JP2017067475A - Laser type oxygen gas analyzer - Google Patents

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秀夫 金井
Hideo Kanai
秀夫 金井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a laser type oxygen gas analyzer that radiates to an inspection space as an inspection light that is adjusted to become a class 1 or class 1M laser output, as compared with a laser beam from a DFB laser element that becomes a class 3B equivalent laser output of a wavelength in the absorption wavelength region of an oxygen gas, the oxygen gas analyzer being designed to be safe to a user and have improved convenience.SOLUTION: Provided is a laser type oxygen gas analyzer comprising a light emission unit that includes a laser element 101e for radiating a laser beam of class 3B laser output with a wavelength in the absorption wavelength region of an oxygen gas and a collimator lens 102 for collimating the laser beam from the laser element 101e and radiating a detection light, the laser type oxygen gas analyzer radiating the laser beam of class 3B laser output, as a detection light, which is weakened to class 1 or class 1M equivalent laser output by being absorbed by an intra-optical path absorption unit 104.SELECTED DRAWING: Figure 10

Description

本発明は、酸素ガスの有無の判定やガス濃度を測定するレーザ式酸素ガス分析計に関する。   The present invention relates to a laser oxygen gas analyzer that determines the presence or absence of oxygen gas and measures the gas concentration.

気体状のガス分子には、それぞれ固有の光吸収スペクトラムがあることが知られている。例えば、図14は、Oガス(酸素ガス)の光吸収スペクトラム例であり、横軸が波長、縦軸は吸収強度を示す。縦軸の吸収強度が大きいほど光の吸収量が大きくなる。 It is known that each gaseous gas molecule has its own light absorption spectrum. For example, FIG. 14 is an example of a light absorption spectrum of O 2 gas (oxygen gas), where the horizontal axis indicates the wavelength and the vertical axis indicates the absorption intensity. The greater the absorption intensity on the vertical axis, the greater the amount of light absorption.

レーザ式酸素ガス分析計は、測定対象である酸素ガスが吸収する波長のレーザ光を発光するレーザ素子を搭載し、この特定波長のレーザ光を酸素ガスに吸収させることで酸素ガスの有無を検出することができる。加えて、レーザ式酸素ガス分析計は、特定波長のレーザ光の吸収量(吸収強度)が酸素ガスの濃度に比例するため濃度を検出することもできる。このようなレーザ式酸素ガス分析計は、特に大気環境測定や制御用途に使用され、例えば、ゴミ焼却場などのボイラの燃焼制御に使用される。   The laser-type oxygen gas analyzer is equipped with a laser element that emits laser light of a wavelength that is absorbed by the target oxygen gas, and detects the presence or absence of oxygen gas by absorbing the laser light of this specific wavelength into the oxygen gas. can do. In addition, the laser-type oxygen gas analyzer can detect the concentration because the amount of absorption (absorption intensity) of laser light of a specific wavelength is proportional to the concentration of oxygen gas. Such a laser-type oxygen gas analyzer is particularly used for atmospheric environment measurement and control applications, for example, for combustion control of boilers such as garbage incinerators.

レーザ式酸素ガス分析計のガス濃度の測定方法としては、2波長差分方式と周波数変調方式とに大別される。周波数変調方式による濃度測定装置は、例えば特許文献1に記載されている。   Gas concentration measurement methods for a laser oxygen gas analyzer are roughly classified into a two-wavelength difference method and a frequency modulation method. A concentration measuring apparatus using a frequency modulation method is described in Patent Document 1, for example.

また、周波数変調では発光波長を変化させる必要があるが、このような発光波長の制御に関し、例えば、測定対象ガスと同じガス成分を予め封入した参照ガスセルを用いて、レーザ素子の発光波長を温度によって制御する方法も用いられており、例えば特許文献2に記載されている。   In addition, in the frequency modulation, it is necessary to change the emission wavelength. Regarding the control of the emission wavelength, for example, using a reference gas cell in which the same gas component as that of the measurement target gas is preliminarily sealed, the emission wavelength of the laser element is changed to the temperature. The control method is also used, and is described in Patent Document 2, for example.

特開平7−151681号公報(段落[0005]、図4等)JP 7-151681 A (paragraph [0005], FIG. 4 etc.) 特開2001−235418号公報(段落[0012]〜[0024]、図2、図11等)JP 2001-235418 A (paragraphs [0012] to [0024], FIG. 2, FIG. 11, etc.)

レーザ機器に関しては、レーザ機器により使用者に障害が発生することを防止するため、日本工業規格として「レーザ製品の放射安全基準」JIS C 6802が規定されている。この基準ではレーザに対してクラス分けを行い、安全とされるクラスから、クラス1、クラス1M、クラス2、クラス2M、クラス3R、クラス3B、クラス4に分けられている。   Regarding laser equipment, in order to prevent the laser equipment from causing troubles to users, “Laser Product Radiation Safety Standard” JIS C 6802 is defined as a Japanese Industrial Standard. In this standard, lasers are classified and classified into class 1, class 1M, class 2, class 2M, class 3R, class 3B, and class 4 from safe classes.

レーザ式酸素ガス分析計のレーザ出力も、一般的には、レーザクラスが小さい方がユーザにとって安全かつ使い勝手がよく、クラス1またはクラス1Mとすることが望ましい。クラス1は、設計上本質的に安全であり、光学部を通し人体(目や皮膚)に当っても安全というものである。   In general, the laser output of the laser-type oxygen gas analyzer is preferably class 1 or class 1M because the laser class is small and the user is safe and convenient to use. Class 1 is inherently safe by design and safe to hit the human body (eyes and skin) through the optical part.

このレーザ式酸素ガス分析計は、測定対象である酸素ガスの吸収波長が近赤外領域にあるため、760nmから780nmまでの波長を発光するレーザ素子を使用する。このレーザ素子の種類として、VCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser)と呼ばれる面発光レーザを使用することもあるが、入手性から出力が数mW〜数十mWのDFBレーザ(Distributed Feedback Laser)と呼ばれる分布帰還型半導体レーザを使用することが多い。   This laser-type oxygen gas analyzer uses a laser element that emits wavelengths from 760 nm to 780 nm because the absorption wavelength of the oxygen gas to be measured is in the near infrared region. As a type of this laser element, a surface emitting laser called VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser) may be used, but a distribution called a DFB laser (Distributed Feedback Laser) whose output is several mW to several tens mW because of availability. A feedback type semiconductor laser is often used.

しかしながら、このDFBレーザ素子は、出力が小さい素子でも数mW以上の出力を持っており、出力が高いものである。   However, this DFB laser element has an output of several mW or more even with a small output, and the output is high.

レーザクラスは波長によって上限出力が異なり、1400nm以上の波長の光では、レーザ出力は10mW以下であればクラス1に該当するが、1400nm未満の波長の光では、波長により許容出力が異なる。   The laser class has an upper limit output depending on the wavelength, and light having a wavelength of 1400 nm or more corresponds to class 1 if the laser output is 10 mW or less, but light having a wavelength of less than 1400 nm has an allowable output depending on the wavelength.

例えば酸素の吸収波長領域にある波長760〜780nm付近では約0.52mW以下となり、1400nm以上の波長のレーザ光と比べ約20分の1まで出力を下げないとクラス1またはクラス1Mとして取り扱うことができない。このように、1400nm以上か未満かによって同じクラスでも許容出力範囲が大きく異なる。   For example, in the vicinity of a wavelength of 760 to 780 nm in the oxygen absorption wavelength range, it is about 0.52 mW or less, and if the output is not reduced to about 1/20 as compared with a laser beam having a wavelength of 1400 nm or more, it can be handled as class 1 or class 1M. Can not. Thus, the allowable output range varies greatly even in the same class depending on whether it is 1400 nm or more.

レーザ式酸素ガス分析計で使用するDFBレーザ素子はクラス3Bに相当するため、直接ビーム内観察をすると危険である。DFBレーザ素子の出力は通常数mW〜数十mWであるが、本願発明者は、酸素の吸収波長領域の760から780nmの間で、この出力をDFBレーザ素子の能力よりも小さい0.52mW以下にし、より安全かつ使い勝手のよい分析計にするという考えのもと鋭意研究を行い、本発明を着想するに到った。   Since the DFB laser element used in the laser oxygen gas analyzer corresponds to class 3B, it is dangerous to perform direct in-beam observation. The output of the DFB laser element is usually several mW to several tens mW, but the inventor of the present application has a power of 0.52 mW or less, which is smaller than the capability of the DFB laser element, between 760 and 780 nm in the oxygen absorption wavelength region. Based on the idea of making the analyzer more safe and easy to use, the present inventors have come up with the idea of the present invention.

本発明は上記の問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、酸素ガスの吸収波長領域にある波長でクラス3B相当のレーザ出力となるDFBレーザ素子からのレーザ光に対し、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力となるように調整した検出光として検出空間へ出射し、利用者に対して安全かつ利便性を向上させたレーザ式酸素ガス分析計を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and its object is to class 1 or to a laser beam from a DFB laser element having a laser output equivalent to class 3B at a wavelength in the absorption wavelength region of oxygen gas. An object of the present invention is to provide a laser-type oxygen gas analyzer that emits detection light adjusted to have a class 1M laser output to a detection space and is improved in safety and convenience for the user.

本発明の請求項1に係るレーザ式酸素ガス分析計は、
酸素ガスの吸収波長領域にある波長でクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を出射するレーザ光源部、および、このレーザ光源部からのレーザ光をコリメートして検出光を出射するコリメートレンズを含む発光側光学部を有する発光部と、
測定対象である酸素ガスが存在する空間を介して伝播された検出光を受光する受光部と、
を備えるレーザ式酸素ガス分析計であって、
前記発光側光学部は、クラス3Bのレーザ出力のレーザ光をクラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱めた検出光として出射する機能を有することを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計とした。
A laser type oxygen gas analyzer according to claim 1 of the present invention includes:
A light emitting side including a laser light source unit that emits laser light of class 3B laser output at a wavelength in the absorption wavelength region of oxygen gas, and a collimating lens that collimates the laser light from the laser light source unit and emits detection light A light emitting part having an optical part;
A light receiving unit that receives detection light propagated through a space where oxygen gas to be measured exists,
A laser oxygen gas analyzer comprising:
The light emitting side optical unit has a function of emitting laser light of class 3B laser output as detection light weakened corresponding to laser output of class 1 or class 1M.

また、本発明の請求項2に係るレーザ式酸素ガス分析計は、
請求項1に記載のレーザ式酸素ガス分析計において、
前記発光側光学部に含まれるコリメートレンズまたは他の光学素子の表面であってレーザ光の通過面の略中央に配置されてレーザ光を吸収する光路内吸光部を設けることを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計とした。
Further, a laser type oxygen gas analyzer according to claim 2 of the present invention provides:
The laser oxygen gas analyzer according to claim 1,
A laser-type light-absorbing portion that is disposed on the surface of a collimating lens or other optical element included in the light-emitting side optical portion and is substantially at the center of the laser light passage surface to absorb the laser light. An oxygen gas analyzer was used.

また、本発明の請求項3に係るレーザ式酸素ガス分析計は、
請求項2に記載のレーザ式酸素ガス分析計において、
前記レーザ光源部から円錐状に放射されて到達するレーザ光の一部が前記発光側光学部を透過するように前記レーザ光源部と前記発光側光学部を焦点距離よりも離して配置し、出力を弱めた検出光として出射することを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計とした。
A laser oxygen gas analyzer according to claim 3 of the present invention is
In the laser type oxygen gas analyzer according to claim 2,
The laser light source unit and the light emitting side optical unit are arranged apart from the focal length so that a part of the laser light radiated from the laser light source unit and reaches the light transmitting side optical unit is transmitted through the light emitting side optical unit. The laser oxygen gas analyzer is characterized in that it emits as weakened detection light.

また、本発明の請求項4に係るレーザ式酸素ガス分析計は、
請求項3に記載のレーザ式酸素ガス分析計において、
前記発光側光学部の周囲に設けられ、前記発光側光学部の外側に入射するレーザ光を吸収する光路外吸光部を設けることを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計とした。
A laser type oxygen gas analyzer according to claim 4 of the present invention includes:
In the laser type oxygen gas analyzer according to claim 3,
A laser-type oxygen gas analyzer is provided, which is provided around the light-emitting side optical unit and includes an off-optical path absorption unit that absorbs laser light incident on the outside of the light-emitting side optical unit.

本発明によれば、酸素ガスの吸収波長領域にある波長でクラス3B相当のレーザ出力となるDFBレーザ素子からのレーザ光に対し、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力となるように調整した検出光として検出空間へ出射し、利用者に対して安全かつ利便性を向上させたレーザ式酸素ガス分析計を提供することができる。   According to the present invention, detection light adjusted to have a laser output of class 1 or class 1M with respect to laser light from a DFB laser element having a laser output equivalent to class 3B at a wavelength in the absorption wavelength region of oxygen gas. As described above, it is possible to provide a laser-type oxygen gas analyzer that is emitted to the detection space and has improved safety and convenience for the user.

本発明の第1の実施の形態のレーザ式酸素ガス分析計の構成図である。It is a block diagram of the laser type oxygen gas analyzer of the 1st Embodiment of this invention. レーザ光源部の構成図である。It is a block diagram of a laser light source part. レーザ素子の波長走査駆動信号発生部の出力波形を示す図である。It is a figure which shows the output waveform of the wavelength scanning drive signal generation part of a laser element. 本発明の第1の実施の形態の動作を説明するための、レーザ素子の走査波形、Oガスの吸収波形および同期検波部の出力波形を示す図である。For explaining the operation of the first embodiment of the present invention, it is a diagram showing a scanning waveform, absorption and output waveforms of the synchronous detector of the O 2 gas laser device. 受光素子および信号処理部の構成図である。It is a block diagram of a light receiving element and a signal processing part. 周波数変調方式の原理図である。It is a principle diagram of a frequency modulation system. 温度によるレーザ素子の発光波長の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the light emission wavelength of the laser element by temperature. ドライブ電流によるレーザ素子の発光波長の変化を示す図である。It is a figure which shows the change of the light emission wavelength of the laser element by a drive current. 通常構成のレーザ素子とコリメートレンズの説明図である。It is explanatory drawing of the laser element and collimating lens of a normal structure. クラス3BのDFBレーザ素子とコリメートレンズを用いてクラス1またはクラス1Mの発光部とする第1の実施の形態の説明図である。It is explanatory drawing of 1st Embodiment made into the light emission part of a class 1 or a class 1M using a class 3B DFB laser element and a collimating lens. クラス3BのDFBレーザ素子とコリメートレンズを用いてクラス1またはクラス1Mの発光部とする第2の実施の形態の説明図である。It is explanatory drawing of 2nd Embodiment made into the light emission part of a class 1 or a class 1M using a class 3B DFB laser element and a collimating lens. クラス3BのDFBレーザ素子とコリメートレンズを用いてクラス1またはクラス1Mの発光部とする第3の実施の形態の説明図である。It is explanatory drawing of 3rd Embodiment made into the light emission part of a class 1 or a class 1M using a class 3B DFB laser element and a collimating lens. クラス3BのDFBレーザ素子とコリメートレンズを用いてクラス1またはクラス1Mの発光部とする第4の実施の形態の説明図である。It is explanatory drawing of 4th Embodiment made into the light emission part of a class 1 or a class 1M using a class 3B DFB laser element and a collimating lens. ガスの吸収スペクトラム特性図である。It is an absorption spectrum characteristic view of O 2 gas.

本発明を実施するための第1の形態に係るレーザ式酸素ガス分析計について図を参照しつつ以下に説明する。図1は、本形態のレーザ式酸素ガス分析計1の構成図である。レーザ式酸素ガス分析計1は、発光部100、受光部200、発光部側パージ部300、受光部側パージ部400を備えている。   A laser oxygen gas analyzer according to a first embodiment for carrying out the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of a laser oxygen gas analyzer 1 of the present embodiment. The laser oxygen gas analyzer 1 includes a light emitting unit 100, a light receiving unit 200, a light emitting unit side purge unit 300, and a light receiving unit side purge unit 400.

発光部100は、さらにレーザ光源部101、コリメートレンズ102、ボックスカバー103を備える。
受光部200は、集光レンズ201、受光素子202、信号処理部203、ボックスカバー204を備える。
The light emitting unit 100 further includes a laser light source unit 101, a collimating lens 102, and a box cover 103.
The light receiving unit 200 includes a condenser lens 201, a light receiving element 202, a signal processing unit 203, and a box cover 204.

発光部側パージ部300は、パージ部本体301、流入口302、流出口303を備える。
受光部側パージ部400は、パージ部本体401、流入口402、流出口403を備える。
The light emission unit side purge unit 300 includes a purge unit main body 301, an inlet 302, and an outlet 303.
The light receiving unit side purge unit 400 includes a purge unit main body 401, an inflow port 402, and an outflow port 403.

本形態のレーザ式酸素ガス分析計では、具体例として、酸素ガスを含む測定対象ガスが内部を通過する煙道などの配管に固定されているものとして説明する。測定対象ガスは例えば燃焼時に発生する排ガスなどである。
壁501a,501bは、この配管の壁である。相フランジ502a,502bは、この壁501a,501bに、例えば、溶接等によって固定されている。
In the laser-type oxygen gas analyzer of this embodiment, a specific example will be described on the assumption that a measurement target gas containing oxygen gas is fixed to a pipe such as a flue that passes through the inside. The measurement target gas is, for example, exhaust gas generated during combustion.
The walls 501a and 501b are walls of this pipe. The phase flanges 502a and 502b are fixed to the walls 501a and 501b by, for example, welding.

一方の相フランジ502aには、図示しない角度調整機構部を含む発光部側パージ部300のパージ部本体301が取り付けられている。このパージ部本体301には、発光部100のボックスカバー103が取り付けられている。ボックスカバー103は後に詳述する電子基板や光学部品を内蔵している。発光部側パージ部300の内部通路と、相フランジ502aの内部通路が連通しており、さらに配管内と連通している。ボックスカバー103とパージ部本体301の内部通路とは、図示しないウィンドウによって空間が隔てられている。   A purge unit main body 301 of a light emitting unit side purge unit 300 including an angle adjustment mechanism unit (not shown) is attached to one phase flange 502a. A box cover 103 of the light emitting unit 100 is attached to the purge unit main body 301. The box cover 103 incorporates an electronic board and optical components that will be described in detail later. The internal passage of the light emitting unit side purge unit 300 communicates with the internal passage of the companion flange 502a, and further communicates with the inside of the pipe. The space between the box cover 103 and the internal passage of the purge unit main body 301 is separated by a window (not shown).

他方の相フランジ502bには、図示しない角度調整機構部を含む受光部側パージ部400のパージ部本体401が取り付けられている。このパージ部本体401には、受光部200のボックスカバー204が取り付けられている。ボックスカバー204も後に詳述する電子基板や光学部品を内蔵している。受光部側パージ部400の内部通路と、相フランジ502bの内部通路が連通しており、さらに配管内と連通している。ボックスカバー204とパージ部本体401の内部通路とは、図示しないウィンドウによって空間が隔てられている。   A purge unit main body 401 of the light receiving unit side purge unit 400 including an angle adjustment mechanism unit (not shown) is attached to the other phase flange 502b. A box cover 204 of the light receiving unit 200 is attached to the purge unit main body 401. The box cover 204 also incorporates an electronic board and optical components that will be described in detail later. The internal passage of the light receiving unit side purge unit 400 communicates with the internal passage of the phase flange 502b, and further communicates with the inside of the pipe. The box cover 204 and the internal passage of the purge unit main body 401 are separated by a window (not shown).

発光部100のボックスカバー103は電子基板に搭載されるレーザ光源部101、光学部品であるコリメートレンズ102を内蔵する。レーザ光源部101はDFBレーザ素子を内蔵する。レーザ光源部101から出射したレーザ光は、コリメートレンズ102を含む発光側光学部によって平行光にコリメートされる。さらにコリメートレンズ102を含む発光側光学部は、酸素の吸収波長領域の760から780nmの間で、クラス3Bのレーザ出力のレーザ光を、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱める。この発光側光学部の詳細については後に図を用いて別途詳述する。コリメートされた検出光600は、発光部側パージ部300の内部通路の中心と相フランジ502aの内部通路の中心を通って壁501a,501bの内部(煙道内部)へ入射される。   A box cover 103 of the light emitting unit 100 includes a laser light source unit 101 mounted on an electronic substrate and a collimating lens 102 which is an optical component. The laser light source unit 101 incorporates a DFB laser element. Laser light emitted from the laser light source unit 101 is collimated into parallel light by the light-emitting side optical unit including the collimating lens 102. Further, the light-emitting side optical unit including the collimating lens 102 weakens the laser light of the class 3B laser output corresponding to the laser output of the class 1 or class 1M in the oxygen absorption wavelength region between 760 and 780 nm. Details of the light emitting side optical unit will be described later in detail with reference to the drawings. The collimated detection light 600 is incident on the inside of the walls 501a and 501b (inside the flue) through the center of the internal passage of the light emitting unit side purge unit 300 and the center of the internal passage of the companion flange 502a.

この検出光600は、壁501a,501bの内部にある測定対象ガス中の酸素ガスを透過する際に吸収される。また、相フランジ502a,502bの内部、発光部側パージ部300の内部通路、受光部側パージ部400の内部通路に測定対象である酸素ガスが存在する際にも同様に吸収される。   The detection light 600 is absorbed when the oxygen gas in the measurement object gas inside the walls 501a and 501b is transmitted. Further, when oxygen gas to be measured is present in the interior of the companion flanges 502 a and 502 b, the internal passage of the light emitting unit side purge unit 300, and the internal passage of the light receiving unit side purge unit 400, it is similarly absorbed.

煙道内部を通過したほぼ平行光である検出光600は、受光部200へ入射される。受光部200のボックスカバー204は光学部品である集光レンズ201、電子基板に搭載される受光素子202や信号処理部203を内蔵する。壁501a,501bの内部(煙道内部)を透過した平行光である検出光600は、相フランジ502bの内部通路と受光部側パージ部400の内部通路との中心を通ってボックスカバー204内部の集光レンズ201により集光されて受光素子202により受光される。この光は、受光素子202により電気信号に変換され、後段の信号処理部203に入力される。   Detection light 600 that is substantially parallel light that has passed through the interior of the flue enters the light receiving unit 200. The box cover 204 of the light receiving unit 200 includes a condenser lens 201 that is an optical component, a light receiving element 202 mounted on an electronic substrate, and a signal processing unit 203. The detection light 600, which is parallel light transmitted through the walls 501a and 501b (inside the flue), passes through the center of the internal passage of the companion flange 502b and the internal passage of the light-receiving unit-side purge unit 400, and the inside of the box cover 204. The light is condensed by the condenser lens 201 and received by the light receiving element 202. This light is converted into an electrical signal by the light receiving element 202 and input to the signal processing unit 203 at the subsequent stage.

この際、測定対象ガスによる熱や腐食、汚れを防ぐため、発光部側パージ部300には流入口302からパージ部本体301内へパージガスが流入し、発光部側パージ部300の内部通路をパージし、また流出口303を通過して相フランジ502aの内部通路をパージする。このパージの後に壁501a,501bの内部(煙道内部)へパージガスが排出される。同様に受光部側パージ部400には流入口402からパージ部本体401内部へパージガスが流入し、受光部側パージ部400の内部通路をパージし、また流出口403を通過して相フランジ502bの内部通路をパージする。このパージの後に壁501a,501bの内部(煙道内部)へパージガスが排出される。   At this time, in order to prevent heat, corrosion, and contamination due to the measurement target gas, purge gas flows into the light emission unit side purge unit 300 from the inlet 302 into the purge unit main body 301 and purges the internal passage of the light emission unit side purge unit 300. In addition, the internal passage of the companion flange 502a is purged through the outlet 303. After this purging, the purge gas is discharged into the walls 501a and 501b (inside the flue). Similarly, purge gas flows into the light receiving unit side purge unit 400 from the inlet 402 into the purge unit main body 401, purges the internal passage of the light receiving unit side purge unit 400, and passes through the outlet 403 to the phase flange 502 b. Purge the internal passage. After this purging, the purge gas is discharged into the walls 501a and 501b (inside the flue).

このパージガスにより、測定対象ガスに含まれて各部に付着した煤塵等を吹き飛ばし、発光部100および受光部200の図示しないウィンドウ表面を清浄に保っている。また、パージ用に流入するパージガスが常温(例えば25℃)であり、パージ部本体301、401内、相フランジ502a、502bの内部を強制的に冷却している。   This purge gas blows away dust and the like that are included in the measurement target gas and adhere to each part, and keeps the window surfaces (not shown) of the light emitting unit 100 and the light receiving unit 200 clean. Further, the purge gas flowing in for purging is at a normal temperature (for example, 25 ° C.), and the inside of the purge unit main bodies 301 and 401 and the inside of the phase flanges 502a and 502b are forcibly cooled.

このパージガスとしては計装窒素が望ましい。この理由であるが、仮に計装空気を使用するとなると、計装空気には酸素ガスが含まれており、煙道の酸素ガスの分析ではこのパージガス中の酸素ガスによる影響を受けるためである。パージガスに窒素ガスを使えば、測定対象である酸素ガスの酸素濃度に影響を与えることはない。計装窒素の利用は設備コストや運用コストを要するが、それでも製鉄所や鉄鋼所のような火災・爆発の危険性がある場所では採用されている。   As this purge gas, instrumentation nitrogen is desirable. For this reason, if instrument air is used, the instrument air contains oxygen gas, and the analysis of the oxygen gas in the flue is affected by the oxygen gas in the purge gas. If nitrogen gas is used as the purge gas, the oxygen concentration of the oxygen gas to be measured is not affected. The use of instrumentation nitrogen requires equipment and operating costs, but it is still used in places where there is a risk of fire and explosion, such as steelworks and steelworks.

また、パージガスとして圧縮空気である計装空気の使用も可能である。一般的な焼却炉では計装空気を使用している。計装空気には通常では約20.6vol%の酸素が含まれている。レーザ式酸素ガス分析計は、パージガスとして計測空気を使用する場合にこの約20.6vol%の酸素の影響を受ける。空気を使用した場合、空気中の酸素ガスは測定対象である酸素ガスに対して影響がないようにする必要がある。この影響を回避するため計装空気に含まれる酸素ガスの酸素量を求め、予めオフセットとして濃度換算して測定するようにしても良い。   In addition, instrument air, which is compressed air, can be used as the purge gas. Instrument air is used in general incinerators. Instrument air typically contains about 20.6 vol% oxygen. The laser oxygen gas analyzer is affected by the oxygen of about 20.6 vol% when measuring air is used as the purge gas. When air is used, it is necessary that the oxygen gas in the air has no influence on the oxygen gas to be measured. In order to avoid this influence, the oxygen amount of the oxygen gas contained in the instrument air may be obtained, and the concentration may be converted and measured in advance as an offset.

次に、発光部100、および、受光部200の詳細構成について説明する。まず、発光部100について図2,図3を参照しつつ詳細に説明する。図2はレーザ光源部101の詳細を示している。このレーザ光源部101は、波長走査駆動信号発生部101aと、高周波変調信号発生部101bと、を有するレーザ駆動信号発生部101sを備える。   Next, detailed configurations of the light emitting unit 100 and the light receiving unit 200 will be described. First, the light emitting unit 100 will be described in detail with reference to FIGS. FIG. 2 shows details of the laser light source unit 101. The laser light source unit 101 includes a laser drive signal generation unit 101s having a wavelength scanning drive signal generation unit 101a and a high frequency modulation signal generation unit 101b.

波長走査駆動信号発生部101aは、測定対象である酸素ガスの吸収波長を走査するようにレーザ素子の発光波長を可変とするための波長走査駆動信号を出力する。   The wavelength scanning drive signal generator 101a outputs a wavelength scanning drive signal for making the emission wavelength of the laser element variable so as to scan the absorption wavelength of the oxygen gas to be measured.

高周波変調信号発生部101bは、測定対象である酸素ガスの吸収波長を検出するために、例えば10kHz程度の正弦波で波長を周波数変調するための高周波変調信号を出力する。   The high-frequency modulation signal generation unit 101b outputs a high-frequency modulation signal for frequency-modulating the wavelength with a sine wave of about 10 kHz, for example, in order to detect the absorption wavelength of the oxygen gas to be measured.

このような波長走査駆動信号発生部101aから出力される波長走査駆動信号に対し、高周波変調信号発生部101bからの高周波変調信号を合成して周波数変調を行いレーザ駆動信号が生成される。レーザ駆動信号発生部101sから出力されたレーザ駆動信号は電流制御部101cにより電流に変換され、半導体レーザからなるレーザ素子101eに供給される。このレーザ素子101eは、詳しくは上記のように、DFBレーザ素子である。   The laser scanning signal is generated by synthesizing the high frequency modulation signal from the high frequency modulation signal generating unit 101b with the wavelength scanning driving signal output from the wavelength scanning driving signal generating unit 101a and performing frequency modulation. The laser drive signal output from the laser drive signal generation unit 101s is converted into a current by the current control unit 101c and supplied to the laser element 101e made of a semiconductor laser. Specifically, the laser element 101e is a DFB laser element as described above.

また、レーザ素子101eには温度安定化手段が設けられている。この温度安定化手段は、温度制御部101d、サーミスタ101f、ペルチェ素子101gを備える。レーザ素子101eに近接して温度検出素子としてのサーミスタ101fが配置され、このサーミスタ101fにはペルチェ素子101gが近接して配置されている。このペルチェ素子101gは、サーミスタ101fの抵抗値が一定値になるようにするため、温度制御部101dによってPID(比例・積分・微分)制御が行われ、結果としてレーザ素子101eの温度を安定化するように動作させるものである。   The laser element 101e is provided with a temperature stabilizing means. This temperature stabilization means includes a temperature control unit 101d, a thermistor 101f, and a Peltier element 101g. A thermistor 101f as a temperature detecting element is disposed in the vicinity of the laser element 101e, and a Peltier element 101g is disposed in the vicinity of the thermistor 101f. The Peltier element 101g is subjected to PID (proportional / integral / differential) control by the temperature control unit 101d so that the resistance value of the thermistor 101f becomes a constant value, and as a result, the temperature of the laser element 101e is stabilized. It is what makes it operate.

ここで、波長走査駆動信号発生部101aから出力される波長走査駆動信号は、図3に示すように、可変駆動信号S1およびオフセット信号S2により、ほぼ台形波状の単位波形となり、このような単位波形が一定周期で繰り返される信号である。   Here, as shown in FIG. 3, the wavelength scanning drive signal output from the wavelength scanning drive signal generation unit 101a becomes a substantially trapezoidal unit waveform due to the variable drive signal S1 and the offset signal S2. Is a signal repeated at a constant period.

波長走査駆動信号の可変駆動信号S1は、吸収波長を走査する信号であり、電流制御部101cを介してレーザ素子101eに供給される電流の大きさを直線的に変える部分である。この信号S1によってレーザ素子101eの発光波長を徐々にずらしていき、吸収波長を走査する信号である。信号S1の傾き、すなわち、供給電流の変化量によって、発光波長をサブnm〜数nmの範囲で走査可能である。例えば酸素ガスであれば、0.02nm程度の線幅を走査可能とする部分である。   The variable drive signal S1 of the wavelength scanning drive signal is a signal for scanning the absorption wavelength, and is a part that linearly changes the magnitude of the current supplied to the laser element 101e via the current control unit 101c. This signal S1 is a signal for scanning the absorption wavelength by gradually shifting the emission wavelength of the laser element 101e. The emission wavelength can be scanned in the sub-nm to several nm range according to the slope of the signal S1, that is, the amount of change in the supply current. For example, in the case of oxygen gas, it is a portion that can scan a line width of about 0.02 nm.

波長走査駆動信号のオフセット信号S2は、吸収波長は走査しないがレーザ素子101eは発光させておくオフセット部分であり、光源部101のレーザ素子101eの発光が安定するスレッショルド電流値以上の値を光源部101のレーザ素子101eに供給するように設定する。信号S1と信号S2とは交互に切り替わるように挿入されている。
信号S3は駆動電流をほぼ0にした部分である。
The offset signal S2 of the wavelength scanning drive signal is an offset portion that does not scan the absorption wavelength but causes the laser element 101e to emit light, and has a value equal to or greater than a threshold current value at which the light emission of the laser element 101e of the light source unit 101 is stabilized. 101 is set to be supplied to the laser element 101e. The signal S1 and the signal S2 are inserted so as to be switched alternately.
The signal S3 is a portion where the drive current is almost zero.

続いて発光部100による発光を説明する。
まず、事前に、レーザ素子101eの温度をサーミスタ101fにより検出する。さらに、図3に示した波長走査駆動信号のS1の中心部分で測定対象である酸素ガスを測定できるように(所定の吸収特性が得られるように)、温度制御部101dによりペルチェ素子101gの通電を制御してレーザ素子101eの温度を調整する。その後にレーザ素子101eを駆動し、測定対象である酸素ガスが存在する壁501a,501bの内部空間にレーザ光を出射し、集光した光を受光部200へ入射させる。
Next, light emission by the light emitting unit 100 will be described.
First, the temperature of the laser element 101e is detected in advance by the thermistor 101f. Further, the temperature control unit 101d energizes the Peltier element 101g so that the measurement target oxygen gas can be measured at the central portion of S1 of the wavelength scanning drive signal shown in FIG. 3 (so that a predetermined absorption characteristic can be obtained). To adjust the temperature of the laser element 101e. Thereafter, the laser element 101e is driven to emit laser light into the internal space of the walls 501a and 501b where the oxygen gas to be measured is present, and the condensed light is incident on the light receiving unit 200.

図4は酸素ガスを検出する際のレーザ素子の駆動信号を示している。レーザ素子駆動信号生成部101sが出力する信号を説明するための図であり、高周波変調信号の周波数を10kHz,波長走査駆動信号の周波数を50Hzとしてあり、λはオフセットに相当する波長、λ,λは酸素ガス(Oガス)の吸収波長に相当する走査波長の上下限値、λは吸収波形のピークの波長を示している。 FIG. 4 shows a drive signal for the laser element when oxygen gas is detected. It is a figure for demonstrating the signal which the laser element drive signal production | generation part 101s outputs, the frequency of a high frequency modulation signal is 10 kHz, the frequency of a wavelength scanning drive signal is 50 Hz, (lambda) 1 is a wavelength equivalent to an offset, (lambda) 2 , Λ 4 is the upper and lower limit values of the scanning wavelength corresponding to the absorption wavelength of oxygen gas (O 2 gas), and λ 3 is the wavelength of the peak of the absorption waveform.

レーザ素子101eがこのように波長λからλまで変化するレーザ光をコリメートレンズ102へ照射して平行光である検出光600を生成し、酸素ガスを含む測定対象ガスが存在する壁501a,501bの内部空間にこの検出光600を出射し、集光した光を受光素子202へ入射させる。 The laser element 101e irradiates the collimating lens 102 with the laser light changing from the wavelength λ 2 to λ 4 in this way to generate the detection light 600 that is parallel light, and the wall 501a on which the measurement target gas containing oxygen gas is present. The detection light 600 is emitted into the internal space 501 b and the collected light is incident on the light receiving element 202.

続いて受光部200について説明する。図5は、受光素子202、信号処理部203の構成を示している。信号処理部203はさらにI/V変換部203a、同期検波部203b、発振器203c、フィルタ203d、演算部203eを備えている。   Next, the light receiving unit 200 will be described. FIG. 5 shows the configuration of the light receiving element 202 and the signal processing unit 203. The signal processing unit 203 further includes an I / V conversion unit 203a, a synchronous detection unit 203b, an oscillator 203c, a filter 203d, and a calculation unit 203e.

受光素子202は例えばフォトダイオードによって構成されており、発光部100のレーザ素子101eの発光波長に感度を持つ受光素子が使用される。この受光素子202の出力電流はI/V変換部203aへ入力される。I/V変換部203aにより受光素子202の出力電流が電圧に変換される。I/V変換部203aの出力信号は、同期検波部203bに入力される。同期検波部203bには、発信器203cからの2f信号が加えられ、出射光の変調信号の2倍周波数成分の振幅のみを抽出した出力波形信号が得られる。同期検波部203bの出力波形信号は、ノイズ除去用のフィルタ203dを介してCPU等の演算部203eに送られる。演算部203eは後述する各種の処理により酸素ガスの有無の検出や酸素ガスのガス濃度の算出を行う。   The light receiving element 202 is configured by a photodiode, for example, and a light receiving element having sensitivity to the light emission wavelength of the laser element 101e of the light emitting unit 100 is used. The output current of the light receiving element 202 is input to the I / V conversion unit 203a. The output current of the light receiving element 202 is converted into a voltage by the I / V conversion unit 203a. The output signal of the I / V conversion unit 203a is input to the synchronous detection unit 203b. The 2f signal from the transmitter 203c is added to the synchronous detector 203b, and an output waveform signal obtained by extracting only the amplitude of the double frequency component of the modulated signal of the emitted light is obtained. The output waveform signal of the synchronous detection unit 203b is sent to a calculation unit 203e such as a CPU via a noise removal filter 203d. The calculation unit 203e detects the presence or absence of oxygen gas and calculates the gas concentration of oxygen gas by various processes described below.

ここで周波数変調方式のレーザ式酸素ガス分析計の計測原理について、図6のレーザ式酸素ガス分析計の波長変調方式の原理図を参照しつつ説明する。図14の酸素ガスの吸収スペクトラムに示すように、この酸素ガスの吸収線は線状のスペクトラムで表わされるため、周波数変調方式による濃度検出が可能である。そして、この周波数変調方式のレーザ式酸素ガス分析計では、中心波長f、変調周波数fで半導体レーザ素子の出射光を周波数変調し、測定対象である酸素ガスに照射する。ここで、周波数変調とは、レーザ素子101eに供給するドライブ電流の波形を正弦波状に変調することである。 Here, the measurement principle of the frequency modulation type laser oxygen gas analyzer will be described with reference to the principle diagram of the wavelength modulation type of the laser type oxygen gas analyzer of FIG. As shown in the absorption spectrum of oxygen gas in FIG. 14, the oxygen gas absorption line is represented by a linear spectrum, so that concentration detection by a frequency modulation method is possible. Then, the laser type oxygen gas analyzer of the frequency modulation, the center wavelength f c, the output light of the semiconductor laser element and frequency-modulated at a modulation frequency f m, is irradiated to the oxygen gas to be measured. Here, the frequency modulation is to modulate the waveform of the drive current supplied to the laser element 101e into a sine wave.

この周波数変調方式では、上記のようにDFBレーザ素子を用いて単一波長のレーザ光のみを出射しガス濃度を測定する。この場合、DFBレーザ素子が発光するスペクトラム線幅が測定対象である酸素ガスの吸収線幅よりも小さいため、レーザの発光波長を酸素ガスの吸収波長に合わせる必要がある。そこでDFBレーザ素子の温度制御や電流制御を行って発光波長の制御を行う。   In this frequency modulation method, as described above, only a single wavelength laser beam is emitted using the DFB laser element, and the gas concentration is measured. In this case, since the spectral line width emitted by the DFB laser element is smaller than the absorption line width of the oxygen gas to be measured, it is necessary to match the emission wavelength of the laser with the absorption wavelength of the oxygen gas. Therefore, the emission wavelength is controlled by controlling the temperature and current of the DFB laser element.

DFBレーザ素子は、図7、図8に示すように温度やドライブ電流によって発光波長が変化する。DFBレーザ素子は温度と電流の一定値によって、特定の波長を発光することができるため、予め設定した温度と電流値によって吸収波長にあわせることができる。そして、周波数変調を行うことにより、ドライブ電流の変調に伴って発光波長が変調されることになる。   As shown in FIGS. 7 and 8, the emission wavelength of the DFB laser element varies depending on temperature and drive current. Since the DFB laser element can emit a specific wavelength according to a constant value of temperature and current, it can be adjusted to the absorption wavelength according to a preset temperature and current value. By performing frequency modulation, the emission wavelength is modulated in accordance with the modulation of the drive current.

このように半導体レーザ素子は電流や温度で波長を変えることができるが、その波長範囲は数nmであり、酸素ガスの吸収波長の近傍を発光するDFBレーザ素子を使用する必要がある。このDFBレーザ素子の波長選択性の性質から、図14に示したような全ての吸収線を測定対象にすることができず、測定に使用する吸収線は、比較的吸収強度が大きく、他ガスと吸収が重なり合わない1本または2本である。   As described above, the wavelength of the semiconductor laser element can be changed depending on the current and temperature, but the wavelength range is several nm, and it is necessary to use a DFB laser element that emits light in the vicinity of the absorption wavelength of oxygen gas. Due to the wavelength-selective nature of this DFB laser element, not all absorption lines as shown in FIG. 14 can be measured, and the absorption lines used for the measurement have a relatively large absorption intensity and other gases. And one or two that do not overlap the absorption.

図6に示したように、ガスの1本の吸収線は変調周波数に対してほぼ2次関数となっているので、この吸収線が弁別器の役割を果たし、受光部では変調周波数fの2倍の周波数の信号(2倍波信号)が得られる。ここで、変調周波数fは任意の周波数で良いため、例えば、変調周波数fを数kHz程度に選ぶと、ディジタル信号処理装置(DSP)または汎用のプロセッサを用いて、2倍波信号の抽出等の高度な信号処理を行うことが可能になる。 As shown in FIG. 6, since one of the absorption lines of the gas is almost quadratic function with respect to the modulation frequency, the absorption line plays the role of a discriminator, the light receiving portion of the modulation frequency f m A signal having a double frequency (double wave signal) is obtained. Since the modulation frequency f m good at any frequency, for example, using Selecting a modulation frequency f m to several kHz, a digital signal processing device (DSP) or general-purpose processor, extraction of the second harmonic signal It is possible to perform advanced signal processing such as.

また、受光部によりエンベロープ検波を行えば振幅変調による基本波を推定でき、この基本波の振幅と前記2倍波信号の振幅との比を位相同期させて検出することで、濃度以外に存在する同じ周波数成分の信号に影響されずに酸素ガス濃度に比例した信号を得ることができる。   Further, if the envelope detection is performed by the light receiving unit, the fundamental wave by amplitude modulation can be estimated, and the ratio between the amplitude of the fundamental wave and the amplitude of the second harmonic signal is detected in phase synchronization, so that it exists in addition to the concentration. A signal proportional to the oxygen gas concentration can be obtained without being affected by the signal of the same frequency component.

このような原理のもと、酸素ガスによるレーザ光の吸収が無い場合は、同期検波部203bは2倍波信号を検出しないので、同期検波部203bの出力はほぼ直線となる。   Based on such a principle, when there is no absorption of laser light by oxygen gas, the synchronous detection unit 203b does not detect the second harmonic signal, and therefore the output of the synchronous detection unit 203b is substantially linear.

一方、酸素ガスによるレーザ光の吸収がある場合は、同期検波部203bは、出射光の変調信号の2倍周波数成分の振幅のみが抽出された信号である2倍波信号を検出する。その出力波形は図4の点線の円内に図示された同期検波部203bの出力であるピーク波形の信号強度となる。この信号強度はフィルタ203dによりノイズが除去され、適宜増幅して後段のCPUやDSP等である演算部203eへ出力される。演算部203eは後述する各種の処理により酸素ガスの有無の検出や酸素ガスのガス濃度の算出を行う。   On the other hand, when there is absorption of laser light by oxygen gas, the synchronous detection unit 203b detects a second harmonic signal that is a signal obtained by extracting only the amplitude of the second frequency component of the modulation signal of the emitted light. The output waveform becomes the signal intensity of the peak waveform which is the output of the synchronous detection unit 203b shown in the dotted circle in FIG. This signal intensity is appropriately filtered after noise is removed by the filter 203d and output to the arithmetic unit 203e such as a CPU or DSP in the subsequent stage. The calculation unit 203e detects the presence or absence of oxygen gas and calculates the gas concentration of oxygen gas by various processes described below.

演算部203eは以下のように機能する。まず、この信号強度を用いる酸素ガスの分析原理について説明する。Lambert-Beerの法則により、得られる信号強度は、ガス濃度と、そのガスが存在する距離と、により決定される点について説明する。Lambert-Beerの式を次式の数1に記す。   The calculation unit 203e functions as follows. First, the analysis principle of oxygen gas using this signal intensity will be described. The point that the signal intensity obtained by the Lambert-Beer law is determined by the gas concentration and the distance at which the gas exists will be described. The Lambert-Beer equation is shown in Equation 1 below.

[数1]
I(L)=I(0)・exp[−ks・ns・Ls]
I(L):受光光量 ks:ガス係数
I(0):発光光量 ns:ガス濃度
Ls:煙道またはセル長
[Equation 1]
I (L) = I (0) · exp [−ks · ns · Ls]
I (L): received light quantity ks: gas coefficient
I (0): Light emission quantity ns: Gas concentration
Ls: Flue or cell length

よって、信号強度は受光光量であり、ガス係数ks、ガス濃度ns、煙道の長さLsがパラメータとなる。発光光量I(0)は予め計測の上で登録しておき、ガス係数ksはガス固有の値であり、また、煙道の長さLsは設計により決定される定数である。すなわち、受光光量I(L)が計測できればガス濃度nsが算出される。検出原理はこのようなものである。   Therefore, the signal intensity is the amount of received light, and the gas coefficient ks, gas concentration ns, and flue length Ls are parameters. The emitted light quantity I (0) is registered in advance after measurement, the gas coefficient ks is a value unique to the gas, and the flue length Ls is a constant determined by design. That is, if the amount of received light I (L) can be measured, the gas concentration ns is calculated. The detection principle is like this.

続いて、演算部203eによるガス濃度nsの算出について説明する。まず、この図4の点線の円内のピーク波形が酸素ガスによる吸収を受けた部分のガス吸収波形Aであり、このガス吸収波形Aの最大値または最小値が信号強度に相当する。従って、演算部203eでは、この図4の円内に示される同期検波部203bの出力であるガス吸収波形Aを用いて、信号強度に相当する波形のピーク値を測定するか、ガス吸収波形Aの最大値または最小値の振幅差を測定するか、または、ガス吸収波形Aの一部または全部を積分して、信号強度を算出する。この受光光量である信号強度と上記の数1から酸素ガスのガス濃度nsを算出する。   Next, calculation of the gas concentration ns by the calculation unit 203e will be described. First, the peak waveform in the dotted circle in FIG. 4 is the gas absorption waveform A of the portion that has been absorbed by oxygen gas, and the maximum value or the minimum value of the gas absorption waveform A corresponds to the signal intensity. Therefore, the calculation unit 203e measures the peak value of the waveform corresponding to the signal intensity using the gas absorption waveform A that is the output of the synchronous detection unit 203b shown in the circle of FIG. The signal intensity is calculated by measuring the amplitude difference between the maximum value and the minimum value of the signal or by integrating a part or all of the gas absorption waveform A. The gas concentration ns of the oxygen gas is calculated from the signal intensity that is the amount of received light and the above equation (1).

そして、求めた酸素ガスのガス濃度nsにより濃度分析を行う。また、ガス濃度が所定値より低い場合に酸素ガスがないと判断できる。演算部203eには図示しない変換器が接続されている。この変換器は、演算部203eで算出したガス濃度をガス温度やガス圧力の変化に応じた濃度値に補正する補正部と、補正部で補正した濃度値をディスプレイ表示する表示部と、補正した濃度値をアナログ、ディジタル信号を送信する外部伝送部と、を備えている。補正部で補正された濃度値が表示部でディスプレイ表示がなされる。酸素ガスの検出はこのように行われる。   Then, concentration analysis is performed based on the obtained gas concentration ns of oxygen gas. Further, when the gas concentration is lower than a predetermined value, it can be determined that there is no oxygen gas. A converter (not shown) is connected to the calculation unit 203e. The converter corrects the gas concentration calculated by the calculation unit 203e to a concentration value corresponding to a change in gas temperature or gas pressure, and a display unit that displays the concentration value corrected by the correction unit on the display. And an external transmission unit for transmitting the analog density value and digital signal. The density value corrected by the correction unit is displayed on the display unit. The detection of oxygen gas is performed in this way.

続いて本発明の特徴をなすレーザ出力の調整について説明する。本発明の特徴をなす発光側光学部は、DFBレーザ素子による酸素の吸収波長領域の760から780nmの間でのクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱めた検出光とする。   Next, adjustment of the laser output that characterizes the present invention will be described. The light-emitting side optical unit, which characterizes the present invention, weakens the laser light of the class 3B laser output within the oxygen absorption wavelength range of 760 to 780 nm by the DFB laser element to the equivalent of the laser output of class 1 or class 1M. Detection light.

従来技術では、図9で示すように、通常のレーザ素子101eから発光される光は、コリメートレンズ102によってほぼ平行光となり、装置外であって壁501a,501bの中の煙道内へ照射され、その殆どが受光部200へ到達することになる。   In the prior art, as shown in FIG. 9, the light emitted from the normal laser element 101e is substantially collimated by the collimating lens 102 and is irradiated outside the apparatus into the flue in the walls 501a and 501b. Most of them reach the light receiving unit 200.

また、コリメートレンズ102での反射によりレーザ素子101eへ戻り光として入射した場合に、レーザの発振状態を不安定にしてノイズ源となる。通常数mW〜数十mWと出力が大きいDFBレーザでは、特にノイズが大きくなる。   Further, when the reflected light is incident on the laser element 101e as reflected light by the collimating lens 102, the laser oscillation state becomes unstable and becomes a noise source. Noise is particularly large in a DFB laser having a large output of several mW to several tens of mW.

このように通常数mW〜数十mWのDFBレーザ素子の出力を、酸素ガスの吸収波長領域にある波長ではクラス1やクラス1M相当の0.52mW以下にして発光部100から出射しなくてはならない。   As described above, the output of the DFB laser element of usually several mW to several tens of mW must be emitted from the light emitting unit 100 at 0.52 mW or less corresponding to class 1 or class 1M at a wavelength in the absorption wavelength region of oxygen gas. Don't be.

そこで、本発明の発光側光学部ではレーザ出力をクラス1またはクラス1M相当にまでに下げる発光側光学部を採用する。このような発光側光学部を図10に示す。発光側光学部は、コリメートレンズ102、光路内吸光部104を備える。レーザ素子101eから照射されるレーザ光の強度は中心部分が最も強い正規分布のような形を示す。この際、レーザ出力はレーザ光の広がり角とコリメートレンズ102との焦点距離によって求まるが、通常、コリメートレンズ102の焦点距離付近にレーザ素子101eの発光面を配置し、またレーザ素子101eの全出力が出射されるようにコリメートレンズ102の径の大きさを設定する。   Therefore, the light-emitting side optical unit of the present invention employs a light-emitting side optical unit that lowers the laser output to be equivalent to class 1 or class 1M. Such a light-emitting side optical unit is shown in FIG. The light-emitting side optical unit includes a collimator lens 102 and an in-light absorption unit 104. The intensity of the laser light emitted from the laser element 101e has a shape like a normal distribution with the strongest central portion. At this time, the laser output is obtained by the spread angle of the laser beam and the focal length of the collimating lens 102. Usually, the light emitting surface of the laser element 101e is arranged near the focal length of the collimating lens 102, and all the outputs of the laser element 101e are output. The diameter of the collimating lens 102 is set so that is emitted.

そして、コリメートレンズ102のレンズ面の中心部分に、レーザ光を吸収するシートなどである光路内吸光部104を貼り付けて、特に強度が大きい中心部で吸光し、レーザ出力を低下させる。光路内吸光部104は同波長のレーザ光を約99%吸収し、戻り光も発生させないようにしている。そしてコリメートレンズ102からは断面リング状で光強度が小さいレーザ光が出射される。   Then, an in-optical path light absorbing portion 104 such as a sheet that absorbs laser light is attached to the central portion of the lens surface of the collimating lens 102, and the light is absorbed at the central portion where the intensity is particularly high, thereby reducing the laser output. The in-light absorption section 104 absorbs about 99% of the laser beam having the same wavelength, and does not generate return light. The collimating lens 102 emits laser light having a ring-shaped cross section and low light intensity.

このように光を吸収させることでレーザ出力が低下し、クラス1やクラス1M相当の検出光となって安全な光となっている。   By absorbing the light in this way, the laser output is reduced, and the detection light is equivalent to class 1 or class 1M, and is safe light.

なお、図10ではコリメートレンズ102の下流側(パージ部側)のレンズ面に光路内吸光部104を配置しているが、図示しないがコリメートレンズ102の上流側(レーザ素子側)のレンズ面に光路内吸光部104を配置してもよい。   In FIG. 10, the light path absorption unit 104 is arranged on the lens surface on the downstream side (purge unit side) of the collimating lens 102, but it is not shown on the lens surface on the upstream side (laser element side) of the collimating lens 102. You may arrange | position the light absorption part 104 in an optical path.

続いて本発明の第2の実施の形態のレーザ式酸素ガス分析計について図を参照しつつ説明する。先の第1の実施の形態と比較すると、本形態では、基本的に図1と同じ構成を有するレーザ式酸素ガス分析計であるが、発光側光学部のみが相違する。この発光側光学部でも、DFBレーザ素子による酸素の吸収波長領域の760から780nmの間でのクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱めた検出光とするための光学系を有する。発光側光学部は、図11で示すように、コリメートレンズ102、光路内吸光部104、透明板105を備える。   Next, a laser oxygen gas analyzer according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Compared with the previous first embodiment, this embodiment is basically a laser oxygen gas analyzer having the same configuration as that shown in FIG. 1, but only the emission side optical unit is different. Also in the light-emitting side optical unit, the laser light of the class 3B laser output in the oxygen absorption wavelength region of 760 to 780 nm by the DFB laser element is used as the detection light weakened corresponding to the laser output of class 1 or class 1M. For having an optical system. As shown in FIG. 11, the light-emitting side optical unit includes a collimator lens 102, an optical path light absorption unit 104, and a transparent plate 105.

第1の実施形態では、図10で示すように、コリメートレンズ102のレンズ面に光路内吸光部104を設けていたが、本形態では図11で示すように、コリメートレンズ102に代えて、光学素子である透明板105に光路内吸光部104を形成し、この透明板105をコリメートレンズ102に隣接させて配置する。光路内吸光部104は、特に強度が大きい中心部に位置しており、レーザ出力を低下させる。   In the first embodiment, as shown in FIG. 10, the in-light-absorbing portion 104 is provided on the lens surface of the collimating lens 102, but in this embodiment, as shown in FIG. An in-light-absorbing portion 104 is formed on a transparent plate 105 that is an element, and this transparent plate 105 is disposed adjacent to the collimating lens 102. The in-light-absorbing part 104 is located in the central part where the intensity is particularly high and reduces the laser output.

光路内吸光部104は、同波長の光を約99%吸収するため、クラス1やクラス1M程度の安全な光となっている。そして透明板105からは断面リング状で光強度が小さいレーザ光が出射される。なお、図11ではコリメートレンズ102の下流側(パージ部側)に透明板105を配置しているが、図示しないがコリメートレンズ102の上流側(レーザ素子側)に透明板105と光路内吸光部104を配置してもよい。このようにしても同様の効果を有する。   The in-light-absorbing part 104 absorbs about 99% of the light having the same wavelength, and thus is safe light of class 1 or class 1M. The transparent plate 105 emits laser light having a ring-shaped cross section and low light intensity. In FIG. 11, the transparent plate 105 is disposed on the downstream side (purge portion side) of the collimating lens 102, but although not shown, the transparent plate 105 and the light path absorption portion on the upstream side (laser element side) of the collimating lens 102. 104 may be arranged. This also has the same effect.

続いて本発明の第3の実施の形態のレーザ式酸素ガス分析計について図を参照しつつ説明する。先の第1の実施の形態と比較すると、本形態では、基本的に図1と同じ構成を有するレーザ式酸素ガス分析計であるが、発光側光学部のみが相違する。この発光側光学部でも、DFBレーザ素子による酸素の吸収波長領域の760から780nmの間でのクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱めた検出光とするための光学系を有する。発光側光学部は、図12で示すように、コリメートレンズ102、光路内吸光部104、光路外吸光部106を備える。   Next, a laser oxygen gas analyzer according to a third embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Compared with the previous first embodiment, this embodiment is basically a laser oxygen gas analyzer having the same configuration as that shown in FIG. 1, but only the emission side optical unit is different. Also in the light-emitting side optical unit, the laser light of the class 3B laser output in the oxygen absorption wavelength region of 760 to 780 nm by the DFB laser element is used as the detection light weakened corresponding to the laser output of class 1 or class 1M. For having an optical system. As shown in FIG. 12, the light-emitting side optical unit includes a collimator lens 102, an in-light absorption unit 104, and an out-of-light absorption unit 106.

第1の実施形態では図10で示すように、コリメートレンズ102のレンズ面に、レーザ素子101eからのレーザ光が全て入射するものとしていたが、本形態では図12で示すように、コリメートレンズ102の焦点距離よりも長い所定距離を離れた位置にレーザ素子101eを配置して、コリメートレンズ102へは一部のレーザ光のみが入射するようにしてクラス3B相当のレーザ光のレーザ出力を低下させている。さらに、コリメートレンズ102のレンズ面の中心部分に、レーザ光を吸収するシートなどである光路内吸光部104を貼り付けて強度が大きい中心部で吸収し、やはりレーザ出力を低下させる。光路内吸光部104は同波長の光を約99%吸収するため、クラス1やクラス1M相当となっている。そしてコリメートレンズ102からは断面リング状で光強度が小さいレーザ光が出射される。   In the first embodiment, as shown in FIG. 10, all the laser light from the laser element 101e is incident on the lens surface of the collimating lens 102. However, in this embodiment, as shown in FIG. The laser element 101e is disposed at a position separated by a predetermined distance longer than the focal length of the laser beam so that only a part of the laser beam is incident on the collimating lens 102, thereby reducing the laser output of the laser beam equivalent to class 3B. ing. Further, an optical path light absorbing portion 104 such as a sheet that absorbs laser light is attached to the central portion of the lens surface of the collimating lens 102 and absorbed at the central portion having a high intensity, and the laser output is also lowered. The in-light-absorbing part 104 absorbs about 99% of the light having the same wavelength, and therefore corresponds to class 1 or class 1M. The collimating lens 102 emits laser light having a ring-shaped cross section and low light intensity.

また、ボックスカバー103の内側であって特にコリメートレンズ102の周辺に、レーザ光を吸収するシートなどである光路外吸光部106を貼り付けて反射光を少なくしている。更に、レーザ素子101eとコリメートレンズ102との焦点距離をずらすことにより、コリメートするレーザ出力を低下させている。したがって、レーザ素子101eから出射してコリメートレンズ102の外側に到達した光は、この光路外吸光部106が吸収して光が反射しない。これら光路内吸光部104や光路外吸光部106のため、戻り光によるレーザ素子の発振への影響を低減させている。   Further, an off-optical path light absorption unit 106 such as a sheet that absorbs laser light is attached inside the box cover 103 and particularly around the collimating lens 102 to reduce reflected light. Further, by shifting the focal length between the laser element 101e and the collimating lens 102, the collimating laser output is reduced. Therefore, the light emitted from the laser element 101e and reaching the outside of the collimating lens 102 is absorbed by the off-light-absorbing unit 106 and is not reflected. Because of the in-light absorption part 104 and the out-of-light absorption part 106, the influence of the return light on the oscillation of the laser element is reduced.

なお、図12ではコリメートレンズ102の下流側(パージ部側)のレンズ面に光路内吸光部104を配置しているが、図示しないがコリメートレンズ102の上流側(レーザ素子側)のレンズ面に光路内吸光部104を配置してもよい。このようにしても同様の効果を有する。   In FIG. 12, the light path absorption unit 104 is disposed on the lens surface on the downstream side (purge unit side) of the collimating lens 102. However, although not shown, the lens surface on the upstream side (laser element side) of the collimating lens 102 is disposed. You may arrange | position the light absorption part 104 in an optical path. This also has the same effect.

続いて本発明の第4の実施の形態のレーザ式酸素ガス分析計について図を参照しつつ説明する。先の第1の実施の形態と比較すると、本形態では、基本的に図1と同じ構成を有するレーザ式酸素ガス分析計であるが、発光側光学部のみが相違する。この発光側光学部でも、DFBレーザ素子による酸素の吸収波長領域の760から780nmの間でのクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を、クラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱めた検出光とするための光学系を有する。発光側光学部は、図13で示すように、コリメートレンズ102、光路内吸光部104、透明板105、光路外吸光部106を備える。   Next, a laser type oxygen gas analyzer according to a fourth embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Compared with the previous first embodiment, this embodiment is basically a laser oxygen gas analyzer having the same configuration as that shown in FIG. 1, but only the emission side optical unit is different. Also in the light-emitting side optical unit, the laser light of the class 3B laser output in the oxygen absorption wavelength region of 760 to 780 nm by the DFB laser element is used as the detection light weakened corresponding to the laser output of class 1 or class 1M. For having an optical system. As shown in FIG. 13, the light-emitting side optical unit includes a collimator lens 102, an optical path light absorption unit 104, a transparent plate 105, and an optical path light absorption unit 106.

第3の実施形態では図12で示すように、ボックスカバー103の内側であってコリメートレンズ102の外側の光路外吸光部106を設けていたが、本形態では図13で示すように、ボックスカバー103には吸光部を設けないで、光学素子である透明板105に円状の透明部を残してその他の箇所に光路外吸光部106を形成し、この透明板105をコリメートレンズ102に隣接させて上流側(レーザ素子側)に配置する。透明部を透過したレーザ光はコリメートレンズ102へ入射するが、その他のレーザ光は光路外吸光部106へ到達する。   In the third embodiment, as shown in FIG. 12, the light-absorbing portion 106 outside the optical path is provided inside the box cover 103 and outside the collimating lens 102. However, in this embodiment, as shown in FIG. In FIG. 103, no light absorbing portion is provided, and an optical path light absorbing portion 106 is formed at other locations, leaving a circular transparent portion on the transparent plate 105, which is an optical element, and this transparent plate 105 is adjacent to the collimating lens 102. To the upstream side (laser element side). The laser light that has passed through the transparent part is incident on the collimator lens 102, while the other laser light reaches the off-light-absorbing part 106.

コリメートレンズ102の光路内吸光部104は同波長の光を約99%吸収するため、クラス1やクラス1M相当となっている。コリメートレンズ102からは断面リング状で光強度が小さいレーザ光が出射される。
また、光路外吸光部106も同波長の光を約99%吸収するため、反射を抑える。
The light absorption part 104 in the optical path of the collimator lens 102 absorbs about 99% of light having the same wavelength, and therefore corresponds to class 1 or class 1M. The collimating lens 102 emits laser light having a ring-shaped cross section and low light intensity.
Further, the off-light absorption unit 106 also absorbs about 99% of the light having the same wavelength, thereby suppressing reflection.

なお、図13ではコリメートレンズ102の下流側(パージ部側)のレンズ面に光路内吸光部104を配置しているが、図示しないがコリメートレンズ102の上流側(レーザ素子側)のレンズ面に光路内吸光部104を配置してもよい。   In FIG. 13, the light path absorption unit 104 is arranged on the lens surface on the downstream side (purge unit side) of the collimating lens 102, but not shown on the lens surface on the upstream side (laser element side) of the collimating lens 102. You may arrange | position the light absorption part 104 in an optical path.

また透明板105はその中央でレーザ光を透過させているが、この透過箇所を単なる孔にすれば透明板でなくとも良い。例えば、板状の光路外吸光部に孔が設けられた絞り部のような光学素子としても良い。   Further, the transparent plate 105 transmits laser light at the center thereof, but the transparent plate 105 may not be a transparent plate as long as the transmission portion is made a simple hole. For example, an optical element such as a diaphragm having a hole in a plate-like light path absorption part may be used.

また、本形態でもボックスカバー103の内側に光路外吸光部106を設けても良い。このようにしても同様の効果を有する。   Also in this embodiment, the light-absorbing part 106 outside the optical path may be provided inside the box cover 103. This also has the same effect.

以上、本発明について説明した。本発明では、発光側光学部が、酸素の吸収波長領域の760から780nmの間でのクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を、クラス1またはクラス1M相当にした検出光として出力するものであり、レーザ式酸素ガス分析計をより安全に取り扱うことができるようにした。   The present invention has been described above. In the present invention, the light-emitting side optical unit outputs laser light of class 3B laser output in the oxygen absorption wavelength region between 760 and 780 nm as detection light corresponding to class 1 or class 1M. The laser type oxygen gas analyzer can be handled more safely.

本発明のレーザ式酸素ガス分析計は、ボイラ、ゴミ焼却等の燃焼排ガス測定用として最適である。
その他、鉄鋼用ガス分析[高炉、転炉、熱処理炉、焼結(ペレット設備)、コークス炉]、青果貯蔵及び熟成、生化学(微生物)[発酵]、大気汚染[焼却炉、排煙脱硫・脱硝]、自動車排ガス(除テスタ)、防災[爆発性ガス検知、有毒ガス検知、新建築材燃焼ガス分析]、植物育成用、化学用分析[石油精製プラント、石油化学プラント、ガス発生プラント]、環境用[着地濃度、トンネル内濃度、駐車場、ビル管理]、理化学各種実験用などの分析計としても有用である。
The laser oxygen gas analyzer of the present invention is optimal for measuring combustion exhaust gas such as boilers and garbage incineration.
In addition, gas analysis for steel [blast furnace, converter, heat treatment furnace, sintering (pellet equipment), coke oven], fruit and vegetable storage and ripening, biochemistry (microorganism) [fermentation], air pollution [incinerator, flue gas desulfurization / Denitration], automobile exhaust gas (remove tester), disaster prevention [explosive gas detection, toxic gas detection, new building material combustion gas analysis], plant growth, chemical analysis [oil refinery plant, petrochemical plant, gas generation plant], It is also useful as an analyzer for environmental [landing concentration, tunnel concentration, parking lot, building management], and various physics and chemistry experiments.

1:レーザ式酸素ガス分析計
100:発光部
101:レーザ光源部
101a:波長走査駆動信号発生部
101b:高周波変調信号発生部
101c:電流制御部
101d:温度制御部
101e:レーザ素子
101f:サーミスタ
101g:ペルチェ素子
101s:レーザ駆動信号発生部
102:コリメートレンズ
103:ボックスカバー
104:光路内吸光部
105:透明板
106:光路外吸光部
200:受光部
201:集光レンズ
202:受光素子
203:信号処理部
203a:I/V変換部
203b:同期検波部
203c:発振器
203d:フィルタ
203e:演算部
204:ボックスカバー
300:発光部側パージ部
301:パージ部本体
302:流入口
303:流出口
400:受光部側パージ部
401:パージ部本体
402:流入口
403:流出口
501a,501b:壁
502a,502b:相フランジ
600:検出光
1: Laser oxygen gas analyzer 100: Light emitting unit 101: Laser light source unit 101a: Wavelength scanning drive signal generating unit 101b: High frequency modulation signal generating unit 101c: Current control unit 101d: Temperature control unit 101e: Laser element 101f: Thermistor 101g : Peltier element 101 s: Laser drive signal generator 102: Collimator lens 103: Box cover 104: Intra-optical path absorber 105: Transparent plate 106: Out-optical path absorber 200: Light receiver 201: Condensing lens 202: Light receiver 203: Signal Processing unit 203a: I / V conversion unit 203b: synchronous detection unit 203c: oscillator 203d: filter 203e: calculation unit 204: box cover 300: light emission unit side purge unit 301: purge unit body 302: inlet 303: outlet 400: Light-receiving-unit-side purge unit 401: purge unit body 402: inflow port 4 3: outlet 501a, 501b: walls 502a, 502b: companion flanges 600: the detection light

Claims (4)

酸素ガスの吸収波長領域にある波長でクラス3Bのレーザ出力のレーザ光を出射するレーザ光源部、および、このレーザ光源部からのレーザ光をコリメートして検出光を出射するコリメートレンズを含む発光側光学部を有する発光部と、
測定対象である酸素ガスが存在する空間を介して伝播された検出光を受光する受光部と、
を備えるレーザ式酸素ガス分析計であって、
前記発光側光学部は、クラス3Bのレーザ出力のレーザ光をクラス1またはクラス1Mのレーザ出力相当に弱めた検出光として出射する機能を有することを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計。
A light emitting side including a laser light source unit that emits laser light of class 3B laser output at a wavelength in the absorption wavelength region of oxygen gas, and a collimating lens that collimates the laser light from the laser light source unit and emits detection light A light emitting part having an optical part;
A light receiving unit that receives detection light propagated through a space where oxygen gas to be measured exists,
A laser oxygen gas analyzer comprising:
The light emission side optical unit has a function of emitting laser light of class 3B laser output as detection light weakened corresponding to laser output of class 1 or class 1M.
請求項1に記載のレーザ式酸素ガス分析計において、
前記発光側光学部に含まれるコリメートレンズまたは他の光学素子の表面であってレーザ光の通過面の略中央に配置されてレーザ光を吸収する光路内吸光部を設けることを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計。
The laser oxygen gas analyzer according to claim 1,
A laser-type light-absorbing portion that is disposed on the surface of a collimating lens or other optical element included in the light-emitting side optical portion and is substantially at the center of the laser light passage surface to absorb the laser light. Oxygen gas analyzer.
請求項2に記載のレーザ式酸素ガス分析計において、
前記レーザ光源部から円錐状に放射されて到達するレーザ光の一部が前記発光側光学部を透過するように前記レーザ光源部と前記発光側光学部を焦点距離よりも離して配置し、出力を弱めた検出光として出射することを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計。
In the laser type oxygen gas analyzer according to claim 2,
The laser light source unit and the light emitting side optical unit are arranged apart from the focal length so that a part of the laser light radiated from the laser light source unit and reaches the light transmitting side optical unit is transmitted through the light emitting side optical unit. A laser-type oxygen gas analyzer that emits as a weakened detection light.
請求項3に記載のレーザ式酸素ガス分析計において、
前記発光側光学部の周囲に設けられ、前記発光側光学部の外側に入射するレーザ光を吸収する光路外吸光部を設けることを特徴とするレーザ式酸素ガス分析計。
In the laser type oxygen gas analyzer according to claim 3,
A laser-type oxygen gas analyzer, comprising an off-optical path absorption unit that is provided around the light-emitting side optical unit and absorbs laser light incident on the outside of the light-emitting side optical unit.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2020112428A (en) * 2019-01-11 2020-07-27 横河電機株式会社 Gas analyzer

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