JP2014153791A - Input device - Google Patents

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英明 高橋
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an input device configured to improve invisibility of a bridge section and resistance to ESD which repeatedly occurs.SOLUTION: An input device includes first transparent electrode sections 31 arranged adjacent to each other in a first direction, a bridge section 32 for connecting the first transparent electrode sections 31, second transparent electrode sections 41 arranged adjacent to each other in a second direction, and a narrowed section 42 for connecting the second transparent electrode sections 41. The bridge section 32 is formed across the narrowed section 42 via an insulating layer 37. The bridge section 32 includes a plurality of main bridge wirings 33a, 33b for connecting the first transparent electrode sections 31 in parallel to each other, and a sub bridge wiring 34a for connecting the main bridge wirings 33a, 33b. The sub bridge wiring 34a is formed in a direction crossing a longitudinal direction of the main bridge wirings 33a, 33b.

Description

本発明は、入力装置に関し、特に透明電極間を接続するブリッジ部の構成に関する。   The present invention relates to an input device, and more particularly to a configuration of a bridge portion that connects between transparent electrodes.

モバイル機器や携帯電話機等の電子機器の表示部において、透光型入力装置が用いられている。このような透光型入力装置は、液晶パネルやOLED(Organic Light Emitting Diode)パネル等の表示装置に重ねて配置されて、操作者は表示装置の画像を視認しながら入力操作を実行することができる。   In a display unit of an electronic device such as a mobile device or a mobile phone, a translucent input device is used. Such a translucent input device is placed on a display device such as a liquid crystal panel or an OLED (Organic Light Emitting Diode) panel so that an operator can perform an input operation while viewing an image on the display device. it can.

このような入力装置として、特許文献1には、複数の透明電極間がブリッジ部(特許文献1では交差部分、中継電極と記載されている)により接続された構成の静電容量式の入力装置が開示されている。図10は、特許文献1に記載されている第1の従来例の入力装置を示し、図10(a)には部分拡大平面図を、図10(b)には図10(a)のX−X線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図を示す。   As such an input device, Patent Document 1 discloses a capacitance-type input device having a configuration in which a plurality of transparent electrodes are connected by a bridge portion (described in Patent Document 1 as an intersection portion and a relay electrode). Is disclosed. FIG. 10 shows an input device of a first conventional example described in Patent Document 1, in which FIG. 10 (a) is a partially enlarged plan view, and FIG. 10 (b) is an X of FIG. 10 (a). The partial expanded sectional view when cut | disconnecting by-X-ray and seeing from the arrow direction is shown.

図10(a)に示すように、第1の従来例の入力装置110は、透明基材120と、透明基材120に形成された複数の第1の透明電極部131及び複数の第2の透明電極部141とを有して構成される。複数の第2の透明電極部141は幅細部142によってY1−Y2方向に接続されており、また、複数の第1の透明電極部131は、幅細部142に交差するX1−X2方向においてブリッジ部132によって接続される。図10(b)に示すように、ブリッジ部132と幅細部142とは絶縁層127を介して絶縁されている。また、ブリッジ部132は、外部から視認されないように幅細形状に形成されている。   As shown in FIG. 10A, the input device 110 of the first conventional example includes a transparent substrate 120, a plurality of first transparent electrode portions 131 and a plurality of second electrodes formed on the transparent substrate 120. And a transparent electrode portion 141. The plurality of second transparent electrode portions 141 are connected in the Y1-Y2 direction by the width details 142, and the plurality of first transparent electrode portions 131 are bridge portions in the X1-X2 direction intersecting the width details 142. 132 is connected. As shown in FIG. 10B, the bridge portion 132 and the width detail 142 are insulated via an insulating layer 127. Moreover, the bridge part 132 is formed in the narrow shape so that it may not be visually recognized from the outside.

しかしながら、第1の従来例の入力装置110の製造工程において、透明基材120の帯電や人体等の外部の物体の帯電などにより、静電気放電(ESD:Electro−Static Discharge)が繰り返し発生し、入力装置110が損傷するという課題が発生する。   However, in the manufacturing process of the input device 110 of the first conventional example, electrostatic discharge (ESD) is repeatedly generated due to charging of the transparent substrate 120 or charging of an external object such as a human body, and the like. The problem that the device 110 is damaged occurs.

特に、入力装置110の良好な不可視特性を実現するために、ブリッジ部132が幅細に形成されているため、第1の透明電極部131及び第2の透明電極部141に比べてブリッジ部132において抵抗値の高い箇所が形成されて、ESDが発生したときにブリッジ部132の断線が生じ易い。また、図10(b)に示すように、幅細部142とブリッジ部132とが絶縁層127を介して積層された部分において、絶縁層127の絶縁耐圧以上のESDが発生した場合には絶縁層127が絶縁破壊されて、ブリッジ部132の断線等が発生するという課題がある。このように、ESDによりブリッジ部132の断線が発生した場合、入力装置110の入力位置検出機能が損なわれてしまう。   In particular, in order to realize good invisible characteristics of the input device 110, since the bridge portion 132 is formed narrowly, the bridge portion 132 is compared with the first transparent electrode portion 131 and the second transparent electrode portion 141. When a portion having a high resistance value is formed and ESD occurs, the bridge portion 132 is likely to be disconnected. In addition, as shown in FIG. 10B, in the case where ESD more than the withstand voltage of the insulating layer 127 occurs in the portion where the width detail 142 and the bridge portion 132 are stacked via the insulating layer 127, the insulating layer There is a problem that 127 is subjected to dielectric breakdown and disconnection of the bridge portion 132 or the like occurs. Thus, when the disconnection of the bridge unit 132 occurs due to ESD, the input position detection function of the input device 110 is impaired.

また、図11には、特許文献2に記載されている第2の従来例の入力装置210の部分拡大平面図を示し、特に第1の透明電極部231と第2の透明電極部232とが交差する部分について示す。図11に示すように、第1の透明電極部231と第2の透明電極部232とが交差する部分において、第1の透明電極部231に開口部250cが設けられており、第1の透明電極部231と第2の透明電極部232との間の静電容量を低減する構造が開示されている。このような構造とする結果として、Y1−Y2方向に隣り合う複数の第1の透明電極部231がブリッジ部250により接続されており、ブリッジ部250と第2の透明電極部232とが絶縁層236を介して交差するように形成されている。図11に示すように、ブリッジ部250は2本のブリッジ配線250a、250bから構成されている。   FIG. 11 is a partial enlarged plan view of the input device 210 of the second conventional example described in Patent Document 2. In particular, the first transparent electrode portion 231 and the second transparent electrode portion 232 are provided. The crossing part is shown. As shown in FIG. 11, an opening 250c is provided in the first transparent electrode portion 231 at a portion where the first transparent electrode portion 231 and the second transparent electrode portion 232 intersect, and the first transparent electrode portion 231 A structure for reducing the capacitance between the electrode portion 231 and the second transparent electrode portion 232 is disclosed. As a result of such a structure, the plurality of first transparent electrode portions 231 adjacent in the Y1-Y2 direction are connected by the bridge portion 250, and the bridge portion 250 and the second transparent electrode portion 232 are insulating layers. 236 to intersect with each other. As shown in FIG. 11, the bridge part 250 is composed of two bridge wires 250a and 250b.

第2の従来例の入力装置210においては、ESDの発生により、2本のブリッジ配線250a、250bの一方が断線しても、他方によって第1の透明電極部231同士の接続が確保されることが推定される。よって、1回のESDの発生によってブリッジ配線250a、250bの両方が損傷することを防止してESD耐久性を向上させることが可能である。   In the input device 210 of the second conventional example, even when one of the two bridge wirings 250a and 250b is disconnected due to the occurrence of ESD, the connection between the first transparent electrode portions 231 is secured by the other. Is estimated. Therefore, it is possible to improve the ESD durability by preventing both of the bridge wirings 250a and 250b from being damaged by one occurrence of ESD.

特開2008−310550号公報JP 2008-310550 A 特表平9−511086号公報JP 9-51186 A

しかし、入力装置210の製造工程において多くの工程を要し、各工程ごとにESDが複数回繰り返し発生する可能性があるため、複数回繰り返してESDが発生してもブリッジ部の断線を防止可能な耐久性を向上させることが望まれている。図10のブリッジ部132の幅を大きくしたり、ブリッジ配線の本数を2本よりもさらに増やすとESD耐性を向上させることは可能であるが、ブリッジ配線の面積が大きくなり外部から視認され易くなるため、良好な不可視特性を得ることができない。したがって、ブリッジ部250の不可視特性を確保しつつ、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが困難であった。   However, since many steps are required in the manufacturing process of the input device 210 and ESD may occur repeatedly for each process, it is possible to prevent disconnection of the bridge portion even when ESD occurs repeatedly. It is desired to improve the durability. If the width of the bridge portion 132 in FIG. 10 is increased or the number of bridge wires is increased more than two, it is possible to improve the ESD resistance, but the area of the bridge wire becomes large and is easily visible from the outside. Therefore, good invisible characteristics cannot be obtained. Therefore, it is difficult to improve durability against repeated ESD while securing the invisible characteristics of the bridge portion 250.

本発明は、上記課題を解決して、ブリッジ部の良好な不可視特性を確保するとともに、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能な入力装置を提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the above-mentioned problems and to provide an input device capable of ensuring good invisible characteristics of a bridge portion and improving durability against repeated ESD.

本発明の入力装置は、透明基材と、前記透明基材に形成された複数の第1の透明電極及び複数の第2の透明電極を有し、前記第1の透明電極は、複数の第1の透明電極部を有し、複数の前記第1の透明電極部は、前記透明基材の面内の第1の方向において間隔を設けて配列されるとともに、前記第1の方向に隣り合う前記第1の透明電極部同士はブリッジ部によって接続されており、前記第2の透明電極は、前記第1の方向に交差する第2の方向において配列される複数の第2の透明電極部と、前記第2の方向に隣り合う前記第2の透明電極部同士を接続する幅細部とを有し、前記ブリッジ部は絶縁層を介して前記幅細部の上に跨がって形成されてなり、前記ブリッジ部は、前記第1の透明電極部同士を並列に接続する複数の主ブリッジ配線と、複数の前記主ブリッジ配線の間を接続するサブブリッジ配線とを有し、前記サブブリッジ配線は前記主ブリッジ配線の長手方向に対して交差する方向に形成されていることを特徴とする。   The input device of the present invention includes a transparent substrate, a plurality of first transparent electrodes and a plurality of second transparent electrodes formed on the transparent substrate, and the first transparent electrode includes a plurality of first transparent electrodes. A plurality of the first transparent electrode portions are arranged at intervals in a first direction in the plane of the transparent base material and are adjacent to each other in the first direction. The first transparent electrode portions are connected to each other by a bridge portion, and the second transparent electrode includes a plurality of second transparent electrode portions arranged in a second direction intersecting the first direction. A width detail connecting the second transparent electrode portions adjacent to each other in the second direction, and the bridge portion is formed across the width detail via an insulating layer. The bridge portion includes a plurality of main bridge wires that connect the first transparent electrode portions in parallel. , And a sub-bridge wiring that connects the plurality of the main bridge wiring, the sub bridge wiring is characterized in that it is formed in a direction intersecting the longitudinal direction of the main bridge wiring.

これによれば、ブリッジ部が、複数の主ブリッジ配線の間を接続するサブブリッジ配線を有する。このため、ESDが発生してサブブリッジ配線が断線した場合であっても、複数の主ブリッジ配線により第1の透明電極部同士を電気的に接続することができる。よって、サブブリッジ配線を犠牲配線として用いることにより、複数回のESD発生に対する耐久性を向上させることができる。または、複数の主ブリッジ配線の1本の主ブリッジ配線において、サブブリッジ配線が接続された箇所から隣り合う一方の第1の透明電極部までの一方の主ブリッジ配線部分に断線が生じても、前記接続箇所から隣り合う他方の第1の透明電極部までの他方の主ブリッジ配線部分と前記サブブリッジ配線との導通が確保されるため、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。   According to this, the bridge unit has the sub-bridge wiring that connects the plurality of main bridge wirings. For this reason, even if ESD occurs and the sub-bridge wiring is disconnected, the first transparent electrode portions can be electrically connected to each other by the plurality of main bridge wirings. Therefore, by using the sub-bridge wiring as the sacrificial wiring, durability against multiple occurrences of ESD can be improved. Alternatively, in one main bridge wiring of a plurality of main bridge wirings, even if a disconnection occurs in one main bridge wiring portion from the place where the sub bridge wiring is connected to the one adjacent first transparent electrode portion, Since the connection between the other main bridge wiring portion from the connection location to the other adjacent first transparent electrode portion and the sub-bridge wiring is ensured, it is possible to improve durability against repeated ESD. is there.

また、主ブリッジ配線の長手方向に対して交差する方向にサブブリッジ配線が形成されるため、サブブリッジ配線を形成する代わりに主ブリッジ配線を多数形成する方法に比べて、主ブリッジ配線とサブブリッジ配線とを合わせた面積の増大を抑えられる。よって、外部から視認されることを防止して、良好な不可視特性が確保される。   In addition, since the sub-bridge wiring is formed in a direction intersecting with the longitudinal direction of the main bridge wiring, the main bridge wiring and the sub-bridge are compared with the method of forming many main bridge wirings instead of forming the sub-bridge wiring. An increase in the area combined with the wiring can be suppressed. Therefore, it is prevented from being visually recognized from the outside, and good invisible characteristics are ensured.

したがって、本発明の入力装置によれば、ブリッジ部の良好な不可視特性を確保するとともに、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。   Therefore, according to the input device of the present invention, it is possible to ensure good invisible characteristics of the bridge portion and improve durability against repeated ESD.

本発明の入力装置において、前記サブブリッジ配線は、平面視において前記幅細部に重複する位置に形成されていることが好適である。これによれば、ESDの発生による断線が生じ易い箇所にサブブリッジ配線を形成することで、ESDが発生した場合において、サブブリッジ配線を優先的に断線させて主ブリッジ配線の電気的接続を確保できる。   In the input device according to the aspect of the invention, it is preferable that the sub-bridge wiring is formed at a position overlapping with the width details in a plan view. According to this, by forming a sub-bridge wiring at a location where disconnection due to ESD is likely to occur, when ESD occurs, the sub-bridge wiring is preferentially disconnected to ensure electrical connection of the main bridge wiring. it can.

本発明の入力装置は、前記サブブリッジ配線が複数形成されていることが好ましい。これによれば、ESDが繰り返し発生した場合において主ブリッジ配線の電気的接続を確保して、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。また、サブブリッジ配線を設けることにより、主ブリッジ配線を設けるよりもブリッジ部の面積を低減できるためブリッジ部の不可視特性を確保することができる。   In the input device of the present invention, it is preferable that a plurality of the sub-bridge wirings are formed. According to this, when ESD repeatedly occurs, it is possible to secure electrical connection of the main bridge wiring and improve durability against the repeatedly generated ESD. Further, by providing the sub-bridge wiring, the area of the bridge portion can be reduced as compared with the case where the main bridge wiring is provided, so that the invisible characteristics of the bridge portion can be ensured.

本発明の入力装置は、複数の前記主ブリッジ配線の前記第1の透明電極に接続される端部において、複数の前記主ブリッジ配線同士を連結する接続部が形成されており、前記接続部が前記第1の透明電極部に接続されていることが好適である。これによれば、ブリッジ部と第1の透明電極部との接触抵抗を低減させることができるため、ブリッジ部全体の抵抗値を低減することができる。よって、低抵抗化を目的として主ブリッジ配線及びサブブリッジ配線の面積や厚さを増大させる必要が無く、良好な不可視特性を確保することができる。   In the input device according to the present invention, a connection portion that connects the plurality of main bridge wires to each other is formed at an end portion of the plurality of main bridge wires connected to the first transparent electrode. It is preferable to be connected to the first transparent electrode portion. According to this, since the contact resistance between the bridge portion and the first transparent electrode portion can be reduced, the resistance value of the entire bridge portion can be reduced. Therefore, it is not necessary to increase the area and thickness of the main bridge wiring and the sub bridge wiring for the purpose of reducing the resistance, and good invisible characteristics can be ensured.

本発明の入力装置において、前記主ブリッジ配線及び前記サブブリッジ配線は金属層を有して構成されており、前記金属層は、Cu、またはCu合金であることが好適である。これによれば、金属層としてAuやAgを用いた場合に比較して、Cu、またはCu合金の反射率が小さいため、外部からの光の反射を抑制して、主ブリッジ配線及びサブブリッジ配線が外部から視認されることを抑制できる。   In the input device of the present invention, it is preferable that the main bridge wiring and the sub bridge wiring are configured to have a metal layer, and the metal layer is Cu or a Cu alloy. According to this, since the reflectance of Cu or Cu alloy is small compared with the case where Au or Ag is used as the metal layer, the reflection of light from the outside is suppressed, and the main bridge wiring and the sub bridge wiring. Can be visually recognized from the outside.

本発明の入力装置は、表示装置の表面に設置される入力装置であって、前記表示装置は、前記第1の方向と前記第2の方向の双方において規則的に配列された複数のサブピクセルを有し、前記サブブリッジ配線が、前記第2の方向に対して傾斜する方向に形成されていることが好ましい。これによれば、サブピクセルの縁部とサブブリッジ配線とが平行ではなくなるため、サブブリッジ配線で光がちらつく現象を防ぎ、不可視特性を向上させることができる。   The input device of the present invention is an input device installed on the surface of a display device, and the display device is a plurality of subpixels regularly arranged in both the first direction and the second direction. Preferably, the sub-bridge wiring is formed in a direction inclined with respect to the second direction. According to this, since the edge of the subpixel and the sub-bridge wiring are not parallel, the phenomenon of light flickering in the sub-bridge wiring can be prevented, and the invisible characteristics can be improved.

本発明の入力装置によれば、ブリッジ部の良好な不可視特性を確保するとともに、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。   According to the input device of the present invention, it is possible to secure good invisible characteristics of the bridge portion and improve durability against repeated ESD.

本発明の第1の実施形態の入力装置を構成する透明基材の平面図である。It is a top view of the transparent base material which constitutes the input device of a 1st embodiment of the present invention. 図1のII−II線で切断して矢印方向から見たときの入力装置の部分拡大断面図である。FIG. 2 is a partial enlarged cross-sectional view of the input device as viewed from the direction of the arrow cut along the line II-II in FIG. 1. 図1の点線Aで囲む領域の部分拡大平面図(a)、及び図3(a)のIII−III線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図(b)である。FIG. 4 is a partially enlarged plan view (a) of a region surrounded by a dotted line A in FIG. 1 and a partially enlarged sectional view (b) taken along the line III-III in FIG. 本実施形態の第1の変形例を示す部分拡大平面図(a)、及び図4(a)のIV−IV線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図(b)である。FIG. 5 is a partially enlarged plan view (a) showing a first modification of the present embodiment, and a partially enlarged sectional view (b) as viewed from the direction of the arrow cut along the line IV-IV in FIG. 4 (a). . 本実施形態の第2の変形例を示す部分拡大平面図(a)、及び図5(a)のV−V線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図(b)である。It is the elements on larger scale (a) which show the 2nd modification of this embodiment, and the elements on larger scale (b) when it cuts in the VV line of Drawing 5 (a), and it sees from the direction of an arrow. . 本実施形態の第3の変形例を示す部分拡大平面図である。It is a partial enlarged plan view which shows the 3rd modification of this embodiment. 本実施形態の第4の変形例を示す部分拡大平面図である。It is a partial enlarged plan view showing the 4th modification of this embodiment. 第2の実施形態の入力装置の部分拡大断面図である。It is a partial expanded sectional view of the input device of 2nd Embodiment. 第2の実施形態の入力装置を示し、表示装置のサブピクセルの配列とサブブリッジ配線との相対位置関係を示す部分拡大平面図である。FIG. 6 is a partially enlarged plan view showing an input device according to a second embodiment and showing a relative positional relationship between an array of sub-pixels and a sub-bridge wiring of the display device. 第1の従来例の入力装置における部分拡大平面図(a)、及び図10(a)のIX−IX線で切断した時の部分拡大断面図(b)である。FIG. 11 is a partially enlarged plan view (a) and a partially enlarged cross-sectional view (b) taken along line IX-IX in FIG. 10 (a) in the input device of the first conventional example. 第2の従来例の入力装置における部分拡大平面図である。It is the elements on larger scale in the input device of the 2nd prior art example.

以下、図面を参照して本発明の具体的な実施形態の入力装置について説明をする。なお、各図面の寸法は適宜変更して示している。   Hereinafter, an input device according to a specific embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. In addition, the dimension of each drawing is changed and shown suitably.

<第1の実施形態>
図1は、本発明の第1の実施形態の入力装置を構成する透明基材の平面図である。図2は、図1のII−II線で切断して矢印方向から見たときの、入力装置の部分拡大断面図である。
<First Embodiment>
FIG. 1 is a plan view of a transparent substrate constituting the input device according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 is a partially enlarged cross-sectional view of the input device as viewed from the direction of the arrow cut along the line II-II in FIG.

図1に示すように、本実施形態の入力装置10は、透明基材20と、透明基材20に形成された複数の第1の透明電極30及び複数の第2の透明電極40とを有して構成される。複数の第1の透明電極30の各々は、複数の第1の透明電極部31を有して構成されている。複数の第1の透明電極部31は、X1−X2方向において間隔を設けて配列されるとともに、X1−X2方向に隣り合う第1の透明電極部31同士はブリッジ部32によって接続されている。また、複数の第2の透明電極40の各々は、複数の第2の透明電極部41と、第2の透明電極部41同士を接続する幅細部42とを有して構成される。複数の第2の透明電極部41は、Y1−Y2方向において間隔を設けて配列されるとともに、Y1−Y2方向に隣り合う第2の透明電極部41同士は幅細部42によって接続されている。図1に示すように、第1の透明電極30はX1−X2方向に延在して形成され、第2の透明電極40はY1−Y2方向に延在して形成されており、第1の透明電極30と第2の透明電極40とは、互いに交差して形成されている。   As shown in FIG. 1, the input device 10 of the present embodiment includes a transparent base material 20, a plurality of first transparent electrodes 30 and a plurality of second transparent electrodes 40 formed on the transparent base material 20. Configured. Each of the plurality of first transparent electrodes 30 includes a plurality of first transparent electrode portions 31. The plurality of first transparent electrode portions 31 are arranged at intervals in the X1-X2 direction, and the first transparent electrode portions 31 adjacent to each other in the X1-X2 direction are connected to each other by a bridge portion 32. Each of the plurality of second transparent electrodes 40 includes a plurality of second transparent electrode portions 41 and a width detail 42 that connects the second transparent electrode portions 41 to each other. The plurality of second transparent electrode portions 41 are arranged at intervals in the Y1-Y2 direction, and the second transparent electrode portions 41 adjacent in the Y1-Y2 direction are connected to each other by a width detail 42. As shown in FIG. 1, the first transparent electrode 30 is formed to extend in the X1-X2 direction, the second transparent electrode 40 is formed to extend in the Y1-Y2 direction, The transparent electrode 30 and the second transparent electrode 40 are formed so as to cross each other.

図1及び図2に示すように、幅細部42とブリッジ部32とが交差するように第1の透明電極30及び第2の透明電極40が形成されている。そして、図2に示すように、幅細部42を覆うように絶縁層27(図1では省略して示す)が形成されており、ブリッジ部32は、絶縁層27を介して幅細部42の上に跨がって形成されて、第1の透明電極部31同士を接続する。   As shown in FIGS. 1 and 2, the first transparent electrode 30 and the second transparent electrode 40 are formed so that the width detail 42 and the bridge portion 32 intersect each other. As shown in FIG. 2, an insulating layer 27 (not shown in FIG. 1) is formed so as to cover the width detail 42, and the bridge portion 32 is formed on the width detail 42 via the insulating layer 27. The first transparent electrode portions 31 are connected to each other.

また、図2に示すように、本実施形態の入力装置10は、透明基材20が光学粘着層26を介して透明なカバーパネル28に貼り合わされて構成される。本実施形態の入力装置10は、操作者が指などをカバーパネル28(図1では図示しない)に接触又は接近させて入力操作を行い、このときの第1の透明電極部31と第2の透明電極部41との間の静電容量の変化に基づいて入力位置を検出する静電容量式の入力装置10である。   As shown in FIG. 2, the input device 10 according to the present embodiment is configured by bonding a transparent base material 20 to a transparent cover panel 28 via an optical adhesive layer 26. In the input device 10 according to the present embodiment, an operator performs an input operation by bringing a finger or the like into contact with or approaching a cover panel 28 (not shown in FIG. 1), and the first transparent electrode unit 31 and the second electrode at this time This is a capacitance type input device 10 that detects an input position based on a change in capacitance with the transparent electrode portion 41.

図1に示すように、第1の透明電極30及び第2の透明電極40は、入力操作を行う入力領域15(2点鎖線で囲まれた領域)に形成されている。また、入力領域15の外周の非入力領域16において、第1の透明電極30及び第2の透明電極40から引き出された引出配線22が形成されており、引出配線22は外部のフレキシブル基板と接続するための端子部23に接続されている。なお、入力領域15は透光領域であり、操作者から視認されないように第1の透明電極部31及び第2の透明電極部41、幅細部42には透明な材料が用いられる。なお、非入力領域16は、加飾層(図示しない)などが設けられた非透光領域であるため、操作者から引出配線22及び端子部23が視認されることはない。   As shown in FIG. 1, the first transparent electrode 30 and the second transparent electrode 40 are formed in an input region 15 (region surrounded by a two-dot chain line) where an input operation is performed. In addition, in the non-input area 16 on the outer periphery of the input area 15, a lead wiring 22 that is led out from the first transparent electrode 30 and the second transparent electrode 40 is formed, and the lead wiring 22 is connected to an external flexible substrate. It is connected to the terminal part 23 for doing. The input area 15 is a light-transmitting area, and a transparent material is used for the first transparent electrode portion 31 and the second transparent electrode portion 41 and the width detail 42 so as not to be visually recognized by the operator. Since the non-input area 16 is a non-light-transmitting area provided with a decorative layer (not shown) or the like, the lead-out wiring 22 and the terminal portion 23 are not visually recognized by the operator.

本実施形態において、透明基材20は、フィルム状の樹脂材料を用いて形成されており、ポリカーボネート樹脂(PC)、ポリエチレンテレフタレート樹脂(PET)、ポリエチレンナフタレート樹脂(PEN)、環状ポリオレフィン(COP)、ポリメタクリル酸メチル樹脂(PMMA)等の透光性樹脂材料が用いられる。第1の透明電極部31、第2の透明電極部41、及び幅細部42は、ITO(Indium Tin Oxide)、SnO、ZnO等の透明導電材料を用いて形成されており、スパッタや蒸着等の薄膜法により形成される。また、引出配線22及び端子部23には、CuやAg等の金属材料が用いられる。 In the present embodiment, the transparent base material 20 is formed using a film-like resin material, and includes a polycarbonate resin (PC), a polyethylene terephthalate resin (PET), a polyethylene naphthalate resin (PEN), and a cyclic polyolefin (COP). A translucent resin material such as polymethyl methacrylate resin (PMMA) is used. The first transparent electrode portion 31, the second transparent electrode portion 41, and the width detail 42 are formed using a transparent conductive material such as ITO (Indium Tin Oxide), SnO 2 , ZnO, etc. The thin film method is used. Further, a metal material such as Cu or Ag is used for the lead wiring 22 and the terminal portion 23.

次に、本発明の入力装置10における、ブリッジ部32の構成について説明する。図3(a)は、図1の点線Aで囲む領域の部分拡大平面図であり、図3(b)は、図3(a)のIII−III線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図である。   Next, the configuration of the bridge unit 32 in the input device 10 of the present invention will be described. 3A is a partially enlarged plan view of a region surrounded by a dotted line A in FIG. 1, and FIG. 3B is a cross-sectional view taken along the line III-III in FIG. FIG.

図3(b)に示すように、幅細部42を覆うように絶縁層27が形成されており、ブリッジ部32は、絶縁層27を介して幅細部42の上に跨がって形成されている。そして、幅細部42をX1−X2方向に挟むように配置された第1の透明電極部31、31同士が、ブリッジ部32により接続される。図3(a)に示すように、ブリッジ部32は、X1−X2方向に延びる長い2本の主ブリッジ配線33a、33bと、2本の主ブリッジ配線33a、33bを接続するサブブリッジ配線34aとを有して構成される。2本の主ブリッジ配線33a、33bは、X1−X2方向に隣り合う第1の透明電極部31、31同士を並列に接続して、また、サブブリッジ配線34aは、主ブリッジ配線33a、33bの長手方向に対して交差する方向であるY1−Y2方向に形成されて複数の主ブリッジ配線33a、33bを接続する。図3(a)に示すように、主ブリッジ配線33a、33bの長さに比べ、サブブリッジ配線34aの長さは短く形成される。   As shown in FIG. 3B, the insulating layer 27 is formed so as to cover the width detail 42, and the bridge portion 32 is formed over the width detail 42 via the insulating layer 27. Yes. And the 1st transparent electrode parts 31 and 31 arrange | positioned so that the width detail 42 may be pinched | interposed in a X1-X2 direction are connected by the bridge | bridging part 32. FIG. As shown in FIG. 3A, the bridge portion 32 includes two long main bridge wires 33a and 33b extending in the X1-X2 direction and a sub bridge wire 34a connecting the two main bridge wires 33a and 33b. It is comprised. The two main bridge wirings 33a and 33b connect the first transparent electrode portions 31 and 31 adjacent in the X1-X2 direction in parallel, and the sub bridge wiring 34a is connected to the main bridge wirings 33a and 33b. A plurality of main bridge wirings 33a and 33b are connected in the Y1-Y2 direction, which is a direction intersecting the longitudinal direction. As shown in FIG. 3A, the length of the sub-bridge wiring 34a is shorter than the length of the main bridge wirings 33a and 33b.

図3(a)及び(b)に示すように、複数の主ブリッジ配線33a、33bのX1−X2方向の端部において、複数の主ブリッジ配線33a、33b同士を連結する接続部35a、35bがそれぞれ形成されている。そして、図3(b)に示すように接続部35a、35bが第1の透明電極部31、31にそれぞれ接続されている。   As shown in FIGS. 3A and 3B, connection portions 35a and 35b for connecting the plurality of main bridge wirings 33a and 33b to each other at the ends in the X1-X2 direction of the plurality of main bridge wirings 33a and 33b are provided. Each is formed. And as shown in FIG.3 (b), the connection parts 35a and 35b are connected to the 1st transparent electrode parts 31 and 31, respectively.

本実施形態の入力装置10において、主ブリッジ配線33a、33b、サブブリッジ配線34a、及び接続部35aによって開口部37aが形成され、主ブリッジ配線33a、33b、サブブリッジ配線34a、及び接続部35bによって開口部37bが形成されているといえる。   In the input device 10 of the present embodiment, an opening 37a is formed by the main bridge wirings 33a and 33b, the sub bridge wiring 34a, and the connection portion 35a, and the main bridge wirings 33a and 33b, the sub bridge wiring 34a and the connection portion 35b. It can be said that the opening 37b is formed.

本実施形態の入力装置10のブリッジ部32において、2本の主ブリッジ配線33a、33bを接続するサブブリッジ配線34aが形成されている。したがって、ESD(Electro−Static Discharge)が発生してサブブリッジ配線34aが断線した場合であっても、2本の主ブリッジ配線33a、33bにより第1の透明電極部31、31同士を電気的に接続することができる。すなわち、サブブリッジ配線34aを犠牲配線として用いることにより、従来例の入力装置110、210に比べて、複数回繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることができる。   In the bridge portion 32 of the input device 10 of the present embodiment, a sub-bridge wiring 34a that connects the two main bridge wirings 33a and 33b is formed. Therefore, even when ESD (Electro-Static Discharge) occurs and the sub-bridge wiring 34a is disconnected, the first transparent electrode portions 31 and 31 are electrically connected to each other by the two main bridge wirings 33a and 33b. Can be connected. That is, by using the sub-bridge wiring 34a as the sacrificial wiring, it is possible to improve durability against ESD repeatedly generated a plurality of times as compared with the input devices 110 and 210 of the conventional example.

図3(a)に示すように、主ブリッジ配線33aについて、主ブリッジ配線33aとサブブリッジ配線34aとが接続された箇所から、隣り合う第1の透明電極31、31のうち一方の第1の透明電極31(X1方向に位置する第1の透明電極31)に接続される箇所までの部分を主ブリッジ配線部分33a1とする。また、主ブリッジ配線33aとサブブリッジ配線34aとが接続された箇所から、隣り合う第1の透明電極31、31のうち他方の第1の透明電極31(X2方向に位置する第1の透明電極31)に接続される箇所までの部分を主ブリッジ配線部分33a2とする。主ブリッジ配線33bについても同様に、主ブリッジ配線部分33b1、主ブリッジ配線部分33b2とする。   As shown in FIG. 3A, with respect to the main bridge wiring 33a, one of the first transparent electrodes 31 and 31 adjacent to each other from the position where the main bridge wiring 33a and the sub bridge wiring 34a are connected. A portion up to a portion connected to the transparent electrode 31 (the first transparent electrode 31 positioned in the X1 direction) is referred to as a main bridge wiring portion 33a1. The first transparent electrode 31 (the first transparent electrode located in the X2 direction) of the adjacent first transparent electrodes 31 and 31 from the place where the main bridge wiring 33a and the sub bridge wiring 34a are connected. The portion up to the location connected to 31) is defined as a main bridge wiring portion 33a2. Similarly, the main bridge wiring 33b is referred to as a main bridge wiring portion 33b1 and a main bridge wiring portion 33b2.

本実施形態の入力装置10のブリッジ部32において、サブブリッジ配線34aが接続された箇所で長手方向(X1−X2方向)に分割された主ブリッジ配線33a、33bのうち、X1側に位置する部分である主ブリッジ配線部分33a1または主ブリッジ配線部分33b1のいずれか一方が、ESDの発生により断線した場合であっても、主ブリッジ配線部分33a1または主ブリッジ配線部分33b1の他方と、サブブリッジ配線34aと、主ブリッジ配線部分33a2または主ブリッジ配線部分33b2とで導通が確保される。よって、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。   In the bridge portion 32 of the input device 10 of the present embodiment, the portion located on the X1 side of the main bridge wires 33a and 33b divided in the longitudinal direction (X1-X2 direction) at the location where the sub-bridge wire 34a is connected. Even if either one of the main bridge wiring portion 33a1 or the main bridge wiring portion 33b1 is disconnected due to the occurrence of ESD, the other of the main bridge wiring portion 33a1 or the main bridge wiring portion 33b1 and the sub bridge wiring 34a The main bridge wiring portion 33a2 or the main bridge wiring portion 33b2 is electrically connected. Therefore, durability against repeatedly generated ESD can be improved.

また、繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させるために、サブブリッジ配線34aを形成する代わりに主ブリッジ配線をさらに増やして3本以上形成することが考えられるが、この場合、長い主ブリッジ配線の面積が増加してしまいブリッジ部32全体の不可視特性が低下する。本実施形態の入力装置10において、主ブリッジ配線33a、33bの長手方向に対して交差する方向に主ブリッジ配線33a、33bの長さよりも短いサブブリッジ配線34aが形成されるため、ブリッジ部32全体の面積の増大が抑えられる。よって、外部から視認されることを防止して、良好な不可視特性が確保される。   Further, in order to improve durability against repeated ESD, it is conceivable to increase the number of main bridge wirings to form three or more instead of forming the sub-bridge wiring 34a. The area increases, and the invisible characteristics of the entire bridge portion 32 deteriorate. In the input device 10 of this embodiment, the sub-bridge wiring 34a shorter than the length of the main bridge wirings 33a and 33b is formed in the direction intersecting with the longitudinal direction of the main bridge wirings 33a and 33b. An increase in the area of is suppressed. Therefore, it is prevented from being visually recognized from the outside, and good invisible characteristics are ensured.

なお、隣り合う前記主ブリッジ配線33a、33b同士の間隔が10μm以上、100μm以下であることが好ましい。また、各配線の線幅は10μm以上、30μm以下であることが好ましい。こうすれば、ブリッジ部32を容易に形成することができるとともに、良好な不可視特性が得られる。   In addition, it is preferable that the space | interval of the adjacent said main bridge wiring 33a, 33b is 10 micrometers or more and 100 micrometers or less. The line width of each wiring is preferably 10 μm or more and 30 μm or less. If it carries out like this, while the bridge | bridging part 32 can be formed easily, a favorable invisible characteristic is acquired.

以上のように、本発明の入力装置10によれば、良好な不可視特性を確保するとともに、ブリッジ部32の繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。   As described above, according to the input device 10 of the present invention, it is possible to ensure good invisible characteristics and improve durability against ESD that is repeatedly generated by the bridge portion 32.

図3(a)に示すように、サブブリッジ配線34aは、平面視において幅細部42に重複する位置に形成されている。また、主ブリッジ配線33a、33bは幅細部42に交差して形成され、その一部は幅細部42に重複して形成されている。図3(b)に示すように、サブブリッジ配線34aは、絶縁層27を介して幅細部42と電気的に絶縁されている。   As shown in FIG. 3A, the sub-bridge wiring 34a is formed at a position overlapping the width detail 42 in plan view. Further, the main bridge wirings 33 a and 33 b are formed so as to intersect the width detail 42, and a part thereof is formed overlapping the width detail 42. As shown in FIG. 3B, the sub-bridge wiring 34 a is electrically insulated from the width detail 42 through the insulating layer 27.

主ブリッジ配線33a、33b、及びサブブリッジ配線34aが、幅細部42に重複する位置において、絶縁層27の絶縁耐圧以上のESDが発生すると絶縁層27が絶縁破壊して、主ブリッジ配線33a、33b等の断線が生じ易い。本実施形態においては、ESDの発生による断線が生じ易い箇所にサブブリッジ配線34aを形成することで、ESDが発生した場合において、サブブリッジ配線34aを優先的に断線させて犠牲配線として用いることで、主ブリッジ配線33a、33bの導通が確保される。   In the position where the main bridge wirings 33a and 33b and the sub-bridge wiring 34a overlap the width detail 42, if an ESD higher than the withstand voltage of the insulating layer 27 occurs, the insulating layer 27 breaks down and the main bridge wirings 33a and 33b. Etc. are likely to occur. In the present embodiment, by forming the sub-bridge wiring 34a at a location where disconnection due to the occurrence of ESD is likely to occur, when the ESD occurs, the sub-bridge wiring 34a is preferentially disconnected and used as a sacrificial wiring. The conduction of the main bridge wirings 33a and 33b is ensured.

また、本実施形態において、主ブリッジ配線33a、33bの端部に接続部35a、35bが設けられており、接続部35a、35bと第1の透明電極部31、31がそれぞれ接続されている。これにより、ブリッジ部32と第1の透明電極部31との接続面積を大きくして接触抵抗を低減させることができるため、ブリッジ部32全体の抵抗値が低減される。よって、ブリッジ部32を低抵抗化するために主ブリッジ配線33a、33bの面積や厚さを増大させる必要が無く、ブリッジ部32の良好な不可視特性を確保することができる。   In the present embodiment, connection portions 35a and 35b are provided at the ends of the main bridge wirings 33a and 33b, and the connection portions 35a and 35b are connected to the first transparent electrode portions 31 and 31, respectively. Thereby, since the connection area of the bridge part 32 and the 1st transparent electrode part 31 can be enlarged and contact resistance can be reduced, the resistance value of the bridge part 32 whole is reduced. Therefore, it is not necessary to increase the area and thickness of the main bridge wires 33a and 33b in order to reduce the resistance of the bridge portion 32, and good invisible characteristics of the bridge portion 32 can be ensured.

ブリッジ部32として、各透明電極と同様にITO等の透明導電材料を用いる場合、不可視特性は良好であるが、抵抗値が増大するためESDにより断線が生じ易く、不可視特性とESD耐性を両立させることが難しい。よって、ブリッジ部32には、金属材料を用いることが好適である。   When a transparent conductive material such as ITO is used as the bridge portion 32 as in the case of each transparent electrode, the invisible characteristics are good, but since the resistance value increases, disconnection is likely to occur due to ESD, and both the invisible characteristics and ESD resistance are compatible. It is difficult. Therefore, it is preferable to use a metal material for the bridge portion 32.

本実施形態の入力装置10において、主ブリッジ配線33a、33b、及びサブブリッジ配線34aとしてCuまたはCu合金(例えばCuNi等)からなる金属層を用いることが好適である。こうすれば、金属層としてAgやAuを用いる場合に比較してCu、またはCu合金の反射率が小さいため、外部からの光や、表示装置からの表示光の反射を抑制して、主ブリッジ配線33a、33b及びサブブリッジ配線34aが外部から視認されることが抑制される。   In the input device 10 of the present embodiment, it is preferable to use a metal layer made of Cu or a Cu alloy (for example, CuNi) as the main bridge wirings 33a and 33b and the sub bridge wiring 34a. In this way, the reflectance of Cu or Cu alloy is smaller than when Ag or Au is used as the metal layer, so that reflection of light from the outside and display light from the display device is suppressed, and the main bridge The wirings 33a and 33b and the sub-bridge wiring 34a are suppressed from being visually recognized from the outside.

図4は、第1の実施形態の入力装置10の第1の変形例を示し、図4(a)はブリッジ部の部分拡大平面図を、図4(b)は、図4(a)のIV−IV線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図を示す。また、図5は、第2の変形例の入力装置10を示し、図5(a)はブリッジ部の部分拡大平面図を、図5(b)は、図5(a)のV−V線で切断して矢印方向から見たときの部分拡大断面図を示す。   FIG. 4 shows a first modification of the input device 10 of the first embodiment, FIG. 4 (a) is a partially enlarged plan view of a bridge portion, and FIG. 4 (b) is a diagram of FIG. 4 (a). The partial expanded sectional view when cut | disconnected by the IV-IV line and seeing from the arrow direction is shown. 5 shows the input device 10 of the second modification, FIG. 5 (a) is a partially enlarged plan view of the bridge portion, and FIG. 5 (b) is a VV line in FIG. 5 (a). The partial expanded sectional view when it cut | disconnects and seen from the arrow direction is shown.

図4に示すように第1の変形例の入力装置10は、2本のサブブリッジ配線34a、34bを有して構成されており、サブブリッジ配線34a、34bは、幅細部42及び第1の透明電極部31と重複しない位置に形成されている。これにより、主ブリッジ配線33a、33bは、その長手方向において、サブブリッジ配線34a、34bが接続された箇所でより多く主ブリッジ配線部33a1、33a2、33a3又は主ブリッジ配線部33b1、33b2、33b3に分けられる。よって、一本の主ブリッジ配線において一部の主ブリッジ配線部分がESDにより断線しても、残った主ブリッジ配線部分とサブブリッジ34aにより、第1の透明電極31、31間の導通が確保できるため、繰り返し発生するESDに対する耐久性が向上する。なお、サブブリッジ配線の本数は、これに限定されず、3本以上設けることも可能である。   As shown in FIG. 4, the input device 10 of the first modified example is configured to include two subbridge wirings 34a and 34b. The subbridge wirings 34a and 34b include the width details 42 and the first It is formed at a position that does not overlap with the transparent electrode portion 31. As a result, the main bridge wirings 33a and 33b are connected to the main bridge wiring parts 33a1, 33a2, and 33a3 or the main bridge wiring parts 33b1, 33b2, and 33b3 in the longitudinal direction more at the locations where the sub bridge wirings 34a and 34b are connected. Divided. Therefore, even if a part of the main bridge wiring portion is disconnected due to ESD in one main bridge wiring, the conduction between the first transparent electrodes 31 and 31 can be secured by the remaining main bridge wiring portion and the sub-bridge 34a. For this reason, durability against repeatedly generated ESD is improved. Note that the number of sub-bridge wirings is not limited to this, and three or more sub-bridge wirings may be provided.

また、図5に示す第2の変形例の入力装置10において、3本の主ブリッジ配線33a、33b、33cが形成されており、それぞれ第1の透明電極部31、31を並列に接続する。このような態様であっても繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることができる。なお、長い主ブリッジ配線の本数を増やすと、不可視特性が低下する場合があるため、各主ブリッジ配線33a、33b、33cの線幅、ブリッジ部32全体の幅寸法(Y1−Y2方向の寸法)を適切に形成する必要がある。   Further, in the input device 10 of the second modification shown in FIG. 5, three main bridge wires 33a, 33b, 33c are formed, and the first transparent electrode portions 31, 31 are connected in parallel, respectively. Even in such an embodiment, durability against repeated ESD can be improved. If the number of long main bridge lines is increased, the invisible characteristics may be deteriorated. Therefore, the line width of each main bridge line 33a, 33b, 33c and the width dimension of the entire bridge portion 32 (dimension in the Y1-Y2 direction). Need to be properly formed.

図6には、本実施形態の入力装置10の第3の変形例を示す。図3〜図5に示した主ブリッジ配線33a、33b、及びサブブリッジ配線34aはいずれも直線状に形成されているが、これに限られない。図6に示す第3の変形例の入力装置10のように、曲線を有して形成してもよい。例えば、開口部37a、37bを円形、楕円形などの形状に形成することもできる。または、長尺状の主ブリッジ配線33a、33bの線幅をX1−X2方向において変化させて、部分的に線幅を大きくする等の構成であってもよい。これらの態様であっても、良好な不可視特性と、繰り返し発生するESDに対する耐久性の向上が可能である。   In FIG. 6, the 3rd modification of the input device 10 of this embodiment is shown. The main bridge wirings 33a and 33b and the sub bridge wiring 34a shown in FIGS. 3 to 5 are all formed in a straight line shape, but are not limited thereto. Like the input device 10 of the 3rd modification shown in FIG. 6, you may form with a curve. For example, the openings 37a and 37b can be formed in a shape such as a circle or an ellipse. Alternatively, the line width of the long main bridge wirings 33a and 33b may be changed in the X1-X2 direction to partially increase the line width. Even in these embodiments, good invisible characteristics and durability against repeated ESD can be improved.

図7には、本実施形態の入力装置10の第4の変形例を示す。図7に示すように、第4の変形例の入力装置10は、複数の主ブリッジ配線33a、33b及びサブブリッジ配線34aの少なくとも一つが、互いに異なる幅を有して形成されているものである。図7に示す入力装置10は、主ブリッジ配線33bが比較的幅広に形成されており、主ブリッジ配線33a及びサブブリッジ配線34aが幅細に形成されている。   In FIG. 7, the 4th modification of the input device 10 of this embodiment is shown. As shown in FIG. 7, in the input device 10 of the fourth modification, at least one of the plurality of main bridge wirings 33a and 33b and the sub bridge wiring 34a is formed to have a different width. . In the input device 10 shown in FIG. 7, the main bridge wiring 33b is formed relatively wide, and the main bridge wiring 33a and the sub bridge wiring 34a are formed narrow.

これによれば、入力装置10の製造工程等において想定されるESDの大きさに応じて、複数の主ブリッジ配線33a、33b及びサブブリッジ配線34aのうち少なくとも1つの幅を異ならせて形成することができる。例えば、ESDが小さい場合には、配線幅の小さい主ブリッジ配線33aまたはサブブリッジ配線34aが優先的に断線して、主ブリッジ配線33bにおける断線は生じない。よって、効果的に繰り返し発生するESDに対する耐久性を向上させることが可能である。   According to this, at least one of the plurality of main bridge wirings 33a and 33b and the sub bridge wiring 34a is formed to have a different width in accordance with the ESD size assumed in the manufacturing process of the input device 10 or the like. Can do. For example, when ESD is small, the main bridge wiring 33a or the sub bridge wiring 34a having a small wiring width is preferentially disconnected, and the main bridge wiring 33b is not disconnected. Therefore, it is possible to improve durability against ESD that is effectively repeatedly generated.

なお、図1から図7に示す本実施形態の入力装置10において、第1の透明電極部31及び第2の透明電極部41は菱形形状に形成されているが、これに限定されず、第1の透明電極部31と第2の透明電極部41との間で静電容量が形成されるように形成されていれば良い。   In addition, in the input device 10 of this embodiment shown in FIGS. 1-7, although the 1st transparent electrode part 31 and the 2nd transparent electrode part 41 are formed in the rhombus shape, it is not limited to this. What is necessary is just to form so that an electrostatic capacitance may be formed between the 1st transparent electrode part 31 and the 2nd transparent electrode part 41. FIG.

<第2の実施形態>
図8及び図9は、第2の実施形態の入力装置を示す。図8は入力装置の部分拡大断面図を示し、図9は表示装置のサブピクセルの配列とサブブリッジ配線との相対位置関係を示す部分拡大平面図である。図8に示すように、本実施形態の入力装置11は、液晶パネルやOLED(Organic Light Emitting Diode)パネルなどの表示装置50の表示画面上に配置されて用いられる。入力装置11と表示装置50とは、光学粘着層53により一体に貼り合わされて用いられる。または、光学粘着層53で貼り合わされず、入力装置11と表示装置50とが筐体に組み込まれた状態で一体に用いることも可能である。
<Second Embodiment>
8 and 9 show an input device according to the second embodiment. FIG. 8 is a partially enlarged cross-sectional view of the input device, and FIG. 9 is a partially enlarged plan view showing the relative positional relationship between the sub-pixel array and the sub-bridge wiring of the display device. As shown in FIG. 8, the input device 11 according to the present embodiment is used by being arranged on a display screen of a display device 50 such as a liquid crystal panel or an OLED (Organic Light Emitting Diode) panel. The input device 11 and the display device 50 are used by being bonded together by the optical adhesive layer 53. Alternatively, the input device 11 and the display device 50 can be used integrally in a state where the input device 11 and the display device 50 are incorporated in the housing without being bonded by the optical adhesive layer 53.

図9には、液晶パネルに用いられるカラーフィルタ51(図8には図示しない)を構成する3色のサブピクセル52R、52G、52Bの配列を模式的に示している。サブピクセル52Rは赤色層、サブピクセル52Gは緑色層、サブピクセル52Bは青色層である。図9に示すように、3色のサブピクセル52R、52G、52Bは全て同じ形状と同じ面積を有しており、短辺がX1−X2方向に平行に向けられて、長辺がY1−Y2方向に平行に向けられた長方形状である。3色のサブピクセル52R、52G、52Bが1組となって、各組が、X1−X2方向及びY1−Y2方向に規則的に配列されている。   FIG. 9 schematically shows an arrangement of three-color sub-pixels 52R, 52G, and 52B constituting a color filter 51 (not shown in FIG. 8) used in the liquid crystal panel. The subpixel 52R is a red layer, the subpixel 52G is a green layer, and the subpixel 52B is a blue layer. As shown in FIG. 9, the three-color sub-pixels 52R, 52G, and 52B all have the same shape and the same area, the short sides are parallel to the X1-X2 direction, and the long sides are Y1-Y2. A rectangular shape oriented parallel to the direction. Three color sub-pixels 52R, 52G, and 52B form one set, and each set is regularly arranged in the X1-X2 direction and the Y1-Y2 direction.

本実施形態の入力装置11において、サブブリッジ配線34aが、Y1−Y2方向に対して傾斜する方向に形成されている。つまり、サブピクセル52R、52G、52Bの長辺に対して傾斜する方向に形成されている。   In the input device 11 of the present embodiment, the sub-bridge wiring 34a is formed in a direction inclined with respect to the Y1-Y2 direction. That is, it is formed in a direction inclined with respect to the long sides of the subpixels 52R, 52G, and 52B.

比較例の入力装置として、サブブリッジ配線34aがサブピクセル52R、52G、52Bの長辺に対して平行に形成された場合において、表示装置50からの表示光がカラーフィルタ51及び入力装置を透過すると、サブブリッジ配線34aの縁部が光るように反応して、ちらつきが外部から視認されることがある。サブブリッジ配線34aの縁部とサブピクセル52R、52G、52Bの長辺が平行であるため、サブブリッジ配線34aが一つのサブピクセルに重なって形成される場合が多い。そして、一つのサブピクセルから発せられる同じ色相の光がサブブリッジ配線34aの縁部で反射、散乱されて、外部から見たときに同じ色相の光がより強調されて視認されると考えられる。   When the sub-bridge wiring 34a is formed in parallel to the long sides of the sub-pixels 52R, 52G, and 52B as the input device of the comparative example, the display light from the display device 50 passes through the color filter 51 and the input device. The flicker may be visually recognized from the outside due to the reaction of the edge of the sub-bridge wiring 34a. Since the edge of the sub-bridge wiring 34a and the long sides of the sub-pixels 52R, 52G, and 52B are parallel, the sub-bridge wiring 34a is often formed so as to overlap one sub-pixel. Then, it is considered that light of the same hue emitted from one subpixel is reflected and scattered at the edge of the sub-bridge wiring 34a, and the light of the same hue is more emphasized when viewed from the outside.

本実施形態の入力装置11において、サブブリッジ配線34aがY1−Y2方向に対して傾斜して形成されているため、図9に示すように、複数のサブピクセル52G、52Bに重複するようにサブブリッジ配線34aが形成される場合が多くなる。よって、サブブリッジ配線34aの縁部で同じ色相の光が強調されて、外部から見たときにちらつきとして視認されることが防止されるため、不可視特性を向上させることが可能である。   In the input device 11 of this embodiment, since the sub-bridge wiring 34a is formed to be inclined with respect to the Y1-Y2 direction, the sub-bridge wiring 34a is overlapped with the plurality of sub-pixels 52G and 52B as shown in FIG. In many cases, the bridge wiring 34a is formed. Therefore, light of the same hue is emphasized at the edge of the sub-bridge wiring 34a and is prevented from being visually recognized as flickering when viewed from the outside, so that the invisible characteristics can be improved.

なお、主ブリッジ配線33a、33bのX1−X2方向の端部に形成された接続部35a、35bについても、同様にY1−Y2方向に対して傾斜して形成することが好ましい。こうすれば、接続部35a、35bの縁部での光のちらつきが防止され、不可視特性が向上する。   Similarly, the connection portions 35a and 35b formed at the end portions of the main bridge wirings 33a and 33b in the X1-X2 direction are preferably inclined with respect to the Y1-Y2 direction. In this way, light flickering at the edges of the connecting portions 35a and 35b is prevented, and the invisible characteristics are improved.

また、図9において、本実施形態の入力装置11を液晶パネルのカラーフィルタ51に重ねて配置する場合について説明したが、これに限定されない。例えばOLEDパネル上に配置する場合においても、複数色のサブピクセルが配列して形成されており、サブブリッジ配線34aをサブピクセルの配列方向に対して傾斜させることで、同様の効果が得られる。   In FIG. 9, the case where the input device 11 of the present embodiment is disposed so as to overlap the color filter 51 of the liquid crystal panel has been described, but the present invention is not limited to this. For example, when arranged on an OLED panel, subpixels of a plurality of colors are formed in an array, and the same effect can be obtained by inclining the subbridge wiring 34a with respect to the subpixel arrangement direction.

10、11 入力装置
15 入力領域
16 非入力領域
20 透明基材
22 引出配線
23 端子部
26、53 光学粘着層
27 絶縁層
30 第1の透明電極
31 第1の透明電極部
32 ブリッジ部
33a、33b、33c 主ブリッジ配線
33a1、33a2、33a3、33b1、33b2、33b3 主ブリッジ配線部分
34a、34b サブブリッジ配線
35a、35b 接続部
37a、37b、37c、37d 開口部
40 第2の透明電極
41 第2の透明電極部
42 幅細部
50 表示装置
51 カラーフィルタ
52R、52G、52B サブピクセル
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10, 11 Input device 15 Input area 16 Non-input area 20 Transparent base material 22 Lead-out wiring 23 Terminal part 26, 53 Optical adhesion layer 27 Insulating layer 30 1st transparent electrode 31 1st transparent electrode part 32 Bridge part 33a, 33b 33c Main bridge wiring 33a1, 33a2, 33a3, 33b1, 33b2, 33b3 Main bridge wiring part 34a, 34b Sub bridge wiring 35a, 35b Connection part 37a, 37b, 37c, 37d Opening 40 Second transparent electrode 41 Second transparent electrode Transparent electrode part 42 Width details 50 Display device 51 Color filter 52R, 52G, 52B Subpixel

Claims (6)

透明基材と、前記透明基材に形成された複数の第1の透明電極及び複数の第2の透明電極を有し、
前記第1の透明電極は、複数の第1の透明電極部を有し、複数の前記第1の透明電極部は、前記透明基材の面内の第1の方向において間隔を設けて配列されるとともに、前記第1の方向に隣り合う前記第1の透明電極部同士はブリッジ部によって接続されており、
前記第2の透明電極は、前記第1の方向に交差する第2の方向において配列される複数の第2の透明電極部と、前記第2の方向に隣り合う前記第2の透明電極部同士を接続する幅細部とを有し、
前記ブリッジ部は絶縁層を介して前記幅細部の上に跨がって形成されてなり、
前記ブリッジ部は、前記第1の透明電極部同士を並列に接続する複数の主ブリッジ配線と、複数の前記主ブリッジ配線の間を接続するサブブリッジ配線とを有し、
前記サブブリッジ配線は前記主ブリッジ配線の長手方向に対して交差する方向に形成されていることを特徴とする入力装置。
A transparent substrate, a plurality of first transparent electrodes and a plurality of second transparent electrodes formed on the transparent substrate;
The first transparent electrode has a plurality of first transparent electrode portions, and the plurality of first transparent electrode portions are arranged at intervals in a first direction within the surface of the transparent substrate. And the first transparent electrode portions adjacent in the first direction are connected by a bridge portion,
The second transparent electrode includes a plurality of second transparent electrode portions arranged in a second direction intersecting the first direction, and the second transparent electrode portions adjacent to each other in the second direction. With connecting width details,
The bridge portion is formed over the width detail through an insulating layer,
The bridge portion includes a plurality of main bridge wires that connect the first transparent electrode portions in parallel, and a sub-bridge wire that connects between the plurality of main bridge wires,
The input device, wherein the sub-bridge wiring is formed in a direction crossing a longitudinal direction of the main bridge wiring.
前記サブブリッジ配線は、平面視において前記幅細部に重複する位置に形成されていることを特徴とする請求項1に記載の入力装置。   The input device according to claim 1, wherein the sub-bridge wiring is formed at a position overlapping with the width detail in a plan view. 前記サブブリッジ配線が複数形成されていることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の入力装置。   The input device according to claim 1, wherein a plurality of the sub-bridge wirings are formed. 複数の前記主ブリッジ配線の前記第1の透明電極に接続される端部において、複数の前記主ブリッジ配線同士を連結する接続部が形成されており、前記接続部が前記第1の透明電極部に接続されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の入力装置。   A connection portion that connects the plurality of main bridge wires to each other is formed at an end portion of the plurality of main bridge wires connected to the first transparent electrode, and the connection portion is the first transparent electrode portion. The input device according to claim 1, wherein the input device is connected to the input device. 前記主ブリッジ配線及び前記サブブリッジ配線は金属層を有して構成されており、前記金属層は、Cu、またはCu合金であることを特徴とする、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の入力装置。   The main bridge wiring and the sub-bridge wiring each include a metal layer, and the metal layer is Cu or a Cu alloy. The input device according to item. 表示装置の表面に設置される入力装置であって、
前記表示装置は、前記第1の方向と前記第2の方向の双方において規則的に配列された複数のサブピクセルを有し、
前記サブブリッジ配線が、前記第2の方向に対して傾斜する方向に形成されていることを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の入力装置。
An input device installed on the surface of the display device,
The display device includes a plurality of subpixels regularly arranged in both the first direction and the second direction;
The input device according to claim 1, wherein the sub-bridge wiring is formed in a direction inclined with respect to the second direction.
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