JP2013538455A - Substrate heating device - Google Patents
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Abstract
本発明は、真空プロセスチャンバ内の基板9を支持し、基板9に対向配置され基板9と熱伝導するように接触している表面11を備える、サセプタに関し、サセプタ1は、少なくとも3つの隣り合うゾーン5、6、8である、外部ゾーン8、中央ゾーン6及び内部ゾーン5を備え、ゾーン5、6、8は、互いを同心状に取り囲むように配置されており、表面11に沿って延びており、外部ゾーン8は中央ゾーン6を完全に取り囲み、中央ゾーン6は内部ゾーン5を完全に取り囲み、内部ゾーン5は内部ゾーン5に影響を与える少なくとも一つの内部発熱素子13を備え、外部ゾーン8は外部ゾーン8に影響を与える少なくとも一つの外部発熱素子19を備え、中央ゾーン6は内部ゾーン5の最小厚さ12より小さく、かつ外部ゾーン8の最小厚さ16より小さい、大厚さ15を露出し、各厚さ12、15、16は表面11に対して垂直に延びている。
【選択図】図3The present invention relates to a susceptor for supporting a substrate 9 in a vacuum process chamber and comprising a surface 11 arranged opposite to the substrate 9 and in thermal communication with the substrate 9, the susceptor 1 comprising at least three adjacent ones Zones 5, 6, 8 comprising an outer zone 8, a central zone 6, and an inner zone 5, the zones 5, 6, 8 being arranged concentrically surrounding one another and extending along the surface 11 The outer zone 8 completely surrounds the central zone 6, the central zone 6 completely surrounds the inner zone 5, and the inner zone 5 comprises at least one inner heating element 13 affecting the inner zone 5, the outer zone 8 comprises at least one external heating element 19 affecting the external zone 8, the central zone 6 being smaller than the minimum thickness 12 of the internal zone 5 and the minimum of the external zone 8 It is smaller than 16, to expose a large thickness 15, the thickness 12, 15, 16 extends perpendicularly to the surface 11.
[Selected figure] Figure 3
Description
本発明は、真空プロセスチャンバ内の基板を支持する、該基板に対向する平坦な表面を備える、サセプタに関し、サセプタ上において、基板は、熱伝導するように上記表面と接触している。また正確には、本発明は、広い領域の基板表面上において高い均一な基板温度を確立することに関する。特に、本発明は、好ましくは、真空環境において非円形状を有する基板用の、高い均一な加熱システムを示している。この加熱システムは、室温より高い温度で実行される、多くのコーティング又は基板処理プロセスに提供され得る。 The present invention relates to a susceptor comprising a flat surface opposite to a substrate for supporting a substrate in a vacuum process chamber, wherein the substrate is in contact with said surface to be thermally conductive on the susceptor. Also precisely, the invention relates to establishing a high uniform substrate temperature on a large area substrate surface. In particular, the invention preferably shows a high uniform heating system for substrates having a non-circular shape in a vacuum environment. This heating system can be provided for many coating or substrate processing processes performed at temperatures above room temperature.
薄膜除去又はコーティングプロセスは従来よく知られている。そして、除去の均一性は、特に広い領域のコーティングプロセスにおいて重要な基準である。今日の薄膜技術においては、小寸法で実現される層特性が、広い領域の基板に拡張される必要がある。一般的に、小さい領域の調整のための厳しい仕様は、広い領域においてはより均一性が必要となることが考慮されなければならない。典型例はIC産業であり、ここではいくつかの薄膜層が互いに調整される。この調整は、全基板領域に亘って維持される必要があり、全ウエハ上の全ての重要な物質において、全ての関連する層上における高い均一化が要求される。 Thin film removal or coating processes are well known in the art. And removal uniformity is an important criterion, especially in large area coating processes. In today's thin film technology, layer properties realized in small dimensions need to be extended to a large area of substrate. In general, it has to be taken into account that the tight specifications for the adjustment of small areas require more uniformity in large areas. A typical example is the IC industry, where several thin film layers are coordinated with one another. This adjustment needs to be maintained over the entire substrate area, and high uniformity over all relevant layers is required for all critical materials on all wafers.
薄膜太陽電池の適用は類似例である。ここでは、高効率を可能にする上記電池特性は、全ての統一されたモジュール上に供給される必要がある。「規格外」の特性を有する領域は、個々の電池を悪化させる。このような電池は、シリアル接続において高抵抗を生じさせ、低効率を有する。結果として、不良電池物質の領域が、全体的な太陽モジュールにおける全体的な性能を低下させる。 The application of thin film solar cells is a similar example. Here, the battery characteristics that allow high efficiency need to be provided on all unified modules. Regions with "off-spec" characteristics degrade individual batteries. Such batteries produce high resistance in serial connection and have low efficiency. As a result, areas of bad cell material degrade the overall performance in the overall solar module.
化学気相成長(CVD)プロセスのために、温度の均一性は最も重要な要素の一つである。CVDプロセス中の化学反応は、蒸着率がプロセス温度に応じた指数を示す、いわゆるアレニウス(Arrhenius)反応を表す。結果として、良好な厚さの均一性を得るために、高い均一性の基板温度が要求される。 Temperature uniformity is one of the most important factors for chemical vapor deposition (CVD) processes. The chemical reaction during the CVD process represents the so-called Arrhenius reaction, in which the deposition rate exhibits an index depending on the process temperature. As a result, high uniformity of substrate temperature is required to obtain good thickness uniformity.
現行のCVDシステムでは、均一な基板温度を得るために様々な方法が用いられている。従来のシステムは、加熱プレート又はサセプタを用いており、加熱プレート、サセプタそれぞれは、基板を適合させ基板に熱を伝えるための、重要な平面仕上げを意味し、これにより、均一な熱分配に関する要求が満たされる。この表面は、少なくとも、加熱される基板領域のサイズ又は制御された温度を有する基板の一つの表面として成立し得る。このような加熱プレートは、異なる熱入力を有する、いくつかの独立した加熱ゾーンを含み得る。一般的に、加熱プレートの周辺、例えばエッジやコーナーは、表面における加熱プレート及び基板の高い熱放射による熱損失を防ぐために、中央領域よりも高い温度で加熱される必要がある。 In current CVD systems, various methods are used to obtain uniform substrate temperatures. The conventional system uses a heating plate or a susceptor, and the heating plate and the susceptor each represent an important planar finish for adapting the substrate and transferring the heat to the substrate, whereby the requirement for uniform heat distribution Is satisfied. This surface may at least be realized as one surface of the substrate having the size of the substrate area to be heated or a controlled temperature. Such heating plates may include several independent heating zones with different heat inputs. Generally, the periphery of the heating plate, for example the edges and corners, needs to be heated at a higher temperature than the central region to prevent heat loss due to high thermal radiation of the heating plate and the substrate at the surface.
加熱のための従来公知の解決方法は、電気的な加熱素子を加熱プレートに取り付けること、又は抵抗加熱のような加熱素子を結合することである。加熱素子と加熱プレートとのより良好な適合において、温度への反応の速さは加熱プレートにおいて変化する。 A previously known solution for heating is to attach an electrical heating element to the heating plate or to combine heating elements such as resistive heating. In a better fit of the heating element and the heating plate, the speed of reaction to the temperature changes in the heating plate.
加熱プレートに入力する熱を部分的に制御するために、いくつかのアプローチがある。異なる加熱アプローチの概要が、米国特許出願第6,962,732に記載されている。均一に加熱された基板を生成するための可能な解決方法の一つは、加熱ゾーンに取り付けられた熱電対を有する、異なる加熱ゾーンを用いることである。各ゾーンの温度は、基板温度をより均一にさせる特定の値に設定される。この温度設定は、経験的に決定される。 There are several approaches to partially control the heat input to the heating plate. An overview of different heating approaches is described in US Patent Application No. 6,962,732. One possible solution for producing a uniformly heated substrate is to use different heating zones, with thermocouples attached to the heating zones. The temperature of each zone is set to a specific value that makes the substrate temperature more uniform. This temperature setting is determined empirically.
加熱プレート上の温度を制御する、より洗練された方法は、サーモカメラ測定器により、基板の熱の均一性を監視することである。これにより、加熱ゾーンが調整されるため、均一な温度の伝達が基板全体に亘って見られる。このアプローチにより、他のパラメータの影響を受けることなく、均一な温度特性を生み出すことができる。 A more sophisticated method of controlling the temperature on the heating plate is to monitor the thermal uniformity of the substrate with a thermocamera meter. This adjusts the heating zone so that uniform temperature transfer can be seen across the substrate. This approach can produce uniform temperature characteristics without being affected by other parameters.
あるいは、加熱プレートの温度は、加熱プレートを用いる製造プロセスから生じる層特性を調査した後に調整され得る。一つは、均一な層特性が得られるまで、加熱ゾーンの温度を修正する。この方法は、真空機器の分野において広く用いられている。しかし、コーティング材の均一性は、温度だけでなくガスの流れ及び除去機器の形状によっても影響を受ける。そして、流れの不均一は、加熱プレートの温度調整により補償される。 Alternatively, the temperature of the heating plate can be adjusted after investigating the layer properties resulting from the manufacturing process using the heating plate. One corrects the temperature of the heating zone until uniform layer properties are obtained. This method is widely used in the field of vacuum equipment. However, the uniformity of the coating material is influenced not only by the temperature but also by the gas flow and the geometry of the removal equipment. And the flow non-uniformity is compensated by the temperature control of the heating plate.
加熱する矩形基板はチャレンジ的であり、特に基板のコーナー及びエッジは、周囲のクーラーチャンバーに対する熱放射により強く影響を受ける。一つは、これがこのような領域への熱入力が増加することにより、容易に補償され得ることが予想される。しかし、例えば加熱プレートの他の部分と比較して、抵抗加熱素子の、密集した熱パターンを簡単に配線することによって、加熱プレートのコーナー領域に十分な熱を得ることは困難である。このような加熱パターンを変更することは、実在する、すなわち機械的に、高価かつ手間がかかる、加熱プレートを変更することを意味する。この問題に対する一つの解決方法は、コーナーゾーンを個々に加熱し、これにより加熱プレートへの熱放射を電気的に調整することである。このアプローチは、非実用的である。実際に、このような個々の加熱ゾーンを有するコーナーへ伝達される熱のほとんどが加熱プレートのクーラーゾーンに放散され、これにより全体の加熱プレートの温度配分に影響を与える。互いの領域を熱的に分離することによりこれを回避できるが、分離領域において部分的な温度変化が生じる。 The heating rectangular substrate is challenging, in particular the corners and edges of the substrate are strongly influenced by the thermal radiation to the surrounding cooler chamber. First, it is expected that this can be easily compensated by increasing the heat input to such a region. However, it is difficult to obtain sufficient heat in the corner areas of the heating plate by simply wiring the dense thermal pattern of the resistive heating element, for example, as compared to the other parts of the heating plate. Changing such a heating pattern means changing the heating plate that is real, ie mechanically, expensive and laborious. One solution to this problem is to heat the corner zones individually, thereby electrically adjusting the thermal radiation to the heating plate. This approach is impractical. In fact, most of the heat transferred to the corners with such individual heating zones is dissipated in the cooler zone of the heating plate, which affects the temperature distribution of the overall heating plate. While this can be avoided by thermally separating the regions from one another, partial temperature changes occur in the separation region.
現在では、従来提案されている全ての解決方法が、この根本的な窮地に直面している。ほとんどのサセプタまたは加熱プレートの材料は、導電材料であり、これらは、加熱配線又は加熱素子の熱を基板に効率よく伝える。例えば、アルミニウム(Al)、銅(Cu)、カーボン(Carbon)は、共通してサセプタの材料として用いられる。より少ない導電材料が、均一な熱を得るために加熱素子のより密集した配線を要求されるだろう。良好な導電材料は、基本的に、加熱配線の位置付けにより生成される最大の位置付け熱が広がる。しかし、この効果は、サセプタのエッジ及びコーナー上で逆効果である。強い最大熱は、基板のエッジ及びコーナーの熱損失を補償するために必要とされる。単にエッジ及びコーナーゾーンを過熱することは、中央の熱ゾーンの温度を非常に増加させるだろう。 At present, all the solutions proposed so far face this fundamental bottleneck. Most susceptor or heating plate materials are conductive materials, which efficiently transfer the heat of the heating wire or heating element to the substrate. For example, aluminum (Al), copper (Cu), and carbon (Carbon) are commonly used as a susceptor material. Less conductive material will require more dense wiring of the heating elements to obtain uniform heat. A good conductive material basically spreads the maximum positioning heat generated by the positioning of the heating wire. However, this effect is counterproductive on the edges and corners of the susceptor. Strong maximum heat is required to compensate for heat loss at the edges and corners of the substrate. Simply heating the edge and corner zones will greatly increase the temperature of the central thermal zone.
図1及び図2に示すように、例がこの効果を示している。4個の独立して動作し制御された加熱配線2,3,4を含むサセプタ1が用いられている。全ての加熱配線2,3,4は4つの異なるゾーン5,6,7を形成している。第1ゾーン5は、基板9を最も加熱する中央ゾーンである。第2ゾーン6は、第1ゾーン5と第2ゾーン6との間の温度差を均等にする、補助的な中央ゾーンである。第3ゾーン7は、基板9のエッジを加熱する。これら3つのゾーン5,6,7のために、加熱配線2,3,4は、図2に示すように、加熱プレート1の下に設けられている。図2において、第2ゾーン6は省略されている。
As shown in FIGS. 1 and 2, an example illustrates this effect. A
中央ゾーン5は、配線2において、エッジゾーン7よりも広いスペースを有している。加熱素子4を有する加熱ゾーン8のリムは、加熱プレート9の上部に配置されており、加熱表面から凹んでいる。それは、加熱プレート9上のエッジバー10によって安定し、CVDプロセスによる汚染から守る。基板9は、サセプタ1の表面より僅かに大きく、これにより、基板9のエッジは、エッジバー10に重畳し、これにより加熱される。
The
以下に示すテーブルは、オペレータにより設定される温度を示し、温度は、事実上、特定ゾーン5,6,7,8内に取り付けられる熱電対により示されるように、加熱プレート9により達する。
オペレータが読む実際の温度設定値
第1ゾーン5 180℃ 181℃
第2ゾーン6 185℃ 195℃
第3ゾーン7 195℃ 195℃
リムゾーン8 210℃ 210℃
The table shown below shows the temperature set by the operator, the temperature being reached by the
The operator reads the actual
この概要に示すように、第2ゾーン6は、第1ゾーン5及び第3ゾーン7の設定温度の影響により、そのターゲット温度を超えて過熱される。加熱ゾーン5,6,7,8のクロストークにより、第2ゾーンの正確な加熱ができない。
As shown in this overview, the
それにもかかわらず、エッジ及びリムゾーン8の温度は、中央ゾーン5の温度を十分に超えて増加することが必要であり、さもなければ、基板9のエッジの温度は低すぎて均一な増加ができない。
Nevertheless, the temperature of the edge and
異なるゾーン5,6,7,8の間の熱のクロストークの問題に対する解決は、いくつかの熱的に分離された部品からサセプタ1の製造になるだろう。これは、中央ゾーン5が、独立して加熱される、分離リムゾーン8のフレームにより囲まれて取り付けられていることを、予見することができる。しかし、この解決方法は、いくつかの欠点を有する。第1に、サセプタ1の材料の一つの部品から製造されないことである。これは、異なるサセプタ1のプレート間の誤差は、均一な基板9の加熱を十分に可能にするために小さくしなければならないため、製造を困難及び高価にする。第2に、中央ゾーン5とリムゾーン8との間のギャップを埋めるスムーズな温度特性を有することが、非常に困難なことである。基板9の厚さに依存して、2つのゾーン5,8の間の望ましい塗布(smearing)が、中央ゾーン5及びリムゾーン8の境界による熱損失を十分に補償し得ない。
The solution to the problem of thermal cross-talk between the
よって、本発明の目的は、前述の従来技術の欠点を克服すること、すなわち、広い領域の基板表面における高い均一性の基板温度を設定するためのサセプタを提供することにある。 Accordingly, it is an object of the present invention to overcome the aforementioned drawbacks of the prior art, ie to provide a susceptor for setting a high uniformity of substrate temperature over a large area of substrate surface.
この目的は、独立請求項により達成される。有利な実施形態は、従属請求項において詳述される。 This object is achieved by the independent claims. Advantageous embodiments are detailed in the dependent claims.
特に、上記目的は、真空プロセスチャンバ内の基板を支持し、該基板に対向配置され該基板と熱伝導するように接触している表面を備える、サセプタであって、上記サセプタは、少なくとも3つの隣り合うゾーンである、外部ゾーン、中央ゾーン及び内部ゾーンを備え、上記ゾーンは、互いを同心状に取り囲むように配置され、上記表面に沿って延びており、上記外部ゾーンは上記中央ゾーンを完全に取り囲み、上記中央ゾーンは上記内部ゾーンを完全に取り囲み、上記内部ゾーンは該内部ゾーンに影響を与える少なくとも一つの内部発熱素子を備え、上記外部ゾーンは該外部ゾーンに影響を与える少なくとも一つの外部発熱素子を備え、上記中央ゾーンは上記内部ゾーンの最小厚さより小さく、かつ上記外部ゾーンの最小厚さより小さい、最大厚さを露出し、各厚さは上記表面に対して垂直に延びている、サセプタにより達成される。 In particular, the object is a susceptor for supporting a substrate in a vacuum process chamber, comprising a surface arranged opposite to the substrate and in thermal communication with the substrate, the susceptor comprising at least three susceptors. An adjacent zone, an outer zone, a central zone and an inner zone, said zones being arranged concentrically surrounding one another and extending along said surface, said outer zone completely covering said central zone The central zone completely surrounds the inner zone, the inner zone comprising at least one inner heating element affecting the inner zone, the outer zone at least one outer zone affecting the outer zone A heating element, the central zone being smaller than the minimum thickness of the inner zone and smaller than the minimum thickness of the outer zone, Exposing a large thickness, the thickness extends perpendicularly to the surface is achieved by the susceptor.
意外にも、単一の物質、例えばアルミニウム、銅及び/又はカーボンから製造されるサセプタの提供が見出され、上記基板面の全体に亘って高い均一性の基板温度を提供する、少なくとも3つの異なるゾーンを有することが見出され、もし上記外部ゾーン及び上記内部ゾーンの間の上記中央ゾーンが、周囲のゾーンすなわち上記内部ゾーン及び上記外部ゾーンよりも厚さが小さい場合、これにより上記内部ゾーン及び上記外部ゾーンの両方は、それぞれのゾーンにおける上記基板に影響を与えるための加熱素子を構成する。本発明に係るこのようなサセプタによれば、消極的に影響を与えないすなわち過熱している間、上記内部ゾーンの領域における上記基板のエッジ及びコーナーで、強い最大の加熱を提供することができる。よって、本発明は、完全な表面上のスムーズな温度特性を提供できることにより、高い均一性の基板温度となり、例えば化学気相成長プロセスにおいて提供されるコーティングの厚さの均一性が向上する。同様に、本発明に係るサセプタは、基板コーティングの品質が向上する一方、製造コストが削減される。要するに、上記サセプタは、従来のシステムと比較してコーティング層の特性を向上させるために提供される。 Surprisingly, it has been found to provide a susceptor made of a single substance, for example aluminum, copper and / or carbon, providing at least three substrate temperatures of high uniformity across the substrate surface. If it is found to have different zones, and if the central zone between the outer zone and the inner zone is smaller in thickness than the surrounding zones, ie the inner zone and the outer zone, this causes the inner zone to be different. And both the external zones constitute heating elements for affecting the substrate in the respective zones. Such a susceptor according to the invention can provide strong maximum heating at the edges and corners of the substrate in the area of the inner zone while not negatively affecting or heating up. . Thus, the present invention can provide smooth temperature characteristics on a complete surface, resulting in high uniformity of substrate temperature and, for example, improved uniformity of coating thickness provided in a chemical vapor deposition process. Likewise, the susceptor according to the invention improves the quality of the substrate coating while reducing the manufacturing costs. In summary, the susceptor is provided to improve the properties of the coating layer as compared to conventional systems.
本発明の「プロセス(processing)」の用語は、基板に作用する、全ての化学的、物理的、及び/又は機械的な効果を含む。 The term "processing" according to the invention includes all chemical, physical and / or mechanical effects acting on a substrate.
本発明の「基板(substrate)」の用語は、本発明における真空プロセスシステムで取り扱われる、構成要素、部品又は工作物を含む。基板は、矩形状、四角形状、又は円形状を有する、フラット状、板状に限定されない。好ましくは、基板は、薄膜太陽電池の製造に適用され、フロートガラス、セキュリティガラス、及び/又はクォーツガラスを含む。より好ましくは、上記基板は、薄いガラス基板のような、1m2以上のサイズの平坦面を有する、実質的に好ましくは略完全にフラット基板として設けられている。 The term "substrate" in the present invention includes components, parts or workpieces that are handled by the vacuum processing system in the present invention. The substrate is not limited to a flat shape or a plate shape having a rectangular shape, a square shape, or a circular shape. Preferably, the substrate is applied in the manufacture of thin film solar cells and comprises float glass, security glass and / or quartz glass. More preferably, the substrate is provided as a substantially flat substrate, such as a thin glass substrate, having a flat surface of 1 m 2 or more in size.
本発明の「真空プロセス」又は「真空調整システム」の用語は、少なくとも大気圧よりも低い圧力下で扱われる基板のための囲いを含む。 The terms "vacuum process" or "vacuum control system" of the present invention include an enclosure for substrates that are handled under pressure at least below atmospheric pressure.
本発明の「CVD」、化学気相成長、及びそのフレーバーの用語は、加熱された基板上の層を除去する周知の技術を含む。通常の液体又はガスの前駆体物質、ガスは、プロセスシステムに与えられ、前駆体の熱的反応により、層が除去される。しばしば、DEZ、ジエチル亜鉛は、減圧CVD、に用いる真空プロセスシステムにおいて、TCO層の生産のために前駆体材料として用いられる。「TCO」の用語は、透明な導電性酸化物を表し、すなわちTCO層は透明な導電層を表し、これにより、上記用語の層、コーティング、除去、及び膜は、CVD、LPCVD、プラズマ強化CVD(PECVD)又は物理気相成長(PVD)の真空プロセスにおいて除去される膜のために互換的に上記発明に用いられる。 The terms "CVD", chemical vapor deposition, and its flavor of the present invention include the well-known techniques of removing layers on a heated substrate. Conventional liquid or gaseous precursor materials, gases, are provided to the process system and the layers are removed by thermal reaction of the precursors. Often DEZ, diethylzinc is used as a precursor material for the production of TCO layers in vacuum processing systems used for low pressure CVD. The term "TCO" stands for transparent conductive oxide, ie the TCO layer stands for transparent conductive layer, whereby the layers, coatings, removals and films of the above terms are CVD, LPCVD, plasma enhanced CVD It is used interchangeably in the above invention for films to be removed in a vacuum process (PECVD) or physical vapor deposition (PVD).
本発明の「太陽電池」又は「光電池」、「PV電池」の用語は電気的構成要素を含み、電気的構成要素は、光、実質的に太陽光を、光効果により直接的に電気的エネルギーへの変換を可能にする。薄膜太陽電池は、通常、第1又は前方電極、1つ以上の半導体薄膜PIN接合、及び第2又は後方電極を含み、これらは連続的に基板上に積層される。それぞれのPIN接合又は薄膜光変換ユニットは、p層とn層とに挟まれたi層を含み、「p」は正のドープを表し、「n」は負のドープを表す。i層は実質的に固有の半導体層であり、薄膜PIN接合の厚さの大部分を占める。このため、光変換は主にこのi層で起こる。よって、上記基板は、好ましくは、薄膜光電池の製造に用いられる基板である。 The terms "solar cell" or "photovoltaic cell", "PV cell" of the present invention include an electrical component, the electrical component comprising light, substantially sunlight, and light energy directly by electrical energy. Allow conversion to Thin film solar cells typically include a first or front electrode, one or more semiconductor thin film PIN junctions, and a second or back electrode, which are sequentially stacked on a substrate. Each PIN junction or thin film light conversion unit comprises an i-layer sandwiched between p-layer and n-layer, where "p" represents positive doping and "n" represents negative doping. The i-layer is essentially the intrinsic semiconductor layer and accounts for the majority of the thin film PIN junction thickness. For this reason, light conversion mainly occurs in this i layer. Thus, the substrate is preferably a substrate used for the manufacture of thin film photovoltaic cells.
本発明の「フラット」の用語は、粗くない表面すなわち穴等を有していない表面を含む。好ましくは、「フラット」の用語は、それぞれの表面の表面粗さのグレードがN9以下であることを意味する。 The term "flat" of the present invention includes surfaces that are not rough or have no holes or the like. Preferably, the term "flat" means that the surface roughness grade of each surface is N9 or less.
本発明の好ましい実施形態によれば、上記内部ゾーンの上記最小厚さは上記外部ゾーンの上記最大厚さよりも大きい。有利な実施形態では、さらに、上記外部ゾーンに対向する上記基板の端部及び/又はエッジのそれぞれにおいて、上記外部ゾーンの温度のより細かい制御を可能にする、上記内部ゾーンよりも小さい厚さを有する外部ゾーンを有する、表面を横切る、均一な基板温度を備えている。 According to a preferred embodiment of the present invention, the minimum thickness of the inner zone is greater than the maximum thickness of the outer zone. In an advantageous embodiment, the thickness of the inner zone is smaller than that of the inner zone, which enables finer control of the temperature of the outer zone at each of the edges and / or edges of the substrate facing the outer zone. A uniform substrate temperature is provided across the surface, with the external zone having.
一般的に、中央ゾーンの小厚さは従来技術より知られるあらゆる手段、例えば、長い凹み、スリット及び/又はドリルにより実現され得る。しかし、本発明の特に好ましい形態では、上記サセプタが、上記中央ゾーンの上記小厚さを実現するための矩形断面を有する、少なくとも一つの凹部を備えている。好ましくは、上記サセプタは2つの矩形凹部を備え、これら凹部は、互いに背面で、上記内部ゾーンから上記外部ゾーンへ延びて配置され、好ましくは隔壁により細分されている。さらに好ましくは、上記凹部は、上記サセプタにおける上記基板が配置されている側すなわち上記表面とは反対側に配置されている。この構成において、さらに好ましくは、上記表面に並行する上記凹部の幅が、8mm以上15mm以下であり、好ましくは11mmである。 In general, the small thickness of the central zone can be realized by any means known from the prior art, for example by long depressions, slits and / or drills. However, in a particularly preferred form of the invention, the susceptor comprises at least one recess having a rectangular cross-section for achieving the reduced thickness of the central zone. Preferably, the susceptor comprises two rectangular recesses, which are arranged behind each other, extending from the inner zone to the outer zone, preferably subdivided by partitions. More preferably, the recess is disposed on the side of the susceptor on which the substrate is disposed, that is, the opposite side to the surface. In this configuration, more preferably, the width of the recess parallel to the surface is 8 mm or more and 15 mm or less, preferably 11 mm.
他の実施形態では、上記表面は、上記内部ゾーンと同じ厚さを有する中間ゾーンを備え、上記中間ゾーンは該記中間ゾーンに影響を与える複数の中間加熱素子を備え、上記内部ゾーンは複数の内部加熱素子を備え、上記中央ゾーンは上記中間ゾーンを完全に取り囲み、上記中間ゾーンは上記内部ゾーンを完全に取り囲み、上記内部加熱素子と上記中間加熱素子とは互いに加熱配線として備えられ、それぞれの上記内部加熱配線は、互いから、上記中間配線よりも、大きい配線寸法及び大きいスペースを有する。このような実施形態ではさらに、上記内部ゾーンが、上記中央ゾーンに隣り合って位置される中間ゾーンに分離されるため、基板温度のより細かい制御を可能にする。これはまた、異なるゾーン間の温度の均一化を可能にし、これによりコーティングの品質が向上する。 In another embodiment, the surface comprises an intermediate zone having the same thickness as the internal zone, the intermediate zone comprising a plurality of intermediate heating elements affecting the intermediate zone, the internal zones comprising a plurality of intermediate heating elements. It comprises an internal heating element, the central zone completely surrounds the intermediate zone, the intermediate zone completely encloses the internal zone, the internal heating element and the intermediate heating element being provided as a heating wire for each other, The internal heating wires have a larger wiring size and a larger space than each other than the intermediate wires. In such an embodiment, the inner zone is further separated into intermediate zones located adjacent to the central zone, thus allowing finer control of the substrate temperature. This also allows temperature equalization between different zones, which improves the quality of the coating.
好ましくは、全ての加熱素子は加熱配線として設けられており、上記発明の特に好ましい実施形態では、上記サセプタ内に設けられている。さらなる実施形態では、上記加熱素子は、異なるゾーンの周囲を完全に囲んで延びており、及び/又は、それぞれのゾーンを完全に覆っている。 Preferably, all the heating elements are provided as heating wires, and in a particularly preferred embodiment of the above invention, within the susceptor. In a further embodiment, the heating element extends completely around the different zones and / or completely covers each zone.
他の実施形態では、上記中央ゾーンの上記厚さは、1mm以上4mm以下であり、好ましくは2mmであり、及び/又は、上記内部ゾーンの上記厚さは、10mm以上20mm以下であり、好ましくは14mmである。このような厚さを有する上記サセプタによれば、上記サセプタの表面に亘って最適な温度配分が行われ、これにより、加熱された基板上の層の除去のために最適な温度となる。 In another embodiment, the thickness of the central zone is 1 mm to 4 mm, preferably 2 mm, and / or the thickness of the inner zone is 10 mm to 20 mm, preferably It is 14 mm. The susceptor having such a thickness provides optimum temperature distribution across the surface of the susceptor, which results in an optimum temperature for the removal of layers on the heated substrate.
特に好ましい実施形態では、上記サセプタは、ポケット及びバーとして該ポケット間に提供される、凹部を有する、上記中央ゾーンの上記小厚さを実現するための、ハニカムのような構造を備えている。好ましくは、上記表面に並行して延びる上記ポケットの幅は、8mm以上15mm以下であり、好ましくは11mmである。上記サセプトの上記中央ゾーンを実現するための、このようなハニカムのような構造を備えることにより、高い温度において基板の信頼性が保持される。上記バーは、長さが増加し、好ましくは標準的なサセプタの厚さが導入される。換言すると、このようなハニカムのような構造を備えることにより、上記外部ゾーンと上記内部ゾーンとの間の温度勾配を小さくすることができる。さらなる実施形態では、上記外部ゾーン、上記中央ゾーン及び/又は上記内部ゾーンは、矩形基板が上記表面上に位置されるように、矩形の表面形状を有し、これにより、上記基板のボーダー及び/またはエッジは、好ましくは、外部ゾーンに配置されている。 In a particularly preferred embodiment, the susceptor comprises a honeycomb-like structure with recesses, provided between the pockets as pockets and bars, for achieving the small thickness of the central zone. Preferably, the width of the pocket extending parallel to the surface is 8 mm or more and 15 mm or less, preferably 11 mm. By providing such a honeycomb-like structure to realize the central zone of the sucept, the reliability of the substrate is maintained at high temperatures. The bars are increased in length, preferably with a standard susceptor thickness introduced. In other words, by providing such a honeycomb-like structure, the temperature gradient between the outer zone and the inner zone can be reduced. In a further embodiment, the outer zone, the central zone and / or the inner zone have a rectangular surface shape such that a rectangular substrate is located on the surface, whereby the border of the substrate and / or Or the edge is preferably located in the outer zone.
上記発明の目的はさらに、前述のサセプタ及び上記基板を備えるサセプタ装置により解決され、上記表面のサイズは、上記基板のサイズよりも大きい又は同じである。 The object of the invention is furthermore solved by a susceptor device comprising the aforementioned susceptor and the above-mentioned substrate, wherein the size of the said surface is larger than or equal to the size of the above-mentioned substrate.
さらに、本発明の目的は、上記中央ゾーンの上記小厚さは、上記サセプタにおける上記基板が配置されている側とは反対側に配置された、長い凹み、スリット及び/又は穴を加えることにより実現される方法により、解決される。さらなる実施形態及びこのような方法による利点は、上記発明に係る前述のサセプタからこの分野における知識を有する者により派生され得る。 Furthermore, the object of the present invention is to add the long recess, the slit and / or the hole, which is arranged on the opposite side of the susceptor to the side on which the substrate is arranged. It is solved by the method realized. Further embodiments and the advantages of such a method can be derived by those skilled in the art from the aforementioned susceptor according to the invention.
本発明の目的は、さらに、基板上に膜を形成することと、プロセスチャンバ内に前述の上記サセプタを設けることと、上記サセプタの上記表面上に上記基板を支持することと、上記基板を加熱するために、上記内部加熱素子及び上記外部加熱素子に、エネルギーを提供することと、前駆体物質を上記プロセスチャンバに供給して、上記基板上の上記膜を形成することと、を含む方法により解決される。 The object of the present invention is further to form a film on a substrate, to provide the aforementioned susceptor in a process chamber, to support the substrate on the surface of the susceptor, and to heat the substrate. Providing energy to the internal heating element and the external heating element, and supplying a precursor material to the process chamber to form the film on the substrate. Resolved.
本発明のこれら及び他の見地は、後述の実施形態の参照から明らかでありまた解明される。
図3は、本発明の好ましい実施形態に係る、基板9を支持及び熱的に制御するサセプタ1を示す側面図である。サセプタ1は、基板9に対向する、熱的に導電接触する、実質的に平坦な平面表面11を示し、表面11に垂直方向に測定される、非接触の厚さ12を有する。
FIG. 3 is a side view showing a
表面11は、互いに同心状に取り囲んで配置される、少なくとも3つの領域又はゾーン5,6,7を表す。内部ゾーン5は、内部ソーン5に影響を及ぼす、少なくとも一つの内部加熱素子13を表す、最も内側又は中央のゾーンである。外部又はリムゾーン7は、内部ゾーン5を完全に覆っており、加熱プレート1の動作中に、基板9のエッジ及びコーナー14が配置される領域を含む。
The
中央ゾーン6は、内部ゾーン5と外部ゾーン7との間に配置されており、完全に外部ゾーン7に取り囲まれ、完全に内部ゾーン5を取り囲んでいる。本発明によれば、中央ゾーン6は、中央ゾーン6に熱的に導電接触するように配置された基板9に活発に影響を及ぼす、いかなる加熱装置を表していない。また、中央ゾーン6における加熱プレート1の厚さ15は、少なくとも中央ゾーン6の主な部分が減らされており、外部ゾーン7における厚さ16と内部ゾーン5における厚さ12より小さくなっている。
The
加熱プレート1は、好ましくは、内部ゾーン5、中央ゾーン6及び外部ゾーン7の少なくとも実質的な部分、好ましくは外部ゾーン7の全体、を覆う一つの部材から成っている。中央ゾーン6の厚さ15の減少は、凹部23が形成された、プレート1における基板9が配置されている側とは反対側に配置された、長い凹み又はスリットあるいは穴により実現される。一つの実施形態において、加熱プレート1は、薄いガラスシートのような矩形状の基板9を受け入れるために、実質的に矩形状を有する。
The
加熱プレート1の全温度パターンに影響を与えることなく基板9を部分的に加熱するために、薄いサセプタ1の材料の、位置付けられた領域6が導入されている。配線13を加熱する内部ゾーン5は異なる寸法、例えば4mmの配線を有し、中間ゾーン18の、例えば3mmの加熱ゾーン配線17が配置されている。外部加熱素子19は、基板11を支持する基板9とは反対側の、サセプタ1の下側に配置されており、サセプタ1により固定されている。
In order to partially heat the
図2に示す従来のサセプタ1と、図3に示す本発明による現在の課題との間の大きな違いは、内部ゾーン5と外部ゾーン7との間の、サセプタ1の材料の薄さである。ここでは、いわゆる熱伝導ゾーンすなわち中央ゾーン6と呼ばれ、内部ゾーン5における14mmの厚さ12と比較して、サセプタ1の表面11に対して直交する、サセプタ1の材料の厚さ15は1〜4mmにとどまっている。現在の実施形態では、サセプタ1の上表面と下表面11との距離15は、ほんの約2mmの厚さである。実施形態において、Alが、約200℃で動作する、サセプタ1の材料として用いられる。それらの温度で動作するために、図4に示すように、ハニカムのような構造20が、中央ゾーン6に用いられる。
The major difference between the
ハニカム構造20のほとんどは、11mmの幅を有するポケット21を備える凹部23から成っている。温度においてスムーザの過渡状態(transient)が、サセプタ1の内部ゾーン5と外部ゾーン7との間に必要とされる場合、ポケット21の深さ又は幅はハニカム構造20で異なっている。上記実施形態において、外部ポケット21は、内部ポケット21の4mmの厚さよりも、サセプタ1の厚さ2mm深い。これは、外部ゾーン7と内部ゾーン5との間の温度勾配を減らすことを可能にする。
Most of the
この構造は、次のテーブルから分かるように、加熱ゾーン5,7の分離を明確に可能にする。加熱ゾーン5,7の実温度は、加熱プレート1用の、オペレータの設定値と等しい。この例では、ゾーン温度は、上記に例示した従来技術のように、個別に制御される。
This structure clearly allows the separation of the
オペレータが読む実際の温度設定値
内部ゾーン5 192℃ 192℃
中間ゾーン18 195℃ 195℃
外部ゾーン7 204℃ 204℃
The operator reads the actual temperature setpoint
上記提案の構成を提供することにより、非常に均一な基板9の温度配分を達成することができる。例えば図5には、本発明による、サセプタ1のプレート上の3mmのガラス基板9の温度特性を示している。サセプタ1の上面11からハニカム構造20までの距離15は、最小で2mmである。温度スキャンによれば、3Kの温度差が達成される。ゾーン5,6,7の温度設定は、以下に示す通りである。
By providing the above proposed configuration, a very uniform temperature distribution of the
オペレータの設定値
内部ゾーン1 192℃
中間ゾーン18 195℃
外部ゾーン7 204℃
Operator's set
この加熱プレート1の構成は、あらゆる加熱プレート1用に広く用いることができ、基板9上の良好な温度均一性を得るために用いることができる。特に、薄膜太陽電池の製造等の、広い領域のコーティングへの応用に用いることができる。
The configuration of this
本発明は図面及び前述の明細書において詳細に示され、また説明されている。このような図面及び説明は考察された説明または例示であり限定的ではなく、本発明は開示された実施形態に限定されない。開示された実施形態の他の形態は、図面、開示及び添付の請求項の検討から、請求された発明の実践において、これらの知識により理解され、また成し遂げることができる。請求項において、「備える(comprising)」の用語は、他の要素又はステップを除外せず、不定冠詞「a」又は「an」は複数形を除外しない。明確な手段が互いに異なる従属請求項において引用されているという単なる事実は、これらの手段の組み合わせが利点になり得ないことを示すものではない。請求項における全ての参照符号は、限定的な範囲として解釈すべきではない。 The invention is shown and described in detail in the drawings and the foregoing specification. Such figures and descriptions are considered descriptions or examples, and not limiting, and the present invention is not limited to the disclosed embodiments. Other forms of the disclosed embodiments can be understood and attained by those knowledge in the practice of the claimed invention, from a study of the drawings, the disclosure and the appended claims. In the claims, the term "comprising" does not exclude other elements or steps, and the indefinite article "a" or "an" does not exclude a plurality. The mere fact that distinct measures are recited in mutually different dependent claims does not indicate that a combination of these measures can not be an advantage. All reference signs in the claims should not be construed as limiting.
1 サセプタ、2 加熱配線、3 加熱配線、4 加熱配線、5 第1ゾーン、内部ゾーン、6 第2ゾーン、中央ゾーン、7 第3ゾーン、8 リムゾーン、外部ゾーン、9 基板、10 エッジバー、11 表面、12 内部ゾーンの厚さ、13 内部加熱素子、14 エッジ及びコーナー、15 中央ゾーンの厚さ、16 外部ゾーンの厚さ、17 中間加熱素子、18 中間ゾーン、19 外部加熱素子、20 ハニカムのような構造、21 ポケット、22 バー、23 凹部。
Claims (13)
上記サセプタは、少なくとも3つの隣り合うゾーン(5、6、8)である、外部ゾーン(8)、中央ゾーン(6)及び内部ゾーン(5)を備え、上記ゾーン(5、6、8)は、互いを同心状に取り囲むように配置され、上記表面(11)に沿って延びており、
上記外部ゾーン(8)は上記中央ゾーン(6)を完全に取り囲み、上記中央ゾーン(6)は上記内部ゾーン(5)を完全に取り囲み、
上記内部ゾーン(5)は、該内部ゾーン(5)に影響を与える少なくとも一つの内部発熱素子(13)を備え、
上記外部ゾーン(8)は、該外部ゾーン(8)に影響を与える少なくとも一つの外部発熱素子(19)を備え、
上記中央ゾーン(6)は上記内部ゾーン(5)の最小厚さ(12)より小さく、かつ上記外部ゾーン(8)の最小厚さ(16)より小さい、最大厚さ(15)を露出し、各厚さ(12、15、16)は上記表面(11)に対して垂直に延びている、サセプタ。 A susceptor for supporting a substrate (9) in a vacuum process chamber, comprising a surface (11) arranged opposite to the substrate (9) and in thermal communication with the substrate (9),
The susceptor comprises at least three adjacent zones (5, 6, 8), an outer zone (8), a central zone (6) and an inner zone (5), the zones (5, 6, 8) , Arranged concentrically surrounding each other, extending along said surface (11),
The outer zone (8) completely surrounds the central zone (6), the central zone (6) completely surrounds the inner zone (5),
The internal zone (5) comprises at least one internal heating element (13) which influences the internal zone (5)
The external zone (8) comprises at least one external heating element (19) which influences the external zone (8)
The central zone (6) exposes a maximum thickness (15) smaller than the minimum thickness (12) of the inner zone (5) and smaller than the minimum thickness (16) of the outer zone (8), A susceptor, wherein each thickness (12, 15, 16) extends perpendicularly to said surface (11).
プロセスチャンバ内に、請求項1から10の何れか1項に記載の上記サセプタ(1)を設けることと、
上記サセプタ(1)の上記表面(11)上に上記基板(9)を支持することと、
上記基板(9)を加熱するために、上記内部加熱素子(13)及び上記外部加熱素子(19)に、エネルギーを提供することと、
前駆体物質を上記プロセスチャンバに供給して、上記基板(9)上の上記膜を形成することと、を含む方法。 Forming a film on the substrate (9);
Providing the susceptor (1) according to any of claims 1 to 10 in a process chamber,
Supporting the substrate (9) on the surface (11) of the susceptor (1);
Providing energy to the internal heating element (13) and the external heating element (19) to heat the substrate (9);
Supplying precursor material to the process chamber to form the film on the substrate (9).
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Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6399926B2 (en) * | 2000-04-03 | 2002-06-04 | Sigmameltec Ltd. | Heat-treating apparatus capable of high temperature uniformity |
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