JP2014197059A

JP2014197059A - Projector

Info

Publication number: JP2014197059A
Application number: JP2013071800A
Authority: JP
Inventors: 中尾　良純; Yoshizumi Nakao; 良純中尾; 光正川敷; Mitsumasa Kawashiki
Original assignee: Funai Electric Co Ltd
Current assignee: Funai Electric Co Ltd
Priority date: 2013-03-29
Filing date: 2013-03-29
Publication date: 2014-10-16

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a projector capable of maintaining high quality of projected images by providing accurate feedback control on a laser light output level without increasing the total size thereof.SOLUTION: A projector 100 of the present invention includes; laser beam generator units 103-105 which output two types of laser beams, a projection laser beam and a measurement laser beam; scanning units 111, 112 which sweep the projection laser beam; a light transmission control unit 108 which is located between the laser beam generator units 103-105 and the scanning units 111, 112 to transmit the projection laser beam therethrough when the projection laser beam is generated by the laser beam generator units 103-105 and to block the measurement laser beam from reaching a screen 11 side when the measurement laser beam is generated by the laser beam generators 103-105; and a photodiode 109 which measures an optical output level of the measurement laser beam while the measurement laser beam is being blocked from reaching the screen 11 side by the light transmission control unit 108.

Description

この発明は、プロジェクタに関し、特に、レーザ光を測定する光測定器を備えるプロジェクタに関する。 The present invention relates to a projector, and more particularly, to a projector including a light measuring device that measures laser light.

従来、レーザ光を測定する光測定器を備えるプロジェクタが知られている（たとえば、特許文献１参照）。 2. Description of the Related Art Conventionally, a projector including a light measuring device that measures laser light is known (see, for example, Patent Document 1).

上記特許文献１には、投影用のレーザ光を出射するレーザ光源（レーザ光発生部）と、投影用のレーザ光を走査するＭＥＭＳ（ＭｉｃｒｏＥｌｅｃｔｒｏＭｅｃｈａｎｉｃａｌＳｙｓｔｅｍｓ）ミラー装置（走査部）と、レーザ光源およびＭＥＭＳミラー装置の間に配置され、投影用のレーザ光の一部を反射する光路分離用プリズムと、光路分離用プリズムにより反射された投影用のレーザ光の一部の光出力を測定する光量モニタ用受光素子（光測定器）とを備えた投影画像表示装置（プロジェクタ）が開示されている。この投影画像表示装置では、光量モニタ用受光素子により、投影用のレーザ光を測定することによって、投影用のレーザ光の光出力を一定に保つフィードバック制御を行っている。 In Patent Document 1, a laser light source (laser light generation unit) that emits projection laser light, a MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirror device (scanning unit) that scans the projection laser light, and a laser light source are disclosed. And an optical path separation prism that is disposed between the MEMS mirror device and reflects a part of the projection laser light, and a light quantity that measures a light output of a part of the projection laser light reflected by the optical path separation prism A projection image display device (projector) provided with a monitor light receiving element (light measuring device) is disclosed. In this projection image display apparatus, feedback control is performed to keep the light output of the projection laser light constant by measuring the laser light for projection by the light receiving element for monitoring the light quantity.

しかしながら、上記特許文献１に記載の投影画像表示装置（プロジェクタ）では、投影用のレーザ光により光出力が測定されるので、測定により得られる光出力の範囲が限定されてしまうという不都合がある。このため、たとえば、投影用の画像が暗い場合には、光出力が低くなるので、高い光出力については測定することができず、その結果、精度よくフィードバック制御を行うことができないという問題点がある。 However, in the projection image display device (projector) described in Patent Document 1, since the light output is measured by the projection laser light, there is a disadvantage that the range of the light output obtained by the measurement is limited. For this reason, for example, when the projection image is dark, the light output is low, so that it is not possible to measure a high light output, and as a result, feedback control cannot be performed with high accuracy. is there.

また、従来、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことが可能な技術が提案されている（たとえば、特許文献２参照）。 Conventionally, a technique capable of accurately performing feedback control of laser light output has been proposed (see, for example, Patent Document 2).

上記特許文献２には、投影用のレーザ光とＡＰＣ（ＡｕｔｏＰｏｗｅｒＣｏｎｔｒｏｌ）検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）とを出射するレーザダイオード（レーザ光発生部）と、レーザダイオードからの光を走査する光偏向器（走査部）と、投射面と光偏向器との間に配置され、光偏向器により走査された光のうち、ＡＰＣ検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）を遮蔽（遮断）する遮蔽部と、遮蔽部により遮蔽（遮断）されたＡＰＣ検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）の光出力を測定する光検知部とを備えた２次元光走査装置（プロジェクタ）が開示されている。また、レーザダイオードは、投影画像上にＡＰＣ検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）が照射されないように、投影画像が投影される領域では投影用の光を出射し、投影画像が投影される領域の外側の領域で、ＡＰＣ検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）を出射するように構成されている。また、遮蔽部は、投影用のレーザ光を遮蔽（遮断）することなく、ＡＰＣ検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）を遮蔽（遮断）するように、光偏向器と投射面との間で光偏向器（走査部）からある程度離間した位置に配置されていると考えられる。すなわち、走査部により走査される光は所定のスポット径を有しており、走査部から近い位置では、投影領域に投影される投影用のレーザ光（スポット光）と測定用レーザ光（スポット光）とが重なっているとともに、走査部から投影面側に離れるほど投影用レーザ光と測定用レーザ光との重なり度合いが小さくなり、走査部からある程度離間した位置で投影用レーザ光と測定用レーザ光との重なりがなくなる。このため、投影用レーザ光を遮断することなく測定用レーザ光を遮断するためには、走査部からある程度離間した位置に遮蔽部（遮断部）を配置する必要がある。 Patent Document 2 discloses a laser diode (laser light generation unit) that emits projection laser light and light (measurement laser light) based on APC (Auto Power Control) detection pattern information, and light from the laser diode. The light (measuring laser beam) based on the APC detection pattern information among the light deflected by the optical deflector (scanning unit) and the light scanned by the optical deflector. A two-dimensional optical scanning device comprising: a shielding unit that shields (blocks); and a light detection unit that measures a light output of light (measurement laser light) based on APC detection pattern information shielded (blocked) by the shielding unit ( Projector). In addition, the laser diode emits projection light in a region where the projection image is projected so that the projection image is not irradiated with light (measurement laser beam) based on the APC detection pattern information, and the projection image is projected. The light based on the APC detection pattern information (measurement laser light) is emitted in an area outside the area to be detected. In addition, the shielding unit shields (blocks) the light (measurement laser beam) based on the APC detection pattern information without blocking (blocking) the projection laser beam. It is considered that they are arranged at a certain distance from the optical deflector (scanning unit). That is, the light scanned by the scanning unit has a predetermined spot diameter, and at a position close to the scanning unit, the projection laser beam (spot beam) projected onto the projection region and the measurement laser beam (spot beam) ) And the degree of overlap between the projection laser beam and the measurement laser beam decreases as the distance from the scanning unit toward the projection surface decreases, and the projection laser beam and the measurement laser beam are located at a certain distance from the scanning unit. There is no overlap with light. For this reason, in order to block the measurement laser beam without blocking the projection laser beam, it is necessary to dispose a shielding unit (blocking unit) at a position somewhat away from the scanning unit.

特開２０１１−８２２１号公報JP 2011-8221 A 特開２００３−５１１０号公報JP 2003-5110 A

ここで、上記特許文献２に記載の２次元光走査装置（プロジェクタ）では、測定用のレーザ光を用いることにより精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができるので、投影画像を高品質に保つことが可能である一方、遮蔽部を、投影用のレーザ光を遮蔽（遮断）することなく、ＡＰＣ検出パターン情報に基づく光（測定用レーザ光）を遮蔽（遮断）するために、光偏向器と投射面との間で光偏向器からある程度離間した位置に配置する必要があるので、その分、光偏向器と遮蔽部との間のスペースが大きくなってプロジェクタが大型化するという問題点があると考えられる。 Here, in the two-dimensional optical scanning device (projector) described in Patent Document 2, feedback control of the laser light output can be performed with high accuracy by using the laser light for measurement, so that the projection image is of high quality. While it is possible to maintain the light, the light is deflected to shield (block) the light (measurement laser beam) based on the APC detection pattern information without blocking (blocking) the projection laser beam. The projector and the projection surface need to be arranged at a certain distance from the optical deflector, so that the space between the optical deflector and the shielding portion increases and the projector becomes larger. It is thought that there is.

この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の１つの目的は、装置全体の大型化を抑制しながら、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行って投影画像を高品質に保つことが可能なプロジェクタを提供することである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and one object of the present invention is to perform accurate feedback control of laser light output while suppressing an increase in the size of the entire apparatus. To provide a projector capable of maintaining an image with high quality.

この発明の一の局面によるプロジェクタは、投影用レーザ光および測定用レーザ光の２種類のレーザ光を出力するレーザ光発生部と、投影用レーザ光を走査する走査部と、レーザ光発生部と走査部との間に配置され、レーザ光発生部により投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるとともに、レーザ光発生部により測定用レーザ光が出力される際には、投影面側への測定用レーザ光を遮断する光通過制御部と、光通過制御部により、投影面側への測定用レーザ光が遮断されている間に測定用レーザ光の光出力を測定する光測定器とを備える。 A projector according to one aspect of the present invention includes a laser light generation unit that outputs two types of laser light, a projection laser beam and a measurement laser beam, a scanning unit that scans the projection laser beam, and a laser light generation unit. When the projection laser beam is output by the laser beam generator and is disposed between the scanning unit and the projection laser beam, the measurement laser beam is output by the laser beam generator. The light passage control unit that blocks the measurement laser beam to the projection surface side and the light output of the measurement laser beam while the measurement laser beam to the projection surface side is blocked by the light passage control unit. A light measuring device for measuring.

この発明の一の局面によるプロジェクタでは、上記のように、レーザ光発生部と走査部との間に配置され、レーザ光発生部により投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるとともに、レーザ光発生部により測定用レーザ光が出力される際には、投影面側への測定用レーザ光を遮断する光通過制御部を設けることによって、レーザ光発生部と走査部との間に配置された光通過制御部により、投影用レーザ光を通過させる状態と、測定用レーザ光を遮断する状態とを切り替えることができるので、投影用レーザ光を遮断することなく測定用レーザ光を遮断するために、走査部と投影面との間で走査部からある程度離間した位置に測定用レーザ光を遮断する遮蔽部（遮断部）を設ける場合と異なり、装置全体の大型化を抑制することができる。また、光通過制御部により、投影面側への測定用レーザ光が遮断されている間に測定用レーザ光の光出力を測定する光測定器を設けることによって、投影画面上に測定用レーザ光が照射されるのを抑制しながら測定専用の測定用レーザ光を用いて光出力を測定することができるので、光出力の範囲が限定される投影用レーザ光を用いる場合と異なり、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。したがって、このプロジェクタでは、装置全体の大型化を抑制しながら、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行って投影画像を高品質に保つことができる。 In the projector according to one aspect of the present invention, as described above, the projection laser beam is disposed between the laser beam generator and the scanning unit, and when the projection laser beam is output by the laser beam generator, When the measurement laser beam is output from the laser beam generator, a laser beam generator and a scanning unit are provided by providing a light passage controller that blocks the measurement laser beam to the projection surface side. Can be switched between a state in which the projection laser beam is allowed to pass and a state in which the measurement laser beam is blocked, so that the measurement laser beam can be measured without blocking the projection laser beam. Unlike the case of providing a shielding part (shielding part) that shields the measuring laser light at a position somewhat apart from the scanning part between the scanning part and the projection surface in order to shield the laser light, the overall size of the apparatus is increased. Suppression Rukoto can. Further, by providing a light measuring device that measures the light output of the measurement laser light while the measurement laser light to the projection surface side is blocked by the light passage control unit, the measurement laser light is displayed on the projection screen. Unlike the case of using projection laser light with a limited light output range, it is possible to measure the optical output using a measurement laser beam dedicated to measurement while suppressing the irradiation of the laser. Optical output feedback control can be performed. Therefore, in this projector, it is possible to accurately control the feedback of the laser beam output and maintain a high quality projection image while suppressing the increase in size of the entire apparatus.

上記一の局面によるプロジェクタにおいて、好ましくは、光通過制御部を投影用レーザ光が通過する状態から遮断される状態に変化させた後、レーザ光発生部により、測定用レーザ光を出力するように構成されている。このように構成すれば、測定用レーザ光が投影面に投影されるのを確実に防止することができるので、測定用レーザ光に起因して投影画像の品質が低下するのを抑制することができる。 In the projector according to the above aspect, it is preferable that the laser beam generation unit outputs the measurement laser beam after the light passage control unit is changed from a state in which the projection laser beam passes to a state in which the projection laser beam passes. It is configured. With this configuration, it is possible to reliably prevent the measurement laser light from being projected onto the projection surface, and thus it is possible to suppress deterioration in the quality of the projection image due to the measurement laser light. it can.

上記一の局面によるプロジェクタにおいて、好ましくは、光通過制御部は、投影用レーザ光を透過させる状態と投影用レーザ光を遮断する状態とを電気的に切り替えるように構成されている。このように構成すれば、機械的駆動手段（モータなど）が不要となるので、装置構成を簡略化することができる。その結果、装置の大型化を抑制することができる。 In the projector according to the above aspect, the light passage control unit is preferably configured to electrically switch between a state of transmitting the projection laser light and a state of blocking the projection laser light. This configuration eliminates the need for mechanical drive means (such as a motor), thereby simplifying the apparatus configuration. As a result, an increase in the size of the apparatus can be suppressed.

この場合、好ましくは、光通過制御部は、第１光偏光素子と、分光部材とを含み、第１光偏光素子は、分光部材に対してＰ偏光またはＳ偏光のレーザ光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光またはＳ偏光をそれぞれＳ偏光またはＰ偏光に変更して透過させる状態とを切り替え可能に構成され、分光部材は、第１光偏光素子と走査部との間に配置されるとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の一方を光測定器側に導くとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の他方を投影面側に導くように構成されている。このように構成すれば、第１光偏光素子の状態を変更するだけで、光測定器側から投影面側に、または、投影面側から光測定器側にレーザ光が導かれるように変更することができるので、容易に測定用レーザ光を用いて精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。 In this case, preferably, the light passage control unit includes a first light polarizing element and a spectral member, and the first light polarizing element does not change the P-polarized light or the S-polarized laser light with respect to the spectral member. The state in which light is transmitted as it is and the state in which P-polarized light or S-polarized light is changed to S-polarized light or P-polarized light to be transmitted can be switched, and the spectroscopic member is disposed between the first light polarizing element and the scanning unit. In addition, one of P-polarized light and S-polarized light is guided to the optical measuring device side, and the other of P-polarized light and S-polarized light is guided to the projection plane side. If comprised in this way, it will change so that a laser beam may be guide | induced to the projection surface side from the optical measuring device side, or the optical measuring device side from a projection surface side only by changing the state of a 1st light polarizing element. Therefore, it is possible to easily perform feedback control of the laser beam output with high accuracy using the measurement laser beam.

上記光通過制御部が状態を電気的に切り替える構成において、好ましくは、分光部材は、Ｐ偏光およびＳ偏光の一方を透過させるとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の他方を反射させる偏向ビームスプリッタを有する。このように構成すれば、偏光ビームスプリッタにより、容易にＰ偏光およびＳ偏光の一方を光測定器側に導くとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の他方を投影面側に導くことができる。 In the configuration in which the light passage control unit electrically switches the state, the spectroscopic member preferably has a deflection beam splitter that transmits one of the P-polarized light and the S-polarized light and reflects the other of the P-polarized light and the S-polarized light. With this configuration, it is possible to easily guide one of the P-polarized light and the S-polarized light to the optical measuring device side and to guide the other of the P-polarized light and the S-polarized light to the projection plane side by the polarizing beam splitter.

上記光通過制御部が状態を電気的に切り替える構成において、好ましくは、光通過制御部は、レーザ光を透過させる状態とレーザ光を遮断する状態とを変更可能な第２光偏光素子を含む。このように構成すれば、第２光偏光素子の状態を変更するだけで、レーザ光を透過または遮断するように変更することができるので、容易に測定用レーザ光を用いて精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。 In the configuration in which the light passage control unit electrically switches the state, the light passage control unit preferably includes a second light polarizing element that can change a state of transmitting the laser light and a state of blocking the laser light. With this configuration, it is possible to change the laser light so that it can be transmitted or blocked simply by changing the state of the second optical polarization element. Therefore, it is easy to accurately output the laser light using the measurement laser light. Feedback control can be performed.

上記一の局面によるプロジェクタにおいて、好ましくは、光通過制御部は、レーザ光の光路上の位置と光路上からずれた位置とを移動可能に構成された可動ミラーを含み、可動ミラーは、投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるようにレーザ光の光路上からずれた位置に配置され、測定用レーザ光が出力される際には、投影面側への測定用レーザ光を遮断して反射するように光路上の位置に配置されるように構成されている。このように構成すれば、可動ミラーを移動させるだけで、レーザ光を透過または遮断するように変更することができるので、容易に測定用レーザ光を用いて精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。 In the projector according to the above aspect, the light passage control unit preferably includes a movable mirror configured to be able to move between a position on the optical path of the laser beam and a position shifted from the optical path, and the movable mirror is for projection. When the laser beam is output, it is placed at a position shifted from the optical path of the laser beam so as to allow the projection laser beam to pass. When the measuring laser beam is output, the measurement is performed on the projection surface side. It is configured to be disposed at a position on the optical path so as to block and reflect the laser beam for use. With this configuration, the laser beam can be changed so as to be transmitted or blocked simply by moving the movable mirror, so that the laser beam output is easily feedback-controlled with high accuracy using the measurement laser beam. be able to.

本発明によれば、上記のように、装置全体の大型化を抑制しながら、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行って投影画像を高品質に保つことができる。 According to the present invention, as described above, the projection image can be kept in high quality by accurately performing feedback control of the laser beam output while suppressing the enlargement of the entire apparatus.

本発明の第１実施形態によるプロジェクタの使用状態を示した図である。It is the figure which showed the use condition of the projector by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第１実施形態によるプロジェクタの構成を示したブロック図である。1 is a block diagram showing a configuration of a projector according to a first embodiment of the present invention. 本発明の第１実施形態によるプロジェクタの光出力の測定について説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the measurement of the light output of the projector by 1st Embodiment of this invention. 本発明の第２実施形態によるプロジェクタの構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the structure of the projector by 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第２実施形態によるプロジェクタの光出力の測定について説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the measurement of the light output of the projector by 2nd Embodiment of this invention. 本発明の第３実施形態によるプロジェクタの構成を示したブロック図である。It is the block diagram which showed the structure of the projector by 3rd Embodiment of this invention. 本発明の第３実施形態によるプロジェクタの光出力の測定について説明するためのフローチャートである。It is a flowchart for demonstrating the measurement of the light output of the projector by 3rd Embodiment of this invention.

（第１実施形態）
以下、図１〜図３を参照して、本発明の第１実施形態によるプロジェクタ１００の構成について説明する。 (First embodiment)
The configuration of the projector 100 according to the first embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS.

本発明の第１実施形態によるプロジェクタ１００は、図１および図２に示すように、スクリーン１１にレーザ光を出射することにより投影画像１０を投影するように構成されている。また、プロジェクタ１００は、投影のために用いる投影用レーザ光と、レーザ光の光出力を測定するために用いる専用の測定用レーザ光の２種類のレーザ光を出射するように構成されている。また、プロジェクタ１００は、測定用レーザ光の光出力をフォトダイオード１０９を用いて測定することにより、投影用レーザ光のスクリーン１１上における光出力を一定に保つためのレーザ光出力のフィードバック制御を行うように構成されている。また、プロジェクタ１００は、スクリーン１１側に投影用レーザ光を導く状態と、フォトダイオード１０９側に測定用レーザ光を導く状態とを交互に変更させる操作を光通過制御部１０８により行うように構成されている。また、図２では、スクリーン１１側に投影用レーザ光（実線で示すレーザ光）を導く状態が示されている。また、フォトダイオード１０９側に測定用レーザ光（破線で示すレーザ光）を導く状態に変更された場合には、スクリーン１１側へのレーザ光が遮断されるとともに、測定用レーザ光がフォトダイオード１０９側に導かれることになる。なお、スクリーン１１は、本発明の「投影面」の一例である。また、フォトダイオード１０９は、本発明の「光測定器」の一例である。 As shown in FIGS. 1 and 2, the projector 100 according to the first embodiment of the present invention is configured to project a projected image 10 by emitting laser light to a screen 11. The projector 100 is configured to emit two types of laser light, that is, projection laser light used for projection and dedicated measurement laser light used for measuring the light output of the laser light. In addition, the projector 100 performs feedback control of the laser light output for keeping the light output of the projection laser light on the screen 11 constant by measuring the light output of the measurement laser light using the photodiode 109. It is configured as follows. Further, the projector 100 is configured so that the light passage control unit 108 performs an operation of alternately changing the state in which the projection laser light is guided to the screen 11 side and the state in which the measurement laser light is guided to the photodiode 109 side. ing. FIG. 2 shows a state in which projection laser light (laser light indicated by a solid line) is guided to the screen 11 side. Further, when the state is changed to a state in which the measurement laser light (laser light indicated by a broken line) is guided to the photodiode 109 side, the laser light to the screen 11 side is blocked and the measurement laser light is transmitted to the photodiode 109. Will be led to the side. The screen 11 is an example of the “projection surface” in the present invention. The photodiode 109 is an example of the “light measuring device” in the present invention.

以下では、光出力を測定する目的、プロジェクタ１００の全体および各部の構成、光通過制御部１０８の構成、光出力の測定方法とレーザ光出力のフィードバック制御の方法、および、光出力を測定するためのフローについて順に説明していく。 In the following, the purpose of measuring the light output, the configuration of the entire projector 100 and each unit, the configuration of the light passage control unit 108, the light output measuring method and the laser light output feedback control method, and the light output are measured. These flows will be described in order.

まず、光出力を測定する目的について説明する。レーザ光は、温度が上昇するに伴って光出力が減少する特性がある。そのため、プロジェクタ１００は、所望の輝度（光出力）により投影するためには、温度変化に伴ってレーザ光の光源の駆動電流を増減させる必要がある。したがって、プロジェクタ１００は、測定用レーザ光の光出力を常時測定することにより、レーザ光の温度変化に対応したレーザ光出力のフィードバック制御を行なわなければならない。これにより、スクリーン１１上で所望の輝度（光出力）の投影画像１０を得ることが可能となる。そのため、プロジェクタ１００は、測定用レーザ光の光出力を測定するとともに、光出力が一定になるようにＡｕｔｏＰｏｗｅｒＣｏｎｔｒｏｌ制御（以下、ＡＰＣ制御とする）を行うように構成されている。 First, the purpose of measuring the light output will be described. Laser light has a characteristic that the light output decreases as the temperature rises. Therefore, in order for the projector 100 to project at a desired luminance (light output), it is necessary to increase or decrease the drive current of the laser light source in accordance with the temperature change. Therefore, the projector 100 must perform feedback control of the laser light output corresponding to the temperature change of the laser light by constantly measuring the light output of the measuring laser light. This makes it possible to obtain a projection image 10 having a desired luminance (light output) on the screen 11. Therefore, the projector 100 is configured to measure the optical output of the measurement laser light and perform Auto Power Control control (hereinafter referred to as APC control) so that the optical output becomes constant.

次に、図１および図２を参照して、プロジェクタ１００の全体および各部の構成について説明する。 Next, the entire projector 100 and the configuration of each unit will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

プロジェクタ１００は、レーザ光発生部１０３〜１０５により投影用レーザ光が出力される際に、投影用レーザ光を通過させるとともに、レーザ光発生部１０３〜１０５により測定用レーザ光が出力される際に、スクリーン１１側への測定用レーザ光を遮断する光通過制御部１０８と、光通過制御部１０８により、スクリーン１１側への測定用レーザ光が遮断されている間に測定用レーザ光の光出力を測定するフォトダイオード１０９とを備えている。 When the projection laser light is output from the laser light generation units 103 to 105, the projector 100 allows the projection laser light to pass through and the measurement laser light is output from the laser light generation units 103 to 105. The light passage control unit 108 that blocks the measurement laser beam to the screen 11 side, and the light output of the measurement laser beam while the measurement laser beam to the screen 11 side is blocked by the light passage control unit 108 And a photodiode 109 for measuring the current.

詳細には、プロジェクタ１００は、メインＣＰＵ１０１と、操作部１０２と、光源となる３つ（Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青））のレーザ光発生部１０３〜１０５と、２つのハーフミラー１０６および１０７と、光通過制御部１０８と、フォトダイオード１０９と、レンズ１１０と、走査部１１１および１１２と、表示制御部１１３とを備えている。また、光通過制御部１０８は、液晶素子１１４と、液晶素子１１４の状態の変更を制御する液晶制御部１１５と、偏光ビームスプリッタ１１６とを含む。この光通過制御部１０８の詳細については後述する。また、走査部１１１および１１２は、それぞれ投影用レーザ光を走査するＭＥＭＳ（ＭｉｃｒｏＥｌｅｃｔｒｏＭｅｃｈａｎｉｃａｌＳｙｓｔｅｍｓ）ミラー１１１ａおよび１１２ａを含む。また、表示制御部１１３は、映像処理部１１７と、光源制御部１１８と、光源ドライバ１１９と、ミラー制御部１２０と、ミラードライバ１２１とを含む。なお、液晶素子１１４は、本発明の「第１光偏光素子」の一例である。 Specifically, the projector 100 includes a main CPU 101, an operation unit 102, three (R (red), G (green), and B (blue)) laser light generation units 103 to 105 that serve as light sources, and two Half mirrors 106 and 107, light passage control unit 108, photodiode 109, lens 110, scanning units 111 and 112, and display control unit 113 are provided. The light passage control unit 108 includes a liquid crystal element 114, a liquid crystal control unit 115 that controls a change in the state of the liquid crystal element 114, and a polarization beam splitter 116. Details of the light passage control unit 108 will be described later. The scanning units 111 and 112 include MEMS (Micro Electro Mechanical Systems) mirrors 111a and 112a that scan the projection laser light, respectively. The display control unit 113 includes a video processing unit 117, a light source control unit 118, a light source driver 119, a mirror control unit 120, and a mirror driver 121. The liquid crystal element 114 is an example of the “first light polarizing element” in the present invention.

また、プロジェクタ１００は、図２に示すように、映像処理部１１７に入力された映像信号に基づいて投影画像１０をスクリーン１１に出力するように構成されている。 Further, as shown in FIG. 2, the projector 100 is configured to output the projection image 10 to the screen 11 based on the video signal input to the video processing unit 117.

また、メインＣＰＵ１０１は、操作部１０２と表示制御部１１３と光通過制御部１０８とに接続されるとともに、プロジェクタ１００の各部を制御するように構成されている。 The main CPU 101 is connected to the operation unit 102, the display control unit 113, and the light passage control unit 108, and is configured to control each unit of the projector 100.

また、操作部１０２は、プロジェクタ１００の電源を入れる操作、投影画像１０の投影角度を変更する操作および投影画像１０の解像度を変更する操作などを受け付けるために設けられている。 The operation unit 102 is provided to accept operations such as turning on the projector 100, changing the projection angle of the projection image 10, and changing the resolution of the projection image 10.

また、レーザ光発生部１０３は、青色のレーザ光をハーフミラー１０６で反射させた後、液晶素子１１４およびレンズ１１０を通過させて、さらに偏光ビームスプリッタ１１６で反射させることによりＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａに照射するように構成されている。また、レーザ光発生部１０４および１０５は、それぞれ緑色のレーザ光および赤色のレーザ光をハーフミラー１０７および１０６により反射または通過させた後、液晶素子１１４およびレンズ１１０を通過させて、さらに偏光ビームスプリッタ１１６で反射させることにより、ＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａに照射するように構成されている。このようにしてプロジェクタ１００は、各色の投影用レーザ光を合成するとともに、スクリーン１１に投影するように構成されている。 The laser light generation unit 103 reflects the blue laser light on the half mirror 106, then passes through the liquid crystal element 114 and the lens 110, and further reflects on the polarization beam splitter 116, thereby causing the MEMS mirrors 111 a and 112 a to pass. It is configured to irradiate. The laser beam generators 104 and 105 reflect or pass the green laser beam and the red laser beam by the half mirrors 107 and 106, respectively, then pass through the liquid crystal element 114 and the lens 110, and further pass through the polarization beam splitter. The MEMS mirrors 111a and 112a are irradiated by being reflected by 116. In this way, the projector 100 is configured to synthesize the projection laser beams of the respective colors and project them onto the screen 11.

また、ＭＥＭＳミラー１１１ａは、水平方向を共振駆動により、高速走査するように構成されるとともに、ＭＥＭＳミラー１１２ａは、垂直方向を直流駆動により低速走査するように構成されている。したがって、プロジェクタ１００は、図１に示すように、投影用レーザ光をスクリーン１１上にジクザグの軌道により走査することにより投影画像１０を投影するように構成されている。 Further, the MEMS mirror 111a is configured to scan at high speed in the horizontal direction by resonance driving, and the MEMS mirror 112a is configured to scan at low speed in the vertical direction by DC driving. Therefore, as shown in FIG. 1, the projector 100 is configured to project the projection image 10 by scanning the projection laser light on the screen 11 along a zigzag trajectory.

ミラー制御部１２０は、映像処理部１１７による制御に基づいて、ミラードライバ１２１を制御して、ＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａの駆動を制御するように構成されている。 The mirror control unit 120 is configured to control the mirror driver 121 based on control by the video processing unit 117 to control the driving of the MEMS mirrors 111a and 112a.

映像処理部１１７は、上記のように、外部から入力される映像信号に基づいて、投影画像１０の投影を制御するように構成されている。具体的には、映像処理部１１７は、外部から入力される映像信号に基づいて、ミラー制御部１２０を介して、ＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａの駆動を制御するとともに、光源制御部１１８を介して、レーザ光発生部１０３〜１０５によるレーザ光の照射を制御するように構成されている。 As described above, the video processing unit 117 is configured to control the projection of the projection image 10 based on the video signal input from the outside. Specifically, the video processing unit 117 controls driving of the MEMS mirrors 111a and 112a via the mirror control unit 120 based on a video signal input from the outside, and via the light source control unit 118, The laser beam generators 103 to 105 are configured to control the irradiation of the laser beam.

光源制御部１１８は、映像処理部１１７による制御に基づいて、光源ドライバ１１９を制御して、レーザ光発生部１０３〜１０５によるレーザ光の出射を制御するように構成されている。具体的には、光源制御部１１８は、ＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａが走査するタイミングに合せて投影画像１０の各画素に対応する色のレーザ光をレーザ光発生部１０３〜１０５から出射させる制御を行うように構成されている。また、フォトダイオード１０９の測定結果に基づいて光出力を調整するように構成されている。 The light source control unit 118 is configured to control the light source driver 119 based on the control by the video processing unit 117 to control the emission of the laser light by the laser light generation units 103 to 105. Specifically, the light source control unit 118 performs control to emit laser light of a color corresponding to each pixel of the projection image 10 from the laser light generation units 103 to 105 in accordance with the timing when the MEMS mirrors 111a and 112a scan. It is configured as follows. Further, the optical output is adjusted based on the measurement result of the photodiode 109.

次に、図２を参照して、光通過制御部１０８の構成について説明する。 Next, the configuration of the light passage control unit 108 will be described with reference to FIG.

ここで、第１実施形態では、光通過制御部１０８は、上記のように、液晶素子１１４と、液晶素子１１４の状態の変更を制御する液晶制御部１１５と、偏光ビームスプリッタ１１６とを含む。また、レーザ光発生部１０３〜１０５は、偏光ビームスプリッタ１１６に対して、常にＰ偏光（以下、Ｐ偏光およびＳ偏光との記載は、偏光ビームスプリッタ１１６を基準とする）となるレーザ光を出射するように構成されている。また、液晶素子１１４は、レーザ光の光路上に設けられ、液晶制御部１１５の制御に基づいてＰ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態とを切り替え可能に構成されている。 Here, in the first embodiment, the light passage control unit 108 includes the liquid crystal element 114, the liquid crystal control unit 115 that controls the change of the state of the liquid crystal element 114, and the polarization beam splitter 116 as described above. The laser light generators 103 to 105 emit laser light that is always P-polarized light (hereinafter, P-polarized light and S-polarized light are based on the polarized beam splitter 116) with respect to the polarizing beam splitter 116. Is configured to do. In addition, the liquid crystal element 114 is provided on the optical path of the laser light, and transmits the P-polarized light as it is without changing it under the control of the liquid crystal control unit 115, and changes the P-polarized light to the S-polarized light and transmits it. And can be switched.

具体的には、液晶素子１１４は、レーザ光の受光領域に電極が形成されており、この電極に液晶制御部１１５からの制御電圧を印加することで、Ｐ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態とを電気的に切り替え可能に構成されている。また、偏光ビームスプリッタ１１６は、Ｐ偏光を反射し、Ｓ偏光を透過するように構成されている。したがって、プロジェクタ１００は、図２に示すように、液晶素子１１４がＰ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態の場合には、フォトダイオード１０９側に投影用レーザ光を導かず、スクリーン１１側に投影用レーザ光を導くことになる。また、投影用レーザ光は、Ｐ偏光から構成されている。また、プロジェクタ１００は、液晶素子１１４がＰ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態の場合には、スクリーン１１側にレーザ光を導かず、フォトダイオード１０９側にレーザ光を導くことになる。また、測定用レーザ光は、Ｓ偏光から構成されている。また、液晶素子１１４は、Ｐ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態とを、投影画像１０を投影する所定のタイミングにより周期的に切り替えている。 Specifically, the liquid crystal element 114 has an electrode formed in the light receiving region of the laser beam. By applying a control voltage from the liquid crystal control unit 115 to this electrode, the P polarized light is transmitted as it is without being changed. It is configured to be able to be electrically switched between a state and a state in which P-polarized light is changed to S-polarized light and transmitted. The polarization beam splitter 116 is configured to reflect P-polarized light and transmit S-polarized light. Therefore, as shown in FIG. 2, when the liquid crystal element 114 transmits the P-polarized light as it is without changing the P-polarized light, the projector 100 does not guide the projection laser light to the photodiode 109 side, but to the screen 11 side. The projection laser light is guided. The projection laser light is composed of P-polarized light. Further, when the liquid crystal element 114 is in a state in which the P-polarized light is changed to S-polarized light, the projector 100 does not guide the laser light to the screen 11 side but guides the laser light to the photodiode 109 side. The measuring laser beam is composed of S-polarized light. Further, the liquid crystal element 114 periodically switches between a state in which the P-polarized light is transmitted without being changed and a state in which the P-polarized light is changed to the S-polarized light and is transmitted at a predetermined timing at which the projection image 10 is projected. Yes.

また、液晶制御部１１５は、液晶素子１１４の状態を切り替えるタイミングについての信号をメインＣＰＵ１０１から受信して、Ｐ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態との切り替えを制御するように構成されている。 Further, the liquid crystal control unit 115 receives a signal about the timing for switching the state of the liquid crystal element 114 from the main CPU 101, transmits the signal without changing the P-polarized light, and transmits the signal while changing the P-polarized light to the S-polarized light. It is comprised so that switching with the state to be made may be controlled.

次に、図２を参照して、光出力の測定方法とレーザ光出力のフィードバック制御（ＡＰＣ制御）の方法について説明する。 Next, a method for measuring optical output and a method for feedback control (APC control) of laser light output will be described with reference to FIG.

フォトダイオード１０９は、上記のように、測定用レーザ光の光出力を測定するように構成されている。光出力の測定は、各色の測定用レーザ光ごとに所定の最大光出力を得るための測定と所定の最小出力を得るための測定とがフレーム毎に交互に行われる。すなわち、ｎ番目のフレームでは、最大光出力を得るための測定が行われ、ｎ＋１番目のフレームでは最小出力を得るための測定が行われる。また、光出力と駆動電流とは比例するので、光出力と駆動電流との比例関係を用いて、その間における光出力に対する駆動電流の値を得ることができる。 As described above, the photodiode 109 is configured to measure the light output of the measurement laser beam. In the measurement of the light output, the measurement for obtaining a predetermined maximum light output and the measurement for obtaining a predetermined minimum output are alternately performed for each frame for each measurement laser light of each color. That is, the measurement for obtaining the maximum light output is performed in the nth frame, and the measurement for obtaining the minimum output is performed in the n + 1th frame. Further, since the optical output and the drive current are proportional, the value of the drive current with respect to the optical output during that time can be obtained using the proportional relationship between the optical output and the drive current.

上記測定により得られた測定結果は、光源制御部１１８にフィードバックされる。そして、光源制御部１１８は、所望の輝度（光出力）をスクリーン１１上で得るために測定結果に基づいて各レーザ光発生部１０３〜１０５を駆動させる駆動電流を決定している。このようにしてプロジェクタ１００は、レーザ光出力のフィードバック制御（ＡＰＣ制御）を行うことにより、レーザ光の温度変化に関わらず一定の光出力を取得可能に構成されている。 The measurement result obtained by the above measurement is fed back to the light source control unit 118. Then, the light source control unit 118 determines a drive current for driving the laser light generation units 103 to 105 based on the measurement result in order to obtain a desired luminance (light output) on the screen 11. In this way, the projector 100 is configured to obtain a constant light output regardless of the temperature change of the laser light by performing feedback control (APC control) of the laser light output.

次に、図３を参照して、光出力の測定フローについて説明する。なお、以下のステップＳ２〜Ｓ６は、測定用レーザ光の光出力を測定する期間に相当する。また、ステップＳ７は、スクリーン１１上に投影レーザ光が投影される期間に相当する。 Next, with reference to FIG. 3, a measurement flow of optical output will be described. The following steps S2 to S6 correspond to a period during which the optical output of the measurement laser beam is measured. Step S7 corresponds to a period during which the projection laser light is projected on the screen 11.

まず、ステップＳ１において、レーザ光発生部１０３〜１０５から投影用レーザ光が出射されることにより、ＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａにおいて走査される。そのため、スクリーン１１上には、投影画像１０が投影される。そして、スッテプＳ２に進む。なお、この際の液晶素子１１４は、Ｐ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態である。 First, in step S1, the projection laser beams are emitted from the laser beam generators 103 to 105, and the MEMS mirrors 111a and 112a are scanned. Therefore, the projected image 10 is projected on the screen 11. Then, the process proceeds to step S2. Note that the liquid crystal element 114 at this time is in a state of transmitting the P-polarized light as it is without being changed.

次に、ステップＳ２において、液晶素子１１４の状態が、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態に切り替えられる。その結果、Ｓ偏光が偏光ビームスプリッタ１１６を透過してフォトダイオード１０９側に導かれる。また、スクリーン１１上に投影画像１０が投影されなくなる。なお、投影用レーザ光は、液晶素子１１４の状態がＰ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態に変更されたタイミングで出射が停止される。そして、ステップＳ３に進む。 Next, in step S2, the state of the liquid crystal element 114 is switched to a state in which P-polarized light is changed to S-polarized light and transmitted. As a result, the S-polarized light passes through the polarization beam splitter 116 and is guided to the photodiode 109 side. Further, the projection image 10 is not projected on the screen 11. The projection laser light is stopped at the timing when the state of the liquid crystal element 114 is changed to a state in which the P-polarized light is changed to the S-polarized light and transmitted. Then, the process proceeds to step S3.

次に、ステップＳ３において、レーザ光発生部１０３〜１０５を発光させることにより、測定用レーザ光を出射させる。そして、ステップＳ４に進む。 Next, in step S3, the laser beam generators 103 to 105 are caused to emit light to emit measurement laser light. Then, the process proceeds to step S4.

次に、ステップＳ４において、フォトダイオード１０９により測定用レーザ光の光出力が測定される。この測定結果に基づいてレーザ光出力のフィードバック制御（ＡＰＣ制御）が行われ、所望の光出力が得られるようになる。そして、ステップＳ５に進む。 Next, in step S4, the optical output of the measurement laser beam is measured by the photodiode 109. Based on this measurement result, feedback control (APC control) of laser light output is performed, and a desired light output can be obtained. Then, the process proceeds to step S5.

次に、ステップＳ５において、レーザ光発生部１０３〜１０５から出射される測定用レーザ光の出射が停止される。そして、ステップＳ６に進む。 Next, in step S5, the emission of the measurement laser beam emitted from the laser beam generators 103 to 105 is stopped. Then, the process proceeds to step S6.

次に、ステップＳ６において、液晶素子１１４の状態がＰ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態に切り替えられる。その結果、Ｐ偏光が、そのまま液晶素子１１４を透過するとともに、偏光ビームスプリッタ１１６で反射することによりスクリーン１１側に導かれる。なお、レーザ光発生部１０３〜１０５は、液晶素子１１４の状態がＰ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態に変更されたタイミングで発光され、投影用レーザ光が出射される。そして、ステップＳ７に進む。 Next, in step S6, the state of the liquid crystal element 114 is switched to a state in which it is transmitted without changing the P-polarized light. As a result, the P-polarized light passes through the liquid crystal element 114 as it is and is reflected by the polarization beam splitter 116 to be guided to the screen 11 side. The laser light generators 103 to 105 emit light at the timing when the state of the liquid crystal element 114 is changed to a state in which the liquid crystal element 114 is transmitted as it is without changing the P-polarized light, and the projection laser light is emitted. Then, the process proceeds to step S7.

次に、ステップＳ７において、投影用レーザ光がＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａにより走査されることにより、スクリーン１１上に投影画像１０が投影される。そして、再びステップＳ２に戻り、ステップＳ２〜Ｓ７が繰り返されることにより、常時レーザ光出力のフィードバック制御が行われながら、投影画像１０が投影される。 Next, in step S7, the projection laser beam is scanned by the MEMS mirrors 111a and 112a, whereby the projection image 10 is projected on the screen 11. Then, the process returns to step S2 again, and steps S2 to S7 are repeated, so that the projection image 10 is projected while the feedback control of the laser light output is always performed.

第１実施形態では、上記のように、レーザ光発生部１０３〜１０５と走査部１１１および１１２との間に配置され、レーザ光発生部１０３〜１０５により投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるとともに、レーザ光発生部１０３〜１０５により測定用レーザ光が出力される際には、スクリーン１１側への測定用レーザ光を遮断する光通過制御部１０８を設けることによって、光通過制御部１０８により、投影用レーザ光を通過させる状態と、測定用レーザ光を遮断する状態とを切り替えることができるので、投影用レーザ光を遮断することなく、測定用レーザ光を遮断するために、走査部１１１および１１２とスクリーン１１との間で走査部１１１および１１２からある程度離間した位置に測定用レーザ光を遮断する遮蔽部（遮断部）を設ける場合と異なり、レーザ光発生部１０３〜１０５と走査部１１１および１１２との間に光通過制御部１０８を配置して装置全体の大型化を抑制することができる。また、光通過制御部１０８により、スクリーン１１側への測定用レーザ光が遮断されている間に測定用レーザ光の光出力を測定するフォトダイオード１０９を設けることによって、投影画面１０上に測定用レーザ光が照射されるのを抑制しながら測定専用の測定用レーザ光を用いて光出力を測定することができるので、光出力の範囲が限定される投影用レーザ光を用いる場合と異なり、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。したがって、このプロジェクタ１００では、装置全体の大型化を抑制しながら、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行って投影画像１０を高品質に保つことができる。 In the first embodiment, as described above, when the laser beam generators 103 to 105 are arranged between the scanning units 111 and 112 and the laser beam generators 103 to 105 output the projection laser beam, In addition to passing the projection laser light, when the measurement laser light is output from the laser light generation units 103 to 105, a light passage control unit 108 for blocking the measurement laser light to the screen 11 side is provided. Thus, the light passage control unit 108 can switch between a state in which the projection laser light is allowed to pass and a state in which the measurement laser light is blocked, so that the measurement laser light can be transmitted without blocking the projection laser light. In order to cut off, the laser beam for measurement is cut off at a certain distance from the scanning units 111 and 112 between the scanning units 111 and 112 and the screen 11. Unlike the case of providing the shielding section (blocking part), it is possible to suppress an increase in the overall size of the apparatus by arranging the light passage control unit 108 between the laser light generator 103 to 105 and the scanning portion 111 and 112. Further, by providing a photodiode 109 that measures the light output of the measurement laser beam while the measurement laser beam to the screen 11 is blocked by the light passage control unit 108, the measurement is performed on the projection screen 10. The optical output can be measured using the measurement laser beam dedicated to the measurement while suppressing the irradiation of the laser beam. Therefore, unlike the case of using the projection laser beam with a limited optical output range, the accuracy is high. It is possible to perform feedback control of laser light output well. Therefore, in the projector 100, the projection image 10 can be kept in high quality by accurately performing feedback control of the laser light output while suppressing the enlargement of the entire apparatus.

また、第１実施形態では、上記のように、光通過制御部１０８を投影用レーザ光が通過する状態から遮断される状態に変化させた後、レーザ光発生部１０３〜１０５により測定用レーザ光を出力させる。これにより、測定用レーザ光がスクリーン１１に投影されることを防止することができるので、測定用レーザ光に起因して投影画像１０の品質が低下することを抑制することができる。 In the first embodiment, as described above, after the light passage control unit 108 is changed from the state in which the projection laser light passes to the state in which the projection laser light passes through, the laser light generation units 103 to 105 perform measurement laser light. Is output. Thereby, since it can prevent that the laser beam for measurement is projected on the screen 11, it can suppress that the quality of the projection image 10 resulting from the laser beam for measurement falls.

また、第１実施形態では、上記のように、光通過制御部１０８が、投影用レーザ光を透過させる状態と投影用レーザ光を遮断する状態とを電気的に切り替える。これにより、機械的駆動手段（モータなど）が不要となるので、装置を簡易に構成することできる。その結果、装置の大型化を抑制することができる。 In the first embodiment, as described above, the light passage control unit 108 electrically switches between a state of transmitting the projection laser light and a state of blocking the projection laser light. This eliminates the need for mechanical drive means (such as a motor), so that the apparatus can be configured simply. As a result, an increase in the size of the apparatus can be suppressed.

また、第１実施形態では、上記のように、光通過制御部１０８が、液晶素子１１４と、偏光ビームスプリッタ１１６とを含み、液晶素子１１４を、偏光ビームスプリッタ１１６に対してＰ偏光またはＳ偏光のレーザ光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光またはＳ偏光をそれぞれＳ偏光またはＰ偏光に変更する状態とを切り替え可能に構成する。また、偏光ビームスプリッタ１１６を、液晶素子１１４と走査部１１１および１１２との間に配置されるとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の一方をフォトダイオード１０９側に導くとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の他方をスクリーン１１側に導くように構成する。これにより、液晶素子１１４の状態を変更するだけで、フォトダイオード１０９側からスクリーン１１側に、または、スクリーン１１側からフォトダイオード１０９側にレーザ光が導かれるように変更することができるので、測定用レーザ光を用いて精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。また、偏光ビームスプリッタ１１６により、容易にＰ偏光およびＳ偏光の一方をフォトダイオード１０９側に導くとともに、Ｐ偏光およびＳ偏光の他方をスクリーン１１側に導くことができる。 In the first embodiment, as described above, the light passage control unit 108 includes the liquid crystal element 114 and the polarization beam splitter 116, and the liquid crystal element 114 is P-polarized light or S-polarized light with respect to the polarization beam splitter 116. The laser beam can be switched between a state in which the laser light is transmitted without being changed and a state in which the P-polarized light or S-polarized light is changed to S-polarized light or P-polarized light, respectively. In addition, the polarization beam splitter 116 is disposed between the liquid crystal element 114 and the scanning units 111 and 112, guides one of P-polarized light and S-polarized light to the photodiode 109 side, and transfers the other of P-polarized light and S-polarized light. It is configured to lead to the screen 11 side. As a result, by changing the state of the liquid crystal element 114, the laser light can be changed from the photodiode 109 side to the screen 11 side or from the screen 11 side to the photodiode 109 side. It is possible to accurately perform feedback control of laser beam output using the laser beam for use. Further, the polarization beam splitter 116 can easily guide one of P-polarized light and S-polarized light to the photodiode 109 side, and guide the other of P-polarized light and S-polarized light to the screen 11 side.

（第２実施形態）
以下、図１、図４および図５を参照して、本発明の第２実施形態によるプロジェクタ２００の構成について説明する。 (Second Embodiment)
Hereinafter, the configuration of the projector 200 according to the second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1, 4, and 5.

この第２実施形態では、液晶素子１１４が、Ｐ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態とを切り替え可能に構成されている第１実施形態と異なり、液晶素子２１４が、レーザ光を透過させる状態とレーザ光を遮断する状態とを変更可能に構成されているプロジェクタ２００について説明する。なお、液晶素子２１４は、本発明の「第２光偏光素子」の一例である。 In the second embodiment, the liquid crystal element 114 is configured to be able to switch between a state in which the P-polarized light is transmitted without being changed and a state in which the P-polarized light is changed to the S-polarized light and transmitted. In contrast, a projector 200 in which the liquid crystal element 214 is configured to be able to change between a state of transmitting laser light and a state of blocking laser light will be described. The liquid crystal element 214 is an example of the “second light polarizing element” in the present invention.

プロジェクタ２００は、図４に示すように、メインＣＰＵ１０１と、操作部１０２と、光源となる３つ（Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青））のレーザ光発生部１０３〜１０５と、２つのハーフミラー２０６および１０７と、光通過制御部２０８と、フォトダイオード１０９と、レンズ１１０と、反射ミラー１１６ａと、走査部１１１および１１２と、表示制御部１１３とを備えている。また、走査部１１１および１１２は、それぞれ投影用レーザ光を走査するＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａを含む。また、表示制御部１１３は、映像処理部１１７と、光源制御部１１８と、光源ドライバ１１９と、ミラー制御部１２０と、ミラードライバ１２１とを含む。また、フォトダイオード１０９は、レーザ光発生部１０３、ハーフミラー２０６およびフォトダイオード１０９の順に並ぶように配置されている。また、ハーフミラー２０６は、レーザ光発生部１０３からのレーザ光の一部を透過させてフォトダイオード１０９側に導くとともに、レーザ光発生部１０４および１０５からのレーザ光の一部を反射させてフォトダイオード１０９側に導くように構成されている。また、フォトダイオード１０９は、図４に示すように、レーザ光発生部１０３〜１０５との間にレーザ光を遮断する構成を備えていないため、常に出射されたレーザ光を受光するように構成されている。また、プロジェクタ２００は、図４に示すように、映像処理部１１７に入力された映像信号に基づいて投影画像１０をスクリーン１１に出力するように構成されている。なお、フォトダイオード１０９は、本発明の「光測定器」の一例である。また、スクリーン１１は、本発明の「投影面」の一例である。 As shown in FIG. 4, the projector 200 includes a main CPU 101, an operation unit 102, and three (R (red), G (green), and B (blue)) laser light generation units 103 to 105 that serve as light sources. Two half mirrors 206 and 107, a light passage control unit 208, a photodiode 109, a lens 110, a reflection mirror 116a, scanning units 111 and 112, and a display control unit 113 are provided. The scanning units 111 and 112 include MEMS mirrors 111a and 112a that scan the projection laser light, respectively. The display control unit 113 includes a video processing unit 117, a light source control unit 118, a light source driver 119, a mirror control unit 120, and a mirror driver 121. The photodiodes 109 are arranged so that the laser light generation unit 103, the half mirror 206, and the photodiode 109 are arranged in this order. The half mirror 206 transmits a part of the laser light from the laser light generation unit 103 and guides it to the photodiode 109 side, and reflects a part of the laser light from the laser light generation units 104 and 105 to perform photo It is configured to lead to the diode 109 side. Further, as shown in FIG. 4, the photodiode 109 does not have a configuration for blocking the laser beam between the laser beam generators 103 to 105, and is thus configured to always receive the emitted laser beam. ing. Further, as shown in FIG. 4, the projector 200 is configured to output the projection image 10 to the screen 11 based on the video signal input to the video processing unit 117. The photodiode 109 is an example of the “light measuring device” in the present invention. The screen 11 is an example of the “projection surface” in the present invention.

ここで、第２実施形態では、上記のように、光通過制御部２０８が、液晶素子２１４と、液晶素子２１４の状態の変更を制御する液晶制御部１１５とを含む。また、液晶素子２１４は、レーザ光の光路上に設けられ、レーザ光を透過させる状態とレーザ光を遮断する状態とを変更可能に構成されている。具体的には、液晶素子２１４は、投影画像１０を投影する際には、投影用レーザ光を透過させ、フォトダイオード１０９により測定用レーザ光の光出力を測定する際には、レーザ光を遮断するように構成されている。 Here, in the second embodiment, as described above, the light passage control unit 208 includes the liquid crystal element 214 and the liquid crystal control unit 115 that controls the change of the state of the liquid crystal element 214. In addition, the liquid crystal element 214 is provided on the optical path of the laser light, and is configured to be able to change between a state of transmitting the laser light and a state of blocking the laser light. Specifically, the liquid crystal element 214 transmits the projection laser light when projecting the projection image 10, and blocks the laser light when measuring the light output of the measurement laser light by the photodiode 109. Is configured to do.

次に、図５を参照して、光出力の測定フローについて説明する。なお、第１実施形態とは、ステップＳ２ａおよびＳ６ａが異なる。また、ステップＳ２ａ〜Ｓ６ａは、測定用レーザ光の光出力を測定する期間に相当する。また、ステップＳ７は、スクリーン１１上に投影用レーザ光が投影される期間に相当する。 Next, the measurement flow of the optical output will be described with reference to FIG. Note that steps S2a and S6a are different from the first embodiment. Steps S2a to S6a correspond to a period during which the optical output of the measurement laser light is measured. Step S 7 corresponds to a period during which the projection laser light is projected on the screen 11.

まず、ステップＳ１において、投影用レーザ光がＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａにより走査される。そして、ステップＳ２ａに進む。なお、この際の液晶素子２１４は、レーザ光を透過させる状態である。 First, in step S1, the projection laser light is scanned by the MEMS mirrors 111a and 112a. Then, the process proceeds to step S2a. Note that the liquid crystal element 214 at this time is in a state of transmitting laser light.

次に、ステップＳ２ａにおいて、液晶素子２１４の状態を、レーザ光を遮断する状態に変更させる。すなわち、スクリーン１１上に投影画像１０が投影されなくなる。そして、ステップＳ３に進む。 Next, in step S2a, the state of the liquid crystal element 214 is changed to a state where the laser beam is blocked. That is, the projection image 10 is not projected on the screen 11. Then, the process proceeds to step S3.

次に、ステップＳ３〜Ｓ５において、第１の実施形態と同様にして測定用レーザ光の光出力が測定される。そして、ステップＳ６ａに進む。 Next, in steps S3 to S5, the light output of the measurement laser beam is measured in the same manner as in the first embodiment. Then, the process proceeds to step S6a.

次に、ステップＳ６ａにおいて、液晶素子２１４の状態を、レーザ光を透過する状態に変更させる。その結果、レーザ光がスクリーン１１側に導かれる。なお、レーザ光発生部１０３〜１０５は、液晶素子２１４の状態がレーザ光を透過する状態に変更されたタイミングで発光され、投影用レーザ光が出射される。そしてステップＳ７に進む。 Next, in step S6a, the state of the liquid crystal element 214 is changed to a state in which laser light is transmitted. As a result, the laser beam is guided to the screen 11 side. The laser light generators 103 to 105 emit light at a timing when the state of the liquid crystal element 214 is changed to a state in which the laser light is transmitted, and project laser light is emitted. Then, the process proceeds to step S7.

次に、ステップＳ７において、投影用レーザ光がＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａにより走査されることにより、スクリーン１１上に投影画像１０が投影される。そして、再びステップＳ２ａに戻り、ステップＳ２ａ〜Ｓ７が繰り返されることにより、常時レーザ光出力のフィードバック制御が行われながら、投影画像１０が投影される。 Next, in step S7, the projection laser beam is scanned by the MEMS mirrors 111a and 112a, whereby the projection image 10 is projected on the screen 11. Then, the process returns to step S2a again, and steps S2a to S7 are repeated, so that the projection image 10 is projected while feedback control of the laser light output is always performed.

なお、第２実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。 In addition, the other structure of 2nd Embodiment is the same as that of the said 1st Embodiment.

第２実施形態では、上記のように、レーザ光発生部１０３〜１０５と走査部１１１および１１２との間に、レーザ光発生部１０３〜１０５により投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるとともに、レーザ光発生部１０３〜１０５により測定用レーザ光が出力される際には、スクリーン１１側への測定用レーザ光を遮断する光通過制御部２０８を設けるとともに、光通過制御部２０８により、スクリーン１１側への測定用レーザ光が遮断されている間に測定用レーザ光の光出力を測定するフォトダイオード１０９を設けることによって、上記第１実施形態と同様に、プロジェクタ２００では、装置全体の大型化を抑制しながら、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行って投影画像１０を高品質に保つことができる。 In the second embodiment, as described above, when the laser beam for projection is output by the laser beam generators 103 to 105 between the laser beam generators 103 to 105 and the scanning units 111 and 112, the projection is performed. When the measurement laser beam is output from the laser beam generators 103 to 105, a light passage control unit 208 for blocking the measurement laser beam to the screen 11 side is provided, By providing the photodiode 109 that measures the light output of the measurement laser beam while the measurement laser beam to the screen 11 side is blocked by the passage control unit 208, the projector is similar to the first embodiment. In 200, the projection image 10 can be maintained in high quality by accurately performing feedback control of the laser light output while suppressing an increase in size of the entire apparatus. Kill.

また、第２実施形態では、上記のように、光通過制御部２０８を、レーザ光を透過させる状態とレーザ光を遮断する状態とを変更可能な第２光偏光素子を含むように構成する。これにより、液晶素子２１４の状態を変更するだけで、レーザ光を透過または遮断するように変更することができるので、容易に測定用レーザ光を用いて精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。 Moreover, in 2nd Embodiment, as mentioned above, the light passage control part 208 is comprised so that the state which permeate | transmits a laser beam and the state which interrupts | blocks a laser beam may be included. As a result, the laser light can be changed so as to be transmitted or blocked only by changing the state of the liquid crystal element 214. Therefore, feedback control of the laser light output can be easily performed with high accuracy using the measurement laser light. Can do.

なお、第２実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。 The remaining effects of the second embodiment are similar to those of the aforementioned first embodiment.

（第３実施形態）
以下、図１、図６および図７を参照して、本発明の第３実施形態によるプロジェクタ３００の構成について説明する。 (Third embodiment)
Hereinafter, the configuration of the projector 300 according to the third embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1, 6, and 7.

この第３実施形態では、液晶素子１１４が、Ｐ偏光を変更することなくそのまま透過させる状態と、Ｐ偏光をＳ偏光に変更して透過させる状態とを切り替え可能に構成されている第１実施形態と異なり、可動ミラー３１４が、レーザ光を透過させる位置とレーザ光を遮断する位置とを移動可能に構成されているプロジェクタ３００について説明する。 In the third embodiment, the liquid crystal element 114 is configured to be able to switch between a state in which P-polarized light is transmitted without being changed and a state in which P-polarized light is changed to S-polarized light and transmitted. In contrast, a projector 300 in which the movable mirror 314 is configured to be movable between a position where the laser beam is transmitted and a position where the laser beam is blocked will be described.

プロジェクタ３００は、図１および図６に示すように、メインＣＰＵ１０１と、操作部１０２と、光源となる３つ（Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青））のレーザ光発生部１０３〜１０５と、２つのハーフミラー１０６および１０７と、光通過制御部３０８と、フォトダイオード１０９と、レンズ１１０と、反射ミラー１１６ａと、走査部１１１および１１２と、表示制御部１１３とを備えている。また、走査部１１１および１１２は、それぞれ投影用レーザ光を走査するＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａを含む。また、表示制御部１１３は、映像処理部１１７と、光源制御部１１８と、光源ドライバ１１９と、ミラー制御部１２０と、ミラードライバ１２１とを含む。また、プロジェクタ３００は、図６に示すように、映像処理部１１７に入力された映像信号に基づいて投影画像１０をスクリーン１１に出力するように構成されている。なお、フォトダイオード１０９は、本発明の「光測定器」の一例である。また、スクリーン１１は、本発明の「投影面」の一例である。 As shown in FIGS. 1 and 6, the projector 300 includes a main CPU 101, an operation unit 102, and three (R (red), G (green), and B (blue)) laser light generators 103 serving as light sources. ˜105, two half mirrors 106 and 107, a light passage control unit 308, a photodiode 109, a lens 110, a reflection mirror 116a, scanning units 111 and 112, and a display control unit 113. . The scanning units 111 and 112 include MEMS mirrors 111a and 112a that scan the projection laser light, respectively. The display control unit 113 includes a video processing unit 117, a light source control unit 118, a light source driver 119, a mirror control unit 120, and a mirror driver 121. Further, as shown in FIG. 6, the projector 300 is configured to output the projection image 10 to the screen 11 based on the video signal input to the video processing unit 117. The photodiode 109 is an example of the “light measuring device” in the present invention. The screen 11 is an example of the “projection surface” in the present invention.

ここで、第３実施形態では、上記のように、光通過制御部３０８は、可動ミラー３１４と、可動ミラー３１４を移動させる可動ミラードライバ３１４ａと、可動ミラードライバ３１４ａにより可動ミラー３１４の移動を制御する可動ミラー制御部３１５とを含む。また、可動ミラー３１４は、図６に示すように、ハーフミラー１０６とレンズ１１０との間におけるレーザ光の光路上からずれた位置（実線で示す可動ミラー３１４の位置）と、レーザ光の光路上の位置（破線で示す可動ミラー３１４の位置）とを移動可能に構成されている。また、可動ミラー３１４は、可動ミラー制御部３１５の制御に基づいて可動ミラードライバ３１４ａにより機械的に移動可能に構成されている。また、可動ミラー制御部３１５は、可動ミラー３１４を移動させるタイミングについての信号をメインＣＰＵ１０１から受信して、可動ミラー３１４を移動させる制御を行うように構成されている。また、可動ミラー３１４は、レーザ光の光路上からずれた位置に配置され、投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光により、スクリーン１１上に投影画像１０が投影されるように構成されている。また、可動ミラー３１４は、レーザ光の光路上の位置に配置され、測定用レーザ光が出力される際には、スクリーン１１側への測定用レーザ光を遮断して反射することにより、測定用レーザ光をフォトダイオード１０９側に導くように構成されている。 Here, in the third embodiment, as described above, the light passage control unit 308 controls the movable mirror 314, the movable mirror driver 314a that moves the movable mirror 314, and the movement of the movable mirror 314 by the movable mirror driver 314a. And a movable mirror control unit 315. Further, as shown in FIG. 6, the movable mirror 314 has a position shifted from the optical path of the laser beam between the half mirror 106 and the lens 110 (position of the movable mirror 314 indicated by a solid line) and an optical path of the laser beam. (Position of the movable mirror 314 indicated by a broken line) is movable. The movable mirror 314 is configured to be mechanically movable by the movable mirror driver 314a based on the control of the movable mirror control unit 315. In addition, the movable mirror control unit 315 is configured to receive a signal about the timing for moving the movable mirror 314 from the main CPU 101 and perform control to move the movable mirror 314. The movable mirror 314 is disposed at a position shifted from the optical path of the laser beam, and when the projection laser beam is output, the projection image 10 is projected onto the screen 11 by the projection laser beam. It is configured. The movable mirror 314 is arranged at a position on the optical path of the laser beam. When the measurement laser beam is output, the movable mirror 314 blocks the measurement laser beam toward the screen 11 and reflects it. The laser beam is configured to be guided to the photodiode 109 side.

次に、図７を参照して、光出力の測定フローについて説明する。なお、第１実施形態とは、ステップＳ２ｂおよびＳ６ｂが異なる。また、ステップＳ２ｂ〜Ｓ６ｂは、測定用レーザ光の光出力を測定する期間に相当する。また、ステップＳ７は、スクリーン１１上に投影用レーザ光が投影される期間に相当する。 Next, a measurement flow of light output will be described with reference to FIG. Note that steps S2b and S6b are different from the first embodiment. Steps S2b to S6b correspond to a period during which the optical output of the measurement laser beam is measured. Step S 7 corresponds to a period during which the projection laser light is projected on the screen 11.

まず、ステップＳ１において、投影用レーザ光がＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａにより走査される。そして、ステップＳ２ｂに進む。なお、この際の可動ミラー３１４は、図６に示すように、レーザ光の光路上からずれた位置（実線で示す可動ミラー３１４の位置）に配置されている。 First, in step S1, the projection laser light is scanned by the MEMS mirrors 111a and 112a. Then, the process proceeds to step S2b. Note that the movable mirror 314 at this time is arranged at a position shifted from the optical path of the laser beam (position of the movable mirror 314 indicated by a solid line) as shown in FIG.

次に、ステップＳ２ｂにおいて、図６に示すように、可動ミラー３１４をレーザ光の光路上の位置（破線で示す可動ミラー３１４の位置）に移動させる。これにより、スクリーン１１側へのレーザ光が遮断されるとともに、フォトダイオード１０９側にレーザ光が導かれるようになる。そして、ステップＳ３に進む。 Next, in step S2b, as shown in FIG. 6, the movable mirror 314 is moved to a position on the optical path of the laser beam (position of the movable mirror 314 indicated by a broken line). As a result, the laser beam toward the screen 11 is blocked and the laser beam is guided to the photodiode 109 side. Then, the process proceeds to step S3.

次に、ステップＳ３〜Ｓ５において、第１の実施形態と同様にして測定用レーザ光の光出力が測定される。そして、ステップＳ６ｂに進む。 Next, in steps S3 to S5, the light output of the measurement laser beam is measured in the same manner as in the first embodiment. Then, the process proceeds to step S6b.

次に、ステップＳ６ｂにおいて、可動ミラー３１４を再びレーザ光の光路上からずれた位置に移動させる。その結果、投影用レーザ光がスクリーン１１側に導かれる。なお、レーザ光発生部１０３〜１０５は、可動ミラー３１４がレーザ光の光路上から外れたタイミングで発光され、投影用レーザ光が出射される。そしてステップＳ７に進む。 Next, in step S6b, the movable mirror 314 is moved again to a position shifted from the optical path of the laser light. As a result, the projection laser light is guided to the screen 11 side. The laser light generators 103 to 105 emit light at the timing when the movable mirror 314 deviates from the optical path of the laser light, and the projection laser light is emitted. Then, the process proceeds to step S7.

次に、ステップＳ７において、投影用レーザ光がＭＥＭＳミラー１１１ａおよび１１２ａにより走査されることにより、スクリーン１１上に投影画像１０が投影される。そして、再びステップＳ２ｂに戻り、ステップＳ２ｂ〜Ｓ７が繰り返されることにより、常時レーザ光出力のフィードバック制御が行われながら、投影画像１０が投影される。 Next, in step S7, the projection laser beam is scanned by the MEMS mirrors 111a and 112a, whereby the projection image 10 is projected on the screen 11. Then, the process returns to step S2b again, and steps S2b to S7 are repeated, so that the projected image 10 is projected while the feedback control of the laser light output is always performed.

なお、第３実施形態のその他の構成は、上記第１実施形態と同様である。 The remaining configuration of the third embodiment is similar to that of the aforementioned first embodiment.

第３実施形態では、上記のように、レーザ光発生部１０３〜１０５と走査部１１１および１１２との間に、レーザ光発生部１０３〜１０５により投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるとともに、レーザ光発生部１０３〜１０５により測定用レーザ光が出力される際には、スクリーン１１側への測定用レーザ光を遮断する光通過制御部３０８を設けるとともに、光通過制御部３０８により、スクリーン１１側への測定用レーザ光が遮断されている間に測定用レーザ光の光出力を測定するフォトダイオード１０９を設けることによって、上記第１実施形態と同様に、プロジェクタ３００では、装置全体の大型化を抑制しながら、精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行って投影画像１０を高品質に保つことができる。 In the third embodiment, as described above, when the laser beam for projection is output by the laser beam generators 103 to 105 between the laser beam generators 103 to 105 and the scanning units 111 and 112, the projection is performed. When the measurement laser beam is output by the laser beam generators 103 to 105, a light passage control unit 308 for blocking the measurement laser beam to the screen 11 side is provided, By providing the photodiode 109 that measures the light output of the measurement laser beam while the measurement laser beam to the screen 11 side is blocked by the passage control unit 308, the projector is similar to the first embodiment. In 300, the projection image 10 can be kept in high quality by accurately performing feedback control of the laser light output while suppressing the enlargement of the entire apparatus. Kill.

また、第３実施形態では、上記のように、光通過制御部３０８を、レーザ光の光路上の位置と光路上からずれた位置とを移動可能に構成された可動ミラー３１４を含むように構成し、可動ミラー３１４を、投影用レーザ光が出力される際には、投影用レーザ光を通過させるようにレーザ光の光路上からずれた位置に配置し、測定用レーザ光が出力される際には、スクリーン１１側への測定用レーザ光を遮断して反射するように光路上の位置に配置する。これにより、可動ミラー３１４を移動させるだけで、レーザ光を透過または遮断するように変更することができるので、容易に測定用レーザ光を用いて精度よくレーザ光出力のフィードバック制御を行うことができる。 In the third embodiment, as described above, the light passage control unit 308 is configured to include the movable mirror 314 configured to be movable between a position on the optical path of the laser beam and a position shifted from the optical path. When the projection laser beam is output, the movable mirror 314 is disposed at a position shifted from the optical path of the laser beam so that the projection laser beam is transmitted, and the measurement laser beam is output. Is arranged at a position on the optical path so that the measurement laser beam toward the screen 11 is cut off and reflected. Thus, since the laser beam can be changed to be transmitted or blocked only by moving the movable mirror 314, it is possible to easily perform feedback control of the laser beam output with high accuracy using the measurement laser beam. .

なお、第３実施形態のその他の効果は、上記第１実施形態と同様である。 The remaining effects of the third embodiment are similar to those of the aforementioned first embodiment.

なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。 The embodiment disclosed this time should be considered as illustrative in all points and not restrictive. The scope of the present invention is shown not by the above description of the embodiments but by the scope of claims for patent, and further includes all modifications within the meaning and scope equivalent to the scope of claims for patent.

たとえば、上記第１実施形態では、測定用レーザ光のＳ偏光を透過させて、投影用レーザ光のＰ偏光を反射する偏光ビームスプリッタを使用する例を示したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、測定用レーザ光をＰ偏光に設定するとともに、投影用レーザ光をＳ偏光に設定し、Ｐ偏光を透過させて、Ｓ偏光を反射する偏光ビームスプリッタを使用してもよい。また、測定用レーザ光をフォトダイオード側に導き、投影用レーザ光をスクリーン側に導くために、偏光ビームスプリッタ以外の分光部材を使用してもよい。 For example, in the first embodiment, an example is shown in which a polarization beam splitter that transmits the S-polarized light of the measurement laser light and reflects the P-polarized light of the projection laser light is used. However, the present invention is not limited to this. Absent. In the present invention, for example, a polarization beam splitter that sets the measurement laser light to P-polarized light, sets the projection laser light to S-polarized light, transmits P-polarized light, and reflects S-polarized light may be used. . Further, in order to guide the measurement laser light to the photodiode side and guide the projection laser light to the screen side, a spectral member other than the polarizing beam splitter may be used.

また、上記第１および第２実施形態では、本発明の第１光偏光素子および第２光偏向素子の例として、測定用レーザ光をフォトダイオード側に導く状態と、投影用レーザ光をスクリーン側に導く状態とを切り替える液晶素子を示したが、本発明はこれに限られない。本発明は、液晶素子以外の第１光偏光素子および第２光偏向素子であってもよい。 In the first and second embodiments, as examples of the first light polarizing element and the second light deflecting element of the present invention, the state in which the measurement laser light is guided to the photodiode side and the projection laser light is on the screen side. Although the liquid crystal element that switches the state led to is shown, the present invention is not limited to this. The present invention may be a first light polarization element and a second light deflection element other than the liquid crystal element.

また、上記第３実施形態では、可動ミラーをレーザ光の光路上の位置と光路上の位置からずれた位置との間を直線的に移動するように構成したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、可動ミラーをレーザ光の光路上の位置と光路上の位置からずれた位置との間を回転移動するように構成してもよい。 In the third embodiment, the movable mirror is linearly moved between the position on the optical path of the laser beam and the position shifted from the position on the optical path. However, the present invention is not limited to this. Absent. In the present invention, for example, the movable mirror may be configured to rotate between a position on the optical path of the laser beam and a position shifted from the position on the optical path.

また、上記第１〜第３実施形態では、光出力の測定を、各色の測定用レーザ光ごとに所定の最大光出力を得るための測定と所定の最小出力を得るための測定とがフレーム毎に交互に行われるように構成したが、本発明はこれに限られない。本発明では、たとえば、光出力の測定を、各色の測定用レーザ光ごとに所定の最大光出力を得るための測定と所定の最小出力を得るための測定とが同じフレームで行われるように構成してもよい。 In the first to third embodiments, the light output is measured for each frame by measurement for obtaining a predetermined maximum light output for each color measurement laser light and measurement for obtaining a predetermined minimum output. However, the present invention is not limited to this. In the present invention, for example, the light output is measured so that the measurement for obtaining a predetermined maximum light output and the measurement for obtaining a predetermined minimum output are performed in the same frame for each laser beam for measurement of each color. May be.

１１スクリーン（投影面）
１００、２００、３００プロジェクタ
１０３、１０４、１０５レーザ光発生部
１０８、２０８、３０８光通過制御部
１０９フォトダイオード（光測定器）
１１１、１１２走査部
１１４液晶素子（第１光偏光素子）
１１６偏光ビームスプリッタ
２１４液晶素子（第２光偏光素子）
３１４可動ミラー 11 Screen (projection surface)
100, 200, 300 Projector 103, 104, 105 Laser light generator 108, 208, 308 Light passage controller 109 Photodiode (light measuring device)
111, 112 Scan unit 114 Liquid crystal element (first light polarization element)
116 Polarizing beam splitter 214 Liquid crystal element (second optical polarizing element)
314 Movable mirror

Claims

A laser beam generator that outputs two types of laser beams, a projection laser beam and a measurement laser beam;
A scanning unit that scans the projection laser beam;
The laser beam generator is disposed between the laser beam generator and the scanning unit. When the laser beam generator for projection outputs the laser beam for projection, the laser beam generator for projection is passed and the laser beam generator When the measurement laser beam is output by the light passing control unit that blocks the measurement laser beam to the projection surface side,
A projector comprising: a light measuring device configured to measure a light output of the measurement laser light while the measurement laser light toward the projection surface is blocked by the light passage control unit.

The laser light generation unit is configured to output the measurement laser light after the light passage control unit is changed from a state in which the projection laser light passes to a state in which the projection laser light passes through. The projector according to 1.

The projector according to claim 1, wherein the light passage control unit is configured to electrically switch between a state of transmitting the projection laser light and a state of blocking the projection laser light.

The light passage control unit includes a first light polarizing element and a spectral member,
The first light polarization element transmits the P-polarized light or S-polarized laser light as it is without changing to the spectral member, and changes the P-polarized light or S-polarized light to S-polarized light or P-polarized light, respectively. It is configured to be able to switch between transparent states,
The spectroscopic member is disposed between the first light polarizing element and the scanning unit, guides one of P-polarized light and S-polarized light to the optical measuring instrument side, and transfers the other of P-polarized light and S-polarized light to the light measuring instrument. The projector according to claim 3, wherein the projector is configured to be guided to the projection surface side.

The projector according to claim 4, wherein the spectroscopic member includes a deflecting beam splitter that transmits one of P-polarized light and S-polarized light and reflects the other of P-polarized light and S-polarized light.

The projector according to claim 3, wherein the light passage control unit includes a second light polarizing element that can change a state of transmitting the laser light and a state of blocking the laser light.

The light passage control unit includes a movable mirror configured to be movable between a position on the optical path of the laser beam and a position shifted from the optical path,
The movable mirror is disposed at a position shifted from the optical path of the laser beam so that the projection laser beam passes when the projection laser beam is output, and the measurement laser beam is output. 3. The projector according to claim 1, wherein the projector is arranged at a position on an optical path so as to block and reflect the measurement laser beam toward the projection surface.