JP2016508656A - タッチ・スクリーン上における高更新報告率の可能化 - Google Patents

Abstract

容量性タッチ・センサ上における報告率を高めることによってタッチ・センサ上における全ての物体の位置のリアル・タイム表示を行うシステムおよび方法。同期適時直交測定刺激パターンを使用して、タッチ・センサ上における物体の位置を判定する。センサ電極アレイにおける全てのセンサ電極の走査完了を待つのではなく、センサ電極の各々において測定値が取り込まれる毎に、タッチ・センサ上における物体の報告位置の画像を更新する。【選択図】図３

Description

本発明は、一般に容量性タッチ・センサに関する。更に特定すれば、本発明は、タッチ・センサ上における物体の位置を判定するために容量性タッチ・センサを使用するときに、同期適時直交測定刺激パターン(synchronized timed orthogonal measurement stimulus pattern)を使用して、検出率向上を得るために報告率を高めることを対象とする。これには、タッチ・センサが、大型タッチ・センサを形成するために、大型ディスプレイと組み合わせられるときも含まれる。

タッチ・センサについて論ずるとき、容量感応センサには様々な異なる設計があることが注目される。本発明と共に動作するように変更可能な既存のタッチパッド設計の１つに、CIRQUE（登録商標）Corporationによって製作されるタッチパッドがある。したがって、いずれの容量感応タッチパッドであれ、どのように変更すれば本発明と共に動作可能になるかより良く理解するためには、基礎技術を調べることが有用である。

CIRQUE（登録商標）Corporation製のタッチパッドは、相互容量検知デバイスであり、一例を図１にブロック図として示す。このタッチパッド１０では、Ｘ（１２）およびＹ（１４）個の電極ならびに検知電極１６の格子が、タッチパッドのタッチ感応エリア１８を規定するために用いられる。通例、タッチパッド１０は約１６×１２電極、または空間に制約があるときには８×６電極の矩形格子である。これらＸ（１２）およびＹ（１４）（または行および列）電極には、１つの検知電極１６が織りまぜられる。全ての位置測定は検知電極１６を通じて行われる。

CIRQUE（登録商標）Corporation製のタッチパッド１０は、検知線１６上における電荷の不均衡を測定する。タッチパッド１０上またはその近傍に指示物体(pointing object)がない場合、タッチパッド回路２０は均衡状態にあり、検知線１６上には電荷の不均衡はない。指示物体がタッチ表面（タッチパッド１０の検知エリア１８）に接近またはタッチしたときの容量性結合のために、指示物体が不均衡を生ずると、電極１２、１４上に容量変化が生ずる。測定するのは容量変化であって、電極１２、１４上における絶対容量値ではない。タッチパッド１０は、検知ライン上において電荷均衡を再確立するため即ち再現するために、検知ライン１６に注入しなければならない電荷量を測定することによって、容量変化を判定する。

以上のシステムは、タッチパッド１０上またはその近傍にある指の位置を、以下のようにして判定するために利用される。この例では、行電極１２について説明し、列電極１４についても同様に繰り返される。行および列電極の測定から得られた値が、タッチパッド１０上またはその近傍にある指示物体の重心である交点を決定する。

第１ステップでは、Ｐ，Ｎ発生器２２からの第１信号によって第１組の行電極１２が駆動され、Ｐ，Ｎ発生器からの第２信号によって、異なるが隣接する第２組の行電極が駆動される。タッチパッド回路２０は、どの行電極が指示物体に最も近いかを示す相互容量測定デバイス２６を用いて、検知線１６からの値を得る。しかしながら、マイクロコントローラ２８の制御下にあるタッチパッド回路２０は、行電極のどちら側に指示物体が位置するか未だ判定することができず、タッチパッド回路２０は、指示物体が電極からどの位離れて位置するか判定することもできない。このため、このシステムは駆動される電極１２のグループを１電極だけずらす。言い換えると、グループの一方側に電極を追加し、グループの逆側にある電極はもはや駆動されない。次いで、新たなグループがＰ，Ｎ発生器２２によって駆動され、検知線１６の第２測定値が取り込まれる。

これら２つの測定値から、行電極のどちら側に指示物体が位置するのか、そしてどれ位離れて位置するのか判定することが可能になる。次いで、２つの測定された信号の振幅を比較する式を用いて、指示物体の位置判定を行う。

CIRQUE（登録商標）Corporation製タッチパッドの感度または分解能は、１６×１２格子の行および列電極が含意するよりも遥かに高い。分解能は、通例、１インチ当たり約９６０カウント以上である。正確な分解能は、コンポーネントの感度、同じ行および列上にある電極１２、１４間の間隔、そして本発明にとっては重要でないその他の要因によって決定される。以上のプロセスは、Ｐ，Ｎ発生器２４を用いて、Ｙ即ち列電極１４に対して繰り返される。

以上で説明したCIRQUE（登録商標）製タッチパッドはＸおよびＹ電極１２、１４の格子、ならびに別個の単独検知電極１６を使用するが、多重化を用いることによって、実際には検知電極もＸまたはＹ電極１２、１４にすることができる。いずれの設計でも、本発明が機能することを可能にする。

CIRQUE（登録商標）社のタッチパッドの基礎となる技術は、容量センサを基本とする。しかしながら、本発明には他のタッチパッド技術も用いることができる。これら他の近接感応および接触感応タッチパッド技術には、電磁、誘導、圧力検知、静電、超音波、光、抵抗性メンブレーン、半導電性メンブレーン、あるいはその他の指またはスタイラス感応技術が含まれる。

大型タブレット・コンピュータ、タッチ・スクリーン・コンピュータ、または他の同様のタッチ・スクリーン・デバイスのような、大型タッチ・スクリーンを使用するとき、タッチ・スクリーンは、当該タッチ・スクリーン上において検出可能な物体の位置をさほど素早く報告できない場合があることが指摘されている。例えば、タッチ・スクリーンは、指が動くに連れてこれらの位置を正確に反映しないことによって、当該タッチ・スクリーン上における１本または複数本の指の動きについて行くことができない場合がある。したがって、報告率を高めることによって、タッチ・センサ上にある全ての物体の位置を一層素早く更新することができれば、大型タッチ・スクリーンまたはタッチパッドに使用されるタッチ・センサの技術的現状に対する長所となるであろう。

第１実施形態では、本発明は、センサ電極アレイにおける全てのセンサ電極の走査完了を待つ代わりに、センサ電極の各々において測定が行われる毎に、タッチ・センサ上において報告される物体の位置の画像を更新することによって、容量性タッチ・センサ上において報告率を高め、同期適時直交測定刺激パターンを使用してタッチ・センサ上にある物体の位置を判定し、こうすることによってタッチ・スクリーン上における全物体の位置のリアル・タイム表示を提供するシステムおよび方法である。

本発明のこれらおよびその他の目的、特徴、利点、および代替態様は、添付図面と組み合わせて以下の詳細な説明を検討することにより、当業者には明白となろう。

図１は、先行技術において見られ、本発明における使用のために改造可能なタッチパッドの第１実施形態の動作のブロック図である。 図２は、タッチ・センサ基板の２つの層上に設けられたＸおよびＹ電極のアレイによって構成されるタッチ・センサの上面図である。 図３は、測定結果、刺激パターン、およびタッチ・センサの画像を作成することができる結果アレイを格納するために使用されるデータ・アレイの図である。 図４は、本発明の第１実施形態の方法のフローチャートである。

これより、本発明の種々のエレメントに番号の指定(numeral designation)が与えられる図面を参照して、当業者が本発明を行い使用することを可能にするように、本発明について説明する。尚、以下の記載は、本発明の原理の説明に過ぎず、後に続く特許請求の範囲を狭めるように解釈してはならないことは言うまでない。

尚、本文書を通じて、「タッチ・センサ」という用語の使用は、タッチパッド、タッチ・スクリーン、およびタッチ・パネルを含む、あらゆる容量性タッチ・センサ・デバイスを含むことができ、近接およびタッチ検知能力を含むことは理解されてしかるべきである。

本発明の第１実施形態は、技術的現状に対する改良である。何故なら、本システムおよび方法は、タッチ・センサ上における物体の位置の報告率を高めることを可能にするからである。報告率とは、タッチ・センサが検出可能な物体についての位置情報を提供することができる率(rate)であると定義することができる。報告率は、タッチ・センサによって検出可能である全ての物体の画像を生成するために行うことができる測定の回数に基づくことができる。

多数の物体を追跡するためのスクリーンの大型化を含む、タッチ・スクリーン技術の近年の進歩のために、報告率を高くすることによって小さいタッチ・スクリーンと実質的に同様なユーザ体験を提供する必要性が生じた。技術的現状のシステムは、検知電極アレイにおけるアクティブ・エリア全体、即ち、検知電極の全ての完全な走査を行い、次いで測定データから画像を生成または計算することを含む。次いで、アクティブ・エリアにおける各物体の位置が、画像データを処理することによって、画像データから抽出される。このように、技術的現状の走査技法を使用する画像は、完全な走査が行われた後でないと作成することができない。完全な走査とは、駆動電極として機能している電極に対して必要な刺激パターンの全てを加えることによって、検知電極から取り込まれる全ての測定値と定義することができる。通例、刺激パターンが駆動電極の各々に加えられ、その間に加えられた刺激パターン毎に、検知電極の全てから測定値が取り込まれる。

尚、加えられる刺激パターンは、出願番号第１２／８５５，５４５号を有し２０１０年８月１２日に出願された、既出願の特許出願において教示されるような、同期適時直交測定刺激パターン(synchronized timed orthogonal measurement stimulus pattern)である。

タッチ・センサ４０において使用されるＸ４２およびＹ４４アレイの電極を形成する、１６×１６アレイの電極を示す図２を検討する。技術的現状では、タッチ・スクリーン４０上に存在し得る物体の全ての画像を得るために、完全な走査、即ち、１５回の測定を必要とするであろう。したがって、この例では、報告率は、画像を形成できる前に行う必要がある１５回の測定を必要とする完全な走査の関数となる。

尚、１６×１６タッチ・センサ・アレイ４０の例は任意であり、例示の目的のために過ぎないことは理解されてしかるべきである。ＸおよびＹ電極４２、４４の数は、任意の所望の寸法を有する矩形タッチ・センサ４０を作成するために変更することもでき、図示されるような正方形のレイアウトに限定されるのではない。また、ＸおよびＹ電極４２、４４は、記載されるｍおよびｎ個の電極と相互交換可能に使用することもできる。

図３は、本発明の第１実施形態によって使用することができるデータ・アレイの図である。刺激データ・アレイは、複数の刺激パターンを格納する。刺激パターンは、駆動電極として機能するように選択され得る電極に加えられる。一般に、Ｘ電極が駆動電極として機能するとき、Ｙ電極は検知電極として機能し、この逆も成り立つ。したがって、駆動電極または検知電極にするという指定は、相互交換可能である。例えば、Ｘ電極が駆動電極として機能することができ、一方Ｙ電極は検知電極として機能することができ、次いで完全な走査が行われるまで、この役割は逆転される。

ｎ×ｍ電極のアレイでは、ｎ電極が駆動電極として機能するとき、ｎ通りの刺激パターンのアレイがある。同様に、ｍ電極が駆動電極として機能するとき、ｍ通りの刺激パターンのアレイがある。刺激パターンは、ｎ電極およびｍ電極毎に異なる必要があるので、ｎおよびｍ電極用の刺激パターンを格納するために、２つの異なる刺激アレイがあればよい。つまり、ｎ刺激データ・アレイ５０、およびｍ刺激データ・アレイ５２があればよい。例えば、一方の次元には他方の次元よりも多い電極があるとき、刺激パターンは異なる必要があるであろう。

この例に限って言えば、図３は、２つの異なる刺激アレイを示し、ｎ刺激データ・アレイ５０は、ｎ電極用にｎ通りの異なる刺激パターンを有し、ｍ刺激データ・アレイ５２は、ｍ電極用にｍ通りの異なるパターンを有する。しかしながら、電極数が等しい、即ち、ｎ＝ｍであるとき、双方の組の電極に加えられる刺激パターンを格納するために、１つの刺激データ・アレイを使用することが可能な場合もあることは理解されてしかるべきである。

第１実施形態の第１ステップでは、タッチ・センサ４０上にある物体の第１画像を生成することができる。この例では、ｎおよびｍ通りの刺激パターンを使用して駆動電極が刺激されているとき、画像全体を生成するためにはｎ＋ｍ回の測定が必要とされるであろう。

第２ステップでは、ランダム、擬似ランダム、または順列(permutation)法を使用して、インデックス値を選択する。インデックス値とは、使用される刺激パターンにアクセスするために使用される値であり、この値は結果アレイ５４において更新され、以下で示されるように、ｍ刺激用既測定値アレイ６０およびｎ刺激用既測定値アレイ６２から使用する値である。

第３ステップの結果、所望の高い報告率を得ることができる。先行技術におけるように、駆動電極の各々を、それ自体の刺激パターンで刺激することによって、タッチ・センサ４０上にある物体の完全な画像を取り込まなければならないのではなく、１つの駆動電極を刺激し、１回の測定値だけを取り込んだ後に、新たな画像が作成される。

図３は、結果アレイ５４、ｎ刺激用既測定値アレイ６０、およびｍ刺激用既測定値アレイ６２を示す。第１ステップにおいて、完全な走査によって、物体の全ての画像、またはタッチ・センサ４０の近傍の画像を有する結果アレイ５４を作成した。先行技術では、この画像を更新するためには、別の完全な走査が行われる。しかしながら、第１実施形態では、次のステップは、選択されたインデックス値ｉに対応する測定結果を結果アレイ５４から削除することである。更に具体的には、以前の測定のベクトル・ドット積が、結果アレイ５４から削除される。

ｎ電極を駆動電極として最初に使用する例に再度戻って、インデックス値ｉが３である場合について検討する。第３刺激パターンから得られる測定値は、ｎアレイからの第３測定値、即ち、Ｍ（３）ｎとして示され、ｎ刺激用既測定値アレイ６０に格納され、結果アレイ５４から削除される。次いで、第３測定値Ｍ（３）ｎは、ｎ刺激用既測定値アレイから除去される。

次のステップでは、新たな刺激パターンで駆動電極を刺激する。したがって、刺激データ・アレイ５０に格納された第３刺激パターンが、新たな測定値Ｍ（３）ｎを生成するために使用される。ｎ刺激データ・アレイ５０に格納された第３刺激パターンを使用することによって、新たな測定値Ｍ（３）ｎが取り込まれ、次いで、ｎ刺激用既測定値アレイ６０の第３位置に格納される。

この時点で測定結果を結果アレイ５４から除去または削除し、次いで新たな測定値を取り込んだので、次のステップでは、新たな測定の結果Ｍ（３）ｎを結果アレイに追加する。このステップは、新たな測定値Ｍ（３）ｎが文字通り結果アレイ５４に追加されることを意味しない。更に正確な用語では、以下で説明するように、新たな測定値Ｍ（３）ｎと、結果アレイ５４に格納されている既存の画像とのドット積を求める。

第１画像を作成するために最初に結果アレイ５４が一旦完全に満たされたなら、全ての既測定値には手を触れずに残しておいて、新たな測定毎に、新たな画像が生成される。言い換えると、一旦加えられるべき新たな刺激パターンが識別されたなら、以前の測定結果が結果アレイ５４から削除され、新たな刺激パターンを使用して新たな測定値が取り込まれ、次いで、新たな測定結果が双方共結果アレイ５４に追加され、新たな測定値を格納しているアレイ６０または６２に格納される。新たな測定値を格納するアレイは、ｎ刺激用既測定値アレイ６０、およびｍ刺激用既測定値アレイ６２である。

一旦新たな測定値Ｍ（３）ｎを追加することによって結果アレイ５４が変更されたなら、タッチ・センサ４０上における新たな画像が生成され、次いでタッチ・センサ上の物体が再度識別される。このように、当業者には周知の方法を使用して、タッチ・センサ４０上にある全ての物体の新たな画像を作成するために、ここでは結果アレイ５４を処理することができる。

尚、１回毎の測定間におけるタッチ・センサ４０の１つまたは複数の物体の動きは、非常に小さい可能性が高いことは理解されてしかるべきである。何故なら、１回の測定だけが更新された後に結果アレイ５４を変更するための完全なプロセスは、比較的素早くなるからである。言い換えると、毎秒１０回から２０００回までの任意の回数だけ新たな測定値を取り込み、新たな画像を生成することが可能である。

ここで、ｎ刺激データ・アレイにおける刺激パターンの全てが使用されるまで、他のインデックス値の各々について、このプロセスが繰り返される。これらの刺激パターンは、いずれも繰り返されることはない。言い換えると、全てのインデックス値が使用され終えるまで、いずれのインデックス値も繰り返されない。また、刺激パターンの全てが加えられるまで、ｍ刺激データ・アレイ５２を使用して、このプロセスが実行されてもよい。ｎ通りの刺激パターンの全て、およびｍ通りの刺激パターンの全てを加える動作は、タッチ・センサ４０上において１つ以上の物体が検出される限り、繰り返す。

したがって、インデックス値の全てが使用され終えるまで待たなくてはならないのではなく、各測定後にタッチ・センサ４０上にある全ての物体の新たな画像を作成することができるので、報告率が高められる。新たな画像は、１つの刺激パターンが加えられ、新たな測定値が取り込まれた後直ちに作成することができる。

第１実施形態のある態様は、インデックス値の選択を目的とする。最初にインデックス値は、一般に数値順に選択されることはない。インデックス値の選択は、ランダムに、擬似ランダムに、または並び替えて行われてもよい。

このようにある種のランダムに選択されたインデックス値の選択には利点があると考えられる。第１の利点はノイズ感受性の軽減とすることができる。例えば、インデックス値が数値順に選択されると、同様の予測可能なパターンに従う検知電極上のノイズが、測定精度を低下させる可能性がある。

このインデックス値選択方法の他の利点は、タッチ・センサ４０の安全性向上である。プローブによる侵入があった場合、または他の何らかの方法で、タッチ・センサ４０によって生成されたデータが傍受され監視されている場合、インデックス値の選択は予測不可能でありしかも順次行われるのではないので、タッチ・センサ、および収集されているデータの安全性を向上させることができる。

他の利点は、結果アレイ５４から生成された画像がゼロに初期化され、全ての同期適時直交測定刺激パターンおよび測定値が再度処理される場合も、得られる画像は同じであることである。この方法は、タッチ・センサ４０のそれぞれの完全な走査後だけではなく、測定毎に完全な画像を供給する。例えば、１６×１６電極アレイを有するタッチ・センサ４０に対する画像報告率は、先行技術の方法を使用した報告率よりも１５倍高い。

図４は、ｎ電極を駆動電極として使用して、以上の概念の一表現として与えられる以下の方法および式を示すために設けられる。同じプロセスは、ｍ電極にも繰り返すことができる。

項目７０におけるステップ１では、ｎおよびｍ通りの刺激パターンの全てを使用して、完全な結果アレイ５４を生成するために、完全な画像走査を実行する。
項目７２におけるステップ２では、インデックス値ｉを選択する。

項目７４におけるステップ３では、新たなインデックス値ｉを使用して、既測定値のベクトル・ドット積を結果アレイから削除することによって、以前の結果を結果アレイ５４から削除する。ここで、Ｐ（ｉ）は、結果アレイに格納されている以前の結果である。

画像−＝以前のＭ（ｉ）ｎ．ｄｏｔ．Ｐ（ｉ）
項目７６におけるステップ４では、新たなインデックス値ｉを使用して新たな測定値Ｍ（ｉ）ｎを取り込む。

項目７８におけるステップ５では、新たなインデックス値ｉを使用して、新たな測定ベクトル・ドット積を結果アレイ５４に格納されている画像に追加する。
画像＋＝Ｍ（ｉ）ｎ．ｄｏｔ．Ｐ（ｉ）
項目８０におけるステップ６では、新たな測定値を既測定値アレイに保存する。この既測定値アレイは、既測定値が格納されたところである（ｎ通りの刺激６０に対する既測定値アレイ、およびｍ通りの刺激６２に対する既測定値アレイ）。

以前のＭ（ｉ）ｎ＝Ｍ（ｉ）ｎ
項目８２におけるステップ７では、更新された結果アレイ５４を使用して、更新画像を生成する。

１つのインデックス値が繰り返される前に可能なインデックス値の全てが使用されるように、インデックス値が更新され、次いでステップ３から８までが繰り返される。このプロセスは、ｎ電極が駆動電極であるときは、これらのために実行することができ、電極の機能が切り替えられ、ｍ電極が駆動電極として機能するときには、ｍ電極のために実行することができる。このプロセスは、タッチ・センサ４０上で物体が検出される限り、ｎおよびｍ電極の間で行き来して繰り返されればよい。

尚、以上で説明した構成は、本発明の原理の応用を例示するに過ぎないことは言うまでもない。本発明の主旨および範囲から逸脱することなく、多くの変更および代替構成が、当業者によって考案することができよう。添付する特許請求の範囲は、このような変更および構成を包含することを意図している。

Claims (21)

1. タッチ・センサ上における少なくとも１つの物体の位置の報告率を高める方法であって、
   タッチ・センサ基板の２つの層上に設けられたＸおよびＹ電極の実質的に直交するアレイを含むタッチ・センサを設けるステップであって、前記ＸおよびＹ電極が駆動および検知電極として機能することができる、ステップと、
   同期適時直交測定刺激パターンを前記ＸおよびＹ電極に加えることによって、前記タッチ・センサ上にある少なくとも１つの物体の画像を作成するステップと、
   １つの刺激パターンを前記タッチ・センサに加えた後、前記タッチ・センサの前記画像を更新することによって、高い報告率を得るステップと
   を含む、方法。
2. 請求項１記載の方法において、更に、前記Ｘ電極および前記Ｙ電極用に同期適時直交測定刺激パターンのアレイを設けるステップを含み、それぞれ、ｎ刺激データ・アレイおよびｍ刺激データ・アレイと称される、方法。
3. 請求項２記載の方法において、更に、前記タッチ・センサ上における前記少なくとも１つの物体の画像を格納する結果アレイを設けるステップを含む、方法。
4. 請求項３記載の方法において、更に、前記ｎ刺激データ・アレイから刺激を加えるときに既測定値を格納するために、ｎ刺激用既測定値アレイを設け、前記ｍ刺激データ・アレイから刺激を加えるときに既測定値を格納するために、ｍ刺激用既測定値アレイを設けるステップを含む、方法。
5. 請求項４記載の方法において、更に、前記同期適時直交測定刺激パターンを前記タッチ・センサに加えるために使用されるインデックス値ｉを選択するステップを含む、方法。
6. 請求項５記載の方法において、更に、ランダム、擬似ランダム、または順列法を使用して、前記インデックス値ｉを選択するステップを含む、方法。
7. 請求項６記載の方法において、更に、ランダム、擬似ランダム、または順列法を使用して前記インデックス値ｉを選択することによって、前記タッチ・センサのノイズに対する感受性を低減させるステップを含む、方法。
8. 請求項７記載の方法において、更に、ランダム、擬似ランダム、または順列法を使用して前記インデックス値ｉを選択することによって、前記インデックス値の予測不可能および非連続的選択を使用し、これによって前記タッチ・センサの安全性を高めるステップを含む、方法。
9. 請求項６記載の方法において、更に、ｎ刺激用既測定値アレイに格納された既測定値のベクトル・ドット積を削除することによって、当該インデックス値ｉに対応する測定結果Ｍ（ｉ）ｎを前記結果アレイから削除するステップを含む、方法。
10. 請求項９記載の方法において、更に、前記インデックス値ｉに対応し前記ｎ刺激データ・アレイに格納された刺激パターンを使用して、新たな測定値Ｍ（ｉ）ｎを取り込むステップを含む、方法。
11. 請求項１０記載の方法において、更に、前記新たな測定値Ｍ（ｉ）ｎのベクトル・ドット積を前記結果アレイに追加することによって、前記インデックス値ｉに対応する前記測定値Ｍ（ｉ）ｎを前記結果アレイに追加するステップを含む、方法。
12. 請求項１１記載の方法において、更に、前記新たな測定値Ｍ（ｉ）ｎを、前記ｎ刺激用既測定値アレイに格納するステップを含む、方法。
13. 請求項１２記載の方法において、更に、前記タッチ・センサ上における前記少なくとも１つの物体の前記画像を更新するステップを含む、方法。
14. 請求項１３記載の方法において、更に、前記同期適時直交測定刺激パターンを前記タッチ・センサに加えるために、可能な全てのインデックス値が１回使用され終えるまで、特定のインデックス値ｉを１回だけ使用するステップを含む、方法。
15. 請求項１４記載の方法において、更に、前記ｎ刺激用既測定値アレイおよび前記ｎ刺激データ・アレイ、ならびに前記ｍ刺激データ・アレイおよびｍ刺激データ・アレイを使用することによって、前記ＸおよびＹ電極を使用する前記タッチ・センサのために当該方法を実行するステップを含む、方法。
16. 請求項１５記載の方法において、更に、前記少なくとも１つの物体が前記タッチ・センサによって検出される限り、前記ＸおよびＹ電極に刺激を加える前記プロセスを繰り返すステップを含む、方法。
17. タッチ・センサ上における少なくとも１つの物体の位置の報告率を高める方法であって、
    タッチ・センサ基板の２つの層上に設けられたＸおよびＹ電極の実質的に直交するアレイを含むタッチ・センサを設けるステップであって、前記ＸおよびＹ電極が駆動および検知電極として機能することができる、ステップと、
    同期適時直交測定刺激パターンを前記ＸおよびＹ電極に加えることによって、前記タッチ・センサ上にある少なくとも１つの物体の画像を作成するステップと、
    ａ．インデックス値ｉを選択し、次いで前記インデックス値ｉに対応する以前の測定結果を結果アレイから削除する、
    ｂ．前記インデックス値ｉに対応する刺激パターンを使用して新たな測定値を取り込む、
    ｃ．前記新たな測定値を前記結果アレイに追加する、
    ｄ．前記新たな測定値を既測定結果アレイに保存する、
    ｅ．前記タッチ・センサ上における前記少なくとも１つの画像の前記画像を更新する、
    ことによって前記タッチ・センサの前記画像を更新し、これによって高い報告率を得るステップと
    を含む、方法。
18. 請求項１７記載の方法において、更に、前記同期適時直交測定刺激パターンを前記タッチ・センサに加えるために使用されるインデックス値ｉを選択するステップを含む、方法。
19. 請求項１８記載の方法において、更に、ランダム、擬似ランダム、または順列法を使用して、前記インデックス値ｉを選択するステップを含む、方法。
20. 請求項１９記載の方法において、更に、ランダム、擬似ランダム、または順列法を使用して前記インデックス値ｉを選択することによって、前記タッチ・センサのノイズに対する感受性を低減させるステップを含む、方法。
21. 請求項２０記載の方法において、更に、ランダム、擬似ランダム、または順列法を使用して前記インデックス値ｉを選択することによって、前記インデックス値の予測不可能および非連続的選択を使用し、これによって前記タッチ・センサの安全性を高めるステップを含む、方法。

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