JP2017067688A - Foreign matter inspection device - Google Patents
Foreign matter inspection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017067688A JP2017067688A JP2015195923A JP2015195923A JP2017067688A JP 2017067688 A JP2017067688 A JP 2017067688A JP 2015195923 A JP2015195923 A JP 2015195923A JP 2015195923 A JP2015195923 A JP 2015195923A JP 2017067688 A JP2017067688 A JP 2017067688A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- ray
- inspection
- foreign matter
- metal detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 139
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 98
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 78
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 78
- 230000003993 interaction Effects 0.000 claims abstract description 5
- 230000032258 transport Effects 0.000 claims description 37
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 5
- 125000002066 L-histidyl group Chemical group [H]N1C([H])=NC(C([H])([H])[C@](C(=O)[*])([H])N([H])[H])=C1[H] 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 2
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000012905 input function Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000005022 packaging material Substances 0.000 description 1
- 229910052573 porcelain Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/083—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the radiation being X-rays
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/06—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
- G01N23/18—Investigating the presence of flaws defects or foreign matter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
本発明は、異物検査装置に関する。 The present invention relates to a foreign matter inspection apparatus.
特許文献1には、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出するX線検査と、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する金属検出との両方を行うことができる異物検査装置が記載されている。
In
上述した異物検査装置では、X線検査を行うX線検査部が筐体内に収容され、X線の外部漏洩が抑制されると共に、この同じ筐体内に、金属検出を行う金属検出部と被検査物を搬送する搬送部の少なくとも一部とが収容される。このような構成においては、筐体内が手狭になる場合があり、作業員は、筐体内の清掃等の保守作業を行い難くなる可能性がある。 In the foreign substance inspection apparatus described above, an X-ray inspection unit that performs X-ray inspection is housed in a housing, and external leakage of X-rays is suppressed, and a metal detection unit that performs metal detection and an inspection target are included in the same housing. At least a part of a transport unit that transports an object is accommodated. In such a configuration, the inside of the housing may be narrow, and it may be difficult for an operator to perform maintenance work such as cleaning the inside of the housing.
そこで、本発明は、保守性を向上することが可能な異物検査装置を提供することを目的とする。 Therefore, an object of the present invention is to provide a foreign object inspection apparatus capable of improving maintainability.
本発明の異物検査装置は、被検査物を搬送路に沿って搬送する搬送部と、X線の透過性を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、磁界と金属との相互作用を利用して、搬送部で搬送されている被検査物に含まれる異物を検出する直流型の金属検出部と、搬送部の少なくとも一部、金属検出部、及びX線検査部を内部に収容し、X線検査部のX線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、金属検出部は、搬送路に対向するように配置され、サーチコイルを含む検出ヘッドを備え、検出ヘッドは、搬送路の幅方向一方側で支持された片持ち構造とされている。 The foreign matter inspection apparatus of the present invention detects a foreign matter contained in an inspection object being transported by the transport unit by using a transport unit that transports the test object along the transport path and X-ray permeability. An X-ray inspection unit, a direct current type metal detection unit that detects foreign matter contained in the object being transported by the transport unit using the interaction between the magnetic field and the metal, and at least a part of the transport unit; A metal detector and an X-ray inspection unit are housed therein, and a housing that suppresses external leakage of X-rays of the X-ray inspection unit is provided, and the metal detection unit is arranged to face the conveyance path, A detection head including a search coil is provided, and the detection head has a cantilever structure supported on one side in the width direction of the transport path.
この異物検査装置では、筐体内に収容された金属検出部の検出ヘッドが、搬送路の幅方向一方側で支持された片持ち構造とされている。これにより、作業員は、筐体内において搬送路の幅方向他方側から金属検出部の奥へと容易に手を挿入することが可能になり、筐体内の清掃や整備を行いやすくすることができる。その結果、異物検査装置の保守性を向上することが可能となる。 In this foreign matter inspection apparatus, the detection head of the metal detection unit accommodated in the housing has a cantilever structure supported on one side in the width direction of the transport path. Thereby, it becomes possible for the worker to easily insert a hand from the other side in the width direction of the transport path into the back of the metal detection unit in the housing, and to facilitate cleaning and maintenance in the housing. . As a result, the maintainability of the foreign substance inspection apparatus can be improved.
本発明の異物検査装置では、金属検出部は、搬送方向における検出ヘッドの上流側に配置され、被検査物を磁化させる着磁器を備え、X線検査部は、搬送方向における検出ヘッドと着磁器との間に配置されていてもよい。この構成によれば、金属検出部における検出ヘッドと着磁器との間のスペースを利用してX線検査部を配置でき、装置の小型化が可能となる。 In the foreign matter inspection apparatus according to the present invention, the metal detection unit is disposed upstream of the detection head in the transport direction, and includes a magnetizer that magnetizes the inspection object. The X-ray inspection unit includes the detection head and the magnetizer in the transport direction. Between them. According to this configuration, the X-ray inspection unit can be arranged using the space between the detection head and the magnetizer in the metal detection unit, and the apparatus can be downsized.
本発明の異物検査装置では、搬送部は、コンベヤであり、コンベヤは、搬送路の幅方向一方側で支持された片持ち構造とされていてもよい。この構成によれば、作業員は、筐体内において搬送路の幅方向他方側からコンベヤの奥へも容易に手を挿入することが可能になり、異物検査装置の保守性を一層向上することが可能となる。 In the foreign matter inspection apparatus of the present invention, the transport unit may be a conveyor, and the conveyor may have a cantilever structure supported on one side in the width direction of the transport path. According to this configuration, the worker can easily insert his / her hand from the other side in the width direction of the conveyance path into the back of the conveyor in the housing, and the maintainability of the foreign matter inspection apparatus can be further improved. It becomes possible.
本発明によれば、保守性を向上することができる異物検査装置を提供することが可能となる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it becomes possible to provide the foreign material inspection apparatus which can improve maintainability.
以下、本発明の好適な実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。なお、各図において同一又は相当部分には同一符号を付し、重複する説明を省略する。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, in each figure, the same code | symbol is attached | subjected to the same or an equivalent part, and the overlapping description is abbreviate | omitted.
図1は実施形態に係る異物検査装置1の正面図である。図1に示される異物検査装置1は、被検査物に含まれる異物を検出する装置である。被検査物は例えば食品である。異物検査装置1は、その内部において被検査物を搬送しつつX線検査及び金属検出を行い、被検査物に異物が含まれるか否かを検査する。
FIG. 1 is a front view of a foreign
X線検査は、X線の透過性を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、X線検査部2(図2参照)によって実現される。X線検査では、被検査物とは異なるX線透過性を有する異物を検出することができる。一方、金属検出は、磁界と金属との相互作用を利用して被検査物に含まれる異物を検出する手法であり、直流型の金属検出部3(図2参照)によって実現される。金属検出では金属異物を検出することができる。X線検査部2及び金属検出部3の詳細については後述する。
X-ray inspection is a technique for detecting foreign matter contained in an object to be inspected using X-ray transparency, and is realized by the X-ray inspection unit 2 (see FIG. 2). In the X-ray inspection, it is possible to detect a foreign substance having X-ray permeability different from that of the inspection object. On the other hand, metal detection is a technique for detecting foreign matter contained in an object to be inspected by utilizing the interaction between a magnetic field and metal, and is realized by a direct current type metal detection unit 3 (see FIG. 2). In metal detection, a metal foreign object can be detected. Details of the
異物検査装置1は、その内部に空間が画成された筐体4を有する。筐体4は、X線検査部2及び金属検出部3を内部に収容する。筐体4は、X線検査部2により発生されるX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。筐体4は、例えばステンレスなどで形成される。
The foreign
筐体4は、本実施形態では箱状を呈している。筐体4の左側面には、筐体4の内部に連通する開口部4aが形成されている。同様に、筐体4の右側面には、筐体4の内部に連通する開口部4bが形成されている。本実施形態では、被検査物は、開口部4aから筐体4の内部へ搬入されて検査が行われ、開口部4bから筐体4の外部へ搬出される。つまり、開口部4aが被検査物の搬入口、開口部4bが被検査物の搬出口となる。
The
筐体4の前面には、筐体4を開閉する上部扉40及び下部扉41が設けられている。上部扉40及び下部扉41は、例えば開き戸構造である。上部扉40又は下部扉41が開閉されることで、後述するX線検査部2及び金属検出部3の少なくとも一部が外部に露出される。上部扉40及び下部扉41は、例えばステンレスなどで形成される。
On the front surface of the
上部扉40の前面には、ディスプレイ5及び操作スイッチ6が設けられている。ディスプレイ5は、表示機能と入力機能とを兼ね備えた表示装置であり、例えばタッチパネルである。ディスプレイ5は、X線検査及び金属検出の結果などを表示するとともに、金属検出及びX線検査に関する各種パラメータの設定を行う操作画面を表示する。操作スイッチ6は、X線検査部2及び金属検出部3の電源スイッチなどである。
A
筐体4は、支持台7によって支持されている。筐体4の上面には、報知部8及びクーラー9が設けられている。報知部8は、異物混入や機器の作動状態を報知する。報知部8は、X線検査部2に対応する第1報知器81、及び金属検出部3に対応する第2報知器82を備えている。クーラー9は、筐体4の内部に冷気を送り、筐体4の内部に配置された機器の温度を調整する。
The
図2は、図1に示される異物検査装置1の内部構成及び制御系を説明する概念図である。図2に示されるように、筐体4の内部は、後述するX線発生器の一部や構成要素の制御基板などが配置される基板室T1と、被検査物Sが搬入されて検査が行われる検査室T2とに区画されている。基板室T1は、上述したクーラー9によって温度調整されている。
FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating the internal configuration and control system of the foreign
検査室T2には、被検査物Sを搬送するコンベヤ(搬送部)10が配置されている。コンベヤ10は、本実施形態ではローラ式のベルトコンベヤであり、一端部が開口部4aに位置し且つ他端部が開口部4bに位置した状態で、筐体4の内部を水平方向に延在している。つまり、筐体4は、コンベヤ10のうち一端部及び他端部を除く部分を内部に収容している。本実施形態のコンベヤ10は、開口部4aを介して被検査物Sを筐体4の内部に搬入し、開口部4bを介して被検査物Sを筐体4の外部に搬出する。
In the inspection room T2, a conveyor (conveying unit) 10 that conveys the inspection object S is disposed. The
開口部4aには、X線遮蔽カーテン42が配置されている。同様に、開口部4bには、X線遮蔽カーテン43が配置されている。X線遮蔽カーテン42,43は、上端が筐体4に対する固定端であり且つ下端が自由端である。X線遮蔽カーテン42,43は、X線検査部2が発生したX線を遮蔽し、X線の外部漏洩を抑制する。X線遮蔽カーテン42,43は、例えばタングステンを含有する可撓性材料などにより形成される。なお、被検査物Sの搬入及び搬出を自動化すべく、コンベヤ10の右側に搬入用コンベヤ11を配置し、コンベヤ10の左側に搬出用コンベヤ12を配置してもよい。また、搬出用コンベヤ12が、被検査物Sの振分機能を備えていてもよい。
An
X線検査部2は、X線検査制御部20、X線発生器21及びX線検出器22を備える。X線発生器21は、X線を発生するX線源及びスリット機構を含む。X線検出器22は、X線発生器21で発生したX線を検出する。X線発生器21及びX線検出器22は、コンベヤ10を上下方向から挟むように対向配置されている。なお、X線発生器21のうち、X線源などは基板室T1に配置され、X線を照射する機構が検査室T2に配置されている。X線検出器22としては、例えば複数のX線検出センサを前後方向に沿って並設したラインセンサが用いられる。X線検出器22は、X線漏洩を低減させるために、基板ケース23に収容されている。基板ケース23には、X線検出器22へX線を到達させるために、スリットが設けられている。
The
X線検査制御部20は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラム及び情報などが記憶されたROM(Read Only Memory)、データを一時的に記憶するRAM(RandomAccess Memory)、HDD(Hard Disk Drive)などの記憶媒体、CPU(Central Processing Unit)、及び通信回路などを有する。X線検査制御部20は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
The X-ray
X線検査制御部20は、基板室T1に配置され、X線発生器21及びX線検出器22に接続されている。X線検査制御部20は、ディスプレイ5に接続され、操作画面を介して作業員から操作情報を受け付ける。X線検査制御部20は、操作情報に基づいてX線発生器21及びX線検出器22の動作プロファイルを設定するとともに、X線発生器21及びX線検出器22の動作を制御する。X線検査制御部20は、X線検査部2よりも上流側に配置されたレーザセンサ24を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの検査を開始する。X線検査制御部20は、X線発生器21を制御して、コンベヤ10によって搬送されている被検査物SにX線を照射させる。X線検出器22は、被検査物Sを透過したX線のX線透過量を計測し、計測したX線透過量をX線検査制御部20へ出力する。
The X-ray
X線検査制御部20は、時系列で取得したX線透過量を画素値に反映させたX線透過画像を生成する。そして、X線検査制御部20は、画像処理技術によりX線透過画像を解析して、異物を検出する。例えば、X線検査制御部20は、X線透過画像の画素値に基づいて、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在するか否かを判定する。そして、X線検査制御部20は、被検査物Sの基準透過率との差が所定値以上となる画像領域が存在する場合には、異物を検出したと判定する。
The X-ray
X線検査制御部20は、作業員からの要求に応じて、X線検査の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。また、X線検査制御部20は、X線発生器21及びX線検出器22が正常に作動している場合、第1報知器81を用いてX線検査に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、X線検査制御部20は、異物を検出したと判定した場合、第1報知器81を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
The X-ray
金属検出部3は、直流磁界を用いて金属検出を行う直流型の装置である。金属検出部3は、直流磁界を発生させる着磁器39と、受信コイルとしての2つあるいは3つ以上のサーチコイルと、を有している。サーチコイルは、例えば磁力線が等量交わるように配置されている。
The
金属検出部3において、例えば着磁器39で磁化された被検査物Sが直流磁界中を通過すると、被検査物S中に磁性体金属の異物が混入している場合、被検査物Sの通過に伴って磁力線に変化が生じる。この磁力線の変化がサーチコイルの起電力差として検出され、その結果、異物の混入が検出される。なお、食品製造設備に多用されているステンレスは、非磁性体であるが加工等により着磁する性質を有していることから、直流型の金属検出部3では、ステンレスを異物として検出可能である。一方、アルミニウムは磁化しないことから、直流型の金属検出部3では、包材にアルミニウムを用いた被検査物でも、混入する磁性体金属の異物のみを検出可能である。
In the
金属検出制御部30は、外部との信号の入出力などを行う入出力インターフェースI/O、処理を行うためのプログラム及び情報などが記憶されたROM、データを一時的に記憶するRAM、HDDなどの記憶媒体、CPU、及び通信回路などを有する。金属検出制御部30は、CPUが出力する信号に基づいて、入力データをRAMに記憶し、ROMに記憶されているプログラムをRAMにロードし、RAMにロードされたプログラムを実行することで、後述する機能を実現する。
The metal
金属検出制御部30は、基板室T1に配置されるとともにX線検査制御部20に接続され、X線検査制御部20を介してディスプレイ5の操作画面に入力された作業員からの操作情報を受け付ける。金属検出制御部30は、操作情報に基づいてサーチコイルの動作プロファイルを設定する。金属検出制御部30は、金属検出部3よりも上流側に配置されたレーザセンサ25を用いて被検査物Sを検出した場合、当該被検査物Sの金属検出を開始する。
The metal
金属検出制御部30は、直流磁界における磁力線の変化をサーチコイルの起電力差として取得し、金属検出の判定を行う。金属検出制御部30は、作業員からの要求に応じて、金属検出の結果データをディスプレイ5に表示させたり、記憶部に結果データを記憶したりする。
The metal
また、金属検出制御部30は、金属検出部3が正常に作動している場合、第2報知器82を用いて金属検出に係る機器が作動中である旨を作業員に報知する。さらに、金属検出制御部30は、異物を検出したと判定した場合、第2報知器82を用いて異物を検知した旨を作業員に報知する。
In addition, when the
上述したX線検査部2及び金属検出部3は、それぞれ独立に作動可能に構成されている。つまり、異物検査装置1は、X線検査及び金属検出の両方を行うだけでなく、X線検査及び金属検出の何れか一方を実行することもできる。上述のとおり、本実施形態では、X線検査部2がディスプレイ5の表示制御を行うため、X線検査部2が停止している場合には、ディスプレイ5に金属検出部3の操作画面が表示されない。このため、筐体4の内部には、金属検出部3に接続されたサブディスプレイ(不図示)が配置されている。金属検出部3は、X線検査部2が停止している場合には、サブディスプレイを介して操作情報を受け付け、サブディスプレイに結果データなどを表示する。
The
図3は、図2の筐体4における検査室T2内の構成の概略斜視図である。図4(a)は、図3の構成の左側面図である。図4(b)は、図3の構成の右側面図である。以下の説明では、異物検査装置1の前後方向のうち正面側を「手前側」と称し、手前側と反対側を「奥側」と称する。
FIG. 3 is a schematic perspective view of the configuration inside the examination room T2 in the
図3に示されるように、異物検査装置1は、コンベヤ10と金属検出部3とX線検査部2とを、検査室T2内に備えている。コンベヤ10は、被検査物Sを搬送路13に沿って搬送する搬送部である。コンベヤ10は、搬送路13を構成する無端状(環状)のベルト14と、ベルト14を駆動可能に支持する複数のローラ15と、を備えている。例えばベルト14は、図略のドライブプーリを介してモータにより駆動される。コンベヤ10としては、特に限定されず、被検査物Sを搬送路13に沿って搬送するものであれば、種々の公知の搬送手段を採用できる。
As shown in FIG. 3, the foreign
金属検出部3は、検出器38と着磁器39とを備えている。検出器38は、側方から見て横U字形状(コの字形状)を呈している。検出器38は、ベルト14を介して互いに対向する一対の検出ヘッド38A,38Bを含んで構成されている。検出ヘッド38Aは、ベルト14の上方に所定長離れて配置され、搬送路13に対向する。検出ヘッド38A内には、受信コイルとしてのサーチコイルが1又は複数設けられている。検出ヘッド38Bは、ベルト14の環内に配置され、搬送路13に対向する。検出ヘッド38B内には、受信コイルとしてのサーチコイルが1又は複数設けられている。
The
着磁器39は、被検査物Sに含まれる磁性体の金属異物を磁化させる。着磁器39は、搬送方向における検出器38の上流側に配置されている。着磁器39は、側方から見て、逆L字形状を呈している。着磁器39は、ベルト14の上方に所定長離れて配置された着磁ヘッド39A(図4(b)参照)を含んで構成されている。着磁ヘッド39Aは、搬送路13に対向する。着磁ヘッド39Aには、例えば永久磁石が設けられている。
The
X線検査部2は、搬送方向における検出器38(検出ヘッド38A,38B)と着磁器39(着磁ヘッド39A)との間に配置されている。X線検査部2は、コンベヤ10で搬送されている被検査物Sに対して、検出器38と着磁器39との間の位置にてX線検査を実施する。
The
図3及び図4(a)に示されるように、金属検出部3の検出ヘッド38A,38Bは、搬送路13の幅方向一方側である奥側にて支持された片持ち構造とされている。図示する例では、検出ヘッド38A,38Bは、上下方向を厚さ方向とするブロック状の外形形状を呈しており、その奥側にて支持されていると共に、搬送路13の幅方向他方側である手前側に向かって水平に突き出るように構成されている。ここでは、例えば筐体4内の支持具46に対して、検出器38がそのU字形の開口側が手前側に向く片持ち構造で固定されて、検出ヘッド38A,38Bが片持ち構造で保持されている。
As shown in FIGS. 3 and 4A, the detection heads 38 </ b> A and 38 </ b> B of the
図3及び図4(b)に示されるように、金属検出部3の着磁ヘッド39Aは、その奥側にて支持された片持ち構造とされている。図示する例では、着磁ヘッド39Aは、搬送路13の幅方向に沿ったアーム状の外形形状を呈している。着磁ヘッド39Aは、その奥側にて支持されていると共に、手前側に向かって水平に突き出るように構成されている。ここでの着磁器39は、例えば筐体4内に立設された支柱部39Bを備え、この支柱部39Bの上端に着磁ヘッド39Aが片持ち構造で保持されている。
As shown in FIGS. 3 and 4B, the magnetizing
図3及び図4に示されるように、コンベヤ10は、その奥側で支持された片持ち構造とされている。図示する例では、コンベヤ10のローラ15における奥側の端部が、筐体4内のステー47で回転可能に支持されて、コンベヤ10が片持ち構造で保持されている。このようなコンベヤ10は、搬送路13の幅方向に沿って着脱可能(つまり、手前側に向かって取外し可能、及び、奥側に向かって取付け可能)に構成されている。なお、コンベヤ10の手前側は、カバー部(不図示)によって覆われて保護されていてもよい。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
以上、異物検査装置1では、筐体4内に収容された金属検出部3の検出ヘッド38A,38Bが、奥側で支持された片持ち構造とされている。これにより、作業員は、筐体4内において手前側から金属検出部3の奥へと容易に手を挿入することが可能になり、筐体4内の清掃や整備を行いやすくすることができる。その結果、異物検査装置1の保守性を向上することが可能となる。
As described above, the foreign
異物検査装置1では、金属検出部3は、搬送方向における検出ヘッド38A,38Bの上流側に配置された着磁器39を備え、X線検査部2は、搬送方向における検出ヘッド38A,38Bと着磁器39との間に配置されている。この構成によれば、金属検出部3における検出ヘッド38A,38Bと着磁器39との間のスペースを利用してX線検査部2を配置でき、装置の小型化が可能となる。
In the foreign
異物検査装置1では、コンベヤ10は、奥側で支持された片持ち構造とされている。この構成によれば、作業員は、筐体4内において手前側からコンベヤ10の奥へも容易に手を挿入することが可能になり、異物検査装置1の保守性を一層向上することが可能となる。
In the foreign
なお、異物検査装置1では、筐体4内に収容された金属検出部3の着磁ヘッド39Aについても奥側で支持された片持ち構造とされている。よって、作業員は筐体4内において手前側から金属検出部3の奥へと一層容易に手を挿入することが可能になり、異物検査装置1の保守性を一層向上することが可能となる。
In the foreign
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。 Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above embodiment.
上述した実施形態では、搬送方向における検出ヘッド38A,38Bと着磁器39との間にX線検査部2を配置したが、X線検査部2の配置は限定されない。X線検査部2は、搬送方向における着磁器39の上流側に配置されていてもよいし、搬送方向における検出ヘッド38A,38Bの下流側に配置されていてもよい。金属検出部3の方式は限定されず、上述の実施形態のように着磁式のものを用いてもよいし、交番磁界式のものを用いてもよい。
In the above-described embodiment, the
上述した実施形態では、筐体4の内部にコンベヤ10の一部を配置する例を説明したが、コンベヤ10はその全てが筐体4の内部に収容されていてもよい。上述した実施形態では、着磁器39が側方から見て逆L字形状とされ、これにより、感度が低くても良い場合やコストダウンに対応したが、着磁器39の形状は特に限定されない。例えば着磁器39は、検出器38と同様に、側方から見て横U字形状(コの字形状)とされてもよい。この場合、着磁器39は、ベルト14を介して着磁ヘッド39Aに対向する他の着磁ヘッドをさらに含み、当該他の着磁ヘッドは、ベルト14の環内に配置される。着磁器39を横U字形状(コの字形状)に構成することで、感度を高めることができる。
In the above-described embodiment, an example in which a part of the
1…異物検査装置、2…X線検査部、3…金属検出部、4…筐体、10…コンベヤ(搬送部)、13…搬送路、38A,38B…検出ヘッド、39…着磁器、S…被検査物。
DESCRIPTION OF
Claims (3)
X線の透過性を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出するX線検査部と、
磁界と金属との相互作用を利用して、前記搬送部で搬送されている前記被検査物に含まれる異物を検出する直流型の金属検出部と、
前記搬送部の少なくとも一部、前記X線検査部、及び前記金属検出部を内部に収容し、前記X線検査部のX線の外部漏洩を抑制する筐体と、を備え、
前記金属検出部は、
前記搬送路に対向するように配置され、サーチコイルを含む検出ヘッドを備え、
前記検出ヘッドは、
前記搬送路の幅方向一方側で支持された片持ち構造とされている、異物検査装置。 A transport unit that transports the object to be inspected along the transport path;
An X-ray inspection unit that detects foreign matter contained in the inspection object being transported by the transport unit, utilizing X-ray transparency;
A direct current type metal detection unit that detects foreign matter contained in the inspection object being conveyed by the conveyance unit using an interaction between a magnetic field and a metal,
A housing that houses at least a part of the transport unit, the X-ray inspection unit, and the metal detection unit, and suppresses external leakage of X-rays of the X-ray inspection unit,
The metal detector is
A detection head including a search coil, disposed so as to face the conveyance path;
The detection head is
A foreign matter inspection apparatus having a cantilever structure supported on one side in the width direction of the conveyance path.
搬送方向における前記検出ヘッドの上流側に配置され、前記被検査物を磁化させる着磁器を備え、
前記X線検査部は、
搬送方向における前記検出ヘッドと前記着磁器との間に配置されている、請求項1に記載の異物検査装置。 The metal detector is
A magnetizer disposed on the upstream side of the detection head in the transport direction and magnetizing the inspection object;
The X-ray inspection unit
The foreign matter inspection device according to claim 1, wherein the foreign matter inspection device is disposed between the detection head and the magnetizer in a transport direction.
前記コンベヤは、前記搬送路の前記幅方向一方側で支持された片持ち構造とされている、請求項1又は2に記載の異物検査装置。 The transport unit is a conveyor,
The foreign matter inspection apparatus according to claim 1, wherein the conveyor has a cantilever structure supported on one side in the width direction of the conveyance path.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015195923A JP2017067688A (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Foreign matter inspection device |
PCT/JP2016/079138 WO2017057738A1 (en) | 2015-10-01 | 2016-09-30 | Foreign-matter inspection device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015195923A JP2017067688A (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Foreign matter inspection device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017067688A true JP2017067688A (en) | 2017-04-06 |
Family
ID=58424130
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015195923A Pending JP2017067688A (en) | 2015-10-01 | 2015-10-01 | Foreign matter inspection device |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2017067688A (en) |
WO (1) | WO2017057738A1 (en) |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11183407A (en) * | 1997-12-18 | 1999-07-09 | Shimadzu Corp | X-ray foreign matter inspection device |
JP2003307572A (en) * | 2002-04-12 | 2003-10-31 | San Denshi Kk | Topping and self-supporting type metal detector |
JP2006038691A (en) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Article inspection device |
JP2006337340A (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Ishida Co Ltd | X-ray inspection unit |
JPWO2005043149A1 (en) * | 2003-10-30 | 2007-11-29 | トック・エンジニアリング株式会社 | Hybrid foreign matter detector and its traceability system |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008039442A (en) * | 2006-08-02 | 2008-02-21 | Ishida Co Ltd | X-ray inspection system |
-
2015
- 2015-10-01 JP JP2015195923A patent/JP2017067688A/en active Pending
-
2016
- 2016-09-30 WO PCT/JP2016/079138 patent/WO2017057738A1/en active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH11183407A (en) * | 1997-12-18 | 1999-07-09 | Shimadzu Corp | X-ray foreign matter inspection device |
JP2003307572A (en) * | 2002-04-12 | 2003-10-31 | San Denshi Kk | Topping and self-supporting type metal detector |
JPWO2005043149A1 (en) * | 2003-10-30 | 2007-11-29 | トック・エンジニアリング株式会社 | Hybrid foreign matter detector and its traceability system |
JP2006038691A (en) * | 2004-07-28 | 2006-02-09 | Anritsu Sanki System Co Ltd | Article inspection device |
JP2006337340A (en) * | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Ishida Co Ltd | X-ray inspection unit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2017057738A1 (en) | 2017-04-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6040190B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP5156487B2 (en) | X-ray inspection equipment | |
JP7011261B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP2009008555A (en) | Clearance monitor for carrying out article | |
JP6285987B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6157775B1 (en) | Foreign matter inspection apparatus and foreign matter inspection system | |
JP6122926B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
WO2017057738A1 (en) | Foreign-matter inspection device | |
WO2017061594A1 (en) | X-ray inspection apparatus | |
JP6654392B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6122925B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6654393B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP3927547B2 (en) | Metal detector | |
JP6794101B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP6123005B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
WO2017057740A1 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP2007114092A (en) | Inspection system and inspection device | |
JP6677996B2 (en) | Foreign matter inspection device | |
JP2017072585A (en) | X-ray inspection device | |
JP6371561B2 (en) | Metal detector | |
JP3866251B2 (en) | Metal detector |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20180927 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190924 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191125 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200414 |