JP2017037409A - Printed circuit board - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To suppress increase in a signal amplitude generated in a certain frequency band in a reception circuit connected to a signal line.SOLUTION: A memory system 100 includes: a mother board 200 which is formed with a bus wiring 201; and a plurality of memory devices 302A-302H which are installed on the mother board 200 and receive signals transmitted from a memory controller 301 through the bus wiring 201. The bus wiring 201 includes a main wiring 216 and a plurality of branched wirings 206A-206H branched from a plurality of different branch spots 207A-207D of the main wiring 216 and connected to the plurality of memory devices 302A-302H. A resistance element 208B which is serially connected to the main wiring 216 and has a higher electric resistance value than the electric resistance value of the main wiring 216 is provided between the branch spots 207B, 207C out of the plurality of branch spots 207A-207D.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、主配線と複数の分岐配線とを有する信号線を介して信号を受信する複数の受信回路を備えたプリント回路板に関する。   The present invention relates to a printed circuit board including a plurality of receiving circuits that receive signals via a signal line having a main wiring and a plurality of branch wirings.

一般に、メモリシステムは、メモリコントローラと複数のメモリデバイスとを有して構成されている。メモリデバイスとしては、DDR3−SDRAM(Double Data Rate 3 Synchronous Dynamic Random Access Memory)が一般的に知られている。   In general, a memory system includes a memory controller and a plurality of memory devices. As a memory device, DDR3-SDRAM (Double Data Rate 3 Synchronous Dynamic Random Access Memory) is generally known.

メモリコントローラは、アドレス信号又はコマンド信号(アドレス/コマンド信号)を送信し、各メモリデバイスは、アドレス/コマンド信号を受信することで制御され、メモリコントローラと複数のメモリデバイスとの間でデータ信号の送受信が行われる。特に高機能な電子機器では、メモリ容量の確保のため、複数のDDR3−SDRAMを搭載して使用する場合が多い。   The memory controller transmits an address signal or a command signal (address / command signal), and each memory device is controlled by receiving the address / command signal, and a data signal is transmitted between the memory controller and the plurality of memory devices. Transmission / reception is performed. In particular, a highly functional electronic device often uses a plurality of DDR3-SDRAMs in order to secure a memory capacity.

DDR3−SDRAMであるメモリデバイスは、信号伝送タイミングを調整する機能を内蔵している。各メモリデバイスは、アドレス/コマンド信号の高速化が可能なフライバイと呼ばれる一筆書きの主配線から分岐する分岐配線に接続されている(非特許文献1参照)。非特許文献1において、フライバイ配線構造となる信号線の各部位の配線長は厳密に定義されている。フライバイ配線構造は、次世代のDDR4−SDRAMでの採用も決まっている。   A memory device that is a DDR3-SDRAM has a function of adjusting signal transmission timing. Each memory device is connected to a branch wiring that branches from a one-stroke main wiring called flyby capable of increasing the address / command signal speed (see Non-Patent Document 1). In Non-Patent Document 1, the wiring length of each part of a signal line having a fly-by wiring structure is strictly defined. The fly-by wiring structure is also decided to be adopted in the next generation DDR4-SDRAM.

DDR3−SDRAMの動作速度範囲は、800[Mbps]〜1600[Mbps]であったが、規格の更新により2133[Mbps]まで拡張されている。また、DDR4−SDRAMの動作速度範囲は、1600[Mbps]〜3200[Mbps]が見込まれているが、今後更に高速に拡張される可能性もある。   The operating speed range of the DDR3-SDRAM was 800 [Mbps] to 1600 [Mbps], but has been extended to 2133 [Mbps] by the update of the standard. Further, the operating speed range of DDR4-SDRAM is expected to be 1600 [Mbps] to 3200 [Mbps], but there is a possibility that it will be expanded further in the future.

JEDEC standard No.21C PC3−6400/PC3−8500/PC3−10600/PC3−12800/PC3−14900/PC3−17000 DDR3 Unbuffered SO−DIMM Reference Design Specification Revision 2.0JEDEC standard No. 21C PC3-6400 / PC3-8500 / PC3-10600 / PC3-12800 / PC3-1490 / PC3-17000 DDR3 Unbuffered SO-DIMM Reference Design Specification Revision 2.0

しかしながら、フライバイ配線構造をとる信号線に印加する信号のデータ伝送速度を高速化した場合、ある周波数帯域で受信回路に到達する信号振幅が著しく増加する現象が確認された。特に、信号線の中央に接続された受信回路において、信号振幅の増加が大きくなる傾向にあった。このような受信回路における信号振幅の増加は、受信回路の寿命劣化や破損の原因となる。   However, it has been confirmed that when the data transmission speed of a signal applied to a signal line having a fly-by wiring structure is increased, the signal amplitude reaching the receiving circuit in a certain frequency band is remarkably increased. In particular, in the receiving circuit connected to the center of the signal line, the increase in signal amplitude tends to increase. Such an increase in signal amplitude in the receiving circuit causes a deterioration in the life or damage of the receiving circuit.

そこで、本発明は、信号線に接続された受信回路において、ある周波数帯域で発生する信号振幅の増加を抑制することを目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to suppress an increase in signal amplitude that occurs in a certain frequency band in a receiving circuit connected to a signal line.

本発明のプリント回路板は、信号線が形成されたプリント配線板と、前記プリント配線板に実装され、送信回路から送信された信号を、前記プリント配線板の前記信号線を介して受信する複数の受信回路と、を備え、前記信号線は、前記送信回路に接続される始端を有する主配線と、前記主配線のそれぞれ異なる複数の分岐箇所から分岐して、前記複数の受信回路にそれぞれ接続された複数の分岐配線と、を有し、前記複数の分岐箇所のうち、第1分岐箇所と、前記第1分岐箇所に隣接し、前記第1分岐箇所よりも前記始端に対して遠い側の第2分岐箇所との間に、前記主配線に対して直列に接続された、前記主配線の電気抵抗値よりも高い電気抵抗値の抵抗成分が設けられていることを特徴とする。   The printed circuit board of the present invention includes a printed wiring board on which signal lines are formed, and a plurality of signals that are mounted on the printed wiring board and that receive signals transmitted from a transmission circuit via the signal lines of the printed wiring board. And the signal line branches from a plurality of different branch locations of the main wiring and the main wiring having a starting end connected to the transmission circuit, and is connected to the plurality of receiving circuits, respectively. A plurality of branch wirings, and among the plurality of branch points, a first branch point, adjacent to the first branch point, and farther from the start end than the first branch point. A resistance component having an electrical resistance value higher than the electrical resistance value of the main wiring, connected in series to the main wiring, is provided between the second branch portion.

本発明によれば、信号線に接続された受信回路において、ある周波数帯域で発生する信号振幅の増加を抑制することができる。   According to the present invention, an increase in signal amplitude that occurs in a certain frequency band can be suppressed in a receiving circuit connected to a signal line.

第1実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。1 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to a first embodiment. 第1実施形態において抵抗素子が実装された付近のマザーボードの平面図である。It is a top view of the motherboard of the vicinity where the resistive element was mounted in 1st Embodiment. 第1実施形態のメモリシステムにおいて各メモリデバイスにて受信される信号の波形図である。It is a wave form diagram of the signal received in each memory device in the memory system of a 1st embodiment. 第2実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。It is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to a second embodiment. 第3実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。It is a topology diagram which shows the wiring structure of the memory system as an example of the printed circuit board concerning 3rd Embodiment. 第4実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。It is a topology diagram which shows the wiring structure of the memory system as an example of the printed circuit board concerning 4th Embodiment. 第5実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。FIG. 10 is a topology diagram illustrating a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to a fifth embodiment. 第6実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。It is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to a sixth embodiment. 第7実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。It is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to a seventh embodiment. 比較例のプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。It is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board of a comparative example. 比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイスにて受信される信号の波形図である。It is a wave form diagram of the signal received in each memory device in the memory system of a comparative example. (a)は、比較例のメモリシステムにおいてメモリコントローラから各メモリデバイスへ信号を送信した状態を示す模式図である。(b)は、比較例のメモリシステムにおいてメモリコントローラから各メモリデバイスへの信号の透過特性を周波数毎に示したグラフである。(A) is a schematic diagram which shows the state which transmitted the signal from the memory controller to each memory device in the memory system of a comparative example. (B) is the graph which showed the permeation | transmission characteristic of the signal from a memory controller to each memory device for every frequency in the memory system of a comparative example. (a)は、比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイス間の信号の透過特性を示す模式図である。(b)は、比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイス間の信号の透過特性を周波数毎に示したグラフである。(A) is a schematic diagram which shows the transmission characteristic of the signal between each memory device in the memory system of a comparative example. (B) is the graph which showed the transmission characteristic of the signal between each memory device for every frequency in the memory system of a comparative example.

以下、本発明を実施するための形態を、図面を参照しながら詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

[第1実施形態]
図1は、本発明の第1実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。プリント回路板であるメモリシステム100は、プリント配線板であるマザーボード200と、送信回路であるメモリコントローラ301と、複数の受信回路である複数(第1実施形態では8つ)のメモリデバイス302A〜302Hと、を備えている。第1実施形態では、メモリデバイス302A〜302Hは、DDR3−SDRAM又はDDR4−SDRAMである。メモリコントローラ301及び複数のメモリデバイス302A〜302Hは、マザーボード200に実装されている。具体的に説明すると、メモリコントローラ301は、マザーボード200の表面及び裏面のうちいずれか一方に実装されている。メモリデバイス302A,302C,302E,302Gは、表面に実装され、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hは、裏面に実装されている。なお、表面及び裏面は相対的なものであり、表面を一方の表面又は第1表面、表面とは反対側の裏面を他方の表面又は第2表面ともいう。また、マザーボード200の表面を表層、裏面を裏層ともいう。表層(導体層)と裏層(導体層)との間には、絶縁体層を介して内層(導体層)が配置されている。導体層は、導体パターンが配置されている層である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the first embodiment of the present invention. A memory system 100 that is a printed circuit board includes a motherboard 200 that is a printed wiring board, a memory controller 301 that is a transmission circuit, and a plurality (eight in the first embodiment) of memory devices 302A to 302H that are a plurality of reception circuits. And. In the first embodiment, the memory devices 302A to 302H are DDR3-SDRAM or DDR4-SDRAM. The memory controller 301 and the plurality of memory devices 302A to 302H are mounted on the mother board 200. More specifically, the memory controller 301 is mounted on either the front surface or the back surface of the motherboard 200. The memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G are mounted on the front surface, and the memory devices 302B, 302D, 302F, and 302H are mounted on the back surface. The front surface and the back surface are relative, and the surface is also referred to as one surface or the first surface, and the back surface opposite to the surface is also referred to as the other surface or the second surface. Further, the surface of the mother board 200 is also referred to as a surface layer, and the back surface is also referred to as a back layer. Between the surface layer (conductor layer) and the back layer (conductor layer), an inner layer (conductor layer) is disposed via an insulator layer. The conductor layer is a layer in which a conductor pattern is disposed.

メモリコントローラ301は、メモリデバイス302A〜302Hを制御するものである。メモリコントローラ301は、メモリデバイス302A〜302Hへデジタル信号、第1実施形態では、制御信号であるアドレス/コマンド信号を、マザーボード200を介して送信する。   The memory controller 301 controls the memory devices 302A to 302H. The memory controller 301 transmits digital signals to the memory devices 302 </ b> A to 302 </ b> H via the motherboard 200 in the first embodiment, which is an address / command signal that is a control signal.

各メモリデバイス302A〜302Hは、マザーボード200を介してメモリコントローラ301から送信されたアドレス/コマンド信号を受信する。そして、メモリコントローラ301と各メモリデバイス302A〜302Hとは、データ信号の送受信を行う。   Each of the memory devices 302A to 302H receives an address / command signal transmitted from the memory controller 301 via the motherboard 200. The memory controller 301 and each of the memory devices 302A to 302H transmit and receive data signals.

メモリコントローラ301は、送信素子であるコントロールセル311と、コントロールセル311に接続された送信端子312と、を有する半導体パッケージである。メモリデバイス302A〜302Hは、受信素子であるメモリセル321A〜321Hと、メモリセル321A〜321Hに内部配線323A〜323Hを介して接続された受信端子322A〜322Hとを有する半導体パッケージである。なお、内部配線323A〜323Hは、メモリデバイス302A〜302Hの実効的な配線である。各メモリデバイス302A〜302Hは、同一構成の半導体パッケージであり、特性が同一のものである。   The memory controller 301 is a semiconductor package having a control cell 311 that is a transmission element, and a transmission terminal 312 connected to the control cell 311. The memory devices 302A to 302H are semiconductor packages having memory cells 321A to 321H as receiving elements and receiving terminals 322A to 322H connected to the memory cells 321A to 321H via internal wirings 323A to 323H. The internal wirings 323A to 323H are effective wirings of the memory devices 302A to 302H. Each of the memory devices 302A to 302H is a semiconductor package having the same configuration and having the same characteristics.

マザーボード200は、メモリコントローラ301(送信素子)とメモリデバイス302A〜302H(受信素子)とをフライバイ方式により接続する信号線であるバス配線201を有している。第1実施形態では、アドレス信号用のバス配線及びコマンド信号用のバス配線は、フライバイ方式によるフライバイ配線構造であり、これら複数のバス配線(信号線)のうちの1つのバス配線201を、図1に示している。   The motherboard 200 includes a bus wiring 201 that is a signal line that connects the memory controller 301 (transmission element) and the memory devices 302A to 302H (reception elements) by a fly-by method. In the first embodiment, the address signal bus wiring and the command signal bus wiring have a fly-by wiring structure based on the fly-by method, and one bus wiring 201 of the plurality of bus wirings (signal lines) is illustrated in FIG. 1 shows.

バス配線201は、始端217がメモリコントローラ301の送信端子312に電気的に接続され、終端218が終端抵抗(ターミネータ)310の一端に電気的に接続された主配線216を有している。主配線216は、始端217から終端218まで配線方向に一筆書き状に延びて形成されている。終端抵抗310の他端は、終端電位が印加される終端配線211に電気的に接続されている。このように、主配線216の始端217がメモリコントローラ301に電気的に接続され、終端218が終端抵抗(ターミネータ)310に電気的に接続されているので、終端218における信号の反射が終端抵抗310により抑制されている。   The bus wiring 201 has a main wiring 216 in which a start end 217 is electrically connected to the transmission terminal 312 of the memory controller 301 and a termination 218 is electrically connected to one end of a termination resistor (terminator) 310. The main wiring 216 is formed so as to extend from the start end 217 to the end 218 in a single stroke in the wiring direction. The other end of the termination resistor 310 is electrically connected to a termination wiring 211 to which a termination potential is applied. As described above, since the start end 217 of the main wiring 216 is electrically connected to the memory controller 301 and the termination 218 is electrically connected to the termination resistor (terminator) 310, the reflection of the signal at the termination 218 is caused by the termination resistor 310. It is suppressed by.

主配線216は、それぞれ異なる位置にある複数の分岐箇所として、4つの分岐箇所207A〜207Dを有している。具体的には、主配線216は、始端217に近い側から順に、始端側分岐箇所である分岐箇所207Aと、第1分岐箇所である分岐箇所207Bと、第2分岐箇所である分岐箇所207Cと、終端側分岐箇所である分岐箇所207Dとを有する。つまり、分岐箇所207Cは、分岐箇所207Bに隣接し、分岐箇所207Bよりも始端217に対して遠い側の分岐箇所である。また、分岐箇所207Dは、分岐箇所207Cに隣接し、分岐箇所207Cよりも始端217に対して遠い側の分岐箇所である。また、分岐箇所207Aは、分岐箇所207Bに隣接し、分岐箇所207Bよりも始端217に対して近い側の分岐箇所である。   The main wiring 216 has four branch points 207A to 207D as a plurality of branch points at different positions. Specifically, the main wiring 216 includes, in order from the side closer to the start end 217, a branch location 207A that is a start end side branch location, a branch location 207B that is a first branch location, and a branch location 207C that is a second branch location. And a branch point 207D which is a terminal side branch point. That is, the branch point 207C is a branch point adjacent to the branch point 207B and farther from the start end 217 than the branch point 207B. The branch point 207D is a branch point adjacent to the branch point 207C and farther from the start end 217 than the branch point 207C. The branch point 207A is a branch point adjacent to the branch point 207B and closer to the start end 217 than the branch point 207B.

また、主配線216は、始端217と分岐箇所207Aとの間の部分配線203と、分岐箇所207Aと分岐箇所207Bとの間の部分配線204Aとを有している。また、主配線216は、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間の部分配線204B1,204B2と、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間の部分配線204Cと、分岐箇所207Dと終端218との間の部分配線205とを有している。   Further, the main wiring 216 has a partial wiring 203 between the start end 217 and the branch location 207A, and a partial wiring 204A between the branch location 207A and the branch location 207B. The main wiring 216 includes the partial wirings 204B1 and 204B2 between the branch point 207B and the branch point 207C, the partial wiring 204C between the branch point 207C and the branch point 207D, and between the branch point 207D and the end point 218. The partial wiring 205 is provided.

バス配線201は、分岐箇所207Aから分岐して、メモリデバイス302A,302Bの受信端子322A,322Bに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206A,206Bを有している。また、バス配線201は、分岐箇所207Bから分岐して、メモリデバイス302C,302Dの受信端子322C,322Dに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206C,206Dを有している。また、バス配線201は、分岐箇所207Cから分岐して、メモリデバイス302E,302Fの受信端子322E,322Fに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206E,206Fを有している。また、バス配線201は、分岐箇所207Dから分岐して、メモリデバイス302G,302Hの受信端子322G,322Hに電気的に接続された複数(第1実施形態では2つ)の分岐配線206G,206Hを有している。   The bus wiring 201 has a plurality of (two in the first embodiment) branch wirings 206A and 206B that branch from the branch point 207A and are electrically connected to the reception terminals 322A and 322B of the memory devices 302A and 302B. ing. In addition, the bus wiring 201 branches from the branch location 207B and includes a plurality of (two in the first embodiment) branch wirings 206C and 206D that are electrically connected to the reception terminals 322C and 322D of the memory devices 302C and 302D. Have. In addition, the bus wiring 201 branches from the branch location 207C and includes a plurality of (two in the first embodiment) branch wirings 206E and 206F electrically connected to the reception terminals 322E and 322F of the memory devices 302E and 302F. Have. In addition, the bus wiring 201 branches from the branch location 207D and includes a plurality (two in the first embodiment) of branch wirings 206G and 206H that are electrically connected to the receiving terminals 322G and 322H of the memory devices 302G and 302H. Have.

具体的に説明すると、分岐配線206Aの配線方向の一端219Aと分岐配線206Bの配線方向の一端219Bとが分岐箇所207Aに電気的に接続されている。また、分岐配線206Cの配線方向の一端219Cと分岐配線206Dの配線方向の一端219Dとが分岐箇所207Bに電気的に接続されている。また、分岐配線206Eの配線方向の一端219Eと分岐配線206Fの配線方向の一端219Fとが分岐箇所207Cに電気的に接続されている。また、分岐配線206Gの配線方向の一端219Gと分岐配線206Hの配線方向の一端219Hとが分岐箇所207Dに電気的に接続されている。   Specifically, one end 219A in the wiring direction of the branch wiring 206A and one end 219B in the wiring direction of the branch wiring 206B are electrically connected to the branch location 207A. Also, one end 219C in the wiring direction of the branch wiring 206C and one end 219D in the wiring direction of the branch wiring 206D are electrically connected to the branch location 207B. Also, one end 219E in the wiring direction of the branch wiring 206E and one end 219F in the wiring direction of the branch wiring 206F are electrically connected to the branch location 207C. Also, one end 219G in the wiring direction of the branch wiring 206G and one end 219H in the wiring direction of the branch wiring 206H are electrically connected to the branch location 207D.

また、各分岐配線206A〜206Hの配線方向の他端220A〜220Hが、各メモリデバイス302A〜302Hの受信端子322A〜322Hにそれぞれ電気的に接続されている。分岐配線206A〜206Hは、配線長(配線方向の長さ)が同一に設定されている。   The other ends 220A to 220H in the wiring direction of the branch wirings 206A to 206H are electrically connected to the reception terminals 322A to 322H of the memory devices 302A to 302H, respectively. The branch wirings 206A to 206H are set to have the same wiring length (length in the wiring direction).

このように、第1実施形態では、分岐箇所207Aには、複数(2つ)のメモリデバイス302A,302Bが電気的に接続され、分岐箇所207Bには、複数(2つ)のメモリデバイス302C,302Dが電気的に接続されている。また、分岐箇所207Cには、複数(2つ)のメモリデバイス302E,302Fが電気的に接続され、分岐箇所207Dには、複数(2つ)のメモリデバイス302G,302Hが電気的に接続されている。   Thus, in the first embodiment, a plurality (two) of memory devices 302A and 302B are electrically connected to the branch location 207A, and a plurality (two) of memory devices 302C, 302B are connected to the branch location 207B. 302D is electrically connected. In addition, a plurality (two) of memory devices 302E and 302F are electrically connected to the branch location 207C, and a plurality (two) of memory devices 302G and 302H are electrically connected to the branch location 207D. Yes.

図1では、各メモリデバイス302A〜302Hが備えるメモリセルを1つ図示しているが、各メモリデバイスは、複数のメモリセルを有しており、各メモリデバイスにおけるそれぞれのメモリセルが、対応するバス配線でそれぞれ接続されている。   In FIG. 1, one memory cell included in each of the memory devices 302 </ b> A to 302 </ b> H is illustrated. However, each memory device has a plurality of memory cells, and each memory cell in each memory device corresponds to each memory device. They are connected by bus wiring.

なお、各分岐箇所207A〜207Dに接続されたメモリデバイスの数を2つとしたが、3つ以上としてもよい。   Although the number of memory devices connected to each of the branch locations 207A to 207D is two, it may be three or more.

第1実施形態では、主配線216は、マザーボード200の内層と表層又は裏層とに跨って形成されている。分岐配線206A,206C,206E,206Gは、マザーボード200の内層と表層とに跨って形成されている。分岐配線206B,206D,206F,206Hは、マザーボード200の内層と裏層とに跨って形成されている。   In the first embodiment, the main wiring 216 is formed across the inner layer and the surface layer or the back layer of the mother board 200. The branch wirings 206A, 206C, 206E, and 206G are formed across the inner layer and the surface layer of the mother board 200. The branch wirings 206B, 206D, 206F, and 206H are formed across the inner layer and the back layer of the mother board 200.

メモリデバイス302A〜302Hは、BGA型の半導体パッケージである。メモリデバイス302A,302C,302E,302Gはマザーボード200の表面に、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hはマザーボード200の裏面にそれぞれ実装される。   The memory devices 302A to 302H are BGA type semiconductor packages. The memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G are mounted on the front surface of the motherboard 200, and the memory devices 302B, 302D, 302F, and 302H are mounted on the back surface of the motherboard 200, respectively.

ここで、分岐配線206C(206D)における実効分岐配線長とは、分岐配線206C(206D)の配線長と、メモリデバイス302C(302D)の内部の実効的な配線323C(323D)の実効配線長とを合計した配線長である。また、分岐配線206E(206F)における実効分岐配線長とは、分岐配線206E(206F)の配線長と、メモリデバイス302E(302F)の内部の実効的な配線323E(323F)の実効配線長とを合計した配線長である。   Here, the effective branch wiring length in the branch wiring 206C (206D) is the wiring length of the branch wiring 206C (206D) and the effective wiring length of the effective wiring 323C (323D) inside the memory device 302C (302D). Is the total wiring length. The effective branch wiring length in the branch wiring 206E (206F) is the wiring length of the branch wiring 206E (206F) and the effective wiring length of the effective wiring 323E (323F) inside the memory device 302E (302F). The total wiring length.

第1実施形態では、図1に示すように、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち互いに隣り合う2つの分岐箇所207B,207Cの間に、2つの分岐箇所207B,207Cを電気的に接続する、抵抗成分である抵抗素子208Bが設けられている。抵抗素子208Bは、主配線216や分岐配線206A〜206Hの電気抵抗値(例えば数mΩ程度)よりも高い電気抵抗値の抵抗素子(チップ抵抗)である。抵抗素子208Bは、主配線216に対して直列に接続され、マザーボード200の表面又は裏面に実装されている。つまり、抵抗素子208Bは、メモリデバイス302C(302D)とメモリデバイス302E(302F)との間に、主配線216と直列に設けられている。   In the first embodiment, as shown in FIG. 1, two branch points 207B and 207C are electrically connected between two branch points 207B and 207C adjacent to each other among a plurality of branch points 207A to 207D. A resistance element 208B which is a resistance component is provided. The resistance element 208B is a resistance element (chip resistance) having an electrical resistance value higher than that of the main wiring 216 and the branch wirings 206A to 206H (for example, about several mΩ). The resistance element 208 </ b> B is connected in series to the main wiring 216 and is mounted on the front surface or the back surface of the motherboard 200. That is, the resistance element 208B is provided in series with the main wiring 216 between the memory device 302C (302D) and the memory device 302E (302F).

図2は、本発明の第1実施形態において抵抗素子が実装された付近のマザーボードの平面図である。図2では、抵抗素子208Bは、メモリデバイス302C,302Eが実装された表面(実装面)に実装されている場合について図示している。   FIG. 2 is a plan view of the mother board in the vicinity where the resistance element is mounted in the first embodiment of the present invention. FIG. 2 illustrates the case where the resistance element 208B is mounted on the surface (mounting surface) on which the memory devices 302C and 302E are mounted.

分岐配線206Cは、分岐配線206Cの他端を構成する実装パッド220Cと、ヴィア241Cと、配線パターン242Cとからなる。実装パッド220Cは、メモリデバイス302Cの端子322Cが接合された導体パッドである。配線パターン242Cは、実装パッド220Cとヴィア241Cとを接続する導体パターンである。ヴィア241Cは、異なる層にある点線で表示された主配線216に接続されたヴィア導体である。   The branch wiring 206C includes a mounting pad 220C that constitutes the other end of the branch wiring 206C, a via 241C, and a wiring pattern 242C. The mounting pad 220C is a conductor pad to which the terminal 322C of the memory device 302C is bonded. The wiring pattern 242C is a conductor pattern that connects the mounting pad 220C and the via 241C. The via 241C is a via conductor connected to the main wiring 216 indicated by a dotted line in a different layer.

同様に、分岐配線206Eは、分岐配線206Eの他端を構成する実装パッド220Eと、ヴィア241Eと、配線パターン242Eとからなる。実装パッド220Eは、メモリデバイス302Eの端子322Eが接合された導体パッドである。配線パターン242Eは、実装パッド220Eとヴィア241Eと接続する導体パターンである。ヴィア241Eは、異なる層にある点線で表示された主配線216に接続されたヴィア導体である。   Similarly, the branch wiring 206E includes a mounting pad 220E that constitutes the other end of the branch wiring 206E, a via 241E, and a wiring pattern 242E. The mounting pad 220E is a conductor pad to which the terminal 322E of the memory device 302E is bonded. The wiring pattern 242E is a conductor pattern connected to the mounting pad 220E and the via 241E. The via 241E is a via conductor connected to the main wiring 216 indicated by a dotted line in a different layer.

図2では、主配線216が複数(12本)図示されており、各主配線216がそれぞれの分岐配線に接続されている。   In FIG. 2, a plurality (12) of main wirings 216 are shown, and each main wiring 216 is connected to a respective branch wiring.

なお、エリア400にも実装パッドやヴィア等の分岐配線があり、他と同層又は異層に主配線もあるが、図示を省略する。また、図示は省略するが、メモリデバイス302C,302Eの底面には、受信端子322C,322Eがアレイ状に複数設けられている。したがって、複数の実装パッド220C(220E)は、アレイ状に配置されている。各実装パッド220C(220E)は、不図示のはんだボール等の接続導体でメモリデバイス302C(302E)の受信端子322C(322E)に電気的に接続されている。   In addition, there are branch wirings such as mounting pads and vias in the area 400, and there are also main wirings in the same layer or different layers, but the illustration is omitted. Although not shown, a plurality of receiving terminals 322C and 322E are provided in an array on the bottom surface of the memory devices 302C and 302E. Therefore, the plurality of mounting pads 220C (220E) are arranged in an array. Each mounting pad 220C (220E) is electrically connected to the receiving terminal 322C (322E) of the memory device 302C (302E) by a connection conductor such as a solder ball (not shown).

主配線216の部分配線204B1を構成する実装パッド407−1には、抵抗素子208Bの一対の端子のうち一方の端子が接合されている。主配線216の部分配線204B2を構成する実装パッド407−2には、抵抗素子208Bの一対の端子のうち他方の端子が接合されている。2つの実装パッド407−1,407−2は、ヴィア405−1,405−2を介してそれぞれ内層パターンと接続されている。   One terminal of the pair of terminals of the resistance element 208B is joined to the mounting pad 407-1 constituting the partial wiring 204B1 of the main wiring 216. The other terminal of the pair of terminals of the resistance element 208B is joined to the mounting pad 407-2 constituting the partial wiring 204B2 of the main wiring 216. The two mounting pads 407-1 and 407-2 are connected to the inner layer pattern via the vias 405-1 and 405-2, respectively.

なお、抵抗素子208Bが、メモリデバイス302C,302Eが実装された表面(実装面)に実装された場合について説明したが、メモリデバイス302D,302Fが実装された裏面(実装面)に実装された場合であっても、同様の配線構造となる。   Although the case where the resistance element 208B is mounted on the front surface (mounting surface) on which the memory devices 302C and 302E are mounted has been described, the case where the resistance element 208B is mounted on the back surface (mounting surface) on which the memory devices 302D and 302F are mounted. Even so, the wiring structure is similar.

ここで、比較例として抵抗素子がない場合について説明する。図10は、比較例のプリント回路板の一例としてのメモリシステム100Xの配線構成を示すトポロジー図である。なお、図10に示すメモリシステム100Xは、マザーボード200Xを有している。マザーボード200Xは、バス配線201Xを有している。バス配線201Xは、主配線216Xを有している。   Here, a case where there is no resistance element will be described as a comparative example. FIG. 10 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system 100X as an example of a printed circuit board of a comparative example. Note that the memory system 100X illustrated in FIG. 10 includes a motherboard 200X. The motherboard 200X has a bus wiring 201X. The bus wiring 201X has a main wiring 216X.

図10に示す主配線216Xは、図1に示す主配線216に対して、抵抗素子208Bがなく、それ以外の構成は、第1実施形態のメモリシステム100と同様である。即ち、主配線216Xは、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとを接続する、第1実施形態の部分配線204B1と部分配線204B2とを合計した長さの部分配線204Bを有する。   The main wiring 216X shown in FIG. 10 does not have the resistance element 208B compared to the main wiring 216 shown in FIG. 1, and the other configuration is the same as that of the memory system 100 of the first embodiment. That is, the main wiring 216X has a partial wiring 204B having a total length of the partial wiring 204B1 and the partial wiring 204B2 of the first embodiment, which connects the branch location 207B and the branch location 207C.

この比較例のフライバイ配線条件で、印加する信号の周波数を上げていくと、周波数が高いある周波数帯域で信号の増加現象(共振現象)が発生する。特にフライバイ配線構造のバス配線201Xの中央のメモリデバイス302C,302D,302E,302Fで受信される信号の電圧振幅の増加が大きくなる。   When the frequency of the signal to be applied is increased under the fly-by wiring conditions of this comparative example, a signal increase phenomenon (resonance phenomenon) occurs in a frequency band having a high frequency. In particular, the increase in voltage amplitude of signals received by the memory devices 302C, 302D, 302E, and 302F at the center of the bus wiring 201X having the fly-by wiring structure becomes large.

図11は、比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイスにて受信される信号の波形図である。   FIG. 11 is a waveform diagram of signals received by each memory device in the memory system of the comparative example.

以下にシミュレーションを行った条件を示す。図10のトポロジーに対し、メモリコントローラ301が送信する信号(パルス)の電圧は、1.2[V]で、内部特性インピーダンスは50[Ω]、印加する周波数成分のみの正弦波を印加した。メモリデバイス302A〜302Hは1.7[pF]で負荷近似した。全ての配線の特性インピーダンスは50[Ω]とした。   The simulation conditions are shown below. For the topology of FIG. 10, the voltage of the signal (pulse) transmitted by the memory controller 301 is 1.2 [V], the internal characteristic impedance is 50 [Ω], and a sine wave of only the applied frequency component is applied. The memory devices 302A to 302H approximated the load at 1.7 [pF]. The characteristic impedance of all wirings was 50 [Ω].

部分配線203の伝播遅延時間を500[pS]とした。部分配線204A,204B,204Cの伝播遅延時間を120[pS]とした。部分配線205の伝搬遅延時間を66[pS]とした。終端抵抗310の抵抗値は50[Ω]、終端配線211に印加した終端電位は0.6[V]とした。さらに、マザーボード200の分岐配線206A〜206Hの配線長と、メモリデバイス302A〜302H内部の実効的な配線長との合計の配線長(実効分岐配線長)は、180[pS]の条件で行った。ここで、図11には、メモリコントローラ301から送信される信号の周波数を1[GHz]とした場合を図示している。また、図11には、マザーボード200Xの表面に実装されたメモリデバイス302A,302C,302E,302Gにて受信される信号波形を図示している。   The propagation delay time of the partial wiring 203 was set to 500 [pS]. The propagation delay time of the partial wirings 204A, 204B, and 204C is 120 [pS]. The propagation delay time of the partial wiring 205 is 66 [pS]. The resistance value of the termination resistor 310 was 50 [Ω], and the termination potential applied to the termination wiring 211 was 0.6 [V]. Further, the total wiring length (effective branch wiring length) of the branch wirings 206A to 206H of the motherboard 200 and the effective wiring length inside the memory devices 302A to 302H was set to 180 [pS]. . Here, FIG. 11 illustrates a case where the frequency of the signal transmitted from the memory controller 301 is 1 [GHz]. FIG. 11 illustrates signal waveforms received by the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G mounted on the surface of the motherboard 200X.

図11に示すように、印加する信号に対してメモリデバイス302A,302C,302E,302G、特にメモリデバイス302C,302Eにて受信される信号が増幅していることが確認できる。なお、図示は省略するが、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hにて受信される信号についても同様の傾向となる。   As shown in FIG. 11, it can be confirmed that the signals received by the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G, particularly the memory devices 302C and 302E, are amplified with respect to the applied signal. Although illustration is omitted, the same tendency applies to signals received by the memory devices 302B, 302D, 302F, and 302H.

フライバイ配線構造のバス配線201Xの透過特性から図11の現象を分析した結果、メモリデバイス間の配線距離に依存した共振現象が起きていることを見出した。   As a result of analyzing the phenomenon of FIG. 11 from the transmission characteristics of the bus wiring 201X of the fly-by wiring structure, it was found that a resonance phenomenon depending on the wiring distance between the memory devices occurred.

図12(a)は、比較例のメモリシステム100Xにおいてメモリコントローラ301から各メモリデバイス302A,302C,302E,302Gへ信号を送信した状態を示す模式図である。   FIG. 12A is a schematic diagram illustrating a state in which a signal is transmitted from the memory controller 301 to each of the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G in the memory system 100X of the comparative example.

以下にシミュレーションを行った条件を示す。図10のトポロジーに対し、メモリコントローラ301の代わりに50[Ω]のポートを設定し、メモリデバイス302A〜302Hの代わりに1000[Ω]のポートをそれぞれに設定した。全ての配線の特性インピーダンスは50[Ω]とした。   The simulation conditions are shown below. In the topology of FIG. 10, a port of 50 [Ω] is set instead of the memory controller 301, and a port of 1000 [Ω] is set instead of the memory devices 302A to 302H. The characteristic impedance of all wirings was 50 [Ω].

部分配線203の伝播遅延時間を500[pS]とした。部分配線204A,204B,204Cの伝播遅延時間を120[pS]とした。部分配線205の伝搬遅延時間を66[pS]とした。終端抵抗310の抵抗値は50[Ω]、終端配線211の電位は0[V]とした。   The propagation delay time of the partial wiring 203 was set to 500 [pS]. The propagation delay time of the partial wirings 204A, 204B, and 204C is 120 [pS]. The propagation delay time of the partial wiring 205 is 66 [pS]. The resistance value of the termination resistor 310 was 50 [Ω], and the potential of the termination wiring 211 was 0 [V].

さらに、マザーボード200の分岐配線206A〜206Hの配線長と、メモリデバイス302A〜302H内部の実効的な配線長との合計の配線長(実効分岐配線長)は、180[pS]の条件で行った。   Further, the total wiring length (effective branch wiring length) of the branch wirings 206A to 206H of the motherboard 200 and the effective wiring length inside the memory devices 302A to 302H was set to 180 [pS]. .

図12(a)に示すように、メモリコントローラ301から送信された信号のうち、各メモリデバイス302A,302C,302E,302Gにて受信された信号の透過特性をそれぞれS−1,S−2,S−3,S−4とする。つまり、S−1はメモリコントローラ301から1番近いメモリデバイス302Aへの信号の透過特性である。S−2はメモリコントローラ301から2番目に近いメモリデバイス302Cへの信号の透過特性である。S−3はメモリコントローラ301から3番目に近いメモリデバイス302Eへの信号の透過特性である。S−4はメモリコントローラ301から4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。   As shown in FIG. 12A, among the signals transmitted from the memory controller 301, the transmission characteristics of the signals received by the memory devices 302A, 302C, 302E, 302G are respectively S-1, S-2, S-3 and S-4. That is, S-1 is a signal transmission characteristic from the memory controller 301 to the closest memory device 302A. S-2 is a transmission characteristic of a signal from the memory controller 301 to the second closest memory device 302C. S-3 is a signal transmission characteristic from the memory controller 301 to the third closest memory device 302E. S-4 is a transmission characteristic of a signal from the memory controller 301 to the fourth closest memory device 302G.

図12(b)は、比較例のメモリシステムにおいてメモリコントローラから各メモリデバイスへの信号の透過特性S−1〜S−4を周波数毎に示したグラフである。図12(b)中、横軸が周波数、縦軸が透過量となっている。   FIG. 12B is a graph showing signal transmission characteristics S-1 to S-4 for each frequency from the memory controller to each memory device in the memory system of the comparative example. In FIG. 12B, the horizontal axis represents the frequency and the vertical axis represents the transmission amount.

信号の増加現象が発生する高周波帯域(1[GHz])で、特に透過特性S−2,S−3が非常に大きくなっていることを見出した。なお、各分岐箇所から分岐している一対のメモリデバイスは、基本的に同じであるので、一方の特性のみを確認することにし、合計4つの特性を確認した。この周波数について検討した結果、配線上で隣接するメモリデバイス間の実効的な距離をλ/2とする周波数帯であることを見出した。   It has been found that the transmission characteristics S-2 and S-3 are particularly large in the high frequency band (1 [GHz]) where the signal increase phenomenon occurs. Since a pair of memory devices branched from each branch point are basically the same, only one characteristic was confirmed, and a total of four characteristics were confirmed. As a result of studying this frequency, it has been found that the frequency band has an effective distance between adjacent memory devices on the wiring of λ / 2.

ここで、配線上で隣接するメモリデバイス間の実効的な距離について説明する。メモリデバイス302の内部には、パッケージ配線や内部容量により、メモリセル321までの伝搬遅延が存在する。この伝搬遅延を、プリント配線板上の長さに置き換えたものを実効的な内部配線323の配線長と考える。メモリデバイス間の実効的な距離は、この実効的な内部配線323の配線長を含む分岐配線長、即ち内部配線323と分岐配線206との合計の配線長と、主配線の長さと、実効的な内部配線323の配線長を含む分岐配線長の合計で求められる。この実効的な内部配線323の配線長を含む分岐配線長、即ち内部配線323と分岐配線206との合計の配線長はばらつきがあり、メモリベンダーの違いや世代間の違いを考慮すると更に広く考える必要がある。そのため、実際の製品においては、共振が起こる周波数近辺で広い範囲で共振が起こる可能性がある。   Here, an effective distance between adjacent memory devices on the wiring will be described. A propagation delay to the memory cell 321 exists inside the memory device 302 due to package wiring and internal capacitance. A value obtained by replacing this propagation delay with the length on the printed wiring board is considered as the effective wiring length of the internal wiring 323. The effective distance between the memory devices is the branch wiring length including the effective internal wiring 323, that is, the total wiring length of the internal wiring 323 and the branch wiring 206, the length of the main wiring, The total of the branch wiring length including the wiring length of the internal wiring 323 is obtained. The branch wiring length including the effective internal wiring 323, i.e., the total wiring length of the internal wiring 323 and the branch wiring 206 varies, and is considered wider considering the difference between memory vendors and generations. There is a need. Therefore, in an actual product, resonance may occur in a wide range near the frequency at which resonance occurs.

図13(a)は、比較例のメモリシステム100Xにおいて各メモリデバイス302A,302C,302E,302G間の信号の透過特性を示す模式図である。シミュレーション条件は図12の場合と同条件である。図13(a)に示すように、S−12はメモリコントローラ301に対して1番近いメモリデバイス302Aから2番目に近いメモリデバイス302Cへの信号の透過特性である。S−13はメモリコントローラ301に対して1番近いメモリデバイス302Aから3番目に近いメモリデバイス302Eへの信号の透過特性である。S−14はメモリコントローラ301に対して1番近いメモリデバイス302Aから4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。S−23はメモリコントローラ301に対して2番近いメモリデバイス302Cから3番目に近いメモリデバイス302Eへの信号の透過特性である。S−24はメモリコントローラ301に対して2番近いメモリデバイス302Cから4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。S−34はメモリコントローラ301に対して3番近いメモリデバイス302Eから4番目に近いメモリデバイス302Gへの信号の透過特性である。   FIG. 13A is a schematic diagram illustrating signal transmission characteristics between the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G in the memory system 100X of the comparative example. The simulation conditions are the same as those in FIG. As shown in FIG. 13A, S-12 is a signal transmission characteristic from the memory device 302A closest to the memory controller 301 to the memory device 302C closest to the second. S-13 is a signal transmission characteristic from the memory device 302A closest to the memory controller 301 to the memory device 302E closest to the third. S-14 is a signal transmission characteristic from the memory device 302A closest to the memory controller 301 to the memory device 302G closest to the fourth. S-23 is a transmission characteristic of a signal from the memory device 302C closest to the memory controller 301 to the memory device 302E closest to the third. S-24 is a signal transmission characteristic from the memory device 302C closest to the memory controller 301 to the memory device 302G closest to the fourth. S-34 is a transmission characteristic of a signal from the third closest memory device 302E to the fourth closest memory device 302G with respect to the memory controller 301.

図13(b)は、比較例のメモリシステムにおいて各メモリデバイス間の信号の透過特性を周波数毎に示したグラフである。図13(b)中、横軸が周波数、縦軸が透過量となっている。信号の増加現象が発生する高周波領域(1[GHz])では、信号の透過特性S−23が最も大きくなっている。2番目に近いメモリデバイス302C(メモリセル321C)と、3番目に近いメモリデバイス302E(メモリセル321E)は、隣接する2つのメモリデバイスから信号が戻ってくるため、信号が大きくなり易いことに起因すると考えられる。そのため2番目のメモリデバイスと3番目のメモリデバイス間での信号の行き来が大きくなり易いと考えられる。端にあるメモリデバイス302A,302Dでも同様の現象は起こっているが、信号反射の半分がメモリコントローラ301側、もしくは終端側へ伝わり戻って来にくいため、比較的小さくなる。   FIG. 13B is a graph showing signal transmission characteristics between the memory devices for each frequency in the memory system of the comparative example. In FIG. 13B, the horizontal axis represents the frequency and the vertical axis represents the transmission amount. In the high frequency region (1 [GHz]) where the signal increase phenomenon occurs, the signal transmission characteristic S-23 is the largest. The second closest memory device 302C (memory cell 321C) and the third closest memory device 302E (memory cell 321E) are because signals are likely to increase because signals return from two adjacent memory devices. I think that. For this reason, it is considered that the signal going between the second memory device and the third memory device tends to increase. The same phenomenon occurs in the memory devices 302A and 302D at the ends, but it is relatively small because half of the signal reflection is hardly transmitted back to the memory controller 301 side or the terminal side.

そこで、第1実施形態では、4つの分岐箇所207A〜207Dのうち、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間に、主配線216に対して直列に接続された抵抗素子208Bが設けられている。   Therefore, in the first embodiment, the resistance element 208B connected in series to the main wiring 216 is provided between the branch point 207B and the branch point 207C among the four branch points 207A to 207D.

抵抗素子208Bにより、メモリデバイス302C(メモリセル321C)とメモリデバイス302E(メモリセル321E)との間を伝搬する信号が減衰する。よって、分岐配線206C(206D)及び分岐配線206E(206F)における実効分岐配線長と、主配線216の分岐箇所207Bと分岐箇所207Cの間の長さとを合計した長さの伝播時間に依存した周波数で発生する信号増幅を抑制できる。つまり、メモリデバイス302C(メモリセル321C)とメモリデバイス302E(メモリセル321E)との間で発生する信号の共振を抑制することができる。   The resistance element 208B attenuates a signal propagating between the memory device 302C (memory cell 321C) and the memory device 302E (memory cell 321E). Therefore, the frequency depending on the propagation time of the total length of the effective branch line length in the branch line 206C (206D) and the branch line 206E (206F) and the length between the branch point 207B and the branch point 207C of the main line 216. The signal amplification that occurs in can be suppressed. That is, resonance of a signal generated between the memory device 302C (memory cell 321C) and the memory device 302E (memory cell 321E) can be suppressed.

次に、図1に示すメモリシステム100の構成でシミュレーションを行った結果について説明する。以下にシミュレーションを行った条件を示す。メモリコントローラ301が送信する信号(パルス)の電圧は、1.2[V]で、内部特性インピーダンスは50[Ω]、印加する周波数成分のみの正弦波を印加した。メモリデバイス302A〜302Hは1.7[pF]で負荷近似した。全ての配線の特性インピーダンスは50[Ω]とした。   Next, a description will be given of a result of simulation performed with the configuration of the memory system 100 illustrated in FIG. The simulation conditions are shown below. The voltage of the signal (pulse) transmitted by the memory controller 301 was 1.2 [V], the internal characteristic impedance was 50 [Ω], and a sine wave of only the frequency component to be applied was applied. The memory devices 302A to 302H approximated the load at 1.7 [pF]. The characteristic impedance of all wirings was 50 [Ω].

部分配線203の伝播遅延時間を500[pS]とした。部分配線204A,204Cの伝播遅延時間を120[pS]とした。部分配線204B1,204B2の伝播遅延時間を60[pS]とした。部分配線205の伝搬遅延時間を66[pS]とした。終端抵抗310の抵抗値は50[Ω]、終端配線211に印加した終端電位は0.6[V]とした。   The propagation delay time of the partial wiring 203 was set to 500 [pS]. The propagation delay time of the partial wirings 204A and 204C is 120 [pS]. The propagation delay time of the partial wirings 204B1 and 204B2 is set to 60 [pS]. The propagation delay time of the partial wiring 205 is 66 [pS]. The resistance value of the termination resistor 310 was 50 [Ω], and the termination potential applied to the termination wiring 211 was 0.6 [V].

さらに、マザーボード200の分岐配線206A〜206Hの配線長と、メモリデバイス302A〜302H内部の実効的な配線長との合計の配線長(実効分岐配線長)は、180[pS]の条件で行った。   Further, the total wiring length (effective branch wiring length) of the branch wirings 206A to 206H of the motherboard 200 and the effective wiring length inside the memory devices 302A to 302H was set to 180 [pS]. .

図3は、第1実施形態のメモリシステム100において各メモリデバイス302A,302C,302E,302Gにて受信される信号の波形図である。ここで、図3には、メモリコントローラ301から送信される信号の周波数を1[GHz]とした場合を図示している。また、抵抗素子208Bの電気抵抗値は5[Ω]とした。   FIG. 3 is a waveform diagram of signals received by the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G in the memory system 100 of the first embodiment. Here, FIG. 3 illustrates a case where the frequency of the signal transmitted from the memory controller 301 is 1 [GHz]. The electrical resistance value of the resistance element 208B was 5 [Ω].

図3に示すように、図11の比較例に対して、印加する信号に対してメモリデバイス302A,302C,302E,302G、特にメモリデバイス302C,302Eにて受信される信号の増幅が抑制されていることが確認できる。なお、図示は省略するが、メモリデバイス302B,302D,302F,302Hにて受信される信号についても同様の傾向となる。   As shown in FIG. 3, in comparison with the comparative example of FIG. 11, amplification of signals received by the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G, particularly the memory devices 302C and 302E, is suppressed with respect to the applied signal. It can be confirmed. Although illustration is omitted, the same tendency applies to signals received by the memory devices 302B, 302D, 302F, and 302H.

上記条件で抵抗素子208Bの電気抵抗値を1〜10[Ω]まで1[Ω]刻みで変化させた結果を以下の表1に示す。なお、印加した信号のデータ伝送速度は2[Gbps](周波数1[GHz]に相当)であり、電圧は20周期分の信号をとり、全メモリデバイスの受信電圧で確認した。   Table 1 below shows the results of changing the electrical resistance value of the resistance element 208B from 1 to 10 [Ω] in increments of 1 [Ω] under the above conditions. Note that the data transmission rate of the applied signal was 2 [Gbps] (corresponding to a frequency of 1 [GHz]), and the voltage was a signal for 20 cycles, which was confirmed by the received voltage of all memory devices.

Figure 2017037409
Figure 2017037409

全ての条件、即ち電気抵抗値が1[Ω]以上で、電圧の最大値を下げ、電圧の最小値を上げる効果が確認できる。但し、抵抗素子208Bの電気抵抗値を大きくすると、電圧の最小振幅が小さくなる傾向にある。電圧の最小振幅が小さくなると信号が正しく伝わらない可能性が出てくる。電圧の振幅としては±100[mV]以上確保できた方が望ましく、ノイズマージンとして2割程度必要、つまり1.2[V]の2割である240[mV]以上必要と考えれば、より効果的な電気抵抗値の範囲は1[Ω]以上6[Ω]以下である。よって、抵抗素子208Bの電気抵抗値を1[Ω]以上6[Ω]以下の値とすることで、ある周波数帯域(第1実施形態では1[GHz])で発生する信号振幅の増加、つまり共振を効果的に抑制することができる。   Under all conditions, that is, when the electric resistance value is 1 [Ω] or more, the effect of lowering the maximum voltage value and raising the minimum voltage value can be confirmed. However, when the electric resistance value of the resistance element 208B is increased, the minimum amplitude of the voltage tends to decrease. If the minimum amplitude of the voltage is reduced, the signal may not be transmitted correctly. It is desirable that the voltage amplitude is secured to ± 100 [mV] or more, and about 20% is required as a noise margin, that is, more effective if considered to be 240 [mV] that is 20% of 1.2 [V]. A typical electric resistance value range is 1 [Ω] or more and 6 [Ω] or less. Therefore, by setting the electric resistance value of the resistance element 208B to a value not less than 1 [Ω] and not more than 6 [Ω], an increase in signal amplitude generated in a certain frequency band (1 [GHz] in the first embodiment), that is, Resonance can be effectively suppressed.

なお、第1実施形態では、メモリデバイス302C(302D)とメモリデバイス302E(302F)との間、つまり分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間に抵抗素子208Bを設けた場合について説明したが、これに限定するものではない。   In the first embodiment, the case where the resistance element 208B is provided between the memory device 302C (302D) and the memory device 302E (302F), that is, between the branch point 207B and the branch point 207C has been described. It is not limited to.

第1分岐箇所と第2分岐箇所は相対的なものであり、例えば、第1分岐箇所が分岐箇所207Aであれば第2分岐箇所は分岐箇所207Bである。また、第1分岐箇所が分岐箇所207Cであれば第2分岐箇所は分岐箇所207Dである。即ち、メモリデバイス302A(302B)とメモリデバイス302C(302D)との間、つまり分岐箇所207Aと分岐箇所207Bとの間に抵抗素子を設けてもよい。また、メモリデバイス302E(302F)とメモリデバイス302G(302H)との間、つまり分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間に抵抗素子を設けてもよい。   The first branch point and the second branch point are relative. For example, if the first branch point is the branch point 207A, the second branch point is the branch point 207B. If the first branch point is the branch point 207C, the second branch point is the branch point 207D. That is, a resistance element may be provided between the memory device 302A (302B) and the memory device 302C (302D), that is, between the branch point 207A and the branch point 207B. Further, a resistance element may be provided between the memory device 302E (302F) and the memory device 302G (302H), that is, between the branch point 207C and the branch point 207D.

[第2実施形態]
次に、本発明の第2実施形態に係るプリント回路板について説明する。図4は、本発明の第2実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第2実施形態において、上記第1実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Second Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a second embodiment of the present invention will be described. FIG. 4 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the second embodiment of the present invention. Note that in the second embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the first embodiment and descriptions thereof are omitted.

第2実施形態のメモリシステム100Aは、プリント配線板であるマザーボード200Aと、送信回路であるメモリコントローラ301と、複数の受信回路である複数(第2実施形態では8つ)のメモリデバイス302A〜302Hと、を備えている。   A memory system 100A according to the second embodiment includes a motherboard 200A that is a printed wiring board, a memory controller 301 that is a transmission circuit, and a plurality (eight in the second embodiment) of memory devices 302A to 302H that are a plurality of reception circuits. And.

マザーボード200Aは、メモリコントローラ301とメモリデバイス302A〜302Hとを接続する信号線であるバス配線201Aを有している。バス配線201Aは、始端217がメモリコントローラ301の送信端子312に電気的に接続され、終端218が終端抵抗(ターミネータ)310の一端に電気的に接続された主配線216Aを有している。   The motherboard 200A has a bus wiring 201A that is a signal line for connecting the memory controller 301 and the memory devices 302A to 302H. The bus wiring 201 </ b> A has a main wiring 216 </ b> A having a start end 217 electrically connected to the transmission terminal 312 of the memory controller 301 and a termination 218 electrically connected to one end of a termination resistor (terminator) 310.

主配線216Aは、それぞれ異なる位置にある複数の分岐箇所として、第1実施形態と同様、4つの分岐箇所207A〜207Dを有している。主配線216Aは、始端217と分岐箇所207Aとの間の部分配線203と、分岐箇所207Aと分岐箇所207Bとの間の部分配線204A1,204A2とを有している。また、主配線216Aは、分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間の部分配線204B1,204B2と、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間の部分配線204C1,204C2とを有している。また、主配線216Aは、分岐箇所207Dと終端218との間の部分配線205を有している。   As with the first embodiment, the main wiring 216A has four branch locations 207A to 207D as a plurality of branch locations at different positions. The main wiring 216A has a partial wiring 203 between the start end 217 and the branching point 207A, and partial wirings 204A1 and 204A2 between the branching point 207A and the branching point 207B. Further, the main wiring 216A has partial wirings 204B1 and 204B2 between the branching points 207B and 207C, and partial wirings 204C1 and 204C2 between the branching points 207C and 207D. Further, the main wiring 216A has a partial wiring 205 between the branch point 207D and the terminal end 218.

第2実施形態では、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207B,207Cの間に、2つの分岐箇所207B,207Cを電気的に接続する、抵抗成分である抵抗素子208Bが設けられている。更に第2実施形態では、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207C,207Dの間に、2つの分岐箇所207C,207Dを電気的に接続する、終端側抵抗成分である抵抗素子208Cが設けられている。更に第2実施形態では、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207A,207Bの間に、2つの分岐箇所207A,207Bを電気的に接続する、始端側抵抗成分である抵抗素子208Aが設けられている。抵抗素子208A〜208Cは、主配線216Aや分岐配線206A〜206Hの電気抵抗値(例えば数mΩ程度)よりも高い電気抵抗値の抵抗素子(チップ抵抗)である。抵抗素子208A〜208Cは、主配線216Aに対して直列に接続され、マザーボード200Aの表面又は裏面に実装されている。各抵抗素子208A〜208Cの電気抵抗値は、第1実施形態と同様、1[Ω]以上6[Ω]以下である。   In the second embodiment, among the plurality of branch points 207A to 207D, a resistance element that is a resistance component that electrically connects two branch points 207B and 207C between two branch points 207B and 207C adjacent to each other 208B is provided. Furthermore, in the second embodiment, a termination-side resistance component that electrically connects two branch points 207C and 207D between two branch points 207C and 207D adjacent to each other among the plurality of branch points 207A to 207D. A certain resistance element 208C is provided. Furthermore, in the second embodiment, a start-end-side resistance component that electrically connects two branch points 207A and 207B between two branch points 207A and 207B adjacent to each other among a plurality of branch points 207A to 207D. A certain resistance element 208A is provided. The resistance elements 208A to 208C are resistance elements (chip resistance) having an electrical resistance value higher than the electrical resistance values (for example, about several mΩ) of the main wiring 216A and the branch wirings 206A to 206H. The resistance elements 208A to 208C are connected in series to the main wiring 216A and are mounted on the front surface or the back surface of the motherboard 200A. The electrical resistance value of each of the resistance elements 208A to 208C is 1 [Ω] or more and 6 [Ω] or less, as in the first embodiment.

このように、第2実施形態では、第1実施形態と同様、部分配線204B1と部分配線204B2との間に抵抗素子208Bが接続されている。更に、第2実施形態では、部分配線204A1と部分配線204A2との間に抵抗素子208Aが、部分配線204C1と部分配線204C2との間に抵抗素子208Cが、それぞれ接続されている。それ以外の構成は、第1実施形態と同様である。   Thus, in the second embodiment, as in the first embodiment, the resistance element 208B is connected between the partial wiring 204B1 and the partial wiring 204B2. Furthermore, in the second embodiment, the resistance element 208A is connected between the partial wiring 204A1 and the partial wiring 204A2, and the resistance element 208C is connected between the partial wiring 204C1 and the partial wiring 204C2. Other configurations are the same as those in the first embodiment.

第2実施形態によれば、第1実施形態と同様、抵抗素子208Bにより、メモリデバイス302C(302D)とメモリデバイス302E(302F)との間に発生する、ある周波数帯域(例えば1[GHz])の信号の共振を効果的に抑制することができる。また、第2実施形態によれば、抵抗素子208Aにより、メモリデバイス302A(302B)とメモリデバイス302C(302D)との間に発生する、ある周波数帯域(例えば1[GHz])の信号の共振を効果的に抑制することができる。更に、第2実施形態によれば、抵抗素子208Cにより、メモリデバイス302E(302F)とメモリデバイス302G(302H)との間に発生する、ある周波数帯域(例えば1[GHz])の信号の共振を効果的に抑制することができる。   According to the second embodiment, as in the first embodiment, a certain frequency band (for example, 1 [GHz]) generated between the memory device 302C (302D) and the memory device 302E (302F) by the resistance element 208B. The resonance of the signal can be effectively suppressed. Further, according to the second embodiment, resonance of a signal in a certain frequency band (for example, 1 [GHz]) generated between the memory device 302A (302B) and the memory device 302C (302D) is caused by the resistance element 208A. It can be effectively suppressed. Furthermore, according to the second embodiment, resonance of a signal in a certain frequency band (for example, 1 [GHz]) generated between the memory device 302E (302F) and the memory device 302G (302H) is caused by the resistance element 208C. It can be effectively suppressed.

なお、第2実施形態では、メモリシステム100Aが抵抗素子208A〜208Cを有する場合について説明したが、これに限定するものではない。例えば、抵抗素子208A〜208Cのうちいずれか1つを省略してもよい。   In the second embodiment, the case where the memory system 100A includes the resistance elements 208A to 208C has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, any one of the resistance elements 208A to 208C may be omitted.

[第3実施形態]
次に、本発明の第3実施形態に係るプリント回路板について説明する。図5は、本発明の第3実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第3実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Third Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a third embodiment of the invention will be described. FIG. 5 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the third embodiment of the present invention. Note that in the third embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.

第3実施形態のメモリシステム100Bは、プリント配線板であるマザーボード200Bと、メモリコントローラ301と、複数(第3実施形態では4つ)のメモリデバイス302A,302C,302E,302Gと、を備えている。   A memory system 100B according to the third embodiment includes a mother board 200B that is a printed wiring board, a memory controller 301, and a plurality of (four in the third embodiment) memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G. .

マザーボード200Bは、メモリコントローラ301とメモリデバイス302A,302C,302E,302Gとを接続する信号線であるバス配線201Bを有している。   The motherboard 200B has a bus wiring 201B that is a signal line that connects the memory controller 301 and the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G.

バス配線201Bは、第2実施形態と同様、4つの分岐箇所207A〜207Dを有する主配線216Aを備えている。また、バス配線201Bは、各分岐箇所207A〜207Dからそれぞれ分岐する、第2実施形態よりも少ない数の4つの分岐配線206A,206C,206E,206Gを備えている。つまり、各分岐箇所207A〜207Dからはそれぞれ1つの分岐配線が分岐している。   Similar to the second embodiment, the bus wiring 201B includes a main wiring 216A having four branch points 207A to 207D. In addition, the bus wiring 201B includes four branch wirings 206A, 206C, 206E, and 206G that branch from the branch locations 207A to 207D, respectively, in a smaller number than in the second embodiment. That is, one branch wiring is branched from each of the branch locations 207A to 207D.

第3実施形態では、メモリデバイス302A、302C,302E,302Gは、マザーボード200Bの一対の実装面のうち一方の実装面に実装されている。つまり、第3実施形態では、図4に示すメモリシステム100Aに対して、片側のメモリデバイスとその分岐配線を無くしたものである。   In the third embodiment, the memory devices 302A, 302C, 302E, and 302G are mounted on one mounting surface of the pair of mounting surfaces of the motherboard 200B. That is, in the third embodiment, the memory device on one side and its branch wiring are eliminated from the memory system 100A shown in FIG.

第3実施形態では、第1及び第2実施形態と同様、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207B,207Cの間に、2つの分岐箇所207B,207Cを電気的に接続する抵抗素子208Bが設けられている。更に第3実施形態では、第2実施形態と同様、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207C,207Dの間に、2つの分岐箇所207C,207Dを電気的に接続する抵抗素子208Cが設けられている。更に第3実施形態では、第2実施形態と同様、複数の分岐箇所207A〜207Dのうち、互いに隣り合う2つの分岐箇所207A,207Bの間に、2つの分岐箇所207A,207Bを電気的に接続する抵抗素子208Aが設けられている。   In the third embodiment, as in the first and second embodiments, among the plurality of branch locations 207A to 207D, two branch locations 207B and 207C are electrically connected between two adjacent branch locations 207B and 207C. There is provided a resistance element 208B connected to the. Furthermore, in the third embodiment, as in the second embodiment, among the plurality of branch points 207A to 207D, two branch points 207C and 207D are electrically connected between two branch points 207C and 207D adjacent to each other. A resistance element 208C is provided. Furthermore, in the third embodiment, as in the second embodiment, among the plurality of branch points 207A to 207D, two branch points 207A and 207B are electrically connected between two branch points 207A and 207B adjacent to each other. A resistance element 208A is provided.

メモリデバイスの間隔に起因した共振は、片面実装の形態でも同様に発生する。したがって、第2実施形態と同様、メモリデバイス302A,302C間、メモリデバイス302C,302E間、及びメモリデバイス302E,302G間の信号の共振を抑制することができる。   Resonance due to the spacing of the memory devices occurs in the same way even in the single-sided mounting form. Therefore, similarly to the second embodiment, resonance of signals between the memory devices 302A and 302C, between the memory devices 302C and 302E, and between the memory devices 302E and 302G can be suppressed.

なお、抵抗素子208A〜208Cのうち、2つの抵抗素子を省略してもよいし、1つの抵抗素子を省略してもよい。   Of the resistance elements 208A to 208C, two resistance elements may be omitted, or one resistance element may be omitted.

[第4実施形態]
次に、本発明の第4実施形態に係るプリント回路板について説明する。図6は、本発明の第4実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第4実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Fourth Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a fourth embodiment of the invention will be described. FIG. 6 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the fourth embodiment of the present invention. Note that in the fourth embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.

第4実施形態のメモリシステム100Cは、図4のメモリシステム100Aに対して、メモリデバイス302A,302Bとその分岐配線206A,206Bを省略したものである。   The memory system 100C of the fourth embodiment is obtained by omitting the memory devices 302A and 302B and the branch wirings 206A and 206B from the memory system 100A of FIG.

つまり、メモリシステム100Cは、マザーボード200Cと、6つのメモリデバイス302C〜302Hとを備えている。マザーボード200Cは、信号線であるバス配線201Cを有している。バス配線201Cは、主配線216Cと、主配線216Cの分岐箇所207B,207C,207Dから分岐する分岐配線206C〜206Hを有する。   That is, the memory system 100C includes a motherboard 200C and six memory devices 302C to 302H. The motherboard 200C has a bus wiring 201C that is a signal line. The bus wiring 201C includes a main wiring 216C and branch wirings 206C to 206H that branch from the branch locations 207B, 207C, and 207D of the main wiring 216C.

分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられ、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間には、抵抗素子208Cが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208B,208Cが存在することで共振抑制効果ある。なお、抵抗素子208B、208Cのいずれか一方を省略してもよい。   A resistance element 208B is provided between the branch location 207B and the branch location 207C, and a resistance element 208C is provided between the branch location 207C and the branch location 207D. Resonance due to the interval between the memory devices occurs in this form as well, and therefore, the presence of the resistance elements 208B and 208C has a resonance suppression effect. Note that either one of the resistance elements 208B and 208C may be omitted.

[第5実施形態]
次に、本発明の第5実施形態に係るプリント回路板について説明する。図7は、本発明の第5実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第5実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Fifth Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a fifth embodiment of the invention will be described. FIG. 7 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the fifth embodiment of the present invention. Note that in the fifth embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.

第5実施形態のメモリシステム100Dは、図5のメモリシステム100Bに対して、メモリデバイス302Aとその分岐配線206Aを省略したものである。つまり、図6のメモリシステム100Cに対してメモリデバイス302D,302F,302Hとその分岐配線206D,206F,206Hを省略したものである。   The memory system 100D of the fifth embodiment is obtained by omitting the memory device 302A and its branch wiring 206A from the memory system 100B of FIG. That is, the memory devices 302D, 302F, and 302H and their branch wirings 206D, 206F, and 206H are omitted from the memory system 100C of FIG.

メモリシステム100Dは、マザーボード200Dと、3つのメモリデバイス302C,302E,302Gとを備えている。マザーボード200Dは、信号線であるバス配線201Dを有している。バス配線201Dは、第4実施形態と同様の主配線216Cと、主配線216Cの分岐箇所207B,207C,207Dから分岐する分岐配線206C,206E,206Gを有する。   The memory system 100D includes a motherboard 200D and three memory devices 302C, 302E, and 302G. The motherboard 200D has a bus wiring 201D that is a signal line. The bus wiring 201D includes a main wiring 216C similar to that of the fourth embodiment and branch wirings 206C, 206E, and 206G that branch from the branch locations 207B, 207C, and 207D of the main wiring 216C.

分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられ、分岐箇所207Cと分岐箇所207Dとの間には、抵抗素子208Cが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208B,208Cが存在することで共振抑制効果ある。なお、抵抗素子208B,208Cのいずれか一方を省略してもよい。   A resistance element 208B is provided between the branch location 207B and the branch location 207C, and a resistance element 208C is provided between the branch location 207C and the branch location 207D. Resonance due to the interval between the memory devices occurs in this form as well, and therefore, the presence of the resistance elements 208B and 208C has a resonance suppression effect. Note that either one of the resistance elements 208B and 208C may be omitted.

[第6実施形態]
次に、本発明の第6実施形態に係るプリント回路板について説明する。図8は、本発明の第6実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第6実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Sixth Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a sixth embodiment of the invention will be described. FIG. 8 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the sixth embodiment of the present invention. Note that in the sixth embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.

第6実施形態のメモリシステム100Eは、図6に示すメモリシステム100Cに対して、メモリデバイス302G,302H及びその分岐配線206G,206Hを省略したものである。   The memory system 100E of the sixth embodiment is obtained by omitting the memory devices 302G and 302H and their branch wirings 206G and 206H from the memory system 100C shown in FIG.

つまり、メモリシステム100Eは、マザーボード200Eと、4つのメモリデバイス302C〜302Fとを備えている。マザーボード200Eは、信号線であるバス配線201Eを有している。バス配線201Eは、主配線216Eと、主配線216Eの分岐箇所207B,207Cから分岐する分岐配線206C〜206Fを有する。   That is, the memory system 100E includes a motherboard 200E and four memory devices 302C to 302F. The motherboard 200E has a bus wiring 201E that is a signal line. The bus line 201E includes a main line 216E and branch lines 206C to 206F that branch from the branch points 207B and 207C of the main line 216E.

分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208Bが存在することで共振抑制効果ある。   A resistance element 208B is provided between the branch point 207B and the branch point 207C. Resonance due to the interval between the memory devices is generated in this form as well, and the presence of the resistance element 208B has a resonance suppression effect.

[第7実施形態]
次に、本発明の第7実施形態に係るプリント回路板について説明する。図9は、本発明の第7実施形態に係るプリント回路板の一例としてのメモリシステムの配線構成を示すトポロジー図である。なお、第7実施形態において、他の実施形態と同様の構成については、同一符号を付して説明を省略する。
[Seventh Embodiment]
Next, a printed circuit board according to a seventh embodiment of the invention will be described. FIG. 9 is a topology diagram showing a wiring configuration of a memory system as an example of a printed circuit board according to the seventh embodiment of the present invention. Note that in the seventh embodiment, identical symbols are assigned to configurations similar to those in the other embodiments and descriptions thereof are omitted.

第7実施形態のメモリシステム100Fは、図7のメモリシステム100Dに対して、メモリデバイス302Gとその分岐配線206Gを省略したものである。つまり、図8のメモリシステム100Eに対してメモリデバイス302D,302Fとその分岐配線206D,206Fを省略したものである。   The memory system 100F of the seventh embodiment is obtained by omitting the memory device 302G and its branch wiring 206G from the memory system 100D of FIG. That is, the memory devices 302D and 302F and their branch wirings 206D and 206F are omitted from the memory system 100E of FIG.

メモリシステム100Fは、マザーボード200Fと、2つのメモリデバイス302C,302Eとを備えている。マザーボード200Fは、信号線であるバス配線201Fを有している。バス配線201Fは、第6実施形態と同様の主配線216Eと、主配線216Eの分岐箇所207B,207Cから分岐する分岐配線206C,206Eを有する。   The memory system 100F includes a motherboard 200F and two memory devices 302C and 302E. The motherboard 200F has a bus wiring 201F that is a signal line. The bus wiring 201F includes a main wiring 216E similar to that of the sixth embodiment, and branch wirings 206C and 206E that branch from the branch locations 207B and 207C of the main wiring 216E.

分岐箇所207Bと分岐箇所207Cとの間には、抵抗素子208Bが設けられている。メモリデバイスの間隔に起因した共振は、この形態でも同様に発生するため、抵抗素子208Bが存在することで共振抑制効果ある。   A resistance element 208B is provided between the branch point 207B and the branch point 207C. Resonance due to the interval between the memory devices is generated in this form as well, and the presence of the resistance element 208B has a resonance suppression effect.

なお、本発明は、以上説明した実施形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想内で多くの変形が可能である。また、本発明の実施形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、本発明の実施形態に記載されたものに限定されない。   The present invention is not limited to the embodiment described above, and many modifications are possible within the technical idea of the present invention. In addition, the effects described in the embodiments of the present invention only list the most preferable effects resulting from the present invention, and the effects of the present invention are not limited to those described in the embodiments of the present invention.

上記実施形態では、バス配線を伝送する信号が、アドレス/コマンド信号である場合について説明したが、これに限定するものではなく、例えばCLK信号などの差動信号でもよい。   In the above embodiment, the case where the signal transmitted through the bus wiring is the address / command signal has been described. However, the present invention is not limited to this and may be a differential signal such as a CLK signal.

また、上記実施形態では、プリント回路板が、メモリシステムであり、プリント配線板が、メモリデバイスおよびメモリコントローラが実装されるマザーボードである場合について説明したが、これに限定するものではない。プリント回路板が、プリント配線板としてのモジュール基板と、モジュール基板に実装されたメモリデバイスとで構成されたメモリモジュール(DIMM)であってもよい。この場合、メモリコントローラは、マザーボードに実装されており、メモリモジュールをマザーボードにコネクタ等で接続することにより、メモリコントローラとメモリデバイスとが電気的に接続されることになる。   In the above-described embodiment, the case where the printed circuit board is a memory system and the printed wiring board is a motherboard on which the memory device and the memory controller are mounted has been described. However, the present invention is not limited to this. The printed circuit board may be a memory module (DIMM) composed of a module board as a printed wiring board and a memory device mounted on the module board. In this case, the memory controller is mounted on the motherboard, and the memory controller and the memory device are electrically connected by connecting the memory module to the motherboard with a connector or the like.

また、上記実施形態では、抵抗成分、始点側抵抗成分、終端側抵抗成分が抵抗素子である場合について説明したが、これに限定するものではなく、主配線に対して配線幅を狭めた導体パターン等で電気抵抗値を高めてもよい。   Moreover, although the said embodiment demonstrated the case where a resistance component, a starting point side resistance component, and a termination side resistance component were resistance elements, it is not limited to this, The conductor pattern which narrowed the wiring width with respect to the main wiring For example, the electrical resistance value may be increased.

100…メモリシステム(プリント回路板)、200…マザーボード(プリント配線板)、201…バス配線(信号配線)、206A〜206H…分岐配線、207A…分岐箇所(始端側分岐箇所)、207B…分岐箇所(第1分岐箇所)、207C…分岐箇所(第2分岐箇所)、207D…分岐箇所(終端側分岐箇所)、208B…抵抗素子(抵抗成分)、216…主配線、301…メモリコントローラ(送信回路)、302A〜302H…メモリデバイス(受信回路) DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Memory system (printed circuit board), 200 ... Mother board (printed wiring board), 201 ... Bus wiring (signal wiring), 206A-206H ... Branch wiring, 207A ... Branch location (start side branch location), 207B ... Branch location (First branch point), 207C... Branch point (second branch point), 207D... Branch point (termination side branch point), 208B... Resistance element (resistance component), 216. ), 302A to 302H... Memory device (receiving circuit)

Claims (13)

信号線が形成されたプリント配線板と、
前記プリント配線板に実装され、送信回路から送信された信号を、前記プリント配線板の前記信号線を介して受信する複数の受信回路と、を備え、
前記信号線は、前記送信回路に接続される始端を有する主配線と、前記主配線のそれぞれ異なる複数の分岐箇所から分岐して、前記複数の受信回路にそれぞれ接続された複数の分岐配線と、を有し、
前記複数の分岐箇所のうち、第1分岐箇所と、前記第1分岐箇所に隣接し、前記第1分岐箇所よりも前記始端に対して遠い側の第2分岐箇所との間に、前記主配線に対して直列に接続された、前記主配線の電気抵抗値よりも高い電気抵抗値の抵抗成分が設けられていることを特徴とするプリント回路板。
A printed wiring board on which signal lines are formed;
A plurality of receiving circuits mounted on the printed wiring board and receiving signals transmitted from the transmitting circuit via the signal lines of the printed wiring board;
The signal line includes a main wiring having a starting end connected to the transmission circuit, a plurality of branch wirings branched from a plurality of different branch locations of the main wiring and respectively connected to the plurality of receiving circuits, Have
Among the plurality of branch locations, the main wiring is between a first branch location and a second branch location adjacent to the first branch location and farther from the start end than the first branch location. A printed circuit board comprising a resistance component having an electrical resistance value higher than the electrical resistance value of the main wiring connected in series.
前記抵抗成分が、前記プリント配線板に実装された抵抗素子であることを特徴とする請求項1に記載のプリント回路板。   The printed circuit board according to claim 1, wherein the resistance component is a resistance element mounted on the printed wiring board. 前記抵抗成分の電気抵抗値が、1[Ω]以上6[Ω]以下であることを特徴とする請求項1又は2に記載のプリント回路板。   The printed circuit board according to claim 1, wherein an electrical resistance value of the resistance component is 1 [Ω] or more and 6 [Ω] or less. 前記複数の分岐箇所のうち、前記第2分岐箇所と、前記第2分岐箇所に隣接し、前記第2分岐箇所よりも前記始端に対して遠い側の終端側分岐箇所との間に、前記主配線に対して直列に接続された、前記主配線の電気抵抗値よりも高い電気抵抗値の終端側抵抗成分が設けられていることを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載のプリント回路板。   Among the plurality of branch points, the main branch point is between the second branch point and a terminal-side branch point adjacent to the second branch point and farther from the start end than the second branch point. 4. The terminal-side resistance component having an electrical resistance value higher than the electrical resistance value of the main wiring, which is connected in series with the wiring, is provided. 5. Printed circuit board. 前記終端側抵抗成分が、前記プリント配線板に実装された抵抗素子であることを特徴とする請求項4に記載のプリント回路板。   The printed circuit board according to claim 4, wherein the termination resistance component is a resistance element mounted on the printed wiring board. 前記終端側抵抗成分の電気抵抗値が、1[Ω]以上6[Ω]以下であることを特徴とする請求項4又は5に記載のプリント回路板。   6. The printed circuit board according to claim 4, wherein an electrical resistance value of the terminating resistance component is 1 [Ω] or more and 6 [Ω] or less. 前記複数の分岐箇所のうち、前記第1分岐箇所と、前記第1分岐箇所に隣接し、前記第1分岐箇所よりも前記始端に対して近い側の始端側分岐箇所との間に、前記主配線に対して直列に接続された、前記主配線の電気抵抗値よりも高い電気抵抗値の始端側抵抗成分が設けられていることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のプリント回路板。   Among the plurality of branch points, the main branch point is between the first branch point and a start end side branch point adjacent to the first branch point and closer to the start end than the first branch point. The start end side resistance component having an electrical resistance value higher than the electrical resistance value of the main wiring, which is connected in series with the wiring, is provided. Printed circuit board. 前記始端側抵抗成分が、前記プリント配線板に実装された抵抗素子であることを特徴とする請求項7に記載のプリント回路板。   The printed circuit board according to claim 7, wherein the start-side resistance component is a resistance element mounted on the printed wiring board. 前記始端側抵抗成分の電気抵抗値が、1[Ω]以上6[Ω]以下であることを特徴とする請求項7又は8に記載のプリント回路板。   9. The printed circuit board according to claim 7, wherein an electric resistance value of the starting end side resistance component is 1 [Ω] or more and 6 [Ω] or less. 前記各分岐箇所から分岐する前記分岐配線の数が1つ又は2つであることを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載のプリント回路板。   10. The printed circuit board according to claim 1, wherein the number of the branch wiring branches from each branch point is one or two. 11. 前記送信回路は、前記プリント配線板に実装されて前記始端に接続されていることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載のプリント回路板。   The printed circuit board according to claim 1, wherein the transmission circuit is mounted on the printed wiring board and connected to the starting end. 前記送信回路が、メモリコントローラであり、
前記受信回路が、前記メモリコントローラにより制御されるメモリデバイスであることを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載のプリント回路板。
The transmission circuit is a memory controller;
The printed circuit board according to claim 1, wherein the receiving circuit is a memory device controlled by the memory controller.
前記メモリデバイスが、DDR3−SDRAM又はDDR4−SDRAMであることを特徴とする請求項12に記載のプリント回路板。   The printed circuit board according to claim 12, wherein the memory device is a DDR3-SDRAM or a DDR4-SDRAM.
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