JP2014085182A - Solar simulator - Google Patents

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俊輔 武田
Yutaka Hatakeyama
豊 畠山
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    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a solar simulator which can highly accurately perform photoelectric characteristic measurement by light of a sufficiently long light emitting time, can reduce power consumption, and elongate life of a light source as well.SOLUTION: A solar simulator is provided with: a high pressure xenon short arc lamp 21 capable of repetitive operation of lighting and light-off; a lamp power source circuit 25 for supplying lamp current; a starter circuit 24 for applying trigger voltage for start; a measurement circuit 27 for measuring photoelectric conversion characteristics of an object 23 to be measured; and a measurement control circuit 28 electrically connected to the lamp power source circuit 25, the starter circuit 24, and the measurement circuit 27. The measurement control circuit 28 instructs the starter circuit 24 to apply trigger voltage either when measurement starts or right before measurement starts to instantaneously light the high pressure xenon short arc lamp 21, instructs the lamp power source circuit 25 to stop supplying the lamp current when the measurement ends or right after the measurement ends, and lights off the high pressure xenon short arc lamp 21.

Description

本発明は、擬似太陽光を例えば太陽電池パネル等の被照射体に照射してこの被照射体の光電変換特性(I/V特性)を計測するソーラシミュレータに関する。   The present invention relates to a solar simulator that irradiates an object to be irradiated such as a solar battery panel with pseudo-sunlight and measures photoelectric conversion characteristics (I / V characteristics) of the object to be irradiated.

従来のこの種のソーラシミュレータにおいて、太陽電池パネルへの照射時間を制御する一般的な方法として、光源(多くの場合、放電ランプ)から定常光を発光させ、その光路の途中に機械的に開閉して光の透過及び遮断を制御可能なシャッタを設ける方法が存在する(例えば、特許文献1参照)。即ち、発生させた定常光に対して、光電変換特性の計測開始時に機械的シャッタを開いて光照射を行い、終了時にこのシャッタを閉じて遮光する方法である。   In a conventional solar simulator of this type, as a general method for controlling the irradiation time to the solar panel, steady light is emitted from a light source (in many cases, a discharge lamp), and it is mechanically opened and closed along the optical path. Thus, there is a method of providing a shutter that can control transmission and blocking of light (for example, see Patent Document 1). That is, the generated steady light is irradiated with light by opening a mechanical shutter at the start of measurement of photoelectric conversion characteristics, and the shutter is closed and shielded at the end.

このように、光源からの定常光を利用しているのは、一般的な放電ランプは、点灯及び再点灯した際に安定した発光状態となるまでかなりの時間を要し、短期間の効率的な計測を行うことができないためである。   As described above, the steady light from the light source is used because a general discharge lamp requires a considerable time until it becomes a stable light emission state when it is turned on and turned on again. This is because it is impossible to perform accurate measurement.

特開2011−081274号公報JP 2011-081274 A

定常光を用いる従来のソーラシミュレータによると、光源を測定に供さない待機時間のために長時間に渡って連続運転する必要があり、長時間の点灯で光源のランプの寿命を太陽電池の測定意外で消費してしまい、発熱による光源装置の短寿命化を招き、しかも、大規模な電源回路及び多大な消費電力が要求されるという問題が生じる。しかも、機械的な開閉シャッタは寿命が短いという問題もあった。   According to the conventional solar simulator using steady light, it is necessary to operate continuously for a long time due to the standby time when the light source is not used for measurement, and the life of the lamp of the light source is measured by the long time lighting. Consumption occurs unexpectedly, leading to a short life of the light source device due to heat generation, and a problem that a large-scale power supply circuit and a large amount of power consumption are required. Moreover, the mechanical opening / closing shutter has a problem that its life is short.

このような定常光を用いることなくフラッシュ光を発生させることによって、発熱を抑えかつランプ寿命を長寿命化する技術は公知である。   A technique for suppressing heat generation and prolonging lamp life by generating flash light without using such steady light is known.

しかしながら、フラッシュ光を用いた太陽電池パネルの特性計測方法のうち、発光時間の短いフラッシュ光を多数回使用するショートパルスフラッシュ光による計測方法は、フラッシュ光波形の頂部が平坦でないため、太陽電池パネルの種類によっては、フラッシュ光に電池出力が追従できず、高精度の特性計測を行うことができなかった。   However, among the method for measuring the characteristics of solar cell panels using flash light, the measurement method using short pulse flash light that uses flash light with a short light emission time many times, the top of the flash light waveform is not flat. Depending on the type of battery, the battery output could not follow the flash light, making it impossible to measure the characteristics with high accuracy.

また、フラッシュ光を用いた太陽電池パネルの特性計測方法のうち、発光時間の比較的長い1回のフラッシュ光を使用する単一のロングパルスフラッシュ光による計測方法は、発光時間の上限が100ms程度と短いため、例えば多層型の太陽電池パネル等においては、電池を飽和させることができず、正確な特性計測を行うことが非常に困難であった。   Among the methods for measuring characteristics of solar cell panels using flash light, the measurement method using a single long pulse flash light that uses a single flash light with a relatively long light emission time has a maximum light emission time of about 100 ms. For example, in a multi-layer solar cell panel, the battery cannot be saturated, and it is very difficult to perform accurate characteristic measurement.

従って本発明の目的は、発光時間が充分に長い光による光電特性計測を正確に行うことができるソーラシミュレータを提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a solar simulator capable of accurately performing photoelectric characteristic measurement with light having a sufficiently long light emission time.

本発明の他の目的は、発光時間が充分に長い光による光電特性計測が可能であるにもかかわらず、消費電力の低減化及び構成部品の長寿命化を期待できるソーラシミュレータを提供することにある。   Another object of the present invention is to provide a solar simulator that can be expected to reduce power consumption and extend the life of components even though photoelectric characteristics can be measured with light having a sufficiently long light emission time. is there.

本発明のソーラシミュレータは、点灯及び消灯の繰り返し動作を可能とする高圧キセノンショートアークランプと、この高圧キセノンショートアークランプにランプ電流を供給するランプ電源回路と、この高圧キセノンショートアークランプにスタート用のトリガ電圧を印加するスタータ回路と、高圧キセノンショートアークランプからの擬似太陽光が照射される被測定体の光電変換特性を測定する測定回路と、上述のランプ電源回路、スタータ回路及び測定回路に電気的に接続された測定制御装置とを備えている。測定制御装置は、測定回路による被測定体の光電変換特性の計測開始時又は計測開始直前にスタータ回路にトリガ電圧の印加を指示して高圧キセノンショートアークランプを瞬時に点灯させ、光電変換特性の計測終了時又は計測終了直後にランプ電源回路にランプ電流の供給停止を指示して高圧キセノンショートアークランプを消灯するように構成されている。   The solar simulator of the present invention includes a high-pressure xenon short arc lamp that can be repeatedly turned on and off, a lamp power supply circuit that supplies a lamp current to the high-pressure xenon short arc lamp, and a start circuit for the high-pressure xenon short arc lamp. A starter circuit for applying the trigger voltage, a measurement circuit for measuring the photoelectric conversion characteristics of the measurement object irradiated with pseudo sunlight from the high-voltage xenon short arc lamp, the lamp power supply circuit, the starter circuit, and the measurement circuit described above And an electrically connected measurement control device. The measurement control device instructs the starter circuit to apply the trigger voltage at the start of measurement of the photoelectric conversion characteristics of the measurement object by the measurement circuit or immediately before the start of measurement, and causes the high-voltage xenon short arc lamp to light up instantaneously. The lamp power supply circuit is instructed to stop supplying the lamp current at the end of the measurement or immediately after the end of the measurement, and the high-pressure xenon short arc lamp is turned off.

なお、本明細書において、高圧キセノンショートアークランプの「高圧」とは、ランプ内部のキセノンガスの圧力が他のキセノンランプより相対的に高圧力となっていることを意味している。点灯動作及び消灯動作を繰り返して実行可能な高圧キセノンショートアークランプが存在する。本発明のソーラシミュレータはこの高圧キセノンショートアークランプからの擬似太陽光を例えば太陽電池セルである被測定体に照射した状態でその光電変換特性を計測する。その被測定体の光電変換特性の計測開始時又は計測開始直前にスタータ回路にトリガ電圧の印加が指示され、これにより、スタータ回路からスタート用のトリガ電圧が高圧キセノンショートアークランプに印加されることにより瞬時の点灯が行われる。光電変換特性の計測終了時又は計測終了直後にランプ電源回路にランプ電流の供給停止が指示され、ランプ電流が遮断されることにより高圧キセノンショートアークランプが消灯される。これにより、高圧キセノンショートアークランプは光電変換特性の計測中のみ点灯され、計測が終了すると消灯される。従って、発光時間が充分に長い光による光電特性計測を高精度に行うことができ、しかも、消費電力の低減化及び構成部品の長寿命化を図ることができる。   In the present specification, the “high pressure” of the high-pressure xenon short arc lamp means that the pressure of the xenon gas inside the lamp is relatively higher than that of other xenon lamps. There are high-pressure xenon short arc lamps that can be repeatedly turned on and off. The solar simulator of the present invention measures the photoelectric conversion characteristics in a state in which simulated solar light from the high-pressure xenon short arc lamp is irradiated to a measured object that is, for example, a solar battery cell. The starter circuit is instructed to apply the trigger voltage at the start of measurement of the photoelectric conversion characteristics of the device under test or immediately before the start of measurement, whereby the starter trigger voltage is applied from the starter circuit to the high-voltage xenon short arc lamp. The instantaneous lighting is performed. The lamp power supply circuit is instructed to stop supplying the lamp current at the end of the measurement of the photoelectric conversion characteristics or immediately after the end of the measurement, and the high-voltage xenon short arc lamp is turned off by cutting off the lamp current. As a result, the high-pressure xenon short arc lamp is turned on only during the measurement of photoelectric conversion characteristics, and is turned off when the measurement is completed. Accordingly, photoelectric characteristic measurement using light with a sufficiently long light emission time can be performed with high accuracy, and power consumption can be reduced and the life of components can be extended.

測定回路が、被測定体の出力端子間に接続された基準抵抗及び電子負荷と、電子負荷を変化させる掃引部と、掃引時の被測定体の出力端子間の電圧を検出する電圧検出部と、掃引時に基準抵抗を流れる電流を検出する電流検出部とを備えていることが好ましい。   A measurement circuit includes a reference resistor and an electronic load connected between the output terminals of the measurement object, a sweep unit that changes the electronic load, and a voltage detection unit that detects a voltage between the output terminals of the measurement object during the sweep. And a current detection unit for detecting a current flowing through the reference resistor during the sweep.

スタータ回路が、高圧キセノンショートアークランプに二次側巻線が接続されたテスラコイルと、測定制御装置から与えられる点灯指示信号に応答してテスラコイルの一次側巻線に高圧パルス電流を印加するパルス電流発生回路とを備えていることも好ましい。   A starter circuit, a Tesla coil with a secondary winding connected to a high voltage xenon short arc lamp, and a pulse current that applies a high voltage pulse current to the primary winding of the Tesla coil in response to a lighting instruction signal given from a measurement control device It is also preferable to include a generation circuit.

ランプ電源回路が、測定制御装置から与えられる消灯指示信号に応答して高圧キセノンショートアークランプへのランプ電流の供給を停止するスイッチ回路を備えていることも好ましい。   It is also preferable that the lamp power supply circuit includes a switch circuit that stops the supply of the lamp current to the high-pressure xenon short arc lamp in response to the turn-off instruction signal given from the measurement control device.

測定制御装置が、トリガ電圧の印加を指示する点灯指示信号をスタータ回路に送信する点灯指示手段と、点灯指示手段からの点灯指示信号の送信に続いて、測定回路による被測定体の光電変換特性の計測開始を指示する計測開始指示手段と、測定回路による被測定体の光電変換特性の計測終了を指示する計測終了指示手段と、計測終了指示手段からの計測終了の指示に続いて、ランプ電流の供給停止を指示する消灯指示信号をランプ電源回路に送信する消灯指示手段とを備えていることも好ましい。   The measurement control device transmits a lighting instruction signal for instructing the application of the trigger voltage to the starter circuit, and following the transmission of the lighting instruction signal from the lighting instruction means, the photoelectric conversion characteristics of the measurement object by the measurement circuit Measurement start instruction means for instructing the start of measurement, measurement end instruction means for instructing the end of measurement of the photoelectric conversion characteristics of the measurement object by the measurement circuit, and measurement end instruction from the measurement end instruction means. It is also preferable to include a turn-off instruction means for transmitting a turn-off instruction signal for instructing the supply stop of the lamp to the lamp power supply circuit.

本発明によれば、被測定体に対して、発光時間が充分に長い光による光電特性計測を高精度に行うことができ、しかも、消費電力の低減化及びランプをはじめとする光源部の構成部品の長寿命化を図ることができる。   According to the present invention, photoelectric characteristics can be measured with high accuracy with respect to light to be measured with a sufficiently long light emission time, and power consumption is reduced and the configuration of a light source unit such as a lamp is provided. The life of parts can be extended.

本発明の一実施形態として、本発明のソーラシミュレータを用いたセルテスタの構成例を概略的に示す斜視図である。1 is a perspective view schematically showing a configuration example of a cell tester using a solar simulator of the present invention as an embodiment of the present invention. FIG. 図1の実施形態におけるソーラシミュレータの主に電気的構成を概略的に示すブロック図である。FIG. 2 is a block diagram schematically showing mainly an electrical configuration of a solar simulator in the embodiment of FIG. 1. 図2に示したソーラシミュレータの高圧キセノンショートアークランプの内部構造の一例を概略的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows roughly an example of the internal structure of the high voltage | pressure xenon short arc lamp of the solar simulator shown in FIG. 図2に示したソーラシミュレータのスタータ回路の一例の電気的構成を概略的に示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram schematically showing an electrical configuration of an example of a starter circuit of the solar simulator shown in FIG. 2. 図2に示したソーラシミュレータのランプ電源回路の電気的構成を概略的に示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram schematically showing an electrical configuration of a lamp power supply circuit of the solar simulator shown in FIG. 2. 図1の実施形態のセルテスタによる太陽電池セルパネルの搬送及び計測処理の流れを概略的に説明するフローチャートである。It is a flowchart which illustrates roughly the flow of the conveyance and measurement process of a photovoltaic cell panel by the cell tester of embodiment of FIG. 図1の実施形態における測定制御回路のI/V特性計測処理の流れを概略的に説明するフローチャートである。2 is a flowchart schematically illustrating a flow of I / V characteristic measurement processing of a measurement control circuit in the embodiment of FIG. 1. 図7のI/V特性計測処理においてバイポーラ電源回路の出力電圧指令値Vbと測定される電圧値及び電流値との関係を説明する特性図である。FIG. 8 is a characteristic diagram illustrating the relationship between the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit and the measured voltage value and current value in the I / V characteristic measurement process of FIG. 7. 図7のI/V特性計測処理においてバイポーラ電源回路の出力電圧指令値Vbの段階的変化と電圧及び電流の測定ポイントとを説明する特性図である。FIG. 8 is a characteristic diagram illustrating a step change of the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit and measurement points of voltage and current in the I / V characteristic measurement process of FIG. 7. 図1の実施形態におけるソーラシミュレータによって計測されたI/V特性の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the I / V characteristic measured by the solar simulator in embodiment of FIG. 図1の実施形態におけるソーラシミュレータによって計測されたI/V特性の他の例を示す図である。It is a figure which shows the other example of the I / V characteristic measured by the solar simulator in embodiment of FIG. 本発明の他の実施形態におけるソーラシミュレータのスタータ回路の他の例の電気的構成を概略的に示す回路図である。It is a circuit diagram which shows roughly the electrical structure of the other example of the starter circuit of the solar simulator in other embodiment of this invention.

図1は本発明の一実施形態として、本発明のソーラシミュレータを用いたセルテスタの構成例を概略的に示している。本実施形態は、小面積の太陽電池セルパネルに擬似太陽光を照射してI/V特性を計測するソーラシミュレータを備えたセルテスタに関する。   FIG. 1 schematically shows a configuration example of a cell tester using the solar simulator of the present invention as an embodiment of the present invention. The present embodiment relates to a cell tester including a solar simulator that measures I / V characteristics by irradiating pseudo-sunlight to a small-area solar cell panel.

同図において、10はI/V特性を計測すべき複数の太陽電池セルパネル11が載置されているトレイが複数個重畳されている供給元トレイ群、12は供給元トレイ群10の各トレイから個々の太陽電池セルパネル11を搬送する搬送ベルトコンベア、13は搬送ベルトコンベア12の途中に設けられたソーラシミュレータ、14はソーラシミュレータ13の下流の搬送ベルトコンベア12の途中に設けられ、計測結果に応じて太陽電池セルパネル11をランク別に仕分けるソータ、15、16及び17はソータ14によってランク別に仕分けされ、搬送ベルトコンベア12によって搬送される太陽電池セルパネル11をそれぞれ受け取って収納するトレイを複数個それぞれ備えたランク別トレイ群を示している。   In the figure, reference numeral 10 denotes a supply source tray group in which a plurality of trays on which a plurality of solar cell panels 11 on which I / V characteristics are to be measured are placed, and 12 denotes each tray of the supply source tray group 10. A conveyor belt conveyor that conveys individual solar cell panels 11, 13 is a solar simulator provided in the middle of the conveyor belt conveyor 12, and 14 is provided in the middle of the conveyor belt conveyor 12 downstream of the solar simulator 13, depending on the measurement result The sorters 15, 16, and 17 for sorting the solar cell panels 11 by rank are sorted by rank by the sorter 14, and each has a plurality of trays that receive and store the solar cell panels 11 that are transported by the transport belt conveyor 12. The tray group according to rank is shown.

図2は本実施形態におけるソーラシミュレータ13の主に電気的構成を概略的に示している。   FIG. 2 schematically shows mainly the electrical configuration of the solar simulator 13 in the present embodiment.

同図において、20はソーラシミュレータ13の擬似太陽光発生光学部、21はこの擬似太陽光発生光学部20内に設けられた点灯動作及び消灯動作を繰り返して実行可能な高圧キセノンショートアークランプ、22はフィルタを切換え可能な減光フィルタ装置、23は擬似太陽光が照射される太陽電池セルをそれぞれ示している。減光フィルタ装置22は、本実施形態では、複数のメッシュフィルタが円周方向に沿って配列された円板22aとこの円板22aを回動させるモータ22bとを備えている。図示されていないが、擬似太陽光発生光学部20内には、高圧キセノンショートアークランプ21から出射された光を均一な平行光に変換するための公知の光学系が設けられている。   In the figure, 20 is a pseudo-sunlight generation optical unit of the solar simulator 13, 21 is a high-pressure xenon short arc lamp that can be repeatedly operated and turned off in the pseudo-sunlight generation optical unit 20, 22 Denotes a neutral density filter device capable of switching a filter, and 23 denotes a solar cell irradiated with simulated sunlight. In the present embodiment, the neutral density filter device 22 includes a disk 22a in which a plurality of mesh filters are arranged along the circumferential direction, and a motor 22b that rotates the disk 22a. Although not shown in the figure, a known optical system for converting the light emitted from the high-pressure xenon short arc lamp 21 into uniform parallel light is provided in the pseudo-sunlight generation optical unit 20.

図2において、さらに、24は高圧キセノンショートアークランプ21に電気的に接続されており、この高圧キセノンショートアークランプ21にスタート用のトリガ電圧を印加するスタータ回路、25は高圧キセノンショートアークランプ21及びスタータ回路24に電気的に接続されており、この高圧キセノンショートアークランプ21にランプ電流を供給するランプ電源回路、26は減光フィルタ装置22のモータ22bに電気的に接続されており、このモータ22bを所定角度だけ回動駆動する駆動パルスを発生するモータ駆動回路、27は太陽電池セル23の両端に電気的に接続されており、この太陽電池セル23の出力電圧値及び出力電流値を測定する測定回路、28はスタータ回路24、ランプ電源回路25、モータ駆動回路26及び測定回路27に電気的に接続されている測定制御回路をそれぞれ示している。   In FIG. 2, reference numeral 24 is electrically connected to a high voltage xenon short arc lamp 21, and a starter circuit for applying a start trigger voltage to the high voltage xenon short arc lamp 21. Reference numeral 25 is a high voltage xenon short arc lamp 21. And a lamp power supply circuit 26 for supplying a lamp current to the high-voltage xenon short arc lamp 21, and 26 are electrically connected to a motor 22 b of the neutral density filter device 22. A motor drive circuit 27 for generating a drive pulse for rotationally driving the motor 22b by a predetermined angle, 27 is electrically connected to both ends of the solar battery cell 23, and the output voltage value and output current value of the solar battery cell 23 are determined. A measuring circuit for measuring, 28 is a starter circuit 24, a lamp power circuit 25, a motor driving circuit Respectively show 6 and measurement circuit 27 in the measurement control circuit are electrically connected.

図3は本実施形態におけるソーラシミュレータ13の高圧キセノンショートアークランプ21の内部構造の一例を概略的に示している。   FIG. 3 schematically shows an example of the internal structure of the high-pressure xenon short arc lamp 21 of the solar simulator 13 in the present embodiment.

本実施形態における高圧キセノンショートアークランプ21は、セラミック材料による反射鏡部材21aと、この反射鏡部材21aの前面に設けられた例えばサファイア材料による透明窓部材21bと、反射鏡部材21a及び透明窓部材21bによって囲まれて密封形成されており、数気圧の高圧キセノンガスが封入されているランプ室21cと、ランプ室21c内に先端が設けられたタングステン材料によるアノード21dと、ランプ室21c内に設けられた先鋭端がアノード21dの先端に対向しているカソード21eと、カソード21eを固定支持するカソード支持部材21fとを備えている。   The high-pressure xenon short arc lamp 21 in this embodiment includes a reflecting mirror member 21a made of a ceramic material, a transparent window member 21b made of, for example, a sapphire material provided on the front surface of the reflecting mirror member 21a, a reflecting mirror member 21a, and a transparent window member. The lamp chamber 21c is enclosed and sealed by 21b and is filled with high-pressure xenon gas of several atmospheres; the anode 21d made of tungsten material with the tip provided in the lamp chamber 21c; and the lamp chamber 21c. The sharpened end is provided with a cathode 21e facing the tip of the anode 21d, and a cathode support member 21f for fixing and supporting the cathode 21e.

アノード21d及びカソード21eは、共通の光軸上において短い間隙で先端が互いに対向するように配置され、反射鏡部材21aに一体化されている。これらアノード21d及びカソード21e間に電圧が印加され、アークギャップ部にキセノンショートアークが生成されることにより、このアークギャップ部が発光部21gとなる。   The anode 21d and the cathode 21e are arranged so that the tips thereof face each other with a short gap on the common optical axis, and are integrated with the reflecting mirror member 21a. When a voltage is applied between the anode 21d and the cathode 21e and a xenon short arc is generated in the arc gap portion, the arc gap portion becomes the light emitting portion 21g.

反射鏡部材21aの内側表面は楕円の軸断面を有する反射鏡21hとなっており、この楕円軸断面形状の反射鏡21hの楕円焦点にショートアークによる発光部21gが位置するように構成されている。このように、この高圧キセノンショートアークランプ21においては、発光部21g及び反射鏡21h間の位置関係が固定されているため、発光部21gの軸出し作業が不要となる。さらに、反射鏡21hの楕円焦点に発光部21gが配置されているため、反射鏡21hによって反射され、前面に出射される光は、光軸上の図示しない焦点に集光することとなる。反射鏡を、その内側表面が放物線の軸断面形状を有し、その放物線焦点にショートアークによる発光部が位置するように構成しても良い。その場合も、発光部及び反射鏡間の位置関係が固定されているため、発光部の軸出し作業が不要となる。さらに、反射鏡の放物線焦点に発光部を配置することにより、反射鏡によって反射されて前面に出射される光は平行光となる。   The inner surface of the reflecting mirror member 21a is a reflecting mirror 21h having an elliptical axial cross section, and the light emitting portion 21g by a short arc is positioned at the elliptical focal point of the reflecting mirror 21h having the elliptical axial cross section. . As described above, in the high-pressure xenon short arc lamp 21, the positional relationship between the light emitting part 21g and the reflecting mirror 21h is fixed, so that the work of aligning the light emitting part 21g is not necessary. Furthermore, since the light emitting part 21g is arranged at the elliptical focal point of the reflecting mirror 21h, the light reflected by the reflecting mirror 21h and emitted to the front surface is collected at a focal point (not shown) on the optical axis. The reflecting mirror may have a parabolic axial cross-sectional shape on the inner surface thereof, and a light emitting portion by a short arc may be positioned at the parabolic focus. Also in this case, since the positional relationship between the light emitting unit and the reflecting mirror is fixed, the light emitting unit is not required to be aligned. Furthermore, by arranging the light emitting part at the parabolic focus of the reflecting mirror, the light reflected by the reflecting mirror and emitted to the front surface becomes parallel light.

この高圧キセノンショートアークランプ21は、アークギャップが例えば0.62〜2.29mmと非常に短く、かつ、ランプ室21c内に数気圧の高圧キセノンガスが封入されている。このため、点灯直後にほぼ定格の光出力を発生させることができ、しかも、点灯動作及び消灯動作を繰り返して実行することができる。単なる一例であるが、高圧キセノンショートアークランプ21の電気的特性として、動作電力が350〜2450W、動作電流が25〜110A(直流)、動作電圧が14〜25V(直流)、最低トリガ電圧が25〜35kVである。また、高圧キセノンショートアークランプ21の出力特性として、放射出力が112〜635W、UV出力が5〜31W、IR出力が65〜350W、可視光出力が10500〜73000ルーメンである。   The high pressure xenon short arc lamp 21 has an arc gap as short as 0.62 to 2.29 mm, for example, and a high pressure xenon gas of several atmospheres is enclosed in the lamp chamber 21c. For this reason, a nearly rated light output can be generated immediately after lighting, and the lighting operation and the extinguishing operation can be repeated. As merely an example, the electrical characteristics of the high-voltage xenon short arc lamp 21 include operating power of 350 to 2450 W, operating current of 25 to 110 A (direct current), operating voltage of 14 to 25 V (direct current), and minimum trigger voltage of 25. ~ 35 kV. Further, as output characteristics of the high-pressure xenon short arc lamp 21, the radiation output is 112 to 635 W, the UV output is 5 to 31 W, the IR output is 65 to 350 W, and the visible light output is 10500 to 73000 lumen.

なお、このような集光型及び平行光型の高圧キセノンショートアークランプ21は、エクセリタス社より、CERMAX(登録商標)ランプとして市販されている。   Such a condensing type and parallel light type high-pressure xenon short arc lamp 21 is commercially available from Excelitas as a CERMAX (registered trademark) lamp.

図4は本実施形態におけるソーラシミュレータ13のスタータ回路24の一例の電気的構成を概略的に示している。   FIG. 4 schematically shows an electrical configuration of an example of the starter circuit 24 of the solar simulator 13 in the present embodiment.

本実施形態におけるスタータ回路24は、テスラコイル24aと、高圧トランス(T)24bと、ダイオード(D)24cと、キャパシタ(C)24dと、トリガードスパークギャップ素子(TSG)24eと、トリガトランス24fと、トリガ回路24gとを備えている。   The starter circuit 24 in this embodiment includes a Tesla coil 24a, a high voltage transformer (T) 24b, a diode (D) 24c, a capacitor (C) 24d, a triggered spark gap element (TSG) 24e, and a trigger transformer 24f. , And a trigger circuit 24g.

テスラコイル24aの2次側巻線の一端は、高圧キセノンショートアークランプ21のアノード21dに直列に接続されている。このテスラコイル24aの2次側巻線の他端と、高圧キセノンショートアークランプ21のカソード21eとは、ランプ電源回路25の出力端子に接続されている。高圧トランス24bの1次側巻線は商用電源に接続されており、この高圧トランス24bの2次側巻線には互いに直列接続されたダイオード24c及びキャパシタ24dが接続されている。即ち、高圧トランス24bの2次側巻線の一端にはダイオード24cのアノードが接続されており、高圧トランス24bの2次側巻線の他端にはキャパシタ24dの一端が接続されている。キャパシタ24dの他端はダイオード24cのカソードに接続されている。   One end of the secondary winding of the Tesla coil 24 a is connected in series to the anode 21 d of the high-pressure xenon short arc lamp 21. The other end of the secondary winding of the Tesla coil 24 a and the cathode 21 e of the high voltage xenon short arc lamp 21 are connected to the output terminal of the lamp power circuit 25. The primary side winding of the high voltage transformer 24b is connected to a commercial power source, and the diode 24c and the capacitor 24d connected in series are connected to the secondary side winding of the high voltage transformer 24b. That is, the anode of the diode 24c is connected to one end of the secondary winding of the high voltage transformer 24b, and one end of the capacitor 24d is connected to the other end of the secondary winding of the high voltage transformer 24b. The other end of the capacitor 24d is connected to the cathode of the diode 24c.

ダイオード24cのカソードはテスラコイル24aの1次側巻線の一端に接続されており、テスラコイル24aの1次側巻線の他端にはトリガードスパークギャップ素子24eのアノードが接続されている。トリガードスパークギャップ素子24eのカソードはキャパシタ24dの一端(高圧トランス24bの2次側巻線の他端)に接続されている。トリガードスパークギャップ素子24eのトリガ電極はトリガトランス24fの2次側巻線の一端に接続されており、このトリガトランス24fの2次側巻線の他端はトリガードスパークギャップ素子24eのカソードに接続されている。   The cathode of the diode 24c is connected to one end of the primary side winding of the Tesla coil 24a, and the anode of the triggered spark gap element 24e is connected to the other end of the primary side winding of the Tesla coil 24a. The cathode of the triggered spark gap element 24e is connected to one end of the capacitor 24d (the other end of the secondary winding of the high-voltage transformer 24b). The trigger electrode of the triggered spark gap element 24e is connected to one end of the secondary winding of the trigger transformer 24f, and the other end of the secondary winding of the trigger transformer 24f is connected to the cathode of the triggered spark gap element 24e. It is connected.

トリガトランス24fの1次側巻線はトリガ回路24gの出力端子に接続されており、このトリガ回路24gの入力端子には、測定制御回路28からランプ点灯信号であるトリガ信号が印加されるように構成されている。   The primary winding of the trigger transformer 24f is connected to the output terminal of the trigger circuit 24g, and a trigger signal which is a lamp lighting signal is applied from the measurement control circuit 28 to the input terminal of the trigger circuit 24g. It is configured.

このような構成のスタータ回路24において、高圧トランス24bとダイオード24cとの作動により、キャパシタ24dは商用電源が供給されている限り、常時充電されている。しかしながら、その場合にも、キャパシタ24dの両端電圧は、トリガードスパークギャップ素子24eのブレークダウン電圧には達しないように設定されている。   In the starter circuit 24 having such a configuration, the capacitor 24d is always charged by the operation of the high voltage transformer 24b and the diode 24c as long as commercial power is supplied. However, even in that case, the voltage across the capacitor 24d is set so as not to reach the breakdown voltage of the triggered spark gap element 24e.

測定制御回路28からトリガ信号であるランプ点灯信号がトリガ回路24gに印加されると同時に、トリガトランス24fから高圧パルス(約30kV)が発生しトリガードスパークギャップ素子24eのトリガ電極に印加される。これにより、トリガードスパークギャップ素子24eがブレークダウンされてキャパシタ24dの充電電圧がテスラコイル24aに印加され、その2次側巻線に非常に高い電圧が発生する。その結果、高圧キセノンショートアークランプ21は、測定制御回路28からのランプ点灯信号印加とほぼ同時に点灯し、直ちに定常出力光を発生する。この構成のスタータ回路24は、発光パルス幅が短い場合に、瞬点動作を行うので、非常に有効である。   A lamp lighting signal as a trigger signal is applied from the measurement control circuit 28 to the trigger circuit 24g, and at the same time, a high voltage pulse (about 30 kV) is generated from the trigger transformer 24f and applied to the trigger electrode of the triggered spark gap element 24e. As a result, the triggered spark gap element 24e is broken down, the charging voltage of the capacitor 24d is applied to the Tesla coil 24a, and a very high voltage is generated in its secondary winding. As a result, the high-pressure xenon short arc lamp 21 is lit almost simultaneously with the application of the lamp lighting signal from the measurement control circuit 28, and immediately generates steady output light. The starter circuit 24 having this configuration is very effective because it performs a blinking operation when the light emission pulse width is short.

図5は本実施形態におけるソーラシミュレータ13のランプ電源回路25の電気的構成を概略的に示している。本実施形態のランプ電源回路25は、リニア制御式ランプ電源回路であり、出力回路のトランジスタのインピーダンスを連続的に変化させて、ランプ電流又はランプ照度を制御するように構成されている。   FIG. 5 schematically shows an electrical configuration of the lamp power supply circuit 25 of the solar simulator 13 in the present embodiment. The lamp power supply circuit 25 of the present embodiment is a linear control type lamp power supply circuit, and is configured to control the lamp current or the lamp illuminance by continuously changing the impedance of the transistor of the output circuit.

本実施形態におけるランプ電源回路25は、複数のトランジスタを有する出力回路25aと、ランプ出力用出力端子25bと、整流器25cと、平滑キャパシタ25dと、降圧トランス25eと、スイッチ25fと、商用電源入力端子25gと、駆動トランジスタ25hと、駆動回路25iと、フォトカプラ25jと、消灯信号入力端子25kとを備えている。   The lamp power circuit 25 in this embodiment includes an output circuit 25a having a plurality of transistors, a lamp output output terminal 25b, a rectifier 25c, a smoothing capacitor 25d, a step-down transformer 25e, a switch 25f, and a commercial power input terminal. 25g, a driving transistor 25h, a driving circuit 25i, a photocoupler 25j, and a turn-off signal input terminal 25k.

出力回路25aにおける複数のトランジスタのベースは共通に接続されており、エミッタには抵抗がそれぞれ接続されている。出力回路25aは、これら抵抗及びトランジスタの直列回路が複数互いに並列に接続されて構成されている。   The bases of the plurality of transistors in the output circuit 25a are connected in common, and resistors are connected to the emitters, respectively. The output circuit 25a is configured by connecting a plurality of series circuits of these resistors and transistors in parallel with each other.

出力回路25aにはランプ出力用出力端子25b及びスタータ回路24を介して高圧キセノンショートアークランプ21に接続されており、この出力回路25aにおける各トランジスタのコレクタは整流器25cの正の出力端子と平滑キャパシタ25dの一端とに接続されている。整流器25cの負の出力端子は平滑キャパシタ25dの他端及びスタータ回路24に接続されている。整流器25cの入力端子は降圧トランス25eの2次側巻線に接続されている。降圧トランス25eの1次側巻線はランプ電源回路25のスイッチ25f及び商用電源入力端子25gを介して商用電源に接続されている。   The output circuit 25a is connected to the high-voltage xenon short arc lamp 21 via the lamp output output terminal 25b and the starter circuit 24. The collector of each transistor in the output circuit 25a is the positive output terminal of the rectifier 25c and the smoothing capacitor. It is connected to one end of 25d. The negative output terminal of the rectifier 25 c is connected to the other end of the smoothing capacitor 25 d and the starter circuit 24. The input terminal of the rectifier 25c is connected to the secondary winding of the step-down transformer 25e. The primary winding of the step-down transformer 25e is connected to a commercial power source via a switch 25f and a commercial power source input terminal 25g of the lamp power circuit 25.

出力回路25aの共通のベースには駆動トランジスタ25hのエミッタが接続されており、この駆動トランジスタ25hのコレクタは整流器25cの正の出力端子に接続されている。駆動トランジスタ25hのベースは、駆動電流を供給するための駆動回路25iの出力端子に抵抗を介して接続されている。   The common base of the output circuit 25a is connected to the emitter of the drive transistor 25h, and the collector of the drive transistor 25h is connected to the positive output terminal of the rectifier 25c. The base of the drive transistor 25h is connected to the output terminal of the drive circuit 25i for supplying drive current via a resistor.

駆動トランジスタ25hのベースと出力トランジスタのエミッタとの間にはフォトカプラ25jのフォトトランジスタが連結挿入されており、このフォトカプラ25jの発光ダイオードはランプ消灯信号が入力される消灯信号入力端子25kに接続されている。   A phototransistor of the photocoupler 25j is connected and inserted between the base of the drive transistor 25h and the emitter of the output transistor, and the light emitting diode of the photocoupler 25j is connected to a turn-off signal input terminal 25k to which a lamp turn-off signal is input. Has been.

高圧キセノンショートアークランプ21の点灯中は、駆動回路25iからの駆動電流が駆動トランジスタ25hを介して出力回路25aをターンオンしている。これにより、商用電源入力端子25gを介して供給された商用電源が降圧トランス25eによって低い電圧に変換され、整流器25c及び平滑キャパシタ25dによって全波整流及び平滑化されて直流電圧となり、さらに出力回路25aを介して電流を制御されランプ出力となり、高圧キセノンショートアークランプ21に印加される。   While the high-voltage xenon short arc lamp 21 is lit, the drive current from the drive circuit 25i turns on the output circuit 25a via the drive transistor 25h. As a result, the commercial power supplied via the commercial power input terminal 25g is converted to a low voltage by the step-down transformer 25e, and full-wave rectified and smoothed by the rectifier 25c and the smoothing capacitor 25d to become a DC voltage, and the output circuit 25a. The current is controlled through the lamp to become a lamp output, which is applied to the high-pressure xenon short arc lamp 21.

測定制御回路28からのランプ消灯信号が消灯信号入力端子25kを介してフォトカプラ25jに印加されると、フォトカプラ25jのフォトトランジスタが作動して駆動トランジスタ25hのベースと出力トランジスタのエミッタとが短絡される。これにより、駆動回路25iからの駆動電流が直ちに遮断され、出力回路25aの全てのトランジスタがターンオフしてランプ出力は瞬時に停止され、高圧キセノンショートアークランプ21は瞬時に消灯される。   When the lamp turn-off signal from the measurement control circuit 28 is applied to the photocoupler 25j via the turn-off signal input terminal 25k, the phototransistor of the photocoupler 25j is activated and the base of the drive transistor 25h and the emitter of the output transistor are short-circuited. Is done. As a result, the drive current from the drive circuit 25i is immediately cut off, all the transistors of the output circuit 25a are turned off, the lamp output is stopped instantaneously, and the high-voltage xenon short arc lamp 21 is turned off instantaneously.

測定制御回路28からランプ消灯信号が印加されなくなり、これによってフォトカプラ25jが導通して駆動回路25iからの駆動電流が印加されて出力回路25aの各トランジスタターンオンすることにより、高圧キセノンショートアークランプ21へランプ出力が供給された場合にも再点灯は行われない。これは、高圧キセノンショートアークランプ21はブレークダウン電圧が高い(特に再点灯時は非常に高い)ことから、ランプ出力の供給のみでは再点灯しないのである。再点灯させるためには、スタータ回路24を再度起動させることが必要となる。なお、図5では、ランプ電源回路25として、リニア制御式ランプ電源回路を表しているが、リニア制御式ランプ電源回路に代えてスイッチング制御式ランプ電源回路を用いることもできる。スイッチング制御式ランプ電源回路ではフォトカプラによりスイッチング制御式ランプ電源回路の制御回路内の発振器の発振を停止させることでランプ出力の供給を停止し、ランプを消灯する。   The lamp turn-off signal is no longer applied from the measurement control circuit 28, whereby the photocoupler 25j is turned on, the drive current from the drive circuit 25i is applied, and each transistor of the output circuit 25a is turned on, whereby the high-voltage xenon short arc lamp 21 is turned on. Even if the lamp output is supplied, the lamp is not turned on again. This is because the high voltage xenon short arc lamp 21 has a high breakdown voltage (especially very high at the time of relighting), and therefore does not relight only by supplying the lamp output. In order to make it light up again, it is necessary to start the starter circuit 24 again. In FIG. 5, a linear control lamp power supply circuit is shown as the lamp power supply circuit 25, but a switching control lamp power supply circuit can be used instead of the linear control lamp power supply circuit. In the switching control type lamp power supply circuit, the supply of the lamp output is stopped by stopping the oscillation of the oscillator in the control circuit of the switching control type lamp power supply circuit by the photocoupler, and the lamp is turned off.

本実施形態におけるモータ駆動回路26は、例えばステッピングモータであるモータ22bに、回動すべき角度に応じた駆動パルスを供給するように構成されている。モータ22bが指定された角度だけ回動することにより、減光フィルタ装置22の円板22aも回動し、所望のメッシュフィルタが選択されるか、又はフィルタなしの状態となる。   The motor drive circuit 26 in this embodiment is configured to supply a drive pulse corresponding to an angle to be rotated, for example, to a motor 22b which is a stepping motor. When the motor 22b is rotated by a specified angle, the disk 22a of the neutral density filter device 22 is also rotated, and a desired mesh filter is selected or no filter is provided.

本実施形態における測定回路27は、電圧測定回路27aと、電流測定回路27bと、標準抵抗27cと、バイポーラ電源回路27dと、基準電圧発生回路27eとを備えている。   The measurement circuit 27 in the present embodiment includes a voltage measurement circuit 27a, a current measurement circuit 27b, a standard resistor 27c, a bipolar power supply circuit 27d, and a reference voltage generation circuit 27e.

バイポーラ電源回路27dは、太陽電池セル23の負荷となるように接続されており、このバイポーラ電源回路27dの出力電圧を階段状に変化させることによって、太陽電池セル23の出力電圧及び出力電流が掃引(スキャニング)されて測定される。即ち、バイポーラ電源回路27dの出力電圧は、基準電圧発生回路27eから与えられる基準電圧の段階的変化に応じて、図8及び図9に示すように、階段状に変化するように構成されている。   The bipolar power supply circuit 27d is connected so as to be a load of the solar battery cell 23, and the output voltage and output current of the solar battery cell 23 are swept by changing the output voltage of the bipolar power supply circuit 27d stepwise. (Scanned) and measured. That is, the output voltage of the bipolar power supply circuit 27d is configured to change stepwise as shown in FIGS. 8 and 9 in accordance with the step change of the reference voltage supplied from the reference voltage generation circuit 27e. .

電圧測定回路27aは、バイポーラ電源回路27dから階段状の出力電圧が印加された状態で太陽電池セル23の両端子間の電圧を測定し、その測定値をA/D変換し、デジタルの電圧測定値を測定制御回路28へ出力するように構成されている。   The voltage measurement circuit 27a measures the voltage between both terminals of the solar battery cell 23 in a state where the stepped output voltage is applied from the bipolar power supply circuit 27d, A / D converts the measured value, and performs digital voltage measurement. A value is output to the measurement control circuit 28.

電流測定回路27bは、バイポーラ電源回路27dから階段状の出力電圧が印加された状態で標準抵抗27cの両端間の電圧を測定することにより、この標準抵抗27cを介して太陽電池セル23を流れる電流を測定し、その測定値をA/D変換し、デジタルの電流測定値を測定制御回路28へ出力するように構成されている。   The current measurement circuit 27b measures the voltage across the standard resistor 27c in a state where the stepped output voltage is applied from the bipolar power supply circuit 27d, and thereby the current flowing through the solar battery cell 23 via the standard resistor 27c. Are measured, A / D converted, and a digital current measurement value is output to the measurement control circuit 28.

基準電圧発生回路27eは、測定制御回路28から与えられる電圧指令値に応じて段階的に変化する基準電圧をバイポーラ電源回路27dに供給する。   The reference voltage generation circuit 27e supplies the bipolar power supply circuit 27d with a reference voltage that changes stepwise according to the voltage command value given from the measurement control circuit 28.

図2に示すように、本実施形態における測定制御回路28は、バス28aを介して互いに接続された中央処理装置(CPU)28bと、リードオンリメモリ(ROM)28cと、ランダムアクセスメモリ(RAM)28dと、ハードディスク駆動装置(HDD)28eと、画像処理部28fと、ディスプレイ28gと、第1の入出力インタフェース(I/O)28hと、第2の入出力インタフェース(I/O)28iとを備えたコンピュータ及びこれを作動させるプログラムから構成される。   As shown in FIG. 2, the measurement control circuit 28 in this embodiment includes a central processing unit (CPU) 28b, a read only memory (ROM) 28c, and a random access memory (RAM) connected to each other via a bus 28a. 28d, a hard disk drive (HDD) 28e, an image processing unit 28f, a display 28g, a first input / output interface (I / O) 28h, and a second input / output interface (I / O) 28i. It is comprised from the computer provided and the program which operates this.

CPU28bはHDD28eに記憶されているオペレーティングシステム(OS)等の基本プログラムに従ってHDD28eに記憶されているプログラムを実行して本実施形態の処理を行う。また、CPU28bは、RAM28d、HDD28e、画像処理部28f、第1のI/O28h、及び第2のI/O28iの動作を制御する。   The CPU 28b executes a program stored in the HDD 28e according to a basic program such as an operating system (OS) stored in the HDD 28e to perform the processing of this embodiment. The CPU 28b controls operations of the RAM 28d, the HDD 28e, the image processing unit 28f, the first I / O 28h, and the second I / O 28i.

RAM28dはコンピュータのメインメモリとして使用され、HDD28eから転送されたプログラムやデータを記憶する。また、RAM28dは、プログラム実行時の各種データが一時的に記憶されるワークエリアとしても使用される。   The RAM 28d is used as a main memory of the computer, and stores programs and data transferred from the HDD 28e. The RAM 28d is also used as a work area for temporarily storing various data during program execution.

HDD28eには、プログラム及びデータがあらかじめ記憶されている。   The HDD 28e stores programs and data in advance.

画像処理部28fは、CPU28bの指示に従って2次元グラフィック処理を行い、画像データを生成する。生成された画像データは、ディスプレイ28gに出力される。   The image processing unit 28f performs two-dimensional graphic processing according to an instruction from the CPU 28b and generates image data. The generated image data is output to the display 28g.

第1のI/O28hは、測定回路27の基準電圧発生回路27eへデジタル電圧指令値を出力すると共に、測定回路27の電圧測定回路27aからデジタル電圧測定値を、測定回路27の電流測定回路27bからデジタル電流測定値をそれぞれ入力し、さらに、スタータ回路24へランプ点灯信号を、ランプ電源回路25へランプ消灯信号を、モータ駆動回路26へモータ制御信号をそれぞれ出力するように構成されている。   The first I / O 28 h outputs a digital voltage command value to the reference voltage generation circuit 27 e of the measurement circuit 27, and outputs a digital voltage measurement value from the voltage measurement circuit 27 a of the measurement circuit 27 to a current measurement circuit 27 b of the measurement circuit 27. The digital current measurement values are input to the starter circuit 24, the lamp turn-on signal is output to the starter circuit 24, the lamp turn-off signal is output to the lamp power supply circuit 25, and the motor control signal is output to the motor drive circuit 26.

第2のI/O28iは、このソーラシミュレータ13の上位システムであるセルテスタの制御系(図示なし)からの測定制御信号を入力すると共に、セルテスタの制御系へ測定結果を出力するように構成されている。   The second I / O 28i is configured to input a measurement control signal from a cell tester control system (not shown), which is a host system of the solar simulator 13, and to output a measurement result to the cell tester control system. Yes.

このような構成のコンピュータにおいて、CPU28bは、作動時は、まず、RAM28d内にプログラム記憶領域、データ記憶領域及びワークエリアを確保し、HDD28e又は外部からプログラム及びデータを取り込んで、プログラム記憶領域及びデータ記憶領域に格納する。次いで、このプログラム記憶領域に格納されたプログラムに基づいて、後述するI/V特性の計測処理を実行する。   In the computer having such a configuration, when operating, the CPU 28b first secures a program storage area, a data storage area, and a work area in the RAM 28d, and fetches the program and data from the HDD 28e or from the outside to obtain the program storage area and data. Store in the storage area. Next, based on the program stored in the program storage area, I / V characteristic measurement processing described later is executed.

図6は本実施形態におけるセルテスタによる太陽電池セルパネルの搬送及び計測処理の流れを概略的に説明している。以下、この図6及び図1を用いて、セルテスタの動作を説明する。実際には、図示されていないセルテスタ制御回路によって、以下の太陽電池セルパネルの搬送及び計測処理が実行される。   FIG. 6 schematically illustrates the flow of solar cell panel conveyance and measurement processing by the cell tester in the present embodiment. The operation of the cell tester will be described below using FIG. 6 and FIG. Actually, the following solar cell panel transport and measurement processing is executed by a cell tester control circuit (not shown).

まず、供給元トレイ群10の現在のトレイにワークである太陽電池セルパネル11が存在しているかどうか判別する(ステップS1)。   First, it is determined whether or not the solar cell panel 11 as a work exists in the current tray of the supply source tray group 10 (step S1).

存在していない場合(NOの場合)はトレイを交換して(ステップS2)新たなトレイから、存在している場合(YESの場合)は現在のトレイからワークである太陽電池セルパネル11を搬送ベルトコンベア12上に取り込む(ステップS3)。   If it does not exist (in the case of NO), the tray is exchanged (step S2). From the new tray, if it exists (in the case of YES), the solar cell panel 11 as a work is transferred from the current tray to the conveyor belt. It takes in on the conveyor 12 (step S3).

次いで、搬送ベルトコンベア12上の1つの太陽電池セルパネル11をソーラシミュレータ13の所定位置に固定する(ステップS4)。   Next, one solar cell panel 11 on the conveyor belt conveyor 12 is fixed at a predetermined position of the solar simulator 13 (step S4).

次いで、ソーラシミュレータ13の測定制御回路28にI/V特性計測処理の開始を指示する(ステップS5)。これにより、ソーラシミュレータ13は後述するI/V特性計測処理を実行する。   Next, the measurement control circuit 28 of the solar simulator 13 is instructed to start the I / V characteristic measurement process (step S5). Thereby, the solar simulator 13 executes an I / V characteristic measurement process described later.

その後、ソーラシミュレータ13によるI/V特性計測処理が終了したかどうか判別し(ステップS6)、終了した場合(YESの場合)のみ、ソーラシミュレータ13の測定制御回路28から送信される測定データを受信する(ステップS7)。   Thereafter, it is determined whether or not the I / V characteristic measurement process by the solar simulator 13 has been completed (step S6). Only when the process is completed (in the case of YES), the measurement data transmitted from the measurement control circuit 28 of the solar simulator 13 is received. (Step S7).

次いで、計測処理済みの太陽電池セルパネル11をソーラシミュレータ13から排出し(ステップS8)、搬送ベルトコンベア12によってソータ14へ搬送する。   Next, the solar cell panel 11 that has been subjected to the measurement process is discharged from the solar simulator 13 (step S8), and is transported to the sorter 14 by the transport belt conveyor 12.

ソータ14はI/V特性計測処理結果から得られるランクによって各太陽電池セルパネル11を仕分けし、対応するランク別トレイ群に15、16又は17に搬送されるようにソータ動作する(ステップS9)。   The sorter 14 sorts the respective solar cell panels 11 according to the rank obtained from the result of the I / V characteristic measurement process, and performs a sorter operation so that it is transported to the corresponding rank-specific tray group 15, 16, or 17 (step S9).

次いで、供給元トレイ群10の全てのトレイにおける太陽電池セルパネル11を計測処理したかどうか判別し(ステップS10)、全てを処理してない場合(NOの場合)はステップS1へ戻って以上の処理を繰り返して実行する。全てを処理した場合(YESの場合)は、このセルテスタによる太陽電池セルパネル11の搬送及び計測処理を終了する。   Next, it is determined whether or not the solar cell panels 11 in all trays of the supply source tray group 10 have been subjected to measurement processing (step S10). If not all processing has been performed (in the case of NO), the processing returns to step S1 and the above processing Execute repeatedly. When all are processed (in the case of YES), the conveyance of the photovoltaic cell panel 11 by this cell tester and the measurement process are ended.

図7は本実施形態における測定制御回路28のI/V特性計測処理の流れを概略的に説明しており、図8はこのI/V特性計測処理においてバイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbと測定される電圧値及び電流値との関係を説明しており、図9はこのI/V特性計測処理においてバイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbの段階的変化と電圧及び電流の測定ポイントとを説明している。以下、これら図7、図8及び図9並びに図2を用いて、ソーラシミュレータ13におけるI/V特性計測処理動作を説明する。   FIG. 7 schematically illustrates the flow of the I / V characteristic measurement process of the measurement control circuit 28 in the present embodiment. FIG. 8 illustrates the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d in this I / V characteristic measurement process. 9 explains the relationship between the measured voltage value and the current value, and FIG. 9 shows the stepwise change of the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d and the measurement points of the voltage and current in this I / V characteristic measurement processing. Is explained. Hereinafter, the I / V characteristic measurement processing operation in the solar simulator 13 will be described with reference to FIGS. 7, 8, 9, and 2.

セルテスタの上位システムより、I/V特性計測処理の開始が指示されると、測定制御回路28のコンピュータは、ランプ点灯を指示する(ステップS21)。これにより、スタータ回路24が作動し、高圧キセノンショートアークランプ21は、ランプ点灯信号印加とほぼ同時に点灯し、直ちに定常出力光を発生する。   When the start of the I / V characteristic measurement process is instructed by the host system of the cell tester, the computer of the measurement control circuit 28 instructs the lamp to be lit (step S21). As a result, the starter circuit 24 is activated, and the high-pressure xenon short arc lamp 21 is turned on almost simultaneously with the application of the lamp lighting signal, and immediately generates steady output light.

次いで、極短時間の待機を行って高圧キセノンショートアークランプ21の出射光の安定化を図る(ステップS22)。   Next, an extremely short standby is performed to stabilize the light emitted from the high-pressure xenon short arc lamp 21 (step S22).

その後、基準電圧発生回路27eへ初期電圧指令値を送り、この基準電圧発生回路27eからアナログ変換され電圧として出力される出力電圧指令値Vbが基準電圧としてバイポーラ電源回路27dへ与えられ、このバイポーラ電源回路27dの出力電圧が最小電圧値(単なる一例であるが例えば−0.04V)となるように初期設定する(ステップS23)。   Thereafter, an initial voltage command value is sent to the reference voltage generation circuit 27e, and an output voltage command value Vb, which is analog-converted from the reference voltage generation circuit 27e and output as a voltage, is applied to the bipolar power supply circuit 27d as a reference voltage. Initialization is performed so that the output voltage of the circuit 27d becomes a minimum voltage value (for example, −0.04 V, which is just an example) (step S23).

次いで、この状態で電圧測定回路27aの測定した電圧に対応するデジタル電圧測定値を取り込むと共に、この電圧測定と同時に電流測定回路27bの測定した電流に対応するデジタル電流測定値を取り込む(ステップS24)。取り込んだ電圧測定値及び電流測定値は、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vb(この場合、Vb=−0.04V)と対応させてRAM28d又はHDD28eに記憶される。   Next, in this state, a digital voltage measurement value corresponding to the voltage measured by the voltage measurement circuit 27a is captured, and at the same time as this voltage measurement, a digital current measurement value corresponding to the current measured by the current measurement circuit 27b is captured (step S24). . The taken voltage measurement value and current measurement value are stored in the RAM 28d or the HDD 28e in association with the output voltage command value Vb (in this case, Vb = −0.04 V) of the bipolar power supply circuit 27d.

次いで、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbを一定電圧C(単なる一例であるが例えば0.04V)だけ段階的に増大させるための電圧指令値を基準電圧発生回路27eへ送る(ステップS25)。   Next, a voltage command value for increasing the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d stepwise by a constant voltage C (for example, 0.04V is just an example) is sent to the reference voltage generation circuit 27e (step S25). .

次いで、この状態で電圧測定回路27aの測定した電圧に対応するデジタル電圧測定値を取り込むと共に、この電圧測定と同時に電流測定回路27bの測定した電流に対応するデジタル電流測定値を取り込む(ステップS26)。取り込んだ電圧測定値及び電流測定値は、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vb(この場合、Vb=Vb+C)と対応させてRAM28d又はHDD28eに記憶される。   Next, in this state, a digital voltage measurement value corresponding to the voltage measured by the voltage measurement circuit 27a is captured, and simultaneously with this voltage measurement, a digital current measurement value corresponding to the current measured by the current measurement circuit 27b is captured (step S26). . The taken voltage measurement value and current measurement value are stored in the RAM 28d or the HDD 28e in association with the output voltage command value Vb (in this case, Vb = Vb + C) of the bipolar power supply circuit 27d.

その後、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbが最大電圧値(単なる一例であるが例えば1.24V)であるかどうか判別し(ステップS27)、最大電圧値ではないと判別した場合(NOの場合)は、ステップS25の処理に戻ってステップS25〜S27の処理を繰り返す。   Thereafter, it is determined whether or not the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d is the maximum voltage value (for example, 1.24V, which is just an example) (step S27). If), the process returns to the process of step S25 and the processes of steps S25 to S27 are repeated.

以上の処理により、図8に示すように、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbを階段状に増大させて太陽電池セル23の電圧及び電流を測定する。最小電圧値が−0.04V、最大電圧値が1.24V、段階的増大値が0.4Vの場合、33段階の出力電圧指令値Vbで測定が行われることとなる。なお、本実施形態では、出力電圧指令値Vbを最小電圧値から最大電圧値まで段階的に増大させて測定を行っているが、逆に、出力電圧指令値Vbを最大電圧値から最小電圧値まで段階的に減少させて測定を行っても良い。   By the above processing, as shown in FIG. 8, the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d is increased stepwise, and the voltage and current of the solar battery cell 23 are measured. When the minimum voltage value is -0.04V, the maximum voltage value is 1.24V, and the stepwise increase value is 0.4V, the measurement is performed with the output voltage command value Vb of 33 steps. In the present embodiment, the output voltage command value Vb is measured by increasing it stepwise from the minimum voltage value to the maximum voltage value. Conversely, the output voltage command value Vb is changed from the maximum voltage value to the minimum voltage value. Measurements may be performed while decreasing step by step.

なお、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbを変化させた後、太陽電池セル23を安定化させるために、一定の待機時間を経過させた後、測定を行うようにしても良い。即ち、図9に示すように、出力電圧指令値Vbを段階的に変化させた際に太陽電池セル23が安定するまで待機し、その後、測定ポイントにおいて電圧値及び電流値を同時に測定する。   In addition, after changing the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d, in order to stabilize the solar battery cell 23, the measurement may be performed after a certain standby time has elapsed. That is, as shown in FIG. 9, when the output voltage command value Vb is changed stepwise, the process waits until the solar battery cell 23 is stabilized, and then the voltage value and the current value are simultaneously measured at the measurement point.

ステップS27において、出力電圧指令値Vbが最大電圧値であると判別した場合(YESの場合)は、バイポーラ電源回路27dの出力を図示しないリレーによって切り離すと共に、ランプ消灯を指示する(ステップS28)。これにより、ランプ電源回路25が作動し、高圧キセノンショートアークランプ21は、ランプ消灯信号印加とほぼ同時に消灯する。   When it is determined in step S27 that the output voltage command value Vb is the maximum voltage value (in the case of YES), the output of the bipolar power supply circuit 27d is disconnected by a relay (not shown) and the lamp is instructed to be turned off (step S28). As a result, the lamp power circuit 25 operates, and the high-pressure xenon short arc lamp 21 is turned off almost simultaneously with the lamp turn-off signal application.

次いで、RAM28d又はHDD28eに記憶されている電圧測定値、電流測定値及びバイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbを含む測定データが上位システムであるセルテスタ制御回路へ送信される(ステップS29)。   Next, measurement data including the voltage measurement value, the current measurement value, and the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d stored in the RAM 28d or the HDD 28e is transmitted to the cell tester control circuit which is the host system (step S29).

図10は本実施形態におけるソーラシミュレータによって計測されたI/V特性の一例を示している。以下、同図を用いて、I/V特性計測処理動作について説明する。   FIG. 10 shows an example of the I / V characteristic measured by the solar simulator in this embodiment. Hereinafter, the I / V characteristic measurement processing operation will be described with reference to FIG.

ランプ点灯信号が印加されると、高圧キセノンショートアークランプ21は瞬時に点灯し、その出射光強度は直ちに定常出力である1SUNとなる。その際、必要に応じてランプ出力安定のための遅延時間をとった後、I/V特性の計測が行われる。   When the lamp lighting signal is applied, the high-pressure xenon short arc lamp 21 is turned on instantaneously, and the emitted light intensity immediately becomes 1 SUN which is a steady output. At that time, I / V characteristics are measured after taking a delay time for stabilizing the lamp output as necessary.

バイポーラ電源回路27dは太陽電池セル23が発電する以上に正方向に電流が流れるように、出力電圧指令値Vbを負の状態である最小電圧値(例えば、Vb=−0.04V)からスタートし、段階的に増大する。これにより、太陽電池セル23の電圧がゼロとなり(Vb=0)、バイポーラ電源回路27dの出力電流が最大となる状態、即ち、太陽電池セル23が完全に短絡した短絡電流Isc状態を作り出すことができる。   The bipolar power supply circuit 27d starts the output voltage command value Vb from a minimum voltage value (eg, Vb = −0.04V) in a negative state so that a current flows in the positive direction more than the photovoltaic cell 23 generates power. , Increase in steps. As a result, the voltage of the solar battery cell 23 becomes zero (Vb = 0) and the output current of the bipolar power supply circuit 27d is maximized, that is, the short-circuit current Isc state in which the solar battery cell 23 is completely short-circuited can be created. it can.

バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbがさらに増大することにより、太陽電池セル23が発電し、電流がバイポーラ電源回路27dに流れ込んでいく状態が続く。   As the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d further increases, the state in which the solar battery cell 23 generates power and the current flows into the bipolar power supply circuit 27d continues.

バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbがまたさらに増大することにより、太陽電池セル23に逆に電流が流れ込んでいく状態、即ちバイポーラ電源回路27dの出力電圧が太陽電池セル23の発生する電圧より高い状態となる。これにより、その途中で、太陽電池セル23の発生する電圧とバイポーラ電源回路27dの出力電圧とが等しくなり、電流がゼロとなり、太陽電池セル23が完全に開放された開放電圧Voc状態を作り出すことができる。   When the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d is further increased, the current flows into the solar battery cell 23, that is, the output voltage of the bipolar power supply circuit 27d is higher than the voltage generated by the solar battery cell 23. Become high. As a result, the voltage generated by the solar battery cell 23 and the output voltage of the bipolar power supply circuit 27d become equal in the middle of the process, the current becomes zero, and an open voltage Voc state in which the solar battery cell 23 is completely opened is created. Can do.

最終的に、バイポーラ電源回路27dの出力電圧指令値Vbが最大電圧値(例えば、Vb=1.24V)となると、ランプ消灯信号が印加され、高圧キセノンショートアークランプ21は瞬時に消灯する。   Finally, when the output voltage command value Vb of the bipolar power supply circuit 27d reaches the maximum voltage value (for example, Vb = 1.24V), the lamp extinction signal is applied, and the high-voltage xenon short arc lamp 21 is extinguished instantaneously.

このように本実施形態では、点灯動作及び消灯動作を繰り返して実行可能な高圧キセノンショートアークランプ21からの擬似太陽光を太陽電池セル23に照射した状態でそのI/V変換特性を計測しており、そのI/V変換特性計測開始時にランプを点灯させるトリガ電圧を発生するスタータ回路24にランプ点灯信号が指示され、これにより、スタート用のトリガ電圧が高圧キセノンショートアークランプ21に印加されることにより瞬時の点灯が行われる。I/V変換特性を計測終了時にランプ電源回路25にランプ電流の供給停止が指示され、ランプ電流が遮断されることにより高圧キセノンショートアークランプ21が消灯される。これにより、高圧キセノンショートアークランプ21はI/V変換特性を計測中のみ点灯され、計測が終了すると消灯される。従って、発光時間が充分に長い(1秒以上の)光によるI/V変換特性計測を高精度に行うことができ、しかも、消費電力の低減化及び構成部品の長寿命化を図ることができる。   As described above, in this embodiment, the I / V conversion characteristic is measured in a state where the solar cell 23 is irradiated with the pseudo-sunlight from the high-pressure xenon short arc lamp 21 that can be repeatedly operated and turned off. When the I / V conversion characteristic measurement starts, a lamp lighting signal is instructed to the starter circuit 24 that generates a trigger voltage for lighting the lamp, whereby the start trigger voltage is applied to the high-voltage xenon short arc lamp 21. As a result, instantaneous lighting is performed. When the measurement of the I / V conversion characteristics is completed, the lamp power supply circuit 25 is instructed to stop supplying the lamp current, and the lamp current is cut off, whereby the high-voltage xenon short arc lamp 21 is turned off. As a result, the high-pressure xenon short arc lamp 21 is turned on only during measurement of the I / V conversion characteristics, and is turned off when the measurement is completed. Therefore, the I / V conversion characteristic measurement using light with a sufficiently long light emission time (1 second or longer) can be performed with high accuracy, and the power consumption can be reduced and the life of the components can be extended. .

このように、高圧キセノンショートアークランプ21を光源として用いることにより、低コストで連続点灯及び持続時間の長いパルス点灯(ロングパルス点灯、パルス持続時間1秒以上)が可能となる。   Thus, by using the high-pressure xenon short arc lamp 21 as a light source, continuous lighting and pulse lighting with a long duration (long pulse lighting, pulse duration of 1 second or more) can be performed at low cost.

光源として、ショートアークランプを用いた場合、大面積の太陽電池セルに擬似太陽光を照射するソーラシミュレータでは、消費電力を低減させる必要上、パルス点灯方式が採用されており、これに対して、小面積の太陽電池セルに擬似太陽光を照射するソーラシミュレータでは、連続点灯方式が一般的に採用されており、生産ライン(セルテスタ)における計測に用いられていた。近年、小面積照射のソーラシミュレータであっても、電源装置の低コスト化及び消費電力の低減化の観点から、パルス点灯方式が採用されつつある。従来の小面積照射対応のパルス点灯ランプは、5〜10msecのパルス点灯時間を有するものが一般的であり、また、10msecの山形パルス波形で点灯するものも使用されていた。シリコン系の太陽電池セルについては10msecのパルス点灯による照射で計測可能であるが、化合物系等の太陽電池セルについては10msecの照射では応答できないため、10msecを超えるパルス点灯照射が必要とされている。   When a short arc lamp is used as a light source, a solar simulator that irradiates pseudo-sunlight on a large-area solar battery cell employs a pulse lighting method to reduce power consumption. In a solar simulator that irradiates a small-sized solar cell with simulated sunlight, a continuous lighting method is generally adopted and used for measurement in a production line (cell tester). In recent years, even in a small area irradiation solar simulator, a pulse lighting method is being adopted from the viewpoint of reducing the cost of a power supply device and reducing power consumption. Conventional pulse lighting lamps corresponding to small area irradiation generally have a pulse lighting time of 5 to 10 msec, and lamps that light with a 10 msec angle pulse waveform have been used. Silicon-based solar cells can be measured by irradiation with pulse lighting of 10 msec, but compound-based solar cells cannot respond with irradiation of 10 msec, and pulse lighting irradiation exceeding 10 msec is required. .

本実施形態の高圧キセノンショートアークランプ21を使用することで、集光効率が著しく向上し、低価格の電源装置及び光学系を用いても台形のパルス波形で1sec以上のロングパルス照射が可能となる。例えば、標準的なランプを用いた場合に比して、消費電力が1/2程度であっても、定格照度を確保できる。また、現在使用されている山形パルス波形のソーラシミュレータは、発光時間が10msecに固定されているのに対し、本実施形態の高圧キセノンショートアークランプ21を使用すれば、一般に使用されている連続点灯用電源装置を制御して必要な時間のみで消灯する制御方式を採用することで、連続点灯から任意のパルス時間点灯が可能となる。これにより、あらゆる種類の太陽電池セルに対応可能なソーラシミュレータを提供することができる。   By using the high-pressure xenon short arc lamp 21 of the present embodiment, the light collection efficiency is remarkably improved, and a long pulse irradiation of 1 sec or more can be performed with a trapezoidal pulse waveform even using a low-cost power supply device and optical system. Become. For example, compared to the case where a standard lamp is used, the rated illuminance can be secured even when the power consumption is about ½. Further, while the solar simulator having a mountain-shaped pulse waveform currently used has a light emission time fixed at 10 msec, if the high-pressure xenon short arc lamp 21 of this embodiment is used, the continuous lighting that is generally used is used. By adopting a control method that controls the power supply device and turns off the light only for a required time, it is possible to light from the continuous lighting to any pulse time. Thereby, the solar simulator which can respond to all kinds of photovoltaic cells can be provided.

また、本実施形態の高圧キセノンショートアークランプ21は発光源と反射鏡とが一体となっているので軸出し機構及び別個の反射鏡が不要となるため、その意味からも大幅なコストダウンが可能である。さらに、発光部と反射鏡とが一体化されて軸出し調整済みであることから、発光部の軸出し作業が不要となる。このため、ランプ交換時等に煩雑な軸出し作業を行う必要がないので手間が掛からない。さらにまた、光量調整を行う際にランプに印加される電力を変化させていないため、スペクトル変化を起こすこともない。   In addition, since the high-pressure xenon short arc lamp 21 of the present embodiment has a light emitting source and a reflecting mirror integrated with each other, an axising mechanism and a separate reflecting mirror are not necessary, so that the cost can be greatly reduced. It is. Further, since the light emitting unit and the reflecting mirror are integrated and adjusted for alignment, the light emitting unit is not required to be aligned. For this reason, since it is not necessary to perform a complicated shaft alignment operation at the time of lamp replacement or the like, labor is not required. Furthermore, since the power applied to the lamp is not changed when adjusting the light amount, the spectrum does not change.

もちろん、絞り及びリングのような機械的減光フィルタを使用していないので、構成を簡略化でき、均一性の悪化や光の干渉による色ムラ発生に基づくスペクトル変化も全く生じない。   Of course, since a mechanical neutral filter such as an aperture and a ring is not used, the configuration can be simplified, and there is no spectral change due to deterioration in uniformity and color unevenness due to light interference.

図11は本実施形態におけるソーラシミュレータによって計測されたI/V特性の他の例を示している。   FIG. 11 shows another example of the I / V characteristic measured by the solar simulator in this embodiment.

この例では、1回目のI/V特性計測処理が図10の例の場合と同様に、高圧キセノンショートアークランプ21の出射光がフィルタなしの状態で太陽電池セル23に印加されて実行される(ただし、計測処理時間は1/2)。   In this example, the first I / V characteristic measurement process is executed by applying the light emitted from the high-pressure xenon short arc lamp 21 to the solar battery cell 23 without a filter as in the case of the example of FIG. (However, the measurement processing time is 1/2).

次いで、減光フィルタ装置22の円板22aが回動されて所望のメッシュフィルタが選択されることにより、高圧キセノンショートアークランプ21の出射光が減光フィルタを介した状態で太陽電池セル23に印加され、2回目のI/V特性計測処理が実行される。   Next, the disk 22a of the neutral density filter device 22 is rotated and a desired mesh filter is selected, so that the light emitted from the high-pressure xenon short arc lamp 21 passes through the neutral density filter to the solar battery cell 23. The second I / V characteristic measurement process is executed.

図12は本発明の他の実施形態におけるソーラシミュレータのスタータ回路の他の例の電気的構成を概略的に示している。本実施形態は、高圧キセノンショートアークランプ21の発光パルス幅が1秒を超えて長い場合に特に好適であり、スタータ回路以外の構成は図1〜図11に述べた実施形態の場合と同様である。従って、本実施形態において、図1〜図11に述べた実施形態の場合と同様の構成要素は、同じ参照番号を使用するものとする。   FIG. 12 schematically shows an electrical configuration of another example of a starter circuit of a solar simulator in another embodiment of the present invention. This embodiment is particularly suitable when the light emission pulse width of the high-pressure xenon short arc lamp 21 is longer than 1 second, and the configuration other than the starter circuit is the same as that of the embodiment described in FIGS. is there. Therefore, in this embodiment, the same reference numerals are used for the same components as those in the embodiment described in FIGS.

本実施形態におけるスタータ回路24′は、テスラコイル24a′と、高圧トランス(T)24b′と、キャパシタ(C)24d′と、スパークギャップ素子(SG)24e′と、ソリッドステートリレー(SSR)24h′とを備えている。   The starter circuit 24 'in this embodiment includes a Tesla coil 24a', a high voltage transformer (T) 24b ', a capacitor (C) 24d', a spark gap element (SG) 24e ', and a solid state relay (SSR) 24h'. And.

テスラコイル24a′の2次側巻線の一端は、高圧キセノンショートアークランプ21のアノード21dに直列に接続されている。このテスラコイル24a′の2次側巻線の他端と、高圧キセノンショートアークランプ21のカソード21eとは、ランプ電源回路25の出力端子に接続されている。高圧トランス24b′の1次側巻線はソリッドステートリレー24h′を介して商用電源に接続されており、この高圧トランス24b′の2次側巻線にはキャパシタ24d′が直列に接続されている。ソリッドステートリレー24h′には、測定制御回路28からランプ点灯信号であるトリガ信号が印加されるように構成されている。   One end of the secondary winding of the Tesla coil 24 a ′ is connected in series to the anode 21 d of the high-pressure xenon short arc lamp 21. The other end of the secondary winding of the Tesla coil 24 a ′ and the cathode 21 e of the high-voltage xenon short arc lamp 21 are connected to the output terminal of the lamp power circuit 25. The primary side winding of the high voltage transformer 24b 'is connected to a commercial power supply via a solid state relay 24h', and a capacitor 24d 'is connected in series to the secondary side winding of the high voltage transformer 24b'. . A trigger signal which is a lamp lighting signal is applied from the measurement control circuit 28 to the solid state relay 24h ′.

キャパシタ24d′の一端(高圧トランス24b′の2次側巻線の一端)はテスラコイル24a′の1次側巻線の一端に接続されており、テスラコイル24a′の1次側巻線の他端にはスパークギャップ素子24e′のアノードが接続されている。スパークギャップ素子24e′のカソードはキャパシタ24d′の他端(高圧トランス24b′の2次側巻線の他端)に接続されている。   One end of the capacitor 24d '(one end of the secondary winding of the high-voltage transformer 24b') is connected to one end of the primary winding of the Tesla coil 24a 'and the other end of the primary winding of the Tesla coil 24a'. Is connected to the anode of the spark gap element 24e '. The cathode of the spark gap element 24e 'is connected to the other end of the capacitor 24d' (the other end of the secondary winding of the high-voltage transformer 24b ').

このような構成のスタータ回路24′において、高圧トランス24b′の2次側巻線にはキャパシタ24d′が接続され、その一端にはテスラコイル24a′の1次側巻線が接続されている。ランプ点灯信号はソリッドステートリレー24h′に印加され、このランプ点灯信号が与えられている間、高圧トランス24b′の2次側巻線からの電圧はキャパシタ24d′に印加される。この電圧は交流であるため、絶えず極性が反転するが、その電圧値がスパークギャップ素子24e′の絶縁破壊電圧に到達する毎に、パルス状の電流がテスラコイル24a′の1次側巻線に流れ、高圧キセノンショートアークランプ21が点灯する。商用電源の周波数が仮に50Hzであり、ランプ点灯信号であるトリガ信号のパルス幅が50ミリ秒であるとすると、1秒間に5回のパルス状の電流がテスラコイル24a′の1次側巻線に流れることとなり、高圧キセノンショートアークランプ21の点灯の確実性においては、図4に示したスタータ回路24の場合より優れている。   In the starter circuit 24 'having such a configuration, the capacitor 24d' is connected to the secondary side winding of the high voltage transformer 24b ', and the primary side winding of the Tesla coil 24a' is connected to one end thereof. The lamp lighting signal is applied to the solid state relay 24h ', and while the lamp lighting signal is applied, the voltage from the secondary winding of the high voltage transformer 24b' is applied to the capacitor 24d '. Since this voltage is alternating current, the polarity is constantly reversed, but each time the voltage value reaches the breakdown voltage of the spark gap element 24e ′, a pulsed current flows through the primary winding of the Tesla coil 24a ′. The high-pressure xenon short arc lamp 21 lights up. Assuming that the frequency of the commercial power supply is 50 Hz and the pulse width of the trigger signal, which is a lamp lighting signal, is 50 milliseconds, five pulses of current per second are applied to the primary winding of the Tesla coil 24a ′. In terms of certainty of lighting of the high-pressure xenon short arc lamp 21, it is superior to the case of the starter circuit 24 shown in FIG.

本実施形態におけるその他の作用効果については、図1〜図11に述べた実施形態の場合と同様である。   Other functions and effects in the present embodiment are the same as those in the embodiment described in FIGS.

以上述べた実施形態は全て本発明を例示的に示すものであって限定的に示すものではなく、本発明は他の種々の変形態様及び変更態様で実施することができる。従って本発明の範囲は特許請求の範囲及びその均等範囲によってのみ規定されるものである。   All the embodiments described above are illustrative of the present invention and are not intended to be limiting, and the present invention can be implemented in other various modifications and changes. Therefore, the scope of the present invention is defined only by the claims and their equivalents.

10 供給元トレイ群
11 太陽電池セルパネル
12 搬送ベルトコンベア
13 ソーラシミュレータ
14 ソータ
15、16、17 ランク別トレイ群
20 擬似太陽光発生光学部
21 高圧キセノンショートアークランプ
21a 反射鏡部材
21b 透明窓部材
21c ランプ室
21d アノード
21e カソード
21f カソード支持部材
21g 発光部
21h 反射鏡
22 減光フィルタ装置
22a 円板
22b モータ
23 太陽電池セル
24、24′ スタータ回路
24a、24a′ テスラコイル
24b、24b′ 高圧トランス(T)
24c ダイオード(D)
24d、24d′ キャパシタ(C)
24e トリガードスパークギャップ素子(TSG)
24e′ スパークギャップ素子(SG)
24f トリガトランス
24g トリガ回路
24h′ ソリッドステートリレー(SSR)
25 ランプ電源回路
25a 出力回路
25b ランプ出力用出力端子
25c 整流器
25d 平滑キャパシタ
25e 降圧トランス
25f スイッチ
25g 商用電源入力端子
25h 駆動トランジスタ
25i 駆動回路
25j フォトカプラ
25k 消灯信号入力端子
26 モータ駆動回路
27 測定回路
27a 電圧測定回路
27b 電流測定回路
27c 標準抵抗
27d バイポーラ電源回路
27e 基準電圧発生回路
28 測定制御回路
28a バス
28b 中央処理装置(CPU)
28c リードオンリメモリ(ROM)
28d ランダムアクセスメモリ(RAM)
28e ハードディスク駆動装置(HDD)
28f 画像処理部
28g ディスプレイ
28h 第1の入出力インタフェース(I/O)
28i 第2の入出力インタフェース(I/O)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Supply tray group 11 Solar cell panel 12 Conveyor belt conveyor 13 Solar simulator 14 Sorter 15, 16, 17 Tray group according to rank 20 Pseudo sunlight generation optical part 21 High pressure xenon short arc lamp 21a Reflector member 21b Transparent window member 21c Lamp Chamber 21d Anode 21e Cathode 21f Cathode support member 21g Light emitting part 21h Reflector 22 Neutral filter device 22a Disk 22b Motor 23 Solar cell 24, 24 'Starter circuit 24a, 24a' Tesla coil 24b, 24b 'High voltage transformer (T)
24c Diode (D)
24d, 24d 'capacitor (C)
24e Triggered spark gap element (TSG)
24e 'Spark gap element (SG)
24f Trigger transformer 24g Trigger circuit 24h 'Solid state relay (SSR)
25 Lamp power supply circuit 25a Output circuit 25b Lamp output output terminal 25c Rectifier 25d Smoothing capacitor 25e Step-down transformer 25f Switch 25g Commercial power supply input terminal 25h Drive transistor 25i Drive circuit 25j Photocoupler 25k Turn-off signal input terminal 26 Motor drive circuit 27 Measurement circuit 27a Voltage measurement circuit 27b Current measurement circuit 27c Standard resistance 27d Bipolar power supply circuit 27e Reference voltage generation circuit 28 Measurement control circuit 28a Bus 28b Central processing unit (CPU)
28c Read only memory (ROM)
28d random access memory (RAM)
28e Hard disk drive (HDD)
28f Image processing unit 28g Display 28h First input / output interface (I / O)
28i Second input / output interface (I / O)

Claims (5)

点灯及び消灯の繰り返し動作を可能とする高圧キセノンショートアークランプと、該高圧キセノンショートアークランプにランプ電流を供給するランプ電源回路と、前記高圧キセノンショートアークランプにスタート用のトリガ電圧を印加するスタータ回路と、前記高圧キセノンショートアークランプからの擬似太陽光が照射される被測定体の光電変換特性を測定する測定回路と、前記ランプ電源回路、前記スタータ回路及び前記測定回路に電気的に接続された測定制御装置とを備えており、前記測定制御装置は、前記測定回路による前記被測定体の光電変換特性の計測開始時又は計測開始直前に前記スタータ回路にトリガ電圧の印加を指示して前記高圧キセノンショートアークランプを瞬時に点灯させ、該光電変換特性の計測終了時又は計測終了直後に前記ランプ電源回路にランプ電流の供給停止を指示して前記高圧キセノンショートアークランプを消灯するように構成されていることを特徴とするソーラシミュレータ。   A high-voltage xenon short arc lamp that can be repeatedly turned on and off, a lamp power supply circuit that supplies a lamp current to the high-voltage xenon short arc lamp, and a starter that applies a start trigger voltage to the high-voltage xenon short arc lamp A circuit, a measurement circuit for measuring photoelectric conversion characteristics of a measurement object irradiated with pseudo sunlight from the high-pressure xenon short arc lamp, and the lamp power supply circuit, the starter circuit, and the measurement circuit. The measurement control device instructs the starter circuit to apply a trigger voltage at the start of measurement of the photoelectric conversion characteristics of the measurement object by the measurement circuit or immediately before the measurement starts. The high-pressure xenon short arc lamp is turned on instantaneously and the measurement of the photoelectric conversion characteristics is completed or Solar simulator, characterized in that it is configured such that the the lamp power supply circuit instructs the stop of the supply of the lamp current immediately after the end turns off the high-pressure xenon short arc lamp. 前記測定回路は、前記被測定体の出力端子間に接続された基準抵抗及び電子負荷と、該電子負荷を変化させる掃引部と、掃引時の前記被測定体の出力端子間の電圧を検出する電圧検出部と、掃引時に前記基準抵抗を流れる電流を検出する電流検出部とを備えていることを特徴とする請求項1に記載のソーラシミュレータ。   The measurement circuit detects a reference resistance and an electronic load connected between output terminals of the device to be measured, a sweep unit that changes the electronic load, and a voltage between the output terminals of the device to be measured at the time of sweeping. The solar simulator according to claim 1, further comprising: a voltage detection unit; and a current detection unit that detects a current flowing through the reference resistor during sweeping. 前記スタータ回路は、前記高圧キセノンショートアークランプに二次側巻線が接続されたテスラコイルと、前記測定制御装置から与えられる点灯指示信号に応答して前記テスラコイルの一次側巻線に高圧パルス電流を印加するパルス電流発生回路とを備えていることを特徴とする請求項1又は2に記載のソーラシミュレータ。   The starter circuit includes a Tesla coil having a secondary winding connected to the high-voltage xenon short arc lamp, and a high-voltage pulse current to the primary winding of the Tesla coil in response to a lighting instruction signal given from the measurement control device. The solar simulator according to claim 1, further comprising a pulse current generation circuit to be applied. 前記ランプ電源回路は、前記測定制御装置から与えられる消灯指示信号に応答して前記高圧キセノンショートアークランプへのランプ電流の供給を停止するスイッチ回路を備えていることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載のソーラシミュレータ。   The lamp power circuit includes a switch circuit that stops supply of lamp current to the high-pressure xenon short arc lamp in response to a turn-off instruction signal given from the measurement control device. 4. The solar simulator according to any one of 3 above. 前記測定制御装置は、トリガ電圧の印加を指示する点灯指示信号を前記スタータ回路に送信する点灯指示手段と、該点灯指示手段からの点灯指示信号の送信に続いて、前記測定回路による前記被測定体の光電変換特性の計測開始を指示する計測開始指示手段と、前記測定回路による前記被測定体の光電変換特性の計測終了を指示する計測終了指示手段と、該計測終了指示手段からの計測終了の指示に続いて、ランプ電流の供給停止を指示する消灯指示信号を前記ランプ電源回路に送信する消灯指示手段とを備えていることを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載のソーラシミュレータ。   The measurement control device includes a lighting instruction unit that transmits a lighting instruction signal instructing application of a trigger voltage to the starter circuit, and transmission of the lighting instruction signal from the lighting instruction unit, followed by the measurement by the measurement circuit. Measurement start instructing means for instructing the start of measurement of the photoelectric conversion characteristics of the body, measurement end instructing means for instructing the end of measurement of the photoelectric conversion characteristics of the measured object by the measurement circuit, and measurement end from the measurement end instructing means 5. The light-off instruction means for transmitting a light-off instruction signal for instructing the supply stop of the lamp current to the lamp power supply circuit subsequent to the above-mentioned instruction. 5. Solar simulator.
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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110703018A (en) * 2019-10-12 2020-01-17 中国科学院近代物理研究所 Silicon photoelectric device batch measurement system
CN112781619A (en) * 2020-12-30 2021-05-11 中电科仪器仪表(安徽)有限公司 Side-lighting simulator suitable for AM0 spectrum

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62165897A (en) * 1986-01-17 1987-07-22 ウシオ電機株式会社 Control of light source composed of dc short circuit arc lamp
JP2002048704A (en) * 2000-08-07 2002-02-15 Nisshinbo Ind Inc Solar simulator
JP2002058682A (en) * 2000-08-17 2002-02-26 Iwasaki Electric Co Ltd Short arc xenon lamp device
JP2002367837A (en) * 2001-06-06 2002-12-20 Ushio Inc Lamp lighting device having starting circuit
JP2003008035A (en) * 2001-06-26 2003-01-10 Ntt Power & Building Facilities Inc Solar battery power generating amount simulator
JP2003031825A (en) * 2001-07-13 2003-01-31 Nisshinbo Ind Inc Solar simulation method for measuring solar cell, and solar simulator using the same
JP2004134748A (en) * 2002-07-26 2004-04-30 Canon Inc Measuring method and apparatus for photoelectric conversion device, and manufacturing method and apparatus for the photoelectric conversion device
JP2007088419A (en) * 2005-06-17 2007-04-05 Nisshinbo Ind Inc Measuring method by solar simulator
JP2010027826A (en) * 2008-07-18 2010-02-04 Nisshinbo Holdings Inc Solar simulator, and method of measuring multi-junction solar cell
WO2010070952A1 (en) * 2008-12-18 2010-06-24 株式会社田原電機製作所 Characteristic measuring device for solar cell
JP2010212351A (en) * 2009-03-09 2010-09-24 Sharp Corp Inspection device and inspection method

Patent Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62165897A (en) * 1986-01-17 1987-07-22 ウシオ電機株式会社 Control of light source composed of dc short circuit arc lamp
JP2002048704A (en) * 2000-08-07 2002-02-15 Nisshinbo Ind Inc Solar simulator
JP2002058682A (en) * 2000-08-17 2002-02-26 Iwasaki Electric Co Ltd Short arc xenon lamp device
JP2002367837A (en) * 2001-06-06 2002-12-20 Ushio Inc Lamp lighting device having starting circuit
JP2003008035A (en) * 2001-06-26 2003-01-10 Ntt Power & Building Facilities Inc Solar battery power generating amount simulator
JP2003031825A (en) * 2001-07-13 2003-01-31 Nisshinbo Ind Inc Solar simulation method for measuring solar cell, and solar simulator using the same
JP2004134748A (en) * 2002-07-26 2004-04-30 Canon Inc Measuring method and apparatus for photoelectric conversion device, and manufacturing method and apparatus for the photoelectric conversion device
JP2007088419A (en) * 2005-06-17 2007-04-05 Nisshinbo Ind Inc Measuring method by solar simulator
JP2010027826A (en) * 2008-07-18 2010-02-04 Nisshinbo Holdings Inc Solar simulator, and method of measuring multi-junction solar cell
WO2010070952A1 (en) * 2008-12-18 2010-06-24 株式会社田原電機製作所 Characteristic measuring device for solar cell
JP2010212351A (en) * 2009-03-09 2010-09-24 Sharp Corp Inspection device and inspection method

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