JP2015199905A - Insulating resin compositions for printed circuit board, and products using the same - Google Patents

Insulating resin compositions for printed circuit board, and products using the same Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide: insulating resin compositions for a printed circuit board using resin compositions containing polyether sulfone resins as curative agents so as to improve glass transformation temperature (Tg), coefficient of thermal expansion (CTE) and tensile strength properties; and products using the same.SOLUTION: An insulating resin composition for a printed circuit board contains a naphthalene-based epoxy resin, a cyanate ester resin, a polyethersulfone resin, a bismaleimide resin, and an inorganic filler.

Description

本発明は、印刷回路基板用絶縁樹脂組成物及びそれを用いた製品に関する。   The present invention relates to an insulating resin composition for a printed circuit board and a product using the same.

電子機器の発展に伴い、印刷回路基板の低重量化、薄板化、及び小型化が益々進んでいる。このような要求に応えるべく、印刷回路の配線がさらに複雑化及び高密度化している。上記のように基板に要求されている電気的、熱的、及び機械的特性は、さらに重要な要素として作用している。   With the development of electronic devices, printed circuit boards are becoming lighter, thinner, and smaller. In order to meet such a demand, the wiring of the printed circuit is further complicated and densified. As described above, the electrical, thermal, and mechanical properties required for the substrate are further important factors.

印刷回路基板は、主に、回路配線の役割をする銅と、層間絶縁の役割をする高分子と、からなる。銅に比べ、絶縁層を構成する高分子は、熱膨張係数、ガラス転移温度、及び厚さの均一性などの多くの特性が要求され、特に、絶縁層の厚さを薄く製作しなければならない。   The printed circuit board is mainly composed of copper serving as circuit wiring and a polymer serving as interlayer insulation. Compared to copper, the polymer constituting the insulating layer requires many characteristics such as thermal expansion coefficient, glass transition temperature, and uniformity of thickness. In particular, the insulating layer must be made thin. .

また、回路基板が薄型化するほど基板自体の剛性が低下するため、高温で部品を実装する時に、反り現象による不良が発生する恐れがある。そのため、熱硬化性高分子樹脂の熱膨張特性及び耐熱性が重要な要素として作用するが、熱硬化時に、高分子構造及び基板組成物を構成する高分子鎖間のネットワーク及び硬化密度が密接な影響を与える。   Further, since the rigidity of the board itself decreases as the circuit board becomes thinner, there is a possibility that a defect due to a warp phenomenon may occur when a component is mounted at a high temperature. Therefore, the thermal expansion characteristics and heat resistance of the thermosetting polymer resin act as important factors, but the network structure and the curing density between the polymer chains constituting the polymer structure and the substrate composition are close at the time of thermosetting. Influence.

従来、一般の汎用エポキシ樹脂及びシリカなどの無機充填剤を含む印刷回路基板用絶縁樹脂組成物を用いて、熱膨張係数及びガラス転移温度を低めることが試されていた。しかし、上記の方法によれば、熱膨張係数及びガラス転移温度の特性は向上されるものの、モジュラス(modulus)及び熱的安定性が低くなるという問題点が発生する。また、熱膨張係数及びガラス転移温度の特性の向上にも限界があった。   Conventionally, attempts have been made to lower the thermal expansion coefficient and glass transition temperature using an insulating resin composition for a printed circuit board containing a general-purpose epoxy resin and an inorganic filler such as silica. However, according to the above method, although the characteristics of the coefficient of thermal expansion and the glass transition temperature are improved, there arises a problem that the modulus and the thermal stability are lowered. In addition, there is a limit to improving the characteristics of the thermal expansion coefficient and the glass transition temperature.

一方、特許文献1には、印刷回路基板用樹脂組成物が開示されているが、組成物間の相互ネットワークを十分に形成するには限界があって、印刷回路基板の熱膨張係数及びガラス転移温度の特性を向上させることができないという問題点があった。   On the other hand, Patent Document 1 discloses a resin composition for a printed circuit board. However, there is a limit to sufficiently forming a mutual network between the compositions, and the thermal expansion coefficient and glass transition of the printed circuit board are limited. There was a problem that the temperature characteristics could not be improved.

韓国公開特許第2011−0108782号公報Korean Published Patent No. 2011-0108782

上述の従来技術の問題点を解決するために、本発明の目的は、硬化剤としてポリエーテルスルホン樹脂を含む樹脂組成物を用いることで、ガラス転移温度(Tg)、熱膨張係数(CTE)、引張強度(Tensile strength)の特性を向上させた印刷回路基板用絶縁樹脂組成物を提供することにある。
本発明の他の目的は、前記絶縁樹脂組成物を含む絶縁フィルムまたはプリプレグを提供することにある。
本発明のさらに他の目的は、前記プリプレグの両面に銅箔を積層して製造された銅張積層板及びそれを含む印刷回路基板を提供することにある。
In order to solve the above-described problems of the prior art, the object of the present invention is to use a resin composition containing a polyethersulfone resin as a curing agent, so that the glass transition temperature (Tg), the coefficient of thermal expansion (CTE), An object of the present invention is to provide an insulating resin composition for a printed circuit board having improved tensile strength characteristics.
Another object of the present invention is to provide an insulating film or prepreg containing the insulating resin composition.
Still another object of the present invention is to provide a copper clad laminate produced by laminating copper foil on both sides of the prepreg and a printed circuit board including the same.

本発明の一側面による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、ナフタレン系エポキシ樹脂と、シアネートエステル樹脂と、ポリエーテルスルホン樹脂と、ビスマレイミド樹脂と、無機充填剤と、を含む。   An insulating resin composition for a printed circuit board according to one aspect of the present invention includes a naphthalene epoxy resin, a cyanate ester resin, a polyethersulfone resin, a bismaleimide resin, and an inorganic filler.

前記絶縁樹脂組成物は、5〜30重量%のナフタレン系エポキシ樹脂と、5〜40重量%のシアネートエステル樹脂と、3〜15重量%のポリエーテルスルホン樹脂と、1〜10重量%のビスマレイミド樹脂と、50〜80重量%の無機充填剤と、を含むことができる。   The insulating resin composition comprises 5 to 30% by weight naphthalene-based epoxy resin, 5 to 40% by weight cyanate ester resin, 3 to 15% by weight polyethersulfone resin, and 1 to 10% by weight bismaleimide. Resin and 50-80 wt% inorganic filler.

前記ナフタレン系エポキシ樹脂は、下記化学式1、化学式2で表されるエステル型ナフタレン系エポキシ樹脂またはこれらの混合物であることができる。   The naphthalene-based epoxy resin may be an ester-type naphthalene-based epoxy resin represented by the following chemical formulas 1 and 2 or a mixture thereof.

Figure 2015199905
Figure 2015199905

Figure 2015199905
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前記シアネートエステル樹脂は、下記化学式3で表されるフェノールノボラック型シアネートエステル樹脂であることができる。   The cyanate ester resin may be a phenol novolac type cyanate ester resin represented by the following chemical formula 3.

Figure 2015199905
Figure 2015199905

式中、nは0〜3の整数である。   In formula, n is an integer of 0-3.

前記ポリエーテルスルホン樹脂は、フェノール性ヒドロキシル基を含み、下記化学式4で表されることができる。   The polyethersulfone resin includes a phenolic hydroxyl group and may be represented by the following chemical formula 4.

Figure 2015199905
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式中、nは1〜3の整数である。   In the formula, n is an integer of 1 to 3.

前記ビスマレイミド樹脂は、下記化学式5、化学式6、または化学式7で表される化合物またはこれらの混合物であることができる。   The bismaleimide resin may be a compound represented by the following chemical formula 5, chemical formula 6, or chemical formula 7, or a mixture thereof.

Figure 2015199905
Figure 2015199905

式中、nは1〜3の整数である。   In the formula, n is an integer of 1 to 3.

Figure 2015199905
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Figure 2015199905
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前記無機充填剤は、平均粒径が0.05〜1μmであることができる。   The inorganic filler may have an average particle size of 0.05 to 1 μm.

前記無機充填剤は、シリカ(SiO)、アルミナ(Al)、硫酸バリウム(BaSO)、タルク、水酸化アルミニウム(AlOH)、水酸化マグネシウム(Mg(OH))、炭酸カルシウム(CaCO)、炭酸マグネシウム(MgCO)、酸化マグネシウム(MgO)、窒化ホウ素(BN)、ホウ酸アルミニウム(AlBO)、チタン酸バリウム(BaTiO)、及びジルコン酸カルシウム(CaZrO)から選択される一つ以上であることができる。 The inorganic filler is silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ), barium sulfate (BaSO 4 ), talc, aluminum hydroxide (AlOH 3 ), magnesium hydroxide (Mg (OH) 2 ), calcium carbonate (CaCO 3), magnesium carbonate (MgCO 3), selected of magnesium oxide (MgO), boron nitride (BN), aluminum borate (alBO 3), barium titanate (BaTiO 3), and calcium zirconate (CaZrO 3) Can be one or more.

前記樹脂組成物は、硬化促進剤をさらに含むことができる。   The resin composition may further include a curing accelerator.

前記硬化促進剤は、金属系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、及びアミン系硬化促進剤から選択される一つ以上であることができる。   The curing accelerator may be one or more selected from a metal curing accelerator, an imidazole curing accelerator, and an amine curing accelerator.

本発明の他の側面によれば、前記絶縁樹脂組成物を含むワニスにガラス繊維を含浸させてプリプレグを製造することができる。   According to another aspect of the present invention, a prepreg can be produced by impregnating a glass fiber into a varnish containing the insulating resin composition.

前記ガラス繊維は、Eガラス、Tガラス、NEガラス、Sガラスから選択される一つ以上であることができる。   The glass fiber may be one or more selected from E glass, T glass, NE glass, and S glass.

本発明の他の側面によれば、前記プリプレグの両面に銅箔を積層して製造された銅張積層板(CCL)の一面または他面に、一つ以上の回路層または絶縁層を積層して印刷回路基板を製造することができる。   According to another aspect of the present invention, one or more circuit layers or insulating layers are laminated on one side or the other side of a copper clad laminate (CCL) manufactured by laminating copper foil on both sides of the prepreg. Thus, a printed circuit board can be manufactured.

本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、耐熱性、低い熱膨張率、高いガラス転移温度を保持することができるポリエーテルスルホン樹脂を含むことで、ガラス転移温度、熱膨張係数、及び引張強度の特性を向上させることができる。   An insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention includes a polyethersulfone resin capable of maintaining heat resistance, a low coefficient of thermal expansion, and a high glass transition temperature. The coefficient and tensile strength characteristics can be improved.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物は、ポリエーテルスルホン樹脂を硬化剤として用いることで、前記ポリエーテルスルホン樹脂の末端のヒドロキシル基が、エポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、シアネートエステル樹脂と効果的に硬化反応することができる。   The insulating resin composition according to an embodiment of the present invention uses a polyethersulfone resin as a curing agent, so that the hydroxyl group at the terminal of the polyethersulfone resin is effective as an epoxy resin, a bismaleimide resin, and a cyanate ester resin. Can be cured.

また、前記樹脂組成物を用いた絶縁フィルム、及び前記組成物を含むワニスにガラス繊維を含浸させて製造されたプリプレグは、ガラス転移温度、熱膨張係数、及び引張強度の特性を向上させることができる。   In addition, an insulating film using the resin composition and a prepreg produced by impregnating glass fiber into a varnish containing the composition can improve the characteristics of glass transition temperature, thermal expansion coefficient, and tensile strength. it can.

また、前記絶縁フィルムまたはプリプレグの両面に銅箔を積層することで製造された銅張積層板は、ガラス転移温度、熱膨張係数、及び引張強度の特性を向上させることができる。   Moreover, the copper clad laminated board manufactured by laminating | stacking copper foil on both surfaces of the said insulating film or prepreg can improve the characteristic of a glass transition temperature, a thermal expansion coefficient, and tensile strength.

また、前記絶縁フィルム、プリプレグまたは銅張積層板の一面または他面に一つ以上の回路層または絶縁層を積層して製造された印刷回路基板は、ガラス転移温度、熱膨張係数、及び引張強度の特性を向上させることができる。   The printed circuit board manufactured by laminating one or more circuit layers or insulating layers on one surface or the other surface of the insulating film, prepreg, or copper clad laminate has a glass transition temperature, a thermal expansion coefficient, and a tensile strength. The characteristics can be improved.

本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物の構成を説明するために概略的に示した図面である。1 is a schematic view illustrating a configuration of an insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

本発明の目的、特定の長所及び新規の特徴は、添付図面に係る以下の詳細な説明及び好ましい実施例によってさらに明らかになるであろう。本明細書において、各図面の構成要素に参照番号を付け加えるに際し、同一の構成要素に限っては、たとえ異なる図面に示されても、できるだけ同一の番号を付けるようにしていることに留意しなければならない。また、「一面」、「他面」、「第1」、「第2」などの用語は、一つの構成要素を他の構成要素から区別するために用いられるものであり、構成要素が前記用語によって限定されるものではない。以下、本発明を説明するにあたり、本発明の要旨を不明瞭にする可能性がある係る公知技術についての詳細な説明は省略する。   Objects, specific advantages and novel features of the present invention will become more apparent from the following detailed description and preferred embodiments with reference to the accompanying drawings. In this specification, it should be noted that when adding reference numerals to the components of each drawing, the same components are given the same number as much as possible even if they are shown in different drawings. I must. The terms “one side”, “other side”, “first”, “second” and the like are used to distinguish one component from another component, and the component is the term It is not limited by. Hereinafter, in describing the present invention, detailed descriptions of known techniques that may obscure the subject matter of the present invention are omitted.

以下、添付図面を参照して、本発明の好ましい実施例を詳細に説明する。   Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

図1は、本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物の構成を説明するために概略的に示した図面である。   FIG. 1 is a schematic view illustrating a configuration of an insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.

図1を参照すれば、耐熱性、低い熱膨張率、高いガラス転移温度を保持することができるポリエーテルスルホン樹脂を含む絶縁樹脂組成物及びそれを用いた製品により、ガラス転移温度、熱膨張係数、及び引張強度の特性を向上させることができる。   Referring to FIG. 1, an insulating resin composition including a polyethersulfone resin capable of maintaining heat resistance, a low coefficient of thermal expansion, and a high glass transition temperature, and a product using the insulating resin composition include a glass transition temperature and a thermal expansion coefficient. And tensile strength characteristics can be improved.

(エポキシ樹脂)
本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、高耐熱性、低吸湿率、低熱膨張率を実現することができるナフタレン系エポキシ樹脂を含むことができる。前記エポキシ樹脂は、分子内に2個または3個の官能基(エポキシド基)を含み、他の組成との結合力を向上させることができる。
(Epoxy resin)
The insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention may include a naphthalene-based epoxy resin that can achieve high heat resistance, low moisture absorption, and low thermal expansion. The epoxy resin contains two or three functional groups (epoxide groups) in the molecule, and can improve the bonding strength with other compositions.

前記エポキシ樹脂は、樹脂組成物の耐熱性を向上させるためのものであって、末端に導入された官能基は樹脂組成物の硬化時に容易にパッキング(packing)されることができる。また、芳香環などの平面発色団が分散力または疎水相互作用により積み重ねられる現象、すなわち、スタッキング(stacking)構造を形成するため、熱による変形を最小化することができる。   The epoxy resin is for improving the heat resistance of the resin composition, and the functional group introduced at the terminal can be easily packed when the resin composition is cured. In addition, since a phenomenon in which planar chromophores such as aromatic rings are stacked by dispersion force or hydrophobic interaction, that is, a stacking structure is formed, deformation due to heat can be minimized.

前記ナフタレン系エポキシ樹脂は、下記化学式1及び化学式2で表されるエステル型ナフタレン系エポキシ樹脂またはこれらの混合物であることができる。   The naphthalene-based epoxy resin may be an ester naphthalene-based epoxy resin represented by the following chemical formulas 1 and 2 or a mixture thereof.

Figure 2015199905
Figure 2015199905

Figure 2015199905
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前記化学式1及び化学式2で表されるナフタレン系エポキシ樹脂は、強固(rigid)であるため、熱的安定性を有することができる。また、ビスマレイミド樹脂と相互連結されたネットワークを構成することができ、高い耐熱性を実現することができる。   The naphthalene-based epoxy resin represented by the chemical formula 1 and the chemical formula 2 is rigid and thus has thermal stability. In addition, a network interconnected with the bismaleimide resin can be formed, and high heat resistance can be realized.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物において、エポキシ樹脂の使用量は特に制限されないが、5〜30重量%で使用することが適切である。より具体的には、エポキシ樹脂の使用量が5〜15重量%である場合、最適の条件となることができる。前記エポキシ樹脂の使用量が5重量%未満である場合には、樹脂組成物の接着強度が弱くなる恐れがあり、30重量%を超過する場合には、樹脂組成物の熱膨張係数が増加し得る。   In the insulating resin composition according to an embodiment of the present invention, the amount of the epoxy resin used is not particularly limited, but it is appropriate to use 5 to 30% by weight. More specifically, when the amount of the epoxy resin used is 5 to 15% by weight, the optimum condition can be obtained. If the amount of the epoxy resin used is less than 5% by weight, the adhesive strength of the resin composition may be weakened. If it exceeds 30% by weight, the thermal expansion coefficient of the resin composition increases. obtain.

(シアネートエステル樹脂)
本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、樹脂組成物の低溶融粘度化を図るために、シアネートエステル樹脂を含むことができる。低溶融粘度化により、無機充填剤の含量が高くなる場合にも樹脂組成物の流れ性を確保することができ、ボイド(Void)及び剥離(Delamination)などの製品欠陥を防止するとともに、信頼性を実現することができる。また、樹脂組成物が前記シアネートエステル樹脂を含むことで、耐熱性及び低い熱膨張係数を実現することができる。
(Cyanate ester resin)
The insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention may contain a cyanate ester resin in order to reduce the melt viscosity of the resin composition. Low melt viscosity ensures the flowability of the resin composition even when the inorganic filler content is high, and prevents product defects such as voids and delamination, and is reliable. Can be realized. Moreover, heat resistance and a low thermal expansion coefficient are realizable because the resin composition contains the said cyanate ester resin.

前記シアネートエステル樹脂は、下記化学式3で表されるフェノールノボラック型シアネートエステル樹脂であることができる。   The cyanate ester resin may be a phenol novolac type cyanate ester resin represented by the following chemical formula 3.

Figure 2015199905
Figure 2015199905

式中、nは0〜3の整数である。   In formula, n is an integer of 0-3.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物において、シアネートエステル樹脂の使用量は特に制限されないが、5〜40重量%で使用することが適切である。より具体的には、シアネートエステル樹脂の使用量が5〜20重量%である場合、最適の条件となることができる。前記シアネートエステル樹脂の使用量が5重量%未満である場合には、耐熱性が低下する恐れがあり、40重量%を超過する場合には、印刷回路基板の材料として適した硬化度を実現するに限界があるため、信頼性が低下し得る。   In the insulating resin composition according to one embodiment of the present invention, the amount of cyanate ester resin used is not particularly limited, but it is appropriate to use 5 to 40% by weight. More specifically, when the amount of the cyanate ester resin used is 5 to 20% by weight, the optimum condition can be obtained. When the amount of the cyanate ester resin used is less than 5% by weight, the heat resistance may be lowered, and when it exceeds 40% by weight, a curing degree suitable as a printed circuit board material is realized. Since there is a limit to the reliability, the reliability can be lowered.

(ポリエーテルスルホン樹脂)
本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、耐熱性、低い熱膨張率、高いガラス転移温度を保持し、且つ脆性(Brittleness)を改善するために、ポリエーテルスルホン樹脂を含むことができる。前記ポリエーテルスルホン樹脂は、シアネートエステル樹脂のトリアジン環の形成を促進して、高い耐熱性及び低い熱膨張率を実現する効果がある。また、樹脂組成物中の無機充填剤の含量が多い場合にも、硬化物の脆性が増加することを防止することができる。
(Polyethersulfone resin)
An insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention includes a polyethersulfone resin in order to maintain heat resistance, a low coefficient of thermal expansion, a high glass transition temperature, and improve brittleness. be able to. The polyethersulfone resin has an effect of promoting the formation of a triazine ring of a cyanate ester resin and realizing high heat resistance and a low coefficient of thermal expansion. Moreover, even when the content of the inorganic filler in the resin composition is large, it is possible to prevent the brittleness of the cured product from increasing.

前記ポリエーテルスルホン樹脂は、フェノール性ヒドロキシル基を含み、下記化学式4で表されることができる。   The polyethersulfone resin includes a phenolic hydroxyl group and may be represented by the following chemical formula 4.

Figure 2015199905
式中、nは1〜3の整数である。この際、nが1未満である場合には、脆性が低下する恐れがあり、nが3を超過する場合には、熱膨張係数が増加し、ガラス転移温度が低くなって、熱的特性が低下し得る。
Figure 2015199905
In the formula, n is an integer of 1 to 3. At this time, when n is less than 1, brittleness may be reduced, and when n exceeds 3, the thermal expansion coefficient is increased, the glass transition temperature is lowered, and the thermal characteristics are reduced. Can be reduced.

前記ポリエーテルスルホン樹脂は、分子内にフェノール性ヒドロキシル基を含んでいるため、エポキシ、ビスマレイミド、シアネートエステルなどの樹脂と硬化反応することができる。したがって、従来に使用されていた通常の硬化剤を使用せず、本発明のポリエーテルスルホン樹脂を硬化剤として用いることで、耐熱性及び脆性を改善させることができる。   Since the polyethersulfone resin contains a phenolic hydroxyl group in the molecule, it can undergo a curing reaction with a resin such as epoxy, bismaleimide, and cyanate ester. Therefore, heat resistance and brittleness can be improved by using the polyethersulfone resin of the present invention as a curing agent without using a conventional curing agent conventionally used.

また、前記ポリエーテルスルホン樹脂は、下記化学式8で表されるビスフェノールA型の構造を有してもよい。   In addition, the polyethersulfone resin may have a bisphenol A type structure represented by the following chemical formula 8.

Figure 2015199905
式中、nは1〜3の整数である。
Figure 2015199905
In the formula, n is an integer of 1 to 3.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物において、ポリエーテルスルホン樹脂の使用量は特に制限されないが、3〜15重量%で使用することが適切である。より具体的には、ポリエーテルスルホン樹脂の使用量が3〜10重量%である場合、最適の条件となることができる。前記ポリエーテルスルホン樹脂の使用量が3重量%未満である場合には、引張強度が減少する恐れがあり、15重量%を超過する場合には、架橋密度が低くなって、ガラス転移温度が低くなり、熱膨張係数が増加し得る。   In the insulating resin composition according to an embodiment of the present invention, the amount of the polyethersulfone resin used is not particularly limited, but it is appropriate to use 3 to 15% by weight. More specifically, when the amount of the polyethersulfone resin used is 3 to 10% by weight, the optimum condition can be obtained. If the amount of the polyethersulfone resin used is less than 3% by weight, the tensile strength may decrease, and if it exceeds 15% by weight, the crosslinking density is lowered and the glass transition temperature is lowered. Thus, the thermal expansion coefficient can be increased.

(ビスマレイミド樹脂)
本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、ガラス転移温度の特性を向上させるために、ビスマレイミド樹脂を含むことができる。前記ビスマレイミド樹脂は、ポリエーテルスルホン樹脂のヒドロキシル基とマイケル反応(Michael reaction)により硬化反応を起こすか、単独重合(Homopolymerization)することができる。
(Bismaleimide resin)
The insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention may include a bismaleimide resin in order to improve glass transition temperature characteristics. The bismaleimide resin may be cured by a Michael reaction with the hydroxyl group of the polyethersulfone resin or may be homopolymerized.

前記ビスマレイミド樹脂は、下記化学式5、化学式6、または化学式7で表される化合物またはこれらの混合物であることができる。   The bismaleimide resin may be a compound represented by the following chemical formula 5, chemical formula 6, or chemical formula 7, or a mixture thereof.

Figure 2015199905
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式中、nは1〜3の整数である。   In the formula, n is an integer of 1 to 3.

Figure 2015199905
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Figure 2015199905
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本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物において、ビスマレイミド樹脂の使用量は特に制限されないが、1〜10重量%で使用することが適切である。より具体的には、ビスマレイミド樹脂の使用量が2〜8重量%である場合、最適の条件となることができる。前記ビスマレイミド樹脂の使用量が1重量%未満である場合には、ガラス転移温度が低くなる恐れがあり、10重量%を超過する場合には、溶解度が低下して、高温の硬化条件が要求されるため、工程性が低下し得る。   In the insulating resin composition according to one embodiment of the present invention, the amount of bismaleimide resin used is not particularly limited, but it is appropriate to use it at 1 to 10% by weight. More specifically, when the amount of bismaleimide resin used is 2 to 8% by weight, the optimum condition can be obtained. If the amount of the bismaleimide resin used is less than 1% by weight, the glass transition temperature may be lowered. If it exceeds 10% by weight, the solubility is lowered and high temperature curing conditions are required. Therefore, processability may be reduced.

(無機充填剤)
本発明の一具現例による印刷回路基板用絶縁樹脂組成物は、樹脂組成物の低い熱膨張率を実現するために、無機充填剤を含むことができる。
(Inorganic filler)
The insulating resin composition for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention may include an inorganic filler in order to realize a low thermal expansion coefficient of the resin composition.

前記無機充填剤は、特に制限されないが、平均粒径が0.05〜1μmであることができ、同種または異種の無機充填剤を使用することができる。   The inorganic filler is not particularly limited, but may have an average particle size of 0.05 to 1 μm, and the same or different inorganic fillers can be used.

前記無機充填剤は、シリカ(SiO)、アルミナ(Al)、硫酸バリウム(BaSO)、タルク、水酸化アルミニウム(AlOH)、水酸化マグネシウム(Mg(OH))、炭酸カルシウム(CaCO)、炭酸マグネシウム(MgCO)、酸化マグネシウム(MgO)、窒化ホウ素(BN)、ホウ酸アルミニウム(AlBO)、チタン酸バリウム(BaTiO)、及びジルコン酸カルシウム(CaZrO)から選択される一つ以上であることができ、シリカまたはアルミナを使用する場合、低い熱膨張係数を実現するための最適の効果を得ることができる。 The inorganic filler is silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ), barium sulfate (BaSO 4 ), talc, aluminum hydroxide (AlOH 3 ), magnesium hydroxide (Mg (OH) 2 ), calcium carbonate (CaCO 3), magnesium carbonate (MgCO 3), selected of magnesium oxide (MgO), boron nitride (BN), aluminum borate (alBO 3), barium titanate (BaTiO 3), and calcium zirconate (CaZrO 3) When silica or alumina is used, the optimum effect for achieving a low coefficient of thermal expansion can be obtained.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物において、無機充填剤の使用量は、特に制限されないが、50〜80重量%で使用することが適切である。より具体的には、無機充填剤の使用量が60〜75重量%である場合、最適の条件となることができる。前記無機充填剤の使用量が50重量%未満である場合には、熱膨張係数が増加する恐れがあり、80重量%を超過する場合には、接着強度が低下し得る。   In the insulating resin composition according to one embodiment of the present invention, the amount of the inorganic filler used is not particularly limited, but it is appropriate to use it at 50 to 80% by weight. More specifically, when the amount of the inorganic filler used is 60 to 75% by weight, the optimum condition can be obtained. If the amount of the inorganic filler used is less than 50% by weight, the thermal expansion coefficient may increase. If it exceeds 80% by weight, the adhesive strength may be reduced.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物は、硬化速度を向上させるために、硬化促進剤をさらに含むことができる。   The insulating resin composition according to an embodiment of the present invention may further include a curing accelerator in order to improve the curing rate.

前記硬化促進剤は、金属系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、及びアミン系硬化促進剤から選択される一つ以上であることができる。   The curing accelerator may be one or more selected from a metal curing accelerator, an imidazole curing accelerator, and an amine curing accelerator.

前記金属系硬化促進剤としては、特に制限されないが、コバルト、銅、亜鉛、鉄、ニッケル、マンガン、スズなどの金属の有機金属錯体または有機金属塩が挙げられる。有機金属錯体の具体的な例としては、コバルト(II)アセチルアセトネート、コバルト(III)アセチルアセトネートなどの有機コバルト錯体、銅(II)アセチルアセトネートなどの有機銅錯体、亜鉛(II)アセチルアセトネートなどの有機亜鉛錯体、鉄(III)アセチルアセトネートなどの有機鉄錯体、ニッケル(II)アセチルアセトネートなどの有機ニッケル錯体、マンガン(II)アセチルアセトネートなどの有機マンガン錯体などが挙げられる。   Although it does not restrict | limit especially as said metal type hardening accelerator, The organometallic complex or organometallic salt of metals, such as cobalt, copper, zinc, iron, nickel, manganese, tin, is mentioned. Specific examples of the organometallic complex include organic cobalt complexes such as cobalt (II) acetylacetonate and cobalt (III) acetylacetonate, organic copper complexes such as copper (II) acetylacetonate, and zinc (II) acetyl. Organic zinc complexes such as acetonate, organic iron complexes such as iron (III) acetylacetonate, organic nickel complexes such as nickel (II) acetylacetonate, and organic manganese complexes such as manganese (II) acetylacetonate .

有機金属塩としては、オクチル酸亜鉛、オクチル酸スズ、ナフテン酸亜鉛、ナフテン酸コバルト、ステアリン酸スズ、ステアリン酸亜鉛などが挙げられる。金属系硬化促進剤としては、硬化性及び溶剤溶解性の点で、コバルト(II)アセチルアセトネート、コバルト(III)アセチルアセトネート、亜鉛(II)アセチルアセトネート、ナフテン酸亜鉛、鉄(III)アセチルアセトネートが好ましく、特に、コバルト(II)アセチルアセトネート、ナフテン酸亜鉛が好ましい。また、金属系硬化促進剤を1種または2種以上組み合わせて使用することができる。   Examples of the organic metal salt include zinc octylate, tin octylate, zinc naphthenate, cobalt naphthenate, tin stearate, and zinc stearate. As the metal-based curing accelerator, in terms of curability and solvent solubility, cobalt (II) acetylacetonate, cobalt (III) acetylacetonate, zinc (II) acetylacetonate, zinc naphthenate, iron (III) Acetylacetonate is preferable, and cobalt (II) acetylacetonate and zinc naphthenate are particularly preferable. Moreover, a metal type hardening accelerator can be used 1 type or in combination of 2 or more types.

前記イミダゾール系硬化促進剤としては、特に制限されないが、2−メチルイミダゾール、2−ウンデシルイミダゾール、2−ヘプタデシルイミダゾール、1,2−ジメチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、2−フェニル−4−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−メチルイミダゾール、1−ベンジル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾール、1−シアノエチル−2−エチル−4−メチルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−ウンデシルイミダゾリウムトリメリテート、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾリウムトリメリテート、2,4−ジアミノ−6−[2´−メチルイミダゾリル−(1´)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2´−ウンデシルイミダゾリル−(1´)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2´−エチル−4´−メチルイミダゾリル−(1´)]−エチル−s−トリアジン、2,4−ジアミノ−6−[2´−メチルイミダゾリル−(1´)]−エチル−s−トリアジンイソシアヌル酸付加物、2−フェニルイミダゾールイソシアヌル酸付加物、2−フェニル−4,5−ジヒドロキシメチルイミダゾール、2−フェニル−4−メチル−5ヒドロキシメチルイミダゾール、2,3−ジヒドロキシ−1H−ピロロ[1,2−a]ベンズイミダゾール、1−ドデシル−2−メチル−3−ベンジルイミダゾリウムクロリド、2−メチルイミダゾリン、2−フェニルイミダゾリンなどのイミダゾール化合物及びイミダゾール化合物とエポキシ樹脂の添加物が挙げられる。また、イミダゾール硬化促進剤を1種または2種以上組み合わせて使用することができる。   The imidazole curing accelerator is not particularly limited, but 2-methylimidazole, 2-undecylimidazole, 2-heptadecylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenyl. Imidazole, 2-phenyl-4-methylimidazole, 1-benzyl-2-methylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazole, 1- Cyanoethyl-2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-undecylimidazolium trimellitate, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazolium trimellitate, 2,4 - Mino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-undecylimidazolyl- (1')]-ethyl-s-triazine 2,4-diamino-6- [2'-ethyl-4'-methylimidazolyl- (1 ')]-ethyl-s-triazine, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ′)]-Ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct, 2-phenylimidazole isocyanuric acid adduct, 2-phenyl-4,5-dihydroxymethylimidazole, 2-phenyl-4-methyl-5hydroxymethylimidazole, 2, 3-dihydroxy-1H-pyrrolo [1,2-a] benzimidazole, 1-dodecyl-2-methyl-3-benzylimidazolium chloride, 2-methyli Dazorin, additive of 2-phenyl imidazoline imidazole compounds such as and imidazole compound and an epoxy resin. Moreover, an imidazole hardening accelerator can be used 1 type or in combination of 2 or more types.

前記アミン系硬化促進剤としては、特に制限されないが、トリエチルアミン、トリブチルアミンなどのトリアルキルアミン、4−ジメチルアミノピリジン、ベンジルジメチルアミン、2,4,6−トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、1,8−ジアザビシクロ(5,4,0)−ウンデセンなどのアミン化合物などが挙げられる。また、アミン系硬化促進剤を1種または2種以上組み合わせて使用することができる。   The amine curing accelerator is not particularly limited, but trialkylamine such as triethylamine and tributylamine, 4-dimethylaminopyridine, benzyldimethylamine, 2,4,6-tris (dimethylaminomethyl) phenol, 1, And amine compounds such as 8-diazabicyclo (5,4,0) -undecene. Moreover, an amine hardening accelerator can be used 1 type or in combination of 2 or more types.

本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物を用いて、絶縁フィルム、プリプレグ、銅張積層板、及び印刷回路基板を製造することができる。   An insulating film, a prepreg, a copper clad laminate, and a printed circuit board can be manufactured using the insulating resin composition according to an embodiment of the present invention.

本発明の一具現例による絶縁フィルムは、この技術分野において公知の通常の方法により、半硬化状態のドライフィルムに製造されることができる。例えば、ロールコータ(roll coater)、カーテンコータ(curtain coater)、またはコンマコータ(comma coater)などを用いてフィルム形態に製造し、乾燥した後、それを基板上に適用して、ビルドアップ方式による多層印刷回路基板の製造時に、絶縁層(絶縁フィルム)またはプリプレグとして用いることができる。この絶縁フィルムまたはプリプレグにより、熱膨張係数、ガラス転移温度、及び引張強度の特性を向上させることができる。   The insulating film according to an embodiment of the present invention can be manufactured into a semi-cured dry film by a conventional method known in this technical field. For example, a roll coater, a curtain coater, a comma coater, or the like is used to form a film, and after drying, it is applied on a substrate to form a multilayer by a build-up method. When manufacturing a printed circuit board, it can be used as an insulating layer (insulating film) or a prepreg. With this insulating film or prepreg, the characteristics of thermal expansion coefficient, glass transition temperature, and tensile strength can be improved.

上記のように、本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物を含むワニスにガラス繊維を含浸させて、プリプレグを製造することができる。   As described above, a prepreg can be produced by impregnating glass fiber into a varnish containing an insulating resin composition according to an embodiment of the present invention.

前記ガラス繊維は、Eガラス、Tガラス、NEガラス、Sガラスから選択される一つ以上であることができる。より具体的に、例えば、日東紡績株式会社のE2116、T2116、旭化成イーマテリアルズ株式会社のE2116、S2116などが挙げられる。   The glass fiber may be one or more selected from E glass, T glass, NE glass, and S glass. More specifically, for example, E2116 and T2116 manufactured by Nitto Boseki Co., Ltd., E2116 and S2116 manufactured by Asahi Kasei E-Materials Co., Ltd. and the like can be mentioned.

また、本発明の一具現例による絶縁樹脂組成物で製造された絶縁フィルムまたはプリプレグを、印刷回路基板の内層として用いられる銅張積層板(CCL)上に積層して、印刷回路基板を製造することができる。例えば、前記絶縁樹脂組成物で製造された絶縁フィルムまたはプリプレグを、パターン加工した内層回路基板上に積層して硬化させ、デスミア工程を行った後、回路層を電気めっき工程により形成することで、印刷回路基板を製造することができる。   Also, a printed circuit board is manufactured by laminating an insulating film or prepreg manufactured with an insulating resin composition according to an embodiment of the present invention on a copper clad laminate (CCL) used as an inner layer of the printed circuit board. be able to. For example, an insulating film or prepreg manufactured with the insulating resin composition is laminated and cured on a patterned inner layer circuit board, and after performing a desmear process, a circuit layer is formed by an electroplating process. A printed circuit board can be manufactured.

以下、実施例及び比較例を挙げて、本発明をより具体的に説明するが、下記例に本発明の範疇が限定されるものではない。   EXAMPLES Hereinafter, although an Example and a comparative example are given and this invention is demonstrated more concretely, the category of this invention is not limited to the following example.

(ポリエーテルスルホン樹脂の製造)
(製造例1)
下記化学式9で表されるナフタレン系フェノール硬化剤38.5g、下記化学式10で表される(ビス−(4−クロロフェニル)スルホン、Sigma−Aldrich社)25.16g、炭酸カリウム(KCO、Sigma−Aldrich社)25.39g、ジメチルアセトアミド(Dimethylacetamide;DMAc、Samchun Pure Chemical Co.)400ml、及びトルエン(toluene、JT Baker社)50mlを、2口の丸底フラスコ(2 neck round bottom flask)に添加して撹拌した。反応条件は、約150℃で4時間還流(reflux)させながら行った。その後、約2時間さらに反応させた後、常温に温度を下げた。反応させた混合物に、メタノールと水を4:1の割合で混合した溶液を添加し、沈殿物が生じると水で1次洗浄(washing)し、最後にはメタノールで洗浄した。最終的に60℃の真空オーブン(vacuum oven)で24時間乾燥させることで、前記化学式4で表されるポリエーテルスルホン樹脂を製造した。
(Manufacture of polyethersulfone resin)
(Production Example 1)
38.5 g of a naphthalene phenol curing agent represented by the following chemical formula 9, 25.16 g (bis- (4-chlorophenyl) sulfone, Sigma-Aldrich) represented by the following chemical formula 10, potassium carbonate (K 2 CO 3 , Sigma-Aldrich) 25.39 g, dimethylacetamide (DMAc, Samchun Pure Chemical Co.) 400 ml, and toluene (toluene, JT Baker) 50 ml in a two-neck round bottom flask (2 neck round blot) Added and stirred. The reaction conditions were performed while refluxing at about 150 ° C. for 4 hours. Thereafter, after further reaction for about 2 hours, the temperature was lowered to room temperature. A solution in which methanol and water were mixed at a ratio of 4: 1 was added to the reacted mixture, and when a precipitate was formed, it was first washed with water and finally washed with methanol. Finally, it was dried in a vacuum oven at 60 ° C. for 24 hours, thereby producing a polyethersulfone resin represented by the chemical formula 4.

Figure 2015199905
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Figure 2015199905
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(実施例1)
ナフタレン系エポキシ(HP−6000、EEW250)10.8g、フェノールノボラック型シアネートエステル(PT−30)15gをMEK(methyl ethyl ketone)溶媒5gとともに混合した。これに、GPTMS(Glydoxy propyl trimethyl silane)で表面処理した無機充填剤70gを含む固形分含量69.2%のフィラースラリー(SC2050−MTE、Admatech社)101.1gを添加し、約30分間撹拌した。撹拌された混合物に、前記製造例1で製造されたポリエーテルスルホン樹脂4.2g及び2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)0.081gを添加し、約30分間さらに撹拌した。これをドクターブレード方式で銅箔のシャイニー面に80μmの厚さに塗布することで、試験片を製作した。製作された試験片をオーブンで約80℃で30分間、さらに約120℃で10分間乾燥させて、半硬化(B−stage)状態となるようにした。これを真空プレス(vacuum press)で完全硬化させた(最高温度230℃、最高圧力2MPa)。
(Example 1)
10.8 g of naphthalene type epoxy (HP-6000, EEW250) and 15 g of phenol novolac type cyanate ester (PT-30) were mixed together with 5 g of MEK (methyl ethyl ketone) solvent. To this, 101.1 g of a filler slurry (SC2050-MTE, Admatech) having a solid content of 69.2% containing 70 g of an inorganic filler surface-treated with GPTMS (Glyoxypropyl trimethylsilane) was added and stirred for about 30 minutes. . To the stirred mixture, 4.2 g of the polyethersulfone resin prepared in Preparation Example 1 and 0.081 g of 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ) were added, and the mixture was further stirred for about 30 minutes. A test piece was manufactured by applying this to a shiny surface of copper foil to a thickness of 80 μm by a doctor blade method. The manufactured test piece was dried in an oven at about 80 ° C. for 30 minutes and further at about 120 ° C. for 10 minutes so as to be in a semi-cured (B-stage) state. This was completely cured by a vacuum press (maximum temperature 230 ° C., maximum pressure 2 MPa).

(実施例2)
ナフタレン系エポキシ(HP−6000、EEW250)10.8g、フェノールノボラック型シアネートエステル(PT−30)7.5gをMEK(methyl ethyl ketone)4gとともに混合した。これに、GPTMS(Glydoxy propyl trimethyl silane)で表面処理した無機充填剤70gを含む固形分含量69.2%のフィラースラリー(SC2050−MTE、Admatech社)101.1gを添加し、約30分間撹拌した。撹拌された混合物にビスマレイミド(BMI−2300)7.5gを添加して30分間撹拌した後、前記製造例1で製造されたポリエーテルスルホン樹脂4.2g、2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)0.081g、及びDTBP(Di−tert−butyl peroxide)0.075gを入れて、30分間さらに撹拌した。これをドクターブレード方式で銅箔のシャイニー面に80μmの厚さに塗布することで、試験片を製作した。製作された試験片をオーブンで約80℃で30分間、さらに約120℃で10分間乾燥させて、半硬化(B−stage)状態となるようにした。これを真空プレス(vacuum press)で完全硬化させた(最高温度230℃、最高圧力2MPa)。
(Example 2)
10.8 g of naphthalene type epoxy (HP-6000, EEW250) and 7.5 g of phenol novolac type cyanate ester (PT-30) were mixed together with 4 g of MEK (methyl ethyl ketone). To this, 101.1 g of a filler slurry (SC2050-MTE, Admatech) having a solid content of 69.2% containing 70 g of an inorganic filler surface-treated with GPTMS (Glyoxypropyl trimethylsilane) was added and stirred for about 30 minutes. . After 7.5 g of bismaleimide (BMI-2300) was added to the stirred mixture and stirred for 30 minutes, 4.2 g of the polyethersulfone resin prepared in Preparation Example 1 and 2-ethyl-4-methylimidazole ( 2E4MZ) (0.081 g) and DTBP (Di-tert-butyl peroxide) (0.075 g) were added, and the mixture was further stirred for 30 minutes. A test piece was manufactured by applying this to a shiny surface of copper foil to a thickness of 80 μm by a doctor blade method. The manufactured test piece was dried in an oven at about 80 ° C. for 30 minutes and further at about 120 ° C. for 10 minutes so as to be in a semi-cured (B-stage) state. This was completely cured by a vacuum press (maximum temperature 230 ° C., maximum pressure 2 MPa).

(実施例3)
ナフタレン系エポキシ(HP−6000、EEW250)10.8g、フェノールノボラック型シアネートエステル(PT−30)12gをMEK(methyl ethyl ketone)5gとともに混合した。これに、GPTMS(Glydoxy propyl trimethyl silane)で表面処理した無機充填剤70gを含む固形分含量69.2%のフィラースラリー(SC2050−MTE、Admatech社)101.1gを添加し、約30分間撹拌した。撹拌された混合物にビスマレイミド(BMI−2300)3gを添加して30分間撹拌した後、前記製造例1で製造されたポリエーテルスルホン樹脂4.2g、2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)0.081g、及びDTBP(Di−tert−butyl peroxide)0.03gを入れて、30分間さらに撹拌した。これをドクターブレード方式で銅箔のシャイニー面に80μmの厚さに塗布することで、試験片を製作した。製作された試験片をオーブンで約80℃で30分間、さらに約120℃で10分間乾燥させて、半硬化(B−stage)状態となるようにした。これを真空プレス(vacuum press)で完全硬化させた(最高温度230℃、最高圧力2MPa)。
(Example 3)
10.8 g of naphthalene epoxy (HP-6000, EEW250) and 12 g of phenol novolac cyanate ester (PT-30) were mixed together with 5 g of MEK (methyl ethyl ketone). To this, 101.1 g of a filler slurry (SC2050-MTE, Admatech) having a solid content of 69.2% containing 70 g of an inorganic filler surface-treated with GPTMS (Glyoxypropyl trimethylsilane) was added and stirred for about 30 minutes. . After adding 3 g of bismaleimide (BMI-2300) to the stirred mixture and stirring for 30 minutes, 4.2 g of the polyethersulfone resin prepared in Preparation Example 1, 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ) 0.081 g and 0.03 g of DTBP (Di-tert-butyl peroxide) were added and further stirred for 30 minutes. A test piece was manufactured by applying this to a shiny surface of copper foil to a thickness of 80 μm by a doctor blade method. The manufactured test piece was dried in an oven at about 80 ° C. for 30 minutes and further at about 120 ° C. for 10 minutes so as to be in a semi-cured (B-stage) state. This was completely cured by a vacuum press (maximum temperature 230 ° C., maximum pressure 2 MPa).

(実施例4)
前記実施例2による絶縁樹脂組成物を含むワニスにガラス繊維(E2116、日東紡績株式会社)を含浸させ、80℃で乾燥した後、210g/mの坪量を基準としてプリプレグを製作した。
Example 4
A varnish containing the insulating resin composition according to Example 2 was impregnated with glass fiber (E2116, Nitto Boseki Co., Ltd.), dried at 80 ° C., and then a prepreg was produced based on a basis weight of 210 g / m 2 .

(実施例5)
前記実施例4で製造されたプリプレグの両面に銅箔を当て、真空プレスを用いて230℃の温度、2MPaの圧力で銅張積層板を製作した。
(Example 5)
A copper foil was applied to both sides of the prepreg produced in Example 4, and a copper-clad laminate was produced using a vacuum press at a temperature of 230 ° C. and a pressure of 2 MPa.

(実施例6)
前記実施例5で製造された銅張積層板に回路パターンを形成し、120℃で30分間乾燥した後、前記銅張積層板の両面に、実施例2で製造された試験片をMorton CVA725真空ラミネーターを用いて、温度90℃、圧力2MPaの条件で20秒間真空ラミネート加工することで、印刷回路基板を製造した。
(Example 6)
After forming a circuit pattern on the copper clad laminate produced in Example 5 and drying at 120 ° C. for 30 minutes, the test piece produced in Example 2 was placed on a Morton CVA725 vacuum on both sides of the copper clad laminate. A printed circuit board was produced by vacuum laminating for 20 seconds under the conditions of a temperature of 90 ° C. and a pressure of 2 MPa using a laminator.

(比較例1)
クレゾールノボラックエポキシ(YD−128、EEW190、Kukdo Chemical)8g、フェノールノボラック型シアネートエステル(PT−30)15gをMEK(methyl ethyl ketone)溶媒5gとともに混合した。これに、GPTMS(Glydoxy propyl trimethyl silane)で表面処理した無機充填剤70gを含む固形分含量69.2%のフィラースラリー(SC2050−MTE、Admatech社)101.1gを添加し、約30分間撹拌した。撹拌された混合物に、前記製造例1で製造されたポリエーテルスルホン樹脂4.2g及び2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)0.081gを添加し、約30分間さらに撹拌した。その後、前記実施例1と同様の条件下で試験片を製作した。
(Comparative Example 1)
8 g of cresol novolac epoxy (YD-128, EEW190, Kukdo Chemical) and 15 g of phenol novolac type cyanate ester (PT-30) were mixed with 5 g of MEK (methyl ethyl ketone) solvent. To this, 101.1 g of a filler slurry (SC2050-MTE, Admatech) having a solid content of 69.2% containing 70 g of an inorganic filler surface-treated with GPTMS (Glyoxypropyl trimethylsilane) was added and stirred for about 30 minutes. . To the stirred mixture, 4.2 g of the polyethersulfone resin prepared in Preparation Example 1 and 0.081 g of 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ) were added, and the mixture was further stirred for about 30 minutes. Thereafter, a test piece was manufactured under the same conditions as in Example 1.

(比較例2)
ナフタレン系エポキシ(HP−6000、EEW250)10.8g、フェノールノボラック型シアネートエステル(PT−30)15gをMEK(methyl ethyl ketone)溶媒5gとともに混合した。これに、GPTMS(Glydoxy propyl trimethyl silane)で表面処理した無機充填剤70gを含む固形分含量69.2%のフィラースラリー(SC2050−MTE、Admatech社)101.1gを添加し、約30分間撹拌した。撹拌された混合物に、フェノールノボラック型硬化剤(TD2090−60M、DIC)4.2g及び2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)0.081gを添加し、約30分間さらに撹拌した。その後、前記実施例1と同様の条件下で試験片を製作した。
(Comparative Example 2)
10.8 g of naphthalene type epoxy (HP-6000, EEW250) and 15 g of phenol novolac type cyanate ester (PT-30) were mixed together with 5 g of MEK (methyl ethyl ketone) solvent. To this, 101.1 g of a filler slurry (SC2050-MTE, Admatech) having a solid content of 69.2% containing 70 g of an inorganic filler surface-treated with GPTMS (Glyoxypropyl trimethylsilane) was added and stirred for about 30 minutes. . To the stirred mixture, 4.2 g of phenol novolac type curing agent (TD2090-60M, DIC) and 0.081 g of 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ) were added and further stirred for about 30 minutes. Thereafter, a test piece was manufactured under the same conditions as in Example 1.

(比較例3)
クレゾールノボラックエポキシ(YD−128、EEW190、Kukdo Chemical)8g、フェノールノボラック型シアネートエステル(PT−30)15gをMEK(methyl ethyl ketone)溶媒5gとともに混合した。これに、GPTMS(Glydoxy propyl trimethyl silane)で表面処理した無機充填剤70gを含む固形分含量69.2%のフィラースラリー(SC2050−MTE、Admatech社)101.1gを添加し、約30分間撹拌した。撹拌された混合物に、フェノールノボラック型硬化剤(TD2090−60M、DIC)4.2g及び2−エチル−4−メチルイミダゾール(2E4MZ)0.081gを添加し、約30分間さらに撹拌した。その後、前記実施例1と同様の条件下で試験片を製作した。
(Comparative Example 3)
8 g of cresol novolac epoxy (YD-128, EEW190, Kukdo Chemical) and 15 g of phenol novolac type cyanate ester (PT-30) were mixed with 5 g of MEK (methyl ethyl ketone) solvent. To this, 101.1 g of a filler slurry (SC2050-MTE, Admatech) having a solid content of 69.2% containing 70 g of an inorganic filler surface-treated with GPTMS (Glyoxypropyl trimethylsilane) was added and stirred for about 30 minutes. . To the stirred mixture, 4.2 g of phenol novolac type curing agent (TD2090-60M, DIC) and 0.081 g of 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ) were added and further stirred for about 30 minutes. Thereafter, a test piece was manufactured under the same conditions as in Example 1.

(測定方法)
実施例1〜3及び比較例1〜3により製造された試験片の物性を下記のように測定した。ガラス転移温度(Tg)及び引張強度(Tensile strength)は、DMA(Dynamic mechanical analyzer、TA Instruments、Q800 model)を用いて30〜350℃の温度範囲で測定した。ガラス転移温度は、タンデルタ(Tan delta)値の最大値(maximum peak)で計算した。
(Measuring method)
The physical properties of the test pieces manufactured according to Examples 1 to 3 and Comparative Examples 1 to 3 were measured as follows. The glass transition temperature (Tg) and the tensile strength (Tensile strength) were measured in a temperature range of 30 to 350 ° C. using a DMA (Dynamic mechanical analyzer, TA Instruments, Q800 model). The glass transition temperature was calculated by the maximum value of the Tan delta value (maximum peak).

熱膨張係数(CTE)は、TMA(Thermal mechanical analyzer、TA Istruments、Q400 model)を用いて、1次スキャン30〜310℃、2次スキャン310〜10℃、3次スキャン10〜300℃で測定した後、さらに3次スキャンで50〜100℃での熱膨張係数を測定した。   The coefficient of thermal expansion (CTE) was measured at a primary scan of 30 to 310 ° C., a secondary scan of 310 to 10 ° C., and a tertiary scan of 10 to 300 ° C. using TMA (Thermal mechanical analyzer, TA Instruments, Q400 model). Thereafter, the thermal expansion coefficient at 50 to 100 ° C. was further measured by a third scan.

Figure 2015199905
Figure 2015199905

前記表1を参照すれば、本発明の実施例1〜3による絶縁樹脂組成物で製造された試験片は、比較例1〜3により製造された試験片に比べ、ガラス転移温度、熱膨張係数、及び引張強度の特性が著しく優れていることが分かる。このようなことから、本発明の実施例1〜3による絶縁樹脂組成物で製造された試験片のように、製造例1で製造されたポリエーテルスルホン樹脂を硬化剤として使用すると、前記ポリエーテルスルホン樹脂の末端のヒドロキシル基(OH)がエポキシ樹脂、ビスマレイミド樹脂、及びシアネートエステル樹脂と効果的に硬化反応することが分かる。   Referring to Table 1, the test pieces manufactured with the insulating resin compositions according to Examples 1 to 3 of the present invention have a glass transition temperature and a thermal expansion coefficient as compared with the test pieces manufactured according to Comparative Examples 1 to 3. It can be seen that the properties of the tensile strength are remarkably excellent. For this reason, when the polyethersulfone resin produced in Production Example 1 is used as a curing agent like the test pieces produced with the insulating resin compositions according to Examples 1 to 3 of the present invention, the polyether It can be seen that the terminal hydroxyl group (OH) of the sulfone resin effectively cures with the epoxy resin, bismaleimide resin, and cyanate ester resin.

以上、本発明を具体的な実施例に基づいて詳細に説明したが、これは本発明を具体的に説明するためのものであり、本発明はこれに限定されず、該当分野における通常の知識を有する者であれば、本発明の技術的思想内にての変形や改良が可能であることは明白であろう。   As described above, the present invention has been described in detail based on the specific embodiments. However, the present invention is only for explaining the present invention, and the present invention is not limited thereto. It will be apparent to those skilled in the art that modifications and improvements within the technical idea of the present invention are possible.

本発明の単純な変形乃至変更はいずれも本発明の領域に属するものであり、本発明の具体的な保護範囲は添付の特許請求の範囲により明確になるであろう。   All simple variations and modifications of the present invention belong to the scope of the present invention, and the specific scope of protection of the present invention will be apparent from the appended claims.

本発明は、印刷回路基板用絶縁樹脂組成物及びそれを用いた製品に適用可能である。   The present invention is applicable to an insulating resin composition for a printed circuit board and a product using the same.

Claims (13)

ナフタレン系エポキシ樹脂と、
シアネートエステル樹脂と、
ポリエーテルスルホン樹脂と、
ビスマレイミド樹脂と、
無機充填剤と、を含む印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。
Naphthalene epoxy resin,
A cyanate ester resin;
Polyethersulfone resin,
Bismaleimide resin,
An insulating resin composition for a printed circuit board, comprising an inorganic filler.
5〜30重量%のナフタレン系エポキシ樹脂と、5〜40重量%のシアネートエステル樹脂と、3〜15重量%のポリエーテルスルホン樹脂と、1〜10重量%のビスマレイミド樹脂と、50〜80重量%の無機充填剤と、を含む、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。   5-30 wt% naphthalene epoxy resin, 5-40 wt% cyanate ester resin, 3-15 wt% polyethersulfone resin, 1-10 wt% bismaleimide resin, 50-80 wt% The insulating resin composition for printed circuit boards according to claim 1, comprising: 前記ナフタレン系エポキシ樹脂は、下記化学式1、化学式2で表されるエステル型ナフタレン系エポキシ樹脂またはこれらの混合物である、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。
Figure 2015199905
Figure 2015199905
2. The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 1, wherein the naphthalene-based epoxy resin is an ester-type naphthalene-based epoxy resin represented by the following chemical formulas 1 and 2 or a mixture thereof.
Figure 2015199905
Figure 2015199905
前記シアネートエステル樹脂は、下記化学式3で表されるフェノールノボラック型シアネートエステル樹脂である、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。
Figure 2015199905
式中、nは0〜3の整数である。
The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 1, wherein the cyanate ester resin is a phenol novolac-type cyanate ester resin represented by the following chemical formula 3.
Figure 2015199905
In formula, n is an integer of 0-3.
前記ポリエーテルスルホン樹脂は、フェノール性ヒドロキシル基を含み、下記化学式4で表される、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。
Figure 2015199905
式中、nは1〜3の整数である。
The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 1, wherein the polyethersulfone resin contains a phenolic hydroxyl group and is represented by the following chemical formula 4.
Figure 2015199905
In the formula, n is an integer of 1 to 3.
前記ビスマレイミド樹脂は、下記化学式5、化学式6、または化学式7で表される化合物またはこれらの混合物である、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。
Figure 2015199905
式中、nは1〜3の整数である。
Figure 2015199905
Figure 2015199905
The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 1, wherein the bismaleimide resin is a compound represented by the following chemical formula 5, chemical formula 6, or chemical formula 7 or a mixture thereof.
Figure 2015199905
In the formula, n is an integer of 1 to 3.
Figure 2015199905
Figure 2015199905
前記無機充填剤は、平均粒径が0.05〜1μmである、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。   The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 1, wherein the inorganic filler has an average particle diameter of 0.05 to 1 μm. 前記無機充填剤は、シリカ(SiO)、アルミナ(Al)、硫酸バリウム(BaSO)、タルク、水酸化アルミニウム(AlOH)、水酸化マグネシウム(Mg(OH))、炭酸カルシウム(CaCO)、炭酸マグネシウム(MgCO)、酸化マグネシウム(MgO)、窒化ホウ素(BN)、ホウ酸アルミニウム(AlBO)、チタン酸バリウム(BaTiO)、及びジルコン酸カルシウム(CaZrO)から選択される一つ以上である、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。 The inorganic filler is silica (SiO 2 ), alumina (Al 2 O 3 ), barium sulfate (BaSO 4 ), talc, aluminum hydroxide (AlOH 3 ), magnesium hydroxide (Mg (OH) 2 ), calcium carbonate (CaCO 3), magnesium carbonate (MgCO 3), selected of magnesium oxide (MgO), boron nitride (BN), aluminum borate (alBO 3), barium titanate (BaTiO 3), and calcium zirconate (CaZrO 3) The insulating resin composition for printed circuit boards according to claim 1, wherein the insulating resin composition is one or more. 硬化促進剤をさらに含む、請求項1に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。   The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 1, further comprising a curing accelerator. 前記硬化促進剤は、金属系硬化促進剤、イミダゾール系硬化促進剤、及びアミン系硬化促進剤から選択される一つ以上である、請求項9に記載の印刷回路基板用絶縁樹脂組成物。   The insulating resin composition for a printed circuit board according to claim 9, wherein the curing accelerator is at least one selected from a metal curing accelerator, an imidazole curing accelerator, and an amine curing accelerator. 請求項1に記載の絶縁樹脂組成物を含むワニスにガラス繊維を含浸させて製造されたプリプレグ。   A prepreg produced by impregnating glass fiber into a varnish containing the insulating resin composition according to claim 1. 前記ガラス繊維は、Eガラス、Tガラス、NEガラス、Sガラスから選択される一つ以上である、請求項11に記載のプリプレグ。   The prepreg according to claim 11, wherein the glass fiber is one or more selected from E glass, T glass, NE glass, and S glass. 請求項11に記載のプリプレグの両面に銅箔を積層して製造された銅張積層板(CCL)の一面または他面に、一つ以上の回路層または絶縁層を積層して製造された印刷回路基板。   Printing produced by laminating one or more circuit layers or insulating layers on one side or the other side of a copper clad laminate (CCL) produced by laminating copper foil on both sides of the prepreg according to claim 11. Circuit board.
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