JP2015137958A - Inspection device - Google Patents

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JP2015137958A
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JP2014010181A
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真一 剱崎
Shinichi Kenzaki
真一 剱崎
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Murata Manufacturing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an inspection device which is capable of achieving connection between the inspection device and a receptacle while suppressing breakage of the inspection device or the receptacle.SOLUTION: The inspection device includes: a probe including a center conductor extending in a prescribed direction and a cylindrical outer conductor surrounding the center conductor and extending in the prescribed direction; a holder which holds the probe so that end parts on one side in the prescribed direction of the center conductor and the outer conductor can be moved from prescribed positions in a direction along a plane orthogonal to the prescribed direction; and a first elastic body which exerts a force on the probe so that the end parts on one side in the prescribed direction of the center conductor and the outer conductor can be restored to the prescribed positions.

Description

本発明は、検査装置に関し、より特定的には、レセプタクルに装着可能な検査装置に関する。   The present invention relates to an inspection apparatus, and more particularly to an inspection apparatus that can be attached to a receptacle.

従来の検査装置に関する発明としては、例えば、特許文献1に記載の検査用同軸コネクタが知られている。該検査用同軸コネクタは、上下方向に延在する円筒状の先端部及び先端部内を上下方向に延在するプランジャを備えている。このような検査用同軸コネクタは、可動端子及び外部導体を備えたレセプタクルに装着される。外部導体は、上下方向に延在する円筒状をなしている。可動端子は、外部導体の下方に設けられ、上側から平面視したときに、外部導体の中心に位置している。先端部には、レセプタクルの外部導体が挿入される。これにより、先端部の内周面とレセプタクルの外周面とが接触する。また、プランジャは、レセプタクルの外部導体を通過し、レセプタクルの可動端子に接続される。これにより、検査用同軸コネクタに接続された検査機器により、可動端子を流れる信号を検査できる。   As an invention related to a conventional inspection device, for example, an inspection coaxial connector described in Patent Document 1 is known. The inspection coaxial connector includes a cylindrical tip portion extending in the vertical direction and a plunger extending in the vertical direction within the tip portion. Such an inspection coaxial connector is attached to a receptacle including a movable terminal and an external conductor. The outer conductor has a cylindrical shape extending in the vertical direction. The movable terminal is provided below the outer conductor, and is located at the center of the outer conductor when viewed from above. The outer conductor of the receptacle is inserted into the tip portion. Thereby, the inner peripheral surface of a front-end | tip part and the outer peripheral surface of a receptacle contact. The plunger passes through the outer conductor of the receptacle and is connected to the movable terminal of the receptacle. Thereby, the signal which flows through a movable terminal can be test | inspected with the test | inspection apparatus connected to the coaxial connector for a test | inspection.

ところで、検査用同軸コネクタでは、レセプタクルへの装着の際に破損が生じるおそれがあった。より詳細には、レセプタクルは、回路基板上に実装されている。レセプタクルの実装位置は、所定の実装位置から所定の公差内に位置する。したがって、レセプタクルの実装位置のずれが大きい場合には、例えば、検査用同軸コネクタの先端部とレセプタクルの外部導体とが装着時に衝突して、検査用同軸コネクタ又はレセプタクルが破損するおそれがある。   By the way, in the coaxial connector for a test | inspection, there existed a possibility that a damage might arise when mounting | wearing to a receptacle. More specifically, the receptacle is mounted on the circuit board. The receptacle mounting position is located within a predetermined tolerance from the predetermined mounting position. Therefore, if the mounting position of the receptacle is largely displaced, for example, the tip of the inspection coaxial connector and the outer conductor of the receptacle may collide at the time of mounting, and the inspection coaxial connector or the receptacle may be damaged.

特開2012−28118号公報JP 2012-28118 A

そこで、本発明の目的は、検査装置又はレセプタクルを破損させることを抑制しつつ、これらを接続することを抑制できる検査装置を提供することである。   Then, the objective of this invention is providing the inspection apparatus which can suppress connecting these, suppressing damaging an inspection apparatus or a receptacle.

本発明の一形態に係る検査装置は、所定方向に延在する中心導体、及び、該中心導体の周囲を囲むと共に前記所定方向に延在する筒状の外導体を含むプローブと、前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部が該所定方向に直交する平面に沿う方向に所定位置から移動できるように、該プローブを保持するホルダと、前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部の位置が該所定位置に復元するように、該プローブに対して力を及ぼす第1の弾性体と、を備えていること、を特徴とする。   An inspection apparatus according to an aspect of the present invention includes a probe including a central conductor extending in a predetermined direction, a cylindrical outer conductor surrounding the central conductor and extending in the predetermined direction, and the central conductor And a holder for holding the probe, the center conductor, and the outer conductor so that an end portion on one side of the outer conductor can move from a predetermined position in a direction along a plane perpendicular to the predetermined direction. And a first elastic body that exerts a force on the probe so that the position of one end in the predetermined direction is restored to the predetermined position.

前記検査装置において、前記第1の弾性体は、前記所定方向に直交する平面に沿う方向に前記プローブに対して力を及ぼしてもよい。   In the inspection apparatus, the first elastic body may exert a force on the probe in a direction along a plane orthogonal to the predetermined direction.

前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向に直交する直交方向において前記プローブと対向する第1の対向面を有しており、前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記プローブとに接していてもよい。   In the inspection apparatus, the holder has a first facing surface facing the probe in an orthogonal direction orthogonal to the predetermined direction, and the first elastic body includes the first facing surface and the first facing surface. It may be in contact with the probe.

前記検査装置において、前記第1の対向面は、前記所定方向に延びる中心軸を中心として、前記外導体を周回するよう前記ホルダに設けられており、前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記外導体とに接し、かつ、環状形状を有していてもよい。   In the inspection apparatus, the first facing surface is provided in the holder so as to go around the outer conductor around a central axis extending in the predetermined direction, and the first elastic body includes the first elastic body. The opposite surface and the outer conductor may be in contact with each other and may have an annular shape.

前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向の他方側を向くと共に、前記プローブと対向する第2の対向面を有しており、前記第1の弾性体は、前記第2の対向面と前記プローブとに接していてもよい。   In the inspection apparatus, the holder has a second facing surface that faces the other side of the predetermined direction and faces the probe, and the first elastic body includes the second facing surface and the second facing surface. It may be in contact with the probe.

前記検査装置において、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部の少なくとも一部は、前記所定方向の他方側に向かって突出する曲面形状を有し、かつ、前記ホルダに接触していてもよい。   In the inspection apparatus, at least a part of the end portion on the other side in the predetermined direction of the probe has a curved shape protruding toward the other side in the predetermined direction and is in contact with the holder. Good.

前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向の一方側を向くと共に、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部と対向する第3の対向面を有しており、前記検査装置は、前記第3の対向面と前記ホルダの他方側の端部とに接している第2の弾性体を、更に備えていてもよい。   In the inspection apparatus, the holder has a third facing surface facing one side in the predetermined direction and facing the other end of the probe in the predetermined direction. You may further provide the 2nd elastic body which contact | connects the said 3rd opposing surface and the edge part of the other side of the said holder.

前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向の一方側を向くと共に、前記プローブと対向する第3の対向面を有しており、前記第1の弾性体は、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部と前記第3の対向面とに接していてもよい。   In the inspection apparatus, the holder has a third facing surface facing one side of the predetermined direction and facing the probe, and the first elastic body is arranged in the predetermined direction of the probe. You may contact | connect the edge part of the other side, and the said 3rd opposing surface.

前記検査装置において、前記第1の弾性体の前記所定方向に直交する方向におけるばね定数は、該第1の弾性体の該所定方向におけるばね定数よりも小さくてもよい。   In the inspection apparatus, a spring constant of the first elastic body in a direction orthogonal to the predetermined direction may be smaller than a spring constant of the first elastic body in the predetermined direction.

本発明によれば、検査装置又はレセプタクルが破損することを抑制できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can suppress that a test | inspection apparatus or a receptacle is damaged.

本発明の一実施形態に係る検査装置10の外観斜視図である。1 is an external perspective view of an inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. 図1の検査装置10の分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the inspection apparatus 10 of FIG. 検査装置10のプローブ12の分解斜視図である。2 is an exploded perspective view of a probe 12 of the inspection apparatus 10. FIG. 検査装置10の断面構造図である。1 is a cross-sectional structure diagram of an inspection apparatus 10. プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合の検査装置10の断面構造図である。It is a cross-section figure of inspection device 10 when probe 12 inclines to the right from a predetermined position. レセプタクル301の断面構造図である。2 is a cross-sectional structure diagram of a receptacle 301. FIG. レセプタクル301の断面構造図である。2 is a cross-sectional structure diagram of a receptacle 301. FIG. 第1の変形例に係る検査装置10aの断面構造図である。It is sectional structure drawing of the inspection apparatus 10a which concerns on a 1st modification. プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合の検査装置10aの断面構造図である。It is a sectional structure figure of inspection device 10a when probe 12 leans to the right from a predetermined position. 検査装置10bのモデル図である。It is a model figure of the inspection apparatus 10b. 検査装置10cのモデル図である。It is a model figure of the inspection apparatus 10c. 検査装置10dのモデル図である。It is a model figure of the inspection apparatus 10d. 検査装置10eのモデル図である。It is a model figure of the inspection apparatus 10e.

(検査装置の構造)
以下に、本発明の一実施形態に係る検査装置の構造について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る検査装置10の外観斜視図である。図2は、図1の検査装置10の分解斜視図である。図3は、検査装置10のプローブ12の分解斜視図である。図4は、検査装置10の断面構造図である。以下では、検査装置10のプランジャ36が延在している方向を上下方向と定義する。また、同軸ケーブル16が延在する方向を前後方向と定義する。上下方向及び前後方向に直交する方向を左右方向と定義する。上下方向、前後方向及び左右方向は互いに直交している。
(Inspection device structure)
Below, the structure of the inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated with reference to drawings. FIG. 1 is an external perspective view of an inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is an exploded perspective view of the inspection apparatus 10 of FIG. FIG. 3 is an exploded perspective view of the probe 12 of the inspection apparatus 10. FIG. 4 is a cross-sectional structure diagram of the inspection apparatus 10. Hereinafter, the direction in which the plunger 36 of the inspection apparatus 10 extends is defined as the vertical direction. The direction in which the coaxial cable 16 extends is defined as the front-rear direction. The direction orthogonal to the up-down direction and the front-rear direction is defined as the left-right direction. The vertical direction, the front-rear direction, and the left-right direction are orthogonal to each other.

検査装置10は、被検査体であるレセプタクルに着脱自在であって、図1ないし図4に示すように、プローブ12、ホルダ14、同軸ケーブル16、コネクタ18、Oリング60及び駆動部100を備えている。   The inspection apparatus 10 is detachable from a receptacle that is an object to be inspected, and includes a probe 12, a holder 14, a coaxial cable 16, a connector 18, an O-ring 60, and a drive unit 100 as shown in FIGS. ing.

同軸ケーブル16は、図3に示すように、芯線16a、絶縁体16b、外導体16c及び被覆16dを含んでいる。芯線16aは、例えば、銅線である。絶縁体16bは、芯線16aの周囲を囲んでいる樹脂である。外導体16cは、絶縁体16bの周囲を囲んでおり、例えば、細い銅線が網状に編み込まれて作製されている。被覆16dは、外導体16cの周囲を囲んでいる。同軸ケーブル16の前側の端部(以下、先端ともいう)では、絶縁体16b、外導体16c及び被覆16dが除去されて、芯線16aが露出している。また、芯線16aが露出している部分の後ろ側に隣接する部分では、外導体16c及び被覆16dが除去されて、絶縁体16bが露出している。また、絶縁体16bが露出している部分の後ろ側に隣接する部分では、被覆16dが除去されて、外導体16cが露出している。   As shown in FIG. 3, the coaxial cable 16 includes a core wire 16a, an insulator 16b, an outer conductor 16c, and a coating 16d. The core wire 16a is, for example, a copper wire. The insulator 16b is a resin surrounding the core wire 16a. The outer conductor 16c surrounds the periphery of the insulator 16b, and is produced, for example, by knitting a thin copper wire in a net shape. The coating 16d surrounds the outer conductor 16c. At the front end portion (hereinafter also referred to as the tip) of the coaxial cable 16, the insulator 16b, the outer conductor 16c, and the coating 16d are removed, and the core wire 16a is exposed. Further, in a portion adjacent to the rear side of the portion where the core wire 16a is exposed, the outer conductor 16c and the coating 16d are removed, and the insulator 16b is exposed. Further, in a portion adjacent to the rear side of the portion where the insulator 16b is exposed, the coating 16d is removed, and the outer conductor 16c is exposed.

コネクタ18は、同軸ケーブル16の後ろ側の端部(以下、後端ともいう)に接続されており、信号の測定器に同軸ケーブル16を接続する際に用いられる。   The connector 18 is connected to a rear end portion (hereinafter also referred to as a rear end) of the coaxial cable 16 and is used when the coaxial cable 16 is connected to a signal measuring instrument.

ホルダ14は、図2に示すように、ホルダ上部20及びホルダ下部22を含んでおり、後述するプローブ12を保持している。ホルダ下部22は、本体22a及び収容部22bを有している。本体22aは、左右方向に延在する直方体状をなしている。収容部22bは、上方から平面視したときに、本体22aの右側の短辺の前半分から右側に向かって突出しており、矩形状をなしている。収容部22bの上面には、上側から平面視したときに、円環状をなす凹部が設けられている。これにより、収容部22bの上面の中央には、上側に突出する円柱状の突起62が形成されている。以下では、図2及び図4に示すように、凹部の内周面の内の底面を面S3と呼び、凹部の内周面の内の外側の円環状の内周面を面S4と呼ぶ。面S3は、上側を向いており、面S4は、上下方向に直交する方向を向いている。また、突起62の上面を面S5と呼ぶ。面S5は、下側に向かって窪む曲面をなしている。本実施形態では、面S5は球面状をなしている。   As shown in FIG. 2, the holder 14 includes a holder upper part 20 and a holder lower part 22, and holds a probe 12 described later. The holder lower part 22 has a main body 22a and a housing part 22b. The main body 22a has a rectangular parallelepiped shape extending in the left-right direction. The storage portion 22b protrudes from the front half of the short side on the right side of the main body 22a toward the right side when viewed from above, and has a rectangular shape. On the upper surface of the accommodating portion 22b, a concave portion having an annular shape is provided when viewed from above. Thus, a columnar protrusion 62 protruding upward is formed at the center of the upper surface of the accommodating portion 22b. Hereinafter, as shown in FIGS. 2 and 4, the bottom surface of the inner peripheral surface of the recess is referred to as a surface S3, and the outer annular inner peripheral surface of the inner peripheral surface of the recess is referred to as a surface S4. The surface S3 faces upward, and the surface S4 faces a direction orthogonal to the vertical direction. Further, the upper surface of the protrusion 62 is referred to as a surface S5. The surface S5 has a curved surface that is recessed downward. In the present embodiment, the surface S5 has a spherical shape.

ホルダ上部20は、本体20a及び収容部20bを有している。本体20aは、左右方向に延在する直方体状をなしている。収容部20bは、上方から平面視したときに、本体20aの右側の短辺の前半分から右側に向かって突出しており、矩形状をなしている。収容部20bは、上面21a及び柱21b〜21e(柱21eは、図2では隠れているため図示せず)により構成されている。   The holder upper part 20 has a main body 20a and a housing part 20b. The main body 20a has a rectangular parallelepiped shape extending in the left-right direction. The storage part 20b protrudes from the front half of the short side on the right side of the main body 20a toward the right side when viewed from above, and has a rectangular shape. The accommodating part 20b is comprised by the upper surface 21a and the pillars 21b-21e (The pillar 21e is not shown in FIG. 2 since it is hidden in FIG. 2).

上面21aは、上側から平面視したときに、矩形状の板状をなしている。上面21aの中央部には、上下方向に上面21aを貫通する円形の貫通孔H1が設けられている。また、上面21aの下面には、図4に示すように、下側から平面視したときに、円環状をなす凹部が設けられている。貫通孔H1は、図4に示すように、凹部の中心に位置している。以下では、図4に示すように、凹部の内周面の内の底面を面S2と呼び、凹部の内周面の内の外側の円環状の内周面を面S1と呼ぶ。面S2は、下側を向いており、面S1は、上下方向に直交する方向を向いている。   The upper surface 21a has a rectangular plate shape when viewed from above. A circular through hole H1 penetrating the upper surface 21a in the vertical direction is provided at the center of the upper surface 21a. Moreover, as shown in FIG. 4, the lower surface of the upper surface 21a is provided with a concave portion that forms an annular shape when viewed from below. As shown in FIG. 4, the through hole H1 is located at the center of the recess. Hereinafter, as shown in FIG. 4, the bottom surface of the inner peripheral surface of the recess is referred to as surface S <b> 2, and the outer annular inner peripheral surface of the inner peripheral surface of the recess is referred to as surface S <b> 1. The surface S2 faces the lower side, and the surface S1 faces the direction orthogonal to the vertical direction.

柱21bは、上面21aの左前の角から下方に延在する角柱状の部材である。柱21cは、上面21aの右前の角から下方に延在する角柱状の部材である。柱21dは、上面21aの右後ろの角から下方に延在する角柱状の部材である。柱21eは、上面21aの左後ろ角から下方に延在する角柱状の部材である。   The column 21b is a prismatic member extending downward from the left front corner of the upper surface 21a. The column 21c is a prismatic member extending downward from the right front corner of the upper surface 21a. The column 21d is a prismatic member extending downward from the right rear corner of the upper surface 21a. The column 21e is a prismatic member extending downward from the left rear corner of the upper surface 21a.

以上のように構成されたホルダ上部20がホルダ下部22に対して上側から重ねられることにより、柱21b〜21eの下端がそれぞれ収容部22bの4つの角に接触する。これにより、上面21aと収容部22bとの間に空間Spが形成されている。   When the holder upper portion 20 configured as described above is overlapped with the holder lower portion 22 from the upper side, the lower ends of the columns 21b to 21e come into contact with the four corners of the accommodating portion 22b, respectively. Thereby, a space Sp is formed between the upper surface 21a and the accommodating portion 22b.

プローブ12は、図1、図2及び図4に示すように、空間Spに収容される。プローブ12は、図3に示すように、プロテクトリング30、ハウジング32、ブッシング34、プランジャ36、スプリング38、ブッシング40、バレル44、ハウジング46、ディスク48、ケーブルアダプタ50、かしめパイプ52及びシース54を含んでいる。   The probe 12 is accommodated in the space Sp as shown in FIGS. As shown in FIG. 3, the probe 12 includes a protect ring 30, a housing 32, a bushing 34, a plunger 36, a spring 38, a bushing 40, a barrel 44, a housing 46, a disk 48, a cable adapter 50, a caulking pipe 52, and a sheath 54. Contains.

ハウジング32は、図3及び図4に示すように、ハウジング上部32a、ハウジング中部32b及びハウジング下部32cにより構成されており、導電性材料(例えば、ベリリウム銅)により作製されている。ハウジング上部32aは、上下方向に延在する円筒部材である。ハウジング中部32bは、ハウジング上部32aの下端に接続され、上下方向に延在する円筒部材である。ハウジング中部32bは、ハウジング上部32aの直径よりも太い。ハウジング下部32cは、ハウジング中部32bの下端に接続され、上下方向に延在する円筒部材である。ハウジング下部32cは、ハウジング中部32bの直径よりも太い。また、ハウジング上部32aには、ハウジング上部32aの上端から下方向に延在するスリットSが設けられている。これにより、ハウジング上部32aのばね性により、スリットSが広がって、ハウジング上部32aは、前後左右方向に広がることができる。   As shown in FIGS. 3 and 4, the housing 32 includes a housing upper part 32a, a housing middle part 32b, and a housing lower part 32c, and is made of a conductive material (for example, beryllium copper). The housing upper part 32a is a cylindrical member extending in the vertical direction. The housing middle part 32b is a cylindrical member connected to the lower end of the housing upper part 32a and extending in the vertical direction. The housing middle part 32b is thicker than the diameter of the housing upper part 32a. The housing lower part 32c is a cylindrical member connected to the lower end of the housing middle part 32b and extending in the vertical direction. The housing lower part 32c is thicker than the diameter of the housing middle part 32b. The housing upper part 32a is provided with a slit S extending downward from the upper end of the housing upper part 32a. Thereby, the slit S spreads by the spring property of the housing upper part 32a, and the housing upper part 32a can spread in the front-back, left-right direction.

ブッシング34は、ブッシング上部34a及びブッシング下部34bにより構成されており、樹脂等の絶縁体により作製されている。ブッシング上部34aは、上下方向に延在する円筒部材である。ブッシング下部34bは、ブッシング上部34aの下端に接続され、上下方向に延在する円筒部材である。ブッシング下部34bの直径は、ブッシング上部34aの直径よりも太い。   The bushing 34 includes a bushing upper part 34a and a bushing lower part 34b, and is made of an insulator such as a resin. The bushing upper part 34a is a cylindrical member extending in the vertical direction. The bushing lower part 34b is a cylindrical member connected to the lower end of the bushing upper part 34a and extending in the vertical direction. The diameter of the bushing lower part 34b is larger than the diameter of the bushing upper part 34a.

以上のように構成されたブッシング34は、ハウジング32に下側から挿入される。これにより、図4に示すように、ブッシング上部34aがハウジング上部32a内に収まり、ブッシング下部34bがハウジング中部32bの上端近傍に収まる。   The bushing 34 configured as described above is inserted into the housing 32 from below. Thereby, as shown in FIG. 4, the bushing upper part 34a is accommodated in the housing upper part 32a, and the bushing lower part 34b is accommodated in the vicinity of the upper end of the housing middle part 32b.

ブッシング40は、樹脂等の絶縁体により作製されている円筒部材である。ブッシング40は、ハウジング32に下側から挿入される。これにより、図4に示すように、ブッシング40がハウジング下部32cに収まる。ただし、ブッシング40の下端は、ハウジング下部32cからはみ出している。   The bushing 40 is a cylindrical member made of an insulator such as resin. The bushing 40 is inserted into the housing 32 from below. Thereby, as shown in FIG. 4, the bushing 40 is accommodated in the housing lower part 32c. However, the lower end of the bushing 40 protrudes from the housing lower part 32c.

プランジャ36は、図3に示すように、プランジャ上部36a及びプランジャ下部36bを含んでおり、導電性材料(例えば、ベリリウム銅)により作製されたピンである。プランジャ上部36aは、上下方向に延在する細いピンである。プランジャ下部36bは、プランジャ上部36aの下端に接続され、かつ、上下方向に延在する円柱状をなしている。プランジャ下部36bの直径は、プランジャ上部36aの直径よりも大きい。   As shown in FIG. 3, the plunger 36 includes a plunger upper part 36a and a plunger lower part 36b, and is a pin made of a conductive material (for example, beryllium copper). The plunger upper part 36a is a thin pin extending in the vertical direction. The plunger lower part 36b is connected to the lower end of the plunger upper part 36a and has a columnar shape extending in the vertical direction. The diameter of the plunger lower part 36b is larger than the diameter of the plunger upper part 36a.

バレル44は、バレル上部44a及びバレル下部44bを含んでおり、導電性材料(例えば、真鍮)により作製された棒状部材である。バレル上部44aは、上下方向に延在する円筒状をなしている。バレル上部44aの上端には開口が設けられている。ただし、バレル上部44aの下端には開口が設けられていない。バレル上部44aの内部には、スプリング38が挿入され、更に、プランジャ下部36bが挿入されている。ただし、プランジャ上部36aは、プランジャ36がバレル44に取り付けられた状態で、バレル上部44aの上端から上側に向かって延在している。そして、プランジャ36は、上側から押さえつけられた場合、スプリング38が縮んで下側に退避することができる。   The barrel 44 includes a barrel upper portion 44a and a barrel lower portion 44b, and is a rod-shaped member made of a conductive material (for example, brass). The upper barrel portion 44a has a cylindrical shape extending in the vertical direction. An opening is provided at the upper end of the barrel upper portion 44a. However, no opening is provided at the lower end of the barrel upper portion 44a. A spring 38 is inserted into the barrel upper portion 44a, and a plunger lower portion 36b is further inserted. However, the plunger upper portion 36 a extends upward from the upper end of the barrel upper portion 44 a in a state where the plunger 36 is attached to the barrel 44. When the plunger 36 is pressed from the upper side, the spring 38 can be retracted and retracted downward.

バレル下部44bは、図3に示すように、バレル上部44aの下端に設けられ、円柱が左右に2つに分割されている。   As shown in FIG. 3, the barrel lower part 44b is provided at the lower end of the barrel upper part 44a, and the cylinder is divided into two on the left and right.

プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、ハウジング32に下側から挿入される。より詳細には、プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、ハウジング32に取り付けられたブッシング34,40内を上下方向に貫通する。これにより、プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、ブッシング34,40により保持されると共に、ブッシング34,40によりハウジング32と絶縁されている。   The assembly of plunger 36, spring 38 and barrel 44 is inserted into housing 32 from below. More specifically, the assembly of the plunger 36, the spring 38 and the barrel 44 penetrates the bushings 34 and 40 attached to the housing 32 in the vertical direction. Thus, the assembly of the plunger 36, the spring 38 and the barrel 44 is held by the bushings 34 and 40 and insulated from the housing 32 by the bushings 34 and 40.

ここで、プランジャ上部36aは、ハウジング上部32a内及びブッシング上部34a内を上下方向に延在している。また、プランジャ上部36aの上端は、ハウジング上部32a及びブッシング上部34aから上方にはみ出している。   Here, the plunger upper part 36a extends vertically in the housing upper part 32a and the bushing upper part 34a. Further, the upper end of the plunger upper portion 36a protrudes upward from the housing upper portion 32a and the bushing upper portion 34a.

バレル上部44aは、ハウジング中部32b及びハウジング下部32c内を上下方向に延在している。バレル上部44aの上端は、ブッシング下部34bに挿入されている。これにより、プランジャ下部36bは、ブッシング34から上側に抜けないように、ブッシング34に引っかかっている。また、バレル上部44aの下端は、ブッシング40に挿入されている。バレル下部44bは、ブッシング40から下側にはみ出している。   The barrel upper part 44a extends in the vertical direction in the housing middle part 32b and the housing lower part 32c. The upper end of the barrel upper part 44a is inserted into the bushing lower part 34b. Thereby, the plunger lower part 36b is caught by the bushing 34 so that it may not come out from the bushing 34 to the upper side. Further, the lower end of the barrel upper portion 44 a is inserted into the bushing 40. The lower barrel portion 44 b protrudes downward from the bushing 40.

プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、上下方向に延在し、信号が伝送される中心導体として機能する。また、ハウジング32は、プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体の周囲を囲むと共に、上下方向に延在する筒状の外導体として機能する。外導体は接地電位に保たれる。   The assembly of the plunger 36, the spring 38 and the barrel 44 extends in the vertical direction and functions as a central conductor through which signals are transmitted. The housing 32 functions as a cylindrical outer conductor that surrounds the assembly of the plunger 36, the spring 38, and the barrel 44 and extends in the vertical direction. The outer conductor is kept at ground potential.

ハウジング46は、導電性材料(例えば、真鍮)により作製された立方体状の部材である。ハウジング46には、上面と下面とを繋ぐ円形の貫通孔H2が設けられている。また、ハウジング46の後面には、貫通孔H2と繋がる孔H3が設けられている。   The housing 46 is a cubic member made of a conductive material (for example, brass). The housing 46 is provided with a circular through hole H2 that connects the upper surface and the lower surface. A hole H3 connected to the through hole H2 is provided on the rear surface of the housing 46.

ハウジング下部32cは、ハウジング46の貫通孔H2に対して下側から挿入される。これにより、ハウジング32がハウジング46に取り付けられる。このとき、バレル下部44bは、後ろ側から平面視したときに、孔H3の中央付近に位置している。   The housing lower part 32 c is inserted from below into the through hole H <b> 2 of the housing 46. Thereby, the housing 32 is attached to the housing 46. At this time, the barrel lower part 44b is located in the vicinity of the center of the hole H3 when viewed from the rear side.

ディスク48は、円盤部48a及び接触部48bにより構成されている。円盤部48aは、ハウジング46の下面に取り付けられて、貫通孔H2を塞いでいる。接触部48bは、円盤部48aの下面に設けられた円柱状の突起であり、プローブ12の下端を構成している。接触部48bの下面は下側に突出する曲面をなしている。本実施形態では、接触部48bの下面は球面状をなしている。   The disk 48 includes a disk part 48a and a contact part 48b. The disk portion 48a is attached to the lower surface of the housing 46 and closes the through hole H2. The contact portion 48 b is a columnar protrusion provided on the lower surface of the disk portion 48 a and constitutes the lower end of the probe 12. The lower surface of the contact part 48b has a curved surface protruding downward. In the present embodiment, the lower surface of the contact portion 48b has a spherical shape.

プロテクトリング30は、図3及び図4に示すように、円筒形状をなしており、ハウジング中部32bの上端に取り付けられている。具体的には、プロテクトリング30の内径は、ハウジング上部32aの外径よりも大きい。そして、プロテクトリング30は、ハウジング中部32bに対して上側から圧入されることにより、ハウジング中部32bに固定されている。これにより、プロテクトリング30は、ハウジング上部32aの周囲を取り囲むようになる。すなわち、プロテクトリング30の内周面は、ハウジング上部32aの外周面と対向している。以上のように構成されたプロテクトリング30は、レセプタクルが装着されているときに、ハウジング上部32aの径が大きく広がることを規制する役割を果たす。   As shown in FIGS. 3 and 4, the protect ring 30 has a cylindrical shape and is attached to the upper end of the housing middle portion 32b. Specifically, the inner diameter of the protect ring 30 is larger than the outer diameter of the housing upper part 32a. The protect ring 30 is fixed to the housing middle portion 32b by being press-fitted into the housing middle portion 32b from above. As a result, the protect ring 30 surrounds the periphery of the housing upper portion 32a. That is, the inner peripheral surface of the protect ring 30 is opposed to the outer peripheral surface of the housing upper portion 32a. The protect ring 30 configured as described above plays a role of restricting the diameter of the housing upper part 32a from greatly expanding when the receptacle is mounted.

ケーブルアダプタ50は、導電性材料により作製された筒状部材である。ケーブルアダプタ50の前端は、ハウジング46の孔H3に挿入される。同軸ケーブル16の先端は、ケーブルアダプタ50に挿入される。これにより、芯線16aは、バレル下部44bに挟まれ、はんだによりバレル下部44bに固定される。これにより、プランジャ36と芯線16aとがバレル44を介して電気的に接続されている。   The cable adapter 50 is a cylindrical member made of a conductive material. The front end of the cable adapter 50 is inserted into the hole H3 of the housing 46. The tip of the coaxial cable 16 is inserted into the cable adapter 50. Thereby, the core wire 16a is pinched | interposed into the barrel lower part 44b, and is fixed to the barrel lower part 44b with the solder. Thereby, the plunger 36 and the core wire 16a are electrically connected via the barrel 44.

また、同軸ケーブル16の先端がケーブルアダプタ50に挿入される際に、外導体16cは、ケーブルアダプタ50内に挿入されずにケーブルアダプタ50の後端を覆う。   Further, when the front end of the coaxial cable 16 is inserted into the cable adapter 50, the outer conductor 16 c covers the rear end of the cable adapter 50 without being inserted into the cable adapter 50.

かしめパイプ52は、金属製の筒であり、ケーブルアダプタ50の後端を覆っている外導体16cの周囲を覆っている。かしめパイプ52は、かしめられることによって、ケーブルアダプタ50と同軸ケーブル16とを固定している。   The caulking pipe 52 is a metal tube and covers the periphery of the outer conductor 16 c that covers the rear end of the cable adapter 50. The caulking pipe 52 fixes the cable adapter 50 and the coaxial cable 16 by being caulked.

シース54は、樹脂製の筒であり、かしめパイプ52及び被覆16dの周囲を覆っている。これにより、同軸ケーブル16とケーブルアダプタ50との接続部分を保護している。   The sheath 54 is a resin cylinder and covers the periphery of the caulking pipe 52 and the coating 16d. Thereby, the connection part of the coaxial cable 16 and the cable adapter 50 is protected.

Oリング60は、円環状の弾性体であり、例えば、ゴムや樹脂(例えば、PTFE)等により作成されている。Oリング60は、上面21aの下面に設けられた円環状の凹部内に取り付けられている。また、Oリング60の上下方向に直交する方向(前後方向及び左右方向)における単位変位当たりの復元力であるばね定数:K1は、Oリング60の上下方向における単位変位当たりの復元力であるばね定数:K2よりも小さい。ここで、予め定めた方向にプローブを変位量xで変位させたOリングの変形量ΔlをOリングの初期長さLで除した値を歪εと定め、プローブがOリングから受ける復元力FをプローブとOリングの接触面積Aで除した値を応力σと定めるとき、応力σを歪量εで除した値によって弾性率が定められるとする。このとき、フックの法則が成り立つと仮定すれば、ばね定数:Kは復元力Fを変位量xで除することで簡易的に測定できる。   The O-ring 60 is an annular elastic body and is made of, for example, rubber or resin (for example, PTFE). The O-ring 60 is attached in an annular recess provided on the lower surface of the upper surface 21a. Further, a spring constant K1, which is a restoring force per unit displacement in a direction (front-rear direction and left-right direction) perpendicular to the vertical direction of the O-ring 60, is a spring that is a restoring force per unit displacement in the vertical direction of the O-ring 60. Constant: smaller than K2. Here, a value obtained by dividing the O-ring deformation amount Δl obtained by displacing the probe by a displacement amount x in a predetermined direction by the initial length L of the O-ring is defined as a strain ε, and a restoring force F received by the probe from the O-ring. Is determined by the value obtained by dividing the stress σ by the strain amount ε. At this time, if it is assumed that Hooke's law holds, the spring constant: K can be easily measured by dividing the restoring force F by the displacement amount x.

ここで、ハウジング46は、空間Sp内に収まっている。また、ハウジング中部32bは、貫通孔H1及びOリング60を通過している。ただし、貫通孔H1の直径は、ハウジング下部32cの直径よりも小さいので、ハウジング下部32cは、貫通孔H1を通過することができず上面21aに引っかかる。また、接触部48bは、図4に示すように、突起62の面S5に接触している。   Here, the housing 46 is accommodated in the space Sp. Further, the housing middle portion 32 b passes through the through hole H <b> 1 and the O-ring 60. However, since the diameter of the through hole H1 is smaller than the diameter of the housing lower part 32c, the housing lower part 32c cannot pass through the through hole H1 and is caught by the upper surface 21a. Further, the contact portion 48b is in contact with the surface S5 of the protrusion 62 as shown in FIG.

駆動部100は、プローブ12及びホルダ14を上下方向に移動させ、例えば、空気圧アクチュエータやモータ等により構成される。   The drive unit 100 moves the probe 12 and the holder 14 in the vertical direction, and is configured by, for example, a pneumatic actuator or a motor.

以上のように構成された検査装置10では、図4に示すように、面S1は、上下方向に直交する方向においてプローブ12と対向しており、プローブ12のハウジング下部32cの周囲を上下方向に平行な軸を中心軸として周回している。そして、Oリング60は、面S1とハウジング下部32cの周面とに接している。   In the inspection apparatus 10 configured as described above, as shown in FIG. 4, the surface S <b> 1 faces the probe 12 in a direction orthogonal to the vertical direction, and the periphery of the housing lower part 32 c of the probe 12 is vertically aligned. It circulates around a parallel axis as the central axis. The O-ring 60 is in contact with the surface S1 and the peripheral surface of the housing lower portion 32c.

また、面S2は、上下方向においてハウジング46の下面と対向している。そして、Oリング60は、面S2とハウジング46の下面とに接している。   The surface S2 faces the lower surface of the housing 46 in the vertical direction. The O-ring 60 is in contact with the surface S2 and the lower surface of the housing 46.

以上のように構成された検査装置10では、プローブ12は、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端が上下方向に直交する面に沿う方向に所定位置から移動できる。より詳細には、プローブ12の所定位置とは、図4に示すように、上側から平面視したときにプランジャ36が貫通孔H1の中心に位置しているときのプローブ12の位置である。ホルダ上部20の貫通孔H1の直径は、ハウジング中部32bの直径よりもわずかに大きい。そのため、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端は、接触部48bにおいて突起62と接触している部分を中心として、前後方向及び左右方向に揺動することができる。   In the inspection apparatus 10 configured as described above, the probe 12 can move from a predetermined position in a direction along a plane in which the upper end of the housing 32 and the upper end of the plunger 36 are orthogonal to the vertical direction. More specifically, the predetermined position of the probe 12 is the position of the probe 12 when the plunger 36 is located at the center of the through hole H1 when viewed from above as shown in FIG. The diameter of the through hole H1 of the holder upper part 20 is slightly larger than the diameter of the housing middle part 32b. Therefore, the upper end of the housing 32 and the upper end of the plunger 36 can swing in the front-rear direction and the left-right direction around the portion of the contact portion 48b that is in contact with the protrusion 62.

また、Oリング60は、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端が所定位置に復元するように、プローブ12に対して力を及ぼす。本実施形態では、Oリング60は、上下方向に直交する面に沿う方向にプローブ12に対して力を及ぼす。以下に、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合を例に挙げて説明する。図5は、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合の検査装置10の断面構造図である。   The O-ring 60 exerts a force on the probe 12 so that the upper end of the housing 32 and the upper end of the plunger 36 are restored to predetermined positions. In the present embodiment, the O-ring 60 exerts a force on the probe 12 in a direction along a plane perpendicular to the vertical direction. Hereinafter, a case where the probe 12 is tilted to the right from a predetermined position will be described as an example. FIG. 5 is a cross-sectional structure diagram of the inspection apparatus 10 when the probe 12 is tilted to the right from a predetermined position.

プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面とに挟まれている部分は、左右方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング下部32cを左側に向かって押す。すなわち、Oリング60は、上下方向に直交する面に沿う方向にプローブ12に対して力を及ぼす。この力により、プローブ12の位置は、所定位置に復元しようとする。   When the probe 12 is tilted to the right side from the predetermined position, the distance between the portion located on the right side of the surface S1 and the right side surface of the housing lower part 32c becomes small. As a result, the portion of the O-ring 60 that is located on the right side of the surface S1 and the portion on the right side of the housing lower portion 32c is compressed in the left-right direction. Therefore, the O-ring 60 pushes the housing lower part 32c toward the left side. That is, the O-ring 60 exerts a force on the probe 12 in a direction along a plane perpendicular to the vertical direction. By this force, the position of the probe 12 tries to be restored to a predetermined position.

また、プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S2の左側に位置する部分とハウジング46の上面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S2の左側に位置する部分とハウジング46の下面とに挟まれている部分は、上下方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング46を下側に向かって押す。これにより、プローブ12は、接触部48bにおいて突起62と接触している部分を中心として、図5の時計回り方向に回転させられようとする。その結果、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。   Further, when the probe 12 is tilted to the right side from the predetermined position, the distance between the portion located on the left side of the surface S2 and the upper surface of the housing 46 is reduced. As a result, a portion of the O-ring 60 that is sandwiched between the portion located on the left side of the surface S2 and the lower surface of the housing 46 is compressed in the vertical direction. Therefore, the O-ring 60 pushes the housing 46 downward. As a result, the probe 12 tends to be rotated in the clockwise direction in FIG. 5 around the portion of the contact portion 48b that is in contact with the protrusion 62. As a result, the position of the probe 12 is restored to a predetermined position.

(レセプタクルの構成)
次に、レセプタクル301の構成について図6及び図7を参照して説明する。図6及び図7は、レセプタクル301の断面構造図である。図6では、検査装置10がレセプタクル301に装着されておらず、図7では、検査装置10がレセプタクル301に装着されている。
(Receptacle structure)
Next, the configuration of the receptacle 301 will be described with reference to FIGS. 6 and 7 are cross-sectional structural views of the receptacle 301. FIG. In FIG. 6, the inspection apparatus 10 is not attached to the receptacle 301, and in FIG. 7, the inspection apparatus 10 is attached to the receptacle 301.

レセプタクル301は、例えば、携帯電話のアンテナと送受信回路との間に設けられるスイッチ付同軸コネクタであり、ケース304、外導体305、可動端子306及び固定端子307を備えている。   The receptacle 301 is, for example, a coaxial connector with a switch provided between a mobile phone antenna and a transmission / reception circuit, and includes a case 304, an outer conductor 305, a movable terminal 306, and a fixed terminal 307.

ケース304は、樹脂部材であり、下側に向かって広がるすり鉢状の開口を有している。外導体305は、ケース304の側面を覆っており、円筒状を成す金属部材である。外導体305は接地電位に保たれる。可動端子306は、ケース304に取り付けられており、ケース304の左端から右方向へと延在している。また、可動端子306は、下側から平面視したときに、ケース304のすり鉢状の開口を横切っている。可動端子306は送受信回路に接続されている。固定端子307は、ケース304に取り付けられており、ケース304の右端近傍に設けられている。固定端子307はアンテナに接続される。可動端子306は、検査装置10が装着されていない状態では、図6に示すように、上側から固定端子307に対して圧接している。可動端子306と固定端子307とが接触しているので、アンテナと送受信回路とが接続されている。   The case 304 is a resin member and has a mortar-shaped opening that spreads downward. The outer conductor 305 is a metal member that covers the side surface of the case 304 and has a cylindrical shape. The outer conductor 305 is kept at the ground potential. The movable terminal 306 is attached to the case 304 and extends from the left end of the case 304 in the right direction. Further, the movable terminal 306 crosses the mortar-shaped opening of the case 304 when viewed from below. The movable terminal 306 is connected to a transmission / reception circuit. The fixed terminal 307 is attached to the case 304 and is provided near the right end of the case 304. The fixed terminal 307 is connected to the antenna. The movable terminal 306 is in pressure contact with the fixed terminal 307 from above as shown in FIG. 6 when the inspection apparatus 10 is not mounted. Since the movable terminal 306 and the fixed terminal 307 are in contact with each other, the antenna and the transmission / reception circuit are connected.

ここで、検査装置10が装着されると、図7に示すように、外導体305は、ハウジング上部32a内に挿入される。これにより、ハウジング上部32aと外導体305とが接続される。よって、ハウジング32,46が接地電位に保たれる。また、プランジャ上部36aがケース304の開口内に挿入され、可動端子306を押し上げる。これにより、固定端子307と可動端子306とが離れると共に、プランジャ36と可動端子306とが接続され、送受信回路と測定器とが接続されるようになる。   Here, when the inspection apparatus 10 is mounted, the outer conductor 305 is inserted into the housing upper part 32a as shown in FIG. Thereby, the housing upper part 32a and the outer conductor 305 are connected. Therefore, the housings 32 and 46 are kept at the ground potential. Further, the plunger upper portion 36 a is inserted into the opening of the case 304 and pushes up the movable terminal 306. As a result, the fixed terminal 307 and the movable terminal 306 are separated from each other, the plunger 36 and the movable terminal 306 are connected, and the transmission / reception circuit and the measuring instrument are connected.

(効果)
以上のように構成された検査装置10によれば、検査装置10又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。より詳細には、検査装置10では、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端が上下方向に直交する面に沿う方向(すなわち、前後方向及び左右方向)に揺動することができる。これにより、検査装置10とレセプタクル301との位置にずれが生じた場合であっても、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端がレセプタクル301に接触することによって、プローブ12が上下方向に対して傾くことができる。その結果、外導体305がハウジング上部32a内に挿入されようになる。更に、プランジャ上部36aがケース304の開口内に挿入され、可動端子306を押し上げるようになる。よって、検査装置10によれば、検査装置10又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続させることができる。
(effect)
According to the inspection apparatus 10 configured as described above, these can be connected while suppressing damage to the inspection apparatus 10 or the receptacle 301. More specifically, in the inspection apparatus 10, the distal end of the housing upper part 32 a and the distal end of the plunger upper part 36 a can swing in directions along the plane perpendicular to the vertical direction (that is, the front-rear direction and the left-right direction). As a result, even if the position of the inspection apparatus 10 and the receptacle 301 is displaced, the probe 12 is moved in the vertical direction by the tip of the housing upper part 32a and the tip of the plunger upper part 36a contacting the receptacle 301. Can tilt. As a result, the outer conductor 305 is inserted into the housing upper part 32a. Furthermore, the plunger upper part 36a is inserted into the opening of the case 304, and the movable terminal 306 is pushed up. Therefore, according to the inspection apparatus 10, these can be connected, suppressing damaging the inspection apparatus 10 or the receptacle 301.

また、検査装置10によれば、以下の理由によっても、検査装置10又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続させることができる。より詳細には、検査装置10とレセプタクル301とのずれは、レセプタクル301の実装ずれに起因する。レセプタクル301の実装ずれは、前後方向及び左右方向にランダムに発生する。そこで、Oリング60は、プローブ12が所定位置に復元するように、プローブ12に力を及ぼしている。これにより、装着前には、プローブ12は、所定位置に位置し、前後方向及び左右方向のいずれの方向にも傾くことができる。これにより、レセプタクル301がいずれの方向にずれていたとしても、プローブ12が傾いて、検査装置10とレセプタクル301とが接続される。   Moreover, according to the inspection apparatus 10, these can be connected, suppressing damaging the inspection apparatus 10 or the receptacle 301 also for the following reasons. More specifically, the deviation between the inspection apparatus 10 and the receptacle 301 is caused by the mounting deviation of the receptacle 301. The mounting deviation of the receptacle 301 occurs randomly in the front-rear direction and the left-right direction. Therefore, the O-ring 60 exerts a force on the probe 12 so that the probe 12 is restored to a predetermined position. Thereby, before mounting | wearing, the probe 12 is located in a predetermined position and can incline in any direction of the front-back direction and the left-right direction. Thereby, even if the receptacle 301 is displaced in any direction, the probe 12 is inclined and the inspection apparatus 10 and the receptacle 301 are connected.

また、検査装置10によれば、検査装置10の長寿命化を図ることができる。前記の通り、レセプタクル301の実装ずれは前後方向及び左右方向にランダムに発生する。そのため、検査装置10とレセプタクル301との接続が複数回行われた際に、ハウジング上部32aの上端の特定の位置が集中して外導体305に接触するのではなく、ハウジング上部32aの上端全体が満遍なく外導体305に接触する。したがって、ハウジング上部32aの特定の位置が集中して摩耗することが抑制される。その結果、検査装置10の長寿命化が図られる。   Moreover, according to the inspection apparatus 10, the lifetime of the inspection apparatus 10 can be extended. As described above, the mounting deviation of the receptacle 301 occurs randomly in the front-rear direction and the left-right direction. Therefore, when the inspection apparatus 10 and the receptacle 301 are connected a plurality of times, the specific position of the upper end of the housing upper portion 32a is not concentrated and contacts the outer conductor 305, but the entire upper end of the housing upper portion 32a is It contacts the outer conductor 305 evenly. Accordingly, the specific position of the housing upper part 32a is prevented from being concentrated and worn. As a result, the life of the inspection apparatus 10 can be extended.

また、検査装置10によれば、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端の前後方向及び左右方向における可動域を大きくすることができる。より詳細には、プローブ12が前後方向及び左右方向に平行移動する場合では、貫通孔H2の直径とハウジング中部32bの直径との差の範囲内において、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端が前後方向及び左右方向に移動できる。   Moreover, according to the inspection apparatus 10, the movable range in the front-back direction and the left-right direction of the front-end | tip of the housing upper part 32a and the front-end | tip of the plunger upper part 36a can be enlarged. More specifically, when the probe 12 translates in the front-rear direction and the left-right direction, the distal end of the housing upper portion 32a and the distal end of the plunger upper portion 36a are within the range of the difference between the diameter of the through hole H2 and the diameter of the housing middle portion 32b. Can move in the front-rear direction and the left-right direction.

一方、接触部48bの下面は、下側に突出する曲面形状を有し、かつ、突起62の面S5に接触している。そのため、プローブ12は、接触部48bの突起62との接触部分(すなわち、プローブ12の下端)を中心に揺動するようになる。プローブ12が下端を中心として揺動する場合の方が、プローブ12が前後方向及び左右方向に平行移動する場合に比べて、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端の前後方向及び左右方向における可動域が大きい。よって、検査装置10によれば、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端の前後方向及び左右方向における可動域を大きくすることができる。   On the other hand, the lower surface of the contact portion 48b has a curved shape protruding downward, and is in contact with the surface S5 of the protrusion 62. Therefore, the probe 12 swings around the contact portion with the protrusion 62 of the contact portion 48b (that is, the lower end of the probe 12). When the probe 12 swings around the lower end, the front end of the housing upper portion 32a and the front end of the plunger upper portion 36a and the front end of the plunger upper portion 36a in the front-rear direction and the left-right direction are compared to the case where the probe 12 translates in the front-rear direction and the left-right direction. The range of motion is large. Therefore, according to the inspection apparatus 10, the movable range in the front-rear direction and the left-right direction of the tip of the housing upper part 32a and the tip of the plunger upper part 36a can be increased.

また、検査装置10では、接触部48bは、突起62に接触している。そのため、検査装置10がレセプタクル301に装着される際に、プローブ12が下方向に移動することがない。そのため、装着時における検査装置10の上下方向の移動量を小さくすることができ、装着に必要な時間を短縮できる。   In the inspection apparatus 10, the contact portion 48 b is in contact with the protrusion 62. Therefore, the probe 12 does not move downward when the inspection apparatus 10 is attached to the receptacle 301. Therefore, the vertical movement amount of the inspection apparatus 10 at the time of mounting can be reduced, and the time required for mounting can be shortened.

(第1の変形例)
以下に、第1の変形例に係る検査装置10aについて図面を参照しながら説明する。図8は、第1の変形例に係る検査装置10aの断面構造図である。
(First modification)
Hereinafter, an inspection apparatus 10a according to a first modification will be described with reference to the drawings. FIG. 8 is a cross-sectional structure diagram of the inspection apparatus 10a according to the first modification.

検査装置10aは、Oリング70を更に備えている点、及び、ディスク48が接触部48bを有していない点において、検査装置10と相違する。検査装置10aのその他の構成は、検査装置10と同じであるので説明を省略する。   The inspection device 10a is different from the inspection device 10 in that the inspection device 10a further includes an O-ring 70 and the disk 48 does not have the contact portion 48b. Since the other structure of the inspection apparatus 10a is the same as that of the inspection apparatus 10, description is abbreviate | omitted.

Oリング70は、円環状の弾性体であり、例えば、ゴムや樹脂(例えば、PTFE)等により作成されている。Oリング70は、収容部22bに設けられた円環状の凹部内に取り付けられている。   The O-ring 70 is an annular elastic body, and is made of, for example, rubber or resin (for example, PTFE). The O-ring 70 is attached in an annular recess provided in the housing portion 22b.

また、検査装置10aには、接触部48bが設けられていないので、図8に示すように、プローブ12の下端とホルダ14とは接触していない。   Further, since the inspection device 10a is not provided with the contact portion 48b, the lower end of the probe 12 and the holder 14 are not in contact as shown in FIG.

以上のように構成された検査装置10aでは、図8に示すように、面S3は、プローブ12の下端(ハウジング46の下面)と対向している。そして、Oリング70は、面S3とハウジング46の下面とに接している。   In the inspection apparatus 10a configured as described above, as shown in FIG. 8, the surface S3 faces the lower end of the probe 12 (the lower surface of the housing 46). The O-ring 70 is in contact with the surface S3 and the lower surface of the housing 46.

以上のように構成された検査装置10aでは、Oリング70は、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端が所定位置に復元するように、プローブ12に対して力を及ぼす。以下に、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合を例に挙げて説明する。図9は、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合の検査装置10aの断面構造図である。   In the inspection apparatus 10a configured as described above, the O-ring 70 exerts a force on the probe 12 so that the upper end of the housing 32 and the upper end of the plunger 36 are restored to predetermined positions. Hereinafter, a case where the probe 12 is tilted to the right from a predetermined position will be described as an example. FIG. 9 is a cross-sectional structure diagram of the inspection apparatus 10a when the probe 12 is tilted to the right from a predetermined position.

プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面とに挟まれている部分は、左右方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング下部32cを左側に向かって押す。すなわち、Oリング60は、上下方向に直交する面に沿う方向にプローブ12に対して力を及ぼす。この力により、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。   When the probe 12 is tilted to the right side from the predetermined position, the distance between the portion located on the right side of the surface S1 and the right side surface of the housing lower part 32c becomes small. As a result, the portion of the O-ring 60 that is located on the right side of the surface S1 and the portion on the right side of the housing lower portion 32c is compressed in the left-right direction. Therefore, the O-ring 60 pushes the housing lower part 32c toward the left side. That is, the O-ring 60 exerts a force on the probe 12 in a direction along a plane perpendicular to the vertical direction. With this force, the position of the probe 12 is restored to a predetermined position.

また、プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S2の左側に位置する部分とハウジング46の上面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S2の左側に位置する部分とハウジング46の下面とに挟まれている部分は、上下方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング46を下側に向かって押す。これにより、プローブ12は、図9の時計回り方向に回転させられようとする。その結果、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。   Further, when the probe 12 is tilted to the right side from the predetermined position, the distance between the portion located on the left side of the surface S2 and the upper surface of the housing 46 is reduced. As a result, a portion of the O-ring 60 that is sandwiched between the portion located on the left side of the surface S2 and the lower surface of the housing 46 is compressed in the vertical direction. Therefore, the O-ring 60 pushes the housing 46 downward. As a result, the probe 12 tends to be rotated in the clockwise direction of FIG. As a result, the position of the probe 12 is restored to a predetermined position.

更に、プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S3の右側に位置する部分とハウジング46の下面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング70において面S3の左側に位置する部分とハウジング46の上面とに挟まれている部分は、上下方向に圧縮される。よって、Oリング70は、ハウジング46を上側に向かって押す。これにより、プローブ12は、図9の時計回り方向に回転させられようとする。その結果、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。   Further, when the probe 12 is tilted to the right side from the predetermined position, the distance between the portion located on the right side of the surface S3 and the lower surface of the housing 46 is reduced. As a result, a portion of the O-ring 70 sandwiched between the portion located on the left side of the surface S3 and the upper surface of the housing 46 is compressed in the vertical direction. Therefore, the O-ring 70 pushes the housing 46 upward. As a result, the probe 12 tends to be rotated in the clockwise direction of FIG. As a result, the position of the probe 12 is restored to a predetermined position.

以上のように構成された検査装置10aにおいても、検査装置10と同様に、検査装置10a又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。   In the inspection apparatus 10a configured as described above, similarly to the inspection apparatus 10, these can be connected while suppressing damage to the inspection apparatus 10a or the receptacle 301.

(第2の変形例)
次に、第2の変形例に係る検査装置10bについて図面を参照しながら説明する。図10は、検査装置10bのモデル図である。
(Second modification)
Next, an inspection apparatus 10b according to a second modification will be described with reference to the drawings. FIG. 10 is a model diagram of the inspection apparatus 10b.

検査装置10bは、プローブ12の下端が平坦である点において、検査装置10と相違する。検査装置10bのその他の構成は、検査装置10と同じであるので説明を省略する。   The inspection apparatus 10b differs from the inspection apparatus 10 in that the lower end of the probe 12 is flat. Since the other structure of the inspection apparatus 10b is the same as that of the inspection apparatus 10, description thereof is omitted.

検査装置10bでは、プローブ12の下端が平面であり、収容部22bの上面も平面である。よって、プローブ12の下端と収容部22bの上面とは面接触している。そのため、プローブ12は、揺動するのではなく、所定位置から前後方向及び左右方向に平行移動するようになる。   In the inspection apparatus 10b, the lower end of the probe 12 is a flat surface, and the upper surface of the accommodating portion 22b is also a flat surface. Therefore, the lower end of the probe 12 and the upper surface of the accommodating portion 22b are in surface contact. Therefore, the probe 12 does not oscillate but moves in parallel in the front-rear direction and the left-right direction from a predetermined position.

以上のように構成された検査装置10bにおいても、検査装置10と同様に、検査装置10b又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。   In the inspection apparatus 10b configured as described above, similarly to the inspection apparatus 10, these can be connected while suppressing damage to the inspection apparatus 10b or the receptacle 301.

(第3の変形例)
次に、第3の変形例に係る検査装置10cについて図面を参照しながら説明する。図11は、検査装置10cのモデル図である。
(Third Modification)
Next, an inspection apparatus 10c according to a third modification will be described with reference to the drawings. FIG. 11 is a model diagram of the inspection apparatus 10c.

検査装置10cは、ホルダ上部20がOリング60及びプローブ12の上側まで回り込んでいない点において、検査装置10bと相違する。検査装置10cのその他の構成は、検査装置10bと同じであるので説明を省略する。   The inspection apparatus 10c is different from the inspection apparatus 10b in that the holder upper part 20 does not go around to the upper side of the O-ring 60 and the probe 12. Since the other structure of the inspection apparatus 10c is the same as that of the inspection apparatus 10b, description thereof is omitted.

検査装置10bのように、ホルダ上部20がOリング60及びプローブ12の上側まで回り込んでいると、ホルダ14からOリング60及びプローブ12が脱落することが防止される。ただし、ホルダ14からOリング60及びプローブ12が脱落することを考慮しなくてもよい場合には、検査装置10bのように、ホルダ上部20がOリング60及びプローブ12の上側まで回り込んでいなくてもよい。   When the holder upper part 20 is wrapping up to the upper side of the O-ring 60 and the probe 12 as in the inspection apparatus 10b, the O-ring 60 and the probe 12 are prevented from dropping from the holder 14. However, when it is not necessary to consider that the O-ring 60 and the probe 12 fall off from the holder 14, the holder upper portion 20 does not wrap around to the upper side of the O-ring 60 and the probe 12 as in the inspection apparatus 10 b. It does not have to be.

以上のように構成された検査装置10cにおいても、検査装置10bと同様に、検査装置10c又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。   In the inspection apparatus 10c configured as described above, it is possible to connect them while suppressing damage to the inspection apparatus 10c or the receptacle 301 as in the case of the inspection apparatus 10b.

(第4の変形例)
次に、第4の変形例に係る検査装置10dについて図面を参照しながら説明する。図12は、検査装置10dのモデル図である。
(Fourth modification)
Next, an inspection apparatus 10d according to a fourth modification will be described with reference to the drawings. FIG. 12 is a model diagram of the inspection apparatus 10d.

検査装置10dは、プローブ12が上下方向に延在する棒状をなしている点、及び、プローブ12の下端が球面状をなしている点において、検査装置10cと相違する。検査装置10dのその他の構成は、検査装置10cと同じであるので説明を省略する。   The inspection apparatus 10d is different from the inspection apparatus 10c in that the probe 12 has a bar shape extending in the vertical direction and the lower end of the probe 12 has a spherical shape. Since the other configuration of the inspection apparatus 10d is the same as that of the inspection apparatus 10c, description thereof is omitted.

検査装置10dのように、プローブ12が棒状をなしていてもよい。この場合、Oリング60は、面S1とプローブ12の周面とに接するようになる。よって、Oリング60は、プローブ12が所定位置から傾いた場合に、前後方向又は左右方向の力を及ぼし、上下方向の力を及ぼさなくなる。   Like the inspection device 10d, the probe 12 may have a rod shape. In this case, the O-ring 60 comes into contact with the surface S1 and the peripheral surface of the probe 12. Therefore, the O-ring 60 exerts a force in the front-rear direction or the left-right direction when the probe 12 is tilted from a predetermined position, and does not exert a force in the vertical direction.

以上のように構成された検査装置10dにおいても、検査装置10cと同様に、検査装置10d又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。   In the inspection apparatus 10d configured as described above, it is possible to connect them while suppressing damage to the inspection apparatus 10d or the receptacle 301, similarly to the inspection apparatus 10c.

(第5の変形例)
次に、第5の変形例に係る検査装置10eについて図面を参照しながら説明する。図13は、検査装置10eのモデル図である。
(Fifth modification)
Next, an inspection apparatus 10e according to a fifth modification will be described with reference to the drawings. FIG. 13 is a model diagram of the inspection apparatus 10e.

検査装置10eは、プローブ12の下端が下方に突出する曲面をなしている点、及び、Oリング60がプローブ12の下端と収容部22bの上面とに接している点において、検査装置10と相違する。検査装置10eのその他の構成は、検査装置10と同じであるので説明を省略する。   The inspection apparatus 10e is different from the inspection apparatus 10 in that the lower end of the probe 12 has a curved surface protruding downward and the O-ring 60 is in contact with the lower end of the probe 12 and the upper surface of the housing portion 22b. To do. Since the other structure of the inspection apparatus 10e is the same as that of the inspection apparatus 10, description thereof is omitted.

ホルダ14の収容部22bは、上側を向くと共に、プローブ12と対向する面S3を有している。また、プローブ12の下端は、下方に突出する曲面をなしている。本変形例では、プローブ12の下端は、下方に突出する円錐をなしている。また、Oリング60は、円錐の頂点を中心としてその周囲を周回するようにプローブ12の下端に接触していると共に、収容部22bの上面に接している。   The accommodating portion 22b of the holder 14 has a surface S3 facing upward and facing the probe 12. The lower end of the probe 12 has a curved surface protruding downward. In this modification, the lower end of the probe 12 forms a cone protruding downward. Further, the O-ring 60 is in contact with the lower end of the probe 12 so as to go around the apex of the cone, and is in contact with the upper surface of the housing portion 22b.

以上のように構成された検査装置10eにおいても、プローブ12が前後方向及び左右方向にスライドすることができる。また、プローブ12は、Oリング60により、所定位置(貫通孔H2の中央)に復元される。   Also in the inspection apparatus 10e configured as described above, the probe 12 can slide in the front-rear direction and the left-right direction. Further, the probe 12 is restored to a predetermined position (the center of the through hole H2) by the O-ring 60.

以上のように構成された検査装置10eにおいても、検査装置10と同様に、検査装置10e又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。   In the inspection apparatus 10e configured as described above, similarly to the inspection apparatus 10, these can be connected while preventing the inspection apparatus 10e or the receptacle 301 from being damaged.

(その他の実施形態)
本発明に係る検査装置は、前記検査装置10,10a〜10eに限らずその要旨の範囲内において変更可能である。
(Other embodiments)
The inspection device according to the present invention is not limited to the inspection devices 10, 10a to 10e, and can be changed within the scope of the gist thereof.

なお、検査装置10,10a〜10eの備えている構成を任意に組み合わせてもよい。   In addition, you may combine arbitrarily the structure with which the inspection apparatus 10 and 10a-10e are equipped.

なお、Oリング60,70は、円環状をなしていなくてもよい。Oリング60,70の代わりに、球状の弾性体が凹部に複数配置されていてもよい。   Note that the O-rings 60 and 70 do not have to be annular. Instead of the O-rings 60 and 70, a plurality of spherical elastic bodies may be arranged in the recess.

なお、Oリング60,70は、プローブ12及びホルダ14に接触しているが、例えば、プローブ12及びホルダ14に接着されていてもよい。   The O-rings 60 and 70 are in contact with the probe 12 and the holder 14, but may be bonded to the probe 12 and the holder 14, for example.

なお、検査装置10,10a〜10eにおいて、面が対向するとは、2つの面が平行に対向している状態のみならず、2つの面が平行でない状態で対向している状態も含むものとする。   Note that in the inspection apparatuses 10 and 10a to 10e, facing surfaces includes not only a state in which two surfaces are opposed in parallel but also a state in which the two surfaces are opposed in a non-parallel state.

また、検査装置10,10a〜10eにおいて、面が特定の方向を向くとは、面の法線が特定の方向と平行な状態のみならず、面の法線が特定の方向の成分を含んでいる状態も含むものとする。   Further, in the inspection apparatuses 10 and 10a to 10e, when a surface faces a specific direction, not only the surface normal is parallel to the specific direction but also the surface normal includes a component in a specific direction. It includes the state that is.

以上のように、本発明は、検査装置に有用であり、特に、検査装置又はレセプタクルを破損させることを抑制しつつ、これらを接続することを抑制できる点において優れている。   As described above, the present invention is useful for an inspection apparatus, and is particularly excellent in that connection between them can be suppressed while suppressing damage to the inspection apparatus or the receptacle.

10,10a〜10e:検査装置
12:プローブ
14:ホルダ
16:同軸ケーブル
16a:芯線
16b:絶縁体
16c:外導体
16d:被覆
18:コネクタ
20:ホルダ上部
20a:本体
20b:収容部
21a:上面
22:ホルダ下部
22a:本体
22b:収容部
32:ハウジング
32a:ハウジング上部
32b:ハウジング中部
32c:ハウジング下部
34:ブッシング
34a:ブッシング上部
34b:ブッシング下部
36:プランジャ
36a:プランジャ上部
36b:プランジャ下部
38:スプリング
40:ブッシング
44:バレル
44a:バレル上部
44b:バレル下部
46:ハウジング
48:ディスク
48a:円盤部
48b:接触部
60,70:Oリング
62:突起
100:駆動部
S1〜S5:面
10, 10a to 10e: Inspection device 12: Probe 14: Holder 16: Coaxial cable 16a: Core wire 16b: Insulator 16c: Outer conductor 16d: Cover 18: Connector 20: Holder upper part 20a: Main body 20b: Housing portion 21a: Upper surface 22 : Holder lower part 22a: Main body 22b: Housing part 32: Housing 32a: Housing upper part 32b: Housing middle part 32c: Housing lower part 34: Bushing 34a: Bushing upper part 34b: Bushing lower part 36: Plunger 36a: Plunger upper part 36b: Plunger lower part 38: Spring 40: bushing 44: barrel 44a: barrel upper part 44b: barrel lower part 46: housing 48: disk 48a: disk part 48b: contact part 60, 70: O-ring 62: protrusion 100: driving parts S1 to S5: surface

Claims (9)

所定方向に延在する中心導体、及び、該中心導体の周囲を囲むと共に前記所定方向に延在する筒状の外導体を含むプローブと、
前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部が該所定方向に直交する平面に沿う方向に所定位置から移動できるように、該プローブを保持するホルダと、
前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部の位置が該所定位置に復元するように、該プローブに対して力を及ぼす第1の弾性体と、
を備えていること、
を特徴とする検査装置。
A probe including a central conductor extending in a predetermined direction, and a cylindrical outer conductor surrounding the central conductor and extending in the predetermined direction;
A holder for holding the probe so that an end of one side of the predetermined direction of the center conductor and the outer conductor can move from a predetermined position in a direction along a plane perpendicular to the predetermined direction;
A first elastic body that exerts a force on the probe so that the position of one end of the central conductor and the outer conductor in the predetermined direction is restored to the predetermined position;
Having
Inspection device characterized by
前記第1の弾性体は、前記所定方向に直交する平面に沿う方向に前記プローブに対して力を及ぼすこと、
を特徴とする請求項1に記載の検査装置。
The first elastic body exerts a force on the probe in a direction along a plane perpendicular to the predetermined direction;
The inspection apparatus according to claim 1.
前記ホルダは、前記所定方向に直交する直交方向において前記プローブと対向する第1の対向面を有しており、
前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記プローブとに接していること、
を特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載の検査装置。
The holder has a first facing surface facing the probe in an orthogonal direction orthogonal to the predetermined direction;
The first elastic body is in contact with the first facing surface and the probe;
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection apparatus is characterized by the following.
前記第1の対向面は、前記所定方向に延びる中心軸を中心として、前記外導体を周回するよう前記ホルダに設けられており、
前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記外導体とに接し、かつ、環状形状を有していること、
を特徴とする請求項3に記載の検査装置。
The first facing surface is provided on the holder so as to go around the outer conductor around a central axis extending in the predetermined direction,
The first elastic body is in contact with the first facing surface and the outer conductor and has an annular shape;
The inspection apparatus according to claim 3.
前記ホルダは、前記所定方向の他方側を向くと共に、前記プローブと対向する第2の対向面を有しており、
前記第1の弾性体は、前記第2の対向面と前記プローブとに接すること、
を特徴とする請求項3又は請求項4のいずれかに記載の検査装置。
The holder faces the other side of the predetermined direction and has a second facing surface facing the probe,
The first elastic body is in contact with the second facing surface and the probe;
The inspection apparatus according to claim 3, wherein:
前記プローブの前記所定方向の他方側の端部の少なくとも一部は、前記所定方向の他方側に向かって突出する曲面形状を有し、かつ、前記ホルダに接触していること、
を特徴とする請求項3又は請求項4のいずれかに記載の検査装置。
At least a part of an end portion on the other side in the predetermined direction of the probe has a curved surface shape protruding toward the other side in the predetermined direction, and is in contact with the holder;
The inspection apparatus according to claim 3, wherein:
前記ホルダは、前記所定方向の一方側を向くと共に、前記プローブの該所定方向の他方側の端部と対向する第3の対向面を有しており、
前記検査装置は、
前記第3の対向面と前記ホルダの他方側の端部とに接している第2の弾性体を、
更に備えていること、
を特徴とする請求項5に記載の検査装置。
The holder has a third facing surface facing one side of the predetermined direction and facing the other end of the probe in the predetermined direction;
The inspection device includes:
A second elastic body in contact with the third opposing surface and the other end of the holder;
More
The inspection apparatus according to claim 5.
前記ホルダは、前記所定方向の一方側を向くと共に、前記プローブと対向する第3の対向面を有しており、
前記第1の弾性体は、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部と前記第3の対向面とに接していること、
を特徴とする請求項1に記載の検査装置。
The holder has a third facing surface facing one side of the predetermined direction and facing the probe,
The first elastic body is in contact with the other end of the probe in the predetermined direction and the third facing surface;
The inspection apparatus according to claim 1.
前記第1の弾性体の前記所定方向に直交する方向におけるばね定数は、該第1の弾性体の該所定方向におけるばね定数よりも小さいこと、
を特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれかに記載の検査装置。
A spring constant in a direction perpendicular to the predetermined direction of the first elastic body is smaller than a spring constant in the predetermined direction of the first elastic body;
The inspection apparatus according to claim 1, wherein:
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113267716A (en) * 2021-05-10 2021-08-17 维沃移动通信有限公司 Radio frequency test seat, radio frequency circuit and electronic equipment
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