JP2016053542A - Optical pulse tester - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光パルス試験器に係り、特に、複数のパルス幅の光パルスで戻り光の測定を行ない、得られた波形を合成してイベント解析を行なう光パルス試験器に関する。 The present invention relates to an optical pulse tester, and more particularly to an optical pulse tester that measures return light with optical pulses having a plurality of pulse widths and synthesizes the obtained waveforms to perform event analysis.
光信号によってデータ通信等を行なう光通信システムでは、光ファイバが光信号を伝送する媒体として用いられている。光ファイバの敷設、支障移転、保守等においては、光ファイバの長さ、接続箇所の損失、反射等を評価する必要があるが、そのための測定器として光パルス試験器(OTDR:Optical Time Domain Reflectometer)が使用される。光パルス試験器は、被測定光ファイバに光パルスを入射し、後方散乱光やフレネル反射で入射端に戻ってくる光のパワーを時間領域で測定し、表示・解析等を行なう装置である。 In an optical communication system that performs data communication using an optical signal, an optical fiber is used as a medium for transmitting the optical signal. Optical fiber length, connection loss, reflection, etc. need to be evaluated for laying optical fiber, relocating trouble, maintenance, etc. Optical pulse tester (OTDR: Optical Time Domain Reflectometer) ) Is used. The optical pulse tester is a device that performs display / analysis, etc., by measuring the power of light returning to the incident end by backscattered light or Fresnel reflection in a time domain by entering a light pulse into a measured optical fiber.
後方散乱光等は反射点からの距離に比例した遅延時間で入射側に戻り、融着点、コネクタ接続点、分岐点、曲げ点、切断点等で特徴的な波形を描くことから、得られた光パワーの波形から、融着点、コネクタ接続点、分岐点、曲げ点、切断点等のイベントを検出し、その距離を測定することが行なわれている。検出されたイベントは、例えば、アイコンで模式的に表示される。 Backscattered light, etc. is obtained by returning to the incident side with a delay time proportional to the distance from the reflection point, and drawing characteristic waveforms at the fusion point, connector connection point, branch point, bending point, cutting point, etc. From such optical power waveforms, events such as fusion points, connector connection points, branch points, bending points, and cutting points are detected and their distances are measured. The detected event is typically displayed as an icon, for example.
被測定光ファイバに入射する光パルスは、パルス幅が短いほど分解能が高くなるが、光のパワーが小さくなるため、ノイズの影響を受けやすく、長距離の測定はできない。このため、測定の際には測定距離に対応したパルス幅を選択する必要がある。 The optical pulse incident on the optical fiber to be measured has a higher resolution as the pulse width is shorter. However, since the power of the light becomes smaller, it is easily affected by noise and cannot measure a long distance. For this reason, it is necessary to select a pulse width corresponding to the measurement distance during measurement.
近年では、複数のパルス幅で測定を行ない、それぞれのパルス幅で得られた波形を内部で合成して、合成波形に基づいてイベントを検出することが行なわれている。波形の合成では、測定距離を複数の領域に分割し、距離が短い領域では、パルス幅の短い光パルスで得られた波形を採用して分解能を高め、距離が長い領域では、パルス幅の長い光パルスで得られた波形を採用してノイズの影響を受けないようにしている。 In recent years, measurement is performed with a plurality of pulse widths, waveforms obtained with the respective pulse widths are internally synthesized, and an event is detected based on the synthesized waveform. In waveform synthesis, the measurement distance is divided into multiple areas, and in areas where the distance is short, the waveform obtained with a light pulse with a short pulse width is used to improve resolution, and in areas where the distance is long, the pulse width is long. The waveform obtained with the light pulse is adopted so as not to be affected by noise.
複数のパルス幅で測定を行ない、それぞれのパルス幅で得られた波形を合成してイベントを検出する場合、合成の仕方により検出結果が異なる場合がある。例えば、合成時にパルス幅の長い光パルスの波形を採用したため、近接する複数のイベントが1つのイベントとして検出されたり、合成時にパルス幅の短い光パルスの波形を採用したため、ノイズによる波形の乱れがイベントとして検出されたりする場合である。 When measurement is performed with a plurality of pulse widths and an event is detected by combining waveforms obtained with the respective pulse widths, the detection result may differ depending on the combination method. For example, since a light pulse waveform with a long pulse width is used during synthesis, multiple adjacent events are detected as one event, or because a light pulse waveform with a short pulse width is used during synthesis, the waveform is disturbed by noise. It is a case where it is detected as an event.
このため、検出されたイベントが妥当であるかどうかをユーザが検証できる仕組みがあれば、イベント検出の精度を向上させることができ、有益である。 Therefore, if there is a mechanism that allows the user to verify whether the detected event is valid, the accuracy of event detection can be improved, which is beneficial.
そこで、本発明は、複数のパルス幅の光パルスで戻り光の測定を行ない、得られた波形を合成してイベント検出を行なう光パルス試験器において、検出されたイベントの妥当性を検証できるようにすることを目的とする。 Therefore, the present invention is capable of verifying the validity of a detected event in an optical pulse tester that performs event detection by measuring return light with optical pulses having a plurality of pulse widths and synthesizing the obtained waveforms. The purpose is to.
上記課題を解決するため、本発明の光パルス試験器は、光ファイバに光パルスを入射し、戻り光の時間的変化を測定する光パルス試験器であって、異なるパルス幅の光パルスで得られたそれぞれの測定波形について、近距離側から有効領域を設定し、より短いパルス幅の光パルスで得られた測定波形の有効領域が優先されるように合成ラインを設定し、設定された合成ラインでそれぞれの測定波形をつなぎ合わせて合成波形を生成する合成波形生成部と、前記合成波形に基づいて、前記光ファイバに関するイベントを検出するイベント検出部と、前記合成波形と検出されたイベントとを表示する表示制御部と、を備えたことを特徴とする。
ここで、前記合成波形生成部は、ユーザから前記合成ラインの変更操作を受け付けると、変更された合成ラインでそれぞれの測定波形をつなぎ合わせて合成波形を生成することができる。
このとき、前記イベント検出部は、合成波形が生成される都度、イベントを再検出することが望ましい。
また、前記表示制御部は、前記検出されたイベントをアイコン形式で表示することができる。
また、前記合成波形生成部は、測定波形の光パワーの大きさに基づいて測定波形の有効領域を設定することができる。
In order to solve the above-mentioned problems, an optical pulse tester according to the present invention is an optical pulse tester for measuring a temporal change of return light by making an optical pulse incident on an optical fiber, which is obtained with optical pulses having different pulse widths. For each measured waveform, set the effective area from the short distance side, set the synthesis line so that the effective area of the measured waveform obtained with the light pulse with shorter pulse width is given priority, and set the synthesized A combined waveform generation unit that generates a combined waveform by connecting the respective measurement waveforms in a line; an event detection unit that detects an event related to the optical fiber based on the combined waveform; and the combined waveform and the detected event And a display control unit for displaying.
Here, when the composite waveform generation unit receives a change operation of the composite line from the user, the composite waveform generation unit can generate a composite waveform by connecting the respective measurement waveforms with the changed composite line.
At this time, it is desirable that the event detection unit re-detects the event every time a composite waveform is generated.
In addition, the display control unit can display the detected event in an icon format.
Further, the composite waveform generation unit can set an effective area of the measurement waveform based on the magnitude of the optical power of the measurement waveform.
本発明によれば、複数のパルス幅の光パルスで戻り光の測定を行ない、得られた波形を合成してイベント検出を行なう光パルス試験器において、検出されたイベントの妥当性を検証できるようになる。 According to the present invention, it is possible to verify the validity of a detected event in an optical pulse tester that measures return light with optical pulses having a plurality of pulse widths and synthesizes the obtained waveforms to detect an event. become.
本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1は、本実施形態に係る光パルス試験器100の構成を示すブロック図である。本図に示すように、光パルス試験器100は、測定対象の光ファイバ200に光パルスを入射し、入射端に戻ってくる光を時間領域で測定し、表示・解析等を行なう装置であり、測定処理部110、コネクタ115、制御部120、操作受付部130、表示部140、記憶部150を備えている。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an optical pulse tester 100 according to the present embodiment. As shown in this figure, the optical pulse tester 100 is a device that performs a display / analysis etc. by measuring a light pulse incident on an optical fiber 200 to be measured and returning to the incident end in the time domain. A measurement processing unit 110, a connector 115, a control unit 120, an operation receiving unit 130, a display unit 140, and a storage unit 150.
測定処理部110は、発光部111、光カプラ112、受光部113、信号処理部114を備えている。発光部111は、レーザダイオード等により構成することができ、信号処理部114により生成されたパルス信号により、所定間隔で発光し、光パルスを生成する。 The measurement processing unit 110 includes a light emitting unit 111, an optical coupler 112, a light receiving unit 113, and a signal processing unit 114. The light emitting unit 111 can be configured by a laser diode or the like, and emits light at a predetermined interval by the pulse signal generated by the signal processing unit 114 to generate an optical pulse.
光カプラ112は、発光部111の発光による光パルスを、コネクタ115を介して測定対象の光ファイバ200に入射するとともに、光ファイバ200からの戻り光を、コネクタ115を介して入射し、受光部113に導く。光ファイバ200からの戻り光には、光ファイバ200内部のレイリー散乱による後方散乱光と、接続点で発生するフレネル反射光とが含まれている。 The optical coupler 112 makes an optical pulse generated by light emission from the light emitting unit 111 incident on the optical fiber 200 to be measured via the connector 115, and makes return light from the optical fiber 200 incident via the connector 115. Lead to 113. The return light from the optical fiber 200 includes backscattered light due to Rayleigh scattering inside the optical fiber 200 and Fresnel reflected light generated at the connection point.
受光部113は、光電素子等により構成することができ、戻り光を電気信号に変換する。信号処理部114は、発光部111に供給する光パルスを生成するとともに、受光部113が変換した電気信号をパルスと同期したタイミングでサンプリングする。生成する光パルスのパルス幅は可変であり、複数のパルス幅で測定することができる。光ファイバ200からの戻り光は微弱であるため、信号処理部114によるサンプリングは、それぞれのパルス幅毎に多数の光パルスについて繰り返し行なわれ、平均化される。 The light receiving unit 113 can be configured by a photoelectric element or the like, and converts the return light into an electrical signal. The signal processing unit 114 generates an optical pulse to be supplied to the light emitting unit 111 and samples the electrical signal converted by the light receiving unit 113 at a timing synchronized with the pulse. The pulse width of the generated optical pulse is variable, and can be measured with a plurality of pulse widths. Since the return light from the optical fiber 200 is weak, the sampling by the signal processing unit 114 is repeated for a large number of optical pulses for each pulse width and averaged.
制御部120は、測定制御部121、波形合成部122、イベント検出部123、表示制御部124を備えており、操作受付部130、表示部140を介したユーザインタフェースを提供するとともに、光パルス試験器100における各種処理を制御する。 The control unit 120 includes a measurement control unit 121, a waveform synthesis unit 122, an event detection unit 123, and a display control unit 124. The control unit 120 provides a user interface via the operation reception unit 130 and the display unit 140, and an optical pulse test. Various processes in the container 100 are controlled.
測定制御部121は、光パルス試験器100における測定動作の制御を行なう。具体的には、光ファイバ200の測定距離に基づいて、測定に用いる複数のパルス幅を選択し、それぞれのパルス幅についての測定を所定回数繰り返し、平均化処理を行なって、パルス幅毎の測定波形を生成する。 The measurement control unit 121 controls the measurement operation in the optical pulse tester 100. Specifically, based on the measurement distance of the optical fiber 200, a plurality of pulse widths used for measurement are selected, the measurement for each pulse width is repeated a predetermined number of times, an averaging process is performed, and measurement for each pulse width is performed. Generate a waveform.
波形合成部122は、パルス幅毎の測定波形のそれぞれについて有効領域を判定し、波形をつなぎ合わせる合成ラインを設定して波形を合成する。このとき、パルス幅が短い測定波形ほど、近距離領域で優先的に採用されるようにする。合成ラインはユーザの操作により変更することができる。 The waveform synthesizer 122 determines an effective area for each measurement waveform for each pulse width, and synthesizes the waveform by setting a synthesis line for connecting the waveforms. At this time, a measurement waveform having a shorter pulse width is preferentially adopted in a short distance region. The composite line can be changed by a user operation.
イベント検出部123は、合成波形から融着点、コネクタ接続点、分岐点、曲げ点、切断点等のイベントを検出する。 The event detection unit 123 detects events such as a fusion point, a connector connection point, a branch point, a bending point, and a cutting point from the composite waveform.
表示制御部124は、合成波形やイベント検出結果の表示制御を行なう。合成波形の表示画面では、合成ラインを表示し、ユーザから合成ラインの変更の操作を受け付けることができる。また、イベント検出結果の表示画面では、検出されたイベントをアイコンで表示することができる。 The display control unit 124 performs display control of the composite waveform and the event detection result. On the composite waveform display screen, a composite line is displayed, and an operation for changing the composite line can be received from the user. Further, the detected event can be displayed as an icon on the event detection result display screen.
操作受付部130は、ボタン、スイッチ、ダイヤルノブ、タッチパネル等により構成することができ、ユーザから光パルス試験に関する各種操作を受け付ける。表示部140は、液晶表示パネル等により構成することができ、表示制御部124の制御により測定波形や操作メニュー等の表示を行なう。記憶部150は、ハードディスク装置や半導体記憶装置等により構成することができ、測定制御部121の制御により測定データ等を記録する。 The operation receiving unit 130 can be configured with buttons, switches, dial knobs, touch panels, and the like, and receives various operations related to the optical pulse test from the user. The display unit 140 can be configured by a liquid crystal display panel or the like, and displays a measurement waveform, an operation menu, and the like under the control of the display control unit 124. The storage unit 150 can be configured by a hard disk device, a semiconductor storage device, or the like, and records measurement data and the like under the control of the measurement control unit 121.
図2は、操作受付部130と表示部140の外観例を示す図である。本実施形態において、操作受付部130は、電源スイッチ131、ロータリノブ132、スケールキー133、方向・エンターキー134、セットアップ(SETUP)キー135、リアルタイム測定(REAL TIME)キー136、平均化測定(AVE)キー137、ファンクションキー138を備えている。 FIG. 2 is a diagram illustrating an external appearance example of the operation receiving unit 130 and the display unit 140. In the present embodiment, the operation receiving unit 130 includes a power switch 131, a rotary knob 132, a scale key 133, a direction / enter key 134, a setup (SETUP) key 135, a real-time measurement (REAL TIME) key 136, and an averaged measurement (AVE). A key 137 and a function key 138 are provided.
上記構成の光パルス試験器100の特徴的な動作について図3のフロー図を参照して説明する。 A characteristic operation of the optical pulse tester 100 configured as described above will be described with reference to the flowchart of FIG.
光パルス試験器100は測定実行に先立ち、測定に用いる複数のパルス幅を選択する(S101)。選択するパルス幅は、測定対象の光ファイバ200の距離に応じてユーザが任意に選択してもよいし、あらかじめ定められたアルゴリズムにより光パルス試験器100が自動的に選択するようにしてもよい。また、光パルスの波長、サンプリング周波数等を必要に応じて設定する。 Prior to execution of measurement, the optical pulse tester 100 selects a plurality of pulse widths used for measurement (S101). The pulse width to be selected may be arbitrarily selected by the user according to the distance of the optical fiber 200 to be measured, or may be automatically selected by the optical pulse tester 100 using a predetermined algorithm. . Further, the wavelength of the optical pulse, the sampling frequency, etc. are set as necessary.
選択された複数のパルス幅の中から、測定に用いるパルス幅を設定し(S102)、測定制御部121の制御により測定処理部112が測定を実行する(S103)。測定は繰り返し行ない、平均化することで、そのパルス幅の測定結果の波形が得られる。 Of the plurality of selected pulse widths, a pulse width used for measurement is set (S102), and the measurement processing unit 112 performs measurement under the control of the measurement control unit 121 (S103). Measurement is repeated and averaged to obtain a waveform of the measurement result of the pulse width.
平均化測定は、選択されたすべてのパルス幅を終えるまで繰り返す(S104)。選択されたパルス幅のすべてで平均化測定を終えると(S104:Yes)、各パルス幅での測定波形が得られることになる。図4は、選択されたパルス幅を、短、中、長としたときに得られるそれぞれの測定波形の例を示している。本図において、縦軸は戻り光のパワーを示し、横軸は遅延時間に対応した距離を示している。一般に、パルス幅が短いほど分解能が高くなるが、光のパワーが小さくなるため、ノイズの影響を受けやすく、長距離の測定はできない。 The averaging measurement is repeated until all selected pulse widths are completed (S104). When the averaging measurement is completed for all the selected pulse widths (S104: Yes), a measurement waveform with each pulse width is obtained. FIG. 4 shows an example of each measurement waveform obtained when the selected pulse width is short, medium, or long. In this figure, the vertical axis indicates the power of the return light, and the horizontal axis indicates the distance corresponding to the delay time. In general, the shorter the pulse width, the higher the resolution. However, since the light power is small, it is easily affected by noise and cannot measure long distances.
次に、波形合成部122が、それぞれのパルス幅の測定波形について有効領域を決定する(S105)。有効領域は、ノイズ等の影響が少なく測定結果として妥当とみなせる領域である。有効領域の決定は、例えば、図5に示すように、近距離側から、光パワーが所定の基準値を下回った位置までとすることができる。ただし、他の判定基準を用いて有効領域を決定するようにしてもよい。一般に、パルス幅が短いほど有効領域は短くなる。 Next, the waveform synthesizer 122 determines an effective area for each measured waveform of the pulse width (S105). The effective area is an area that is less affected by noise or the like and can be regarded as a reasonable measurement result. For example, as shown in FIG. 5, the effective area can be determined from the short distance side to a position where the optical power falls below a predetermined reference value. However, the effective area may be determined using other criteria. In general, the shorter the pulse width, the shorter the effective area.
各パルス幅の測定波形について有効領域が定まると、波形合成部122が、波形の合成処理を行なう(S106)。波形の合成処理では、パルス幅が短い測定波形の有効領域ほど、優先的に採用されるようにする。これは、パルス幅が短い測定波形ほど分解能が高いためである。 When the effective area is determined for the measurement waveform of each pulse width, the waveform synthesis unit 122 performs waveform synthesis processing (S106). In the waveform synthesis process, the effective region of the measurement waveform having a shorter pulse width is preferentially adopted. This is because the measurement waveform with a shorter pulse width has a higher resolution.
このため、図6に示すように、パルス幅:短では、有効領域すべてが採用領域となり、パルス幅:中では、有効領域からパルス幅:短の採用領域を除いた領域が採用領域となり、パルス幅:長では、有効領域からパルス幅:短の採用領域とパルス幅:中の採用領域を除いた領域が採用領域となる。 For this reason, as shown in FIG. 6, when the pulse width is short, all the effective areas are adopted areas, and in the pulse width: the area excluding the adopted area where the pulse width is short is adopted area. In the case of width: long, the area excluding the adoption area of the pulse width: short and the adoption area of the pulse width: medium from the effective area is the adoption area.
また、波形合成の際には、合成された波形が連続して繋がるように、採用領域の波形を必要に応じて上下に移動させる。具体的には、最もパルス幅の長い測定波形の採用領域の開始点を基準に、それよりも短いパルス幅の採用領域の波形を順次繋げていく。 Further, at the time of waveform synthesis, the waveform in the adopted area is moved up and down as necessary so that the synthesized waveforms are continuously connected. Specifically, the waveforms of the adopted areas having a shorter pulse width are sequentially connected with reference to the starting point of the adopted area of the measurement waveform having the longest pulse width.
図6の例では、パルス幅:長の採用領域の開始点p1に、パルス幅:中の採用領域の終了点p2が重なるようにパルス幅:中の波形を上方向に移動させる。そして、移動後のパルス幅:中の採用領域の開始点p3に、パルス幅:短の採用領域の終了点p4が重なるようにパルス幅:短の波形を上方向に移動させる。これにより、連続した合成波形を得ることができる。図7は、3つの波形を合成した合成波形の例を示している。各パルス幅の波形の接続位置が合成ラインである。 In the example of FIG. 6, the pulse width: medium waveform is moved upward so that the end point p2 of the pulse width: medium adoption region overlaps the start point p1 of the pulse width: long adoption region. Then, the pulse width: short waveform is moved upward so that the end point p4 of the pulse width: short adoption area overlaps the start point p3 of the adoption area in the pulse width: medium adoption area after movement. Thereby, a continuous composite waveform can be obtained. FIG. 7 shows an example of a combined waveform obtained by combining three waveforms. The connection position of the waveform of each pulse width is a composite line.
合成波形が生成されると、イベント検出部123が、合成波形に基づいてイベントの検出を行なう(S107)。融着点、コネクタ接続点、分岐点、曲げ点、切断点等のイベントは、それぞれ特徴的な波形を示すため、合成波形に基づいてイベントを検出することができ、検出されたイベントの距離を特定することができる。図8は、検出されたイベントの例を示している。ここでは、e1〜e10の10個のイベントが検出されている。 When the composite waveform is generated, the event detection unit 123 detects an event based on the composite waveform (S107). Events such as fusion points, connector connection points, branch points, bend points, and cut points show characteristic waveforms, so events can be detected based on the composite waveform, and the detected event distance Can be identified. FIG. 8 shows an example of the detected event. Here, ten events e1 to e10 are detected.
表示制御部124は、合成波形と検出されたイベントを測定結果として表示部140に表示する(S108)。合成波形は、図7に示したように、波形の接続位置を示す合成ラインとともに表示する。また、検出されたイベントは、例えば、図9に示すように、イベント表示画面500にアイコン表示領域501を配置して、イベント内容を示すアイコンで表示することができる。アイコン表示領域501では、イベントのアイコンと、各イベントの位置を模式的に表示している。 The display control unit 124 displays the composite waveform and the detected event on the display unit 140 as a measurement result (S108). As shown in FIG. 7, the combined waveform is displayed together with a combined line indicating the connection position of the waveform. Further, for example, as shown in FIG. 9, the detected event can be displayed by placing an icon display area 501 on the event display screen 500 and displaying an icon indicating the event content. In the icon display area 501, event icons and the positions of the events are schematically displayed.
また、イベント表示画面500にはリスト表示領域502が設けられており、イベント毎の距離や種別に加え、接続損失、区間屈折率等の各イベントに関する詳細な情報をリスト表示している。 In addition, a list display area 502 is provided on the event display screen 500, and in addition to the distance and type for each event, detailed information regarding each event such as connection loss and section refractive index is displayed as a list.
ユーザは、合成波形とイベント検出結果とを対照させることで、イベントの検出結果が妥当であるかどうかの判断を行なうことができる。 The user can determine whether the detection result of the event is valid by comparing the composite waveform with the event detection result.
さらに、表示制御部124は、各パルス幅の波形を比較するために、それぞれの波形を重ねた画像も表示部140に表示することができる。図10(a)は、異なるパルス幅の3つの測定波形を重ねて表示した場合の例であり、図10(b)は、合成ラインにおける接続点を一致させるために、波形を上下に移動させて表示した場合の例である。 Furthermore, the display control unit 124 can also display an image in which the respective waveforms are superimposed on the display unit 140 in order to compare the waveforms of the respective pulse widths. FIG. 10A shows an example in which three measurement waveforms having different pulse widths are displayed in an overlapping manner, and FIG. 10B shows that the waveforms are moved up and down in order to match the connection points in the synthesis line. It is an example when displayed.
各パルス幅の波形を重ねた画像を表示することで、ユーザは、合成ラインによる波形合成が妥当であるかの判断を行なうことができる。さらに、本実施形態の光パルス試験器100では、ユーザが合成ラインを変更することができる。合成ラインの変更は、例えば、方向・エンターキー134を操作して合成ラインを距離方向に移動させることにより行なうことができる。 By displaying an image in which waveforms having respective pulse widths are superimposed, the user can determine whether the waveform synthesis by the synthesis line is appropriate. Furthermore, in the optical pulse tester 100 of the present embodiment, the user can change the synthesis line. The composition line can be changed, for example, by operating the direction / enter key 134 to move the composition line in the distance direction.
ユーザから合成ラインの変更操作を受け付けた場合には(S109:Yes)、変更された合成ラインで各パルス幅の波形を合成する(S106)。合成の際には、変更された合成ラインが各測定波形の境界となるように、各パルス幅の測定波形の採用領域を変更し、さらに、合成された波形が連続するように、パルス幅が短い方の波形を上下に移動させる。よりパルス幅の短い測定波形が近距離側となる点は変更操作後も同様である。 When an operation for changing the composite line is received from the user (S109: Yes), a waveform of each pulse width is combined with the changed composite line (S106). At the time of synthesis, the adoption area of the measurement waveform of each pulse width is changed so that the changed synthesis line becomes the boundary of each measurement waveform, and the pulse width is changed so that the synthesized waveform is continuous. Move the shorter waveform up or down. The point that the measurement waveform having a shorter pulse width is closer to the short distance side is the same after the change operation.
図11は、変更された合成ラインでつなぎ合わせた合成波形の例を示している。本図の例は、パルス幅:短とパルス幅:中との接続位置を、近距離側に移動させた場合である。これは、例えば、パルス幅:短の測定波形にのみ現われていたA点(図4、図7)の山型波形は、ノイズであるとユーザが判断した場合等に行なう操作である。この操作の結果、パルス幅:中の波形の採用領域が近距離側に長くなり、A点に現われていた山型の波形が合成波形から消失した。 FIG. 11 shows an example of a composite waveform connected by the changed composite line. The example of this figure is a case where the connection position of pulse width: short and pulse width: medium is moved to the short distance side. This is, for example, an operation performed when the user determines that the peak waveform at the point A (FIGS. 4 and 7) that appears only in the measurement waveform having a pulse width: short is noise. As a result of this operation, the area where the waveform having the pulse width: medium was adopted became longer on the short distance side, and the mountain-shaped waveform that appeared at point A disappeared from the synthesized waveform.
変更された合成ラインで合成波形を生成すると、イベント検出部123が新たに生成された合成波形を元にイベントの検出を行ない(S107)、表示制御部124が検出結果のイベントと合成波形の表示を行なう(S108)。このため、合成ライン変更後のイベント検出結果を即座に確認することができ、妥当性の判断を効率よく行なうことができる。 When the composite waveform is generated with the changed composite line, the event detection unit 123 detects an event based on the newly generated composite waveform (S107), and the display control unit 124 displays the detection result event and the composite waveform. (S108). For this reason, the event detection result after changing the combined line can be confirmed immediately, and the validity can be efficiently judged.
図12は、新たな合成波形を元に検出されたイベント例を示している。本図に示すように、図8では検出されていたe5のイベントが非検出となっており、ユーザの判断結果を光パルス試験器100のイベント検出結果に容易に反映することができる。 FIG. 12 shows an example of an event detected based on a new composite waveform. As shown in this figure, the event e5 detected in FIG. 8 is not detected, and the judgment result of the user can be easily reflected in the event detection result of the optical pulse tester 100.
ユーザによる合成ラインの変更は、何度も繰り返すことができ、その都度、合成波形を表示し、イベントの検出結果を表示することができる。このように、検出されたイベントの妥当性を検証できるため、より正確な測定結果と検出結果を得ることができる。また、妥当性が検証された合成波形とイベント等を所定のレポート形式で出力、印刷する機能を付加してもよい。これにより、例えば、光ファイバの敷設、支障移転、保守等の作業報告書を容易に作成することができるようになる。 The change of the composite line by the user can be repeated many times, and the composite waveform can be displayed and the event detection result can be displayed each time. Thus, since the validity of the detected event can be verified, a more accurate measurement result and detection result can be obtained. Further, a function of outputting and printing a composite waveform, an event, and the like whose validity has been verified in a predetermined report format may be added. Thereby, for example, it becomes possible to easily create work reports such as laying optical fibers, relocating troubles, and maintenance.
100…光パルス試験器、110…測定処理部、111…発光部、112…光カプラ、112…測定処理部、113…受光部、114…信号処理部、115…コネクタ、120…制御部、121…測定制御部、122…波形合成部、123…イベント検出部、124…表示制御部、130…操作受付部、140…表示部、150…記憶部、200…光ファイバ DESCRIPTION OF SYMBOLS 100 ... Optical pulse tester, 110 ... Measurement processing part, 111 ... Light emission part, 112 ... Optical coupler, 112 ... Measurement processing part, 113 ... Light receiving part, 114 ... Signal processing part, 115 ... Connector, 120 ... Control part, 121 ... Measurement control unit 122 ... Waveform synthesis unit 123 ... Event detection unit 124 ... Display control unit 130 ... Operation reception unit 140 ... Display unit 150 ... Storage unit 200 ... Optical fiber
Claims (5)
異なるパルス幅の光パルスで得られたそれぞれの測定波形について、近距離側から有効領域を設定し、より短いパルス幅の光パルスで得られた測定波形の有効領域が優先されるように合成ラインを設定し、設定された合成ラインでそれぞれの測定波形をつなぎ合わせて合成波形を生成する合成波形生成部と、
前記合成波形に基づいて、前記光ファイバに関するイベントを検出するイベント検出部と、
前記合成波形と検出されたイベントとを表示する表示制御部と、
を備えたことを特徴とする光パルス試験器。 An optical pulse tester for measuring a temporal change of return light by inputting an optical pulse into an optical fiber,
For each measurement waveform obtained with an optical pulse with a different pulse width, an effective area is set from the short distance side, and the effective area of the measurement waveform obtained with an optical pulse with a shorter pulse width is given priority. A combined waveform generation unit that generates a combined waveform by connecting the respective measured waveforms on the set combined line;
An event detector for detecting an event related to the optical fiber based on the combined waveform;
A display controller for displaying the synthesized waveform and the detected event;
An optical pulse tester comprising:
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