JP2017009438A - Conductive substrate and method for manufacturing conductive substrate - Google Patents

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口 拓 也 樋
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口 拓 也 樋
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a conductive substrate capable of easily forming a conductive portion containing noble metal with high resolution.SOLUTION: A conductive substrate has: a base material; a first conductive portion which is provided on the base material and has conductivity; and a second conductive portion which is provided on the base material so as to come in contact with the first conductive portion and has conductivity. The first conductive portion has: a first conductive layer; and a first catalyst layer which is provided between the first conductive layer and a first surface of the base material and contains a catalyst and a resin composition. The first conductive layer contains at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium and osmium.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、基材と、基材上に設けられ、導電性を有する第1導電部と、を少なくとも備える導電性基板に関する。また本発明は、導電性基板の製造方法に関する。   The present invention relates to a conductive substrate that includes at least a base material and a first conductive portion that is provided on the base material and has conductivity. The present invention also relates to a method for manufacturing a conductive substrate.

様々な分野の電子機器や電気機器において、基材と、基材上に設けられ、導電性を有する導電部と、を備える導電性基板が利用されている。腐食が発生しやすい用途や、腐食が抑制されるべき用途において導電性基板が利用される場合、導電部を構成する材料として、金やパラジウムなどの貴金属が用いられることがある。例えば、血液中のグルコースの濃度などを測定するためのバイオセンサを構成するために導電性基板が利用される場合、導電性基板の導電部は、血液などの電解液に接触して電気化学反応を生じさせるための電極として機能する。この場合、電極自体が酸化し易く、このため電極の電位が不安定であると、測定される電流値に、電解液における電気化学反応に起因する電流値以外の要因が現れてしまい、電解液の状態を正確に測定できなくなってしまう。このため、導電性基板の導電部を構成する材料として、腐食し難い貴金属が好ましく用いられる。   In electronic devices and electric devices in various fields, a conductive substrate including a base material and a conductive portion provided on the base material and having conductivity is used. When a conductive substrate is used in an application where corrosion is likely to occur or an application where corrosion should be suppressed, a noble metal such as gold or palladium may be used as a material constituting the conductive portion. For example, when a conductive substrate is used to construct a biosensor for measuring the concentration of glucose in blood, etc., the conductive portion of the conductive substrate comes into contact with an electrolyte solution such as blood to cause an electrochemical reaction. It functions as an electrode for generating. In this case, if the electrode itself is easily oxidized, and the electrode potential is unstable, a factor other than the current value resulting from the electrochemical reaction in the electrolyte appears in the measured current value. It becomes impossible to accurately measure the state of. For this reason, a noble metal that hardly corrodes is preferably used as a material constituting the conductive portion of the conductive substrate.

一方、貴金属は一般に高価である。またバイオセンサは通常、検査毎に廃棄される消耗品であり、このため低コストであることが求められる。このような課題を考慮し、例えば特許文献1においては、電解液に接触する電極部が貴金属を含み、電極部に接続された配線部が貴金属を含まないように導電性基板を構成することが提案されている。特許文献1によれば、電極部を構成する材料と配線部を構成する材料を別個のものとすることにより、導電性基板のコストを低減することができる。   On the other hand, precious metals are generally expensive. In addition, a biosensor is usually a consumable that is discarded for each test, and therefore it is required to be low in cost. In consideration of such problems, for example, in Patent Document 1, the conductive substrate may be configured such that the electrode part in contact with the electrolyte contains a noble metal and the wiring part connected to the electrode part does not contain a noble metal. Proposed. According to Patent Document 1, the cost of the conductive substrate can be reduced by making the material constituting the electrode portion and the material constituting the wiring portion different.

特開2014−206516号公報JP 2014-206516 A

上述の特許文献1においては、電極部を形成する方法の例として、インクジェット印刷法によって金ナノインクを基材上に印刷する方法が挙げられている。しかしながら、インクジェット印刷法によって形成されるパターンの解像度は、フォトリソグラフィー法などの高精度のパターニング方法によって形成されるパターンの解像度に比べて一般に低い。このため、インクジェット印刷法によって作製された導電性基板は、高解像度が求められる用途には不向きである。   In the above-mentioned patent document 1, as an example of a method of forming an electrode part, a method of printing gold nano ink on a substrate by an ink jet printing method is cited. However, the resolution of a pattern formed by an ink jet printing method is generally lower than the resolution of a pattern formed by a high-precision patterning method such as a photolithography method. For this reason, the electroconductive board | substrate produced by the inkjet printing method is unsuitable for the use for which high resolution is calculated | required.

また上述の特許文献1においては、電極部を形成する方法のその他の例として、蒸着法によって形成されたニッケルのパターンの上に、電解めっき法によって金のパターンを形成する方法も挙げられている。しかしながら、この場合、電解めっき工程を実施する前に、ニッケルのパターンのうち配線部に対応する部分をマスクする工程が実施される。また、電解めっき工程中にニッケルのパターンに給電するための給電部も必要になる。給電部は、電解めっき工程の後に除去される。このように電解めっき法によって金のパターンを形成する場合、電解めっき工程の前後の工程の工数が増大してしまう。また、電解めっき工程の際、マスクと配線部や基材との間に金めっき液が浸入してしまい、この結果、金のパターンの寸法や配置が設計からずれたり、金めっき液の使用量が想定よりも増大したりすることも考えられる。   Moreover, in the above-mentioned Patent Document 1, as another example of the method of forming the electrode portion, a method of forming a gold pattern by electrolytic plating on a nickel pattern formed by vapor deposition is also mentioned. . However, in this case, before the electrolytic plating step is performed, a step of masking a portion corresponding to the wiring portion in the nickel pattern is performed. In addition, a power feeding unit for feeding power to the nickel pattern is also required during the electrolytic plating process. The power feeding unit is removed after the electrolytic plating process. Thus, when forming a gold pattern by an electrolytic plating method, the man-hour of the process before and behind an electrolytic plating process will increase. Also, during the electroplating process, the gold plating solution infiltrates between the mask and the wiring part or base material. As a result, the size and arrangement of the gold pattern deviates from the design, and the amount of gold plating solution used. It is also conceivable that the value will increase more than expected.

本発明は、このような点を考慮してなされたものであり、貴金属を含む導電部を高い解像度で簡易に形成することができる導電性基板およびその製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in consideration of such points, and an object of the present invention is to provide a conductive substrate that can easily form a conductive portion containing a noble metal with high resolution and a method for manufacturing the same.

本発明は、基材と、前記基材上に設けられ、導電性を有する第1導電部と、前記第1導電部に接するよう前記基材上に設けられ、導電性を有する第2導電部と、を備え、前記第1導電部は、第1導電層と、前記第1導電層と前記基材の前記第1面との間に設けられ、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層と、を有し、前記第1導電層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、導電性基板である。   The present invention includes a base material, a first conductive portion provided on the base material and having conductivity, and a second conductive portion provided on the base material so as to be in contact with the first conductive portion and having conductivity. And the first conductive part is provided between the first conductive layer, the first conductive layer, and the first surface of the substrate, and includes a catalyst and a resin composition. And the first conductive layer is a conductive substrate including at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium, and osmium.

本発明による導電性基板において、前記第1触媒層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含んでいてもよい。   In the conductive substrate according to the present invention, the first catalyst layer may contain at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium.

本発明による導電性基板において、前記第1導電部は、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものであってもよい。   In the conductive substrate according to the present invention, the first conductive portion may be for forming an electrode that is brought into contact with the electrolytic solution to cause an electrochemical reaction.

本発明による導電性基板において、前記第1触媒層の前記樹脂組成物は、感光性を有していてもよい。   In the conductive substrate according to the present invention, the resin composition of the first catalyst layer may have photosensitivity.

本発明は、基材上に、第1導電部を形成する第1導電部形成工程と、基材上に、第2導電部を形成する第2導電部形成工程と、を備え、前記第2導電部は、前記第1導電部に接しており、前記第1導電部形成工程は、前記基材上に、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層を形成する工程と、導電性材料を含むめっき液を前記基材に供給して、前記第1触媒層上に第1導電層を形成する工程と、を有し、前記第1導電層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、導電性基板の製造方法である。   The present invention comprises: a first conductive part forming step for forming a first conductive part on a base material; and a second conductive part forming step for forming a second conductive part on the base material, The conductive portion is in contact with the first conductive portion, and the first conductive portion forming step includes a step of forming a first catalyst layer containing a catalyst and a resin composition on the base material, and a conductive material. Supplying a plating solution containing the base material to form a first conductive layer on the first catalyst layer, wherein the first conductive layer comprises gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, It is a manufacturing method of a conductive substrate containing at least either ruthenium or osnium.

本発明による導電性基板の製造方法において、前記第1触媒層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含んでいてもよい。   In the method for producing a conductive substrate according to the present invention, the first catalyst layer may contain at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium.

本発明による導電性基板の製造方法において、前記第1導電部は、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものであってもよい。   In the method for manufacturing a conductive substrate according to the present invention, the first conductive portion may be for forming an electrode that is brought into contact with an electrolytic solution to cause an electrochemical reaction.

本発明による導電性基板の製造方法において、前記第1触媒層の前記樹脂組成物は、感光性を有し、前記第1触媒層形成工程は、前記基材上に成膜されている前記第1触媒層に光を照射する工程と、光が照射された前記第1触媒層を現像する工程と、を含んでいてもよい。   In the method for producing a conductive substrate according to the present invention, the resin composition of the first catalyst layer has photosensitivity, and the first catalyst layer forming step includes forming the first catalyst layer on the base material. There may be included a step of irradiating one catalyst layer with light and a step of developing the first catalyst layer irradiated with light.

本発明は、基材と、前記基材上に設けられ、導電性を有する第1導電部と、を備え、前記第1導電部は、第1導電層と、前記第1導電層と前記基材の前記第1面との間に設けられ、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層と、を有し、前記第1導電層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、導電性基板である。   The present invention includes a base material, and a first conductive portion provided on the base material and having conductivity. The first conductive portion includes a first conductive layer, the first conductive layer, and the base. A first catalyst layer provided between the first surface of the material and containing a catalyst and a resin composition, wherein the first conductive layer is made of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium. It is a conductive substrate containing at least any of the above.

本発明による導電性基板において、前記第1触媒層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含んでいてもよい。   In the conductive substrate according to the present invention, the first catalyst layer may contain at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium.

本発明による導電性基板において、前記第1導電部は、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものであってもよい。   In the conductive substrate according to the present invention, the first conductive portion may be for forming an electrode that is brought into contact with the electrolytic solution to cause an electrochemical reaction.

本発明による導電性基板において、前記第1触媒層の前記樹脂組成物は、感光性を有していてもよい。   In the conductive substrate according to the present invention, the resin composition of the first catalyst layer may have photosensitivity.

本発明によれば、貴金属を含む導電部を高い解像度で簡易に形成することができる。   According to the present invention, a conductive part containing a noble metal can be easily formed with high resolution.

図1は、本発明の実施の形態による導電性基板を示す平面図。FIG. 1 is a plan view showing a conductive substrate according to an embodiment of the present invention. 図2は、図1の導電性基板をII−II方向から見た断面図。2 is a cross-sectional view of the conductive substrate of FIG. 1 as viewed from the II-II direction. 図3は、図1の導電性基板をIII−III方向から見た断面図。3 is a cross-sectional view of the conductive substrate of FIG. 1 as viewed from the III-III direction. 図4は、本発明の実施の形態による導電性基板を備えた濃度測定センサを示す分解斜視図。FIG. 4 is an exploded perspective view showing a concentration measurement sensor including a conductive substrate according to an embodiment of the present invention. 図5は、濃度測定センサを示す斜視図。FIG. 5 is a perspective view showing a concentration measurement sensor. 図6(a)〜(d)は、第1導電部の第1導電層を形成する工程を示す図。6A to 6D are views showing a process of forming the first conductive layer of the first conductive portion. 図7(a)〜(c)は、第2導電部の第2導電層を形成して積層体を作製する工程を示す図。FIGS. 7A to 7C are views showing a process of forming a stacked body by forming the second conductive layer of the second conductive portion. 図8は、第1導電層および第2導電層を備える積層体を示す平面図。FIG. 8 is a plan view showing a laminate including a first conductive layer and a second conductive layer. 図9は、本発明の実施の形態の第1の変形例による導電性基板を示す平面図。FIG. 9 is a plan view showing a conductive substrate according to a first modification of the embodiment of the present invention. 図10は、本発明の実施の形態の第2の変形例による導電性基板を示す平面図。FIG. 10 is a plan view showing a conductive substrate according to a second modification of the embodiment of the present invention. 図11は、本発明の実施の形態の第3の変形例による導電性基板を示す平面図。FIG. 11 is a plan view showing a conductive substrate according to a third modification of the embodiment of the present invention. 図12は、図11の導電性基板をXII−XII方向から見た断面図。12 is a cross-sectional view of the conductive substrate of FIG. 11 viewed from the XII-XII direction.

以下、図1乃至図8を参照して、本発明の実施の形態について説明する。なお、本明細書に添付する図面においては、図示と理解のしやすさの便宜上、適宜縮尺および縦横の寸法比等を、実物のそれらから変更し誇張してある。また本明細書において、「基板」、「基材」、「シート」や「フィルム」など用語は、呼称の違いのみに基づいて、互いから区別されるものではない。例えば、「基板」や「基材」は、シートやフィルムと呼ばれ得るような部材も含む概念である。さらに、本明細書において用いる、形状や幾何学的条件並びにそれらの程度を特定する、例えば、「平行」や「直交」等の用語や長さや角度の値等については、厳密な意味に縛られることなく、同様の機能を期待し得る程度の範囲を含めて解釈することとする。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS. In the drawings attached to the present specification, for the sake of illustration and ease of understanding, the scale, the vertical / horizontal dimension ratio, and the like are appropriately changed and exaggerated from those of the actual ones. Further, in this specification, terms such as “substrate”, “base material”, “sheet”, and “film” are not distinguished from each other based only on the difference in names. For example, “substrate” and “base material” are concepts including members that can be called sheets and films. Furthermore, as used in this specification, the shape and geometric conditions and the degree thereof are specified. For example, terms such as “parallel” and “orthogonal”, length and angle values, and the like are bound to a strict meaning. Therefore, it should be interpreted including the extent to which similar functions can be expected.

まず図1乃至図3により、本実施の形態による導電性基板10について説明する。図1は、導電性基板10を示す平面図であり、図2は、図1の導電性基板10をII−II方向から見た断面図であり、図3は、図1の導電性基板10をIII−III方向から見た断面図である。なお本実施の形態においては、導電性基板10が、電解液に含まれる所定の成分の電気化学反応に起因して生じる電流を測定して、電解液中の当該成分の濃度を測定する濃度測定センサを構成するためのものである例について説明する。以下、電解液中の成分のうち、濃度を測定する対象となる成分のことを、被測定成分とも称する。   First, the conductive substrate 10 according to the present embodiment will be described with reference to FIGS. 1 is a plan view showing the conductive substrate 10, FIG. 2 is a cross-sectional view of the conductive substrate 10 of FIG. 1 as viewed from the II-II direction, and FIG. 3 is a diagram of the conductive substrate 10 of FIG. It is sectional drawing which looked at from the III-III direction. In the present embodiment, the conductive substrate 10 measures the current generated due to the electrochemical reaction of a predetermined component contained in the electrolytic solution, and measures the concentration of the component in the electrolytic solution. An example for constituting a sensor will be described. Hereinafter, of the components in the electrolytic solution, the component whose concentration is to be measured is also referred to as a component to be measured.

導電性基板
図1に示すように、導電性基板10は、基材12と、基材12の第1面12a上に設けられ、導電性を有する第1導電部14と、第1導電部14に接するよう基材12の第1面12a上に設けられ、導電性を有する第2導電部18と、を備えている。基材12は、少なくとも第1面12aが絶縁性を有するよう構成されている。第1導電部14は、一対の作用電極15aと、一対の作用電極15aの間に配置された対電極15bと、を有している。これら作用電極15aおよび対電極15bは、電解液中の被測定成分の濃度を測定する際に電解液に接触する電極である。作用電極15aと対電極15bとの間には隙間26が形成されており、これによって作用電極15aと対電極15bとの間が電気的に絶縁されている。
As shown in FIG. 1, the conductive substrate 10 is provided on the base 12, the first surface 12 a of the base 12, the first conductive part 14 having conductivity, and the first conductive part 14. And a second conductive portion 18 that is provided on the first surface 12a of the substrate 12 and has conductivity. The base material 12 is configured such that at least the first surface 12a has an insulating property. The first conductive portion 14 includes a pair of working electrodes 15a and a counter electrode 15b disposed between the pair of working electrodes 15a. The working electrode 15a and the counter electrode 15b are electrodes that come into contact with the electrolytic solution when measuring the concentration of the component to be measured in the electrolytic solution. A gap 26 is formed between the working electrode 15a and the counter electrode 15b, whereby the working electrode 15a and the counter electrode 15b are electrically insulated.

図1に示すように、第2導電部18は、一対の作用電極15aに接続された一端を有する配線19aと、対電極15bに接続された一端を有する配線19bと、を有している。また基材12の第1面12a上には、配線19aの他端に接続された端子23aと、配線19bの他端に接続された端子23bと、を有する端子部22がさらに設けられている。端子23aおよび端子23bは、導電性基板10を備える後述する濃度測定センサ40に電圧を印加したり濃度測定センサ40から電流を取り出したりするためのケーブルやコネクタが接続される部分である。図1に示すように、作用電極15aと配線19bとの間、対電極15bと配線19aとの間、端子23aと端子23bとの間などには、電気的な絶縁性を確保するための隙間26が形成されている。なお図1において、第2導電部18の配線19aと端子部22の端子23aとの間の境界線は便宜上描かれたものであり、後述するように、配線19aと端子23aとは第2導電層36によって一体的に構成されていてもよい。配線19bおよび端子23bについても同様である。   As shown in FIG. 1, the second conductive portion 18 includes a wiring 19 a having one end connected to the pair of working electrodes 15 a and a wiring 19 b having one end connected to the counter electrode 15 b. Further, on the first surface 12a of the substrate 12, a terminal portion 22 having a terminal 23a connected to the other end of the wiring 19a and a terminal 23b connected to the other end of the wiring 19b is further provided. . The terminals 23 a and 23 b are portions to which cables and connectors for applying a voltage to and extracting a current from the concentration measurement sensor 40 (described later) including the conductive substrate 10 are connected. As shown in FIG. 1, there are gaps for ensuring electrical insulation between the working electrode 15a and the wiring 19b, between the counter electrode 15b and the wiring 19a, between the terminal 23a and the terminal 23b, and the like. 26 is formed. In FIG. 1, the boundary line between the wiring 19a of the second conductive portion 18 and the terminal 23a of the terminal portion 22 is drawn for convenience. As will be described later, the wiring 19a and the terminal 23a are connected to the second conductive portion. The layer 36 may be integrally formed. The same applies to the wiring 19b and the terminal 23b.

なお図1に示すように、基材12の第1面12a上には、隙間26によって第1導電部14、第2導電部18および端子部22から絶縁された浮遊導電部28がさらに設けられていてもよい。   As shown in FIG. 1, a floating conductive portion 28 that is insulated from the first conductive portion 14, the second conductive portion 18, and the terminal portion 22 by a gap 26 is further provided on the first surface 12 a of the substrate 12. It may be.

以下、第1導電部14、第2導電部18および端子部22の層構成について説明する。   Hereinafter, the layer configuration of the first conductive portion 14, the second conductive portion 18, and the terminal portion 22 will be described.

(第1導電部)
図2および図3に示すように、作用電極15aや対電極15bなどの第1導電部14は、第1導電層32と、第1導電層32と基材12の第1面12aとの間に設けられた第1触媒層33と、を有している。第1触媒層33は、後述する無電解めっき処理によって第1導電層32を形成する際に、第1導電層32を構成する導電性材料を選択的に析出させるための触媒を含む層である。なお「選択的」とは、基材12のうち触媒が存在している部分に導電性材料が析出する確率が、基材12のその他の部分に導電性材料が析出する確率よりも高いことを意味している。
(First conductive part)
As shown in FIGS. 2 and 3, the first conductive portion 14 such as the working electrode 15 a and the counter electrode 15 b is provided between the first conductive layer 32 and the first conductive layer 32 and the first surface 12 a of the substrate 12. And a first catalyst layer 33 provided on the surface. The first catalyst layer 33 is a layer containing a catalyst for selectively depositing a conductive material constituting the first conductive layer 32 when the first conductive layer 32 is formed by an electroless plating process described later. . Note that “selective” means that the probability that the conductive material is deposited on the portion of the base material 12 where the catalyst is present is higher than the probability that the conductive material is deposited on other portions of the base material 12. I mean.

第1導電層32を構成する導電性材料としては、貴金属が用いられる。具体的には、第1導電層32は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムなどの貴金属のいずれかを少なくとも含み、これら貴金属によって第1導電層32の表面が構成されている。これによって、第1導電層32に高い耐腐食性を持たせることができる。このことにより、第1導電部14が電解液に接触しているときに第1導電部14の電位が不安定になってしまうことを抑制することができる。このため、電解液中の被測定成分の電気化学反応に起因する電流値が、第1導電部14自体の酸化反応によって揺らいでしまうことを抑制することができる。第1導電層32の厚みは、0.005μm〜1μmの範囲内になっており、より好ましくは0.05μm〜0.30μmの範囲内になっている。第1導電部14の作用電極15aや対電極15bの厚みを0.005μm以上、より好ましくは0.01μm以上とすることにより、第1導電部14の電気抵抗を十分に小さくすることができる。また、第1導電部14の作用電極15aや対電極15bの厚みを1μm以下、より好ましくは0.20μm以下とすることにより、第1導電部14の製造コストを低減することができる。なお本明細書において、「〜」という記号によって表現される数値範囲は、「〜」という符号の前後に置かれた数値を含んでいる。例えば、「0.005μm〜1μm」という表現によって画定される数値範囲は、「0.005μm以上かつ1μm以下」という表現によって画定される数値範囲と同一である。   A noble metal is used as the conductive material constituting the first conductive layer 32. Specifically, the first conductive layer 32 includes at least one of noble metals such as gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium, and osnium, and the surface of the first conductive layer 32 is configured by these noble metals. . As a result, the first conductive layer 32 can have high corrosion resistance. Thereby, it is possible to prevent the potential of the first conductive portion 14 from becoming unstable when the first conductive portion 14 is in contact with the electrolytic solution. For this reason, it can suppress that the electric current value resulting from the electrochemical reaction of the to-be-measured component in electrolyte solution fluctuates by the oxidation reaction of 1st electroconductive part 14 itself. The thickness of the first conductive layer 32 is in the range of 0.005 μm to 1 μm, and more preferably in the range of 0.05 μm to 0.30 μm. By setting the thickness of the working electrode 15a and the counter electrode 15b of the first conductive portion 14 to 0.005 μm or more, more preferably 0.01 μm or more, the electrical resistance of the first conductive portion 14 can be sufficiently reduced. Moreover, the manufacturing cost of the 1st electroconductive part 14 can be reduced by making thickness of the working electrode 15a and the counter electrode 15b of the 1st electroconductive part 14 into 1 micrometer or less, More preferably, 0.20 micrometer or less. In the present specification, the numerical range represented by the symbol “to” includes numerical values placed before and after the symbol “to”. For example, the numerical range defined by the expression “0.005 μm to 1 μm” is the same as the numerical range defined by the expression “0.005 μm to 1 μm”.

本実施の形態においては、後述するように、はじめに、感光性を有する樹脂組成物と、樹脂組成物に添加された触媒と、を含む第1触媒層33を基材12の第1面12a側に成膜し、次に、第1触媒層33に光を照射して第1触媒層33を露光し、その後、第1触媒層33を現像することによって、第1導電部14の作用電極15aや対電極15bに対応するパターンを有する第1触媒層33を形成する。第1触媒層33に含まれる触媒は、第1導電層32を形成するためのめっき液に含まれる導電性材料に応じて適宜選択される。例えばWO2012−141216に開示されているように、触媒として、鉄、コバルト、ニッケル、銅、パラジウム、銀、スズ、白金または金およびそれらの合金などを用いることができる。第1触媒層33の触媒は、例えば微粒子として存在している。第1触媒層33の厚みは、例えば0.001μm〜10μmの範囲内になっており、より好ましくは0.005μm〜0.050μmの範囲内にいる。   In the present embodiment, as will be described later, first, the first catalyst layer 33 including the photosensitive resin composition and the catalyst added to the resin composition is used as the first surface 12a side of the substrate 12. Then, the first catalyst layer 33 is exposed to light to expose the first catalyst layer 33, and then the first catalyst layer 33 is developed, whereby the working electrode 15a of the first conductive portion 14 is developed. The first catalyst layer 33 having a pattern corresponding to the counter electrode 15b is formed. The catalyst contained in the first catalyst layer 33 is appropriately selected according to the conductive material contained in the plating solution for forming the first conductive layer 32. For example, as disclosed in WO2012-141216, iron, cobalt, nickel, copper, palladium, silver, tin, platinum, gold, and alloys thereof can be used as a catalyst. The catalyst of the first catalyst layer 33 exists as fine particles, for example. The thickness of the first catalyst layer 33 is, for example, in the range of 0.001 μm to 10 μm, and more preferably in the range of 0.005 μm to 0.050 μm.

感光性を有する樹脂組成物とは、光を照射されることによって誘起される反応に基づいて、溶解性などの物性を変化させる材料のことである。従来、樹脂組成物に照射される光としては、水銀灯のi線やg線などの紫外線が広く利用されている。また、i線やg線を照射されることによって溶解性を変化させる樹脂組成物としては、例えば、ノボラック樹脂をベース樹脂とし、ナフトキノンジアジドが溶解阻止剤としてベース樹脂に添加されたものが知られている。   The photosensitive resin composition is a material that changes physical properties such as solubility based on a reaction induced by light irradiation. Conventionally, ultraviolet rays such as i-line and g-line of a mercury lamp have been widely used as light irradiated to the resin composition. In addition, as a resin composition whose solubility is changed by irradiation with i-line or g-line, for example, a resin composition in which novolak resin is used as a base resin and naphthoquinone diazide is added as a dissolution inhibitor to the base resin is known. ing.

第1触媒層33の樹脂組成物は、照射される光の波長や、ポジ型またはネガ型を含む感光性のタイプなどに応じて適宜選択される。また好ましくは、樹脂組成物は、吸着などによって触媒を安定に保持することができるよう選択される。例えば、第1触媒層33の樹脂組成物としては、上述のノボラック樹脂の他にも、感光性ポリイミド、感光性ポリベンゾオキサゾール、ポリヒドロキシスチレン、ナフトキノンジアジド化合物、エポキシ系樹脂、アクリル系樹脂、樹枝状ポリマー、アンモニウム末端ハイパーブランチポリマーなどの、レジストのベース樹脂として一般に用いられる樹脂材料が用いられ得る。   The resin composition of the first catalyst layer 33 is appropriately selected according to the wavelength of light to be irradiated, the photosensitive type including a positive type or a negative type, and the like. Preferably, the resin composition is selected so that the catalyst can be stably held by adsorption or the like. For example, as the resin composition of the first catalyst layer 33, in addition to the above-described novolak resin, photosensitive polyimide, photosensitive polybenzoxazole, polyhydroxystyrene, naphthoquinonediazide compound, epoxy resin, acrylic resin, dendritic resin Resin materials generally used as a base resin for resist, such as a polymer and an ammonium-terminated hyperbranched polymer, can be used.

第1触媒層33が、感光性を有する樹脂組成物と、触媒としてのパラジウムと、を含む場合、第1触媒層33を形成するための市販の部材として、例えば日産化学工業製の無電解めっき核材 MC-001を用いることができる。   When the first catalyst layer 33 includes a photosensitive resin composition and palladium as a catalyst, as a commercially available member for forming the first catalyst layer 33, for example, electroless plating manufactured by Nissan Chemical Industries, Ltd. Nuclear material MC-001 can be used.

露光および現像によって第1触媒層33を加工し、第1触媒層33が第1導電部14に対応するパターンを有するようにすることができる限りにおいて、第1触媒層33の樹脂組成物に付与される感光性が特に限られることはない。例えば第1触媒層33の樹脂組成物は、光を照射されることによって硬化する、いわゆるネガ型の感光性を有していてもよく、若しくは、光を照射されることによって軟化する、いわゆるポジ型の感光性を有していてもよい。   The first catalyst layer 33 is applied to the resin composition of the first catalyst layer 33 as long as the first catalyst layer 33 can be processed by exposure and development so that the first catalyst layer 33 has a pattern corresponding to the first conductive portion 14. The photosensitivity is not particularly limited. For example, the resin composition of the first catalyst layer 33 may have a so-called negative photosensitivity that is cured by being irradiated with light, or is a so-called positive that is softened by being irradiated with light. The mold may have photosensitivity.

第1触媒層33の樹脂組成物がネガ型の感光性を有する場合、樹脂組成物に添加される重合開始剤として、光アニオン重合開始剤、光カチオン重合開始剤、光ラジカル重合開始剤などのタイプが用いられ得る。重合開始剤の具体例としては、ビスアジド化合物などを挙げることができる。また、第1触媒層33の樹脂組成物がポジ型の感光性を有する場合、樹脂組成物に添加される重合開始剤として、例えば、1,2-ナフトキノンジアジドスルホン酸エステル系化合物などを挙げることができる。以下の説明においては、第1触媒層33の樹脂組成物がネガ型の感光性を有する場合について説明する。   When the resin composition of the first catalyst layer 33 has negative photosensitivity, as a polymerization initiator added to the resin composition, a photoanionic polymerization initiator, a photocationic polymerization initiator, a photoradical polymerization initiator, etc. A type can be used. Specific examples of the polymerization initiator include bisazide compounds. In addition, when the resin composition of the first catalyst layer 33 has positive photosensitivity, examples of the polymerization initiator added to the resin composition include 1,2-naphthoquinonediazide sulfonic acid ester compounds. Can do. In the following description, a case where the resin composition of the first catalyst layer 33 has negative photosensitivity will be described.

ところで、第1触媒層33の法線方向に直交する方向に沿って進む平行光を、マスクの開口部を介して第1触媒層33に対して照射した場合、第1触媒層33のうち光に反応する領域の寸法は、光の回折に起因して、マスクの開口部の寸法よりも通常は大きくなる。従って、第1触媒層33の樹脂組成物がネガ型の感光性を有する場合、光の照射によって硬化する領域の寸法が、マスクの開口部の寸法よりも大きくなる。この結果、第1導電部14の幅などの寸法も、マスクの開口部の寸法よりも大きくなる。このため、幅が小さい、例えば幅が数μm程度の作用電極15aや対電極15bを含む第1導電部14を形成しようとする場合、マスクの開口部の寸法を、光の回折に起因する光の広がりを考慮して設定することになる。この点を考慮すると、幅が小さい、例えば幅が数μm程度の作用電極15aや対電極15bを含む第1導電部14を形成しようとする場合は、第1触媒層33の樹脂組成物がポジ型の感光性を有することが好ましいと考えられる。   By the way, when the parallel light traveling along the direction orthogonal to the normal direction of the first catalyst layer 33 is irradiated to the first catalyst layer 33 through the opening of the mask, the light in the first catalyst layer 33 is light. The dimension of the region that reacts to is usually larger than the dimension of the opening of the mask due to light diffraction. Therefore, when the resin composition of the first catalyst layer 33 has negative photosensitivity, the size of the region cured by light irradiation is larger than the size of the opening of the mask. As a result, the dimensions such as the width of the first conductive portion 14 are also larger than the dimensions of the opening of the mask. For this reason, when the first conductive portion 14 including the working electrode 15a and the counter electrode 15b having a small width, for example, a width of about several μm is to be formed, the size of the opening of the mask is set to the light caused by light diffraction. It will be set in consideration of the spread of. In consideration of this point, when the first conductive portion 14 including the working electrode 15a and the counter electrode 15b having a small width, for example, a width of about several μm is to be formed, the resin composition of the first catalyst layer 33 is positive. It is considered preferable to have the photosensitivity of the mold.

好ましくは、第1触媒層33に含まれる触媒として、第1導電層32と同様に貴金属が用いられる。具体的には、第1触媒層33は、触媒として、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムなどの貴金属のいずれかを少なくとも含んでいる。この場合、第1導電層32だけでなく第1触媒層33の電位の安定性を高めることができる。このため、仮に電解液が第1導電層32だけでなく第1触媒層33に接触したとしても、電解液中の被測定成分の電気化学反応に起因する電流値が揺らいでしまうことをさらに抑制することができる。   Preferably, a noble metal is used as the catalyst contained in the first catalyst layer 33 as in the first conductive layer 32. Specifically, the first catalyst layer 33 includes at least one of noble metals such as gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium as a catalyst. In this case, the stability of the potential of not only the first conductive layer 32 but also the first catalyst layer 33 can be improved. For this reason, even if the electrolytic solution contacts not only the first conductive layer 32 but also the first catalyst layer 33, the current value caused by the electrochemical reaction of the component to be measured in the electrolytic solution is further suppressed. can do.

(第2導電部)
図2および図3に示すように、配線19aや配線19bなどの第2導電部18は、第2導電層36を有している。第2導電部18は、電解液中の被測定成分の電気化学反応に起因する電流値を第1導電部14から導電性基板10の外部へ伝達するためのものである。第2導電部18が電解液に接触する可能性は低く、このため、第2導電部18に対して求められる耐腐食性は、第1導電部14に対して求められる耐腐食性よりも低い。従って、第2導電部18の第2導電層36を構成する材料は、十分な導電性を有していればよく、高い耐腐食性を有している必要はない。第2導電層36を構成する材料としては、銅、銀、アルミニウムや導電性炭素などを用いることができる。第2導電層36の厚みは、0.005μm〜40μmの範囲内になっており、より好ましくは0.01μm〜2μmの範囲内になっている。
(Second conductive part)
As shown in FIGS. 2 and 3, the second conductive portion 18 such as the wiring 19 a and the wiring 19 b has a second conductive layer 36. The second conductive portion 18 is for transmitting the current value resulting from the electrochemical reaction of the component to be measured in the electrolytic solution from the first conductive portion 14 to the outside of the conductive substrate 10. The possibility that the second conductive portion 18 is in contact with the electrolytic solution is low, and therefore the corrosion resistance required for the second conductive portion 18 is lower than the corrosion resistance required for the first conductive portion 14. . Therefore, the material constituting the second conductive layer 36 of the second conductive portion 18 only needs to have sufficient conductivity, and does not need to have high corrosion resistance. As a material constituting the second conductive layer 36, copper, silver, aluminum, conductive carbon, or the like can be used. The thickness of the second conductive layer 36 is in the range of 0.005 μm to 40 μm, and more preferably in the range of 0.01 μm to 2 μm.

第1導電部14の例えば作用電極15aと第2導電部18の例えば配線19aとを電気的に接続することができる限りにおいて、第1導電層32および第1触媒層33と第2導電層36との位置関係が特に限られることはない。例えば図2および図3に示すように、第1導電層32の表面の一部を覆うように第2導電層36が構成されていてもよい。若しくは、図示はしないが、第2導電層36の表面の一部を覆うように第1触媒層33および第1導電層32が構成されていてもよい。   As long as the working electrode 15a of the first conductive portion 14 and the wiring 19a of the second conductive portion 18 can be electrically connected, for example, the first conductive layer 32, the first catalyst layer 33, and the second conductive layer 36 are used. The positional relationship with is not particularly limited. For example, as shown in FIGS. 2 and 3, the second conductive layer 36 may be configured to cover a part of the surface of the first conductive layer 32. Or although not shown in figure, the 1st catalyst layer 33 and the 1st conductive layer 32 may be comprised so that a part of surface of the 2nd conductive layer 36 may be covered.

図3に示すように、端子部22や浮遊導電部28は、第2導電部18と同様に第2導電層36を有していてもよい。   As shown in FIG. 3, the terminal portion 22 and the floating conductive portion 28 may have a second conductive layer 36 similarly to the second conductive portion 18.

(基材)
第1導電部14や第2導電部18を支持することができる限りにおいて、基材12を構成する材料が特に限られることはない。例えば、基材12を構成する材料として、可撓性を有する材料が用いられてもよく、若しくは、硬質な材料が用いられてもよい。言い換えれば、導電性基板10は、可撓性を有する、いわゆるフレキシブル基板として構成されていてもよく、若しくは、高い剛性を有する、いわゆるリジッド基板として構成されていてもよい。導電性基板10がリジッド基板として構成される場合、基材12を構成する材料として、ガラスエポキシなどの公知の材料を挙げることができる。
(Base material)
As long as the 1st electroconductive part 14 and the 2nd electroconductive part 18 can be supported, the material which comprises the base material 12 is not specifically limited. For example, a flexible material may be used as the material constituting the substrate 12, or a hard material may be used. In other words, the conductive substrate 10 may be configured as a so-called flexible substrate having flexibility, or may be configured as a so-called rigid substrate having high rigidity. When the electroconductive board | substrate 10 is comprised as a rigid board | substrate, as a material which comprises the base material 12, well-known materials, such as glass epoxy, can be mentioned.

導電性基板10が可撓性を有する場合、基材12を構成する材料として、ポリエステル樹脂、エポキシ樹脂やポリイミド樹脂などの樹脂材料を挙げることができる。また、基材12を構成する材料として、可撓性を有する程度に薄く成形されたガラスを用いてもよい。基材12の厚みは、例えば10μm〜300μmの範囲内に設定される。   When the conductive substrate 10 has flexibility, examples of the material constituting the base material 12 include resin materials such as polyester resin, epoxy resin, and polyimide resin. Moreover, you may use the glass shape | molded thinly to such an extent that it has flexibility as a material which comprises the base material 12. FIG. The thickness of the base material 12 is set within a range of 10 μm to 300 μm, for example.

なお本明細書において、「可撓性」とは、室温例えば25℃の環境下で導電性基板10を直径30cmのロール状の形態に巻き取った場合に、導電性基板10に折れ目が生じない程度の柔軟性を意味している。「折れ目」とは、導電性基板10を巻き取る方向に交差する方向において導電性基板10に現れる変形であって、変形を元に戻すように導電性基板10を逆向きに巻き取ったとしても元には戻らない程度の変形を意味している。   In this specification, “flexible” means that the conductive substrate 10 is folded when the conductive substrate 10 is wound into a roll shape having a diameter of 30 cm in an environment of room temperature, for example, 25 ° C. It means no degree of flexibility. A “fold” is a deformation that appears in the conductive substrate 10 in a direction that intersects the direction in which the conductive substrate 10 is wound, and that the conductive substrate 10 is wound in the opposite direction so as to restore the deformation. This means that the deformation does not return to the original level.

ところで基材12の第1面12aなどの表面には一般に、凹部や凸部などが存在している。すなわち基材12の表面には、所定の粗さが存在している。後述するようにめっき処理によって第1導電層32を形成する場合、第1導電層32の表面にも、基材12の第1面12aにおける粗さが反映されることがある。一方、電解液に接触する第1導電部14における電気化学反応の進行の程度は、第1導電部14の表面の面積、すなわち第1導電層32の表面の面積に比例する。従って、第1導電層32の表面に凹部や凸部が存在し、凹部や凸部の分だけ第1導電層32の表面の面積が増大すると、第1導電部14における電気化学反応の進行の程度も増大する。すなわち、第1導電部14を流れる電流の値は、第1導電部14に接触する電解液中の被測定成分の濃度だけでなく、第1導電部14を構成する第1導電層32の表面の粗さにも依存する。従って、被測定成分の濃度をより正確に算出するためには、第1面12aの粗さが小さい基材12を採用し、これによって第1導電層32の表面の粗さを小さくすることが好ましい。例えば、第1面12aにおける算術平均粗さRaが100nm以下である基材12を用いることが好ましい。なお算術平均粗さRaの評価方法は、例えばJIS B0606−2001に規定されている。   By the way, the surface of the substrate 12 such as the first surface 12a generally has a concave portion or a convex portion. That is, a predetermined roughness exists on the surface of the substrate 12. As will be described later, when the first conductive layer 32 is formed by plating, the surface of the first conductive layer 32 may also reflect the roughness of the first surface 12a of the substrate 12. On the other hand, the degree of progress of the electrochemical reaction in the first conductive part 14 in contact with the electrolytic solution is proportional to the area of the surface of the first conductive part 14, that is, the area of the surface of the first conductive layer 32. Accordingly, when the surface of the first conductive layer 32 has a concave portion or a convex portion, and the area of the surface of the first conductive layer 32 increases by the amount of the concave portion or the convex portion, the electrochemical reaction in the first conductive portion 14 proceeds. The degree also increases. That is, the value of the current flowing through the first conductive portion 14 is not only the concentration of the component to be measured in the electrolyte solution in contact with the first conductive portion 14 but also the surface of the first conductive layer 32 constituting the first conductive portion 14. Depends on the roughness of the. Therefore, in order to calculate the concentration of the component to be measured more accurately, the substrate 12 having a small roughness of the first surface 12a is employed, thereby reducing the roughness of the surface of the first conductive layer 32. preferable. For example, it is preferable to use the substrate 12 having an arithmetic average roughness Ra on the first surface 12a of 100 nm or less. In addition, the evaluation method of arithmetic average roughness Ra is prescribed | regulated by JISB0606-2001, for example.

濃度測定センサ
次に、上述の導電性基板10を利用して、電解液中の被測定成分の濃度を測定する濃度測定センサ40を構成する例について説明する。図4は、導電性基板10を備えた濃度測定センサ40を示す分解斜視図であり、図5は、濃度測定センサ40を示す斜視図である。
Concentration Measurement Sensor Next, an example in which the concentration measurement sensor 40 that measures the concentration of the component to be measured in the electrolytic solution using the above-described conductive substrate 10 will be described. FIG. 4 is an exploded perspective view showing the concentration measurement sensor 40 provided with the conductive substrate 10, and FIG. 5 is a perspective view showing the concentration measurement sensor 40.

図4に示すように、濃度測定センサ40は、基材12の第1面12a側に設けられた第1導電部14、第2導電部18および端子部22を有する導電性基板10と、導電性基板10の基材12の第1面12a側に配置されたスペーサ42と、を備えている。スペーサ42には、導電性基板10の第1導電部14と重なるように配置された試料供給路43が形成されている。試料供給路43は、スペーサ42と重ねられた導電性基板10の第1導電部14を外部に露出させるように構成されている。例えば試料供給路43は、開口や切り欠きとして構成されている。試料供給路43は、濃度測定センサ40に供給された血液などの電解液を、毛細管現象によって第1導電部14へ導くよう機能する。試料供給路43の幅は、例えば0.5mm〜5mmの範囲内になっている。   As shown in FIG. 4, the concentration measurement sensor 40 includes a conductive substrate 10 having a first conductive portion 14, a second conductive portion 18, and a terminal portion 22 provided on the first surface 12 a side of the substrate 12, and a conductive material. Spacer 42 disposed on the first surface 12a side of the base 12 of the conductive substrate 10. A sample supply path 43 is formed in the spacer 42 so as to overlap the first conductive portion 14 of the conductive substrate 10. The sample supply path 43 is configured to expose the first conductive portion 14 of the conductive substrate 10 overlapped with the spacer 42 to the outside. For example, the sample supply path 43 is configured as an opening or a notch. The sample supply path 43 functions to guide an electrolytic solution such as blood supplied to the concentration measurement sensor 40 to the first conductive portion 14 by capillary action. The width of the sample supply path 43 is, for example, in the range of 0.5 mm to 5 mm.

図4に示すように、スペーサ42上には、導電性基板10との間でスペーサ42を挟持するようにカバー46が配置されていてもよい。カバー46には、スペーサ42の試料供給路43と重なるように配置された空気孔47が形成されている。またカバー46とスペーサ42との間には、スペーサ42の試料供給路43から露出している導電性基板10の第1導電部14に重なるように反応部44が配置されていてもよい。反応部44は、電解液中の被測定成分の電気化学反応を促進するための材料を含んでいる。例えば、濃度測定センサ40が血液中のグルコースの濃度を測定するためのものである場合、反応部44は、グルコースを分解してグルコラクトンおよび過酸化水素を生じさせるグルコース酸化酵素を含んでいる。   As shown in FIG. 4, a cover 46 may be disposed on the spacer 42 so as to sandwich the spacer 42 with the conductive substrate 10. An air hole 47 is formed in the cover 46 so as to overlap the sample supply path 43 of the spacer 42. Further, the reaction unit 44 may be arranged between the cover 46 and the spacer 42 so as to overlap the first conductive unit 14 of the conductive substrate 10 exposed from the sample supply path 43 of the spacer 42. The reaction unit 44 includes a material for promoting an electrochemical reaction of a component to be measured in the electrolytic solution. For example, when the concentration measurement sensor 40 is for measuring the concentration of glucose in blood, the reaction unit 44 includes glucose oxidase that decomposes glucose to generate glucolactone and hydrogen peroxide.

スペーサ42およびカバー46を構成する材料としては、基材12を構成する材料と同様のものが用いられる。例えばスペーサ42およびカバー46は、絶縁性を有する樹脂材料によって構成される。スペーサ42の厚みは、例えば15μm〜500μmの範囲内になっている。またカバー46の厚みは、例えば50μm〜100μmの範囲内になっている。   As a material constituting the spacer 42 and the cover 46, the same material as that constituting the base 12 is used. For example, the spacer 42 and the cover 46 are made of an insulating resin material. The spacer 42 has a thickness in the range of 15 μm to 500 μm, for example. The cover 46 has a thickness in the range of 50 μm to 100 μm, for example.

なお図示はしないが、導電性基板10とスペーサ42との間には、第2導電部18を覆う絶縁層が配置されていてもよい。また導電性基板10の基材12の第2面12b側には、導電性基板10を支持するためのさらなる基材が設けられていてもよい。   Although not shown, an insulating layer that covers the second conductive portion 18 may be disposed between the conductive substrate 10 and the spacer 42. Further, a further base material for supporting the conductive substrate 10 may be provided on the second surface 12 b side of the base material 12 of the conductive substrate 10.

被測定成分の濃度測定方法
このように構成された濃度測定センサ40を用いて、電解液の被測定成分の濃度、ここではグルコースの濃度を測定する方法について説明する。
Method for Measuring Concentration of Component to be Measured A method for measuring the concentration of the component to be measured in the electrolytic solution, here, the concentration of glucose using the concentration measuring sensor 40 thus configured will be described.

使用者が濃度測定センサ40の試料供給路43に、血液などの電解液を供給すると、試料供給路43の毛細管現象によって、電解液が濃度測定センサ40の内部に引き込まれる。電解液が反応部44に達すると、以下に説明するように、第1導電部14に電流が流れる。   When the user supplies an electrolyte such as blood to the sample supply path 43 of the concentration measurement sensor 40, the electrolyte is drawn into the concentration measurement sensor 40 due to the capillary phenomenon of the sample supply path 43. When the electrolytic solution reaches the reaction part 44, a current flows through the first conductive part 14 as described below.

反応部44は、上述のグルコース酸化酵素に加えて、電子受容体としてフェリシアン化カリウムを含んでいる。この場合、反応部44は、血液中のブドウ糖と特異的に反応し、グルコン酸と電子を発する。この電子はフェリシアン化カリウムをフェロシアン化カリウムとする。フェロシアン化カリウムは、外部から端子部22、第2導電部18および第1導電部14を介して血液に電圧を印加すると、再びフェリシアン化カリウムとなる。この際、血液中のグルコースの濃度に比例した電流が発生する。第1導電部14に流れるこの電流を、第2導電部18および端子部22を介して外部に取り出して測定することにより、血液中のグルコースの濃度を算出することができる。反応部44および第1導電部14において生じる電気化学反応の詳細については、例えば特開2014−163838号公報に記載されているので、ここでは説明を省略する。   The reaction unit 44 contains potassium ferricyanide as an electron acceptor in addition to the glucose oxidase described above. In this case, the reaction unit 44 specifically reacts with glucose in the blood, and emits gluconic acid and electrons. This electron turns potassium ferricyanide into potassium ferrocyanide. Potassium ferrocyanide becomes potassium ferricyanide again when a voltage is applied to the blood from the outside via the terminal portion 22, the second conductive portion 18, and the first conductive portion 14. At this time, a current proportional to the concentration of glucose in the blood is generated. The concentration of glucose in the blood can be calculated by taking out and measuring this current flowing through the first conductive portion 14 through the second conductive portion 18 and the terminal portion 22 to the outside. Details of the electrochemical reaction that occurs in the reaction unit 44 and the first conductive unit 14 are described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2014-163838, and thus the description thereof is omitted here.

なお濃度測定センサ40に供給される電解液が血液に限られることはない。その他にも、汗、尿等の生体由来の電解液や、環境由来の電解液、食品由来の電解液などを濃度測定センサ40に供給して、被測定成分の電気化学反応に起因する電流値を測定してもよい。   The electrolyte supplied to the concentration measurement sensor 40 is not limited to blood. In addition, a current value caused by an electrochemical reaction of a component to be measured by supplying an electrolyte derived from a living body such as sweat or urine, an electrolyte derived from the environment, an electrolyte derived from food, or the like to the concentration measurement sensor 40 May be measured.

また上述の濃度測定センサ40においては、導電性基板10が、電気化学反応によって流れる電流を測定することによって被測定成分の濃度を算出するために利用される例を示した。しかしながら、導電性基板10は、第1導電部14に接触した電解液に電気化学反応を生じさせ、これによって電解液中の所定の成分を人間などの体内に経皮的に注入するために利用されてもよい。すなわち、いわゆるイオンフォレーシスを実施するために導電性基板10が利用されてもよい。   In the above-described concentration measurement sensor 40, the example in which the conductive substrate 10 is used for calculating the concentration of the component to be measured by measuring the current flowing through the electrochemical reaction is shown. However, the conductive substrate 10 is used to cause an electrochemical reaction in the electrolytic solution in contact with the first conductive portion 14, thereby transdermally injecting a predetermined component in the electrolytic solution into a human body or the like. May be. That is, the conductive substrate 10 may be used to perform so-called ion foresis.

導電性基板の製造方法
次に、導電性基板10を製造する方法の一例について説明する。
Method for Manufacturing Conductive Substrate Next, an example of a method for manufacturing the conductive substrate 10 will be described.

はじめに、基材12を準備する。このとき、長尺状の基材12が準備されてもよく、若しくは、導電性基板10と同一の外形を有する基材12が準備されてもよい。すなわち、導電性基板10の製造方法は、長尺状の基材12を基材12の長手方向に沿って搬送しながら実施する、いわゆるロール・トゥー・ロール方式で実施されてもよく、若しくは、いわゆる枚葉方式で実施されてもよい。   First, the base material 12 is prepared. At this time, the elongate base material 12 may be prepared, or the base material 12 which has the same external shape as the electroconductive board | substrate 10 may be prepared. That is, the method of manufacturing the conductive substrate 10 may be performed by a so-called roll-to-roll method in which the long base 12 is conveyed while being transported along the longitudinal direction of the base 12, or You may implement by what is called a sheet-fed system.

(第1導電部形成工程)
次に、基材12の第1面12a上に第1導電部14を形成する第1導電部形成工程を実施する。例えば、はじめに図6(a)に示すように、基材12の第1面12a上に、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層33を成膜する。次に、第1導電部14に対応するパターンで基材12の第1面12a上に第1触媒層33が残るよう、第1触媒層33に光を照射する触媒層照射工程を実施する。例えば図6(b)に示すように、はじめに、開口部71および遮蔽部72を含むマスク70を第1触媒層33の近傍に配置する。開口部71は、第1導電部14に対応するパターンで形成されている。次に、マスク70を介して光を第1触媒層33に照射する。これによって、開口部71に対応するパターンで第1触媒層33に光を照射して第1触媒層33を硬化させることができる。次に、光が照射された第1触媒層33を現像する。例えば、アルカリ水溶液などの現像液を第1触媒層33に供給することにより、第1触媒層33のうち光が照射されていない部分を現像液に溶解させる。このようにして、図6(c)に示すように、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層33を第1導電部14に対応するパターンで基材12の第1面12a上に形成する第1触媒層形成工程が完了する。
(First conductive part forming step)
Next, the 1st electroconductive part formation process which forms the 1st electroconductive part 14 on the 1st surface 12a of the base material 12 is implemented. For example, first, as shown in FIG. 6A, a first catalyst layer 33 containing a catalyst and a resin composition is formed on the first surface 12 a of the substrate 12. Next, a catalyst layer irradiation step of irradiating the first catalyst layer 33 with light is performed so that the first catalyst layer 33 remains on the first surface 12a of the substrate 12 in a pattern corresponding to the first conductive portion 14. For example, as shown in FIG. 6B, first, a mask 70 including an opening 71 and a shielding part 72 is disposed in the vicinity of the first catalyst layer 33. The opening 71 is formed in a pattern corresponding to the first conductive portion 14. Next, the first catalyst layer 33 is irradiated with light through the mask 70. Accordingly, the first catalyst layer 33 can be cured by irradiating the first catalyst layer 33 with light in a pattern corresponding to the opening 71. Next, the first catalyst layer 33 irradiated with light is developed. For example, by supplying a developer such as an alkaline aqueous solution to the first catalyst layer 33, a portion of the first catalyst layer 33 that is not irradiated with light is dissolved in the developer. In this way, as shown in FIG. 6C, the first catalyst layer 33 containing the catalyst and the resin composition is formed on the first surface 12 a of the substrate 12 in a pattern corresponding to the first conductive portion 14. The first catalyst layer forming step is completed.

その後、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムなどの貴金属を有する導電性材料が含まれためっき液を基材12に供給する。すなわち、無電解めっき処理を実施する。これによって、図6(d)に示すように、第1触媒層33上に第1導電層32を形成することができる。すなわち、第1触媒層33に対応したパターンを有する第1導電層32を基材12の第1面12a側に形成することができる。   Thereafter, a plating solution containing a conductive material having a noble metal such as gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium is supplied to the substrate 12. That is, an electroless plating process is performed. Thereby, as shown in FIG. 6D, the first conductive layer 32 can be formed on the first catalyst layer 33. That is, the first conductive layer 32 having a pattern corresponding to the first catalyst layer 33 can be formed on the first surface 12 a side of the substrate 12.

めっき液としては、上述の金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムなどの導電性材料のイオンを含むものが用いられる。まためっき液には、WO2012−141216に開示されているような錯化剤、還元剤、pH調整剤、pH緩衝剤、反応促進剤、安定剤、界面活性剤などが適宜含まれていてもよい。例えばめっき液が導電性材料としてのパラジウムを含む場合、市販のめっき液として、松田産業株式会社製のパラシグマELや、日本高純度化学株式会社製のネオパラブライトPdめっき液などを用いることができる。   As the plating solution, a solution containing ions of a conductive material such as gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium is used. The plating solution may appropriately contain a complexing agent, a reducing agent, a pH adjusting agent, a pH buffering agent, a reaction accelerator, a stabilizer, a surfactant, and the like as disclosed in WO2012-141216. . For example, when the plating solution contains palladium as a conductive material, as a commercially available plating solution, Parasigma EL manufactured by Matsuda Sangyo Co., Ltd., Neoparabright Pd plating solution manufactured by Nihon Kojun Chemical Co., Ltd., or the like can be used.

なお基材12に対する第1触媒層33の密着性を向上させるため、基材12の第1面12a上に第1触媒層33を製膜した後や、第1触媒層33を現像した後に、第1触媒層33を加熱する熱処理工程を実施してもよい。また、第1触媒層33の表面における触媒の密度を高めるため、例えばWO2012−141216に開示されているように、第1触媒層33を現像した後に第1触媒層33に活性化処理を施してもよい。   In order to improve the adhesion of the first catalyst layer 33 to the base material 12, after the first catalyst layer 33 is formed on the first surface 12a of the base material 12, or after the development of the first catalyst layer 33, A heat treatment step for heating the first catalyst layer 33 may be performed. Further, in order to increase the density of the catalyst on the surface of the first catalyst layer 33, for example, as disclosed in WO2012-141216, after the first catalyst layer 33 is developed, the first catalyst layer 33 is activated. Also good.

(第2導電部形成工程)
次に、基材12の第1面12a上に、第1導電部14に接するように第2導電部18を形成する第2導電部形成工程を実施する。例えば、はじめに図7(a)に示すように、第1導電部14を部分的にレジスト層35によって覆う。例えば本実施の形態においては、第1導電部14のうち、導電性基板10が濃度測定センサ40に組み込まれた際に電解液に接触し得る部分を、レジスト層35によって覆う。レジスト層35を形成する方法としては、例えばフォトリソグラフィー法を採用することができる。
(Second conductive part forming step)
Next, a second conductive part forming step is performed in which the second conductive part 18 is formed on the first surface 12 a of the base material 12 so as to be in contact with the first conductive part 14. For example, first, as shown in FIG. 7A, the first conductive portion 14 is partially covered with a resist layer 35. For example, in the present embodiment, a portion of the first conductive portion 14 that can come into contact with the electrolytic solution when the conductive substrate 10 is incorporated in the concentration measurement sensor 40 is covered with the resist layer 35. As a method for forming the resist layer 35, for example, a photolithography method can be employed.

次に図7(b)に示すように、基材12の第1面12a側に第2導電層36を成膜する。第2導電層36を成膜する方法が特に限られることはなく、蒸着法やスパッタリング法などの真空成膜法や、めっき法、印刷法などを適宜採用することができる。   Next, as shown in FIG. 7B, the second conductive layer 36 is formed on the first surface 12 a side of the substrate 12. A method for forming the second conductive layer 36 is not particularly limited, and a vacuum film formation method such as an evaporation method or a sputtering method, a plating method, a printing method, or the like can be appropriately employed.

その後、図7(c)に示すように、レジスト層35を除去する。これによって、レジスト層35上に成膜された第2導電層36も同時に除去される。このようにして、基材12の第1面12a上に設けられた第1導電部14と、第1導電部14に接するよう基材12の第1面12a上に設けられた第2導電部18と、を備える積層体30を得ることができる。図8は、積層体30を示す平面図である。なお図7(c)は、図8の積層体30をVII−VII方向から見た断面図である。   Thereafter, as shown in FIG. 7C, the resist layer 35 is removed. Thereby, the second conductive layer 36 formed on the resist layer 35 is also removed at the same time. In this way, the first conductive portion 14 provided on the first surface 12a of the base 12 and the second conductive portion provided on the first surface 12a of the base 12 so as to be in contact with the first conductive portion 14. 18 can be obtained. FIG. 8 is a plan view showing the stacked body 30. FIG. 7C is a cross-sectional view of the stacked body 30 of FIG. 8 viewed from the VII-VII direction.

なお図7(a)〜(c)においては、第1導電部14を部分的にレジスト層35によって覆った状態で第2導電層36を製膜し、その後、レジスト層35上の第2導電層36をレジスト層35とともに除去する例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、レジスト層35を設けることなく第2導電層36を基材12の第1面12a上に形成してもよい。この場合、第2導電層36を形成する方向としては、インクジェット印刷法やスクリーン印刷法など、基材12の第1面12aの任意の部分に選択的に第2導電層36を形成することができる方法が採用され得る。   7A to 7C, the second conductive layer 36 is formed in a state where the first conductive portion 14 is partially covered with the resist layer 35, and then the second conductive layer on the resist layer 35 is formed. An example in which the layer 36 is removed together with the resist layer 35 is shown. However, the present invention is not limited to this, and the second conductive layer 36 may be formed on the first surface 12 a of the substrate 12 without providing the resist layer 35. In this case, as the direction in which the second conductive layer 36 is formed, the second conductive layer 36 may be selectively formed on an arbitrary portion of the first surface 12a of the substrate 12, such as an ink jet printing method or a screen printing method. Possible methods can be employed.

(積層体の加工工程)
次に、第1導電部14および第2導電部18を加工して、第1導電部14、第2導電部18や第1導電部14と第2導電部18との間の境界に上述の隙間26を形成する。これによって、作用電極15aおよび対電極15bを有する第1導電部14と、作用電極15aおよび対電極15bにそれぞれ接続された配線19aおよび配線19bを有する第2導電部18と、配線19aおよび配線19bにそれぞれ接続された端子23aおよび端子23bを有する端子部22と、を備える導電性基板10を得ることができる。
(Processing process of laminate)
Next, the first conductive portion 14 and the second conductive portion 18 are processed so that the first conductive portion 14, the second conductive portion 18, and the boundary between the first conductive portion 14 and the second conductive portion 18 are A gap 26 is formed. Accordingly, the first conductive portion 14 having the working electrode 15a and the counter electrode 15b, the second conductive portion 18 having the wiring 19a and the wiring 19b connected to the working electrode 15a and the counter electrode 15b, and the wiring 19a and the wiring 19b, respectively. And the terminal part 22 having the terminal 23a and the terminal 23b respectively connected to the conductive substrate 10 can be obtained.

上述のように、本実施の形態による導電性基板10においては、電解液に接触する第1導電部14では貴金属が用いられ、第2導電部18や端子部22では、ニッケルや銅など貴金属に比べて安価な材料が用いられる。このため、導電性基板10の導電部の全てに貴金属が用いられる場合に比べて、導電性基板10の製造コストを低減することができる。   As described above, in the conductive substrate 10 according to the present embodiment, noble metal is used in the first conductive portion 14 that is in contact with the electrolytic solution, and noble metal such as nickel and copper is used in the second conductive portion 18 and the terminal portion 22. A cheaper material is used. For this reason, compared with the case where a noble metal is used for all the electroconductive parts of the electroconductive board | substrate 10, the manufacturing cost of the electroconductive board | substrate 10 can be reduced.

また本実施の形態において、貴金属を含む第1導電層32は、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層33の上に、無電解めっき処理によって形成される。第1触媒層33は、感光性を有するよう構成されており、このためフォトリソグラフィー法を用いて第1触媒層33のパターンを精度良く定めることができる。従って、インクジェット法などの印刷法が用いられる場合に比べて、第1触媒層33上に形成される第1導電層32のパターンを精度良く定めることができる。このため、高解像度が求められる用途で利用され得る導電性基板10を提供することができる。また、第1導電層32を第1触媒層33上に選択的に析出させることができるので、不要な箇所に第1導電層32が析出してしまうことを抑制することができ、これによって、貴金属を含むめっき液の使用量を削減することができる。この点でも本実施の形態によれば、導電性基板10の製造コストを低減することができる。   In the present embodiment, the first conductive layer 32 containing a noble metal is formed on the first catalyst layer 33 containing a catalyst and a resin composition by electroless plating. The first catalyst layer 33 is configured to have photosensitivity, and therefore, the pattern of the first catalyst layer 33 can be accurately determined using a photolithography method. Therefore, the pattern of the first conductive layer 32 formed on the first catalyst layer 33 can be determined with higher accuracy than when a printing method such as an inkjet method is used. For this reason, the electroconductive board | substrate 10 which can be utilized in the use for which high resolution is calculated | required can be provided. Moreover, since the 1st conductive layer 32 can be selectively deposited on the 1st catalyst layer 33, it can suppress that the 1st conductive layer 32 precipitates in an unnecessary location, Thereby, The amount of plating solution containing noble metal can be reduced. Also in this respect, according to the present embodiment, the manufacturing cost of the conductive substrate 10 can be reduced.

なお、上述した実施の形態に対して様々な変更を加えることが可能である。以下、必要に応じて図面を参照しながら、変形例について説明する。以下の説明および以下の説明で用いる図面では、上述した実施の形態と同様に構成され得る部分について、上述の実施の形態における対応する部分に対して用いた符号と同一の符号を用いることとし、重複する説明を省略する。また、上述した実施の形態において得られる作用効果が変形例においても得られることが明らかである場合、その説明を省略することもある。   Note that various modifications can be made to the above-described embodiment. Hereinafter, modified examples will be described with reference to the drawings as necessary. In the following description and the drawings used in the following description, the same reference numerals as those used for the corresponding parts in the above embodiment are used for the parts that can be configured in the same manner as in the above embodiment. A duplicate description is omitted. In addition, when it is clear that the operational effects obtained in the above-described embodiment can be obtained in the modified example, the description thereof may be omitted.

(第1の変形例)
上述の本実施の形態においては、第2導電部18の配線19aおよび配線19bがそれぞれ、第1導電部14の作用電極15aおよび対電極15bに接している例を示した。しかしながら、第2導電部18の配線19aおよび配線19bがそれぞれ第1導電部14の作用電極15aおよび対電極15bに電気的に接続される限りにおいて、両者の間にその他の電極や配線が介在されていてもよい。例えば図9に示すように、第1導電部14は、基材12の外縁に沿って配置され、かつ一対の作用電極15aに接続された中間電極15cと、基材12の外縁に沿って配置され、かつ対電極15bに接続された中間電極15dと、をさらに有していてもよい。第2導電部18の配線19aの一端は、中間電極15cに接続され、また配線19bの一端は、中間電極15dに接続される。このため配線19aおよび配線19bはそれぞれ、中間電極15cおよび中間電極15dを介して作用電極15aおよび対電極15bに電気的に接続される。中間電極15cおよび中間電極15dは、作用電極15aおよび対電極15bと同様に、第1導電層32と、第1導電層32と基材12の第1面12aとの間に設けられた第1触媒層33と、を有している。
(First modification)
In the above-described embodiment, the example in which the wiring 19a and the wiring 19b of the second conductive portion 18 are in contact with the working electrode 15a and the counter electrode 15b of the first conductive portion 14 has been described. However, as long as the wiring 19a and the wiring 19b of the second conductive portion 18 are electrically connected to the working electrode 15a and the counter electrode 15b of the first conductive portion 14, other electrodes and wirings are interposed therebetween, respectively. It may be. For example, as shown in FIG. 9, the first conductive portion 14 is disposed along the outer edge of the base material 12 and is disposed along the outer edge of the base material 12 and the intermediate electrode 15 c connected to the pair of working electrodes 15 a. And an intermediate electrode 15d connected to the counter electrode 15b. One end of the wiring 19a of the second conductive portion 18 is connected to the intermediate electrode 15c, and one end of the wiring 19b is connected to the intermediate electrode 15d. Therefore, the wiring 19a and the wiring 19b are electrically connected to the working electrode 15a and the counter electrode 15b via the intermediate electrode 15c and the intermediate electrode 15d, respectively. Similarly to the working electrode 15a and the counter electrode 15b, the intermediate electrode 15c and the intermediate electrode 15d are a first conductive layer 32, and a first electrode provided between the first conductive layer 32 and the first surface 12a of the substrate 12. And a catalyst layer 33.

(第2の変形例)
上述の本実施の形態においては、導電性基板10の第1導電部14が、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものである例について説明したが、これに限られることはない。例えば導電性基板10は、PHセンサなど、導電性基板10の第1導電部14に接触した液において電気化学反応が生じない用途において利用されてもよい。また導電性基板10の第1導電部14は、電子部品や光学部品が実装される実装用電極や、コネクタが接続される接続用電極として機能するものであってもよい。この場合、第1導電部14の表面を構成する第1導電層32において、上述のパラジウムなどの貴金属を用いることにより、第1導電部14においてエレクトロマイグレーションなどの不具合が生じてしまうことを抑制することができる。これによって、第1導電部14によって構成される実装用電極や接続用電極の信頼性を高めることができる。
(Second modification)
In the above-described embodiment, the example in which the first conductive portion 14 of the conductive substrate 10 is for forming an electrode that is brought into contact with the electrolytic solution to cause an electrochemical reaction has been described. There is no limit. For example, the conductive substrate 10 may be used in applications in which an electrochemical reaction does not occur in a liquid that is in contact with the first conductive portion 14 of the conductive substrate 10 such as a PH sensor. Further, the first conductive portion 14 of the conductive substrate 10 may function as a mounting electrode on which an electronic component or an optical component is mounted, or a connection electrode to which a connector is connected. In this case, in the first conductive layer 32 constituting the surface of the first conductive portion 14, the use of the above-described noble metal such as palladium suppresses occurrence of problems such as electromigration in the first conductive portion 14. be able to. Thereby, the reliability of the mounting electrode and the connection electrode constituted by the first conductive portion 14 can be improved.

図10は、第1導電部14が実装用電極として機能するよう構成された導電性基板10を示す平面図である。図10に示す例において、導電性基板10の第1導電部14は、図示しない電子部品の4つの端子がそれぞれ実装される実装用電極16a〜16dを有している。また第2導電部18は、第1導電部14の対応する実装用電極16a〜16dがそれぞれ接続された配線20a〜20dを有している。また端子部22は、第2導電部18の対応する配線20a〜20dがそれぞれ接続された端子24a〜24dを有している。   FIG. 10 is a plan view showing the conductive substrate 10 in which the first conductive portion 14 is configured to function as a mounting electrode. In the example illustrated in FIG. 10, the first conductive portion 14 of the conductive substrate 10 includes mounting electrodes 16 a to 16 d on which four terminals of electronic components (not shown) are mounted. The second conductive portion 18 includes wirings 20a to 20d to which the corresponding mounting electrodes 16a to 16d of the first conductive portion 14 are connected. The terminal portion 22 has terminals 24a to 24d to which the corresponding wirings 20a to 20d of the second conductive portion 18 are respectively connected.

図10に示す例において、電子部品の端子に接触する第1導電部14においては貴金属が用いられ、第2導電部18や端子部22においては、ニッケルや銅など貴金属に比べて安価な材料が用いられる。このため、導電性基板10の製造コストを低減することができる。また第1導電部14は、貴金属を含む第1導電層32を、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層33の上に無電解めっき処理によって形成することによって作製される。このため、第1導電部14の各実装用電極16a〜16dを高い解像度で精密に形成することができる。また、貴金属を含むめっき液の使用量を削減することもできる。   In the example shown in FIG. 10, a noble metal is used in the first conductive portion 14 that contacts the terminal of the electronic component, and an inexpensive material such as nickel or copper is used in the second conductive portion 18 or the terminal portion 22. Used. For this reason, the manufacturing cost of the conductive substrate 10 can be reduced. The first conductive portion 14 is produced by forming the first conductive layer 32 containing a noble metal on the first catalyst layer 33 containing a catalyst and a resin composition by electroless plating. For this reason, each mounting electrode 16a-16d of the 1st electroconductive part 14 can be precisely formed with high resolution. Moreover, the usage-amount of the plating solution containing a noble metal can also be reduced.

(第3の変形例)
上述の本実施の形態においては、導電性基板10が、貴金属を含む第1導電部14と、貴金属を含まない第2導電部18とを備える例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、図11に示すように、作用電極15a、対電極15b、配線19a、配線19b、端子23a、端子23bなどがいずれも、貴金属を含む第1導電部14によって構成されていてもよい。図12は、図11の導電性基板10をXII−XII方向から見た断面図である。本変形例においても、上述の本実施の形態の場合と同様に、第1導電部14は、第1導電層32と、第1導電層32と基材12の第1面12aとの間に設けられた第1触媒層33と、を有している。このため、作用電極15a、対電極15b、配線19a、配線19b、端子23aおよび端子23bを高い解像度で精密に形成することができる。また、基材12の全域にわたって第1導電層32が製膜される場合に比べて、貴金属を含むめっき液の使用量を削減することもできる。
(Third Modification)
In the above-described embodiment, the example in which the conductive substrate 10 includes the first conductive portion 14 including the noble metal and the second conductive portion 18 not including the noble metal has been described. However, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 11, the working electrode 15a, the counter electrode 15b, the wiring 19a, the wiring 19b, the terminal 23a, the terminal 23b, etc. are all formed by the first conductive portion 14 containing a noble metal. It may be configured. 12 is a cross-sectional view of the conductive substrate 10 of FIG. 11 as viewed from the XII-XII direction. Also in this modified example, as in the case of the above-described embodiment, the first conductive portion 14 is provided between the first conductive layer 32 and the first conductive layer 32 and the first surface 12a of the substrate 12. And a first catalyst layer 33 provided. Therefore, the working electrode 15a, the counter electrode 15b, the wiring 19a, the wiring 19b, the terminal 23a, and the terminal 23b can be precisely formed with high resolution. Moreover, compared with the case where the 1st conductive layer 32 is formed into a film over the whole region of the base material 12, the usage-amount of the plating solution containing a noble metal can also be reduced.

(その他の変形例)
上述の本実施の形態および各変形例においては、基材12に成膜された第1触媒層33に光を照射し、これによって第1触媒層33をパターニングする例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、基材12に成膜された第1触媒層33に電子線を照射することによって、第1触媒層33をパターニングしてもよい。すなわち、上述の触媒層照射工程は、第1導電部14に対応したパターンで第1触媒層33が残るよう、第1触媒層33に電子線を照射する工程であってもよい。この場合、第1触媒層33に重合開始剤が含まれていなくてもよい。第1触媒層33の樹脂組成物としては、例えば特開2014−051013号公報に開示されているような、公知の電子線硬化性樹脂組成物を用いることができる。また電子線としては、例えば特開2014−051013号公報に開示されているような、電子線硬化性樹脂組成物を硬化させるために一般に利用される種類の電子線を用いることができる。
(Other variations)
In the above-described embodiment and each modification, an example in which the first catalyst layer 33 formed on the substrate 12 is irradiated with light and thereby the first catalyst layer 33 is patterned is shown. However, the present invention is not limited to this, and the first catalyst layer 33 may be patterned by irradiating the first catalyst layer 33 formed on the substrate 12 with an electron beam. That is, the above-described catalyst layer irradiation step may be a step of irradiating the first catalyst layer 33 with an electron beam so that the first catalyst layer 33 remains in a pattern corresponding to the first conductive portion 14. In this case, the first catalyst layer 33 may not contain a polymerization initiator. As a resin composition of the 1st catalyst layer 33, a well-known electron beam curable resin composition which is disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 2014-051013 can be used, for example. Moreover, as an electron beam, the kind of electron beam generally utilized in order to harden an electron beam curable resin composition as disclosed by Unexamined-Japanese-Patent No. 2014-051013 can be used, for example.

また上述の本実施の形態および各変形例においては、第1触媒層33が感光性を有するよう構成される例を示した。例えば、光を照射されることによって第1触媒層33が硬化する例を示した。しかしながら、これに限られることはなく、第1触媒層33は、熱を加えられることによって硬化するよう構成されていてもよい。   Further, in the above-described embodiment and each modification, examples in which the first catalyst layer 33 is configured to have photosensitivity have been shown. For example, the example which the 1st catalyst layer 33 hardens | cures by irradiating light was shown. However, the present invention is not limited to this, and the first catalyst layer 33 may be configured to be cured by applying heat.

なお、上述した実施の形態に対するいくつかの変形例を説明してきたが、当然に、複数の変形例を適宜組み合わせて適用することも可能である。   In addition, although some modified examples with respect to the above-described embodiment have been described, naturally, a plurality of modified examples can be applied in combination as appropriate.

10 導電性基板
12 基材
14 第1導電部
15a 作用電極
15b 対電極
15c 中間電極
15d 中間電極
16a〜16d 実装用電極
18 第2導電部
19a 配線
19b 配線
20a〜20d 配線
22 端子部
23a 端子
23b 端子
24a〜24d 端子
26 隙間
28 浮遊導電部
30 積層体
32 第1導電層
33 第1触媒層
35 レジスト層
36 第2導電層
40 濃度測定センサ
42 スペーサ
43 試料供給路
44 反応部
46 カバー
47 空気孔
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Conductive substrate 12 Base material 14 1st electroconductive part 15a Working electrode 15b Counter electrode 15c Intermediate electrode 15d Intermediate electrode 16a-16d Mounting electrode 18 2nd electroconductive part 19a Wiring 19b Wiring 20a-20d Wiring 22 Terminal part 23a Terminal 23b Terminal 24a to 24d Terminal 26 Gap 28 Floating conductive part 30 Laminate 32 First conductive layer 33 First catalyst layer 35 Resist layer 36 Second conductive layer 40 Concentration measuring sensor 42 Spacer 43 Sample supply path 44 Reaction part 46 Cover 47 Air hole

Claims (12)

基材と、
前記基材上に設けられ、導電性を有する第1導電部と、
前記第1導電部に接するよう前記基材上に設けられ、導電性を有する第2導電部と、を備え、
前記第1導電部は、第1導電層と、前記第1導電層と前記基材との間に設けられ、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層と、を有し、
前記第1導電層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、導電性基板。
A substrate;
A first conductive portion provided on the base material and having conductivity;
A second conductive part provided on the base material so as to be in contact with the first conductive part, and having conductivity,
The first conductive portion includes a first conductive layer, and a first catalyst layer provided between the first conductive layer and the base material and including a catalyst and a resin composition,
The first conductive layer is a conductive substrate including at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium.
前記第1触媒層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、請求項1に記載の導電性基板。   2. The conductive substrate according to claim 1, wherein the first catalyst layer includes at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium, and osnium. 前記第1導電部は、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものである、請求項1または2に記載の導電性基板。   3. The conductive substrate according to claim 1, wherein the first conductive portion is for forming an electrode that is brought into contact with an electrolytic solution to cause an electrochemical reaction. 4. 前記第1触媒層の前記樹脂組成物は、感光性を有する、請求項1乃至3のいずれか一項に記載の導電性基板。   4. The conductive substrate according to claim 1, wherein the resin composition of the first catalyst layer has photosensitivity. 5. 基材上に、第1導電部を形成する第1導電部形成工程と、
基材上に、第2導電部を形成する第2導電部形成工程と、を備え、
前記第2導電部は、前記第1導電部に接しており、
前記第1導電部形成工程は、
前記基材上に、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層を形成する第1触媒層形成工程と、
導電性材料を含むめっき液を前記基材に供給して、前記第1触媒層上に第1導電層を形成する工程と、を有し、
前記第1導電層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、導電性基板の製造方法。
A first conductive part forming step of forming a first conductive part on the substrate;
A second conductive part forming step of forming a second conductive part on the substrate,
The second conductive part is in contact with the first conductive part,
The first conductive part forming step includes:
A first catalyst layer forming step of forming a first catalyst layer containing a catalyst and a resin composition on the substrate;
Supplying a plating solution containing a conductive material to the substrate to form a first conductive layer on the first catalyst layer, and
The first conductive layer includes at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium, and osnium.
前記第1触媒層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、請求項5に記載の導電性基板の製造方法。   The method for manufacturing a conductive substrate according to claim 5, wherein the first catalyst layer includes at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium, and osnium. 前記第1導電部は、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものである、請求項5または6に記載の導電性基板の製造方法。   The method of manufacturing a conductive substrate according to claim 5 or 6, wherein the first conductive portion is for forming an electrode that is brought into contact with an electrolytic solution to cause an electrochemical reaction. 前記第1触媒層の前記樹脂組成物は、感光性を有し、
前記第1触媒層形成工程は、前記基材上に成膜されている前記第1触媒層に光を照射する工程と、光が照射された前記第1触媒層を現像する工程と、を含む、請求項5乃至7のいずれか一項に記載の導電性基板の製造方法。
The resin composition of the first catalyst layer has photosensitivity,
The first catalyst layer forming step includes a step of irradiating the first catalyst layer formed on the substrate with light and a step of developing the first catalyst layer irradiated with the light. The manufacturing method of the electroconductive board | substrate as described in any one of Claims 5 thru | or 7.
基材と、
前記基材上に設けられ、導電性を有する第1導電部と、を備え、
前記第1導電部は、第1導電層と、前記第1導電層と前記基材との間に設けられ、触媒および樹脂組成物を含む第1触媒層と、を有し、
前記第1導電層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、導電性基板。
A substrate;
A first conductive portion provided on the base material and having conductivity,
The first conductive portion includes a first conductive layer, and a first catalyst layer provided between the first conductive layer and the base material and including a catalyst and a resin composition,
The first conductive layer is a conductive substrate including at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium or osnium.
前記第1触媒層は、金、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、ルテニウムまたはオスニウムのいずれかを少なくとも含む、請求項9に記載の導電性基板。   The conductive substrate according to claim 9, wherein the first catalyst layer includes at least one of gold, palladium, platinum, rhodium, iridium, ruthenium, and osnium. 前記第1導電部は、電解液に接触して電気化学反応を生じさせる電極を形成するためのものである、請求項9または10に記載の導電性基板。   The conductive substrate according to claim 9 or 10, wherein the first conductive portion is for forming an electrode that is brought into contact with an electrolytic solution to cause an electrochemical reaction. 前記第1触媒層の前記樹脂組成物は、感光性を有する、請求項9乃至11のいずれか一項に記載の導電性基板。   The conductive substrate according to claim 9, wherein the resin composition of the first catalyst layer has photosensitivity.
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