JP2014137919A - Incomplete terminal insertion detection structure - Google Patents

Incomplete terminal insertion detection structure Download PDF

Info

Publication number
JP2014137919A
JP2014137919A JP2013006300A JP2013006300A JP2014137919A JP 2014137919 A JP2014137919 A JP 2014137919A JP 2013006300 A JP2013006300 A JP 2013006300A JP 2013006300 A JP2013006300 A JP 2013006300A JP 2014137919 A JP2014137919 A JP 2014137919A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lance
insertion detection
connector
detection pin
terminal fitting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013006300A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keiji Kitamura
圭史 北村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to JP2013006300A priority Critical patent/JP2014137919A/en
Publication of JP2014137919A publication Critical patent/JP2014137919A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Connector Housings Or Holding Contact Members (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve performance to detect that a terminal fitting is in an incomplete insertion state.SOLUTION: An incomplete terminal insertion detection structure includes: a connector 10 including a lance 13 provided in an elastically deformable manner in a cavity 12 so as to be engaged with a terminal fitting 30 to prevent the terminal fitting from being removed; and an inspection jig 40 including an incomplete insertion detection pin 50 made of a synthetic resin and protruding so as to enter a deformation allowable space 15 for the lance 13 in the connector 10. Second detected parts 23 retracted by a predetermined dimension are formed in part of an area of a tip surface 20 of the lance 13 close to the deformation allowable space 15 side in the plate thickness direction of the lance 13, and a guide groove 52 for allowing a first detected part 24 to enter therein is formed on the incomplete insertion detection pin 50 from its tip surface toward the back side in the entering direction, the first detected part 24 being the remaining area in the area 21 where the second detected parts 23 are formed in the tip surface 20 of the lance 13.

Description

本発明は、コネクタ内に端子金具が正規に挿入されているか否かを治具を用いて検知する端子半挿入検知構造に関する。   The present invention relates to a terminal half-insertion detection structure that detects whether or not a terminal fitting is properly inserted in a connector using a jig.

コネクタは一般的に、合成樹脂製のハウジングのキャビティ内に、電線の端末に接続された端子金具が挿入され、端子金具は同キャビティ内に設けられたランスを撓み許容空間に向けて弾性的に撓み変位させつつ押し込まれ、正規位置まで挿入されたところで、ランスが元姿勢に弾性変位して端子金具に係止することにより、端子金具が抜け止めされて収容されるようになっている。   In general, a connector is inserted into a cavity of a synthetic resin housing with a terminal fitting connected to the end of the wire, and the terminal fitting is elastically directed toward the allowable space by bending the lance provided in the cavity. The lance is elastically displaced to its original posture and locked to the terminal fitting when it is pushed in while being deflected and inserted to the proper position, so that the terminal fitting is prevented from being detached and accommodated.

従来このようなコネクタについて、ハウジングのキャビティ内に端子金具が正規に挿入されているか否かを検知する端子半挿入検知構造として、下記特許文献1に記載されたものが知られている。このものは、検査するコネクタを保持するホルダと、保持されたコネクタと対向した形態でホルダに接離する方向に移動可能に設けられたスライダとが備えられ、スライダには、コネクタにおけるランスの撓み許容空間に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピンと、この半挿入検知ピンと一体的にコネクタ側に向けて突出して設けられ半挿入検知ピンが撓み許容空間内に所定量進入した場合に端子金具と接触可能な位置まで進出する金属製の導通検査ピンとが対をなして設けられた構造となっている。   Conventionally, for such a connector, a half-insertion detection structure for detecting whether or not a terminal fitting is properly inserted in a cavity of a housing is described in Patent Document 1 below. This is provided with a holder for holding a connector to be inspected, and a slider provided so as to be movable toward and away from the holder in a form opposed to the held connector. A synthetic resin half-insertion detection pin that protrudes toward the allowable space, and the half-insertion detection pin that protrudes toward the connector integrally with the half-insertion detection pin bends and enters a predetermined amount into the allowable space. In this case, a metal continuity test pin that advances to a position where it can come into contact with the terminal fitting is provided in a pair.

検査するに当たっては、コネクタをホルダに保持するとともに、後退位置にあったスライダをホルダ側に向けて進出させる。端子金具がキャビティ内に正規に挿入されてランスにより係止されていると、スライダに設けられた対応する半挿入検知ピンが、ランスの撓み許容空間内に進入する一方、これと対をなす導通検査ピンが端子金具に当接することで電気的な導通が取られ、これにより端子金具がキャビティ内に正規に挿入されていることが検知される。   In the inspection, the connector is held by the holder, and the slider that has been in the retracted position is advanced toward the holder. When the terminal fitting is properly inserted into the cavity and locked by the lance, the corresponding half-insertion detection pin provided on the slider enters the allowable deflection space of the lance while it is paired with the continuity. When the inspection pin comes into contact with the terminal fitting, electrical continuity is obtained, thereby detecting that the terminal fitting is properly inserted into the cavity.

これに対して、端子金具がキャビティ内の正規位置まで挿入されておらず、すなわち半挿入状態に留められている場合は、ランスが撓み許容空間内に撓んだ状態に押さえられているため、スライダを進出させた場合に、対応する半挿入検知ピンが撓んだ状態にあるランスの先端面に当接し、それ以上撓み許容空間内に進入することができず、それに伴い導通検査ピンが端子金具とは接触できない手前側の位置に留まることで電気的導通が取られず、これによって端子金具はキャビティ内に正規挿入されておらず、すなわち半挿入状態にあることが検知されるようになっている。   On the other hand, when the terminal fitting is not inserted to the normal position in the cavity, that is, when it is kept in the half-inserted state, the lance is held in a state where it is bent in the bending allowable space, When the slider is advanced, the corresponding half-insertion detection pin comes into contact with the tip surface of the lance in the bent state and cannot enter the bending allowable space any more, and accordingly the continuity test pin is connected to the terminal. By staying in the position on the near side where it cannot come into contact with the metal fitting, electrical continuity is not taken, and this makes it possible to detect that the terminal metal fitting is not properly inserted into the cavity, that is, in a semi-inserted state. Yes.

特開平7−161429号公報Japanese Patent Laid-Open No. 7-161429

ところで、上記のように端子金具が半挿入状態に留められた場合において、ランスの撓み許容空間側への撓み量にばらつきが出るおそれがある。仮に撓み量が小さいと、ランスの先端部と撓み許容空間の上面との間に隙間ができ、半挿入検知ピンが進出した際に、同隙間に強引に割って入って正規量進入することが許容され、ひいては導通検査ピンが端子金具に当接することになる。すなわち端子金具が半挿入状態であるにも拘わらず、正規挿入されていると誤検知される結果となる。
本発明は上記のような事情に基づいて完成されたものであって、その目的は、端子金具が半挿入状態にあることの検知能力をより向上させるところにある。
By the way, when the terminal fitting is held in the half-inserted state as described above, there is a possibility that the amount of bending of the lance toward the bending allowable space side varies. If the amount of bending is small, a gap will be created between the tip of the lance and the upper surface of the bending allowance space, and when the half-insertion detection pin has advanced, it may be forced to break into the gap and enter a normal amount. The continuity test pin is allowed to contact the terminal fitting. That is, although the terminal fitting is in the half-inserted state, it is erroneously detected that it is properly inserted.
The present invention has been completed based on the above circumstances, and an object of the present invention is to further improve the detection capability of the terminal fitting being in a half-inserted state.

本発明は、端子金具が挿入されるキャビティを有するハウジングと、前記端子金具に係止して抜け止めするべく前記キャビティに弾性撓み可能に設けられたランスと、が具備されたコネクタと、検査すべきコネクタを保持するホルダと、このホルダに保持された前記コネクタと対向した形態で前記ホルダに接離する方向に移動可能に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ前記コネクタにおける前記ランスの撓み許容空間に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピンと、前記半挿入検知ピンと一体的に前記コネクタ側に向けて突出して設けられ前記半挿入検知ピンが前記撓み許容空間内に所定量進入した場合に前記端子金具と接触可能な位置まで進出する金属製の導通検査ピンと、が具備された検査治具と、からなる端子半挿入検知構造において、前記ランスの先端面における同ランスの板厚方向の前記撓み許容空間側に寄った領域の一部には、同ランスの先端面から所定寸法後退した第2被検知部が形成される一方、前記半挿入検知ピンには、前記ランスの先端面における前記第2被検知部が形成された前記領域のうちの残りの領域である第1被検知部の進入を許容する逃がし溝が、その先端面から進入方向後方に向けて形成されているところに特徴を有する。   The present invention inspects a connector provided with a housing having a cavity into which a terminal fitting is inserted, and a lance provided in the cavity so as to be elastically deflectable so as to be locked to the terminal fitting to prevent it from coming off. A holder that holds the power connector, a slider that is movable in the direction of contact with and away from the holder in a form facing the connector held by the holder, and a deflection of the lance at the connector that is provided on the slider A synthetic resin half-insertion detection pin protruding so as to be able to enter the permissible space, and the half-insertion detection pin projecting toward the connector side integrally with the half-insertion detection pin. An end consisting of an inspection jig provided with a metal continuity inspection pin that advances to a position where it can come into contact with the terminal fitting when a fixed amount enters. In the half-insertion detection structure, a second detected portion that is retracted by a predetermined dimension from the front end surface of the lance is located at a part of the front end surface of the lance that is closer to the bending allowable space side in the thickness direction of the lance. On the other hand, the half-insertion detection pin is a relief that allows the first detected portion, which is the remaining region of the region where the second detected portion is formed on the tip surface of the lance, to enter. The groove is characterized in that it is formed from the front end surface toward the rear in the approach direction.

端子金具がキャビティ内に正規に挿入されてランスにより係止されていると、半挿入検知ピンがランスの撓み許容空間内に進入するとともに、導通検査ピンが端子金具に当接することで電気的な導通が取られ、これにより端子金具がキャビティ内に正規に挿入されていることが確実に検査される。
端子金具がキャビティ内に半挿入状態で留められている場合は、ランスが撓み許容空間内に撓んだ状態になっている。ここで、ランスの撓み量が大きいと、進入した半挿入検知ピンの先端面がランスの先端面に当たることで、それ以上の進入が規制される。
ランスの撓み量が小さいと、ランスの先端面における撓み許容空間側に寄った領域が、半挿入検知ピンの先端面における逃がし溝が設けられた側の領域と対向するようになり、半挿入検知ピンは、ランスの先端面における上記領域のうちの第1被検知部を逃がし溝に挿入させつつ、ランスと撓み許容空間の隙間に進入し、途中で半挿入検知ピンの先端面がランスの第2被検知部に当接してそれ以上の進入が規制される。
When the terminal fitting is properly inserted into the cavity and locked by the lance, the half-insertion detection pin enters the bending allowance space of the lance and the continuity test pin contacts the terminal fitting to Conduction is taken, which ensures that the terminal fitting is properly inserted into the cavity.
When the terminal fitting is fastened in the cavity in a half-inserted state, the lance is in a state of being bent into the allowable space. Here, if the amount of bending of the lance is large, further entry is restricted by the tip surface of the half-insertion detection pin that has entered approaching the tip surface of the lance.
If the amount of lance deflection is small, the area of the lance tip face that is closer to the bending allowance space will face the area on the tip face of the half-insertion detection pin where the relief groove is provided. The pin enters the gap between the lance and the bending allowance space while inserting the first detected portion of the above-mentioned region in the tip surface of the lance into the escape groove, and the tip surface of the half-insertion detection pin is in the middle of the lance. 2 A further entry is restricted by contacting the detected part.

いずれにしても、半挿入検知ピンが撓み許容空間に正規量進入できないことで、導通検査ピンが端子金具とは接触できない手前側の位置に留まって電気的導通が取られず、これによって端子金具が半挿入状態にあることが検査される。
すなわち、端子金具が半挿入状態にあってランスの撓み量にばらつきがあった場合も、半挿入状態であることを確実に検査することができる。
半挿入検知ピンの先端面に逃がし溝を形成するには、同半挿入検知ピンの先端部を相応に太くする必要があり、その結果、同先端部の増強を図ることができる。
In any case, because the half-insertion detection pin cannot bend into the allowable space by a normal amount, the continuity test pin stays in the position on the near side where it cannot contact the terminal fitting, and electrical continuity is not taken. It is inspected to be in the half-insertion state.
In other words, even when the terminal fitting is in the half-inserted state and the lance is deflected, it can be reliably inspected that the terminal fitting is in the half-inserted state.
In order to form a relief groove on the tip surface of the half-insertion detection pin, the tip portion of the half-insertion detection pin needs to be correspondingly thickened. As a result, the tip portion can be strengthened.

また、前記ランスの先端面に形成された前記第2被検知部は、当該ランスの幅方向の中心線を挟んだ対称位置に配されている構成としてもよい。
この構成では、進入する半挿入検知ピンを第2被検知部がバランス良く受けて確実に停止させ、ランスの撓み量が小さい場合における半挿入検知をより確実に行うことができる。
Further, the second detected portion formed on the tip surface of the lance may be arranged at a symmetrical position across the center line in the width direction of the lance.
In this configuration, the semi-insertion detection pin can be more reliably detected when the second detection portion receives the semi-insertion detection pin that enters in a well-balanced manner and reliably stops and the lance deflection amount is small.

本発明によれば、端子金具が半挿入状態にあることの検知能力をより向上させることができる。   According to the present invention, it is possible to further improve the detection capability of the terminal fitting being in a half-inserted state.

本発明の実施形態1に係る検査前の状態の平断面図Plan sectional drawing of the state before the inspection which concerns on Embodiment 1 of this invention ランスの斜視図Lance perspective view 半挿入検知ピンの斜視図Perspective view of half-insertion detection pin 雌端子が正規挿入されていた場合の検査時の平断面図Plan sectional view at the time of inspection when the female terminal is properly inserted 雌端子が半挿入状態でランスが第1の撓み変位状態にあった場合の検査時の平断面図Plan sectional view at the time of inspection when the female terminal is in the half insertion state and the lance is in the first bending displacement state 半挿入検知ピンとランスの当接部分を示す図5の部分拡大図FIG. 5 is a partially enlarged view showing a contact portion between the half-insertion detection pin and the lance. 図6における当接領域を示す概略図Schematic showing the contact area in FIG. 雌端子が半挿入状態でランスが第2の撓み変位状態にあった場合の検査時の平断面図Plan sectional view at the time of inspection when the female terminal is in the half insertion state and the lance is in the second bending displacement state 半挿入検知ピンとランスの当接部分を示す図8の部分拡大図FIG. 8 is a partially enlarged view showing a contact portion between the half-insertion detection pin and the lance. 図9における当接領域を示す概略図Schematic showing the contact area in FIG. 実施形態2に係るランスの斜視図The perspective view of the lance which concerns on Embodiment 2. FIG. 同半挿入検知ピンの斜視図Perspective view of half-insertion detection pin 実施形態3に係るランスの斜視図The perspective view of the lance which concerns on Embodiment 3. 同半挿入検知ピンの斜視図Perspective view of half-insertion detection pin

<実施形態1>
本発明の実施形態1を図1ないし図10によって説明する。
まず、本実施形態の検査治具40を使用して検査されるコネクタ10について説明する。コネクタ10は雌側のコネクタであって、合成樹脂製の雌側のハウジング11を備えており、同ハウジング11内には、雌端子30を後方から挿入可能なキャビティ12が形成されている。キャビティ12の天井部には、雌端子30を抜け止め状態に係止するためのランス13が設けられている。
<Embodiment 1>
A first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.
First, the connector 10 inspected using the inspection jig 40 of the present embodiment will be described. The connector 10 is a female-side connector and includes a female-side housing 11 made of synthetic resin. In the housing 11, a cavity 12 into which a female terminal 30 can be inserted from the rear is formed. A lance 13 is provided at the ceiling of the cavity 12 to lock the female terminal 30 in a retaining state.

ランス13は、下面の先端部寄りの位置に係止突部14を有して前方に片持ち状に延出した形状となっており、先端側が同ランス13の上方に設けられた撓み許容空間15に向けて弾性的に撓み変位可能となっている。ランス13と撓み許容空間15の前方はハウジング11の前面に開口しており、この開口が、ランス13の係止解除をするために解除治具を挿入することに用いる治具挿入孔16となっている。   The lance 13 has a locking projection 14 at a position near the tip of the lower surface and has a shape that extends forward in a cantilevered manner. 15 is elastically bent and displaceable. The front of the lance 13 and the bending allowance space 15 is open to the front surface of the housing 11, and this opening is a jig insertion hole 16 used for inserting a release jig to unlock the lance 13. ing.

雌端子30がキャビティ12内に挿入されると、雌端子30はランス13を撓み許容空間15に向けて弾性的に撓み変位させつつ押し込まれ、キャビティ12の前壁17に当たる正規位置まで挿入されると、雌端子30に設けられたランス孔31が係止突部14の位置に対応することでランス13が元姿勢に弾性復帰し、係止突部14がランス孔31に嵌って係止することで、雌端子30が抜け止めされて収容されるようになっている。
一方、雌端子30がキャビティ12内の正規位置まで挿入されていない場合は、図5及び図8に参照して示すように、ランス13は雌端子30で押し上げられて撓み許容空間15内に弾性撓みしたままの形態にある。
When the female terminal 30 is inserted into the cavity 12, the female terminal 30 is pushed in while elastically deflecting and displacing the lance 13 toward the bending allowable space 15, and is inserted to a normal position where it hits the front wall 17 of the cavity 12. When the lance hole 31 provided in the female terminal 30 corresponds to the position of the locking projection 14, the lance 13 is elastically restored to the original posture, and the locking projection 14 is fitted into the lance hole 31 and locked. Thus, the female terminal 30 is prevented from being detached and accommodated.
On the other hand, when the female terminal 30 is not inserted to the normal position in the cavity 12, the lance 13 is pushed up by the female terminal 30 and elastically enters the bending allowance space 15 as shown in FIGS. 5 and 8. It is in the form as bent.

続いて、検査治具40について図1によって説明する。検査治具40は、細長い基台(図示せず)の一側にホルダ41が設けられる一方、反対側には、スライダ45が、ホルダ41に接離する方向に摺動可能に装備されている。
以下では、ホルダ41並びにスライダ45において、それぞれ相手と対向した面を前面として説明する。
ホルダ41にはコネクタ挿入溝42が形成され、検査するべきコネクタ10がコネクタ挿入溝42に図示しない上面開口から挿入され、所定の高さ位置においてハウジング11の前面がホルダ41の前面と面一となった形態で、前後方向の移動不能に保持されるようになっている。
Next, the inspection jig 40 will be described with reference to FIG. The inspection jig 40 is provided with a holder 41 on one side of an elongated base (not shown), and on the opposite side, a slider 45 is equipped so as to be slidable in a direction contacting and separating from the holder 41. .
Below, in the holder 41 and the slider 45, the surface which each opposed the other party is demonstrated as a front surface.
A connector insertion groove 42 is formed in the holder 41, and the connector 10 to be inspected is inserted into the connector insertion groove 42 from an upper surface opening (not shown), and the front surface of the housing 11 is flush with the front surface of the holder 41 at a predetermined height position. In this form, it is held so that it cannot move in the front-rear direction.

スライダ45の前面には、ホルダ41に収容されたコネクタ10のキャビティ12と対向した位置において、対をなす半挿入検知ピン50と導通検査ピン60とが並んで突設されている。
半挿入検知ピン50は合成樹脂製であって、詳しくは後記するが、横長の長方形断面を有する細長い板状をなして突出形成されている。なお、根元側が厚肉とされて補強されている。
同半挿入検知ピン50は、スライダ45がホルダ41側に向けて前進することに伴い、ホルダ41内に保持されたハウジング11のキャビティ12におけるランス13の撓み許容空間15に向けて、治具挿入孔16を通して進入するように機能する。
On the front surface of the slider 45, a pair of half-insertion detection pins 50 and a continuity test pin 60 project in parallel at a position facing the cavity 12 of the connector 10 accommodated in the holder 41.
The half-insertion detection pin 50 is made of a synthetic resin, and will be described in detail later. Note that the base side is thick and reinforced.
The half-insertion detecting pin 50 is inserted into the jig toward the bending allowable space 15 of the lance 13 in the cavity 12 of the housing 11 held in the holder 41 as the slider 45 advances toward the holder 41 side. It functions to enter through the hole 16.

一方、導通検査ピン60は金属製であって、上記の半挿入検知ピン50よりも突出長が短い形態で形成されている。導通検査ピン60は、スライダ45の前進に伴って半挿入検知ピン50と一体的に前進可能となっていて、半挿入検知ピン50が撓み許容空間15内に所定量進入した場合に、ハウジング11の前壁17に形成された開口18を通して、雌端子30の前端部、詳細には弾性接触片32の折り返し部に接触する設定となっている。
なお、導通検査ピン60の後端からは図示しないリード線が引き出され、所定の導通検査回路に接続されている。
On the other hand, the continuity test pin 60 is made of metal and is formed in a form in which the protruding length is shorter than the half-insertion detection pin 50 described above. The continuity test pin 60 can advance integrally with the half-insertion detection pin 50 as the slider 45 advances, and when the half-insertion detection pin 50 enters a predetermined amount into the bending allowance space 15, the housing 11 Through the opening 18 formed in the front wall 17, the front end portion of the female terminal 30, specifically, the folded portion of the elastic contact piece 32 is contacted.
A lead wire (not shown) is drawn from the rear end of the continuity test pin 60 and connected to a predetermined continuity test circuit.

さて、この実施形態では、雌端子30の半挿入検知をより確実に行うべき手段が講じられている。
まず、コネクタ10のハウジング11のキャビティ12に設けられたランス13の先端面20では、図2に示すように、その板厚方向の上部側の略1/3の帯状領域21において、中央部を残して両端部が一段後退した形態で一対の第2被検知部23が形成されている。また、残った中央部が第1被検知部24となる。
Now, in this embodiment, a means for more reliably performing the half insertion detection of the female terminal 30 is taken.
First, in the distal end surface 20 of the lance 13 provided in the cavity 12 of the housing 11 of the connector 10, as shown in FIG. A pair of second detected parts 23 are formed in a form in which both end parts are moved backward by one step. Further, the remaining central portion becomes the first detected portion 24.

一方、図3に示すように、半挿入検知ピン50における横長の長方形断面をなす先端部では、上記したランス13の先端部とほぼ同幅で、かつ撓み許容空間15の高さ(ランス13の上面と撓み許容空間15の天井面15Aとの間の上下方向の寸法)に匹敵した板厚を有している(図4参照)。以下では、半挿入検知ピン50の先端面を検知面51と称する。
この半挿入検知ピン50の下面における幅方向の中央部には、上記したランス13の帯状領域21における中央の第1被検知部24の進入を許容する逃がし溝52が、検知面51から切り込み形成されている。同逃がし溝52は、板厚の半分弱の深さを有しており、言い換えると、逃がし溝52の両側にリブ53が立てられた形態となっている。
On the other hand, as shown in FIG. 3, the tip portion of the half-insertion detection pin 50 having a horizontally long rectangular cross section has substantially the same width as the tip portion of the lance 13 described above and the height of the bending allowance space 15 (of the lance 13). The plate thickness is comparable to the vertical dimension between the upper surface and the ceiling surface 15A of the bending-permissible space 15 (see FIG. 4). Hereinafter, the tip surface of the half-insertion detection pin 50 is referred to as a detection surface 51.
A relief groove 52 that allows entry of the central first detected portion 24 in the band-like region 21 of the lance 13 is formed by cutting from the detection surface 51 at the center in the width direction on the lower surface of the half-insertion detection pin 50. Has been. The escape groove 52 has a depth of a little less than half of the plate thickness. In other words, the relief groove 52 has ribs 53 on both sides of the escape groove 52.

半挿入検知ピン50のホルダ41内に保持されたコネクタ10側に対する高さ位置の関係は、雌端子30が正規挿入されてランス13が元姿勢に戻っている場合は、図1に示すように、半挿入検知ピン50がハウジング11に設けられた撓み許容空間15内にランス13と干渉することなく進入可能な位置にある。
雌端子30が半挿入状態に留められ、特に図5及び図6に示すように、ランス13が撓み許容空間15側に大きく撓み変位した状態である場合には(第1の撓み変位状態)、半挿入検知ピン50の検知面51が、ランス13の先端面20の上側の略2/3の領域に当接可能である。
The relationship of the height position of the half-insertion detection pin 50 with respect to the connector 10 held in the holder 41 is as shown in FIG. 1 when the female terminal 30 is normally inserted and the lance 13 returns to the original posture. The half-insertion detection pin 50 is in a position where it can enter the flexure allowable space 15 provided in the housing 11 without interfering with the lance 13.
When the female terminal 30 is kept in the half-inserted state, and particularly as shown in FIGS. 5 and 6, the lance 13 is in a state of being greatly deflected and displaced toward the deflection allowable space 15 side (first deflection displacement state), The detection surface 51 of the half-insertion detection pin 50 can be brought into contact with an approximately 2/3 region on the upper side of the tip surface 20 of the lance 13.

また、同じく雌端子30が半挿入状態に留められるも、図8及び図9に示すように、ランス13が撓み許容空間15側に比較的小さく(撓み許容空間15の半分高さ程度)撓み変位した状態に押さえられている場合は(第2の撓み変位状態)、半挿入検知ピン50の検知面51が、ランス13の先端面20の帯状領域21からその上方の領域に亘って対向し、特に、半挿入検知ピン50の下面側の両リブ53が、ランス13の帯状領域21の両端部に設けられた第2被検知部23に当接可能な位置にある。
言い換えると、ランス13の先端面20の一段奥に形成された第2被検知部23は、ランス13の撓み量が小さい場合(第2の撓み変位状態)に、半挿入検知ピン50の両リブ53と対向する位置に来るように、先端面20からの後退寸法が設定されている。
Similarly, although the female terminal 30 is kept in the half-inserted state, as shown in FIGS. 8 and 9, the lance 13 is relatively small toward the bending allowable space 15 (about half the height of the bending allowable space 15). When the pressed state is held (second bending displacement state), the detection surface 51 of the half-insertion detection pin 50 faces from the band-like region 21 of the tip surface 20 of the lance 13 to the region above it, In particular, both ribs 53 on the lower surface side of the half-insertion detection pin 50 are in positions where they can contact the second detected portions 23 provided at both ends of the band-like region 21 of the lance 13.
In other words, the second detected portion 23 formed at the one-stage depth of the distal end surface 20 of the lance 13 has both ribs of the half-insertion detection pin 50 when the lance 13 has a small amount of bending (second bending displacement state). The retreat dimension from the front end surface 20 is set so as to come to a position facing 53.

本実施形態の作用を説明する。雌端子30がコネクタ10のキャビティ12内に正規挿入されているか否かの検知は、以下のような手順で行われる。
図1に示すように、コネクタ10が検査治具40におけるホルダ41のコネクタ挿入溝42に挿入されて保持されると、同図の矢線に示すように、スライダ45がホルダ41に向けて摺動される。
ここで、雌端子30がキャビティ12内に正規に挿入されてランス13により係止されていると、図4に示すように、半挿入検知ピン50がランス13の撓み許容空間15内に進入するとともに、導通検査ピン60が雌端子30の前端部に当接することで電気的な導通が取られ、これにより雌端子30がキャビティ12内に正規に挿入されていることが確認される。
The operation of this embodiment will be described. Whether or not the female terminal 30 is normally inserted into the cavity 12 of the connector 10 is detected by the following procedure.
As shown in FIG. 1, when the connector 10 is inserted and held in the connector insertion groove 42 of the holder 41 in the inspection jig 40, the slider 45 slides toward the holder 41 as indicated by the arrow in FIG. Moved.
Here, when the female terminal 30 is properly inserted into the cavity 12 and is locked by the lance 13, the half-insertion detection pin 50 enters the bending allowable space 15 of the lance 13 as shown in FIG. 4. At the same time, electrical continuity is obtained by contact of the continuity test pin 60 with the front end portion of the female terminal 30, thereby confirming that the female terminal 30 is properly inserted into the cavity 12.

雌端子30がキャビティ12内で半挿入状態に留められている場合は、ランス13が撓み許容空間15内に撓んだ状態になっている。ここで、図5に示すように、ランス13の撓み量が大きいと(第1の撓み変位状態)、図6に示すように、進入した半挿入検知ピン50の検知面51が、ランス13の先端面20における上側の略2/3の領域に対向し、詳細には、図7においてドットを付して示すように、ランス13の先端面20の帯状領域21における第1被検知部24と、同ランス13の先端面20における帯状領域21の下側の方形領域26のうち、左上並びに右上の隅部に当接し、それ以上の進入が規制される。   When the female terminal 30 is held in the half-inserted state in the cavity 12, the lance 13 is in a state of being bent in the bending allowable space 15. Here, as shown in FIG. 5, when the amount of bending of the lance 13 is large (first bending displacement state), as shown in FIG. The upper surface of the distal end surface 20 faces approximately 2/3 of the upper surface. Specifically, as shown with a dot in FIG. 7, the first detected portion 24 in the belt-shaped region 21 of the distal end surface 20 of the lance 13 In the rectangular area 26 on the lower side of the band-like area 21 on the front end surface 20 of the lance 13, it abuts on the upper left and upper right corners, and further entry is restricted.

図8に示すように、ランス13の撓み量が小さいと(第2の撓み変位状態)、ランス13の先端面20の帯状領域21が、半挿入検知ピン50の検知面51の下部側と当接するようになり、半挿入検知ピン50は、ランス13の先端面20における帯状領域21のうちの第1被検知部24を逃がし溝52に挿入させつつ、ランス13の上面と撓み許容空間15の天井面15Aとの間の隙間に進入し、若干量進入したところで、図9並びに図10にドットを付して示すように、逃がし溝52の両側のリブ53の先端面がランス13の第2被検知部23に当接し、それ以上の進入が規制される。
いずれにしても、半挿入検知ピン50が撓み許容空間15に正規深さまで進入できないことで、導通検査ピン60が雌端子30とは接触できない手前側の位置に留まって電気的導通が取られず、これによって雌端子30が半挿入状態にあることが電気的に検知される。
As shown in FIG. 8, when the bending amount of the lance 13 is small (second bending displacement state), the band-like region 21 of the tip surface 20 of the lance 13 contacts the lower side of the detection surface 51 of the half-insertion detection pin 50. The half-insertion detection pin 50 comes into contact with the upper surface of the lance 13 and the bending allowance space 15 while inserting the first detected portion 24 of the band-like region 21 in the distal end surface 20 of the lance 13 into the escape groove 52. When entering a gap with the ceiling surface 15A and entering a small amount, the tip surfaces of the ribs 53 on both sides of the escape groove 52 are the second surfaces of the lance 13 as shown in FIG. 9 and FIG. It abuts on the detected part 23 and further entry is restricted.
In any case, since the half-insertion detection pin 50 cannot enter the bending allowable space 15 to the normal depth, the continuity test pin 60 remains at the position on the near side where it cannot contact the female terminal 30, and electrical conduction is not taken, Thereby, it is electrically detected that the female terminal 30 is in a half-inserted state.

以上のように本実施形態によれば、雌端子30が半挿入状態にあってランス13の撓み量にばらつきがあった場合も、半挿入状態であることを確実に検知することができる。
半挿入検知ピン50の検知面51に逃がし溝52を形成するには、同半挿入検知ピン50の先端部を相応に太くする必要があり、その結果、同先端部の増強を図ることができる。
また、ランス13の先端面20に形成された第2被検知部23は、ランス13の上端部の帯状領域21の両端部といった、同ランス13の幅方向の中心線を挟んだ対称位置に配されているから、進入する半挿入検知ピン50を両第2被検知部23がバランス良く受けて確実に停止させることができる。結果、ランス13の撓み量が小さい場合における半挿入検知をより確実に行うことができる。
As described above, according to the present embodiment, even when the female terminal 30 is in the half-inserted state and the amount of deflection of the lance 13 varies, it can be reliably detected that the female terminal 30 is in the half-inserted state.
In order to form the relief groove 52 on the detection surface 51 of the half-insertion detection pin 50, it is necessary to make the tip end portion of the half-insertion detection pin 50 correspondingly thick. As a result, the tip end portion can be strengthened. .
In addition, the second detected portion 23 formed on the tip surface 20 of the lance 13 is arranged at a symmetrical position across the center line in the width direction of the lance 13 such as both end portions of the band-like region 21 at the upper end portion of the lance 13. Therefore, both the second detected parts 23 can receive the entering half-insertion detection pin 50 in a balanced manner and can be surely stopped. As a result, half-insertion detection when the amount of bending of the lance 13 is small can be performed more reliably.

<実施形態2>
本発明の実施形態2を図11及び図12によって説明する。この実施形態では、ランス13Aにおける第2被検知部23Aと、半挿入検知ピン50Aにおける逃がし溝52Aの形成構造に変更が加えられている。
すなわち実施形態1とは逆に、ランス13Aの先端面20における上部側の帯状領域21の中央幅位置に、一段後退した第2被検知部23Aが形成されるとともに、半挿入検知ピン50Aの下面における幅方向の両端部に、上記したランス13Aの帯状領域21における両端の第1被検知部24Aの進入を許容する逃がし溝52Aが、検知面51から切り込み形成されている。
<Embodiment 2>
A second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In this embodiment, changes are made to the formation structure of the second detected portion 23A in the lance 13A and the relief groove 52A in the half-insertion detection pin 50A.
That is, contrary to the first embodiment, the second detected portion 23A that is retracted by one step is formed at the center width position of the upper band-like region 21 on the tip surface 20 of the lance 13A, and the lower surface of the half-insertion detection pin 50A. Relief grooves 52 </ b> A that allow the first detected portions 24 </ b> A at both ends in the belt-like region 21 of the lance 13 </ b> A to enter are cut out from the detection surface 51 at both end portions in the width direction of FIG.

この実施形態2では、雌端子30がキャビティ12内で半挿入状態に留められ、かつランス13Aの撓み量が小さい場合には、半挿入検知ピン50Aは、ランス13Aの先端面20における帯状領域21のうちの第1被検知部24Aを逃がし溝52Aに挿入させつつ、ランス13Aの上面と撓み許容空間15の天井面15Aとの間の隙間に進入し、若干量進入したところで、両逃がし溝52Aの間のリブ53Aの先端面がランス13Aの第2被検知部23Aに当接し、それ以上の進入が規制される。これにより、雌端子30の半挿入が検知される。   In the second embodiment, when the female terminal 30 is held in the half-inserted state in the cavity 12 and the deflection amount of the lance 13A is small, the half-insertion detection pin 50A is a belt-like region 21 on the tip surface 20 of the lance 13A. The first detected portion 24A is inserted into the escape groove 52A, and enters the gap between the upper surface of the lance 13A and the ceiling surface 15A of the bending allowance space 15, and when a small amount enters, both the escape grooves 52A. The front end surface of the rib 53A in between is in contact with the second detected portion 23A of the lance 13A, and further entry is restricted. Thereby, half insertion of the female terminal 30 is detected.

<実施形態3>
図13及び図14は本発明の実施形態3を示し、ランス13Bにおける第2被検知部23Bと、半挿入検知ピン50Bにおける逃がし溝52Bの形成構造に別の変更が加えられている。
実施形態3では、ランス13Bの先端面20における上部側の帯状領域21のうち、正面視で左半分の領域に、一段後退した第2被検知部23Bが形成されるとともに、半挿入検知ピン50Bの下面における正面視で幅方向の左半分の領域に、上記したランス13Bの帯状領域21における右半分の第1被検知部24Bの進入を許容する逃がし溝52Bが、検知面51から切り欠いて形成されている。
<Embodiment 3>
13 and 14 show a third embodiment of the present invention, in which another change is made to the formation structure of the second detected portion 23B in the lance 13B and the escape groove 52B in the half-insertion detection pin 50B.
In the third embodiment, the second detected portion 23B that is retracted one step is formed in the left half region in the front view of the upper band-like region 21 on the distal end surface 20 of the lance 13B, and the half insertion detection pin 50B. An escape groove 52B that allows the first half of the first detected portion 24B in the belt-like region 21 of the lance 13B to enter is cut out from the detection surface 51 in the left half region in the width direction in front view on the lower surface of the lance 13B. Is formed.

この実施形態3では、雌端子30がキャビティ12内で半挿入状態に留められ、かつランス13Bの撓み量が小さい場合には、半挿入検知ピン50Bは、ランス13Bの先端面20における帯状領域21のうちの第1被検知部24Bを逃がし溝52Bに挿入させつつ、ランス13Bの上面と撓み許容空間15の天井面15Aとの間の隙間に進入し、若干量進入したところで、半挿入検知ピン50Bの右半分の残余部53Bがランス13Bの第2被検知部23Bに当接し、それ以上の進入が規制される。同様に、雌端子30の半挿入が検知される。   In the third embodiment, when the female terminal 30 is held in the half-inserted state in the cavity 12 and the deflection amount of the lance 13B is small, the half-insertion detection pin 50B is a band-like region 21 on the distal end surface 20 of the lance 13B. The first detected portion 24B is inserted into the escape groove 52B, and enters the gap between the upper surface of the lance 13B and the ceiling surface 15A of the bending allowance space 15, and when a small amount enters, the semi-insertion detection pin The remaining portion 53B of the right half of 50B comes into contact with the second detected portion 23B of the lance 13B, and further entry is restricted. Similarly, half insertion of the female terminal 30 is detected.

<他の実施形態>
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれる。
(1)ランスの被検知部と、半挿入検知ピンの逃がし溝の数や形成位置は、上記実施形態に例示したものに限らず、ランス側の残った第1被検知部が半挿入検知ピンの逃がし溝に進入可能である限り、適宜に選定し得るものである。
(2)半挿入検知ピンと導通検査ピンとの対は、ハウジングに設けられたキャビティの数等の条件に応じて、2対以上備えたものであってもよい。
(3)本発明は、雄端子を雄側のハウジング内に収容した雄側のコネクタの検知装置にも同様に適用することが可能である。
<Other embodiments>
The present invention is not limited to the embodiments described with reference to the above description and drawings. For example, the following embodiments are also included in the technical scope of the present invention.
(1) The number and forming positions of the lance detection portion and the half-insertion detection pin relief groove are not limited to those illustrated in the above embodiment, and the first detection portion remaining on the lance side is the half-insertion detection pin. As long as it can enter the relief groove, it can be selected appropriately.
(2) Two or more pairs of half-insertion detection pins and continuity test pins may be provided depending on conditions such as the number of cavities provided in the housing.
(3) The present invention can be similarly applied to a detection device for a male connector in which a male terminal is accommodated in a male housing.

10…コネクタ
11…ハウジング
12…キャビティ
13,13A,13B…ランス
15…撓み許容空間
20…(ランスの)先端面
21…帯状領域
23,23A,23B…第2被検知部
24,24A,24B…第1被検知部
30…雌端子
31…ランス孔
40…検査治具
41…ホルダ
45…スライダ
50,50A,50B…半挿入検知ピン
51…検知面
52,52A,52B…逃がし溝
60…導通検査ピン
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Connector 11 ... Housing 12 ... Cavity 13,13A, 13B ... Lance 15 ... Deflection allowable space 20 ... (Lance) front end surface 21 ... Band-like area | region 23, 23A, 23B ... 2nd to-be-detected part 24, 24A, 24B ... 1st to-be-detected part 30 ... Female terminal 31 ... Lance hole 40 ... Inspection jig 41 ... Holder 45 ... Slider 50, 50A, 50B ... Half insertion detection pin 51 ... Detection surface 52, 52A, 52B ... Relief groove 60 ... Continuity inspection pin

Claims (2)

端子金具が挿入されるキャビティを有するハウジングと、
前記端子金具に係止して抜け止めするべく前記キャビティに弾性撓み可能に設けられたランスと、が具備されたコネクタと、
検査すべきコネクタを保持するホルダと、
このホルダに保持された前記コネクタと対向した形態で前記ホルダに接離する方向に移動可能に設けられたスライダと、
前記スライダに設けられ前記コネクタにおける前記ランスの撓み許容空間に向けて進入可能に突出した合成樹脂製の半挿入検知ピンと、
前記半挿入検知ピンと一体的に前記コネクタ側に向けて突出して設けられ前記半挿入検知ピンが前記撓み許容空間内に所定量進入した場合に前記端子金具と接触可能な位置まで進出する金属製の導通検査ピンと、が具備された検査治具と、
からなる端子半挿入検知構造において、
前記ランスの先端面における同ランスの板厚方向の前記撓み許容空間側に寄った領域の一部には、同ランスの先端面から所定寸法後退した第2被検知部が形成される一方、
前記半挿入検知ピンには、前記ランスの先端面における前記第2被検知部が形成された前記領域のうちの残りの領域である第1被検知部の進入を許容する逃がし溝が、その先端面から進入方向後方に向けて形成されていることを特徴とする端子半挿入検知構造。
A housing having a cavity into which the terminal fitting is inserted;
A lance provided in the cavity so as to be elastically deflectable so as to be locked to the terminal fitting and to be prevented from coming off, and a connector,
A holder for holding a connector to be inspected;
A slider provided so as to be movable in the direction of contact with and away from the holder in a form facing the connector held by the holder;
A semi-insertion detection pin made of a synthetic resin, which is provided on the slider and protrudes so as to be able to enter the bending allowable space of the lance in the connector;
It is made of metal that protrudes toward the connector side integrally with the half-insertion detection pin and advances to a position where it can come into contact with the terminal fitting when the half-insertion detection pin enters a predetermined amount into the bending allowable space. An inspection jig provided with a continuity inspection pin;
In the terminal half insertion detection structure consisting of
On the tip surface of the lance, a part of a region close to the bending allowable space side in the plate thickness direction of the lance is formed with a second detected portion that is retracted by a predetermined dimension from the tip surface of the lance,
The half-insertion detection pin has a relief groove that allows the first detected portion, which is the remaining region of the region where the second detected portion is formed, on the distal end surface of the lance to have a tip. A terminal half-insertion detection structure, wherein the terminal half-insertion detection structure is formed from the surface toward the rear in the entry direction.
前記ランスの先端面に形成された前記第2被検知部は、当該ランスの幅方向の中心線を挟んだ対称位置に配されていることを特徴とする請求項1記載の端子半挿入検知構造。 The terminal half-insertion detection structure according to claim 1, wherein the second detected portion formed on the tip surface of the lance is disposed at a symmetrical position with a center line in the width direction of the lance interposed therebetween. .
JP2013006300A 2013-01-17 2013-01-17 Incomplete terminal insertion detection structure Pending JP2014137919A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013006300A JP2014137919A (en) 2013-01-17 2013-01-17 Incomplete terminal insertion detection structure

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013006300A JP2014137919A (en) 2013-01-17 2013-01-17 Incomplete terminal insertion detection structure

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014137919A true JP2014137919A (en) 2014-07-28

Family

ID=51415317

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013006300A Pending JP2014137919A (en) 2013-01-17 2013-01-17 Incomplete terminal insertion detection structure

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2014137919A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015170487A (en) * 2014-03-07 2015-09-28 矢崎総業株式会社 connector
KR101623139B1 (en) 2015-01-13 2016-05-23 주식회사 경신 Jig for terminal test

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015170487A (en) * 2014-03-07 2015-09-28 矢崎総業株式会社 connector
KR101623139B1 (en) 2015-01-13 2016-05-23 주식회사 경신 Jig for terminal test

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3800312B2 (en) connector
JP4876985B2 (en) connector
JP2006244709A (en) Connector, connector testing apparatus and connector testing method
US9362652B2 (en) Connector with at least one detector
JP5510346B2 (en) connector
JP5757440B2 (en) connector
WO2014017549A1 (en) Connector
JP6187401B2 (en) Connector and inspection jig
JP2014137919A (en) Incomplete terminal insertion detection structure
JP2013206588A (en) Connector
JP2018137211A (en) Electrical connector system with enhanced terminal retaining beam
JP2013145635A (en) Connector
JP2008097908A (en) Connector
JP3043568B2 (en) connector
EP1916746B1 (en) A connector
JP2011018543A (en) Connector
JP6309788B2 (en) connector
JP2014044863A (en) Connector
JP2012042383A (en) Connector inspection apparatus
JP5691899B2 (en) Relay connector
JP4449985B2 (en) Connector inspection device
JP4696922B2 (en) Connector holder
JP2009129626A (en) Connector
JP2016149277A (en) connector
JP2013254596A (en) Joint connector