JP2016008885A - Data storage device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、測定値のデータを記憶装置に保存するデータ保存装置に関する。 The present invention relates to a data storage device that stores measurement value data in a storage device.
従来、温度、湿度、電圧、電流など、時間とともに変化する時系列の測定値を取得して、取得した測定値のログデータをＨＤＤ（Hard Disk Drive）等の記憶装置に保存するデータ保存装置が知られている。 Conventionally, a data storage device that acquires time-series measured values that change with time, such as temperature, humidity, voltage, and current, and stores log data of the acquired measured values in a storage device such as an HDD (Hard Disk Drive). Are known.
例えば、特許文献１には、食品ケース内の温度の検出値のデータを温度履歴メモリに記録する温度記録装置（データ保存装置）が記載されている。
For example,
特許文献１に記載されているように、データ保存装置は、他の装置等の温度の測定値を取得して、その測定値のログデータを記憶装置に保存する。ユーザは、上記他の装置が故障した場合などに、記憶装置に保存された上記ログデータを参照することによって、他の装置が故障した原因を調査することができる。
As described in
ところが、データ保存装置は、ログデータを保存するための大容量な記憶装置を備えていない場合がある。例えば、他の装置に組み込まれて使用される組み込み装置（データ保存装置）は、ＨＤＤ等の大容量な記憶装置を備えておらず、設定値などのデータを保存するために、ＥＥＰＲＯＭ（登録商標）またはフラッシュメモリ等の安価で小容量な不揮発メモリのみを備えている。 However, the data storage device may not include a large-capacity storage device for storing log data. For example, an embedded device (data storage device) used by being incorporated in another device does not include a large-capacity storage device such as an HDD, and is an EEPROM (registered trademark) for storing data such as setting values. ) Or a low-cost and small-capacity nonvolatile memory such as a flash memory.
データ保存装置が大容量の記憶装置を備えていない場合、設定値などのデータを保存するための不揮発メモリに、上記ログデータを保存することが考えられる。 When the data storage device does not include a large-capacity storage device, it is conceivable to store the log data in a nonvolatile memory for storing data such as setting values.
しかしながら、前述したように、ＥＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリ等の不揮発メモリは小容量である。また、不揮発メモリはデータの書き換え回数に上限がある。そのため、データ保存装置が備えた不揮発メモリに上記ログデータを保存することには、以下のような問題がある。 However, as described above, a nonvolatile memory such as an EEPROM or a flash memory has a small capacity. Further, the nonvolatile memory has an upper limit in the number of data rewrites. Therefore, there are the following problems in storing the log data in the nonvolatile memory provided in the data storage device.
第一に、不揮発メモリは、長期間にわたって測定された全ての測定値のログデータを保存する用途には不向きである。なぜならば、長期間にわたって測定された測定値のログデータのデータ量は膨大になる。そのため、小容量な不揮発メモリに、そのように膨大なログデータを保存することはできない。特に、ログデータが、測定値だけでなく、測定値が測定された日時を示す情報も含む場合、なおさら、ログデータのデータ量は膨大になるので、小容量な不揮発メモリにログデータを保存することができない。ここで、長期間にわたって測定された測定値のログデータを小容量な不揮発メモリに保存するためには、ログデータのデータ量が大きくなり過ぎないように、測定値を測定する時間間隔を長くすることによって、不揮発メモリに保存する測定値の数を削減すればよい。しかし、測定値を測定する時間間隔が長くなれば、有用な情報がログデータに残らない可能性が高くなる。ここで、「有用な情報」とは、測定値の測定対象である装置の故障の原因をユーザ（エンドユーザに限らず、メーカのオペレータ等を含む。以下の「ユーザ」も同様。）が調査する際などに役立つ情報のことである。 First, the non-volatile memory is not suitable for use in storing log data of all measured values measured over a long period of time. This is because the amount of log data of measured values measured over a long period of time becomes enormous. Therefore, such a large amount of log data cannot be stored in a small-capacity nonvolatile memory. In particular, if the log data includes not only measured values but also information indicating the date and time when the measured values were measured, the amount of log data becomes enormous, so log data is stored in a small-capacity nonvolatile memory. I can't. Here, in order to save the log data of the measured values measured over a long period of time in a small-capacity nonvolatile memory, the time interval for measuring the measured values is increased so that the amount of log data does not become too large. Thus, the number of measurement values stored in the nonvolatile memory may be reduced. However, if the time interval for measuring the measurement value becomes long, there is a high possibility that useful information does not remain in the log data. Here, “useful information” means that the user (including not only the end user but also the operator of the manufacturer. The same applies to the following “user”) is the cause of the failure of the device whose measurement value is to be measured. It is information that is useful when doing.
第二に、不揮発メモリは、高頻度で測定した測定値のデータを保存する用途には不向きである。なぜならば、高頻度で測定した測定値のデータを保存することは、不揮発メモリに保存されたログデータを高頻度で書き換えることを意味する。しかし、不揮発メモリに保存されたログデータを高頻度で書き換えた場合、不揮発メモリの寿命に悪影響が生じる。特に、不揮発メモリに保存されたログデータが書き換えられた回数が、不揮発メモリの書き換え回数の上限に近付くほど、不揮発メモリが故障する確率は高くなり、不揮発メモリの寿命は短くなる。 Secondly, the non-volatile memory is not suitable for use in storing data of measurement values measured frequently. This is because storing data of measured values measured with high frequency means rewriting log data stored in the nonvolatile memory with high frequency. However, when the log data stored in the nonvolatile memory is rewritten frequently, the lifetime of the nonvolatile memory is adversely affected. In particular, as the number of times the log data stored in the nonvolatile memory is rewritten approaches the upper limit of the number of times the nonvolatile memory is rewritten, the probability that the nonvolatile memory will fail increases and the lifetime of the nonvolatile memory decreases.
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的は、有用な情報を有するデータのみを記憶装置に保存するデータ保存装置を提供することにある。 The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a data storage device that stores only data having useful information in a storage device.
上記の課題を解決するために、本発明の一態様に係るデータ保存装置は、時系列の測定値のデータのうち、上記測定値が第１の閾値以上となった時点から、上記測定値が次に上記第１の閾値よりも小さくなる時点までの測定値のデータの中で、該測定値が最大値でありかつ極大値であるという条件を満たす測定値のデータを特定する特定手段と、上記特定手段が特定した測定値のデータを記憶装置に保存する保存手段と、を備えている。 In order to solve the above-described problem, the data storage device according to one aspect of the present invention includes a time-series measurement value data in which the measurement value is determined from the time when the measurement value is equal to or greater than a first threshold value. Next, in the measurement value data up to a time point that becomes smaller than the first threshold value, the specifying means for specifying the measurement value data that satisfies the condition that the measurement value is the maximum value and the maximum value, Storage means for storing in the storage device the measured value data specified by the specifying means.
また、上記の課題を解決するために、本発明の他の一態様に係るデータ保存装置は、時系列の測定値のデータのうち、上記測定値が第２の閾値以下となった時点から、上記測定値が次に上記第２の閾値よりも大きくなる時点までの測定値のデータの中で、該測定値が最小値でありかつ極小値であるという条件を満たす測定値のデータを特定する特定手段と、上記特定手段が特定した測定値のデータを記憶装置に保存する保存手段と、を備えている。 In order to solve the above-described problem, the data storage device according to another aspect of the present invention includes a time-series measurement value data from a time point when the measurement value is equal to or less than a second threshold value. Among the measured value data up to the point when the measured value is next larger than the second threshold value, the measured value data satisfying the condition that the measured value is the minimum value and the minimum value is specified. An identification unit; and a storage unit that stores data of the measurement value identified by the identification unit in a storage device.
本発明の一態様によれば、有用な情報を有するデータのみを記憶装置に保存することができるという効果を奏する。 According to one embodiment of the present invention, there is an effect that only data having useful information can be stored in the storage device.
〔実施形態１〕
（組み込み装置１の概要）
図１を用いて、本実施形態に係る組み込み装置１（データ保存装置）の概要を説明する。図１は、組み込み装置１の構成を示すブロック図である。組み込み装置１は、他の装置（以下では、測定対象装置と呼ぶ）に組み込まれて使用される。組み込み装置１には、組み込み装置１の温度および湿度を検出するデータ取得源２が接続されている。データ取得源２は、具体的には、温度および湿度を検出するセンサである。データ取得源２は、測定対象装置の温度および湿度を検出して、その検出結果である検出値を組み込み装置１に送信する。なお、データ取得源２は、組み込み装置１の一部であってもよい。また、本発明のデータ保存装置は、測定対象装置に組み込まれて使用される組み込み装置１に限定されない。本発明のデータ保存装置には、測定対象装置の外部に配置される装置も含まれる。さらに、本実施形態では、測定値Ｘが温度または湿度である場合の例を説明するが、測定値Ｘは他のパラメータ（例えば、電圧、電流）の測定値であってもよい。
(Outline of embedded device 1)
An outline of the embedded device 1 (data storage device) according to the present embodiment will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the embedded
図１に示すように、組み込み装置１は、データ受信部１０、制御部２０、一時記憶部３０、および不揮発メモリ４０（記憶装置）を備えている。
As illustrated in FIG. 1, the embedded
データ受信部１０は、定期的に、新たな検出値の送信要求がないかをデータ取得源２に問い合わせる（ポーリング）ことによって、データ取得源２から、温度および湿度の各検出値を受信する。そして、受信した検出値を制御部２０に出力する。
The
制御部２０は、データ受信部１０から、温度および湿度の各検出値を取得して、取得した検出値から測定値Ｘ（後述）を計算する。制御部２０は、計算した測定値Ｘを、ログデータＬｄ（図３参照）の一部として、不揮発メモリ４０に保存する。なお、制御部２０の詳細については後述する。
The
一時記憶部３０は、いわゆるＲＡＭ（Random Access Memory）である。後述するログデータ保存処理において、一時記憶部３０には、変数Ｘｍａｘ、変数Ｘｍｉｎ、および変数Ｘｎ−１が保存される。不揮発メモリ４０は、ＥＥＰＲＯＭまたはフラッシュメモリ等の、不揮発性を有する記憶装置である。
The
図２を用いて、組み込み装置１の動作の流れを説明する。図２は、データ取得源２が温度および湿度を検出してから、制御部２０がログデータＬｄを不揮発メモリ４０に保存するまでの流れを示すフローチャートである。
The operation flow of the embedded
図２に示すように、データ取得源２は、所定時間ｄＴｉｎｔ［ｓｅｃ］ごとに、測定対象装置の温度および湿度をそれぞれ検出する（Ｓ１；温度・湿度検出処理）。そして、データ取得源２は、温度および湿度の各検出値を、組み込み装置１のデータ受信部１０に送信する。データ受信部１０は、受信した検出値を制御部２０に送信する。
As shown in FIG. 2, the
データ受信部１０から検出値を取得した制御部２０は、データ取得源２によるＮ（Ｎは任意の数）回の検出によって得られたＮ個の検出値の移動平均（測定値Ｘと呼ぶ）を計算する。これによって、検出値から、ノイズが除去（エラー訂正）され、また、検出値が平滑化される（Ｓ２；エラー訂正・検出値平滑化処理）。あるいは、制御部２０は、Ｎ個の検出値の移動平均を計算せず、他の方法で、検出値の平滑化を行ってもよい。また、制御部２０は検出値の平滑化を行わなくてもよい。後者の構成では、以下の説明における測定値Ｘは検出値に等しい。
The
その後、制御部２０は、計算した測定値Ｘを、その測定値Ｘが測定された日時（例えば、測定値Ｘを計算するために使用されたＮ個の検出値のうちのいずれかの検出値（例えば、最後に検出された検出値）が検出された日時）に関連付けて、ログデータＬｄの一部として、不揮発メモリ４０に保存する（Ｓ３；ログデータ保存処理）。このとき、制御部２０は、全ての測定値Ｘではなく、有用な情報を含む測定値Ｘのみを、不揮発メモリ４０に保存する。
Thereafter, the
ここで、「有用な情報」とは、測定対象装置の故障の原因をユーザが調査する際などに役立つ情報、または、測定対象装置の故障に相関がある情報のことである。具体的には、有用な情報を含む測定値Ｘには、測定対象装置の最高温度、最低温度、および最高湿度が含まれる。なぜならば、測定対象装置は、どのような温度範囲および湿度範囲を有する環境で使用されるかを想定して設計されている。そのため、測定対象装置の最高温度、最低温度、および最高湿度が上記温度範囲または上記湿度範囲に含まれないことは、測定対象装置に異常が発生する原因となるからである。ただし、有用な情報を含む測定値Ｘは、最高温度、最低温度、および最高湿度に限定されない。以下では、不揮発メモリ４０に保存されている最高温度のデータおよび最高湿度のデータを、それぞれ、温度の保存最大値および湿度の保存最大値と呼ぶ。また、不揮発メモリ４０に保存されている最低温度のデータを、温度の保存最小値または単に保存最小値と呼ぶ。
Here, “useful information” is information that is useful when the user investigates the cause of the failure of the measurement target device, or information that is correlated with the failure of the measurement target device. Specifically, the measurement value X including useful information includes the maximum temperature, the minimum temperature, and the maximum humidity of the measurement target device. This is because the measurement target device is designed on the assumption of what temperature range and humidity range it will be used in. For this reason, the fact that the maximum temperature, the minimum temperature, and the maximum humidity of the measurement target device are not included in the temperature range or the humidity range is a cause of an abnormality in the measurement target device. However, the measured value X including useful information is not limited to the maximum temperature, the minimum temperature, and the maximum humidity. Hereinafter, the maximum temperature data and the maximum humidity data stored in the
図３は、不揮発メモリ４０に保存されるログデータＬｄの一例を示す図である。図３に示すログデータＬｄには、最高温度を示す情報、最低温度を示す情報、および最高湿度を示す情報が含まれている。ログデータＬｄでは、保存最大値（保存最小値）を示すデータと、その保存最大値（保存最小値）が測定された時点に測定された他の測定値Ｘと、その保存最大値（保存最小値）が測定された日時を示す情報とが関連付けられている。例えば、最高温度であれば、最高温度の保存最大値を示すデータと、それが測定された日時（最高温度記録日時）を示すデータと、それが測定された日時に測定された湿度を示すデータとが関連付けられている。このように互いに関連付けられた情報を、以下では、保存最大値（保存最小値）に関する情報と呼ぶ。なお、ログデータＬｄには、さらに、測定対象装置にエラースタンバイ（測定対象装置に異常が発生したことを原因として測定対象装置がスタンバイ状態に移行すること）が発生した時点における温度および湿度の測定値Ｘを示す情報も含まれていてもよい。
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of log data Ld stored in the
（制御部２０の詳細）
図１を用いて、前述した制御部２０の詳細を説明する。図１に示すように、制御部２０は、データ前処理部２１（データ取得手段）およびデータ管理部２２を含んでいる。
(Details of the control unit 20)
Details of the
データ前処理部２１は、上述したエラー訂正・検出値平滑化処理（図２のＳ２参照）を実行する。すなわち、データ前処理部２１は、データ取得源２による連続するＮ回の検出によって得られたＮ個の検出値の移動平均を計算する。データ前処理部２１は、計算した移動平均を、測定値Ｘとして、データ管理部２２に出力する。
The
データ管理部２２は、上述したログデータ保存処理（図２のＳ３参照）を実行する。すなわち、データ管理部２２は、データ前処理部２１から入力された測定値Ｘのうち、所定のログデータ保存条件を満たす測定値Ｘに関する情報を、ログデータＬｄの一部として、不揮発メモリ４０に保存する。なお、ログデータ保存処理の詳細については後述する。
The
図１に示すように、データ管理部２２は、判定部２２１（特定手段）および保存部２２２（保存手段）を含んでいる。判定部２２１は、閾値判定部２２１ａ、極大極小判定部２２１ｂ、および最大最小判定部２２１ｃで構成されている。判定部２２１は、データ前処理部２１から入力された測定値Ｘ（温度および湿度）が以下の第１のログデータ保存条件１〜３を満たすか否かを判定する。
条件１．測定値Ｘは第１の閾値よりも大きい。
条件２．測定値Ｘは極大値である。
条件３．測定値Ｘは最大値である。
As shown in FIG. 1, the
閾値判定部２２１ａは、第１のログデータ保存条件１に関する判定を行う。極大極小判定部２２１ｂは、第１のログデータ保存条件２に関する判定を行う。また、最大最小判定部２２１ｃは、第１のログデータ保存条件３に関する判定を行う。
The
ここで、上述した第１のログデータ保存条件３に関して、判定部２２１は、測定値Ｘが最後に第１の閾値を超えた後に測定された測定値Ｘの中で、着目している測定値Ｘが最大値であるか否かを判定する。また、最後に第１の閾値を超えた前の測定値Ｘは、第１の閾値より大きい（すなわち第１のログデータ保存条件１を満たす）場合であっても、第１のログデータ保存条件３に関する判定において、最後に第１の閾値を超えた後の測定値Ｘと大小関係を比較するための対象として用いられない。
Here, with respect to the first log
また、判定部２２１は、データ前処理部２１から入力された測定値Ｘ（温度）が以下の３つの条件（第２のログデータ保存条件）を満たすか否かをさらに判定する。
条件Ａ．測定値Ｘは第２の閾値よりも小さい。
条件Ｂ．測定値Ｘは極小値である。
条件Ｃ．測定値Ｘは最小値である。
The
Condition A. The measured value X is smaller than the second threshold value.
Condition B. The measured value X is a local minimum value.
Condition C.I. The measured value X is the minimum value.
閾値判定部２２１ａは、第２のログデータ保存条件Ａに関する判定を行う。極大極小判定部２２１ｂは、第２のログデータ保存条件Ｂに関する判定を行う。また、最大最小判定部２２１ｃは、第２のログデータ保存条件Ｃに関する判定を行う。
The
ここで、上述した第２のログデータ保存条件Ｃに関して、判定部２２１は、最後に第２の閾値を下回った後に測定された測定値Ｘの中で、着目している測定値Ｘが最小値であるか否かを判定する。また、最後に第２の閾値を下回った前の測定値Ｘは、第２の閾値より小さい（すなわち第２のログデータ保存条件Ａを満たす）場合であっても、第２のログデータ保存条件Ｃに関する判定において、最後に第２の閾値を下回った後の測定値Ｘと大小関係を比較するための対象として用いられない。
Here, regarding the second log data storage condition C described above, the
判定部２２１は、第１のログデータ保存条件１〜３に基づく判定の結果（第１の判定結果）、および、第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃに基づく判定の結果（第２の判定結果）を、保存部２２２に出力する。
The
保存部２２２は、測定値Ｘが第１のログデータ保存条件１〜３を満たしていると判定部２２１が判定した場合、不揮発メモリ４０に保存されたログデータＬｄに含まれる保存最大値に関する情報を、測定値Ｘに関する情報で書き換える。換言すれば、測定値Ｘが第１のログデータ保存条件１〜３を満たしている場合、その測定値Ｘは、新たな保存最大値として、不揮発メモリ４０に保存される。
When the
また、保存部２２２は、測定値Ｘが第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃを満たしていると判定部２２１が判定した場合、不揮発メモリ４０に保存された保存最小値に関する情報を、測定値Ｘに関する情報で書き換える。換言すれば、測定値Ｘが第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃを満たしている場合、その測定値Ｘは、新たな保存最小値として、不揮発メモリ４０に保存される。
In addition, when the
以上のように、保存部２２２は、データ前処理部２１から入力された測定値Ｘのうち、第１のログデータ保存条件１〜３または第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃを満たす測定値Ｘのみを、ログデータＬｄとして、不揮発メモリ４０に保存する。
As described above, the
また、保存部２２２は、測定値Ｘが第１のログデータ保存条件１〜３（第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃ）を満たす場合のみ、その測定値Ｘで、ログデータＬｄに含まれる保存最大値（保存最小値）を書き換える。換言すれば、測定値Ｘが第１のログデータ保存条件１〜３（第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃ）の少なくとも１つを満たしていない場合、保存部２２２は、ログデータＬｄに含まれる保存最大値（保存最小値）を書き換えない。例えば、測定値Ｘが時系列に沿って単調に増大している間、最新の測定値Ｘは常に最大値である（条件３を満たす）が、極大値ではない（条件２を満たさない）ので、保存部２２２は、ログデータＬｄに含まれる保存最大値を書き換えない。
In addition, the
それゆえ、データ前処理部２１から入力された全ての測定値Ｘが不揮発メモリ４０に保存される構成と比較して、不揮発メモリ４０に保存されるデータ量を抑制することができる。その結果、ログデータＬｄを保存するために必要な不揮発メモリ４０の容量が、最小限に抑制される。さらに、測定値Ｘが最大値である場合にログデータＬｄに含まれる保存最大値が書き換えられる構成と比較して、ログデータＬｄが書き換えられる頻度を抑制することができる。その結果、ログデータＬｄが保存されている不揮発メモリ４０の寿命が長くなる。
Therefore, the amount of data stored in the
なお、保存部２２２は、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす測定値Ｘを、不揮発メモリ４０に既に保存されている保存最大値に上書きせずに、別の保存最大値として、不揮発メモリ４０に保存してもよい。換言すれば、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす測定値Ｘは、ログデータＬｄが占有する不揮発メモリ４０の記憶領域において、不揮発メモリ４０に既に保存されている保存最大値が保存されている記憶領域とは別の記憶領域に保存されてもよい。
Note that the
上記の構成では、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす全ての測定値Ｘが、ログデータＬｄとして、不揮発メモリ４０に保存される。そのため、ユーザは、不揮発メモリ４０に保存されたログデータＬｄを参照することによって、測定された日時が最も新しい保存最大値だけでなく、測定された日時が古い保存最大値も確認することができる。
In the above configuration, all measured values X satisfying the first log
同様に、保存部２２２は、第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃを満たす測定値Ｘを、不揮発メモリ４０に既に保存されている保存最小値に上書きせずに、他の保存最小値として、不揮発メモリ４０に保存してもよい。
Similarly, the
上記の構成では、ユーザは、不揮発メモリ４０に保存されたログデータＬｄを参照することによって、測定された日時が最も新しい保存最小値だけでなく、測定された日時が古い保存最小値も確認することができる。
In the above-described configuration, the user confirms not only the stored minimum value with the newest measured date and time but also the stored minimum value with the oldest measured date and time by referring to the log data Ld stored in the
図４の（ａ）〜（ｃ）を用いて、保存部２２２によって不揮発メモリ４０に保存されるログデータＬｄの具体例を説明する。図４の（ａ）は、データ前処理部２１によって計算された測定値Ｘ（温度および湿度）の一例を示すグラフである。また、図４の（ｂ）（ｃ）は、図４の（ａ）に破線Ａおよび破線Ｂで示す各時点において、保存部２２２によって保存されるログデータＬｄを示す図である。なお、以下の説明では、温度に関して、第１のログデータ保存条件の第１の閾値Ｔｔｈｕは、４０℃（４０ｄｅｇＣ）であるとする。また、第２のログデータ保存条件の第２の閾値Ｔｔｈｌは、０℃であるとする。また、湿度に関して、第１のログデータ保存条件の第１の閾値Ｈｔｈｕは、８０％であるとする。
A specific example of the log data Ld stored in the
図４の（ａ）において、破線Ａで示す時点（○月△日の１７：００）、および、破線Ｂで示す時点は、測定対象装置にエラースタンバイが発生した時点である。図４の（ｂ）（ｃ）に示すログデータＬｄの一行目には、それぞれ、破線Ａで示す時点、破線Ｂで示す時点における温度および湿度が示されている。 In FIG. 4A, the time point indicated by the broken line A (17:00 of the month Δ day) and the time point indicated by the broken line B are times when an error standby occurs in the measurement target device. The first row of log data Ld shown in FIGS. 4B and 4C shows the temperature and humidity at the time indicated by the broken line A and at the time indicated by the broken line B, respectively.
図４の（ａ）に破線Ａで示す時点以前における温度の中では、○月△日の１３：３０の時点における最高温度（４３℃；その時に湿度は１８％）が、第１のログデータ保存条件１〜３を満たしている。そのため、図４の（ｂ）に示すように、破線Ａで示す時点におけるログデータＬｄには、温度の保存最大値（図３の最高温度）に関する情報として、○月△日の１３：３０における最低温度（−８℃；その時に湿度は４９％）に関する情報が保存されている。同様に、破線Ａで示す時点におけるログデータＬｄには、保存最小値（図３の最低温度）に関する情報として、○月△日の０３：００における温度に関する情報が含まれている。
Among the temperatures before the time indicated by the broken line A in FIG. 4A, the maximum temperature (43 ° C .; the humidity at that time is 18%) at the time of 13:30 on the day of the month △ is the first log data. The
一方、図４の（ａ）に示すように、破線Ａで示す時点以前において、湿度は、第１の閾値Ｈｔｈｕ＝８０％よりも小さい。すなわち、破線Ａで示す時点以前の湿度の中では、第１のログデータ保存条件を満たす湿度は存在しない。そのため、図４の（ｂ）に示すように、破線Ａで示す時点におけるログデータＬｄには、湿度の保存最大値（図３の最高湿度）に関する情報が含まれていない。 On the other hand, as shown in FIG. 4A, before the time indicated by the broken line A, the humidity is smaller than the first threshold value Hthu = 80%. That is, there is no humidity that satisfies the first log data storage condition among the humidity before the time indicated by the broken line A. Therefore, as shown in FIG. 4B, the log data Ld at the time indicated by the broken line A does not include information regarding the maximum storage value of humidity (the maximum humidity in FIG. 3).
図４の（ａ）に破線Ｂで示す時点（○月△日の一日後の０８：００）以前の温度の中では、○月△日の１３：３０における温度と、○月△日の２１：３０における温度とが、第１のログデータ保存条件１および第１のログデータ保存条件２を満している。また、○月△日の１３：３０における温度、および、○月△日の２１：３０における温度は、どちらも４３℃である。しかしながら、○月△日の１３：３０と、破線Ｂで示す時点との間において、温度は、第１の閾値Ｔｔｈｕを一度下回った後で、第１の閾値Ｔｔｈｕ以上の値に回復している。そのため、○月△日の１３：３０における温度は、第１のログデータ保存条件３に関する判定の対象ではない。従って、図４の（ｃ）に示すように、破線Ｂで示す時点におけるログデータＬｄには、温度の保存最大値に関する情報として、○月△日の２１：３０における最高温度（４３℃；その時に湿度は９８％）に関する情報が含まれている。
Among the temperatures before the time indicated by the broken line B in FIG. 4 (a) (08:00 one day after the day of the month △), the temperature at 13:30 of the month △ : 30 at the temperature satisfies the first log
また、図４の（ａ）に示す２つの矢印で挟まれた期間は、図４の（ａ）に破線Ｂで示す時点以前にある。また、これらの矢印で挟まれた期間の湿度は、第１の閾値Ｈｔｈｕ＝８０％以上であるので、第１のログデータ保存条件１を満たしている。また、この期間に含まれる○月△日の２３：３０における湿度は、第１のログデータ保存条件２および３も満たしている。そのため、図４の（ｃ）に示すように、破線Ｂで示す時点におけるログデータＬｄには、湿度の保存最大値に関する情報として、○月△日の２３：３０における最高湿度（９９％；その時に温度は２３℃）に関する情報が含まれている。
Further, the period between the two arrows shown in FIG. 4A is before the time indicated by the broken line B in FIG. Further, the humidity in the period between these arrows is equal to or higher than the first threshold value Hthu = 80%, so that the first log
さらに、制御部２０は、ログデータＬｄに含まれる測定値群（最高温度、最高湿度、および最低温度の各データ）を、表示部（図示せず）の画面に表示してもよい。
Further, the
図５は、ログデータＬｄに含まれる測定値群が表示された画面の一例である。図５において、矢印Ｋ１で示す数字のうち、上の４つの数字は、上から順番に、現在の日時、最高湿度が測定された日時、最高温度が測定された日時、最低温度が測定された日時である。また、矢印Ｋ１で示す数字のうち、下の４つの数字は、測定対象装置にエラースタンバイが発生した日時（下の４つの数字）である。例えば、２０１４０４１６０９００は、２０１４年４月１６日の９時００分を表す。矢印Ｋ２で示す数字は、矢印Ｋ１で示す数字によって特定される時点における湿度の測定値Ｘを表す。矢印Ｋ３で示す数字は、矢印Ｋ１で示す数字によって特定される時点における温度の測定値Ｘを表す。また、矢印Ｋ４で示す数字は、エラーの番号を表す。 FIG. 5 is an example of a screen on which measurement value groups included in the log data Ld are displayed. In FIG. 5, among the numbers indicated by the arrow K1, the upper four numbers indicate the current date and time, the date and time when the highest humidity was measured, the date and time when the highest temperature was measured, and the lowest temperature in order from the top. Date and time. Of the numbers indicated by the arrow K1, the lower four numbers are the date and time (lower four numbers) when an error standby occurred in the measurement target device. For example, 201404160900 represents 9:00 on April 16, 2014. The number indicated by the arrow K2 represents the humidity measurement value X at the time point specified by the number indicated by the arrow K1. The number indicated by the arrow K3 represents the temperature measurement value X at the time specified by the number indicated by the arrow K1. The number indicated by the arrow K4 represents an error number.
（ログデータ保存処理Ｉの流れ；最高温度を不揮発メモリに保存する場合）
図７を補助的に参照しつつ、図６を用いて、データ管理部２２の判定部２２１および保存部２２２によって実行されるログデータ保存処理Ｉの流れを説明する。図６は、ログデータ保存処理Ｉの流れを示すフローチャートである。また、図７は、データ前処理部２１によって計算された温度の測定値Ｘの一例を示すグラフである。
(Log data storage process I flow; when storing the maximum temperature in non-volatile memory)
The flow of the log data storage process I executed by the
ここでは、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす温度の測定値Ｘが、温度の保存最大値として、不揮発メモリ４０に保存される場合のログデータ保存処理Ｉを説明する。
Here, the log data storage process I when the measured value X of the temperature satisfying the first log
図６に示すように、ログデータ保存処理Ｉでは、まず、判定部２２１は、変数Ｘｎ−１および変数Ｘｍａｘに初期値０ｘ００を代入することによって、変数Ｘｎ−１および変数Ｘｍａｘを初期化する（Ｓ１０）。変数Ｘｎ−１および変数Ｘｍａｘは、一時記憶部３０に保存される。変数Ｘｎ−１および変数Ｘｍａｘの初期値０ｘ００は、測定値Ｘが取り得る最小の値（例えば、−４０℃）に設定される。図７に示すように、測定値Ｘが初めて第１の閾値Ｔｔｈｕ以上となる時点Ｔ１２よりも以前において、変数Ｘｍａｘは初期値０ｘ００である。
As shown in FIG. 6, in the log data storage process I, first, the
ここで、図６に示すフローチャートから分かるように、変数Ｘｎ−１は、着目する測定値Ｘが測定された測定の一回前の測定で測定された測定値Ｘを表す。換言すれば、変数Ｘｎ−１は、着目する測定値Ｘが測定された日時よりも前に測定された測定値Ｘのうち、着目する測定値Ｘが測定された日時に最も近い日時に測定された測定値Ｘを表す。測定値日時にまた、変数Ｘｍａｘは、測定値Ｘが最後に第１の閾値Ｔｔｈｕ以上になった後に測定された測定値Ｘの中の最大値を表す。測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕより小さい場合、変数Ｘｍａｘには初期値０ｘ００が代入される。 Here, as can be seen from the flowchart shown in FIG. 6, the variable Xn−1 represents the measurement value X measured in the measurement immediately before the measurement in which the measurement value X of interest is measured. In other words, the variable Xn-1 is measured at the date and time closest to the date and time when the target measurement value X was measured among the measurement values X measured before the date and time when the target measurement value X was measured. Represents the measured value X. In addition to the measurement date and time, the variable Xmax represents the maximum value among the measurement values X measured after the measurement value X has finally reached or exceeded the first threshold value Tthu. When the measured value X is smaller than the first threshold value Tthu, the initial value 0x00 is substituted for the variable Xmax.
Ｓ１０の後、判定部２２１の閾値判定部２２１ａは、データ前処理部２１から測定値Ｘを取得し（Ｓ２０）、取得した測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕ以上である（Ｘ≧Ｔｔｈｕ）か否かを判定する（Ｓ３０）。測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕ以上ではない場合（Ｓ３０でＮｏ）、判定部２２１の最大最小判定部２２１ｃは、変数Ｘｍａｘに初期値０ｘ００を代入する（Ｓ４１）。その後、ログデータ保存処理Ｉは、後述するＳ６０に進む。図７に示すように、時点Ｔ１６およびＴ１９において、測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕを下回るので、変数Ｘｍａｘには初期値０ｘ００が代入される。測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕよりも小さい間、変数Ｘｍａｘは初期値０ｘ００のままである。
After S10, the
Ｓ３０において、測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕ以上である場合（Ｓ３０でＹｅｓ）、判定部２２１の最大最小判定部２２１ｃは、測定値Ｘが変数Ｘｍａｘよりも大きい（Ｘ＞Ｘｍａｘ）か否かを判定する（Ｓ４２）。測定値Ｘが変数Ｘｍａｘよりも大きい場合（Ｓ４２でＹｅｓ）、判定部２２１の最大最小判定部２２１ｃは、一時記憶部３０に保存されている変数Ｘｍａｘに測定値Ｘを代入する（Ｓ５０）。図７に示すように、時点Ｔ１２およびＴ１７において、測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕ以上になるので、変数Ｘｍａｘは測定値Ｘに等しくなる。
In S30, when the measurement value X is equal to or greater than the first threshold Tthu (Yes in S30), the maximum /
Ｓ５０またはＳ４１の後、判定部２２１は、（ｉ）変数Ｘｎ−１が第１の閾値Ｔｔｈｕ以上であり、かつ（ｉｉ）測定値Ｘが変数Ｘｎ−１よりも小さく、かつ（ｉｉｉ）変数Ｘｎ−１が変数Ｘｍａｘに等しいか否かを判定する（Ｓ６０）。ここで、上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）の判定条件は、第１のログデータ保存条件１〜３に対応する。ただし、上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）の判定条件における変数Ｘｎ−１が、第１のログデータ保存条件１〜３における測定値Ｘに対応する。
After S50 or S41, the
閾値判定部２２１ａは、上記（ｉ）の判定条件に基づく判定を行う。極大極小判定部２２１ｂは、上記（ｉｉ）の判定条件に基づく判定を行う。また、最大最小判定部２２１ｃは、上記（ｉｉｉ）の判定条件に基づく判定を行う。
The
図７に示すように、時点Ｔ１２〜Ｔ１６の間、および時点Ｔ１７〜Ｔ１９の間、測定値Ｘは第１の閾値Ｔｔｈｕ以上である。そのため、時点Ｔ１２〜Ｔ１６の間の測定値Ｘ、および、時点Ｔ１７〜Ｔ１９の間の測定値Ｘは、第１のログデータ保存条件１（上記（ｉ）の判定条件に対応）を満たす。また、図７において、符号Ｖ１１〜Ｖ１５は、測定値Ｘの極大値を示している。そのため、時点Ｔ１１、Ｔ１３、Ｔ１４、Ｔ１５、およびＴ１８における測定値Ｘ＝Ｖ１１〜Ｖ１５は、第１のログデータ保存条件２（上記（ｉｉ）の判定条件に対応）を満たす。さらに、時点Ｔ１３およびＴ１４における測定値Ｘは、測定値Ｘが最後に第１の閾値Ｔｔｈｕ以上になった時点Ｔ１２よりも後に測定された測定値Ｘの中の最大値である。また、時点Ｔ１８における測定値Ｘは、測定値Ｘが最後に第１の閾値Ｔｔｈｕ以上になった時点Ｔ１７よりも後に測定された測定値Ｘの中の最大値である。ゆえに、時点Ｔ１３、Ｔ１４、およびＴ１８における測定値Ｘは、第１のログデータ保存条件３（上記（ｉｉｉ）の判定条件に対応）を満たす。従って、図７において、時点Ｔ１３、Ｔ１４、およびＴ１８における測定値Ｘ（＝変数Ｘｍａｘ）は、第１のログデータ保存条件１〜３、および上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）の判定条件を全て満たす。
As shown in FIG. 7, the measured value X is equal to or greater than the first threshold value Tthu between time points T12 and T16 and between time points T17 and T19. Therefore, the measurement value X between the time points T12 and T16 and the measurement value X between the time points T17 and T19 satisfy the first log data storage condition 1 (corresponding to the determination condition (i) above). In FIG. 7, reference signs V <b> 11 to V <b> 15 indicate maximum values of the measurement value X. Therefore, the measured values X = V11 to V15 at time points T11, T13, T14, T15, and T18 satisfy the first log data storage condition 2 (corresponding to the determination condition (ii) above). Furthermore, the measurement value X at the time points T13 and T14 is the maximum value among the measurement values X measured after the time point T12 when the measurement value X finally became equal to or greater than the first threshold value Tthu. The measured value X at time T18 is the maximum value among the measured values X measured after time T17 when the measured value X finally became equal to or greater than the first threshold Tthu. Therefore, the measurement value X at the time points T13, T14, and T18 satisfies the first log data storage condition 3 (corresponding to the determination condition (iii) above). Accordingly, in FIG. 7, the measurement value X (= variable Xmax) at time points T13, T14, and T18 satisfies all the first log
図６において、（ｉ）測定値Ｘが変数Ｘｎ−１よりも小さく、かつ（ｉｉ）変数Ｘｎ−１が変数Ｘｍａｘに等しく、かつ（ｉｉｉ）変数Ｘｎ−１が第１の閾値Ｔｔｈｕ以上である場合（Ｓ６０でＹｅｓ）、保存部２２２は、変数Ｘｎ−１の値を、保存最大値として、不揮発メモリ４０に保存する（Ｓ７０）。前述したように、図７において、時点Ｔ１３、Ｔ１４、およびＴ１８における測定値Ｘは、上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）の判定条件を全て満たす。そのため、不揮発メモリ４０の保存最大値は、上記の各時点において、測定値Ｘが代入された変数Ｘｍａｘ（図６のＳ５０参照）で書き換えられる。図７中、破線の丸印は、不揮発メモリ４０に保存された温度の保存最大値が書き換えられるタイミングを示す。
In FIG. 6, (i) the measured value X is smaller than the variable Xn-1, (ii) the variable Xn-1 is equal to the variable Xmax, and (iii) the variable Xn-1 is equal to or greater than the first threshold value Tthu. In the case (Yes in S60), the
ただし、測定値Ｘが上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）の判定条件を満たす場合であっても、組み込み装置１が起動してから所定時間が経過していない場合、保存部２２２は、Ｓ７０において、不揮発メモリ４０に保存された保存最大値を書き換えない。ここで、上記所定時間は、少なくとも、組み込み装置１が起動した時点から、エラー訂正・検出値平滑化処理において、検出値から測定値Ｘが計算される時点までの期間よりも長い。
However, even when the measurement value X satisfies the determination conditions (i) to (iii) above, if the predetermined time has not elapsed since the embedded
また、温度の測定値Ｘは、測定対象装置が備えたＣＰＵが発する熱の影響を受ける可能性がある。そのような場合を考慮して、測定値Ｘが上記（ｉ）〜（ｉｉｉ）の判定条件を満たす場合であっても、以下の場合には、保存部２２２は、Ｓ７０において、不揮発メモリ４０に保存された保存最大値を書き換えないように制御することが好ましい。
１．測定対象装置が備えたＣＰＵの電源がオンである場合。
２．測定対象装置が備えたＣＰＵの電源がオフになってから、所定時間（例えば２時間）が経過していない場合。
Further, the temperature measurement value X may be affected by the heat generated by the CPU provided in the measurement target device. Considering such a case, even if the measurement value X satisfies the determination conditions (i) to (iii) above, the
1. The CPU of the measurement target device is turned on.
2. When a predetermined time (for example, 2 hours) has not elapsed since the power of the CPU included in the measurement target device was turned off.
最後に、判定部２２１は、一時記憶部３０に保存されている変数Ｘｎ−１に測定値Ｘを代入する（Ｓ８０）。その後、ログデータ保存処理Ｉは、判定部２２１がデータ前処理部２１から測定値Ｘを取得するステップ（Ｓ２０）に戻る。以後、データ管理部２２は、上述したＳ２０〜Ｓ８０までのステップを繰り返す。
Finally, the
（ログデータ保存処理ＩＩ；最低温度を不揮発メモリに保存する場合）
図８を用いて、第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃを満たす温度の測定値Ｘが、保存最小値として、不揮発メモリ４０に保存される場合のログデータ保存処理ＩＩを説明する。図８は、データ前処理部２１によって計算される温度の測定値Ｘの他の例を示すグラフである。
(Log data saving process II; when saving the minimum temperature in nonvolatile memory)
The log data storage process II in the case where the measured value X of the temperature that satisfies the second log data storage conditions A to C is stored in the
最低温度を不揮発メモリ４０に保存する場合のログデータ保存処理ＩＩは、以下の３点で、最高温度を不揮発メモリ４０に保存する場合のログデータ保存処理Ｉと相違する。
The log data storage process II when the minimum temperature is stored in the
第１に、変数Ｘｍａｘの代わりに、変数Ｘｍｉｎが用いられる。最低温度を不揮発メモリ４０に保存する場合のログデータ保存処理ＩＩにおいて、変数Ｘｍｉｎは、測定値Ｘが最後に第２の閾値Ｔｔｈｌ以下になった後に測定された測定値Ｘの中の最小値を表す。第２に、変数Ｘｎ−１および変数Ｘｍｉｎの初期値０ｘＦＦは、測定値Ｘが取り得る最大の値（例えば、１００℃）に設定される。第３に、図６のＳ３０、Ｓ４２、およびＳ６０に示す不等号の向きが逆である。
First, a variable Xmin is used instead of the variable Xmax. In the log data storage process II in the case where the minimum temperature is stored in the
具体的には、最低温度を不揮発メモリ４０に保存する場合のログデータ保存処理ＩＩでは、図６に示すフローチャートにおいて、判定部２２１の閾値判定部２２１ａは、測定値Ｘが第１の閾値Ｔｔｈｕ以上である（Ｘ≧Ｔｔｈｕ）か否かを判定する（Ｓ３０）の代わりに、測定値Ｘが第２の閾値Ｔｔｈｌ以下である（Ｘ≦Ｔｔｈｌ）か否かを判定する。また、判定部２２１の最大最小判定部２２１ｃは、測定値Ｘが変数Ｘｍａｘよりも大きい（Ｘ＞Ｘｍａｘ）か否かを判定する（Ｓ４２）代わりに、測定値Ｘが変数Ｘｍｉｎよりも小さい（Ｘ＜Ｘｍｉｎ）か否かを判定する。
Specifically, in the log data storage process II when the minimum temperature is stored in the
さらに、判定部２２１は、（ｉ）変数Ｘｎ−１が第１の閾値Ｔｔｈｕ以上であり、かつ（ｉｉ）測定値Ｘが変数Ｘｎ−１よりも小さく、かつ（ｉｉｉ）変数Ｘｎ−１が変数Ｘｍａｘに等しいか否かを判定する（Ｓ６０）代わりに、（ａ）変数Ｘｎ−１が第２の閾値Ｔｔｈｌ以下であり、かつ（ｂ）測定値Ｘが変数Ｘｎ−１よりも大きく、かつ（ｃ）変数Ｘｎ−１が変数Ｘｍｉｎに等しいか否かを判定する。上記の（ａ）〜（ｃ）の判定条件は、第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃに対応する。ただし、上記（ａ）〜（ｃ）の判定条件における変数Ｘｎ−１が、第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃにおける測定値Ｘに対応する。
Furthermore, the
閾値判定部２２１ａは、上記（ａ）の判定条件に基づく判定を行う。極大極小判定部２２１ｂは、上記（ｂ）の判定条件に基づく判定を行う。また、最大最小判定部２２１ｃは、上記（ｃ）の判定条件に基づく判定を行う。
The
図８において、時点Ｔ２１〜Ｔ２３における測定値Ｘ＝Ｖ２１〜Ｖ２３は、上記の（ａ）〜（ｃ）の判定条件をすべて満たす。そのため、上記の各時点において、測定値Ｘ＝Ｖ２１〜Ｖ２３が、保存最小値として、不揮発メモリ４０に保存される。図８中、破線の丸印は、不揮発メモリ４０に保存された保存最小値が書き換えられるタイミングを示す。
In FIG. 8, measured values X = V21 to V23 at time points T21 to T23 satisfy all the determination conditions (a) to (c). Therefore, at each time point described above, the measured values X = V21 to V23 are stored in the
〔実施形態２〕
本発明の他の実施形態について、図９を用いて、以下に説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 2]
Another embodiment of the present invention will be described below with reference to FIG. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the embodiment are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.
前記実施形態１では、最高温度および最低温度を不揮発メモリ４０に保存する場合のログデータ保存処理Ｉ・ＩＩを説明した。本実施形態２では、最高湿度を不揮発メモリ４０に保存する場合のログデータ保存処理ＩＩＩを説明する。
In the first embodiment, the log data storage processing I and II when the maximum temperature and the minimum temperature are stored in the
ログデータ保存処理ＩＩＩにおいて、保存部２２２は、前記実施形態１で説明したログデータ保存処理Ｉと同様に、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす測定値Ｘに関する情報を、ログデータＬｄとして、不揮発メモリ４０に保存する。加えて、ログデータ保存処理ＩＩＩにおいて、保存部２２２は、以下で説明するように、測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上となった時点において、その測定値Ｘに関する情報を、ログデータＬｄとは別のデータ（以下では、第２のログデータと呼ぶ）として、不揮発メモリ４０にさらに保存する。
In the log data storage process III, the
（ログデータ保存処理ＩＩＩ；最高湿度を保存する場合）
図９を用いて、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす湿度の測定値Ｘが、湿度の保存最大値として、不揮発メモリ４０に保存される場合のログデータ保存処理ＩＩＩを説明する。図９は、データ前処理部２１によって計算される湿度の測定値Ｘの一例を示すグラフである。図９中、破線の丸印は、測定値Ｘが第１のログデータ保存条件１〜３を満たし、不揮発メモリ４０に保存された湿度の保存最大値が測定値Ｘで書き換えられるタイミングを示す。
(Log data storage process III; when storing the maximum humidity)
With reference to FIG. 9, the log data storage process III when the measured humidity value X satisfying the first log
湿度には、温度とは異なり、１００％という上限値があるので、湿度の測定値Ｘは、１００％である状態が継続する（すなわち、測定値Ｘが１００％に張り付く）場合がある。図９では、一部の期間、湿度の測定値Ｘは１００％である。 Unlike the temperature, the humidity has an upper limit value of 100%. Therefore, the humidity measurement value X may continue to be 100% (that is, the measurement value X sticks to 100%). In FIG. 9, the measured value X of humidity is 100% during a part of the period.
ところが、上記の期間、測定値Ｘは極大値ではないので、その測定値Ｘは第１のログデータ保存条件２を満たさない。従って、湿度の測定値Ｘが１００％から１００％より小さい値に低下する時点まで、不揮発メモリ４０には、測定値Ｘ＝１００％保存された保存最大値は書き換えられない。湿度の測定値Ｘが１００％から１００％より小さい値に低下する時点において、その時点を示す情報が、ログデータＬｄとして、不揮発メモリ４０に保存される。
However, since the measurement value X is not a maximum value during the above period, the measurement value X does not satisfy the first log
一方、湿度の測定値Ｘが１００％に達した時点における測定値Ｘは第１のログデータ保存条件１〜３を満たさないので、その時点を示す情報は、ログデータＬｄとして、不揮発メモリ４０に保存されない。しかし、測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕに達した時点を示す情報は、測定対象装置の周囲の湿度が第１の閾値Ｈｔｈｕ以上であった期間をユーザが確認する上で有用な情報であるから、不揮発メモリ４０に保存されることが望ましい。
On the other hand, since the measured value X when the measured value X of humidity reaches 100% does not satisfy the first log
そこで、ログデータ保存処理ＩＩＩでは、保存部２２２は、測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上となったとき、その時点を示す情報を、第２のログデータとしてとして、不揮発メモリ４０に保存する。より詳細には、保存部２２２は、着目する測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上であり、かつ、着目する測定値Ｘが測定された測定の一回前の測定で測定された測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕよりも小さい場合、着目する測定値Ｘが測定された時点を示す情報を不揮発メモリ４０に保存する。
Therefore, in the log data storage process III, the
具体的には、保存部２２２は、湿度の測定値Ｘが以下の条件αを満たす場合、その測定値Ｘが測定された時点を示す情報を、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存する。なお、保存部２２２は、以下の条件αを満たす測定値Ｘを、その測定値Ｘが測定された時点と関連付けて、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存してもよい。
Specifically, when the humidity measurement value X satisfies the following condition α, the
［条件α］Ｘ≧Ｈｔｈｕ かつ Ｘｎ−１＜Ｈｔｈｕ
図９では、時点Ｔ３１およびＴ３２において、測定値Ｘは第１の閾値Ｈｔｈｕ以上である。また、上記の各時点の直前において、測定値Ｘは第１の閾値Ｈｔｈｕよりも小さいので、変数Ｘｎ−１には第１の閾値Ｈｔｈｕよりも小さい値が代入されている（図６のＳ８０）。そのため、時点Ｔ３１およびＴ３２において、保存部２２２は、時点Ｔ３１およびＴ３２における測定値Ｘに関する情報を、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存する。図９中、破線の三角印は、測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上となり、不揮発メモリ４０に第２のログデータが保存されるタイミングを示す。
[Condition α] X ≧ Hthu and Xn−1 <Hthu
In FIG. 9, at the time points T31 and T32, the measurement value X is greater than or equal to the first threshold value Hthu. Further, immediately before each time point, the measured value X is smaller than the first threshold value Htu, and therefore, a value smaller than the first threshold value Hthu is substituted for the variable Xn−1 (S80 in FIG. 6). . Therefore, at time points T31 and T32, the
なお、条件αを満たす測定値Ｘは、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす測定値Ｘとは異なる性質を有する。ログデータＬｄに保存されている保存最大値も、第１のログデータ保存条件１〜３を満たすので、条件αを満たす測定値Ｘは、保存最大値とも異なる性質を有する。そのため、保存部２２２は、第２のログデータを、ログデータＬｄが占有する記憶領域とは別の記憶領域に保存することが望ましい。
The measurement value X that satisfies the condition α has a different property from the measurement value X that satisfies the first log
以上のように、ログデータ保存処理ＩＩＩでは、湿度の測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上となったとき、測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上となった日時を示す情報が、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存される。そのため、ユーザは、不揮発メモリ４０に保存された第２のログデータを参照することによって、湿度の測定値Ｘが第１の閾値Ｈｔｈｕ以上となった日時を確認することができる。
As described above, in the log data storage process III, when the measured value X of the humidity becomes equal to or higher than the first threshold value Hthu, information indicating the date and time when the measured value X becomes equal to or higher than the first threshold value Hth Log data is stored in the
また、本実施形態２の一変形例では、測定値Ｘが所定値Ｋｔｈｕ（≧Ｈｔｈｕ）以上となったとき、保存部２２２は、その時点における測定値Ｘに関する情報を、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存してもよい。具体的には、保存部２２２は、測定値Ｘが以下の条件α´を満たす場合、その測定値Ｘに関する情報を、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存してもよい。
Further, in a modification of the second embodiment, when the measurement value X is equal to or greater than the predetermined value Kthu (≧ Hthu), the
［条件α´］Ｘ≧Ｋｔｈｕ かつ Ｘｎ−１＜Ｋｔｈｕ
なお、前記実施形態１で説明したログデータ保存処理Ｉにおいても、測定値Ｘが所定値（≧第１の閾値）以上となったとき、保存部２２２は、その時点における測定値Ｘに関する情報を、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存してもよい。
[Condition α ′] X ≧ Kthu and Xn−1 <Kthu
Note that also in the log data storage process I described in the first embodiment, when the measurement value X is equal to or greater than a predetermined value (≧ first threshold), the
さらに、ログデータ保存処理ＩＩにおいても、測定値Ｘが所定値（≦第２の閾値Ｔｔｈｌ）以下となったとき、保存部２２２は、その時点における測定値Ｘに関する情報を、第２のログデータとして、不揮発メモリ４０に保存してもよい。
Further, also in the log data storage process II, when the measurement value X becomes equal to or less than a predetermined value (≦ second threshold value Tthl), the
〔実施形態３〕
本発明の他の実施形態について、以下に説明する。なお、説明の便宜上、前記実施形態にて説明した部材と同じ機能を有する部材については、同じ符号を付記し、その説明を省略する。
[Embodiment 3]
Another embodiment of the present invention will be described below. For convenience of explanation, members having the same functions as those described in the embodiment are given the same reference numerals, and descriptions thereof are omitted.
前記実施形態２で説明したように、湿度の測定値Ｘが、湿度の上限値である１００％である状態が継続している（１００％に貼り付いた）間、不揮発メモリ４０に保存された保存最大値は書き換えられない。一方、温度には、湿度の１００％のような上限値は存在しない。しかしながら、一般的には、温度の測定値Ｘにも、データ取得源２の性能に依存する上限値が存在する。
As described in the second embodiment, the humidity measurement value X is stored in the
そこで、本実施形態３では、温度または湿度の測定値Ｘが、測定値Ｘが取り得る上限値Ｘｓ−ｍａｘ（＞Ｔｔｈｕ）に達したとき、保存部２２２は、その時点における測定値Ｘ＝Ｘｓ−ｍａｘに関する情報を不揮発メモリ４０に保存する。具体的には、保存部２２２は、以下の条件βを満たす測定値Ｘを不揮発メモリ４０に保存する。
Therefore, in the third embodiment, when the measured value X of temperature or humidity reaches the upper limit value Xs−max (> Tthu) that the measured value X can take, the
［条件β］Ｘ＝Ｘｓ−ｍａｘ かつ Ｘｎ−１＜Ｘｓ−ｍａｘ
上記の構成では、測定値Ｘが上限値Ｘｓ−ｍａｘになったとき、その時点における測定値Ｘが、不揮発メモリ４０に保存される。また、測定値Ｘが上限値Ｘｓ−ｍａｘとなった日時を示す情報も、不揮発メモリ４０に保存される。そのため、ユーザは、不揮発メモリ４０に保存された上記データを参照することによって、測定値Ｘが上限値Ｘｓ−ｍａｘ以上となった日時を確認することができる。
[Condition β] X = Xs-max and Xn-1 <Xs-max
In the above configuration, when the measurement value X reaches the upper limit value Xs−max, the measurement value X at that time is stored in the
あるいは、保存部２２２は、以下の条件γを満たす測定値Ｘを不揮発メモリ４０に保存してもよい。
Alternatively, the
［条件γ］Ｘ≧ Ｔｔｈｕ かつ Ｘｎ−１＝Ｘ かつ Ｘｎ−２＜Ｘ
ここで、Ｘｎ−２は、測定値Ｘが測定された測定の前々回の測定で測定された測定値Ｘである。なお、条件γにおいて、Ｘｎ−２は、測定値Ｘが測定された測定の前々回の測定で測定された測定値Ｘではなく、測定値Ｘが測定された測定のｍ回前（ｍは３以上の任意の数）の測定で測定された測定値Ｘを表す変数であってもよい。この構成では、保存部２２２は、条件γに代えて、Ｘ≧ ＴｔｈｕかつＸｎ−１＝ＸかつＸｎ−２＝Ｘ・・・かつＸｎ−（ｍ−１）＝ＸかつＸｎ−ｍ＜Ｘという条件を満たす測定値Ｘを不揮発メモリ４０に保存する。
[Condition γ] X ≧ Tthu and Xn−1 = X and Xn−2 <X
Here, Xn-2 is the measurement value X measured in the measurement before the measurement in which the measurement value X is measured. Note that, in the condition γ, Xn-2 is not the measurement value X measured in the previous measurement before the measurement value X was measured, but m times before the measurement in which the measurement value X was measured (m is 3 or more) It may be a variable representing the measurement value X measured by any number of measurements. In this configuration, the
上記の構成では、測定値Ｘが所定値である状態が所定期間継続したとき、その時点における測定値Ｘが不揮発メモリ４０に保存される。また、ログデータＬｄには、測定値Ｘが所定値である状態が所定期間継続した日時を示す情報も不揮発メモリ４０に保存される。そのため、ユーザは、不揮発メモリ４０に保存された上記データを参照することによって、測定値Ｘが所定値である状態が所定期間継続した日時を確認することができる。
In the above configuration, when the state where the measurement value X is a predetermined value continues for a predetermined period, the measurement value X at that time is stored in the
なお、条件βまたは条件γを満たす測定値Ｘは、第１のログデータ保存条件１〜３を満たす保存最大値、および、第２のログデータ保存条件Ａ〜Ｃを満たす保存最小値のどちらとも異なる性質を有する。そのため、保存部２２２は、条件βまたは条件γを満たす測定値Ｘを、ログデータＬｄが占有する記憶領域とは別の記憶領域に保存することが望ましい。
Note that the measured value X that satisfies the condition β or the condition γ is both the maximum storage value that satisfies the first log
〔ソフトウェアによる実現例〕
組み込み装置１の制御部２０（特に判定部２２１および保存部２２２）は、集積回路（ＩＣチップ）等に形成された論理回路（ハードウェア）によって実現してもよいし、ＣＰＵ（Central Processing Unit）を用いてソフトウェアによって実現してもよい。
[Example of software implementation]
The control unit 20 (in particular, the
後者の場合、組み込み装置１は、各機能を実現するソフトウェアであるプログラムの命令を実行するＣＰＵ、上記プログラムおよび各種データがコンピュータ（またはＣＰＵ）で読み取り可能に記録されたＲＯＭ（Read Only Memory）または記憶装置（これらを「記録媒体」と称する）、上記プログラムを展開するＲＡＭ（Random Access Memory）などを備えている。そして、コンピュータ（またはＣＰＵ）が上記プログラムを上記記録媒体から読み取って実行することにより、本発明の目的が達成される。上記記録媒体としては、「一時的でない有形の媒体」、例えば、テープ、ディスク、カード、半導体メモリ、プログラマブルな論理回路などを用いることができる。また、上記プログラムは、該プログラムを伝送可能な任意の伝送媒体（通信ネットワークや放送波等）を介して上記コンピュータに供給されてもよい。なお、本発明は、上記プログラムが電子的な伝送によって具現化された、搬送波に埋め込まれたデータ信号の形態でも実現され得る。
In the latter case, the embedded
〔まとめ〕
本発明の態様１に係るデータ保存装置（組み込み装置１）は、時系列の測定値のデータのうち、上記測定値が第１の閾値以上となった時点から、上記測定値が次に上記第１の閾値よりも小さくなる時点までの測定値のデータの中で、該測定値が最大値でありかつ極大値であるという条件を満たす測定値のデータを特定する特定手段（判定部２２１）と、上記特定手段が特定した測定値のデータを記憶装置（不揮発メモリ４０）に保存する保存手段（保存部２２２）と、を備えている。
[Summary]
In the data storage device (embedded device 1) according to the first aspect of the present invention, from the time point when the measured value becomes equal to or more than the first threshold among the data of the time series measured value, the measured value is Identifying means (determination unit 221) for identifying measurement value data satisfying a condition that the measurement value is a maximum value and a maximum value among the measurement value data up to a time point when the value becomes smaller than one threshold value; And a storage unit (storage unit 222) for storing the data of the measurement value specified by the specifying unit in a storage device (nonvolatile memory 40).
上記の構成によれば、測定値が第１の閾値以上となった時点から、上記測定値が次に第１の閾値よりも小さくなる時点までの測定値のデータの中で、最大値かつ極大値であるという条件を満たす測定値のデータのみが、記憶装置に保存される。例えば、測定値が単調に増大している間または測定値が取り得る上限値に達している間、最新の測定値は常に最大値であるが、極大値ではないので、上記条件は満たされず、測定値は記憶装置に保存されない。 According to the above configuration, the maximum value and the maximum value of the measured value data from the time when the measured value becomes equal to or greater than the first threshold to the time when the measured value becomes smaller than the first threshold next time. Only measurement value data that satisfies the condition of value is stored in the storage device. For example, the latest measurement value is always the maximum value while the measurement value is increasing monotonically or reaching the upper limit that the measurement value can take, but it is not a maximum value, so the above condition is not satisfied, The measured value is not stored in the storage device.
そのため、全ての測定値のデータが記憶に保存される構成と比較して、記憶装置に保存されるデータ量を抑制することができる。その結果、測定値のデータを保存するために必要な記憶装置の容量が減少する。特に、記憶装置がＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリ等の小容量な不揮発メモリである場合であっても、測定値のデータを記憶装置に保存することができる。また、記憶装置に保存された測定値のデータが書き換えられる頻度を抑制することができる。そのため、特に、記憶装置がデータの書き換え可能回数に上限を有する不揮発メモリである場合、記憶装置の寿命が長くなる。 Therefore, the amount of data stored in the storage device can be suppressed as compared with a configuration in which data of all measurement values is stored in the storage. As a result, the capacity of the storage device required to store the measured value data is reduced. In particular, even when the storage device is a small-capacity nonvolatile memory such as an EEPROM or a flash memory, the measurement value data can be stored in the storage device. In addition, the frequency of rewriting the measurement value data stored in the storage device can be suppressed. Therefore, in particular, when the storage device is a nonvolatile memory having an upper limit on the number of times data can be rewritten, the life of the storage device is prolonged.
本発明の態様２に係るデータ保存装置（組み込み装置１）は、上記態様１において、上記保存手段（保存部２２２）は、上記測定値が上記第１の閾値以上に設定された所定値以上の値となった時点を示すデータを上記記憶装置（不揮発メモリ４０）にさらに保存してもよい。
The data storage device (embedded device 1) according to
上述したように、測定値が単調に増大している間、または、測定値が取り得る上限値に達している間、最新の測定値は常に最大値であるが、極大値ではないので、上記条件は満たされず、測定値は記憶装置に保存されない。 As described above, while the measured value is increasing monotonically or reaching the upper limit that the measured value can take, the latest measured value is always the maximum value, but not the maximum value. The condition is not met and the measured value is not stored in the storage device.
しかしながら、上記の構成によれば、測定値が所定値以上となった時点を示すデータが、記憶装置に保存される。そのため、ユーザは、記憶装置に保存されたデータを参照することによって、少なくとも、測定値が所定値以上となったことと、所定値以上の測定値が測定された時点とを知ることができる。 However, according to the above configuration, data indicating a point in time when the measured value is equal to or greater than the predetermined value is stored in the storage device. Therefore, the user can know at least that the measured value is equal to or greater than the predetermined value and the point in time when the measured value equal to or greater than the predetermined value is measured by referring to the data stored in the storage device.
本発明の態様３に係るデータ保存装置（組み込み装置１）は、上記態様１または２において、上記保存手段（保存部２２２）は、上記測定値が取り得る上限値に達した時点を示すデータを上記記憶装置（不揮発メモリ４０）にさらに保存してもよい。
In the data storage device (embedded device 1) according to
上述したように、測定値が単調に増大している間または測定値が取り得る上限値に達している間、最新の測定値は常に最大値であるが、極大値ではないので、上記条件は満たされず、測定値は記憶装置に保存されない。 As mentioned above, while the measured value is increasing monotonically or reaching the upper limit that the measured value can take, the latest measured value is always the maximum value, but not the maximum value, so the above condition is It is not satisfied and the measured value is not stored in the storage device.
しかしながら、上記の構成によれば、測定値が取り得る上限値に達した時点を示すデータが、記憶装置に保存される。そのため、ユーザは、記憶装置に保存されたデータを参照することによって、少なくとも、上記測定値が取り得る上限値に達したことと、上限値の測定値が測定された時点とを知ることができる。 However, according to the above configuration, the data indicating the time point when the measured value reaches the upper limit that can be taken is stored in the storage device. Therefore, by referring to the data stored in the storage device, the user can know at least that the upper limit value that can be taken by the measurement value has been reached and when the measurement value of the upper limit value was measured. .
本発明の態様４に係るデータ保存装置（組み込み装置１）は、上記態様１〜３のいずれかにおいて、上記保存手段（保存部２２２）は、上記測定値が、上記第１の閾値以上の任意の値に等しい状態が所定期間継続した時点を示すデータを上記記憶装置（不揮発メモリ４０）にさらに保存してもよい。
The data storage device (embedded device 1) according to
上述したように、測定値が単調に増大している間または測定値が取り得る上限値に達している間、最新の測定値は常に最大値であるが、極大値ではないので、上記条件は満たされず、測定値は記憶装置に保存されない。 As mentioned above, while the measured value is increasing monotonically or reaching the upper limit that the measured value can take, the latest measured value is always the maximum value, but not the maximum value, so the above condition is It is not satisfied and the measured value is not stored in the storage device.
しかしながら、上記の構成によれば、測定値が所定値である状態が所定期間継続した時点を示すデータが、記憶装置に保存される。そのため、ユーザは、記憶装置に保存されたデータを参照することによって、少なくとも、測定値が所定値である状態が所定期間継続したことと、所定値の測定値が測定された時点とを知ることができる。 However, according to the above configuration, data indicating a point in time when the state where the measurement value is the predetermined value continues for a predetermined period is stored in the storage device. Therefore, by referring to the data stored in the storage device, the user knows at least that the state in which the measurement value is a predetermined value has continued for a predetermined period and the point in time when the measurement value of the predetermined value is measured. Can do.
本発明の態様５に係るデータ保存装置（組み込み装置１）は、時系列の測定値のデータのうち、上記測定値が第２の閾値以下となった時点から、上記測定値が次に上記第２の閾値よりも大きくなる時点までの測定値のデータの中で、該測定値が最小値でありかつ極小値であるという条件を満たす測定値のデータを特定する特定手段（判定部２２１）と、上記特定手段が特定した測定値のデータを記憶装置（不揮発メモリ４０）に保存する保存手段（保存部２２２）と、を備えている。 In the data storage device (embedded device 1) according to the fifth aspect of the present invention, from the time point when the measured value becomes less than or equal to the second threshold value among the time-series measured value data, the measured value is the second value. A specifying means (determination unit 221) for specifying measurement value data that satisfies a condition that the measurement value is a minimum value and a minimum value among the measurement value data up to a time point when the value becomes larger than a threshold value of 2; And a storage unit (storage unit 222) for storing the data of the measurement value specified by the specifying unit in a storage device (nonvolatile memory 40).
上記の構成によれば、測定値が第２の閾値以下となった時点から、上記測定値が次に第２の閾値よりも大きくなる時点までの測定値のデータの中で、最小値かつ極小値であるという条件を満たす測定値のデータのみが、記憶装置に保存される。例えば、測定値が単調に減少している間または測定値が取り得る下限値に達している間、最新の測定値は常に最小値であるが、極小値ではないので、上記条件は満たされず、測定値は記憶装置に保存されない。 According to the above configuration, the minimum value and the minimum value in the measured value data from the time when the measured value becomes equal to or lower than the second threshold to the time when the measured value becomes larger than the second threshold next time. Only measurement value data that satisfies the condition of value is stored in the storage device. For example, the latest measurement value is always the minimum value while the measurement value is monotonously decreasing or reaches the lower limit value that the measurement value can take, but since it is not a minimum value, the above condition is not satisfied, The measured value is not stored in the storage device.
そのため、全ての測定値のデータが記憶に保存される構成と比較して、記憶装置に保存されるデータ量を抑制することができる。その結果、測定値のデータを保存するために必要な記憶装置の容量が減少する。特に、記憶装置がＥＥＰＲＯＭやフラッシュメモリ等の小容量な不揮発メモリである場合であっても、測定値のデータを記憶装置に保存することができる。また、記憶装置に保存された測定値のデータが書き換えられる頻度を抑制することができる。そのため、特に、記憶装置がデータの書き換え可能回数に上限を有する不揮発メモリである場合、記憶装置の寿命が長くなる。 Therefore, the amount of data stored in the storage device can be suppressed as compared with a configuration in which data of all measurement values is stored in the storage. As a result, the capacity of the storage device required to store the measured value data is reduced. In particular, even when the storage device is a small-capacity nonvolatile memory such as an EEPROM or a flash memory, the measurement value data can be stored in the storage device. In addition, the frequency of rewriting the measurement value data stored in the storage device can be suppressed. Therefore, in particular, when the storage device is a nonvolatile memory having an upper limit on the number of times data can be rewritten, the life of the storage device is prolonged.
本発明の態様６に係るデータ保存装置（組み込み装置１）は、上記態様１〜５のいずれかにおいて、上記記憶装置は不揮発メモリであり、上記保存手段（保存部２２２）は、上記特定手段（判定部２２１）が特定した測定値のデータを上記記憶装置（不揮発メモリ４０）に保存するとき、上記記憶装置に既に保存されている上記測定値のデータに上書きしてもよい。
The data storage device (embedded device 1) according to aspect 6 of the present invention is the data storage device (embedded device 1) according to any one of the
上記の構成によれば、特定手段によって新たに特定された測定値のデータで、不揮発メモリに既に保存されている測定値のデータが上書きされる。そのため、測定値のデータを保存するために必要な不揮発メモリの容量がさらに抑制される。従って、容量の小さい不揮発メモリであっても、有用な情報を含んだ測定値のデータを保存することができる。また、データを書き換えられる頻度を抑制することができるため、データの書き換え可能回数に上限を有する不揮発メモリであっても、その上限に拘束されず長期間使用することが可能となる。 According to the above configuration, the measurement value data already stored in the nonvolatile memory is overwritten with the measurement value data newly specified by the specifying means. Therefore, the capacity of the nonvolatile memory necessary for storing the measurement value data is further suppressed. Therefore, even in a nonvolatile memory with a small capacity, measured value data including useful information can be stored. In addition, since the frequency at which data can be rewritten can be suppressed, even a non-volatile memory having an upper limit on the number of times data can be rewritten can be used for a long time without being restricted by the upper limit.
本発明の各態様に係るデータ保存装置は、コンピュータによって実現してもよく、この場合には、コンピュータを上記データ保存装置が備える各手段として動作させることにより上記データ保存装置をコンピュータにて実現させるデータ保存装置の制御プログラム、およびそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体も、本発明の範疇に入る。 The data storage device according to each aspect of the present invention may be realized by a computer. In this case, the data storage device is realized by a computer by causing the computer to operate as each unit included in the data storage device. A control program for the data storage device and a computer-readable recording medium that records the control program also fall within the scope of the present invention.
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。さらに、各実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を組み合わせることにより、新しい技術的特徴を形成することができる。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications are possible within the scope shown in the claims, and embodiments obtained by appropriately combining technical means disclosed in different embodiments. Is also included in the technical scope of the present invention. Furthermore, a new technical feature can be formed by combining the technical means disclosed in each embodiment.
本発明は、時系列の測定値のデータを記憶装置に保存するデータ保存装置に利用することができる。 The present invention can be used in a data storage device that stores time-series measurement value data in a storage device.
１ 組み込み装置（データ保存装置）
２１ データ前処理部（データ取得手段）
４０ 不揮発メモリ（記憶装置）
２２１ 判定部（特定手段）
２２２ 保存部（保存手段）
1 Embedded device (data storage device)
21 Data preprocessing unit (data acquisition means)
40 Nonvolatile memory (storage device)
221 determination unit (specifying means)
222 Storage unit (storage means)
Claims (6)
上記特定手段が特定した測定値のデータを記憶装置に保存する保存手段と、を備えたことを特徴とするデータ保存装置。 Among the time-series measurement value data, the measurement value data from the time when the measurement value is equal to or greater than the first threshold to the time when the measurement value is next smaller than the first threshold. A specifying means for specifying data of a measured value that satisfies a condition that the measured value is a maximum value and a maximum value;
A data storage device comprising: storage means for storing data of measurement values specified by the specifying means in a storage device.
上記特定手段が特定した測定値のデータを記憶装置に保存する保存手段と、を備えたことを特徴とするデータ保存装置。 Among the time-series measurement value data, the measurement value data from the time point when the measurement value becomes equal to or smaller than the second threshold value to the time point when the measurement value becomes larger than the second threshold value next. Specifying means for specifying data of a measured value that satisfies a condition that the measured value is a minimum value and a minimum value;
A data storage device comprising: storage means for storing data of measurement values specified by the specifying means in a storage device.
上記保存手段は、上記特定手段が特定した測定値のデータを上記記憶装置に保存するとき、上記記憶装置に既に保存されている上記測定値のデータに上書きすることを特徴とする請求項１〜５のいずれか１項に記載のデータ保存装置。 The storage device is a nonvolatile memory,
The storage means overwrites the measurement value data already stored in the storage device when the measurement value data specified by the specification means is stored in the storage device. 6. The data storage device according to any one of 5 above.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014129508A JP2016008885A (en) | 2014-06-24 | 2014-06-24 | Data storage device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2014129508A JP2016008885A (en) | 2014-06-24 | 2014-06-24 | Data storage device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2016008885A true JP2016008885A (en) | 2016-01-18 |
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Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP2014129508A Pending JP2016008885A (en) | 2014-06-24 | 2014-06-24 | Data storage device |
Country Status (1)
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-
2014
- 2014-06-24 JP JP2014129508A patent/JP2016008885A/en active Pending
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