JP2017010104A - Touch panel device, control method therefor and control program - Google Patents

Touch panel device, control method therefor and control program Download PDF

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JP2017010104A JP2015121909A JP2015121909A JP2017010104A JP 2017010104 A JP2017010104 A JP 2017010104A JP 2015121909 A JP2015121909 A JP 2015121909A JP 2015121909 A JP2015121909 A JP 2015121909A JP 2017010104 A JP2017010104 A JP 2017010104A
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祐樹 野川
Yuki Nogawa
祐樹 野川
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To securely prevent wrong detection on multiple touches due to change in inter-terminal resistance value caused by temperature change or secular change.SOLUTION: An arithmetic processor 300 determines, based upon a single-touch threshold and a multi-touch threshold, which of a single touch one point and multiple touches on a plurality of points are made on a touch panel 100. A touch panel device has update means of measuring, as a non-touch resistance value, a resistance value of the touch panel in a non-touch state, and performing update processing for updating the single-touch threshold and the multi-touch threshold according to the non-touch resistance value and a preset resistance value when the touch panel device is actuated. When the power supply is turned on, the arithmetic processor measures, as the non-touch resistance value, the resistance value with the touch panel in the non-touch state, and updates the single-touch threshold and multi-touch threshold according to an initial non-touch resistance value and the preset thresholds.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、タッチパネル装置、その制御方法、および制御プログラムに関し、特に、撮像装置などで用いられるタッチパネル装置におけるキャリブレーション手法に関する。   The present invention relates to a touch panel device, a control method thereof, and a control program, and more particularly to a calibration method in a touch panel device used in an imaging device or the like.

一般に、デジタルカメラなどの撮像装置に備えられたユーザーインタフェースにおいては直感的な操作が要求されており、例えば、ユーザーインタフェースとしてタッチパネル装置が用いられている。そして、タッチパネル装置を用いた操作において、特に、2点検出を行う所謂マルチタッチ操作が必須となりつつある。マルチタッチ操作の一例として、2本の指を用いて画像の拡大又は縮小を行う操作がある。   In general, an intuitive operation is required in a user interface provided in an imaging apparatus such as a digital camera. For example, a touch panel device is used as a user interface. In the operation using the touch panel device, a so-called multi-touch operation for detecting two points is becoming essential. As an example of the multi-touch operation, there is an operation for enlarging or reducing an image using two fingers.

一方、タッチパネル装置で用いられるタッチパネルの一つとして所謂抵抗膜式のタッチパネル(以下抵抗膜タッチパネルと呼ぶ)がある。抵抗膜タッチパネルでは、1つの指を用いてタッチ操作を行うシングルタッチとマルチタッチとを判別する際には、端子間抵抗値に応じて判別を行っている。   On the other hand, there is a so-called resistive film type touch panel (hereinafter referred to as a resistive film touch panel) as one of touch panels used in the touch panel device. In the resistive touch panel, when a single touch that performs a touch operation using one finger and a multi-touch are determined, the determination is performed according to the inter-terminal resistance value.

ところが、端子間抵抗値は温度変化又は経年変化による影響によって変動する。そして、端子間抵抗値の変動によって、タッチ操作の際の検出位置がずれる事態が生じる。   However, the resistance value between terminals varies due to the influence of temperature change or aging. And the situation where the detection position in the case of touch operation shifts arises by the fluctuation | variation of the resistance value between terminals.

温度変化又は経年変化に対処するため、例えば、高精度の固定抵抗値を基準として、初期状態における端子間抵抗値を測定するようにしたものがある(特許文献1参照)。ここでは、初期状態において得られた端子間抵抗値に基づいて現在の端子間抵抗値を測定して変化率を算出する。そして、算出した変化率に基づいてシングルタッチ補正のためのキャリブレーション値を更新して位置ずれ補正(検出位置ずれ補正)を行っている。   In order to cope with temperature change or aging change, for example, there is one in which the resistance value between terminals in the initial state is measured based on a highly accurate fixed resistance value (see Patent Document 1). Here, the current inter-terminal resistance value is measured based on the inter-terminal resistance value obtained in the initial state, and the rate of change is calculated. Then, based on the calculated change rate, the calibration value for single touch correction is updated to perform position shift correction (detected position shift correction).

特開2001−265512号公報JP 2001-265512 A

上述のように、端子間抵抗値の変化率を算出すれば、検出位置のずれ量および検出位置のずれ方向をおおまかに把握することができる。そして、端子間抵抗値の変化率に応じて、キャリブレーション値を更新すれば検出位置のずれを低減することができる。   As described above, if the change rate of the resistance value between the terminals is calculated, it is possible to roughly grasp the shift amount of the detection position and the shift direction of the detection position. Then, if the calibration value is updated according to the change rate of the inter-terminal resistance value, the deviation of the detection position can be reduced.

しかしながら、上述の特許文献1に記載の手法では、シングルタッチのみを考慮し、マルチタッチについては考慮していないので、マルチタッチを行った場合には、不可避的に誤検知が生じてしまう。   However, in the method described in Patent Document 1 described above, only single touch is considered and multi-touch is not considered. Therefore, when multi-touch is performed, erroneous detection inevitably occurs.

そこで、本発明の目的は、温度変化又は経年変化による端子間抵抗値の変化に起因するマルチタッチの誤検出を確実に防止することのできるタッチパネル装置、その制御方法、および制御プログラムを提供することにある。   Therefore, an object of the present invention is to provide a touch panel device that can reliably prevent erroneous detection of multi-touch due to a change in resistance value between terminals due to a temperature change or a secular change, a control method thereof, and a control program. It is in.

上記の目的を達成するため、本発明によるタッチパネル装置は、タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置であって、前記タッチパネルにおいて1点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定手段と、前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新処理を行う更新手段と、を有することを特徴とする。   In order to achieve the above object, a touch panel device according to the present invention includes a touch panel whose resistance value changes according to a touch position, and accepts an operation according to a touch position when the touch operation is performed on the touch panel. , A single touch threshold used when determining whether or not a single touch for touching one point on the touch panel has been performed, and determining whether or not a multitouch for touching a plurality of points on the touch panel has been performed Determining means for determining whether the single touch or the multi-touch has been performed based on a multi-touch threshold used at the time, and the touch panel is in a non-touch state when the touch panel device is activated. If the resistance value of the touch panel is a non-touch resistance value Constant, and characterized by having a, and updating means for updating process of updating the single touch threshold and the multi-touch threshold value according the the non-touch resistance value and the preset resistance value.

本発明による制御方法は、タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置の制御方法であって、前記タッチパネルにおいて1点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、を有することを特徴とする。   A control method according to the present invention is a control method for a touch panel device that includes a touch panel whose resistance value changes according to a touch position and receives an operation according to the touch position when the touch panel is touched. A single touch threshold used when determining whether or not a single touch for touching a point has been performed and a multi touch used for determining whether or not a multitouch for touching a plurality of points on the touch panel has been performed. A determination step of determining whether the single touch or the multi-touch is performed based on a touch threshold; and the touch panel when the touch panel is in a non-touch state when the touch panel device is activated. The resistance value is measured as a non-touch resistance value, and the non-touch value is measured. And updating step of updating the single touch threshold and the multi-touch threshold value according to the preset resistance value and anti-value, and having a.

本発明による制御プログラムは、タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置で用いられる制御プログラムであって、前記タッチパネル装置が備えるコンピュータに、前記タッチパネルにおいて1点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、を実行させることを特徴とする。   A control program according to the present invention is a control program used in a touch panel device that includes a touch panel whose resistance value changes according to a touch position and receives an operation according to a touch position when the touch panel is touched. A single touch threshold used when determining whether or not a single touch for touching one point on the touch panel has been performed on the computer included in the apparatus and multitouch for touching a plurality of points on the touch panel have been performed. A determination step of determining whether the single touch or the multi-touch has been performed based on a multi-touch threshold value used when determining whether or not the touch panel is activated when the touch panel device is activated. When not touched Measuring the resistance value of the touch panel as a non-touch resistance value, and updating the single touch threshold value and the multi-touch threshold value according to the non-touch resistance value and a preset resistance value. It is characterized by.

本発明によれば、起動後に測定された非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じてシングルタッチ閾値およびマルチタッチ閾値を更新する。これによって、温度変化又は経年変化による抵抗値の変化に起因するマルチタッチの誤検出を確実に防止することができる。   According to the present invention, the single touch threshold value and the multi-touch threshold value are updated according to the non-touch resistance value measured after activation and the preset resistance value. Accordingly, it is possible to reliably prevent erroneous detection of multi-touch due to a change in resistance value due to a temperature change or a secular change.

本発明の第1の実施形態によるタッチパネル装置の一例についてその構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure about an example of the touchscreen device by the 1st Embodiment of this invention. 図1に示すタッチパネルにおける端子間抵抗値の測定を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the measurement of the resistance value between terminals in the touch panel shown in FIG. 図1に示すタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the calculation and update of the single threshold value and multi threshold value which are performed with the touch-panel apparatus shown in FIG. 本発明の第2の実施形態によるタッチパネル装置において時間の経過と端子間抵抗との関係の一例を説明するための図であり、(a)は高温時における端子間抵抗値の推移を示す図、(b)は低温時における端子間抵抗値の推移を示す図である。It is a figure for demonstrating an example of the relationship between progress of time and resistance between terminals in the touchscreen device by a 2nd embodiment of the present invention, and (a) is a figure showing change of resistance between terminals at the time of high temperature, (B) is a figure which shows transition of the resistance value between terminals in the time of low temperature. 本発明の第2の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the calculation and update of the single threshold value and multi threshold value which are performed with the touchscreen device by the 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第3の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the calculation and update of the single threshold value and multi threshold value which are performed with the touchscreen device by the 3rd Embodiment of this invention.

以下に、本発明の実施の形態によるタッチパネル装置の一例について図面を参照して説明する。   Hereinafter, an example of a touch panel device according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

[第1の実施形態]
図1は、本発明の第1の実施形態によるタッチパネル装置の一例についてその構成を示すブロック図である。
[First Embodiment]
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an example of a touch panel device according to the first embodiment of the present invention.

図示のタッチパネル装置は、タッチパネル100を備えており、タッチパネル100として抵抗膜タッチパネルが用いられている。さらに、タッチパネル装置は、LCDパネル200、記録装置400、および演算処理装置300を有している。   The illustrated touch panel device includes a touch panel 100, and a resistive film touch panel is used as the touch panel 100. Furthermore, the touch panel device includes an LCD panel 200, a recording device 400, and an arithmetic processing device 300.

演算処理装置300は、画像などのコンテンツを管理するためのコンテンツ管理装置(図示せず)の動作を制御する。演算処理装置300は、タッチパネル100を介してユーザーから指示を受け付けて、後述する各種プログラムを実行して、LCDパネル200を制御する。   The arithmetic processing device 300 controls the operation of a content management device (not shown) for managing content such as images. The arithmetic processing device 300 receives instructions from the user via the touch panel 100 and executes various programs described later to control the LCD panel 200.

記録装置400は、例えば、演算処理装置300のワークエリアとして用いられ、記録装置400には初期値記録部および閾値記録部(ともに図示せず)が備えられている。また、タッチパネル100には端子間抵抗値を測定するための端子間抵抗値測定部100aが備えられている。   The recording device 400 is used as, for example, a work area of the arithmetic processing device 300, and the recording device 400 includes an initial value recording unit and a threshold value recording unit (both not shown). In addition, the touch panel 100 is provided with an inter-terminal resistance measurement unit 100a for measuring the inter-terminal resistance value.

上述の初期値記録部には、初期状態における非タッチ、シングルタッチ、およびマルチタッチの端子間抵抗値が記録されている。以下、初期状態における非タッチ、シングルタッチ、およびマルチタッチの端子間抵抗値をそれぞれ初期非タッチ端子間抵抗値(初期非タッチ抵抗値:予め設定された抵抗値)、初期シングル端子間抵抗値(初期シングルタッチ抵抗値)、および初期マルチ端子間抵抗値(初期マルチタッチ抵抗値)と呼ぶ。   The initial value recording unit records non-touch, single touch, and multi-touch inter-terminal resistance values in the initial state. Hereinafter, the non-touch, single-touch, and multi-touch inter-terminal resistance values in the initial state are respectively the initial non-touch inter-terminal resistance values (initial non-touch resistance value: preset resistance value) and initial single inter-terminal resistance values ( Initial single touch resistance value) and initial multi-terminal resistance value (initial multi-touch resistance value).

なお、シングルタッチとはタッチパネル100において1点をタッチする操作であり、マルチタッチとはタッチパネル100において複数の点をタッチする操作である。   Single touch is an operation of touching one point on the touch panel 100, and multi-touch is an operation of touching a plurality of points on the touch panel 100.

さらに、初期値記録部には、初期シングル端子間抵抗値および初期マルチ端子間抵抗値に応じたシングルタッチおよびマルチタッチに係る初期閾値が記録されている。以下、シングルタッチおよびマルチタッチに係る初期閾値をそれぞれ初期シングル閾値(初期シングルタッチ閾値)および初期マルチ閾値(初期マルチタッチ閾値)と呼ぶ。閾値記録部には、シングルタッチおよびマルチタッチにおいて最終的に閾値として用いられる値が記録されている。以下、シングルタッチおよびマルチタッチにおいて最終的に閾値として用いられる値をそれぞれシングル閾値(シングルタッチ閾値)およびマルチ閾値(マルチタッチ閾値)と呼ぶ。   Further, the initial value recording unit records initial threshold values related to single touch and multi-touch according to the initial single-terminal resistance value and the initial multi-terminal resistance value. Hereinafter, the initial threshold values related to single touch and multitouch are referred to as an initial single threshold value (initial single touch threshold value) and an initial multi threshold value (initial multitouch threshold value), respectively. The threshold recording unit records values that are finally used as thresholds in single touch and multi-touch. Hereinafter, values finally used as thresholds in single touch and multitouch are referred to as a single threshold (single touch threshold) and a multi threshold (multitouch threshold), respectively.

演算処理装置300は、ユーザーによるタッチ操作の際に、シングル閾値およびマルチ閾値に基づいて、当該タッチ操作がシングルタッチであるか又はマルチタッチであるかを判定する。   The arithmetic processing device 300 determines whether the touch operation is a single touch or a multi-touch based on the single threshold value and the multi-threshold value when the user performs a touch operation.

ここで、初期シングル閾値および初期マルチ閾値の算出について説明する。   Here, calculation of the initial single threshold and the initial multi-threshold will be described.

まず、初期状態においてシングルタッチおよびマルチタッチを行った際の端子間抵抗値を複数回測定する。この際、シングルタッチにおいては指の大きい人を想定して棒などでタッチパネル100をタッチする。一方、マルチタッチにおいては2つの指の間隔が狭い状態を想定して、同様に棒などでタッチパネル100をタッチする。つまり、シングルタッチおよびマルチタッチにおいてその端子間抵抗値が互いに近似する状態で測定を行う。   First, the resistance value between terminals when performing single touch and multi-touch in the initial state is measured a plurality of times. At this time, in the single touch, the touch panel 100 is touched with a stick or the like assuming a large finger. On the other hand, in multi-touch, the touch panel 100 is similarly touched with a stick or the like, assuming that the distance between two fingers is narrow. That is, the measurement is performed in a state where the inter-terminal resistance values are approximate to each other in single touch and multi-touch.

続いて、複数回の測定で得られた測定値をシングルタッチおよびマルチタッチ毎に平均して平均値を算出する。そして、平均値の各々についてマージンを1割として初期シングル閾値および初期マルチ閾値を得る。ここでは、シングルタッチにおいては平均値の1割を平均値から減算した値を初期シングル閾値とする。また、マルチタッチにおいては平均値の1割を平均値に加算した値を初期マルチ閾値とする。   Subsequently, the average value is calculated by averaging the measurement values obtained by a plurality of measurements for each single touch and multi-touch. Then, an initial single threshold value and an initial multi-threshold value are obtained with a margin of 10% for each average value. Here, in single touch, a value obtained by subtracting 10% of the average value from the average value is set as the initial single threshold value. In multi-touch, a value obtained by adding 10% of the average value to the average value is set as the initial multi-threshold value.

なお、これら端子間抵抗値、初期シングル閾値、および初期マルチ閾値は後述する閾値を算出する際の基準として用いられる。   The inter-terminal resistance value, the initial single threshold value, and the initial multi-threshold value are used as a reference when calculating a threshold value to be described later.

図2は、図1に示すタッチパネル100における端子間抵抗値の測定を説明するための図である。   FIG. 2 is a diagram for explaining the measurement of the inter-terminal resistance value in the touch panel 100 shown in FIG.

図2において、タッチパネル100は、上シート101および下シート102を有している。上シート101は図中縦方向(以下Y方向とする)のタッチ位置を検出するための端子間抵抗を備えており、下シート102は横方向(以下X方向とする)のタッチ位置を検出するための端子間抵抗を備えている。   In FIG. 2, the touch panel 100 includes an upper sheet 101 and a lower sheet 102. The upper sheet 101 has an inter-terminal resistance for detecting a touch position in the vertical direction (hereinafter referred to as Y direction) in the drawing, and the lower sheet 102 detects a touch position in the horizontal direction (hereinafter referred to as X direction). It is equipped with a resistance between terminals.

まず、X方向における端子間抵抗値を測定する場合には、端子間抵抗値測定部100aはスイッチ108をオンとし、スイッチ106を端子Hに接続し、スイッチ105を端子Cに接続する。なお、その他のスイッチは全て開放(オープン)状態とされる。これの結果、X方向の端子間抵抗Rtxと固定抵抗Rx113によって、基準電圧VCC110が抵抗分圧された電圧値VA/DがADC(A/D変換器)109に入力される。   First, when measuring the inter-terminal resistance value in the X direction, the inter-terminal resistance measurement unit 100a turns on the switch 108, connects the switch 106 to the terminal H, and connects the switch 105 to the terminal C. All the other switches are opened (open). As a result, the voltage value VA / D obtained by resistance-dividing the reference voltage VCC110 by the inter-terminal resistance Rtx and the fixed resistance Rx113 in the X direction is input to the ADC (A / D converter) 109.

このADC109は端子間抵抗値測定部100aに備えられており、ADC109は電圧値VADをA/D変換して演算処理装置300に送る。そして、演算処理装置300は、式(1)によってX方向の端子間抵抗Rtxの抵抗値を算出する(以下端子間抵抗Rtxの抵抗値もRtxで表す)。   This ADC 109 is provided in the terminal-to-terminal resistance measurement unit 100a, and the ADC 109 A / D converts the voltage value VAD and sends it to the arithmetic processing unit 300. Then, the arithmetic processing unit 300 calculates the resistance value of the inter-terminal resistance Rtx in the X direction by the equation (1) (hereinafter, the resistance value of the inter-terminal resistance Rtx is also expressed by Rtx).

Rtx=Rx(Vcc−VA/D)/VA/D (1)
続いて、Y方向の端子間抵抗値を測定する場合には、端子間抵抗値測定部100aはスイッチ107をオンとし、スイッチ104を端子Eに接続し、スイッチ103を端子Bに接続する。なお、その他のスイッチは全てオープン状態とされる。これの結果、Y方向の端子間抵抗Rtyと固定抵抗Ry112とによって、基準電圧VCC110が抵抗分圧された電圧値VA/DがADC109に入力される。そして、式(2)によって、演算処理装置300は、Y方向の端子間抵抗Rtyの抵抗値を算出する(以下端子間抵抗Rtyの抵抗値もRtyで表す)。
Rtx = Rx (Vcc−VA / D) / VA / D (1)
Subsequently, when measuring the inter-terminal resistance value in the Y direction, the inter-terminal resistance measurement unit 100a turns on the switch 107, connects the switch 104 to the terminal E, and connects the switch 103 to the terminal B. All other switches are open. As a result, the voltage value VA / D obtained by dividing the reference voltage VCC110 by the Y-terminal resistance Rty and the fixed resistance Ry112 is input to the ADC 109. Then, the arithmetic processing device 300 calculates the resistance value of the inter-terminal resistance Rty in the Y direction (hereinafter, the resistance value of the inter-terminal resistance Rty is also expressed by Rty) by the expression (2).

Rty=Ry(Vcc−VA/D)/VA/D (2)
図3は、図1に示すタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。なお、図示のフローチャートに係る処理は演算処理装置300の制御下で行われる。
Rty = Ry (Vcc−VA / D) / VA / D (2)
FIG. 3 is a flowchart for explaining calculation and update of a single threshold value and a multi-threshold value performed by the touch panel device shown in FIG. Note that the processing according to the illustrated flowchart is performed under the control of the arithmetic processing device 300.

タッチパネル装置の電源がオンされると(つまり、タッチパネル装置が起動されると)、演算処理装置300は閾値演算および更新処理を開始する。まず、演算処理装置300は、ユーザーがタッチパネル100にタッチしているか否かを判定する。つまり、演算処理装置300は、タッチパネル100が非タッチ状態であるか否かを判定する(ステップS101)。   When the power of the touch panel device is turned on (that is, when the touch panel device is activated), the arithmetic processing device 300 starts threshold value calculation and update processing. First, the arithmetic processing device 300 determines whether or not the user is touching the touch panel 100. That is, the arithmetic processing unit 300 determines whether or not the touch panel 100 is in a non-touch state (step S101).

非タッチ状態でないと、つまり、ユーザーがタッチパネル100にタッチしていると(ステップS101において、NO)、演算処理装置300は待機する。一方、非タッチ状態であると(ステップS101において、YES)、演算処理装置300は、図2で説明したようにして、端子間抵抗値測定部100aによって非タッチ状態における端子間抵抗値RtxおよびRtyを求める(ステップS102)。   If it is not in the non-touch state, that is, if the user is touching touch panel 100 (NO in step S101), arithmetic processing unit 300 stands by. On the other hand, when it is in the non-touch state (YES in step S101), the arithmetic processing unit 300 performs the inter-terminal resistance values Rtx and Rty in the non-touch state by the inter-terminal resistance value measuring unit 100a as described in FIG. Is obtained (step S102).

続いて、演算処理装置300は、温度変化又は経年変化の影響によって端子間抵抗値に変化が生じているか確認する。ここでは、演算処理装置300は、記録装置400に記録された初期非タッチ端子間抵抗値(初期値)とステップS102の処理で得られた端子間抵抗値(測定値)との差分(比較結果)を求める。そして、演算処理装置300は差分が存在するか否か(差分がゼロであるか否か)を判定する(ステップS103)。つまり、演算処理装置300は、測定値に変化があるか否かを判定することになる。   Subsequently, the arithmetic processing device 300 confirms whether the resistance value between the terminals is changed due to the influence of the temperature change or the secular change. Here, the arithmetic processing device 300 determines the difference (comparison result) between the initial non-touch terminal resistance value (initial value) recorded in the recording device 400 and the inter-terminal resistance value (measured value) obtained in the process of step S102. ) Then, the arithmetic processing device 300 determines whether or not there is a difference (whether or not the difference is zero) (step S103). That is, the arithmetic processing unit 300 determines whether or not there is a change in the measurement value.

差分が存在すると(ステップS103において、YES)、演算処理装置300は初期非タッチ端子間抵抗値、初期シングル端子間抵抗値、および初期マルチ端子間抵抗値(つまり、初期端子間抵抗値)を用いて、後述するようにして、非タッチ状態とタッチ状態との変化率αおよびβを求める(ステップS104)。   If there is a difference (YES in step S103), processing unit 300 uses the initial non-touch terminal resistance value, initial single-terminal resistance value, and initial multi-terminal resistance value (that is, initial inter-terminal resistance value). As described later, the change rates α and β between the non-touch state and the touch state are obtained (step S104).

ここで、記録装置400に記録された初期非タッチ端子間抵抗値をA[Ω]、初期シングル端子間抵抗値をB[Ω]、そして、初期マルチ端子間抵抗値をC[Ω]とする。端子間抵抗値測定部100aで測定された非タッチ状態における測定値(非タッチ端子間抵抗値:非タッチ抵抗値)をD[Ω]とする。また、測定値に対応するシングルタッチおよびマルチタッチにおける予測端子間抵抗値(予測シングルタッチ抵抗値および予測マルチタッチ抵抗値)をそれぞれP[Ω]およびQ[Ω]とする。なお、初期シングル閾値をW[Ω]、初期マルチ閾値をV[Ω]とする。   Here, the initial non-touch terminal resistance value recorded in the recording apparatus 400 is A [Ω], the initial single-terminal resistance value is B [Ω], and the initial multi-terminal resistance value is C [Ω]. . A measurement value in a non-touch state measured by the inter-terminal resistance value measurement unit 100a (non-touch inter-terminal resistance value: non-touch resistance value) is defined as D [Ω]. Also, the predicted inter-terminal resistance values (predicted single touch resistance value and predicted multi-touch resistance value) in single touch and multi-touch corresponding to the measured values are P [Ω] and Q [Ω], respectively. The initial single threshold value is W [Ω], and the initial multi-threshold value is V [Ω].

ところで、タッチパネル100においては、タッチした際の端子間抵抗値は、非タッチ状態における全体端子間抵抗値に対するタッチした際の押圧などの範囲の比率で決定される。つまり、非タッチ状態における全体端子間抵抗値に変化があったとしても、押圧の範囲が同一であればその比率も同一となる。   By the way, in the touch panel 100, the inter-terminal resistance value when touched is determined by a ratio of a range such as pressing when touched to the overall inter-terminal resistance value in a non-touch state. That is, even if there is a change in the overall inter-terminal resistance value in the non-touch state, the ratio will be the same if the pressing range is the same.

よって、演算処理装置300は、次の式(3)および式(4)を用いて、変化率αおよびβを算出する。   Therefore, the arithmetic processing device 300 calculates the change rates α and β using the following equations (3) and (4).

α=B/A (3)
β=C/A (4)
次に、演算処理装置300は、式(5)および式(6)で示すように、非タッチ端子間抵抗値(測定値)に上記の変化率αおよびβを乗算して、予測端子間抵抗値P[Ω]およびQ[Ω]を求める(ステップS105)。
α = B / A (3)
β = C / A (4)
Next, as shown in Expression (5) and Expression (6), the arithmetic processing device 300 multiplies the non-touch terminal resistance value (measured value) by the change rates α and β described above to calculate the predicted terminal resistance. Values P [Ω] and Q [Ω] are obtained (step S105).

P=α×D[Ω] (5)
Q=β×D[Ω] (6)
続いて、演算処理装置300は、式(7)および式(8)で示すように、ステップS105で求めた予測端子間抵抗値P[Ω]およびQ[Ω]と初期シングル端子間抵抗値B[Ω]および初期マルチ端子間抵抗値C[Ω]との差を求める。そして、演算処理装置300は当該差をそれぞれ初期シングル閾値W[Ω]および初期マルチ閾値V[Ω]に加算して、シングル閾値およびマルチ閾値を求める(ステップS106)。
P = α × D [Ω] (5)
Q = β × D [Ω] (6)
Subsequently, as shown in Expression (7) and Expression (8), the arithmetic processing unit 300 determines the predicted inter-terminal resistance values P [Ω] and Q [Ω] obtained in Step S105 and the initial single-terminal resistance value B. The difference between [Ω] and the initial multi-terminal resistance C [Ω] is obtained. Then, the arithmetic processing unit 300 adds the difference to the initial single threshold value W [Ω] and the initial multi threshold value V [Ω], respectively, to obtain a single threshold value and a multi threshold value (step S106).

シングル閾値=(P−B)+W[Ω] (7)
マルチ閾値=(Q−C)+V[Ω] (8)
その後、演算処理装置300は、ステップS106で算出したシングル閾値およびマルチ閾値を最終的に使用する閾値として、閾値記録部に記録されたシングル閾値およびマルチ閾値を更新する(ステップS107)。そして、演算処理装置300は、閾値算出および更新処理を終了する。
Single threshold = (P−B) + W [Ω] (7)
Multi-threshold = (Q−C) + V [Ω] (8)
Thereafter, the arithmetic processing device 300 updates the single threshold value and the multiple threshold value recorded in the threshold value recording unit as the threshold values to be finally used as the single threshold value and the multiple threshold value calculated in Step S106 (Step S107). Then, the arithmetic processing device 300 ends the threshold calculation and update processing.

ステップS103において、差分が存在しないと(ステップS103において、NO)、演算処理装置300は、温度変化又は経年変化よる影響が生じていないとする。そして、演算処理装置300は、閾値記録部に記録されたシングル閾値およびマルチ閾値を更新せず(ステップS108)、閾値算出および更新処理を終了する。   If there is no difference in step S103 (NO in step S103), it is assumed that arithmetic processing device 300 is not affected by temperature change or secular change. Then, the arithmetic processing device 300 does not update the single threshold value and the multiple threshold value recorded in the threshold value recording unit (step S108), and ends the threshold value calculation and update processing.

このように、本発明の第1の実施形態では、温度変化又は経年変化に応じてシングル閾値およびマルチ閾値を更新する。これによって、温度変化又は経年変化によって生じるシングルタッチおよびマルチタッチのいずれであるかを判定する際の誤検出を確実に防止することができる。   As described above, in the first embodiment of the present invention, the single threshold value and the multi-threshold value are updated according to the temperature change or the secular change. Accordingly, it is possible to reliably prevent erroneous detection when determining whether the touch is a single touch or a multi-touch caused by a temperature change or a secular change.

つまり、温度変化又は経年変化によって端子間抵抗値が変化すると、マルチタッチをシングルタッチと判定する誤りが生じることがあるが、シングル閾値およびマルチ閾値を更新すれば、このような誤判定が生じることはない。   In other words, if the inter-terminal resistance value changes due to temperature change or secular change, an error may occur that determines multi-touch as single touch, but if the single threshold and multi-threshold are updated, such erroneous determination may occur. There is no.

[第2の実施形態]
続いて、本発明の第2の実施形態によるタッチパネル装置の一例について説明する。
[Second Embodiment]
Next, an example of a touch panel device according to the second embodiment of the present invention will be described.

デジタルカメラなどの小型機器においては、一般に短時間で電源がオン/オフされる。このため、図3で説明したように、電源がオンされた際にシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新処理を行えば、経年変化又は温度変化の影響に対処するができる。   In a small device such as a digital camera, power is generally turned on / off in a short time. For this reason, as described with reference to FIG. 3, if the single threshold value and the multiple threshold value are calculated and updated when the power is turned on, the influence of the secular change or the temperature change can be dealt with.

一方、長時間連続して使用される機器(例えば、公共施設のATM、24時間稼働のシステム)に、図3で説明したシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新処理を適用しても、電源がオフされた後オンされないと更新処理が行われない。このため。機器を使用中に温度変化又は経年変化の影響によって端子間抵抗値が変化してしまうことがある。このため、第2の実施形態では、所定のタイミングで更新処理を実行するようにする。   On the other hand, even if the single threshold value and multi-threshold value calculation and update processes described in FIG. 3 are applied to equipment that is used continuously for a long time (for example, an ATM of a public facility, a system that operates 24 hours), If it is not turned on after being turned off, update processing is not performed. For this reason. While using the device, the resistance value between terminals may change due to the influence of temperature change or secular change. For this reason, in the second embodiment, the update process is executed at a predetermined timing.

図示はしないが、第2の実施形態によるタッチパネル装置は、図1に示すタッチパネル装置の構成に加えて、少なくも温度検出部および時間検出部が備えられている。なお、温度検出部および時間検出部は、例えば、演算処理装置300に備えられている。   Although not shown, the touch panel device according to the second embodiment includes at least a temperature detection unit and a time detection unit in addition to the configuration of the touch panel device shown in FIG. The temperature detection unit and the time detection unit are provided in the arithmetic processing device 300, for example.

タッチパネル装置の温度上昇の要因として、例えば、環境温度、LCDパネル200のバックライト熱による温度、LCDパネル200以外の構成部品およびICなどの熱による温度などがある。   Factors that cause the temperature of the touch panel device to rise include, for example, environmental temperature, temperature due to backlight heat of the LCD panel 200, temperature due to heat of components other than the LCD panel 200, ICs, and the like.

ところで、タッチパネル装置の温度が変化したののみで端子間抵抗値が直ぐに変化する訳ではなく、温度の変動が長時間経過することによって端子間抵抗値の変化が大きくなる。   By the way, the resistance value between terminals does not change immediately only because the temperature of the touch panel device changes, but the change in resistance value between terminals increases as the temperature changes for a long time.

図4は、本発明の第2の実施形態によるタッチパネル装置において時間の経過と端子間抵抗との関係の一例を説明するための図である。そして、図4(a)は高温時における端子間抵抗値の推移を示す図であり、図4(b)は低温時における端子間抵抗値の推移を示す図である。   FIG. 4 is a diagram for explaining an example of the relationship between the passage of time and the resistance between terminals in the touch panel device according to the second embodiment of the present invention. FIG. 4A is a diagram showing a transition of the resistance value between terminals at a high temperature, and FIG. 4B is a diagram showing a transition of the resistance value between terminals at a low temperature.

図4(a)および図4(b)において、横軸は時間を示し、縦軸は端子間抵抗値を示す。図示のように、低温時においては、時間の経過とともに端子間抵抗は若干低下するものの、ほとんど変化しない。一方、高温時においては、端子間抵抗値は徐々に増大し、500時間を経過すると端子間抵抗値は大きく変化することが分かる。   4 (a) and 4 (b), the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates inter-terminal resistance. As shown in the figure, at low temperatures, the inter-terminal resistance slightly decreases with time, but hardly changes. On the other hand, at a high temperature, the inter-terminal resistance value gradually increases, and it can be seen that the inter-terminal resistance value changes greatly after 500 hours.

つまり、タッチパネル装置が非動作である低温時には端子間抵抗値はほとんど変化しないが、タッチパネル装置が動作するとその内部温度が変化して高温時の状態となって端子間抵抗値が大きく変化することになる。   In other words, the resistance value between terminals hardly changes at low temperatures when the touch panel device is not operating, but when the touch panel device operates, the internal temperature changes to become a high temperature state and the inter-terminal resistance value changes greatly. Become.

そこで、第2の実施形態においては、タッチパネル装置の温度を監視して、端子間抵抗値が大きく変化する時間が経過すると、つまり、タッチパネル装置を動作させて所定の時間が経過すると、図3で説明した更新処理を行う。   Therefore, in the second embodiment, when the temperature of the touch panel device is monitored and a time when the inter-terminal resistance value changes greatly, that is, when a predetermined time elapses after the touch panel device is operated, FIG. Perform the update process described.

図5は本発明の第2の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。なお、図5において、図3に示すフローチャートのステップと同一のステップについては、同一の参照符号を付して説明を省略する。   FIG. 5 is a flowchart for explaining calculation and update of a single threshold value and a multi-threshold value performed by the touch panel device according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 5, the same steps as those in the flowchart shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図3で説明したように、タッチパネル装置の電源がオンされると、演算処理装置300は時間検出部によって時間の計測を開始する。そして、部演算処理装置300はステップS101〜S108の処理を行う。   As described with reference to FIG. 3, when the power of the touch panel device is turned on, the arithmetic processing device 300 starts measuring time by the time detection unit. The unit arithmetic processing device 300 performs the processes of steps S101 to S108.

ステップS107又はS108の処理の後、演算処理装置300は、時間検出部によって電源がオンされた後、所定の時間が経過したか否かを判定する(ステップS201)。所定の時間が経過しないと(ステップS201において、NO)、演算処理装置300は待機する。一方、所定の時間が経過すると(ステップS201において、YES)、演算処理装置300はタッチパネル装置の電源がオンであるか否かを判定する(ステップS202)。   After the process of step S107 or S108, the arithmetic processing unit 300 determines whether or not a predetermined time has elapsed after the power is turned on by the time detection unit (step S201). If the predetermined time has not elapsed (NO in step S201), arithmetic processing unit 300 stands by. On the other hand, when the predetermined time has elapsed (YES in step S201), arithmetic processing unit 300 determines whether or not the touch panel device is powered on (step S202).

電源がオフであると(ステップS202において、NO)、演算処理装置300は閾値算出および更新処理を終了する。一方、電源がオンであると(ステップS202において、YES)、演算処理装置300はステップS101の処理に戻って、閾値算出および更新処理を行う。   If the power is off (NO in step S202), arithmetic processing unit 300 ends the threshold value calculation and update process. On the other hand, when the power is on (YES in step S202), arithmetic processing unit 300 returns to the process in step S101 and performs threshold value calculation and update processing.

ここで、図4を参照して、上記の所定の時間の決定について説明する。   Here, the determination of the predetermined time will be described with reference to FIG.

図4(a)に示すように、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化が大きい場合には、頻繁に端子間抵抗値を監視する必要がある。このため、端子間抵抗値が変化したか否かを判定するための検知時間(つまり、所定の時間)を短くする。一方、図4(b)に示すように、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化が少ない場合には、端子間抵抗値が変化したか否かを判定するための検知時間を長くする。   As shown in FIG. 4A, when the change in the resistance value between terminals with the passage of time is large, it is necessary to frequently monitor the resistance value between terminals. For this reason, the detection time (that is, the predetermined time) for determining whether or not the inter-terminal resistance value has changed is shortened. On the other hand, as shown in FIG. 4B, when the change in the inter-terminal resistance value with respect to the passage of time is small, the detection time for determining whether or not the inter-terminal resistance value has changed is lengthened.

なお、前述のように、温度が変化すると、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化量が変わるので、温度に応じて検知時間を変化させる。例えば、温度検出部で検出された温度が所定の温度よりも高いと、時間の経過に対する端子間抵抗値の変化が大きくなるので、演算処理装置300は検知時間(所定の時間)を短くする。一方、温度検出部で検出された温度が所定の温度以下の状態では、演算処理装置300は検知時間を変更しない。   As described above, when the temperature changes, the amount of change in the inter-terminal resistance value with the passage of time changes, so the detection time is changed according to the temperature. For example, if the temperature detected by the temperature detection unit is higher than a predetermined temperature, the change in the inter-terminal resistance value with the passage of time increases, so the arithmetic processing device 300 shortens the detection time (predetermined time). On the other hand, when the temperature detected by the temperature detection unit is equal to or lower than the predetermined temperature, the arithmetic processing device 300 does not change the detection time.

このように、本発明の第2の実施形態では、電源がオンされると、閾値算出および更新処理を行う。そして、所定の時間が経過しても電源がオンであると、再度閾値算出および更新処理を行う。これによって、タッチパネル装置を長時間使用したとしても、温度変化又は経年変化によって生じるシングルタッチおよびマルチタッチのいずれであるかを判定する際の誤検出を確実に防止することができる。   Thus, in the second embodiment of the present invention, when the power is turned on, threshold value calculation and update processing are performed. Then, if the power is on even after a predetermined time has elapsed, threshold value calculation and update processing are performed again. Thereby, even if the touch panel device is used for a long time, it is possible to reliably prevent erroneous detection when determining whether the touch is a single touch or a multi-touch caused by a temperature change or a secular change.

[第3の実施形態]
続いて、本発明の第3の実施形態によるタッチパネル装置の一例について説明する。
[Third Embodiment]
Next, an example of a touch panel device according to the third embodiment of the present invention will be described.

前述の第1の実施形態においては、タッチパネル装置の電源がオンする都度、閾値算出および更新処理が行われることになる。このため、温度変化又は経年変化の影響をほとんど受けていない場合であっても、タッチパネル装置の電源がオンされると、閾値算出および更新処理が行われる。   In the first embodiment described above, the threshold value calculation and update processing are performed each time the touch panel device is turned on. For this reason, even if it is a case where there is almost no influence of a temperature change or a secular change, a threshold calculation and an update process are performed when the power supply of a touch panel apparatus is turned on.

第3の実施形態では、温度変化又は経年変化の影響をほとんど受けていない場合においては、タッチパネル装置の電源がオンされても、閾値算出および更新処理を行わないようにする。   In the third embodiment, when there is almost no influence of temperature change or aging change, threshold calculation and update processing are not performed even when the power of the touch panel device is turned on.

第3の実施形態によるタッチパネル装置は、図1に示すタッチパネル装置の構成に加えて、図示しない比較部および比較対象記録部を有している。比較対象記録部には比較部において比較される端子間抵抗値が比較対象として記録される。この比較対象記録部には、初期値として初期非タッチ端子間抵抗値が記録され、その後、端子間抵抗値測定部100aによって測定された非タッチ端子間抵抗値によって初期非タッチ端子間抵抗値が更新される。   The touch panel device according to the third embodiment includes a comparison unit and a comparison target recording unit (not shown) in addition to the configuration of the touch panel device shown in FIG. In the comparison target recording unit, the inter-terminal resistance value compared in the comparison unit is recorded as a comparison target. In this comparison target recording unit, the initial non-touch terminal resistance value is recorded as an initial value, and then the initial non-touch terminal resistance value is determined by the non-touch terminal resistance value measured by the inter-terminal resistance measurement unit 100a. Updated.

なお、比較対象記録部は記録装置400に備えられており、比較部は演算処理装置300に備えられている。   The comparison target recording unit is provided in the recording device 400, and the comparison unit is provided in the arithmetic processing device 300.

図6は本発明の第3の実施形態によるタッチパネル装置で行われるシングル閾値およびマルチ閾値の算出および更新を説明するためのフローチャートである。なお、図6において、図3に示すフローチャートのステップと同一のステップについては、同一の参照符号を付して説明を省略する。   FIG. 6 is a flowchart for explaining calculation and update of a single threshold value and a multi-threshold value performed by the touch panel device according to the third embodiment of the present invention. In FIG. 6, the same steps as those in the flowchart shown in FIG. 3 are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted.

図3で説明したステップS101の処理において、非タッチ状態であると、演算処理装置300は端子間抵抗値測定部100aによって測定した測定値(端子間抵抗値)と比較対象記録部に記録されている端子間抵抗値とを比較部で比較する。そして、演算処理装置300は、比較の結果に応じて、測定値と比較対象記録部に記録されている端子間抵抗値とが同一であるか否かを判定する(ステップS301)。   In the process of step S101 described with reference to FIG. 3, if it is in the non-touch state, the arithmetic processing unit 300 records the measured value (inter-terminal resistance value) measured by the inter-terminal resistance value measuring unit 100a and the comparison target recording unit. The comparison value is compared with the resistance value between terminals. Then, the arithmetic processing unit 300 determines whether or not the measured value and the inter-terminal resistance value recorded in the comparison target recording unit are the same according to the comparison result (step S301).

同一であると(ステップS301において、YES)、演算処理装置300は、図3で説明したステップS301の処理に進む。一方、同一でないと(ステップS301において、NO)、演算処理装置300は、図3で説明したステップS103の処理に進む。   If they are the same (YES in step S301), the arithmetic processing unit 300 proceeds to the process of step S301 described in FIG. On the other hand, if they are not the same (NO in step S301), arithmetic processing unit 300 proceeds to the process of step S103 described in FIG.

図3で説明したステップ106の処理の後、演算処理装置300は、ステップS106で得られたシングル閾値およびマルチ閾値を、測定の結果得られた非タッチ端子間抵抗値毎に閾値記録部に記録する(ステップS302)。その後、演算処理装置300はステップS107の処理に進む。   After the process of step 106 described in FIG. 3, the arithmetic processing unit 300 records the single threshold value and the multi threshold value obtained in step S106 in the threshold value recording unit for each non-touch terminal resistance value obtained as a result of the measurement. (Step S302). Thereafter, the arithmetic processing device 300 proceeds to the process of step S107.

このように、本発明の第3の実施形態では、端子間抵抗値が変化しないよう場合には、電源オンがオンしても閾値算出および更新処理が行われないので、不必要に演算処理が行われず、消費電力を低減することができる。   As described above, in the third embodiment of the present invention, when the resistance value between terminals does not change, threshold calculation and update processing are not performed even when the power is turned on. It is not performed and power consumption can be reduced.

上述の説明から明らかなように、図1に示す例においては、記録装置400が閾値記憶手段および抵抗値記憶手段として用いられる。また、端子間抵抗値測定部100aおよび演算処理装置300は更新手段として機能する。そして、記録装置400および演算処理装置300は判定手段として機能する。   As is clear from the above description, in the example shown in FIG. 1, the recording apparatus 400 is used as a threshold value storage unit and a resistance value storage unit. Further, the inter-terminal resistance value measuring unit 100a and the arithmetic processing unit 300 function as an updating unit. The recording device 400 and the arithmetic processing device 300 function as determination means.

以上、本発明について実施の形態に基づいて説明したが、本発明は、これらの実施の形態に限定されるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の様々な形態も本発明に含まれる。   As mentioned above, although this invention was demonstrated based on embodiment, this invention is not limited to these embodiment, Various forms of the range which does not deviate from the summary of this invention are also contained in this invention. .

また、上記の実施の形態の機能を制御方法として、この制御方法をタッチパネル装置に実行させるようにすればよい。また、上述の実施の形態の機能を有するプログラムを制御プログラムとして、当該制御プログラムをタッチパネル装置が備えるコンピュータに実行させるようにしてもよい。なお、制御プログラムは、例えば、コンピュータに読み取り可能な記録媒体に記録される。   Moreover, what is necessary is just to make this touch panel apparatus perform this control method by using the function of said embodiment as a control method. Moreover, you may make it make the computer with which a touchscreen apparatus is provided perform the said control program by using the program which has the function of the above-mentioned embodiment as a control program. The control program is recorded on a computer-readable recording medium, for example.

[その他の実施形態]
本発明は、上述の実施形態の1以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給する。そして、そのシステム又は装置のコンピュータにおける1つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、1以上の機能を実現する回路(例えば、ASIC)によっても実現可能である。
[Other Embodiments]
The present invention supplies a program that realizes one or more functions of the above-described embodiments to a system or apparatus via a network or a storage medium. It can also be realized by a process in which one or more processors in the computer of the system or apparatus read and execute the program. It can also be realized by a circuit (for example, ASIC) that realizes one or more functions.

100 タッチパネル
100a 端子間抵抗値測定部
101 上シート
102 下シート
200 LCDパネル
300 演算処理装置
400 記録装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 Touch panel 100a Inter-terminal resistance measurement part 101 Upper sheet 102 Lower sheet 200 LCD panel 300 Arithmetic processing device 400 Recording device

Claims (12)

タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置であって、
前記タッチパネルにおいて1点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定手段と、
前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新処理を行う更新手段と、
を有することを特徴とするタッチパネル装置。
A touch panel device including a touch panel whose resistance value changes according to a touch position, and accepting an operation according to the touch position when the touch operation is performed on the touch panel.
When determining whether a single touch threshold value used when determining whether or not a single touch operation for touching one point on the touch panel has been performed and whether or not a multi touch operation for touching a plurality of points on the touch panel has been performed. Determining means for determining whether the single touch or the multi-touch has been performed based on a multi-touch threshold used in
When the touch panel device is activated, the resistance value of the touch panel when the touch panel is in a non-touch state is measured as a non-touch resistance value, and according to the non-touch resistance value and a preset resistance value Update means for performing an update process for updating the single touch threshold and the multi-touch threshold;
A touch panel device comprising:
前記タッチパネルをタッチ操作しない非タッチ状態の際の抵抗値を予め測定して得られた初期非タッチ抵抗値を前記予め設定された抵抗値とすることを特徴とする請求項1に記載のタッチパネル装置。   2. The touch panel device according to claim 1, wherein an initial non-touch resistance value obtained by measuring in advance a resistance value in a non-touch state in which the touch panel is not touch-operated is the preset resistance value. . さらに、前記シングルタッチの際の抵抗値が初期シングルタッチ抵抗値として予め測定されるとともに、前記マルチタッチの際の抵抗値を初期マルチタッチ抵抗値として予め測定されており、
前記更新手段は、前記初期非タッチ抵抗値と前記非タッチ抵抗値とを比較した比較結果が予め定められた結果であると、前記初期非タッチ抵抗値、前記初期シングルタッチ抵抗値、前記初期マルチタッチ抵抗値、および前記非タッチ抵抗値を用いて、前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新することを特徴とする請求項2に記載のタッチパネル装置。
Furthermore, the resistance value at the time of the single touch is measured in advance as an initial single touch resistance value, and the resistance value at the time of the multi-touch is measured in advance as an initial multi-touch resistance value,
The updating unit may determine that the initial non-touch resistance value, the initial single touch resistance value, the initial multi-touch resistance value, the initial multi-touch resistance value, the initial multi-touch resistance value, and the initial multi-touch resistance value are the predetermined results. The touch panel device according to claim 2, wherein the single touch threshold value and the multi-touch threshold value are updated using a touch resistance value and the non-touch resistance value.
前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を記憶する閾値記憶手段と、
前記初期非タッチ抵抗値、前記初期シングルタッチ抵抗値、および前記初期マルチタッチ抵抗値を記憶する抵抗値記憶手段を有することを特徴とする請求項3に記載のタッチパネル装置。
Threshold storage means for storing the single touch threshold and the multi-touch threshold;
The touch panel device according to claim 3, further comprising a resistance value storage unit that stores the initial non-touch resistance value, the initial single touch resistance value, and the initial multi-touch resistance value.
前記更新手段は前記比較結果として前記初期非タッチ抵抗値と前記非タッチ抵抗値との差分を求め、
前記予め定められた結果は前記差分がゼロでないことを特徴とする請求項3又は4に記載のタッチパネル装置。
The update means obtains a difference between the initial non-touch resistance value and the non-touch resistance value as the comparison result,
The touch panel device according to claim 3 or 4, wherein the difference is not zero as the predetermined result.
前記更新手段は、前記初期非タッチ抵抗値と前記初期シングルタッチ抵抗値との抵抗値の変化率を第1の変化率として求め、前記初期非タッチ抵抗値と前記初期マルチタッチ抵抗値との抵抗値の変化率を第2の変化率として求めて、前記第1の変化率および前記第2の変化率をそれぞれ前記非タッチ抵抗値に乗算して予測シングルタッチ抵抗値および予測マルチタッチ抵抗値を求め、前記予測シングルタッチ抵抗値および前記予測マルチタッチ抵抗値と前記初期シングルタッチ抵抗値および前記初期マルチタッチ抵抗値とに応じて前記閾値記憶手段に記憶された前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新することを特徴とする請求項3乃至5のいずれか1項に記載のタッチパネル装置。   The updating means obtains a change rate of a resistance value between the initial non-touch resistance value and the initial single touch resistance value as a first change rate, and a resistance between the initial non-touch resistance value and the initial multi-touch resistance value. A change rate of the value is obtained as a second change rate, and the non-touch resistance value is multiplied by the first change rate and the second change rate, respectively, and a predicted single touch resistance value and a predicted multi-touch resistance value are obtained. The single touch threshold value and the multi touch threshold value stored in the threshold value storage means according to the predicted single touch resistance value, the predicted multi touch resistance value, the initial single touch resistance value, and the initial multi touch resistance value. The touch panel device according to claim 3, wherein the touch panel device is updated. 前記更新手段は、前記タッチパネル装置の電源がオンされる都度、前記更新処理を行うことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のタッチパネル装置。   The touch panel device according to claim 1, wherein the update unit performs the update process every time the touch panel device is powered on. 前記更新手段は、前記タッチパネル装置の電源がオンされると前記更新処理を行い、前記電源がオンされた後、所定の時間が経過する都度、再び前記更新処理を行うことを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載のタッチパネル装置。   The update means performs the update process when the power of the touch panel device is turned on, and performs the update process again every time a predetermined time elapses after the power is turned on. The touch panel device according to any one of 1 to 6. 前記更新手段は、前記タッチパネル装置の温度に応じて前記所定の時間を変更することを特徴とする請求項8に記載のタッチパネル装置。   The touch panel device according to claim 8, wherein the update unit changes the predetermined time according to a temperature of the touch panel device. 前記更新手段は、前記予め設定された抵抗値と前記非タッチ抵抗値とが同一であると前記更新処理を行わないことを特徴とする請求項1乃至9のいずれか1項に記載のタッチパネル装置。   10. The touch panel device according to claim 1, wherein the update unit does not perform the update process when the preset resistance value and the non-touch resistance value are the same. 11. . タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置の制御方法であって、
前記タッチパネルにおいて1点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、
前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、
を有することを特徴とする制御方法。
A touch panel device control method comprising a touch panel whose resistance value changes according to a touch position, and accepting an operation according to the touch position when the touch operation is performed on the touch panel.
When determining whether a single touch threshold value used when determining whether or not a single touch operation for touching one point on the touch panel has been performed and whether or not a multi touch operation for touching a plurality of points on the touch panel has been performed. A determination step of determining whether the single touch or the multi-touch has been performed based on a multi-touch threshold used in
When the touch panel device is activated, the resistance value of the touch panel when the touch panel is in a non-touch state is measured as a non-touch resistance value, and according to the non-touch resistance value and a preset resistance value An updating step of updating the single touch threshold and the multi-touch threshold;
A control method characterized by comprising:
タッチ位置に応じて抵抗値が変化するタッチパネルを備え、前記タッチパネルをタッチ操作した際のタッチ位置に応じた操作を受け付けるタッチパネル装置で用いられる制御プログラムであって、
前記タッチパネル装置が備えるコンピュータに、
前記タッチパネルにおいて1点をタッチ操作するシングルタッチが行われたか否かを判定する際に用いられるシングルタッチ閾値および前記タッチパネルにおいて複数の点をタッチ操作するマルチタッチが行われた否かを判定する際に用いられるマルチタッチ閾値に基づいて前記シングルタッチおよび前記マルチタッチのいずれが行われたか否かを判定する判定ステップと、
前記タッチパネル装置が起動された際に、前記タッチパネルが非タッチ状態である場合の前記タッチパネルの抵抗値を非タッチ抵抗値として測定し、前記非タッチ抵抗値と予め設定された抵抗値とに応じて前記シングルタッチ閾値および前記マルチタッチ閾値を更新する更新ステップと、
を実行させることを特徴とする制御プログラム。
A control program including a touch panel whose resistance value changes according to a touch position, and used in a touch panel device that accepts an operation according to the touch position when the touch operation is performed on the touch panel.
A computer included in the touch panel device,
When determining whether a single touch threshold value used when determining whether or not a single touch operation for touching one point on the touch panel has been performed and whether or not a multi touch operation for touching a plurality of points on the touch panel has been performed. A determination step of determining whether the single touch or the multi-touch has been performed based on a multi-touch threshold used in
When the touch panel device is activated, the resistance value of the touch panel when the touch panel is in a non-touch state is measured as a non-touch resistance value, and according to the non-touch resistance value and a preset resistance value An updating step of updating the single touch threshold and the multi-touch threshold;
A control program characterized by causing
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP7335134B2 (en) 2019-10-31 2023-08-29 株式会社デンソーテン Control device and calibration method
JP7472666B2 (en) 2020-06-11 2024-04-23 株式会社リコー Touch panel device, image forming device, and sensitivity adjustment program

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10949136B2 (en) 2018-02-20 2021-03-16 Fuji Xerox Co., Ltd. Information processing device and recording medium
JP7335134B2 (en) 2019-10-31 2023-08-29 株式会社デンソーテン Control device and calibration method
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