JP2017003325A - Secondary battery inspection method - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、特に二次電池の微小短絡に起因する不良を排除するための検査方法に関する。 The present invention particularly relates to an inspection method for eliminating defects resulting from a minute short circuit of a secondary battery.
二次電池の内部に導電性異物が混入しこの異物が二次電池内部のセパレータを貫くなどすると、二次電池の内部で正極と負極との短絡が生じることがある。このようなことにより二次電池の内部で正極と負極との短絡が生じると、二次電池の起電力を短絡部の内部抵抗で除した値の電流が二次電池内に流れるので二次電池の電圧が低下する。このため、内部において正極と負極との短絡が生じた二次電池は、出荷前の検査で排除する必要がある。 If a conductive foreign matter enters inside the secondary battery and the foreign matter penetrates the separator inside the secondary battery, a short circuit between the positive electrode and the negative electrode may occur inside the secondary battery. When a short circuit occurs between the positive electrode and the negative electrode inside the secondary battery due to such a thing, a current of a value obtained by dividing the electromotive force of the secondary battery by the internal resistance of the short-circuit portion flows into the secondary battery. Voltage drops. For this reason, the secondary battery in which the short circuit between the positive electrode and the negative electrode has occurred needs to be excluded by inspection before shipment.
特許文献1には、出荷前に二次電池をエージングし、エージング前後における端子電圧の変化量(端子電圧差)を算出し、この端子電圧差を予め定められた閾値と比較することにより、二次電池の内部における正極と負極との短絡の有無を判定する二次電池の検査方法が記載されている。 In Patent Document 1, the secondary battery is aged before shipment, the amount of change in terminal voltage (terminal voltage difference) before and after aging is calculated, and this terminal voltage difference is compared with a predetermined threshold value. A secondary battery inspection method for determining the presence or absence of a short circuit between the positive electrode and the negative electrode inside the secondary battery is described.
しかしながら、特許文献1に記載された二次電池の検査方法では、エージングのために数日間を要するため、検査に時間がかかるという問題があった。 However, the secondary battery inspection method described in Patent Document 1 has a problem that it takes time for inspection because it takes several days for aging.
本発明は、以上の問題点に鑑みてなされたものであり、二次電池の微小短絡の有無を迅速かつ精度良く検査することのできる二次電池の検査方法を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a secondary battery inspection method capable of quickly and accurately inspecting the presence or absence of a micro short circuit in a secondary battery.
本発明は、二次電池の検査方法であって、二次電池の電圧が第一の電圧のときに、前記二次電池の磁場強度を算出する第一の工程と、前記二次電池の電圧を前記第一の電圧とは異なる第二の電圧に変更する第二の工程と、前記二次電池の電圧が前記第二の電圧のときに、前記二次電池の磁場強度を算出する第三の工程と、前記第一の工程で算出した前記二次電池の磁場強度と前記第三の工程で算出した前記二次電池の磁場強度との差に基づいて、前記二次電池の内部に短絡があるか否かを判定する第四の工程と、を有し、前記第一の工程及び前記第三の工程は、前記二次電池の周囲に配置され、前記二次電池の正極および負極を開放した状態の磁場強度を検知する磁気センサを介して検出した検出データを連続的に読み込みした読み込みデータ群をある区間幅で均等に分割し、それぞれの区間で区間内に含まれるデータ群についての平均値をそれぞれ算出し、区間ごとに得られた複数の平均値のばらつきが予め定められた基準値を超えているか否かを判断する第一のステップと、前記第一のステップにおいて前記複数の平均値のばらつきが前記基準値を超えていると判断された場合に、前記ある区間幅を広げるとともに、必要に応じて前記読み込みデータ群の範囲を広げて、再度、前記第一のステップを実行する第二のステップと、前記第一のステップにおいて前記複数の平均値のばらつきが前記基準値以下であると判断された場合に、前記読み込みデータ群に基づいて前記二次電池の磁気強度を算出する第三のステップと、をそれぞれ有するものである。 The present invention is a method for inspecting a secondary battery, the first step of calculating the magnetic field strength of the secondary battery when the voltage of the secondary battery is the first voltage, and the voltage of the secondary battery A second step of changing the second battery voltage to a second voltage different from the first voltage, and a third step of calculating the magnetic field strength of the secondary battery when the voltage of the secondary battery is the second voltage. And a short circuit inside the secondary battery based on the difference between the magnetic field intensity of the secondary battery calculated in the first process and the magnetic field intensity of the secondary battery calculated in the third process. A fourth step of determining whether or not there is, the first step and the third step are arranged around the secondary battery, and the positive electrode and the negative electrode of the secondary battery are Reading data obtained by continuously reading detection data detected via a magnetic sensor that detects the magnetic field strength in an open state Divide the group evenly with a certain section width, calculate the average value for each data group included in the section in each section, and the reference value for which the dispersion of multiple average values obtained for each section is predetermined A first step of determining whether or not the difference exceeds the reference value when the variation in the plurality of average values is determined to exceed the reference value in the first step; If necessary, the range of the read data group is expanded and the first step is performed again, and the variation of the plurality of average values in the first step is less than or equal to the reference value. And a third step of calculating the magnetic strength of the secondary battery based on the read data group when determined to be present.
本発明によれば、二次電池の微小短絡の有無を迅速かつ精度良く検査することのできる二次電池の検査方法を提供できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the inspection method of a secondary battery which can test | inspect the presence or absence of the micro short circuit of a secondary battery rapidly and accurately can be provided.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。
まず、本実施形態にかかる二次電池の検査方法である、二次電池内部の短絡の有無を検査する方法に用いる検査装置について説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, an inspection apparatus used for a method for inspecting the presence or absence of a short circuit inside a secondary battery, which is an inspection method for a secondary battery according to this embodiment, will be described.
検査装置100は、二次電池701の磁場703の強度(以降、磁場強度ともいう)を算出することで導電性異物702などによる二次電池701の内部の短絡の有無を検査するものである。図1に示されるように、本実施形態にかかる二次電池の検査方法の検査装置100は、磁場を検知する磁気センサ101と、磁場算出部102と、良否判定部103と、記憶部104と、充放電装置110と、を備える。本実施形態にかかる二次電池の検査方法の検査対象である二次電池701は、例えばリチウムイオン二次電池、ニッケル水素二次電池等である。なお、検査対象の二次電池は、短絡時に磁場を発生する二次電池であればどのようなものであってもよい。
The
磁気センサ101は、二次電池701の周囲に配置され二次電池701で生じた磁場703を検知する。磁気センサ101としては、例えば、SQUID(Superconducting Quantum Interference Device:超伝導量子干渉素子)センサや、MI(Magneto-Impedance:磁気インピーダンス)センサを用いる。磁気センサ101の感度は、電流が発生している箇所(換言すると、磁場が発生している箇所)からの距離に依存する。このため、磁気センサ101は、二次電池701にできるだけ近づけて配置することが好ましい。特に、二次電池701の表面に接するように磁気センサ101を配置すると、磁気センサ101の感度をより向上させることができる。
The
二次電池701の周囲に複数の磁気センサ101を配置することにより、検出精度の向上や検出時間の短縮が可能となる。例えば、複数の磁気センサ101を同一平面に格子状に配置し、二次電池701の上面の磁場分布を一度に検出できるようにしてもよい。また、二次電池701周囲の各平面に磁気センサ101を設けてもよい。例えば二次電池701の上面及び下面にそれぞれ磁気センサ101を設けてもよい。また、短絡が発生しやすい箇所において、磁気センサ101を重点的に設けてもよい。
By disposing a plurality of
磁場算出部102は、磁気センサ101を介して検出された検出データに基づいて、二次電池701の磁場強度を算出する。磁場算出部102により算出された二次電池701の磁場強度は、記憶部104において記憶される。
The magnetic
良否判定部103では、磁場算出部102による磁場の算出結果に基づいて、二次電池701の正極と負極とが短絡されているか否かを判定する。二次電池701の正極と負極とが短絡されているか否かを判定する具体的な判定方法については後述する。
The pass /
充放電装置110は、二次電池701の電圧を変更するものである。充放電装置110の端子を二次電池701の正極および負極に接続して二次電池701を充放電させることにより、二次電池701の電圧を変更することができる。二次電池701は、正極活物質を担持した正極材、負極活物質を担持した負極材、正極材と負極材との間に介在するセパレータ、非水電解液などを備えるものが一般的である。例えば、リチウムイオン二次電池では、充放電装置110の端子をリチウムイオン二次電池の正極および負極に接続して、非水電解液中に含まれるリチウムイオンを正極と負極との間で移動させることによりリチウムイオン二次電池の充放電がされる。
The charging /
次に、二次電池701の内部において正極と負極との短絡が生じていると二次電池701の周囲に磁場が発生する理由について以下で説明する。
図2、図3に示されるように、二次電池701の内部には、正極材201、負極材202、正極材201と負極材202とに挟まれたセパレータ203などが設けられている。正極材201と負極材202との間はセパレータ203によって絶縁されていることから、図2に示されるように、二次電池701の内部において正極と負極との短絡が存在しない場合には、正極材201と負極材202との間に電流は流れない。
Next, the reason why a magnetic field is generated around the
As shown in FIGS. 2 and 3, the
一方、図3に示すように、二次電池701の内部において導電性異物702による正極と負極との短絡が生じている場合には、短絡部位に電流が流れる。二次電池701の持っている起電力をV、短絡部位の持つ電気抵抗をRとすると、オームの法則により正極材201と負極材202との間には起電力Vを電気抵抗Rで除した電流I(I=V/R)が流れる。正極と負極との短絡の度合いにより流れる短絡電流は変化するが、上述したリチウムイオン二次電池の場合、例えば、数百μA程度の微小な短絡電流でも、短絡部から数[cm]離れた場所には10−12[T]程度の磁場が発生する。
On the other hand, as shown in FIG. 3, when a short circuit between the positive electrode and the negative electrode occurs due to the conductive
ここで、二次電池701の内部において正極と負極との短絡が生じているか否かを判定する方法の概略について以下で説明する。
二次電池701は、それ自体が固有の残留磁気を持っている。この残留磁気は、二次電池701の電圧を変化させても一定のままである。このため、二次電池701の内部において正極と負極との短絡が生じていなければ、二次電池701の磁場強度は一定に維持される。これに対し、二次電池701の内部において正極と負極との短絡が生じている場合、短絡箇所を流れる電流量は二次電池701の電圧に依存するので、二次電池701の電圧の変化に伴って二次電池701の磁場強度も変化する。二次電池701の電圧を変更する前と後とにおいて二次電池701の磁場強度が等しいか否かを判定することにより、二次電池の内部において正極と負極との短絡が生じているか否かを判定することができる。
Here, an outline of a method for determining whether or not a short circuit between the positive electrode and the negative electrode has occurred inside the
The
次に、二次電池701の内部において正極と負極との短絡が生じているか否かを判定する処理フローについて以下で説明する。
図4に示されるように、まず、検査対象の二次電池701を、二次電池の検査装置100内に入れる(ステップS601)。続いて、二次電池701の正極および負極を開放した状態で、二次電池701の磁場強度(「第一の磁場強度B1」とする)を算出する(ステップS602)。第一の磁場強度B1の算出は、磁気センサ101を介して検出された磁場強度の検出データを連続的に読み込みした読み込みデータ群に基づいて行う。第一の磁場強度B1を算出する際の、二次電池701の電圧を「第一の電圧V1」とする。磁場強度の検出データの検出中は、二次電池701の電圧値は一定に維持する。磁場強度B1を算出する処理フローの詳細については後述する。
Next, a processing flow for determining whether or not a short circuit between the positive electrode and the negative electrode has occurred inside the
As shown in FIG. 4, first, the
ステップS602に続いて、二次電池701と磁気センサとの位置関係を固定したままの状態で、二次電池701の正極および負極に充放電装置110を接続し、二次電池701の電圧を第一の電圧V1とは異なる電圧(「第二の電圧V2」とする)に変更する(ステップS603)。続いて、二次電池701の正極および負極を開放した状態で、二次電池701の磁場強度(「第二の磁場強度B2」とする)を算出する(ステップS604)。第二の磁場強度B2の算出は、第一の磁場強度B1の算出の場合と同様に磁気センサ101を介して検出した磁気強度の検出データを連続的に読み込みした読み込みデータ群に基づいて行う。磁場強度の検出データの検出中は、二次電池701の電圧値は一定に維持する。磁場強度B2を算出する処理フローの詳細については後述する。
Following step S602, with the positional relationship between the
第二の電圧V2は、第一の電圧V1より大きくてもよいし、小さくてもよい。第一の電圧V1を二次電池701の使用下限電圧とし、第二の電圧V2を二次電池701の使用上限電圧とすることもできる。二次電池701の内部において正極と負極との短絡が生じている場合、第一の電圧V1と第二の電圧V2の差を大きくすれば電圧を変更する前後における短絡電流の差が大きくなる。このため、二次電池701の電圧が、第一の電圧V1であるときの二次電池701の磁場強度と第二の電圧V2であるときの二次電池701の磁場強度との差が大きくなり、二次電池701の内部における正極と負極との短絡の検出感度が向上する。また、短絡の検出感度を向上させるために、検査時に限り、使用上限電圧より大きい電圧や使用下限電圧より小さい電圧を用いてもよい。
The second voltage V2 may be larger or smaller than the first voltage V1. The first voltage V <b> 1 can be the lower limit voltage for use of the
ステップS604に続いて、良否判定部103が、ステップS602で算出された第一の磁場強度B1と、ステップS604で算出された第二の磁場強度B2とが等しい(B1≒B2)か否かを判定する(ステップS605)。ここで、第一の磁場強度B1と第二の磁場強度B2とが等しいとは、第一の磁場強度B1と第二の磁場強度B2の差の絶対値が予め定められた基準値以下であることを意味する。
Following step S604, the pass /
ステップS605で第一の磁場強度B1と第二の磁場強度B2とが等しいと判定された場合、検査対象の二次電池701は良品であると判定しこの二次電池701を次工程へと送る(ステップS606)。一方、ステップS605で第一の磁場強度B1と第二の磁場強度B2とが等しくないと判定された場合、検査対象の二次電池701は、内部に短絡箇所を有する不良品であると判定する(ステップS607)。不良品と判定された二次電池701は、次工程には送られない。
When it is determined in step S605 that the first magnetic field strength B1 and the second magnetic field strength B2 are equal, it is determined that the
ここで、第一の磁場強度B1及び第二の磁場強度B2の算出における、外乱の変化の影響を均すために必要な検出データ数について以下で説明する。
環境磁場などの外乱は時々刻々と変化する。このため、磁気センサ101を介して異なる時刻に検出された検出データに含まれる外乱成分の大きさはそれぞれ異なる。磁気センサ101を介して検出された検出データを連続的に読み込みする読み込みデータ群において、検出データの数を増やしてこれらを平均することにより、外乱の変化の影響を均すことができる。しかし、読み込みデータ群における検出データの数を無尽蔵に増やすことはできない。検出データの数を増やせば増やすほど、二次電池701における短絡の有無の検査に要する時間が長くなる。このため、検出データの数をどの程度増やせば外乱の変化の影響を均すことができるか、についての判断基準が必要になる。
Here, the number of detection data necessary for leveling the influence of the change in disturbance in the calculation of the first magnetic field strength B1 and the second magnetic field strength B2 will be described below.
Disturbances such as environmental magnetic fields change from moment to moment. For this reason, the magnitudes of the disturbance components included in the detection data detected at different times via the
第一の磁場強度B1及び第二の磁場強度B2の算出において、磁気センサ101を介して検出された検出データ群をある区間幅(区間幅は、時間幅またはデータ点数で規定する)で均等に区切り、それぞれの区間で区間内に含まれるデータ群についての平均値をそれぞれ算出する。一区間に含まれる検出データ数が、外乱の変化の影響を均すために十分な検出データ数であるとすると、区間ごとに得られた複数の平均値のばらつき(以下、「平均値群のばらつき」という)は無視できる程度に小さくなる。これに対し、一区間に含まれる検出データ数が、外乱の変化の影響を均すために十分な検出データ数よりも少ないと、平均値群のばらつきは無視できる程度には小さくならない。つまり、平均値群のばらつきの大きさを判断することにより、外乱の変化の影響が十分に均されているか否かを判断することができる。
In the calculation of the first magnetic field strength B1 and the second magnetic field strength B2, the detection data group detected via the
ある読み込みデータ群を、区間幅Waで均等に区切った場合を図5(a)に、区間幅Wbで均等に区切った場合を図5(b)にそれぞれ示す。図5(a)、図5(b)において、それぞれの区間で区間内に含まれるデータ群の平均値を算出したものを、それぞれ平均値Lan(n=1、2、・・、10)、平均値Lbn(n=1、2)とする。 FIG. 5A shows a case where a certain read data group is equally divided by the section width Wa, and FIG. 5B shows a case where the read data group is equally divided by the section width Wb. 5 (a) and 5 (b), the average values of the data groups included in the sections in the sections are calculated as average values Lan (n = 1, 2,..., 10), respectively. The average value is Lbn (n = 1, 2).
図5(b)に示される区間幅Wbは、図5(a)に示される区間幅Waよりも広い。つまり、区間幅を広げると、一区間に含まれる検出データの数が増えるので、算出された区間の平均値における外乱の変化の影響はより小さくなる。このため、図5(b)の平均値群(Lb1、Lb2)のばらつきは、図5(a)の平均値群(La1、La2、・・、La10)のばらつきより小さくなる。 The section width Wb shown in FIG. 5B is wider than the section width Wa shown in FIG. In other words, when the section width is increased, the number of detection data included in one section increases, so that the influence of a change in disturbance on the calculated average value of the section becomes smaller. For this reason, the variation of the average value group (Lb1, Lb2) in FIG. 5B is smaller than the variation of the average value group (La1, La2,..., La10) of FIG.
区間幅を徐々に広げてゆき、平均値群のばらつきが予め定められた基準値以下になったとき、そのときの区間幅に含まれる検出データ数が外乱の変化の影響を均すために十分な検出データ数であると判断できる。 When the interval width is gradually increased and the variation in the average value group falls below a predetermined reference value, the number of detected data included in the interval width at that time is sufficient to smooth out the influence of the change in disturbance. It can be determined that the number of detected data is large.
次に、第一の磁場強度B1及び第二の磁場強度B2を算出する処理フローについて以下で説明する。なお、第一の磁場強度B1及び第二の磁場強度B2を算出する処理フローはいずれも同じである。
図6に示されるように、ます、磁気センサ101を介して検出された検出データを連続的に読み込みする読み込みデータ群の幅、及び、読み込みデータ群を均等に分割する区間幅について、それぞれ初期値の設定をする(ステップS701)。読み込みデータ群の幅及び区間幅は、時間幅またはデータ点数にて規定する。読み込みデータ群の幅及び区間幅の初期値をそれぞれ設定するにあたって、サンプリングレート等も考慮する。続いて、読み込みデータ群の幅分だけ検出データを読み込む(ステップS702)。検出データの読み込みにおいて、事前に検出を完了したデータを読み込むようにしても、現在検出中のデータを読み込むようにしてもよい。
Next, a processing flow for calculating the first magnetic field strength B1 and the second magnetic field strength B2 will be described below. Note that the processing flow for calculating the first magnetic field strength B1 and the second magnetic field strength B2 is the same.
As shown in FIG. 6, the initial values are respectively set for the width of the read data group for continuously reading the detection data detected via the
ステップS702に続いて、それぞれの区間で区間内に含まれるデータ群についての平均値をそれぞれ算出し、算出により得られた平均値群について、そのばらつき(以下、「平均値群のばらつき」という)を算出する(ステップS703)。なお、ばらつきの指標として、例えば、「標準偏差」や「最大値と最小値の差」を用いることができる。続いて、ステップS703で算出した、平均値群のばらつきが、予め定めた基準値以内か否かを判断する(ステップS704)。 Subsequent to step S702, an average value for each data group included in each section is calculated in each section, and the average value group obtained by the calculation varies (hereinafter referred to as "average value group variation"). Is calculated (step S703). For example, “standard deviation” or “difference between maximum value and minimum value” can be used as an index of variation. Subsequently, it is determined whether or not the variation of the average value group calculated in step S703 is within a predetermined reference value (step S704).
ステップS704で平均値群のばらつきが、予め定めた基準値以内であると判断された場合は、二次電池701の磁場強度を算出する(ステップS705)。具体的には、読み込みデータ群に含まれる全ての検出データの平均値を算出し、これを二次電池701周囲の磁場強度とする。ステップS705の後、処理を終了する。
If it is determined in step S704 that the variation of the average value group is within a predetermined reference value, the magnetic field strength of the
ステップS704で平均値群のばらつきが、予め定めた基準値を超えていると判断された場合は、予め定められた幅分だけ区間幅を広げたものを新たな区間幅とする(ステップS706)。続いて、平均値群のサンプル数(得られる平均値の数)が予め定められた必要サンプル数以上であるか否かについて判断する(ステップS707)。読み込みデータ群の幅及び区間幅を時間幅で規定する場合、平均値群のサンプル数は、読み込みデータ群の時間幅を一区間の時間幅で除した商になる。読み込みデータ群の幅及び区間幅をデータ点数で規定する場合、平均値群のサンプル数は、読み込みデータ群に含まれる全ての検出データ点数を一区間のデータ点数で除した商になる。また、必要サンプル数とは、平均値群のばらつきの大小を適切に判断するために最低限必要なサンプル数を意味する。必要サンプル数は2以上とする。必要サンプル数の決定は統計的な観点から行うのが好ましい。 If it is determined in step S704 that the variation in the average value group exceeds a predetermined reference value, a new section width is obtained by expanding the section width by a predetermined width (step S706). . Subsequently, it is determined whether or not the number of samples in the average value group (the number of average values to be obtained) is equal to or greater than a predetermined required number of samples (step S707). When the width and interval width of the read data group are defined by the time width, the number of samples in the average value group is a quotient obtained by dividing the time width of the read data group by the time width of one interval. When the width and interval width of the read data group are defined by the number of data points, the number of samples of the average value group is a quotient obtained by dividing all the detected data points included in the read data group by the data points of one interval. The necessary number of samples means the minimum number of samples necessary for appropriately determining the magnitude of variation in the average value group. The required number of samples is 2 or more. The required number of samples is preferably determined from a statistical point of view.
ステップS707で平均値群のサンプル数は必要サンプル数以上であると判断された場合、処理をステップS703に戻す。一方、ステップS707で平均値群のサンプル数は必要サンプル数未満であると判断された場合、読み込みデータ群の幅を予め定められた幅分だけ広げ(ステップS708)、処理をステップS702に戻す。検出データの読み込みにおいて、現在検出中の検出データを読み込むようにする場合、ステップS707の判断時までに検出したデータを全て読み込むようにしてもよい。
以上で説明した第一の磁場強度B1及び第二の磁場強度B2を算出する処理フローによれば、環境磁場などの外乱の影響にかかわらず二次電池701の磁気強度を精度良く算出することができる。
If it is determined in step S707 that the number of samples in the average value group is equal to or greater than the required number of samples, the process returns to step S703. On the other hand, if it is determined in step S707 that the number of samples in the average value group is less than the required number of samples, the width of the read data group is increased by a predetermined width (step S708), and the process returns to step S702. When reading the detection data, when reading the detection data currently being detected, all the data detected up to the time of determination in step S707 may be read.
According to the processing flow for calculating the first magnetic field strength B1 and the second magnetic field strength B2 described above, the magnetic strength of the
以上で説明した本発明にかかる二次電池の検査方法によれば、二次電池の微小短絡の有無を迅速かつ精度良く検査することができる。 According to the inspection method of the secondary battery according to the present invention described above, it is possible to quickly and accurately inspect the presence or absence of the micro short circuit of the secondary battery.
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。本実施の形態では、二次電池の磁場強度(第一の磁場強度B1及び第二の磁場強度B2)の算出において、読み込みデータ群に含まれる全ての検出データの平均値を算出しこれを二次電池の磁場強度とするが、これに限るものではない。例えば、読み込みデータ群のうちの最初の区間に含まれる検出データの平均値を二次電池の磁場強度としてもよい。または、読み込みデータ群のうちのある区間に含まれる検出データの平均値を二次電池の磁場強度としてもよい。 Note that the present invention is not limited to the above-described embodiment, and can be changed as appropriate without departing from the spirit of the present invention. In the present embodiment, in the calculation of the magnetic field strength (first magnetic field strength B1 and second magnetic field strength B2) of the secondary battery, an average value of all detection data included in the read data group is calculated and this is calculated. Although it is set as the magnetic field intensity of a secondary battery, it is not restricted to this. For example, an average value of detection data included in the first section of the read data group may be used as the magnetic field strength of the secondary battery. Alternatively, the average value of the detection data included in a certain section of the read data group may be used as the magnetic field strength of the secondary battery.
100 検査装置
101 磁気センサ
102 磁場算出部
103 良否判定部
104 記憶部
110 充放電装置
120 磁気シールドボックス
201 正極材
202 負極材
203 セパレータ
701 二次電池
702 導電性異物
703 磁場
DESCRIPTION OF
Claims (1)
前記二次電池の電圧を前記第一の電圧とは異なる第二の電圧に変更する第二の工程と、
前記二次電池の電圧が前記第二の電圧のときに、前記二次電池の磁場強度を算出する第三の工程と、
前記第一の工程で算出した前記二次電池の磁場強度と前記第三の工程で算出した前記二次電池の磁場強度との差に基づいて、前記二次電池の内部に短絡があるか否かを判定する第四の工程と、を有し、
前記第一の工程及び前記第三の工程は、
前記二次電池の周囲に配置され、前記二次電池の正極および負極を開放した状態の磁場強度を検知する磁気センサを介して検出した検出データを連続的に読み込みした読み込みデータ群をある区間幅で均等に分割し、それぞれの区間で区間内に含まれるデータ群についての平均値をそれぞれ算出し、区間ごとに得られた複数の平均値のばらつきが予め定められた基準値を超えているか否かを判断する第一のステップと、
前記第一のステップにおいて前記複数の平均値のばらつきが前記基準値を超えていると判断された場合に、前記ある区間幅を広げるとともに、必要に応じて前記読み込みデータ群の範囲を広げて、再度、前記第一のステップを実行する第二のステップと、
前記第一のステップにおいて前記複数の平均値のばらつきが前記基準値以下であると判断された場合に、前記読み込みデータ群に基づいて前記二次電池の磁気強度を算出する第三のステップと、をそれぞれ有する二次電池の検査方法。 A first step of calculating the magnetic field strength of the secondary battery when the voltage of the secondary battery is the first voltage;
A second step of changing the voltage of the secondary battery to a second voltage different from the first voltage;
A third step of calculating the magnetic field strength of the secondary battery when the voltage of the secondary battery is the second voltage;
Whether there is a short circuit inside the secondary battery based on the difference between the magnetic field strength of the secondary battery calculated in the first step and the magnetic field strength of the secondary battery calculated in the third step. A fourth step of determining whether or not
The first step and the third step are:
A section width of a read data group that is continuously read from detection data detected through a magnetic sensor that is arranged around the secondary battery and detects a magnetic field intensity in a state where the positive electrode and the negative electrode of the secondary battery are opened. Is divided evenly, and the average value for each data group included in the section is calculated for each section, and whether or not the variation of the plurality of average values obtained for each section exceeds a predetermined reference value The first step of determining whether
When it is determined that the variation of the plurality of average values exceeds the reference value in the first step, the width of the certain section is increased, and the range of the read data group is expanded as necessary. Again, a second step of performing the first step;
A third step of calculating the magnetic strength of the secondary battery based on the read data group when it is determined in the first step that the variation of the plurality of average values is equal to or less than the reference value; Secondary battery inspection method comprising:
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JP2015115126A JP2017003325A (en) | 2015-06-05 | 2015-06-05 | Secondary battery inspection method |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110346627A (en) * | 2018-04-04 | 2019-10-18 | 胜美达集团株式会社 | Weak current detection device |
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2015
- 2015-06-05 JP JP2015115126A patent/JP2017003325A/en active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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