JP2015137958A - Inspection device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、検査装置に関し、より特定的には、レセプタクルに装着可能な検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus, and more particularly to an inspection apparatus that can be attached to a receptacle.
従来の検査装置に関する発明としては、例えば、特許文献1に記載の検査用同軸コネクタが知られている。該検査用同軸コネクタは、上下方向に延在する円筒状の先端部及び先端部内を上下方向に延在するプランジャを備えている。このような検査用同軸コネクタは、可動端子及び外部導体を備えたレセプタクルに装着される。外部導体は、上下方向に延在する円筒状をなしている。可動端子は、外部導体の下方に設けられ、上側から平面視したときに、外部導体の中心に位置している。先端部には、レセプタクルの外部導体が挿入される。これにより、先端部の内周面とレセプタクルの外周面とが接触する。また、プランジャは、レセプタクルの外部導体を通過し、レセプタクルの可動端子に接続される。これにより、検査用同軸コネクタに接続された検査機器により、可動端子を流れる信号を検査できる。
As an invention related to a conventional inspection device, for example, an inspection coaxial connector described in
ところで、検査用同軸コネクタでは、レセプタクルへの装着の際に破損が生じるおそれがあった。より詳細には、レセプタクルは、回路基板上に実装されている。レセプタクルの実装位置は、所定の実装位置から所定の公差内に位置する。したがって、レセプタクルの実装位置のずれが大きい場合には、例えば、検査用同軸コネクタの先端部とレセプタクルの外部導体とが装着時に衝突して、検査用同軸コネクタ又はレセプタクルが破損するおそれがある。 By the way, in the coaxial connector for a test | inspection, there existed a possibility that a damage might arise when mounting | wearing to a receptacle. More specifically, the receptacle is mounted on the circuit board. The receptacle mounting position is located within a predetermined tolerance from the predetermined mounting position. Therefore, if the mounting position of the receptacle is largely displaced, for example, the tip of the inspection coaxial connector and the outer conductor of the receptacle may collide at the time of mounting, and the inspection coaxial connector or the receptacle may be damaged.
そこで、本発明の目的は、検査装置又はレセプタクルを破損させることを抑制しつつ、これらを接続することを抑制できる検査装置を提供することである。 Then, the objective of this invention is providing the inspection apparatus which can suppress connecting these, suppressing damaging an inspection apparatus or a receptacle.
本発明の一形態に係る検査装置は、所定方向に延在する中心導体、及び、該中心導体の周囲を囲むと共に前記所定方向に延在する筒状の外導体を含むプローブと、前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部が該所定方向に直交する平面に沿う方向に所定位置から移動できるように、該プローブを保持するホルダと、前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部の位置が該所定位置に復元するように、該プローブに対して力を及ぼす第1の弾性体と、を備えていること、を特徴とする。 An inspection apparatus according to an aspect of the present invention includes a probe including a central conductor extending in a predetermined direction, a cylindrical outer conductor surrounding the central conductor and extending in the predetermined direction, and the central conductor And a holder for holding the probe, the center conductor, and the outer conductor so that an end portion on one side of the outer conductor can move from a predetermined position in a direction along a plane perpendicular to the predetermined direction. And a first elastic body that exerts a force on the probe so that the position of one end in the predetermined direction is restored to the predetermined position.
前記検査装置において、前記第1の弾性体は、前記所定方向に直交する平面に沿う方向に前記プローブに対して力を及ぼしてもよい。 In the inspection apparatus, the first elastic body may exert a force on the probe in a direction along a plane orthogonal to the predetermined direction.
前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向に直交する直交方向において前記プローブと対向する第1の対向面を有しており、前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記プローブとに接していてもよい。 In the inspection apparatus, the holder has a first facing surface facing the probe in an orthogonal direction orthogonal to the predetermined direction, and the first elastic body includes the first facing surface and the first facing surface. It may be in contact with the probe.
前記検査装置において、前記第1の対向面は、前記所定方向に延びる中心軸を中心として、前記外導体を周回するよう前記ホルダに設けられており、前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記外導体とに接し、かつ、環状形状を有していてもよい。 In the inspection apparatus, the first facing surface is provided in the holder so as to go around the outer conductor around a central axis extending in the predetermined direction, and the first elastic body includes the first elastic body. The opposite surface and the outer conductor may be in contact with each other and may have an annular shape.
前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向の他方側を向くと共に、前記プローブと対向する第2の対向面を有しており、前記第1の弾性体は、前記第2の対向面と前記プローブとに接していてもよい。 In the inspection apparatus, the holder has a second facing surface that faces the other side of the predetermined direction and faces the probe, and the first elastic body includes the second facing surface and the second facing surface. It may be in contact with the probe.
前記検査装置において、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部の少なくとも一部は、前記所定方向の他方側に向かって突出する曲面形状を有し、かつ、前記ホルダに接触していてもよい。 In the inspection apparatus, at least a part of the end portion on the other side in the predetermined direction of the probe has a curved shape protruding toward the other side in the predetermined direction and is in contact with the holder. Good.
前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向の一方側を向くと共に、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部と対向する第3の対向面を有しており、前記検査装置は、前記第3の対向面と前記ホルダの他方側の端部とに接している第2の弾性体を、更に備えていてもよい。 In the inspection apparatus, the holder has a third facing surface facing one side in the predetermined direction and facing the other end of the probe in the predetermined direction. You may further provide the 2nd elastic body which contact | connects the said 3rd opposing surface and the edge part of the other side of the said holder.
前記検査装置において、前記ホルダは、前記所定方向の一方側を向くと共に、前記プローブと対向する第3の対向面を有しており、前記第1の弾性体は、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部と前記第3の対向面とに接していてもよい。 In the inspection apparatus, the holder has a third facing surface facing one side of the predetermined direction and facing the probe, and the first elastic body is arranged in the predetermined direction of the probe. You may contact | connect the edge part of the other side, and the said 3rd opposing surface.
前記検査装置において、前記第1の弾性体の前記所定方向に直交する方向におけるばね定数は、該第1の弾性体の該所定方向におけるばね定数よりも小さくてもよい。 In the inspection apparatus, a spring constant of the first elastic body in a direction orthogonal to the predetermined direction may be smaller than a spring constant of the first elastic body in the predetermined direction.
本発明によれば、検査装置又はレセプタクルが破損することを抑制できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it can suppress that a test | inspection apparatus or a receptacle is damaged.
(検査装置の構造)
以下に、本発明の一実施形態に係る検査装置の構造について、図面を参照して説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る検査装置10の外観斜視図である。図2は、図1の検査装置10の分解斜視図である。図3は、検査装置10のプローブ12の分解斜視図である。図4は、検査装置10の断面構造図である。以下では、検査装置10のプランジャ36が延在している方向を上下方向と定義する。また、同軸ケーブル16が延在する方向を前後方向と定義する。上下方向及び前後方向に直交する方向を左右方向と定義する。上下方向、前後方向及び左右方向は互いに直交している。
(Inspection device structure)
Below, the structure of the inspection apparatus which concerns on one Embodiment of this invention is demonstrated with reference to drawings. FIG. 1 is an external perspective view of an
検査装置10は、被検査体であるレセプタクルに着脱自在であって、図1ないし図4に示すように、プローブ12、ホルダ14、同軸ケーブル16、コネクタ18、Oリング60及び駆動部100を備えている。
The
同軸ケーブル16は、図3に示すように、芯線16a、絶縁体16b、外導体16c及び被覆16dを含んでいる。芯線16aは、例えば、銅線である。絶縁体16bは、芯線16aの周囲を囲んでいる樹脂である。外導体16cは、絶縁体16bの周囲を囲んでおり、例えば、細い銅線が網状に編み込まれて作製されている。被覆16dは、外導体16cの周囲を囲んでいる。同軸ケーブル16の前側の端部(以下、先端ともいう)では、絶縁体16b、外導体16c及び被覆16dが除去されて、芯線16aが露出している。また、芯線16aが露出している部分の後ろ側に隣接する部分では、外導体16c及び被覆16dが除去されて、絶縁体16bが露出している。また、絶縁体16bが露出している部分の後ろ側に隣接する部分では、被覆16dが除去されて、外導体16cが露出している。
As shown in FIG. 3, the
コネクタ18は、同軸ケーブル16の後ろ側の端部(以下、後端ともいう)に接続されており、信号の測定器に同軸ケーブル16を接続する際に用いられる。
The
ホルダ14は、図2に示すように、ホルダ上部20及びホルダ下部22を含んでおり、後述するプローブ12を保持している。ホルダ下部22は、本体22a及び収容部22bを有している。本体22aは、左右方向に延在する直方体状をなしている。収容部22bは、上方から平面視したときに、本体22aの右側の短辺の前半分から右側に向かって突出しており、矩形状をなしている。収容部22bの上面には、上側から平面視したときに、円環状をなす凹部が設けられている。これにより、収容部22bの上面の中央には、上側に突出する円柱状の突起62が形成されている。以下では、図2及び図4に示すように、凹部の内周面の内の底面を面S3と呼び、凹部の内周面の内の外側の円環状の内周面を面S4と呼ぶ。面S3は、上側を向いており、面S4は、上下方向に直交する方向を向いている。また、突起62の上面を面S5と呼ぶ。面S5は、下側に向かって窪む曲面をなしている。本実施形態では、面S5は球面状をなしている。
As shown in FIG. 2, the
ホルダ上部20は、本体20a及び収容部20bを有している。本体20aは、左右方向に延在する直方体状をなしている。収容部20bは、上方から平面視したときに、本体20aの右側の短辺の前半分から右側に向かって突出しており、矩形状をなしている。収容部20bは、上面21a及び柱21b〜21e(柱21eは、図2では隠れているため図示せず)により構成されている。
The holder
上面21aは、上側から平面視したときに、矩形状の板状をなしている。上面21aの中央部には、上下方向に上面21aを貫通する円形の貫通孔H1が設けられている。また、上面21aの下面には、図4に示すように、下側から平面視したときに、円環状をなす凹部が設けられている。貫通孔H1は、図4に示すように、凹部の中心に位置している。以下では、図4に示すように、凹部の内周面の内の底面を面S2と呼び、凹部の内周面の内の外側の円環状の内周面を面S1と呼ぶ。面S2は、下側を向いており、面S1は、上下方向に直交する方向を向いている。
The
柱21bは、上面21aの左前の角から下方に延在する角柱状の部材である。柱21cは、上面21aの右前の角から下方に延在する角柱状の部材である。柱21dは、上面21aの右後ろの角から下方に延在する角柱状の部材である。柱21eは、上面21aの左後ろ角から下方に延在する角柱状の部材である。
The
以上のように構成されたホルダ上部20がホルダ下部22に対して上側から重ねられることにより、柱21b〜21eの下端がそれぞれ収容部22bの4つの角に接触する。これにより、上面21aと収容部22bとの間に空間Spが形成されている。
When the holder
プローブ12は、図1、図2及び図4に示すように、空間Spに収容される。プローブ12は、図3に示すように、プロテクトリング30、ハウジング32、ブッシング34、プランジャ36、スプリング38、ブッシング40、バレル44、ハウジング46、ディスク48、ケーブルアダプタ50、かしめパイプ52及びシース54を含んでいる。
The
ハウジング32は、図3及び図4に示すように、ハウジング上部32a、ハウジング中部32b及びハウジング下部32cにより構成されており、導電性材料(例えば、ベリリウム銅)により作製されている。ハウジング上部32aは、上下方向に延在する円筒部材である。ハウジング中部32bは、ハウジング上部32aの下端に接続され、上下方向に延在する円筒部材である。ハウジング中部32bは、ハウジング上部32aの直径よりも太い。ハウジング下部32cは、ハウジング中部32bの下端に接続され、上下方向に延在する円筒部材である。ハウジング下部32cは、ハウジング中部32bの直径よりも太い。また、ハウジング上部32aには、ハウジング上部32aの上端から下方向に延在するスリットSが設けられている。これにより、ハウジング上部32aのばね性により、スリットSが広がって、ハウジング上部32aは、前後左右方向に広がることができる。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
ブッシング34は、ブッシング上部34a及びブッシング下部34bにより構成されており、樹脂等の絶縁体により作製されている。ブッシング上部34aは、上下方向に延在する円筒部材である。ブッシング下部34bは、ブッシング上部34aの下端に接続され、上下方向に延在する円筒部材である。ブッシング下部34bの直径は、ブッシング上部34aの直径よりも太い。
The
以上のように構成されたブッシング34は、ハウジング32に下側から挿入される。これにより、図4に示すように、ブッシング上部34aがハウジング上部32a内に収まり、ブッシング下部34bがハウジング中部32bの上端近傍に収まる。
The
ブッシング40は、樹脂等の絶縁体により作製されている円筒部材である。ブッシング40は、ハウジング32に下側から挿入される。これにより、図4に示すように、ブッシング40がハウジング下部32cに収まる。ただし、ブッシング40の下端は、ハウジング下部32cからはみ出している。
The
プランジャ36は、図3に示すように、プランジャ上部36a及びプランジャ下部36bを含んでおり、導電性材料(例えば、ベリリウム銅)により作製されたピンである。プランジャ上部36aは、上下方向に延在する細いピンである。プランジャ下部36bは、プランジャ上部36aの下端に接続され、かつ、上下方向に延在する円柱状をなしている。プランジャ下部36bの直径は、プランジャ上部36aの直径よりも大きい。
As shown in FIG. 3, the
バレル44は、バレル上部44a及びバレル下部44bを含んでおり、導電性材料(例えば、真鍮)により作製された棒状部材である。バレル上部44aは、上下方向に延在する円筒状をなしている。バレル上部44aの上端には開口が設けられている。ただし、バレル上部44aの下端には開口が設けられていない。バレル上部44aの内部には、スプリング38が挿入され、更に、プランジャ下部36bが挿入されている。ただし、プランジャ上部36aは、プランジャ36がバレル44に取り付けられた状態で、バレル上部44aの上端から上側に向かって延在している。そして、プランジャ36は、上側から押さえつけられた場合、スプリング38が縮んで下側に退避することができる。
The
バレル下部44bは、図3に示すように、バレル上部44aの下端に設けられ、円柱が左右に2つに分割されている。
As shown in FIG. 3, the barrel
プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、ハウジング32に下側から挿入される。より詳細には、プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、ハウジング32に取り付けられたブッシング34,40内を上下方向に貫通する。これにより、プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、ブッシング34,40により保持されると共に、ブッシング34,40によりハウジング32と絶縁されている。
The assembly of
ここで、プランジャ上部36aは、ハウジング上部32a内及びブッシング上部34a内を上下方向に延在している。また、プランジャ上部36aの上端は、ハウジング上部32a及びブッシング上部34aから上方にはみ出している。 Here, the plunger upper part 36a extends vertically in the housing upper part 32a and the bushing upper part 34a. Further, the upper end of the plunger upper portion 36a protrudes upward from the housing upper portion 32a and the bushing upper portion 34a.
バレル上部44aは、ハウジング中部32b及びハウジング下部32c内を上下方向に延在している。バレル上部44aの上端は、ブッシング下部34bに挿入されている。これにより、プランジャ下部36bは、ブッシング34から上側に抜けないように、ブッシング34に引っかかっている。また、バレル上部44aの下端は、ブッシング40に挿入されている。バレル下部44bは、ブッシング40から下側にはみ出している。
The barrel upper part 44a extends in the vertical direction in the housing
プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体は、上下方向に延在し、信号が伝送される中心導体として機能する。また、ハウジング32は、プランジャ36、スプリング38及びバレル44の組立体の周囲を囲むと共に、上下方向に延在する筒状の外導体として機能する。外導体は接地電位に保たれる。
The assembly of the
ハウジング46は、導電性材料(例えば、真鍮)により作製された立方体状の部材である。ハウジング46には、上面と下面とを繋ぐ円形の貫通孔H2が設けられている。また、ハウジング46の後面には、貫通孔H2と繋がる孔H3が設けられている。
The
ハウジング下部32cは、ハウジング46の貫通孔H2に対して下側から挿入される。これにより、ハウジング32がハウジング46に取り付けられる。このとき、バレル下部44bは、後ろ側から平面視したときに、孔H3の中央付近に位置している。
The housing
ディスク48は、円盤部48a及び接触部48bにより構成されている。円盤部48aは、ハウジング46の下面に取り付けられて、貫通孔H2を塞いでいる。接触部48bは、円盤部48aの下面に設けられた円柱状の突起であり、プローブ12の下端を構成している。接触部48bの下面は下側に突出する曲面をなしている。本実施形態では、接触部48bの下面は球面状をなしている。
The
プロテクトリング30は、図3及び図4に示すように、円筒形状をなしており、ハウジング中部32bの上端に取り付けられている。具体的には、プロテクトリング30の内径は、ハウジング上部32aの外径よりも大きい。そして、プロテクトリング30は、ハウジング中部32bに対して上側から圧入されることにより、ハウジング中部32bに固定されている。これにより、プロテクトリング30は、ハウジング上部32aの周囲を取り囲むようになる。すなわち、プロテクトリング30の内周面は、ハウジング上部32aの外周面と対向している。以上のように構成されたプロテクトリング30は、レセプタクルが装着されているときに、ハウジング上部32aの径が大きく広がることを規制する役割を果たす。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
ケーブルアダプタ50は、導電性材料により作製された筒状部材である。ケーブルアダプタ50の前端は、ハウジング46の孔H3に挿入される。同軸ケーブル16の先端は、ケーブルアダプタ50に挿入される。これにより、芯線16aは、バレル下部44bに挟まれ、はんだによりバレル下部44bに固定される。これにより、プランジャ36と芯線16aとがバレル44を介して電気的に接続されている。
The
また、同軸ケーブル16の先端がケーブルアダプタ50に挿入される際に、外導体16cは、ケーブルアダプタ50内に挿入されずにケーブルアダプタ50の後端を覆う。
Further, when the front end of the
かしめパイプ52は、金属製の筒であり、ケーブルアダプタ50の後端を覆っている外導体16cの周囲を覆っている。かしめパイプ52は、かしめられることによって、ケーブルアダプタ50と同軸ケーブル16とを固定している。
The
シース54は、樹脂製の筒であり、かしめパイプ52及び被覆16dの周囲を覆っている。これにより、同軸ケーブル16とケーブルアダプタ50との接続部分を保護している。
The
Oリング60は、円環状の弾性体であり、例えば、ゴムや樹脂(例えば、PTFE)等により作成されている。Oリング60は、上面21aの下面に設けられた円環状の凹部内に取り付けられている。また、Oリング60の上下方向に直交する方向(前後方向及び左右方向)における単位変位当たりの復元力であるばね定数:K1は、Oリング60の上下方向における単位変位当たりの復元力であるばね定数:K2よりも小さい。ここで、予め定めた方向にプローブを変位量xで変位させたOリングの変形量ΔlをOリングの初期長さLで除した値を歪εと定め、プローブがOリングから受ける復元力FをプローブとOリングの接触面積Aで除した値を応力σと定めるとき、応力σを歪量εで除した値によって弾性率が定められるとする。このとき、フックの法則が成り立つと仮定すれば、ばね定数:Kは復元力Fを変位量xで除することで簡易的に測定できる。
The O-
ここで、ハウジング46は、空間Sp内に収まっている。また、ハウジング中部32bは、貫通孔H1及びOリング60を通過している。ただし、貫通孔H1の直径は、ハウジング下部32cの直径よりも小さいので、ハウジング下部32cは、貫通孔H1を通過することができず上面21aに引っかかる。また、接触部48bは、図4に示すように、突起62の面S5に接触している。
Here, the
駆動部100は、プローブ12及びホルダ14を上下方向に移動させ、例えば、空気圧アクチュエータやモータ等により構成される。
The
以上のように構成された検査装置10では、図4に示すように、面S1は、上下方向に直交する方向においてプローブ12と対向しており、プローブ12のハウジング下部32cの周囲を上下方向に平行な軸を中心軸として周回している。そして、Oリング60は、面S1とハウジング下部32cの周面とに接している。
In the
また、面S2は、上下方向においてハウジング46の下面と対向している。そして、Oリング60は、面S2とハウジング46の下面とに接している。
The surface S2 faces the lower surface of the
以上のように構成された検査装置10では、プローブ12は、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端が上下方向に直交する面に沿う方向に所定位置から移動できる。より詳細には、プローブ12の所定位置とは、図4に示すように、上側から平面視したときにプランジャ36が貫通孔H1の中心に位置しているときのプローブ12の位置である。ホルダ上部20の貫通孔H1の直径は、ハウジング中部32bの直径よりもわずかに大きい。そのため、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端は、接触部48bにおいて突起62と接触している部分を中心として、前後方向及び左右方向に揺動することができる。
In the
また、Oリング60は、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端が所定位置に復元するように、プローブ12に対して力を及ぼす。本実施形態では、Oリング60は、上下方向に直交する面に沿う方向にプローブ12に対して力を及ぼす。以下に、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合を例に挙げて説明する。図5は、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合の検査装置10の断面構造図である。
The O-
プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面とに挟まれている部分は、左右方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング下部32cを左側に向かって押す。すなわち、Oリング60は、上下方向に直交する面に沿う方向にプローブ12に対して力を及ぼす。この力により、プローブ12の位置は、所定位置に復元しようとする。
When the
また、プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S2の左側に位置する部分とハウジング46の上面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S2の左側に位置する部分とハウジング46の下面とに挟まれている部分は、上下方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング46を下側に向かって押す。これにより、プローブ12は、接触部48bにおいて突起62と接触している部分を中心として、図5の時計回り方向に回転させられようとする。その結果、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。
Further, when the
(レセプタクルの構成)
次に、レセプタクル301の構成について図6及び図7を参照して説明する。図6及び図7は、レセプタクル301の断面構造図である。図6では、検査装置10がレセプタクル301に装着されておらず、図7では、検査装置10がレセプタクル301に装着されている。
(Receptacle structure)
Next, the configuration of the
レセプタクル301は、例えば、携帯電話のアンテナと送受信回路との間に設けられるスイッチ付同軸コネクタであり、ケース304、外導体305、可動端子306及び固定端子307を備えている。
The
ケース304は、樹脂部材であり、下側に向かって広がるすり鉢状の開口を有している。外導体305は、ケース304の側面を覆っており、円筒状を成す金属部材である。外導体305は接地電位に保たれる。可動端子306は、ケース304に取り付けられており、ケース304の左端から右方向へと延在している。また、可動端子306は、下側から平面視したときに、ケース304のすり鉢状の開口を横切っている。可動端子306は送受信回路に接続されている。固定端子307は、ケース304に取り付けられており、ケース304の右端近傍に設けられている。固定端子307はアンテナに接続される。可動端子306は、検査装置10が装着されていない状態では、図6に示すように、上側から固定端子307に対して圧接している。可動端子306と固定端子307とが接触しているので、アンテナと送受信回路とが接続されている。
The
ここで、検査装置10が装着されると、図7に示すように、外導体305は、ハウジング上部32a内に挿入される。これにより、ハウジング上部32aと外導体305とが接続される。よって、ハウジング32,46が接地電位に保たれる。また、プランジャ上部36aがケース304の開口内に挿入され、可動端子306を押し上げる。これにより、固定端子307と可動端子306とが離れると共に、プランジャ36と可動端子306とが接続され、送受信回路と測定器とが接続されるようになる。
Here, when the
(効果)
以上のように構成された検査装置10によれば、検査装置10又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。より詳細には、検査装置10では、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端が上下方向に直交する面に沿う方向(すなわち、前後方向及び左右方向)に揺動することができる。これにより、検査装置10とレセプタクル301との位置にずれが生じた場合であっても、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端がレセプタクル301に接触することによって、プローブ12が上下方向に対して傾くことができる。その結果、外導体305がハウジング上部32a内に挿入されようになる。更に、プランジャ上部36aがケース304の開口内に挿入され、可動端子306を押し上げるようになる。よって、検査装置10によれば、検査装置10又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続させることができる。
(effect)
According to the
また、検査装置10によれば、以下の理由によっても、検査装置10又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続させることができる。より詳細には、検査装置10とレセプタクル301とのずれは、レセプタクル301の実装ずれに起因する。レセプタクル301の実装ずれは、前後方向及び左右方向にランダムに発生する。そこで、Oリング60は、プローブ12が所定位置に復元するように、プローブ12に力を及ぼしている。これにより、装着前には、プローブ12は、所定位置に位置し、前後方向及び左右方向のいずれの方向にも傾くことができる。これにより、レセプタクル301がいずれの方向にずれていたとしても、プローブ12が傾いて、検査装置10とレセプタクル301とが接続される。
Moreover, according to the
また、検査装置10によれば、検査装置10の長寿命化を図ることができる。前記の通り、レセプタクル301の実装ずれは前後方向及び左右方向にランダムに発生する。そのため、検査装置10とレセプタクル301との接続が複数回行われた際に、ハウジング上部32aの上端の特定の位置が集中して外導体305に接触するのではなく、ハウジング上部32aの上端全体が満遍なく外導体305に接触する。したがって、ハウジング上部32aの特定の位置が集中して摩耗することが抑制される。その結果、検査装置10の長寿命化が図られる。
Moreover, according to the
また、検査装置10によれば、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端の前後方向及び左右方向における可動域を大きくすることができる。より詳細には、プローブ12が前後方向及び左右方向に平行移動する場合では、貫通孔H2の直径とハウジング中部32bの直径との差の範囲内において、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端が前後方向及び左右方向に移動できる。
Moreover, according to the
一方、接触部48bの下面は、下側に突出する曲面形状を有し、かつ、突起62の面S5に接触している。そのため、プローブ12は、接触部48bの突起62との接触部分(すなわち、プローブ12の下端)を中心に揺動するようになる。プローブ12が下端を中心として揺動する場合の方が、プローブ12が前後方向及び左右方向に平行移動する場合に比べて、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端の前後方向及び左右方向における可動域が大きい。よって、検査装置10によれば、ハウジング上部32aの先端及びプランジャ上部36aの先端の前後方向及び左右方向における可動域を大きくすることができる。
On the other hand, the lower surface of the
また、検査装置10では、接触部48bは、突起62に接触している。そのため、検査装置10がレセプタクル301に装着される際に、プローブ12が下方向に移動することがない。そのため、装着時における検査装置10の上下方向の移動量を小さくすることができ、装着に必要な時間を短縮できる。
In the
(第1の変形例)
以下に、第1の変形例に係る検査装置10aについて図面を参照しながら説明する。図8は、第1の変形例に係る検査装置10aの断面構造図である。
(First modification)
Hereinafter, an inspection apparatus 10a according to a first modification will be described with reference to the drawings. FIG. 8 is a cross-sectional structure diagram of the inspection apparatus 10a according to the first modification.
検査装置10aは、Oリング70を更に備えている点、及び、ディスク48が接触部48bを有していない点において、検査装置10と相違する。検査装置10aのその他の構成は、検査装置10と同じであるので説明を省略する。
The inspection device 10a is different from the
Oリング70は、円環状の弾性体であり、例えば、ゴムや樹脂(例えば、PTFE)等により作成されている。Oリング70は、収容部22bに設けられた円環状の凹部内に取り付けられている。
The O-
また、検査装置10aには、接触部48bが設けられていないので、図8に示すように、プローブ12の下端とホルダ14とは接触していない。
Further, since the inspection device 10a is not provided with the
以上のように構成された検査装置10aでは、図8に示すように、面S3は、プローブ12の下端(ハウジング46の下面)と対向している。そして、Oリング70は、面S3とハウジング46の下面とに接している。
In the inspection apparatus 10a configured as described above, as shown in FIG. 8, the surface S3 faces the lower end of the probe 12 (the lower surface of the housing 46). The O-
以上のように構成された検査装置10aでは、Oリング70は、ハウジング32の上端及びプランジャ36の上端が所定位置に復元するように、プローブ12に対して力を及ぼす。以下に、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合を例に挙げて説明する。図9は、プローブ12が所定位置から右側に傾いた場合の検査装置10aの断面構造図である。
In the inspection apparatus 10a configured as described above, the O-
プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S1の右側に位置する部分とハウジング下部32cの右側の面とに挟まれている部分は、左右方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング下部32cを左側に向かって押す。すなわち、Oリング60は、上下方向に直交する面に沿う方向にプローブ12に対して力を及ぼす。この力により、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。
When the
また、プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S2の左側に位置する部分とハウジング46の上面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング60において面S2の左側に位置する部分とハウジング46の下面とに挟まれている部分は、上下方向に圧縮される。よって、Oリング60は、ハウジング46を下側に向かって押す。これにより、プローブ12は、図9の時計回り方向に回転させられようとする。その結果、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。
Further, when the
更に、プローブ12が所定位置から右側に傾くと、面S3の右側に位置する部分とハウジング46の下面との間隔が小さくなる。これにより、Oリング70において面S3の左側に位置する部分とハウジング46の上面とに挟まれている部分は、上下方向に圧縮される。よって、Oリング70は、ハウジング46を上側に向かって押す。これにより、プローブ12は、図9の時計回り方向に回転させられようとする。その結果、プローブ12の位置は、所定位置に復元される。
Further, when the
以上のように構成された検査装置10aにおいても、検査装置10と同様に、検査装置10a又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。
In the inspection apparatus 10a configured as described above, similarly to the
(第2の変形例)
次に、第2の変形例に係る検査装置10bについて図面を参照しながら説明する。図10は、検査装置10bのモデル図である。
(Second modification)
Next, an
検査装置10bは、プローブ12の下端が平坦である点において、検査装置10と相違する。検査装置10bのその他の構成は、検査装置10と同じであるので説明を省略する。
The
検査装置10bでは、プローブ12の下端が平面であり、収容部22bの上面も平面である。よって、プローブ12の下端と収容部22bの上面とは面接触している。そのため、プローブ12は、揺動するのではなく、所定位置から前後方向及び左右方向に平行移動するようになる。
In the
以上のように構成された検査装置10bにおいても、検査装置10と同様に、検査装置10b又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。
In the
(第3の変形例)
次に、第3の変形例に係る検査装置10cについて図面を参照しながら説明する。図11は、検査装置10cのモデル図である。
(Third Modification)
Next, an
検査装置10cは、ホルダ上部20がOリング60及びプローブ12の上側まで回り込んでいない点において、検査装置10bと相違する。検査装置10cのその他の構成は、検査装置10bと同じであるので説明を省略する。
The
検査装置10bのように、ホルダ上部20がOリング60及びプローブ12の上側まで回り込んでいると、ホルダ14からOリング60及びプローブ12が脱落することが防止される。ただし、ホルダ14からOリング60及びプローブ12が脱落することを考慮しなくてもよい場合には、検査装置10bのように、ホルダ上部20がOリング60及びプローブ12の上側まで回り込んでいなくてもよい。
When the holder
以上のように構成された検査装置10cにおいても、検査装置10bと同様に、検査装置10c又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。
In the
(第4の変形例)
次に、第4の変形例に係る検査装置10dについて図面を参照しながら説明する。図12は、検査装置10dのモデル図である。
(Fourth modification)
Next, an
検査装置10dは、プローブ12が上下方向に延在する棒状をなしている点、及び、プローブ12の下端が球面状をなしている点において、検査装置10cと相違する。検査装置10dのその他の構成は、検査装置10cと同じであるので説明を省略する。
The
検査装置10dのように、プローブ12が棒状をなしていてもよい。この場合、Oリング60は、面S1とプローブ12の周面とに接するようになる。よって、Oリング60は、プローブ12が所定位置から傾いた場合に、前後方向又は左右方向の力を及ぼし、上下方向の力を及ぼさなくなる。
Like the
以上のように構成された検査装置10dにおいても、検査装置10cと同様に、検査装置10d又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。
In the
(第5の変形例)
次に、第5の変形例に係る検査装置10eについて図面を参照しながら説明する。図13は、検査装置10eのモデル図である。
(Fifth modification)
Next, an inspection apparatus 10e according to a fifth modification will be described with reference to the drawings. FIG. 13 is a model diagram of the inspection apparatus 10e.
検査装置10eは、プローブ12の下端が下方に突出する曲面をなしている点、及び、Oリング60がプローブ12の下端と収容部22bの上面とに接している点において、検査装置10と相違する。検査装置10eのその他の構成は、検査装置10と同じであるので説明を省略する。
The inspection apparatus 10e is different from the
ホルダ14の収容部22bは、上側を向くと共に、プローブ12と対向する面S3を有している。また、プローブ12の下端は、下方に突出する曲面をなしている。本変形例では、プローブ12の下端は、下方に突出する円錐をなしている。また、Oリング60は、円錐の頂点を中心としてその周囲を周回するようにプローブ12の下端に接触していると共に、収容部22bの上面に接している。
The
以上のように構成された検査装置10eにおいても、プローブ12が前後方向及び左右方向にスライドすることができる。また、プローブ12は、Oリング60により、所定位置(貫通孔H2の中央)に復元される。
Also in the inspection apparatus 10e configured as described above, the
以上のように構成された検査装置10eにおいても、検査装置10と同様に、検査装置10e又はレセプタクル301を破損させることを抑制しつつ、これらを接続できる。
In the inspection apparatus 10e configured as described above, similarly to the
(その他の実施形態)
本発明に係る検査装置は、前記検査装置10,10a〜10eに限らずその要旨の範囲内において変更可能である。
(Other embodiments)
The inspection device according to the present invention is not limited to the
なお、検査装置10,10a〜10eの備えている構成を任意に組み合わせてもよい。
In addition, you may combine arbitrarily the structure with which the
なお、Oリング60,70は、円環状をなしていなくてもよい。Oリング60,70の代わりに、球状の弾性体が凹部に複数配置されていてもよい。
Note that the O-
なお、Oリング60,70は、プローブ12及びホルダ14に接触しているが、例えば、プローブ12及びホルダ14に接着されていてもよい。
The O-
なお、検査装置10,10a〜10eにおいて、面が対向するとは、2つの面が平行に対向している状態のみならず、2つの面が平行でない状態で対向している状態も含むものとする。 Note that in the inspection apparatuses 10 and 10a to 10e, facing surfaces includes not only a state in which two surfaces are opposed in parallel but also a state in which the two surfaces are opposed in a non-parallel state.
また、検査装置10,10a〜10eにおいて、面が特定の方向を向くとは、面の法線が特定の方向と平行な状態のみならず、面の法線が特定の方向の成分を含んでいる状態も含むものとする。 Further, in the inspection apparatuses 10 and 10a to 10e, when a surface faces a specific direction, not only the surface normal is parallel to the specific direction but also the surface normal includes a component in a specific direction. It includes the state that is.
以上のように、本発明は、検査装置に有用であり、特に、検査装置又はレセプタクルを破損させることを抑制しつつ、これらを接続することを抑制できる点において優れている。 As described above, the present invention is useful for an inspection apparatus, and is particularly excellent in that connection between them can be suppressed while suppressing damage to the inspection apparatus or the receptacle.
10,10a〜10e:検査装置
12:プローブ
14:ホルダ
16:同軸ケーブル
16a:芯線
16b:絶縁体
16c:外導体
16d:被覆
18:コネクタ
20:ホルダ上部
20a:本体
20b:収容部
21a:上面
22:ホルダ下部
22a:本体
22b:収容部
32:ハウジング
32a:ハウジング上部
32b:ハウジング中部
32c:ハウジング下部
34:ブッシング
34a:ブッシング上部
34b:ブッシング下部
36:プランジャ
36a:プランジャ上部
36b:プランジャ下部
38:スプリング
40:ブッシング
44:バレル
44a:バレル上部
44b:バレル下部
46:ハウジング
48:ディスク
48a:円盤部
48b:接触部
60,70:Oリング
62:突起
100:駆動部
S1〜S5:面
10, 10a to 10e: Inspection device 12: Probe 14: Holder 16: Coaxial cable 16a:
Claims (9)
前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部が該所定方向に直交する平面に沿う方向に所定位置から移動できるように、該プローブを保持するホルダと、
前記中心導体及び前記外導体の前記所定方向の一方側の端部の位置が該所定位置に復元するように、該プローブに対して力を及ぼす第1の弾性体と、
を備えていること、
を特徴とする検査装置。 A probe including a central conductor extending in a predetermined direction, and a cylindrical outer conductor surrounding the central conductor and extending in the predetermined direction;
A holder for holding the probe so that an end of one side of the predetermined direction of the center conductor and the outer conductor can move from a predetermined position in a direction along a plane perpendicular to the predetermined direction;
A first elastic body that exerts a force on the probe so that the position of one end of the central conductor and the outer conductor in the predetermined direction is restored to the predetermined position;
Having
Inspection device characterized by
を特徴とする請求項1に記載の検査装置。 The first elastic body exerts a force on the probe in a direction along a plane perpendicular to the predetermined direction;
The inspection apparatus according to claim 1.
前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記プローブとに接していること、
を特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載の検査装置。 The holder has a first facing surface facing the probe in an orthogonal direction orthogonal to the predetermined direction;
The first elastic body is in contact with the first facing surface and the probe;
The inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection apparatus is characterized by the following.
前記第1の弾性体は、前記第1の対向面と前記外導体とに接し、かつ、環状形状を有していること、
を特徴とする請求項3に記載の検査装置。 The first facing surface is provided on the holder so as to go around the outer conductor around a central axis extending in the predetermined direction,
The first elastic body is in contact with the first facing surface and the outer conductor and has an annular shape;
The inspection apparatus according to claim 3.
前記第1の弾性体は、前記第2の対向面と前記プローブとに接すること、
を特徴とする請求項3又は請求項4のいずれかに記載の検査装置。 The holder faces the other side of the predetermined direction and has a second facing surface facing the probe,
The first elastic body is in contact with the second facing surface and the probe;
The inspection apparatus according to claim 3, wherein:
を特徴とする請求項3又は請求項4のいずれかに記載の検査装置。 At least a part of an end portion on the other side in the predetermined direction of the probe has a curved surface shape protruding toward the other side in the predetermined direction, and is in contact with the holder;
The inspection apparatus according to claim 3, wherein:
前記検査装置は、
前記第3の対向面と前記ホルダの他方側の端部とに接している第2の弾性体を、
更に備えていること、
を特徴とする請求項5に記載の検査装置。 The holder has a third facing surface facing one side of the predetermined direction and facing the other end of the probe in the predetermined direction;
The inspection device includes:
A second elastic body in contact with the third opposing surface and the other end of the holder;
More
The inspection apparatus according to claim 5.
前記第1の弾性体は、前記プローブの前記所定方向の他方側の端部と前記第3の対向面とに接していること、
を特徴とする請求項1に記載の検査装置。 The holder has a third facing surface facing one side of the predetermined direction and facing the probe,
The first elastic body is in contact with the other end of the probe in the predetermined direction and the third facing surface;
The inspection apparatus according to claim 1.
を特徴とする請求項1ないし請求項8のいずれかに記載の検査装置。 A spring constant in a direction perpendicular to the predetermined direction of the first elastic body is smaller than a spring constant in the predetermined direction of the first elastic body;
The inspection apparatus according to claim 1, wherein:
Priority Applications (1)
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Cited By (1)
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CN113267716A (en) * | 2021-05-10 | 2021-08-17 | 维沃移动通信有限公司 | Radio frequency test seat, radio frequency circuit and electronic equipment |
-
2014
- 2014-01-23 JP JP2014010181A patent/JP2015137958A/en active Pending
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