JP2014138154A - Multilayer substrate for template, template blank, template for nanoimprint, and method of regenerating template substrate, and method of manufacturing multilayer substrate for template - Google Patents

Multilayer substrate for template, template blank, template for nanoimprint, and method of regenerating template substrate, and method of manufacturing multilayer substrate for template Download PDF

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayer substrate for template which allows for easy regeneration of a template substrate without requiring an advanced polishing technique, while suppressing increase in the manufacturing cost of a template for nanoimprint, and to provide a template blank, a template for nanoimprint, and a method of regenerating a template substrate, and a method of manufacturing a multilayer substrate for template.SOLUTION: On a template substrate, an intermediate layer and a transfer patterning layer composed of a predetermined material are laminated, and a transfer pattern is formed on the transfer patterning layer. When regenerating the template substrate, the transfer patterning layer is removed by a predetermined etching method.

Description

本発明は、ナノインプリントリソグラフィの技術分野に関するものであり、特にテンプレート用積層基板、テンプレートブランク、ナノインプリント用テンプレート、および、テンプレート基板の再生方法、並びに、テンプレート用積層基板の製造方法に関するものである。   The present invention relates to the technical field of nanoimprint lithography, and particularly to a template laminated substrate, a template blank, a nanoimprint template, a method for regenerating a template substrate, and a method for producing a template laminated substrate.

近年、半導体リソグラフィにおいては、デバイスの微細化の要求に対して、露光波長の問題や製造コストの問題などからフォトリソグラフィ方式の限界が指摘されており、その対案として、ナノインプリントリソグラフィ(NIL:Nanoimprint Lithography)が注目を集めている。   In recent years, in semiconductor lithography, the limit of the photolithography method has been pointed out due to the problem of exposure wavelength and the problem of manufacturing cost in response to the demand for device miniaturization. ) Is attracting attention.

ナノインプリントリソグラフィは、表面に微細な凹凸形状の転写パターンを形成したテンプレート(モールド、スタンパ、金型とも呼ばれる)を、半導体ウェハなどの被転写基板の上に形成された樹脂に接触させ、この樹脂の表面側の形状を、テンプレートの転写パターンの凹凸形状に成型した後に離型し、次いで、ドライエッチング等により余分な樹脂部分(残膜部分)を除去することで、被転写基板の上の樹脂にテンプレートの転写パターンの凹凸形状(より詳しくは、凹凸反転形状)を転写させる技術である。
このナノインプリントリソグラフィは、一度テンプレートを作製すれば、微細な凹凸形状を繰り返して転写成型でき、この転写工程には高額な露光装置(ステッパー)を用いないため、経済的にも有利である。
In nanoimprint lithography, a template (also referred to as a mold, stamper, or mold) on which a fine uneven transfer pattern is formed is brought into contact with a resin formed on a substrate to be transferred such as a semiconductor wafer. The surface side shape is molded into a concavo-convex shape of the template transfer pattern, then released, and then the excess resin portion (residual film portion) is removed by dry etching or the like, so that the resin on the substrate to be transferred is removed. This is a technique for transferring an uneven shape (more specifically, an uneven reverse shape) of a template transfer pattern.
This nanoimprint lithography is economically advantageous because once a template is produced, a minute uneven shape can be repeatedly transferred and molded, and an expensive exposure apparatus (stepper) is not used in this transfer process.

このナノインプリントリソグラフィに用いる樹脂成型方法には、熱可塑性樹脂を用いて、まず、この樹脂をガラス転移温度以上に加熱して変形可能とし、この状態でテンプレートの転写パターンの凹凸形状に成型し、その後、ガラス転移温度以下に冷却することでテンプレートの転写パターンの凹凸形状を樹脂に転写する熱インプリント法や(例えば、特許文献1)、紫外線硬化性樹脂を用いて、硬化前の変形可能な樹脂をテンプレートの転写パターンの凹凸形状に成型し、その後、紫外線を照射して樹脂を硬化させて、テンプレートの転写パターンの凹凸形状を樹脂に転写する光インプリント法などが提案されている(例えば、特許文献2)。   In the resin molding method used in this nanoimprint lithography, a thermoplastic resin is used. First, the resin is heated to a temperature higher than the glass transition temperature so that it can be deformed. The resin can be deformed before being cured using a thermal imprint method in which the uneven shape of the template transfer pattern is transferred to the resin by cooling to a glass transition temperature or lower (for example, Patent Document 1), or an ultraviolet curable resin. Is formed into a concavo-convex shape of the template transfer pattern, and then the resin is cured by irradiating ultraviolet rays, and a photo-imprint method or the like that transfers the concavo-convex shape of the template transfer pattern to the resin has been proposed (for example, Patent Document 2).

上記のように、光インプリント法は、熱インプリント法のような加熱と冷却の工程が不要であり、室温でパターン転写できる。また、テンプレートや被転写基板が、熱によって寸法変化を生じてしまうリスクを低減できる。
それゆえ、一般的には、熱インプリント法よりも光インプリント法の方が、生産性、解像性、アライメント精度などの点で優れている。
As described above, the optical imprint method does not require heating and cooling steps like the thermal imprint method, and the pattern can be transferred at room temperature. Further, it is possible to reduce a risk that the template and the substrate to be transferred undergo a dimensional change due to heat.
Therefore, in general, the optical imprint method is superior to the thermal imprint method in terms of productivity, resolution, alignment accuracy, and the like.

上記のようなテンプレート(適宜、ナノインプリント用テンプレートと呼ぶ)の製造方法としては、例えば、平板状の光透過性基材(合成石英ガラス基板等)をテンプレート基板に用い、その上にクロム(Cr)等のハードマスク層を形成し、その上に形成したレジストパターンをエッチングマスクに用いてハードマスク層をエッチング加工し、次いで、加工したハードマスク層(ハードマスクパターン)をエッチングマスクに用いてテンプレート基板をエッチング加工して、上記の転写パターンを形成する方法がある。
なお、本願においては、上記のテンプレート基板の上にクロム(Cr)等のハードマスク層を形成した形態を、テンプレートブランクと呼ぶ。
As a method for producing the above template (referred to as a template for nanoimprinting as appropriate), for example, a flat light-transmitting substrate (such as a synthetic quartz glass substrate) is used as a template substrate, and chromium (Cr) is formed thereon. A hard mask layer is formed, and the hard mask layer is etched using the resist pattern formed thereon as an etching mask, and then the processed hard mask layer (hard mask pattern) is used as an etching mask to form a template substrate. There is a method of forming the above transfer pattern by etching.
In the present application, a form in which a hard mask layer such as chromium (Cr) is formed on the template substrate is referred to as a template blank.

また、テンプレート基板としては、平板状の光透過性基材の一方の面に、転写パターンが形成される領域(転写領域)を上面とするメサ状の段差構造を有する形態であっても良い。このような形態であれば、インプリント工程において、テンプレートの転写領域以外の部分が、被転写基板や樹脂と接触することを抑制できるからである。   In addition, the template substrate may have a mesa-like stepped structure with an area (transfer area) where a transfer pattern is formed on the one surface of a flat light-transmitting substrate. This is because in such an embodiment, it is possible to suppress contact of the portion other than the template transfer region with the substrate to be transferred and the resin in the imprint process.

さらに、テンプレート基板としては、転写領域の裏面側に凹部を有する形態であっても良い。
ナノインプリントリソグラフィにおいては、転写パターンの数が増すにつれ、テンプレートと樹脂との密着面積が増加するため、離型に際しては、両者間の摩擦力に対抗する力が必要になる。特に、半導体用途の転写パターンは、そのサイズが小さく、パターン密度が高いことから、離型には大きな力が必要になる。
そこで、テンプレートの裏面側(転写パターンが形成される面とは反対側)に凹部を形成することによって、転写領域のテンプレートの厚さを薄くして湾曲容易とし、離型に際しては、テンプレートの転写領域を被転写基板側に向かって凸状に湾曲させて、転写領域の外縁部から、順次、部分的に離型していく手法が提案されている(例えば、特許文献3)。
また、上記のように湾曲容易な形態であれば、テンプレートを樹脂に接触させる際にも、テンプレートの転写領域を被転写基板側に向かって凸状に湾曲させて、転写領域の中央部を接触させてから、順次、外縁部を接触させていくことで、テンプレートと樹脂の間に気泡が残留することを抑制することができる。
Further, the template substrate may have a concave portion on the back surface side of the transfer region.
In nanoimprint lithography, as the number of transfer patterns increases, the contact area between the template and the resin increases. Therefore, a force that counteracts the frictional force between the two is required for mold release. In particular, a transfer pattern for semiconductor use has a small size and a high pattern density, and thus a large force is required for release.
Therefore, by forming a recess on the back side of the template (on the side opposite to the surface on which the transfer pattern is formed), the template in the transfer area is made thin and easy to be bent. A method has been proposed in which a region is curved in a convex shape toward the substrate to be transferred, and then partially released from the outer edge of the transfer region in order (for example, Patent Document 3).
In addition, if the shape is easy to be bent as described above, even when the template is brought into contact with the resin, the transfer area of the template is curved in a convex shape toward the substrate to be transferred, and the central portion of the transfer area is contacted. It is possible to prevent bubbles from remaining between the template and the resin by sequentially bringing the outer edge portions into contact with each other.

図9は、上述のように裏面に凹部が形成された形態の従来のテンプレート基板の一例を示す説明図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)におけるB−B断面図である。また、図10は、図9に示すテンプレート基板にハードマスク層を形成した形態の従来のテンプレートブランクの一例を示す概略断面図であり、図11は、図9に示すテンプレート基板を用いて製造された従来のナノインプリント用テンプレートの一例を示す概略断面図である。
また、図12は、図9に示す形態のテンプレート基板の製造方法の一例を示す概略工程図であり、図13は、図10に示す形態のテンプレートブランクの製造方法の一例を示す概略工程図であり、図14は、図11に示す形態のナノインプリント用テンプレートの製造方法の一例を示す概略工程図である。
FIG. 9 is an explanatory view showing an example of a conventional template substrate having a recess formed on the back surface as described above, wherein (a) is a schematic plan view, and (b) is a BB cross section in (a). FIG. FIG. 10 is a schematic sectional view showing an example of a conventional template blank in which a hard mask layer is formed on the template substrate shown in FIG. 9, and FIG. 11 is manufactured using the template substrate shown in FIG. It is a schematic sectional drawing which shows an example of the conventional template for nanoimprint.
12 is a schematic process diagram showing an example of a method for manufacturing a template substrate having the form shown in FIG. 9, and FIG. 13 is a schematic process diagram showing an example of a method for manufacturing a template blank having the form shown in FIG. FIG. 14 is a schematic process diagram showing an example of a method for manufacturing the nanoimprint template having the form shown in FIG. 11.

図9に示すテンプレート基板101においては、一方の面(図9(b)に示すZ方向側の面)にメサ状の段差構造122が形成されており、他方の面に、平面視において、メサ状の段差構造122と重なり、かつ、メサ状の段差構造122よりも広い面積を有する凹部121が形成されている。
また、図10に示すテンプレートブランク102においては、テンプレート基板101のメサ状の段差構造122を有する面の上にハードマスク層114が形成されており、図11に示すナノインプリント用テンプレート103においては、テンプレート基板101の転写領域123に凹凸形状の転写パターン131が形成されている。
In the template substrate 101 shown in FIG. 9, a mesa-like step structure 122 is formed on one surface (the surface on the Z direction side shown in FIG. 9B), and the mesa in the plan view is formed on the other surface. A recess 121 is formed that overlaps with the step-shaped step structure 122 and has a larger area than the mesa-shaped step structure 122.
Further, in the template blank 102 shown in FIG. 10, a hard mask layer 114 is formed on the surface of the template substrate 101 having the mesa-shaped step structure 122. In the nanoimprint template 103 shown in FIG. An uneven transfer pattern 131 is formed in the transfer region 123 of the substrate 101.

上述の図9に示す形態のテンプレート基板101を製造するには、例えば図12に示すように、まず、平板状の光透過性基材101Aを準備し(図12(a))、その一方の面(図12に示すZ方向側の面)の上に、保護層151およびレジスト層152を順次形成する(図12(b))。
次に、レジスト層152を露光、現像して露出する保護層151をエッチングすることにより、転写領域123となる領域を覆う形態のレジストパターン152Pおよび保護パターン151Pを形成する(図12(c))。
次いで、レジストパターン152Pおよび保護パターン151Pをエッチングマスクに用いて光透過性基材101Aをウェットエッチングして、メサ状の段差構造122を有する光透過性基材101Bを形成する(図12(d))。
In order to manufacture the template substrate 101 having the configuration shown in FIG. 9 described above, for example, as shown in FIG. 12, first, a plate-shaped light-transmitting substrate 101A is prepared (FIG. 12A), and one of the substrates is prepared. A protective layer 151 and a resist layer 152 are sequentially formed on the surface (the surface in the Z direction shown in FIG. 12) (FIG. 12B).
Next, the resist layer 152 is exposed and developed to etch the protective layer 151 exposed to form a resist pattern 152P and a protective pattern 151P that cover the region to be the transfer region 123 (FIG. 12C). .
Next, the light transmissive substrate 101A is wet-etched using the resist pattern 152P and the protective pattern 151P as an etching mask to form a light transmissive substrate 101B having a mesa-shaped step structure 122 (FIG. 12D). ).

ここで、保護パターン151Pは、光透過性基材101Aをウェットエッチングする工程において、エッチング液がレジストパターン152Pで覆う転写領域123に浸入することを防ぐ目的で形成されるものであり、その材料としては、例えばクロム(Cr)等の金属を用いることができる。   Here, the protective pattern 151P is formed for the purpose of preventing the etchant from entering the transfer region 123 covered with the resist pattern 152P in the step of wet-etching the light-transmitting substrate 101A. For example, a metal such as chromium (Cr) can be used.

上記のようにしてメサ状の段差構造122を形成した後、光透過性基材101Bの裏面(前記メサ状の段差構造122を形成した面とは反対側の面)に、機械的研削等の方法を用いて凹部121を形成し(図12(e))、その後、レジストパターン152Pおよび保護パターン151Pを除去してテンプレート基板101を得る(図12(f))。   After the mesa-shaped step structure 122 is formed as described above, mechanical grinding or the like is performed on the back surface of the light transmissive substrate 101B (the surface opposite to the surface on which the mesa-shaped step structure 122 is formed). The recess 121 is formed by using the method (FIG. 12E), and then the resist pattern 152P and the protective pattern 151P are removed to obtain the template substrate 101 (FIG. 12F).

なお、上述の図10に示す形態のテンプレートブランク102を製造するには、例えば、図13に示すように、まず、上述のようにして製造したテンプレート基板101を準備し(図13(a))、メサ状の段差構造122を有する面の上に、スパッタ等の真空成膜法を用いて、例えばクロム(Cr)等の金属から構成されるハードマスク層114を形成すれば良い(図13(b))。   In order to manufacture the template blank 102 having the configuration shown in FIG. 10, for example, as shown in FIG. 13, first, the template substrate 101 manufactured as described above is prepared (FIG. 13A). Then, a hard mask layer 114 made of a metal such as chromium (Cr) may be formed on the surface having the mesa-shaped step structure 122 by using a vacuum film formation method such as sputtering (FIG. 13 ( b)).

また、上述の図11に示す形態のナノインプリント用テンプレート103を製造するには、例えば、図14に示すように、まず、上述のようにして製造したテンプレートブランク102を準備し(図14(a))、例えば、上述の光インプリント法等を用いてハードマスク層114の上に樹脂パターン115Pを形成する(図14(b))。
次に、樹脂パターン115Pをエッチングマスクに用いてハードマスク層114をエッチングし(図14(c))、次いで樹脂パターン115Pを除去して、ハードマスクパターン114Pを形成する(図14(d))。
次に、ハードマスクパターン114Pをエッチングマスクに用いてテンプレート基板101をエッチングし(図14(e))、次いでハードマスクパターン114Pを除去して、転写領域123に凹凸形状の転写パターン131を有するナノインプリント用テンプレート103を得る(図14(f))。
In order to manufacture the nanoimprint template 103 having the form shown in FIG. 11, the template blank 102 manufactured as described above is first prepared as shown in FIG. 14, for example (FIG. 14A). For example, the resin pattern 115P is formed on the hard mask layer 114 by using the above-described optical imprint method or the like (FIG. 14B).
Next, the hard mask layer 114 is etched using the resin pattern 115P as an etching mask (FIG. 14C), and then the resin pattern 115P is removed to form a hard mask pattern 114P (FIG. 14D). .
Next, the template substrate 101 is etched using the hard mask pattern 114P as an etching mask (FIG. 14E), and then the hard mask pattern 114P is removed, and the nanoimprint having the uneven transfer pattern 131 in the transfer region 123. A template 103 is obtained (FIG. 14 (f)).

特表2004−504718号公報JP-T-2004-504718 特開2002−93748号公報JP 2002-93748 A 特表2009−536591号公報Special table 2009-536591 特開2005−303074号公報JP 2005-303074 A

ここで、テンプレート基板には、フォトマスクに用いられる基板と同様に、主に、合成石英ガラスを材料とする基板が用いられているが、ナノインプリント用テンプレートとして用いるために、このテンプレート基板には、フォトマスクに用いる場合よりも高い表面平坦性や表面平滑性等の厳しい品質が求められるため、通常、テンプレート基板は高価なものになる。さらに、上述のように、メサ状の段差構造や凹部を形成する場合は、その製造コストがかかるため、より高価なものになる。   Here, a substrate made of synthetic quartz glass is mainly used as a template substrate, as in the case of a substrate used for a photomask. Since strict quality such as higher surface flatness and surface smoothness is required than when used for a photomask, the template substrate is usually expensive. Furthermore, as described above, when a mesa-shaped step structure or a recess is formed, the manufacturing cost is increased, and therefore, it becomes more expensive.

一方、ナノインプリント用テンプレートに形成される凹凸形状の転写パターンは、一般に、従来のフォトマスクに形成されていたマスクパターンよりも1/4以下のサイズ(幅寸法)が求められ、さらに深さ方向の加工精度も要求されることから、ナノインプリント用テンプレートの製造においては、従来のフォトマスクの製造に比べて、転写パターンの形状不良や欠陥を生じやすい。   On the other hand, the concavo-convex shaped transfer pattern formed on the nanoimprint template generally requires a size (width dimension) of 1/4 or less than the mask pattern formed on the conventional photomask, and further in the depth direction. Since processing accuracy is also required, in the manufacture of nanoimprint templates, transfer pattern shapes and defects are more likely to occur than in conventional photomask manufacturing.

それゆえ、製造コストの抑制を図る目的から、このような不良となったナノインプリント用テンプレートからテンプレート基板を再生することが求められている。
そして、ナノインプリント用テンプレートからテンプレート基板を再生するためには、少なくとも、凹凸形状の転写パターンを除去し、転写領域の表面平坦性や表面平滑性を、再生前のテンプレート基板が有していたレベルと同等にする必要がある。
Therefore, for the purpose of reducing the manufacturing cost, it is required to regenerate the template substrate from such a defective nanoimprint template.
And in order to regenerate the template substrate from the template for nanoimprint, at least the uneven pattern transfer pattern is removed, and the surface flatness and surface smoothness of the transfer region are the levels that the template substrate before reproduction had had. Must be equivalent.

ここで、上述のような従来の構成のナノインプリント用テンプレートからテンプレート基板を再生する方法としては、例えば、転写領域の全域に粗研磨またはエッチングを施すことによって転写パターンを除去し、その後、転写領域に精密研磨を施すことで、テンプレート基板を再生する方法が考えられる。   Here, as a method of regenerating the template substrate from the nanoimprint template having the conventional configuration as described above, for example, the transfer pattern is removed by performing rough polishing or etching on the entire transfer region, and then transferred to the transfer region. A method of regenerating the template substrate by performing precision polishing is conceivable.

しかしながら、上記のような方法では、テンプレート基板が当初有していた高い表面平坦性や表面平滑性は一旦失われてしまい、改めて複数の工程の精密研磨を施すことになるため、再生前のテンプレート基板と同等の表面平坦性や表面平滑性を得るためには、結局、複数の工程からなる高度な研磨技術が必要となり、コストが高くなることから、製造コストを抑制するという効果を十分に得られることにはならない。
さらに、テンプレート基板がメサ状の段差構造や凹部を有する形態の場合は、上記のような方法で再生することは、技術的により困難性が増すため、その再生にはよりコストがかかることになる。
However, in the method as described above, the high surface flatness and surface smoothness originally possessed by the template substrate are once lost, and precise polishing in a plurality of steps is performed again. In order to obtain surface flatness and surface smoothness equivalent to those of a substrate, a high level polishing technology consisting of multiple processes is required in the end, and the cost increases, so that the effect of suppressing the manufacturing cost can be sufficiently obtained. It will not be done.
Furthermore, when the template substrate has a mesa-shaped step structure or a concave portion, it is technically more difficult to reproduce by the above method, so that the reproduction is more costly. .

本発明は、上記実情に鑑みてなされたものであり、高度な研磨技術を要せずに、容易にテンプレート基板を再生することができ、ナノインプリント用テンプレートの製造コストの増大化を抑制することができるテンプレート用積層基板、テンプレートブランク、ナノインプリント用テンプレート、および、テンプレート基板の再生方法、並びに、テンプレート用積層基板の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and can easily regenerate a template substrate without requiring an advanced polishing technique, and suppress an increase in manufacturing cost of a nanoimprint template. It is an object of the present invention to provide a template laminated substrate, a template blank, a nanoimprint template, a template substrate recycling method, and a template laminated substrate manufacturing method.

本発明者は種々研究した結果、テンプレート基板の上に、所定の材料から構成される中間層と転写パターン形成層を積層し、この転写パターン形成層に転写パターンを形成し、テンプレート基板を再生する際には、所定のエッチング方法により、上記の転写パターン形成層を除去することで、上記課題を解決できることを見出して本発明を完成したものである。   As a result of various studies, the inventor laminated an intermediate layer made of a predetermined material and a transfer pattern forming layer on a template substrate, formed a transfer pattern on the transfer pattern forming layer, and regenerated the template substrate. In this case, the present invention has been completed by finding that the above-mentioned problem can be solved by removing the transfer pattern forming layer by a predetermined etching method.

すなわち、本発明の請求項1に係る発明は、ナノインプリント用テンプレートに用いられるテンプレート用積層基板であって、テンプレート基板と、前記テンプレート基板の上に形成された中間層と、前記中間層の上に形成された転写パターン形成層と、を有し、前記テンプレート基板が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、前記中間層が、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成されており、前記転写パターン形成層が、シリコンを含む材料から構成されていることを特徴とするテンプレート用積層基板である。   That is, the invention according to claim 1 of the present invention is a template laminated substrate used for a template for nanoimprinting, and includes a template substrate, an intermediate layer formed on the template substrate, and an intermediate layer. A transfer pattern forming layer formed, wherein the template substrate is made of a material containing silicon oxide, and the intermediate layer is a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium. The template substrate is characterized in that the transfer pattern forming layer is made of a material containing silicon.

また、本発明の請求項2に係る発明は、前記テンプレート基板が、一方の面にメサ状の段差構造を有し、他方の面に、平面視において、前記メサ状の段差構造と重なり、かつ、前記メサ状の段差構造よりも広い面積を有する凹部を有しており、前記メサ状の段差構造を有する面の上に前記中間層と、前記転写パターン形成層と、を有していることを特徴とする請求項1に記載のテンプレート用積層基板である。   In the invention according to claim 2 of the present invention, the template substrate has a mesa-shaped step structure on one surface, and overlaps the mesa-shaped step structure on the other surface in plan view. A recess having a larger area than the mesa-like step structure, and the intermediate layer and the transfer pattern forming layer are provided on a surface having the mesa-like step structure. It is a laminated substrate for templates of Claim 1 characterized by these.

また、本発明の請求項3に係る発明は、前記中間層の波長365nmの光に対する透過率が、20%以上であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のテンプレート用積層基板である。   Further, in the invention according to claim 3 of the present invention, the transmittance of the intermediate layer with respect to light having a wavelength of 365 nm is 20% or more, and the laminated substrate for templates according to claim 1 or 2 It is.

また、本発明の請求項4に係る発明は、前記転写パターン形成層が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、その密度が、2.2g/cm3以上であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のテンプレート用積層基板である。 In the invention according to claim 4 of the present invention, the transfer pattern forming layer is made of a material containing silicon oxide, and its density is 2.2 g / cm 3 or more. It is a laminated substrate for templates as described in any one of Claims 1 thru | or 3.

また、本発明の請求項5に係る発明は、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のテンプレート用積層基板の前記転写パターン形成層の上に、転写パターン形成用のエッチングマスクとなるハードマスク層を有することを特徴とするテンプレートブランクである。   An invention according to claim 5 of the present invention is an etching mask for forming a transfer pattern on the transfer pattern forming layer of the laminated substrate for a template according to any one of claims 1 to 4. A template blank having a hard mask layer.

また、本発明の請求項6に係る発明は、請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のテンプレート用積層基板の前記転写パターン形成層に、凹凸形状の転写パターンが形成されていることを特徴とするナノインプリント用テンプレートである。   In the invention according to claim 6 of the present invention, a concavo-convex shaped transfer pattern is formed on the transfer pattern forming layer of the laminated substrate for a template according to any one of claims 1 to 4. This is a template for nanoimprinting.

また、本発明の請求項7に係る発明は、前記転写パターンの深さが、前記転写パターン形成層の厚さよりも小さいことを特徴とする請求項6に記載のナノインプリント用テンプレートである。   The invention according to claim 7 of the present invention is the nanoimprint template according to claim 6, wherein the transfer pattern has a depth smaller than a thickness of the transfer pattern forming layer.

また、本発明の請求項8に係る発明は、テンプレート基板と、前記テンプレート基板の上に形成された中間層と、前記中間層の上に形成された転写パターン形成層と、を有し、前記テンプレート基板が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、前記中間層が、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成されており、前記転写パターン形成層が、シリコンを含む材料から構成されている積層体の前記転写パターン形成層と前記中間層を除去することによって、前記テンプレート基板を再生する方法であって、前記転写パターン形成層を除去する工程と前記中間層を除去する工程が、異なる条件のエッチング工程であり、前記転写パターン形成層を除去する工程が、前記中間層を、前記テンプレート基板のエッチング保護層に用いたエッチング工程であることを特徴とするテンプレート基板の再生方法である。   The invention according to claim 8 of the present invention includes a template substrate, an intermediate layer formed on the template substrate, and a transfer pattern forming layer formed on the intermediate layer, The template substrate is made of a material containing silicon oxide, the intermediate layer is made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium, and the transfer pattern forming layer is made of silicon. A method of regenerating the template substrate by removing the transfer pattern forming layer and the intermediate layer of a laminate composed of a material containing a material, the step of removing the transfer pattern forming layer, and the intermediate layer And the step of removing the transfer pattern forming layer comprises removing the intermediate layer from the template. A reproduction method of a template substrate, characterized in that an etching process using the etching protection layer of the rate substrate.

また、本発明の請求項9に係る発明は、請求項8に記載のテンプレート基板の再生方法により再生されたテンプレート基板を準備する工程と、前記テンプレート基板の上に、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成される中間層を形成する工程と、前記中間層の上に、シリコンを含む材料から構成される転写パターン形成層を形成する工程と、を備えることを特徴とするテンプレート用積層基板の製造方法である。   The invention according to claim 9 of the present invention provides a step of preparing a template substrate regenerated by the method for regenerating a template substrate according to claim 8, and chromium, tantalum, aluminum, or on the template substrate. A step of forming an intermediate layer made of a material containing any one of ruthenium, and a step of forming a transfer pattern forming layer made of a material containing silicon on the intermediate layer. It is the manufacturing method of the laminated substrate for templates characterized.

本発明によれば、容易にテンプレート基板を再生することができ、ナノインプリント用テンプレートの製造コストの増大化を抑制することができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, a template board | substrate can be reproduced | regenerated easily and the increase in the manufacturing cost of the template for nanoimprint can be suppressed.

本発明に係るテンプレート用積層基板の一例を示す説明図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)におけるA−A断面図である。It is explanatory drawing which shows an example of the laminated substrate for templates which concerns on this invention, (a) is a schematic plan view, (b) is AA sectional drawing in (a). 本発明に係るテンプレートブランクの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the template blank which concerns on this invention. 本発明に係るナノインプリント用テンプレートの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the template for nanoimprint which concerns on this invention. 転写パターンの深さと転写パターン形成層の膜厚との関係を示す説明図である。It is explanatory drawing which shows the relationship between the depth of a transfer pattern, and the film thickness of a transfer pattern formation layer. 本発明に係るテンプレート基板の再生方法の一例を示す概略工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the reproduction | regenerating method of the template substrate which concerns on this invention. 本発明に係るテンプレート用積層基板の製造方法の一例を示す概略工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the manufacturing method of the laminated substrate for templates which concerns on this invention. 本発明に係るナノインプリント用テンプレートの製造方法の一例を示す概略工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the manufacturing method of the template for nanoimprint which concerns on this invention. 図7に続く本発明に係るナノインプリント用テンプレートの製造方法の一例を示す概略工程図である。FIG. 8 is a schematic process diagram illustrating an example of a method for producing a nanoimprint template according to the present invention following FIG. 7. 従来のテンプレート基板の一例を示す説明図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)におけるB−B断面図である。It is explanatory drawing which shows an example of the conventional template board | substrate, (a) is a schematic plan view, (b) is BB sectional drawing in (a). 従来のテンプレートブランクの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the conventional template blank. 従来のナノインプリント用テンプレートの一例を示す概略断面図である。It is a schematic sectional drawing which shows an example of the conventional template for nanoimprint. 従来のテンプレート基板の製造方法の一例を示す概略工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the manufacturing method of the conventional template board | substrate. 従来のテンプレートブランクの製造方法の一例を示す概略工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the manufacturing method of the conventional template blank. 従来のナノインプリント用テンプレートの製造方法の一例を示す概略工程図である。It is a schematic process drawing which shows an example of the manufacturing method of the conventional template for nanoimprint.

以下、本発明に係るテンプレート用積層基板、テンプレートブランク、ナノインプリント用テンプレート、および、テンプレート基板の再生方法、並びに、テンプレート用積層基板の製造方法について図面を用いて説明する。   Hereinafter, a template multilayer substrate, a template blank, a nanoimprint template, a template substrate recycling method, and a template multilayer substrate manufacturing method according to the present invention will be described with reference to the drawings.

[テンプレート用積層基板]
図1は、本発明に係るテンプレート用積層基板の一例を示す説明図であり、(a)は概略平面図、(b)は(a)におけるA−A断面図である。
[Multilayer substrate for templates]
1A and 1B are explanatory views showing an example of a laminated substrate for a template according to the present invention, in which FIG. 1A is a schematic plan view, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG.

例えば図1に示すように、本発明に係るテンプレート用積層基板1は、テンプレート基板11と、テンプレート基板11の上に形成された中間層12と、中間層12の上に形成された転写パターン形成層13と、を有している。
ここで、テンプレート基板11は、酸化シリコンを含む材料から構成されており、中間層12は、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成されており、転写パターン形成層13は、シリコンを含む材料から構成されている。
For example, as shown in FIG. 1, a template laminated substrate 1 according to the present invention includes a template substrate 11, an intermediate layer 12 formed on the template substrate 11, and a transfer pattern formed on the intermediate layer 12. And a layer 13.
Here, the template substrate 11 is made of a material containing silicon oxide, and the intermediate layer 12 is made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium, and a transfer pattern forming layer. 13 is made of a material containing silicon.

上記のように、本発明に係るテンプレート用積層基板1は、テンプレート基板11の上に、所定の材料から構成される中間層12および転写パターン形成層13を積層した構成を有しているため、この中間層12および転写パターン形成層13を、所定のエッチング方法によって除去することで、容易にテンプレート基板11を再生することができる。
以下、テンプレート用積層基板1を構成する各要素について、詳しく説明する。
As described above, the template laminated substrate 1 according to the present invention has a configuration in which the intermediate layer 12 and the transfer pattern forming layer 13 made of a predetermined material are laminated on the template substrate 11. The template substrate 11 can be easily regenerated by removing the intermediate layer 12 and the transfer pattern forming layer 13 by a predetermined etching method.
Hereinafter, each element which comprises the laminated substrate 1 for templates is demonstrated in detail.

まず、テンプレート基板11について説明する。
本発明において、テンプレート用積層基板1を構成するテンプレート基板11は、従来と同様に、平板状の形態であっても良く、また、一方の面にメサ状の段差構造のみを有する形態であっても良いが、図1に示すように、一方の面(図1(b)に示すZ方向側)にメサ状の段差構造22を有し、他方の面に、平面視において、メサ状の段差構造22と重なり、かつ、メサ状の段差構造22よりも広い面積を有する凹部21を有している形態であることが好ましい。
上述のように、メサ状の段差構造22を有することで、インプリント工程おいて、テンプレートの転写領域以外の部分が、被転写基板や樹脂と接触することを抑制でき、また、凹部21を有することで、転写領域23を湾曲容易とすることができるからである。
First, the template substrate 11 will be described.
In the present invention, the template substrate 11 constituting the template laminated substrate 1 may be in the form of a flat plate, as in the prior art, or having only a mesa-shaped step structure on one surface. However, as shown in FIG. 1, it has a mesa-shaped step structure 22 on one surface (the Z direction side shown in FIG. 1B), and the other surface has a mesa-shaped step in plan view. It is preferable that the structure 22 has a recess 21 that overlaps with the structure 22 and has a larger area than the mesa-shaped step structure 22.
As described above, by having the mesa-shaped step structure 22, it is possible to suppress a portion other than the transfer region of the template from coming into contact with the substrate to be transferred and the resin in the imprint process, and the recess 21 is provided. This is because the transfer region 23 can be easily bent.

本発明においてテンプレート基板11は、酸化シリコンを含む材料から構成されている。中でも合成石英ガラスはフォトマスク用基板の材料として実績があり、高品質な基板を安定して入手できることから好ましい。   In the present invention, the template substrate 11 is made of a material containing silicon oxide. Among them, synthetic quartz glass is preferable because it has a proven record as a material for a photomask substrate, and a high-quality substrate can be obtained stably.

本発明において、テンプレート基板11の各サイズは、例えば、従来のナノインプリント用テンプレートのテンプレート基板に用いられてきた各サイズと同じにすることができる。
例えば、テンプレート基板11は、平面外形を概ね152mm×152mmとし、凹部21が形成されていない領域の厚さを概ね6.35mmとすることができる。また、凹部21は、平面形状を概ね直径64mmの円形とし、深さを概ね5.25mmとすることができる。また、メサ状の段差構造22は、転写領域23となる上面を概ね28mm×36mmとし、段差Hを概ね30μmとすることができる。
In the present invention, each size of the template substrate 11 can be the same as each size used for a template substrate of a conventional nanoimprint template, for example.
For example, the template substrate 11 can have a planar outer shape of approximately 152 mm × 152 mm, and the thickness of the region where the recess 21 is not formed can be approximately 6.35 mm. Further, the recess 21 can have a planar shape of a circle having a diameter of approximately 64 mm and a depth of approximately 5.25 mm. Further, the mesa-like step structure 22 can have an upper surface to be a transfer region 23 of approximately 28 mm × 36 mm and a step H of approximately 30 μm.

なお、図1(b)においては、上記段差の大きさ(例えば30μm)に比べて、実際の中間層12の厚さ(例えば3nm)および転写パターン形成層13の厚さ(例えば60nm)が格段に小さいことから、煩雑となるのを避けるため、テンプレート基板11のメサ状の段差構造22の上に中間層12および転写パターン形成層13を積層した形態における段差をHとして示している。   In FIG. 1B, the actual thickness of the intermediate layer 12 (for example, 3 nm) and the thickness of the transfer pattern forming layer 13 (for example, 60 nm) are markedly greater than the size of the step (for example, 30 μm). Therefore, in order to avoid complication, the step in the form in which the intermediate layer 12 and the transfer pattern forming layer 13 are stacked on the mesa-like step structure 22 of the template substrate 11 is shown as H.

次に、中間層12について説明する。
中間層12は、図1(b)に示すように、テンプレート基板11と転写パターン形成層13の間に形成され、主に、テンプレート基板11を再生する際に、転写パターン形成層13の除去工程におけるエッチングガスやエッチング液からテンプレート基板11、特にテンプレート基板11の転写領域23を保護する作用を奏するものである。
また、転写パターン形成層13を除去した後に、この中間層12を除去することによって、中間層12の上に残った転写パターン形成層13のエッチング残留物や異物を、同時に取り去ることもできる。
Next, the intermediate layer 12 will be described.
As shown in FIG. 1B, the intermediate layer 12 is formed between the template substrate 11 and the transfer pattern forming layer 13, and mainly when the template substrate 11 is regenerated, the removal process of the transfer pattern forming layer 13 is performed. This serves to protect the template substrate 11, particularly the transfer region 23 of the template substrate 11, from the etching gas and the etching solution.
Further, by removing the intermediate layer 12 after removing the transfer pattern forming layer 13, etching residues and foreign matters remaining on the transfer pattern forming layer 13 remaining on the intermediate layer 12 can be removed at the same time.

本発明において、中間層12は、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)、または、ルテニウム(Ru)のいずれか一種を含む材料から構成されている。
ここで、上記の「クロム(Cr)、タンタル(Ta)、アルミニウム(Al)、または、ルテニウム(Ru)のいずれか一種を含む材料」とは、上記の各金属単体、または、上記の各金属と他の物質との混合物という形態のみならず、上記の金属と酸素(O)、窒素(N)、炭素(C)等との化合物も含む概念であり、例えば、金属がクロムの場合、酸化クロム(CrO)、窒化クロム(CrN)、炭化クロム(CrC)や、酸窒化クロム(CrNO)、酸窒炭化クロム(CrCNO)等も含むものである。
In the present invention, the intermediate layer 12 is made of a material containing any one of chromium (Cr), tantalum (Ta), aluminum (Al), and ruthenium (Ru).
Here, the above-mentioned “material including any one of chromium (Cr), tantalum (Ta), aluminum (Al), or ruthenium (Ru)” refers to each of the above metals or each of the above metals. In addition to the form of a mixture of the above and other substances, the concept also includes compounds of the above metals and oxygen (O), nitrogen (N), carbon (C), etc. For example, when the metal is chromium, oxidation It also includes chromium (CrO), chromium nitride (CrN), chromium carbide (CrC), chromium oxynitride (CrNO), chromium oxynitride carbide (CrCNO), and the like.

上記の材料であれば、転写パターン形成層13の除去工程におけるエッチングガス(例えばフッ素系のガス)やエッチング液(例えばフッ酸水溶液)に耐性を有することから、テンプレート基板11を保護することができる。
また、上記の材料であれば、中間層12を除去する際のエッチングガスやエッチング液に、テンプレート基板11がエッチング耐性を有するエッチングガス(例えば塩素系ガス)やエッチング液(例えば酸性の水溶液)を選択することができるからである。
中間層12を形成する方法には、例えば、スパッタ法、CVD法、ALD法(原子層堆積法)等の成膜技術を用いることができる。
なお、中間層12は同一材料から構成される単層構造であってもよく、異なる材料から構成される複層構造であってもよい。
If it is said material, since it has tolerance to the etching gas (for example, fluorine-type gas) and etching liquid (for example, hydrofluoric acid aqueous solution) in the removal process of the transcription | transfer pattern formation layer 13, the template board | substrate 11 can be protected. .
Moreover, if it is said material, the etching gas (for example, chlorine-type gas) and etching liquid (for example, acidic aqueous solution) in which the template board | substrate 11 has etching tolerance will be used for the etching gas and etching liquid at the time of removing the intermediate | middle layer 12. This is because it can be selected.
As a method of forming the intermediate layer 12, for example, a film forming technique such as sputtering, CVD, ALD (atomic layer deposition) can be used.
The intermediate layer 12 may have a single layer structure made of the same material or a multilayer structure made of different materials.

また、中間層12は、光インプリント法に用いる光に対して透過率が高いことが好ましい。テンプレート用積層基板1の転写パターン形成層13に凹凸形状の転写パターンを形成した本発明に係るナノインプリント用テンプレートを用いて、光インプリント法によりパターン転写する際に、被転写基板の上に形成された樹脂をより短い時間で硬化させること、すなわち、パターン転写のスループットを向上させることができるからである。
ここで、光インプリント法に用いる光の波長は、硬化させる樹脂にもよるが、典型的には365nmである。
それゆえ、中間層12は、波長365nmの光に対する透過率が、20%以上であること、より好ましくは40%以上、さらには、80%以上であることが好ましい。
Moreover, it is preferable that the intermediate | middle layer 12 has the high transmittance | permeability with respect to the light used for the optical imprint method. Using the nanoimprint template according to the present invention in which a concavo-convex shaped transfer pattern is formed on the transfer pattern forming layer 13 of the laminated substrate 1 for templates, the pattern is formed on the transferred substrate when the pattern is transferred by the optical imprint method This is because the resin can be cured in a shorter time, that is, the throughput of pattern transfer can be improved.
Here, the wavelength of light used in the photoimprint method is typically 365 nm, although it depends on the resin to be cured.
Therefore, the intermediate layer 12 has a transmittance for light having a wavelength of 365 nm of 20% or more, more preferably 40% or more, and further preferably 80% or more.

中間層12の透過率を上記の範囲に調整する方法としては、例えば、中間層12の膜厚を制御する方法が挙げられる。
ただし、上述のように、中間層12はテンプレート基板11のエッチング保護層として作用するものであることから、転写パターン形成層13の除去工程におけるエッチングガスやエッチング液で消失しない厚さを必要とする。そして、この必要とされる厚さは、中間層12の材料や、転写パターン形成層13のエッチング条件等によって変化する。
Examples of a method for adjusting the transmittance of the intermediate layer 12 to the above range include a method for controlling the film thickness of the intermediate layer 12.
However, as described above, since the intermediate layer 12 functions as an etching protective layer of the template substrate 11, it needs a thickness that does not disappear with the etching gas or the etching solution in the removal process of the transfer pattern forming layer 13. . The required thickness varies depending on the material of the intermediate layer 12, the etching conditions of the transfer pattern forming layer 13, and the like.

表1に各種膜材料の屈折率nと消衰係数kを、表2に先のn、kの値から算出される波長365nmの光に対する透過率を示す。   Table 1 shows the refractive index n and extinction coefficient k of various film materials, and Table 2 shows the transmittance for light having a wavelength of 365 nm calculated from the values of n and k.

Figure 2014138154
Figure 2014138154

Figure 2014138154
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例えば、中間層12としてクロム(Cr)膜を用いる場合、表2に示すように、膜厚3nmにおいて波長365nmの光に対する透過率は49.89%となり、膜厚5nmにおいて上記透過率は32.15%となる。   For example, when a chromium (Cr) film is used as the intermediate layer 12, as shown in Table 2, the transmittance for light having a wavelength of 365 nm is 49.89% at a thickness of 3 nm, and the transmittance is 32.89% at a thickness of 5 nm. 15%.

そして、例えば、中間層12としてクロム(Cr)膜を用い、転写パターン形成層13に形成された転写パターンの深さを50nmとし、酸化シリコンから構成される転写パターン形成層13をフッ素系のガスでエッチング除去することを想定する場合には、中間層12として、クロム(Cr)膜が膜厚3nmもあれば、テンプレート基板11のエッチング保護層として十分作用することができる。   For example, a chromium (Cr) film is used as the intermediate layer 12, the transfer pattern formed on the transfer pattern forming layer 13 has a depth of 50 nm, and the transfer pattern forming layer 13 made of silicon oxide is used as a fluorine-based gas. If the intermediate layer 12 is assumed to be etched away, a chromium (Cr) film having a film thickness of 3 nm can sufficiently function as an etching protective layer for the template substrate 11.

次に、転写パターン形成層13について説明する。
転写パターン形成層13は、図1(b)に示すように、中間層12の上に形成されており、この転写パターン形成層13に凹凸形状の転写パターンを形成することにより、本発明に係るナノインプリント用テンプレートを得ることができる。
Next, the transfer pattern forming layer 13 will be described.
As shown in FIG. 1B, the transfer pattern forming layer 13 is formed on the intermediate layer 12, and the transfer pattern forming layer 13 according to the present invention is formed by forming an uneven transfer pattern. A template for nanoimprinting can be obtained.

転写パターン形成層13の膜厚は、形成する転写パターンの深さにもよるが、一般には、30nm〜100nm程度である。
なお、本発明においては、転写パターン形成層13の膜厚は、形成する転写パターンの深さよりも大きいことが好ましい。詳しくは、後述する本発明に係るナノインプリント用テンプレートについての記載箇所において説明する。
The thickness of the transfer pattern forming layer 13 is generally about 30 nm to 100 nm, although it depends on the depth of the transfer pattern to be formed.
In the present invention, the thickness of the transfer pattern forming layer 13 is preferably larger than the depth of the transfer pattern to be formed. In detail, it demonstrates in the description location about the template for nanoimprint which concerns on this invention mentioned later.

本発明において、転写パターン形成層13は、シリコンを含む材料から構成されている。
ここで、「シリコンを含む材料」とは、シリコン単体、または、シリコンと他の物質との混合物という形態のみならず、シリコンと酸素(O)、窒素(N)等との化合物や、モリブデン(Mo)等の金属との化合物も含む概念であり、例えば、酸化シリコン(SiO)、窒化シリコン(SiN)、モリブデンシリサイド(MoSi)等も含むものである。
In the present invention, the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon.
Here, the “material containing silicon” is not only a form of silicon alone or a mixture of silicon and another substance, but also a compound of silicon and oxygen (O), nitrogen (N), etc., molybdenum ( The concept includes a compound with a metal such as Mo), and includes, for example, silicon oxide (SiO), silicon nitride (SiN), molybdenum silicide (MoSi), and the like.

転写パターン形成層13が上記の材料から構成されていれば、転写パターン形成層13の除去工程に際し、中間層12がフッ素系のガスに耐性を有することから、テンプレート基板11を保護しつつ、フッ素系のガスを用いたドライエッチングで転写パターン形成層13を除去することができる。
中でも、転写パターン形成層13は、酸化シリコンを含む材料から構成されていることが好ましい。転写パターン形成工程において、合成石英ガラスに転写パターンを形成していた従来のナノインプリント用テンプレートの場合と同様に、実績のある微細加工技術を適用することができるからである。
If the transfer pattern forming layer 13 is made of the above material, the intermediate layer 12 is resistant to fluorine-based gas during the removal process of the transfer pattern forming layer 13. The transfer pattern forming layer 13 can be removed by dry etching using a system gas.
In particular, the transfer pattern forming layer 13 is preferably made of a material containing silicon oxide. This is because, in the transfer pattern forming process, a proven microfabrication technique can be applied as in the case of a conventional nanoimprint template in which a transfer pattern is formed on synthetic quartz glass.

また、ナノインプリントリソグラフィでは、何度も繰り返し、被転写基板の樹脂との接触、および離型が行われるため、転写パターン形成層13には、繰り返し行われるインプリント工程に耐える物理的強度や、付着した樹脂等を除去するために行われる洗浄に対する耐性が求められる。
それゆえ、転写パターン形成層13は、酸化シリコンを含む材料から構成されており、その密度が、2.2g/cm3以上であることが好ましい。上記のような要求に対し、転写パターン形成層13が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、その密度が2.2g/cm3以上であれば、従来のナノインプリント用テンプレートの合成石英ガラスと同等の物理的強度や洗浄耐性を有することができるからである。
Further, in nanoimprint lithography, contact with the resin of the substrate to be transferred and release are repeated many times, so that the transfer pattern forming layer 13 has physical strength or adhesion that can withstand repeated imprint processes. Resistance to cleaning performed to remove the resin and the like is required.
Therefore, the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon oxide, and its density is preferably 2.2 g / cm 3 or more. In response to the above requirements, if the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon oxide and has a density of 2.2 g / cm 3 or more, a synthetic quartz glass of a conventional nanoimprint template and It is because it can have equivalent physical strength and washing resistance.

密度2.2g/cm3以上の酸化シリコンを形成する方法としては、例えば、CVD法によって酸化シリコン膜を形成する工程と、形成された酸化シリコン膜に酸素ラジカル処理を施す工程とを、目的とする膜厚に達するまで交互に繰り返し行う方法がある(例えば、特許文献4)。
より具体的には、例えば、中間層12を形成したテンプレート基板11を真空装置内に配置し、まず、ジクロルシラン(SiH2Cl2)ガスと亜酸化窒素(N2O)ガスを用いたCVD法によって、中間層12の上に、膜厚2nm〜5nm程度の酸化シリコン膜を形成する。その後、上記のガスの供給を止め、次いで、酸素ガスとアルゴンガスを用いたプラズマ処理によって、中間層12の上に形成された酸化シリコン膜に酸素ラジカル処理を施す。このCVD成膜と酸素ラジカル処理の工程を交互に繰り返して、所望の膜厚の転写パターン形成層13を形成する。
As a method for forming silicon oxide having a density of 2.2 g / cm 3 or more, for example, a step of forming a silicon oxide film by a CVD method and a step of subjecting the formed silicon oxide film to oxygen radical treatment are used. There is a method in which the film thickness is alternately repeated until the film thickness is reached (for example, Patent Document 4).
More specifically, for example, the template substrate 11 on which the intermediate layer 12 is formed is placed in a vacuum apparatus, and first, a CVD method using dichlorosilane (SiH 2 Cl 2 ) gas and nitrous oxide (N 2 O) gas. Thus, a silicon oxide film having a thickness of about 2 nm to 5 nm is formed on the intermediate layer 12. Thereafter, the supply of the gas is stopped, and then an oxygen radical treatment is performed on the silicon oxide film formed on the intermediate layer 12 by a plasma treatment using oxygen gas and argon gas. The CVD film formation and oxygen radical treatment steps are alternately repeated to form a transfer pattern forming layer 13 having a desired film thickness.

以上説明したように、本発明に係るテンプレート用積層基板1は、テンプレート基板11の上に、所定の中間層12および転写パターン形成層13を積層した構成を有しているため、例え、テンプレート基板11がメサ状の段差構造22や凹部21を有する形態であっても、上記の転写パターン形成層13および中間層12を除去することで、容易にテンプレート基板11を再生することができる。
そして、この再生されたテンプレート基板11を用いることで、ナノインプリント用テンプレートの製造コストの増大化を抑制することができる。
As described above, the template laminated substrate 1 according to the present invention has a configuration in which the predetermined intermediate layer 12 and the transfer pattern forming layer 13 are laminated on the template substrate 11. Even if 11 has a mesa-like step structure 22 and a recess 21, the template substrate 11 can be easily regenerated by removing the transfer pattern forming layer 13 and the intermediate layer 12.
By using the regenerated template substrate 11, an increase in the manufacturing cost of the nanoimprint template can be suppressed.

[テンプレートブランク]
次に、本発明に係るテンプレートブランクについて説明する。
図2は、本発明に係るテンプレートブランクの一例を示す概略断面図である。
例えば図2に示すように、本発明に係るテンプレートブランク2は、上述の本発明に係るテンプレート用積層基板1の転写パターン形成層13の上に、転写パターン形成用のエッチングマスクとなるハードマスク層14を有するものである。
[Template blank]
Next, the template blank according to the present invention will be described.
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing an example of a template blank according to the present invention.
For example, as shown in FIG. 2, the template blank 2 according to the present invention is a hard mask layer serving as an etching mask for forming a transfer pattern on the transfer pattern forming layer 13 of the above-described laminated substrate 1 for a template according to the present invention. 14.

ハードマスク層14を構成する材料については、転写パターン形成層13をドライエッチング加工する際のエッチングマスクとして機能するものであればよく、例えば、Cr(クロム)等を用いることができる。その厚みは、転写パターンのサイズや、上記材料のエッチング耐性等を考慮して適宜選択されるが、例えば、3nm〜10nmの範囲である。
ハードマスク層14を形成する方法には、例えば、スパッタ法、CVD法、ALD法(原子層堆積法)等の成膜技術を用いることができる。
Any material can be used for the hard mask layer 14 as long as it functions as an etching mask when the transfer pattern forming layer 13 is dry-etched. For example, Cr (chromium) or the like can be used. The thickness is appropriately selected in consideration of the size of the transfer pattern, the etching resistance of the material, and the like, and is, for example, in the range of 3 nm to 10 nm.
As a method of forming the hard mask layer 14, for example, a film forming technique such as sputtering, CVD, ALD (atomic layer deposition) can be used.

本発明においては、上記のようなハードマスク層14を有するテンプレートブランク2を用いてナノインプリント用テンプレートを製造することで、転写パターン形成工程におけるドライエッチングの選択比を大きくすることができ、転写パターン形成層13に、凹凸形状の転写パターンを寸法精度良く形成することができる。   In the present invention, by producing a template for nanoimprinting using the template blank 2 having the hard mask layer 14 as described above, it is possible to increase the selection ratio of dry etching in the transfer pattern forming process, thereby forming the transfer pattern. An uneven transfer pattern can be formed on the layer 13 with high dimensional accuracy.

[ナノインプリント用テンプレート]
次に、本発明に係るナノインプリント用テンプレートについて説明する。
図3は、本発明に係るナノインプリント用テンプレートの一例を示す概略断面図である。
例えば図3に示すように、本発明に係るナノインプリント用テンプレート3は、上述の本発明に係るテンプレート用積層基板1の転写パターン形成層13に、凹凸形状の転写パターン31が形成されているものである。
[Template for nanoimprint]
Next, the nanoimprint template according to the present invention will be described.
FIG. 3 is a schematic cross-sectional view showing an example of a nanoimprint template according to the present invention.
For example, as shown in FIG. 3, the nanoimprint template 3 according to the present invention has a concavo-convex transfer pattern 31 formed on the transfer pattern forming layer 13 of the template laminated substrate 1 according to the present invention described above. is there.

本発明に係るナノインプリント用テンプレート3は、テンプレート基板11の上に、所定の材料から構成される中間層12と転写パターン形成層13を積層した構成を有しているため、転写パターン形成層13および中間層11を除去することで、容易にテンプレート基板11を再生することができる。
そして、この再生されたテンプレート基板11を用いることで、ナノインプリント用テンプレートの製造コストの増大化を抑制することができる。
Since the nanoimprint template 3 according to the present invention has a configuration in which an intermediate layer 12 made of a predetermined material and a transfer pattern forming layer 13 are laminated on a template substrate 11, the transfer pattern forming layer 13 and The template substrate 11 can be easily regenerated by removing the intermediate layer 11.
By using the regenerated template substrate 11, an increase in the manufacturing cost of the nanoimprint template can be suppressed.

特に、転写パターン形成層13が酸化シリコンを含む材料から構成されている場合には、転写パターン31の形成において、従来のナノインプリント用テンプレートに用いられてきた実績のある微細加工技術を適用することができる。
さらに、転写パターン形成層13が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、その密度が2.2g/cm3以上であれば、本発明に係るナノインプリント用テンプレート3は、従来の合成石英ガラスからなるナノインプリント用テンプレートと同等の物理的強度や洗浄耐性を有することができる。
In particular, when the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon oxide, in the formation of the transfer pattern 31, it is possible to apply a fine processing technique that has been used for a conventional nanoimprint template. it can.
Further, if the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon oxide and the density thereof is 2.2 g / cm 3 or more, the nanoimprint template 3 according to the present invention is made of conventional synthetic quartz glass. It can have the same physical strength and washing resistance as the nanoimprint template.

また、本発明において、転写パターン31の深さは転写パターン形成層13の厚さよりも小さいことが好ましい。言い換えれば、本発明においては、転写パターン形成層13の厚さを、転写パターン31の深さよりも大きくなるように形成しておくことが好ましい。
上記の理由について、図4を用いて説明する。
In the present invention, the depth of the transfer pattern 31 is preferably smaller than the thickness of the transfer pattern forming layer 13. In other words, in the present invention, it is preferable that the thickness of the transfer pattern forming layer 13 is formed to be larger than the depth of the transfer pattern 31.
The above reason will be described with reference to FIG.

図4は、本発明における転写パターンの深さと転写パターン形成層の膜厚との関係を示す説明図である。
ここで、図4(a)は、転写パターン31aの深さ(D)が転写パターン形成層13の膜厚(T)よりも小さい例を、図4(b)は、転写パターン31bが転写パターン形成層13を貫通して中間層12に到達している例を、それぞれ示している。
また、図4(c)は、図4(b)に示す形態において、中間層12の一部が洗浄工程でウェットエッチングされた例を、図4(d)は、図4(b)に示す形態において、転写パターン形成工程で側壁下部がオーバーエッチングされた例を、それぞれ示している。
FIG. 4 is an explanatory view showing the relationship between the depth of the transfer pattern and the film thickness of the transfer pattern forming layer in the present invention.
4A shows an example in which the depth (D) of the transfer pattern 31a is smaller than the film thickness (T) of the transfer pattern forming layer 13, and FIG. 4B shows the transfer pattern 31b in the transfer pattern. An example in which the intermediate layer 12 is reached through the formation layer 13 is shown.
4C shows an example in which a part of the intermediate layer 12 is wet-etched in the cleaning step in the form shown in FIG. 4B, and FIG. 4D shows the example shown in FIG. In the embodiment, an example in which the lower portion of the side wall is over-etched in the transfer pattern forming step is shown.

例えば、図4(b)に示すように、転写パターン31bが転写パターン形成層13を貫通して中間層12に到達している場合(言い換えれば、中間層12を転写パターン31bの形成時のエッチング停止層として用いる場合)には、転写パターン31bの側壁を構成する材料(すなわち、転写パターン形成層13を構成する材料)と、転写パターン31bの底部を構成する材料(すなわち、中間層12を構成する材料)は、異なることになる。
それゆえ、転写パターンの微細化が進むことにより、凹状の転写パターン31bに挟まれた凸状の部分の根元の面積が小さくなると、前記凸状の部分が材料界面で剥離してしまうという恐れがある。
For example, as shown in FIG. 4B, when the transfer pattern 31b reaches the intermediate layer 12 through the transfer pattern forming layer 13 (in other words, the intermediate layer 12 is etched when the transfer pattern 31b is formed). When used as a stop layer, the material constituting the side wall of the transfer pattern 31b (that is, the material constituting the transfer pattern forming layer 13) and the material constituting the bottom of the transfer pattern 31b (that is, the intermediate layer 12). Material) will be different.
Therefore, when the transfer pattern is further miniaturized and the area of the root of the convex portion sandwiched between the concave transfer patterns 31b is reduced, the convex portion may be peeled off at the material interface. is there.

さらに、図4(b)に示す形態の転写パターン31bを有するナノインプリント用テンプレートに繰り返し洗浄工程を施す場合には、例えば、図4(c)に示すように、洗浄液(例えば、硫酸過水)によって転写パターン31bの底部に露出する中間層12が徐々にウェットエッチングされて、凹状の転写パターン31bに挟まれた凸状の部分が倒壊してしまうというおそれがある。   Further, when the nanoimprint template having the transfer pattern 31b having the form shown in FIG. 4B is repeatedly subjected to the cleaning process, for example, as shown in FIG. 4C, a cleaning liquid (for example, sulfuric acid / hydrogen peroxide) is used. There is a possibility that the intermediate layer 12 exposed at the bottom of the transfer pattern 31b is gradually wet-etched and the convex portion sandwiched between the concave transfer patterns 31b collapses.

また、中間層12を転写パターン31bの形成時のエッチング停止層として用いる場合には、中間層12は転写パターン形成層13をエッチングするガスに対して耐性を有することから、図4(d)に示すように、転写パターン形成時のオーバーエッチングによって、転写パターン31bの底部の中間層12と、転写パターン31bの側壁の転写パターン形成層13との界面近傍に、側壁エッチング部分(ノッチとも呼ばれる)32が形成されてしまうおそれがある。   Further, when the intermediate layer 12 is used as an etching stop layer at the time of forming the transfer pattern 31b, the intermediate layer 12 is resistant to a gas for etching the transfer pattern forming layer 13, so that FIG. As shown, sidewall etching portions (also called notches) 32 are formed in the vicinity of the interface between the intermediate layer 12 at the bottom of the transfer pattern 31b and the transfer pattern forming layer 13 on the sidewall of the transfer pattern 31b by overetching at the time of transfer pattern formation. May be formed.

そして、上記のような側壁エッチング部分32が形成されてしまうと、凹状の転写パターン31bの断面形状は逆T型(アンカー型)のような形状になり、例えば、このような形態の転写パターン31bを有するナノインプリント用テンプレートを用いてインプリント工程を行うと、この側壁エッチング部分32にも樹脂が充填され、この側壁エッチング部分32で硬化した樹脂がアンカーのように作用して良好に離型できなくなり、樹脂パターンを不良にしてしまうというおそれがある。   When the sidewall etching portion 32 as described above is formed, the cross-sectional shape of the concave transfer pattern 31b becomes a shape like an inverted T type (anchor type). For example, the transfer pattern 31b having such a shape is used. When an imprint process is performed using a template for nanoimprinting having this, the sidewall etching portion 32 is also filled with resin, and the resin cured in the sidewall etching portion 32 acts like an anchor and cannot be released properly. There is a risk of making the resin pattern defective.

一方、図4(a)に示すように、転写パターン31aの深さ(D)が転写パターン形成層13の厚さ(T)よりも小さい場合には、転写パターン31aの側壁も底部も同一の材料で構成されることから、上記のような不具合が生じるおそれはない。   On the other hand, as shown in FIG. 4A, when the depth (D) of the transfer pattern 31a is smaller than the thickness (T) of the transfer pattern forming layer 13, the side wall and the bottom of the transfer pattern 31a are the same. Since it is made of a material, there is no possibility that the above-described problems occur.

[テンプレート基板の再生方法]
次に、本発明に係るテンプレート基板の再生方法について説明する。
図5は、本発明に係るテンプレート基板の再生方法の一例を示す概略工程図である。
本発明によってテンプレート基板を再生するには、まず、図5(a)に示すように、テンプレート基板11と、テンプレート基板11の上に形成された中間層12と、中間層12の上に形成された転写パターン形成層13と、を有し、テンプレート基板11が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、中間層12が、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成されており、転写パターン形成層13が、シリコンを含む材料から構成されている積層体を準備する。
[Recycling method of template substrate]
Next, a method for regenerating a template substrate according to the present invention will be described.
FIG. 5 is a schematic process diagram showing an example of a method for regenerating a template substrate according to the present invention.
To regenerate the template substrate according to the present invention, first, as shown in FIG. 5A, the template substrate 11, the intermediate layer 12 formed on the template substrate 11, and the intermediate layer 12 are formed. The template substrate 11 is made of a material containing silicon oxide, and the intermediate layer 12 is made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium. A laminated body is prepared in which the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon.

ここで、上記の「積層体」には、本発明に係るテンプレート用積層基板1、テンプレートブランク2、および、ナノインプリント用テンプレート3のいずれもが含まれる。
なお、図5においては、上記「積層体」として、ナノインプリント用テンプレート3を用いる例を示している。また、図5においては、本発明の好適な例として、テンプレート基板11がメサ状の段差構造22および凹部21を有している形態を例示しているが、テンプレート基板11は平板状の形態であっても良く、一方の面にメサ状の段差構造のみを有する形態であっても良い。
Here, the “laminated body” includes any of the laminated substrate for template 1, the template blank 2, and the nanoimprint template 3 according to the present invention.
FIG. 5 shows an example in which the nanoimprint template 3 is used as the “laminated body”. In FIG. 5, as a preferred example of the present invention, the template substrate 11 has a mesa-shaped step structure 22 and a recess 21, but the template substrate 11 has a flat plate shape. There may be a form having only a mesa-shaped step structure on one surface.

次に、例えば、フッ素系のガスを用いたドライエッチング、若しくは、希フッ酸(DHF)溶液や緩衝フッ酸(BHF)溶液を用いたウェットエッチングにより、転写パターン形成層13を除去する(図5(b))。
ここで、本発明においては、中間層12をテンプレート基板11のエッチング保護層として用いることで、テンプレート基板11が酸化シリコンを含む材料から構成されていても、高い表面平坦性や表面平滑性を求められる転写領域23に相当するメサ状の段差構造22の上面がエッチングされることを防止できる。
Next, the transfer pattern forming layer 13 is removed by, for example, dry etching using a fluorine-based gas or wet etching using a dilute hydrofluoric acid (DHF) solution or a buffered hydrofluoric acid (BHF) solution (FIG. 5). (B)).
Here, in the present invention, by using the intermediate layer 12 as an etching protective layer for the template substrate 11, even when the template substrate 11 is made of a material containing silicon oxide, high surface flatness and surface smoothness are required. It is possible to prevent the top surface of the mesa-shaped step structure 22 corresponding to the transfer region 23 to be etched from being etched.

次に、中間層13を構成する材料に応じたエッチングガスを用いたドライエッチング、若しくは、中間層13を構成する材料に応じたエッチング液を用いたウェットエッチングにより、中間層13を除去して、再生されたテンプレート基板11を得る(図5(c))。   Next, the intermediate layer 13 is removed by dry etching using an etching gas corresponding to the material constituting the intermediate layer 13 or wet etching using an etchant corresponding to the material constituting the intermediate layer 13. A regenerated template substrate 11 is obtained (FIG. 5C).

ここで、「中間層13を構成する材料に応じたエッチングガス」とは中間層13をエッチングする速度は大きいが、テンプレート基板11をエッチングする速度は小さい作用を有するエッチングガスのことである。例えば、中間層13を構成する材料に、クロム(Cr)、タンタル(Ta)、または、アルミニウム(Al)のいずれか一種が含まれる場合には、エッチングガスとして塩素系ガスを用いることができる。   Here, the “etching gas corresponding to the material constituting the intermediate layer 13” is an etching gas that has a high speed of etching the intermediate layer 13 but a low speed of etching the template substrate 11. For example, when the material constituting the intermediate layer 13 includes any one of chromium (Cr), tantalum (Ta), and aluminum (Al), a chlorine-based gas can be used as an etching gas.

また、「中間層13を構成する材料に応じたエッチング液」とは、中間層13をエッチングする速度は大きいが、テンプレート基板11をエッチングする速度は小さい作用を有するエッチング液のことである。
例えば、中間層13を構成する材料に、クロム(Cr)が含まれる場合には、エッチング液として、硝酸セリウムアンモニウム水溶液や、硝酸セリウムと過酸化水素水の混合水溶液、若しくは、オゾン水等を用いることができる。
また、中間層13を構成する材料に、アルミニウム(Al)が含まれる場合には、エッチング液として、リン酸と硝酸の混合水溶液や、リン酸と硝酸と酢酸の混合水溶液等を用いることができる。
また、中間層13を構成する材料に、ルテニウム(Ru)が含まれる場合には、エッチング液として、オゾン水等を用いることができる。
The “etching liquid according to the material constituting the intermediate layer 13” is an etching liquid having a function of etching the intermediate layer 13 at a high speed but etching the template substrate 11 at a low speed.
For example, when the material constituting the intermediate layer 13 contains chromium (Cr), an cerium ammonium nitrate aqueous solution, a mixed aqueous solution of cerium nitrate and hydrogen peroxide, or ozone water is used as an etching solution. be able to.
Further, when aluminum (Al) is included in the material constituting the intermediate layer 13, a mixed aqueous solution of phosphoric acid and nitric acid, a mixed aqueous solution of phosphoric acid, nitric acid and acetic acid, or the like can be used as an etching solution. .
Further, when ruthenium (Ru) is included in the material constituting the intermediate layer 13, ozone water or the like can be used as an etching solution.

なお、ドライエッチングによって中間層13を除去する方法においては、条件によっては反応性イオンの衝突による物理的ダメージが、テンプレート基板11の表面に生じてしまう場合も起こりうる。
それゆえ、上記のような物理的ダメージによってテンプレート基板11の表面が荒れてしまうおそれを排除する目的においては、中間層13を除去する方法として、ウェットエッチングによる除去の方法を選択することが、より好ましいことになる。ウェットエッチングであれば、上記のような反応性イオンの衝突による物理的ダメージが生じることはなく、再生前と同等の表面平坦性や表面平滑性を有するテンプレート基板を再生することができるからである。
In the method of removing the intermediate layer 13 by dry etching, physical damage due to the collision of reactive ions may occur on the surface of the template substrate 11 depending on conditions.
Therefore, in order to eliminate the possibility that the surface of the template substrate 11 becomes rough due to physical damage as described above, it is more preferable to select a removal method by wet etching as a method of removing the intermediate layer 13. Would be preferable. This is because wet etching does not cause physical damage due to the collision of reactive ions as described above, and a template substrate having surface flatness and surface smoothness equivalent to that before the reproduction can be reproduced. .

以上説明したように、本発明に係るテンプレート基板の再生方法によれば、高度な研磨技術を要せずに、容易にテンプレート基板を再生することができ、ナノインプリント用テンプレートの製造コストの増大化を抑制することができる。   As described above, according to the method for regenerating a template substrate according to the present invention, the template substrate can be easily regenerated without requiring an advanced polishing technique, and the manufacturing cost of the template for nanoimprinting can be increased. Can be suppressed.

[テンプレート用積層基板の製造方法]
次に、本発明に係るテンプレート用積層基板の製造方法について説明する。
図6は、本発明に係るテンプレート用積層基板の製造方法の一例を示す概略工程図である。
図6に示すように、本発明に係るテンプレート用積層基板1を製造するには、まず、テンプレート基板11を準備し(図6(a))、その一方の面(メサ状の段差構造22を有する面)の上に、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成される中間層12を形成し(図6(b))、次いで、中間層12の上に、シリコンを含む材料から構成される転写パターン形成層13を形成する(図6(c))。
[Manufacturing Method of Template Multilayer Substrate]
Next, the manufacturing method of the laminated substrate for templates concerning this invention is demonstrated.
FIG. 6 is a schematic process diagram showing an example of a method for manufacturing a laminated substrate for templates according to the present invention.
As shown in FIG. 6, in order to manufacture the laminated substrate for templates 1 according to the present invention, first, a template substrate 11 is prepared (FIG. 6A), and one surface thereof (the mesa-shaped step structure 22 is formed). An intermediate layer 12 made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium (FIG. 6B), and then on the intermediate layer 12, A transfer pattern forming layer 13 made of a material containing silicon is formed (FIG. 6C).

ここで、準備するテンプレート基板11には、上記の本発明に係るテンプレート基板の再生方法により再生されたテンプレート基板を用いることができ、この場合、テンプレート用積層基板1の製造コストを低く抑えることができる。
そして、この再生されたテンプレート基板から製造されたテンプレート用積層基板1を用いることで、ナノインプリント用テンプレートの製造コストの増大化も抑制することができる。
Here, as the template substrate 11 to be prepared, a template substrate regenerated by the above-described method for regenerating a template substrate according to the present invention can be used. In this case, the manufacturing cost of the laminated substrate for templates 1 can be kept low. it can.
And the increase in the manufacturing cost of a nanoimprint template can also be suppressed by using the laminated substrate 1 for templates manufactured from this reproduced | regenerated template substrate.

中間層12を形成する方法には、例えば、スパッタ法、CVD法、ALD法(原子層堆積法)等の成膜技術を用いることができる。
なお、上述したように、中間層12の波長365nmの光に対する透過率は、20%以上であること、より好ましくは40%以上、さらには、80%以上であることが好ましい。それゆえ、中間層12の透過率が所望の範囲になるように、この成膜工程において、中間層12の膜厚を制御することが好ましい。
As a method of forming the intermediate layer 12, for example, a film forming technique such as sputtering, CVD, ALD (atomic layer deposition) can be used.
As described above, the transmittance of the intermediate layer 12 with respect to light having a wavelength of 365 nm is preferably 20% or more, more preferably 40% or more, and further preferably 80% or more. Therefore, it is preferable to control the film thickness of the intermediate layer 12 in this film forming step so that the transmittance of the intermediate layer 12 falls within a desired range.

転写パターン形成層13を形成する方法も、同様に、例えば、スパッタ法、CVD法、ALD法(原子層堆積法)等の成膜技術を用いることができる。
なお、上述したように、転写パターン形成層13は、酸化シリコンを含む材料から構成されており、その密度が、2.2g/cm3以上であることが好ましい。それゆえ、転写パターン形成層13の密度が所望の範囲になるように、上記の成膜方法を選択することが好ましい。
Similarly, as a method for forming the transfer pattern forming layer 13, for example, a film forming technique such as a sputtering method, a CVD method, or an ALD method (atomic layer deposition method) can be used.
As described above, the transfer pattern forming layer 13 is made of a material containing silicon oxide, and the density is preferably 2.2 g / cm 3 or more. Therefore, it is preferable to select the film forming method described above so that the density of the transfer pattern forming layer 13 is in a desired range.

例えば、本発明における転写パターン形成層13を形成する方法として、CVD法によって酸化シリコン膜を形成する工程と、形成された酸化シリコン膜に酸素ラジカル処理を施す工程とを、目的とする膜厚に達するまで交互に繰り返し行う方法を用いることができる。
より具体的には、例えば、中間層12を形成したテンプレート基板11を真空装置内に配置し、まず、ジクロルシラン(SiH2Cl2)ガスと亜酸化窒素(N2O)ガスを用いたCVD法によって、中間層12の上に、膜厚2nm〜5nm程度の酸化シリコン膜を形成する。その後、上記のガスの供給を止め、次いで、酸素ガスとアルゴンガスを用いたプラズマ処理によって、中間層12の上に形成された酸化シリコン膜に酸素ラジカル処理を施す。このCVD成膜と酸素ラジカル処理の工程を交互に繰り返して、所望の膜厚の転写パターン形成層13を形成する。
For example, as a method of forming the transfer pattern formation layer 13 in the present invention, a step of forming a silicon oxide film by a CVD method and a step of subjecting the formed silicon oxide film to oxygen radical treatment have a target film thickness. It is possible to use a method that is repeated alternately until it reaches.
More specifically, for example, the template substrate 11 on which the intermediate layer 12 is formed is placed in a vacuum apparatus, and first, a CVD method using dichlorosilane (SiH 2 Cl 2 ) gas and nitrous oxide (N 2 O) gas. Thus, a silicon oxide film having a thickness of about 2 nm to 5 nm is formed on the intermediate layer 12. Thereafter, the supply of the gas is stopped, and then an oxygen radical treatment is performed on the silicon oxide film formed on the intermediate layer 12 by a plasma treatment using oxygen gas and argon gas. The CVD film formation and oxygen radical treatment steps are alternately repeated to form a transfer pattern forming layer 13 having a desired film thickness.

なお、上述のように、本発明においては、転写パターン形成層13の厚さを、その後形成する転写パターン31の深さよりも大きくなるように形成しておくことが好ましい。中間層12が露出することに起因する各種不具合を防止するためである。
例えば、転写パターン形成層13の厚さは、形成予定の転写パターン31の深さに各工程マージンを含めた大きさ以上とすることがこのましい。より具体的には、例えば、形成予定の転写パターン31の深さが50nmの場合には、転写パターン形成層13の厚さは60nm以上とする。
As described above, in the present invention, it is preferable to form the transfer pattern forming layer 13 so that the thickness of the transfer pattern forming layer 13 is larger than the depth of the transfer pattern 31 to be formed thereafter. This is for preventing various problems caused by the exposure of the intermediate layer 12.
For example, it is preferable that the thickness of the transfer pattern forming layer 13 be equal to or larger than the depth including the process margins in the depth of the transfer pattern 31 to be formed. More specifically, for example, when the depth of the transfer pattern 31 to be formed is 50 nm, the thickness of the transfer pattern forming layer 13 is 60 nm or more.

[ナノインプリント用テンプレートの製造方法]
次に、本発明に係るナノインプリント用テンプレートの製造方法について説明する。
図7は、本発明に係るナノインプリント用テンプレートの製造方法の一例を示す概略工程図である。
本発明に係るナノインプリント用テンプレート3を製造するには、例えば、上記のようにして製造したテンプレート用積層基板1を準備し(図7(a))、転写パターン形成層13の上に、転写パターン形成用のエッチングマスクとなるハードマスク層14を形成する(図7(b))。なお、この図7(b)に示す形態は、本発明に係るテンプレートブランク2に相当する。
[Manufacturing method of template for nanoimprint]
Next, a method for producing a nanoimprint template according to the present invention will be described.
FIG. 7 is a schematic process chart showing an example of a method for producing a nanoimprint template according to the present invention.
In order to manufacture the nanoimprint template 3 according to the present invention, for example, the template laminated substrate 1 manufactured as described above is prepared (FIG. 7A), and a transfer pattern is formed on the transfer pattern forming layer 13. A hard mask layer 14 to be an etching mask for formation is formed (FIG. 7B). Note that the form shown in FIG. 7B corresponds to the template blank 2 according to the present invention.

上記のハードマスク層14については、転写パターン形成層13をドライエッチング加工する際のエッチングマスクとして機能するものであればよく、例えば、Cr(クロム)を含むスパッタ膜等を用いることができる。その厚みは、転写パターンのサイズや、上記材料のエッチング耐性等を考慮して適宜選択されるが、例えば、3nm〜10nmの範囲である。   The hard mask layer 14 only needs to function as an etching mask when the transfer pattern forming layer 13 is dry-etched. For example, a sputtered film containing Cr (chromium) can be used. The thickness is appropriately selected in consideration of the size of the transfer pattern, the etching resistance of the material, and the like, and is, for example, in the range of 3 nm to 10 nm.

次に、ハードマスク層14の上に樹脂パターン15Pを形成する(図7(c))。なお、この樹脂パターン15Pの形成は、従来の光インプリント法を用いても良く、電子線やレーザーを用いた製版技術を用いても良い。   Next, a resin pattern 15P is formed on the hard mask layer 14 (FIG. 7C). The resin pattern 15P may be formed using a conventional optical imprint method or a plate making technique using an electron beam or a laser.

次に、樹脂パターン15Pをエッチングマスクに用いてハードマスク層14をエッチングし(図7(d))、次いで樹脂パターン15Pを除去して、ハードマスクパターン14Pを形成する(図8(e))。
ハードマスク層14のエッチング方法としては、例えば、ハードマスク層14にCr膜を用いた場合には、塩素系ガスによるドライエッチングの方法を用いることができる。
Next, the hard mask layer 14 is etched using the resin pattern 15P as an etching mask (FIG. 7D), and then the resin pattern 15P is removed to form the hard mask pattern 14P (FIG. 8E). .
As a method for etching the hard mask layer 14, for example, when a Cr film is used for the hard mask layer 14, a dry etching method using a chlorine-based gas can be used.


次に、ハードマスクパターン14Pをエッチングマスクに用いて転写パターン形成層13をエッチングし(図8(f))、次いでハードマスクパターン14Pを除去して、転写領域23に凹凸形状の転写パターン31を有するナノインプリント用テンプレート3を得る(図8(g))。
転写パターン形成層13のエッチング方法としては、例えば、フッ素系ガスによるドライエッチングの方法を用いることができる。
)
Next, the transfer pattern forming layer 13 is etched using the hard mask pattern 14P as an etching mask (FIG. 8 (f)), and then the hard mask pattern 14P is removed to form an uneven transfer pattern 31 in the transfer region 23. The nanoimprint template 3 is obtained (FIG. 8G).
As an etching method for the transfer pattern forming layer 13, for example, a dry etching method using a fluorine-based gas can be used.

以上、本発明に係るテンプレート用積層基板、テンプレートブランク、ナノインプリント用テンプレート、および、テンプレート基板の再生方法、並びに、テンプレート用積層基板の製造方法についてそれぞれの実施形態を説明したが、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と、実質的に同一の構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなる場合であっても本発明の技術的範囲に包含される。   As mentioned above, although each embodiment was described about the lamination substrate for templates concerning the present invention, the template blank, the template for nanoimprint, the reproduction method of a template substrate, and the manufacturing method of the lamination substrate for templates, the present invention is the above-mentioned It is not limited to the embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the technical idea described in the claims of the present invention has substantially the same configuration and exhibits the same function and effect regardless of the case. It is included in the technical scope of the invention.

1・・・テンプレート用積層基板
2・・・テンプレートブランク
3・・・ナノインプリント用テンプレート
11・・・テンプレート基板
12・・・中間層
13・・・転写パターン形成層
14・・・ハードマスク層
14P・・・ハードマスクパターン
15P・・・樹脂パターン
21・・・凹部
22・・・メサ状の段差構造
23・・・転写領域
31、31a、31b・・・転写パターン
32・・・側壁エッチング部分
101・・・テンプレート基板
101A、101B・・・光透過性基材
102・・・テンプレートブランク
103・・・ナノインプリント用テンプレート
114・・・ハードマスク層
114P・・・ハードマスクパターン
115P・・・樹脂パターン
121・・・凹部
122・・・メサ状の段差構造
123・・・転写領域
131・・・転写パターン
151・・・保護層
151P・・・保護パターン
152・・・レジスト層
152P・・・レジストパターン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Template multilayer substrate 2 ... Template blank 3 ... Nanoimprint template 11 ... Template substrate 12 ... Intermediate layer 13 ... Transfer pattern formation layer 14 ... Hard mask layer 14P ..Hard mask pattern 15P ... resin pattern 21 ... concave 22 ... mesa step structure 23 ... transfer region 31, 31a, 31b ... transfer pattern 32 ... side wall etched portion 101. ··· Template substrates 101A, 101B ... Light transmissive substrate 102 ... Template blank 103 ... Nanoimprint template 114 ... Hard mask layer 114P ... Hard mask pattern 115P ... Resin pattern 121 ..Concave part 122 ... mesa-like step structure 123 ... Copy area 131 ... transfer pattern 151 ... protective layer 151P ... protection pattern 152 ... resist layer 152P ... resist pattern

Claims (9)

ナノインプリント用テンプレートに用いられるテンプレート用積層基板であって、
テンプレート基板と、前記テンプレート基板の上に形成された中間層と、前記中間層の上に形成された転写パターン形成層と、を有し、
前記テンプレート基板が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、
前記中間層が、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成されており、
前記転写パターン形成層が、シリコンを含む材料から構成されていることを特徴とするテンプレート用積層基板。
A laminated substrate for a template used for a template for nanoimprinting,
A template substrate, an intermediate layer formed on the template substrate, and a transfer pattern forming layer formed on the intermediate layer,
The template substrate is made of a material containing silicon oxide;
The intermediate layer is made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium,
The laminated substrate for templates, wherein the transfer pattern forming layer is made of a material containing silicon.
前記テンプレート基板が、一方の面にメサ状の段差構造を有し、他方の面に、平面視において、前記メサ状の段差構造と重なり、かつ、前記メサ状の段差構造よりも広い面積を有する凹部を有しており、
前記メサ状の段差構造を有する面の上に前記中間層と、前記転写パターン形成層と、を有していることを特徴とする請求項1に記載のテンプレート用積層基板。
The template substrate has a mesa-shaped step structure on one surface, and overlaps the mesa-shaped step structure on the other surface in plan view, and has a larger area than the mesa-shaped step structure. Has a recess,
The laminated substrate for templates according to claim 1, wherein the intermediate layer and the transfer pattern forming layer are provided on a surface having the mesa-shaped step structure.
前記中間層の波長365nmの光に対する透過率が、20%以上であることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のテンプレート用積層基板。   3. The template multilayer substrate according to claim 1, wherein a transmittance of the intermediate layer with respect to light having a wavelength of 365 nm is 20% or more. 4. 前記転写パターン形成層が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、その密度が、2.2g/cm3以上であることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載のテンプレート用積層基板。 The said transfer pattern formation layer is comprised from the material containing a silicon oxide, The density is 2.2 g / cm < 3 > or more, The Claim 1 thru | or 3 characterized by the above-mentioned. Laminated substrate for templates. 請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のテンプレート用積層基板の前記転写パターン形成層の上に、転写パターン形成用のエッチングマスクとなるハードマスク層を有することを特徴とするテンプレートブランク。   5. A template blank comprising a hard mask layer serving as an etching mask for forming a transfer pattern on the transfer pattern forming layer of the laminated substrate for a template according to claim 1. . 請求項1乃至請求項4のいずれか一項に記載のテンプレート用積層基板の前記転写パターン形成層に、凹凸形状の転写パターンが形成されていることを特徴とするナノインプリント用テンプレート。   A nanoimprint template, wherein a transfer pattern having a concavo-convex shape is formed on the transfer pattern forming layer of the laminated substrate for a template according to any one of claims 1 to 4. 前記転写パターンの深さが、前記転写パターン形成層の厚さよりも小さいことを特徴とする請求項6に記載のナノインプリント用テンプレート。   The nanoimprint template according to claim 6, wherein a depth of the transfer pattern is smaller than a thickness of the transfer pattern forming layer. テンプレート基板と、前記テンプレート基板の上に形成された中間層と、前記中間層の上に形成された転写パターン形成層と、を有し、前記テンプレート基板が、酸化シリコンを含む材料から構成されており、前記中間層が、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成されており、前記転写パターン形成層が、シリコンを含む材料から構成されている積層体の前記転写パターン形成層と前記中間層を除去することによって、前記テンプレート基板を再生する方法であって、
前記転写パターン形成層を除去する工程と前記中間層を除去する工程が、異なる条件のエッチング工程であり、
前記転写パターン形成層を除去する工程が、前記中間層を、前記テンプレート基板のエッチング保護層に用いたエッチング工程であることを特徴とするテンプレート基板の再生方法。
A template substrate; an intermediate layer formed on the template substrate; and a transfer pattern forming layer formed on the intermediate layer, wherein the template substrate is made of a material containing silicon oxide. The intermediate layer is made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium, and the transfer pattern forming layer is made of a material containing silicon. A method of regenerating the template substrate by removing a pattern forming layer and the intermediate layer,
The step of removing the transfer pattern forming layer and the step of removing the intermediate layer are etching steps under different conditions,
The method of regenerating a template substrate, wherein the step of removing the transfer pattern forming layer is an etching step using the intermediate layer as an etching protective layer of the template substrate.
請求項8に記載のテンプレート基板の再生方法により再生されたテンプレート基板を準備する工程と、
前記テンプレート基板の上に、クロム、タンタル、アルミニウム、または、ルテニウムのいずれか一種を含む材料から構成される中間層を形成する工程と、
前記中間層の上に、シリコンを含む材料から構成される転写パターン形成層を形成する工程と、
を備えることを特徴とするテンプレート用積層基板の製造方法。
Preparing a template substrate regenerated by the method for regenerating a template substrate according to claim 8;
Forming an intermediate layer made of a material containing any one of chromium, tantalum, aluminum, or ruthenium on the template substrate;
Forming a transfer pattern forming layer composed of a material containing silicon on the intermediate layer;
A method for producing a laminated substrate for a template, comprising:
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