JP2017073020A - 振動解析システム、ユーザーインターフェースシステム、振動解析データ生成方法および記憶媒体 - Google Patents
振動解析システム、ユーザーインターフェースシステム、振動解析データ生成方法および記憶媒体 Download PDFInfo
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Abstract
Description
本発明の具体的な実施の形態を説明する前に、本発明の概略を説明する。
<構成概略>
図5に、実施の形態1に係る電気機器10を説明するハードウェアブロック図を示す。電気機器10の種類、用途、等は特に限定されない。図5の例によれば、電気機器10は、主処理部11と、記憶部12と、情報入力部13と、情報出力部14と、外部接続部15と、ユーザーインターフェースシステム20とを含んでいる。図5ではこれらの要素11〜15,20がバス16に接続されているが、他の接続形態を採用してもよい。
図6に、振動解析システム50の機能ブロック図を示す。図6の例によれば、振動解析システム50は、時間周波数解析部110と、指標生成部120と、判別部130とを含んでいる。
時間周波数解析部110には、振動センサ40(図5参照)の出力信号が入力され、それにより時間周波数解析部110は、捕捉された振動の波形データD1を取得する。そして、時間周波数解析部110は、振動波形データD1から、捕捉された振動をCWDで表現した時間周波数分布データ(時間周波数解析データと呼んでもよい)D2を生成する。図6の例では、時間周波数解析部110は、前処理部111と、CWD処理部112とを含んでいる。
図13に、指標生成部120の動作例についてフローチャートを示す。図13の指標生成処理S220によれば、指標生成部120は、指標決定処理S221と、指標プロファイル生成処理S222とを行う。
指標生成部120は、時間周波数解析部110によって生成された時間周波数分布データD2を取得する。そして、指標生成部120は、指標決定処理S221によって、時間周波数分布データD2に基づいて指標スポットを決定する。指標スポットは上記のように、時間周波数分布データD2によって提供される時間周波数分布において分布形状の指標となる地点である。
指標プロファイル生成処理S222(図13参照)では、指標生成部120は、指標決定処理S221によって決定した指標スポットSPに基づいて、振動解析データとしての指標プロファイルデータD3を生成する。なお、指標プロファイルデータを、指標プロファイルと呼ぶ場合もある。
図6に戻り、判別部130は、指標生成部120によって生成された指標プロファイルD3を、判別対象として取得する。そして、判別部130は、判別対象の指標プロファイルD3(判別対象プロファイルD3とも呼ぶ)が、登録済みの指標プロファイルD3(基準プロファイルD3とも呼ぶ)と同一性を有するか否かを判別する同一性判別処理を行う。基準プロファイルD3は、入力受付部材30を擦った際に発生する振動について予め生成され、振動解析システム50の記憶部52(図5参照)に予め格納されているものとする。
図22に、ユーザーインターフェースシステム20の全体動作の例についてフローチャートを示す。図22の入力判別処理S200によれば、時間周波数解析部110が既述の時間周波数解析処理S210(図12参照)を実行する。これにより、振動センサ40から送られてくる振動波形データD1から、時間周波数分布データD2が生成される。
ここで、図21の例に比べて入力受付部材30を遅く擦った場合の指標プロファイルD3を、図23に示す。図23を図21と比較すれば分かるように、擦る速度が遅いほど、同じ時間幅内に含まれる指標スポットSPの個数が少なくなる。かかる点に鑑み、判別部130は、所定時間当たりに含まれる指標スポットSPの個数に応じて、擦り動作の相対的な速度を判別する。
振動解析システム50によれば、擦り振動を、指標プロファイルD3という新たなデータ形式によって管理する。
図26に、指標プロファイルD3の構成の第4例を示す。図19との比較から分かるように、図26の指標プロファイルD3は、各指標スポットSPの周波数成分値と時間成分値と分布強度値とを含んでいる。分布強度値は、CWDによる解析結果値で与えられてもよいし、あるいは解析結果値を所定の正規化によって変換した値で与えられてもよい。
図29に、実施の形態3に係るユーザーインターフェースシステム20Bのハードウェアブロック図を示す。ユーザーインターフェースシステム20Bは、上記ユーザーインターフェースシステム20に代えて、電気機器10に適用可能である(図5参照)。
図37に、実施の形態4に係る振動解析システム50Cの機能ブロック図を示す。振動解析システム50Cは、図6の振動解析システム50から判別部130を除いた構成を有している。振動解析システム50Cは、振動解析システム50と同様のハードウェア構成によって実現可能である。
上記では振動解析システム50,50B〜50Dの各種機能が1つの機器(例えば電気機器10)内に収容されているものとした。しかし、振動解析システム50,50B〜50Dの各種機能を、例えば通信ネットワークで接続された複数の機器に分散していてもよい。
30,30B,30C 入力受付部材
40 振動センサ
50,50B〜50D 振動解析システム
60 記憶媒体
110 時間周波数解析部
120 指標生成部
130 判別部
140 データベース
AP,AP1〜AP4 解析期間
D1 振動波形データ
D2 時間周波数分布データ
D3 指標プロファイル(振動解析データ)
D4 判別結果情報
SP 指標スポット
SQ 候補地点
S210 時間周波数解析処理
S220 指標生成処理
S221 指標決定処理
S222 指標プロファイル生成処理
S230 判別処理
S250 速度判別処理
S270 強度判別処理
Claims (17)
- 第1の物体を第2の物体で擦ることによって発生する振動を所定の時間周波数表現で表現した時間周波数分布データを生成する、時間周波数解析部
を備え、
前記所定の時間周波数表現は、前記第1の物体と前記第2の物体との組み合わせの相違に基づいて決まる、前記振動の周波数成分の相違を、時間周波数分布の形状において顕在化できる仕様を有し、
前記時間周波数分布データによって提供される前記時間周波数分布において分布形状の指標となる地点である指標スポットを決定する指標決定処理を行い、1つ以上の指標スポットの周波数成分値を含んだ指標プロファイルを生成する、指標生成部
をさらに備える、振動解析システム。 - 請求項1に記載の振動解析システムであって、
前記指標プロファイルは、前記1つ以上の指標スポットの時間成分値と分布強度値とのうちの少なくとも一方をさらに含む、振動解析システム。 - 請求項1または2に記載の振動解析システムであって、
前記指標決定処理は、
所定の抽出条件を満足する地点を前記指標スポットとして抽出する第1の指標決定処理、
または、
前記所定の抽出条件を満足する前記地点を前記指標スポット用の候補地点として抽出し、複数の候補地点を代表する地点を前記指標スポットとして決定する、第2の指標決定処理
である、振動解析システム。 - 請求項3に記載の振動解析システムであって、
前記所定の抽出条件は、
ピーク地点であるという第1の条件と分布強度値が所定閾値を超えるという第2の条件とのうちの少なくとも一方を含む第1の抽出条件、
または、
前記時間周波数分布データに対してエッジ抽出処理を行うことによって抽出された地点であるという第2の抽出条件
である、振動解析システム。 - 請求項1〜4のうちのいずれか1つに記載の振動解析システムであって、
前記時間周波数解析部は、1回の擦り動作に対して解析期間を離散的に設定し、前記解析期間についてのみ前記時間周波数分布データを生成する、振動解析システム。 - 請求項5に記載の振動解析システムであって、
前記指標生成部は、前記1回の擦り動作における複数の解析期間について得られた前記指標スポットのデータを1つの指標プロファイルに含める、振動解析システム。 - 請求項1〜6のうちのいずれか1つに記載の振動解析システムであって、
判別対象とする前記指標プロファイルである判別対象プロファイルに含まれる前記周波数成分値が、登録済みの前記指標プロファイルである基準プロファイルに含まれる前記周波数成分値と同一性を有するか否かを判別する、判別部をさらに備える、振動解析システム。 - 請求項7に記載の振動解析システムであって、
前記判別部は、前記判別対象プロファイルに含まれる前記指標スポットの所定時間当たりの個数を、前記基準プロファイルに含まれる前記指標スポットの前記所定時間当たりの個数と比較することによって、前記判別対象プロファイルに対応する擦り動作の相対的な速度を判別する、振動解析システム。 - 請求項7または8に記載の振動解析システムであって、
前記指標プロファイルは、前記1つ以上の指標スポットの分布強度値をさらに含み、
前記判別部は、前記判別対象プロファイルに含まれる前記分布強度値を、前記基準プロファイルに含まれる前記分布強度値と比較することによって、前記判別対象プロファイルに対応する擦り動作の相対的な強度を判別する、
振動解析システム。 - 請求項7〜9のうちのいずれか1つに記載の振動解析システムであって、
複数の基準プロファイルが識別情報によって区別可能な状態で管理されているデータベースをさらに備え、
前記判別部は、前記判別対象プロファイルに含まれる前記周波数成分値と同一性を有することを検索条件として前記複数の基準プロファイルを検索し、前記検索条件を満足する前記基準プロファイルの前記識別情報を取得する、
振動解析システム。 - 請求項1〜10のうちのいずれか1つに記載の振動解析システムであって、
前記所定の時間周波数表現の分解能はSTFT(Short Time Fourier Transform)よりも高く、前記所定の時間周波数表現の干渉成分はWVD(Wigner-Ville Distribution)よりも小さい、振動解析システム。 - 少なくとも1種類の入力受付部材と、
前記少なくとも1種類の入力受付部材を入力具で擦ることによって発生する振動を捕捉するように配置された振動センサと、
前記振動センサから前記振動の波形データを取得し、前記波形データから、前記振動を所定の時間周波数表現で表現した時間周波数分布データを生成する、時間周波数解析部と
を備え、
前記所定の時間周波数表現は、前記入力受付部材と前記入力具との組み合わせの相違に基づいて決まる、前記振動の周波数成分の相違を、時間周波数分布の形状において顕在化できる仕様を有し、
前記時間周波数分布データによって提供される前記時間周波数分布において分布形状の指標となる地点である指標スポットを決定する指標決定処理を行い、1つ以上の指標スポットの周波数成分値を含んだ指標プロファイルを生成する、指標生成部と、
判別対象とする前記指標プロファイルである判別対象プロファイルに含まれる前記周波数成分値が、登録済みの前記指標プロファイルである基準プロファイルに含まれる前記周波数成分値と同一性を有するか否かを判別する、判別部と
をさらに備える、ユーザーインターフェースシステム。 - 請求項12に記載のユーザーインターフェースシステムであって、
複数の基準プロファイルが識別情報によって区別可能な状態で管理されているデータベースをさらに備え、
前記判別部は、前記判別対象プロファイルに含まれる前記周波数成分値と同一性を有することを検索条件として前記複数の基準プロファイルを検索し、前記検索条件を満足する前記基準プロファイルの前記識別情報を取得する、
ユーザーインターフェースシステム。 - (a)第1の物体を第2の物体で擦ることによって発生する振動を所定の時間周波数表現で表現した時間周波数分布データを生成するステップ
を備え、
前記所定の時間周波数表現は、前記第1の物体と前記第2の物体との組み合わせの相違に基づいて決まる、前記振動の周波数成分の相違を、時間周波数分布の形状において顕在化できる仕様を有し、
(b)前記時間周波数分布データによって提供される前記時間周波数分布において分布形状の指標となる地点である指標スポットを決定する指標決定処理を行い、1つ以上の指標スポットの周波数成分値を含んだ指標プロファイルを生成するステップ
をさらに備える、振動解析データ生成方法。 - 第1の物体を第2の物体で擦ることによって発生する振動に関するデータが記録された、マイクロプロセッサが読み取り可能な記憶媒体であって、
前記振動に関する前記データは、1つ以上の指標スポットのデータを含んだ指標プロファイルであり、
前記指標スポットは、前記振動を所定の時間周波数表現で表現した時間周波数分布において分布形状の指標となる地点であり、
前記所定の時間周波数表現は、前記第1の物体と前記第2の物体との組み合わせの相違に基づいて決まる、前記振動の周波数成分の相違を、前記時間周波数分布の形状において顕在化できる仕様を有し、
前記指標プロファイルは、前記1つ以上の指標スポットの周波数成分値を含む、
記憶媒体。 - 請求項15に記載の記憶媒体であって、
前記指標プロファイルは、前記1つ以上の指標スポットの時間成分値と分布強度値とのうちの少なくとも一方をさらに含む、記憶媒体。 - 請求項15または16に記載の記憶媒体であって、
複数の指標プロファイルが識別情報によって区別可能な状態で記録されている、記憶媒体。
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