JP2014048096A - Two-dimensional spectral measurement device, and two-dimensional spectral measurement method - Google Patents
Two-dimensional spectral measurement device, and two-dimensional spectral measurement method Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014048096A JP2014048096A JP2012189865A JP2012189865A JP2014048096A JP 2014048096 A JP2014048096 A JP 2014048096A JP 2012189865 A JP2012189865 A JP 2012189865A JP 2012189865 A JP2012189865 A JP 2012189865A JP 2014048096 A JP2014048096 A JP 2014048096A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- measured
- mirror
- conversion unit
- phase shifter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
Description
この発明は、液体などの低散乱体又は低拡散率体等を被測定物とし、この被測定物について高解像度の2次元分光像を計測する二次元分光計測装置及び二次元分光計測方法に関する。 The present invention relates to a two-dimensional spectroscopic measurement apparatus and a two-dimensional spectroscopic measurement method for measuring a high-resolution two-dimensional spectroscopic image of a measurement object using a low scatterer such as a liquid or a low diffusivity object.
物体から発する光、あるいは物体を透過する光を分光技術を使って分析する典型的手法として、フーリエ分光法がある。典型的なフーリエ分光法は、物体光をハーフミラーなどのビームスプリッターにより2分岐させ、それぞれの光束をミラーにより反射させて再度ハーフミラーに到達させ、2光束を合流させて干渉現象を観測する。2分岐した光束のうちの一方(参照光)を反射するミラーは参照ミラーと呼ばれる。フーリエ分光法では、参照ミラーを光の波長よりも短い分解能で高精度で移動させて干渉光強度を変化させ、いわゆるインターフェログラムを検出し、このインターフェログラムを数学的にフーリエ変換することにより分光特性を取得する。 As a typical method for analyzing light emitted from an object or transmitted through an object by using a spectroscopic technique, there is Fourier spectroscopy. In typical Fourier spectroscopy, object light is split into two by a beam splitter such as a half mirror, the respective light beams are reflected by a mirror, reach the half mirror again, and the two light beams are merged to observe an interference phenomenon. A mirror that reflects one of the two branched light beams (reference light) is called a reference mirror. In Fourier spectroscopy, the reference mirror is moved with high accuracy at a resolution shorter than the wavelength of light to change the interference light intensity, detect a so-called interferogram, and mathematically Fourier transform the interferogram. Obtain spectral characteristics.
しかし、このフーリエ分光法は、ポイント計測であるため、被測定物の幾何学的配置を知ることが出来ない。 However, since this Fourier spectroscopy is a point measurement, it cannot know the geometrical arrangement of the object to be measured.
そこで、対物レンズと結像レンズの間に固定ミラー及び可動ミラーから構成される位相シフターを配置し、位相シフターにより物体光から干渉光を生成して結像面にインターフェログラムを生成するようにした二次元分光計測装置が提案されている(特許文献1)。 Therefore, a phase shifter composed of a fixed mirror and a movable mirror is arranged between the objective lens and the imaging lens, and interference light is generated from object light by the phase shifter to generate an interferogram on the imaging plane. A two-dimensional spectroscopic measurement apparatus has been proposed (Patent Document 1).
図1は、この二次元分光計測装置の概略構成図である。 FIG. 1 is a schematic configuration diagram of this two-dimensional spectroscopic measurement apparatus.
図において、図示しない光源から被測定物Sに対して光が照射されることにより被測定物Sの1輝点から散乱光や蛍光発光などが放射状に発生し、この光線群(物体光ともいう)は、対物レンズ1に入射し、平行光束に変換される。対物レンズ1を透過してきた平行光束は位相シフターに2に到達する。位相シフター2は、平板状の固定ミラー20及び可動ミラー21で構成されている。位相シフター2は、対物レンズ1の中心軸(平行光束の光軸)に対して反射面が45度傾いている。駆動部3は可動ミラー21を図の矢印方向、つまり、対物レンズ1の中心軸に対して45度の角度で往復駆動する。このような構成により、可動ミラー21の光軸方向の移動(ベクトル)量(長さ)は、駆動部3による駆動量(長さ)の1/√2となる。
In the figure, when light is irradiated to the object to be measured S from a light source (not shown), scattered light, fluorescent light emission and the like are generated radially from one bright spot of the object to be measured S, and this light beam group (also referred to as object light). ) Enters the
位相シフター2の反射光は結像レンズ4に入射する。位相シフター2の反射面は結像レンズ4の中心軸に対しても45度傾いている。結像レンズ4の結像面には二次元CCDカメラなどからなる検出部5が配置されている。制御部6は駆動部3を駆動することで、位相シフター2に入射する2種類の光、つまり固定ミラー20に入射する光と可動ミラー21に入射する光(光路差を変化させた光)とを干渉させることができ、これにより前記結像面にインターフェログラムを生成する。制御部6は、インターフェログラムをフーリエ変換することにより被測定物Sの分光特性を取得する。
The reflected light of the
上記の二次元分光計測装置によれば、レンズを用いて光学的に共役となる輝点群を結像面に像として形成するため、被測定物の幾何学的配置を知ることが出来る。
しかし、上記二次元分光計測装置は、被測定物を光学的な輝点群としたとき、レンズを用いて光学的に共役となる輝点群を結像面に像として形成する結像光学系であるため、被測定物から放射状に様々な方向に光線が出ている場合は問題がないが、被測定物に液体などの低散乱体又は低拡散率体を使用した場合、或いは鏡面体からの反射光の場合は結像しない。この問題を図2(A)(B)を参照して説明する。 However, when the object to be measured is an optical bright spot group, the two-dimensional spectroscopic measurement apparatus forms an optically conjugate bright spot group as an image on the imaging plane using a lens. Therefore, there is no problem when light rays are emitted in various directions radially from the object to be measured, but when a low scatterer or low diffusivity body such as a liquid is used for the object to be measured, or from a mirror body In the case of the reflected light, no image is formed. This problem will be described with reference to FIGS.
図2(A)において、被測定物Sが透明容器に封入された液体であった場合、光源7からの光は、被測定物Sに入射したときに散乱せずにそのまま透過してしまう。このとき光源7からの光は平行光束又はそれに近い光束であるため、対物レンズ1の集光作用により、光は位相シフター2上で集光してしまう。その結果、可動ミラー21が駆動しても位相シフター2上で光の干渉作用が生じなくなり、また、図2(A)のように検出部5において結像出来ないため、結像面にインターフェログラムを生成することができない。図3(A)はこの状態を示している。同図左側は、結像面にインターフェログラムが生成出来ていないことを示し、同図右側は、その結果、フーリエ変換しても被測定物の分光特性としては何も得られないことを示している。
In FIG. 2A, when the object to be measured S is a liquid sealed in a transparent container, the light from the
図2(B)のように、被測定物S1が鏡等の鏡面体の場合も同様の問題がある。同図は、対物レンズ1と鏡との間にビームスプリッター30を配置している。光源7からの光はビームスプリッター30で反射して鏡で正反射する。この正反射光はビームスプリッター30を透過して平行光のまま対物レンズ1に入射する。したがって、図2(A)と同様に、検出部5において結像出来ず、結像面にインターフェログラムを生成することができない。
As shown in FIG. 2B, the same problem occurs when the object to be measured S1 is a mirror body such as a mirror. In the figure, a
上記の問題は、被測定物Sが液体などの低散乱体又は低拡散率体であることが原因である。被測定物Sが鏡面体で反射されるような場合も同じ問題が生じる。 The above problem is caused by the measurement object S being a low scatterer or a low diffusivity material such as a liquid. The same problem occurs when the object to be measured S is reflected by the mirror body.
そこで、この発明の目的は、被測定物Sが液体などの低散乱体又は低拡散率体である場合や鏡面体からの反射光の場合でも、結像面にインターフェログラムを生成することができる工夫を施すことである。 Accordingly, an object of the present invention is to generate an interferogram on the imaging plane even when the object to be measured S is a low scatterer or low diffusivity body such as a liquid or reflected light from a mirror body. It is to give a device that can be done.
この発明は、被測定物から生じる光を平行光束に変換する第1の変換部と、
前記平行光束の一部を位相シフトさせる位相シフト部と、
前記位相シフトされた位相シフト光を含む平行光束を集光する第2の変換部と、
前記第2の変換部で集光された光が結像する結像面において前記位相シフトにより
インターフェログラムを生成する二次元分光計測部と、
を備え、さらに
前記被測定物と前記第1の変換部の間に配置され、被測定物を透過した光又は鏡面体で反射した光を散乱させる光散乱部を備えていることを特徴とする。
The present invention includes a first conversion unit that converts light generated from an object to be measured into a parallel luminous flux,
A phase shift unit for phase shifting a part of the parallel luminous flux;
A second converter for condensing a parallel light beam including the phase-shifted phase-shifted light;
A two-dimensional spectroscopic measurement unit that generates an interferogram by the phase shift on an imaging plane on which the light collected by the second conversion unit forms an image;
And a light scattering part that is disposed between the object to be measured and the first conversion part and scatters light that has been transmitted through the object to be measured or light that has been reflected by a specular body. .
第1の変換部、第2の変換部は、例えば、それぞれ対物レンズと結像レンズで構成される。位相シフト部は、第1の変換部で変換された平行光束の一部を位相シフトすることで、それらの光を干渉させ、それにより結像面にインターフェログラムを生成する。 For example, the first conversion unit and the second conversion unit each include an objective lens and an imaging lens. The phase shift unit phase-shifts a part of the parallel light flux converted by the first conversion unit, thereby causing the lights to interfere with each other, thereby generating an interferogram on the imaging plane.
そして、被測定物と第1の変換部との間には、低散乱体又は低拡散率体等の被測定物を透過した光又は鏡などで反射した光を散乱させる光散乱部を備える。 A light scattering unit that scatters light that has passed through the measurement object such as a low scatterer or a low diffusivity body or reflected by a mirror or the like is provided between the measurement object and the first conversion unit.
この発明では、被測定物を透過した光を散乱させる光散乱部により、光が周囲に散乱する。また、被測定物が鏡などで反射した場合にも光散乱部で散乱させる。光が周囲に散乱する結果、被測定物を光学的な輝点群と等価なものに置き換えることができる。光を散乱させるとは、この発明では、光を広がりをもった光束に変換することを意味する。 In the present invention, the light is scattered to the surroundings by the light scattering portion that scatters the light transmitted through the object to be measured. Further, even when the object to be measured is reflected by a mirror or the like, it is scattered by the light scattering portion. As a result of the light scattering around, the object to be measured can be replaced with one equivalent to an optical bright spot group. In the present invention, scattering of light means converting light into a luminous flux having a spread.
この発明では、図1のような、レンズを用いて光学的に共役となる輝点群を結像面に像として形成する結像光学系を構築することができ、この光学系内の位相シフト部の作用によって、結像面にインターフェログラムを生成することができるようになる。 In the present invention, an imaging optical system can be constructed that forms a luminescent spot group that is optically conjugate using a lens as an image on the imaging plane as shown in FIG. The interferogram can be generated on the image plane by the action of the unit.
図3(B)は、この発明で結像面にインターフェログラムが生成出来ることを示している。同図左側は、結像面にインターフェログラムが生成出来ていることを示し、同図右側は、その結果、フーリエ変換して被測定物の分光特性が得られることを示している。 FIG. 3B shows that an interferogram can be generated on the imaging plane according to the present invention. The left side of the figure shows that an interferogram has been generated on the imaging plane, and the right side of the figure shows that the spectral characteristics of the object to be measured can be obtained by Fourier transform as a result.
前記光学素子としては、様々なものを使用可能である。例えば、穴開きフィルタ、回析格子、フライアイレンズ、拡散板などが考えられる。 Various optical elements can be used. For example, a perforated filter, a diffraction grating, a fly-eye lens, a diffusion plate, and the like are conceivable.
この発明によれば、被測定物と第1の変換部との間に光を散乱させる光散乱部を配置することにより、液体や鏡などの被測定物に対して二次元分光計測を行うことができる。この場合、光散乱部の配置位置は被測定物と第1の変換部間であれば良いため、光散乱部の配置位置に自由度があり、取り付けなどが容易である。 According to the present invention, two-dimensional spectroscopic measurement is performed on an object to be measured such as a liquid or a mirror by disposing a light scattering unit that scatters light between the object to be measured and the first conversion unit. Can do. In this case, since the arrangement position of the light scattering portion may be between the object to be measured and the first conversion portion, the arrangement position of the light scattering portion has a degree of freedom and is easy to attach.
図4は、この発明の実施形態を示す。同図において、二次元分光計測装置は、二次元分光計測部Mと光を拡散する光学素子8とで構成される。
FIG. 4 shows an embodiment of the present invention. In the figure, the two-dimensional spectroscopic measurement apparatus includes a two-dimensional spectroscopic measurement unit M and an
二次元分光計測部Mは次のように構成される。 The two-dimensional spectroscopic measurement unit M is configured as follows.
被測定物Sからの光を受光する対物レンズ1(第1の変換部)の後方には、位相シフター2(位相シフト部)が配置されている。この位相シフター2は、光学的鏡面仕上げされている固定ミラー20と可動ミラー21とを通常時(可動ミラー21が移動していない時)で反射面が同一面となるように、且つ、対物レンズ1からの平行光束の光軸に対して反射面が45度傾くように配置されている。位相シフター2は全体として矩形状で、上半分の矩形領域は固定ミラー20、下半分の矩形領域は可動ミラーで構成されている。また、可動ミラー21(第2の変換部)は、駆動部3によって図の矢印方向、つまり、対物レンズ1の中心軸に対して45度、位相シフター2に対して90度の角度で往復駆動(伸縮駆動)する。このような構成により、可動ミラー21の光軸方向の移動(ベクトル)量(長さ)は、駆動部3による駆動量(長さ)の1/√2となる。可動ミラー21の駆動は光の波長よりも短い分解能を要し、その駆動量は分光計測能力にもよるが、可視光領域では概ね50nm程度である。可動ミラー21の光軸方向の移動(ベクトル)量(長さ)は、駆動部3による駆動量(長さ)の1/√2であるため、駆動部3による駆動量の√2だけ、2光束(固定ミラー20で反射する光束と可動ミラー21で反射する光束)の光路差が変化する。
A phase shifter 2 (phase shift unit) is disposed behind the objective lens 1 (first conversion unit) that receives light from the object S to be measured. The
位相シフター2の後方、すなわち図4において位相シフター2の下部には結像レンズ4が配置され、さらにその下部の結像面上に検出部5が配置されている。位相シフター2で反射された光は結像レンズ4で収束して上記結像面に入る。結像面には二次元CCDカメラのCCD受光面が配置されている。
The
なお、図4において位相シフター2の上半分の領域を固定ミラー20、下半分の領域を可動ミラー21とし、それぞれのミラーに対して光の半分が入射するようにしているが、可動ミラー21を円形にし、その周囲に固定ミラー20を同心となるように配置させても良い。また、固定ミラー20と可動ミラー21の位置を逆にしても良い。この場合も、それぞれの入射光量が同一となるようにするのが良い。
In FIG. 4, the upper half region of the
次に、二次元分光計測部Mの作用を説明する。図5は、同計測部Mの制御部6の制御手順を示す。
Next, the operation of the two-dimensional spectroscopic measurement unit M will be described. FIG. 5 shows a control procedure of the
液体などの低散乱体又は低拡散率体から成る被測定物Sの前方に配置されている光源7をONして、その後に駆動部3により可動ミラー21を駆動(矢印方向に往復動)する。
The
可動ミラー21が移動することにより、対物レンズ1からの様々な波長の光の反射光は光路長が変化し(位相が変化し)、光路長が固定である固定ミラー20の反射光と干渉する。これにより、図3(B)左側図に示すようなインターフェログラムと称される干渉光強度変化の波形が得られる(結像面で観測される結像強度)。同図において、横軸は移動をする可動ミラー21で反射する可動光と固定ミラー20で反射する固定光との光路長差を、縦軸は結像面上の一点における結像強度を示す。このインターフェログラムを制御部6でフーリエ変換することにより、図3(B)右側図に示すように被測定物Sの1輝点で発せられた光の波長ごとの分光特性を取得することができる。
When the
なお、インターフェログラムの具体的な生成方法については各種文献で周知であるが、例えば特開2008-309706号において詳細に説明されている。 A specific method for generating an interferogram is well known in various documents, but is described in detail in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2008-309706.
二次元分光計測部Mの前方部に配置されている光学素子(光散乱部)8は、平行光束を広がりをもった光束に変換させる光学的性質を持つ。この光学素子8の性質のため、その前方に置かれる被測定物Sから平行光束やそれに近い光束が入射しても、光の散乱効果により輝点と等価な光を発することができる。したがって、被測定物Sが、液体(色のついた液体など)である場合は、光源7からの光がそのまま透過しても、あるいはわずかに拡散しても、光学素子8により光が散乱して、図1に示すような光の結像系が実現される。光学素子8は、対物レンズ1と被測定物Sとの間に配置されれば良いが、被測定物の対物レンズ側の面に取り付けるようにしても良い。
The optical element (light scattering unit) 8 disposed in front of the two-dimensional spectroscopic measurement unit M has an optical property of converting a parallel light beam into a broad light beam. Due to the nature of the
光学素子8の第1の実施例は穴開きフィルタである。図6は穴開きフィルタ10の外観図である。図示のように、平板状の基体10aに無数の穴10bが開けられている。無数の穴を開けることにより、各穴の位置で光が回析し、輝点を生成することが出来る。これにより、結像光学系が構築され、位相シフター2の作用により結像面にインターフェログラムを生成することができる。
The first embodiment of the
穴径は、結像した際に画素と同じサイズになるように設計するのがベストである。画素以下又は画素以上になるように設計した場合は、光の利用効率が下がる。穴径のピッチは、被測定物の区間的な分解能に直結する。 It is best to design the hole diameter so that it has the same size as the pixel when imaged. When the design is made so that it is less than or greater than the pixel, the light utilization efficiency is lowered. The pitch of the hole diameter is directly related to the section resolution of the object to be measured.
この穴開きフィルタのデメリットは、空間的な計測ポイントが離散的となることである。 The disadvantage of this perforated filter is that the spatial measurement points become discrete.
第2の実施例は回析格子である。図7は回析格子11の外観図である。回析光を生じさせることにより位相シフター2上に広がった回析光に位相差を与える。ここでは、位相シフター2上で干渉させる回析光のうち±1次回析光の片方(+側一次回析光又は−側一次回析光)を可動ミラー21に入射させ、他方を固定ミラー20に入射するように回析させるよう回析格子の幅などを設定する。また、対物レンズ1には、±1次回析光の長波長α2と短波長α1が取得できる開口数NAを持つものを選択する。回析格子を使用すると回析光により固定ミラー20と可動ミラー21の反射面に光を広く分布させることが出来、位相シフター2の作用により結像面にインターフェログラムを生成することができる。
The second example is a diffraction grating. FIG. 7 is an external view of the
回析格子は空間的な計測ポイントが画素サイズと同じになり、光の利用効率も良いメリットを有する。しかし、光学設計が複雑であり、また、回析光間の干渉があるため分光特性の正確性がやや劣るデメリットがある。 The diffraction grating has the advantage that the spatial measurement point is the same as the pixel size and the light utilization efficiency is good. However, the optical design is complicated, and there is a demerit that the accuracy of spectral characteristics is slightly inferior due to interference between diffraction lights.
第3の実施例はフライアイレンズである。図8(A)、(B)はフライアイレンズ12の正面図、側面図である。フライアイレンズとは、同一の単レンズを縦横に配列したレンズ体(レンズアレイ)である。このレンズを被測定物Sと対物レンズ1との間に配置して、フライアイレンズ12の後ろ側焦点面に疑似的に疑似物体面13を設定することで、この疑似物体面13に疑似的な複数の輝点像が作成される。これにより、結像光学系が構築され、位相シフター2の作用により結像面にインターフェログラムを生成することができる。
The third embodiment is a fly-eye lens. 8A and 8B are a front view and a side view of the fly-
フライアイレンズ12を使用する場合、分光イメージングの空間的な分解能は各レンズの空間的なピッチによって決まると思われる。これは、フライアイレンズの中の各レンズに入射した光を平均化して疑似的物体面に輝点像を作成しているからである。
When the fly-
フライアイレンズは、光の利用効率が高いが、レンズであるため収差により分光特性が劣化する可能性がある。しかし、レンズの開口数NAを下げることで収差の影響を下げることが可能である。 The fly-eye lens has high light utilization efficiency, but since it is a lens, there is a possibility that spectral characteristics may be deteriorated due to aberration. However, it is possible to reduce the influence of aberration by reducing the numerical aperture NA of the lens.
第4の実施例は、拡散板である。図9は拡散板13の外観図である。拡散板13はガラス基体の片面をスリガラス面に加工したり、乳白色膜を形成したりすることにより作成する。この拡散板13により、被測定物Sを透過した光を光学的に拡散する。これにより、輝点像と等価の状態を生成することができる。しかし、拡散板の光学的な特性が拡散板ごとに均一ではないため、拡散板によって計測ポイントが異なるという再現性の点で問題がある。 The fourth embodiment is a diffusion plate. FIG. 9 is an external view of the diffusion plate 13. The diffusion plate 13 is created by processing one side of a glass substrate into a ground glass surface or forming a milky white film. The light transmitted through the object to be measured S is optically diffused by the diffusion plate 13. As a result, a state equivalent to the bright spot image can be generated. However, since the optical characteristics of the diffusion plate are not uniform for each diffusion plate, there is a problem in terms of reproducibility that measurement points differ depending on the diffusion plate.
以上のように、実施例1〜実施例4はそれぞれメリットとデメリットがあるが、いずれにおいても、光学素子8は被測定物Sを通過した透過光を広がりをもった光束にする結果、液体などの低散乱体又は低拡散率体を被測定物とした場合であっても、二次元分光計測部Mの結像面においてインターフェログラムを生成することが出来る。
As described above, each of the first to fourth embodiments has merits and demerits. In either case, the
この発明の、さらに他の実施形態を図10を参照して説明する。 Still another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
図10に示す実施形態は、対物レンズ1と位相シフター2との間にハーフミラー16を配置し、位相シフター2を、対物レンズ1からの平行光束に対して正対に配置したものである。位相シフター2は、ハーフミラー16からの透過光の一部を正反射させる固定ミラー20と、固定ミラー20に対する位置が移動可能でハーフミラー16からの透過光の残部を正反射させる可動ミラー21とで構成され、可動ミラー21は光軸方向に駆動部3で駆動(往復動)される。ハーフミラー16を透過した対物レンズ1からの光(透過光)は、その一部が固定ミラー20で正反射し、残部が反射ミラー21で正反射する。このとき、可動ミラー21は光軸方向に駆動されるため、固定ミラー20で反射する光束と可動ミラー21で反射する光束との間に光路差が生じ、その結果、それらの光が干渉する。干渉光は再びハーフミラー16に戻り、ここで反射して結像レンズ4を介して結像面で集光し、インターフェログラムが生成される。
In the embodiment shown in FIG. 10, the
上記のハーフミラー16を用いる実施形態でも、図4、図5に示す実施形態と同様の作用で検出部5の結像面にインターフェログラムを生成することが出来る。
Also in the embodiment using the above-described
なお、光学素子8は、液体などの低散乱体又は低拡散率体を透過した光を、広がりをもった光束にする光学的特性を持つものであればどのようなものであっても良い。
The
この発明の、さらに他の実施形態を図11を参照して説明する。 Still another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG.
図11に示す実施形態は、被測定物S1として鏡を使用する場合の二次元分光計測装置の構成図を示す。鏡からなる被測定物S1と対物レンズ1との間には、対物レンズ1側からビームスプリッター30と光学素子8がこの順に配置される。ビームスプリッター30の上方には光源7が配置される。ビームスプリッター30は、光源7からの光を直角に反射して光学素子8に導き、さらに被測定物S1に導く。被測定物S1は鏡であるため、被測定物S1で上記光は正反射光として反射し、平行光束となる。この平行光束は光学素子8で散乱してビームスプリッター30に導かれ、ここを透過して対物レンズ1に入射する。以下、図4と同様に、位相シフター2を通過することにより、検出部5の結像面にインターフェログラムが生成される。
The embodiment shown in FIG. 11 shows a configuration diagram of a two-dimensional spectroscopic measurement apparatus when a mirror is used as the object S1 to be measured. Between the object to be measured S1 made of a mirror and the
このように、被測定物S1が鏡の場合には、ビームスプリッター30を使うことでインターフェログラムを生成することが出来る。
Thus, when the object S1 to be measured is a mirror, an interferogram can be generated by using the
1・・・対物レンズ
2・・・位相シフター
20・・固定レンズ
21・・可動レンズ
4・・・結像レンズ
S・・・被測定物
8・・・光学素子
10(10a、10b)・・・穴開きフィルタ
11・・・回析格子
12・・・フライアイレンズ
13・・・拡散板
DESCRIPTION OF
Claims (7)
前記平行光束の一部を位相シフトさせる位相シフト部と、
前記位相シフトされた位相シフト光を含む平行光束を集光する第2の変換部と、
前記第2の変換部で集光された光が結像する結像面において前記位相シフトにより
インターフェログラムを生成する二次元分光計測部と、
を備え、さらに
前記被測定物と前記第1の変換部の間に配置され、被測定物を透過した光又は被測定物で正反射した光を散乱させる光散乱部を備えていることを特徴とする二次元分光計測装置。 A first converter that converts light generated from the object to be measured into a parallel light beam;
A phase shift unit for phase shifting a part of the parallel luminous flux;
A second converter for condensing a parallel light beam including the phase-shifted phase-shifted light;
A two-dimensional spectroscopic measurement unit that generates an interferogram by the phase shift on an imaging plane on which the light collected by the second conversion unit forms an image;
And a light scattering part that is disposed between the object to be measured and the first conversion unit and scatters light that has passed through the object to be measured or light that has been regularly reflected by the object to be measured. A two-dimensional spectroscopic measurement device.
前記第1の変換部の後方に配置され、該平行光束内で光路差を生じさせる位相シフター
を含むことを特徴と請求項1記載の二次元分光計測装置。 The phase shift unit includes:
The two-dimensional spectroscopic measurement apparatus according to claim 1, further comprising a phase shifter disposed behind the first conversion unit and causing an optical path difference in the parallel light flux.
前記第1の変換部の後方において、該平行光束の中心軸に対して反射面が45度傾いて配置され、
前記平行光束の一部を反射させる固定ミラーと、該固定ミラーに対する位置が移動可能で前記平行光束の残部を反射させる可動ミラーを含むことを特徴とする請求項2記載の二次元分光計測装置。 The phase shifter is
Behind the first conversion unit, the reflection surface is inclined by 45 degrees with respect to the central axis of the parallel light flux,
3. The two-dimensional spectroscopic measurement apparatus according to claim 2, comprising: a fixed mirror that reflects a part of the parallel light beam; and a movable mirror that is movable with respect to the fixed mirror and reflects the remaining part of the parallel light beam.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012189865A JP2014048096A (en) | 2012-08-30 | 2012-08-30 | Two-dimensional spectral measurement device, and two-dimensional spectral measurement method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012189865A JP2014048096A (en) | 2012-08-30 | 2012-08-30 | Two-dimensional spectral measurement device, and two-dimensional spectral measurement method |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014048096A true JP2014048096A (en) | 2014-03-17 |
Family
ID=50607940
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012189865A Pending JP2014048096A (en) | 2012-08-30 | 2012-08-30 | Two-dimensional spectral measurement device, and two-dimensional spectral measurement method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014048096A (en) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017111444A (en) * | 2015-12-15 | 2017-06-22 | ラディアル | Device for coupling two optical fibers, intended to be used in connectors |
JP2017125834A (en) * | 2015-11-11 | 2017-07-20 | 富士電機株式会社 | Spectroscopic device and spectroscopy method |
JP2017129789A (en) * | 2016-01-21 | 2017-07-27 | アオイ電子株式会社 | Diffraction grating and spectroscopic imaging device |
US10429244B2 (en) | 2015-03-25 | 2019-10-01 | Nec Corporation | Light measurement device |
JP7240773B1 (en) | 2022-02-28 | 2023-03-16 | 翼 西藤 | Spectroscopic analyzer and interference light forming mechanism |
WO2023163105A1 (en) * | 2022-02-28 | 2023-08-31 | 翼 西藤 | Spectroscopic analysis device and interference light formation mechanism |
-
2012
- 2012-08-30 JP JP2012189865A patent/JP2014048096A/en active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10429244B2 (en) | 2015-03-25 | 2019-10-01 | Nec Corporation | Light measurement device |
JP2017125834A (en) * | 2015-11-11 | 2017-07-20 | 富士電機株式会社 | Spectroscopic device and spectroscopy method |
JP2017111444A (en) * | 2015-12-15 | 2017-06-22 | ラディアル | Device for coupling two optical fibers, intended to be used in connectors |
JP2017129789A (en) * | 2016-01-21 | 2017-07-27 | アオイ電子株式会社 | Diffraction grating and spectroscopic imaging device |
JP7240773B1 (en) | 2022-02-28 | 2023-03-16 | 翼 西藤 | Spectroscopic analyzer and interference light forming mechanism |
WO2023163105A1 (en) * | 2022-02-28 | 2023-08-31 | 翼 西藤 | Spectroscopic analysis device and interference light formation mechanism |
JP2023126075A (en) * | 2022-02-28 | 2023-09-07 | 翼 西藤 | Spectroscopic analyzing device and interference light formation mechanism |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9989746B2 (en) | Light microscope and microscopy method | |
JP4670031B2 (en) | Apparatus for optical detection of a light beam that has undergone excitation and / or backscattering in a sample | |
CN102575928B (en) | Method and measuring arrangement for the three-dimensional measurement of an object | |
US6031661A (en) | Confocal microscopic equipment | |
US8767216B2 (en) | Holographically illuminated imaging devices | |
JP2014048096A (en) | Two-dimensional spectral measurement device, and two-dimensional spectral measurement method | |
US7170696B2 (en) | Method and arrangement for deeply resolved optical detection of a sample | |
CN104515469A (en) | Light microscope and microscopy method for examining a microscopic specimen | |
JP7066702B2 (en) | Optical array, multi-spot scanning microscope and method for operating the microscope | |
CN106441571A (en) | Light source module and line scanning multispectral imaging system using the same | |
RU2015116588A (en) | SPECTROSCOPIC MEASURING DEVICE | |
WO2012124303A1 (en) | Optical microscope, and spectroscopic measurement method | |
US20080204766A1 (en) | Method and microscope device for observing a moving specimen | |
US9715096B2 (en) | Microscope apparatus | |
JP5884021B2 (en) | Multispectral imaging apparatus and multispectral imaging method | |
TW201213849A (en) | Image generation device | |
CN102759331A (en) | Conjugated bi-pass lighting confocal microscopic device of fluorescent reflecting mirror | |
KR20120071048A (en) | Appratus for measuring temperature distribution | |
KR20130115891A (en) | Structured illumination microscope based on intensity modulation and scanning system | |
JPWO2019017243A1 (en) | Optical device | |
JP6006053B2 (en) | Laser scanning fluorescence microscope | |
CN206248212U (en) | A kind of light source module and the line scanning multi-optical spectrum imaging system using it | |
CN102213585B (en) | Single-light-source dual-light-path parallel confocal measurement system | |
CN208187948U (en) | Reflective multi-wavelength line scans confocal imaging system | |
JP2018054448A (en) | Spectrum measurement method |