JP2013238543A

JP2013238543A - Analyzer, test piece, and focus adjustment method

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Publication number: JP2013238543A
Application number: JP2012112887A
Authority: JP
Inventors: Yuichi Kyogoku; 悠一京極
Original assignee: Konica Minolta Inc
Current assignee: Konica Minolta Inc
Priority date: 2012-05-16
Filing date: 2012-05-16
Publication date: 2013-11-28

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide technology capable of accurately performing focusing between a test piece (expansion layer) and a fluorescence measurement part.SOLUTION: An analyzer uses a test piece having an expansion layer for expanding a test body and an opening part for exposing a portion of the expansion layer to analyze the test body. The analyzer has a distance measurement part, a position adjustment part, and a fluorescence measurement part. The distance measurement part has an irradiation part and a detection part. The irradiation part irradiates measurement light to the expansion layer exposed in the opening part with irradiation width narrower than the width of the opening part. The detection part detects reflected light from the exposed expansion layer in the measurement light, and outputs a signal corresponding to a distance. The position adjustment part adjusts the position of the distance adjustment part with respect to the exposed expansion layer on the basis of the signal outputted from the distance measurement part. The fluorescence measurement part is fixed to the distance measurement part, irradiates excitation light to the exposed expansion layer after position adjustment by the position adjustment part, and measures fluorescence generated from the expansion layer.

Description

本発明は、分析装置、それに用いられる試験片、及びフォーカス調整方法に関する。 The present invention relates to an analysis apparatus, a test piece used therefor, and a focus adjustment method.

ある検体に被検物質が含まれているか否かを簡易かつ迅速に検査する手法として、イムノクロマト法が普及している。イムノクロマト法は、インフルエンザの簡易診断、妊娠検査薬、食品衛生分野、特定の薬物検出等、様々な分野で利用されている。 Immunochromatography is widely used as a method for simply and quickly examining whether or not a sample contains a test substance. Immunochromatography is used in various fields such as simple influenza diagnosis, pregnancy test drugs, food hygiene, and specific drug detection.

イムノクロマト法は、たとえば、検体と標識物質とを混合させた混合溶液をセルロース膜等からなる展開層に展開させる。展開層上には、被検物質に対して特異性を有する抗体が固定されたテストライン、及び標識物質に対して反応する参照用抗体が固定されたコントロールラインが形成されている。検体に被検物質が含まれている場合、展開された混合溶液は、テストラインにおいて反応し、呈色する。この色を視認することで検体に被検物質が混合されているかどうかを容易に判断することができる。また、コントロールラインでは、標識物質が参照用抗体と反応することで、呈色する。この色を視認することで混合溶液が展開層に広がっているかを認識できる。 In the immunochromatography method, for example, a mixed solution in which a specimen and a labeling substance are mixed is developed on a development layer made of a cellulose membrane or the like. On the development layer, a test line to which an antibody having specificity for the test substance is fixed and a control line to which a reference antibody that reacts with the labeling substance is fixed are formed. When the test substance is contained in the specimen, the developed mixed solution reacts and colors in the test line. By visually recognizing this color, it is possible to easily determine whether or not a test substance is mixed in the specimen. In the control line, the labeling substance is colored by reacting with the reference antibody. By visually recognizing this color, it can be recognized whether the mixed solution spreads in the spreading layer.

イムノクロマト法の検出感度をより高めるために、抗体に蛍光物質を用いる手法もある（以下、「蛍光イムノクロマト法」という場合がある）。蛍光イムノクロマト法は、混合溶液を展開層に展開させた後、テストライン（及びコントロールライン）に対して励起光を照射し、その蛍光を蛍光測定部で測定する。そして、その測定結果を解析することで、検体に被検物質が含まれているかどうかを容易に判断できる。なお、蛍光を機械的に測定することにより、定性的、定量的な分析が可能となる。 In order to further increase the detection sensitivity of the immunochromatography method, there is a method of using a fluorescent substance for the antibody (hereinafter, also referred to as “fluorescence immunochromatography method”). In the fluorescence immunochromatography method, after a mixed solution is developed on a development layer, excitation light is irradiated to a test line (and a control line), and the fluorescence is measured by a fluorescence measuring unit. Then, by analyzing the measurement result, it can be easily determined whether or not the test substance is contained in the sample. In addition, a qualitative and quantitative analysis is attained by measuring fluorescence mechanically.

また、混合溶液の蒸発等を避けるため、展開層は、容器に収容されていることが多い（展開層を収容した容器を「試験片」という場合がある）。容器は、展開層上のテストライン及びコントロールラインに対応する位置に開口部が設けられている場合がある（特許文献１又は特許文献２参照）。開口部により、テストライン及びコントロールラインが外部から視認可能となる。蛍光イムノクロマト法を用いる場合には、開口部から露出した展開層（テストライン等）に励起光を当てることにより、蛍光の測定を行う。 Further, in order to avoid evaporation of the mixed solution and the like, the development layer is often contained in a container (the container containing the development layer may be referred to as a “test piece”). The container may be provided with openings at positions corresponding to the test line and the control line on the development layer (see Patent Document 1 or Patent Document 2). With the opening, the test line and the control line can be visually recognized from the outside. When the fluorescence immunochromatography method is used, fluorescence is measured by applying excitation light to a development layer (test line or the like) exposed from the opening.

ここで、蛍光の測定を行う場合には、試験片（展開層）と蛍光測定部とのフォーカス合わせが重要となる。フォーカス合わせは、たとえば、光を用いて試験片と蛍光測定部との距離を求めることにより行うことが可能である。 Here, when measuring fluorescence, it is important to focus the test piece (development layer) and the fluorescence measurement unit. Focusing can be performed, for example, by determining the distance between the test piece and the fluorescence measurement unit using light.

特開２００９−１０９３８３号公報JP 2009-109383 A 特開２０１１−８９９１７号公報JP 2011-89917 A

蛍光イムノクロマト法において、光を用いて試験片（展開層）と蛍光測定部とのフォーカス合わせを行う場合、当該光を開口部内の展開層に照射し、展開層からの反射光のみを検出することが重要となる。 In the fluorescence immunochromatography method, when focusing the test piece (development layer) and the fluorescence measurement unit using light, irradiate the development layer in the opening and detect only the reflected light from the development layer. Is important.

しかし、混合溶液の蒸発を避けるために、収納容器に形成される開口部は、狭く形成されていることが多い。よって、開口部内の展開層に対して照射された光（測定光）は、展開層に当たる前に開口部の側壁等に当たって散乱する場合がある。また、当該光が展開層に当たった場合であっても、展開層からの散乱光が側壁で更に散乱する場合もある。この場合、展開層からの反射光だけでなく、それ以外の光（不要光）も検出される可能性が高い。従って、試験片と蛍光測定部とのフォーカス合わせが困難であるという問題がある。 However, in order to avoid evaporation of the mixed solution, the opening formed in the storage container is often narrowly formed. Therefore, the light (measurement light) applied to the development layer in the opening may hit the side wall of the opening before being applied to the development layer and be scattered. Even when the light hits the spreading layer, the scattered light from the spreading layer may be further scattered by the side wall. In this case, not only the reflected light from the development layer but also other light (unnecessary light) is likely to be detected. Therefore, there is a problem that it is difficult to focus the test piece and the fluorescence measuring unit.

本発明は、上記課題を解決するために、試験片（展開層）と蛍光測定部とのフォーカス合わせを正確に行うことが可能な技術を提供することを目的とする。 In order to solve the above-described problems, an object of the present invention is to provide a technique capable of accurately performing focusing between a test piece (developing layer) and a fluorescence measurement unit.

上記課題を解決するために、請求項１記載の分析装置は、検体が展開される展開層及び展開層の一部を外部に露出させる開口部を有する試験片を用いて検体の分析を行う。分析装置は、距離測定部と、位置調整部と、蛍光測定部とを有する。距離測定部は、照射部と、検出部とを有する。照射部は、開口部において露出された展開層に対し、開口部の幅よりも狭い照射幅で測定光を照射する。検出部は、測定光のうち、露出された展開層からの反射光を検出し、距離に対応する信号を出力する。位置調整部は、距離測定部から出力された信号に基づいて、露出された展開層に対する距離測定部の位置を調整する。蛍光測定部は、距離測定部に固定され、位置調整部による位置調整の後、露出された展開層に対して励起光を照射し、当該展開層から発生する蛍光を測定する。
また、上記課題を解決するために、請求項２記載の分析装置は、請求項１記載の分析装置であって、試験片が挿入される被挿入部を有する。検出部は長尺の検出器である。試験片が被挿入部に挿入された場合、検出部は、その長手方向が開口部の長手方向と平行になるように配置されている。
また、上記課題を解決するために、請求項３記載の分析装置は、請求項１又は２記載の分析装置であって、調整部材を有する。調整部材は、照射部の照射側に設けられ、測定光の照射幅を調整する。
また、上記課題を解決するために、請求項４記載の分析装置は、請求項１〜３のいずれか一つに記載の分析装置であって、測定光の照射幅は、開口部の幅の１／３以下である。
また、上記課題を解決するために、請求項５記載の試験片は、請求項１〜４のいずれか一つに記載の分析装置に用いられる。試験片は、展開層と、容器と、開口部とを有する。展開層は、検体が展開される。容器は、展開層を収容する。開口部は、容器に設けられ、展開層の一部を外部に露出させる。少なくとも開口部の側壁は、分析装置からの測定光に基づく不要光を受けた場合に、分析装置の検出部方向への反射を防止する反射防止材で形成されている。
また、上記課題を解決するために、請求項６記載の試験片は、請求項１〜４のいずれか一つに記載の分析装置に用いられる。試験片は、展開層と、容器と、開口部とを有する。展開層は、検体が展開される。容器は、展開層を収容する。開口部は、容器に設けられ、展開層の一部を外部に露出させる。少なくとも開口部の側壁は、分析装置からの測定光に基づく不要光を受けた場合に、分析装置の検出部以外の方向に散乱させるグレーティング構造に形成されている。
また、上記課題を解決するために、請求項７記載の試験片は、請求項１〜４のいずれか一つに記載の分析装置に用いられる。試験片は、展開層と、容器と、開口部とを有する。展開層は、検体が展開される。容器は、展開層を収容する。開口部は、容器に設けられ、展開層の一部を外部に露出させる。少なくとも開口部の側壁は、分析装置からの測定光に基づく不要光を受けた場合に、当該不要光を吸収する吸収材で形成されている。
また、上記課題を解決するために、請求項８記載の試験片は、請求項５〜７のいずれか一つに記載の試験片であって、開口部の側壁は、テ―パ状に形成されている。
また、上記課題を解決するために、請求項９記載のフォーカス調整方法は、検体が展開される展開層及び展開層の一部を外部に露出させる開口部を有する試験片に対し、開口部において露出された展開層から発生する蛍光を測定する蛍光測定部のフォーカス合わせを行う。フォーカス調整方法は、距離測定部に設けられた照射部が、露出された展開層に対し、開口部の幅よりも狭い照射幅で測定光を照射する工程を有する。フォーカス調整方法は、距離測定部に設けられた検出部が、測定光のうち、露出された展開層からの反射光を検出し、距離に対応する信号を出力する工程を有する。フォーカス調整方法は、位置調整部が、検出部から出力された信号に基づいて、露出された展開層に対する距離測定部の位置を調整することにより、距離測定部に固定された蛍光測定部のフォーカス合わせを行う工程を有する。 In order to solve the above problems, an analyzer according to claim 1 analyzes a specimen using a development layer on which the specimen is developed and a test piece having an opening that exposes a part of the development layer to the outside. The analyzer includes a distance measuring unit, a position adjusting unit, and a fluorescence measuring unit. The distance measurement unit includes an irradiation unit and a detection unit. The irradiation unit irradiates the developing layer exposed at the opening with measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening. A detection part detects the reflected light from the exposed expansion | deployment layer among measurement lights, and outputs the signal corresponding to distance. The position adjusting unit adjusts the position of the distance measuring unit with respect to the exposed development layer based on the signal output from the distance measuring unit. The fluorescence measurement unit is fixed to the distance measurement unit, and after position adjustment by the position adjustment unit, the exposed development layer is irradiated with excitation light, and fluorescence generated from the development layer is measured.
In order to solve the above problem, an analyzer according to claim 2 is the analyzer according to claim 1, and has an insertion portion into which a test piece is inserted. The detection unit is a long detector. When the test piece is inserted into the insertion part, the detection part is arranged so that its longitudinal direction is parallel to the longitudinal direction of the opening.
In order to solve the above problem, an analyzer according to claim 3 is the analyzer according to claim 1 or 2 and includes an adjustment member. The adjustment member is provided on the irradiation side of the irradiation unit and adjusts the irradiation width of the measurement light.
Moreover, in order to solve the said subject, the analyzer of Claim 4 is an analyzer of any one of Claims 1-3, Comprising: The irradiation width of measurement light is the width | variety of an opening part. 1/3 or less.
Moreover, in order to solve the said subject, the test piece of Claim 5 is used for the analyzer as described in any one of Claims 1-4. The test piece has a spread layer, a container, and an opening. In the development layer, the specimen is developed. The container contains a spreading layer. The opening is provided in the container and exposes a part of the development layer to the outside. At least the side wall of the opening is formed of an antireflection material that prevents reflection in the direction of the detection unit of the analyzer when receiving unnecessary light based on measurement light from the analyzer.
Moreover, in order to solve the said subject, the test piece of Claim 6 is used for the analyzer as described in any one of Claims 1-4. The test piece has a spread layer, a container, and an opening. In the development layer, the specimen is developed. The container contains a spreading layer. The opening is provided in the container and exposes a part of the development layer to the outside. At least the side wall of the opening is formed in a grating structure that scatters in a direction other than the detection unit of the analyzer when unnecessary light based on measurement light from the analyzer is received.
Moreover, in order to solve the said subject, the test piece of Claim 7 is used for the analyzer as described in any one of Claims 1-4. The test piece has a spread layer, a container, and an opening. In the development layer, the specimen is developed. The container contains a spreading layer. The opening is provided in the container and exposes a part of the development layer to the outside. At least the side wall of the opening is formed of an absorbing material that absorbs unnecessary light when receiving unnecessary light based on measurement light from the analyzer.
In order to solve the above problem, the test piece according to claim 8 is the test piece according to any one of claims 5 to 7, wherein the side wall of the opening is formed in a taper shape. Has been.
In order to solve the above-mentioned problem, the focus adjustment method according to claim 9 is directed to a development layer on which a specimen is developed and a test piece having an opening that exposes a part of the development layer to the outside. The fluorescence measuring unit that measures fluorescence generated from the exposed development layer is focused. The focus adjustment method includes a step in which an irradiation unit provided in the distance measurement unit irradiates measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening to the exposed development layer. The focus adjustment method includes a step in which a detection unit provided in the distance measurement unit detects reflected light from the exposed development layer in the measurement light and outputs a signal corresponding to the distance. The focus adjustment method is such that the position adjustment unit adjusts the position of the distance measurement unit with respect to the exposed development layer based on the signal output from the detection unit, thereby focusing the fluorescence measurement unit fixed to the distance measurement unit. A step of combining.

本発明によれば、検出部が検出する不要光を低減させることにより、試験片（展開層）と蛍光測定部とのフォーカス合わせを正確に行うことができる。 According to the present invention, it is possible to accurately perform focusing between the test piece (development layer) and the fluorescence measurement unit by reducing unnecessary light detected by the detection unit.

実施形態に係る試験片を示す図である。It is a figure which shows the test piece which concerns on embodiment. 実施形態に係る試験片を示す図である。It is a figure which shows the test piece which concerns on embodiment. 実施形態に係る試験片を示す図である。It is a figure which shows the test piece which concerns on embodiment. 実施形態に係る試験片を示す図である。It is a figure which shows the test piece which concerns on embodiment. 実施形態に係る展開層を示す図である。It is a figure which shows the expansion | deployment layer which concerns on embodiment. 実施形態に係る分析装置を示す図である。It is a figure which shows the analyzer which concerns on embodiment. 実施形態に係る距離測定部を示す図である。It is a figure which shows the distance measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る距離測定部を示す図である。It is a figure which shows the distance measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る距離測定部の説明を補足する図である。It is a figure which supplements description of the distance measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る距離測定部の説明を補足する図である。It is a figure which supplements description of the distance measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る距離測定部の説明を補足するグラフである。It is a graph which supplements description of the distance measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る蛍光測定部を示す図である。It is a figure which shows the fluorescence measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る蛍光測定部を示す図である。It is a figure which shows the fluorescence measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る蛍光測定部の説明を補足する図である。It is a figure which supplements description of the fluorescence measurement part which concerns on embodiment. 実施形態に係る分析装置の動作を示すフローチャートである。It is a flowchart which shows operation | movement of the analyzer which concerns on embodiment. 図９のフローチャートの説明を補足するための図である。It is a figure for supplementing description of the flowchart of FIG. 図９のフローチャートの説明を補足するための図である。It is a figure for supplementing description of the flowchart of FIG. 変形例を説明するための図である。It is a figure for demonstrating a modification. 変形例の説明を補足するグラフである。It is a graph which supplements description of a modification.

＜実施形態＞
図１Ａから図１０Ｂを用いて、本実施形態に係る分析装置、試験片、及びフォーカス調整方法について説明する。 <Embodiment>
The analyzer, the test piece, and the focus adjustment method according to this embodiment will be described with reference to FIGS. 1A to 10B.

［試験片の構成］
はじめに、図１Ａから図２を参照して、試験片１の構成について説明する。図１Ａは、試験片１の斜視図である。図１Ｂは、試験片１を上側からみた図である。図１Ｂでは、試験片１内に配置される展開層２を破線で示している。図１Ｃは、図１ＢにおけるＡ−Ａ断面を示す図である。図１Ｄは、図１ＢにおけるＢ−Ｂ断面を示す図である。図２は、展開層２の斜視図である。 [Configuration of specimen]
First, the configuration of the test piece 1 will be described with reference to FIGS. 1A to 2. FIG. 1A is a perspective view of the test piece 1. FIG. 1B is a view of the test piece 1 as viewed from above. In FIG. 1B, the spreading | diffusion layer 2 arrange | positioned in the test piece 1 is shown with the broken line. FIG. 1C is a diagram showing a cross section taken along line AA in FIG. 1B. FIG. 1D is a diagram showing a BB cross section in FIG. 1B. FIG. 2 is a perspective view of the development layer 2.

試験片１は、イムノクロマト法を用いて被検物質（たとえば、インフルエンザの検査の場合には、インフルエンザウィルス等）の定量的若しくは定性的な検査を行うためのデバイスである。試験片１は、展開層２と、容器３と、開口部４とを有する。 The test piece 1 is a device for performing a quantitative or qualitative test of a test substance (for example, an influenza virus in the case of an influenza test) using an immunochromatography method. The test piece 1 has a development layer 2, a container 3, and an opening 4.

展開層２は、被検物質が存在する可能性のある検体と標識物質とを混合させた混合溶液を展開するために用いられる。展開層２は、容器３に収容される（図１Ｂ等参照）。展開層２は、セルロース膜、ガラス繊維、ポリウレタン等の吸収材で形成されている。容器３は、プラスチック等で形成されている。混合溶液は、容器３に設けられた貫通孔３ａを介して展開層２に点着される。図２では、混合溶液が点着される展開層２上の箇所を点着位置Ｐとして示している。点着位置Ｐは、展開層２が容器３に収容された場合に、貫通孔３ａに対応する位置である。展開層２に点着された混合溶液は、毛細管現象により一定の方向に流れる。 The development layer 2 is used to develop a mixed solution in which a specimen in which a test substance may exist and a labeling substance are mixed. The development layer 2 is accommodated in the container 3 (see FIG. 1B and the like). The development layer 2 is formed of an absorbent material such as a cellulose film, glass fiber, or polyurethane. The container 3 is formed of plastic or the like. The mixed solution is spotted on the spreading layer 2 through a through hole 3 a provided in the container 3. In FIG. 2, a spot on the spreading layer 2 where the mixed solution is spotted is indicated as a spotting position P. The spotting position P is a position corresponding to the through hole 3 a when the development layer 2 is accommodated in the container 3. The mixed solution spotted on the spreading layer 2 flows in a certain direction by capillary action.

展開層２には、テストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬが設けられている（図２等参照）。展開層２において、テストラインＴＬは、コントロールラインＣＬよりも混合溶液の点着位置Ｐ側に配置されている。 The development layer 2 is provided with a test line TL and a control line CL (see FIG. 2 and the like). In the development layer 2, the test line TL is disposed closer to the spot P of the mixed solution than the control line CL.

テストラインＴＬは、被検物質に対して特異性を有する抗体が固定されている。本実施形態では、励起光により蛍光を発する抗体が用いられる。検体に被検物質が存在する場合、混合溶液がテストラインＴＬを通過することにより、被検物質と抗体とが反応する。この状態で励起光が照射された場合、テストラインＴＬは蛍光を発する。この蛍光を視認することにより（或いは、分析装置等で蛍光強度を測定することにより）、検体に被検物質が含まれているか否かを判断することができる。なお、テストラインＴＬは、複数本設けられていてもよい。たとえば、Ａ型用、Ｂ型用の２本のテストラインＴＬを展開層２に設けてもよい。この場合、それぞれのテストラインＴＬは反応する被検物質が異なる（テストラインＴＬに固定される抗体の種類は異なっている）。 In the test line TL, an antibody having specificity for the test substance is immobilized. In this embodiment, an antibody that emits fluorescence by excitation light is used. When the test substance exists in the specimen, the test substance and the antibody react with each other as the mixed solution passes through the test line TL. When excitation light is irradiated in this state, the test line TL emits fluorescence. By visually recognizing this fluorescence (or by measuring the fluorescence intensity with an analyzer or the like), it can be determined whether or not the test substance is contained in the specimen. A plurality of test lines TL may be provided. For example, two test lines TL for A type and B type may be provided in the development layer 2. In this case, each test line TL has a different test substance (the type of antibody immobilized on the test line TL is different).

一方、コントロールラインＣＬは、標識物質に反応する参照用抗原が固定されている。本実施形態では、励起光により蛍光を発する参照用抗原が用いられる。混合溶液がコントロールラインＣＬを通過することにより、標識物質と参照用抗原とが反応する。この状態で励起光が照射された場合、コントロールラインＣＬは蛍光を発する。この蛍光を視認することにより（或いは、分析装置等で蛍光強度を測定することにより）、検体を含む混合溶液が、テストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬを通過したか否かを判断することができる。 On the other hand, a reference antigen that reacts with a labeling substance is immobilized on the control line CL. In the present embodiment, a reference antigen that emits fluorescence by excitation light is used. When the mixed solution passes through the control line CL, the labeling substance and the reference antigen react. When excitation light is irradiated in this state, the control line CL emits fluorescence. By visually recognizing this fluorescence (or by measuring the fluorescence intensity with an analyzer or the like), it can be determined whether or not the mixed solution containing the specimen has passed through the test line TL and the control line CL.

また、容器３には、開口部４が設けられている（図１Ａ等参照）。開口部４は、容器３の表面に対して窪んだ位置に形成されている。開口部４は、展開層２の一部を外部に露出させる（図１Ｂ等参照）。本実施形態において、開口部４は、短手方向の長さと長手方向の長さとが異なる長方形状に形成されている（長手方向の幅に比べ、短手方向の幅が狭く形成されている）。混合溶液の蒸発を避けるため、開口部４はできる限り狭く形成することが望ましい。一方、蛍光イムノクロマト法では、展開層２のテストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬに励起光を照射なければならない。よって、開口部４は、少なくともテストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬの一部が外部に露出されるよう形成される（図１Ｂ等参照）。なお、開口部４は、少なくともテストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬの一部が外部に露出される形状であれば、本実施形態の構成に限られない。たとえば、開口部４の形状は、各辺の長さが等しい正方形状であってもよい。 The container 3 is provided with an opening 4 (see FIG. 1A and the like). The opening 4 is formed at a position recessed with respect to the surface of the container 3. The opening 4 exposes a part of the development layer 2 to the outside (see FIG. 1B and the like). In the present embodiment, the opening 4 is formed in a rectangular shape in which the length in the short direction and the length in the long direction are different (the width in the short direction is narrower than the width in the long direction). . In order to avoid evaporation of the mixed solution, it is desirable to form the opening 4 as narrow as possible. On the other hand, in the fluorescence immunochromatography method, the test line TL and the control line CL of the development layer 2 must be irradiated with excitation light. Therefore, the opening 4 is formed so that at least a part of the test line TL and the control line CL is exposed to the outside (see FIG. 1B and the like). The opening 4 is not limited to the configuration of the present embodiment as long as at least a part of the test line TL and the control line CL is exposed to the outside. For example, the shape of the opening 4 may be a square shape in which the length of each side is equal.

開口部４と容器３の表面との間には、側壁４ａが形成されている。本実施形態における分析装置１０は、試験片１（開口部４）に対して励起光を斜めから照射する構成（後述）である。よって、照射される励起光を遮ることがないよう、側壁４ａはテ―パ状に形成されている。なお、側壁４ａの形状は、励起光の照射方向により任意の形状とすることが可能である。 A side wall 4 a is formed between the opening 4 and the surface of the container 3. The analyzer 10 in the present embodiment has a configuration (described later) that irradiates the test piece 1 (opening 4) with excitation light from an oblique direction. Therefore, the side wall 4a is formed in a taper shape so as not to block the irradiated excitation light. In addition, the shape of the side wall 4a can be an arbitrary shape depending on the irradiation direction of the excitation light.

［分析装置の構成］
次に、図３から図１０Ｂを参照して、分析装置１０の構成について説明する。 [Configuration of analyzer]
Next, the configuration of the analyzer 10 will be described with reference to FIGS. 3 to 10B.

図３は、分析装置１０の構成を示すブロック図ある。分析装置１０は、被挿入部１１と、距離測定部１２と、蛍光測定部１３と、メモリ１４と、比較部１５と、駆動制御部１６と、解析部１７と、表示部１８と、制御部１９とを有する。 FIG. 3 is a block diagram illustrating a configuration of the analysis apparatus 10. The analysis apparatus 10 includes an insertion part 11, a distance measurement part 12, a fluorescence measurement part 13, a memory 14, a comparison part 15, a drive control part 16, an analysis part 17, a display part 18, and a control part. 19.

（被挿入部）
被挿入部１１は、分析装置１０内に試験片１が挿入される部分である。試験片１は、自動または手動により、被挿入部１１に挿入される。なお、本実施形態において、試験片１の長手方向が被挿入部１１への挿入方向（図３の破線矢印参照）である。 (Inserted part)
The inserted portion 11 is a portion where the test piece 1 is inserted into the analyzer 10. The test piece 1 is inserted into the insertion portion 11 automatically or manually. In the present embodiment, the longitudinal direction of the test piece 1 is the direction of insertion into the inserted portion 11 (see the broken line arrow in FIG. 3).

（距離測定部）
距離測定部１２は、距離測定部１２と被挿入部１１に挿入された試験片１（開口部４から露出した展開層２）との距離を測定する。距離測定部１２は、蛍光測定部１３に取り付けられている。距離の測定は、三角測量等、公知の手法を用いることができる。 (Distance measurement unit)
The distance measuring unit 12 measures the distance between the distance measuring unit 12 and the test piece 1 (the development layer 2 exposed from the opening 4) inserted into the inserted portion 11. The distance measuring unit 12 is attached to the fluorescence measuring unit 13. The distance can be measured using a known method such as triangulation.

図４Ａ及び図４Ｂは、距離測定部１２の詳細な構成を示す図である。図４Ａは、距離測定部１２を、被挿入部１１に対する試験片１の挿入方向（破線矢印参照）に直交する方向から見た場合の断面図である。図４Ｂは、距離測定部１２を下側（試験片１側）から見た図である。なお、図４Ａの破線矢印は、図３の破線矢印に対応している。 4A and 4B are diagrams illustrating a detailed configuration of the distance measuring unit 12. FIG. 4A is a cross-sectional view of the distance measuring unit 12 when viewed from a direction orthogonal to the insertion direction of the test piece 1 with respect to the insertion target portion 11 (see the broken line arrow). FIG. 4B is a diagram of the distance measuring unit 12 as viewed from the lower side (test piece 1 side). Note that the dashed arrow in FIG. 4A corresponds to the dashed arrow in FIG.

距離測定部１２は、照射部１２ａと、検出部１２ｂとを有する。 The distance measurement unit 12 includes an irradiation unit 12a and a detection unit 12b.

照射部１２ａは、開口部４において露出された展開層２に対し、開口部４の幅よりも狭い照射幅で測定光ＭＬを照射する。たとえば、照射部１２ａは、測定光ＭＬとして８７０ｎｍの近赤外光を発生させるＬＥＤ（ＬｉｇｈｔＥｍｉｔｔｉｎｇＤｉｏｄｅ）で構成されている。 The irradiation unit 12 a irradiates the measurement light ML with an irradiation width narrower than the width of the opening 4 to the development layer 2 exposed in the opening 4. For example, the irradiation unit 12a is configured by an LED (Light Emitting Diode) that generates near-infrared light of 870 nm as the measurement light ML.

本実施形態において、照射部１２ａの照射側には、スリット１２ｃ及びマスク１２ｄが配置されている。スリット１２ｃ及びマスク１２ｄの開口は、所定の幅を有している。この開口の幅は、少なくともスリット１２ｃ及びマスク１２ｄを通過した照射部１２ａからの光（測定光ＭＬ）が開口部４の幅よりも狭くなるように形成されている。たとえば、本実施形態のように、開口部４が長手方向と短手方向を有する場合、スリット１２ｃ及びマスク１２ｄの開口の幅は、開口部４の短手方向の幅よりも狭くなるように形成されている。すなわち、本実施形態におけるスリット１２ｃ及びマスク１２ｄは、測定光ＭＬの照射幅を調整する「調整部材」の一例である。 In the present embodiment, a slit 12c and a mask 12d are arranged on the irradiation side of the irradiation unit 12a. The openings of the slit 12c and the mask 12d have a predetermined width. The width of the opening is formed such that at least light (measurement light ML) from the irradiation unit 12 a that has passed through the slit 12 c and the mask 12 d is narrower than the width of the opening 4. For example, when the opening 4 has a longitudinal direction and a short direction as in the present embodiment, the width of the opening of the slit 12c and the mask 12d is formed to be narrower than the width of the opening 4 in the short direction. Has been. That is, the slit 12c and the mask 12d in this embodiment are an example of an “adjustment member” that adjusts the irradiation width of the measurement light ML.

展開層２に照射された測定光ＭＬは、反射光ＲＬとして検出部１２ｂに入射する。「反射光ＲＬ」は、測定光ＭＬの正反射光、又は測定光ＭＬの散乱光のうちの一部である。また、照射部１２ａから照射される測定光ＭＬは、照射幅が開口部４の幅よりも狭められているため、開口部４の側壁４ａに当たる可能性が低い。よって、不要光の発生を抑えることができる。「不要光」とは、露出された展開層２からの反射光ＲＬ以外の光（たとえば、測定光ＭＬが側壁４ａに当たることにより生じる散乱光）である。 The measurement light ML irradiated to the development layer 2 enters the detection unit 12b as reflected light RL. “Reflected light RL” is a part of specularly reflected light of measurement light ML or scattered light of measurement light ML. In addition, the measurement light ML emitted from the irradiation unit 12 a is less likely to hit the side wall 4 a of the opening 4 because the irradiation width is narrower than the width of the opening 4. Therefore, generation of unnecessary light can be suppressed. “Unnecessary light” refers to light other than the reflected light RL from the exposed spread layer 2 (for example, scattered light generated when the measurement light ML strikes the side wall 4a).

調整部材は、測定光ＭＬを開口部４の幅よりも狭くする機能を有していればよい。すなわち、スリット１２ｃ或いはマスク１２ｄの開口の幅が開口部４の幅よりも狭くなっていれば、いずれか一方のみを設けることでもよい。また、たとえば、分析装置１０内にスリット１２ｃの幅を調整できる機構（図示なし）を設ける。そして、用いる試験片１の開口部４の幅に合わせてスリット幅を調整できるようにしてもよい。或いは、調整部材を設けなくともよい。すなわち、測定光ＭＬの照射幅が開口部４の幅よりも狭くなるような光源を照射部１２ａとして配置することでもよい。 The adjustment member only needs to have a function of making the measurement light ML narrower than the width of the opening 4. That is, as long as the width of the opening of the slit 12c or the mask 12d is narrower than the width of the opening 4, only one of them may be provided. Further, for example, a mechanism (not shown) that can adjust the width of the slit 12 c is provided in the analyzer 10. And you may enable it to adjust a slit width according to the width | variety of the opening part 4 of the test piece 1 to be used. Or it is not necessary to provide an adjustment member. That is, a light source that makes the irradiation width of the measurement light ML narrower than the width of the opening 4 may be disposed as the irradiation unit 12a.

検出部１２ｂは、測定光ＭＬのうち、露出された展開層２からの反射光ＲＬを検出し、距離に対応する信号を出力する。「距離」は、距離測定部１２（照射部１２ａ）と試験片１（露出された展開層２）との間の距離である。本実施形態における検出部１２ｂは、長尺の検出器であるＰＳＤ（ＰｏｓｉｔｉｏｎＳｅｎｓｉｔｉｖｅＤｅｔｅｃｔｏｒ）である。なお、検出部１２ｂは、ＰＳＤと同様、長尺の検出器であるラインセンサを用いることができる。或いは、検出部１２ｂは、ＣＣＤ（ＣｈａｒｇｅＣｏｕｐｌｅｄＤｅｖｉｃｅ）、ＣＭＯＳ（ＣｏｍｐｌｅｍｅｎｔａｒｙＭｅｔａｌＯｘｉｄｅＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）等の単一の検出器であってもよい。 The detection unit 12b detects the reflected light RL from the exposed development layer 2 in the measurement light ML, and outputs a signal corresponding to the distance. The “distance” is a distance between the distance measurement unit 12 (irradiation unit 12a) and the test piece 1 (exposed development layer 2). The detection unit 12b in this embodiment is a PSD (Position Sensitive Detector) that is a long detector. In addition, the detection part 12b can use the line sensor which is a elongate detector like PSD. Alternatively, the detection unit 12b may be a single detector such as a CCD (Charge Coupled Device) or a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor).

本実施形態において、検出部１２ｂの検出側（反射光ＲＬを受光する側）には、スリット１２ｅが設けられている。検出部１２ｂにＰＳＤ等の長尺の検出器を用いる場合、スリット１２ｅを設けないと、検出器の各検出素子で異なる光を検出する。よって、距離測定部１２は、距離測定部１２と試験片１（展開層２）との正確な距離を測定することが困難になる。スリット１２ｅを設けることにより、検出部１２ｂの検出範囲を制限することになる。つまり、検出部１２ｂは、スリット１２ｅを通過した特定の光のみ（反射光ＲＬのみ）を受光することができる。 In the present embodiment, a slit 12e is provided on the detection side (the side that receives the reflected light RL) of the detection unit 12b. When a long detector such as PSD is used for the detection unit 12b, if the slit 12e is not provided, different light is detected by each detection element of the detector. Therefore, it becomes difficult for the distance measuring unit 12 to measure an accurate distance between the distance measuring unit 12 and the test piece 1 (the development layer 2). By providing the slit 12e, the detection range of the detection unit 12b is limited. That is, the detection unit 12b can receive only specific light (only the reflected light RL) that has passed through the slit 12e.

ここで、図５Ａ及び図５Ｂを参照して、距離測定部１２の具体例について説明する。図５Ａ及び図５Ｂは、試験片１を挿入方向（図３の破線矢印参照）から見た断面図である。検出部１２ｂが露出された展開層２からの反射光ＲＬのみを検出することにより、距離測定部１２と展開層２との正確な距離を測定することができる。 Here, a specific example of the distance measuring unit 12 will be described with reference to FIGS. 5A and 5B. 5A and 5B are cross-sectional views of the test piece 1 as viewed from the insertion direction (see the broken arrow in FIG. 3). By detecting only the reflected light RL from the development layer 2 from which the detection unit 12b is exposed, the accurate distance between the distance measurement unit 12 and the development layer 2 can be measured.

図５Ａに示すように、測定光ＭＬの照射幅ｄ´が開口部４の幅Ｄよりも広い場合、側壁４ａに測定光ＭＬが当たり不要光ＵＬ発生する。不要光ＵＬが検出部１２ｂに入射すると、距離測定部１２と試験片１との正確な距離を検出することが困難となる。 As shown in FIG. 5A, when the irradiation width d ′ of the measurement light ML is wider than the width D of the opening 4, the measurement light ML hits the side wall 4a to generate unnecessary light UL. When the unnecessary light UL is incident on the detection unit 12b, it is difficult to detect an accurate distance between the distance measurement unit 12 and the test piece 1.

一方、図５Ｂに示すように、本実施形態の照射部１２ａは、開口部４の幅Ｄよりも狭い照射幅ｄで測定光ＭＬを照射する。この場合、不要光ＵＬが生じ難い。よって、検出部１２ｂに入射する不要光ＵＬが低減されるため、正確な距離を検出することができる。 On the other hand, as shown in FIG. 5B, the irradiation unit 12 a of this embodiment irradiates the measurement light ML with an irradiation width d that is narrower than the width D of the opening 4. In this case, unnecessary light UL is hardly generated. Therefore, since the unnecessary light UL which enters the detection unit 12b is reduced, an accurate distance can be detected.

なお、一般に、被挿入部１１は、試験片１のサイズに比べて広く形成されている。よって、被挿入部１１に試験片１が斜めに挿入される場合がある。この場合、検出部１２ｂが不要光ＵＬを検出する可能性が高くなる。従って、検出部１２ｂとして、ＰＳＤ等の長尺の検出器が用いられる場合、検出部１２ｂの長手方向が開口部４の長手方向と平行になるように配置されていることが望ましい。 In general, the inserted portion 11 is formed wider than the size of the test piece 1. Therefore, the test piece 1 may be inserted obliquely into the inserted portion 11. In this case, the detection unit 12b is more likely to detect the unnecessary light UL. Therefore, when a long detector such as PSD is used as the detection unit 12 b, it is desirable that the detection unit 12 b be arranged so that the longitudinal direction of the detection unit 12 b is parallel to the longitudinal direction of the opening 4.

また、測定光ＭＬの照射幅は、開口部４の幅の１／３以下であることが望ましい。図６は、開口部４の幅（短手方向の幅）とオフセット量（単位［ｍｍ］）及び測定可能範囲（単位［ｍｍ］）との関係の一例を示すグラフである。図６の例では、測定光ＭＬの照射幅ｄ（試験片１の短手方向の照射幅）は３ｍｍである。グラフの実線は測定可能範囲を示し、破線はオフセット量を示す。「オフセット量」は、容器３に起因する距離測定部１２と展開層２との距離のずれ量である。オフセット量が大きい場合には、正確な距離の検出に影響を及ぼす。「測定可能範囲」は、開口部４の短手方向において、反射光ＲＬを得るために測定光ＭＬを照射することができる範囲（幅）である。広い範囲に測定光ＭＬを照射することができれば、反射光ＲＬの量も増える。検出部１２ｂは、受光する光量が多いほど、正確な距離の検出が可能となる。 Further, it is desirable that the irradiation width of the measurement light ML is 1/3 or less of the width of the opening 4. FIG. 6 is a graph showing an example of the relationship between the width of the opening 4 (width in the short direction), the offset amount (unit [mm]), and the measurable range (unit [mm]). In the example of FIG. 6, the irradiation width d of the measuring light ML (irradiation width in the short direction of the test piece 1) is 3 mm. The solid line in the graph indicates the measurable range, and the broken line indicates the offset amount. The “offset amount” is a shift amount of the distance between the distance measuring unit 12 and the development layer 2 due to the container 3. When the offset amount is large, it affects the detection of an accurate distance. The “measurable range” is a range (width) in which the measurement light ML can be irradiated to obtain the reflected light RL in the short direction of the opening 4. If the measurement light ML can be irradiated over a wide range, the amount of the reflected light RL also increases. The detection unit 12b can detect an accurate distance as the amount of received light increases.

図６から明らかなように、測定光ＭＬの照射幅が３ｍｍに対して開口部４の幅が約９ｍｍの場合、約６ｍｍを測定可能範囲とすることができ、且つオフセット量を低くおさえることができる。つまり、測定光ＭＬの照射幅を開口部４の幅の１／３とする場合には、正確な距離の検出が可能となる。一方、測定光ＭＬの照射幅を開口部４の幅の１／３よりも大きくすると、オフセット量が増え、測定可能範囲も狭くなる。なお、図６の結果に基づけば、測定光ＭＬの照射幅の３倍になるように試験片１の開口部４の幅を作成することにより、正確な距離の検出が可能となる。 As is apparent from FIG. 6, when the irradiation width of the measurement light ML is 3 mm and the width of the opening 4 is about 9 mm, about 6 mm can be set as a measurable range and the offset amount can be kept low. it can. That is, when the irradiation width of the measurement light ML is set to 1/3 of the width of the opening 4, an accurate distance can be detected. On the other hand, when the irradiation width of the measurement light ML is made larger than 1/3 of the width of the opening 4, the offset amount increases and the measurable range becomes narrow. In addition, based on the result of FIG. 6, it is possible to accurately detect the distance by creating the width of the opening 4 of the test piece 1 so as to be three times the irradiation width of the measurement light ML.

（蛍光測定部）
図７Ａ及び図７Ｂは、蛍光測定部１３の詳細な構成を示す図である。図７Ａは、蛍光測定部１３を試験片１の挿入方向（図７Ｂの破線矢印）から見た断面図である。図７Ｂは、蛍光測定部１３を試験片１の挿入方向と直交する方向から見た断面図である。図７Ａにおける一点鎖線は励起光を示す。図７Ａ及び図７Ｂにおける二点鎖線は蛍光を示す。なお、図７Ｂの破線矢印は、図３の破線矢印に対応している。 (Fluorescence measurement unit)
7A and 7B are diagrams illustrating a detailed configuration of the fluorescence measurement unit 13. FIG. 7A is a cross-sectional view of the fluorescence measuring unit 13 as viewed from the insertion direction of the test piece 1 (broken arrow in FIG. 7B). FIG. 7B is a cross-sectional view of the fluorescence measurement unit 13 viewed from a direction orthogonal to the insertion direction of the test piece 1. The dashed-dotted line in FIG. 7A shows excitation light. The two-dot chain line in FIGS. 7A and 7B indicates fluorescence. 7B corresponds to the broken line arrow in FIG.

蛍光測定部１３は、距離測定部１２に固定され、露出された展開層２に対して励起光を照射し、展開層２から発生する蛍光を測定する。蛍光測定部１３は、励起光照射部１３ａと、光学ヘッド１３ｂとを有する。 The fluorescence measurement unit 13 is fixed to the distance measurement unit 12 and irradiates the exposed development layer 2 with excitation light, and measures the fluorescence generated from the development layer 2. The fluorescence measurement unit 13 includes an excitation light irradiation unit 13a and an optical head 13b.

励起光照射部１３ａは、開口部４における展開層２に励起光を照射する。本実施形態において、励起光照射部１３ａは、開口部４における展開層２に対して斜めから励起光を照射するよう配置されている。励起光照射部１３ａは、光源１３１ａと、レンズ１３２ａと、バンドパスフィルタ１３３ａとを含んで構成されている。光源１３１ａは、励起光を発生する。光源１３１ａは、たとえば、６６０ｎｍ付近の光を発生させるＬＤ（ＬａｓｅｒＤｉｏｄｅ）が用いられる。レンズ１３２ａは、光源１３１ａからの光をコリメートさせるコリメートレンズである。バンドパスフィルタ１３３ａは、光源１３１ａからの励起光の波長のうち、蛍光の波長と重畳する波長部分をカットするフィルタである。励起光が照射された展開層２（テストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬ）は、蛍光（たとえば、７６０ｎｍ付近）を発する。 The excitation light irradiation unit 13 a irradiates the development layer 2 in the opening 4 with excitation light. In this embodiment, the excitation light irradiation part 13a is arrange | positioned so that excitation light may be irradiated to the expansion | deployment layer 2 in the opening part 4 from diagonally. The excitation light irradiation unit 13a includes a light source 131a, a lens 132a, and a bandpass filter 133a. The light source 131a generates excitation light. As the light source 131a, for example, an LD (Laser Diode) that generates light around 660 nm is used. The lens 132a is a collimating lens that collimates light from the light source 131a. The band-pass filter 133a is a filter that cuts a wavelength portion that overlaps the fluorescence wavelength out of the wavelengths of the excitation light from the light source 131a. The development layer 2 (test line TL and control line CL) irradiated with the excitation light emits fluorescence (for example, around 760 nm).

光学ヘッド１３ｂは、２枚のレンズ１３１ｂと、バンドパスフィルタ１３２ｂと、光検出部１３３ｂとを含んで構成されている。レンズ１３１ｂは、展開層２で発生した蛍光（バンドパスフィルタ１３２ｂを透過した蛍光）をコリメートさせるコリメートレンズである。バンドパスフィルタ１３２ｂは、展開層２から発生した蛍光の波長のうち、励起光の波長と重畳する波長部分をカットするフィルタである。光検出部１３３ｂは、蛍光を測定する。光検出部１３３ｂとしては、たとえば、ＣＣＤやＣＭＯＳが用いられる。 The optical head 13b includes two lenses 131b, a band pass filter 132b, and a light detection unit 133b. The lens 131b is a collimating lens that collimates the fluorescence generated in the development layer 2 (fluorescence transmitted through the bandpass filter 132b). The band pass filter 132b is a filter that cuts a wavelength portion that overlaps with the wavelength of the excitation light, among the wavelengths of the fluorescence generated from the development layer 2. The light detection unit 133b measures fluorescence. For example, a CCD or CMOS is used as the light detection unit 133b.

（メモリ、比較部、駆動制御部）
メモリ１４は、ＲＡＭやＲＯＭ等の半導体記憶装置によって構成される。メモリ１４は、蛍光測定部１３の最適なフォーカス位置Ｆ及びその場合に距離測定部１２から出力される信号の電圧値ｖを記憶している（図８参照）。また、メモリ１４は、検出部１２ｂから出力される信号の電圧値と、蛍光測定部１３及び試験片１（展開層２）の距離との関係が対応付けられたグラフＸ（図８参照）等、各種情報を記憶している。「最適なフォーカス位置」とは、試験片１（開口部４において露出された展開層２）に対して蛍光測定部１３のフォーカスが合う場合の試験片１と蛍光測定部１３との距離である。 (Memory, comparison unit, drive control unit)
The memory 14 is configured by a semiconductor storage device such as a RAM or a ROM. The memory 14 stores the optimum focus position F of the fluorescence measurement unit 13 and the voltage value v of the signal output from the distance measurement unit 12 in that case (see FIG. 8). In addition, the memory 14 includes a graph X (see FIG. 8) in which the relationship between the voltage value of the signal output from the detection unit 12b and the distance between the fluorescence measurement unit 13 and the test piece 1 (deployment layer 2) is associated. Various types of information are stored. The “optimal focus position” is the distance between the test piece 1 and the fluorescence measurement unit 13 when the fluorescence measurement unit 13 is focused on the test piece 1 (the development layer 2 exposed in the opening 4). .

なお、本実施形態において、蛍光測定部１３及び距離測定部１２は、試験片１に対するそれぞれの距離が同じになるよう固定されている。つまり、距離測定部１２で測定された距離測定部１２と試験片１との距離は、蛍光測定部１３と試験片１の距離と同一であるとみなすことができる。 In the present embodiment, the fluorescence measuring unit 13 and the distance measuring unit 12 are fixed so that the distances to the test piece 1 are the same. That is, the distance between the distance measuring unit 12 and the test piece 1 measured by the distance measuring unit 12 can be regarded as the same as the distance between the fluorescence measuring unit 13 and the test piece 1.

比較部１５は、距離測定部１２（検出部１２ｂ）から出力される距離に応じた信号（電圧）を受け、その信号の電圧値に基づいて、距離測定部１２と試験片１との距離をメモリ１４に記憶された情報に当てはめて算出する。そして、比較部１５は、最適なフォーカス位置に対して現在の位置がどれくらいずれているかのずれ量を算出する。つまり、比較部１５は、距離測定部１２で測定された距離を予めメモリ１４に記憶しておいた最適なフォーカス位置（距離）と比較する。たとえば、図８に示すように、比較部１５は、距離測定部１２から出力された信号の電圧値ｖ´をグラフＸに当てはめて、距離ｆを算出する。そして、比較部１５は、最適なフォーカス位置Ｆに対する現在の距離ｆのずれ量Ｆ−ｆを算出する。 The comparison unit 15 receives a signal (voltage) corresponding to the distance output from the distance measurement unit 12 (detection unit 12b), and calculates the distance between the distance measurement unit 12 and the test piece 1 based on the voltage value of the signal. The calculation is performed by applying to the information stored in the memory 14. Then, the comparison unit 15 calculates a deviation amount indicating how much the current position is with respect to the optimum focus position. That is, the comparison unit 15 compares the distance measured by the distance measurement unit 12 with the optimum focus position (distance) stored in the memory 14 in advance. For example, as illustrated in FIG. 8, the comparison unit 15 applies the voltage value v ′ of the signal output from the distance measurement unit 12 to the graph X to calculate the distance f. Then, the comparison unit 15 calculates a deviation amount F−f of the current distance f with respect to the optimum focus position F.

駆動制御部１６は、最適なフォーカス位置に対して比較部１５で算出されたずれ量を補正するよう試験片１に対して距離測定部１２を移動させる。具体的には、駆動制御部１６は、距離測定部１２を試験片１の垂直方向に移動させる移動機構（図示無し）を駆動制御することにより、ずれ量を補正する。図８の例によれば、駆動制御部１６は、試験片１に対して距離測定部１２をずれ量Ｆ−ｆだけ移動させる。上述の通り、距離測定部１２は蛍光測定部１３に固定されている。よって、距離測定部１２を移動させることにより、蛍光測定部１３を移動させることができる。また、ずれ量は蛍光測定部１３のフォーカス位置を基準としているため、距離測定部１２を移動させることにより、蛍光測定部１３のフォーカス合わせが可能となる。 The drive control unit 16 moves the distance measurement unit 12 with respect to the test piece 1 so as to correct the deviation amount calculated by the comparison unit 15 with respect to the optimum focus position. Specifically, the drive control unit 16 corrects the shift amount by driving and controlling a moving mechanism (not shown) that moves the distance measuring unit 12 in the vertical direction of the test piece 1. According to the example of FIG. 8, the drive control unit 16 moves the distance measurement unit 12 by the deviation amount Ff with respect to the test piece 1. As described above, the distance measuring unit 12 is fixed to the fluorescence measuring unit 13. Therefore, the fluorescence measurement unit 13 can be moved by moving the distance measurement unit 12. Further, since the shift amount is based on the focus position of the fluorescence measurement unit 13, the fluorescence measurement unit 13 can be focused by moving the distance measurement unit 12.

本実施形態におけるメモリ１４、比較部１５及び駆動制御部１６は、「位置調整部」の一例である。「位置調整部」は、距離測定部１２から出力された信号に基づいて、露出された展開層２に対応する距離測定部１２の位置を調整する。 The memory 14, the comparison unit 15, and the drive control unit 16 in the present embodiment are examples of “position adjustment unit”. The “position adjusting unit” adjusts the position of the distance measuring unit 12 corresponding to the exposed development layer 2 based on the signal output from the distance measuring unit 12.

（解析部）
解析部１７は、蛍光測定部１３で測定された蛍光に基づいて検体に被検物質が含まれているかどうかを定量的若しくは定性的に解析する。解析方法については、公知の手法を用いることが可能である。 (Analysis Department)
The analysis unit 17 quantitatively or qualitatively analyzes whether or not the test substance is contained in the specimen based on the fluorescence measured by the fluorescence measurement unit 13. As the analysis method, a known method can be used.

（表示部）
表示部１８は、ＬＣＤ（ＬｉｑｕｉｄＣｒｙｓｔａｌＤｉｓｐｌａｙ）等の任意の表示デバイスによって構成される。表示部１８には、たとえば、解析部１７による解析結果が表示される。 (Display section)
The display unit 18 is configured by an arbitrary display device such as an LCD (Liquid Crystal Display). On the display unit 18, for example, an analysis result by the analysis unit 17 is displayed.

（制御部）
制御部１９は、分析装置１０全般の動作制御を行う。たとえば、制御部１９は、被挿入部１１に挿入された試験片１を挿入方向へ移動させる。また、制御部１９は、解析部１７による解析結果を表示部１８に表示させる。 (Control part)
The control unit 19 performs overall operation control of the analysis apparatus 10. For example, the control unit 19 moves the test piece 1 inserted into the inserted portion 11 in the insertion direction. In addition, the control unit 19 causes the display unit 18 to display the analysis result obtained by the analysis unit 17.

次に、図９から図１０Ｂを参照して、本実施形態の分析装置１０におけるフォーカス調整及び蛍光測定の動作を説明する。図９は、分析装置１０の動作を示すフローチャートである。図１０Ａ及び図１０Ｂは、距離測定部１２及び蛍光測定部１３を試験片１の挿入方向（図１０Ａ及び図１０Ｂの一点鎖線矢印参照）に直交する方向から見た図である。なお、図１０Ａ及び図１０Ｂの一点鎖線矢印は、図３の破線矢印に対応している。ここでは、制御部１９が自動で試験片１を移動させる構成について述べる。また、最適なフォーカス位置を「フォーカス位置Ｆ」として示す。 Next, with reference to FIGS. 9 to 10B, operations of focus adjustment and fluorescence measurement in the analyzer 10 of the present embodiment will be described. FIG. 9 is a flowchart showing the operation of the analyzer 10. 10A and 10B are views of the distance measuring unit 12 and the fluorescence measuring unit 13 viewed from a direction orthogonal to the insertion direction of the test piece 1 (see the dashed line arrows in FIGS. 10A and 10B). In addition, the dashed-dotted arrow of FIG. 10A and 10B respond | corresponds to the broken-line arrow of FIG. Here, a configuration in which the control unit 19 automatically moves the test piece 1 will be described. The optimum focus position is indicated as “focus position F”.

まず、制御部１９は、被挿入部１１に挿入された試験片１の開口部４の一端（図１０Ａにおける位置α）を距離測定部１２の直下（照射部１２ａの直下）まで移動させる（Ｓ１０）。 First, the control unit 19 moves one end (position α in FIG. 10A) of the opening 4 of the test piece 1 inserted into the inserted portion 11 to just below the distance measuring unit 12 (just below the irradiation unit 12a) (S10). ).

照射部１２ａは、位置αにおける展開層２に開口部４の幅よりも狭い照射幅で測定光ＭＬを照射する（Ｓ１１。図１０Ａ参照）。 The irradiation unit 12a irradiates the measurement light ML to the development layer 2 at the position α with an irradiation width narrower than the width of the opening 4 (S11, see FIG. 10A).

検出部１２ｂは、Ｓ１１の測定光ＭＬの反射光ＲＬを受光し、距離に対応する信号を比較部１５に出力する（Ｓ１２）。ここでは、照射部１２ａと展開層２との間隔が距離ｆであったとする。 The detection unit 12b receives the reflected light RL of the measurement light ML in S11 and outputs a signal corresponding to the distance to the comparison unit 15 (S12). Here, it is assumed that the distance between the irradiation unit 12a and the development layer 2 is the distance f.

比較部１５は、Ｓ１２における距離ｆに対応する信号と、メモリ１４に記憶された情報に基づいて、最適なフォーカス位置Ｆに対する距離測定部１２のずれ量を算出する（Ｓ１３）。 The comparison unit 15 calculates the shift amount of the distance measurement unit 12 with respect to the optimum focus position F based on the signal corresponding to the distance f in S12 and the information stored in the memory 14 (S13).

駆動制御部１６は、Ｓ１３で算出されたずれ量に基づいて、距離測定部１２を移動させる（Ｓ１４）。蛍光測定部１３は、距離測定部１２に固定されている。従って、距離測定部１２を移動させることにより、蛍光測定部１３の位置αにおけるフォーカス合わせが完了する（Ｓ１５）。本実施形態におけるＳ１１からＳ１５は、「フォーカス調整方法」の一例である。 The drive control part 16 moves the distance measurement part 12 based on the deviation | shift amount calculated by S13 (S14). The fluorescence measurement unit 13 is fixed to the distance measurement unit 12. Accordingly, by moving the distance measuring unit 12, focusing at the position α of the fluorescence measuring unit 13 is completed (S15). S11 to S15 in this embodiment are an example of a “focus adjustment method”.

その後、制御部１９は、位置αが励起光ＥＬの照射位置になるまで、蛍光測定部１３に対して試験片１を移動させる（Ｓ１６）。なお、Ｓ１５の工程とＳ１６の工程は逆に行ってもよい。すなわち、位置αまで蛍光測定部１３を移動させた後、フォーカス合わせを行ってもよい。 Then, the control part 19 moves the test piece 1 with respect to the fluorescence measurement part 13 until the position (alpha) becomes an irradiation position of excitation light EL (S16). In addition, you may perform the process of S15, and the process of S16 reversely. That is, focus adjustment may be performed after the fluorescence measuring unit 13 is moved to the position α.

そして、蛍光測定部１３は、位置αに対して励起光ＥＬを照射し、発生した蛍光を測定する（Ｓ１７。図１０Ｂ参照）。 And the fluorescence measurement part 13 irradiates excitation light EL with respect to position (alpha), and measures the fluorescence which generate | occur | produced (S17. Refer FIG. 10B).

Ｓ１７の後、制御部１９は、蛍光測定部１３に対して試験片１を移動させ、開口部４の他端（位置β。図１０Ｂ参照）まで蛍光測定を行う。位置βまで蛍光測定が完了した後、解析部１７は得られた蛍光を解析する（Ｓ１８）。制御部１９は、解析結果を表示部１８に表示させる。 After S17, the control unit 19 moves the test piece 1 relative to the fluorescence measurement unit 13, and performs fluorescence measurement up to the other end of the opening 4 (position β, see FIG. 10B). After the fluorescence measurement is completed up to the position β, the analysis unit 17 analyzes the obtained fluorescence (S18). The control unit 19 causes the display unit 18 to display the analysis result.

なお、位置αから位置βまでに蛍光測定を行う間隔（蛍光測定を行う回数）は任意に設定することが可能である。また、展開層２の厚さや容器３の形状（オフセット量）は一様でないため、一旦合わせたフォーカスがずれる可能性もある。或いは、試験片１を移動させるうちにフォーカスがずれる可能性もある。この場合、初期位置だけでなく、任意のタイミング（任意の位置）で距離測定を行い、その結果を反映させつつ、蛍光測定を行うことも可能である。 Note that the interval at which fluorescence measurement is performed from position α to position β (the number of times fluorescence measurement is performed) can be arbitrarily set. Moreover, since the thickness of the spreading | diffusion layer 2 and the shape (offset amount) of the container 3 are not uniform, the focus once adjusted may shift | deviate. Alternatively, the focus may be shifted while the test piece 1 is moved. In this case, not only the initial position but also the distance measurement can be performed at an arbitrary timing (arbitrary position), and the fluorescence measurement can be performed while reflecting the result.

また、開口部４全体に対して励起光を当てた場合であっても、蛍光が発生するのはテストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬの部分だけである。よって、テストラインＴＬ及びコントロールラインＣＬの位置を特定し、当該位置でフォーカス調整及び蛍光測定を行うことも可能である。しかし、テストラインＴＬは混合溶液の移動状態により、位置のずれが起こる場合がある（混合溶液と共に抗体も移動してしまい、本来のラインからずれた位置で蛍光を発する）。開口部４全体に渡って蛍光観察をした方がより正確な情報が得られる。 Even when the excitation light is applied to the entire opening 4, fluorescence is generated only in the test line TL and the control line CL. Therefore, it is possible to specify the positions of the test line TL and the control line CL and perform focus adjustment and fluorescence measurement at the positions. However, the position of the test line TL may shift depending on the moving state of the mixed solution (the antibody also moves together with the mixed solution and emits fluorescence at a position shifted from the original line). More accurate information can be obtained by performing fluorescence observation over the entire opening 4.

＜作用・効果＞
本実施形態の作用及び効果について説明する。 <Action and effect>
The operation and effect of this embodiment will be described.

本実施形態の分析装置１０は、検体が展開される展開層２及び展開層２の一部を外部に露出させる開口部４を有する試験片１を用いて検体の分析を行う。分析装置１０は、距離測定部１２と、位置調整部と、蛍光測定部１３とを有する。距離測定部１２は、照射部１２ａと、検出部１２ｂとを有する。照射部１２ａは、開口部４において露出された展開層２に対し、開口部４の幅よりも狭い照射幅で測定光を照射する。検出部１２ｂは、測定光のうち、露出された展開層２からの反射光を検出し、距離に対応する信号を出力する。位置調整部は、距離測定部１２から出力された信号に基づいて、露出された展開層に対する距離測定部１２の位置を調整する。蛍光測定部１３は、距離測定部１２に固定され、位置調整部による位置調整の後、露出された展開層２に対して励起光を照射し、展開層２から発生する蛍光を測定する。 The analysis apparatus 10 according to the present embodiment analyzes the specimen using the development layer 2 where the specimen is developed and the test piece 1 having the opening 4 that exposes a part of the development layer 2 to the outside. The analysis apparatus 10 includes a distance measurement unit 12, a position adjustment unit, and a fluorescence measurement unit 13. The distance measurement unit 12 includes an irradiation unit 12a and a detection unit 12b. The irradiation unit 12 a irradiates the developing layer 2 exposed in the opening 4 with measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening 4. The detection unit 12b detects the reflected light from the exposed development layer 2 out of the measurement light, and outputs a signal corresponding to the distance. The position adjusting unit adjusts the position of the distance measuring unit 12 with respect to the exposed development layer based on the signal output from the distance measuring unit 12. The fluorescence measurement unit 13 is fixed to the distance measurement unit 12, and after the position adjustment by the position adjustment unit, the exposed development layer 2 is irradiated with excitation light to measure fluorescence generated from the development layer 2.

このように、照射部１２ａは、開口部４において露出された展開層２に対し、開口部４の幅よりも狭い照射幅で測定光を照射する。このような測定光を照射することにより、不要光の発生を抑えることができる。従って、検出部１２ｂに入射する不要光を低減させることができる（つまり、精度の良い距離測定ができる）。位置調整部は、距離測定部１２から出力された信号に基づいて、露出された展開層２に対する距離測定部１２の位置を正確に調整することができる。蛍光測定部１３は、距離測定部１２に固定されているため、距離測定部１２の位置を調整することにより、蛍光測定部１３のフォーカス合わせが可能となる。すなわち、本実施形態における分析装置１０によれば、試験片１（展開層２）と蛍光測定部１３とのフォーカス合わせを正確に行うことができる。その結果、蛍光測定の感度を向上することができる。 As described above, the irradiation unit 12 a irradiates the measurement light with the irradiation width narrower than the width of the opening 4 to the development layer 2 exposed in the opening 4. Irradiation with such measurement light can suppress generation of unnecessary light. Therefore, unnecessary light incident on the detection unit 12b can be reduced (that is, distance measurement with high accuracy can be performed). The position adjusting unit can accurately adjust the position of the distance measuring unit 12 with respect to the exposed development layer 2 based on the signal output from the distance measuring unit 12. Since the fluorescence measurement unit 13 is fixed to the distance measurement unit 12, the fluorescence measurement unit 13 can be focused by adjusting the position of the distance measurement unit 12. That is, according to the analyzer 10 in the present embodiment, it is possible to accurately focus the test piece 1 (deployment layer 2) and the fluorescence measurement unit 13. As a result, the sensitivity of fluorescence measurement can be improved.

また、本実施形態の分析装置１０は、試験片１が挿入される被挿入部１１を有する。検出部１２ｂは長尺の検出器である。試験片１が被挿入部１１に挿入された場合、検出部１２ｂは、その長手方向が開口部４の長手方向と平行になるように配置されている。 Moreover, the analyzer 10 of this embodiment has the insertion part 11 in which the test piece 1 is inserted. The detection unit 12b is a long detector. When the test piece 1 is inserted into the inserted part 11, the detection part 12 b is arranged so that its longitudinal direction is parallel to the longitudinal direction of the opening 4.

このように、試験片１が被挿入部１１に挿入された場合、検出部１２ｂの長手方向が開口部４の長手方向と平行になるように検出部１２ｂを配置する。よって、測定範囲を広くとることができる。すなわち、被挿入部１１に試験片１が挿入された結果、位置ずれが生じた場合であっても正確な距離を測定することができる。従って、試験片１と蛍光測定部１３とのフォーカス合わせをより正確に行うことができる。 As described above, when the test piece 1 is inserted into the insertion portion 11, the detection unit 12 b is arranged so that the longitudinal direction of the detection unit 12 b is parallel to the longitudinal direction of the opening 4. Therefore, the measurement range can be widened. That is, as a result of the test piece 1 being inserted into the insertion portion 11, an accurate distance can be measured even when a positional shift occurs. Therefore, the focusing of the test piece 1 and the fluorescence measuring unit 13 can be performed more accurately.

また、本実施形態の分析装置１０は、調整部材（スリット１２ｃ、マスク１２ｄ等）を有する。調整部材は、照射部１２ａの照射側に設けられ、測定光の照射幅を調整する。 Moreover, the analyzer 10 of this embodiment has adjustment members (slit 12c, mask 12d, etc.). An adjustment member is provided in the irradiation side of the irradiation part 12a, and adjusts the irradiation width of measurement light.

このように、調整部材を設けることにより、照射部１２ａからの測定光の照射幅を調整することができる。よって、開口部４の幅に合わせた測定光を照射することが可能となる。つまり、不要光を低減させることができるため、距離測定部１２は、試験片１と距離測定部１２との正確な距離を測定することができる。当該距離に基づいて距離測定部１２と試験片１（展開層２）との位置調整を行うことにより、試験片１と蛍光測定部１３とのフォーカス合わせを正確に行うことができる。 Thus, by providing the adjustment member, the irradiation width of the measurement light from the irradiation unit 12a can be adjusted. Therefore, it is possible to irradiate measurement light in accordance with the width of the opening 4. That is, since unnecessary light can be reduced, the distance measuring unit 12 can measure an accurate distance between the test piece 1 and the distance measuring unit 12. By adjusting the position of the distance measurement unit 12 and the test piece 1 (the development layer 2) based on the distance, the test piece 1 and the fluorescence measurement unit 13 can be accurately focused.

また、本実施形態の分析装置１０において、測定光の照射幅は、開口部４の幅の１／３以下である。 Further, in the analyzer 10 of the present embodiment, the irradiation width of the measurement light is 1/3 or less of the width of the opening 4.

このように、測定光の照射幅を設定することにより、不要光の低減ができる。更に、オフセット量を減らし、測定範囲を広くとることができる。よって、距離測定部１２は、試験片１と距離測定部１２との正確な距離を測定することができる。当該距離に基づいて距離測定部１２と試験片１（展開層２）との位置調整を行うことにより、試験片１と蛍光測定部１３とのフォーカス合わせを正確に行うことができる。 Thus, unnecessary light can be reduced by setting the irradiation width of the measurement light. Furthermore, the offset amount can be reduced and the measurement range can be widened. Therefore, the distance measuring unit 12 can measure an accurate distance between the test piece 1 and the distance measuring unit 12. By adjusting the position of the distance measurement unit 12 and the test piece 1 (the development layer 2) based on the distance, the test piece 1 and the fluorescence measurement unit 13 can be accurately focused.

また、本実施形態の構成をフォーカス調整方法として実現することも可能である。本実施形態におけるフォーカス調整方法は、検体が展開される展開層２及び展開層２の一部を外部に露出させる開口部４を有する試験片１に対し、開口部４において露出された展開層２から発生する蛍光を測定する蛍光測定部１３のフォーカス合わせを行う。本実施形態におけるフォーカス調整方法は、距離測定部１２に設けられた照射部１２ａが、露出された展開層２に対し、開口部４の幅よりも狭い照射幅で測定光を照射する工程を有する。本実施形態におけるフォーカス調整方法は、距離測定部１２に設けられた検出部１２ｂが、測定光のうち、露出された展開層２からの反射光を検出し、距離に対応する信号を出力する工程を有する。本実施形態におけるフォーカス調整方法は、位置調整部が、検出部１２ｂから出力された信号に基づいて、露出された展開層２に対する距離測定部１２の位置を調整することにより、距離測定部１２に固定された蛍光測定部１３のフォーカス合わせを行う工程を有する。 The configuration of the present embodiment can also be realized as a focus adjustment method. The focus adjustment method in the present embodiment is a development layer 2 exposed in the opening 4 with respect to the development layer 2 where the specimen is developed and the test piece 1 having the opening 4 that exposes a part of the development layer 2 to the outside. The fluorescence measuring unit 13 that measures the fluorescence generated from the light is focused. The focus adjustment method according to the present embodiment includes a step in which the irradiation unit 12 a provided in the distance measurement unit 12 irradiates the measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening 4 to the exposed development layer 2. . In the focus adjustment method in the present embodiment, the detection unit 12b provided in the distance measurement unit 12 detects reflected light from the exposed development layer 2 in the measurement light and outputs a signal corresponding to the distance. Have In the focus adjustment method in the present embodiment, the position adjustment unit adjusts the position of the distance measurement unit 12 with respect to the exposed development layer 2 based on the signal output from the detection unit 12b, whereby the distance measurement unit 12 A step of performing focusing of the fixed fluorescence measurement unit 13.

このようなフォーカス調整方法であっても、照射部１２ａは、開口部４において露出された展開層２に対し、開口部４の幅よりも狭い照射幅で測定光を照射する。このような測定光を照射することにより、検出部１２ｂに入射する不要光を低減させることができる。よって、位置調整部は、距離測定部１２から出力された信号に基づいて、露出された展開層２に対する距離測定部１２の位置を正確に調整することができる。つまり、距離測定部１２に固定された蛍光測定部１３のフォーカス合わせが可能となる。すなわち、本実施形態におけるフォーカス調整方法によれば、試験片１（展開層２）と蛍光測定部１３とのフォーカス合わせを正確に行うことができる。 Even with such a focus adjustment method, the irradiation unit 12 a irradiates the developing layer 2 exposed at the opening 4 with measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening 4. Irradiating such measurement light can reduce unnecessary light incident on the detector 12b. Therefore, the position adjusting unit can accurately adjust the position of the distance measuring unit 12 with respect to the exposed development layer 2 based on the signal output from the distance measuring unit 12. In other words, the fluorescence measurement unit 13 fixed to the distance measurement unit 12 can be focused. That is, according to the focus adjustment method in the present embodiment, the focus adjustment between the test piece 1 (deployment layer 2) and the fluorescence measurement unit 13 can be performed accurately.

＜変形例＞
上記実施形態では、プラスチック等の材料からなる容器３による試験片１を用いて説明を行った。上述の通り、測定光の照射幅を調整することにより、不要光の発生及び検出部１２ｂへの不要光の入射を低減させることが可能となる。 <Modification>
In the said embodiment, it demonstrated using the test piece 1 by the container 3 which consists of materials, such as a plastics. As described above, it is possible to reduce the generation of unnecessary light and the incidence of unnecessary light on the detection unit 12b by adjusting the irradiation width of the measurement light.

しかし、不要光ＵＬには、展開層２からの散乱光ＳＬが側壁４ａに当たることにより生じるものがある（不要光ＵＬ´。図１１参照）。検出部１２ｂがこの不要光ＵＬ´を受光した場合、距離測定部１２は、試験片１と距離測定部１２との正確な距離の測定が困難となる。 However, the unnecessary light UL is generated when the scattered light SL from the spreading layer 2 strikes the side wall 4a (unnecessary light UL ′; see FIG. 11). When the detection unit 12b receives the unnecessary light UL ′, it becomes difficult for the distance measurement unit 12 to accurately measure the distance between the test piece 1 and the distance measurement unit 12.

そこで、本変形例では側壁４ａに、分析装置１０（照射部１２ａ）からの測定光に基づく不要光を受けた場合に、分析装置１０の検出部１２ｂ方向への反射を防止する反射防止材を形成する。反射防止材は、たとえば「ソマＢＮＲ−Ｎ５０」（ソマール株式社製）を用いる。反射防止材により、散乱光ＳＬによる不要光ＵＬ´の発生を低減することができる。よって、検出部１２ｂへの不要光の入射を更に低減させることができる。よって、距離測定部１２と展開層２との正確な位置調整が可能となる。すなわち、展開層２に対する蛍光測定部１３のフォーカス合わせを正確に行うことができる。 Therefore, in this modification, when the side wall 4a receives unnecessary light based on measurement light from the analyzer 10 (irradiation unit 12a), an antireflection material that prevents reflection in the direction of the detection unit 12b of the analyzer 10 is provided. Form. As the antireflection material, for example, “Soma B NR-N50” (manufactured by Somaru Corporation) is used. With the antireflection material, generation of unnecessary light UL ′ due to the scattered light SL can be reduced. Therefore, it is possible to further reduce the incidence of unnecessary light on the detection unit 12b. Therefore, accurate position adjustment between the distance measuring unit 12 and the development layer 2 is possible. That is, the focus of the fluorescence measuring unit 13 with respect to the development layer 2 can be accurately performed.

図１２は、上記実施形態における試験片１の開口部４の短軸方向（幅Ｄ）における位置と距離測定部１２から試験片１（開口部４における展開層２）までの距離の測定結果との関係を示すグラフである。 FIG. 12 shows the measurement result of the position in the minor axis direction (width D) of the opening 4 of the test piece 1 and the distance from the distance measurement unit 12 to the test piece 1 (the development layer 2 in the opening 4) in the above embodiment. It is a graph which shows the relationship.

図１２の破線は、展開層２のみ（展開層２が容器３に収容されていない状態）に対して距離の測定を行った場合のグラフＧ１である。この場合、不要光ＵＬ´の影響はないため、どの位置においても距離測定部１２と展開層２との距離はほぼ均一になる。なお、グラフＧ１の場合には、展開層２のみであるため、開口部４は存在しない。よって、開口部４に対応する位置に対して距離測定を行った例である。 The broken line in FIG. 12 is a graph G1 when the distance is measured only for the development layer 2 (a state where the development layer 2 is not accommodated in the container 3). In this case, since there is no influence of the unnecessary light UL ′, the distance between the distance measuring unit 12 and the development layer 2 becomes almost uniform at any position. In the case of the graph G1, since there is only the development layer 2, the opening 4 does not exist. Therefore, this is an example in which distance measurement is performed on a position corresponding to the opening 4.

一方、図１２の実線は、変形例の試験片１（側壁４ａに反射防止材が形成された試験片１）に対して距離の測定を行った場合のグラフＧ２である。展開層２のみの場合と同様、この場合には、距離測定部１２と展開層２との距離はほぼ均一になる。つまり、側壁４ａに反射防止材を形成することにより、不要光ＵＬ´の影響を低減させることができる。 On the other hand, the solid line in FIG. 12 is a graph G2 when the distance is measured for the test piece 1 of the modified example (the test piece 1 in which the antireflection material is formed on the side wall 4a). As in the case of the development layer 2 alone, in this case, the distance between the distance measuring unit 12 and the development layer 2 is substantially uniform. That is, by forming the antireflection material on the side wall 4a, the influence of the unnecessary light UL ′ can be reduced.

なお、不要光ＵＬ´を低減させる構成であれば、側壁４ａに形成されるものは反射防止材に限られない。たとえば、開口部４の側壁４ａは、分析装置１０からの測定光に基づく不要光を受けた場合に、分析装置１０の検出部１２ｂ以外の方向に散乱させるグレーティング構造に形成されていることでもよい。或いは、開口部４の側壁４ａは、分析装置１０からの測定光に基づく不要光を受けた場合に、当該不要光を吸収する吸収材で形成されていることでもよい。更には、側壁４ａだけでなく、容器３の表面全体を反射防止材等で形成することも可能である。 In addition, if it is the structure which reduces unnecessary light UL ', what is formed in the side wall 4a is not restricted to an antireflection material. For example, the side wall 4a of the opening 4 may be formed in a grating structure that scatters in a direction other than the detection unit 12b of the analyzer 10 when unnecessary light based on measurement light from the analyzer 10 is received. . Alternatively, the side wall 4a of the opening 4 may be formed of an absorbing material that absorbs unnecessary light when receiving unnecessary light based on measurement light from the analyzer 10. Furthermore, not only the side wall 4a but also the entire surface of the container 3 can be formed of an antireflection material or the like.

１試験片
２展開層
３容器
４開口部
４ａ側壁
１０分析装置
１１被挿入部
１２距離測定部
１２ａ照射部
１２ｂ検出部
１２ｃ、１２ｅスリット
１２ｄマスク
１３蛍光測定部
１３ａ励起光照射部
１３ｂ光学ヘッド
１４メモリ
１５比較部
１６駆動制御部
１７解析部
１８表示部
１９制御部
ＣＬコントロールライン
ＴＬテストライン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Test piece 2 Expanding layer 3 Container 4 Opening part 4a Side wall 10 Analyzer 11 Insertion part 12 Distance measurement part 12a Irradiation part 12b Detection part 12c, 12e Slit 12d Mask 13 Fluorescence measurement part 13a Excitation light irradiation part 13b Optical head 14 Memory 15 Comparison Unit 16 Drive Control Unit 17 Analysis Unit 18 Display Unit 19 Control Unit CL Control Line TL Test Line

Claims

An analyzer for analyzing the specimen using a development layer on which the specimen is developed and a test piece having an opening that exposes a part of the development layer to the outside,
Irradiation unit that irradiates measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening with respect to the development layer exposed in the opening, and reflected light from the development layer that is exposed among the measurement light. A distance measuring unit having a detecting unit for detecting and outputting a signal corresponding to the distance;
Based on the signal output from the distance measurement unit, a position adjustment unit that adjusts the position of the distance measurement unit with respect to the exposed development layer,
A fluorescence measuring unit fixed to the distance measuring unit, and after adjusting the position by the position adjusting unit, irradiating the exposed development layer with excitation light, and measuring fluorescence generated from the development layer;
An analysis apparatus comprising:

An inserted portion into which the test piece is inserted;
The detection unit is a long detector,
2. The analyzer according to claim 1, wherein when the test piece is inserted into the insertion portion, the detection unit is arranged so that a longitudinal direction thereof is parallel to a longitudinal direction of the opening. .

The analyzer according to claim 1, further comprising an adjustment member that is provided on an irradiation side of the irradiation unit and adjusts an irradiation width of the measurement light.

The analyzer according to claim 1, wherein an irradiation width of the measurement light is 1/3 or less of a width of the opening.

A test piece for use in the analyzer according to any one of claims 1 to 4,
A deployment layer where the specimen is deployed;
A container containing the spreading layer;
An opening provided in the container and exposing a part of the spreading layer to the outside;
Have
At least the side wall of the opening is formed of an antireflection material that prevents reflection in the direction of the detection unit of the analyzer when receiving unnecessary light based on measurement light from the analyzer. Test piece.

A test piece for use in the analyzer according to any one of claims 1 to 4,
A deployment layer where the specimen is deployed;
A container containing the spreading layer;
An opening provided in the container and exposing a part of the spreading layer to the outside;
Have
The test is characterized in that at least the side wall of the opening is formed in a grating structure that scatters in a direction other than the detection unit of the analyzer when receiving unnecessary light based on measurement light from the analyzer. Piece.

A test piece for use in the analyzer according to any one of claims 1 to 4,
A deployment layer where the specimen is deployed;
A container containing the spreading layer;
An opening provided in the container and exposing a part of the spreading layer to the outside;
Have
At least a side wall of the opening is formed of an absorbing material that absorbs unnecessary light when receiving unnecessary light based on measurement light from the analyzer.

The test piece according to any one of claims 5 to 7, wherein a side wall of the opening is formed in a taper shape.

Focus of a fluorescence measurement unit that measures fluorescence generated from the development layer exposed in the opening with respect to a test piece having a development layer on which a specimen is developed and an opening that exposes a part of the development layer to the outside A focus adjustment method for performing alignment,
A step of irradiating measurement light with an irradiation width narrower than the width of the opening, with respect to the exposed development layer, the irradiation unit provided in the distance measurement unit;
A detection unit provided in the distance measurement unit detects the reflected light from the exposed development layer out of the measurement light, and outputs a signal corresponding to the distance;
The position adjustment unit adjusts the position of the distance measurement unit with respect to the exposed development layer based on the signal output from the detection unit, so that the fluorescence measurement unit fixed to the distance measurement unit A process of focusing,
A focus adjustment method characterized by comprising: