JP2017026961A - Optical scanner and image forming apparatus including the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、レーザービームプリンタ(LBP)やデジタル複写機、マルチファンクションプリンタ(多機能プリンタ)等の画像形成装置及びそれが備える光走査装置に関する。 The present invention relates to an image forming apparatus such as a laser beam printer (LBP), a digital copying machine, or a multi-function printer (multi-function printer), and an optical scanning device included therein.
画像形成装置が備える光走査装置として、光源からの光束を偏向器により偏向することで、被走査面を主走査方向に光走査するものが知られている。このような光走査装置においては、自身の発熱や環境温度の変化などにより光源の発光光量が変動してしまうため、その発光光量が一定になるように光量制御(オートパワーコントロール:APC)を行うことが必要になる。 As an optical scanning device provided in an image forming apparatus, an optical scanning device that optically scans a surface to be scanned in a main scanning direction by deflecting a light beam from a light source by a deflector is known. In such an optical scanning device, the light emission amount of the light source fluctuates due to its own heat generation or a change in environmental temperature. Therefore, light amount control (auto power control: APC) is performed so that the light emission amount is constant. It will be necessary.
特許文献1には、端面発光型レーザの基板の裏側から出射するリア光束(偏向器に向かって出射するフロント光束とは反対側に出射する光束)を検出することで、光量制御を行う構成が記載されている。さらに、特許文献1には、面発光型レーザから出射して偏向器に向かう光束をハーフミラーにより分離し、その分離された光束を検出することで光量制御を行う構成が記載されている。 Patent Document 1 discloses a configuration in which the amount of light is controlled by detecting a rear light beam emitted from the back side of the substrate of the edge-emitting laser (light beam emitted to the opposite side of the front light beam emitted toward the deflector). Have been described. Further, Patent Document 1 describes a configuration in which light quantity control is performed by separating a light beam emitted from a surface emitting laser and traveling toward a deflector by a half mirror, and detecting the separated light beam.
しかしながら、偏向器の偏向面にて偏向された光束が光源に戻ってきてしまうと、その光束の影響で光量制御を正確に行うことができなくなってしまう。よって、特許文献1に記載の構成においては、光束が光源に戻ってくるタイミングでの光源の発光を停止することが必要になるため、光量の検出及び制御の時間を十分に確保することができず、高精度な光量制御を行うことが難しくなってしまう。 However, if the light beam deflected by the deflecting surface of the deflector returns to the light source, the light amount cannot be accurately controlled due to the influence of the light beam. Therefore, in the configuration described in Patent Document 1, since it is necessary to stop the light emission of the light source at the timing when the light beam returns to the light source, a sufficient amount of time for detecting and controlling the amount of light can be secured. Therefore, it becomes difficult to perform light amount control with high accuracy.
本発明の目的は、高精度な光量制御を行うことが可能な光走査装置及び画像形成装置を提供することである。 An object of the present invention is to provide an optical scanning device and an image forming apparatus capable of performing light amount control with high accuracy.
上記目的を達成するための、本発明の一側面としての光走査装置は、光源と、該光源からの光束を偏向して被走査面を主走査方向に光走査する偏向器と、前記光源からの光束を前記偏向器の偏向面に導光する入射光学系と、を有し、前記入射光学系は、主走査断面内においては光束を被走査領域の外側から前記偏向面に入射させ、かつ副走査断面内においては光束を前記偏向面に斜入射させており、前記光源は、主走査断面内において前記入射光学系からの光束が前記偏向面に垂直入射するタイミングに、光束を射出することを特徴とする。 In order to achieve the above object, an optical scanning device according to one aspect of the present invention includes a light source, a deflector that deflects a light beam from the light source and optically scans a surface to be scanned in a main scanning direction, and the light source. An incident optical system that guides the light beam to the deflecting surface of the deflector, and the incident optical system causes the light beam to enter the deflecting surface from the outside of the scanned region in the main scanning section, and The light beam is obliquely incident on the deflection surface in the sub-scan section, and the light source emits the light beam at the timing when the light beam from the incident optical system is perpendicularly incident on the deflection surface in the main scan section. It is characterized by.
本発明によれば、高精度な光量制御を行うことが可能な光走査装置及び画像形成装置を提供することができる。 According to the present invention, it is possible to provide an optical scanning device and an image forming apparatus capable of performing light amount control with high accuracy.
以下、本発明の好ましい実施形態について図面を参照しながら説明する。なお、各図面は、便宜的に実際とは異なる縮尺で描かれている場合がある。また、各図面において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明を省略する。以下の説明において、主走査方向とは、偏向器の回転軸(又は揺動軸)と光軸方向とに垂直な方向(偏向器により被走査面が光走査される方向)であり、副走査方向とは、偏向器の回転軸(又は揺動軸)に平行な方向である。また、主走査断面とは、副走査方向に垂直な断面(光軸を含み主走査方向に平行な断面)であり、副走査断面とは、主走査方向に垂直な断面(光軸を含み副走査方向に平行な断面)である。 Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Each drawing may be drawn on a different scale for convenience. Moreover, in each drawing, the same reference number is attached | subjected about the same member and the overlapping description is abbreviate | omitted. In the following description, the main scanning direction is a direction perpendicular to the rotation axis (or oscillating axis) of the deflector and the optical axis direction (the direction in which the scanning surface is optically scanned by the deflector). The direction is a direction parallel to the rotation axis (or swing axis) of the deflector. The main scanning cross section is a cross section perpendicular to the sub scanning direction (cross section including the optical axis and parallel to the main scanning direction), and the sub scanning cross section is a cross section perpendicular to the main scanning direction (including the optical axis and the sub scanning direction). (Cross section parallel to the scanning direction).
図1は、本実施形態に係る光走査装置100の要部概略図(主走査断面図)である。また、図2は、光走査装置100が有する入射光学系Lの要部概略図(副走査断面図)である。なお、図2では、入射光学系Lの光軸方向が図1における結像光学系6の光軸方向(X方向)に一致するように光路を展開し、マージナル光線を省略して主光線のみを示している。
FIG. 1 is a schematic diagram (main scanning cross-sectional view) of a main part of an
本実施形態に係る光走査装置100は、光源1と、光源1から出射する光束を偏向して被走査面7を主走査方向(矢印Bの方向)に光走査する偏向器5と、光源1からの光束を偏向器5の偏向面51に導光する入射光学系Lと、を有する。入射光学系Lは、主走査断面内(XY断面内)においては、光源1からの光束を被走査領域(被走査面7を光走査する走査光束が通過する領域)の外側から偏向面51に入射させている。
The
さらに、本実施形態に係る入射光学系Lは、副走査断面内(ZX断面内)においては、光源1からの光束を偏向面51に斜入射(主走査断面に対して斜めから入射)させる斜入射系である。これにより、偏向面51にて偏向された光束が光源1に戻ってくることを回避することができる。
Further, in the incident optical system L according to the present embodiment, in the sub-scanning section (in the ZX section), the incident light system L obliquely causes the light beam from the light source 1 to enter the
よって、偏向面51にて偏向された光束が主走査断面内において光源1に正対するタイミング、すなわち、主走査断面内において入射光学系Lからの光束が偏向面51に垂直入射(正対入射)する前後のタイミングにも、光源1を発光させることが可能になる。そして、そのタイミングに光源1から出射する光束を光検出部12により受光することで、光検出部12から出力された検出信号に基づいて光量制御を行うことができる。
Therefore, the timing when the light beam deflected by the
このように、光走査装置100によれば、従来の構成においては偏向面で反射された光束が光源に戻ってくるタイミングにも光源1を発光させることにより、光量の検出及び制御の時間を十分に確保することができ、高精度な光量制御を行うことが可能になる。
Thus, according to the
[実施例1]
以下、本発明の実施例1に係る光走査装置100について詳細に説明する。本実施例に係る光走査装置100の構成は、上述した実施形態に係る構成と同様である。
[Example 1]
Hereinafter, the
本実施例に係る光源1は、端面発光型レーザとしての半導体レーザであり、偏向器5に向けてフロント光束を射出するのと同時に、基板の裏側から偏向器5とは反対側に向けてリア光束を射出している。本実施例では、フロント光束を走査光束(被走査面7を光走査して像を形成するための光束)として用い、リア光束を光量制御のための検出用光束として用いている。 The light source 1 according to the present embodiment is a semiconductor laser as an edge-emitting laser, and emits a front light beam toward the deflector 5, and at the same time, rearward from the back side of the substrate toward the opposite side of the deflector 5. A light beam is emitted. In this embodiment, the front light beam is used as a scanning light beam (light beam for forming an image by optically scanning the surface to be scanned 7), and the rear light beam is used as a detection light beam for light amount control.
本実施例に係る入射光学系Lは、光源1からの光束を規制してその形状を成形する開口絞り2と、開口絞り2からの光束の集光状態(収束度)を変換する集光レンズ(集光光学素子)3と、を含んでいる。集光レンズ3は、主走査断面内と副走査断面内とで異なる屈折力(パワー)を有するアナモフィックレンズであり、光源1から出射した発散光束を、主走査断面内では平行光束又は収束光束に変換し、副走査断面内では収束光束に変換している。なお、集光レンズ3をコリメータレンズ及びシリンダレンズの2つの光学素子により構成してもよく、その際に2つの光学素子を一体化してもよい。
The incident optical system L according to the present embodiment includes an aperture stop 2 that regulates the shape of the light beam from the light source 1 and shapes the shape thereof, and a condensing lens that converts the condensing state (convergence) of the light beam from the aperture stop 2. (Condensing optical element) 3. The
表1に、本実施例に係る入射光学系Lの光学配置などの各数値を示す。なお、表1における「主走査断面内入射角」とは、主走査断面内において入射光学系Lから出射して偏向面51に入射する主光線と結像光学系6の光軸との成す角を示している。また、「副走査断面内入射角」とは、副走査断面内における入射光学系Lから出射した主光線の偏向面51に対する入射角を示している。
Table 1 shows numerical values such as the optical arrangement of the incident optical system L according to the present embodiment. The “incidence angle in the main scanning section” in Table 1 is an angle formed between the principal ray emitted from the incident optical system L and incident on the
本実施例に係る偏向器5は、複数の偏向面(反射面)を有する回転多面鏡(ポリゴンミラー)であり、モータ等で構成される不図示の駆動部により矢印Aの方向に一定速度(等角速度)で回転させられている。偏向器5は、入射光学系Lにより導光された光束を各偏向面51にて偏向し、被走査面7を主走査方向に光走査している。なお、偏向器5としては、一定速度で揺動する揺動ミラーなどを採用してもよい。
The deflector 5 according to the present embodiment is a rotating polygonal mirror (polygon mirror) having a plurality of deflecting surfaces (reflecting surfaces), and has a constant speed (in the direction of arrow A) by a driving unit (not shown) configured by a motor or the like. Is rotated at a constant angular velocity). The deflector 5 deflects the light beam guided by the incident optical system L at each
偏向器5から被走査面7に至る光路中には、集光機能及びfθ特性を有する結像レンズ(結像光学素子)から成る結像光学系6が配置されている。この結像レンズは、プラスチック(樹脂)材料から成るアナモフィックレンズであり、光軸上では主走査断面内及び副走査断面内の何れにおいても正のパワーを有している。結像光学系6は、偏向器5により偏向された光束を被走査面7の上に導光及び集光し、スポット像を形成している。なお、結像光学系6は、副走査断面内において、偏向面51と被走査面7とを共役関係にすることで、偏向面51の面倒れ補償を行っている。
In the optical path from the deflector 5 to the scanned surface 7, an imaging
表2に、本実施例に係る結像光学系の光学配置などの各数値を示す。 Table 2 shows numerical values such as the optical arrangement of the imaging optical system according to the present embodiment.
本実施例に係る結像光学系6の各レンズ面(入射面及び出射面)の、面頂点を含む主走査断面内での形状(母線形状)は、12次までの関数として表すことができる非球面形状である。具体的には、各レンズ面と光軸との交点を原点とし、光軸方向の軸をX軸、主走査面内において光軸と直交する軸をY軸、とするとき、各レンズ面の母線形状は以下の式によって表される。
The shape (bus shape) of each lens surface (incident surface and output surface) of the imaging
但し、Rは光軸上における主走査断面内での曲率半径(母線曲率半径)であり、K、B4、B6、B8、B10、B12は主走査断面内での非球面係数である。また、主走査方向の各々の位置における副走査断面内での各レンズ面の形状(子線形状)は、以下の式によって表される。 However, R is a radius of curvature (bus curvature radius) in the main scanning section on the optical axis, and K, B 4 , B 6 , B 8 , B 10 , and B 12 are aspheric coefficients in the main scanning section. It is. The shape of each lens surface (sub-line shape) in the sub-scan section at each position in the main scanning direction is expressed by the following equation.
1/r´=1/r+D2Y2+D4Y4+D6Y6+D8Y8+D10Y10+D12Y12 1 / r ′ = 1 / r + D 2 Y 2 + D 4 Y 4 + D 6 Y 6 + D 8 Y 8 + D 10 Y 10 + D 12 Y 12
ただし、rは光軸上における副走査断面内での曲率半径(子線曲率半径)、D2、D4、D6、D8、D10、D12は子線変化係数、r´は像高Yの位置における子線曲率半径、Mj_kは副走査断面内での非球面係数、である。例えば、Mj_1はZの1次項であり、副走査断面内でのレンズ面の傾き(子線チルト)を示す。本実施例では、0、2、4、6、8、10次の係数を用いて、主走査方向において子線チルト量を変化させている。 Here, r is a radius of curvature (sub-wire curvature radius) in the sub-scan section on the optical axis, D 2 , D 4 , D 6 , D 8 , D 10 , D 12 are sub-line change coefficients, and r ′ is an image. The sub-curvature radius of curvature at the position of high Y, Mj_k, is an aspheric coefficient in the sub-scan section. For example, Mj_1 is the first-order term of Z, and indicates the tilt (child line tilt) of the lens surface in the sub-scan section. In this embodiment, the sub-line tilt amount is changed in the main scanning direction using 0th, 2nd, 4th, 6th, 8th, and 10th order coefficients.
表3に、本実施例に係る結像レンズの各レンズ面の形状データを示す。なお、表3おける各係数について、添え字uは、結像レンズの各レンズ面頂点(すなわち光軸)に対して光源1と同じ側(Upper側)を示し、添字lは、結像レンズの各レンズ面頂点に対して光源1とは反対側(Lower側)を示している。添え字u及びlが付いていない係数は、Upper側とLower側とで共通の係数である。 Table 3 shows shape data of each lens surface of the imaging lens according to the present embodiment. For each coefficient in Table 3, the subscript u indicates the same side (Upper side) as the light source 1 with respect to each lens surface vertex (that is, the optical axis) of the imaging lens, and the subscript l indicates the imaging lens. The side opposite to the light source 1 (Lower side) is shown with respect to each lens surface vertex. Coefficients without subscripts u and l are coefficients common to the Upper side and the Lower side.
次に、本実施例に係る光走査装置100における光量制御について詳細に説明する。
Next, the light amount control in the
光走査装置100では、光源1から出射する光束を光検出部12により検出し、得られた検出信号を光源1の駆動回路にフィードバックすることで、光源1から出射する光束の強度を自動制御する方法(オートパワーコントロール:APC)を採用している。これにより、光源1の出力(発光光量)が常に設計値と等しくなるように制御することができるため、温度変化に依らず安定した画像形成を行うことが可能になる。
In the
上述したように、本実施例では光源1として端面発光型レーザを用いており、そのレーザパッケージ内に配置された光検出部12としてのフォトディテクタ(光量検出素子)により、レーザ基板の裏側から出射するリア光束を検出する構成を採っている。そして、光検出部12から出力される検出信号に基づいて、光量制御部(APCユニット)13により光量制御を行っている。なお、光量制御部13としては、CPUやMPUなどのプロセッサを採用することができる。
As described above, in this embodiment, an edge-emitting laser is used as the light source 1, and the light is emitted from the back side of the laser substrate by the photodetector (light quantity detection element) as the
図2に示すように、光源1から出射して偏向面51に入射する入射光束(フロント光束)LLは、主走査断面内において偏向面51が特定の偏向角になったときに、入射光学系Lの側に向けて偏向される。ここで、入射光学系Lは、副走査断面内において偏向面51に対して3°の入射角で入射光束LLを斜入射させているため、偏向面51で偏向された偏向光束DLは、入射光学系Lに戻らずにその下方へ偏向され、不図示の遮光部で遮光される。
As shown in FIG. 2, an incident light beam (front light beam) LL emitted from the light source 1 and incident on the
このように、本実施例では、入射光学系Lを斜入射系とすることにより、偏向光束DLが光源1に戻ってきて光量制御の精度が低下してしまうことを回避することができる。よって、主走査断面内において入射光束LLが偏向面51に垂直入射する前後のタイミング、すなわち、入射光束LL及び偏向光束DL(入射光学系Lの光軸及び偏向面51の面法線)が互いに重なる前後のタイミングにも、光源1を発光させることが可能になる。
In this way, in this embodiment, by making the incident optical system L an oblique incidence system, it is possible to prevent the deflection light beam DL from returning to the light source 1 and reducing the accuracy of light amount control. Therefore, the timing before and after the incident light beam LL is perpendicularly incident on the deflecting
図3は、光源の発光タイミングを表すタイムチャートであり、図3(a)は比較例に係るタイムチャートを示し、図3(b)は本実施例に係るタイムチャートを示している。なお、比較例では、入射光学系が斜入射系ではない従来の光走査装置において光量制御を行う場合を想定している。図3に示すように、光量制御は、被走査面における被走査領域(有効走査領域)に光束が到達する前に行う必要がある。これは、光束が被走査領域を通過している間に光量制御を行うと、光量の変化により形成画像の濃度が不均一になってしまうためである。 FIG. 3 is a time chart showing the light emission timing of the light source, FIG. 3A shows a time chart according to the comparative example, and FIG. 3B shows a time chart according to the present embodiment. In the comparative example, it is assumed that the light amount control is performed in a conventional optical scanning device in which the incident optical system is not an oblique incident system. As shown in FIG. 3, the light amount control needs to be performed before the light beam reaches the scanning area (effective scanning area) on the scanning surface. This is because if the light amount control is performed while the light beam passes through the scanned region, the density of the formed image becomes non-uniform due to the change in the light amount.
比較例においては、図3(a)に示すように、偏向面で反射された光束が光源に戻ってきてしまうタイミング(偏向面に光束が垂直入射する前後のタイミング)では、光源の発光を停止する必要がある。よって、光量の検出及び制御の時間を十分に確保することができず、かつ、そのタイミングの前後で光量の検出及び制御の時間が分断されて不連続になってしまうため、高精度な光量制御が困難になる。 In the comparative example, as shown in FIG. 3A, light emission of the light source is stopped at the timing when the light beam reflected by the deflection surface returns to the light source (timing before and after the light beam is vertically incident on the deflection surface). There is a need to. Therefore, a sufficient amount of time for detection and control of the amount of light cannot be secured, and the amount of time for detection and control of the amount of light is divided before and after the timing and becomes discontinuous. Becomes difficult.
対して、本実施例においては、図3(b)に示すように、偏向面に光束が垂直入射する前後のタイミングにも光源を発光させることができる。よって、偏向面に光束が垂直入射するタイミングの前からそのタイミングの後にかけて、光量の検出及び制御を連続的に十分な時間行うことが可能になる。 On the other hand, in this embodiment, as shown in FIG. 3B, the light source can also emit light at the timing before and after the light beam is vertically incident on the deflection surface. Therefore, it is possible to continuously detect and control the amount of light for a sufficient period of time before and after the timing at which the light beam vertically enters the deflection surface.
[実施例2]
以下、本発明の実施例2に係る光走査装置200について詳細に説明する。本実施例に係る光走査装置200は、実施例1に係る光走査装置100とは異なり、同期検知部8を備え、光量制御及び同期検知を同時に行うことができる構成を採っている。図4は、光走査装置200が有する入射光学系L及び同期検知部8の要部概略図であり、図4(a)は副走査断面図を示し、図4(b)は正面図を示している。なお、光走査装置200の構成は、同期検知部8以外については光走査装置100の構成と同様である。
[Example 2]
Hereinafter, the optical scanning device 200 according to the second embodiment of the present invention will be described in detail. Unlike the
本実施例に係る同期検知部8は、偏向面51にて偏向された偏向光束DLを導光及び集光する同期検知レンズ(同期検知光学素子)81と、同期検知レンズ81からの光束を受光して同期信号を生成する同期検知センサ(同期検知受光素子)82と、を有する。本実施例では、この同期検知センサ82から出力された同期信号に基づいて、同期制御部14により被走査面7での主走査方向における書き出し位置を決定している。
The synchronization detection unit 8 according to the present embodiment receives a light beam from the
図4(a)に示すように、本実施例では、部品点数の削減のために集光レンズ3(第1の光学素子)と同期検知レンズ81(第2の光学素子)とを一体的に成形(一体化)しているが、必要に応じて夫々を分離して配置してもよい。また、本実施例では、光源1と同期検知センサ82とを同一基板上に実装することにより、部品点数を削減しつつ、夫々の相対位置のずれを抑制している。
As shown in FIG. 4A, in this embodiment, the condensing lens 3 (first optical element) and the synchronization detection lens 81 (second optical element) are integrated to reduce the number of components. Although formed (integrated), they may be separately arranged as necessary. In the present embodiment, the light source 1 and the
表4に、同期検知部8の光学配置などの各数値を示す。なお、表4における「主走査断面内入射角」とは、主走査断面内において偏向面51にて偏向され同期検知部8に向かう主光線と結像光学系6の光軸との成す角を示している。また、「副走査断面内入射角」とは、副走査断面内における偏向面51にて偏向された主光線の同期検知センサ82の受光面(センサ面)に対する入射角を示している。
Table 4 shows numerical values such as the optical arrangement of the synchronization detection unit 8. The “incident angle in the main scanning section” in Table 4 is an angle formed between the principal ray deflected by the deflecting
図4(a)に示すように、光源1から出射して偏向面51に入射する入射光束LLは、ある偏向角において入射光学系Lの下方に向けて偏向される。そして、図4(b)に示すように、本実施例では、入射光学系L及び同期検知部8の副走査断面内入射角が互いに同じになるように、夫々が副走査方向に並べて配置されているため、偏向光束DLは同期検知部8に入射する。
As shown in FIG. 4A, the incident light beam LL emitted from the light source 1 and incident on the deflecting
このように、本実施例によれば、光源1から出射するリア光束を用いた光量制御と同時に、光源1から出射するフロント光束を用いた同期検知を行うことができる。このとき、入射光学系Lを斜入射系としたことにより、主走査断面内において入射光束LLが偏向面51に垂直入射する前後のタイミングにも、光量制御及び同期検知を行うことが可能になる。
As described above, according to the present embodiment, it is possible to perform synchronous detection using the front light beam emitted from the light source 1 simultaneously with the light amount control using the rear light beam emitted from the light source 1. At this time, since the incident optical system L is an oblique incident system, it is possible to perform light amount control and synchronization detection at timings before and after the incident light beam LL is perpendicularly incident on the deflecting
さらに、入射光学系Lと同期検知部8とを副走査方向に並べて配置したことにより、主走査断面内において、同期検知部8を配置するためのスペースを縮小することができる。この結果、偏向器5の走査画角を広角化することができるため、結像光学系6と被走査面7との距離を短縮することができ、装置全体を小型化することが可能になる。また、上記構成を採ることにより、入射光学系L及び同期検知部8をより結像光学系6に近い位置に配置することができるため、走査光束と偏向光束DLとの誤差を小さくすることができ、同期検知を高精度に行うことが可能になる。
Furthermore, by arranging the incident optical system L and the synchronization detection unit 8 side by side in the sub-scanning direction, the space for arranging the synchronization detection unit 8 can be reduced in the main scanning section. As a result, since the scanning field angle of the deflector 5 can be widened, the distance between the imaging
ここで、装置全体を十分に小型化するためには、本実施例のように、主走査断面内において光源1と同期検知センサ82とが重なるように、すなわち入射光束LLと偏向光束DLとが一致するように構成することが好ましい。なお、ここでの「一致」とは、主走査断面内において入射光束LL及び偏向光束DLの両光束の主光線が厳密に一致している場合だけでなく、両光束が全光路に渡り重なっている場合など、「略一致」する場合も含んでいる。ただし、この構成に限らず、必要に応じて光源1と同期検知センサ82とを主走査断面内においてずらして配置してもよい。
Here, in order to sufficiently reduce the size of the entire apparatus, as in the present embodiment, the light source 1 and the
[実施例3]
以下、本発明の実施例3に係る光走査装置300について詳細に説明する。本実施例に係る光走査装置300は、実施例1に係る光走査装置100とは異なり、光源11として面発光型レーザを採用し、光分離素子9により分離した光束を用いて光量制御を行っている。図5は、本実施例に係る光走査装置300の要部概略図(主走査断面図)であり、図6は、光走査装置300が有する入射光学系Lの要部概略図(副走査断面図)である。
[Example 3]
Hereinafter, the
光源1として面発光型レーザを用いた場合、端面発光型レーザのように基板の裏側からリア光束が出射することはないため、光量制御を行うためには、面発光型レーザから偏向面51に向かって出射した光束を分離して検出する必要がある。そこで、本実施例では、集光レンズ3と偏向面51との間の光路中に光分離素子9としてのハーフミラーを配置し、光源1からの光束を、偏向面51に向かう光束(透過光束)と光検出部12に向かう光束(反射光束)とに分離している。これにより、光検出部12によって常に光量を検出することができるため、高精度な光量制御を行うことが可能になる。
When a surface emitting laser is used as the light source 1, a rear light beam is not emitted from the back side of the substrate unlike an edge emitting laser. Therefore, in order to perform light amount control, the surface emitting laser is applied to the
なお、本実施例では、光分離素子9からの反射光束を光検出部12の受光面に集光するための集光レンズ10を設けているが、必要に応じて、集光レンズ3と集光レンズ10とを一体的に形成してもよい。また、光分離素子9としては、ハーフミラーに限らず、必要に応じて、透過光束及び反射光束の強度が互いに異なるビームスプリッタや、入射面と出射面とが非平行であるクサビ形状のプリズム(ウエッジプリズム)などを用いてもよい。また、本実施例においても、実施例2と同様に、光源1及び光検出部12が実装されている基板上に同期検知センサを設けることで、光量制御及び同期検知を同時に行うことができるようにしてもよい。
In this embodiment, the condensing
[画像形成装置]
図7は、本発明の実施形態に係る画像形成装置600の要部概略図(ZX断面図)である。画像形成装置600は、光走査装置500により並行して4つの感光ドラム(感光体)の感光面(被走査面)に画像情報を記録する、タンデムタイプのカラー画像形成装置である。
[Image forming apparatus]
FIG. 7 is a schematic diagram (ZX cross-sectional view) of a main part of the
画像形成装置600は、プリンタコントローラ530と、光走査装置500と、像担持体としての感光ドラム210、220、230、240と、現像器310、320、330、340と、搬送ベルト510と、定着器540とを備えている。光走査装置500としては、各実施例に係る光走査装置を4つ備える構成を採用することができる。このとき、光走査装置500は、副走査方向が感光ドラム210〜240の夫々の回転方向であるZ方向に一致するように配置される。
The
図7に示すように、パーソナルコンピュータ等の外部機器520からは、R(レッド)、G(グリーン)、B(ブルー)の各色信号が出力される。各色信号は、プリンタコントローラ530によってY(イエロー)、M(マゼンタ)、C(シアン)、K(ブラック)の各画像データ(ドットデータ)に変換され、光走査装置500に入力される。なお、プリンタコントローラ530は、前述した信号の変換だけでなく、後述するモータなどの画像形成装置600における各部の制御を行う。
As shown in FIG. 7, R (red), G (green), and B (blue) color signals are output from an
光走査装置500は、各画像データに応じて変調された光束410、420、430、440の夫々によって、感光ドラム210〜240の感光面を主走査方向(Y方向)に光走査する。感光ドラム210〜240の夫々は、不図示のモータによって時計回りに回転させられ、この回転に伴って各感光面が光束410〜440に対して副走査方向(Z方向)に移動する。光束410〜440の夫々により、不図示の帯電ローラにより帯電させられた各感光面が露光されることで、各感光面上に静電潜像が形成される。
The
その後、感光ドラム210〜240の各感光面上に形成された各色の静電潜像は、現像器310〜340の夫々によって各色のトナー像として現像される。そして、各色のトナー像は、不図示の転写器によって、搬送ベルト510により搬送されてきた被転写材に多重転写された後、定着器540によって定着させられる。以上の工程により、1枚のフルカラー画像が形成される。
Thereafter, the electrostatic latent images of the respective colors formed on the photosensitive surfaces of the
なお、光走査装置500としては、少なくとも各実施例に係る光源及び入射光学系を備えた構成であればよく、例えば1つの偏向器により4つの被走査面を光走査するタンデム型の光走査装置を採用してよい。また、例えばCCDセンサやCMOSセンサ等のラインセンサを備えたカラー画像読取装置を、外部機器520として画像形成装置600に接続することにより、カラーデジタル複写機を構成してもよい。
The
[変形例]
以上、本発明の好ましい実施形態及び実施例について説明したが、本発明はこれらの実施形態及び実施例に限定されず、その要旨の範囲内で種々の組合せ、変形及び変更が可能である。
[Modification]
The preferred embodiments and examples of the present invention have been described above, but the present invention is not limited to these embodiments and examples, and various combinations, modifications, and changes can be made within the scope of the gist.
例えば、上述した実施例1及び2では、光源として1つの発光点のみを有する半導体レーザを採用しているが、これに限られるものではない。必要に応じて、複数の発光点を有するモノリシックマルチビームレーザを採用することにより、被走査面における画像形成を高速に行うことができる構成を採ってもよい。また、実施例3においても、複数の発光点を有する垂直共振器型面発光レーザ(VCSEL)などを採用してもよい。 For example, in the first and second embodiments described above, a semiconductor laser having only one light emitting point is employed as the light source, but the present invention is not limited to this. If necessary, a configuration capable of forming an image on a scanned surface at high speed by adopting a monolithic multi-beam laser having a plurality of light emitting points may be adopted. Also in Example 3, a vertical cavity surface emitting laser (VCSEL) having a plurality of light emitting points may be employed.
ここで、マルチビームレーザを採用した場合、複数の発光点の全ての光量制御を同時に行うことはできないため、複数の光束の夫々を順次検出して各発光点の光量制御を行う必要がある。よって、上述した比較例にマルチビームレーザを適用した場合、一走査内での光量の検出及び制御の時間を十分に確保することができないため、全ての発光点の光量制御を終えるまでに何回も光走査を行う必要があり、光量制御の合計時間が長くなってしまう。対して、各実施例にマルチビームレーザを適用した場合、一走査内での光量制御の時間を十分に確保することができるため、光量制御の合計時間を短縮することが可能になる。 Here, when a multi-beam laser is employed, it is not possible to simultaneously control all the light amounts of a plurality of light emitting points, so it is necessary to sequentially detect each of a plurality of light beams and control the light amount of each light emitting point. Therefore, when the multi-beam laser is applied to the above-described comparative example, it is not possible to secure a sufficient amount of time for detecting and controlling the amount of light within one scan. However, it is necessary to perform optical scanning, and the total time of light quantity control becomes long. On the other hand, when the multi-beam laser is applied to each embodiment, it is possible to secure a sufficient amount of light control time within one scan, and thus it is possible to reduce the total time of light control.
また、実施例1及び2では、端面発光型レーザから出射するリア光束を検出して光量制御を行っているが、必要に応じて、フロント光束を検出して光量制御を行うように構成してもよい。その際、例えば、実施例1において、実施例2に係る同期検知センサが配置されている位置に光検出部を設けてもよいし、実施例2において、同期検知センサと隣接するように同一の基板上に光検出部を設けてもよい。あるいは、実施例3のように、フロント光束を光分離素子により分離して検出するようにしてもよい。また、各実施例において光検出部を同期検知センサとして用い、光検出部からの信号に基づいて同期検知を行ってもよいし、1つの光検出部により光量検出及び同期検知を同時に行ってもよい。 In Examples 1 and 2, the rear light beam emitted from the edge-emitting laser is detected and the light amount control is performed. However, if necessary, the front light beam is detected and the light amount control is performed. Also good. At that time, for example, in the first embodiment, a light detection unit may be provided at a position where the synchronization detection sensor according to the second embodiment is arranged. In the second embodiment, the light detection unit may be adjacent to the synchronization detection sensor. You may provide a photon detection part on a board | substrate. Alternatively, as in the third embodiment, the front light beam may be separated and detected by a light separation element. Further, in each embodiment, the light detection unit may be used as a synchronization detection sensor, and synchronization detection may be performed based on a signal from the light detection unit, or light amount detection and synchronization detection may be performed simultaneously by one light detection unit. Good.
各実施例において、光源の発光タイミング制御は、光源の内部に設けられた制御部により行うようにしてもよいし、外部に設けられた制御部により行うようにしてもよい。また、光量制御部及び同期制御部は、光走査装置の内部に配置されていてもよいし、画像形成装置の内部に配置されていてもよい。このとき、1つの制御部により光量制御、同期制御、光源の発光タイミング制御、の少なくとも1つを行うように構成してもよい。 In each embodiment, the light emission timing control of the light source may be performed by a control unit provided inside the light source, or may be performed by a control unit provided outside. Further, the light quantity control unit and the synchronization control unit may be arranged inside the optical scanning device or may be arranged inside the image forming apparatus. At this time, at least one of light quantity control, synchronization control, and light emission timing control of the light source may be performed by one control unit.
なお、各実施例においては、1つの光源からの光束により1つの被走査面を光走査しているが、これに限らず、複数の光源からの光束により複数の被走査面を光走査する構成を採用してもよい。このとき、1つの偏向面で同時に複数の光束を偏向する構成を採ってもよいし、複数の偏向面により複数の光束を偏向する構成を採ってもよい。このとき、偏向面から複数の被走査面に至る夫々の光路において、結像レンズを個別に配置してもよいし、結像レンズを一体化して光路同士で共有するように構成してもよい。また、結像レンズの数、材料、及び形状については、光走査装置の構成に応じて適宜変更してもよい。 In each embodiment, one scanned surface is optically scanned with a light beam from one light source. However, the present invention is not limited to this, and a plurality of scanned surfaces are optically scanned with light beams from a plurality of light sources. May be adopted. At this time, a configuration in which a plurality of light beams are deflected simultaneously by one deflection surface may be employed, or a configuration in which a plurality of light beams are deflected by a plurality of deflection surfaces may be employed. At this time, in each optical path from the deflection surface to the plurality of scanned surfaces, the imaging lenses may be individually arranged, or the imaging lenses may be integrated and shared by the optical paths. . Further, the number, material, and shape of the imaging lens may be appropriately changed according to the configuration of the optical scanning device.
1 光源
5 偏向器
7 被走査面
12 光検出部
51 偏向面
L 入射光学系
100 光走査装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Light source 5 Deflector 7
Claims (12)
前記入射光学系は、主走査断面内においては光束を被走査領域の外側から前記偏向面に入射させ、かつ副走査断面内においては光束を前記偏向面に斜入射させており、
前記光源は、主走査断面内において前記入射光学系からの光束が前記偏向面に垂直入射するタイミングに、光束を射出することを特徴とする光走査装置。 A light source, a deflector that deflects the light beam from the light source and optically scans the surface to be scanned in the main scanning direction, and an incident optical system that guides the light beam from the light source to the deflection surface of the deflector. An optical scanning device,
The incident optical system causes a light beam to be incident on the deflection surface from the outside of the scanned region in the main scanning section, and obliquely incident on the deflection surface in the sub-scanning section,
The light source emits a light beam at a timing when the light beam from the incident optical system is perpendicularly incident on the deflection surface in a main scanning section.
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