JP2015052963A - ストレージ装置の試験装置、試験方法、および試験プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】試験装置のアイドルタイムを削減して試験効率の向上を図る。
【解決手段】接続検出部３は、試験装置１へのストレージ装置８の接続を検出する。試験予定生成部４は、接続を検出したストレージ装置８について試験予定９を生成する。生成された試験予定９は、記憶部７に記憶される。試験実行部２は、接続を検出したストレージ装置８の試験を試験予定９にしたがい実行する。中断制御部５は、接続検出部３が試験装置１へのストレージ装置８ａの接続を検出した場合、接続検出を契機にして試験を実行中のストレージ装置８の中断時機を決定して試験を中断する。再実行制御部６は、所要の初期化処理をおこなって試験を再実行する。
【選択図】図１

Description

本発明は、ストレージ装置の試験装置、試験方法、および試験プログラムに関する。

ストレージ装置の量産試験では、出荷構成での動作確認がおこなわれている。試験サーバ（試験装置）とストレージ装置（被試験装置）間をストレージインターフェースで接続して、試験サーバが試験プログラムを実行し、ストレージ装置のボリュームにアクセスをおこなうことによりストレージ装置の正常性を確認している。

また、このような量産試験においても製造コストの削減がもとめられている。そのため、試験設備である試験サーバの削減のため、１台の試験サーバが複数のストレージ装置を接続して並行して試験をおこなうシステム構成（量産試験システム構成）を採用することで、試験設備である試験サーバの削減を図っている。

しかしながら、ストレージ装置を構成する、コントローラモジュール（ＣＭ：Controller Module）、チャネルアダプタ（ＣＡ：Channel Adapter）、ディスク（Disk）などの数や性能が異なるなど、ストレージ装置の出荷構成が一様でないことから、各ストレージ装置の試験に要する時間（試験走行時間）が一定にならない。通常、部品点数が多い程、試験走行時間が大きくなる傾向にあり、顧客のオーダー構成（出荷構成）次第では、量産試験における試験走行時間が２時間から８時間を要するなど変動幅が大きい。

また、試験サーバの実行環境やストレージ装置との接続環境によっては、試験サーバの実行環境におけるドライバの再起動など、所要の初期化処理を必要とする制約（システム制約）が生じる場合がある。

このような試験環境において、ストレージ装置の試験は、たとえば、図２３に示すタイミングチャートのようにしておこなわれる。図２３は、関連技術としてのストレージ装置の試験態様を示すタイミングチャートである。図２３に示す時間軸は、左から右への時間経過を示す。

まず、試験サーバと、ストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを接続する（タイミングＴ９０）。試験サーバがドライバを再起動する（タイミングＴ９１）。試験サーバがストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄごとの試験タスクである試験ストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄを起動する（タイミングＴ９２）。試験ストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄは、それぞれタイミングＴ９３，Ｔ９４，Ｔ９５，Ｔ９６に試験を終了する。すべてのストレージ装置（ストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）の試験終了を待って、ストレージ装置（ストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃ，Ｄ）の取り外しと、次の試験をおこなうストレージ装置（ストレージ装置Ｅ，Ｆ，Ｇ，Ｈ）の接続をおこなう。以下、ストレージ装置を繋ぎ換えながら、同様の工程を繰り返す。

特開平０８−１４７１８２号公報 特開２００２−７１７３号公報

このようなストレージ装置の試験では、試験サーバがすべてのストレージ装置について試験の終了を待ち、新しいストレージ装置の接続を待ってドライバを再起動する。
そのため、図２４に示すストレージ装置の試験態様は、ストレージ装置Ａ，Ｂ，Ｃの各試験終了後からストレージ装置Ｄの試験終了を待つまでにアイドル状態が生じ、試験サーバのリソースが有効に活用されていない。これは、ドライバの再起動が新しく接続されたストレージ装置を認識するために必要であるが、キャッシュ試験中のキャッシュ状態を変更するなどして一部の試験性を損なうことから、試験中のドライバの再起動を避けるための措置である。

１つの側面では、本発明は、試験装置のアイドルタイムを削減して試験効率の向上を図ることができるストレージ装置の試験装置、試験方法、および試験プログラムを提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、以下に示すような、ストレージ装置の試験装置が提供される。ストレージ装置の試験装置は、複数のストレージ装置を接続して試験を実行する。ストレージ装置の試験装置は、接続検出部と、試験予定生成部と、試験実行部と、中断制御部と、再実行制御部とを備える。接続検出部は、ストレージ装置の接続を検出する。試験予定生成部は、接続を検出したストレージ装置について複数の試験項目を時系列に配置した試験予定を生成する。試験実行部は、接続を検出したストレージ装置の試験を試験予定にしたがい実行する。中断制御部は、接続の検出を契機に、試験を実行中のストレージ装置の試験予定にもとづいて試験の中断時機を決定し、試験を中断時機で中断する。再実行制御部は、接続を検出したストレージ装置に関する所要の初期化処理の実行後に接続を検出したストレージ装置を含む複数のストレージ装置について試験を再実行する。

１態様によれば、ストレージ装置の試験装置、試験方法、および試験プログラムにおいて、試験装置のアイドルタイムを削減して試験効率の向上を図ることができる。

第１の実施形態の試験装置の構成の一例を示す図である。 第２の実施形態のストレージ装置試験システムの構成の一例を示す図である。 第２の実施形態の試験サーバのハードウェア構成の一例を示す図である。 第２の実施形態の試験サーバの機能ブロックの一例を示す図である。 第２の実施形態の試験項目定義テーブルの一例を示す図である。 第２の実施形態のシナリオの一例を示す図である。 第２の実施形態の試験制御処理のフローチャートを示す図である。 第２の実施形態の新規装置接続処理のフローチャートを示す図である。 第２の実施形態の中断処理のフローチャートを示す図である。 第２の実施形態の資源割当変更処理のフローチャートを示す図である。 第２の実施形態のシナリオ更新処理のフローチャートを示す図である。 第２の実施形態の再開処理のフローチャートを示す図である。 第２の実施形態の中断可能試験を実行中の中断制御の一例を示す図である。 第２の実施形態の中断不可試験を実行中の中断制御の一例を示す図である。 第２の実施形態の中断可能試験と中断不可試験を並行して実行中の中断制御（中断不可試験終了時に中断可能試験が実行中の場合）の一例を示す図である。 第２の実施形態の中断可能試験と中断不可試験を並行して実行中の中断制御（中断不可試験終了前に中断可能試験が終了した場合）の一例を示す図である。 第２の実施形態の中断不可試験の進捗率が有効進捗率を超えない場合の中断制御の一例を示す図である。 第２の実施形態の中断不可試験の進捗率が有効進捗率を超える場合の中断制御の一例を示す図である。 第２の実施形態のシナリオ更新前の既接続装置の試験予定と、新規装置の接続予測タイミングの一例を示す図である。 第２の実施形態のシナリオ更新後の既接続装置の試験予定と、新規装置の接続予測タイミングの一例を示す図である。 第２の実施形態の資源割当制御がない場合の試験進行の一例を示す図である。 第２の実施形態の資源割当制御がある場合の試験進行の一例を示す図である。 関連技術としてのストレージ装置の試験態様を示すタイミングチャートである。

以下、図面を参照して実施の形態を詳細に説明する。
［第１の実施形態］
まず、第１の実施形態のストレージ装置の試験装置について図１を用いて説明する。図１は、第１の実施形態の試験装置の構成の一例を示す図である。

試験装置１は、試験プログラムを起動して動作するコンピュータであり、ストレージ装置８の動作確認試験（たとえば、出荷前試験）をおこなう試験設備の１つである。試験装置１は、複数のストレージインタフェース（図示せず）を有し、複数のストレージ装置８（たとえば、ストレージ装置８ａ，８ｂ，８ｃ，８ｄ）を接続する。

ストレージ装置８は、出荷先の要求に応じた出荷構成のため、ストレージ装置ごとにＣＭや、ＣＡ、ディスクの数や性能が異なる。そのため、ストレージ装置８は、ストレージ装置ごとに試験時間が異なる場合がある。

試験装置１は、接続検出部３と、試験予定生成部４と、試験実行部２と、中断制御部５と、再実行制御部６と、記憶部７を備える。接続検出部３は、試験装置１へのストレージ装置８の接続を検出する。試験予定生成部４は、接続を検出したストレージ装置８について試験予定９を生成する。生成された試験予定９は、記憶部７に記憶される。たとえば、接続検出部３が試験装置１へのストレージ装置８ａの接続を検出した場合、試験予定生成部４は、試験予定９ａを生成する。同様に、試験予定生成部４は、ストレージ装置８ｂの接続検出で試験予定９ｂを生成し、ストレージ装置８ｃの接続検出で試験予定９ｃを生成する。

試験予定９は、複数の試験項目を時系列（シーケンシャル）に配置する。試験実行部２は、接続を検出したストレージ装置８の試験を試験予定９にしたがい実行する。すなわち、試験実行部２は、試験予定９が示す時系列に配置された試験項目を順次実行する。

中断制御部５は、接続検出部３が試験装置１へのストレージ装置８の接続を検出した場合、接続検出を契機にして試験を実行中のストレージ装置８の中断時機を決定する。中断制御部５は、試験を実行中のストレージ装置８の試験予定９にもとづいて試験の中断時機を決定する。

なお、ストレージ装置８が実行中の試験項目によっては、試験を中断することができない場合、また試験を一旦中断すると途中から再開できない場合など、試験を中断するためのいくつかの制約条件がある。そのため、中断制御部５は、試験予定を参照して中断時機を決定する。中断制御部５は、決定した中断時機で試験を実行中のストレージ装置８の試験を中断する。再実行制御部６は、接続を検出したストレージ装置８に関する所要の初期化処理の後に接続を検出したストレージ装置８を含む複数のストレージ装置８について試験を再実行する。

たとえば、中断制御部５は、接続検出部３が試験装置１へのストレージ装置８ｄの接続を検出したことを契機にして試験を実行中のストレージ装置８ａ，８ｂ，８ｃの中断時機を決定して、ストレージ装置８ａ，８ｂ，８ｃの試験を中断する。再実行制御部６は、接続を検出したストレージ装置８ｄに関する所要の初期化処理の実行後に接続を検出したストレージ装置８ｄを含む複数のストレージ装置８について試験を再実行する。

これにより、従来、試験を実行中のストレージ装置８の試験終了を待って、新規接続したストレージ装置８の試験を開始していたために生じていたアイドル状態（図２４参照）を低減することができる。したがって、試験装置１は、試験装置１のアイドルタイムを削減して試験効率の向上を図ることができる。

［第２の実施形態］
次に、第２の実施形態のストレージ装置試験システムについて図２を用いて説明する。図２は、第２の実施形態のストレージ装置試験システムの構成の一例を示す図である。

ストレージ装置試験システムは、試験サーバ１０と、試験サーバ１０と接続する被試験装置である複数のストレージ装置２０とを含む。試験サーバ１０は、制御部１１と、ドライバ１２と、ＨＢＡ（Host Bus Adapter）１３，１４を含む。制御部１１は、ドライバ１２と、ＨＢＡ１３，１４を介してストレージ装置２０の試験をおこなう。ドライバ１２は、ストレージ装置２０を制御するソフトウェアモジュールである。ＨＢＡ１３，１４は、試験サーバ１０とストレージ装置２０とを接続するハードウェアモジュールである。なお、図示する試験サーバ１０は、２つのＨＢＡ１３，１４を備えるが、１つ、または３つ以上のＨＢＡを備えるものであってもよい。

ストレージ装置２０は、出荷先の要求に応じた出荷構成を有する。たとえば、ストレージ装置２１は、エントリモデルに相当する出荷構成であり、ＣＡ２１１、ＣＭ２１２、ＨＤＤ（Hard Disk Drive）２１３を有する。ストレージ装置２２は、ミッドレンジモデルに相当する出荷構成であり、ＣＡ２２１、ＣＭ２２２、ＨＤＤ２２３，２２４を有する。ストレージ装置２３は、ハイエンドモデルに相当する出荷構成であり、ＣＡ２３１、ＣＭ２３２、ＨＤＤ２３３，２３４，２３５、ＲＡ（Remote Adapter）２３６を有する。ストレージ装置２４は、ハイエンドモデルに相当する出荷構成であり、ＣＡ２４１、ＣＭ２４２、ＨＤＤ２４３，２４４，２４５，２４６、ＲＡ２４７を有する。

ＣＡ２１１，２２１，２３１，２４１は、試験サーバ１０と、それぞれのストレージ装置２１，２２，２３，２４とを接続するハードウェアモジュールである。ＣＡ２１１は、通信線２５を介してＨＢＡ１３のポートの１つと接続する。ＣＡ２２１は、通信線２６を介してＨＢＡ１３のポートの１つと接続する。ＣＡ２３１は、通信線２７を介してＨＢＡ１４のポートの１つと接続する。ＣＡ２４１は、通信線２８を介してＨＢＡ１４のポートの１つと接続する。

ＣＭ２１２，２２２，２３２，２４２は、それぞれストレージ装置２１，２２，２３，２４を制御する。ＲＡ２３６，２４７は、ストレージ装置２３とストレージ装置２４とを通信線２９を介して接続する。ＨＤＤ２１３, ２２３，２２４，２３３，２３４，２３５，２４３，２４４，２４５，２４６は、出荷先の要求に応じてそれぞれアクセス速度や記憶容量が異なる場合がある。また、ＨＤＤ２１３, ２２３，２２４，２３３，２３４，２３５，２４３，２４４，２４５，２４６は、記憶装置としてＨＤＤを例示するものであって、ＳＳＤ（Solid State Drive:フラッシュメモリドライブ）などであってもよい。また、ＨＤＤ２３５，２４６は、それぞれ他のＨＤＤ（たとえば、ＨＤＤ２３４，２４５）のホットスペアとして動作するものであってもよい。

このように、ストレージ装置２０は、例示したストレージ装置２１，２２，２３，２４のように、構成部品数、各構成部品の性能や役割が異なる場合があり、試験走行時間が多様（たとえば、２時間から８時間程度）である。

次に、第２の実施形態の試験サーバ１０のハードウェア構成について図３を用いて説明する。図３は、第２の実施形態の試験サーバのハードウェア構成の一例を示す図である。
試験サーバ１０は、プロセッサ１０１によって装置全体が制御されている。プロセッサ１０１には、バス１０６を介してＲＡＭ（Random Access Memory）１０２、不揮発性メモリ１０３、入出力インタフェース１０４、通信インタフェース１０５、および図示しない複数の周辺機器あるいは外部機器が接続されている。なお、制御部１１は、プロセッサ１０１、ＲＡＭ１０２、および不揮発性メモリ１０３を含んで構成される。

プロセッサ１０１は、マルチプロセッサであってもよい。プロセッサ１０１は、たとえばＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＭＰＵ（Micro Processing Unit）、ＤＳＰ（Digital Signal Processor）、ＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、またはＰＬＤ（Programmable Logic Device）である。またプロセッサ１０１は、ＣＰＵ、ＭＰＵ、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、ＰＬＤのうちの２以上の要素の組み合わせであってもよい。

ＲＡＭ１０２は、試験サーバ１０の主記憶装置として使用される。ＲＡＭ１０２には、プロセッサ１０１に実行させるＯＳ（Operating System）のプログラムやファームウェア、アプリケーションプログラムの少なくとも一部が一時的に格納される。また、ＲＡＭ１０２には、プロセッサ１０１による処理に必要な各種データが格納される。なお、ＲＡＭ１０２は、各種データの格納に用いるメモリと別体にキャッシュメモリを含むものであってもよい。

バス１０６に接続されている周辺機器としては、不揮発性メモリ１０３、通信インタフェース１０５、および入出力インタフェース１０４がある。
不揮発性メモリ１０３は、試験サーバ１０の電源遮断時においても記憶内容を保持する。不揮発性メモリ１０３は、たとえば、ＲＯＭ（Read Only Memory）、ＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable and Programmable ROM）やフラッシュメモリなどの半導体記憶装置や、ＨＤＤなどである。また、不揮発性メモリ１０３は、試験サーバ１０の補助記憶装置として使用される。不揮発性メモリ１０３には、オペレーティングシステムのプログラムやファームウェア、アプリケーションプログラム、および各種データが格納される。不揮発性メモリ１０３には、たとえば、制御部１１が実行するストレージ装置２０の試験プログラムや、ドライバ１２などが格納される。

入出力インタフェース１０４は、ストレージ装置２０を含む外部装置と接続する。たとえば、入出力インタフェース１０４は、ＨＢＡ１３，１４である。通信インタフェース１０５は、ＬＡＮ（Local Area Network）を介して、図示しないコンピュータと接続する。

以上のようなハードウェア構成によって、第２の実施形態の試験サーバ１０の処理機能を実現することができる。なお、試験サーバ１０の他、第１の実施形態に示した試験装置１も、図示した試験サーバ１０と同様のハードウェアにより実現することができる。

試験サーバ１０は、たとえばコンピュータ読み取り可能な記録媒体に記録されたプログラムを実行することにより、第２の実施形態の処理機能を実現する。試験サーバ１０に実行させる処理内容を記述したプログラムは、様々な記録媒体に記録しておくことができる。たとえば、試験サーバ１０に実行させるプログラムを不揮発性メモリ１０３に格納しておくことができる。プロセッサ１０１は、不揮発性メモリ１０３内のプログラムの少なくとも一部をＲＡＭ１０２にロードし、プログラムを実行する。また試験サーバ１０に実行させるプログラムを、図示しない光ディスク、メモリ装置、メモリカードなどの可搬型記録媒体に記録しておくこともできる。光ディスクには、ＤＶＤ（Digital Versatile Disc）、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc Read Only Memory）、ＣＤ−Ｒ（Recordable）／ＲＷ（ReWritable）などがある。メモリ装置は、図示しない機器接続インタフェースとの通信機能を搭載した記録媒体である。たとえば、メモリ装置は、メモリリーダライタによりメモリカードへのデータの書き込み、またはメモリカードからのデータの読み出しをおこなうことができる。メモリカードは、カード型の記録媒体である。

可搬型記録媒体に格納されたプログラムは、たとえばプロセッサ１０１からの制御により、不揮発性メモリ１０３にインストールされた後、実行可能となる。またプロセッサ１０１が、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み出して実行することもできる。

次に、第２の実施形態の試験サーバ１０の機能ブロックについて図４を用いて説明する。図４は、第２の実施形態の試験サーバの機能ブロックの一例を示す図である。
試験サーバ１０は、ストレージ装置２０の試験を制御する試験制御部３０と、ストレージ装置２０の試験に関する所要の情報を記憶する記憶部４０を備える。試験制御部３０は、プロセッサ１０１による試験プログラムの実行により実現する。記憶部４０は、ＲＡＭ１０２と不揮発性メモリ１０３、あるいはそのうちのいずれかにより実現する。

試験制御部３０は、試験対象のストレージ装置２０の接続監視をおこなう。たとえば、試験サーバ１０は、４つのストレージ装置２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを接続する。なお、試験サーバ１０は、２以上のストレージ装置２０を接続して、同時に試験を実行できるものであればよい。

試験制御部３０は、ストレージ装置２０の接続を検出すると、記憶部４０が記憶する試験項目定義ファイル４１から試験項目定義テーブル４２を読み出す。試験項目定義テーブル４２は、ストレージ装置２０についておこなう試験の構成、順序、時間の設定に用いる情報を定義する。

ここで、試験項目定義テーブル４２について図５を用いて説明する。図５は、第２の実施形態の試験項目定義テーブルの一例を示す図である。試験項目定義テーブル１１０は、試験項目定義テーブル４２の一例である。以下、試験項目定義テーブル１１０を用いて試験項目定義テーブル４２を説明する。

試験項目定義テーブル１１０は、「試験項目」ごとに、「基準試験時間」、「中止可否」、「中断可否」、「移動可否」、「ＢＧ（バックグランド動作）可否」、および「有効進捗率」を定義する。「試験項目」は、試験の名称を示し、「試験項目」を一意に特定可能な「項目番号」が付される。「試験項目」は、「出荷設定」、「ファームウェア更新」、「試験ボリューム作成」、「媒体アクセス試験」、「キャッシュ試験」、「パス切替試験」、「リビルド・コピーバック試験」、「リモートコピー試験」、「出荷構成チェック」がある。さらに、「試験項目」は、「次回装置接続準備」を含む。

「基準試験時間」は、基準となる基本構成における試験項目ごとの試験時間を示す。「基準試験時間」は、たとえば、「５分」、「１０分」、「２０分」などの具体的所要時間を示す。「中止可否」は、ストレージ装置２０の保全性のため、途中で試験を中止することができるか否かを示す。「中止可否」は、試験中止を可とする「可」、試験中止を否とする「否」、試験中止を定義しない「−」によって試験中止の可否を示す。

「中断可否」は、試験を途中で中断した場合に、中断した試験を再実行することができるか否かを示す。「中断可否」は、試験中断を可とする「可」、試験中断を否とする「否」、試験中断を定義しない「−」によって試験中断の可否を示す。「移動可否」は、試験項目の試験順序を並び替えることができるか否かを示す。「移動可否」は、試験順序の並び替えを可とする「可」、試験順序の並び替えを否とする「否」、試験順序の並び替えを定義しない「−」によって試験順序の並び替えの可否を示す。

たとえば、Ｗｒｉｔｅ／Ｒｅａｄ／Ｃｏｍｐａｒｅにより媒体の正常性を確認する試験である媒体アクセス試験は、タイミングの変化が試験結果に影響しないことから、中断可否が「可」である中断可能試験である。また、ホットスペア（ディスク）への退避・復元をおこなうリビルド・コピーバック試験は、試験の実行中に試験サーバ１０とストレージ装置２０との間でアクセスがないため、ドライバ１２の再起動の影響がないことから、中断可能試験である。また、ＲＡ搭載時にリモートコピーの動作確認をおこなうリモートコピー試験は、ドライバ１２の再起動の影響がないことから、中断可能試験である。

一方、キャッシュ試験は、中断によるタイミングの変化（たとえば、キャッシュ内容が変化）で試験性が損なわれる可能性があることから、中断可否が「否」である中断不可試験である。また、パス切替試験は、試験中のドライバ再起動により状態が変化して試験性が損なわれる可能性があることから中断不可試験である。また、ファームウェア更新は、中断によりファームウェア更新に失敗する可能性があることから中断不可試験である。

「ＢＧ可否」は、実行中の試験をバックグランドで動作することができるか否か、すなわち、試験の開始と終了時を除いて試験サーバ１０との連携なしにストレージ装置２０が試験をおこなうことができるか否かを示す。「ＢＧ可否」は、バックグランドで動作を可とする「可」、バックグランドで動作を否とする「否」、バックグランドで動作を定義しない「−」によってバックグランドで動作の可否を示す。「有効進捗率」は、中断不可試験（中断可否が「否」の試験項目）の中止の是非の判断に使用する閾値を示す。「有効進捗率」は、たとえば、「５０％」などの具体的閾値を示す。たとえば、試験サーバ１０は、実行中の中断不可試験の進捗率が有効進捗率「５０％」に満たない場合に中断不可試験を中止し、有効進捗率「５０％」を超える場合に中断不可試験を継続する。

再び、試験サーバ１０の機能ブロックの説明に戻る。試験制御部３０は、試験項目定義テーブル４２にもとづいて、接続を検出したストレージ装置２０ごとに試験の構成、順序、時間を設定したシナリオ３５を生成する。試験制御部３０は、ストレージ装置２０ａについてシナリオ３５ａを生成し、ストレージ装置２０ｂについてシナリオ３５ｂを生成し、ストレージ装置２０ｃについてシナリオ３５ｃを生成し、ストレージ装置２０ｄについてシナリオ３５ｄを生成する。シナリオ３５は、試験項目ごとの実行順序、試験時間、実行状態など、試験実行に関する情報を含む。

ここで、シナリオ３５について図６を用いて説明する。図６は、第２の実施形態のシナリオの一例を示す図である。シナリオ１１１は、シナリオ３５の一例である。以下、シナリオ１１１を用いてシナリオ３５を説明する。シナリオ１１１は、「試験項目」ごとに、「項」、「試験時間」、「状態フラグ」、「中断位置情報」を含む。シナリオ１１１は、各「試験項目」ごとの試験順序を、行方向にシーケンシャルに並べた並び順により示す。

「項」は、被試験装置と「試験項目」を一意に特定可能な識別情報を示す。たとえば、ある被試験装置（たとえば、ストレージ装置２０ａ）の試験項目「出荷設定」の「項」は、「Ａ１」である。「試験時間」は、試験項目定義テーブル１１０の基準試験時間に、実装構成と基本構成との差分に所要する時間を調整（たとえば、所定係数の乗算や、所定時間の加算または減算）した時間が設定される。

「状態フラグ」は、シナリオ１１１における試験項目ごとの進捗および状態を示す。「状態フラグ」は、「未実行」、「実行中」、「実行済」、「中断中」、「中止」、「エラー」などがある。状態フラグ「未実行」は、試験項目が未実施であることを示す。状態フラグ「実行中」は、試験項目が実行中であることを示す。状態フラグ「実行済」は、試験項目が実行済、すなわち試験項目が終了していることを示す。状態フラグ「中断中」は、試験項目が中断中であることを示す。状態フラグ「中止」は、試験項目が中止されたことを示す。状態フラグ「エラー」は、試験項目がエラーにより終了したことを示す。「中断位置情報」は、中断した試験項目の再開位置情報を示す。「中断位置情報」は、たとえば、「ＬＢＡ（Logical Block Addressing）＝ｘｘ」である。

すなわち、シナリオ１１１は、被試験装置であるストレージ装置２０ａについて、試験項目「試験ボリューム作成」までの試験が終了し、試験項目「媒体アクセス試験」が中断中であり、試験項目「媒体アクセス試験」の再開位置が「ＬＢＡ＝ｘｘ」であることを示す。

再び、試験サーバ１０の機能ブロックの説明に戻る。試験制御部３０は、ストレージ装置２０ごとに試験タスク３６を生成し、試験タスク３６単位で対応するシナリオ３５にしたがった試験を実行する。試験タスク３６ａは、ストレージ装置２０ａを対象とするシナリオ３５ａにしたがった試験の処理単位である。試験タスク３６ｂは、ストレージ装置２０ｂを対象とするシナリオ３５ｂにしたがった試験の処理単位である。試験タスク３６ｃは、ストレージ装置２０ｃを対象とするシナリオ３５ｃにしたがった試験の処理単位である。試験タスク３６ｄは、ストレージ装置２０ｄを対象とするシナリオ３５ｄにしたがった試験の処理単位である。

試験制御部３０は、さらに、中断制御部３１と、再実行制御部３２と、資源割当制御部３３と、シナリオ更新制御部３４を含む。中断制御部３１と、再実行制御部３２と、資源割当制御部３３と、シナリオ更新制御部３４は、試験を実行中の試験タスク３６がある場合に、新規の被試験装置を検出した場合に機能する。

試験制御部３０は、ドライバ１２を再起動して、新規の被試験装置の構成を認識する。そのため、試験制御部３０は、試験を実行中の試験タスク３６について、試験項目の終了、または試験項目の中止、または試験項目の中断を待って終了させる。たとえば、試験サーバ１０がストレージ装置２０ａ，２０ｂ，２０ｃの試験を実行中に、新規の被試験装置としてストレージ装置２０ｄの接続を検出した場合、試験制御部３０は、試験タスク３６ａ，３６ｂ，３６ｃを終了させる。

このとき、中断制御部３１は、実行中の試験項目の「中断可否」にもとづく実行中の試験項目の中断制御と、実行中の試験項目の「中止可否」にもとづく実行中の試験項目の中止制御とをおこなう。中断制御部３１は、実行中の試験の中断と中止により、アイドル状態の抑制を図る。資源割当制御部３３は、実行中の試験タスク３６への資源の割当による試験時間の調整により、アイドル状態の抑制を図る。シナリオ更新制御部３４は、シナリオ３５中の試験実行順序の並び替え制御をおこなう。すなわち、シナリオ更新制御部３４は、試験予定を更新する。シナリオ更新制御部３４は、シナリオ３５中の試験実行順序の並び替えにより、アイドル状態の抑制を図る。

再実行制御部３２は、中断した試験項目、または中止した試験項目、または所定の試験項目までの実行を終了している場合は次に実行する試験項目からの再実行制御をおこなう。

これにより、試験サーバ１０は、試験の継続性を保持可能なタイミングで、アイドル状態を抑制して試験タスク３６を終了させることができる。試験サーバ１０は、実行中の試験タスク３６の終了により、ドライバ１２の再起動による新規の被試験装置の構成認識をおこなうことができる。このような試験サーバ１０は、試験サーバ１０のアイドルタイムを削減して試験効率の向上を図ることができる。

次に、第２の実施形態の試験制御処理について図７を用いて説明する。図７は、第２の実施形態の試験制御処理のフローチャートを示す図である。
試験制御処理は、ストレージ装置２０の試験を統括的に制御する処理である。試験制御処理は、試験制御部３０により所定の始動契機（たとえば、オペレータによる試験制御開始の指示）で実行される。

［ステップＳ１１］試験制御部３０は、試験を開始する。たとえば、試験制御部３０は、試験項目定義ファイル４１の読出しなど、所要の初期化処理を実行する。
［ステップＳ１２］試験制御部３０は、新規の被試験装置（新規装置）の接続を検出したか否かを判定する。試験制御部３０は、新規装置の接続を検出した場合にステップＳ１３にすすみ、新規装置の接続を検出していない場合にステップＳ１４にすすむ。

［ステップＳ１３］試験制御部３０は、新規装置接続処理を実行する。新規装置接続処理は、新規装置の試験開始のための処理と、既接続装置（試験サーバ１０に接続済みの被試験装置）が実行中の試験の中断および再開のための処理とを含む。新規装置接続処理の詳細は、図８を用いて後で説明する。

［ステップＳ１４］試験制御部３０は、試験終了契機（たとえば、オペレータによる試験制御終了の指示）の検出を判定する。試験制御部３０は、試験終了契機を検出した場合にステップＳ１５にすすみ、試験終了契機を検出していない場合にステップＳ１２にすすむ。

［ステップＳ１５］試験制御部３０は、試験を終了する。たとえば、試験制御部３０は、所要の終了処理を実行し、試験制御処理を終了する。
次に、第２の実施形態の新規装置接続処理について図８を用いて説明する。図８は、第２の実施形態の新規装置接続処理のフローチャートを示す図である。

新規装置接続処理は、新規装置の試験開始のための処理であり、既接続装置が実行中の試験の中断および再開のための処理を含む。新規装置接続処理は、新規装置の接続検出を契機にして、試験制御処理のステップＳ１３で試験制御部３０により実行される。

［ステップＳ２１］試験制御部３０は、新規装置のシナリオ３５を生成する。
［ステップＳ２２］試験制御部３０は、中断処理を実行する。中断処理は、既接続装置が実行中の試験の中断に関する処理である。中断処理の詳細は、図９を用いて後で説明する。

［ステップＳ２３］試験制御部３０は、ドライバ１２を再起動する。これにより、試験サーバ１０は、新規装置の構成認識をおこなうことができる。
［ステップＳ２４］試験制御部３０は、シナリオ更新処理を実行する。シナリオ更新制御処理は、次回の新規装置の接続検出タイミングを予測して、新規装置の接続検出時のアイドルタイムを抑制するために既接続装置のシナリオ３５を更新する処理である。試験制御部３０は、現在の既接続装置のシナリオ３５にもとづいて新規装置の接続検出タイミングを特定できる。試験制御部３０は、試験項目の並び替えにより既接続装置のシナリオ３５を更新する。シナリオ更新処理の詳細は、図１１を用いて後で説明する。

［ステップＳ２５］試験制御部３０は、生成した新規装置のシナリオ３５にしたがい新規装置の試験を開始する。
［ステップＳ２６］試験制御部３０は、再開処理を実行する。再開処理は、更新した既接続装置のシナリオ３５にしたがい既接続装置の試験を再開する処理である。再開処理の詳細は、図１２を用いて後で説明する。試験制御部３０は、再開処理を実行後、新規装置接続処理を終了する。

次に、第２の実施形態の中断処理について図９を用いて説明する。図９は、第２の実施形態の中断処理のフローチャートを示す図である。
中断処理は、既接続装置が実行中の試験の中断に関する処理であり、新規装置接続処理のステップＳ２２で試験制御部３０により実行される。より詳しくは、中断処理は、中断制御部３１と資源割当制御部３３とにより実行される。

［ステップＳ３１］中断制御部３１は、既接続装置の有無を判定する。中断制御部３１は、既接続装置がある場合にステップＳ３２にすすみ、既接続装置がない場合に中断処理を終了する。中断制御部３１は、たとえば、シナリオ３５あるいは試験タスク３６を監視することにより既接続装置の有無を判定することができる。

［ステップＳ３２］中断制御部３１は、中断不可試験を実行中の既接続装置の有無を判定する。中断制御部３１は、中断不可試験を実行中の既接続装置がある場合にステップＳ３３にすすみ、中断不可試験を実行中の既接続装置がない場合にステップＳ４０にすすむ。中断制御部３１は、たとえば、既接続装置に対応するシナリオ３５の状態フラグから実行中の試験項目を特定する。中断制御部３１は、特定した試験項目と試験項目定義テーブル４２とを照らし合わせることで、実行中の試験が中断不可試験であるか否かを判定することができる。

［ステップＳ３３］中断制御部３１は、中断不可試験を実行中の既接続装置の１つを特定する。
［ステップＳ３４］中断制御部３１は、実行中の中断不可試験の進捗率が有効進捗率（閾値）を超えるか否かを判定する。中断制御部３１は、実行中の中断不可試験の進捗率が閾値を超える場合にステップＳ３６にすすみ、進捗率が閾値を超えない場合にステップＳ３５にすすむ。中断制御部３１は、たとえば、実行中の中断不可試験の進捗率を、試験タスク３６（たとえば、試験タスク３６からの進捗報告、あるいは進捗問い合わせに対する進捗応答）から取得することができる。中断制御部３１は、取得した進捗率と、シナリオ３５の有効進捗率とを比較して進捗率が閾値を超えるか否かを判定することができる。

［ステップＳ３５］中断制御部３１は、実行中の中断不可試験が中止可試験（中止可否が「可」の試験項目）である場合に試験を中止する。中断制御部３１は、実行中の中断不可試験が中止不可試験（中止可否が「否」の試験項目）である場合に試験を中止しない。中止された中断不可試験は、試験のやり直しとなる。具体的には、中断制御部３１は、試験タスク３６に中止指示メッセージを送信する。中断制御部３１は、試験タスク３６から中止報告メッセージを受信して試験タスク３６の試験中止を検出する。

［ステップＳ３６］中断制御部３１は、中断不可試験を実行中の既接続装置の全部を特定したか否かを判定する。中断制御部３１は、中断不可試験を実行中の既接続装置の全部を特定した場合にステップＳ３７にすすみ、全部を特定していない場合にステップＳ３３にすすむ。

［ステップＳ３７］資源割当制御部３３は、資源割当変更処理を実行する。資源割当変更処理は、試験タスク３６ごとの資源割当を変更する処理である。これにより、試験タスク３６ごとの試験処理速度を変更することができる。資源割当変更処理の詳細は、図１０を用いて後で説明する。

［ステップＳ３８］中断制御部３１は、全部の中断不可試験が終了したか否かを判定する。中断制御部３１は、全部の中断不可試験が終了した場合にステップＳ３９にすすみ、全部の中断不可試験が終了していない場合にステップＳ３７にすすむ。具体的には、試験タスク３６から終了報告メッセージを受信して試験タスク３６の試験終了を検出することで、中止不可試験を含めた中断不可試験の終了を判定できる。

［ステップＳ３９］中断制御部３１は、試験タスク３６から受信した報告メッセージ（中止報告メッセージ、終了報告メッセージ）にもとづいて対応するシナリオ３５の状態フラグを更新する。

［ステップＳ４０］中断制御部３１は、中断可能試験を実行中の既接続装置の有無を判定する。中断制御部３１は、中断可能試験を実行中の既接続装置がある場合にステップＳ４１にすすみ、中断可能試験を実行中の既接続装置がない場合に中断処理を終了する。中断制御部３１は、たとえば、既接続装置に対応するシナリオ３５の状態フラグから実行中の試験項目を特定する。中断制御部３１は、特定した試験項目と試験項目定義テーブル４２とを照らし合わせることで、実行中の試験が中断可能試験であるか否かを判定することができる。

［ステップＳ４１］中断制御部３１は、すべての中断可能試験を中断する。具体的には、中断制御部３１は、中断可能試験を実行中の試験タスク３６に中断指示メッセージを送信する。中断制御部３１は、試験タスク３６から中断報告メッセージを受信して試験タスク３６の試験中断と、中断位置情報を検出する。

［ステップＳ４２］中断制御部３１は、試験タスク３６から受信した中断報告メッセージにもとづいて対応するシナリオ３５の状態フラグと中断位置情報を更新して中断処理を終了する。

このように、試験サーバ１０は、新規装置の接続を検出すると、既接続装置の試験項目の終了、または試験項目の中止、または試験項目の中断を待って試験を一旦終了し、ドライバ１２の再起動まで次の試験項目の試験を開始しない。これにより、試験サーバ１０は、既接続装置の試験を速やかに一旦終了させることができる。

したがって、試験サーバ１０は、既接続装置の中断可能試験を中断させることで、すべての既接続装置の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。
次に、第２の実施形態の資源割当変更処理について図１０を用いて説明する。図１０は、第２の実施形態の資源割当変更処理のフローチャートを示す図である。

資源割当変更処理は、試験タスク３６ごとの資源割当を変更する処理であり、中断処理のステップＳ３７で資源割当制御部３３により実行される。
［ステップＳ５１］資源割当制御部３３は、中断不可試験を実行中の複数の既接続装置の有無を判定する。中断制御部３１は、中断不可試験を実行中の複数の既接続装置がある場合にステップＳ５２にすすみ、中断不可試験を実行中の複数の既接続装置がない場合に資源割当変更処理を終了する。資源割当制御部３３は、たとえば、既接続装置に対応するシナリオ３５の状態フラグから実行中の試験項目を特定する。資源割当制御部３３は、特定した試験項目と試験項目定義テーブル４２とを照らし合わせることで、実行中の試験が中断不可試験であるか否かを判定することができる。

［ステップＳ５２］資源割当制御部３３は、中断不可試験を実行中の既接続装置ごとの所要残時間から平均所要残時間を算出する。所要残時間は、実行中の中断不可試験が終了するまでに要する時間であり、資源割当制御部３３は、実行中の中断不可試験の試験時間と進捗率とから既接続装置ごとの所要残時間を算出できる。

［ステップＳ５３］資源割当制御部３３は、中断不可試験を実行中の既接続装置の１つを特定する。
［ステップＳ５４］資源割当制御部３３は、特定した既接続装置の所要残時間と、平均所要残時間とを比較する。資源割当制御部３３は、特定した既接続装置の所要残時間より平均所要残時間が大きい場合にステップＳ５５にすすみ、特定した既接続装置の所要残時間より平均所要残時間が大きくない場合にステップＳ５６にすすむ。

［ステップＳ５５］資源割当制御部３３は、特定した既接続装置への資源割当を縮小する。資源割当の対象となる資源は、ＣＰＵ資源、メモリ資源、通信資源など所要残時間に影響を及ぼす資源であり、資源割当制御部３３は、これら資源の１つまたは複数を資源割当の対象とすることができる。

［ステップＳ５６］資源割当制御部３３は、特定した既接続装置への資源割当を拡大する。
［ステップＳ５７］資源割当制御部３３は、中断不可試験を実行中の既接続装置の全部を特定したか否かを判定する。資源割当制御部３３は、中断不可試験を実行中の既接続装置の全部を特定していない場合にステップＳ５３にすすみ、全部を特定した場合に資源割当変更処理を終了する。

これにより、試験サーバ１０は、既接続装置の中断不可試験の終了タイミングの均衡を図り、すべての既接続装置の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。
次に、第２の実施形態のシナリオ更新処理について図１１を用いて説明する。図１１は、第２の実施形態のシナリオ更新処理のフローチャートを示す図である。

シナリオ更新処理は、次回の新規装置の接続検出タイミングを予測して、既接続装置のシナリオ３５を更新する処理であり、新規装置接続処理のステップＳ２４で試験制御部３０により実行される。より詳しくは、シナリオ更新処理は、シナリオ更新制御部３４により実行される。

［ステップＳ６１］シナリオ更新制御部３４は、次回接続予定時刻を特定する。シナリオ更新制御部３４は、既接続装置のシナリオ３５にもとづいて既接続装置のすべての試験項目の終了タイミングを把握する。シナリオ更新制御部３４は、すべての既接続装置の終了タイミングのうち最も早く試験を終了する終了タイミングに次回装置接続準備に係る時間を加えて新規装置の次回接続予定時刻を特定できる。

［ステップＳ６２］シナリオ更新制御部３４は、シナリオ更新対象の既接続装置の１つを特定（選択）する。通常、シナリオ更新制御部３４は、接続中の既接続装置のうちから最も早く試験を終了する既接続装置を除いてシナリオ更新対象の既接続装置のうちから１つを特定する。

［ステップＳ６３］シナリオ更新制御部３４は、選択した既接続装置について次回接続予定時刻に中断不可試験が重なるか否かを判定する。シナリオ更新制御部３４は、中断不可試験が重なる場合にステップＳ６４にすすみ、中断不可試験が重ならない場合にステップＳ６８にすすむ。

［ステップＳ６４］シナリオ更新制御部３４は、選択した既接続装置に対応するシナリオ３５を参照して未実行の中断可能試験の有無を判定する。シナリオ更新制御部３４は、未実行の中断可能試験がある場合にステップＳ６５にすすみ、未実行の中断可能試験がない場合にステップＳ６６にすすむ。

［ステップＳ６５］シナリオ更新制御部３４は、次回接続予定時刻に重なる中断不可試験と、未実行の中断可能試験の試験順序を入れ替える。これにより、試験サーバ１０は、試験順序を入れ替えた既接続装置が次回接続予定時刻に中断可能試験を実行中となる見込みであるため中断不可試験の終了を待つアイドルタイムを抑制できる。

［ステップＳ６６］シナリオ更新制御部３４は、選択した既接続装置に対応するシナリオ３５を参照して未実行のＢＧ可能試験（ＢＧ可否が「可」の試験項目）の有無を判定する。シナリオ更新制御部３４は、未実行のＢＧ可能試験がある場合にステップＳ６７にすすみ、未実行のＢＧ可能試験がない場合にステップＳ６８にすすむ。

［ステップＳ６７］シナリオ更新制御部３４は、次回接続予定時刻に重なる中断不可試験と、未実行のＢＧ可能試験の試験順序を入れ替える。これにより、試験サーバ１０は、試験順序を入れ替えた既接続装置が次回接続予定時刻にＢＧ可能試験を実行中となる見込みであるため中断不可試験の終了を待つアイドルタイムを抑制できる。

［ステップＳ６８］シナリオ更新制御部３４は、シナリオ更新対象の既接続装置の全部を特定したか否かを判定する。シナリオ更新制御部３４は、シナリオ更新対象の既接続装置の全部を特定していない場合にステップＳ６２にすすみ、全部を特定した場合にシナリオ更新処理を終了する。

これにより、試験サーバ１０は、すべての既接続装置の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。
次に、第２の実施形態の再開処理について図１２を用いて説明する。図１２は、第２の実施形態の再開処理のフローチャートを示す図である。

再開処理は、更新した既接続装置のシナリオ３５にしたがい既接続装置の試験を再開する処理である。再開処理は、新規装置接続処理のステップＳ２６で試験制御部３０により実行される。より詳しくは、再開処理は、再実行制御部３２により実行される。

［ステップＳ７１］再実行制御部３２は、既接続装置の有無を判定する。再実行制御部３２は、既接続装置がある場合にステップＳ７２にすすみ、既接続装置がない場合に再開処理を終了する。

［ステップＳ７２］再実行制御部３２は、既接続装置のシナリオ３５に中断した中断可試験があるか否かを判定する。再実行制御部３２は、中断可試験がある場合にステップＳ７３にすすみ、中断可試験がない場合にステップＳ７７にすすむ。

［ステップＳ７３］再実行制御部３２は、中断した中断可試験がある既接続装置の１つを、中断した中断可試験の再開対象となる接続装置として特定する。
［ステップＳ７４］再実行制御部３２は、特定した接続装置が中断した中断可試験を再開する。具体的には、再実行制御部３２は、特定した接続装置に対応する試験タスク３６に対して中断再開指示メッセージを送信する。中断制御部３１は、試験タスク３６から中断再開報告メッセージを受信して試験タスク３６の中断可試験の再開を検出する。

［ステップＳ７５］再実行制御部３２は、試験タスク３６から受信した中断再開報告メッセージにもとづいて対応するシナリオ３５の状態フラグを更新する。
［ステップＳ７６］再実行制御部３２は、中断した中断可試験がある既接続装置の全部を特定したか否かを判定する。再実行制御部３２は、中断した中断可試験がある既接続装置の全部を特定した場合にステップＳ７７にすすみ、全部を特定していない場合にステップＳ７３にすすむ。

［ステップＳ７７］再実行制御部３２は、既接続装置のシナリオ３５に未実行試験（状態フラグが「未実行」の試験項目）があり、かつ実行中試験（状態フラグが「実行中」の試験項目）がない条件を満足するかを判定する。再実行制御部３２は、条件を満足する場合にステップＳ７８にすすみ、条件を満足しない場合に再開処理を終了する。

［ステップＳ７８］再実行制御部３２は、中止した中止可試験がある既接続装置の１つを、中止した中止可試験の再開対象となる接続装置として特定する。
［ステップＳ７９］再実行制御部３２は、特定した接続装置が中止した中止可試験を再開（やり直し）する。具体的には、再実行制御部３２は、特定した接続装置に対応する試験タスク３６に対して中止再開指示メッセージを送信する。中断制御部３１は、試験タスク３６から中止再開報告メッセージを受信して試験タスク３６の中止可試験の再開を検出する。

［ステップＳ８０］再実行制御部３２は、試験タスク３６から受信した中止再開報告メッセージにもとづいて対応するシナリオ３５の状態フラグを更新する。
［ステップＳ８１］再実行制御部３２は、中止した中止可試験がある既接続装置の全部を特定したか否かを判定する。再実行制御部３２は、中止した中止可試験がある既接続装置の全部を特定した場合にステップＳ８２にすすみ、全部を特定していない場合にステップＳ７８にすすむ。

［ステップＳ８２］再実行制御部３２は、未実行試験から試験を再開する既接続装置の１つを、未実行試験の再開対象となる接続装置として特定する。
［ステップＳ８３］再実行制御部３２は、特定した接続装置について試験順序にしたがい試験を再開する。具体的には、再実行制御部３２は、特定した接続装置に対応する試験タスク３６に対して試験開始指示メッセージを送信する。中断制御部３１は、試験タスク３６から試験開始報告メッセージを受信して試験タスク３６の試験の再開を検出する。

［ステップＳ８４］再実行制御部３２は、試験タスク３６から受信した試験開始報告メッセージにもとづいて対応するシナリオ３５の状態フラグを更新する。
［ステップＳ８５］再実行制御部３２は、未実行試験から試験を再開する既接続装置の全部を特定したか否かを判定する。再実行制御部３２は、未実行試験から試験を再開する既接続装置の全部を特定していない場合にステップＳ８２にすすみ、全部を特定した場合に再開処理を終了する。

これにより、試験サーバ１０は、試験項目の終了、または試験項目の中止、または試験項目の中断を待って終了した試験を再開することができる。
次に、第２の実施形態の中断可能試験を実行中の中断制御について図１３を用いて説明する。図１３は、第２の実施形態の中断可能試験を実行中の中断制御の一例を示す図である。

なお、図４に示したように、ストレージ装置２０ａに対応する試験タスク３６を試験タスク３６ａ、ストレージ装置２０ａに対応するシナリオ３５をシナリオ３５ａとして説明する。同様に、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄに対応する試験タスク３６を試験タスク３６ｂ，３６ｃ，３６ｄ、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄに対応するシナリオ３５をシナリオ３５ｂ，３５ｃ，３５ｄとして説明する。

［タイミングＴ１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂを接続して項「Ｂ４」の試験（試験項目「媒体アクセス試験」）を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。なお、媒体アクセス試験は、中断可能試験である。

［タイミングＴ２］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが試験中の媒体アクセス試験が中断可能試験であることから、試験タスク３６ｂに試験中断を指示する。
［タイミングＴ３］ストレージ装置２０ｂが試験中の媒体アクセス試験は、試験中断の指示にしたがい中断される。試験サーバ１０は、試験タスク３６ｂから試験中断の報告を受けて、ストレージ装置２０ｂが実行していた媒体アクセス試験の中断を確認する。

［タイミングＴ４］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。
［タイミングＴ５］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａに対して対応するシナリオ３５にしたがい試験を開始する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂに対して中断した試験を中断位置から再開する。

このように、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが実行中の試験を中断することにより、既接続装置（ストレージ装置２０ｂ）の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。

次に、第２の実施形態の中断不可試験を実行中の中断制御について図１４を用いて説明する。図１４は、第２の実施形態の中断不可試験を実行中の中断制御の一例を示す図である。

［タイミングＴ６］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂを接続して項「Ｂ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。なお、キャッシュ試験は、中断不可試験である。

［タイミングＴ７］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが試験中の媒体アクセス試験が中断不可試験であることから、中断不可試験の終了を待って中断不可試験の終了を確認する。

［タイミングＴ８］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。
［タイミングＴ９］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａに対して対応するシナリオ３５にしたがい試験を開始する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂに対して終了を確認した次の試験から試験を再開する。

このように、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが実行中の試験項目の終了を待って、一連の試験を中断することにより、既接続装置（ストレージ装置２０ｂ）の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。

次に、第２の実施形態の中断可能試験と中断不可試験を並行して実行中の中断制御であって、中断不可試験終了時に中断可能試験が実行中の場合について図１５を用いて説明する。図１５は、第２の実施形態の中断可能試験と中断不可試験を並行して実行中の中断制御（中断不可試験終了時に中断可能試験が実行中の場合）の一例を示す図である。

［タイミングＴ１１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを接続して試験を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。ストレージ装置２０ｂは、項「Ｂ６」の試験（試験項目「パス切替試験」）を実行中であり、ストレージ装置２０ｃは、項「Ｃ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中である。さらに、ストレージ装置２０ｄは、項「Ｄ４」の試験（試験項目「媒体アクセス試験」）を実行中である。なお、パス切替試験およびキャッシュ試験は中断不可試験であり、媒体アクセス試験は中断可能試験である。試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃが中断不可試験を実行中であることから、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃが実行中の中断不可試験の終了を待つ。

［タイミングＴ１２］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが試験中のパス切替試験の終了を確認する。
［タイミングＴ１３］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｃが試験中のキャッシュ試験の終了を確認する。

［タイミングＴ１４］試験サーバ１０は、実行中の中断不可試験がなく、かつストレージ装置２０ｄが試験中の媒体アクセス試験が中断可能試験であることから、試験タスク３６ｄに試験中断を指示する。

［タイミングＴ１５］ストレージ装置２０ｄが試験中の媒体アクセス試験は、試験中断の指示にしたがい中断される。試験サーバ１０は、試験タスク３６ｄから試験中断の報告を受けて、ストレージ装置２０ｄが実行していた媒体アクセス試験の中断を確認する。

［タイミングＴ１６］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。
［タイミングＴ１７］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａに対して対応するシナリオ３５にしたがい試験を開始する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｃ，２０ｄに対して終了を確認した次の試験から試験を再開する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｄに対して中断した試験を中断位置から再開する。

このように、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｄが実行中の試験を中断することにより、既接続装置（ストレージ装置２０ｄ）の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃが実行中の試験項目の終了を待ってストレージ装置２０ｄが実行中の試験を中断することにより、全体としてアイドルタイムを抑制できる。

次に、第２の実施形態の中断可能試験と中断不可試験を並行して実行中の中断制御であって、中断不可試験終了前に中断可能試験が終了した場合について図１６を用いて説明する。図１６は、第２の実施形態の中断可能試験と中断不可試験を並行して実行中の中断制御（中断不可試験終了前に中断可能試験が終了した場合）の一例を示す図である。

［タイミングＴ２１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを接続して試験を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。ストレージ装置２０ｂは、項「Ｂ４」の試験（試験項目「媒体アクセス試験」）を実行中であり、ストレージ装置２０ｃは、項「Ｃ６」の試験（試験項目「パス切替試験」）を実行中である。さらに、ストレージ装置２０ｄは、項「Ｄ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中である。なお、パス切替試験およびキャッシュ試験は中断不可試験であり、媒体アクセス試験は中断可能試験である。試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｃ，２０ｄが中断不可試験を実行中であることから、ストレージ装置２０ｃ，２０ｄが実行中の中断不可試験の終了を待つ。

［タイミングＴ２２］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが試験中の媒体アクセス試験の終了を確認する。
［タイミングＴ２３］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｃが試験中のパス切替試験の終了を確認する。

［タイミングＴ２４］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｄが試験中のキャッシュ試験の終了を確認する。
［タイミングＴ２５］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。

［タイミングＴ２６］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａに対して対応するシナリオ３５にしたがい試験を開始する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄに対して終了を確認した次の試験から試験を再開する。

このように、試験サーバ１０は、中断不可試験の終了待ち時間の間に、中断可能試験を終了させることができる場合がある。したがって、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃが実行中の試験項目の終了を待つ間に、ストレージ装置２０ａが実行中の中断可能試験を実行することにより、全体としてアイドルタイムを抑制できる。

次に、第２の実施形態の中断不可試験の進捗率を反映した中断制御について図１７および図１８を用いて説明する。図１７は、第２の実施形態の中断不可試験の進捗率が有効進捗率を超えない場合の中断制御の一例を示す図である。

［タイミングＴ３１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂを接続して項「Ｂ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。なお、キャッシュ試験は、中断不可試験である。

［タイミングＴ３２］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが試験中のキャッシュ試験が中断不可試験であることから、中断不可試験の進捗率と有効進捗率を比較する。試験サーバ１０は、中断不可試験の進捗率「４０％」が有効進捗率「５０％」を超えないことから、試験タスク３６ｂに試験中止を指示する。

［タイミングＴ３３］ストレージ装置２０ｂが試験中のキャッシュ試験は、試験中止の指示にしたがい中止される。試験サーバ１０は、試験タスク３６ｂから試験中止の報告を受けて、ストレージ装置２０ｂが実行していたキャッシュ試験の中止を確認する。

［タイミングＴ３４］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。
［タイミングＴ３５］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａに対して対応するシナリオ３５にしたがい試験を開始する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂに対して中止した試験から再開する。

このように、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが実行中の中断不可試験の進捗率と有効進捗率を比較したうえで中断不可試験を中止することにより、中断不可試験の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。

図１８は、第２の実施形態の中断不可試験の進捗率が有効進捗率を超える場合の中断制御の一例を示す図である。
［タイミングＴ４１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂを接続して項「Ｂ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。なお、キャッシュ試験は、中断不可試験である。

［タイミングＴ４２］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが試験中のキャッシュ試験が中断不可試験であることから、中断不可試験の進捗率と有効進捗率を比較する。試験サーバ１０は、中断不可試験の進捗率「７０％」が有効進捗率「５０％」を超えることから中断不可試験を続行し、試験終了を待つ。

［タイミングＴ４３］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。
［タイミングＴ４４］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａに対して対応するシナリオ３５にしたがい試験を開始する。また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂに対して終了を確認した次の試験から試験を再開する。

このように、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂが実行中の中断不可試験の進捗率と有効進捗率を比較したうえで中断不可試験を続行することにより、全体としてアイドルタイムを抑制できる。

次に、第２の実施形態の試験項目の並び替えをおこなうシナリオ更新制御について図１９および図２０を用いて説明する。図１９は、第２の実施形態のシナリオ更新前の既接続装置の試験予定と、新規装置の接続予測タイミングの一例を示す図である。

［タイミングＴ５１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを接続して試験を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。
［タイミングＴ５２］試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｂによる項「Ｂ６」の試験（試験項目「パス切替試験」）の終了と、ストレージ装置２０ｄによる項「Ｄ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）の終了を確認する。試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｃによる項「Ｃ７」の試験（試験項目「リビルド・コピーバック試験」）の中断を確認する。

［タイミングＴ５３］試験サーバ１０は、ドライバ１２を再起動し、ストレージ装置２０ａの構成の認識をおこなう。
試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄのそれぞれのシナリオ３５から、タイミングＴ５４で試験を開始した場合にタイミングＴ５５でストレージ装置２０ｂの試験が終了することを特定する。これにより、試験サーバ１０は、タイミングＴ５６でストレージ装置２０ｂに代わって新規のストレージ装置２０が接続されることを特定（予測）できる。

試験サーバ１０は、タイミングＴ５６において、ストレージ装置２０ａが項「Ａ５」の試験を実行中であり、ストレージ装置２０ｃが項「Ｃ５」の試験を実行中であり、ストレージ装置２０ｄが項「Ｄ６」の試験を実行中であることを特定できる。項「Ａ５」の試験および項「Ｃ５」の試験は試験項目「キャッシュ試験」であり、項「Ｄ６」の試験は、試験項目「パス切替試験」である。パス切替試験およびキャッシュ試験は、いずれも中断不可試験であり、速やかに試験を中断することができないから、試験サーバ１０は、タイミングＴ５６以降にアイドルタイムが生じることとなる。そこで、シナリオ更新制御部３４は、シナリオ３５中の試験実行順序の並び替え制御をおこなう。

図２０は、第２の実施形態のシナリオ更新後の既接続装置の試験予定と、新規装置の接続予測タイミングの一例を示す図である。
試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ａについて、項「Ａ４」の試験（試験項目「媒体アクセス試験」）が未実行の中断可能試験であることから、項「Ａ４」の試験と項「Ａ５」の試験を入れ替える。これにより、試験サーバ１０は、接続予測タイミング（タイミングＴ５６）で項「Ａ４」の試験を中断することができる。

また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｄについて、項「Ｄ７」の試験（試験項目「リビルド・コピーバック試験」）および項「Ｄ８」の試験（試験項目「リモートコピー試験」）がそれぞれ未実行のＢＧ可能試験（中断可能試験でもある）であることから、項「Ｄ７」の試験および項「Ｄ８」の試験と項「Ｄ６」の試験を入れ替える。これにより、試験サーバ１０は、接続予測タイミング（タイミングＴ５６）で項「Ｄ８」の試験をバックグランドで実行または中断することができる。

また、試験サーバ１０は、ストレージ装置２０ｃについて未実行のＢＧ可能試験および未実行の中断可能試験がないことから、項「Ｃ５」の試験の入替をおこなわない。
このように、試験サーバ１０は、接続予測タイミングを予測して試験順序を入れ替えるので、中断不可試験の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。

次に、第２の実施形態の資源割当の最適化をおこなう資源割当制御について図２１および図２２を用いて説明する。図２１は、第２の実施形態の資源割当制御がない場合の試験進行の一例を示す図である。

［タイミングＴ６１］試験サーバ１０がストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄを接続して試験を実行中に、ストレージ装置２０ａの接続を検出する。
ストレージ装置２０ｂは、項「Ｂ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中であり、タイミングＴ６３に終了予定である。ストレージ装置２０ｃは、項「Ｃ５」の試験（試験項目「キャッシュ試験」）を実行中であり、タイミングＴ６２に終了予定である。ストレージ装置２０ｄは、項「Ｄ６」の試験（試験項目「パス切替試験」）を実行中であり、タイミングＴ６４に終了予定である。

キャッシュ試験およびパス切替試験は、いずれも中断不可試験であり、速やかに試験を中断することができないから、試験サーバ１０は、タイミングＴ６２以降にアイドルタイムが生じることとなる。そこで、資源割当制御部３３は、実行中の試験タスク３６への資源の割当による試験時間の調整により、アイドル状態の抑制を図る。

ストレージ装置２０ｂにおける項「Ｂ５」の試験の所要残時間は、タイミングＴ６１において「Ｔ６３−Ｔ６１」である。ストレージ装置２０ｃにおける項「Ｃ５」の試験の所要残時間は、タイミングＴ６１において「Ｔ６２−Ｔ６１」である。ストレージ装置２０ｄにおける項「Ｄ６」の試験の所要残時間は、タイミングＴ６１において「Ｔ６４−Ｔ６１」である。たとえば、所要残時間「Ｔ６３−Ｔ６１」，「Ｔ６２−Ｔ６１」，「Ｔ６４−Ｔ６１」の平均所要残時間が「ＴＡ」であり、「Ｔ６２−Ｔ６１」＜「ＴＡ」＜「Ｔ６３−Ｔ６１」＜「Ｔ６４−Ｔ６１」であるとする。このとき、資源割当制御部３３は、試験タスク３６ｂ，３６ｄへの資源割当を拡大し、試験タスク３６ｃへの資源割当を縮小する。

図２２は、第２の実施形態の資源割当制御がある場合の試験進行の一例を示す図である。
資源割当制御部３３は、随時（たとえば、タイミングＴ７１，Ｔ７２，Ｔ７３）に試験タスク３６への資源割当を見直してストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄの試験終了タイミングの平均化を図る。これにより、資源割当制御部３３は、ストレージ装置２０ｂ，２０ｃ，２０ｄが実行中の試験をほぼ同時に終了させることができる（タイミングＴ７４）。

これにより、試験サーバ１０は、中断不可試験の試験終了を待つアイドルタイムを抑制できる。
なお、上記の処理機能は、コンピュータによって実現することができる。その場合、試験サーバ１０、第１の実施形態に示した試験装置１が有すべき機能の処理内容を記述したプログラムが提供される。そのプログラムをコンピュータで実行することにより、上記処理機能がコンピュータ上で実現される。処理内容を記述したプログラムは、コンピュータで読み取り可能な記録媒体に記録しておくことができる。コンピュータで読み取り可能な記録媒体としては、磁気記憶装置、光ディスク、光磁気記録媒体、半導体メモリなどがある。磁気記憶装置には、ハードディスク装置（ＨＤＤ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）、磁気テープなどがある。光ディスクには、ＤＶＤ、ＤＶＤ−ＲＡＭ、ＣＤ−ＲＯＭ／ＲＷなどがある。光磁気記録媒体には、ＭＯ（Magneto-Optical disk）などがある。

プログラムを流通させる場合には、たとえば、そのプログラムが記録されたＤＶＤ、ＣＤ−ＲＯＭなどの可搬型記録媒体が販売される。また、プログラムをサーバコンピュータの記憶装置に格納しておき、ネットワークを介して、サーバコンピュータから他のコンピュータにそのプログラムを転送することもできる。

プログラムを実行するコンピュータは、たとえば、可搬型記録媒体に記録されたプログラムもしくはサーバコンピュータから転送されたプログラムを、自己の記憶装置に格納する。そして、コンピュータは、自己の記憶装置からプログラムを読み取り、プログラムにしたがった処理を実行する。なお、コンピュータは、可搬型記録媒体から直接プログラムを読み取り、そのプログラムにしたがった処理を実行することもできる。また、コンピュータは、ネットワークを介して接続されたサーバコンピュータからプログラムが転送されるごとに、逐次、受け取ったプログラムにしたがった処理を実行することもできる。

また、上記の処理機能の少なくとも一部を、ＤＳＰ、ＡＳＩＣ、ＰＬＤなどの電子回路で実現することもできる。

１ 試験装置
２ 試験実行部
３ 接続検出部
４ 試験予定生成部
５，３１ 中断制御部
６，３２ 再実行制御部
７，４０ 記憶部
８，８ａ，８ｂ，８ｃ，８ｄ，２０，２０ａ，２０ｂ，２０ｃ，２０ｄ，２１，２２，２３，２４ ストレージ装置
９，９ａ，９ｂ，９ｃ，９ｄ 試験予定
１０ 試験サーバ
１１ 制御部
１２ ドライバ
２５，２６，２７，２８，２９ 通信線
３０ 試験制御部
３３ 資源割当制御部
３４ シナリオ更新制御部
３５，３５ａ，３５ｂ，３５ｃ，３５ｄ，１１１ シナリオ
３６，３６ａ，３６ｂ，３６ｃ，３６ｄ 試験タスク
４１ 試験項目定義ファイル
４２，１１０ 試験項目定義テーブル
１０１ プロセッサ
１０２ ＲＡＭ
１０３ 不揮発性メモリ
１０４ 入出力インタフェース
１０５ 通信インタフェース
１０６ バス
２１１，２２１，２３１，２４１ ＣＡ
２１２，２２２，２３２，２４２ ＣＭ
２１３，２２３，２２４，２３３，２３４，２３５，２４３，２４４，２４５，２４６ ＨＤＤ
２３６，２４７ ＲＡ

Claims (10)

1. 複数のストレージ装置を接続して試験を実行する前記ストレージ装置の試験装置であって、
   前記ストレージ装置の接続を検出する接続検出部と、
   前記接続を検出したストレージ装置について複数の試験項目を時系列に配置した試験予定を生成する試験予定生成部と、
   前記接続を検出したストレージ装置の試験を前記試験予定にしたがい実行する試験実行部と、
   前記接続の検出を契機に、前記試験を実行中のストレージ装置の試験予定にもとづいて前記試験の中断時機を決定し、前記試験を前記中断時機で中断する中断制御部と、
   前記接続を検出したストレージ装置に関する所要の初期化処理の実行後に前記接続を検出したストレージ装置を含む前記複数のストレージ装置について前記試験を再実行する再実行制御部と、
   を備えることを特徴とするストレージ装置の試験装置。
2. 前記試験項目は、前記試験項目の試験を実行中に前記試験項目の試験を中止することの可否、および前記試験項目の試験を実行中に前記試験項目の試験を中断することの可否が規定されていて、
   前記中断制御部は、中止不可の試験項目の試験、または中止可能かつ中断不可の試験項目の試験を実行中の場合、前記中止不可の試験項目の試験、または前記中止可能かつ中断不可の試験項目の試験のすべての終了後を、前記試験の中断時機に決定することを特徴とする請求項１記載のストレージ装置の試験装置。
3. 前記中断制御部は、前記中止不可の試験項目の試験、または前記中止可能かつ中断不可の試験項目の試験のすべての終了後に、中止可能かつ中断可能の試験項目の試験を実行中の場合、前記中止可能かつ中断可能の試験項目の試験を、中断位置を記録して中断することを特徴とする請求項２記載のストレージ装置の試験装置。
4. 前記再実行制御部は、接続中のすべてのストレージ装置についてすべての試験項目が終了または中断している状態で前記初期化処理を実行した後に前記中断した試験項目の試験を前記中断位置から再実行することを特徴とする請求項３記載のストレージ装置の試験装置。
5. 前記試験項目は、前記中止可能かつ中断不可の試験項目について、試験中止の是非の決定に用いる進捗閾値が規定されていて、
   前記中断制御部は、前記中止可能かつ中断不可の試験項目の試験が前記進捗閾値よりも進捗している場合に前記中止可能かつ中断不可の試験項目の試験の終了を待ち、前記中止可能かつ中断不可の試験項目の試験が前記進捗閾値よりも進捗していない場合に前記中止可能かつ中断不可の試験項目の試験を中止し、
   前記再実行制御部は、前記中止した試験項目の試験がある場合に前記中止した試験を再実行することを特徴とする請求項２乃至請求項４のいずれか１つに記載のストレージ装置の試験装置。
6. 前記試験項目は、前記試験項目の試験の実行順序を移動することの可否が規定されていて、
   前記試験予定は、前記試験項目ごとの試験時間を特定可能な試験時間情報が含まれていて、
   前記試験時間情報に基づいて次回の前記ストレージ装置の接続予定時刻を検出し、移動可能かつ中断不可の試験項目の試験の実行予定時間と、前記接続予定時刻とが重なる場合、中断可能の試験項目の試験の実行予定時間と前記接続予定時刻とが重なるように、前記移動可能かつ中断不可の試験項目の試験の実行順序を移動して前記試験予定を更新する試験予定更新部を備えることを特徴とする請求項２記載のストレージ装置の試験装置。
7. 前記試験項目は、前記試験項目の試験をバックグランドで動作することの可否が規定されていて、
   前記試験予定は、前記試験項目ごとの試験時間を特定可能な試験時間情報が含まれていて、
   前記試験時間情報に基づいて次回の前記ストレージ装置の接続予定時刻を検出し、移動可能かつ中断不可の試験項目の試験の実行予定時間と、前記接続予定時刻とが重なる場合、バックグランド動作可能の試験項目の試験の実行予定時間と前記接続予定時刻とが重なるように、前記移動可能かつ中断不可の試験項目の試験の実行順序を移動して前記試験予定を更新する試験予定更新部を備えることを特徴とする請求項２記載のストレージ装置の試験装置。
8. 前記試験予定は、前記試験項目ごとの試験時間を特定可能な試験時間情報が含まれていて、
   前記接続検出部による前記ストレージ装置の接続検出時に、複数の中断不可の試験項目の試験を実行中の場合、前記試験時間情報にもとづいて前記中断不可の試験項目の試験の試験終了までの所要時間を取得し、前記試験装置が前記試験の実行のために割り当てている資源を、前記複数の中断不可の試験項目の試験のうち前記所要時間の小さな前記中断不可の試験項目の試験から、前記所要時間の大きな前記中断不可の試験項目の試験に分配する資源割当制御部を備えることを特徴とする請求項２記載のストレージ装置の試験装置。
9. 複数のストレージ装置を接続して試験を実行する前記ストレージ装置の試験装置が、
   前記ストレージ装置の接続を検出し、
   前記接続を検出したストレージ装置について複数の試験項目をシーケンシャルに配置した試験予定を生成し、
   前記接続を検出したストレージ装置の試験を前記試験予定にしたがい実行し、
   前記接続の検出を契機に、前記試験を実行中のストレージ装置の試験予定にもとづいて前記試験の中断時機を決定し、前記試験を前記中断時機で中断し、
   前記接続を検出したストレージ装置に関する所要の初期化処理の後に前記接続を検出したストレージ装置を含む前記複数のストレージ装置について前記試験を再実行する、
   処理を実行することを特徴とする試験方法。
10. 複数のストレージ装置を接続して試験を実行する前記ストレージ装置の試験装置に、
    前記ストレージ装置の接続を検出し、
    前記接続を検出したストレージ装置について複数の試験項目をシーケンシャルに配置した試験予定を生成し、
    前記接続を検出したストレージ装置の試験を前記試験予定にしたがい実行し、
    前記接続の検出を契機に、前記試験を実行中のストレージ装置の試験予定にもとづいて前記試験の中断時機を決定し、前記試験を前記中断時機で中断し、
    前記接続を検出したストレージ装置に関する所要の初期化処理の後に前記接続を検出したストレージ装置を含む前記複数のストレージ装置について前記試験を再実行する、
    処理を実行させることを特徴とする試験プログラム。

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