JP2014145626A - Image processing device, method and program for measuring shape of spiral spring - Google Patents

Image processing device, method and program for measuring shape of spiral spring Download PDF

Info

Publication number
JP2014145626A
JP2014145626A JP2013013630A JP2013013630A JP2014145626A JP 2014145626 A JP2014145626 A JP 2014145626A JP 2013013630 A JP2013013630 A JP 2013013630A JP 2013013630 A JP2013013630 A JP 2013013630A JP 2014145626 A JP2014145626 A JP 2014145626A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
end point
candidates
spiral spring
point pair
candidate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013013630A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6009364B2 (en
Inventor
Hideyo Takeuchi
英世 竹内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chuo Hatsujo KK
Chuo Spring Co Ltd
Original Assignee
Chuo Hatsujo KK
Chuo Spring Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chuo Hatsujo KK, Chuo Spring Co Ltd filed Critical Chuo Hatsujo KK
Priority to JP2013013630A priority Critical patent/JP6009364B2/en
Publication of JP2014145626A publication Critical patent/JP2014145626A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6009364B2 publication Critical patent/JP6009364B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique enabling endpoints of a spiral spring to be accurately identified using a photographed image of the spiral spring.SOLUTION: An image processing device includes: image input means for inputting a photographic image obtained by photographing a spiral spring; outline extraction means for extracting an outline of the spiral spring from the input photographic image; endpoint candidate extraction means for extracting a plurality of endpoint candidates on at least one of the end faces of the spiral spring based on the extracted outline; endpoint pair candidate creation means for creating a plurality of endpoint pair candidates constituted by two endpoint candidates selected from the plurality of the extracted endpoint candidates; and endpoint pair selection means for selecting a single pair of endpoint candidates from among the plurality of created endpoint pair candidates as two endpoints on the at least one of end faces of the spiral spring.

Description

本明細書は、渦巻きばねの形状を計測する技術を開示する。ここでいう渦巻きばねとは、平面視したときに、渦巻状に成形されたばねを意味する。   This specification discloses the technique which measures the shape of a spiral spring. The spiral spring here means a spring formed into a spiral shape when seen in a plan view.

渦巻きばね等の工業製品の品質検査工程では、製品の形状と設計図面に規定された形状との異同を調べ、製品が設計図面のとおりに成形されているか否かが検査される。設計図面に規定された形状とのずれが許容誤差の製品は良品と判定され、設計図面に規定された形状とのずれが許容誤差を超える製品は不良品として廃棄される。渦巻きばねの品質検査工程では、渦巻きばねを撮影し、コンピュータを利用して撮影した画像から渦巻きばねの形状を計測し、計測された渦巻きばねの形状と設計図面に規定された形状との異同を検査する。品質検査を適切に行うためには、撮影した画像から渦巻きばねの形状を精度良く計測する必要がある。このため、従来から画像処理を用いて物体の形状を計測する技術が開発されている(例えば、特許文献1)。   In the quality inspection process of industrial products such as spiral springs, the difference between the shape of the product and the shape defined in the design drawing is examined, and it is inspected whether or not the product is molded according to the design drawing. A product whose deviation from the shape specified in the design drawing is an allowable error is determined as a non-defective product, and a product whose deviation from the shape specified in the design drawing exceeds the allowable error is discarded as a defective product. In the spiral spring quality inspection process, the spiral spring is photographed, the shape of the spiral spring is measured from an image photographed using a computer, and the difference between the measured spiral spring shape and the shape specified in the design drawing is determined. inspect. In order to perform quality inspection appropriately, it is necessary to accurately measure the shape of the spiral spring from the captured image. For this reason, a technique for measuring the shape of an object using image processing has been developed (for example, Patent Document 1).

特開2009−257950号公報JP 2009-257950 A

渦巻きばねの形状を正確に計測するためには、渦巻きばねの端面を正確に特定する必要がある。すなわち、渦巻きばねは、ばね鋼材を渦巻き状に加工し、加工後のばね鋼材を切断して製造する。このため、渦巻きばねの端部には、ばね鋼材を切断することによる端面(切断面)が形成される。渦巻きばねの端面を正確に特定できないと、渦巻きばねの形状を正確に特定することができないため、渦巻きばねが設計図面の通りに製造できているか否かを確認できない。   In order to accurately measure the shape of the spiral spring, it is necessary to accurately specify the end face of the spiral spring. That is, the spiral spring is manufactured by processing a spring steel material into a spiral shape and cutting the processed spring steel material. For this reason, the end surface (cut surface) by cut | disconnecting a spring steel material is formed in the edge part of a spiral spring. If the end face of the spiral spring cannot be specified accurately, the shape of the spiral spring cannot be specified accurately, so it cannot be confirmed whether or not the spiral spring can be manufactured according to the design drawing.

ここで、渦巻きばねの端面は、当該端面と渦巻きばねの他の表面とが接続される位置を特定することによって規定される。例えば、渦巻きばねを平面視した撮影画像には、渦巻きばねの端面と外周面と内周面とが輪郭線として現れる。そして、渦巻きばねの端面は、当該端面と外周面とが接続される点(端点)と、当該端面と内周面とが接続される点(端点)によって規定される。したがって、渦巻きばねの端面を特定するには、渦巻きばねの端面の両端の点(2つの端点)を特定する必要がある。   Here, the end face of the spiral spring is defined by specifying a position where the end face is connected to the other surface of the spiral spring. For example, an end face, an outer peripheral surface, and an inner peripheral surface of the spiral spring appear as contour lines in a photographed image obtained by viewing the spiral spring in a plan view. The end face of the spiral spring is defined by a point (end point) where the end face and the outer peripheral face are connected and a point (end point) where the end face and the inner peripheral face are connected. Therefore, in order to specify the end face of the spiral spring, it is necessary to specify the points (two end points) at both ends of the end face of the spiral spring.

従来の技術では、撮影された画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出し、その輪郭線から渦巻きばねの端面の端点を抽出する。具体的には、輪郭線上の点の直角度が極大となる点を抽出し、抽出された複数の端点候補の中から渦巻きばねの中心からの距離を考慮して端点を選択する。ここで、輪郭線上の点の直角度とは、輪郭線上の点の角度が直角である程度を意味し、直角度が極大とは、周囲の点に対してその点が最も直角に近いことを意味している。なお、輪郭線上の点の角度とは、(1)その点と、その点に対して一方側に微小距離だけ離れて隣接する輪郭線上の点を結んだ直線と、(2)その点と、その点に対して他方側に微小距離だけ離れて隣接する輪郭線上の点を結んだ直線によって形成される角度をいう。   In the conventional technique, the outline of the spiral spring is extracted from the captured image, and the end point of the end face of the spiral spring is extracted from the outline. Specifically, a point where the perpendicularity of the point on the contour line is maximized is extracted, and an end point is selected from the extracted plurality of end point candidates in consideration of the distance from the center of the spiral spring. Here, the perpendicularity of a point on the contour line means that the angle of the point on the contour line is a right angle, and the maximum squareness means that the point is closest to the surrounding point. doing. The angle of the point on the contour line is (1) the point, a straight line connecting the point on the contour line adjacent to the point by a minute distance, and (2) the point, An angle formed by a straight line connecting points on the contour line that are adjacent to the point on the other side by a minute distance.

しかしながら、渦巻きばねの端面(切断面)は、切断時に発生するバリ等によって平坦となっておらず、また、製造時に粉塵等が表面に付着することもある。このため、端点以外の点が端点候補として抽出されることがある。従来の技術では、渦巻きばねの中心からの距離のみを考慮して端点候補の中から端点を特定するため、端点以外の点を端点と誤認定する場合があった。本明細書は、渦巻きばねの撮影画像から渦巻きばねの端面の端点を正確に特定することができる技術を開示する。   However, the end surface (cut surface) of the spiral spring is not flat due to burrs or the like generated during cutting, and dust or the like may adhere to the surface during manufacturing. For this reason, points other than the end points may be extracted as end point candidates. In the conventional technique, since only the distance from the center of the spiral spring is considered and the end point is specified from among the end point candidates, a point other than the end point may be erroneously recognized as the end point. This specification discloses the technique which can pinpoint the end point of the end surface of a spiral spring correctly from the picked-up image of a spiral spring.

本明細書は、渦巻状に成形された渦巻きばねの形状を計測する画像処理装置を開示する。この画像処理装置は、渦巻きばねを撮影した撮影画像を入力する画像入力手段と、入力された撮影画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出する輪郭線抽出手段と、抽出された輪郭線から渦巻きばねの少なくとも一方の端面の端点候補を複数抽出する端点候補抽出手段と、抽出された複数の端点候補から選択された2つの端点候補によって構成される端点ペア候補を複数作成する端点ペア候補作成手段と、作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を渦巻きばねの少なくとも一方の端面の2つの端点として選択する端点ペア選択手段と、を有する。   The present specification discloses an image processing apparatus for measuring the shape of a spiral spring formed in a spiral shape. The image processing apparatus includes an image input unit that inputs a captured image obtained by capturing a spiral spring, a contour line extracting unit that extracts a contour line of the spiral spring from the input captured image, and a spiral spring based on the extracted contour line. End point candidate extracting means for extracting a plurality of end point candidates for at least one end face; and end point pair candidate creating means for creating a plurality of end point pair candidates constituted by two end point candidates selected from the plurality of extracted end point candidates; End point pair selecting means for selecting one end point pair candidate as two end points of at least one end face of the spiral spring from among the plurality of end point pair candidates created.

この画像処理装置では、渦巻きばねの撮影画像に対して輪郭線を抽出し、渦巻きばねの少なくとも一方の端面について、抽出した輪郭線から端点候補を複数抽出する。そして、抽出された複数の端点候補から2点を選択して端点ペア候補を複数作成し、それら作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を選択する。端点ペア候補を構成する2つの端点候補の組合せが端面の両端である可能性を総合的に評価できるため、端点を1点ずつ評価する場合と比較して端面の端点を正確に特定することができる。   In this image processing apparatus, a contour line is extracted from the captured image of the spiral spring, and a plurality of end point candidates are extracted from the extracted contour line for at least one end face of the spiral spring. Then, two end point candidates are selected from the extracted plurality of end point candidates to create a plurality of end point pair candidates, and one end point pair candidate is selected from the created end point pair candidates. Since it is possible to comprehensively evaluate the possibility that the combination of the two end point candidates constituting the end point pair candidate is both ends of the end face, it is possible to accurately specify the end point of the end face as compared with the case where the end points are evaluated one by one. it can.

また、本明細書は、渦巻きばねの形状を計測するための画像処理方法を開示する。この画像処理方法は、コンピュータに、渦巻きばねを撮影した撮影画像を入力する画像入力処理と、入力された撮影画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出する輪郭線抽出処理と、抽出された輪郭線から渦巻きばねの少なくとも一方の端面の端点候補を複数抽出する端点候補抽出処理と、抽出された複数の端点候補から選択された2つの端点候補によって構成される端点ペア候補を複数作成する端点ペア候補作成処理と、作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を渦巻きばねの少なくとも一方の端面の2つの端点として選択する端点ペア選択処理を実行させる。この方法により、渦巻きばねの端面の端点を正確に特定することができる。   The present specification also discloses an image processing method for measuring the shape of the spiral spring. The image processing method includes: an image input process for inputting a captured image obtained by photographing a spiral spring to a computer; a contour line extraction process for extracting a contour line of the spiral spring from the input captured image; and an extracted contour line. End point candidate extraction processing for extracting a plurality of end point candidates for at least one end face of the spiral spring, and end point candidate generation for generating a plurality of end point pair candidates constituted by two end point candidates selected from the plurality of extracted end point candidates Processing and end point pair selection processing for selecting one end point pair candidate as two end points of at least one end face of the spiral spring from among the plurality of end point pair candidates created are executed. By this method, the end point of the end face of the spiral spring can be specified accurately.

本明細書はさらに、渦巻きばねの形状を計測するためのプログラムを開示する。このプログラムは、コンピュータに、渦巻きばねを撮影した撮影画像を入力する画像入力処理と、入力された撮影画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出する輪郭線抽出処理と、抽出された輪郭線から渦巻きばねの少なくとも一方の端面の端点候補を複数抽出する端点候補抽出処理と、抽出された複数の端点候補から選択された2つの端点候補によって構成される端点ペア候補を複数作成する端点ペア候補作成処理と、作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を渦巻きばねの少なくとも一方の端面の2つの端点として選択する端点ペア選択処理を実行させる。このプログラムにより、コンピュータを用いて、渦巻きばねの撮影画像から渦巻きばねの端面の端点を正確に特定することができる。   The present specification further discloses a program for measuring the shape of a spiral spring. The program includes an image input process for inputting a photographed image of a spiral spring to a computer, a contour extraction process for extracting a contour line of the spiral spring from the input photographed image, and a spiral spring from the extracted contour line. End point candidate extraction processing for extracting a plurality of end point candidates on at least one of the end faces, and end point pair candidate creation processing for generating a plurality of end point pair candidates constituted by two end point candidates selected from the plurality of extracted end point candidates; Then, an end point pair selection process is performed in which one end point pair candidate is selected as two end points of at least one end face of the spiral spring from among the created end point pair candidates. With this program, the end point of the end surface of the spiral spring can be accurately specified from the captured image of the spiral spring using a computer.

画像処理装置の構成を示す図。The figure which shows the structure of an image processing apparatus. 画像処理装置による画像処理の流れを示すフローチャート。6 is a flowchart showing a flow of image processing by the image processing apparatus. フック領域を特定する処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of the process which pinpoints a hook area | region. 端点を特定する処理の流れを示すフローチャート。The flowchart which shows the flow of the process which pinpoints an endpoint. 渦巻きばねの撮影画像を示す図。The figure which shows the picked-up image of a spiral spring. 渦巻きばねの撮影画像から抽出された輪郭線を示す図。The figure which shows the outline extracted from the picked-up image of a spiral spring. 輪郭線を極座標変換することで得られた角座標値列のグラフ。The graph of the angular coordinate value sequence obtained by carrying out polar coordinate conversion of the outline. 図7aのグラフの不連続点を接続することで得られる角座標値列のグラフ。The graph of the angular coordinate value sequence obtained by connecting the discontinuous point of the graph of FIG. 7a. 特定された内フック領域を拡大して示す図。The figure which expands and shows the specified inner hook area | region. 特定された外フック領域を拡大して示す図。The figure which expands and shows the specified outer hook area | region. 特定された外フック領域をトリミングする処理を説明するための図。The figure for demonstrating the process which trims the specified outer hook area | region. トリミングされた外フック領域を拡大して示す図。The figure which expands and shows the trimmed outer hook area | region. 外フック端点を特定する処理を説明するための図。The figure for demonstrating the process which specifies an outer hook end point. 直角度関数の一例を示す図。The figure which shows an example of a squareness function. 端点近傍における直角度関数を拡大して示す図。The figure which expands and shows the squareness function in the end point vicinity. 直角度関数を2つのガウス関数で近似して評価する方法を説明するための図。The figure for demonstrating the method of approximating a squareness function by two Gaussian functions, and evaluating. 直角度関数を2つのガウス関数で近似した一例を示す図。The figure which shows an example which approximated the squareness function by two Gaussian functions.

以下に説明する実施例の主要な特徴を列記しておく。なお、以下に記載する技術要素は、それぞれ独立した技術要素であって、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時請求項記載の組合せに限定されるものではない。   The main features of the embodiments described below are listed. The technical elements described below are independent technical elements and exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. Absent.

(特徴1) 本明細書に開示する画像処理装置では、端点ペア選択手段は、作成された端点ペア候補のそれぞれについて、当該端点ペア候補を構成する2つの端点候補の直角度と、これら端点候補を結ぶ輪郭線上の少なくとも一点の直角度を用いて、当該端点ペア候補を評価して1つの端点ペア候補を選択してもよい。渦巻きばねの端面においては、端点では直角度が大きくなり(すなわち、輪郭線の角度が直角に近い値となり)、端点の間の点では直角度が小さくなる(すなわち、輪郭線の角度が180°に近い値となる)。したがって、端点ペア候補の2点の直角度と、これら端点候補を結ぶ輪郭線上の点の直角度とを考慮することで、渦巻きばねの端点か否かを総合的に判定することができる。 (Characteristic 1) In the image processing apparatus disclosed in the present specification, the end point pair selection unit includes, for each of the created end point pair candidates, the perpendicularity of the two end point candidates constituting the end point pair candidate and the end point candidates. One end point pair candidate may be selected by evaluating the end point pair candidate using the squareness of at least one point on the contour line connecting the two. At the end face of the spiral spring, the squareness is large at the end points (that is, the contour angle is close to a right angle), and the squareness is small at the points between the end points (that is, the contour angle is 180 °). Close to the value). Therefore, it is possible to comprehensively determine whether or not the end point of the spiral spring is by considering the perpendicularity of the two points of the end point pair candidates and the perpendicularity of the points on the contour line connecting these end point candidates.

(特徴2) 本明細書に開示する画像処理装置では、端点ペア選択手段は、2つの端点候補の直角度と、これら端点候補を結ぶ輪郭線上の最も直角度が低い点の直角度を用いて、当該端点ペア候補を評価してもよい。このような構成によると、2つの端点候補の間の最も直角度が低い点の直角度を用いることで、2つの端点候補の間の平坦度を評価でき、渦巻きばねの端点か否かを好適に判定することができる。 (Characteristic 2) In the image processing apparatus disclosed in the present specification, the endpoint pair selection unit uses the perpendicularity of two candidate endpoints and the perpendicularity of the point having the lowest perpendicularity on the contour line connecting these endpoint candidates. The end point pair candidate may be evaluated. According to such a configuration, by using the perpendicularity of the point with the lowest perpendicularity between the two end point candidates, the flatness between the two end point candidates can be evaluated, and it is preferable whether or not the end point of the spiral spring. Can be determined.

(特徴3) 本明細書に開示する画像処理装置では、端点ペア選択手段は、さらに、2つの端点候補を結ぶ輪郭線上の各点の直角度が設定値以下となる端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を選択してもよい。このような構成によると、2つの端点候補の間に直角度の高い点がある端点候補ペアが除外され、間違った端点ペア候補が選択されることを防止することができる。 (Characteristic 3) In the image processing apparatus disclosed in the present specification, the end point pair selecting unit further selects one of the end point pair candidates in which the perpendicularity of each point on the contour line connecting the two end point candidates is equal to or less than the set value. One end point pair candidate may be selected. According to such a configuration, an end point candidate pair having a high perpendicularity point between two end point candidates is excluded, and an incorrect end point pair candidate can be prevented from being selected.

(特徴4) 本明細書に開示する画像処理装置では、端点ペア選択手段は、さらに、2つの端点候補の間の距離が設定範囲内となる端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を選択してもよい。このような構成によると、2つの端点候補の距離がばね鋼材の板厚からかけ離れている端点ペア候補が選択されることを防止することができる。 (Characteristic 4) In the image processing apparatus disclosed in the present specification, the end point pair selecting unit further selects one end point pair candidate from end point pair candidates whose distance between the two end point candidates is within the setting range. May be. According to such a configuration, it is possible to prevent selection of an end point pair candidate in which the distance between the two end point candidates is far from the plate thickness of the spring steel material.

図1に示すように、本実施例の画像処理装置10は、渦巻きばね30を撮影し、撮影した画像から渦巻きばね30の輪郭線を抽出し、抽出した輪郭線から端点(本実施例では、フック端点ともいう)を特定する装置である。画像処理装置10は、ステージ12と、ステージ12上に配置された照明器14と、ステージ12に固定されているCCDカメラ16と、CCDカメラ16に通信線18を介して接続されているコンピュータ22と、コンピュータ22に接続されているディスプレイ20を備えている。   As shown in FIG. 1, the image processing apparatus 10 according to the present exemplary embodiment captures the spiral spring 30, extracts a contour line of the spiral spring 30 from the captured image, and extracts end points (in this embodiment, It is a device that specifies a hook end point. The image processing apparatus 10 includes a stage 12, an illuminator 14 disposed on the stage 12, a CCD camera 16 fixed to the stage 12, and a computer 22 connected to the CCD camera 16 via a communication line 18. And a display 20 connected to the computer 22.

照明器14は、面光源であり、その発光面上に渦巻きばね30が載置される。CCDカメラ16は、照明器14上に配置されており、照明器14上に載置された渦巻きばね30を撮影する。即ち、渦巻きばね30は照明器14によって下方から照明され、照明器14の透過光(渦巻きばね30の影)がCCDカメラ16によって撮影される。なお、照明器14は、本実施例のような透過照明に限定されず、渦巻きばね30を上方から照明するものでもよい。この場合、渦巻きばね30が全周方向から均等に照明されるように、複数の照明器やリング型の照明器を用いることが好ましい。   The illuminator 14 is a surface light source, and a spiral spring 30 is placed on the light emitting surface thereof. The CCD camera 16 is disposed on the illuminator 14 and photographs the spiral spring 30 placed on the illuminator 14. That is, the spiral spring 30 is illuminated from below by the illuminator 14, and the transmitted light (shadow of the spiral spring 30) of the illuminator 14 is photographed by the CCD camera 16. The illuminator 14 is not limited to transmitted illumination as in the present embodiment, and may illuminate the spiral spring 30 from above. In this case, it is preferable to use a plurality of illuminators or ring-type illuminators so that the spiral spring 30 is illuminated uniformly from the entire circumferential direction.

CCDカメラ16が撮影した画像データは、通信線18を介してコンピュータ22に入力される。コンピュータ22には、後述する各種画像処理を実行するためのプログラムが記憶されている。コンピュータ22は、CCDカメラ16が撮影した撮影画像の画像データを処理し、渦巻きばね30の輪郭線画像を作成し、その輪郭線画像からフック端点を特定する。コンピュータ22は、渦巻きばね30の撮影画像、解析結果等を、ディスプレイ20に表示する。   Image data captured by the CCD camera 16 is input to the computer 22 via the communication line 18. The computer 22 stores a program for executing various image processing described later. The computer 22 processes the image data of the photographed image taken by the CCD camera 16, creates a contour image of the spiral spring 30, and specifies the hook end point from the contour image. The computer 22 displays the captured image of the spiral spring 30, the analysis result, etc. on the display 20.

図2は、画像処理装置10による渦巻きばね30の画像処理の流れを示すフローチャートである。図3は、図2のフローチャートに示すステップS18のフック領域の特定処理である。図4は、ステップS20のフック端点算出処理の流れを示すフローチャートである。画像処理装置10は、図2、図3、図4に示す工程、処理を経て、渦巻きばね30のフック端点を特定する。以下、図2、図3、図4に示すフローチャートに沿って、画像処理装置10による処理の流れを説明する。   FIG. 2 is a flowchart showing a flow of image processing of the spiral spring 30 by the image processing apparatus 10. FIG. 3 shows the hook area specifying process in step S18 shown in the flowchart of FIG. FIG. 4 is a flowchart showing a flow of hook end point calculation processing in step S20. The image processing apparatus 10 specifies the hook end point of the spiral spring 30 through the processes and processes shown in FIGS. 2, 3, and 4. Hereinafter, the flow of processing by the image processing apparatus 10 will be described with reference to the flowcharts shown in FIGS.

先ず、図2のステップS10において、CCDカメラ16により、渦巻きばね30の撮影を行う。CCDカメラ16により撮影された撮影画像は、コンピュータ22に入力される。入力される撮影画像は、例えば、最も黒い画素の濃度値を「255」とし、最も白い画素の濃度値を「0」とする256階調の画像とすることができる。図5に、渦巻きばね30の撮影画像を例示する。図5に示すように、渦巻きばね30は、内フック32から外フック34まで、渦巻状に伸びている。撮影画像は、画素(x,y)毎に濃度値を有する濃度値画像である。   First, in step S10 of FIG. 2, the spiral spring 30 is photographed by the CCD camera 16. The captured image captured by the CCD camera 16 is input to the computer 22. The input captured image can be, for example, a 256-gradation image in which the density value of the blackest pixel is “255” and the density value of the whitest pixel is “0”. FIG. 5 illustrates a captured image of the spiral spring 30. As shown in FIG. 5, the spiral spring 30 extends from the inner hook 32 to the outer hook 34 in a spiral shape. The photographed image is a density value image having a density value for each pixel (x, y).

次に、図2のステップS12では、ステップS10で撮影された撮影画像を二値化する。すなわち、入力された撮影画像の各画素(x,y)に対して、濃度値が予め設定された設定値以上となる場合は「1」とし、濃度値が予め設定された設定値未満となる場合は「0」とする。これによって、渦巻きばね30に対応する部分の画素群が濃度値「1」となり、それ以外の画素群が濃度値「0」となる。なお、CCDカメラ16により撮影された画像はノイズを含むため、二値化画像もノイズを含んでいる。このため、渦巻きばね30に対応しない部分の画素にも濃度値「1」となるものが存在する。なお、このステップS12から後述するS20までの処理は、コンピュータ22によって実行される。   Next, in step S12 of FIG. 2, the captured image captured in step S10 is binarized. That is, for each pixel (x, y) of the input captured image, when the density value is equal to or greater than a preset set value, “1” is set, and the density value is less than the preset set value. In this case, “0” is set. As a result, the pixel group corresponding to the spiral spring 30 has the density value “1”, and the other pixel groups have the density value “0”. In addition, since the image image | photographed with the CCD camera 16 contains noise, the binarized image also contains noise. For this reason, some pixels that do not correspond to the spiral spring 30 have a density value “1”. The processing from step S12 to S20 described later is executed by the computer 22.

次に、図2のステップS14では、ステップS12で得られた二値化画像を用いて、渦巻きばね30の重心(c,c)を算出する。具体的には、濃度値が「1」となる画素群(すなわち、渦巻きばね30に対応する部分の画素群)の座標値(x,y)から、その重心(c,c)を計算する。図5に示す例では、渦巻きばね30の略中央に重心(c,c)が位置している。 Next, in step S14 of FIG. 2, the center of gravity (c x , c y ) of the spiral spring 30 is calculated using the binarized image obtained in step S12. Specifically, the center of gravity (c x , c y ) is calculated from the coordinate values (x, y) of the pixel group having the density value “1” (that is, the pixel group corresponding to the spiral spring 30). To do. In the example shown in FIG. 5, the center of gravity (c x , c y ) is located approximately at the center of the spiral spring 30.

次に、図2のステップS16では、ステップS12で得られた二値化画像から輪郭線を抽出する。二値化画像から輪郭線を抽出する処理は、公知の方法(例えば、長谷川純一,輿水大和,中山晶,横井茂樹著,「画像処理の基本技法<技術入門編>」,技術評論社,p.70−73)を用いることができる。図6に、渦巻きばね30の二値化画像から抽出された輪郭線の一例が示されている。   Next, in step S16 in FIG. 2, a contour line is extracted from the binarized image obtained in step S12. The process of extracting the contour line from the binarized image is a known method (for example, Junichi Hasegawa, Yamato Usui, Akira Nakayama, Shige Yokoi, “Basic Techniques of Image Processing <Technical Introduction>”, Technical Review, p. .70-73) can be used. FIG. 6 shows an example of the contour line extracted from the binarized image of the spiral spring 30.

なお、本実施例では、ステップS16で抽出される輪郭線は、輪郭線要素番号i(i=0〜n)と、その輪郭線要素番号iに対応する画素の座標値(x,y)で表される。輪郭線要素番号iは、輪郭線上の画素に付与された番号であり、以下の規則に従って付与される。すなわち、輪郭線上に設定された1つの画素を原点として、その画素に輪郭線要素番号i=0を付与する。原点は、輪郭線上の任意の点に設定することができる。次いで、その原点と隣接する画素に輪郭線要素番号1を付与する。ここで、原点となる画素には、輪郭線上を時計回りに移動する方向に隣接する画素と、反時計回りに移動する方向に隣接する画素の2通りがある。本実施例では、原点と隣接する画素のうち、反時計回りに移動する方向に隣接する画素に輪郭線要素番号1を付与する。次いで、輪郭線要素番号1の画素に隣接する画素に輪郭線要素番号2を付与し、以下、同様の手順で輪郭線要素番号を付与する。これによって、輪郭線を構成する全ての画素に輪郭線要素番号が付与される。上述した説明から明らかなように、輪郭線要素番号iの画素から輪郭線要素番号nの画素まで順に移動すると、輪郭線上を一方向に一巡することとなる。なお、本明細書では、輪郭線要素番号0からnまでの座標値列(x,y),(x,y)・・(x,y)を輪郭線系列(x,y)(i=0〜n)という。 In this embodiment, the contour line extracted in step S16 is the contour line element number i (i = 0 to n) and the coordinate value (x i , y i) of the pixel corresponding to the contour line element number i. ). The contour line element number i is a number given to the pixels on the contour line, and is given according to the following rules. That is, with one pixel set on the contour as the origin, the contour element number i = 0 is assigned to that pixel. The origin can be set at any point on the contour line. Next, contour element number 1 is assigned to the pixel adjacent to the origin. Here, there are two types of pixels serving as the origin: a pixel adjacent in the clockwise direction on the contour line and a pixel adjacent in the counterclockwise direction. In this embodiment, among the pixels adjacent to the origin, the contour element number 1 is given to the pixel adjacent in the direction of moving counterclockwise. Next, the contour element number 2 is assigned to the pixel adjacent to the pixel of the contour element number 1, and the contour element number is assigned in the same procedure. As a result, a contour element number is assigned to all the pixels constituting the contour. As is apparent from the above description, when the pixel is sequentially moved from the pixel with the contour element number i to the pixel with the contour element number n, the contour line is circulated in one direction. In this specification, the coordinate value sequences (x 0 , y 0 ), (x 2 , y 2 ),... (X n , y n ) from the contour element numbers 0 to n are represented by the contour line series (x i , Y i ) (i = 0 to n).

次に、図2のステップS17では、ステップS16で得られた輪郭線系列(x,y)(i=0〜n)を極座標による輪郭線系列(r,θ)(i=0〜n)に変換する。すなわち、図6に示すように、XY座標系による輪郭線系列(x,y)を、ステップS14で算出された重心(c,c)を原点として、動径rと偏角θにより表す。図6に示すように、動径rは、原点(c,c)と輪郭線系列(x,y)の距離である。偏角θは、原点(c,c)と輪郭線系列(x,y)とを結んだ直線と、x軸とのなす角である。したがって、ステップS17によって、xy座標系の輪郭線系列(c,c)(i=0〜n)は、極座標系の輪郭線系列(r,θ)(i=0〜n)に変換される。ここで、極座標系の輪郭線系列(r,θ)から得られる角座標値列θ(i=0〜n)をグラフ化すると、図7aに示すグラフとなる。図7aに示すグラフでは、縦軸が偏角θであり、横軸が輪郭線要素番号iとなっている。図7aから明らかなように、角座標値列θは−180°〜+180°の範囲の数値を有し、−180°と+180°において不連続となっている。 Next, in step S17 of FIG. 2, the contour line series (x i , y i ) (i = 0 to n) obtained in step S16 is converted into a contour line series (r i , θ i ) (i = 0). To n). That is, as shown in FIG. 6, the contour series (x i , y i ) in the XY coordinate system is set with the center of gravity (c x , c y ) calculated in step S14 as the origin and the radius r i and the declination angle. It represents by (theta) i . As shown in FIG. 6, the moving radius r i is the distance between the origin (c x , c y ) and the contour line series (x i , y i ). The deflection angle θ i is an angle formed by a straight line connecting the origin (c x , c y ) and the contour line series (x i , y i ) and the x axis. Therefore, in step S17, the contour line series (c x , c y ) (i = 0 to n) in the xy coordinate system is changed to the contour line series (r i , θ i ) (i = 0 to n) in the polar coordinate system. Converted. Here, when the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) obtained from the contour line series (r i , θ i ) of the polar coordinate system is graphed, the graph shown in FIG. 7a is obtained. In the graph shown in FIG. 7A, the vertical axis is the deflection angle θ i , and the horizontal axis is the contour element number i. As is apparent from FIG. 7a, the angular coordinate value sequence θ i has a numerical value in the range of −180 ° to + 180 °, and is discontinuous at −180 ° and + 180 °.

次に、図2のステップS18では、ステップS17で極座標変換された輪郭線系列(r,θ)(i=0〜n)から、フック領域を特定する。この処理について、図3に示すフローチャ−トに沿って説明する。 Next, in step S18 of FIG. 2, a hook region is specified from the contour line series (r i , θ i ) (i = 0 to n) subjected to polar coordinate conversion in step S17. This process will be described along the flowchart shown in FIG.

先ず、図3のステップS34,S36では、図2のステップS17で作成した極座標系の輪郭線系列(r,θ)(i=0〜n)から、内フック領域と外フック領域を抽出する。本実施例では、輪郭線系列(r,θ)(i=0〜n)のうち、角座標値列θ(i=0〜n)の特性を利用して、内フック領域Aと外フック領域Bを特定する。 First, in step S34, S36 in FIG. 3, the contour line of the polar coordinate system created in step S17 in FIG. 2 (r i, θ i) from (i = 0 to n), extracting the inner hook area and an outer hook region To do. In this embodiment, the contour line (r i, θ i) of the (i = 0 to n), by utilizing the characteristics of the angular coordinate value sequence θ i (i = 0~n), an inner hook area A The outer hook area B is specified.

なお、図7aに示すグラフでは、角座標値列θ(i=0〜n)が−180°〜+180°の範囲とされ、角座標値列θには不連続点が存在する。ステップS34以降の処理は、図7aに示すグラフの不連続点をつなぎ合わせた角座標値列(図7b)を用いて行ってもよいし、不連続点を残した角座標値列(図7a)を用いて行ってもよい。 In the graph shown in FIG. 7A, the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) is in a range of −180 ° to + 180 °, and the angular coordinate value sequence θ i has discontinuous points. The processing after step S34 may be performed using an angular coordinate value sequence (FIG. 7b) obtained by connecting the discontinuous points of the graph shown in FIG. 7a, or an angular coordinate value sequence (FIG. 7a) in which the discontinuous points are left. ) May be used.

上述したことから明らかなように、輪郭線系列(r,θ)(i=0〜n)は、輪郭線上を原点から反時計回りに移動を開始し、輪郭線を一巡することで輪郭線要素番号が付与されている。このため、渦巻きばねを内側から見て右巻きにセットした場合では、原点から内フック端点(又は外フック端点)までは反時計回りに移動しながら輪郭線要素番号が付与され、内フック端点(又は外フック端点)から外フック端点(又は内フック端点)までは時計回りに移動しながら輪郭線要素番号が付与され、外フック端点(又は内フック端点)から原点までは反時計回りに移動しながら輪郭線要素番号が付与される。したがって、不連続点を接続したグラフ(図7b)では、原点から内フック端点(又は外フック端点)までは角座標値列θ(i=0〜n)は単調減少(又は単調増加)し、内フック端点(又は外フック端点)から外フック端点(又は内フック端点)までは角座標値列θ(i=0〜n)は単調増加(又は単調減少)し、外フック端点(又は内フック端点)から原点までは角座標値列θ(i=0〜n)は単調減少(又は単調増加)する。したがって、図7bに示すように、角座標値列θ(i=0〜n)の関数は、内フック端点の近傍で極小値をとり、外フック端点の近傍で極大値をとる。 As is clear from the above, the contour line series (r i , θ i ) (i = 0 to n) starts to move counterclockwise from the origin on the contour line, and then completes the contour line by making a round of the contour line. Line element numbers are assigned. For this reason, when the spiral spring is set clockwise when viewed from the inside, the contour element number is given while moving counterclockwise from the origin to the inner hook end point (or outer hook end point), and the inner hook end point ( Or, the contour element number is given while moving clockwise from the outer hook end point to the outer hook end point (or inner hook end point), and it moves counterclockwise from the outer hook end point (or inner hook end point) to the origin. The contour element number is assigned. Therefore, in the graph (FIG. 7b) in which discontinuous points are connected, the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) monotonously decreases (or monotonically increases) from the origin to the inner hook end point (or outer hook end point). From the inner hook end point (or outer hook end point) to the outer hook end point (or inner hook end point), the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) monotonously increases (or monotonously decreases), and the outer hook end point (or The angle coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) monotonously decreases (or monotonously increases) from the inner hook end point) to the origin. Therefore, as shown in FIG. 7b, the function of the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) takes a minimum value near the inner hook end point and takes a maximum value near the outer hook end point.

そこで、ステップS34では、角座標値列θ(i=0〜n)が極小値となる部分を含む領域Aを内フック領域として特定する。例えば、図7aに示すように、内フック領域Aとして、極小値に隣接して角座標値θa1が180°となる輪郭線要素番号a1から角座標値θa2が180°となる輪郭線要素番号a2までの領域を特定し、この領域(a1〜a2)内に極小値が含まれるようにする。図8には、特定された内フック領域Aの輪郭線系列が示されている。図8より明らかなように、特定された内フック領域Aに内フック端点が含まれている。 Therefore, in step S34, the area A including the portion where the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) is the minimum value is specified as the inner hook area. For example, as shown in FIG. 7a, as the inner hook region A, an outline element adjacent to the minimum value and having an angular coordinate value θa2 of 180 ° from an outline element number a1 having an angular coordinate value θa1 of 180 ° The region up to the number a2 is specified, and the minimum value is included in this region (a1 to a2). FIG. 8 shows a contour line series of the identified inner hook area A. As is clear from FIG. 8, the inner hook end point is included in the identified inner hook region A.

また、ステップS36では、角座標値列θ(i=0〜n)が極大値となる部分を含む領域Bを外フック領域として特定する。例えば、図7aに示すように、外フック領域Bとして、極大値に隣接して角座標値θb1が−180°となる輪郭線要素番号b1から角座標値θb2が−180°となる輪郭線要素番号b2までの領域を特定し、この領域(b1〜b2)内に極大値が含まれるようにする。図9には、特定された外フック領域Bの輪郭線系列が示されている。図9より明らかなように、特定された外フック領域Bに外フック端点が含まれている。 In step S36, the region B including the portion where the angular coordinate value sequence θ i (i = 0 to n) is the maximum value is specified as the outer hook region. For example, as shown in FIG. 7a, as the outer hook region B, a contour where the angular coordinate value θb2 is −180 ° from the contour line element number b1 where the angular coordinate value θb1 is −180 ° is adjacent to the maximum value. The region up to the line element number b2 is specified, and the maximum value is included in this region (b1 to b2). FIG. 9 shows a contour line series of the identified outer hook region B. As apparent from FIG. 9, the outer hook end point is included in the identified outer hook region B.

なお、図8と図9の比較から明らかなように、外フック領域Bは、内フック領域Aに比較して広い領域となっている。すなわち、特定した外フック領域B(r,θ)(k=b1〜b2)が広い場合には、図10に示すように、外フック領域Bのトリミングを行うことが好ましい。図10に示す例では、極大値imaxから角度α(例えば、40°)の角度範囲を新しい外フック領域B’(r,θ)(k=b1’〜b2’)として新たに切り出している。図11は、トリミング後の外フック領域B’を示している。図11より明らかなように、トリミング後の外フック領域B’は、トリミング前の外フック領域Bと比較して適切な大きさに修正されている。これによって、次に行われるフック端点の算出処理(図2のステップS20の処理)の計算量を少なくすることができる。 As is clear from the comparison between FIG. 8 and FIG. 9, the outer hook region B is wider than the inner hook region A. That is, when the specified outer hook region B (r k , θ k ) (k = b1 to b2) is wide, it is preferable to trim the outer hook region B as shown in FIG. In the example shown in FIG. 10, the angle range from the maximum value i max to the angle α (for example, 40 °) is newly cut out as a new outer hook region B ′ (r k , θ k ) (k = b1 ′ to b2 ′). ing. FIG. 11 shows the outer hook region B ′ after trimming. As is clear from FIG. 11, the outer hook area B ′ after trimming is corrected to an appropriate size as compared with the outer hook area B before trimming. Thereby, the calculation amount of the hook end point calculation process (the process of step S20 in FIG. 2) to be performed next can be reduced.

また、図7bに示すグラフでは、内フック領域Aで極小値をとり、外フック領域Bで極大値をとったが、渦巻きばねの巻き方向が逆となれば、当然、内フック領域で極大値をとり、外フック領域で極小値をとることとなる。なお、渦巻きばねの輪郭線抽出からフック領域の特定処理(S16〜S18)には、他の公知の技術を用いてもよい。例えば、特開2009−257950号公報に開示の技術を用いて、渦巻きばね画像より内フック画像と外フック画像を切り出し、切り出したフック画像に対して輪郭線抽出を行ってもよい。   Further, in the graph shown in FIG. 7b, the local hook takes the local minimum value in the inner hook region A and the local maximum in the outer hook region B. And take a local minimum in the outer hook area. It should be noted that other known techniques may be used for the hook region specification processing (S16 to S18) from extraction of the outline of the spiral spring. For example, using the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-257950, the inner hook image and the outer hook image may be cut out from the spiral spring image, and the contour line may be extracted from the cut hook image.

次に、図2のステップS20に戻ると、ステップS18で特定した内フック領域A(x,y)(k=a1〜a2)から内フック端点(xac,yac)を特定し、また、ステップS18で特定した外フック領域B(x,y)(k=b1’〜b2’)から外フック端点(xbc,ybc)を特定する。ここで、内フック領域Aから内フック端点を特定する処理と、外フック領域Bから外フック端点を特定する処理は、対象とする領域が異なるだけで同一の処理となる。このため、以下の説明では、内フック領域Aと外フック領域Bとを区別することなくフック領域とし、また、内フック端点と外フック端点とを区別することなくフック端点として説明する。 Next, when returning to step S20 in FIG. 2, the inner hook end point (x ac , y ac ) is identified from the inner hook area A (x k , y k ) (k = a1 to a2) identified in step S18, Further, the outer hook end point (x bc , y bc ) is identified from the outer hook region B (x k , y k ) (k = b1 ′ to b2 ′) identified in step S18. Here, the process of specifying the inner hook end point from the inner hook area A and the process of specifying the outer hook end point from the outer hook area B are the same process except for the target area. For this reason, in the following description, the inner hook area A and the outer hook area B will be described as hook areas without being distinguished, and the inner hook end points and outer hook end points will be described as hook ends without being distinguished.

図4は、フック領域からフック端点を特定する処理の流れを示すフローチャートである。まず、図4のステップS42では、特定したフック領域(x,y)によって表される輪郭線から端点候補を抽出する。すなわち、渦巻きばね30は、渦巻き状に加工したばね鋼材を切断して製造するため、その端面では、輪郭線が略90°に屈曲(直交)している。しかしながら、ばね鋼材を切断する時に発生するバリ等によって端面が平坦とはならないことがあり、また、製造時に粉塵等がばね鋼材の表面に付着していることもある。このため、フック領域の輪郭線には、端点以外でも屈曲する点(端点らしくみえる点)が存在する。そこで、ステップS42では、特定したフック領域(x,y)の輪郭線からフック端点候補(端点らしくみえる点)を抽出する。 FIG. 4 is a flowchart showing a flow of processing for identifying a hook end point from a hook area. First, in step S42 in FIG. 4, end point candidates are extracted from the contour line represented by the identified hook region (x k , y k ). That is, since the spiral spring 30 is manufactured by cutting a spring steel material processed into a spiral shape, the contour line is bent (orthogonal) at approximately 90 ° at the end face. However, the end surface may not be flat due to burrs or the like generated when the spring steel material is cut, and dust or the like may adhere to the surface of the spring steel material during manufacturing. For this reason, there is a point (a point that looks like an end point) that is bent other than the end point in the outline of the hook region. Therefore, in step S42, a hook end point candidate (a point that looks like an end point) is extracted from the contour line of the identified hook region (x k , y k ).

具体的な手順について、外フック領域B’(x,y)(k=b1’〜b2’)から端点候補を抽出する場合を例として説明する。図12に示すように、外フック領域B’(x,y)(k=b1’〜b2’)内には外フック端点が2つ存在し、これら2つの外フック端点では輪郭線が略直交している。したがって、まず、特定した輪郭線系列B’(x,y)(k=b1’〜b2’)内から、輪郭線が略直交する点を抽出する。この処理は、例えば、外フック領域B’を構成する各輪郭線系列B’(x,y)(k=b1’〜b2’)のそれぞれに対して、図12に示すようにベクトルp(k)とm(k)を設定し、これらのベクトルp(k)とm(k)が直交するか否かで抽出することができる。p(k)、m(k)は、例えば、次の式(1)で表すことができる。 A specific procedure will be described by taking as an example a case where endpoint candidates are extracted from the outer hook region B ′ (x k , y k ) (k = b1 ′ to b2 ′). As shown in FIG. 12, there are two outer hook end points in the outer hook region B ′ (x k , y k ) (k = b1 ′ to b2 ′), and a contour line is formed at these two outer hook end points. It is almost orthogonal. Therefore, first, the points where the contour lines are substantially orthogonal are extracted from the identified contour line series B ′ (x k , y k ) (k = b1 ′ to b2 ′). This processing is performed, for example, with respect to each of the contour line series B ′ (x k , y k ) (k = b1 ′ to b2 ′) constituting the outer hook region B ′ as shown in FIG. (K) and m (k) are set, and extraction can be performed based on whether these vectors p (k) and m (k) are orthogonal. p (k) and m (k) can be expressed by the following formula (1), for example.

Figure 2014145626
Figure 2014145626

上記の式(1)から明らかなように、m(k)は、輪郭線上の点(x,y)からN画素だけ前の輪郭線上の各点までの輪郭線系列(xk−N,yk−N),(xk−(N―1),yk−(N―1)),・・,(x,y)が向いている方向を平均したものである。また、p(k)は、輪郭線上の点(x,y)からN画素だけ後ろの輪郭線上の各点までの輪郭線列(x,y),(xk+1,yk+1),・・,(xk+N,yk+N)が向いている方向を平均したものである。なお、本実施例では、ベクトルm(k)、p(k)を算出するために0〜N画素の範囲を用いた。ここで、設定値Nは、ステップS10で撮影された画像内における、渦巻きばね30の素線の板厚に応じて設定することが好ましい。例えば、撮影された画像内において、渦巻きばね30の素線の板厚が約Z画素となる場合は、設定値NをZ/2とすることができる。このように、撮影された画像内において、渦巻きばね30の板厚が何画素分の長さに相当するかで、m(k)及びp(k)を算出する画素数を設定することが好ましい。 As is apparent from the above equation (1), m (k) is the contour line sequence (x k−N ) from the point (x k , y k ) on the contour line to each point on the contour line N pixels before. , Y k−N ), (x k− (N−1) , y k− (N−1) ),..., (X k , y k ) are averaged. Further, p (k) is a contour line sequence (x k , y k ), (x k + 1 , y k + 1 ) from the point (x k , y k ) on the contour line to each point on the contour line N pixels behind. ,..., (X k + N , y k + N ) are averaged. In this embodiment, a range of 0 to N pixels is used to calculate the vectors m (k) and p (k). Here, the set value N is preferably set according to the thickness of the strand of the spiral spring 30 in the image taken in step S10. For example, when the thickness of the wire of the spiral spring 30 is about Z pixels in the captured image, the set value N can be set to Z / 2. Thus, it is preferable to set the number of pixels for calculating m (k) and p (k) depending on how many pixels the plate thickness of the spiral spring 30 corresponds to in the captured image. .

上述したように、ベクトルm(k)とベクトルp(k)を算出すると、次に、ベクトルp(k)とベクトルm(k)が直交するか否かを判定する。ベクトルp(k)とベクトルm(k)が直交するか否かを判定するには、例えば、ベクトルp(k)とベクトルm(k)から算出されるcosθを用いることができる(下記の式(2)参照)。ここで、θは、ベクトルp(k)とベクトルm(k)のなす角度である。 As described above, when the vector m (k) and the vector p (k) are calculated, it is next determined whether or not the vector p (k) and the vector m (k) are orthogonal. In order to determine whether the vector p (k) and the vector m (k) are orthogonal to each other, for example, cos θ k calculated from the vector p (k) and the vector m (k) can be used (described below) (Refer Formula (2)). Here, θ k is an angle formed by the vector p (k) and the vector m (k).

Figure 2014145626
Figure 2014145626

ベクトルm(k)とベクトルp(k)が略直交すると、θ≒90°となり、cosθ≒0となる。したがって、cosθ≒0となる点を探索することで、輪郭線系列からフック端点候補を抽出することができる。ここで、cosθは、−1〜1の範囲の数値をとり、θが90°のときにcosθが最大又は最小となるわけではない。このため、本実施例では、θが90°のときに最大値又は最小値をとる関数を導入し、フック端点候補の抽出を容易化する。例えば、θが90°のときに最大値をとる関数としては、下記の式(3)の評価関数V(k)を導入することができ、また、θが90°のときに最小値をとる関数としては、下記の式(4)の評価関数V(k)を導入することができる。なお、図13は、式(3)の評価関数V(k)を示している。図13から明らかなように、評価関数V(k)は、フック端点において極大値をとっている。 When the vector m (k) and the vector p (k) are substantially orthogonal, θ k ≈90 ° and cos θ k ≈0. Therefore, by searching for a point where cos θ k ≈0, a hook end point candidate can be extracted from the contour line series. Here, cos [theta] k takes a value in the range of -1 to 1, theta k is not cos [theta] k is maximized or minimized when the 90 °. For this reason, in this embodiment, a function that takes the maximum value or the minimum value when θ k is 90 ° is introduced to facilitate the extraction of hook end point candidates. For example, as a function that takes a maximum value when θ k is 90 °, an evaluation function V (k) of the following equation (3) can be introduced, and a minimum value when θ k is 90 °: An evaluation function V (k) of the following equation (4) can be introduced as a function that takes FIG. 13 shows the evaluation function V (k) of Expression (3). As is clear from FIG. 13, the evaluation function V (k) has a maximum value at the hook end point.

Figure 2014145626
Figure 2014145626

Figure 2014145626
Figure 2014145626

上記の式(3)又は式(4)を用いることで、輪郭線上の点が端点候補か否か(すなわち、直角度が高いか否か)を評価することができる。したがって、上記の式(3)又は式(4)で算出される値が「直角度」の一例に相当する。   By using the above formula (3) or formula (4), it is possible to evaluate whether the point on the contour line is an end point candidate (that is, whether the perpendicularity is high). Therefore, the value calculated by the above formula (3) or formula (4) corresponds to an example of “squareness”.

なお、上記の式(3)を用いる場合、例えば、下記の条件(a),(b)を満足する点を、端点候補として抽出することができる。すなわち、(a)評価関数V(k)が極大値をとり(V(k−1)<V(k)>V(k+1))、(b)評価関数V(k)が閾値p以上(pは0〜1の間で適宜設定)を満足する点を抽出する。これによって、輪郭線を構成する点のうち直角度が高い点が端点候補(xp1,yp0),・・(xpm,ypm)として選択される。 In addition, when using said Formula (3), the point which satisfies the following conditions (a) and (b) can be extracted as an end point candidate, for example. That is, (a) the evaluation function V (k) takes a maximum value (V (k−1) <V (k)> V (k + 1)), and (b) the evaluation function V (k) is equal to or greater than the threshold value p (p Is set as appropriate between 0 and 1). As a result, the points having a high squareness among the points constituting the contour line are selected as the end point candidates (x p1 , y p0 ),... (X pm , y pm ).

一方、上記の式(4)を用いる場合、例えば、下記の条件(c),(d)を満足する点を、端点候補として抽出することができる。すなわち、(c)評価関数V(k)が極小値をとり(V(k−1)>V(k)<V(k+1))、(b)評価関数V(k)が閾値p以下(pは0〜1の間で適宜設定)を満足する点を抽出する。これによっても、輪郭線上の点のうち直角度が高い点が端点候補(xp0,yp0),・・(xpm,ypm)として選択される。 On the other hand, when the above equation (4) is used, for example, a point that satisfies the following conditions (c) and (d) can be extracted as an end point candidate. That is, (c) the evaluation function V (k) takes a minimum value (V (k−1)> V (k) <V (k + 1)), and (b) the evaluation function V (k) is equal to or less than the threshold value p (p Is set as appropriate between 0 and 1). Also by this, a point having a high squareness among the points on the contour line is selected as the end point candidate (x p0 , y p0 ),... (X pm , y pm ).

図4のステップS42で端点候補(xp1,yp0),・・(xpm,ypm)が抽出されると、それら端点候補の中から2点を選択して端点ペア候補を作成する(図4のステップS44)。すなわち、全ての端点候補(xp1,yp0),・・(xpm,ypm)から考え得る全ての組合せを、端点ペア候補として作成する。例えば、端点候補として、3つの点(xp0,yp0),(xp1,yp1),(xp2,yp2)が抽出された場合は、{(xp0,yp0),(xp1,yp1)}の端点ペア候補と、{(xp0,yp0),(xp2,yp2)}の端点ペア候補と、{(xp1,yp1),(xp2,yp2)}の端点ペア候補を作成する。 When the end point candidates (x p1 , y p0 ),... (X pm , y pm ) are extracted in step S 42 in FIG. 4, two end points are selected from these end point candidates to create end point pair candidates ( Step S44 in FIG. That is, all possible combinations from all the end point candidates (x p1 , y p0 ),... (X pm , y pm ) are created as end point pair candidates. For example, when three points (x p0 , y p0 ), (x p1 , y p1 ), (x p2 , y p2 ) are extracted as end point candidates, {(x p0 , y p0 ), (x p1 , y p1 )} end point pair candidates, {(x p0 , y p0 ), (x p2 , y p2 )} end point pair candidates, and {(x p1 , y p1 ), (x p2 , y p2 )} End point pair candidates are created.

ステップS46では、ステップS44で作成した複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を選択する。そして、ステップS48で、選択した端点ペア候補の2点の距離が設定値未満となるか否かを判断する。すなわち、端点ペア候補の2点の距離が、渦巻きばね30の板厚に比して大きすぎる場合、その端点ペア候補がフック端点である可能性は低い。このため、端点ペア候補の2点の距離を利用して、複数の端点ペア候補の中から正しい組合せのペアを絞り込む。なお、端点ペア候補の2点の距離を利用する絞込みは、端点ペア候補の2点の距離が設定された数値範囲内にあるか否かで判断してもよい(すなわち、上限値と下限値を設定してもよい)。   In step S46, one end point pair candidate is selected from the plurality of end point pair candidates created in step S44. Then, in step S48, it is determined whether or not the distance between the two selected endpoint pair candidates is less than the set value. That is, when the distance between the two end point pair candidates is too large compared to the plate thickness of the spiral spring 30, the possibility that the end point pair candidate is a hook end point is low. For this reason, a pair of correct combinations is narrowed down from a plurality of end point pair candidates using the distance between the two end point pair candidates. It should be noted that the narrowing down using the distance between the two endpoint pair candidates may be determined based on whether or not the distance between the two endpoint pair candidates is within the set numerical range (that is, the upper limit value and the lower limit value). May be set).

選択した端点ペア候補の2点の距離が設定値を超えると(ステップS48でNO)、ステップS50をスキップして、ステップS52に進む。したがって、正しい端点のペアではないと判断された端点ペア候補については、ステップS50の処理が行われない。一方、選択した端点ペア候補の2点の距離が設定値未満であると(ステップS48でYES)、端点ペア候補の評価値を算出する(ステップS50)。すなわち、ステップS46で選択された端点ペア候補が正しい端点の組合せであるか否かを評価する評価値を算出する。この評価値は、例えば、上述した直角度を表す評価関数V(k)を利用した端点ペア評価関数D(a,b)(a,bは端点候補)を用いて算出することができる。上記の式(3)に示す評価関数V(k)を用いる場合、例えば、下記の式(5)に示す評価関数D(a,b)を用いることができる。 When the distance between the two selected end point pair candidates exceeds the set value (NO in step S48), step S50 is skipped and the process proceeds to step S52. Therefore, the process of step S50 is not performed for the endpoint pair candidates that are determined not to be the correct endpoint pair. On the other hand, if the distance between the two selected end point pair candidates is less than the set value (YES in step S48), an end point pair candidate evaluation value is calculated (step S50). That is, an evaluation value for evaluating whether or not the end point pair candidate selected in step S46 is a correct end point combination is calculated. This evaluation value is calculated using, for example, the end point pair evaluation function D (a j , b j ) (a j and b j are end point candidates) using the above-described evaluation function V (k) representing the perpendicularity. Can do. When the evaluation function V (k) shown in the above equation (3) is used, for example, an evaluation function D (a j , b j ) shown in the following equation (5) can be used.

Figure 2014145626
Figure 2014145626

ここで、V(a)は、端点候補a(xaj,yaj)の直角度を表す評価値(以下、単に直角度評価値という)であり、V(b)は、端点候補b(xbj,ybj)の直角度評価値であり、V(kmin)は、端点候補aと端点候補bの間に位置する各点の直角度評価値のうち最小値となる値である。したがって、D(a,b)は、図14に示すように、端点候補aの直角度評価値V(a)から最小値V(kmin)を減算した値と、端点候補bの直角度評価値V(b)から最小値V(kmin)を減算した値との和となる。したがって、仮にバリや粉塵等によってできた端点候補の直角度が高くても、これらの端点候補a,bの間に位置する点は平面度が高くはならない(すなわち、直角度は低くはならない)。このため、上記の式(5)の端点ペア評価関数D(a,b)を用いることで、たまたま直角度が高い端点候補の組合せを、正しい端点の組合せとして選択することを防止することができる。 Here, V (a j ) is an evaluation value (hereinafter, simply referred to as a perpendicularity evaluation value) representing the perpendicularity of the end point candidate a j (x aj , y aj ), and V (b j ) is the end point candidate. b j (x bj , y bj ) is a squareness evaluation value, and V (k min ) is the minimum value of the squareness evaluation values of the points located between the end point candidate a j and the end point candidate b j. Is the value. Therefore, D (a j , b j ) is obtained by subtracting the minimum value V (k min ) from the perpendicularity evaluation value V (a j ) of the end point candidate a j and the end point candidate b as shown in FIG. It is the sum of the squareness evaluation value V (b j ) of j and the value obtained by subtracting the minimum value V (k min ). Therefore, even if the perpendicularity of the end point candidates formed by burrs, dust, etc. is high, the point located between these end point candidates a j and b j does not have high flatness (that is, the perpendicularity is low Must not). Therefore, by using the endpoint pair evaluation function D (a j , b j ) in the above formula (5), it is possible to prevent the selection of the endpoint candidate having a high squareness as the correct endpoint combination. Can do.

なお、上記の式(4)に示す評価関数V(k)を用いる場合、例えば、下記の式(6)に示す評価関数D(a,b)を用いることができる。 In the case of using the evaluation function V (k) shown in the above equation (4), for example, the evaluation function D (a j, b j) shown in the following equation (6) can be used.

Figure 2014145626
Figure 2014145626

上記の式(4)に示す評価関数V(k)では、最小値となるときに直角度が最も高い。このため、式(6)の評価関数D(a,b)では、最大値V(kmax)から端点候補aの直角度評価値V(a)を減算した値と、最大値V(kmax)から端点候補bの直角度評価値V(b)を減算した値との和を評価値として用いている。 In the evaluation function V (k) shown in the above equation (4), the perpendicularity is the highest when the minimum value is reached. Therefore, in the evaluation function D (a j , b j ) of Expression (6), a value obtained by subtracting the squareness evaluation value V (a j ) of the end point candidate a j from the maximum value V (k max ), and the maximum value The sum of the value obtained by subtracting the perpendicularity evaluation value V (b j ) of the end point candidate b j from V (k max ) is used as the evaluation value.

なお、端点ペア候補を評価する評価関数としては、上記のもの以外にも種々の態様を採ることができる。例えば、上記の式(3)に示す評価関数V(k)を用いる場合は、D(a,b)=(V(a)−V(kmin))+(V(b)−V(kmin))や、D(a,b)=|V(a)−V(kmin)|+|V(b)−V(kmin)|を用いてもよい。なお、上記の式(4)に示す評価関数V(k)を用いる場合も、上記と同様にアレンジすることができる。 In addition to the above, the evaluation function for evaluating the endpoint pair candidates can take various forms. For example, when the evaluation function V (k) shown in the above equation (3) is used, D (a j , b j ) = (V (a j ) −V (k min )) 2 + (V (b j ) −V (k min )) 2 and D (a j , b j ) = | V (a j ) −V (k min ) | + | V (b j ) −V (k min ) | Also good. In addition, also when using evaluation function V (k) shown in said Formula (4), it can arrange similarly to the above.

図4のステップS52では、ステップS44で作成した全ての端点ペア候補についてステップS46〜S50の処理を実行したか否かが判定される。そして、全ての端点ペア候補についてステップS46〜S50の処理を実行していない場合(ステップS52でNO)は、ステップS46に戻って、ステップS46からの処理を実行する。これによって、ステップS44で作成された全ての端点ペア候補のそれぞれについて、ステップS48の距離による判断と、評価関数(a,b)による数値が算出される。 In step S52 of FIG. 4, it is determined whether or not the processes of steps S46 to S50 have been executed for all the end point pair candidates created in step S44. If the processing of steps S46 to S50 has not been executed for all end point pair candidates (NO in step S52), the process returns to step S46 and the processing from step S46 is executed. Thereby, for each of all the end point pair candidates created in step S44, the determination based on the distance in step S48 and the numerical value based on the evaluation function (a j , b j ) are calculated.

一方、全ての端点ペア候補についてステップS46〜S50の処理を実行している場合(ステップS52でYES)は、ステップS50の評価関数(a,b)による数値が最大となった端点ペア候補が、渦巻きばね30の端点として選択される。これによって、渦巻きばね30の端点が特定され、その後の処理が実行される。その後の処理としては、例えば、撮影された画像から得られた輪郭線画像を細線化して、渦巻きばね30の芯線化画像を作成する処理等が挙げられる。この場合には、作成された渦巻きばね30の芯線化画像がディスプレイ20に表示される。また、本明細書に開示の端点抽出技術は、例えば、特開2009−257950号公報に開示された渦巻きばね検査装置に適用することもできる。本明細書に開示の技術によって抽出された端点情報を用いて、渦巻きばねの各部の寸法を算出することもできる。 On the other hand, when the process of steps S46 to S50 is executed for all the end point pair candidates (YES in step S52), the end point pair candidate whose numerical value by the evaluation function (a j , b j ) of step S50 is maximized. Is selected as the end point of the spiral spring 30. Thereby, the end point of the spiral spring 30 is specified, and the subsequent processing is executed. Examples of the subsequent process include a process of creating a core image of the spiral spring 30 by thinning a contour image obtained from a captured image. In this case, the created cored image of the spiral spring 30 is displayed on the display 20. Further, the end point extraction technique disclosed in the present specification can be applied to, for example, a spiral spring inspection apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-257950. The size of each part of the spiral spring can be calculated using the end point information extracted by the technique disclosed in this specification.

上述したように、本実施例の画像処理装置10では、撮影された画像から渦巻きばね30の輪郭線系列(x,y)(i=0〜n)を抽出し、その抽出した輪郭線系列から端点候補を抽出する。そして、抽出された端点候補から端点ペア候補を作成し、作成した端点ペア候補のそれぞれについて総合的に評価し、渦巻きばね30の端点を特定する。このため、渦巻きばね30の端面にバリが生じていたり、渦巻きばね30の表面に粉塵等が付着していたりしても、渦巻きばね30の端点(すなわち、端面)を適切に特定することができる。このため、渦巻きばね30の形状を正確に計測することができる。 As described above, in the image processing apparatus 10 according to the present embodiment, the contour line series (x i , y i ) (i = 0 to n) of the spiral spring 30 is extracted from the captured image, and the extracted contour line is extracted. Extract endpoint candidates from the sequence. Then, end point pair candidates are created from the extracted end point candidates, each of the created end point pair candidates is comprehensively evaluated, and the end points of the spiral spring 30 are specified. For this reason, even if burrs are generated on the end face of the spiral spring 30 or dust or the like adheres to the surface of the spiral spring 30, the end point (ie, end face) of the spiral spring 30 can be appropriately specified. . For this reason, the shape of the spiral spring 30 can be accurately measured.

以上、本発明の具体例を詳細に説明したが、これらは例示にすぎず、特許請求の範囲を限定するものではない。特許請求の範囲に記載の技術には、以上に例示した具体例を様々に変形、変更したものが含まれる。   Specific examples of the present invention have been described in detail above, but these are merely examples and do not limit the scope of the claims. The technology described in the claims includes various modifications and changes of the specific examples illustrated above.

例えば、上述した実施例では、直角度を評価する評価関数V(k)にθを変数とする三角関数を用いたが、本明細書に開示の技術は、このような例に限られない。例えば、図15に示すように、直角度を評価する評価関数V(k)をガウス関数で近似した評価関数を導入してもよい。すなわち、図16に示すように、上図に示される評価関数V(k)の2つのピークをガウス関数で近似し、それら2つのガウス関数の和を直角度を評価する評価関数としてもよい。なお、直角度を評価する評価関数が得られれば、それ以降の処理は、上述した実施例と同様に行うことができる。 For example, in the above-described embodiment, the trigonometric function having θ k as a variable is used as the evaluation function V (k) for evaluating the perpendicularity, but the technique disclosed in the present specification is not limited to such an example. . For example, as shown in FIG. 15, an evaluation function obtained by approximating an evaluation function V (k) for evaluating a squareness with a Gaussian function may be introduced. That is, as shown in FIG. 16, the two peaks of the evaluation function V (k) shown in the above figure may be approximated by a Gaussian function, and the sum of these two Gaussian functions may be used as an evaluation function for evaluating the squareness. If an evaluation function for evaluating perpendicularity is obtained, the subsequent processing can be performed in the same manner as in the above-described embodiment.

また、本明細書または図面に説明した技術要素は、単独であるいは各種の組合せによって技術的有用性を発揮するものであり、出願時の請求項記載の組合せに限定されるものではない。また、本明細書または図面に例示した技術は、複数目的を同時に達成するものであり、そのうちの一つの目的を達成すること自体で技術的有用性を持つものである。   In addition, the technical elements described in the present specification or the drawings exhibit technical usefulness alone or in various combinations, and are not limited to the combinations described in the claims at the time of filing. In addition, the technology exemplified in this specification or the drawings achieves a plurality of objects at the same time, and has technical utility by achieving one of the objects.

10:画像処理装置
12:ステージ
14:照明器
16:CCDカメラ
18:通信線
20:ディスプレイ
22:コンピュータ
30:渦巻きばね
10: Image processing device 12: Stage 14: Illuminator 16: CCD camera 18: Communication line 20: Display 22: Computer 30: Spiral spring

Claims (7)

渦巻状に成形された渦巻きばねの形状を計測する画像処理装置であり、
渦巻きばねを撮影した撮影画像を入力する画像入力手段と、
入力された撮影画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出する輪郭線抽出手段と、
抽出された輪郭線から渦巻きばねの少なくとも一方の端面の端点候補を複数抽出する端点候補抽出手段と、
抽出された複数の端点候補から選択された2つの端点候補によって構成される端点ペア候補を複数作成する端点ペア候補作成手段と、
作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を渦巻きばねの少なくとも一方の端面の2つの端点として選択する端点ペア選択手段と、
を有する画像処理装置。
An image processing device for measuring the shape of a spiral spring formed in a spiral shape,
An image input means for inputting a photographed image of the spiral spring;
An outline extraction means for extracting the outline of the spiral spring from the input photographed image;
End point candidate extracting means for extracting a plurality of end point candidates of at least one end face of the spiral spring from the extracted contour line;
End point pair candidate creating means for creating a plurality of end point pair candidates constituted by two end point candidates selected from the plurality of extracted end point candidates;
End point pair selecting means for selecting one end point pair candidate as two end points of at least one end face of the spiral spring from among the plurality of end point pair candidates created;
An image processing apparatus.
端点ペア選択手段は、作成された端点ペア候補のそれぞれについて、当該端点ペア候補を構成する2つの端点候補の直角度と、これら端点候補を結ぶ輪郭線上の少なくとも一点の直角度を用いて、当該端点ペア候補を評価して1つの端点ペア候補を選択する、請求項1に記載の画像処理装置。   For each of the created end point pair candidates, the end point pair selecting means uses the perpendicularity of the two end point candidates constituting the end point pair candidate and the perpendicularity of at least one point on the contour line connecting these end point candidates. The image processing apparatus according to claim 1, wherein the endpoint pair candidates are evaluated to select one endpoint pair candidate. 端点ペア選択手段は、2つの端点候補の直角度と、これら端点候補を結ぶ輪郭線上の最も直角度が低い点の直角度を用いて、当該端点ペア候補を評価する、請求項2に記載の画像処理装置。   The end point pair selection means evaluates the end point pair candidate using the perpendicularity of the two endpoint candidates and the perpendicularity of the point with the lowest perpendicularity on the contour line connecting these endpoint candidates. Image processing device. 端点ペア選択手段は、さらに、2つの端点候補を結ぶ輪郭線上の各点の直角度が設定値以下となる端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を選択する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の画像処理装置。   The end point pair selecting means further selects one end point pair candidate from among end point pair candidates in which the perpendicularity of each point on the contour line connecting the two end point candidates is equal to or less than a set value. An image processing apparatus according to claim 1. 端点ペア選択手段は、さらに、2つの端点候補の間の距離が設定範囲内となる端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を選択する、請求項1〜3のいずれか一項に記載の画像処理装置。   The end point pair selecting means further selects one end point pair candidate from end point pair candidates whose distance between the two end point candidates is within the setting range. Image processing device. 渦巻状に成形された渦巻きばねの形状を計測するための画像処理方法であり、コンピュータに下記の処理、即ち、
渦巻きばねを撮影した撮影画像を入力する画像入力処理と、
入力された撮影画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出する輪郭線抽出処理と、
抽出された輪郭線から渦巻きばねの少なくとも一方の端面の端点候補を複数抽出する端点候補抽出処理と、
抽出された複数の端点候補から選択された2つの端点候補によって構成される端点ペア候補を複数作成する端点ペア候補作成処理と、
作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を渦巻きばねの少なくとも一方の端面の2つの端点として選択する端点ペア選択処理と、
を実行させる画像処理方法。
An image processing method for measuring the shape of a spiral spring formed into a spiral shape.
Image input processing for inputting a captured image of the spiral spring;
An outline extraction process for extracting the outline of the spiral spring from the input photographed image;
An end point candidate extraction process for extracting a plurality of end point candidates of at least one end face of the spiral spring from the extracted contour line;
End point pair candidate creation processing for creating a plurality of end point pair candidates constituted by two end point candidates selected from a plurality of extracted end point candidates;
An end point pair selection process for selecting one end point pair candidate as two end points of at least one end face of the spiral spring from among the plurality of end point pair candidates created;
An image processing method for executing
渦巻状に成形された渦巻きばねの形状を計測するためのプログラムであり、コンピュータに下記の処理、即ち、
渦巻きばねを撮影した撮影画像を入力する画像入力処理と、
入力された撮影画像から渦巻きばねの輪郭線を抽出する輪郭線抽出処理と、
抽出された輪郭線から渦巻きばねの少なくとも一方の端面の端点候補を複数抽出する端点候補抽出処理と、
抽出された複数の端点候補から選択された2つの端点候補によって構成される端点ペア候補を複数作成する端点ペア候補作成処理と、
作成された複数の端点ペア候補の中から1つの端点ペア候補を渦巻きばねの少なくとも一方の端面の2つの端点として選択する端点ペア選択処理と、
を実行させるプログラム。
This is a program for measuring the shape of a spiral spring formed into a spiral shape.
Image input processing for inputting a captured image of the spiral spring;
An outline extraction process for extracting the outline of the spiral spring from the input photographed image;
An end point candidate extraction process for extracting a plurality of end point candidates of at least one end face of the spiral spring from the extracted contour line;
End point pair candidate creation processing for creating a plurality of end point pair candidates constituted by two end point candidates selected from a plurality of extracted end point candidates;
An end point pair selection process for selecting one end point pair candidate as two end points of at least one end face of the spiral spring from among the plurality of end point pair candidates created;
A program that executes
JP2013013630A 2013-01-28 2013-01-28 Image processing apparatus, method, and program for measuring shape of spiral spring Active JP6009364B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013013630A JP6009364B2 (en) 2013-01-28 2013-01-28 Image processing apparatus, method, and program for measuring shape of spiral spring

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013013630A JP6009364B2 (en) 2013-01-28 2013-01-28 Image processing apparatus, method, and program for measuring shape of spiral spring

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014145626A true JP2014145626A (en) 2014-08-14
JP6009364B2 JP6009364B2 (en) 2016-10-19

Family

ID=51425989

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013013630A Active JP6009364B2 (en) 2013-01-28 2013-01-28 Image processing apparatus, method, and program for measuring shape of spiral spring

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6009364B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017154682A1 (en) * 2016-03-11 2017-09-14 中央発條株式会社 Device, method, and program for measuring shape of spiral spring

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6280505A (en) * 1985-10-03 1987-04-14 Daido Steel Co Ltd Shape inspecting device for spiral spring
JPH06176147A (en) * 1992-12-10 1994-06-24 Kobe Steel Ltd Method and device for detecting end point of object
JPH1125279A (en) * 1997-07-02 1999-01-29 Roland D G Kk Method for detecting end point in converting line graphic into skeleton line
US20060203254A1 (en) * 2005-03-14 2006-09-14 Dtechxion Ltd. Measurements of an axisymmetric part including helical coil springs
JP2009257950A (en) * 2008-04-17 2009-11-05 Chuo Spring Co Ltd Device for measuring shape of spiral spring, method, and program
JP2013019845A (en) * 2011-07-13 2013-01-31 Chuo Spring Co Ltd Image processing device, method and program for calculating shape of spiral spring

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6280505A (en) * 1985-10-03 1987-04-14 Daido Steel Co Ltd Shape inspecting device for spiral spring
JPH06176147A (en) * 1992-12-10 1994-06-24 Kobe Steel Ltd Method and device for detecting end point of object
JPH1125279A (en) * 1997-07-02 1999-01-29 Roland D G Kk Method for detecting end point in converting line graphic into skeleton line
US20060203254A1 (en) * 2005-03-14 2006-09-14 Dtechxion Ltd. Measurements of an axisymmetric part including helical coil springs
JP2009257950A (en) * 2008-04-17 2009-11-05 Chuo Spring Co Ltd Device for measuring shape of spiral spring, method, and program
JP2013019845A (en) * 2011-07-13 2013-01-31 Chuo Spring Co Ltd Image processing device, method and program for calculating shape of spiral spring

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017154682A1 (en) * 2016-03-11 2017-09-14 中央発條株式会社 Device, method, and program for measuring shape of spiral spring
CN109196302A (en) * 2016-03-11 2019-01-11 中央发条株式会社 For measuring device, method and the program of the shape of scroll spring
US10809054B2 (en) 2016-03-11 2020-10-20 Chuo Hatsujo Kabushiki Kaisha Device, method, and program for measuring shape of spiral spring

Also Published As

Publication number Publication date
JP6009364B2 (en) 2016-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5953842B2 (en) Image inspection method and inspection area setting method
US8503757B2 (en) Image measurement device, method for image measurement, and computer readable medium storing a program for image measurement
TWI313748B (en) Board inspecting method and apparatus and inspection logic setting method and apparatus
US8780223B2 (en) Automatic determination of compliance of a part with a reference drawing
TWI748242B (en) Method and system for scanning wafer
JP6240782B2 (en) Wafer shape analysis method and apparatus
CN111156923A (en) Workpiece detection method, workpiece detection device, computer equipment and storage medium
JP2011238228A (en) Screen area detection method and system
JP2015194477A (en) Information processing device, information processing method, and program
CN110378227B (en) Method, device and equipment for correcting sample labeling data and storage medium
WO2017071406A1 (en) Method and system for detecting pin of gold needle element
JP2008047664A (en) Pattern inspecting apparatus and semiconductor inspecting system
JP7214432B2 (en) Image processing method, image processing program, recording medium, image processing apparatus, production system, article manufacturing method
JP2018036226A (en) Image processing program, image processing method, and image processing device
JP2019158628A (en) Inspection device, inspection method, and inspection program
KR20080056149A (en) A method and a system for creating a reference image using unknown quality patterns
WO2015115499A1 (en) Tool inspection method and tool inspection device
JP2009300230A (en) Device, method and program for performing alignment, and device, method, and program for making standard model
JP2013140468A (en) Pattern matching device, inspection system, and computer program
CN117058411B (en) Method, device, medium and equipment for identifying edge appearance flaws of battery
JP6009364B2 (en) Image processing apparatus, method, and program for measuring shape of spiral spring
JP2017161485A (en) Device, method and program to measure shape of spiral spring
JP4415285B1 (en) Wire inspection apparatus, wire inspection method, and wire inspection program
US10317203B2 (en) Dimension measuring apparatus and computer readable medium
JP5802459B2 (en) Image processing apparatus, method, and program for calculating shape of spiral spring

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20151111

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20160830

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20160831

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20160914

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6009364

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150