JP2013242453A - Uneven structure - Google Patents

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Shinichiro Suzuki
慎一郎 鈴木
Shuichi Okuno
秀一 奥野
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an uneven structure excellent in designability, forgery prevention property and reliability in security.SOLUTION: An uneven structure includes basic scattering structures 21 and 22 generating diffraction light by being irradiated with light having a predetermined wavelength to display specific information. The basic scattering structures 21 and 22 include a first basic scattering structure 21 corresponding to a portion where the brightness of an original image 1 is 0, and a second basic scattering structure 22 corresponding to a portion where the brightness of the original image 1 is 100, respectively. The uneven structure includes a first scattering degree portion 3a constituted by an aggregation of the first basic scattering structure 21, a second scattering degree portion 3b constituted by an aggregation of the second basic scattering structure 22, and a third scattering degree portion 3b constituted by an aggregation in which the first basic scattering structure 21 and the second basic scattering structure 21 are alternately arranged. The uneven structure constitutes an original image 1 by setting angles of the basic scattering structures 21 and 22 according to the brightness of the original image 1.

Description

本発明は、物品等に貼付又は転写することで、物品の偽造を防止する凹凸構造体に関するものである。   The present invention relates to a concavo-convex structure that prevents forgery of an article by being attached or transferred to the article or the like.

従来から、キャッシュカード、クレジットカード、小切手カード等のカード類、金券類、身分証明書、重要書類等のような認証とともに偽造防止を必要とする物品に対して、各種の偽造防止手段が図られている。例えば、回折格子を使用した表示体を用いて物品の真偽を確認するものや、回折格子表示体と散乱構造体を同一画面上で構成した偽造防止媒体が開示されている(特許文献1)。   Conventionally, various anti-counterfeiting measures have been taken for goods that require anti-counterfeiting as well as authentication such as cards such as cash cards, credit cards, check cards, cash vouchers, identification cards, important documents, etc. ing. For example, an anti-counterfeit medium in which a display using a diffraction grating is used to confirm the authenticity of an article and a diffraction grating display and a scattering structure are configured on the same screen is disclosed (Patent Document 1). .

また、フーリエ変換した原画像の位相情報を多値化し、深さとして記録することで、レーザー光を照射することにより、目視できない情報が再現する構造体が開示されている(特許文献2)。   In addition, a structure is disclosed in which phase information of a Fourier-transformed original image is multi-valued and recorded as a depth so that information that cannot be viewed is reproduced by irradiating laser light (Patent Document 2).

特開2007−219551号公報JP 2007-219551 A 特開2004−212927号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2004-212927

しかしながら、特許文献1に開示された偽造防止媒体は、散乱構造の白さを利用して図柄を構成しているため、単に図柄が白いか否かが真偽判定のポイントとなっている。そのため、見た目に同じ様に見える散乱構造を作成することができれば、媒体を偽造されるおそれがある。   However, since the anti-counterfeit medium disclosed in Patent Document 1 uses the whiteness of the scattering structure to form a symbol, whether or not the symbol is simply white is the point of authenticity determination. Therefore, if it is possible to create a scattering structure that looks the same as it looks, the medium may be forged.

本発明は、デザイン性に優れ、偽造防止性が高く、セキュリティ的にも信頼性が高い凹凸構造体を提供する。   The present invention provides a concavo-convex structure that is excellent in design, has high anti-counterfeiting properties, and is highly reliable in terms of security.

上記目的を達成する本発明の凹凸構造体は、所定の波長の光を照射することにより回折光が生じ特定の情報を表示する基本散乱構造を有し、前記基本散乱構造は、元画像の第1の輝度の部分に対応する第1基本散乱構造と、前記元画像の第2の輝度の部分に対応する第2基本散乱構造と、を有し、前記第1基本散乱構造の集合から構成される第1散乱度部と、前記第2基本散乱構造の集合から構成される第2散乱度部と、前記第1基本散乱構造及び前記第2基本散乱構造を交互に並べた集合から構成される第3散乱度部と、を備え、前記元画像の輝度に対応して前記第1基本散乱構造及び前記第2基本散乱構造の角度を設定して、前記元画像を構成することを特徴とする。   The concavo-convex structure of the present invention that achieves the above object has a basic scattering structure in which diffracted light is generated by irradiating light of a predetermined wavelength and displays specific information. A first basic scattering structure corresponding to a first luminance portion and a second basic scattering structure corresponding to a second luminance portion of the original image, and the first basic scattering structure is composed of a set of the first basic scattering structures. A first scattering degree part, a second scattering degree part constituted by a set of the second basic scattering structures, and a set obtained by alternately arranging the first basic scattering structures and the second basic scattering structures. And a third scattering degree unit, wherein the original image is configured by setting angles of the first basic scattering structure and the second basic scattering structure corresponding to the luminance of the original image. .

また、前記第2基本散乱構造は、前記第1基本散乱構造を90°回転させた構造であることを特徴とする。   The second basic scattering structure is a structure obtained by rotating the first basic scattering structure by 90 °.

また、前記基本散乱構造は、前記特定の情報に対応するデータをフーリエ変換し、その位相情報を多値化して深さとして記録することを特徴とする。   Further, the basic scattering structure is characterized in that data corresponding to the specific information is Fourier-transformed, the phase information is multivalued and recorded as a depth.

本発明によれば、デザイン性に優れ、偽造防止性が高く、セキュリティ的にも信頼性が高い凹凸構造体を提供することが可能となる。   According to the present invention, it is possible to provide a concavo-convex structure having excellent design, high anti-counterfeiting properties, and high reliability in terms of security.

第1実施形態の元画像を示す図である。It is a figure which shows the original image of 1st Embodiment. 第1実施形態の隠し画像を示す図である。It is a figure which shows the hidden image of 1st Embodiment. 第1実施形態の隠し画像の基本散乱構造データを示す図である。It is a figure which shows the basic scattering structure data of the hidden image of 1st Embodiment. 第1実施形態の隠し画像の基本散乱構造データを90°回転した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which rotated 90 degree | times the basic scattering structure data of the hidden image of 1st Embodiment. 第1実施形態の元画像の画像データに隠し画像の基本散乱構造データを記録した凹凸構造体を示す図である。It is a figure which shows the uneven structure body which recorded the basic scattering structure data of the hidden image in the image data of the original image of 1st Embodiment. 図5のAの部分を拡大した図である。It is the figure which expanded the part of A of FIG. 図5のBの部分を拡大した図である。It is the figure which expanded the part of B of FIG. 第1実施形態の凹凸構造体3を90°回転した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which rotated the uneven structure 3 of 1st Embodiment 90 degrees. 第1実施形態の凹凸構造体に光源からレーザー光を照射した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which irradiated the laser beam from the light source to the uneven structure body of 1st Embodiment. 第2実施形態の隠し画像を示す図である。It is a figure which shows the hidden image of 2nd Embodiment. 第2実施形態の凹凸構造体3の第2基本散乱構造22の部分に光源Lからレーザー光を照射した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which irradiated the laser beam from the light source L to the part of the 2nd basic scattering structure 22 of the uneven structure 3 of 2nd Embodiment. 第2実施形態の凹凸構造体3の第1基本散乱構造21の部分及び第2基本散乱構造22の部分に跨がるように光源Lからレーザー光を照射した状態を示す図である。It is a figure which shows the state which irradiated the laser beam from the light source L so that the part of the 1st basic scattering structure 21 and the 2nd basic scattering structure 22 part of the uneven structure 3 of 2nd Embodiment might be straddled.

以下、図面を参照にして本発明にかかる凹凸構造体について説明する。   Hereinafter, an uneven structure according to the present invention will be described with reference to the drawings.

図1は、第1実施形態の元画像1を示す図である。   FIG. 1 is a diagram illustrating an original image 1 according to the first embodiment.

本実施形態の元画像1は、コンピュータ上で電子情報として作製される図柄である。元画像1の画像データは、モノクロ画像のデータであり、カラーの画像をグレースケール化してモノクロに変換する。元々、モノクロの画像の場合には、そのままモノクロの元画像1の画像データを使用する。   The original image 1 of the present embodiment is a pattern created as electronic information on a computer. The image data of the original image 1 is monochrome image data, and the color image is converted to monochrome by converting it into a gray scale. Originally, in the case of a monochrome image, the image data of the monochrome original image 1 is used as it is.

本実施形態では、図1に示すように、元画像1は、第1の輝度としての輝度100の第1輝度部1aと、第2の輝度としての輝度0の第2輝度部1bと、第3の輝度としての輝度50の第3輝度部1cの3階調で示されている。   In the present embodiment, as shown in FIG. 1, the original image 1 includes a first luminance unit 1a having a luminance of 100 as a first luminance, a second luminance unit 1b having a luminance of 0 as a second luminance, The third luminance portion 1c having a luminance of 50 as a luminance of 3 is shown in three gradations.

図2は、第1実施形態の隠し画像2を示す図である。   FIG. 2 is a diagram illustrating a hidden image 2 according to the first embodiment.

隠し画像2は、図1に示した元画像1に対して、元画像1の特徴を損なわないように埋め込まれ、視認可能な元画像1とは別の情報をいう。隠し画像2は、所定の観察条件でのみ確認可能な画像、図形、又は文字等が好ましい。   The hidden image 2 is information that is embedded in the original image 1 shown in FIG. 1 so as not to impair the characteristics of the original image 1 and is different from the visible original image 1. The hidden image 2 is preferably an image, a figure, a character, or the like that can be confirmed only under predetermined observation conditions.

図3は、第1実施形態の隠し画像2の第1基本散乱構造21を示す図である。図4は、第1実施形態の隠し画像の基本散乱構造データを90°回転した第2基本散乱構造22を示す図である。   FIG. 3 is a diagram illustrating the first basic scattering structure 21 of the hidden image 2 according to the first embodiment. FIG. 4 is a diagram illustrating the second basic scattering structure 22 obtained by rotating the basic scattering structure data of the hidden image of the first embodiment by 90 °.

第1実施形態の第1基本散乱構造21は、隠し画像2をフーリエ変換し、その位相情報を2値化して深さとして記録したものである。なお、フーリエ変換後の位相情報は、2値化に限らず、多値化して深さとして記録してもよい。この第1基本散乱構造21は、レーザー光を照射すると、回折光の集合が特定の情報を持つように構成されている。本実施形態の第1基本散乱構造21にレーザー光を照射すると、図2に示した「OK」の文字を観察することができる。   The first basic scattering structure 21 of the first embodiment is obtained by Fourier-transforming the hidden image 2 and binarizing the phase information and recording it as a depth. The phase information after Fourier transform is not limited to binarization, but may be multi-valued and recorded as depth. The first basic scattering structure 21 is configured such that a set of diffracted light has specific information when irradiated with laser light. When the first basic scattering structure 21 of the present embodiment is irradiated with laser light, the characters “OK” shown in FIG. 2 can be observed.

第1基本散乱構造21は、一見すると単なる白色の図柄に見えるが、レーザー光を照射すると、回折光の集合を観察することができるので、真偽の判定を行うことが可能となる。   At first glance, the first basic scattering structure 21 appears to be a simple white pattern. However, when irradiated with laser light, a set of diffracted light can be observed, so that it is possible to make a true / false determination.

第2基本散乱構造22は、第1基本散乱構造21と基本的な構造が同一であるが、第1基本散乱構造を90°回転させた構造を有する。   The second basic scattering structure 22 has the same basic structure as the first basic scattering structure 21, but has a structure obtained by rotating the first basic scattering structure by 90 °.

第2基本散乱構造22は、一見すると単なる黒色の図柄に見えるが、レーザー光を照射すると、回折光の集合を観察することができるので、真偽の判定を行うことが可能となる。   At first glance, the second basic scattering structure 22 appears to be a simple black pattern, but when irradiated with laser light, a set of diffracted light can be observed, and therefore it is possible to make a true / false determination.

次に、凹凸構造体について説明する。   Next, the concavo-convex structure will be described.

図5は、第1実施形態の元画像1を隠し画像2の基本散乱構造21を記録することにより形成した凹凸構造体3を示す図である。また、図6は、図5のAの部分を拡大した図である。さらに、図7は、図5のBの部分を拡大した図である。図7は、第1実施形態の凹凸構造体3を90°回転した状態を示す図である。   FIG. 5 is a diagram illustrating the concavo-convex structure 3 formed by recording the basic scattering structure 21 of the image 2 while hiding the original image 1 of the first embodiment. FIG. 6 is an enlarged view of a portion A in FIG. Further, FIG. 7 is an enlarged view of a portion B in FIG. FIG. 7 is a diagram illustrating a state in which the concavo-convex structure 3 of the first embodiment is rotated by 90 °.

図5に示した凹凸構造体3は、図1に示した元画像1の輝度に対応させて、図3及び図4に示した第1基本散乱構造21及び第2基本散乱構造22を配置させて図柄を構成したものである。したがって、凹凸構造体3は、元画像1を表現することができる。   The uneven structure 3 shown in FIG. 5 has the first basic scattering structure 21 and the second basic scattering structure 22 shown in FIGS. 3 and 4 arranged in accordance with the luminance of the original image 1 shown in FIG. This is a design. Therefore, the concavo-convex structure 3 can represent the original image 1.

本実施形態の凹凸構造体3は、第1散乱度部3a、第2散乱度部3b、及び第3散乱度部3cを有する。第1散乱度部3aは、図1に示した元画像の輝度が100の第1輝度部1aに用いられる。第2散乱度部3bは、図1に示した元画像の輝度が0の第2輝度部1bに用いられる。第3散乱度部3cは、図1に示した元画像の輝度が50の第3輝度部1cに用いられる。   The concavo-convex structure 3 according to the present embodiment includes a first scattering degree part 3a, a second scattering degree part 3b, and a third scattering degree part 3c. The first scattering degree unit 3a is used for the first luminance unit 1a having the luminance of the original image shown in FIG. The second scattering degree unit 3b is used for the second luminance unit 1b in which the luminance of the original image shown in FIG. The third scattering degree unit 3c is used in the third luminance unit 1c having the luminance of the original image shown in FIG.

例えば、図5のAの部分は、図6に示すように、第1散乱度部3aと第2散乱度部3bが対応する。そして、第1散乱度部3aは、第1基本散乱構造21の集合から構成され、第2散乱度部3bは、第2基本散乱構造22の集合から構成される。   For example, as shown in FIG. 6, the portion A in FIG. 5 corresponds to the first scattering degree unit 3 a and the second scattering degree unit 3 b. The first scattering degree unit 3 a is configured by a set of first basic scattering structures 21, and the second scattering level unit 3 b is configured by a set of second basic scattering structures 22.

また、図5のBの部分は、図7に示すように、第1散乱度部3aと第3散乱度部3cが対応する。そして、第3散乱度部3cは、第1基本散乱構造21と第2基本散乱構造22とを交互に並べた集合から構成される。   Moreover, as shown in FIG. 7, the part B of FIG. 5 corresponds to the first scattering degree part 3a and the third scattering degree part 3c. And the 3rd scattering degree part 3c is comprised from the set which arranged the 1st basic scattering structure 21 and the 2nd basic scattering structure 22 alternately.

このような凹凸構造体3は、従来から用いられているEB描画等の手法を用いて作成する。この際、パターンの白部または黒部を凹部または凸部に対応させて形成する。   Such a concavo-convex structure 3 is created using a conventionally used technique such as EB drawing. At this time, the white portion or black portion of the pattern is formed so as to correspond to the concave portion or the convex portion.

このような構成の凹凸構造体3を90°回転してみると、図8に示すように、図柄の黒と白が反転して見える。なお、図1に示した元画像の輝度が50の第3輝度部1cに対応する第3散乱度部3cは、色が変わらずに見える。   When the concavo-convex structure 3 having such a configuration is rotated by 90 °, black and white of the design appear to be reversed as shown in FIG. Note that the color of the third scattering degree unit 3c corresponding to the third luminance unit 1c having the luminance of the original image shown in FIG.

図9は、第1実施形態の凹凸構造体3に光源Lからレーザー光を照射した状態を示す図である。   FIG. 9 is a diagram illustrating a state in which the concavo-convex structure 3 according to the first embodiment is irradiated with laser light from the light source L.

通常、凹凸構造体3を観察した場合、観察者は、図1に示した元画像1を観察することが可能である。また、凹凸構造体3を90°回転させた場合、図8に示したような黒と白が反転した元画像1を観察することが可能である。この時、輝度50の第3輝度部1cは、回転前と回転後で変わらずに観察することが可能である。なお、通常の状態では、隠し画像は、観察することができない。   Usually, when the concavo-convex structure 3 is observed, the observer can observe the original image 1 shown in FIG. Further, when the concavo-convex structure 3 is rotated by 90 °, it is possible to observe the original image 1 in which black and white are reversed as shown in FIG. At this time, the third luminance unit 1c having a luminance of 50 can be observed without change before and after the rotation. In a normal state, the hidden image cannot be observed.

図9に示すように、凹凸構造体3に光源Lからレーザー光を照射すると、回折光の集合によって、隠し画像を観察することが可能となる。本実施形態の場合、隠し画像としての「OK」の文字が浮き出ているように観察することができ、真偽を判定することが可能となる。   As shown in FIG. 9, when the concavo-convex structure 3 is irradiated with laser light from the light source L, a hidden image can be observed by a set of diffracted light. In the case of the present embodiment, it is possible to observe the character “OK” as a hidden image, and it is possible to determine whether it is true or false.

図10は、第2実施形態の第2隠し画像2’を示す図である。   FIG. 10 is a diagram illustrating a second hidden image 2 ′ according to the second embodiment.

第2実施形態では、第2基本散乱構造22は、第1基本散乱構造21とは異なり、レーザー光を照射すると、図10に示すように、第1基本散乱構造21の第1隠し画像2「OK」とは別の第2隠し画像2’「NG」を観察することができる構造として、第1基本散乱構造21に対して90°回転させて配置する。   In the second embodiment, unlike the first basic scattering structure 21, the second basic scattering structure 22 is irradiated with laser light. As shown in FIG. 10, the first hidden image 2 “ As a structure capable of observing the second hidden image 2 ′ “NG” different from “OK”, the structure is rotated 90 ° with respect to the first basic scattering structure 21.

このような構成の凹凸構造体3は、90°回転してみると、第1実施形態と同様に、図8に示すように、図柄の黒と白が反転して見える。この時、輝度50の第3輝度部1cは、回転前と回転後で変わらずに観察することが可能である。   When the concavo-convex structure 3 having such a configuration is rotated by 90 °, the black and white of the design appear to be reversed as shown in FIG. 8 as in the first embodiment. At this time, the third luminance unit 1c having a luminance of 50 can be observed without change before and after the rotation.

図11は、第2実施形態の凹凸構造体3の第2基本散乱構造22の部分に光源Lからレーザー光を照射した状態を示す図である。図12は、第2実施形態の凹凸構造体3の第1基本散乱構造21の部分及び第2基本散乱構造22の部分に跨がるように光源Lからレーザー光を照射した状態を示す図である。   FIG. 11 is a diagram illustrating a state in which laser light is irradiated from the light source L onto the second basic scattering structure 22 of the concavo-convex structure 3 of the second embodiment. FIG. 12 is a diagram showing a state in which laser light is irradiated from the light source L so as to straddle the first basic scattering structure 21 and the second basic scattering structure 22 of the concavo-convex structure 3 of the second embodiment. is there.

通常、凹凸構造体3を観察した場合、観察者は、図1に示したモノクロの元画像1、または黒と白が反転したモノクロの元画像1を観察することが可能である。通常の状態では、隠し画像は、観察することができない。   Normally, when the concavo-convex structure 3 is observed, the observer can observe the monochrome original image 1 shown in FIG. 1 or the monochrome original image 1 in which black and white are reversed. In a normal state, the hidden image cannot be observed.

図11に示すように、凹凸構造体3に光源Lからレーザー光を照射すると、回折光の集合によって、隠し画像を観察することが可能となる。本実施形態の場合、第1基本散乱構造21の部分に照射されたレーザー光では、図9に示したように、第1隠し画像2としての「OK」の文字が浮き出ているように観察することができ、真偽を判定することが可能となる。第2基本散乱構造22の部分に照射されたレーザー光では、図11に示すように、第2隠し画像2’としての「NG」の文字が浮き出ているように観察することができ、真偽を判定することが可能となる。   As shown in FIG. 11, when the concavo-convex structure 3 is irradiated with laser light from the light source L, it is possible to observe a hidden image by a set of diffracted light. In the case of the present embodiment, the laser beam irradiated to the first basic scattering structure 21 is observed so that the letters “OK” as the first hidden image 2 are raised as shown in FIG. It is possible to determine true / false. With the laser light applied to the second basic scattering structure 22, as shown in FIG. 11, it can be observed that the letters “NG” as the second hidden image 2 ′ are raised, Can be determined.

また、図12に示すように、第1基本散乱構造21の部分及び第2基本散乱構造22の部分に跨がるように照射されたレーザー光では、第1隠し画像2としての「OK」及び第2隠し画像2’としての「NG」の2文字が浮き出ているように観察することができ、真偽を判定することが可能となる。   In addition, as shown in FIG. 12, in the laser light irradiated so as to straddle the first basic scattering structure 21 and the second basic scattering structure 22, “OK” as the first hidden image 2 and Two characters “NG” as the second hidden image 2 ′ can be observed as being raised, and it is possible to determine whether it is true or false.

次に、本実施形態の凹凸構造体3の使用方法について説明する。   Next, the usage method of the uneven structure 3 of this embodiment is demonstrated.

通常、印刷物等に貼着して用いる凹凸構造体3としては、凹凸のレリーフ構造の回折格子のレリーフ面あるいは平面に蒸着等で金属反射膜を設けて反射型とした回折格子が用いられるが、それ以外に、振幅が周期的に変化する振幅型回折格子を構成するもの又は屈折率が周期的に変化して位相型回折格子を構成するものの裏面に金属反射膜を設けて反射型とした回折格子、体積型感光材料中に干渉縞で回折格子を構成した体積型回折格子等を用いてもよい。   Usually, as the concavo-convex structure 3 used by adhering to a printed matter or the like, a diffraction grating having a reflection type by providing a metal reflection film on the relief surface or plane of the concavo-convex relief structure by vapor deposition or the like is used. Other than that, a diffraction grating that forms an amplitude type diffraction grating whose amplitude changes periodically or a phase type diffraction grating whose refractive index changes periodically forms a reflective type by providing a metal reflective film on the back surface. A grating or a volume type diffraction grating in which a diffraction grating is constituted by interference fringes in a volume type photosensitive material may be used.

もちろん、反射型でなく透過型のもので構成し、回折格子も透過型の回折格子で構成してもよい。   Of course, it is possible to use a transmission type instead of a reflection type, and the diffraction grating may be a transmission type diffraction grating.

さて、凹凸構造体3は、転写箔、ラベル、フィルム等種々の形態に構成することができる。転写箔形態の場合には、例えば商品券、クレジットカード、パッケージ等に適用でき、ラベル形態の場合には、例えばソフトウエア、カートリッジ、医薬品等のパッケージ等に適用でき、フィルム形態の場合には、例えばそのフィルムを1〜2mm程度の幅にマイクロスリットし、用紙の抄造時に紙中に共に抄き込んで偽造防止を図ることができる。また、ラベル形態の場合には、脆質層を層構成中に介在させて、偽造のためにラベルを剥離しようとしたときにその脆質層から剥がれるようにして偽造のために表示体を剥がすことを困難にすることができる(脆質ラベル)。   The concavo-convex structure 3 can be configured in various forms such as a transfer foil, a label, and a film. In the case of a transfer foil form, it can be applied to, for example, gift certificates, credit cards, packages, etc., in the case of a label form, it can be applied to packages such as software, cartridges, pharmaceuticals, etc., and in the case of a film form, For example, the film can be micro-slit to a width of about 1 to 2 mm, and the sheet can be made into paper together to prevent forgery. In the case of the label form, a brittle layer is interposed in the layer structure, and when the label is peeled off for counterfeiting, the label is peeled off from the brittle layer and the display body is peeled off for counterfeiting. Can be difficult (brittle label).

本実施形態の光回折構造による隠し画像2を内包する凹凸構造体3を、転写箔、ラベル、脆質ラベル、フィルムの各形態に構成する場合の、層構成とその作製工程は、特許文献2等に記載されたものと同様である。   A layer structure and a manufacturing process thereof are described in Patent Document 2 in the case where the concavo-convex structure 3 including the hidden image 2 by the light diffraction structure of the present embodiment is configured in each form of transfer foil, label, brittle label, and film. It is the same as that described in the above.

このように、本実施形態の凹凸構造体3は、所定の波長の光を照射することにより回折光が生じ特定の情報を表示する基本散乱構造21,22を有し、基本散乱構造21,22は、元画像1の第1の輝度の部分に対応する第1基本散乱構造21と、元画像1の第2の輝度の部分に対応する第2基本散乱構造22と、を有し、第1基本散乱構造21の集合から構成される第1散乱度部3aと、第2基本散乱構造22の集合から構成される第2散乱度部3bと、第1基本散乱構造21及び第2基本散乱構造22を交互に並べた集合から構成される第3散乱度部3cと、を備え、元画像1の輝度に対応して第1基本散乱構造21及び第2基本散乱構造22の角度を設定して、元画像1を構成するので、デザイン性に優れ、偽造防止性が高く、セキュリティ的にも信頼性が高いものである。   As described above, the concavo-convex structure 3 of the present embodiment includes the basic scattering structures 21 and 22 that generate diffracted light and display specific information when irradiated with light of a predetermined wavelength. Includes a first basic scattering structure 21 corresponding to a first luminance portion of the original image 1 and a second basic scattering structure 22 corresponding to a second luminance portion of the original image 1. The first scattering unit 3a composed of a set of basic scattering structures 21, the second scattering unit 3b composed of a set of second basic scattering structures 22, the first basic scattering structure 21 and the second basic scattering structure And a third scattering degree unit 3c composed of a set of 22 arranged alternately, and the angles of the first basic scattering structure 21 and the second basic scattering structure 22 are set corresponding to the luminance of the original image 1 Since the original image 1 is constructed, it has excellent design, high anti-counterfeiting properties, Tea manner also is intended reliable.

また、第2基本散乱構造22は、第1基本散乱構造21を90°回転させた構造であるので、簡単な構造で観察画像に変化を持たせることが可能となる。   Further, since the second basic scattering structure 22 is a structure obtained by rotating the first basic scattering structure 21 by 90 °, it is possible to change the observation image with a simple structure.

また、基本散乱構造21,22は、特定の情報に対応するデータをフーリエ変換し、その位相情報を多値化して深さとして記録するので、短時間で容易に製作することが可能となる。   In addition, since the basic scattering structures 21 and 22 perform Fourier transform on data corresponding to specific information and multi-value the phase information and record it as a depth, the basic scattering structures 21 and 22 can be easily manufactured in a short time.

以上、凹凸構造体をいくつかの実施例に基づいて説明してきたが、本発明はこれら実施例に限定されず種々の変形が可能である。   As described above, the concavo-convex structure has been described based on some examples, but the present invention is not limited to these examples, and various modifications are possible.

1…元画像
2…隠し画像
21…基本散乱構造
22…基本散乱構造
3…凹凸構造体
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Original image 2 ... Hidden image 21 ... Basic scattering structure 22 ... Basic scattering structure 3 ... Uneven structure

Claims (3)

所定の波長の光を照射することにより回折光が生じ特定の情報を表示する基本散乱構造を有し、
前記基本散乱構造は、元画像の第1の輝度の部分に対応する第1基本散乱構造と、前記元画像の第2の輝度の部分に対応する第2基本散乱構造と、を有し、
前記第1基本散乱構造の集合から構成される第1散乱度部と、
前記第2基本散乱構造の集合から構成される第2散乱度部と、
前記第1基本散乱構造及び前記第2基本散乱構造を交互に並べた集合から構成される第3散乱度部と、
を備え、
前記元画像の輝度に対応して前記第1基本散乱構造及び前記第2基本散乱構造の角度を設定して、前記元画像を構成する
ことを特徴とする凹凸構造体。
It has a basic scattering structure that generates diffracted light by displaying light of a predetermined wavelength and displays specific information,
The basic scattering structure has a first basic scattering structure corresponding to a first luminance portion of the original image and a second basic scattering structure corresponding to a second luminance portion of the original image;
A first scattering degree part composed of a set of the first basic scattering structure;
A second scattering degree part composed of a set of the second basic scattering structures;
A third scattering degree part composed of a set in which the first basic scattering structure and the second basic scattering structure are alternately arranged;
With
An uneven structure, wherein the original image is configured by setting angles of the first basic scattering structure and the second basic scattering structure corresponding to the luminance of the original image.
前記第2基本散乱構造は、前記第1基本散乱構造を90°回転させた構造である
ことを特徴とする請求項1に記載の凹凸構造体。
The concavo-convex structure according to claim 1, wherein the second basic scattering structure is a structure obtained by rotating the first basic scattering structure by 90 °.
前記基本散乱構造は、前記特定の情報に対応するデータをフーリエ変換し、その位相情報を多値化して深さとして記録する
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載の凹凸構造体。
The concavo-convex structure according to claim 1, wherein the basic scattering structure performs Fourier transform on data corresponding to the specific information, multi-values the phase information, and records it as a depth. .
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