JP2017040535A - X-ray inspection device - Google Patents

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Takashi Kabumoto
隆司 株本
厚司 岩井
Koji Iwai
厚司 岩井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a highly reliable X-ray inspection device.SOLUTION: An inspection sorting device 100 is provided with an X-ray irradiator 23, a line sensor 24, an abnormal discharge determination part 47, and a quality determination part 45. The X-ray irradiator 23 has an X-ray tube 50 that includes an anode electrode 56 and a cathode electrode 57, and generates an X-ray, when a predetermined voltage is supplied to the anode electrode and the cathode electrode, to irradiate an article P with the X-ray. The line sensor 24 detects a transmission X-ray, which is the X-ray transmitting the article P irradiated by the X-ray irradiator 23. The abnormal discharge determination part 47 detects abnormal discharge in the X-ray irradiator 23. The quality determination part 45 determines whether the article P is defective or unable to undeterminable on the basis of the transmission X-ray detected by the line sensor 24 and the abnormal discharge detected by the abnormal discharge determination part 47. The quality determination part 45 determines that the article P under determination is undeterminable when abnormal discharge is detected.SELECTED DRAWING: Figure 14

Description

本発明は、X線検査装置に関する。   The present invention relates to an X-ray inspection apparatus.

従来、検査対象にX線を照射して行う各種検査に使用されるX線検査装置では、X線発生部のアノード電極及びカソード電極に所定の電圧を供給して、カソード電極から電子を放出させアノード電極に衝突させることによって発生させたX線を、検査対象に照射している。そして、検査対象を透過した透過X線の検出結果に基づき、検査対象が良品であるか不良品であるかを判定している。例えば、特許文献1(特開2010−281654号公報)には、搬送コンベアによって搬送される検査対象にX線を照射し、検出した透過X線に応じて画像を生成し、当該生成した画像に基づき良品と不良品に振り分けている。   Conventionally, in an X-ray inspection apparatus used for various inspections performed by irradiating an inspection target with X-rays, a predetermined voltage is supplied to the anode electrode and the cathode electrode of the X-ray generation unit to emit electrons from the cathode electrode. X-rays generated by colliding with the anode electrode are irradiated to the inspection object. Then, based on the detection result of transmitted X-rays transmitted through the inspection object, it is determined whether the inspection object is a non-defective product or a defective product. For example, in Patent Document 1 (Japanese Patent Application Laid-Open No. 2010-281654), an X-ray is irradiated on an inspection object conveyed by a conveyance conveyor, an image is generated according to the detected transmitted X-ray, and the generated image is generated. Based on this, the products are sorted into non-defective products and defective products.

X線検査装置においては、X線発生部において、異常放電(検査の障害となりうる放電)が生じることがある。係る異常放電には、耐用年数の経過に起因する異常放電と、X線管球の構造に起因する異常放電と、が含まれる。耐用年数の経過に起因する異常放電は、X線発生部における真空度の劣化や絶縁油等の絶縁性能の劣化によって生じうる。X線管球の構造に起因する異常放電は、カソード電極から放出された電子が、アノード電極に衝突することなくX線管球内に留まること等を要因として生じるものである。   In the X-ray inspection apparatus, abnormal discharge (discharge that may hinder inspection) may occur in the X-ray generation unit. Such abnormal discharge includes abnormal discharge resulting from the passage of the service life and abnormal discharge resulting from the structure of the X-ray tube. Abnormal discharge due to the passage of the service life can be caused by deterioration of the vacuum degree in the X-ray generation part or deterioration of insulating performance such as insulating oil. The abnormal discharge due to the structure of the X-ray tube is caused by the fact that electrons emitted from the cathode electrode stay in the X-ray tube without colliding with the anode electrode.

特許文献1のX線検査装置によると、検査対象の検査中(透過X線の検出中)に異常放電が生じると、透過X線に基づいて生成される画像に影響がおよび、良品であっても不良品と判定されるケースが想定される。このため、信頼性に劣る。   According to the X-ray inspection apparatus of Patent Document 1, if an abnormal discharge occurs during inspection of an inspection target (during detection of transmitted X-rays), the image generated based on the transmitted X-rays is affected and the product is non-defective. A case where the product is determined to be defective is also assumed. For this reason, it is inferior to reliability.

そこで、本発明の課題は、信頼性に優れるX線検査装置を提供することである。   Therefore, an object of the present invention is to provide an X-ray inspection apparatus having excellent reliability.

本発明の第1観点に係るX線検査装置は、搬送手段によって搬送される検査対象物を検査するX線検査装置であって、X線照射部と、X線検出部と、異常放電検出部と、判定部と、を備える。X線照射部は、X線管球を有する。X線管球は、アノード電極とカソード電極とを含む。X線照射部は、アノード電極及びカソード電極に所定の電圧を供給されることでX線を発生させ、検査対象物に対してX線を照射する。X線検出部は、透過X線を検出する。透過X線は、X線照射部によって照射され検査対象物を透過したX線である。異常放電検出部は、X線照射部における異常放電を検出する。判定部は、X線検出部によって検出された透過X線及び異常放電検出部によって検出された異常放電に基づき、検査対象物が不良品又は判定不能品であるかを判定する。判定部は、異常放電が検出された時には、判定中の検査対象物を判定不能品と判定する。   An X-ray inspection apparatus according to a first aspect of the present invention is an X-ray inspection apparatus that inspects an inspection object conveyed by a conveyance means, and includes an X-ray irradiation unit, an X-ray detection unit, and an abnormal discharge detection unit. And a determination unit. The X-ray irradiation unit has an X-ray tube. The X-ray tube includes an anode electrode and a cathode electrode. The X-ray irradiation unit generates X-rays by supplying a predetermined voltage to the anode electrode and the cathode electrode, and irradiates the inspection target with X-rays. The X-ray detection unit detects transmitted X-rays. The transmitted X-rays are X-rays that are irradiated by the X-ray irradiation unit and transmitted through the inspection object. The abnormal discharge detection unit detects abnormal discharge in the X-ray irradiation unit. The determination unit determines whether the inspection object is a defective product or a product that cannot be determined based on the transmitted X-ray detected by the X-ray detection unit and the abnormal discharge detected by the abnormal discharge detection unit. When the abnormal discharge is detected, the determination unit determines that the inspection target being determined is a non-determinable product.

本発明の第1観点に係るX線検査装置では、判定部が、X線検出部によって検出された透過X線及び異常放電検出部によって検出された異常放電に基づき、検査対象物が不良品又は判定不能品であるかを判定し、異常放電が検出された時には判定中の検査対象物を判定不能品と判定する。これにより、透過X線の検出中(すなわち検査対象物の検査中)に異常放電が生じた場合には、当該検査対象物は判定不能品と判定される。その結果、異常放電の影響によって、良品であるにも関わらず、不良品と判定されることが抑制される。また、不良品であるにも関わらず、良品と判定されることも抑制される。よって、信頼性に優れる。   In the X-ray inspection apparatus according to the first aspect of the present invention, based on the transmitted X-ray detected by the X-ray detection unit and the abnormal discharge detected by the abnormal discharge detection unit, the determination object is a defective product or It is determined whether the product is undecidable, and when an abnormal discharge is detected, the inspected object being determined is determined as an undecidable product. As a result, when an abnormal discharge occurs during transmission X-ray detection (that is, during inspection of the inspection object), the inspection object is determined to be an undecidable product. As a result, it is suppressed by the influence of abnormal discharge that it is determined as a defective product although it is a non-defective product. Moreover, although it is inferior goods, it determines that it determines with a non-defective product. Therefore, it is excellent in reliability.

なお、ここでの「異常放電」については、耐用年数の経過に起因する異常放電(真空度の劣化や絶縁油等の絶縁性能の劣化によって、X線管球内、又はX線管球外であってタンク内において生じうる放電)と、X線管球の構造に起因する異常放電(カソード電極から放出された電子がアノード電極に衝突することなくX線管球内に留まること等を要因としてX線管球内において生じうる放電)と、が含まれる。   In addition, “abnormal discharge” here refers to abnormal discharge (due to deterioration of vacuum degree or insulation performance such as insulating oil due to the lapse of service life, inside or outside the X-ray tube. And the abnormal discharge caused by the structure of the X-ray tube (electrons emitted from the cathode electrode stay in the X-ray tube without colliding with the anode electrode). In the X-ray tube).

本発明の第2観点に係るX線検査装置は、第1観点に係るX線検査装置であって、分別部をさらに備える。分別部は、判定部における判定結果に基づき検査対象物を振り分ける。分別部は、不良品と判定された検査対象物を不良品が送られる第1収集部に移動させる。分別部は、判定不能品と判定された検査対象物を判定不能品が送られる第2収集部に移動させる。これにより、検査対象物が不良品及び判定不能品の種別に応じて分別される。その結果、異常放電の影響によって、良品であるにも関わらず不良品として分別されることが抑制される。また、不良品であるにも関わらず良品として分別されることも抑制される。   The X-ray inspection apparatus according to the second aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to the first aspect, and further includes a sorting unit. The classification unit distributes the inspection object based on the determination result in the determination unit. The sorting unit moves the inspection object determined to be defective to the first collecting unit to which the defective product is sent. The sorting unit moves the inspection object determined to be an indeterminate product to the second collection unit to which the indeterminate product is sent. As a result, the inspection object is sorted according to the type of defective product and non-determinable product. As a result, due to the influence of abnormal discharge, it is suppressed that the product is classified as a defective product although it is a good product. Moreover, although it is a defective product, it is suppressed that it is classified as a non-defective product.

本発明の第3観点に係るX線検査装置は、第1観点又は第2観点に係るX線検査装置であって、画像生成部をさらに備える。画像生成部は、X線検出部によって検出された透過X線に基づき画像を生成する。異常放電検出部は、画像生成部によって生成された画像に基づき異常放電を検出する。これにより、高精度に異常放電を検出することが可能となる。   An X-ray inspection apparatus according to a third aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to the first aspect or the second aspect, and further includes an image generation unit. The image generation unit generates an image based on the transmitted X-rays detected by the X-ray detection unit. The abnormal discharge detection unit detects abnormal discharge based on the image generated by the image generation unit. This makes it possible to detect abnormal discharge with high accuracy.

すなわち、異常放電が生じた場合にはアノード電極及び/又はカソード電極に供給される電圧及び電流の変化が生じるため、検査対象物に対してX線を照射中に異常放電が生じた時には、X線照射部で発生されるX線において変化が生じる。係るX線の変化に関連して、透過X線の強度も一時的に急変するため、画像生成部によって生成される画像においても係る変化が現れる。よって、異常放電検出部は、画像生成部によって生成された画像に基づき異常放電を検出することが可能である。また、異常放電が生じた時に画像生成部によって生成される画像において現れる変化は特徴的であることから、高精度に異常放電を検出することが可能となる。   That is, when an abnormal discharge occurs, the voltage and current supplied to the anode electrode and / or the cathode electrode change, so when an abnormal discharge occurs during irradiation of X-rays on the inspection object, A change occurs in X-rays generated in the X-ray irradiation unit. In relation to such a change in X-rays, the intensity of transmitted X-rays also changes suddenly, so that such changes also appear in the image generated by the image generation unit. Therefore, the abnormal discharge detection unit can detect abnormal discharge based on the image generated by the image generation unit. Moreover, since the change that appears in the image generated by the image generation unit when the abnormal discharge occurs is characteristic, it is possible to detect the abnormal discharge with high accuracy.

本発明の第4観点に係るX線検査装置は、第1観点から第3観点のいずれかに係るX線検査装置であって、異常放電検出部は、アノード電極又はカソード電極を含む電気回路における電流又は電圧の変化を検知することで異常放電を検出する。これにより、高精度に異常放電を検出することが可能となる。   An X-ray inspection apparatus according to a fourth aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to any one of the first to third aspects, wherein the abnormal discharge detector is in an electric circuit including an anode electrode or a cathode electrode. Abnormal discharge is detected by detecting changes in current or voltage. This makes it possible to detect abnormal discharge with high accuracy.

すなわち、異常放電が生じた場合にはアノード電極及び/又はカソード電極に供給される電圧及び電流の変化が生じる。よって、異常放電検出部は、アノード電極又はカソード電極を含む電気回路における電流又は電圧の変化を検知することで異常放電を検出することが可能である。また、異常放電が生じた時にアノード電極又はカソード電極を含む電気回路における電流又は電圧の変化は特徴的であることから、高精度に異常放電を検出することが可能となる。   That is, when abnormal discharge occurs, changes in voltage and current supplied to the anode electrode and / or cathode electrode occur. Therefore, the abnormal discharge detector can detect abnormal discharge by detecting a change in current or voltage in an electric circuit including the anode electrode or the cathode electrode. Further, since the change in current or voltage in the electric circuit including the anode electrode or the cathode electrode is characteristic when the abnormal discharge occurs, it is possible to detect the abnormal discharge with high accuracy.

本発明の第5観点に係るX線検査装置は、第1観点から第4観点のいずれかに係るX線検査装置であって、集計部をさらに備える。集計部は、判定部によって判定された検査対象物の数を集計する。集計部は、判定不能品と判定された検査対象物については除外して集計する。これにより、検査が正常に完了した検査対象物の集計を、高精度に行うことが可能となる。   An X-ray inspection apparatus according to a fifth aspect of the present invention is the X-ray inspection apparatus according to any one of the first aspect to the fourth aspect, and further includes a counting unit. The totaling unit totals the number of inspection objects determined by the determination unit. The tabulation unit excludes and tabulates inspection objects that are determined to be indeterminate. As a result, it is possible to count the inspection objects that have been normally inspected with high accuracy.

本発明に係るX線検査装置では、透過X線の検出中(すなわち検査対象物の検査中)に異常放電が生じた場合には、当該検査対象物は判定不能品と判定される。その結果、異常放電の影響によって、良品であるにも関わらず、不良品と判定されることが抑制される。また、不良品であるにも関わらず、良品と判定されることも抑制される。よって、信頼性に優れる。   In the X-ray inspection apparatus according to the present invention, when an abnormal discharge occurs during transmission X-ray detection (that is, during inspection of an inspection object), the inspection object is determined as an undecidable product. As a result, it is suppressed by the influence of abnormal discharge that it is determined as a defective product although it is a non-defective product. Moreover, although it is inferior goods, it determines that it determines with a non-defective product. Therefore, it is excellent in reliability.

本発明の一実施形態に係る検査振分装置の概略構成図。The schematic block diagram of the inspection distribution apparatus which concerns on one Embodiment of this invention. X線検査ユニットの外観斜視図。The external appearance perspective view of a X-ray inspection unit. シールドボックス内部の概略構成図。The schematic block diagram inside a shield box. 振分ユニット(アーム)が動作して物品が不良品回収ボックス又は判定不能品回収ボックスへ送られる様子を示した模式図。The schematic diagram which showed a mode that the distribution unit (arm) operate | moved and an article | item is sent to the inferior goods collection box or the indeterminate goods collection box. X線照射器の概略構成を示した模式図。The schematic diagram which showed schematic structure of the X-ray irradiator. 異常放電検出回路の概略構成を示した模式図。The schematic diagram which showed schematic structure of the abnormal discharge detection circuit. コントローラの概略構成と、コントローラに接続される機器を模式的に示したブロック図。FIG. 2 is a block diagram schematically showing a schematic configuration of a controller and devices connected to the controller. X線透視像信号と、X線画像生成部によって生成されるX線画像における明るさ(輝度)と、の対応関係を示した模式図。FIG. 4 is a schematic diagram showing a correspondence relationship between an X-ray fluoroscopic image signal and brightness (luminance) in an X-ray image generated by an X-ray image generation unit. 物品(良品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の一例を示した模式図。The schematic diagram which showed an example of the X-ray image produced | generated based on the transmission X-ray which concerns on articles | goods (good quality). 物品(不良品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の一例を示した模式図。The schematic diagram which showed an example of the X-ray image produced | generated based on the transmission X-ray which concerns on articles | goods (defective goods). 物品(判定不能品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の一例を示した模式図。The schematic diagram which showed an example of the X-ray image produced | generated based on the transmission X-ray which concerns on articles | goods (undecidable goods). 物品(判定不能品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の他の一例を示した模式図。The schematic diagram which showed another example of the X-ray image produced | generated based on the transmission X-ray which concerns on articles | goods (undecidable goods). 第1異常放電の発生頻度と使用時間との関係を示したグラフ。The graph which showed the relationship between the occurrence frequency of 1st abnormal discharge, and use time. コントローラの処理の流れの一例を示したフローチャート。The flowchart which showed an example of the flow of a process of a controller. 変形例Hに係る異常放電検出回路の概略構成を示した模式図。The schematic diagram which showed schematic structure of the abnormal discharge detection circuit which concerns on the modification H. FIG. 変形例Iに係る異常放電検出回路の概略構成を示した模式図。The schematic diagram which showed schematic structure of the abnormal discharge detection circuit concerning the modification I.

以下、図面を参照しながら、本発明の一実施形態に係る検査振分装置100(X線検査装置)について説明する。なお、以下の実施形態は、本発明の具体例であって、本発明の技術的範囲を限定するものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲で適宜変更が可能である。   Hereinafter, an inspection distribution apparatus 100 (X-ray inspection apparatus) according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The following embodiments are specific examples of the present invention and do not limit the technical scope of the present invention, and can be modified as appropriate without departing from the scope of the invention.

(1)検査振分装置100の概要
図1は、本発明の一実施形態に係る検査振分装置100の概略構成図である。本実施形態において、検査振分装置100は、食品(加工食品や生鮮食料品等)である物品P(検査対象物)の品質検査を行って良品と不良品とを振り分けるシステムである。特に、検査振分装置100は、品質検査として異物検査(物品Pにおける異物混入の有無に関する検査)を行う。なお、物品Pは、必ずしも食品には限定されず、他のもの(例えば工業製品や医薬品等)であってもよい。
(1) Overview of Inspection Distribution Device 100 FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an inspection distribution device 100 according to an embodiment of the present invention. In the present embodiment, the inspection distribution device 100 is a system that performs quality inspection of an article P (inspection object) that is food (processed food, fresh food, etc.) and distributes non-defective products and defective products. In particular, the inspection distribution apparatus 100 performs a foreign matter inspection (inspection regarding the presence or absence of foreign matters in the article P) as a quality inspection. The article P is not necessarily limited to food, and may be other items (for example, industrial products and pharmaceuticals).

検査振分装置100は、搬送方向D(図1の二点鎖線矢印参照)に沿って物品Pを搬送し物品Pの製造、計量、包装、及び梱包等の各種加工を行う加工ラインにおいて配置されている。検査振分装置100は、物品Pを受け入れる側の端部において上流側コンベア90と接続されており、物品Pを送り出す側の端部において下流側コンベア91と接続されている。検査振分装置100は、上流側コンベア90によって所定間隔で搬送されてくる物品Pに対してX線を照射し、物品Pを透過したX線(透過X線)に基づき物品Pの品質検査を行い、検査結果に応じて物品Pが不良品であるか否かを判定する。本実施形態において、検査振分装置100は、透過X線に基づき、物品Pへの異物混入の有無を検査する異物検査を行い、異物が混入していると判断される物品Pについては、不良品と判定する。   The inspection distribution device 100 is arranged in a processing line that transports the article P along the transport direction D (see the two-dot chain line arrow in FIG. 1) and performs various processes such as manufacturing, weighing, packaging, and packing of the article P. ing. The inspection distribution device 100 is connected to the upstream conveyor 90 at the end on the side where the article P is received, and is connected to the downstream conveyor 91 at the end on the side where the article P is sent out. The inspection distribution device 100 irradiates the article P conveyed at a predetermined interval by the upstream conveyor 90 with X-rays, and performs quality inspection of the article P based on the X-rays transmitted through the article P (transmitted X-rays). And determine whether or not the article P is a defective product according to the inspection result. In the present embodiment, the inspection distribution apparatus 100 performs a foreign object inspection for inspecting the presence or absence of foreign matter in the article P based on the transmitted X-rays, and the article P that is determined to have foreign matters mixed is not acceptable. Judge as good.

検査振分装置100は、不良品ではない(すなわち良品)と判定した物品Pについては、下流側コンベア91へ送る。検査振分装置100は、不良品と判定した物品Pについては、不良品を収集するための不良品回収ボックス95(第1収集部)へ送り、下流側コンベア91へと送られる物品P(良品)とは振り分けて加工ラインから除外する。   The inspection distribution device 100 sends the article P determined to be not defective (that is, non-defective product) to the downstream conveyor 91. The inspection distribution device 100 sends the article P determined to be defective to the defective product collection box 95 (first collection unit) for collecting defective products and sent to the downstream conveyor 91 (good product). ) Is excluded from the processing line.

また、検査振分装置100は、不良品であるか否かを判定不能と判定した物品P(判定不能品)については、判定不能品を収集するための判定不能品回収ボックス96(第2収集部)へ送り、下流側コンベア91へと送られる物品P(良品)及び不良品回収ボックス95へ回収される物品P(不良品)とは分別して加工ラインから回収する。判定不能品回収ボックス96へ収集された判定不能品は、改めて異物検査が行われるべく、図示しないコンベアや人手を介して上流側コンベア90へ再び供給される。   In addition, the inspection distribution apparatus 100 determines an undecidable item collection box 96 (second collection) for collecting an undecidable item for an article P (undeterminable item) that has been judged to be undecidable. The product P (good product) sent to the downstream conveyor 91 and the product P (defective product) collected in the defective product collection box 95 are separated and collected from the processing line. The indeterminate product collected in the indeterminate product collection box 96 is supplied again to the upstream conveyor 90 via a conveyor (not shown) or a manpower so that foreign matter inspection can be performed again.

(2)検査振分装置100の詳細
検査振分装置100は、主として、物品Pを検査して不良品であるか否かを判定するX線検査ユニット20と、検査後の物品Pのうち不良品及び判定不能品を個別に振り分ける振分ユニット30と、X線検査ユニット20及び振分ユニット30の動作を制御するコントローラ40(図7参照)と、を有している。
(2) Details of Inspection Distribution Device 100 The inspection distribution device 100 mainly includes an X-ray inspection unit 20 that determines whether or not a product is defective by inspecting the product P, and the inspection distribution device 100. The sorting unit 30 that sorts the non-defective product and the undecidable product individually, and the controller 40 (see FIG. 7) that controls the operations of the X-ray inspection unit 20 and the sorting unit 30 are provided.

(2−1)X線検査ユニット20
図2は、X線検査ユニット20の外観斜視図である。X線検査ユニット20は、主として、シールドボックス21と、コンベアユニット22と、X線照射器23と、ラインセンサ24(図3参照)と、LCDディスプレイ25と、を有している。
(2-1) X-ray inspection unit 20
FIG. 2 is an external perspective view of the X-ray inspection unit 20. The X-ray inspection unit 20 mainly includes a shield box 21, a conveyor unit 22, an X-ray irradiator 23, a line sensor 24 (see FIG. 3), and an LCD display 25.

(2−1−1)シールドボックス21
シールドボックス21は、X線検査ユニット20を構成する各種機器(具体的にはコンベアユニット22、X線照射器23、及びラインセンサ24等)を収容するケーシングである。また、シールドボックス21の中には、コントローラ40が収容されている。また、シールドボックス21の正面上部には、LCDディスプレイ25や、キーの差し込み口や電源スイッチ等が配置されている。
(2-1-1) Shield box 21
The shield box 21 is a casing that houses various devices constituting the X-ray inspection unit 20 (specifically, the conveyor unit 22, the X-ray irradiator 23, the line sensor 24, and the like). A controller 40 is accommodated in the shield box 21. In addition, an LCD display 25, a key insertion slot, a power switch, and the like are disposed on the upper front portion of the shield box 21.

シールドボックス21は、搬送方向Dの上流側及び下流側の側面において、物品Pを搬出入するための開口21aを形成されている。開口21aは、シールドボックス21の外部へのX線の漏洩を抑制する遮蔽ノレン26により塞がれている。遮蔽ノレン26は、タングステンを含有するゴム製である。遮蔽ノレン26は、物品Pがシールドボックス21の内部に搬入される時、又は、物品Pがシールドボックス21の外部に搬出される時に、コンベアユニット22により搬送される物品Pによって押しのけられる。   The shield box 21 is formed with an opening 21 a for carrying the article P in and out on the side surfaces on the upstream side and the downstream side in the transport direction D. The opening 21 a is closed by a shielding nole 26 that suppresses leakage of X-rays to the outside of the shield box 21. The shielding nolen 26 is made of rubber containing tungsten. When the article P is carried into the shield box 21 or when the article P is carried out of the shield box 21, the shielding noren 26 is pushed away by the article P conveyed by the conveyor unit 22.

(2−1−2)コンベアユニット22(搬送手段)
コンベアユニット22は、上流側コンベア90から受け入れた物品Pを、シールドボックス21内を通過させてから下流側の振分ユニット30へと搬送する。コンベアユニット22は、シールドボックス21の両側面に形成された開口21aを貫通するように配置されている。
(2-1-2) Conveyor unit 22 (conveying means)
The conveyor unit 22 conveys the article P received from the upstream conveyor 90 to the downstream sorting unit 30 after passing through the shield box 21. The conveyor unit 22 is disposed so as to penetrate through the openings 21 a formed on both side surfaces of the shield box 21.

コンベアユニット22は、主として、インバータ式のコンベアモータ22a(図7参照)と、エンコーダ22b(図7参照)と、コンベアローラ22cと、無端状のコンベアベルト22dと、を有している。コンベアモータ22aの出力端はコンベアローラ22cに接続されており、コンベアローラ22cはコンベアモータ22aに連動して駆動する。コンベアローラ22cが駆動することで、コンベアベルト22dが回転し、コンベアベルト22d上の物品Pが下流側(振分ユニット30側)に向かって搬送される。   The conveyor unit 22 mainly includes an inverter type conveyor motor 22a (see FIG. 7), an encoder 22b (see FIG. 7), a conveyor roller 22c, and an endless conveyor belt 22d. The output end of the conveyor motor 22a is connected to the conveyor roller 22c, and the conveyor roller 22c is driven in conjunction with the conveyor motor 22a. By driving the conveyor roller 22c, the conveyor belt 22d rotates, and the article P on the conveyor belt 22d is conveyed toward the downstream side (the sorting unit 30 side).

エンコーダ22bは、コンベアモータ22aに装着されている。エンコーダ22bは、コンベアモータ22aの回転数を検出し、検出結果をコントローラ40へ送信する。   The encoder 22b is attached to the conveyor motor 22a. The encoder 22b detects the number of rotations of the conveyor motor 22a and transmits the detection result to the controller 40.

コンベアモータ22aは、コントローラ40によって、コンベアユニット22の搬送速度が、オペレータによりLCDディスプレイ25に入力された設定速度になるように、インバータ制御される。   The conveyor motor 22a is inverter-controlled by the controller 40 so that the conveying speed of the conveyor unit 22 becomes the set speed input to the LCD display 25 by the operator.

(2−1−3)X線照射器23(X線照射部)
図3は、シールドボックス21内部の概略構成図である。X線照射器23は、ラインセンサ24及びコンベアユニット22の上方に配置されている。X線照射器23は、シールドボックス21内部において、X線を発生させ、搬送されてくる物品PにX線を照射する。より詳細には、X線照射器23は、コンベアユニット22の下方に配置されるラインセンサ24に向けて、扇状の照射範囲Y(図3のハッチング部分を参照)にX線を照射する。照射範囲Yは、コンベアユニット22の搬送面に対して垂直に延びる。また、照射範囲Yは、物品Pの搬送方向Dに直交する方向(すなわちコンベアベルト22dの幅方向)に広がる。
(2-1-3) X-ray irradiator 23 (X-ray irradiator)
FIG. 3 is a schematic configuration diagram inside the shield box 21. The X-ray irradiator 23 is disposed above the line sensor 24 and the conveyor unit 22. The X-ray irradiator 23 generates X-rays inside the shield box 21 and irradiates the conveyed article P with X-rays. More specifically, the X-ray irradiator 23 irradiates the fan-shaped irradiation range Y (see the hatched portion in FIG. 3) with X-rays toward the line sensor 24 disposed below the conveyor unit 22. The irradiation range Y extends perpendicular to the transport surface of the conveyor unit 22. Further, the irradiation range Y extends in a direction orthogonal to the conveyance direction D of the article P (that is, the width direction of the conveyor belt 22d).

X線照射器23の詳細については後述する。   Details of the X-ray irradiator 23 will be described later.

(2−1−4)ラインセンサ24(X線検出部)
ラインセンサ24は、コンベアベルト22dの下方に配置されており、物品Pやコンベアベルト22dを透過したX線(透過X線)を検出し、検出結果に対応するX線透視像信号(図8参照)をコントローラ40へ出力する。換言すると、ラインセンサ24は、透過X線の強度に応じたX線透過信号をコントローラ40へ出力する。透過X線の強度は、透過X線量の大小に依存する。なお、X線透過信号(すなわち、透過X線の強度)に基づきコントローラ40(後述するX線画像生成部44)によってX線画像が生成される点については後述するが、生成されるX線画像の明るさ(輝度)についてはラインセンサ24が出力するX線透過信号に基づいて決定される。
(2-1-4) Line sensor 24 (X-ray detection unit)
The line sensor 24 is disposed below the conveyor belt 22d, detects X-rays (transmitted X-rays) transmitted through the article P and the conveyor belt 22d, and an X-ray fluoroscopic image signal corresponding to the detection result (see FIG. 8). Is output to the controller 40. In other words, the line sensor 24 outputs an X-ray transmission signal corresponding to the intensity of the transmission X-ray to the controller 40. The intensity of the transmitted X-ray depends on the magnitude of the transmitted X-ray dose. Note that the point where an X-ray image is generated by the controller 40 (an X-ray image generation unit 44 described later) based on the X-ray transmission signal (that is, the intensity of the transmitted X-ray) will be described later. Is determined based on an X-ray transmission signal output from the line sensor 24.

ラインセンサ24は、物品Pの搬送方向Dに直交し、かつ、コンベアベルト22dの幅方向に一直線に配置された多数のX線検出素子24a(画素センサ)を有している。本実施形態においてX線検出素子24aは、フォトダイオードであり、基板に実装されている。   The line sensor 24 has a number of X-ray detection elements 24a (pixel sensors) that are orthogonal to the conveyance direction D of the article P and are arranged in a straight line in the width direction of the conveyor belt 22d. In the present embodiment, the X-ray detection element 24a is a photodiode and is mounted on a substrate.

また、ラインセンサ24は、シンチレータ24b(図8参照)を有している。シンチレータ24bは、X線検出素子24a上に配置されている。本実施形態では、シンチレータ24bとして蛍光紙が用いられている。シンチレータ24bは、上方から入射してくるX線を光に変換し、変換後の光を下方のX線検出素子24aに入射させる。   The line sensor 24 has a scintillator 24b (see FIG. 8). The scintillator 24b is disposed on the X-ray detection element 24a. In the present embodiment, fluorescent paper is used as the scintillator 24b. The scintillator 24b converts X-rays incident from above into light, and causes the converted light to enter the lower X-ray detection element 24a.

X線検出素子24aは、シンチレータ24bから入射される光の量に応じて電流を発生させて電荷を蓄積し、蓄積した電荷量を電気信号に変換してX線透視像信号としてコントローラ40へ出力する。   The X-ray detection element 24a generates electric current according to the amount of light incident from the scintillator 24b, accumulates electric charge, converts the accumulated electric charge into an electric signal, and outputs it to the controller 40 as an X-ray fluoroscopic image signal. To do.

なお、ラインセンサ24は、物品PがX線の照射範囲Yを通過するタイミングを検知するためのセンサとしても機能する。具体的には、コンベアユニット22によって搬送される物品Pがラインセンサ24の上方位置(照射範囲Y)に来たとき、ラインセンサ24のX線検出素子24aのいずれかが所定の閾値以下の電圧を示すX線透過信号(第1信号)を出力する。また、物品Pが照射範囲Yを通過し終えると、ラインセンサ24の全てのX線検出素子24aは、所定の閾値を上回る電圧を示すX線透過信号(第2信号)を出力する。係る第1信号及び第2信号がコントローラ40に出力されることで、照射範囲Yにおける物品Pの有無がコントローラ40によって検出される。   The line sensor 24 also functions as a sensor for detecting the timing when the article P passes through the X-ray irradiation range Y. Specifically, when the article P conveyed by the conveyor unit 22 comes to an upper position (irradiation range Y) of the line sensor 24, any one of the X-ray detection elements 24a of the line sensor 24 has a voltage equal to or lower than a predetermined threshold. X-ray transmission signal (first signal) is output. Further, when the article P finishes passing through the irradiation range Y, all the X-ray detection elements 24a of the line sensor 24 output an X-ray transmission signal (second signal) indicating a voltage exceeding a predetermined threshold. By outputting the first signal and the second signal to the controller 40, the controller 40 detects the presence or absence of the article P in the irradiation range Y.

(2−1−5)LCDディスプレイ25
LCDディスプレイ25は、タッチパネル(タッチ入力が可能な入力手段)を有する液晶ディスプレイ(いわゆるタッチスクリーン)である。LCDディスプレイ25は、コントローラ40と電気的に接続されており、コントローラ40と互いに信号の送受信を行う。
(2-1-5) LCD display 25
The LCD display 25 is a liquid crystal display (so-called touch screen) having a touch panel (input means capable of touch input). The LCD display 25 is electrically connected to the controller 40 and transmits / receives signals to / from the controller 40.

LCDディスプレイ25は、管理者に対して情報を表示(出力)する表示部、及び管理者が各種コマンドを入力する入力部として機能する。LCDディスプレイ25は、コントローラ40によって生成された情報を表示する。例えば、LCDディスプレイ25は、コントローラ40から出力されたX線画像(後述)や報知情報(後述)等を表示する。   The LCD display 25 functions as a display unit that displays (outputs) information to the administrator and an input unit through which the administrator inputs various commands. The LCD display 25 displays information generated by the controller 40. For example, the LCD display 25 displays an X-ray image (described later) output from the controller 40, notification information (described later), and the like.

(2−2)振分ユニット30(分別部)
図4は、振分ユニット30(アーム31)が動作して物品Pが不良品回収ボックス95又は判定不能品回収ボックス96へ送られる様子を示した模式図である。振分ユニット30は、コントローラ40の指令に応じて、搬送されてくる物品Pのうち、不良品を不良品回収ボックス95へ送り、判定不能品を判定不能品回収ボックス96へ送る。
(2-2) Sorting unit 30 (sorting part)
FIG. 4 is a schematic diagram showing a state in which the sorting unit 30 (arm 31) is operated and the article P is sent to the defective product collection box 95 or the indeterminate product collection box 96. In response to a command from the controller 40, the sorting unit 30 sends defective products among the conveyed products P to the defective product collection box 95 and sends undecidable products to the undecidable product collection box 96.

振分ユニット30は、主として、複数(ここでは2つ)のアーム31(第1アーム31a及び第2アーム31b)と、アーム31を駆動する複数(ここでは2つ)のアーム駆動部32(図7参照)と、アーム31の上流側で物品Pを検出する光電センサ33と、を有している。   The distribution unit 30 mainly includes a plurality of (here, two) arms 31 (first arm 31a and second arm 31b) and a plurality (here, two) arm driving units 32 (see FIG. 5). 7) and a photoelectric sensor 33 for detecting the article P on the upstream side of the arm 31.

第1アーム31aは、コンベアユニット22によって搬送されてくる不良品を不良品回収ボックス95へと送る。第2アーム31bは、コンベアユニット22によって搬送されてくる判定不能品を判定不能品回収ボックス96へと送る。各アーム31は、その回転軸がコンベアユニット22の側部に取り付けられている。各アーム31の回転軸にはアーム駆動部32(第1アーム駆動部32a又は第2アーム駆動部32b)が接続されており、各アーム31はアーム駆動部32の動作に連動して移動する。具体的に第1アーム31aは、第1アーム駆動部32aに接続され、第1アーム駆動部32aの動作に連動して移動する。第2アーム31bは、第2アーム駆動部32bに接続され、第2アーム駆動部32bの動作に連動して移動する。   The first arm 31 a sends the defective product conveyed by the conveyor unit 22 to the defective product collection box 95. The second arm 31 b sends the indeterminate product conveyed by the conveyor unit 22 to the indeterminate product collection box 96. The rotation axis of each arm 31 is attached to the side portion of the conveyor unit 22. An arm driving unit 32 (first arm driving unit 32 a or second arm driving unit 32 b) is connected to the rotation shaft of each arm 31, and each arm 31 moves in conjunction with the operation of the arm driving unit 32. Specifically, the first arm 31a is connected to the first arm driving unit 32a and moves in conjunction with the operation of the first arm driving unit 32a. The second arm 31b is connected to the second arm drive unit 32b and moves in conjunction with the operation of the second arm drive unit 32b.

各アーム31は、物品Pの搬送方向Dに沿う位置(図4の一点鎖線で示す位置)と物品Pを斜めに遮る振分位置(図4の実線で示す位置)との間を移動する(図4の一点鎖線矢印を参照)。第1アーム31aは、不良品が搬送されてきたタイミングにおいて係る態様で移動することにより、不良品をコンベアユニット22から落下させ、コンベアユニット22の側部近傍に配置された不良品回収ボックス95へと送る。また、第2アーム31bは、判定不能品が搬送されてきたタイミングにおいて係る態様で移動することにより、判定不能品をコンベアユニット22から落下させ、コンベアユニット22の側部近傍に配置された判定不能品回収ボックス96へと送る。   Each arm 31 moves between a position (position indicated by a one-dot chain line in FIG. 4) along the conveyance direction D of the article P and a distribution position (position indicated by a solid line in FIG. 4) that obstructs the article P obliquely (position indicated by a solid line in FIG. 4). (See the dashed line arrow in FIG. 4). The first arm 31a moves in such a manner at the timing when the defective product has been conveyed, thereby dropping the defective product from the conveyor unit 22 and moving it to the defective product collection box 95 disposed near the side of the conveyor unit 22. And send. Further, the second arm 31b moves in such a manner at the timing when the indeterminate product has been conveyed, thereby dropping the indeterminate product from the conveyor unit 22 and being arranged in the vicinity of the side of the conveyor unit 22. The product is sent to the product collection box 96.

第1アーム駆動部32a及び第2アーム駆動部32bは、それぞれエアーシリンダ又はモータ等のアクチュエータを含み、コントローラ40によって駆動を制御される。   The first arm drive unit 32 a and the second arm drive unit 32 b each include an actuator such as an air cylinder or a motor, and the drive is controlled by the controller 40.

光電センサ33は、光を照射する投光器33aと、照射された光を受光する受光器33bと、を含んでいる。光電センサ33は、コントローラ40と電気的に接続されている。投光器33aの動作はコントローラ40によって制御される。受光器33bは、投光器33aから照射された光を受光している時にはコントローラ40に所定の信号(受光信号)を出力し受光しない時にはコントローラ40への受光信号の出力を停止する。これにより、コントローラ40は、物品Pが振分ユニット30を通過するタイミングを検出する。   The photoelectric sensor 33 includes a projector 33a that emits light and a light receiver 33b that receives the emitted light. The photoelectric sensor 33 is electrically connected to the controller 40. The operation of the projector 33a is controlled by the controller 40. The light receiver 33b outputs a predetermined signal (light reception signal) to the controller 40 when receiving light emitted from the projector 33a, and stops outputting the light reception signal to the controller 40 when not receiving light. Thereby, the controller 40 detects the timing at which the article P passes through the sorting unit 30.

(2−3)コントローラ40
コントローラ40は、主として、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)、HDD(Hard Disk Drive)等によって構成されるコンピュータである。コントローラ40は、X線検査ユニット20に含まれる各機器の動作を制御する。また、コントローラ40は、ラインセンサ24のX線透過量の検出結果に基づき、物品Pが不良品であるか否かの検査(異物検査)を行う。
(2-3) Controller 40
The controller 40 is a computer mainly composed of a CPU (Central Processing Unit), a ROM (Read Only Memory), a RAM (Random Access Memory), an HDD (Hard Disk Drive), and the like. The controller 40 controls the operation of each device included in the X-ray inspection unit 20. Further, the controller 40 performs an inspection (foreign matter inspection) as to whether or not the article P is a defective product based on the detection result of the X-ray transmission amount of the line sensor 24.

また、コントローラ40は、異物検査の結果、不良品又は判定不能品と判定した物品Pについては、加工ラインから除外又は回収すべく振分ユニット30を駆動させて不良品回収ボックス95又は判定不能品回収ボックス96へと回収させる。   Further, the controller 40 drives the sorting unit 30 to remove or collect the article P determined to be defective or undecidable as a result of the foreign substance inspection from the processing line, and then the defective article collection box 95 or the undecidable article. It collects in the collection box 96.

また、コントローラ40は、X線管球50又はタンク53の交換等のメンテナンスが必要であるか否かを判定し、判定結果に応じて管理者に対し係るメンテナンスを促す報知を行う。   Further, the controller 40 determines whether or not maintenance such as replacement of the X-ray tube 50 or the tank 53 is necessary, and notifies the administrator of the maintenance according to the determination result.

コントローラ40の詳細については後述する。   Details of the controller 40 will be described later.

(3)X線照射器23の詳細
図5は、X線照射器23の概略構成を示した模式図である。X線照射器23は、X線管球50と、高圧電源51と、フィラメント電源52と、タンク53と、異常放電検出回路54と、を有している。
(3) Details of X-ray Irradiator 23 FIG. 5 is a schematic diagram showing a schematic configuration of the X-ray irradiator 23. The X-ray irradiator 23 includes an X-ray tube 50, a high voltage power supply 51, a filament power supply 52, a tank 53, and an abnormal discharge detection circuit 54.

X線管球50は、ステンレス及びセラミクス製のX線管本体55と、X線管本体55の内部に配置されるアノード電極56(X線ターゲット)及びカソード電極57(フィラメント)と、を含んでいる。X線管本体55には、X線を透過するX線照射窓58が形成されている。   The X-ray tube 50 includes an X-ray tube main body 55 made of stainless steel and ceramics, and an anode electrode 56 (X-ray target) and a cathode electrode 57 (filament) disposed inside the X-ray tube main body 55. Yes. An X-ray irradiation window 58 that transmits X-rays is formed in the X-ray tube main body 55.

高圧電源51は、図示しない電源(例えば、商用の交流電源、又は直流電源)と接続され、入力電圧をインバータ等(図示省略)によって昇圧して高圧の直流電圧を生成する。高圧電源51は、正側の出力端子がアノード電極56と接続されるとともに負側の出力端子がカソード電極57と接続されて、アノード電極56及びカソード電極57のそれぞれに所定の電圧を供給しており、アノード電極56とカソード電極57との間に電位差を生じさせている。本実施形態において、高圧電源51は、アノード電極56とカソード電極57との間に100kVの電位差を生じさせている。なお、高圧電源51がアノード電極56とカソード電極57との間において生じさせる電位差は、必ずしも100kVに限定されず、設計仕様や使用環境に応じて適宜変更が可能である。   The high voltage power source 51 is connected to a power source (not shown) (for example, a commercial AC power source or a DC power source), and boosts the input voltage by an inverter or the like (not shown) to generate a high voltage DC voltage. The high-voltage power supply 51 has a positive output terminal connected to the anode electrode 56 and a negative output terminal connected to the cathode electrode 57 to supply a predetermined voltage to each of the anode electrode 56 and the cathode electrode 57. Thus, a potential difference is generated between the anode electrode 56 and the cathode electrode 57. In the present embodiment, the high voltage power supply 51 generates a potential difference of 100 kV between the anode electrode 56 and the cathode electrode 57. Note that the potential difference generated between the anode electrode 56 and the cathode electrode 57 by the high-voltage power supply 51 is not necessarily limited to 100 kV, and can be appropriately changed according to the design specifications and the use environment.

フィラメント電源52は、カソード電極57に加熱電流を供給する。上述のようにアノード電極56とカソード電極57との間に所定の電位差が生じている状態(すなわち、アノード電極56及びカソード電極57に対して高圧電源51から所定の電圧が供給されている状態)で、フィラメント電源52からカソード電極57に加熱電流が供給されると、X線管球50内において、カソード電極57が加熱されてカソード電極57から熱電子が放出され、カソード電極57から放出された熱電子がアノード電極56に衝突する(図5の破線矢印を参照)。その結果、X線照射窓58を介してX線管球50外に照射されるX線が生じる(図5の1点鎖線矢印Xを参照)。なお、X線がX線照射窓58に向けて適正に照射されるべく、アノード電極56は、カソード電極57から放出された熱電子の入射角度が適正な角度となるように配置されている。   The filament power supply 52 supplies a heating current to the cathode electrode 57. A state where a predetermined potential difference is generated between the anode electrode 56 and the cathode electrode 57 as described above (that is, a state where a predetermined voltage is supplied from the high-voltage power supply 51 to the anode electrode 56 and the cathode electrode 57). When the heating current is supplied from the filament power source 52 to the cathode electrode 57, the cathode electrode 57 is heated in the X-ray tube 50, and thermionic electrons are emitted from the cathode electrode 57 and emitted from the cathode electrode 57. The thermoelectrons collide with the anode electrode 56 (see the broken line arrow in FIG. 5). As a result, X-rays are emitted to the outside of the X-ray tube 50 through the X-ray irradiation window 58 (see a one-dot chain line arrow X in FIG. 5). In order to properly irradiate X-rays toward the X-ray irradiation window 58, the anode electrode 56 is arranged so that the incident angle of the thermoelectrons emitted from the cathode electrode 57 is an appropriate angle.

タンク53は、X線管球50、高圧電源51、及びフィラメント電源52を収容している。また、タンク53内には、高圧電源51とアノード電極56とを結ぶ電気回路(すなわち、アノード電極56を含む電気回路)である第1電気回路59と、高圧電源51とカソード電極57とを結ぶ電気回路(すなわち、カソード電極57を含む電気回路)である第2電気回路60と、が配置されている。   The tank 53 accommodates an X-ray tube 50, a high voltage power supply 51, and a filament power supply 52. Further, in the tank 53, a first electric circuit 59 that is an electric circuit that connects the high-voltage power supply 51 and the anode electrode 56 (that is, an electric circuit including the anode electrode 56), and the high-voltage power supply 51 and the cathode electrode 57 are connected. A second electric circuit 60 that is an electric circuit (that is, an electric circuit including the cathode electrode 57) is disposed.

また、タンク53内には、絶縁油61が封入されている。絶縁油61は、電気的絶縁性を有しており、タンク53内の空間において電位差のある各部間(例えば、第1電気回路59と第2電気回路60との間、又は、第1電気回路59若しくは第2電気回路60とタンク53若しくはX線管本体55との間)において電気的絶縁状態を確保する。また、絶縁油61は、X線を発生させる際に高熱を生じさせるX線管球50を冷却する役割を担っている。なお、タンク53内においては、絶縁油61に代えて又は絶縁油61とともにエポキシやシリコーン等の固体絶縁体(図示省略)が封入されてもよい。   An insulating oil 61 is enclosed in the tank 53. The insulating oil 61 has electrical insulating properties, and has a potential difference in the space in the tank 53 (for example, between the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60 or the first electric circuit. 59 or between the second electric circuit 60 and the tank 53 or the X-ray tube main body 55). The insulating oil 61 plays a role of cooling the X-ray tube 50 that generates high heat when generating X-rays. In the tank 53, a solid insulator (not shown) such as epoxy or silicone may be enclosed instead of or together with the insulating oil 61.

異常放電検出回路54は、X線管球50(X線管本体55)内、又はX線管球50外であってタンク53内において発生した異常放電を検出するための回路である。   The abnormal discharge detection circuit 54 is a circuit for detecting abnormal discharge generated in the X-ray tube 50 (X-ray tube main body 55) or outside the X-ray tube 50 and in the tank 53.

ここで、「異常放電」とは、検査振分装置100における検査の障害となりうる放電を指す。係る異常放電には、X線管球50の構造に起因する異常放電と、X線管球50又は絶縁油61等の耐用年数の経過に起因する異常放電と、が含まれる。   Here, “abnormal discharge” refers to a discharge that may be an obstacle to inspection in the inspection distribution apparatus 100. Such abnormal discharge includes abnormal discharge due to the structure of the X-ray tube 50 and abnormal discharge due to the passage of the service life of the X-ray tube 50 or the insulating oil 61 or the like.

X線管球50の構造に起因する異常放電は、カソード電極57から放出された電子がアノード電極56に衝突することなくX線管球50内に留まること等を要因として、X線管球50内において生じるものであり、耐用年数の経過との関連性は小さい。より詳細には、X線管球50の内部のガスがカソード電極57から放出された電子等によって電離されることでアノード電極56及びカソード電極57間で引き起こされる放電や、絶縁を保っているX線管壁にカソード電極57から放出された電子が一時的に蓄積され飽和にいたることでX線管球50内において引き起こされる放電等が、X線管球50の構造に起因する異常放電に該当する。   The abnormal discharge due to the structure of the X-ray tube 50 is caused by the fact that electrons emitted from the cathode electrode 57 stay in the X-ray tube 50 without colliding with the anode electrode 56, and the like. The relationship with the passage of useful life is small. More specifically, the gas generated inside the X-ray tube 50 is ionized by electrons emitted from the cathode electrode 57 and the like, and the discharge caused between the anode electrode 56 and the cathode electrode 57 and the X that maintains insulation are maintained. A discharge caused in the X-ray tube 50 due to the temporary accumulation and saturation of electrons emitted from the cathode electrode 57 on the X-ray tube wall corresponds to an abnormal discharge caused by the structure of the X-ray tube 50. To do.

耐用年数の経過に起因する異常放電は、真空度の劣化や絶縁油61等の絶縁性能の劣化等を要因として、X線管球50内、又はX線管球50外であってタンク53内において生じうる。   Abnormal discharge due to the passage of the service life is caused by deterioration of the degree of vacuum or insulation performance of the insulating oil 61 and the like, inside the X-ray tube 50 or outside the X-ray tube 50 and inside the tank 53. Can occur.

なお、以下の説明においては、説明の便宜上、X線管球50内における異常放電を「第1異常放電」と称し、X線管球50外であってタンク53内における異常放電を「第2異常放電」と称する。   In the following description, for convenience of explanation, the abnormal discharge in the X-ray tube 50 is referred to as “first abnormal discharge”, and the abnormal discharge in the tank 53 outside the X-ray tube 50 is referred to as “second abnormal discharge”. This is called “abnormal discharge”.

図6は、異常放電検出回路54の概略構成を示した模式図である。異常放電検出回路54は、第1電気回路59、第2電気回路60、及びコントローラ40にそれぞれ接続されている。異常放電検出回路54は、第1電気回路59における電圧値の変化(急降下)に応じてパルスを出力する第1検出ユニット62と、第2電気回路60における電圧値の変化(急降下)に応じてパルスを出力する第2検出ユニット63と、XOR回路64と、AND回路65と、を有している。   FIG. 6 is a schematic diagram showing a schematic configuration of the abnormal discharge detection circuit 54. The abnormal discharge detection circuit 54 is connected to the first electric circuit 59, the second electric circuit 60, and the controller 40, respectively. The abnormal discharge detection circuit 54 includes a first detection unit 62 that outputs a pulse in response to a change in voltage value (sudden drop) in the first electric circuit 59, and a change in voltage value (sudden drop) in the second electric circuit 60. A second detection unit 63 that outputs a pulse, an XOR circuit 64, and an AND circuit 65 are included.

第1検出ユニット62及び第2検出ユニット63は、それぞれ、順に直列接続された電圧検出回路541と、微分回路542と、比較器543と、パルス発生器544と、を含んでいる。電圧検出回路541は、入力側において、第1電気回路59又は第2電気回路60と接続されている。電圧検出回路541は、出力側において、微分回路542と接続されている。微分回路542の出力側は、比較器543の負側入力端に接続されている。比較器543は、正側入力端において図示しない基準電源と接続されており、基準電圧を供給されている。比較器543は、出力端においてパルス発生器544と接続されている。パルス発生器544は、出力側において、XOR回路64及びAND回路65と接続されている。   Each of the first detection unit 62 and the second detection unit 63 includes a voltage detection circuit 541, a differentiation circuit 542, a comparator 543, and a pulse generator 544 that are connected in series. The voltage detection circuit 541 is connected to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60 on the input side. The voltage detection circuit 541 is connected to the differentiation circuit 542 on the output side. The output side of the differentiation circuit 542 is connected to the negative side input terminal of the comparator 543. The comparator 543 is connected to a reference power source (not shown) at the positive input end, and is supplied with a reference voltage. The comparator 543 is connected to the pulse generator 544 at the output end. The pulse generator 544 is connected to the XOR circuit 64 and the AND circuit 65 on the output side.

第1検出ユニット62及び第2検出ユニット63において、電圧検出回路541は、接続されている回路(すなわち、第1電気回路59又は第2電気回路60)に供給される電圧の値(電圧値)を検出する。微分回路542及び比較器543は、電圧検出回路541の検出結果に基づき、第1電気回路59又は第2電気回路60に供給される電圧値の変化(急降下)を検出する。パルス発生器544は、比較器543の出力に基づき、第1電気回路59又は第2電気回路60に供給される電圧値の変化(急降下)が生じた際に、パルスを出力する。   In the first detection unit 62 and the second detection unit 63, the voltage detection circuit 541 is a voltage value (voltage value) supplied to a connected circuit (that is, the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60). Is detected. The differentiation circuit 542 and the comparator 543 detect a change (abrupt drop) in the voltage value supplied to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60 based on the detection result of the voltage detection circuit 541. The pulse generator 544 outputs a pulse when the voltage value supplied to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60 changes (sudden drop) based on the output of the comparator 543.

XOR回路64及びAND回路65は、出力側においてコントローラ40と接続されている。XOR回路64は、第1検出ユニット62及び第2検出ユニット63の一方のみからパルスを入力された際(すなわち、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方において電圧値の変化(急降下)が生じた際)に、コントローラ40に対して信号(XOR信号)を出力する。AND回路65は、第1検出ユニット62及び第2検出ユニット63の双方からパルスを入力された際(すなわち、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方において電圧値の変化(急降下)が生じた際)に、コントローラ40に対して信号(AND信号)を出力する。   The XOR circuit 64 and the AND circuit 65 are connected to the controller 40 on the output side. The XOR circuit 64 receives a pulse from only one of the first detection unit 62 and the second detection unit 63 (that is, a change in voltage value (sudden drop) in one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60). A signal (XOR signal) is output to the controller 40. When the AND circuit 65 receives pulses from both the first detection unit 62 and the second detection unit 63 (that is, the voltage value changes (sudden drop) in both the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60). When it occurs, a signal (AND signal) is output to the controller 40.

このように構成される異常放電検出回路54は、第1電気回路59及び/又は第2電気回路60における電圧値の変化(急降下)が生じた際に、これを検出して信号を出力する機能を有する。なお、異常放電検出回路54の構成については、必ずしも図6に示す態様には限定されず、係る機能が達成される限り、各回路要素の追加、削除及び変更が可能である。また、電圧検出回路541、微分回路542、比較器543、パルス発生器544、XOR回路64、及びAND回路65は、図6においては簡略化して示されているが、各部の役割を果たすのに適当な電気部品を選択して組み合わせることで構成されればよい。   The abnormal discharge detection circuit 54 configured in this manner has a function of detecting a change (a sudden drop) in the voltage value in the first electric circuit 59 and / or the second electric circuit 60 and outputting a signal. Have Note that the configuration of the abnormal discharge detection circuit 54 is not necessarily limited to the mode illustrated in FIG. 6, and each circuit element can be added, deleted, and changed as long as such a function is achieved. Further, the voltage detection circuit 541, the differentiation circuit 542, the comparator 543, the pulse generator 544, the XOR circuit 64, and the AND circuit 65 are shown in a simplified manner in FIG. What is necessary is just to comprise by selecting and combining an appropriate electrical component.

(4)コントローラ40の詳細
図7は、コントローラ40の概略構成と、コントローラ40に接続される機器を模式的に示したブロック図である。コントローラ40は、主として、コンベアモータ22aと、エンコーダ22bと、X線照射器23と、ラインセンサ24と、LCDディスプレイ25と、第1アーム駆動部32aと、第2アーム駆動部32bと、投光器33aと、受光器33bと、電気的に接続されている。コントローラ40は、主として、記憶部41と、入出力制御部42と、X線照射制御部43と、X線画像生成部44と、品質判定部45と、振分制御部46と、異常放電判定部47と、報知制御部48と、検査済物品集計部49と、を有している。
(4) Details of Controller 40 FIG. 7 is a block diagram schematically showing a schematic configuration of the controller 40 and devices connected to the controller 40. The controller 40 mainly includes a conveyor motor 22a, an encoder 22b, an X-ray irradiator 23, a line sensor 24, an LCD display 25, a first arm driving unit 32a, a second arm driving unit 32b, and a projector 33a. Are electrically connected to the light receiver 33b. The controller 40 mainly includes a storage unit 41, an input / output control unit 42, an X-ray irradiation control unit 43, an X-ray image generation unit 44, a quality determination unit 45, a distribution control unit 46, and an abnormal discharge determination. A unit 47, a notification control unit 48, and an inspected article totaling unit 49.

(4−1)記憶部41
記憶部41は、ROM、RAM、HDD、及びフラッシュメモリ等により構成されており、揮発性の記憶領域及び不揮発性の記憶領域を有する。記憶部41は、主として、所定の記憶容量を有するプログラム記憶領域411と、X線透視像信号記憶領域412と、X線画像記憶領域413と、報知情報記憶領域414と、第1異常放電情報記憶領域415と、集計情報記憶領域416と、物品検出フラグ417と、不良品判定フラグ418と、判定不能品判定フラグ419と、受光信号フラグ420と、XOR信号フラグ421と、AND信号フラグ422と、メンテナンス報知フラグ423と、を含んでいる。
(4-1) Storage unit 41
The storage unit 41 includes a ROM, a RAM, an HDD, a flash memory, and the like, and has a volatile storage area and a nonvolatile storage area. The storage unit 41 mainly includes a program storage area 411 having a predetermined storage capacity, an X-ray fluoroscopic image signal storage area 412, an X-ray image storage area 413, a notification information storage area 414, and a first abnormal discharge information storage. An area 415, an aggregate information storage area 416, an article detection flag 417, a defective product determination flag 418, an indeterminate product determination flag 419, a light reception signal flag 420, an XOR signal flag 421, an AND signal flag 422, A maintenance notification flag 423.

プログラム記憶領域411は、コントローラ40の各部(42〜49)の処理を定義した制御プログラムを記憶する領域である。X線透視像信号記憶領域412は、ラインセンサ24から出力されるX線透視像信号を記憶する領域である。X線画像記憶領域413はX線画像生成部44によって生成されるX線画像(後述)を記憶する領域である。報知情報記憶領域414は、報知制御部48によって生成される報知情報(後述)を記憶する領域である。第1異常放電情報記憶領域415は、所定回数分の第1異常放電の検出時刻を記憶する領域である。   The program storage area 411 is an area for storing a control program that defines processing of each unit (42 to 49) of the controller 40. The X-ray fluoroscopic image signal storage area 412 is an area for storing an X-ray fluoroscopic image signal output from the line sensor 24. The X-ray image storage area 413 is an area for storing an X-ray image (described later) generated by the X-ray image generation unit 44. The notification information storage area 414 is an area for storing notification information (described later) generated by the notification control unit 48. The first abnormal discharge information storage area 415 is an area for storing detection times of the first abnormal discharge for a predetermined number of times.

集計情報記憶領域416は、異物検査が正常に完了した物品Pの合計数を記憶する領域である。なお、集計情報記憶領域416に記憶されている物品Pの合計数の初期値(すなわち検査振分装置100の起動開始時における集計情報記憶領域416に記憶されている物品Pの合計数)は0である。なお、集計情報記憶領域416において記憶されている物品Pの合計数に関する情報は、検査振分装置100よりも下流側の工程における処理又は在庫管理の処理等において使用される。   The total information storage area 416 is an area for storing the total number of articles P for which the foreign substance inspection has been normally completed. Note that the initial value of the total number of articles P stored in the total information storage area 416 (that is, the total number of articles P stored in the total information storage area 416 at the start of activation of the inspection distribution device 100) is 0. It is. Note that the information regarding the total number of articles P stored in the total information storage area 416 is used in a process in a process downstream of the inspection distribution device 100 or a process of inventory management.

物品検出フラグ417は、シールドボックス21内に物品Pが搬送されてきたか否かを判別するためのフラグである。不良品判定フラグ418は、X線検査ユニット20を通過し振分ユニット30に送られる物品Pが不良品であるか否かを判別するためのフラグである。判定不能品判定フラグ419は、X線検査ユニット20を通過し振分ユニット30に送られる物品Pが判定不能品であるか否かを判別するためのフラグである。受光信号フラグ420は、X線検査ユニット20を通過した物品Pが振分ユニット30に到達したことを判別するためのフラグである。XOR信号フラグ421は、XOR回路64(異常放電検出回路54)からXOR信号が出力されたことを判別するためのフラグである。AND信号フラグ422は、AND回路65(異常放電検出回路54)からAND信号が出力されたことを判別するためのフラグである。メンテナンス報知フラグ423は、管理者に対してX線管球50又はタンク53の交換等のメンテナンスを促す報知情報を通知するタイミングを判別するためのフラグである。   The article detection flag 417 is a flag for determining whether or not the article P has been transported into the shield box 21. The defective product determination flag 418 is a flag for determining whether or not the article P that passes through the X-ray inspection unit 20 and is sent to the sorting unit 30 is a defective product. The non-determinable product determination flag 419 is a flag for determining whether or not the article P that passes through the X-ray inspection unit 20 and is sent to the sorting unit 30 is an undeterminable product. The light reception signal flag 420 is a flag for determining that the article P that has passed through the X-ray inspection unit 20 has reached the sorting unit 30. The XOR signal flag 421 is a flag for determining that the XOR signal is output from the XOR circuit 64 (abnormal discharge detection circuit 54). The AND signal flag 422 is a flag for determining that an AND signal is output from the AND circuit 65 (abnormal discharge detection circuit 54). The maintenance notification flag 423 is a flag for determining the timing for notifying the administrator of notification information that prompts maintenance such as replacement of the X-ray tube 50 or the tank 53.

(4−2)入出力制御部42
入出力制御部42は、各種信号の入出力に係る制御を行う。例えば、入出力制御部42は、ラインセンサ24から出力された第1信号を受けて、物品検出フラグ417を立てる。また、入出力制御部42は、ラインセンサ24から出力された第2信号を受けて、物品検出フラグ417をクリアする。また、入出力制御部42は、ラインセンサ24から出力されたX線透視像信号を受けて、X線透視像信号記憶領域412に格納する。また、入出力制御部42は、光電センサ33から出力された受光信号を受けて、受光信号フラグ420を立てる。また、入出力制御部42は、光電センサ33から出力されていた受光信号が無くなると、受光信号フラグ420をクリアする。
(4-2) Input / output control unit 42
The input / output control unit 42 performs control related to input / output of various signals. For example, the input / output control unit 42 receives the first signal output from the line sensor 24 and sets the article detection flag 417. The input / output control unit 42 receives the second signal output from the line sensor 24 and clears the article detection flag 417. The input / output control unit 42 receives the X-ray fluoroscopic image signal output from the line sensor 24 and stores it in the X-ray fluoroscopic image signal storage area 412. Further, the input / output control unit 42 receives the light reception signal output from the photoelectric sensor 33 and sets the light reception signal flag 420. Further, the input / output control unit 42 clears the light reception signal flag 420 when the light reception signal output from the photoelectric sensor 33 disappears.

また、入出力制御部42は、X線画像記憶領域413に新たなX線画像が格納されると、これをLCDディスプレイ25に出力する。また、入出力制御部42は、報知情報記憶領域414に新たな報知情報が格納されると、これをLCDディスプレイ25に出力する。   Further, when a new X-ray image is stored in the X-ray image storage area 413, the input / output control unit 42 outputs this to the LCD display 25. Further, when new notification information is stored in the notification information storage area 414, the input / output control unit 42 outputs the new notification information to the LCD display 25.

(4−3)X線照射制御部43
X線照射制御部43は、X線照射器23の動作に係る制御を実行する。X線照射制御部43は、物品検出フラグ417が立てられた時(すなわち、シールドボックス21内において物品Pが搬送されラインセンサ24の上方位置(照射範囲Y)に来た時)に、X線照射器23における高圧電源51によってアノード電極56及びカソード電極57に所定の電圧を供給させるとともにフィラメント電源52によってカソード電極57に加熱電流を供給させることで、X線を発生させ物品Pに照射させる。
(4-3) X-ray irradiation control unit 43
The X-ray irradiation control unit 43 executes control related to the operation of the X-ray irradiator 23. The X-ray irradiation control unit 43 sets the X-ray when the article detection flag 417 is set (that is, when the article P is conveyed within the shield box 21 and reaches the position above the line sensor 24 (irradiation range Y)). A predetermined voltage is supplied to the anode electrode 56 and the cathode electrode 57 by the high voltage power source 51 in the irradiator 23 and a heating current is supplied to the cathode electrode 57 by the filament power source 52, thereby generating X-rays and irradiating the article P.

(4−4)X線画像生成部44(画像生成部)
X線画像生成部44は、X線透視像信号記憶領域412に記憶されている最新のX線透視像信号に基づき、X線画像を生成する処理を行う。X線画像生成部44は、X線透視像信号によって特定される透過X線量に基づいて、透過画像としてX線画像を生成する。より詳細には、X線画像生成部44は、各X線検出素子24aから得られるX線の強度に関する細かい時間間隔毎のデータをマトリクス状に時系列につなぎ合わせてX線画像を生成する。
(4-4) X-ray image generation unit 44 (image generation unit)
The X-ray image generation unit 44 performs processing for generating an X-ray image based on the latest X-ray fluoroscopic image signal stored in the X-ray fluoroscopic image signal storage area 412. The X-ray image generation unit 44 generates an X-ray image as a transmission image based on the transmission X-ray dose specified by the X-ray fluoroscopic image signal. More specifically, the X-ray image generation unit 44 generates X-ray images by connecting data in fine time intervals related to the intensity of X-rays obtained from the X-ray detection elements 24a in time series in a matrix form.

X線画像生成部44により生成されるX線画像では、X線検出素子24aが検出した透過X線量の多いところが明るく(淡く、輝度が大きく)表示され、透過X線量が少ないところが暗く(濃く、輝度が小さく)表示される。   In the X-ray image generated by the X-ray image generation unit 44, a portion with a large amount of transmitted X-ray detected by the X-ray detection element 24a is displayed brightly (lightly and with high brightness), and a portion with a small amount of transmitted X-ray is dark (dark) (Luminance is low).

図8は、X線透視像信号と、X線画像生成部44によって生成されるX線画像における明るさ(輝度)と、の対応関係を示した模式図である。X線画像生成部44によって生成されるX線画像においては、透過X線の強度が小さいところほど輝度が小さく(暗く)なり、透過X線の強度が大きいところほど輝度が大きく(明るく)なる。このため、物品Pに異物が混入している場合に生成されるX線画像において物品Pの異物が混入している部分については、図8に示すように、透過X線の強度が小さくなることに伴い、異物が混入していない部分と比較して輝度が小さくなる。図8では、X線画像において異物が混入している部分についての輝度が、所定の基準値SVを下回っている。   FIG. 8 is a schematic diagram showing a correspondence relationship between the X-ray fluoroscopic image signal and the brightness (luminance) in the X-ray image generated by the X-ray image generation unit 44. In the X-ray image generated by the X-ray image generation unit 44, the lower the transmitted X-ray intensity, the lower the luminance (darker), and the higher the transmitted X-ray intensity, the higher (brighter) luminance. For this reason, in the X-ray image generated when the foreign matter is mixed in the article P, the intensity of the transmitted X-ray is reduced as shown in FIG. As a result, the luminance is reduced as compared with a portion where no foreign matter is mixed. In FIG. 8, the luminance of the X-ray image where the foreign matter is mixed is lower than the predetermined reference value SV.

X線画像生成部44は、生成したX線画像をX線画像記憶領域413に格納する。これにより、生成されたX線画像が入出力制御部42によってLCDディスプレイ25に対して出力されて、LCDディスプレイ25において表示される。   The X-ray image generation unit 44 stores the generated X-ray image in the X-ray image storage area 413. Thus, the generated X-ray image is output to the LCD display 25 by the input / output control unit 42 and displayed on the LCD display 25.

図9は、物品P(良品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の一例を示した模式図である。図9に示すように、物品Pが良品である場合(物品Pに異物が混入していない場合)には、物品Pの構造や材質等に係るX線透過性(透過X線量)に応じたX線画像が生成される。   FIG. 9 is a schematic diagram illustrating an example of an X-ray image generated based on transmitted X-rays related to the article P (good product). As shown in FIG. 9, when the article P is a non-defective product (when no foreign matter is mixed in the article P), it corresponds to the X-ray transmission (transmission X-ray dose) related to the structure and material of the article P. An X-ray image is generated.

図10は、物品P(不良品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の一例を示した模式図である。図10に示すように、物品Pが不良品である場合(物品Pに異物が混入している場合)には、異物が混入している部分の輝度が小さい(暗い)画像が生成される(図10のA部分を参照)。   FIG. 10 is a schematic diagram illustrating an example of an X-ray image generated based on transmitted X-rays related to the article P (defective product). As shown in FIG. 10, when the article P is a defective product (when a foreign object is mixed in the article P), an image with a low (dark) luminance is generated in a portion where the foreign object is mixed ( (See portion A in FIG. 10).

図11は、物品P(判定不能品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の一例を示した模式図である。図12は、物品P(判定不能品)に係る透過X線に基づき生成されるX線画像の他の一例を示した模式図である。物品Pの異物検査を行っている最中(すなわち、物品Pに対してX線を照射している最中)に異常放電が生じた場合には、物品Pに対して照射されるX線において当該異常放電の影響を受ける。このことから、係る場合に生成されるX線画像にも異常放電に起因する異常放電ノイズが生じる。例えば、図11に示すように、X線画像に異常放電ノイズとして、縦方向(照射範囲Y又はラインセンサ24が延びる方向)に沿って均一に輝度が小さくなる部分が生じる(図11のB部分を参照)。また、例えば、図12に示すように、X線画像に異常放電ノイズとして、縦方向(照射範囲Y又はラインセンサ24が延びる方向)に沿って均一に輝度が大きくなる部分が生じる(図12のC部分を参照)。   FIG. 11 is a schematic diagram illustrating an example of an X-ray image generated based on transmitted X-rays related to the article P (undeterminable product). FIG. 12 is a schematic diagram illustrating another example of an X-ray image generated based on transmitted X-rays related to the article P (undeterminable product). When abnormal discharge occurs during the inspection of foreign matter on the article P (that is, while the article P is irradiated with X-rays), the X-rays irradiated on the article P It is affected by the abnormal discharge. For this reason, abnormal discharge noise due to abnormal discharge occurs in the X-ray image generated in such a case. For example, as shown in FIG. 11, a portion where the luminance is uniformly reduced along the vertical direction (direction in which the irradiation range Y or the line sensor 24 extends) is generated as abnormal discharge noise in the X-ray image (B portion in FIG. 11). See). Further, for example, as shown in FIG. 12, a portion where the luminance is uniformly increased along the vertical direction (direction in which the irradiation range Y or the line sensor 24 extends) is generated as abnormal discharge noise in the X-ray image (in FIG. 12). (See part C).

(4−5)品質判定部45(判定部)
品質判定部45は、X線画像記憶領域413に記憶されている最新のX線画像に基づき、物品Pが不良品であるか否か、又は判定不能品であるか否かを判定する処理を行う。品質判定部45は、X線画像記憶領域413に新たなX線画像が格納されると、これを取得して、輝度が基準値SVを下回る部分が存在するか否かの判定(不良品判定)を行う。品質判定部45は、X線画像において基準値SVを下回る部分が存在する場合には、当該X線画像に対応する物品Pに関して異物混入のある不良品と判定し、不良品判定フラグ418を立てる。
(4-5) Quality determination unit 45 (determination unit)
Based on the latest X-ray image stored in the X-ray image storage area 413, the quality determination unit 45 determines whether the article P is a defective product or a non-determinable product. Do. When a new X-ray image is stored in the X-ray image storage area 413, the quality determination unit 45 acquires the new X-ray image and determines whether or not there is a portion whose luminance is lower than the reference value SV (defective product determination). )I do. If there is a portion below the reference value SV in the X-ray image, the quality determination unit 45 determines that the article P corresponding to the X-ray image is a defective product with foreign matter mixed therein, and sets the defective product determination flag 418. .

また、品質判定部45は、不良品判定を実行するのに先立って、X線画像に異常放電ノイズが存在するか否かの判定(判定不能品判定)を行う。異常放電ノイズは、X線画像における縦方向(照射範囲Y又はラインセンサ24が延びる方向)に沿って均一に輝度が基準値SVよりも小さくなる部分又は第2基準値SV2(基準値SVよりも大きい所定の輝度)よりも大きくなる部分であって、そのサイズが所定値(照射範囲Yの大きさ又はラインセンサの長手方向の長さに応じて適宜設定される値)以上である部分として予め規定される部分である。品質判定部45は、異常放電ノイズが存在する場合には、当該X線画像に対応する物品Pに関して不良品か否かの判定が正常に行えないため、判定不能品と判定し、判定不能品判定フラグ419を立てる。なお、基準値SV及び第2基準値SV2は、検査対象である設計仕様や使用環境等に応じて適宜設定される。   In addition, prior to executing the defective product determination, the quality determination unit 45 determines whether or not abnormal discharge noise exists in the X-ray image (determined product determination). The abnormal discharge noise is a portion where the luminance is uniformly smaller than the reference value SV along the vertical direction (the irradiation range Y or the direction in which the line sensor 24 extends) in the X-ray image or the second reference value SV2 (less than the reference value SV). As a portion that is greater than a predetermined value (a large predetermined brightness) and whose size is equal to or larger than a predetermined value (a value that is appropriately set according to the size of the irradiation range Y or the length in the longitudinal direction of the line sensor) It is a defined part. When there is abnormal discharge noise, the quality determination unit 45 cannot normally determine whether the article P corresponding to the X-ray image is a defective product. A determination flag 419 is set. Note that the reference value SV and the second reference value SV2 are appropriately set according to the design specifications, the usage environment, and the like to be inspected.

このように、品質判定部45は、X線画像生成部44によって生成されるX線画像に基づき、物品Pが不良品であるか否か、及び判定不能品であるか否かを判定する処理を行う。換言すると、品質判定部45は、ラインセンサ24によって検出された透過X線及び異常放電判定部47によって検出された異常放電に基づき、物品Pが不良品又は判定不能品であるかを判定する。   As described above, the quality determination unit 45 determines whether the article P is a defective product and whether it is a non-determinable product based on the X-ray image generated by the X-ray image generation unit 44. I do. In other words, the quality determination unit 45 determines whether the article P is a defective product or a product that cannot be determined based on the transmitted X-rays detected by the line sensor 24 and the abnormal discharge detected by the abnormal discharge determination unit 47.

品質判定部45は、不良品判定フラグ418又は判定不能品判定フラグ419を立ててから所定時間が経過した時に(より詳細には不良品又は判定不能品と判定した物品Pの次に搬送されてくる物品Pに関する判定の開始前に)、立てている当該フラグ(不良品判定フラグ418又は判定不能品判定フラグ419)をクリアする。   When the predetermined time has elapsed since the quality determination unit 45 raised the defective product determination flag 418 or the non-determinable product determination flag 419 (more specifically, the quality determination unit 45 is transported next to the article P determined to be a defective product or a non-determinable product). Before the determination regarding the coming article P is started, the flag (defective product determination flag 418 or indeterminate product determination flag 419) that is set is cleared.

(4−6)振分制御部46
振分制御部46は、振分ユニット30におけるアーム駆動部32の動作に係る制御を実行する。
(4-6) Distribution control unit 46
The distribution control unit 46 executes control related to the operation of the arm drive unit 32 in the distribution unit 30.

振分制御部46は、不良品判定フラグ418が立てられている状態において受光信号フラグ420が立てられた時(すなわち、不良品と判定された物品Pが振分ユニット30に搬送されてきた時)に、搬送速度に応じたタイミング(具体的には、不良品と判定された物品Pが第1アーム31aの動作範囲に到達すると想定されるタイミング)にて、第1アーム駆動部32aに駆動電圧を供給して第1アーム31aを駆動させる。その結果、不良品と判定された物品Pが、不良品回収ボックス95へと送られて加工ラインから除外される。   When the light receiving signal flag 420 is set in a state where the defective product determination flag 418 is set (that is, when the article P determined to be defective is conveyed to the distribution unit 30), the distribution control unit 46 ) At the timing according to the conveyance speed (specifically, the timing when the article P determined to be defective reaches the operating range of the first arm 31a) is driven by the first arm driving unit 32a. A voltage is supplied to drive the first arm 31a. As a result, the article P determined to be defective is sent to the defective product collection box 95 and excluded from the processing line.

また、振分制御部46は、判定不能品判定フラグ419が立てられている状態において受光信号フラグ420が立てられた時(すなわち、判定不能品と判定された物品Pが振分ユニット30に搬送されてきた時)に、搬送速度に応じたタイミング(具体的には、判定不能品と判定された物品Pが第2アーム31bの動作範囲に到達すると想定されるタイミング)にて、第2アーム駆動部32bに駆動電圧を供給して第2アーム31bを駆動させる。その結果、判定不能品と判定された物品Pが、判定不能品回収ボックス96へと送られて加工ラインから回収される。   Further, the sorting control unit 46 conveys the article P determined to be an undecidable product to the sorting unit 30 when the light receiving signal flag 420 is set in a state where the undecidable item determination flag 419 is set. The second arm at a timing according to the conveyance speed (specifically, a timing at which the article P determined to be an undeterminable product reaches the operating range of the second arm 31b). A drive voltage is supplied to the drive unit 32b to drive the second arm 31b. As a result, the article P determined to be an indeterminate product is sent to the indeterminate product collection box 96 and collected from the processing line.

(4−7)異常放電判定部47(異常放電検出部)
異常放電判定部47は、X線照射器23において異常放電が生じているか否かを検出する処理を行う。より詳細には、異常放電判定部47は、異常放電が生じた際に、第1異常放電(X線管球50内における異常放電)及び第2異常放電(X線管球50外であってタンク53内における異常放電)のいずれが生じたかを判定し(すなわち、第1異常放電及び第2異常放電を個別に検出し)、当該判定結果に基づき、生じた異常放電がX線管球50の構造に起因する異常放電及び耐用年数の経過に起因する異常放電のいずれであるかを特定する。
(4-7) Abnormal discharge determination unit 47 (abnormal discharge detection unit)
The abnormal discharge determination unit 47 performs a process of detecting whether or not an abnormal discharge has occurred in the X-ray irradiator 23. More specifically, when the abnormal discharge occurs, the abnormal discharge determination unit 47 performs the first abnormal discharge (abnormal discharge in the X-ray tube 50) and the second abnormal discharge (outside the X-ray tube 50). It is determined which one of the abnormal discharges in the tank 53 has occurred (that is, the first abnormal discharge and the second abnormal discharge are individually detected), and the generated abnormal discharge is detected based on the determination result. It is specified which of the abnormal discharge caused by the structure and the abnormal discharge caused by the passage of the service life.

具体的に、異常放電判定部47は、XOR信号フラグ421又はAND信号フラグ422が立てられると異常放電が生じたことを検出する。より詳細には、異常放電判定部47は、XOR信号フラグ421が立てられた場合(すなわち、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方において電圧値の変化(急降下)が検出された場合)、第2異常放電が生じたと判定する。つまり、異常放電判定部47は、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方における電圧値の変化に基づき第2異常放電を検出する。また、異常放電判定部47は、AND信号フラグ422が立てられた場合(すなわち、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方において電圧値の変化(急降下)が検出された場合)、第1異常放電が生じたと判定する。つまり、異常放電判定部47は、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方における電圧値の変化に基づき第1異常放電を検出する。   Specifically, the abnormal discharge determination unit 47 detects that an abnormal discharge has occurred when the XOR signal flag 421 or the AND signal flag 422 is set. More specifically, the abnormal discharge determination unit 47 determines that the XOR signal flag 421 is set (that is, a change in voltage value (sudden drop) is detected in one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60. It is determined that the second abnormal discharge has occurred. That is, the abnormal discharge determination unit 47 detects the second abnormal discharge based on a change in voltage value in one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60. In addition, the abnormal discharge determination unit 47 determines that the AND signal flag 422 is set (that is, when a voltage value change (sudden drop) is detected in both the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60). 1 It is determined that an abnormal discharge has occurred. That is, the abnormal discharge determination unit 47 detects the first abnormal discharge based on the voltage value change in both the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60.

そして、異常放電判定部47は、第2異常放電が生じたと判定した時(すなわちXOR信号フラグ421が立てられた時)には、直ちに、発生した異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電であると判断して、管理者に対して報知情報(X線管球50やタンク53の交換等のメンテナンスを促す情報)を出力すべくメンテナンス報知フラグ423を立てる。   Then, when the abnormal discharge determination unit 47 determines that the second abnormal discharge has occurred (that is, when the XOR signal flag 421 is set), the abnormal discharge that has occurred immediately occurs due to the passage of the service life. Therefore, the maintenance notification flag 423 is set to output notification information (information for prompting maintenance such as replacement of the X-ray tube 50 and the tank 53) to the administrator.

一方、異常放電判定部47は、第1異常放電が生じたと判定した時(すなわちAND信号フラグ422が立てられた時)には、第1異常放電情報記憶領域415に当該判定を行った時刻(すなわち第1異常放電の検出時刻)に関する情報を格納する。この際、異常放電判定部47は、第1異常放電情報記憶領域415に記憶されている以前の第1異常放電の検出時刻に関する情報を取得する。そして、取得した検出時刻に関する情報に基づき、第1異常放電の発生頻度が異常か否か(具体的には、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上であるか否か)を判定する。   On the other hand, when the abnormal discharge determination unit 47 determines that the first abnormal discharge has occurred (that is, when the AND signal flag 422 is set), the time when the determination is made in the first abnormal discharge information storage area 415 ( That is, information regarding the first abnormal discharge detection time) is stored. At this time, the abnormal discharge determination unit 47 acquires information related to the detection time of the first abnormal discharge before stored in the first abnormal discharge information storage area 415. Then, based on the acquired information regarding the detection time, whether or not the occurrence frequency of the first abnormal discharge is abnormal (specifically, whether or not the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1). )).

当該判定において、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上である時(すなわち、第1異常放電の発生頻度が異常である時)には、異常放電判定部47は、発生した第1異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電であると判断して、管理者に対して報知情報を出力すべくメンテナンス報知フラグ423を立てる。また、第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上でない時(すなわち、第1異常放電の発生頻度が異常でない時)には、異常放電判定部47は、発生した第1異常放電がX線管球50の構造に起因する異常放電であると判断して、メンテナンス報知フラグ423を立てない。   In the determination, when the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is equal to or greater than the first threshold ΔTh1, that is, when the occurrence frequency of the first abnormal discharge is abnormal, the abnormal discharge determination unit 47 It is determined that the first abnormal discharge that has occurred is an abnormal discharge resulting from the passage of the service life, and the maintenance notification flag 423 is set to output notification information to the administrator. When the number of occurrences of the first abnormal discharge is not equal to or greater than the first threshold value ΔTh1 (that is, when the occurrence frequency of the first abnormal discharge is not abnormal), the abnormal discharge determination unit 47 determines that the generated first abnormal discharge is X It is determined that the discharge is abnormal due to the structure of the tube 50, and the maintenance notification flag 423 is not raised.

なお、所定期間P1及び第1閾値ΔTh1は、設計仕様や使用環境に応じて第1異常放電の発生頻度がX線管球50の耐用年数の経過を推定可能な程度に大きいか否か、すなわち第1異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電として生じているか否か、を判定するのに適正な値が設定される。本実施形態において所定期間P1は168時間(1週間)に設定されており、第1閾値ΔTh1は3(回)に設定されている。なお、異常放電判定部47は、時刻をリアルタイムに取得可能に構成されている。   Note that the predetermined period P1 and the first threshold value ΔTh1 indicate whether or not the occurrence frequency of the first abnormal discharge is large enough to estimate the life of the X-ray tube 50 according to the design specifications and the use environment, that is, An appropriate value is set for determining whether or not the first abnormal discharge is generated as an abnormal discharge due to the passage of the service life. In the present embodiment, the predetermined period P1 is set to 168 hours (one week), and the first threshold value ΔTh1 is set to 3 (times). The abnormal discharge determination unit 47 is configured to be able to acquire the time in real time.

ここで、異常放電判定部47による以上の処理は、以下の原理に基づいている。   Here, the above processing by the abnormal discharge determination unit 47 is based on the following principle.

すなわち、異常放電が生じた際には、X線照射器23内の回路(特に、第1電気回路59及び/又は第2電気回路60)において電圧値の変化(急降下)が生じる。この際、第1異常放電が生じた場合には、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方において電圧値の変化(急降下)が生じる。また、第2異常放電が生じた場合には、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方のみにおいて電圧値の変化(急降下)が生じる。   That is, when an abnormal discharge occurs, a voltage value change (sudden drop) occurs in a circuit (particularly, the first electric circuit 59 and / or the second electric circuit 60) in the X-ray irradiator 23. At this time, when the first abnormal discharge occurs, a voltage value change (sudden drop) occurs in both the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60. In addition, when the second abnormal discharge occurs, a voltage value change (sudden drop) occurs only in one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60.

X線管球50の構造に起因する異常放電については、主にX線管球50内において生じるため、原則として第1異常放電として発生しうる。一方、耐用年数の経過に起因する異常放電については、X線管球50内及びX線管球50外であってタンク53において生じるため、第1異常放電及び第2異常放電いずれかの異常放電として発生しうる。   Since the abnormal discharge due to the structure of the X-ray tube 50 is mainly generated in the X-ray tube 50, it can be generated as a first abnormal discharge in principle. On the other hand, the abnormal discharge caused by the passage of the service life occurs in the tank 53 outside the X-ray tube 50 and outside the X-ray tube 50, and therefore either the first abnormal discharge or the second abnormal discharge. Can occur as

このことから、第2異常放電が生じた場合には、直ちに耐用年数の経過に起因する異常放電が生じたと判定することが可能である。よって、異常放電判定部47は、XOR信号フラグ421が立てられている時には、直ちに、発生した異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電であると判定して、メンテナンス報知フラグ423を立てる。   From this, when the second abnormal discharge occurs, it can be immediately determined that the abnormal discharge resulting from the passage of the service life has occurred. Therefore, when the XOR signal flag 421 is set, the abnormal discharge determination unit 47 immediately determines that the generated abnormal discharge is an abnormal discharge due to the passage of the service life, and sets the maintenance notification flag 423.

また、第1異常放電が生じた場合には、X線管球50の構造に起因する異常放電、及び耐用年数の経過に起因する異常放電のいずれに該当するものかを判定する必要がある。この点、図13に示すように、第1異常放電が生じる頻度(すなわちX線管球50内における異常放電の発生頻度)は、X線管球50又はタンク53の使用年数が耐用年数(交換時機)に近づくにつれて増加する。よって、第1異常放電の発生頻度に基づき、生じた第1異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電であるか否かを判断することが可能となるとともにメンテナンスの必要性の有無を判断することが可能となる。   In addition, when the first abnormal discharge occurs, it is necessary to determine which of the abnormal discharge due to the structure of the X-ray tube 50 and the abnormal discharge due to the passage of the service life. In this regard, as shown in FIG. 13, the frequency of occurrence of the first abnormal discharge (that is, the frequency of occurrence of abnormal discharge in the X-ray tube 50) is determined by the service life of the X-ray tube 50 or the tank 53 (replacement). It increases as it approaches time. Therefore, based on the frequency of occurrence of the first abnormal discharge, it is possible to determine whether or not the generated first abnormal discharge is an abnormal discharge due to the passage of the service life, and whether or not maintenance is necessary is determined. It becomes possible to do.

このことから、第1異常放電が所定頻度を越えて生じた場合(すなわち、第1異常放電の発生頻度が異常な場合)には、耐用年数の経過に起因する異常放電が生じたと判定することが可能である。よって、異常放電判定部47は、AND信号フラグ422が立てられた場合には、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上であるか否かを判定し、第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上である時には発生した第1異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電であると判定して、メンテナンス報知フラグ423を立てる。一方で、異常放電判定部47は、第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1未満である時には発生した第1異常放電がX線管球50の構造に起因する異常放電であると判定して、メンテナンス報知フラグ423を立てない。   From this, when the first abnormal discharge occurs over a predetermined frequency (that is, when the frequency of occurrence of the first abnormal discharge is abnormal), it is determined that the abnormal discharge due to the passage of the service life has occurred. Is possible. Therefore, when the AND signal flag 422 is set, the abnormal discharge determination unit 47 determines whether or not the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1. When the number of occurrences of discharge is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1, it is determined that the first abnormal discharge that has occurred is an abnormal discharge resulting from the passage of the service life, and the maintenance notification flag 423 is set. On the other hand, the abnormal discharge determination unit 47 determines that the first abnormal discharge generated when the number of occurrences of the first abnormal discharge is less than the first threshold ΔTh1 is an abnormal discharge due to the structure of the X-ray tube 50. Therefore, the maintenance notification flag 423 is not raised.

なお、異常放電判定部47は、XOR信号フラグ421又はAND信号フラグ422が立てられていることを確認後、立てられた状態にあるXOR信号フラグ421又はAND信号フラグ422をクリアする。   The abnormal discharge determination unit 47 confirms that the XOR signal flag 421 or the AND signal flag 422 is set, and then clears the XOR signal flag 421 or the AND signal flag 422 in the set state.

(4−8)報知制御部48
報知制御部48は、メンテナンス報知フラグ423が立てられると、報知情報(管理者に対してX線管球50やタンク53の交換等のメンテナンスを促すテキスト情報や警告マーク等の画像情報)を生成して報知情報記憶領域414に格納する。これにより、生成された報知情報が入出力制御部42によってLCDディスプレイ25に出力されて、LCDディスプレイ25において表示される。
(4-8) Notification control unit 48
When the maintenance notification flag 423 is set, the notification control unit 48 generates notification information (text information for prompting the administrator to perform maintenance such as replacement of the X-ray tube 50 and the tank 53 and image information such as warning marks). And stored in the notification information storage area 414. Thus, the generated notification information is output to the LCD display 25 by the input / output control unit 42 and displayed on the LCD display 25.

すなわち、報知制御部48は、異常放電判定部47による判定結果(すなわち第1異常放電又は第2異常放電の検出結果)に応じて報知情報をLCDディスプレイ25に出力させる。換言すると、報知制御部48は、異常放電判定部47によって第2異常放電が検出された場合には、直ちにLCDディスプレイ25に報知情報を出力させる。また、報知制御部48は、異常放電判定部47によって第1異常放電が検出された場合には、所定期間P1内における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1未満の時にはLCDディスプレイ25に報知情報を出力させず、第1閾値ΔTh1以上の時にはLCDディスプレイ25に報知情報を出力させる。   That is, the notification control unit 48 causes the LCD display 25 to output notification information according to the determination result by the abnormal discharge determination unit 47 (that is, the detection result of the first abnormal discharge or the second abnormal discharge). In other words, the notification control unit 48 causes the LCD display 25 to immediately output notification information when the second abnormal discharge is detected by the abnormal discharge determination unit 47. In addition, when the first abnormal discharge is detected by the abnormal discharge determination unit 47, the notification control unit 48 displays on the LCD display 25 when the number of occurrences of the first abnormal discharge within the predetermined period P1 is less than the first threshold value ΔTh1. The notification information is not output, and the notification information is output to the LCD display 25 when the threshold value ΔTh1 or more.

報知制御部48は、生成した報知情報を報知情報記憶領域414に格納した後、メンテナンス報知フラグ423をクリアする。   The notification control unit 48 clears the maintenance notification flag 423 after storing the generated notification information in the notification information storage area 414.

(4−9)検査済物品集計部49(集計部)
検査済物品集計部49は、異物検査が正常に完了した物品P(すなわち品質判定部45による不良品判定が終了している物品P)の数を集計する。より詳細には、検査済物品集計部49は、異物検査が正常に完了していない物品P(すなわち、判定不能品と判定された物品P)の数については除外して集計を行う。
(4-9) Inspected article totaling section 49 (totaling section)
The inspected article totaling unit 49 totals the number of articles P for which the foreign object inspection has been normally completed (that is, the articles P for which defective product determination by the quality determination unit 45 has been completed). More specifically, the inspected article totaling unit 49 performs aggregation by excluding the number of articles P for which the foreign object inspection has not been normally completed (that is, the articles P determined to be undecidable items).

具体的に、検査済物品集計部49は、受光信号フラグ420が立てられる度に、集計情報記憶領域416に記憶されている検査済みの物品Pの合計数に1を加える。これにより、振分ユニット30に物品Pが搬送される度に(すなわち、物品PがX線検査ユニット20から送り出される度に)、集計情報記憶領域416に記憶されている物品Pの合計数において1が加算される。   Specifically, the inspected article totaling unit 49 adds 1 to the total number of inspected articles P stored in the total information storage area 416 every time the light reception signal flag 420 is set. Thus, every time the article P is conveyed to the distribution unit 30 (that is, every time the article P is sent out from the X-ray inspection unit 20), the total number of articles P stored in the total information storage area 416 1 is added.

また、検査済物品集計部49は、判定不能品と判定された物品Pの数を除外して集計を行うべく、不良品判定フラグ418が立てられる度に、集計情報記憶領域416に記憶されている検査済みの物品Pの合計数から1を減じる。これにより、品質判定部45による判定不能品判定において物品Pが判定不能品と判定される度に、集計情報記憶領域416に記憶されている物品Pの合計数から1が減じられる。その結果、集計情報記憶領域416に記憶されている物品Pの合計数において、異物検査が正常に完了していない物品P(すなわち品質判定部45による不良品判定が終了していない物品P)の数については除外される。   In addition, the inspected article totaling unit 49 is stored in the total information storage area 416 every time the defective product determination flag 418 is set so as to perform the totaling by excluding the number of articles P determined to be indeterminate. Subtract 1 from the total number of inspected articles P. As a result, every time the article P is determined to be an undecidable article in the indeterminate article judgment by the quality judgment unit 45, 1 is subtracted from the total number of articles P stored in the aggregate information storage area 416. As a result, in the total number of articles P stored in the total information storage area 416, the articles P for which the foreign object inspection has not been normally completed (that is, the articles P for which the quality determination unit 45 has not finished the defective product determination). Numbers are excluded.

(5)コントローラ40の処理の流れ
図14は、コントローラ40の処理の流れの一例を示したフローチャートである。コントローラ40は、電源を投入されると、以下のような流れで処理を実行する。なお、以下の処理の流れは、あくまでも一例であり、各処理の順序入れ換え、各処理を並列にする並べ替え、又は処理の追加や削除等の変更については、設計仕様や使用環境に応じて適宜可能である。
(5) Process Flow of Controller 40 FIG. 14 is a flowchart showing an example of the process flow of the controller 40. When the power is turned on, the controller 40 executes processing in the following flow. Note that the following processing flow is merely an example, and the order of each process, the rearrangement of each process in parallel, or the change such as addition or deletion of processes is appropriately determined according to the design specifications and usage environment. Is possible.

ステップS101において、コントローラ40は、物品Pがシールドボックス21内に搬送されラインセンサ24の上方位置(照射範囲Y)にあるか否かを判定する。係る判定がNOの場合(すなわち、物品Pがラインセンサ24の上方位置(照射範囲Y)にない場合)、ステップS104へ進む。一方、係る判定がYESの場合(すなわち、物品Pがラインセンサ24の上方位置(照射範囲Y)にある場合)、ステップS102へ進む。   In step S <b> 101, the controller 40 determines whether or not the article P is transported into the shield box 21 and is in an upper position (irradiation range Y) of the line sensor 24. When the determination is NO (that is, when the article P is not located above the line sensor 24 (irradiation range Y)), the process proceeds to step S104. On the other hand, when the determination is YES (that is, when the article P is located above the line sensor 24 (irradiation range Y)), the process proceeds to step S102.

ステップS102において、コントローラ40は、X線照射器23における高圧電源51によってアノード電極56及びカソード電極57に所定の電圧を供給させるとともにフィラメント電源52によってカソード電極57に加熱電流を供給させることで、X線を発生させ物品Pに照射させる。その後、ステップS103へ進む。   In step S102, the controller 40 supplies a predetermined voltage to the anode electrode 56 and the cathode electrode 57 by the high-voltage power supply 51 in the X-ray irradiator 23 and supplies a heating current to the cathode electrode 57 by the filament power supply 52, A line is generated and the article P is irradiated. Thereafter, the process proceeds to step S103.

ステップS103において、コントローラ40は、ラインセンサ24より出力されるX線透視像信号に基づき、X線画像を生成し、生成したX線画像をLCDディスプレイ25において表示させる。その後、ステップS104へ進む。   In step S103, the controller 40 generates an X-ray image based on the X-ray fluoroscopic image signal output from the line sensor 24, and displays the generated X-ray image on the LCD display 25. Thereafter, the process proceeds to step S104.

ステップS104において、コントローラ40は、X線照射器23において異常放電が生じているか否かを判定する。係る判定がNOの場合(すなわち、X線照射器23において異常放電が生じていない場合)、ステップS101に戻る。一方、係る判定がYESの場合(すなわち、X線照射器23において異常放電が生じている場合)、ステップS105へ進む。   In step S <b> 104, the controller 40 determines whether or not abnormal discharge has occurred in the X-ray irradiator 23. When the determination is NO (that is, when no abnormal discharge occurs in the X-ray irradiator 23), the process returns to step S101. On the other hand, when the determination is YES (that is, when abnormal discharge occurs in the X-ray irradiator 23), the process proceeds to step S105.

ステップS105において、コントローラ40は、異物検査中(すなわち、物品Pに対してX線が照射されている最中)における異常放電か否かを判定する。当該判定がNOの場合(すなわち、異物検査中における異常放電でない場合)、ステップS108へ進む。一方、当該判定がYESの場合(すなわち、異物検査中における異常放電である場合)、ステップS106へ進む。   In step S <b> 105, the controller 40 determines whether or not there is an abnormal discharge during the foreign object inspection (that is, while the article P is being irradiated with X-rays). When the determination is NO (that is, when there is no abnormal discharge during the foreign substance inspection), the process proceeds to step S108. On the other hand, if the determination is YES (that is, abnormal discharge during foreign object inspection), the process proceeds to step S106.

ステップS106において、コントローラ40は、生成したX線画像に基づき判定不能品判定を行って、物品Pが判定不能品であるか否か(すなわち、X線画像に異常放電ノイズが含まれるか否か)を判定する。係る判定がNOの場合(すなわち、物品Pが判定不能品ではない場合)、ステップS108へ進む。一方、係る判定がYESの場合(すなわち、物品Pが判定不能品である場合)、ステップS107へ進む。なお、コントローラ40において、このような処理が実行されることで、異物検査中に異常放電が生じた場合であっても、物品Pが必ず判定不能品として指定されるということはない。すなわち、異物検査中に異常放電が生じた場合であっても、X線画像が正常であれば(つまりX線画像において異常放電の影響が生じていなければ)、通常の流れに沿って不良品判定が行われる。その結果、物品Pが不必要に判定不能品と判定されることが抑制されており、信頼性に優れている。   In step S <b> 106, the controller 40 performs non-determinable product determination based on the generated X-ray image and determines whether or not the article P is an undeterminable product (that is, whether or not the X-ray image includes abnormal discharge noise). ). When the determination is NO (that is, when the article P is not a non-determinable product), the process proceeds to step S108. On the other hand, when the determination is YES (that is, when the article P is a non-determinable product), the process proceeds to step S107. By executing such processing in the controller 40, the article P is not necessarily designated as an undeterminable product even when abnormal discharge occurs during the foreign object inspection. That is, even if abnormal discharge occurs during the foreign substance inspection, if the X-ray image is normal (that is, if there is no influence of abnormal discharge in the X-ray image), the defective product follows the normal flow. A determination is made. As a result, it is suppressed that the article P is unnecessarily determined as a non-determinable product, and is excellent in reliability.

ステップS107において、コントローラ40は、所定のタイミング(すなわち、判定不能品と判定された物品Pが第2アーム31bの動作範囲に到達したと想定されるタイミング)にて第2アーム駆動部32bに駆動電圧を供給して第2アーム31bを駆動させることによって、判定不能品と判定された物品Pを判定不能品回収ボックス96へ移動させる。その後、ステップS110へ進む。   In step S107, the controller 40 drives the second arm drive unit 32b at a predetermined timing (that is, a timing at which the article P determined to be an undeterminable product has reached the operating range of the second arm 31b). By supplying the voltage and driving the second arm 31 b, the article P determined to be an indeterminate product is moved to the indeterminate product collection box 96. Then, it progresses to step S110.

ステップS108において、コントローラ40は、生成したX線画像に基づき、不良品判定を行って、物品Pが不良品であるか否か(すなわち、物品Pに異物混入があるか否か)を判定する。係る判定がNOの場合(すなわち、物品Pが不良品ではない場合)、ステップS110へ進む。一方、係る判定がYESの場合(すなわち、物品Pが不良品である場合)、ステップS109へ進む。   In step S108, the controller 40 performs defective product determination based on the generated X-ray image, and determines whether or not the article P is defective (that is, whether or not the article P contains foreign matter). . When the determination is NO (that is, when the article P is not defective), the process proceeds to step S110. On the other hand, when the determination is YES (that is, when the article P is defective), the process proceeds to step S109.

ステップS109において、コントローラ40は、所定のタイミング(すなわち、不良品と判定された物品Pが第1アーム31aの動作範囲に到達したと想定されるタイミング)にて第1アーム駆動部32aに駆動電圧を供給して第1アーム31aを駆動させることによって、不良品と判定された物品Pを不良品回収ボックス95へ移動させる。その後、ステップS110へ進む。   In step S109, the controller 40 applies a drive voltage to the first arm drive unit 32a at a predetermined timing (that is, a timing at which the article P determined to be defective has reached the operating range of the first arm 31a). And the first arm 31a is driven to move the article P determined to be defective to the defective product collection box 95. Then, it progresses to step S110.

ステップS110において、コントローラ40は、X線照射器23において生じた異常放電が、第2異常放電(X線管球50外であってタンク53内における異常放電)であるか否かを判定する。係る判定がNOの場合(すなわち、X線照射器23において生じた異常放電が第2異常放電でなく第1異常放電である場合)、ステップS111へ進む。一方、係る判定がYESの場合(すなわち、X線照射器23において生じた異常放電が第2異常放電である場合)、ステップS112へ進む。   In step S110, the controller 40 determines whether or not the abnormal discharge generated in the X-ray irradiator 23 is the second abnormal discharge (abnormal discharge in the tank 53 outside the X-ray tube 50). When the determination is NO (that is, when the abnormal discharge generated in the X-ray irradiator 23 is not the second abnormal discharge but the first abnormal discharge), the process proceeds to step S111. On the other hand, when the determination is YES (that is, when the abnormal discharge generated in the X-ray irradiator 23 is the second abnormal discharge), the process proceeds to step S112.

ステップS111において、コントローラ40は、第1異常放電の発生頻度がX線管球50の耐用年数の経過を推定可能な程度に大きいか否か、すなわち所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上か否かを判定する。当該判定がNOの場合(すなわち、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1未満の場合)、コントローラ40は、生じた異常放電がX線管球50の構造に起因する異常放電であると判断して、ステップS101に戻る。当該判定がYESの場合(すなわち、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上の場合)、コントローラ40は、生じた異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電であると判断して、ステップS112へ進む。   In step S111, the controller 40 determines whether or not the occurrence frequency of the first abnormal discharge is large enough to estimate the elapsed life of the X-ray tube 50, that is, the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1. It is determined whether or not the first threshold value ΔTh1 or more. When the determination is NO (that is, when the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is less than the first threshold value ΔTh1), the controller 40 indicates that the generated abnormal discharge is abnormal due to the structure of the X-ray tube 50. It is determined that the discharge is performed, and the process returns to step S101. When the determination is YES (that is, when the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1), the controller 40 is the abnormal discharge resulting from the passage of the service life. The process proceeds to step S112.

ステップS112において、コントローラ40は、管理者に対してX線管球50やタンク53の交換等のメンテナンスを促すべく、報知情報を生成してLCDディスプレイ25において表示させる。その後、ステップS101に戻る。   In step S <b> 112, the controller 40 generates notification information and displays it on the LCD display 25 in order to urge the administrator to perform maintenance such as replacement of the X-ray tube 50 and the tank 53. Then, it returns to step S101.

(6)特徴
(6−1)
検査対象にX線を照射して行う各種検査に使用されるX線検査装置では、X線発生部において、異常放電(検査の障害となりうる放電)が生じることがある。従来のX線検査装置では、検査対象の検査中(透過X線の検出中)に異常放電が生じると、透過X線に基づいて生成されるX線画像に影響がおよび、良品であっても不良品と判定されるケースが想定されるため、信頼性に劣る。
(6) Features (6-1)
In an X-ray inspection apparatus used for various inspections performed by irradiating an inspection target with X-rays, abnormal discharge (discharge that may be an obstacle to inspection) may occur in the X-ray generation unit. In a conventional X-ray inspection apparatus, if an abnormal discharge occurs during inspection of an inspection target (during detection of transmitted X-rays), the X-ray image generated based on the transmitted X-rays is affected, and even if it is a non-defective product Since it is assumed that the product is defective, the reliability is poor.

この点、本実施形態に係る検査振分装置100では、コントローラ40の品質判定部45が、X線検出部によって検出された透過X線及び異常放電判定部47によって検出された異常放電に基づき、物品Pが不良品又は判定不能品であるかを判定し、異常放電が検出された時には異物検査中の物品Pを判定不能品と判定するように構成されている。これにより、異物検査中(すなわち透過X線の検出中)に異常放電が生じた場合には、判定不能品判定が行われ、判定結果に応じて物品Pが判定不能品と判定されるようになっている。その結果、異常放電の影響によって、検査対象である物品Pに関して良品であるにも関わらず、不良品と判定されることが抑制されている。また、物品Pに関して不良品であるにも関わらず、不良品と判定されず(すなわち、良品と判定され)加工ラインの下流側へ送られることも抑制されている。よって、信頼性に優れている。   In this regard, in the inspection distribution device 100 according to the present embodiment, the quality determination unit 45 of the controller 40 is based on the transmitted X-ray detected by the X-ray detection unit and the abnormal discharge detected by the abnormal discharge determination unit 47. It is configured to determine whether the article P is a defective product or a product that cannot be determined, and to determine that the product P that is being inspected for foreign matter is a product that cannot be determined when abnormal discharge is detected. As a result, when an abnormal discharge occurs during foreign object inspection (that is, during detection of transmitted X-rays), an undecidable product determination is performed, and the article P is determined to be an undecidable product according to the determination result. It has become. As a result, it is suppressed by the influence of abnormal discharge that it is determined as a defective product although it is a non-defective product with respect to the product P to be inspected. Further, even though the article P is a defective product, it is not determined to be a defective product (that is, determined to be a non-defective product), and is sent to the downstream side of the processing line. Therefore, it is excellent in reliability.

(6−2)
検査振分装置100では、振分ユニット30が、品質判定部45における判定において、不良品と判定された物品Pについては不良品回収ボックス95に移動させ、判定不能品と判定された物品Pを判定不能品回収ボックス96に移動させている。これにより、物品Pが不良品及び判定不能品の種別に応じて分別されるようになっている。その結果、異常放電の影響によって、検査対象である物品Pに関して良品であるにも関わらず不良品として分別されることが抑制されている。また、物品Pに関して不良品であるにも関わらず、良品として分別されることも抑制されている。
(6-2)
In the inspection distribution apparatus 100, the distribution unit 30 moves the article P determined to be defective in the determination by the quality determination unit 45 to the defective product collection box 95, and moves the article P determined to be undeterminable. The product is moved to the indeterminate product collection box 96. As a result, the articles P are sorted according to the types of defective products and undecidable products. As a result, due to the influence of abnormal discharge, the product P to be inspected is suppressed from being classified as a defective product although it is a good product. Moreover, although it is inferior goods regarding the goods P, it is suppressed that it is classified as a good article.

(6−3)
検査振分装置100では、コントローラ40の異常放電判定部47が、アノード電極56又はカソード電極57を含む電気回路における電圧値の変化を検出することで異常放電を検出している。これにより、高精度に異常放電を検出することが可能となっている。
(6-3)
In the inspection distribution apparatus 100, the abnormal discharge determination unit 47 of the controller 40 detects abnormal discharge by detecting a change in voltage value in an electric circuit including the anode electrode 56 or the cathode electrode 57. Thereby, it is possible to detect abnormal discharge with high accuracy.

すなわち、異常放電が生じた場合にはアノード電極56及び/又はカソード電極57に供給される電圧値に変化が生じる。係る原理に基づき、異常放電判定部47は、アノード電極56又はカソード電極57を含む電気回路における電圧値の変化を検知することで異常放電を検出している。また、異常放電が生じた時にアノード電極56又はカソード電極57を含む電気回路における電圧値の変化は特徴的であることから、異常放電判定部47は、高精度に異常放電を検出している。   That is, when abnormal discharge occurs, the voltage value supplied to the anode electrode 56 and / or the cathode electrode 57 changes. Based on this principle, the abnormal discharge determination unit 47 detects abnormal discharge by detecting a change in voltage value in an electric circuit including the anode electrode 56 or the cathode electrode 57. In addition, since the change in the voltage value in the electric circuit including the anode electrode 56 or the cathode electrode 57 is characteristic when the abnormal discharge occurs, the abnormal discharge determination unit 47 detects the abnormal discharge with high accuracy.

(6−4)
検査振分装置100では、検査済物品集計部49が、判定不能品と判定された物品Pの数については除外しながら、品質判定部45によって判定された物品Pの数を集計している。すなわち、異物検査が正常に完了した物品Pの集計が、高精度に行われるようになっている。
(6-4)
In the inspection distribution device 100, the inspected article totaling unit 49 totals the number of articles P determined by the quality determining unit 45 while excluding the number of articles P determined to be indeterminate. That is, the collection of articles P for which foreign substance inspection has been normally completed is performed with high accuracy.

(7)変形例
上記実施形態の検査振分装置100は、以下の変形例に示すように適宜変形が可能である。なお、各変形例は、矛盾が生じない範囲で他の変形例と組み合わせて適用されてもよい。
(7) Modified Examples The inspection distribution device 100 of the above embodiment can be modified as appropriate as shown in the following modified examples. Each modification may be applied in combination with another modification as long as no contradiction occurs.

(7−1)変形例A
上記実施形態では、コントローラ40の異常放電判定部47が、アノード電極56又はカソード電極57を含む電気回路における電圧値の変化を検出することで異常放電を検出していた。しかし、異常放電判定部47が、異常放電を検出する方法に関しては必ずしもこれに限定されない。例えば、異常放電判定部47が、X線画像生成部44によって生成されたX線画像に基づき異常放電を検出するように構成してもよい。
(7-1) Modification A
In the above embodiment, the abnormal discharge determination unit 47 of the controller 40 detects the abnormal discharge by detecting a change in the voltage value in the electric circuit including the anode electrode 56 or the cathode electrode 57. However, the method by which the abnormal discharge determination unit 47 detects abnormal discharge is not necessarily limited to this. For example, the abnormal discharge determination unit 47 may be configured to detect abnormal discharge based on the X-ray image generated by the X-ray image generation unit 44.

すなわち、上述のように、物品Pの異物検査を行っている最中(すなわち、物品Pに対してX線を照射している最中)に異常放電が生じた場合には、物品Pに対して照射されるX線において異常放電の影響がおよび、X線画像に異常放電ノイズが生じる。例えば、X線画像において異常放電ノイズとして、縦方向(照射範囲Y又はラインセンサ24が延びる方向)に沿って均一に輝度が小さくなる部分が生じる(図11のB部分を参照)。また、例えば、X線画像において異常放電ノイズとして、縦方向(照射範囲Y又はラインセンサ24が延びる方向)に沿って均一に輝度が大きくなる部分が生じる(図12のC部分を参照)。   That is, as described above, when an abnormal discharge occurs during the foreign matter inspection of the article P (that is, while the article P is irradiated with X-rays), The X-rays irradiated in this way are affected by abnormal discharge and abnormal discharge noise occurs in the X-ray image. For example, in the X-ray image, as the abnormal discharge noise, there is a portion where the luminance is uniformly reduced along the vertical direction (the direction in which the irradiation range Y or the line sensor 24 extends) (see the portion B in FIG. 11). In addition, for example, as abnormal discharge noise in the X-ray image, a portion where the luminance is uniformly increased along the vertical direction (direction in which the irradiation range Y or the line sensor 24 extends) is generated (see a portion C in FIG. 12).

係る原理に基づき、異常放電判定部47は、X線画像において異常放電ノイズがあるか否かを判定し、異常放電ノイズが存在する場合には異常放電が生じたと判定するように構成されてもよい。異常放電判定部47がこのような方法で異常放電を検出するように構成されても、上記実施形態と同様の効果を奏する。   Based on this principle, the abnormal discharge determination unit 47 may be configured to determine whether or not there is abnormal discharge noise in the X-ray image, and to determine that abnormal discharge has occurred when abnormal discharge noise exists. Good. Even if the abnormal discharge determination unit 47 is configured to detect abnormal discharge by such a method, the same effects as those of the above-described embodiment can be obtained.

(7−2)変形例B
上記実施形態では、検査済物品集計部49は、判定不能品と判定された物品Pの数を除外して、異物検査が正常に完了した物品P(すなわち品質判定部45による不良品判定が終了している物品P)の数を集計するべく所定の処理を行っていた。具体的に、検査済物品集計部49は、受光信号フラグ420が立てられる度に集計情報記憶領域416に記憶されている検査済みの物品Pの合計数に1を加える一方で、不良品判定フラグ418が立てられる度に集計情報記憶領域416に記憶されている検査済みの物品Pの合計数から1を減じる処理を行っていた。
(7-2) Modification B
In the above-described embodiment, the inspected article totaling unit 49 excludes the number of articles P determined to be undecidable items, and the article P for which the foreign object inspection has been normally completed (that is, defective product determination by the quality determination unit 45 is completed). A predetermined process has been performed to count the number of articles P) that are being processed. Specifically, the inspected article totaling unit 49 adds 1 to the total number of inspected articles P stored in the total information storage area 416 each time the light reception signal flag 420 is set, while the defective article determination flag. Every time 418 is set, a process of subtracting 1 from the total number of inspected articles P stored in the total information storage area 416 is performed.

しかし、検査済物品集計部49は、上記処理とは異なる他の処理を実行することで集計を行ってもよい。すなわち、判定不能品と判定された物品Pの数を除外して、異物検査が正常に完了した物品Pの数を集計するという検査済物品集計部49の機能が実現される限り、上記処理については適宜変更が可能である。   However, the inspected article totaling unit 49 may perform totalization by executing another process different from the above process. That is, as long as the function of the inspected article totaling unit 49 is realized that excludes the number of articles P determined to be indeterminate and counts the number of articles P that have been successfully inspected for foreign matter, Can be changed as appropriate.

(7−3)変形例C
上記実施形態では、不良品と判定された物品Pは不良品回収ボックス95(第1収集部)に送られ、判定不能品と判定された物品Pは判定不能品回収ボックス96(第2収集部)に送られた。しかし、これに限定されず、不良品回収ボックス95に代えて、不良品を搬送する不良品搬送コンベアを配置して、係る不良品搬送コンベアに不良品を送ることで不良品を加工ラインから除外するように構成してもよい。また、判定不能品回収ボックス96に代えて、判定不能品を搬送する判定不能品搬送コンベアを配置して、係る判定不能品搬送コンベアに判定不能品を送ることで判定不能品を加工ラインから回収するように構成してもよい。
(7-3) Modification C
In the above embodiment, the article P determined to be defective is sent to the defective product collection box 95 (first collection unit), and the article P determined to be undeterminable is the undeterminable product collection box 96 (second collection unit). ). However, the present invention is not limited to this, and instead of the defective product collection box 95, a defective product conveyer that conveys defective products is arranged, and defective products are removed from the processing line by sending defective products to the defective product conveyer. You may comprise. In place of the indeterminate product collection box 96, an indeterminate product transport conveyor for transporting the indeterminate product is arranged, and the indeterminate product is sent to the indeterminate product transport conveyor to recover the indeterminate product from the processing line. You may comprise.

(7−4)変形例D
上記実施形態では、振分ユニット30は、第1アーム31aによって不良品と判定された物品Pを加工ラインから除外するとともに、第2アーム31bによって判定不能品と判定された物品Pを加工ラインから回収していた。しかし、振分ユニット30が不良品と判定された物品Pを加工ラインから除外する手段、及び/又は判定不能品と判定された物品Pを加工ラインから回収する手段については特に限定されず、物品Pに応じて適宜選択すればよい。例えば、第1アーム31a及び/又は第2アーム31bに代えてエアー噴射機構を配置し、不良品又は判定不能品と判定された物品Pに対して係るエアー噴射機構からエアーを噴射することで、不良品又は判定不能品を加工ラインから除外又は回収するように構成してもよい。また、第1アーム31a及び/又は第2アーム31bを配置するのに代えて、コンベアベルト22dにおいて開閉自在に構成された開口を形成し、不良品又は判定不能品と判定された物品Pが係る開口上を通過するタイミングにて当該開口を閉状態から開状態に切換え、当該開口を介して不良品又は判定不能品を不良品回収ボックス95又は判定不能品回収ボックス96へ送るように構成してもよい。
(7-4) Modification D
In the above-described embodiment, the sorting unit 30 excludes the article P determined to be defective by the first arm 31a from the processing line and removes the article P determined to be indeterminate by the second arm 31b from the processing line. It was recovered. However, the means for excluding the article P determined as a defective product by the sorting unit 30 and / or the means for collecting the article P determined as an indeterminate product from the processing line is not particularly limited. What is necessary is just to select suitably according to P. For example, in place of the first arm 31a and / or the second arm 31b, an air injection mechanism is arranged, and air is injected from the air injection mechanism with respect to the article P determined to be defective or undecidable, You may comprise so that inferior goods or a product which cannot be judged is excluded or collected from a processing line. Further, instead of disposing the first arm 31a and / or the second arm 31b, an opening configured to be openable and closable is formed in the conveyor belt 22d, and the article P determined to be a defective product or an undecidable product is involved. The opening is switched from the closed state to the open state at the timing of passing over the opening, and the defective product or the indeterminate product is sent to the defective product collection box 95 or the indeterminate product collection box 96 through the opening. Also good.

(7−5)変形例E
上記実施形態において、コントローラ40は、シールドボックス21内に配置されていた。しかし、コントローラ40は、必ずしもシールドボックス21内に配置される必要はなく、他のユニット内に配置されてもよいし、独立して配置されてもよい。
(7-5) Modification E
In the above embodiment, the controller 40 is disposed in the shield box 21. However, the controller 40 is not necessarily arranged in the shield box 21 and may be arranged in another unit or may be arranged independently.

また、上記実施形態においてコントローラ40に含まれる各部(41、42、43、44、45、46、47、48、及び49)のいずれか/全ては、必ずしも同一位置(同一の基板やケーシング内)に配置される必要はなく、通信ネットワークを介して通信可能な離れた場所に配置されてもよい。   In the above embodiment, any / all of the respective parts (41, 42, 43, 44, 45, 46, 47, 48, and 49) included in the controller 40 are not necessarily in the same position (in the same substrate or casing). It is not necessary to be arranged at a remote location, and it may be arranged at a remote location where communication is possible via a communication network.

また、記憶部41に含まれる各記憶領域(411、412、413、414、415、及び416)及び各フラグ(416、417、418、419、420、421、422、及び423)のいずれか/全てについても、必ずしも同一位置(同一の基板やケーシング内)に配置される必要はなく、通信ネットワークを介して通信可能な離れた場所に配置されてもよい。   In addition, any one of the storage areas (411, 412, 413, 414, 415, and 416) and the flags (416, 417, 418, 419, 420, 421, 422, and 423) included in the storage unit 41 / All of them are not necessarily arranged at the same position (in the same substrate or casing), and may be arranged at remote locations where communication is possible via a communication network.

また、上記実施形態では、コントローラ40に含まれる各部(42、43、44、45、46、47、48、及び49)は、それぞれの機能を実現するべく、記憶部41(プログラム記憶領域411)に格納されている制御プログラムに沿って処理を実行することを想定して構成されていた。しかし、コントローラ40に含まれる各部(42、43、44、45、46、47、48、及び49)のいずれかに係る処理については、ソフトウェアで実現されるのではなくハードウェアで実現されるように構成されてもよい。   Moreover, in the said embodiment, each part (42, 43, 44, 45, 46, 47, 48, and 49) contained in the controller 40 is the memory | storage part 41 (program storage area 411) in order to implement | achieve each function. It is configured on the assumption that the process is executed in accordance with a control program stored in the computer. However, the processing related to any of the units (42, 43, 44, 45, 46, 47, 48, and 49) included in the controller 40 is not realized by software, but is realized by hardware. May be configured.

(7−6)変形例F
上記実施形態では、検査振分装置100は、コントローラ40において、報知制御部48及び検査済物品集計部49を含んでいた。しかし、報知制御部48及び/又は検査済物品集計部49については適宜省略が可能である。係る場合、記憶部41における集計情報記憶領域416及び/又はメンテナンス報知フラグ423についても適宜省略が可能である。
(7-6) Modification F
In the above embodiment, the inspection distribution device 100 includes the notification control unit 48 and the inspected article totaling unit 49 in the controller 40. However, the notification control unit 48 and / or the inspected article totaling unit 49 can be omitted as appropriate. In this case, the total information storage area 416 and / or the maintenance notification flag 423 in the storage unit 41 can be omitted as appropriate.

(7−7)変形例G
上記実施形態において、検査振分装置100は、物品Pの異物検査を行い、異物混入の有無に応じて物品Pが不良品であるか否かを判定していた。しかし、検査振分装置100が行う検査については必ずしも物品Pの異物検査に限られず、検査振分装置100は他の検査を行うものであってもよい。例えば、検査振分装置100は、生成したX線画像に基づき公知の方法を用いて物品Pの重量、形状、又は個数等が正常であるか否かを検査し、検査結果が正常でない物品Pについては不良品と判定するように構成されてもよい。
(7-7) Modification G
In the embodiment described above, the inspection distribution device 100 performs the foreign object inspection of the article P, and determines whether or not the article P is a defective product according to the presence or absence of foreign matter. However, the inspection performed by the inspection distribution device 100 is not necessarily limited to the foreign matter inspection of the article P, and the inspection distribution device 100 may perform other inspections. For example, the inspection distribution apparatus 100 inspects whether the weight, shape, number, etc. of the article P is normal using a known method based on the generated X-ray image, and the inspection result is not normal. May be determined to be defective.

(7−8)変形例H
上記実施形態では、異常放電検出回路54においてXOR回路64が配置されていた。しかし、異常放電検出回路54は、例えば図15に示す異常放電検出回路54´のように構成されてもよい。異常放電検出回路54´においては、異常放電検出回路54のXOR回路64に代えてOR回路66が配置されている。
(7-8) Modification H
In the above embodiment, the XOR circuit 64 is arranged in the abnormal discharge detection circuit 54. However, the abnormal discharge detection circuit 54 may be configured as an abnormal discharge detection circuit 54 ′ shown in FIG. 15, for example. In the abnormal discharge detection circuit 54 ′, an OR circuit 66 is arranged instead of the XOR circuit 64 of the abnormal discharge detection circuit 54.

異常放電検出回路54´においては、OR回路66は、第1検出ユニット62及び第2検出ユニット63のいずれかからパルスを入力された際(すなわち、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方/双方において電圧値の変化(急降下)が生じた際)に、コントローラ40に対して信号(OR信号)を出力する。   In the abnormal discharge detection circuit 54 ′, the OR circuit 66 receives a pulse from either the first detection unit 62 or the second detection unit 63 (that is, the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60). A signal (OR signal) is output to the controller 40 when a voltage value change (abrupt drop) occurs in one or both.

係る異常放電検出回路54´を採用した場合でも、異常放電を検出することが可能であり、上記実施形態と同様の効果を奏する。   Even when such an abnormal discharge detection circuit 54 'is employed, it is possible to detect abnormal discharge, and the same effects as in the above embodiment can be obtained.

また、コントローラ40の処理を以下のように変更することで耐用年数の経過に起因する異常放電が生じた場合には、直ちに、報知情報の表示が行われる。また、第1異常放電が生じた場合には、必要な時(すなわち、耐用年数の経過に起因する異常放電と特定された時)に限って報知情報の表示が行われる。   Moreover, when abnormal discharge resulting from the passage of the service life has occurred by changing the processing of the controller 40 as follows, notification information is immediately displayed. Further, when the first abnormal discharge occurs, the notification information is displayed only when necessary (that is, when it is specified as an abnormal discharge due to the lapse of the service life).

すなわち、記憶部41においてXOR信号フラグ421を「OR信号フラグ」として機能させるべく、入出力制御部42がOR信号を入力された際にOR信号フラグ(XOR信号フラグ421)を立てるように構成する。また、第2異常放電が生じた場合には第1電気回路59及び第2電気回路60の一方のみにおいて電圧値の変化(急降下)が生じることに伴い、異常放電判定部47は、OR信号フラグが立てられAND信号フラグ422が立てられない時には、第2異常放電(耐用年数の経過に起因する異常放電)が生じたと判定し、メンテナンス報知フラグ423を立てるように構成する。一方で、AND信号フラグ422が立てられた時(すなわち第1異常放電が生じた時)における異常放電判定部47の処理については、上記実施形態と同様に構成すればよい。   In other words, in order for the XOR signal flag 421 to function as an “OR signal flag” in the storage unit 41, the OR signal flag (XOR signal flag 421) is set when the input / output control unit 42 receives an OR signal. . In addition, when the second abnormal discharge occurs, the abnormal discharge determination unit 47 generates an OR signal flag as the voltage value changes (sudden drop) occurs in only one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60. When the AND signal flag 422 is not set, it is determined that the second abnormal discharge (abnormal discharge resulting from the passage of the service life) has occurred, and the maintenance notification flag 423 is set. On the other hand, what is necessary is just to comprise similarly to the said embodiment about the process of the abnormal discharge determination part 47 when the AND signal flag 422 is set (namely, when 1st abnormal discharge arises).

(7−9)変形例I
上記実施形態では、コントローラ40の異常放電判定部47は、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方における電圧値の変化に基づき第2異常放電を検出し、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方における電圧値の変化に基づき第1異常放電を検出していた。しかし、これに限定されず、コントローラ40の異常放電判定部47は、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方における電流値の変化に基づき第2異常放電を検出し、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方における電流値の変化に基づき第1異常放電を検出するように構成してもよい。
(7-9) Modification I
In the above embodiment, the abnormal discharge determination unit 47 of the controller 40 detects the second abnormal discharge based on the change in the voltage value in one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60, and the first electric circuit 59 and the first electric circuit 59 The first abnormal discharge was detected based on the voltage value change in both of the two electric circuits 60. However, the present invention is not limited to this, and the abnormal discharge determination unit 47 of the controller 40 detects the second abnormal discharge based on a change in the current value in one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60, and the first electric circuit The first abnormal discharge may be detected based on a change in current value in both 59 and the second electric circuit 60.

なお、係る場合、異常放電検出回路54を、例えば図16に示す異常放電検出回路54aのように構成すればよい。異常放電検出回路54aは、異常放電検出回路54の第1検出ユニット62及び第2検出ユニット63に代えて、第1電気回路59における電流値の変化(急上昇)に応じてパルスを出力する第1検出ユニット62aと、第2電気回路60における電流値の変化(急上昇)に応じてパルスを出力する第2検出ユニット63aと、を有している。第1検出ユニット62a及び第2検出ユニット63aは、それぞれ、順に直列接続された電流検出回路545と、比較器543aと、パルス発生器544aと、を含んでいる。   In such a case, the abnormal discharge detection circuit 54 may be configured as an abnormal discharge detection circuit 54a shown in FIG. 16, for example. The abnormal discharge detection circuit 54a is a first that outputs a pulse in response to a change (abrupt increase) in the current value in the first electric circuit 59, instead of the first detection unit 62 and the second detection unit 63 of the abnormal discharge detection circuit 54. It has a detection unit 62a and a second detection unit 63a that outputs a pulse in response to a change (rapid increase) in the current value in the second electric circuit 60. Each of the first detection unit 62a and the second detection unit 63a includes a current detection circuit 545, a comparator 543a, and a pulse generator 544a that are sequentially connected in series.

電流検出回路545は、入力側において、第1電気回路59又は第2電気回路60と接続されている。電流検出回路545は、出力側において、比較器543aの正側入力端に接続されている。比較器543aは、負側入力端において図示しない基準電源と接続されており、基準電流を供給されている。比較器543aは、出力端においてパルス発生器544aと接続されている。パルス発生器544aは、出力側において、XOR回路64及びAND回路65と接続されている。   The current detection circuit 545 is connected to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60 on the input side. The current detection circuit 545 is connected to the positive side input terminal of the comparator 543a on the output side. The comparator 543a is connected to a reference power source (not shown) at the negative input end, and is supplied with a reference current. The comparator 543a is connected to the pulse generator 544a at the output end. The pulse generator 544a is connected to the XOR circuit 64 and the AND circuit 65 on the output side.

第1検出ユニット62a及び第2検出ユニット63aにおいて、電流検出回路545は、第1電気回路59又は第2電気回路60に供給される電流の値(電流値)を検出する。比較器543aは、電流検出回路545の検出結果に基づき、第1電気回路59又は第2電気回路60に供給される電流値の変化(急上昇)を検出する。パルス発生器544aは、比較器543aの出力に基づき、第1電気回路59又は第2電気回路60に供給される電流値の変化(急上昇)が生じた際に、パルスを出力する。   In the first detection unit 62a and the second detection unit 63a, the current detection circuit 545 detects the value of the current (current value) supplied to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60. The comparator 543a detects a change (rapid increase) in the current value supplied to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60 based on the detection result of the current detection circuit 545. The pulse generator 544a outputs a pulse when a change (rapid increase) in the current value supplied to the first electric circuit 59 or the second electric circuit 60 occurs based on the output of the comparator 543a.

異常放電検出回路54aのその他の点は、異常放電検出回路54と略同一である。   Other points of the abnormal discharge detection circuit 54a are substantially the same as those of the abnormal discharge detection circuit 54.

このように、異常放電検出回路54aが、第1電気回路59及び/又は第2電気回路60における電流値の変化(急上昇)が生じた際にこれを検出して信号を出力するように構成されることで、上記実施形態と同様の効果を奏する。   In this way, the abnormal discharge detection circuit 54a is configured to detect and output a signal when a change (rapid increase) in the current value occurs in the first electric circuit 59 and / or the second electric circuit 60. As a result, the same effects as those of the above embodiment can be obtained.

また、X線照射器23において異常放電が生じた際には、X線照射器23内の回路(特に、第1電気回路59及び/又は第2電気回路60)において電流値の変化(急上昇)が生じる。この際、第1異常放電が生じた場合には、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方において電流値の変化(急上昇)が生じる。一方、第2異常放電が生じた場合には、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方のみにおいて電流値の変化(急上昇)が生じる。   Further, when abnormal discharge occurs in the X-ray irradiator 23, a change in current value (rapid increase) in a circuit (particularly, the first electric circuit 59 and / or the second electric circuit 60) in the X-ray irradiator 23. Occurs. At this time, when the first abnormal discharge occurs, the current value changes (rapid increase) in both the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60. On the other hand, when the second abnormal discharge occurs, only one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60 causes a change (rapid increase) in the current value.

このことから、第2異常放電が生じた場合には、第1電気回路59及び第2電気回路60の一方のみにおいて電流値の変化(急上昇)が生じることに伴い、XOR信号フラグ421が立てられ、直ちに、報知情報の表示が行われる。また、第1異常放電が生じた場合には、第1電気回路59及び第2電気回路60の双方において電流値の変化(急上昇)が生じることに伴い、AND信号フラグ422が立てられ、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上であるか否かに基づき、必要な時に限って報知情報の表示が行われる。   Therefore, when the second abnormal discharge occurs, the XOR signal flag 421 is set as the current value changes (rapidly increases) in only one of the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60. Immediately, the notification information is displayed. In addition, when the first abnormal discharge occurs, the AND signal flag 422 is set along with a change (rapid increase) in the current value in both the first electric circuit 59 and the second electric circuit 60, and for a predetermined period. The notification information is displayed only when necessary based on whether or not the number of occurrences of the first abnormal discharge in P1 is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1.

(7−10)変形例J
上記実施形態では、異常放電判定部47は、第1異常放電が生じたと判定した場合(すなわち、AND信号フラグ422が立てられた場合)、第1異常放電情報記憶領域415に格納されている第1異常放電の検出時刻に基づいて、第1異常放電の発生頻度(所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上であるか否か)を判定していた。
(7-10) Modification J
In the above embodiment, when the abnormal discharge determination unit 47 determines that the first abnormal discharge has occurred (that is, when the AND signal flag 422 is set), the abnormal discharge determination unit 47 stores the first abnormal discharge information storage area 415. The occurrence frequency of the first abnormal discharge (whether the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1) is determined based on the detection time of the one abnormal discharge.

しかし、異常放電判定部47は、他の方法によって、第1異常放電の発生頻度を判定して、報知を行うか否かを決定するように構成されてもよい。   However, the abnormal discharge determination unit 47 may be configured to determine whether to perform notification by determining the occurrence frequency of the first abnormal discharge by another method.

例えば、異常放電判定部47が、少なくとも所定期間P1に相当する時間を計測可能に構成されるとともに、第1異常放電の検出回数に係る情報を保持可能なレジスタを含めて構成されることによって、第1異常放電の発生頻度を判定するようにしてもよい。係る場合、異常放電判定部47が、第1異常放電が生じたと判定した時(すなわち、第1異常放電の検出時)に時間計測を開始するとともにレジスタに第1異常放電を検出した情報を書き込むように構成されればよい。   For example, the abnormal discharge determination unit 47 is configured to be able to measure at least a time corresponding to the predetermined period P1, and includes a register capable of holding information related to the number of first abnormal discharge detections. The occurrence frequency of the first abnormal discharge may be determined. In such a case, when the abnormal discharge determination unit 47 determines that the first abnormal discharge has occurred (that is, when the first abnormal discharge is detected), time measurement is started and information indicating the detection of the first abnormal discharge is written in the register. What is necessary is just to be comprised.

そして、異常放電判定部47が、時間計測を開始してから所定期間P1が経過するまでに更なる第1異常放電を検出しない場合には、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上でないと判定し、時間計測を停止するとともにレジスタが保有している情報を消去するように構成されればよい。   If the abnormal discharge determination unit 47 does not detect a further first abnormal discharge until the predetermined period P1 elapses after the time measurement is started, the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is the first. It may be determined that it is not equal to or greater than one threshold value ΔTh1, and the time measurement is stopped and the information held in the register is deleted.

一方、異常放電判定部47が、時間計測を開始してから所定期間P1が経過するまでに更なる第1異常放電を検出した場合には、レジスタに更なる第1異常放電を検出した情報を書き込むように構成されればよい。そして、異常放電判定部47が、時間計測を開始してから所定期間P1が経過するまでにレジスタが保有している情報において第1異常放電の検出回数が第1閾値ΔTh1以上となった時に、所定期間P1における第1異常放電の発生回数が第1閾値ΔTh1以上である(すなわち、第1異常放電が耐用年数の経過に起因する異常放電が生じている)と判定し、メンテナンス報知フラグ423を立てるように構成されればよい。   On the other hand, when the abnormal discharge determination unit 47 detects a further first abnormal discharge until the predetermined period P1 elapses after the time measurement is started, information indicating the detection of the further first abnormal discharge is stored in the register. It may be configured to write. Then, when the abnormal discharge determination unit 47 starts the time measurement and the information held by the register before the predetermined period P1 elapses, the number of detection times of the first abnormal discharge becomes equal to or greater than the first threshold value ΔTh1. It is determined that the number of occurrences of the first abnormal discharge in the predetermined period P1 is equal to or greater than the first threshold value ΔTh1 (that is, the abnormal discharge is caused by the passage of the service life of the first abnormal discharge), and the maintenance notification flag 423 is set. What is necessary is just to be comprised so that it may stand.

(7−11)変形例K
上記実施形態では、所定期間P1は168時間(1週間)に設定され、第1閾値ΔTh1は3(回)に設定されていた。しかし、所定期間P1及び第1閾値ΔTh1は、設計仕様や使用環境に応じて適宜変更が可能である。例えば、所定期間P1は、50時間に設定されてもよいし、200時間に設定されてもよい。また、例えば、第1閾値ΔTh1は、2(回)に設定されてもよいし、10(回)に設定されてもよい。
(7-11) Modification K
In the above embodiment, the predetermined period P1 is set to 168 hours (one week), and the first threshold value ΔTh1 is set to 3 (times). However, the predetermined period P1 and the first threshold value ΔTh1 can be appropriately changed according to the design specifications and the use environment. For example, the predetermined period P1 may be set to 50 hours or 200 hours. Further, for example, the first threshold value ΔTh1 may be set to 2 (times) or may be set to 10 (times).

(7−12)変形例L
上記実施形態では、LCDディスプレイ25が、報知情報の「情報出力部」として機能していた。しかし、LCDディスプレイ25に代わる他の要素を、報知情報を出力する「情報出力部」として機能させてもよい。例えば、管理者が視認可能な位置に「情報出力部」としてのLEDランプを配置して、LEDランプを点灯又は点滅させることで、管理者に対するX線管球50又はタンク53の交換等のメンテナンスを促す報知情報を出力してもよい。または、管理者が認識可能な位置に「情報出力部」としてのスピーカを配置して、警告音を出力させることで管理者に対する報知情報を出力してもよい。
(7-12) Modification L
In the embodiment described above, the LCD display 25 functions as an “information output unit” for notification information. However, other elements instead of the LCD display 25 may function as an “information output unit” that outputs notification information. For example, an LED lamp as an “information output unit” is arranged at a position that can be visually recognized by the administrator, and the LED lamp is turned on or blinked to perform maintenance such as replacement of the X-ray tube 50 or the tank 53 for the administrator. Notification information for prompting may be output. Alternatively, a speaker as an “information output unit” may be arranged at a position that can be recognized by the administrator, and warning information may be output to output the notification information to the administrator.

本発明は、X線検査装置に利用可能である。   The present invention is applicable to an X-ray inspection apparatus.

20 :X線検査ユニット
21 :シールドボックス
21a :開口
22 :コンベアユニット(搬送手段)
23 :X線照射器(X線照射部)
24 :ラインセンサ(X線検出部)
24a :X線検出素子
24b :シンチレータ
25 :LCDディスプレイ
26 :遮蔽ノレン
30 :振分ユニット(分別部)
31 :アーム
31a :第1アーム
31b :第2アーム
32 :アーム駆動部
32a :第1アーム駆動部
32b :第2アーム駆動部
33 :光電センサ
33a :投光器
33b :受光器
40 :コントローラ
41 :記憶部
42 :入出力制御部
43 :X線照射制御部
44 :X線画像生成部(画像生成部)
45 :品質判定部(判定部)
46 :振分制御部
47 :異常放電判定部(異常放電検出部)
48 :報知制御部
49 :検査済物品集計部(集計部)
50 :X線管球
51 :高圧電源
52 :フィラメント電源
53 :タンク
54、54´、54a、 :異常放電検出回路
55 :X線管本体
56 :アノード電極
57 :カソード電極
58 :X線照射窓
59 :第1電気回路
60 :第2電気回路
61 :絶縁油
62、62a :第1検出ユニット
63、63a :第2検出ユニット
64 :XOR回路
65 :AND回路
66 :OR回路
90 :上流側コンベア
91 :下流側コンベア
95 :不良品回収ボックス(第1収集部)
96 :判定不能品回収ボックス(第2収集部)
100 :検査振分装置(X線検査装置)
411 :プログラム記憶領域
412 :X線透視像信号記憶領域
413 :X線画像記憶領域
414 :報知情報記憶領域
415 :第1異常放電情報記憶領域
416 :集計情報記憶領域
417 :物品検出フラグ
418 :不良品判定フラグ
419 :判定不能品判定フラグ
420 :受光信号フラグ
421 :XOR信号フラグ
422 :AND信号フラグ
423 :メンテナンス報知フラグ
541 :電圧検出回路
542 :微分回路
543、543a :比較器
544、544a :パルス発生器
545 :電流検出回路
D :搬送方向
P :物品(検査対象物)
20: X-ray inspection unit 21: Shield box 21a: Opening 22: Conveyor unit (conveying means)
23: X-ray irradiator (X-ray irradiator)
24: Line sensor (X-ray detection unit)
24a: X-ray detection element 24b: scintillator 25: LCD display 26: shielding noren 30: sorting unit (sorting unit)
31: Arm 31a: First arm 31b: Second arm 32: Arm drive unit 32a: First arm drive unit 32b: Second arm drive unit 33: Photoelectric sensor 33a: Projector 33b: Light receiver 40: Controller 41: Storage unit 42: Input / output control unit 43: X-ray irradiation control unit 44: X-ray image generation unit (image generation unit)
45: Quality determination unit (determination unit)
46: Distribution control unit 47: Abnormal discharge determination unit (abnormal discharge detection unit)
48: Notification control unit 49: Inspected article totaling unit (totaling unit)
50: X-ray tube 51: High-voltage power supply 52: Filament power supply 53: Tanks 54, 54 ', 54a: Abnormal discharge detection circuit 55: X-ray tube main body 56: Anode electrode 57: Cathode electrode 58: X-ray irradiation window 59 : First electric circuit 60: second electric circuit 61: insulating oils 62 and 62a: first detection units 63 and 63a: second detection unit 64: XOR circuit 65: AND circuit 66: OR circuit 90: upstream conveyor 91: Downstream conveyor 95: defective product collection box (first collection unit)
96: Undeterminable product collection box (second collection unit)
100: Inspection distribution device (X-ray inspection device)
411: Program storage area 412: X-ray fluoroscopic image signal storage area 413: X-ray image storage area 414: Notification information storage area 415: First abnormal discharge information storage area 416: Total information storage area 417: Article detection flag 418: Not detected Non-defective product determination flag 419: Non-determinable product determination flag 420: Light reception signal flag 421: XOR signal flag 422: AND signal flag 423: Maintenance notification flag 541: Voltage detection circuit 542: Differentiation circuits 543, 543a: Comparators 544, 544a: Pulse Generator 545: Current detection circuit D: Conveying direction P: Article (inspection object)

特開2010−281654号公報JP 2010-281654 A

Claims (5)

搬送手段によって搬送される検査対象物を検査するX線検査装置であって、
アノード電極とカソード電極とを含むX線管球を有し、前記アノード電極及び前記カソード電極に所定の電圧を供給されることでX線を発生させ、前記検査対象物に対して前記X線を照射するX線照射部と、
前記X線照射部によって照射され前記検査対象物を透過した前記X線である透過X線を検出するX線検出部と、
前記X線照射部における異常放電を検出する異常放電検出部と、
前記X線検出部によって検出された前記透過X線及び前記異常放電検出部によって検出された前記異常放電に基づき、前記検査対象物が不良品又は判定不能品であるかを判定する判定部と、
を備え、
前記判定部は、前記異常放電が検出された時には、判定中の前記検査対象物を判定不能品と判定する、
X線検査装置。
An X-ray inspection apparatus for inspecting an inspection object conveyed by a conveyance means,
An X-ray tube including an anode electrode and a cathode electrode is provided, X-rays are generated by supplying a predetermined voltage to the anode electrode and the cathode electrode, and the X-rays are applied to the inspection object. An X-ray irradiation unit to irradiate;
An X-ray detection unit that detects transmitted X-rays that are the X-rays irradiated by the X-ray irradiation unit and transmitted through the inspection object;
An abnormal discharge detector for detecting abnormal discharge in the X-ray irradiation unit;
A determination unit that determines whether the inspection object is a defective product or a product that cannot be determined based on the transmitted X-ray detected by the X-ray detection unit and the abnormal discharge detected by the abnormal discharge detection unit;
With
When the abnormal discharge is detected, the determination unit determines that the inspection target under determination is a non-determinable product,
X-ray inspection equipment.
前記判定部における判定結果に基づき前記検査対象物を振り分ける分別部をさらに備え、
前記分別部は、
前記不良品と判定された前記検査対象物を前記不良品が送られる第1収集部に移動させ、
前記判定不能品と判定された前記検査対象物を前記判定不能品が送られる第2収集部に移動させる、
請求項1に記載のX線検査装置。
A sorting unit that sorts the inspection object based on a determination result in the determination unit;
The sorting section is
The inspection object determined to be the defective product is moved to a first collection unit to which the defective product is sent,
Moving the inspection object determined to be an indeterminate product to a second collection unit to which the indeterminate product is sent,
The X-ray inspection apparatus according to claim 1.
前記X線検出部によって検出された前記透過X線に基づき画像を生成する画像生成部をさらに備え、
前記異常放電検出部は、前記画像生成部によって生成された前記画像に基づき前記異常放電を検出する、
請求項1又は2に記載のX線検査装置。
An image generation unit that generates an image based on the transmitted X-rays detected by the X-ray detection unit;
The abnormal discharge detector detects the abnormal discharge based on the image generated by the image generator;
The X-ray inspection apparatus according to claim 1 or 2.
前記異常放電検出部は、前記アノード電極又は前記カソード電極を含む電気回路における電流又は電圧の変化を検知することで前記異常放電を検出する、
請求項1から3のいずれか1項に記載のX線検査装置。
The abnormal discharge detection unit detects the abnormal discharge by detecting a change in current or voltage in an electric circuit including the anode electrode or the cathode electrode;
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 3.
前記判定部によって判定された前記検査対象物の数を集計する集計部をさらに備え、
前記集計部は、前記判定不能品と判定された前記検査対象物については除外して集計する、
請求項1から4のいずれか1項に記載のX線検査装置。
A totaling unit that counts the number of the inspection objects determined by the determination unit;
The totaling unit excludes and totalizes the inspection object determined as the indeterminate product,
The X-ray inspection apparatus according to any one of claims 1 to 4.
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