JP2017057193A - Salt, acid generator, resist composition and production method of resist pattern - Google Patents

Salt, acid generator, resist composition and production method of resist pattern Download PDF

Info

Publication number
JP2017057193A
JP2017057193A JP2016163713A JP2016163713A JP2017057193A JP 2017057193 A JP2017057193 A JP 2017057193A JP 2016163713 A JP2016163713 A JP 2016163713A JP 2016163713 A JP2016163713 A JP 2016163713A JP 2017057193 A JP2017057193 A JP 2017057193A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
formula
carbon atoms
hydrocarbon group
structural unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016163713A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6769783B2 (en
Inventor
由香子 安立
Yukako Adachi
由香子 安立
市川 幸司
Koji Ichikawa
幸司 市川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Sumitomo Chemical Co Ltd
Publication of JP2017057193A publication Critical patent/JP2017057193A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6769783B2 publication Critical patent/JP6769783B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Materials For Photolithography (AREA)
  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a salt, an acid generator, a resist composition and the like, from which a resist pattern can be produced with a good focus margin.SOLUTION: The salt is represented by formula (I); and the acid generator and the resist composition comprise the salt. In the formula, Rand Reach independently represent a hydrogen atom, a hydroxy group or a hydrocarbon group; m and n each independently represent 1 or 2; Ar represents an aromatic hydrocarbon group or a hetero aromatic hydrocarbon group which may have a substituent; Arepresents a (1+s)-valent aliphatic saturated hydrocarbon group which may be substituted with a hydroxy group; Rrepresents an alicyclic hydrocarbon group which may be substituted with a hydroxy group, in which two hydrogen atoms included in the alicyclic hydrocarbon group may be each replaced by an oxygen atom and the two oxygen atoms may be integrated together with an alkanediyl group to form a ketal ring which may include a fluorine atom; and s represents an integer of 1 to 3.SELECTED DRAWING: None

Description

本発明は、塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法に関する。   The present invention relates to a salt, an acid generator, a resist composition, and a method for producing a resist pattern.

特許文献1には、下記式で表される塩を酸発生剤として含有するレジスト組成物が記載されている。

Figure 2017057193
特許文献2には、下記式で表される塩を酸発生剤として含有するレジスト組成物が記載されている。
Figure 2017057193
Patent Document 1 describes a resist composition containing a salt represented by the following formula as an acid generator.
Figure 2017057193
Patent Document 2 describes a resist composition containing a salt represented by the following formula as an acid generator.
Figure 2017057193

特開2013−33161号公報JP 2013-33161 A 特開2012−224611号公報JP 2012-224611 A

上記のレジスト組成物から形成されたレジストパターンは、フォーカスマージン(DOF)の点で必ずしも満足できない場合があった。   A resist pattern formed from the above resist composition may not always be satisfactory in terms of focus margin (DOF).

本発明は、以下の発明を含む。
[1]式(I)で表される塩。

Figure 2017057193
[式(I)中、
及びRは、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、該炭化水素基に含まれる−CH−は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
m及びnは、それぞれ独立に、1又は2を表す。mが2のとき、2つのRは同一又は相異なり、nが2のとき、2つのRは同一又は相異なる。
Arは、置換基を有していてもよい炭素数6〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数5〜36のヘテロ芳香族炭化水素基を表す。
は、ヒドロキシ基を有していてもよい炭素数1〜18の(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基を表し、該脂肪族飽和炭化水素基に含まれる−CH−は−O―又は−CO−で置き換わっていてもよい。
は、炭素数5〜18の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基に置換されてもよく、又は該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子2つがそれぞれ酸素原子に置換され、当該2つの酸素原子が炭素数1〜8のアルカンジイル基と一緒になってケタール環を形成してもよく、該ケタール環はフッ素原子を有していてもよく、該脂環式炭化水素基に含まれるーCH−基は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
sは、1〜3の整数を表す。]
[2]Rが、アダマンチル基であり、該アダマンチル基に含まれる水素原子はヒドロキシ基で置換されてもよく、又は該アダマンチル基に含まれる水素原子2つがそれぞれ酸素原子に置換され、当該2つの酸素原子が炭素数1〜8のアルカンジイル基と一緒になってフッ素原子を含んでもよいケタール環を形成してもよく、該アダマンチル基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていてもよい[1]記載の塩。
[3]Arが、置換基を有していてもよいフェニル基である[1]又は[2]記載の塩。
[4]Aが、炭素数2〜5の(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基である[1]〜[3]のいずれかに記載の塩。
[5][1]〜[4]のいずれかに記載の塩を含有する酸発生剤。
[6][5]記載の酸発生剤と酸不安定基を有する構造単位を含む樹脂とを含有するレジスト組成物。
[7]酸発生剤から発生する酸よりも酸性度の弱い塩を含有する[6]に記載のレジスト組成物。
[8]さらに、フッ素原子を有する構造単位を含む樹脂を含有する[6]又は[7]記載のレジスト組成物。
[9](1)[6]〜[8]のいずれかに記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程、を含むレジストパターンの製造方法。 The present invention includes the following inventions.
[1] A salt represented by the formula (I).
Figure 2017057193
[In the formula (I),
R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, a hydroxy group or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and —CH 2 — contained in the hydrocarbon group is —O— or —CO—. It may be replaced.
m and n each independently represents 1 or 2. When m is 2, two R 1 are the same or different, and when n is 2, two R 2 are the same or different.
Ar represents an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms which may have a substituent or a heteroaromatic hydrocarbon group having 5 to 36 carbon atoms which may have a substituent.
A 1 represents a (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms that may have a hydroxy group, and —CH 2 — contained in the aliphatic saturated hydrocarbon group is —O -Or -CO- may be substituted.
R 3 represents an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 18 carbon atoms, and a hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with a hydroxy group, or the alicyclic hydrocarbon group May be substituted with oxygen atoms, and the two oxygen atoms may form a ketal ring together with an alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms, and the ketal ring may contain a fluorine atom. The —CH 2 — group contained in the alicyclic hydrocarbon group may be replaced by —O— or —CO—.
s represents an integer of 1 to 3. ]
[2] R 3 is an adamantyl group, and a hydrogen atom contained in the adamantyl group may be substituted with a hydroxy group, or two hydrogen atoms contained in the adamantyl group are each substituted with an oxygen atom, Two oxygen atoms may form a ketal ring which may contain a fluorine atom together with an alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms, and the methylene group contained in the adamantyl group is replaced by an oxygen atom or a carbonyl group. The salt described in [1].
[3] The salt according to [1] or [2], wherein Ar is a phenyl group which may have a substituent.
[4] The salt according to any one of [1] to [3], wherein A 1 is a (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group having 2 to 5 carbon atoms.
[5] An acid generator containing the salt according to any one of [1] to [4].
[6] A resist composition comprising the acid generator according to [5] and a resin containing a structural unit having an acid labile group.
[7] The resist composition according to [6], which contains a salt having a lower acidity than the acid generated from the acid generator.
[8] The resist composition according to [6] or [7], further comprising a resin containing a structural unit having a fluorine atom.
[9] (1) A step of applying the resist composition according to any one of [6] to [8] on a substrate,
(2) The process of drying the composition after application | coating and forming a composition layer,
(3) a step of exposing the composition layer;
(4) A step of heating the composition layer after exposure, and (5) a step of developing the composition layer after heating.

本発明のレジスト組成物によれば、フォーカスマージン(DOF)が良好なレジストパターンを製造することができる。   According to the resist composition of the present invention, a resist pattern having a good focus margin (DOF) can be produced.

本明細書において「(メタ)アクリレート」とは、それぞれ「アクリレート及びメタクリレートの少なくとも一種」を意味する。「(メタ)アクリル酸」や「(メタ)アクリロイル」等の表記も、同様の意味を有する。
また、特に断りのない限り、「脂肪族炭化水素基」のように直鎖又は分岐状及び環状をとり得る基は、そのいずれをも含む。立体異性体が存在する場合は、全ての立体異性体を包含する。
本明細書において、「レジスト組成物の固形分」とは、レジスト組成物の総量から、後述する溶剤(E)を除いた成分の合計を意味する。
In the present specification, “(meth) acrylate” means “at least one of acrylate and methacrylate”. The notations such as “(meth) acrylic acid” and “(meth) acryloyl” have the same meaning.
In addition, unless otherwise specified, groups such as “aliphatic hydrocarbon group” that can be linear, branched, or cyclic include both. When stereoisomers exist, all stereoisomers are included.
In the present specification, the “solid content of the resist composition” means the total of components excluding the solvent (E) described later from the total amount of the resist composition.

<塩(I)>
本発明の塩は、式(I)で表される塩(以下「塩(I)」という場合がある)である。

Figure 2017057193
[式(I)中、
及びRは、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、該炭化水素基に含まれる−CH−は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
m及びnは、それぞれ独立に、1又は2を表す。mが2のとき、2つのRは同一又は相異なり、nが2のとき、2つのRは同一又は相異なる。
Arは、置換基を有していてもよい炭素数6〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数5〜36のヘテロ芳香族炭化水素基を表す。
は、ヒドロキシ基を有していてもよい炭素数1〜18の(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基を表し、該脂肪族飽和炭化水素基に含まれる−CH−は−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
は、炭素数5〜18の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基に置換されてもよく、又は該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子2つがそれぞれ酸素原子に置換され、当該2つの酸素原子が炭素数1〜8のアルカンジイル基と一緒になってケタール環を形成してもよく、該ケタール環はフッ素原子を有していてもよく、該脂環式炭化水素基に含まれる−CH−基は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
sは、1〜3の整数を表す。] <Salt (I)>
The salt of the present invention is a salt represented by the formula (I) (hereinafter sometimes referred to as “salt (I)”).
Figure 2017057193
[In the formula (I),
R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, a hydroxy group or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and —CH 2 — contained in the hydrocarbon group is —O— or —CO—. It may be replaced.
m and n each independently represents 1 or 2. When m is 2, two R 1 are the same or different, and when n is 2, two R 2 are the same or different.
Ar represents an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms which may have a substituent or a heteroaromatic hydrocarbon group having 5 to 36 carbon atoms which may have a substituent.
A 1 represents a (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms that may have a hydroxy group, and —CH 2 — contained in the aliphatic saturated hydrocarbon group is —O -Or -CO- may be substituted.
R 3 represents an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 18 carbon atoms, and a hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with a hydroxy group, or the alicyclic hydrocarbon group May be substituted with oxygen atoms, and the two oxygen atoms may form a ketal ring together with an alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms, and the ketal ring may contain a fluorine atom. The —CH 2 — group contained in the alicyclic hydrocarbon group may be replaced by —O— or —CO—.
s represents an integer of 1 to 3. ]

以下の説明において、塩(I)のうち、負電荷を有する側を「アニオン(I)」、正電荷を有する側を「カチオン(I)」と称することがある。   In the following description, in the salt (I), the negatively charged side may be referred to as “anion (I)” and the positively charged side may be referred to as “cation (I)”.

1及びR2の炭化水素基としては、アルキル基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基及びこれらを組み合わせることにより形成される基が挙げられる。
アルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基及びドデシル基等が挙げられる。
脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよく、単環式の脂環式炭化水素基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロデシル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、2−アルキルアダマンタン−2−イル基、1−(アダマンタン−1−イル)アルカン−1−イル基、ノルボルニル基、メチルノルボルニル基及びイソボルニル基等が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基等が挙げられる。
これらを組み合わせることにより形成される基としては、アラルキル基(ベンジル基、フェネチル基等)、アルキル−アリール基、シクロヘキシル−アリール基、アリール−シクロヘキシル基等が挙げられる。
炭化水素基に含まれる−CH2−が、−O−又は−CO−に置き換わった基としては、メトキシ基、エトキシ基、ブトキシ基、アセチル基、メトキシカルボニル基、アセチルオキシ基、ブトキシカルボニルオキシ基、ベンゾイルオキシ基等が挙げられる。
Examples of the hydrocarbon group for R 1 and R 2 include an alkyl group, an alicyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, and a group formed by combining these.
As the alkyl group, methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, pentyl group, hexyl group, heptyl group, 2-ethylhexyl group, octyl group , Nonyl group, decyl group, undecyl group, dodecyl group and the like.
The alicyclic hydrocarbon group may be either monocyclic or polycyclic, and the monocyclic alicyclic hydrocarbon group includes a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a methylcyclohexyl group. And cycloalkyl groups such as dimethylcyclohexyl group, cycloheptyl group, cyclooctyl group, and cyclodecyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, 2-alkyladamantan-2-yl group, 1- (adamantan-1-yl) alkane-1-yl group, norbornyl group, Examples thereof include a methylnorbornyl group and an isobornyl group.
Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group and a naphthyl group.
Examples of the group formed by combining these include an aralkyl group (benzyl group, phenethyl group, etc.), an alkyl-aryl group, a cyclohexyl-aryl group, and an aryl-cyclohexyl group.
Examples of the group in which —CH 2 — contained in the hydrocarbon group is replaced by —O— or —CO— include a methoxy group, an ethoxy group, a butoxy group, an acetyl group, a methoxycarbonyl group, an acetyloxy group, and a butoxycarbonyloxy group. And benzoyloxy group.

mは、2であることが好ましい。
nは、2であることが好ましい。
m及びnのうち、少なくとも一つが2であることが好ましく、m及びnがともに2であることがより好ましい。
1は、水素原であることが好ましい。
2は、水素原子であることが好ましい。
1及びR2は、少なくとも一つが水素原子であることが好ましく、ともに水素原子であることがより好ましい。
m is preferably 2.
n is preferably 2.
Of m and n, at least one is preferably 2, and both m and n are more preferably 2.
R 1 is preferably a hydrogen source.
R 2 is preferably a hydrogen atom.
At least one of R 1 and R 2 is preferably a hydrogen atom, and more preferably a hydrogen atom.

Arの芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、フェナントニル基、ビフェニル基、トリフェニル基、インデニル基、テトラヒドロナフチル基、フェナントリル基等の炭素数6〜36のアリール基が挙げられる。
ヘテロ原子としては、窒素原子、酸素原子、硫黄原子が挙げられる。
ヘテロ芳香族炭化水素基としては、フリル基、チオフェニル基等が挙げられる。
Examples of the aromatic hydrocarbon group of Ar include aryl groups having 6 to 36 carbon atoms such as a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a phenanthonyl group, a biphenyl group, a triphenyl group, an indenyl group, a tetrahydronaphthyl group, and a phenanthryl group. It is done.
A hetero atom includes a nitrogen atom, an oxygen atom, and a sulfur atom.
Examples of the heteroaromatic hydrocarbon group include a furyl group and a thiophenyl group.

芳香族炭化水素基は、好ましくは炭素数6〜24であり、より好ましくは炭素数6〜18である。
ヘテロ芳香族炭化水素基は、好ましくは炭素数5〜24であり、より好ましくは炭素数5〜18である。
The aromatic hydrocarbon group preferably has 6 to 24 carbon atoms, and more preferably 6 to 18 carbon atoms.
The heteroaromatic hydrocarbon group preferably has 5 to 24 carbon atoms, and more preferably 5 to 18 carbon atoms.

Arが有していてもよい置換基としては、ヒドロキシ基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12の脂環式炭化水素基、炭素数1〜18のアルコキシ基、炭素数2〜18のアルキルカルボニルオキシ基、炭素数7〜18のアリールカルボニルオキシ基又は炭素数2〜18のアルコキシカルボニルオキシ基が挙げられ、炭素数1〜18のアルコキシ基に含まれる−CH−は、−O−で置き換わっていてもよい。好ましくは、ヒドロキシ基である。
アルキル基としては、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、n−オクチル基、n−ノニル基、n−デシル基、n−ウンデシル基、n−ドデシル基等が挙げられ、なかでも、炭素数1〜6のアルキル基が好ましく、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、tert−ブチル基がより好ましく、メチル基、エチル基、イソプロピル基、tert−ブチル基がさらに好ましく、メチル基、tert−ブチル基が特に好ましい。
脂環式炭化水素基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基等が挙げられ、好ましくは炭素数3〜10の脂肪族炭化水素基であり、より好ましくはアダマンチル基である。
アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基、ペンチルオキシ基、ヘキシルオキシ基、ヘプチルオキシ基、オクチルオキシ基、デシルオキシ基及びドデシルオキシ基等が挙げられ、好ましくは炭素数1〜6のアルコキシ基であり、より好ましくはメトキシ基である。
アルキルカルボニルオキシ基としては、メチルカルボニルオキシ基、エチルカルボニルオキシ基、n−プロピルカルボニルオキシ基、イソプロピルカルボニルオキシ基、n−ブチルカルボニルオキシ基、sec−ブチルカルボニルオキシ基、tert−ブチルカルボニルオキシ基、ペンチルカルボニルオキシ基、ヘキシルカルボニルオキシ基、オクチルカルボニルオキシ基及び2−エチルヘキシルカルボニルオキシ基等が挙げられ、好ましくは炭素数2〜12のアルキルカルボニルオキシ基であり、より好ましくはメチルカルボニルオキシ基である。
アリールカルボニルオキシ基としては、フェニルカルボニルオキシ基、トシルカルボニルオキシ基等が挙げられ、好ましくは炭素数7〜12のアリールカルボニルオキシ基であり、より好ましくはフェニルカルボニルオキシ基である。
アルコキシカルボニルオキシ基としては、メトキシカルボニルオキシ基、エトキシカルボニルオキシ基、n−プロポキシカルボニルオキシ基、イソプロポキシカルボニルオキシ基、n−ブトキシカルボニルオキシ基、sec−ブトキシカルボニルオキシ基、tert−ブトキシカルボニルオキシ基、ペンチルオキシカルボニルオキシ基、ヘキシルオキシカルボニルオキシ基、オクチルオキシカルボニルオキシ基及び2−エチルヘキシルオキシカルボニルオキシ基等が挙げられ、好ましくは炭素数2〜8のアルキルオキシカルボニルオキシ基であり、より好ましくはtert−ブチルオキシカルボニルオキシ基である。
Arは、好ましくは、置換基を有していてもよいフェニル基又は置換基を有していてもよいナフチル基である。Arが有する置換基としては、炭素数1〜12のアルキル基、ヒドロキシ基、炭素数1〜18のアルコキシ基(但し、炭素数1〜18のアルコキシ基に含まれる−CH−は、−O−で置き換わっていてもよい。)が好ましく、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜18のアルコキシ基(但し、炭素数1〜18のアルコキシ基に含まれる−CH−は、−O−で置き換わっていてもよい。)がより好ましく、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜14のアルコキシ基(但し、炭素数1〜14のアルコキシ基に含まれる−CH−は、−O−で置き換わっていてもよい。)がさらに好ましく、炭素数1〜12のアルキル基がより一層好ましい。
Examples of the substituent that Ar may have include a hydroxy group, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 18 carbon atoms, and 2 carbon atoms. to 18 alkylcarbonyloxy group, and an alkoxycarbonyl group arylcarbonyloxy group or a C2-18 having 7 to 18 carbon atoms, -CH 2 contained in an alkoxy group having 1 to 18 carbon atoms - are It may be replaced by -O-. A hydroxy group is preferable.
Examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a sec-butyl group, a tert-butyl group, an n-pentyl group, an n-hexyl group, and an n-heptyl group. , 2-ethylhexyl group, n-octyl group, n-nonyl group, n-decyl group, n-undecyl group, n-dodecyl group, etc. Among them, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms is preferable, and methyl Group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group and tert-butyl group are more preferred, methyl group, ethyl group, isopropyl group and tert-butyl group are more preferred, and methyl group and tert-butyl group are particularly preferred.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, an adamantyl group, and the like, preferably an aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms, more preferably an adamantyl group. It is.
Examples of the alkoxy group include methoxy group, ethoxy group, propoxy group, butoxy group, pentyloxy group, hexyloxy group, heptyloxy group, octyloxy group, decyloxy group, and dodecyloxy group, preferably 1 to 1 carbon atoms. 6 is an alkoxy group, more preferably a methoxy group.
Examples of the alkylcarbonyloxy group include a methylcarbonyloxy group, an ethylcarbonyloxy group, an n-propylcarbonyloxy group, an isopropylcarbonyloxy group, an n-butylcarbonyloxy group, a sec-butylcarbonyloxy group, a tert-butylcarbonyloxy group, Examples thereof include a pentylcarbonyloxy group, a hexylcarbonyloxy group, an octylcarbonyloxy group and a 2-ethylhexylcarbonyloxy group, preferably an alkylcarbonyloxy group having 2 to 12 carbon atoms, more preferably a methylcarbonyloxy group. .
Examples of the arylcarbonyloxy group include a phenylcarbonyloxy group, a tosylcarbonyloxy group and the like, preferably an arylcarbonyloxy group having 7 to 12 carbon atoms, more preferably a phenylcarbonyloxy group.
As alkoxycarbonyloxy group, methoxycarbonyloxy group, ethoxycarbonyloxy group, n-propoxycarbonyloxy group, isopropoxycarbonyloxy group, n-butoxycarbonyloxy group, sec-butoxycarbonyloxy group, tert-butoxycarbonyloxy group A pentyloxycarbonyloxy group, a hexyloxycarbonyloxy group, an octyloxycarbonyloxy group, a 2-ethylhexyloxycarbonyloxy group, and the like, preferably an alkyloxycarbonyloxy group having 2 to 8 carbon atoms, more preferably a tert-butyloxycarbonyloxy group;
Ar is preferably a phenyl group which may have a substituent or a naphthyl group which may have a substituent. Examples of the substituent that Ar has include an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, a hydroxy group, and an alkoxy group having 1 to 18 carbon atoms (provided that —CH 2 — contained in the alkoxy group having 1 to 18 carbon atoms is —O -Which may be replaced by-), preferably an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms or an alkoxy group having 1 to 18 carbon atoms (provided that -CH 2- contained in the alkoxy group having 1 to 18 carbon atoms is- O— may be substituted.), More preferably, an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 14 carbon atoms (provided that —CH 2 — contained in the alkoxy group having 1 to 14 carbon atoms is , -O- may be substituted), and an alkyl group having 1 to 12 carbon atoms is more preferable.

塩(I)のカチオンとしては、以下の式(I−c−1)〜式(I−c−22)で表されるカチオン等が挙げられる。

Figure 2017057193
Examples of the cation of the salt (I) include cations represented by the following formulas (Ic-1) to (Ic-22).
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

なかでも、式(I−c−1)、式(I−c−3)、式(I−c−4)、式(I−c−7)、式(I−c−12)、式(I−c−14)、式(I−c−16)、式(I−c−21)及び式(I−c−22)で表されるカチオンが好ましい。   Among them, formula (Ic-1), formula (Ic-3), formula (Ic-4), formula (Ic-7), formula (Ic-12), formula (I Ic-14), formula (Ic-16), formula (Ic-21) and cation represented by formula (Ic-22) are preferred.

で表される炭素数1〜18の(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基は、アルキル基からs個の水素原子を取り去った基又は式(KA−1)〜式(KA−19)で表されるシクロアルカンから(1+s)個の水素原子を取り去った基、あるいは、上記アルキル基とシクロアルカンとを2以上組み合わせて水素原子を取り去った(1+s)価の基を挙げることができる。s又は(1+s)個の水素原子は、脂肪族飽和炭化水素基を構成する1つの炭素原子から取り去られてもよいし、2以上の炭素原子から取り去られてもよい。(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基に置き換わっていてもよい。

Figure 2017057193
The (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms represented by A 1 is a group obtained by removing s hydrogen atoms from an alkyl group, or a group represented by formulas (KA-1) to (KA-19). (1 + s) hydrogen atoms removed from the cycloalkane represented by the above formula, or a (1 + s) -valent group in which two or more alkyl groups and cycloalkanes are combined to remove hydrogen atoms. . The s or (1 + s) hydrogen atoms may be removed from one carbon atom constituting the aliphatic saturated hydrocarbon group, or may be removed from two or more carbon atoms. The hydrogen atom contained in the (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group may be replaced with a hydroxy group.
Figure 2017057193

アルキル基とシクロアルカンとを組み合わせて水素原子を取り去った(1+s)価の基としては、例えば、式(X−A)、式(X−B)及び式(X−C)のいずれかで表される基を挙げることができる。

Figure 2017057193
[式(X−A)〜式(X−C)中において、
1Aは、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表し、該アルカンジイル基に含まれる―CH−は、―O−又は―CO−で置き換わっていてもよい。
sは1〜3の整数を表す。sが1以上のとき、2つ以上のX1Aは同一又は相異なる。
ただし、式(X−A)〜式(X−C)で表される基の総炭素数の上限は18である。] Examples of the (1 + s) -valent group in which a hydrogen atom is removed by combining an alkyl group and a cycloalkane include any of the formula (X 1 -A), the formula (X 1 -B), and the formula (X 1 -C). Can be mentioned.
Figure 2017057193
[In the formulas (X 1 -A) to (X 1 -C),
X 1A represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms, and —CH 2 — contained in the alkanediyl group may be replaced by —O— or —CO—.
s represents an integer of 1 to 3. When s is 1 or more, two or more X 1A are the same or different.
However, the upper limit of the total carbon number of the group represented by the formula (X 1 -A) to the formula (X 1 -C) is 18. ]

は炭素数2〜8のアルカンジイル基又は炭素数2〜8のアルカントリイル基であることが好ましく、アルカンジイル基であることがより好ましい。
炭素数1〜8のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基及びヘキサン−1,6−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基や、エタン−1,1−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、ペンタン−1,4−ジイル基及び2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基が挙げられる。なかでも、炭素数2〜6のアルカンジイル基がより好ましく、炭素数2〜4のアルカンジイル基がさらに好ましい。
A 1 is preferably an alkanediyl group having 2 to 8 carbon atoms or an alkanetriyl group having 2 to 8 carbon atoms, and more preferably an alkanediyl group.
Examples of the alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms include methylene group, ethylene group, propane-1,3-diyl group, butane-1,4-diyl group, pentane-1,5-diyl group, and hexane-1,6. -Linear alkanediyl group such as diyl group, ethane-1,1-diyl group, propane-1,2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl And branched alkanediyl groups such as 2-methylpropane-1,2-diyl group, pentane-1,4-diyl group and 2-methylbutane-1,4-diyl group. Among these, an alkanediyl group having 2 to 6 carbon atoms is more preferable, and an alkanediyl group having 2 to 4 carbon atoms is more preferable.

の炭素数5〜18の脂環式炭化水素基としては、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ノルボルニル基、アダマンチル基等が挙げられる。なかでも、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、アダマンチル基が好ましく、アダマンチル基、シクロヘキシル基がより好ましく、アダマンチル基がさらに好ましい。
脂環式炭化水素基に含まれる水素原子の2つがそれぞれ酸素原子に置き換わって炭素数1〜8のアルカンジイル基と一緒になったフッ素原子を含んでもよいケタール環としては、脂環式炭化水素基を構成する1つの炭素原子に含まれる2つの水素原子が、それぞれ酸素原子に置き換わってもよい。ケタール環としては、*1−O−(CH22−O−*2、*1−O−(CH23−O−*2、*1−O−(CH24−O−*2、*1−O−CH2−(CF22−CH2−O−*2、*1−O−CH2−(CF23−CH2−O−*2、*1−O−CH2−(CF24−CH2−O−*2等が挙げられる。なかでも、*1−O−CH2−(CF22−CH2−O−*2、*1−O−CH2−(CF23−CH2−O−*2、*1−O−CH2−(CF24−CH2−O−*2が好ましく、*1−O−CH2−(CF22−CH2−O−*2、*1−O−CH2−(CF23−CH2−O−*2がより好ましく、*1−O−CH2−(CF22−CH2−O−*2がさらに好ましい。*1及び*2は、それぞれ結合手を表し、*1と*2は同じ炭素原子に結合する。ケタール環を形成するアルカンジイル基としては、上記A1と同様のものが挙げられる。
Examples of the alicyclic hydrocarbon group having 5 to 18 carbon atoms of R 3 include a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a norbornyl group, and an adamantyl group. Especially, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and an adamantyl group are preferable, an adamantyl group and a cyclohexyl group are more preferable, and an adamantyl group is further more preferable.
As a ketal ring which may contain a fluorine atom in which two hydrogen atoms contained in an alicyclic hydrocarbon group are each replaced by an oxygen atom and combined with an alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon Two hydrogen atoms contained in one carbon atom constituting the group may each be replaced with an oxygen atom. The ketal ring includes * 1-O— (CH 2 ) 2 —O— * 2, * 1-O— (CH 2 ) 3 —O— * 2, * 1-O— (CH 2 ) 4 —O—. * 2, * 1-O- CH 2 - (CF 2) 2 -CH 2 -O- * 2, * 1-O-CH 2 - (CF 2) 3 -CH 2 -O- * 2, * 1- O-CH 2 - (CF 2 ) 4 -CH 2 -O- * 2 , and the like. Among them, * 1-O—CH 2 — (CF 2 ) 2 —CH 2 —O— * 2, * 1-O—CH 2 — (CF 2 ) 3 —CH 2 —O— * 2, * 1- O-CH 2 - (CF 2 ) 4 -CH 2 -O- * 2 are preferred, * 1-O-CH 2 - (CF 2) 2 -CH 2 -O- * 2, * 1-O-CH 2 - (CF 2) 3 -CH 2 -O- * 2 are more preferred, * 1-O-CH 2 - (CF 2) 2 -CH 2 -O- * 2 is more preferred. * 1 and * 2 each represent a bond, and * 1 and * 2 are bonded to the same carbon atom. Examples of the alkanediyl group forming the ketal ring include the same groups as those described above for A 1 .

アニオン(I)としては、例えば、以下のアニオンが挙げられる。なかでも、式(I−a−1)〜式(I−a−8)で表されるアニオンが好ましい。

Figure 2017057193
Examples of the anion (I) include the following anions. Especially, the anion represented by a formula (Ia-1)-a formula (Ia-8) is preferable.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

本発明の塩(I)は、上述したカチオン及びアニオンは、任意に組合せることができる。なかでも、好ましい塩(I)は、以下に記載の塩である。

Figure 2017057193
In the salt (I) of the present invention, the above-mentioned cation and anion can be arbitrarily combined. Among these, preferred salts (I) are the salts described below.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

<塩(I)の製造方法>
塩(I)は、式(I−a)で表される塩と式(I−b)で表される化合物とを、溶剤中で反応させることにより製造することができる。

Figure 2017057193
(式中、R1、R2、R、m、n、s及びA1は、前記と同義である。以下において同じ。)
溶剤としては、クロロホルム、ジクロロメタン、アセトニトリル等が挙げられる。 <Method for producing salt (I)>
The salt (I) can be produced by reacting the salt represented by the formula (Ia) and the compound represented by the formula (Ib) in a solvent.
Figure 2017057193
(In the formula, R 1 , R 2 , R 3 , m, n, s and A 1 have the same meanings as described above. The same shall apply hereinafter.)
Examples of the solvent include chloroform, dichloromethane, acetonitrile and the like.

塩(I−a)は、式(I−c)で表される塩と式(I−d)で表される塩とを、溶剤中で反応させることにより製造することができる。

Figure 2017057193
溶剤としては、アセトニトリル、クロロホルム、水等が挙げられる。
式(I−d)で表される塩は、下記式で表される化合物等が挙げられ、市場より容易に入手できる。
Figure 2017057193
The salt (Ia) can be produced by reacting the salt represented by the formula (Ic) and the salt represented by the formula (Id) in a solvent.
Figure 2017057193
Examples of the solvent include acetonitrile, chloroform, water and the like.
Examples of the salt represented by the formula (Id) include compounds represented by the following formula, and are easily available from the market.
Figure 2017057193

式(I−c)で表される塩は、式(I−e)で表される塩と式(I−f)で表される化合物とを触媒存在下、溶剤中で反応させることにより製造することができる。

Figure 2017057193
触媒としては、酢酸銅(II)等が挙げられる。
溶剤としては、クロロホルム等が挙げられる。
式(I−e)で表される塩は、例えば、下記式で表される塩などが挙げられ、これらは市場から容易に入手できる。
Figure 2017057193
式(I−f)で表される化合物は、下記式で表される化合物などが挙げられ、これらは市場から容易に入手できる。
Figure 2017057193
The salt represented by the formula (Ic) is produced by reacting the salt represented by the formula (Ie) and the compound represented by the formula (If) in a solvent in the presence of a catalyst. can do.
Figure 2017057193
Examples of the catalyst include copper (II) acetate.
Examples of the solvent include chloroform.
Examples of the salt represented by the formula (Ie) include salts represented by the following formula, and these are easily available from the market.
Figure 2017057193
Examples of the compound represented by the formula (If) include compounds represented by the following formulas, and these are easily available from the market.
Figure 2017057193

式(I−e)で表される塩は、式(I−g)で表される塩と式(I−h)で表される化合物とを、クロロホルム等の溶剤中で反応させることにより製造することもできる。

Figure 2017057193
(式中、Xは、塩素原子、臭素原子又はヨウ素原子を表す。) The salt represented by the formula (Ie) is produced by reacting the salt represented by the formula (Ig) and the compound represented by the formula (Ih) in a solvent such as chloroform. You can also
Figure 2017057193
(In the formula, X represents a chlorine atom, a bromine atom or an iodine atom.)

式(I−g)で表される塩は、例えば、下記式で表される塩などが挙げられ、これらは市場から容易に入手できる。

Figure 2017057193
Examples of the salt represented by the formula (Ig) include a salt represented by the following formula, and these can be easily obtained from the market.
Figure 2017057193

式(I−b)で表される化合物は、式(I−i)で表される化合物と式(I−j)で表される化合物とを、溶剤中で反応させることにより製造することができる。

Figure 2017057193
溶剤としては、アセトニトリル、クロロホルム等が挙げられる。 The compound represented by the formula (Ib) can be produced by reacting the compound represented by the formula (Ii) and the compound represented by the formula (Ij) in a solvent. it can.
Figure 2017057193
Examples of the solvent include acetonitrile and chloroform.

式(I−i)で表される化合物は、下記式で表される化合物等が挙げられ、市場より容易に入手できる。

Figure 2017057193
Examples of the compound represented by the formula (I-i) include compounds represented by the following formula, and are easily available from the market.
Figure 2017057193

<酸発生剤>
本発明の酸発生剤は、塩(I)を含有する酸発生剤でもある。本発明の酸発生剤は、塩(I)以外のレジスト分野で公知の酸発生剤(以下「酸発生剤(B)」という場合がある)を含有していてもよい。酸発生剤(B)については後述する。
また、酸発生剤として塩(I)及び酸発生剤(B)を含有する場合、塩(I)と酸発生剤(B)との含有量の比(質量比;塩(I):酸発生剤(B))は、通常、1:99〜99:1、好ましくは2:98〜98:2、より好ましくは5:95〜95:5であり、さらに好ましくは10:90〜90:10である。
<Acid generator>
The acid generator of the present invention is also an acid generator containing salt (I). The acid generator of the present invention may contain an acid generator known in the resist field other than the salt (I) (hereinafter sometimes referred to as “acid generator (B)”). The acid generator (B) will be described later.
In addition, when the salt (I) and the acid generator (B) are contained as the acid generator, the ratio of the content of the salt (I) and the acid generator (B) (mass ratio; salt (I): acid generation The agent (B)) is usually 1:99 to 99: 1, preferably 2:98 to 98: 2, more preferably 5:95 to 95: 5, and even more preferably 10:90 to 90:10. It is.

<レジスト組成物>
本発明のレジスト組成物は、酸不安定基を有する構造単位を含む樹脂(以下「樹脂(A)」という場合がある)と塩(I)とを含有する。本発明のレジスト組成物は、2種類以上の塩(I)を含有していてもよい。
レジスト組成物は、レジスト分野で公知の酸発生剤を含有していてもよい。レジスト組成物は、クエンチャー(以下「クエンチャー(C)」という場合がある)を含有することが好ましく、溶剤(以下「溶剤(E)」という場合がある)を含有することが好ましい。
<Resist composition>
The resist composition of the present invention contains a resin containing a structural unit having an acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “resin (A)”) and a salt (I). The resist composition of the present invention may contain two or more kinds of salts (I).
The resist composition may contain an acid generator known in the resist field. The resist composition preferably contains a quencher (hereinafter sometimes referred to as “quencher (C)”), and preferably contains a solvent (hereinafter sometimes referred to as “solvent (E)”).

<塩(I)>
本発明のレジスト組成物は、塩(I)を酸発生剤として含有することが好ましい。塩(I)を酸発生剤として用いる場合、塩(I)の含有量は、樹脂(A)に対して、1〜30質量%であることが好ましく、1〜20質量%であることがより好ましく、2〜15質量%であることがより好ましい。
<Salt (I)>
The resist composition of the present invention preferably contains salt (I) as an acid generator. When salt (I) is used as an acid generator, the content of salt (I) is preferably 1 to 30% by mass and more preferably 1 to 20% by mass with respect to resin (A). Preferably, it is 2-15 mass%.

<酸発生剤(B)>
酸発生剤(B)としては、公知の酸発生剤が利用でき、イオン性酸発生剤でも、非イオン性発生剤でもよい。好ましくは、イオン性酸発生剤である。イオン性酸発生剤としては、アニオン(I)とカチオン(I)以外のカチオンとの組み合わせからなるイオン性酸発生剤、公知のカチオンと公知のアニオンとの組み合わせからなるイオン性酸発生剤が挙げられる。
<Acid generator (B)>
As the acid generator (B), a known acid generator can be used, and either an ionic acid generator or a nonionic generator may be used. Preferably, it is an ionic acid generator. Examples of the ionic acid generator include an ionic acid generator composed of a combination of an anion (I) and a cation other than the cation (I), and an ionic acid generator composed of a combination of a known cation and a known anion. It is done.

酸発生剤(B)としては、有機スルホン酸、有機スルホニウム塩等が挙げられ、例えば、特開2013−68914号公報、特開2013−3155号公報、特開2013−11905号公報記載の酸発生剤等が挙げられる。具体的には、式(B1−1)〜式(B1−40)でそれぞれ表されるものが挙げられ、好ましくはアリールスルホニウムカチオンを含む式(B1−1)、式(B1−2)、式(B1−3)、式(B1−5)、式(B1−6)、式(B1−7)、式(B1−11)、式(B1−12)、式(B1−13)、式(B1−14)、式(B1−20)、式(B1−21)、式(B1−23)、式(B1−24)、式(B1−25)、式(B1−26)、式(B1−29)、式(B1−31)、式(B1−32)、式(B1−33)、式(B1−34)、式(B1−35)、式(B1−36)、式(B1−37)、式(B1−38)、式(B1−39)又は式(B1−40)のいずれかで表される塩がより好ましい。

Figure 2017057193
Examples of the acid generator (B) include organic sulfonic acids and organic sulfonium salts. For example, acid generation described in JP2013-68914A, JP2013-3155A, and JP2013-11905A. Agents and the like. Specific examples include those represented by formula (B1-1) to formula (B1-40), preferably formula (B1-1), formula (B1-2), and formula containing an arylsulfonium cation. (B1-3), Formula (B1-5), Formula (B1-6), Formula (B1-7), Formula (B1-11), Formula (B1-12), Formula (B1-13), Formula ( B1-14), formula (B1-20), formula (B1-21), formula (B1-23), formula (B1-24), formula (B1-25), formula (B1-26), formula (B1) -29), Formula (B1-31), Formula (B1-32), Formula (B1-33), Formula (B1-34), Formula (B1-35), Formula (B1-36), Formula (B1- 37), a salt represented by any one of formula (B1-38), formula (B1-39) or formula (B1-40) is more preferred.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

酸発生剤(B)は、2種以上を含有してもよい。
酸発生剤(B)の含有量は、樹脂(A)に対して、1〜30質量%であることが好ましく、1〜20質量%であることがより好ましく、3〜15質量%であることがさらに好ましい。
レジスト組成物においては、塩(I)及び酸発生剤(B)を酸発生剤として用いる場合、塩(I)及び酸発生剤(B)の合計含有量は、樹脂(A)に対して、好ましくは1.5質量%以上(より好ましくは3質量%以上)、好ましくは40質量%以下(より好ましくは35質量%以下)である。
An acid generator (B) may contain 2 or more types.
The content of the acid generator (B) is preferably 1 to 30% by mass, more preferably 1 to 20% by mass, and 3 to 15% by mass with respect to the resin (A). Is more preferable.
In the resist composition, when the salt (I) and the acid generator (B) are used as the acid generator, the total content of the salt (I) and the acid generator (B) is based on the resin (A). Preferably it is 1.5 mass% or more (more preferably 3 mass% or more), preferably 40 mass% or less (more preferably 35 mass% or less).

<樹脂(A)>
樹脂(A)は、酸不安定基を有する構造単位(以下「構造単位(a1)」という場合がある)を有する。ここで、「酸不安定基」は、脱離基を有し、酸との接触により脱離基が脱離して、構成単位が親水性基(例えば、ヒドロキシ基、カルボキシ基又はスルフヒドリル基)を有する構成単位に変換する基を意味する。
樹脂(A)は、さらに、構造単位(a1)以外の構造単位を含んでいることが好ましい。構造単位(a1)以外の構造単位としては、酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(s)」という場合がある)が挙げられる。
<Resin (A)>
The resin (A) has a structural unit having an acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a1)”). Here, the “acid labile group” has a leaving group, the leaving group is eliminated by contact with an acid, and the structural unit is a hydrophilic group (for example, a hydroxy group, a carboxy group or a sulfhydryl group). This means a group that is converted into a structural unit.
The resin (A) preferably further contains a structural unit other than the structural unit (a1). Examples of the structural unit other than the structural unit (a1) include a structural unit having no acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (s)”).

<構造単位(a1)>
構造単位(a1)は、酸不安定基を有するモノマー(以下「モノマー(a1)」という場合がある)から導かれる。
樹脂(A)を構成する構造単位(I)に含まれる酸不安定基は、式(1)で表される基(以下、基(1)という場合がある。)及び/又は式(2)で表される基(以下、基(2)という場合がある。)が好ましい。

Figure 2017057193
[式(1)中、Ra1〜Ra3は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜20の脂環式炭化水素基又はこれらを組み合わせた基を表すか、Ra1及びRa2は互いに結合してそれらが結合する炭素原子とともに炭素数3〜20の2価の脂環式炭化水素基を形成する。
naは、0又は1を表す。
*は結合手を表す。]
Figure 2017057193
[式(2)中、Ra1’及びRa2’は、それぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、Ra3’は、炭素数1〜20の炭化水素基を表すか、Ra2’及びRa3’は互いに結合してそれらが結合する炭素原子及びXとともに炭素数3〜20の2価の複素環基を形成し、該炭化水素基及び該2価の複素環基に含まれる−CH2−は、−O−又は−S−で置き換わってもよい。
Xは、酸素原子又は硫黄原子を表す。
*は酸素原子又は硫黄原子との結合手を表す。] <Structural unit (a1)>
The structural unit (a1) is derived from a monomer having an acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “monomer (a1)”).
The acid labile group contained in the structural unit (I) constituting the resin (A) is a group represented by the formula (1) (hereinafter sometimes referred to as the group (1)) and / or the formula (2). (Hereinafter, sometimes referred to as group (2)) is preferred.
Figure 2017057193
[In the formula (1), R a1 to R a3 each independently represents an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, or a combination of these, or R a1 and R a2 are bonded to each other to form a divalent alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms together with the carbon atom to which they are bonded.
na represents 0 or 1.
* Represents a bond. ]
Figure 2017057193
[In Formula (2), R a1 ′ and R a2 ′ each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and R a3 ′ represents a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms. R a2 ′ and R a3 ′ are bonded to each other to form a divalent heterocyclic group having 3 to 20 carbon atoms together with the carbon atom to which they are bonded and X, and the hydrocarbon group and the divalent —CH 2 — contained in the ring group may be replaced by —O— or —S—.
X represents an oxygen atom or a sulfur atom.
* Represents a bond with an oxygen atom or a sulfur atom. ]

a1〜Ra3のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基等が挙げられる。
a1〜Ra3の脂環式炭化水素基としては、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基(*は結合手を表す。)等が挙げられる。Ra1〜Ra3の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜16の脂環式炭化水素基である。

Figure 2017057193
アルキル基と脂環式炭化水素基とを組み合わせた基としては、例えば、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、メチルノルボルニル基、シクロヘキシルメチル基、アダマンチルメチル基、ノルボルニルエチル基等が挙げられる。
naは、好ましくは0である。 Examples of the alkyl group represented by R a1 to R a3 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an n-butyl group, an n-pentyl group, an n-hexyl group, an n-heptyl group, and an n-octyl group.
The alicyclic hydrocarbon group for R a1 to R a3 may be monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include cycloalkyl groups such as a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a cycloheptyl group, and a cyclooctyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, norbornyl group, and the following groups (* represents a bond). The alicyclic hydrocarbon group of R a1 to R a3 is preferably an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 16 carbon atoms.
Figure 2017057193
Examples of the group obtained by combining an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group include a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, a methylnorbornyl group, a cyclohexylmethyl group, an adamantylmethyl group, and a norbornylethyl group. Can be mentioned.
na is preferably 0.

a1及びRa2が互いに結合して2価の脂環式炭化水素基を形成する場合の−C(Ra1)(Ra2)(Ra3)としては、下記の基が挙げられる。2価の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数3〜12である。*は−O−との結合手を表す。

Figure 2017057193
Examples of —C (R a1 ) (R a2 ) (R a3 ) in the case where R a1 and R a2 are bonded to each other to form a divalent alicyclic hydrocarbon group include the following groups. The divalent alicyclic hydrocarbon group preferably has 3 to 12 carbon atoms. * Represents a bond with -O-.
Figure 2017057193

式(1)で表される基としては、1,1−ジアルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中においてRa1〜Ra3がアルキル基である基、好ましくはtert−ブトキシカルボニル基)、2−アルキルアダマンタン−2−イルオキシカルボニル基(式(1)中、Ra1、Ra2及びこれらが結合する炭素原子がアダマンチル基を形成し、Ra3がアルキル基である基)及び1−(アダマンタン−1−イル)−1−アルキルアルコキシカルボニル基(式(1)中、Ra1及びRa2がアルキル基であり、Ra3がアダマンチル基である基)等が挙げられる。 Examples of the group represented by the formula (1) include a 1,1-dialkylalkoxycarbonyl group (a group in which R a1 to R a3 are alkyl groups in the formula (1), preferably a tert-butoxycarbonyl group), 2- An alkyladamantan-2-yloxycarbonyl group (in the formula (1), R a1 , R a2 and a carbon atom to which they are bonded form an adamantyl group, and R a3 is an alkyl group) and 1- (adamantane- 1-yl) -1-alkylalkoxycarbonyl group (in the formula (1), R a1 and R a2 are alkyl groups, and R a3 is an adamantyl group).

a1’〜Ra3’の炭化水素基としては、アルキル基、脂環式炭化水素基、芳香族炭化水素基及びこれらを組み合わせることにより形成される基等が挙げられる。
アルキル基及び脂環式炭化水素基は、上記と同様のものが挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、ビフェニル基、フェナントリル基のアリール基等が挙げられる。
これらを組み合わせることにより形成される基としては、アルキル−シクロアルキル基、シクロアルキル−アルキル基、アラルキル基(例えば、フェニルメチル基、1−フェニルエチル基、2−フェニルエチル基、1−フェニル−1−プロピル基、1−フェニル−2−プロピル基、2−フェニル−2−プロピル基、3−フェニル−1−プロピル基、4−フェニル−1−ブチル基、5−フェニル−1−ペンチル基、6−フェニル−1−ヘキシル基等)等、アルキル−アリール基(例えば、2−メチルフェニル基、3−メチルフェニル基、4−メチルフェニル基、4−エチルフェニル基、4−プロピルフェニル基、4−イソプロピルフェニル基、4−ブチルフェニル基、4−t−ブチルフェニル基、4−ヘキシルフェニル基、4−シクロヘキシルフェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル基等)、アリール−シクロアルキル基、シクロアルキル−アリール基(例えば、p−アダマンチルフェニル基、)が挙げられる。
a2'及びRa3'が互いに結合してそれらが結合する炭素原子及びXとともに形成する2価の複素環基としては、下記の基が挙げられる。*は、結合手を表す。

Figure 2017057193
a1’及びRa2’のうち、少なくとも1つは水素原子であることが好ましい。 Examples of the hydrocarbon group of R a1 ′ to R a3 ′ include an alkyl group, an alicyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group, and a group formed by combining these.
Examples of the alkyl group and alicyclic hydrocarbon group are the same as those described above.
Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a biphenyl group, and an aryl group such as a phenanthryl group.
Examples of the group formed by combining these include an alkyl-cycloalkyl group, a cycloalkyl-alkyl group, an aralkyl group (for example, phenylmethyl group, 1-phenylethyl group, 2-phenylethyl group, 1-phenyl-1 -Propyl group, 1-phenyl-2-propyl group, 2-phenyl-2-propyl group, 3-phenyl-1-propyl group, 4-phenyl-1-butyl group, 5-phenyl-1-pentyl group, 6 Alkyl-aryl groups (for example, 2-methylphenyl group, 3-methylphenyl group, 4-methylphenyl group, 4-ethylphenyl group, 4-propylphenyl group, 4-phenyl-1-hexyl group, etc.) Isopropylphenyl group, 4-butylphenyl group, 4-t-butylphenyl group, 4-hexylphenyl group, 4-cyclohexyl Enyl group, tolyl group, xylyl group, cumenyl group, mesityl group, 2,6-diethylphenyl group, 2-methyl-6-ethylphenyl group, etc.), aryl-cycloalkyl group, cycloalkyl-aryl group (for example, p -An adamantylphenyl group).
Examples of the divalent heterocyclic group formed together with the carbon atom and X to which R a2 ′ and R a3 ′ are bonded to each other and X include the following groups. * Represents a bond.
Figure 2017057193
At least one of R a1 ′ and R a2 ′ is preferably a hydrogen atom.

式(2)で表される基の具体例としては、以下の基が挙げられる。*は結合手を表す。

Figure 2017057193
Specific examples of the group represented by the formula (2) include the following groups. * Represents a bond.
Figure 2017057193

モノマー(a1)は、好ましくは、酸不安定基とエチレン性不飽和結合とを有するモノマー、より好ましくは酸不安定基を有する(メタ)アクリル系モノマーである。   The monomer (a1) is preferably a monomer having an acid labile group and an ethylenically unsaturated bond, more preferably a (meth) acrylic monomer having an acid labile group.

酸不安定基を有する(メタ)アクリル系モノマーのうち、好ましくは、炭素数5〜20の脂環式炭化水素基を有するものが挙げられる。脂環式炭化水素基のような嵩高い構造を有するモノマー(a1)に由来する構造単位を有する樹脂(A)をレジスト組成物に使用すれば、レジストパターンの解像度を向上させることができる。   Among the (meth) acrylic monomers having an acid labile group, those having an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 20 carbon atoms are preferable. If the resin (A) having a structural unit derived from the monomer (a1) having a bulky structure such as an alicyclic hydrocarbon group is used in the resist composition, the resolution of the resist pattern can be improved.

式(1)で表される基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位として、好ましくは、式(a1−0)で表される構造単位、式(a1−1)で表される構造単位又は式(a1−2)で表される構造単位が挙げられる。これらは2種以上を併用してもよい。本明細書では、式(a1−0)で表される構造単位、式(a1−1)で表される構造単位及び式(a1−2)で表される構造単位を、それぞれ構造単位(a1−0)、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)と、構造単位(a1−0)を誘導するモノマー、構造単位(a1−1)を誘導するモノマー及び構造単位(a1−2)を誘導するモノマーを、それぞれモノマー(a1−0)、モノマー(a1−1)及びモノマー(a1−2)という場合がある。

Figure 2017057193
[式(a1−0)中、
a01は、酸素原子又は−O−(CH2k01−CO−O−を表し、k01は1〜7の整数を表し、*はカルボニル基との結合手を表す。
a01は、水素原子又はメチル基を表す。
a02、Ra03及びRa04は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基又はこれらを組み合わせた基を表す。]
Figure 2017057193
[式(a1−1)及び式(a1−2)中、
a1及びLa2は、それぞれ独立に、−O−又は−O−(CH2k1−CO−O−を表し、k1は1〜7の整数を表し、*は−CO−との結合手を表す。
a4及びRa5は、それぞれ独立に、水素原子又はメチル基を表す。
a6及びRa7は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基又はこれらを組み合わせることにより形成される基を表す。
m1は0〜14の整数を表す。
n1は0〜10の整数を表す。
n1’は0〜3の整数を表す。] As a structural unit derived from a (meth) acrylic monomer having a group represented by the formula (1), a structural unit represented by the formula (a1-0) is preferably represented by the formula (a1-1). The structural unit represented by a structural unit or a formula (a1-2) is mentioned. Two or more of these may be used in combination. In this specification, the structural unit represented by formula (a1-0), the structural unit represented by formula (a1-1), and the structural unit represented by formula (a1-2) are each represented by structural unit (a1). -0), structural unit (a1-1) and structural unit (a1-2), a monomer for deriving structural unit (a1-0), a monomer for deriving structural unit (a1-1), and a structural unit (a1- The monomer that induces 2) may be referred to as monomer (a1-0), monomer (a1-1), and monomer (a1-2), respectively.
Figure 2017057193
[In the formula (a1-0),
L a01 represents an oxygen atom or * —O— (CH 2 ) k01 —CO—O—, k01 represents an integer of 1 to 7, and * represents a bond to a carbonyl group.
R a01 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a02 , R a03 and R a04 each independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or a combination thereof. ]
Figure 2017057193
[In Formula (a1-1) and Formula (a1-2),
L a1 and L a2 each independently represent —O— or * —O— (CH 2 ) k1 —CO—O—, k1 represents an integer of 1 to 7, and * represents a bond to —CO—. Represents a hand.
R a4 and R a5 each independently represent a hydrogen atom or a methyl group.
R a6 and R a7 each independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or a group formed by combining these.
m1 represents the integer of 0-14.
n1 represents an integer of 0 to 10.
n1 ′ represents an integer of 0 to 3. ]

a01は、好ましくは、酸素原子又は−O−(CH2k01−CO−O−であり(但し、k01は、好ましくは1〜4の整数、より好ましくは1である。)、より好ましくは酸素原子である。
a02、Ra03及びRa04のアルキル基、脂環式炭化水素基及びこれらを組み合わせた基としては、式(1)のRa1〜Ra3で挙げた基と同様の基が挙げられる。
a02、Ra03及びRa04のアルキル基は、好ましくは炭素数6以下である。
a02、Ra03及びRa04の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数8以下、より好ましくは6以下である。
アルキル基と脂環式炭化水素基とを組み合わせた基は、これらアルキル基と脂環式炭化水素基とを組み合わせた合計炭素数が、18以下であることが好ましい。このような基としては、例えば、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、メチルノルボルニル基、メチルアダマンチル基、シクロヘキシルメチル基、メチルシクロへキシルメチル基、アダマンチルメチル基、ノルボルニルメチル基等が挙げられる。
a02及びRa03は、好ましくは炭素数1〜6のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
a04は、好ましくは炭素数1〜6のアルキル基又は炭素数5〜12の脂環式炭化水素基であり、より好ましくはメチル基、エチル基、シクロヘキシル基又はアダマンチル基である。
L a01 is preferably an oxygen atom or * —O— (CH 2 ) k01 —CO—O— (where k01 is preferably an integer of 1 to 4, more preferably 1), and more. Preferably it is an oxygen atom.
Examples of the alkyl group of R a02 , R a03, and R a04 , the alicyclic hydrocarbon group, and a group obtained by combining these include the same groups as those described for R a1 to R a3 in formula (1).
The alkyl group for R a02 , R a03 and R a04 preferably has 6 or less carbon atoms.
The alicyclic hydrocarbon group represented by R a02 , R a03 and R a04 preferably has 8 or less carbon atoms, more preferably 6 or less.
The group combining the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group preferably has a total carbon number of 18 or less, combining the alkyl group and the alicyclic hydrocarbon group. Examples of such groups include a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, a methylnorbornyl group, a methyladamantyl group, a cyclohexylmethyl group, a methylcyclohexylmethyl group, an adamantylmethyl group, and a norbornylmethyl group. It is done.
R a02 and R a03 are preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, more preferably a methyl group or an ethyl group.
R a04 is preferably an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms or an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 12 carbon atoms, and more preferably a methyl group, an ethyl group, a cyclohexyl group, or an adamantyl group.

a1及びLa2は、好ましくは、−O−又は−O−(CH2k1’−CO−O−であり(但し、k1’は、1〜4の整数であり、好ましくは1である。)、より好ましくは−O−である。
a4及びRa5は、好ましくはメチル基である。
a6及びRa7のアルキル基、脂環式炭化水素基及びこれらを組み合わせた基としては、式(1)のRa1〜Ra3で挙げた基と同様の基が挙げられる。
a6及びRa7のアルキル基は、好ましくは炭素数6以下である。
a6及びRa7の脂環式炭化水素基は、好ましくは炭素数8以下の脂環式炭化水素基であり、より好ましくは6以下の脂環式炭化水素基である。
m1は、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0又は1である。
n1は、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0又は1である。
n1’は好ましくは0又は1である。
L a1 and L a2 are preferably —O— or * —O— (CH 2 ) k1 ′ —CO—O— (where k1 ′ is an integer of 1 to 4, preferably 1). More preferably -O-.
R a4 and R a5 are preferably methyl groups.
Examples of the alkyl group of R a6 and R a7 , the alicyclic hydrocarbon group, and a group obtained by combining these include the same groups as those described for R a1 to R a3 in formula (1).
The alkyl group for R a6 and R a7 preferably has 6 or less carbon atoms.
The alicyclic hydrocarbon group of R a6 and R a7 is preferably an alicyclic hydrocarbon group having 8 or less carbon atoms, more preferably an alicyclic hydrocarbon group having 6 or less carbon atoms.
m1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.
n1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.
n1 ′ is preferably 0 or 1.

モノマー(a1−0)としては、例えば、式(a1−0−1)〜式(a1−0−12)のいずれかで表されるモノマーが好ましく、式(a1−0−1)〜式(a1−0−10)のいずれかで表されるモノマーがより好ましい。

Figure 2017057193
As the monomer (a1-0), for example, a monomer represented by any one of the formulas (a1-0-1) to (a1-0-12) is preferable, and the formula (a1-0-1) to the formula ( A monomer represented by any one of a1-0-10) is more preferable.
Figure 2017057193

上記の構造単位において、Ra01に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位も、構造単位(a1−0)の具体例として挙げることができる。 In the above structural unit, a structural unit in which a methyl group corresponding to R a01 is replaced with a hydrogen atom can also be given as a specific example of the structural unit (a1-0).

モノマー(a1−1)としては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーが挙げられる。中でも、式(a1−1−1)〜式(a1−1−8)のいずれかで表されるモノマーが好ましく、式(a1−1−1)〜式(a1−1−4)のいずれかで表されるモノマーがより好ましい。

Figure 2017057193
As a monomer (a1-1), the monomer described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2010-204646 is mentioned, for example. Among these, a monomer represented by any one of formula (a1-1-1) to formula (a1-1-8) is preferable, and any one of formula (a1-1-1) to formula (a1-1-4) is preferable. The monomer represented by is more preferable.
Figure 2017057193

モノマー(a1−2)としては、式(a1−2−1)〜式(a1−2−12)のいずれかで表されるモノマーが挙げられ、式(a1−2−3)、式(a1−2−4)、式(a1−2−9)又は式(a1−2−10)で表されるモノマーが好ましく、式(a1−2−3)又は式(a1−2−9)で表されるモノマーがより好ましい。

Figure 2017057193
Examples of the monomer (a1-2) include monomers represented by any of the formulas (a1-2-1) to (a1-2-12), and include the formula (a1-2-3) and the formula (a1). -2-4), a monomer represented by formula (a1-2-9) or formula (a1-2-10) is preferable, and a monomer represented by formula (a1-2-3) or formula (a1-2-9) More preferred is a monomer.
Figure 2017057193

樹脂(A)が構造単位(a1−0)及び/又は構造単位(a1−1)及び/又は構造単位(a1−2)を含む場合、これらの合計含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常10〜95モル%であり、好ましくは15〜90モル%であり、より好ましくは20〜85モル%である。   When the resin (A) includes the structural unit (a1-0) and / or the structural unit (a1-1) and / or the structural unit (a1-2), the total content thereof is the total structure of the resin (A). It is 10-95 mol% normally with respect to a unit, Preferably it is 15-90 mol%, More preferably, it is 20-85 mol%.

さらに、基(1)を有する構造単位(a1)としては、式(a1−3)で表される構造単位も挙げられる。式(a1−3)で表される構造単位を、構造単位(a1−3)という場合がある。また、構造単位(a1−3)を誘導するモノマーを、モノマー(a1−3)という場合がある。

Figure 2017057193
[式(a1−3)中、
a9は、ヒドロキシ基を有していてもよい炭素数1〜3の脂肪族炭化水素基、カルボキシ基、シアノ基、水素原子又は−COORa13を表す。
a13は、炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基、炭素数3〜20の脂環式炭化水素基、又はこれらを組み合わせることにより形成される基を表し、該脂肪族炭化水素基及び該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基で置換されていてもよく、該脂肪族炭化水素基及び該脂環式炭化水素基に含まれる−CH2−は、−O−又は−CO−に置き換わっていてもよい。
a10、Ra11及びRa12は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜20の脂環式炭化水素基又はこれらを組み合わせることにより形成される基を表すか、Ra10及びRa11は互いに結合して、それらが結合する炭素原子とともに炭素数3〜20の2価の脂環式炭化水素基を形成する。] Further, examples of the structural unit (a1) having the group (1) include a structural unit represented by the formula (a1-3). The structural unit represented by the formula (a1-3) may be referred to as a structural unit (a1-3). Moreover, the monomer which derives the structural unit (a1-3) may be referred to as a monomer (a1-3).
Figure 2017057193
[In the formula (a1-3),
R a9 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 3 carbon atoms which may have a hydroxy group, a carboxy group, a cyano group, a hydrogen atom, or —COOR a13 .
R a13 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, or a group formed by a combination thereof, the aliphatic hydrocarbon group and the The hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with a hydroxy group, and —CH 2 — contained in the aliphatic hydrocarbon group and the alicyclic hydrocarbon group is —O— or -CO- may be substituted.
R a10 , R a11 and R a12 each independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, or a group formed by combining these, or R a10 and R a11 are bonded to each other to form a divalent alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms together with the carbon atom to which they are bonded. ]

ここで、−COORa13は、例えば、メトキシカルボニル基及びエトキシカルボニル基等のアルコキシ基にカルボニル基が結合した基が挙げられる。 Here, -COOR a13 includes, for example, a group in which a carbonyl group is bonded to an alkoxy group such as a methoxycarbonyl group and an ethoxycarbonyl group.

a9のヒドロキシ基を有していてもよい脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ヒドロキシメチル基及び2−ヒドロキシエチル基等が挙げられる。
a13の炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、n−オクチル基等が挙げられる。
a13の炭素数3〜20の脂環式炭化水素基としては、シクロペンチル基、シクロプロピル基、アダマンチル基、アダマンチルメチル基、1−アダマンチル−1−メチルエチル基、2−オキソ−オキソラン−3−イル基及び2−オキソ−オキソラン−4−イル基等が挙げられる。
a10〜Ra12のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、2−エチルヘキシル基、n−オクチル基等が挙げられる。
a10〜Ra12の脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよく、単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロデシル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、2−アルキルアダマンタン−2−イル基、1−(アダマンタン−1−イル)アルカン−1−イル基、ノルボルニル基、メチルノルボルニル基及びイソボルニル基等が挙げられる。
a10及びRa11が互いに結合して、それらが結合している炭素原子とともに2価の脂環式炭化水素基を形成する場合の−C(Ra10)(Ra11)(Ra12)としては、下記の基が好ましい。

Figure 2017057193
Examples of the aliphatic hydrocarbon group which may have a hydroxy group of R a9 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a hydroxymethyl group and a 2-hydroxyethyl group.
Examples of the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms represented by R a13 include methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, n -Hexyl group, n-heptyl group, 2-ethylhexyl group, n-octyl group, etc. are mentioned.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms represented by R a13 include a cyclopentyl group, a cyclopropyl group, an adamantyl group, an adamantylmethyl group, a 1-adamantyl-1-methylethyl group, and 2-oxo-oxolane-3- Yl group and 2-oxo-oxolan-4-yl group.
Examples of the alkyl group represented by R a10 to R a12 include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, Examples include n-heptyl group, 2-ethylhexyl group, n-octyl group and the like.
The alicyclic hydrocarbon group for R a10 to R a12 may be monocyclic or polycyclic, and examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, and cyclopentyl. Cycloalkyl groups such as a group, a cyclohexyl group, a methylcyclohexyl group, a dimethylcyclohexyl group, a cycloheptyl group, a cyclooctyl group, and a cyclodecyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, 2-alkyladamantan-2-yl group, 1- (adamantan-1-yl) alkane-1-yl group, and norbornyl. Group, methylnorbornyl group, isobornyl group and the like.
-C (R a10 ) (R a11 ) (R a12 ) in the case where R a10 and R a11 are bonded to each other to form a divalent alicyclic hydrocarbon group together with the carbon atom to which they are bonded The following groups are preferred.
Figure 2017057193

モノマー(a1−3)は、具体的には、5−ノルボルネン−2−カルボン酸−tert−ブチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−シクロヘキシル−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチルシクロヘキシル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−メチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−エチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−メチルシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチル−1−(4−オキソシクロヘキシル)エチル及び5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチル等が挙げられる。   Specific examples of the monomer (a1-3) include 5-norbornene-2-carboxylic acid-tert-butyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1-cyclohexyl-1-methylethyl, and 5-norbornene-2-carboxylic acid. Acid 1-methylcyclohexyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 2-methyl-2-adamantyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 2-ethyl-2-adamantyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1- (4 -Methylcyclohexyl) -1-methylethyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1- (4-hydroxycyclohexyl) -1-methylethyl, 5-norbornene-2-carboxylic acid 1-methyl-1- (4-oxo (Cyclohexyl) ethyl and 1- (1-adamantyl) -1-methyl 5-norbornene-2-carboxylate Chill, and the like.

構造単位(a1−3)を含む樹脂(A)は、立体的に嵩高い構造単位が含まれることになるため、このような樹脂(A)を含む本発明のレジスト組成物からは、より高解像度でレジストパターンを得ることができる。また、主鎖に剛直なノルボルナン環が導入されるため、得られるレジストパターンは、ドライエッチング耐性に優れる傾向がある。   Since the resin (A) containing the structural unit (a1-3) includes a sterically bulky structural unit, the resist composition of the present invention containing such a resin (A) is more expensive. A resist pattern can be obtained with resolution. Further, since a rigid norbornane ring is introduced into the main chain, the resulting resist pattern tends to be excellent in dry etching resistance.

樹脂(A)が構造単位(a1−3)を含む場合、その含有量は、樹脂(A)の全構造単位に対して、10〜95モル%が好ましく、15〜90モル%がより好ましく、20〜85モル%がさらに好ましい。   When the resin (A) contains the structural unit (a1-3), the content thereof is preferably 10 to 95 mol%, more preferably 15 to 90 mol%, based on all the structural units of the resin (A). 20-85 mol% is more preferable.

基(2)で表される基を有する構造単位(a1)としては、式(a1−4)で表される構造単位(以下、「構造単位(a1−4)」という場合がある。)が挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a1−4)中、
a32は、水素原子、ハロゲン原子、又は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基を表す。
a33は、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜4のアシル基、炭素数2〜4のアシルオキシ基、アクリロイルオキシ基又はメタクリロイルオキシ基を表す。
laは0〜4の整数を表す。laが2以上である場合、複数のRa33は互いに同一であっても異なってもよい。
a34及びRa35はそれぞれ独立に、水素原子又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、Ra36は、炭素数1〜20の炭化水素基を表すか、Ra35及びRa36は互いに結合してそれらが結合するC−Oとともに炭素数3〜20の2価の複素環基を形成し、該炭化水素基及び該2価の複素環基に含まれる−CH2−は、−O−又は−S−で置き換わってもよい。] As the structural unit (a1) having a group represented by the group (2), a structural unit represented by the formula (a1-4) (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a1-4)”). Can be mentioned.
Figure 2017057193
[In the formula (a1-4),
R a32 represents a hydrogen atom, a halogen atom, or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom.
R a33 is a halogen atom, a hydroxy group, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, an acyloxy group having 2 to 4 carbon atoms, an acryloyloxy group, or Represents a methacryloyloxy group.
la represents an integer of 0 to 4. When la is 2 or more, the plurality of R a33 may be the same as or different from each other.
R a34 and R a35 each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, R a36 may represent a hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, R a35 and R a36 are bonded to each other And C—O to which they are bonded to form a divalent heterocyclic group having 3 to 20 carbon atoms, and —CH 2 — contained in the hydrocarbon group and the divalent heterocyclic group is —O— Alternatively, it may be replaced by -S-. ]

a32及びRa33のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、ペンチル基及びヘキシル基等が挙げられる。該アルキル基は、炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、メチル基又はエチル基がより好ましく、メチル基がさらに好ましい。
a32及びRa33のハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子及び臭素原子等が挙げられる。
a34及びRa35の炭化水素基としては、式(2)のRa1'及びRa2'と同様の基が挙げられる。
a36としては、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基、炭素数6〜18の芳香族炭化水素基又はこれらが組み合わせることにより形成される基が挙げられる。
Examples of the alkyl group for R a32 and R a33 include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, a butyl group, a pentyl group, and a hexyl group. The alkyl group is preferably an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a methyl group or an ethyl group, and further preferably a methyl group.
Examples of the halogen atom for R a32 and R a33 include a fluorine atom, a chlorine atom, and a bromine atom.
Examples of the hydrocarbon group R a34 and R a35, include the same groups as R a1 'and R a2' of formula (2).
The R a36, include groups formed by alkyl groups having 1 to 18 carbon atoms, alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or these aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms combined It is done.

式(a1−4)において、Ra32は、水素原子が好ましい。
a33は、炭素数1〜4のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基及びエトキシ基がより好ましく、メトキシ基がさらに好ましい。
laは、0又は1が好ましく、0がより好ましい。
a34は、好ましくは、水素原子である。
a35は、好ましくは、炭素数1〜12の炭化水素基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
a36の炭化水素基は、好ましくは、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基、炭素数6〜18の芳香族炭化水素基又はこれらを組み合わせることにより形成される基であり、より好ましくは、炭素数1〜18のアルキル基、炭素数3〜18の脂環式脂肪族炭化水素基又は炭素数7〜18のアラルキル基である。Ra36におけるアルキル基及び前記脂環式炭化水素基は無置換が好ましい。Ra36における芳香族炭化水素基が置換基を有する場合、その置換基としては炭素数6〜10のアリールオキシ基が好ましい。
In formula (a1-4), R a32 is preferably a hydrogen atom.
R a33 is preferably an alkoxy group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a methoxy group or an ethoxy group, and further preferably a methoxy group.
la is preferably 0 or 1, more preferably 0.
R a34 is preferably a hydrogen atom.
R a35 is preferably a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, more preferably a methyl group or an ethyl group.
The hydrocarbon group for R a36 is preferably an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 18 carbon atoms, or a combination thereof. It is a group to be formed, more preferably an alkyl group having 1 to 18 carbon atoms, an alicyclic aliphatic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, or an aralkyl group having 7 to 18 carbon atoms. The alkyl group in R a36 and the alicyclic hydrocarbon group are preferably unsubstituted. When the aromatic hydrocarbon group in R a36 has a substituent, the substituent is preferably an aryloxy group having 6 to 10 carbon atoms.

構造単位(a1−4)を導くモノマーとしては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーが挙げられる。中でも、式(a1−4−1)〜式(a1−4−8)でそれぞれ表されるモノマーが好ましく、式(a1−4−1)〜式(a1−4−5)及び式(a1−4−8)でそれぞれ表されるモノマーがより好ましい。

Figure 2017057193
As a monomer which introduce | transduces structural unit (a1-4), the monomer described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2010-204646 is mentioned, for example. Among these, monomers represented by formula (a1-4-1) to formula (a1-4-8) are preferable, and formula (a1-4-1) to formula (a1-4-5) and formula (a1- The monomers represented by 4-8) are more preferable.
Figure 2017057193

樹脂(A)が、構造単位(a1−4)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、10〜95モル%が好ましく、15〜90モル%がより好ましく、20〜85モル%がさらに好ましい。   When resin (A) has a structural unit (a1-4), the content rate is preferable with respect to all the structural units of resin (A), and 10-95 mol% is preferable, and 15-90 mol% is more preferable. 20 to 85 mol% is more preferable.

式(2)で表される基を有する(メタ)アクリル系モノマーに由来する構造単位としては、式(a1−5)で表される構造単位(以下「構造単位(a1−5)」という場合がある)も挙げられる。

Figure 2017057193
式(a1−5)中、
a8は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
a1は、単結合又は*−(CH2h3−CO−L54−を表し、h3は1〜4の整数を表し、*は、L51との結合手を表す。
51、L52、L53及びL54は、それぞれ独立に、−O−又は−S−を表す。
s1は、1〜3の整数を表す。
s1’は、0〜3の整数を表す。 As a structural unit derived from a (meth) acrylic monomer having a group represented by the formula (2), a structural unit represented by the formula (a1-5) (hereinafter referred to as “structural unit (a1-5)”) Is also included).
Figure 2017057193
In formula (a1-5),
R a8 represents a C 1-6 alkyl group optionally having a halogen atom, a hydrogen atom, or a halogen atom.
Z a1 represents a single bond or * — (CH 2 ) h3 —CO—L 54 —, h3 represents an integer of 1 to 4, and * represents a bond to L 51 .
L 51 , L 52 , L 53 and L 54 each independently represent —O— or —S—.
s1 represents an integer of 1 to 3.
s1 ′ represents an integer of 0 to 3.

ハロゲン原子としては、フッ素原子及び塩素原子が挙げられ、フッ素原子が好ましい。ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、フルオロメチル基及びトリフルオロメチル基が挙げられる。
式(a1−5)においては、Ra8は、水素原子、メチル基又はトリフルオロメチル基が好ましい。
51は、酸素原子が好ましい。
52及びL53のうち、一方が−O−であり、他方が−S−であることが好ましい。
s1は、1が好ましい。
s1’は、0〜2の整数が好ましい。
a1は、単結合又は*−CH2−CO−O−が好ましい。
Examples of the halogen atom include a fluorine atom and a chlorine atom, and a fluorine atom is preferable. Examples of the alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, a pentyl group, a hexyl group, a heptyl group, an octyl group, a fluoromethyl group and a trifluoromethyl group. Groups.
In formula (a1-5), R a8 is preferably a hydrogen atom, a methyl group or a trifluoromethyl group.
L 51 is preferably an oxygen atom.
Of L 52 and L 53 , one is preferably —O— and the other is preferably —S—.
s1 is preferably 1.
s1 ′ is preferably an integer of 0 to 2.
Z a1 is preferably a single bond or * —CH 2 —CO—O—.

構造単位(a1−5)を導くモノマーとしては、例えば、特開2010−61117号公報に記載されたモノマーが挙げられる。中でも、式(a1−5−1)〜式(a1−5−4)でそれぞれ表される構造単位が好ましく、式(a1−5−1)又は式(a1−5−2)で表される構造単位がより好ましい。

Figure 2017057193
As a monomer which introduce | transduces structural unit (a1-5), the monomer described in Unexamined-Japanese-Patent No. 2010-61117 is mentioned, for example. Among these, structural units each represented by formula (a1-5-1) to formula (a1-5-4) are preferable, and are represented by formula (a1-5-1) or formula (a1-5-2). A structural unit is more preferable.
Figure 2017057193

樹脂(A)が、構造単位(a1−5)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜50モル%が好ましく、3〜45モル%がより好ましく、5〜40モル%がさらに好ましい。   When resin (A) has a structural unit (a1-5), the content rate is preferable 1-50 mol% with respect to all the structural units of resin (A), and 3-45 mol% is more preferable. 5 to 40 mol% is more preferable.

樹脂(A)中の酸不安定基を有する構造単位(a)としては、構造単位(a1−0)、構造単位(a1−1)、構造単位(a1−2)及び構造単位(a1−5)からなる群から選ばれる少なくとも一種以上が好ましく、少なくとも二種以上がより好ましく、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)の組み合わせ、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−5)の組み合わせ、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−0)の組み合わせ、構造単位(a1−2)及び構造単位(a1−0)の組み合わせ、構造単位(a1−5)及び構造単位(a1−0)の組み合わせ、構造単位(a1−0)、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)の組み合わせ、構造単位(a1−0)、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−5)の組み合わせがさらに好ましく、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)の組み合わせ、構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−5)の組み合わせがさらにより好ましい。
構造単位(a1)は、好ましくは、構造単位(a1−1)を含又は構造単位(a1−2)を含み、より好ましくは、構造単位(a1−1)を含む。
The structural unit (a) having an acid labile group in the resin (A) includes the structural unit (a1-0), the structural unit (a1-1), the structural unit (a1-2), and the structural unit (a1-5). ) Is preferably at least one selected from the group consisting of, and more preferably at least two, a combination of structural unit (a1-1) and structural unit (a1-2), structural unit (a1-1) and structural unit ( a1-5), a structural unit (a1-1) and a structural unit (a1-0), a structural unit (a1-2) and a structural unit (a1-0), and a structural unit (a1-5) And a combination of the structural unit (a1-0), a structural unit (a1-0), a combination of the structural unit (a1-1) and the structural unit (a1-2), a structural unit (a1-0), and a structural unit (a1- 1) and structural unit (a1-5) More preferably a combination, the combination of the structural units (a1-1) and the structural unit (a1-2), more preferably a combination of structural units (a1-1) and the structural unit (a1-5).
The structural unit (a1) preferably includes the structural unit (a1-1) or includes the structural unit (a1-2), and more preferably includes the structural unit (a1-1).

〈構造単位(s)〉
構造単位(s)は、酸不安定基を有さないモノマー(以下「モノマー(s)」という場合がある)から導かれる。構造単位(s)を導くモノマーは、レジスト分野で公知の酸不安定基を有さないモノマーを使用できる。
構造単位(s)としては、ヒドロキシ基又はラクトン環を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位が好ましい。ヒドロキシ基を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(a2)」という場合がある)及び/又はラクトン環を有し、かつ酸不安定基を有さない構造単位(以下「構造単位(a3)」という場合がある)を有する樹脂を本発明のレジスト組成物に使用すれば、レジストパターンの解像度及び基板との密着性を向上させることができる。
<Structural unit (s)>
The structural unit (s) is derived from a monomer having no acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “monomer (s)”). As the monomer for deriving the structural unit (s), a monomer having no acid labile group known in the resist field can be used.
As the structural unit (s), a structural unit having a hydroxy group or a lactone ring and having no acid labile group is preferable. A structure having a hydroxy group and having no acid labile group (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a2)”) and / or a lactone ring and having no acid labile group If a resin having a unit (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a3)”) is used in the resist composition of the present invention, the resolution of the resist pattern and the adhesion to the substrate can be improved.

〈構造単位(a2)〉
構造単位(a2)が有するヒドロキシ基は、アルコール性ヒドロキシ基でも、フェノール性ヒドロキシ基でもよい。
本発明のレジスト組成物からレジストパターンを製造するとき、露光光源としてKrFエキシマレーザ(248nm)、電子線又はEUV(超紫外光)等の高エネルギー線を用いる場合には、構造単位(a2)として、フェノール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)を用いることが好ましい。また、ArFエキシマレーザ(193nm)等を用いる場合には、構造単位(a2)として、アルコール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)が好ましく、構造単位(a2−1)を用いることがより好ましい。構造単位(a2)としては、12種以上を含んでいてもよい。
<Structural unit (a2)>
The hydroxy group contained in the structural unit (a2) may be an alcoholic hydroxy group or a phenolic hydroxy group.
When a resist pattern is produced from the resist composition of the present invention, when a high energy beam such as a KrF excimer laser (248 nm), an electron beam or EUV (ultra-ultraviolet light) is used as an exposure light source, the structural unit (a2) It is preferable to use the structural unit (a2) having a phenolic hydroxy group. When an ArF excimer laser (193 nm) or the like is used, the structural unit (a2) having an alcoholic hydroxy group is preferable as the structural unit (a2), and the structural unit (a2-1) is more preferable. As a structural unit (a2), 12 or more types may be included.

フェノール性ヒドロキシ基有する構造単位(a2)としては、式(a2−0)で表される構造単位(以下「構造単位(a2−0)」という場合がある。)が挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a2−0)中、
a30は、水素原子、ハロゲン原子又はハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基を表す。
a31は、ハロゲン原子、ヒドロキシ基、炭素数1〜6のアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜4のアシル基、炭素数2〜4のアシルオキシ基、アクリロイルオキシ基又はメタクリロイルオキシ基を表す。
maは0〜4の整数を表す。maが2以上の整数である場合、複数のRa31は互いに同一であっても異なってもよい。] Examples of the structural unit (a2) having a phenolic hydroxy group include a structural unit represented by the formula (a2-0) (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a2-0)”).
Figure 2017057193
[In the formula (a2-0),
R a30 represents a hydrogen atom, a halogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom.
R a31 is a halogen atom, a hydroxy group, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 2 to 4 carbon atoms, an acyloxy group having 2 to 4 carbon atoms, an acryloyloxy group, or Represents a methacryloyloxy group.
ma represents an integer of 0 to 4. When ma is an integer of 2 or more, the plurality of R a31 may be the same as or different from each other. ]

炭素数1〜6のアルキル基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基等が挙げられる。
ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子及び臭素原子等が挙げられる。
a30のハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基としては、トリフルオロメチル基、ジフルオロメチル基、メチル基、ペルフルオロエチル基、1,1,1−トリフルオロエチル基、1,1,2,2−テトラフルオロエチル基、エチル基、ペルフルオロプロピル基、1,1,1,2,2−ペンタフルオロプロピル基、プロピル基、ペルフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロブチル基、ブチル基、ペルフルオロペンチル基、1,1,1,2,2,3,3,4,4−ノナフルオロペンチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ペルフルオロヘキシル基等が挙げられる。Ra30は、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基が好ましく、水素原子、メチル基又はエチル基がより好ましく、水素原子又はメチル基がさらに好ましい。
a31のアルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基、プロポキシ基、ブトキシ基等が挙げられる。なかでも、炭素数1〜4のアルコキシ基が好ましく、メトキシ基又はエトキシ基がより好ましく、メトキシ基がさらに好ましい。
a31のアシル基としては、例えば、アセチル基、プロピオニル基及びブチリル基等が挙げられる。
a31のアシルオキシ基としては、アセチルオキシ基、プロピオニルオキシ基、ブチリルオキシ基等が挙げられる。
maとしては、0、1又は2が好ましく、0又は1がより好ましく、0がさらに好ましい。
Examples of the alkyl group having 1 to 6 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group, an n-pentyl group, and an n-hexyl group.
Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom and a bromine atom.
Examples of the alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom of R a30 include a trifluoromethyl group, a difluoromethyl group, a methyl group, a perfluoroethyl group, a 1,1,1-trifluoroethyl group, 1 , 1,2,2-tetrafluoroethyl group, ethyl group, perfluoropropyl group, 1,1,1,2,2-pentafluoropropyl group, propyl group, perfluorobutyl group, 1,1,2,2,3 , 3,4,4-octafluorobutyl group, butyl group, perfluoropentyl group, 1,1,1,2,2,3,3,4,4-nonafluoropentyl group, n-pentyl group, n-hexyl Group, n-perfluorohexyl group and the like. R a30 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group, and even more preferably a hydrogen atom or a methyl group.
Examples of the alkoxy group for R a31 include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, and a butoxy group. Especially, a C1-C4 alkoxy group is preferable, a methoxy group or an ethoxy group is more preferable, and a methoxy group is further more preferable.
Examples of the acyl group for R a31 include an acetyl group, a propionyl group, and a butyryl group.
Examples of the acyloxy group for R a31 include an acetyloxy group, a propionyloxy group, and a butyryloxy group.
As ma, 0, 1 or 2 is preferable, 0 or 1 is more preferable, and 0 is more preferable.

構造単位(a2−0)を誘導するモノマーとしては、例えば、特開2010−204634号公報に記載されているモノマーが挙げられる。
中でも、構造単位(a2−0)としては、式(a2−0−1)、式(a2−0−2)、式(a2−0−3)及び式(a2−0−4)でそれぞれ表されるものが好ましく、式(a2−0−1)又は式(a2−0−2)で表される構造単位がより好ましい。

Figure 2017057193
Examples of the monomer that derives the structural unit (a2-0) include monomers described in JP 2010-204634 A.
Among them, the structural unit (a2-0) is represented by formula (a2-0-1), formula (a2-0-2), formula (a2-0-3), and formula (a2-0-4), respectively. The structural unit represented by the formula (a2-0-1) or the formula (a2-0-2) is more preferable.
Figure 2017057193

構造単位(a2−0)を含む樹脂(A)は、構造単位(a2−0)を誘導するモノマーが有するフェノール性ヒドロキシ基を保護基で保護したモノマーを用いて重合反応を行い、その後脱保護処理することにより製造できる。ただし、脱保護処理を行う際には、構造単位(a1)が有する酸不安定基を著しく損なわないようにして行う必要がある。このような保護基としては、アセチル基等が挙げられる。   The resin (A) containing the structural unit (a2-0) is subjected to a polymerization reaction using a monomer in which the phenolic hydroxy group of the monomer that derives the structural unit (a2-0) is protected with a protective group, and then deprotected. It can be manufactured by processing. However, when the deprotection treatment is performed, the acid labile group of the structural unit (a1) needs to be not significantly impaired. Examples of such protecting groups include acetyl groups.

樹脂(A)が、フェノール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2−0)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、5〜95モル%が好ましく、10〜80モル%がより好ましく、15〜80モル%がさらに好ましい。   When the resin (A) has a structural unit (a2-0) having a phenolic hydroxy group, the content is preferably from 5 to 95 mol% with respect to all the structural units of the resin (A). 80 mol% is more preferable, and 15-80 mol% is further more preferable.

アルコール性ヒドロキシ基を有する構造単位(a2)としては、式(a2−1)で表される構造単位(以下「構造単位(a2−1)」という場合がある。)が挙げられる。

Figure 2017057193
式(a2−1)中、
a3は、−O−又は−O−(CH2k2−CO−O−を表し、
k2は1〜7の整数を表す。*は−CO−との結合手を表す。
a14は、水素原子又はメチル基を表す。
a15及びRa16は、それぞれ独立に、水素原子、メチル基又はヒドロキシ基を表す。
o1は、0〜10の整数を表す。 Examples of the structural unit (a2) having an alcoholic hydroxy group include a structural unit represented by the formula (a2-1) (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a2-1)”).
Figure 2017057193
In formula (a2-1),
L a3 represents —O— or * —O— (CH 2 ) k2 —CO—O—,
k2 represents an integer of 1 to 7. * Represents a bond with -CO-.
R a14 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a15 and R a16 each independently represent a hydrogen atom, a methyl group or a hydroxy group.
o1 represents an integer of 0 to 10.

式(a2−1)では、La3は、好ましくは、−O−、−O−(CH2f1−CO−O−であり(前記f1は、1〜4の整数である)、より好ましくは−O−である。
a14は、好ましくはメチル基である。
a15は、好ましくは水素原子である。
a16は、好ましくは水素原子又はヒドロキシ基である。
o1は、好ましくは0〜3の整数、より好ましくは0又は1である。
In the formula (a2-1), L a3 is preferably, -O -, - O- (CH 2) f1 -CO-O- and is (wherein f1 is an integer from 1 to 4), more preferably Is —O—.
R a14 is preferably a methyl group.
R a15 is preferably a hydrogen atom.
R a16 is preferably a hydrogen atom or a hydroxy group.
o1 is preferably an integer of 0 to 3, more preferably 0 or 1.

構造単位(a2−1)を誘導するモノマーとしては、例えば、特開2010−204646号公報に記載されたモノマーが挙げられる。式(a2−1−1)〜式(a2−1−6)のいずれかで表されるモノマーが好ましく、式(a2−1−1)〜式(a2−1−4)のいずれかで表されるモノマーがより好ましく、式(a2−1−1)又は式(a2−1−3)で表されるモノマーがさらに好ましい。

Figure 2017057193
Examples of the monomer that derives the structural unit (a2-1) include monomers described in JP 2010-204646 A. A monomer represented by any one of formula (a2-1-1) to formula (a2-1-6) is preferable, and represented by any one of formula (a2-1-1) to formula (a2-1-4). The monomer represented by Formula (a2-1-1) or Formula (a2-1-3) is more preferable.
Figure 2017057193

樹脂(A)が構造単位(a2−1)を含む場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常1〜45モル%であり、好ましくは1〜40モル%であり、より好ましくは1〜35モル%であり、さらに好ましくは2〜20モル%である。   When resin (A) contains a structural unit (a2-1), the content rate is 1-45 mol% normally with respect to all the structural units of resin (A), Preferably it is 1-40 mol%. More preferably, it is 1-35 mol%, More preferably, it is 2-20 mol%.

〈構造単位(a3)〉
構造単位(a3)が有するラクトン環は、β−プロピオラクトン環、γ−ブチロラクトン環、δ−バレロラクトン環のような単環でもよく、単環式のラクトン環と他の環との縮合環でもよい。好ましくは、γ−ブチロラクトン環、アダマンタンラクトン環、又は、γ−ブチロラクトン環構造を含む橋かけ環が挙げられる。
<Structural unit (a3)>
The lactone ring of the structural unit (a3) may be a monocycle such as a β-propiolactone ring, γ-butyrolactone ring, or δ-valerolactone ring, or a condensed ring of a monocyclic lactone ring and another ring. But you can. Preferably, a γ-butyrolactone ring, an adamantane lactone ring, or a bridged ring containing a γ-butyrolactone ring structure is used.

構造単位(a3)は、好ましくは、式(a3−1)、式(a3−2)、式(a3−3)又は式(a3−4)で表される構造単位である。これらは2種以上を含有してもよい。   The structural unit (a3) is preferably a structural unit represented by the formula (a3-1), the formula (a3-2), the formula (a3-3), or the formula (a3-4). These may contain 2 or more types.

Figure 2017057193
[式(a3−1)中、
a4は、−O−又は−O−(CH2k3−CO−O−(k3は1〜7の整数を表す。
)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a18は、水素原子又はメチル基を表す。
a21は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
p1は0〜5の整数を表す。p1が2以上のとき、複数のRa21は互いに同一又は相異なる。
式(a3−2)中、
a5は、−O−又は−O−(CH2k3−CO−O−(k3は1〜7の整数を表す。
)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a19は、水素原子又はメチル基を表す。
a22は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
q1は、0〜3の整数を表す。q1が2以上のとき、複数のRa22は互いに同一又は相異なる。
式(a3−3)中、
a6は、−O−又は−O−(CH2k3−CO−O−(k3は1〜7の整数を表す。
)で表される基を表す。*はカルボニル基との結合手を表す。
a20は、水素原子又はメチル基を表す。
a23は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
r1は、0〜3の整数を表す。r1が2以上のとき、複数のRa23は互いに同一又は相異なる。
式(a3−4)中、
a24は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。
a25は、カルボキシ基、シアノ基又は炭素数1〜4の脂肪族炭化水素基を表す。
a7は、単結合、−La8−O−、−La8−CO−O−、−La8−CO−O−La9−CO−O−又は−La8−O−CO−La9−O−を表す。
*は−O−との結合手を表す。
a8及びLa9は、互いに独立に、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表す。
w1は、0〜8の整数を表す。w1が2以上のとき、複数のRa25は互いに同一であってもよく、異なってもよい。]
Figure 2017057193
[In the formula (a3-1),
L a4 represents —O— or * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O— (k3 represents an integer of 1 to 7).
) Represents a group represented by * Represents a bond with a carbonyl group.
R a18 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a21 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
p1 represents an integer of 0 to 5. When p1 is 2 or more, the plurality of R a21 are the same or different from each other.
In formula (a3-2),
L a5 represents —O— or * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O— (k3 represents an integer of 1 to 7).
) Represents a group represented by * Represents a bond with a carbonyl group.
R a19 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a22 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
q1 represents an integer of 0 to 3. When q1 is 2 or more, the plurality of R a22 are the same or different from each other.
In formula (a3-3),
L a6 represents —O— or * —O— (CH 2 ) k3 —CO—O— (k3 represents an integer of 1 to 7).
) Represents a group represented by * Represents a bond with a carbonyl group.
R a20 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a23 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
r1 represents an integer of 0 to 3. When r1 is 2 or more, the plurality of R a23 are the same or different from each other.
In formula (a3-4),
R a24 represents an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms which may have a halogen atom, a hydrogen atom or a halogen atom.
R a25 represents a carboxy group, a cyano group, or an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
L a7 is a single bond, * —L a8 —O—, * —L a8 —CO—O—, * —L a8 —CO—O—L a9 —CO—O— or * —L a8 —O—CO —L a9 —O— is represented.
* Represents a bond with -O-.
L a8 and L a9 each independently represent an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms.
w1 represents an integer of 0 to 8. When w1 is 2 or more, the plurality of R a25 may be the same as or different from each other. ]

a21等の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基が挙げられる。
a24のハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子が挙げられる。
a24のアルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基及びn−ヘキシル基等が挙げられ、好ましくは炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくはメチル基又はエチル基である。
a24のハロゲン原子を有するアルキル基としては、トリフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロイソプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロsec−ブチル基、ペルフルオロtert−ブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基、トリクロロメチル基、トリブロモメチル基、トリヨードメチル基等が挙げられる。
Examples of the aliphatic hydrocarbon group such as R a21 include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, a sec-butyl group, and a tert-butyl group.
Examples of the halogen atom for R a24 include a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom.
Examples of the alkyl group for R a24 include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, and n-hexyl group. , Preferably it is a C1-C4 alkyl group, More preferably, it is a methyl group or an ethyl group.
Examples of the alkyl group having a halogen atom of R a24 include trifluoromethyl group, perfluoroethyl group, perfluoropropyl group, perfluoroisopropyl group, perfluorobutyl group, perfluorosec-butyl group, perfluorotert-butyl group, perfluoropentyl group, perfluoro group. A hexyl group, a trichloromethyl group, a tribromomethyl group, a triiodomethyl group, etc. are mentioned.

a8及びLa9のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、ペンタン−1,4−ジイル基及び2−メチルブタン−1,4−ジイル基等が挙げられる。 Examples of the alkanediyl group represented by L a8 and L a9 include a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a propane-1,2-diyl group, a butane-1,4-diyl group, and a pentane-1,5. -Diyl group, hexane-1,6-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group, pentane-1, 4-diyl group, 2-methylbutane-1,4-diyl group, etc. are mentioned.

式(a3−1)〜式(a3−3)において、La4〜La6は、それぞれ独立に、好ましくは、−O−又は、k3が1〜4の整数である*−O−(CH2k3−CO−O−で表される基、より好ましくは−O−及び、*−O−CH2−CO−O−、さらに好ましくは酸素原子である。
a18〜Ra21は、好ましくはメチル基である。
a22及びRa23は、それぞれ独立に、好ましくはカルボキシ基、シアノ基又はメチル基である。
p1、q1及びr1は、それぞれ独立に、好ましくは0〜2の整数であり、より好ましくは0又は1である。
In formula (a3-1) to formula (a3-3), L a4 to L a6 are each independently preferably —O— or k— is an integer of 1 to 4 * —O— (CH 2 ) A group represented by k 3 —CO—O—, more preferably —O— and * —O—CH 2 —CO—O—, still more preferably an oxygen atom.
R a18 to R a21 are preferably methyl groups.
R a22 and R a23 are each independently preferably a carboxy group, a cyano group or a methyl group.
p1, q1 and r1 are each independently preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1.

式(a3−4)において、
a24は、好ましくは、水素原子又は炭素数1〜4のアルキル基であり、より好ましくは、水素原子、メチル基又はエチル基であり、さらに好ましくは、水素原子又はメチル基である。
a7は、好ましくは、単結合又は−La8−CO−O−であり、より好ましくは、単結合、−CH2−CO−O−又は−C24−CO−O−である。
a25は、好ましくはカルボキシ基、シアノ基又はメチル基である。
w1は、好ましくは0〜2の整数であり、より好ましくは0又は1である。
特に、式(a3−4)は、式(a3−4)’が好ましい。

Figure 2017057193
(式中、Ra24、La7は、上記と同じ意味を表す。) In formula (a3-4),
R a24 is preferably a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably a hydrogen atom, a methyl group or an ethyl group, and still more preferably a hydrogen atom or a methyl group.
L a7 is preferably a single bond or * -L a8 —CO—O—, and more preferably a single bond, —CH 2 —CO—O— or —C 2 H 4 —CO—O—. .
R a25 is preferably a carboxy group, a cyano group, or a methyl group.
w1 is preferably an integer of 0 to 2, more preferably 0 or 1.
In particular, the formula (a3-4) is preferably the formula (a3-4) ′.
Figure 2017057193
(Wherein R a24 and L a7 represent the same meaning as described above.)

構造単位(a3)を導くモノマーとしては、特開2010−204646号公報に記載されたモノマー、特開2000−122294号公報に記載されたモノマー、特開2012−41274号公報に記載されたモノマーが挙げられる。構造単位(a3)としては、式(a3−1−1)〜式(a3−1−4)、式(a3−2−1)〜式(a3−2−4)、式(a3−3−1)〜式(a3−3−4)及び式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)のいずれかで表される構造単位が好ましく、式(a3−1−1)、式(a3−1−2)、式(a3−2−3)〜式(a3−2−4)及び式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)のいずれかで表される構造単位がより好ましく、式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)のいずれかで表される構造単位がさらに好ましく、式(a3−4−1)〜式(a3−4−6)のいずれかで表される構造単位がさらにより好ましい。

Figure 2017057193
As monomers for deriving the structural unit (a3), monomers described in JP 2010-204646 A, monomers described in JP 2000-122294 A, monomers described in JP 2012-41274 A are listed. Can be mentioned. As the structural unit (a3), formula (a3-1-1) to formula (a3-1-4), formula (a3-2-1) to formula (a3-2-4), formula (a3-3) 1) to a structural unit represented by any one of the formula (a3-3-4) and the formula (a3-4-1) to the formula (a3-4-12), the formula (a3-1-1), It is represented by any one of formula (a3-1-2), formula (a3-2-3) to formula (a3-2-4) and formula (a3-4-1) to formula (a3-4-12) The structural unit represented by any one of formulas (a3-4-1) to (a3-4-12) is more preferred, and the structural unit represented by formula (a3-4-1) to formula (a3- The structural unit represented by any one of 4-6) is even more preferable.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

以下の式(a3−4−1)〜式(a3−4−12)で表される構造単位においては、Ra24に相当するメチル基が水素原子に置き換わった化合物も、構造単位(a3−4)の具体例として挙げることができる。

Figure 2017057193
In the structural units represented by the following formulas (a3-4-1) to (a3-4-12), compounds in which the methyl group corresponding to R a24 is replaced with a hydrogen atom are also structural units (a3-4). ).
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

樹脂(A)が構造単位(a3)を含む場合、その合計含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、通常5〜70モル%であり、好ましくは10〜65モル%であり、より好ましくは10〜60モル%である。
また、構造単位(a3−1)、構造単位(a3−2)、構造単位(a3−3)及び構造単位(a3−4)の含有率は、それぞれ、樹脂(A)の全構造単位に対して、5〜60モル%が好ましく、5〜50モル%がより好ましく、10〜50モル%がさらに好ましい。
When the resin (A) includes the structural unit (a3), the total content is usually 5 to 70 mol%, preferably 10 to 65 mol%, based on all the structural units of the resin (A). More preferably, it is 10-60 mol%.
Moreover, the content rate of a structural unit (a3-1), a structural unit (a3-2), a structural unit (a3-3), and a structural unit (a3-4) is respectively with respect to all the structural units of resin (A). 5 to 60 mol% is preferable, 5 to 50 mol% is more preferable, and 10 to 50 mol% is more preferable.

<その他の構造単位(t)>
樹脂(A)は、構造単位(a1)及び構造単位(s)以外の構造単位として、その他の構造単位(以下「構造単位(t)」という場合がある)を含んでいてもよい。構造単位(t)としては、構造単位(a2)及び構造単位(a3)以外にハロゲン原子を有する構造単位(以下、場合により「構造単位(a4)」という。)及び非脱離炭化水素基を有する構造単位(s)(以下「構造単位(a5)」という場合がある)などが挙げられる。樹脂(A)は、上述の構造単位以外の構造単位を有していてもよく、かかる構造単位としては、当技術分野で周知の構造単位を挙げられる。
<Other structural units (t)>
The resin (A) may contain other structural units (hereinafter sometimes referred to as “structural units (t)”) as structural units other than the structural units (a1) and (s). As the structural unit (t), in addition to the structural unit (a2) and the structural unit (a3), a structural unit having a halogen atom (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a4)”) and a non-leaving hydrocarbon group. And a structural unit (s) (hereinafter sometimes referred to as “structural unit (a5)”). The resin (A) may have a structural unit other than the above-described structural unit, and examples of the structural unit include structural units well known in the art.

構造単位(a4)としては、式(a4−0)で表される構造単位が挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a4−0)中、
5は、水素原子又はメチル基を表す。
4は、単結合又は炭素数1〜4の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
3は、炭素数1〜8のペルフルオロアルカンジイル基又は炭素数3〜12のペルフルオロシクロアルカンジイル基を表す。
6は、水素原子又はフッ素原子を表す。] As the structural unit (a4), a structural unit represented by formula (a4-0) can be given.
Figure 2017057193
[In the formula (a4-0),
R 5 represents a hydrogen atom or a methyl group.
L 4 represents a single bond or an aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 4 carbon atoms.
L 3 represents a perfluoroalkyl cycloalkanediyl group perfluoro alkanediyl group or 3 to 12 carbon atoms having 1 to 8 carbon atoms.
R 6 represents a hydrogen atom or a fluorine atom. ]

4の脂肪族飽和炭化水素基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基、エタン−1,1−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基及び2−メチルプロパン−1,2−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基が挙げられる。 As the aliphatic saturated hydrocarbon group for L 4 , a linear alkanediyl group such as methylene group, ethylene group, propane-1,3-diyl group, butane-1,4-diyl group, ethane-1,1- Branched alkanediyl such as diyl group, propane-1,2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group and 2-methylpropane-1,2-diyl group Groups.

3のペルフルオロアルカンジイル基としては、ジフルオロメチレン基、ペルフルオロエチレン基、ペルフルオロエチルフルオロメチレン基、ペルフルオロプロパン−1,3−ジイル基、ペルフルオロプロパン−1,2−ジイル基、ペルフルオロプロパン−2,2−ジイル基、ペルフルオロブタン−1,4−ジイル基、ペルフルオロブタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロブタン−1,2−ジイル基、ペルフルオロペンタン−1,5−ジイル基、ペルフルオロペンタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロペンタン−3,3−ジイル基、ペルフルオロヘキサン−1,6−ジイル基、ペルフルオロヘキサン−2,2−ジイル基、ペルフルオロヘキサン−3,3−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−1,7−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−3,4−ジイル基、ペルフルオロヘプタン−4,4−ジイル基、ペルフルオロオクタン−1,8−ジイル基、ペルフルオロオクタン−2,2−ジイル基、ペルフルオロオクタン−3,3−ジイル基、ペルフルオロオクタン−4,4−ジイル基等が挙げられる。
のペルフルオロシクロアルカンジイル基としては、ペルフルオロシクロヘキサンジイル基、ペルフルオロシクロペンタンジイル基、ペルフルオロシクロヘプタンジイル基、ペルフルオロアダマンタンジイル基等が挙げられる。
As the perfluoroalkanediyl group of L 3 , a difluoromethylene group, a perfluoroethylene group, a perfluoroethylfluoromethylene group, a perfluoropropane-1,3-diyl group, a perfluoropropane-1,2-diyl group, a perfluoropropane-2,2 -Diyl group, perfluorobutane-1,4-diyl group, perfluorobutane-2,2-diyl group, perfluorobutane-1,2-diyl group, perfluoropentane-1,5-diyl group, perfluoropentane-2,2 -Diyl group, perfluoropentane-3,3-diyl group, perfluorohexane-1,6-diyl group, perfluorohexane-2,2-diyl group, perfluorohexane-3,3-diyl group, perfluoroheptane-1,7 -Diyl group, perfluoroheptane-2 2-diyl group, perfluoroheptane-3,4-diyl group, perfluoroheptane-4,4-diyl group, perfluorooctane-1,8-diyl group, perfluorooctane-2,2-diyl group, perfluorooctane-3, A 3-diyl group, a perfluorooctane-4,4-diyl group, etc. are mentioned.
Examples of the L 3 perfluorocycloalkanediyl group include a perfluorocyclohexanediyl group, a perfluorocyclopentanediyl group, a perfluorocycloheptanediyl group, and a perfluoroadamantanediyl group.

4は、好ましくは単結合、メチレン基又はエチレン基であり、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
3は、好ましくは炭素数1〜6のペルフルオロアルカンジイル基であり、より好ましくは炭素数1〜3のペルフルオロアルカンジイル基である。
L 4 is preferably a single bond, a methylene group or an ethylene group, and more preferably a single bond or a methylene group.
L 3 is preferably a C 1-6 perfluoroalkanediyl group, more preferably a C 1-3 perfluoroalkanediyl group.

構造単位(a4−0)としては、以下に示す構造単位が挙げられる。

Figure 2017057193
Examples of the structural unit (a4-0) include the structural units shown below.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

式(a4−0−1)〜式(a4−0−16)でそれぞれ表される化合物において、R5に相当するメチル基が水素原子で置き換わった化合物も、式(a4−0)で表される構造単位の具体例として挙げることができる。 In the compounds represented by formula (a4-0-1) to formula (a4-0-16), a compound in which the methyl group corresponding to R 5 is replaced by a hydrogen atom is also represented by formula (a4-0). Specific examples of the structural unit can be given.

構造単位(a4)としては、式(a4−1)で表される構造単位が挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a4−1)中、
a41は、水素原子又はメチル基を表す。
a42は、置換基を有していてもよい炭素数1〜20の炭化水素基を表し、該炭化水素基に含まれる−CH2−は、−O−又は−CO−に置き換わっていてもよい。
a41は、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルカンジイル基又は式(a−g1)で表される基を表す。
Figure 2017057193
〔式(a−g1)中、
sは0又は1を表す。
a42及びAa44は、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基を表す。
a43は、単結合又は置換基を有していてもよい炭素数1〜5の脂肪族炭化水素基を表す。
a41及びXa42は、それぞれ独立に、−O−、−CO−、−CO−O−又は−O−CO−を表す。
ただし、Aa42、Aa43、Aa44、Xa41及びXa42の炭素数の合計は7以下である。〕
*、**は結合手であり、**は−O−CO−Ra42との結合手である。] As the structural unit (a4), a structural unit represented by formula (a4-1) can be given.
Figure 2017057193
[In the formula (a4-1),
R a41 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R a42 represents an optionally substituted hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, and —CH 2 — contained in the hydrocarbon group may be replaced by —O— or —CO—. Good.
A a41 represents an optionally substituted alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms or a group represented by the formula (a-g1).
Figure 2017057193
[In the formula (a-g1),
s represents 0 or 1.
A a42 and A a44 each independently represent an optionally substituted aliphatic hydrocarbon group having 1 to 5 carbon atoms.
A a43 represents a single bond or a C1-C5 aliphatic hydrocarbon group which may have a substituent.
X a41 and X a42 each independently represent —O—, —CO—, —CO —O— or —O—CO—.
However, the total number of carbon atoms of A a42 , A a43 , A a44 , X a41 and X a42 is 7 or less. ]
* And ** are bonds, and ** is a bond with -O-CO-R a42 . ]

a42の炭化水素基としては、鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基、芳香族炭化水素基、並びにこれらを組み合わせることにより形成される基が挙げられる。
鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、鎖式及び環式の脂肪族飽和炭化水素基並びにこれらを組合せることにより形成される基が好ましい。該脂肪族飽和炭化水素基としては、直鎖又は分岐のアルキル基及び単環又は多環の脂環式炭化水素基、並びに、アルキル基及び脂環式炭化水素基を組み合わせることにより形成される脂肪族炭化水素基等が挙げられる。
Examples of the hydrocarbon group for R a42 include chain and cyclic aliphatic hydrocarbon groups, aromatic hydrocarbon groups, and groups formed by combining these.
The chain and cyclic aliphatic hydrocarbon groups may have carbon-carbon unsaturated bonds, but are formed by chain and cyclic aliphatic saturated hydrocarbon groups and combinations thereof. Groups are preferred. The aliphatic saturated hydrocarbon group includes a straight chain or branched alkyl group and a monocyclic or polycyclic alicyclic hydrocarbon group, and an aliphatic group formed by combining an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group. Group hydrocarbon group and the like.

鎖式の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、n−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−ヘプチル基、n−オクチル基、n−デシル基、n−ドデシル基、n−ペンタデシル基、n−ヘキサデシル基、n−ヘプタデシル基及びn−オクタデシル基が挙げられる。環式の脂肪族炭化水素基としては、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基等のシクロアルキル基;デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基及び下記の基(*は結合手を表す。)等の多環式の脂環式炭化水素基が挙げられる。

Figure 2017057193
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、ビフェニリル基、フェナントリル基及びフルオレニル基が挙げられる。 Examples of chain aliphatic hydrocarbon groups include methyl, ethyl, n-propyl, n-butyl, n-pentyl, n-hexyl, n-heptyl, n-octyl, and n-decyl. Group, n-dodecyl group, n-pentadecyl group, n-hexadecyl group, n-heptadecyl group and n-octadecyl group. Cyclic aliphatic hydrocarbon groups include cyclopentyl group, cyclohexyl group, cycloheptyl group, cyclooctyl group and other cycloalkyl groups; decahydronaphthyl group, adamantyl group, norbornyl group and the following groups (* is a bond) And a polycyclic alicyclic hydrocarbon group such as “represents a hand.”
Figure 2017057193
Examples of the aromatic hydrocarbon group include a phenyl group, a naphthyl group, an anthryl group, a biphenylyl group, a phenanthryl group, and a fluorenyl group.

a42の置換基としては、ハロゲン原子、式(a−g3)で表される基が挙げられる。ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子及びヨウ素原子が挙げられ、好ましくはフッ素原子が挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a−g3)中、
a43は、酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
a45は、少なくとも1つのハロゲン原子を有する炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
*は、結合手を表す。]
a45の脂肪族炭化水素基としては、Ra42で例示したものと同様の基が挙げられる。
a42がハロゲン原子を有する脂肪族炭化水素基である場合、好ましくはフッ素原子を有する脂肪族炭化水素基であり、より好ましくはペルフルオロアルキル基又はペルフルオロシクロアルキル基であり、さらに好ましくは炭素数が1〜6のペルフルオロアルキル基であり、特に好ましくは炭素数1〜3のペルフルオロアルキル基である。ペルフルオロアルキル基としては、ペルフルオロメチル基、ペルフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、ペルフルオロブチル基、ペルフルオロペンチル基、ペルフルオロヘキシル基、ペルフルオロヘプチル基及びペルフルオロオクチル基等が挙げられる。ペルフルオロシクロアルキル基としては、ペルフルオロシクロヘキシル基等が挙げられる。
a42が、式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基である場合、式(a−g3)で表される基に含まれる炭素数を含めて、脂肪族炭化水素基の総炭素数は、15以下が好ましく、12以下がより好ましい。式(a−g3)で表される基を置換基として有する場合、その数は1個が好ましい。
a42が、式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基である場合、式(a−g3)で表される基に含まれる炭素数を含めて、脂肪族炭化水素基の総炭素数は、15以下が好ましく、12以下がより好ましい。式(a−g3)で表される基を置換基として有する場合、その数は1個が好ましい。 Examples of the substituent for R a42 include a halogen atom and a group represented by the formula (a-g3). As a halogen atom, a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom are mentioned, Preferably a fluorine atom is mentioned.
Figure 2017057193
[In the formula (a-g3),
X a43 represents an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A a45 represents a C 1-17 aliphatic hydrocarbon group having at least one halogen atom.
* Represents a bond. ]
As the aliphatic hydrocarbon group for A a45, the same groups as those exemplified for R a42 can be mentioned.
When R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a halogen atom, it is preferably an aliphatic hydrocarbon group having a fluorine atom, more preferably a perfluoroalkyl group or a perfluorocycloalkyl group, and still more preferably a carbon number. It is a 1-6 perfluoroalkyl group, Most preferably, it is a C1-C3 perfluoroalkyl group. Examples of the perfluoroalkyl group include a perfluoromethyl group, a perfluoroethyl group, a perfluoropropyl group, a perfluorobutyl group, a perfluoropentyl group, a perfluorohexyl group, a perfluoroheptyl group, and a perfluorooctyl group. Examples of the perfluorocycloalkyl group include a perfluorocyclohexyl group.
When R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (a-g3), including the carbon number contained in the group represented by the formula (a-g3), the aliphatic hydrocarbon The total carbon number of the group is preferably 15 or less, more preferably 12 or less. When it has a group represented by the formula (a-g3) as a substituent, the number is preferably 1.
When R a42 is an aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (a-g3), including the carbon number contained in the group represented by the formula (a-g3), the aliphatic hydrocarbon The total carbon number of the group is preferably 15 or less, more preferably 12 or less. When it has a group represented by the formula (a-g3) as a substituent, the number is preferably 1.

式(a−g3)で表される基を有する脂肪族炭化水素基は、さらに好ましくは式(a−g2)で表される基である。

Figure 2017057193
[式(a−g2)中、
a46は、ハロゲン原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
a44は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
a47は、ハロゲン原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。
ただし、Aa46、Aa47及びXa44の炭素数の合計は18以下であり、Aa46及びAa47のうち、少なくとも一方は、少なくとも1つのハロゲン原子を有する。
*はカルボニル基との結合手を表す。] The aliphatic hydrocarbon group having a group represented by the formula (a-g3) is more preferably a group represented by the formula (a-g2).
Figure 2017057193
[In the formula (a-g2),
A a46 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a halogen atom.
X a44 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A a47 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a halogen atom.
However, the total number of carbon atoms of A a46 , A a47, and X a44 is 18 or less, and at least one of A a46 and A a47 has at least one halogen atom.
* Represents a bond with a carbonyl group. ]

a46の脂肪族炭化水素基の炭素数は1〜6が好ましく、1〜3がより好ましい。
a47の脂肪族炭化水素基の炭素数は4〜15が好ましく、5〜12がより好ましく、Aa47は、シクロヘキシル基又はアダマンチル基がさらに好ましい。
1-6 are preferable and, as for carbon number of the aliphatic hydrocarbon group of Aa46 , 1-3 are more preferable.
4-15 are preferable, as for carbon number of the aliphatic hydrocarbon group of A <a47> , 5-12 are more preferable, and A <a47> has a more preferable cyclohexyl group or an adamantyl group.

*−Aa46−Xa44−Aa47で表される部分構造(*はカルボニル基との結合手である)のより好ましい構造は、以下の構造である。

Figure 2017057193
A more preferred structure of the partial structure represented by * -A a46 -X a44 -A a47 (* is a bond to a carbonyl group) is the following structure.
Figure 2017057193

a41のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、1−メチルブタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基が挙げられる。
a41のアルカンジイル基における置換基としては、ヒドロキシ基及び炭素数1〜6のアルコキシ基等が挙げられる。
a41は、好ましくは炭素数1〜4のアルカンジイル基であり、より好ましくは炭素数2〜4のアルカンジイル基であり、さらに好ましくはエチレン基である。
As the alkanediyl group of Aa41 , a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a butane-1,4-diyl group, a pentane-1,5-diyl group, a hexane-1,6-diyl group Linear alkanediyl group such as propane-1,2-diyl group, butane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2-diyl group, 1-methylbutane-1,4-diyl group, Examples include branched alkanediyl groups such as 2-methylbutane-1,4-diyl group.
Examples of the substituent in the alkanediyl group of A a41 include a hydroxy group and an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms.
A a41 is preferably an alkanediyl group having 1 to 4 carbon atoms, more preferably an alkanediyl group having 2 to 4 carbon atoms, and still more preferably an ethylene group.

基(a−g1)におけるAa42、Aa43及びAa44の脂肪族炭化水素基としては、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、脂肪族飽和炭化水素基であることが好ましい。該脂肪族飽和炭化水素基としては、アルキル基(当該アルキル基は直鎖でも分岐していてもよい)及び脂環式炭化水素基、並びに、アルキル基及び脂環式炭化水素基を組合せることにより形成される脂肪族炭化水素基等が挙げられる。具体的には、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、1−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基等が挙げられる。これらの置換基としては、ヒドロキシ基及び炭素数1〜6のアルコキシ基等が挙げられる。
sは、0が好ましい。
The aliphatic hydrocarbon group for A a42 , A a43 and A a44 in the group (a-g1) may have a carbon-carbon unsaturated bond, but is preferably an aliphatic saturated hydrocarbon group. . As the aliphatic saturated hydrocarbon group, an alkyl group (the alkyl group may be linear or branched), an alicyclic hydrocarbon group, and an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group are combined. An aliphatic hydrocarbon group formed by the above. Specifically, methylene group, ethylene group, propane-1,3-diyl group, propane-1,2-diyl group, butane-1,4-diyl group, 1-methylpropane-1,3-diyl group, Examples include 2-methylpropane-1,3-diyl group and 2-methylpropane-1,2-diyl group. Examples of these substituents include a hydroxy group and an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms.
s is preferably 0.

a42が酸素原子、カルボニル基、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す基(a−g1)としては、以下の基等が挙げられる。以下の例示において、*及び**はそれぞれ結合手を表わし、**が−O−CO−Ra42との結合手である。

Figure 2017057193
Examples of the group ( ag1) in which X a42 represents an oxygen atom, a carbonyl group, a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group include the following groups. In the following examples, * and ** each represent a bond, and ** is a bond with —O—CO—R a42 .
Figure 2017057193

式(a4−1)で表される構造単位としては、式(a4−2)及び式(a4−3)で表される構造単位が好ましい。

Figure 2017057193
[式(a4−2)中、
f1は、水素原子又はメチル基を表す。
f1は、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表す。
f2は、フッ素原子を有する炭素数1〜10の炭化水素基を表す。] As the structural unit represented by the formula (a4-1), structural units represented by the formula (a4-2) and the formula (a4-3) are preferable.
Figure 2017057193
[In the formula (a4-2),
R f1 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f1 represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms.
R f2 represents a C 1-10 hydrocarbon group having a fluorine atom. ]

f1のアルカンジイル基としては、メチレン基、エチレン基、プロパン−1,3−ジイル基、プロパン−1,2−ジイル基、ブタン−1,4−ジイル基、ペンタン−1,5−ジイル基、ヘキサン−1,6−ジイル基等の直鎖状アルカンジイル基;1−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,3−ジイル基、2−メチルプロパン−1,2−ジイル基、1−メチルブタン−1,4−ジイル基、2−メチルブタン−1,4−ジイル基等の分岐状アルカンジイル基が挙げられる。 As the alkanediyl group of A f1 , a methylene group, an ethylene group, a propane-1,3-diyl group, a propane-1,2-diyl group, a butane-1,4-diyl group, a pentane-1,5-diyl group , A straight-chain alkanediyl group such as hexane-1,6-diyl group; 1-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,3-diyl group, 2-methylpropane-1,2 -Branched alkanediyl groups such as a diyl group, 1-methylbutane-1,4-diyl group, 2-methylbutane-1,4-diyl group.

f2の炭化水素基は、脂肪族炭化水素基及び芳香族炭化水素基を包含し、脂肪族炭化水素基は、鎖式、環式及びこれらの組み合わせることにより形成される基を含む。脂肪族炭化水素基としては、アルキル基、脂環式炭化水素基が好ましい。
アルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、n−ペンチル基、n−ヘキシル基、n−オクチル基及び2−エチルヘキシル基が挙げられる。
脂環式炭化水素基は、単環式であってもよいし、多環式であってもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロヘキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基、シクロデシル基等のシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、2−アルキルアダマンタン−2−イル基、1−(アダマンタン−1−イル)アルカン−1−イル基、ノルボルニル基、メチルノルボルニル基及びイソボルニル基が挙げられる。
The hydrocarbon group of R f2 includes an aliphatic hydrocarbon group and an aromatic hydrocarbon group, and the aliphatic hydrocarbon group includes a chain, a cyclic group, and a group formed by a combination thereof. As the aliphatic hydrocarbon group, an alkyl group and an alicyclic hydrocarbon group are preferable.
Examples of the alkyl group include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, n-pentyl group, n-hexyl group, n-octyl group and 2 -An ethylhexyl group is mentioned.
The alicyclic hydrocarbon group may be monocyclic or polycyclic. Examples of monocyclic alicyclic hydrocarbon groups include cyclopropyl groups such as cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, methylcyclohexyl group, dimethylcyclohexyl group, cycloheptyl group, cyclooctyl group, and cyclodecyl group. Can be mentioned. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include decahydronaphthyl group, adamantyl group, 2-alkyladamantan-2-yl group, 1- (adamantan-1-yl) alkane-1-yl group, norbornyl group, A methyl norbornyl group and an isobornyl group are mentioned.

f2のフッ素原子を有する炭化水素基としては、フッ素原子を有するアルキル基、フッ素原子を有する脂環式炭化水素基等が挙げられる。
フッ素原子を有するアルキル基としては、ジフルオロメチル基、トリフルオロメチル基、1,1−ジフルオロエチル基、2,2−ジフルオロエチル基、2,2,2−トリフルオロエチル基、ペルフルオロエチル基、1,1,2,2−テトラフルオロプロピル基、1,1,2,2,3,3−ヘキサフルオロプロピル基、ペルフルオロエチルメチル基、1−(トリフルオロメチル)−1,2,2,2−テトラフルオロエチル基、1−(トリフルオロメチル)−2,2,2−トリフルオロエチル基、ペルフルオロプロピル基、1,1,2,2−テトラフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3−ヘキサフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロブチル基、ペルフルオロブチル基、1,1−ビス(トリフルオロ)メチル−2,2,2−トリフルオロエチル基、2−(ペルフルオロプロピル)エチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロペンチル基、ペルフルオロペンチル基、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5−デカフルオロペンチル基、1,1−ビス(トリフルオロメチル)−2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピル基、2−(ペルフルオロブチル)エチル基、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5−デカフルオロヘキシル基、1,1,2,2,3,3,4,4,5,5,6,6−ドデカフルオロヘキシル基、ペルフルオロペンチルメチル基及びペルフルオロヘキシル基等のフッ化アルキル基が挙げられる。
フッ素原子を有する脂環式炭化水素基としては、ペルフルオロシクロヘキシル基、ペルフルオロアダマンチル基等のフッ化シクロアルキル基が挙げられる。
Examples of the hydrocarbon group having a fluorine atom for R f2 include an alkyl group having a fluorine atom and an alicyclic hydrocarbon group having a fluorine atom.
Examples of the alkyl group having a fluorine atom include a difluoromethyl group, a trifluoromethyl group, a 1,1-difluoroethyl group, a 2,2-difluoroethyl group, a 2,2,2-trifluoroethyl group, a perfluoroethyl group, 1 , 1,2,2-tetrafluoropropyl group, 1,1,2,2,3,3-hexafluoropropyl group, perfluoroethylmethyl group, 1- (trifluoromethyl) -1,2,2,2- Tetrafluoroethyl group, 1- (trifluoromethyl) -2,2,2-trifluoroethyl group, perfluoropropyl group, 1,1,2,2-tetrafluorobutyl group, 1,1,2,2,3 , 3-hexafluorobutyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4-octafluorobutyl group, perfluorobutyl group, 1,1-bis (trifluoro) methyl 2,2,2-trifluoroethyl group, 2- (perfluoropropyl) ethyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4-octafluoropentyl group, perfluoropentyl group, 1,1,2 , 2,3,3,4,4,5,5-decafluoropentyl group, 1,1-bis (trifluoromethyl) -2,2,3,3,3-pentafluoropropyl group, 2- (perfluoro Butyl) ethyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4,5,5-decafluorohexyl group, 1,1,2,2,3,3,4,4,5,5 Fluorinated alkyl groups such as 6,6-dodecafluorohexyl group, perfluoropentylmethyl group and perfluorohexyl group can be mentioned.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group having a fluorine atom include fluorinated cycloalkyl groups such as a perfluorocyclohexyl group and a perfluoroadamantyl group.

式(a4−2)におけるAf1としては、炭素数2〜4のアルカンジイル基が好ましく、エチレン基がより好ましい。
f2としては、炭素数1〜6のフッ化アルキル基が好ましい。
As A f1 in formula (a4-2), an alkanediyl group having 2 to 4 carbon atoms is preferable, and an ethylene group is more preferable.
R f2 is preferably a fluorinated alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.

Figure 2017057193
[式(a4−3)中、
f11は、水素原子又はメチル基を表す。
f11は、炭素数1〜6のアルカンジイル基を表す。
f13は、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜18の脂肪族炭化水素基を表す。
f12は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
f14は、フッ素原子を有していてもよい炭素数1〜17の脂肪族炭化水素基を表す。 ただし、Af13及びAf14の少なくとも1つは、フッ素原子を有する脂肪族炭化水素基を表す。]
Figure 2017057193
[In the formula (a4-3),
R f11 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f11 represents an alkanediyl group having 1 to 6 carbon atoms.
A f13 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms which may have a fluorine atom.
X f12 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
A f14 represents an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms which may have a fluorine atom. However, at least one of A f13 and A f14 represents an aliphatic hydrocarbon group having a fluorine atom. ]

f11のアルカンジイル基としては、Af1のアルカンジイル基と同様の基が挙げられる。 Examples of the alkanediyl group for A f11 include the same groups as the alkanediyl group for A f1 .

f13の脂肪族炭化水素基は、鎖式及び環式の脂肪族炭化水素基、並びに、これらを組み合わせることにより形成される2価の脂肪族炭化水素基が包含される。この脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、好ましくは飽和の脂肪族炭化水素基である。
f13のフッ素原子を有していてもよい脂肪族炭化水素基としては、好ましくはフッ素原子を有していてもよい脂肪族飽和炭化水素基であり、より好ましくはペルフルオロアルカンジイル基である。
フッ素原子を有していてもよい2価の鎖式の脂肪族炭化水素基としては、メチレン基、エチレン基、プロパンジイル基、ブタンジイル基及びペンタンジイル基等のアルカンジイル基;ジフルオロメチレン基、ペルフルオロエチレン基、ペルフルオロプロパンジイル基、ペルフルオロブタンジイル基及びペルフルオロペンタンジイル基等のペルフルオロアルカンジイル基等が挙げられる。
フッ素原子を有していてもよい2価の環式の脂肪族炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれを含む基でもよい。単環式の脂肪族炭化水素基としては、シクロヘキサンジイル基及びペルフルオロシクロヘキサンジイル基等が挙げられる。多環式の2価の脂肪族炭化水素基としては、アダマンタンジイル基、ノルボルナンジイル基、ペルフルオロアダマンタンジイル基等が挙げられる。
The aliphatic hydrocarbon group for A f13 includes chain and cyclic aliphatic hydrocarbon groups, and divalent aliphatic hydrocarbon groups formed by combining them. The aliphatic hydrocarbon group may have a carbon-carbon unsaturated bond, but is preferably a saturated aliphatic hydrocarbon group.
The aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom of A f13 is preferably an aliphatic saturated hydrocarbon group which may have a fluorine atom, and more preferably a perfluoroalkanediyl group.
Examples of the divalent chain aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include alkanediyl groups such as methylene group, ethylene group, propanediyl group, butanediyl group and pentanediyl group; difluoromethylene group, perfluoroethylene Groups, perfluoroalkanediyl groups such as perfluoropropanediyl group, perfluorobutanediyl group and perfluoropentanediyl group.
The divalent cyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom may be a monocyclic or polycyclic group. Examples of the monocyclic aliphatic hydrocarbon group include a cyclohexanediyl group and a perfluorocyclohexanediyl group. Examples of the polycyclic divalent aliphatic hydrocarbon group include an adamantanediyl group, a norbornanediyl group, a perfluoroadamantanediyl group, and the like.

f14の脂肪族炭化水素基としては、鎖式及び環式のいずれか、並びに、これらを組み合わせることにより形成される脂肪族炭化水素基が包含される。この脂肪族炭化水素基は、炭素−炭素不飽和結合を有していてもよいが、好ましくは飽和の脂肪族炭化水素基である。
f14のフッ素原子を有していてもよい脂肪族炭化水素基としては、好ましくはフッ素原子を有していてもよい脂肪族飽和炭化水素基である。
フッ素原子を有していてもよい鎖式の脂肪族炭化水素基としては、トリフルオロメチル基、ジフルオロメチル基、メチル基、ペルフルオロエチル基、1,1,1−トリフルオロエチル基、1,1,2,2−テトラフルオロエチル基、エチル基、ペルフルオロプロピル基、1,1,1,2,2−ペンタフルオロプロピル基、プロピル基、ペルフルオロブチル基、1,1,2,2,3,3,4,4−オクタフルオロブチル基、ブチル基、ペルフルオロペンチル基、1,1,1,2,2,3,3,4,4−ノナフルオロペンチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ペルフルオロヘキシル基、ヘプチル基、ペルフルオロヘプチル基、オクチル基及びペルフルオロオクチル基等が挙げられる。
フッ素原子を有していてもよい環式の脂肪族炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂肪族炭化水素基を含む基としては、シクロプロピルメチル基、シクロプロピル基、シクロブチルメチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ペルフルオロシクロヘキシル基が挙げられる。多環式の脂肪族炭化水素基を含む基としては、アダマンチル基、アダマンチルメチル基、ノルボルニル基、ノルボルニルメチル基、ペルフルオロアダマンチル基、ペルフルオロアダマンチルメチル基等が挙げられる。
As the aliphatic hydrocarbon group for A f14 , one of a chain type and a cyclic type, and an aliphatic hydrocarbon group formed by combining them are included. The aliphatic hydrocarbon group may have a carbon-carbon unsaturated bond, but is preferably a saturated aliphatic hydrocarbon group.
The aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom of A f14 is preferably an aliphatic saturated hydrocarbon group which may have a fluorine atom.
Examples of the chain aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom include a trifluoromethyl group, a difluoromethyl group, a methyl group, a perfluoroethyl group, a 1,1,1-trifluoroethyl group, 1,1 , 2,2-tetrafluoroethyl group, ethyl group, perfluoropropyl group, 1,1,1,2,2-pentafluoropropyl group, propyl group, perfluorobutyl group, 1,1,2,2,3,3 , 4,4-octafluorobutyl group, butyl group, perfluoropentyl group, 1,1,1,2,2,3,3,4,4-nonafluoropentyl group, pentyl group, hexyl group, perfluorohexyl group, A heptyl group, a perfluoro heptyl group, an octyl group, a perfluorooctyl group, etc. are mentioned.
The cyclic aliphatic hydrocarbon group which may have a fluorine atom may be monocyclic or polycyclic. Examples of the group containing a monocyclic aliphatic hydrocarbon group include a cyclopropylmethyl group, a cyclopropyl group, a cyclobutylmethyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, and a perfluorocyclohexyl group. Examples of the group containing a polycyclic aliphatic hydrocarbon group include an adamantyl group, an adamantylmethyl group, a norbornyl group, a norbornylmethyl group, a perfluoroadamantyl group, and a perfluoroadamantylmethyl group.

式(a4−3)において、Af11は、エチレン基が好ましい。
f13の脂肪族炭化水素基は、炭素数1〜6の脂肪族炭化水素基が好ましく、炭素数2〜3の脂肪族炭化水素基がさらに好ましい。
f14の脂肪族炭化水素基は、炭素数3〜12の脂肪族炭化水素基が好ましく、炭素数3〜10の脂肪族炭化水素基がさらに好ましい。なかでも、Af14は、好ましくは炭素数3〜12の脂環式炭化水素基を含む基であり、より好ましくは、シクロプロピルメチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、ノルボルニル基及びアダマンチル基である。
In the formula (a4-3), A f11 is an ethylene group is preferred.
The aliphatic hydrocarbon group for A f13 is preferably an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms, and more preferably an aliphatic hydrocarbon group having 2 to 3 carbon atoms.
The aliphatic hydrocarbon group for A f14 is preferably an aliphatic hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms, and more preferably an aliphatic hydrocarbon group having 3 to 10 carbon atoms. Among them, A f14 is preferably a group containing an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 12 carbon atoms, and more preferably a cyclopropylmethyl group, a cyclopentyl group, a cyclohexyl group, a norbornyl group, and an adamantyl group.

式(a4−2)で表される構造単位としては、式(a4−1−1)〜式(a4−1−22)で表される構成単位が挙げられる。

Figure 2017057193
As the structural unit represented by the formula (a4-2), structural units represented by the formula (a4-1-1) to the formula (a4-1-22) can be given.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

式(a4−3)で表される構造単位を誘導するモノマーとしては、式(a4−1’−1)〜式(a4−1’−22)でそれぞれ表されるモノマーが挙げられる。

Figure 2017057193
Examples of the monomer for deriving the structural unit represented by formula (a4-3) include monomers represented by formula (a4-1′-1) to formula (a4-1′-22), respectively.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

構造単位(a4)としては、式(a4−4)で表される構造単位も挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a4−4)中、
f21は、水素原子又はメチル基を表す。
f21は、−(CH2j1−、−(CH2j2−O−(CH2j3−又は−(CH2j4−CO−O−(CH2j5−を表す。
j1〜j5は、それぞれ独立に、1〜6の整数を表す。
f22は、フッ素原子を有する炭素数1〜10の炭化水素基を表す。] Examples of the structural unit (a4) include a structural unit represented by the formula (a4-4).
Figure 2017057193
[In the formula (a4-4),
R f21 represents a hydrogen atom or a methyl group.
A f21 represents — (CH 2 ) j1 —, — (CH 2 ) j2 —O— (CH 2 ) j3 — or — (CH 2 ) j4 —CO—O— (CH 2 ) j5 —.
j1 to j5 each independently represents an integer of 1 to 6.
R f22 represents a C 1-10 hydrocarbon group having a fluorine atom. ]

f22のフッ素原子を有する炭化水素基としては、式(a4−2)におけるRf2の炭化水素基と同じものが挙げられる。Rf22は、フッ素原子を有する炭素数1〜10のアルキル基又はフッ素原子を有する炭素数1〜10の脂環式炭化水素基が好ましく、フッ素原子を有する炭素数1〜10のアルキル基がより好ましく、フッ素原子を有する炭素数1〜6のアルキル基がさらに好ましい。 Examples of the hydrocarbon group having a fluorine atom of R f22 include the same hydrocarbon groups as R f2 in formula (a4-2). R f22 is preferably a C 1-10 alkyl group having a fluorine atom or a C 1-10 alicyclic hydrocarbon group having a fluorine atom, more preferably a C 1-10 alkyl group having a fluorine atom. Preferably, the C1-C6 alkyl group which has a fluorine atom is further more preferable.

式(a4−4)において、Af21としては、−(CH2j1−が好ましく、エチレン基又はメチレン基がより好ましく、メチレン基がさらに好ましい。 In formula (a4-4), A f21 is preferably — (CH 2 ) j1 —, more preferably an ethylene group or a methylene group, and still more preferably a methylene group.

式(a4−4)で表される構造単位を誘導するモノマーとしては、例えば、以下のモノマーが挙げられる。

Figure 2017057193
Examples of the monomer for deriving the structural unit represented by the formula (a4-4) include the following monomers.
Figure 2017057193

Figure 2017057193
Figure 2017057193

樹脂(A)が、構造単位(a4)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜20モル%が好ましく、2〜15モル%がより好ましく、3〜10モル%がさらに好ましい。   When the resin (A) has a structural unit (a4), the content is preferably 1 to 20 mol%, more preferably 2 to 15 mol%, based on all structural units of the resin (A). More preferably, it is 10 mol%.

<構造単位(a5)>
構造単位(a5)が有する非脱離炭化水素基としては、直鎖、分岐又は環状の炭化水素基が挙げられる。なかでも、構造単位(a5)は、脂環式炭化水素基であることが好ましい。
構造単位(a5)としては、例えば、式(a5−1)で表される構造単位が挙げられる。

Figure 2017057193
[式(a5−1)中、
51は、水素原子又はメチル基を表す。
52は、炭素数3〜18の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基又はヒドロキシ基で置換されていてもよい。但し、L55との結合位置にある炭素原子に結合する水素原子は、炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基で置換されない。
55は、単結合又は炭素数1〜18の2価の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていてもよい。] <Structural unit (a5)>
Examples of the non-leaving hydrocarbon group that the structural unit (a5) has include a linear, branched, or cyclic hydrocarbon group. Especially, it is preferable that a structural unit (a5) is an alicyclic hydrocarbon group.
As a structural unit (a5), the structural unit represented by a formula (a5-1) is mentioned, for example.
Figure 2017057193
[In the formula (a5-1),
R 51 represents a hydrogen atom or a methyl group.
R 52 represents an alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, and a hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group is substituted with an aliphatic hydrocarbon group or hydroxy group having 1 to 8 carbon atoms. May be. However, the hydrogen atom bonded to the carbon atom at the coupling position with the L 55 is not substituted with an aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L 55 represents a single bond or a divalent saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms, a methylene group contained in the saturated hydrocarbon group may be replaced by an oxygen atom or a carbonyl group. ]

52の脂環式炭化水素基としては、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基及びシクロヘキシル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、アダマンチル基及びノルボルニル基等が挙げられる。
炭素数1〜8の脂肪族炭化水素基は、例えば、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基及び2−エチルヘキシル基等のアルキル基が挙げられる。
置換基を有した脂環式炭化水素基としては、3−ヒドロキシアダマンチル基、3−メチルアダマンチル基などが挙げられる。
52は、好ましくは、無置換の炭素数3〜18の脂環式炭化水素基であり、より好ましくは、アダマンチル基、ノルボルニル基又はシクロヘキシル基である。
The alicyclic hydrocarbon group for R 52 may be monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic hydrocarbon group include a cyclopropyl group, a cyclobutyl group, a cyclopentyl group, and a cyclohexyl group. Examples of the polycyclic alicyclic hydrocarbon group include an adamantyl group and a norbornyl group.
Examples of the aliphatic hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms include methyl group, ethyl group, n-propyl group, isopropyl group, n-butyl group, sec-butyl group, tert-butyl group, pentyl group, hexyl group, Examples thereof include alkyl groups such as octyl group and 2-ethylhexyl group.
Examples of the alicyclic hydrocarbon group having a substituent include a 3-hydroxyadamantyl group and a 3-methyladamantyl group.
R 52 is preferably an unsubstituted alicyclic hydrocarbon group having 3 to 18 carbon atoms, and more preferably an adamantyl group, a norbornyl group, or a cyclohexyl group.

55の2価の飽和炭化水素基としては、2価の脂肪族飽和炭化水素基及び2価の脂環式飽和炭化水素基が挙げられ、好ましくは2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
2価の脂肪族飽和炭化水素基としては、例えば、メチレン基、エチレン基、プロパンジイル基、ブタンジイル基及びペンタンジイル基等のアルカンジイル基が挙げられる。
2価の脂環式飽和炭化水素基は、単環式及び多環式のいずれでもよい。単環式の脂環式飽和炭化水素基としては、シクロペンタンジイル基及びシクロヘキサンジイル基等のシクロアルカンジイル基が挙げられる。多環式の2価の脂環式飽和炭化水素基としては、アダマンタンジイル基及びノルボルナンジイル基等が挙げられる。
Examples of the divalent saturated hydrocarbon group for L 55 include a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group and a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group, preferably a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group. .
Examples of the divalent aliphatic saturated hydrocarbon group include alkanediyl groups such as a methylene group, an ethylene group, a propanediyl group, a butanediyl group, and a pentanediyl group.
The divalent alicyclic saturated hydrocarbon group may be monocyclic or polycyclic. Examples of the monocyclic alicyclic saturated hydrocarbon group include cycloalkanediyl groups such as cyclopentanediyl group and cyclohexanediyl group. Examples of the polycyclic divalent alicyclic saturated hydrocarbon group include an adamantanediyl group and a norbornanediyl group.

飽和炭化水素基に含まれるメチレン基が、酸素原子又はカルボニル基で置き換わった基としては、例えば、式(L1−1)〜式(L1−4)で表される基が挙げられる。下記式中、*は酸素原子との結合手を表す。

Figure 2017057193
式(L1−1)中、
x1は、カルボニルオキシ基又はオキシカルボニル基を表す。
x1は、炭素数1〜16の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
x2は、単結合又は炭素数1〜15の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx1及びLx2の合計炭素数は、16以下である。
式(L1−2)中、
x3は、炭素数1〜17の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
x4は、単結合又は炭素数1〜16の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx3及びLx4の合計炭素数は、17以下である。
式(L1−3)中、
x5は、炭素数1〜15の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
x6及びLx7は、それぞれ独立に、単結合又は炭素数1〜14の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx5、Lx6及びLx7の合計炭素数は、15以下である。
式(L1−4)中、
x8及びLx9は、単結合又は炭素数1〜12の2価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。
x1は、炭素数3〜15の2価の脂環式飽和炭化水素基を表す。
ただし、Lx8、Lx9及びWx1の合計炭素数は、15以下である。 Examples of the group in which the methylene group contained in the saturated hydrocarbon group is replaced with an oxygen atom or a carbonyl group include groups represented by formulas (L1-1) to (L1-4). In the following formula, * represents a bond with an oxygen atom.
Figure 2017057193
In formula (L1-1),
X x1 represents a carbonyloxy group or an oxycarbonyl group.
L x1 represents a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
L x2 represents a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x1 and L x2 is 16 or less.
In formula (L1-2),
L x3 represents a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 17 carbon atoms.
L x4 represents a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 16 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x3 and L x4 is 17 or less.
In formula (L1-3),
L x5 represents a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 15 carbon atoms.
L x6 and L x7 each independently represent a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 14 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x5 , L x6 and L x7 is 15 or less.
In formula (L1-4),
L x8 and L x9 represent a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms.
W x1 represents a divalent alicyclic saturated hydrocarbon group having 3 to 15 carbon atoms.
However, the total carbon number of L x8 , L x9 and W x1 is 15 or less.

x1は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
x2は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合である。
x3は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
x4は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
x5は、好ましくは、炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
x6は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、メチレン基又はエチレン基である。
x7は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基である。
x8は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
x9は、好ましくは、単結合又は炭素数1〜8の2価の脂肪族飽和炭化水素基、より好ましくは、単結合又はメチレン基である。
x1は、好ましくは、炭素数3〜10の2価の脂環式飽和炭化水素基、より好ましくは、シクロヘキサンジイル基又はアダマンタンジイル基である。
L x1 is preferably a C 1-8 divalent aliphatic saturated hydrocarbon group, more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x2 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond.
L x3 is preferably a C 1-8 divalent aliphatic saturated hydrocarbon group.
L x4 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x5 is preferably a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x6 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a methylene group or an ethylene group.
L x7 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms.
L x8 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond or a methylene group.
L x9 is preferably a single bond or a divalent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 8 carbon atoms, more preferably a single bond or a methylene group.
W x1 is preferably a C 3-10 divalent alicyclic saturated hydrocarbon group, more preferably a cyclohexanediyl group or an adamantanediyl group.

式(L1−1)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。

Figure 2017057193
As group represented by a formula (L1-1), the bivalent group shown below is mentioned, for example.
Figure 2017057193

式(L1−2)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。

Figure 2017057193
As group represented by a formula (L1-2), the bivalent group shown below is mentioned, for example.
Figure 2017057193

式(L1−3)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。

Figure 2017057193
As group represented by a formula (L1-3), the bivalent group shown below is mentioned, for example.
Figure 2017057193

式(L1−4)で表される基としては、例えば、以下に示す2価の基が挙げられる。

Figure 2017057193
As group represented by a formula (L1-4), the bivalent group shown below is mentioned, for example.
Figure 2017057193

55は、好ましくは、単結合又は式(L1−1)で表される基である。 L 55 is preferably a group represented by a single bond or the formula (L1-1).

構造単位(a5−1)としては、以下のもの等が挙げられる。

Figure 2017057193
式(a5−1−1)〜式(a5−1−18)において、R51に相当するメチル基が水素原子に置き換わった構造単位も、構造単位(a5−1)の具体例として挙げることができる。 Examples of the structural unit (a5-1) include the following.
Figure 2017057193
In the formula (a5-1-1) to the formula (a5-1-18), a structural unit in which a methyl group corresponding to R 51 is replaced with a hydrogen atom can also be given as specific examples of the structural unit (a5-1). it can.

樹脂(A)が、構造単位(a5)を有する場合、その含有率は、樹脂(A)の全構造単位に対して、1〜30モル%が好ましく、2〜20モル%がより好ましく、3〜15モル%がさらに好ましい。   When the resin (A) has the structural unit (a5), the content is preferably 1 to 30 mol%, more preferably 2 to 20 mol%, based on all structural units of the resin (A). More preferred is ˜15 mol%.

樹脂(A)は、上述の構造単位以外の構造単位を有していてもよく、かかる構造単位としては、当技術分野で周知の構造単位を挙げられる。   The resin (A) may have a structural unit other than the above-described structural unit, and examples of the structural unit include structural units well known in the art.

樹脂(A)は、好ましくは、構造単位(a1)と構造単位(s)とからなる樹脂、すなわち、モノマー(a1)とモノマー(s)との共重合体である。
構造単位(a1)は、好ましくは構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)(好ましくはシクロヘキシル基、シクロペンチル基を有する該構造単位)から選ばれる少なくとも一種、より好ましくは構造単位(a1−1)及び構造単位(a1−2)(好ましくはシクロヘキシル基、シクロペンチル基を有する該構造単位)から選ばれる少なくとも二種である。
構造単位(s)は、好ましくは構造単位(a2)及び構造単位(a3)の少なくとも一種である。構造単位(a2)は、好ましくは式(a2−1)で表される構造単位である。構造単位(a3)は、好ましくは式(a3−1)で表される構造単位、式(a3−2)で表される構造単位及び式(a3−4)で表される構造単位から選ばれる少なくとも一種である。
The resin (A) is preferably a resin composed of the structural unit (a1) and the structural unit (s), that is, a copolymer of the monomer (a1) and the monomer (s).
The structural unit (a1) is preferably at least one selected from the structural unit (a1-1) and the structural unit (a1-2) (preferably the structural unit having a cyclohexyl group or a cyclopentyl group), more preferably the structural unit ( a1-1) and a structural unit (a1-2) (preferably the structural unit having a cyclohexyl group or a cyclopentyl group).
The structural unit (s) is preferably at least one of the structural unit (a2) and the structural unit (a3). The structural unit (a2) is preferably a structural unit represented by the formula (a2-1). The structural unit (a3) is preferably selected from the structural unit represented by the formula (a3-1), the structural unit represented by the formula (a3-2), and the structural unit represented by the formula (a3-4). At least one kind.

樹脂(A)は、アダマンチル基を有するモノマーに由来する構造単位(特に、構造単位(a1−1))を、構造単位(a1)の含有量に対して15モル%以上含有していることが好ましい。アダマンチル基を有する構造単位の含有量が増えると、レジストパターンのドライエッチング耐性が向上する。   The resin (A) may contain a structural unit derived from a monomer having an adamantyl group (particularly the structural unit (a1-1)) in an amount of 15 mol% or more based on the content of the structural unit (a1). preferable. When the content of the structural unit having an adamantyl group is increased, the dry etching resistance of the resist pattern is improved.

樹脂(A)を構成する各構造単位は、1種のみ又は2種以上を組み合わせて用いてもよく、これら構造単位を誘導するモノマーを用いて、公知の重合法(例えばラジカル重合法)によって製造することができる。樹脂(A)が有する各構造単位の含有率は、重合に用いるモノマーの使用量で調整できる。
樹脂(A)の重量平均分子量は、好ましくは、2,000以上(より好ましくは2,500以上、さらに好ましくは3,000以上)、50,000以下(より好ましくは30,000以下、さらに好ましくは15,000以下)である。
本明細書において、重量平均分子量は、ゲルパーミュエーションクロマトグラフィーにより求めた値である。ゲルパーミュエーションクロマトグラフィーは、実施例に記載の分析条件により測定することができる。
Each structural unit constituting the resin (A) may be used alone or in combination of two or more, and is produced by a known polymerization method (for example, radical polymerization method) using a monomer that derives these structural units. can do. The content rate of each structural unit which resin (A) has can be adjusted with the usage-amount of the monomer used for superposition | polymerization.
The weight average molecular weight of the resin (A) is preferably 2,000 or more (more preferably 2,500 or more, more preferably 3,000 or more), 50,000 or less (more preferably 30,000 or less, further preferably 15,000 or less).
In this specification, the weight average molecular weight is a value determined by gel permeation chromatography. Gel permeation chromatography can be measured by the analytical conditions described in the examples.

<樹脂(X)>
本発明のレジスト組成物は、樹脂(A)以外の樹脂を含んでもよい。樹脂(A)以外の樹脂としては、構造単位(s)のみからなる樹脂、構造単位(a4)を含む樹脂(ただし、構造単位(a1)を含まない。以下「樹脂(X)」という場合がある)が挙げられる。なかでも、構造単位(a4)を含む樹脂が好ましい。
樹脂(X)において、構造単位(a4)の含有率は、樹脂(X)の全構造単位に対して、40モル%以上が好ましく、45モル%以上がより好ましく、50モル%以上がさらに好ましい。
樹脂(X)がさらに有していてもよい構造単位としては、構造単位(a2)、構造単位(a3)及びその他の公知のモノマーに由来する構造単位が挙げられる。
樹脂(X)の重量平均分子量は、好ましくは、6,000以上(より好ましくは7,000以上)、80,000以下(より好ましくは60,000以下)である。かかる樹脂(X)の重量平均分子量の測定手段は、樹脂(A)の場合と同様である。
レジスト組成物が樹脂(X)を含む場合、その含有量は、樹脂(A)100質量部に対して、好ましくは1〜60質量部であり、より好ましくは2〜50質量部であり、さらに好ましくは2〜40質量部であり、特に好ましくは3〜30質量部である。
<Resin (X)>
The resist composition of the present invention may contain a resin other than the resin (A). Examples of the resin other than the resin (A) include a resin composed only of the structural unit (s) and a resin including the structural unit (a4) (however, the structural unit (a1) is not included. There is). Of these, a resin containing the structural unit (a4) is preferable.
In the resin (X), the content of the structural unit (a4) is preferably 40 mol% or more, more preferably 45 mol% or more, and still more preferably 50 mol% or more with respect to all the structural units of the resin (X). .
Examples of the structural unit that the resin (X) may further include a structural unit derived from the structural unit (a2), the structural unit (a3), and other known monomers.
The weight average molecular weight of the resin (X) is preferably 6,000 or more (more preferably 7,000 or more) and 80,000 or less (more preferably 60,000 or less). The means for measuring the weight average molecular weight of the resin (X) is the same as that for the resin (A).
When the resist composition contains the resin (X), the content thereof is preferably 1 to 60 parts by mass, more preferably 2 to 50 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin (A). Preferably it is 2-40 mass parts, Most preferably, it is 3-30 mass parts.

樹脂(A)と樹脂(A)以外の樹脂との合計含有率は、レジスト組成物の固形分に対して、80質量%以上99質量%以下が好ましく、90質量%以上99質量%以下が好ましい。
レジスト組成物の固形分及びこれに対する樹脂の含有率は、液体クロマトグラフィー又はガスクロマトグラフィー等の公知の分析手段で測定することができる。
80 mass% or more and 99 mass% or less are preferable with respect to solid content of a resist composition, and, as for the total content rate of resin other than resin (A) and resin (A), 90 mass% or more and 99 mass% or less are preferable. .
The solid content of the resist composition and the resin content relative thereto can be measured by a known analysis means such as liquid chromatography or gas chromatography.

〈溶剤(E)〉
溶剤(E)の含有率は、通常レジスト組成物中90質量%以上、好ましくは92質量%以上、より好ましくは94質量%以上であり、通常99.9質量%以下、好ましくは99質量%以下である。溶剤(E)の含有率は、液体クロマトグラフィー又はガスクロマトグラフィー等の公知の分析手段で測定できる。
<Solvent (E)>
The content of the solvent (E) is usually 90% by mass or more, preferably 92% by mass or more, more preferably 94% by mass or more, and usually 99.9% by mass or less, preferably 99% by mass or less in the resist composition. It is. The content rate of a solvent (E) can be measured by well-known analysis means, such as a liquid chromatography or a gas chromatography.

溶剤(E)としては、エチルセロソルブアセテート、メチルセロソルブアセテート及びプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のグリコールエーテルエステル類;プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル類;乳酸エチル、酢酸ブチル、酢酸アミル及びピルビン酸エチル等のエステル類;アセトン、メチルイソブチルケトン、2−ヘプタノン及びシクロヘキサノン等のケトン類;γ−ブチロラクトン等の環状エステル類;等が挙げられる。溶剤(E)は、2種以上を含有してもよい。   Examples of the solvent (E) include glycol ether esters such as ethyl cellosolve acetate, methyl cellosolve acetate and propylene glycol monomethyl ether acetate; glycol ethers such as propylene glycol monomethyl ether; ethyl lactate, butyl acetate, amyl acetate and ethyl pyruvate Esters; ketones such as acetone, methyl isobutyl ketone, 2-heptanone and cyclohexanone; cyclic esters such as γ-butyrolactone; A solvent (E) may contain 2 or more types.

〈クエンチャー(C)〉
クエンチャー(C)は、塩基性の含窒素有機化合物又は塩(I)及び酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い塩が挙げられる。
塩基性の含窒素有機化合物としては、アミン及びアンモニウム塩が挙げられる。アミンとしては、脂肪族アミン及び芳香族アミンが挙げられる。脂肪族アミンとしては、第一級アミン、第二級アミン及び第三級アミンが挙げられる。
<Quencher (C)>
The quencher (C) includes a basic nitrogen-containing organic compound or a salt having a lower acidity than the acid generated from the salt (I) and the acid generator (B).
Examples of the basic nitrogen-containing organic compound include amines and ammonium salts. Examples of amines include aliphatic amines and aromatic amines. Aliphatic amines include primary amines, secondary amines and tertiary amines.

クエンチャー(C)としては、1−ナフチルアミン、2−ナフチルアミン、アニリン、ジイソプロピルアニリン、2−,3−又は4−メチルアニリン、4−ニトロアニリン、N−メチルアニリン、N,N−ジメチルアニリン、ジフェニルアミン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン、ノニルアミン、デシルアミン、ジブチルアミン、ジペンチルアミン、ジヘキシルアミン、ジヘプチルアミン、ジオクチルアミン、ジノニルアミン、ジデシルアミン、トリエチルアミン、トリメチルアミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリペンチルアミン、トリヘキシルアミン、トリヘプチルアミン、トリオクチルアミン、トリノニルアミン、トリデシルアミン、メチルジブチルアミン、メチルジペンチルアミン、メチルジヘキシルアミン、メチルジシクロヘキシルアミン、メチルジヘプチルアミン、メチルジオクチルアミン、メチルジノニルアミン、メチルジデシルアミン、エチルジブチルアミン、エチルジペンチルアミン、エチルジヘキシルアミン、エチルジヘプチルアミン、エチルジオクチルアミン、エチルジノニルアミン、エチルジデシルアミン、ジシクロヘキシルメチルアミン、トリス〔2−(2−メトキシエトキシ)エチル〕アミン、トリイソプロパノールアミン、エチレンジアミン、テトラメチレンジアミン、ヘキサメチレンジアミン、4,4’−ジアミノ−1,2−ジフェニルエタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジエチルジフェニルメタン、ピペラジン、モルホリン、ピペリジン及び特開平11−52575号公報に記載されているピペリジン骨格を有するヒンダードアミン化合物、イミダゾール、4−メチルイミダゾール、ピリジン、4−メチルピリジン、1,2−ジ(2−ピリジル)エタン、1,2−ジ(4−ピリジル)エタン、1,2−ジ(2−ピリジル)エテン、1,2−ジ(4−ピリジル)エテン、1,3−ジ(4−ピリジル)プロパン、1,2−ジ(4−ピリジルオキシ)エタン、ジ(2−ピリジル)ケトン、4,4’−ジピリジルスルフィド、4,4’−ジピリジルジスルフィド、2,2’−ジピリジルアミン、2,2’−ジピコリルアミン、ビピリジン等が挙げられ、好ましくはジイソプロピルアニリンが挙げられ、特に好ましくは2,6−ジイソプロピルアニリンが挙げられる。   As the quencher (C), 1-naphthylamine, 2-naphthylamine, aniline, diisopropylaniline, 2-, 3- or 4-methylaniline, 4-nitroaniline, N-methylaniline, N, N-dimethylaniline, diphenylamine , Hexylamine, heptylamine, octylamine, nonylamine, decylamine, dibutylamine, dipentylamine, dihexylamine, diheptylamine, dioctylamine, dinonylamine, didecylamine, triethylamine, trimethylamine, tripropylamine, tributylamine, tripentylamine, tri Hexylamine, triheptylamine, trioctylamine, trinonylamine, tridecylamine, methyldibutylamine, methyldipentylamine, methyldihexyl Amine, methyldicyclohexylamine, methyldiheptylamine, methyldioctylamine, methyldinonylamine, methyldidecylamine, ethyldibutylamine, ethyldipentylamine, ethyldihexylamine, ethyldiheptylamine, ethyldioctylamine, ethyldinonylamine , Ethyldidecylamine, dicyclohexylmethylamine, tris [2- (2-methoxyethoxy) ethyl] amine, triisopropanolamine, ethylenediamine, tetramethylenediamine, hexamethylenediamine, 4,4′-diamino-1,2-diphenyl Ethane, 4,4′-diamino-3,3′-dimethyldiphenylmethane, 4,4′-diamino-3,3′-diethyldiphenylmethane, piperazine, morpholine, piperidine and Hindered amine compounds having a piperidine skeleton described in Japanese Utility Model Publication No. 11-52575, imidazole, 4-methylimidazole, pyridine, 4-methylpyridine, 1,2-di (2-pyridyl) ethane, 1,2-di ( 4-pyridyl) ethane, 1,2-di (2-pyridyl) ethene, 1,2-di (4-pyridyl) ethene, 1,3-di (4-pyridyl) propane, 1,2-di (4- Pyridyloxy) ethane, di (2-pyridyl) ketone, 4,4′-dipyridyl sulfide, 4,4′-dipyridyl disulfide, 2,2′-dipyridylamine, 2,2′-dipycolylamine, bipyridine and the like. Diisopropylaniline is preferable, and 2,6-diisopropylaniline is particularly preferable.

アンモニウム塩としては、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、テトライソプロピルアンモニウムヒドロキシド、テトラブチルアンモニウムヒドロキシド、テトラヘキシルアンモニウムヒドロキシド、テトラオクチルアンモニウムヒドロキシド、フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、3−(トリフルオロメチル)フェニルトリメチルアンモニウムヒドロキシド、テトラ−n−ブチルアンモニウムサリチラート及びコリン等が挙げられる。   As ammonium salts, tetramethylammonium hydroxide, tetraisopropylammonium hydroxide, tetrabutylammonium hydroxide, tetrahexylammonium hydroxide, tetraoctylammonium hydroxide, phenyltrimethylammonium hydroxide, 3- (trifluoromethyl) phenyltrimethyl Ammonium hydroxide, tetra-n-butylammonium salicylate, choline and the like can be mentioned.

塩(I)及び酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い塩における酸性度は、酸解離定数(pKa)で示される。塩(I)及び酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い塩は、該塩から発生する酸の酸解離定数が、通常−3<pKaの塩であり、好ましくは−1<pKa<7の塩であり、より好ましくは0<pKa<5の塩である。酸発生剤(B)から発生する酸よりも酸性度の弱い塩としては、下記式で表される塩、式(D)で表される弱酸分子内塩、並びに特開2012−229206号公報、特開2012−6908号公報、特開2012−72109号公報、特開2011−39502号公報及び特開2011−191745号公報記載の塩が挙げられる。好ましくは、式(D)で表される弱酸分子内塩(以下、「弱酸分子内塩(D)」と記す場合がある)である。   The acidity in the salt having a weaker acidity than the acid generated from the salt (I) and the acid generator (B) is represented by an acid dissociation constant (pKa). The salt having a lower acidity than the acid generated from the salt (I) and the acid generator (B) is a salt in which the acid dissociation constant of the acid generated from the salt is usually −3 <pKa, preferably −1. <PKa <7 salt, more preferably 0 <pKa <5 salt. Examples of the salt having weaker acidity than the acid generated from the acid generator (B) include a salt represented by the following formula, a weak acid inner salt represented by the formula (D), and JP 2012-229206 A: Examples thereof include salts described in JP 2012-6908 A, JP 2012-72109 A, JP 2011-39502 A, and JP 2011-191745 A. Preferably, it is a weak acid inner salt represented by the formula (D) (hereinafter sometimes referred to as “weak acid inner salt (D)”).

Figure 2017057193
Figure 2017057193

Figure 2017057193
[式(D)中、
D1及びRD2は、それぞれ独立に、炭素数1〜12の1価の炭化水素基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜7のアシル基、炭素数2〜7のアシルオキシ基、炭素数2〜7のアルコキシカルボニル基、ニトロ基又はハロゲン原子を表す。
m’及びn’は、それぞれ独立に、0〜4の整数を表し、m’が2以上の場合、複数のRD1は同一又は相異なり、n’が2以上の場合、複数のRD2は同一又は相異なる。]
Figure 2017057193
[In the formula (D),
R D1 and R D2 are each independently a monovalent hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, an acyl group having 2 to 7 carbon atoms, or an acyloxy group having 2 to 7 carbon atoms. Represents an alkoxycarbonyl group having 2 to 7 carbon atoms, a nitro group, or a halogen atom.
m ′ and n ′ each independently represents an integer of 0 to 4, and when m ′ is 2 or more, the plurality of R D1 are the same or different, and when n ′ is 2 or more, the plurality of R D2 are Same or different. ]

弱酸分子内塩(D)においては、RD1及びRD2の炭化水素基としては、1価の脂肪族炭化水素基、1価の脂環式炭化水素基、1価の芳香族炭化水素基及びこれらの組み合わせることにより形成される基等が挙げられる。
1価の脂肪族炭化水素基としては、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、t−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ノニル基等のアルキル基が挙げられる。
1価の脂環式炭化水素基としては、単環式及び多環式のいずれでもよく、飽和及び不飽和のいずれでもよい。例えば、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロへキシル基、シクロノニル基、シクロドデシル基等のシクロアルキル基、ノルボニル基、アダマンチル基等が挙げられる。
1価の芳香族炭化水素基としては、フェニル基、1−ナフチル基、2−ナフチル基、アントリル基、ビフェニル基、フェナントリル基等のアリール基等が挙げられる。
これらを組み合わせることにより形成される基としては、アルキル−シクロアルキル基、シクロアルキル−アルキル基、アラルキル基(例えば、フェニルメチル基、1−フェニルエチル基、2−フェニルエチル基、1−フェニル−1−プロピル基、1−フェニル−2−プロピル基、2−フェニル−2−プロピル基、3−フェニル−1−プロピル基、4−フェニル−1−ブチル基、5−フェニル−1−ペンチル基、6−フェニル−1−ヘキシル基等)等、アルキル−アリール基(例えば、2−メチルフェニル基、3−メチルフェニル基、4−メチルフェニル基、4−エチルフェニル基、4−プロピルフェニル基、4−イソプロピルフェニル基、4−ブチルフェニル基、4−t−ブチルフェニル基、4−ヘキシルフェニル基、4−シクロヘキシルフェニル基、トリル基、キシリル基、クメニル基、メシチル基、2,6−ジエチルフェニル基、2−メチル−6−エチルフェニル基等)、アリール−シクロアルキル基、シクロアルキル−アリール基(例えば、p−アダマンチルフェニル基、)が挙げられる。
In the weak acid inner salt (D), the hydrocarbon groups of R D1 and R D2 include a monovalent aliphatic hydrocarbon group, a monovalent alicyclic hydrocarbon group, a monovalent aromatic hydrocarbon group, and Examples include groups formed by combining these.
Examples of the monovalent aliphatic hydrocarbon group include alkyl groups such as methyl group, ethyl group, propyl group, isopropyl group, butyl group, isobutyl group, t-butyl group, pentyl group, hexyl group, and nonyl group.
The monovalent alicyclic hydrocarbon group may be monocyclic or polycyclic, and may be either saturated or unsaturated. Examples thereof include cycloalkyl groups such as cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, cyclononyl group, and cyclododecyl group, norbornyl group, adamantyl group, and the like.
Examples of the monovalent aromatic hydrocarbon group include phenyl groups, 1-naphthyl groups, 2-naphthyl groups, anthryl groups, biphenyl groups, and phenanthryl groups.
Examples of the group formed by combining these include an alkyl-cycloalkyl group, a cycloalkyl-alkyl group, an aralkyl group (for example, phenylmethyl group, 1-phenylethyl group, 2-phenylethyl group, 1-phenyl-1 -Propyl group, 1-phenyl-2-propyl group, 2-phenyl-2-propyl group, 3-phenyl-1-propyl group, 4-phenyl-1-butyl group, 5-phenyl-1-pentyl group, 6 Alkyl-aryl groups (for example, 2-methylphenyl group, 3-methylphenyl group, 4-methylphenyl group, 4-ethylphenyl group, 4-propylphenyl group, 4-phenyl-1-hexyl group, etc.) Isopropylphenyl group, 4-butylphenyl group, 4-t-butylphenyl group, 4-hexylphenyl group, 4-cyclohexyl Enyl group, tolyl group, xylyl group, cumenyl group, mesityl group, 2,6-diethylphenyl group, 2-methyl-6-ethylphenyl group, etc.), aryl-cycloalkyl group, cycloalkyl-aryl group (for example, p -An adamantylphenyl group).

アルコキシ基としては、メトキシ基、エトキシ基等が挙げられる。
アシル基としては、アセチル基、プロパノイル基、ベンゾイル基、シクロヘキサンカルボニル基等が挙げられる。
アシルオキシ基としては、上記アシル基にオキシ基(−O−)が結合した基等が挙げられる。
アルコキシカルボニル基としては、上記アルコキシ基にカルボニル基(−CO−)が結合した基等が挙げられる。
ハロゲン原子としては、フッ素原子、塩素原子、臭素原子等が挙げられる。
Examples of the alkoxy group include a methoxy group and an ethoxy group.
Examples of the acyl group include an acetyl group, a propanoyl group, a benzoyl group, and a cyclohexanecarbonyl group.
Examples of the acyloxy group include a group in which an oxy group (—O—) is bonded to the acyl group.
Examples of the alkoxycarbonyl group include a group in which a carbonyl group (—CO—) is bonded to the above alkoxy group.
Examples of the halogen atom include a fluorine atom, a chlorine atom, and a bromine atom.

式(D)においては、RD1及びRD2は、それぞれ独立に、炭素数1〜8のアルキル基、炭素数3〜10のシクロアルキル基、炭素数1〜6のアルコキシ基、炭素数2〜4のアシル基、炭素数2〜4のアシルオキシ基、炭素数2〜4のアルコキシカルボニル基、ニトロ基又はハロゲン原子が好ましい。
m’及びn’は、それぞれ独立に、0〜2の整数が好ましく、0がより好ましい。m’が2以上の場合、複数のRD1は同一又は相異なり、n’が2以上の場合、複数のRD2は同一又は相異なる。
In the formula (D), R D1 and R D2 each independently represent an alkyl group having 1 to 8 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, or 2 to 2 carbon atoms. Preferred are an acyl group having 4 carbon atoms, an acyloxy group having 2 to 4 carbon atoms, an alkoxycarbonyl group having 2 to 4 carbon atoms, a nitro group, or a halogen atom.
m ′ and n ′ are each independently preferably an integer of 0 to 2, and more preferably 0. When m ′ is 2 or more, the plurality of R D1 are the same or different, and when n ′ is 2 or more, the plurality of R D2 are the same or different.

弱酸分子内塩(D)としては、以下の化合物が挙げられる。

Figure 2017057193
Examples of the weak acid inner salt (D) include the following compounds.
Figure 2017057193

クエンチャー(C)の含有率は、レジスト組成物の固形分中、好ましくは、0.01〜5質量%であり、より好ましく0.01〜4質量%であり、特に好ましく0.01〜3質量%である。   The content of the quencher (C) is preferably 0.01 to 5% by mass, more preferably 0.01 to 4% by mass, and particularly preferably 0.01 to 3% by mass in the solid content of the resist composition. % By mass.

〈その他の成分〉
レジスト組成物は、必要に応じて、上述の成分以外の成分(以下「その他の成分(F)」という場合がある。)を含有していてもよい。その他の成分(F)は、レジスト分野で公知の添加剤、例えば、増感剤、溶解抑止剤、界面活性剤、安定剤、染料等を利用できる。
<Other ingredients>
The resist composition may contain components other than those described above (hereinafter may be referred to as “other components (F)”) as necessary. As the other component (F), known additives in the resist field, such as a sensitizer, a dissolution inhibitor, a surfactant, a stabilizer, a dye, and the like can be used.

〈レジスト組成物の調製〉
レジスト組成物は、樹脂(A)及び塩(I)、並びに、必要に応じて、樹脂(A)以外の樹脂、酸発生剤(B)、溶剤(E)、クエンチャー(C)及びその他の成分(F)を混合することにより調製することができる。混合順は任意であり、特に限定されるものではない。混合する際の温度は、10〜40℃から、樹脂等の種類や樹脂等の溶剤(E)に対する溶解度等に応じて適切な温度を選ぶことができる。混合時間は、混合温度に応じて、0.5〜24時間の中から適切な時間を選ぶことができる。なお、混合手段も特に制限はなく、攪拌混合等を用いることができる。
各成分を混合した後は、孔径0.003〜0.2μm程度のフィルターを用いてろ過することが好ましい。
<Preparation of resist composition>
The resist composition includes resin (A) and salt (I), and if necessary, resins other than resin (A), acid generator (B), solvent (E), quencher (C) and other It can be prepared by mixing component (F). The mixing order is arbitrary and is not particularly limited. The temperature at the time of mixing can select an appropriate temperature from 10-40 degreeC according to the kind etc. of resin etc., the solubility with respect to solvents (E), such as resin. An appropriate mixing time can be selected from 0.5 to 24 hours depending on the mixing temperature. The mixing means is not particularly limited, and stirring and mixing can be used.
After mixing each component, it is preferable to filter using a filter having a pore size of about 0.003 to 0.2 μm.

〈レジストパターンの製造方法〉
本発明のレジストパターンの製造方法は、
(1)本発明のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程を含む。
<Method for producing resist pattern>
The method for producing a resist pattern of the present invention comprises:
(1) The process of apply | coating the resist composition of this invention on a board | substrate,
(2) The process of drying the composition after application | coating and forming a composition layer,
(3) a step of exposing the composition layer;
(4) a step of heating the composition layer after exposure, and (5) a step of developing the composition layer after heating.

レジスト組成物を基板上に塗布するには、スピンコーター等、通常、用いられる装置によって行うことができる。基板としては、シリコンウェハ等の無機基板が挙げられる。レジスト組成物を塗布する前に、基板を洗浄してもよいし、基板上に反射防止膜等を形成してもよい。   The resist composition can be applied onto the substrate by a commonly used apparatus such as a spin coater. Examples of the substrate include an inorganic substrate such as a silicon wafer. Before applying the resist composition, the substrate may be washed, or an antireflection film or the like may be formed on the substrate.

塗布後の組成物を乾燥することにより、溶剤を除去し、組成物層を形成する。乾燥は、例えば、ホットプレート等の加熱装置を用いて溶剤を蒸発させること(いわゆるプリベーク)により行うか、あるいは減圧装置を用いて行う。加熱温度は50〜200℃が好ましく、加熱時間は10〜180秒間が好ましい。また、減圧乾燥する際の圧力は、1〜1.0×105Pa程度が好ましい。 By drying the composition after coating, the solvent is removed and a composition layer is formed. Drying is performed, for example, by evaporating the solvent using a heating device such as a hot plate (so-called pre-baking), or using a decompression device. The heating temperature is preferably 50 to 200 ° C., and the heating time is preferably 10 to 180 seconds. The pressure during drying under reduced pressure is preferably about 1 to 1.0 × 10 5 Pa.

得られた組成物層に、通常、露光機を用いて露光する。露光機は、液浸露光機であってもよい。露光光源としては、KrFエキシマレーザ(波長248nm)、ArFエキシマレーザ(波長193nm)、F2エキシマレーザ(波長157nm)のような紫外域のレーザ光を放射するもの、固体レーザ光源(YAG又は半導体レーザ等)からのレーザ光を波長変換して遠紫外域または真空紫外域の高調波レーザ光を放射するもの、電子線や、超紫外光(EUV)を照射するもの等、種々のものを用いることができる。尚、本明細書において、これらの放射線を照射することを総称して「露光」という場合がある。露光の際、通常、求められるパターンに相当するマスクを介して露光が行われる。露光光源が電子線の場合は、マスクを用いずに直接描画により露光してもよい。 The obtained composition layer is usually exposed using an exposure machine. The exposure machine may be an immersion exposure machine. Exposure light sources include those that emit laser light in the ultraviolet region, such as KrF excimer laser (wavelength 248 nm), ArF excimer laser (wavelength 193 nm), F 2 excimer laser (wavelength 157 nm), solid-state laser light source (YAG or semiconductor laser) Etc.) Using various lasers such as those that convert wavelength of laser light from the laser and emit harmonic laser light in the far-ultraviolet region or vacuum ultraviolet region, those that irradiate electron beams or extreme ultraviolet light (EUV), etc. Can do. In this specification, the irradiation of these radiations may be collectively referred to as “exposure”. At the time of exposure, exposure is usually performed through a mask corresponding to a required pattern. When the exposure light source is an electron beam, exposure may be performed by direct drawing without using a mask.

露光後の組成物層を、酸不安定基における脱保護反応を促進するために加熱処理(いわゆるポストエキスポジャーベーク)を行う。加熱温度は、通常50〜200℃程度、好ましくは70〜150℃程度である。   The composition layer after exposure is subjected to heat treatment (so-called post-exposure baking) in order to promote the deprotection reaction in the acid labile group. The heating temperature is usually about 50 to 200 ° C, preferably about 70 to 150 ° C.

加熱後の組成物層を、通常、現像装置を用いて、現像液を利用して現像する。現像方法としては、ディップ法、パドル法、スプレー法、ダイナミックディスペンス法等が挙げられる。現像温度は5〜60℃が好ましく、現像時間は5〜300秒間が好ましい。現像液の種類を以下のとおりに選択することにより、ポジ型レジストパターン又はネガ型レジストパターンを製造できる。   The heated composition layer is usually developed using a developer using a developing device. Examples of the developing method include a dipping method, a paddle method, a spray method, and a dynamic dispensing method. The development temperature is preferably 5 to 60 ° C., and the development time is preferably 5 to 300 seconds. A positive resist pattern or a negative resist pattern can be produced by selecting the type of developer as follows.

レジスト組成物からポジ型レジストパターンを製造する場合は、現像液としてアルカリ現像液を用いる。アルカリ現像液は、この分野で用いられる各種のアルカリ性水溶液であればよい。テトラメチルアンモニウムヒドロキシドや(2−ヒドロキシエチル)トリメチルアンモニウムヒドロキシド(通称コリン)の水溶液等が挙げられる。アルカリ現像液には、界面活性剤が含まれていてもよい。
現像後レジストパターンを超純水で洗浄し、次いで、基板及びパターン上に残った水を除去することが好ましい。
When producing a positive resist pattern from a resist composition, an alkaline developer is used as the developer. The alkaline developer may be various alkaline aqueous solutions used in this field. Examples thereof include an aqueous solution of tetramethylammonium hydroxide and (2-hydroxyethyl) trimethylammonium hydroxide (commonly known as choline). The alkali developer may contain a surfactant.
It is preferable to wash the resist pattern with ultrapure water after development, and then remove the water remaining on the substrate and the pattern.

レジスト組成物からネガ型レジストパターンを製造する場合は、現像液として有機溶剤を含む現像液(以下「有機系現像液」という場合がある)を用いる。
有機系現像液に含まれる有機溶剤としては、2−ヘキサノン、2−ヘプタノン等のケトン溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等のグリコールエーテルエステル溶剤;酢酸ブチル等のエステル溶剤;プロピレングリコールモノメチルエーテル等のグリコールエーテル溶剤;N,N−ジメチルアセトアミド等のアミド溶剤;アニソール等の芳香族炭化水素溶剤等が挙げられる。
有機系現像液中、有機溶剤の含有率は、90質量%以上100質量%以下が好ましく、95質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に有機溶剤のみであることがさらに好ましい。
有機系現像液としては、酢酸ブチル及び/又は2−ヘプタノンを含む現像液が好ましい。有機系現像液中、酢酸ブチル及び2−ヘプタノンの合計含有率は、50質量%以上100質量%以下が好ましく、90質量%以上100質量%以下がより好ましく、実質的に酢酸ブチル及び/又は2−ヘプタノンのみであることがさらに好ましい。
有機系現像液には、界面活性剤が含まれていてもよい。また、有機系現像液には、微量の水分が含まれていてもよい。
現像の際、有機系現像液とは異なる種類の溶剤に置換することにより、現像を停止してもよい。
In the case of producing a negative resist pattern from a resist composition, a developer containing an organic solvent as a developer (hereinafter sometimes referred to as “organic developer”) is used.
Organic solvents contained in the organic developer include ketone solvents such as 2-hexanone and 2-heptanone; glycol ether ester solvents such as propylene glycol monomethyl ether acetate; ester solvents such as butyl acetate; glycols such as propylene glycol monomethyl ether Examples include ether solvents; amide solvents such as N, N-dimethylacetamide; aromatic hydrocarbon solvents such as anisole.
In the organic developer, the content of the organic solvent is preferably 90% by mass or more and 100% by mass or less, more preferably 95% by mass or more and 100% by mass or less, and still more preferably only the organic solvent.
As the organic developer, a developer containing butyl acetate and / or 2-heptanone is preferable. In the organic developer, the total content of butyl acetate and 2-heptanone is preferably 50% by mass to 100% by mass, more preferably 90% by mass to 100% by mass, and substantially butyl acetate and / or 2 -More preferred is heptanone alone.
The organic developer may contain a surfactant. The organic developer may contain a trace amount of water.
At the time of development, the development may be stopped by substituting a solvent of a different type from the organic developer.

現像後のレジストパターンをリンス液で洗浄することが好ましい。リンス液としては、レジストパターンを溶解しないものであれば特に制限はなく、一般的な有機溶剤を含む溶液を使用することができ、好ましくはアルコール溶剤又はエステル溶剤である。
洗浄後は、基板及びパターン上に残ったリンス液を除去することが好ましい。
It is preferable to wash the developed resist pattern with a rinse solution. The rinsing liquid is not particularly limited as long as it does not dissolve the resist pattern, and a solution containing a general organic solvent can be used, and an alcohol solvent or an ester solvent is preferable.
After the cleaning, it is preferable to remove the rinse solution remaining on the substrate and the pattern.

〈用途〉
本発明のレジスト組成物は、KrFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物、ArFエキシマレーザ露光用のレジスト組成物、電子線(EB)露光用のレジスト組成物又はEUV露光用のレジスト組成物、特に、ArFエキシマレーザ露光用の有機系現像液用レジスト組成物として好適であり、半導体の微細加工に有用である。
<Application>
The resist composition of the present invention includes a resist composition for KrF excimer laser exposure, a resist composition for ArF excimer laser exposure, a resist composition for electron beam (EB) exposure, or a resist composition for EUV exposure, It is suitable as a resist composition for an organic developer for ArF excimer laser exposure, and is useful for fine processing of semiconductors.

実施例を挙げて、さらに具体的に説明する。例中、含有量ないし使用量を表す「%」及び「部」は、特記しないかぎり質量基準である。
重量平均分子量は、ゲルパーミエーションクロマトグラフィーで下記条件により求めた値である。
装置:HLC−8120GPC型(東ソー社製)
カラム:TSKgel Multipore HXL-M x 3 + guardcolumn(東ソー社製)
溶離液:テトラヒドロフラン
流量:1.0mL/min
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:100μl
分子量標準:標準ポリスチレン(東ソー社製)
An example is given and it demonstrates still more concretely. In the examples, “%” and “parts” representing the content or amount used are based on mass unless otherwise specified.
The weight average molecular weight is a value determined by gel permeation chromatography under the following conditions.
Apparatus: HLC-8120GPC type (manufactured by Tosoh Corporation)
Column: TSKgel Multipore H XL -M x 3 + guardcolumn (manufactured by Tosoh Corporation)
Eluent: Tetrahydrofuran Flow rate: 1.0 mL / min
Detector: RI detector Column temperature: 40 ° C
Injection volume: 100 μl
Molecular weight standard: Standard polystyrene (manufactured by Tosoh Corporation)

また、化合物の構造は、質量分析(LCはAgilent製1100型、MASSはAgilent製LC/MSD型)を用い、分子ピークを測定することで確認した。以下の実施例ではこの分子ピークの値を「MASS」で示す。   The structure of the compound was confirmed by measuring molecular peaks using mass spectrometry (LC: Agilent model 1100, MASS: Agilent LC / MSD model). In the following examples, the value of this molecular peak is indicated by “MASS”.

実施例1:式(I−2)で表される塩の合成

Figure 2017057193
式(I−2−a)で表される化合物50部、式(I−2−b)で表される化合物10.33部及びクロロホルム350部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。その後、酢酸銅(II)0.20部を仕込み、80℃で2時間還流し、濃縮した。回収された濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル440部を加えて攪拌し、ろ過することにより、式(I−2−c)で表される塩32.96部を得た。
Figure 2017057193
Example 1: Synthesis of a salt represented by the formula (I-2)
Figure 2017057193
50 parts of the compound represented by the formula (I-2-a), 10.33 parts of the compound represented by the formula (I-2-b) and 350 parts of chloroform were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, 0.20 part of copper (II) acetate was charged, refluxed at 80 ° C. for 2 hours, and concentrated. To the collected concentrate, 440 parts of tert-butyl methyl ether was added and stirred, followed by filtration to obtain 32.96 parts of the salt represented by the formula (I-2-c).
Figure 2017057193

式(I−2−d)で表される化合物15.40部、クロロホルム400部、イオン交換水200部及び式(I−2−c)で表される塩23.32部を混合し、23℃で18時間攪拌し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水86部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を3回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣に、tert−ブチルメチルエーテル200部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(I−2−e)で表される塩27.32部を得た。

Figure 2017057193
15.40 parts of the compound represented by the formula (I-2-d), 400 parts of chloroform, 200 parts of ion-exchanged water and 23.32 parts of the salt represented by the formula (I-2-c) were mixed. Stir at 18 ° C. for 18 hours and separate. To the collected organic layer, 86 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated three times. The obtained organic layer was concentrated, and 200 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 27.32 parts of the salt represented by the formula (I-2-e).
Figure 2017057193

式(I−2−f)で表される化合物14.76部、クロロホルム59部及び式(I−2−g)で表される化合物14.79部を混合し、60℃で1時間攪拌し、23℃に冷却した。得られた反応溶液に、式(I−2−e)で表される塩27.04部を添加し、さらに、23℃で18時間攪拌した。得られた反応マスにクロロホルム235部を添加し、2%シュウ酸水溶液192部を加えて23℃で30分間攪拌した。その後、分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水70部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を5回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣にtert−ブチルメチルエーテル30部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(I−2)で表される塩22.28部を得た。   14.76 parts of the compound represented by the formula (I-2-f), 59 parts of chloroform and 14.79 parts of the compound represented by the formula (I-2-g) were mixed and stirred at 60 ° C. for 1 hour. And cooled to 23 ° C. To the obtained reaction solution, 27.04 parts of the salt represented by the formula (I-2-e) was added, and the mixture was further stirred at 23 ° C. for 18 hours. To the resultant reaction mass, 235 parts of chloroform was added, 192 parts of a 2% aqueous oxalic acid solution was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, the organic layer was separated by liquid separation. To the recovered organic layer, 70 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 5 times. The obtained organic layer was concentrated, 30 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 22.28 parts of the salt represented by the formula (I-2).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 237.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 383.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MASS (ESI (−) Spectrum): M - 383.1

実施例2:式(I−4)で表される塩の合成

Figure 2017057193
式(I−2)で表される化合物1.91部、式(I−4−a)で表される化合物0.73部及び1,2−ジクロロエタン10部を混合し、23℃で30分間攪拌した。得られた混合溶液に、p−トルエンスルホン酸0.01部を添加し、100℃で3時間還流攪拌した。得られた反応物を23℃まで冷却し、クロロホルム30部及び5%炭酸水素ナトリウム水溶液10部を加え、23℃で30分間攪拌した。その後、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水10部を仕込み23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を5回行った。得られた有機層を濃縮することにより、式(I−4)で表される化合物0.39部を得た。 Example 2: Synthesis of a salt represented by the formula (I-4)
Figure 2017057193
1.91 parts of the compound represented by the formula (I-2), 0.73 part of the compound represented by the formula (I-4-a) and 10 parts of 1,2-dichloroethane were mixed, and the mixture was mixed at 23 ° C. for 30 minutes. Stir. To the obtained mixed solution, 0.01 part of p-toluenesulfonic acid was added and stirred at 100 ° C. for 3 hours under reflux. The obtained reaction product was cooled to 23 ° C., 30 parts of chloroform and 10 parts of 5% aqueous sodium hydrogen carbonate solution were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Then, it left still and liquid-separated. To the recovered organic layer, 10 parts of ion-exchanged water was charged, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed 5 times. The obtained organic layer was concentrated to obtain 0.39 parts of a compound represented by the formula (I-4).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 237.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 527.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MASS (ESI (−) Spectrum): M - 527.1

実施例3:式(I−1)で表される塩の合成

Figure 2017057193
Example 3: Synthesis of a salt represented by the formula (I-1)
Figure 2017057193

式(I−1−f)で表される化合物13.70部、クロロホルム59部及び式(I−2−g)で表される化合物14.79部を混合し、60℃で1時間攪拌し、23℃に冷却した。得られた反応溶液に、式(I−2−e)で表される塩27.04部を添加し、さらに、23℃で18時間攪拌した。得られた混合物にクロロホルム235部を添加し、2%シュウ酸水溶液192部を加えて23℃で30分間攪拌した。その後、分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水70部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を5回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣にtert−ブチルメチルエーテル30部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(I−1)で表される塩24.31部を得た。   13.70 parts of the compound represented by the formula (I-1-f), 59 parts of chloroform and 14.79 parts of the compound represented by the formula (I-2-g) were mixed and stirred at 60 ° C. for 1 hour. And cooled to 23 ° C. To the obtained reaction solution, 27.04 parts of the salt represented by the formula (I-2-e) was added, and the mixture was further stirred at 23 ° C. for 18 hours. To the obtained mixture, 235 parts of chloroform was added, 192 parts of a 2% aqueous oxalic acid solution was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, the organic layer was separated by liquid separation. To the recovered organic layer, 70 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 5 times. The obtained organic layer was concentrated, 30 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. By concentrating the obtained residue, 24.31 parts of the salt represented by the formula (I-1) was obtained.

MASS(ESI(+)Spectrum):M 237.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 369.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MASS (ESI (-) Spectrum): M - 369.1

実施例4:式(I−3)で表される塩の合成

Figure 2017057193
Example 4: Synthesis of salt represented by formula (I-3)
Figure 2017057193

式(I−3−f)で表される化合物14.92部、クロロホルム59部及び式(I−2−g)で表される化合物14.79部を混合し、60℃で1時間攪拌し、23℃に冷却した。得られた反応溶液に、式(I−2−e)で表される塩27.04部を添加し、さらに、23℃で18時間攪拌した。得られた反応混合物にクロロホルム235部を添加し、2%シュウ酸水溶液192部を加えて23℃で30分間攪拌した。その後、分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水70部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を5回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣にtert−ブチルメチルエーテル30部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(I−3)で表される塩22.78部を得た。   14.92 parts of the compound represented by the formula (I-3-f), 59 parts of chloroform and 14.79 parts of the compound represented by the formula (I-2-g) were mixed and stirred at 60 ° C. for 1 hour. And cooled to 23 ° C. To the obtained reaction solution, 27.04 parts of the salt represented by the formula (I-2-e) was added, and the mixture was further stirred at 23 ° C. for 18 hours. To the obtained reaction mixture, 235 parts of chloroform was added, 192 parts of a 2% aqueous oxalic acid solution was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, the organic layer was separated by liquid separation. To the recovered organic layer, 70 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 5 times. The obtained organic layer was concentrated, 30 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 22.78 parts of the salt represented by the formula (I-3).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 237.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 385.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MASS (ESI (-) Spectrum): M - 385.1

実施例5:式(I−10)で表される塩の合成

Figure 2017057193
式(I−10−a)で表される化合物41.84部、式(I−2−b)で表される化合物10.33部及びクロロホルム350部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。その後、酢酸銅(II)0.20部を仕込み、80℃で2時間還流し、濃縮した。回収された濃縮物に、tert−ブチルメチルエーテル440部を加えて攪拌し、ろ過することにより、式(I−10−c)で表される塩25.44部を得た。 Example 5: Synthesis of salt represented by formula (I-10)
Figure 2017057193
41.84 parts of the compound represented by the formula (I-10-a), 10.33 parts of the compound represented by the formula (I-2-b) and 350 parts of chloroform were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, 0.20 part of copper (II) acetate was charged, refluxed at 80 ° C. for 2 hours, and concentrated. To the collected concentrate, 440 parts of tert-butyl methyl ether was added and stirred, followed by filtration to obtain 25.44 parts of the salt represented by the formula (I-10-c).

Figure 2017057193
式(I−2−d)で表される化合物15.40部、クロロホルム400部、イオン交換水200部及び式(I−10−c)で表される塩21.57部を混合し、23℃で18時間攪拌し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水86部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を3回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣に、tert−ブチルメチルエーテル200部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(I−10−e)で表される塩25.68部を得た。
Figure 2017057193
Figure 2017057193
15.40 parts of the compound represented by the formula (I-2-d), 400 parts of chloroform, 200 parts of ion-exchanged water and 21.57 parts of the salt represented by the formula (I-10-c) were mixed, and 23 Stir at 18 ° C. for 18 hours and separate. To the collected organic layer, 86 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated three times. The obtained organic layer was concentrated, and 200 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 25.68 parts of the salt represented by the formula (I-10-e).
Figure 2017057193

式(I−2−f)で表される化合物14.76部、クロロホルム59部及び式(I−2−g)で表される化合物14.79部を混合し、60℃で1時間攪拌し、23℃に冷却した。得られた反応溶液に、式(I−10−e)で表される塩25.52部を添加し、さらに、23℃で18時間攪拌した。得られた反応混合物にクロロホルム235部を添加し、2%シュウ酸水溶液192部を加えて23℃で30分間攪拌した。その後、分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水70部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を5回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣にtert−ブチルメチルエーテル30部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(I−10)で表される塩26.44部を得た。   14.76 parts of the compound represented by the formula (I-2-f), 59 parts of chloroform and 14.79 parts of the compound represented by the formula (I-2-g) were mixed and stirred at 60 ° C. for 1 hour. And cooled to 23 ° C. To the obtained reaction solution, 25.52 parts of the salt represented by the formula (I-10-e) was added, and the mixture was further stirred at 23 ° C. for 18 hours. To the obtained reaction mixture, 235 parts of chloroform was added, 192 parts of a 2% aqueous oxalic acid solution was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Thereafter, the organic layer was separated by liquid separation. To the recovered organic layer, 70 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 5 times. The obtained organic layer was concentrated, 30 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 26.44 parts of the salt represented by the formula (I-10).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 211.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 383.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 211.1
MASS (ESI (−) Spectrum): M - 383.1

実施例6:式(I−12)で表される塩の合成

Figure 2017057193
式(I−10)で表される化合物1.83部、式(I−4−a)で表される化合物0.73部及び1,2−ジクロロエタン10部を混合し、23℃で30分間攪拌した。得られた混合溶液に、p−トルエンスルホン酸0.01部を添加し、100℃で3時間還流攪拌した。得られた反応物を23℃まで冷却し、クロロホルム30部及び5%炭酸水素ナトリウム水溶液10部を加え、23℃で30分間攪拌した。その後、静置し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水10部を仕込み23℃で30分間攪拌し、分液することにより有機層を回収した。この水洗の操作を5回行った。得られた有機層を濃縮することにより、式(I−10)で表される化合物0.58部を得た。 Example 6: Synthesis of salt represented by formula (I-12)
Figure 2017057193
1.83 parts of the compound represented by the formula (I-10), 0.73 part of the compound represented by the formula (I-4-a) and 10 parts of 1,2-dichloroethane are mixed and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Stir. To the obtained mixed solution, 0.01 part of p-toluenesulfonic acid was added and stirred at 100 ° C. for 3 hours under reflux. The obtained reaction product was cooled to 23 ° C., 30 parts of chloroform and 10 parts of 5% aqueous sodium hydrogen carbonate solution were added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. Then, it left still and liquid-separated. To the recovered organic layer, 10 parts of ion-exchanged water was charged, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to recover the organic layer. This washing operation was performed 5 times. The obtained organic layer was concentrated to obtain 0.58 parts of a compound represented by the formula (I-10).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 211.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 527.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 211.1
MASS (ESI (−) Spectrum): M - 527.1

合成例1:式(IX−1)で表される塩の合成

Figure 2017057193
式(I−2−d)で表される化合物15.40部、クロロホルム400部、イオン交換水200部及び式(IX−1−a)で表される塩17.19部を混合し、23℃で18時間攪拌し、分液した。回収された有機層に、イオン交換水100部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を3回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣に、tert−ブチルメチルエーテル100部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(IX−1−b)で表される塩26.18部を得た。
Figure 2017057193
式(IX−1−c)で表される化合物13.70部、クロロホルム50部及び式(IX−1−d)で表される化合物14.79部を混合し、60℃で1時間攪拌し、23℃に冷却した。得られた反応溶液に、式(IX−1−b)で表される塩26.10部を添加し、さらに、23℃で18時間攪拌した。得られた反応混合物にクロロホルム200部を添加し、2%シュウ酸水溶液192部を加えて23℃で30分間攪拌した。これを分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水70部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を5回繰り返した。得られた有機層を濃縮し、得られた残渣にtert−ブチルメチルエーテル30部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣を濃縮することにより、式(IX−1)で表される塩19.45部を得た。 Synthesis Example 1: Synthesis of salt represented by formula (IX-1)
Figure 2017057193
15.40 parts of the compound represented by the formula (I-2-d), 400 parts of chloroform, 200 parts of ion-exchanged water and 17.19 parts of the salt represented by the formula (IX-1-a) were mixed, and 23 Stir at 18 ° C. for 18 hours and separate. To the collected organic layer, 100 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated three times. The obtained organic layer was concentrated, and 100 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 26.18 parts of the salt represented by the formula (IX-1-b).
Figure 2017057193
13.70 parts of the compound represented by the formula (IX-1-c), 50 parts of chloroform and 14.79 parts of the compound represented by the formula (IX-1-d) were mixed and stirred at 60 ° C. for 1 hour. And cooled to 23 ° C. To the obtained reaction solution, 26.10 parts of the salt represented by the formula (IX-1-b) was added, and the mixture was further stirred at 23 ° C. for 18 hours. To the resulting reaction mixture, 200 parts of chloroform was added, 192 parts of a 2% oxalic acid aqueous solution was added, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes. This was separated and the organic layer was taken out. To the recovered organic layer, 70 parts of ion exchange water was added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 5 times. The obtained organic layer was concentrated, 30 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue and stirred, and the supernatant was removed. The obtained residue was concentrated to obtain 19.45 parts of a salt represented by the formula (IX-1).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 221.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 369.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 221.1
MASS (ESI (-) Spectrum): M - 369.1

合成例2[式(B1−21)で表される塩の合成]

Figure 2017057193
Synthesis Example 2 [Synthesis of salt represented by formula (B1-21)]
Figure 2017057193

特開2008−209917号公報に記載された方法によって得られた式(B1−21−b)で表される化合物30.00部、式(B1−21−a)で表される塩35.50部、クロロホルム100部及びイオン交換水50部を仕込み、23℃で15時間攪拌した。得られた反応液が2層に分離していたので、クロロホルム層を分液して取り出し、更に、このクロロホルム層にイオン交換水30部を添加し、水洗した。この操作を5回繰り返した。クロロホルム層を濃縮し、得られた残渣に、tert−ブチルメチルエーテル100部を加えて23℃で30分間攪拌し、ろ過することにより、式(B1−21−c)で表される塩48.57部を得た。   30.00 parts of a compound represented by the formula (B1-21-b) obtained by the method described in JP-A-2008-209917, and a salt 35.50 represented by the formula (B1-21-a). Part, 100 parts of chloroform, and 50 parts of ion-exchanged water were stirred at 23 ° C. for 15 hours. Since the obtained reaction liquid was separated into two layers, the chloroform layer was separated and taken out, and 30 parts of ion-exchanged water was further added to the chloroform layer and washed with water. This operation was repeated 5 times. The chloroform layer was concentrated, 100 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue, the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and filtered to give the salt represented by the formula (B1-21-c) 48. 57 parts were obtained.

Figure 2017057193
式(B1−21−c)で表される塩20.00部、式(B1−21−d)で表される化合物2.84部及びモノクロロベンゼン250部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。得られた混合液に、二安息香酸銅(II)0.21部を添加した。更に、これを100℃で1時間攪拌した。得られた反応溶液を濃縮した。得られた残渣に、クロロホルム200部及びイオン交換水50部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水50部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を5回繰り返した。得られた有機層を濃縮した。得られた残渣を、アセトニトリル53.51部に溶解し、濃縮した。その後、tert−ブチルメチルエーテル113.05部を加えて攪拌し、ろ過することにより、式(B1−21)で表される塩10.47部を得た。
Figure 2017057193
20.00 parts of a salt represented by the formula (B1-21-c), 2.84 parts of a compound represented by the formula (B1-21-d) and 250 parts of monochlorobenzene were charged and stirred at 23 ° C. for 30 minutes. . 0.21 part of copper (II) dibenzoate was added to the obtained liquid mixture. Further, this was stirred at 100 ° C. for 1 hour. The resulting reaction solution was concentrated. To the obtained residue, 200 parts of chloroform and 50 parts of ion-exchanged water were added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, separated, and the organic layer was taken out. 50 parts of ion-exchanged water was added to the collected organic layer, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 5 times. The obtained organic layer was concentrated. The obtained residue was dissolved in 53.51 parts of acetonitrile and concentrated. Then, 113.05 parts of tert-butyl methyl ether was added and stirred, followed by filtration to obtain 10.47 parts of the salt represented by the formula (B1-21).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 237.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 339.1
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MASS (ESI (−) Spectrum): M - 339.1

合成例3[式(B1−22)で表される塩の合成]

Figure 2017057193
Synthesis Example 3 [Synthesis of Salt Represented by Formula (B1-22)]
Figure 2017057193

式(B1−22−a)で表される塩11.26部、式(B1−22−b)で表される化合物10.00部、クロロホルム50部及びイオン交換水25部を仕込み、23℃で15時間攪拌した。得られた反応液が2層に分離していたので、クロロホルム層を分液して取り出し、更に、このクロロホルム層にイオン交換水15部を添加し、水洗した。この操作を5回繰り返した。クロロホルム層を濃縮し、得られた残渣に、tert−ブチルメチルエーテル50部を加えて23℃で30分間攪拌し、ろ過することにより、式(B1−22−c)で表される塩11.75部を得た。   11.26 parts of a salt represented by the formula (B1-22-a), 10.00 parts of a compound represented by the formula (B1-22-b), 50 parts of chloroform and 25 parts of ion-exchanged water were charged at 23 ° C. For 15 hours. Since the obtained reaction liquid was separated into two layers, the chloroform layer was separated and taken out, and further 15 parts of ion exchange water was added to the chloroform layer and washed with water. This operation was repeated 5 times. The chloroform layer was concentrated, 50 parts of tert-butyl methyl ether was added to the resulting residue, and the mixture was stirred at 23 ° C. for 30 minutes and filtered to obtain the salt represented by the formula (B1-22-c) 11. 75 parts were obtained.

Figure 2017057193
式(B1−22−c)で表される塩11.71部、式(B1−22−d)で表される化合物1.70部及びモノクロロベンゼン46.84部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。得られた混合液に、二安息香酸銅(II)0.12部を添加した。更に、100℃で30分間攪拌した。得られた反応溶液を濃縮した。得られた残渣に、クロロホルム50部及びイオン交換水12.50部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。回収された有機層にイオン交換水12.50部を加えて23℃で30分間攪拌し、分液して有機層を取り出した。この水洗操作を8回繰り返した。得られた有機層を濃縮した。得られた残渣に、tert−ブチルメチルエーテル50部を加えて攪拌し、ろ過することにより、式(B1−22)で表される塩6.84部を得た。
Figure 2017057193
11.71 parts of a salt represented by the formula (B1-22-c), 1.70 parts of a compound represented by the formula (B1-22-d) and 46.84 parts of monochlorobenzene were charged, and the mixture was charged at 23 ° C. for 30 minutes. Stir. To the obtained mixed solution, 0.12 part of copper (II) dibenzoate was added. Furthermore, it stirred at 100 degreeC for 30 minutes. The resulting reaction solution was concentrated. To the obtained residue, 50 parts of chloroform and 12.50 parts of ion-exchanged water were added, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. 12.50 parts of ion-exchanged water was added to the collected organic layer, stirred at 23 ° C. for 30 minutes, and separated to take out the organic layer. This washing operation was repeated 8 times. The obtained organic layer was concentrated. To the obtained residue, 50 parts of tert-butyl methyl ether was added, stirred, and filtered to obtain 6.84 parts of the salt represented by the formula (B1-22).

MASS(ESI(+)Spectrum):M 237.1
MASS(ESI(−)Spectrum):M 323.0
MASS (ESI (+) Spectrum): M + 237.1
MASS (ESI (-) Spectrum): M - 323.0

樹脂の合成
樹脂(A)の合成に使用した化合物(モノマー)を下記に示す。以下、これらの化合物をその式番号に応じて、「モノマー(a1−1−3)」等という。

Figure 2017057193
Synthesis of Resin The compound (monomer) used for the synthesis of the resin (A) is shown below. Hereinafter, these compounds are referred to as “monomer (a1-1-3)” or the like according to the formula number.
Figure 2017057193

合成例4:樹脂A1の合成
モノマーとして、モノマー(a1−1−3)、モノマー(a1−2−9)、モノマー(a2−1−1)及びモノマー(a3−4−2)を用い、そのモル比〔モノマー(a1−1−3):モノマー(a1−2−9):モノマー(a2−1−1):モノマー(a3−4−2)〕が45:14:2.5:38.5となるように混合し、全モノマー量の1.5質量倍のプロピレングリコールモノメチルエーテルアセテートを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを73℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。得られた樹脂を、メタノール/水混合溶媒中でリパルプし、ろ過することにより、重量平均分子量7.8×10の樹脂A1を収率68%で得た。この樹脂A1は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 4: Synthesis of Resin A1 As the monomer, monomer (a1-1-3), monomer (a1-2-9), monomer (a2-1-1) and monomer (a3-4-2) were used. The molar ratio [monomer (a1-1-3): monomer (a1-2-9): monomer (a2-1-1): monomer (a3-4-2)] is 45: 14: 2.5: 38. The resulting mixture was mixed with propylene glycol monomethyl ether acetate having a mass ratio of 1.5 times the total monomer amount to obtain a solution. To this solution, 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added to the total monomer amount, respectively, and these were heated at 73 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The obtained resin was repulped in a methanol / water mixed solvent and filtered to obtain a resin A1 having a weight average molecular weight of 7.8 × 10 3 in a yield of 68%. This resin A1 has the following structural units.

Figure 2017057193
Figure 2017057193

合成例5:樹脂X1の合成
モノマーとして、モノマー(a4−1−7)を用い、全モノマー量の1.2質量倍のメチルイソブチルケトンを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、1mol%及び3mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過した。得られた樹脂を、メタノール/水混合溶媒中でリパルプし、ろ過することにより、重量平均分子量7.8×10の樹脂X−1を収率86%で得た。この樹脂X1は、以下の構造単位を有するものである。

Figure 2017057193
Synthesis Example 5: Synthesis of Resin X1 Monomer (a4-1-7) was used as a monomer, and 1.2 mass times of methyl isobutyl ketone as a total monomer amount was added to obtain a solution. To this solution, 1 mol% and 3 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as initiators were added to the total monomer amount, respectively, and these were heated at 75 ° C. for about 5 hours. did. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of methanol / water mixed solvent to precipitate the resin, and this resin was filtered. The obtained resin was repulped in a methanol / water mixed solvent and filtered to obtain Resin X-1 having a weight average molecular weight of 7.8 × 10 3 in a yield of 86%. This resin X1 has the following structural units.
Figure 2017057193

合成例6:樹脂X2の合成
モノマーとして、モノマー(a4−0−12)を用い、全モノマー量の1.5質量倍のメチルイソブチルケトンを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリル及びアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して各々、0.7mol%及び2.1mol%添加し、これらを75℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過し、重量平均分子量1.5×10の樹脂X2を収率77%で得た。この樹脂X2は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 6: Synthesis of Resin X2 Monomer (a4-0-12) was used as a monomer, and 1.5 mass times of methyl isobutyl ketone as a total monomer amount was added to prepare a solution. To this solution, 0.7 mol% and 2.1 mol% of azobisisobutyronitrile and azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), respectively, as initiators were added with respect to the total monomer amount, and these were added at 75 ° C. Heated for about 5 hours. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of a methanol / water mixed solvent to precipitate a resin, and this resin was filtered to obtain a resin X2 having a weight average molecular weight of 1.5 × 10 4 in a yield of 77%. This resin X2 has the following structural units.

Figure 2017057193
Figure 2017057193

合成例7:樹脂X3の合成
モノマーとして、モノマー(a5−1−1)及びモノマー(a4−0−12)を用い、そのモル比〔モノマー(a5−1−1):モノマー(a4−0−12)〕が50:50となるように混合し、全モノマー量の1.2質量倍のメチルイソブチルケトンを加えて溶液とした。この溶液に、開始剤としてアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)を全モノマー量に対して3mol%添加し、70℃で約5時間加熱した。得られた反応混合物を、大量のメタノール/水混合溶媒に注いで樹脂を沈殿させ、この樹脂をろ過し、重量平均分子量1.0×10の樹脂X3を収率91%で得た。この樹脂X3は、以下の構造単位を有するものである。
Synthesis Example 7: Synthesis of Resin X3 Monomer (a5-1-1) and monomer (a4-0-12) were used as monomers, and the molar ratio [monomer (a5-1-1): monomer (a4-0-) 12)] was 50:50, and methyl isobutyl ketone 1.2 mass times the total monomer amount was added to obtain a solution. To this solution, 3 mol% of azobis (2,4-dimethylvaleronitrile) as an initiator was added based on the total amount of monomers, and heated at 70 ° C. for about 5 hours. The obtained reaction mixture was poured into a large amount of a methanol / water mixed solvent to precipitate a resin, and this resin was filtered to obtain a resin X3 having a weight average molecular weight of 1.0 × 10 4 in a yield of 91%. This resin X3 has the following structural units.

Figure 2017057193
Figure 2017057193

<レジスト組成物の調製>
表1に示すように、以下の各成分を混合し、得られた混合物を孔径0.2μmのフッ素樹脂製フィルターで濾過することにより、レジスト組成物を調製した。
<Preparation of resist composition>
As shown in Table 1, the following components were mixed, and the resulting mixture was filtered through a fluororesin filter having a pore size of 0.2 μm to prepare a resist composition.

Figure 2017057193
Figure 2017057193

<樹脂>
A1、X1〜X3:樹脂A1、樹脂X1〜樹脂X3
<塩(I)>
I−2:式(I−2)で表される塩
I−4:式(I−4)で表される塩
I−1:式(I−1)で表される塩
I−3:式(I−3)で表される塩
I−10:式(I−10)で表される塩
I−12:式(I−12)で表される塩
<酸発生剤>
B1−21:式(B1−21)で表される塩
B1−22:式(B1−22)で表される塩
IX−1:式(IX−1)で表される塩
<化合物(D)>
D1:(東京化成工業(株)製)

Figure 2017057193
<溶剤>
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 265部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 20部
2−ヘプタノン 20部
γ−ブチロラクトン 3.5部 <Resin>
A1, X1 to X3: Resin A1, Resin X1 to Resin X3
<Salt (I)>
I-2: salt represented by formula (I-2) I-4: salt represented by formula (I-4) I-1: salt represented by formula (I-1) I-3: formula Salt represented by (I-3) I-10: Salt represented by formula (I-10) I-12: Salt represented by formula (I-12) <Acid generator>
B1-21: salt represented by formula (B1-21) B1-22: salt represented by formula (B1-22) IX-1: salt represented by formula (IX-1) <Compound (D) >
D1: (Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.)
Figure 2017057193
<Solvent>
Propylene glycol monomethyl ether acetate 265 parts Propylene glycol monomethyl ether 20 parts 2-heptanone 20 parts γ-butyrolactone 3.5 parts

<レジストパターンの製造及びその評価>
12インチのシリコンウェハ上に、有機反射防止膜用組成物[ARC−29;日産化学(株)製]を塗布して、205℃、60秒の条件でベークすることによって、厚さ78nmの有機反射防止膜を形成した。次いで、前記の有機反射防止膜の上に、上記のレジスト組成物を乾燥(プリベーク)後の組成物層の膜厚が85nmとなるようにスピンコートした。レジスト組成物が塗布されたシリコンウェハをダイレクトホットプレート上にて、表1の「PB」欄に記載された温度で60秒間プリベークして、シリコンウェハ上に組成物層を形成した。
シリコンウェハ上に形成された組成物層に、液浸露光用ArFエキシマレーザステッパー[XT:1900Gi;ASML社製、NA=1.35、Dipole0.900/0.700 Y−pol.照明]で、トレンチパターン(ピッチ120nm/トレンチ40nm)を形成するためのマスクを用いて、露光量を段階的に変化させて露光した。なお、液浸媒体としては超純水を使用した。露光後、ホットプレート上にて、表1の「PEB」欄に記載された温度で60秒間ポストエキスポジャーベークを行った。次いで、加熱後の組成物層を、現像液として酢酸ブチル(東京化成工業(株)製)を用いて、23℃で20秒間ダイナミックディスペンス法によって現像を行うことにより、ネガ型レジストパターンを製造した。
<Manufacture of resist pattern and its evaluation>
An organic antireflective coating composition [ARC-29; manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd.] was applied onto a 12-inch silicon wafer, and baked under the conditions of 205 ° C. and 60 seconds, whereby an organic layer having a thickness of 78 nm. An antireflection film was formed. Next, the resist composition was spin-coated on the organic antireflection film so that the film thickness of the composition layer after drying (pre-baking) was 85 nm. The silicon wafer coated with the resist composition was pre-baked on a direct hot plate at the temperature described in the “PB” column of Table 1 for 60 seconds to form a composition layer on the silicon wafer.
An ArF excimer laser stepper for immersion exposure [XT: 1900 Gi; manufactured by ASML, NA = 1.35, Dipole 0.900 / 0.700 Y-pol.] Is applied to the composition layer formed on the silicon wafer. Illumination], using a mask for forming a trench pattern (pitch 120 nm / trench 40 nm), the exposure was changed stepwise to perform exposure. Note that ultrapure water was used as the immersion medium. After the exposure, post-exposure baking was performed for 60 seconds on the hot plate at the temperature described in the “PEB” column of Table 1. Next, a negative resist pattern was manufactured by developing the heated composition layer using a butyl acetate (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) as a developing solution by a dynamic dispensing method at 23 ° C. for 20 seconds. .

得られたレジストパターンにおいて、トレンチパターンの線幅が40nmとなる露光量を実効感度とした。   In the obtained resist pattern, the exposure amount at which the line width of the trench pattern was 40 nm was defined as effective sensitivity.

<フォーカスマージン評価(DOF)>
実効感度において、フォーカスを段階的に変化させて露光する以外は上記と同様の操作を行ってネガ型レジストパターンを製造した。得られたレジストパターンにおいて、トレンチパターンの幅が40nm±5%(38〜42nm)となるフォーカス範囲をDOF(nm)とした。結果を表2に示す。
<Focus margin evaluation (DOF)>
A negative resist pattern was manufactured in the same manner as described above except that the exposure was performed while changing the focus stepwise in terms of effective sensitivity. In the obtained resist pattern, the focus range in which the width of the trench pattern is 40 nm ± 5% (38 to 42 nm) was defined as DOF (nm). The results are shown in Table 2.

Figure 2017057193
Figure 2017057193

上記の結果から、本発明の塩、酸発生剤及びこれを含むレジスト組成物によれば、フォーカスマージンが良好なパターンを形成できることがわかる。   From the above results, it can be seen that the salt of the present invention, the acid generator, and the resist composition containing the same can form a pattern with a good focus margin.

本発明の塩、酸発生剤、レジスト組成物は、フォーカスマージンが良好なパターンを形成でき、半導体の微細加工に有用である。   The salt, acid generator and resist composition of the present invention can form a pattern with a good focus margin and are useful for fine processing of semiconductors.

Claims (9)

式(I)で表される塩。
Figure 2017057193
[式(I)中、
及びRは、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基又は炭素数1〜12の炭化水素基を表し、該炭化水素基に含まれる−CH−は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
m及びnは、それぞれ独立に、1又は2を表す。mが2のとき、2つのRは同一又は相異なり、nが2のとき、2つのRは同一又は相異なる。
Arは、置換基を有していてもよい炭素数6〜36の芳香族炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数5〜36のヘテロ芳香族炭化水素基を表す。
は、ヒドロキシ基を有していてもよい炭素数1〜18の(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基を表し、該脂肪族飽和炭化水素基に含まれる―CH−は−O―又は−CO−で置き換わっていてもよい。
は、炭素数5〜18の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子は、ヒドロキシ基に置換されてもよく、又は該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子2つがそれぞれ酸素原子に置換され、当該2つの酸素原子が炭素数1〜8のアルカンジイル基と一緒になってケタール環を形成してもよく、該ケタール環はフッ素原子を有していてもよく、該脂環式炭化水素基に含まれるーCH−基は、−O−又は−CO−で置き換わっていてもよい。
sは、1〜3の整数を表す。]
A salt represented by the formula (I).
Figure 2017057193
[In the formula (I),
R 1 and R 2 each independently represent a hydrogen atom, a hydroxy group or a hydrocarbon group having 1 to 12 carbon atoms, and —CH 2 — contained in the hydrocarbon group is —O— or —CO—. It may be replaced.
m and n each independently represents 1 or 2. When m is 2, two R 1 are the same or different, and when n is 2, two R 2 are the same or different.
Ar represents an aromatic hydrocarbon group having 6 to 36 carbon atoms which may have a substituent or a heteroaromatic hydrocarbon group having 5 to 36 carbon atoms which may have a substituent.
A 1 represents a (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group having 1 to 18 carbon atoms which may have a hydroxy group, and —CH 2 — contained in the aliphatic saturated hydrocarbon group is —O -Or -CO- may be substituted.
R 3 represents an alicyclic hydrocarbon group having 5 to 18 carbon atoms, and a hydrogen atom contained in the alicyclic hydrocarbon group may be substituted with a hydroxy group, or the alicyclic hydrocarbon group May be substituted with oxygen atoms, and the two oxygen atoms may form a ketal ring together with an alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms, and the ketal ring may contain a fluorine atom. The —CH 2 — group contained in the alicyclic hydrocarbon group may be replaced by —O— or —CO—.
s represents an integer of 1 to 3. ]
が、アダマンチル基であり、該アダマンチル基に含まれる水素原子はヒドロキシ基で置換されてもよく、又は該アダマンチル基に含まれる水素原子2つがそれぞれ酸素原子に置換され、当該2つの酸素原子が炭素数1〜8のアルカンジイル基と一緒になってフッ素原子を含んでもよいケタール環を形成してもよく、該アダマンチル基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基に置き換わっていてもよい請求項1記載の塩。 R 3 is an adamantyl group, and a hydrogen atom contained in the adamantyl group may be substituted with a hydroxy group, or two hydrogen atoms contained in the adamantyl group are each substituted with an oxygen atom, and the two oxygen atoms May form a ketal ring which may contain a fluorine atom together with an alkanediyl group having 1 to 8 carbon atoms, and the methylene group contained in the adamantyl group may be replaced by an oxygen atom or a carbonyl group A good salt according to claim 1. Arが、置換基を有していてもよいフェニル基である請求項1又は2記載の塩。   The salt according to claim 1 or 2, wherein Ar is a phenyl group which may have a substituent. が、炭素数2〜5の(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基である請求項1〜3のいずれかに記載の塩。 The salt according to any one of claims 1 to 3, wherein A 1 is a (1 + s) -valent aliphatic saturated hydrocarbon group having 2 to 5 carbon atoms. 請求項1〜4のいずれかに記載の塩を含有する酸発生剤。   The acid generator containing the salt in any one of Claims 1-4. 請求項5記載の酸発生剤と酸不安定基を有する構造単位を含む樹脂とを含有するレジスト組成物。   A resist composition comprising the acid generator according to claim 5 and a resin containing a structural unit having an acid labile group. 酸発生剤から発生する酸よりも酸性度の弱い塩を含有する請求項6記載のレジスト組成物。   The resist composition according to claim 6, comprising a salt having a lower acidity than an acid generated from the acid generator. さらに、フッ素原子を有する構造単位を含む樹脂を含有する請求項6又は7記載のレジスト組成物。   Furthermore, the resist composition of Claim 6 or 7 containing resin containing the structural unit which has a fluorine atom. (1)請求項6〜8のいずれかに記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物を乾燥させて組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、及び
(5)加熱後の組成物層を現像する工程
を含むレジストパターンの製造方法。
(1) The process of apply | coating the resist composition in any one of Claims 6-8 on a board | substrate,
(2) The process of drying the composition after application | coating and forming a composition layer,
(3) a step of exposing the composition layer;
(4) A method for producing a resist pattern, comprising: a step of heating the composition layer after exposure; and (5) a step of developing the composition layer after heating.
JP2016163713A 2015-09-15 2016-08-24 Method for Producing Salt, Acid Generator, Resist Composition and Resist Pattern Active JP6769783B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015181778 2015-09-15
JP2015181778 2015-09-15

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2017057193A true JP2017057193A (en) 2017-03-23
JP6769783B2 JP6769783B2 (en) 2020-10-14

Family

ID=58389593

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016163713A Active JP6769783B2 (en) 2015-09-15 2016-08-24 Method for Producing Salt, Acid Generator, Resist Composition and Resist Pattern

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6769783B2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018049091A (en) * 2016-09-20 2018-03-29 東京応化工業株式会社 Resist composition and resist pattern forming method
JP2018203716A (en) * 2017-06-06 2018-12-27 住友化学株式会社 Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern
JP2018203715A (en) * 2017-06-06 2018-12-27 住友化学株式会社 Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern
CN110275395A (en) * 2018-03-16 2019-09-24 东京应化工业株式会社 Anti-corrosion agent composition and resist pattern forming method
JP2019182858A (en) * 2018-04-12 2019-10-24 住友化学株式会社 Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013033161A (en) * 2011-08-02 2013-02-14 Jsr Corp Photoresist composition and method for forming resist pattern
JP2013068778A (en) * 2011-09-22 2013-04-18 Fujifilm Corp Actinic ray sensitive or radiation sensitive resin composition, and resist film, pattern forming method, method for manufacturing electronic device and electronic device using the same
JP2013152450A (en) * 2011-12-27 2013-08-08 Fujifilm Corp Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film, manufacturing method of electronic device, and electronic device
JP2014010183A (en) * 2012-06-27 2014-01-20 Fujifilm Corp Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition to be used for the method
JP2014178645A (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Fujifilm Corp Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film, method for manufacturing electronic device, and electronic device
WO2014192768A1 (en) * 2013-05-30 2014-12-04 富士フイルム株式会社 Pattern-forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film, method for producing electronic device, and electronic device
JP2014224991A (en) * 2013-04-18 2014-12-04 住友化学株式会社 Resist composition and method for producing resist pattern
WO2015174215A1 (en) * 2014-05-12 2015-11-19 富士フイルム株式会社 Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film, pattern formation method, method for manufacturing electronic device, and electronic device

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013033161A (en) * 2011-08-02 2013-02-14 Jsr Corp Photoresist composition and method for forming resist pattern
JP2013068778A (en) * 2011-09-22 2013-04-18 Fujifilm Corp Actinic ray sensitive or radiation sensitive resin composition, and resist film, pattern forming method, method for manufacturing electronic device and electronic device using the same
JP2013152450A (en) * 2011-12-27 2013-08-08 Fujifilm Corp Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, resist film, manufacturing method of electronic device, and electronic device
JP2014010183A (en) * 2012-06-27 2014-01-20 Fujifilm Corp Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition to be used for the method
JP2014178645A (en) * 2013-03-15 2014-09-25 Fujifilm Corp Pattern forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film, method for manufacturing electronic device, and electronic device
JP2014224991A (en) * 2013-04-18 2014-12-04 住友化学株式会社 Resist composition and method for producing resist pattern
WO2014192768A1 (en) * 2013-05-30 2014-12-04 富士フイルム株式会社 Pattern-forming method, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film, method for producing electronic device, and electronic device
WO2015174215A1 (en) * 2014-05-12 2015-11-19 富士フイルム株式会社 Actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition, actinic ray-sensitive or radiation-sensitive film, pattern formation method, method for manufacturing electronic device, and electronic device

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
公益社団法人 日本化学会, 化学便覧 基礎編 改訂5版, vol. 11章 化学平衡, JPN6020018267, 25 February 2012 (2012-02-25), pages 333 - 340, ISSN: 0004275016 *

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2018049091A (en) * 2016-09-20 2018-03-29 東京応化工業株式会社 Resist composition and resist pattern forming method
JP7042551B2 (en) 2016-09-20 2022-03-28 東京応化工業株式会社 Resist composition and resist pattern forming method
JP2018203716A (en) * 2017-06-06 2018-12-27 住友化学株式会社 Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern
JP2018203715A (en) * 2017-06-06 2018-12-27 住友化学株式会社 Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern
JP7057207B2 (en) 2017-06-06 2022-04-19 住友化学株式会社 Methods for Producing Compounds, Resins, Resist Compositions and Resist Patterns
JP7057208B2 (en) 2017-06-06 2022-04-19 住友化学株式会社 Method for Producing Compound, Resist Composition and Resist Pattern
CN110275395A (en) * 2018-03-16 2019-09-24 东京应化工业株式会社 Anti-corrosion agent composition and resist pattern forming method
CN110275395B (en) * 2018-03-16 2024-05-17 东京应化工业株式会社 Resist composition and resist pattern forming method
JP2019182858A (en) * 2018-04-12 2019-10-24 住友化学株式会社 Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern
JP7196004B2 (en) 2018-04-12 2022-12-26 住友化学株式会社 Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern

Also Published As

Publication number Publication date
JP6769783B2 (en) 2020-10-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6450660B2 (en) Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern
JP6471535B2 (en) Resist composition, method for producing resist pattern and compound
JP6488719B2 (en) Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern
JP6471529B2 (en) Resist composition and method for producing resist pattern
JP6488718B2 (en) Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern
JP6688081B2 (en) Resist composition and method for producing resist pattern
JP2016169207A (en) Compound, resin, resist composition, and production method of resist pattern
JP6432327B2 (en) Salt, resist composition and method for producing resist pattern
JP6637740B2 (en) Resist composition and method for producing resist pattern
JP7220255B2 (en) Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern
JP6769783B2 (en) Method for Producing Salt, Acid Generator, Resist Composition and Resist Pattern
JP2017095444A (en) Compound, resin, resist composition and method for producing resist pattern
JP6252292B2 (en) Salt, resist composition and method for producing resist pattern
JP6637750B2 (en) Resist composition and method for producing resist pattern
JP6664947B2 (en) Salt, acid generator, resist composition and method for producing resist pattern
JP6585477B2 (en) Salt, resin, resist composition and method for producing resist pattern
JP2017095447A (en) Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern
JP6789034B2 (en) Method for producing salt, acid generator, resist composition and resist pattern
JP2017095448A (en) Salt, acid generator, resist composition, and method for producing resist pattern
JP2020045486A (en) Compound, resin, resist composition, and method for producing resist pattern
JP6670601B2 (en) Resist composition and method for producing resist pattern
JP6617459B2 (en) Resist composition
JP6986974B2 (en) Method for producing salt, acid generator, resist composition and resist pattern
JP2016145346A (en) Resin, resist composition, and production method of resist pattern
JP6913544B2 (en) Method for manufacturing resist composition and resist pattern

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190624

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200423

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200602

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200731

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200901

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200924

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6769783

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350