JP2015106657A - Mounting substrate and electronic component mounting body - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子部品が搭載される電子部品搭載領域を備えた実装基板、及び実装基板の電子部品搭載領域に電子部品が実装されている電子部品実装体に関するものである。 The present invention relates to a mounting substrate having an electronic component mounting area on which electronic components are mounted, and an electronic component mounting body in which electronic components are mounted in the electronic component mounting area of the mounting substrate.
半導体チップ等の電子部品の実装方法のひとつとしてフリップチップボンディング方式がある。電子部品がフリップチップ実装された電子部品実装体の検査のひとつに電子部品の実装位置ずれを確認する検査がある。電子部品の実装位置ずれを確認する方法として、シリコンの赤外透過性を利用した赤外線顕微鏡による実装位置ずれ検査方法が既に知られている。 One method for mounting electronic components such as semiconductor chips is a flip chip bonding method. One of inspections of an electronic component mounting body on which electronic components are flip-chip mounted is an inspection for confirming mounting position deviation of the electronic components. As a method for confirming the mounting position shift of an electronic component, a mounting position shift inspection method using an infrared microscope using the infrared transparency of silicon is already known.
しかし、赤外線顕微鏡を用いた検査では、焦点合わせに時間が掛かったり、画像が不鮮明であったりするという問題があった。このような不具合に対して、赤外線以外の方法でフリップチップ実装における実装位置ずれを確認する方法が開示されている(例えば特許文献1から3を参照。)。
However, in the inspection using an infrared microscope, there are problems that it takes time to focus and the image is unclear. For such a problem, a method for confirming a mounting position shift in flip chip mounting by a method other than infrared is disclosed (see, for example,
特許文献1には、フリップチップ実装における実装位置ずれの確認の容易化と歩留り改善を目的として、IC(Integrated Circuit)チップのアライメントマークとICチップの角部を画像取り込みする機構を設けることが開示されている。
特許文献2には、フリップチップ実装における実装位置ずれの確認の容易化を目的として、透明な精度確認用サブストレートなどを用いて実装位置ずれを確認することが開示されている。 Japanese Patent Application Laid-Open No. 2004-228688 discloses that the mounting position deviation is confirmed using a transparent accuracy confirmation substrate or the like for the purpose of facilitating confirmation of the mounting position deviation in flip chip mounting.
特許文献3には、フリップチップ実装における実装位置ずれの確認の容易化を目的として、配線抵抗値の差で実装位置ずれの代用特性とする方法が開示されている。
特許文献1から3に開示されたフリップチップ実装における実装位置ずれの検査方法は赤外線顕微鏡を使用しない。
The mounting position shift inspection method in flip chip mounting disclosed in
しかし、特許文献1に開示された方法では上下カメラ等の冶工具類が新規に必要となるという問題があった。
また、特許文献2に開示された方法では透明な精度確認用サブストレートが必要であり、特許文献3に開示された方法では配線抵抗測定端子が必要であり、部材に制限事項が付くという問題があった。
However, the method disclosed in
In addition, the method disclosed in
このような問題は、フリップチップ実装に限らず、他の方法で電子部品を実装基板に実装したときの実装位置ずれの検査でも生じる。 Such a problem occurs not only in flip-chip mounting but also in a mounting position shift inspection when an electronic component is mounted on a mounting board by another method.
本発明の目的は、電子部品の実装位置ずれを容易に検査できる実装基板を提供することにある。 An object of the present invention is to provide a mounting substrate that can easily inspect a mounting position shift of an electronic component.
本発明に係る実装基板は、電子部品が搭載される電子部品搭載領域を備えた実装基板であって、上記電子部品搭載領域の角部に沿って配置された位置ずれ検出パターンを備え、上記位置ずれ検出パターンは上記電子部品搭載領域の領域外と領域内のそれぞれに配置されることを特徴とするものである。 A mounting board according to the present invention is a mounting board having an electronic component mounting area on which an electronic component is mounted, and includes a displacement detection pattern arranged along a corner of the electronic component mounting area. The deviation detection pattern is arranged outside and inside the electronic component mounting area.
本発明の実装基板は電子部品の実装位置ずれを容易に検査できる。 The mounting board of the present invention can easily inspect the mounting position shift of the electronic component.
本発明の実装基板において、上記位置ずれ検出パターンはL字型である例を挙げることができる。ただし、本発明の実装基板において、位置ずれ検出パターンの配置形状はL字型に限定されるものではない。例えば、1つ位置ずれ検出パターンは複数の位置ずれ検出パターンに分割されていてもよい。 In the mounting board of the present invention, an example in which the positional deviation detection pattern is L-shaped can be given. However, in the mounting board of the present invention, the arrangement shape of the misregistration detection pattern is not limited to the L shape. For example, one misregistration detection pattern may be divided into a plurality of misregistration detection patterns.
本発明の実装基板において、上記電子部品搭載領域の上記領域外の上記位置ずれ検出パターンと上記領域内の上記位置ずれ検出パターンは幅寸法が同じであり、上記領域外の上記位置ずれ検出パターンと上記領域内の上記位置ずれ検出パターンの間隔は上記位置ずれ検出パターンの太さと同じである例を挙げることができる。ただし、本発明の実装基板において、電子部品搭載領域の領域外の位置ずれ検出パターンと領域内の位置ずれ検出パターンは互いに幅寸法が異なっていてもよい。また、電子部品搭載領域の領域外の位置ずれ検出パターンと領域内の位置ずれ検出パターンの間隔は、いずれかの位置ずれ検出パターンの幅寸法と同じであってもよいし、位置ずれ検出パターンの各幅寸法とは異なっていてもよい。 In the mounting substrate of the present invention, the positional deviation detection pattern outside the electronic component mounting area and the positional deviation detection pattern inside the area have the same width dimension, and the positional deviation detection pattern outside the area An example in which the interval between the misregistration detection patterns in the region is the same as the thickness of the misregistration detection pattern can be given. However, in the mounting board of the present invention, the positional displacement detection pattern outside the electronic component mounting region and the positional displacement detection pattern in the region may have different width dimensions. Further, the interval between the positional deviation detection pattern outside the electronic component mounting area and the positional deviation detection pattern within the area may be the same as the width dimension of any of the positional deviation detection patterns. Each width may be different.
本発明の実装基板において、上記位置ずれ検出パターンは上記電子部品搭載領域の角部のうち少なくとも1箇所以上に配置される。より好ましくは、位置ずれ検出パターンは少なくとも電子部品搭載領域の角部のうち対角に位置する2箇所の角部に対して配置されている。より好ましくは、位置ずれ検出パターンは電子部品搭載領域の角部の全部に対して配置されている。 In the mounting board of the present invention, the misregistration detection pattern is disposed at least at one or more of the corners of the electronic component mounting area. More preferably, the misregistration detection pattern is arranged at least at two corners located diagonally among the corners of the electronic component mounting area. More preferably, the misregistration detection pattern is arranged for all of the corners of the electronic component mounting area.
本発明の実装基板において、上記電子部品は半導体チップである例を挙げることができる。ただし、本発明の実装基板において、電子部品は半導体チップに限定されず、他の電子部品であってもよい。 In the mounting substrate of the present invention, an example in which the electronic component is a semiconductor chip can be given. However, in the mounting substrate of the present invention, the electronic component is not limited to the semiconductor chip, and may be another electronic component.
本発明に係る電子部品実装体は、本発明の実装基板の上記電子部品搭載領域に電子部品が搭載されていることを特徴とするものである。 The electronic component mounting body according to the present invention is characterized in that an electronic component is mounted in the electronic component mounting region of the mounting substrate of the present invention.
本発明の電子部品実装体において、上記電子部品はフリップチップ実装によって上記電子部品搭載領域に搭載されている例を挙げることができる。ただし、本発明の電子部品実装体において、電子部品はフリップチップ実装とは異なる方法で電子部品搭載領域に実装されていてもよい。 In the electronic component mounting body of the present invention, an example in which the electronic component is mounted in the electronic component mounting region by flip chip mounting can be given. However, in the electronic component mounting body of the present invention, the electronic component may be mounted in the electronic component mounting region by a method different from the flip chip mounting.
本発明の実施の形態を説明する。本発明は、電子部品の実装後における実装位置ずれの確認に際して、以下の特徴を有する。要するに、本発明の実装基板は、電子部品搭載領域の角部に位置ずれ検出パターンを備えているので、赤外線顕微鏡等の新規な冶工具類を必要とすることなく、ICと基板の位置ずれを検出することができることが特徴になっている。 An embodiment of the present invention will be described. The present invention has the following characteristics when confirming a mounting position shift after mounting an electronic component. In short, since the mounting board of the present invention has a misalignment detection pattern at the corner of the electronic component mounting area, the misalignment between the IC and the board can be achieved without the need for a new tool such as an infrared microscope. The feature is that it can be detected.
図1は、実装基板の一実施例を説明するための概略的な平面図である。図2は、この実施例の実装基板における電子部品搭載領域の1つの角部の近傍を拡大して示した概略的な平面図である。 FIG. 1 is a schematic plan view for explaining one embodiment of a mounting board. FIG. 2 is a schematic plan view showing an enlarged vicinity of one corner of the electronic component mounting area on the mounting board of this embodiment.
実装基板1は、電子部品が搭載される電子部品搭載領域3を備えている。電子部品搭載領域3の平面形状は、搭載される電子部品と同一であり、例えば矩形である。電子部品搭載領域3の大きさは、搭載される電子部品の平面サイズと同じであり、例えば5×15mm(ミリメートル)である。ただし、本発明の実装基板において、電子部品搭載領域の大きさ及び電子部品はこの実施例に限定されるものではない。
The
電子部品搭載領域3の領域内に、搭載される電子部品の外部接続端子に対応して電極パッド5が配置されている。電極パッド5は、例えば実装基板1の基材の表面に形成された金属材料パターンによって形成されている。図示は省略されているが、実装基板1の基材の表面には電極パッド5と電気的に接続された配線パターンも形成されている。
In the area of the electronic
電子部品搭載領域3の角部に沿って位置ずれ検出パターン7が形成されている。位置ずれ検出パターン7は電子部品搭載領域3の4つの角部ごとに配置されている。各位置ずれ検出パターン7はそれぞれ3つの位置ずれ検出パターン7a,7b,7cを備えている。
A
位置ずれ検出パターン7a,7b,7cの平面形状は例えばL字型である。各位置ずれ検出パターン7において、位置ずれ検出パターン7a,7b,7cは電子部品搭載領域3の中央側から位置ずれ検出パターン7a、位置ずれ検出パターン7b、位置ずれ検出パターン7cの順に配置されている。
The planar shape of the
位置ずれ検出パターン7a,7b,7cは例えば同じ幅寸法で形成されている。位置ずれ検出パターン7a,7b,7cの幅寸法は例えば5μm(マイクロメートル)である。位置ずれ検出パターン7aと位置ずれ検出パターン7bの間隔及び位置ずれ検出パターン7bと位置ずれ検出パターン7cの間隔は、例えば位置ずれ検出パターン7a,7b,7cの幅寸法と同じであり、ここでは5μmである。
The positional
各位置ずれ検出パターン7において、位置ずれ検出パターン7aは電子部品搭載領域3の領域内に配置されている。位置ずれ検出パターン7aは電子部品搭載領域3の境界とは5μmの間隔をもって配置されている。
In each
位置ずれ検出パターン7bは電子部品搭載領域3の領域外に配置されている。位置ずれ検出パターン7bは電子部品搭載領域3の境界に隣接して配置されている。
The
位置ずれ検出パターン7cは電子部品搭載領域3の領域外に配置されている。位置ずれ検出パターン7bは位置ずれ検出パターン7aに対して電子部品搭載領域3とは反対側の位置に配置されている。位置ずれ検出パターン7bは位置ずれ検出パターン7aとは5μmの間隔をもって配置されている。
The
位置ずれ検出パターン7の各位置ずれ検出パターン7a,7b,7cは、例えば金属材料又は絶縁材料によって形成されている。例えば、位置ずれ検出パターン7a,7b,7cは、実装基板1の基材の表面に配置されており、電極パッド5や配線パターンと同じ金属材料で同時に形成されたものである。金属材料は例えばCu(銅)やAl(アルミニウム)である。
The
実装基板1の基材の表面に保護用絶縁膜として機能するソルダーレジスト(図示は省略)が形成されている。実装基板1の基材の表面に形成された位置ずれ検出パターン7及び配線パターン等はソルダーレジストで覆われている。電極パッド5の中央部の上のソルダーレジストは除去されている。なお、位置ずれ検出パターン7の上のソルダーレジストが除去されて位置ずれ検出パターン7が露出している構造であってもよい。
A solder resist (not shown) that functions as a protective insulating film is formed on the surface of the base material of the mounting
なお、本発明の実装基板において、位置ずれ検出パターンの構造は位置ずれ検出パターン7a,7b,7cの構造に限定されない。
例えば、位置ずれ検出パターンは、電極パッドや配線パターンとは別々の工程で金属材料によって形成されたものであってもよい。なお、位置ずれ検出パターンを形成するための金属材料はCuやAlに限定されず、他の金属材料であってもよい。
また、位置ずれ検出パターンは、電極パッドや配線パターンが形成されている層とは異なる層、例えば保護用絶縁膜の表面に形成されているようにしてもよい。
In the mounting board of the present invention, the structure of the misregistration detection pattern is not limited to the structure of the
For example, the misregistration detection pattern may be formed of a metal material in a separate process from the electrode pad and the wiring pattern. Note that the metal material for forming the misregistration detection pattern is not limited to Cu or Al, and may be another metal material.
The misregistration detection pattern may be formed on a layer different from the layer on which the electrode pad and the wiring pattern are formed, for example, on the surface of the protective insulating film.
また、位置ずれ検出パターンは絶縁材料によって形成されていてもよい。例えば、位置ずれ検出パターンはソルダーレジスト等の保護用絶縁膜と同じ材料によって形成されていてもよい。例えば、位置ずれ検出パターンは、位置ずれ検出パターンの周囲の保護用絶縁膜に凹部が形成されて、又は位置ずれ検出パターンの周囲の保護用絶縁膜が除去されて、保護用絶縁膜材料で形成されている構成を挙げることができる。また、位置ずれ検出パターンは、保護用絶縁膜の下層の凸形状又は凹形状に起因して保護用絶縁膜の表面に形成された凸形状又は凹形状によって形成されているようにしてもよい。 The misregistration detection pattern may be formed of an insulating material. For example, the misregistration detection pattern may be formed of the same material as the protective insulating film such as a solder resist. For example, the misregistration detection pattern is formed of a protective insulating film material in which a recess is formed in the protective insulating film around the misregistration detection pattern or the protective insulating film around the misregistration detection pattern is removed. The structure currently made can be mentioned. The misregistration detection pattern may be formed by a convex shape or a concave shape formed on the surface of the protective insulating film due to the convex shape or concave shape of the lower layer of the protective insulating film.
また、位置ずれ検出パターンは、保護用絶縁膜とは別途形成された絶縁材料パターン、例えばシルク印刷によって保護用絶縁膜の表面に形成された絶縁材料パターンで形成されているようにしてもよい。
このように、本発明の実装基板において、位置ずれ検出パターンの材料や、位置ずれ検出パターンが形成される層は、特に限定されない。
The misregistration detection pattern may be formed of an insulating material pattern formed separately from the protective insulating film, for example, an insulating material pattern formed on the surface of the protective insulating film by silk printing.
Thus, in the mounting substrate of the present invention, the material of the misalignment detection pattern and the layer on which the misalignment detection pattern is formed are not particularly limited.
図3は、電子部品の一例を説明するための概略的な裏面図である。
電子部品9は例えばフリップチップ実装型の半導体チップである。電子部品9は裏面に外部接続端子9aを備えている。外部接続端子9aは例えば半田バンプである。
FIG. 3 is a schematic back view for explaining an example of the electronic component.
The
図4は、電子部品実装体の一実施例を説明するための概略的な平面図である。図5は、この実施例の電子部品実装体の概略的な斜視図である。図6は、この実施例の実装基板における電子部品搭載領域の1つの角部の近傍を拡大して示した概略的な平面図である。 FIG. 4 is a schematic plan view for explaining one embodiment of the electronic component mounting body. FIG. 5 is a schematic perspective view of the electronic component mounting body of this embodiment. FIG. 6 is a schematic plan view showing, in an enlarged manner, the vicinity of one corner of the electronic component mounting region on the mounting board of this embodiment.
電子部品実装体11は、図1及び図2を参照して説明した実装基板1に電子部品9が搭載されたものである。電子部品9は図3を参照して説明したものと同じである。電子部品9は外部接続端子9aが配置されている面を実装基板1側に向けて実装基板1に搭載されている。
The electronic
電子部品9の外部接続端子9aは、実装基板1の電極パッド5に接続されている。外部接続端子9aと電極パッド5の接続はフリップチップ実装技術によって実施されたものである。
The
電子部品9は、実装基板1の電子部品搭載領域3に位置合せして実装基板1に実装される。しかし、図6に示されるように、電子部品9の実装位置が電子部品搭載領域3に対してずれることがある。
The
実装基板1には位置ずれ検出パターン7が配置されている。電子部品搭載領域3の角部を観察することにより、電子部品9の実装位置ずれを容易に検出することができる。電子部品搭載領域3の角部を観察は、赤外線顕微鏡等の特殊な装置を必要とせず、例えば、通常の光学的な汎用検査機によって行うことができる。ここで、通常の光学的な汎用検査機は例えばオムロン社の基板外観検査装置などである。
A
上述のように、赤外線顕微鏡を用いた検査は焦点合わせに時間が掛かる。これに対し、電子部品実装体11に対する電子部品搭載領域3の角部の観察は赤外線顕微鏡を必要としないので、実装基板1及び電子部品実装体11は、電子部品9の実装後の検査時間を短縮することができる。
As described above, the inspection using the infrared microscope takes time for focusing. On the other hand, since the observation of the corner of the electronic
電子部品9が電子部品搭載領域3に対して正確に実装されている場合、位置ずれ検出パターン7の位置ずれ検出パターン7bの電子部品搭載領域3に隣接する辺(X方向0点及びY方向0点)と電子部品9の輪郭は一致する。この場合、電子部品9の実装位置ずれ量は0となる。
When the
図6に示された実装状態では、電子部品9はX方向(紙面左右方向)及びY方向(紙面上下方向)で位置ずれ検出パターン7の位置ずれ検出パターン7bと重なっている。X方向において、電子部品9の角部の輪郭は位置ずれ検出パターン7bと位置ずれ検出パターン7cの間に位置している。Y方向において、電子部品9の角部の輪郭は位置ずれ検出パターン7bと重なっている。したがって、電子部品9の実装位置ずれ量は、X方向で−5〜−10μmのずれ、Y方向で+5μm以内のずれとなる。
In the mounted state shown in FIG. 6, the
さらに、複数の角部について位置ずれ検出パターン7を用いて電子部品9の実装位置のずれ量を観察することにより、電子部品9の実装位置が電子部品搭載領域3に対してどの程度回転しているのかを検査することもできる。
Further, by observing the amount of displacement of the mounting position of the
図7は、実装基板の他の実施例を説明するための概略的な平面図である。図7において、図1及び図2と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。 FIG. 7 is a schematic plan view for explaining another embodiment of the mounting board. In FIG. 7, parts having the same functions as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.
この実施例の実装基板1では、位置ずれ検出パターン7は、電子部品搭載領域3の対角に位置する2箇所の角部に配置されている。電子部品搭載領域3の4箇所の角部のうち少なくとも2箇所の角部に対して位置ずれ検出パターン7がそれぞれ配置されているようにすれば、搭載された電子部品の実装位置が電子部品搭載領域3に対してどの程度回転しているのかを検査できる。
In the mounting
なお、位置ずれ検出パターン7は、電子部品搭載領域3の4箇所の角部のうち、一箇所の角部に対して配置されていてもよいし、隣り合う2箇所の角部に対して配置されていてもよいし、3箇所の角部に対して配置されていてもよい。
The
図8は、実装基板のさらに他の実施例を説明するための、実装基板における電子部品搭載領域の1つの角部の近傍を拡大して示した概略的な平面図である。図8において、図1及び図2と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付されている。 FIG. 8 is a schematic plan view showing, in an enlarged manner, the vicinity of one corner of the electronic component mounting region on the mounting board for explaining still another embodiment of the mounting board. 8, parts having the same functions as those in FIGS. 1 and 2 are denoted by the same reference numerals.
この実施例の実装基板1では、位置ずれ検出パターン7は、電子部品搭載領域3の角部に沿って配置された位置ずれ検出パターン7a−1,7a−2の組と位置ずれ検出パターン7b−1,7b−2の組を備えている。
In the mounting
位置ずれ検出パターン7a−1,7a−2は電子部品搭載領域3の領域内に配置されている。位置ずれ検出パターン7a−1はX方向で電子部品搭載領域3の境界に隣接して配置されている。位置ずれ検出パターン7a−2はY方向で電子部品搭載領域3の境界に隣接して配置されている。
The
位置ずれ検出パターン7b−1,7b−2は電子部品搭載領域3の領域外に配置されている。位置ずれ検出パターン7b−1は電子部品搭載領域3のY方向と平行な電子部品搭載領域3の辺に対向して電子部品搭載領域3とは例えば5μmの間隔をもって配置されている。位置ずれ検出パターン7a−2はX方向と平行な電子部品搭載領域3の辺に対向して電子部品搭載領域3とは例えば5μmの間隔をもって配置されている。
The
位置ずれ検出パターン7a−1,7b−1の幅寸法(X方向の寸法)は例えば5μmである。位置ずれ検出パターン7a−2,7b−2の幅寸法(Y方向の寸法)は例えば5μmである。位置ずれ検出パターン7a−1と位置ずれ検出パターン7b−1の間隔及び位置ずれ検出パターン7a−2と位置ずれ検出パターン7b−2の間隔は例えば5μmである。
The width dimension (dimension in the X direction) of the
この実施例の実装基板1に電子部品が実装された電子部品実装体は、図4から図6を参照して説明した電子部品実装体11と同様に、電子部品の搭載位置ずれを容易に検査できる。このように、位置ずれ検出パターン7a−1,7a−2,7b−1,7b−2の形状は四角形であってもよい。なお、本発明において、位置ずれ検出パターンの平面形状は特に限定されない。
The electronic component mounting body in which the electronic component is mounted on the mounting
なお、「電子部品搭載領域の角部に沿って配置された位置ずれ検出パターン」とは、電子部品搭載領域の角部の2辺に対向する位置にそれぞれ位置ずれ検出パターンが配置されていることを意味する。例えば、図1に示された位置ずれ検出パターン7a,7b,7cのように、位置ずれ検出パターンは電子部品搭載領域の角部の2辺に対向する位置で連続して配置されていてもよい。また、図8に示された位置ずれ検出パターン7a−1,7a−2の組及び位置ずれ検出パターン7b−1,7b−2の組のように、位置ずれ検出パターンは電子部品搭載領域の角部の2辺に対向する位置に対して分割して配置されていてもよい。また、1つの位置ずれ検出パターンは、電子部品搭載領域の角部の2辺に対向する位置で連続して配置された位置ずれ検出パターンと、電子部品搭載領域の角部の2辺に対向する位置に対して分割して配置された位置ずれ検出パターンの組合せであってもよい。
Note that “the positional deviation detection pattern arranged along the corner of the electronic component mounting area” means that the positional deviation detection pattern is arranged at a position facing two sides of the corner of the electronic component mounting area. Means. For example, like the
以上、本発明の実施例を説明したが、上記実施例での数値、材料、配置、個数等は一例であり、本発明はこれらに限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内で種々の変更が可能である。 As mentioned above, although the Example of this invention was described, the numerical value, material, arrangement | positioning, number, etc. in the said Example are examples, This invention is not limited to these, It was described in the claim Various modifications are possible within the scope of the present invention.
例えば、上記実施例では電子部品9はフリップチップ実装型の半導体チップであるが、本発明において、電子部品はフリップチップ実装型の半導体チップに限定されない。本発明において、電子部品は、フリップチップ実装型以外の表面実装型の半導体チップ、例えばQFP(Quad Flat Package)などのアウトリードを備えた半導体チップであってもよい。また、電子部品は、半導体チップ以外の電子部品、例えば抵抗素子などであってもよい。
For example, in the above embodiment, the
また、上記実施例では、実装基板1において、いずれかの位置ずれ検出パターンが電子部品搭載領域に隣接しているが、本発明の実装基板はこれに限定されない。本発明の実装基板は、いずれの位置ずれ検出パターンも電子部品搭載領域に隣接していない構成であってもよい。
Moreover, in the said Example, although any position shift detection pattern is adjacent to an electronic component mounting area | region in the mounting board |
また、上記実施例では、電子部品搭載領域3の角部は直角であるが、本発明の実装基板はこれに限定されない。本発明の実装基板において、電子部品搭載領域の角部は、搭載される電子部品の平面形状に合わせて、丸みを帯びていてもよいし、直角以外の角度で形成されていてもよい。
Moreover, in the said Example, although the corner | angular part of the electronic
また、上記実施例では、電子部品搭載領域3の平面形状は矩形であるが、本発明の実装基板はこれに限定されない。本発明の実装基板において、電子部品搭載領域の平面形状は、搭載される電子部品の形状に合わせた形状であればよく、例えば、矩形以外の四角形であってもよいし、四角形以外の多角形であってもよい。
Moreover, in the said Example, although the planar shape of the electronic
また、電子部品搭載領域の1つの角部に対して配置される位置ずれ検出パターンの個数は、電子部品搭載領域の領域外と領域内のそれぞれに配置されていれば特に限定されない。 In addition, the number of misregistration detection patterns arranged for one corner of the electronic component mounting area is not particularly limited as long as it is arranged outside and inside the electronic component mounting area.
例えば、図1に示された実施例では、電子部品搭載領域3の1つの角部に対して電子部品搭載領域3の領域外に2つの位置ずれ検出パターン7b,7cが配置されている。本発明の実装基板において、電子部品搭載領域の1つの角部に対して電子部品搭載領域の領域外に配置される位置ずれ検出パターンの個数は1つであってもよいし、3つ以上であってもよい。
For example, in the embodiment shown in FIG. 1, two
また、図1に示された実施例では、電子部品搭載領域3の1つの角部に対して電子部品搭載領域3の領域内に1つの位置ずれ検出パターン7aが配置されている。本発明の実装基板において、電子部品搭載領域の1つの角部に対して電子部品搭載領域の領域内に配置される位置ずれ検出パターンの個数は2つ以上であってもよい。
In the embodiment shown in FIG. 1, one
1 実装基板
3 電子部品搭載領域
5 電極パッド
7,7a,7b,7c 位置ずれ検出パターン
7a−1,7a−2,7b−1,7b−2 位置ずれ検出パターン
9 電子部品
11 電子部品実装体。
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記電子部品搭載領域の角部に沿って配置された位置ずれ検出パターンを備え、
前記位置ずれ検出パターンは前記電子部品搭載領域の領域外と領域内のそれぞれに配置されることを特徴とする実装基板。 In a mounting board with an electronic component mounting area on which electronic components are mounted,
A misalignment detection pattern arranged along a corner of the electronic component mounting area,
The mounting substrate, wherein the displacement detection pattern is arranged outside and inside the electronic component mounting area.
前記領域外の前記位置ずれ検出パターンと前記領域内の前記位置ずれ検出パターンの間隔は前記位置ずれ検出パターンの太さと同じであることを特徴とする請求項1又は2に記載の実装基板。 The positional displacement detection pattern outside the electronic component mounting region and the positional displacement detection pattern within the region have the same width dimension,
3. The mounting board according to claim 1, wherein an interval between the misregistration detection pattern outside the region and the misregistration detection pattern within the region is the same as a thickness of the misregistration detection pattern.
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KR20170037457A (en) * | 2015-09-25 | 2017-04-04 | 삼성전자주식회사 | Printed Circuit Board |
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2013
- 2013-11-29 JP JP2013248416A patent/JP2015106657A/en active Pending
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