JP2017101973A - Optical coherence tomographic apparatus and interference signal processing program - Google Patents
Optical coherence tomographic apparatus and interference signal processing program Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017101973A JP2017101973A JP2015233996A JP2015233996A JP2017101973A JP 2017101973 A JP2017101973 A JP 2017101973A JP 2015233996 A JP2015233996 A JP 2015233996A JP 2015233996 A JP2015233996 A JP 2015233996A JP 2017101973 A JP2017101973 A JP 2017101973A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- interference
- interference signal
- light
- channel
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 170
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 63
- 238000012014 optical coherence tomography Methods 0.000 claims description 103
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 48
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 29
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 21
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 4
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 4
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 2
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N bis(2-ethylhexyl) phthalate Chemical compound CCCCC(CC)COC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCC(CC)CCCC BJQHLKABXJIVAM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000006303 photolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000015843 photosynthesis, light reaction Effects 0.000 description 1
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Eye Examination Apparatus (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
本開示は、被検物（例えば、眼）の内部情報を得るための光コヒーレンストモグラフィ装置および干渉信号処理プログラムに関する。 The present disclosure relates to an optical coherence tomography apparatus and an interference signal processing program for obtaining internal information of a test object (for example, an eye).
光干渉断層計（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：ＯＣＴ）の一種として、測定光と参照光が合成された干渉光を複数の干渉光に分割し、複数のチャンネルによって干渉光を検出するものが知られている。例えば、特許文献１には、干渉光における垂直偏光成分の平衡検出を行う第１のチャンネルと、干渉光における水平偏光成分の平衡検出を行う第２のチャンネルを備えた光コヒーレンストモグラフィ装置（以下、「ＯＣＴ装置」という場合もある）が開示されている。 As one type of optical coherence tomography (OCT), one that divides interference light, which is a combination of measurement light and reference light, into a plurality of interference lights and detects the interference light by a plurality of channels is known. . For example, Patent Document 1 discloses an optical coherence tomography apparatus (hereinafter referred to as a first channel that performs balanced detection of vertical polarization components in interference light and a second channel that performs balanced detection of horizontal polarization components in interference light. , Sometimes referred to as “OCT apparatus”).
複数のチャンネルを備えたＯＣＴ装置では、それぞれのチャンネル間の特性に差が存在する場合がある。従来の技術では、それぞれのチャンネル間の特性差の影響で、取得される内部情報の正確性が低下する場合があった。 In an OCT apparatus provided with a plurality of channels, there may be a difference in characteristics between the channels. In the conventional technique, the accuracy of the acquired internal information may be reduced due to the influence of the characteristic difference between the respective channels.
本開示の典型的な目的は、被検物の内部情報をより正確に取得することが可能な光コヒーレンストモグラフィ装置および干渉信号処理プログラムを提供することである。 A typical object of the present disclosure is to provide an optical coherence tomography apparatus and an interference signal processing program capable of more accurately acquiring internal information of a test object.
本開示における典型的な実施形態が提供する光コヒーレンストモグラフィ装置は、測定光源と、前記測定光源から出射された測定光と参照光が合成された干渉光を、複数の干渉光に分割する分割光学系と、前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、１つまたは複数の干渉光を検出して第１干渉信号を出力する第１チャンネルと、前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、前記第１チャンネルによって検出される干渉光とは異なる１つまたは複数の干渉光を検出して第２干渉信号を出力する第２チャンネルと、前記第１干渉信号および前記第２干渉信号を入力して処理することで、被検物の内部情報を取得する制御部と、を備え、前記制御部は、前記第１チャンネルと前記第２チャンネルの間の特性差に起因する、前記第１干渉信号と前記第２干渉信号の間の波長帯域のずれである帯域ずれを補償して、前記内部情報を取得する。 An optical coherence tomography device provided by an exemplary embodiment of the present disclosure includes a measurement light source, and a division that divides interference light obtained by combining measurement light emitted from the measurement light source and reference light into a plurality of interference lights An optical system, a first channel that detects one or a plurality of interference lights out of the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a first interference signal, and is divided by the division optical system A second channel that detects one or a plurality of interference lights different from the interference light detected by the first channel and outputs a second interference signal among the plurality of interference lights; the first interference signal; and A control unit that acquires the internal information of the test object by inputting and processing the second interference signal, and the control unit is caused by a characteristic difference between the first channel and the second channel. Do To compensate for bandwidth deviation is the deviation of the wavelength band between the first interference signal and the second interference signal, and acquires the internal information.
本開示における典型的な実施形態が提供する干渉信号処理プログラムは、光コヒーレンストモグラフィ装置によって取得された干渉信号を処理することで被検物の内部情報を取得する処理装置において実行される干渉信号処理プログラムであって、前記光コヒーレンストモグラフィ装置は、測定光源と、前記測定光源から出射された測定光と参照光が合成された干渉光を、複数の干渉光に分割する分割光学系と、前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、１つまたは複数の干渉光を検出して第１干渉信号を出力する第１チャンネルと、前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、前記第１チャンネルによって検出される干渉光とは異なる１つまたは複数の干渉光を検出して第２干渉信号を出力する第２チャンネルと、を備え、前記処理装置のプロセッサが前記干渉信号処理プログラムを実行することで、前記第１チャンネルと前記第２チャンネルの間の特性差に起因する、前記第１干渉信号と前記第２干渉信号の間の波長帯域のずれである帯域ずれを補償して、前記内部情報を取得する処理ステップを前記処理装置に実行させる。 An interference signal processing program provided by an exemplary embodiment of the present disclosure is an interference signal executed in a processing device that acquires internal information of a test object by processing an interference signal acquired by an optical coherence tomography device. A processing program, wherein the optical coherence tomography device includes a measurement light source, a splitting optical system that divides interference light obtained by combining the measurement light emitted from the measurement light source and reference light into a plurality of interference lights, A first channel that detects one or a plurality of interference lights among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a first interference signal, and a plurality of interference lights divided by the division optical system A second channel that detects one or a plurality of interference lights different from the interference light detected by the first channel and outputs a second interference signal. And the processor of the processing device executes the interference signal processing program to cause the first interference signal and the second interference signal due to a characteristic difference between the first channel and the second channel. The processing apparatus is caused to execute a processing step of acquiring the internal information by compensating for a band shift that is a wavelength band shift between the two.
本開示に係る光コヒーレンストモグラフィ装置および干渉信号処理プログラムによると、被検物の内部情報がより正確に取得される。 According to the optical coherence tomography apparatus and the interference signal processing program according to the present disclosure, the internal information of the test object is acquired more accurately.
＜概要＞
本開示で例示する実施形態（以下、「本実施形態」という）では、ＯＣＴ装置は、ＯＣＴ光学系、分割光学系、第１チャンネル、第２チャンネル、および制御部を備える。
<Overview>
In an embodiment illustrated in the present disclosure (hereinafter referred to as “this embodiment”), the OCT apparatus includes an OCT optical system, a split optical system, a first channel, a second channel, and a control unit.
ＯＣＴ光学系は、被検物の内部情報を取得するための光干渉光学系である。ＯＣＴ光学系は、測定光源、光分割器、および光合成器を備える。測定光源は、被検物の内部情報を取得するための光を出射する。光分割器は、測定光源から出射された光を、測定光と参照光に分割する。光合成器は、被検物に照射されて反射された測定光と、参照光路を通過した参照光とを合成することで、干渉光を生成する。 The OCT optical system is an optical interference optical system for acquiring internal information of a test object. The OCT optical system includes a measurement light source, a light splitter, and a light combiner. The measurement light source emits light for acquiring internal information of the test object. The light splitter divides the light emitted from the measurement light source into measurement light and reference light. The light combiner generates interference light by combining the measurement light irradiated and reflected on the test object and the reference light that has passed through the reference light path.
なお、光分割器と光合成器は別部材であってもよいし、１つの部材（例えばカップラー）が光分割器と光合成器を兼ねてもよい。また、本実施形態では、光分割器としてカップラーが用いられており、光合成器としてビームスプリッタが用いられている。しかし、光分割器および光合成器の構成を変更することも可能である。例えば、光分割器としてビームスプリッタを使用してもよいし、光合成器としてカップラーを使用してもよい。 The light splitter and the light combiner may be separate members, or one member (for example, a coupler) may serve as the light splitter and the light combiner. In the present embodiment, a coupler is used as the light splitter, and a beam splitter is used as the light combiner. However, it is also possible to change the configuration of the optical splitter and the optical combiner. For example, a beam splitter may be used as the light splitter, or a coupler may be used as the light combiner.
分割光学系は、測定光と参照光が合成された干渉光を、複数の干渉光に分割する。第１チャンネルは、分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、１つまたは複数の干渉光を検出して第１干渉信号を出力する。第２チャンネルは、分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、第１チャンネルによって検出される干渉光とは異なる１つまたは複数の干渉光を検出して第２干渉信号を出力する。なお、ＯＣＴ装置が３つ以上のチャンネルを備えている場合でも、本実施形態で例示する技術の少なくとも一部を適用できる。 The splitting optical system splits interference light obtained by combining measurement light and reference light into a plurality of interference lights. The first channel detects one or a plurality of interference lights among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a first interference signal. The second channel detects one or a plurality of interference lights different from the interference light detected by the first channel among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a second interference signal. Even when the OCT apparatus includes three or more channels, at least a part of the technique exemplified in this embodiment can be applied.
制御部は、複数のチャンネルの各々から出力される複数の干渉信号（本実施形態では第１干渉信号および第２干渉信号）を入力して処理することで、被検物の内部情報を取得する。詳細には、本実施形態の制御部は、第１チャンネルと第２チャンネルの間の特性差に起因する、複数の干渉信号の間の波長帯域のずれ（以下、「帯域ずれ」という）を補償して、被検物の内部情報を取得する。この場合、複数のチャンネル間に特性差が存在する場合でも、特性差による影響が低下する。その結果、取得される内部情報の正確性が向上する。 The control unit obtains internal information of the test object by inputting and processing a plurality of interference signals (first interference signal and second interference signal in the present embodiment) output from each of the plurality of channels. . Specifically, the control unit of the present embodiment compensates for a wavelength band shift (hereinafter referred to as “band shift”) between a plurality of interference signals due to a characteristic difference between the first channel and the second channel. Then, the internal information of the test object is acquired. In this case, even when a characteristic difference exists between a plurality of channels, the influence due to the characteristic difference is reduced. As a result, the accuracy of the acquired internal information is improved.
なお、制御部が補償する帯域ずれは、複数の干渉信号間における波長帯域の範囲のずれ（位相ずれ）、および、波長帯域の幅の大きさのずれの少なくともいずれかであってもよい。波長帯域の範囲のずれが生じている場合とは、例えば、第１干渉信号の波長帯域の範囲が１０００〜１１００ｎｍであるのに対し、第２干渉信号の波長帯域の範囲が１００１〜１１０１ｎｍである場合等を示す。また、波長帯域の幅の大きさのずれが生じている場合とは、例えば、第１干渉信号の波長帯域の帯域幅が１００ｎｍであるのに対し、第２干渉信号の波長帯域の帯域幅が１０１ｎｍである場合等を示す。 The band shift compensated by the control unit may be at least one of a shift in the wavelength band range (phase shift) between a plurality of interference signals and a shift in the width of the wavelength band. For example, the wavelength band range of the first interference signal is 1000 to 1100 nm while the wavelength band range of the second interference signal is 1001 to 1101 nm. Indicates cases. In addition, when the shift in the width of the wavelength band occurs, for example, the bandwidth of the wavelength band of the first interference signal is 100 nm while the bandwidth of the wavelength band of the second interference signal is 100 nm. The case of 101 nm is shown.
第１チャンネルは、第１検出器および第１ＡＤ変換器を備えていてもよい。第１検出器は干渉光を検出する。第１ＡＤ変換器は、第１検出器によって検出されたアナログの信号からデジタルの第１干渉信号を生成して出力する。第２チャンネルは、第２検出器および第２ＡＤ変換器を備えていてもよい。。第２検出器は干渉光を検出する。第２ＡＤ変換器は、第２検出器によって検出されたアナログの信号からデジタルの第２干渉信号を生成して出力する。この場合、制御部は、干渉信号をそれぞれのチャンネルから適切に入力することができる。 The first channel may include a first detector and a first AD converter. The first detector detects interference light. The first AD converter generates and outputs a digital first interference signal from the analog signal detected by the first detector. The second channel may include a second detector and a second AD converter. . The second detector detects the interference light. The second AD converter generates and outputs a digital second interference signal from the analog signal detected by the second detector. In this case, the control unit can appropriately input the interference signal from each channel.
帯域ずれは、第１検出器と第２検出器の間の個体差、第１ＡＤ変換器および第２ＡＤ変換器の各々から制御部が干渉信号を入力するタイミング（サンプリングタイミング）の差、および、複数の検出器の各々によって検出される干渉光の光路長差の少なくともいずれかに起因する帯域ずれであってもよい。この場合、ＯＣＴ装置は、複数のチャンネルを使用しつつ、それぞれのチャンネル間の特性差の影響を適切に抑制することができる。 The band shift includes an individual difference between the first detector and the second detector, a difference in timing (sampling timing) at which the control unit inputs an interference signal from each of the first AD converter and the second AD converter, and plural It may be a band shift caused by at least one of the optical path length differences of the interference light detected by each of the detectors. In this case, the OCT apparatus can appropriately suppress the influence of the characteristic difference between each channel while using a plurality of channels.
本実施形態では、分割光学系で分割されて第１チャンネルに向かう干渉光と、分割光学系で分割されて第２チャンネルに向かう干渉光の位相差が、分割光学系によって所定値に定まる。制御部は、第１干渉信号および第２干渉信号における位相差を、分割光学系によって定まる所定値に調整する（近づける）ことで、帯域ずれを補償してもよい。この場合、ＯＣＴ装置は、それぞれのチャンネル間に特性差が存在する場合でも、複数の干渉信号の位相差を所定値に近づけて内部情報を取得することができる。なお、本実施形態では、分割光学系によって定まる２つの干渉信号の位相差の所定値はπである。しかし、位相差の所定値がπに限定されないことは言うまでもない。位相差の所定値が「０」であっても良い。 In this embodiment, the phase difference between the interference light divided by the division optical system and directed to the first channel and the interference light divided by the division optical system and directed to the second channel is determined by the division optical system to a predetermined value. The control unit may compensate for the band shift by adjusting (approaching) the phase difference between the first interference signal and the second interference signal to a predetermined value determined by the split optical system. In this case, even when there is a characteristic difference between the respective channels, the OCT apparatus can acquire the internal information by bringing the phase differences of the plurality of interference signals close to a predetermined value. In the present embodiment, the predetermined value of the phase difference between the two interference signals determined by the split optical system is π. However, it goes without saying that the predetermined value of the phase difference is not limited to π. The predetermined value of the phase difference may be “0”.
ＯＣＴ装置は、第１干渉信号および第２干渉信号に定常パターンノイズ（以下、「ＦＰＮ」と表す場合もある）を発生させる光学部材を備えていてもよい。制御部は、第１干渉信号および第２干渉信号に含まれる、ＦＰＮに対応する信号成分に基づいて、帯域ずれを補償してもよい。この場合、光学部材の影響で実際に検出される固定ノイズを基準として、帯域ずれが補償される。その結果、補償の精度が向上する。 The OCT apparatus may include an optical member that generates stationary pattern noise (hereinafter also referred to as “FPN”) in the first interference signal and the second interference signal. The control unit may compensate for the band shift based on the signal component corresponding to the FPN included in the first interference signal and the second interference signal. In this case, the band shift is compensated with reference to the fixed noise actually detected by the influence of the optical member. As a result, the accuracy of compensation is improved.
なお、ＯＣＴ装置は、ＦＰＮを発生させずに帯域ずれを補償することも可能である。例えば、ＯＣＴ装置は、チャンネル間の特性差に関する特性差情報を、理論値または実験値に基づいて予め取得していてもよい。この場合、ＯＣＴ装置は、複数の干渉信号間の帯域ずれを、特性差情報に基づいて補償してもよい。例えば、ＯＣＴ装置は、第１ＡＤ変換器および第２ＡＤ変換器の各々から制御部が干渉信号を入力するタイミングの差を、特性差情報として取得していてもよい。この場合、ＯＣＴ装置は、干渉信号を入力するタイミングの差から、帯域ずれの補償量を決定してもよい。 Note that the OCT apparatus can also compensate for a band shift without generating FPN. For example, the OCT apparatus may acquire in advance characteristic difference information regarding characteristic differences between channels based on theoretical values or experimental values. In this case, the OCT apparatus may compensate for a band shift between a plurality of interference signals based on the characteristic difference information. For example, the OCT apparatus may acquire, as characteristic difference information, a timing difference at which the control unit inputs an interference signal from each of the first AD converter and the second AD converter. In this case, the OCT apparatus may determine the compensation amount of the band shift from the difference in timing when the interference signal is input.
ＯＣＴ装置は、ＰＳ−ＳＳ−ＯＣＴの構成を備えていてもよい。ＰＳ−ＯＣＴとは、偏光感受ＯＣＴ（ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ ｓｅｎｓｉｔｉｖｅ ＯＣＴ）であり、被検物の内部の複屈折性（リタデーション）、偏光軸（アクシスオリエンテーション）、複減衰（ダイアッテネーション）等の少なくともいずれかを取得することができる。ＳＳ−ＯＣＴとは、波長掃引光源を用いたＳｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ ＯＣＴである。 The OCT apparatus may have a PS-SS-OCT configuration. PS-OCT is polarization sensitive OCT (polarization sensitive OCT), and acquires at least one of the internal birefringence (retardation), polarization axis (axis orientation), double attenuation (diattenuation), etc. of the test object. can do. SS-OCT is Swept Source OCT using a wavelength swept light source.
詳細には、ＯＣＴ装置は、第１分割部材と第２分割部材を備えていてもよい。第１分割部材は、所定の位相差を有する複数の干渉光を生成する。第２分割部材は、偏光方向が異なる複数の干渉光を生成する。第１チャンネルは、偏光方向が互いに共通（本実施形態では水平偏光）し、且つ互いの間に位相差を有する２つの干渉光を平衡検出してもよい。第２チャンネルは、偏光方向が互いに共通（本実施形態では垂直偏光）し、且つ互いの間に位相差を有する２つの干渉光を平衡検出してもよい。第１チャンネルが検出する干渉光の偏光方向と、第２チャンネルが検出する干渉光の偏光方向は異なる。この場合、ＯＣＴ装置は、垂直偏光成分および水平偏光成分を持つ各波長での干渉信号に基づいて、被検物の偏光特性を、それぞれのチャンネル間の特性差の影響が低下された状態で取得することができる。 Specifically, the OCT apparatus may include a first divided member and a second divided member. The first split member generates a plurality of interference lights having a predetermined phase difference. The second split member generates a plurality of interference lights having different polarization directions. The first channel may perform balanced detection of two interference lights having the same polarization direction (horizontal polarization in the present embodiment) and having a phase difference between each other. The second channel may perform balanced detection of two interference lights having the same polarization direction (vertically polarized light in the present embodiment) and having a phase difference between each other. The polarization direction of the interference light detected by the first channel is different from the polarization direction of the interference light detected by the second channel. In this case, the OCT apparatus acquires the polarization characteristics of the test object in a state where the influence of the characteristic difference between the respective channels is reduced based on the interference signal at each wavelength having the vertical polarization component and the horizontal polarization component. can do.
測定光源は、出射波長を時間的に掃引させる波長掃引光源であってもよい。制御部は、例えば、波長掃引光源による出射波長の変化に応じて測定光と参照光との干渉信号をサンプリングし、サンプリングによって得られた各波長での干渉信号に基づいて被検物の内部情報を取得してもよい。 The measurement light source may be a wavelength swept light source that temporally sweeps the emission wavelength. The control unit, for example, samples the interference signal between the measurement light and the reference light in accordance with the change of the emission wavelength by the wavelength swept light source, and internal information of the test object based on the interference signal at each wavelength obtained by the sampling May be obtained.
第１分割部材によって分割された複数の干渉光の光路のうち、一部の干渉光の光路にのみ、ＦＰＮを発生させる光学部材（以下、「ＦＰＮ光学部材」という）が設けられていてもよい。この場合、ＦＰＮ光学部材を経た干渉光は、第１チャンネルおよび第２チャンネルの各々に入射する。従って、制御部は、第１干渉信号の平衡検出と第２干渉信号の平衡検出を行いつつ、第１干渉信号および第２干渉信号の各々に含まれるＦＰＮに基づいて適切に帯域ずれを補償することができる。 An optical member that generates FPN (hereinafter referred to as “FPN optical member”) may be provided only in a part of the optical paths of the interference light divided by the first split member. . In this case, the interference light that has passed through the FPN optical member enters each of the first channel and the second channel. Therefore, the control unit appropriately compensates for the band shift based on the FPN included in each of the first interference signal and the second interference signal while performing balanced detection of the first interference signal and balanced detection of the second interference signal. be able to.
なお、本実施形態では、ＦＰＮ光学部材としてカバーガラスが用いられている。しかし、他の光学部材（例えば、偏光板等）をＦＰＮ光学部材として用いることも可能である。また、ＦＰＮ光学部材を設置する位置を変更することも可能である。例えば、ＯＣＴ装置は、光分割器によって分割された測定光をさらに分割する光学素子を備え、分割された測定光の光路のうちの一部の光路にＦＰＮ光学部材（例えば、カバーガラス、偏光板、ミラー等）を備えていてもよい。 In the present embodiment, a cover glass is used as the FPN optical member. However, other optical members (for example, a polarizing plate or the like) can be used as the FPN optical member. It is also possible to change the position where the FPN optical member is installed. For example, the OCT apparatus includes an optical element that further divides the measurement light divided by the optical splitter, and an FPN optical member (for example, a cover glass, a polarizing plate) is provided in a part of the optical paths of the divided measurement light. , A mirror, etc.).
なお、本実施形態で例示する技術の少なくとも一部は、ＰＳ−ＳＳ−ＯＣＴとは異なる構成を備えたＯＣＴ装置にも適用できる。 Note that at least a part of the technique exemplified in this embodiment can be applied to an OCT apparatus having a configuration different from that of PS-SS-OCT.
例えば、ＯＣＴ装置は、ＰＳ−ＳＤ−ＯＣＴの構成を備えていてもよい。ＳＤ−ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ）は、波長掃引光源の代わりに、広帯域で固定された波長の光を出射する光源を、測定光源として備えてもよい。また、ＳＤ−ＯＣＴは、干渉光を波長に応じて分解する光分解器（例えば回折格子）を備えていてもよい。この場合、各チャンネルは、光分解器によって波長に応じて分解された光を検出する検出器（例えばラインセンサ）を備えていてもよい。また、ＳＤ−ＯＣＴは、所定の位相差を有する複数の干渉光を生成する第１分割部材を備えずに、第２分割部材のみを備えていてもよい。 For example, the OCT apparatus may have a PS-SD-OCT configuration. SD-OCT (Spectral domain OCT) may include, as a measurement light source, a light source that emits light having a fixed wavelength in a wide band, instead of the wavelength swept light source. Further, the SD-OCT may include an optical decomposer (for example, a diffraction grating) that decomposes interference light according to the wavelength. In this case, each channel may be provided with a detector (for example, a line sensor) that detects light decomposed according to the wavelength by the photolysis device. Further, the SD-OCT may include only the second divided member without including the first divided member that generates a plurality of interference lights having a predetermined phase difference.
また、本実施形態で例示する技術の少なくとも一部は、ドップラーＯＣＴの構成を備えたＯＣＴ装置にも適用できる。また、本実施形態で例示する技術の少なくとも一部は、互いに異なる波長の光を検出する複数のチャンネルを備えたＯＣＴ装置にも適用できる。この場合、ＯＣＴ装置は、干渉光を波長に応じて複数の干渉光に分割し、分割した複数の干渉光の各々を、複数のチャンネルの各々によって検出してもよい。また、それぞれのチャンネルが複数の干渉光の平衡検出を行わない場合でも、本実施形態で例示する技術の少なくとも一部を適用できる。つまり、１つのチャンネルが１つの干渉光を検出してもよい。複数のチャンネルを備えたＯＣＴ装置の他の例としては、例えば、Ｄｕａｌ Ｂｅａｍ ＳＳ−ＯＣＴ（眼底上の２つの領域を同時に撮影するＯＣＴ）、Ｄｕａｌ Ｂｅａｍ Ｄｏｐｐｌｅｒ ＳＳ−ＯＣＴ（ビーム間にディレイをつけてドップラー信号を得るＯＣＴ）、偏光を利用したフルレンジＳＳ−ＯＣＴ等がある。これらのＯＣＴ装置に、本実施形態で例示した技術の少なくとも一部を適用してもよい。 Further, at least a part of the technique exemplified in the present embodiment can be applied to an OCT apparatus having a Doppler OCT configuration. In addition, at least a part of the technique exemplified in the present embodiment can be applied to an OCT apparatus including a plurality of channels that detect light of different wavelengths. In this case, the OCT apparatus may divide the interference light into a plurality of interference lights according to the wavelength, and detect each of the divided plurality of interference lights by each of the plurality of channels. Even when each channel does not perform balanced detection of a plurality of interference lights, at least a part of the technique exemplified in this embodiment can be applied. That is, one channel may detect one interference light. Other examples of the OCT apparatus having a plurality of channels include, for example, Dual Beam SS-OCT (OCT that images two regions on the fundus simultaneously), Dual Beam Doppler SS-OCT (with delay between beams) OCT for obtaining a Doppler signal), full-range SS-OCT using polarized light, and the like. You may apply at least one part of the technique illustrated by this embodiment to these OCT apparatuses.
制御部は、第１干渉信号に含まれるＦＰＮに対応する信号成分と、第２干渉信号に含まれるＦＰＮに対応する信号成分の位相差を算出してもよい。制御部は、算出した位相差と、帯域ずれが存在しないと仮定した場合の所定の位相差（本実施形態では、分割光学系によって定まる所定値）との差分を、補償する帯域ずれとして算出してもよい。この場合、ＯＣＴ装置は、補償する帯域ずれを、ＦＰＮを用いて適切に算出することができる。 The control unit may calculate a phase difference between a signal component corresponding to the FPN included in the first interference signal and a signal component corresponding to the FPN included in the second interference signal. The control unit calculates a difference between the calculated phase difference and a predetermined phase difference (a predetermined value determined by the splitting optical system in this embodiment) when it is assumed that there is no band shift as a band shift to be compensated. May be. In this case, the OCT apparatus can appropriately calculate the band shift to be compensated using FPN.
＜実施形態＞
以下、本開示における典型的な実施形態の一例について、図面を参照して説明する。まず、図１を参照して、本実施形態のＯＣＴ装置１の概略構成について説明する。本実施形態のＯＣＴ装置１は、ＯＣＴ光学系１０、分割光学系２０、第１チャンネル３０、第２チャンネル４０、および制御部５０を備える。
<Embodiment>
Hereinafter, an example of a typical embodiment in the present disclosure will be described with reference to the drawings. First, a schematic configuration of the OCT apparatus 1 of the present embodiment will be described with reference to FIG. The OCT apparatus 1 according to the present embodiment includes an OCT optical system 10, a split optical system 20, a first channel 30, a second channel 40, and a control unit 50.
本実施形態のＯＣＴ光学系１０は、ＳＳ−ＯＣＴ方式の干渉光学系である。ＯＣＴ光学系１０は、測定光源１１、カップラー１２、サーキュレータ１３、測定光学系１４、参照光学系１８、およびビームスプリッタ２１を備える。 The OCT optical system 10 of this embodiment is an SS-OCT type interference optical system. The OCT optical system 10 includes a measurement light source 11, a coupler 12, a circulator 13, a measurement optical system 14, a reference optical system 18, and a beam splitter 21.
測定光源１１は、被検物（本実施形態では被検眼Ｅ）の内部情報を取得するための光を出射する。本実施形態の測定光源１１は、波長掃引光源（波長走査型光源）であり、出射波長を時間的に高速で変化させる。波長掃引光源は、例えば、レーザ媒体、共振器、および波長選択フィルタを備えてもよい。波長選択フィルタには、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、または、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタ等が用いられてもよい。なお、ＳＳ−ＯＣＴ方式以外の方式を用いる場合には、測定光源１１は波長掃引光源である必要は無い。 The measurement light source 11 emits light for acquiring internal information of the test object (the test eye E in this embodiment). The measurement light source 11 of the present embodiment is a wavelength swept light source (wavelength scanning light source), and changes the emission wavelength at high speed with time. The wavelength swept light source may include, for example, a laser medium, a resonator, and a wavelength selection filter. As the wavelength selection filter, for example, a combination of a diffraction grating and a polygon mirror, or a filter using a Fabry-Perot etalon may be used. In addition, when using systems other than SS-OCT system, the measurement light source 11 does not need to be a wavelength sweep light source.
カップラー１２は、測定光源１１から出射された光を測定光と参照光に分割する光分割器として用いられている。サーキュレータ１３は、カップラー１２からの測定光を測定光学系１４の光ファイバ１５に導光すると共に、光ファイバ１５からの光を光ファイバ１７に導光する。なお、サーキュレータ１３はカップラーであってもよい。 The coupler 12 is used as an optical splitter that divides the light emitted from the measurement light source 11 into measurement light and reference light. The circulator 13 guides the measurement light from the coupler 12 to the optical fiber 15 of the measurement optical system 14 and guides the light from the optical fiber 15 to the optical fiber 17. The circulator 13 may be a coupler.
測定光学系１４は、測定光を被検物（例えば、被検眼Ｅの眼底または前眼部等）に導くと共に、被検物によって反射された測定光の反射光を光ファイバ１７に導く。本実施形態の測定光学系１４は、光ファイバ１５、光スキャナ１６、および対物レンズ系を備える。測定光は、サーキュレータ１３および光ファイバ１５を介して光スキャナ１６に向かう。光スキャナ１６は、測定光の反射方向を変更する。光スキャナ１６によって偏向された測定光は、対物レンズ系によって平行ビームとなって被検物に入射する。光スキャナ１６は、被検物内でＸＹ方向（横断方向）に測定光を走査させることができる。光スキャナ１６には、光の進行方向を変更することが可能な各種構成（例えば、ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ、および音響光学素子等）を用いることができる。一例として、本実施形態では２つのガルバノミラーが光スキャナ１６として用いられている。 The measurement optical system 14 guides the measurement light to the test object (for example, the fundus or anterior eye portion of the test eye E) and guides the reflected light of the measurement light reflected by the test object to the optical fiber 17. The measurement optical system 14 of this embodiment includes an optical fiber 15, an optical scanner 16, and an objective lens system. The measurement light travels to the optical scanner 16 through the circulator 13 and the optical fiber 15. The optical scanner 16 changes the reflection direction of the measurement light. The measurement light deflected by the optical scanner 16 is made into a parallel beam by the objective lens system and is incident on the test object. The optical scanner 16 can scan the measurement light in the XY direction (transverse direction) within the test object. Various configurations (for example, a galvano mirror, a polygon mirror, a resonant scanner, and an acousto-optic device) capable of changing the traveling direction of light can be used for the optical scanner 16. As an example, in this embodiment, two galvanometer mirrors are used as the optical scanner 16.
被検物からの測定光の反射光（後方散乱光）は、対物レンズ系、光スキャナ１６、光ファイバ１５、サーキュレータ１３、および光ファイバ１７を経て、ビームスプリッタ２１に達する。 Reflected light (backscattered light) of measurement light from the test object reaches the beam splitter 21 via the objective lens system, the optical scanner 16, the optical fiber 15, the circulator 13, and the optical fiber 17.
参照光学系１８は、測定光の反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１８は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであってもよい。本実施形態の参照光学系１８は、透過光学系（例えば光ファイバ）を備え、カップラー１２からの光を戻さずに透過させてビームスプリッタ２１へ導く。なお、参照光学系１８は反射光学系を備えていてもよい。この場合、参照光学系１８は、カップラー１２からの光を反射光学系によって反射させることで、参照光を生成してもよい。 The reference optical system 18 generates reference light that is combined with the reflected light of the measurement light. The reference optical system 18 may be a Michelson type or a Mach-Zehnder type. The reference optical system 18 of the present embodiment includes a transmission optical system (for example, an optical fiber), transmits the light from the coupler 12 without returning it, and guides it to the beam splitter 21. Note that the reference optical system 18 may include a reflective optical system. In this case, the reference optical system 18 may generate the reference light by reflecting the light from the coupler 12 by the reflection optical system.
本実施形態のＯＣＴ光学系１０は、測定光と参照光の光路長差を調整するための光学部材を備える。例えば、ＯＣＴ装置１０は、参照光学系１８の光路に配置された光学部材を光軸方向に移動させることで、測定光と参照光の光路長差を調整してもよい。光路長差を調整するための光学部材は、測定光の光路中に設けられていてもよい。 The OCT optical system 10 of the present embodiment includes an optical member for adjusting the optical path length difference between the measurement light and the reference light. For example, the OCT apparatus 10 may adjust the optical path length difference between the measurement light and the reference light by moving an optical member arranged in the optical path of the reference optical system 18 in the optical axis direction. The optical member for adjusting the optical path length difference may be provided in the optical path of the measurement light.
ビームスプリッタ２１は、測定光の反射光と、参照光学系１８を経た参照光とを合成（合波）させて、干渉光を生成する。つまり、ビームスプリッタ２１は、測定光と参照光を合成する光合成器として機能する。また、詳細は後述するが、ビームスプリッタ２１は、干渉光を複数の干渉光に分割する分割光学系２０の少なくとも一部を兼ねる。ただし、光合成器の構成を変更することも可能である。例えば、光合成器が分割光学系２０とは別に設けられていてもよい。光合成器としてカップラーが使用されてもよい。測定光源１１から出射された光を分割するカップラー１２（光分割器）が、光合成器を兼ねてもよい。 The beam splitter 21 combines (combines) the reflected light of the measurement light and the reference light that has passed through the reference optical system 18 to generate interference light. That is, the beam splitter 21 functions as a light combiner that combines the measurement light and the reference light. Moreover, although mentioned later for details, the beam splitter 21 serves as at least one part of the division | segmentation optical system 20 which divides interference light into several interference light. However, it is possible to change the configuration of the optical combiner. For example, a light combiner may be provided separately from the split optical system 20. A coupler may be used as the photosynthesizer. A coupler 12 (light splitter) that splits the light emitted from the measurement light source 11 may also serve as a light combiner.
分割光学系２０は、測定光（詳細には、測定光の反射光）と参照光とが合成された干渉光を、複数の干渉光に分割する。一例として、本実施形態の分割光学系２０は、ＰＳ−ＯＣＴ方式によって被検物の内部の複屈折性を取得するための構成を備える。詳細には、本実施形態の分割光学系２０は、ビームスプリッタ２１、第１偏光ビームスプリッタ２２、および第２偏光ビームスプリッタ２３を備える。 The splitting optical system 20 splits interference light obtained by combining measurement light (specifically, reflected light of measurement light) and reference light into a plurality of interference lights. As an example, the split optical system 20 of the present embodiment includes a configuration for acquiring birefringence inside the test object by the PS-OCT method. Specifically, the split optical system 20 of this embodiment includes a beam splitter 21, a first polarizing beam splitter 22, and a second polarizing beam splitter 23.
ビームスプリッタ２１は、所定の位相差を互いに有する複数（本実施形態では２つ）の干渉光を生成する第１分割部材として機能する。詳細には、ビームスプリッタ２１を透過する光と、ビームスプリッタ２１によって反射する光の間には、π／２の位相差が生じる。本実施形態のビームスプリッタ２１は、光ファイバ１７を経た測定光を透過させつつ、参照光学系１８を経た参照光を反射させることで、両者を合成させて第１干渉光を生成する。また、本実施形態のビームスプリッタ２１は、光ファイバ１７を経た測定光を反射させつつ、参照光学系１８を経た参照光を透過させることで、両者を合成させて第２干渉光を生成する。第１干渉光と第２干渉光の位相差はπとなる。 The beam splitter 21 functions as a first split member that generates a plurality (two in the present embodiment) of interference light having a predetermined phase difference. Specifically, a phase difference of π / 2 occurs between the light transmitted through the beam splitter 21 and the light reflected by the beam splitter 21. The beam splitter 21 of the present embodiment reflects the reference light that has passed through the reference optical system 18 while transmitting the measurement light that has passed through the optical fiber 17, thereby combining the two to generate first interference light. Further, the beam splitter 21 of the present embodiment reflects the measurement light that has passed through the optical fiber 17 and transmits the reference light that has passed through the reference optical system 18, thereby combining the two and generating second interference light. The phase difference between the first interference light and the second interference light is π.
偏光ビームスプリッタ２２，２３は、干渉光を、水平偏光成分（ｐ偏光成分）を持つ干渉光と垂直偏光成分（ｓ偏光成分）を持つ干渉光に分割する第２分割部材として機能する。詳細には、第１偏光ビームスプリッタ２２は、第１干渉光を透過させることで、水平偏光成分を持つ干渉光Ａを生成すると共に、第１干渉光を反射させることで、垂直偏光成分を持つ干渉光Ｂを生成する。また、第２偏光ビームスプリッタ２３は、第２干渉光を透過させることで、水平偏光成分を持つ干渉光Ｃを生成すると共に、第２干渉光を反射させることで、垂直偏光成分を持つ干渉光Ｄを生成する。 The polarization beam splitters 22 and 23 function as a second dividing member that divides the interference light into interference light having a horizontal polarization component (p polarization component) and interference light having a vertical polarization component (s polarization component). Specifically, the first polarization beam splitter 22 generates the interference light A having the horizontal polarization component by transmitting the first interference light, and has the vertical polarization component by reflecting the first interference light. Interference light B is generated. The second polarization beam splitter 23 transmits the second interference light to generate the interference light C having the horizontal polarization component, and reflects the second interference light to cause the interference light having the vertical polarization component. D is generated.
なお、分割光学系２０の構成を変更することも可能である。例えば、本実施形態のビームスプリッタ２１は、測定光と参照光を合成して干渉光を生成する光合成器と、干渉光を複数の干渉光に分割する分割部材を兼ねる。しかし、前述したように、光合成器と分割部材が別に設けられていてもよい。また、ＰＳ−ＯＣＴ方式における分割光学系は、光合成器によって生成された干渉光を、偏光方向が異なる複数の干渉光に第２分割部材によって分割した後に、分割したそれぞれの干渉光を、第１分割部材によってさらに分割してもよい。また、ＰＳ−ＯＣＴ方式以外の方式である場合には、分割光学系は、第２分割部材を用いずに複数の干渉光を生成してもよい。第１分割部材としてビームスプリッタ以外の光学部材（例えば、カップラー等）が用いられてもよい。第２分割部材として偏光ビームスプリッタ以外の光学部材が用いられてもよい。 It is possible to change the configuration of the split optical system 20. For example, the beam splitter 21 of this embodiment serves as a light combiner that generates interference light by combining measurement light and reference light, and a splitting member that divides the interference light into a plurality of interference lights. However, as described above, the photosynthesizer and the dividing member may be provided separately. Further, the splitting optical system in the PS-OCT system splits the interference light generated by the light combiner into a plurality of interference lights having different polarization directions by the second splitting member, and then converts each of the split interference lights to the first. You may divide | segment further by a division member. In the case of a system other than the PS-OCT system, the split optical system may generate a plurality of interference lights without using the second split member. An optical member (for example, a coupler or the like) other than the beam splitter may be used as the first split member. An optical member other than the polarization beam splitter may be used as the second split member.
第１チャンネル３０および第２チャンネル４０は、分割光学系２０によって分割された干渉光を検出して干渉信号を出力する。本実施形態の第１チャンネル３０は、第１検出器３１と第１ＡＤ変換器（第１デジタイザー）３４を備える。第１検出器３１は、分割光学系２０によって分割された複数の干渉光のうちの１つまたは複数（本実施形態では２つ）を検出する。第１ＡＤ変換器３４は、第１検出器３１によって検出されたアナログの信号からデジタルの第１干渉信号を生成して出力する。また、本実施形態の第２チャンネル４０は、第２検出器４１と第２ＡＤ変換器（第２デジタイザー）４４を備える。第２検出器４１は、分割光学系２０によって分割された複数の干渉光のうち、第１チャンネル３０によって検出される干渉光とは異なる１つまたは複数（本実施形態では２つ）の干渉光を検出する。第２ＡＤ変換器４４は、第２検出器４１によって検出されたアナログの信号からデジタルの第２干渉信号を生成して出力する。 The first channel 30 and the second channel 40 detect the interference light split by the split optical system 20 and output an interference signal. The first channel 30 of this embodiment includes a first detector 31 and a first AD converter (first digitizer) 34. The first detector 31 detects one or a plurality (two in this embodiment) of the plurality of interference lights divided by the dividing optical system 20. The first AD converter 34 generates and outputs a digital first interference signal from the analog signal detected by the first detector 31. Further, the second channel 40 of the present embodiment includes a second detector 41 and a second AD converter (second digitizer) 44. The second detector 41 is one or a plurality (two in this embodiment) of interference light different from the interference light detected by the first channel 30 among the plurality of interference lights divided by the split optical system 20. Is detected. The second AD converter 44 generates and outputs a digital second interference signal from the analog signal detected by the second detector 41.
詳細には、第１検出器３１は、干渉光Ａを検出する検出部３２Ａと、干渉光Ｃを検出する検出部３２Ｃを備える平衡検出器であり、２つの干渉光Ａ，Ｃを平衡検出する。前述したように、分割光学系２０によって分割されて第１チャンネル３０（第１検出器３１）に向かう干渉光Ａと干渉光Ｃは、偏光方向が互いに共通（本実施形態では水平偏光）し、且つ互いの間に位相差（本実施形態では位相差π）を有する。また、第２検出器４１は、干渉光Ｂを検出する検出部４２Ｂと、干渉光Ｄを検出する検出部４２Ｄを備える平衡検出器であり、２つの干渉光Ｂ，Ｄを平衡検出する。分割光学系２０によって分割されて第２チャンネル４０（第２検出器４１）に向かう干渉光Ｂと干渉光Ｄは、偏光方向が互いに共通（本実施形態では垂直偏光）し、且つ互いの間に位相差（本実施形態では位相差π）を有する。この場合、ＯＣＴ装置１は、水平偏光成分および垂直偏光成分を持つ各波長での干渉信号に基づいて、被検物の偏光特性を取得することができる。 Specifically, the first detector 31 is a balanced detector that includes a detector 32A that detects the interference light A and a detector 32C that detects the interference light C, and detects the two interference lights A and C in a balanced manner. . As described above, the interference light A and the interference light C divided by the division optical system 20 and directed to the first channel 30 (first detector 31) have the same polarization direction (horizontal polarization in this embodiment). In addition, there is a phase difference between them (in this embodiment, a phase difference π). The second detector 41 is a balanced detector including a detector 42B that detects the interference light B and a detector 42D that detects the interference light D, and detects the two interference lights B and D in a balanced manner. The interference light B and the interference light D that are split by the splitting optical system 20 and directed to the second channel 40 (second detector 41) have the same polarization direction (vertically polarized light in the present embodiment), and between them. It has a phase difference (in this embodiment, a phase difference π). In this case, the OCT apparatus 1 can acquire the polarization characteristic of the test object based on the interference signal at each wavelength having the horizontal polarization component and the vertical polarization component.
ＯＣＴ装置１は、第１干渉信号および第２干渉信号に定常パターンノイズ（ＦＰＮ）を発生させるＦＰＮ光学部材２５を備える。本実施形態では、ＦＰＮ光学部材２５は、ビームスプリッタ（第１分割部材）２１によって分割される複数の干渉光の光路のうち、一部の干渉光の光路に設けられている。詳細には、本実施形態のＦＰＮ光学部材２５は、ビームスプリッタ２１と第１偏光ビームスプリッタ２２の間の干渉光の光路に設けられている。この場合、第１干渉信号および第２干渉信号の両方に、共通のＦＰＮ光学部材２５によってＦＰＮが発生する。従って、例えば、第１偏光ビームスプリッタ２２によって分割される２つの干渉光の光路の各々にＦＰＮ光学部材を設ける場合等に比べて、ＦＰＮを利用した帯域ずれの補償精度が向上する。 The OCT apparatus 1 includes an FPN optical member 25 that generates stationary pattern noise (FPN) in the first interference signal and the second interference signal. In this embodiment, the FPN optical member 25 is provided in a part of the optical paths of the interference light among the optical paths of the interference light divided by the beam splitter (first split member) 21. Specifically, the FPN optical member 25 of the present embodiment is provided in the optical path of the interference light between the beam splitter 21 and the first polarizing beam splitter 22. In this case, FPN is generated by the common FPN optical member 25 for both the first interference signal and the second interference signal. Therefore, for example, compared with the case where an FPN optical member is provided in each of the two optical paths of the interference light divided by the first polarization beam splitter 22, the accuracy of compensation for band shift using FPN is improved.
図２に示すように、本実施形態のＦＰＮ光学部材２５には、一例として、既知の厚みＤを有するカバーガラスが用いられている。ＦＰＮ光学部材２５の前面と後面は、共に、干渉光の光軸に対して垂直に交わるように配置される。ＦＰＮ光学部材２５を通過する干渉光は、ＦＰＮ光学部材２５をそのまま透過する透過光Ｅ１と、ＦＰＮ光学部材２５内で２ｎ（ｎ＝１，２，３・・・）回反射して透過する透過光（図２では、２回反射する透過光Ｅ２のみを図示）に分けられる。透過光と内部反射光は互いに干渉する。ＦＰＮ光学部材２５によって発生した干渉光は、第１チャンネル３０および第２チャンネル４０によってＦＰＮとして検出される。ＦＰＮ光学部材２５をそのまま透過する光のピークと、ＦＰＮ光学部材２５内で２ｎ回反射した後に透過する光のピークは、ＦＰＮ光学部材２５の厚さの２ｎ倍離れて検出される。 As shown in FIG. 2, a cover glass having a known thickness D is used as an example for the FPN optical member 25 of the present embodiment. Both the front and rear surfaces of the FPN optical member 25 are arranged so as to intersect perpendicularly to the optical axis of the interference light. The interference light passing through the FPN optical member 25 is transmitted through the FPN optical member 25 as it is, and transmitted through the FPN optical member 25 after being reflected 2n (n = 1, 2, 3...) Times. It is divided into light (in FIG. 2, only transmitted light E2 reflected twice is shown). The transmitted light and the internally reflected light interfere with each other. The interference light generated by the FPN optical member 25 is detected as FPN by the first channel 30 and the second channel 40. The peak of light that passes through the FPN optical member 25 as it is and the peak of light that passes through the FPN optical member 25 after being reflected 2n times are detected 2n times apart from the thickness of the FPN optical member 25.
なお、ＦＰＮ光学部材の配置位置を変更することも可能である。例えば、ビームスプリッタ２１と第１偏光ビームスプリッタ２２の間でなく、ビームスプリッタ２１と第２偏光ビームスプリッタ２３の間にＦＰＮ光学部材が配置されてもよい。第１偏光ビームスプリッタ２２によって分割される２つの干渉光の光路の各々にＦＰＮ光学部材が配置されてもよい。第２偏光ビームスプリッタ２３によって分割される２つの干渉光の光路の各々にＦＰＮ光学部材が配置されてもよい。また、ＯＣＴ装置１は、光分割器（本実施形態ではカップラー１２）によって分割された測定光をさらに分割する光学素子を備え、分割された測定光の光路のうちの一部の光路にＦＰＮ光学部材を備えていてもよい。また、カバーガラス以外の光学部材（例えば、偏光板またはミラー等）をＦＰＮ光学部材として用いることも可能である。 It is also possible to change the arrangement position of the FPN optical member. For example, an FPN optical member may be disposed between the beam splitter 21 and the second polarizing beam splitter 23 instead of between the beam splitter 21 and the first polarizing beam splitter 22. An FPN optical member may be disposed in each of the optical paths of the two interference lights divided by the first polarization beam splitter 22. An FPN optical member may be disposed in each of the optical paths of the two interference lights divided by the second polarization beam splitter 23. Further, the OCT apparatus 1 includes an optical element that further divides the measurement light divided by the optical splitter (the coupler 12 in the present embodiment), and an FPN optical is provided in a part of the optical paths of the divided measurement light. A member may be provided. In addition, an optical member other than the cover glass (for example, a polarizing plate or a mirror) can be used as the FPN optical member.
制御部５０は、ＯＣＴ装置１の動作を制御する。例えば、制御部５０は、第１チャンネル３０と第２チャンネル（詳細には、第１ＡＤ変換器３４と第２ＡＤ変換器４４）から第１干渉信号および第２干渉信号を入力して処理することで、被検物の内部情報を取得する。制御部５０は、ＣＰＵ（プロセッサ）５１、ＲＯＭ５２、ＲＡＭ５３、および不揮発性メモリ（Ｎｏｎ−ｖｏｌａｔｉｌｅ ｍｅｍｏｒｙ：ＮＶＭ）５４を備える。ＣＰＵ５１は、ＯＣＴ装置１における各部の制御（例えば、測定光源１１の制御、光スキャナ１６の制御、干渉信号の処理制御等）を司る。ＲＯＭ５２には、各種プログラム、初期値等が記憶されている。ＲＡＭ５３は、各種情報を一時的に記憶する。不揮発性メモリ５４は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、および着脱可能なＵＳＢメモリ等を不揮発性メモリ５４として使用してもよい。本実施形態では、後述する帯域ずれ補償処理を実行するための干渉信号処理プログラム等が不揮発性メモリ５４に記憶される。 The control unit 50 controls the operation of the OCT apparatus 1. For example, the control unit 50 receives and processes the first interference signal and the second interference signal from the first channel 30 and the second channel (specifically, the first AD converter 34 and the second AD converter 44). , To obtain internal information of the test object. The control unit 50 includes a CPU (processor) 51, a ROM 52, a RAM 53, and a non-volatile memory (NVM) 54. The CPU 51 controls each part in the OCT apparatus 1 (for example, control of the measurement light source 11, control of the optical scanner 16, processing control of interference signals, etc.). The ROM 52 stores various programs, initial values, and the like. The RAM 53 temporarily stores various information. The nonvolatile memory 54 is a non-transitory storage medium that can retain stored contents even when power supply is interrupted. For example, a hard disk drive, a flash ROM, and a removable USB memory may be used as the nonvolatile memory 54. In the present embodiment, an interference signal processing program or the like for executing band shift compensation processing described later is stored in the nonvolatile memory 54.
本実施形態では、ＯＣＴ光学系１０および制御部５０等が１つの筐体に内蔵された一体型のＯＣＴ装置１を例示する。しかし、ＯＣＴ装置１は、筐体が異なる複数の装置を備えていてもよいことは言うまでもない。例えば、ＯＣＴ装置１は、ＯＣＴ光学系１０等を内蔵する光学装置と、光学装置に有線または無線で接続されるパーソナルコンピュータ（以下、「ＰＣ」という）とを備えていてもよい。この場合、光学装置が備える制御部と、ＰＣの制御部とが共にＯＣＴ装置１の制御部５０として機能しても良い。つまり、制御部５０は複数のプロセッサを備えていてもよい。また、ＰＣの制御部が単独でＯＣＴ装置１の制御部５０として機能しても良い。また、本実施形態では、干渉信号を処理して内部情報を取得する処理装置をＯＣＴ装置１が兼ねる。しかし、ＯＣＴ装置１以外の装置（例えばＰＣ）が、ＯＣＴ装置１によって取得された干渉信号を処理する処理装置として機能してもよい。 In the present embodiment, an integrated OCT apparatus 1 in which the OCT optical system 10, the control unit 50, and the like are incorporated in one housing is illustrated. However, it goes without saying that the OCT apparatus 1 may include a plurality of apparatuses having different housings. For example, the OCT apparatus 1 may include an optical apparatus incorporating the OCT optical system 10 and the like, and a personal computer (hereinafter referred to as “PC”) connected to the optical apparatus by wire or wirelessly. In this case, both the control unit included in the optical device and the control unit of the PC may function as the control unit 50 of the OCT apparatus 1. That is, the control unit 50 may include a plurality of processors. Further, the control unit of the PC may function alone as the control unit 50 of the OCT apparatus 1. In the present embodiment, the OCT apparatus 1 also serves as a processing apparatus that processes interference signals and acquires internal information. However, an apparatus (for example, a PC) other than the OCT apparatus 1 may function as a processing apparatus that processes an interference signal acquired by the OCT apparatus 1.
図３を参照して、本実施形態の制御部５０が実行する帯域ずれの補償方法（帯域ずれ補償処理）の一例について説明する。複数のチャンネルを備えたＯＣＴ装置では、それぞれのチャンネル間の特性に差が存在する影響で、複数の干渉信号の間の波長帯域のずれ（帯域ずれ）が生じる場合がある。一例として、本実施形態では、第１検出器３１と第２検出器４１の間の個体差、第１ＡＤ変換器３４および第２ＡＤ変換器４４の各々から制御部５０が干渉信号を入力するタイミング（サンプリングタイミング）の差、および、複数の検出器３１，４１の各々によって検出される干渉光の光路長差の少なくともいずれかに起因して、帯域ずれが生じる場合がある。帯域ずれが生じると、被検物の内部情報を正確に取得することが困難になる。特に、高周波になる程、帯域ずれの影響が顕著になる。本実施形態の制御部５０は、帯域ずれを補償して被検物の内部情報（例えば、断層画像、複屈折性等の少なくともいずれか）を取得する。 With reference to FIG. 3, an example of a band shift compensation method (band shift compensation process) executed by the control unit 50 of the present embodiment will be described. In an OCT apparatus provided with a plurality of channels, there is a case where a wavelength band shift (band shift) occurs between a plurality of interference signals due to the difference in characteristics between the channels. As an example, in this embodiment, the individual difference between the first detector 31 and the second detector 41, the timing at which the control unit 50 inputs an interference signal from each of the first AD converter 34 and the second AD converter 44 ( There may be a band shift due to at least one of a difference in sampling timing) and an optical path length difference of interference light detected by each of the plurality of detectors 31 and 41. When the band shift occurs, it becomes difficult to accurately acquire the internal information of the test object. In particular, the influence of the band shift becomes more prominent as the frequency becomes higher. The control unit 50 according to the present embodiment compensates for the band shift and acquires internal information (for example, at least one of a tomographic image and birefringence) of the test object.
一例として、本実施形態の制御部５０は、第１干渉信号および第２干渉信号における位相差を、分割光学系２０によって定まる所定値に調整することで、２つの干渉信号における帯域ずれを補償する。前述したように、本実施形態の分割光学系２０は、第１チャンネル３０に検出させる干渉光と、第２チャンネル４０に検出させる干渉光の位相差がπとなるように、干渉光を分割する。従って、制御部５０は、２つの干渉信号における位相差を所定値πに調整することで、帯域ずれを補償する。 As an example, the control unit 50 of the present embodiment compensates for a band shift between the two interference signals by adjusting the phase difference between the first interference signal and the second interference signal to a predetermined value determined by the split optical system 20. . As described above, the split optical system 20 according to the present embodiment splits the interference light so that the phase difference between the interference light detected by the first channel 30 and the interference light detected by the second channel 40 is π. . Therefore, the control unit 50 compensates for the band shift by adjusting the phase difference between the two interference signals to the predetermined value π.
本実施形態では、第１干渉信号および第２干渉信号にＦＰＮを発生させるＦＰＮ光学部材２５が設けられている。制御部５０は、第１干渉信号および第２干渉信号に含まれる、ＦＰＮに対応する信号成分に基づいて、帯域ずれを補償する。 In the present embodiment, an FPN optical member 25 that generates FPN in the first interference signal and the second interference signal is provided. The control unit 50 compensates the band shift based on the signal component corresponding to the FPN included in the first interference signal and the second interference signal.
図３で例示する複素平面では、第１チャンネル３０から取得される（つまり、水平偏光成分から取得される）第１干渉信号のうち、ＦＰＮ光学部材２５に由来する信号成分のピークの位置が、ＩＨ（ｐｅａｋ）で示されている。また、第２チャンネル４０から取得される（つまり、垂直偏光成分から取得される）第２干渉信号のうち、ＦＰＮ光学部材２５に由来する信号成分のピークの位置が、ＩＶ（ｐｅａｋ）で示されている。ＩＨ（ｐｅａｋ）とＩＶ（ｐｅａｋ）は同一のＦＰＮ光学部材２５に由来しており、且つ、分割光学系２０によって定まる２つの干渉信号の位相差はπである。従って、帯域ずれが存在しないと仮定すると、ＩＨ（ｐｅａｋ）とＩＶ（ｐｅａｋ）の位相差Δφは所定値πとなるはずである。つまり、本実施形態では、帯域ずれが存在しない場合、複素平面上において、ＩＨ（ｐｅａｋ）とＩＶ（ｐｅａｋ）は原点を通る同一直線上に位置する。しかし、図３に示す例では、帯域ずれの影響で、ＩＨ（ｐｅａｋ）とＩＶ（ｐｅａｋ）の位相差Δφが所定値πに対してずれている。本実施形態の制御部５０は、ＩＨ（ｐｅａｋ）とＩＶ（ｐｅａｋ）の位相差Δφを算出する。制御部５０は、算出した位相差Δφと、帯域ずれが存在しないと仮定した場合の位相差の所定値πとの差分を、帯域ずれの補償値として算出する。制御部５０は、検出された第１干渉信号と第２干渉信号の少なくともいずれかに対して、補償値に基づく処理を行うことで、第１干渉信号と第２干渉信号の波長帯域の関係を適切な関係に補正する。図３に示す例では、帯域ずれが補償されることで、ＩＶ（ｐｅａｋ）がＩ´Ｖ（ｐｅａｋ）に補正されている。その結果、２つの干渉信号の波長帯域の関係が適切な関係（本実施形態では、位相差が所定値πとなる関係）となっている。 In the complex plane illustrated in FIG. 3, the peak position of the signal component derived from the FPN optical member 25 among the first interference signal acquired from the first channel 30 (that is, acquired from the horizontal polarization component) is I H (peak). Further, the peak position of the signal component derived from the FPN optical member 25 among the second interference signals acquired from the second channel 40 (that is, acquired from the vertical polarization component) is indicated by I V (peak). Has been. I H (peak) and I V (peak) are derived from the same FPN optical member 25, and the phase difference between the two interference signals determined by the split optical system 20 is π. Therefore, assuming that there is no band shift, the phase difference Δφ between I H (peak) and I V (peak) should be a predetermined value π. That is, in this embodiment, when there is no band shift, I H (peak) and I V (peak) are located on the same straight line passing through the origin on the complex plane. However, in the example shown in FIG. 3, the phase difference Δφ between I H (peak) and I V (peak) is shifted from the predetermined value π due to the influence of the band shift. The control unit 50 according to the present embodiment calculates a phase difference Δφ between I H (peak) and I V (peak). The control unit 50 calculates a difference between the calculated phase difference Δφ and a predetermined value π of the phase difference when it is assumed that there is no band shift as a band shift compensation value. The control unit 50 performs a process based on the compensation value on at least one of the detected first interference signal and the second interference signal, thereby determining the relationship between the wavelength bands of the first interference signal and the second interference signal. Correct to the appropriate relationship. In the example shown in FIG. 3, I V (peak) is corrected to I ′ V (peak) by compensating for the band shift. As a result, the relationship between the wavelength bands of the two interference signals is an appropriate relationship (in this embodiment, the relationship in which the phase difference is the predetermined value π).
制御部５０が実行する帯域ずれの補償方法の具体例について、さらに詳細に説明する。制御部５０は、第１チャンネル３０を介して水平偏光成分から取得される第１干渉信号のうち、ＦＰＮ光学部材２５に由来する信号成分ＩＨを求める。信号成分ＩＨは、以下の（数１）によって表される。なお、Ｉｒは参照光の水平偏光成分に基づく信号、Ｉｐは測定光の水平偏光成分に基づく信号、ｋは波数、ΔｚはＩｒとＩｐの距離差を示す。
制御部５０は、第２チャンネル４０を介して垂直偏光成分から取得される第２干渉信号のうち、ＦＰＮ光学部材２５に由来する信号成分ＩＶを求める。信号成分ＩＶは、以下の（数２）によって表される。なお、Ｉ´ｒは参照光の垂直偏光成分に基づく信号、Ｉ´ｐは測定光の垂直偏光成分に基づく信号、ｒは帯域ずれ（本実施形態では、２つの干渉信号間における波長帯域の範囲のずれ）を示す。
制御部５０は、信号成分ＩＨと信号成分ＩＶの位相差Δφを算出する。位相差Δφは、例えば、以下の（数３）によって表される。
制御部５０は、帯域ずれが存在しないと仮定した場合の位相差の所定値（本実施形態ではπ）と、算出した位相差Δφとの差分を、帯域ずれの補償値として算出する。制御部５０は、算出した補償値に基づいて、第１干渉信号と第２干渉信号の帯域ずれを補償する。例えば、被検物に由来する干渉信号を含む第２干渉信号に対して補償値に基づく処理を行うことで、第１干渉信号と第２干渉信号の波長帯域の関係を補正することが可能である。この場合、補正後の第２干渉信号Ｉ´Ｖは、以下の（数４）によって求められる。なお、第１干渉信号に対して補償値に基づく処理を行ってもよいことは言うまでもない。
なお、本実施形態で説明した帯域ずれの補償方法は一例に過ぎない。従って、他の方法で帯域ずれを補償することも可能である。例えば、上記の（数４）では、第２干渉信号に対して補償値に基づく処理が行われる。しかし、第１干渉信号に対して補償値に基づく処理を行ってもよいことは言うまでもない。また、制御部５０は、ＦＰＮを利用せずに帯域ずれを補償することも可能である。例えば、制御部５０は、チャンネル間の特性差に関する特性差情報を、理論値または実験値に基づいて予め取得していてもよい。この場合、制御部５０は、予め取得している特性差情報に基づいて帯域ずれを補償してもよい。特性差情報には、例えば、第１ＡＤ変換器３４および第２ＡＤ変換器４４の各々から制御部５０が干渉信号を入力するタイミングの差等を用いることができる。また、ＯＣＴ装置１は、チャンネル間の特性差に基づく補償値を予め取得していてもよい。 The band shift compensation method described in this embodiment is merely an example. Therefore, it is possible to compensate for the band shift by other methods. For example, in the above (Equation 4), processing based on the compensation value is performed on the second interference signal. However, it goes without saying that processing based on the compensation value may be performed on the first interference signal. Further, the control unit 50 can compensate for the band shift without using the FPN. For example, the control unit 50 may acquire in advance characteristic difference information regarding characteristic differences between channels based on theoretical values or experimental values. In this case, the control unit 50 may compensate for the band shift based on the characteristic difference information acquired in advance. For the characteristic difference information, for example, a difference in timing at which the control unit 50 inputs an interference signal from each of the first AD converter 34 and the second AD converter 44 can be used. Further, the OCT apparatus 1 may acquire a compensation value based on a characteristic difference between channels in advance.
干渉信号ＩＨ、ＩＶ、Ｉ´Ｖ等を求める際に、平行検出器における各サンプリングポイントに対する波数成分のマッピング状態を補正してもよい。マッピング状態を補正する方法については、例えば、特開２０１５−６８７７５号公報に記載されている。 When obtaining the interference signals I H , I V , I ′ V, etc., the mapping state of the wave number component for each sampling point in the parallel detector may be corrected. A method for correcting the mapping state is described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2015-68775.
ＯＣＴ装置１の機械的構成等を変更することも可能である。例えば、本実施形態のＯＣＴ装置１は２つのチャンネル３０，４０を備える。しかし、３つ以上のチャンネルを備えるＯＣＴ装置でも、本実施形態で例示した技術の少なくとも一部を適用できる。 It is also possible to change the mechanical configuration of the OCT apparatus 1. For example, the OCT apparatus 1 according to the present embodiment includes two channels 30 and 40. However, at least a part of the technique exemplified in this embodiment can be applied to an OCT apparatus including three or more channels.
１ ＯＣＴ装置
１１ 測定光源
２０ 分割光学系
２１ ビームスプリッタ
２２ 第１偏光ビームスプリッタ
２３ 第２偏光ビームスプリッタ
２５ ＦＰＮ光学部材
３０ 第１チャンネル
３１ 第１検出器
３４ 第１ＡＤ変換器
４０ 第２チャンネル
４１ 第２検出器
４４ 第２ＡＤ変換器
５０ 制御部
1 OCT apparatus 11 Measuring light source 20 Splitting optical system 21 Beam splitter 22 First polarizing beam splitter 23 Second polarizing beam splitter 25 FPN optical member 30 First channel 31 First detector 34 First AD converter 40 Second channel 41 Second Detector 44 Second AD converter 50 Control unit
Claims (9)
測定光源と、
前記測定光源から出射された測定光と参照光が合成された干渉光を、複数の干渉光に分割する分割光学系と、
前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、１つまたは複数の干渉光を検出して第１干渉信号を出力する第１チャンネルと、
前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、前記第１チャンネルによって検出される干渉光とは異なる１つまたは複数の干渉光を検出して第２干渉信号を出力する第２チャンネルと、
前記第１干渉信号および前記第２干渉信号を入力して処理することで、被検物の内部情報を取得する制御部と、
を備え、
前記制御部は、
前記第１チャンネルと前記第２チャンネルの間の特性差に起因する、前記第１干渉信号と前記第２干渉信号の間の波長帯域のずれである帯域ずれを補償して、前記内部情報を取得することを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 An optical coherence tomography device,
A measurement light source;
A splitting optical system that splits interference light obtained by combining measurement light and reference light emitted from the measurement light source into a plurality of interference light;
A first channel that detects one or a plurality of interference lights among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a first interference signal;
A second channel that detects one or a plurality of interference lights different from the interference light detected by the first channel among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a second interference signal; ,
A control unit for acquiring internal information of the test object by inputting and processing the first interference signal and the second interference signal;
With
The controller is
The internal information is acquired by compensating for a band shift, which is a wavelength band shift between the first interference signal and the second interference signal, caused by a characteristic difference between the first channel and the second channel. An optical coherence tomography apparatus.
前記第１チャンネルは、
干渉光を検出する第１検出器と、
前記第１検出器によって検出されたアナログの信号からデジタルの前記第１干渉信号を生成して出力する第１ＡＤ変換器とを備え、
前記第２チャンネルは、
干渉光を検出する第２検出器と、
前記第２検出器によって検出されたアナログの信号からデジタルの前記第２干渉信号を生成して出力する第２ＡＤ変換器とを備えることを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 The optical coherence tomography device of claim 1,
The first channel is
A first detector for detecting interference light;
A first AD converter that generates and outputs the digital first interference signal from the analog signal detected by the first detector;
The second channel is
A second detector for detecting interference light;
An optical coherence tomography apparatus comprising: a second AD converter that generates and outputs the digital second interference signal from the analog signal detected by the second detector.
前記帯域ずれは、
前記第１検出器と前記第２検出器の間の個体差、
前記第１ＡＤ変換器および前記第２ＡＤ変換器の各々から前記制御部が干渉信号を入力するタイミングの差、および、
前記第１検出器が検出する干渉光の光路長と、前記第２検出器が検出する干渉光の光路長の差、
の少なくともいずれかに起因する波長帯域のずれであることを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 An optical coherence tomography device according to claim 2,
The band shift is
An individual difference between the first detector and the second detector;
A timing difference at which the control unit inputs an interference signal from each of the first AD converter and the second AD converter; and
A difference between an optical path length of the interference light detected by the first detector and an optical path length of the interference light detected by the second detector;
An optical coherence tomography apparatus characterized by a shift in wavelength band caused by at least one of the above.
前記分割光学系で分割されて前記第１チャンネルに向かう干渉光と、前記分割光学系で分割されて前記第２チャンネルに向かう干渉光の位相差が、前記分割光学系によって所定値に定まると共に、
前記制御部は、
入力した前記第１干渉信号および前記第２干渉信号における位相差を前記所定値に調整することで、前記帯域ずれを補償することを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 An optical coherence tomography device according to any one of claims 1 to 3,
The phase difference between the interference light divided by the division optical system and directed to the first channel and the interference light divided by the division optical system and directed to the second channel is determined by the division optical system to a predetermined value,
The controller is
An optical coherence tomography apparatus that compensates for the band shift by adjusting a phase difference between the input first interference signal and the second interference signal to the predetermined value.
前記測定光源から出射される光の光路に設けられ、前記第１干渉信号および前記第２干渉信号に定常パターンノイズを発生させる光学部材をさらに備え、
前記制御部は、
前記第１干渉信号および前記第２干渉信号に含まれる、前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて、前記第１干渉信号と前記第２干渉信号の前記帯域ずれを補償することを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 An optical coherence tomography device according to any one of claims 1 to 4,
An optical member that is provided in an optical path of light emitted from the measurement light source, and that generates stationary pattern noise in the first interference signal and the second interference signal;
The controller is
Compensating the band shift between the first interference signal and the second interference signal based on a signal component corresponding to the stationary pattern noise included in the first interference signal and the second interference signal. Optical coherence tomography device.
前記分割光学系は、
干渉光を、所定の位相差を有する複数の干渉光に分割する第１分割部材と、
干渉光を、水平偏光成分を持つ干渉光と垂直偏光成分を持つ干渉光に分割する第２分割部材とを備え、
前記第１チャンネルは、水平偏光成分を持ち且つ位相差を有する２つの干渉光を検出し、
前記第２チャンネルは、垂直偏光成分を持ち且つ位相差を有する２つの干渉光を検出することを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 An optical coherence tomography device according to any one of claims 1 to 4,
The split optical system is
A first dividing member that divides the interference light into a plurality of interference lights having a predetermined phase difference;
A second splitting member that splits the interference light into interference light having a horizontal polarization component and interference light having a vertical polarization component;
The first channel detects two interference lights having a horizontal polarization component and having a phase difference;
The optical coherence tomography apparatus, wherein the second channel detects two interference lights having a vertical polarization component and having a phase difference.
前記第１分割部材によって分割され、且つ位相が互いに異なる２つの干渉光の光路のうち、いずれか一方の位相の干渉光の光路に設けられ、前記第１干渉信号および前記第２干渉信号に定常パターンノイズを発生させる光学部材をさらに備え、
前記制御部は、
前記第１干渉信号および前記第２干渉信号に含まれる、前記定常パターンノイズに対応する信号成分に基づいて、前記第１干渉信号と前記第２干渉信号の前記帯域ずれを補償することを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 An optical coherence tomography device according to claim 6,
Provided in the optical path of the interference light of one of the two optical paths of the interference light divided by the first split member and having different phases from each other, the first interference signal and the second interference signal are stationary. An optical member that generates pattern noise is further provided.
The controller is
Compensating the band shift between the first interference signal and the second interference signal based on a signal component corresponding to the stationary pattern noise included in the first interference signal and the second interference signal. Optical coherence tomography device.
前記制御部は、
前記第１干渉信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分と、前記第２干渉信号に含まれる前記定常パターンノイズに対応する信号成分の位相差を算出し、算出した位相差と、前記帯域ずれが存在しないと仮定した場合の所定の位相差との差分を、補償する前記帯域ずれとして算出することを特徴とする光コヒーレンストモグラフィ装置。 The optical coherence tomography device according to claim 5 or 7,
The controller is
Calculating a phase difference between a signal component corresponding to the stationary pattern noise included in the first interference signal and a signal component corresponding to the stationary pattern noise included in the second interference signal, and calculating the phase difference; An optical coherence tomography apparatus, wherein a difference from a predetermined phase difference when it is assumed that there is no band shift is calculated as the band shift to be compensated.
前記光コヒーレンストモグラフィ装置は、
測定光源と、
前記測定光源から出射された測定光と参照光が合成された干渉光を、複数の干渉光に分割する分割光学系と、
前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、１つまたは複数の干渉光を検出して第１干渉信号を出力する第１チャンネルと、
前記分割光学系によって分割された複数の干渉光のうち、前記第１チャンネルによって検出される干渉光とは異なる１つまたは複数の干渉光を検出して第２干渉信号を出力する第２チャンネルと、
を備え、
前記処理装置のプロセッサが前記干渉信号処理プログラムを実行することで、
前記第１チャンネルと前記第２チャンネルの間の特性差に起因する、前記第１干渉信号と前記第２干渉信号の間の波長帯域のずれである帯域ずれを補償して、前記内部情報を取得する処理ステップを前記処理装置に実行させることを特徴とする干渉信号処理プログラム。 An interference signal processing program executed in a processing device that acquires internal information of a test object by processing an interference signal acquired by an optical coherence tomography device,
The optical coherence tomography apparatus is
A measurement light source;
A splitting optical system that splits interference light obtained by combining measurement light and reference light emitted from the measurement light source into a plurality of interference light;
A first channel that detects one or a plurality of interference lights among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a first interference signal;
A second channel that detects one or a plurality of interference lights different from the interference light detected by the first channel among the plurality of interference lights divided by the division optical system and outputs a second interference signal; ,
With
When the processor of the processing device executes the interference signal processing program,
The internal information is acquired by compensating for a band shift, which is a wavelength band shift between the first interference signal and the second interference signal, caused by a characteristic difference between the first channel and the second channel. An interference signal processing program that causes the processing device to execute a processing step for performing the processing.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015233996A JP6601189B2 (en) | 2015-11-30 | 2015-11-30 | Optical coherence tomography apparatus and interference signal processing program |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2015233996A JP6601189B2 (en) | 2015-11-30 | 2015-11-30 | Optical coherence tomography apparatus and interference signal processing program |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017101973A true JP2017101973A (en) | 2017-06-08 |
| JP2017101973A5 JP2017101973A5 (en) | 2018-12-13 |
| JP6601189B2 JP6601189B2 (en) | 2019-11-06 |
Family
ID=59017872
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2015233996A Active JP6601189B2 (en) | 2015-11-30 | 2015-11-30 | Optical coherence tomography apparatus and interference signal processing program |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP6601189B2 (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11980419B2 (en) | 2019-07-11 | 2024-05-14 | Topcon Corporation | Optical coherence tomography apparatus, control method of the same, optical measurement method, and recording medium |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06165784A (en) * | 1992-11-30 | 1994-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | Optical laminagraphic imaging device |
| US20040233457A1 (en) * | 2003-05-19 | 2004-11-25 | Podoleanu Adrian Gh. | Optical mapping apparatus with optimized OCT configuration |
| JP2005245740A (en) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Clinical Supply:Kk | Time gate optical wave tomogram measuring method and device |
| JP2007114160A (en) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Optical coherence tomography system |
| JP2013148482A (en) * | 2012-01-19 | 2013-08-01 | Nidek Co Ltd | Optical coherence tomography device |
-
2015
- 2015-11-30 JP JP2015233996A patent/JP6601189B2/en active Active
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06165784A (en) * | 1992-11-30 | 1994-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | Optical laminagraphic imaging device |
| US20040233457A1 (en) * | 2003-05-19 | 2004-11-25 | Podoleanu Adrian Gh. | Optical mapping apparatus with optimized OCT configuration |
| JP2005245740A (en) * | 2004-03-04 | 2005-09-15 | Clinical Supply:Kk | Time gate optical wave tomogram measuring method and device |
| JP2007114160A (en) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | Optical coherence tomography system |
| JP2013148482A (en) * | 2012-01-19 | 2013-08-01 | Nidek Co Ltd | Optical coherence tomography device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11980419B2 (en) | 2019-07-11 | 2024-05-14 | Topcon Corporation | Optical coherence tomography apparatus, control method of the same, optical measurement method, and recording medium |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP6601189B2 (en) | 2019-11-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6812740B2 (en) | OCT device | |
| JP6160827B2 (en) | Optical coherence tomography device | |
| JP5939866B2 (en) | Optical coherence tomography imaging apparatus and imaging method | |
| US9584098B2 (en) | Sample clock generator for optical tomographic imaging apparatus, and optical tomographic imaging apparatus | |
| US9593936B2 (en) | Optical tomographic device capable of acquiring a plurality of tomographic images | |
| JP5637730B2 (en) | Imaging apparatus and imaging method thereof | |
| US11860037B2 (en) | Interferometer movable mirror position measurement apparatus and fourier transform infrared spectroscopy | |
| US20160320171A1 (en) | Optical coherence tomography apparatus | |
| JP2013007601A (en) | Optical coherence tomographic apparatus | |
| JP2013160699A (en) | Optical tomographic image measuring device | |
| JP6601189B2 (en) | Optical coherence tomography apparatus and interference signal processing program | |
| JP2013064682A (en) | Measuring device | |
| KR101200984B1 (en) | Detecting system of using space division of light | |
| US11231272B2 (en) | Optical measuring apparatus and optical measuring method | |
| US20110299090A1 (en) | Real-time interferometer | |
| JP2014092425A (en) | Optical interference tomographic imaging apparatus and optical interference tomographic imaging method | |
| JP6790879B2 (en) | OCT device | |
| JP2017044565A (en) | Distance measurement device and method | |
| JPWO2019189559A1 (en) | Optical coherence tomography imager, optical coherence tomography method and program | |
| KR101796443B1 (en) | Optical-phase imaging system | |
| KR101213786B1 (en) | Detecting system of using space division of light | |
| JP5376284B2 (en) | Interferometry method and interferometer | |
| JP2015141085A (en) | Measuring device, and article manufacturing method | |
| JP2012251828A (en) | Wavelength scanning interferometer | |
| KR20130022134A (en) | Three dimensional shape measuring device and method, measurement data adjusting method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20181030 |
|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181030 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190828 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190910 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190923 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6601189 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |