JP2014215088A - Radiation detector, radiation detection method, and computer program - Google Patents

Radiation detector, radiation detection method, and computer program Download PDF

Info

Publication number
JP2014215088A
JP2014215088A JP2013090601A JP2013090601A JP2014215088A JP 2014215088 A JP2014215088 A JP 2014215088A JP 2013090601 A JP2013090601 A JP 2013090601A JP 2013090601 A JP2013090601 A JP 2013090601A JP 2014215088 A JP2014215088 A JP 2014215088A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
unit
radiation
singular
signal output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013090601A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6159133B2 (en
Inventor
健吾 安井
Kengo Yasui
健吾 安井
松永 大輔
Daisuke Matsunaga
大輔 松永
直人 枝
Naoto Eda
直人 枝
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Horiba Ltd filed Critical Horiba Ltd
Priority to JP2013090601A priority Critical patent/JP6159133B2/en
Publication of JP2014215088A publication Critical patent/JP2014215088A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6159133B2 publication Critical patent/JP6159133B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a radiation detector, a radiation detection method, and a computer program capable of detecting radiation with high sensitivity and accuracy.SOLUTION: A radiation detector 4 collects electrons generated by radiation inside a semiconductor block 13 by any of a plurality of anodes (first electrodes) 11, and counts a detection signal corresponding to a charge amount in a signal processing part 3. The electrons generated by radiation which is incident in the intermediate part among the plurality of anodes 11 are dispersed in the plurality of anodes 11 and then collected. When a peculiar signal which is the detection signal generated at this time is counted, the number of counts and energy of the radiation become obscure. The signal processing part 3 determines whether or not the detection signal is the peculiar signal based on temporal characteristics of the detection signal, and does not count the peculiar signal. As a result, detection accuracy can be increased without requiring a shield for reducing detection sensitivity.

Description

本発明は、放射線検出用の複数の電極を備えた放射線検出器、放射線検出方法、及び放射線検出器の一部の処理を実行するコンピュータプログラムに関する。   The present invention relates to a radiation detector having a plurality of radiation detection electrodes, a radiation detection method, and a computer program for executing a part of the processing of the radiation detector.

X線等の放射線を検出する放射線検出器には、半導体放射線検出素子を用いたものがある。半導体放射線検出素子は、シリコン又はゲルマニウム等の半導体に、信号出力用の第1電極とバイアス印加用の第2電極とが取り付けられている。バイアス電圧が印加されることにより、半導体放射線検出素子の内部で第1電極と第2電極との間に電界が発生する。半導体放射線検出素子に放射線が入射した場合、放射線のエネルギーに応じた数の電子−正孔対が発生し、電子と正孔とは夫々に電界に従って移動し、電子又は正孔が第1電極に集められ、電子又は正孔の電荷量に応じた信号が第1電極から出力される。   Some radiation detectors that detect radiation such as X-rays use semiconductor radiation detection elements. In the semiconductor radiation detection element, a first electrode for signal output and a second electrode for bias application are attached to a semiconductor such as silicon or germanium. When a bias voltage is applied, an electric field is generated between the first electrode and the second electrode inside the semiconductor radiation detection element. When radiation is incident on the semiconductor radiation detection element, the number of electron-hole pairs corresponding to the energy of the radiation is generated, and the electrons and holes move according to the electric field, and the electrons or holes move to the first electrode. The collected signals are output from the first electrode according to the amount of charge of electrons or holes.

従来の半導体放射線検出素子には、複数の第1電極を備えたものがある。例えば、板状の半導体の一面に複数の第1電極を二次元状に並べて備え、他面に第2電極を備えた半導体放射線検出素子が利用されている。特許文献1には、半導体放射線検出素子に複数の第1電極を備えたX線検出器が開示されている。放射線が入射した場合、電子又は正孔は最も近い第1電極に集められ、電子又は正孔が集まった第1電極から信号が出力される。第1電極を複数に分割することによって、半導体に発生するリーク電流も分割され、各第1電極からの信号に含まれるリーク電流の影響が減少し、信号のS/N比が向上する。また、放射線が入射した場合、信号処理にある程度の時間が必要であるので、放射線を検出できない期間が生じる。複数の第1電極を備えることで、一つの第1電極を用いて放射線を検出した直後でも、他の第1電極を用いて放射線を検出することができるので、放射線を検出する効率が向上する。また、放射線によって発生した電子又は正孔は最も近い第1電極に集められるので、第1電極が一つの場合に比べて電子又は正孔が移動する時間が短くなり、放射線検出の信号処理に必要な時間が短縮される。   Some conventional semiconductor radiation detection elements include a plurality of first electrodes. For example, a semiconductor radiation detection element having a plurality of first electrodes arranged two-dimensionally on one surface of a plate-like semiconductor and a second electrode on the other surface is used. Patent Document 1 discloses an X-ray detector provided with a plurality of first electrodes in a semiconductor radiation detection element. When radiation is incident, electrons or holes are collected at the nearest first electrode, and a signal is output from the first electrode where the electrons or holes are collected. By dividing the first electrode into a plurality, the leakage current generated in the semiconductor is also divided, the influence of the leakage current included in the signal from each first electrode is reduced, and the S / N ratio of the signal is improved. In addition, when radiation is incident, since a certain amount of time is required for signal processing, a period during which radiation cannot be detected occurs. By providing a plurality of first electrodes, radiation can be detected using another first electrode even immediately after detecting radiation using one first electrode, so that the efficiency of detecting radiation is improved. . Also, since electrons or holes generated by radiation are collected at the nearest first electrode, the time required for electrons or holes to move is shorter than when there is only one first electrode, which is necessary for signal processing for radiation detection. Time is reduced.

実開平6−79162号公報Japanese Utility Model Publication No. 6-79162

半導体放射線検出素子が複数の第1電極を備える放射線検出器では、複数の第1電極の中間に放射線が入射した場合、発生した電子又は正孔が複数の第1電極に分散して集められることがある。このとき、一つの放射線に対して複数の第1電極から信号が発生し、放射線のカウント数及びエネルギーが不明となる。複数の第1電極からの信号を加算することもできるものの、信号に含まれるノイズは第1電極毎に発生するので、加算した信号に含まれるノイズは、複数の第1電極で発生したノイズを加算したものとなり、信号のS/N比が悪化する。これらの問題を解決するために、複数の第1電極の中間に放射線が入射しないようにシールドを設ける対策が考えられる。しかしながら、確実に放射線が入射しないようにするためには、加工精度が原因でシールドをある程度大きめに作製する必要があり、放射線の検出に使用できる面積が縮小し、放射線の検出感度が低下するという問題がある。また、シールドを設けることによりコストが上昇するという問題がある。   In a radiation detector in which a semiconductor radiation detection element includes a plurality of first electrodes, when radiation is incident between the plurality of first electrodes, the generated electrons or holes are dispersed and collected on the plurality of first electrodes. There is. At this time, signals are generated from a plurality of first electrodes for one radiation, and the count number and energy of the radiation are unknown. Although signals from a plurality of first electrodes can be added, noise included in the signal is generated for each first electrode. Therefore, noise included in the added signal is noise generated at the plurality of first electrodes. The signal is added, and the S / N ratio of the signal deteriorates. In order to solve these problems, it is conceivable to provide a shield so that radiation does not enter between the plurality of first electrodes. However, in order to ensure that no radiation is incident, it is necessary to make the shield somewhat large due to processing accuracy, and the area that can be used for radiation detection is reduced, and the radiation detection sensitivity is reduced. There's a problem. In addition, there is a problem that the cost increases by providing the shield.

本発明は、斯かる事情に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、シールドを設けることなく、一つの放射線を複数の第1電極を用いて検出することを防止することにより、高い感度及び精度で放射線を検出することができる放射線検出器、放射線検出方法、及び放射線検出器の一部の処理を実行するコンピュータプログラムを提供することにある。   This invention is made | formed in view of such a situation, The place made into the objective is by preventing detecting one radiation using a some 1st electrode, without providing a shield. Another object of the present invention is to provide a radiation detector capable of detecting radiation with high sensitivity and accuracy, a radiation detection method, and a computer program for executing part of the processing of the radiation detector.

本発明に係る放射線検出器は、半導体と、該半導体に設けてあり、放射線の入射によって前記半導体内に発生する電荷を収集する複数の第1電極と、前記半導体に設けてあり、前記電荷の収集に必要なバイアス電圧を印加される第2電極と、夫々の第1電極が収集した電荷に応じた信号を出力する信号出力部と、該信号出力部が出力した信号をカウントする信号計数部とを備える放射線検出器において、前記信号出力部が出力した信号の時間的な特徴に基づいて、前記信号が所定の特徴を有する特異信号であるか否かを判定する判定部を備え、前記信号計数部は、前記判定部が特異信号であると判定した信号をカウントしないように構成してあることを特徴とする。   A radiation detector according to the present invention is provided in a semiconductor, the semiconductor, a plurality of first electrodes that collect charges generated in the semiconductor by incidence of radiation, and provided in the semiconductor. A second electrode to which a bias voltage necessary for collection is applied, a signal output unit that outputs a signal corresponding to the charge collected by each first electrode, and a signal counting unit that counts the signal output by the signal output unit A determination unit that determines whether the signal is a singular signal having a predetermined characteristic based on a temporal characteristic of the signal output from the signal output unit, and the signal The counting unit is configured not to count the signal determined by the determination unit as a singular signal.

本発明に係る放射線検出器は、前記判定部は、前記信号出力部が出力した信号の時間に対する信号値の変化率を計算する変化率計算部と、該変化率計算部が計算した前記変化率の絶対値が所定値以下である場合に、前記信号は特異信号であると判定する特異信号判定部とを有することを特徴とする。   In the radiation detector according to the present invention, the determination unit calculates a change rate of a signal value with respect to time of a signal output from the signal output unit, and the change rate calculated by the change rate calculation unit. And a singular signal determining unit that determines that the signal is a singular signal when the absolute value of is a predetermined value or less.

本発明に係る放射線検出器は、前記判定部は、前記信号出力部が出力した信号の時間長さを計測する時間計測部と、該時間計測部が計測した前記時間長さが所定値以上である場合に、前記信号は特異信号であると判定する特異信号判定部とを有することを特徴とする。   In the radiation detector according to the present invention, the determination unit measures a time length of a signal output from the signal output unit, and the time length measured by the time measurement unit is a predetermined value or more. In some cases, the signal includes a singular signal determination unit that determines that the signal is a singular signal.

本発明に係る放射線検出器は、前記判定部は、二つの第1電極を起点にして発生した信号の時間間隔を計測する時間間隔計測部と、該時間間隔計測部が計測した前記時間間隔が所定値以下である場合に、前記信号が特異信号であると判定する特異信号判定部とを有することを特徴とする。   In the radiation detector according to the present invention, the determination unit includes a time interval measurement unit that measures a time interval of a signal generated from two first electrodes as a starting point, and the time interval measured by the time interval measurement unit. And a singular signal determination unit that determines that the signal is a singular signal when the signal is equal to or less than a predetermined value.

本発明に係る放射線検出器は、前記判定部は、前記信号出力部が出力した信号の時間に対する信号値の変化率、又は前記信号出力部が出力した信号の時間長さを計測する計測部と、二つの第1電極を起点にして発生した信号の時間間隔を計測する時間間隔計測部と、前記計測部が計測した前記変化率の絶対値が第1の所定値以下であるか、又は前記計測部が計測した前記時間長さが第2の所定値以上であり、しかも、前記時間間隔計測部が計測した前記時間間隔が第3の所定値以下である場合に、前記信号が特異信号であると判定する特異信号判定部とを有することを特徴とする。   In the radiation detector according to the present invention, the determination unit measures a rate of change of the signal value with respect to time of the signal output from the signal output unit, or a time unit of the signal output from the signal output unit; A time interval measurement unit for measuring a time interval of signals generated from two first electrodes as a starting point, and an absolute value of the change rate measured by the measurement unit is equal to or less than a first predetermined value, or When the time length measured by the measurement unit is equal to or greater than a second predetermined value, and the time interval measured by the time interval measurement unit is equal to or less than a third predetermined value, the signal is a singular signal. And a singular signal determination unit that determines that the signal exists.

本発明に係る放射線検出方法は、半導体と、該半導体に設けてあり、放射線の入射によって前記半導体内に発生する電荷を収集する複数の第1電極と、前記半導体に設けてあり、前記電荷の収集に必要なバイアス電圧を印加される第2電極と、夫々の第1電極が収集した電荷に応じた信号を出力する信号出力部と、該信号出力部が出力した信号をカウントする信号計数部とを備える放射線検出器を用いて、放射線を検出する方法において、前記信号出力部が出力した信号の時間的な特徴に基づいて、前記信号が所定の特徴を有する特異信号であるか否かを判定し、特異信号であると判定された信号を前記信号計数部でカウントしないことを特徴とする。   The radiation detection method according to the present invention includes a semiconductor, a plurality of first electrodes that are provided on the semiconductor, collect charges generated in the semiconductor by incidence of radiation, and are provided on the semiconductor. A second electrode to which a bias voltage necessary for collection is applied, a signal output unit that outputs a signal corresponding to the charge collected by each first electrode, and a signal counting unit that counts the signal output by the signal output unit In a method of detecting radiation using a radiation detector comprising: whether or not the signal is a singular signal having a predetermined characteristic based on a temporal characteristic of the signal output by the signal output unit. A signal that is determined and determined to be a singular signal is not counted by the signal counting unit.

本発明に係るコンピュータプログラムは、半導体と、該半導体に設けてあり、放射線の入射によって前記半導体内に発生する電荷を収集する複数の第1電極と、前記半導体に設けてあり、前記電荷の収集に必要なバイアス電圧を印加される第2電極と、夫々の第1電極が収集した電荷に応じた信号を出力する信号出力部と、該信号出力部が出力した信号の内、所定の特徴を有する特異信号ではない信号をカウントし、特異信号をカウントしない信号計数部と、演算部とを備える放射線検出器で、前記信号出力部が出力した信号が特異信号であるか否かを判定する処理を前記演算部に実行させるコンピュータプログラムであって、前記演算部に、前記信号出力部が出力した信号の時間に対する信号値の変化率を計算するステップと、該ステップにより計算した前記変化率の絶対値が所定値以下である場合に、前記信号は特異信号であると判定するステップとを含む処理を実行させることを特徴とする。   A computer program according to the present invention is provided in a semiconductor, a plurality of first electrodes that are provided in the semiconductor and collects charges generated in the semiconductor by incidence of radiation, and is provided in the semiconductor and collects the charges. A second electrode to which a bias voltage necessary for the first electrode is applied, a signal output unit that outputs a signal corresponding to the charge collected by each first electrode, and a predetermined feature among the signals output by the signal output unit. A process of counting a signal that is not a specific signal and having a signal detector that does not count a specific signal and a calculation unit, and determining whether the signal output from the signal output unit is a specific signal A computer program for causing the arithmetic unit to execute the step of calculating the rate of change of the signal value with respect to the time of the signal output from the signal output unit to the arithmetic unit; If the absolute value of a more calculated the rate of change is less than the predetermined value, the signal is characterized in that to execute the processing including determining that a specific signal.

本発明においては、放射線により半導体内に発生した電荷を複数の第1電極の何れかで収集して検出信号を発生させる放射線検出器は、検出信号をカウントする際に、所定の特徴を有する特異信号をカウントしない。より詳しくは、放射線検出器は、同一の放射線により発生した電荷が複数の複数の第1電極に分散することによって生じる特徴を有する信号のカウントを行わない。電荷が分散して複数の第1電極で収集されることによってカウント数及びエネルギーが不明になるような放射線の検出が防止される。   In the present invention, a radiation detector that generates a detection signal by collecting charges generated in a semiconductor by radiation at any one of the plurality of first electrodes, has a specific characteristic when the detection signal is counted. Do not count signals. More specifically, the radiation detector does not count a signal having a characteristic that is generated when electric charges generated by the same radiation are dispersed to a plurality of first electrodes. Radiation is detected such that the number of counts and energy are unknown due to the charge being dispersed and collected by the plurality of first electrodes.

また、本発明においては、放射線検出器は、検出信号の時間に対する信号値の変化率が所定値以下である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。複数の第1電極で収集される電荷は、発生してから第1電極で収集されるまでに長い時間がかかり、信号率の変化率が小さくなるので、信号率の変化率に基づいて特異信号の判定が可能である。   In the present invention, the radiation detector determines that the detection signal is a singular signal when the rate of change of the signal value with respect to time of the detection signal is a predetermined value or less. The charge collected by the plurality of first electrodes takes a long time from generation to collection by the first electrode, and the rate of change of the signal rate becomes small. Therefore, the specific signal is based on the rate of change of the signal rate. Can be determined.

また、本発明においては、放射線検出器は、検出信号の時間長さが所定値以上である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。複数の第1電極で収集される電荷は、発生してから第1電極で収集されるまでに長い時間がかかり、特異信号の立ち上がりの時間長さは長くなるので、検出信号の時間長さに基づいて特異信号の判定が可能である。   In the present invention, the radiation detector determines that the detection signal is a singular signal when the time length of the detection signal is a predetermined value or more. The charge collected by the plurality of first electrodes takes a long time from generation to collection by the first electrode, and the rise time of the specific signal becomes long. Based on this, the singular signal can be determined.

また、本発明においては、放射線検出器は、二つの検出信号の時間間隔が所定値以下である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。同一の放射線により発生した電荷が複数の複数の第1電極で分散して収集されることによって、複数の検出信号がほぼ同時に発生するので、二つの検出信号の時間間隔に基づいて特異信号の判定が可能である。   In the present invention, the radiation detector determines that the detection signal is a singular signal when the time interval between the two detection signals is a predetermined value or less. Since the charges generated by the same radiation are distributed and collected by the plurality of first electrodes, a plurality of detection signals are generated almost simultaneously, so that the singular signal is determined based on the time interval between the two detection signals. Is possible.

また、本発明においては、放射線検出器は、検出信号の時間に対する信号値の変化率が第1の所定値以下であるか、又は検出信号の時間長さが第2の所定値以上である条件と、二つの検出信号の時間間隔が第3の所定値以下である条件との両方が満たされた場合に、検出信号が特異信号であると判定する。   In the present invention, the radiation detector is such that the rate of change of the signal value with respect to the time of the detection signal is equal to or less than the first predetermined value, or the time length of the detection signal is equal to or greater than the second predetermined value. And the condition that the time interval between the two detection signals is equal to or smaller than the third predetermined value is satisfied, it is determined that the detection signal is a singular signal.

本発明にあっては、放射線検出器は、シールドを用いることなく、カウント数及びエネルギーが不明になるような放射線の検出を防止することができる。従って、放射線検出器は、コストを上昇させることなく、高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる等、本発明は優れた効果を奏する。   In the present invention, the radiation detector can prevent detection of radiation in which the count number and energy are unknown without using a shield. Therefore, the present invention has excellent effects such as that the radiation detector can detect radiation with high sensitivity and accuracy without increasing the cost.

放射線検出器の構成を示すブロック図である。It is a block diagram which shows the structure of a radiation detector. 半導体放射線検出素子の外観の例を示す模式的平面図である。It is a typical top view which shows the example of the external appearance of a semiconductor radiation detection element. 半導体放射線検出素子の外観の他の例を示す模式的平面図である。It is a schematic plan view which shows the other example of the external appearance of a semiconductor radiation detection element. 半導体ブロックの内部の電位分布を模式的に示す特性図である。It is a characteristic view which shows typically the electric potential distribution inside a semiconductor block. 増幅部が出力する検出信号の例を示す特性図である。It is a characteristic view which shows the example of the detection signal which an amplifier outputs. 実施の形態1に係る信号処理部の機能構成を示すブロック図である。3 is a block diagram illustrating a functional configuration of a signal processing unit according to Embodiment 1. FIG. 二つの増幅部が出力する検出信号の例を示す特性図である。It is a characteristic view which shows the example of the detection signal which two amplification parts output. 実施の形態3に係る信号処理部の機能構成を示すブロック図である。10 is a block diagram illustrating a functional configuration of a signal processing unit according to Embodiment 3. FIG. 実施の形態4に係る信号処理部の機能構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a functional configuration of a signal processing unit according to a fourth embodiment. 実施の形態5に係る信号処理部の機能構成を示すブロック図である。FIG. 10 is a block diagram illustrating a functional configuration of a signal processing unit according to a fifth embodiment. CPUが実行する処理の手順を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows the procedure of the process which CPU performs.

以下本発明をその実施の形態を示す図面に基づき具体的に説明する。
(実施の形態1)
図1は、放射線検出器の構成を示すブロック図である。放射線検出器4は、半導体放射線検出素子1を備えている。図1中には、半導体放射線検出素子1を部分断面図で示している。半導体放射線検出素子1は、板状の半導体ブロック13の表面に複数のアノード(第1電極)11が接合され、半導体ブロック13の裏面にカソード(第2電極)12が接合されて構成されている。半導体ブロック13は、シリコン若しくはゲルマニウム等の半導体結晶又はカドミニウム・テルル等の化合物半導体で形成されている。図2は、半導体放射線検出素子1の外観の例を示す模式的平面図である。図2に示すように、複数のアノード11は、半導体ブロック13の表面に二次元状に配置されている。カソード12は、半導体ブロック13の裏面に一面に配置されている。半導体放射線検出素子1は、半導体ブロック13の裏面側から放射線が入射するように使用される。カソード12には、バイアス電源21が接続されており、接地電位に比べてマイナスのバイアス電圧をバイアス電源21から印加されている。なお、バイアス電源21は、複数のアノード11とカソード12との間にバイアス電圧を印加する構成であってもよい。また、放射線検出器4は、液体窒素を利用した冷却器又はペルチェ素子等、半導体放射線検出素子1を冷却するための図示しない冷却機構を備えた形態であってもよい。
Hereinafter, the present invention will be specifically described with reference to the drawings showing embodiments thereof.
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the radiation detector. The radiation detector 4 includes a semiconductor radiation detection element 1. In FIG. 1, the semiconductor radiation detection element 1 is shown in a partial cross-sectional view. The semiconductor radiation detection element 1 is configured by bonding a plurality of anodes (first electrodes) 11 to the surface of a plate-like semiconductor block 13 and bonding a cathode (second electrode) 12 to the back surface of the semiconductor block 13. . The semiconductor block 13 is formed of a semiconductor crystal such as silicon or germanium or a compound semiconductor such as cadmium / tellurium. FIG. 2 is a schematic plan view showing an example of the appearance of the semiconductor radiation detection element 1. As shown in FIG. 2, the plurality of anodes 11 are two-dimensionally arranged on the surface of the semiconductor block 13. The cathode 12 is disposed on the entire back surface of the semiconductor block 13. The semiconductor radiation detection element 1 is used so that radiation enters from the back side of the semiconductor block 13. A bias power source 21 is connected to the cathode 12, and a negative bias voltage is applied from the bias power source 21 compared to the ground potential. The bias power supply 21 may be configured to apply a bias voltage between the plurality of anodes 11 and the cathodes 12. Further, the radiation detector 4 may have a configuration including a cooling mechanism (not shown) for cooling the semiconductor radiation detection element 1 such as a cooler or a Peltier element using liquid nitrogen.

なお、半導体放射線検出素子1は、半導体ブロック13の裏面に一面に配置したカソード12に加えて、半導体ブロック13の表面のアノード11の周囲にもカソード12を設けた形態であってもよい。図3は、半導体放射線検出素子1の外観の他の例を示す模式的平面図である。環状のカソード12が、個々のアノード11の周囲を囲繞して配置されている。図3には、各アノード11を二重に囲繞するカソード12を配置した例を示したが、カソード12は、各アノード11を一重に囲繞していてもよく、三重以上に囲繞していてもよい。このように、半導体放射線検出素子1は、複数のカソード12を設けた形態であってもよい。   The semiconductor radiation detection element 1 may have a form in which the cathode 12 is provided around the anode 11 on the surface of the semiconductor block 13 in addition to the cathode 12 arranged on the back surface of the semiconductor block 13. FIG. 3 is a schematic plan view showing another example of the appearance of the semiconductor radiation detection element 1. An annular cathode 12 is arranged around each anode 11. FIG. 3 shows an example in which the cathodes 12 surrounding the anodes 11 in a double manner are shown. However, the cathodes 12 may surround each anode 11 in a single layer, or may surround three or more layers. Good. As described above, the semiconductor radiation detection element 1 may be provided with a plurality of cathodes 12.

カソード12にバイアス電圧が印加されていることにより、半導体ブロック13内には、複数のアノード11の電位をプラス、カソード12の電位をマイナスとする電界が発生している。半導体放射線検出素子1へ放射線が入射することによって、半導体ブロック13内に放射線のエネルギーに応じた数の電子−正孔対が発生する。発生した電子−正孔対の内の電子は、半導体ブロック13内の電界によって加速され、電位がプラスになっている何れか一つのアノード11に収集される。通常、放射線によって発生した電子は、半導体ブロック13内の発生した位置に最も近いアノード11に収集される。電子を収集したアノード11は、収集した電子の電荷量に応じた電荷信号を出力する。   By applying a bias voltage to the cathode 12, an electric field is generated in the semiconductor block 13 with the potentials of the plurality of anodes 11 being positive and the potential of the cathode 12 being negative. When radiation enters the semiconductor radiation detection element 1, a number of electron-hole pairs corresponding to the energy of the radiation are generated in the semiconductor block 13. Electrons in the generated electron-hole pairs are accelerated by the electric field in the semiconductor block 13 and collected by any one of the anodes 11 having a positive potential. Usually, electrons generated by radiation are collected at the anode 11 closest to the generated position in the semiconductor block 13. The anode 11 that has collected the electrons outputs a charge signal corresponding to the amount of charges of the collected electrons.

アノード11には、増幅部22が接続されている。増幅部22は、アノード11が出力した電荷信号を電圧信号へ変換するプリアンプと、プリアンプからの信号を増幅するメインアンプとを含んで構成されている。増幅部22は、増幅した信号を出力する。このように、増幅部22は、アノード11が収集した電子の電荷量に応じた強度の信号を出力する信号出力部に対応する。以下、増幅部22が出力する信号を検出信号と言う。なお、増幅部22は、電流信号を出力する形態であってもよい。   An amplification unit 22 is connected to the anode 11. The amplifying unit 22 includes a preamplifier that converts a charge signal output from the anode 11 into a voltage signal, and a main amplifier that amplifies a signal from the preamplifier. The amplifying unit 22 outputs the amplified signal. Thus, the amplification unit 22 corresponds to a signal output unit that outputs a signal having an intensity corresponding to the amount of charge of electrons collected by the anode 11. Hereinafter, a signal output from the amplifying unit 22 is referred to as a detection signal. Note that the amplifying unit 22 may be configured to output a current signal.

増幅部22には、信号処理部3が接続されている。信号処理部3は、増幅部22が出力した検出信号を信号強度別にカウントして、信号強度に対応する放射線のエネルギーとカウント数とを対応づけたスペクトルを生成する処理を行う。増幅部22及び信号処理部3は、複数のアノード11の夫々に接続されている。各アノード11に接続された増幅部22及び信号処理部3は、他のアノード11に接続された増幅部22及び信号処理部3とは独立に動作する。複数の信号処理部3は、放射線検出器4の外部の情報処理装置5に接続される。情報処理装置5は、パーソナルコンピュータ等のコンピュータであり、各信号処理部3が生成したスペクトルを集積し、集積したスペクトルを合算して放射線のスペクトルを生成し、必要に応じてスペクトルを出力する処理を実行する。   The signal processing unit 3 is connected to the amplification unit 22. The signal processing unit 3 counts the detection signal output from the amplification unit 22 for each signal intensity, and performs a process of generating a spectrum in which the radiation energy corresponding to the signal intensity is associated with the count number. The amplification unit 22 and the signal processing unit 3 are connected to each of the plurality of anodes 11. The amplification unit 22 and the signal processing unit 3 connected to each anode 11 operate independently of the amplification unit 22 and the signal processing unit 3 connected to the other anodes 11. The plurality of signal processing units 3 are connected to an information processing device 5 outside the radiation detector 4. The information processing device 5 is a computer such as a personal computer, and integrates the spectra generated by the signal processing units 3, generates the radiation spectrum by adding the integrated spectra, and outputs the spectrum as necessary. Execute.

図4は、半導体ブロック13の内部の電位分布を模式的に示す特性図である。図中の横軸は位置を示し、縦軸は負電位を示す。図4には、二つのアノード11の中心の真下に位置する二点間の電位分布を示している。また、図2に示す半導体放射線検出素子1での半導体ブロック13内の電位分布を実線で示し、図3に示す半導体放射線検出素子1での半導体ブロック13内の電位分布を破線で示している。各アノード11の中心に近い位置ほど負電位が低く(電位が高く)、二つのアノード11の中間では、何れのアノード11の中心からも遠くなるので、負電位が高く(電位が低く)なっている。一つのアノード11の中心に近い位置では、最も近いアノード11の中心の方向へ移動すると負電位が低くなり、他のアノード11の中心の方向へ移動すると負電位が高くなる。このため、この位置で発生した電子は最も近いアノード11の中心の方向へ移動し、最も近いアノード11に収集されることになる。二つのアノード11の中間では、発生した電子はどちらのアノード11へ移動して収集されることも可能である。また二つのアノード11の中間の近傍では、負電位が高い方向へ移動したとしても、負電位が最大になる位置との電位差が小さい(電界が小さい)ので、発生した電子は、電位差を乗り越えて遠い方のアノード11の中心の方向へ移動する可能性がある。このように、半導体ブロック13の内部には、放射線によって発生した電子が収集されるアノード11が一意的に決まる主領域と、電子が収集されるアノード11が一意的には決まらない境界領域とが存在する。主領域は、各アノード11の真下の部分に対応し、境界領域は、複数のアノード11間の隙間の真下の部分に対応する。   FIG. 4 is a characteristic diagram schematically showing the potential distribution inside the semiconductor block 13. The horizontal axis in the figure indicates the position, and the vertical axis indicates the negative potential. FIG. 4 shows a potential distribution between two points located directly below the centers of the two anodes 11. Further, the potential distribution in the semiconductor block 13 in the semiconductor radiation detection element 1 shown in FIG. 2 is indicated by a solid line, and the potential distribution in the semiconductor block 13 in the semiconductor radiation detection element 1 shown in FIG. 3 is indicated by a broken line. The closer to the center of each anode 11, the lower the negative potential (higher potential) and the farther from the center of any anode 11 between the two anodes 11, the higher the negative potential (lower potential). Yes. At a position close to the center of one anode 11, the negative potential decreases when moving toward the center of the nearest anode 11, and the negative potential increases when moving toward the center of another anode 11. For this reason, the electrons generated at this position move toward the center of the nearest anode 11 and are collected by the nearest anode 11. In the middle of the two anodes 11, the generated electrons can move to either anode 11 and be collected. Also, in the vicinity of the middle of the two anodes 11, even if the negative potential moves in a higher direction, the potential difference from the position where the negative potential is maximum is small (the electric field is small), so that the generated electrons overcome the potential difference. There is a possibility of moving toward the center of the distant anode 11. As described above, the semiconductor block 13 includes a main region in which the anode 11 from which electrons generated by radiation are collected is uniquely determined, and a boundary region in which the anode 11 from which electrons are collected is not uniquely determined. Exists. The main region corresponds to a portion directly below each anode 11, and the boundary region corresponds to a portion directly below the gap between the plurality of anodes 11.

半導体ブロック13に放射線が入射して境界領域で電子−正孔対が発生した場合、発生した電子は複数のアノード11で分散して収集される可能性がある。電子が二つのアノード11に分散した場合、二つのアノード11を起点とした二つの検出信号が発生し、放射線のカウント数が二倍になり、放射線のカウント数が不正確になる。また、電子が分散することによって一つのアノード11で収集する電子の量が減少し、検出信号の信号強度が低下し、放射線のエネルギーが不正確となる。これらの問題を回避するために、本実施の形態に係る信号処理部3は、検出信号をカウントする際に、検出信号の内、境界領域で発生した電子に起因する所定の特徴を有する特異信号をカウントしないようにする処理を実行する。   When radiation enters the semiconductor block 13 and electron-hole pairs are generated in the boundary region, the generated electrons may be dispersed and collected by the plurality of anodes 11. When electrons are dispersed in the two anodes 11, two detection signals are generated starting from the two anodes 11, the radiation count is doubled, and the radiation count is inaccurate. Moreover, the amount of electrons collected by one anode 11 is reduced due to the dispersion of the electrons, the signal intensity of the detection signal is lowered, and the energy of the radiation becomes inaccurate. In order to avoid these problems, the signal processing unit 3 according to the present embodiment, when counting the detection signal, has a specific signal having a predetermined characteristic due to electrons generated in the boundary region in the detection signal. Execute processing to prevent counting.

図5は、増幅部22が出力する検出信号の例を示す特性図である。増幅部22は、アノード11が収集した電子の電荷量に応じて信号値が階段状に立ち上がる検出信号を出力する。放射線によって発生してアノード11が収集した電子の量は放射線のエネルギーに対応し、電子の量は電荷量に対応するので、階段状に立ち上がった信号強度は、放射線のエネルギーに対応する。図5Aは半導体ブロック13の主領域で電子が発生した場合の検出信号を示し、図5Bは境界領域で発生した電子に起因する特異信号を示している。図中の横軸は時間を示し、縦軸は信号値を示している。境界領域では、主領域に比べて、半導体ブロック13内の電界強度が低く、またアノード11までの物理的な距離が長いので、発生した電子がアノード11に収集されるまでに長い時間がかかる。このため、図5に示すように、特異信号は、主領域で発生した電子に起因する検出信号に比べて、時間に対する信号値の変化が緩やかになる。信号処理部3は、信号値の変化率に基づいて、特異信号を判定する処理を行う。   FIG. 5 is a characteristic diagram illustrating an example of a detection signal output from the amplification unit 22. The amplifying unit 22 outputs a detection signal whose signal value rises in a stepped manner according to the amount of charge of electrons collected by the anode 11. The amount of electrons generated by the radiation and collected by the anode 11 corresponds to the energy of the radiation, and the amount of electrons corresponds to the amount of charge, so that the signal intensity rising in a step shape corresponds to the energy of the radiation. FIG. 5A shows a detection signal when electrons are generated in the main region of the semiconductor block 13, and FIG. 5B shows a singular signal due to electrons generated in the boundary region. In the figure, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents the signal value. In the boundary region, the electric field strength in the semiconductor block 13 is lower than that in the main region, and the physical distance to the anode 11 is long. Therefore, it takes a long time for the generated electrons to be collected by the anode 11. Therefore, as shown in FIG. 5, the signal value of the singular signal changes more slowly with respect to time than the detection signal caused by the electrons generated in the main region. The signal processing unit 3 performs processing for determining a singular signal based on the change rate of the signal value.

図6は、実施の形態1に係る信号処理部3の機能構成を示すブロック図である。信号処理部3は、A/D(アナログ/デジタル)変換部31を備えている。A/D変換部31は、増幅部22に接続されており、増幅部22が出力した検出信号を入力され、A/D変換を行う。A/D変換部31には、遅延回路311及びフィルタ回路32が接続されており、A/D変換部31は、A/D変換後の検出信号を遅延回路311及びフィルタ回路32へ入力する。フィルタ回路32は、検出信号に対して、Fast系のフィルタ処理とSlow系のフィルタ処理とを行う。Fast系のフィルタ処理は、検出信号の素早い時間変化を抽出し、検出信号の立ち上がり開始をパルス状に示すFast系信号を生成する。Slow系のフィルタ処理は、検出信号の緩やかな時間変化を抽出し、S/N比が高く、波高が検出信号の信号強度に対応しているSlow系信号を生成する。フィルタ回路32にはパルス検出回路33が接続されており、フィルタ回路32は、Fast系信号及びSlow系信号をパルス検出回路33へ入力する。   FIG. 6 is a block diagram illustrating a functional configuration of the signal processing unit 3 according to the first embodiment. The signal processing unit 3 includes an A / D (analog / digital) conversion unit 31. The A / D conversion unit 31 is connected to the amplification unit 22, and receives the detection signal output from the amplification unit 22, and performs A / D conversion. A delay circuit 311 and a filter circuit 32 are connected to the A / D conversion unit 31, and the A / D conversion unit 31 inputs a detection signal after A / D conversion to the delay circuit 311 and the filter circuit 32. The filter circuit 32 performs Fast-type filter processing and Slow-type filter processing on the detection signal. The fast filter processing extracts a rapid time change of the detection signal, and generates a fast signal that indicates the rising start of the detection signal in a pulse shape. The slow filtering process extracts a gradual time change of the detection signal, and generates a slow signal having a high S / N ratio and a wave height corresponding to the signal strength of the detection signal. A pulse detection circuit 33 is connected to the filter circuit 32, and the filter circuit 32 inputs a Fast system signal and a Slow system signal to the pulse detection circuit 33.

パルス検出回路33は、Fast系信号から、検出信号の立ち上がり開始時点を検出する。例えば、パルス検出回路33は、予め所定の閾値を記憶しておき、Fast系信号の信号値が閾値以上の値になった時点を検出する。パルス検出回路33には、遅延回路331が接続されており、パルス検出回路33は、検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を遅延回路331へ入力する。また、パルス検出回路33には、P/H(ピーク/ホールド)回路34が接続されており、パルス検出回路33は、Slow系信号をP/H回路34へ入力する。   The pulse detection circuit 33 detects the rising start point of the detection signal from the Fast system signal. For example, the pulse detection circuit 33 stores a predetermined threshold value in advance, and detects a time point when the signal value of the Fast system signal is equal to or greater than the threshold value. A delay circuit 331 is connected to the pulse detection circuit 33, and the pulse detection circuit 33 inputs a signal indicating the rising start time of the detection signal to the delay circuit 331. Further, a P / H (peak / hold) circuit 34 is connected to the pulse detection circuit 33, and the pulse detection circuit 33 inputs a slow system signal to the P / H circuit 34.

P/H回路34は、Slow系信号から、検出信号の信号強度を検出する。具体的には、P/H回路34は、Slow系信号の信号値の最大値を検出する。Slow系信号の信号値の最大値は、検出信号の信号強度に対応し、検出信号の信号強度は、放射線のエネルギーに対応する。P/H回路34には、遅延回路341が接続されており、P/H回路34は、検出信号の立ち上がり終了時点を示す信号を遅延回路341へ入力する。また、P/H回路34には、遅延回路342及び343が接続されており、P/H回路34は、検出信号の信号強度を示す信号を遅延回路342及び343へ入力する。   The P / H circuit 34 detects the signal strength of the detection signal from the Slow system signal. Specifically, the P / H circuit 34 detects the maximum value of the signal value of the Slow system signal. The maximum signal value of the slow signal corresponds to the signal intensity of the detection signal, and the signal intensity of the detection signal corresponds to the energy of the radiation. A delay circuit 341 is connected to the P / H circuit 34, and the P / H circuit 34 inputs a signal indicating the rising end point of the detection signal to the delay circuit 341. Also, delay circuits 342 and 343 are connected to the P / H circuit 34, and the P / H circuit 34 inputs a signal indicating the signal strength of the detection signal to the delay circuits 342 and 343.

信号処理部3は、検出信号の時間長さを計測する時間計測部35を備えている。時間計測部35は、遅延回路311、331及び341に接続されており、遅延回路311から検出信号を入力され、遅延回路331から検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を入力され、遅延回路341から検出信号の立ち上がり終了時点を示す信号を入力される。遅延回路311、331及び341は、夫々の信号が同期して時間計測部35へ入力されるように入力のタイミングを調整する処理を行う。時間計測部35は、検出信号の時間長さとして、信号強度の第1の所定割合に対応する値に信号値が達した時点から、信号強度の第2の所定割合に対応する値に信号値が達した時点までの経過時間の長さを計測する。例えば、検出信号から、立ち上がり開始時点から立ち上がり終了時点までの信号の変化量の10%に対応する値に信号値が達した時点と90%に対応する値に信号値が達した時点とを検出し、検出した時点間の経過時間の長さを計算する。なお、時間計測部35は、立ち上がり開始時点から立ち上がり終了時点までの経過時間の長さを計算する処理を行ってもよい。   The signal processing unit 3 includes a time measuring unit 35 that measures the time length of the detection signal. The time measurement unit 35 is connected to the delay circuits 311, 331, and 341, receives a detection signal from the delay circuit 311, receives a signal indicating a rising start time of the detection signal from the delay circuit 331, and receives from the delay circuit 341. A signal indicating the rising end time of the detection signal is input. The delay circuits 311, 331, and 341 perform processing for adjusting the input timing so that the respective signals are input to the time measuring unit 35 in synchronization. The time measurement unit 35 sets the signal value to a value corresponding to the second predetermined ratio of the signal strength from the time when the signal value reaches the value corresponding to the first predetermined ratio of the signal strength as the time length of the detection signal. Measure the length of time elapsed until the point is reached. For example, the detection signal detects when the signal value reaches a value corresponding to 10% of the change amount of the signal from the rising start time to the rising end time and when the signal value reaches a value corresponding to 90%. And the length of elapsed time between the detected time points is calculated. Note that the time measuring unit 35 may perform a process of calculating the length of elapsed time from the rising start point to the rising end point.

信号処理部3は、特異信号を判定する処理を実行する判定処理部36を備えている。判定処理部36は、時間計測部35及び遅延回路342に接続されており、遅延回路342から、検出信号の信号強度を示す信号を入力される。また、時間計測部35は、計測した検出信号の時間長さを示す信号を判定処理部36へ入力する。遅延回路342は、検出信号の時間長さを示す信号と検出信号の信号強度を示す信号とが同期して判定処理部36へ入力されるように、入力のタイミングを調整する処理を行う。判定処理部36は、検出信号の時間に対する信号値の変化率を計測する。例えば、検出信号の信号強度の80%の値を、時間計測部35が計測した検出信号の時間長さで除することによって、信号値の変化率を計算する。判定処理部36は、次に、計測した信号値の変化率が所定値以下であるか否かを判定する。所定値は判定処理部36に予め記憶されている。例えば、判定処理部36は、信号値を電圧で表し、信号値の変化率が1mV/ns以下であるか否かを判定する。図5に示すように、特異信号は、時間に対する信号値の変化が緩やかであり、信号値の変化率が小さくなる。このため、信号値の変化率が基準値以下である場合は、検出信号は特異信号であると判定できる。判定処理部36は、次に、信号値の変化率が所定値以下である場合に検出信号は特異信号であると判定し、信号値の変化率が所定値より大きい場合に検出信号は特異信号ではないと判定し、判定結果を示す信号を出力する。   The signal processing unit 3 includes a determination processing unit 36 that executes processing for determining a singular signal. The determination processing unit 36 is connected to the time measuring unit 35 and the delay circuit 342, and receives a signal indicating the signal strength of the detection signal from the delay circuit 342. In addition, the time measuring unit 35 inputs a signal indicating the measured time length of the detection signal to the determination processing unit 36. The delay circuit 342 performs a process of adjusting the input timing so that a signal indicating the time length of the detection signal and a signal indicating the signal strength of the detection signal are input to the determination processing unit 36 in synchronization. The determination processing unit 36 measures the rate of change of the signal value with respect to time of the detection signal. For example, the rate of change of the signal value is calculated by dividing a value of 80% of the signal intensity of the detection signal by the time length of the detection signal measured by the time measurement unit 35. Next, the determination processing unit 36 determines whether or not the change rate of the measured signal value is equal to or less than a predetermined value. The predetermined value is stored in the determination processing unit 36 in advance. For example, the determination processing unit 36 represents the signal value as a voltage, and determines whether the change rate of the signal value is 1 mV / ns or less. As shown in FIG. 5, the singular signal has a slow change in signal value with respect to time, and the change rate of the signal value becomes small. For this reason, when the rate of change of the signal value is less than or equal to the reference value, it can be determined that the detection signal is a singular signal. Next, the determination processing unit 36 determines that the detection signal is a singular signal when the change rate of the signal value is equal to or less than a predetermined value, and the detection signal is the singular signal when the change rate of the signal value is larger than the predetermined value. It determines that it is not, and outputs the signal which shows the determination result.

信号処理部3は、MCA(マルチチャネルアナライザ)37を備えている。MCA37は、信号計数部に対応する。MCA37は、判定処理部36及び遅延回路343に接続されており、判定処理部36から検出信号の判定結果を示す信号を入力され、遅延回路343から、検出信号の信号強度を示す信号を入力される。遅延回路343は、検出信号の判定結果を示す信号と検出信号の信号強度を示す信号とが同期して判定処理部36へ入力されるように、入力のタイミングを調整する処理を行う。MCA37は、検出信号が特異信号ではない判定結果を示す信号を入力された場合に、信号強度に関連付けて検出信号をカウントする。また、MCA37は、検出信号が特異信号である判定結果を示す信号を入力された場合には、信号強度に関連付けたカウントは行わない。これによって、特異信号がMCA37でカウントされなくなり、半導体ブロック13の境界領域に電子を発生させる放射線の検出が防止される。このようにして、MCA37は、特異信号以外の検出信号を信号強度別にカウントして、放射線のエネルギーとカウント数とを対応づけたスペクトルを生成する。MCA37は、生成したスペクトルを示すデータを情報処理装置5へ出力する。   The signal processing unit 3 includes an MCA (multichannel analyzer) 37. The MCA 37 corresponds to a signal counting unit. The MCA 37 is connected to the determination processing unit 36 and the delay circuit 343. The MCA 37 receives a signal indicating the determination result of the detection signal from the determination processing unit 36, and receives a signal indicating the signal strength of the detection signal from the delay circuit 343. The The delay circuit 343 performs a process of adjusting the input timing so that the signal indicating the detection result of the detection signal and the signal indicating the signal strength of the detection signal are input to the determination processing unit 36 in synchronization. When receiving a signal indicating a determination result that the detection signal is not a singular signal, the MCA 37 counts the detection signal in association with the signal strength. Further, the MCA 37 does not perform counting associated with the signal strength when a signal indicating a determination result that the detection signal is a singular signal is input. As a result, the singular signal is not counted by the MCA 37, and detection of radiation that generates electrons in the boundary region of the semiconductor block 13 is prevented. In this way, the MCA 37 counts detection signals other than singular signals for each signal intensity, and generates a spectrum that associates the energy of radiation with the number of counts. The MCA 37 outputs data indicating the generated spectrum to the information processing device 5.

本実施の形態では、時間計測部35及び判定処理部36が判定部に対応する。また、時間計測部35と判定処理部36の処理の一部とが変化率計算部に対応し、判定処理部36の処理の他の一部が特異信号判定部に対応する。なお、信号処理部3は、信号値の微分等の方法により時間計測部35を用いずに信号値の変化率を計算する独立した変化率計算部を備える形態であってもよい。   In the present embodiment, the time measurement unit 35 and the determination processing unit 36 correspond to a determination unit. In addition, the time measurement unit 35 and a part of the processing of the determination processing unit 36 correspond to the change rate calculation unit, and the other part of the processing of the determination processing unit 36 corresponds to the singular signal determination unit. The signal processing unit 3 may include an independent change rate calculation unit that calculates the change rate of the signal value without using the time measurement unit 35 by a method such as differentiation of the signal value.

以上詳述した如く、本実施の形態においては、放射線検出器4は、放射線の入射に応じた検出信号をカウントする際に、同一の放射線により発生した電子が複数のアノード11で収集されることに起因した特徴を有する特異信号のカウントを行わない。また、放射線検出器4は、検出信号の時間に対する信号値の変化率が所定値以下である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。複数のアノード11で収集される電子は、発生してからアノード11で収集されるまでに長い時間がかかるので、信号率の変化率が小さくなる。従って、信号率の変化率に基づいて特異信号の判定が可能である。特異信号をカウントしないことによって、半導体ブロック13の境界領域に発生させた電子が複数のアノード11で収集されるような放射線を検出して放射線のカウント数及びエネルギーが不正確になることを防止することができる。一方で、放射線検出器4は、半導体ブロック13の主領域に電子を発生させる放射線については、カウント数及びエネルギーを正確に求めることができる。また、一つの放射線を検出するために使用するアノード11、増幅部22及び信号処理部3が一つに限定されるので、ノイズの量が限定され、信号のS/N比の悪化が防止される。また、境界領域への放射線の入射を防止するためのシールドを使用する必要が無いので、シールドが原因となる放射線の検出感度の低下及びコストの上昇を防止することができる。従って、放射線検出器4は、コストを上昇させることなく、高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる。   As described in detail above, in the present embodiment, when the radiation detector 4 counts detection signals according to the incidence of radiation, electrons generated by the same radiation are collected by the plurality of anodes 11. Do not count singular signals having characteristics due to. The radiation detector 4 determines that the detection signal is a singular signal when the rate of change of the signal value with respect to time of the detection signal is equal to or less than a predetermined value. Since electrons collected by the plurality of anodes 11 take a long time from generation to collection by the anode 11, the change rate of the signal rate becomes small. Therefore, the singular signal can be determined based on the rate of change of the signal rate. By not counting the singular signal, it is possible to detect the radiation such that electrons generated in the boundary region of the semiconductor block 13 are collected by the plurality of anodes 11 and prevent the radiation count number and energy from becoming inaccurate. be able to. On the other hand, the radiation detector 4 can accurately obtain the count number and energy for the radiation that generates electrons in the main region of the semiconductor block 13. In addition, since the anode 11, the amplification unit 22, and the signal processing unit 3 used to detect one radiation are limited to one, the amount of noise is limited, and deterioration of the signal S / N ratio is prevented. The Further, since it is not necessary to use a shield for preventing radiation from entering the boundary region, it is possible to prevent a decrease in radiation detection sensitivity and an increase in cost caused by the shield. Therefore, the radiation detector 4 can detect radiation with high sensitivity and accuracy without increasing costs.

(実施の形態2)
実施の形態2においては、検出信号の時間長さに基づいて特異信号の判定を行う形態を示す。実施の形態1で説明したように、半導体ブロック13内の境界領域で発生した電子がアノード11に収集されるには長い時間がかかる。このため、図5に示すように、特異信号は、主領域で発生した電子に起因する検出信号に比べて、立ち上がりの時間長さが長くなる。従って、検出信号の時間長さに基づいた特異信号の判定が可能である。
(Embodiment 2)
In the second embodiment, a specific signal is determined based on the time length of the detection signal. As described in the first embodiment, it takes a long time for the electrons generated in the boundary region in the semiconductor block 13 to be collected by the anode 11. For this reason, as shown in FIG. 5, the singular signal has a longer rise time than the detection signal caused by electrons generated in the main region. Therefore, it is possible to determine a singular signal based on the time length of the detection signal.

本実施の形態に係る放射線検出器4の構成は、図1に示した実施の形態1と同様である。また、本発明に係る信号処理部3の機能構成は、図6に示した実施の形態2と同様である。判定処理部36は、特異信号の判定を行うための検出信号の時間長さの所定の基準値を、検出信号の信号強度に関連付けて予め記憶してある。放射線のエネルギーが高い場合は、検出信号の信号強度も高くなり、立ち上がりの時間長さも長くなる。このため、判定処理部36は、複数の信号強度の夫々に対応する時間長さの基準値を予め記憶してある。なお、判定処理部36は、放射線のエネルギーに関連付けて時間長さの基準値を記憶していてもよい。また、判定処理部36は、全ての信号強度に共通の基準値を記憶していてもよい。   The configuration of the radiation detector 4 according to the present exemplary embodiment is the same as that of the first exemplary embodiment illustrated in FIG. The functional configuration of the signal processing unit 3 according to the present invention is the same as that of the second embodiment shown in FIG. The determination processing unit 36 stores in advance a predetermined reference value of the time length of the detection signal for determining the singular signal in association with the signal strength of the detection signal. When the energy of radiation is high, the signal intensity of the detection signal is also high, and the rise time length is also long. Therefore, the determination processing unit 36 stores in advance a time length reference value corresponding to each of a plurality of signal intensities. The determination processing unit 36 may store a time length reference value in association with the radiation energy. Further, the determination processing unit 36 may store a reference value common to all signal intensities.

A/D変換部31、フィルタ回路32、パルス検出回路33、P/H回路34、遅延回路311、331、341、342及び343、並びに時間計測部35は、実施の形態1と同様に動作する。判定処理部36は、時間計測部35が計測した検出信号の時間長さと、遅延回路342からの信号が示す信号強度に関連付けて記憶してある時間長さの基準値とを比較し、検出信号の時間長さが基準値以上であるか否かを判定する。例えば、判定処理部36は、検出信号の時間長さが100ns以上であるか否かを判定する。図5に示すように、検出信号の時間長さがある程度以上長い場合は、検出信号は特異信号であると判定できる。判定処理部36は、次に、検出信号の時間長さが基準値以上である場合に検出信号は特異信号であると判定し、検出信号の時間長さが基準値より短い場合に検出信号は特異信号ではないと判定し、判定結果を示す信号をMCA37へ入力する。MCA37は、実施の形態1と同様に動作する。本実施の形態においては、判定処理部36は、特異信号判定部に対応する。   The A / D conversion unit 31, the filter circuit 32, the pulse detection circuit 33, the P / H circuit 34, the delay circuits 311, 331, 341, 342 and 343, and the time measurement unit 35 operate in the same manner as in the first embodiment. . The determination processing unit compares the time length of the detection signal measured by the time measurement unit with the reference value of the time length stored in association with the signal intensity indicated by the signal from the delay circuit 342, and detects the detection signal. It is determined whether or not the length of time is equal to or greater than a reference value. For example, the determination processing unit 36 determines whether or not the time length of the detection signal is 100 ns or more. As shown in FIG. 5, when the time length of the detection signal is longer than a certain level, it can be determined that the detection signal is a singular signal. Next, the determination processing unit 36 determines that the detection signal is a singular signal when the time length of the detection signal is equal to or greater than the reference value, and the detection signal is determined when the time length of the detection signal is shorter than the reference value. It is determined that the signal is not a unique signal, and a signal indicating the determination result is input to the MCA 37. The MCA 37 operates in the same manner as in the first embodiment. In the present embodiment, the determination processing unit 36 corresponds to a singular signal determination unit.

以上詳述した如く、本実施の形態においても、放射線検出器4は、放射線の入射に応じた検出信号をカウントする際に、同一の放射線により発生した電子が複数のアノード11で収集されることに起因した特徴を有する特異信号のカウントを行わない。また、放射線検出器4は、検出信号の時間長さが所定の基準値以上である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。複数のアノード11で収集される電子は、発生してからアノード11で収集されるまでに長い時間がかかるので、特異信号の立ち上がりの時間長さは長くなる。従って、検出信号の時間長さに基づいて特異信号の判定が可能である。本実施の形態においても、実施の形態1と同様に、放射線検出器4は、コストを上昇させることなく、高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる。   As described above in detail, also in the present embodiment, the radiation detector 4 collects electrons generated by the same radiation at the plurality of anodes 11 when counting detection signals according to the incidence of radiation. Do not count singular signals having characteristics due to. The radiation detector 4 determines that the detection signal is a singular signal when the time length of the detection signal is equal to or greater than a predetermined reference value. Since electrons collected by the plurality of anodes 11 take a long time from generation to collection by the anode 11, the time length of rise of the specific signal becomes long. Therefore, the singular signal can be determined based on the time length of the detection signal. Also in the present embodiment, as in the first embodiment, the radiation detector 4 can detect radiation with high sensitivity and accuracy without increasing costs.

(実施の形態3)
実施の形態3においては、二つの検出信号の時間間隔に基づいて特異信号の判定を行う形態を示す。図7は、二つの増幅部22が出力する検出信号の例を示す特性図である。図中の横軸は時間を示し、縦軸は信号値を示している。図7では、二つのアノード11に接続された増幅部22の夫々が出力した検出信号を同一の時間軸上で比較している。図7Aは、半導体ブロック13の一つの主領域に放射線の入射により電子が発生し、別の放射線により他の主領域に電子が発生した場合の検出信号を示している。図7Bは、放射線の入射により境界領域で発生した電子が二つのアノード11に収集された場合の検出信号を示している。主領域で電子が発生した場合、検出信号の立ち上がり時間は短く、二つの検出信号が同時に発生する確率は低い。境界領域で発生した電子が二つのアノード11で分散して収集された場合は、電子はほぼ同時に二つのアノード11で収集され、二つの特異信号がほぼ同時に発生する。従って、二つの増幅部22が出力した検出信号の発生の時間間隔に基づいて、特異信号の判定が可能である。
(Embodiment 3)
In the third embodiment, a specific signal is determined based on the time interval between two detection signals. FIG. 7 is a characteristic diagram illustrating an example of detection signals output from the two amplifying units 22. In the figure, the horizontal axis represents time, and the vertical axis represents the signal value. In FIG. 7, the detection signals output from the amplification units 22 connected to the two anodes 11 are compared on the same time axis. FIG. 7A shows a detection signal when electrons are generated in one main region of the semiconductor block 13 by the incidence of radiation and electrons are generated in another main region by another radiation. FIG. 7B shows a detection signal when electrons generated in the boundary region due to the incidence of radiation are collected by the two anodes 11. When electrons are generated in the main region, the rise time of the detection signal is short, and the probability that two detection signals are generated simultaneously is low. When electrons generated in the boundary region are distributed and collected by the two anodes 11, the electrons are collected by the two anodes 11 almost simultaneously, and two singular signals are generated almost simultaneously. Therefore, it is possible to determine the singular signal based on the time interval of generation of the detection signal output from the two amplifying units 22.

本実施の形態に係る放射線検出器4の構成は、図1に示した実施の形態1と同様である。図8は、実施の形態3に係る信号処理部3の機能構成を示すブロック図である。A/D変換部31は、増幅部22が出力した検出信号をA/D変換し、A/D変換後の検出信号をフィルタ回路32へ入力する。フィルタ回路32は、実施の形態1と同様に動作する。パルス検出回路33は、Fast系信号から、検出信号の立ち上がり開始時点を検出し、立ち上がり開始時点を示す信号を遅延回路332へ入力する。また、パルス検出回路33は、Slow系信号をP/H回路34へ入力する。更に、パルス検出回路33は、検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を、他の信号処理部3へ出力する。P/H回路34は、Slow系信号から、検出信号の信号強度を検出し、信号強度を示す信号を遅延回路343へ入力する。遅延回路343は、実施の形態1と同様に動作する。   The configuration of the radiation detector 4 according to the present exemplary embodiment is the same as that of the first exemplary embodiment illustrated in FIG. FIG. 8 is a block diagram illustrating a functional configuration of the signal processing unit 3 according to the third embodiment. The A / D conversion unit 31 A / D converts the detection signal output from the amplification unit 22 and inputs the detection signal after the A / D conversion to the filter circuit 32. The filter circuit 32 operates in the same manner as in the first embodiment. The pulse detection circuit 33 detects the rising start time of the detection signal from the Fast system signal, and inputs a signal indicating the rising start time to the delay circuit 332. Further, the pulse detection circuit 33 inputs a Slow system signal to the P / H circuit 34. Further, the pulse detection circuit 33 outputs a signal indicating the rising start point of the detection signal to the other signal processing unit 3. The P / H circuit 34 detects the signal strength of the detection signal from the Slow system signal, and inputs a signal indicating the signal strength to the delay circuit 343. Delay circuit 343 operates in the same manner as in the first embodiment.

信号処理部3は、二つの検出信号の時間間隔を計測する時間間隔計測部38を備えている。時間間隔計測部38は、遅延回路332に接続されており、遅延回路332から検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を入力される。更に、時間間隔計測部38は、他の信号処理部3のパルス検出回路33から出力された他の検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を受け付ける。当該他の信号は、他のアノード11に接続された他の増幅部22から出力された検出信号である。遅延回路332は、二つの信号が同期して時間間隔計測部38へ入力されるように入力のタイミングを調整する処理を行う。時間間隔計測部38は、二つの検出信号の立ち上がり開始時点の差分を計算することによって、二つの検出信号が発生した時間間隔を計測する。時間間隔計測部38は、判定処理部36に接続されており、二つの検出信号の時間間隔を示す信号を判定処理部36へ入力する。   The signal processing unit 3 includes a time interval measuring unit 38 that measures a time interval between two detection signals. The time interval measuring unit 38 is connected to the delay circuit 332 and receives a signal indicating the rising start time of the detection signal from the delay circuit 332. Further, the time interval measurement unit 38 receives a signal indicating the rising start time of another detection signal output from the pulse detection circuit 33 of the other signal processing unit 3. The other signal is a detection signal output from another amplification unit 22 connected to another anode 11. The delay circuit 332 performs a process of adjusting the input timing so that the two signals are input to the time interval measurement unit 38 in synchronization. The time interval measurement unit 38 measures the time interval at which the two detection signals are generated by calculating the difference between the rising start points of the two detection signals. The time interval measurement unit 38 is connected to the determination processing unit 36 and inputs a signal indicating the time interval between the two detection signals to the determination processing unit 36.

判定処理部36は、時間間隔計測部38が計測した二つの検出信号の時間間隔が所定値以下であるか否かを判定する。所定値は判定処理部36に予め記憶されている。例えば、判定処理部36は、時間間隔が50ns以下であるか否かを判定する。図7に示すように、同一の放射線により境界領域で発生した電子が二つのアノード11に収集されて発生した二つの特異信号は、ほぼ同時に発生する。このため、検出信号の立ち上がり時間よりも二つの検出信号の時間間隔が短い等、二つの検出信号が同時とみなされるほど時間間隔が短い場合は、二つの検出信号は特異信号であると判定できる。判定処理部36は、次に、時間間隔が所定値以下である場合に検出信号は特異信号であると判定し、時間間隔が所定値より大きい場合に検出信号は特異信号ではないと判定し、判定結果を示す信号をMCA37へ入力する。MCA37は、実施の形態1と同様に動作する。本実施の形態においては、判定処理部36は、特異信号判定部に対応する。   The determination processing unit 36 determines whether or not the time interval between the two detection signals measured by the time interval measuring unit 38 is equal to or less than a predetermined value. The predetermined value is stored in the determination processing unit 36 in advance. For example, the determination processing unit 36 determines whether the time interval is 50 ns or less. As shown in FIG. 7, the two singular signals generated when the electrons generated in the boundary region by the same radiation are collected by the two anodes 11 are generated almost simultaneously. Therefore, if the time interval between the two detection signals is considered to be simultaneous, such as when the time interval between the two detection signals is shorter than the rise time of the detection signal, the two detection signals can be determined to be singular signals. . Next, the determination processing unit 36 determines that the detection signal is a singular signal when the time interval is equal to or less than a predetermined value, and determines that the detection signal is not a singular signal when the time interval is greater than the predetermined value. A signal indicating the determination result is input to the MCA 37. The MCA 37 operates in the same manner as in the first embodiment. In the present embodiment, the determination processing unit 36 corresponds to a singular signal determination unit.

以上詳述した如く、本実施の形態においては、放射線検出器4は、放射線の入射に応じた検出信号をカウントする際に、同一の放射線により発生した電子が複数のアノード11で収集されることに起因した特徴を有する特異信号のカウントを行わない。また、放射線検出器4は、二つの検出信号の時間間隔が所定値以下である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。本実施の形態においても、実施の形態1及び2と同様に、放射線検出器4は、コストを上昇させることなく、高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる。   As described in detail above, in the present embodiment, when the radiation detector 4 counts detection signals according to the incidence of radiation, electrons generated by the same radiation are collected by the plurality of anodes 11. Do not count singular signals having characteristics due to. The radiation detector 4 determines that the detection signal is a singular signal when the time interval between the two detection signals is equal to or less than a predetermined value. Also in the present embodiment, as in the first and second embodiments, the radiation detector 4 can detect radiation with high sensitivity and accuracy without increasing costs.

(実施の形態4)
実施の形態4に係る放射線検出器4の構成は、図1に示した実施の形態1と同様である。図9は、実施の形態4に係る信号処理部3の機能構成を示すブロック図である。信号処理部3は、時間計測部35及び時間間隔計測部38を備えており、時間計測部35及び時間間隔計測部38は判定処理部36に接続されている。A/D変換部31及びフィルタ回路32は、実施の形態1と同様に動作する。パルス検出回路33は、検出信号の立ち上がり開始時点を検出し、立ち上がり開始時点を示す信号を遅延回路331及び332へ入力する。また、パルス検出回路33は、Slow系信号をP/H回路34へ入力する。更に、パルス検出回路33は、検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を、他の信号処理部3へ出力する。P/H回路34は、実施の形態1と同様に動作する。遅延回路311、331、341、342及び343、並びに時間計測部35は、実施の形態1と同様に動作する。また、遅延回路332及び時間間隔計測部38は、実施の形態3と同様に動作する。
(Embodiment 4)
The configuration of the radiation detector 4 according to the fourth embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG. FIG. 9 is a block diagram illustrating a functional configuration of the signal processing unit 3 according to the fourth embodiment. The signal processing unit 3 includes a time measurement unit 35 and a time interval measurement unit 38, and the time measurement unit 35 and the time interval measurement unit 38 are connected to the determination processing unit 36. The A / D converter 31 and the filter circuit 32 operate in the same manner as in the first embodiment. The pulse detection circuit 33 detects the rising start time of the detection signal and inputs a signal indicating the rising start time to the delay circuits 331 and 332. Further, the pulse detection circuit 33 inputs a Slow system signal to the P / H circuit 34. Further, the pulse detection circuit 33 outputs a signal indicating the rising start point of the detection signal to the other signal processing unit 3. The P / H circuit 34 operates in the same manner as in the first embodiment. The delay circuits 311, 331, 341, 342 and 343 and the time measuring unit 35 operate in the same manner as in the first embodiment. Further, the delay circuit 332 and the time interval measurement unit 38 operate in the same manner as in the third embodiment.

判定処理部36は、時間計測部35が計測した検出信号の時間長さを用いて、実施の形態1と同様に、検出信号の時間に対する信号値の変化率を計測する。判定処理部36は、次に、計測した信号値の変化率が所定値(第1の所定値)以下であるか否かを判定する。判定処理部36は、次に、時間間隔計測部38が計測した二つの検出信号の時間間隔が他の所定値(第3の所定値)以下であるか否かを判定する。判定処理部36は、次に、検出信号の信号値の変化率が所定値以下であり、しかも、二つの検出信号の時間間隔が他の所定値以下である場合に、検出信号は特異信号であると判定し、その他の場合に検出信号は特異信号ではないと判定し、判定結果を示す信号をMCA37へ入力する。MCA37は、実施の形態1と同様に動作する。   The determination processing unit 36 uses the time length of the detection signal measured by the time measurement unit 35 to measure the rate of change of the signal value with respect to the time of the detection signal, as in the first embodiment. Next, the determination processing unit 36 determines whether or not the measured change rate of the signal value is equal to or less than a predetermined value (first predetermined value). Next, the determination processing unit 36 determines whether or not the time interval between the two detection signals measured by the time interval measuring unit 38 is equal to or less than another predetermined value (third predetermined value). Next, when the rate of change in the signal value of the detection signal is equal to or smaller than a predetermined value and the time interval between the two detection signals is equal to or smaller than the other predetermined value, the determination processing unit 36 determines that the detection signal is a singular signal. In other cases, it is determined that the detection signal is not a singular signal, and a signal indicating the determination result is input to the MCA 37. The MCA 37 operates in the same manner as in the first embodiment.

なお、判定処理部36は、検出信号の時間長さに基づいて判定を行う形態であってもよい。この形態では、判定処理部36は、時間計測部35が計測した検出信号の時間長さと、遅延回路342からの信号が示す信号強度に関連付けて記憶してある時間長さの基準値(第2の所定値)とを比較し、検出信号の時間長さが基準値以上であるか否かを判定する。判定処理部36は、次に、時間間隔計測部38が計測した二つの検出信号の時間間隔が所定値(第3の所定値)以下であるか否かを判定する。判定処理部36は、次に、検出信号の時間長さが基準値以上であり、しかも、二つの検出信号の時間間隔が所定値以下である場合に、検出信号は特異信号であると判定し、その他の場合に検出信号は特異信号ではないと判定し、判定結果を示す信号をMCA37へ入力する。MCA37は、実施の形態1と同様に動作する。   The determination processing unit 36 may be configured to perform determination based on the time length of the detection signal. In this embodiment, the determination processing unit 36 associates and stores the time length of the detection signal measured by the time measuring unit 35 and the signal length indicated by the signal from the delay circuit 342 (second value). To determine whether the time length of the detection signal is equal to or greater than a reference value. Next, the determination processing unit 36 determines whether or not the time interval between the two detection signals measured by the time interval measuring unit 38 is equal to or less than a predetermined value (third predetermined value). Next, the determination processing unit 36 determines that the detection signal is a singular signal when the time length of the detection signal is equal to or greater than a reference value and the time interval between the two detection signals is equal to or less than a predetermined value. In other cases, it is determined that the detection signal is not a singular signal, and a signal indicating the determination result is input to the MCA 37. The MCA 37 operates in the same manner as in the first embodiment.

また、判定処理部36は、信号値の変化率及び検出信号の時間長さの両方を使用して判定を行う形態であってもよい。この形態では、判定処理部36は、時間計測部35が計測した検出信号の時間長さを用いて、検出信号の時間に対する信号値の変化率を計測し、計測した信号値の変化率が所定値(第1の所定値)以下であるか否かを判定する。判定処理部36は、更に、時間計測部35が計測した検出信号の時間長さと、遅延回路342からの信号が示す信号強度に関連付けて記憶してある時間長さの基準値(第2の所定値)とを比較し、検出信号の時間長さが基準値以上であるか否かを判定する。判定処理部36は、次に、時間間隔計測部38が計測した二つの検出信号の時間間隔が所定値(第3の所定値)以下であるか否かを判定する。判定処理部36は、次に、検出信号の信号値の変化率が所定値以下であることと、検出信号の時間長さが基準値以上であることとの少なくとも一方が判定され、しかも、二つの検出信号の時間間隔が所定値以下である場合に、検出信号は特異信号であると判定し、その他の場合に検出信号は特異信号ではないと判定する。判定処理部36は、判定結果を示す信号をMCA37へ入力し、MCA37は、実施の形態1と同様に動作する。実施の形態4では、時間計測部35と判定処理部36の処理の一部とが計測部に対応する。   Further, the determination processing unit 36 may be configured to perform determination using both the change rate of the signal value and the time length of the detection signal. In this embodiment, the determination processing unit 36 uses the time length of the detection signal measured by the time measurement unit 35 to measure the change rate of the signal value with respect to the time of the detection signal, and the change rate of the measured signal value is predetermined. It is determined whether or not it is equal to or less than a value (first predetermined value). The determination processing unit 36 further includes a reference value (second predetermined value) of the time length stored in association with the time length of the detection signal measured by the time measuring unit 35 and the signal intensity indicated by the signal from the delay circuit 342. Value) to determine whether or not the time length of the detection signal is greater than or equal to the reference value. Next, the determination processing unit 36 determines whether or not the time interval between the two detection signals measured by the time interval measuring unit 38 is equal to or less than a predetermined value (third predetermined value). Next, the determination processing unit 36 determines whether at least one of the change rate of the signal value of the detection signal is equal to or less than a predetermined value and that the time length of the detection signal is equal to or greater than a reference value. When the time interval between two detection signals is equal to or smaller than a predetermined value, the detection signal is determined to be a singular signal, and in other cases, the detection signal is determined not to be a singular signal. The determination processing unit 36 inputs a signal indicating the determination result to the MCA 37, and the MCA 37 operates in the same manner as in the first embodiment. In the fourth embodiment, the time measurement unit 35 and a part of the processing of the determination processing unit 36 correspond to the measurement unit.

以上詳述した如く、本実施の形態においては、放射線検出器4は、検出信号の時間に対する信号値の変化率が所定値以下であるか、又は検出信号の時間長さが所定の基準値以上であり、しかも、二つの検出信号の時間間隔が他の所定値以下である場合に、検出信号が特異信号であると判定する。これにより、放射線検出器4は、確実に特異信号のカウントを禁止することができる。信号値の変化率が小さい検出信号、又は時間長さが長い検出信号であっても、二つの検出信号の時間間隔が長いのであれば、同一の放射線により発生した電子が複数のアノード11で収集される現象は発生していないので、検出信号を特異信号として排除せずとも、放射線のカウント数及びエネルギーを正確に求めることができる。また、二つの検出信号の時間間隔が短くても、信号値の変化率が大きいか、又は検出信号の時間長さが短いのであれば、同一の放射線により発生した電子が複数のアノード11で収集される現象は発生していないので、検出信号を特異信号として排除せずとも、放射線のカウント数及びエネルギーを正確に求めることができる。従って、本実施の形態においては、放射線検出器4は、より高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる。   As described above in detail, in the present embodiment, the radiation detector 4 has a rate of change of the signal value with respect to the time of the detection signal being a predetermined value or less, or the time length of the detection signal is not less than a predetermined reference value. In addition, when the time interval between the two detection signals is equal to or less than another predetermined value, it is determined that the detection signal is a singular signal. Thereby, the radiation detector 4 can prohibit the count of a specific signal reliably. Even if a detection signal has a small change rate of a signal value or a detection signal having a long time length, electrons generated by the same radiation are collected by a plurality of anodes 11 as long as the time interval between the two detection signals is long. Since this phenomenon does not occur, the radiation count and energy can be accurately obtained without eliminating the detection signal as a singular signal. Even if the time interval between the two detection signals is short, if the rate of change of the signal value is large or the time length of the detection signal is short, electrons generated by the same radiation are collected by the plurality of anodes 11. Since this phenomenon does not occur, the radiation count and energy can be accurately obtained without eliminating the detection signal as a singular signal. Therefore, in the present embodiment, the radiation detector 4 can detect radiation with higher sensitivity and accuracy.

(実施の形態5)
実施の形態5においては、処理の一部をソフトウェアで実現した形態を示す。実施の形態5に係る放射線検出器4の構成は、図1に示した実施の形態1と同様である。図10は、実施の形態5に係る信号処理部3の機能構成を示すブロック図である。信号処理部3は、演算を行うCPU(Central Processing Unit )61と、演算に伴って発生する一時的なデータを記憶するRAM(Random Access Memory)62と、フラッシュメモリ等の不揮発性の記憶部63とを備えている。CPU61は演算部に対応する。記憶部63は、コンピュータプログラム64を記憶している。CPU61は、遅延回路311、331、341及び342並びにMCA37に接続されている。
(Embodiment 5)
In the fifth embodiment, a form in which part of the processing is realized by software is shown. The configuration of the radiation detector 4 according to the fifth embodiment is the same as that of the first embodiment shown in FIG. FIG. 10 is a block diagram illustrating a functional configuration of the signal processing unit 3 according to the fifth embodiment. The signal processing unit 3 includes a CPU (Central Processing Unit) 61 that performs calculations, a RAM (Random Access Memory) 62 that stores temporary data generated along with the calculations, and a non-volatile storage unit 63 such as a flash memory. And. The CPU 61 corresponds to a calculation unit. The storage unit 63 stores a computer program 64. The CPU 61 is connected to the delay circuits 311, 331, 341 and 342 and the MCA 37.

図11は、CPU61が実行する処理の手順を示すフローチャートである。CPU61は、コンピュータプログラム64に従って以下の処理を実行する。A/D変換部31、フィルタ回路32、パルス検出回路33、P/H回路34、及び遅延回路343は、実施の形態1と同様に動作する。CPU61は、遅延回路311から検出信号を入力され、遅延回路331から検出信号の立ち上がり開始時点を示す信号を入力され、遅延回路341から検出信号の立ち上がり終了時点を示す信号を入力され、遅延回路342から、検出信号の信号強度を示す信号を入力される(S1)。CPU61は、次に、時間計測部35と同様の方法で、検出信号の時間長さを計算し(S2)、計算した時間長さを用いて、検出信号の時間に対する信号値の変化率を計算する(S3)。CPU61は、次に、計算した信号値の変化率が所定値以下であるか否かを判定する(S4)。所定値は、予めコンピュータプログラム64に含まれているか、又は記憶部63に記憶されている。検出信号の信号値の変化率が所定値以下である場合は(S4:YES)、CPU61は、検出信号は特異信号であると判定する(S5)。検出信号の信号値の変化率が所定値より大きい場合は(S4:NO)、CPU61は、検出信号は特異信号ではないと判定する(S6)。ステップS5又はS6が終了した後は、CPU61は、判定結果を示す信号をMCA37へ出力し(S7)、処理を終了する。MCA37は、CPU61からの判定結果を示す信号を入力され、実施の形態1と同様に動作する。以上のように、本実施の形態においても、放射線検出器4は、放射線の入射に応じた検出信号をカウントする際に、同一の放射線により発生した電子が複数のアノード11で収集されることに起因した特徴を有する特異信号のカウントを行わない。   FIG. 11 is a flowchart showing a procedure of processing executed by the CPU 61. The CPU 61 executes the following processing according to the computer program 64. The A / D conversion unit 31, the filter circuit 32, the pulse detection circuit 33, the P / H circuit 34, and the delay circuit 343 operate in the same manner as in the first embodiment. The CPU 61 receives a detection signal from the delay circuit 311, receives a signal indicating the rising start time of the detection signal from the delay circuit 331, and receives a signal indicating the rising end time of the detection signal from the delay circuit 341, and the delay circuit 342. The signal indicating the signal strength of the detection signal is input (S1). Next, the CPU 61 calculates the time length of the detection signal in the same manner as the time measurement unit 35 (S2), and calculates the rate of change of the signal value with respect to the time of the detection signal using the calculated time length. (S3). Next, the CPU 61 determines whether or not the calculated change rate of the signal value is equal to or less than a predetermined value (S4). The predetermined value is included in the computer program 64 in advance or stored in the storage unit 63. When the change rate of the signal value of the detection signal is equal to or less than the predetermined value (S4: YES), the CPU 61 determines that the detection signal is a singular signal (S5). When the change rate of the signal value of the detection signal is larger than the predetermined value (S4: NO), the CPU 61 determines that the detection signal is not a singular signal (S6). After step S5 or S6 ends, the CPU 61 outputs a signal indicating the determination result to the MCA 37 (S7) and ends the process. The MCA 37 receives a signal indicating the determination result from the CPU 61 and operates in the same manner as in the first embodiment. As described above, also in the present embodiment, the radiation detector 4 collects electrons generated by the same radiation at the plurality of anodes 11 when counting detection signals according to the incidence of radiation. Do not count singular signals with the resulting characteristics.

なお、コンピュータプログラム64は、実施の形態2と同様に、検出信号の時間長さが所定の基準値以上である場合に検出信号が特異信号であると判定する処理をCPU61に実行させる形態であってもよい。また、コンピュータプログラム64は、実施の形態3と同様に、二つの検出信号の時間間隔が所定値以下である場合に検出信号が特異信号であると判定する処理をCPU61に実行させる形態であってもよい。また、コンピュータプログラム64は、実施の形態4と同様に、検出信号の信号値の変化率が所定値以下であるか、又は検出信号の時間長さが所定の基準値以上であり、しかも、二つの検出信号の時間間隔が他の所定値以下である場合に、検出信号が特異信号であると判定する処理を、CPU61に実行させる形態であってもよい。本実施の形態においても、放射線検出器4は、高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる。   As in the second embodiment, the computer program 64 is configured to cause the CPU 61 to execute processing for determining that the detection signal is a singular signal when the time length of the detection signal is equal to or greater than a predetermined reference value. May be. Similarly to the third embodiment, the computer program 64 causes the CPU 61 to execute processing for determining that the detection signal is a singular signal when the time interval between the two detection signals is equal to or less than a predetermined value. Also good. Similarly to the fourth embodiment, the computer program 64 has a change rate of the signal value of the detection signal equal to or smaller than a predetermined value, or the time length of the detection signal is equal to or larger than a predetermined reference value. When the time interval between two detection signals is equal to or less than another predetermined value, the CPU 61 may be configured to execute a process of determining that the detection signal is a singular signal. Also in the present embodiment, the radiation detector 4 can detect radiation with high sensitivity and accuracy.

なお、以上の実施の形態1〜5は、半導体ブロック13にn型半導体を用いた形態である。放射線検出器4は、半導体ブロック13にp型半導体を用いた形態であってもよい。この形態では、放射線検出器4は、半導体ブロック13をp型半導体で構成し、アノード及びカソードの配置を実施の形態1〜5とは逆の配置にして、第1電極をカソードとし第2電極をアノードとする。放射線検出器4は、第2電極の電位がプラスになるようにバイアス電圧を印加し、カソードである複数の第1電極の夫々で放射線により発生した正孔を収集する。放射線検出器4は、電子を正孔に替えた以外は実施の形態1〜5と同様の信号処理を増幅部22及び信号処理部3で実行する。この形態においても、放射線検出器4は、特異信号のカウントを行わないようにして、高い感度及び精度で放射線を検出することが可能となる。   In the first to fifth embodiments, an n-type semiconductor is used for the semiconductor block 13. The radiation detector 4 may have a form using a p-type semiconductor for the semiconductor block 13. In this embodiment, the radiation detector 4 includes the semiconductor block 13 made of a p-type semiconductor, the arrangement of the anode and the cathode is opposite to that of the first to fifth embodiments, the first electrode is the cathode, and the second electrode Is the anode. The radiation detector 4 applies a bias voltage so that the potential of the second electrode becomes positive, and collects holes generated by radiation at each of the plurality of first electrodes that are cathodes. The radiation detector 4 performs the same signal processing as in the first to fifth embodiments in the amplification unit 22 and the signal processing unit 3 except that electrons are replaced with holes. Also in this embodiment, the radiation detector 4 can detect the radiation with high sensitivity and accuracy without counting the singular signal.

また、実施の形態1〜5においては、検出信号は階段状に立ち上がる信号であるとしたが、放射線検出器4は、検出信号を立下りの信号又はパルス状の信号にした形態であってもよい。また、実施の形態1〜5においては、増幅部22が出力した検出信号をA/D変換部31でA/D変換する形態を示したが、放射線検出器4は、他のタイミングでA/D変換を行う形態であってもよい。例えば、放射線検出器4は、増幅部22内でA/D変換を行う形態であってもよく、また、フィルタ回路32以降でA/D変換を行う形態であってもよい。また、実施の形態1〜5においては、夫々のアノード11について信号処理部3を個別に備える形態を示したが、放射線検出器4は、MCA37等の信号処理部3内の一部を複数のアノード11で共通にして構成した形態であってもよい。   In the first to fifth embodiments, the detection signal is a signal that rises in a staircase pattern, but the radiation detector 4 may be a signal in which the detection signal is a falling signal or a pulse signal. Good. In the first to fifth embodiments, the detection signal output from the amplification unit 22 is A / D converted by the A / D conversion unit 31. However, the radiation detector 4 performs A / D conversion at other timings. The form which performs D conversion may be sufficient. For example, the radiation detector 4 may be configured to perform A / D conversion in the amplification unit 22, or may be configured to perform A / D conversion after the filter circuit 32. Moreover, in Embodiment 1-5, although the form which provided the signal processing part 3 separately about each anode 11 was shown, the radiation detector 4 has some in the signal processing parts 3, such as MCA37, severally. It may be configured in common with the anode 11.

1 半導体放射線検出素子
11 アノード(第1電極)
12 カソード(第2電極)
13 半導体ブロック
21 バイアス電源
22 増幅部(信号出力部)
3 信号処理部
35 時間計測部
36 判定処理部
37 MCA(信号計数部)
38 時間間隔計測部
4 放射線検出器
61 CPU(演算部)
63 記憶部
64 コンピュータプログラム
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Semiconductor radiation detection element 11 Anode (1st electrode)
12 Cathode (second electrode)
13 Semiconductor Block 21 Bias Power Supply 22 Amplification Unit (Signal Output Unit)
3 Signal Processing Unit 35 Time Measurement Unit 36 Judgment Processing Unit 37 MCA (Signal Counting Unit)
38 Time interval measurement unit 4 Radiation detector 61 CPU (calculation unit)
63 storage unit 64 computer program

Claims (7)

半導体と、該半導体に設けてあり、放射線の入射によって前記半導体内に発生する電荷を収集する複数の第1電極と、前記半導体に設けてあり、前記電荷の収集に必要なバイアス電圧を印加される第2電極と、夫々の第1電極が収集した電荷に応じた信号を出力する信号出力部と、該信号出力部が出力した信号をカウントする信号計数部とを備える放射線検出器において、
前記信号出力部が出力した信号の時間的な特徴に基づいて、前記信号が所定の特徴を有する特異信号であるか否かを判定する判定部を備え、
前記信号計数部は、
前記判定部が特異信号であると判定した信号をカウントしないように構成してあること
を特徴とする放射線検出器。
A semiconductor, a plurality of first electrodes provided on the semiconductor and collecting charges generated in the semiconductor upon incidence of radiation, and a bias voltage provided on the semiconductor and necessary for collecting the charge are applied. A radiation detector comprising: a second electrode; a signal output unit that outputs a signal corresponding to the charge collected by each first electrode; and a signal counting unit that counts a signal output from the signal output unit.
A determination unit that determines whether the signal is a singular signal having a predetermined characteristic based on a temporal characteristic of the signal output by the signal output unit;
The signal counter is
The radiation detector is configured not to count the signal determined by the determination unit as a singular signal.
前記判定部は、
前記信号出力部が出力した信号の時間に対する信号値の変化率を計算する変化率計算部と、
該変化率計算部が計算した前記変化率の絶対値が所定値以下である場合に、前記信号は特異信号であると判定する特異信号判定部と
を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
The determination unit
A rate of change calculation unit for calculating a rate of change of the signal value with respect to time of the signal output by the signal output unit;
2. The singular signal determination unit that determines that the signal is a singular signal when the absolute value of the variation rate calculated by the change rate calculation unit is equal to or less than a predetermined value. Radiation detector.
前記判定部は、
前記信号出力部が出力した信号の時間長さを計測する時間計測部と、
該時間計測部が計測した前記時間長さが所定値以上である場合に、前記信号は特異信号であると判定する特異信号判定部と
を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
The determination unit
A time measuring unit for measuring the time length of the signal output by the signal output unit;
The radiation detection according to claim 1, further comprising: a singular signal determination unit that determines that the signal is a singular signal when the time length measured by the time measurement unit is a predetermined value or more. vessel.
前記判定部は、
二つの第1電極を起点にして発生した信号の時間間隔を計測する時間間隔計測部と、
該時間間隔計測部が計測した前記時間間隔が所定値以下である場合に、前記信号が特異信号であると判定する特異信号判定部と
を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
The determination unit
A time interval measuring unit for measuring a time interval of a signal generated from two first electrodes as a starting point;
The radiation detection according to claim 1, further comprising: a singular signal determination unit that determines that the signal is a singular signal when the time interval measured by the time interval measurement unit is equal to or less than a predetermined value. vessel.
前記判定部は、
前記信号出力部が出力した信号の時間に対する信号値の変化率、又は前記信号出力部が出力した信号の時間長さを計測する計測部と、
二つの第1電極を起点にして発生した信号の時間間隔を計測する時間間隔計測部と、
前記計測部が計測した前記変化率の絶対値が第1の所定値以下であるか、又は前記計測部が計測した前記時間長さが第2の所定値以上であり、しかも、前記時間間隔計測部が計測した前記時間間隔が第3の所定値以下である場合に、前記信号が特異信号であると判定する特異信号判定部と
を有することを特徴とする請求項1に記載の放射線検出器。
The determination unit
A measurement unit that measures a rate of change of a signal value with respect to time of a signal output by the signal output unit, or a time length of a signal output by the signal output unit;
A time interval measuring unit for measuring a time interval of a signal generated from two first electrodes as a starting point;
The absolute value of the change rate measured by the measurement unit is less than or equal to a first predetermined value, or the time length measured by the measurement unit is greater than or equal to a second predetermined value, and the time interval measurement The radiation detector according to claim 1, further comprising: a singular signal determination unit that determines that the signal is a singular signal when the time interval measured by the unit is equal to or less than a third predetermined value. .
半導体と、該半導体に設けてあり、放射線の入射によって前記半導体内に発生する電荷を収集する複数の第1電極と、前記半導体に設けてあり、前記電荷の収集に必要なバイアス電圧を印加される第2電極と、夫々の第1電極が収集した電荷に応じた信号を出力する信号出力部と、該信号出力部が出力した信号をカウントする信号計数部とを備える放射線検出器を用いて、放射線を検出する方法において、
前記信号出力部が出力した信号の時間的な特徴に基づいて、前記信号が所定の特徴を有する特異信号であるか否かを判定し、
特異信号であると判定された信号を前記信号計数部でカウントしないこと
を特徴とする放射線検出方法。
A semiconductor, a plurality of first electrodes provided on the semiconductor and collecting charges generated in the semiconductor upon incidence of radiation, and a bias voltage provided on the semiconductor and necessary for collecting the charge are applied. A radiation detector including a second electrode, a signal output unit that outputs a signal corresponding to the charge collected by each first electrode, and a signal counter that counts a signal output from the signal output unit. In the method of detecting radiation,
Based on the temporal characteristics of the signal output by the signal output unit, determine whether the signal is a singular signal having a predetermined characteristic,
A radiation detection method, wherein a signal determined to be a singular signal is not counted by the signal counting unit.
半導体と、該半導体に設けてあり、放射線の入射によって前記半導体内に発生する電荷を収集する複数の第1電極と、前記半導体に設けてあり、前記電荷の収集に必要なバイアス電圧を印加される第2電極と、夫々の第1電極が収集した電荷に応じた信号を出力する信号出力部と、該信号出力部が出力した信号の内、所定の特徴を有する特異信号ではない信号をカウントし、特異信号をカウントしない信号計数部と、演算部とを備える放射線検出器で、前記信号出力部が出力した信号が特異信号であるか否かを判定する処理を前記演算部に実行させるコンピュータプログラムであって、
前記演算部に、
前記信号出力部が出力した信号の時間に対する信号値の変化率を計算するステップと、
該ステップにより計算した前記変化率の絶対値が所定値以下である場合に、前記信号は特異信号であると判定するステップと
を含む処理を実行させることを特徴とするコンピュータプログラム。
A semiconductor, a plurality of first electrodes provided on the semiconductor and collecting charges generated in the semiconductor upon incidence of radiation, and a bias voltage provided on the semiconductor and necessary for collecting the charge are applied. The second electrode, a signal output unit that outputs a signal corresponding to the charge collected by each first electrode, and a signal that is not a singular signal having a predetermined characteristic among the signals output by the signal output unit A computer that causes the arithmetic unit to execute a process of determining whether or not the signal output from the signal output unit is a singular signal in a radiation detector that includes a signal counting unit that does not count a singular signal and an arithmetic unit. A program,
In the calculation unit,
Calculating a change rate of a signal value with respect to time of a signal output by the signal output unit;
And a step of determining that the signal is a singular signal when the absolute value of the rate of change calculated in the step is equal to or less than a predetermined value.
JP2013090601A 2013-04-23 2013-04-23 Radiation detector, radiation detection method, and computer program Active JP6159133B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013090601A JP6159133B2 (en) 2013-04-23 2013-04-23 Radiation detector, radiation detection method, and computer program

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013090601A JP6159133B2 (en) 2013-04-23 2013-04-23 Radiation detector, radiation detection method, and computer program

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014215088A true JP2014215088A (en) 2014-11-17
JP6159133B2 JP6159133B2 (en) 2017-07-05

Family

ID=51940988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013090601A Active JP6159133B2 (en) 2013-04-23 2013-04-23 Radiation detector, radiation detection method, and computer program

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6159133B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022224653A1 (en) * 2021-04-19 2022-10-27 株式会社堀場製作所 Signal processing method, computer program, signal processing device, and radiation detection device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05203754A (en) * 1992-01-28 1993-08-10 Hamamatsu Photonics Kk Radiation detector
JPH0679162U (en) * 1993-04-22 1994-11-04 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Semiconductor X-ray detector
JP2010078338A (en) * 2008-09-24 2010-04-08 Toshiba Corp X-ray detector
JP2010107312A (en) * 2008-10-29 2010-05-13 Institute Of Physical & Chemical Research Semiconductor radiation detection device
JP2012078093A (en) * 2010-09-30 2012-04-19 Hitachi Cable Ltd Radiation detector and radiation detection apparatus

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05203754A (en) * 1992-01-28 1993-08-10 Hamamatsu Photonics Kk Radiation detector
JPH0679162U (en) * 1993-04-22 1994-11-04 ジーイー横河メディカルシステム株式会社 Semiconductor X-ray detector
JP2010078338A (en) * 2008-09-24 2010-04-08 Toshiba Corp X-ray detector
JP2010107312A (en) * 2008-10-29 2010-05-13 Institute Of Physical & Chemical Research Semiconductor radiation detection device
JP2012078093A (en) * 2010-09-30 2012-04-19 Hitachi Cable Ltd Radiation detector and radiation detection apparatus

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022224653A1 (en) * 2021-04-19 2022-10-27 株式会社堀場製作所 Signal processing method, computer program, signal processing device, and radiation detection device

Also Published As

Publication number Publication date
JP6159133B2 (en) 2017-07-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Haemisch et al. Fully digital arrays of silicon photomultipliers (dSiPM)–a scalable alternative to vacuum photomultiplier tubes (PMT)
CN103430533B (en) There is the single-photon counting detector system of improved counter structure
US9109953B2 (en) Photodetector and computed tomography apparatus
US10852183B2 (en) Optical pulse detection device, optical pulse detection method, radiation counter device, and biological testing device
US9046614B2 (en) X-ray detector with integrating readout chip for single photon resolution
US9778378B2 (en) Detector configuration with semiconductor photomultiplier strips and differential readout
US10575800B2 (en) Increased spatial resolution for photon-counting edge-on x-ray detectors
JP5427655B2 (en) Radiation measurement equipment, nuclear medicine diagnostic equipment
US9541448B2 (en) Silicon photomultipliers with digitized micro-cells having a first one-shot pulse and a second one-shot pulse provided by an electronic circuit
US9784784B2 (en) Signal processing device and method and radiation detecting device for a pileup phenomenon
Frach Optimization of the digital silicon photomultiplier for Cherenkov light detection
JP6857174B2 (en) Radiation detection device and signal processing device for radiation detection
CN109477903A (en) Improved photon counting in spectral radiance detector
US7135669B2 (en) Low-level light detector and low-level light imaging apparatus
JP6159133B2 (en) Radiation detector, radiation detection method, and computer program
KR102069306B1 (en) Method and apparatus for detecting radiation using cadmium zinc telluride sensor
JP2013088317A (en) Radiation detector
US20170160406A1 (en) Photodetector, and ct device including said photodetector
JPWO2017187971A1 (en) Radiation detection apparatus and signal processing apparatus for radiation detection
JP5690107B2 (en) Radiation detector
KR101924482B1 (en) Radiation detection device including spiral grid electrode
JP2014165777A (en) X-ray image detection device and method for determining defective pixel in the same
US20160377743A1 (en) X-Ray Detector
US10175367B2 (en) Tool for detecting photon radiation, particularly adapted for high-flux radiation
Manera et al. Study of Optimal Segmentation for Active Hybrid Single-Photon Sensors

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161025

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161222

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20170530

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20170609

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6159133

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250