JP2017037409A - Printed circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、主配線と複数の分岐配線とを有する信号線を介して信号を受信する複数の受信回路を備えたプリント回路板に関する。 The present invention relates to a printed circuit board including a plurality of receiving circuits that receive signals via a signal line having a main wiring and a plurality of branch wirings.
一般に、メモリシステムは、メモリコントローラと複数のメモリデバイスとを有して構成されている。メモリデバイスとしては、DDR3−SDRAM(Double Data Rate 3 Synchronous Dynamic Random Access Memory)が一般的に知られている。
In general, a memory system includes a memory controller and a plurality of memory devices. As a memory device, DDR3-SDRAM (
メモリコントローラは、アドレス信号又はコマンド信号(アドレス/コマンド信号)を送信し、各メモリデバイスは、アドレス/コマンド信号を受信することで制御され、メモリコントローラと複数のメモリデバイスとの間でデータ信号の送受信が行われる。特に高機能な電子機器では、メモリ容量の確保のため、複数のDDR3−SDRAMを搭載して使用する場合が多い。 The memory controller transmits an address signal or a command signal (address / command signal), and each memory device is controlled by receiving the address / command signal, and a data signal is transmitted between the memory controller and the plurality of memory devices. Transmission / reception is performed. In particular, a highly functional electronic device often uses a plurality of DDR3-SDRAMs in order to secure a memory capacity.
DDR3−SDRAMであるメモリデバイスは、信号伝送タイミングを調整する機能を内蔵している。各メモリデバイスは、アドレス/コマンド信号の高速化が可能なフライバイと呼ばれる一筆書きの主配線から分岐する分岐配線に接続されている(非特許文献1参照)。非特許文献1において、フライバイ配線構造となる信号線の各部位の配線長は厳密に定義されている。フライバイ配線構造は、次世代のDDR4−SDRAMでの採用も決まっている。
A memory device that is a DDR3-SDRAM has a function of adjusting signal transmission timing. Each memory device is connected to a branch wiring that branches from a one-stroke main wiring called flyby capable of increasing the address / command signal speed (see Non-Patent Document 1). In
DDR3−SDRAMの動作速度範囲は、800[Mbps]〜1600[Mbps]であったが、規格の更新により2133[Mbps]まで拡張されている。また、DDR4−SDRAMの動作速度範囲は、1600[Mbps]〜3200[Mbps]が見込まれているが、今後更に高速に拡張される可能性もある。 The operating speed range of the DDR3-SDRAM was 800 [Mbps] to 1600 [Mbps], but has been extended to 2133 [Mbps] by the update of the standard. Further, the operating speed range of DDR4-SDRAM is expected to be 1600 [Mbps] to 3200 [Mbps], but there is a possibility that it will be expanded further in the future.
しかしながら、フライバイ配線構造をとる信号線に印加する信号のデータ伝送速度を高速化した場合、ある周波数帯域で受信回路に到達する信号振幅が著しく増加する現象が確認された。特に、信号線の中央に接続された受信回路において、信号振幅の増加が大きくなる傾向にあった。このような受信回路における信号振幅の増加は、受信回路の寿命劣化や破損の原因となる。 However, it has been confirmed that when the data transmission speed of a signal applied to a signal line having a fly-by wiring structure is increased, the signal amplitude reaching the receiving circuit in a certain frequency band is remarkably increased. In particular, in the receiving circuit connected to the center of the signal line, the increase in signal amplitude tends to increase. Such an increase in signal amplitude in the receiving circuit causes a deterioration in the life or damage of the receiving circuit.
そこで、本発明は、信号線に接続された受信回路において、ある周波数帯域で発生する信号振幅の増加を抑制することを目的とする。 Accordingly, an object of the present invention is to suppress an increase in signal amplitude that occurs in a certain frequency band in a receiving circuit connected to a signal line.
本発明のプリント回路板は、信号線が形成されたプリント配線板と、前記プリント配線板に実装され、送信回路から送信された信号を、前記プリント配線板の前記信号線を介して受信する複数の受信回路と、を備え、前記信号線は、前記送信回路に接続される始端を有する主配線と、前記主配線のそれぞれ異なる複数の分岐箇所から分岐して、前記複数の受信回路にそれぞれ接続された複数の分岐配線と、を有し、前記複数の分岐箇所のうち、第1分岐箇所と、前記第1分岐箇所に隣接し、前記第1分岐箇所よりも前記始端に対して遠い側の第2分岐箇所との間に、前記主配線に対して直列に接続された、前記主配線の電気抵抗値よりも高い電気抵抗値の抵抗成分が設けられていることを特徴とする。 The printed circuit board of the present invention includes a printed wiring board on which signal lines are formed, and a plurality of signals that are mounted on the printed wiring board and that receive signals transmitted from a transmission circuit via the signal lines of the printed wiring board. And the signal line branches from a plurality of different branch locations of the main wiring and the main wiring having a starting end connected to the transmission circuit, and is connected to the plurality of receiving circuits, respectively. A plurality of branch wirings, and among the plurality of branch points, a first branch point, adjacent to the first branch point, and farther from the start end than the first branch point. A resistance component having an electrical resistance value higher than the electrical resistance value of the main wiring, connected in series to the main wiring, is provided between the second branch portion.
本発明によれば、信号線に接続された受信回路において、ある周波数帯域で発生する信号振幅の増加を抑制することができる。 According to the present invention, an increase in signal amplitude that occurs in a certain frequency band can be suppressed in a receiving circuit connected to a signal line.
以下、本発明を実施するための形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。 Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
[第1実施形態]
図1は、本発明の第1実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。プリント回路板であるメモリシステム100は、プリント配線板であるマザーボード200と、送信回路であるメモリコントローラ301と、複数の受信回路である複数(第1実施形態では8つ)のメモリデバイス302A〜302Hと、を備えている。第1実施形態では、メモリデバイス302A〜302Hは、DDR3−SDRAM又はDDR4−SDRAMである。メモリコントローラ301及び複数のメモリデバイス302A〜302Hは、マザーボード200に実装されている。具体的に説明すると、メモリコントローラ301は、マザーボード200の表面及び裏面のうちいずれか一方に実装されている。メモリデバイス302A,302C,302E,302Gは、表面に実装され、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hは、裏面に実装されている。なお、表面及び裏面は相対的なものであり、表面を一方の表面又は第1表面、表面とは反対側の裏面を他方の表面又は第2表面ともいう。また、マザーボード200の表面を表層、裏面を裏層ともいう。表層(導体層)と裏層(導体層)との間には、絶縁体層を介して内層(導体層)が配置されている。導体層は、導体パターンが配置されている層である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the first embodiment of the present invention. A
メモリコントローラ301は、メモリデバイス302A〜302Hを制御するものである。メモリコントローラ301は、メモリデバイス302A〜302Hへデジタル信号、第1実施形態では、制御信号であるアドレス/コマンド信号を、マザーボード200を介して送信する。
The
各メモリデバイス302A〜302Hは、マザーボード200を介してメモリコントローラ301から送信されたアドレス/コマンド信号を受信する。そして、メモリコントローラ301と各メモリデバイス302A〜302Hとは、データ信号の送受信を行う。
Each of the
メモリコントローラ301は、送信素子であるコントロールセル311と、コントロールセル311に接続された送信端子312と、を有する半導体パッケージである。メモリデバイス302A〜302Hは、受信素子であるメモリセル321A〜321Hと、メモリセル321A〜321Hに内部配線323A〜323Hを介して接続された受信端子322A〜322Hとを有する半導体パッケージである。なお、内部配線323A〜323Hは、メモリデバイス302A〜302Hの実効的な配線である。各メモリデバイス302A〜302Hは、同一構成の半導体パッケージであり、特性が同一のものである。
The
マザーボード200は、メモリコントローラ301(送信素子)とメモリデバイス302A〜302H(受信素子)とをフライバイ方式により接続する信号線であるバス配線201を有している。第1実施形態では、アドレス信号用のバス配線及びコマンド信号用のバス配線は、フライバイ方式によるフライバイ配線構造であり、これら複数のバス配線(信号線)のうちの1つのバス配線201を、図1に示している。
The
バス配線201は、始端217がメモリコントローラ301の送信端子312に電気的に接続され、終端218が終端抵抗(ターミネータ)310の一端に電気的に接続された主配線216を有している。主配線216は、始端217から終端218まで配線方向に一筆書き状に延びて形成されている。終端抵抗310の他端は、終端電位が印加される終端配線211に電気的に接続されている。このように、主配線216の始端217がメモリコントローラ301に電気的に接続され、終端218が終端抵抗(ターミネータ)310に電気的に接続されているので、終端218における信号の反射が終端抵抗310により抑制されている。
The
主配線216は、それぞれ異なる位置にある複数の分岐箇所として、4つの分岐箇所207A〜207Dを有している。具体的には、主配線216は、始端217に近い側から順に、始端側分岐箇所である分岐箇所207Aと、第1分岐箇所である分岐箇所207Bと、第2分岐箇所である分岐箇所207Cと、終端側分岐箇所である分岐箇所207Dとを有する。つまり、分岐箇所207Cは、分岐箇所207Bに隣接し、分岐箇所207Bよりも始端217に対して遠い側の分岐箇所である。また、分岐箇所207Dは、分岐箇所207Cに隣接し、分岐箇所207Cよりも始端217に対して遠い側の分岐箇所である。また、分岐箇所207Aは、分岐箇所207Bに隣接し、分岐箇所207Bよりも始端217に対して近い側の分岐箇所である。
The
また、主配線216は、始端217と分岐箇所207Aとの間の部分配線203と、分岐箇所207Aと分岐箇所207Bとの間の部分配線204Aとを有している。また、主配線216は、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間の部分配線204B1,204B2と、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間の部分配線204Cと、分岐箇所207Dと終端218との間の部分配線205とを有している。
Further, the
バス配線201は、分岐箇所207Aから分岐して、メモリデバイス302A,302Bの受信端子322A,322Bに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206A,206Bを有している。また、バス配線201は、分岐箇所207Bから分岐して、メモリデバイス302C,302Dの受信端子322C,322Dに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206C,206Dを有している。また、バス配線201は、分岐箇所207Cから分岐して、メモリデバイス302E,302Fの受信端子322E,322Fに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206E,206Fを有している。また、バス配線201は、分岐箇所207Dから分岐して、メモリデバイス302G,302Hの受信端子322G,322Hに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206G,206Hを有している。
The
具体的に説明すると、分岐配線206Aの配線方向の一端219Aと分岐配線206Bの配線方向の一端219Bとが分岐箇所207Aに電気的に接続されている。また、分岐配線206Cの配線方向の一端219Cと分岐配線206Dの配線方向の一端219Dとが分岐箇所207Bに電気的に接続されている。また、分岐配線206Eの配線方向の一端219Eと分岐配線206Fの配線方向の一端219Fとが分岐箇所207Cに電気的に接続されている。また、分岐配線206Gの配線方向の一端219Gと分岐配線206Hの配線方向の一端219Hとが分岐箇所207Dに電気的に接続されている。
Specifically, one
また、各分岐配線206A〜206Hの配線方向の他端220A〜220Hが、各メモリデバイス302A〜302Hの受信端子322A〜322Hにそれぞれ電気的に接続されている。分岐配線206A〜206Hは、配線長(配線方向の長さ)が同一に設定されている。
The other ends 220A to 220H in the wiring direction of the
このように、第1実施形態では、分岐箇所207Aには、複数(2つ)のメモリデバイス302A,302Bが電気的に接続され、分岐箇所207Bには、複数(2つ)のメモリデバイス302C,302Dが電気的に接続されている。また、分岐箇所207Cには、複数(2つ)のメモリデバイス302E,302Fが電気的に接続され、分岐箇所207Dには、複数(2つ)のメモリデバイス302G,302Hが電気的に接続されている。
Thus, in the first embodiment, a plurality (two) of
図1では、各メモリデバイス302A〜302Hが備えるメモリセルを1つ図示しているが、各メモリデバイスは、複数のメモリセルを有しており、各メモリデバイスにおけるそれぞれのメモリセルが、対応するバス配線でそれぞれ接続されている。 In FIG. 1, one memory cell included in each of the memory devices 302 </ b> A to 302 </ b> H is illustrated. However, each memory device has a plurality of memory cells, and each memory cell in each memory device corresponds to each memory device. They are connected by bus wiring.
なお、各分岐箇所207A〜207Dに接続されたメモリデバイスの数を2つとしたが、3つ以上としてもよい。
Although the number of memory devices connected to each of the
第1実施形態では、主配線216は、マザーボード200の内層と表層又は裏層とに跨って形成されている。分岐配線206A,206C,206E,206Gは、マザーボード200の内層と表層とに跨って形成されている。分岐配線206B,206D,206F,206Hは、マザーボード200の内層と裏層とに跨って形成されている。
In the first embodiment, the
メモリデバイス302A〜302Hは、BGA型の半導体パッケージである。メモリデバイス302A,302C,302E,302Gはマザーボード200の表面に、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hはマザーボード200の裏面にそれぞれ実装される。
The
ここで、分岐配線206C(206D)における実効分岐配線長とは、分岐配線206C(206D)の配線長と、メモリデバイス302C(302D)の内部の実効的な配線323C(323D)の実効配線長とを合計した配線長である。また、分岐配線206E(206F)における実効分岐配線長とは、分岐配線206E(206F)の配線長と、メモリデバイス302E(302F)の内部の実効的な配線323E(323F)の実効配線長とを合計した配線長である。
Here, the effective branch wiring length in the
第1実施形態では、図1に示すように、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち互いに隣り合う2つの分岐箇所207B,207Cの間に、2つの分岐箇所207B,207Cを電気的に接続する、抵抗成分である抵抗素子208Bが設けられている。抵抗素子208Bは、主配線216や分岐配線206A〜206Hの電気抵抗値(例えば数mΩ程度)よりも高い電気抵抗値の抵抗素子(チップ抵抗)である。抵抗素子208Bは、主配線216に対して直列に接続され、マザーボード200の表面又は裏面に実装されている。つまり、抵抗素子208Bは、メモリデバイス302C(302D)とメモリデバイス302E(302F)との間に、主配線216と直列に設けられている。
In the first embodiment, as shown in FIG. 1, two
図2は、本発明の第1実施形態において抵抗素子が実装された付近のマザーボードの平面図である。図2では、抵抗素子208Bは、メモリデバイス302C,302Eが実装された表面(実装面)に実装されている場合について図示している。
FIG. 2 is a plan view of the mother board in the vicinity where the resistance element is mounted in the first embodiment of the present invention. FIG. 2 illustrates the case where the
分岐配線206Cは、分岐配線206Cの他端を構成する実装パッド220Cと、ヴィア241Cと、配線パターン242Cとからなる。実装パッド220Cは、メモリデバイス302Cの端子322Cが接合された導体パッドである。配線パターン242Cは、実装パッド220Cとヴィア241Cとを接続する導体パターンである。ヴィア241Cは、異なる層にある点線で表示された主配線216に接続されたヴィア導体である。
The
同様に、分岐配線206Eは、分岐配線206Eの他端を構成する実装パッド220Eと、ヴィア241Eと、配線パターン242Eとからなる。実装パッド220Eは、メモリデバイス302Eの端子322Eが接合された導体パッドである。配線パターン242Eは、実装パッド220Eとヴィア241Eと接続する導体パターンである。ヴィア241Eは、異なる層にある点線で表示された主配線216に接続されたヴィア導体である。
Similarly, the
図2では、主配線216が複数(12本)図示されており、各主配線216がそれぞれの分岐配線に接続されている。
In FIG. 2, a plurality (12) of
なお、エリア400にも実装パッドやヴィア等の分岐配線があり、他と同層又は異層に主配線もあるが、図示を省略する。また、図示は省略するが、メモリデバイス302C,302Eの底面には、受信端子322C,322Eがアレイ状に複数設けられている。したがって、複数の実装パッド220C(220E)は、アレイ状に配置されている。各実装パッド220C(220E)は、不図示のはんだボール等の接続導体でメモリデバイス302C(302E)の受信端子322C(322E)に電気的に接続されている。
In addition, there are branch wirings such as mounting pads and vias in the
主配線216の部分配線204B1を構成する実装パッド407−1には、抵抗素子208Bの一対の端子のうち一方の端子が接合されている。主配線216の部分配線204B2を構成する実装パッド407−2には、抵抗素子208Bの一対の端子のうち他方の端子が接合されている。2つの実装パッド407−1,407−2は、ヴィア405−1,405−2を介してそれぞれ内層パターンと接続されている。
One terminal of the pair of terminals of the
なお、抵抗素子208Bが、メモリデバイス302C,302Eが実装された表面(実装面)に実装された場合について説明したが、メモリデバイス302D,302Fが実装された裏面(実装面)に実装された場合であっても、同様の配線構造となる。
Although the case where the
ここで、比較例として抵抗素子がない場合について説明する。図10は、比較例のプリント回路板の一例としてのメモリシステム100Xの配線構成を示すトポロジー図である。なお、図10に示すメモリシステム100Xは、マザーボード200Xを有している。マザーボード200Xは、バス配線201Xを有している。バス配線201Xは、主配線216Xを有している。
Here, a case where there is no resistance element will be described as a comparative example. FIG. 10 is a topology diagram showing a wiring configuration of a
図10に示す主配線216Xは、図1に示す主配線216に対して、抵抗素子208Bがなく、それ以外の構成は、第1実施形態のメモリシステム100と同様である。即ち、主配線216Xは、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとを接続する、第1実施形態の部分配線204B1と部分配線204B2とを合計した長さの部分配線204Bを有する。
The
この比較例のフライバイ配線条件で、印加する信号の周波数を上げていくと、周波数が高いある周波数帯域で信号の増加現象(共振現象)が発生する。特にフライバイ配線構造のバス配線201Xの中央のメモリデバイス302C,302D,302E,302Fで受信される信号の電圧振幅の増加が大きくなる。
When the frequency of the signal to be applied is increased under the fly-by wiring conditions of this comparative example, a signal increase phenomenon (resonance phenomenon) occurs in a frequency band having a high frequency. In particular, the increase in voltage amplitude of signals received by the
図11は、比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイスにて受信される信号の波形図である。 FIG. 11 is a waveform diagram of signals received by each memory device in the memory system of the comparative example.
以下にシミュレーションを行った条件を示す。図10のトポロジーに対し、メモリコントローラ301が送信する信号(パルス)の電圧は、1.2[V]で、内部特性インピーダンスは50[Ω]、印加する周波数成分のみの正弦波を印加した。メモリデバイス302A〜302Hは1.7[pF]で負荷近似した。全ての配線の特性インピーダンスは50[Ω]とした。
The simulation conditions are shown below. For the topology of FIG. 10, the voltage of the signal (pulse) transmitted by the
部分配線203の伝播遅延時間を500[pS]とした。部分配線204A,204B,204Cの伝播遅延時間を120[pS]とした。部分配線205の伝搬遅延時間を66[pS]とした。終端抵抗310の抵抗値は50[Ω]、終端配線211に印加した終端電位は0.6[V]とした。さらに、マザーボード200の分岐配線206A〜206Hの配線長と、メモリデバイス302A〜302H内部の実効的な配線長との合計の配線長(実効分岐配線長)は、180[pS]の条件で行った。ここで、図11には、メモリコントローラ301から送信される信号の周波数を1[GHz]とした場合を図示している。また、図11には、マザーボード200Xの表面に実装されたメモリデバイス302A,302C,302E,302Gにて受信される信号波形を図示している。
The propagation delay time of the
図11に示すように、印加する信号に対してメモリデバイス302A,302C,302E,302G、特にメモリデバイス302C,302Eにて受信される信号が増幅していることが確認できる。なお、図示は省略するが、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hにて受信される信号についても同様の傾向となる。
As shown in FIG. 11, it can be confirmed that the signals received by the
フライバイ配線構造のバス配線201Xの透過特性から図11の現象を分析した結果、メモリデバイス間の配線距離に依存した共振現象が起きていることを見出した。
As a result of analyzing the phenomenon of FIG. 11 from the transmission characteristics of the
図12(a)は、比較例のメモリシステム100Xにおいてメモリコントローラ301から各メモリデバイス302A,302C,302E,302Gへ信号を送信した状態を示す模式図である。
FIG. 12A is a schematic diagram illustrating a state in which a signal is transmitted from the
以下にシミュレーションを行った条件を示す。図10のトポロジーに対し、メモリコントローラ301の代わりに50[Ω]のポートを設定し、メモリデバイス302A〜302Hの代わりに1000[Ω]のポートをそれぞれに設定した。全ての配線の特性インピーダンスは50[Ω]とした。
The simulation conditions are shown below. In the topology of FIG. 10, a port of 50 [Ω] is set instead of the
部分配線203の伝播遅延時間を500[pS]とした。部分配線204A,204B,204Cの伝播遅延時間を120[pS]とした。部分配線205の伝搬遅延時間を66[pS]とした。終端抵抗310の抵抗値は50[Ω]、終端配線211の電位は0[V]とした。
The propagation delay time of the
さらに、マザーボード200の分岐配線206A〜206Hの配線長と、メモリデバイス302A〜302H内部の実効的な配線長との合計の配線長(実効分岐配線長)は、180[pS]の条件で行った。
Further, the total wiring length (effective branch wiring length) of the
図12(a)に示すように、メモリコントローラ301から送信された信号のうち、各メモリデバイス302A,302C,302E,302Gにて受信された信号の透過特性をそれぞれS−1,S−2,S−3,S−4とする。つまり、S−1はメモリコントローラ301から1番近いメモリデバイス302Aへの信号の透過特性である。S−2はメモリコントローラ301から2番目に近いメモリデバイス302Cへの信号の透過特性である。S−3はメモリコントローラ301から3番目に近いメモリデバイス302Eへの信号の透過特性である。S−4はメモリコントローラ301から4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。
As shown in FIG. 12A, among the signals transmitted from the
図12(b)は、比較例のメモリシステムにおいてメモリコントローラから各メモリデバイスへの信号の透過特性S−1〜S−4を周波数毎に示したグラフである。図12(b)中、横軸が周波数、縦軸が透過量となっている。 FIG. 12B is a graph showing signal transmission characteristics S-1 to S-4 for each frequency from the memory controller to each memory device in the memory system of the comparative example. In FIG. 12B, the horizontal axis represents the frequency and the vertical axis represents the transmission amount.
信号の増加現象が発生する高周波帯域(1[GHz])で、特に透過特性S−2,S−3が非常に大きくなっていることを見出した。なお、各分岐箇所から分岐している一対のメモリデバイスは、基本的に同じであるので、一方の特性のみを確認することにし、合計4つの特性を確認した。この周波数について検討した結果、配線上で隣接するメモリデバイス間の実効的な距離をλ/2とする周波数帯であることを見出した。 It has been found that the transmission characteristics S-2 and S-3 are particularly large in the high frequency band (1 [GHz]) where the signal increase phenomenon occurs. Since a pair of memory devices branched from each branch point are basically the same, only one characteristic was confirmed, and a total of four characteristics were confirmed. As a result of studying this frequency, it has been found that the frequency band has an effective distance between adjacent memory devices on the wiring of λ / 2.
ここで、配線上で隣接するメモリデバイス間の実効的な距離について説明する。メモリデバイス302の内部には、パッケージ配線や内部容量により、メモリセル321までの伝搬遅延が存在する。この伝搬遅延を、プリント配線板上の長さに置き換えたものを実効的な内部配線323の配線長と考える。メモリデバイス間の実効的な距離は、この実効的な内部配線323の配線長を含む分岐配線長、即ち内部配線323と分岐配線206との合計の配線長と、主配線の長さと、実効的な内部配線323の配線長を含む分岐配線長の合計で求められる。この実効的な内部配線323の配線長を含む分岐配線長、即ち内部配線323と分岐配線206との合計の配線長はばらつきがあり、メモリベンダーの違いや世代間の違いを考慮すると更に広く考える必要がある。そのため、実際の製品においては、共振が起こる周波数近辺で広い範囲で共振が起こる可能性がある。 Here, an effective distance between adjacent memory devices on the wiring will be described. A propagation delay to the memory cell 321 exists inside the memory device 302 due to package wiring and internal capacitance. A value obtained by replacing this propagation delay with the length on the printed wiring board is considered as the effective wiring length of the internal wiring 323. The effective distance between the memory devices is the branch wiring length including the effective internal wiring 323, that is, the total wiring length of the internal wiring 323 and the branch wiring 206, the length of the main wiring, The total of the branch wiring length including the wiring length of the internal wiring 323 is obtained. The branch wiring length including the effective internal wiring 323, i.e., the total wiring length of the internal wiring 323 and the branch wiring 206 varies, and is considered wider considering the difference between memory vendors and generations. There is a need. Therefore, in an actual product, resonance may occur in a wide range near the frequency at which resonance occurs.
図13(a)は、比較例のメモリシステム100Xにおいて各メモリデバイス302A,302C,302E,302G間の信号の透過特性を示す模式図である。シミュレーション条件は図12の場合と同条件である。図13(a)に示すように、S−12はメモリコントローラ301に対して1番近いメモリデバイス302Aから2番目に近いメモリデバイス302Cへの信号の透過特性である。S−13はメモリコントローラ301に対して1番近いメモリデバイス302Aから3番目に近いメモリデバイス302Eへの信号の透過特性である。S−14はメモリコントローラ301に対して1番近いメモリデバイス302Aから4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。S−23はメモリコントローラ301に対して2番近いメモリデバイス302Cから3番目に近いメモリデバイス302Eへの信号の透過特性である。S−24はメモリコントローラ301に対して2番近いメモリデバイス302Cから4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。S−34はメモリコントローラ301に対して3番近いメモリデバイス302Eから4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。
FIG. 13A is a schematic diagram illustrating signal transmission characteristics between the
図13(b)は、比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイス間の信号の透過特性を周波数毎に示したグラフである。図13(b)中、横軸が周波数、縦軸が透過量となっている。信号の増加現象が発生する高周波領域(1[GHz])では、信号の透過特性S−23が最も大きくなっている。2番目に近いメモリデバイス302C(メモリセル321C)と、3番目に近いメモリデバイス302E(メモリセル321E)は、隣接する2つのメモリデバイスから信号が戻ってくるため、信号が大きくなり易いことに起因すると考えられる。そのため2番目のメモリデバイスと3番目のメモリデバイス間での信号の行き来が大きくなり易いと考えられる。端にあるメモリデバイス302A,302Dでも同様の現象は起こっているが、信号反射の半分がメモリコントローラ301側、もしくは終端側へ伝わり戻って来にくいため、比較的小さくなる。
FIG. 13B is a graph showing signal transmission characteristics between the memory devices for each frequency in the memory system of the comparative example. In FIG. 13B, the horizontal axis represents the frequency and the vertical axis represents the transmission amount. In the high frequency region (1 [GHz]) where the signal increase phenomenon occurs, the signal transmission characteristic S-23 is the largest. The second
そこで、第1実施形態では、4つの分岐箇所207A〜207Dのうち、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間に、主配線216に対して直列に接続された抵抗素子208Bが設けられている。
Therefore, in the first embodiment, the
抵抗素子208Bにより、メモリデバイス302C(メモリセル321C)とメモリデバイス302E(メモリセル321E)との間を伝搬する信号が減衰する。よって、分岐配線206C(206D)及び分岐配線206E(206F)における実効分岐配線長と、主配線216の分岐箇所207Bと分岐箇所207Cの間の長さとを合計した長さの伝播時間に依存した周波数で発生する信号増幅を抑制できる。つまり、メモリデバイス302C(メモリセル321C)とメモリデバイス302E(メモリセル321E)との間で発生する信号の共振を抑制することができる。
The
次に、図1に示すメモリシステム100の構成でシミュレーションを行った結果について説明する。以下にシミュレーションを行った条件を示す。メモリコントローラ301が送信する信号(パルス)の電圧は、1.2[V]で、内部特性インピーダンスは50[Ω]、印加する周波数成分のみの正弦波を印加した。メモリデバイス302A〜302Hは1.7[pF]で負荷近似した。全ての配線の特性インピーダンスは50[Ω]とした。
Next, a description will be given of a result of simulation performed with the configuration of the
部分配線203の伝播遅延時間を500[pS]とした。部分配線204A,204Cの伝播遅延時間を120[pS]とした。部分配線204B1,204B2の伝播遅延時間を60[pS]とした。部分配線205の伝搬遅延時間を66[pS]とした。終端抵抗310の抵抗値は50[Ω]、終端配線211に印加した終端電位は0.6[V]とした。
The propagation delay time of the
さらに、マザーボード200の分岐配線206A〜206Hの配線長と、メモリデバイス302A〜302H内部の実効的な配線長との合計の配線長(実効分岐配線長)は、180[pS]の条件で行った。
Further, the total wiring length (effective branch wiring length) of the
図3は、第1実施形態のメモリシステム100において各メモリデバイス302A,302C,302E,302Gにて受信される信号の波形図である。ここで、図3には、メモリコントローラ301から送信される信号の周波数を1[GHz]とした場合を図示している。また、抵抗素子208Bの電気抵抗値は5[Ω]とした。
FIG. 3 is a waveform diagram of signals received by the
図3に示すように、図11の比較例に対して、印加する信号に対してメモリデバイス302A,302C,302E,302G、特にメモリデバイス302C,302Eにて受信される信号の増幅が抑制されていることが確認できる。なお、図示は省略するが、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hにて受信される信号についても同様の傾向となる。
As shown in FIG. 3, in comparison with the comparative example of FIG. 11, amplification of signals received by the
上記条件で抵抗素子208Bの電気抵抗値を1〜10[Ω]まで1[Ω]刻みで変化させた結果を以下の表1に示す。なお、印加した信号のデータ伝送速度は2[Gbps](周波数1[GHz]に相当)であり、電圧は20周期分の信号をとり、全メモリデバイスの受信電圧で確認した。
Table 1 below shows the results of changing the electrical resistance value of the
全ての条件、即ち電気抵抗値が1[Ω]以上で、電圧の最大値を下げ、電圧の最小値を上げる効果が確認できる。但し、抵抗素子208Bの電気抵抗値を大きくすると、電圧の最小振幅が小さくなる傾向にある。電圧の最小振幅が小さくなると信号が正しく伝わらない可能性が出てくる。電圧の振幅としては±100[mV]以上確保できた方が望ましく、ノイズマージンとして2割程度必要、つまり1.2[V]の2割である240[mV]以上必要と考えれば、より効果的な電気抵抗値の範囲は1[Ω]以上6[Ω]以下である。よって、抵抗素子208Bの電気抵抗値を1[Ω]以上6[Ω]以下の値とすることで、ある周波数帯域(第1実施形態では1[GHz])で発生する信号振幅の増加、つまり共振を効果的に抑制することができる。
Under all conditions, that is, when the electric resistance value is 1 [Ω] or more, the effect of lowering the maximum voltage value and raising the minimum voltage value can be confirmed. However, when the electric resistance value of the
なお、第1実施形態では、メモリデバイス302C(302D)とメモリデバイス302E(302F)との間、つまり分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間に抵抗素子208Bを設けた場合について説明したが、これに限定するものではない。
In the first embodiment, the case where the
第1分岐箇所と第2分岐箇所は相対的なものであり、例えば、第1分岐箇所が分岐箇所207Aであれば第2分岐箇所は分岐箇所207Bである。また、第1分岐箇所が分岐箇所207Cであれば第2分岐箇所は分岐箇所207Dである。即ち、メモリデバイス302A(302B)とメモリデバイス302C(302D)との間、つまり分岐箇所207Aと分岐箇所207Bとの間に抵抗素子を設けてもよい。また、メモリデバイス302E(302F)とメモリデバイス302G(302H)との間、つまり分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間に抵抗素子を設けてもよい。
The first branch point and the second branch point are relative. For example, if the first branch point is the
[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態に係るプリント回路板について説明する。図4は、本発明の第2実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第2実施形態において、上記第1実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the second embodiment of the present invention. Note that in the second embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the first embodiment and descriptions thereof are omitted.
第2実施形態のメモリシステム100Aは、プリント配線板であるマザーボード200Aと、送信回路であるメモリコントローラ301と、複数の受信回路である複数(第2実施形態では8つ)のメモリデバイス302A〜302Hと、を備えている。
A
マザーボード200Aは、メモリコントローラ301とメモリデバイス302A〜302Hとを接続する信号線であるバス配線201Aを有している。バス配線201Aは、始端217がメモリコントローラ301の送信端子312に電気的に接続され、終端218が終端抵抗(ターミネータ)310の一端に電気的に接続された主配線216Aを有している。
The
主配線216Aは、それぞれ異なる位置にある複数の分岐箇所として、第1実施形態と同様、4つの分岐箇所207A〜207Dを有している。主配線216Aは、始端217と分岐箇所207Aとの間の部分配線203と、分岐箇所207Aと分岐箇所207Bとの間の部分配線204A1,204A2とを有している。また、主配線216Aは、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間の部分配線204B1,204B2と、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間の部分配線204C1,204C2とを有している。また、主配線216Aは、分岐箇所207Dと終端218との間の部分配線205を有している。
As with the first embodiment, the
第2実施形態では、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207B,207Cの間に、2つの分岐箇所207B,207Cを電気的に接続する、抵抗成分である抵抗素子208Bが設けられている。更に第2実施形態では、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207C,207Dの間に、2つの分岐箇所207C,207Dを電気的に接続する、終端側抵抗成分である抵抗素子208Cが設けられている。更に第2実施形態では、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207A,207Bの間に、2つの分岐箇所207A,207Bを電気的に接続する、始端側抵抗成分である抵抗素子208Aが設けられている。抵抗素子208A〜208Cは、主配線216Aや分岐配線206A〜206Hの電気抵抗値(例えば数mΩ程度)よりも高い電気抵抗値の抵抗素子(チップ抵抗)である。抵抗素子208A〜208Cは、主配線216Aに対して直列に接続され、マザーボード200Aの表面又は裏面に実装されている。各抵抗素子208A〜208Cの電気抵抗値は、第1実施形態と同様、1[Ω]以上6[Ω]以下である。
In the second embodiment, among the plurality of
このように、第2実施形態では、第1実施形態と同様、部分配線204B1と部分配線204B2との間に抵抗素子208Bが接続されている。更に、第2実施形態では、部分配線204A1と部分配線204A2との間に抵抗素子208Aが、部分配線204C1と部分配線204C2との間に抵抗素子208Cが、それぞれ接続されている。それ以外の構成は、第1実施形態と同様である。
Thus, in the second embodiment, as in the first embodiment, the
第2実施形態によれば、第1実施形態と同様、抵抗素子208Bにより、メモリデバイス302C(302D)とメモリデバイス302E(302F)との間に発生する、ある周波数帯域(例えば1[GHz])の信号の共振を効果的に抑制することができる。また、第2実施形態によれば、抵抗素子208Aにより、メモリデバイス302A(302B)とメモリデバイス302C(302D)との間に発生する、ある周波数帯域(例えば1[GHz])の信号の共振を効果的に抑制することができる。更に、第2実施形態によれば、抵抗素子208Cにより、メモリデバイス302E(302F)とメモリデバイス302G(302H)との間に発生する、ある周波数帯域(例えば1[GHz])の信号の共振を効果的に抑制することができる。
According to the second embodiment, as in the first embodiment, a certain frequency band (for example, 1 [GHz]) generated between the
なお、第2実施形態では、メモリシステム100Aが抵抗素子208A〜208Cを有する場合について説明したが、これに限定するものではない。例えば、抵抗素子208A〜208Cのうちいずれか1つを省略してもよい。
In the second embodiment, the case where the
[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態に係るプリント回路板について説明する。図5は、本発明の第3実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第3実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Third Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a third embodiment of the invention will be described. FIG. 5 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the third embodiment of the present invention. Note that in the third embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.
第3実施形態のメモリシステム100Bは、プリント配線板であるマザーボード200Bと、メモリコントローラ301と、複数(第3実施形態では4つ)のメモリデバイス302A,302C,302E,302Gと、を備えている。
A
マザーボード200Bは、メモリコントローラ301とメモリデバイス302A,302C,302E,302Gとを接続する信号線であるバス配線201Bを有している。
The
バス配線201Bは、第2実施形態と同様、4つの分岐箇所207A〜207Dを有する主配線216Aを備えている。また、バス配線201Bは、各分岐箇所207A〜207Dからそれぞれ分岐する、第2実施形態よりも少ない数の4つの分岐配線206A,206C,206E,206Gを備えている。つまり、各分岐箇所207A〜207Dからはそれぞれ1つの分岐配線が分岐している。
Similar to the second embodiment, the
第3実施形態では、メモリデバイス302A、302C,302E,302Gは、マザーボード200Bの一対の実装面のうち一方の実装面に実装されている。つまり、第3実施形態では、図4に示すメモリシステム100Aに対して、片側のメモリデバイスとその分岐配線を無くしたものである。
In the third embodiment, the
第3実施形態では、第1及び第2実施形態と同様、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207B,207Cの間に、2つの分岐箇所207B,207Cを電気的に接続する抵抗素子208Bが設けられている。更に第3実施形態では、第2実施形態と同様、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207C,207Dの間に、2つの分岐箇所207C,207Dを電気的に接続する抵抗素子208Cが設けられている。更に第3実施形態では、第2実施形態と同様、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207A,207Bの間に、2つの分岐箇所207A,207Bを電気的に接続する抵抗素子208Aが設けられている。
In the third embodiment, as in the first and second embodiments, among the plurality of
メモリデバイスの間隔に起因した共振は、片面実装の形態でも同様に発生する。したがって、第2実施形態と同様、メモリデバイス302A,302C間、メモリデバイス302C,302E間、及びメモリデバイス302E,302G間の信号の共振を抑制することができる。
Resonance due to the spacing of the memory devices occurs in the same way even in the single-sided mounting form. Therefore, similarly to the second embodiment, resonance of signals between the
なお、抵抗素子208A〜208Cのうち、2つの抵抗素子を省略してもよいし、1つの抵抗素子を省略してもよい。
Of the
[第4実施形態]
次に、本発明の第4実施形態に係るプリント回路板について説明する。図6は、本発明の第4実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第4実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Fourth Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a fourth embodiment of the invention will be described. FIG. 6 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the fourth embodiment of the present invention. Note that in the fourth embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.
第4実施形態のメモリシステム100Cは、図4のメモリシステム100Aに対して、メモリデバイス302A,302Bとその分岐配線206A,206Bを省略したものである。
The
つまり、メモリシステム100Cは、マザーボード200Cと、6つのメモリデバイス302C〜302Hとを備えている。マザーボード200Cは、信号線であるバス配線201Cを有している。バス配線201Cは、主配線216Cと、主配線216Cの分岐箇所207B,207C,207Dから分岐する分岐配線206C〜206Hを有する。
That is, the
分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられ、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間には、抵抗素子208Cが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208B,208Cが存在することで共振抑制効果ある。なお、抵抗素子208B、208Cのいずれか一方を省略してもよい。
A
[第5実施形態]
次に、本発明の第5実施形態に係るプリント回路板について説明する。図7は、本発明の第5実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第5実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Fifth Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a fifth embodiment of the invention will be described. FIG. 7 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the fifth embodiment of the present invention. Note that in the fifth embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.
第5実施形態のメモリシステム100Dは、図5のメモリシステム100Bに対して、メモリデバイス302Aとその分岐配線206Aを省略したものである。つまり、図6のメモリシステム100Cに対してメモリデバイス302D,302F,302Hとその分岐配線206D,206F,206Hを省略したものである。
The
メモリシステム100Dは、マザーボード200Dと、3つのメモリデバイス302C,302E,302Gとを備えている。マザーボード200Dは、信号線であるバス配線201Dを有している。バス配線201Dは、第4実施形態と同様の主配線216Cと、主配線216Cの分岐箇所207B,207C,207Dから分岐する分岐配線206C,206E,206Gを有する。
The
分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられ、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間には、抵抗素子208Cが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208B,208Cが存在することで共振抑制効果ある。なお、抵抗素子208B,208Cのいずれか一方を省略してもよい。
A
[第6実施形態]
次に、本発明の第6実施形態に係るプリント回路板について説明する。図8は、本発明の第6実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第6実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Sixth Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a sixth embodiment of the invention will be described. FIG. 8 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the sixth embodiment of the present invention. Note that in the sixth embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.
第6実施形態のメモリシステム100Eは、図6に示すメモリシステム100Cに対して、メモリデバイス302G,302H及びその分岐配線206G,206Hを省略したものである。
The
つまり、メモリシステム100Eは、マザーボード200Eと、4つのメモリデバイス302C〜302Fとを備えている。マザーボード200Eは、信号線であるバス配線201Eを有している。バス配線201Eは、主配線216Eと、主配線216Eの分岐箇所207B,207Cから分岐する分岐配線206C〜206Fを有する。
That is, the
分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208Bが存在することで共振抑制効果ある。
A
[第7実施形態]
次に、本発明の第7実施形態に係るプリント回路板について説明する。図9は、本発明の第7実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第7実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Seventh Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a seventh embodiment of the invention will be described. FIG. 9 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the seventh embodiment of the present invention. Note that in the seventh embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.
第7実施形態のメモリシステム100Fは、図7のメモリシステム100Dに対して、メモリデバイス302Gとその分岐配線206Gを省略したものである。つまり、図8のメモリシステム100Eに対してメモリデバイス302D,302Fとその分岐配線206D,206Fを省略したものである。
The
メモリシステム100Fは、マザーボード200Fと、2つのメモリデバイス302C,302Eとを備えている。マザーボード200Fは、信号線であるバス配線201Fを有している。バス配線201Fは、第6実施形態と同様の主配線216Eと、主配線216Eの分岐箇所207B,207Cから分岐する分岐配線206C,206Eを有する。
The
分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208Bが存在することで共振抑制効果ある。
A
なお、本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で多くの変形が可能である。また、本発明の実施形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施形態に記載されたものに限定されない。 The present invention is not limited to the embodiment described above, and many modifications are possible within the technical idea of the present invention. In addition, the effects described in the embodiments of the present invention only list the most preferable effects resulting from the present invention, and the effects of the present invention are not limited to those described in the embodiments of the present invention.
上記実施形態では、バス配線を伝送する信号が、アドレス/コマンド信号である場合について説明したが、これに限定するものではなく、例えばCLK信号などの差動信号でもよい。 In the above embodiment, the case where the signal transmitted through the bus wiring is the address / command signal has been described. However, the present invention is not limited to this and may be a differential signal such as a CLK signal.
また、上記実施形態では、プリント回路板が、メモリシステムであり、プリント配線板が、メモリデバイスおよびメモリコントローラが実装されるマザーボードである場合について説明したが、これに限定するものではない。プリント回路板が、プリント配線板としてのモジュール基板と、モジュール基板に実装されたメモリデバイスとで構成されたメモリモジュール(DIMM)であってもよい。この場合、メモリコントローラは、マザーボードに実装されており、メモリモジュールをマザーボードにコネクタ等で接続することにより、メモリコントローラとメモリデバイスとが電気的に接続されることになる。 In the above-described embodiment, the case where the printed circuit board is a memory system and the printed wiring board is a motherboard on which the memory device and the memory controller are mounted has been described. However, the present invention is not limited to this. The printed circuit board may be a memory module (DIMM) composed of a module board as a printed wiring board and a memory device mounted on the module board. In this case, the memory controller is mounted on the motherboard, and the memory controller and the memory device are electrically connected by connecting the memory module to the motherboard with a connector or the like.
また、上記実施形態では、抵抗成分、始点側抵抗成分、終端側抵抗成分が抵抗素子である場合について説明したが、これに限定するものではなく、主配線に対して配線幅を狭めた導体パターン等で電気抵抗値を高めてもよい。 Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where a resistance component, a starting point side resistance component, and a termination side resistance component were resistance elements, it is not limited to this, The conductor pattern which narrowed the wiring width with respect to the main wiring For example, the electrical resistance value may be increased.
100…メモリシステム(プリント回路板)、200…マザーボード(プリント配線板)、201…バス配線(信号配線)、206A〜206H…分岐配線、207A…分岐箇所(始端側分岐箇所)、207B…分岐箇所(第1分岐箇所)、207C…分岐箇所(第2分岐箇所)、207D…分岐箇所(終端側分岐箇所)、208B…抵抗素子(抵抗成分)、216…主配線、301…メモリコントローラ(送信回路)、302A〜302H…メモリデバイス(受信回路)
DESCRIPTION OF
Claims (13)
前記プリント配線板に実装され、送信回路から送信された信号を、前記プリント配線板の前記信号線を介して受信する複数の受信回路と、を備え、
前記信号線は、前記送信回路に接続される始端を有する主配線と、前記主配線のそれぞれ異なる複数の分岐箇所から分岐して、前記複数の受信回路にそれぞれ接続された複数の分岐配線と、を有し、
前記複数の分岐箇所のうち、第1分岐箇所と、前記第1分岐箇所に隣接し、前記第1分岐箇所よりも前記始端に対して遠い側の第2分岐箇所との間に、前記主配線に対して直列に接続された、前記主配線の電気抵抗値よりも高い電気抵抗値の抵抗成分が設けられていることを特徴とするプリント回路板。 A printed wiring board on which signal lines are formed;
A plurality of receiving circuits mounted on the printed wiring board and receiving signals transmitted from the transmitting circuit via the signal lines of the printed wiring board;
The signal line includes a main wiring having a starting end connected to the transmission circuit, a plurality of branch wirings branched from a plurality of different branch locations of the main wiring and respectively connected to the plurality of receiving circuits, Have
Among the plurality of branch locations, the main wiring is between a first branch location and a second branch location adjacent to the first branch location and farther from the start end than the first branch location. A printed circuit board comprising a resistance component having an electrical resistance value higher than the electrical resistance value of the main wiring connected in series.
前記受信回路が、前記メモリコントローラにより制御されるメモリデバイスであることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載のプリント回路板。 The transmission circuit is a memory controller;
The printed circuit board according to claim 1, wherein the receiving circuit is a memory device controlled by the memory controller.
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2015
- 2015-08-07 JP JP2015157346A patent/JP2017037409A/en active Pending
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