JP2015082542A - Roller mold blank - Google Patents

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JP2015082542A JP2013218873A JP2013218873A JP2015082542A JP 2015082542 A JP2015082542 A JP 2015082542A JP 2013218873 A JP2013218873 A JP 2013218873A JP 2013218873 A JP2013218873 A JP 2013218873A JP 2015082542 A JP2015082542 A JP 2015082542A
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栄 中塚
Sakae Nakatsuka
栄 中塚
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a roller mold blank in which a fine concavo-convex pattern can be formed while suppressing influences of reflected light in exposure for forming the fine concavo-convex pattern.SOLUTION: A roller mold blank 1 includes a rotating body 2 rotatable around a rotation axis O, a patterning layer 3 disposed on an outer periphery of the rotating body 2 along a direction of the rotation axis O, a resist layer 4 disposed on the patterning layer 3, and a light-absorbing layer 5 that absorbs reflected light induced when the resist layer 4 is exposed. The light-absorbing layer 5 is composed of at least a first light-absorbing layer 5a and a second light-absorbing layer 5b, separated from each other. The first light-absorbing layer 5a is disposed between the rotating body 2 and the patterning layer 3 so as to absorb reflected light generated from the rotating body 2; and the second light-absorbing layer 5b is disposed between the patterning layer 3 and the resist layer 4 so as to absorb reflected light generated from the patterning layer 3.

Description

本発明はローラーモールドブランクに関し、特に凹凸パターンを有するローラーモールドを作製するためのローラーモールドブランクに関する。   The present invention relates to a roller mold blank, and more particularly to a roller mold blank for producing a roller mold having an uneven pattern.

近年、凹凸パターンが形成されたモールドを用いて、被転写体に凹凸パターンを判子のように転写する方法であるインプリント技術に注目が集まっている。このインプリント技術により、ナノオーダーの微細構造を安価に再現性良くしかも大量に作製できる。   In recent years, attention has been focused on an imprint technique, which is a method for transferring a concavo-convex pattern onto a transfer medium like a stamp using a mold having a concavo-convex pattern formed thereon. By this imprint technique, nano-order microstructures can be produced in large quantities at low cost with good reproducibility.

インプリント技術としては、いくつかの方式が知られている。例えば、モールドと被転写体とを一度にプレスする一括転写方式や、平板モールドを使用して上記のインプリント法を繰り返し行って最終的に大面積の基板に凹凸パターンを転写するステップ&リピート方式などが挙げられる。   Several methods are known as imprint techniques. For example, a batch transfer method that presses the mold and the transfer object at once, or a step-and-repeat method that repeats the above imprint method using a flat plate mold and finally transfers the uneven pattern to a large area substrate Etc.

その一方で、ローラー表面にあらかじめ凹凸パターンを設けたローラーをモールドとして用い、このローラーで被転写体を加熱しながらローラーに荷重を加え、そしてこのローラーを回転させ、ローラー表面のパターンを被転写体に順次転写するローラーモールド方式がある(例えば本出願人による特許文献1ないし3参照)。   On the other hand, using a roller with a concavo-convex pattern in advance on the roller surface as a mold, applying a load to the roller while heating the transfer object with this roller, and rotating this roller, the pattern on the roller surface is transferred to the transfer object There is a roller mold method for transferring images sequentially (for example, see Patent Documents 1 to 3 by the present applicant).

この方式だと、ローラーの繰り返し回転によって切れ目なく連続して被転写体にパターン転写することができる。そのためこの方法は、長さが数m以上もあるような被転写体へのパターン転写に対して有効な方法である。   With this method, the pattern can be transferred onto the transfer target continuously by the repeated rotation of the roller. Therefore, this method is an effective method for pattern transfer to a transfer target having a length of several meters or more.

ただ、ローラーモールド方式だと、ローラーモールドの基となる回転体として、金属材料(例えばステンレス鋼)を使用することが非常に多い。そのため、ローラーモールドにおける凹凸パターンを形成すべくレジストを露光する際、レジストを透過した光が回転体によって反射してしまうことが知られている(特許文献4の[0040]参照)。   However, in the case of the roller mold method, a metal material (for example, stainless steel) is often used as a rotating body that is the basis of the roller mold. For this reason, it is known that when a resist is exposed to form a concavo-convex pattern in a roller mold, light transmitted through the resist is reflected by a rotating body (see [0040] of Patent Document 4).

そうなると、入射光と反射光とが互いに干渉することになり、露光特性が変動し、微細なパターンを正確に形成できなくなる(特許文献4の[0041]参照)。その課題を解決すべく、特許文献4では、回転体の外周面上に形成された表面層を、屈折率を所定の範囲とした上で消衰係数が所定の値以下とした技術が開示されている(特許文献4の[0047]参照)。また、回転体と表面層との間に光吸収層を設けることも開示されている(特許文献4の[0059]参照)。   In this case, incident light and reflected light interfere with each other, the exposure characteristics fluctuate, and a fine pattern cannot be formed accurately (see [0041] in Patent Document 4). In order to solve the problem, Patent Document 4 discloses a technique in which the surface layer formed on the outer peripheral surface of the rotating body has a refractive index within a predetermined range and an extinction coefficient of a predetermined value or less. (Refer to [0047] of Patent Document 4). It is also disclosed that a light absorption layer is provided between the rotating body and the surface layer (see [0059] of Patent Document 4).

WO2011/093356号公報WO2011 / 093356 WO2011/093357号公報WO2011 / 093357 Publication 特開2013−35243号公報JP2013-35243A WO2010/140648号公報WO2010 / 140648

上記の特許文献4に記載の技術を本発明者が検討した結果、新たに以下の課題が明らかになった。   As a result of the study of the technique described in Patent Document 4 above, the following problems have been newly clarified.

その課題とは、回転体と表面層との間に光吸収層を設けたとしても、依然として露光特性の変動が生じていたことである。つまり、依然として入射光と反射光との干渉が生じており、微細な凹凸パターン形成の妨げとなっていることが、本発明者の検討により明らかとなった。   The problem is that even if a light absorption layer is provided between the rotating body and the surface layer, the exposure characteristics still vary. That is, it has been clarified by the study of the present inventor that interference between incident light and reflected light still occurs and hinders formation of a fine uneven pattern.

本発明の目的は、凹凸パターンを形成するための露光の際、反射光による影響を抑制し、微細な凹凸パターンをローラーモールドに形成可能なローラーモールドブランクを提供することにある。   An object of the present invention is to provide a roller mold blank capable of suppressing the influence of reflected light during exposure for forming a concavo-convex pattern and forming a fine concavo-convex pattern on a roller mold.

上記の課題について、本発明者は鋭意検討を加えた。その結果、反射光は、ローラーモールドの基となる回転体から生じるのみならず、凹凸パターンが形成されるパターニング層の存在によって形成される新たな境界面からも反射光を生じ、更に言うと、この反射光の影響はパターンの微細化に伴って無視できなくなる事が、本発明者の調べにより明らかとなった。   About this subject, this inventor added earnest examination. As a result, the reflected light is generated not only from the rotating body that is the basis of the roller mold, but also from a new boundary surface formed by the presence of the patterning layer on which the concavo-convex pattern is formed. It has been clarified by the present inventors that the influence of this reflected light cannot be ignored as the pattern becomes finer.

上記の知見に基づき、本発明者は、パターニング層からの反射光による影響を抑制する手段について検討を加えた。はじめは、回転体の上に光吸収層を設けるのではなく、パターニング層の上に光吸収層を設け、そして光吸収層の上にレジスト層を設けるという手法について検討した。こうすると、回転体からの反射光、およびパターニング層からの反射光を、パターニング層の上の光吸収層において一挙に吸収できると考えた。   Based on the above findings, the present inventor has studied a means for suppressing the influence of reflected light from the patterning layer. At first, a technique was considered in which a light absorption layer was provided on a patterning layer and a resist layer was provided on the light absorption layer, instead of providing a light absorption layer on the rotating body. In this way, it was considered that the reflected light from the rotating body and the reflected light from the patterning layer could be absorbed at once by the light absorption layer on the patterning layer.

上記の思想を実現するとなると、反射光の抑制のためには、より大きな膜厚を有する光吸収層を設けることが望まれる。反面、現状において要求されるパターン線幅やピッチ、そして1〜3程度と高い凹凸のアスペクト比(高さ/幅)が要求されることを考慮すると、パターニング層の上に設ける光吸収層は極力薄い膜厚とすることが好ましい。パターニング層に対して凹凸パターンを形成するためには、その上に存在する光吸収層にも凹凸を形成しなければならない。その際、光吸収層が厚いと、光吸収層に凹凸パターンを形成した段階でパターン倒れが生じてしまうおそれがある。そうなると、本来はパターン形成とは関係ない構成によって、歩留りが低下してしまうことになる。そのためにも、光吸収層は極力薄い膜厚として、プロセスマージンを少しでも稼ぐ事が必要となる。   When the above idea is realized, it is desired to provide a light absorption layer having a larger film thickness in order to suppress reflected light. On the other hand, considering the pattern line width and pitch required at present, and the aspect ratio (height / width) as high as 1 to 3, the light absorption layer provided on the patterning layer is as much as possible. A thin film thickness is preferable. In order to form a concavo-convex pattern on the patterning layer, the concavo-convex pattern must also be formed on the light absorption layer present thereon. At this time, if the light absorption layer is thick, pattern collapse may occur at the stage where the uneven pattern is formed on the light absorption layer. In this case, the yield is lowered due to a configuration that is not originally related to pattern formation. For this purpose, it is necessary to make the light absorption layer as thin as possible and to obtain a process margin as much as possible.

要求される凹凸パターンのピッチが特に300〜500nm程度くらい微細なものとなると、このトレードオフの関係は顕在化し始める。ここで、反射光を制御するためには、好ましくは150nm程度以上の膜厚が必要とされる。しかし、現状において所望の形状を形成する場合、上述のように、レジストパターンを用い、所定の凹凸パターンを厚い光吸収層に転写し、その後にパターニング層にパターン形成する事は、極めて困難ないし不可能となっている。   When the required pitch of the uneven pattern becomes as fine as about 300 to 500 nm, this trade-off relationship starts to become apparent. Here, in order to control the reflected light, a film thickness of preferably about 150 nm or more is required. However, when forming a desired shape at present, it is extremely difficult or impossible to use a resist pattern as described above, transfer a predetermined uneven pattern to a thick light absorption layer, and then form a pattern on the patterning layer. It is possible.

以上、「パターニング層からの反射光」および「光吸収層の厚み」に関する課題を解決すべく、本発明者は、回転体の上に形成していた光吸収層を、少なくとも第1の光吸収層および第2の光吸収層により分けて構成するという新たな手法を想到した。そして、分けて構成されたことにより比較的薄くなった各光吸収層により、回転体からの反射光、およびパターニング層等の別境界面からの反射光を、各々分けられた光吸収層により役割分担して吸収するという画期的な手法を想到した。   As described above, in order to solve the problems relating to “reflected light from the patterning layer” and “thickness of the light absorption layer”, the present inventor uses at least the first light absorption layer as the light absorption layer formed on the rotating body. A new technique has been conceived in which the layer and the second light absorption layer are separated. And by each light absorption layer which became comparatively thin by being constituted separately, the reflected light from the rotating body and the reflected light from another boundary surface such as the patterning layer play a role by each divided light absorption layer. We have come up with an innovative method of sharing and absorbing.

この知見に基づいて成された本発明の態様は、以下の通りである。
本発明の第1の態様は、
回転軸に沿って回転自在なローラーモールドの基となる回転体と、
前記回転体において回転軸方向に沿う外周部の上に設けられる層であって、前記ローラーモールドが有する凹凸パターンの基となるパターニング層と、
前記パターニング層の上に設けられるレジスト層と、
前記凹凸パターンに対応する露光を前記レジスト層に対して行う際に生じる反射光を吸収する光吸収層と、
を有するローラーモールドブランクであって、
前記光吸収層は、少なくとも第1の光吸収層および第2の光吸収層により分かれて構成されており、
前記第1の光吸収層は、前記回転体から生じる反射光を吸収すべく、前記回転体と前記パターニング層との間に設けられ、
前記第2の光吸収層は、前記パターニング層から生じる反射光を吸収すべく、前記パターニング層と前記レジスト層との間に設けられている、ローラーモールドブランクである。
本発明の第2の態様は、第1の態様に記載の態様であって、
前記第1の光吸収層の厚さは30nm以上とし、前記第2の光吸収層の厚さは100nm以下とする。
本発明の第3の態様は、第1または第2の態様に記載の態様であって、
前記第1の光吸収層および前記第2の光吸収層は炭化窒素により構成されている。
本発明の第4の態様は、第1ないし3のいずれかに記載の態様であって、
前記パターニング層はポリシラザンにより構成されている。
本発明の第5の態様は、第1ないし4のいずれかに記載の態様であって、
前記回転体はステンレス鋼または石英により構成されている。
The embodiment of the present invention based on this finding is as follows.
The first aspect of the present invention is:
A rotating body that is a base of a roller mold that is rotatable along a rotation axis;
A layer provided on the outer peripheral portion along the rotation axis direction in the rotating body, the patterning layer serving as a basis for the uneven pattern of the roller mold,
A resist layer provided on the patterning layer;
A light-absorbing layer that absorbs reflected light generated when exposure corresponding to the concavo-convex pattern is performed on the resist layer;
A roller mold blank having
The light absorption layer is composed of at least a first light absorption layer and a second light absorption layer,
The first light absorption layer is provided between the rotating body and the patterning layer to absorb reflected light generated from the rotating body,
The second light absorption layer is a roller mold blank provided between the patterning layer and the resist layer so as to absorb reflected light generated from the patterning layer.
A second aspect of the present invention is the aspect described in the first aspect,
The thickness of the first light absorption layer is 30 nm or more, and the thickness of the second light absorption layer is 100 nm or less.
A third aspect of the present invention is the aspect described in the first or second aspect,
The first light absorption layer and the second light absorption layer are made of nitrogen carbide.
A fourth aspect of the present invention is the aspect according to any one of the first to third aspects,
The patterning layer is made of polysilazane.
A fifth aspect of the present invention is the aspect according to any one of the first to fourth aspects,
The rotating body is made of stainless steel or quartz.

本発明によれば、凹凸パターンを形成するための露光の際、反射光による影響を抑制し、微細な凹凸パターンをローラーモールドに形成可能なローラーモールドブランクを提供できる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the influence by reflected light can be suppressed in the exposure for forming an uneven | corrugated pattern, and the roller mold blank which can form a fine uneven | corrugated pattern in a roller mold can be provided.

本実施形態におけるローラーモールドの概略図であり、(a)はローラーモールド101の斜視図、(b)は(a)のA−A’部分の断面図、(c)は(a)のB−B’部分の断面図である。It is the schematic of the roller mold in this embodiment, (a) is a perspective view of the roller mold 101, (b) is sectional drawing of the AA 'part of (a), (c) is B- of (a). It is sectional drawing of a B 'part. 本実施形態におけるローラーモールドブランクの断面概略図である。It is a section schematic diagram of a roller mold blank in this embodiment. 本実施形態におけるローラーモールドの製造方法を示す断面概略図である。It is a cross-sectional schematic diagram which shows the manufacturing method of the roller mold in this embodiment.

以下、本発明の実施の形態について図面を参照しつつ詳細に説明する。
本実施形態においては、次の順序で説明を行う。
1.ローラーモールドの概要
2.ローラーモールドブランクの構成
2−A)回転体
2−B)第1の光吸収層
2−C)パターニング層
2−D)第2の光吸収層
2−E)レジスト層
2−F)その他(反射防止層、付着強化層および弾性層)
3.ローラーモールドの製造方法
3−A)ローラーモールドブランクの準備
3−B)露光工程
3−C)現像工程
3−D)パターニング層に対する凹凸パターン形成工程
3−E)洗浄・乾燥工程
4.実施の形態による効果
5.変形例等
なお、以下に記載が無い構成については、公知の構成(例えば本出願人による特許文献1〜3に記載の構成)を適宜採用しても構わない。特許文献1〜3に記載の内容であって本実施形態に関する内容については、本明細書に記載されているものとする。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
In the present embodiment, description will be given in the following order.
1. 1. Outline of roller mold Composition of roller mold blank
2-A) Rotating body 2-B) First light absorption layer 2-C) Patterning layer 2-D) Second light absorption layer 2-E) Resist layer 2-F) Others (antireflection layer, adhesion enhancement) Layer and elastic layer)
3. 3. Method for Producing Roller Mold 3-A) Preparation of Roller Mold Blank 3-B) Exposure Step 3-C) Development Step 3-D) Concave / Pattern Formation Step for Patterning Layer 3-E) Cleaning / Drying Step 4. Effects of the embodiment Modifications etc. In addition, about the structure which is not described below, you may employ | adopt suitably a well-known structure (For example, the structure as described in patent documents 1-3 by this applicant). The contents described in Patent Documents 1 to 3 and related to the present embodiment are described in this specification.

<1.ローラーモールドの概要>
本実施形態は、ローラーモールドを製造する際の基となるローラーモールドブランクに関するものである。ローラーモールドブランクについて説明する前に、まずは、完成形となるローラーモールド101の概要について、図1を用いて説明する。図1はローラーモールド101の概略図であり、(a)はローラーモールド101の斜視図、(b)は(a)のA−A’部分の断面図、(c)は(a)のB−B’部分の断面図である。
<1. Outline of Roller Mold>
The present embodiment relates to a roller mold blank that is a base for manufacturing a roller mold. Before describing the roller mold blank, first, an outline of the roller mold 101 in a completed form will be described with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic view of a roller mold 101, (a) is a perspective view of the roller mold 101, (b) is a cross-sectional view of the AA 'portion of (a), (c) is a B- of (a). It is sectional drawing of a B 'part.

本出願人による特許文献1〜3に記載のように、本実施形態におけるローラーモールド101は、インプリントに用いられる回転式の円筒形状のモールドである。このローラーモールド101は、回転軸Oが通過する2つの端部(102aおよび102b、以降まとめて符号102を付す)と、この2つの端部102に挟まれた部分であって回転軸Oの方向に沿う外周部103とを有している。そして、この外周部103の主表面に所定のパターンが形成されている。ここで言う所定のパターンとは、周期的な凹凸形状により構成されているパターンである。本実施形態においては、円筒形状の回転体の外周部に対し、パターニング層から形成された凹凸パターンが存在する。   As described in Patent Documents 1 to 3 by the present applicant, the roller mold 101 in the present embodiment is a rotary cylindrical mold used for imprinting. The roller mold 101 includes two end portions (102a and 102b, collectively referred to as reference numeral 102 hereinafter) through which the rotation axis O passes, and a portion sandwiched between the two end portions 102 in the direction of the rotation axis O. And an outer peripheral portion 103 extending along the line. A predetermined pattern is formed on the main surface of the outer peripheral portion 103. The predetermined pattern mentioned here is a pattern configured by a periodic uneven shape. In the present embodiment, there is a concavo-convex pattern formed from the patterning layer on the outer periphery of the cylindrical rotating body.

なお、以降、符号として「’」を付けるものは、凹凸パターンが形成されたものを指す。具体例を挙げると、後述する図2および図3において、パターニング層3に対して凹凸パターンが形成されたものは「凹凸パターン3’」と称し、レジスト層4に対して凹凸パターンが形成されたものは「レジストパターン4’」と称する。   In the following description, “′” as a reference sign indicates a pattern in which a concavo-convex pattern is formed. As a specific example, in FIGS. 2 and 3 to be described later, a pattern having a concavo-convex pattern formed on the patterning layer 3 is referred to as a “concave / convex pattern 3 ′”, and the concavo-convex pattern was formed on the resist layer 4. This is referred to as “resist pattern 4 ′”.

更に、このローラーモールド101の2つの端部102には、回転軸Oに沿って回転補助部104が設けられている。これは、ローラーモールド101を回転させるためのローラーモールド回転用ロール105と接触する部分である。ローラーモールド回転用ロール105が回転することにより、その回転の動きが回転補助部104に伝わり、その結果、回転補助部104と一体になったローラーモールド101を回転させることができる。   Further, a rotation auxiliary portion 104 is provided along the rotation axis O at the two end portions 102 of the roller mold 101. This is the portion that contacts the roller mold rotating roll 105 for rotating the roller mold 101. The rotation of the roller mold rotating roll 105 is transmitted to the rotation assisting unit 104, and as a result, the roller mold 101 integrated with the rotation assisting unit 104 can be rotated.

<2.ローラーモールドブランク1の構成>
以上のようなローラーモールド101を製造すべく、本実施形態においては、以下の構成を有するローラーモールドブランク1を用いる。このローラーモールドブランク1の断面概略図である図2を用いて、以下、説明する。
・回転軸Oに沿って回転自在なローラーモールド101の基となる回転体2
・回転体2において回転軸Oの方向に沿う外周部103の上に設けられる層であって、ローラーモールド101が有する凹凸パターン3’の基となるパターニング層3
・パターニング層3の上に設けられるレジスト層4
<2. Configuration of Roller Mold Blank 1>
In order to manufacture the roller mold 101 as described above, in this embodiment, a roller mold blank 1 having the following configuration is used. This will be described below with reference to FIG. 2 which is a schematic sectional view of the roller mold blank 1.
The rotating body 2 that is the basis of the roller mold 101 that is rotatable along the rotation axis O
A patterning layer 3 which is a layer provided on the outer peripheral portion 103 along the direction of the rotation axis O in the rotating body 2 and serves as a basis for the uneven pattern 3 ′ of the roller mold 101.
A resist layer 4 provided on the patterning layer 3

なお、以上の構成は、積層順に標記している。つまり、回転体2の外周部103の上にパターニング層3が設けられ、パターニング層3の上にレジスト層4が設けられている。本明細書で言うところの「Aの上にBが設けられ」の意味は、「Aを覆うようにBが設けられている」という意味でもある。より詳しく言うと、上記の表現は、Aの直上にBが積層される場合も含むし、Aの直上に別の層が積層され、その別の層の直上にBが積層されている場合も含む。なお、本実施形態の場合、天地の天の方向に積層が行われているという前提で説明を行っている。そのため、便宜上「〜の上に」という表現を用いているが、天地の地の方向に積層が行われるとしても、「Aを覆うようにBが設けられている」という意味を有することには変わらない。そのため、天地の地の方向に積層が行われるとしても、「Aの上にBが設けられ」という表現を用いても差し支えない。
つまり、本実施形態においては、回転体2において回転軸方向に沿う外周部103の上にパターニング層3が設けられている。ただ、「回転体2の外周部103を覆うようにパターニング層3が設けられている」という表現は、パターニング層3が完全に外周部103を覆う場合も含むし、ローラーモールド101の端部においてはパターニング層3が形成されておらず、外周部103において凹凸パターン3’の転写に用いられる主要部のみにパターニング層3が形成されている場合も含む。
The above configuration is marked in the order of stacking. That is, the patterning layer 3 is provided on the outer peripheral portion 103 of the rotating body 2, and the resist layer 4 is provided on the patterning layer 3. In this specification, the meaning of “B is provided on A” also means that “B is provided so as to cover A”. More specifically, the above expression includes the case where B is laminated immediately above A, and there is a case where another layer is laminated immediately above A and B is laminated immediately above the other layer. Including. In the case of the present embodiment, the description is made on the assumption that the layers are stacked in the top-to-bottom direction. Therefore, although the expression “on top” is used for convenience, even if the stacking is performed in the direction of the top and bottom, it means that “B is provided so as to cover A”. does not change. Therefore, even if the stacking is performed in the direction of the top and bottom, the expression “B is provided on A” may be used.
That is, in the present embodiment, the patterning layer 3 is provided on the outer peripheral portion 103 along the rotation axis direction in the rotating body 2. However, the expression “the patterning layer 3 is provided so as to cover the outer peripheral portion 103 of the rotating body 2” includes the case where the patterning layer 3 completely covers the outer peripheral portion 103, and at the end of the roller mold 101. Includes the case where the patterning layer 3 is not formed, and the patterning layer 3 is formed only in the main part used for transferring the concavo-convex pattern 3 ′ in the outer peripheral part 103.

本実施形態においては、上記の構成を有するローラーモールドブランク1に対して露光および現像を行うことにより、レジスト層4からレジストパターン4’を形成する。その後、このレジストパターン4’をマスクとして、パターニング層3に対して凹凸パターン3’を形成する。   In the present embodiment, a resist pattern 4 ′ is formed from the resist layer 4 by exposing and developing the roller mold blank 1 having the above-described configuration. Thereafter, an uneven pattern 3 ′ is formed on the patterning layer 3 using the resist pattern 4 ′ as a mask.

その上で、本実施形態においては更に、
・凹凸パターン3’に対応する露光をレジスト層4に対して行う際に生じる反射光を吸収する光吸収層5
も有している。
In addition, in this embodiment,
A light absorbing layer 5 that absorbs reflected light generated when exposure corresponding to the uneven pattern 3 ′ is performed on the resist layer 4
Also have.

そして、本実施形態において特徴的な点の一つは、ローラーモールドブランク1において、光吸収層5を分けて配置している点である。   And one of the characteristic points in this embodiment is that the light absorbing layer 5 is separately arranged in the roller mold blank 1.

具体的に言うと、光吸収層5は、少なくとも第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bにより分かれて構成されている。そして、第1の光吸収層5aは、回転体2から生じる反射光を吸収すべく、回転体2とパターニング層3との間に設けられている。また、第2の光吸収層5bは、パターニング層3から生じる反射光を吸収すべく、パターニング層3とレジスト層4との間に設けられている。以上の内容に、本実施形態の特徴の一つがある。
以下、各構成について説明する。以下、ローラーモールドブランク1の基となる回転体2から見て上に積層される構成の順番すなわち積層順に、各構成についての説明を行う。
Specifically, the light absorption layer 5 is constituted by being divided at least by the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b. The first light absorption layer 5 a is provided between the rotating body 2 and the patterning layer 3 so as to absorb the reflected light generated from the rotating body 2. The second light absorption layer 5 b is provided between the patterning layer 3 and the resist layer 4 so as to absorb the reflected light generated from the patterning layer 3. The above content has one of the features of this embodiment.
Each configuration will be described below. Hereinafter, each structure will be described in the order of the structures stacked on top of the rotating body 2 that is the basis of the roller mold blank 1, that is, in the stacking order.

2−A)回転体2
回転体2は、ローラーモールド101として使用可能なものならば、公知の構成を用いても構わない。例えば、素材としては、ステンレス鋼(SUS)、アルミニウムまたは石英などを用いても構わない。また、形状についても、円筒形のものを用いても構わないし、それ以外の形状のものを用いても構わない。
2-A) Rotating body 2
As long as the rotating body 2 can be used as the roller mold 101, a known configuration may be used. For example, stainless steel (SUS), aluminum, or quartz may be used as the material. Also, the shape may be cylindrical or other shapes may be used.

なお、ステンレス鋼やアルミニウムを用いる方がコスト的には有利であるが、回転体2からの反射を可能な限り抑えることを考慮すると石英を用いるのが好ましい。確かに、後述の第1の光吸収層5aにより回転体2からの反射光は吸収することが可能である。しかしながら、吸収することができる光の強度には限界がある。そのため、回転体2からの反射を可能な限り抑えておくに越したことは無い。そのため、回転体2としては石英を用いるのが特に好ましい。   Although it is advantageous in terms of cost to use stainless steel or aluminum, it is preferable to use quartz in view of suppressing reflection from the rotating body 2 as much as possible. Certainly, reflected light from the rotating body 2 can be absorbed by a first light absorption layer 5a described later. However, there is a limit to the intensity of light that can be absorbed. For this reason, it has never been possible to suppress reflection from the rotating body 2 as much as possible. Therefore, it is particularly preferable to use quartz as the rotating body 2.

2−B)第1の光吸収層5a
本実施形態においては、本項の第1の光吸収層5aと、後述の第2の光吸収層5bとを、従来の光吸収層を複数に分けて設けることに大きな特徴の一つがある。凹凸パターン3’に対応する露光をローラーモールドブランク1に対して行う際、回転体2から反射光が生じてしまう。精緻なレジストパターン4’を形成するために、この反射光を吸収する必要がある。そこで、第1の光吸収層5aにより、この反射光を吸収する。
2-B) First light absorption layer 5a
In this embodiment, one of the major features is that the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b described later are provided by dividing the conventional light absorption layer into a plurality of parts. When exposure corresponding to the uneven pattern 3 ′ is performed on the roller mold blank 1, reflected light is generated from the rotating body 2. In order to form a precise resist pattern 4 ', it is necessary to absorb this reflected light. Therefore, the reflected light is absorbed by the first light absorption layer 5a.

第1の光吸収層5aは、露光光が有する波長での光吸収機能を有し、回転体2からの反射光を吸収しつつ、パターニング層3からの反射光を吸収する第2の光吸収層5bとの協働によってレジストパターン4’を精緻に形成することが可能なものならば、公知の構成を用いても構わない。例えば、素材としては、炭素や遷移金属(例えばクロム)またはそれらの酸化物、窒化物、硫化物であっても構わないし、これらの混合物であっても構わない。また、これらの物質を充填剤として用いた有機接着剤を用いても構わない。ただ、炭化窒素を用いるのが、比較的薄い成膜により適切な光吸収を行うことが可能であるので、好ましい。一方、第1の光吸収層5aとして弾性のある黒色エラストマーを使用しても構わない。
以下、第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bは炭化窒素(CN)により構成されている例について述べる。
The first light absorption layer 5a has a light absorption function at the wavelength of the exposure light, and absorbs the reflected light from the patterning layer 3 while absorbing the reflected light from the rotating body 2. As long as the resist pattern 4 ′ can be precisely formed by cooperation with the layer 5b, a known configuration may be used. For example, the material may be carbon, transition metal (for example, chromium), oxides, nitrides, sulfides thereof, or a mixture thereof. Moreover, you may use the organic adhesive agent which used these substances as a filler. However, it is preferable to use nitrogen carbide because appropriate light absorption can be performed by relatively thin film formation. On the other hand, an elastic black elastomer may be used as the first light absorption layer 5a.
Hereinafter, an example in which the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b are made of nitrogen carbide (CN) will be described.

また、第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bの厚みを、露光光が照射された際の、回転体2による反射率とパターニング層3の反射率との間の関係に応じて決定しても構わない。例えば、回転体2の素材としてステンレス鋼を用い、パターニング層3の素材としてポリシラザンを用いた場合、ステンレス鋼の方が高い反射率を有する。そうなると、回転体2の上にある第1の光吸収層5aを厚くして反射光の吸収度合いを向上させるのが好ましい。
また、第1の光吸収層5aで吸収しきれなかった漏れ光を考慮して、第2の光吸収層5bを厚くする事が望ましい。その一方、第2の光吸収層5bの厚みを増加させすぎると、微細な凹凸パターン3’を安定して形成できなくなる。
そこで、パターニング層3の上にある第2の光吸収層5bを比較的薄く形成する。この場合、第1の光吸収層5aの厚さを第2の光吸収層5bの厚さよりも大きくするのが好ましい。なお、数値範囲としては、第1の光吸収層5aの厚みを30〜300nmとし、第2の光吸収層5bの厚みを30〜100nmとするのが好ましい。
そのため、第1の光吸収層5aの厚さを第2の光吸収層5bの厚さよりも小さくしつつ、パターニング特性を考慮して、第2の光吸収層5bの厚さは100nm以下としても構わない。そして、第1の光吸収層5aの厚さは、基材からの反射の影響を防げれば生産性・パターン強度の点から設定すればよく、例えば30nm以上が望ましい。
The thicknesses of the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b are set according to the relationship between the reflectance of the rotating body 2 and the reflectance of the patterning layer 3 when the exposure light is irradiated. You can decide. For example, when stainless steel is used as the material of the rotating body 2 and polysilazane is used as the material of the patterning layer 3, stainless steel has a higher reflectance. In this case, it is preferable to increase the absorption degree of the reflected light by increasing the thickness of the first light absorption layer 5a on the rotating body 2.
In addition, it is desirable to increase the thickness of the second light absorption layer 5b in consideration of leakage light that cannot be absorbed by the first light absorption layer 5a. On the other hand, if the thickness of the second light absorption layer 5b is excessively increased, the fine uneven pattern 3 ′ cannot be stably formed.
Therefore, the second light absorption layer 5b on the patterning layer 3 is formed relatively thin. In this case, it is preferable to make the thickness of the first light absorption layer 5a larger than the thickness of the second light absorption layer 5b. In addition, as a numerical range, it is preferable that the thickness of the 1st light absorption layer 5a shall be 30-300 nm, and the thickness of the 2nd light absorption layer 5b shall be 30-100 nm.
Therefore, even if the thickness of the first light absorption layer 5a is made smaller than the thickness of the second light absorption layer 5b and the patterning characteristics are taken into consideration, the thickness of the second light absorption layer 5b is 100 nm or less. I do not care. And the thickness of the 1st light absorption layer 5a should just be set from the point of productivity and pattern intensity, if the influence of the reflection from a base material is prevented, for example, 30 nm or more is desirable.

ただ、逆に、第1の光吸収層5aの厚さを第2の光吸収層5bの厚さよりも小さくしても構わない。先にも述べたが、回転体2からの反射光を第1の光吸収層5aが吸収しきれないとしても、最終的に第2の光吸収層5bが十分な厚さで存在するならば、出射光と反射光の干渉は抑制できる。   However, conversely, the thickness of the first light absorption layer 5a may be smaller than the thickness of the second light absorption layer 5b. As described above, even if the first light absorption layer 5a cannot completely absorb the reflected light from the rotating body 2, if the second light absorption layer 5b finally exists with a sufficient thickness, The interference between the emitted light and the reflected light can be suppressed.

2−C)パターニング層3
パターニング層3は、ローラーモールド101に設けられる凹凸パターン3’となりうるものならば、公知の構成を用いても構わない。例えば、素材としては、Si薄膜やSiO薄膜やポリシラザンを用いても構わない。
2-C) Patterning layer 3
As long as the patterning layer 3 can become the uneven | corrugated pattern 3 'provided in the roller mold 101, you may use a well-known structure. For example, a Si thin film, a SiO 2 thin film, or polysilazane may be used as the material.

2−D)第2の光吸収層5b
第2の光吸収層5bは、露光光が有する波長での光吸収機能を有し、パターニング層3からの反射光を吸収しつつ、回転体2からの反射光を吸収する第1の光吸収層5aとの協働によってレジストパターン4’を精緻に形成することが可能なものならば、公知の構成を用いても構わない。その他については、上記の2−B)第1の光吸収層5aで述べた通りである。
2-D) Second light absorption layer 5b
The second light absorption layer 5b has a light absorption function at the wavelength of the exposure light, and absorbs the reflected light from the rotating body 2 while absorbing the reflected light from the patterning layer 3. As long as the resist pattern 4 ′ can be precisely formed in cooperation with the layer 5a, a known configuration may be used. Others are the same as described in 2-B) the first light absorption layer 5a.

ただ、第2の光吸収層5bは、以下のような特別な効果を奏する。後述する<3.ローラーモールド101の製造方法>にも関係するところではあるが、レジスト層4からレジストパターン4’を形成し、その後、レジストパターン4’をマスクとして第2の光吸収層5bにも凹凸が形成される。その後、パターニング層3にも凹凸パターン3’が形成される。その後、レジストパターン4’は剥離されることになるが、第2の光吸収層5bはパターニング層3における凹凸パターン3’の上に存在したままになる。この状態で、凹凸パターン3’についての検査を行うことにより、パターニング層3における凹凸パターン3’を検査する場合に比べて、正確かつ容易に検査を行うことができる。なぜなら、光学系で検査する場合は、パターニング層3がポリシラザンの場合、ポリシラザンは透明度が高いため、凹凸パターン3’を認識することが極めて困難となる。しかしながら、第2の光吸収層5bが低い透明度を有する物質(例えば炭化窒素)で構成されている場合、凹凸パターン3’の確認を、第2の光吸収層5bが存在する状況で行うことが可能となる。SEM(走査型電子顕微鏡)で検査する場合は、ポリシラザンと異なる材料である光吸収層5bがパターントップ(凹凸パターン3’の凸部の上部)に存在する事により、SEM画像でパターンエッジ境界部を異なるトーンで捉える事が容易となる。その結果、凹凸パターン3’を、正確かつ容易に検査することが可能となる。   However, the second light absorption layer 5b has the following special effects. <3. Although it is also related to the manufacturing method of the roller mold 101>, the resist pattern 4 ′ is formed from the resist layer 4, and then the unevenness is also formed in the second light absorption layer 5b using the resist pattern 4 ′ as a mask. The Thereafter, an uneven pattern 3 ′ is also formed on the patterning layer 3. Thereafter, the resist pattern 4 ′ is peeled off, but the second light absorption layer 5 b remains on the uneven pattern 3 ′ in the patterning layer 3. In this state, by inspecting the concavo-convex pattern 3 ′, the inspection can be performed more accurately and easily than in the case of inspecting the concavo-convex pattern 3 ′ in the patterning layer 3. This is because, when inspecting with an optical system, when the patterning layer 3 is polysilazane, it is very difficult to recognize the uneven pattern 3 ′ because polysilazane has high transparency. However, when the second light absorption layer 5b is made of a material having low transparency (for example, nitrogen carbide), the concave / convex pattern 3 ′ can be confirmed in a state where the second light absorption layer 5b exists. It becomes possible. When inspecting with an SEM (scanning electron microscope), the light absorption layer 5b, which is a material different from polysilazane, is present on the pattern top (above the convex portion of the concave / convex pattern 3 ′), so that the pattern edge boundary portion in the SEM image. Can be captured with different tones. As a result, the uneven pattern 3 ′ can be inspected accurately and easily.

なお、第2の光吸収層5bは、第1の光吸収層5aと異なる材質を用いても良い。例えば、第1の光吸収層5aとして弾性のある黒色エラストマーを使用し、且つ、第1の光吸収層5aを例えば100nm以上で厚く形成した場合である。   The second light absorption layer 5b may be made of a material different from that of the first light absorption layer 5a. For example, this is a case where an elastic black elastomer is used as the first light absorption layer 5a, and the first light absorption layer 5a is formed thick, for example, at 100 nm or more.

2−E)レジスト層4
レジスト層4は、露光により凹凸パターン3’を形成可能なものならば、公知の構成を用いても構わない。例えば、レジストを第2の光吸収層5bの上に塗布した後にベークを行い、レジスト層4を形成しても構わない。また、レジストの種類も任意のもので構わない。例えば、露光により生じる熱を利用した熱反応型レジストを用いても構わないし、光反応型レジストを用いても構わない。また、各々のレジストの組成についても制限は無い。本実施形態においては、熱反応型レジストとして無機化合物により構成される熱反応型無機レジスト、具体的に言うと酸化タングステン(WO)を用いる場合について述べる。
2-E) Resist layer 4
The resist layer 4 may have a known configuration as long as the concavo-convex pattern 3 ′ can be formed by exposure. For example, the resist layer 4 may be formed by applying a resist on the second light absorption layer 5b and then baking. The type of resist may be arbitrary. For example, a heat-reactive resist using heat generated by exposure may be used, or a photoreactive resist may be used. Moreover, there is no restriction | limiting also about the composition of each resist. In the present embodiment, a case where a heat-reactive inorganic resist composed of an inorganic compound, specifically tungsten oxide (WO x ), is used as the heat-reactive resist.

酸化タングステンを用いるレジスト層4は、青色レーザー光を露光すると熱変化によって状態変化するポジ型の感熱材料であり、解像度向上という点から好ましい。更に、このレジスト層4は、凹凸パターン3’を形成するために行われるエッチング工程に適する。そのため、酸化タングステンを用いたレジスト層4を使用することは、本実施形態において好ましい。また、酸化タングステンを用いたレジスト層4は、露光光(例えば青色レーザー光)に対する透過率が高く、パターニング層3や回転体2に到達する光の量が多くなる。そのため、上述の反射の問題が起こりやすくなる。しかしながら、本実施形態のように光吸収層を回転体2の上およびパターニング層3の上に分けて設けるという構成を採用することにより、酸化タングステンを用いたレジスト層4を採用する場合のデメリットを解消することができ、メリットのみを享受することが可能となる。   The resist layer 4 using tungsten oxide is a positive-type heat-sensitive material that changes its state by thermal change when exposed to blue laser light, and is preferable from the viewpoint of improving resolution. Furthermore, the resist layer 4 is suitable for an etching process performed to form the uneven pattern 3 ′. Therefore, it is preferable in this embodiment that the resist layer 4 using tungsten oxide is used. In addition, the resist layer 4 using tungsten oxide has a high transmittance with respect to exposure light (for example, blue laser light), and the amount of light reaching the patterning layer 3 and the rotating body 2 increases. Therefore, the above-described reflection problem is likely to occur. However, by adopting a configuration in which the light absorption layer is separately provided on the rotating body 2 and the patterning layer 3 as in the present embodiment, there are disadvantages when the resist layer 4 using tungsten oxide is employed. It can be eliminated and only the merit can be enjoyed.

なお、ここで言う「露光」はレジスト層4を現像する際に溶解度の差を生じさせて凹凸からなるレジストパターン4’を形成できるものならば、公知の手法を用いても構わない。例えば、最終的に形成予定の凹凸パターン3’に対応した形状を有するマスクを用いた露光を用いても構わないし、所定の波長を有するレーザーによりローラーモールドブランク1に対して描画するように露光を行っても構わない。本実施形態においては、レーザー描画により露光を行う場合について述べる。   The “exposure” referred to here may use a known method as long as it can form a resist pattern 4 ′ having unevenness by causing a difference in solubility when developing the resist layer 4. For example, you may use exposure using the mask which has a shape corresponding to the uneven | corrugated pattern 3 'to be finally formed, and it exposes so that it may draw with respect to the roller mold blank 1 with the laser which has a predetermined wavelength. You can go. In this embodiment, a case where exposure is performed by laser drawing will be described.

2−F)その他(反射防止層、付着強化層および弾性層)
上記の構成は、本実施形態のローラーモールドブランク1において最低限必要な構成である。もちろん上記の構成以外の構成をローラーモールドブランク1に設けても構わない。
2-F) Others (antireflection layer, adhesion reinforcing layer and elastic layer)
Said structure is a minimum required structure in the roller mold blank 1 of this embodiment. Of course, you may provide the roller mold blank 1 with structures other than said structure.

例えば、入射光と反射光間での干渉を利用した反射防止層をローラーモールドブランク1に設けても構わない。反射防止層の存在により、上記の第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bに上乗せする形で、反射光による影響を解消することができる。反射防止層を反射光による影響の解消の後詰めとして用いるべく、パターニング層3とレジスト層4との間に反射防止層を配置しても構わない。そして、反射防止層は、第2の光吸収層5bとレジスト層4との間に配置するのが好ましい。なお、その場合、反射防止層は、第2の光吸収層5bで述べたのと同様の効果を奏することもある。即ち、凹凸パターン3’の確認を、反射防止層が存在する状況で行うことが可能となる。その結果、凹凸パターン3’を、正確かつ容易に検査することが可能となる。   For example, an antireflection layer using interference between incident light and reflected light may be provided on the roller mold blank 1. Due to the presence of the antireflection layer, it is possible to eliminate the influence of the reflected light on the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b. An antireflection layer may be disposed between the patterning layer 3 and the resist layer 4 in order to use the antireflection layer as a post-packaging for eliminating the influence of reflected light. The antireflection layer is preferably disposed between the second light absorption layer 5 b and the resist layer 4. In that case, the antireflection layer may have the same effect as described in the second light absorption layer 5b. That is, it is possible to check the uneven pattern 3 ′ in a situation where an antireflection layer exists. As a result, the uneven pattern 3 ′ can be inspected accurately and easily.

なお、反射防止層としては、公知のものを用いても構わない。例えば、酸化クロム(CrO)を含むものを用いても構わない。干渉を利用する反射防止層のみで反射光を完全に抑える事は難しいが、良好なパターン転写特性を持つ酸化クロムを用いる事により、その上層に設けたCN層膜厚を薄くできる事により、プロセスマージンを稼ぐ可能性を期待できる。また、反射防止層は、第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bと同様の構成を有していても構わない。なお、後述の<5.変形例>で説明するが、第3の光吸収層や第4の光吸収層を設けて、反射光に対して干渉し、反射光による影響を低減しても構わない。
仮に、第3の光吸収層や第4の光吸収層を設け、反射防止層の代わりに反射光による影響を低減する場合、パターニング層3の上に存在する各光吸収層の厚さは100nm以下とするのが好ましい。
また、仮に、光吸収層5とは別に反射防止層を設ける場合は、上記のような光吸収層5の厚さの合計に、反射防止層の厚さは含まれないものとする。
A known antireflection layer may be used. For example, a material containing chromium oxide (CrO) may be used. Although it is difficult to completely suppress the reflected light with only the antireflection layer using interference, the process of using the chromium oxide with good pattern transfer characteristics can reduce the thickness of the CN layer on the upper layer. The possibility of earning a margin can be expected. The antireflection layer may have the same configuration as the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b. Note that <5. Modification> As will be described later, a third light absorption layer or a fourth light absorption layer may be provided to interfere with the reflected light and reduce the influence of the reflected light.
If a third light absorption layer or a fourth light absorption layer is provided to reduce the influence of reflected light instead of the antireflection layer, the thickness of each light absorption layer existing on the patterning layer 3 is 100 nm. The following is preferable.
If an antireflection layer is provided separately from the light absorption layer 5, the total thickness of the light absorption layer 5 as described above does not include the thickness of the antireflection layer.

また、各層の間の接着力を強化すべく、ローラーモールドブランク1に付着強化層を別途設けても構わない。付着強化層としては、各層の間の接着力を強化可能なものならば公知のものを用いても構わないが、一例を挙げるとするならばSiおよびタングステン(W)の少なくともいずれかを含むものにより構成された付着強化層が挙げられる。   Moreover, in order to strengthen the adhesive force between each layer, you may provide an adhesion reinforcement layer in the roller mold blank 1 separately. As the adhesion reinforcing layer, a known layer may be used as long as it can reinforce the adhesive force between the layers. However, for example, it includes at least one of Si and tungsten (W). The adhesion reinforcement layer comprised by these is mentioned.

また、酸化タングステンを用いたレジスト層4は、露光光に対する透過率が高く、場合によっては、レーザーの熱が上手くレジスト層4に蓄えられない。その対策として、レジスト層4に対して熱吸収層を設けても構わない。なお、熱吸収層としては、露光光が照射された際に露光光の熱を吸収し、レジスト層4に伝達可能な構成であれば、公知のものを用いても構わない。   Moreover, the resist layer 4 using tungsten oxide has a high transmittance with respect to exposure light, and in some cases, the heat of the laser is not stored well in the resist layer 4. As a countermeasure, a heat absorption layer may be provided for the resist layer 4. As the heat absorbing layer, a known layer may be used as long as it absorbs the heat of the exposure light when irradiated with the exposure light and can be transmitted to the resist layer 4.

更に、エラストマーの様な弾性を持たせるための機能層(弾性層)をパターニング層3の下に設けても良い。なお、上述のように、黒色エラストマーを用いる事により、光吸収層5aとして用いても構わない。   Furthermore, a functional layer (elastic layer) for giving elasticity like an elastomer may be provided under the patterning layer 3. In addition, as above-mentioned, you may use as the light absorption layer 5a by using a black elastomer.

<3.ローラーモールド101の製造方法>
次に、本実施形態におけるローラーモールド101の製造方法について、図3を用いて説明する。
図3は、本実施形態におけるローラーモールド101の製造方法を示す断面概略図である。
なお、以下の工程の内容は、<2.ローラーモールドブランク1の構成>にて説明した内容と重複する部分もある。そのため、以下に記載が無い内容については、<2.ローラーモールドブランク1の構成>にて説明した通りである。
<3. Manufacturing method of roller mold 101>
Next, the manufacturing method of the roller mold 101 in this embodiment is demonstrated using FIG.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing a method for manufacturing the roller mold 101 in the present embodiment.
The contents of the following steps are <2. There is a part which overlaps with the contents explained in <Configuration of Roller Mold Blank 1>. Therefore, for contents not described below, <2. It is as having demonstrated by the structure of roller mold blank 1.

3−A)ローラーモールドブランク1の準備
本実施形態におけるローラーモールド101を形成するためにまず、物質的には形成されていない回転軸O、この回転軸Oが通過する2つの端部102、回転軸方向に沿う外周部103、を有する、円筒形構造を有するローラーモールドブランク1を用意する。なお、ローラーモールドブランク1を構成する回転体2および各層の形成方法としては、公知の方法を用いても構わない。例えば、第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bについては、炭化窒素をスパッタリングにより成膜しても構わない。パターニング層3については、特許文献3に記載のようにポリシラザンの塗布を行っても構わない。本実施形態の場合、特許文献3におけるポリシラザンの塗布対象が「外周部103に第1の光吸収層5aが設けられた回転体2」となる。また、レジスト層4については、酸化タングステンをスパッタリングにより成膜しても構わない。
3-A) Preparation of Roller Mold Blank 1 In order to form the roller mold 101 in the present embodiment, first, the rotation axis O that is not physically formed, the two end portions 102 through which the rotation axis O passes, the rotation A roller mold blank 1 having a cylindrical structure having an outer peripheral portion 103 along the axial direction is prepared. In addition, as a formation method of the rotary body 2 which comprises the roller mold blank 1, and each layer, you may use a well-known method. For example, for the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b, nitrogen carbide may be formed by sputtering. The patterning layer 3 may be coated with polysilazane as described in Patent Document 3. In the case of this embodiment, the application target of polysilazane in Patent Document 3 is “the rotator 2 in which the first light absorption layer 5 a is provided on the outer peripheral portion 103”. As for the resist layer 4, tungsten oxide may be formed by sputtering.

3−B)露光工程
上記のローラーモールドブランク1に対し、青色レーザー描画装置を用いて凹凸パターン3’を描画し、露光する。この露光においては、公知の方法を用いても構わない。
3-B) Exposure process The uneven | corrugated pattern 3 'is drawn and exposed with respect to said roller mold blank 1 using a blue laser drawing apparatus. In this exposure, a known method may be used.

3−C)現像工程
その後、露光済みのレジスト層4に対して現像を行うことにより、所望の凹凸パターン3’を有するレジストパターン4’が得られる。
3-C) Development Step Thereafter, development is performed on the exposed resist layer 4 to obtain a resist pattern 4 ′ having a desired uneven pattern 3 ′.

3−D)パターニング層3に対する凹凸パターン3’形成工程
上述のようにレジスト層4に凹凸パターン3’を施してレジストパターン4’を形成した後、このレジスト層4をエッチングマスクとして、パターニング層3に対してエッチング加工を行う。このエッチング加工は、パターニング層3に応じて公知のエッチング方法を用いればよい。例えば、フッ素系ガスによるドライエッチングやフッ酸によるウェットエッチングが挙げられる。
このエッチング加工により、所望の凹凸パターン3’を有する回転体2が得られる。
3-D) Concavity and convexity pattern 3 ′ forming step for patterning layer 3 After applying concavity and convexity pattern 3 ′ to resist layer 4 to form resist pattern 4 ′ as described above, patterning layer 3 is formed using resist layer 4 as an etching mask. Etching is performed on the substrate. For this etching process, a known etching method may be used according to the patterning layer 3. For example, dry etching using a fluorine-based gas or wet etching using hydrofluoric acid can be used.
By this etching process, the rotating body 2 having a desired uneven pattern 3 ′ is obtained.

なお、第2の光吸収層5bについても所定の凹凸パターンが形成され、第2の光吸収層5b’となっている。上述の通り、本実施形態においては、第2の光吸収層5bが炭化窒素で構成されているため、凹凸パターン3’の確認を、第2の光吸収層5b’が存在する状況で行うことが可能となる。その結果、凹凸パターン3’を、正確かつ容易に検査することが可能となる。   A predetermined uneven pattern is also formed on the second light absorption layer 5b to form the second light absorption layer 5b '. As described above, in the present embodiment, since the second light absorption layer 5b is composed of nitrogen carbide, the confirmation of the concave / convex pattern 3 ′ is performed in a state where the second light absorption layer 5b ′ exists. Is possible. As a result, the uneven pattern 3 ′ can be inspected accurately and easily.

3−E)洗浄・乾燥工程
その後、レジストパターン4’および第2の光吸収層5b’を除去する。除去の手法は、公知の手法を用いればよい。そして、レジストパターン4’および第2の光吸収層5b’が除去された後、回転体2に対し、純水洗浄、イソプロパノールによる蒸気乾燥を行う。これにより、回転体2の外周部103に所望の凹凸パターン3’が転写されたローラーモールド101を作製することができる。
3-E) Washing / Drying Step Thereafter, the resist pattern 4 ′ and the second light absorption layer 5b ′ are removed. A known method may be used as the removal method. Then, after the resist pattern 4 ′ and the second light absorption layer 5b ′ are removed, the rotating body 2 is subjected to pure water cleaning and vapor drying with isopropanol. Thereby, the roller mold 101 by which the desired uneven | corrugated pattern 3 'was transcribe | transferred to the outer peripheral part 103 of the rotary body 2 can be produced.

なお、第1の光吸収層5aに対して所定の凹凸パターンを形成しても構わない。また、回転体2自体に凹凸パターンを形成しても構わない。その場合、凹凸パターン3’および第1の光吸収層5aは不要となるため、これらを除去する。   In addition, you may form a predetermined uneven | corrugated pattern with respect to the 1st light absorption layer 5a. Moreover, you may form an uneven | corrugated pattern in the rotary body 2 itself. In that case, the concavo-convex pattern 3 ′ and the first light absorption layer 5 a are not necessary and are removed.

<4.実施の形態による効果>
本実施形態によれば、以下の効果を奏する。
<4. Advantages of the embodiment>
According to this embodiment, the following effects can be obtained.

まず、本発明者により明らかとなった2つの課題「パターニング層3からの反射光」および「光吸収層の厚み」のうち、「パターニング層3からの反射光」については、従来の光吸収層を2つに分けるという対策を講じている。分けられた光吸収層の内の1つは、反射光の原因の一つである回転体2の上に設け、もう1つは、反射光の原因の一つであるパターニング層3の上に設けることにより、課題が解決される。   First, of the two problems “reflected light from the patterning layer 3” and “thickness of the light absorbing layer” that have been clarified by the present inventors, the “reflected light from the patterning layer 3” is the conventional light absorbing layer. Is taking measures to divide the One of the divided light absorption layers is provided on the rotating body 2 that is one of the causes of reflected light, and the other is on the patterning layer 3 that is one of the causes of reflected light. The provision solves the problem.

また、もう一方の課題「光吸収層の厚み」についても、従来の光吸収層を2つに分けることにより、1つの光吸収層を有する場合に比べて、各光吸収層の厚さを小さくすることができる。こうすることにより、パターニング層3の上に厚い光吸収層を設けずとも、回転体2からの反射光、およびパターニング層3からの反射光を、各光吸収層にて吸収できる。更に、各光吸収層の厚さを比較的小さくできることから、光吸収層の厚みと凹凸パターン3’の周期との間でアスペクト比の問題を生じさせることなく、凹凸パターン3’の周期を確実に微細なものとすることができる。   In addition, with respect to the other problem “thickness of the light absorption layer”, the thickness of each light absorption layer is reduced by dividing the conventional light absorption layer into two as compared with the case of having one light absorption layer. can do. By doing so, each light absorption layer can absorb the reflected light from the rotating body 2 and the reflected light from the patterning layer 3 without providing a thick light absorption layer on the patterning layer 3. Furthermore, since the thickness of each light absorption layer can be made relatively small, the period of the concavo-convex pattern 3 ′ can be ensured without causing an aspect ratio problem between the thickness of the light absorption layer and the period of the concavo-convex pattern 3 ′. It can be very fine.

以上の通り、本実施形態によれば、凹凸パターン3’を形成するための露光の際、反射光による影響を抑制し、微細な凹凸パターン3’をローラーモールド101に形成可能なローラーモールドブランク1を提供できる。   As described above, according to the present embodiment, the roller mold blank 1 capable of suppressing the influence of reflected light and forming the fine uneven pattern 3 ′ on the roller mold 101 during the exposure for forming the uneven pattern 3 ′. Can provide.

<5.変形例等>
本発明の技術的範囲は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、発明の構成要件やその組み合わせによって得られる特定の効果を導き出せる範囲において、種々の変更や改良を加えた形態も含む。
以下、上記の内容以外の変形例について列挙する。
<5. Modified example>
The technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, but includes forms to which various modifications and improvements are added within the scope of deriving specific effects obtained by the constituent features of the invention and combinations thereof. .
Hereinafter, modifications other than the above will be listed.

(第3、第4の光吸収層)
上記の実施形態では、光吸収層を2つに分けて配置した例について述べた。もちろん、第3、第4またはそれ以上の第n(nは自然数)の光吸収層をローラーモールドブランク1に設けても構わない。例えば、付着強化層によって反射光が生じる場合、付着強化層の上に第3の光吸収層を設けても構わない。反射光が生じる層をローラーモールドブランク1に設ける場合、その層の上に第3の光吸収層を設けても構わない。
(3rd, 4th light absorption layer)
In the above embodiment, the example in which the light absorption layer is divided into two parts has been described. Of course, a third, fourth or higher nth (n is a natural number) light absorbing layer may be provided on the roller mold blank 1. For example, when reflected light is generated by the adhesion enhancing layer, a third light absorbing layer may be provided on the adhesion enhancing layer. When providing the layer which produces reflected light in the roller mold blank 1, you may provide a 3rd light absorption layer on the layer.

(ローラーモールドブランク1を構成するその他の層)
上記の実施形態では、ローラーモールドブランク1を構成する層の例として、反射防止層や付着強化層について述べた。その一方、回転体2とレジスト層4の間に、反射防止層や付着強化層以外の層を設けても良い。この別の層としては、導電層や酸化防止層を含むハードマスク、および密着層等が挙げられる。なお、ここでいう「ハードマスク」とは、単一または複数の層からなり、基板上への溝のエッチングに用いられる層状のもののことを指すものとする。なお、ハードマスクにおける酸化防止層は、導電層を兼ねても構わない。その場合、導電層は省略可能である。
(Other layers constituting the roller mold blank 1)
In the above embodiment, the antireflection layer and the adhesion reinforcing layer have been described as examples of the layers constituting the roller mold blank 1. On the other hand, a layer other than the antireflection layer or the adhesion reinforcing layer may be provided between the rotating body 2 and the resist layer 4. Examples of this other layer include a hard mask including a conductive layer and an antioxidant layer, and an adhesion layer. Note that the “hard mask” here refers to a layered layer composed of a single layer or a plurality of layers and used for etching a groove on a substrate. Note that the antioxidant layer in the hard mask may also serve as a conductive layer. In that case, the conductive layer can be omitted.

(ワーキングレプリカ)
上記の実施形態では、原盤となるローラーモールド101を作製する例について挙げた。これ以外でも、原盤となるローラーモールド101の凹凸パターン3’をフィルム状の被転写体に転写し、その被転写体を別の回転体2に巻きつけ、ワーキングレプリカを作製しても良い。更には、レジスト層4が形成された回転体2にこの被転写体を接触させて凹凸パターン3’を転写することにより、ワーキングレプリカを形成しても良い。このワーキングレプリカが変形・破損したとしても、原盤となるローラーモールド101が無事ならば、ワーキングレプリカを精度よく作製することができる。
(Working replica)
In the above-described embodiment, an example in which the roller mold 101 serving as a master is manufactured has been described. In addition to this, the concave / convex pattern 3 ′ of the roller mold 101 serving as a master may be transferred to a film-like transferred body, and the transferred body may be wound around another rotating body 2 to produce a working replica. Furthermore, the working replica may be formed by bringing the transferred body into contact with the rotating body 2 on which the resist layer 4 is formed and transferring the uneven pattern 3 ′. Even if the working replica is deformed / damaged, the working replica can be accurately manufactured if the roller mold 101 serving as the master is safe.

(パターンの形状)
なお、本実施形態の凹凸パターン3’の形状としては、任意のものを使用することができる。たとえば、信号をビットパターン(ドットパターン)として記録する磁気メディア(Bit Patterned Media)を作製するための原盤を製造する場合、ドットの形状を矩形としても良いし、それ以外の形状であっても構わない。また、磁気ディスクのデータトラックを磁気的に分離して形成するディスクリートトラック型メディア(Discrete Track Recording Media)のように平面視で線状のパターンであっても良いし、線状と点状のパターンを混在させたものであっても良い。
(Pattern shape)
In addition, any shape can be used as the shape of the uneven pattern 3 ′ of the present embodiment. For example, when manufacturing a master for producing a magnetic medium (Bit Patterned Media) for recording a signal as a bit pattern (dot pattern), the shape of the dots may be rectangular or other shapes. Absent. Further, a linear pattern may be used in a plan view, such as a discrete track recording media (Discrete Track Recording Media) formed by magnetically separating data tracks of a magnetic disk. May be mixed.

更に、この凹凸パターン3’の具体的な周期のオーダーであるが、ナノオーダーからマイクロオーダー(1μm未満の周期)までの範囲のパターンであっても良いが、近年の電子機器の性能および最終製品の性能という観点から見ると、数nm〜数100nmのナノオーダーの周期構造であれば、なお良い。具体的な数値を挙げるとするならば、350nm以下の周期を有する凹凸パターン3’を形成するためにローラーモールドブランク1を用いるのが好適である。   Furthermore, although it is the order of the specific period of this uneven | corrugated pattern 3 ', although the pattern of the range from nano order to micro order (period less than 1 micrometer) may be sufficient, the performance of electronic devices in recent years and final products From the viewpoint of performance, it is even better if it is a nano-order periodic structure of several nm to several hundred nm. If specific numerical values are given, it is preferable to use the roller mold blank 1 in order to form the concavo-convex pattern 3 ′ having a period of 350 nm or less.

(光吸収層5の代わりに反射防止層を用いた態様)
上記の実施形態においては、光吸収層5を2つに分けた構成を採用している。その一方、光吸収層5の代わりに反射防止層を用いたとしても、上記の課題を解決することが可能となり、上記の効果を奏する。
以上の内容を、まとめたものが、以下の構成となる。
(Aspect using an antireflection layer instead of the light absorption layer 5)
In said embodiment, the structure which divided | segmented the light absorption layer 5 into 2 is employ | adopted. On the other hand, even if an antireflection layer is used in place of the light absorption layer 5, the above-described problems can be solved and the above-described effects can be achieved.
A summary of the above contents is as follows.

回転軸に沿って回転自在なローラーモールドの基となる回転体と、
前記回転体において回転軸方向に沿う外周部の上に設けられる層であって、前記ローラーモールドが有する凹凸パターンの基となるパターニング層と、
前記パターニング層の上に設けられるレジスト層と、
前記凹凸パターンに対応する露光を前記レジスト層に対して行う際の反射光の発生を抑制する反射防止層と、
を有するローラーモールドブランクであって、
前記反射防止層は、少なくとも第1の反射防止層および第2の反射防止層により分かれて構成されており、
前記第1の反射防止層は、前記回転体から反射光が生じるのを抑制すべく、前記回転体と前記パターニング層との間に設けられ、
前記第2の反射防止層は、前記パターニング層から反射光が生じるのを抑制すべく、前記パターニング層と前記レジスト層との間に設けられている、ローラーモールドブランク。
A rotating body that is a base of a roller mold that is rotatable along a rotation axis;
A layer provided on the outer peripheral portion along the rotation axis direction in the rotating body, the patterning layer serving as a basis for the uneven pattern of the roller mold,
A resist layer provided on the patterning layer;
An antireflection layer for suppressing the generation of reflected light when performing exposure corresponding to the uneven pattern on the resist layer;
A roller mold blank having
The antireflection layer is composed of at least a first antireflection layer and a second antireflection layer,
The first antireflection layer is provided between the rotating body and the patterning layer in order to suppress generation of reflected light from the rotating body,
The second antireflection layer is a roller mold blank provided between the patterning layer and the resist layer in order to suppress generation of reflected light from the patterning layer.

(透明度が高いパターニング層3と、透明度が低い光吸収層5との組み合わせ)
上記の実施形態では、光吸収層5を少なくとも2つに分けた例について述べた。その一方、パターニング層3からの反射光が微細な凹凸パターン3’の形成に影響を与えることは、本発明者により見出された課題である。この課題を解決するためには、回転体2の上に光吸収層5を設けるのではなく、パターニング層3の上に光吸収層5を設けても構わない。しかしながら、本発明の知見で述べたように、当該光吸収層5の厚さは100nm以下とするのが好ましい。それに加え、パターニング層3(ポリシラザン)が透明度を有し、当該光吸収層5(炭化窒素)の透明度が比較的低い場合、凹凸パターン3’を正確かつ容易に検査することが可能となる。このようなパターニング層3と光吸収層5とを有するローラーモールドブランク1にも、上記のような独特の課題および効果がある。
以上の内容を、まとめたものが、以下の構成となる。
(Combination of the patterning layer 3 with high transparency and the light absorption layer 5 with low transparency)
In the above embodiment, the example in which the light absorption layer 5 is divided into at least two has been described. On the other hand, it is a problem found by the present inventors that the reflected light from the patterning layer 3 affects the formation of the fine uneven pattern 3 ′. In order to solve this problem, the light absorption layer 5 may be provided on the patterning layer 3 instead of providing the light absorption layer 5 on the rotating body 2. However, as described in the knowledge of the present invention, the thickness of the light absorption layer 5 is preferably 100 nm or less. In addition, when the patterning layer 3 (polysilazane) has transparency and the light absorption layer 5 (nitrogen carbide) has a relatively low transparency, the concavo-convex pattern 3 ′ can be inspected accurately and easily. The roller mold blank 1 having such a patterning layer 3 and a light absorption layer 5 also has the above-mentioned unique problems and effects.
A summary of the above contents is as follows.

回転軸に沿って回転自在なローラーモールドの基となる回転体と、
前記回転体において回転軸方向に沿う外周部の上に設けられる層であって、前記ローラーモールドが有する凹凸パターンの基となるパターニング層と、
前記パターニング層の上に設けられるレジスト層と、
前記凹凸パターンに対応する露光を前記レジスト層に対して行う際に生じる反射光を吸収する光吸収層と、
を有するローラーモールドブランクであって、
前記光吸収層は、前記パターニング層から生じる反射光を吸収すべく、前記パターニング層と前記レジスト層との間に設けられており、
前記パターニング層よりも前記光吸収層の方が、透明度が低い、ローラーモールドブランク。
A rotating body that is a base of a roller mold that is rotatable along a rotation axis;
A layer provided on the outer peripheral portion along the rotation axis direction in the rotating body, the patterning layer serving as a basis for the uneven pattern of the roller mold,
A resist layer provided on the patterning layer;
A light-absorbing layer that absorbs reflected light generated when exposure corresponding to the concavo-convex pattern is performed on the resist layer;
A roller mold blank having
The light absorption layer is provided between the patterning layer and the resist layer in order to absorb reflected light generated from the patterning layer,
A roller mold blank in which the light absorption layer is less transparent than the patterning layer.

なお、上記の構成における「光吸収層」を「反射防止層」に置き換えたとしても、上記のような独特の課題が存在するし、独特の効果も奏する。また、第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bと、パターニング層との間の透明度の関係にも、上記の内容は適用し得る。つまり、第1の光吸収層5aおよび第2の光吸収層5bの透明度を、パターニング層の透明度よりも低くすることで上述の効果を奏する。   Even if the “light absorption layer” in the above configuration is replaced with an “antireflection layer”, the above-described unique problems exist and there are also unique effects. The above contents can also be applied to the relationship of transparency between the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b and the patterning layer. In other words, the above-described effects can be obtained by making the transparency of the first light absorption layer 5a and the second light absorption layer 5b lower than the transparency of the patterning layer.

(ローラーモールド101以外に対する本発明の適用)
上記の実施形態では、ローラーモールド101における反射光の吸収について述べた。その一方、ローラーモールド101以外に対しても、本発明を適用可能である。つまり、光吸収層を分けて、「基となる基材」に対する反射光の吸収、そして「パターニング層3」に対する反射光の吸収、というように、反射光の各個吸収が可能な構造体ならば、本発明を適用可能である。ローラーモールド101に近い例を挙げると、ステップ&リピートに用いられるような平板のインプリントモールドブランクにも本発明はもちろん適用可能である。結局、露光により反射光が生じ、そのせいで凹凸パターン3’を精緻に形成できないという課題が生ずる技術分野に対して、本発明は適用可能である。
以上の内容を、まとめたものが、以下の構成となる。
(Application of the present invention to other than the roller mold 101)
In the above embodiment, absorption of reflected light in the roller mold 101 has been described. On the other hand, the present invention can be applied to other than the roller mold 101. In other words, if the light absorbing layer is divided, the structure can absorb each reflected light, such as absorption of reflected light to the “base material” and absorption of reflected light to the “patterning layer 3”. The present invention can be applied. As an example close to the roller mold 101, the present invention is naturally applicable to a flat imprint mold blank used for step and repeat. Eventually, reflected light is generated by exposure, and the present invention is applicable to a technical field in which the problem that the uneven pattern 3 ′ cannot be precisely formed occurs.
A summary of the above contents is as follows.

構造体の基となる基材と、
前記基材の上に設けられる層であって、前記構造体が有する凹凸パターンの基となるパターニング層と、
前記パターニング層の上に設けられるレジスト層と、
前記凹凸パターンに対応する露光を前記レジスト層に対して行う際に生じる反射光を吸収する光吸収層と、
を有する構造体であって、
前記光吸収層は、少なくとも第1の光吸収層および第2の光吸収層により分かれて構成されており、
前記第1の光吸収層は、前記基材から生じる反射光を吸収すべく、前記基材と前記パターニング層との間に設けられ、
前記第2の光吸収層は、前記パターニング層から生じる反射光を吸収すべく、前記パターニング層と前記レジスト層との間に設けられている、構造体。
A base material on which the structure is based;
A layer provided on the base material, the patterning layer serving as a base of the concavo-convex pattern of the structure;
A resist layer provided on the patterning layer;
A light-absorbing layer that absorbs reflected light generated when exposure corresponding to the concavo-convex pattern is performed on the resist layer;
A structure having
The light absorption layer is composed of at least a first light absorption layer and a second light absorption layer,
The first light absorption layer is provided between the substrate and the patterning layer to absorb reflected light generated from the substrate,
The second light absorption layer is a structure provided between the patterning layer and the resist layer so as to absorb reflected light generated from the patterning layer.

上記の構成を有する構造体は、凹凸パターンを形成するための露光の際、反射光による影響を抑制し、微細な凹凸パターンを有することになるという極めて有利な効果を奏する。   The structure having the above-described structure has a very advantageous effect of suppressing the influence of reflected light and having a fine concavo-convex pattern during exposure for forming the concavo-convex pattern.

1………ローラーモールドブランク
2………回転体
3………パターニング層
3’……凹凸パターン
4………レジスト層
4’……レジストパターン
5………光吸収層
5a……第1の光吸収層
5b……第2の光吸収層
101…ローラーモールド
102…端部
103…外周部
104…回転補助部
105…ローラーモールド回転用ロール
O………回転軸

DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ......... Roller mold blank 2 ......... Rotating body 3 ......... Pattern layer 3 '... Uneven pattern 4 ......... Resist layer 4' ... Resist pattern 5 ......... Light absorption layer 5a ... First Light Absorbing Layer 5b ... Second Light Absorbing Layer 101 ... Roller Mold 102 ... End 103 ... Outer Peripheral 104 ... Rotation Auxiliary Part 105 ... Roll Mold Roll O ...

Claims (5)

回転軸に沿って回転自在なローラーモールドの基となる回転体と、
前記回転体において回転軸方向に沿う外周部の上に設けられる層であって、前記ローラーモールドが有する凹凸パターンの基となるパターニング層と、
前記パターニング層の上に設けられるレジスト層と、
前記凹凸パターンに対応する露光を前記レジスト層に対して行う際に生じる反射光を吸収する光吸収層と、
を有するローラーモールドブランクであって、
前記光吸収層は、少なくとも第1の光吸収層および第2の光吸収層により分かれて構成されており、
前記第1の光吸収層は、前記回転体から生じる反射光を吸収すべく、前記回転体と前記パターニング層との間に設けられ、
前記第2の光吸収層は、前記パターニング層から生じる反射光を吸収すべく、前記パターニング層と前記レジスト層との間に設けられている、ローラーモールドブランク。
A rotating body that is a base of a roller mold that is rotatable along a rotation axis;
A layer provided on the outer peripheral portion along the rotation axis direction in the rotating body, the patterning layer serving as a basis for the uneven pattern of the roller mold,
A resist layer provided on the patterning layer;
A light-absorbing layer that absorbs reflected light generated when exposure corresponding to the concavo-convex pattern is performed on the resist layer;
A roller mold blank having
The light absorption layer is composed of at least a first light absorption layer and a second light absorption layer,
The first light absorption layer is provided between the rotating body and the patterning layer to absorb reflected light generated from the rotating body,
The second light absorption layer is a roller mold blank provided between the patterning layer and the resist layer so as to absorb reflected light generated from the patterning layer.
前記第1の光吸収層の厚さは30nm以上とし、前記第2の光吸収層の厚さは100nm以下とする、請求項1に記載のローラーモールドブランク。   The roller mold blank according to claim 1, wherein the thickness of the first light absorption layer is 30 nm or more, and the thickness of the second light absorption layer is 100 nm or less. 前記第1の光吸収層および前記第2の光吸収層は炭化窒素により構成されている、請求項1または2に記載のローラーモールドブランク。   The roller mold blank according to claim 1 or 2, wherein the first light absorption layer and the second light absorption layer are made of nitrogen carbide. 前記パターニング層はポリシラザンにより構成されている、請求項1ないし3のいずれかに記載のローラーモールドブランク。   The roller mold blank according to claim 1, wherein the patterning layer is made of polysilazane. 前記回転体はステンレス鋼または石英により構成されている、請求項1ないし4のいずれかに記載のローラーモールドブランク。   The roller mold blank according to claim 1, wherein the rotating body is made of stainless steel or quartz.
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