C. or lower is a biphenyl aralkyl type epoxy resin represented by the following general formula (1) having a softening point of 50 ° C. or higher and 80 ° C. or lower. The bisphenol A type epoxy resin having a softening point of 50 ° C. or more and 80 ° C. or less is a bisphenol A type epoxy resin represented by the following general formula (2) having a softening point of 50 ° C. or more and 80 ° C. or less. .
Figure 2017190396
(In the formula, n represents an integer of 0 or more)
Figure 2017190396
(In the formula, n represents an integer of 0 or more)

軟化点が50℃以上80℃以下のビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂の市販品を具体的に例示すると、例えば、NC−3000(日本化薬(株)製 商品名、軟化点56℃)、NC−3000H(日本化薬(株)製 商品名、軟化点71℃)等が挙げられる。また、軟化点が50℃以上80℃以下のビスフェノールA型エポキシ樹脂の市販品を具体的に例示すると、例えば、jER1001(三菱化学(株)製 商品名、軟化点64℃)、jER1002(三菱化学(株)製 商品名、軟化点78℃)等が挙げられる。さらに、軟化点が50℃以上100℃以下のフェノールノボラック型エポキシ樹脂の市販品を具体的に例示すると、例えば、EPICLON N−770(DIC(株)製 商品名、軟化点70℃)等が挙げられる。
これらの固形エポキシ樹脂は1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。
Specific examples of commercially available biphenyl aralkyl epoxy resins having a softening point of 50 ° C. or higher and 80 ° C. or lower include, for example, NC-3000 (trade name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., softening point 56 ° C.), NC-3000H. (Nippon Kayaku Co., Ltd. brand name, softening point 71 degreeC) etc. are mentioned. In addition, specific examples of commercially available bisphenol A type epoxy resins having a softening point of 50 ° C. or higher and 80 ° C. or lower include, for example, jER1001 (trade name, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, softening point 64 ° C.), jER1002 (Mitsubishi Chemical). Product name, softening point 78 ° C.) Furthermore, specific examples of commercially available phenol novolac epoxy resins having a softening point of 50 ° C. or higher and 100 ° C. or lower include EPICLON N-770 (trade name, softening point 70 ° C. manufactured by DIC Corporation). It is done.
These solid epoxy resins may be used individually by 1 type, and 2 or more types may be mixed and used for them.

(A2)成分の液状エポキシ樹脂は、1分子中に2個以上のエポキシ基を有する常温で液状のものであれば、分子構造等に特に制限されることなく使用することができる。その具体例としては、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ビスフェノールAF型エポキシ樹脂等のビスフェノール型エポキシ樹脂;フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂等のノボラック型エポキシ樹脂;ヘキサヒドロ無水フタル酸型エポキシ樹脂、テトラヒドロ無水フタル酸型エポキシ樹脂、ダイマー酸型エポキシ樹脂等のグリシジルエステル型エポキシ樹脂;N,N−ジグリシジルアニリン、N,N−ジグリシジルトルイジン、ジアミノジフェニルメタン型グリシジルアミン、アミノフェノール型グリシジルアミン等のグリシジルアミン型エポキシ樹脂;ビフェニル型エポキシ樹脂、スチルベン型エポキシ樹脂、トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、トリフェノールプロパン型エポキシ樹脂、アルキル変性トリフェノールメタン型エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエン変性フェノール型エポキシ樹脂、ナフトール型エポキシ樹脂、ナフタレン型エポキシ樹脂等が挙げられる。これらの液状エポキシ樹脂は、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して用いてもよい。(A2)液状エポキシ樹脂としては、なかでもビスフェノール型の液状エポキシ樹脂が好ましく、特に、ビスフェノールA型の液状エポキシ樹脂が好ましい。
(A2)成分として好適なビスフェノールA型液状エポキシ樹脂の市販品を具体的に例示すると、例えば、jER828(三菱化学(株)製 商品名)、EPICLON850(DIC(株)製 商品名)等が挙げられる。
The liquid epoxy resin as the component (A2) can be used without particular limitation to the molecular structure and the like as long as it is liquid at room temperature having two or more epoxy groups in one molecule. Specific examples thereof include bisphenol A type epoxy resins, bisphenol F type epoxy resins, hydrogenated bisphenol A type epoxy resins, bisphenol S type epoxy resins, bisphenol AF type epoxy resins and the like; phenol novolac type epoxy resins, Novolak type epoxy resins such as cresol novolac type epoxy resins; glycidyl ester type epoxy resins such as hexahydrophthalic anhydride type epoxy resins, tetrahydrophthalic anhydride type epoxy resins, dimer acid type epoxy resins; N, N-diglycidylaniline, N , N-diglycidyl toluidine, diaminodiphenylmethane type glycidylamine, glycidylamine type epoxy resins such as aminophenol type glycidylamine; biphenyl type epoxy resin, styrene Examples include ben-type epoxy resins, triphenolmethane-type epoxy resins, triphenolpropane-type epoxy resins, alkyl-modified triphenolmethane-type epoxy resins, dicyclopentadiene-modified phenol-type epoxy resins, naphthol-type epoxy resins, and naphthalene-type epoxy resins. . These liquid epoxy resins may be used individually by 1 type, and 2 or more types may be mixed and used for them. (A2) The liquid epoxy resin is preferably a bisphenol liquid epoxy resin, and more preferably a bisphenol A liquid epoxy resin.
Specific examples of commercially available bisphenol A type liquid epoxy resins suitable as the component (A2) include, for example, jER828 (trade name, manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation), EPICLON850 (trade name, manufactured by DIC Corporation), and the like. It is done.

上記(A1)成分及び(A2)成分は、質量比で(A1):(A2)が60:40〜90:10の範囲となるように使用することが好ましい。(A1)成分の割合が前記範囲に満たないと、常温でべたつきやすくなり取り扱い得るシートに成形することが困難になるおそれがある。また、(A1)成分の割合が前記範囲を超えると、常温での柔軟性を損ない、取り扱い時に割れやすくなる等、使用時の取り扱いが難しくなる。(A1)成分と(A2)成分の質量比(A1):(A2)は、65:35〜85:15の範囲であることが好ましく、70:30〜80:20の範囲であることがより好ましい。   The component (A1) and the component (A2) are preferably used so that the mass ratio (A1) :( A2) is in the range of 60:40 to 90:10. If the ratio of the component (A1) is less than the above range, it tends to be sticky at room temperature and it may be difficult to form a sheet that can be handled. On the other hand, when the proportion of the component (A1) exceeds the above range, the handling at the time of use becomes difficult, for example, the flexibility at normal temperature is impaired and it becomes easy to break at the time of handling. The mass ratio (A1) :( A2) between the component (A1) and the component (A2) is preferably in the range of 65:35 to 85:15, and more preferably in the range of 70:30 to 80:20. preferable.

(B)成分の硬化剤としては、フェノール樹脂系硬化剤、酸無水物系硬化剤、アミン系硬化剤等、通常、エポキシ樹脂の硬化に使用されているものであれば特に制限なく使用できる。   (B) As a hardening | curing agent of a component, if it is normally used for hardening of an epoxy resin, such as a phenol resin-type hardening | curing agent, an acid anhydride type hardening | curing agent, an amine-type hardening | curing agent, it can use without a restriction | limiting in particular.

フェノール樹脂系硬化剤の例としては、フェノール、アルキルフェノール等のフェノール類とホルムアルデヒドまたはパラホルムアルデヒドを反応させて得られる、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂等のノボラック型フェノール樹脂、これらのノボラック型フェノール樹脂をエポキシ化またはブチル化した変性ノボラック型フェノール樹脂、ジシクロペンタジエン変性フェノール樹脂、パラキシレン変性フェノール樹脂、フェノールアラルキル樹脂、ナフトールアラルキル樹脂、トリフェノールアルカン型フェノール樹脂、多官能型フェノール樹脂等が挙げられる。   Examples of phenolic resin-based curing agents include phenol novolac resins, cresol novolac resins and other novolac type phenol resins obtained by reacting phenols such as phenol and alkylphenol with formaldehyde or paraformaldehyde, and these novolac type phenol resins. Examples thereof include epoxidized or butylated modified novolak type phenolic resin, dicyclopentadiene modified phenolic resin, paraxylene modified phenolic resin, phenol aralkyl resin, naphthol aralkyl resin, triphenolalkane type phenolic resin, polyfunctional type phenolic resin and the like.

酸無水物系硬化剤の例としては、無水フタル酸、テトラヒドロ無水フタル酸、メチルテトラヒドロ無水フタル酸、エンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチルエンドメチレンテトラヒドロ無水フタル酸、メチルブテニルテトラヒドロ無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、メチルヘキサヒドロ無水フタル酸、無水トリメリット酸、無水ピロメリット酸、無水ベンゾフェノンテトラカルボン酸、エチレングリコールビストリメリテート、グリセロールトリストリメリテート、無水マレイン酸、無水コハク酸、ドデセニル無水コハク酸、メチルシクロヘキセンジカルボン酸無水物、アルキルスチレン−無水マレイン酸共重合体、クロレンド酸無水物、ポリアゼライン酸無水物等が挙げられる。   Examples of acid anhydride curing agents include phthalic anhydride, tetrahydrophthalic anhydride, methyltetrahydrophthalic anhydride, endomethylenetetrahydrophthalic anhydride, methylendomethylenetetrahydrophthalic anhydride, methylbutenyltetrahydrophthalic anhydride, hexahydro Phthalic anhydride, methylhexahydrophthalic anhydride, trimellitic anhydride, pyromellitic anhydride, benzophenone tetracarboxylic anhydride, ethylene glycol bis trimellitate, glycerol tristrimitate, maleic anhydride, succinic anhydride, dodecenyl succinic anhydride Examples include acid, methylcyclohexene dicarboxylic acid anhydride, alkylstyrene-maleic anhydride copolymer, chlorendic acid anhydride, polyazeline acid anhydride, and the like.

アミン系硬化剤の例としては、例えば、ジエチレントリアミン、トリエチレンテトラミン、m−キシレンジアミン、2−メチルペンタメチレンジアミン等の脂肪族ポリアミン;1,3−ビスアミノメチルシクロヘキサン、ビス(4−アミノシクロヘキシ)メタン、ノルボルネンジアミン、1,2−ジアミノシクロヘキサン等の脂環式ポリアミン;N−アミノエチルピペラジン、1,4−ビス(2−アミノ−2−メチルプロピル)ピペラジン等のピペラジン型ポリアミン;ジアミノフェニルメタン、m−フェニレンジアミン、ジアミノジフェニルスルホン、ジエチルトルエンジアミン、1−メチル−3,5−ジエチル−2,6−ジアミノベンゼン、1−メチル−3,5−ジエチル−2,4−ジアミノベンゼン、1,3,5−トリエチル−2,6−ジアミノベンゼン、3,3’−ジエチル−4,4’−ジアミノジフェニルメタン、3,5,3',5‘−テトラメチル−4,4'−ジアミノジフェニルメタン等の芳香族ポリアミン等が挙げられる。   Examples of amine curing agents include, for example, aliphatic polyamines such as diethylenetriamine, triethylenetetramine, m-xylenediamine, and 2-methylpentamethylenediamine; 1,3-bisaminomethylcyclohexane, bis (4-aminocyclohexyl) ) Cycloaliphatic polyamines such as methane, norbornenediamine and 1,2-diaminocyclohexane; Piperazine-type polyamines such as N-aminoethylpiperazine and 1,4-bis (2-amino-2-methylpropyl) piperazine; Diaminophenylmethane M-phenylenediamine, diaminodiphenylsulfone, diethyltoluenediamine, 1-methyl-3,5-diethyl-2,6-diaminobenzene, 1-methyl-3,5-diethyl-2,4-diaminobenzene, 1, 3,5-triethyl-2,6 Diaminobenzene, 3,3'-diethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 3,5,3 ', aromatic polyamines such as 5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane and the like.

その他、潜在性硬化剤として知られる、下記構造式で表されるジシアンジアミド等が使用される。特に、(A)成分として、軟化点が50℃以上80℃以下のビフェニルアラルキル型エポキシ樹脂、軟化点が50℃以上80℃以下のビスフェノールA型エポキシ樹脂、または軟化点が50℃以上100℃以下のフェノールノボラック型エポキシ樹脂を使用した場合には、ジシアンジアミドの使用が好ましい。

Figure 2017190396
In addition, dicyandiamide represented by the following structural formula, which is known as a latent curing agent, is used. In particular, as the component (A), a biphenyl aralkyl type epoxy resin having a softening point of 50 ° C. or higher and 80 ° C. or lower, a bisphenol A type epoxy resin having a softening point of 50 ° C. or higher and 80 ° C. or lower, or a softening point of 50 ° C. or higher and 100 ° C. or lower. When a phenol novolac type epoxy resin is used, it is preferable to use dicyandiamide.
Figure 2017190396

(B)成分の硬化剤は1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して用いてもよい。
また、(B)成分の硬化剤の配合量は、例えば、ジシアンジアミドの場合、(A)成分のエポキシ樹脂の合計量100質量部に対し、0.5〜15質量部程度であり、好ましくは1〜10質量部である。
(B) The hardening agent of a component may be used individually by 1 type, and 2 or more types may be mixed and used for it.
Moreover, the compounding quantity of the hardening | curing agent of (B) component is about 0.5-15 mass parts with respect to 100 mass parts of total amounts of the epoxy resin of (A) component, for example in the case of dicyandiamide, Preferably it is 1 -10 parts by mass.

(C)成分の中空無機フィラーは、ガラスやセラミック等の無機質材料を造粒する際に微小な泡を含有させて微小中空紛体としたもので、本発明の封止用樹脂シートの比重を前述した所定の値とするのに大きく寄与する成分である。この中空無機フィラーの真密度は0.50g/cm以下であることが好ましく、0.45g/cm以下であるとより好ましい。中空無機フィラーの真密度が0.5g/cmを超えると、封止用樹脂シートの比重を前述した所定の値とすることが困難になる。また、中空無機フィラーの平均粒径は30μm以上70μmであることが好ましく、40μm以上60μmであることがより好ましい。中空無機フィラーの平均粒径が30μm未満では、後述する好ましい配合比とすることが困難となり、70μmを超えると、好ましいシート厚とすることが困難になる。このような中空無機フィラーの市販品を具体的に例示すると、例えば、中空ガラスフィラーである3MTMグラスバブルズ(スリーエムジャパン(株)製 商品名)等が挙げられる。中空無機フィラーはカップリング剤による表面処理が施されたものであってもよい。このような表面処理されたものを使用することにより、その分散性を高めることができる。これらの中空無機フィラーは、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して用いてもよい。この中空無機フィラーの平均粒径は、測定された粒度分布において積算体積が50%になる粒径(D50)をいい、本明細書において、特に断らない限り、単に、平均粒径、あるいはD50と記すときは、この意味で使用される。 The hollow inorganic filler of component (C) is a fine hollow powder that contains fine bubbles when granulating an inorganic material such as glass or ceramic. The specific gravity of the sealing resin sheet of the present invention is the same as that described above. It is a component that greatly contributes to the predetermined value. Preferably this true density of the hollow inorganic filler is 0.50 g / cm 3 or less, more preferably 0.45 g / cm 3 or less. When the true density of the hollow inorganic filler exceeds 0.5 g / cm 3 , it is difficult to set the specific gravity of the sealing resin sheet to the predetermined value described above. The average particle size of the hollow inorganic filler is preferably 30 μm or more and 70 μm, and more preferably 40 μm or more and 60 μm. When the average particle size of the hollow inorganic filler is less than 30 μm, it is difficult to obtain a preferable blending ratio described later, and when it exceeds 70 μm, it is difficult to obtain a preferable sheet thickness. Specific examples of such commercially available hollow inorganic fillers include 3M TM Glass Bubbles (trade name, manufactured by 3M Japan), which is a hollow glass filler. The hollow inorganic filler may be subjected to a surface treatment with a coupling agent. By using such a surface-treated material, the dispersibility can be enhanced. These hollow inorganic fillers may be used alone or in a combination of two or more. The average particle diameter of the hollow inorganic filler refers to a particle diameter (D50) at which the integrated volume is 50% in the measured particle size distribution. In the present specification, unless otherwise specified, simply the average particle diameter or D50 When writing, it is used in this sense.

低密度の中空フィラーには、上記のような中空無機フィラーのみならず、有機系の、例えば、アクリル樹脂等からなる中空フィラーや、熱膨張型の中空フィラー等があるが、これらの中空有機フィラーは混練時に潰れたり加熱時に比重が変化することから、本発明に用いるには不適当であり使用しないことが好ましい。   Low-density hollow fillers include not only hollow inorganic fillers as described above, but also organic hollow fillers made of, for example, acrylic resin, thermal expansion type hollow fillers, etc. These hollow organic fillers Is not suitable for use in the present invention and is preferably not used because it crushes during kneading or changes in specific gravity during heating.

(C)成分の中空無機フィラーは、シートの比重や機械的強度の観点からは、組成物全体に対し、質量基準で25質量%以上60質量%以下、体積基準で52体積%以上80体積%以下の範囲が好ましく、質量基準で30質量%以上55質量%以下、体積基準で60体積%以上77体積%以下の範囲がより好ましい。   The hollow inorganic filler of component (C) is 25% by mass or more and 60% by mass or less on a mass basis and 52% by volume or more and 80% by volume on a volume basis with respect to the entire composition from the viewpoint of the specific gravity and mechanical strength of the sheet. The following ranges are preferable, and a range of 30% by mass to 55% by mass and more preferably 60% by mass to 77% by volume on a volume basis is more preferable.

エポキシ樹脂組成物には、以上の各成分の他、(A)成分のエポキシ樹脂と(B)成分のエポキシ樹脂用硬化剤との反応を促進する硬化促進剤を配合することができる。硬化促進剤としては、例えば、イミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−イソプロピルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2,4−ジメチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、4−メチルイミダゾール、4−エチルイミダゾール、2−フェニル−4−ヒドロキシメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5−ヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテイト、1−シアノエチル−2−フェニル−4,5−ジ(シアノエトキシ)メチルイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロライド、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール塩酸塩、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテイト、2,4−ジアミノ−6−[2′−メチルイミダゾリル−(1′)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2′−ウンデシルイミダゾリル−(1′)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2′−エチル−4′−メチルイミダゾリル−(1′)]−エチル−s−トリアジン、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−メチルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾリン等のイミダゾール類;1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン−7(DBU)、1,5−ジアザビシクロ[4,3,0]ノネン、5,6−ジブチルアミノ−1,8−ジアザビシクロ[5,4,0]ウンデセン−7等のジアザビシクロ化合物及びこれらの塩;トリエチルアミン、トリエチレンジアミン、ベンジルジメチルアミン、α−メチルベンジルジメチルアミン、トリエタノールアミン、ジメチルアミノエタノール、トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール等の三級アミン類;メタフェニレンジアミン、ジアミノジフェニルメタン、ジアミノジフェニルスルフォン等の芳香族アミン類;フェニルジメチルウレア、メチレンビス(フェニルジメチルウレア)、トリレンビス(ジメチルウレア)等の芳香族ジメチルウレア類;トリメチルホスフィン、トリエチルホスフィン、トリブチルホスフィン、ジフェニルホスフィン、トリフェニルホスフィン、トリ(p‐メチルフェニル)ホスフィン、トリ(ノニルフェニル)ホスフィン、メチルジフェニルホスフィン、ジブチルフェニルホスフィン、トリシクロヘキシルホスフィン、ビス(ジフェニルホスフィノ)メタン、1,2‐ビス(ジフェニルホスフィノ)エタン等の有機ホスフィン化合物;テトラフェニルホスホニウムテトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィンテトラフェニルボレート、トリフェニルホスフィントリフェニルボラン等のテトラ‐またはトリフェニルボロン塩等が挙げられる。これらは1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。   In addition to the above components, the epoxy resin composition may contain a curing accelerator that accelerates the reaction between the epoxy resin of component (A) and the curing agent for epoxy resin of component (B). Examples of the curing accelerator include imidazole, 2-heptadecylimidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-isopropylimidazole, 2-undecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, and 2,4-dimethylimidazole. 2-phenylimidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 4-methylimidazole, 4-ethylimidazole, 2-phenyl-4-hydroxymethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2- Methylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5-hydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole 1-cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl- 2-phenyl-4,5-di (cyanoethoxy) methylimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 1-benzyl-2-phenylimidazole hydrochloride, 1-benzyl-2-phenylimidazo Lithium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1 ')]-Ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-ethyl 4'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-methylimidazole isocyanuric acid adduct, imidazoles such as 2-phenylimidazoline; 1,8-diazabicyclo [5,4,0] undecene-7 (DBU), 1,5-diazabicyclo [4,3,0] nonene, 5,6-dibutylamino-1,8-diazabicyclo [5,4,0] undecene-7 Diazabicyclo compounds and salts thereof; tertiary amines such as triethylamine, triethylenediamine, benzyldimethylamine, α-methylbenzyldimethylamine, triethanolamine, dimethylaminoethanol, tris (dimethylaminomethyl) phenol; metaphenylenediamine Diaminodiphenyl meta Aromatic amines such as diaminodiphenylsulfone; aromatic dimethylureas such as phenyldimethylurea, methylenebis (phenyldimethylurea), tolylenebis (dimethylurea); trimethylphosphine, triethylphosphine, tributylphosphine, diphenylphosphine, triphenylphosphine , Tri (p-methylphenyl) phosphine, tri (nonylphenyl) phosphine, methyldiphenylphosphine, dibutylphenylphosphine, tricyclohexylphosphine, bis (diphenylphosphino) methane, 1,2-bis (diphenylphosphino) ethane, etc. Organic phosphine compounds; tetraphenylphosphonium tetraphenylborate, triphenylphosphine tetraphenylborate, triphenylphosphine Tetra such re phenyl borane - or triphenyl boron salts. These may be used individually by 1 type, and may mix and use 2 or more types.

この硬化促進剤の配合量は、(A)成分のエポキシ樹脂100質量部に対し、0.1〜10質量部の範囲が好ましい。配合量が0.1質量部未満では、硬化性の促進にあまり効果がなく、逆に10質量部を超えると、保存安定性が低下するおそれがある。   The blending amount of the curing accelerator is preferably in the range of 0.1 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the epoxy resin as the component (A). If the blending amount is less than 0.1 parts by mass, the curability is not very effective. On the other hand, if it exceeds 10 parts by mass, the storage stability may be lowered.

なお、(B)成分の硬化剤としてジシアンジアミドを単独で使用する場合、硬化促進剤として、イミダゾール類、三級アミン類、芳香族アミン類、芳香族ジメチルウレア類の使用が好ましい。これは、ジシアンジアミドの硬化温度が160〜180℃と高く、イミダゾール類、三級アミン類、芳香族アミン類、芳香族ジメチルウレア類を使用することにより、より低温(例えば、160℃未満の温度)で硬化させることが可能になるからである。また、組成物及び封止用樹脂シートの保存安定性を高める観点からは、イミダゾール類、芳香族ジメチルウレア類の使用が好ましい。   When dicyandiamide is used alone as the curing agent for component (B), it is preferable to use imidazoles, tertiary amines, aromatic amines, and aromatic dimethylureas as curing accelerators. This is because the curing temperature of dicyandiamide is as high as 160 to 180 ° C, and by using imidazoles, tertiary amines, aromatic amines, and aromatic dimethylureas, lower temperatures (for example, temperatures below 160 ° C) This is because it is possible to cure with. Further, from the viewpoint of enhancing the storage stability of the composition and the sealing resin sheet, it is preferable to use imidazoles and aromatic dimethylureas.

エポキシ樹脂組成物には、また、充填性や、中空無機フィラー等と樹脂との密着性等を高める目的で、カップリング剤を配合することができる。カップリング剤としては、シランカップリング剤、チタンカップリング剤、アルミニウムキレート類、アルミニウム/ジルコニウム系化合物等が挙げられるが、なかでもシランカップリング剤が好ましい。   In the epoxy resin composition, a coupling agent can be blended for the purpose of improving the filling property and the adhesion between the hollow inorganic filler and the resin and the resin. Examples of the coupling agent include a silane coupling agent, a titanium coupling agent, an aluminum chelate, an aluminum / zirconium-based compound, and among them, a silane coupling agent is preferable.

好ましいシランカップリング剤の例としては、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、γ−グリシドキシプロピルメチルジエトキシシラン、β−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、γ−(メタクリロプロピル)トリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルトリメトキシシラン、γ−メルカプトプロピルメチルジメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエトキシシラン、γ−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−β−アミノエチル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、、N−β−アミノエチル−γ−アミノプロピルメチルジエトキシシラン、、N−フェニル−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、ビス(3−トリエトキシシリルプロピル)テトラスルファン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ビニルトリアセトキシシラン、イミダゾールシラン等が挙げられる。これらは1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。   Examples of preferred silane coupling agents include γ-glycidoxypropyltrimethoxysilane, γ-glycidoxypropylmethyldiethoxysilane, β- (3,4-epoxycyclohexyl) ethyltrimethoxysilane, γ- (methacrylic). Ropropyl) trimethoxysilane, γ-mercaptopropyltrimethoxysilane, γ-mercaptopropylmethyldimethoxysilane, γ-aminopropyltriethoxysilane, γ-ureidopropyltriethoxysilane, N-β-aminoethyl-γ-aminopropyl Trimethoxysilane, N-β-aminoethyl-γ-aminopropylmethyldiethoxysilane, N-phenyl-γ-aminopropyltrimethoxysilane, bis (3-triethoxysilylpropyl) tetrasulfane, methyltrimethoxy Silane, me Le triethoxysilane, vinyl trimethoxysilane, vinyl triacetoxy silane, imidazole silane, and the like. These may be used individually by 1 type, and may mix and use 2 or more types.

カップリング剤の配合量は、組成物全体の0.01〜5質量%となる範囲が好ましい。配合量が組成物全体の0.01質量%未満では、添加による特性の向上にあまり効果がなく、逆に5質量%を超えると、耐湿信頼性が低下する。   The blending amount of the coupling agent is preferably in the range of 0.01 to 5% by mass of the entire composition. When the blending amount is less than 0.01% by mass of the whole composition, there is not much effect on the improvement of the characteristics by addition, and when it exceeds 5% by mass, the moisture resistance reliability decreases.

エポキシ樹脂組成物には、さらに、この種の組成物に一般に配合される、合成ゴム、フェノキシ樹脂、変性ポリアミド樹脂等のエラストマー類、希釈剤、消泡剤、老化防止剤、酸化防止剤、可塑剤、顔料、染料、着色剤等の添加剤を、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて配合することができる。また、中空無機フィラー以外の無機フィラーも本発明の効果を阻害しない範囲であれば配合してもよい。中空無機フィラー以外の無機フィラーとしては、例えば、溶融シリカ、結晶シリカ、破砕シリカ、合成シリカ、アルミナ、酸化チタン、酸化マグネシウム等の酸化物粉末、水酸化アルミニウム、水酸化マグネシウム等の水酸化物粉末、窒化ホウ素、窒化アルミ、窒化ケイ素等の窒化物粉末等が挙げられる。   The epoxy resin composition further includes elastomers such as synthetic rubber, phenoxy resin, and modified polyamide resin, diluents, antifoaming agents, anti-aging agents, antioxidants, plastics, and the like, which are generally blended with this type of composition. Additives such as agents, pigments, dyes, colorants and the like can be blended as necessary within a range not impairing the effects of the present invention. Moreover, you may mix | blend inorganic fillers other than a hollow inorganic filler, if it is a range which does not inhibit the effect of this invention. Examples of the inorganic filler other than the hollow inorganic filler include, for example, fused silica, crystalline silica, crushed silica, synthetic silica, oxide powder such as alumina, titanium oxide, and magnesium oxide, and hydroxide powder such as aluminum hydroxide and magnesium hydroxide. And nitride powders such as boron nitride, aluminum nitride, and silicon nitride.

このようなエポキシ樹脂組成物の調製は、(A)エポキシ樹脂、(B)エポキシ樹脂用硬化剤、(C)中空無機フィラー、及び必要に応じて配合される各種成分を、プラネタリミキサー、二軸混合機、遊星撹拌機等の混合機を用いて十分に混練することにより行われる。混練後、必要に応じて脱泡処理してもよい。   The preparation of such an epoxy resin composition comprises (A) an epoxy resin, (B) a curing agent for epoxy resin, (C) a hollow inorganic filler, and various components to be blended as necessary. It is carried out by sufficiently kneading using a mixer such as a mixer or a planetary stirrer. After kneading, if necessary, defoaming treatment may be performed.

本発明の封止用樹脂シートは、例えば、上記エポキシ樹脂組成物の混練物を、圧延、キャスティング等の方法でシート状に成形することにより得られる。その際、シート両面に離型フィルムをラミネートするようにしてもよい。離型フィルムをラミネートすることにより、樹脂シートの乾燥を防止するとともに、その形状を維持することができる。離型フィルムとしては、例えば、市販品のフィルムバイナNSD(藤森工業(株)製 商品名;50μmのPETフィルム上に非シリコーン系剥離層を有する)等が使用される。   The sealing resin sheet of the present invention can be obtained, for example, by molding a kneaded product of the above epoxy resin composition into a sheet shape by a method such as rolling or casting. In that case, you may make it laminate a release film on both surfaces of a sheet | seat. By laminating the release film, it is possible to prevent the resin sheet from drying and to maintain its shape. As the release film, for example, a commercially available film binder NSD (trade name, manufactured by Fujimori Kogyo Co., Ltd .; having a non-silicone release layer on a 50 μm PET film) is used.

[電子部品装置の製造方法]
次に、本発明の封止用樹脂シートを用いた電子部品装置の製造方法について説明する。
図1は本発明の封止用樹脂シートを用いた電子部品装置の製造工程を模式的に示した図である。
図1に示すように、本発明の電子部品装置の製造方法においては、まず、配線基板11の両面に電子部品12を接着、固定する工程を行う。各電子部品12は外部接続用電極(図示なし)を有しており、この外部接続用電極と配線基板の表面に形成されている配線パターンとがハンダ等で接続され、回路を形成するように配線基板11上に実装される(図1(a))。
[Method of manufacturing electronic component device]
Next, the manufacturing method of the electronic component apparatus using the sealing resin sheet of this invention is demonstrated.
FIG. 1 is a diagram schematically showing a manufacturing process of an electronic component device using the sealing resin sheet of the present invention.
As shown in FIG. 1, in the method for manufacturing an electronic component device of the present invention, first, a process of bonding and fixing the electronic component 12 to both surfaces of the wiring board 11 is performed. Each electronic component 12 has an external connection electrode (not shown), and the external connection electrode and a wiring pattern formed on the surface of the wiring board are connected by solder or the like to form a circuit. It is mounted on the wiring board 11 (FIG. 1A).

次に、上記電子部品12を実装した配線基板11の両面にそれぞれ、予め所定の平面形状に外形加工しておいた本発明の封止用樹脂シート20を配置し接着させる(図1(b))。封止用樹脂シート20の両面の離型フィルムがラミネートされている場合には、それらの離型フィルムを予め剥離しておく。
この工程では、封止用樹脂シート20は電子部品12や配線基板11に完全に接着させる必要はなく、仮接着でよいが、封止用樹脂シート20の封止面(電子部品12や配線基板11に対向する面)全体がほぼ電子部品12及び配線基板11に接触した状態とすることが好ましい。これにより、次の封止工程の際、加熱溶融した樹脂が電子部品12間への毛細管力や表面張力でレベリングされる結果、電子部品や配線基板表面が良好に被覆される。このような仮接着は、例えば、常圧下において、60℃以上180℃以下の温度で、0.5MPa以下の低い圧力でプレス成形することにより行われる。
Next, the sealing resin sheet 20 of the present invention that has been externally processed into a predetermined planar shape in advance is disposed and bonded to both surfaces of the wiring board 11 on which the electronic component 12 is mounted (FIG. 1B). ). When the release films on both surfaces of the sealing resin sheet 20 are laminated, the release films are previously peeled off.
In this step, the sealing resin sheet 20 does not have to be completely bonded to the electronic component 12 or the wiring substrate 11 and may be temporarily bonded, but the sealing surface of the sealing resin sheet 20 (the electronic component 12 or the wiring substrate) may be used. It is preferable that the entire surface facing the substrate 11 is in contact with the electronic component 12 and the wiring board 11. Thereby, in the next sealing step, the heated and melted resin is leveled by the capillary force and the surface tension between the electronic components 12, so that the surface of the electronic components and the wiring board is satisfactorily covered. Such temporary adhesion is performed, for example, by press molding at a temperature of 60 ° C. or higher and 180 ° C. or lower and a low pressure of 0.5 MPa or lower under normal pressure.

その後、両面に封止用樹脂シート20を仮接着した配線基板11を垂直(図1(c))または水平(図1(d))に保持した状態で乾燥炉に投入し、配線基板11両面の封止用樹脂シート20を同時に加熱する。加熱された封止用樹脂シート20は溶融流動し、その溶融流動した樹脂が電子部品12間等に侵入し、電子部品12が埋め込まれる。その後、さらに加熱を続け、加熱溶融した樹脂を硬化させる。これにより封止が完了する。
この封止工程は、100℃以上180℃以下、好ましくは110℃以上170℃以下で、5分以上60分以下、好ましくは10分以上50分以下の間行うようにすればよい。その後、さらに、150℃以上200℃以下で2時間以上5時間以下加熱して、樹脂が完全に硬化するようにすることが好ましい。
Thereafter, the wiring board 11 with the sealing resin sheet 20 temporarily bonded on both sides is put into a drying furnace while being held vertically (FIG. 1 (c)) or horizontally (FIG. 1 (d)). The sealing resin sheet 20 is simultaneously heated. The heated sealing resin sheet 20 melts and flows, and the melted and fluidized resin enters between the electronic components 12 and the electronic components 12 are embedded. Thereafter, the heating is further continued to cure the heated and melted resin. This completes the sealing.
This sealing step may be performed at 100 ° C. to 180 ° C., preferably 110 ° C. to 170 ° C. for 5 minutes to 60 minutes, preferably 10 minutes to 50 minutes. Thereafter, the resin is preferably heated at 150 ° C. to 200 ° C. for 2 hours to 5 hours so that the resin is completely cured.

本発明においては、封止用樹脂シート20の比重が0.8以下であるため、封止用樹脂シート12が加熱溶融しても、従来のように、樹脂が垂れ落ちたり、その厚さに大きな偏りが生じることはなく、ほぼ均一な厚さで硬化し、電子部品12は確実かつ良好に封止された、信頼性の高い電子部品装置を製造することができる。
なお、図2は、従来の封止用樹脂シート21を用い、封止工程を配線基板11を垂直に保持して行った場合の例、図3は、従来の封止用樹脂シート21を用い、封止工程を配線基板11を水平に保持して行った場合の例を示したもので、いずれも、封止用樹脂シート21が加熱溶融時に樹脂ダレを生じた結果、その厚みに偏りが生じ、上部の電子部品の封止が不十分になっている。
In the present invention, since the specific gravity of the encapsulating resin sheet 20 is 0.8 or less, even if the encapsulating resin sheet 12 is heated and melted, the resin may sag, It is possible to manufacture a highly reliable electronic component device in which the electronic component 12 is securely and satisfactorily sealed without causing a large deviation and being cured with a substantially uniform thickness.
2 shows an example in which the conventional sealing resin sheet 21 is used and the sealing process is performed while the wiring substrate 11 is held vertically, and FIG. 3 uses the conventional sealing resin sheet 21. In the case where the sealing process is carried out while holding the wiring substrate 11 horizontally, the thickness of the sealing resin sheet 21 is biased as a result of the resin sagging when heated and melted. This results in insufficient sealing of the upper electronic component.

本発明の封止用樹脂シートは、電子部品が実装された配線基板の両面を同時に一括しても樹脂ダレが生ずることはなく、したがって、配線基板や配線基板に実装された電子部品を封止する封止用樹脂シートとして、特に、配線基板の両面を同時に一括して封止する用途に有用である。   The sealing resin sheet of the present invention does not cause resin sag even if both sides of the wiring board on which the electronic component is mounted are simultaneously packaged. Therefore, the electronic component mounted on the wiring board or the wiring board is sealed. As the sealing resin sheet to be used, it is particularly useful for applications in which both surfaces of the wiring substrate are simultaneously sealed.

本発明の封止用樹脂シートを用いて封止する配線基板上の電子部品の例としては、IC、ダイオード、サイリスタ、トランジスタ等の半導体装置の他、MEMS、水晶振動子、圧電振動子等の各種振動子、加速度センサー、角速度センサー等の各種センサー類、表面弾性波フィルタ等の表面弾性波装置等が挙げられる。   Examples of electronic components on a wiring board that are sealed using the sealing resin sheet of the present invention include semiconductor devices such as ICs, diodes, thyristors, transistors, MEMS, crystal resonators, piezoelectric resonators, and the like. Examples include various vibrators, acceleration sensors, various sensors such as angular velocity sensors, and surface acoustic wave devices such as surface acoustic wave filters.

次に、本発明を実施例によりさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に何ら限定されるものではない。なお、以下の実施例及び比較例の記載において「部」は特に断らない限り「質量部」を意味する。   EXAMPLES Next, although an Example demonstrates this invention further in detail, this invention is not limited to these Examples at all. In the following description of Examples and Comparative Examples, “part” means “part by mass” unless otherwise specified.

<封止用樹脂シートの作製>
(実施例1)
ビスフェノールA型液状エポキシ樹脂(長春人造樹脂公司製 商品名 BE−188EL;エポキシ当量193g/eq)12部、フェノールノボラック型固形エポキシ樹脂(DIC(株)製 商品名 EPICLON N−770;エポキシ当量213g/eq,軟化点70℃)50部、ジシアンジアミド(日本カーバイド(株)製 商品名 DICY)4部、イミダゾール系硬化促進剤(四国化成工業(株)製 商品名 キュアゾールC17Z)0.15部、中空ガラスフィラー(スリーエムジャパン(株)製 商品名 3MTMグラスバブルズK37;平均粒径45μm,真密度0.37g/cm)33部、及びエポキシシラン(サンケミカル(株)製 商品名 JH−0187)0.85部を混合した後、120℃の熱ロールで混練して、フィラー充填率33質量%(60体積%)のエポキシ樹脂組成物を得た。
上記エポキシ樹脂組成物を、80℃に加温したロールに離型フィルムを介して通し、厚さ0.7mmの封止用樹脂シート(A)を作製した。
<Preparation of sealing resin sheet>
Example 1
12 parts of bisphenol A type liquid epoxy resin (trade name BE-188EL manufactured by Changchun Artificial Resin Co., Ltd .; epoxy equivalent 193 g / eq), phenol novolak type solid epoxy resin (trade name EPICLON N-770 manufactured by DIC Corporation); epoxy equivalent 213 g / eq, softening point 70 ° C. 50 parts, dicyandiamide (trade name DICY, manufactured by Nippon Carbide Co., Ltd.), imidazole curing accelerator (trade name: Curesol C17Z, manufactured by Shikoku Kasei Co., Ltd.) 0.15 part, hollow glass Filler (trade name 3M TM Glass Bubbles K37 manufactured by 3M Japan Ltd., 33 parts average particle size 45 μm, true density 0.37 g / cm 3 ), and epoxysilane (trade name JH-0187 manufactured by Sun Chemical Co., Ltd.) After mixing 0.85 parts, the filler is kneaded with a hot roll at 120 ° C. To obtain an epoxy resin composition Hamaritsu 33 wt% (60 vol%).
The epoxy resin composition was passed through a roll heated to 80 ° C. through a release film to prepare a sealing resin sheet (A) having a thickness of 0.7 mm.

(実施例2〜3、比較例1)
組成を表1に示すように変えた以外は、実施例1と同様にして、エポキシ樹脂組成物を調製し、さらに、得られた組成物を用いて封止用樹脂シート(B)(実施例2)、封止用樹脂シート(C)(実施例3)、封止用樹脂シート(D)(比較例1)を作製した。なお、比較例1では、中空ガラスフィラーに代えて、溶融シリカ粉末(デンカ(株)製 商品名 デンカ溶融シリカFB−210;平均粒径22μm,真密度1.7g/cm)を、フィラー充填率が75質量%(60体積%)となる量で使用した。
(Examples 2-3, Comparative Example 1)
An epoxy resin composition was prepared in the same manner as in Example 1 except that the composition was changed as shown in Table 1. Further, a sealing resin sheet (B) (Example) was prepared using the obtained composition. 2) A sealing resin sheet (C) (Example 3) and a sealing resin sheet (D) (Comparative Example 1) were produced. In Comparative Example 1, in place of the hollow glass filler, fused silica powder (Denka Co., Ltd., trade name: Denka fused silica FB-210; average particle size 22 μm, true density 1.7 g / cm 3 ) was filled with filler. The ratio was 75% by mass (60% by volume).

上記各実施例及び各比較例で得られた封止用樹脂シートについて、下記に示す方法で(1)比重、(2)最低溶融粘度及び(3)融点(融解ピーク温度)を測定した。結果を組成及びシート厚さとともに表1に示す。
(1)比重
JIS K 6991に準拠して測定した。
(2)最低溶融粘度
パラレルプレート型レオメーター(TA Instruments社製)を用いて温度50℃から120℃まで昇温速度5℃/minで昇温させて測定し、最低溶融粘度を測定した。
(3)融点(融解ピーク温度)
JIS K 7121に準拠して測定した(昇温速度10℃/min)。
About the resin sheet for sealing obtained in each said Example and each comparative example, (1) specific gravity, (2) minimum melt viscosity, and (3) melting | fusing point (melting peak temperature) were measured by the method shown below. The results are shown in Table 1 together with the composition and sheet thickness.
(1) Specific gravity Measured according to JIS K 6991.
(2) Minimum melt viscosity A parallel plate type rheometer (manufactured by TA Instruments) was used to measure the temperature by raising the temperature from 50 ° C to 120 ° C at a heating rate of 5 ° C / min, and the minimum melt viscosity was measured.
(3) Melting point (melting peak temperature)
Measured according to JIS K 7121 (temperature increase rate 10 ° C./min).

Figure 2017190396
Figure 2017190396

<電子部品装置の製造>
(実施例4)
両面にそれぞれ、縦5mm×横3.5mm×高さ0.5mmの電子部品が4mm間隔で縦横それぞれ6列ずつ、計36個、実装された配線基板を用意し、その両面に、実装した全電子部品の周囲10mmまで覆う大きさ、形状に切断した実施例1で得られた封止用樹脂シート(A)を仮接着した。仮接着は、80℃に加温したプレスで0.05MPaの圧力を加えて行った。なお、封止用樹脂シートは、仮圧着前まで両面の離型フィルムを残しておき、まず、一方の面の離型フィルムを剥離し、その剥離面を配線基板に向けて配置し、仮圧着後、他方の面の離型フィルムを剥離した。
仮圧着後、配線基板を、図1(c)に示すように、垂直に保持した状態で乾燥炉に投入し、常温から5分間かけて100℃にまで昇温した後、100℃で1時間加熱して封止用樹脂シートを硬化させ、電子部品装置を製造した。
<Manufacture of electronic component devices>
Example 4
Prepare a total of 36 printed circuit boards with 6 rows each of vertical and horizontal electronic components measuring 5 mm in length, 3.5 mm in width, and 0.5 mm in height, 4 mm apart on both sides. The sealing resin sheet (A) obtained in Example 1 cut into a size and shape covering up to 10 mm around the electronic component was temporarily bonded. The temporary bonding was performed by applying a pressure of 0.05 MPa with a press heated to 80 ° C. In addition, the sealing resin sheet leaves the release films on both sides until temporary press-bonding. First, the release film on one side is peeled off, and the peeled surface is arranged toward the wiring board, and the temporary press-bonding is performed. Thereafter, the release film on the other side was peeled off.
After provisional pressure bonding, as shown in FIG. 1 (c), the wiring board is put into a drying furnace in a state of being held vertically, heated from room temperature to 100 ° C. over 5 minutes, and then at 100 ° C. for 1 hour. The resin sheet for sealing was heated to cure the electronic component device.

(実施例5〜6、比較例2)
実施例2、実施例3、及び比較例1で得られた封止用樹脂シート(B)、(C)及び(D)をそれぞれ用いた以外は実施例4と同様にして電子部品装置を製造した。
(Examples 5-6, Comparative Example 2)
An electronic component device was manufactured in the same manner as in Example 4 except that the sealing resin sheets (B), (C), and (D) obtained in Example 2, Example 3, and Comparative Example 1 were used. did.

実施例4〜6及び比較例2で製造された電子部品装置の封止部(硬化後の封止用樹脂シート)の厚さを、封止用樹脂シート1枚当たり、上部5ヶ所、下部5ヶ所でマイクロメータにより測定し、その最大値及び最小値を求めた。測定は、各例とも合計10枚のシートについて行い、その平均値を算出した。結果を表2に示す。表2には封止の際の加熱時間(昇温時間を含む)を併せ示した。   The thickness of the sealing part (cured sealing resin sheet) of the electronic component device manufactured in Examples 4 to 6 and Comparative Example 2 is set to five upper portions and five lower portions per sealing resin sheet. Measurements were made with a micrometer at several locations, and the maximum and minimum values were determined. The measurement was performed on a total of 10 sheets in each example, and the average value was calculated. The results are shown in Table 2. Table 2 also shows the heating time (including the temperature raising time) during sealing.

Figure 2017190396
Figure 2017190396

表2からも明らかなように、本発明の封止用樹脂シートを用いて製造した実施例4〜6の電子部品装置では、配線基板を垂直に保持して両面を同時に一括封止した場合でもほぼ均一な厚さの封止部を形成することができたのに対し、比較例2では、厚さに大きな偏りが生じた。   As is apparent from Table 2, in the electronic component devices of Examples 4 to 6 manufactured using the sealing resin sheet of the present invention, even when the wiring substrate is held vertically and both surfaces are simultaneously sealed simultaneously While a sealing portion having a substantially uniform thickness could be formed, in Comparative Example 2, a large deviation in thickness occurred.

(実施例7)
封止用樹脂シート(A)を仮圧着後、配線基板を水平に保持した状態で乾燥炉に投入し、加熱処理を行った以外は、実施例4と同様にして電子部品装置を製造した。
(Example 7)
After temporarily sealing the sealing resin sheet (A), an electronic component device was manufactured in the same manner as in Example 4 except that the wiring board was held horizontally and placed in a drying furnace and subjected to heat treatment.

(実施例8〜9、比較例3)
実施例2、実施例3、及び比較例1で得られた封止用樹脂シート(B)、(C)及び(D)をそれぞれ用いた以外は実施例7と同様にして電子部品装置を製造した。
(Examples 8 to 9, Comparative Example 3)
An electronic component device was manufactured in the same manner as in Example 7 except that the sealing resin sheets (B), (C), and (D) obtained in Example 2, Example 3, and Comparative Example 1 were used. did.

(比較例4)
封止用樹脂シートの仮圧着及び加熱硬化を配線基板の表面及び裏面で個別に行い、裏面に対しては、配線基板を裏返し、裏面を上に向けた状態で行った以外は、比較例3と同様にして電子部品装置を製造した。
実施例7〜9及び比較例3〜4で製造された電子部品装置の配線基板下面側の封止部(硬化後の封止用樹脂シート)の電子部品上の厚さを、封止用樹脂シート1枚当たり、10ヶ所でマイクロメータにより測定し、その最大値及び最小値を求めた。測定は、各例とも合計10枚のシートについて行い、その平均値を算出した。結果を表3に示す。表3には封止の際の加熱時間(昇温時間を含む)を併せ示した。
(Comparative Example 4)
Comparative Example 3 except that the temporary pressure bonding and heat curing of the sealing resin sheet were individually performed on the front and back surfaces of the wiring substrate, and the wiring substrate was turned over and the back surface was directed upward. In the same manner, an electronic component device was manufactured.
The thickness of the sealing portion (sealing resin sheet after curing) of the electronic component device manufactured in Examples 7 to 9 and Comparative Examples 3 to 4 on the lower side of the wiring board is defined as the sealing resin. Each sheet was measured with a micrometer at 10 locations, and the maximum and minimum values were obtained. The measurement was performed on a total of 10 sheets in each example, and the average value was calculated. The results are shown in Table 3. Table 3 also shows the heating time (including the temperature raising time) at the time of sealing.

Figure 2017190396
Figure 2017190396

表3からも明らかなように、本発明の封止用樹脂シートを用いて製造した実施例7〜9の電子部品装置では、配線基板を水平に保持して両面を同時に一括封止した場合でも配線基板下面側でほぼ均一な厚さの封止部を形成することができたのに対し、比較例3では、厚さに大きな偏りが生じ、配線基板の表裏両面をそれぞれ個別に封止する従来法を適用した比較例4では、実施例7〜9の略2倍の加熱封止時間を要した。   As is clear from Table 3, in the electronic component devices of Examples 7 to 9 manufactured using the sealing resin sheet of the present invention, even when the wiring board is held horizontally and both surfaces are simultaneously sealed simultaneously Whereas a sealing portion having a substantially uniform thickness could be formed on the lower surface side of the wiring board, in Comparative Example 3, a large deviation occurred in the thickness, and the front and back surfaces of the wiring board were individually sealed. In Comparative Example 4 to which the conventional method was applied, the heat sealing time approximately twice that of Examples 7 to 9 was required.

本発明の封止用樹脂シートは、配線基板の両面を同時に一括して封止しても、樹脂が垂れ落ちることはなく、厚さの偏りも少ない。したがって、配線基板や配線基板に実装された電子部品を封止する封止用樹脂シートとして、特に、配線基板の両面を同時に一括して封止する用途に有用である。   In the sealing resin sheet of the present invention, even if both surfaces of the wiring substrate are simultaneously sealed, the resin does not sag and the thickness is less uneven. Therefore, it is useful as an encapsulating resin sheet for encapsulating a wiring board or an electronic component mounted on the wiring board, particularly for applications in which both surfaces of the wiring board are simultaneously encapsulated.

11…配線基板、12…電子部品、20…封止用樹脂シート   DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... Wiring board, 12 ... Electronic component, 20 ... Resin sheet | seat for sealing

Claims (6)

電子部品の封止に用いられる封止用樹脂シートであって、
熱硬化性樹脂組成物をシート状に成形してなり、0.80以下の比重を有することを特徴とする封止用樹脂シート。
A resin sheet for sealing used for sealing electronic components,
A sealing resin sheet comprising a thermosetting resin composition formed into a sheet shape and having a specific gravity of 0.80 or less.
比重が0.75以下であることを特徴とする請求項1記載の封止用樹脂シート。   2. The sealing resin sheet according to claim 1, wherein the specific gravity is 0.75 or less. 最低溶融粘度が1Pa・s以上1000Pa・s以下であることを特徴とする封止用樹脂シート。   A sealing resin sheet having a minimum melt viscosity of 1 Pa · s or more and 1000 Pa · s or less. 前記熱硬化性樹脂組成物が、(A)エポキシ樹脂、(B)エポキシ樹脂用硬化剤、及び(C)中空無機フィラーを含有することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項記載の封止用樹脂シート。   The said thermosetting resin composition contains (A) epoxy resin, (B) the hardening | curing agent for epoxy resins, and (C) hollow inorganic filler, The any one of Claim 1 thru | or 3 characterized by the above-mentioned. Sealing resin sheet. (C)成分は、真密度が0.5g/cm以下の中空無機フィラーであることを特徴とする請求項4記載の封止用樹脂シート。 The resin sheet for sealing according to claim 4, wherein the component (C) is a hollow inorganic filler having a true density of 0.5 g / cm 3 or less. 電子部品が実装された配線基板の両面に請求項1乃至5のいずれか1項記載の封止用樹脂シートを配置する工程と、
前記封止用樹脂シートを同時に加熱硬化させて、前記配線基板の両面を封止する工程と
を含むことを特徴とする電子部品装置の製造方法。
Placing the sealing resin sheet according to any one of claims 1 to 5 on both sides of a wiring board on which electronic components are mounted;
And a step of simultaneously curing the resin sheet for sealing to seal both surfaces of the wiring board.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2019044133A1 (en) * 2017-08-28 2019-03-07 京セラ株式会社 MOLDING COMPOSITION FOR SiC AND GaN ELEMENT SEALING, AND ELECTRONIC COMPONENT DEVICE

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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