JP2017177314A - Adsorption film and abrasive pad - Google Patents
Adsorption film and abrasive pad Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017177314A JP2017177314A JP2016072518A JP2016072518A JP2017177314A JP 2017177314 A JP2017177314 A JP 2017177314A JP 2016072518 A JP2016072518 A JP 2016072518A JP 2016072518 A JP2016072518 A JP 2016072518A JP 2017177314 A JP2017177314 A JP 2017177314A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- polishing
- adsorption film
- thickness
- film
- surface plate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
本発明は吸着フィルムおよび研磨パッドに関し、詳しくは研磨パッドや保持パッド、保持具等の被保持物を定盤に固定するための吸着フィルム、および当該吸着フィルムを備えた研磨パッドに関する。 The present invention relates to an adsorption film and a polishing pad, and more particularly to an adsorption film for fixing an object to be held such as a polishing pad, a holding pad and a holder to a surface plate, and a polishing pad provided with the adsorption film.
従来、ガラス板や半導体基板等の被研磨物を研磨する研磨装置は、対向する一対の保持定盤および研磨定盤を備え、研磨加工時において保持定盤側に被研磨物を保持し、研磨定盤側に研磨パッドを固定している。
ここで上記保持定盤には上記被研磨物を吸着保持するための保持パッドや、保持パッドの外周に少なくとも1つ以上の貫通孔を有した枠材が設けられた保持具を備える場合がある。
このような研磨パッドや保持パッド、保持具等の被保持物を上記保持定盤や研磨定盤に固定する際、従来は両面テープを用いて固定していた。しかし、定盤から上記被保持物を交換する際、両面テープの粘着剤が定盤に残留し、交換作業が煩雑になるという問題があった。
このため、保持定盤へ粘着剤の残留を防止するために、表面層を有する軟質プラスチックシートによって構成され、上記表面層を水の表面張力を利用して保持定盤に密着させるようにした保持パッドが開示されている(特許文献1、2)。
Conventionally, a polishing apparatus for polishing an object to be polished such as a glass plate or a semiconductor substrate includes a pair of opposing holding surface plates and a polishing surface plate, holds the object to be polished on the holding surface plate side during polishing, and polishes A polishing pad is fixed on the surface plate side.
Here, the holding surface plate may include a holding pad for sucking and holding the object to be polished and a holding tool provided with a frame member having at least one through hole on the outer periphery of the holding pad. .
Conventionally, when a held object such as a polishing pad, a holding pad, or a holding tool is fixed to the holding surface plate or the polishing surface plate, it is fixed using a double-sided tape. However, when replacing the object to be held from the surface plate, there is a problem that the adhesive of the double-sided tape remains on the surface plate, and the replacement work becomes complicated.
For this reason, in order to prevent the adhesive from remaining on the holding surface plate, it is constituted by a soft plastic sheet having a surface layer, and the surface layer is held in close contact with the holding surface plate using the surface tension of water. A pad is disclosed (
上記特許文献1、2に記載された保持パッドでは、保持定盤側に軟質プラスチックシートの表面層を水によって吸着させるため、保持定盤への接着層の糊残りの問題を解消している。
しかしながら、特許文献1、2には上記保持パッドの厚さについて特段の開示がないものの、仮に厚さが0.3mmを超える場合にあっては、研磨の際に研磨パッドに保持パッドに保持された被研磨物を押し当てると、保持パッドが過度に沈みこむ。これにより被研磨物の端部形状が悪化し、近年の平坦性向上要求の高まりには対応できないものであった。一方で、例えば当該特許文献1、2に記載された保持パッドの軟質プラスチックシートを、研磨パッドを研磨定盤に貼付するための両面テープの代替として使用した場合では、研磨定盤へ粘着剤が残留する糊残りの問題は解消されるものの、厚さが厚い場合、研磨の際に研磨パッドに被研磨物を押し当てることで研磨パッドが過度に変形してしまい、被研磨物の端部形状が悪化するとの問題が生じた。
さらに、当該特許文献1、2に記載された保持パッドの軟質プラスチックシートを保持具の保持に用いた場合に、同様に糊残りの問題は解消されるものの、軟質プラスチックシートの厚さが厚い場合、軟質プラスチックシートの当該保持具の枠材が固定されている部位が過度に圧縮されて経時で圧縮特性が変化してしまい、経時で被研磨物の端部形状が悪化するとの問題が生じた。
In the holding pads described in
However,
Furthermore, when the soft plastic sheet of the holding pad described in
上述の沈みこみの問題を解消するためには、軟質プラスチックシートの厚さを低下させることが考えられるが、特許文献1において厚さを薄くするために軟質プラスチックシートを作製する際の成膜厚みを低下させると、内部の断面略三角形状の発泡のサイズが小さくなり、成膜性が悪化した。
また、特許文献2に記載の軟質プラスチックシートの厚みを薄くするために成膜厚みを低下させると、発泡のサイズは均一であるものの、使用する樹脂のモジュラスが20MPa以下であるため、軟質過ぎて加工性が悪く、薄いシートを得ることが出来なかった。
また、成膜厚みをある程度持たせた軟質プラスチックシートの作製後に、バフ処理等の研削処理によって厚みを薄くする手段も考えられるものの、軟質故にバフ処理が行い難いため、シートの平坦性を保った状態で0.3mm以下に薄くすることが難しかった。
このような問題に鑑み、研磨時の応力に対する沈みこみ量を低減させつつも、適切に定盤に保持することが可能な吸着フィルムおよび当該吸着フィルムを備えた研磨パッドを提供するものである。
In order to solve the above-mentioned problem of sinking, it is conceivable to reduce the thickness of the soft plastic sheet. However, in
Further, when the film thickness is reduced in order to reduce the thickness of the soft plastic sheet described in
In addition, after the production of a soft plastic sheet with a certain film thickness, it is possible to reduce the thickness by grinding such as buffing, but it is difficult to perform buffing due to the softness, so the flatness of the sheet was maintained. It was difficult to reduce the thickness to 0.3 mm or less.
In view of such a problem, it is an object of the present invention to provide an adsorption film that can be appropriately held on a surface plate while reducing the sinking amount with respect to stress during polishing, and a polishing pad provided with the adsorption film.
すなわち請求項1の発明にかかる吸着フィルムは、表面に微多孔を有するスキン層と、内部に前記スキン層の微多孔よりも大きな気泡を有する微発泡層とが形成された軟質プラスチックシートからなる吸着フィルムであって、
厚さが50〜200μm、前記吸着フィルムに使用する樹脂の100%モジュラスが20〜50MPaであることを特徴としている。
That is, the adsorption film according to the invention of
The thickness is 50 to 200 μm, and the 100% modulus of the resin used for the adsorption film is 20 to 50 MPa.
また請求項4の発明にかかる研磨パッドは、被研磨物を研磨する研磨パッドにおいて、
前記研磨パッドの研磨定盤固定側の面に請求項1ないし請求項3に記載の吸着フィルムを備えたことを特徴としている。
The polishing pad according to the invention of claim 4 is a polishing pad for polishing an object to be polished.
The adsorption film according to
上記請求項1の発明によれば、上記吸着フィルムの厚さを50〜200μmとし、かつ、使用する樹脂の100%モジュラスを20〜50MPaとすることで、研磨時の沈み込みを抑えることができ、適正な研磨圧を被研磨物に作用させることができる。また、比較的厚みが薄くとも吸着性能を確保することが可能であり、定盤からの剥離を生じにくくさせる。 According to the first aspect of the present invention, by setting the thickness of the adsorption film to 50 to 200 μm and the 100% modulus of the resin to be used to 20 to 50 MPa, sinking during polishing can be suppressed. An appropriate polishing pressure can be applied to the object to be polished. Further, even if the thickness is relatively small, it is possible to ensure the adsorption performance, and it is difficult to cause peeling from the surface plate.
上記請求項5の発明によれば、吸着フィルムの厚さを50〜200μmとし、かつ、使用する樹脂の100%モジュラスを20〜50MPaとすることで、研磨時の沈みこみを抑えることができ、適正な研磨圧を被研磨物に作用させることができる。また、比較的厚みが薄くとも吸着性能を確保することが可能となり、研磨定盤からの剥離を生じにくくさせることができる。
According to the invention of
以下図示実施例について説明すると、図1は被研磨物1を研磨する研磨装置2の概略図を示し、当該研磨装置2は上方に位置して被研磨物1を保持する保持具3の固定された保持定盤4と、下方に位置して被保持物としての研磨パッド5を固定する研磨定盤6と、上記被研磨物1と研磨パッド5との間にスラリーを供給するスラリー供給手段7とを備えている。
上記被研磨物1としては、シリコンウエハや光学用レンズ、SiCやサファイア等の化合物半導体を対象とすることができ、その他金属、プラスチック、セラミックによって構成された被研磨物1であってもよい。
上記保持定盤4および研磨定盤6はそれぞれ略円盤状を有しており、それぞれ図示しない駆動手段によって相対的に反対方向に回転するようになっており、また上記保持定盤4は昇降可能に設けられている。
そして研磨加工を行う際、上記保持定盤4は上記研磨定盤6上面の研磨パッド5に上記被研磨物1を押し当てながら相対的に回転し、上記スラリー供給手段7がスラリーを上記被研磨物1と研磨パッド5との間に供給する。
上記スラリー供給手段7が供給する上記スラリーとしては、研磨する被研磨物1および求められる加工精度に応じて従来公知の物を使用することができる。
1 is a schematic view of a
The object to be polished 1 may be a silicon wafer, an optical lens, a compound semiconductor such as SiC or sapphire, and may be an object to be polished 1 made of metal, plastic, or ceramic.
The holding surface plate 4 and the
When the polishing process is performed, the holding surface plate 4 rotates relatively while pressing the object to be polished 1 against the
As the slurry supplied by the slurry supply means 7, a conventionally known material can be used according to the object to be polished 1 and the required processing accuracy.
図2は上記保持定盤4および研磨定盤6の拡大断面図を示したものであり、上記保持定盤4に上記被研磨物1を保持する保持具3は、上記被研磨物1を吸着保持する保持シート11と、当該保持シート11を囲繞するように設けられた枠材12と、上記枠材12および上記保持シート11における被研磨物1を保持する面と反対面側に両面テープTを介して接着固定された吸着フィルムFとから構成されている。
上記保持シート11としては軟質プラスチックシートや発泡ポリウレタンを使用することができ、具体的には軟質ウレタンシートやモールド法によって成形されたポリウレタン発泡体を用いることができ、またその厚さは0.5〜2.0mm程度のものを使用することが出来る。
また上記保持シート11を構成する軟質プラスチックシートの内部には無数の気泡が形成されており、被研磨物1側の表面に図示しない微多孔が形成された厚さ数μmのスキン層S2と、当該スキン層S2よりも内側に位置して上記微多孔より大きな縦長気泡b1が形成されたナップ層Nとを有し、上記ナップ層Nでは図示しないが隣接する縦長気泡b1と縦長気泡b1とが相互に連通して立体網目状構造を形成している。
次に、上記研磨定盤6に固定される上記研磨パッド5は、被研磨物1を研磨する研磨シート13と、当該研磨シート13と両面テープTにより接着固定された吸着フィルムFとから構成されている。
上記研磨シート13としては従来公知のものを用いることができ、例えばポリウレタン樹脂含浸不織布や発泡ポリウレタン製のものを使用し、その厚さは0.5〜2.0mm程度のものを使用することができる。また研磨パッド5における被研磨物1側の研磨面には必要に応じて溝が形成されていてもよい。
そして、上記保持シート11や研磨シート13を上記吸着フィルムに接着する両面テープTとしては、例えばPET製の基材の両面に粘着剤が塗布されたものを使用することができ、上記粘着剤を含めた厚さは50μm程度となっている。
FIG. 2 is an enlarged cross-sectional view of the holding surface plate 4 and the
As the
The inside of the soft plastic sheet constituting the
Next, the
As the
And as the double-sided tape T which adhere | attaches the said holding | maintenance sheet |
以下、上記保持具3および研磨パッド5を構成する吸着フィルムFについて説明すると、当該吸着フィルムFとしては軟質ウレタンシートを使用し、その厚さは50~200μm程度のものを使用することが出来る。
吸着フィルムFを構成する軟質ウレタンシートは、表面に図示しない微多孔が形成された厚さ数μmのスキン層S2と当該スキン層S2よりも内側に位置して上記微多孔より大きな気泡b2が形成された微発泡層S1とを有している。
そして、上記微発泡層S1では、図示しないが隣接する気泡b2と気泡b2とが相互に連通して立体網目状構造を形成している。
そして上記保持具3を構成する吸着フィルムFのスキン層S2は上記保持定盤4側を向いており、吸着フィルムFにおけるスキン層Sとは反対側の面に上記両面テープTが接着されるようになっている。
これと同様、上記研磨パッド13において、上記吸着フィルムFのスキン層S2は上記研磨定盤6側を向くように設けられ、当該吸着フィルムFにおけるスキン層S2とは反対側の面が上記両面テープTによって研磨シート13に接着されるようになっている。
Hereinafter, the adsorption film F constituting the
The soft urethane sheet constituting the adsorbing film F is composed of a skin layer S 2 having a thickness of several μm with micropores (not shown) formed on the surface thereof, and bubbles b larger than the micropores located inside the skin layer S 2. 2 and a fine foam layer S 1 formed thereon.
In the fine foam layer S 1 , although not shown, adjacent bubbles b 2 and bubbles b 2 communicate with each other to form a three-dimensional network structure.
The skin layer S 2 adsorption film F that constitute the
Similarly, in the
上記構成を有する吸着フィルムFを用いることにより、上記保持具3および研磨パッド5を以下のようにして保持定盤4および研磨定盤6に装着することができ、またこれを容易に交換することができる。
まず上記保持具3を保持定盤4に装着する際、当該保持具3を構成する吸着フィルムFのスキン層S2に水を含ませ、これを上記保持定盤4に密着させる。すると、上記微多孔に浸入した水の表面張力により保持具3を保持定盤4に固定することができる。
その後、上記保持シート11のスキン層S2に水を含ませた後、これに上記被研磨物1を押し当てることで、上記表面張力により当該被研磨物1を保持シート11を保持でき、被研磨物1が保持定盤4によって保持されることとなる。
そして被研磨物1の研磨が終了したら、被研磨物1を上記保持シート11から取り外すことができ、その際保持シート11と被研磨物1との間には上記水だけが介在しているため、保持パッド11や被研磨物1の表面に粘着剤が残留することが無く、被研磨物1の交換を速やかに行うことができる。
また、複数枚の被研磨物1を研磨した後、上記保持具3を交換する際には、上記吸着フィルムFを保持定盤4から剥離させることにより、当該保持具3を保持定盤4から離脱させることができる。このとき、上記吸着フィルムFと保持定盤4との間には上記水だけが介在しているため、保持具3の交換を速やかに行うことができる。
By using the adsorption film F having the above configuration, the
First, when the
Thereafter, moistened with water in the skin layer S 2 of the holding
When the polishing of the
Further, when the
一方、上記研磨パッド5を上記研磨定盤6に装着するにあたり、上記研磨パッド5は上記研磨シート13に上記吸着フィルムFが接着された状態で取り扱うことができ、上記吸着フィルムFのスキン層S2に水を含ませて上記研磨定盤6に押し付けることで、上記研磨パッド5を研磨定盤6に装着することができる。
また上記研磨パッド5を交換する際にも、上記吸着フィルムFを研磨定盤6から剥離させることにより研磨パッド5を研磨定盤6から離脱させることができる。このとき上記吸着フィルムFと研磨定盤6との間には上記水だけが介在しているため、研磨パッド5の交換を速やかに行うことができる。
On the other hand, when the
Further, when the
上記吸着フィルムFを構成する軟質プラスチックシートとしての上記軟質ウレタンシートは以下の各工程を経て製造することができる。
まず、準備工程では、ポリウレタン樹脂、ポリウレタン樹脂を溶解可能な水混和性の有機溶媒のN,N−ジメチルホルムアミド(以下、DMFと略記する。)、添加剤を混合してポリウレタン樹脂を溶解させる。
ポリウレタン樹脂には、100%モジュラス(2倍長に引っ張る時の張力)が20~50MPa、好ましくは20〜40MPa、より好ましくは20〜30MPaのポリエステル系、ポリエーテル系、ポリカーボネート系等の樹脂から選択して用い、例えば、ポリウレタン樹脂が20〜25%となるようにDMFに溶解させる。
添加剤としては、気泡b2の大きさや量(個数)を制御するカーボンブラック等の顔料、気泡b2を促進させる親水性活性剤及びポリウレタン樹脂の凝固再生を安定化させる疎水性活性剤、成膜時の樹脂粘体の粘度を調製するための増粘剤等を用いることができる。
The flexible urethane sheet as the flexible plastic sheet constituting the adsorption film F can be manufactured through the following steps.
First, in the preparation step, polyurethane resin, N, N-dimethylformamide (hereinafter abbreviated as DMF), which is a water-miscible organic solvent capable of dissolving polyurethane resin, and an additive are mixed to dissolve the polyurethane resin.
The polyurethane resin is selected from resins such as polyester, polyether, and polycarbonate resins having a 100% modulus (tension when pulled twice) of 20 to 50 MPa, preferably 20 to 40 MPa, more preferably 20 to 30 MPa. For example, the polyurethane resin is dissolved in DMF so as to be 20 to 25%.
Additives, hydrophobic active agent for stabilizing pigments such as carbon black to control the size and amount of bubbles b 2 (number), hydrophilic active agents to promote the bubble b 2 and the coagulation regeneration of a polyurethane resin, formed A thickener or the like for adjusting the viscosity of the resin viscous body at the time of filming can be used.
上記準備工程で得られた溶液を濾過することで凝集塊等を除去した後、真空下で脱泡することによりポリウレタン樹脂溶液を得ることができ、当該ポリウレタン樹脂溶液を成膜基材に連続的に塗布し、これを水系凝固液に浸漬することでポリウレタン樹脂を凝固再生させる。
具体的には、上記ポリウレタン樹脂溶液が塗布された成膜基材を凝固液中に導入し、これにより凝固液中では、塗布されたポリウレタン樹脂溶液の表面でポリウレタン樹脂溶液のDMFと凝固液との置換が進行し、緻密な微多孔が形成され、厚さ数μm程度の上記スキン層S2が構成される。
その後、スキン層S2と成膜基材との間で、ポリウレタン樹脂溶液中のDMFと凝固液との置換がさらに進行し、ポリウレタン樹脂が成膜基材の片面に凝固再生され、スキン層S2の内側に上記気泡b2およびこれらの気泡b2を連通させて立体網目状にする連通孔が形成されて微発泡層S1を構成する。
ここで、スキン層S2の厚さが数μm程度であることから、ポリウレタン樹脂溶液の塗布厚さの大部分で微発泡層S1が形成されることとなり、微発泡層S1の厚さはスキン層S2の厚さより大きくなる。
その後、凝固液から取り出したポリウレタン樹脂を洗浄してさらに乾燥させることで上記軟質ウレタンシートが得られ、この軟質ウレタンシートにおける上記スキン層S2とは反対側の面を必要に応じてバフ処理することで、上記吸着フィルムFを得ることができる。
After removing aggregates and the like by filtering the solution obtained in the above preparation step, a polyurethane resin solution can be obtained by defoaming under vacuum, and the polyurethane resin solution is continuously applied to the film-forming substrate. The polyurethane resin is coagulated and regenerated by immersing it in an aqueous coagulating liquid.
Specifically, the film-forming substrate coated with the polyurethane resin solution is introduced into the coagulation liquid, whereby in the coagulation liquid, the DMF and coagulation liquid of the polyurethane resin solution are formed on the surface of the applied polyurethane resin solution. substitution was progress, dense microporous are formed, the skin layer S 2 of several thicknesses μm is formed.
Then, between the skin layer S 2 and the deposition substrate, further progress is replaced with the DMF and the coagulation liquid of the polyurethane resin solution, the polyurethane resin is solidified reproduced on one surface of the film forming substrate, the skin layer S 2, the bubbles b 2 and communication holes that connect these bubbles b 2 to form a three-dimensional network are formed to constitute the fine foam layer S 1 .
Here, since the thickness of the skin layer S 2 is about several [mu] m, will be finely foamed layer S 1 in most of the coating thickness of the polyurethane resin solution is formed, fine foam layer S 1 thickness is greater than the thickness of the skin layer S 2.
Thereafter, the soft polyurethane sheet is obtained by further drying the washed polyurethane resin taken out from the coagulating liquid, and buffed if necessary the surface opposite to the above-mentioned skin layer S 2 in the flexible urethane sheet Thus, the adsorption film F can be obtained.
そして、このように製造した吸着フィルムFにおいて、その厚さは上述した様に50〜200μmとすることが望ましい。
特に上記吸着フィルムFを上記研磨パッド5の研磨面と反対側の面に用いた場合、厚さが50μm未満であると、上記研磨定盤6の表面に形成された微小な凹凸を吸収できず、研磨定盤6からの剥離が生じやすくなってしまう。逆に200μmを超えると、その構成する軟質ウレタンシートの変形量が大きくなり、研磨の際に研磨パッド5を被研磨物1に向けて押し付けると、吸着フィルムFが変形して適切な研磨圧を被研磨物1に作用させることができなくなる。
また上記保持定盤4に保持具3を固定するために上記吸着フィルムFを使用した場合であっても、厚さが50μm未満である場合には保持定盤4からの剥離を生じさせやすく、逆に200μmを超えた場合には、枠材12部分と接する位置にある軟質ウレタンシートが過剰に圧縮されてしまうこととなる。
次に、上記吸着フィルムFについては100%モジュラスが20〜50MPaである。20MPa未満であると軟質過ぎて成膜用フィルムからの剥離やバフ処理が行い難く吸着フィルムFが得られにくくなる。逆に50MPaを超えると成膜性が悪くなりフィルムが収縮し、吸着性に優れた吸着フィルムを得ることが出きなくなる。
さらに、上記吸着フィルムFについては、荷重100g/cm2をかけたときの前記吸着フィルムFの厚さと荷重1120g/cm2をかけたときの前記吸着フィルムFの厚さの差である圧縮変形量が1.5〜7.0μmであることが望ましい。1.5μm未満であると上記研磨定盤6の表面の微小な凹凸を吸収できず、定盤からの剥離が生じやすくなってしまう。逆に7.0μmを超えると変形が大きくなりすぎて研磨パッド5を介して被研磨物1に適正な研磨圧を付与できなくなる。また保持具3に用いた場合においては、枠材12部分が過度に圧縮され、被研磨物の端部形状が経時で悪化するとの問題が生じる。
And as for the adsorption film F manufactured in this way, as for the thickness, it is desirable to set it as 50-200 micrometers as mentioned above.
In particular, when the adsorption film F is used on the surface opposite to the polishing surface of the
Further, even when the adsorption film F is used to fix the
Next, the adsorption film F has a 100% modulus of 20 to 50 MPa. If the pressure is less than 20 MPa, the film is too soft and peeling from the film for film formation or buffing is difficult to perform, making it difficult to obtain the adsorption film F. On the other hand, if it exceeds 50 MPa, the film formability deteriorates and the film shrinks, making it impossible to obtain an adsorbent film excellent in adsorbability.
Further, for the adsorption film F, the amount of compressive deformation, which is the difference between the thickness of the adsorption film F when a load of 100 g / cm 2 is applied and the thickness of the adsorption film F when a load of 1120 g / cm 2 is applied. Is preferably 1.5 to 7.0 μm. If the thickness is less than 1.5 μm, minute irregularities on the surface of the polishing
以下、上記実施例に従って製造した吸着フィルムFにかかる実施例と、比較のために製造した比較例とについて行った実験結果について説明する。なお本発明は以下の実施例によって何ら限定されるものではない。
実験では、実施例および比較例にかかる吸着フィルムFについて、それぞれ以下の方法を用いて厚さ、圧縮変形量、吸着力、研磨均一性を評価した。
<厚さ>
日本工業規格(JIS K6550)に記載された厚さ測定方法に準じて、吸着フィルムFの厚さを測定した。
すなわち、吸着フィルムFに厚さ方向に初荷重として1cm2あたり100gの荷重を付与した際の吸着フィルムFの厚さを測定した。吸着フィルムFを縦10cm×横10cmの3ピースに切り分け、各ピースの四隅および中心部の厚さをショッパー型厚さ測定器(加圧面:直径1cmの円形)を使用して最小目盛り(0.001mm)まで読み取り計測し、5点の平均値を1ピースの厚さとした。そして吸着フィルムFの平均厚さは、3ピースについてそれぞれ測定した厚さの平均値とした。
<圧縮変形量>
圧縮変形量は、吸着フィルムの表面に異なる荷重をかけ、その荷重の変化による、吸着フィルムの厚さの差を圧縮変形量とした。具体的には、フィルムの表面に荷重100g/cm2を掛けたときのフィルムの厚さ(T1)と荷重1120g/cm2を掛けたときのフィルムの厚さ(T2)の差(T1−T2)である。測定は3回行い、平均値を本発明の圧縮変形量とした。
Hereinafter, the experimental result performed about the Example concerning the adsorption film F manufactured according to the said Example and the comparative example manufactured for the comparison is demonstrated. The present invention is not limited to the following examples.
In the experiment, the thickness, the amount of compressive deformation, the adsorption force, and the polishing uniformity were evaluated for the adsorption films F according to Examples and Comparative Examples using the following methods.
<Thickness>
The thickness of the adsorption film F was measured according to the thickness measurement method described in Japanese Industrial Standard (JIS K6550).
That is, the thickness of the adsorption film F when a load of 100 g per 1 cm 2 was applied as an initial load in the thickness direction to the adsorption film F was measured. The adsorption film F is cut into three pieces of 10 cm in length and 10 cm in width, and the thicknesses of the four corners and the center of each piece are measured using a shopper type thickness measuring instrument (pressing surface: a circle having a diameter of 1 cm) (minimum scale). 001 mm) was read and measured, and the average value of 5 points was defined as the thickness of one piece. And the average thickness of the adsorption film F was made into the average value of the thickness measured about 3 pieces, respectively.
<Compression deformation amount>
For the amount of compressive deformation, a different load was applied to the surface of the adsorption film, and the difference in the thickness of the adsorption film due to the change in the load was defined as the amount of compressive deformation. Specifically, the difference (T1−T2) between the film thickness (T1) when a load of 100 g / cm 2 is applied to the surface of the film and the film thickness (T2) when a load of 1120 g / cm 2 is applied. ). The measurement was performed three times, and the average value was taken as the amount of compressive deformation of the present invention.
<研磨試験>
各実施例及び比較例の研磨パッドについて、以下の研磨条件で研磨加工を行い、吸着力、研磨均一性を評価した。ここで被研磨物としては、4インチのSiCを用い、またスラリーとしてはダイヤモンド砥粒(砥粒径:3μm)分散液を用いた。
使用研磨装置:片面研磨装置
研磨速度(定盤回転数):80rpm
加工応力:330gf/cm2
スラリー供給量:3mL/分
一枚当たりの研磨時間:60分
<Polishing test>
About the polishing pad of each Example and the comparative example, it grind | polished on the following grinding | polishing conditions, and evaluated adsorption | suction power and polishing uniformity. Here, 4-inch SiC was used as the object to be polished, and a diamond abrasive (abrasive particle size: 3 μm) dispersion was used as the slurry.
Polishing device used: Single-side polishing device Polishing speed (rotation speed of platen): 80 rpm
Processing stress: 330 gf / cm 2
Slurry supply amount: 3 mL / min Polishing time per sheet: 60 minutes
<吸着力>
25枚の被研磨物1を研磨した後の上記吸着フィルムFが研磨定盤6から剥離したか否かで判定した。剥離が認められない場合を〇とし、剥離が認められた場合を×と評価した。
<研磨均一性>
被研磨の研磨均一性は、研磨加工前後の被研磨物について各々49箇所の厚さ測定結果から求めた厚さのバラツキ(標準偏差÷平均値)(%)により評価した。厚さバラツキが3%未満であった場合を「○」とし、反対に3%以上確認された場合を「×」と評価した。
<Adsorption power>
Judgment was made based on whether or not the adsorbed film F after the 25 objects to be polished 1 were detached from the polishing
<Polishing uniformity>
The polishing uniformity of the object to be polished was evaluated by the thickness variation (standard deviation ÷ average value) (%) obtained from the thickness measurement results at 49 points for the object to be polished before and after the polishing process. The case where the thickness variation was less than 3% was evaluated as “◯”, and the case where 3% or more was confirmed was evaluated as “x”.
(実施例1)
実施例1にかかる吸着フィルムFは、ポリウレタン樹脂として、100%モジュラスが24MPaのポリエステルMDI(ジフェニルメタンジイソシアネート)ポリウレタン樹脂を用いた。
ポリウレタン樹脂を30%含むDMF溶液100部に対して、粘度調整用のDMFを31部、顔料のカーボンブラックを30%含むDMF分散液の8部、セルロース系増粘剤2部を混合してポリウレタン樹脂溶液を調製した。得られた樹脂溶液をポリエステルフィルム(厚さ:250μm)に上にキャストした。その後、樹脂含有溶液をキャストしたポリエステルフィルムを凝固浴(凝固浴は水)に浸漬し、該樹脂含有溶液を凝固させた後、洗浄・乾燥させて、ポリエステルフイルム上に厚さ150μmの樹脂シートを得た。その後、得られた樹脂シートにおける上記スキン層S2とは反対側の面をサンドペーパーを用いてバフ処理し、厚さを50μmとした。
このようにして得られた吸着フィルムFにおける上記スキン層S2とは反対側の面に両面テープTを貼付し、これに不織布パッド(フジボウ愛媛社製、商品名「FPK7000C2」)を装着した。
この実施例1にかかる吸着フィルムFについての実験結果は、圧縮変形量が規定範囲内であり、また吸着力についても実験終了後の剥離が認められなかった。また研磨均一性についても良好な結果が得られた。
Example 1
For the adsorption film F according to Example 1, a polyester MDI (diphenylmethane diisocyanate) polyurethane resin having a 100% modulus of 24 MPa was used as the polyurethane resin.
100 parts DMF solution containing 30% polyurethane resin, 31 parts DMF for viscosity adjustment, 8 parts DMF dispersion containing 30% pigment carbon black, and 2 parts cellulose thickener are mixed to make polyurethane A resin solution was prepared. The obtained resin solution was cast on a polyester film (thickness: 250 μm). Thereafter, the polyester film cast with the resin-containing solution is immersed in a coagulation bath (the coagulation bath is water) to coagulate the resin-containing solution, and then washed and dried to form a 150 μm thick resin sheet on the polyester film. Obtained. Thereafter, the above skin layer S 2 in the resulting resin sheet was buffed to a surface opposite with sandpaper, and a thickness of 50 [mu] m.
Such sticking a double-sided tape T on the side opposite to the above-mentioned skin layer S 2 in the adsorption film F thus obtained, this nonwoven pad was mounted (Fujibo Ehime Co., Ltd., trade name "FPK7000C2").
The experimental results for the adsorption film F according to Example 1 showed that the amount of compressive deformation was within the specified range, and the adsorption force was not peeled off after the end of the experiment. Good results were also obtained with respect to polishing uniformity.
(実施例2)
実施例2にかかる吸着フィルムFは、上記実施例1にかかる吸着フィルムFに対し、バフ処理を行わずその厚さを150μmとした他は、同じ構成となっている。
この実施例2にかかる吸着フィルムFについての実験結果も、圧縮変形量が規定範囲内であり、また吸着力についても実験終了後の剥離が認められなかった。また研磨均一性についても良好な結果が得られた。
(Example 2)
The adsorption film F according to Example 2 has the same configuration as the adsorption film F according to Example 1 except that the buff treatment is not performed and the thickness is 150 μm.
Also in the experimental results for the adsorption film F according to Example 2, the amount of compressive deformation was within the specified range, and the adsorption force was not recognized after the experiment was completed. Good results were also obtained with respect to polishing uniformity.
(比較例1)
比較例1にかかる吸着フィルムFは、上記実施例1にかかる吸着フィルムFに対し、バフ処理を行うことでその厚さを39μmとした他は、同じ構成となっている。
しかし、この比較例1にかかる吸着フィルムFについては、吸着力が低く、研磨パッドが研磨定盤に貼り付けることが出来なかったため、研磨試験を行うことが出来なかった。このため、研磨均一性の評価を行うことが出来なかった。
(Comparative Example 1)
The adsorption film F according to Comparative Example 1 has the same configuration except that the adsorption film F according to Example 1 is buffed to have a thickness of 39 μm.
However, the adsorption film F according to Comparative Example 1 had a low adsorption force, and the polishing pad could not be attached to the polishing surface plate, so that the polishing test could not be performed. For this reason, polishing uniformity could not be evaluated.
(比較例2)
比較例2にかかる吸着フィルムFは、上記実施例1にかかる吸着フィルムFに対し、塗布厚さを厚くしたことでその厚さを300μmとした他は、同じ構成となっている。
この比較例2にかかる吸着フィルムFについての実験結果は、圧縮変形量が規定範囲の上限よりも上の値を示した。さらに研磨均一性についても問題が見られた。一方、吸着力については良好な結果が得られた。
(Comparative Example 2)
The adsorption film F according to Comparative Example 2 has the same configuration as the adsorption film F according to Example 1 except that the coating thickness is increased and the thickness is set to 300 μm.
The experimental results for the adsorption film F according to Comparative Example 2 indicated that the amount of compressive deformation was higher than the upper limit of the specified range. In addition, there was a problem with polishing uniformity. On the other hand, good results were obtained for the adsorption power.
なお、上記実施例では吸着フィルムFを研磨パッド5及び保持具3に適応した場合を例示したが、枠材15に同サイズの吸着フィルムFを直接貼り付けて使用してもよい。
In the above embodiment, the case where the suction film F is applied to the
1 被研磨物 2 研磨装置
3 保持具 4 保持定盤
5 研磨パッド 6 研磨定盤
11 保持シート 13 研磨シート
15 枠材 b1 縦長気泡
b2 気泡 F 吸着フィルム
N ナップ層 S1 微発泡層
S2 スキン層 T 両面テープ
DESCRIPTION OF
Claims (4)
厚さが50〜200μm、前記吸着フィルムに使用する樹脂の100%モジュラスが20〜50MPaであることを特徴とする吸着フィルム。 An adsorbing film comprising a soft plastic sheet having a skin layer having micropores on the surface and a microfoaming layer having air bubbles larger than the micropores of the skin layer inside,
An adsorptive film having a thickness of 50 to 200 μm and a resin 100% modulus of 20 to 50 MPa.
前記研磨パッドの研磨定盤固定側の面に請求項1ないし請求項3に記載の吸着フィルムを備えたことを特徴とする研磨パッド。 In a polishing pad for polishing an object to be polished,
A polishing pad comprising the adsorption film according to claim 1 on a surface of the polishing pad on the side of the polishing platen fixed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016072518A JP2017177314A (en) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | Adsorption film and abrasive pad |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016072518A JP2017177314A (en) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | Adsorption film and abrasive pad |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017177314A true JP2017177314A (en) | 2017-10-05 |
Family
ID=60009018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016072518A Pending JP2017177314A (en) | 2016-03-31 | 2016-03-31 | Adsorption film and abrasive pad |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017177314A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114515995A (en) * | 2022-03-21 | 2022-05-20 | 上海江丰平芯电子科技有限公司 | Wafer polishing head and wafer adsorption method |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007044844A (en) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Fujibo Holdings Inc | Polishing cloth installing tool |
JP2011212807A (en) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Fujibo Holdings Inc | Holding material and method for manufacturing the same |
-
2016
- 2016-03-31 JP JP2016072518A patent/JP2017177314A/en active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007044844A (en) * | 2005-08-12 | 2007-02-22 | Fujibo Holdings Inc | Polishing cloth installing tool |
JP2011212807A (en) * | 2010-03-31 | 2011-10-27 | Fujibo Holdings Inc | Holding material and method for manufacturing the same |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114515995A (en) * | 2022-03-21 | 2022-05-20 | 上海江丰平芯电子科技有限公司 | Wafer polishing head and wafer adsorption method |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20100072193A (en) | Polishing pad | |
JP5297096B2 (en) | Polishing cloth | |
JP5091417B2 (en) | Polishing cloth | |
JP4961191B2 (en) | Surface flattening method of polyurethane sheet for holding pad | |
JP4948935B2 (en) | Polishing cloth | |
JP4455230B2 (en) | Holding pad and method of manufacturing the holding pad | |
JP5160265B2 (en) | Retainer | |
JP2010201534A (en) | Holder | |
JP5324998B2 (en) | Holding pad | |
JP2017177314A (en) | Adsorption film and abrasive pad | |
JP2006062058A (en) | Abrasive cloth for finish polishing and manufacturing method of the abrasive cloth | |
JP4364291B1 (en) | Polishing pad | |
JP2006247807A (en) | Polishing cloth and method for manufacturing polishing cloth | |
JP5534694B2 (en) | Polishing pad and method of manufacturing polishing pad | |
JP2010069551A (en) | Polishing pad | |
JP2008055528A (en) | Holding pad | |
JP5457897B2 (en) | Retaining material | |
JP5322730B2 (en) | Polishing pad | |
JP5324962B2 (en) | Polishing pad | |
JP2011036979A (en) | Polishing pad | |
JP5421618B2 (en) | Retainer | |
JP5274285B2 (en) | Polishing pad manufacturing method | |
JP5615589B2 (en) | Frame material and holder having frame material | |
JP5355004B2 (en) | Polishing pad and manufacturing method thereof | |
JP2014069284A (en) | Holding pad |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190228 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200312 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200424 |