JP2013104874A - センサアセンブリのための検知素子 - Google Patents

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Abstract

【課題】検知素子本体および検知素子本体と結合する検知素子を含む、センサアセンブリ内で使用するためのプローブを提供する。
【解決手段】検知素子206は、信号処理デバイス200と、少なくとも部分的に容量的に結合する。少なくとも1つの信号を受信するとき検知素子206が電磁場224を生成し、物体を電磁場224に配置するとき負荷が検知素子206に誘起される。
【選択図】図2

Description

本出願は、一般に位置検知システムに関し、より詳細には、センサアセンブリ内で使用するための検知素子に関する。
既知の機械は、回転部分を有する。動作期間に、ある回転部分の位置および/または挙動を知ることは重要である。1つまたは複数のセンサを使用して、そのような挙動を測定および/または監視し、例えば、動作中の機械またはモータの動作特性を判断することができる。そのようなセンサは、しばしば、複数のモニタを含む監視システムに結合される。監視システムは、1つまたは複数のセンサから信号を受信し、少なくとも1つの処理ステップを信号に実施し、変更が加えられた信号を、ユーザに測定値を表示する診断プラットフォームに送信する。
少なくともいくつかの既知の機械は、渦電流センサを使用して、動作期間に、機械の構成要素の相対位置および/または挙動を監視する。しかし、既知の渦電流センサを使用することは、そのようなセンサの検知範囲が、典型的には、渦電流検知素子の直径のおよそ半分であるので、限定される可能性がある。他の既知の機械は、光学センサを使用して、機械の構成要素の位置および/または挙動を測定する。しかし、そのような既知の光学センサが汚染物質によって汚れた場合、そのようなセンサによって、不正確な測定が行われる可能性がある。そのため、光学センサは、多くの産業環境で使用に適さない場合がある。さらに、既知の光学センサは、液状媒体および/または粒子を含む媒体を通して機械の構成要素の振動および/または位置を検知することに使用するには適さない場合がある。
米国特許出願公開第2011/0025436号明細書
一実施形態では、センサアセンブリ内で使用するためのプローブを提供する。プローブは、検知素子本体および検知素子本体と結合する検知素子を含む。検知素子は、第1の導体、第2の導体、および前記第2の導体を接地パッドに容量的に結合することを可能にする接続部を含む。検知素子は、検知素子が少なくとも1つの信号を受信するとき、電磁場を発生する。物体を電磁場内に配置すると、負荷が検知素子に誘起される。
別の実施形態では、検知素子本体および検知素子本体と結合する検知素子を含むセンサアセンブリを提供する。検知素子は、第1の導体、第2の導体、および前記第2の導体を、接地パッドに容量的に結合することを可能にする接続部を含む。検知素子は、検知素子が少なくとも1つの信号を受信するとき、電磁場を発生する。センサアセンブリは、少なくとも1つの信号を検知素子に送信するため、かつ検知素子から受信した信号に基づいて近接度測定値を計算するための、検知素子と結合する信号処理デバイスも含む。
さらなる実施形態では、検知素子に対する機械の構成要素の近さを測定するための方法を提供する。方法は、第1の導体、第2の導体、および第2の導体を接地パッドに容量的に結合することを可能にする接続部を含む検知素子に、少なくとも1つの信号を送信することを含む。検知素子は、少なくとも1つの信号を受信するときに、電磁場を発生する。方法は、少なくとも1つの信号から電磁場を発生すること、電磁場の乱れを表す負荷信号を発生すること、および負荷信号に基づいて機械の構成要素と検知素子の近さを計算することも含む。
例示的な発電システムのブロック図である。 図1に示す発電システムとともに使用することができる、例示的なセンサアセンブリのブロック図である。 図2に示すセンサアセンブリとともに使用することができる、例示的な検知素子本体の斜視図である。 図3に示す例示的な検知素子本体の一部の拡大側面図である。 図3に示す例示的な検知素子本体の一部の拡大斜視図である。
図1は、少なくとも1つの機械102を含む、例示的な発電システム100を示す。例示的な実施形態では、機械102は、限定するものではないが、風力タービン、水力発電タービン、ガスタービン、またはコンプレッサであって良い。代替的に、機械102は、発電システムで使用する任意の他の機械であって良い。例示的な実施形態では、機械102は、発電機など、負荷106と結合するドライブシャフト104を回転する。
例示的な実施形態では、ドライブシャフト104は、機械102の中および/または負荷106の中に収容する1つまたは複数のベアリング(図示せず)によって少なくとも部分的に支持される。代替的にまたは追加として、ベアリングは、ギヤボックスなど別個の支持構造108の中に、または発電システム100が本明細書で記載するように機能することを可能にする、任意の他の構造または構成要素の中に収容することができる。
例示的な実施形態では、発電システム100は、機械102、ドライブシャフト104、負荷106、および/またはシステム100が本明細書に記載のように機能することを可能にする発電システム100の中の任意の他の構成要素のうちの少なくとも1つの動作状態を測定および/または監視する、少なくとも1つのセンサアセンブリ110を含む。より具体的には、例示的な実施形態では、センサアセンブリ110は、ドライブシャフト104とセンサアセンブリ110の間で画定する距離(図1には図示せず)を、ドライブシャフト104が回転するとき継続的に測定および/または監視するため、ドライブシャフト104に隣接して配置する、近接センサアセンブリ110である。
例示的な実施形態では、センサアセンブリ110は、マイクロ波信号を使用して、センサアセンブリ110に対する発電システム100の構成要素の相対的な近さを測定する。本明細書で使用するとき、用語「マイクロ波」は、約300メガヘルツ(MHz)と約300ギガヘルツ(GHz)の間の1つまたは複数の周波数を有する信号を受信する、かつ/または送信する信号または構成要素のことを言う。マイクロ波の範囲の信号を、本明細書に記載の例示的な実施形態で使用しているが、任意の周波数および/または強度の信号をセンサアセンブリ110とともに使用して、アセンブリ110を本明細書に記載のように機能させることを可能にすることができることを理解されたい。
代替的に、センサアセンブリ110は、発電システム100の任意の他の構成要素を測定および/または監視して良く、かつ/または発電システム100が本明細書に記載のように機能することを可能にする、任意の他のセンサアセンブリまたは変換器アセンブリであって良い。例示的な実施形態では、各センサアセンブリ110は、発電システム100が本明細書に記載のように機能することを可能にする、発電システム100の中の任意の場所に配置することができる。さらに、例示的な実施形態では、センサアセンブリ110によって生成する1つまたは複数の信号の処理および/または分析に使用するため、少なくとも1つのセンサアセンブリ110を、診断システム112に結合する。
機械102の動作期間に、ドライブシャフト104など、発電システム100の1つまたは複数の構成要素は、少なくとも1つのセンサアセンブリ110に対して位置を変える場合がある。例えば、構成要素は、振動、同心状でない回転、および/または発電システム100内の動作温度が変わるとき膨張もしくは収縮をする場合がある。例示的な実施形態では、センサアセンブリ110は、各センサアセンブリ110に対する構成要素の近さおよび/または位置を測定および/または監視し、構成要素の、測定した近さおよび/または位置を表す信号(以降、「近接度測定信号」と呼ぶ)を、処理および/または分析するため診断システム112に送信する。
図2は、発電システム100(図1に示す)とともに使用することができる、例示的なセンサアセンブリ110の概略図である。例示的な実施形態では、センサアセンブリ110は、信号処理デバイス200、および信号処理デバイス200にデータコンジット204を介して結合するプローブ202を含む。プローブ202は、プローブ筐体208内に結合し、かつ/または配置する検知素子206またはエミッタを含む。より具体的には、例示的な実施形態では、プローブ202は、マイクロ波エミッタ206を含むマイクロ波プローブ202である。そのため、検知素子206は、マイクロ波周波数範囲内の少なくとも1つの共振周波数で動作する。代替的に、プローブ202は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする、少なくとも1つの共振周波数を放出することができる任意の検知素子206を含む。
例示的な実施形態では、信号処理デバイス200は、送信電力検出器212、受信電力検出器214、および信号調整デバイス216と結合する指向性結合デバイス210を含む。例示的な実施形態では、信号調整デバイス216は、信号発生器218、減算器220、およびリニアライザ222を含む。検知素子206を介して電気信号を送信すると、検知素子206は、電磁場224を放出する。
動作期間に、例示的な実施形態では、信号発生器218が、検知素子206の共振周波数と等しい、またはほぼ等しいマイクロ波周波数を有する少なくとも1つの電気信号(以降、「マイクロ波信号」と呼ぶ)を生成する。さらに、信号発生器218がマイクロ波信号を指向性結合デバイス210に送信し、指向性結合デバイス210は、少なくともマイクロ波信号の一部を送信電力検出器212に向け、マイクロ波信号の残りの部分を検知素子206に向けるようにマイクロ波信号を分離する。検知素子206を介してマイクロ波信号を送信すると、電磁場224が検知素子206から放出され、プローブ筐体208から出る。ドライバシャフト104または機械102(図1に示す)および/または発電システム100の別の構成要素などの物体が電磁場224内に入り、かつ/または電磁場224内の相対位置を変える場合、電磁結合が、その物体と場224の間で発生する場合がある。より具体的には、電磁場224内に物体があること、かつ/または電磁場224内で物体が動くことによって、場224を乱す原因となる場合がある。
例えば、限定するものではないが、物体の表面を含む少なくとも物体の一部の中に誘起する誘導および/または容量効果によって、電磁場224の少なくとも一部が、電流および/または電荷として誘導的および/または容量的に物体と結合する原因となる場合がある。そのような場合、検知素子206が離調し、検知素子206に負荷を誘起する。検知素子206の離調の測定可能な結果としては、限定するものではないが、検知素子206の共振周波数が減少および/または変化すること、および/または検知素子206の電力レベルが変わること(すなわち、反射減衰量の変化)が挙げられる。検知素子206に誘起する負荷によって、データコンジット204を介してマイクロ波信号の反射(以降、「離調負荷信号」と呼ぶ)を指向性結合デバイス210に送信することになる。例示的な実施形態では、離調負荷信号は、マイクロ波信号の電力振幅より小さい電力振幅および/またはマイクロ波信号の位相と異なる位相を有する。さらに、例示的な実施形態では、離調負荷信号の電力振幅は、物体と検知素子206の近さに依存する。指向性結合デバイス210は、離調負荷信号を分離し、離調負荷信号の少なくとも一部を受信電力検出器214に送信または向きを変え、離調負荷信号の残りの部分を信号発生器218に送信および向きを変える。
例示的な実施形態では、受信電力検出器214は、離調負荷信号に基づいて、かつ/または離調負荷信号内に含まれる電力量を決定し、離調負荷信号電力を表す信号を信号調整デバイス216に送信する。送信電力検出器212は、マイクロ波信号に基づいて、かつ/またはマイクロ波信号に含まれる電力量を決定し、マイクロ波信号電力を表す信号を信号調整デバイス216に送信する。例示的な実施形態では、減算器220がマイクロ波信号電力および離調負荷信号電力を受信し、マイクロ波信号電力と離調負荷信号電力の間の差を計算する。減算器220は、次いで、計算した差を表す信号(以降、「電力差信号」と呼ぶ)をリニアライザ222に送信する。
例示的な実施形態では、電力差信号の振幅は、電磁場224内のドライブシャフト104などの物体とプローブ202および/または検知素子206の間で画定する距離226(すなわち、距離226は、物体近接度として知られる)に、逆比例または指数関数的に比例など比例する。例えば、検知素子206の形状寸法など、検知素子206の特性に依存して、電力差信号の振幅が物体近接度に関して、少なくとも部分的に非線形関係を呈する可能性がある。
例示的な実施形態では、リニアライザ222が電力差信号を電圧出力信号(すなわち、「近接度測定信号」)に変換し、電圧出力信号(すなわち、「近接度測定信号」)は、物体近接度と近接度測定信号の振幅の間で実質的に線形関係を呈する。さらに、例示的な実施形態では、リニアライザ222は、近接度測定信号を診断システム112(図1に示す)に、診断システム112内での処理および/または分析を可能にするのに適したスケール係数で送信する。例えば、一実施形態では、近接度測定信号は、ボルト/ミリメートルのスケール係数を有する。代替的に、近接度測定信号は、診断システム112および/または発電システム100が本明細書に記載するように機能することを可能にする、任意の他のスケール係数を有することができる。
図3は、センサアセンブリ110(図1に示す)とともに使用することができる、例示的な検知素子本体300およびデータコンジット204の斜視図である。例示的な実施形態では、検知素子本体300を、プローブ筐体208内に配置し、かつ/またはプローブ筐体208と結合する(図2に示す)。さらに、検知素子206(図2に示す)を検知素子本体300に結合する。
例示的な実施形態では、検知素子本体300は、前面302および反対側の背面304を含む。検知素子206を、前面302に結合し、かつ/または前面302と一体に形成する。より具体的には、例示的な実施形態では、検知素子本体300は、実質的に平坦なプリント回路板であり、検知素子206は、検知素子本体前面302と一体に形成し、かつ/または検知素子本体前面302に結合する、1つまたは複数のトレースまたは導体(図3には図示せず)を含む。例示的な実施形態では、トレースまたは導体は、検知素子206を本明細書に記載のように機能することを可能にする、銅など任意の導電材料から製造する。代替的に、検知素子206および/または検知素子本体300は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする、任意の他の配置に構成すること、および/または任意の他の配置で作成することができる。
例示的な実施形態では、データコンジット204は、内側導体306および外側導体308を含み、外側導体308は、導体306および導体308がお互いに対して同心状に位置決めするように内側導体306を実質的に取り囲む。データコンジット204は、例示的な実施形態では、検知素子206を信号処理デバイス200に結合する、半硬質ケーブル204である(図2に示す)。代替的に、データコンジット204は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする、任意の他のケーブルまたはコンジットであって良い。例示的な実施形態では、内側導体306および外側導体308を、検知素子本体300および/または検知素子206にそれぞれ結合し、マイクロ波信号を信号処理デバイス200から検知素子206を介して送信することが可能となる。
動作期間に、内側導体306を介し、かつ外側導体308を介して、少なくとも1つのマイクロ波信号を検知素子206に送信する。例示的な実施形態では、検知素子206に送信する少なくとも1つのマイクロ波信号は、検知素子206の共振と等しい、またはほぼ等しい。代替的に、少なくとも1つのマイクロ波信号は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする、任意の周波数であって良い。検知素子206を介してマイクロ波信号を伝播すると、電磁場224(図2に示す)が放出される。近接度測定値は、本明細書により詳細に記載するように、検知素子206に誘起する負荷に基づいて決定する。
図4は、領域310(図3に示す)に沿った、検知素子本体300の一部の拡大側面図である。内側導体306を、第1の導体402(図5に示す)に結合し、第1の導体402を、検知素子500(図5に示す)に結合する。例示的な実施形態では、内側導体306は、背面304から中央バイア404(すなわち、検知素子本体300内に形成する導電メッキスルーホール)を通って表面302に延在する。代替的に、内側導体306を中央バイア404に結合することができ、中央バイア404を第1の導体402に結合することができる。外側導体308を接地パッド406に結合し、接地パッド406は、検知素子本体背面304と一体に形成し、かつ/または検知素子本体背面304に結合する、1つまたは複数のトレースまたは導体を含むことができる。例示的な実施形態では、接地パッド406は、銅から、かつ/または接地パッド406が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意の他の導電材料から製造する。接地パッド406は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意のサイズまたは形状寸法であって良い。
外側バイア408を第2の導体410に結合し、第2の導体410を検知素子500に結合する。第2の導体410は、ピン(図示せず)を含むことができ、外側バイア408内にピンを挿入する。例示的な実施形態では、外側バイア408は、表面302上の開口(図示せず)から背面304に向かって延在するブラインドバイア(すなわち、検知素子本体300を完全には貫通しないバイア)である。外側バイア408と接地パッド406の間の接続部または間隙412は、第2の導体410および外側バイア408と接地パッド406の容量結合を可能にする。間隙412は、検知素子本体300の基板材料を含むことができる。代替的に、間隙412は、空気またはセンサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意の誘電材料を含むことができる。間隙412は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意のサイズまたは形状寸法であって良い。
動作期間に、データコンジット204を介して少なくとも1つのマイクロ波信号を検知素子500に送信する。より具体的には、内側導体306および第1の導体402を介してマイクロ波信号を検知素子500に伝播する。検知素子500および第2の導体410を通してマイクロ波信号を送信すると、第2の導体410と接地パッド406の間に容量結合が生じる。間隙412の両端間の容量結合は、第2の導体410と接地パッド406を通る電流を誘起する。接地パッド406内の電流は、外側導体308を通って信号処理デバイス200に戻る。近接度測定値は、上でより完全に記載したように、検知素子500に誘起される負荷に基づいて決定する。検知素子500の容量によって周波数安定性を実現することが容易になり、その結果、検知素子500に対して物体が存在することおよび/または検知素子500に対して物体が相対的に移動することにより、検知素子500を、制御可能に、かつ/または予測どおりに離調することができる。間隙412により容易になる容量は、間隙412のサイズ(すなわち、外側バイア408と背面304の間の距離)を変えること、または外側バイア408の直径を変えることにより調整することができる。代替的に、容量は、1つより多くの外側バイア408を検知素子本体300に加えることによって増加することができる。さらに、容量は、中央バイア404と外側バイア408の間の距離を変えることによって調整することができる。
図5は、別の例示的な実施形態を示す、領域312(図3に示す)に沿った、検知素子本体300の一部の拡大斜視図である。検知素子本体300の前面302に検知素子500を結合する。図5は全体的にらせん状の形状寸法を有する検知素子500を示すが、検知素子500は、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意のサイズ、形状、または構成であって良いことを認識されたい。例示的な実施形態では、検知素子500は、検知素子本体前面302と一体に形成し、かつ/または検知素子本体前面302に結合する、複数の導体、またはトレースを含む。検知素子500のトレースは、センサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする、任意の幅および/または間隔を有することができる。
例示的な実施形態では、第1の導体402および第2の導体410に検知素子500を結合する。第1の導体402に内側導体306を結合する。例示的な実施形態では、内側導体306は、背面304から中央バイア404を通り前面302に延在する。代替的に、内側導体306を中央バイア404に結合することができ、中央バイア404を第1の導体402に結合することができる。例示的な実施形態では、第2の導体410は、ピン(図示せず)を含むことができ、外側バイア408内にピンを挿入する。外側バイア502は、前面302から背面304に延在する、メッキしたスルーホールであって良い。
接続部またはキープアウト504は、背面304上で外側バイア502に対する開口を実質的に囲繞または囲み、接地パッド506と、外側バイア502と第2の導体410の両方の間で、容量結合を容易にする。キープアウト504は、検知素子本体300の基板材料および/またはセンサアセンブリ110が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意の誘電体を含むことができる。例示的な実施形態では、接地パッド506の一部は、キープアウト504を実質的に囲繞または囲む。キープアウト504により容易となる容量は、キープアウト504のサイズまたは形状寸法を変えることにより調整することができる。例えば、キープアウト504は、1ミリメートルと6ミリメートルの間の直径を有する円、楕円、矩形、多角形、および/または検知素子500が本明細書に記載のように機能することを可能にする任意のサイズまたは形状寸法であって良い。代替的に、キープアウト504によって容易となる容量を、外側バイア502に対する接地パッド506のサイズ、形状寸法および/または位置を調整することにより調整し、このことによって、接地パッド506と外側バイア502の間の距離および/または関係を調整することができる。例えば、接地パッド506がキープアウト504に隣接することができ、キープアウト504を囲まないことができる。
動作期間に、データコンジット204を介して少なくとも1つのマイクロ波信号を検知素子500に送信する。内側導体306および第1の導体402によってマイクロ波信号を検知素子500に送信する。検知素子500および第2の導体410を通してマイクロ波信号を送信すると、第2の導体410と接地パッド506の間に容量結合が生じる。キープアウト504の両端間の容量結合は、第2の導体410と接地パッド506を通る電流を誘起する。接地パッド506内の電流は、外側導体308を通って信号処理デバイス200に戻る。近接度測定値は、上でより完全に記載したように、検知素子500に誘起される負荷に基づいて決定する。検知素子500の容量によって周波数安定性を実現することが容易になり、その結果、検知素子500に対して物体が存在することおよび/または検知素子500に対して物体が相対的に移動することにより、検知素子500を、制御可能に、かつ/または予測どおりに離調することができる。
上に記載した実施形態は、機械構成要素とセンサの近さの測定で使用する、効率的でコスト効果的なセンサアセンブリを実現する。センサアセンブリは、マイクロ波信号で検知素子にエネルギーを与える。検知素子は、信号処理デバイスと、少なくとも部分的に容量的に結合する。機械の構成要素など、物体を場の中に置くと、場の乱れに起因して、負荷が検知素子に誘起される。センサアセンブリは、検知素子に誘起される負荷に基づいて、物体と検知素子の近さを計算する。本明細書に記載の検知素子の容量結合によって、物体と検知素子の間の近さの測定で使用する、周波数が安定した電磁場を提供することが容易になる。本明細書に記載の検知素子の容量結合は、検知素子のトレースの幅または間隔、ブラインドバイアの深さ、キープアウトの間隔、バイアの数、バイアの間隔、ならびに/または本明細書に記載の原理により導かれるようなセンサアセンブリ構成要素のいずれかの形状、サイズ、形状寸法、位置、および/もしくは向きを調整することにより調整できることを理解されたい。
センサアセンブリおよび検知素子の例示的な実施形態を、上で詳細に記載した。センサアセンブリおよび検知素子は、本明細書に記載した特定の実施形態に限定されず、むしろ、センサアセンブリの構成要素および/または検知素子は、本明細書に記載した他の構成要素および/またはステップと独立に、かつ別個に使用することができる。例えば、検知素子は、他の測定システムおよび方法と組み合わせて使用することもでき、本明細書に記載したようなセンサアセンブリまたは発電システムでのみ実施することに限定されない。むしろ、例示的な実施形態は、多くの他の測定および/または監視用途に関して、実装および使用することができる。
本発明の様々な実施形態の特定の特徴は、いくつかの図に示し、他の図には示していないが、このことは、単に便宜上のためである。本発明の原理にしたがって、図の任意の特徴は、任意の他の図の任意の特徴と組み合わせて参照および/または権利主張をすることができる。
本明細書に記載した説明は例を使用して、最良の形態を含め、本発明を開示し、任意の当業者が任意のデバイスまたはシステムを製作および使用し、任意の組み込んだ方法を実施することを含め、本発明を実施することを可能にもする。本発明の特許性のある範囲は、特許請求の範囲によって規定され、当業者が想起する他の例を含むことができる。そのような他の例が特許請求の範囲の逐語的な文言と異ならない構成要素を有する場合、またはそのような他の例が特許請求の範囲の逐語的な文言と実質的に異ならない等価な構成要素を含む場合、そのような他の例は、特許請求の範囲に入ることを意図する。
100 発電システム
102 機械
104 ドライブシャフト
106 負荷
108 支持構造
110 センサアセンブリ
112 診断システム
200 信号処理デバイス
202 プローブ
204 データコンジット
206 検知素子
208 プローブ筐体
210 指向性結合デバイス
212 送信電力検出器
214 受信電力検出器
216 信号調整デバイス
218 信号発生器
220 減算器
222 リニアライザ
224 電磁場
226 距離
300 検知素子本体
302 前面
304 背面
306 内側導体
308 外側導体
310 領域
312 領域
402 第1の導体
404 中央バイア
406 接地パッド
408 外側バイア
410 第2の導体
412 間隙
500 検知素子
502 外側バイア
504 キープアウト
506 接地パッド

Claims (10)

  1. センサアセンブリ(110)内で使用するためのプローブ(202)であって、
    検知素子本体(300)と、
    前記検知素子本体と結合する検知素子(206)であって、
    第1の導体(402)、
    第2の導体(410)、および
    前記第2の導体を接地パッド(406)に容量的に結合することを可能にする接続部であって、少なくとも1つの信号を受信するとき前記検知素子が電磁場(224)を生成し、物体を前記電磁場に配置するとき負荷が前記検知素子に誘起される接続部を備える検知素子と
    を備えるプローブ。
  2. 前記第1の導体(402)と結合する第1のデータコンジット(204)導体と前記接地パッド(406)と結合する第2のデータコンジット導体とをさらに備える、請求項1記載のプローブ(202)。
  3. 前記検知素子(206)が実質的にらせん状である、請求項1記載のプローブ(202)。
  4. 前記検知素子本体(300)が実質的に平面である、請求項1記載のプローブ(202)。
  5. 前記接地パッド(406)が実質的に楕円である、請求項1記載のプローブ(202)。
  6. 前記接続部がブラインドバイアと前記接地パッド(406)の間に延在する基板部分を備える、請求項1記載のプローブ(202)。
  7. 前記接続部が前記検知素子本体(300)を通って延在するバイアを実質的に囲むキープアウト(504)を備える、請求項1記載のプローブ(202)。
  8. 前記接地パッド(406)が前記キープアウト(504)を実質的に囲む、請求項7記載のプローブ(202)。
  9. 前記キープアウト(504)が前記バイアから放射状に延在する、請求項7記載のプローブ(202)。
  10. 検知素子本体(300)と、
    前記検知素子本体と結合する検知素子(206)であって、
    第1の導体(402)、
    第2の導体(410)、および
    前記第2の導体を接地パッド(406)に容量的に結合することを可能にする接続部であって、少なくとも1つの信号を受信するとき、前記検知素子が電磁場(224)を発生する接続部
    を備える検知素子と、
    少なくとも1つの信号を前記検知素子に送信するため、かつ前記検知素子から受信した信号に基づいて近接度測定値を計算するための、前記検知素子と結合する信号処理デバイス(200)と
    を備えるセンサアセンブリ(110)。
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