JP2015177259A - Oscillation circuit, oscillator, electronic apparatus, moving body and oscillator manufacturing method - Google Patents

Oscillation circuit, oscillator, electronic apparatus, moving body and oscillator manufacturing method Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an oscillation circuit, an oscillator, an electronic apparatus, a moving body and an oscillator manufacturing method, capable of improving inspection reliability of a vibrator.SOLUTION: An oscillation circuit 1 includes: an oscillation part 10 which includes a first terminal 11 and a second terminal 12 connected to a vibrator 100; a third terminal 13; a fourth terminal 14 to which power potential VDD is supplied; a first transistor T1 and a second transistor T2; a current mirror circuit 20 for outputting to the second terminal 12 a current which flows from the fourth terminal 14 to the second transistor T2, on the basis of a current which flows from the fourth terminal 14 to the first transistor T1; a first switchover unit 21 which controls an electrical connection between the first terminal 11 and the third terminal 13; and a second switchover unit 22 which controls a connection state (ON/OFF state) of the second transistor T2.

Description

本発明は、発振回路、発振器、電子機器、移動体及び発振器の製造方法に関する。   The present invention relates to an oscillation circuit, an oscillator, an electronic device, a moving object, and a method for manufacturing the oscillator.

水晶振動子(圧電振動子)やMEMS(Micro Electro Mechanical Systems)振動子などの振動子は、大きな電流又は電圧、又は電力のAC信号を印加して振動子を駆動させて、振動子の周波数特性等を検査するオーバードライブ検査や、大きな電流又は電圧又は電力のAC信号を段階的に増減させた信号を印加して振動子を駆動させて、振動子の周波数特性等の変動を検査するドライブレベル検査などを行なって、振動子の特性が検査される。   A vibrator such as a crystal vibrator (piezoelectric vibrator) or a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) vibrator applies a large current, voltage, or power AC signal to drive the vibrator, and the frequency characteristics of the vibrator. Drive level for testing fluctuations in the frequency characteristics, etc. of an oscillator by driving an oscillator by applying a signal that increases or decreases a large current, voltage, or power AC signal in stages. The characteristics of the vibrator are inspected by performing an inspection or the like.

一方、発振器の小型化のために、水晶振動子と発振回路とを同一の収容容器内に収容する発振器が開発されている。このため、水晶振動子と発振回路とを同一の収容容器内に搭載した後に振動子の特性を検査するために、様々な工夫がなされている。   On the other hand, in order to reduce the size of an oscillator, an oscillator that accommodates a crystal resonator and an oscillation circuit in the same container has been developed. For this reason, various devices have been made to inspect the characteristics of the vibrator after the crystal vibrator and the oscillation circuit are mounted in the same container.

特許文献1には、水晶振動子の特性を検査するときに利用される検査専用の検査用端子及び電力入力端子に特定の直流電圧を印加することで制御されるアナログスイッチを有し、水晶振動子の検査時にはアナログスイッチを介して水晶振動子を検査用端子に導通接続し、発振器の通常動作時には水晶振動子から検査用端子を切り離すように構成した水晶発振器が開示されている。   Patent Document 1 has an inspection switch dedicated for testing the characteristics of a crystal resonator and an analog switch controlled by applying a specific DC voltage to a power input terminal. A crystal oscillator is disclosed in which a crystal resonator is conductively connected to a test terminal via an analog switch when a child is inspected, and is disconnected from the crystal resonator during normal operation of the oscillator.

また、特許文献2には、発振器の機能端子を水晶振動子の検査用端子として兼用する水晶発振器が開示されている。   Patent Document 2 discloses a crystal oscillator in which the function terminal of the oscillator is also used as an inspection terminal of the crystal resonator.

特許文献2では、水晶振動子の検査用端子を水晶発振器の出力端子及びスタンバイ端子とで兼用することで、特許文献1のように専用の検査用端子を有する構成と比較して発振器の小型化が可能になる。   In Patent Document 2, the inspection terminal of the crystal resonator is also used as the output terminal and the standby terminal of the crystal oscillator, thereby reducing the size of the oscillator as compared with the configuration having the dedicated inspection terminal as in Patent Document 1. Is possible.

特許文献2において、水晶振動子の検査用端子と兼用される端子として出力端子及びスタンバイ端子が選択された理由としては、水晶振動子の特性を検査する際には、切換回路は電源電圧によって制御されることが考えられる。   In Patent Document 2, the reason why the output terminal and the standby terminal are selected as the terminals used for the inspection of the crystal resonator is that when the characteristics of the crystal resonator are inspected, the switching circuit is controlled by the power supply voltage. It is thought that it is done.

切換回路の動作を安定させるために電源端子及びアース端子(接地端子)には安定度の高い電位を印加する必要がある。仮にこれら端子を水晶検査端子として兼用してしまうと、電源電圧は、直流電圧に水晶振動子の信号が重畳することになるので不安定になってしまう。したがって、水晶振動子とは2つの端子としては出力端子及びスタンバイ端子に限定されている。   In order to stabilize the operation of the switching circuit, it is necessary to apply a highly stable potential to the power supply terminal and the ground terminal (ground terminal). If these terminals are also used as crystal inspection terminals, the power supply voltage becomes unstable because the signal of the crystal resonator is superimposed on the DC voltage. Therefore, the crystal resonator is limited to the output terminal and the standby terminal as two terminals.

特開2001−102870号公報JP 2001-102870 A 特開2009−201097号公報JP 2009-201097 A

特許文献1及び特許文献2のいずれにおいても、振動子の検査時においては、振動子と接続される2つの水晶検査用端子に加え、アナログスイッチ、切換回路を制御するために
電源端子及び接地端子が必要になるので、これら4つの端子と電気的に接続される電極とプローブ等との接続を管理しなければならない。そして、管理すべき接続箇所が多い程、接続不良による検査の不具合が発生する可能性が高まり、振動子の検査の信頼性が低下してしまう場合があった。
In both Patent Document 1 and Patent Document 2, when testing a vibrator, in addition to two crystal testing terminals connected to the vibrator, a power supply terminal and a ground terminal for controlling an analog switch and a switching circuit. Therefore, it is necessary to manage the connection between the electrodes electrically connected to these four terminals and the probe. As the number of connection points to be managed increases, the possibility of inspection failure due to connection failure increases, and the reliability of the inspection of the vibrator may decrease.

本発明は、以上のような技術的課題に鑑みてなされたものである。本発明のいくつかの態様によれば、振動子の検査の信頼性を高めることができる、発振回路、発振器、電子機器、移動体及び発振器の製造方法を提供することができる。   The present invention has been made in view of the above technical problems. According to some aspects of the present invention, it is possible to provide an oscillation circuit, an oscillator, an electronic device, a moving body, and a method for manufacturing an oscillator that can improve the reliability of the inspection of the vibrator.

本発明は前述の課題の少なくとも一部を解決するためになされたものであり、以下の態様又は適用例として実現することが可能である。   SUMMARY An advantage of some aspects of the invention is to solve at least a part of the problems described above, and the invention can be implemented as the following aspects or application examples.

[適用例1]
本適用例に係る発振回路は、振動子と接続される第1端子及び第2端子を有する発振部と、第3端子と、電源電位が供給される第4端子と、第1トランジスター及び第2トランジスターを有し、前記第4端子から前記第1トランジスターに流れる電流に基づいて、前記第4端子から前記第2トランジスターに流れる電流を前記第2端子に出力するカレントミラー回路と、前記第1端子と前記第3端子との電気的な接続を切り替える第1切替部と、前記第2トランジスターの接続状態を切り替える第2切替部と、を含む、発振回路である。
[Application Example 1]
The oscillation circuit according to this application example includes an oscillation unit having a first terminal and a second terminal connected to the vibrator, a third terminal, a fourth terminal to which a power supply potential is supplied, a first transistor, and a second transistor. A current mirror circuit having a transistor and outputting a current flowing from the fourth terminal to the second transistor to the second terminal based on a current flowing from the fourth terminal to the first transistor; and the first terminal And an oscillation circuit including a first switching unit that switches an electrical connection between the first terminal and the third terminal, and a second switching unit that switches a connection state of the second transistor.

本適用例によれば、例えば、第3端子と第4端子との間に、振動子を検査するための電圧信号を供給することによって、例えば、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子の特性の検査を行うことができる。発振回路の通常動作時と振動子の検査時において、第4端子を電源電位が供給される端子及び振動子を検査するための電圧信号が供給される端子として共用できるので、検査専用の検査用端子を設ける場合に比べて、検査に用いる端子数を減らすことができる。したがって、例えば、検査用信号を入力するためのプローブと発振回路側の端子との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるので、振動子の検査の信頼性を高めた発振回路を実現できる。また、発振部を介さずに、第3端子と第4端子とを介して振動子に振動子の特性を検査するための電圧信号を供給できるので、発振部を介して振動子に電圧信号を供給する場合に比べて、電圧信号の大きさに関する制限が少なくなる。また、検査専用の端子を通常動作時の端子と共用しているため、端子数を減らすことができ、発振回路を小型化することもできる。   According to this application example, for example, by supplying a voltage signal for inspecting the vibrator between the third terminal and the fourth terminal, for example, an overdrive inspection or a drive level inspection of the vibrator Inspection of characteristics can be performed. During the normal operation of the oscillation circuit and the inspection of the vibrator, the fourth terminal can be shared as a terminal to which the power supply potential is supplied and a terminal to which a voltage signal for inspecting the vibrator is supplied. Compared to the case where terminals are provided, the number of terminals used for inspection can be reduced. Therefore, for example, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to a poor electrical connection between the probe for inputting the test signal and the terminal on the oscillation circuit side. An oscillation circuit can be realized. In addition, a voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator can be supplied to the vibrator via the third terminal and the fourth terminal without going through the oscillation section. Compared to the case of supply, there are fewer restrictions on the magnitude of the voltage signal. In addition, since the inspection-dedicated terminal is shared with the terminal for normal operation, the number of terminals can be reduced, and the oscillation circuit can be downsized.

[適用例2]
上述の発振回路において、前記第3端子は、接地電位が供給される端子であってもよい。
[Application Example 2]
In the above-described oscillation circuit, the third terminal may be a terminal to which a ground potential is supplied.

接地電位が供給される第3端子に接続される配線は太く設計されることが一般的であり、第3端子と第1端子との間には、第1切替部以外の素子を配置しないことが一般的である。したがって、第3端子と第1端子との間には、第1切替部以外の抵抗成分が少なくなる。同様に、電源電位が供給される第4端子に接続される配線は太く設計されることが一般的であり、第4端子と第2端子との間には、カレントミラー回路以外の素子を配置しないことが一般的である。したがって、第4端子と第2端子との間には、カレントミラー回路以外の抵抗成分が少なくなる。これによって、本適用例によれば、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子の特性の検査を行う場合に、第3端子と第4端子との間に供給される電圧信号の振幅を小さくすることができる。   The wiring connected to the third terminal to which the ground potential is supplied is generally designed to be thick, and no element other than the first switching unit is disposed between the third terminal and the first terminal. Is common. Therefore, a resistance component other than the first switching unit is reduced between the third terminal and the first terminal. Similarly, the wiring connected to the fourth terminal to which the power supply potential is supplied is generally designed to be thick, and an element other than the current mirror circuit is arranged between the fourth terminal and the second terminal. It is common not to. Therefore, a resistance component other than the current mirror circuit is reduced between the fourth terminal and the second terminal. As a result, according to this application example, the amplitude of the voltage signal supplied between the third terminal and the fourth terminal is reduced when performing inspection of the characteristics of the vibrator such as overdrive inspection and drive level inspection. can do.

[適用例3]
上述の発振回路において、前記第1トランジスターと前記第4端子との電気的な接続を切り替える第3切替部を含んでもよい。
[Application Example 3]
The above-described oscillation circuit may include a third switching unit that switches electrical connection between the first transistor and the fourth terminal.

本適用例によれば、第4端子から入力された検査用信号が第1トランジスターに流れることを抑制できるので、第4端子から入力された検査用信号を効果的に振動子に与えることができるので、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子の特性の検査を行う場合に、第3端子と第4端子との間に供給される電圧信号の振幅を小さくすることができる。   According to this application example, since the inspection signal input from the fourth terminal can be suppressed from flowing to the first transistor, the inspection signal input from the fourth terminal can be effectively applied to the vibrator. As a result, the amplitude of the voltage signal supplied between the third terminal and the fourth terminal can be reduced when performing inspection of the characteristics of the vibrator such as overdrive inspection and drive level inspection.

[適用例4]
上述の発振回路において、前記第2トランジスターと並列に設けられ、前記第2端子と前記第4端子との電気的な接続を切り替える第4切替部を含んでもよい。
[Application Example 4]
The above-described oscillation circuit may include a fourth switching unit that is provided in parallel with the second transistor and switches an electrical connection between the second terminal and the fourth terminal.

本適用例によれば、第2端子と第4端子との間の抵抗をさらに小さくすることができるので、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子の特性の検査を行う場合に、第3端子と第4端子との間に供給される電圧信号の振幅を小さくすることができる。   According to this application example, since the resistance between the second terminal and the fourth terminal can be further reduced, the third characteristic can be obtained when the characteristic inspection of the vibrator such as the overdrive inspection or the drive level inspection is performed. The amplitude of the voltage signal supplied between the terminal and the fourth terminal can be reduced.

[適用例5]
上述の発振回路において、前記第1トランジスターとカスコード接続された第3トランジスターと、前記第2トランジスターとカスコード接続された第4トランジスターと、を含んでもよい。
[Application Example 5]
The oscillation circuit described above may include a third transistor cascode-connected to the first transistor and a fourth transistor cascode-connected to the second transistor.

本適用例によれば、カレントミラー回路の第2トランジスターの寄生容量を抑制できる。第2トランジスターの寄生容量は電源電位に応じて変動する。したがって、本適用例によれば、発振回路が出力する信号の周波数の電源変動を抑えることができる。   According to this application example, it is possible to suppress the parasitic capacitance of the second transistor of the current mirror circuit. The parasitic capacitance of the second transistor varies according to the power supply potential. Therefore, according to this application example, it is possible to suppress power supply fluctuations in the frequency of the signal output from the oscillation circuit.

[適用例6]
上述の発振回路において、前記第1切替部は、静電気に対して前記発振部を保護する機能を持つ回路であってもよい。
[Application Example 6]
In the above-described oscillation circuit, the first switching unit may be a circuit having a function of protecting the oscillation unit against static electricity.

本適用例によれば、第1切替部を静電気に対して発振部を保護する機能を持つ回路と共用できるので、第1切替部として専用のスイッチと、静電気保護用の回路とを個別に設ける場合に比べて、回路規模を小さくできる。したがって、小型化可能な発振回路を実現できる。   According to this application example, since the first switching unit can be shared with a circuit having a function of protecting the oscillation unit against static electricity, a dedicated switch and a circuit for electrostatic protection are separately provided as the first switching unit. Compared to the case, the circuit scale can be reduced. Therefore, it is possible to realize an oscillation circuit that can be reduced in size.

[適用例7]
上述の発振回路において、前記第1切替部及び前記第2切替部を制御する制御部をさらに含み、前記第1切替部及び前記第2切替部は、前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されるように前記第1切替部が制御されるとともに、前記第2トランジスターがON状態となるように前記第2切替部が制御される第1モードと、前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されないように前記第1切替部が制御されるとともに、前記第2トランジスターがOFF状態となるように前記第2切替部が制御される第2モードと、を有し、前記制御部は、供給される電源電位が基準値以上である期間に入力されるクロック信号に基づいて、前記第2モードから前記第1モードへと切り替えてもよい。
[Application Example 7]
The above-described oscillation circuit further includes a control unit that controls the first switching unit and the second switching unit, wherein the first switching unit and the second switching unit include the first terminal and the third terminal. The first mode in which the first switching unit is controlled to be electrically connected and the second switching unit is controlled so that the second transistor is in an ON state, the first terminal, and the A second mode in which the first switching unit is controlled so as not to be electrically connected to the third terminal, and the second switching unit is controlled so that the second transistor is turned off. The control unit may switch from the second mode to the first mode based on a clock signal input during a period in which the supplied power supply potential is equal to or higher than a reference value.

本適用例によれば、制御部は、電源電位の大きさ及びクロック信号の2つの信号に基づいてモードの切り替えを行うため、電源電位が変動したのみではモードを切り替えることがないので、意図せずモードが切り替わる誤動作の可能性を低減できる。   According to this application example, since the control unit switches the mode based on the magnitude of the power supply potential and the two signals of the clock signal, the mode is not switched only by changing the power supply potential. Therefore, it is possible to reduce the possibility of malfunctions in which modes are switched.

[適用例8]
本適用例に係る発振器は、上述のいずれかの発振回路と、振動子と、を含む、発振器である。
[Application Example 8]
The oscillator according to this application example is an oscillator including any one of the above-described oscillation circuits and a vibrator.

[適用例9]
本適用例に係る電子機器は、上述のいずれかの発振回路を含む、電子機器である。
[Application Example 9]
An electronic device according to this application example is an electronic device including any of the above-described oscillation circuits.

[適用例10]
本適用例に係る移動体は、上述のいずれかの発振回路を含む、移動体である。
[Application Example 10]
The moving body according to this application example is a moving body including any of the oscillation circuits described above.

これらの適用例に係る電子機器及び移動体によれば、振動子の検査の信頼性を高めた発振回路又は発振器を含んでいるので、信頼性の高い電子機器及び移動体を実現できる。   According to the electronic apparatus and the moving body according to these application examples, since the oscillation circuit or the oscillator with improved reliability of the vibrator inspection is included, a highly reliable electronic apparatus and the moving body can be realized.

[適用例11]
本適用例に係る発振器の製造方法は、振動子と接続される第1端子及び第2端子を有する発振部と、第3端子と、電源電位が供給される第4端子と、第1トランジスター及び第2トランジスターを有し、前記第4端子から前記第1トランジスターに流れる電流に基づいて、前記第4端子から前記第2トランジスターに流れる電流を前記第2端子に出力するカレントミラー回路と、前記第1端子と前記第3端子との電気的な接続を切り替える第1切替部と、前記第2トランジスターの接続状態を切り替える第2切替部と、を含む発振回路と、振動子とを備え、前記発振回路と前記振動子とが電気的に接続され、前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されるように前記第1切替部を切り替えるとともに、前記第2トランジスターがON状態となるように前記第2切替部を切り替えた構成を準備する準備工程と、前記第3端子及び前記第4端子に信号を印加する信号印加工程と、前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されないように前記第1切替部を切り替えるとともに、前記第2トランジスターがOFF状態となるように前記第2切替部を切り替える切替工程と、を含む、発振器の製造方法である。
[Application Example 11]
An oscillator manufacturing method according to this application example includes an oscillation unit having a first terminal and a second terminal connected to a vibrator, a third terminal, a fourth terminal to which a power supply potential is supplied, a first transistor, A current mirror circuit having a second transistor and outputting a current flowing from the fourth terminal to the second transistor to the second terminal based on a current flowing from the fourth terminal to the first transistor; An oscillation circuit including a first switching unit that switches an electrical connection between one terminal and the third terminal, and a second switching unit that switches a connection state of the second transistor; The first switching unit is switched so that the circuit and the vibrator are electrically connected, and the first terminal and the third terminal are electrically connected, and the second transistor is turned on. A preparation step of preparing a configuration in which the second switching unit is switched so as to become a signal applying step of applying a signal to the third terminal and the fourth terminal, and the first terminal and the third terminal. A switching step of switching the first switching unit so as not to be electrically connected and switching the second switching unit so that the second transistor is turned off.

本適用例によれば、電源用導電路に振動子の特性を検査するための電圧信号を供給するとともに、インピーダンス制御手段により発振手段から振動子へ信号が向かう経路と電源用導電路との間のインピーダンスを小さくするように制御することによって、例えば、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子の特性の検査を行うことができる。発振回路の通常動作時と振動子の検査時において、電源用導電路を振動子の特性を検査するための電圧信号を供給するための導電路と共用できるので、検査専用の検査用端子を設ける場合に比べて、検査に用いる端子数を減らすことができる。したがって、例えば、検査用信号を入力するためのプローブと発振回路側の端子との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるので、振動子の検査の信頼性を高めた発振回路を実現できる。また、発振手段を介さずに、電源用導電路とインピーダンス制御手段とを介して振動子に振動子の特性を検査するための電圧信号を供給できるので、発振手段を介して振動子に電圧信号を供給する場合に比べて、電圧信号の大きさに関する制限が少なくなる。また、振動子の検査信号が印加されても、発振部を劣化させるおそれが少ない発振回路を実現することもできる。   According to this application example, the voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator is supplied to the power supply conductive path, and the impedance control means provides a path between the path from the oscillation means to the vibrator and the power supply conductive path. By controlling so as to reduce the impedance of the vibrator, for example, inspection of the characteristics of the vibrator such as overdrive inspection and drive level inspection can be performed. In the normal operation of the oscillation circuit and the inspection of the vibrator, the power supply conductive path can be shared with the conductive path for supplying a voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator. Compared to the case, the number of terminals used for inspection can be reduced. Therefore, for example, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to a poor electrical connection between the probe for inputting the test signal and the terminal on the oscillation circuit side. An oscillation circuit can be realized. In addition, since the voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator can be supplied to the vibrator via the power supply conductive path and the impedance control means without using the oscillation means, the voltage signal is supplied to the vibrator via the oscillation means. Compared with the case where the voltage signal is supplied, the restriction on the magnitude of the voltage signal is reduced. In addition, it is possible to realize an oscillation circuit that is less likely to deteriorate the oscillation unit even when the inspection signal of the vibrator is applied.

第1実施形態に係る発振回路1の回路図である。1 is a circuit diagram of an oscillation circuit 1 according to a first embodiment. FIG. 発振部10の構成の一例を示す回路図である。3 is a circuit diagram illustrating an example of a configuration of an oscillating unit 10. FIG. 制御部30のモード切り替え動作を説明するためのタイミングチャートである。4 is a timing chart for explaining a mode switching operation of a control unit 30. 第2実施形態に係る発振回路1aの回路図である。It is a circuit diagram of the oscillation circuit 1a which concerns on 2nd Embodiment. 第3実施形態に係る発振回路1bの回路図である。It is a circuit diagram of the oscillation circuit 1b which concerns on 3rd Embodiment. 本実施形態に係る発振器1000の断面図である。It is sectional drawing of the oscillator 1000 which concerns on this embodiment. 変形例に係る発振器1000aの断面図である。It is sectional drawing of the oscillator 1000a which concerns on a modification. 本実施形態に係る発振器1000の製造方法を示すフローチャートである。5 is a flowchart showing a method for manufacturing the oscillator 1000 according to the present embodiment. 信号印加工程の概要を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the outline | summary of a signal application process. 本実施形態に係る電子機器300の機能ブロック図である。It is a functional block diagram of the electronic device 300 which concerns on this embodiment. 電子機器300の一例であるスマートフォンの外観の一例を示す図である。3 is a diagram illustrating an example of an appearance of a smartphone that is an example of an electronic apparatus 300. FIG. 本実施形態に係る移動体400の一例を示す図(上面図)である。It is a figure (top view) which shows an example of the mobile body 400 which concerns on this embodiment.

以下、本発明の好適な実施形態について図面を用いて詳細に説明する。用いる図面は説明の便宜上のものである。なお、以下に説明する実施の形態は、特許請求の範囲に記載された本発明の内容を不当に限定するものではない。また以下で説明される構成の全てが本発明の必須構成要件であるとは限らない。   DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The drawings used are for convenience of explanation. The embodiments described below do not unduly limit the contents of the present invention described in the claims. Also, not all of the configurations described below are essential constituent requirements of the present invention.

1.第1実施形態に係る発振回路
図1は、第1実施形態に係る発振回路1の回路図である。発振回路1の一部又は全部は、半導体装置で構成されていてもよい。また、本発明の一例として第1実施形態に係る発振回路1は振動子100が含まれない構成であるが、発振回路1に振動子100が含まれる構成であっても構わない。
1. Oscillation Circuit According to First Embodiment FIG. 1 is a circuit diagram of an oscillation circuit 1 according to the first embodiment. A part or all of the oscillation circuit 1 may be constituted by a semiconductor device. Further, as an example of the present invention, the oscillation circuit 1 according to the first embodiment has a configuration in which the vibrator 100 is not included. However, the oscillation circuit 1 may have a configuration in which the vibrator 100 is included.

本実施形態に係る発振回路1は、振動子100を周波数源とし、振動子100との間で帰還用の導電路を有する発振手段と、発振手段から振動子100へ信号が入力される経路と電源用導電路との間のインピーダンスを制御するインピーダンス制御手段と、を含む。   The oscillation circuit 1 according to the present embodiment includes an oscillation unit that uses the vibrator 100 as a frequency source and has a conductive path for feedback with the vibrator 100, and a path through which a signal is input from the oscillation unit to the vibrator 100. Impedance control means for controlling impedance between the power supply conductive paths.

より具体的には、発振回路1は、振動子100と接続される第1端子11及び第2端子12を有する発振部10と、第3端子13と、電源電位VDDが供給される第4端子14と、第1トランジスターT1及び第2トランジスターT2を有し、第4端子14から第1トランジスターT1に流れる電流に基づいて、第4端子14から第2トランジスターT2に流れる電流を第2端子12に出力するカレントミラー回路20と、第1端子11と第3端子13との電気的な接続を制御する第1切替部21と、第2トランジスターT2の接続状態(ON/OFF状態)を制御する第2切替部22と、を含んで構成されている。上述の発振手段の機能は、主として発振部10によって実現されている。上述の信号印加手段の機能は、主として第2端子12及び第4端子14によって実現されている。上述のインピーダンス制御手段は、主としてカレントミラー回路20、第1切替部21及び第2切替部22によって実現されている。また、図1に示される例では、発振回路1は、第1切替部21及び第2切替部22を制御する制御部30と、周波数制御用の制御信号が入力される第5端子15と、発振信号を出力する第6端子16とを含んで構成されている。   More specifically, the oscillation circuit 1 includes an oscillation unit 10 having a first terminal 11 and a second terminal 12 connected to the vibrator 100, a third terminal 13, and a fourth terminal to which a power supply potential VDD is supplied. 14, a first transistor T1 and a second transistor T2, and based on the current flowing from the fourth terminal 14 to the first transistor T1, the current flowing from the fourth terminal 14 to the second transistor T2 is supplied to the second terminal 12. The output current mirror circuit 20, the first switching unit 21 that controls the electrical connection between the first terminal 11 and the third terminal 13, and the second state that controls the connection state (ON / OFF state) of the second transistor T2. 2 switching unit 22. The function of the oscillation means described above is mainly realized by the oscillation unit 10. The function of the signal applying means described above is mainly realized by the second terminal 12 and the fourth terminal 14. The impedance control means described above is realized mainly by the current mirror circuit 20, the first switching unit 21, and the second switching unit 22. In the example shown in FIG. 1, the oscillation circuit 1 includes a control unit 30 that controls the first switching unit 21 and the second switching unit 22, a fifth terminal 15 to which a control signal for frequency control is input, And a sixth terminal 16 for outputting an oscillation signal.

発振部10は、振動子100と電気的に接続されて発振動作を行う。発振部10としては、例えば、ピアース発振回路、インバーター型発振回路、コルピッツ発振回路、ハートレー発振回路など、種々の公知の発振回路を採用できる。本実施形態においては、発振部10は、ピアース発振回路である。また、本実施形態においては、発振部10と関連して、周波数制御部42及び出力バッファー43を含んで構成されている。   The oscillation unit 10 is electrically connected to the vibrator 100 and performs an oscillation operation. As the oscillation unit 10, various known oscillation circuits such as a Pierce oscillation circuit, an inverter type oscillation circuit, a Colpitts oscillation circuit, and a Hartley oscillation circuit can be employed. In the present embodiment, the oscillation unit 10 is a Pierce oscillation circuit. Further, in the present embodiment, the frequency controller 42 and the output buffer 43 are included in association with the oscillation unit 10.

図2は、発振部10の構成の一例を示す回路図である。図2に示される例では、発振部10は、トランジスターM11、キャパシターC13〜C15、抵抗R11〜R12を含んで構成されている。キャパシターC13及びキャパシターC14は、周波数制御用の可変容量である。   FIG. 2 is a circuit diagram illustrating an example of the configuration of the oscillation unit 10. In the example shown in FIG. 2, the oscillation unit 10 includes a transistor M11, capacitors C13 to C15, and resistors R11 to R12. The capacitor C13 and the capacitor C14 are variable capacitors for frequency control.

第1端子11は、トランジスターM11のベースと接続されている。第2端子12はト
ランジスターM11のコレクターと接続されている。トランジスターM11のベースとコレクターとは、抵抗R11を介して接続されている。トランジスターM11のコレクターは、出力バッファー43の入力端子と接続されている。トランジスターM11のエミッターは接地電位VSSと接続されている。キャパシターC13とキャパシターC15とは、直列に接続され、キャパシターC13の一端(一方の端子)は第1端子11と接続され、キャパシターC15の一端(一方の端子)は、接地電位VSSに接続されている。キャパシターC14の一端は、第2端子12に接続されている。キャパシターC14の他端(他方の端子)は、キャパシターC13とキャパシターC15の共通接続点と接続されているとともに、抵抗R12を介して周波数制御部42の出力端子と接続されている。
The first terminal 11 is connected to the base of the transistor M11. The second terminal 12 is connected to the collector of the transistor M11. The base and collector of the transistor M11 are connected via a resistor R11. The collector of the transistor M11 is connected to the input terminal of the output buffer 43. The emitter of the transistor M11 is connected to the ground potential VSS. The capacitor C13 and the capacitor C15 are connected in series, one end (one terminal) of the capacitor C13 is connected to the first terminal 11, and one end (one terminal) of the capacitor C15 is connected to the ground potential VSS. . One end of the capacitor C14 is connected to the second terminal 12. The other end (the other terminal) of the capacitor C14 is connected to the common connection point of the capacitor C13 and the capacitor C15, and is connected to the output terminal of the frequency control unit 42 via the resistor R12.

なお、図2に示される発振部10においては、入力端子側(振動子100からの信号が供給される側)が第1端子11、出力端子側(振動子100へ供給される信号が出力される側)が第2端子12となっているが、入力端子側が第2端子12、出力端子側が第1端子11とすることも可能である。   In the oscillation unit 10 shown in FIG. 2, the first terminal 11 is output on the input terminal side (the side to which the signal from the vibrator 100 is supplied), and the signal supplied to the vibrator 100 is output on the output terminal side. However, the input terminal side may be the second terminal 12, and the output terminal side may be the first terminal 11.

図1に戻り、周波数制御部42は、第5端子15に入力される制御信号に基づいて、発振部10に含まれる可変容量(図2におけるキャパシターC13及びキャパシターC14)を制御する。すなわち、図1に示される例では、第5端子15は、周波数制御用の端子としても機能する。これによって、発振部10における発振周波数を制御することができる。周波数制御部42は、例えば、第4端子14に入力される制御信号を増幅して発振部10に出力する増幅回路を含んで構成されていてもよい。   Returning to FIG. 1, the frequency control unit 42 controls the variable capacitors (capacitor C <b> 13 and capacitor C <b> 14 in FIG. 2) included in the oscillation unit 10 based on the control signal input to the fifth terminal 15. That is, in the example shown in FIG. 1, the fifth terminal 15 also functions as a frequency control terminal. Thereby, the oscillation frequency in the oscillation unit 10 can be controlled. For example, the frequency control unit 42 may include an amplifier circuit that amplifies a control signal input to the fourth terminal 14 and outputs the amplified control signal to the oscillation unit 10.

出力バッファー43は、増幅回路で構成されている。出力バッファー43は、発振部10が出力する発振信号が入力されて、第6端子16に信号を出力する。   The output buffer 43 is composed of an amplifier circuit. The output buffer 43 receives an oscillation signal output from the oscillation unit 10 and outputs a signal to the sixth terminal 16.

カレントミラー回路20は、第1トランジスターT1及び第2トランジスターT2を有している。カレントミラー回路20は、第4端子14から第1トランジスターT1に流れる電流に基づいて、第4端子14から第2トランジスターT2に流れる電流を第2端子12に出力する。   The current mirror circuit 20 includes a first transistor T1 and a second transistor T2. The current mirror circuit 20 outputs the current flowing from the fourth terminal 14 to the second transistor T2 to the second terminal 12 based on the current flowing from the fourth terminal 14 to the first transistor T1.

図1に示される例では、カレントミラー回路20は、PMOSトランジスターである第1トランジスターT1と、PMOSトランジスターである第2トランジスターT2を有している。第1トランジスターT1のゲート及びドレインと第2トランジスターT2のゲートとは互いに接続され、共通接続点は電流源CSを介して接地電位VSS(第3端子13)に接続されるとともに、トランジスターM2を介して接地電位VSS(第3端子13)に接続されている。第1トランジスターT1のソースは、トランジスターM3を介して第4端子14と接続されている。第2トランジスターT2のソースは、第4端子14と接続されている。第2トランジスターT2のドレインは、第2端子12に接続されている。なお、カレントミラー回路20は、バイポーラートランジスターで構成されていてもよい。   In the example illustrated in FIG. 1, the current mirror circuit 20 includes a first transistor T1 that is a PMOS transistor and a second transistor T2 that is a PMOS transistor. The gate and drain of the first transistor T1 and the gate of the second transistor T2 are connected to each other, and the common connection point is connected to the ground potential VSS (third terminal 13) via the current source CS and via the transistor M2. Are connected to the ground potential VSS (third terminal 13). The source of the first transistor T1 is connected to the fourth terminal 14 via the transistor M3. The source of the second transistor T2 is connected to the fourth terminal 14. The drain of the second transistor T2 is connected to the second terminal 12. Note that the current mirror circuit 20 may be composed of a bipolar transistor.

第1切替部21は、発振部10の第1端子11と第3端子13との電気的な接続を制御する。図1に示される例では、第1切替部21は、制御部30が出力する制御信号に基づいて、第1端子11から配線(図1では接地用の配線)を介して第3端子13へ供給されようとする交流信号の大きさを制御するように第1端子11と第3端子13との間の電気的な接続(インピーダンスの大きさ)を制御する。第1切替部21は、例えば、第1端子11と第3端子13との間のインピーダンスの大きさを制御するものとして第1端子11と第3端子13との間に接続されたスイッチを含んで構成されていてもよい。図1に示される例では、NMOSトランジスターN1がスイッチとして機能する。なお、図1に示される例では、第1切替部21と接続される第3端子13は、接地電位VSSが供給される端子であるが、第3端子13として、他の機能端子(周波数制御用の端子や発振信号の出
力端子など)や専用の端子を用いることも可能である。
The first switching unit 21 controls electrical connection between the first terminal 11 and the third terminal 13 of the oscillation unit 10. In the example shown in FIG. 1, the first switching unit 21 is connected from the first terminal 11 to the third terminal 13 via a wiring (grounding wiring in FIG. 1) based on a control signal output from the control unit 30. The electrical connection (impedance magnitude) between the first terminal 11 and the third terminal 13 is controlled so as to control the magnitude of the AC signal to be supplied. The first switching unit 21 includes, for example, a switch connected between the first terminal 11 and the third terminal 13 for controlling the magnitude of the impedance between the first terminal 11 and the third terminal 13. It may be comprised. In the example shown in FIG. 1, the NMOS transistor N1 functions as a switch. In the example shown in FIG. 1, the third terminal 13 connected to the first switching unit 21 is a terminal to which the ground potential VSS is supplied. However, as the third terminal 13, another function terminal (frequency control) is used. Or a dedicated terminal may be used.

第2切替部22は、第2トランジスターT2の接続状態(ON状態又はOFF状態)を制御する。図1に示される例では、第2切替部22は、NMOSトランジスターであるトランジスターM2を含んで構成されている。トランジスターM2のドレインは第2トランジスターT2のゲートと接続されている。トランジスターM2のソースは接地電位VSS(第3端子13)と接続されている。トランジスターM2のゲートは、制御部30の出力端子と接続されている。第2切替部22は、制御部30が出力する制御信号に基づいて、第2トランジスターT2のゲート電位を接地電位VSSに接続することによって、第2トランジスターT2の接続状態をON状態に制御することができる。   The second switching unit 22 controls the connection state (ON state or OFF state) of the second transistor T2. In the example illustrated in FIG. 1, the second switching unit 22 includes a transistor M2 that is an NMOS transistor. The drain of the transistor M2 is connected to the gate of the second transistor T2. The source of the transistor M2 is connected to the ground potential VSS (third terminal 13). The gate of the transistor M2 is connected to the output terminal of the control unit 30. The second switching unit 22 controls the connection state of the second transistor T2 to the ON state by connecting the gate potential of the second transistor T2 to the ground potential VSS based on the control signal output from the control unit 30. Can do.

本実施形態に係る発振回路1によれば、電源用導電路に振動子100の特性を検査するための電圧信号を供給するとともに、インピーダンス制御手段により発振手段から振動子100へ信号が向かう経路と電源用導電路との間のインピーダンスを小さくするように制御することによって、例えば、オーバードライブ検査(AC信号を振動子100に印加して振動子100を強励振させる試験)やドライブレベル検査(AC信号のドライブレベルを通常使用域で変化させた場合の周波数安定性検査)や振動子100の周波数調整(振動子100の共振周波数を測定して、所望の共振周波数となるように振動子100の調整を行う)などの振動子100の特性の検査を行うことができる。発振回路1の通常動作時と振動子100の検査時において、電源用導電路を振動子100の特性を検査するための電圧信号を供給するための導電路と共用できるので、検査専用の検査用端子を設ける場合に比べて、検査に用いる端子数を減らすことができる。したがって、例えば、検査用信号を入力するためのプローブと発振回路1側の端子との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるので、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1を実現できる。また、発振手段を介さずに、電源用導電路とインピーダンス制御手段とを介して振動子100に振動子100の特性を検査するための電圧信号を供給できるので、発振手段を介して振動子100に電圧信号を供給する場合に比べて、電圧信号の大きさに関する制限が少なくなる。また、振動子100の検査信号が印加されても、発振部10を劣化させるおそれが少ない発振回路1を実現することもできる。   According to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, a voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator 100 is supplied to the power supply conductive path, and a path of the signal from the oscillation means to the vibrator 100 by the impedance control means By controlling so that the impedance between the power supply conductive path is reduced, for example, an overdrive test (a test in which an AC signal is applied to the vibrator 100 to strongly excite the vibrator 100) or a drive level test (AC Frequency stability inspection when the drive level of the signal is changed in the normal use range) and frequency adjustment of the vibrator 100 (resonance frequency of the vibrator 100 is measured so that the vibrator 100 has a desired resonance frequency). The characteristics of the vibrator 100 can be inspected. Since the power supply conductive path can be shared with the conductive path for supplying a voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator 100 during the normal operation of the oscillation circuit 1 and at the time of the inspection of the vibrator 100, Compared to the case where terminals are provided, the number of terminals used for inspection can be reduced. Therefore, for example, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to a poor electrical connection between the probe for inputting the test signal and the terminal on the oscillation circuit 1 side. An enhanced oscillation circuit 1 can be realized. In addition, since the voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator 100 can be supplied to the vibrator 100 via the power supply conductive path and the impedance control means without going through the oscillation means, the vibrator 100 is passed through the oscillation means. Compared with the case where the voltage signal is supplied to the power supply, the restriction on the magnitude of the voltage signal is reduced. In addition, it is possible to realize the oscillation circuit 1 that is less likely to deteriorate the oscillation unit 10 even when the inspection signal of the vibrator 100 is applied.

より具体的には、本実施形態に係る発振回路1によれば、例えば、第3端子13と第4端子14との間に、振動子100を検査するための電圧信号を供給することによって、例えば、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子100の特性の検査を行うことができる。発振回路1の通常動作時と振動子100の検査時において、第4端子14を電源電位VDDが供給される端子及び振動子100を検査するための電圧信号が供給される端子として共用できるので、検査専用の検査用端子を設ける場合に比べて、検査に用いる端子数を減らすことができる。したがって、例えば、検査用信号を入力するためのプローブと発振回路1側の端子との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるので、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1を実現できる。また、発振部10を介さずに、第3端子13と第4端子14とを介して振動子100に振動子100の特性を検査するための電圧信号を供給できるので、発振部10を介して振動子100に電圧信号を供給する場合に比べて、電圧信号の大きさに関する制限が少なくなる。また、検査専用の端子を通常動作時の端子と共用しているため、端子数を減らすことができ、発振回路1を小型化することもできる。   More specifically, according to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, for example, by supplying a voltage signal for inspecting the vibrator 100 between the third terminal 13 and the fourth terminal 14, For example, the inspection of the characteristics of the vibrator 100 such as an overdrive inspection and a drive level inspection can be performed. Since the fourth terminal 14 can be shared as a terminal to which the power supply potential VDD is supplied and a terminal to which a voltage signal for inspecting the vibrator 100 is supplied during the normal operation of the oscillation circuit 1 and the inspection of the vibrator 100, The number of terminals used for inspection can be reduced as compared with the case where inspection terminals dedicated for inspection are provided. Therefore, for example, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to a poor electrical connection between the probe for inputting the test signal and the terminal on the oscillation circuit 1 side. An enhanced oscillation circuit 1 can be realized. Further, since the voltage signal for inspecting the characteristics of the vibrator 100 can be supplied to the vibrator 100 via the third terminal 13 and the fourth terminal 14 without going through the oscillator 10, Compared with the case where a voltage signal is supplied to the vibrator 100, the restriction on the magnitude of the voltage signal is reduced. In addition, since the inspection-dedicated terminal is shared with the terminal for normal operation, the number of terminals can be reduced, and the oscillation circuit 1 can be downsized.

図1に示されるように、第3端子13は、接地電位VSSが供給される端子であってもよい。   As shown in FIG. 1, the third terminal 13 may be a terminal to which the ground potential VSS is supplied.

接地電位VSSが供給される第3端子13に接続される配線は太く設計されることが一般的であり、第3端子13と第1端子11との間には、第1切替部21以外の素子を配置
しないことが一般的である。したがって、第3端子13と第1端子11との間には、第1切替部21以外の抵抗成分が少なくなる。同様に、電源電位VDDが供給される第4端子14に接続される配線は太く設計されることが一般的であり、第4端子14と第2端子12との間には、カレントミラー回路20以外の素子を配置しないことが一般的である。したがって、第4端子14と第2端子12との間には、カレントミラー回路20以外の抵抗成分が少なくなる。これによって、本実施形態によれば、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子100の特性の検査を行う場合に、第3端子13と第4端子14との間に供給される電圧信号の振幅を小さくすることができる。
In general, the wiring connected to the third terminal 13 to which the ground potential VSS is supplied is designed to be thick, and between the third terminal 13 and the first terminal 11 other than the first switching unit 21. Generally, no element is arranged. Therefore, a resistance component other than the first switching unit 21 is reduced between the third terminal 13 and the first terminal 11. Similarly, the wiring connected to the fourth terminal 14 to which the power supply potential VDD is supplied is generally designed to be thick, and a current mirror circuit 20 is provided between the fourth terminal 14 and the second terminal 12. It is common not to arrange other elements. Therefore, a resistance component other than the current mirror circuit 20 is reduced between the fourth terminal 14 and the second terminal 12. As a result, according to the present embodiment, the voltage signal supplied between the third terminal 13 and the fourth terminal 14 when performing inspection of the characteristics of the vibrator 100 such as overdrive inspection or drive level inspection. The amplitude can be reduced.

図1に示されるように、第1切替部21は、静電気に対して発振部10を保護する機能を持つ回路(静電放電保護回路)であってもよい。図1に示される例では、第1切替部21は、NMOSトランジスターN1と抵抗R1とを含んで構成されており、発振部10や振動子100の第1端子11側に対する静電放電保護回路として機能する。   As shown in FIG. 1, the first switching unit 21 may be a circuit (electrostatic discharge protection circuit) having a function of protecting the oscillation unit 10 against static electricity. In the example illustrated in FIG. 1, the first switching unit 21 includes an NMOS transistor N1 and a resistor R1, and serves as an electrostatic discharge protection circuit for the oscillation unit 10 and the first terminal 11 side of the transducer 100. Function.

NMOSトランジスターN1のドレインは第1端子11と接続され、ソースは接地電位VSSと接続されている。抵抗R1の一端(一方の端子)はNMOSトランジスターN1のゲートに接続され、他端(他方の端子)は接地電位VSSに接続されている。NMOSトランジスターN1のゲートには、制御部30からの制御信号が入力され、入力された制御信号に基づいて、NMOSトランジスターN1は接続状態(ON状態又はOFF状態)を切り替える。   The drain of the NMOS transistor N1 is connected to the first terminal 11, and the source is connected to the ground potential VSS. One end (one terminal) of the resistor R1 is connected to the gate of the NMOS transistor N1, and the other end (the other terminal) is connected to the ground potential VSS. A control signal from the control unit 30 is input to the gate of the NMOS transistor N1, and the NMOS transistor N1 switches the connection state (ON state or OFF state) based on the input control signal.

本実施形態に係る発振回路1によれば、第1切替部21を静電気に対して発振部10を保護する機能を持つ回路と共用できるので、第1切替部21として専用のスイッチと、静電気保護用の回路とを個別に設ける場合に比べて、回路規模を小さくできる。したがって、小型化可能な発振回路1を実現できる。   According to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, since the first switching unit 21 can be shared with a circuit having a function of protecting the oscillation unit 10 against static electricity, a dedicated switch as the first switching unit 21 and electrostatic protection Therefore, the circuit scale can be reduced as compared with the case where the circuit is provided separately. Therefore, the oscillation circuit 1 that can be reduced in size can be realized.

図1及び図2に示されるように、第1端子11は、発振部10の入力端子側に電気的に接続されていてもよい。また、図1及び図2に示されるように、第2端子12は、発振部10の出力端子側に電気的に接続されていてもよい。   As shown in FIGS. 1 and 2, the first terminal 11 may be electrically connected to the input terminal side of the oscillation unit 10. 1 and 2, the second terminal 12 may be electrically connected to the output terminal side of the oscillation unit 10.

本実施形態に係る発振回路1によれば、例えば、第1端子11を介して発振部10の入力端子側に接地電位VSSなどの固定電位を供給できるので、振動子100の検査時においては、発振部10の動作を止めることが容易となる。したがって、例えば、振動子100の検査時に発振部10から発生する信号が振動子100に印加されることが低減するため、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1を実現できる。また、振動子100の検査信号が印加されても、発振部10を劣化させるおそれが少ない発振回路1を実現することもできる。   According to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, for example, a fixed potential such as the ground potential VSS can be supplied to the input terminal side of the oscillation unit 10 via the first terminal 11. It becomes easy to stop the operation of the oscillation unit 10. Therefore, for example, since the signal generated from the oscillation unit 10 during the inspection of the vibrator 100 is reduced to be applied to the vibrator 100, the oscillation circuit 1 with improved reliability of the inspection of the vibrator 100 can be realized. In addition, it is possible to realize the oscillation circuit 1 that is less likely to deteriorate the oscillation unit 10 even when the inspection signal of the vibrator 100 is applied.

図1に示されるように、第1切替部21は、トランジスターを含んで構成されていてもよい。図1に示される例では、第1切替部21は、NMOSトランジスターN1を含んで構成されている。   As illustrated in FIG. 1, the first switching unit 21 may be configured to include a transistor. In the example illustrated in FIG. 1, the first switching unit 21 includes an NMOS transistor N1.

本実施形態に係る発振回路1によれば、例えば、NMOSトランジスターN1をスイッチ回路として用いることで第1端子11と接地電位VSSが供給される第3端子13との電気的な接続を容易に制御できる。また、第3端子13、及び、第2端子12と電気的に接続された電源電位VDDが供給される第4端子14の2端子を用いて振動子100の検査を行うことができる。したがって、第1端子11と第3端子13との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるとともに、少ない端子数で振動子100を検査することができるので、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1を実現できる。   According to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, for example, by using the NMOS transistor N1 as a switch circuit, the electrical connection between the first terminal 11 and the third terminal 13 to which the ground potential VSS is supplied can be easily controlled. it can. In addition, the vibrator 100 can be inspected using two terminals of the third terminal 13 and the fourth terminal 14 to which the power supply potential VDD electrically connected to the second terminal 12 is supplied. Therefore, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to poor electrical connection between the first terminal 11 and the third terminal 13, and to inspect the vibrator 100 with a small number of terminals. The oscillation circuit 1 with improved reliability of inspection can be realized.

発振回路1は、第1トランジスターT1と第4端子14との電気的な接続を切り替える第3切替部23を含んで構成されていてもよい。図1に示される例では、第3切替部23は、PMOSトランジスターであるトランジスターM3を含んで構成されている。トランジスターM3のソースは電源電位VDD(第4端子14)と接続されている。トランジスターM3のドレインは第1トランジスターT1のソースと接続されている。トランジスターM3のゲートは制御部30の出力端子と接続されている。第3切替部23は、制御部30が出力する制御信号に基づいて、第1トランジスターT1と第4端子14との電気的な接続を制御することができる。   The oscillation circuit 1 may include a third switching unit 23 that switches the electrical connection between the first transistor T1 and the fourth terminal 14. In the example shown in FIG. 1, the third switching unit 23 includes a transistor M3 that is a PMOS transistor. The source of the transistor M3 is connected to the power supply potential VDD (fourth terminal 14). The drain of the transistor M3 is connected to the source of the first transistor T1. The gate of the transistor M3 is connected to the output terminal of the control unit 30. The third switching unit 23 can control the electrical connection between the first transistor T <b> 1 and the fourth terminal 14 based on the control signal output from the control unit 30.

本実施形態によれば、第4端子14から入力された検査用信号が第1トランジスターT1に流れることを抑制できるので、第4端子14から入力された検査用信号を効果的に振動子100に与えることができるので、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子100の特性の検査を行う場合に、第3端子13と第4端子14との間に供給される電圧信号の振幅を小さくすることができる。   According to the present embodiment, since the inspection signal input from the fourth terminal 14 can be suppressed from flowing to the first transistor T1, the inspection signal input from the fourth terminal 14 can be effectively applied to the vibrator 100. Therefore, the amplitude of the voltage signal supplied between the third terminal 13 and the fourth terminal 14 is reduced when performing inspection of the characteristics of the vibrator 100 such as overdrive inspection or drive level inspection. be able to.

図1に示されるように、発振回路1は、第1切替部21及び第2切替部22を制御する制御部30をさらに含み、第1切替部21及び第2切替部22は、第1端子11と第3端子13とが電気的に接続されるように第1切替部21が制御されるとともに、第2トランジスターT2がON状態となるように第2切替部22が制御される第1モードと、第1端子11と第3端子13とが電気的に接続されないように第1切替部21が制御されるとともに、第2トランジスターT2がOFF状態となるように第2切替部22が制御される第2モードと、を有し、供給される電源電位VDDが基準値Vt以上である期間に入力されるクロック信号SCLKに基づいて、第2モードから第1モードへと切り替えてもよい。   As illustrated in FIG. 1, the oscillation circuit 1 further includes a control unit 30 that controls the first switching unit 21 and the second switching unit 22, and the first switching unit 21 and the second switching unit 22 include the first terminal. 1st mode in which the 1st switching part 21 is controlled so that 11 and the 3rd terminal 13 are electrically connected, and the 2nd switching part 22 is controlled so that the 2nd transistor T2 may be in an ON state The first switching unit 21 is controlled so that the first terminal 11 and the third terminal 13 are not electrically connected, and the second switching unit 22 is controlled so that the second transistor T2 is turned off. The second mode may be switched from the second mode to the first mode based on the clock signal SCLK input during a period in which the supplied power supply potential VDD is equal to or higher than the reference value Vt.

図1に示される例では、制御部30は、シリアルインターフェース31、レジスター32、メモリー33及びPMOSトランジスターP1を含んで構成されている。   In the example illustrated in FIG. 1, the control unit 30 includes a serial interface 31, a register 32, a memory 33, and a PMOS transistor P1.

シリアルインターフェース31は、電源電位VDDの供給を受け、クロック信号SCLKが入力され、入力されたクロック信号SCLKに基づいて、レジスター32及びメモリー33を制御する。本実施形態においては、クロック信号SCLKは、第5端子15から入力される。また、本実施形態においては、シリアルインターフェース31は、レジスター32にデータを書き込むレジスター書き込みモードと、レジスター32及びメモリー33にデータを書き込むメモリー書き込みモードとを有している。また、シリアルインターフェース31は、レジスター32及びメモリー33の少なくとも一方のデータを読み出して第5端子15に出力するメモリー読み出しモードを有していてもよい。   The serial interface 31 is supplied with the power supply potential VDD, receives the clock signal SCLK, and controls the register 32 and the memory 33 based on the input clock signal SCLK. In the present embodiment, the clock signal SCLK is input from the fifth terminal 15. In this embodiment, the serial interface 31 has a register write mode for writing data to the register 32 and a memory write mode for writing data to the register 32 and the memory 33. The serial interface 31 may have a memory read mode in which at least one data of the register 32 and the memory 33 is read and output to the fifth terminal 15.

レジスター32は、第1切替部21、第2切替部22、周波数制御部42及び発振部10を制御するためのデータを格納し、格納されたデータに基づいて第1切替部21、第2切替部22、周波数制御部42及び発振部10を制御する。発振回路1の通電時には、レジスター32は、メモリー33に記憶されたデータを読み込んで格納し、シリアルインターフェース31によって新たなデータが書き込まれた場合には、シリアルインターフェース31によって書き込まれた新たなデータを格納する。   The register 32 stores data for controlling the first switching unit 21, the second switching unit 22, the frequency control unit 42, and the oscillation unit 10, and the first switching unit 21 and the second switching unit based on the stored data. The unit 22, the frequency control unit 42, and the oscillation unit 10 are controlled. When the oscillation circuit 1 is energized, the register 32 reads and stores the data stored in the memory 33. When new data is written by the serial interface 31, the new data written by the serial interface 31 is stored. Store.

メモリー33は、発振回路1の通電時にレジスター32に格納されるデータを記憶する。メモリー33は、例えば、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory)やフラッシュメモリー、電気的には書き換え不能だが紫外線を照射することによって消去可能なFAMOS(Floating gate Avalanche injection Metal Oxide Semiconductor)メモリーなどの書き換え可能な不揮発性メモリーや、マスクROM(Read-Only Memory)などの書き換え不能な不揮発性メモリーなど、種々の公知の不揮発性メモ
リーで構成されていてもよい。なお、FAMOSメモリーはアバランシェ注入により電荷をフローティング・ゲートに蓄積する方式で、この種のメモリーはワンタイム・プログラマブル(OTP:One Time Programmable)メモリーとして使用されている不揮発性メモリーである。
The memory 33 stores data stored in the register 32 when the oscillation circuit 1 is energized. The memory 33 is, for example, an EEPROM (Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), a flash memory, an electrically rewritable FAMOS (Floating Gate Avalanche Injection Metal Oxide Semiconductor) memory that is erasable by irradiating ultraviolet rays, etc. You may comprise various well-known non-volatile memories, such as a non-volatile memory which can be rewritten and non-rewritable non-volatile memories, such as mask ROM (Read-Only Memory). The FAMOS memory is a system in which electric charges are accumulated in the floating gate by avalanche injection. This type of memory is a non-volatile memory used as a one time programmable (OTP) memory.

PMOSトランジスターP1は、ソースが電源電位VDDに接続され、ドレインが第1切替部21のNMOSトランジスターN1のゲートに接続され、ゲートにはレジスター32からの制御信号が入力される。PMOSトランジスターP1は、第1切替部21のNMOSトランジスターN1のゲートに制御信号を出力する。   The PMOS transistor P1 has a source connected to the power supply potential VDD, a drain connected to the gate of the NMOS transistor N1 of the first switching unit 21, and a control signal from the register 32 is input to the gate. The PMOS transistor P1 outputs a control signal to the gate of the NMOS transistor N1 of the first switching unit 21.

第1モードにおいて、制御部30は、第1端子11と第3端子13との間の電気的な接続状態がON状態となるように第1切替部21を制御する。また、第1モードにおいて、制御部30は、第2トランジスターT2がON状態となるように第2切替部22を制御する。また、第1モードにおいて、制御部30は、トランジスターM3がOFF状態となるように第3切替部23を制御する。また、第1モードにおいて、制御部30は、周波数制御部42の動作を停止させるように周波数制御部42を制御する。   In the first mode, the control unit 30 controls the first switching unit 21 so that the electrical connection state between the first terminal 11 and the third terminal 13 is turned on. In the first mode, the control unit 30 controls the second switching unit 22 so that the second transistor T2 is turned on. In the first mode, the control unit 30 controls the third switching unit 23 so that the transistor M3 is turned off. In the first mode, the control unit 30 controls the frequency control unit 42 to stop the operation of the frequency control unit 42.

第2モードにおいて、制御部30は、第1端子11と第3端子13との間の電気的な接続状態がOFF状態となるように第1切替部21を制御する。また、第2モードにおいて、制御部30は、第2トランジスターT2の接続状態が制御されないように第2切替部22を制御する。また、第2モードにおいて、制御部30は、周波数制御部42の動作を通常動作させるように周波数制御部42を制御する。   In the second mode, the control unit 30 controls the first switching unit 21 so that the electrical connection state between the first terminal 11 and the third terminal 13 is turned off. In the second mode, the control unit 30 controls the second switching unit 22 so that the connection state of the second transistor T2 is not controlled. Further, in the second mode, the control unit 30 controls the frequency control unit 42 so that the frequency control unit 42 operates normally.

図3は、制御部30のモード切り替え動作を説明するためのタイミングチャートである。図3の横軸は時間、縦軸は電圧に対応する。図3の上のタイミングチャートは、制御部30に供給される電源電位VDDを示し、図3の下のタイミングチャートは、制御部30に入力されるクロック信号SCLKを示す。   FIG. 3 is a timing chart for explaining the mode switching operation of the control unit 30. In FIG. 3, the horizontal axis corresponds to time, and the vertical axis corresponds to voltage. The upper timing chart in FIG. 3 shows the power supply potential VDD supplied to the control unit 30, and the lower timing chart in FIG. 3 shows the clock signal SCLK input to the control unit 30.

図3に示される例では、電源電位VDDは、時刻t0で0V、時刻t1で電圧VDDLとなり、時刻t2で基準値Vtとなり、その後に電圧VDDHまで上昇する。電源電位VDDが電圧VDDHである期間に入力された最初のクロック信号SCLKのパルスの立ち下がり時刻である時刻t3でモード切り替え動作が開始し、その後のクロック信号SCLKのパルスに基づいて、第1切替部21及び第2切替部22を制御して、例えば、第1モードとし、電源電位VDDが電圧VDDLに戻る時刻t4に制御部30が第1切替部21及び第2切替部22を制御して、例えば、第2モードにモードを切り替える。   In the example shown in FIG. 3, the power supply potential VDD becomes 0 V at time t0, becomes voltage VDDL at time t1, becomes reference value Vt at time t2, and then rises to voltage VDDH. The mode switching operation starts at time t3 which is the falling time of the pulse of the first clock signal SCLK input during the period when the power supply potential VDD is the voltage VDDH, and the first switching is performed based on the subsequent pulse of the clock signal SCLK. The control unit 30 controls the first switching unit 21 and the second switching unit 22 at a time t4 when the unit 21 and the second switching unit 22 are controlled to enter the first mode, for example, and the power supply potential VDD returns to the voltage VDDL. For example, the mode is switched to the second mode.

本実施形態に係る発振回路1によれば、制御部30は、電源電位VDDの大きさ及びクロック信号SCLKの2つの信号に基づいてモードの切り替えを行うため、電源電位VDDが変動したのみではモードを切り替えることがないので、意図せずモードが切り替わる誤動作の可能性を低減できる。   According to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, the control unit 30 switches the mode based on the magnitude of the power supply potential VDD and the two signals of the clock signal SCLK. Therefore, it is possible to reduce the possibility of a malfunction in which the mode is switched unintentionally.

2.第2実施形態に係る発振回路
図4は、第2実施形態に係る発振回路1aの回路図である。図1に示される発振回路1と同様の構成には同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
2. Oscillation Circuit According to Second Embodiment FIG. 4 is a circuit diagram of an oscillation circuit 1a according to the second embodiment. The same components as those of the oscillation circuit 1 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted.

本実施形態に係る発振回路1aは、第2トランジスターT2と並列に設けられ、第2端子12と第4端子14との電気的な接続を切り替える第4切替部24を含む。   The oscillation circuit 1a according to the present embodiment includes a fourth switching unit 24 that is provided in parallel with the second transistor T2 and switches the electrical connection between the second terminal 12 and the fourth terminal 14.

第4切替部24は、発振部10の第2端子12と第4端子14との電気的な接続を制御する。図1に示される例では、第4切替部24は、制御部30が出力する制御信号に基づ
いて、第2端子12から配線(図1では電源用導電路)を介して第4端子14へ出力されようとする交流信号の大きさを制御するように第2端子12と第4端子14との間の電気的な接続状態(インピーダンスの大きさ)を制御する。第4切替部24は、例えば、第2端子12と第4端子14との間のインピーダンスの大きさを制御するものとして第2端子12と第4端子14との間に接続されたスイッチを含んで構成されていてもよい。図1に示される例では、PMOSトランジスターP2がスイッチとして機能する。
The fourth switching unit 24 controls electrical connection between the second terminal 12 and the fourth terminal 14 of the oscillation unit 10. In the example shown in FIG. 1, the fourth switching unit 24 is connected to the fourth terminal 14 from the second terminal 12 via the wiring (power supply conductive path in FIG. 1) based on the control signal output from the control unit 30. The electrical connection state (impedance magnitude) between the second terminal 12 and the fourth terminal 14 is controlled so as to control the magnitude of the AC signal to be output. The 4th switching part 24 contains the switch connected between the 2nd terminal 12 and the 4th terminal 14 as what controls the magnitude | size of the impedance between the 2nd terminal 12 and the 4th terminal 14, for example. It may be comprised. In the example shown in FIG. 1, the PMOS transistor P2 functions as a switch.

図1に示されるように、第4切替部24は、静電気に対して発振部10を保護する機能を持つ回路(静電放電保護回路)であってもよい。図1に示される例では、第4切替部24は、PMOSトランジスターP2と抵抗R2とを含んで構成されており、発振部10や振動子100の第2端子12側に対する静電放電保護回路として機能する。   As shown in FIG. 1, the fourth switching unit 24 may be a circuit (electrostatic discharge protection circuit) having a function of protecting the oscillation unit 10 against static electricity. In the example shown in FIG. 1, the fourth switching unit 24 includes a PMOS transistor P2 and a resistor R2, and serves as an electrostatic discharge protection circuit for the oscillation unit 10 and the second terminal 12 side of the transducer 100. Function.

PMOSトランジスターP2のドレインは第2端子12と接続され、ソースは電源電位VDD(第4端子14)と接続されている。抵抗R2の一端(一方の端子)はPMOSトランジスターP2のゲートに接続され、他端(他方の端子)は電源電位VDD(第4端子14)に接続されている。PMOSトランジスターP2のゲートには、制御部30からの制御信号が入力され、入力された制御信号に基づいて、PMOSトランジスターP2は接続状態(ON状態又はOFF状態)を切り替える。   The drain of the PMOS transistor P2 is connected to the second terminal 12, and the source is connected to the power supply potential VDD (fourth terminal 14). One end (one terminal) of the resistor R2 is connected to the gate of the PMOS transistor P2, and the other end (the other terminal) is connected to the power supply potential VDD (fourth terminal 14). A control signal from the control unit 30 is input to the gate of the PMOS transistor P2, and the PMOS transistor P2 switches the connection state (ON state or OFF state) based on the input control signal.

本実施形態に係る発振回路1aによれば、第4切替部24を静電気に対して発振部10を保護する機能を持つ回路と共用できるので、第4切替部24として専用のスイッチと、静電気保護用の回路とを個別に設ける場合に比べて、回路規模を小さくできる。したがって、小型化可能な発振回路1aを実現できる。   According to the oscillation circuit 1a according to the present embodiment, since the fourth switching unit 24 can be shared with a circuit having a function of protecting the oscillation unit 10 against static electricity, a dedicated switch as the fourth switching unit 24 and electrostatic protection Therefore, the circuit scale can be reduced as compared with the case where the circuit is provided separately. Therefore, the oscillation circuit 1a that can be reduced in size can be realized.

図1に示されるように、第4切替部24は、トランジスターを含んで構成されていてもよい。図1に示される例では、第4切替部24は、PMOSトランジスターP2を含んで構成されている。   As shown in FIG. 1, the fourth switching unit 24 may include a transistor. In the example illustrated in FIG. 1, the fourth switching unit 24 includes a PMOS transistor P2.

本実施形態に係る発振回路1によれば、例えば、PMOSトランジスターP1をスイッチ回路として用いることで第2端子12と電源電位VDDが供給される第4端子14との電気的な接続を容易に制御できる。また、第1端子11と電気的に接続された接地電位VSSが供給される第3端子13、及び、第4端子14の2端子を用いて振動子100の検査を行うことができる。したがって、第2端子12と第4端子14との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるとともに、少ない端子数で振動子100を検査することができるので、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1aを実現できる。   According to the oscillation circuit 1 according to the present embodiment, for example, by using the PMOS transistor P1 as a switch circuit, the electrical connection between the second terminal 12 and the fourth terminal 14 to which the power supply potential VDD is supplied can be easily controlled. it can. In addition, the vibrator 100 can be inspected using the third terminal 13 and the fourth terminal 14 to which the ground potential VSS electrically connected to the first terminal 11 is supplied. Therefore, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to poor electrical connection between the second terminal 12 and the fourth terminal 14 and to inspect the vibrator 100 with a small number of terminals. The oscillation circuit 1a with improved reliability of the inspection can be realized.

制御部30aは、NMOSトランジスターN2を含んで構成されている。NMOSトランジスターN2は、ソースが接地電位VSS(第3端子13)に接続され、ドレインが第4切替部24のPMOSトランジスターP2のゲートに接続され、ゲートにはレジスター32からの制御信号が入力される。NMOSトランジスターN2は、第4切替部24のPMOSトランジスターP2のゲートに制御信号を出力する。NMOSトランジスターN2に入力される制御信号は、PMOSトランジスターP1入力される制御信号とは逆相の信号である。すなわち、第2トランジスターT2がON状態に制御される場合に、第4切替部24はON状態に制御される。   The control unit 30a includes an NMOS transistor N2. The NMOS transistor N2 has a source connected to the ground potential VSS (third terminal 13), a drain connected to the gate of the PMOS transistor P2 of the fourth switching unit 24, and a control signal from the register 32 input to the gate. . The NMOS transistor N2 outputs a control signal to the gate of the PMOS transistor P2 of the fourth switching unit 24. The control signal input to the NMOS transistor N2 is a signal having a phase opposite to that of the control signal input to the PMOS transistor P1. That is, when the second transistor T2 is controlled to be in the ON state, the fourth switching unit 24 is controlled to be in the ON state.

本実施形態によれば、第2端子12と第4端子14との間の抵抗をさらに小さくすることができるので、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子100の特性の検査を行う場合に、第3端子13と第4端子14との間に供給される電圧信号の振幅を小さくすることができる。   According to the present embodiment, since the resistance between the second terminal 12 and the fourth terminal 14 can be further reduced, when performing characteristics inspection of the vibrator 100 such as overdrive inspection or drive level inspection. The amplitude of the voltage signal supplied between the third terminal 13 and the fourth terminal 14 can be reduced.

また、本実施形態においても、第1実施形態と同様の理由によって同様の効果を奏する。   Also in the present embodiment, the same effect is obtained for the same reason as in the first embodiment.

3.第3実施形態に係る発振回路
図5は、第3実施形態に係る発振回路1bの回路図である。図1に示される発振回路1と同様の構成には同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
3. Oscillation Circuit According to Third Embodiment FIG. 5 is a circuit diagram of an oscillation circuit 1b according to the third embodiment. The same components as those of the oscillation circuit 1 shown in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals and detailed description thereof is omitted.

本実施形態に係る発振回路1bは、第1トランジスターT1とカスコード接続された第3トランジスターT3と、第2トランジスターT2とカスコード接続された第4トランジスターT4と、を含んで構成されている。図5に示される例では、第3トランジスターT3及び第4トランジスターT4は、PMOSトランジスターである。なお、第3トランジスターT3及び第4トランジスターT4は、バイポーラートランジスターで構成されていてもよい。   The oscillation circuit 1b according to the present embodiment includes a third transistor T3 that is cascode-connected to the first transistor T1, and a fourth transistor T4 that is cascode-connected to the second transistor T2. In the example shown in FIG. 5, the third transistor T3 and the fourth transistor T4 are PMOS transistors. Note that the third transistor T3 and the fourth transistor T4 may be formed of bipolar transistors.

図5に示される例では、第3トランジスターT3のゲート及びドレインと第4トランジスターT4のゲートは互いに接続され、共通接続点はトランジスターM5を介して接地電位VSS(第3端子13)と接続されている。第3トランジスターT3のソースはトランジスターM3のドレインと接続されている。第3トランジスターT3のドレインは第1トランジスターT1のソースと接続されている。第4トランジスターT4のソースは電源電位VDD(第4端子14)と接続されている。第4トランジスターT4のドレインは第2トランジスターT2のソースと接続されている。   In the example shown in FIG. 5, the gate and drain of the third transistor T3 and the gate of the fourth transistor T4 are connected to each other, and the common connection point is connected to the ground potential VSS (third terminal 13) via the transistor M5. Yes. The source of the third transistor T3 is connected to the drain of the transistor M3. The drain of the third transistor T3 is connected to the source of the first transistor T1. The source of the fourth transistor T4 is connected to the power supply potential VDD (fourth terminal 14). The drain of the fourth transistor T4 is connected to the source of the second transistor T2.

発振回路1bは、第4トランジスターT4の接続状態(ON状態又はOFF状態)を切り替える第5切替部25を含んで構成されている。図5に示される例では、第5切替部25は、NMOSトランジスターであるトランジスターM5を含んで構成されている。トランジスターM5のドレインは第4トランジスターT4のゲートと接続されている。トランジスターM5のソースは接地電位VSS(第3端子13)と接続されている。トランジスターM5のゲートは、制御部30の出力端子と接続されている。第5切替部25は、制御部30が出力する制御信号に基づいて、第4トランジスターT4のゲート電位を接地電位VSSに接続することによって、第4トランジスターT4の接続状態をON状態に制御することができる。   The oscillation circuit 1b includes a fifth switching unit 25 that switches the connection state (ON state or OFF state) of the fourth transistor T4. In the example shown in FIG. 5, the fifth switching unit 25 includes a transistor M5 that is an NMOS transistor. The drain of the transistor M5 is connected to the gate of the fourth transistor T4. The source of the transistor M5 is connected to the ground potential VSS (third terminal 13). The gate of the transistor M5 is connected to the output terminal of the control unit 30. The fifth switching unit 25 controls the connection state of the fourth transistor T4 to the ON state by connecting the gate potential of the fourth transistor T4 to the ground potential VSS based on the control signal output from the control unit 30. Can do.

本実施形態によれば、カレントミラー回路20の第2トランジスターT2の寄生容量を抑制できる。第2トランジスターT2の寄生容量は電源電位VDDに応じて変動する。したがって、本実施形態によれば、発振回路1bが出力する信号の周波数の電源変動を抑えることができる。   According to the present embodiment, the parasitic capacitance of the second transistor T2 of the current mirror circuit 20 can be suppressed. The parasitic capacitance of the second transistor T2 varies according to the power supply potential VDD. Therefore, according to the present embodiment, it is possible to suppress power supply fluctuations in the frequency of the signal output from the oscillation circuit 1b.

また、本実施形態においても、第1実施形態と同様の理由によって同様の効果を奏する。   Also in the present embodiment, the same effect is obtained for the same reason as in the first embodiment.

また、本実施形態においても、第2実施形態と同様に、第4切替部24を含んで構成されていてもよい。この場合には、第2実施形態と同様の理由によって同様の効果を奏する。   In the present embodiment, the fourth switching unit 24 may be included as in the second embodiment. In this case, the same effect is obtained for the same reason as in the second embodiment.

3.発振器
図6は、本実施形態に係る発振器1000の断面図である。発振器1000は、発振回路1を構成する電子部品2、及び、振動子100を含んで構成されている。また、図6に示される例では、発振器1000は、電子部品2と振動子100とを同一空間内に収容するパッケージ1100を含んで構成されている。また、図6に示される例では、発振器1
000は、蓋1200、電極1300を含んで構成されている。図6に示される例では、電子部品2は、1チップの半導体装置として構成されている。また、振動子100としては、水晶振動子やSAW共振子などの圧電振動子、MEMS振動子などを採用してもよい。
3. Oscillator FIG. 6 is a cross-sectional view of an oscillator 1000 according to this embodiment. The oscillator 1000 includes the electronic component 2 that constitutes the oscillation circuit 1 and the vibrator 100. In the example illustrated in FIG. 6, the oscillator 1000 includes a package 1100 that accommodates the electronic component 2 and the vibrator 100 in the same space. Further, in the example shown in FIG.
000 includes a lid 1200 and an electrode 1300. In the example shown in FIG. 6, the electronic component 2 is configured as a one-chip semiconductor device. Further, as the vibrator 100, a piezoelectric vibrator such as a crystal vibrator or a SAW resonator, a MEMS vibrator, or the like may be employed.

パッケージ1100には、凹部が設けられており、蓋1200で凹部を覆うことによって収容室1400となる。パッケージ1100には、発振回路1と振動子100とを電気的に接続するための配線及び端子が、凹部の表面又はパッケージ1100の内部に設けられている。また、パッケージ1100には、発振回路1の第3端子13(VSS)、第4端子14(VC)、第5端子15(VDD)及び第6端子16(OUT)とそれぞれ電気的に接続される電極1300が設けられている。   The package 1100 is provided with a recess, and the housing 1200 is formed by covering the recess with a lid 1200. In the package 1100, wirings and terminals for electrically connecting the oscillation circuit 1 and the vibrator 100 are provided on the surface of the recess or inside the package 1100. The package 1100 is electrically connected to the third terminal 13 (VSS), the fourth terminal 14 (VC), the fifth terminal 15 (VDD), and the sixth terminal 16 (OUT) of the oscillation circuit 1. An electrode 1300 is provided.

図7は、変形例に係る発振器1000aの断面図である。発振器1000aは、発振回路1を構成する電子部品2、及び、振動子100を含んで構成されている。また、図7に示される例では、発振器1000aは、電子部品2と振動子100とを異なる空間内に収容するパッケージ1100aを含んで構成されている。また、図7に示される例では、発振器1000は、蓋1200、電極1300及び封止部材1500を含んで構成されている。図7に示される例では、電子部品2は、1チップの半導体装置として構成されている。また、振動子100としては、水晶振動子やSAW共振子などの圧電振動子、MEMS振動子などを採用してもよい。   FIG. 7 is a cross-sectional view of an oscillator 1000a according to a modification. The oscillator 1000 a includes the electronic component 2 that constitutes the oscillation circuit 1 and the vibrator 100. In the example shown in FIG. 7, the oscillator 1000a includes a package 1100a that houses the electronic component 2 and the vibrator 100 in different spaces. In the example illustrated in FIG. 7, the oscillator 1000 includes a lid 1200, an electrode 1300, and a sealing member 1500. In the example shown in FIG. 7, the electronic component 2 is configured as a one-chip semiconductor device. Further, as the vibrator 100, a piezoelectric vibrator such as a crystal vibrator or a SAW resonator, a MEMS vibrator, or the like may be employed.

パッケージ1100aには、対向する面に2つの凹部が設けられており、蓋1200で一方の凹部を覆うことによって収容室1400a、封止部材1500で他方の凹部を覆うことによって収容室1400bとなる。図7に示す例では、収容室1400aには振動子100が収容され、収容室1400bには電子部品2が収容されている。パッケージ1100aには、発振回路1と振動子100とを電気的に接続するための配線及び端子が、凹部の表面又はパッケージ1100aの内部に設けられている。また、パッケージ1100aには、発振回路1の第3端子13(VSS)、第4端子14(VC)、第5端子15(VDD)及び第6端子16(OUT)とそれぞれ電気的に接続される電極1300が設けられている。   The package 1100a is provided with two recesses on the opposing surfaces. The cover 1200 covers one recess and the accommodation chamber 1400a and the sealing member 1500 covers the other recess to become the accommodation chamber 1400b. In the example shown in FIG. 7, the vibrator 100 is housed in the housing chamber 1400a, and the electronic component 2 is housed in the housing chamber 1400b. In the package 1100a, wirings and terminals for electrically connecting the oscillation circuit 1 and the vibrator 100 are provided on the surface of the recess or inside the package 1100a. Further, the third terminal 13 (VSS), the fourth terminal 14 (VC), the fifth terminal 15 (VDD), and the sixth terminal 16 (OUT) of the oscillation circuit 1 are electrically connected to the package 1100a. An electrode 1300 is provided.

本実施形態に係る発振器1000及び発振器1000aによれば、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1を含んでいるので、振動子100の検査の信頼性を高めた発振器1000及び発振器1000aを実現できる。発振回路1に代えて、発振回路1a又は発振回路1bを採用した場合にも、同様の理由により同様の効果を奏する。   According to the oscillator 1000 and the oscillator 1000a according to the present embodiment, the oscillator 1000 and the oscillator 1000a with improved reliability of the inspection of the vibrator 100 are included because the oscillator circuit 1 with improved reliability of the inspection of the vibrator 100 is included. Can be realized. Even when the oscillation circuit 1a or the oscillation circuit 1b is employed in place of the oscillation circuit 1, the same effect can be obtained for the same reason.

4.発振器の製造方法
図8は、本実施形態に係る発振器1000の製造方法を示すフローチャートである。
4). Oscillator Manufacturing Method FIG. 8 is a flowchart showing a method of manufacturing the oscillator 1000 according to the present embodiment.

本実施形態に係る発振器1000の製造方法は、振動子100と接続される第1端子11及び第2端子12を有する発振部10と、第3端子13と、電源電位VDDが供給される第4端子14と、第1トランジスターT1及び第2トランジスターT2を有し、第4端子14から第1トランジスターT1に流れる電流に基づいて、第4端子14から第2トランジスターT2に流れる電流を第2端子12に出力するカレントミラー回路20と、第1端子11と第3端子13との電気的な接続を制御する第1切替部21と、第2トランジスターT2の接続状態(ON/OFF状態)を制御する第2切替部22と、を含む発振回路1と、振動子100とを備え、発振回路1と振動子100とが電気的に接続され、第1切替部21を第1端子11と第3端子13とが電気的に接続されるように切り替えるとともに、第2トランジスターT2がON状態となるように切り替えた構成を準備する準備工程と、第3端子13及び第4端子14に信号を印加する信号印加工程と、第1端子11と第
3端子13とが電気的に接続されないように第1切替部21を切り替える切替工程と、を含む。
In the method for manufacturing the oscillator 1000 according to the present embodiment, the oscillator 10 having the first terminal 11 and the second terminal 12 connected to the vibrator 100, the third terminal 13, and the fourth power supply potential VDD is supplied. The terminal 14 has a first transistor T1 and a second transistor T2. Based on the current flowing from the fourth terminal 14 to the first transistor T1, the current flowing from the fourth terminal 14 to the second transistor T2 is second terminal 12. To control the electrical connection between the first terminal 11 and the third terminal 13, and the connection state (ON / OFF state) of the second transistor T2. The oscillation circuit 1 including the second switching unit 22 and the vibrator 100 are electrically connected. The oscillation circuit 1 and the vibrator 100 are electrically connected, and the first switching unit 21 is connected to the first terminal 11 and the third switching unit 21. In addition to switching so as to be electrically connected to the child 13, a preparation process for preparing a configuration in which the second transistor T2 is switched on is applied, and a signal is applied to the third terminal 13 and the fourth terminal 14. A signal applying step and a switching step of switching the first switching unit 21 so that the first terminal 11 and the third terminal 13 are not electrically connected.

まず、発振回路1と振動子100とが電気的に接続されているとともに、第1端子11と第3端子13とが電気的に接続されるように第1切替部21を制御し、第2トランジスターT2がON状態となるように第2切替部22を制御した構成を準備する(準備工程;ステップS100)。より具体的には、発振回路1の第1端子11と第2端子12との間に振動子100が電気的に接続された構成を準備する。例えば、発振回路1と振動子100とが接続された後に制御部30により発振回路1を第1モードに設定してもよいし、予め制御部30により第1モードに設定された発振回路1と振動子100とが接続されてもよい。   First, the first switching unit 21 is controlled so that the oscillation circuit 1 and the vibrator 100 are electrically connected, and the first terminal 11 and the third terminal 13 are electrically connected, and the second A configuration is prepared in which the second switching unit 22 is controlled so that the transistor T2 is turned on (preparation step; step S100). More specifically, a configuration in which the vibrator 100 is electrically connected between the first terminal 11 and the second terminal 12 of the oscillation circuit 1 is prepared. For example, the oscillation circuit 1 may be set to the first mode by the control unit 30 after the oscillation circuit 1 and the vibrator 100 are connected, or the oscillation circuit 1 that has been previously set to the first mode by the control unit 30. The vibrator 100 may be connected.

ステップS100の後に、第3端子13及び第4端子14に信号を印加する(信号印加工程;ステップS102)。   After step S100, a signal is applied to the third terminal 13 and the fourth terminal 14 (signal applying step; step S102).

図9は、信号印加工程の概要を示すブロック図である。図9に示される例ではシグナルジェネレーター3000を用いて、振動子100のオーバードライブ検査を行う。なお、シグナルジェネレーター3000に代えて、振動子100と共振できる外付けの発振回路、例えば、コルピッツ発振回路などを用いて振動子100のオーバードライブ検査を行ってもよい。また、オーバードライブ検査に代えてドライブレベル検査を行ってもよいし、オーバードライブ検査とドライブレベル検査との2つの検査を行ってもよい。   FIG. 9 is a block diagram showing an outline of the signal applying process. In the example shown in FIG. 9, the signal generator 3000 is used to perform overdrive inspection of the vibrator 100. Instead of the signal generator 3000, an overdrive test of the vibrator 100 may be performed using an external oscillation circuit that can resonate with the vibrator 100, for example, a Colpitts oscillation circuit. Further, a drive level inspection may be performed instead of the overdrive inspection, or two inspections of an overdrive inspection and a drive level inspection may be performed.

発振回路1の第4端子14(VDD)と電気的に接続される発振器1000の電極1300(VDD)は、シグナルジェネレーター3000の出力端子に接続される。発振回路1の第3端子13(VSS)と電気的に接続される発振器1000の電極1300(VSS)は、接地電位VSSに接続される。発振回路1の第5端子15(VC)と電気的に接続される発振器1000の電極1300(VC)と、発振回路1の第6端子16(OUT)と電気的に接続される発振器1000の電極1300(OUT)は、どこにも接続されていない。   The electrode 1300 (VDD) of the oscillator 1000 that is electrically connected to the fourth terminal 14 (VDD) of the oscillation circuit 1 is connected to the output terminal of the signal generator 3000. The electrode 1300 (VSS) of the oscillator 1000 that is electrically connected to the third terminal 13 (VSS) of the oscillation circuit 1 is connected to the ground potential VSS. The electrode 1300 (VC) of the oscillator 1000 electrically connected to the fifth terminal 15 (VC) of the oscillation circuit 1 and the electrode of the oscillator 1000 electrically connected to the sixth terminal 16 (OUT) of the oscillation circuit 1 1300 (OUT) is not connected anywhere.

シグナルジェネレーター3000が出力する電圧信号は、第1切替部21及び第2切替部22を制御できる最低電圧(例えば、トランジスターの最低動作電圧)以上であり、発振回路1を破壊しない最高電圧(例えば、トランジスターの耐圧)以下である範囲の電圧が第3端子13と第4端子14との間に印加される電圧信号である。   The voltage signal output from the signal generator 3000 is equal to or higher than the lowest voltage (for example, the lowest operating voltage of the transistor) that can control the first switching unit 21 and the second switching unit 22, and the highest voltage that does not destroy the oscillation circuit 1 (for example, The voltage within a range equal to or lower than the breakdown voltage of the transistor is a voltage signal applied between the third terminal 13 and the fourth terminal 14.

図9に示される構成によって、第3端子13と第4端子14との間に電圧信号を印加することができる。これによって、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子100の特性の検査を行うことができる。   With the configuration shown in FIG. 9, a voltage signal can be applied between the third terminal 13 and the fourth terminal 14. Accordingly, the characteristics of the vibrator 100 such as overdrive inspection and drive level inspection can be inspected.

ステップS102の後に、第1端子11と第3端子13とが電気的に接続しないように第1切替部21を制御する(切替工程;ステップS104)。また、第2トランジスターT2の接続状態が制御されないように第2切替部22を制御する。具体的には、例えば、第1切替部21及び第2切替部22を制御部30で制御して第2モードに切り替える。これによって、発振器1000が通常動作できる状態となる。   After step S102, the first switching unit 21 is controlled so that the first terminal 11 and the third terminal 13 are not electrically connected (switching step; step S104). Further, the second switching unit 22 is controlled so that the connection state of the second transistor T2 is not controlled. Specifically, for example, the control unit 30 controls the first switching unit 21 and the second switching unit 22 to switch to the second mode. As a result, the oscillator 1000 is in a state where it can normally operate.

本実施形態に係る発振器1000の製造方法によれば、信号印加工程(ステップS102)において第3端子13と第4端子14との間に振動子100を検査するための電圧信号を供給することによって、例えば、オーバードライブ検査やドライブレベル検査などの振動子100の特性の検査を行うことができる。発振回路1の通常動作時と振動子100の検査時において、第4端子14を電源電位VDDが供給される端子及び振動子100を
検査するための電圧信号が供給される端子として共用できるので、検査専用の検査用端子を設ける場合に比べて、検査に用いる端子数を減らすことができる。したがって、例えば、検査用信号を入力するためのプローブと発振回路1側の端子との電気的な接続不良による検査の不具合が発生する可能性を低減できるので、振動子100の検査の信頼性を高めた発振器1000の製造方法を実現できる。
According to the method for manufacturing the oscillator 1000 according to the present embodiment, by supplying a voltage signal for inspecting the vibrator 100 between the third terminal 13 and the fourth terminal 14 in the signal applying step (step S102). For example, inspection of the characteristics of the vibrator 100 such as overdrive inspection and drive level inspection can be performed. Since the fourth terminal 14 can be shared as a terminal to which the power supply potential VDD is supplied and a terminal to which a voltage signal for inspecting the vibrator 100 is supplied during the normal operation of the oscillation circuit 1 and the inspection of the vibrator 100, The number of terminals used for inspection can be reduced as compared with the case where inspection terminals dedicated for inspection are provided. Therefore, for example, it is possible to reduce the possibility of a test failure due to a poor electrical connection between the probe for inputting the test signal and the terminal on the oscillation circuit 1 side. An improved manufacturing method of the oscillator 1000 can be realized.

上述の発振器1000の製造方法において、信号印加工程(ステップS102)で第3端子13及び第4端子14に印加する信号は、オーバードライブ検査用の信号、及びドライブレベル検査用の信号のうちの少なくとも1つであってもよい。   In the method for manufacturing the oscillator 1000 described above, the signal applied to the third terminal 13 and the fourth terminal 14 in the signal applying step (step S102) is at least one of an overdrive inspection signal and a drive level inspection signal. There may be one.

振動子100の検査として、オーバードライブ検査及びドライブレベル検査のうちの少なくとも1つを行うことで、振動子100の検査で良品となった発振器1000を良品として判別することができるので、信頼性の高い発振器1000の製造することができる。   By performing at least one of the overdrive inspection and the drive level inspection as the inspection of the vibrator 100, the oscillator 1000 that has become a non-defective product by the inspection of the vibrator 100 can be determined as a non-defective product. A high oscillator 1000 can be manufactured.

なお、発振回路1に代えて、発振回路1a又は発振回路1bを採用した場合にも、同様の理由により同様の効果を奏する。また、発振器1000aも発振器1000と同様に製造でき、同様の効果を奏する。   Note that, when the oscillation circuit 1a or the oscillation circuit 1b is employed instead of the oscillation circuit 1, the same effect is obtained for the same reason. Further, the oscillator 1000a can be manufactured in the same manner as the oscillator 1000, and has the same effect.

5.電子機器
図10は、本実施形態に係る電子機器300の機能ブロック図である。なお、上述された各実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
5. Electronic Device FIG. 10 is a functional block diagram of an electronic device 300 according to this embodiment. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to each embodiment mentioned above, and detailed description is abbreviate | omitted.

本実施形態に係る電子機器300は、発振回路1、発振回路1a又は発振回路1bを含む電子機器300である。図10に示される例では、電子機器300は、振動子100、発振回路1、逓倍回路310、CPU(Central Processing Unit)320、操作部330、ROM(Read Only Memory)340、RAM(Random Access Memory)350、通信部360、表示部370、音出力部380を含んで構成されている。なお、本実施形態に係る電子機器300は、図9に示される構成要素(各部)の一部を省略又は変更してもよいし、他の構成要素を付加した構成としてもよい。   The electronic device 300 according to the present embodiment is an electronic device 300 including the oscillation circuit 1, the oscillation circuit 1a, or the oscillation circuit 1b. In the example illustrated in FIG. 10, the electronic device 300 includes a vibrator 100, an oscillation circuit 1, a multiplication circuit 310, a CPU (Central Processing Unit) 320, an operation unit 330, a ROM (Read Only Memory) 340, and a RAM (Random Access Memory). ) 350, a communication unit 360, a display unit 370, and a sound output unit 380. Note that the electronic device 300 according to the present embodiment may omit or change some of the components (each unit) illustrated in FIG. 9 or may have a configuration in which other components are added.

逓倍回路310は、クロックパルスをCPU320だけでなく各部に供給する(図示は省略)。クロックパルスは、例えば振動子100と接続された発振回路1からの発振信号から所望の高調波信号を逓倍回路310で取り出した信号であってもよいし、発振回路1からの発振信号を、PLLシンセサイザーを有する逓倍回路310で逓倍した信号であってもよい(図示は省略)。   The multiplier circuit 310 supplies a clock pulse not only to the CPU 320 but also to each unit (not shown). The clock pulse may be, for example, a signal obtained by extracting a desired harmonic signal from the oscillation signal from the oscillation circuit 1 connected to the vibrator 100 by the multiplication circuit 310, or the oscillation signal from the oscillation circuit 1 may be converted into a PLL. It may be a signal multiplied by a multiplier circuit 310 having a synthesizer (not shown).

CPU320は、ROM340等に記憶されているプログラムに従い、逓倍回路310が出力するクロックパルスを用いて各種の計算処理や制御処理を行う。具体的には、CPU320は、操作部330からの操作信号に応じた各種の処理、外部とデータ通信を行うために通信部360を制御する処理、表示部370に各種の情報を表示させるための表示信号を送信する処理、音出力部380に各種の音を出力させる処理等を行う。   The CPU 320 performs various types of calculation processing and control processing using the clock pulse output from the multiplication circuit 310 in accordance with a program stored in the ROM 340 or the like. Specifically, the CPU 320 performs various processes according to operation signals from the operation unit 330, processes for controlling the communication unit 360 to perform data communication with the outside, and displays various types of information on the display unit 370. Processing for transmitting a display signal, processing for causing the sound output unit 380 to output various sounds, and the like are performed.

操作部330は、操作キーやボタンスイッチ等により構成される入力装置であり、ユーザーによる操作に応じた操作信号をCPU320に出力する。   The operation unit 330 is an input device including operation keys, button switches, and the like, and outputs an operation signal corresponding to an operation by the user to the CPU 320.

ROM340は、CPU320が各種の計算処理や制御処理を行うためのプログラムやデータ等を記憶している。   The ROM 340 stores programs, data, and the like for the CPU 320 to perform various calculation processes and control processes.

RAM350は、CPU320の作業領域として用いられ、ROM340から読み出されたプログラムやデータ、操作部330から入力されたデータ、CPU320が各種プロ
グラムに従って実行した演算結果等を一時的に記憶する。
The RAM 350 is used as a work area of the CPU 320, and temporarily stores programs and data read from the ROM 340, data input from the operation unit 330, calculation results executed by the CPU 320 according to various programs, and the like.

通信部360は、CPU320と外部装置との間のデータ通信を成立させるための各種制御を行う。   The communication unit 360 performs various controls for establishing data communication between the CPU 320 and an external device.

表示部370は、LCD(Liquid Crystal Display)や電気泳動ディスプレイ等により構成される表示装置であり、CPU320から入力される表示信号に基づいて各種の情報を表示する。   The display unit 370 is a display device configured by an LCD (Liquid Crystal Display), an electrophoretic display, or the like, and displays various types of information based on a display signal input from the CPU 320.

そして、音出力部380は、スピーカー等の音を出力する装置である。   The sound output unit 380 is a device that outputs sound such as a speaker.

本実施形態に係る電子機器300によれば、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回路1、発振回路1a又は発振回路1bを含んでいるので、信頼性の高い電子機器300を実現できる。   The electronic device 300 according to the present embodiment includes the oscillation circuit 1, the oscillation circuit 1 a, or the oscillation circuit 1 b with improved reliability of the inspection of the vibrator 100, so that the highly reliable electronic device 300 can be realized. .

電子機器300としては種々の電子機器が考えられる。例えば、パーソナルコンピューター(例えば、モバイル型パーソナルコンピューター、ラップトップ型パーソナルコンピューター、タブレット型パーソナルコンピューター)、携帯電話機などの移動体端末、ディジタルスチールカメラ、インクジェット式吐出装置(例えば、インクジェットプリンター)、ルーターやスイッチなどのストレージエリアネットワーク機器、ローカルエリアネットワーク機器、移動体端末基地局用機器、テレビ、ビデオカメラ、ビデオレコーダー、カーナビゲーション装置、ページャー、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ゲーム用コントローラー、ワードプロセッサー、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニター、電子双眼鏡、POS(point of sale)端末、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電図計測装置、超音波診断装置、電子内視鏡)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシミュレーター、ヘッドマウントディスプレイ、モーショントレース、モーショントラッキング、モーションコントローラー、PDR(歩行者位置方位計測)等が挙げられる。   Various electronic devices can be considered as the electronic device 300. For example, personal computers (for example, mobile personal computers, laptop personal computers, tablet personal computers), mobile terminals such as mobile phones, digital still cameras, inkjet discharge devices (for example, inkjet printers), routers and switches Storage area network equipment, local area network equipment, mobile terminal base station equipment, TV, video camera, video recorder, car navigation device, pager, electronic notebook (including communication functions), electronic dictionary, calculator, electronic Game equipment, game controllers, word processors, workstations, videophones, security TV monitors, electronic binoculars, POS (point of sale) terminals, medical equipment Instruments (for example, electronic thermometers, blood pressure monitors, blood glucose meters, electrocardiogram measuring devices, ultrasonic diagnostic devices, electronic endoscopes), fish detectors, various measuring instruments, measuring instruments (for example, vehicles, aircraft, ship instruments), Flight simulators, head mounted displays, motion traces, motion tracking, motion controllers, PDR (pedestrian position and orientation measurement), and the like.

図11は、電子機器300の一例であるスマートフォンの外観の一例を示す図である。電子機器300であるスマートフォンは、操作部330としてボタンを、表示部370としてLCDを備えている。そして、電子機器300であるスマートフォンは、発振回路1、発振回路1a又は発振回路1bを含んでいるので、振動子100の検査の信頼性を高めた電子機器300を実現できる。   FIG. 11 is a diagram illustrating an example of the appearance of a smartphone that is an example of the electronic apparatus 300. A smartphone that is the electronic device 300 includes a button as the operation unit 330 and an LCD as the display unit 370. And since the smart phone which is the electronic device 300 contains the oscillation circuit 1, the oscillation circuit 1a, or the oscillation circuit 1b, the electronic device 300 which improved the reliability of the test | inspection of the vibrator | oscillator 100 is realizable.

6.移動体
図12は、本実施形態に係る移動体400の一例を示す図(上面図)である。なお、上述された各実施形態と同様の構成には同一の符号を付し、詳細な説明を省略する。
6). FIG. 12 is a diagram (top view) illustrating an example of the moving object 400 according to the present embodiment. In addition, the same code | symbol is attached | subjected to the structure similar to each embodiment mentioned above, and detailed description is abbreviate | omitted.

本実施形態に係る移動体400は、発振回路1、発振回路1a又は発振回路1bを含む移動体400である。図12には、発振回路1を含む発振器1000を含んで構成されている移動体400が示されている。また、図12に示される例では、移動体400は、エンジンシステム、ブレーキシステム、キーレスエントリーシステム等の各種の制御を行うコントローラー420、コントローラー430、コントローラー440、バッテリー450及びバックアップ用バッテリー460を含んで構成されている。なお、本実施形態に係る移動体400は、図12に示される構成要素(各部)の一部を省略又は変更してもよいし、他の構成要素を付加した構成としてもよい。   The moving body 400 according to the present embodiment is a moving body 400 including the oscillation circuit 1, the oscillation circuit 1a, or the oscillation circuit 1b. FIG. 12 shows a moving body 400 including an oscillator 1000 including the oscillation circuit 1. In the example shown in FIG. 12, the moving body 400 includes a controller 420, a controller 430, a controller 440, a battery 450, and a backup battery 460 that perform various controls such as an engine system, a brake system, and a keyless entry system. It is configured. In addition, the mobile body 400 according to the present embodiment may omit or change some of the components (respective parts) shown in FIG. 12, or may have a configuration in which other components are added.

本実施形態に係る移動体400によれば、振動子100の検査の信頼性を高めた発振回
路1、発振回路1a又は発振回路1bを含んでいるので、信頼性の高い移動体400を実現できる。
Since the moving body 400 according to the present embodiment includes the oscillation circuit 1, the oscillation circuit 1 a, or the oscillation circuit 1 b with improved reliability of the inspection of the vibrator 100, the highly reliable moving body 400 can be realized. .

このような移動体400としては種々の移動体が考えられ、例えば、自動車(電気自動車も含む)、ジェット機やヘリコプター等の航空機、船舶、ロケット、人工衛星等が挙げられる。   As such a moving body 400, various moving bodies can be considered, and examples thereof include automobiles (including electric automobiles), aircraft such as jets and helicopters, ships, rockets, and artificial satellites.

以上、本実施形態あるいは変形例について説明したが、本発明はこれら本実施形態あるいは変形例に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様で実施することが可能である。   As mentioned above, although this embodiment or the modification was demonstrated, this invention is not limited to these this embodiment or a modification, It is possible to implement in a various aspect in the range which does not deviate from the summary.

本発明は、実施形態で説明した構成と実質的に同一の構成(例えば、機能、方法及び結果が同一の構成、あるいは目的及び効果が同一の構成)を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成の本質的でない部分を置き換えた構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成と同一の作用効果を奏する構成又は同一の目的を達成することができる構成を含む。また、本発明は、実施形態で説明した構成に公知技術を付加した構成を含む。   The present invention includes substantially the same configuration (for example, a configuration having the same function, method, and result, or a configuration having the same object and effect) as the configuration described in the embodiment. In addition, the invention includes a configuration in which a non-essential part of the configuration described in the embodiment is replaced. In addition, the present invention includes a configuration that exhibits the same operational effects as the configuration described in the embodiment or a configuration that can achieve the same object. In addition, the invention includes a configuration in which a known technique is added to the configuration described in the embodiment.

1,1a,1b…発振回路、2…電子部品、10…発振部、11…第1端子、12…第2端子、13…第3端子、14…第4端子、15…第5端子、16…第6端子、20…カレントミラー回路、21…第1切替部、22…第2切替部、23…第3切替部、24…第4切替部、25…第5切替部、30…制御部、31…シリアルインターフェース、32…レジスター、33…メモリー、42…周波数制御部、43…出力バッファー、100…振動子、300…電子機器、310…逓倍回路、320…CPU、330…操作部、340…ROM、350…RAM、360…通信部、370…表示部、380…音声出力部、400…移動体、420…コントローラー、430…コントローラー、440…コントローラー、450…バッテリー、460…バックアップ用バッテリー、1000,1000a…発振器、1100,1100a…パッケージ、1200…蓋、1300…電極、1400,1400a,1400b…収容室、1500…封止部材、3000…シグナルジェネレーター、C13〜C15…キャパシター、CS11…電流源、M2,M3,M5,M11…トランジスター、N1〜N3…NMOSトランジスター、P1〜P3…PMOSトランジスター、R1,R11,R12…抵抗、T1…第1トランジスター、T2…第2トランジスター、T3…第3トランジスター、T4…第4トランジスター、VDD…電源電位、VSS…接地電位 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1, 1a, 1b ... Oscillator circuit, 2 ... Electronic component, 10 ... Oscillator part, 11 ... 1st terminal, 12 ... 2nd terminal, 13 ... 3rd terminal, 14 ... 4th terminal, 15 ... 5th terminal, 16 ... 6th terminal, 20 ... Current mirror circuit, 21 ... 1st switching part, 22 ... 2nd switching part, 23 ... 3rd switching part, 24 ... 4th switching part, 25 ... 5th switching part, 30 ... Control part 31 ... Serial interface, 32 ... Register, 33 ... Memory, 42 ... Frequency control unit, 43 ... Output buffer, 100 ... Vibrator, 300 ... Electronic device, 310 ... Multiplier circuit, 320 ... CPU, 330 ... Operation unit, 340 ... ROM, 350 ... RAM, 360 ... communication unit, 370 ... display unit, 380 ... voice output unit, 400 ... moving body, 420 ... controller, 430 ... controller, 440 ... controller, 450 ... battery, 4 0 ... Backup battery, 1000, 1000a ... Oscillator, 1100, 1100a ... Package, 1200 ... Lid, 1300 ... Electrode, 1400, 1400a, 1400b ... Storage chamber, 1500 ... Sealing member, 3000 ... Signal generator, C13 to C15 ... Capacitor, CS11 ... Current source, M2, M3, M5, M11 ... Transistor, N1-N3 ... NMOS transistor, P1-P3 ... PMOS transistor, R1, R11, R12 ... Resistor, T1 ... First transistor, T2 ... Second transistor , T3 ... third transistor, T4 ... fourth transistor, VDD ... power supply potential, VSS ... ground potential

Claims (11)

振動子と接続される第1端子及び第2端子を有する発振部と、
第3端子と、
電源電位が供給される第4端子と、
第1トランジスター及び第2トランジスターを有し、前記第4端子から前記第1トランジスターに流れる電流に基づいて、前記第4端子から前記第2トランジスターに流れる電流を前記第2端子に出力するカレントミラー回路と、
前記第1端子と前記第3端子との電気的な接続を切り替える第1切替部と、
前記第2トランジスターの接続状態を切り替える第2切替部と、
を含む、発振回路。
An oscillator having a first terminal and a second terminal connected to the vibrator;
A third terminal;
A fourth terminal to which a power supply potential is supplied;
A current mirror circuit having a first transistor and a second transistor and outputting a current flowing from the fourth terminal to the second transistor to the second terminal based on a current flowing from the fourth terminal to the first transistor When,
A first switching unit that switches electrical connection between the first terminal and the third terminal;
A second switching unit for switching a connection state of the second transistor;
Including an oscillation circuit.
請求項1に記載の発振回路において、
前記第3端子は、接地電位が供給される端子である、発振回路。
The oscillation circuit according to claim 1,
The oscillation circuit, wherein the third terminal is a terminal to which a ground potential is supplied.
請求項1又は2に記載の発振回路において、
前記第1トランジスターと前記第4端子との電気的な接続を切り替える第3切替部を含む、発振回路。
The oscillation circuit according to claim 1 or 2,
An oscillation circuit including a third switching unit that switches electrical connection between the first transistor and the fourth terminal.
請求項1ないし3のいずれか1項に記載の発振回路において、
前記第2トランジスターと並列に設けられ、前記第2端子と前記第4端子との電気的な接続を切り替える第4切替部を含む、発振回路。
The oscillation circuit according to any one of claims 1 to 3,
An oscillation circuit including a fourth switching unit that is provided in parallel with the second transistor and switches an electrical connection between the second terminal and the fourth terminal.
請求項1ないし4のいずれか1項に記載の発振回路において、
前記第1トランジスターとカスコード接続された第3トランジスターと、
前記第2トランジスターとカスコード接続された第4トランジスターと、
を含む、発振回路。
The oscillation circuit according to any one of claims 1 to 4,
A third transistor in cascode connection with the first transistor;
A fourth transistor in cascode connection with the second transistor;
Including an oscillation circuit.
請求項1ないし5のいずれか1項に記載の発振回路において、
前記第1切替部は、静電気に対して前記発振部を保護する機能を持つ回路である、発振回路。
The oscillation circuit according to any one of claims 1 to 5,
The first switching unit is an oscillation circuit that is a circuit having a function of protecting the oscillation unit against static electricity.
請求項1ないし6のいずれか1項に記載の発振回路において、
前記第1切替部及び前記第2切替部を制御する制御部をさらに含み、
前記第1切替部及び前記第2切替部は、
前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されるように前記第1切替部が制御されるとともに、前記第2トランジスターがON状態となるように前記第2切替部が制御される第1モードと、
前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されないように前記第1切替部が制御される第2モードと、
を有し、
前記制御部は、
供給される電源電位が基準値以上である期間に入力されるクロック信号に基づいて、前記第2モードから前記第1モードへと切り替える、発振回路。
The oscillation circuit according to any one of claims 1 to 6,
A control unit for controlling the first switching unit and the second switching unit;
The first switching unit and the second switching unit are:
The first switching unit is controlled so that the first terminal and the third terminal are electrically connected, and the second switching unit is controlled so that the second transistor is turned on. The first mode;
A second mode in which the first switching unit is controlled so that the first terminal and the third terminal are not electrically connected;
Have
The controller is
An oscillation circuit that switches from the second mode to the first mode based on a clock signal that is input during a period in which the supplied power supply potential is equal to or higher than a reference value.
請求項1ないし7のいずれか1項に記載の発振回路と、
振動子と、
を含む、発振器
The oscillation circuit according to any one of claims 1 to 7,
A vibrator,
Including an oscillator
請求項1ないし7のいずれか1項に記載の発振回路を含む、電子機器。   An electronic device comprising the oscillation circuit according to claim 1. 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の発振回路を含む、移動体。   A moving body comprising the oscillation circuit according to claim 1. 振動子と接続される第1端子及び第2端子を有する発振部と、第3端子と、電源電位が供給される第4端子と、第1トランジスター及び第2トランジスターを有し、前記第4端子から前記第1トランジスターに流れる電流に基づいて、前記第4端子から前記第2トランジスターに流れる電流を前記第2端子に出力するカレントミラー回路と、前記第1端子と前記第3端子との電気的な接続を切り替える第1切替部と、前記第2トランジスターの接続状態を切り替える第2切替部と、を含む発振回路と、振動子とを備え、
前記発振回路と前記振動子とが電気的に接続され、前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されるように前記第1切替部を切り替えるとともに、前記第2トランジスターがON状態となるように前記第2切替部を切り替えた構成を準備する準備工程と、
前記第3端子及び前記第4端子に信号を印加する信号印加工程と、
前記第1端子と前記第3端子とが電気的に接続されないように前記第1切替部を切り替える切替工程と、
を含む、発振器の製造方法。
An oscillation unit having a first terminal and a second terminal connected to the vibrator, a third terminal, a fourth terminal to which a power supply potential is supplied, a first transistor and a second transistor, and the fourth terminal A current mirror circuit that outputs a current flowing from the fourth terminal to the second transistor to the second terminal based on a current flowing from the first transistor to the first transistor; and an electrical connection between the first terminal and the third terminal An oscillation circuit including a first switching unit that switches a connection and a second switching unit that switches a connection state of the second transistor, and a vibrator.
The first switching unit is switched so that the oscillation circuit and the vibrator are electrically connected, and the first terminal and the third terminal are electrically connected, and the second transistor is in an ON state. A preparation step of preparing a configuration in which the second switching unit is switched so that
Applying a signal to the third terminal and the fourth terminal;
A switching step of switching the first switching unit so that the first terminal and the third terminal are not electrically connected;
A method for manufacturing an oscillator, comprising:
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10897227B2 (en) 2019-01-29 2021-01-19 Seiko Epson Corporation Oscillation circuit, oscillator, electronic device, and vehicle
CN118487558A (en) * 2024-07-16 2024-08-13 成都优弗科技有限公司 System for automatically correcting frequency of crystal oscillator

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04115622A (en) * 1990-08-31 1992-04-16 Fujitsu Ltd Current mirror type amplifier circuit and driving method therefor
JP2008187578A (en) * 2007-01-31 2008-08-14 Epson Toyocom Corp Semiconductor integrated circuit, piezoelectric oscillator, and characteristics measuring method
JP2008193498A (en) * 2007-02-06 2008-08-21 New Japan Radio Co Ltd Constant charge output circuit
JP2010177852A (en) * 2009-01-28 2010-08-12 Oki Semiconductor Co Ltd Oscillator circuit
JP2013207363A (en) * 2012-03-27 2013-10-07 Seiko Epson Corp Circuit device, oscillation device and electronic apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04115622A (en) * 1990-08-31 1992-04-16 Fujitsu Ltd Current mirror type amplifier circuit and driving method therefor
JP2008187578A (en) * 2007-01-31 2008-08-14 Epson Toyocom Corp Semiconductor integrated circuit, piezoelectric oscillator, and characteristics measuring method
JP2008193498A (en) * 2007-02-06 2008-08-21 New Japan Radio Co Ltd Constant charge output circuit
JP2010177852A (en) * 2009-01-28 2010-08-12 Oki Semiconductor Co Ltd Oscillator circuit
JP2013207363A (en) * 2012-03-27 2013-10-07 Seiko Epson Corp Circuit device, oscillation device and electronic apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10897227B2 (en) 2019-01-29 2021-01-19 Seiko Epson Corporation Oscillation circuit, oscillator, electronic device, and vehicle
CN118487558A (en) * 2024-07-16 2024-08-13 成都优弗科技有限公司 System for automatically correcting frequency of crystal oscillator
CN118487558B (en) * 2024-07-16 2024-09-20 成都优弗科技有限公司 System for automatically correcting frequency of crystal oscillator

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