JP2017071822A - Sn-COATED COPPER POWDER AND CONDUCTIVE PASTE USING THE SAME, AND PRODUCTION PROCESS FOR Sn-COATED COPPER POWDER - Google Patents

Sn-COATED COPPER POWDER AND CONDUCTIVE PASTE USING THE SAME, AND PRODUCTION PROCESS FOR Sn-COATED COPPER POWDER Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a dendritic-shaped Sn-coated copper powder that can be suitably used in an application as a conductive paste by increasing the number of contact points during the time when Sn-coated dendritic copper powders contact each other to ensure excellent conductivity as well as by preventing aggregation.SOLUTION: An Sn-coated copper powder 1 according to the present invention has a dendritic shape having a main trunk 2 grown linearly and a plurality of branches 3 branched from the main trunk 2, and in which the main trunk 2 and the branch 3 are a flat plate shape having an average cross-sectional thickness of 0.2 μm to 5.0 μm and are constituted by copper particles having Sn or Sn alloy coated on the surface thereof, and have an average particle diameter (D50) as measured by a laser diffraction scattering type particle size distribution measurement method of 1.0 μm to 100 μm.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、表面にスズ(Sn)又はSn合金を被覆した銅粉(スズコート銅粉)に関するものであり、より詳しくは、導電性ペースト等の材料として用いることで導電性を改善させることのできる新たな樹枝状形状のSnコート銅粉に関する。   The present invention relates to a copper powder (tin-coated copper powder) coated with tin (Sn) or an Sn alloy on the surface, and more specifically, the conductivity can be improved by using it as a material such as a conductive paste. The present invention relates to a new dendritic Sn-coated copper powder.

電子機器における配線層や電極等の形成には、樹脂型ペーストや焼成型ペースト、電磁波シールド塗料のような、銅粉、銀粉等の金属フィラーを使用したペーストや塗料が多く用いられている。銅粉、銀粉等の金属フィラーペーストは、各種基材上に塗布又は印刷され、加熱硬化や加熱焼成の処理を受けて、配線層や電極等となる導電膜を形成する。   For the formation of wiring layers and electrodes in electronic devices, pastes and paints using metal fillers such as copper powder and silver powder, such as resin pastes, fired pastes, and electromagnetic wave shielding paints, are often used. Metal filler pastes such as copper powder and silver powder are applied or printed on various base materials, and are subjected to heat curing or heat baking treatment to form a conductive film to be a wiring layer or an electrode.

また、電子材料分野で高集積化、高密度化が進む中で、多層化の方法として、プリント配線板の表面と裏面の導通を得るために貫通孔(スルーホール)を設けてその壁面部分にスルーホールメッキを施し、さらにその貫通孔に導電性ペーストを充填する方法がある。   In addition, as integration and density increase in the electronic material field, as a multilayering method, a through hole (through hole) is provided in the wall surface portion to obtain conduction between the front surface and the back surface of the printed wiring board. There is a method of performing through-hole plating and further filling the through-hole with a conductive paste.

例えば、樹脂型導電性ペーストは、金属フィラーと、樹脂、硬化剤、溶剤等からなり、導電体回路パターン又は端子の上に印刷され、100℃〜200℃で加熱硬化させて導電膜として配線や電極を形成する。樹脂型導電性ペーストは、熱によって熱硬化型樹脂が硬化収縮するため、金属フィラーが圧着されて接触することで金属フィラーが重なり、電気的に接続した電流パスが形成される。樹脂型導電性ペーストは、硬化温度が200℃以下で処理されることから、プリント配線板等の熱に弱い材料を使用している基板に用いられている。この樹脂型導電性ペーストに使用される金属フィラーとしては、銀粉、銅粉、銀コート銅粉等が用いられる。   For example, a resin-type conductive paste is made of a metal filler, a resin, a curing agent, a solvent, etc., printed on a conductor circuit pattern or terminal, and cured by heating at 100 ° C. to 200 ° C. An electrode is formed. In the resin-type conductive paste, since the thermosetting resin is cured and contracted by heat, when the metal filler is pressed and brought into contact, the metal filler overlaps and an electrically connected current path is formed. Since the resin-type conductive paste is processed at a curing temperature of 200 ° C. or less, it is used for a substrate using a heat-sensitive material such as a printed wiring board. As the metal filler used in this resin-type conductive paste, silver powder, copper powder, silver-coated copper powder, or the like is used.

また、焼成型導電性ペーストは、金属フィラーと、ガラス、溶剤等からなり、導電体回路パターン又は端子の上に印刷され、600℃〜800℃に加熱焼成させて導電膜として配線や電極を形成する。焼成型導電性ペーストは、高い温度によって処理することで、金属フィラーが焼結して導通性が確保されるものである。焼成型導電性ペーストは、このように高い焼成温度で処理されるため、金属粒子を拡散アロイ化させることで導通を図るものであり、高接続信頼性が期待できる。この焼成型導電性ペーストに使用される金属フィラーとしては、共晶半田(Sn‐Pb合金)、Pbフリー半田粉(例えば、Sn−Ag−Cu合金)、銅粉にスズ(Sn)めっき、銀粉にSnめっきしたものが挙げられる。   Firing-type conductive paste is made of a metal filler, glass, solvent, etc., printed on a conductor circuit pattern or terminal, and heated and fired at 600 ° C. to 800 ° C. to form wiring and electrodes as a conductive film. To do. The fired conductive paste is processed at a high temperature to sinter the metal filler and ensure conductivity. Since the fired conductive paste is treated at such a high firing temperature, the metal particles are diffused and alloyed to conduct, and high connection reliability can be expected. Examples of the metal filler used in the fired conductive paste include eutectic solder (Sn—Pb alloy), Pb-free solder powder (eg, Sn—Ag—Cu alloy), copper powder with tin (Sn) plating, and silver powder. And those plated with Sn.

しかしながら、鉛含有半田の場合は、それを使用した配線基板等を廃棄した際に、鉛が溶出して環境汚染のおそれがあることから、電子部品のPbフリー化の観点で使用が制限される。   However, in the case of lead-containing solder, when a wiring board or the like using it is discarded, lead is eluted and there is a risk of environmental pollution. .

Sn−Pb合金の代替であるPbフリー半田粉としては、銀、ビスマス、銅、インジウム、アンチモン、亜鉛等を含む二元あるいは多元のSn合金が候補として挙げられる。このPbフリー半田粉では、より高性能な配線基板を作製するという観点から、ビア中の導電性ペースト組成物を高度に金属拡散接合させ、ビアの抵抗値を低くすることが要求される。ところが、積層温度より低融点のSn合金が積層時にその温度によって融解してしまい、充填した形状が変形収縮挙動を起こすことによって、ビアホール内の接続信頼性が低下するという問題がある。   As a Pb-free solder powder that is an alternative to the Sn—Pb alloy, a binary or multi-element Sn alloy containing silver, bismuth, copper, indium, antimony, zinc or the like can be cited as a candidate. With this Pb-free solder powder, from the viewpoint of producing a higher-performance wiring board, it is required that the conductive paste composition in the via is highly metal-diffused to reduce the resistance value of the via. However, the Sn alloy having a melting point lower than the stacking temperature is melted by the temperature at the time of stacking, and there is a problem that the connection reliability in the via hole is lowered due to deformation and shrinkage behavior of the filled shape.

これらの問題を解決するためには、溶融による形状変形を最小化する必要があり、積層温度によって溶融するSn合金の領域を可能な限り減少させる必要がある。そのためには、使用する金属フィラー粒子をPbフリー半田粉とするのではなく、銅や銀を核としたSn合金が被覆された金属フィラー粒子とすることで、溶融して変形収縮するSn合金領域を最小化することができ、ビアホール内の接続信頼性を確保することができる。   In order to solve these problems, it is necessary to minimize shape deformation due to melting, and it is necessary to reduce as much as possible the region of the Sn alloy that is melted by the lamination temperature. For that purpose, the metal filler particles used are not Pb-free solder powder, but are made of metal filler particles coated with an Sn alloy with copper or silver as the core, so that the Sn alloy region melts and shrinks. Can be minimized, and the connection reliability in the via hole can be ensured.

一方で、焼成型導電性ペーストとして高導電性あるいは高熱伝導性が要求される分野では、導電性や熱伝導性を高くするために、導電粉の配合量を高くする必要があった。高充填化導電粉を作製する方法としては、大小の球状粒子を組み合わせて混合する方法がある。このように大小粒子を組み合わせることで充填率を高めることができる。なお、球状粒子を規則配列させ、小さい粒径の球状粒子を大きい球状粒子の間に充填することで、理論的に80%以上の充填密度が得られると報告されている(非特許文献1)。しかしながら、実際の球状粒子は、完全に独立した粒子では存在せず、粒子が一部凝集しているため、理論的な充填密度よりも低い充填率となる。   On the other hand, in the field where high conductivity or high thermal conductivity is required as the baked conductive paste, it is necessary to increase the blending amount of the conductive powder in order to increase the conductivity and thermal conductivity. As a method for producing the highly filled conductive powder, there is a method in which large and small spherical particles are combined and mixed. In this way, the filling rate can be increased by combining large and small particles. In addition, it is reported that a packing density of 80% or more is theoretically obtained by arranging spherical particles regularly and filling small spherical particles between large spherical particles (Non-patent Document 1). . However, actual spherical particles do not exist as completely independent particles, and the particles are partially agglomerated, resulting in a packing rate lower than the theoretical packing density.

一般的に、孔埋め導電性ペーストをスルーホール内に充填して多層配線板の層間接続を行う場合、導電性を高めるために、スルーホールにできる限り多くの導電性ペーストを充填し、すき間なく金属フィラーを埋め込む必要がある。そのため、従来、この用途に使用する穴埋め用導電性ペーストでは、金属フィラーの配合量を高くすることが望まれている。しかしながら、金属フィラーの配合量を高くすると、導電性ペーストの粘度が高くなりスルーホールへの充填性が悪化してしまう。一方で、導電性ペースト中のバインダの比率を高くすると、粘度が低くなり、スルーホールへの充填性は向上するものの、導電性が悪化してしまうという欠点が生じる。   In general, when filling a through hole with a conductive paste filled in a hole and performing interlayer connection of multilayer wiring boards, in order to increase the conductivity, fill as much of the conductive paste as possible in the through hole to eliminate gaps. It is necessary to embed a metal filler. Therefore, conventionally, in the conductive paste for filling holes used for this purpose, it is desired to increase the blending amount of the metal filler. However, when the compounding amount of the metal filler is increased, the viscosity of the conductive paste is increased and the filling property to the through hole is deteriorated. On the other hand, when the ratio of the binder in the conductive paste is increased, the viscosity is decreased and the filling property to the through hole is improved, but there is a disadvantage that the conductivity is deteriorated.

ここで、球状の金属フィラーを使用すると、粒子間や粒子平面との接触が点接触になり、接触効率が悪くなる。そのため、これを改善するためには、金属フィラーをフレーク状にすることによって、粒子同士を面で接触させる必要がある。   Here, when a spherical metal filler is used, contact between particles or a particle plane becomes point contact, and the contact efficiency deteriorates. Therefore, in order to improve this, it is necessary to bring the particles into contact with each other by making the metal filler into a flake shape.

フレーク状の金属フィラーを作製する方法としては、例えば特許文献1には、球状銅粉を機械的に扁平状に加工してフレーク状銅粉を得る方法が開示されている。具体的には、平均粒径0.5μm〜10μmの球状銅粉を原料として、ボールミルや振動ミルを用い、ミル内に装填したメディアの機械的エネルギーにより機械的に平板状に加工するというものである。   As a method for producing a flaky metal filler, for example, Patent Document 1 discloses a method of obtaining a flaky copper powder by mechanically processing a spherical copper powder into a flat shape. Specifically, a spherical copper powder with an average particle size of 0.5 μm to 10 μm is used as a raw material, and a ball mill or a vibration mill is used to mechanically process into a flat plate shape by the mechanical energy of the media loaded in the mill. is there.

また、例えば特許文献2には、導電性ペースト用銅粉末、詳しくはスルーホール用及び外部電極用銅ペーストとして高性能が得られる円盤状銅粉末及びその製造方法に関する技術が開示されている。具体的には、粒状アトマイズ銅粉末を媒体撹拌ミルに投入し、粉砕媒体として1/8インチ〜1/4インチ径のスチールボールを使用して、銅粉末に対して脂肪酸を重量で0.5%〜1%添加し、空気中あるいは不活性雰囲気中で粉砕することによって平板状に加工するというものである。   Further, for example, Patent Document 2 discloses a technique relating to a copper powder for conductive paste, more specifically, a disk-shaped copper powder that provides high performance as a copper paste for through holes and external electrodes, and a manufacturing method thereof. Specifically, the granular atomized copper powder is put into a medium stirring mill, a steel ball having a diameter of 1/8 inch to 1/4 inch is used as a grinding medium, and the fatty acid is added to the copper powder by 0.5 by weight. % To 1%, and processed into a flat plate shape by pulverization in air or in an inert atmosphere.

一般的に、フレーク状形状の銅粉を核としたSn合金が被覆された金属フィラー粒子を作製するためには、上述したように機械的に銅粉を塑性変形してフレーク状にした後、その銅粒子表面にSnをコートすることによって作製することができる。   In general, in order to produce metal filler particles coated with Sn alloy with flaky copper powder as a core, mechanically plastically deforming copper powder into flakes as described above, It can be produced by coating Sn on the surface of the copper particles.

銅粉の表面にSnを被覆する方法としては、例えば、無電解Snめっき法を用いることができる。無電解Snめっきは、下地である銅粉の溶出に伴ってめっき液中のSnイオンが還元析出する置換型Snめっきと、めっき液中のSnイオンを還元剤によって還元してSn被覆を行う還元型Snめっきと、Snイオンの不均化反応によって金属Snとなることを利用してSn被覆を行う不均化反応型Snめっきとが挙げられる。   As a method for coating the surface of the copper powder with Sn, for example, an electroless Sn plating method can be used. Electroless Sn plating is a substitutional Sn plating in which Sn ions in the plating solution are reduced and precipitated with elution of the underlying copper powder, and a reduction in which Sn ions in the plating solution are reduced with a reducing agent to perform Sn coating. Type Sn plating and disproportionation reaction type Sn plating in which Sn coating is performed by utilizing the fact that Sn is disproportionated to form metal Sn.

また、Sn合金めっきによってSn合金を被覆する場合には、置換型Snめっき液や還元型Snめっき液、不均化反応型Snめっき液の中に、合金を構成する銀やビスマス、亜鉛等の可溶性塩を加え、Snと同時にそれら金属を析出させることによって、Sn合金の被膜を作製することができる。   Further, when the Sn alloy is coated by Sn alloy plating, silver, bismuth, zinc, or the like constituting the alloy is included in the substitutional Sn plating solution, the reduction Sn plating solution, or the disproportionation reaction type Sn plating solution. By adding a soluble salt and precipitating these metals simultaneously with Sn, a film of Sn alloy can be produced.

さて、銅粉としては、デンドライト状と呼ばれる樹枝状に析出した電解銅粉が知られており、形状が樹枝状になっていることから表面積が大きいことが特徴となっている。このようにデンドライト状の形状であることにより、これを導電膜等に用いた場合には、そのデンドライトの枝が重なり合い、導通が通りやすく、また球状粒子に比べて粒子同士の接点数が多くなることから、導電性ペースト等の導電性フィラーの量を少なくすることができるという利点がある。例えば、特許文献3には、銅表面にNi合金層を形成しその上にAgコートを行って耐酸化性を確保する技術が開示され、ここで用いられる銅粉として、樹枝状の電解銅粉が粒子同士のからみあいの観点から好適である旨が記載されている。   As the copper powder, electrolytic copper powder deposited in a dendritic shape called a dendritic shape is known. Since the shape is a dendritic shape, it is characterized by a large surface area. Due to the dendritic shape as described above, when this is used for a conductive film or the like, the dendritic branches are overlapped with each other, conduction is easy, and the number of contact points between particles is larger than that of spherical particles. Therefore, there is an advantage that the amount of conductive filler such as conductive paste can be reduced. For example, Patent Document 3 discloses a technique for ensuring oxidation resistance by forming an Ni alloy layer on a copper surface and performing Ag coating thereon, and the copper powder used here is a dendritic electrolytic copper powder. Is preferable from the viewpoint of entanglement between particles.

一方、電解銅粉の樹枝を発達させると、導電性ペースト等に用いた場合に電解銅粉同士が必要以上に絡み合って凝集が発生してしまい樹脂中に均一に分散しなくなり、また流動性が低下して非常に扱い難くなり、印刷等による配線形成に問題が生じて生産性を低下させることの指摘が特許文献4に示されている。なお、この特許文献4では、電解銅粉自体の強度を高めるため、電解銅粉を析出させるための電解液の硫酸銅水溶液中にタングステン酸塩を添加することで、電解銅粉自体の強度を向上させ、樹枝を折れ難くし、高い強度に成形することができるとしている。   On the other hand, when developing a branch of electrolytic copper powder, when used in conductive paste, etc., the electrolytic copper powder is entangled more than necessary and agglomeration occurs, so that it does not disperse uniformly in the resin, and the fluidity is It is pointed out in Patent Document 4 that it decreases and becomes very difficult to handle, causing problems in wiring formation by printing or the like and reducing productivity. In addition, in this patent document 4, in order to raise the intensity | strength of electrolytic copper powder itself, the strength of electrolytic copper powder itself is improved by adding tungstate in the copper sulfate aqueous solution of the electrolytic solution for depositing electrolytic copper powder. It is said that the tree branches can be made difficult to break and can be molded with high strength.

このように、樹枝状の銅粉を導電性ペースト等の金属フィラーとして用いるのは容易でなく、ペーストの導電性の改善がなかなか進まない原因ともなっていた。   As described above, it is not easy to use dendritic copper powder as a metal filler such as a conductive paste, and it has been a cause of difficulty in improving the conductivity of the paste.

導電性を確保するためには、3次元的な形状を有する樹枝状形状の方が粒状のものよりも接点を確保しやすく、導電性ペーストとして高い導電性を確保することが期待できる。しかしながら、従来のフレークは球状粉を機械的に扁平化したもので、接点を確保する点から考えると構造が単純であり、より少ないSn被覆銅粉を用いて効果的に接点を確保する形状としては理想的な形状となっていない。   In order to ensure conductivity, a dendritic shape having a three-dimensional shape is easier to secure a contact than a granular one, and it can be expected to ensure high conductivity as a conductive paste. However, conventional flakes are obtained by mechanically flattening spherical powder, which has a simple structure from the viewpoint of securing the contact, and has a shape that effectively secures the contact using less Sn-coated copper powder. Is not an ideal shape.

特開2005−200734号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2005-200734 特開2002−15622号公報JP 2002-15622 A 特開2002−075057号公報JP 2002-075057 A 特開2011−58027号公報JP 2011-58027 A

粉体工学会編、粉体工学便覧、初版p.101−p.107(日刊工業新聞社)Edited by Powder Engineering Society, Handbook of Powder Engineering, First Edition p. 101-p. 107 (Nikkan Kogyo Shimbun)

本発明は、このような実情に鑑みて提案されたものであり、スズ(Sn)を被覆した樹枝状銅粉同士が接触する際における接点を多くして優れた導電性を確保しつつ、凝集を防止して、導電性ペーストの用途として好適に利用することができる樹枝状形状のSnコート銅粉を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed in view of such circumstances, and agglomerates while ensuring excellent conductivity by increasing the number of contacts when dendritic copper powders coated with tin (Sn) are in contact with each other. An object of the present invention is to provide a dendritic Sn-coated copper powder that can be suitably used as a conductive paste.

本発明者は、上述した課題を解決するための鋭意検討を重ねた。その結果、直線的に成長した主幹とその主幹から分かれた複数の枝とを有する樹枝状の形状を呈し、その主幹及び枝が、所定の断面厚さを有する平板状で表面にSn又はSn合金が被覆されている銅粒子により構成されている樹枝状Snコート銅粉であって、平均粒子径が特定の範囲であることにより、銅粉同士の接点が多くなり優れた導電性を示し、また樹脂等と均一に混合させることができることを見出し、本発明を完成させた。すなわち、本発明は以下のものを提供する。   This inventor repeated earnest examination for solving the subject mentioned above. As a result, it exhibits a dendritic shape having a main trunk that grows linearly and a plurality of branches separated from the main trunk, and the main trunk and the branch are flat and have a predetermined cross-sectional thickness and Sn or Sn alloy on the surface. Is a dendritic Sn-coated copper powder composed of copper particles coated with copper, and the average particle diameter is in a specific range, thereby increasing the number of contacts between the copper powders and showing excellent conductivity, The present invention was completed by finding that it can be uniformly mixed with a resin or the like. That is, the present invention provides the following.

(1)本発明に係る第1の発明は、直線的に成長した主幹と該主幹から分かれた複数の枝とを有する樹枝状の形状をなし、前記主幹及び前記枝は、断面平均厚さが0.2μm〜5.0μmの平板状で表面にスズ(Sn)又はSn合金が被覆されている銅粒子により構成されており、レーザー回折散乱式粒度分布測定法により測定した平均粒子径(D50)が1.0μm〜100μmであることを特徴とする樹枝状Snコート銅粉である。   (1) A first invention according to the present invention has a dendritic shape having a main trunk that grows linearly and a plurality of branches separated from the main trunk, and the main trunk and the branch have a cross-sectional average thickness. The average particle diameter (D50) measured by the laser diffraction scattering particle size distribution measurement method, which is composed of copper particles having a surface of 0.2 μm to 5.0 μm and coated with tin (Sn) or Sn alloy on the surface. Is a dendritic Sn-coated copper powder characterized by being 1.0 μm to 100 μm.

(2)本発明に係る第2の発明は、第1の発明において、Sn又はSn合金として被覆されているSnの含有量が、当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対して1質量%〜50質量%である、樹枝状Snコート銅粉である。   (2) In the second invention according to the present invention, in the first invention, the content of Sn coated as Sn or an Sn alloy is 1 with respect to 100% by mass of the entire dendritic Sn-coated copper powder. It is dendritic Sn coat | cover copper powder which is the mass%-50 mass%.

(3)本発明に係る第3の発明は、第1又は第2の発明において、前記銅粒子の表面にSn合金が被覆されており、銀、ビスマス、及び亜鉛から選ばれる少なくとも1種以上を、該Sn合金の質量100%に対して0.1質量%〜50質量%の含有量で含むSn合金で被覆されている、樹枝状Snコート銅粉である。   (3) According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, the surface of the copper particles is coated with an Sn alloy, and at least one selected from silver, bismuth, and zinc is used. The dendritic Sn-coated copper powder is coated with a Sn alloy containing 0.1 to 50% by mass with respect to 100% by mass of the Sn alloy.

(4)本発明に係る第4の発明は、第1乃至第3のいずれかの発明において、嵩密度が0.5g/cm〜5.0g/cmの範囲である、樹枝状Snコート銅粉である。 (4) Fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third invention, the bulk density is in the range of 0.5g / cm 3 ~5.0g / cm 3 , the dendritic Sn coating Copper powder.

(5)本発明に係る第5の発明は、第1乃至第4のいずれかの発明において、BET比表面積値が0.2m/g〜5.0m/gである、樹枝状Snコート銅粉である。 (5) A fifth invention is according to the present invention, in the first to fourth invention of any one of, BET specific surface area is 0.2m 2 /g~5.0m 2 / g, dendritic Sn coating Copper powder.

(6)本発明に係る第6の発明は、第1乃至第5のいずれかの発明に係る樹枝状Snコート銅粉を、全体の20質量%以上の割合で含む、金属フィラーである。   (6) A sixth invention according to the present invention is a metal filler containing the dendritic Sn-coated copper powder according to any one of the first to fifth inventions in a proportion of 20% by mass or more of the whole.

(7)本発明に係る第7の発明は、第6の発明に係る金属フィラーを樹脂に混合させてなることを特徴とする導電性ペーストである。   (7) A seventh invention according to the present invention is a conductive paste obtained by mixing the metal filler according to the sixth invention with a resin.

(8)本発明に係る第8の発明は、第1乃至第5のいずれかの発明に係る樹枝状Snコート銅粉を製造する方法であって、電解法により電解液から陰極上に銅粉を析出させる工程と、前記銅粉にスズ(Sn)又はSn合金を被覆する工程と、を有し、前記電解液に、銅イオンと、下記式(1)で表されるフェナジン構造を有する化合物から選択される1種又は2種以上と、を含有させて電解を行うことを特徴とする樹枝状Snコート銅粉の製造方法である。
[式(1)中、R、R、R、R、R、R、R、Rは、それぞれ別個に、水素、ハロゲン、アミノ、OH、=O、CN、SCN、SH、COOH、COO塩、COOエステル、SOH、SO塩、SOエステル、ベンゼンスルホン酸、及びC1〜C8アルキルからなる群から選択される基であり、Rは、水素、ハロゲン、アミノ、OH、−O、CN、SCN、SH、COOH、COO塩、COOエステル、SOH、SO塩、SOエステル、ベンゼンスルホン酸、低級アルキル、及びアリールからなる群から選択された基であり、Aがハライドアニオンである。]
(8) An eighth invention according to the present invention is a method for producing a dendritic Sn-coated copper powder according to any one of the first to fifth inventions, wherein the copper powder is deposited on the cathode from the electrolytic solution by an electrolytic method. And a step of coating the copper powder with tin (Sn) or an Sn alloy, and the electrolytic solution has copper ions and a compound having a phenazine structure represented by the following formula (1) It is a manufacturing method of dendritic Sn coat | covered copper powder characterized by performing electrolysis by containing 1 type, or 2 or more types selected from these.
[In Formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 6 , R 7 , R 8 , R 9 are each independently hydrogen, halogen, amino, OH, ═O, CN, SCN. , SH, COOH, COO salt, COO ester, SO 3 H, SO 3 salt, SO 3 ester, benzenesulfonic acid, and C1-C8 alkyl, R 5 is hydrogen, halogen were selected amino, OH, -O, CN, SCN , SH, COOH, COO salt, COO ester, SO 3 H, SO 3 salt, SO 3 ester, benzenesulfonic acid, from the group consisting of lower alkyl, and aryl And A is a halide anion. ]

本発明に係る樹枝状Snコート銅粉によれば、優れた導電性を確保しつつ、Snコート銅粉同士が接触する際の接点を十分に確保することができ、また凝集を防止して樹脂等と均一に混合させることができて、導電性ペーストの用途に好適に用いることができる。   According to the dendritic Sn-coated copper powder according to the present invention, it is possible to sufficiently secure a contact point when Sn-coated copper powders are in contact with each other while ensuring excellent conductivity, and to prevent aggregation and resin. Etc., and can be suitably used for the use of conductive paste.

樹枝状スズコート銅粉の具体的な形状を模式的に示した図である。It is the figure which showed typically the specific shape of dendritic tin coat copper powder. スズ被覆前の樹枝状銅粉を走査電子顕微鏡により倍率5,000倍で観察したときの観察像の一例を示す写真図である。It is a photograph figure which shows an example of an observation image when the dendritic copper powder before tin coating | cover is observed with a scanning electron microscope at a magnification of 5,000 times. 樹枝状スズコート銅粉を走査電子顕微鏡により倍率5,000倍で観察したときの観察像の一例を示す写真図である。It is a photograph figure which shows an example of an observation image when dendritic tin coat copper powder is observed with a scanning electron microscope at a magnification of 5,000 times. 樹枝状スズコート銅粉を走査電子顕微鏡により倍率1,000倍で観察したときの観察像の一例を示す写真図である。It is a photograph figure which shows an example of an observation image when dendritic tin coat copper powder is observed by 1000-times multiplication factor with a scanning electron microscope. 比較例1にて得られたスズコート銅粉を走査電子顕微鏡により倍率5,000倍で観察したときの観察像を示す写真図である。It is a photograph figure which shows an observation image when the tin coat copper powder obtained in the comparative example 1 is observed with a scanning electron microscope at a magnification of 5,000 times.

以下、本発明の具体的な実施形態(以下、「本実施の形態」という)について、図面を参照しながら詳細に説明するが、本発明は以下の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を変更しない範囲で種々の変更が可能である。なお、本明細書にて、「X〜Y」(X、Yは任意の数値)との表記は、「X以上Y以下」の意味である。   Hereinafter, specific embodiments of the present invention (hereinafter referred to as “present embodiments”) will be described in detail with reference to the drawings. However, the present invention is not limited to the following embodiments, and Various modifications can be made without departing from the scope of the invention. In this specification, “X to Y” (X and Y are arbitrary numerical values) means “X or more and Y or less”.

≪1.樹枝状Snコート銅粉≫
本実施の形態に係るスズコート銅粉は、表面にスズが被覆された銅粉である。なお、本明細書において、スズコート銅粉を「Snコート銅粉」と表記する。また、被覆するスズ又はスズ合金を、それぞれ、「Sn」、「Sn合金」と表記し、Snを銅粉表面にコートする場合もSn合金を銅粉表面にコートする場合も、総じて「Snコート」と称する。
<< 1. Dendritic Sn-coated copper powder >>
The tin-coated copper powder according to the present embodiment is a copper powder whose surface is coated with tin. In the present specification, tin-coated copper powder is referred to as “Sn-coated copper powder”. Further, tin or tin alloy to be coated is expressed as “Sn” and “Sn alloy”, respectively, and the case where Sn is coated on the copper powder surface or the case where Sn alloy is coated on the copper powder surface is generally “Sn coat”. ".

図1は、本実施の形態に係るSnコート銅粉の具体的な形状を示した模式図である。この図1の模式図に示すように、Snコート銅粉1は、直線的に成長した主幹2とその主幹2から分かれた複数の枝3とを有する、2次元又は3次元の形態である樹枝状の形状を有している(以下、本実施の形態に係るSnコート銅粉を「樹枝状Snコート銅粉」ともいう)。この樹枝状Snコート銅粉1は、所定の断面平均厚さの平板状で、表面にSn又はSn合金が被覆されている銅粒子により構成されている。   FIG. 1 is a schematic diagram showing a specific shape of the Sn-coated copper powder according to the present embodiment. As shown in the schematic diagram of FIG. 1, the Sn-coated copper powder 1 is a two-dimensional or three-dimensional tree branch having a main trunk 2 that grows linearly and a plurality of branches 3 separated from the main trunk 2. (Hereinafter, the Sn-coated copper powder according to the present embodiment is also referred to as “dendritic Sn-coated copper powder”). The dendritic Sn-coated copper powder 1 is a flat plate having a predetermined average cross-sectional thickness, and is composed of copper particles whose surface is coated with Sn or an Sn alloy.

なお、後述するように、樹枝状Snコート銅粉1のSn被覆量は、当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対して1質量%〜50質量%であるが、Snの厚さ(被覆厚さ)は0.1μm以下の極薄い被膜である。そのため、樹枝状Snコート銅粉1は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉の形状をそのまま保持した形状になる。したがって、Snを被覆する前の樹枝状銅粉の形状と、銅粉にSnを被覆した後のSnコート銅粉の形状とは、両者共に、図1の模式図に示すように2次元又は3次元の形態である樹枝状の形状である。   As will be described later, the Sn coating amount of the dendritic Sn-coated copper powder 1 is 1% by mass to 50% by mass with respect to 100% by mass of the entire dendritic Sn-coated copper powder, but the thickness of the Sn (Coating thickness) is an extremely thin coating of 0.1 μm or less. Therefore, the dendritic Sn-coated copper powder 1 has a shape that retains the shape of the dendritic copper powder before Sn coating. Therefore, both the shape of the dendritic copper powder before coating Sn and the shape of the Sn-coated copper powder after coating Sn with the copper powder are two-dimensional or three-dimensional as shown in the schematic diagram of FIG. It is a dendritic shape that is a dimensional form.

より具体的に、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1は、直線的に成長した主幹2と、その主幹2から直線的に分かれた複数の枝3とを有する樹枝状のSnコート銅粉であり、その主幹2及び主幹2から分岐した枝3を構成する銅粒子が、断面平均厚さが0.2μm〜5.0μmの平板の形状を有している。また、このような平板状の銅粒子から構成される樹枝状Snコート銅粉1の平均粒子径(D50)が1.0μm〜100μmである。なお、樹枝状Snコート銅粉1における枝3は、主幹2から分岐した枝3aと、その枝3aからさらに分岐した枝3bの両方を意味する。   More specifically, the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment has a dendritic Sn coat having a main trunk 2 that grows linearly and a plurality of branches 3 that are linearly separated from the main trunk 2. The copper particles which are copper powder and constitute the main trunk 2 and the branch 3 branched from the main trunk 2 have a flat plate shape with a cross-sectional average thickness of 0.2 μm to 5.0 μm. Moreover, the average particle diameter (D50) of the dendritic Sn coat | covered copper powder 1 comprised from such a flat copper particle is 1.0 micrometer-100 micrometers. The branch 3 in the dendritic Sn-coated copper powder 1 means both a branch 3a branched from the main trunk 2 and a branch 3b further branched from the branch 3a.

樹枝状Snコート銅粉1は、詳しくは後述するが、例えば、銅イオンを含む硫酸酸性の電解液に陽極と陰極を浸漬し、直流電流を流して電気分解することにより陰極上に樹枝状銅粉を析出させ、そしてその得られた樹枝状銅粉の表面に無電解めっき法等によりSn又はSn合金を被覆することで作製することができる。   The dendritic Sn-coated copper powder 1 will be described in detail later. For example, the dendritic copper is deposited on the cathode by immersing the anode and the cathode in a sulfuric acid electrolytic solution containing copper ions and conducting a direct current to perform electrolysis. It can be produced by depositing powder and coating the surface of the obtained dendritic copper powder with Sn or an Sn alloy by an electroless plating method or the like.

図2は、樹枝状Snコート銅粉1を構成する、Snを被覆する前の樹枝状銅粉について走査電子顕微鏡(SEM)により観察したときの観察像の一例を示す写真図である。なお、図2は樹枝状銅粉を倍率5,000倍で観察したものである。また、図3は、図2の樹枝状銅粉にSnを被覆した樹枝状Snコート銅粉についてSEMにより観察したときの観察像の一例を示す写真図である。なお、図3は樹枝状Snコート銅粉1を倍率5,000倍で観察したものである。また、図4は、同様にして、樹枝状銅粉にSnを被覆した樹枝状Snコート銅粉についてSEMにより観察したときの観察像の一例を示す写真図である。なお、図4は樹枝状Snコート銅粉1を倍率1,000倍で観察したものである。   FIG. 2 is a photographic diagram showing an example of an observation image when the dendritic copper powder before coating Sn constituting the dendritic Sn-coated copper powder 1 is observed with a scanning electron microscope (SEM). In addition, FIG. 2 observes dendritic copper powder at a magnification of 5,000 times. Moreover, FIG. 3 is a photograph figure which shows an example of the observation image when it observes with SEM about the dendritic Sn coat | covered copper powder which coat | covered Sn on the dendritic copper powder of FIG. In addition, FIG. 3 observes the dendritic Sn coat copper powder 1 at a magnification of 5,000 times. Moreover, FIG. 4 is a photograph figure which shows an example of an observation image when it observes by SEM about dendritic Sn coat | covered copper powder which coat | covered Sn on dendritic copper powder similarly. FIG. 4 shows the dendritic Sn-coated copper powder 1 observed at a magnification of 1,000 times.

樹枝状Snコート銅粉1は、図2〜図4の観察像に示されるように、主幹2とその主幹2から分岐した枝3(3a,3b)とを有する、2次元又は3次元の樹枝状の形状を形成している。   The dendritic Sn-coated copper powder 1 is a two-dimensional or three-dimensional tree branch having a main trunk 2 and branches 3 (3a, 3b) branched from the main trunk 2 as shown in the observation images of FIGS. The shape is formed.

ここで、主幹2及び枝3を構成する平板状の銅粒子は、上述したように、その断面平均厚さが0.2μm〜5.0μmである。平板状の銅粒子の断面平均厚さは、より薄い方が平板としての効果が発揮されることになる。すなわち、断面平均厚さが5.0μm以下の平板状の銅粒子により主幹2及び枝3が構成されていることで、そのSn被覆された樹枝状Snコート銅粉1同士が接触する面積を大きく確保することができ、その接触面積が大きくなることで、低抵抗、すなわち高導電率を実現することができる。このことにより、より導電性に優れ、またその導電性を良好に維持することができ、導電塗料や導電性ペーストの用途に好適に用いることができる。また、樹枝状Snコート銅粉1が平板状のSnコートされた微細な銅粒子により構成されていることで、配線材等の薄型化に貢献することができる。   Here, as described above, the flat copper particles constituting the main trunk 2 and the branch 3 have an average cross-sectional thickness of 0.2 μm to 5.0 μm. The thinner the cross-sectional average thickness of the flat copper particles, the more the flat plate effect is exhibited. That is, the main trunk 2 and the branch 3 are composed of flat copper particles having a cross-sectional average thickness of 5.0 μm or less, thereby increasing the area where the Sn-coated dendritic Sn-coated copper powders 1 are in contact with each other. Since the contact area can be ensured and the contact area becomes large, low resistance, that is, high conductivity can be realized. By this, it is more excellent in electroconductivity, can maintain the electroconductivity favorably, and can use it suitably for the use of an electroconductive coating material or an electroconductive paste. In addition, the dendritic Sn-coated copper powder 1 is composed of fine Sn particles coated with a flat Sn plate, which can contribute to thinning of the wiring material and the like.

なお、Sn又はSi合金が被覆された銅粒子の断面平均厚さが5.0μm以下の薄いものであっても、平板状の銅粒子の大きさが小さすぎると、樹枝状Snコート銅粉1同士が接触する際に、接点の数が少なくなってしまう。したがって、上述したように銅粒子の断面平均厚さの下限値としては0.2μm以上であることが好ましく、これにより接点の数を増やすことができる。   In addition, even if the cross-sectional average thickness of the copper particles coated with Sn or Si alloy is as thin as 5.0 μm or less, if the size of the flat copper particles is too small, the dendritic Sn-coated copper powder 1 When they come into contact with each other, the number of contacts is reduced. Therefore, as described above, the lower limit value of the average cross-sectional thickness of the copper particles is preferably 0.2 μm or more, which can increase the number of contacts.

また、樹枝状Snコート銅粉1においては、その平均粒子径(D50)が1.0μm〜100μmである。なお、平均粒子径(D50)は、例えば、レーザー回折散乱式粒度分布測定法により測定することができる。   Moreover, in the dendritic Sn coat | cover copper powder 1, the average particle diameter (D50) is 1.0 micrometer-100 micrometers. In addition, an average particle diameter (D50) can be measured by the laser diffraction scattering type particle size distribution measuring method, for example.

ここで、例えば特許文献4でも指摘されているように、樹枝状銅粉の問題点としては、導電性ペースト用の金属フィラーとして利用する場合に、樹脂中の金属フィラーが樹枝状に発達した形状であると、樹枝状の銅粉同士が絡み合って凝集が発生し、樹脂中に均一に分散しないことがある。また、その凝集により、ペーストの粘度が上昇して印刷による配線形成に問題が生じる。このことは、樹枝状銅粉の形状が大きいために発生するものであり、樹枝状の形状を有効に活かしながらこの問題を解決するためには、樹枝状銅粉の形状を小さくすることが必要となる。しかしながら、小さくし過ぎると、樹枝状の形状を確保することができなくなる。そのため、樹枝状形状であることの効果、すなわち3次元的形状であることにより表面積が大きく成形性や焼結性に優れ、また枝状の箇所を介して強固に連結されて高い強度に成形できるという効果を確保するには、樹枝状銅粉が所定以上の大きさであることが必要となる。   Here, as pointed out in Patent Document 4, for example, as a problem of dendritic copper powder, when used as a metal filler for conductive paste, the shape of the metal filler in the resin developed into a dendritic shape In this case, the dendritic copper powders are entangled with each other and agglomeration occurs, which may not be uniformly dispersed in the resin. In addition, the agglomeration increases the viscosity of the paste and causes problems in wiring formation by printing. This occurs because the shape of the dendritic copper powder is large, and in order to solve this problem while effectively utilizing the dendritic shape, it is necessary to reduce the shape of the dendritic copper powder. It becomes. However, if it is too small, a dendritic shape cannot be secured. Therefore, the effect of being in a dendritic shape, that is, a three-dimensional shape, has a large surface area and excellent moldability and sinterability, and can be molded with high strength by being firmly connected via a branch-like portion. In order to secure the effect, it is necessary that the dendritic copper powder is larger than a predetermined size.

この点において、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1では、その平均粒子径が1.0μm〜100μmであることにより、表面積が大きくなり、良好な成形性や焼結性を確保することができる。そして、この樹枝状Snコート銅粉1は、樹枝状形状であることに加えて、主幹2及び枝3が平板状の銅粒子から構成されているため、樹枝状であることの3次元的効果と、その樹枝形状を構成する銅粒子が平板状であることの効果により、樹枝状Snコート銅粉1同士の接点をより多く確保することができる。   In this respect, in the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment, the average particle diameter is 1.0 μm to 100 μm, so that the surface area is increased and good moldability and sinterability are ensured. be able to. The dendritic Sn-coated copper powder 1 has a dendritic shape, and the main trunk 2 and the branch 3 are composed of flat copper particles. And the contact point of dendritic Sn coat | court copper powder 1 can be ensured more by the effect that the copper particle which comprises the dendritic shape is flat form.

≪2.Sn被覆量≫
本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1は、上述したように、断面平均厚さが0.2μm〜5.0μmの平板状である、表面にSn又はSn合金が被覆されている銅粒子によって樹枝状に構成されたものである。以下に、樹枝状Snコート銅粉1の表面に対するSn被覆について説明する。
≪2. Sn coverage >>
As described above, the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment is a flat plate having a cross-sectional average thickness of 0.2 μm to 5.0 μm, and the surface thereof is coated with Sn or Sn alloy. It is composed of dendritic particles. Below, Sn coating | cover with respect to the surface of dendritic Sn coat | cover copper powder 1 is demonstrated.

本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉に、好ましくはSn被覆した当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対してSn含有量として1質量%〜50質量%の割合でSn又はSn合金が被覆されたものであり、Sn又はSn合金の厚さ(被覆厚さ)としては0.1μm以下の極薄い被膜である。このことから、樹枝状Snコート銅粉1は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉の形状をそのまま保持した形状になる。したがって、Sn又はSn合金を被覆する前の銅粉の形状と、銅粉にSn又はSn合金を被覆した後のSnコート銅粉の形状とは、両者共に樹枝状の形状である。   The dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment is preferably used as Sn content with respect to 100% of the total mass of the dendritic Sn-coated copper powder coated with Sn on the dendritic copper powder before Sn coating. The Sn or Sn alloy is coated at a ratio of 1% by mass to 50% by mass, and the thickness (coating thickness) of the Sn or Sn alloy is an extremely thin film of 0.1 μm or less. From this, the dendritic Sn-coated copper powder 1 has a shape that maintains the shape of the dendritic copper powder before Sn coating. Therefore, the shape of the copper powder before coating Sn or Sn alloy and the shape of the Sn-coated copper powder after coating Sn or Sn alloy on the copper powder are both dendritic shapes.

樹枝状Snコート銅粉1におけるSn又はSn合金として被覆されるSnの含有量は、上述したように、Sn被覆した当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対して1質量%〜50質量%の範囲であることが好ましい。Sn又はSn合金として被覆されるSnの含有量は、コストの観点からはできるだけ少ない方が好ましいが、少なすぎると銅表面に均一なSn又はSn合金の被膜が確保できず、導電性の低下の原因になる。そのため、Sn又はSn合金として被覆されるSnの含有量としては、Sn被覆した当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対して1質量%以上であることが好ましく、2質量%以上であることがより好ましく、5質量%以上であることがさらに好ましい。   As described above, the content of Sn coated as Sn or Sn alloy in the dendritic Sn-coated copper powder 1 is 1% by mass to 50% with respect to 100% by mass of the entire dendritic Sn-coated copper powder coated with Sn. It is preferably in the range of mass%. The content of Sn coated as Sn or Sn alloy is preferably as small as possible from the viewpoint of cost, but if it is too small, a uniform Sn or Sn alloy film cannot be secured on the copper surface, resulting in a decrease in conductivity. Cause. Therefore, as content of Sn coat | covered as Sn or Sn alloy, it is preferable that it is 1 mass% or more with respect to 100 mass of the whole dendritic Sn coat | covered copper powder coated with Sn, and is 2 mass% or more. More preferably, it is more preferably 5% by mass or more.

一方で、Sn又はSn合金として被覆されるSnの含有量が多くなると、コストの観点から好ましくない。このことから、Sn又はSn合金として被覆されるSnの含有量としては、Sn被覆した当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対して50質量%以下であることが好ましく、15質量%以下であることがより好ましく、10質量%以下であることがさらに好ましい。   On the other hand, if the content of Sn coated as Sn or Sn alloy increases, it is not preferable from the viewpoint of cost. From this, as content of Sn coat | covered as Sn or Sn alloy, it is preferable that it is 50 mass% or less with respect to 100 mass of the whole dendritic Sn coat | covered copper powder coated with Sn, and is 15 mass%. More preferably, it is more preferably 10% by mass or less.

また、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1において、樹枝状銅粉の表面に被覆するSn又はSn合金の平均厚みとしては0.001μm〜0.1μm程度であり、0.005μm〜0.02μmであることが好ましい。Sn又はSn合金の被覆厚みが平均で0.001μm未満であると、銅粉の表面に均一なSn又はSn合金の被覆を確保することができず、また導電性の低下の原因となる。一方で、Sn又はSn合金の被覆厚みが平均で0.1μmを超えると、コストの観点から好ましくない。   Further, in the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment, the average thickness of Sn or Sn alloy coated on the surface of the dendritic copper powder is about 0.001 μm to 0.1 μm, and 0.005 μm to It is preferably 0.02 μm. If the Sn or Sn alloy coating thickness is less than 0.001 μm on average, a uniform Sn or Sn alloy coating cannot be secured on the surface of the copper powder, and this causes a decrease in conductivity. On the other hand, when the coating thickness of Sn or Sn alloy exceeds 0.1 μm on average, it is not preferable from the viewpoint of cost.

このように樹枝状銅粉の表面に被覆されるSn又はSn合金の平均厚みは、0.001μm〜0.1μm程度であり、樹枝状銅粉を構成する平板状の銅粒子の断面平均厚さと比べて極めて小さい。そのため、樹枝状銅粉の表面をSn又はSn合金で被覆する前後で、平板状の銅粒子の断面平均厚さは実質的に変化することはない。   Thus, the average thickness of Sn or Sn alloy coated on the surface of the dendritic copper powder is about 0.001 μm to 0.1 μm, and the cross-sectional average thickness of the flat copper particles constituting the dendritic copper powder is Very small compared. Therefore, before and after coating the surface of the dendritic copper powder with Sn or an Sn alloy, the cross-sectional average thickness of the tabular copper particles does not substantially change.

さらに後述するように、樹枝状Snコート銅粉において、樹枝状銅粉に被覆されるSnはSn合金でもよい。Sn合金として添加される元素としては、銀、ビスマス、及び亜鉛から選ばれる1種以上が好ましい。   Further, as will be described later, in the dendritic Sn-coated copper powder, Sn covered with the dendritic copper powder may be a Sn alloy. The element added as the Sn alloy is preferably at least one selected from silver, bismuth, and zinc.

また、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1では、特に限定されないが、そのBET比表面積の値が0.2m/g〜5.0m/gであることが好ましい。BET比表面積値が0.2m/g未満であると、Sn又はSn合金が被覆された銅粒子が、上述したような所望の形状とはならないことがあり、高い導電性が得られないことがある。一方で、BET比表面積値が5.0m/gを超えると、樹枝状Snコート銅粉1の表面のSn又はSn合金の被覆が不均一となり高い導電性が得られない可能性がある。また、Snコート銅粉1を構成する銅粒子が細かくなりすぎてしまい、樹枝状Snコート銅粉1が細かいひげ状の状態となって、導電性が低下することがある。なお、BET比表面積は、JIS Z8830:2013に準拠して測定することができる。 Further, the dendritic Sn coating copper powder 1 according to the present embodiment is not particularly limited, it is preferable the value of the BET specific surface area of 0.2m 2 /g~5.0m 2 / g. When the BET specific surface area value is less than 0.2 m 2 / g, the copper particles coated with Sn or the Sn alloy may not have the desired shape as described above, and high conductivity cannot be obtained. There is. On the other hand, when the BET specific surface area value exceeds 5.0 m 2 / g, the Sn or Sn alloy coating on the surface of the dendritic Sn-coated copper powder 1 is not uniform, and high conductivity may not be obtained. Moreover, the copper particle which comprises Sn coat | court copper powder 1 will become fine too much, and dendritic Sn coat | court copper powder 1 will be in a fine beard-like state, and electroconductivity may fall. The BET specific surface area can be measured in accordance with JIS Z8830: 2013.

また、樹枝状Snコート銅粉1の嵩密度としては、特に限定されないが、0.5g/cm〜5.0g/cmの範囲であることが好ましい。嵩密度が0.5g/cm未満であると、樹枝状Snコート銅粉1同士の接点を十分に確保することができない可能性がある。一方で、嵩密度が5.0g/cmを超えると、樹枝状Snコート銅粉1の平均粒子径も大きくなり、表面積が小さくなって成形性や焼結性が悪化することがある。 As the bulk density of the dendritic Sn coating copper powder 1 it is not particularly limited, is preferably in the range of 0.5g / cm 3 ~5.0g / cm 3 . If the bulk density is less than 0.5 g / cm 3 , there is a possibility that sufficient contact between the dendritic Sn-coated copper powders 1 cannot be secured. On the other hand, if the bulk density exceeds 5.0 g / cm 3 , the average particle diameter of the dendritic Sn-coated copper powder 1 also increases, the surface area decreases, and the moldability and sinterability may deteriorate.

なお、電子顕微鏡で観察したときに、得られた銅粉のうちに、上述したような形状の樹枝状Snコート銅粉が所定の割合で占められていれば、それ以外の形状のSnコート銅粉が混じっていても、その樹枝状Snコート銅粉のみからなる銅粉と同様の効果を得ることができる。具体的には、電子顕微鏡(例えば500倍〜20,000倍)で観察したときに、上述した形状の樹枝状Snコート銅粉が全銅粉のうちの65個数%以上、好ましくは80個数%以上、より好ましくは90個数%以上の割合を占めていれば、その他の形状のSnコート銅粉が含まれていてもよい。   In addition, when the dendritic Sn-coated copper powder having the shape as described above is occupied at a predetermined ratio in the obtained copper powder when observed with an electron microscope, Sn-coated copper of other shapes is used. Even if the powder is mixed, the same effect as the copper powder consisting only of the dendritic Sn-coated copper powder can be obtained. Specifically, when observed with an electron microscope (for example, 500 to 20,000 times), the dendritic Sn-coated copper powder having the shape described above is 65% by number or more, preferably 80% by number of the total copper powder. As described above, Sn-coated copper powder having other shapes may be included as long as it occupies a ratio of 90% by number or more.

≪3.樹枝状Snコート銅粉の製造方法≫
次に、上述したような特徴を有する樹枝状Snコート銅粉1の製造方法について説明する。以下では、先ず、樹枝状Snコート銅粉1を構成する樹枝状銅粉の製造方法について説明し、続いて、その樹枝状銅粉に対してSn又はSn合金を被覆して樹枝状Snコート銅粉を得る方法について説明する。
≪3. Method for producing dendritic Sn-coated copper powder >>
Next, the manufacturing method of the dendritic Sn coat | cover copper powder 1 which has the above characteristics is demonstrated. Below, the manufacturing method of the dendritic copper powder which comprises the dendritic Sn coat copper powder 1 is demonstrated first, Then, Sn or Sn alloy is coat | covered with respect to the dendritic copper powder, and dendritic Sn coat copper A method for obtaining powder will be described.

<3−1.樹枝状銅粉の製造方法>
Sn又はSn合金を被覆する前の樹枝状銅粉は、例えば、銅イオンを含有する硫酸酸性溶液を電解液として用いて所定の電解法により製造することができる。
<3-1. Method for producing dendritic copper powder>
The dendritic copper powder before coating with Sn or Sn alloy can be produced, for example, by a predetermined electrolytic method using a sulfuric acid acidic solution containing copper ions as an electrolytic solution.

電解に際しては、例えば、金属銅を陽極(アノード)とし、ステンレス板やチタン板等を陰極(カソード)として設置した電解槽中に、上述した銅イオンを含有する硫酸酸性の電解液を収容し、その電解液に所定の電流密度で直流電流を通電することによって電解処理を施す。これにより、通電に伴って陰極上に樹枝状銅粉を析出(電析)させることができる。特に、本実施の形態においては、電解により得られた粒状等の銅粉をボール等の媒体を用いて機械的に変形加工等することなく、その電解のみによって、平板状の微細銅粒子が集合して樹枝状を形成した樹枝状銅粉を陰極表面に析出させることができる。   In electrolysis, for example, the above-described sulfuric acid-containing electrolytic solution containing copper ions is accommodated in an electrolytic cell in which metallic copper is used as an anode (anode) and a stainless steel plate or a titanium plate is used as a cathode (cathode). The electrolytic solution is subjected to electrolytic treatment by applying a direct current at a predetermined current density. Thereby, a dendritic copper powder can be deposited (electrodeposition) on a cathode with electricity supply. In particular, in this embodiment, the fine copper particles in the form of a plate are gathered only by the electrolysis without mechanically deforming the granular copper powder obtained by electrolysis using a medium such as a ball. Thus, the dendritic copper powder having a dendritic shape can be deposited on the cathode surface.

より具体的に、電解液としては、例えば、水溶性銅塩と、硫酸と、アミン化合物等の添加剤と、塩化物イオンとを含有するものを用いることができる。   More specifically, as the electrolytic solution, for example, a solution containing a water-soluble copper salt, sulfuric acid, an additive such as an amine compound, and chloride ions can be used.

水溶性銅塩は、銅イオンを供給する銅イオン源であり、例えば硫酸銅五水和物等の硫酸銅、塩化銅、硝酸銅等が挙げられるが特に限定されない。また、電解液中での銅イオン濃度としては、1g/L〜20g/L程度、好ましくは5g/L〜10g/L程度とすることができる。   The water-soluble copper salt is a copper ion source that supplies copper ions, and examples thereof include copper sulfate such as copper sulfate pentahydrate, copper chloride, and copper nitrate, but are not particularly limited. The copper ion concentration in the electrolytic solution can be about 1 g / L to 20 g / L, preferably about 5 g / L to 10 g / L.

硫酸は、硫酸酸性の電解液とするためのものである。電解液中の硫酸の濃度としては、遊離硫酸濃度として20g/L〜300g/L程度、好ましくは50g/L〜150g/L程度とすることができる。この硫酸濃度は、電解液の電導度に影響するため、カソード上に得られる銅粉の均一性に影響する。   Sulfuric acid is for making a sulfuric acid electrolyte. The sulfuric acid concentration in the electrolytic solution can be about 20 g / L to 300 g / L, preferably about 50 g / L to 150 g / L, as the free sulfuric acid concentration. Since the sulfuric acid concentration affects the conductivity of the electrolyte, it affects the uniformity of the copper powder obtained on the cathode.

添加剤としては、例えばアミン化合物を用いることができる。このアミン化合物が、後述する塩化物イオンと共に、析出する銅粉の形状制御に寄与し、陰極表面に析出させる銅粉を、所定の断面厚さの平板状の銅粒子から構成される、主幹とその主幹から分岐した枝とを有する樹枝状銅粉とすることができる。   As the additive, for example, an amine compound can be used. The amine compound contributes to shape control of the copper powder to be deposited together with chloride ions to be described later, and the copper powder to be deposited on the cathode surface is composed of flat copper particles having a predetermined cross-sectional thickness; A dendritic copper powder having branches branched from the main trunk can be obtained.

アミン化合物としては、1種単独で添加してもよく、2種類以上を併用して添加してもよい。また、アミン化合物類の添加量としては、電解液中における濃度が0.1mg/L〜500mg/Lの範囲となる量とすることが好ましく、1mg/L〜400mg/Lの範囲となる量とすることがより好ましい。   As an amine compound, you may add individually by 1 type and may add it in combination of 2 or more types. Further, the amount of amine compounds added is preferably such that the concentration in the electrolytic solution is in the range of 0.1 mg / L to 500 mg / L, and the amount in the range of 1 mg / L to 400 mg / L. More preferably.

具体的に、アミン化合物としては、特に限定されないが、下記(1)式によって表すことができるフェナジン構造を有する化合物を用いることができる。さらに好ましくは、例えば、サフラニン(3,7−ジアミノ−2,8−ジメチル−5−フェニル−5−フェナジニウム・クロリド、C2019Cl、CAS番号:477−73−64)を用いることができる。 Specifically, the amine compound is not particularly limited, but a compound having a phenazine structure that can be represented by the following formula (1) can be used. More preferably, for example, safranine (3,7-diamino-2,8-dimethyl-5-phenyl-5-phenazinium chloride, C 20 H 19 N 4 Cl, CAS number: 477-73-64) is used. Can do.

ここで、式(1)中において、R、R、R、R、R、R、R、Rは、それぞれ別個に、水素、ハロゲン、アミノ、OH、=O、CN、SCN、SH、COOH、COO塩、COOエステル、SOH、SO塩、SOエステル、ベンゼンスルホン酸、及びC1〜C8アルキルからなる群から選択される基である。また、Rは、水素、ハロゲン、アミノ、OH、−O、CN、SCN、SH、COOH、COO塩、COOエステル、SOH、SO塩、SOエステル、ベンゼンスルホン酸、低級アルキル、及びアリールからなる群から選択された基である。また、Aは、ハライドアニオンである。 Here, in Formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 6 , R 7 , R 8 , R 9 are each independently hydrogen, halogen, amino, OH, ═O, CN, SCN, a group SH, COOH, COO salt, COO ester, SO 3 H, SO 3 salt, is selected SO 3 ester, benzenesulfonic acid, and from the group consisting of C1~C8 alkyl. R 5 is hydrogen, halogen, amino, OH, —O, CN, SCN, SH, COOH, COO salt, COO ester, SO 3 H, SO 3 salt, SO 3 ester, benzenesulfonic acid, lower alkyl, And a group selected from the group consisting of aryl. A is a halide anion.

塩化物イオンとしては、塩酸、塩化ナトリウム等の塩化物イオンを供給する化合物(塩化物イオン源)を電解液中に添加することによって含有させることができる。電解液中に塩化物イオンを含有させることによって、析出する銅粉の形状をより効果的に制御することができる。電解液中の塩化物イオン濃度としては、1mg/L〜1000mg/L程度、好ましくは5mg/L〜800mg/L程度、より好ましくは10mg/L〜500mg/L程度とすることができる。   As a chloride ion, it can be made to contain by adding the compound (chloride ion source) which supplies chloride ions, such as hydrochloric acid and sodium chloride, in electrolyte solution. By containing chloride ions in the electrolytic solution, the shape of the deposited copper powder can be controlled more effectively. The chloride ion concentration in the electrolytic solution can be about 1 mg / L to 1000 mg / L, preferably about 5 mg / L to 800 mg / L, more preferably about 10 mg / L to 500 mg / L.

本実施の形態に係る樹枝状銅粉の製造方法においては、例えば、上述したような組成の電解液を用いて電解することによって陰極上に樹枝状銅粉を析出生成させて製造する。電解方法としては、公知の方法を用いることができる。例えば、電流密度としては、硫酸酸性の電解液を用いて電解するにあたっては5A/dm〜30A/dmの範囲とすることが好ましく、電解液を攪拌しながら通電させる。また、電解液の液温(浴温)としては、例えば20℃〜60℃程度とすることができる。 In the method for producing the dendritic copper powder according to the present embodiment, for example, the dendritic copper powder is produced by depositing on the cathode by electrolysis using the electrolytic solution having the composition described above. As the electrolysis method, a known method can be used. For example, the current density is preferably in the range of 5 A / dm 2 to 30 A / dm 2 when electrolyzing using a sulfuric acid electrolytic solution, and the electrolyte is energized while stirring. Moreover, as a liquid temperature (bath temperature) of electrolyte solution, it can be set as about 20 to 60 degreeC, for example.

<3−2.Sn又はSn合金の被覆方法(Snコート銅粉の製造)>
本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1は、上述した電解法により作製した樹枝状銅粉の表面に、例えば、無電解めっき法を用いてSn又はSn合金を被覆することにより製造することができる。
<3-2. Method of coating Sn or Sn alloy (production of Sn-coated copper powder)>
The dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment is manufactured by coating the surface of the dendritic copper powder produced by the above-described electrolytic method with, for example, Sn or an Sn alloy using an electroless plating method. be able to.

樹枝状銅粉の表面に均一な厚みでSn又はSn合金を被覆するためには、Snめっきの前に洗浄を行うのが好ましく、樹枝状銅粉を洗浄液中に分散させ、攪拌しながら洗浄を行うことができる。この洗浄処理としては、酸性溶液中で行うのが好ましく、洗浄後には、樹枝状銅粉のろ過、分離と、水洗とを適宜繰り返して、水中に樹枝状銅粉が分散した水スラリーとする。なお、ろ過、分離と、水洗については、公知の方法を用いればよい。   In order to coat Sn or Sn alloy with a uniform thickness on the surface of the dendritic copper powder, it is preferable to wash before Sn plating, and the dendritic copper powder is dispersed in the cleaning solution and washed with stirring. It can be carried out. This washing treatment is preferably carried out in an acidic solution, and after washing, filtration, separation and washing of the dendritic copper powder are repeated as appropriate to obtain a water slurry in which the dendritic copper powder is dispersed in water. In addition, what is necessary is just to use a well-known method about filtration, isolation | separation, and water washing.

具体的に、無電解Snめっき法でSnコートする場合には、樹枝状銅粉を洗浄した後に得られた銅スラリーに無電解Snめっき液を加えるか、無電解めっき液中に銅スラリーを加え、均一に撹拌することで樹枝状銅粉の表面にSn又はSn合金をより均一に被覆させることができる。   Specifically, when Sn coating is performed by the electroless Sn plating method, the electroless Sn plating solution is added to the copper slurry obtained after washing the dendritic copper powder, or the copper slurry is added to the electroless plating solution. By uniformly stirring, the surface of the dendritic copper powder can be coated more uniformly with Sn or Sn alloy.

無電解めっき法でSn又はSn合金を被覆する方法としては、特に限定されない。無電解Snめっきとしては、下地である銅粉の溶出に伴ってめっき液中のSnイオンが還元析出する置換型Snめっきと、めっき液中のSnイオンを還元剤によって還元してSn被覆を行う還元型Snめっきと、Snイオンの不均化反応によって金属Snとなることを利用してSn被覆を行う不均化反応型Snめっきが挙げられ、いずれの方法でもよい。   The method for coating Sn or the Sn alloy by the electroless plating method is not particularly limited. As electroless Sn plating, substitution type Sn plating in which Sn ions in the plating solution are reduced and precipitated with elution of the copper powder as a base, and Sn ions in the plating solution are reduced with a reducing agent to perform Sn coating. Examples include reduction-type Sn plating and disproportionation-type Sn plating in which Sn coating is performed using the fact that Sn ions are disproportionated to form metal Sn, and any method may be used.

具体的に、置換型Snめっき液としては、スズ化合物と、スズ化合物を水溶液中に安定に保つための錯化剤とを必須成分とし、必要に応じて界面活性剤、pH調整剤等を添加してなるものを用いることができる。また、還元型Snめっき液としては、上述した置換型Snめっき液の組成に還元剤を添加したものを用いることができる。   Specifically, as the substitutional Sn plating solution, a tin compound and a complexing agent for keeping the tin compound stable in an aqueous solution are essential components, and a surfactant, a pH adjuster, etc. are added as necessary. Can be used. Further, as the reduced Sn plating solution, a composition obtained by adding a reducing agent to the above-described substitutional Sn plating solution can be used.

また、不均化反応型Snめっきでは、アルカリ水溶液中においてSnイオンがHSnO イオンとして存在し、そのHSnO イオンが、下記式で示される不均化反応によって金属Snとなる。不均化反応型Snめっきでは、反応により生成する金属SnによってSnめっきを行うもので、強アルカリ浴の置換型Snめっき液と同様の組成のめっき液を用いることができる。
2HSnO2− + 2HO ⇔ Sn(OH) 2− + Sn
In the disproportionation reaction type Sn plating, Sn ions are present as HSnO 2 ions in an alkaline aqueous solution, and the HSnO 2 ions become metal Sn by a disproportionation reaction represented by the following formula. In the disproportionation reaction type Sn plating, Sn plating is performed with metal Sn generated by the reaction, and a plating solution having the same composition as the substitutional Sn plating solution in the strong alkali bath can be used.
2HSnO 2 + + 2H 2 O ⇔ Sn (OH) 6 2 + + Sn

スズ化合物としては、2価のスズ化合物と4価のスズ化合物があり、2価のスズ化合物と4価のスズ化合物をそれぞれ単独で、またはそれぞれ併用してもよい。   As the tin compound, there are a divalent tin compound and a tetravalent tin compound, and the divalent tin compound and the tetravalent tin compound may be used alone or in combination, respectively.

具体的に、スズ化合物としては、例えば、ホウフッ化第一スズ、スルホコハク酸第一スズ、塩化第一スズ、塩化第二スズ、硫酸第一スズ、硫酸第二スズ、酸化第一スズ、酸化第二スズ、メタンスルホン酸第一スズ、エタンスルホン酸第一スズ、2−ヒドロキシプロパン−1−スルホン酸第一スズ、p−フェノールスルホン酸第一スズ、ホウフッ化スズ、ケイフッ化スズ、スルファミン酸スズ、シュウ酸スズ、酒石酸スズ、グルコン酸スズ、スルホコハク酸スズ、ピロリン酸スズ、1−ヒドロキシエタン−1,1−ビスホスホン酸スズ、トリポリリン酸スズ等が挙げられる。   Specifically, as the tin compound, for example, stannous borofluoride, stannous sulfosuccinate, stannous chloride, stannic chloride, stannous sulfate, stannic sulfate, stannous oxide, stannous oxide Distinous, stannous methanesulfonate, stannous ethanesulfonate, stannous 2-hydroxypropane-1-sulfonate, stannous p-phenolsulfonate, tin borofluoride, tin silicofluoride, tin sulfamate , Tin oxalate, tin tartrate, tin gluconate, tin sulfosuccinate, tin pyrophosphate, tin 1-hydroxyethane-1,1-bisphosphonate, tin tripolyphosphate and the like.

錯化剤としては、チオ尿素誘導体、カルボン酸又はアミン系化合物、塩化チタン等を用いることができる。   As the complexing agent, a thiourea derivative, a carboxylic acid or an amine compound, titanium chloride, or the like can be used.

具体的に、チオ尿素誘導体としては、チオ尿素、1,3−ジメチルチオ尿素、トリメチルチオ尿素、ジエチルチオ尿素(例えば、1,3−ジエチル−2−チオ尿素)、N,N’−ジイソプロピルチオ尿素、アリルチオ尿素、アセチルチオ尿素、エチレンチオ尿素、1,3−ジフェニルチオ尿素、二酸化チオ尿素、チオセミカルバジド等が挙げられる。また、カルボン酸又はアミン系化合物としては、クエン酸、酒石酸、リンゴ酸、グルコン酸、ゴルコヘプトン酸、グリコール酸、乳酸、トリオキシ酪酸、アスコルビン酸、イソクエン酸、タルトロン酸、グリセリン酸、ヒドロキシ酪酸、ロイシン酸、シトラマル酸、コハク酸、メルカプトコハク酸、スルホコハク酸、グルタル酸、マロン酸、アジピン酸、シュウ酸、マレイン酸、シトラコン酸、イタコン酸、メサコン酸、グリコール酸、クエン酸ナトリウム、グリシン、ヒドロキシエチルエチレンジアミン三酢酸、ジエチレントリアミン五酢酸、トリエチレンテトラミン六酢酸、エチレンジアミン四酢酸、エチレンジアミン四酢酸二ナトリウム塩、エチレンジアミン四プロピオン酸、ニトリロ三酢酸、イミノジ酢酸、ヒドロキシエチルイミノジ酢酸、イミノジプロピオン酸、アミノトリメチレンリン酸、アミノトリメチレンリン酸五ナトリウム塩、ベンジルアミン、2 − ナフチルアミン、イソブチルアミン、イソアミルアミン、1,3−プロパンジアミン四酢酸、1,3−ジアミノ−2−ヒドロキシプロパン四酢酸、グリコールエーテルジアミン四酢酸、メタフェニレンジアミン四酢酸、1,2−ジアミノシクロヘキサン−N,N,N’,N’−四酢酸、ジアミノプロピオン酸、エチレンジアミンテトラメチレンリン酸、ジエチレントリアミンペンタメチレンリン酸、グルタミン酸、ジカルボキシメチルグルタミン酸、オルニチン、システイン、N,N−ビス(2−ヒドロキシエチル)グリシン、(S、S)−エチレンジアミンコハク酸、メチレンジアミン、エチレンジアミン、エチレンジアミン四酢酸、テトラメチレンジアミン、ペンタメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、ジエチレントリアミン、テトラエチレンペンタミン、ペンタエチレンヘキサミン、ヘキサエチレンヘプタミン、シンナミルアミン、p−メトキシシンナミルアミン等が挙げられる。   Specifically, thiourea derivatives include thiourea, 1,3-dimethylthiourea, trimethylthiourea, diethylthiourea (eg, 1,3-diethyl-2-thiourea), N, N′-diisopropylthiourea, Examples include allyl thiourea, acetyl thiourea, ethylene thiourea, 1,3-diphenyl thiourea, thiourea dioxide, and thiosemicarbazide. In addition, as carboxylic acid or amine compound, citric acid, tartaric acid, malic acid, gluconic acid, golcoheptonic acid, glycolic acid, lactic acid, trioxybutyric acid, ascorbic acid, isocitric acid, tartronic acid, glyceric acid, hydroxybutyric acid, leucine acid , Citramalic acid, succinic acid, mercaptosuccinic acid, sulfosuccinic acid, glutaric acid, malonic acid, adipic acid, oxalic acid, maleic acid, citraconic acid, itaconic acid, mesaconic acid, glycolic acid, sodium citrate, glycine, hydroxyethylethylenediamine Triacetic acid, diethylenetriaminepentaacetic acid, triethylenetetraminehexaacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid, ethylenediaminetetraacetic acid disodium salt, ethylenediaminetetrapropionic acid, nitrilotriacetic acid, iminodiacetic acid, hydroxyethylimino Acetic acid, iminodipropionic acid, aminotrimethylene phosphate, aminotrimethylene phosphate pentasodium salt, benzylamine, 2-naphthylamine, isobutylamine, isoamylamine, 1,3-propanediaminetetraacetic acid, 1,3-diamino- 2-hydroxypropanetetraacetic acid, glycol etherdiaminetetraacetic acid, metaphenylenediaminetetraacetic acid, 1,2-diaminocyclohexane-N, N, N ′, N′-tetraacetic acid, diaminopropionic acid, ethylenediaminetetramethylene phosphate, diethylenetriamine Pentamethylene phosphoric acid, glutamic acid, dicarboxymethyl glutamic acid, ornithine, cysteine, N, N-bis (2-hydroxyethyl) glycine, (S, S) -ethylenediamine succinic acid, methylenediamine, ethylenediamine, Ethylenediamine tetraacetic acid, tetramethylenediamine, pentamethylenediamine, hexamethylenediamine, diethylenetriamine, tetraethylene pentamine, pentaethylene hexamine, hexaethyleneheptamine, cinnamylamine, p- methoxy cinnamyl amine.

還元剤としては、リン酸系化合物、水素化ホウ素化合物、ヒドラジン誘導体等が挙げられ、これらを単独で又は2種以上を併せて用いることができる。   Examples of the reducing agent include phosphoric acid compounds, borohydride compounds, hydrazine derivatives, and the like, and these can be used alone or in combination of two or more.

具体的に、リン酸系化合物としては、次亜リン酸、亜リン酸、ピロリン酸、ポリリン酸等が挙げられる。また、水素化ホウ素化合物としては、メチルヘキサボラン、ジメチルアミンボラン、ジエチルアミンボラン、モルホリンボラン、ピリジンアミンボラン、ピペリジンボラン、エチレンジアミンボラン、エチレンジアミンビスボラン、t−ブチルアミンボラン、イミダゾールボラン、メトキシエチルアミンボラン、水素化ホウ素ナトリウム等が挙げられる。また、ヒドラジン誘導体としては、硫酸ヒドラジン、塩酸ヒドラジン等のヒドラジン塩や、ピラゾール類、トリアゾール類、ヒドラジド類等のヒドラジン誘導体等を用いることができる。これらの中で、ピラゾール類としては、ピラゾールの他に、3,5−ジメチルピラゾール、3−メチル−5−ピラゾロン等のピラゾール誘導体を用いることができる。また、トリアゾール類としては、4−アミノ−1,2,4−トリアゾール、1,2,3−トリアゾール等を用いることができる。また、ヒドラジド類としては、アジピン酸ヒドラジド、マレイン酸ヒドラジド、カルボヒドラジド等を用いることができる。   Specifically, examples of the phosphoric acid compound include hypophosphorous acid, phosphorous acid, pyrophosphoric acid, polyphosphoric acid, and the like. Examples of the borohydride compound include methylhexaborane, dimethylamineborane, diethylamineborane, morpholineborane, pyridineamineborane, piperidineborane, ethylenediamineborane, ethylenediaminebisborane, t-butylamineborane, imidazoleborane, methoxyethylamineborane, hydrogen Examples thereof include sodium borohydride. As the hydrazine derivative, hydrazine salts such as hydrazine sulfate and hydrazine hydrochloride, hydrazine derivatives such as pyrazoles, triazoles and hydrazides, and the like can be used. Among these, as pyrazoles, pyrazole derivatives such as 3,5-dimethylpyrazole and 3-methyl-5-pyrazolone can be used in addition to pyrazole. As triazoles, 4-amino-1,2,4-triazole, 1,2,3-triazole, and the like can be used. As hydrazides, adipic hydrazide, maleic hydrazide, carbohydrazide, and the like can be used.

なお、そのほか、必要に応じて、pH緩衝剤、pH調整剤、界面活性剤等の添加剤を含有させることができる。さらに必要に応じて、消泡剤や分散剤を使用してもよい。   In addition, additives such as a pH buffer, a pH adjuster, and a surfactant can be contained as necessary. Furthermore, you may use an antifoamer and a dispersing agent as needed.

pH緩衝剤としては、公知の錯化剤を使用することができる。例えば、塩化アンモニウム、硫酸アンモニウム、ホウ酸、酢酸ナトリウム等が挙げられる。   A known complexing agent can be used as the pH buffering agent. For example, ammonium chloride, ammonium sulfate, boric acid, sodium acetate and the like can be mentioned.

pH調整剤としては、公知の錯化剤を使用することができる。例えば、酸やアルカリの化合物を使用することができ、例えば、アンモニア、水酸化ナトリウム等のアルカリ金属の水酸化物,炭酸ニッケル、硫酸、塩酸等が挙げられる。なお、アンモニアを用いる場合、アンモニア水として供給することができる。   A known complexing agent can be used as the pH adjuster. For example, an acid or alkali compound can be used, and examples thereof include alkali metal hydroxides such as ammonia and sodium hydroxide, nickel carbonate, sulfuric acid, and hydrochloric acid. In addition, when using ammonia, it can supply as ammonia water.

界面活性剤は、めっき液の浸透性を向上させるために用いることができ、具体的に、界面活性剤としては、ノニオン性、カチオン性、アニオン性、両性等の界面活性剤のいずれを用いることができ、1種単独又は2種以上併せて用いることができる。   Surfactants can be used to improve the permeability of the plating solution. Specifically, any of nonionic, cationic, anionic, amphoteric, etc. surfactants should be used as the surfactant. It can be used alone or in combination of two or more.

さらに、形成するSn被膜中に、Sn以外の他の元素が含有させるようにすることで、すなわち、銅粉表面にSn合金の被膜を形成させることで、融点や濡れ性等の性質を変更することができる。例えば、Pbフリー半田の仕様としては、使用する用途や材料によって、使用温度や濡れ性、機械的強度が問題となる。この点において、Sn合金の被膜を形成させることで、使用用途や材料に合った性質に変更することができる。   Furthermore, by making Sn other than Sn contain in the Sn film to be formed, that is, by forming a film of Sn alloy on the surface of the copper powder, the properties such as melting point and wettability are changed. be able to. For example, as a specification of Pb-free solder, use temperature, wettability, and mechanical strength become problems depending on the use and material to be used. In this respect, by forming a film of Sn alloy, it is possible to change to a property suitable for the intended use and material.

具体的に、Sn被膜中に含有させる元素としては、つまりSn合金を構成するSn以外の元素としては、銀、ビスマス、銅、インジウム、アンチモン、及び亜鉛等が挙げられる。Sn合金としては、これらの元素を含む二元あるいは多元の合金とすることができる。その中でも、無電解めっき法でSnコートするときに合金化できる元素としては、銀、ビスマス、亜鉛があり、上述した無電解Snめっき液に、これら元素を含む化合物を1種以上添加することによって、容易にSn合金被膜をコートすることができる。   Specifically, as an element to be contained in the Sn film, that is, as an element other than Sn constituting the Sn alloy, silver, bismuth, copper, indium, antimony, zinc and the like can be cited. The Sn alloy can be a binary or multi-component alloy containing these elements. Among them, elements that can be alloyed when Sn coating is performed by electroless plating include silver, bismuth, and zinc. By adding one or more compounds containing these elements to the electroless Sn plating solution described above. The Sn alloy film can be easily coated.

具体的に、銀を含むSn合金とする場合、無電解Snめっき液中に添加する銀化合物としては、例えば、酸化銀、硝酸銀、硫酸銀、塩化銀、臭化銀、ヨウ化銀、安息香酸銀、スルファミン酸銀、クエン酸銀、乳酸銀、メルカプトコハク酸銀、リン酸銀、トリフルオロ酢酸銀、ピロリン酸銀、1−ヒドロキシエタン−1,1−ビスホスホン酸銀、ホウフッ化銀、酒石酸銀、グルコン酸銀、シュウ酸銀、メタンスルホン酸銀、p−フェノールスルホン酸銀、安息香酸銀等が挙げられる。   Specifically, when a silver-containing Sn alloy is used, examples of the silver compound added to the electroless Sn plating solution include silver oxide, silver nitrate, silver sulfate, silver chloride, silver bromide, silver iodide, and benzoic acid. Silver, silver sulfamate, silver citrate, silver lactate, silver mercaptosuccinate, silver phosphate, silver trifluoroacetate, silver pyrophosphate, silver 1-hydroxyethane-1,1-bisphosphonate, silver borofluoride, silver tartrate Silver gluconate, silver oxalate, silver methanesulfonate, silver p-phenolsulfonate, silver benzoate and the like.

また、ビスマスを含むSn合金とする場合、無電解Snめっき液中に添加するビスマス化合物としては、例えば、硝酸ビスマス、塩化ビスマス、メタンスルホン酸ビスマス、エタンスルホン酸ビスマス、p−フェノールスルホン酸ビスマス等が挙げられる。   In addition, when a Sn alloy containing bismuth is used, examples of the bismuth compound added to the electroless Sn plating solution include bismuth nitrate, bismuth chloride, bismuth methanesulfonate, bismuth ethanesulfonate, bismuth p-phenolsulfonate Is mentioned.

また、亜鉛を含むSn合金とする場合、無電解Snめっき液中に添加する亜鉛化合物としては、例えば、酸化亜鉛、塩化亜鉛、硫酸亜鉛等が挙げられる。   Moreover, when setting it as Sn alloy containing zinc, as a zinc compound added in electroless Sn plating liquid, zinc oxide, zinc chloride, zinc sulfate etc. are mentioned, for example.

これらのSn合金を構成するSn以外の金属元素の含有割合としては、融点や濡れ性の観点から、当該樹枝状Snコート銅粉に被覆されているSn合金被膜全体の質量100%に対して0.1質量%〜50質量%の含有量であることが好ましい。含有量が多くなりすぎると、融点の上昇や機械的強度が低下する等の原因となることから、50質量%以下であることが好ましい。一方で、含有量が0.1質量%未満であると、これらSn合金となる金属元素を含有させても、融点を低下させたり濡れ性を向上させる効果が十分に得られない可能性がある。このことから、Sn合金被膜全体の質量100%に対して0.1質量%〜50質量%の含有量であることが好ましく、1質量%〜20質量%の含有量であることがより好ましく、2質量%〜10質量%の含有量であることがさらに好ましい。   The content ratio of metal elements other than Sn constituting these Sn alloys is 0 with respect to 100% by mass of the entire Sn alloy coating film coated with the dendritic Sn-coated copper powder from the viewpoint of melting point and wettability. It is preferable that it is content of 1 mass%-50 mass%. If the content is too large, it causes an increase in melting point and a decrease in mechanical strength, and therefore it is preferably 50% by mass or less. On the other hand, if the content is less than 0.1% by mass, the effect of lowering the melting point or improving the wettability may not be sufficiently obtained even if the metal element that becomes the Sn alloy is contained. . From this, it is preferable that it is content of 0.1 mass%-50 mass% with respect to 100 mass of the whole Sn alloy film, It is more preferable that it is content of 1 mass%-20 mass%, More preferably, the content is 2% by mass to 10% by mass.

なお、Sn合金を構成する金属の含有量は、例えば高周波誘導結合プラズマ(ICP)発光分光分析法により、Snコート銅粉を構成する各元素の含有量を換算することによって測定できる。また、エネルギー分散型X線分光(EDX)法やオージェ電子分光(AES)法によって、Snコート銅粉の断面等からSn合金被膜中の各元素の定量分析することもできる。   In addition, content of the metal which comprises Sn alloy can be measured by converting content of each element which comprises Sn coat | court copper powder, for example with a high frequency inductively coupled plasma (ICP) emission spectroscopy analysis method. In addition, each element in the Sn alloy coating can be quantitatively analyzed from the cross section of the Sn-coated copper powder or the like by energy dispersive X-ray spectroscopy (EDX) method or Auger electron spectroscopy (AES) method.

さらに、Sn合金被膜を形成する方法としては、上述した無電解めっき法による方法に限定されない。例えば、Snを被覆する前の樹枝状銅粉中にSn合金を構成するSn以外の元素を含有させておき、Snのみからなる被膜(Sn被膜)を形成させた後に、あらかじめ銅粉に含有させておいた元素をそのSn被膜に拡散させることによって、Sn合金被膜を形成させることもできる。   Furthermore, the method for forming the Sn alloy film is not limited to the above-described electroless plating method. For example, an element other than Sn constituting the Sn alloy is included in the dendritic copper powder before coating Sn, and after forming a film composed only of Sn (Sn film), it is included in the copper powder in advance. A Sn alloy film can also be formed by diffusing the elements that have been deposited in the Sn film.

≪4.導電性ペーストの用途≫
本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1は、上述したように、直線的に成長した主幹と、その主幹2から分岐した複数の枝3を有する樹枝状の形状をなし、断面平均厚さが0.2μm〜5.0μmのSn被覆された平板状の銅粒子が集合して構成され、平均粒子径(D50)が1.0μm〜100μmである。
<< 4. Use of conductive paste >>
As described above, the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment has a dendritic shape having a main trunk that grows linearly and a plurality of branches 3 branched from the main trunk 2, and has an average cross-sectional thickness. The plate-shaped copper particles covered with Sn having a thickness of 0.2 μm to 5.0 μm are aggregated, and the average particle diameter (D50) is 1.0 μm to 100 μm.

このような樹枝状Snコート銅粉1では、樹枝状の形状であることにより表面積が大きくなり、成形性や焼結性が優れたものとなり、またその主幹2及び枝3が所定の平板状の銅粒子から構成されていることにより、接点の数を多く確保することができ、優れた導電性を発揮する。   In such a dendritic Sn-coated copper powder 1, the dendritic shape increases the surface area, and the moldability and sinterability are excellent, and the main trunk 2 and the branch 3 have a predetermined flat plate shape. By being composed of copper particles, a large number of contacts can be secured, and excellent conductivity is exhibited.

また、このような所定の構造を有する樹枝状Snコート銅粉1によれば、銅ペースト等とした場合であっても、凝集を抑制することができ、樹脂中に均一に分散させることが可能となり、またペーストの粘度上昇等による印刷性不良等の発生を抑制することができる。したがって、樹枝状Snコート銅粉1は、導電性ペーストや導電塗料等の用途に好適に用いることができる。   Further, according to the dendritic Sn-coated copper powder 1 having such a predetermined structure, even when it is a copper paste or the like, aggregation can be suppressed and it can be uniformly dispersed in the resin. In addition, it is possible to suppress the occurrence of poor printability due to an increase in the viscosity of the paste. Therefore, the dendritic Sn-coated copper powder 1 can be suitably used for applications such as conductive paste and conductive paint.

例えば導電性ペースト(銅ペースト)としては、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1を金属フィラーとして含み、バインダ樹脂、溶剤、さらに必要に応じて硬化剤や酸化防止剤、カップリング剤、腐食防止剤等の添加剤と混練することによって作製することができる。   For example, as a conductive paste (copper paste), the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment is included as a metal filler, a binder resin, a solvent, and further, a curing agent, an antioxidant, and a coupling agent as necessary. It can be prepared by kneading with additives such as corrosion inhibitors.

具体的に、バインダ樹脂としては、特に限定されるものではなく、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、不飽和ポリエステル樹脂等を用いることができる。また、溶剤としては、エチレングリコール、ジエチレングリコール、トリエチレングリコール、グリセリン、ターピネオール、エチルカルビトール、カルビトールアセテート、ブチルセロソルブ等の有機溶剤を用いることができる。また、その有機溶剤の添加量としては、特に限定されず、スクリーン印刷やディスペンサー等の導電膜形成方法に適した粘度となるように、樹枝状Snコート銅粉の粒度を考慮して調整することができる。   Specifically, the binder resin is not particularly limited, and an epoxy resin, a phenol resin, an unsaturated polyester resin, or the like can be used. As the solvent, organic solvents such as ethylene glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, glycerin, terpineol, ethyl carbitol, carbitol acetate, and butyl cellosolve can be used. The amount of the organic solvent added is not particularly limited, and should be adjusted in consideration of the particle size of the dendritic Sn-coated copper powder so as to have a viscosity suitable for a conductive film forming method such as screen printing or dispenser. Can do.

さらに、粘度調整のために他の樹脂成分を添加することもできる。例えば、エチルセルロースに代表されるセルロース系樹脂等が挙げられ、ターピネオール等の有機溶剤に溶解した有機ビヒクルとして添加することができる。なお、その樹脂成分の添加量としては、焼結性を阻害しない程度に抑える必要があり、好ましくは全体の5重量%以下とする。   Furthermore, other resin components can be added for viscosity adjustment. For example, a cellulose-based resin typified by ethyl cellulose can be used, and it can be added as an organic vehicle dissolved in an organic solvent such as terpineol. In addition, it is necessary to suppress the addition amount of the resin component to an extent that does not impair the sinterability, and is preferably 5% by weight or less.

また、添加剤としては、焼成後の導電性を改善するために酸化防止剤等を添加することができる。酸化防止剤としては、特に限定されないが、例えばヒドロキシカルボン酸等を挙げることができる。より具体的には、クエン酸、リンゴ酸、酒石酸、乳酸等のヒドロキシカルボン酸が好ましく、Sn又はSn合金を被覆した銅への吸着力が高いクエン酸又はリンゴ酸が特に好ましい。酸化防止剤の添加量としては、酸化防止効果やペーストの粘度等を考慮して、例えば1重量%〜15重量%程度とすることができる。   Moreover, as an additive, in order to improve the electroconductivity after baking, antioxidant etc. can be added. Although it does not specifically limit as antioxidant, For example, a hydroxycarboxylic acid etc. can be mentioned. More specifically, hydroxycarboxylic acids such as citric acid, malic acid, tartaric acid, and lactic acid are preferable, and citric acid or malic acid that has high adsorptive power to copper coated with Sn or Sn alloy is particularly preferable. The addition amount of the antioxidant can be, for example, about 1% by weight to 15% by weight in consideration of the antioxidant effect, the viscosity of the paste, and the like.

また、硬化剤についても、従来使用されている2エチル4メチルイミダゾール等を使用することができる。さらに、腐食抑制剤についても、従来使用されているベンゾチアゾール、ベンゾイミダゾール等を使用することができる。   Moreover, conventionally used 2-ethyl 4-methylimidazole etc. can be used also about a hardening | curing agent. Furthermore, conventionally used benzothiazole, benzimidazole, and the like can also be used for the corrosion inhibitor.

また、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1を導電性ペースト用の金属フィラーとして利用する場合、他の形状の銅粉やSnコート銅粉、さらにニッケルや銀、錫等の導電性を有する金属フィラーと混合させて用いることができる。このとき、導電性ペーストとして使用する金属フィラー全量のうち樹枝状Snコート銅粉1の割合としては、20質量%以上であることが好ましく、30質量%以上であることがより好ましく、40質量%以上であることがさらに好ましい。このように、金属フィラーとして用いる場合に、本実施の形態に係る樹枝状Snコート銅粉1と共に他の形状の銅粉等の金属フィラーを混合させることで、その樹枝状Snコート銅粉1の隙間に他の形状の銅粉が充填されるようになり、このことにより、導電性を確保するための接点をより多く確保することができる。また、その結果として、樹枝状Snコート銅粉1と他の形状の銅粉のトータルの投入量を少なくすることも可能となる。   Further, when the dendritic Sn-coated copper powder 1 according to the present embodiment is used as a metal filler for a conductive paste, other shapes of copper powder, Sn-coated copper powder, and conductive materials such as nickel, silver, and tin It can be used by being mixed with a metal filler having the following. At this time, the proportion of the dendritic Sn-coated copper powder 1 in the total amount of the metal filler used as the conductive paste is preferably 20% by mass or more, more preferably 30% by mass or more, and 40% by mass. More preferably, it is the above. Thus, when using as a metal filler, by mixing metal fillers, such as copper powder of another shape, with the dendritic Sn coat copper powder 1 which concerns on this Embodiment, the dendritic Sn coat copper powder 1 is mixed. The gap is filled with copper powder of another shape, and this makes it possible to secure more contacts for ensuring conductivity. As a result, it is also possible to reduce the total amount of dendritic Sn-coated copper powder 1 and other shapes of copper powder.

金属フィラーとして用いられる銅粉全量のうち、樹枝状Snコート銅粉1が20質量%未満であると、その樹枝状Snコート銅粉1同士の接点が減少し、他の形状の銅粉と混合させることによる接点の増加を加味しても、金属フィラーとしては導電性が低下してしまう。   When the dendritic Sn-coated copper powder 1 is less than 20% by mass of the total amount of copper powder used as the metal filler, the contacts between the dendritic Sn-coated copper powders 1 are reduced and mixed with copper powder of other shapes. Even if the increase of the contact by carrying out is taken into consideration, as a metal filler, electroconductivity will fall.

さらに、他の金属フィラーを構成する金属粉の形状についても、特に限定されず、樹枝状や粒状、フレーク状等の形状の金属粉を使用することができる。導電性を確保するためには、金属フィラー同士の接点を確保する必要があり、例えばフレーク形状の金属フィラーの場合、樹枝状Snコート銅粉1とのフレーク形状同士で接点を確保することができ、粒状の金属フィラーの場合、樹枝状Snコート銅粉1の隙間に粒状の金属フィラーを充填することで接点を確保することができる。なお、導電性ペースト等で使用する樹脂の種類や粘度によって、使用する形状を選択することができる。   Furthermore, it does not specifically limit about the shape of the metal powder which comprises another metal filler, The metal powder of shapes, such as dendritic shape, granular form, and flake shape, can be used. In order to ensure conductivity, it is necessary to secure a contact between metal fillers. For example, in the case of a flake-shaped metal filler, the contact can be secured with the flake shape with the dendritic Sn-coated copper powder 1. In the case of a granular metal filler, the contact can be secured by filling the gap between the dendritic Sn-coated copper powder 1 with the granular metal filler. The shape to be used can be selected depending on the type and viscosity of the resin used in the conductive paste or the like.

上述した金属フィラーを利用して作製した導電性ペーストを用い、各種の電気回路を形成することができる。この場合においても、特に限定された条件での使用に限られるものではなく、従来行われている回路パターン形成法等を利用することができる。例えば、その金属フィラーを利用して作製した導電性ペーストを、焼成基板あるいは未焼成基板に塗布又は印刷し、加熱した後に、必要に応じて加圧して硬化して焼き付けることでプリント配線板や各種電子部品の電気回路や外部電極等を形成することができる。   Various electric circuits can be formed using the conductive paste prepared using the metal filler described above. Even in this case, the circuit pattern forming method or the like conventionally used can be used without being limited to use under particularly limited conditions. For example, a conductive paste produced using the metal filler is applied or printed on a fired substrate or an unfired substrate, heated, and then pressed and cured as needed to cure and print. An electric circuit of an electronic component, an external electrode, or the like can be formed.

以下、本発明の実施例を比較例と共に示してさらに具体的に説明するが、本発明は以下の実施例に何ら限定されるものではない。   Examples of the present invention will be described below in more detail with reference to comparative examples, but the present invention is not limited to the following examples.

≪評価方法≫
下記の実施例、比較例にて得られたSnコート銅粉について、以下の方法により、形状の観察、平均粒子径の測定、導電性ペーストの比抵抗測定の評価を行った。
≪Evaluation method≫
For the Sn-coated copper powder obtained in the following Examples and Comparative Examples, the following methods were used to observe the shape, measure the average particle diameter, and measure the specific resistance of the conductive paste.

(形状の観察)
走査型電子顕微鏡(日本電子株式会社製,JSM−7100F型)により、所定の倍率の視野で任意に20視野を観察し、その視野内に含まれる銅粉の外観を観察した。
(Observation of shape)
With a scanning electron microscope (manufactured by JEOL Ltd., JSM-7100F type), 20 visual fields were arbitrarily observed with a predetermined magnification, and the appearance of the copper powder contained in the visual field was observed.

(平均粒子径の測定)
得られたSnコート銅粉の平均粒子径(D50)については、レーザー回折・散乱法粒度分布測定器(日機装株式会社製,HRA9320 X−100)を用いて測定した。
(Measurement of average particle size)
The average particle size (D50) of the obtained Sn-coated copper powder was measured using a laser diffraction / scattering particle size distribution measuring instrument (manufactured by Nikkiso Co., Ltd., HRA9320 X-100).

(比抵抗値測定)
被膜の比抵抗値については、低抵抗率計(三菱化学株式会社製,Loresta−GP MCP−T600)を用いて四端子法によりシート抵抗値を測定し、一方で、表面粗さ形状測定器(東京精密株式会社製,SURFCOM130A)により被膜の膜厚を測定して、シート抵抗値を膜厚で除することによって求めた。
(Specific resistance measurement)
About the specific resistance value of a film, a sheet resistance value is measured by a four-terminal method using a low resistivity meter (manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, Loresta-GP MCP-T600). The film thickness of the coating film was measured by SURFCOM130A, manufactured by Tokyo Seimitsu Co., Ltd., and the sheet resistance value was determined by dividing the film thickness by the film thickness.

≪実施例、比較例≫
[実施例1]
<電解銅粉の作製>
容量が100Lの電解槽に、電極面積が200mm×200mmのチタン製の電極板を陰極とし、電極面積が200mm×200mmの銅製の電極板を陽極として用い、その電解槽中に電解液を装入し、これに直流電流を通電して銅粉を陰極板上に析出させた。
≪Example, comparative example≫
[Example 1]
<Preparation of electrolytic copper powder>
An electrolytic cell with a capacity of 100 L is used with a titanium electrode plate having an electrode area of 200 mm × 200 mm as a cathode and a copper electrode plate with an electrode area of 200 mm × 200 mm as an anode, and an electrolytic solution is charged into the electrolytic cell. Then, a direct current was applied thereto to deposit copper powder on the cathode plate.

このとき、電解液としては、銅イオン濃度が10g/L、硫酸濃度が125g/Lの組成のものを用いた。また、この電解液に、添加剤としてサフラニン(関東化学株式会社製)を電解液中の濃度として85mg/Lとなるように添加し、さらに塩酸溶液(和光純薬工業株式会社製)を電解液中の塩化物イオン(塩素イオン)濃度として55mg/Lとなるように添加した。   At this time, an electrolytic solution having a composition with a copper ion concentration of 10 g / L and a sulfuric acid concentration of 125 g / L was used. In addition, safranin (manufactured by Kanto Chemical Co., Inc.) as an additive is added to the electrolytic solution so that the concentration in the electrolytic solution is 85 mg / L, and a hydrochloric acid solution (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) is further added to the electrolytic solution. It added so that it might become 55 mg / L as a chloride ion (chlorine ion) density | concentration in it.

そして、上述のように濃度調整した電解液を、定量ポンプを用いて15L/minの流量で循環しながら、温度を25℃に維持した条件で、陰極の電流密度が18A/dmになるように通電して陰極板上に銅粉を析出させた。 Then, the current density of the cathode is 18 A / dm 2 under the condition that the temperature is maintained at 25 ° C. while circulating the electrolytic solution whose concentration is adjusted as described above at a flow rate of 15 L / min using a metering pump. Was energized to deposit copper powder on the cathode plate.

陰極板上に析出した電解銅粉を、スクレーパーを用いて機械的に電解槽の槽底に掻き落として回収し、回収した銅粉を純水で洗浄した後、減圧乾燥器に入れて乾燥した。   The electrolytic copper powder deposited on the cathode plate was recovered by mechanically scraping it off the bottom of the electrolytic cell using a scraper, and the recovered copper powder was washed with pure water and then put in a vacuum dryer and dried. .

こうして得られた銅粉の形状を、上述した走査型電子顕微鏡(SEM)による方法で倍率1,000倍の視野で観察した結果、析出した銅粉は、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する、2次元又は3次元の樹枝状形状を呈した樹枝状銅粉であった。   As a result of observing the shape of the copper powder thus obtained in the field of view with a magnification of 1,000 times by the method using the scanning electron microscope (SEM) described above, the deposited copper powder was a main chain that grew linearly and the main trunk. It was a dendritic copper powder having a two-dimensional or three-dimensional dendritic shape having a plurality of branches branched linearly from and branches further branched from the branches.

<樹枝状Snコート銅粉の作製>
次に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉を用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
<Preparation of dendritic Sn-coated copper powder>
Next, Sn coating was performed on the surface of the copper powder by electroless Sn plating using the dendritic copper powder prepared by the above-described method to prepare Sn-coated copper powder.

具体的には、無電解Snめっき液として、ホウフッ化第一スズ20g/L、ホウフッ酸200g/L、チオ尿素50g/L、水素化ホウ素ナトリウム40g/L、ホウ酸ナトリウム10g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を60℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as the electroless Sn plating solution, stannous borofluoride 20 g / L, borofluoric acid 200 g / L, thiourea 50 g / L, sodium borohydride 40 g / L, sodium borate 10 g / L at each concentration. The plating solution added in was prepared. In this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 60 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSnが被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSnの被覆量を測定したところ、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して10.2質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which Sn was coated on the surface of the dendritic copper powder was obtained. When the Sn-coated copper powder was recovered and the Sn coating amount was measured, it was 10.2% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSnが被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   In addition, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of Sn-coated copper powder is uniformly on the surface of the dendritic copper powder before Sn coating A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with Sn, the main trunk growing linearly, and a plurality of branches linearly branched from the main trunk, and the branches It was dendritic Sn coat | covered copper powder which exhibited the dendritic shape which has the branch further branched from.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.40μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は27.9μmであった。   Further, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat plate shape with an average cross-sectional thickness of 0.40 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 27.9 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は1.61g/cmであった。また、BET比表面積は0.92m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 1.61 g / cm 3 . Moreover, the BET specific surface area was 0.92 m < 2 > / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、9.2×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 9.2 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例2]
<電解銅粉の作製>
電解液として、銅イオン濃度が10g/L、硫酸濃度が125g/Lの組成のものを用い、その電解液に、添加剤としてサフラニンを電解液中の濃度として200mg/Lとなるように添加し、さらに塩酸溶液を電解液中の塩素イオン濃度として100mg/Lとなるように添加したこと以外は、実施例1と同じ条件で銅粉を陰極板上に析出させた。
[Example 2]
<Preparation of electrolytic copper powder>
As the electrolytic solution, a composition having a copper ion concentration of 10 g / L and a sulfuric acid concentration of 125 g / L is used, and safranin is added to the electrolytic solution so that the concentration in the electrolytic solution is 200 mg / L. Further, copper powder was deposited on the cathode plate under the same conditions as in Example 1 except that a hydrochloric acid solution was added so that the chlorine ion concentration in the electrolytic solution was 100 mg / L.

<樹枝状Snコート銅粉の作製>
次に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉を用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
<Preparation of dendritic Sn-coated copper powder>
Next, Sn coating was performed on the surface of the copper powder by electroless Sn plating using the dendritic copper powder prepared by the above-described method to prepare Sn-coated copper powder.

具体的には、無電解Snめっき液として、塩化第一スズ10g/L、クエン酸ナトリウム40g/L、エチレンジアミン四酢酸20g/L、塩化チタン50g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を65℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as an electroless Sn plating solution, a plating solution prepared by adding stannous chloride 10 g / L, sodium citrate 40 g / L, ethylenediaminetetraacetic acid 20 g / L, and titanium chloride 50 g / L at each concentration was prepared. . In this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 65 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSnが被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSnの被覆量を測定したところ、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して17.4質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which Sn was coated on the surface of the dendritic copper powder was obtained. When the Sn-coated copper powder was recovered and the Sn coating amount was measured, it was 17.4% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSnが被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   In addition, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of Sn-coated copper powder is uniformly on the surface of the dendritic copper powder before Sn coating A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with Sn, the main trunk growing linearly, and a plurality of branches linearly branched from the main trunk, and the branches It was dendritic Sn coat | covered copper powder which exhibited the dendritic shape which has the branch further branched from.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.19μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は9.8μmであった。   Further, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat plate shape with an average cross-sectional thickness of 0.19 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 9.8 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.63g/cmであった。また、BET比表面積は2.01m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.63 g / cm 3 . Further, the BET specific surface area was 2.01 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、8.9×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 8.9 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例3]
<樹枝状Snコート銅粉の作製>
実施例2で得られた樹枝状銅粉100gを用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
[Example 3]
<Preparation of dendritic Sn-coated copper powder>
Using 100 g of the dendritic copper powder obtained in Example 2, Sn coating was performed on the surface of the copper powder by electroless Sn plating to produce Sn-coated copper powder.

具体的に、無電解Snめっき液として、塩化第一スズ10g/L、水酸化ナトリウム100g/L、クエン酸ナトリウム40g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を80℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as an electroless Sn plating solution, a plating solution in which stannous chloride 10 g / L, sodium hydroxide 100 g / L, and sodium citrate 40 g / L were added at respective concentrations was prepared. To this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 80 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSnが被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSnの被覆量を測定したところ、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して8.1質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which Sn was coated on the surface of the dendritic copper powder was obtained. When the Sn-coated copper powder was recovered and the Sn coating amount was measured, it was 8.1% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSnが被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   In addition, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of Sn-coated copper powder is uniformly on the surface of the dendritic copper powder before Sn coating A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with Sn, the main trunk growing linearly, and a plurality of branches linearly branched from the main trunk, and the branches It was dendritic Sn coat | covered copper powder which exhibited the dendritic shape which has the branch further branched from.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.18μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は9.7μmであった。   Also, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat cross-sectional shape with an average cross-sectional thickness of 0.18 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 9.7 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.71g/cmであった。また、BET比表面積は2.10m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.71 g / cm 3 . The BET specific surface area was 2.10 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、9.8×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 9.8 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例4]
<樹枝状Snコート銅粉の作製(Sn−Ag合金をコート)>
実施例2で得られた樹枝状銅粉100gを用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn合金(Sn−Ag合金)被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
[Example 4]
<Preparation of Dendritic Sn Coated Copper Powder (Coating with Sn-Ag Alloy)>
Using 100 g of the dendritic copper powder obtained in Example 2, the surface of the copper powder was coated with Sn alloy (Sn—Ag alloy) by electroless Sn plating to produce Sn-coated copper powder.

具体的に、合金用無電解Snめっき液として、メタンスルホン酸第一スズ50g/L、クエン酸銀20g/L、チオ尿素100g/L、次亜リン酸ナトリウム30g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gをに入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を70℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, 50 g / L of stannous methanesulfonate, 20 g / L of silver citrate, 100 g / L of thiourea, and 30 g / L of sodium hypophosphite were added at various concentrations as the electroless Sn plating solution for alloys. A plating solution was prepared. To this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 70 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSn−Ag合金が被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSn−Ag合金の被覆量を測定した結果、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して18.4質量%であった。また、Sn合金中に含まれるAgの含有量はSn合金の質量100%に対して24.8質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water, and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which the surface of the dendritic copper powder was coated with Sn-Ag alloy was obtained. As a result of recovering the Sn-coated copper powder and measuring the coating amount of the Sn-Ag alloy, it was 18.4% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder. Moreover, content of Ag contained in Sn alloy was 24.8 mass% with respect to 100 mass of Sn alloy.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn合金被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSn−Ag合金が被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   Moreover, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of the Sn-coated copper powder is uniform on the surface of the dendritic copper powder before being coated with the Sn alloy. A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with a Sn-Ag alloy, and a main trunk that grows linearly and a plurality of branches that branch linearly from the main trunk And a dendritic Sn-coated copper powder having a dendritic shape having branches further branched from the branches.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.18μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は10.2μmであった。   Also, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat cross-sectional shape with an average cross-sectional thickness of 0.18 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 10.2 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.60g/cmであった。また、BET比表面積は2.08m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.60 g / cm 3 . Moreover, the BET specific surface area was 2.08 m < 2 > / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、8.2×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 8.2 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例5]
<樹枝状Snコート銅粉の作製(Sn−Bi合金をコート)>
実施例2で得られた樹枝状銅粉100gを用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn合金(Sn−Bi合金)被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
[Example 5]
<Preparation of Dendritic Sn Coated Copper Powder (Coating with Sn-Bi Alloy)>
Using 100 g of the dendritic copper powder obtained in Example 2, the surface of the copper powder was coated with Sn alloy (Sn—Bi alloy) by electroless Sn plating to produce Sn-coated copper powder.

具体的に、合金用無電解Snめっき液として、メタンスルホン酸第一スズ40g/L、メタンスルホン酸ビスマス40g/L、チオ尿素100g/L、エチレンジアミン四酢酸20g/L、次亜リン酸ナトリウム80g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を70℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as an electroless Sn plating solution for alloys, stannous methanesulfonate 40 g / L, bismuth methanesulfonate 40 g / L, thiourea 100 g / L, ethylenediaminetetraacetic acid 20 g / L, sodium hypophosphite 80 g A plating solution to which / L was added at each concentration was prepared. To this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 70 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSn−Bi合金が被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSn−Bi合金の被覆量を測定した結果、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して42.3質量%であった。また、Sn合金中に含まれるBiの含有量はSn合金の質量100%に対して41.9質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which the surface of the dendritic copper powder was coated with an Sn—Bi alloy was obtained. As a result of recovering the Sn-coated copper powder and measuring the coating amount of the Sn-Bi alloy, it was 42.3 mass% with respect to 100 mass of the entire Sn-coated copper powder. Further, the content of Bi contained in the Sn alloy was 41.9% by mass with respect to 100% by mass of the Sn alloy.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn合金被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSn−Bi合金が被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   Moreover, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of the Sn-coated copper powder is uniform on the surface of the dendritic copper powder before being coated with the Sn alloy. A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with a Sn-Bi alloy, and a main trunk that grows linearly and a plurality of branches that branch linearly from the main trunk And a dendritic Sn-coated copper powder having a dendritic shape having branches further branched from the branches.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.16μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は10.4μmであった。   Further, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat shape with a cross-sectional thickness of 0.16 μm on average, and the copper particles were constituted into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 10.4 μm.

また、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.65g/cmであった。また、BET比表面積は2.12m/gであった。 Moreover, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.65 g / cm 3 . The BET specific surface area was 2.12 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、7.9×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 7.9 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例6]
<樹枝状Snコート銅粉の作製(Sn−Zn合金をコート)>
実施例2で得られた樹枝状銅粉100gを用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn合金(Sn−Zn合金)被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
[Example 6]
<Preparation of Dendritic Sn Coated Copper Powder (Coating with Sn-Zn Alloy)>
Using 100 g of the dendritic copper powder obtained in Example 2, the surface of the copper powder was coated with Sn alloy (Sn—Zn alloy) by electroless Sn plating to prepare Sn-coated copper powder.

具体的に、合金用無電解Snめっき液として、塩化第一スズ10g/L、硫酸亜鉛5g/L、チオ尿素100g/L、クエン酸ナトリウム40g/L、次亜リン酸ナトリウム70g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を70℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as the electroless Sn plating solution for alloys, stannous chloride 10 g / L, zinc sulfate 5 g / L, thiourea 100 g / L, sodium citrate 40 g / L, and sodium hypophosphite 70 g / L. A plating solution added at a concentration was prepared. To this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 70 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSn−Zn合金が被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSn−Zn合金の被覆量を測定した結果、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して11.4質量%であった。また、Sn合金中に含まれるZnの含有量はSn合金の質量100%に対して2.1質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which the surface of the dendritic copper powder was coated with Sn—Zn alloy was obtained. As a result of collecting the Sn-coated copper powder and measuring the coating amount of the Sn—Zn alloy, it was 11.4% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder. Further, the content of Zn contained in the Sn alloy was 2.1% by mass with respect to 100% by mass of the Sn alloy.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn合金被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSn−Zn合金が被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   Moreover, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of the Sn-coated copper powder is uniform on the surface of the dendritic copper powder before being coated with the Sn alloy. A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with a Sn—Zn alloy, and a main trunk that grows linearly and a plurality of branches that branch linearly from the main trunk And a dendritic Sn-coated copper powder having a dendritic shape having branches further branched from the branches.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.19μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は10.4μmであった。   Further, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat plate shape with an average cross-sectional thickness of 0.19 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 10.4 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.66g/cmであった。また、BET比表面積は2.03m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.66 g / cm 3 . Further, the BET specific surface area was 2.03 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、9.6×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 9.6 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例7]
<樹枝状Snコート銅粉の作製(Sn−Ag−Bi合金をコート)>
実施例2で得られた樹枝状銅粉100gを用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn合金(Sn−Ag−Bi合金)被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
[Example 7]
<Preparation of Dendritic Sn Coated Copper Powder (Coating with Sn-Ag-Bi Alloy)>
Using 100 g of the dendritic copper powder obtained in Example 2, the surface of the copper powder was coated with Sn alloy (Sn—Ag—Bi alloy) by electroless Sn plating to prepare Sn-coated copper powder.

具体的に、合金用無電解Snめっき液として、メタンスルホン酸第一スズ50g/L、メタンスルホン酸ビスマス5g/L、クエン酸銀20g/L、チオ尿素100g/L、次亜リン酸ナトリウム30g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を70℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as an electroless Sn plating solution for alloys, stannous methanesulfonate 50 g / L, bismuth methanesulfonate 5 g / L, silver citrate 20 g / L, thiourea 100 g / L, sodium hypophosphite 30 g A plating solution to which / L was added at each concentration was prepared. To this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 70 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSn−Ag−Bi合金が被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSn−Ag−Bi合金の被覆量を測定した結果、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して18.9質量%であった。また、Sn合金中に含まれるAgの含有量はSn合金の質量100%に対して14.8量%であり、Sn合金中に含まれるBiの含有量はSn合金の質量100%に対して3.1質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which the surface of the dendritic copper powder was coated with the Sn—Ag—Bi alloy was obtained. As a result of recovering the Sn-coated copper powder and measuring the coating amount of the Sn-Ag-Bi alloy, it was 18.9 mass% with respect to 100 mass of the entire Sn-coated copper powder. In addition, the content of Ag contained in the Sn alloy is 14.8% by mass with respect to the mass of Sn alloy of 100%, and the content of Bi contained in the Sn alloy is based on 100% of the mass of Sn alloy. 3.1% by mass.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn合金被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSn−Ag−Bi合金が被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   Moreover, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of the Sn-coated copper powder is uniform on the surface of the dendritic copper powder before being coated with the Sn alloy. A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with a Sn-Ag-Bi alloy, and a plurality of linearly branched main trunks and a plurality of linear branches from the main trunks And a dendritic Sn-coated copper powder having a dendritic shape having a branch further branched from the branch.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.22μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は10.8μmであった。   Further, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder have a flat shape with a cross-sectional thickness of 0.22 μm on average, and the copper particles were constituted into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 10.8 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.67g/cmであった。また、BET比表面積は2.11m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.67 g / cm 3 . The BET specific surface area was 2.11 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、8.7×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 8.7 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例8]
<樹枝状Snコート銅粉の作製(Sn−Zn−Bi合金)>
実施例2で得られた樹枝状銅粉100gを用いて、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn合金(Sn−Zn−Bi合金)被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
[Example 8]
<Preparation of dendritic Sn-coated copper powder (Sn—Zn—Bi alloy)>
Using 100 g of the dendritic copper powder obtained in Example 2, the surface of the copper powder was coated with Sn alloy (Sn—Zn—Bi alloy) by electroless Sn plating to prepare Sn-coated copper powder.

具体的に、合金用無電解Snめっき液として、塩化第一スズ10g/L、塩化ビスマス5g/L、硫酸亜鉛5g/L、チオ尿素100g/L、クエン酸ナトリウム40g/L、次亜リン酸ナトリウム70g/Lを各濃度で添加しためっき液を用意した。この無電解Snめっき液に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉100gを入れ、25℃で10分間撹拌した後、浴温を70℃まで加熱して60分間撹拌した。   Specifically, as an electroless Sn plating solution for alloys, stannous chloride 10 g / L, bismuth chloride 5 g / L, zinc sulfate 5 g / L, thiourea 100 g / L, sodium citrate 40 g / L, hypophosphorous acid A plating solution to which 70 g / L of sodium was added at each concentration was prepared. To this electroless Sn plating solution, 100 g of the dendritic copper powder prepared by the above-described method was added and stirred at 25 ° C. for 10 minutes, and then the bath temperature was heated to 70 ° C. and stirred for 60 minutes.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSn−Zn−Bi合金が被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSn−Zn−Bi合金の被覆量を測定した結果、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して11.1質量%であった。また、Sn合金中に含まれるZnの含有量はSn合金の質量100%に対して2.0質量%であり、Sn合金中に含まれるBiの含有量はSn合金の質量100%に対して1.4質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which the surface of the dendritic copper powder was coated with the Sn—Zn—Bi alloy was obtained. As a result of recovering the Sn-coated copper powder and measuring the coating amount of the Sn—Zn—Bi alloy, it was 11.1% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder. Further, the content of Zn contained in the Sn alloy is 2.0% by mass with respect to 100% by mass of the Sn alloy, and the content of Bi contained in the Sn alloy is based on 100% by mass of the Sn alloy. It was 1.4% by mass.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn合金被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSn−Zn−Bi合金が被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   Moreover, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of the Sn-coated copper powder is uniform on the surface of the dendritic copper powder before being coated with the Sn alloy. A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with a Sn—Zn—Bi alloy, and a main trunk that grows linearly and a plurality of linear branches branched from the main trunk And a dendritic Sn-coated copper powder having a dendritic shape having a branch further branched from the branch.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で0.19μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は10.4μmであった。   Further, the copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat plate shape with an average cross-sectional thickness of 0.19 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 10.4 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は0.66g/cmであった。また、BET比表面積は2.03m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 0.66 g / cm 3 . Further, the BET specific surface area was 2.03 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、9.9×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 9.9 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[実施例9]
<電解銅粉の作製>
電解液として、銅イオン濃度が5g/L、硫酸濃度が150g/Lの組成のものを用い、その電解液に、添加剤としてサフラニンを電解液中の濃度として100mg/Lとなるように添加し、さらに塩酸溶液を電解液中の塩素イオン濃度として10mg/Lとなるように添加したこと以外は、実施例1と同じ条件で銅粉を陰極板上に析出させた。
[Example 9]
<Preparation of electrolytic copper powder>
As the electrolytic solution, a composition having a copper ion concentration of 5 g / L and a sulfuric acid concentration of 150 g / L was used, and safranin was added to the electrolytic solution so that the concentration in the electrolytic solution was 100 mg / L. Further, copper powder was deposited on the cathode plate under the same conditions as in Example 1 except that a hydrochloric acid solution was added so that the chlorine ion concentration in the electrolytic solution was 10 mg / L.

こうして得られた銅粉の形状を、上述したSEMによる方法で倍率1,000倍の視野で観察した結果、析出した銅粉は、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する、2次元又は3次元の樹枝状形状を呈した銅粉であった。   As a result of observing the shape of the copper powder thus obtained in the field of view with a magnification of 1,000 times by the SEM method described above, the deposited copper powder was linearly grown and branched linearly from the main trunk. The copper powder had a two-dimensional or three-dimensional dendritic shape having a plurality of branches and branches further branched from the branches.

<樹枝状Snコート銅粉の作製>
次に、上述した方法で作製した樹枝状銅粉を用いて、実施例1と同じ条件で、無電解Snめっきによりその銅粉表面にSn被覆を行い、Snコート銅粉を作製した。
<Preparation of dendritic Sn-coated copper powder>
Next, using the dendritic copper powder produced by the method described above, Sn coating was performed on the surface of the copper powder by electroless Sn plating under the same conditions as in Example 1 to produce Sn-coated copper powder.

反応が終了した後、粉末をろ過、水洗してエタノールを通じて乾燥させたところ、樹枝状銅粉の表面にSnが被覆されたSnコート銅粉が得られた。そのSnコート銅粉を回収してSnの被覆量を測定したところ、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して10.7質量%であった。   After the reaction was completed, the powder was filtered, washed with water and dried through ethanol. As a result, Sn-coated copper powder in which Sn was coated on the surface of the dendritic copper powder was obtained. When the Sn-coated copper powder was recovered and the Sn coating amount was measured, it was 10.7% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder.

また、得られたSnコート銅粉をSEMにより倍率5,000倍の視野で観察した結果、少なくとも90個数%以上のSnコート銅粉は、Sn被覆する前の樹枝状銅粉の表面に均一にSnが被覆された、2次元又は3次元の樹枝状の形状の樹枝状Snコート銅粉であって、直線的に成長した主幹と、その主幹から直線的に分岐した複数の枝と、その枝からさらに分岐した枝とを有する樹枝状形状を呈した樹枝状Snコート銅粉であった。   In addition, as a result of observing the obtained Sn-coated copper powder with a field of view of 5,000 times by SEM, at least 90% by number or more of Sn-coated copper powder is uniformly on the surface of the dendritic copper powder before Sn coating A two-dimensional or three-dimensional dendritic Sn-coated copper powder coated with Sn, the main trunk growing linearly, and a plurality of branches linearly branched from the main trunk, and the branches It was dendritic Sn coat | covered copper powder which exhibited the dendritic shape which has the branch further branched from.

また、その樹枝状Snコート銅粉の主幹及び枝を構成する銅粒子は、断面厚さが平均で3.9μmの平板状の形状であり、この銅粒子により樹枝状の形状に構成されていた。また、その樹枝状Snコート銅粉の平均粒子径(D50)は62.0μmであった。   The copper particles constituting the main trunk and branches of the dendritic Sn-coated copper powder had a flat cross-sectional shape with an average cross-sectional thickness of 3.9 μm, and the copper particles were formed into a dendritic shape. . The average particle diameter (D50) of the dendritic Sn-coated copper powder was 62.0 μm.

さらに、得られた樹枝状Snコート銅粉の嵩密度は3.10g/cmであった。また、BET比表面積は0.99m/gであった。 Furthermore, the bulk density of the obtained dendritic Sn-coated copper powder was 3.10 g / cm 3 . The BET specific surface area was 0.99 m 2 / g.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製した樹枝状Snコート銅粉をペースト化して導電性ペーストを作製した。
<Conductive paste>
Next, the dendritic Sn-coated copper powder produced by the method described above was made into a paste to produce a conductive paste.

すなわち、作製した樹枝状Snコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   That is, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the prepared dendritic Sn-coated copper powder, and the small size Using a kneader (manufactured by Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、9.4×10−5Ω・cmであり、優れた導電性を示すことが分かった。 The specific resistance value of the film obtained by curing was 9.4 × 10 −5 Ω · cm, and it was found that excellent conductivity was exhibited.

[比較例1]
<電解銅粉の作製>
電解液中に、添加剤としてのサフラニンと、塩素イオンとを添加しない条件としたこと以外は、実施例1と同様にして銅粉を陰極板上に析出させた。
[Comparative Example 1]
<Preparation of electrolytic copper powder>
Copper powder was deposited on the cathode plate in the same manner as in Example 1 except that the conditions were such that safranin as an additive and chlorine ions were not added to the electrolytic solution.

<Snコート銅粉の作製>
得られた銅粉を実施例1と同様にしてその銅表面にSnを被覆し、Snコート銅粉を得た。そのSnコート銅粉のSnの被覆量を測定したところ、当該Snコート銅粉全体の質量100%に対して12.2質量%であった。
<Preparation of Sn-coated copper powder>
The obtained copper powder was coated with Sn on the copper surface in the same manner as in Example 1 to obtain Sn-coated copper powder. When the Sn coating amount of the Sn-coated copper powder was measured, it was 12.2% by mass with respect to 100% by mass of the entire Sn-coated copper powder.

図5に、得られたSnコート銅粉の形状を、SEMにより倍率1,000倍の視野で観察した結果を示す。図5の写真図に示すように、得られたSnコート銅粉の形状は、粒状の銅粒子が集合した樹枝状の形状であって、その銅粉の表面にSnが被覆された状態となっており、そのSnコート銅粉の平均粒子径(D50)は25.2μmであった。   FIG. 5 shows the result of observing the shape of the obtained Sn-coated copper powder with a SEM field of view at a magnification of 1,000 times. As shown in the photograph of FIG. 5, the shape of the obtained Sn-coated copper powder is a dendritic shape in which granular copper particles are aggregated, and the surface of the copper powder is in a state where Sn is coated. The average particle diameter (D50) of the Sn-coated copper powder was 25.2 μm.

<導電性ペースト化>
次に、上述した方法で作製したSnコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、混練を繰り返す毎に粘度の上昇が発生した。このことは銅粉の一部が凝集していることが原因であると考えられ、均一分散が困難であった。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。
<Conductive paste>
Next, 20 g of phenol resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of Sn-coated copper powder produced by the above-described method. Then, using a small kneader (Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the viscosity increased every time kneading was repeated. This is considered to be caused by a part of the copper powder being aggregated, and uniform dispersion was difficult. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、82.0×10−5Ω・cmであり、実施例にて得られた導電性ペーストと比較して極めて比抵抗値が高く導電性が劣るものであった。 The specific resistance value of the film obtained by curing is 82.0 × 10 −5 Ω · cm, and the specific resistance value is extremely high and inferior in conductivity compared to the conductive paste obtained in the examples. Met.

[比較例2]
従来の平板状銅粉にSnを被覆させたSnコート銅粉による導電性ペーストの特性を評価し、実施例における樹枝状Snコート銅粉を用いて作製した導電性ペーストの特性と比較した。
[Comparative Example 2]
The characteristic of the conductive paste by Sn coat copper powder which coat | covered Sn on the conventional flat copper powder was evaluated, and it compared with the characteristic of the conductive paste produced using the dendritic Sn coat copper powder in an Example.

平板状銅粉は、粒状の電解銅粉を機械的に扁平化させて作製した。具体的には、平均粒子径7.9μmの粒状アトマイズ銅粉(メイキンメタルパウダーズ社製)500gにステアリン酸5gを添加し、ボールミルで扁平化処理を行った。ボールミルには3mmのジルコニアビーズを5kg投入し、500rpmの回転速度で90分間回転させることによって扁平化処理を行った。   The flat copper powder was prepared by mechanically flattening granular electrolytic copper powder. Specifically, 5 g of stearic acid was added to 500 g of granular atomized copper powder (manufactured by Mekin Metal Powders Co., Ltd.) having an average particle diameter of 7.9 μm, and flattened with a ball mill. The ball mill was charged with 5 kg of 3 mm zirconia beads, and flattened by rotating for 90 minutes at a rotation speed of 500 rpm.

得られた平板状銅粉に対して、実施例1と同じ方法でSnを被覆した。作製した平板状Snコート銅粉のSnの被覆量は、当該平板状Snコート銅粉の質量100%に対して12.8質量%であった。   Sn was coated by the same method as Example 1 with respect to the obtained flat copper powder. The coating amount of Sn of the produced flat Sn-coated copper powder was 12.8% by mass with respect to 100% by mass of the flat Sn-coated copper powder.

また、このようにして作製した平板状のSnコート銅粉について、レーザー回折・散乱法粒度分布測定器で測定した結果、平均粒子径(D50)が22.7μmであり、SEMで観察した結果、その断面平均厚さは0.4μmであった。   Moreover, as a result of measuring with a laser diffraction / scattering method particle size distribution measuring instrument, the average particle diameter (D50) was 22.7 μm for the flat Sn-coated copper powder produced in this way, and as a result of observation by SEM, The cross-sectional average thickness was 0.4 μm.

次に、得られた平板状のSnコート銅粉40gに対して、フェノール樹脂(群栄化学株式会社製,PL−2211)20gと、ブチルセロソルブ(関東化学株式会社製,鹿特級)10gとを混合し、小型ニーダー(株式会社日本精機製作所製,ノンバブリングニーダーNBK−1)を用いて、1200rpm、3分間の混錬を3回繰り返すことによってペースト化した。ペースト化に際しては、銅粉が凝集することなく、樹脂中に均一に分散した。得られた導電ペーストを金属スキージでガラス上に印刷し、大気雰囲気中にて200℃で30分間かけて硬化させた。   Next, 20 g of phenolic resin (manufactured by Gunei Chemical Co., Ltd., PL-2211) and 10 g of butyl cellosolve (manufactured by Kanto Chemical Co., Ltd., deer special grade) are mixed with 40 g of the obtained flat Sn-coated copper powder. Then, using a small kneader (Nippon Seiki Seisakusho Co., Ltd., non-bubbling kneader NBK-1), it was made into a paste by repeating kneading at 1200 rpm for 3 minutes three times. During pasting, the copper powder was uniformly dispersed in the resin without agglomeration. The obtained conductive paste was printed on a glass with a metal squeegee and cured at 200 ° C. for 30 minutes in an air atmosphere.

硬化により得られた被膜の比抵抗値は、35.4×10−5Ω・cmであり、実施例1にて得られた銅ペーストと比較して比抵抗値が高く導電性が劣るものであった。 The specific resistance value of the film obtained by curing is 35.4 × 10 −5 Ω · cm, which is higher in specific resistance value and inferior in conductivity than the copper paste obtained in Example 1. there were.

1 Snコート銅粉(樹枝状Snコート銅粉)
2 主幹
3,3a,3b 枝
1 Sn-coated copper powder (dendritic Sn-coated copper powder)
2 trunk 3, 3a, 3b branch

Claims (8)

直線的に成長した主幹と該主幹から分かれた複数の枝とを有する樹枝状の形状をなし、
前記主幹及び前記枝は、断面平均厚さが0.2μm〜5.0μmの平板状で表面にスズ(Sn)又はSn合金が被覆されている銅粒子により構成されており、
レーザー回折散乱式粒度分布測定法により測定した平均粒子径(D50)が1.0μm〜100μmである
ことを特徴とする樹枝状Snコート銅粉。
A dendritic shape having a main trunk that grows linearly and a plurality of branches separated from the main trunk,
The main trunk and the branch are made of copper particles having a cross-sectional average thickness of 0.2 μm to 5.0 μm and having a surface coated with tin (Sn) or Sn alloy,
An average particle diameter (D50) measured by a laser diffraction / scattering particle size distribution measurement method is 1.0 μm to 100 μm.
Sn又はSn合金として被覆されているSnの含有量が、当該樹枝状Snコート銅粉全体の質量100%に対して1質量%〜50質量%である
請求項1に記載の樹枝状Snコート銅粉。
The dendritic Sn-coated copper according to claim 1, wherein the content of Sn coated as Sn or Sn alloy is 1% by mass to 50% by mass with respect to 100% by mass of the entire dendritic Sn-coated copper powder. powder.
前記銅粒子の表面にSn合金が被覆されており、
銀、ビスマス、及び亜鉛から選ばれる少なくとも1種以上を、該Sn合金の質量100%に対して0.1質量%〜50質量%の含有量で含むSn合金で被覆されている
請求項1又は2に記載のSnコート銅粉。
Sn alloy is coated on the surface of the copper particles,
The Sn alloy containing at least one selected from silver, bismuth, and zinc at a content of 0.1% by mass to 50% by mass with respect to 100% by mass of the Sn alloy is coated. 2. Sn coated copper powder according to 2.
嵩密度が0.5g/cm〜5.0g/cmの範囲である
請求項1乃至3のいずれか1項に記載の樹枝状Snコート銅粉。
Dendritic Sn coating copper powder according to any one of claims 1 to 3 bulk density is in the range of 0.5g / cm 3 ~5.0g / cm 3 .
BET比表面積値が0.2m/g〜5.0m/gである
請求項1乃至4のいずれか1項に記載の樹枝状Snコート銅粉。
Dendritic Sn coating copper powder according to any one of claims 1 to 4 BET specific surface area is 0.2m 2 /g~5.0m 2 / g.
請求項1乃至5のいずれかに記載の樹枝状Snコート銅粉を、全体の20質量%以上の割合で含むことを特徴とする金属フィラー。   A metal filler comprising the dendritic Sn-coated copper powder according to any one of claims 1 to 5 in a proportion of 20% by mass or more of the whole. 請求項6に記載の金属フィラーを樹脂に混合させてなることを特徴とする導電性ペースト。   A conductive paste comprising the metal filler according to claim 6 mixed with a resin. 請求項1乃至5のいずれかに記載の樹枝状Snコート銅粉を製造する方法であって、
電解法により電解液から陰極上に銅粉を析出させる工程と、
前記銅粉にスズ(Sn)又はSn合金を被覆する工程と、を有し、
前記電解液に、
銅イオンと、
下記式(1)で表されるフェナジン構造を有する化合物から選択される1種又は2種以上と、
を含有させて電解を行うことを特徴とする樹枝状Snコート銅粉の製造方法。
[式(1)中、R、R、R、R、R、R、R、Rは、それぞれ別個に、水素、ハロゲン、アミノ、OH、=O、CN、SCN、SH、COOH、COO塩、COOエステル、SOH、SO塩、SOエステル、ベンゼンスルホン酸、及びC1〜C8アルキルからなる群から選択される基であり、Rは、水素、ハロゲン、アミノ、OH、−O、CN、SCN、SH、COOH、COO塩、COOエステル、SOH、SO塩、SOエステル、ベンゼンスルホン酸、低級アルキル、及びアリールからなる群から選択された基であり、Aがハライドアニオンである。]
A method for producing the dendritic Sn-coated copper powder according to any one of claims 1 to 5,
A step of depositing copper powder on the cathode from the electrolyte by an electrolytic method;
Coating the copper powder with tin (Sn) or Sn alloy,
In the electrolyte,
Copper ions,
One or more selected from compounds having a phenazine structure represented by the following formula (1);
A method for producing a dendritic Sn-coated copper powder, characterized by comprising electrolysis.
[In Formula (1), R 1 , R 2 , R 3 , R 4 , R 6 , R 7 , R 8 , R 9 are each independently hydrogen, halogen, amino, OH, ═O, CN, SCN. , SH, COOH, COO salt, COO ester, SO 3 H, SO 3 salt, SO 3 ester, benzenesulfonic acid, and C1-C8 alkyl, R 5 is hydrogen, halogen , selected amino, OH, -O, CN, SCN , SH, COOH, COO salt, COO ester, SO 3 H, SO 3 salt, SO 3 ester, benzenesulfonic acid, from the group consisting of lower alkyl, and aryl And A is a halide anion. ]
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