JP2013098889A - Electronic circuit, manufacturing method of electronic circuit, and packaging member - Google Patents

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健太郎 安仲
Tomoari Itagaki
智有 板垣
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To allow for high-quality data transfer while suppressing a larger circuit scale.SOLUTION: A single-end I/F having pads for exchanging a single end signal is provided in a millimeter wave transmission chip, for example, a semiconductor chip. Meanwhile, for example, a differential transmission line such as a coplanar strip line which transmits a differential signal and a stub connected to the differential transmission line are formed in a packaging section in which semiconductor chips such as an interposer and a printed-circuit board are mounted. The millimeter wave transmission chip is mounted in the packaging section so that the pads of the single-end I/F are electrically connected directly to a conductor constituting the differential transmission line. This technique, for example, is applicable to electronic circuits such as IC.

Description

本技術は、電子回路、電子回路の製造方法、及び、実装部材に関し、特に、例えば、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことができるようにする電子回路、電子回路の製造方法、及び、実装部材に関する。   The present technology relates to an electronic circuit, a method for manufacturing an electronic circuit, and a mounting member, and particularly, for example, an electronic circuit and an electronic circuit that can perform high-quality data transmission while suppressing an increase in the scale of the circuit. The present invention relates to a circuit manufacturing method and a mounting member.

例えば、テレビジョン受像機や、ビデオカメラ、レコーダ等の各種の電子機器においては、その筐体内に、各種の信号処理を行う電子回路であるIC(Integrated Circuit)(LSI(Large-Scale Integration)を含む)が配置された基板が収容されている。   For example, in various electronic devices such as a television receiver, a video camera, and a recorder, an IC (Integrated Circuit) (LSI (Large-Scale Integration)) that is an electronic circuit that performs various signal processing is provided in the casing. A substrate on which is disposed) is accommodated.

そして、同一の基板に配置されたICどうしや、異なる基板に配置されたICどうしの間で、データ(画像や音声等の実データ、及び、制御データを含む)のやりとりをするために、ICどうしの間、及び、基板どうしの間には、有線による配線が施されている。   In order to exchange data (including actual data such as images and sounds, and control data) between ICs arranged on the same board and ICs arranged on different boards, ICs Wired wiring is provided between the boards and between the boards.

ところで、最近、ICでは、3D(dimension)画像や、高精細な画像等の大容量のデータを対象として信号処理が行われ、そのような大容量のデータが、ICどうしの間で、高速でやりとりされることがある。   By the way, recently, in IC, signal processing is performed for large-capacity data such as 3D (dimension) images and high-definition images, and such large-capacity data is transferred at high speed between ICs. May be exchanged.

そして、大容量のデータを高速でやりとりするために、ICどうしの間、及び、基板どうしの間の配線の配線数が増加し、さらに、配線の高周波対策が困難になることがある。   In order to exchange a large amount of data at high speed, the number of wirings between ICs and between substrates increases, and it may be difficult to prevent high frequency wiring.

そこで、ICどうしの間のデータのやりとりを、無線で行うことが提案されている。   Therefore, it has been proposed to exchange data between ICs wirelessly.

すなわち、例えば、非特許文献1や2には、データを、ミリ波帯の信号(ミリ波)に変調して伝送することにより、高速で、データをやりとりするCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)回路(IC)が記載されている。   That is, for example, in Non-Patent Documents 1 and 2, a CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor) circuit that exchanges data at high speed by modulating data into a millimeter-wave band signal (millimeter wave) ( IC).

ところで、非特許文献1や2等に記載されている、データを、ミリ波等のRF(Radio Frequency)信号に変調して伝送するCMOS回路では、RF信号を処理するRF部のインターフェースは、シングルエンド(single-ended)信号がやりとりされるシングルエンドI/F(Interface)になっている。   By the way, in a CMOS circuit described in Non-Patent Documents 1 and 2 that modulates and transmits data to an RF (Radio Frequency) signal such as a millimeter wave, the interface of the RF unit that processes the RF signal is a single interface. It is a single-ended I / F (Interface) through which a single-ended signal is exchanged.

すなわち、RF部では、例えば、RF部が出力するRF信号が測定しやすい(ミリ波を測定する測定器のプローブがシングルエンド信号に対応している)、CMOS回路の回路構成がシンプルになる、低消費電力化を図ることができるといった理由から、シングルエンドI/Fが採用されている。   That is, in the RF unit, for example, the RF signal output from the RF unit is easy to measure (the probe of the measuring instrument that measures millimeter waves supports a single-ended signal), and the circuit configuration of the CMOS circuit is simplified. Single-ended I / F is adopted because it can reduce power consumption.

一方、シングルエンド信号によるデータ伝送は、差動信号によるデータ伝送に比較して、品質が良くないことがある。   On the other hand, data transmission using a single-ended signal may not be as good as data transmission using a differential signal.

すなわち、RF部が実装されるCMOS回路内や、インターポーザ、プリント基板(PCB(Printed Circuit Board))等において、シングルエンド信号を伝送する、例えば、マイクロストリップ線路を形成する場合には、理想的には、無限の接地導体が必要となるが、無限の接地導体を設けることは困難であり、その結果、データ伝送の品質が劣化する。   That is, in a CMOS circuit where the RF unit is mounted, an interposer, a printed circuit board (PCB), etc., for transmitting a single end signal, for example, when forming a microstrip line, ideally However, it is difficult to provide an infinite ground conductor, and as a result, the quality of data transmission deteriorates.

また、シングルエンド信号によるデータ伝送では、差動信号によるデータ伝送に比較して、不要輻射が多く、さらに、外部(シングルエンド信号が伝送される伝送路外)からのノイズに対する耐性が弱いため、データ伝送の品質が劣化する。   In addition, data transmission using a single-ended signal has more unnecessary radiation than data transmission using a differential signal, and furthermore, resistance to noise from outside (outside the transmission path where the single-ended signal is transmitted) is weak. Data transmission quality deteriorates.

そこで、シングルエンド信号を差動信号に変換して、差動信号によるデータ伝送を行うことで、品質の良いデータ伝送を行う方法がある。   Therefore, there is a method for performing high-quality data transmission by converting a single-ended signal into a differential signal and performing data transmission using the differential signal.

シングルエンド信号と差動信号との変換は、平衡−不平衡(非平衡)変換と呼ばれ、平衡−不平衡変換を行う回路は、バラン(Balun)と呼ばれる。   The conversion between a single-ended signal and a differential signal is called a balanced-unbalanced (unbalanced) conversion, and a circuit that performs balanced-unbalanced conversion is called a balun.

例えば、特許文献1には、コプレーナ線路上のシングルエンド信号(不平衡入力)を、コプレーナストリップ線路から、差動信号(平衡出力)に変換して出力するバランが記載されている。   For example, Patent Document 1 describes a balun that converts a single-ended signal (unbalanced input) on a coplanar line from a coplanar strip line into a differential signal (balanced output) and outputs the balun.

特開2004-104651号公報JP 2004-104651 A

Kenichi, Kawasaki et. al. “A Millimeter-Wave Intra-Connect Solution”, IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 45, no. 12, pp. 2655-2666, Dec. 2010Kenichi, Kawasaki et. Al. “A Millimeter-Wave Intra-Connect Solution”, IEEE J. Solid-State Circuits, vol. 45, no. 12, pp. 2655-2666, Dec. 2010 Eric Juntunen et. al. “A 60-GHz 38-pJ/bit 3.5-Gb/s 90-nm CMOS OOK Digital Radio”, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., vol. 58, no. 2, Feb. 2010Eric Juntunen et. Al. “A 60-GHz 38-pJ / bit 3.5-Gb / s 90-nm CMOS OOK Digital Radio”, IEEE Trans. Microwave Theory Tech., Vol. 58, no. 2, Feb. 2010

RF部のシングルエンド信号を、バランによって差動信号に変換することにより、品質の良いデータ伝送を行うことができる。   By converting the single-ended signal of the RF unit into a differential signal using a balun, data transmission with high quality can be performed.

しかしながら、RF部のシングルエンド信号を、バランによって差動信号に変換するのでは、CMOS回路等に、バランを設ける必要があり、回路が大規模になる。   However, in order to convert the single-ended signal of the RF unit into a differential signal by balun, it is necessary to provide a balun in a CMOS circuit or the like, and the circuit becomes large.

本技術は、このような状況に鑑みてなされたものであり、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことができるようにするものである。   The present technology has been made in view of such a situation, and is capable of performing high-quality data transmission while suppressing an increase in circuit scale.

本技術の第1の側面の電子回路は、シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップと、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成されており、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドが、電気的に直接接続されるように、前記半導体チップが実装された実装部とを備える電子回路である。   An electronic circuit according to a first aspect of the present technology includes a semiconductor chip provided with a single end I / F having a pad for exchanging a single end signal, a differential transmission path for transmitting a differential signal, and the differential circuit. A stub connected to the transmission line, and the semiconductor chip is electrically connected directly to a conductor constituting the differential transmission line with the pad of the single-ended I / F. It is an electronic circuit provided with the mounting part mounted.

本技術の第1の側面の電子回路の製造方法は、シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップを、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成された、前記半導体チップが実装される実装部に実装するときに、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドを、電気的に直接接続させる電子回路の製造方法である。   A method for manufacturing an electronic circuit according to a first aspect of the present technology includes: a differential transmission path for transmitting a differential signal through a semiconductor chip provided with a single-ended I / F having a pad for exchanging a single-ended signal; A stub connected to the differential transmission path is formed, and when mounted on a mounting portion on which the semiconductor chip is mounted, a conductor constituting the differential transmission path is connected to the single-ended I / F. An electronic circuit manufacturing method in which pads are directly electrically connected.

本技術の第1の側面においては、半導体チップには、シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられており、実装部には、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成されている。そして、半導体チップは、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドが、電気的に直接接続されるように、実装部に実装される。   In the first aspect of the present technology, the semiconductor chip is provided with a single-ended I / F having a pad through which a single-ended signal is exchanged, and the differential transmission for transmitting the differential signal is provided in the mounting portion. A path and a stub connected to the differential transmission path are formed. The semiconductor chip is mounted on the mounting portion so that the pads of the single-ended I / F are electrically directly connected to the conductors constituting the differential transmission path.

本技術の第2の側面の実装部材は、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成され、前記差動伝送路上に誘電体が配置され、シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップが実装される実装部材である。   The mounting member according to the second aspect of the present technology includes a differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path, and a dielectric is disposed on the differential transmission path. And a mounting member on which a semiconductor chip provided with a single-ended I / F having pads for exchanging single-ended signals is mounted.

本技術の第2の側面においては、シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップが実装される実装部材に、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成されている。さらに、前記差動伝送路上には、誘電体が配置されている。   In a second aspect of the present technology, a differential transmission path that transmits a differential signal to a mounting member on which a semiconductor chip provided with a single-ended I / F having a pad for exchanging a single-ended signal is mounted; And a stub connected to the differential transmission line. Furthermore, a dielectric is disposed on the differential transmission path.

本技術によれば、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことができる。   According to the present technology, high-quality data transmission can be performed while suppressing an increase in circuit scale.

シングルエンド信号のミリ波をやりとりするミリ波伝送システムの構成例を示す図である。It is a figure which shows the structural example of the millimeter wave transmission system which exchanges the millimeter wave of a single end signal. シングルエンド信号のミリ波をやりとりするミリ波伝送システムの他の構成例を示す図である。It is a figure which shows the other structural example of the millimeter wave transmission system which exchanges the millimeter wave of a single end signal. 実装部11がインターポーザである場合の、そのインターポーザの構成例を示す平面図である。It is a top view which shows the structural example of the interposer in case the mounting part 11 is an interposer. 本技術を適用した電子回路の第1実施の形態の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view showing an example of composition of a 1st embodiment of an electronic circuit to which this art is applied. 本技術を適用した電子回路の第1実施の形態の構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example of 1st Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. 本技術を適用した電子回路の第2実施の形態の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of 2nd Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. 本技術を適用した電子回路の第2実施の形態の構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example of 2nd Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. 差動伝送路を示す断面図である。It is sectional drawing which shows a differential transmission path. 差動伝送路としてのコプレーナストリップ線路103を示す斜視図と断面図である。They are a perspective view and a sectional view showing a coplanar strip line 103 as a differential transmission line. 本技術を適用した電子回路の第3実施の形態の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view showing an example of composition of a 3rd embodiment of an electronic circuit to which this art is applied. 誘電体130を、コプレーナストリップ線路103上に配置する配置パターンの例を説明する図である。6 is a diagram for explaining an example of an arrangement pattern in which a dielectric 130 is arranged on a coplanar strip line 103. FIG. コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整を行う他の方法を説明する図である。It is a diagram illustrating another method of performing adjustment for reducing the impedance Z c of the coplanar stripline 103. コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整を行うさらに他の方法を説明する図である。It is a diagram explaining another method to adjust to decrease the impedance Z c of the coplanar stripline 103. 本技術を適用した電子回路の第4実施の形態の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view showing an example of composition of a 4th embodiment of an electronic circuit to which this art is applied. 本技術を適用した電子回路の第4実施の形態の構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example of 4th Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. 本技術を適用した電子回路の第5実施の形態の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of 5th Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. シミュレーションの結果を示す図である。It is a figure which shows the result of simulation. 本技術を適用した電子回路の第6実施の形態の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view showing an example of composition of a 6th embodiment of an electronic circuit to which this art is applied. 本技術を適用した電子回路の第6実施の形態の構成例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example of 6th Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. 本技術を適用した電子回路の第7実施の形態の構成例を示す上面図と断面図である。It is the upper side figure and sectional drawing which show the structural example of 7th Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. シミュレーションの結果を示す図である。It is a figure which shows the result of simulation. 本技術を適用した電子回路の第8実施の形態の構成例を示す上面図と断面図である。It is the upper side figure and sectional drawing which show the structural example of 8th Embodiment of the electronic circuit to which this technique is applied. シミュレーションの結果を示す図である。It is a figure which shows the result of simulation.

以下、本技術の実施の形態について説明するが、その前に、前段階の準備として、シングルエンド信号のミリ波をやりとりするミリ波伝送システムについて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present technology will be described. Before that, a millimeter wave transmission system that exchanges millimeter waves of a single-ended signal will be described as preparation for the previous stage.

[シングルエンド信号のミリ波をやりとりするミリ波伝送システム]   [Millimeter-wave transmission system for exchanging millimeter-wave single-ended signals]

図1は、シングルエンド信号のミリ波をやりとりするミリ波伝送システムの構成例を示す図である。   FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration example of a millimeter wave transmission system that exchanges millimeter waves of a single-ended signal.

図1において、ミリ波伝送システムは、例えば、ICである電子回路10及び40を有する。   In FIG. 1, the millimeter wave transmission system includes electronic circuits 10 and 40 which are, for example, ICs.

電子回路10は、データを、ミリ波によって送信する機能を有しており、電子回路40は、データを、ミリ波によって受信する機能を有している。   The electronic circuit 10 has a function of transmitting data by millimeter waves, and the electronic circuit 40 has a function of receiving data by millimeter waves.

電子回路10は、実装部11とミリ波伝送チップ20とを有する。   The electronic circuit 10 includes a mounting unit 11 and a millimeter wave transmission chip 20.

実装部11は、半導体チップが実装される、例えば、インターポーザやプリント基板等の部材(実装部材)であり、平板形状をしている。   The mounting unit 11 is a member (mounting member) such as an interposer or a printed board on which a semiconductor chip is mounted, and has a flat plate shape.

平板形状の実装部11の一面である表面には、半導体チップであるミリ波伝送チップ20が実装されており、平板形状の実装部11の他の一面である裏面には、例えば、その全領域や全領域に近い領域に亘って、グランドとなる金属である薄膜状のグランドメタル12が設けられている。   A millimeter wave transmission chip 20, which is a semiconductor chip, is mounted on the surface that is one surface of the flat mounting portion 11, and the entire surface of the back surface that is the other surface of the flat mounting portion 11 is, for example, In addition, a thin-film ground metal 12 that is a metal serving as a ground is provided over a region close to the entire region.

さらに、実装部11の表面には、ビア13及び13、マイクロストリップ線路14、及び、アンテナ15が形成されている。 Furthermore, vias 13 1 and 13 2 , a microstrip line 14, and an antenna 15 are formed on the surface of the mounting portion 11.

ビア13及び13は、実装部11の裏面のグランドメタル12に接続している。 The vias 13 1 and 13 2 are connected to the ground metal 12 on the back surface of the mounting portion 11.

マイクロストリップ線路14は、不平衡の伝送路であり、実装部11に、帯状に形成されている。帯状のマイクロストリップ線路14の一端は、アンテナ15に接続されている。   The microstrip line 14 is an unbalanced transmission line and is formed in the mounting portion 11 in a band shape. One end of the strip-shaped microstrip line 14 is connected to the antenna 15.

アンテナ15は、例えば、1mm程度のボンディングワイヤで構成される。   The antenna 15 is composed of a bonding wire of about 1 mm, for example.

ミリ波伝送チップ20は、例えば、CMOS等で構成され、シングルエンドI/F21と送信部22等を有する。   The millimeter wave transmission chip 20 is composed of, for example, a CMOS or the like, and includes a single end I / F 21 and a transmission unit 22.

シングルエンドI/F21は、シングルエンド信号(不平衡の信号)をやりとりするための端子である3つのパッド21,21、及び、21を有する。 The single end I / F 21 has three pads 21 1 , 21 2 , and 21 3 that are terminals for exchanging single end signals (unbalanced signals).

3つのパッド21ないし21のうちの、2つのパッド21及び21は、送信部22のグランド(GND)端子(グランドパッド)であり、ボンディングワイヤによって、ビア13及び13に、それぞれ接続されている。したがって、パッド21は、ビア13を介して、パッド21は、ビア13を介して、それぞれ、実装部11の裏面のグランドメタル12に接続されている。 Of the three pads 21 1 to 21 3, two pads 21 1 and 21 3 are ground of the transmission unit 22 (GND) terminal (ground pad), by a bonding wire, the vias 13 1 and 13 2, Each is connected. Accordingly, the pad 21 1, through the vias 13 1, the pad 21 3, through a via 13 2 are respectively connected to the back surface of the ground metal 12 of the mounting portion 11.

3つのパッド21ないし21のうちの、残りのパッド21は、信号がやりとりされる信号端子(信号パッド)であり、バッド21には、送信部22(のアンプ34)の出力が供給される。パッド21は、ボンディングワイヤによって、マイクロストリップ線路14の他端(アンテナ15に接続されていない方の端部)に接続されている。 Of the three pads 21 1 to 21 3 , the remaining pad 21 2 is a signal terminal (signal pad) through which signals are exchanged, and the output of the transmission unit 22 (the amplifier 34 thereof) is transmitted to the pad 21 2. Supplied. Pad 21 2 by a bonding wire is connected to the other end of the microstrip line 14 (the end which is not connected to the antenna 15).

送信部22は、ミリ波帯の信号(ミリ波)の送信を行う。   The transmission unit 22 transmits a millimeter-wave band signal (millimeter wave).

ここで、ミリ波とは、周波数が30ないし300GHz程度、つまり、波長が、1ないし10mm程度の信号である。ミリ波帯の信号によれば、周波数が高いことから、高速のデータレートでのデータ伝送が可能であり、有線通信は勿論、小さなアンテナで、無線通信(ワイヤレス伝送)を行うことができる。   Here, the millimeter wave is a signal having a frequency of about 30 to 300 GHz, that is, a wavelength of about 1 to 10 mm. A millimeter-wave band signal has a high frequency, so that data transmission at a high data rate is possible. In addition to wired communication, wireless communication (wireless transmission) can be performed with a small antenna.

送信部22は、アンプ31、発振器32、ミキサ33、及び、アンプ34を有する。   The transmission unit 22 includes an amplifier 31, an oscillator 32, a mixer 33, and an amplifier 34.

アンプ31には、図示せぬ信号処理回路から、送信対象の送信データが供給される。アンプ31は、そこに供給される送信データのレベルを調整し、ミキサ33に供給する。   Transmission data to be transmitted is supplied to the amplifier 31 from a signal processing circuit (not shown). The amplifier 31 adjusts the level of the transmission data supplied thereto and supplies it to the mixer 33.

ここで、送信データとしては、例えば、最大で、11Gbpsのデータレートのデータを採用することができる。   Here, as the transmission data, for example, data having a data rate of 11 Gbps at the maximum can be adopted.

発振器32は、発振によって、例えば、56GHz等のミリ波帯のキャリアを発生し、ミキサ33に供給する。   The oscillator 32 generates, for example, a carrier of a millimeter wave band such as 56 GHz by oscillation and supplies the carrier to the mixer 33.

ミキサ33は、アンプ31からの送信データと、発振器32からのキャリアとをミキシング(乗算)することにより、発振器32からのキャリアを、送信データに従って変調し、その結果得られる変調信号を、アンプ34に供給する。   The mixer 33 mixes (multiplies) the transmission data from the amplifier 31 and the carrier from the oscillator 32 to modulate the carrier from the oscillator 32 in accordance with the transmission data, and the resulting modulated signal is converted to the amplifier 34. To supply.

ここで、送信データに従ってキャリアを変調する変調方式は、特に限定されるものではないが、ここでは、説明を簡単にするために、例えば、振幅変調(ASK(Amplitude Shift Keying))を採用することとする。   Here, the modulation method for modulating the carrier according to the transmission data is not particularly limited, but for the sake of simplicity, for example, amplitude modulation (ASK (Amplitude Shift Keying)) is adopted here. And

アンプ34は、ミキサ33からの変調信号を増幅し、その増幅後の変調信号を、シングルエンド信号として出力する。アンプ34が出力するシングルエンド信号である変調信号は、パッド21に供給される。 The amplifier 34 amplifies the modulation signal from the mixer 33 and outputs the amplified modulation signal as a single-ended signal. Modulation signal is a single-ended signal amplifier 34 output is supplied to the pad 21 2.

上述したように、パッド21は、ボンディングワイヤによって、マイクロストリップ線路14に接続されており、したがって、アンプ34が出力する変調信号は、シングルエンド信号のまま、マイクロストリップ線路14を伝わり、アンテナ15から、電波として送信される。 As described above, the pad 21 2 by a bonding wire is connected to the microstrip line 14, therefore, the modulation signal amplifier 34 is outputted, while the single-ended signal, transmitted through the microstrip line 14, the antenna 15 Is transmitted as radio waves.

電子回路40は、実装部41とミリ波伝送チップ50とを有する。   The electronic circuit 40 includes a mounting unit 41 and a millimeter wave transmission chip 50.

実装部41は、実装部11と同様に、平板形状のインターポーザやプリント基板等の部材(実装部材)であり、その一面である表面には、半導体チップであるミリ波伝送チップ50が実装されている。   The mounting portion 41 is a member (mounting member) such as a flat plate-shaped interposer or a printed circuit board, similar to the mounting portion 11, and a millimeter wave transmission chip 50, which is a semiconductor chip, is mounted on one surface thereof. Yes.

また、実装部41の他の一面である裏面には、実装部11と同様に、その全領域や全領域に近い領域に亘って、グランドとなる金属である薄膜状のグランドメタル42が設けられている。   Further, on the back surface, which is another surface of the mounting portion 41, similarly to the mounting portion 11, a thin-film ground metal 42 that is a metal serving as a ground is provided over the entire region and a region close to the entire region. ing.

さらに、実装部41の表面には、ビア43及び43、マイクロストリップ線路44、及び、アンテナ45が形成されている。 Furthermore, vias 43 1 and 43 2 , a microstrip line 44, and an antenna 45 are formed on the surface of the mounting portion 41.

ビア43及び43は、実装部41の裏面のグランドメタル42に接続している。 Vias 43 1 and 43 2 are connected to the back surface of the ground metal 42 of the mounting portion 41.

マイクロストリップ線路44は、不平衡の伝送路であり、実装部41に、帯状に形成されている。帯状のマイクロストリップ線路44の一端は、アンテナ45に接続されている。   The microstrip line 44 is an unbalanced transmission line and is formed in the mounting portion 41 in a band shape. One end of the strip-shaped microstrip line 44 is connected to the antenna 45.

アンテナ45は、例えば、アンテナ15と同様に、1mm程度のボンディングワイヤで構成される。   The antenna 45 is composed of a bonding wire of about 1 mm, for example, like the antenna 15.

ミリ波伝送チップ50は、例えば、ミリ波伝送チップ20と同様に、CMOS等で構成され、シングルエンドI/F51と受信部52等を有する。   The millimeter wave transmission chip 50 is formed of, for example, CMOS or the like, similar to the millimeter wave transmission chip 20, and includes a single-ended I / F 51, a receiving unit 52, and the like.

シングルエンドI/F51は、シングルI/F21と同様に、シングルエンド信号をやりとりするための端子である3つのパッド51,51、及び、51を有する。 Single-ended I / F51 have like the single I / F21, 1 3 one pad 51 is a terminal for exchanging a single-ended signal, 51 2, and 51 3.

3つのパッド51ないし51のうちの、2つのパッド51及び51は、受信部52のグランド(GND)端子であり、ボンディングワイヤによって、ビア43及び43に、それぞれ接続されている。したがって、パッド51は、ビア43を介して、パッド51は、ビア43を介して、それぞれ、実装部41の裏面のグランドメタル42に接続されている。 Of the three pads 51 1 to 51 3 , two pads 51 1 and 51 3 are ground (GND) terminals of the receiving unit 52 and are connected to the vias 43 1 and 43 2 by bonding wires, respectively. Yes. Accordingly, pads 51 1, through the via 43 1, the pad 51 3, through the via 43 2 are respectively connected to the back surface of the ground metal 42 of the mounting portion 41.

3つのパッド51ないし51のうちの、残りのパッド51は、信号がやりとりされる信号端子であり、バッド51は、受信部52(のアンプ61)の入力と接続されている。さらに、パッド51は、ボンディングワイヤによって、マイクロストリップ線路44の他端(アンテナ45に接続されていない方の端部)に接続されている。 Of the three pads 51 1 to 51 3, the rest of the pad 51 2 is a signal terminal to which a signal is exchanged, Bad 51 2 is connected to the input of the receiving unit 52 (amplifier 61). Further, the pad 51 2 by a bonding wire is connected to the other end of the microstrip line 44 (the end which is not connected to the antenna 45).

受信部52は、ミリ波帯の信号(ミリ波)の受信を行う。   The receiving unit 52 receives a millimeter-wave band signal (millimeter wave).

受信部52は、アンプ61、発振器62、ミキサ63、及び、アンプ64を有する。   The receiving unit 52 includes an amplifier 61, an oscillator 62, a mixer 63, and an amplifier 64.

アンプ61には、マイクロストリップ線路44からパッド52に伝わる変調信号が、シングルエンド信号として供給される。 The amplifier 61, the modulated signal transmitted from the microstrip line 44 to the pad 52 2 is supplied as a single-ended signal.

アンプ61は、パッド52からの変調信号を増幅し、発振器62、及び、ミキサ63に供給する。 Amplifier 61 amplifies the modulated signal from the pad 52 2, an oscillator 62, and supplies to the mixer 63.

発振器62は、発振によって、アンプ61からの変調信号に同期したキャリアを発生し、ミキサ63に供給する。   The oscillator 62 generates a carrier synchronized with the modulation signal from the amplifier 61 by oscillation and supplies the carrier to the mixer 63.

ミキサ63は、アンプ61からの変調信号と、発振器62からのキャリアとをミキシング(乗算)することにより、アンプ61からの変調信号を、ベースバンド信号に変換し、アンプ64に供給する。   The mixer 63 mixes (multiplies) the modulation signal from the amplifier 61 with the carrier from the oscillator 62, thereby converting the modulation signal from the amplifier 61 into a baseband signal and supplies the baseband signal to the amplifier 64.

アンプ64は、ミキサ63からのベースバンド信号を増幅して出力する。   The amplifier 64 amplifies the baseband signal from the mixer 63 and outputs it.

アンプ64が出力するベースバンド信号は、図示せぬLPF(Low Pass Filter)でフィルタリングされ、これにより、送信データ(に対応する周波数成分)が抽出(取得)される。送信データは、図示せぬ信号処理回路に供給されて処理される。   The baseband signal output from the amplifier 64 is filtered by an LPF (Low Pass Filter) (not shown), whereby transmission data (corresponding frequency component) is extracted (acquired). The transmission data is supplied to a signal processing circuit (not shown) and processed.

以上のように構成されるミリ波伝送システムでは、電子回路10において、送信部22が、ミリ波の変調信号を、シングルエンドI/F21のパッド21から、シングルエンド信号として出力する。 In the above millimeter wave transmission system configured as, in the electronic circuit 10, transmitting unit 22, a modulation signal of a millimeter wave from the pad 21 and second single-ended I / F21, and outputs as a single-ended signal.

パッド21は、ボンディングワイヤによって、マイクロストリップ線路14に接続されており、パッド21から出力される変調信号は、シングルエンド信号のまま、マイクロストリップ線路14を伝わり、アンテナ15から、無線で送信される。 Pad 21 2 by a bonding wire is connected to the microstrip line 14, the modulation signal output from the pad 21 2, leaving a single-ended signal, transmitted through the microstrip line 14, from the antenna 15, transmitting wirelessly Is done.

アンテナ15から送信された変調信号は、アンテナ45で受信され、シングルエンド信号として、マイクロストリップ線路44を伝わり、ボンディングワイヤを経由して、シングルエンドI/F51のパッド51に到達する。 Modulated signal transmitted from antenna 15 is received by the antenna 45, as a single-ended signal, transmitted through the microstrip line 44 via the bonding wire, and reaches the pad 51 and second single-ended I / F51.

シングルエンドI/F51のパッド51に到達した変調信号は、受信部52で受信され、ベースバンドの信号に復調される。 Modulated signal reaching the pad 51 and second single-ended I / F51 is received by the receiver 52, it is demodulated into a baseband signal.

なお、ミリ波伝送チップ20には、ミリ波を送信する送信部22を設け、ミリ波を送信する受信部を設けていないが、ミリ波伝送チップ20には、送信部22と、受信部52と同様に構成される受信部との両方を設けることが可能である。ミリ波伝送チップ20に、送信部22と、受信部52と同様に構成される受信部との両方を設けることにより、ミリ波伝送チップ20では、ミリ波の送信の他、受信も行うことが可能となる。   The millimeter wave transmission chip 20 is provided with a transmission unit 22 that transmits millimeter waves and is not provided with a reception unit that transmits millimeter waves. However, the millimeter wave transmission chip 20 includes a transmission unit 22 and a reception unit 52. It is possible to provide both with the receiving part comprised similarly. By providing both the transmission unit 22 and the reception unit configured similarly to the reception unit 52 in the millimeter wave transmission chip 20, the millimeter wave transmission chip 20 can perform reception in addition to transmission of millimeter waves. It becomes possible.

同様に、ミリ波伝送チップ50には、受信部52と、送信部22と同様に構成される送信部との両方を設けることが可能である。   Similarly, the millimeter wave transmission chip 50 can be provided with both a receiving unit 52 and a transmitting unit configured similarly to the transmitting unit 22.

図2は、シングルエンド信号のミリ波をやりとりするミリ波伝送システムの他の構成例を示す図である。   FIG. 2 is a diagram illustrating another configuration example of a millimeter wave transmission system that exchanges millimeter waves of single-ended signals.

なお、図中、図1の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those in FIG. 1 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted as appropriate.

図2では、実装部11に、ミリ波伝送チップ20の他、ミリ波伝送チップ50も実装されている。   In FIG. 2, in addition to the millimeter wave transmission chip 20, a millimeter wave transmission chip 50 is also mounted on the mounting unit 11.

そして、マイクロストリップ線路14の一端は、アンテナ15ではなく、ボンディングワイヤによって、シングルエンドI/F51のパッド51に接続されている。 One end of the microstrip line 14, the antenna 15 rather than by a bonding wire is connected to the pad 51 and second single-ended I / F51.

なお、図2では、実装部11の表面には、ビア43及び43が形成されており、ビア43及び43は、実装部11の裏面のグランドメタル12に接続している。そして、シングルエンドI/F51のパッド51及び51が、ボンディングワイヤによって、ビア43及び43に、それぞれ接続されている。 In FIG. 2, vias 43 1 and 43 2 are formed on the surface of the mounting portion 11, and the vias 43 1 and 43 2 are connected to the ground metal 12 on the back surface of the mounting portion 11. Then, the pads 51 1 and 51 3 of the single-ended I / F51, by a bonding wire, the vias 43 1 and 43 2 are connected.

以上のように構成されるミリ波伝送システムでは、送信部22が、ミリ波の変調信号を、シングルエンドI/F21のパッド21から、シングルエンド信号として出力する。 In the above millimeter wave transmission system configured as the transmission unit 22, a modulation signal of a millimeter wave from the pad 21 and second single-ended I / F21, and outputs as a single-ended signal.

パッド21は、ボンディングワイヤによって、マイクロストリップ線路14に接続されており、パッド21から出力される変調信号は、シングルエンド信号のまま、マイクロストリップ線路14を伝わり、ボンディングワイヤを経由して、シングルエンドI/F51のパッド51に到達する。 Pad 21 2 by a bonding wire is connected to the microstrip line 14, the modulation signal output from the pad 21 2, leaving a single-ended signal, transmitted through the microstrip line 14 via the bonding wire, it reaches the pad 51 and second single-ended I / F51.

シングルエンドI/F51のパッド51に到達した変調信号は、受信部52で受信され、ベースバンドの信号に復調される。 Modulated signal reaching the pad 51 and second single-ended I / F51 is received by the receiver 52, it is demodulated into a baseband signal.

ミリ波を送信する送信部22や、ミリ波を受信する受信部52において、ミリ波をやりとりするI/Fは、変調信号等のRF信号が測定しやすい(ミリ波を測定する測定器のプローブがシングルエンド信号に対応している)、CMOS回路の回路構成がシンプルになる、低消費電力化を図ることができるといった理由から、シングルエンドI/F(シングルエンドI/F21や51)が採用される。   In the transmission unit 22 that transmits millimeter waves and the reception unit 52 that receives millimeter waves, the I / F that exchanges millimeter waves is easy to measure RF signals such as modulation signals (probe of a measuring instrument that measures millimeter waves). Single-end I / F (single-end I / F21 and 51) is adopted because the circuit configuration of the CMOS circuit is simplified and power consumption can be reduced. Is done.

しかしながら、シングルエンド信号によるデータ伝送は、差動信号によるデータ伝送に比較して、品質が良くないことがある。   However, the quality of data transmission using single-ended signals may be poor compared to data transmission using differential signals.

すなわち、図1や図2に示したように、インターポーザやプリント基板等の実装部11に、シングルエンド信号を伝送するマイクロストリップ線路14を形成する場合には、理想的には、無限の接地導体が必要となるが、無限の接地導体を設けることは困難であり、その結果、データ伝送の品質が劣化することがある。この点、図1に示したように、実装部41に、マイクロストリップ線路44を形成する場合も、同様である。   That is, as shown in FIGS. 1 and 2, in the case where the microstrip line 14 for transmitting a single-ended signal is formed on the mounting portion 11 such as an interposer or a printed board, ideally an infinite ground conductor However, it is difficult to provide an infinite ground conductor, and as a result, the quality of data transmission may deteriorate. In this respect, as shown in FIG. 1, the same applies to the case where the microstrip line 44 is formed in the mounting portion 41.

また、シングルエンド信号によるデータ伝送では、差動信号によるデータ伝送に比較して、不要輻射が多く、さらに、外部(シングルエンド信号が伝送されるマイクロストリップ線路14や44の外部)からのノイズに対する耐性が弱いため、データ伝送の品質が劣化することがある。   In addition, in data transmission using a single-ended signal, there is more unnecessary radiation than in data transmission using a differential signal, and further against noise from the outside (outside of the microstrip lines 14 and 44 through which the single-ended signal is transmitted). Since the tolerance is weak, the quality of data transmission may deteriorate.

ここで、図3は、図1の実装部11がインターポーザである場合の、そのインターポーザの構成例を示す平面図である。   Here, FIG. 3 is a plan view showing a configuration example of the interposer when the mounting unit 11 of FIG. 1 is an interposer.

図3において、インターポーザは、2つの層である第1層70と、第2層(GND層)80とを有する。第1層70及び第2層80は、平板形状をしており、例えば、第2層80は、第1層70の下側に位置する。   In FIG. 3, the interposer has two layers, a first layer 70 and a second layer (GND layer) 80. The first layer 70 and the second layer 80 have a flat plate shape. For example, the second layer 80 is located below the first layer 70.

第1層70には、図1で説明したビア13及び13、マイクロストリップ線路14、及び、アンテナ15が形成されている。 The first layer 70, the vias 13 1 and 13 2 described in FIG. 1, a microstrip line 14, and antenna 15 are formed.

さらに、第1層70には、ミリ波伝送チップ20の図示せぬパッドと、ボンディングワイヤによって接続されるランド71が形成されている。   Further, the first layer 70 is formed with lands 71 connected to pads (not shown) of the millimeter wave transmission chip 20 by bonding wires.

第2層80には、グランドメタル12が形成されており、第1層に形成されたビア13及び13は、グランドメタル12に接続している。 The second layer 80, the ground has been metal 12 is formed, vias 13 1 and 13 2 formed in the first layer is connected to the ground metal 12.

図3に示すように、インターポーザにおいて、第1層70に、シングルエンド信号を伝送するマイクロストリップ線路14を形成する場合には、グランドメタル12を、広い範囲に亘って形成する必要がある。図3では、第2層80の右側の2/3程度の範囲に、グランドメタル12が形成されており、このような広い範囲に亘って形成されるグランドメタル12は、インターポーザ上の配線を圧迫する。   As shown in FIG. 3, in the interposer, when the microstrip line 14 for transmitting a single-ended signal is formed in the first layer 70, the ground metal 12 needs to be formed over a wide range. In FIG. 3, the ground metal 12 is formed in the range of about 2/3 on the right side of the second layer 80. The ground metal 12 formed over such a wide range presses the wiring on the interposer. To do.

品質の良いデータ伝送を行う方法としては、シングルエンド信号を差動信号に変換して、差動信号によるデータ伝送を行う方法がある。   As a method for performing high-quality data transmission, there is a method for performing data transmission using a differential signal by converting a single-ended signal into a differential signal.

しかしながら、シングルエンド信号と差動信号との変換には、バランが必要であり、ミリ波という短い波長の信号を扱うとはいえ、送信部22や受信部52との比較で、バランを構成するには、大きな素子が必要となる。したがって、バランを実装するのでは、回路が大規模化する。   However, a balun is necessary for conversion between a single-ended signal and a differential signal, and although a short wavelength signal such as a millimeter wave is handled, a balun is formed by comparison with the transmission unit 22 and the reception unit 52. Requires a large element. Therefore, when the balun is mounted, the circuit becomes large-scale.

そこで、本技術では、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことを可能とする。   Therefore, the present technology makes it possible to perform high-quality data transmission while suppressing an increase in circuit scale.

[第1実施の形態]   [First Embodiment]

図4は、本技術を適用した電子回路の第1実施の形態の構成例を示す斜視図であり、図5は、図4の電子回路の、シングルエンドI/F111の部分の断面図である。   4 is a perspective view showing a configuration example of a first embodiment of an electronic circuit to which the present technology is applied, and FIG. 5 is a cross-sectional view of a single-ended I / F 111 portion of the electronic circuit of FIG. .

図4及び図5において、電子回路は、実装部101とミリ波伝送チップ110とを有する。   4 and 5, the electronic circuit includes a mounting unit 101 and a millimeter wave transmission chip 110.

実装部101は、例えば、図1の実装部11と同様に、平板形状のインターポーザやプリント基板等の部材(実装部材)であり、半導体チップが実装される。   The mounting unit 101 is a member (mounting member) such as a flat plate-shaped interposer or a printed circuit board, for example, similarly to the mounting unit 11 of FIG.

平板形状の実装部101の一面である表面には、半導体チップであるミリ波伝送チップ110が実装されている。   A millimeter wave transmission chip 110 which is a semiconductor chip is mounted on the surface which is one surface of the flat mounting portion 101.

なお、平板形状の実装部101の他の一面である裏面には、グランドとなる金属である薄膜状のグランドメタルが設けられているが、その図示は省略してある。   Note that a thin-film ground metal, which is a metal serving as a ground, is provided on the back surface, which is the other surface of the flat mounting portion 101, but the illustration thereof is omitted.

実装部101の表面には、ランド102及び102、及び、コプレーナストリップ線路103が形成されている。 Lands 102 1 and 102 2 and a coplanar strip line 103 are formed on the surface of the mounting portion 101.

ランド102及び102は、コプレーナストリップ線路103に接続されている。 The lands 102 1 and 102 2 are connected to the coplanar strip line 103.

コプレーナストリップ線路103は、差動信号がやりとりされる平衡の伝送路(差動伝送路)であり、実装部101に、平行に形成された2つの帯状の導体103及び103を含んで構成される。 Configuration coplanar stripline 103 is a transmission path of a balanced differential signals are exchanged (differential transmission lines), the mounting portion 101, including parallel formed two strip conductors 103 1 and 103 2 Is done.

導体103の一端は、ランド102に接続され、導体103の一端は、ランド102に接続されている。 One end of the conductor 103 1 is connected to the land 102 1, one end of the conductor 103 2 is connected to the land 102 2.

ミリ波伝送チップ110は、例えば、CMOS等で構成され、シングルエンドI/F111等を有する。   The millimeter wave transmission chip 110 is composed of, for example, a CMOS or the like, and has a single end I / F 111 or the like.

なお、ミリ波伝送チップ110は、図1の送信部22や受信部52と同様に構成されるRF部を有するが、その図示は、省略してある。   The millimeter wave transmission chip 110 includes an RF unit configured similarly to the transmission unit 22 and the reception unit 52 of FIG. 1, but illustration thereof is omitted.

シングルエンドI/F111は、RF部がシングルエンド信号(不平衡の信号)をやりとりするための端子である3つのパッド111,111、及び、111を有する。 Single-ended I / F 111 is 1 three pads 111 are terminals for RF unit interacts single-ended signal (signal unbalanced), 111 2, and has a 111 3.

ここで、図4において、ランド102及び102、パッド111ないし111、並びに、バンプは、実際には、ミリ波伝送チップ110に隠れて見えないが、図4では、ミリ波伝送チップ110が無色透明であると仮定して、ランド102及び102、パッド111ないし111、並びに、バンプを図示してある。 Here, in FIG. 4, the lands 102 1 and 102 2 , the pads 111 1 to 111 3 , and the bumps are actually hidden behind the millimeter wave transmission chip 110 but are not visible in FIG. Assuming 110 is colorless and transparent, lands 102 1 and 102 2 , pads 111 1 to 111 3 , and bumps are shown.

3つのパッド111ないし111のうちの、2つのパッド111及び111は、RF部のグランド(GND)端子であり、残りのパッド111は、信号(信号成分)がやりとりされる信号端子である。したがって、RF部では、バッド111から、シングルエンド信号の変調信号が出力され、また、パッド111に供給される信号が、シングルエンド信号として扱われる。 Of the three pads 111 1 to 111 3 , two pads 111 1 and 111 3 are ground (GND) terminals of the RF section, and the remaining pads 111 2 are signals through which signals (signal components) are exchanged. Terminal. Therefore, in the RF section, from the bad 111 2, the modulation signal a single-ended signal is outputted, also, the signal supplied to the pad 111 2 is treated as a single-ended signal.

図4及び図5では、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103に、シングルエンドI/F111のパッド111及び111が、それぞれ、(平衡/不平衡変換を行うバランを介さずに)電気的に直接接続されるように、ミリ波伝送チップ110が、実装部101に実装(例えば、フリップチップ実装)されている。 4 and 5, the pads 111 1 and 111 2 of the single-ended I / F 111 are respectively connected to the conductors 103 1 and 103 2 constituting the coplanar strip line 103 (without using a balun that performs balanced / unbalanced conversion). (Ii) The millimeter wave transmission chip 110 is mounted on the mounting portion 101 (for example, flip chip mounting) so as to be electrically connected directly.

なお、図5に示すように、ミリ波伝送チップ110は、シリコン121上に、シリコン酸化膜122を形成することにより構成されている。パッド111ないし111は、シリコン121上、又は、シリコン酸化膜122上に形成されている。 As shown in FIG. 5, the millimeter wave transmission chip 110 is configured by forming a silicon oxide film 122 on the silicon 121. The pads 111 1 to 111 3 are formed on the silicon 121 or the silicon oxide film 122.

図4及び図5では、導体103とパッド111とが、ランド102及びバンプを介して電気的に直接接続され、導体103とパッド111が、ランド102及びバンプを介して電気的に直接接続されている。 4 and 5, and a conductor 103 1 and the pad 111 1, is electrically connected directly via the lands 102 1 and the bumps, the conductor 103 2 and the pad 111 2, through the lands 102 2 and the bumps electrically Directly connected.

なお、図4及び図5において、シングルエンドI/F111のグランド端子であるパッド111は、いずれにも接続されていないが、ミリ波伝送チップ110(のRF部)のその他のグランド端子(パッド111や111に接続されている図示せぬグランド端子)は、実装部101に設けられている図示せぬグランドメタルに接続されている。 In FIGS. 4 and 5, the single-ended I / pads 111 3 is a ground terminal of the F 111, it is not connected to both the other ground terminal (pad millimeter wave transmission chip 110 (RF unit) The ground terminals (not shown connected to 111 1 and 111 3 ) are connected to a ground metal (not shown) provided in the mounting portion 101.

ここで、図4及び図5において、シングルエンドI/F111のグランド端子であるパッド111は、実装部101に設けられている図示せぬグランドメタルに接続することができる。 Here, in FIGS. 4 and 5, the pad 111 3 is a ground terminal of the single-ended I / F 111 may be connected to the ground metal (not shown) is provided in the mounting portion 101.

また、図4及び図5において、シングルエンドI/F111の3つのパッド111ないし111のうちの、パッド111及び111は、いずれもグランド端子であり、パッド111に代えて、パッド111を、導体103に電気的に直接接続することができる。 Further, in FIGS. 4 and 5, to three pads 111 1 single-ended I / F 111 of the 111 3, pads 111 1 and 111 3 are both ground terminals, instead of the pads 111 1, the pad 111 3, can be electrically connected directly to conductor 103 1.

図4及び図5の電子回路は、シングルエンドI/F111が設けられたミリ波伝送チップ110を、コプレーナストリップ線路103が形成された実装部101に実装するときに、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103に、シングルエンドI/F111のパッド111及び111を、電気的に直接接続させること、すなわち、導体103とパッド111とを、ランド102及びバンプを介して電気的に直接接続するとともに、導体103とパッド111を、ランド102及びバンプを介して電気的に直接接続することで、製造することができる。 4 and 5 constitutes the coplanar strip line 103 when the millimeter wave transmission chip 110 provided with the single-ended I / F 111 is mounted on the mounting portion 101 on which the coplanar strip line 103 is formed. the conductors 103 1 and 103 2, a single-ended I / F 111 of the pad 111 1 and 111 2, that is electrically connected directly, i.e., the conductor 103 1 and pad 111 1, through the lands 102 1 and a bump thereby electrically connected directly, the conductor 103 2 and the pad 111 2, by connecting electrically directly via the land 102 2 and the bumps can be manufactured.

以上のように構成される電子回路では、シングルエンドI/F111から出力される信号については、コプレーナストリップ線路103において、導体103に接続されているパッド111に現れる信号(理想的には、グランドレベル)と、導体103に接続されているパッド111に現れる信号(シングルエンド信号)が、差動信号のコールド側とホット側(ネガティブとポジティブ)の信号として伝送される。 In the electronic circuit configured as described above, with respect to a signal output from the single-ended I / F 111, a signal appearing on the pad 111 1 connected to the conductor 103 1 in the coplanar strip line 103 (ideally, the ground level), the signal appearing at the pad 111 2 connected to the conductor 103 2 (single-ended signal) is transmitted as a signal of the cold side and the hot side of the differential signal (negative and positive).

また、コプレーナストリップ線路103からミリ波伝送チップ110に伝送されてくる差動信号については、ミリ波伝送チップ110において、導体103に接続されているパッド111に現れる信号が、シングルエンド信号として扱われる。 Also, the differential signal transmitted from the coplanar stripline 103 to the millimeter wave transmission chip 110, the millimeter wave transmission chip 110, the signal appearing at the pad 111 2 connected to the conductor 103 2, as a single-ended signal Be treated.

以上のように、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103に、シングルエンドI/F111のパッド111及び111が、それぞれ、電気的に直接接続されるように、ミリ波伝送チップ110が、実装部101に実装されているので、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことができる。 As described above, the millimeter wave transmission chip is configured such that the pads 111 1 and 111 2 of the single-ended I / F 111 are electrically directly connected to the conductors 103 1 and 103 2 constituting the coplanar strip line 103, respectively. Since 110 is mounted on the mounting unit 101, high-quality data transmission can be performed while suppressing an increase in circuit scale.

すなわち、図4及び図5の電子回路は、バランが設けられていないので、バランを設ける場合に比較して、回路の大規模化を抑制し、消費電力を低減することができる。   That is, since the electronic circuit of FIGS. 4 and 5 is not provided with a balun, the scale of the circuit can be suppressed and power consumption can be reduced as compared with the case where a balun is provided.

また、ミリ波伝送チップ110が扱うシングルエンド信号は、コプレーナストリップ線路103において、差動信号として伝送されるので、品質の良いデータ伝送を行うことができる。   In addition, since the single-ended signal handled by the millimeter wave transmission chip 110 is transmitted as a differential signal in the coplanar strip line 103, high-quality data transmission can be performed.

さらに、コプレーナストリップ線路103では、差動信号が伝送されるため、電子回路で発生するコモンモードノイズ(コモンモードの信号)を打ち消すことができる。   Further, since a differential signal is transmitted through the coplanar strip line 103, common mode noise (common mode signal) generated in an electronic circuit can be canceled out.

なお、ミリ波伝送チップ110からは、信号端子であるパッド111と、グランド端子である2つのパッド111及び111を有するシングルエンドI/F111から、シングルエンド信号が出力されるので、そのシングルエンド信号であるRF信号(変調信号)が測定しやすい(ミリ波を測定する測定器のプローブがシングルエンド信号に対応している)、CMOS回路の回路構成がシンプルになる、低消費電力化を図ることができるといったシングルエンドI/Fを採用することの利点をも享受することができる。 Note that the millimeter wave transmission chip 110, the pad 111 2 is a signal terminal, single-ended I / F 111 having two pads 111 1 and 111 3 is a ground terminal, the single-ended signal is outputted, the RF signal (modulated signal), which is a single-ended signal, is easy to measure (the probe of the measuring instrument that measures millimeter waves supports single-ended signals), the circuit configuration of the CMOS circuit is simple, and low power consumption It is also possible to enjoy the advantages of adopting a single-ended I / F that can be achieved.

[第2実施の形態]   [Second Embodiment]

図6は、本技術を適用した電子回路の第2実施の形態の構成例を示す斜視図であり、図7は、図6の電子回路の、シングルエンドI/F111の部分の断面図である。   FIG. 6 is a perspective view illustrating a configuration example of a second embodiment of an electronic circuit to which the present technology is applied, and FIG. 7 is a cross-sectional view of a single-ended I / F 111 portion of the electronic circuit of FIG. .

なお、図中、図4及び図5の第1実施の形態の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those of the first embodiment shown in FIGS. 4 and 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted below as appropriate.

図6及び図7の第2実施の形態では、シングルエンドI/F111が、RF部がシングルエンド信号をやりとりするための端子として、3つのパッド111,111、及び、111ではなく、2つのパッド111及び111だけを有する点で、図4及び図5の第1実施の形態の場合と相違する。 In the second embodiment of FIGS. 6 and 7, the single end I / F 111 is not the three pads 111 1 , 111 2 , and 111 3 as terminals for the RF unit to exchange single end signals, It differs from the case of the first embodiment of FIGS. 4 and 5 in that it has only two pads 111 1 and 111 2 .

シングルエンドI/F111が、2つのパッド111及び111を有する場合も、3つのパッド111ないし111を有する場合と同様に、ミリ波伝送チップ110が扱うシングルエンド信号は、コプレーナストリップ線路103において、差動信号として伝送される。 When the single-ended I / F 111 has two pads 111 1 and 111 2 , the single-ended signal handled by the millimeter-wave transmission chip 110 is a coplanar strip line as in the case of having the three pads 111 1 to 111 3. At 103, it is transmitted as a differential signal.

したがって、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことができる。   Therefore, high-quality data transmission can be performed while suppressing an increase in circuit scale.

以上のように、コプレーナストリップ線路103(を構成する導体103及び103)に、シングルエンドI/F111(のパッド111及び111)が、電気的に直接接続されるように、ミリ波伝送チップ110を、実装部101に実装することで、回路の大規模化を抑制しつつ、品質の良いデータ伝送を行うことができるが、差動伝送路であるコプレーナストリップ線路103と、シングルエンド信号のI/FであるシングルエンドI/F111とを直接接続する場合には、差動伝送路であるコプレーナストリップ線路103と、シングルエンド信号のI/FであるシングルエンドI/F111とのインピーダンス整合(コプレーナストリップ線路103のインピーダンスと、シングルエンドI/F111のインピーダンスとの一致性)が問題となることがある。 As described above, the millimeter wave is used so that the single-ended I / F 111 (the pads 111 1 and 111 2 thereof) is directly electrically connected to the coplanar strip line 103 (the conductors 103 1 and 103 2 constituting the coplanar strip line 103). By mounting the transmission chip 110 on the mounting unit 101, high-quality data transmission can be performed while suppressing an increase in circuit scale. However, the coplanar strip line 103, which is a differential transmission path, and a single end When a single-ended I / F 111 that is an I / F of a signal is directly connected, an impedance between the coplanar strip line 103 that is a differential transmission path and a single-ended I / F 111 that is an I / F of a single-ended signal. Matching (coincidence between the impedance of the coplanar strip line 103 and the impedance of the single-ended I / F 111) becomes a problem. There is a door.

すなわち、一般に、差動伝送路のインピーダンスは、シングルエンド信号のI/Fのインピーダンスより高く、差動伝送路のインピーダンスと、シングルエンド信号のI/Fのインピーダンスとが大きく異なる場合には、インピーダンスの不整合に起因する反射によって、品質の良いデータ伝送が妨げられることがある。   That is, in general, the impedance of the differential transmission line is higher than the impedance of the I / F of the single-ended signal, and if the impedance of the differential transmission line and the impedance of the single-ended signal are significantly different, Reflection due to the mismatch may prevent good quality data transmission.

そこで、差動伝送路のインピーダンス(特性インピーダンス)について説明する。   Therefore, the impedance (characteristic impedance) of the differential transmission path will be described.

ここで、一般に、差動伝送路のインピーダンスは、例えば、120Ω程度であり、シングルエンド信号のI/Fのインピーダンスは、例えば、50Ω程度である。   Here, in general, the impedance of the differential transmission path is, for example, about 120Ω, and the I / F impedance of the single-ended signal is, for example, about 50Ω.

[差動伝送路の特性インピーダンス]   [Characteristic impedance of differential transmission line]

図8は、差動伝送路を示す断面図である。   FIG. 8 is a cross-sectional view showing the differential transmission path.

図8において、差動伝送路は、平行に配置された2本の棒状の導体が誘電体に囲まれて構成されている。   In FIG. 8, the differential transmission line is configured by two rod-shaped conductors arranged in parallel surrounded by a dielectric.

なお、図8において、差動伝送路を構成する棒状の導体の断面は、円形をしている。   In addition, in FIG. 8, the cross section of the rod-shaped conductor which comprises a differential transmission path is circular.

いま、導体の断面の円形の直径をdと表し、円形の中心どうしの距離(中心距離)をsと表すこととする。さらに、2本の導体の間の、その2本の導体を含まない距離(間隔距離)をs'(=s-d)と表し、差動伝送路を構成する誘電体の誘電率をεと表すとともに、透磁率をμと表すこととする。   Now, the circular diameter of the cross section of the conductor is represented as d, and the distance between the centers of the circles (center distance) is represented as s. Further, the distance (interval distance) between the two conductors not including the two conductors is represented as s ′ (= sd), and the dielectric constant of the dielectric constituting the differential transmission path is represented as ε. The magnetic permeability is expressed as μ.

図8の差動伝送路の単位長あたりのインダクタンスLとキャパシタンスCは、式(1)と式(2)で、それぞれ表される。   An inductance L and a capacitance C per unit length of the differential transmission path in FIG. 8 are expressed by Expression (1) and Expression (2), respectively.

Figure 2013098889
・・・(1)
Figure 2013098889
... (1)

Figure 2013098889
・・・(2)
Figure 2013098889
... (2)

いま、説明を簡単にするために、差動伝送路が無損失であると仮定すると、図8の差動伝送路のインピーダンス(特性インピーダンス)Zcは、式(1)のインダクタンスLと、式(2)のキャパシタンスCとを用いて、式(3)で表される。 For simplicity of explanation, assuming that the differential transmission line is lossless, the impedance (characteristic impedance) Z c of the differential transmission line in FIG. Using the capacitance C in (2), it is expressed by equation (3).

Figure 2013098889
・・・(3)
Figure 2013098889
... (3)

例えば、いま、シングルエンドI/F111のインピーダンスが50Ωであるとすると、そのようなシングルエンドI/F111とのインピーダンス整合を図るためには、式(3)で表される図8の差動伝送路のインピーダンスを50Ω程度とする必要がある。   For example, assuming that the impedance of the single-ended I / F 111 is 50Ω, in order to achieve impedance matching with such a single-ended I / F 111, the differential transmission of FIG. The road impedance needs to be about 50Ω.

いま、誘電体の比誘電率εr(=ε/ε0(ε0は真空の誘電率))が、例えば、2.5であるとすると、図8の差動伝送路の式(3)で表されるインピーダンスZcを50Ω程度にするには、s/dを約1.23とする必要がある。 Now, assuming that the relative permittivity ε r (= ε / ε 00 is the permittivity of vacuum)) of the dielectric is 2.5, for example, it is expressed by the equation (3) of the differential transmission path in FIG. the impedance Z c to 50Ω degree that may be, it is necessary to be about 1.23 to s / d.

s/dを約1.23とするには、導体の断面の円形の直径が、例えば、50μmであるとすると、その円形の中心どうしの距離(中心距離)sを、61.5μmとする必要があり、その円形どうしの、導体を含まない距離(間隔距離)s'(=s-d)は、11.5μmとなる。   In order to set s / d to about 1.23, if the circular diameter of the cross section of the conductor is, for example, 50 μm, the distance (center distance) s between the centers of the circular needs to be 61.5 μm, The distance (interval distance) s ′ (= sd) between the circles not including the conductor is 11.5 μm.

図9は、差動伝送路としてのコプレーナストリップ線路103を示す斜視図と断面図である。   FIG. 9 is a perspective view and a cross-sectional view showing a coplanar strip line 103 as a differential transmission line.

コプレーナストリップ線路103を構成する棒状の導体103及び103の断面は、略長方形をしている。 Coplanar stripline rod-shaped conductors 103 103 constituting one and 103 2 of the cross-section has a generally rectangular.

いま、導体103及び103の断面の長手方向の長さ(幅)を、wと表し、導体103と103との(断面の)間の、その導体103及び103を含まない距離(間隔距離)をsと表すこととする。 Now, the longitudinal length of the conductor 103 1 and 103 2 of the cross-section (width), expressed as w, the conductor 103 1 and 103 2 between (the cross), free of their conductors 103 1 and 103 2 The distance (interval distance) is represented as s.

また、導体103及び103が形成されている、誘電体としての実装部101の比誘電率をεrと表し、その実装部101の厚み(表面と裏面との距離)を、hと表すこととする。 In addition, the relative permittivity of the mounting portion 101 as a dielectric in which the conductors 103 1 and 103 2 are formed is expressed as ε r, and the thickness (distance between the front surface and the back surface) of the mounting portion 101 is expressed as h. I will do it.

コプレーナストリップ線路103のインピーダンス(特性インピーダンス)Zcは、式(4)で表される。 The impedance (characteristic impedance) Z c of the coplanar strip line 103 is expressed by Expression (4).

Figure 2013098889
・・・(4)
Figure 2013098889
... (4)

ここで、式(4)において、εeは、式(5)で表される。 Here, in equation (4), ε e is represented by equation (5).

Figure 2013098889
・・・(5)
Figure 2013098889
... (5)

また、式(4)及び式(5)のkは、式(6)で表され、式(5)のk1は、式(7)で表される。 Also, k in formula (4) and (5) is represented by the formula (6), k 1 of the formula (5) is represented by the formula (7).

Figure 2013098889
・・・(6)
Figure 2013098889
... (6)

Figure 2013098889
・・・(7)
Figure 2013098889
... (7)

さらに、式(4)及び式(5)のK(k)/K'(k)は、式(8)で表される。   Furthermore, K (k) / K ′ (k) in Expression (4) and Expression (5) is expressed by Expression (8).

Figure 2013098889
・・・(8)
Figure 2013098889
... (8)

また、関数K(k')とK'(k)、及び、値kとk'は、式(9)で示される関係を有する。   Further, the functions K (k ′) and K ′ (k) and the values k and k ′ have the relationship represented by the equation (9).

Figure 2013098889
・・・(9)
Figure 2013098889
... (9)

なお、値k1とk'1も、値kとk'と同様の関係を有する。 The values k 1 and k ′ 1 have the same relationship as the values k and k ′.

いま、実装部101が、例えば、一般的なFR-4基板(ガラスエポキシ基板)であるとすると、実装部101の比誘電率εrは、4.0程度であり、実装部101の厚みhは、1.6mm程度である。 Now, assuming that the mounting part 101 is, for example, a general FR-4 substrate (glass epoxy board), the relative permittivity ε r of the mounting part 101 is about 4.0, and the thickness h of the mounting part 101 is It is about 1.6mm.

そして、導体103及び103の幅wが、例えば、50μmであるとすると、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスを50Ω程度にするには、導体103と103との間の間隔距離sを、0.23μm程度にする必要がある。 Then, the width w of the conductor 103 1 and 103 2 are, for example, when a 50 [mu] m, to the impedance of the coplanar stripline 103 to 50Ω about the spacing distance s between the conductors 103 1 and 103 2, It needs to be about 0.23 μm.

ところで、将来的には、技術の進歩により、導体103と103との間の間隔距離sを、0.23μm程度とすることが、容易に可能になると予想されるが、現在の高密度配線の技術では、導体103及び103の幅w及び間隔距離sは、50μm程度を大きく下回る0.23μm程度の値とすることは、困難である。 Meanwhile, in the future, advances in technology, the spacing distance s between the conductors 103 1 and 103 2, be about 0.23μm is, but is expected to be readily, current density wiring in the technique, the width w and the spacing distance s of the conductor 103 1 and 103 2 to a value of about 0.23μm far below about 50μm is difficult.

このため、例えば、導体103及び103の幅w及び間隔距離sとして、50μm程が採用された場合、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスは、シングルエンドI/F111のインピーダンスである50Ωよりも数10Ω程度大になり、この場合、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスの不整合が問題になることがある。 Thus, for example, the width w and the spacing distance s of the conductor 103 1 and 103 2, if as 50μm is employed, the impedance of the coplanar strip track 103, the number 10Ω than 50Ω is the impedance of the single-ended I / F 111 In this case, impedance mismatch between the coplanar strip line 103 and the single-ended I / F 111 may be a problem.

[第3実施の形態]   [Third Embodiment]

そこで、図10は、本技術を適用した電子回路の第3実施の形態の構成例を示す斜視図である。   FIG. 10 is a perspective view illustrating a configuration example of the third embodiment of the electronic circuit to which the present technology is applied.

なお、図中、図4の第1実施の形態の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those of the first embodiment in FIG. 4 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted below as appropriate.

図10の第3実施の形態では、誘電体130が、コプレーナストリップ線路103上に配置されている点で、図4の場合と相違する。   10 differs from the case of FIG. 4 in that the dielectric 130 is disposed on the coplanar stripline 103. The third embodiment of FIG.

誘電体130は、実装部101の誘電率よりも大きな誘電率の誘電体(例えば、比誘電率が10程度の誘電体)であり、そのような誘電率の大きな誘電体130が、コプレーナストリップ線路103上に配置されていることにより、式(4)で表されるコプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを、誘電体130が配置されていない場合よりも小さくすることができる。 The dielectric 130 is a dielectric having a dielectric constant larger than that of the mounting unit 101 (for example, a dielectric having a relative dielectric constant of about 10), and the dielectric 130 having such a large dielectric constant is a coplanar strip line. by being disposed on the 103, the impedance Z c of the coplanar stripline 103 of the formula (4), can be made smaller than if the dielectric 130 is not disposed.

したがって、誘電体130として、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくして、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスを整合させるような誘電率の誘電体を採用することにより、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスを整合させ、インピーダンスの不整合に起因する反射によって、品質の良いデータ伝送が妨げられることを防止することができる。 Therefore, as the dielectric 130, to reduce the impedance Z c of the coplanar stripline 103, by adopting a coplanar stripline 103 and the dielectric permittivity such as to match the impedance of the single-ended I / F 111, coplanar The impedance between the strip line 103 and the single-ended I / F 111 can be matched, and it is possible to prevent high-quality data transmission from being hindered by reflection caused by impedance mismatch.

なお、図10では、誘電体130が、無色透明であると仮定して、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103が、誘電体130を透けて見えるように、導体103及び103を図示してある。 In FIG. 10, a dielectric 130, assumed to be colorless and transparent, co conductors 103 1 and 103 2 which constitutes a planar stripline 103, as seen through the dielectric 130, conductors 103 1 and 103 2 is shown.

図11は、誘電体130を、コプレーナストリップ線路103上に配置する配置パターンの例を説明する図である。   FIG. 11 is a diagram for explaining an example of an arrangement pattern in which the dielectric 130 is arranged on the coplanar strip line 103.

なお、図11は、誘電体130がコプレーナストリップ線路103上に配置された電子回路の断面を示している。   FIG. 11 shows a cross section of an electronic circuit in which the dielectric 130 is disposed on the coplanar strip line 103.

図11Aは、第1の配置パターンを、図11Bは、第2の配置パターンを、図11Cは、第3の配置パターンを、それぞれ示している。   11A shows the first arrangement pattern, FIG. 11B shows the second arrangement pattern, and FIG. 11C shows the third arrangement pattern.

第1の配置パターン(図11A)では、誘電体130は、コプレーナストリップ線路103の2本の導体103及び103に沿って配置されており、その2本の導体103及び103の一方の導体103から他方の導体103までの全体を覆うことができる幅の誘電体になっている。 In the first placement pattern (Fig. 11A), the dielectric 130 is placed two conductors 103 1 and 103 2 in along the coplanar stripline 103, one of its two conductors 103 1 and 103 2 consist of conductors 103 1 to dielectric width capable of covering the entire up to two other conductor 103.

第2の配置パターン(図11B)では、誘電体130は、コプレーナストリップ線路103の2本の導体103及び103に沿って配置されており、その2本の導体103及び103の間の、2本の導体103及び103を含む距離と同一の幅を有する誘電体になっている。 In the second arrangement pattern (Fig. 11B), the dielectric 130 is coplanar stripline 103 two conductors 103 1 and 103 2 in along the are disposed, between the conductors 103 1 and 103 2 of the two of which it is a dielectric having the same width and length comprising two conductors 103 1 and 103 2.

第3の配置パターン(図11C)では、誘電体130は、コプレーナストリップ線路103の2本の導体103及び103に沿って、その2本の導体103及び103の間に配置されており、2本の導体103及び103の間の、2本の導体103及び103を含まない距離(間隔距離)と同一の幅を有する誘電体になっている。 In the third arrangement pattern (FIG. 11C), the dielectric 130 is arranged along the two conductors 103 1 and 103 2 of the coplanar strip line 103 between the two conductors 103 1 and 103 2. cage, between the conductors 103 1 and 103 2 of the two, two distances without the conductors 103 1 and 103 2 (separation distance) has a dielectric having the same width as the.

なお、図10の電子回路では、誘電体130を、コプレーナストリップ線路103上に配置することにより、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくするように調整して、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスの整合を図ることとしたが、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整は、その他、誘電体130を、コプレーナストリップ線路103上に配置すること以外の方法によって行うことが可能である。 In the electronic circuit of FIG. 10, the dielectric 130 is arranged on the coplanar strip line 103 so that the impedance Z c of the coplanar strip line 103 is adjusted to be small. / F 111 and it is assumed that achieving impedance matching, the adjustment to reduce the impedance Z c of the coplanar stripline 103, other dielectric 130, be carried out by a method other than placing on the coplanar strip track 103 Is possible.

図12は、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整を行う他の方法を説明する図である。 FIG. 12 is a diagram for explaining another method for adjusting the impedance Z c of the coplanar strip line 103 to be small.

すなわち、図12は、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103が形成された実装部101の構成例を示す断面図である。 That is, FIG. 12 is a sectional view showing a configuration example of a coplanar stripline 103 configured to conductors 103 1 and 103 2 mounting portion 101 which is formed a.

図12では、導体103及び103の厚みを厚くすることで、コプレーナストリップ線路103のキャパシタンスが大になり、その結果、導体103及び103の厚みを厚くしない場合よりも、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcが小さくなるように調整されている。 In FIG. 12, by increasing the thickness of the conductors 103 1 and 103 2 , the capacitance of the coplanar strip line 103 is increased, and as a result, the coplanar strip line is larger than when the thickness of the conductors 103 1 and 103 2 is not increased. The impedance Z c of 103 is adjusted to be small.

すなわち、導体103及び103の厚みを厚く調整することで、誘電体130を、コプレーナストリップ線路103上に配置しなくても、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスの整合を図ることができる。 In other words, by increasing adjusting the thickness of the conductor 103 1 and 103 2, the dielectric body 130, without disposed on coplanar strip track 103, the impedance matching between the coplanar stripline 103 and the single-ended I / F 111 Can be planned.

図13は、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整を行うさらに他の方法を説明する図である。 Figure 13 is a diagram for explaining still another method to adjust to decrease the impedance Z c of the coplanar stripline 103.

すなわち、図13は、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103が形成された実装部101の構成例を示す断面図と上面図である。 That is, FIG. 13 is a cross-sectional view and a top view showing a configuration example of a coplanar stripline 103 conductors 103 1 and 103 2 mounting portion 101 is formed which constitutes the.

図13では、実装部101は、第1層101と第2層101との2層構成になっており、第1層101の表面(上面)に、コプレーナストリップ線路103を構成する、平行に配置された2本の導体103及び103が形成されている。 In Figure 13, the mounting portion 101, the first layer 101 1 and has a two-layer structure of the second layer 101 2, the first layer 101 first surface (upper surface), constituting a coplanar stripline 103, It arranged parallel to the two conductors 103 1 and 103 2 was is formed.

また、第2層101の表面(上面)にも、コプレーナストリップ線路103を構成する、平行に配置された2本の導体131及び131が、2本の導体103及び103とそれぞれ平行に形成されている。 Also, the second layer 101 and second surface (upper surface), co constitutes a planar stripline 103, arranged parallel to the two conductors 131 1 and 131 2 was found two conductors 103 1 and 103 2, respectively They are formed in parallel.

そして、平行に配置された第1層101の導体103、及び、第2層101の導体131上には、導体103と導体131とを電気的に接続するビア132が設けられている。 Then, the conductor 103 1 of the first layer 101 1 arranged in parallel, and, on the conductor 131 1 of the second layer 101 2, vias 132 1 to electrically connect the conductor 103 1 and conductor 131 1 Is provided.

同様に、平行に配置された第1層101の導体103と、第2層101の導体131上には、導体103と導体131とを電気的に接続するビア132が設けられている。 Similarly, the conductor 103 2 of the first layer 101 1 arranged in parallel, on the conductor 131 of the second layer 101 2, via 132 2 for electrically connecting the conductor 103 2 and the conductor 131 2 Is provided.

以上のように、コプレーナストリップ線路103を構成する導体を、いわば多層に構成することによっても、図12の場合と同様に、コプレーナストリップ線路103のキャパシタンスが大になり、その結果、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくするように調整することができる。 As described above, even when the conductors constituting the coplanar strip line 103 are formed in multiple layers, the capacitance of the coplanar strip line 103 becomes large as in the case of FIG. it can be adjusted so as to reduce the impedance Z c.

なお、図13では、2層に構成された実装部101の第1層101に、コプレーナストリップ線路103を構成する2本の導体103及び103を形成するとともに、第2層101に、コプレーナストリップ線路103を構成する2本の導体131及び131を形成することとしたが、実装部101は、3層以上の構成とし、その3層以上の各層に、コプレーナストリップ線路103を構成する2本の導体を層状に形成し、ビアで、電気的に接続することによって、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくすることが可能である。 In FIG 13, the first layer 101 1 of the mounting portion 101 that is configured in two layers, to form a coplanar stripline 103 two conductors 103 1 and 103 2 which forms a second layer 101 2 The two conductors 131 1 and 131 2 constituting the coplanar strip line 103 are formed. However, the mounting portion 101 has three or more layers, and the coplanar strip line 103 is provided on each of the three or more layers. the two conductors to be configured in layers, with vias, by electrically connecting, it is possible to reduce the impedance Z c of the coplanar stripline 103.

また、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整は、誘電体130を、コプレーナストリップ線路103上に配置する方法と、図12又は図13で説明した方法とを併用して行うことが可能である。 The adjustment to reduce the impedance Z c of the coplanar stripline 103, a dielectric 130, a method of placing on the coplanar strip track 103, can be performed in combination with the method described in FIG. 12 or 13 It is.

さらに、コプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを小さくする調整は、図9で説明したように、導体103及び103の間隔距離sを狭くすることによって行うことができる。 Further, adjustment to reduce the impedance Z c of the coplanar stripline 103 may be performed by as described in FIG. 9, to narrow the gap distance s of the conductor 103 1 and 103 2.

[第4実施の形態]   [Fourth embodiment]

図14は、本技術を適用した電子回路の第4実施の形態の構成例を示す斜視図であり、図15は、図14の電子回路の、シングルエンドI/F111の部分の断面図である。   FIG. 14 is a perspective view illustrating a configuration example of a fourth embodiment of an electronic circuit to which the present technology is applied, and FIG. 15 is a cross-sectional view of the single-ended I / F 111 portion of the electronic circuit of FIG. .

なお、図中、図4及び図5の第1実施の形態の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those of the first embodiment shown in FIGS. 4 and 5 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted below as appropriate.

図14及び図15の第4実施の形態では、実装部101に、ランド102及び102の他、ランド102が設けられている点、及び、スタブ201が設けられている点で、図4及び図5の場合と相違する。 In the fourth embodiment of FIGS. 14 and 15, the mounting portion 101, another land 102 1 and 102 2, that the land 102 3 is provided, and in that the stub 201 is provided, FIG. 4 and FIG. 5 are different.

ここで、図14では、ランド102及び102、パッド111ないし111、並びに、バンプの他、ランド102は、図4の場合と同様に、実際には、ミリ波伝送チップ110に隠れて見えないが、図14では、ミリ波伝送チップ110が無色透明であると仮定して、ランド102ないし102、パッド111ないし111、並びに、バンプを見えるように図示してある。 Here, in FIG. 14, in addition to the lands 102 1 and 102 2 , the pads 111 1 to 111 3 , and the bumps, the land 102 3 is actually connected to the millimeter wave transmission chip 110 as in the case of FIG. In FIG. 14, the land 102 1 to 102 3 , the pads 111 1 to 111 3 , and the bumps are illustrated so that the millimeter wave transmission chip 110 is colorless and transparent. .

図4及び図5では、シングルエンドI/F111のグランド端子であるパッド111が、いずれにも接続されていなかったが、図14及び図15では、パッド111とスタブ201とが、ランド102及びバンプを介して接続されている。 In FIG. 4 and FIG. 5, the pad 111 3 is a ground terminal of the single-ended I / F 111, but was not connected to both, 14 and 15, the pad 111 3 and the stub 201, the lands 102 3 and via bumps.

スタブ201は、L字型をした導体になっており、実装部101上に形成されている。   The stub 201 is an L-shaped conductor and is formed on the mounting portion 101.

L字型のスタブ201の一端は、コプレーナストリップ線路103を構成する、ランド102及びバンプを介して信号端子としてのパッド111に接続されている導体103に接続されている。 One end of the L-shaped stub 201, co constitutes a planar stripline 103 is connected to the conductor 103 2 connected via the land 102 2 and the bump to the pad 111 2 as a signal terminal.

また、L字型のスタブ201の他端は、ランド103に接続されている。 The other end of L-shaped stub 201 is connected to the lands 103 3.

ここで、ランド103には、バンプを介して、シングルエンドI/F111の2つのグランド端子であるパッド111及び111のうちの、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103に接続されていない方のパッド111に接続されている。 Here, the land 103 3, through the bump, of the pads 111 1 and 111 3 are two ground terminals of the single-ended I / F 111, is connected to the conductor 103 1 constituting the coplanar stripline 103 It is connected to the pad 111 3 those who do not.

したがって、スタブ201の他端は、グランドに接続されるので、スタブ201は、ショートスタブである。   Therefore, since the other end of the stub 201 is connected to the ground, the stub 201 is a short stub.

また、L字型のスタブ201の長さは、そのスタブ201が接続された導体103で構成されるコプレーナストリップ線路103を介して伝送されるRF信号(ミリ波)の波長λの1/4の長さであるλ/4になっている。 The length of the L-shaped stub 201 is a quarter of the wavelength λ of the RF signals that stub 201 is transmitted via the formed coplanar strip track 103 connected conductors 103 2 (millimeter wave) Λ / 4, which is the length of.

長さがλ/4のショートスタブであるスタブ201は、BPF(Band Pass Filter)として機能し、その結果、低周波のノイズを除去することができ、さらに、コプレーナストリップ線路103におけるコモンモードノイズを低減して、差動モード(ノーマルモード)の通過特性を向上させることができる。   The stub 201, which is a short stub having a length of λ / 4, functions as a BPF (Band Pass Filter). As a result, low-frequency noise can be removed, and common mode noise in the coplanar strip line 103 is reduced. It can reduce and can improve the passage characteristic of a differential mode (normal mode).

また、例えば、電気的なサージが、導体103上に生じた場合に、そのサージを、スタブ201を介して、グランドに逃がすことができるので、ESD(Electro-Static Discharge)耐性を向上させることができる。 Further, for example, electrical surges, if occurring on the conductor 103 2, the surge through the stub 201, it is possible to escape to the ground, to improve ESD (Electro-Static Discharge) resistance Can do.

なお、図14及び図15の電子回路は、シングルエンドI/F111が設けられたミリ波伝送チップ110を、コプレーナストリップ線路103及びスタブ201が形成された実装部101に実装するときに、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103に、シングルエンドI/F111のパッド111及び111を、それぞれ、電気的に直接接続させるとともに、スタブ201の、導体103と接続されていない方の端部(他端)に、シングルエンドI/F111のパッド111を電気的に直接接続することで、製造することができる。 14 and 15, when the millimeter wave transmission chip 110 provided with the single-ended I / F 111 is mounted on the mounting portion 101 in which the coplanar strip line 103 and the stub 201 are formed, the coplanar strip is used. the conductors 103 1 and 103 2 which constitute the line 103, a single-ended I / F 111 of the pad 111 1 and 111 2, respectively, causes electrically connected directly, that is not connected to the stub 201, the conductor 103 2 end in (the other end), by directly electrically connecting the pad 111 3 single-ended I / F 111, can be produced.

また、ミリ波伝送チップのシングルエンドI/F111において隣り合うパッド111と111との距離は、ミリ波のλ/4にとって無視することができる程度の距離であるため、図14において、L字型のスタブ201については、スタブ201全体の長さを、λ/4とする他、L字型のスタブ201の、パッド111と111と結ぶ直線に平行な部分を除いた長さを、λ/4とすることができる。 Further, since the distance between the pad 111 2 and 111 3 that adjoin in the single-ended I / F 111 of the millimeter wave transmission chip is the distance to the extent that can be ignored by taking the millimeter wave lambda / 4, in FIG. 14, L the shape of the stub 201, the overall length of the stub 201, except that the lambda / 4, L-shaped stub 201, the length excluding the portion parallel to the straight line connecting the pad 111 2 and 111 3 , Λ / 4.

[第5実施の形態]   [Fifth Embodiment]

図16は、本技術を適用した電子回路の第5実施の形態の構成例を示す斜視図である。   FIG. 16 is a perspective view illustrating a configuration example of a fifth embodiment of an electronic circuit to which the present technology is applied.

なお、図中、図10の第3実施の形態の場合、及び、図14及び図15の第4実施の形態の場合と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those in the third embodiment in FIG. 10 and those in the fourth embodiment in FIGS. 14 and 15 are denoted by the same reference numerals. The description is omitted as appropriate.

図16の第5実施の形態では、図10で説明した誘電体130が、コプレーナストリップ線路103上に配置されている点で、図14及び図15の場合と相違する。   The fifth embodiment shown in FIG. 16 differs from the cases shown in FIGS. 14 and 15 in that the dielectric 130 described in FIG. 10 is disposed on the coplanar strip line 103.

図10で説明したように、誘電体130は、実装部101の誘電率よりも大きな誘電率の誘電体であり、そのような誘電率の大きな誘電体130が、コプレーナストリップ線路103上に配置されていることにより、式(4)で表されるコプレーナストリップ線路103のインピーダンスZcを、誘電体130が配置されていない場合よりも小さくすることができる。 As described with reference to FIG. 10, the dielectric 130 is a dielectric having a dielectric constant larger than that of the mounting portion 101, and the dielectric 130 having such a large dielectric constant is disposed on the coplanar strip line 103. As a result, the impedance Z c of the coplanar strip line 103 represented by the equation (4) can be made smaller than when the dielectric 130 is not disposed.

その結果、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスを整合させ、インピーダンスの不整合に起因する反射によって、品質の良いデータ伝送が妨げられることを防止することができる。   As a result, the impedances of the coplanar stripline 103 and the single-ended I / F 111 are matched, and it is possible to prevent high-quality data transmission from being hindered by reflection caused by impedance mismatch.

なお、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111とのインピーダンスの整合は、誘電体130を配置する方法の他、例えば、図12や図13で説明した方法等によってとることが可能である。   Note that the impedance matching between the coplanar stripline 103 and the single-ended I / F 111 can be achieved by, for example, the method described with reference to FIGS.

図17は、図16の電子回路について行ったシミュレーションの結果を示す図である。   FIG. 17 is a diagram illustrating a result of simulation performed on the electronic circuit of FIG.

すなわち、図17は、図16の電子回路(以下、スタブ有り回路ともいう)のSパラメータS21と、図16の電子回路からスタブ201を除去した回路(以下、スタブなし回路ともいう)のSパラメータS21とを示している。 That is, FIG. 17 shows the S parameter S 21 of the electronic circuit of FIG. 16 (hereinafter also referred to as a circuit with stubs) and the S parameter S 21 of the circuit (hereinafter also referred to as a circuit without stubs) obtained by removing the stub 201 from the electronic circuit of FIG. It shows the parameters S 21.

なお、図17において、横軸は、周波数を表し、縦軸は、SパラメータS21を表す。 17, the horizontal axis represents frequency and the vertical axis represents the S parameter S 21.

また、図17において、実線は、コプレーナストリップ線路103についての差動モード(Diff. Mode)のSパラメータS21を表し、点線は、コモンモード(Comm. Mode)のSパラメータS21を表す。 Further, in FIG. 17, the solid line represents the S parameter S 21 of the differential mode of the coplanar strip track 103 (Diff. Mode), the dotted line represents an S parameter S 21 of the common mode (Comm. Mode).

さらに、図17において、三角形が、スタブ有り回路のSパラメータS21を表し、四角形が、スタブなし回路のSパラメータS21を表す。 Further, in FIG. 17, triangles represent the S parameter S 21 of the stub there circuit, squares, represents the S parameter S 21 without stubs circuit.

図17によれば、スタブ有り回路の、差動モードのSパラメータS21(三角形と実線で示す)が、60GHzを中心とする周波数帯域において、90GHz以上の周波数帯域や30GHz以下の周波数帯域に比較して、大きくなっており、したがって、スタブ201がある場合には、差動モードにおいて、60GHzを中心とする周波数帯域、すなわち、ミリ波帯の通過特性(伝達特性)を向上させることができる。 According to FIG. 17, the differential mode S parameter S 21 (indicated by a triangle and a solid line) of a circuit with a stub is compared with a frequency band of 90 GHz or higher or a frequency band of 30 GHz or lower in a frequency band centered on 60 GHz. Therefore, when the stub 201 is present, in the differential mode, it is possible to improve the frequency band around 60 GHz, that is, the millimeter wave band pass characteristic (transfer characteristic).

[第6実施の形態]   [Sixth Embodiment]

図18は、本技術を適用した電子回路の第6実施の形態の構成例を示す斜視図であり、図19は、図18の電子回路の、シングルエンドI/F111の部分の断面図である。   FIG. 18 is a perspective view illustrating a configuration example of a sixth embodiment of an electronic circuit to which the present technology is applied, and FIG. 19 is a cross-sectional view of a single-ended I / F 111 portion of the electronic circuit of FIG. .

なお、図中、図6及び図7の第2実施の形態、図14及び図15の第4実施の形態の場合、図16の第5実施の形態と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, in the case of the second embodiment shown in FIGS. 6 and 7 and the fourth embodiment shown in FIGS. 14 and 15, the same reference numerals are given to the portions corresponding to those in the fifth embodiment shown in FIG. In the following, description thereof will be omitted as appropriate.

図18及び図19の第6実施の形態では、図6及び図7の場合と同様に、シングルエンドI/F111が、ミリ波伝送チップ110が内蔵する図示せぬRF部がシングルエンド信号をやりとりするための端子として、3つのパッド111,111、及び、111ではなく、2つのパッド111及び111だけを有する点で、図16の第5実施の形態の場合と相違する。 In the sixth embodiment shown in FIGS. 18 and 19, as in the case of FIGS. 6 and 7, the single-ended I / F 111 exchanges a single-ended signal with an RF unit (not shown) built in the millimeter wave transmission chip 110. 16 is different from the fifth embodiment in FIG. 16 in that it has only two pads 111 1 and 111 2 instead of three pads 111 1 , 111 2 , and 111 3 as terminals to be used.

以上のように、図18及び図19の第6実施の形態では、シングルエンドI/F111が、2つのパッド111及び111を有するが、グランド端子であるパッド111を有していないため、スタブ201の他端は、ミリ波伝送チップ110の他のグランド端子であるパッソ211に接続されている。 As described above, in the sixth embodiment of FIGS. 18 and 19, for single-ended I / F 111 is, has two pads 111 1 and 111 2, which has no pads 111 3 is a ground terminal The other end of the stub 201 is connected to a path 211 that is another ground terminal of the millimeter wave transmission chip 110.

すなわち、図18及び図19では、ミリ波伝送チップ110に設けられている、シングルエンドI/F111を構成するグランド端子であるパッド111とは別のグランド端子であるパッド211を図示してある。 That is, in FIG. 18 and FIG. 19 are provided in the millimeter wave transmission chip 110, there are shown a pad 211, another ground terminal pad 111 1 is a ground terminal which constitutes a single-ended I / F 111 .

さらに、図18及び図19では、ミリ波伝送チップ110を、実装部101に実装したときに、ミリ波伝送チップ110のパッド211に対応する実装部101上の位置であって、シングルエンドI/F111から比較的離れた位置に形成されているランド212を図示してある。   Further, in FIGS. 18 and 19, when the millimeter wave transmission chip 110 is mounted on the mounting unit 101, the position on the mounting unit 101 corresponding to the pad 211 of the millimeter wave transmission chip 110 is A land 212 formed at a position relatively far from F111 is shown.

図18及び図19の第6実施の形態では、実装部101において、一端が導体103に接続されているL字型のスタブ201の他端が、ランド212に接続されている。 In the sixth embodiment of FIGS. 18 and 19, the mounting portion 101, the other end of the L-shaped stub 201 of which one end is connected to the conductor 103 2 is connected to the land 212.

さらに、図18及び図19の第6実施の形態では、ミリ波伝送チップのパッド211と、実装部101のランド212とは、バンプを介して接続されており、したがって、一端が導体103に接続されているL字型のスタブ201の他端は、ランド212、バンプ、及び、パッド211を介して、グランドに接続される。 Furthermore, in the sixth embodiment of FIGS. 18 and 19, the pad 211 of the millimeter wave transmission chip and the lands 212 of the mounting portion 101 are connected via the bump, thus, one end to the conductor 103 2 The other end of the connected L-shaped stub 201 is connected to the ground via the land 212, the bump, and the pad 211.

以上のように、一端が導体103に接続されているL字型のスタブ201の他端を、ミリ波伝送チップ110のシングルエンドI/F111を構成しないグランド端子であるパッド211に接続する場合も、一端が導体103に接続されているL字型のスタブ201の他端を、ミリ波伝送チップ110のシングルエンドI/F111を構成するグランド端子であるパッド111に接続する場合(図14、図15、図16)と同様に、コプレーナストリップ線路103上の低周波のノイズを除去し、コモンモードノイズを低減し、差動モードの通過特性を向上させ、ESD耐性を向上させることができる。 As described above, when the one end and the other end of the L-shaped stub 201 connected to the conductor 103 2, connected to the pad 211 is a ground terminal which does not constitute a single-ended I / F 111 of the millimeter wave transmission chip 110 also, when connecting the other end of the L-shaped stub 201 of which one end is connected to the conductor 103 2, the pad 111 3 is a ground terminal which constitutes a single-ended I / F 111 of the millimeter wave transmission chip 110 (FIG. 14, 15, and 16), low frequency noise on the coplanar strip line 103 can be removed, common mode noise can be reduced, differential mode pass characteristics can be improved, and ESD resistance can be improved. it can.

ここで、L字型のスタブ201の長さは、図14及び図15で説明したように、λ/4になっている。   Here, the length of the L-shaped stub 201 is λ / 4 as described with reference to FIGS. 14 and 15.

ミリ波伝送チップ110のシングルエンドI/F111のパッド111と、シングルエンドI/F111を構成しないグランド端子であるパッド211との距離は、シングルエンドI/F111の隣り合うパッド111とパッド111との距離のような、ミリ波のλ/4にとって無視することができる程度の距離ではないため、図18において、L字型のスタブ201については、スタブ201全体の長さを、λ/4とする必要がある。 The pad 111 2 single-ended I / F 111 of the millimeter wave transmission chip 110, the single-ended I / F 111 the distance between the pad 211 is a ground terminal that does not constitute the pad 111 2 and the pad 111 adjacent single-ended I / F 111 Since the distance is not negligible for λ / 4 of the millimeter wave, such as the distance to 3 , the L-shaped stub 201 in FIG. Need to be 4.

以上のように、長さがλ/4のスタブ201を設けることにより、コモンモードノイズを低減することができるが、コモンモードノイズを他の方法により低減する実施の形態について説明する。   As described above, the common mode noise can be reduced by providing the stub 201 having a length of λ / 4. An embodiment in which the common mode noise is reduced by another method will be described.

[第7実施の形態]   [Seventh embodiment]

図20は、本技術を適用した電子回路の第7実施の形態の構成例を示す上面図(平面図)と断面図である。   FIG. 20 is a top view (plan view) and a cross-sectional view illustrating a configuration example of a seventh embodiment of an electronic circuit to which the present technology is applied.

なお、図中、図16の第5実施の形態と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those of the fifth embodiment in FIG. 16 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted below as appropriate.

また、図20では(後述する図22でも同様)、上述の第1実施の形態ないし第6実施の形態において図示を省略していた、実装部101の裏面に設けられているグランドメタルを、グランドメタル251として図示してある。   In FIG. 20 (the same applies to FIG. 22 described later), the ground metal provided on the back surface of the mounting portion 101, which is not shown in the first to sixth embodiments, is used as the ground. Illustrated as metal 251.

第7実施の形態では、グランドメタル251としての薄膜の金属は、実装部101の裏面側のうちの、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103と、シングルエンドI/F111のパッド111及び111とが接続されている部分に対応する領域を少なくとも除く領域に設けられている。 In the seventh embodiment, the thin film of metal as a ground metal 251, of the back side of the mounting portion 101, co conductors 103 1 and 103 2 which constitutes a planar stripline 103, pad 111 of the single-ended I / F 111 1 and 1112 are provided in a region excluding at least a region corresponding to a portion to which the two are connected.

したがって、第7実施の形態では、実装部101の裏面側のうちの、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103と、シングルエンドI/F111のパッド111及び111とが接続されている部分に対応する領域には、グランドメタル251としての薄膜の金属が存在しない。 Thus, in the seventh embodiment, among the back surface side of the mounting portion 101, co conductors 103 1 and 103 2 which constitutes a planar stripline 103, and the single-ended I / F 111 of the pad 111 1 and 111 2 are connected In the region corresponding to the portion that is present, the metal of the thin film as the ground metal 251 does not exist.

なお、図20のようなグランドメタル251は、例えば、実装部101の裏面側の全体に薄膜の金属を設け、その後、シングルエンドI/F111のパッド111ないし111に対応する領域を含む矩形状の領域の金属を取り除くことで構成することができる。 Note that the ground metal 251 as shown in FIG. 20 is a rectangular metal including a region corresponding to the pads 111 1 to 111 3 of the single-ended I / F 111 after a thin metal is provided on the entire back surface of the mounting unit 101, for example. It can be configured by removing the metal in the shape area.

以上のように、実装部101の裏面側のうちの、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103と、シングルエンドI/F111のパッド111及び111とが接続されている部分に対応する領域を少なくとも除く領域に、グランドメタル251としての金属を設けることで、すなわち、実装部101の裏面側のうちの、少なくとも、導体103及び103とパッド111及び111とが接続されている部分に対応する領域に、グランドを設けないことで、コプレーナストリップ線路103のコモンモードノイズを抑制することができる。 As described above, of the rear surface side of the mounting portion 101, co conductors 103 1 and 103 2 which constitutes a planar stripline 103, the portion where the pads 111 1 and 111 2 of the single-ended I / F 111 is connected By providing a metal as the ground metal 251 in a region excluding at least the corresponding region, that is, at least the conductors 103 1 and 103 2 and the pads 111 1 and 111 2 on the back side of the mounting unit 101 are connected. The common mode noise of the coplanar strip line 103 can be suppressed by not providing a ground in a region corresponding to the portion that is formed.

すなわち、図21は、図20の電子回路について行ったシミュレーションの結果を示す図である。   That is, FIG. 21 is a diagram showing the result of simulation performed on the electronic circuit of FIG.

ここで、図21は、図20の電子回路(以下、グランドなし回路ともいう)のSパラメータS21と、図20の電子回路において、実装部101の裏面側の、グランドメタル251が存在しない領域に、グランドとなる金属を設けた回路(以下、グランド有り回路ともいう)のSパラメータS21とを示している。 Here, FIG. 21 shows an S parameter S 21 of the electronic circuit of FIG. 20 (hereinafter also referred to as a circuit without ground) and a region where the ground metal 251 does not exist on the back side of the mounting portion 101 in the electronic circuit of FIG. The S parameter S 21 of a circuit provided with a metal serving as a ground (hereinafter also referred to as a circuit with a ground) is shown.

なお、図21において、実線は、コプレーナストリップ線路103についての差動モードのSパラメータS21を表し、点線は、コモンモードのSパラメータS21を表す。 Incidentally, in FIG. 21, the solid line represents the differential mode S-parameter S 21 of the coplanar strip track 103, the dotted line represents the S parameter S 21 of the common mode.

さらに、図21において、三角形が、グランド有り回路のSパラメータS21を表し、四角形が、グランドなし回路のSパラメータS21を表す。 Further, in FIG. 21, triangles, ground there represents S parameter S 21 of the circuit, squares, represents the S parameter S 21 without ground circuit.

図21によれば、グランドなし回路の、コモンモードのSパラメータS21(四角形と点線で示す)が、50GHzないし100GHz程度のミリ波帯で、グランド有り回路の場合(三角形と点線で示す)よりも小さくなっており、ミリ波帯のコモンモードノイズを抑制することができることを確認することができる。 According to FIG. 21, the common-mode S-parameter S 21 (indicated by a square and a dotted line) of a circuit without ground is in the millimeter wave band of about 50 GHz to 100 GHz, and in the case of a circuit with a ground (indicated by a triangle and a dotted line). It can be confirmed that the common mode noise in the millimeter wave band can be suppressed.

[第8実施の形態]   [Eighth Embodiment]

図22は、本技術を適用した電子回路の第8実施の形態の構成例を示す上面図(平面図)と断面図である。   FIG. 22 is a top view (plan view) and a cross-sectional view illustrating a configuration example of an electronic circuit according to an eighth embodiment to which the present technology is applied.

なお、図中、図16の第5実施の形態、及び、図20の第7実施の形態と対応する部分については、同一の符号を付してあり、以下では、その説明は、適宜省略する。   In the figure, portions corresponding to those in the fifth embodiment in FIG. 16 and the seventh embodiment in FIG. 20 are denoted by the same reference numerals, and description thereof will be omitted below as appropriate. .

図20の第7実施の形態では、グランドメタル251としての薄膜の金属は、実装部101の裏面側のうちの、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103と、シングルエンドI/F111のパッド111及び111とが接続されている部分に対応する領域を少なくとも除く領域に設けられていたが、第8実施の形態では、グランドメタル251としての薄膜の金属は、実装部101の裏面側のうちの、例えば、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103と、シングルエンドI/F111のパッド111及び111とが接続されている部分に対応する領域を含む全体に設けられている。 Figure In the seventh embodiment 20, the thin film of metal as a ground metal 251, of the back side of the mounting portion 101, the conductor 103 1 and 103 2 which constitute the coplanar stripline 103, single-ended I / F 111 While the pad 111 1 and 111 2 is provided on at least excluding the area an area corresponding to the portion that is connected, in the eighth embodiment, the thin film as the ground metal 251 metal of the mounting portion 101 The entire back surface side includes, for example, a region corresponding to a portion where the conductors 103 1 and 103 2 constituting the coplanar strip line 103 and the pads 111 1 and 111 2 of the single-ended I / F 111 are connected. Is provided.

但し、第8実施の形態では、コプレーナストリップ線路103を構成する導体103及び103と、シングルエンドI/F111のパッド111及び111とが接続されている部分を含む、コプレーナストリップ線路103上の一部の領域に、誘電体130よりも誘電率が大の誘電体261が配置されている。 However, in the eighth embodiment, co a planar stripline 103 conductors 103 1 and 103 2 which constitutes a includes a portion in which the single-ended I / F 111 pads 111 1 and 111 2 are connected, coplanar stripline 103 A dielectric 261 having a dielectric constant larger than that of the dielectric 130 is disposed in a part of the upper region.

すなわち、第8実施の形態では、導体103及び103とパッド111及び111とが接続されている部分を含む、コプレーナストリップ線路103上の一部の領域に、コプレーナストリップ線路103上の他の領域に配置されている誘電体130よりも誘電率が大の誘電体261が配置されている。 That is, in the eighth embodiment, includes a portion where the conductor 103 1 and 103 2 and the pads 111 1 and 111 2 are connected to the partial region of the coplanar stripline 103, on the coplanar stripline 103 A dielectric 261 having a dielectric constant larger than that of the dielectric 130 disposed in another region is disposed.

ここで、誘電体130としては、例えば、比誘電率が10程度の誘電体を採用し、誘電体261としては、例えば、比誘電率が24程度の誘電体(誘電体セラミクス等)を採用することができる。   Here, as the dielectric 130, for example, a dielectric having a relative dielectric constant of about 10 is employed, and as the dielectric 261, for example, a dielectric (dielectric ceramics or the like) having a relative dielectric constant of about 24 is employed. be able to.

以上のように、コプレーナストリップ線路103とシングルエンドI/F111との接続部分を含む、コプレーナストリップ線路103上の一部の領域に、コプレーナストリップ線路103上の他の領域に配置されている誘電体130よりも誘電率が大の誘電体261を配置することで、コプレーナストリップ線路103のコモンモードノイズを抑制することができる。   As described above, the dielectric disposed in the other region on the coplanar stripline 103 in a part of the region on the coplanar stripline 103 including the connection portion between the coplanar stripline 103 and the single-ended I / F 111. By disposing the dielectric 261 having a dielectric constant larger than 130, common mode noise of the coplanar strip line 103 can be suppressed.

すなわち、図23は、図22の電子回路について行ったシミュレーションの結果を示す図である。   That is, FIG. 23 is a diagram illustrating a result of simulation performed on the electronic circuit of FIG.

ここで、図23は、図22の電子回路(以下、大誘電体あり回路ともいう)のSパラメータS21と、図22の電子回路において、誘電体261の代わりに、誘電体130と同様の誘電体が配置されている回路(以下、大誘電体なし回路ともいう)のSパラメータS21とを示している。 23 is similar to the dielectric 130 instead of the dielectric 261 in the S parameter S 21 of the electronic circuit of FIG. 22 (hereinafter also referred to as a circuit with a large dielectric) and the electronic circuit of FIG. The S parameter S 21 of a circuit in which a dielectric is disposed (hereinafter also referred to as a circuit without a large dielectric) is shown.

なお、図23において、実線は、コプレーナストリップ線路103についての差動モードのSパラメータS21を表し、点線は、コモンモードのSパラメータS21を表す。 In FIG. 23, the solid line represents the differential mode S parameter S 21 for the coplanar strip line 103, and the dotted line represents the common mode S parameter S 21 .

さらに、図23において、三角形が、大誘電体なし回路のSパラメータS21を表し、四角形が、大誘電体有り回路のSパラメータS21を表す。 Further, in FIG. 23, the triangle represents the S parameter S 21 of the circuit without a large dielectric, and the square represents the S parameter S 21 of the circuit with a large dielectric.

図23によれば、大誘電体有り回路の、コモンモードのSパラメータS21(四角形と点線で示す)が、25GHzないし80GHz程度のミリ波帯で、大誘電体なし回路の場合(三角形と点線で示す)よりも小さくなっており、ミリ波帯のコモンモードノイズを抑制することができることを確認することができる。 According to FIG. 23, the common mode S parameter S 21 (indicated by a square and a dotted line) of a circuit with a large dielectric is a millimeter wave band of about 25 GHz to 80 GHz and a circuit without a large dielectric (a triangle and a dotted line). It can be confirmed that the common mode noise in the millimeter wave band can be suppressed.

なお、本技術の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本技術の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。   The embodiments of the present technology are not limited to the above-described embodiments, and various modifications can be made without departing from the gist of the present technology.

すなわち、本実施の形態では、データを、ミリ波によって伝送することとしたが、データの伝送に使用する周波数帯域は、ミリ波に限定されるものではない。   That is, in this embodiment, data is transmitted by millimeter waves, but the frequency band used for data transmission is not limited to millimeter waves.

また、本実施の形態では、差動信号を伝送する差動伝送路として、コプレーナストリップ線路を採用したが、差動伝送路としては、コプレーナストリップ線路以外の伝送路を採用することができる。   In this embodiment, a coplanar strip line is used as a differential transmission path for transmitting a differential signal. However, a transmission path other than the coplanar strip line can be used as the differential transmission path.

さらに、ミリ波のやりとりは、無線、及び、有線のいずれによって行うことも可能である。   Furthermore, the exchange of millimeter waves can be performed either wirelessly or by wire.

なお、本技術は、以下のような構成をとることができる。   In addition, this technique can take the following structures.

[1]
シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップと、
差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成されており、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドが、電気的に直接接続されるように、前記半導体チップが実装された実装部と
を備える電子回路。
[2]
前記スタブは、前記差動伝送路で伝送される信号の波長の1/4の長さのスタブである
[1]に記載の電子回路。
[3]
前記シングルエンドI/Fは、信号がやりとりされる信号パッドと、グランドに接続されるグランドパットとを有し、
前記差動伝送路は、平行に配置された2本の導体を有し、
前記信号パッドと、前記2本の導体のうちの一方の導体とが接続され、かつ、前記グランドパットと、前記2本の導体のうちの他方の導体とが接続されるように、前記半導体チップが、前記実装部に実装されており、
前記スタブは、前記2本の導体のうちの、前記信号パットと接続された前記一方の導体に接続されている
[1]又は[2]に記載の電子回路。
[4]
前記スタブは、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、グランドに接続されているショートスタブである
[3]に記載の電子回路。
[5]
前記シングルエンドI/Fは、1つの信号パッドと、2つのグランドパットとを有し、
前記信号パッドと、前記一方の導体とが接続され、
前記2つのグランドパットのうちの一方のグランドパットと、前記他方の導体とが接続され、
前記一方の導体に接続されているスタブは、前記半導体チップが前記実装部に実装されたときに、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、前記2つのグランドパットのうちの他方のグランドパットと接続されるように形成されている
[3]又は[4]に記載の電子回路。
[6]
誘電体が、前記差動伝送路上に配置されている
[1]ないし[5]のいずれかに記載の電子回路。
[7]
前記誘電体は、前記シングルエンドI/Fのインピーダンスと、前記差動伝送路のインピーダンスとを整合させる誘電率の誘電体である
[6]に記載の電子回路。
[8]
前記誘電体は、前記実装部の誘電率より大きい誘電率の誘電体である
[6]又は[7]に記載の電子回路。
[9]
前記実装部は、平板形状をしており、
前記半導体チップは、前記平板形状の実装部の一面側に実装され、
前記平板形状の実装部の他の一面側のうちの、前記差動伝送路を構成する導体と、前記シングルエンドI/Fのパッドとが接続されている部分に対応する領域を少なくとも除く領域に、グランドとなるグランドメタルが設けられている
[1]ないし[8]のいずれかに記載の電子回路。
[10]
前記差動伝送路を構成する導体と、前記シングルエンドI/Fのパッドとが接続されている部分を含む、前記差動伝送路上の一部の領域に、前記差動伝送路上の他の領域に配置される誘電体よりも誘電率が大の誘電体が配置されている
[6]ないし[9]のいずれかに記載の電子回路。
[11]
前記差動伝送路は、コプレーナストリップ線路である
[1]ないし[10]のいずれかに記載の電子回路。
[12]
前記シングルエンド信号は、ミリ波帯の信号である
[1]ないし[11]のいずれかに記載の電子回路。
[13]
シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップを、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成された、前記半導体チップが実装される実装部に実装するときに、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドを、電気的に直接接続させる
電子回路の製造方法。
[14]
差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成され、
前記差動伝送路上に誘電体が配置され、
シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップが実装される
実装部材。
[15]
前記スタブは、前記差動伝送路で伝送される信号の波長の1/4の長さのスタブである
[14]に記載の実装部材。
[16]
前記シングルエンドI/Fは、信号がやりとりされる信号パッドと、グランドに接続されるグランドパットとを有し、
前記差動伝送路は、平行に配置された2本の導体を有し、
前記信号パッドと、前記2本の導体のうちの一方の導体とが接続され、かつ、前記グランドパットと、前記2本の導体のうちの他方の導体とが接続されるように、前記半導体チップが実装され、
前記スタブは、前記2本の導体のうちの、前記信号パットと接続された前記一方の導体に接続されている
[14]又は[15]に記載の実装部材。
[17]
前記スタブは、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、グランドに接続されているショートスタブである
[16]に記載の実装部材。
[18]
前記シングルエンドI/Fは、1つの信号パッドと、2つのグランドパットとを有し、
前記信号パッドと、前記一方の導体とが接続され、
前記2つのグランドパットのうちの一方のグランドパットと、前記他方の導体とが接続され、
前記一方の導体に接続されているスタブは、前記半導体チップが前記実装部に実装されたときに、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、前記2つのグランドパットのうちの他方のグランドパットと接続されるように形成されている
[16]又は[17]に記載の実装部材。
[19]
前記誘電体は、前記シングルエンドI/Fのインピーダンスと、前記差動伝送路のインピーダンスとを整合させる誘電率の誘電体である
[14]ないし[18]のいずれかに記載の実装部材。
[20]
前記誘電体は、前記実装部の誘電率より大きい誘電率の誘電体である
[14]ないし[19]のいずれかに記載の実装部材。
[1]
A semiconductor chip provided with a single-ended I / F having a pad through which a single-ended signal is exchanged;
A differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path are formed, and a pad of the single-ended I / F is formed on a conductor constituting the differential transmission path. An electronic circuit comprising: a mounting portion on which the semiconductor chip is mounted so as to be electrically connected directly.
[2]
The electronic circuit according to [1], wherein the stub is a stub having a length of 1/4 of a wavelength of a signal transmitted through the differential transmission path.
[3]
The single-ended I / F has a signal pad for exchanging signals and a ground pad connected to the ground,
The differential transmission line has two conductors arranged in parallel,
The semiconductor chip so that the signal pad is connected to one of the two conductors, and the ground pad is connected to the other of the two conductors. Is mounted on the mounting part,
The electronic circuit according to [1] or [2], wherein the stub is connected to the one of the two conductors connected to the signal pad.
[4]
The electronic circuit according to [3], wherein the stub is a short stub in which an end portion of the stub that is not connected to the one conductor is connected to a ground.
[5]
The single-ended I / F has one signal pad and two ground pads,
The signal pad and the one conductor are connected,
One of the two ground pads is connected to the other conductor,
When the semiconductor chip is mounted on the mounting portion, the end of the stub that is not connected to the one conductor is connected to the two ground pads when the semiconductor chip is mounted on the mounting portion. The electronic circuit according to [3] or [4], wherein the electronic circuit is formed so as to be connected to the other ground pad.
[6]
The electronic circuit according to any one of [1] to [5], wherein a dielectric is disposed on the differential transmission path.
[7]
The electronic circuit according to [6], wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant that matches the impedance of the single-ended I / F and the impedance of the differential transmission path.
[8]
The electronic circuit according to [6] or [7], wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant higher than that of the mounting portion.
[9]
The mounting part has a flat plate shape,
The semiconductor chip is mounted on one surface side of the flat plate-shaped mounting portion,
Of the other one side of the flat plate-shaped mounting portion, in a region at least excluding a region corresponding to a portion where the conductor constituting the differential transmission path and the pad of the single-ended I / F are connected A ground metal serving as a ground is provided. The electronic circuit according to any one of [1] to [8].
[10]
The other region on the differential transmission path is included in a part of the region on the differential transmission path, including a portion where the conductor constituting the differential transmission path and the pad of the single-ended I / F are connected. The electronic circuit according to any one of [6] to [9], wherein a dielectric having a dielectric constant greater than that of the dielectric disposed on the substrate is disposed.
[11]
The electronic circuit according to any one of [1] to [10], wherein the differential transmission path is a coplanar strip line.
[12]
The electronic circuit according to any one of [1] to [11], wherein the single-ended signal is a millimeter-wave band signal.
[13]
A semiconductor chip provided with a single-ended I / F having pads for exchanging single-ended signals is formed with a differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path. An electronic circuit manufacturing method in which the pad of the single-ended I / F is electrically connected directly to a conductor constituting the differential transmission path when mounted on a mounting portion on which the semiconductor chip is mounted.
[14]
A differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path are formed,
A dielectric is disposed on the differential transmission path,
A mounting member on which a semiconductor chip provided with a single-ended I / F having a pad for exchanging single-ended signals is mounted.
[15]
The mounting member according to [14], wherein the stub is a stub having a length of 1/4 of a wavelength of a signal transmitted through the differential transmission path.
[16]
The single-ended I / F has a signal pad for exchanging signals and a ground pad connected to the ground,
The differential transmission line has two conductors arranged in parallel,
The semiconductor chip so that the signal pad is connected to one of the two conductors, and the ground pad is connected to the other of the two conductors. Is implemented,
The mounting member according to [14] or [15], wherein the stub is connected to the one of the two conductors connected to the signal pad.
[17]
The mounting member according to [16], wherein the stub is a short stub in which an end portion of the stub that is not connected to the one conductor is connected to a ground.
[18]
The single-ended I / F has one signal pad and two ground pads,
The signal pad and the one conductor are connected,
One of the two ground pads is connected to the other conductor,
When the semiconductor chip is mounted on the mounting portion, the end of the stub that is not connected to the one conductor is connected to the two ground pads when the semiconductor chip is mounted on the mounting portion. The mounting member according to [16] or [17], wherein the mounting member is formed so as to be connected to the other ground pad.
[19]
The mounting member according to any one of [14] to [18], wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant that matches the impedance of the single-ended I / F and the impedance of the differential transmission path.
[20]
The mounting member according to any one of [14] to [19], wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant greater than a dielectric constant of the mounting portion.

10 電子回路, 11 実装部, 12 グランドメタル, 13,13 ビア, 14 マイクロストリップ線路, 15 アンテナ, 20 ミリ波伝送チップ, 21 シングルエンドI/F, 21ないし21 パッド, 22 送信部, 31 アンプ, 32 発振器, 33 ミキサ, 34 アンプ, 40 電子回路, 41 実装部, 42 グランドメタル, 43,43 ビア, 44 マイクロストリップ線路, 45 アンテナ, 50 ミリ波伝送チップ, 51 シングルエンドI/F, 51ないし51 パッド, 52 受信部, 61 アンプ, 62 発振器, 63 ミキサ, 64 アンプ, 70 第1層, 80 第2層, 101 実装部, 101 第1層, 101 第2層, 102ないし102 ランド, 103 コプレーナストリップ線路, 103,103 導体, 110 ミリ波伝送チップ, 111 シングルエンドI/F, 111ないし111 パッド, 121 シリコン, 122 シリコン酸化膜, 130 誘電体, 131,131 導体, 132,132 ビア, 201 スタブ, 211 パッド, 212 ランド, 251 グランドメタル, 261 誘電体 10 electronic circuit 11 mounted unit, 12 ground metal, 13 1, 13 2 via, 14 microstrip line 15 antenna, 20 millimeter wave transmission chip, 21 single-ended I / F, 21 1 to 21 3 pads, 22 transmission unit , 31 amplifier, 32 an oscillator, 33 a mixer, 34 an amplifier, 40 an electronic circuit, 41 mounting portion, 42 ground metal, 43 1, 43 2 via, 44 microstrip line 45 antenna, 50 millimeter wave transmission chip, 51 single-ended I / F, 51 1 to 51 3 pads, 52 receiving unit, 61 amplifier, 62 oscillator, 63 mixer, 64 amplifier, 70 first layer, 80 second layer, 101 mounting unit, 101 1 first layer, 101 2 second layers, 102 1 to 102 3 lands 103 coplanar stripline 103 , 103 2 conductors, 110 millimeter wave transmission chip, 111 single-ended I / F, 111 1 to 111 3 pads, 121 silicon, 122 a silicon oxide film, 130 a dielectric, 131 1, 131 2 conductors, 132 1, 132 2 via , 201 stub, 211 pad, 212 land, 251 ground metal, 261 dielectric

Claims (20)

シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップと、
差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成されており、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドが、電気的に直接接続されるように、前記半導体チップが実装された実装部と
を備える電子回路。
A semiconductor chip provided with a single-ended I / F having a pad through which a single-ended signal is exchanged;
A differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path are formed, and a pad of the single-ended I / F is formed on a conductor constituting the differential transmission path. An electronic circuit comprising: a mounting portion on which the semiconductor chip is mounted so as to be electrically connected directly.
前記スタブは、前記差動伝送路で伝送される信号の波長の1/4の長さのスタブである
請求項1に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 1, wherein the stub is a stub having a length of ¼ of a wavelength of a signal transmitted through the differential transmission path.
前記シングルエンドI/Fは、信号がやりとりされる信号パッドと、グランドに接続されるグランドパットとを有し、
前記差動伝送路は、平行に配置された2本の導体を有し、
前記信号パッドと、前記2本の導体のうちの一方の導体とが接続され、かつ、前記グランドパットと、前記2本の導体のうちの他方の導体とが接続されるように、前記半導体チップが、前記実装部に実装されており、
前記スタブは、前記2本の導体のうちの、前記信号パットと接続された前記一方の導体に接続されている
請求項2に記載の電子回路。
The single-ended I / F has a signal pad for exchanging signals and a ground pad connected to the ground,
The differential transmission line has two conductors arranged in parallel,
The semiconductor chip so that the signal pad is connected to one of the two conductors, and the ground pad is connected to the other of the two conductors. Is mounted on the mounting part,
The electronic circuit according to claim 2, wherein the stub is connected to the one of the two conductors connected to the signal pad.
前記スタブは、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、グランドに接続されているショートスタブである
請求項3に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 3, wherein the stub is a short stub in which an end portion of the stub that is not connected to the one conductor is connected to a ground.
前記シングルエンドI/Fは、1つの信号パッドと、2つのグランドパットとを有し、
前記信号パッドと、前記一方の導体とが接続され、
前記2つのグランドパットのうちの一方のグランドパットと、前記他方の導体とが接続され、
前記一方の導体に接続されているスタブは、前記半導体チップが前記実装部に実装されたときに、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、前記2つのグランドパットのうちの他方のグランドパットと接続されるように形成されている
請求項4に記載の電子回路。
The single-ended I / F has one signal pad and two ground pads,
The signal pad and the one conductor are connected,
One of the two ground pads is connected to the other conductor,
When the semiconductor chip is mounted on the mounting portion, the end of the stub that is not connected to the one conductor is connected to the two ground pads when the semiconductor chip is mounted on the mounting portion. The electronic circuit according to claim 4, wherein the electronic circuit is formed so as to be connected to the other ground pad.
誘電体が、前記差動伝送路上に配置されている
請求項4に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 4, wherein a dielectric is disposed on the differential transmission path.
前記誘電体は、前記シングルエンドI/Fのインピーダンスと、前記差動伝送路のインピーダンスとを整合させる誘電率の誘電体である
請求項6に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 6, wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant that matches the impedance of the single-ended I / F and the impedance of the differential transmission path.
前記誘電体は、前記実装部の誘電率より大きい誘電率の誘電体である
請求項6に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 6, wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant greater than that of the mounting portion.
前記実装部は、平板形状をしており、
前記半導体チップは、前記平板形状の実装部の一面側に実装され、
前記平板形状の実装部の他の一面側のうちの、前記差動伝送路を構成する導体と、前記シングルエンドI/Fのパッドとが接続されている部分に対応する領域を少なくとも除く領域に、グランドとなるグランドメタルが設けられている
請求項6に記載の電子回路。
The mounting part has a flat plate shape,
The semiconductor chip is mounted on one surface side of the flat plate-shaped mounting portion,
Of the other one side of the flat plate-shaped mounting portion, in a region at least excluding a region corresponding to a portion where the conductor constituting the differential transmission path and the pad of the single-ended I / F are connected The electronic circuit according to claim 6, wherein a ground metal serving as a ground is provided.
前記差動伝送路を構成する導体と、前記シングルエンドI/Fのパッドとが接続されている部分を含む、前記差動伝送路上の一部の領域に、前記差動伝送路上の他の領域に配置される誘電体よりも誘電率が大の誘電体が配置されている
請求項6に記載の電子回路。
The other region on the differential transmission path is included in a part of the region on the differential transmission path, including a portion where the conductor constituting the differential transmission path and the pad of the single-ended I / F are connected. The electronic circuit according to claim 6, wherein a dielectric having a dielectric constant larger than that of the dielectric disposed on the substrate is disposed.
前記差動伝送路は、コプレーナストリップ線路である
請求項1に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 1, wherein the differential transmission path is a coplanar strip line.
前記シングルエンド信号は、ミリ波帯の信号である
請求項1に記載の電子回路。
The electronic circuit according to claim 1, wherein the single-ended signal is a millimeter-wave band signal.
シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップを、差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成された、前記半導体チップが実装される実装部に実装するときに、前記差動伝送路を構成する導体に、前記シングルエンドI/Fのパッドを、電気的に直接接続させる
電子回路の製造方法。
A semiconductor chip provided with a single-ended I / F having pads for exchanging single-ended signals is formed with a differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path. An electronic circuit manufacturing method in which the pad of the single-ended I / F is electrically connected directly to a conductor constituting the differential transmission path when mounted on a mounting portion on which the semiconductor chip is mounted.
差動信号を伝送する差動伝送路と、前記差動伝送路に接続されているスタブとが形成され、
前記差動伝送路上に誘電体が配置され、
シングルエンド信号がやりとりされるパッドを有するシングルエンドI/Fが設けられた半導体チップが実装される
実装部材。
A differential transmission path for transmitting a differential signal and a stub connected to the differential transmission path are formed,
A dielectric is disposed on the differential transmission path,
A mounting member on which a semiconductor chip provided with a single-ended I / F having a pad for exchanging single-ended signals is mounted.
前記スタブは、前記差動伝送路で伝送される信号の波長の1/4の長さのスタブである
請求項14に記載の実装部材。
The mounting member according to claim 14, wherein the stub is a stub having a length of ¼ of a wavelength of a signal transmitted through the differential transmission path.
前記シングルエンドI/Fは、信号がやりとりされる信号パッドと、グランドに接続されるグランドパットとを有し、
前記差動伝送路は、平行に配置された2本の導体を有し、
前記信号パッドと、前記2本の導体のうちの一方の導体とが接続され、かつ、前記グランドパットと、前記2本の導体のうちの他方の導体とが接続されるように、前記半導体チップが実装され、
前記スタブは、前記2本の導体のうちの、前記信号パットと接続された前記一方の導体に接続されている
請求項15に記載の実装部材。
The single-ended I / F has a signal pad for exchanging signals and a ground pad connected to the ground,
The differential transmission line has two conductors arranged in parallel,
The semiconductor chip so that the signal pad is connected to one of the two conductors, and the ground pad is connected to the other of the two conductors. Is implemented,
The mounting member according to claim 15, wherein the stub is connected to the one of the two conductors connected to the signal pad.
前記スタブは、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、グランドに接続されているショートスタブである
請求項16に記載の実装部材。
The mounting member according to claim 16, wherein the stub is a short stub in which an end of the stub that is not connected to the one conductor is connected to a ground.
前記シングルエンドI/Fは、1つの信号パッドと、2つのグランドパットとを有し、
前記信号パッドと、前記一方の導体とが接続され、
前記2つのグランドパットのうちの一方のグランドパットと、前記他方の導体とが接続され、
前記一方の導体に接続されているスタブは、前記半導体チップが前記実装部に実装されたときに、前記スタブの、前記一方の導体に接続されていない方の端部が、前記2つのグランドパットのうちの他方のグランドパットと接続されるように形成されている
請求項17に記載の実装部材。
The single-ended I / F has one signal pad and two ground pads,
The signal pad and the one conductor are connected,
One of the two ground pads is connected to the other conductor,
When the semiconductor chip is mounted on the mounting portion, the end of the stub that is not connected to the one conductor is connected to the two ground pads when the semiconductor chip is mounted on the mounting portion. The mounting member according to claim 17, wherein the mounting member is connected to the other ground pad.
前記誘電体は、前記シングルエンドI/Fのインピーダンスと、前記差動伝送路のインピーダンスとを整合させる誘電率の誘電体である
請求項14に記載の実装部材。
The mounting member according to claim 14, wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant that matches the impedance of the single-ended I / F and the impedance of the differential transmission path.
前記誘電体は、前記実装部の誘電率より大きい誘電率の誘電体である
請求項14に記載の実装部材。
The mounting member according to claim 14, wherein the dielectric is a dielectric having a dielectric constant greater than a dielectric constant of the mounting portion.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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