JP2015121478A - 故障検出回路及び故障検出方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】故障を検出する故障検出装置内で生じる故障を、当該装置を制御する制御機構にフィードバックする手法を提供する。【解決手段】故障検出装置は、入力信号の状態を第一の保持部(Bit1)に保持し、第一の保持部が出力する第一出力信号の状態を第一の出力端子(出力端子81)から外部に出力する。このとき、故障検出装置は、第一の出力端子が第一出力信号の状態を通知するタイミングで、第一の出力端子が通知する状態を帰還させる。故障検出装置は、自装置を制御する機構へ第一の保持部(Bit1)の状態、及び帰還させる状態(Bit0)を供給するように構成される。【選択図】図1
Description
本発明は故障の自己検出方法及び装置に関する。
SoC(System-on-Chip)製品に搭載する故障検出機能として、CPUの故障をソフトウェアによる期待値との比較によるセルフテスト方式のサポート回路が検討されている。例えば、内部の故障の有無をソフトウェアによって外部に知らせる手段として、汎用のI/O(Input Output)ポートを出力端子として使って正常/異常状態を出力のHigh/Lowによって知らせる方法がある。例えばポート0(ゼロ)を使い、リセット直後の状態(ここではLowとする)を正常状態、Highを異常状態と定義し、LSI(Large Scale Integration)内部で何らかの異常状態を検出した時にはソフトウェアでポート0端子の出力状態をHighにすることで、外部に異常の有無を知らせることができる。
また、特許文献1の図1には、外部からの入力信号103は入出力ピン103aに入力され、レジスタ159に取り込んで保持される。レジスタ159の反転信号114は、次のサイクルにおいてデータ出力信号110を経て入出力ピン103aから外部に出力される。入力時と反転した信号が出力されたのを外部で検知することにより、LSIを実装するボード基板上での実装不良の有無を確認することができる。
さらに、特許文献2の第1図には、3段のマスタ・スレーブ構成になっているデータ保持回路でソフトエラーを検出するための実施例が開示されている。マスタ若しくはスレーブラッチのどこかでソフトエラーが発生した場合、ORゲートの出力信号E1、E2を読み出すことでソフトエラーを検出することができるようになっている。また、E1、E2信号を2度読み出すことにより、一時的なノイズによって誤った出力信号が読み出されても訂正ができる。
さらに、特許文献2の第1図には、3段のマスタ・スレーブ構成になっているデータ保持回路でソフトエラーを検出するための実施例が開示されている。マスタ若しくはスレーブラッチのどこかでソフトエラーが発生した場合、ORゲートの出力信号E1、E2を読み出すことでソフトエラーを検出することができるようになっている。また、E1、E2信号を2度読み出すことにより、一時的なノイズによって誤った出力信号が読み出されても訂正ができる。
しかしながら、上述した手法では、LSI内部の異常を汎用のI/Oポートで外部に知らせることはできるが、汎用のI/Oポート自身が故障しているか否かの確認ができない。また、特許文献1では、LSI端子と外部との接続の異常の有無を確認することができるが、LSI内部にある当該確認回路自体の故障の有無を確認することはできない。さらに、特許文献2では、ノイズの影響を排除したソフトエラーの検出はできるが、ハードウェアの故障とソフトエラーの区別はできない。
次世代の周辺監視システム市場をターゲットとしたR−Car V2Hという製品を開発するに当たり、2011年に制定されたISO26262規格に対応したSoC製品とすることが要請されている。このために必要な故障検出機能として、CPUの故障をソフトウェアによる期待値との比較によるセルフテスト方式のサポート回路を検討している時に、故障の有無を検出する回路自体の故障の有無を確認する手段も必要なことに気付いた。
発明者らは、故障を検出する故障検出装置内で生じる故障を、当該装置を制御する制御機構にフィードバックする手法を発見した。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
発明者らは、故障を検出する故障検出装置内で生じる故障を、当該装置を制御する制御機構にフィードバックする手法を発見した。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
一実施の形態によれば、故障検出装置は、入力信号の状態を第一の保持部に保持し、第一の保持部が出力する第一出力信号の状態を第一の出力端子から外部に出力する。このとき、故障検出装置は、第一の出力端子が第一出力信号の状態を通知するタイミングで、第一の出力端子が通知する状態を帰還させる。故障検出装置は、自装置を制御する機構へ第一の保持部の状態、及び帰還させる状態を供給するように構成される。
また、他の一実施形態によれば、故障検出装置は、入力信号を取り込み、入力信号の状態を第一の出力端子から外部に出力する。このとき、故障検出装置は、第一の出力端子が入力信号の状態を通知するタイミングで、第一の出力端子が通知する状態を帰還させる。故障検出装置は、自装置を制御する機構へ入力信号の状態、及び帰還させる状態を供給するように構成される。
また、他の一実施形態によれば、故障検出装置は、入力信号を取り込み、入力信号の状態を第一の出力端子から外部に出力する。このとき、故障検出装置は、第一の出力端子が入力信号の状態を通知するタイミングで、第一の出力端子が通知する状態を帰還させる。故障検出装置は、自装置を制御する機構へ入力信号の状態、及び帰還させる状態を供給するように構成される。
なお、上記実施の形態の装置を方法やシステムに置き換えて表現したもの、該装置または該装置の一部の処理をコンピュータに実行せしめるプログラム、該装置を備えた装置、例えば車載製品なども、本発明の態様としては有効である。
前記一実施の形態によれば、故障を検出する故障検出装置内で生じる故障を、当該装置を制御する制御機構にフィードバックすることにより、検知することができる。
説明の明確化のため、以下の記載及び図面は、適宜、省略、及び簡略化がなされている。また、様々な処理を行う機能ブロックとして図面に記載される各要素は、ハードウェア的には、CPU、メモリ、その他の回路で構成することができ、ソフトウェア的には、メモリにロードされたプログラムなどによって実現される。したがって、これらの機能ブロックがハードウェアのみ、ソフトウェアのみ、またはそれらの組合せによっていろいろな形で実現できることは当業者には理解されるところであり、いずれかに限定されるものではない。なお、各図面において、同一の要素には同一の符号が付されており、必要に応じて重複説明は省略されている。
<一実施形態の基本的な構成例>
図1に一実施形態の故障検出回路に搭載する基本的な構成例を示す。図2に一実施形態の基本的な構成例を組み込んだ故障検出回路を搭載したLSIチップの適用例を示す。図1に示す基本的な構成例は、ステータスレジスタ11、及び出力端子81を少なくとも含み、故障を自己診断して外部へ知らせる回路内で生じる故障を、当該回路を制御する制御機構にフィードバックするように働く。例えば、ステータスレジスタ11を、図2に示す故障の自己診断回路2に組み込み、故障検出装置を構成することができる。LSIチップ1は故障検出装置の一例である。
図2に示すLSIチップ1は、故障の自己診断回路(以降適宜、「自己診断回路」とも記載する)2、CPU3(制御部)、キャッシュ4、割り込み制御回路5、バス6、及び外部メモリインタフェース7を少なくとも具備している。また、LSIチップ1は、出力端子(出力インタフェース機能)8、入出力端子9によりデバイス外部の装置とデータを入出力するように構成されている。LSIチップ1では、図1に示すステータスレジスタ11が自己診断回路2に組み込まれ、出力端子8が、図1に示す出力端子81として働く。LSIチップ1の各機能については後述する。
図1に一実施形態の故障検出回路に搭載する基本的な構成例を示す。図2に一実施形態の基本的な構成例を組み込んだ故障検出回路を搭載したLSIチップの適用例を示す。図1に示す基本的な構成例は、ステータスレジスタ11、及び出力端子81を少なくとも含み、故障を自己診断して外部へ知らせる回路内で生じる故障を、当該回路を制御する制御機構にフィードバックするように働く。例えば、ステータスレジスタ11を、図2に示す故障の自己診断回路2に組み込み、故障検出装置を構成することができる。LSIチップ1は故障検出装置の一例である。
図2に示すLSIチップ1は、故障の自己診断回路(以降適宜、「自己診断回路」とも記載する)2、CPU3(制御部)、キャッシュ4、割り込み制御回路5、バス6、及び外部メモリインタフェース7を少なくとも具備している。また、LSIチップ1は、出力端子(出力インタフェース機能)8、入出力端子9によりデバイス外部の装置とデータを入出力するように構成されている。LSIチップ1では、図1に示すステータスレジスタ11が自己診断回路2に組み込まれ、出力端子8が、図1に示す出力端子81として働く。LSIチップ1の各機能については後述する。
ステータスレジスタ11は、セルフテストによるLSI内部の異常の有無チェックの試験結果をCPU3から入力信号として受け取り、試験結果を出力端子81からデバイス外部へ出力する。このとき、ステータスレジスタ11は、デバイス外部に出力する試験結果を自己に帰還させ、CPU3が帰還させた試験結果(第一フィードバック信号の状態)を取得できるように構成される。
例えば、一実施形態の故障検出装置に組み込まれるステータスレジスタ11は、出力端子81とともに少なくとも次の処理を実現する構成を有する。
・入力信号の状態を保持する第一の保持部。
・第一の保持部が出力する第一出力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子。
・第一の出力端子が第一出力信号の状態を通知するタイミングで、第一の出力端子が通知する状態を帰還させる第一の帰還部。
・第一の保持部の状態、及び第一の帰還部の状態を供給する供給部。
以下に、上述した処理と対応させて、図1のステータスレジスタ11について詳述する。
例えば、一実施形態の故障検出装置に組み込まれるステータスレジスタ11は、出力端子81とともに少なくとも次の処理を実現する構成を有する。
・入力信号の状態を保持する第一の保持部。
・第一の保持部が出力する第一出力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子。
・第一の出力端子が第一出力信号の状態を通知するタイミングで、第一の出力端子が通知する状態を帰還させる第一の帰還部。
・第一の保持部の状態、及び第一の帰還部の状態を供給する供給部。
以下に、上述した処理と対応させて、図1のステータスレジスタ11について詳述する。
ここで、第一の帰還部は、第一出力信号の状態を帰還させるタイミングに合わせて、第一の出力端子が通知する状態を帰還させるように構成される。言い換えると、第一の出力端子が第一出力信号の状態を通知するタイミングと第一の出力端子が通知する状態を帰還させるタイミングとが同じになるように(同時進行するように)構成される。その理由は、第一の帰還部が第一の出力端子がデバイス外部に出力する状態と同じ状態を帰還させることが必要だからである。これにより、第一の保持部の状態と、第一の帰還部の状態とを比較し、比較結果に基づいて、ステータスレジスタ11内の第一の保持部から出力端子81を経て第一の機関部に至る回路上に発生し得る故障を検出可能とする。
加えて、第一の帰還部は、第一の出力端子が他の用途にも使用される場合には、帰還させる状態を保持する第二の保持部を有することが好ましい。
加えて、第一の帰還部は、第一の出力端子が他の用途にも使用される場合には、帰還させる状態を保持する第二の保持部を有することが好ましい。
ステータスレジスタ11は、バスインタフェース回路111、及びレジスタ112を備える。
バスインタフェース回路111は、デバイス内のバス6を介して信号(データ)を入出力する。例えば、バスインタフェース回路111は、入力信号として、LSI内部の異常の有無チェックの試験結果をCPU3から受け、レジスタ112へ書き込む。加えて、バスインタフェース回路111は、CPU3がレジスタ112の状態を読み出すことを可能にする。
レジスタ112は、図1の構成例では2ビットで構成される。ここでは、レジスタの各ビットをBit0、Bit1と称して識別する。
レジスタ112のBit1(以降適宜、「Bit1」と記載する)は、入力信号の状態を保持する第一のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路111から保持する状態を読み出せるように構成される。
バスインタフェース回路111は、デバイス内のバス6を介して信号(データ)を入出力する。例えば、バスインタフェース回路111は、入力信号として、LSI内部の異常の有無チェックの試験結果をCPU3から受け、レジスタ112へ書き込む。加えて、バスインタフェース回路111は、CPU3がレジスタ112の状態を読み出すことを可能にする。
レジスタ112は、図1の構成例では2ビットで構成される。ここでは、レジスタの各ビットをBit0、Bit1と称して識別する。
レジスタ112のBit1(以降適宜、「Bit1」と記載する)は、入力信号の状態を保持する第一のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路111から保持する状態を読み出せるように構成される。
レジスタ112のBit0(以降適宜、「Bit0」と記載する)は、出力端子81がBit1からの出力信号(第一出力信号)の状態を通知するタイミングで、出力端子81が通知する状態を帰還させ保持する第二のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路111から保持する状態を読み出せるように構成される。
出力端子81は、Bit1が出力する出力信号の状態をデバイス外部に知らせる。
バッファ回路は、信号の状態を伝送する方向を定める。
言い換えると、Bit1は第一の保持部として働き、Bit0及びBit0に接続する信号線(出力端子81)は、第一の帰還部として働き、出力端子81は、第一の出力端子として働く。加えて、バスインタフェース回路111及びバスインタフェース回路111とレジスタ112との間に配置される信号線は、Bit1の状態及びBit0の状態をCPU3に供給することから、供給部として働く。
以降の説明では、出力端子(例えば、出力端子81)から供給部(例えば、Bit0)へ、帰還させる状態を伝送する信号線を、適宜、「フィードバック信号線」(帰還信号線)という。
また、Bit1から出力端子へ、入力信号の状態を伝送する信号線を、適宜、「出力信号線」という。
図1のステータスレジスタ11では、レジスタ112から出力端子81へ配置される出力信号線、及びBit1は、入力信号の状態の出力経路(第一の出力経路、第一の保持部)を構成する。また、出力端子81からレジスタ112へ配置されるフィードバック信号線、及びBit0は、出力端子81の状態のフィードバック経路(第一のフィードバック経路、第一の帰還部)を構成する。
出力端子81は、Bit1が出力する出力信号の状態をデバイス外部に知らせる。
バッファ回路は、信号の状態を伝送する方向を定める。
言い換えると、Bit1は第一の保持部として働き、Bit0及びBit0に接続する信号線(出力端子81)は、第一の帰還部として働き、出力端子81は、第一の出力端子として働く。加えて、バスインタフェース回路111及びバスインタフェース回路111とレジスタ112との間に配置される信号線は、Bit1の状態及びBit0の状態をCPU3に供給することから、供給部として働く。
以降の説明では、出力端子(例えば、出力端子81)から供給部(例えば、Bit0)へ、帰還させる状態を伝送する信号線を、適宜、「フィードバック信号線」(帰還信号線)という。
また、Bit1から出力端子へ、入力信号の状態を伝送する信号線を、適宜、「出力信号線」という。
図1のステータスレジスタ11では、レジスタ112から出力端子81へ配置される出力信号線、及びBit1は、入力信号の状態の出力経路(第一の出力経路、第一の保持部)を構成する。また、出力端子81からレジスタ112へ配置されるフィードバック信号線、及びBit0は、出力端子81の状態のフィードバック経路(第一のフィードバック経路、第一の帰還部)を構成する。
このような構成により、CPU3がバスインタフェース回路111を介してBit1へ書き込むLSI内部の異常の有無チェックの試験結果の状態が出力端子81からデバイス外部へ出力されるとともに、デバイス内部のBit0へ保持される。その結果、CPU3がバスインタフェース回路111を介して、Bit1へ書き込んだ状態、及び出力端子81から出力した状態(Bit0の状態)を読み出すことを可能にする。CPU3は、Bit1とBit0の状態を比較し、一致しない場合には、ステータスレジスタ11内または出力端子81で故障や異常が発生していると判定する。これにより、CPU3は、出力端子81からデバイス外部へ試験結果が正確に出力されていないことを検出することができる。
<一実施形態の基本的な他の構成例>
次に、一実施形態の基本的な構成例にさらに機能を追加する構成例を、図3を参照して説明する。
図3の基本的な構成例は、ステータスレジスタ12、及び出力端子81,82を少なくとも備える。ステータスレジスタ12は、LSI内部の異常の有無チェックの試験結果をCPU3から入力信号として受け取り、出力端子81からデバイス外部へ出力する。また、ステータスレジスタ12は、CPU3が定期的に実行する試験について、1回目に実施した試験結果と、2回目に実施した試験との結果が一致するか否かを判定した判定結果を、出力端子82からデバイス外部へ出力する。このとき、ステータスレジスタ12は、デバイス外部に出力する試験結果及び判定結果を自己に帰還させ、CPU3が試験結果(第一フィードバック信号の状態)及び判定結果(第二フィードバック信号の状態)を取得できるように構成される。
次に、一実施形態の基本的な構成例にさらに機能を追加する構成例を、図3を参照して説明する。
図3の基本的な構成例は、ステータスレジスタ12、及び出力端子81,82を少なくとも備える。ステータスレジスタ12は、LSI内部の異常の有無チェックの試験結果をCPU3から入力信号として受け取り、出力端子81からデバイス外部へ出力する。また、ステータスレジスタ12は、CPU3が定期的に実行する試験について、1回目に実施した試験結果と、2回目に実施した試験との結果が一致するか否かを判定した判定結果を、出力端子82からデバイス外部へ出力する。このとき、ステータスレジスタ12は、デバイス外部に出力する試験結果及び判定結果を自己に帰還させ、CPU3が試験結果(第一フィードバック信号の状態)及び判定結果(第二フィードバック信号の状態)を取得できるように構成される。
ステータスレジスタ12は、バスインタフェース回路121、及びレジスタ122を備える。
バスインタフェース回路121は、図1のバスインタフェース回路111と同様に働く。
レジスタ122は、図3の構成例では4ビットで構成される。ここでは、レジスタの各ビットをBit0、Bit1、Bit2、Bit3と称して識別する。
レジスタ122のBit0、Bit1は図1のレジスタ112と同様である。Bit1は、入力信号の状態(入力データ)を保持する第一のデータ保持回路である。Bit0は、出力端子81の状態を保持する第二のデータ保持回路である。
レジスタ122のBit2(以降適宜、「Bit2」と記載する)は、Bit1の出力と入力信号の状態のANDデータを保持する第三のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路121から保持する状態を読み出せるように構成される。
レジスタ122のBit3(以降適宜、「Bit3」と記載する)は、出力端子82の状態を保持する第四のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路121から保持する状態を読み出せるように構成される。
出力端子81は、第一のデータ保持回路の出力信号の状態を外部に知らせる状態表示用出力端子である。
出力端子82は、第三のデータ保持回路の出力信号の状態を外部に知らせる状態表示用出力端子である。
バスインタフェース回路121は、第一及び第二のデータ保持回路の内容を読み出すように構成される。
バスインタフェース回路121は、図1のバスインタフェース回路111と同様に働く。
レジスタ122は、図3の構成例では4ビットで構成される。ここでは、レジスタの各ビットをBit0、Bit1、Bit2、Bit3と称して識別する。
レジスタ122のBit0、Bit1は図1のレジスタ112と同様である。Bit1は、入力信号の状態(入力データ)を保持する第一のデータ保持回路である。Bit0は、出力端子81の状態を保持する第二のデータ保持回路である。
レジスタ122のBit2(以降適宜、「Bit2」と記載する)は、Bit1の出力と入力信号の状態のANDデータを保持する第三のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路121から保持する状態を読み出せるように構成される。
レジスタ122のBit3(以降適宜、「Bit3」と記載する)は、出力端子82の状態を保持する第四のデータ保持回路であり、かつ、バスインタフェース回路121から保持する状態を読み出せるように構成される。
出力端子81は、第一のデータ保持回路の出力信号の状態を外部に知らせる状態表示用出力端子である。
出力端子82は、第三のデータ保持回路の出力信号の状態を外部に知らせる状態表示用出力端子である。
バスインタフェース回路121は、第一及び第二のデータ保持回路の内容を読み出すように構成される。
図3の構成を例えば、図2のLSIチップ1に組み込むと、LSI内部の状態を外部に知らせるための回路自体の故障の有無を確認することができる。具体的には、同一のLSI内部の状態確認テストルーチンを2度実行し、2度とも同じ以上結果が検出されたかどうかを確認してハードウェア故障による不具合か、ソフトエラーによる不具合かを区別することができる。
具体的には、図3に示す構成により、図1の構成と同様の作用を実現することに加え、出力端子82が、最初にBit1に書き込まれた入力信号(1番目の入力信号)の状態と、次に書き込まれる入力信号(2番目の入力信号)の状態とが一致するか否かを表示し、2回セルフテスト処理を実施した場合の試験結果をデバイス外部に出力する。出力端子81、82のどちらも異常を表示する場合にはハードウェアに故障が生じていることをデバイス外部に通知することが可能になる。例えば、CPU3がセルフテスト処理を2回実施した場合、2回とも同じ異常を検出した場合にはハードウェアの故障と判定され、1回目に異常を、2回目に正常を検出した場合にはソフトエラーであると判定される。
さらに、CPU3は、Bit0乃至Bit3が保持する状態を読み出し、Bit0とBit1の状態を比較、及びBit2とBit3の状態を比較することを実施し、一致しない場合には、ステータスレジスタ12内で故障(異常)が発生していると判定する。その結果、CPU3は、出力端子81または出力端子82からデバイス外部へ試験結果が正確に出力されていないことを検出することができる。
具体的には、図3に示す構成により、図1の構成と同様の作用を実現することに加え、出力端子82が、最初にBit1に書き込まれた入力信号(1番目の入力信号)の状態と、次に書き込まれる入力信号(2番目の入力信号)の状態とが一致するか否かを表示し、2回セルフテスト処理を実施した場合の試験結果をデバイス外部に出力する。出力端子81、82のどちらも異常を表示する場合にはハードウェアに故障が生じていることをデバイス外部に通知することが可能になる。例えば、CPU3がセルフテスト処理を2回実施した場合、2回とも同じ異常を検出した場合にはハードウェアの故障と判定され、1回目に異常を、2回目に正常を検出した場合にはソフトエラーであると判定される。
さらに、CPU3は、Bit0乃至Bit3が保持する状態を読み出し、Bit0とBit1の状態を比較、及びBit2とBit3の状態を比較することを実施し、一致しない場合には、ステータスレジスタ12内で故障(異常)が発生していると判定する。その結果、CPU3は、出力端子81または出力端子82からデバイス外部へ試験結果が正確に出力されていないことを検出することができる。
図3の構成例により、一実施形態の故障検出装置に組み込まれるステータスレジスタ12は、図1に示す構成例に加え、少なくとも次の処理を実現する。
・Bit2が、一番目の入力信号の状態を維持している第一出力信号の状態(Bit1の出力状態)と、第一の保持部(Bit1)が保持している入力信号の状態の次に新たに保持する二番目の入力信号の状態との論理積の状態を保持する第三の保持部として働く。
・出力端子82が、第三の保持部が出力する第二出力信号の状態(Bit2の出力状態)を外部に通知する第二の出力端子として働く。
Bit3及びBit3に接続する信号線(出力端子82とレジスタ122との間に配置される信号線)が、第二の出力端子が第二出力信号の状態を通知するタイミングで、第二の出力端子が通知する状態を帰還させる第二の帰還部として働く。
加えて、バスインタフェース回路121及びバスインタフェース回路121とレジスタ122との間に配置される信号線が、第三の保持部の状態、及び第二の帰還部の状態をCPU3へ供給する供給部として働く。
・Bit2が、一番目の入力信号の状態を維持している第一出力信号の状態(Bit1の出力状態)と、第一の保持部(Bit1)が保持している入力信号の状態の次に新たに保持する二番目の入力信号の状態との論理積の状態を保持する第三の保持部として働く。
・出力端子82が、第三の保持部が出力する第二出力信号の状態(Bit2の出力状態)を外部に通知する第二の出力端子として働く。
Bit3及びBit3に接続する信号線(出力端子82とレジスタ122との間に配置される信号線)が、第二の出力端子が第二出力信号の状態を通知するタイミングで、第二の出力端子が通知する状態を帰還させる第二の帰還部として働く。
加えて、バスインタフェース回路121及びバスインタフェース回路121とレジスタ122との間に配置される信号線が、第三の保持部の状態、及び第二の帰還部の状態をCPU3へ供給する供給部として働く。
以降、図1または図3に示すステータスレジスタ11、12のいずれかを組み込んだ故障検出装置の構成例を説明する。
<全体構成>
故障検出装置の一例として、図2のLSIチップ1を用いて各実施形態を説明する。図2に示す自己診断回路2は、一実施形態の基本的な構成例であるステータスレジスタ11、12(図1または図3)を組み込む構成を実現する一形態である。自己診断回路2は、例えばCPU3の故障の有無をチェックする診断プログラムを割込み等によって定期的に起動し、診断結果を出力端子(状態表示用出力端子)から出力する機能を備える。また、定期的な割り込み要求にCPU3が反応しなかった場合のエラー例外信号発生機能を備える。
<全体構成>
故障検出装置の一例として、図2のLSIチップ1を用いて各実施形態を説明する。図2に示す自己診断回路2は、一実施形態の基本的な構成例であるステータスレジスタ11、12(図1または図3)を組み込む構成を実現する一形態である。自己診断回路2は、例えばCPU3の故障の有無をチェックする診断プログラムを割込み等によって定期的に起動し、診断結果を出力端子(状態表示用出力端子)から出力する機能を備える。また、定期的な割り込み要求にCPU3が反応しなかった場合のエラー例外信号発生機能を備える。
実施形態1.
* 実施形態1の構成
<自己診断回路の構成>
図4は一実施形態を組み込んだ自己診断回路2の一構成例である。自己診断回路2は、第一のタイマ21、第二のタイマ22、及び制御&ステータスレジスタ23を備える。
第一のタイマ21は、指定された一定時間毎にCPU3の故障の有無をチェックする処理ルーチンを起動するための割り込み要求を出す。
第二のタイマ22は、指定された一定時間CPU3が第一のタイマ21の割り込みを受け付けない場合に、タイムアウトエラー例外を発生させる。
制御&ステータスレジスタ23は、第一及び第二のタイマ21,22を制御し、自己診断の状態を示す機能を備える。
出力端子8は、LSIチップ1の状態をLSIチップ1の外部に知らせる出力インタフェース機能である。
* 実施形態1の構成
<自己診断回路の構成>
図4は一実施形態を組み込んだ自己診断回路2の一構成例である。自己診断回路2は、第一のタイマ21、第二のタイマ22、及び制御&ステータスレジスタ23を備える。
第一のタイマ21は、指定された一定時間毎にCPU3の故障の有無をチェックする処理ルーチンを起動するための割り込み要求を出す。
第二のタイマ22は、指定された一定時間CPU3が第一のタイマ21の割り込みを受け付けない場合に、タイムアウトエラー例外を発生させる。
制御&ステータスレジスタ23は、第一及び第二のタイマ21,22を制御し、自己診断の状態を示す機能を備える。
出力端子8は、LSIチップ1の状態をLSIチップ1の外部に知らせる出力インタフェース機能である。
第一のタイマ21は、初期値レジスタ211、ダウンカウンタ212、カウンタレジスタ213及びゼロ確認&割り込み発生回路214を備える。第一のタイマ21は、CPU3の故障を検出するテストルーチンを定期的に起動させる割り込みを発生させることを目的とする。テストルーチンは、CPU3が故障していないかどうかをテストする機能を実現する命令群である。例えば、命令群は、プログラムにより実現し、CPU3がキャッシュ4若しくは外部メモリ90等の読み出し可能な記憶領域に格納される。
初期値レジスタ211は、CPU3を一定間隔ごとにテストする周期情報を保持する。
ダウンカウンタ212及びカウンタレジスタ213により、初期値レジスタ211に保持する周期情報をダウンカウントして、一定間隔を計測する。
ゼロ確認&割り込み発生回路214は、カウンタレジスタ213がゼロになったことを検出すると、テストルーチンを実行させるため、割り込み信号を制御&ステータスレジスタ23を介して割り込み制御回路5へ出力する。
割り込みを発生させる間隔は、通常の処理内容の負荷に応じてユーザが初期値レジスタ211に設定することにより、任意に決めることができる。
CPU3は、第一のタイマ21の割り込みを受け付け、テストルーチンを実行すると、制御&ステータスレジスタ23に所定の制御コマンドを書き込む。制御コマンドに応じて、制御&ステータスレジスタ23は、第一のタイマ21のダウンカウンタ212及びカウンタレジスタ213をクリアするとともに、割り込み信号を解除し、ダウンカウント開始させる。これにより、第一のタイマ21は、次の割り込み発生に備えた動作を再開する。
初期値レジスタ211は、CPU3を一定間隔ごとにテストする周期情報を保持する。
ダウンカウンタ212及びカウンタレジスタ213により、初期値レジスタ211に保持する周期情報をダウンカウントして、一定間隔を計測する。
ゼロ確認&割り込み発生回路214は、カウンタレジスタ213がゼロになったことを検出すると、テストルーチンを実行させるため、割り込み信号を制御&ステータスレジスタ23を介して割り込み制御回路5へ出力する。
割り込みを発生させる間隔は、通常の処理内容の負荷に応じてユーザが初期値レジスタ211に設定することにより、任意に決めることができる。
CPU3は、第一のタイマ21の割り込みを受け付け、テストルーチンを実行すると、制御&ステータスレジスタ23に所定の制御コマンドを書き込む。制御コマンドに応じて、制御&ステータスレジスタ23は、第一のタイマ21のダウンカウンタ212及びカウンタレジスタ213をクリアするとともに、割り込み信号を解除し、ダウンカウント開始させる。これにより、第一のタイマ21は、次の割り込み発生に備えた動作を再開する。
第二のタイマ22は初期値レジスタ221、ダウンカウンタ222、カウンタレジスタ223及びゼロ確認&エラー例外発生回路224を備える。第二のタイマ22はCPU3が万が一予め定めた時間内にテスト割り込みを実行しない場合に、暴走状態にあると判断し、エラー例外を発生させることを目的とする。ここで、テスト割り込みは、第一のタイマ21がCPU3にテストルーチンを実行させる割り込みである。
初期値レジスタ221は、テスト割り込みの実行を確認する発生間隔の時間(エラー例外検出時間)を保持する。発生間隔は通常、第一のタイマ21による割り込み発生間隔(テスト時間)より長くとる。その理由は、テスト割り込み発生時に一時的に優先度の高い処理実行中でしばらくテストルーチンの実行開始が遅れても様子を見るためである。しかし、設定した期間全くテストルーチンの実行が開始されない時は、第二のタイマ22は、ユーザプログラムのタスク管理が不十分か、若しくはCPU3が暴走状態にあると判断してエラー例外を発生させる。言い換えると、第二のタイマ22は、自己診断回路専用のウォッチドッグタイマの機能として働く。従って、暴走状態かどうかの判断の間隔は、ユーザが初期値レジスタ221を設定することにより任意に決めることができる。
初期値レジスタ221は、テスト割り込みの実行を確認する発生間隔の時間(エラー例外検出時間)を保持する。発生間隔は通常、第一のタイマ21による割り込み発生間隔(テスト時間)より長くとる。その理由は、テスト割り込み発生時に一時的に優先度の高い処理実行中でしばらくテストルーチンの実行開始が遅れても様子を見るためである。しかし、設定した期間全くテストルーチンの実行が開始されない時は、第二のタイマ22は、ユーザプログラムのタスク管理が不十分か、若しくはCPU3が暴走状態にあると判断してエラー例外を発生させる。言い換えると、第二のタイマ22は、自己診断回路専用のウォッチドッグタイマの機能として働く。従って、暴走状態かどうかの判断の間隔は、ユーザが初期値レジスタ221を設定することにより任意に決めることができる。
ゼロ確認&エラー例外発生回路224は、カウンタレジスタ223がゼロになったことを検出すると、CPU3が暴走状態(故障発生状態)であると判定し、制御&ステータスレジスタ23を介して割り込み制御回路5へ出力する。
CPU3は、第一のタイマ21の割り込みを受け付ける毎に、制御&ステータスレジスタ23に所定の制御コマンドを書き込む。制御コマンドに応じて、制御&ステータスレジスタ23は、第二のタイマ22のダウンカウンタ222及びカウンタレジスタ223をクリアするとともに、&ダウンカウント開始させる。これにより、第二のタイマ22は、エラー例外の発生を猶予する。
CPU3は、第一のタイマ21の割り込みを受け付ける毎に、制御&ステータスレジスタ23に所定の制御コマンドを書き込む。制御コマンドに応じて、制御&ステータスレジスタ23は、第二のタイマ22のダウンカウンタ222及びカウンタレジスタ223をクリアするとともに、&ダウンカウント開始させる。これにより、第二のタイマ22は、エラー例外の発生を猶予する。
<制御&ステータスレジスタの構成>
制御&ステータスレジスタ23は、一例として、一実施形態のステータスレジスタ12の構成を含んだ機能回路である。詳細な構成例を図5に示す。
制御&ステータスレジスタ23Aは、バスインタフェース回路231A、レジスタ232A、論理積回路(AND回路)233A、及び制御レジスタ239を備える。制御&ステータスレジスタ23Aは、少なくとも、図3のステータスレジスタ12と同様の機能を実現するように働く。加えて、第二のタイマ22が出力するエラー例外信号をデバイス外部に通知するとともに、通知したエラー例外信号の状態を自己に帰還させ、CPU3が出力端子82の状態を取得できるように構成される。
図4に示す出力端子8は、図5では、制御&ステータスレジスタ23Aに応じて、出力端子81〜83の3つの出力端子群から構成される。出力端子81はBit1の状態、出力端子82はBit2の状態、出力端子83はエラー例外信号の状態をデバイス外部へ出力する。
制御&ステータスレジスタ23は、一例として、一実施形態のステータスレジスタ12の構成を含んだ機能回路である。詳細な構成例を図5に示す。
制御&ステータスレジスタ23Aは、バスインタフェース回路231A、レジスタ232A、論理積回路(AND回路)233A、及び制御レジスタ239を備える。制御&ステータスレジスタ23Aは、少なくとも、図3のステータスレジスタ12と同様の機能を実現するように働く。加えて、第二のタイマ22が出力するエラー例外信号をデバイス外部に通知するとともに、通知したエラー例外信号の状態を自己に帰還させ、CPU3が出力端子82の状態を取得できるように構成される。
図4に示す出力端子8は、図5では、制御&ステータスレジスタ23Aに応じて、出力端子81〜83の3つの出力端子群から構成される。出力端子81はBit1の状態、出力端子82はBit2の状態、出力端子83はエラー例外信号の状態をデバイス外部へ出力する。
レジスタ232Aは、5ビットで構成される。具体的には、図2のレジスタ122へBit4を追加した構成である。
Bit0からBit3は、図1または図3と同様であるため説明を省略する。
レジスタ232AのBit4(以降適宜、「Bit4」と記載する)は、出力端子83がエラー例外信号の状態を通知するタイミングで、出力端子83が通知する状態を帰還させ保持する第五のデータ保持回路であり、かつ、CPU3がバスインタフェース回路231Aを介して保持する状態を読み出せるように構成される。ここで、エラー例外信号は、図4に示すように、第二のタイマ22が制御&ステータスレジスタ23に出力する信号であり、第二のタイマ22がエラー例外信号を出力すると、バッファ回路を介して出力端子83へ入力されるとともに、割り込み制御回路5へ通知される。言い換えると、出力端子83が、第二のタイマ22が検出するタイムアウトのエラー例外信号の状態を外部に知らせ、Bit4が出力端子83の状態を保持する。
バスインタフェース回路231Aは、図1または図2のバスインタフェース回路111、121と同様に働くとともに、Bit4の状態を読み出す。バスインタフェース回路231Aは、第1から第5のデータ保持回路の内容を読み出すバスインタフェース回路機能を備える。
なお、第1から第5のデータ保持回路(Bit0からBit4)は、リセットによりゼロに初期化される。
制御レジスタ239は、第一のタイマ21及び第二のタイマ22の各レジスタを制御する制御信号を構成する機能を有する。一般的な技術により実現するものであるため、ここでは、詳細な説明を省略する。
表1にレジスタ232A及び制御レジスタ239の機能を示す。
Bit0からBit3は、図1または図3と同様であるため説明を省略する。
レジスタ232AのBit4(以降適宜、「Bit4」と記載する)は、出力端子83がエラー例外信号の状態を通知するタイミングで、出力端子83が通知する状態を帰還させ保持する第五のデータ保持回路であり、かつ、CPU3がバスインタフェース回路231Aを介して保持する状態を読み出せるように構成される。ここで、エラー例外信号は、図4に示すように、第二のタイマ22が制御&ステータスレジスタ23に出力する信号であり、第二のタイマ22がエラー例外信号を出力すると、バッファ回路を介して出力端子83へ入力されるとともに、割り込み制御回路5へ通知される。言い換えると、出力端子83が、第二のタイマ22が検出するタイムアウトのエラー例外信号の状態を外部に知らせ、Bit4が出力端子83の状態を保持する。
バスインタフェース回路231Aは、図1または図2のバスインタフェース回路111、121と同様に働くとともに、Bit4の状態を読み出す。バスインタフェース回路231Aは、第1から第5のデータ保持回路の内容を読み出すバスインタフェース回路機能を備える。
なお、第1から第5のデータ保持回路(Bit0からBit4)は、リセットによりゼロに初期化される。
制御レジスタ239は、第一のタイマ21及び第二のタイマ22の各レジスタを制御する制御信号を構成する機能を有する。一般的な技術により実現するものであるため、ここでは、詳細な説明を省略する。
表1にレジスタ232A及び制御レジスタ239の機能を示す。
* 実施形態1の動作又は製造方法等
第一のタイマ21が割り込み信号を割り込み制御回路5へ出力することにより、CPU3がテストルーチンを実行する。CPU3は、テストルーチンの試験結果を示す入力信号を、バス6を介して制御&ステータスレジスタ23Aへ書き込む。ここでは、テストルーチンの試験結果が期待値と一致しない場合には、入力信号の状態が1(High)であり、期待値と一致する場合には、入力信号の状態がゼロ(Low)であることを前提とする。例えば、CPU3は、テストルーチンを実行している際に期待値と異なる試験結果が得られた場合には、LSIチップ1内の一部に故障や誤作動などの異常が発生していると判定する。CPU3は、Bit1へ1を書き込むため、状態が1の入力信号を制御&ステータスレジスタ23Aへ出力する。
第一のタイマ21が割り込み信号を割り込み制御回路5へ出力することにより、CPU3がテストルーチンを実行する。CPU3は、テストルーチンの試験結果を示す入力信号を、バス6を介して制御&ステータスレジスタ23Aへ書き込む。ここでは、テストルーチンの試験結果が期待値と一致しない場合には、入力信号の状態が1(High)であり、期待値と一致する場合には、入力信号の状態がゼロ(Low)であることを前提とする。例えば、CPU3は、テストルーチンを実行している際に期待値と異なる試験結果が得られた場合には、LSIチップ1内の一部に故障や誤作動などの異常が発生していると判定する。CPU3は、Bit1へ1を書き込むため、状態が1の入力信号を制御&ステータスレジスタ23Aへ出力する。
制御&ステータスレジスタ23Aでは、バスインタフェース回路231Aが入力信号を受け取り、レジスタ232AのBit1へ書き込む。レジスタ232Aは、CPU3がテストルーチンを実行する前に初期値ゼロにリセットされる。Bit1に入力信号の状態が書き込まれると、書き込まれた状態が出力端子81から出力され、試験結果をデバイス外部へ通知する。例えば、Bit1に1が設定されると、LSIチップ1に異常が発生したことを知らせることになる。
Bit2は、Bit1にこれから書き込む入力信号の状態と、Bit1に入力信号の状態が書き込まれる前の状態との論理積を保持するように構成される。加えて、Bit2は、Bit1への書き込み動作及び条件によって、Bit2へのセット/クリアが決まるように構成される。ここでは、Bit2は、入力信号の状態と、Bit1が初期値ゼロにリセットされた状態の論理積を保持することになるため、初期値のゼロを維持している。
Bit2は、Bit1にこれから書き込む入力信号の状態と、Bit1に入力信号の状態が書き込まれる前の状態との論理積を保持するように構成される。加えて、Bit2は、Bit1への書き込み動作及び条件によって、Bit2へのセット/クリアが決まるように構成される。ここでは、Bit2は、入力信号の状態と、Bit1が初期値ゼロにリセットされた状態の論理積を保持することになるため、初期値のゼロを維持している。
次に、CPU3がテストルーチンを再度実行すると、CPU3は、2番目の入力信号を制御&ステータスレジスタに書き込む。Bit1には、2番目の入力信号の状態が書き込まれる。このとき、Bit2は、2番目の入力信号の状態と、Bit1が保持する1番目の入力信号の状態との論理積を保持することになる。例えば、Bit1が1にセットされている状態で、更に期待値と異なる結果が得られ、2番目の入力信号の状態が1であるとき、CPU3がBit1を書き込む動作を実行することにより、Bit2にも1がセットされる。一方、Bit1が1にセットされている状態で、期待値と同じ結果が得られ、2番目の入力信号の状態が0であるときは、CPU3がBit1を書き込む動作を実行することにより、Bit1は0となり。Bit2も0がセットされる。
Bit0、Bit3及びBit4は、Bit1及びBit2及びエラー例外信号の状態を外部に知らせるための第一、第二及び第三の出力端子の状態をそのまま反映する。
CPU3は、レジスタ232Aの各ビットの状態を読み出し、比較することにより、制御&ステータスレジスタ23A内で故障や異常が生じているかを検出することができる。具体的には、CPU3は、Bit0とBit1とを比較し、一致しない場合には制御&ステータスレジスタ23A内で故障が生じていると判定する。同様に、Bit2とBit3、及びエラー例外信号の状態とBit4とを比較して、故障や異常を検出する。レジスタ232Aの各ビットを読み出して比較することにより、特にバスインタフェース回路231A、レジスタ232A、及び出力端子81〜83の間で生じる故障を検出する。
CPU3は、レジスタ232Aの各ビットの状態を読み出し、比較することにより、制御&ステータスレジスタ23A内で故障や異常が生じているかを検出することができる。具体的には、CPU3は、Bit0とBit1とを比較し、一致しない場合には制御&ステータスレジスタ23A内で故障が生じていると判定する。同様に、Bit2とBit3、及びエラー例外信号の状態とBit4とを比較して、故障や異常を検出する。レジスタ232Aの各ビットを読み出して比較することにより、特にバスインタフェース回路231A、レジスタ232A、及び出力端子81〜83の間で生じる故障を検出する。
* 実施形態1の主な特徴および効果
LSIチップ1は、図4の第二のタイマ22が出力するエラー例外信号によって、CPU3が応答出来ないような状態に陥った場合でも、外部にその異常状態を知らせる機能を持つ。しかし、自己診断回路2自体が故障する可能性もある。CPU3によるアクセスが可能な図4の第一及び第二のタイマ21、22については、テストランをさせてカウンタ機能やレジスタ機能の異常の有無をチェックすることはできるが、図5の出力端子81〜83については、実際に正しい状態を外部に出力しているかどうかはLSIチップ1自身では確認できない。
この課題を解決するため、図5に示す制御&ステータスレジスタ23Aでは、出力端子81〜83からのフィードバック信号を保持するBit0、Bit3及びBit4を備える。これにより、出力端子81〜83の出力状態をLSIチップ1の内部で確認することができる。言い換えると、制御&ステータスレジスタ23Aは、試験結果やエラー例外などの出力回路(出力経路)とは別に、フィードバック回路(フィードバック経路)を設けることによりこの課題を解決する。一方、フィードバック回路部分が故障する可能性もある。しかし、本来の出力経路とフィードバック経路が同時に故障する可能性は極めて低いため、どちらかが故障しても異常が検出できるため、フェイルセーフ機能として有効である。
LSIチップ1は、図4の第二のタイマ22が出力するエラー例外信号によって、CPU3が応答出来ないような状態に陥った場合でも、外部にその異常状態を知らせる機能を持つ。しかし、自己診断回路2自体が故障する可能性もある。CPU3によるアクセスが可能な図4の第一及び第二のタイマ21、22については、テストランをさせてカウンタ機能やレジスタ機能の異常の有無をチェックすることはできるが、図5の出力端子81〜83については、実際に正しい状態を外部に出力しているかどうかはLSIチップ1自身では確認できない。
この課題を解決するため、図5に示す制御&ステータスレジスタ23Aでは、出力端子81〜83からのフィードバック信号を保持するBit0、Bit3及びBit4を備える。これにより、出力端子81〜83の出力状態をLSIチップ1の内部で確認することができる。言い換えると、制御&ステータスレジスタ23Aは、試験結果やエラー例外などの出力回路(出力経路)とは別に、フィードバック回路(フィードバック経路)を設けることによりこの課題を解決する。一方、フィードバック回路部分が故障する可能性もある。しかし、本来の出力経路とフィードバック経路が同時に故障する可能性は極めて低いため、どちらかが故障しても異常が検出できるため、フェイルセーフ機能として有効である。
LSIチップ1内部のテストルーチンによるセルフテストの結果、内部に異常があることが分かった場合、CPU3は、Bit1をセットすることにより異常状態をデバイス外部に知らせることができる。加えて、Bit2の機能を備えることにより、ハードウェアの故障か、ソフトエラーによる一時的なエラーであるかを検出することが可能になる。通常、ソフトエラーは、一時的な環境の変化等により発生するエラーであり、所定の時間経過後に再度セルフテストをすると、エラーが解消されていることが多い。このような場合、Bit2の機能により、ハードウェアの故障とソフトエラーとを区別することを可能にする。
具体的には、例えば1度セルフテスト処理を実施した時に異常が検出されたとしても、ハードウェアの故障による異常か、ソフトエラーによる一時的なエラーかが区別できない。しかし、セルフテストを2度実行し、Bit1の状態とBit2との状態とを組み合わせることにより、ハードウェアの故障か、ソフトエラーかを区別することが可能になる。例えば、同じセルフテストを2度実行した結果、同じ異常状態が2度とも検出された場合はハードウェアの故障であり、2度目に異常が検出されなかった場合は、1度目がソフトエラーによる異常検出だったと判定することができる。すなわち、Bit1が1でかつBit2がゼロの場合はまだソフトエラーとハードウェアの故障の両方の可能性があることを示しており、Bit1及びBit2が1の場合はハードウェアの故障と判定される。Bit1が1でかつBit2がゼロの状態からBit1及びBit2が両方ともゼロに遷移した場合は、ソフトエラーであったことを示している。
具体的には、例えば1度セルフテスト処理を実施した時に異常が検出されたとしても、ハードウェアの故障による異常か、ソフトエラーによる一時的なエラーかが区別できない。しかし、セルフテストを2度実行し、Bit1の状態とBit2との状態とを組み合わせることにより、ハードウェアの故障か、ソフトエラーかを区別することが可能になる。例えば、同じセルフテストを2度実行した結果、同じ異常状態が2度とも検出された場合はハードウェアの故障であり、2度目に異常が検出されなかった場合は、1度目がソフトエラーによる異常検出だったと判定することができる。すなわち、Bit1が1でかつBit2がゼロの場合はまだソフトエラーとハードウェアの故障の両方の可能性があることを示しており、Bit1及びBit2が1の場合はハードウェアの故障と判定される。Bit1が1でかつBit2がゼロの状態からBit1及びBit2が両方ともゼロに遷移した場合は、ソフトエラーであったことを示している。
なお、図5では、レジスタ232Aが図3のステータスレジスタ12及びBit4を含む制御&ステータスレジスタ23Aの構成例を示した。しかし、制御&ステータスレジスタ23Aは、図5の構成例に限られるものではなく、例えば、図1のステータスレジスタ11のみを含む構成例、図3のステータスレジスタ12のみを含む構成例、あるいは、図1のステータスレジスタ11及びBit4を含む(Bit2及びBit3を除く)構成例であってもよい。このような構成例であっても、CPU3は、レジスタ232Aの状態を、バスインタフェース回路231Aを介して読み出すことができるため、ハードウェアの故障によりデバイス外部にソフトエラー試験結果を誤って通知していることを検出できる。
さらに加えて、LSIチップ1は、CPU3が検出した故障や異常を外部に通知する別の手段を備えていてもよい。例えば、LISチップ1は、CPU3がバス6を介して、表示装置や警報装置に故障や異常の情報を出力するように構成してもよい。
さらに加えて、LSIチップ1は、CPU3が検出した故障や異常を外部に通知する別の手段を備えていてもよい。例えば、LISチップ1は、CPU3がバス6を介して、表示装置や警報装置に故障や異常の情報を出力するように構成してもよい。
実施形態2
* 実施形態2の構成
図6は、実施形態2の制御&ステータスレジスタ23Bの構成例である。図5の構成例との違いは、論理積回路233Bの接続であり、CPU3からBit2への書き込み機能ができるように構成されている点である。他の構成は実施形態1の制御&ステータスレジスタ23Aと同様である。
* 実施形態2の構成
図6は、実施形態2の制御&ステータスレジスタ23Bの構成例である。図5の構成例との違いは、論理積回路233Bの接続であり、CPU3からBit2への書き込み機能ができるように構成されている点である。他の構成は実施形態1の制御&ステータスレジスタ23Aと同様である。
* 実施形態2の動作又は製造方法等
セルフテストの試験結果を、CPU3はバス6を介して、Bit1とBit2に同時に入力信号の状態を書き込む動作を実行する。このとき、Bit1は入力信号の状態がゼロでも1でも任意に書き込むことができる。一方、Bit2、論理積回路233Bにより、図5の構成例と同様、入力信号の状態が1であっても、Bit1が既に1の状態でなければ1にセットされない。
セルフテストの試験結果を、CPU3はバス6を介して、Bit1とBit2に同時に入力信号の状態を書き込む動作を実行する。このとき、Bit1は入力信号の状態がゼロでも1でも任意に書き込むことができる。一方、Bit2、論理積回路233Bにより、図5の構成例と同様、入力信号の状態が1であっても、Bit1が既に1の状態でなければ1にセットされない。
* 実施形態2の特徴および効果
実施形態2の制御&ステータスレジスタ23Bは、実施形態1と違い、Bit2はRead onlyではなく、Read/Write可能になっている。しかし、書き込みは条件付きであり、同様の機能を実現することができる。
実施形態2の制御&ステータスレジスタ23Bは、実施形態1と違い、Bit2はRead onlyではなく、Read/Write可能になっている。しかし、書き込みは条件付きであり、同様の機能を実現することができる。
実施形態3
実施形態3では、ステータスレジスタが出力端子を専有する場合などに適用できる回路構成例を説明する。
<一実施形態の基本的な構成例の変形>
図7は、図1の基本的な構成例を変形したものである。ステータスレジスタ13は、バスインタフェース回路111、及びレジスタ132を備える。ステータスレジスタ13は、図1のステータスレジスタ11と同様の機能を実現する。
バスインタフェース回路111は、図1と同様である。
レジスタ132は、1ビットで構成される。レジスタ132のBit1は、図1のレジスタ112のBit1と同様である。
出力端子81は、Bit1が出力する出力信号の状態をデバイス外部に知らせる。
実施形態3では、ステータスレジスタが出力端子を専有する場合などに適用できる回路構成例を説明する。
<一実施形態の基本的な構成例の変形>
図7は、図1の基本的な構成例を変形したものである。ステータスレジスタ13は、バスインタフェース回路111、及びレジスタ132を備える。ステータスレジスタ13は、図1のステータスレジスタ11と同様の機能を実現する。
バスインタフェース回路111は、図1と同様である。
レジスタ132は、1ビットで構成される。レジスタ132のBit1は、図1のレジスタ112のBit1と同様である。
出力端子81は、Bit1が出力する出力信号の状態をデバイス外部に知らせる。
図7の構成では、出力端子81がBit1からの出力信号(第一出力信号)の状態を通知するタイミングで、出力端子81が通知する状態をフィードバック信号線により帰還させバスインタフェース回路111へ出力する。例えば、出力端子81から出力される状態は、バッファ回路を介して、バスインタフェース回路111へ伝送される。
図7では、フィードバック信号線は、出力端子81からバスインタフェース回路111へ接続する信号線(出力端子81とバスインタフェース回路111との間に配置される信号線)であり、第一の帰還部として働き、出力端子81の状態のフィードバック経路を構成する。フィードバック経路(フィードバック信号線)が常時ドライブ状態であれば、必ずしも出力端子81の状態を保持する保持回路を必要としない。
バスインタフェース回路111は、Bit1の状態及びフィードバック信号線の状態をCPU3に供給する供給部として働く。
なお、図示しないが、図3のステータスレジスタ12についても、Bit0及びBit3を除いた構成例でステータスレジスタを実現することが可能である。
図7の構成では、図1の構成に比べ、ステータスレジスタを構成する回路の数を削減することが可能になる。以下に、図7の構成を適用した制御&ステータスレジスタについて説明する。
図7では、フィードバック信号線は、出力端子81からバスインタフェース回路111へ接続する信号線(出力端子81とバスインタフェース回路111との間に配置される信号線)であり、第一の帰還部として働き、出力端子81の状態のフィードバック経路を構成する。フィードバック経路(フィードバック信号線)が常時ドライブ状態であれば、必ずしも出力端子81の状態を保持する保持回路を必要としない。
バスインタフェース回路111は、Bit1の状態及びフィードバック信号線の状態をCPU3に供給する供給部として働く。
なお、図示しないが、図3のステータスレジスタ12についても、Bit0及びBit3を除いた構成例でステータスレジスタを実現することが可能である。
図7の構成では、図1の構成に比べ、ステータスレジスタを構成する回路の数を削減することが可能になる。以下に、図7の構成を適用した制御&ステータスレジスタについて説明する。
<制御&ステータスレジスタの構成>
図8は実施形態3の制御&ステータスレジスタ23Cの構成例である。図5の構成例との違いは、状態表示用端子の状態を保持するデータ保持回路であるBit0、Bit3、Bit4が無いことである。
出力端子81とバスインタフェース回路231Aとの間の第一のフィードバック信号線は、出力端子81の状態の第一のフィードバック経路を構成し、第一の帰還部として働く。出力端子82とバスインタフェース回路231Aとの間の第二のフィードバック信号線は、出力端子82の状態の第二のフィードバック経路を構成し、第二の帰還部として働く。出力端子83とバスインタフェース回路231Aとの間の第三のフィードバック信号線は、出力端子83の状態の第三のフィードバック経路を構成し、第三の帰還部として働く。出力端子81〜83の状態の入力経路が常時ドライブ状態であれば、必ずしもデータ保持回路によって状態を保持する必要はなく、そのままバスインタフェース回路231Aに接続しておけば良い。なお、第一乃至第三の帰還部のいずれかが出力端子の状態を保持する保持回路を備える構成であってもよい。
他の構成要素及び動作は図5の制御&ステータスレジスタ23Aと同様であるため説明を省略する。
実施形態3の構成によれば、より少ない回路で同じ効果を得ることができる。
図8は実施形態3の制御&ステータスレジスタ23Cの構成例である。図5の構成例との違いは、状態表示用端子の状態を保持するデータ保持回路であるBit0、Bit3、Bit4が無いことである。
出力端子81とバスインタフェース回路231Aとの間の第一のフィードバック信号線は、出力端子81の状態の第一のフィードバック経路を構成し、第一の帰還部として働く。出力端子82とバスインタフェース回路231Aとの間の第二のフィードバック信号線は、出力端子82の状態の第二のフィードバック経路を構成し、第二の帰還部として働く。出力端子83とバスインタフェース回路231Aとの間の第三のフィードバック信号線は、出力端子83の状態の第三のフィードバック経路を構成し、第三の帰還部として働く。出力端子81〜83の状態の入力経路が常時ドライブ状態であれば、必ずしもデータ保持回路によって状態を保持する必要はなく、そのままバスインタフェース回路231Aに接続しておけば良い。なお、第一乃至第三の帰還部のいずれかが出力端子の状態を保持する保持回路を備える構成であってもよい。
他の構成要素及び動作は図5の制御&ステータスレジスタ23Aと同様であるため説明を省略する。
実施形態3の構成によれば、より少ない回路で同じ効果を得ることができる。
実施形態4
図9は実施形態4の制御&ステータスレジスタ23Dの構成例である。図8の構成例との違いは、出力端子81〜83の状態をそのままバスインタフェース回路231Aに入力するのではなく、Bit1、Bit2、エラー例外信号の状態出力信号と排他的論理和を取ってから入力している点である。
制御&ステータスレジスタ23Dは、バスインタフェース回路231D、レジスタ232D、論理積回路233C、排他的論理和回路234〜236、及び制御レジスタ239を備える。
図9の構成において、第一のフィードバック経路は、出力端子81と排他的論理和回路234との間のフィードバック信号線から構成され、第一の帰還部として働く。第二のフィードバック経路は、出力端子82と排他的論理和回路235との間のフィードバック信号線から構成され、第二の帰還部として働く。第三のフィードバック経路は、出力端子83と排他的論理和回路236との間のフィードバック信号線から構成され、第三の帰還部として働く。
また、図9の構成において、供給部は、少なくとも排他的論理和回路234、235及び236の出力状態をCPU3へ供給するように構成される。本実施形態では、各状態をそれぞれ供給するのではなく、フィードバック経路の状態と対応する出力経路の状態との排他的論理和の状態を供給する。そのため、供給部は、バスインタフェース回路231D及び排他的論理和回路234〜236を少なくとも含む。
図9は実施形態4の制御&ステータスレジスタ23Dの構成例である。図8の構成例との違いは、出力端子81〜83の状態をそのままバスインタフェース回路231Aに入力するのではなく、Bit1、Bit2、エラー例外信号の状態出力信号と排他的論理和を取ってから入力している点である。
制御&ステータスレジスタ23Dは、バスインタフェース回路231D、レジスタ232D、論理積回路233C、排他的論理和回路234〜236、及び制御レジスタ239を備える。
図9の構成において、第一のフィードバック経路は、出力端子81と排他的論理和回路234との間のフィードバック信号線から構成され、第一の帰還部として働く。第二のフィードバック経路は、出力端子82と排他的論理和回路235との間のフィードバック信号線から構成され、第二の帰還部として働く。第三のフィードバック経路は、出力端子83と排他的論理和回路236との間のフィードバック信号線から構成され、第三の帰還部として働く。
また、図9の構成において、供給部は、少なくとも排他的論理和回路234、235及び236の出力状態をCPU3へ供給するように構成される。本実施形態では、各状態をそれぞれ供給するのではなく、フィードバック経路の状態と対応する出力経路の状態との排他的論理和の状態を供給する。そのため、供給部は、バスインタフェース回路231D及び排他的論理和回路234〜236を少なくとも含む。
フィードバック経路の出力が排他的論理和回路234〜236からバスインタフェース回路231Dへ出力される点を除いて、制御&ステータスレジスタ23Dの構成及び動作は実施形態1から3と同様であるため説明を省略する。
なお、図9では、排他的論理和回路234〜236の出力の状態をバスインタフェース回路231Dを介して読み出し可能にするとともに、専用の信号線が制御&ステータスレジスタ23Dの外部へ配線され直接取得できるように構成した例を示しているが、いずれか一方であってもよい。例えば、図10に示すように制御&ステータスレジスタ23Eは、専用の信号線(3つのエラー例外信号線)のみでCPU3へ排他的論理和回路234〜236の状態を通知するように構成されていてもよい。図10では、排他的論理和回路234〜236の状態はバスインタフェース回路231Eを介して出力されない。また、その逆に専用の信号線を配置しないで、図9に示すバスインタフェース回路231DからのみでCPU3へ排他的論理和回路234〜236の状態を通知するように構成してもよい。
加えて、図9では、図8の構成例に排他的論理和回路を追加する構成例を説明したが、図5または図6の構成例に排他的論理和回路を追加する構成であってもよい。
なお、図9では、排他的論理和回路234〜236の出力の状態をバスインタフェース回路231Dを介して読み出し可能にするとともに、専用の信号線が制御&ステータスレジスタ23Dの外部へ配線され直接取得できるように構成した例を示しているが、いずれか一方であってもよい。例えば、図10に示すように制御&ステータスレジスタ23Eは、専用の信号線(3つのエラー例外信号線)のみでCPU3へ排他的論理和回路234〜236の状態を通知するように構成されていてもよい。図10では、排他的論理和回路234〜236の状態はバスインタフェース回路231Eを介して出力されない。また、その逆に専用の信号線を配置しないで、図9に示すバスインタフェース回路231DからのみでCPU3へ排他的論理和回路234〜236の状態を通知するように構成してもよい。
加えて、図9では、図8の構成例に排他的論理和回路を追加する構成例を説明したが、図5または図6の構成例に排他的論理和回路を追加する構成であってもよい。
図9の制御&ステータスレジスタ23Dによれば、CPU3は、バス6を介して、排他的論理和の出力の状態を読み出し、状態が1を示す場合には、読み出した状態の経路のどこかに故障が発生していること検出することができる。CPU3でBit0乃至4を読み出してソフトウェアにより比較する処理が必要なくなるため、ソフトウェアの作成に要するコストやCPU3の負荷を削減することが可能になる。
実施形態5.
実施形態5では、図1のステータスレジスタへエラー例外信号を出力する出力端子83を追加した構成例を故障検出装置へ組み込む構成例を説明する。
図11は実施形態5の制御&ステータスレジスタ23Fの構成例である。制御&ステータスレジスタ23Fは、図10の制御&ステータスレジスタ23Eから、Bit2、排他的論理和回路235、及び出力端子82等を除いた構成である。
図11では、図10の制御&ステータスレジスタ23Eを変形した構成例を示したが、図5,6,8,9等の制御&ステータスレジスタの構成例であっても、第二の出力経路及び第二のフィードバック経路(第二の保持部、第二の帰還部、及び第二の出力端子に相当する構成要素)を除いた構成によって、一実施形態を実現することができる。
本実施形態の制御&ステータスレジスタ23Fによれば、セルフテストの試験結果及びエラー例外信号をデバイス外部に通知する出力端子の故障、及びこれに関連するハードウェアの故障をCPU3が検出することが可能になる。
実施形態5では、図1のステータスレジスタへエラー例外信号を出力する出力端子83を追加した構成例を故障検出装置へ組み込む構成例を説明する。
図11は実施形態5の制御&ステータスレジスタ23Fの構成例である。制御&ステータスレジスタ23Fは、図10の制御&ステータスレジスタ23Eから、Bit2、排他的論理和回路235、及び出力端子82等を除いた構成である。
図11では、図10の制御&ステータスレジスタ23Eを変形した構成例を示したが、図5,6,8,9等の制御&ステータスレジスタの構成例であっても、第二の出力経路及び第二のフィードバック経路(第二の保持部、第二の帰還部、及び第二の出力端子に相当する構成要素)を除いた構成によって、一実施形態を実現することができる。
本実施形態の制御&ステータスレジスタ23Fによれば、セルフテストの試験結果及びエラー例外信号をデバイス外部に通知する出力端子の故障、及びこれに関連するハードウェアの故障をCPU3が検出することが可能になる。
実施形態6.
実施形態6では、出力端子がデバイス外部に出力する状態を帰還させる機能を実現する他の構成例について説明する。
図12は、図7の構成を変形した一実施形態の他の基本的な構成例を示す図である。
ステータスレジスタ14は、バスインタフェース回路141を備え、バス6を経由することなく、直接信号線によって入力信号を受け取るように構成される。
出力端子81は、入力信号の状態をデバイス外部へ通知する。例えば、CPU3がセルフテストの試験結果を、バス6を経由しないで専用の信号線により出力端子81へ出力することが可能であり、信号の状態がリセットされるタイミング等が調整可能な構成であれば、図12に示すような回路構成により、出力端子81の状態をフィードバックすることが可能である。
実施形態6では、出力端子がデバイス外部に出力する状態を帰還させる機能を実現する他の構成例について説明する。
図12は、図7の構成を変形した一実施形態の他の基本的な構成例を示す図である。
ステータスレジスタ14は、バスインタフェース回路141を備え、バス6を経由することなく、直接信号線によって入力信号を受け取るように構成される。
出力端子81は、入力信号の状態をデバイス外部へ通知する。例えば、CPU3がセルフテストの試験結果を、バス6を経由しないで専用の信号線により出力端子81へ出力することが可能であり、信号の状態がリセットされるタイミング等が調整可能な構成であれば、図12に示すような回路構成により、出力端子81の状態をフィードバックすることが可能である。
ステータスレジスタ14は、例えば以下の機能を実現する。
・入力信号を出力端子81へ直接出力する信号線(出力経路)が配置され、出力経路が、入力信号を取り込む取得部として働く。
・上述した出力経路が出力端子と接続され、出力端子が、入力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子として働く。
・出力端子81が入力信号の状態を通知するタイミングで、出力端子81の状態を帰還させるフィードバック経路が配置される。フィードバック経路は、出力端子81とバスインタフェース回路141との間のフィードバック信号線から構成され、第一の帰還部として働く。
バスインタフェース回路141は、入力信号の状態、及びフィードバック信号線の状態をCPU3が読み出せるように構成され、入力信号の状態及び第一の帰還部の状態を、CPU3などのLSIチップ1内の制御機構へ供給する供給部として働く。
・入力信号を出力端子81へ直接出力する信号線(出力経路)が配置され、出力経路が、入力信号を取り込む取得部として働く。
・上述した出力経路が出力端子と接続され、出力端子が、入力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子として働く。
・出力端子81が入力信号の状態を通知するタイミングで、出力端子81の状態を帰還させるフィードバック経路が配置される。フィードバック経路は、出力端子81とバスインタフェース回路141との間のフィードバック信号線から構成され、第一の帰還部として働く。
バスインタフェース回路141は、入力信号の状態、及びフィードバック信号線の状態をCPU3が読み出せるように構成され、入力信号の状態及び第一の帰還部の状態を、CPU3などのLSIチップ1内の制御機構へ供給する供給部として働く。
図12のステータスレジスタ14は図9のように排他的論理和回路を追加する構成であってもよい。
図13は、図12の構成を変形した一実施形態の他の基本的な構成例を示す図である。
ステータスレジスタ15は、バスインタフェース回路151、及び排他的論理和回路152を備える。ステータスレジスタ15は、バス6を経由することなく、直接信号線によって入力信号を受け取るように構成される。
出力端子81は、入力信号の状態をデバイス外部へ通知する。
図13に示す構成は、図9に示すエラー例外信号の状態の通知に関係する構成と同様である。例えば、CPU3がセルフテストの試験結果を、バス6を経由しないで専用の信号線により出力端子81へ出力することが可能であり、信号の状態がリセットされるタイミング等が調整可能な構成であれば、図13に示すような回路構成により、出力端子81の状態をフィードバックすることが可能である。
図13は、図12の構成を変形した一実施形態の他の基本的な構成例を示す図である。
ステータスレジスタ15は、バスインタフェース回路151、及び排他的論理和回路152を備える。ステータスレジスタ15は、バス6を経由することなく、直接信号線によって入力信号を受け取るように構成される。
出力端子81は、入力信号の状態をデバイス外部へ通知する。
図13に示す構成は、図9に示すエラー例外信号の状態の通知に関係する構成と同様である。例えば、CPU3がセルフテストの試験結果を、バス6を経由しないで専用の信号線により出力端子81へ出力することが可能であり、信号の状態がリセットされるタイミング等が調整可能な構成であれば、図13に示すような回路構成により、出力端子81の状態をフィードバックすることが可能である。
ステータスレジスタ15は、例えば以下の機能を実現する。
・入力信号を出力端子81へ直接出力する信号線(出力経路)が配置され、出力経路が、入力信号を取り込む取得部として働く。
・上述した出力経路が出力端子と接続され、出力端子が、入力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子として働く。
・出力端子81が入力信号の状態を通知するタイミングで、出力端子81の状態を帰還させるフィードバック経路が配置される。フィードバック経路は、出力端子81と排他的論理和回路152との間のフィードバック信号線から構成され、第一の帰還部として働く。
・バスインタフェース回路151は、排他的論理和回路152の出力をCPU3が読み出せるように構成される。バスインタフェース回路151及び排他的論理和回路152は、排他的論理和回路152の出力(フィードバック経路)の状態を制御機構へ供給する供給部として働く。
ステータスレジスタ15は、排他的論理和回路152からバスインタフェース回路151を介して、排他的論理和の状態を出力しているが、図10、図11に示すようにバスインタフェース回路151を備えない構成であってもよい。あるいは、バスインタフェース回路151を備え、排他的論理和の状態を出力する専用の信号線を備えない構成であってもよい。
・入力信号を出力端子81へ直接出力する信号線(出力経路)が配置され、出力経路が、入力信号を取り込む取得部として働く。
・上述した出力経路が出力端子と接続され、出力端子が、入力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子として働く。
・出力端子81が入力信号の状態を通知するタイミングで、出力端子81の状態を帰還させるフィードバック経路が配置される。フィードバック経路は、出力端子81と排他的論理和回路152との間のフィードバック信号線から構成され、第一の帰還部として働く。
・バスインタフェース回路151は、排他的論理和回路152の出力をCPU3が読み出せるように構成される。バスインタフェース回路151及び排他的論理和回路152は、排他的論理和回路152の出力(フィードバック経路)の状態を制御機構へ供給する供給部として働く。
ステータスレジスタ15は、排他的論理和回路152からバスインタフェース回路151を介して、排他的論理和の状態を出力しているが、図10、図11に示すようにバスインタフェース回路151を備えない構成であってもよい。あるいは、バスインタフェース回路151を備え、排他的論理和の状態を出力する専用の信号線を備えない構成であってもよい。
図12、図13において、出力経路(取得部)に入力信号の状態を保持する保持回路を追加してもよい。加えて、フィードバック経路(第一の帰還部)にフィードバック信号線の状態を保持する保持回路を追加してもよい。
さらに加えて、図12、図13へ、ステータスレジスタ14,15を制御する制御機構に応じて、上記各実施形態で説明した第一乃至第三の保持部、第一乃至第二の帰還部のいずれかを追加して構成することも可能である。
さらに加えて、図12、図13へ、ステータスレジスタ14,15を制御する制御機構に応じて、上記各実施形態で説明した第一乃至第三の保持部、第一乃至第二の帰還部のいずれかを追加して構成することも可能である。
以上各実施形態で説明したように、発明者らは、故障検出装置に組み込まれる故障の自己診断回路について、フィードバック経路を設けることにより、自己診断回路自体が故障したことを検知することができることを発見し、例えばCPU3の制御する機構がステータスレジスタ内の故障を検出するような手法を実現した。また、ハードウェア自体の恒久的な故障ではなく、ソフトエラーによる一時的な誤動作を検出する場合があり、セルフテストを2度実行し、Bit1の状態とBit2との状態とを組み合わせることで恒久的な故障との区別が容易にするような手法を実現した。
一実施形態の故障検出回路は、機能安全を考慮した高い故障検出能力が必要な車載製品や日常点検が困難な場所にある装置に組み込むことができる。
以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は既に述べた実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能であることはいうまでもない。例えば、上記各実施形態の出力回路またはフィードバック回路を組み合わせて様々な構成により一実施形態を実現してもよい。
1 LSIチップ
2 故障の自己診断回路(自己診断回路)
3 CPU
4 キャッシュ
5 割り込み制御回路
6 バス
7 外部メモリインタフェース
8、81〜83 出力端子
9 入出力端子
11〜15 ステータスレジスタ
21 第一のタイマ
22 第二のタイマ
23、23A〜23F 制御&ステータスレジスタ
90 外部メモリ
111、121、141、151 バスインタフェース回路
112、122、132 レジスタ
211、221 初期値レジスタ
212、222 ダウンカウンタ
213、223 カウンタレジスタ
214 ゼロ確認&割り込み発生回路
224 ゼロ確認&エラー例外発生回路
231A、231B、231D、231E、231F バスインタフェース回路
232A、232C、232F レジスタ
233A、233B 論理積回路
234〜236 排他的論理和回路
239 制御レジスタ
2 故障の自己診断回路(自己診断回路)
3 CPU
4 キャッシュ
5 割り込み制御回路
6 バス
7 外部メモリインタフェース
8、81〜83 出力端子
9 入出力端子
11〜15 ステータスレジスタ
21 第一のタイマ
22 第二のタイマ
23、23A〜23F 制御&ステータスレジスタ
90 外部メモリ
111、121、141、151 バスインタフェース回路
112、122、132 レジスタ
211、221 初期値レジスタ
212、222 ダウンカウンタ
213、223 カウンタレジスタ
214 ゼロ確認&割り込み発生回路
224 ゼロ確認&エラー例外発生回路
231A、231B、231D、231E、231F バスインタフェース回路
232A、232C、232F レジスタ
233A、233B 論理積回路
234〜236 排他的論理和回路
239 制御レジスタ
Claims (20)
- 入力信号の状態を保持する第一の保持部と、
前記第一の保持部が出力する第一出力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子と、
前記第一の出力端子が前記第一出力信号の状態を通知するタイミングで、前記第一の出力端子が通知する状態を帰還させる第一の帰還部と、
前記第一の保持部の状態、及び前記第一の帰還部の状態を供給する供給部と、
を備える故障検出装置。 - 前記第一の帰還部は、帰還させる前記状態を保持する第二の保持部を備える
請求項1記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、前記第一の保持部の状態、及び前記第一の帰還部の状態を読み出すバスインタフェース回路を含む
請求項1記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、
前記第一の保持部の状態と前記第一の帰還部の状態との排他的論理和の状態を出力する排他的論理和回路と、
前記排他的論理和の状態を読み出すバスインタフェース回路と、
を備える請求項1記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、前記第一の保持部の状態、及び前記第一の帰還部の状態の排他的論理和の状態を直接通知する信号線により構成されている
請求項1記載の故障検出装置。 - 前記第一出力信号の状態と、前記第一の保持部が保持している前記入力信号の状態の次に新たに保持する二番目の入力信号の状態との論理積の状態を保持する第三の保持部と、
前記第三の保持部が出力する第二出力信号の状態を外部に通知する第二の出力端子と、
前記第二の出力端子が前記第二出力信号の状態を通知するタイミングで、前記第二の出力端子が通知する状態を帰還させる第二の帰還部と、
をさらに備え、
前記供給部は、前記第三の保持部の状態、及び前記第二の帰還部の状態をさらに供給する請求項1記載の故障検出装置。 - 前記第二の帰還部は、帰還させる前記状態を保持する第四の保持部を備える
請求項6記載の故障検出装置。 - セルフテスト処理を実行する制御部と、
前記制御部へ前記セルフテスト処理を実行させる第一のタイマと、
をさらに備え、
前記制御部は、実行した前記セルフテスト処理の処理結果を前記第一の保持部へ書き込み、
前記供給部は、前記第一及び第三の保持部の状態、及び、前記第一及び第二の帰還部の状態を、前記制御部が取得できるように構成されている請求項6記載の故障検出装置。 - 前記第一のタイマからの指示に応じて所定の時間内に前記制御部が前記セルフテスト処理を実行していないことを検出すると、エラー例外信号を出力する第二のタイマと、
前記エラー例外信号の状態を外部に通知する第三の出力端子と、
前記第三の出力端子が前記エラー例外信号の状態を通知するタイミングで、前記第三の出力端子が通知する状態を帰還させる第三の帰還部と、
をさらに備え、
前記エラー例外信号が前記制御部へ通知されるように構成され、
前記供給部は、前記第三の帰還部の状態を前記制御部が取得できるように構成されている請求項8記載の故障検出装置。 - 前記第一の帰還部は、帰還させる前記状態を保持する第二の保持部を有し、
前記第二の帰還部は、帰還させる前記状態を保持する第四の保持部を有し、
前記第三の帰還部は、帰還させる前記状態を保持する第五の保持部を有し、
前記供給部は、前記第一乃至第五の保持部それぞれが保持する状態を、前記制御部が読み出し可能に構成されたバスインタフェース回路を有する請求項9記載の故障検出装置。 - 前記第一乃至第三の帰還部は、それぞれが帰還させる状態を伝送する複数の信号線により構成され、
前記供給部は、前記第一及び第三の保持部それぞれが保持する状態と、前記複数の信号線の状態を、前記制御部が読み出し可能に構成されたバスインタフェース回路を有する請求項9記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、
前記第一の保持部の状態と前記第一の帰還部の状態との排他的論理和の状態を出力する第一の排他的論理和回路と、
前記第三の保持部の状態と前記第二の帰還部の状態との排他的論理和の状態を出力する第二の排他的論理和回路と、
前記エラー例外信号の状態と前記第三の帰還部の状態との排他的論理和の状態を出力する第三の排他的論理和回路と、を有し、
前記制御部が、前記第一乃至第三の排他的論理和回路の出力を取得可能に構成されている請求項9記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、前記第一乃至第三の排他的論理和回路の出力を、前記制御部が読み出し可能に構成されたバスインタフェース回路を、
さらに備える請求項12記載の故障検出装置。 - セルフテスト処理を実行する制御部と、
前記制御部へ前記セルフテスト処理を実行させる第一のタイマと、
前記第一のタイマからの指示に応じて所定の時間内に前記制御部が前記セルフテスト処理を実行していないことを検出すると、エラー例外信号を出力する第二のタイマと、
前記エラー例外信号の状態を外部に通知する第三の出力端子と、
前記第三の出力端子が前記エラー例外信号の状態を通知するタイミングで、前記第三の出力端子が通知する状態を帰還させる第三の帰還部と、
をさらに備え、
前記制御部は、実行した前記セルフテスト処理の処理結果を前記第一の保持部へ書き込み、
前記エラー例外信号が前記制御部へ通知されるように構成され、
前記供給部は、前記第一の保持部の状態、及び、前記第一及び第三の帰還部の状態を前記制御部が取得できるように構成されている
請求項1記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、
前記第一の保持部の状態と前記第一の帰還部の状態との排他的論理和の状態を出力する第一の排他的論理和回路と、
前記エラー例外信号の状態と前記第三の帰還部の状態との排他的論理和の状態を出力する第三の排他的論理和回路と、を有し、
前記制御部が、前記第一及び第三の排他的論理和回路の出力を取得可能に構成されている請求項14記載の故障検出装置。 - 前記供給部は、前記第一乃至第三の排他的論理和回路の出力を、前記制御部へ通知する複数の信号線により構成された請求項15記載の故障検出装置。
- 入力信号を取り込む取得部と、
前記入力信号の状態を外部に出力する第一の出力端子と、
前記第一の出力端子が前記入力信号の状態を通知するタイミングで、前記第一の出力端子が通知する状態を帰還させる第一の帰還部と、
前記入力信号の状態、及び前記第一の帰還部の状態を供給する供給部と、
を備える故障検出装置。 - 前記供給部は、前記入力信号の状態、及び前記第一の帰還部の状態の排他的論理和の状態を直接通知する信号線により構成されている請求項17記載の故障検出装置。
- 前記取得部は、前記入力信号の状態を前記第一の出力端子へ直接供給する信号線により構成されている請求項17記載の故障検出装置。
- 入力信号の状態を第一の保持部に保持し、
前記第一の保持部が出力する第一出力信号の状態を第一の出力端子から外部に出力し、
前記第一の出力端子が前記第一出力信号の状態を通知するタイミングで、前記第一の出力端子が通知する状態を帰還させ、
前記第一の保持部の状態、及び帰還させる前記状態を供給する
故障検出方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112379615A (zh) * | 2020-10-27 | 2021-02-19 | 许继集团有限公司 | 对开入回路总线收发器芯片故障进行检测的电路及方法 |
-
2013
- 2013-12-24 JP JP2013265677A patent/JP2015121478A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN112379615A (zh) * | 2020-10-27 | 2021-02-19 | 许继集团有限公司 | 对开入回路总线收发器芯片故障进行检测的电路及方法 |
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