JP2015028781A - アピアランスデータをデジタル的に生成する方法および装置 - Google Patents
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Abstract
Description
(a)基準マテリアルの測定したアピアランス性質の値を示すデータの第1セットにアクセスする工程であって、測定したアピアランス性質は基準マテリアル上の複数の位置で、それぞれの位置に関して複数の輝度方向または複数の視野方向に対して測定されるところの工程と、
(b)ソースマテリアルの少なくともひとつの測定したアピアランス性質の値を示すデータの第2セットにアクセスする工程であって、ソースマテリアルのアピアランス性質は、すべてではなく、基準マテリアル上で測定される少なくともひとつのアピアランス性質を含む、工程と、
(c)物理的に有形なソースマテリアルに関連するデータの第2セットからのデータの少なくとも一部に基づいて、および、第2セットのデータと異なる物理的に有形の基準マテリアルの測定した性質のデータの第1セットからのデータの少なくとも一部に基づいて、シミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータの第3セットを決定する工程とを有する。
(i)ソースマテリアルの測定したアピアランス性質の値および基準マテリアルの測定したアピアランス性質の値の少なくとも一部に基づいてシミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータの第3セットを決定する工程と、
(ii)エラー値を決定する工程であって、エラー値は、
(iia)ソースマテリアルの測定したアピアランス性質のパラメータと、データの第3セットの対応するアピアランス性質の同じパラメータとの間の差、
(iib)基準マテリアルの特定したアピアランス性質のパラメータと、データの第3セットの対応する測定したアピアランス性質の同じパラメータとの間の差に基づく物理的なもっともらしさの値
を含むところのエラー値を決定する工程と、
(iii)エラー値が所定の閾値より大きければ、シミュレートしたマテリアルの同期アピアランスを示すデータの第3セットの決定を更新する工程と、
(iv)エラー値が所定の閾値より小さくなるか、エラー値の変化が第2の所定の閾値より小さくなるまで、ステップ(i)から(iii)を繰り返す工程と
を含む。
B’ ’ ’x=WxB’ ’+(1−Wx)Bx
ここで、Wxは選択された画素xに割り当てられた重みであり、B’ ’ ’xは画素xに対する中間の修正したB’ ’ ’の値である(ステップ36)。その後、B’はB’=B’ ’ ’を設定することにより再び初期設定される(ステップ37)。その後、反復手順はステップ32にもどりB’を反復修正する。
以下の文献は、実施形態の関連技術であり、実施形態を補足する範囲で、ここに参考文献として組み込まれる。
Claims (15)
- 物理的にもっともらしいアピアランス性質を有するシミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータをデジタル的に生成する方法であり、前記同期したアピアランスは、物理的に有形の基準マテリアルおよび基準アピアランスと異なる物理的に有形のソースマテリアルの選択したアピアランス性質の少なくとも一つの値に基づいているところの方法であって、
(a)前記基準マテリアルの測定したアピアランス性質の値を示すデータ第1セットにアクセスする工程であって、前記測定したアピアランス性質は前記基準マテリアル上の複数の位置で、前記位置のそれぞれに関して、複数の輝度方向または複数の視野方向に対して測定されるところの工程と、
(b)前記ソースマテリアルの少なくともひとつのアピアランス性質の値を示すデータの第2セットにアクセスする工程であって、前記ソースマテリアルのアピアランス性質は、前記基準マテリアル上で測定されるアピアランス性質の少なくとも一つを含むところの工程と、
(c)前記物理的に有形のソースマテリアルに関連するデータの前記第2セットからのデータの一部に少なくとも基づいて、かつ、データの前記第2セットと異なる物理的に有形の前記基準マテリアルの測定したアピアランスのデータの前記第1セットからのデータの一部に少なくとも基づいて、シミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータの第3セットを決定する工程と
を備える方法。 - 複数の輝度方向からの近赤外線、紫外線または人間が検出可能な周波数スペクトル範囲のEM放射線を用いて、前記基準マテリアル上の各々の位置を照射することによって前記基準マテリアル上の複数の位置で前記物理的に有形の基準マテリアルのアピアランス性質を測定し、前記複数の視野方向から前記基準マテリアルから反射しまたは透過したEM放射線を測定し、および、データの前記第1セットを形成するべく反射しまたは透過したEM放射線に基づいて前記基準マテリアルの前記アピアランス性質の値を決定する工程をさらに備える請求項1に記載の方法。
- 前記工程(c)は、
(i)前記ソースマテリアルの前記測定したアピアランス性質の値の一部、および、前記基準マテリアルの前記測定したアピアランス性質の値の一部に少なくとも基づいて、シミュレートしたマテリアルの前記同期したアピアランスを示すデータの第3セットを決定する工程と、
(ii)エラー値を決定する工程であって、当該エラー値が
(iia)前記ソースマテリアルの測定したアピアランス性質のパラメータと、データの前記第3セットにおける対応するアピアランス性質の同じパラメータとの間の差、
(iib)前記基準マテリアルの測定したアピアランス性質のパラメータと、データの前記第3セット内の対応する測定したアピアランス性質の同じパラメータとの間の差に基づく物理的もっともらしさの値
を含むところの工程と、
(iii)前記エラー値が所定の閾値より大きい場合には、前記シミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータの前記第3セットの決定を更新する工程と、
(iv)前記エラー値が前記所定の閾値より小さくなるか、前記エラー値の変化が第2の所定の閾値より小さくなるまで、(i)から(iii)の工程を繰り返す工程と
を含む請求項1または2に記載の方法。 - データの前記第1セットは、双方向テクスチャ関数(BTF)、双方向表面散乱反射率値分布関数(BSSRDF)、空間変化双方向送信分布関数(SVBTDF)、または空間変化双方向反射率値分布関数(SVBRDF)を構成する、請求項1から3のいずれか一項に記載の方法。
- データの前記第2セットは、前記ソースマテリアルの複数の測定したアピアランス性質の値を示し、前記ソースマテリアルのアピアランス性質は、前記基準マテリアル上で測定されるいくつかのアピアランス性質を含む、請求項1から4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記アピアランス性質は、明度、彩度、色相、光沢、鏡面性、イメージの区別、ぼかし、表面下散乱、透光性、濁り度、テクスチャ、表面高さ変化および法線マップからなる群から選択される、請求項1から5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記シミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すイメージを形成するべく、データの前記第3セットを処理する工程をさらに備える、請求項1から6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記基準マテリアルまたは前記ソースマテリアルを含む物理的に有形のマテリアルに類似のファミリーを示すアピアランス性質の標準化された値を示すデータの第4セットにアクセスする工程をさらに備える、請求項1から7のいずれか一項に記載の方法。
- 基準マテリアル(MR)の過密投入オリジナルアピアランス関数(B)を与える工程と、
ソースマテリアル(Ms)のまばらな反射率値(D)を与える工程と、
前記まばらな反射率値(D)を前記オリジナルアピアランス関数(B)に転送することによって修正したアピアランス関数(B’)を確立する工程であって、それによって、前記修正したアピアランス関数(B’)は前記基準マテリアル(MR)および前記ソースマテリアル(Ms)の両方のアピアランス性質を組み合わせたシミュレートしたマテリアルを表す工程と
をさらに備える請求項1から8のいずれか一項に記載の方法。 - オリジナルアピアランス関数(B)から、前記オリジナルアピアランス関数(B)の修正すべき画素を選択する工程をさらに備え、
画素を選択する工程は、画素の反射率値とまばらな反射率値(D)との間の類似性に基づいて、前記オリジナルアピアランス関数(B)の画素に重みを割り当てる工程を有する、請求項9に記載の方法。 - ソースマテリアル(Ms)のまばらな反射率値(D)と修正したアピアランス関数(B’)の選択した画素によって表されるシミュレートしたマテリアルとの間の色差を測定する第1エラー項を確立する工程と、
前記修正したアピアランス関数(B’)によって表されるシミュレートしたマテリアルと、前記オリジナルアピアランス関数(B)によって表されるような基準マテリアル(MR)との間のアピアランス差を測定する第2エラー項を確立する工程と
をさらに備える請求項9に記載の方法。 - 前記第1エラー項を確立する工程は、前記修正したアピアランス関数(B’)によって表されるシミュレートしたマテリアルのシミュレートした測定を含む、請求項11に記載の方法。
- 前記修正したアピアランス関数(B’)を確立する工程は、第1および第2エラー項を含むエラー関数(E(B’))を反復して最小化する工程を含み、それによって、各反復工程は次に続く反復工程を開始する中間アピアランス関数(B’ ’ ’)を生成し、また、それによってエラー関数(E(B’))が閾値より小さくなるか、または、反復手順の収束が検出されたとき、反復処理が終了する、請求項12に記載の方法。
- 物理的にもっともらしいアピアランス性質を有するシミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータをデジタル的に生成するシステムであり、前記同期したアピアランスは、物理的に有形の基準マテリアルおよび基準アピアランスと異なる物理的に有形のソースマテリアルの選択したアピアランス性質の少なくとも一つの値に基づいているところのシステムであって、
(a)前記基準マテリアルの測定したアピアランス性質の値を示すデータの第1セットを格納するメモリであって、前記測定したアピアランス性質は前記基準マテリアル上の複数の位置で、前記位置のそれぞれに関して、複数の輝度方向または複数の視野方向に対して測定されるところのメモリと、
(b)前記ソースマテリアルの少なくともひとつのアピアランス性質の値を示すデータの第2セットを測定する装置であって、前記ソースマテリアルのアピアランス性質は、前記基準マテリアル上で測定されるアピアランス性質の少なくとも一つを含むところの装置と、
(c)データの前記第1および第2セットを受信し、かつ、前記物理的に有形のソースマテリアルに関連するデータの前記第2セットからのデータの一部に少なくとも基づいて、かつ、データの前記第2セットと異なる物理的に有形の前記基準マテリアルの測定したアピアランスのデータの前記第1セットからのデータの一部に少なくとも基づいて、シミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスを示すデータの第3セットを決定するように構成されたコンピュータと
を備えるシステム。 - 請求項1から13のいずれか一項に記載の方法によって生成された物理的にもっともらしいアピアランス性質を有するシミュレートしたマテリアルの同期したアピアランスに対するアピアランス性質の値のデータセット。
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