JP2013130409A - Micro nano-fluid analysis device and manufacturing method thereof - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device structure, in a micro nano-fluid analysis device for analyzing DNA, in which measurement accuracy is improved by making movement in a height direction or a horizontal direction of DNA inside of a flow passage controllable and improving controllability for a height of the flow passage.SOLUTION: A micro nano-fluid analysis device comprises a conductive film provided on a substrate, a first electrode which applies a voltage to the conductive film, a channel part of which the top face from one side end face of a first insulating film provided on the conductive film to another side end face is opened and which becomes a flow passage for a solution, at least a pair of electrode terminals which are provided on both side faces of the channel part while being confronted to each other, and second and third electrodes which apply voltages to wiring connected to the pair of electrode terminals, respectively. When passing the solution through the channel part, a voltage is applied between the second electrode and the third electrode and an electric signal flowing between the second and third electrodes is measured via a specimen contained in the solution, thereby analyzing the specimen.

Description

本発明は、マイクロ・ナノ流体解析デバイスを用いた計測技術に関する。   The present invention relates to a measurement technique using a micro / nanofluidic analysis device.

次々世代DNAシーケンサを実現するアプローチとして、DNAと同程度の大きさの孔と、その両脇に電極を備えたナノポアデバイスを用いた計測方法が注目されている(非特許文献1)。DNAが孔を通過する際に、両脇の電極間に流れるトンネル電流の変化で、塩基配列を解読しようとするものである(図1Aに簡易断面図と回路図、及び図1Bに上面図を示す。図2に、測定によって得られるデータの概念図を示す)。本方式の特徴はDNAを標識することなく、換言すると酵素や蛍光色素などの試薬を用いずに、電気的に塩基配列を解析できることである。そのため、試薬を用いたプロセスを削減でき、解析コストの低減や読み出しスループットの向上が期待できる。   As an approach for realizing a next-generation DNA sequencer, a measurement method using a nanopore device provided with a hole having the same size as that of DNA and electrodes on both sides thereof has attracted attention (Non-Patent Document 1). When DNA passes through the hole, the base sequence is to be deciphered by the change in the tunnel current flowing between the electrodes on both sides (FIG. 1A shows a simplified cross-sectional view and circuit diagram, and FIG. 1B shows a top view). Fig. 2 shows a conceptual diagram of data obtained by measurement). The feature of this method is that the base sequence can be analyzed electrically without labeling DNA, in other words, without using reagents such as enzymes and fluorescent dyes. Therefore, the process using the reagent can be reduced, and the analysis cost and reading throughput can be expected to be reduced.

ナノポアデバイスの製造は、機械的強度が高いこと等から、半導体基板、半導体材料および半導体プロセスを用いる方法が注目を集めている(非特許文献2)。代表的な製法の1つとして、非特許文献2にあるように、半導体基板上に薄膜の絶縁膜の領域を設け、その中に2電極を形成し、その2電極間に電子ビームを照射してポアを形成する方法がある。電子ビームのエネルギー、照射面積、電流をコントロールすることで、10nm以下のポアを形成することが出来る。   In the manufacture of nanopore devices, a method using a semiconductor substrate, a semiconductor material, and a semiconductor process has attracted attention because of its high mechanical strength (Non-Patent Document 2). As one of typical manufacturing methods, as described in Non-Patent Document 2, a thin insulating film region is provided on a semiconductor substrate, two electrodes are formed therein, and an electron beam is irradiated between the two electrodes. There is a method of forming pores. By controlling the energy, irradiation area, and current of the electron beam, pores of 10 nm or less can be formed.

現在10nm以下の安定したポア形成に必要な電子ビームのエネルギーは200keV、照射面積は1nm程度、電流は10e/(nm・s)程度必要であり、TEM(transmission electron microscope)装置が用いられている。TEM装置での加工では、装置内に搬入できるサンプルの大きさに限りがあり、また複数箇所に同時にビームを絞ることも通常困難である。そのため、例えば8インチウエハ上の全てのチップを同時に一括加工することは出来ず、1チップずつ切り出しての処理となる。それ故、デバイス形成のスループットが低下する。 Currently, the energy of an electron beam required for stable pore formation of 10 nm or less is 200 keV, the irradiation area is about 1 nm 2 , and the current is about 10 8 e / (nm 2 · s). A TEM (transmission electron microscope) apparatus is used. It is used. In processing with a TEM apparatus, there is a limit to the size of a sample that can be carried into the apparatus, and it is usually difficult to simultaneously focus a beam at a plurality of locations. Therefore, for example, all chips on an 8-inch wafer cannot be simultaneously processed at once, and processing is performed by cutting out one chip at a time. Therefore, the throughput of device formation is reduced.

またナノポアデバイスにおいて、将来的に、2対のギャップを有する電極を複数積層し、1本のDNAがポアを通過する際に、複数回信号を検出することで、読み出し精度を向上させることが考えられる。複数電極を積層すれば、メンブレンの厚みも増し、電子線照射によるポア開口はより困難になる。また、10nm以下のギャップを有する複数電極を10nm以下の合わせ精度で積層することも困難である。   In nanopore devices, in the future, it is considered that a plurality of electrodes having two pairs of gaps are stacked, and a signal is detected a plurality of times when a single DNA passes through the pore, thereby improving read accuracy. It is done. If a plurality of electrodes are stacked, the thickness of the membrane increases, and pore opening by electron beam irradiation becomes more difficult. It is also difficult to stack a plurality of electrodes having a gap of 10 nm or less with a matching accuracy of 10 nm or less.

これら課題を回避するために、基板上にナノオーダの流路を設け、その流路の側壁に2対の電極を有し、流路を通るDNAの塩基配列を2対の電極間のトンネル電流で検出しようという方式が考えられる。特許文献1では、流路の側壁に2対の電極が配置されているデバイスが開示されている。また非特許文献3でも、流路幅45nm、2対の電極間の幅9nm、高さ16nmの流路デバイスが形成されている。この製法は、ナノインプリントリソグラフィーを用いて基板上に流路パターンを形成し、RIEエッチングで流路を掘る。その後、流路に対して直交するように狭いトレンチ上のレジストパターンをナノインプリントで形成し、その後、2段の斜め蒸着法(double shadow evaporation)を用いて、流路側壁に対し斜めに金属を蒸着し、リフトオフすることで、流路に直行する電極対を作る。斜め蒸着により2電極間がショートすることが無いようにしている。その後、ガラスプレートを圧着し、流路上部に蓋をする。   In order to avoid these problems, a nano-order flow path is provided on the substrate, two pairs of electrodes are provided on the side walls of the flow path, and the DNA base sequence passing through the flow path is determined by a tunnel current between the two pairs of electrodes. A method of detecting is conceivable. In patent document 1, the device by which two pairs of electrodes are arrange | positioned at the side wall of a flow path is disclosed. Also in Non-Patent Document 3, a channel device having a channel width of 45 nm, a width of 9 nm between two pairs of electrodes, and a height of 16 nm is formed. In this manufacturing method, a flow path pattern is formed on a substrate using nanoimprint lithography, and a flow path is dug by RIE etching. After that, a resist pattern on the narrow trench is formed by nanoimprint so as to be orthogonal to the flow path, and then metal is deposited obliquely with respect to the flow path side wall by using a two-stage oblique evaporation method. Then, lift-off creates an electrode pair that goes directly to the flow path. The two electrodes are not short-circuited by oblique deposition. Thereafter, the glass plate is crimped and the upper part of the flow path is covered.

特開2006−258813号公報JP 2006-258813 A

Johan Lagerqvist、 et al.、 NANO LETTERS (2006) Vol.6、 No.4 779−782Johan Lagerqvist, et al., NANO LETTERS (2006) Vol. 6, No. 4 779-782 Brian C. Gierhart、 et al.、 SENSORS AND ACTUATORS B 132 (2008) 593−600Brian C. Gierhart, et al., SENSORS AND ACTUATORS B 132 (2008) 593−600 Xiaogan Liang and Stephen Y. Chou NANOLETTERS (2008) Vol.8、 No.5 1472−1476Xiaogan Liang and Stephen Y. Chou NANOLETTERS (2008) Vol.8, No.5 1472-1476

流路中でDNAを泳動させる場合、流路の深さがDNAの太さに対して十分に深いと、図3Bのように、流路中におけるDNAの向きは、さまざまな配置を取ることができる。図3Aは、流路に平行なデバイス断面図を示し、図3Bは流路を通るDNAを示す図である。例えば、図3Bのような、電極部に対し複数塩基が同時に位置する配置の場合、電極を通じて得られる電気信号は、複数塩基をまとめて検出した信号となる。これを回避するため、理想的には図4のように、DNAの高さ方向は計測時にはそろっていることが求められる。   When DNA is migrated in a flow channel, if the depth of the flow channel is sufficiently deep with respect to the thickness of the DNA, the orientation of the DNA in the flow channel can take various arrangements as shown in FIG. 3B. it can. FIG. 3A shows a device cross-sectional view parallel to the flow path, and FIG. 3B shows DNA passing through the flow path. For example, in the case of an arrangement in which a plurality of bases are simultaneously positioned with respect to the electrode part as shown in FIG. In order to avoid this, ideally, as shown in FIG. 4, the height direction of DNA is required to be uniform at the time of measurement.

また、横方向に関しても、流路の幅がDNAの太さに比べて十分に太い場合、同様のことが言える。   The same can be said for the lateral direction when the width of the channel is sufficiently larger than the thickness of the DNA.

別の課題として、非特許文献3のように流路形成後にガラス等で蓋をして使用するデバイスの場合、蓋を圧着する際に、流路部分への蓋のたわみ込みが起こり、流路の高さの制御性が悪くなる。そのため、数nmの流路デバイスを形成する際には、蓋が不要なプロセスが望まれる。また、蓋が必要な場合、流路デバイス表面をほぼ段差なく平坦にすることで、蓋の圧着の制御性を高めることなどが必要である。   As another problem, in the case of a device that is used by covering with glass or the like after forming the flow channel as in Non-Patent Document 3, the lid is bent into the flow channel portion when the lid is crimped, and the flow channel The controllability of the height becomes worse. Therefore, when forming a flow channel device of several nm, a process that does not require a lid is desired. Further, when a lid is necessary, it is necessary to improve the controllability of the pressure bonding of the lid by flattening the surface of the flow path device with almost no step.

そこで、本発明の目的は、流路内でのDNAの高さ方向あるいは水平方向の運動を制御可能とし、また、流路の高さの制御性を向上するデバイス構造およびその製法を提供することである。   Accordingly, an object of the present invention is to provide a device structure that can control the movement in the height direction or the horizontal direction of DNA in a flow path, and that improves the controllability of the height of the flow path, and a method for manufacturing the device structure. It is.

上記目的を達成するために、本発明の流体解析デバイスおよびその製造方法の主要な構成は、次の通りとなる。
(1)電流測定により溶液に含有された試料を解析する流体解析デバイスであって、基板上に設けられた導電膜と、導電膜に電圧を印加する第1電極と、導電膜上に設けられた第1絶縁膜の第1領域から第2領域に至る上面が開放された溶液の流路となる溝部と、溝部の両側面に対峙して設けられた少なくとも一対の電極端子と、一対の電極端子のそれぞれに接続された配線に電圧を印加する第2および第3電極とを有し、溶液を溝部を通過させる際に、第2電極と第3電極との間に電圧を印加して、溶液に含有された試料を介して第2および第3電極間に流れる電気信号を測定することにより、試料を解析することを特徴とする。
(2)電流測定により溶液に含有された試料を解析する流体解析デバイスであって、基板と、基板上に設けられた溶液の流路となる溝部と、溝部の上面に溝部と交差する方向に設けられた導電膜と、導電膜に電圧を印加する第1電極とを備え、溝部は、その両側面が絶縁体で、その底面が前記基板で、その上面が前記導電膜で構成され、溶液を溝部を通過させる際に、第1電極と基板との間に電圧を印加して、溶液に含有された試料を介して第1電極および基板間に流れる電気信号を測定することにより、試料を解析することを特徴とする。
(3)溶液に含有された試料を流す流路と、該流路を通過する試料に電界を与える配線部とを含む流体解析デバイスの製造方法であって、基板上に第1の導電膜を堆積し基板電極を形成する工程と、基板電極上に第1絶縁膜を形成し、第1絶縁膜に所定の幅を有する第1開口部を形成する工程と、第1開口部および第1絶縁膜に第2の導電膜を堆積し平坦化技術を用いて第1開口部内に第2の導電膜を埋め込み配線部を形成する工程と、配線部の長手方向と交差する方向に所定の幅を有する第2開口部を第1絶縁膜に開口し流路を形成するとともに、配線部と交差する流路の側面に配線の端子部を形成する工程とを有することを特徴とする。
In order to achieve the above object, the main components of the fluid analysis device and the manufacturing method thereof according to the present invention are as follows.
(1) A fluid analysis device that analyzes a sample contained in a solution by current measurement, and is provided on a conductive film provided on a substrate, a first electrode that applies a voltage to the conductive film, and a conductive film. In addition, a groove portion serving as a solution flow path having an upper surface extending from the first region to the second region of the first insulating film, at least a pair of electrode terminals provided opposite to both side surfaces of the groove portion, and a pair of electrodes A second and a third electrode for applying a voltage to the wiring connected to each of the terminals, and when passing the solution through the groove, a voltage is applied between the second electrode and the third electrode; The sample is analyzed by measuring an electric signal flowing between the second and third electrodes through the sample contained in the solution.
(2) A fluid analysis device for analyzing a sample contained in a solution by current measurement, wherein the substrate, a groove serving as a flow path for the solution provided on the substrate, and a groove on the upper surface of the groove in a direction intersecting the groove A conductive film provided, and a first electrode for applying a voltage to the conductive film. The groove portion is formed of an insulator on both side surfaces, the bottom surface is the substrate, and the top surface is formed of the conductive film. When passing the sample through the groove, a voltage is applied between the first electrode and the substrate, and an electric signal flowing between the first electrode and the substrate through the sample contained in the solution is measured. It is characterized by analyzing.
(3) A method of manufacturing a fluid analysis device including a flow path for flowing a sample contained in a solution and a wiring section for applying an electric field to the sample passing through the flow path, wherein the first conductive film is formed on the substrate. Depositing and forming a substrate electrode; forming a first insulating film on the substrate electrode; forming a first opening having a predetermined width in the first insulating film; and the first opening and the first insulation. A step of depositing a second conductive film on the film and embedding the second conductive film in the first opening using a planarization technique, and forming a predetermined width in a direction crossing the longitudinal direction of the wiring portion; Forming a flow path by opening the second opening having the first insulating film and forming a terminal portion of the wiring on a side surface of the flow path intersecting the wiring portion.

本発明によれば、流路内でのDNAの高さ方向あるいは水平方向の運動を制御可能とし、また、流路の高さの制御性を向上するデバイス構造およびその製法を提供することが可能となる。これにより、DNAをはじめとし、たんぱく質、ウイルス、細菌などの溶液中の対象物を検出、解析するマイクロ・ナノ流体デバイスの検出精度、解析精度を向上させることが出来る。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, it is possible to provide a device structure that can control the movement of DNA in the height direction or the horizontal direction in the channel, and to improve the controllability of the channel height, and a method for manufacturing the device structure. It becomes. This can improve the detection accuracy and analysis accuracy of micro / nanofluidic devices that detect and analyze objects in solutions such as DNA, proteins, viruses, and bacteria.

ナノポア型DNAシーケンサの断面図及び回路図。Sectional drawing and a circuit diagram of a nanopore type | mold DNA sequencer. ナノポア型DNAシーケンサの上面図。The top view of a nanopore type | mold DNA sequencer. ナノポア型DNAシーケンサによって得られる信号の概念図。The conceptual diagram of the signal obtained by a nanopore type | mold DNA sequencer. 検出電極付き流路を示す俯瞰図。The overhead view which shows a flow path with a detection electrode. 検出電極付き流路と流路中を流れるDNAを示す図。The figure which shows the DNA which flows through the flow path with a detection electrode, and a flow path. 検出電極付き流路と流路中を流れるDNAを示す図。The figure which shows the DNA which flows through the flow path with a detection electrode, and a flow path. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 1. FIG. 実施例1のデバイス断面とDNAの位置を示す図。The figure which shows the device cross section of Example 1, and the position of DNA. 実施例1のデバイス断面とDNAの位置を示す図。The figure which shows the device cross section of Example 1, and the position of DNA. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例2の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 2. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例3の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 3. FIG. 実施例4の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 4. FIG. 実施例4の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 4. FIG. 実施例4の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 4. FIG. 実施例4の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 4. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例5の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 5. FIG. 実施例6の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 6. FIG. 実施例6の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 6. FIG. 実施例6の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 6. FIG. 実施例6の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 6. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の断面図。Sectional drawing of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例7の製法を説明する工程の平面図。The top view of the process explaining the manufacturing method of Example 7. FIG. 実施例9の構造を説明する図。FIG. 10 is a diagram illustrating the structure of Example 9. 実施例10の構造を説明する断面図。Sectional drawing explaining the structure of Example 10. FIG. 実施例10の構造を説明する断面図。Sectional drawing explaining the structure of Example 10. FIG. 実施例10の構造を説明する断面図。Sectional drawing explaining the structure of Example 10. FIG. 実施例10の構造を説明する断面図。Sectional drawing explaining the structure of Example 10. FIG.

本実施の形態を説明するための全図において同一機能を有するものは同一の符号を付すようにし、その繰り返しの説明は可能な限り省略するようにしている。以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。実施例に記載するデバイス構造および材料は、本発明の思想を具現化するための一例であり、材料および寸法などを厳密に特定するものではない。   Components having the same function are denoted by the same reference symbols throughout the drawings for describing the embodiments, and the repetitive description thereof is omitted as much as possible. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The device structures and materials described in the examples are examples for embodying the idea of the present invention, and do not strictly specify materials, dimensions, and the like.

流路中を泳動するDNAの高さ方向の位置をそろえるために、図14A,Bに示されるような、基板に電極を設ける構造を形成する。本実施例およびその他の実施例に記載するデバイス構造および材料は、本発明の思想を具現化するための一例であり、材料および寸法などを厳密に特定するものではない。   In order to align the position in the height direction of DNA migrating in the flow path, a structure is provided in which electrodes are provided on the substrate as shown in FIGS. 14A and 14B. The device structures and materials described in this embodiment and other embodiments are examples for embodying the idea of the present invention, and do not strictly specify materials, dimensions, and the like.

図14Aは、本実施例のデバイスの断面図であり、図14Bは上面図であり、図14Aa)及びb)には、それぞれ図14BのA−A’断面とB−B’断面を画いている。A−A’断面は、流路に沿った断面であり、B−B’断面は、流路に直交し、2対の電極に沿った断面である。図面中の符号100は、例えばSi基板であり、符号102は絶縁膜で、例えばシリコン窒化膜(以下、SiN膜と略記)であり、符号104は導電材料で構成され、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどの材料である。符号106は導電材料で構成され、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどの材料である。なお、符号104は、DNAの塩基を検出するための検出用電極であり、符号106は、絶縁膜を挟んで流路へ電界を及ぼす為の基板側電極である。   14A is a cross-sectional view of the device of this example, FIG. 14B is a top view, and FIGS. 14A a) and b) show the AA ′ cross-section and BB ′ cross-section of FIG. 14B, respectively. Yes. The A-A ′ cross section is a cross section along the flow path, and the B-B ′ cross section is a cross section perpendicular to the flow path and along the two pairs of electrodes. Reference numeral 100 in the drawing is, for example, a Si substrate, reference numeral 102 is an insulating film, for example, a silicon nitride film (hereinafter abbreviated as SiN film), and reference numeral 104 is made of a conductive material, for example, Au, Pt, Cr. , Ta, Ti, TiN, W, etc. Reference numeral 106 is made of a conductive material, such as Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, or W. Reference numeral 104 denotes a detection electrode for detecting a base of DNA, and reference numeral 106 denotes a substrate side electrode for applying an electric field to the flow path with the insulating film interposed therebetween.

本実施例では、C−C’断面で見た場合、検出用電極104の対と、検出用電極104の側壁に接するSiN膜102の間には、理想的には表面に段差がない、または極小である。そのため、流路上部へガラスなどを圧着し蓋118をする際、その圧着が容易となり、また、段差による流路部以外への空洞の形成や、段差による流路中の高さ方向のばらつきが抑制され、溶液の搬送精度や検出精度の向上を実現できる。   In this embodiment, when viewed in the CC ′ cross section, there is ideally no step on the surface between the pair of detection electrodes 104 and the SiN film 102 in contact with the sidewall of the detection electrode 104, or Minimal. Therefore, when glass or the like is pressure-bonded to the upper part of the flow path and the lid 118 is pressed, the pressure bonding is facilitated, and the formation of a cavity other than the flow path part due to the step or the variation in the height direction in the flow path due to the step. It is suppressed and the improvement of the conveyance accuracy and detection accuracy of the solution can be realized.

DNAは通常KCl水溶液中で管理される。流路中へDNAを搬送するには、流路をDNAの入ったKCl水溶液で満たし、流路の入り口と出口において溶液中に電極を浸し、電圧差を設けることで、DNAを流路の入り口方向から出口方向へと搬送することが出来る。DNAは負の電荷を持っているため、電気的に泳動させることが出来るのである。DNAを流路中で泳動させているときに、基板側電極106に、流路入り口に印加されている電圧に対して正の電圧を印加することで、DNAを流路底部側に引き寄せることが出来、図15Aのような、高さ方向に一定となる配置をDNAに採らせることが出来る。   DNA is usually managed in an aqueous KCl solution. In order to transport DNA into the channel, the channel is filled with a KCl aqueous solution containing DNA, electrodes are immersed in the solution at the inlet and outlet of the channel, and a voltage difference is provided, so that the DNA is introduced into the channel. It can be transported from the direction to the exit direction. Since DNA has a negative charge, it can be electrophoresed. When DNA is migrated in the flow path, a positive voltage is applied to the substrate-side electrode 106 with respect to the voltage applied to the flow path entrance, so that the DNA can be drawn toward the bottom of the flow path. It is possible to make DNA take an arrangement that is constant in the height direction as shown in FIG. 15A.

図15Aは、A−A’断面の一部を斜めから見た図である。図中の符号200は、DNAの模式図であり、それを構成する一つ一つの四角が、DNAの1塩基(201)の模式図である。同様に、基板側電極106に、流路入り口に印加されている電圧に対して負の電圧をかけることで、DNAを流路上部(ガラスなどで蓋をされる側)へ押しやることが出来、図15Bのような、高さ方向に一定となる配置をDNAに採らせることが出来る。   FIG. 15A is a view of a part of the A-A ′ cross section viewed from an oblique direction. Reference numeral 200 in the figure is a schematic diagram of DNA, and each square constituting it is a schematic diagram of one base (201) of DNA. Similarly, by applying a negative voltage to the substrate side electrode 106 with respect to the voltage applied to the channel inlet, DNA can be pushed to the upper part of the channel (side covered with glass or the like), As shown in FIG. 15B, the DNA can be arranged so as to be constant in the height direction.

マイクロ・ナノ流体デバイスの製法の一例を図5Aから図14Aの断面図で示す。同時に、各断面図に対応する上面図を図5Bから図14Bに示す。   An example of the manufacturing method of the micro / nanofluidic device is shown in the cross-sectional views of FIGS. At the same time, top views corresponding to the cross-sectional views are shown in FIGS. 5B to 14B.

先ず、図5Aに示すように、Si基板100上に、基板側電極となる106を形成し、その上にSiN膜102を形成する。基板側電極106は、導電材料であり、例えば、Au、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどが挙げられる。その後、レジストをマスクにSiN膜102をエッチングすることで、後に検出用電極が配置される部分に溝を作る。図5B中の溝のうち太い部分があるのは、電極へのコンタクトを容易にするための工夫である。基板側電極106は、後に流路となる部分の下部近傍にのみ配置するのでも良い。流路となる部分の下部近傍にのみ基板側電極106を配置する際は、Si基板100上に絶縁膜を形成し、その上で基板側電極106のパターンを形成することで、電圧印加時に電極部のみ局所的に電圧を掛けることが出来る。また高濃度Si基板をそのまま基板側電極106として用いても良い。SiNをエッチングすることよりパターニングする溝の幅は、次工程(図6A,B参照)で最終的に決定される溝の幅が最適となるよう決定される。   First, as shown in FIG. 5A, a substrate side electrode 106 is formed on a Si substrate 100, and a SiN film 102 is formed thereon. The substrate-side electrode 106 is a conductive material, and examples thereof include Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, and W. Thereafter, the SiN film 102 is etched using a resist as a mask to form a groove in a portion where a detection electrode is to be disposed later. A thick portion in the groove in FIG. 5B is a device for facilitating contact with the electrode. The substrate-side electrode 106 may be disposed only in the vicinity of the lower portion of the portion that will later become a flow path. When the substrate-side electrode 106 is disposed only near the lower portion of the portion that becomes the flow path, an insulating film is formed on the Si substrate 100, and a pattern of the substrate-side electrode 106 is formed thereon, so that the electrode is applied when voltage is applied. Only the part can be locally applied with voltage. Further, a high-concentration Si substrate may be used as the substrate-side electrode 106 as it is. The width of the groove to be patterned by etching SiN is determined so that the groove width finally determined in the next process (see FIGS. 6A and 6B) is optimum.

次に、図6A,Bで示す工程において、SiN膜102を堆積させることで、溝の幅および深さを減少させる。溝の幅および深さを減少させたあとの最終的な寸法は、DNAの塩基を検出するために、幅はなるべくDNAの1塩基の大きさと近い値であり、深さも好ましくは可能な限りDNAの1塩基の大きさと近い値となるよう形成する。   Next, in the process shown in FIGS. 6A and 6B, the SiN film 102 is deposited to reduce the width and depth of the groove. The final dimensions after reducing the width and depth of the groove are such that the width is as close as possible to the size of one base of DNA in order to detect the base of the DNA, and the depth is preferably as much as possible. It forms so that it may become a value close | similar to the magnitude | size of 1 base of.

次に、図7A,Bで示す工程に示すように、後に検出用電極104となる電極材料を堆積する。検出用電極104は導電材料で構成され、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどの材料が挙げられる。   Next, as shown in the steps shown in FIGS. 7A and 7B, an electrode material that will later become the detection electrode 104 is deposited. The detection electrode 104 is made of a conductive material, and examples thereof include materials such as Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, and W.

引き続き、図8A、Bで示す工程に示すように、CMPなどの平坦化プロセスによって、金属下部のSiN表面まで削り、平坦な、導電材料と絶縁膜からなる表面を形成する。このように、導電材料の配線を埋め込み型で形成することで、後にガラスプレート圧着などにより流路に蓋をする際、上記した通り有利となる。上記のような埋め込み型の配線でない場合、配線の高さ分だけ、周囲の絶縁膜との間に段差が生じる。その段差は蓋をする際または蓋をした後に、流路部以外への空洞の形成や、段差による流路中の高さ方向のばらつきの原因となる。本製法および本デバイスの特徴の一つは、検出用電極の配線と周囲絶縁膜の段差が、検出用電極の配線の高さ以下であり、きわめて平坦に近いということである。   Subsequently, as shown in the steps shown in FIGS. 8A and 8B, a flat surface made of a conductive material and an insulating film is formed by polishing to the SiN surface below the metal by a flattening process such as CMP. Thus, by forming the wiring of the conductive material in the embedded type, it is advantageous as described above when the channel is covered later by pressure bonding of the glass plate or the like. In the case where the wiring is not buried as described above, a step is generated between the wiring and the surrounding insulating film by the height of the wiring. The step causes the formation of cavities other than the flow channel part or the variation in the height direction in the flow channel due to the step when the lid is capped or after the lid is capped. One of the features of this manufacturing method and this device is that the level difference between the wiring of the detection electrode and the surrounding insulating film is not more than the height of the wiring of the detection electrode and is almost flat.

また、さらに平坦性を向上させるために、図8A、Bのように平坦な、導電材料と絶縁膜からなる表面を形成した後、さらに絶縁膜を堆積して、電極表面を露出させること無くCMPなどの平坦化プロセスで平坦化すればよい。異種材料を露出させての平坦化よりも平坦性は向上する。なおこの場合、以後のプロセスを本実施例に沿って行っていくと、デバイス完成時には、流路の高さが対向電極の高さよりも高くなり、対向電極の上部に、絶縁膜が存在する。その場合、DNA測定の際には、基板側電極に電圧を印加しDNAを基板側に引き寄せれば、対向する電極の間に精度よくDNAを配置することが出来る。   Further, in order to further improve the flatness, after forming a flat surface made of a conductive material and an insulating film as shown in FIGS. 8A and 8B, an insulating film is further deposited to perform CMP without exposing the electrode surface. Flattening may be performed by a flattening process such as. Flatness is improved over flattening by exposing different kinds of materials. In this case, if the subsequent processes are performed according to the present embodiment, the height of the flow path becomes higher than the height of the counter electrode when the device is completed, and an insulating film exists above the counter electrode. In that case, in the DNA measurement, if a voltage is applied to the substrate side electrode and the DNA is drawn toward the substrate side, the DNA can be accurately placed between the opposing electrodes.

次に、図9A、Bで示す工程では、シリコン酸化膜(以下、SiO膜と略記)101を堆積し、レジストをマスクにパターニングすることで、後に流路のパターンとなる部分に溝を作る。図9Bで示す溝のうち太い部分があるのは、流路へのコンタクトを容易にするための工夫である。また同部分は、溶液注入を容易にするために、深く掘り込んでおいても良い。SiO101をエッチングすることよりパターニングする溝の幅は、次工程以降(すなわち、図10A,B、図11A,B)で最終的に決定される幅が最適となるよう決定される。 Next, in the steps shown in FIGS. 9A and 9B, a silicon oxide film (hereinafter abbreviated as SiO 2 film) 101 is deposited and patterned using a resist as a mask, thereby forming a groove in a portion that later becomes a flow path pattern. . A thick portion in the groove shown in FIG. 9B is a device for facilitating contact with the flow path. Further, this portion may be deeply dug in order to facilitate solution injection. The width of the groove to be patterned by etching SiO 2 101 is determined so that the width finally determined in the subsequent steps (ie, FIGS. 10A and 10B, FIGS. 11A and 11B) is optimal.

さらに図10A、Bで示す工程において、SiO膜101を堆積させることで、溝の幅を減少させる。溝の幅を減少させたあとの最終的な寸法は、流路の幅の寸法を決定するため、DNA搬送する際のDNAの方向制御の観点から、DNAの太さとなるべく同等程度の値となるよう形成する。 Further, in the step shown in FIGS. 10A and 10B, the SiO 2 film 101 is deposited to reduce the width of the groove. The final dimension after reducing the width of the groove is as close as possible to the thickness of the DNA from the viewpoint of controlling the direction of the DNA when transferring the DNA in order to determine the width of the channel. To form.

引き続き、図11で示す工程において、図10A、Bにて堆積した厚さ分SiO膜101をエッチバックすることで、検出用電極104の表面を露出させる。エッチバック時に、図9A,Bで形成した溝の側壁にサイドウォール上にSiO膜が残り、溝を細らせている。このとき、溝の幅は、流路の幅の寸法を決定するため、DNA搬送する際のDNAの方向制御の観点から、好ましくはDNAの太さと同等程度の値となるよう形成する。 Subsequently, in the step shown in FIG. 11, the surface of the detection electrode 104 is exposed by etching back the SiO 2 film 101 by the thickness deposited in FIGS. 10A and 10B. At the time of etch back, the SiO 2 film remains on the side wall of the groove formed in FIGS. 9A and 9B, thereby narrowing the groove. At this time, in order to determine the width of the channel, the width of the groove is preferably set to a value equivalent to the thickness of the DNA from the viewpoint of controlling the direction of the DNA during DNA transfer.

さらに、図12A、Bで示す工程において、検出用電極の厚さ分、検出用電極とSiN膜をエッチングすることによって、DNAを搬送する流路を形成する。   Further, in the process shown in FIGS. 12A and 12B, the flow path for transporting DNA is formed by etching the detection electrode and the SiN film by the thickness of the detection electrode.

次に、図13A、Bで示す工程では、SiO膜をHFなどを用いて、選択的にエッチングし除去する。 Next, in the process shown in FIGS. 13A and 13B, the SiO 2 film is selectively etched and removed using HF or the like.

次に、図14A、Bで示す工程では、レジストをパターニングし、それをマスクとして、基板側電極106へのコンタクトホールを形成する。   Next, in the process shown in FIGS. 14A and 14B, a resist is patterned, and a contact hole to the substrate-side electrode 106 is formed using the resist as a mask.

その後、デバイス表面の流路部分にガラスやその他絶縁膜などのプレートを圧着することで、流路上部に蓋をする。蓋は、一例として、溶液の入口部出口部および流路部に蓋をして、あとから溶液の入口部および出口部に相当する部分に穴を空けることで、溶液の入口部出口部を兼ね備えた流路を形成できる。   Thereafter, a plate such as glass or other insulating film is pressure-bonded to the channel portion on the surface of the device to cover the upper portion of the channel. As an example, the lid covers the inlet portion and outlet portion of the solution and the flow passage portion, and the hole corresponding to the inlet portion and outlet portion of the solution is made later, so that it also has the outlet portion and outlet portion of the solution. Can be formed.

なお、本デバイスの流路幅や電極幅を対象物に合わせ変化させることで、DNA以外の生体分子やウイルス、細菌などの検出器として使用することも出来る。   In addition, it can also be used as detectors, such as biomolecules other than DNA, a virus, bacteria, by changing the flow path width and electrode width of this device according to a target object.

本製法の特徴の一つとして、最終的な極細の流路及び電極を作る際に、まず、現在のリソグラフィ技術で正確な寸法(幅)が保障できるパターンをマスクに溝を形成し、そこにコンフォーマルかつナノメートルオーダで正確な制御が出来る膜堆積方法を用いて溝の幅を狭くすることが挙げられる。コンフォーマルかつ原子層レベルの膜厚制御が出来る膜堆積方法は、例えばALD(Atomic Layer deposition)などの手法が挙げられ、そのほかにも、半導体デバイス開発の中で古くから開発されてきた既知の技術がたくさんある。これにより、DNA大きさに近い幅を持つ流路の形成が可能となる。   As one of the features of this manufacturing method, when creating the final ultrafine channels and electrodes, first, grooves are formed in the mask with a pattern that can guarantee accurate dimensions (width) with the current lithography technology. It is possible to narrow the width of the groove by using a film deposition method that can be controlled conformally and precisely on the order of nanometers. A film deposition method that can control the film thickness at a conformal and atomic layer level includes, for example, a technique such as ALD (Atomic Layer deposition), and other known techniques that have been developed for a long time in semiconductor device development. There are many. This makes it possible to form a flow path having a width close to the size of DNA.

深さ方向の制御に関しては上述したとおり、基板側電極106によって流路へ電界を掛けることで、対象物であるDNAの高さ方向を制御することにより、検出信号の信頼性を向上させることが出来る。高さ方向制御に用いる電極と検出用電極104が独立していることで、高さ方向に最適な電圧と検出に最適な電圧をかけ分けることができる。例えば、流路入り口付近の溶液に印加する電圧を0Vとし、流路出口付近の溶液に印加する電圧をVout>0Vとし、基板側電極104の電圧をVsub>0Vとし、検出用電極104の一方を正電圧、もう一方を負電圧とすることで、デバイスを動作させる。   Regarding the control in the depth direction, as described above, the reliability of the detection signal can be improved by controlling the height direction of the target DNA by applying an electric field to the flow path by the substrate-side electrode 106. I can do it. Since the electrode used for height direction control and the detection electrode 104 are independent, the optimum voltage in the height direction and the optimum voltage for detection can be divided. For example, the voltage applied to the solution near the flow path inlet is 0 V, the voltage applied to the solution near the flow path outlet is Vout> 0 V, the voltage of the substrate side electrode 104 is Vsub> 0 V, and one of the detection electrodes 104 The device is operated with a positive voltage and the other negative voltage.

なお溶液流動の制御の観点から、流路部のうち、対向電極が存在する検出部以外の幅や深さを広く設計しても良い。   From the viewpoint of controlling the solution flow, the width and depth of the flow path part other than the detection part where the counter electrode is present may be designed widely.

実施例1と同じく、検出用電極104対と、検出用電極104の側壁に接するSiN膜102の間に段差がない、または極小であり、かつ、流路へ電界を及ぼすことが出来る基板電極を設置しているデバイスの製法のもう一例を示す。   As in Example 1, there is no substrate step between the pair of detection electrodes 104 and the SiN film 102 in contact with the side wall of the detection electrode 104, or a substrate electrode that can apply an electric field to the flow path. Here is another example of the manufacturing method for the installed device.

先ず、図16A,Bで示す工程において、Si基板100上に、基板側電極となる106を形成し、その上にSiN膜102を堆積し、その上にSiO膜101を形成する。その後SiO膜をレジストをマスクにパターニングする。 First, in steps shown in FIGS. 16A and 16B, a substrate side electrode 106 is formed on the Si substrate 100, a SiN film 102 is deposited thereon, and a SiO 2 film 101 is formed thereon. Thereafter, the SiO 2 film is patterned using a resist as a mask.

次に、図17A,Bで示す工程では、後に対の検出用電極104となる電極材料を堆積する。検出用電極104は、導電材料であり、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどが挙げられる。堆積する導電材料の厚さは、検出用電極の厚さとほぼ等しくなるので、好ましくはDNAの1塩基と同等程度の厚さとなるよう形成する。   Next, in the steps shown in FIGS. 17A and 17B, an electrode material that will later become a pair of detection electrodes 104 is deposited. The detection electrode 104 is a conductive material, and examples thereof include Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, and W. Since the thickness of the conductive material to be deposited is substantially equal to the thickness of the detection electrode, it is preferably formed to have a thickness equivalent to one base of DNA.

次に、図18A,Bで示す工程において、パターニングされたSiO膜部分の角部を覆うように、レジストパターン103を形成する。 Next, in the process shown in FIGS. 18A and 18B, a resist pattern 103 is formed so as to cover the corners of the patterned SiO 2 film portion.

さらに、図19A,Bで示す工程において、図17A,Bで堆積した厚さ分だけ電極材料をエッチバックし、SiO側壁に導電材料のサイドウォールを形成する。その後、レジストを除去する。サイドウォールの幅が検出電極の幅となるため、高精度な一塩基検出のためには、DNAの1塩基と同等程度の幅となるよう形成する。 Further, in the process shown in FIGS. 19A and 19B, the electrode material is etched back by the thickness deposited in FIGS. 17A and 17B to form a side wall of the conductive material on the SiO 2 side wall. Thereafter, the resist is removed. Since the width of the side wall becomes the width of the detection electrode, in order to detect single base with high accuracy, it is formed to have a width equivalent to one base of DNA.

次に、図20A,Bで示す工程において、不要部分のSiO膜および導電材料をエッチングプロセスにより除去する。 Next, in the steps shown in FIGS. 20A and 20B, unnecessary portions of the SiO 2 film and the conductive material are removed by an etching process.

引き続き、図21A,Bで示す工程において、SiO膜を全面に堆積する。 Subsequently, in the step shown in FIGS. 21A and 21B, a SiO 2 film is deposited on the entire surface.

次に、図22A,Bで示す工程において、CMPなどの平坦化プロセスによって、図に示すように電極材料の最表面まで削り、平坦化する。このとき、図のように導電材料の配線の細い部分(後に流路が横切る部分)の上部には絶縁膜が残っていてもよい。デバイス完成時には、流路の高さが対向電極の高さよりも高くなり、対向電極の上部に、絶縁膜が存在するが、DNA測定の際には、基板側電極に電圧を印加しDNAを基板側に引き寄せれば、対向する電極の間にDNAを配置することが出来る。また導電材料の配線の細い部分が露出するまで削らないことで、表面の平坦性は、配線まで露出させたときよりも向上する。平坦性が向上すれば、後にガラスプレート圧着などで流路上部に蓋をする際、実施例1にも書いた通り、その制御性が向上し、流路の高さばらつきや流路部以外の空洞の形成を回避できる。   Next, in the step shown in FIGS. 22A and 22B, the surface of the electrode material is ground and flattened by a flattening process such as CMP as shown in the drawing. At this time, as shown in the drawing, an insulating film may remain on the upper portion of the thin portion of the conductive material wiring (the portion where the flow path crosses later). When the device is completed, the height of the flow path becomes higher than the height of the counter electrode, and there is an insulating film above the counter electrode. However, when measuring DNA, a voltage is applied to the substrate side electrode to place the DNA on the substrate. When pulled to the side, DNA can be placed between the opposing electrodes. Further, by not cutting until a thin portion of the wiring of the conductive material is exposed, the surface flatness is improved as compared with the case where the wiring is exposed. If flatness is improved, when the upper part of the flow path is covered later by pressure bonding with a glass plate or the like, as described in Example 1, the controllability is improved. Formation of cavities can be avoided.

次に、図23A,Bで示す工程において、アモルファスシリコン(a−Si)膜105を堆積し、その後図のように、サイドウォールの電極パターンに交差するように、パターニングする。   Next, in the process shown in FIGS. 23A and 23B, an amorphous silicon (a-Si) film 105 is deposited and then patterned so as to intersect the electrode pattern of the sidewall as shown in the figure.

さらに、図24A,Bで示す工程では、SiN膜102を堆積する。このSiN膜の膜厚は、後に流路の幅を決定する膜厚となるので、DNA搬送する際のDNAの方向制御向上の観点から、DNAの太さと同等程度の膜厚となるよう形成する。その後、パターニングされたa−Si膜の角部を覆うようにレジストパターン103を形成する。   Further, in the step shown in FIGS. 24A and 24B, the SiN film 102 is deposited. Since the film thickness of this SiN film will be a film thickness that determines the width of the channel later, it is formed to have a film thickness equivalent to the thickness of the DNA from the viewpoint of improving the direction control of the DNA during DNA transport. . Thereafter, a resist pattern 103 is formed so as to cover the corners of the patterned a-Si film.

次に、図25A,Bで示す工程において、SiN膜102を図24A,Bで堆積した膜厚分エッチバックし、a−Si側壁にSiNのサイドウォールを形成する。サイドウォール膜厚は、後に流路の幅を決定する膜厚となるので、DNA搬送する際のDNAの方向制御向上の観点から、DNAの太さと同等程度の膜厚となるよう形成する。   Next, in the step shown in FIGS. 25A and 25B, the SiN film 102 is etched back by the thickness deposited in FIGS. 24A and B, thereby forming SiN sidewalls on the a-Si sidewalls. Since the side wall film thickness is a film thickness that determines the width of the channel later, it is formed so as to have a film thickness equivalent to the thickness of DNA from the viewpoint of improving the direction control of DNA during DNA transport.

次に、図26A,Bで示す工程において、図のように不要部のSiN膜およびa−Si膜をレジストをマスクとしエッチング除去する。   Next, in the step shown in FIGS. 26A and 26B, unnecessary portions of the SiN film and the a-Si film are removed by etching using a resist as a mask as shown in the figure.

さらに、図27A,Bで示す工程では、全面にa−Si膜を堆積する。   Further, in the process shown in FIGS. 27A and 27B, an a-Si film is deposited on the entire surface.

引き続き、図28A,Bでは、CMPなどの平坦化プロセスによって、図に示すようにSiNサイドウォールの最表面まで削り、平坦化する。   Subsequently, in FIGS. 28A and 28B, the top surface of the SiN sidewall is cut and planarized by a planarization process such as CMP as shown in the figure.

次に、図29A,Bで示す工程において、SiNを燐酸などを用いたウエットエッチや、その他a−Si膜との選択性のあるエッチングを用いて除去する。   Next, in the step shown in FIGS. 29A and 29B, SiN is removed by wet etching using phosphoric acid or the like, or other etching selective to the a-Si film.

次に、図30A,Bで示す工程において、SiO膜をa−Si膜をマスクとしてエッチングにより除去する。 Next, in the step shown in FIGS. 30A and 30B, the SiO 2 film is removed by etching using the a-Si film as a mask.

さらに、図31A,Bで示す工程では、CMPなどの平坦化プロセスによって、検出用電極の最表面まで削り、平坦化する。   Further, in the step shown in FIGS. 31A and 31B, the surface of the detection electrode is ground and planarized by a planarization process such as CMP.

次に、図32A,Bで示す工程において、図32Bのように、SiOをエッチングすることで、流路の入り口および出口の領域を大きくし、流路へのコンタクトを容易にする工夫を施す。同部分はさらに深く掘り込むことで、溶液注入をさらに容易にすることができる。 Next, in the steps shown in FIGS. 32A and 32B, as shown in FIG. 32B, SiO 2 is etched to increase the entrance and exit areas of the flow path, and to make contact with the flow path easier. . By digging deeper into the part, solution injection can be further facilitated.

また、図33A,Bで示す工程では、図33Bで示すように、検出用電極のコンタクト(パッド)となる部分を穴としたレジストパターンを形成する。   Further, in the process shown in FIGS. 33A and 33B, as shown in FIG. 33B, a resist pattern is formed with a hole serving as a contact (pad) of the detection electrode.

次に、図34A,Bで示す工程において、検出電極用のコンタクト(パッド)の導電材料を堆積し、その後レジストをリフトオフすることで、図のように、電極のコンタクトを形成する。レジストパターンをマスクに表面を少量エッチングした後にコンタクト(パッド)の導電材料を堆積して、リフトオフしても良い。   Next, in the process shown in FIGS. 34A and 34B, a conductive material for the contact (pad) for the detection electrode is deposited, and then the resist is lifted off to form an electrode contact as shown in the figure. After etching the surface a little with the resist pattern as a mask, a conductive material for contacts (pads) may be deposited and lifted off.

最後に、図35A,Bで示す工程において、基板電極へのコンタクトを、レジストをマスクにパターニングする。   Finally, in the step shown in FIGS. 35A and 35B, the contact to the substrate electrode is patterned using a resist as a mask.

その後、デバイス表面の流路部分にガラスやその他絶縁膜などのプレートを圧着することで、流路上部に蓋をする。蓋は、一例として、溶液の入口部出口部および流路部に蓋をして、あとから溶液の入口部および出口部に相当する部分に穴を空けることで、溶液の入口部出口部を兼ね備えた流路を形成できる。   Thereafter, a plate such as glass or other insulating film is pressure-bonded to the channel portion on the surface of the device to cover the upper portion of the channel. As an example, the lid covers the inlet portion and outlet portion of the solution and the flow passage portion, and the hole corresponding to the inlet portion and outlet portion of the solution is made later, so that it also has the outlet portion and outlet portion of the solution. Can be formed.

本製法は、流路の形成にサイドウォールプロセスを用いていることが特徴である。サイドウォールプロセスは、原理的に堆積膜厚分の細さの側壁を形成することが出来る。現在の半導体プロセスにおける薄膜堆積技術は、1nm以下までの制御が可能であり、そのため、DNAの太さに匹敵する側壁を形成することが可能となり、微細な幅の流路を形成できる。そのため、DNAの横方向の配置のばらつきができる。DNAの横方向の配置が制御されることで、検出信号の信頼性が向上する。また、検出用電極もサイドウォールプロセスを用いて形成しているので、DNAの1塩基分の大きさに近い幅の電極が形成可能である。電極幅がDNA1塩基分の大きさに近づくにつれ、読み取り対象と隣り合った読み取り対象以外の塩基による検出信号への影響が少なくなり、検出信号の分解能が向上する。   This production method is characterized in that a sidewall process is used to form the flow path. In principle, the sidewall process can form sidewalls as thin as the deposited film thickness. The thin film deposition technique in the current semiconductor process can be controlled to 1 nm or less, so that a side wall comparable to the thickness of DNA can be formed, and a flow path with a fine width can be formed. Therefore, variation in the arrangement of DNA in the horizontal direction can be made. Control of the lateral arrangement of the DNA improves the reliability of the detection signal. Further, since the detection electrode is also formed by using a sidewall process, an electrode having a width close to the size of one base of DNA can be formed. As the electrode width approaches the size of one base of DNA, the influence on the detection signal by the base other than the reading target adjacent to the reading target is reduced, and the resolution of the detection signal is improved.

さらに実施例1と同じく、基板側電極によって流路へ電界を掛けることで、対象物であるDNAの高さ方向を制御することにより、検出信号の信頼性を向上させることが出来る。高さ方向制御に用いる電極と検出用電極が独立していることで、高さ方向に最適な電圧と検出に最適な電圧をかけ分けることができる。   Furthermore, as in Example 1, the reliability of the detection signal can be improved by applying an electric field to the flow path by the substrate-side electrode to control the height direction of the target DNA. Since the electrode used for the height direction control and the detection electrode are independent, the optimum voltage in the height direction and the optimum voltage for detection can be divided.

なお、本デバイスの流路幅を対象物に合わせ変化させることで、DNA以外の生体分子やウイルス、細菌などの検出器として使用することも出来る。
また、溶液流動の制御の観点から、流路部のうち、対向電極が存在する検出部以外の幅や深さを広く設計しても良い。
In addition, it can also be used as detectors, such as biomolecules other than DNA, a virus, and bacteria, by changing the flow path width of this device according to a target object.
Further, from the viewpoint of controlling the solution flow, the width and depth of the flow path part other than the detection part where the counter electrode exists may be designed to be wide.

本実施例では、流路の径を制御性よくDNAの太さと同等程度に出来、かつ、流路上部にガラスプレートなどで蓋をする必要がない流路デバイスの製法および構造を示す。流路上部にガラスプレートなどで蓋をする必要がないと、デバイス製造の工程が簡易になるほか、ガラスプレート圧着工程で生じる流路幅や深さの不均一性等の問題を解消することが出来る。   In this example, a manufacturing method and a structure of a flow channel device in which the diameter of the flow channel can be controlled with the same degree as the thickness of DNA and the upper part of the flow channel does not need to be covered with a glass plate or the like are shown. If it is not necessary to cover the upper part of the flow path with a glass plate, the device manufacturing process is simplified, and problems such as non-uniformity in the width and depth of the flow path that occur in the glass plate crimping process can be resolved. I can do it.

図57Aに、本実施例にて示すデバイス構造の断面図を、図57Bに、その上面図を示す。Si基板100上に、両側壁をSiN膜102で覆われた流路が形成されている。流路上部には、SiN膜102でカバーされている領域以外に、流路に交差するように検出用電極104が配置されている。検出用電極104は、流路から離れた部分にコンタクトできる大きさの領域を設けている。また流路領域も、検出用電極から離れた領域に、溶液に注入に十分な大きさの入り口および出口を設けている。測定の際には、検出用電極104とSi基板100間の間に電圧をかけて、検出用電極104とSi基板100間の間にトンネル電流を流す。そして検出用電極104とSi基板100間にDNAが通過した際、検出用電極104とSi基板100間に流れているトンネル電流の変化によってDNAの塩基配列を読み出す。または、検出用電極104とSi基板100間の容量変化により読み出す方法や、検出用電極104の表面電荷状態の違いを検出することで読み出す方法などがある。以下に、図に沿って本実施例のデバイスの製法例を示す。   FIG. 57A shows a cross-sectional view of the device structure shown in this embodiment, and FIG. 57B shows a top view thereof. On the Si substrate 100, a flow path having both side walls covered with the SiN film 102 is formed. In addition to the region covered with the SiN film 102, the detection electrode 104 is disposed on the upper portion of the flow path so as to intersect the flow path. The detection electrode 104 is provided with a region that can contact a portion away from the flow path. The channel region is also provided with an inlet and an outlet that are large enough to be injected into the solution in a region away from the detection electrode. In the measurement, a voltage is applied between the detection electrode 104 and the Si substrate 100, and a tunnel current flows between the detection electrode 104 and the Si substrate 100. When DNA passes between the detection electrode 104 and the Si substrate 100, the base sequence of the DNA is read out by a change in the tunnel current flowing between the detection electrode 104 and the Si substrate 100. Alternatively, there are a method of reading by a change in capacitance between the detection electrode 104 and the Si substrate 100, a method of reading by detecting a difference in surface charge state of the detection electrode 104, and the like. Below, the example of the manufacturing method of the device of a present Example is shown along a figure.

まず、図36A,Bで示す工程において、Si基板100上に、SiO膜101を堆積し、レジストをマスクに図に示すようにパターニングする。Si基板は下部電極の役割も果たすので、高濃度基板が好ましい。 First, in the process shown in FIGS. 36A and 36B, an SiO 2 film 101 is deposited on the Si substrate 100 and patterned as shown in the figure using a resist as a mask. Since the Si substrate also serves as a lower electrode, a high concentration substrate is preferable.

次に、図37A,Bで示す工程において、SiN膜102を全面に堆積する。SiN膜は、後に流路の幅を決定する膜厚となるので、DNA運動方向制御の観点から、なるべくDNAの太さと同等程度の値となるよう形成する。   Next, in a step shown in FIGS. 37A and 37B, a SiN film 102 is deposited on the entire surface. Since the SiN film has a film thickness that determines the width of the channel later, it is formed to have a value as close to the thickness of the DNA as possible from the viewpoint of controlling the DNA movement direction.

次に、図38A,Bで示す工程では、パターニングされたSiO膜の角部分を覆うようにレジストパターンを形成する。 Next, in the steps shown in FIGS. 38A and 38B, a resist pattern is formed so as to cover the corners of the patterned SiO 2 film.

さらに、図39A,Bで示す工程では、SiN膜102を堆積した膜厚分エッチバックし、サイドウォールを形成する。サイドウォールの膜厚は、後に流路の幅を決定する膜厚となるので、DNA運動方向制御の観点から、なるべくDNAの太さと同等程度の値となるよう形成する。   Further, in the step shown in FIGS. 39A and 39B, the side wall is formed by etching back the film thickness of the deposited SiN film 102. Since the thickness of the sidewall is a thickness that will later determine the width of the channel, it is formed so as to have a value as close as possible to the thickness of DNA from the viewpoint of controlling the direction of DNA movement.

次に、図40A,Bで示す工程において、不要部分のSiO膜およびSiN膜をエッチングにより除去する。 Next, in the steps shown in FIGS. 40A and 40B, unnecessary portions of the SiO 2 film and the SiN film are removed by etching.

次に、図41A,Bで示す工程では、SiO膜をエッチングし、SiNのサイドウォールのラインを形成する。 Next, in the steps shown in FIGS. 41A and 41B, the SiO 2 film is etched to form SiN sidewall lines.

次に、図42A,Bで示す工程では、SiN膜をマスクとし、Si基板をエッチングする。   Next, in the steps shown in FIGS. 42A and 42B, the Si substrate is etched using the SiN film as a mask.

引き続き、図43A,Bで示す工程では、SiN膜を全面に堆積する。   Subsequently, in the process shown in FIGS. 43A and 43B, a SiN film is deposited on the entire surface.

次に、図44A,Bで示す工程において、CMPなどの平坦化プロセスにより、Si基板表面まで削り、平坦化する。   Next, in the process shown in FIGS. 44A and 44B, the surface of the Si substrate is cut and planarized by a planarization process such as CMP.

さらに、図45A,Bで示す工程において、検出用電極104となる導電材料を堆積する。検出用電極104は、例えばAu、Ptなどの材料が挙げられる。好ましくは耐酸化性の強い材料がよい。   Further, in the process shown in FIGS. 45A and 45B, a conductive material to be the detection electrode 104 is deposited. Examples of the detection electrode 104 include materials such as Au and Pt. A material having strong oxidation resistance is preferable.

次に、図46A,Bで示す工程において、SiO膜101を堆積し、レジストをマスクにパターニングを行い、図のようなパターンを形成する。 Next, in a process shown in FIGS. 46A and 46B, an SiO 2 film 101 is deposited and patterned using a resist as a mask to form a pattern as shown in the figure.

次に、図47A,Bで示す工程において、SiN膜102を全面に堆積する。この膜厚は、後に、検出用電極の幅を決定する膜厚となるので、検出精度向上の観点から、なるべくDNAの1塩基に近い膜厚と同等程度の値となるよう形成する。   Next, in a step shown in FIGS. 47A and 47B, a SiN film 102 is deposited on the entire surface. Since this film thickness will later be a film thickness that determines the width of the detection electrode, it is formed so as to have a value as close as possible to a film thickness close to one base of DNA from the viewpoint of improving detection accuracy.

次に、図48A,Bで示す工程において、パターニングされたSiO膜の角部分を覆うようにレジストパターン103を形成する。 Next, in the process shown in FIGS. 48A and 48B, a resist pattern 103 is formed so as to cover the corners of the patterned SiO 2 film.

さらに、図49A,Bで示す工程において、SiN膜102を堆積した膜厚分エッチバックし、サイドウォールを形成する。この膜厚は、後に、検出用電極の幅を決定する膜厚となるので、検出精度向上の観点から、なるべくDNAの1塩基に近い膜厚と同等程度の値となるよう形成する。   Further, in the step shown in FIGS. 49A and 49B, the SiN film 102 is etched back as much as the deposited thickness to form sidewalls. Since this film thickness will later be a film thickness that determines the width of the detection electrode, it is formed so as to have a value as close as possible to a film thickness close to one base of DNA from the viewpoint of improving detection accuracy.

次に、図50A,Bで示す工程では、不要部分の検出用電極およびSiO膜をエッチングにより除去する。 Next, in the steps shown in FIGS. 50A and 50B, unnecessary portions of the detection electrode and the SiO 2 film are removed by etching.

次に、図51A,Bで示す工程では、SiO膜をエッチングすることにより、SiNのサイドウォールのラインを形成する。 Next, in the steps shown in FIGS. 51A and 51B, the SiN sidewall lines are formed by etching the SiO 2 film.

次に、図52A,Bで示す工程において、SiN膜をマスクに、検出用電極材料をエッチングする。   Next, in the steps shown in FIGS. 52A and 52B, the detection electrode material is etched using the SiN film as a mask.

次に、図53A,Bで示す工程において、酸化プロセスにより、Si基板を酸化する。この酸化膜厚は、流路の深さを決定するので、検出精度向上およびDNA運動制御向上の観点から、なるべくDNAの太さに近い膜厚と同等程度の値となるよう形成する。   Next, in the steps shown in FIGS. 53A and 53B, the Si substrate is oxidized by an oxidation process. Since this oxide film thickness determines the depth of the flow path, it is formed so as to have a value equivalent to the film thickness as close as possible to the thickness of DNA from the viewpoint of improving detection accuracy and improving DNA motion control.

なお図に示すとおり、検出電極下部のSi基板の酸化量は、検出電極下部以外のSi基板に比べ、検出電極でマスクされている分、酸化量は小さい。よって、この検出電極下部の部分の酸化量が、DNAの太さに近い膜厚と同等程度の値となるよう形成する。また、この酸化時に、SiN膜および、耐酸化性のSiO101の酸化量はきわめて小さい。そのため、Si基板を酸化した後、希フッ酸によるライトエッチを施すことで、Si基板上SiO膜と選択的にSiN膜上および導電材料の酸化膜を除去することが出来る。 As shown in the figure, the oxidation amount of the Si substrate below the detection electrode is smaller than that of the Si substrate other than the detection electrode lower portion because the oxidation amount is masked by the detection electrode. Therefore, the oxidation amount in the lower part of the detection electrode is formed to be a value equivalent to the film thickness close to the thickness of DNA. Further, during this oxidation, the amount of oxidation of the SiN film and the oxidation-resistant SiO 2 101 is very small. Therefore, by oxidizing the Si substrate and then performing light etching with diluted hydrofluoric acid, the SiO 2 film on the Si substrate, the SiN film, and the oxide film of the conductive material can be selectively removed.

次に、図54A,Bで示す工程では、SiN膜102を堆積した後、CMPなどの平坦化プロセスにより、SiN表面を平坦化する。   Next, in the steps shown in FIGS. 54A and 54B, after the SiN film 102 is deposited, the SiN surface is flattened by a flattening process such as CMP.

さらに、図55A,Bで示す工程では、検出電極用のコンタクト部分を、レジストをマスクにエッチングし開口する。その後導電材料を埋め込むことでコンタクトを形成する。   Further, in the steps shown in FIGS. 55A and 55B, the contact portion for the detection electrode is opened by etching using a resist as a mask. Thereafter, a contact is formed by embedding a conductive material.

次に、図56A,Bで示す工程では、流路部分の入り口および出口の部分をSiNをエッチングすることにより形成し、流路部分へのコンタクトを形成する。   Next, in the steps shown in FIGS. 56A and 56B, the inlet and outlet portions of the flow channel portion are formed by etching SiN, and contacts to the flow channel portion are formed.

最後に、図57A,Bで示す工程において、Si基板上SiO膜を、HFなどの選択的なウエットエッチおよびドライエッチによりエッチングし、流路203を形成する。 Finally, in the step shown in FIGS. 57A and 57B, the SiO 2 film on the Si substrate is etched by selective wet etching and dry etching such as HF to form the flow path 203.

本製法は、流路の形成にサイドウォールプロセスを用いていることが特徴である。サイドウォールプロセスは、原理的に堆積膜厚分の細さの側壁を形成することが出来る。半導体プロセスにおける薄膜堆積技術は、1nm以下までの制御が可能であり、そのため、DNAの太さに匹敵する側壁を形成することが可能となり、微細な幅の流路を形成できる。それにより流路中のDNAの横方向の配置のばらつきが減り、検出信号の信頼性が向上する。また、流路の深さを決定するのに、Si基板を酸化して、後でエッチングにより選択的に除去するという製法を採っている。上記したとおり、半導体プロセスにおける薄膜形成技術は1nm以下までの制御が可能であり、そのため、極浅の深さの流路を形成できる。ゆえに、DNAの高さ方向の制御に優位である。   This production method is characterized in that a sidewall process is used to form the flow path. In principle, the sidewall process can form sidewalls as thin as the deposited film thickness. A thin film deposition technique in a semiconductor process can be controlled to 1 nm or less, and therefore, a side wall comparable to the thickness of DNA can be formed, and a channel having a fine width can be formed. Thereby, the variation in the horizontal arrangement of the DNA in the flow path is reduced, and the reliability of the detection signal is improved. Further, in order to determine the depth of the flow path, a manufacturing method is employed in which the Si substrate is oxidized and selectively removed later by etching. As described above, the thin film formation technique in the semiconductor process can be controlled to 1 nm or less, and therefore, a flow path having an extremely shallow depth can be formed. Therefore, it is superior in controlling the height direction of DNA.

検出用電極もサイドウォールプロセスを用いて形成しているので、DNAの1塩基分の大きさに近い幅の電極が形成可能である。電極幅がDNA1塩基分の大きさに近づくにつれ、読み取り対象と隣り合った読み取り対象以外の塩基による検出信号への影響が少なくなり、検出信号の分解能が向上する。   Since the detection electrode is also formed using a sidewall process, an electrode having a width close to the size of one base of DNA can be formed. As the electrode width approaches the size of one base of DNA, the influence on the detection signal by the base other than the reading target adjacent to the reading target is reduced, and the resolution of the detection signal is improved.

また、流路上部は絶縁膜で覆われているため、ガラスプレートなどで蓋をする必要がなく、デバイス製造の工程が簡易になるほか、ガラスプレート圧着工程で生じる流路幅や深さの不均一性等の問題を解消することが出来る。   In addition, since the upper part of the flow path is covered with an insulating film, it is not necessary to cover it with a glass plate or the like, which simplifies the device manufacturing process and reduces the width and depth of the flow path caused by the glass plate pressing process. Problems such as uniformity can be solved.

また、本製法では、検出電極下部以外の流路の深さは、検出電極下部の深さより深くなる。そのため、検出部以外におけるDNAの搬送は、流路断面積が大きい分、滑らかな搬送が可能である。   In this manufacturing method, the depth of the flow path other than the lower part of the detection electrode is deeper than the depth of the lower part of the detection electrode. For this reason, the DNA can be transported smoothly except for the detecting section because the cross-sectional area of the channel is large.

また別製法として、図44A,Bの工程後に、図58A,Bで示すように、DNAの厚みに近い膜厚分だけSi基板の酸化を行ってしまってもよい。そうすることで、図52A,Bの工程時には、図59A,Bで示すようにすでにSi基板は酸化されていることになる。よってこの時点で酸化の必要はない。そのため、検出用電極の表面酸化を気にする必要はない。よって検出用電極に耐酸化性の弱い材料を用いても検出用電極を酸化することなく、材料選択の幅を広げることが出来る。そのため、例えば従来CMOSプロセスの半導体プロセスで用いられる導電材料を選択することで、従来CMOSプロセスとの親和性や、従来半導体プロセスとの相性を向上でき、集積化回路との混載も容易となる。最終的には、図60A,Bで示すような完成図となる。   As another manufacturing method, after the steps shown in FIGS. 44A and 44B, as shown in FIGS. 58A and 58B, the Si substrate may be oxidized by a thickness close to the thickness of the DNA. By doing so, the Si substrate is already oxidized as shown in FIGS. 59A and B in the process of FIGS. 52A and 52B. Therefore, there is no need for oxidation at this point. Therefore, there is no need to worry about the surface oxidation of the detection electrode. Therefore, even if a material having low oxidation resistance is used for the detection electrode, the range of material selection can be expanded without oxidizing the detection electrode. Therefore, for example, by selecting a conductive material used in the semiconductor process of the conventional CMOS process, the affinity with the conventional CMOS process and the compatibility with the conventional semiconductor process can be improved, and the integration with the integrated circuit is facilitated. Eventually, the completed drawing is as shown in FIGS. 60A and 60B.

また、図42A,Bで示す流路部となるSiの壁の製法は、始めに幅の広いSi壁をエッチングにより形成し、それを酸化してHF洗浄することで、幅の狭いSi壁を形成するのでも良い。半導体プロセスにおける薄膜形成技術の制度は1nm以下までの制御が可能である。   42A and 42B, the Si wall forming the flow path portion is formed by first forming a wide Si wall by etching, oxidizing it, and washing with HF, thereby forming a narrow Si wall. It may be formed. The system of thin film formation technology in semiconductor processes can be controlled to 1 nm or less.

また、本デバイスにおいては、流路を挟んで両脇に離れた検出用電極があるわけではなく、流路をまたぐように流路上部に繋がった配線が配置されている。よって、本実施例では流路を挟んで両脇にパッドを設けているが、片側だけでもよく、デバイスの面積縮小に有利である。   Further, in this device, there are not detection electrodes separated on both sides across the flow path, and wiring connected to the upper part of the flow path is arranged so as to straddle the flow path. Therefore, in this embodiment, the pads are provided on both sides of the flow path, but only one side may be used, which is advantageous for reducing the area of the device.

さらに、本デバイスの特徴として、流路下の基板100は、流路の幅と同等程度の幅で基板が凸型に掘られており、その周囲は絶縁膜102で埋められている。そのため、流路部中を基板から検出用電極104(もしくは検出用電極から基板)へと流れる検出すべき電流以外のリーク電流、すなわち基板から検出用電極(もしくは検出用電極から基板)へ流路部以外を通過して流れるリーク電流を抑えることができる。   Further, as a feature of this device, the substrate 100 under the flow path is dug into a convex shape with a width approximately equal to the width of the flow path, and the periphery thereof is filled with an insulating film 102. Therefore, a leakage current other than the current to be detected flowing from the substrate to the detection electrode 104 (or from the detection electrode to the substrate) in the flow path, that is, the flow path from the substrate to the detection electrode (or from the detection electrode to the substrate) Leakage current that flows through other than the part can be suppressed.

また動作例として、Si基板に正電圧、検出電極部に負電圧、流路の入り口付近の溶液に0Vまたは負電圧、出口付近の溶液に正電圧を掛けることで、DNAは、極浅のみぞの中で、さらに基板側に引き寄せられながら流路中を移動できる。そのため、検出電極と基板間でえられる信号の信頼性は、高さ方向の移動が非常に制御されている分、向上する。つまり、Si基板は信号検出電極の片側としての役割も果たしながら、同時にDNAの高さ方向制御も行う。また、基板側電極を別に設けない分、デバイス面積の縮小に有利となる。   Also, as an example of operation, by applying a positive voltage to the Si substrate, a negative voltage to the detection electrode, 0V or a negative voltage to the solution near the inlet of the flow path, and a positive voltage to the solution near the outlet, the DNA is very shallow. In this, it can move in the flow path while being drawn closer to the substrate side. Therefore, the reliability of the signal obtained between the detection electrode and the substrate is improved because the movement in the height direction is very controlled. That is, the Si substrate also serves as one side of the signal detection electrode, and at the same time controls the height direction of the DNA. Further, since the substrate side electrode is not provided separately, it is advantageous for reducing the device area.

なお、本デバイスの流路幅や電極幅を対象物に合わせ変化させることで、DNA以外の生体分子やウイルス、細菌などの検出器として使用することも出来る。
なお溶液流動の制御の観点から、流路部のうち、対向電極が存在する検出部以外の幅や深さを広く設計しても良い。
In addition, it can also be used as detectors, such as biomolecules other than DNA, a virus, and bacteria, by changing the flow-path width | variety and electrode width of this device according to a target object.
From the viewpoint of controlling the solution flow, the width and depth of the flow path part other than the detection part where the counter electrode is present may be designed widely.

DNAの検出を、Si基板100と検出用電極104間に流れるトンネル電流で行えるデバイスの製法および構造について示す。   A device manufacturing method and structure capable of detecting DNA with a tunnel current flowing between the Si substrate 100 and the detection electrode 104 will be described.

先ず、図61で示す工程において、Si基板100上にSiO膜101を形成し、その上部にSiN膜を堆積し、パターニングする。Si基板は電極としても用いるので高濃度である方が好ましい。 First, in a step shown in FIG. 61, a SiO 2 film 101 is formed on a Si substrate 100, and a SiN film is deposited on the SiO 2 film 101 and patterned. Since the Si substrate is also used as an electrode, a high concentration is preferable.

次に、図62で示す工程において、検出用電極となる導電性材料を堆積し、その堆積膜厚分だけエッチバックすることで、検出用電極のサイドウォールを形成する。サイドウォールの膜厚は、後に検出用電極の幅を決定する膜厚となるので、検出精度向上の観点から、なるべくDNAの1塩基と同等程度の値となるよう形成する。   Next, in the step shown in FIG. 62, a conductive material to be a detection electrode is deposited and etched back by the deposited film thickness, thereby forming a sidewall of the detection electrode. Since the film thickness of the sidewall is a film thickness that will later determine the width of the detection electrode, it is formed so as to be as much as possible with one base of DNA from the viewpoint of improving detection accuracy.

次に、図63で示す工程において、SiN膜を堆積し、CMPなどの平坦化プロセスによって、表面を平坦化する。   Next, in a step shown in FIG. 63, a SiN film is deposited and the surface is flattened by a flattening process such as CMP.

次に、図64で示す工程において、ウエハを、図面に記載の断面が出るようにへき開し、その後、HFなどのウエットエッチを用いて酸化膜をエッチングし、流路部分203を形成する。その後、へき開面の流路部分にガラスプレートなどで蓋をし、流路を形成する。
トンネル電流は、検出用電極104と基板の間に流れ、流路を通るDNAを検出する。
Next, in the step shown in FIG. 64, the wafer is cleaved so that the cross section shown in the drawing appears, and then the oxide film is etched using a wet etch such as HF to form the flow path portion 203. Thereafter, the channel portion of the cleavage plane is covered with a glass plate or the like to form a channel.
The tunnel current flows between the detection electrode 104 and the substrate and detects DNA passing through the flow path.

本プロセスにて、SiO膜101の膜厚は流路の幅に相当し、ウエハへき開後のHFエッチによるSiO膜の後退量は、流路の深さに相当する。そのため、SiO膜101の膜厚はDNAの太さと同等程度となるよう形成する。また、HFエッチによるSiO膜の後退量もDNAの太さと同等程度となるよう形成する。 In this process, the film thickness of the SiO 2 film 101 corresponds to the width of the flow path, and the receding amount of the SiO 2 film by HF etching after cleaving the wafer corresponds to the depth of the flow path. For this reason, the SiO 2 film 101 is formed to have a thickness equivalent to the thickness of DNA. Further, the amount of receding of the SiO 2 film by HF etching is formed to be approximately the same as the thickness of DNA.

本プロセスは、プロセス工程数が非常に少なく簡易であるうえ、流路の幅や深さを従来半導体プロセスで成熟している酸化プロセスやHFなどによるエッチングプロセスを用いているため、1nm単位の制御が可能である。酸化プロセスは1nm以下の膜厚制御が可能であるし、HFエッチングも1nm以下の膜厚制御が可能である。そのため、太さ2nm程度以下のDNA太さに相当する流路を形成できるため、DNA進行方向(流路に沿った方向)以外の運動をほぼなくすことができ、検出信号の信頼性をよく向上させることができる。検出用電極もサイドウォールプロセスを用いて形成しているので、DNAの1塩基分の大きさに近い幅の電極が形成可能である。電極幅がDNA1塩基分の大きさに近づくにつれ、読み取り対象と隣り合った読み取り対象以外の塩基による検出信号への影響が少なくなり、検出信号の分解能が向上する。なお、本デバイスの流路幅や電極幅を対象物に合わせ変化させることで、DNA以外の生体分子やウイルス、細菌などの検出器として使用することも出来る。   In this process, the number of process steps is very small and simple, and the width and depth of the flow path use an oxidation process matured in the conventional semiconductor process or an etching process using HF, etc., so that the control is performed in units of 1 nm. Is possible. The oxidation process can control the film thickness to 1 nm or less, and the HF etching can also control the film thickness to 1 nm or less. Therefore, since a flow path corresponding to a DNA thickness of about 2 nm or less can be formed, movements other than the DNA traveling direction (direction along the flow path) can be almost eliminated, and detection signal reliability is improved. Can be made. Since the detection electrode is also formed using a sidewall process, an electrode having a width close to the size of one base of DNA can be formed. As the electrode width approaches the size of one base of DNA, the influence on the detection signal by the base other than the reading target adjacent to the reading target is reduced, and the resolution of the detection signal is improved. In addition, it can also be used as detectors, such as biomolecules other than DNA, a virus, bacteria, by changing the flow path width and electrode width of this device according to a target object.

なお溶液流動の制御の観点から、流路部のうち、対向電極が存在する検出部以外の幅や深さを広く設計しても良い。   From the viewpoint of controlling the solution flow, the width and depth of the flow path part other than the detection part where the counter electrode is present may be designed widely.

本実施例では、基板側電極106を備え、かつ流路上部に蓋を必要としないデバイス構造を示す。図69A,Bに、デバイス構造を示す。Si基板100上に基板側電極106を設け、その上にSiN膜102を設け、その上に、流路および対向電極が配置される。流路および対向電極上にSiN膜102がある。   In this embodiment, a device structure including a substrate-side electrode 106 and not requiring a lid on the upper part of the flow path is shown. 69A and 69B show the device structure. A substrate-side electrode 106 is provided on the Si substrate 100, a SiN film 102 is provided thereon, and a flow path and a counter electrode are disposed thereon. There is a SiN film 102 on the channel and the counter electrode.

デバイスの製法の一例を図65A,Bから図69A,Bで示す。それぞれ、各図のAに断面図を示し、Bに上面図を示す。なお、本製法はあくまで一例であり、これに限定するものではない。   An example of a device manufacturing method is shown in FIGS. 65A and B to FIGS. 69A and 69B. In each figure, A is a cross-sectional view, and B is a top view. In addition, this manufacturing method is an example to the last, and is not limited to this.

先ず、図65A,Bで示す工程において、図5A,Bから図12A,Bに示したプロセスを経た後、SiO膜101を堆積し、CMPによる平坦化およびエッチングプロセスを用いることで、図65A,Bのような形状を形成する。 First, in the process shown in FIGS. 65A and 65B, after the processes shown in FIGS. 5A and 12B and FIGS. 12A and 12B, the SiO 2 film 101 is deposited, and the planarization and etching process by CMP is used. , B are formed.

次に、図66A,Bで示す工程において、SiN膜を堆積する。   Next, in a step shown in FIGS. 66A and 66B, a SiN film is deposited.

次に、図67A,Bで示す工程において、レジストをパターニングし、それをマスクとして、検出用電極への導通のため、コンタクトホールを形成し、メタル材料を埋め込む。   Next, in the steps shown in FIGS. 67A and 67B, the resist is patterned, using the resist as a mask, a contact hole is formed for conduction to the detection electrode, and a metal material is embedded.

さらに、図68A,Bで示す工程において、レジストをパターニングし、それをマスクとして、基板側電極へのコンタクトホールを形成する。   Further, in the process shown in FIGS. 68A and 68B, the resist is patterned, and a contact hole to the substrate side electrode is formed using the resist as a mask.

最後に、図69A,Bで示す工程において、HFなどの選択的なウエットエッチおよびドライエッチにより酸化膜をエッチングし、流路を形成する。   Finally, in the steps shown in FIGS. 69A and 69B, the oxide film is etched by selective wet etching and dry etching such as HF to form a flow path.

プロセスは実施例1より増え複雑だが、本デバイスによれば、基板側電極によって流路へ電界を掛けることで、対象物であるDNAの高さ方向を制御することにより、検出信号の信頼性を向上させることが出来る。位置方向制御に用いる電極と検出用電極が独立していることで、高さ方向に最適な電圧と検出に最適な電圧をかけ分けることができる。   The process is more complicated than in Example 1, but according to this device, the reliability of the detection signal is improved by controlling the height direction of the target DNA by applying an electric field to the flow path by the substrate side electrode. Can be improved. Since the electrode used for position / direction control and the detection electrode are independent, the optimum voltage in the height direction and the optimum voltage for detection can be divided.

また、流路上部は絶縁膜で覆われているため、ガラスプレートなどで蓋をする必要がなく、蓋を圧着する工程で生じる流路幅や深さの不均一性等の問題を解消することが出来る。   In addition, since the upper part of the channel is covered with an insulating film, there is no need to cover it with a glass plate or the like, and problems such as non-uniformity in the channel width and depth that occur in the process of crimping the lid are eliminated. I can do it.

DNAの高さ方向の制御に加え、横方向の電界による制御も可能となるデバイスを示す。記載するデバイス構造および材料は、本発明の思想を具現化するための一例であり、材料および寸法などを厳密に特定するものではない。図70Aは、本実施例のデバイスの断面図であり、図70Bは上面図であり、図70Aのa)、b)には、それぞれ図70BのA−A’、B−B’断面を画いている。A−A’断面は、流路に沿った断面であり、B−B’断面は、流路に直交し、2対の電極に沿った断面である。   In addition to controlling the height direction of DNA, a device that can be controlled by an electric field in the lateral direction is shown. The device structure and material to be described are examples for embodying the idea of the present invention, and the material and dimensions are not strictly specified. 70A is a cross-sectional view of the device of this example, FIG. 70B is a top view, and FIGS. 70A a and b show cross sections AA ′ and BB ′ of FIG. 70B, respectively. It is. The A-A ′ cross section is a cross section along the flow path, and the B-B ′ cross section is a cross section perpendicular to the flow path and along the two pairs of electrodes.

図面の符号100は、例えばSi基板であり、符号102は絶縁膜で、例えばSiN膜であり、検出用電極104は導電材料で構成され、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどが挙げられる。基板側電極部106は導電材料で構成され、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどが挙げられる。符号107はDNA横方向制御電極であり、例えばAu、Pt、Cr、Ta、Ti、TiN、Wなどの材料が挙げられる。本実施例では、C−C’断面で見た場合、検出用電極104と、DNA横方向制御電極107と、検出用電極104およびDNA横方向制御電極107の側壁に接するSiN膜102の間には、理想的には表面に段差がない、または極小である。そのため、流路上部へガラスなどを圧着し蓋をする際、その圧着が容易となり、また、段差による流路部以外への空洞の形成や、段差による流路中の高さ方向のばらつきが抑制され、溶液の搬送精度や検出精度の向上を実現できる。   Reference numeral 100 in the drawing is, for example, a Si substrate, reference numeral 102 is an insulating film, for example, a SiN film, and the detection electrode 104 is made of a conductive material. For example, Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, W Etc. The substrate side electrode portion 106 is made of a conductive material, and examples thereof include Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, and W. Reference numeral 107 denotes a DNA lateral direction control electrode, and examples thereof include materials such as Au, Pt, Cr, Ta, Ti, TiN, and W. In this embodiment, when viewed in the CC ′ cross section, the detection electrode 104, the DNA lateral control electrode 107, and the SiN film 102 in contact with the side walls of the detection electrode 104 and the DNA lateral control electrode 107 are interposed. Ideally, the surface has no step or is minimal. Therefore, when glass is crimped on the upper part of the flow path and capped, it is easier to crimp, and the formation of cavities other than the flow path due to the step and the variation in the height direction in the flow path due to the step are suppressed. In addition, it is possible to improve the solution conveyance accuracy and detection accuracy.

DNA横方向制御電極107のうち、例えば流路を挟んで片側の電極に正電圧、もう片側に負電圧を印加することにより、流路のうち正電圧印加されている側にDNAは引き寄せられる。図71A,Bは、検出電極付近の流路の上面図である。図71Aに示すとおり、DNA横方向制御電極が無い場合、またはDNA横方向制御電極による電界を印加しない場合で、流路幅がDNAよりも十分太い場合は、DNAは流路中を横方向(図中矢印で記載)に動くことができる。この場合、DNAが流路の中心付近を通過するか、あるいは流路の端を通過するかで、検出される信号にばらつきが生じる。一方で図71Bのように、DNA横方向制御電極による電界を印加することで、DNAを片側の壁方向に押しやると、検出電極対を通じて得られる信号のばらつきは低減させることができる。よって、DNA横方向制御電極107と、基板側電極106による高さと横方向の制御により、検出信号の信頼性を非常に向上することができる。   For example, when a positive voltage is applied to one electrode of the lateral control electrode 107 and a negative voltage is applied to the other electrode across the flow channel, the DNA is attracted to the positive voltage applied side of the flow channel. 71A and 71B are top views of flow paths near the detection electrodes. As shown in FIG. 71A, when there is no DNA lateral control electrode or when an electric field is not applied by the DNA lateral control electrode and the flow channel width is sufficiently thicker than DNA, DNA moves laterally ( (Denoted by arrows in the figure). In this case, the detected signal varies depending on whether the DNA passes near the center of the flow path or the end of the flow path. On the other hand, as shown in FIG. 71B, by applying an electric field by the DNA lateral control electrode, when DNA is pushed in the direction of the wall on one side, variations in signals obtained through the detection electrode pairs can be reduced. Therefore, the reliability of the detection signal can be greatly improved by controlling the height and the lateral direction by the DNA lateral direction control electrode 107 and the substrate side electrode 106.

また、DNA横方向制御電極107の両側に、同じ値の負電圧を印加することで、横方向に関しては、DNAを流路の中心に配置することができる。これでも、横方向のDNAの配置のばらつきを低減でき、検出信号の信頼性を向上することができる。   Further, by applying a negative voltage having the same value to both sides of the DNA lateral direction control electrode 107, the DNA can be arranged at the center of the flow path in the lateral direction. Even in this case, variation in the arrangement of DNA in the horizontal direction can be reduced, and the reliability of the detection signal can be improved.

DNA横方向制御電極107と流路の間には、電極間のリーク防止のためのSiN膜102が存在する。また検出用電極104とDNA横方向制御電極107の間にも、リーク防止のための絶縁膜が存在する。検出用電極104とDNA横方向制御電極107の間にリーク防止のための絶縁膜があるため、検出部分である対向電極の間での横方向制御電界の効果は、弱まってしまう。そのため、なるべく絶縁膜厚はリーク防止が可能な範囲で薄くするのが良い。   Between the DNA lateral direction control electrode 107 and the flow path, there exists a SiN film 102 for preventing leakage between the electrodes. An insulating film for preventing leakage also exists between the detection electrode 104 and the DNA lateral control electrode 107. Since there is an insulating film for preventing leakage between the detection electrode 104 and the DNA lateral control electrode 107, the effect of the lateral control electric field between the counter electrodes as detection portions is weakened. For this reason, it is preferable to make the insulating film thickness as thin as possible in a range where leakage can be prevented.

溶液を注入するために面積を広く設けている溶液の入り口と出口部(図72A中の112)の下には基板側電極は無く、検出用電極を備えた微細流路部の下(113)に基板側電極106が備えられているデバイスを示す。   There is no substrate-side electrode under the solution inlet and outlet (112 in FIG. 72A), which has a large area for injecting the solution, and under the fine channel section with the detection electrode (113). 1 shows a device provided with a substrate-side electrode 106.

図72A−Cは、流路に沿った断面図である。図72Aは、基板側電極が全面にある場合で、図中の符号111は負電荷およびDNAが受ける電界による力の向きであり、符号112は溶液の入り口または出口となる広い面積の領域を示す矢印であり、符号113は検出部を備えた微細流路部である。符号114は、DNAを泳動させる電界を作り出すための電極棒である。図は流路入り口に浸かっている電極棒に0V、流路出口に浸かっている電極棒に正電圧を印加し、基板側電極に正電圧を印加したときの、負電荷およびDNAが受ける力の向きの例を示している。図72Aの場合、点線で囲った部分のように、電界よる力の向きが出口方向へ向かわない、あるいは、出口方向へ向けた力が小さい領域が存在し、DNAがうまく出口へと搬送されない可能性がある。   72A-C are cross-sectional views along the flow path. FIG. 72A shows a case where the substrate side electrode is on the entire surface, where reference numeral 111 in the figure indicates the direction of force due to the negative charge and the electric field received by the DNA, and reference numeral 112 indicates a wide area that serves as an inlet or outlet for the solution. It is an arrow and the code | symbol 113 is a fine flow path part provided with the detection part. Reference numeral 114 denotes an electrode bar for creating an electric field for migrating DNA. The figure shows the negative charge and the force that DNA receives when a positive voltage is applied to the electrode rod immersed in the channel inlet, a positive voltage is applied to the electrode rod immersed in the channel outlet, and a positive voltage is applied to the substrate side electrode. An example of orientation is shown. In the case of FIG. 72A, there is a possibility that the direction of the force due to the electric field does not go to the exit direction, or there is a region where the force toward the exit direction is small, and the DNA is not successfully transported to the exit. There is sex.

対して図72Bは、基板側電極106は領域113の範囲内に収まっている。この場合、流路入り口に浸かっている電極棒に0V、流路出口に浸かっている電極棒に正電圧を印加し、基板側電極106に正電圧を印加したときの、負電荷およびDNAが受ける力の向きは、特に点線で囲った部分において図72Aとは違う。電界の向きは効果的に出口方向へと誘導される。そのため、図72Aとくらべ、DNAはスムーズに出口方向へ誘導される。また検出部を備えた微細流路部内において、基板側へ引き寄せる力の成分は確かに存在しており、DNAの基板側への誘導効果もよく保持されている。検出用電極は、基板側へDNAが効果的に誘導されている領域が好ましく、領域113の中でも基板電極上の領域にあることが好ましい。   In contrast, in FIG. 72B, the substrate-side electrode 106 is within the range of the region 113. In this case, 0V is applied to the electrode rod immersed in the channel inlet, a positive voltage is applied to the electrode rod immersed in the channel outlet, and negative charges and DNA are received when a positive voltage is applied to the substrate-side electrode 106. The direction of the force is different from that in FIG. 72A, particularly in the portion surrounded by the dotted line. The direction of the electric field is effectively induced in the exit direction. Therefore, compared with FIG. 72A, DNA is smoothly guided toward the exit. In addition, in the fine flow path part provided with the detection part, the component of the force attracted to the substrate side certainly exists, and the effect of inducing DNA to the substrate side is well maintained. The detection electrode is preferably a region where DNA is effectively guided to the substrate side, and among the regions 113, it is preferable to be in a region on the substrate electrode.

また、さらにDNAの基板への誘導効果を高め、検出信号の信頼性を高めるために、絶縁膜を挟んで流路上部に上部電極115を設ける構造を図72C示す。図は、流路入り口に浸かっている電極棒に0V、流路出口に浸かっている電極棒に正電圧を印加し、基板側電極に正電圧を印加し、上部電極に0Vを印加したときの、負電荷およびDNAが受ける力の向きの例を示している。上部電極と基板側電極に挟まれた領域における電界の向き(負電荷およびDNAが受ける力の向き)は図72A、Bと比べて揃っており、また基板側へDNAを引き寄せる力の成分の値も大きい。また、上部電極のみを用意して、そこに電圧を印加することにより掛かる電界によるDNAの高さ方向の運動制御も、基板側電極で行える制御と同様に、効果が得られる。構造の例として図60A,Bの構造に上部電極をつけた構造を図73A,Bに示す。このように、DNA高さ制御用の基板側電極を独立に持っていない構造に対しては特に有用である。   Further, FIG. 72C shows a structure in which the upper electrode 115 is provided on the upper part of the flow channel with the insulating film interposed therebetween in order to further enhance the effect of inducing the DNA to the substrate and increase the reliability of the detection signal. In the figure, 0V is applied to the electrode rod immersed in the channel inlet, a positive voltage is applied to the electrode rod immersed in the channel outlet, a positive voltage is applied to the substrate side electrode, and 0V is applied to the upper electrode. Figure 2 shows an example of the direction of negative charge and the force that DNA is subjected to. The direction of the electric field (the direction of the negative charge and the force received by the DNA) in the region sandwiched between the upper electrode and the substrate side electrode is uniform compared to FIGS. 72A and 72B, and the value of the component of the force that pulls the DNA toward the substrate side Is also big. Moreover, the movement control in the height direction of the DNA by the electric field applied by preparing only the upper electrode and applying a voltage thereto has the same effect as the control performed by the substrate side electrode. As an example of the structure, FIGS. 73A and 73B show a structure in which an upper electrode is added to the structure of FIGS. Thus, it is particularly useful for a structure that does not have a substrate-side electrode for controlling the DNA height independently.

また図74A,Bに示すように、複数本の検出電極対に対して、その下近傍に独立に基板側電極を複数配置することで、DNAをよりスムースに泳動することができる。流路中で、DNAが基板側電極の電界によって底面に引き寄せられて移動する領域を検出電極部近傍のみとすることで、それ以外の領域におけるDNAと底面間の摩擦などの相互作用が低減されるためである。そうすると、DNAが底面から受ける摩擦力などの相互作用によって生じるDNAの流路方向への運動速度の揺らぎを低減でき、また運動停止などの可能性を低くできる。そのため、検出信号の信頼性は向上する。   As shown in FIGS. 74A and 74B, DNA can be more smoothly migrated by arranging a plurality of substrate-side electrodes independently in the vicinity of a plurality of detection electrode pairs. By making the region where DNA is attracted to the bottom surface by the electric field of the substrate side electrode in the flow path and moving only in the vicinity of the detection electrode part, the interaction between the DNA and the bottom surface in other regions is reduced. Because. Then, fluctuations in the movement speed of the DNA in the direction of the flow path caused by interaction such as frictional force that the DNA receives from the bottom surface can be reduced, and the possibility of stopping the movement can be reduced. Therefore, the reliability of the detection signal is improved.

また、異なる検出電極対の下部に複数存在する基板側電極に、異なる電圧を印加することで、検出精度を上げることも可能である。つまり、各検出電極対が存在する近傍の流路形状のばらつきに対応して、検出精度向上に最適な電圧を掛け分けられる。最適な電圧とは例えば、各検出場所で十分な検出精度が得られるだけDNAを基板側に引き寄せながら、かつ、DNAが底面から受ける摩擦力などの相互作用によって生じるDNAの流路方向への運動速度の揺らぎの効果や、運動停止などの可能性をなるべく最小にする電圧である。   In addition, it is possible to improve detection accuracy by applying different voltages to a plurality of substrate-side electrodes existing under different detection electrode pairs. That is, an optimum voltage can be applied to improve detection accuracy in accordance with variations in the flow path shape in the vicinity where each detection electrode pair exists. The optimum voltage is, for example, the movement of DNA in the flow path direction caused by interaction such as friction force that DNA receives from the bottom surface while drawing DNA to the substrate side with sufficient detection accuracy at each detection location. It is a voltage that minimizes the effects of speed fluctuations and the possibility of stopping movement.

また上部電極115の配置についても、複数本の検出電極対に対して独立に、その上部近傍のみに配置することで、上記と同様の理由で同様の効果が得られる。例として図75A,Bに、上部電極を検出電極部の上部近傍のみに配置した図を示す。また、図76A,Bに、図60A,Bの構造に上部電極を検出電極部の上部近傍のみに配置した図を示す。
本手法らは、本明細書記載の実施例のデバイスおよび、それ以外の形態のデバイスにも適用可能である。
In addition, regarding the arrangement of the upper electrode 115, the same effect can be obtained for the same reason as described above by arranging the upper electrode 115 only in the vicinity of the upper part independently of the plurality of detection electrode pairs. As an example, FIGS. 75A and 75B are diagrams in which the upper electrode is arranged only in the vicinity of the upper portion of the detection electrode portion. FIGS. 76A and 76B are diagrams in which the upper electrode is arranged only in the vicinity of the upper portion of the detection electrode portion in the structure of FIGS. 60A and 60B.
The present techniques can also be applied to the devices of the embodiments described in this specification and other types of devices.

基板側電極を設けた上記デバイスにおいて、基板側電極に交流電圧を印加することにより、流路とDNAの間の摩擦を低減し、スムースにDNAを泳動させることができる。例えば、流路入り口付近の溶液に印加する電圧を0V、流路出口に印加する電圧をV(正電圧)とし、基板側電極に印加する電圧をV(正電圧)を中心とした微小振幅のある電圧とすることで、スムースにDNAを泳動させることができる。また同様に、上部電極を設けたデバイスにおいては、上部電極に交流電圧を与えても、同様の効果を得ることができる。   In the device provided with the substrate-side electrode, by applying an AC voltage to the substrate-side electrode, friction between the flow path and the DNA can be reduced and the DNA can be smoothly migrated. For example, the voltage applied to the solution near the flow path inlet is 0 V, the voltage applied to the flow path outlet is V (positive voltage), and the voltage applied to the substrate side electrode is a minute amplitude centered on V (positive voltage). By using a certain voltage, DNA can be migrated smoothly. Similarly, in a device provided with an upper electrode, the same effect can be obtained even when an AC voltage is applied to the upper electrode.

上記実施例のデバイスにて測定する際、DNAの進行方向と逆方向に溶液を送液することで、DNAの各塩基間の距離を伸ばすことができる。つまり、DNAは流路入り口および出口に印加する電圧で形成される電界で電気泳導させる一方、泳動方向と逆方向に、圧力により溶液を送液する。溶液の圧力に起因した力により、各塩基間の距離を広げることができる。図77中の符号108は、DNA進行方向(電界による泳動方向)を表し、符号109は外部圧力の印加による溶液の送液方向を表し、符号110は溶液中の水分子やその他の分子、イオンなどが衝突することによって、DNAの各塩基間の距離を伸ばす力をあらわす。   When measuring with the device of the above example, the distance between each base of the DNA can be increased by feeding the solution in the direction opposite to the direction of DNA progression. That is, DNA is electrophoresed by an electric field formed by the voltage applied to the flow path inlet and outlet, while the solution is fed by pressure in the direction opposite to the migration direction. The distance between each base can be increased by the force resulting from the pressure of the solution. In FIG. 77, reference numeral 108 represents a DNA traveling direction (electrophoresis direction by an electric field), reference numeral 109 represents a liquid feeding direction by application of an external pressure, and reference numeral 110 represents water molecules, other molecules, ions in the solution. This indicates the force that increases the distance between each base of DNA by collision.

DNAの各塩基間の距離が長くなることで、信号検出の際に、検出対象とする塩基と、その隣にある塩基の情報が混ざりにくくなり、検出信号の信頼性が向上する。DNAが伸びることで、図3Bのような縮まった配置は採らず、図4Aのような配置に近づく。   Since the distance between each base of DNA becomes long, the information of the base to be detected and the information of the base next to the base become difficult to mix during signal detection, and the reliability of the detection signal is improved. By extending the DNA, the contracted arrangement as shown in FIG. 3B is not adopted, and the arrangement as shown in FIG. 4A is approached.

なお本手法は、上記実施例以外の形態のデバイスにも適用可能である。   Note that this method can also be applied to devices in forms other than the above embodiments.

フリンジ電界をもちいて、流路中のDNAの高さ方向および横方向の配置制御を行うデバイスを示す。記載するデバイス構造および材料は、本発明の思想を具現化するための一例であり、材料および寸法などを厳密に特定するものではない。図78Aは、絶縁膜中に流路203を有するデバイスの、流路を横切った断面図である。断面図は、検出用電極対がない場所での断面図である。SiN膜102中に流路があり、流路底部に絶縁膜を挟んでフリンジ電極116があり、116の脇に絶縁膜を挟んでフリンジ電極117がある。117の電圧(V117)を116の電圧(V116)よりも低くすることで、DNAおよび負電荷が受ける力の向きは電気力線111のようになる。電気力線111は、流路203の中央部かつ底部へ向かうので、DNAも流路203の中央部でかつ底部へ配置される。よってDNAの流路中での配置ばらつきが抑制され、検出電極対によって測定される信号の信頼性が向上する。   A device for controlling the arrangement of DNA in the flow direction in the height direction and the horizontal direction using a fringe electric field is shown. The device structure and material to be described are examples for embodying the idea of the present invention, and the material and dimensions are not strictly specified. FIG. 78A is a cross-sectional view of a device having a channel 203 in an insulating film, across the channel. The cross-sectional view is a cross-sectional view at a place where there is no detection electrode pair. There is a flow path in the SiN film 102, a fringe electrode 116 with an insulating film sandwiched at the bottom of the flow path, and a fringe electrode 117 with an insulating film sandwiched beside the 116. By making the voltage 117 (V117) lower than the voltage 116 (V116), the direction of the force received by the DNA and the negative charge becomes the electric line of force 111. Since the electric lines of force 111 are directed to the center and bottom of the channel 203, DNA is also disposed at the center and bottom of the channel 203. Therefore, the dispersion | variation in the arrangement | positioning in the flow path of DNA is suppressed, and the reliability of the signal measured by a detection electrode pair improves.

また図78Bのように、フリンジ電極117を流路上部に配置しても、同様の効果が得られる。また図78Cに示すように、図78Aに示すフリンジ電極116および117の配置を逆にして、流路の上面側に配置しても同様の効果が得られることは、言うまでもない。あるいは、図78Dに示すように、図78Bに示すフリンジ電極116および117のそれぞれの配置を逆にして、フリンジ電極117を流路の上面側に、フリンジ電極116を流路の下面側に配置しても同様の効果が得られることは、言うまでもない。   Also, as shown in FIG. 78B, the same effect can be obtained even if the fringe electrode 117 is arranged at the upper part of the flow path. Further, as shown in FIG. 78C, it goes without saying that the same effect can be obtained even when the fringe electrodes 116 and 117 shown in FIG. 78A are reversed and arranged on the upper surface side of the flow path. Alternatively, as shown in FIG. 78D, the arrangement of the fringe electrodes 116 and 117 shown in FIG. 78B is reversed to place the fringe electrode 117 on the upper surface side of the flow path and the fringe electrode 116 on the lower surface side of the flow path. However, it goes without saying that the same effect can be obtained.

また、フリンジ電極は、片側だけの場合も、117と116の間に電界を掛けることで流路中の高さ方向および横方向の電界が決まるので、DNA配置固定の効果はある。ただし、よりよい制御のためには、両脇にフリンジ電極117を設けるのが良い。   Further, even when the fringe electrode is only on one side, the electric field between 117 and 116 is applied to determine the electric field in the height direction and the lateral direction in the flow path, so that there is an effect of fixing the DNA arrangement. However, for better control, it is preferable to provide fringe electrodes 117 on both sides.

100…シリコン(Si)基板、
101…シリコン酸化膜(SiO)、
102…シリコン窒化膜(SiN)、
103…レジスト、
104…検出用電極、
105…アモルファスシリコン膜、
106…基板側電極部、
107…DNA横方向制御電極、
108…DNAの進行方向、
109…溶液の送液方向、
110…水分子、その他分子、イオンによるDNA各塩基に働く力、
111…負電荷、DNAが受ける電界による力の向き、
112…溶液の入り口部および出口部、
113…信号検出部を備えた微細流路部、
114…DNAを泳動させる電界を作り出すための電極棒、
115…上部電極、
116,117…フリンジ電極、
118…蓋、
200…DNA、
201…DNA中の1塩基
202…ポア、
203…流路部分。
100 ... silicon (Si) substrate,
101 ... Silicon oxide film (SiO 2 ),
102 ... Silicon nitride film (SiN),
103 ... resist,
104 ... electrode for detection,
105 Amorphous silicon film,
106: Substrate side electrode part,
107: DNA lateral control electrode,
108 ... DNA traveling direction,
109 ... Solution feeding direction,
110: Water molecule, other molecule, force acting on each DNA base by ions,
111 ... Negative charge, direction of force due to electric field received by DNA,
112 ... Solution inlet and outlet,
113... A fine flow path section provided with a signal detection section,
114... Electrode rod for creating an electric field for migrating DNA,
115 ... Upper electrode,
116,117 ... fringe electrode,
118 ... lid,
200 ... DNA,
201 ... 1 base 202 in DNA ... pore,
203: A flow path portion.

Claims (15)

電流測定により溶液に含有された試料を解析する流体解析デバイスであって、
基板上に設けられた導電膜と、
前記導電膜に電圧を印加する第1電極と、
前記導電膜上に設けられた第1絶縁膜の第1領域から第2領域に至る上面が開放された前記溶液の流路となる溝部と、
前記溝部の両側面に対峙して設けられた少なくとも一対の電極端子と、
前記一対の電極端子のそれぞれに接続された配線に電圧を印加する第2および第3電極と、を有し、
前記溶液を前記溝部を通過させる際に、前記第2電極と前記第3電極との間に電圧を印加して、前記溶液に含有された試料を介して前記第2および第3電極間に流れる電気信号を測定することにより、前記試料を解析することを特徴とする流体解析デバイス。
A fluid analysis device for analyzing a sample contained in a solution by current measurement,
A conductive film provided on a substrate;
A first electrode for applying a voltage to the conductive film;
A groove serving as a flow path for the solution with an upper surface extending from the first region to the second region of the first insulating film provided on the conductive film;
At least a pair of electrode terminals provided opposite to both side surfaces of the groove,
A second electrode and a third electrode for applying a voltage to the wiring connected to each of the pair of electrode terminals;
When passing the solution through the groove, a voltage is applied between the second electrode and the third electrode, and flows between the second and third electrodes through the sample contained in the solution. A fluid analysis device, wherein the sample is analyzed by measuring an electrical signal.
前記配線は、前記一対の電極端子の一方で終端する第1配線領域と、前記一対の電極端子の他方で終端する第2配線領域とで構成され、前記第1配線領域の延長線が前記溝部で交差し、該延長上に前記第2配線領域が配置されることを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。   The wiring includes a first wiring region that terminates at one of the pair of electrode terminals, and a second wiring region that terminates at the other of the pair of electrode terminals, and an extension of the first wiring region is the groove portion. The fluid analysis device according to claim 1, wherein the second wiring region is disposed on the extension. 前記第1電極に電圧を印加することにより、
前記溝部中を通過する試料の前記溝部内での通過位置を制御することを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。
By applying a voltage to the first electrode,
The fluid analysis device according to claim 1, wherein the passage position of the sample passing through the groove is controlled in the groove.
前記溝部を覆うように前記第1絶縁膜上に設けられ第2絶縁膜で構成された蓋部を備えることを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。   The fluid analysis device according to claim 1, further comprising a lid portion that is provided on the first insulating film so as to cover the groove portion and is configured by a second insulating film. 前記配線表面と前記第1絶縁膜の表面の高低差が、前記配線の膜厚より小さいことを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。   The fluid analysis device according to claim 1, wherein a difference in height between the surface of the wiring and the surface of the first insulating film is smaller than a film thickness of the wiring. 前記配線の膜厚が前記第1絶縁膜の膜厚よりも小さく、前記配線が前記第1絶縁膜中に埋め込まれていることを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。   The fluid analysis device according to claim 1, wherein a film thickness of the wiring is smaller than a film thickness of the first insulating film, and the wiring is embedded in the first insulating film. 前記溝部を覆うように前記第1絶縁膜上に設けられた導電性材料からなる第4電極を、さらに有し、
前記第4電極は、前記導電膜と絶縁膜を介して絶縁され、
前記第4電極に電圧を印加することにより、前記溝部中を通過する試料の前記溝部内での通過位置を制御することを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。
A fourth electrode made of a conductive material provided on the first insulating film so as to cover the groove,
The fourth electrode is insulated from the conductive film via an insulating film,
The fluid analysis device according to claim 1, wherein the passage position of the sample passing through the groove is controlled in the groove by applying a voltage to the fourth electrode.
前記溶液を前記溝部を通過させる際に、前記第1電極、もしくは前記第4電極の少なくとも一方に交流電圧を印加することを特徴とする請求項7に記載の流体解析デバイス。   The fluid analysis device according to claim 7, wherein an alternating voltage is applied to at least one of the first electrode and the fourth electrode when the solution passes through the groove. 前記溝部の少なくとも一部に電界を与えるための別の導電膜が、前記第1絶縁体上の前記配線の近傍に設けられ、
前記別の導電膜に接続された第5電極に電圧を印加することにより、
前記溝部中を通過する試料の前記溝部内での通過位置を、前記基板表面と水平な方向に制御することを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。
Another conductive film for applying an electric field to at least a part of the groove is provided in the vicinity of the wiring on the first insulator,
By applying a voltage to the fifth electrode connected to the other conductive film,
The fluid analysis device according to claim 1, wherein a passage position of the sample passing through the groove portion in the groove portion is controlled in a direction horizontal to the substrate surface.
前記溝部の幅は、解析対象である前記試料の大きさと同程度の幅であることを特徴とする請求項2に記載の流体解析デバイス。   The fluid analysis device according to claim 2, wherein a width of the groove is approximately the same as a size of the sample to be analyzed. 前記溝部の底部の下方に設けられ前記溝部にフリンジ電界を与えるフリンジ電極を少なくとも1つ、または、前記溝部の上部に設けられ前記溝部にフリンジ電界を与えるフリンジ電極を少なくとも1つを有することを特徴とする請求項1に記載の流体解析デバイス。   It has at least one fringe electrode that is provided below the bottom of the groove and applies a fringe electric field to the groove, or has at least one fringe electrode that is provided above the groove and applies a fringe electric field to the groove. The fluid analysis device according to claim 1. 電流測定により溶液に含有された試料を解析する流体解析デバイスであって、
基板と、
前記基板上に設けられた前記溶液の流路となる溝部と、
前記溝部の上面に前記溝部と交差する方向に設けられた導電膜と、
前記導電膜に電圧を印加する第1電極と、を備え、
前記溝部は、その両側面が絶縁体で、その底面が前記基板で、その上面が前記導電膜で構成され、
前記溶液を前記溝部を通過させる際に、前記第1電極と前記基板との間に電圧を印加して、前記溶液に含有された試料を介して前記第1電極および前記基板間に流れる電気信号を測定することにより、前記試料を解析することを特徴とする流体解析デバイス。
A fluid analysis device for analyzing a sample contained in a solution by current measurement,
A substrate,
A groove serving as a flow path for the solution provided on the substrate;
A conductive film provided on the upper surface of the groove portion in a direction intersecting the groove portion;
A first electrode for applying a voltage to the conductive film,
The groove part is composed of an insulator on both side surfaces, a bottom surface of the substrate, and a top surface of the conductive film.
When passing the solution through the groove, an electric signal is applied between the first electrode and the substrate through a sample contained in the solution by applying a voltage between the first electrode and the substrate. A fluid analysis device, wherein the sample is analyzed by measuring.
前記基板の表面は、前記溝部の下部領域近傍が導電領域であり、前記溝部の下部領域近傍以外が絶縁領域であることを特徴とする請求項12に記載の流体解析デバイス。   The fluid analysis device according to claim 12, wherein the surface of the substrate is a conductive region in the vicinity of a lower region of the groove, and an insulating region other than the vicinity of the lower region of the groove. 溶液に含有された試料を流す流路と、該流路を通過する試料に電界を与える配線部とを含む流体解析デバイスの製造方法であって、
基板上に第1の導電膜を堆積し基板電極を形成する工程と、
前記基板電極上に第1絶縁膜を形成し、前記第1絶縁膜に所定の幅を有する第1開口部を形成する工程と、
前記第1開口部および前記第1絶縁膜に第2の導電膜を堆積し平坦化技術を用いて前記第1開口部内に第2の導電膜を埋め込み前記配線部を形成する工程と、
前記配線部の長手方向と交差する方向に所定の幅を有する第2開口部を前記第1絶縁膜に開口し前記流路を形成するとともに、前記配線部と交差する前記流路の側面に前記配線の端子部を形成する工程とを有することを特徴とする流体解析デバイスの製造方法。
A fluid analysis device manufacturing method comprising: a flow path for flowing a sample contained in a solution; and a wiring portion for applying an electric field to the sample passing through the flow path.
Depositing a first conductive film on the substrate to form a substrate electrode;
Forming a first insulating film on the substrate electrode, and forming a first opening having a predetermined width in the first insulating film;
Depositing a second conductive film in the first opening and the first insulating film, filling the second conductive film in the first opening using a planarization technique, and forming the wiring portion;
A second opening having a predetermined width in a direction intersecting the longitudinal direction of the wiring part is opened in the first insulating film to form the flow path, and the side surface of the flow path intersecting the wiring part is formed on the side surface of the flow path. And a step of forming a terminal portion of the wiring.
前記第2開口部を形成する工程は、
前記第2の導電膜上に堆積した第2絶縁膜を開口し開口部を設ける工程と、
前記開口部を含む第2絶縁膜上に第3の絶縁膜を堆積し、前記第3の絶縁膜を前記第2絶縁膜の上部表面に至るまでエッチバックし、
前記開口部の側面にサイドウォールとして残った前記第3の絶縁膜により該開口部の幅を狭め、前記サイドウォールとして残った第3の絶縁膜をエッチング用のマスクとして前記第1絶縁膜を加工することを特徴とする請求項14に記載の流体解析デバイスの製造方法。
The step of forming the second opening includes
Opening a second insulating film deposited on the second conductive film and providing an opening;
A third insulating film is deposited on the second insulating film including the opening, and the third insulating film is etched back to reach the upper surface of the second insulating film;
The width of the opening is narrowed by the third insulating film remaining as a sidewall on the side surface of the opening, and the first insulating film is processed using the third insulating film remaining as the sidewall as an etching mask. The method of manufacturing a fluid analysis device according to claim 14.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021147988A1 (en) * 2020-01-22 2021-07-29 京东方科技集团股份有限公司 Biochip and manufacturing method therefor
CN113546698A (en) * 2020-04-24 2021-10-26 京东方科技集团股份有限公司 Micro-nano fluidic chip, manufacturing method thereof and micro-nano fluidic system

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7254366B2 (en) * 2017-09-29 2023-04-10 パロゲン,インコーポレイテッド Nanopore device and manufacturing method thereof
EP3862087A1 (en) 2020-02-10 2021-08-11 diamond invention UG (haftungsbeschränkt) Device and method for analyzing biological samples

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6627067B1 (en) * 1999-06-22 2003-09-30 President And Fellows Of Harvard College Molecular and atomic scale evaluation of biopolymers
JP2004233353A (en) * 2003-01-31 2004-08-19 Agilent Technol Inc Device and method for controlling rearrangement of biopolymer through nano pore

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001018246A1 (en) * 1999-08-26 2001-03-15 The Trustees Of Princeton University Microfluidic and nanofluidic electronic devices for detecting changes in capacitance of fluids and methods of using
US20060207880A1 (en) * 2005-03-15 2006-09-21 Joyce Timothy H Microfluidic devices and methods of using microfluidic devices
JP5076234B2 (en) * 2007-07-20 2012-11-21 コバレントマテリアル株式会社 Apparatus for measuring qualitative distribution of particle concentration in vertical cross section of microchannel and method for manufacturing microchannel structure used in said apparatus
WO2011067961A1 (en) * 2009-12-02 2011-06-09 独立行政法人科学技術振興機構 Flow path device and sample processing device including same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6627067B1 (en) * 1999-06-22 2003-09-30 President And Fellows Of Harvard College Molecular and atomic scale evaluation of biopolymers
JP2004233353A (en) * 2003-01-31 2004-08-19 Agilent Technol Inc Device and method for controlling rearrangement of biopolymer through nano pore

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JPN6012062033; Xiaogan Liang and Stephen Y. Chou: '"Nanogap Detector Inside Nanofluidic Channel for Fast Real-Time Label-Free DNA Analysis"' NANO LETTERS Vol.8, No.5, 2008, p.1472-1476 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2021147988A1 (en) * 2020-01-22 2021-07-29 京东方科技集团股份有限公司 Biochip and manufacturing method therefor
CN113546698A (en) * 2020-04-24 2021-10-26 京东方科技集团股份有限公司 Micro-nano fluidic chip, manufacturing method thereof and micro-nano fluidic system
CN113546698B (en) * 2020-04-24 2022-08-23 京东方科技集团股份有限公司 Micro-nano fluidic chip, manufacturing method thereof and micro-nano fluidic system

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