JP2014016586A - Antireflection article - Google Patents

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Motoo Mizuno
基央 水野
Setsuko Akai
世津子 赤井
Masato Tezuka
正人 手塚
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an antireflection article having an excellent adhesion between an acrylic resin base material and a fine projection layer which comprises a hardened material of an acrylic resin composition formed on the surface, even if the acrylic resin base material and the acrylic resin composition forming the fine projection layer are used as a combination of arbitrary materials.SOLUTION: An antireflection article 10 is configured by having a fine projection group which comprises a collection of fine projections 2a for antireflection, and also, by forming a fine projection layer 2 which comprises a hardened material of an acrylic resin composition on the surface of an acrylic resin base material 1. The fine projections 2a have a relation of dmax≤Λmin, where a minimum wavelength of a light wavelength band for antireflection is defined as Λmin, and an interval of the fine projections is defined as dmax. The interface between the acrylic resin base material 1 and the fine projection layer 2 is formed in such a shape that it is rugged alternately on the acrylic resin base material 1 side and on the fine projection layer 2 side.

Description

本発明は、機器等の情報表示部や展示品の保護等の各種用途に用い得る、光の表面反射
を防止した反射防止物品に関するものである。
The present invention relates to an antireflection article that prevents reflection of light on a surface and can be used in various applications such as protection of information display sections of equipment and exhibits.

携帯電話機、デジタルカメラ等の情報表示部や、美術品、商品等の展示物は外部にその
まま露出していると汚れたり、壊れたりする恐れがあるため、水、塵、外力等からそれら
を保護する必要がある。しかし、それらがそのまま外部に露出しないよう外側に透明プラ
スチック板等を配置すると、板の表裏両面で外光が反射し、表示の視認性が低下するとい
う問題があるため、反射防止処理を施した物品が用いられている。
Information displays such as mobile phones and digital cameras, and exhibits such as works of art and merchandise are exposed to the outside and may become dirty or broken, protecting them from water, dust, external forces, etc. There is a need to. However, if a transparent plastic plate or the like is placed outside so that they are not exposed to the outside as they are, there is a problem that external light is reflected on both the front and back surfaces of the plate, which reduces the visibility of the display. Articles are being used.

近年、反射防止処理技術としては、繰返周期が光の波長以下の極めて微細な凹凸を表面に設けることによって表面反射率を減少させる技術が提案されており、透明性に優れた基材上に微細凹凸層を形成した反射防止物品が開発されている。例えば、特許文献1には、2P法(Photo−polymerization法)によって、透明アクリル樹脂板の片面表面に、電離放射線硬化性樹脂の硬化物からなる微細凹凸層を形成した反射防止物品が開示されている。   In recent years, as an antireflection treatment technique, a technique has been proposed in which surface reflectance is reduced by providing extremely fine irregularities with a repetition period equal to or less than the wavelength of light on the surface. An antireflection article having a fine uneven layer has been developed. For example, Patent Document 1 discloses an antireflection article in which a fine uneven layer made of a cured product of an ionizing radiation curable resin is formed on one surface of a transparent acrylic resin plate by a 2P method (Photo-polymerization method). Yes.

反射防止物品に用いられる基材としては、透明性に優れることからアクリル系樹脂製の基材が用いられることが多く、また、当該基材上に形成される微細凹凸層の材料としては、アクリル系電離放射線硬化性樹脂等のアクリル系樹脂を主成分とした樹脂組成物が用いられることが多い。
しかしながら、アクリル系樹脂製基材上に、アクリル系樹脂組成物からなる微細凹凸層を形成する場合、前記基材に含まれる樹脂と前記微細凹凸層に含まれる樹脂の組み合わせによっては、共重合成分の組成やグレード等の相違により、基材と微細凹凸層との密着性に劣ることがある。
As the base material used in the antireflection article, an acrylic resin base material is often used because of its excellent transparency, and the material of the fine uneven layer formed on the base material is acrylic. In many cases, a resin composition mainly composed of an acrylic resin such as an ionizing radiation curable resin is used.
However, when forming a fine uneven layer made of an acrylic resin composition on an acrylic resin substrate, depending on the combination of the resin contained in the substrate and the resin contained in the fine uneven layer, a copolymerization component Depending on the composition, grade, etc., the adhesion between the substrate and the fine uneven layer may be inferior.

特開2003−240904号公報JP 2003-240904 A

本発明は上記問題点を解消するためになされたものであり、アクリル系樹脂製基材と、微小突起層を形成するアクリル系樹脂組成物とを、任意の材料の組み合わせで用いた場合であっても、前記アクリル系樹脂製基材と、その表面に形成された前記アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層との密着性に優れる反射防止物品を提供することを目的とする。   The present invention has been made to solve the above-described problems, and is a case where an acrylic resin base material and an acrylic resin composition for forming a microprojection layer are used in any combination of materials. However, an object of the present invention is to provide an antireflection article having excellent adhesion between the acrylic resin substrate and a microprojection layer made of a cured product of the acrylic resin composition formed on the surface thereof.

本発明に係る反射防止物品は、アクリル系樹脂製基材の表面に、反射防止用の微小突起が集合してなる微小突起群を表面に備え、且つ、アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層が形成されてなる反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起間隔をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、
前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成されていることを特徴とする。
The antireflective article according to the present invention comprises a surface of an acrylic resin base material with a group of microprojections formed by aggregation of antireflection microprojections, and is made of a cured product of an acrylic resin composition. An antireflection article formed with a microprojection layer,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λmin and the distance between the small protrusions is dmax,
dmax ≦ Λmin
Have the relationship
The interface between the acrylic resin substrate and the microprojection layer is characterized by being formed in a shape that interleaves alternately with the acrylic resin substrate side and the microprojection layer side.

本発明に係る反射防止物品において、前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、JIS B0601 1994において規定される平均突起間隔Smが0.1〜4μm、且つ、JIS B0601 1994において規定される十点平均粗さRzが0.1〜4μmであることが、前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との密着性に優れる点から好ましい。   In the antireflection article according to the present invention, the interface between the acrylic resin substrate and the microprojection layer has an average projection spacing Sm defined in JIS B0601 1994 of 0.1 to 4 μm, and in JIS B0601 1994. It is preferable from the point which is excellent in the adhesiveness of the said acrylic resin base material and the said microprotrusion layer that 10 point average roughness Rz prescribed | regulated is 0.1-4 micrometers.

本発明によれば、アクリル系樹脂製基材と、その表面に形成されたアクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層との密着性に優れ、光学特性及び機械特性等の基本的な要求性能も満たす反射防止物品を提供することができる。   According to the present invention, the adhesion between the acrylic resin substrate and the microprojection layer made of a cured product of the acrylic resin composition formed on the surface thereof is excellent, and basic characteristics such as optical characteristics and mechanical characteristics are provided. It is possible to provide an antireflection article that also satisfies the required performance.

本発明に係る反射防止物品の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically an example of the anti-reflective article which concerns on this invention. 本発明に係る反射防止物品の他の一例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows typically another example of the antireflection article which concerns on this invention. ドロネー図を示す図である。It is a figure which shows a Delaunay figure. 隣接突起間距離の計測に供する度数分布図である。It is a frequency distribution diagram used for measurement of the distance between adjacent protrusions. 微小高さの説明に供する度数分布図である。It is a frequency distribution figure with which it uses for description of minute height. 平均突起間隔Sm及び十点平均粗さRzの測定に用いられる反射防止物品の断面サンプルを得るための切断箇所を説明する図である。It is a figure explaining the cutting location for obtaining the cross-sectional sample of the antireflection article used for measurement of average protrusion space | interval Sm and ten-point average roughness Rz. 本発明に係る反射防止物品の製造方法の一例を説明する図である。It is a figure explaining an example of the manufacturing method of the antireflection article concerning the present invention. 本発明に係る反射防止物品の製造方法の他の一例を説明する図である。It is a figure explaining another example of the manufacturing method of the antireflection article concerning the present invention.

次に、本発明の実施の形態について詳細に説明するが、本発明は以下の実施の形態に限定されるものではなく、その趣旨の範囲内で種々変形して実施することができる。
また、本発明において、(メタ)アクリル樹脂は、アクリル樹脂及び/又はメタクリル樹脂を表し、(メタ)アクリレートは、アクリレート及び/又はメタクリレートを表す。
本発明において樹脂とは、モノマーやオリゴマーの他、ポリマーを含む概念である。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail. However, the present invention is not limited to the following embodiments, and various modifications can be made within the scope of the spirit thereof.
In the present invention, (meth) acrylic resin represents acrylic resin and / or methacrylic resin, and (meth) acrylate represents acrylate and / or methacrylate.
In the present invention, the resin is a concept including a polymer in addition to a monomer and an oligomer.

本発明に係る反射防止物品は、アクリル系樹脂製基材(以下、単に「基材」と称する場合がある。)の表面に、反射防止用の微小突起が集合してなる微小突起群を表面に備え、且つ、アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層が形成されてなる反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起間隔をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、
前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成されていることを特徴とする。
The antireflection article according to the present invention has a surface of a microprojection formed by collecting microprojections for antireflection on the surface of an acrylic resin base material (hereinafter sometimes simply referred to as “base material”). And an antireflection article in which a microprojection layer made of a cured product of an acrylic resin composition is formed,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λmin and the distance between the small protrusions is dmax,
dmax ≦ Λmin
Have the relationship
The interface between the acrylic resin substrate and the microprojection layer is characterized by being formed in a shape that interleaves alternately with the acrylic resin substrate side and the microprojection layer side.

本発明に係る反射防止物品としては、例えば、微小突起層が一層で形成された一層タイプのもの、及び微小突起層が二層以上で形成された多層タイプのものが挙げられる。
以下、本発明に係る一層タイプの反射防止物品と、二層タイプの反射防止物品について、図面を用いて説明する。
図1は、本発明に係る一層タイプの反射防止物品を模式的に示す断面図である。図1に示す反射防止物品10は、アクリル系樹脂製基材1の表面に、微小突起2aが集合してなる微小突起群を表面に備えた微小突起層2が形成されてなる。
図2は、本発明に係る二層タイプの反射防止物品を模式的に示す断面図である。図2に示す反射防止物品20は、アクリル系樹脂製基材1の表面に、当該基材1側から順に、第一層3及び微小突起2aが集合してなる微小突起群を表面に備えた第二層4が積層してなる微小突起層2が形成されてなる。
Examples of the antireflection article according to the present invention include a single-layer type in which a single microprojection layer is formed and a multi-layer type in which two or more microprojection layers are formed.
Hereinafter, a one-layer type antireflection article and a two-layer type antireflection article according to the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a cross-sectional view schematically showing a single-layer antireflection article according to the present invention. The antireflection article 10 shown in FIG. 1 is formed by forming on the surface of an acrylic resin substrate 1 a microprojection layer 2 having a microprojection group formed by a collection of microprojections 2a on the surface.
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a two-layered antireflection article according to the present invention. The antireflection article 20 shown in FIG. 2 includes, on the surface, a group of microprojections formed by aggregating the first layer 3 and the microprojections 2a on the surface of the acrylic resin substrate 1 in this order from the substrate 1 side. The microprojection layer 2 formed by laminating the second layer 4 is formed.

本発明に係る反射防止物品は、図1に示すような一層タイプのものであっても、図2に示すような二層タイプ等の多層タイプのものであっても、アクリル系樹脂製基材と微小突起層との界面が、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成されている。これにより、本発明に係る反射防止物品は、前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との密着性が優れたものとなる。
なお、本発明において、「界面がアクリル系樹脂製基材側及び微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成されている」とは、平坦な基材に微小突起層形成用樹脂組成物又は第一層形成用樹脂組成物を塗布して乾燥させる過程で基材表面が変形することによって、結果的に界面が深さ方向に入り組んだ形状に形成されたことを意味し、基材表面をサンドブラスト処理等の事前加工で凹凸を形成した後で微小突起層形成用樹脂組成物又は第一層形成用樹脂組成物を塗布することによって界面が凹凸形状に形成されたことを意味していない。
本発明において、上述のように結果的に界面が深さ方向に入り組んだ形状に形成される作用機構は、現在のところ不明であるが、微小突起層形成用樹脂組成物又は第一層形成用樹脂組成物を基材上に塗工した際に、当該樹脂組成物中に含有された溶剤が基材表面に浸透し、当該樹脂組成物を乾燥させる過程で、溶剤が浸透した基材表面が膨潤して変形すると同時に、当該変形により形成された基材表面の凹部に前記樹脂組成物が入り込むことによって、界面が深さ方向に入り組んだ形状が形成されると考えられる。
The antireflective article according to the present invention may be a single layer type as shown in FIG. 1 or a multilayer type such as a double layer type as shown in FIG. And the microprojection layer are formed in a shape that alternately interlaces with the acrylic resin base material side and the microprojection layer side. Thereby, the antireflection article according to the present invention has excellent adhesion between the acrylic resin substrate and the microprojection layer.
In the present invention, “the interface is formed in a shape alternately interlaced with the acrylic resin base material side and the microprojection layer side” means that the resin composition for forming microprojection layers on a flat substrate or This means that the base material surface was deformed in the process of applying and drying the first layer forming resin composition, and as a result, the interface was formed into a shape that was intertwined in the depth direction. It does not mean that the interface has been formed into a concavo-convex shape by applying the resin composition for forming a microprojection layer or the resin composition for forming a first layer after forming the concavo-convex by prior processing such as sandblasting.
In the present invention, as described above, the mechanism of action resulting in the shape in which the interface is formed in the depth direction is not clear at present, but the resin composition for forming a microprojection layer or the first layer is formed. When the resin composition is coated on the base material, the solvent contained in the resin composition penetrates the base material surface, and in the process of drying the resin composition, the base material surface into which the solvent penetrates is At the same time that the resin composition swells and deforms, the resin composition enters a recess on the surface of the substrate formed by the deformation, thereby forming a shape in which the interface enters the depth direction.

(アクリル系樹脂製基材)
前記アクリル系樹脂製基材に用いられるアクリル系樹脂としては、特に限定されないが、例えばポリ(メタ)アクリル酸メチル、ポリ(メタ)アクリル酸エチル、(メタ)アクリル酸メチル−(メタ)アクリル酸ブチル共重合体等が挙げられる。
また、前記アクリル系樹脂としては、耐熱性等を向上させるために、六員環構造を有するラクトン環構造単位、無水グルタル酸構造単位及びグルタルイミド構造単位等の環状構造を有するモノマーを共重合成分として組み合わせたものや、一級アミンを処理してイミド化したもの、具体的には例えば、ポリメチルメタクリレートやポリメチルメタクリレート−スチレン共重合体に一級アミンを処理してイミド化したもの等を用いることもできる。
なお、前記アクリル系樹脂は、共重合成分として非アクリル系モノマーを含有する場合は、アクリル系モノマーの含有割合が50質量%以上であることが好ましい。
(Acrylic resin base material)
The acrylic resin used for the acrylic resin substrate is not particularly limited. For example, poly (meth) methyl acrylate, poly (meth) ethyl acrylate, methyl (meth) acrylate- (meth) acrylic acid. A butyl copolymer etc. are mentioned.
Further, as the acrylic resin, in order to improve heat resistance and the like, a monomer having a cyclic structure such as a lactone ring structural unit having a six-membered ring structure, a glutaric anhydride structural unit and a glutarimide structural unit is a copolymerization component. Used in combination, or imidized by treating a primary amine, specifically, for example, polymethylmethacrylate or polymethylmethacrylate-styrene copolymer treated with a primary amine and imidized. You can also.
In addition, when the said acrylic resin contains a non-acrylic monomer as a copolymerization component, it is preferable that the content rate of an acrylic monomer is 50 mass% or more.

前記アクリル系樹脂製基材の厚さは、特に限定されないが、通常20〜5000μmのものを用いることができ、シート状及び板状のいずれであってもよい。
なお、フィルムとシートのJIS−K6900での定義では、シートとは薄く一般にその厚さが長さと幅のわりには小さい平らな製品をいい、フィルムとは長さ及び幅に比べて厚さが極めて小さく、最大厚さが任意に限定されている薄い平らな製品で、通例、ロールの形で供給されるものをいう。したがって、シートの中でも厚さの特に薄いものがフィルムであるといえるが、シートとフィルムの境界は定かではなく、明確に区別しにくいので、本発明では、厚みの厚いもの及び薄いものの両方の意味を含めて、「シート」と定義する。また、本発明において「板状」とは、シート状に比べて厚さが厚いものであり、完全に曲がらないもの、及び巻き取れるほどには曲がらないが、負荷をかけることによって湾曲するものを含む意味である。
Although the thickness of the said acrylic resin-made base material is not specifically limited, A 20-5000 micrometers thing can be used normally and any of a sheet form and plate shape may be sufficient.
In the definition of film and sheet in JIS-K6900, a sheet is thin and generally refers to a flat product whose thickness is small for the length and width, and the film is extremely thick compared to the length and width. A thin, flat product that is small and has an arbitrarily limited maximum thickness, typically supplied in the form of a roll. Therefore, it can be said that a film having a particularly thin thickness among the sheets is a film, but the boundary between the sheet and the film is not clear and is difficult to distinguish clearly. Therefore, in the present invention, the meaning of both a thick sheet and a thin sheet is meant. Is defined as “sheet”. Further, in the present invention, the “plate-like” is thicker than the sheet-like shape, and does not bend completely, or does not bend enough to be wound, but is bent by applying a load. Including meaning.

(微小突起層)
まず、前記微小突起層の表面形状について説明する。
前記微小突起層は、反射防止用の微小突起が集合してなる微小突起群を表面に備え、前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起間隔をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有している。
(Micro-projection layer)
First, the surface shape of the microprojection layer will be described.
The microprotrusion layer has a microprojection group formed by a collection of antireflection microprotrusions on the surface, and the microprotrusion has Λmin as the shortest wavelength of the wavelength band of light to prevent reflection, and dmax as the microprotrusion interval. And when
dmax ≦ Λmin
Have a relationship.

前記微小突起は、隣接する微小突起の間隔d(図1参照)が、反射防止を図る波長帯域の最短波長Λmin以下(d≦Λmin)となるよう密接して配置される。本発明に係る反射防止物品を、画像表示パネルに配置して視認性を向上せしめることを主目的として使用する場合は、この最短波長Λminは、個人差、視聴条件を加味した可視光領域の最短波長(通常380nm)に設定され、間隔dは、ばらつきを考慮して通常100〜300nmとされる。また、前記微小突起の高さは通常50〜350nmとされる。
またこの間隔dに係る隣接する微小突起は、いわゆる隣り合う微小突起であり、基材側の付け根部分である微小突起の裾の部分が接している突起である。本発明に係る反射防止物品では、微小突起が密接して配置されることにより、微小突起間の谷の部位を順次辿るようにして線分を作成すると、平面視において各微小突起を囲む多角形状領域を多数連結してなる網目状の模様が作製されることになる。間隔dに係る隣接する微小突起は、この網目状の模様を構成する一部の線分を共有する突起である。
The microprotrusions are closely arranged so that the distance d (see FIG. 1) between adjacent microprotrusions is equal to or less than the shortest wavelength Λmin (d ≦ Λmin) of the wavelength band for preventing reflection. When the antireflection article according to the present invention is used mainly for the purpose of improving visibility by placing it on an image display panel, this shortest wavelength Λmin is the shortest visible light region considering individual differences and viewing conditions. The wavelength (usually 380 nm) is set, and the interval d is usually 100 to 300 nm in consideration of variation. The height of the fine protrusion is usually 50 to 350 nm.
The adjacent minute protrusions related to the distance d are so-called adjacent minute protrusions, which are in contact with the hem portion of the minute protrusion which is the base portion on the base material side. In the antireflection article according to the present invention, when the microprojections are arranged closely so that a line segment is created so as to sequentially follow the valley portions between the microprojections, a polygonal shape surrounding each microprojection in plan view A mesh-like pattern formed by connecting a large number of regions is produced. The adjacent minute protrusions related to the distance d are protrusions that share a part of the line segments constituting the mesh pattern.

前記微小突起層の厚みは、特に限定されないが、通常10〜300μmである。なお、本発明において微小突起層の厚みとは、最も高い凸部の頂点から基材との界面の最も低い頂点までの距離(例えば図1中のt)を意味する。
また、前記微小突起層が多層タイプの場合は、前記微小突起層の厚みは、各層の厚みを合計した合計厚み(例えば図2中のt)を意味する。
The thickness of the microprojection layer is not particularly limited, but is usually 10 to 300 μm. In the present invention, the thickness of the microprojection layer means a distance (for example, t in FIG. 1) from the top of the highest convex portion to the lowest vertex of the interface with the substrate.
When the microprojection layer is a multilayer type, the thickness of the microprojection layer means the total thickness (for example, t in FIG. 2) obtained by adding the thicknesses of the respective layers.

また、本発明において、前記微小突起群の構造は、いわゆる「モスアイ構造」とすることができる。「モスアイ構造」とは、蛾の目のように、規則的な突起配列を有する構造であり、入射光に対する屈折率を基板の厚み方向に連続的に変化させ、これにより屈折率の不連続界面を消失させて反射防止を図るものである。モスアイ構造を構成する各微小突起は、基材に植立するように、さらに基材より先端側に向かうに従って徐々に断面積が小さくなるように(先細りとなるように)作製され、具体的な形状としては、例えば、半球、回転楕円体の半裁形状及び円錐形や四角錐形等の錐形体等が挙げられる。   In the present invention, the structure of the microprojection group may be a so-called “moth eye structure”. The “moth-eye structure” is a structure having a regular protrusion arrangement like a moth-eye, and continuously changes the refractive index with respect to the incident light in the thickness direction of the substrate, thereby discontinuous interface of the refractive index. Is eliminated to prevent reflection. Each micro-projection constituting the moth-eye structure is produced so that the cross-sectional area gradually decreases toward the tip side from the base material so as to be planted on the base material (to be tapered). Examples of the shape include a hemisphere, a semicircular shape of a spheroid, and a cone such as a cone or a quadrangular pyramid.

本発明の反射防止物品は、前記微小突起層の表面に形成された微小突起が集合してなる微小突起群によって反射防止効果を発揮する。前記微小突起群が、反射防止効果を有するのは、次の様な理由による。
すなわち、前記微小突起群によって、反射防止物品の表面を構成する微小突起層と、外界(通常は空気。但し、反射防止物品の使用形態によっては、水、真空、或いは接着剤等の樹脂等になる場合もある。)との間の急激で不連続な屈折率変化を、連続的で漸次変化する屈折率変化に変えることが可能となるからである。それは、光の反射は、物質界面の不連続な急激な屈折率変化によって生じる現象であるから、物品表面に於ける屈折率変化を、空間的に連続的に変化する様にすることによって、該物品表面に於ける光反射が減るのである。
尚、前記微小突起層は、通常は透明で光は透過する物となるが、不透明の物であっても、その表面反射を低下する反射防止効果は得られる。
The antireflection article of the present invention exhibits an antireflection effect by a group of microprojections formed by a collection of microprojections formed on the surface of the microprojection layer. The microprojection group has an antireflection effect for the following reason.
That is, the microprojection group comprises the microprojection layer constituting the surface of the antireflection article and the outside (usually air. However, depending on the usage of the antireflection article, water, vacuum, or resin such as an adhesive, etc. This is because a sudden and discontinuous change in refractive index between the change and the change in refractive index can be changed into a continuous and gradually changing refractive index change. Since light reflection is a phenomenon caused by a sudden and rapid change in the refractive index of the material interface, the refractive index change on the surface of the article is changed spatially and continuously. Light reflection on the surface of the article is reduced.
The microprojection layer is normally transparent and allows light to pass therethrough, but even an opaque material can provide an antireflection effect that reduces surface reflection.

前記微小突起群の微小突起が一定周期で規則正しく配置されている場合、前記反射防止効果を得るためには、例えば特開昭50−70040号公報、特許第4632589号公報等に開示のように、隣接する微小突起の間隔dは、突起配列の周期P(d=P)となる。これにより可視光線帯域の最長波長をλmax、最短波長をλminとした場合に、最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最小限の条件は、Λmin=λmaxである為、P≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminである為、P≦λminとなる。   When the microprojections of the microprojection group are regularly arranged at a constant period, in order to obtain the antireflection effect, for example, as disclosed in JP-A-50-70040, Japanese Patent No. 4632589, etc. An interval d between adjacent minute protrusions is a period P (d = P) of the protrusion arrangement. Thus, when the longest wavelength in the visible light band is λmax and the shortest wavelength is λmin, the minimum necessary condition that can exhibit an antireflection effect at the longest wavelength in the visible light band is Λmin = λmax. P ≦ λmax, and the necessary and sufficient condition for exhibiting the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is Λmin = λmin, and therefore P ≦ λmin.

一方、近年の反射防止物品は、微小突起群の構造が複雑化しており、単純な周期性がないもの、さらには全く不規則な配置のものがある。このように、前記微小突起群の微小突起が不規則に配置されている場合には、隣接する微小突起間の間隔dはばらつきを有することになる。そこでこのような場合、間隔dは以下のように算定される。   On the other hand, recent anti-reflective articles have a complicated structure of microprojections, and have a simple periodicity or a completely irregular arrangement. As described above, when the minute protrusions of the minute protrusion group are irregularly arranged, the distance d between adjacent minute protrusions varies. Therefore, in such a case, the interval d is calculated as follows.

(1)先ず、原子間力顕微鏡(Atomic Force Microscope:AFM)又は走査型電子顕微鏡(Scanning Electron Microscope:SEM)を用いて突起の面内配列(突起配列の平面視形状)を検出する。   (1) First, an in-plane arrangement of projections (planar shape of the projection arrangement) is detected using an atomic force microscope (AFM) or a scanning electron microscope (SEM).

(2)続いてこの求められた面内配列から各突起の高さの極大点(以下、単に極大点と称する。)を検出する。なお極大点を求める方法としては、平面視形状と対応する断面形状の拡大写真とを逐次対比して極大点を求める方法、平面視拡大写真の画像処理によって極大点を求める方法等、種々の手法を適用することができる。   (2) Subsequently, a maximum point of the height of each protrusion (hereinafter simply referred to as a maximum point) is detected from the obtained in-plane arrangement. There are various methods for obtaining the maximum point, such as a method of sequentially comparing the planar view shape and the enlarged photograph of the corresponding cross-sectional shape to obtain the maximum point, and a method of obtaining the maximum point by image processing of the plan view enlarged photo. Can be applied.

(3)次に検出した極大点を母点とするドロネー図(Delaunary Diagram)を作成する。ここでドロネー図とは、各極大点を母点としてボロノイ分割を行った場合に、ボロノイ領域が隣接する母点同士を隣接母点と定義し、各隣接母点同士を線分で結んで得られる3角形の集合体からなる網状図形である。各3角形は、ドロネー3角形と呼ばれ、各3角形の辺(隣接母点同士を結ぶ線分)は、ドロネー線と呼ばれる。図3は、ドロネー図(白色の線分により表される図である)を原画像と重ね合わせた図である。   (3) Next, a Delaunay diagram with the detected maximum point as a generating point is created. Here, Delaunay diagram is obtained by dividing the Voronoi region adjacent to the Voronoi region when the Voronoi division is performed with each local maximum as the generating point, and connecting the adjacent generating points with line segments. This is a net-like figure made up of triangular aggregates. Each triangle is called a Delaunay triangle, and a side of each triangle (a line segment connecting adjacent generating points) is called a Delaunay line. FIG. 3 is a diagram in which a Delaunay diagram (a diagram represented by a white line segment) is superimposed on the original image.

(4)次に、各ドロネー線の線分長の度数分布、すなわち隣接する極大点間の距離(以下、隣接突起間距離と言う)の度数分布を求める。図4は、図3のドロネー図から作成した度数分布のヒストグラムである。   (4) Next, the frequency distribution of the line segment length of each Delaunay line, that is, the frequency distribution of the distance between adjacent maximum points (hereinafter referred to as the distance between adjacent protrusions) is obtained. FIG. 4 is a histogram of the frequency distribution created from the Delaunay diagram of FIG.

(5)このようにして求めた隣接突起間距離dの度数分布から平均値dAVG及び標準偏差σを求める。ここでこのようにして得られる度数分布を正規分布とみなして平均値dAVG及び標準偏差σを求めると、図4の例では、平均値dAVG=158nm、標準偏差σ=38nmとなった。これにより隣接突起間距離dの最大値を、dmax=dAVG+2σとし、この例ではdmax=234nmとなる。 (5) The average value d AVG and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution of the distance d between adjacent protrusions thus obtained. Here, when the frequency distribution obtained in this manner is regarded as a normal distribution and the average value d AVG and the standard deviation σ are obtained, the average value d AVG = 158 nm and the standard deviation σ = 38 nm are obtained in the example of FIG. As a result, the maximum value of the distance d between adjacent protrusions is set to dmax = d AVG + 2σ, and in this example, dmax = 234 nm.

なお同様の手法を適用して突起の高さを定義する。この場合、上述の(2)により求められる極大点から、特定の基準位置からの各極大点位置の相対的な高度差を取得してヒストグラム化する。図5は、このようにして求められる突起付け根位置を基準(高さ0)とした突起高さHの度数分布のヒストグラムを示す図である。このヒストグラムによる度数分布から突起高さの平均値HAVG、標準偏差σを求める。ここでこの図5の例では、平均値HAVG=178nm、標準偏差σ=30nmである。これによりこの例では、突起の高さは、平均値HAVG=178nmとなる。 The same method is applied to define the height of the protrusion. In this case, the relative height difference of each local maximum point position from a specific reference position is acquired from the local maximum point obtained by the above (2), and is histogrammed. FIG. 5 is a diagram showing a histogram of the frequency distribution of the protrusion height H with the protrusion root position obtained in this way as a reference (height 0). The average value HAVG of the protrusion height and the standard deviation σ are obtained from the frequency distribution based on the histogram. Here in the example of FIG. 5, the mean value H AVG = 178 nm, the standard deviation sigma = 30 nm. Thus in this example, the height of the projections is an average value H AVG = 178 nm.

なお上述した突起の高さを測る際の基準位置は、隣接する微小突起の間の谷底(高さの極小点)を高さ0の基準とする。但し、係る谷底の高さ自体が場所によって異なる場合(例えば、谷底の高さが微小突起の隣接突起間距離に比べて大きな周期でウネリを有する場合等)は、(1)先ず、基材の表面又は裏面から測った各谷底の高さの平均値を、該平均値が収束するに足る面積の中で算出する。(2)次いで、該平均値の高さを持ち、基材の表面又は裏面と平行な面を基準面として考える。(3)その後、該基準面を改めて高さ0として、該基準面からの各微小突起の高さを算出する。   In addition, the reference position when measuring the height of the protrusion described above is based on the valley bottom (minimum point of height) between the adjacent minute protrusions as a reference of height 0. However, when the height of the valley bottom itself varies depending on the location (for example, when the height of the valley bottom has undulation with a period larger than the distance between adjacent projections of the microprojections), (1) First, The average value of the height of each valley bottom measured from the front surface or the back surface is calculated within an area sufficient for the average value to converge. (2) Next, a plane having the average height and parallel to the front surface or the back surface of the base material is considered as a reference surface. (3) Then, the height of each microprotrusion from the reference surface is calculated by setting the reference surface to a height of 0 again.

突起が不規則に配置されている場合には、このようにして求められる隣接突起間距離の最大値dmax=dAVG+2σ、突起の高さの平均値HAVGが、規則正しく配置されている場合の上述の条件を満足することが必要である。具体的には、反射防止効果を発現する微小突起間距離の条件は、dmax≦Λminとなる。最低限、可視光線帯域の最長波長において反射防止効果を奏し得る必要最小限の条件は、Λmin=λmaxである為、dmax≦λmaxとなり、可視光線帯域の全波長に対して反射防止効果を奏し得る必要十分の条件は、Λmin=λminである為、dmax≦λminとなる。そして、可視光線帯域の全波長に対する反射防止効果をより確実に奏し得る好ましい条件は、dmax≦300nmであり、更に好ましい条件は、dmax≦200nmである。また反射防止効果の発現及び反射率の等方性(低角度依存性)の確保等の理由から、通常、dmax≧50nmであり、好ましくは、dmax≧100nmとされる。また突起高度については、十分な反射防止効果を発現する為には、HAVG≧0.2×λmax=156nm(λmax=780nmとして)とされる。 If the protrusions are irregularly arranged, when this way the maximum value of the adjacent protrusions distance obtained by dmax = d AVG + 2σ, average H AVG height of projections are arranged regularly It is necessary to satisfy the above conditions. Specifically, the condition of the distance between the microprotrusions that exhibits the antireflection effect is dmax ≦ Λmin. At a minimum, the minimum necessary condition that can exhibit the antireflection effect at the longest wavelength in the visible light band is Λmin = λmax, so dmax ≦ λmax, and the antireflection effect can be achieved for all wavelengths in the visible light band. The necessary and sufficient condition is dmax ≦ λmin because Λmin = λmin. A preferable condition that can more reliably exhibit the antireflection effect for all wavelengths in the visible light band is dmax ≦ 300 nm, and a more preferable condition is dmax ≦ 200 nm. Also, dmax ≧ 50 nm is usually satisfied and dmax ≧ 100 nm is preferable because of the antireflection effect and ensuring the isotropic (low angle dependency) of the reflectance. The height of the protrusion is set to HAVG ≧ 0.2 × λmax = 156 nm (λmax = 780 nm) in order to exhibit a sufficient antireflection effect.

なお、前記微小突起層の表面形状は、特に限定されないが、例えば、エンボス法、2P法等において、複製型を用いて賦型すること等により成形することができる。   The surface shape of the microprojection layer is not particularly limited. For example, in the embossing method, the 2P method, etc., it can be formed by shaping using a replication mold.

次に、前記微小突起層を形成する材料について説明する。
前記微小突起層は、アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる。上述した一層タイプの反射防止物品の微小突起層、及び上述した多層タイプの反射防止物品の第一層のように、基材に直接接触する層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物は、少なくともアクリル系硬化性樹脂及び溶剤を含有し、その他必要に応じて、アクリル系非硬化性樹脂、非アクリル系樹脂及びその他の添加剤等を含有することができる。
基材に直接接触する層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物が、溶剤を含有することにより、本発明に係る反射防止物品を製造する際、当該アクリル系樹脂組成物を基材上に塗工したとき、当該樹脂組成物中に含有された溶剤が基材表面に浸透する。そして、当該樹脂組成物を乾燥させる過程で、溶剤が浸透した基材表面が膨潤して変形すると同時に、当該変形により形成された基材表面の凹部に前記樹脂組成物が入り込むことによって、界面が深さ方向に入り組んだ形状が形成されると考えられる。
Next, a material for forming the microprojection layer will be described.
The microprojection layer is made of a cured product of an acrylic resin composition. The acrylic resin composition used to form a layer that is in direct contact with the substrate, such as the micro-projection layer of the above-mentioned single-layer type antireflection article and the first layer of the above-mentioned multilayer type antireflection article, It contains an acrylic curable resin and a solvent, and can contain an acrylic non-curable resin, a non-acrylic resin, and other additives as necessary.
When the acrylic resin composition used for forming the layer in direct contact with the substrate contains a solvent, the acrylic resin composition is coated on the substrate when the antireflection article according to the present invention is produced. When processed, the solvent contained in the resin composition penetrates the substrate surface. And in the process of drying the resin composition, the base material surface infiltrated with the solvent swells and deforms, and at the same time, the resin composition enters the concave portion of the base material surface formed by the deformation, whereby the interface is formed. It is considered that an intricate shape is formed in the depth direction.

一方、上述した多層タイプの反射防止物品の第一層以外の微小突起層を形成する層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物、すなわち、基材に直接接触することがない層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物は、溶剤をほとんど含まないことが好ましく、全く含まない非溶剤タイプのものであることがより好ましい。当該アクリル系樹脂組成物が溶剤を含むものであると、反射防止物品の製造の際に、当該アクリル系樹脂組成物中に含まれる溶剤が、乾燥後の前記第一層に浸透する場合があり、これにより当該第一層が乾燥しづらくなるため、微小突起層の形成において樹脂組成物を硬化させる際、溶剤が残存した樹脂組成物中に気泡が発生する等の問題が生じる場合がある。
なお、このような問題が生じないために、一層タイプの反射防止物品の微小突起層形成用樹脂組成物及び、多層タイプの反射防止物品の第一層形成用樹脂組成物は、硬化させる前に十分に乾燥して溶剤を除去する必要がある。
On the other hand, an acrylic resin composition used for forming a layer that forms a microprojection layer other than the first layer of the multilayer type antireflection article described above, that is, used for forming a layer that does not directly contact the substrate. The obtained acrylic resin composition preferably contains almost no solvent, and more preferably is a non-solvent type containing no solvent. If the acrylic resin composition contains a solvent, the solvent contained in the acrylic resin composition may penetrate into the first layer after drying when the antireflection article is produced. Therefore, when the resin composition is cured in forming the microprojection layer, there may be a problem that bubbles are generated in the resin composition in which the solvent remains.
In order to prevent such a problem from occurring, the resin composition for forming a microprojection layer of a single-layer antireflection article and the resin composition for forming a first layer of a multilayer antireflection article should be cured before curing. It must be thoroughly dried to remove the solvent.

基材に直接接触することがない層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物は、溶剤以外の成分としては、前記基材に直接接触する層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物と同様の成分を含有することができる。
なお、基材に直接接触することがない層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物は、溶剤の代わりに希釈モノマーを含有させることによって、液状に調製することができる。
The acrylic resin composition used for forming the layer that does not directly contact the base material is the same as the acrylic resin composition used for forming the layer that directly contacts the base material, except for the solvent. Ingredients can be included.
In addition, the acrylic resin composition used for formation of the layer which does not contact a base material directly can be prepared in a liquid state by containing a dilution monomer instead of a solvent.

前記アクリル系樹脂組成物に含まれるアクリル系硬化性樹脂は、(メタ)アクリル基の炭素−炭素間二重結合が反応して硬化するものである。アクリル系硬化性樹脂としては、中でも、(メタ)アクリル基の炭素−炭素間二重結合が、電離放射線及び加熱から選ばれる少なくとも一つの処理により反応して硬化するものであることが好ましい。
なお、電離放射線とは、分子を重合させて硬化させ得るエネルギーを有する電磁波または荷電粒子を意味し、例えば、すべての紫外線(UV−A、UV−B、UV−C)、可視光線、ガンマー線、X線、電子線等が挙げられる。中でも、紫外線(UV)又は電子線(EB)を用いることが好ましい。
The acrylic curable resin contained in the acrylic resin composition is cured by a reaction between a carbon-carbon double bond of a (meth) acryl group. As the acrylic curable resin, it is preferable that a carbon-carbon double bond of a (meth) acryl group reacts and cures by at least one treatment selected from ionizing radiation and heating.
The ionizing radiation means electromagnetic waves or charged particles having energy that can be cured by polymerizing molecules. For example, all ultraviolet rays (UV-A, UV-B, UV-C), visible rays, gamma rays , X-rays, electron beams and the like. Among these, it is preferable to use ultraviolet rays (UV) or electron beams (EB).

前記アクリル系硬化性樹脂としては、例えば、ウレタン(メタ)アクリレート、エステル(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート及びシリコン(メタ)アクリレート等が挙げられ、1種単独で又は2種類以上混合して用いることができる。
また、前記アクリル系硬化性樹脂としては、特に限定されないが、反応性に優れる点から、2個以上の(メタ)アクリル基を有するもの、すなわち2官能以上の(メタ)アクリレートが好ましい。
Examples of the acrylic curable resin include urethane (meth) acrylate, ester (meth) acrylate, epoxy (meth) acrylate, silicon (meth) acrylate, and the like. Can be used.
The acrylic curable resin is not particularly limited, but is preferably a bifunctional or higher (meth) acrylate having two or more (meth) acryl groups from the viewpoint of excellent reactivity.

前記ウレタン(メタ)アクリレートとしては、特に限定はないが、好ましい化学構造としては、(A)分子中に(好ましくは複数個の)イソシアネート基を有する化合物に対して、分子中に水酸基と(好ましくは複数個の)(メタ)アクリル基を有する化合物を反応させて得られるような構造をもつもの、及び(B)複数個の水酸基を有する化合物にジイソシアネート化合物やトリイソシアネート化合物を反応させ、得られた化合物の未反応イソシアネート基に、ヒドロキシエチル(メタ)アクリレート等のように分子中に水酸基と(メタ)アクリル基を有する化合物を反応させて得られるような構造をもつものが挙げられる。   The urethane (meth) acrylate is not particularly limited, but a preferred chemical structure is (A) a compound having an isocyanate group (preferably a plurality) in the molecule and a hydroxyl group in the molecule (preferably Is obtained by reacting a diisocyanate compound or a triisocyanate compound with a compound having a structure obtained by reacting a compound having a plurality of (meth) acrylic groups, and (B) a compound having a plurality of hydroxyl groups. Examples thereof include those having a structure obtained by reacting a compound having a hydroxyl group and a (meth) acryl group in the molecule, such as hydroxyethyl (meth) acrylate, with the unreacted isocyanate group of the compound.

また、前記ウレタン(メタ)アクリレートとしては、1種単独で又は2種類以上混合して用いることができる。中でも、前記ウレタン(メタ)アクリレートとしては、4個以上の(メタ)アクリル基を有する4官能以上のウレタン(メタ)アクリレートを含有するものであることが好ましく、6官能以上のウレタン(メタ)アクリレートを含有するものであることが特に好ましく、10官能以上のウレタン(メタ)アクリレートを含有するものであることが更に好ましい。また、前記ウレタン(メタ)アクリレートが有する(メタ)アクリル基の数の上限は特に限定はないが、15個以下であることが好ましい。ウレタン(メタ)アクリレート中の(メタ)アクリル基の数が少なすぎると、得られた微小突起層の硬化性、反応率が低下し、耐傷性、機械的強度が小さくなる場合がある。一方、ウレタン(メタ)アクリレート中の(メタ)アクリル基の数が多すぎると、重合による(メタ)アクリル基の炭素間二重結合の反応率が十分に上がらない場合がある。   Moreover, as said urethane (meth) acrylate, it can use individually by 1 type or in mixture of 2 or more types. Especially, as said urethane (meth) acrylate, it is preferable to contain the tetrafunctional or more urethane (meth) acrylate which has a 4 or more (meth) acryl group, and it is a hexafunctional or more urethane (meth) acrylate. It is particularly preferable that the resin contains a urethane (meth) acrylate having 10 or more functional groups. Moreover, the upper limit of the number of (meth) acryl groups contained in the urethane (meth) acrylate is not particularly limited, but is preferably 15 or less. If the number of (meth) acrylic groups in the urethane (meth) acrylate is too small, the curability and reaction rate of the obtained microprojection layer may be reduced, and scratch resistance and mechanical strength may be reduced. On the other hand, if the number of (meth) acryl groups in the urethane (meth) acrylate is too large, the reaction rate of the carbon-carbon double bond of the (meth) acryl group by polymerization may not be sufficiently increased.

前記ウレタン(メタ)アクリレートが、前記アクリル系樹脂組成物に含有されることにより、得られた微小突起層の硬化性、反応率が上がり、貯蔵弾性率が大きくなると共に柔軟性が優れたものになり、反射防止性能や光透過性等の光学特性と表面耐傷性や物理的強度等の機械特性の両立が達成できる。   When the urethane (meth) acrylate is contained in the acrylic resin composition, the curability and reaction rate of the obtained microprojection layer are increased, the storage elastic modulus is increased, and the flexibility is excellent. Thus, it is possible to achieve both optical characteristics such as antireflection performance and light transmittance and mechanical characteristics such as surface scratch resistance and physical strength.

前記エステル(メタ)アクリレートとしては、特に限定されないが、2官能以上のものが好ましい。
2官能のエステル(メタ)アクリレートとしては、例えば、直鎖アルカンジオールジ(メタ)アクリレート、アルキレングリコールジ(メタ)アクリレート、3価以上のアルコールの部分(メタ)アクリル酸エステル、ビスフェノール系ジ(メタ)アクリレート等が挙げられる。中でも、アルキレングリコール鎖を有し、分子の両末端にそれぞれ1個ずつの(メタ)アクリル基を有する2官能エステル(メタ)アクリレートが、硬化性に特に優れる点から好ましい。
Although it does not specifically limit as said ester (meth) acrylate, A bifunctional or more thing is preferable.
Examples of the bifunctional ester (meth) acrylate include linear alkanediol di (meth) acrylate, alkylene glycol di (meth) acrylate, trivalent or higher alcohol partial (meth) acrylate ester, and bisphenol di (meth) acrylate. ) Acrylate and the like. Among these, a bifunctional ester (meth) acrylate having an alkylene glycol chain and having one (meth) acryl group at each of both ends of the molecule is preferable from the viewpoint of excellent curability.

3官能のエステル(メタ)アクリレートとしては、例えば、グリセリンPO変性トリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパントリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンEO変性トリ(メタ)アクリレート、トリメチロールプロパンPO変性トリ(メタ)アクリレート、イソシアヌル酸EO変性トリ(メタ)アクリレート、イソシアヌル酸EO変性ε−カプロラクトン変性トリ(メタ)アクリレート、1,3,5−トリアクリロイルヘキサヒドロ−s−トリアジン、ペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールトリ(メタ)アクリレートトリプロピオネート等が挙げられる。
4官能以上のエステル(メタ)アクリレートとしては、例えば、ペンタエリスリトールテトラ(メタ)アクリレート、ジペンタエリスリトールペンタ(メタ)アクリレートモノプロピオネート、ジペンタエリスリトールヘキサ(メタ)アクリレート、テトラメチロールエタンテトラ(メタ)アクリレート、オリゴエステルテトラ(メタ)アクリレート等が挙げられる。
Examples of the trifunctional ester (meth) acrylate include glycerin PO-modified tri (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) acrylate, trimethylolpropane EO-modified tri (meth) acrylate, and trimethylolpropane PO-modified tri (meth). ) Acrylate, isocyanuric acid EO modified tri (meth) acrylate, isocyanuric acid EO modified ε-caprolactone modified tri (meth) acrylate, 1,3,5-triacryloylhexahydro-s-triazine, pentaerythritol tri (meth) acrylate, Examples include dipentaerythritol tri (meth) acrylate tripropionate.
Examples of tetrafunctional or higher functional ester (meth) acrylates include pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate monopropionate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, tetramethylolethanetetra (meth) ) Acrylate, oligoester tetra (meth) acrylate and the like.

前記エステル(メタ)アクリレートが、前記アクリル系樹脂組成物に含有されることにより、微小突起層の柔軟性が向上し、微小突起層表面の機械的強度が良好になる。また、前記アクリル系樹脂組成物が、硬化性等を向上させるためにウレタン(メタ)アクリレートを含有する場合、さらにエステル(メタ)アクリレートを含有することで、微小突起層の柔軟性が悪化するのを防ぐことができる。   When the ester (meth) acrylate is contained in the acrylic resin composition, the flexibility of the microprojection layer is improved and the mechanical strength of the surface of the microprojection layer is improved. Moreover, when the said acrylic resin composition contains urethane (meth) acrylate in order to improve sclerosis | hardenability etc., the softness | flexibility of a microprotrusion layer deteriorates by containing ester (meth) acrylate further. Can be prevented.

前記エポキシ(メタ)アクリレートとしては特に限定はないが、例えば、エチレングリコールジグリシジルエーテル、ジエチレングリコールジグリシジルエーテル、トリエチレングリコールジグリシジルエーテル、プロピレングリコールジグリシジルエーテル、ジプロピレングリコールジグリシジルエーテル、トリプロピレングリコールジグリシジルエーテル等のアルキレングリコ−ルのジグリシジルエーテル類;グリセリンジグリシジルエーテル等のグリセリングリシジルエーテル類;ビスフェノールAジグリシジルエーテル、水添ビスフェノールAジグリシジルエーテル、ビスフェノールAのPO変性ジグリシジルエーテル、ビスフェノールFジグリジルエーテル等のビスフェノール系化合物のジグリシジルエーテル類等に、(メタ)アクリル酸を付加させた構造を有するもの等が挙げられる。また、縮重合されたエポキシ樹脂に(メタ)アクリル酸を付加させた構造を有するものが挙げられる。更に、フェノールノボラック、クレゾールノボラック等の縮重合物に、例えばエピクロロヒドリン等を反応させて得られた構造を有するエポキシ樹脂に対して、(メタ)アクリル酸を付加させた構造を有するもの等が挙げられる。
前記エポキシ(メタ)アクリレートが、前記アクリル系樹脂組成物に含有されることにより、微小突起層が更に強靭になり、微小突起層表面の耐傷性等の機械的強度が更に良好になる。
The epoxy (meth) acrylate is not particularly limited. For example, ethylene glycol diglycidyl ether, diethylene glycol diglycidyl ether, triethylene glycol diglycidyl ether, propylene glycol diglycidyl ether, dipropylene glycol diglycidyl ether, tripropylene glycol Diglycidyl ethers of alkylene glycol such as diglycidyl ether; Glycerin glycidyl ethers such as glycerin diglycidyl ether; Bisphenol A diglycidyl ether, hydrogenated bisphenol A diglycidyl ether, PO modified diglycidyl ether of bisphenol A, bisphenol Diglycidyl ethers of bisphenol compounds such as F diglycidyl ether, Such as those having a structure obtained by adding acrylic acid and the like. Moreover, what has the structure which added (meth) acrylic acid to the polycondensation epoxy resin is mentioned. Furthermore, those having a structure in which (meth) acrylic acid is added to an epoxy resin having a structure obtained by reacting, for example, epichlorohydrin with a polycondensation product such as phenol novolak or cresol novolak Is mentioned.
When the epoxy (meth) acrylate is contained in the acrylic resin composition, the microprojection layer is further toughened, and mechanical strength such as scratch resistance on the surface of the microprojection layer is further improved.

前記アクリル系樹脂組成物中の前記アクリル系硬化性樹脂の含有割合は、十分な物性を得るためには、全固形分(不揮発成分)中の60質量%以上であることが好ましい。   In order to obtain sufficient physical properties, the content of the acrylic curable resin in the acrylic resin composition is preferably 60% by mass or more based on the total solid content (nonvolatile component).

基材に直接接触する層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物に含有される溶剤としては、使用するアクリル系樹脂製基材の耐熱温度以下の沸点の溶剤を適宜選択して用いることができ、特に限定されないが、例えば、メチルエチルケトン(MEK)、メチルイソブチルケトン(MIBK)、メタノール、エタノール、イソプロピルアルコール(IPA)、ブタノール、酢酸エチル、酢酸メチル、酢酸ブチル、シクロヘキサノン、アセトン、γ−ブチルラクトン、n−メチルピロリドン(NMP)、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテ−ト(PMA)等が挙げられる。
基材に直接接触する層の形成に用いられるアクリル系樹脂組成物において、当該アクリル系樹脂組成物中の前記溶剤の含有割合は、特に限定されないが、通常20〜80質量%、好ましくは40〜70質量%とすることができる。
As the solvent contained in the acrylic resin composition used for forming the layer in direct contact with the substrate, a solvent having a boiling point not higher than the heat resistance temperature of the acrylic resin substrate used can be appropriately selected and used. Although not particularly limited, for example, methyl ethyl ketone (MEK), methyl isobutyl ketone (MIBK), methanol, ethanol, isopropyl alcohol (IPA), butanol, ethyl acetate, methyl acetate, butyl acetate, cyclohexanone, acetone, γ-butyl lactone, Examples thereof include n-methylpyrrolidone (NMP) and propylene glycol monomethyl ether acetate (PMA).
In the acrylic resin composition used for forming a layer that is in direct contact with the substrate, the content of the solvent in the acrylic resin composition is not particularly limited, but is usually 20 to 80% by mass, preferably 40 to 40%. It can be 70 mass%.

前記アクリル系樹脂組成物が含有することができる添加剤としては、特に限定されないが、例えば、離型剤、光重合開始剤、光増感剤、酸化防止剤、重合禁止剤、架橋剤、赤外線吸収剤、帯電防止剤等が挙げられる。   The additive that can be contained in the acrylic resin composition is not particularly limited. For example, a release agent, a photopolymerization initiator, a photosensitizer, an antioxidant, a polymerization inhibitor, a crosslinking agent, and an infrared ray. Examples thereof include an absorbent and an antistatic agent.

なお、前記アクリル系樹脂組成物は、その組成(例えば、アクリル系硬化性樹脂の種類、配合量、並びに重合開始剤の種類、量等)、重合に用いる電離放射線の照射条件(強度、露光時間、波長、酸素の除去等)、重合に際しての加熱条件(温度、加熱時間、酸素の除去等)、微小突起層の形状(厚さ等)等を調整することにより、反応率や硬化性を向上させることができる。   The acrylic resin composition has its composition (for example, the type and blending amount of the acrylic curable resin, and the type and amount of the polymerization initiator), and irradiation conditions (intensity and exposure time) of ionizing radiation used for the polymerization. , Wavelength, oxygen removal, etc.), heating conditions during polymerization (temperature, heating time, oxygen removal, etc.), microprojection layer shape (thickness, etc.), etc. are adjusted to improve reaction rate and curability Can be made.

(アクリル系樹脂製基材と微小突起層の界面)
本発明に係る反射防止物品は、前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成されている。これにより、本発明に係る反射防止性物品は、前記アクリル系樹脂製基材側と前記微小突起層との密着性が優れるものとなる。
前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、特に限定されないが、平均突起間隔Smが0.1〜4μm、且つ、十点平均粗さRzが0.1〜4μmであることが好ましい。これにより、前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との密着性が向上する。当該密着性がさらに向上する点から、前記平均突起間隔Smは、1〜2μmであることが特に好ましく、前記十点平均粗さRzは、1〜2μmであることが特に好ましい。
(Interface between acrylic resin substrate and microprojection layer)
In the antireflection article according to the present invention, the interface between the acrylic resin base material and the microprojection layer is formed in a shape that alternately interlaces with the acrylic resin base material side and the microprojection layer side. Yes. Thereby, the antireflection article according to the present invention has excellent adhesion between the acrylic resin base material side and the microprojection layer.
The interface between the acrylic resin substrate and the fine protrusion layer is not particularly limited, but the average protrusion interval Sm is 0.1 to 4 μm, and the ten-point average roughness Rz is 0.1 to 4 μm. Is preferred. Thereby, the adhesiveness of the said acrylic resin-made base material and the said microprotrusion layer improves. In view of further improving the adhesion, the average protrusion spacing Sm is particularly preferably 1 to 2 μm, and the ten-point average roughness Rz is particularly preferably 1 to 2 μm.

前記平均突起間隔Smとは、前記微小突起層の界面が有する凹凸の平均間隔を表し(図1中のSm参照)、前記十点平均粗さRzは、10点平均粗さを表し、これはほぼ界面の凹凸の頂上と谷底との間の高低差の平均値に相当する(図1中のRz参照)。これらの用語の定義は、JIS B0601 1994に準拠する。   The average projection spacing Sm represents the average spacing of the irregularities of the interface of the microprojection layer (see Sm in FIG. 1), and the ten-point average roughness Rz represents the ten-point average roughness, This corresponds approximately to the average value of the height difference between the top and bottom of the unevenness of the interface (see Rz in FIG. 1). The definitions of these terms are based on JIS B0601 1994.

前記平均突起間隔Sm及び前記十点平均粗さRzは、本発明に係る反射防止物品の縦断面(深さ方向の切断面)を、SEM(株式会社日立ハイテクノロジーズ社製、日立超高分解能電界放出形走査電子顕微鏡 SU8000)等により観察することにより表されるアクリル系樹脂製基材と微小突起層との界面の凹凸プロファイルから、下記条件において測定及び評価することができる。なお、前記Sm値及び前記Rz値は、評価長さごとにプロファイルを測定し、それに基づいて算出される。
基準長さ(粗さ曲線のカットオフ値λc):4μm
評価長さ(基準長さ(カットオフ値λc)×5):20μm
The average protrusion spacing Sm and the ten-point average roughness Rz are obtained by using a longitudinal section (cut surface in the depth direction) of the antireflection article according to the present invention as SEM (manufactured by Hitachi High-Technologies Corporation, Hitachi ultra-high resolution electric field). It can be measured and evaluated under the following conditions from the uneven profile of the interface between the acrylic resin substrate and the microprojection layer expressed by observation with an emission scanning electron microscope (SU8000) or the like. The Sm value and the Rz value are calculated based on a profile measured for each evaluation length.
Reference length (cutoff value λc of roughness curve): 4 μm
Evaluation length (reference length (cutoff value λc) × 5): 20 μm

前記Sm値及び前記Rz値の測定は、特に限定されないが、界面内バラツキを考慮して、反射防止物品の少なくとも2箇所を切断して得られた2以上の切断面(断面サンプル)を用いて測定することが好ましい。中でも、2以上の断面サンプルを得る際に切断される反射防止物品の切断箇所のうち、少なくとも1組の切断箇所の切断方向が、平行方向でないことが好ましく、特に、垂直方向の関係にあることが好ましい。
また、前記測定に用いられる断面サンプルは、以下のようにして得ることがさらに好ましい。まず、基準長さ及び評価長さを予め設定する。次に、サンプリングポイントとして、反射防止物品の表面に少なくとも2つの中心点を設定する。さらに、当該中心点を中心とし、前記評価長さを半径とする円を描き、当該円の円周上に少なくとも4点を設定する。そして、当該円周上の点と前記中心点とを結んだ所定の方位角を有する直線に沿って、反射防止物品を深さ方向に切断をすることにより断面サンプルを得る。得られた各断面サンプルについて、評価長さごとにプロファイルを測定し、それに基づくSm値及びRz値を求める。
前記切断箇所となる直線は、前記円における方位角が、等間隔となるように設定されることが好ましい。また、前記切断箇所となる直線は、特に限定されないが、少なくとも1組が90°で交わることが好ましい。
また、前記中心点は、少なくとも1つが反射防止物品表面の全面積のうち中央の50%を占める中央部分に設定され、且つ少なくとも1つが当該中央部分以外の部分に設定されることが好ましい。
反射防止物品の断面サンプルを得るための切断箇所の具体例として、図6に、中心点Aを点線で囲まれた中央部分に設定し、中心点Bを中央部分以外の部分に設定した例を示す。図6に示す例では、断面サンプルを得るための切断箇所となる直線は、中心点A、Bをそれぞれ中心とし、評価長さを半径とした円において、方位角が90°間隔となるように設定されている。なお、図6に示す反射防止物品は平面図である。
本発明において、前記平均突起間隔Sm及び前記十点平均粗さRzは、上記の様に複数の断面サンプルを用いて各サンプルについてSm値及びRz値が測定された場合は、その平均値とする。
The measurement of the Sm value and the Rz value is not particularly limited, but in consideration of intra-interface variation, two or more cut surfaces (cross-section samples) obtained by cutting at least two locations of the antireflection article are used. It is preferable to measure. Among them, it is preferable that the cutting direction of at least one set of cutting points among the cutting points of the antireflection article to be cut when obtaining two or more cross-sectional samples is not a parallel direction, and particularly has a vertical relationship. Is preferred.
The cross-sectional sample used for the measurement is more preferably obtained as follows. First, a reference length and an evaluation length are set in advance. Next, at least two center points are set on the surface of the antireflection article as sampling points. Furthermore, a circle having the center point as the center and the evaluation length as a radius is drawn, and at least four points are set on the circumference of the circle. Then, a cross-section sample is obtained by cutting the antireflection article in the depth direction along a straight line having a predetermined azimuth angle connecting the point on the circumference and the center point. About each obtained cross-sectional sample, a profile is measured for every evaluation length, and Sm value and Rz value based on it are calculated | required.
It is preferable that the straight lines serving as the cut portions are set so that the azimuth angles in the circle are equally spaced. Moreover, the straight line that becomes the cut portion is not particularly limited, but it is preferable that at least one set intersects at 90 °.
Further, it is preferable that at least one of the center points is set at a central portion that occupies 50% of the total area of the surface of the antireflection article, and at least one is set at a portion other than the central portion.
As a specific example of a cut portion for obtaining a cross-sectional sample of the antireflection article, an example in which the center point A is set in a central portion surrounded by a dotted line and the center point B is set in a portion other than the central portion in FIG. Show. In the example shown in FIG. 6, the straight lines that are the cutting points for obtaining the cross-sectional sample are centered at the center points A and B, respectively, and the azimuths are 90 ° apart in a circle with the evaluation length as the radius. Is set. The antireflection article shown in FIG. 6 is a plan view.
In the present invention, the average protrusion interval Sm and the ten-point average roughness Rz are average values when the Sm value and the Rz value are measured for each sample using a plurality of cross-sectional samples as described above. .

(反射防止物品の製造方法)
本発明に係る反射防止物品の製造方法は、特に限定されないが、以下に、本発明に係る反射防止物品の代表例として、一層タイプのものと二層タイプのものの製造方法の一例について、それぞれ詳細に説明する。
(Method for manufacturing antireflection article)
Although the manufacturing method of the antireflection article according to the present invention is not particularly limited, details of an example of a manufacturing method of a one-layer type and a two-layer type will be described below as representative examples of the antireflection article according to the present invention. Explained.

1.一層タイプの反射防止物品の製造方法
本発明に係る一層タイプの反射防止物品は、例えば図7に示すように、まずアクリル系樹脂製基材11を準備し(図7(a))、前記アクリル系樹脂製基材11の表面に微小突起層形成用樹脂組成物を塗工することにより微小突起層形成用塗膜12’を形成し(図7(b))、前記塗膜12’を加熱乾燥させた後(図7(c))、該塗膜12’の表面を複製型15を用いて賦型して、微小突起12aが集合してなる微小突起群を成形し(図7(d))、電離放射線を照射することで、前記アクリル系樹脂組成物を硬化させることにより、微小突起層12を形成し(図7(e))、複製型15を除去して、反射防止物品10を製造することができる(図7(f))。
1. Method for Producing Single Layer Type Antireflective Article The single layer type antireflective article according to the present invention, as shown in FIG. 7, for example, first prepares an acrylic resin base material 11 (FIG. 7A), and The fine projection layer-forming coating film 12 ′ is formed by applying the resin composition for forming the microprojection layer on the surface of the base resin substrate 11 (FIG. 7B), and the coating film 12 ′ is heated. After drying (FIG. 7C), the surface of the coating film 12 ′ is shaped using a replication mold 15 to form a group of micro protrusions formed by assembling the micro protrusions 12 a (FIG. 7D )), By irradiating with ionizing radiation, the acrylic resin composition is cured to form the microprojection layer 12 (FIG. 7 (e)), the replica mold 15 is removed, and the antireflection article 10 is removed. Can be manufactured (FIG. 7F).

前記加熱乾燥における乾燥温度は、アクリル系樹脂製基材11の耐熱温度以下であり、且つ微小突起層形成用樹脂組成物に含まれる溶剤を蒸発させて除去できる温度であれば特に限定されないが、例えば80〜130℃とすることができる。中でも、前記乾燥温度は、アクリル系樹脂製基材11のガラス転移温度(Tg)付近であることが好ましい。これにより、アクリル系樹脂製基材11の寸断、歪み、変形等の基材不良が発生せず、且つ、アクリル系樹脂製基材11と微小突起層12との密着性をさらに向上することができる。なお、ガラス転移温度(Tg)はDSC法により測定することができる。
前記加熱乾燥工程により、アクリル系樹脂製基材11と微小突起層形成用塗膜12’との界面が交互に入り組んだ形状に形成されると考えられる。
The drying temperature in the heat drying is not particularly limited as long as it is not higher than the heat-resistant temperature of the acrylic resin substrate 11 and can be removed by evaporating the solvent contained in the resin composition for forming a microprojection layer. For example, it can be set to 80-130 degreeC. Especially, it is preferable that the said drying temperature is the glass transition temperature (Tg) vicinity of the base material 11 made from acrylic resin. Thereby, substrate defects such as severing, distortion, and deformation of the acrylic resin substrate 11 do not occur, and the adhesion between the acrylic resin substrate 11 and the microprojection layer 12 can be further improved. it can. The glass transition temperature (Tg) can be measured by DSC method.
By the heating and drying step, it is considered that the interface between the acrylic resin substrate 11 and the microprojection layer forming coating film 12 ′ is formed in an alternating shape.

前記アクリル系樹脂製基材11としては、例えば、厚み20〜50μmで、ガラス転移温度(Tg)が100〜130℃の、透明アクリル系樹脂製基材を用いることができる。   As the acrylic resin substrate 11, for example, a transparent acrylic resin substrate having a thickness of 20 to 50 μm and a glass transition temperature (Tg) of 100 to 130 ° C. can be used.

前記微小突起層形成用塗膜12’の形成に用いられる微小突起層形成用樹脂組成物としては、例えば、アクリル系電離放射線硬化性樹脂及び溶剤を含有するアクリル系樹脂組成物を用いることができる。
前記アクリル系電離放射線硬化性樹脂としては、特に限定されないが、微小突起層と基材との密着性並びに微小突起層の光学特性及び機械特性がバランス良く優れる点から、例えば、ウレタン(メタ)アクリレート、エステル(メタ)アクリレート、エポキシ(メタ)アクリレート及びシリコン(メタ)アクリレートよりなる群から選ばれる少なくとも一種を含有するものを用いることができる。
As the resin composition for forming a microprojection layer used for forming the coating film 12 ′ for forming the microprojection layer, for example, an acrylic resin composition containing an acrylic ionizing radiation curable resin and a solvent can be used. .
The acrylic ionizing radiation curable resin is not particularly limited, but for example, urethane (meth) acrylate is preferable because it has excellent balance between the adhesion between the microprojection layer and the substrate and the optical and mechanical properties of the microprojection layer. , One containing at least one selected from the group consisting of ester (meth) acrylate, epoxy (meth) acrylate and silicon (meth) acrylate can be used.

前記溶剤としては、130℃よりも沸点が低いものとして、例えば、メチルエチルケトン(MEK)(沸点79.5℃)及びメチルイソブチルケトン(MIBK)(沸点116.2℃)から選ばれる少なくとも一種を用いることができる。   As the solvent, one having a boiling point lower than 130 ° C. is used, for example, at least one selected from methyl ethyl ketone (MEK) (boiling point 79.5 ° C.) and methyl isobutyl ketone (MIBK) (boiling point 116.2 ° C.). Can do.

本発明に係る一層タイプの反射防止物品の製造において、電離放射線を照射する際、図7(e)に示すように、複製型15を微小突起層形成用塗膜12’に積層させたまま基材11側から照射することもできるし、微小突起層形成用塗膜12’が乾燥しており比較的保形性に優れるので、図示はしないが、複製型15を微小突起層形成用塗膜12’から剥離させた後に、当該微小突起層形成用塗膜12’側から照射することもできる。なお、複製型15を微小突起層形成用塗膜12’から剥離させた後に、電離放射線を照射する方法は、生産性が高い点において優れる。   In the production of a single-layer antireflection article according to the present invention, when the ionizing radiation is irradiated, the replica mold 15 is laminated on the microprojection layer forming coating film 12 'as shown in FIG. Irradiation can be performed from the material 11 side, and the coating film 12 ′ for forming the microprojection layer is dry and relatively excellent in shape retention. After peeling from 12 ', it can also irradiate from the coating film 12' side for microprojection layer formation. Note that the method of irradiating ionizing radiation after the replica mold 15 is peeled from the coating film 12 'for forming the microprojection layer is excellent in terms of high productivity.

2.二層タイプの反射防止物品の製造方法
本発明に係る二層タイプの反射防止物品は、例えば図8に示すように、まずアクリル系樹脂製基材21を準備し(図8(a))、前記アクリル系樹脂製基材21の表面に少なくとも第一層形成用樹脂組成物を塗工することにより第一層形成用塗膜23’を形成し(図8(b))、前記第一層形成用塗膜23’を加熱乾燥させた後(図8(c))、当該第一層形成用塗膜23’上に第二層形成用樹脂組成物からなる第二層形成用塗膜24’を形成する(図8(d))。その後、当該第二層形成用塗膜24’の表面を、複製型25を用いて賦型して、微小突起22aが集合してなる微小突起群を成形し(図8(e))、電離放射線を照射することで、前記微小突起層用組成物を硬化させることにより、第一層23及び第二層24からなる微小突起層22を形成し(図8(f))、複製型25を除去して、反射防止物品20を製造することができる(図8(g))。
2. Method for Producing Two-Layer Type Antireflection Article As shown in FIG. 8, for example, the two-layer type antireflection article according to the present invention first prepares an acrylic resin base material 21 (FIG. 8 (a)), A first layer-forming coating film 23 ′ is formed by applying at least the first layer-forming resin composition on the surface of the acrylic resin substrate 21 (FIG. 8B), and the first layer After the coating film 23 ′ for forming is heated and dried (FIG. 8C), the coating film 24 for forming the second layer made of the resin composition for forming the second layer is formed on the coating film 23 ′ for forming the first layer. 'Is formed (FIG. 8D). Thereafter, the surface of the coating film 24 ′ for forming the second layer is shaped using the replication mold 25 to form a group of minute protrusions formed by assembling the minute protrusions 22a (FIG. 8 (e)). By irradiating with radiation, the microprojection layer composition is cured to form a microprojection layer 22 composed of a first layer 23 and a second layer 24 (FIG. 8 (f)). It can remove and can manufacture the antireflection article 20 (Drawing 8 (g)).

前記第一層形成用塗膜23’を加熱乾燥させる際の乾燥温度は、前記アクリル系樹脂製基材21の耐熱温度以下であり、且つ前記第一層形成用塗膜23’中の溶剤を蒸発させて除去できる温度であれば特に限定されず、前記アクリル系樹脂製基材21と前記第一層23の密着性がさらに向上する点から、前記一層タイプの反射防止物品の場合と同様に、例えば80〜130℃とすることができる。前記乾燥温度は、中でも前記アクリル系樹脂製基材21のガラス転移温度(Tg)付近であることが好ましい。
前記加熱乾燥工程により、アクリル系樹脂製基材21と第一層形成用塗膜23’との界面が交互に入り組んだ形状に形成されると考えられる。
The drying temperature at the time of heating and drying the first layer forming coating film 23 ′ is equal to or lower than the heat resistance temperature of the acrylic resin substrate 21, and the solvent in the first layer forming coating film 23 ′ is removed. If it is the temperature which can be removed by evaporation, it will not specifically limit, From the point which the adhesiveness of the said acrylic resin base material 21 and said 1st layer 23 improves further, it is the same as the case of the said one-layer type antireflection article. For example, it can be set to 80-130 degreeC. The drying temperature is preferably in the vicinity of the glass transition temperature (Tg) of the acrylic resin substrate 21.
It is considered that the interface between the acrylic resin base material 21 and the first layer forming coating film 23 ′ is formed in an alternating shape by the heating and drying step.

前記アクリル系樹脂製基材21としては、前記一層タイプに用いられるアクリル系樹脂製基材11と同様のものを用いることができる。   As the acrylic resin base material 21, the same one as the acrylic resin base material 11 used for the single layer type can be used.

前記第一層形成用樹脂組成物としては、例えば、アクリル系電離放射線硬化性樹脂及び溶剤を含有するアクリル系樹脂組成物を用いることができる。
また、第二層形成用樹脂組成物としては、例えば、アクリル系電離放射線硬化性樹脂を含有し、溶剤を含有していないものを用いることができる。
前記第一層形成用樹脂組成物及び前記第二層形成用樹脂組成物に含有されるアクリル系電離放射線硬化性樹脂としては、特に限定されず、前記一層タイプの微小突起層形成用樹脂組成物に含有されるアクリル系電離放射線硬化性樹脂として挙げたものと同様のものを用いることができる。
また、前記アクリル系電離放射線硬化性樹脂の種類や配合割合等を変えることにより、前記第一層形成用樹脂組成物は、特に基材との密着性に優れたものとすることができ、前記第二層形成用樹脂組成物は、特に成形性に優れ、硬化後の表面耐傷性及び物理的強度等の機械特性に優れたものとすることができる。
前記第一層形成用樹脂組成物に含有される溶剤としては、前記一層タイプの微小突起層形成用樹脂組成物に用いられる溶剤と同様のものを用いることができる。
As said 1st layer forming resin composition, the acrylic resin composition containing acrylic ionizing radiation curable resin and a solvent can be used, for example.
Moreover, as a resin composition for 2nd layer formation, the thing containing acrylic type ionizing radiation curable resin and not containing a solvent can be used, for example.
The acrylic ionizing radiation curable resin contained in the first layer forming resin composition and the second layer forming resin composition is not particularly limited, and the one-layer type resin composition for forming a microprojection layer is not particularly limited. The thing similar to what was mentioned as an acrylic ionizing radiation-curable resin contained in can be used.
In addition, by changing the type and blending ratio of the acrylic ionizing radiation curable resin, the resin composition for forming the first layer can be particularly excellent in adhesion to the substrate, The resin composition for forming a second layer is particularly excellent in moldability and excellent in mechanical properties such as surface scratch resistance and physical strength after curing.
As the solvent contained in the resin composition for forming the first layer, the same solvents as those used for the resin composition for forming a single-layer microprojection layer can be used.

また、前記第二層形成用樹脂組成物としては、溶剤の代わりに希釈モノマーを含有させた液状のものを用いることもできるし、フィルム状のものを用いることもできる。第二層形成用樹脂組成物として液状のものを用いる場合は、当該液状の樹脂組成物を前記第一層形成用塗膜23’上に塗工することによって、第二層形成用塗膜24’を形成することができる。第二層形成用樹脂組成物としてフィルム状のものを用いる場合は、当該フィルム状の樹脂組成物を前記第一層形成用塗膜23’上に貼着することによって、第二層形成用塗膜24’を形成することができる。   Moreover, as said 2nd layer formation resin composition, the liquid thing containing the dilution monomer instead of the solvent can also be used, and a film-form thing can also be used. When a liquid resin composition is used as the second layer forming resin composition, the second layer forming coating film 24 is formed by coating the liquid resin composition on the first layer forming coating film 23 '. 'Can be formed. When a film-like resin composition is used as the second layer-forming resin composition, the second-layer-forming resin composition is applied by sticking the film-like resin composition onto the first-layer-forming coating film 23 ′. A film 24 'can be formed.

本発明に係る二層タイプの反射防止物品の製造において、電離放射線を照射する際、前記第二層形成用樹脂組成物として、流動性の大きい液状のものを用いた場合には、図8(e)に示すように、複製型25を第二層形成用塗膜24’に積層させたまま、基材21側から照射することができる(図8(e))。また、前記第二層形成用樹脂組成物として、フィルム状のもの等の保形性に優れるものを用いた場合は、図示はしないが、複製型25を第二層形成用塗膜24’から剥離させた後に、当該第二層形成用塗膜24’側から照射することもできるし、図8(e)に示すように、複製型25を第二層形成用塗膜24’に積層させたまま、基材21側から照射することもできる。複製型25を第二層形成用塗膜24’から剥離させた後に、電離放射線を照射する方法は、生産性が高い点において優れる。   In the production of the two-layer type antireflection article according to the present invention, when ionizing radiation is applied, when the liquid composition having a high fluidity is used as the second layer forming resin composition, FIG. As shown to e), it can irradiate from the base-material 21 side, making the replication type | mold 25 laminated | stack on coating film 24 'for 2nd layer formation (FIG.8 (e)). When the resin composition for forming the second layer is excellent in shape retention such as a film-like one, although not shown, the replication mold 25 is removed from the coating film 24 ′ for forming the second layer. After peeling, the second layer-forming coating film 24 ′ can be irradiated from the side, or as shown in FIG. 8 (e), the replication mold 25 is laminated on the second layer-forming coating film 24 ′. It is also possible to irradiate from the substrate 21 side. The method of irradiating ionizing radiation after the replication mold 25 is peeled from the second layer forming coating film 24 ′ is excellent in terms of high productivity.

なお、前記一層タイプの反射防止物品は、前記微小突起層を一層のみで形成するため、生産性に優れるが、微小突起層とアクリル系樹脂製基材との密着性と、微小突起層の光特性及び機械特性の双方を著しく向上させるために、微小突起層形成用樹脂組成物の組成を比較的厳選する必要がある。
一方、前記二層タイプの反射防止物品は、微小突起層を二層で形成するため、前記一層タイプのものに比べて生産性は劣るが、微小突起層とアクリル系樹脂製基材との密着性を向上させる第一層と、微小突起層の光特性及び機械特性等を向上させる第二層とで異なる材料を用いることができるので、双方の特性を向上させることが比較的容易となる。
The single-layer type antireflection article is excellent in productivity because the microprojection layer is formed of only one layer, but the adhesion between the microprojection layer and the acrylic resin substrate, and the light of the microprojection layer are excellent. In order to remarkably improve both the characteristics and the mechanical characteristics, it is necessary to relatively carefully select the composition of the resin composition for forming the microprojection layer.
On the other hand, the antireflection article of the two-layer type is formed with two layers of microprojection layers, so the productivity is inferior to that of the single-layer type, but the adhesion between the microprojection layer and the acrylic resin base material Since different materials can be used for the first layer that improves the properties and the second layer that improves the optical properties and mechanical properties of the microprojection layer, it is relatively easy to improve both properties.

1、11、21 アクリル系樹脂製基材
2、12、22 微小突起層
2a、12a、22a 微小突起
12’ 微小突起層形成用塗膜
3、23 第一層
23’ 第一層形成用塗膜
4、24 第二層
24’ 第二層形成用塗膜
15、25 複製型
10 反射防止物品
20 反射防止物品
1, 11, 21 Acrylic resin substrate 2, 12, 22 Minute protrusion layer 2a, 12a, 22a Minute protrusion 12 'Minute protrusion layer forming coating 3, 23 First layer 23' First layer forming coating 4, 24 Second layer 24 ′ Second layer forming coating film 15, 25 Duplicate type 10 Antireflection article 20 Antireflection article

本発明に係る反射防止物品は、アクリル系樹脂製基材の表面に、反射防止用の微小突起が集合してなる微小突起群を表面に備え、且つ、アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層が形成されてなる反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起間隔をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、
前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成され、当該入り組んだ形状は、JIS B0601 1994において規定される平均突起間隔Smが0.1〜4μm、且つ、JIS B0601 1994において規定される十点平均粗さRzが0.1〜4μmであることを特徴とする。
The antireflective article according to the present invention comprises a surface of an acrylic resin base material with a group of microprojections formed by aggregation of antireflection microprojections, and is made of a cured product of an acrylic resin composition. An antireflection article formed with a microprojection layer,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λmin and the distance between the small protrusions is dmax,
dmax ≦ Λmin
Have the relationship
The interface between the acrylic resin base material and the microprojection layer is formed in a shape alternately interleaved with the acrylic resin base material side and the microprojection layer side, and the intricate shape is JIS B0601 1994. The average protrusion interval Sm defined in JIS B0601 1994 is 0.1 to 4 μm, and the ten-point average roughness Rz defined in JIS B0601 1994 is 0.1 to 4 μm .

本発明に係る反射防止物品は、アクリル系樹脂製基材の表面に、アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層が形成されてなる反射防止物品であって、
前記微小突起層は、前記アクリル系樹脂製基材の表面に、ウレタンアクリレート及びウレタンメタクリレートから選ばれる少なくとも一種のアクリル系硬化性樹脂並びにメチルエチルケトン及びメチルイソブチルケトンから選ばれる少なくとも一種からなる溶剤を含有するアクリル系樹脂組成物を塗布、乾燥及び硬化させることにより形成される層であり、反射防止用の微小突起が集合してなる微小突起群を表面に備え、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起間隔をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、
前記アクリル系樹脂組成物を塗布、乾燥する過程で、前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成され、当該入り組んだ形状は、JIS B0601 1994において規定される平均突起間隔Smが0.1〜4μm、且つ、JIS B0601 1994において規定される十点平均粗さRzが0.1〜4μmであることを特徴とする。
本発明に係る反射防止物品においては、前記微小突起層の形成に用いられる前記アクリル系樹脂組成物を、前記アクリル系硬化性樹脂としてウレタンアクリレートを含有し、前記溶剤としてメチルエチルケトンを含有するものとすることができる。
Antireflection article according to the present invention, the surface of the acrylic resin substrate, a reflection preventing article comprising formed microprotrusion layer comprising a cured product of A acrylic-based resin composition,
The microprojection layer contains, on the surface of the acrylic resin substrate, at least one acrylic curable resin selected from urethane acrylate and urethane methacrylate, and a solvent consisting of at least one selected from methyl ethyl ketone and methyl isobutyl ketone. It is a layer formed by applying, drying and curing an acrylic resin composition, provided on the surface with a group of microprojections formed by aggregation of antireflection microprojections,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λmin and the distance between the small protrusions is dmax,
dmax ≦ Λmin
Have the relationship
In the process of applying and drying the acrylic resin composition , the interface between the acrylic resin substrate and the microprojection layer is alternately interleaved with the acrylic resin substrate side and the microprojection layer side. The complicated shape is formed in such a shape that the average protrusion interval Sm defined in JIS B0601 1994 is 0.1 to 4 μm and the ten-point average roughness Rz defined in JIS B0601 1994 is 0.1 to 4 μm. It is characterized by being.
In the antireflection article according to the present invention, the acrylic resin composition used for forming the microprojection layer contains urethane acrylate as the acrylic curable resin and methyl ethyl ketone as the solvent. be able to.

Claims (2)

アクリル系樹脂製基材の表面に、反射防止用の微小突起が集合してなる微小突起群を表面に備え、且つ、アクリル系樹脂組成物の硬化物からなる微小突起層が形成されてなる反射防止物品であって、
前記微小突起は、反射防止を図る光の波長帯域の最短波長をΛmin、当該微小突起間隔をdmaxとしたときに、
dmax≦Λmin
なる関係を有し、
前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、前記アクリル系樹脂製基材側及び前記微小突起層側へ交互に入り組んだ形状に形成されていることを特徴とする、反射防止物品。
Reflection formed on the surface of a base made of acrylic resin with a microprojection group consisting of aggregated microprojections for reflection prevention and a microprojection layer made of a cured product of an acrylic resin composition. Prevention articles,
When the shortest wavelength of the wavelength band of light for preventing reflection is Λmin and the distance between the small protrusions is dmax,
dmax ≦ Λmin
Have the relationship
The interface between the acrylic resin base material and the microprojection layer is formed in a shape that is alternately interlaced with the acrylic resin base material side and the microprojection layer side. Goods.
前記アクリル系樹脂製基材と前記微小突起層との界面は、JIS B0601 1994において規定される平均突起間隔Smが0.1〜4μm、且つ、JIS B0601 1994において規定される十点平均粗さRzが0.1〜4μmである、請求項1に記載の反射防止物品。   The interface between the acrylic resin substrate and the microprojection layer has an average projection spacing Sm defined in JIS B0601 1994 of 0.1 to 4 μm and a ten-point average roughness Rz defined in JIS B0601 1994. The antireflection article according to claim 1, wherein is 0.1 to 4 μm.
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