JP2014026652A - レイトレーシング方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 複数の探索ユニットのうち入力される入力レイを処理する探索ユニットが複数の探索ユニットの寿命に基づいて決定される。探索ユニットの寿命は探索ユニットが処理しているレイの寿命に基づいて決定される。
【選択図】 図3
Description
200:ISTユニット
310:レイ生成ユニット
320:レイトレーシングユニット
330:レイディスパッチユニット
350:レイ仲裁ユニット
390:シェーディングユニット
Claims (20)
- 複数の探索ユニットのそれぞれの状態に基づいて前記複数の探索ユニットのうち入力レイの探索を処理する探索ユニットを選択するステップと、
前記選択された探索ユニットを用いて前記入力レイの探索を処理するステップと、
を含み、
前記複数の探索ユニットのそれぞれの状態は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている1つ以上のレイの状態に基づいて決定されることを特徴とするレイ処理方法。 - 前記選択された探索ユニットは、前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命に基づいて前記複数の探索ユニットのうちから選択されることを特徴とする請求項1に記載のレイ処理方法。
- 前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている前記一つ以上のレイの寿命に基づいて決定され、
前記一つ以上のレイのそれぞれの寿命は、前記一つ以上のレイのそれぞれの探索が前記複数の探索ユニットによって繰り返し処理された回数に基づいて決定されることを特徴とする請求項2に記載のレイ処理方法。 - 前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている1つ以上のレイのそれぞれの寿命の和であることを特徴とする請求項2に記載のレイ処理方法。
- 前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている1つ以上のレイの平均寿命であることを特徴とする請求項2に記載のレイ処理方法。
- 前記選択された探索ユニットは、前記複数の探索ユニットのうち入力バッファ内に最も少ない個数のレイを有する探索ユニットのうち最も高い寿命を有する探索ユニットであることを特徴とする請求項1に記載のレイ処理方法。
- 前記入力レイの探索を処理するステップは繰り返して行われ、
前記入力レイの探索を処理するステップが繰り返されるとき前記入力レイの寿命は所定の値だけ増加することを特徴とする請求項1に記載のレイ処理方法。 - 複数の交差検査ユニットのうち入力レイの交差検査を処理する交差検査ユニットを選択するステップと、
前記選択された交差検査ユニットを用いて前記入力レイの交差検査を処理するステップと、
をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載のレイ処理方法。 - 請求項1ないし請求項8のいずれか一項に記載の方法を実行するプログラムを収録したコンピュータで読み出し可能な記録媒体。
- 1つ以上のプロセッサ−実行可能なユニットを制御するプロセッサと、
レイの探索を処理する複数の探索ユニットと、
前記複数の探索ユニットのそれぞれの状態に基づいて前記複数の探索ユニットのうち入力レイの探索を処理する探索ユニットを選択するレイディスパッチユニットと、
を含み、
前記選択された探索ユニットは前記入力レイの探索を処理し、
前記複数の探索ユニットのそれぞれの状態は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている1つ以上のレイの状態に基づいて決定されることを特徴とするレイトレーシング装置。 - 前記レイディスパッチユニットは、前記複数の探索ユニットの状態に基づいて前記複数の探索ユニットのうちから前記選択された探索ユニットを選択することを特徴とする請求項10に記載のレイトレーシング装置。
- 前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている前記一つ以上のレイの寿命に基づいて決定され、
前記一つ以上のレイのそれぞれの寿命は、前記一つ以上のレイのそれぞれの探索が前記複数の探索ユニットによって繰り返し処理された回数に基づいて決定されることを特徴とする請求項11に記載のレイトレーシング装置。 - 前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている1つ以上のレイのそれぞれの寿命の和であることを特徴とする請求項11に記載のレイトレーシング装置。
- 前記複数の探索ユニットのそれぞれの寿命は、前記複数の探索ユニットのそれぞれによって処理されている1つ以上のレイの平均寿命であることを特徴とする請求項11に記載のレイトレーシング装置。
- 前記ディスパッチユニットは、前記複数の探索ユニットのうち入力バッファ内に最も少ない個数のレイを有する探索ユニットのうち最も高い寿命を有する探索ユニットを前記選択された探索ユニットとして選択することを特徴とする請求項10に記載のレイトレーシング装置。
- 前記複数の探索ユニットは入力レイの探索を繰り返して処理し、前記入力レイの探索が繰り返されるとき前記入力レイの寿命は所定の値だけ増加することを特徴とする請求項10に記載のレイトレーシング装置。
- 前記レイトレーシング装置は、
レイの交差検査を処理する複数の交差検査ユニットと、
前記複数の交差検査ユニットのうち入力レイの交差検査を処理する交差検査ユニットを選択するレイ仲裁ユニットと、
をさらに含み、
前記選択された交差検査ユニットは、前記入力レイの交差検査を処理することを特徴とする請求項10に記載のレイトレーシング装置。 - 1つ以上のプロセッサ−実行可能なユニットを制御するプロセッサと、
複数の探索ユニットの各探索ユニットに状態を割り当てるレイトレーシングユニットと、
前記レイトレーシングユニットによって探索ユニットに割り当てられた前記状態に基づいて前記複数の探索ユニットの1つの探索ユニットを選択し、前記選択された探索ユニットにレイを入力する複数のレイディスパッチユニットと、
を含むことを特徴とするレイ処理装置。 - 前記レイトレーシングユニットは、前記探索ユニットに入力されてきたすべてのレイの累積寿命に基づいて前記探索ユニットに前記状態を割り当てることを特徴とする請求項18に記載のレイ処理装置。
- 前記レイトレーシングユニットは、前記探索ユニットに入力されてきたすべてのレイの平均寿命に基づいて前記探索ユニットに前記状態を割り当てることを特徴とする請求項18に記載のレイ処理装置。
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